JP2013072725A - Image quality inspection method, image quality inspection device and image quality inspection program - Google Patents

Image quality inspection method, image quality inspection device and image quality inspection program Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an image quality inspection method, an image quality inspection device and an image quality inspection program capable of minimizing the number of images necessary for an image quality inspection and reducing a processing load necessary for the image quality inspection.SOLUTION: An image quality inspection device 1 has a taking-in part 21 for continuously imaging and taking in pictures to be inspected in which a white pattern WP obtained by forming an outer frame of the picture to be inspected by a black dashed line pattern 40 and a black pattern BP obtained by forming the outer frame at the same position as the black dashed line by a white dashed line pattern 40 are switched and displayed. The image quality inspection device 1 also has an extraction part 22 for extracting a picture in which a dashed line upper side 40A of the outer frame is identical to a dashed line lower side 40B facing the dashed line upper side, among the multiple pictures having been taken in. In addition, the image quality inspection device 1 has a discrimination part 23 for discriminating between the white pattern and the black pattern among the extracted pictures, and an inspection part 24 for carrying out an image quality inspection of the picture to be inspected on the basis of the discriminated white pattern and black pattern.

Description

本発明は、画質検査方法、画質検査装置及び画質検査プログラムに関する。   The present invention relates to an image quality inspection method, an image quality inspection apparatus, and an image quality inspection program.

例えば、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイ等のノンインターレース(プログレッシブ)表示方式のディスプレイの画質を検査する方法では、検査対象のディスプレイ上に検査パターンを表示し、検査パターンを画質検査装置と接続されるカメラで撮像する。そして、画質検査装置は、カメラで撮像した検査パターンの画面を用いて、様々な画質検査を実行する。   For example, in a method for inspecting the image quality of a non-interlace (progressive) display system such as a liquid crystal display or a plasma display, an inspection pattern is displayed on the display to be inspected, and the inspection pattern is displayed on a camera connected to an image quality inspection apparatus. Take an image. Then, the image quality inspection apparatus performs various image quality inspections using the inspection pattern screen imaged by the camera.

検査対象のディスプレイが表示する検査パターンには、全面を白色表示した白色パターンと、全面を黒色表示した黒色パターンとの2種類がある。検査対象のディスプレイは、パターン発生器と接続され、パターン発生器の切替指示に応じて、白色パターン及び黒色パターンを所定周期毎に切替えて表示する。   There are two types of inspection patterns displayed on the display to be inspected: a white pattern in which the entire surface is displayed in white and a black pattern in which the entire surface is displayed in black. The display to be inspected is connected to a pattern generator, and switches between a white pattern and a black pattern at predetermined intervals in accordance with a pattern generator switching instruction.

また、画質検査装置のカメラは、外光が遮断された暗所内に検査対象のディスプレイが収容されると、その暗所で、ディスプレイ上に画面表示する白色パターン及び黒色パターンの検査パターンを撮像する。そして、画質検査装置は、白色パターン及び黒色パターンを用いて、ディスプレイの画素単位で、例えば、部分異常表示、暗点(線)、輝点(線)、輝度、色ムラ等の各種の画質検査を実行する。   In addition, when a display to be inspected is housed in a dark place where external light is blocked, the camera of the image quality inspection apparatus captures a white pattern and a black pattern inspection pattern displayed on the display in the dark place. . The image quality inspection apparatus uses a white pattern and a black pattern to perform various image quality inspections such as partial abnormal display, dark spot (line), bright spot (line), luminance, color unevenness, etc. Execute.

また、画質検査装置が検査パターンを取得する方式としては、例えば、同期方式及び非同期方式の2種類がある。同期方式の場合、画質検査装置は、検査対象のディスプレイと接続するパターン発生器に切替を指示する。更に、パターン発生器は、画質検査装置からの切替指示に応じてディスプレイに検査パターンを画面表示させる。その結果、画質検査装置は、ディスプレイ上の画面の撮像周期と検査パターンの切替周期とが同一となるため、切替指示に応じて、2種類の検査パターンである白色パターン及び黒色パターンを取得できる。   In addition, there are two types of methods by which the image quality inspection apparatus acquires the inspection pattern, for example, a synchronous method and an asynchronous method. In the case of the synchronous method, the image quality inspection apparatus instructs the pattern generator connected to the display to be inspected to switch. Further, the pattern generator displays the inspection pattern on the screen in response to a switching instruction from the image quality inspection apparatus. As a result, since the imaging cycle of the screen on the display and the switching cycle of the inspection pattern are the same, the image quality inspection apparatus can acquire a white pattern and a black pattern, which are two types of inspection patterns, according to the switching instruction.

しかしながら、同期方式の場合、画質検査装置とパターン発生器との間に、無線アダプタや通信ケーブル等の通信手段を設ける必要があるため、その通信手段に要する設備コストが嵩む。しかも、一般的に、画質検査装置は、検査対象のディスプレイがベルトコンベア上を流れ、その流れ作業の中でディスプレイに対する画質検査を実行する。従って、例えば、ディスプレイと接続されるパターン発生器に対して、通信手段の接続及び取外しに要する作業負担は大である。   However, in the case of the synchronous method, it is necessary to provide communication means such as a wireless adapter and a communication cable between the image quality inspection apparatus and the pattern generator, so that the equipment cost required for the communication means increases. Moreover, in general, in the image quality inspection apparatus, the display to be inspected flows on the belt conveyor, and the image quality inspection for the display is executed in the flow operation. Therefore, for example, the work load required for connection and removal of the communication means for the pattern generator connected to the display is large.

これに対して、非同期方式は、画質検査装置がパターン発生器に対してディスプレイの切替表示の指示を与えるものではなく、ディスプレイ側の検査パターンの切替表示と、画質検査装置側のディスプレイの表示画面に対する撮像とが独立で行われる方式である。図13は、非同期方式の画質検査装置に関わる検査パターンの取得動作の一例を示す説明図である。   On the other hand, in the asynchronous method, the image quality inspection apparatus does not give an instruction to switch the display to the pattern generator, the display pattern switching display on the display side and the display screen of the image quality inspection apparatus side display. This is a method in which imaging with respect to is performed independently. FIG. 13 is an explanatory diagram illustrating an example of an inspection pattern acquisition operation related to an asynchronous image quality inspection apparatus.

図13において検査対象のディスプレイは、接続するパターン発生器を使用して一定の切替周期毎に、2種類の検査パターンである白色パターン及び黒色パターンを切替表示する。尚、白色パターンと黒色パターンとの切替途中には、白色パターン及び黒色パターンが混合する不要なパターンが生じる。また、画質検査装置のカメラは、ディスプレイの表示画面全面が撮像可能な撮像エリア内にディスプレイが存在した場合に、ディスプレイの表示画面を一定の撮像周期で連続撮像することになる。尚、カメラの撮像周期は、効率よく、2種類の検査パターンである白色パターン及び黒色パターンが撮像できるように、検査パターンの切替周期及びディスプレイのリフレッシュレートに基づき算出されるものである。図13の例では、例えば、パターン発生器によるディスプレイの検査パターンの切替表示周期を0.38秒とした場合、画質検査装置のカメラの撮像周期は0.33秒としている。   In FIG. 13, the display to be inspected switches and displays a white pattern and a black pattern, which are two types of inspection patterns, every predetermined switching period using a connected pattern generator. In the middle of switching between the white pattern and the black pattern, an unnecessary pattern in which the white pattern and the black pattern are mixed is generated. Further, the camera of the image quality inspection apparatus continuously captures the display screen on the display screen at a constant imaging cycle when the display is present in an imaging area where the entire display screen can be captured. The imaging cycle of the camera is calculated based on the test pattern switching cycle and the display refresh rate so that the white pattern and the black pattern, which are two types of test patterns, can be captured efficiently. In the example of FIG. 13, for example, when the display pattern switching display period of the display by the pattern generator is 0.38 seconds, the imaging period of the camera of the image quality inspection apparatus is 0.33 seconds.

特開2008−152188号公報JP 2008-152188 A 特開2009−212757号公報JP 2009-212757 A 特開平5−172759号公報JP-A-5-172759 特開2002−250702号公報JP 2002-250702 A

画質検査装置では、図13に示すように、一定の撮像周期でディスプレイ上に画面表示した検査パターンを連続撮像する。そして、画質検査装置は、撮像周期で、白色パターン及び黒色パターンは勿論のこと、白色パターンと黒色パターンとの切替途中の不要な画面が撮像されることを考慮すると、少なくとも3枚の画面を撮像することになる。しかしながら、画質検査装置は、白色パターン及び黒色パターンの画面は勿論のこと、本来、不要な切替途中の画面についても画質検査処理を実行してしまう。   In the image quality inspection apparatus, as shown in FIG. 13, the inspection pattern displayed on the screen is continuously imaged at a constant imaging cycle. The image quality inspection device captures at least three screens in consideration of capturing an unnecessary screen in the middle of switching between the white pattern and the black pattern as well as the white pattern and the black pattern in the imaging cycle. Will do. However, the image quality inspection apparatus executes the image quality inspection processing not only on the screen of the white pattern and the black pattern but also on the screen that is originally unnecessary and is being switched.

その結果、画質検査装置は、不要な切替途中の画面についても画質検査処理を実行するため、白色パターン及び黒色パターンの2枚の画面に対して画質検査処理を実行する場合に比較して、その処理負担が約1.5倍となり、その検査時間も1.5倍長くなる。   As a result, since the image quality inspection apparatus performs image quality inspection processing even on unnecessary switching screens, the image quality inspection processing is performed as compared with the case where image quality inspection processing is performed on two screens of a white pattern and a black pattern. The processing burden is about 1.5 times, and the inspection time is also 1.5 times longer.

一つの側面では、画質検査に必要な画面を最小限に抑えて画質検査に要する処理負担を軽減する画質検査方法、画質検査装置及び画質検査プログラムを提供することを目的とする。   In one aspect, an object is to provide an image quality inspection method, an image quality inspection apparatus, and an image quality inspection program that reduce the processing load required for image quality inspection by minimizing the screen required for image quality inspection.

一つの方法では、画質検査装置に、検査対象の画面の外枠を黒破線で形成された白画面と前記黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒画面とを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込む。更に、態様では、取り込まれた複数の画面の内、前記破線で形成する前記外枠の一辺の破線と当該一辺に対向する対向辺の破線とが一致した画面を抽出する。更に、態様では、抽出した画面から前記白画面と前記黒画面とを選別し、これら選別された前記白画面及び前記黒画面に基づき、当該検査対象の画面に対する検査を実行する、各処理を実行させる。   In one method, on the image quality inspection apparatus, a white screen formed with a black broken line and a black screen formed with a white broken line at the same position as the black broken line are alternately displayed continuously on the outer frame of the screen to be inspected. The screen to be inspected is continuously captured and captured. Further, in the aspect, a screen in which a broken line on one side of the outer frame formed by the broken line and a broken line on the opposite side facing the one side are extracted from the plurality of captured screens. Further, according to the aspect, the white screen and the black screen are selected from the extracted screens, and each process is executed to execute an inspection on the screen to be inspected based on the selected white screen and the black screen. Let

開示の方法では、取り込まれた複数の画面の内、外枠の一辺の破線と対向辺の破線とが一致した画面を抽出し、これら抽出された画面から白画面及び黒画面を選別し、これら選別された白画面及び黒画面に基づき、検査対象の画面に対する検査を実行する。その結果、画質検査に必要な画面を最小限に抑えて画質検査に要する処理負担を軽減できる。   In the disclosed method, a screen in which a broken line on one side of the outer frame matches a broken line on the opposite side is extracted from a plurality of captured screens, and a white screen and a black screen are selected from these extracted screens. Based on the selected white screen and black screen, inspection is performed on the screen to be inspected. As a result, the processing load required for the image quality inspection can be reduced by minimizing the screen required for the image quality inspection.

