JP2013061612A - Optical element - Google Patents

Optical element Download PDF

Info

Publication number
JP2013061612A
JP2013061612A JP2011225751A JP2011225751A JP2013061612A JP 2013061612 A JP2013061612 A JP 2013061612A JP 2011225751 A JP2011225751 A JP 2011225751A JP 2011225751 A JP2011225751 A JP 2011225751A JP 2013061612 A JP2013061612 A JP 2013061612A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical element
height
convex
less
element according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2011225751A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuki Kato
一樹 加藤
Naoki Inoue
直樹 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Kasei Corp
Original Assignee
Asahi Kasei E Materials Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kasei E Materials Corp filed Critical Asahi Kasei E Materials Corp
Priority to JP2011225751A priority Critical patent/JP2013061612A/en
Publication of JP2013061612A publication Critical patent/JP2013061612A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical element having excellent antireflection performance, in a wide wavelength region of visible to near-infrared rays, and a wide incident light angle range.SOLUTION: In an optical element, any vertex of a plurality of projection portions (11) has a height of 200 nm or higher from a reference surface, a space between any one vertex of the plurality of the projection portions (11) and the vertex of the projection portion (11) which is the closest to the projection portion (11) is less than 260 nm in plan view, a ratio occupied by a region having a height of 250 nm or higher from the reference surface in plan view with respect to an area in a predetermined region in plan view is 5% or more, and average deviation of heights of a fine uneven structure (10) is 3 or more and 8 or less. In the fine uneven structure (10), in a curve indicating a relationship between the height and a ratio of an area occupied by a region of the height or higher in the predetermined region in plan view, there exist two or more inflection points.

Description

本発明は、可視〜近赤外の広い波長領域、及び広い入射光角度範囲において、反射防止性能に優れる光学素子に関する。   The present invention relates to an optical element excellent in antireflection performance in a wide wavelength range from visible to near infrared and in a wide incident light angle range.

近年、ディスプレイ市場の拡大に伴い、より鮮明な画像を、室内及び屋外において見たいという要求が高まってきている。しかし、主に室内で視認されるテレビにおいては、照明光による画面への映りこみにより、鮮明な画像を視認できなくなるという問題がある。また、屋外で視認される携帯電話、小型ゲーム機、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ等においては、太陽光による画面への映り込みにより、鮮明な画像を視認できなくなるという問題がある。   In recent years, with the expansion of the display market, there is an increasing demand for viewing clearer images indoors and outdoors. However, in a television that is mainly viewed indoors, there is a problem that a clear image cannot be visually recognized due to reflection on the screen by illumination light. In addition, a mobile phone, a small game machine, a digital camera, a digital video camera, and the like that are visually recognized outdoors have a problem that a clear image cannot be visually recognized due to reflection on the screen by sunlight.

このような映りこみを防止し、視認性を向上させるためには、広い波長領域において、画面前面からの入射光に対する反射防止性能を向上させることが必要である。また、ディスプレイ搭載機器の種類や使用する場所により、画面への入射光の入射角度が異なるため、広い入射光角度範囲において、反射防止性能を備えることが必要である。   In order to prevent such reflection and improve visibility, it is necessary to improve the antireflection performance for incident light from the front surface of the screen in a wide wavelength region. In addition, since the incident angle of incident light on the screen varies depending on the type of display-equipped device and the place where it is used, it is necessary to provide antireflection performance in a wide incident light angle range.

ディスプレイの反射防止性能を高める技術として、反射防止フィルムを用いる方法が知られている。例えば、特許文献1には、高屈折率層と低屈折率層の交互多層構造を有する反射防止フィルムの開示がある。この反射防止フィルムは、高屈折率層と低屈折率層の屈折率差によって生じる透過光と反射光の干渉作用を利用して、反射光を打ち消すことにより反射防止効果を発現する。しかし、上記の反射防止フィルムは、ある特定波長では優れた反射防止性能を示すが、広い波長領域にわたって十分な反射防止性能を発現できるわけではない。さらに、広い入射光角度範囲において十分な反射防止性能が発現できるわけではない。   As a technique for improving the antireflection performance of a display, a method using an antireflection film is known. For example, Patent Document 1 discloses an antireflection film having an alternating multilayer structure of a high refractive index layer and a low refractive index layer. This antireflection film exhibits an antireflection effect by canceling the reflected light by utilizing the interference action of the transmitted light and the reflected light caused by the difference in refractive index between the high refractive index layer and the low refractive index layer. However, the antireflection film described above exhibits excellent antireflection performance at a specific wavelength, but does not exhibit sufficient antireflection performance over a wide wavelength region. Furthermore, sufficient antireflection performance cannot be exhibited in a wide incident light angle range.