図1は、本実施例の画質検査装置の一例を示す説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating an example of an image quality inspection apparatus according to the present embodiment. 図2は、画質検査装置の検査対象のディスプレイの撮像状況の一例を示す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating an example of an imaging state of a display to be inspected by the image quality inspection apparatus. 図3は、画質検査装置で撮像した検査パターンの一例を示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing an example of an inspection pattern imaged by the image quality inspection apparatus. 図4は、画質検査装置の一例を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram illustrating an example of an image quality inspection apparatus. 図5は、画質検査装置が破線上辺を抽出する際の一例を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing an example when the image quality inspection apparatus extracts the upper side of the broken line. 図6は、画質検査装置が破線下辺を抽出する際の一例を示す説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram showing an example when the image quality inspection apparatus extracts the lower side of the broken line. 図7は、画質検査装置が検査パターンを選別する際の一例を示す説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example when the image quality inspection apparatus selects an inspection pattern. 図8は、検査処理に関わる画質検査装置の制御部の処理動作の一例を示すフローチャートである。FIG. 8 is a flowchart showing an example of the processing operation of the control unit of the image quality inspection apparatus related to the inspection process. 図9は、画面抽出処理に関わる制御部の処理動作の一例を示すフローチャートである。FIG. 9 is a flowchart illustrating an example of the processing operation of the control unit related to the screen extraction process. 図10は、破線抽出処理に関わる制御部の処理動作の一例を示すフローチャートである。FIG. 10 is a flowchart illustrating an example of the processing operation of the control unit related to the broken line extraction process. 図11は、破線抽出処理に関わる制御部の処理動作の一例を示すフローチャートである。FIG. 11 is a flowchart illustrating an example of the processing operation of the control unit related to the broken line extraction process. 図12は、画質検査プログラムを実行するコンピュータの一例を示すブロック図である。FIG. 12 is a block diagram illustrating an example of a computer that executes an image quality inspection program. 図13は、非同期方式の画質検査装置に関わる検査パターンの取得動作の一例を示す説明図である。FIG. 13 is an explanatory diagram illustrating an example of an inspection pattern acquisition operation related to an asynchronous image quality inspection apparatus.

以下、図面に基づいて、本願の開示する画質検査方法、画質検査装置及び画質検査プログラムの実施例を詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of an image quality inspection method, an image quality inspection apparatus, and an image quality inspection program disclosed in the present application will be described in detail with reference to the drawings.

図1は、本実施例の画質検査装置の一例を示す説明図、図2は、画質検査装置の検査対象のディスプレイの撮像状況の一例を示す説明図である。図1に示す画質検査装置1は、製造ラインの検査工程に設置され、非同期方式が採用され、例えば、ベルトコンベア2で搬送されるノートパソコン等の検査対象のディスプレイ3の表示画面を連続撮像する。更に、画質検査装置1は、撮像された画面で画質検査を実行する。   FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating an example of an image quality inspection apparatus according to the present exemplary embodiment, and FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating an example of an imaging state of a display to be inspected by the image quality inspection apparatus. An image quality inspection apparatus 1 shown in FIG. 1 is installed in an inspection process of a production line, adopts an asynchronous method, and continuously captures a display screen of a display 3 to be inspected such as a notebook computer conveyed by a belt conveyor 2. . Furthermore, the image quality inspection apparatus 1 performs an image quality inspection on the imaged screen.

画質検査装置1は、撮像部11Aと、制御部14とを有する。撮像部11Aは、検査対象のディスプレイ3の画面の全領域が撮像可能な撮像エリアQ内に存在する検査対象のディスプレイ3の画面を連続撮像する。尚、画質検査装置1は、ベルトコンベア2に隣接して配置された撮像センサ4を用いて、検査対象のディスプレイ3の表示画面の全領域が撮像可能な撮像エリアQ内にディスプレイ3が存在することを認識する。撮像エリアQは、暗所内に配置される。撮像部11Aは、検査対象のディスプレイ3が撮像エリアQ内に存在する時間や、撮像部11Aの撮像速度や撮像周期に依存するが、少なくとも2枚以上の画面を連続的に撮像する。尚、撮像エリアQは、例えば、490mm×325mmとする。また、ディスプレイ3の表示画面の1画素は、例えば、0.094mmとする。また、説明の便宜上、ディスプレイ3は、例えば、15.6インチのLCD(Liquid Crystal Display)とする。   The image quality inspection apparatus 1 includes an imaging unit 11A and a control unit 14. The imaging unit 11A continuously images the screen of the inspection target display 3 existing in the imaging area Q in which the entire area of the screen of the inspection target display 3 can be imaged. The image quality inspection apparatus 1 uses the imaging sensor 4 disposed adjacent to the belt conveyor 2 and the display 3 is present in the imaging area Q in which the entire area of the display screen of the display 3 to be inspected can be imaged. Recognize that. The imaging area Q is arranged in a dark place. The imaging unit 11A continuously images at least two or more screens, depending on the time during which the display 3 to be inspected exists in the imaging area Q, the imaging speed of the imaging unit 11A, and the imaging cycle. The imaging area Q is, for example, 490 mm × 325 mm. Further, one pixel of the display screen of the display 3 is set to 0.094 mm, for example. For convenience of explanation, the display 3 is, for example, a 15.6 inch LCD (Liquid Crystal Display).

検査対象のディスプレイ3は、図示せぬパターン発生器と接続され、このパターン発生器を用いて白色パターン及び黒色パターンの2種類の検査パターンを一定周期で切替表示する。尚、画質検査装置1は、例えば、検査対象のディスプレイ3と接続するパターン発生器とは非同期である。図3は、画質検査装置1で撮像した検査パターンの一例を示す説明図である。図3に示す撮像画面は、撮像エリアQ内の暗所でディスプレイ3の表示画面を撮像したものである。撮像画面は、表示画面の背景が黒色の画面となる。従って、ディスプレイ3に画面表示した検査パターンPには、その背景Rと検査パターンPとの境界を識別するため、その最外周枠に所定間隔の破線模様40が描画されている。例えば、検査パターンPが白色パターンWPの場合は、図3の(A)に示すように白地ベースに所定間隔の黒色の破線模様40が描画される。また、黒色パターンBPの場合は、図3の(B)に示すように黒地ベースに同一の所定間隔の白色の破線模様40が描画される。尚、破線模様40は、四角枠とし、その上辺を破線上辺40Aとし、その下辺を破線下辺40Bとする。また、白色パターンWPは、例えば、ディスプレイ3のRGBの設定値で定義した場合、「R」、「G」及び「B」はそれぞれ最大の「255」である。これに対して、黒色パターンBPは、「R」、「G」及び「B」はそれぞれ最小の「0」である。   The display 3 to be inspected is connected to a pattern generator (not shown), and this pattern generator is used to switch and display two types of inspection patterns, a white pattern and a black pattern, at regular intervals. The image quality inspection apparatus 1 is asynchronous with, for example, a pattern generator connected to the display 3 to be inspected. FIG. 3 is an explanatory diagram illustrating an example of an inspection pattern imaged by the image quality inspection apparatus 1. The imaging screen shown in FIG. 3 is an image of the display screen of the display 3 in a dark place in the imaging area Q. The imaging screen is a screen whose display screen has a black background. Therefore, in order to identify the boundary between the background R and the inspection pattern P, a broken line pattern 40 with a predetermined interval is drawn on the outermost peripheral frame of the inspection pattern P displayed on the display 3. For example, when the inspection pattern P is a white pattern WP, a black broken line pattern 40 with a predetermined interval is drawn on a white background as shown in FIG. In the case of the black pattern BP, as shown in FIG. 3B, white broken line patterns 40 with the same predetermined interval are drawn on the black background. The broken line pattern 40 is a rectangular frame, the upper side of which is a broken line upper side 40A, and the lower side of the broken line pattern 40 is a broken line lower side 40B. For example, when the white pattern WP is defined by RGB setting values of the display 3, “R”, “G”, and “B” are the maximum “255”, respectively. On the other hand, in the black pattern BP, “R”, “G”, and “B” are the minimum “0”.

また、ベルトコンベア2が、例えば、14mm/秒の一定の速度で検査対象のディスプレイ3を搬送する。ディスプレイ3のパターン発生器によるディスプレイ3の検査パターンPの切替表示周期を0.38秒とし、画質検査装置1の撮像部11Aの撮像周期を0.33秒とする。   Further, the belt conveyor 2 conveys the display 3 to be inspected at a constant speed of 14 mm / second, for example. The switching display period of the inspection pattern P of the display 3 by the pattern generator of the display 3 is 0.38 seconds, and the imaging period of the imaging unit 11A of the image quality inspection apparatus 1 is 0.33 seconds.

図4は、画質検査装置1の一例を示すブロック図である。図4に示す画質検査装置1は、入力部11と、表示部12と、記憶部13と、制御部14とを有する。入力部11は、前述した撮像部11Aの他に、キーボード11Bと、マウス11Cとを有する。キーボード11B及びマウス11Cは、各種指令等の入力を受け付けるものである。表示部12は、各種情報を画面表示するものである。   FIG. 4 is a block diagram illustrating an example of the image quality inspection apparatus 1. The image quality inspection apparatus 1 shown in FIG. 4 includes an input unit 11, a display unit 12, a storage unit 13, and a control unit 14. The input unit 11 includes a keyboard 11B and a mouse 11C in addition to the imaging unit 11A described above. The keyboard 11B and the mouse 11C receive inputs such as various commands. The display unit 12 displays various information on the screen.

記憶部13は、各種情報を記憶するものである。記憶部13は、パラメータ格納領域13Aと、輝度格納領域13Bと、白色画素格納領域13Cと、破線候補格納領域13Dと、破線格納領域13Eとを有する。パラメータ格納領域13Aは、例えば、検査対象のディスプレイ3の幅寸法、縦寸法や画素数と、撮像部11Aの画素分解能(mm/画素)と、画面上の破線模様40の所定間隔等の各種パラメータを格納する。尚、パラメータ格納領域13Aには、1種類のディスプレイ3だけでなく、複数種のディスプレイ3のパラメータを格納しても良い。   The storage unit 13 stores various information. The storage unit 13 includes a parameter storage area 13A, a luminance storage area 13B, a white pixel storage area 13C, a broken line candidate storage area 13D, and a broken line storage area 13E. The parameter storage area 13A includes, for example, various parameters such as the width dimension, the vertical dimension, the number of pixels of the display 3 to be inspected, the pixel resolution (mm / pixel) of the imaging unit 11A, and the predetermined interval of the broken line pattern 40 on the screen. Is stored. The parameter storage area 13A may store not only one type of display 3 but also a plurality of types of display 3 parameters.

輝度格納領域13Bは、撮像画面毎に、後述する各画素の輝度値を格納するものである。白色画素格納領域13Cは、撮像画面上で抽出した、後述する白色画素の画素座標を格納するものである。破線候補格納領域13Dは、撮像画面上で抽出した、後述する破線候補の白色画素の画素座標を格納するものである。破線格納領域13Eは、撮像画面上で抽出した、後述する破線上辺40A及び破線下辺40Bの白色画素の画素座標を格納するものである。   The luminance storage area 13B stores the luminance value of each pixel described later for each imaging screen. The white pixel storage area 13C stores pixel coordinates of a white pixel, which will be described later, extracted on the imaging screen. The broken line candidate storage area 13D stores pixel coordinates of white pixels of a broken line candidate, which will be described later, extracted on the imaging screen. The broken line storage area 13E stores pixel coordinates of white pixels of a broken line upper side 40A and a broken line lower side 40B, which will be described later, extracted on the imaging screen.

制御部14は、画面処理部20と、演算部30とを有する。画面処理部20は、撮像部11Aによって撮像された検査対象のディスプレイ3の画面に各種処理を施すものである。画面処理部20は、取込部21と、抽出部22と、選別部23と、検査部24とを有する。取込部21は、撮像部11Aによって連続的に撮像された検査対象の撮像画面を取り込む。抽出部22は、取込部21によって取り込まれた撮像画面から破線模様40を抽出する破線抽出部22Aを有する。抽出部22は、取込部21で取り込まれた撮像画面をグレイスケールに変換し、各画素の輝度値(0〜255)を記憶部13内の輝度格納領域13Bに格納する。更に、抽出部22は、撮像画面内の各画素の輝度値に二値化処理を施し、二値化した各画素の内、白色の画素を抽出する。そして、抽出部22は、二値化した各画素の内、白色の画素を抽出すると、白色画素の画素座標を白色画素格納領域13Cに格納する。   The control unit 14 includes a screen processing unit 20 and a calculation unit 30. The screen processing unit 20 performs various processes on the screen of the display 3 to be inspected, which is imaged by the imaging unit 11A. The screen processing unit 20 includes a capture unit 21, an extraction unit 22, a selection unit 23, and an inspection unit 24. The capturing unit 21 captures the imaging screens to be inspected continuously captured by the imaging unit 11A. The extraction unit 22 includes a broken line extraction unit 22 </ b> A that extracts a broken line pattern 40 from the imaging screen captured by the capture unit 21. The extracting unit 22 converts the imaging screen captured by the capturing unit 21 into a gray scale, and stores the luminance value (0 to 255) of each pixel in the luminance storage area 13 </ b> B in the storage unit 13. Further, the extraction unit 22 performs binarization processing on the luminance value of each pixel in the imaging screen, and extracts a white pixel from the binarized pixels. And if the extraction part 22 extracts a white pixel from each binarized pixel, it will store the pixel coordinate of a white pixel in 13 C of white pixel storage areas.

図5は、画質検査装置1が破線上辺40Aを抽出する際の一例を示す説明図である。撮像画面の縦軸をY、横軸をXとする。そして、破線模様40は、例えば、同一Y座標上を連続するX座標上の白色画素5個及び黒色画素5個の所定間隔の1ペアの破線が構成され、これら複数のペアで構成される。破線抽出部22Aは、取り込まれた撮像画面内の画素から白色の画素を順次抽出する。例えば、破線抽出部22Aは、図5の(A)及び(B)に示すように、原点座標(X=0,Y=0)を対象画素41の開始座標に設定し、設定された対象画素41が白色画素41Aであるか否かを判定する。   FIG. 5 is an explanatory diagram showing an example when the image quality inspection apparatus 1 extracts the upper side 40A of the broken line. The vertical axis of the imaging screen is Y, and the horizontal axis is X. The broken line pattern 40 includes, for example, a pair of broken lines with a predetermined interval between five white pixels and five black pixels on the same X coordinate and the plurality of pairs. The broken line extraction unit 22A sequentially extracts white pixels from the captured pixels in the imaging screen. For example, the broken line extraction unit 22A sets the origin coordinates (X = 0, Y = 0) as the start coordinates of the target pixel 41 and sets the target pixel as shown in FIGS. It is determined whether 41 is a white pixel 41A.

破線抽出部22Aは、対象画素41が白色画素41Aでない、例えば、黒色画素41Bの場合、その対象画素41のY座標を+1インクリメントし、対象画素41が白色画素41Aであるか否かを判定する。更に、破線抽出部22Aは、対象画素41が白色画素41Aでない場合、その対象画素41のY座標を+1インクリメントする。つまり、破線抽出部22Aは、白色画素41Aが抽出されるまで継続して対象画素41のY座標を+1インクリメントする。そして、破線抽出部22Aは、図5の(B)に示すように、対象画素41が白色画素41Aの場合、当該白色画素41Aを破線上辺40A候補の白色画素41Cとして、その画素座標を記憶部13の破線候補格納領域13Dに格納する。   When the target pixel 41 is not the white pixel 41A, for example, the black pixel 41B, the broken line extraction unit 22A increments the Y coordinate of the target pixel 41 by 1 and determines whether the target pixel 41 is the white pixel 41A. . Furthermore, when the target pixel 41 is not the white pixel 41A, the broken line extraction unit 22A increments the Y coordinate of the target pixel 41 by +1. That is, the broken line extraction unit 22A continuously increments the Y coordinate of the target pixel 41 by +1 until the white pixel 41A is extracted. Then, as illustrated in FIG. 5B, the broken line extraction unit 22A stores the pixel coordinates of the white pixel 41A as the candidate white pixel 41C of the upper side 40A of the broken line when the target pixel 41 is the white pixel 41A. It is stored in 13 broken line candidate storage areas 13D.

また、破線抽出部22Aは、対象画素41のY座標が最大座標Mに到達した場合、対象画素41のX座標を+1インクリメントし、Y座標を“0”に設定して、対象画素41が白色画素41Aであるか否かを判定する。そして、破線抽出部22Aは、白色画素41Aが抽出されるまで、対象画素41のY座標を+1インクリメントし、Y座標が最大座標Mに到達した場合、X座標を+1インクリメントするといった一連の動作を繰り返す。   When the Y coordinate of the target pixel 41 reaches the maximum coordinate M, the broken line extraction unit 22A increments the X coordinate of the target pixel 41 by 1 and sets the Y coordinate to “0”, so that the target pixel 41 is white. It is determined whether or not the pixel 41A. Then, the broken line extracting unit 22A performs a series of operations such as incrementing the Y coordinate of the target pixel 41 by +1 until the white pixel 41A is extracted, and incrementing the X coordinate by +1 when the Y coordinate reaches the maximum coordinate M. repeat.

破線抽出部22Aは、対象画素41のX座標に対して、破線模様40の少なくとも1ペア分の白色画素を得るまでX座標の+1インクリメントを継続する。破線抽出部22Aは、同一Y座標上のX座標上で連続する5個の黒色画素41B及び5個の白色画素41Aを経て次のペアの白色画素41Aを得る設定最大座標までX座標のインクリメントを継続する。つまり、破線抽出部22Aは、少なくとも1ペア分の5個の白色画素+1個の白色画素の破線候補が認識できる、X座標の設定最大座標までのインクリメントを継続する。尚、破線抽出部22Aは、撮像画面が白色パターンの場合、破線模様40が5個の黒色画素41B+5個の白色画素41Aのペアを経て次のペアの白色画素41Aを得るまでX座標のインクリメントを実行する。また、破線抽出部22Aは、撮像画面が黒色パターンの場合、破線模様40が5個の白色画素41A+5個の黒色画素41Bのペアを経て次のペアの白色画素41Aを得るまでX座標のインクリメントを実行する。   The broken line extraction unit 22A continues incrementing the X coordinate by +1 until the white pixel for at least one pair of the broken line pattern 40 is obtained with respect to the X coordinate of the target pixel 41. The broken line extraction unit 22A increments the X coordinate up to the set maximum coordinate to obtain the next pair of white pixels 41A through the five black pixels 41B and the five white pixels 41A that are continuous on the X coordinate on the same Y coordinate. continue. That is, the broken line extraction unit 22A continues incrementing up to the set maximum coordinate of the X coordinate in which a broken line candidate of at least one pair of five white pixels + 1 white pixel can be recognized. When the image pickup screen is a white pattern, the broken line extraction unit 22A increments the X coordinate until the broken line pattern 40 obtains the next pair of white pixels 41A through a pair of five black pixels 41B + 5 white pixels 41A. Run. Further, when the imaging screen is a black pattern, the broken line extraction unit 22A increments the X coordinate until the broken line pattern 40 obtains the next pair of white pixels 41A through a pair of five white pixels 41A + 5 black pixels 41B. Run.

破線抽出部22Aは、図5の(C)に示すように、記憶部13の破線候補格納領域13Dに格納された破線上辺40Aの白色画素41Cの画素座標の内、そのY座標が原点座標に最も近接する白色画素42を抽出する。そして、破線抽出部22Aは、これら抽出された白色画素42で破線上辺40Aを特定する。そして、破線抽出部22Aは、破線上辺40Aを特定すると、その破線上辺40Aの白色画素42を含む1ペア分の画素座標を破線格納領域13Eに格納する。   As shown in FIG. 5C, the broken line extraction unit 22A uses the Y coordinate as the origin coordinate among the pixel coordinates of the white pixel 41C on the upper side 40A of the broken line stored in the broken line candidate storage area 13D of the storage unit 13. The closest white pixel 42 is extracted. Then, the broken line extraction unit 22A identifies the upper side 40A of the broken line with these extracted white pixels 42. When the broken line extraction unit 22A specifies the upper side 40A of the broken line, the broken line extraction unit 22A stores the pixel coordinates for one pair including the white pixel 42 on the upper side 40A of the broken line in the broken line storage area 13E.

図6は、画質検査装置1が破線下辺40Bを抽出する際の一例を示す説明図である。破線抽出部22Aは、図6の(A)に示すように、所定座標(X=0、Y=M)を対象画素41の開始座標に設定し、設定された対象画素41が白色画素41Aであるか否かを判定する。破線抽出部22Aは、対象画素41が白色画素41Aでない場合、その対象画素41のY座標を−1デクリメントし、対象画素41が白色画素41Aであるか否かを判定する。更に、破線抽出部22Aは、対象画素41が白色画素41Aでない場合、その対象画素41のY座標を−1デクリメントする。つまり、破線抽出部22Aは、白色画素41Aが抽出されるまで継続して対象画素41のY座標を−1デクリメントする。そして、破線抽出部22Aは、対象画素41が白色画素41Aの場合、当該白色画素41Aを破線下辺40B候補の白色画素41Cとして、その画素座標を破線候補格納領域13Dに格納する。   FIG. 6 is an explanatory diagram illustrating an example when the image quality inspection apparatus 1 extracts the lower side 40B of the broken line. As shown in FIG. 6A, the broken line extraction unit 22A sets predetermined coordinates (X = 0, Y = M) as the start coordinates of the target pixel 41, and the set target pixel 41 is a white pixel 41A. It is determined whether or not there is. When the target pixel 41 is not the white pixel 41A, the broken line extraction unit 22A decrements the Y coordinate of the target pixel 41 by −1 and determines whether the target pixel 41 is the white pixel 41A. Furthermore, when the target pixel 41 is not the white pixel 41A, the broken line extraction unit 22A decrements the Y coordinate of the target pixel 41 by -1. That is, the broken line extraction unit 22A continues to decrement the Y coordinate of the target pixel 41 by −1 until the white pixel 41A is extracted. Then, when the target pixel 41 is the white pixel 41A, the broken line extraction unit 22A stores the white pixel 41A as the white pixel 41C as the candidate for the lower side 40B of the broken line and stores the pixel coordinates in the broken line candidate storage area 13D.

また、破線抽出部22Aは、対象画素41のY座標が最小座標0に到達した場合、対象画素41のX座標を+1インクリメント、Y座標を最大座標Mに設定して、対象画素41が白色画素41Aであるか否かを判定する。そして、破線抽出部22Aは、白色画素41Aが抽出されるまで、対象画素41のY座標を−1デクリメント、Y座標が最大座標Mに到達した場合、X座標を+1インクリメントといった一連の動作を繰り返す。   Further, when the Y coordinate of the target pixel 41 reaches the minimum coordinate 0, the broken line extraction unit 22A sets the X coordinate of the target pixel 41 by +1 and sets the Y coordinate to the maximum coordinate M so that the target pixel 41 is a white pixel. It is determined whether it is 41A. Then, the broken line extraction unit 22A repeats a series of operations such as decrementing the Y coordinate of the target pixel 41 by -1 and extracting the X coordinate by +1 when the Y coordinate reaches the maximum coordinate M until the white pixel 41A is extracted. .

破線抽出部22Aは、対象画素41のX座標は破線模様40の少なくとも1ペア分の5個の白色画素+次のペアの1個の白色画素を得るまでX座標の+1インクリメントを継続する。破線抽出部22Aは、同一Y座標上のX座標上で連続する5個の黒色画素41B及び5個の白色画素41Aを経て次のペアの白色画素41Aを得る設定最大座標までX座標のインクリメントを継続する。つまり、破線抽出部22Aは、少なくとも1ペア+1個の白色画素の破線候補が認識されるまで、X座標の設定最大座標までのインクリメントを継続する。尚、破線抽出部22Aは、撮像画面が白色パターンの場合、破線模様40が5個の黒色画素41B+5個の白色画素41Aを経て次のペアの白色画素41Aを得るまでX座標のインクリメントを実行する。また、破線抽出部22Aは、撮像画面が黒色パターンの場合、破線模様40が5個の白色画素41A+黒色画素41Bを経て次のペアの白色画素41Aを得るまでX座標のインクリメントを実行する。   The broken line extracting unit 22A continues incrementing the X coordinate by +1 until the X coordinate of the target pixel 41 obtains at least one pair of white pixels of the broken line pattern 40 + one white pixel of the next pair. The broken line extraction unit 22A increments the X coordinate up to the set maximum coordinate to obtain the next pair of white pixels 41A through the five black pixels 41B and the five white pixels 41A that are continuous on the X coordinate on the same Y coordinate. continue. That is, the broken line extracting unit 22A continues incrementing up to the set maximum coordinate of the X coordinate until a broken line candidate of at least one pair + 1 white pixel is recognized. In addition, when the imaging screen is a white pattern, the broken line extraction unit 22A executes the increment of the X coordinate until the broken line pattern 40 obtains the next pair of white pixels 41A through five black pixels 41B + 5 white pixels 41A. . In addition, when the imaging screen has a black pattern, the broken line extraction unit 22A performs incrementing of the X coordinate until the broken line pattern 40 obtains the next pair of white pixels 41A through the five white pixels 41A + black pixels 41B.