特許文献2には、有効屈折率neff(h)が関数Neff(h)と3点で交わる形状の構造体が開示されている。非特許文献1には、サブミクロンオーダーのピラミッド状凹凸構造を蛾の目のような2次元パターンに配置した、通称モスアイ構造に反射防止効果があることが示されている。また、非特許文献2には、樹脂やガラスなどの基材にモスアイ構造を有する光学素子と、可視波長領域でのその分光反射率が開示されている。   Patent Document 2 discloses a structure having a shape in which an effective refractive index neff (h) intersects with a function Neff (h) at three points. Non-Patent Document 1 shows that a so-called moth-eye structure, in which submicron-order pyramid-like uneven structures are arranged in a two-dimensional pattern such as a grid, has an antireflection effect. Non-Patent Document 2 discloses an optical element having a moth-eye structure on a substrate such as resin or glass and its spectral reflectance in the visible wavelength region.

特開平06−337302号公報Japanese Patent Laid-Open No. 06-337302 特開2009−217278号公報JP 2009-217278 A

Endeavour、26、P79−84(1967)Endeavor, 26, P79-84 (1967) 光技術コンタクト、43(11)、P630−637(2005)Optical Technology Contact, 43 (11), P630-637 (2005)

しかしながら、上述のような光学素子においても、広い波長領域における十分な反射防止性能と、広い入射光角度範囲における十分な反射防止性能とを共に実現できているとは言い難い。   However, it is difficult to say that the above-described optical element can achieve both sufficient antireflection performance in a wide wavelength region and sufficient antireflection performance in a wide incident light angle range.

係る点に鑑み、本発明は、可視〜近赤外の広い波長領域、及び広い入射光角度範囲において、反射防止性能に優れる光学素子を提供することを目的とする。   In view of the above, an object of the present invention is to provide an optical element having excellent antireflection performance in a wide wavelength range from visible to near infrared and a wide incident light angle range.

本発明の光学素子は、基材表面に、複数の凹部と複数の凸部からなる微細凹凸構造を有し、前記微細凹凸構造の所定領域において、前記複数の凸部の頂点は、いずれも、複数の凹部の底のうち最も低い点を含む基準面から200nm以上の高さであり、前記複数の凸部のいずれかの頂点と、該凸部に最も近接する凸部の頂点との間隔が、平面視において260nm未満であり、前記平面視における前記所定領域の面積に対し、前記基準面から250nm以上の高さを有する領域が前記平面視において占める面積の比率が5%以上であり、前記微細凹凸構造を前記基準面から高さ方向に50nm毎の区分に分画した時に生じる分画数をn、前記所定領域における全分画が前記平面視において占める面積に対して第iの分画が平面視において占める面積の比率をHi、全分画における比率Hiの総計をnで除した値をHaveとしたときに、下記式で表される高さの平均偏差が3以上8以下であり、前記微細凹凸構造において、高さと前記所定領域の平面視において当該高さ以上の領域が占める面積の割合との関係を示す曲線において、変曲点が2以上存在することを特徴とする。
The optical element of the present invention has a fine concavo-convex structure composed of a plurality of concave portions and a plurality of convex portions on the substrate surface, and in the predetermined region of the fine concavo-convex structure, the vertices of the plurality of convex portions are all The height is 200 nm or more from the reference plane including the lowest point among the bottoms of the plurality of concave portions, and the interval between any vertex of the plurality of convex portions and the vertex of the convex portion closest to the convex portion is The ratio of the area occupied by the region having a height of 250 nm or more from the reference plane to the area of the predetermined region in the plan view is less than 260 nm in the plan view and 5% or more in the plan view, The number of fractions generated when the fine concavo-convex structure is fractionated every 50 nm in the height direction from the reference plane is n, and the i-th fraction is relative to the area occupied by the entire fraction in the predetermined region in the plan view. Occupied in plan view When the ratio of the area is Hi and the value obtained by dividing the total of the ratios Hi in all fractions by n is Have, the average deviation in height represented by the following formula is 3 or more and 8 or less, and the fine uneven structure In the curve, there are two or more inflection points in the curve indicating the relationship between the height and the ratio of the area occupied by the area of the predetermined area or more in plan view of the predetermined area.