破線抽出部22Aは、図6の(B)に示すように、破線候補格納領域13Dに格納された破線下辺40Bの白色画素41Cの画素座標の内、そのY座標が原点座標に最も遠い白色画素42を抽出し、これら抽出された白色画素42で破線下辺40Bを特定する。そして、破線抽出部22Aは、破線下辺40Bが特定されると、その破線下辺40Bの白色画素42を含む1ペア分の画素座標を破線格納領域13Eに格納する。   The broken line extraction unit 22A, as shown in FIG. 6B, among the pixel coordinates of the white pixel 41C of the lower side 40B of the broken line stored in the broken line candidate storage area 13D, the white pixel whose Y coordinate is farthest from the origin coordinate 42 is extracted, and the lower side 40B of the broken line is specified by the extracted white pixels 42. When the broken line lower side 40B is specified, the broken line extraction unit 22A stores a pair of pixel coordinates including the white pixel 42 of the broken line lower side 40B in the broken line storage area 13E.

選別部23は、抽出部22によって抽出された破線模様40を用いて、複数の撮像画面から検査パターンPを選別する。図7は、画質検査装置1が検査パターンPを選別する際の一例を示す説明図である。選別部23は、破線抽出部22Aにて特定された破線上辺40A及び破線下辺40Bの同一X座標同士の画素が一致するか否かを判定する。選別部23は、同一X座標同士の画素が全て一致した場合、図7の(A)に示すように、この撮像画面が検査対象の検査パターンPと判定する。尚、選別部23は、破線上辺40Aの(Xun,Yun)の画素と、破線下辺40Bの(Xun,Ydn)の画素とを比較して一致するか否かを判定する。更に、選別部23は、破線上辺40Aの(Xun+1,Yun)の画素と、破線下辺40Bの(Xun+1,Ydn)の画素とを比較して一致するか否かを判定する。そして、選別部23は、破線上辺40Aの1ペア分の白色画素41A及び破線下辺40Bの1ペア分の白色画素41Aの内、同一X座標の画素が全て一致した場合、この撮像画面が検査対象の検査パターンPと判定する。尚、選別部23は、破線上辺40Aの1ペア分の画素及び破線下辺40Bの1ペア分の画素の内、同一X座標の画素同士を比較して判定しても良い。   The selection unit 23 uses the broken line pattern 40 extracted by the extraction unit 22 to select the inspection pattern P from the plurality of imaging screens. FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example when the image quality inspection apparatus 1 selects the inspection pattern P. The selection unit 23 determines whether or not the pixels of the same X coordinate on the upper side 40A and the lower side 40B of the broken line specified by the broken line extraction unit 22A match. When all the pixels having the same X coordinate coincide with each other, the selection unit 23 determines that the imaging screen is the inspection pattern P to be inspected as illustrated in FIG. The selection unit 23 compares the pixel (Xun, Yun) on the upper side 40A of the broken line with the pixel (Xun, Ydn) on the lower side 40B of the broken line to determine whether or not they match. Further, the selection unit 23 compares the pixel (Xun + 1, Yun) on the upper side 40A of the broken line with the pixel (Xun + 1, Ydn) on the lower side 40B of the broken line to determine whether or not they match. Then, when all of the pixels of the same X coordinate are matched among the white pixels 41A for one pair of the upper side 40A of the broken line and the white pixels 41A for one pair of the lower side 40B of the broken line, the selecting unit 23 determines that this imaging screen is an inspection target. The inspection pattern P is determined. Note that the selection unit 23 may make a determination by comparing pixels of the same X coordinate among a pair of pixels of the upper side 40A of the broken line and a pair of pixels of the lower side 40B of the broken line.

また、選別部23は、破線上辺40A及び破線下辺40Bの同一X座標同士の画素が全て一致しなかった場合、図7の(B)に示すように、切替途中や障害パターン等の検査対象の検査パターンPでないと判定する。更に、選別部23は、複数の撮像画面の内、検査パターンPが選別されると、これら選別された検査パターンP内の中央範囲の画素が白色であるか否かを判定する。選別部23は、検査パターンP内の中央範囲の画素が白色の場合、検査パターンPを白色パターンWPと選別する。更に、選別部23は、検査パターンP内の中央範囲の画素が白色でない場合、検査パターンPを黒色パターンBPと選別する。   In addition, when all the pixels of the same X coordinate on the upper side 40A and the lower side 40B of the broken line do not match, the sorting unit 23 selects the inspection target such as during switching or an obstacle pattern as shown in FIG. It is determined that it is not the inspection pattern P. Further, when the inspection pattern P is selected from the plurality of imaging screens, the selection unit 23 determines whether or not the pixels in the center range in the selected inspection pattern P are white. The sorting unit 23 sorts the inspection pattern P from the white pattern WP when the pixel in the center range in the inspection pattern P is white. Further, the sorting unit 23 sorts the inspection pattern P from the black pattern BP when the pixel in the center range in the inspection pattern P is not white.

検査部24は、選別部23によって選別された白色パターンWP及び黒色パターンBPを用いて、検査対象のディスプレイ3の画質検査を実行する。検査部24は、白色パターンWPを使用して、例えば、部分的な表示の異常を示す部分表示異常、暗点(暗線)の異常、輝度の異常、色ムラの異常や左右の歪みの検査を実行する。また、検査部24は、黒色パターンBPを使用して、輝点(輝線)の異常の検査を実行する。また、検査部24は、白色パターンWPの破線模様40の黒部分につき、黒色パターンBPの破線模様40の白部分を使用して部分表示異常、暗点(暗線)の異常、輝度の異常、色ムラの異常の検査を実行する。また、検査部24は、黒色パターンBPの破線模様40の黒部分につき、白色パターンWPの破線模様40の白部分を使用して部分表示異常、暗点(暗線)の異常、輝度の異常、色ムラの異常の検査を実行する。   The inspection unit 24 performs an image quality inspection of the display 3 to be inspected using the white pattern WP and the black pattern BP selected by the selection unit 23. The inspection unit 24 uses the white pattern WP to inspect, for example, partial display abnormality indicating partial display abnormality, dark spot (dark line) abnormality, luminance abnormality, color unevenness abnormality, and left and right distortion. Run. In addition, the inspection unit 24 performs an inspection for abnormalities of bright spots (bright lines) using the black pattern BP. Further, the inspection unit 24 uses the white portion of the broken line pattern 40 of the black pattern BP for the black portion of the broken line pattern 40 of the white pattern WP, the partial display abnormality, the dark spot (dark line) abnormality, the luminance abnormality, the color. Perform inspection for irregularities. In addition, the inspection unit 24 uses the white portion of the broken line pattern 40 of the white pattern WP for the black portion of the broken line pattern 40 of the black pattern BP, the partial display abnormality, the dark spot (dark line) abnormality, the luminance abnormality, the color Perform inspection for irregularities.

次に本実施例の画質検査装置1の動作について説明する。図8は、検査処理に関わる画質検査装置1の制御部14の処理動作の一例を示すフローチャートである。図8に示す検査処理は、撮像エリアQ内で検査対象のディスプレイ3の画面を連続撮像し、撮像した画面から2種類の検査パターンPを選別し、選別された2種類の検査パターンPを用いて検査対象のディスプレイ3の画質検査を実行する処理である。   Next, the operation of the image quality inspection apparatus 1 of this embodiment will be described. FIG. 8 is a flowchart showing an example of the processing operation of the control unit 14 of the image quality inspection apparatus 1 related to the inspection process. The inspection process shown in FIG. 8 continuously images the screen of the display 3 to be inspected in the imaging area Q, selects two types of inspection patterns P from the captured screen, and uses the selected two types of inspection patterns P. This is a process for executing the image quality inspection of the display 3 to be inspected.

図8において制御部14は、検査対象のディスプレイ3が撮像エリアQ内にあるか否かを判定する(ステップS11)。制御部14は、検査対象のディスプレイ3が撮像エリアQ内にある場合(ステップS11肯定)、撮像部11Aを使用して検査対象のディスプレイ3の画面を連続撮像する(ステップS12)。尚、撮像部11Aは、撮像エリアQ内に存在する検査対象のディスプレイ3の画面を所定枚数連続的に撮像する。   In FIG. 8, the control unit 14 determines whether or not the display 3 to be inspected is within the imaging area Q (step S11). When the display 3 to be inspected is within the imaging area Q (Yes at Step S11), the control unit 14 continuously images the screen of the display 3 to be inspected using the imaging unit 11A (Step S12). Note that the imaging unit 11A continuously images a predetermined number of screens of the display 3 to be inspected present in the imaging area Q.

制御部14の抽出部22は、検査対象の画面を連続撮像すると、後述の図9に示す画面抽出処理を実行する(ステップS13)。制御部14の選別部23は、画面抽出処理を実行した後、白色パターンWP及び黒色パターンBPの2種類の検査パターンPを取得したか否かを判定する(ステップS14)。制御部14の検査部24は、2種類の検査パターンPを取得した場合(ステップS14肯定)、白色パターンWP及び黒色パターンBPを用いて当該ディスプレイ3の画面を検査する画質検査処理を実行し(ステップS15)、図8に示す処理動作を終了する。   When the extraction unit 22 of the control unit 14 continuously captures the screen to be inspected, the extraction unit 22 performs a screen extraction process shown in FIG. 9 (step S13). After executing the screen extraction process, the selection unit 23 of the control unit 14 determines whether two types of inspection patterns P, which are the white pattern WP and the black pattern BP, have been acquired (Step S14). When the inspection unit 24 of the control unit 14 acquires two types of inspection patterns P (Yes at Step S14), the inspection unit 24 executes image quality inspection processing for inspecting the screen of the display 3 using the white pattern WP and the black pattern BP ( Step S15), the processing operation shown in FIG.

制御部14は、検査対象のディスプレイ3が撮像エリアQ内にない場合(ステップS11否定)、図8に示す処理動作を終了する。抽出部22は、2種類の検査パターンを取得しなかった場合(ステップS14否定)、撮像された検査対象のディスプレイ3の複数の撮像画面の内、画面抽出処理が未処理の撮像画面があるか否かを判定する(ステップS16)。抽出部22は、画面抽出処理が未処理の撮像画面がある場合(ステップS16肯定)、未処理の撮像画面に対する画面抽出処理を実行すべく、ステップS13に移行する。   When the display 3 to be inspected is not in the imaging area Q (No at Step S11), the control unit 14 ends the processing operation illustrated in FIG. If the extraction unit 22 has not acquired two types of inspection patterns (No in step S14), is there an imaging screen that has not been subjected to screen extraction processing among the plurality of imaging screens of the imaged display 3 to be inspected? It is determined whether or not (step S16). If there is an imaging screen that has not undergone screen extraction processing (Yes at Step S16), the extraction unit 22 proceeds to Step S13 in order to perform screen extraction processing on the imaging screen that has not been processed.

また、制御部14は、画面抽出処理が未処理の撮像画面がない場合(ステップS16否定)、当該検査対象のディスプレイ3の画質検査が不可である旨の画質検査不可を報知し(ステップS17)、図8に示す処理動作を終了する。尚、制御部14は、例えば表示部12に画質検査不可の報知内容を画面表示する。その結果、画質検査装置1の管理者は、その報知内容を見て、検査対象のディスプレイ3の画質検査不可を認識できる。   Further, when there is no imaging screen that has not undergone screen extraction processing (No at Step S16), the control unit 14 notifies that the image quality inspection of the display 3 to be inspected is impossible (Step S17). Then, the processing operation shown in FIG. For example, the control unit 14 displays on the display unit 12 a notification content indicating that the image quality inspection is impossible. As a result, the administrator of the image quality inspection apparatus 1 can recognize that the image quality inspection of the display 3 to be inspected is not possible by looking at the notification content.

図8において画質検査装置1は、撮像エリアQ内の検査対象のディスプレイ3の画面を連続撮像し、これら連続した複数の撮像画面の内、白色パターンWP及び黒色パターンBPの2種類の検査対象となる検査パターンPを取得する。そして、画質検査装置1は、取得された2種類の検査対象となる検査パターンPを用いて、検査対象のディスプレイ3の画面の画質検査を実行する。   In FIG. 8, the image quality inspection apparatus 1 continuously images the screen of the display 3 to be inspected in the imaging area Q, and among the plurality of continuous imaging screens, two types of inspection objects, a white pattern WP and a black pattern BP, An inspection pattern P is obtained. Then, the image quality inspection apparatus 1 performs an image quality inspection of the screen of the display 3 to be inspected using the acquired two types of inspection patterns P to be inspected.

また、画質検査装置1は、複数の撮像画面の内、2枚の撮像画面で白色パターンWP及び黒色パターンBPを取得できた場合、3枚目以降の未処理の撮像画面に対する検査パターンPの取得を停止する。その結果、画質検査装置1は、画質検査に要する必要最小限である2枚の撮像画面に対する処理で済むため、その検査に要する処理負担を軽減し、その検査に要する時間を短縮化できる。   In addition, when the image quality inspection apparatus 1 can acquire the white pattern WP and the black pattern BP from two imaging screens among a plurality of imaging screens, the image quality inspection apparatus 1 acquires the inspection pattern P for the third and subsequent unprocessed imaging screens. To stop. As a result, the image quality inspection apparatus 1 only needs to process two imaging screens, which is the minimum necessary for the image quality inspection, so that the processing burden required for the inspection can be reduced and the time required for the inspection can be shortened.

また、画質検査装置1は、複数の撮像画面の内、2種類の検査パターンPを取得できない場合、画質検査不可を報知するため、管理者は、検査対象のディスプレイ3の画質検査不可を認識できる。   In addition, the image quality inspection apparatus 1 notifies that the image quality inspection is impossible when the two types of inspection patterns P cannot be acquired from the plurality of imaging screens, and thus the administrator can recognize that the image quality inspection of the display 3 to be inspected is not possible. .

図9は、画面抽出処理に関わる制御部14の処理動作の一例を示すフローチャートである。図9に示す画面抽出処理は、複数の撮像画面から検査対象となる検査パターンPの撮像画面を抽出する処理である。図9に示す制御部14の抽出部22は、取込部21で取り込まれた検査対象の撮像画面をグレイスケール(8ビット:0〜255)に変換する(ステップS21)。抽出部22は、撮像画面をグレイスケールに変換した後、撮像画面上の各画素の輝度値を記憶部13内の輝度格納領域13Bに格納する(ステップS22)。抽出部22は、撮像画面内の各画素の輝度値を二値化する(ステップS23)。   FIG. 9 is a flowchart illustrating an example of a processing operation of the control unit 14 related to the screen extraction process. The screen extraction process shown in FIG. 9 is a process for extracting the imaging screen of the inspection pattern P to be inspected from a plurality of imaging screens. The extraction unit 22 of the control unit 14 illustrated in FIG. 9 converts the imaging screen to be inspected captured by the capture unit 21 into a gray scale (8 bits: 0 to 255) (step S21). The extraction unit 22 converts the imaging screen into a gray scale, and then stores the luminance value of each pixel on the imaging screen in the luminance storage area 13B in the storage unit 13 (step S22). The extraction unit 22 binarizes the luminance value of each pixel in the imaging screen (step S23).

抽出部22は、撮像画面内の各画素の輝度値を二値化した後、二値化した各画素の内、白色の画素を抽出する(ステップS24)。抽出部22は、抽出した白色の画素の座標を記憶部13の白色画素格納領域13Cに格納する(ステップS25)。尚、白色画素格納領域13Cには、白色画素の座標(画素座標)を格納するものである。   The extraction unit 22 binarizes the luminance value of each pixel in the imaging screen, and then extracts a white pixel from the binarized pixels (step S24). The extraction unit 22 stores the extracted white pixel coordinates in the white pixel storage area 13C of the storage unit 13 (step S25). The white pixel storage area 13C stores white pixel coordinates (pixel coordinates).

抽出部22は、白色画素41Aの画素座標を白色画素格納領域13Cに格納した後、白色画素41Aの座標に基づき、破線模様40を抽出する破線抽出処理を実行する(ステップS26)。尚、破線抽出処理は、図10及び図11を参照して後述する。抽出部22は、破線抽出処理を実行した後、撮像画面内から破線上辺40A及び破線下辺40Bを抽出したか否かを判定する(ステップS27)。   The extraction unit 22 stores the pixel coordinates of the white pixel 41A in the white pixel storage area 13C, and then executes a broken line extraction process for extracting the broken line pattern 40 based on the coordinates of the white pixel 41A (step S26). The broken line extraction process will be described later with reference to FIGS. After executing the broken line extraction process, the extraction unit 22 determines whether or not the broken line upper side 40A and the broken line lower side 40B are extracted from the imaging screen (step S27).

制御部14の選別部23は、撮像画面から破線上辺40A及び破線下辺40Bを抽出した場合(ステップS27肯定)、破線上辺40A及び破線下辺40Bの画素の内、同一X座標同士の画素が全て一致したか否かを判定する(ステップS28)。選別部23は、破線上辺40A及び破線下辺40Bの画素の内、同一X座標同士の画素が全て一致した場合(ステップS28肯定)、検査対象となる検査パターンPと判定する。選別部23は、検査対象となる検査パターンPと判定すると、撮像画面の中央範囲の画素41が白色であるか否かを判定する(ステップS29)。   When the selection unit 23 of the control unit 14 extracts the upper side 40A of the broken line and the lower side 40B of the broken line from the imaging screen (Yes in step S27), all the pixels of the same X coordinate among the pixels of the upper side 40A of the broken line and the lower side 40B of the broken line match. It is determined whether or not (step S28). The sorting unit 23 determines that the inspection pattern P to be inspected when all the pixels of the same X coordinate among the pixels of the upper side 40A and the lower side 40B of the broken line match (Yes in Step S28). If it determines with the test | inspection pattern P used as test | inspection object, the selection part 23 will determine whether the pixel 41 of the center range of an imaging screen is white (step S29).

選別部23は、撮像画面の中央範囲の画素41が白色である場合(ステップS29肯定)、当該撮像画面の検査パターンPを白色パターンWPと判定し(ステップS30)、図9に示す処理動作を終了する。選別部23は、撮像画面の中央範囲の画素41が白色でない場合(ステップS29否定)、当該撮像画面の検査パターンPを黒色パターンBPと判定し(ステップS31)、図9に示す処理動作を終了する。   When the pixel 41 in the center range of the imaging screen is white (Yes at Step S29), the selection unit 23 determines the inspection pattern P of the imaging screen as the white pattern WP (Step S30), and performs the processing operation illustrated in FIG. finish. When the pixel 41 in the center range of the imaging screen is not white (No at Step S29), the selection unit 23 determines that the inspection pattern P on the imaging screen is the black pattern BP (Step S31), and ends the processing operation illustrated in FIG. To do.

また、抽出部22は、破線上辺40A及び破線下辺40Bを抽出しなかった場合(ステップS27否定)、未処理の画面があるか否かを判定すべく、図8に示すM1のステップS16に移行する。また、選別部23は、破線上辺40A及び破線下辺40Bの画素の内、同一X座標同士の画素が全て一致しなかった場合(ステップS28否定)、図8に示すM1に移行する。   If the extraction unit 22 does not extract the broken line upper side 40A and the broken line lower side 40B (No at Step S27), the extraction unit 22 proceeds to Step S16 of M1 shown in FIG. 8 to determine whether or not there is an unprocessed screen. To do. Further, when all of the pixels with the same X coordinate do not match among the pixels on the upper side 40A and the lower side 40B of the broken line (No in step S28), the selecting unit 23 proceeds to M1 illustrated in FIG.

図9において画質検査装置1は、撮像画面の白色画素41Aで破線上辺40A及び破線下辺40Bを抽出し、破線上辺40A及び破線下辺40Bの画素の内、同一X座標同士の画素が全て一致した場合、撮像画面が検査対象となる検査パターンPと判定する。その結果、画質検査装置1は、複数の撮像画面から検査対象となる検査パターンPを取得できる。   In FIG. 9, the image quality inspection apparatus 1 extracts the upper side 40A and the lower side 40B of the broken line from the white pixel 41A on the imaging screen, and the pixels of the same X coordinate among the pixels of the upper side 40A and the lower side 40B of the broken line match. The imaging screen is determined as the inspection pattern P to be inspected. As a result, the image quality inspection apparatus 1 can acquire the inspection pattern P to be inspected from a plurality of imaging screens.

更に、画質検査装置1は、検査パターンPの中央範囲が白色の場合、検査パターンPが白色パターンWPと判定する。その結果、画質検査装置1は、検査対象となる検査パターンPから白色パターンWPを選別できる。   Furthermore, when the central range of the inspection pattern P is white, the image quality inspection apparatus 1 determines that the inspection pattern P is a white pattern WP. As a result, the image quality inspection apparatus 1 can select the white pattern WP from the inspection pattern P to be inspected.

更に、画質検査装置1は、検査パターンPの中央範囲が白色でない場合、検査パターンPが黒色パターンBPと判定する。その結果、画質検査装置1は、検査対象となる検査パターンPから黒色パターンBPを選別できる。   Furthermore, when the central range of the inspection pattern P is not white, the image quality inspection apparatus 1 determines that the inspection pattern P is a black pattern BP. As a result, the image quality inspection apparatus 1 can select the black pattern BP from the inspection pattern P to be inspected.

画質検査装置1は、抽出された破線上辺40A及び破線下辺40Bの画素の内、同一X座標同士の画素が全て一致しなかった場合、撮像画面が検査に不要な画面(障害画面や切替途中の画面)と判定する。その結果、画質検査装置1は、複数の撮像画面から検査に不要な画面を識別できる。   When the pixels of the same X coordinate among the extracted pixels on the upper side 40A and the lower side 40B of the broken line do not all match, the image quality inspection apparatus 1 does not need an imaging screen for inspection (failure screen or during switching). Screen). As a result, the image quality inspection apparatus 1 can identify a screen unnecessary for inspection from a plurality of imaging screens.

図10及び図11は、破線抽出処理に関わる制御部14の処理動作の一例を示すフローチャートである。破線抽出処理は、撮像画面内の破線上辺40A及び破線下辺40Bを特定する処理である。図10において制御部14の破線抽出部22Aは、撮像画面内の検査対象の画素、すなわち原点座標(X0,Y0)を対象画素41の開始座標に設定し(ステップS41)、対象画素41が白色画素41Aであるか否かを判定する(ステップS42)。破線抽出部22Aは、対象画素41が白色画素41Aでない場合(ステップS42否定)、対象画素41のY座標を+1インクリメントし(ステップS43)、対象画素41が白色画素41Aであるか否かを判定する(ステップS44)。   10 and 11 are flowcharts illustrating an example of the processing operation of the control unit 14 related to the broken line extraction process. The broken line extraction process is a process of specifying the upper side 40A and the lower side 40B of the broken line in the imaging screen. In FIG. 10, the broken line extraction unit 22A of the control unit 14 sets the pixel to be inspected in the imaging screen, that is, the origin coordinates (X0, Y0) as the start coordinates of the target pixel 41 (step S41), and the target pixel 41 is white. It is determined whether or not it is the pixel 41A (step S42). When the target pixel 41 is not the white pixel 41A (No at Step S42), the broken line extraction unit 22A increments the Y coordinate of the target pixel 41 by 1 (Step S43) and determines whether the target pixel 41 is the white pixel 41A. (Step S44).

破線抽出部22Aは、対象画素41が白色画素41Aでない場合(ステップS44否定)、対象画素41のY座標が最大座標Mであるか否かを判定する(ステップS45)。破線抽出部22Aは、対象画素41のY座標が最大座標Mでない場合(ステップS45否定)、対象画素41のY座標を+1インクリメントすべく、ステップS43に移行する。破線抽出部22Aは、対象画素41のY座標が最大座標Mの場合(ステップS45肯定)、対象画素41のX座標を+1インクリメントする(ステップS46)。更に、破線抽出部22Aは、対象画素41のY座標を最小座標(Y=0)に設定し(ステップS47)、対象画素41が白色画素41Aであるか否かを判定すべく、ステップS42に移行する。   When the target pixel 41 is not the white pixel 41A (No at Step S44), the broken line extraction unit 22A determines whether the Y coordinate of the target pixel 41 is the maximum coordinate M (Step S45). When the Y coordinate of the target pixel 41 is not the maximum coordinate M (No at Step S45), the broken line extraction unit 22A proceeds to Step S43 to increment the Y coordinate of the target pixel 41 by +1. When the Y coordinate of the target pixel 41 is the maximum coordinate M (Yes at Step S45), the broken line extraction unit 22A increments the X coordinate of the target pixel 41 by 1 (Step S46). Furthermore, the broken line extraction unit 22A sets the Y coordinate of the target pixel 41 to the minimum coordinate (Y = 0) (step S47), and determines whether the target pixel 41 is the white pixel 41A or not in step S42. Transition.

破線抽出部22Aは、対象画素41が白色画素41Aの場合(ステップS42肯定)、当該白色画素41Aを破線上辺40A候補の白色画素41Cとして、その画素座標を破線候補格納領域13Dに格納する(ステップS48)。破線抽出部22Aは、白色画素41Cの画素座標を破線候補格納領域13Dに格納すると、対象画素41のX座標が設定最大座標であるか否かを判定する(ステップS49)。尚、設定最大座標は、パラメータ格納領域13Aで格納された検査対象のディスプレイ3の寸法や破線模様40の設定内容(1ペアを構成する白色画素及び黒色画素の個数及び配列画素順序)に基づいて設定されるものである。設定最大座標は、少なくとも1ペア分の白色画素及び黒色画素、次のペアの白色画素が抽出される予定のX座標の幅である。破線抽出部22Aは、対象画素41のX座標が設定最大座標でない場合(ステップS49否定)、対象画素41のX座標を+1インクリメントすべく、ステップS46に移行する。また、破線抽出部22Aは、対象画素41が白色画素41Aの場合(ステップS44肯定)、破線上辺40A候補の画面座標を格納すべく、ステップS48に移行する。   When the target pixel 41 is the white pixel 41A (Yes at Step S42), the broken line extraction unit 22A sets the white pixel 41A as the white pixel 41C of the upper line 40A candidate and stores the pixel coordinates in the broken line candidate storage area 13D (Step S42). S48). When the broken line extraction unit 22A stores the pixel coordinates of the white pixel 41C in the broken line candidate storage area 13D, the broken line extraction unit 22A determines whether or not the X coordinate of the target pixel 41 is the set maximum coordinate (step S49). The set maximum coordinates are based on the dimensions of the display 3 to be inspected stored in the parameter storage area 13A and the set contents of the broken line pattern 40 (the number of white pixels and black pixels constituting one pair and the order of array pixels). Is set. The set maximum coordinate is the width of the X coordinate from which at least one pair of white and black pixels and the next pair of white pixels are to be extracted. When the X coordinate of the target pixel 41 is not the set maximum coordinate (No at Step S49), the broken line extraction unit 22A proceeds to Step S46 to increment the X coordinate of the target pixel 41 by +1. When the target pixel 41 is the white pixel 41A (Yes at Step S44), the broken line extraction unit 22A proceeds to Step S48 so as to store the screen coordinates of the candidate upper side 40A of the broken line.

また、破線抽出部22Aは、対象画素41のX座標が設定最大座標である場合(ステップS49肯定)、破線上辺40A候補の白色画素41Cの画素座標の内、Y座標が原点座標(Y=0)に最も近い画素座標を収集する(ステップS50)。破線抽出部22Aは、Y座標が原点座標に最も近い破線上辺40A候補の白色画素41Cの画素座標を収集すると、収集された破線上辺40A候補の白色画素42の画素座標で破線上辺40Aを特定し(ステップS51)、図11に示すM2に移行する。   In addition, when the X coordinate of the target pixel 41 is the set maximum coordinate (Yes in step S49), the broken line extraction unit 22A determines that the Y coordinate is the origin coordinate (Y = 0) among the pixel coordinates of the white pixel 41C of the candidate upper side 40A of the broken line. The pixel coordinates closest to) are collected (step S50). When the broken line extraction unit 22A collects the pixel coordinates of the white pixel 41C of the candidate upper line 40A of the broken line 40A whose Y coordinate is closest to the origin coordinate, the broken line extraction unit 22A identifies the upper line 40A of the broken line with the pixel coordinates of the white pixel 42 of the candidate upper line 40A (Step S51), the process proceeds to M2 shown in FIG.

また、破線抽出部22Aは、対象画素41のY座標が最大座標Mでない場合(ステップS45否定)、対象画素41のY座標を+1インクリメントすべく、ステップS43に移行する。また、破線抽出部22Aは、対象画素41のX座標が設定最大座標でない場合(ステップS49否定)、対象画素41のX座標を+1インクリメントすべく、ステップS46に移行する。   When the Y coordinate of the target pixel 41 is not the maximum coordinate M (No at Step S45), the broken line extraction unit 22A proceeds to Step S43 to increment the Y coordinate of the target pixel 41 by +1. When the X coordinate of the target pixel 41 is not the set maximum coordinate (No at Step S49), the broken line extraction unit 22A proceeds to Step S46 to increment the X coordinate of the target pixel 41 by +1.

また、図11に示すM2において破線抽出部22Aは、撮像画面内の所定座標(X=0,Y=M)を対象画素41の開始座標に設定し(ステップS61)、対象画素41が白色画素41Aであるか否かを判定する(ステップS62)。破線抽出部22Aは、対象画素41が白色画素41Aでない場合(ステップS62否定)、対象画素41のY座標を−1デクリメントし(ステップS63)、対象画素41が白色画素41Aであるか否かを判定する(ステップS64)。   Further, in M2 shown in FIG. 11, the broken line extraction unit 22A sets predetermined coordinates (X = 0, Y = M) in the imaging screen as the start coordinates of the target pixel 41 (step S61), and the target pixel 41 is a white pixel. It is determined whether it is 41A (step S62). When the target pixel 41 is not the white pixel 41A (No at Step S62), the broken line extraction unit 22A decrements the Y coordinate of the target pixel 41 by −1 (Step S63) and determines whether the target pixel 41 is the white pixel 41A. Determination is made (step S64).

破線抽出部22Aは、対象画素41が白色画素41Aでない場合(ステップS64否定)、対象画素41のY座標が最小座標(Y=0)であるか否かを判定する(ステップS65)。破線抽出部22Aは、対象画素41のY座標が最小座標でない場合(ステップS65否定)、対象画素41のY座標を−1デクリメントすべく、ステップS63に移行する。破線抽出部22Aは、対象画素41のY座標が最小座標(Y=0)の場合(ステップS65肯定)、対象画素41のX座標を+1インクリメントする(ステップS66)。破線抽出部22Aは、対象画素41のX座標を+1インクリメントした後、対象画素41のY座標を最大座標Mに設定し(ステップS67)、対象画素41が白色画素41Aであるか否かを判定すべく、ステップS62に移行する。   When the target pixel 41 is not the white pixel 41A (No at Step S64), the broken line extraction unit 22A determines whether or not the Y coordinate of the target pixel 41 is the minimum coordinate (Y = 0) (Step S65). When the Y coordinate of the target pixel 41 is not the minimum coordinate (No at Step S65), the broken line extraction unit 22A proceeds to Step S63 to decrement the Y coordinate of the target pixel 41 by -1. When the Y coordinate of the target pixel 41 is the minimum coordinate (Y = 0) (Yes at Step S65), the broken line extraction unit 22A increments the X coordinate of the target pixel 41 by +1 (Step S66). The broken line extraction unit 22A increments the X coordinate of the target pixel 41 by +1, sets the Y coordinate of the target pixel 41 to the maximum coordinate M (step S67), and determines whether the target pixel 41 is the white pixel 41A. Therefore, the process proceeds to step S62.

破線抽出部22Aは、対象画素41が白色画素41Aの場合(ステップS62肯定)、当該白色画素41Aを破線下辺40B候補の白色画素41Cとして、その画素座標を破線候補格納領域13Dに格納する(ステップS68)。破線抽出部22Aは、白色画素41Cの画素座標を破線候補格納領域13Dに格納すると、対象画素41のX座標が設定最大座標であるか否かを判定する(ステップS69)。破線抽出部22Aは、対象画素41のX座標が設定最大座標でない場合(ステップS69否定)、対象画素41のX座標を+1インクリメントすべく、ステップS66に移行する。   When the target pixel 41 is the white pixel 41A (Yes at Step S62), the broken line extraction unit 22A sets the white pixel 41A as the white pixel 41C of the broken line lower side 40B candidate and stores the pixel coordinates in the broken line candidate storage area 13D (Step S62). S68). When the broken line extraction unit 22A stores the pixel coordinates of the white pixel 41C in the broken line candidate storage area 13D, the broken line extraction unit 22A determines whether or not the X coordinate of the target pixel 41 is the set maximum coordinate (step S69). When the X coordinate of the target pixel 41 is not the set maximum coordinate (No at Step S69), the broken line extraction unit 22A proceeds to Step S66 to increment the X coordinate of the target pixel 41 by +1.

また、破線抽出部22Aは、対象画素41のX座標が設定最大座標である場合(ステップS69肯定)、破線下辺40B候補の白色画素41Cの画素座標の内、Y座標が原点座標(Y=0)に最も遠い画素座標を収集する(ステップS70)。破線抽出部22Aは、Y座標が原点座標から最も遠い破線下辺40B候補の白色画素41Cの画素座標を収集すると、収集された破線下辺40B候補の白色画素42の画素座標で破線下辺40Bを特定し(ステップS71)、図11に示す処理動作を終了する。   In addition, when the X coordinate of the target pixel 41 is the set maximum coordinate (Yes in step S69), the broken line extraction unit 22A determines that the Y coordinate is the origin coordinate (Y = 0) among the pixel coordinates of the white pixel 41C of the broken line lower side 40B candidate. ) Is collected the most distant pixel coordinates (step S70). When the broken line extraction unit 22A collects the pixel coordinates of the white pixel 41C of the broken line lower side 40B candidate whose Y coordinate is farthest from the origin coordinate, the broken line extraction unit 22A specifies the broken line lower side 40B from the collected pixel coordinates of the white pixel 42 of the broken line lower side 40B candidate. (Step S71), the processing operation shown in FIG. 11 is terminated.

また、破線抽出部22Aは、対象画素41のY座標が最小座標(Y=0)でない場合(ステップS65否定)、対象画素41のY座標を−1デクリメントすべく、ステップS63に移行する。また、破線抽出部22Aは、対象画素41のX座標が設定最大座標でない場合(ステップS69否定)、対象画素41のX座標を+1インクリメントすべく、ステップS66に移行する。また、破線抽出部22Aは、対象画素41が白色画素41Aの場合(ステップS64肯定)、破線下辺40B候補の画面座標を格納すべく、ステップS68に移行する。   When the Y coordinate of the target pixel 41 is not the minimum coordinate (Y = 0) (No at Step S65), the broken line extraction unit 22A proceeds to Step S63 to decrement the Y coordinate of the target pixel 41 by -1. When the X coordinate of the target pixel 41 is not the set maximum coordinate (No at Step S69), the broken line extraction unit 22A proceeds to Step S66 to increment the X coordinate of the target pixel 41 by +1. When the target pixel 41 is the white pixel 41A (Yes at Step S64), the broken line extraction unit 22A proceeds to Step S68 to store the screen coordinates of the broken line lower side 40B candidate.

画質検査装置1は、撮像画面内の各画素41の白色画素41Aを順次探索して破線上辺40A候補の白色画素41Cの画素座標を破線候補格納領域13Dに格納すると共に、破線下辺40B候補の白色画素41Cの画素座標を破線候補格納領域13Dに格納する。更に、画質検査装置1は、破線候補格納領域13Dの破線上辺40A候補の白色画素41CのY座標が原点座標(0,0)から最も近い画素座標の白色画素42で破線上辺40Aを特定する。更に、画質検査装置1は、破線候補格納領域13Dの破線下辺40B候補の白色画素41CのY座標が原点座標(0,0)から最も遠い画素座標の白色画素42で破線下辺40Bを特定する。その結果、画質検査装置1は、撮像画面上で破線上辺40A及び破線下辺40Bを特定できる。   The image quality inspection apparatus 1 sequentially searches for the white pixel 41A of each pixel 41 in the imaging screen, stores the pixel coordinates of the white pixel 41C of the upper line 40A candidate in the broken line candidate storage area 13D, and white of the lower line 40B candidate of the broken line The pixel coordinates of the pixel 41C are stored in the broken line candidate storage area 13D. Further, the image quality inspection apparatus 1 specifies the upper side 40A of the broken line with the white pixel 42 having the pixel coordinate closest to the origin coordinate (0, 0) of the white pixel 41C of the candidate 40A of the upper side 40A of the broken line candidate storage area 13D. Furthermore, the image quality inspection apparatus 1 specifies the lower side 40B of the broken line with the white pixel 42 having the pixel coordinate farthest from the origin coordinates (0, 0) as the Y coordinate of the white pixel 41C on the lower side 40B of the broken line candidate storage area 13D. As a result, the image quality inspection apparatus 1 can specify the upper side 40A and the lower side 40B of the broken line on the imaging screen.

上記実施例では、画質検査装置1が、取り込まれた複数の撮像画面から、外枠の破線上辺40Aと破線下辺40Bとが一致した検査パターンPの撮像画面を抽出し、これら抽出された撮像画面から白色パターンWP及び黒色パターンBPを選別する。更に、画質検査装置1は、これら選別された白色パターンWP及び黒色パターンBPを用いて、検査対象のディスプレイ3の画面に対する画質検査を実行する。その結果、画質検査装置1は、画質検査に要する撮像画面を最小限に抑えて画質検査に要する処理負担を軽減できる。例えば、3枚の撮像画面を読み込んだとしても、画質検査に必要な白色パターンWP及び黒色パターンBPの2枚の撮像画面を選別し、2枚の検査パターンPに対してのみ、画質検査を実行するため、従来の非同期方式に比較して処理負担を約2/3に軽減できる。しかも、従来の非同期方式に比較して処理負担を約2/3に軽減することで、その画質検査に要する時間を約2/3に短縮化できる。   In the above embodiment, the image quality inspection apparatus 1 extracts the imaging screen of the inspection pattern P in which the broken line upper side 40A and the broken line lower side 40B of the outer frame match from the plurality of captured imaging screens, and these extracted imaging screens The white pattern WP and the black pattern BP are selected. Furthermore, the image quality inspection apparatus 1 performs an image quality inspection on the screen of the display 3 to be inspected using the selected white pattern WP and black pattern BP. As a result, the image quality inspection apparatus 1 can reduce the processing load required for the image quality inspection by minimizing the imaging screen required for the image quality inspection. For example, even if three image capture screens are read, the two image capture screens of the white pattern WP and the black pattern BP necessary for the image quality inspection are selected, and the image quality inspection is executed only for the two inspection patterns P. Therefore, the processing load can be reduced to about 2/3 compared with the conventional asynchronous method. Moreover, by reducing the processing load to about 2/3 compared to the conventional asynchronous method, the time required for the image quality inspection can be shortened to about 2/3.

上記実施例の画質検査装置1は、選別された白色パターンWP及び黒色パターンBPを用いて、検査対象のディスプレイ3の画質検査を実行する。画質検査装置1は、白色パターンWPを使用して、例えば、部分的な表示の異常を示す部分表示異常、暗点(暗線)の異常、輝度の異常、色ムラの異常や左右の歪みの検査を実行する。また、画質検査装置1は、黒色パターンBPを使用して、輝点(輝線)の異常の検査を実行する。更に、画質検査装置1は、白色パターンWPの破線模様40の黒部分につき、黒色パターンBPの破線模様40の白部分を使用して部分表示異常、暗点(暗線)の異常、輝度の異常、色ムラの異常の検査を実行する。その結果、画質検査装置1は、白色パターンWPの破線模様40の黒部分に関わる、部分表示異常、暗点(暗線)の異常、輝度の異常、色ムラの異常の画質検査を実行できる。   The image quality inspection apparatus 1 according to the above embodiment executes the image quality inspection of the display 3 to be inspected using the selected white pattern WP and black pattern BP. The image quality inspection apparatus 1 uses the white pattern WP to inspect, for example, partial display abnormality indicating partial display abnormality, dark spot (dark line) abnormality, luminance abnormality, color unevenness abnormality, and left and right distortion. Execute. In addition, the image quality inspection apparatus 1 uses the black pattern BP to inspect for abnormalities of bright spots (bright lines). Furthermore, the image quality inspection apparatus 1 uses the white portion of the black line pattern 40 of the black pattern BP for the black portion of the broken line pattern 40 of the white pattern WP, partial display abnormality, dark spot (dark line) abnormality, luminance abnormality, Perform an inspection for color irregularities. As a result, the image quality inspection apparatus 1 can execute image quality inspections for partial display abnormality, dark spot (dark line) abnormality, luminance abnormality, and color unevenness abnormality related to the black portion of the broken line pattern 40 of the white pattern WP.

また、画質検査装置1は、黒色パターンBPの破線模様40の黒部分につき、白色パターンWPの破線模様40の白部分を使用して部分表示異常、暗点(暗線)の異常、輝度の異常、色ムラの異常の検査を実行する。その結果、画質検査装置1は、黒色パターンBPの破線の黒部分に関わる、部分表示異常、暗点(暗線)の異常、輝度の異常、色ムラの異常の画質検査を実行できる。   Further, the image quality inspection apparatus 1 uses the white portion of the broken line pattern 40 of the white pattern WP for the black portion of the broken line pattern 40 of the black pattern BP, the partial display abnormality, the dark spot (dark line) abnormality, the luminance abnormality, Perform an inspection for color irregularities. As a result, the image quality inspection apparatus 1 can execute an image quality inspection for a partial display abnormality, a dark spot (dark line) abnormality, a luminance abnormality, and a color unevenness abnormality related to the black part of the broken line of the black pattern BP.

尚、上記実施例では、画質検査装置1と、検査対象のディスプレイ3と外部接続するパターン発生器とが非同期の非同期方式を例に挙げて説明したが、同期方式にも適用可能である。   In the above-described embodiment, the image quality inspection apparatus 1 and the pattern generator externally connected to the display 3 to be inspected are described as an example of an asynchronous method, but the present invention can also be applied to a synchronous method.

また、上記実施例では、破線抽出部22Aにて撮像画面の各画素の内、原点座標(0,0)や所定座標(0,M)を開始座標に設定し、白色画素41Aを探索して破線上辺40A及び破線下辺40Bを特定した。しかし、パラメータ格納領域13Aに格納されたディスプレイ3の寸法や破線模様40の白色及び黒色の破線ピッチに基づき、撮像画面の破線上辺40A及び破線下辺40Bを含む画素領域を特定できるため、特定された画素領域内で白色画素を順次探索しても良い。この場合、破線上辺40A及び破線下辺40Bを特定する白色画素41Aの抽出に要する時間を短縮化できる。   In the above embodiment, the origin coordinate (0, 0) or the predetermined coordinate (0, M) is set as the start coordinate among the pixels on the imaging screen by the broken line extraction unit 22A, and the white pixel 41A is searched. A broken line upper side 40A and a broken line lower side 40B were identified. However, since the pixel area including the upper side 40A of the broken line and the lower side 40B of the broken line on the imaging screen can be identified based on the dimensions of the display 3 stored in the parameter storage area 13A and the white and black broken line pitches of the broken line pattern 40, White pixels may be sequentially searched in the pixel area. In this case, the time required for extracting the white pixel 41A that specifies the upper side 40A and the lower side 40B of the broken line can be shortened.

また、上記実施例では、破線抽出部22Aにて破線上辺40Aを特定した後、破線下辺40Bを特定したが、破線下辺40Bから特定しても良い。   In the above-described embodiment, the upper side 40A of the broken line is specified by the broken line extraction unit 22A, and then the lower side 40B of the broken line is specified. However, the lower side 40B may be specified.

また、上記実施例では、撮像画面上の画素から白色画素41Aを抽出し、白色画素41Aの画素座標を白色画素格納領域13Cに格納した。しかし、各画素の輝度差が所定閾値、すなわち最大輝度値の50%以上の場合に、当該画素が破線模様40の画素候補として画素座標を白色画素格納領域13Cに格納しても良い。そして、破線抽出部22Aは、破線模様40の画素候補から白色画素41を抽出し、破線上辺40A及び破線下辺40Bの画素座標を破線候補格納領域13Dに格納しても良い。   In the above embodiment, the white pixel 41A is extracted from the pixels on the imaging screen, and the pixel coordinates of the white pixel 41A are stored in the white pixel storage area 13C. However, when the luminance difference of each pixel is a predetermined threshold, that is, 50% or more of the maximum luminance value, the pixel coordinate may be stored in the white pixel storage area 13C as the pixel candidate of the broken line pattern 40. Then, the broken line extraction unit 22A may extract the white pixel 41 from the pixel candidates of the broken line pattern 40, and store the pixel coordinates of the broken line upper side 40A and the broken line lower side 40B in the broken line candidate storage area 13D.

また、上記実施例では、撮像画面上の破線上辺40A候補の白色画素41C及び破線下辺40B候補の白色画素41Cを用いて破線上辺40A及び破線下辺40Bを特定した。しかし、破線模様40の右辺及び左辺の白色画素41Cを抽出し、これら白色画素41Cを用いて破線模様40の左辺及び右辺を特定する。更に、特定された破線模様40の左辺及び右辺に対して90度の直線で破線上辺40A及び破線下辺40Bを特定しても良い。   In the above-described embodiment, the upper broken line 40A and the lower broken line 40B are specified using the white pixel 41C that is the upper broken line 40A candidate and the white pixel 41C that is the lower broken line 40B candidate on the imaging screen. However, the white pixels 41C on the right and left sides of the broken line pattern 40 are extracted, and the left and right sides of the broken line pattern 40 are specified using these white pixels 41C. Further, the upper side 40A of the broken line and the lower side 40B of the broken line may be specified by a straight line of 90 degrees with respect to the left side and the right side of the specified broken line pattern 40.

また、上記実施例では、特定された破線上辺40A及び破線下辺40Bを用いて検査対象となる検査パターンPを選別したが、破線模様40の右辺及び下辺を特定し、これら特定された破線模様40の右辺及び左辺を用いて検査パターンPを選別しても良い。   Further, in the above-described embodiment, the inspection pattern P to be inspected is selected using the specified upper broken line side 40A and lower broken line side 40B. However, the right side and lower side of the broken line pattern 40 are identified, and the identified broken line pattern 40 is identified. The inspection pattern P may be selected using the right side and the left side.

また、上記実施例では、検査パターンPの所定の中央範囲が白色画素の場合、白色パターンWPと判定した。しかし、検査パターンPの全画面領域が白色画素の場合、白色パターンWPと判定しても良い。また、検査パターンPの全画面領域の輝度値の平均値を算出し、平均値が所定閾値以上の場合に、検査パターンPが白色パターンWPと判定し、平均値が所定閾値未満の場合に、検査パターンPが黒色パターンBPと判定しても良い。   Moreover, in the said Example, when the predetermined center range of the test | inspection pattern P was a white pixel, it determined with the white pattern WP. However, when the entire screen area of the inspection pattern P is a white pixel, it may be determined as the white pattern WP. Further, the average value of the luminance values of the entire screen area of the inspection pattern P is calculated. When the average value is equal to or greater than a predetermined threshold, the inspection pattern P is determined to be the white pattern WP, and when the average value is less than the predetermined threshold, The inspection pattern P may be determined as the black pattern BP.

また、上記実施例の画質検査装置1は、撮像部11Aを内蔵したが、撮像部11Aを別体とし、外部インタフェースで撮像部11Aと接続するようにしても良い。   In addition, the image quality inspection apparatus 1 of the above embodiment includes the imaging unit 11A. However, the imaging unit 11A may be separated and connected to the imaging unit 11A through an external interface.

また、図示した各部の各構成要素は、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各部の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を、各種の負荷や使用状況等に応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。   In addition, each component of each part illustrated does not necessarily need to be physically configured as illustrated. In other words, the specific form of distribution / integration of each part is not limited to the one shown in the figure, and all or a part thereof may be functionally or physically distributed / integrated in arbitrary units according to various loads and usage conditions. Can be configured.

更に、各装置で行われる各種処理機能は、CPU(Central Processing Unit)(又はMPU(Micro Processing Unit)、MCU(Micro Controller Unit)等のマイクロ・コンピュータ)上で、その全部又は任意の一部を実行するようにしても良い。また、各種処理機能は、CPU(又はMPU、MCU等のマイクロ・コンピュータ)で解析実行するプログラム上、又はワイヤードロジックによるハードウェア上で、その全部又は任意の一部を実行するようにしても良いことは言うまでもない。   Furthermore, various processing functions performed in each device are performed on a CPU (Central Processing Unit) (or a microcomputer such as an MPU (Micro Processing Unit), MCU (Micro Controller Unit), etc.) in whole or in part. You may make it perform. Various processing functions may be executed entirely or arbitrarily on a program that is analyzed and executed by a CPU (or a microcomputer such as an MPU or MCU) or hardware based on wired logic. Needless to say.

ところで、本実施例で説明した各種の処理は、予め用意されたプログラムをコンピュータで実行することによって実現することができる。そこで、以下では、上記実施例と同様の機能を有するプログラムを実行するコンピュータの一例を説明する。図12は、画質検査プログラムを実行するコンピュータを示す説明図である。   By the way, the various processes described in the present embodiment can be realized by executing a prepared program on a computer. Therefore, in the following, an example of a computer that executes a program having the same function as the above embodiment will be described. FIG. 12 is an explanatory diagram of a computer that executes an image quality inspection program.

図12に示す画質検査プログラムを実行するコンピュータ100では、HDD(Hard Disk Drive)110、RAM(Random Access Memory)120、ROM(Read Only Memory)130及びCPU140を有する。更に、コンピュータ100は、操作部150、表示部160及び通信部170を有する。そして、コンピュータ100は、HDD110、RAM120、ROM130、CPU140、操作部150、表示部160及び通信部170がバス180を介して接続される。   A computer 100 that executes the image quality inspection program illustrated in FIG. 12 includes a hard disk drive (HDD) 110, a random access memory (RAM) 120, a read only memory (ROM) 130, and a CPU 140. Furthermore, the computer 100 includes an operation unit 150, a display unit 160, and a communication unit 170. In the computer 100, the HDD 110, the RAM 120, the ROM 130, the CPU 140, the operation unit 150, the display unit 160, and the communication unit 170 are connected via a bus 180.

そして、HDD110には、上記実施例と同様の機能を発揮する画質検査プログラムが予め記憶されている。尚、HDD110ではなく、ROM130や、図示せぬドライブでコンピュータ読取可能な記録媒体に画質検査プログラムが記録されていても良い。また、記録媒体としては、例えば、CD−ROM、DVDディスク、USBメモリ等の可搬型記録媒体、フラッシュメモリ等の半導体メモリ等でも良い。画質検査プログラムとしては、図12に示すように、取込プログラム110A、抽出プログラム110B、選別プログラム110C及び検査プログラム110Dである。尚、プログラム110A、110B、110C及び110Dについては、図4に示した画質検査装置1の各構成要素と同様、適宜統合又は分散してもよい。   The HDD 110 stores in advance an image quality inspection program that exhibits the same function as in the above-described embodiment. Note that the image quality inspection program may be recorded on a ROM 130 or a computer-readable recording medium instead of the HDD 110. The recording medium may be, for example, a portable recording medium such as a CD-ROM, a DVD disk, or a USB memory, or a semiconductor memory such as a flash memory. As shown in FIG. 12, the image quality inspection program includes an acquisition program 110A, an extraction program 110B, a selection program 110C, and an inspection program 110D. Note that the programs 110A, 110B, 110C, and 110D may be appropriately integrated or distributed in the same manner as each component of the image quality inspection apparatus 1 shown in FIG.

そして、CPU140が、これらのプログラム110A、110B、110C及び110DをHDD110から読み出してRAM120上で実行する。そして、図12に示すように、各プログラム110A、110B、110C及び110Dは、RAM120上で取込プロセス120A、抽出プロセス120B、選別プロセス120C及び検査プロセス120Dとして機能するようになる。   The CPU 140 reads these programs 110A, 110B, 110C, and 110D from the HDD 110 and executes them on the RAM 120. Then, as shown in FIG. 12, the programs 110A, 110B, 110C, and 110D function as an acquisition process 120A, an extraction process 120B, a selection process 120C, and an inspection process 120D on the RAM 120.

図示せぬカメラは、検査対象のディスプレイの画面の外枠を黒破線で形成された白色パターンと黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒色パターンとを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像する。そして、CPU140は、図示せぬ外部インタフェースを用いてカメラから検査対象の複数の画面を取り込む。CPU140は、取り込まれた複数の画面の内、破線で形成する外枠の破線上辺と当該破線上辺に対向する破線下辺とが一致した画面を抽出する。更に、CPU140は、抽出した画面から白色パターンと黒色パターンとを選別する。更に、CPU140は、これら選別された白色パターン及び黒色パターンに基づき、当該検査対象の画面に対する画質検査を実行する。   A camera (not shown) inspects the outer frame of the display screen to be inspected by alternately displaying a white pattern formed by a black broken line and a black pattern formed by a white broken line at the same position as the black broken line. Continuously capture the target screen. Then, the CPU 140 captures a plurality of screens to be inspected from the camera using an external interface (not shown). The CPU 140 extracts a screen in which the upper side of the broken line of the outer frame formed by the broken line matches the lower side of the broken line facing the upper side of the broken line, from the plurality of captured screens. Further, the CPU 140 selects a white pattern and a black pattern from the extracted screen. Further, the CPU 140 executes an image quality inspection for the screen to be inspected based on the selected white pattern and black pattern.

CPU140は、取り込まれた複数の画面の内、外枠の破線上辺と破線下辺とが一致した画面を抽出し、これら抽出された画面から白色パターン及び黒色パターンを選別する。更に、CPU140は、これら選別された白色パターン及び黒色パターンに基づき、検査対象の画面に対する画質検査を実行する。その結果、画質検査に要する画面を最小限に抑えて画質検査に要する処理負担を軽減できる。   The CPU 140 extracts a screen in which the upper side of the broken line and the lower side of the broken line of the plurality of captured screens coincide with each other, and selects a white pattern and a black pattern from the extracted screens. Further, the CPU 140 executes an image quality inspection on the inspection target screen based on the selected white pattern and black pattern. As a result, the processing load required for the image quality inspection can be reduced by minimizing the screen required for the image quality inspection.

1 画質検査装置
3 ディスプレイ
11A 撮像部
21 取込部
22 抽出部
22A 破線抽出部
23 選別部
24 検査部
40 破線模様
40A 破線上辺
40B 破線下辺
P 検査パターン
WP 白色パターン
BP 黒色パターン
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Image quality inspection apparatus 3 Display 11A Imaging part 21 Capture part 22 Extraction part 22A Broken line extraction part 23 Sorting part 24 Inspection part 40 Broken line pattern 40A Broken line upper side 40B Broken line lower side P Inspection pattern WP White pattern BP Black pattern

Claims (4)

画質検査装置に、
検査対象の画面の外枠を黒破線で形成された白画面と前記黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒画面とを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込み、
取り込まれた複数の画面の内、前記破線で形成する前記外枠の一辺の破線と当該一辺に対向する対向辺の破線とが一致した画面を抽出し、
抽出した画面から前記白画面と前記黒画面とを選別し、
これら選別された前記白画面及び前記黒画面に基づき、当該検査対象の画面に対する検査を実行する
各処理を実行させることを特徴とする画質検査方法。
In the image quality inspection device,
The screen of the inspection target is continuously imaged in which the outer frame of the screen to be inspected is alternately displayed as a white screen formed with a black broken line and a black screen formed with a white broken line at the same position as the black broken line. Capture,
Among the plurality of captured screens, extract a screen in which a broken line on one side of the outer frame formed by the broken line matches a broken line on the opposite side facing the one side,
Select the white screen and the black screen from the extracted screen,
An image quality inspection method, comprising: causing each process to execute an inspection on a screen to be inspected based on the selected white screen and black screen.
前記検査対象の画面に対する検査を実行する処理は、
前記黒画面の前記白破線の白部分の画素に基づき、前記白画面の前記黒破線の黒部分に対する検査を実行すると共に、前記白画面の前記黒破線の白部分の画素に基づき、前記黒画面の前記白破線の黒部分に対する検査を実行することを特徴とする請求項1に記載の画質検査方法。
The process of executing the inspection on the inspection target screen is as follows:
Inspecting the black portion of the black broken line of the white screen based on the white portion of the pixel of the black broken line of the black screen, and the black screen based on the pixel of the white portion of the black broken line of the white screen The image quality inspection method according to claim 1, wherein an inspection is performed on a black portion of the white broken line.
検査対象の画面の外枠を黒破線で形成された白画面と前記黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒画面とを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込む取込部と、
前記取込部によって取り込まれた複数の画面の内、前記破線で形成する前記外枠の一辺の破線と当該一辺に対向する対向辺の破線とが一致した画面を抽出する抽出部と、
前記抽出部によって抽出した画面から前記白画面と前記黒画面とを選別する選別部と、
前記選別部によって選別された前記白画面及び前記黒画面に基づき、当該検査対象の画面に対する検査を実行する検査部と
を有することを特徴とする画質検査装置。
The screen of the inspection target is continuously imaged in which the outer frame of the screen to be inspected is alternately displayed as a white screen formed with a black broken line and a black screen formed with a white broken line at the same position as the black broken line. The capture section
An extraction unit that extracts a screen in which a broken line on one side of the outer frame formed by the broken line and a broken line on the opposite side facing the one side are matched among the plurality of screens captured by the capturing unit;
A selection unit for selecting the white screen and the black screen from the screen extracted by the extraction unit;
An image quality inspection apparatus comprising: an inspection unit that performs an inspection on the screen to be inspected based on the white screen and the black screen selected by the selection unit.
検査対象の画面に対する検査をコンピュータに実行させる画質検査プログラムであって、
検査対象の画面の外枠を黒破線で形成された白画面と前記黒破線と同じ位置に白破線で形成された黒画面とを交互に連続して表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込み、
取り込まれた複数の画面の内、前記破線で形成する前記外枠の一辺の破線と当該一辺に対向する対向辺の破線とが一致した画面を抽出し、
抽出した画面から前記白画面と前記黒画面とを選別し、
これら選別された前記白画面及び前記黒画面に基づき、当該検査対象の画面に対する検査を実行する
各処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする画質検査プログラム。
An image quality inspection program for causing a computer to execute an inspection on a screen to be inspected,
The screen of the inspection target is continuously imaged in which the outer frame of the screen to be inspected is alternately displayed as a white screen formed with a black broken line and a black screen formed with a white broken line at the same position as the black broken line. Capture,
Among the plurality of captured screens, extract a screen in which a broken line on one side of the outer frame formed by the broken line matches a broken line on the opposite side facing the one side,
Select the white screen and the black screen from the extracted screen,
An image quality inspection program that causes the computer to execute each process for executing an inspection on a screen to be inspected based on the selected white screen and black screen.
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