この構成によれば、可視〜近赤外の広い波長領域、及び広い入射光角度範囲において、
反射防止性能に優れる光学素子を得ることができる。
According to this configuration, in a wide wavelength region from visible to near infrared, and a wide incident light angle range,
An optical element having excellent antireflection performance can be obtained.

本発明の光学素子において、前記凹部高さの標準偏差が3以上20以下であることが好ましい。   In the optical element of the present invention, it is preferable that a standard deviation of the height of the recess is 3 or more and 20 or less.

本発明の光学素子において、前記凸部高さの標準偏差が3以上20以下であることが好ましい。   In the optical element of the present invention, it is preferable that a standard deviation of the height of the convex portion is 3 or more and 20 or less.

本発明の光学素子において、前記凸部と、該凸部と隣接する凸部との間に、尾根が存在することが好ましい。   In the optical element of the present invention, it is preferable that a ridge exists between the convex portion and the convex portion adjacent to the convex portion.

本発明の光学素子において、前記凸部の高さの平均値に対する前記尾根の高さの平均値が、20%以上80%以下であることが好ましい。   In the optical element of the present invention, it is preferable that an average value of the height of the ridge with respect to an average value of the heights of the convex portions is 20% or more and 80% or less.

本発明の光学素子において、前記凸部と、該凸部と最も近接する複数の凸部からなる任意の1単位格子中、尾根が4個又は8個存在することが好ましい。   In the optical element of the present invention, it is preferable that there are four or eight ridges in an arbitrary unit cell composed of the convex portions and a plurality of convex portions closest to the convex portions.

本発明の光学素子において、前記微細凹凸構造は、前記単位格子の面積(Sall)と、前記基準面から10nm以下の高さの底面領域の面積の総和(Sb)との比(Sb/Sall)が、10%以下であることが好ましい。   In the optical element of the present invention, the fine concavo-convex structure has a ratio (Sb / Sall) of an area (Sall) of the unit cell and a total area (Sb) of a bottom region having a height of 10 nm or less from the reference plane. Is preferably 10% or less.

本発明の光学素子において、前記凸部又は凹部の配列パターンが、六方格子であることが好ましい。   In the optical element of the present invention, it is preferable that the arrangement pattern of the convex portions or the concave portions is a hexagonal lattice.

本発明の光学素子において、前記凸部の頂点と、該凸部と最も近接する6個の凸部の頂点との間隔のうち最大値と最小値との差を、当該間隔の平均値で除した値[(Pmax−Pmin)/Pave]が20%以下であることが好ましい。   In the optical element of the present invention, the difference between the maximum value and the minimum value among the intervals between the vertex of the convex portion and the vertexes of the six convex portions closest to the convex portion is divided by the average value of the intervals. The measured value [(Pmax−Pmin) / Pave] is preferably 20% or less.

本発明の光学素子において、前記微細凹凸構造を構成する組成物層の厚みが、0.4μm以上10μm以下であることが好ましい。   In the optical element of the present invention, it is preferable that the thickness of the composition layer constituting the fine concavo-convex structure is 0.4 μm or more and 10 μm or less.

本発明の光学素子において、100質量部中、1分子中に3個以上のアクリル基及び/又はメタクリル基を有する1種類以上の単量体成分を20〜60質量部、N−ビニル基を有する単量体成分を5〜40質量部、その他単量体成分を0〜75質量部含む組成物を硬化させてなることが好ましい。   In 100 parts by mass of the optical element of the present invention, 20 to 60 parts by mass of one or more monomer components having 3 or more acrylic groups and / or methacrylic groups in one molecule, and an N-vinyl group. It is preferable to cure a composition containing 5 to 40 parts by mass of the monomer component and 0 to 75 parts by mass of the other monomer component.

本発明の光学素子において、前記凹凸部を構成する組成物が、光硬化組成物であることが好ましい。   In the optical element of the present invention, it is preferable that the composition constituting the concavo-convex portion is a photocurable composition.

本発明の光学素子において、光硬化前の50℃での粘度が100mPa・s以下であることが好ましい。   In the optical element of the present invention, the viscosity at 50 ° C. before photocuring is preferably 100 mPa · s or less.

本発明の光学素子を含む幅10cm以上、かつ長さ50m以上の樹脂フィルムロールを提供できる。また、本発明の光学素子を配設した表示装置、照明装置、太陽電池などが提供される。   A resin film roll having a width of 10 cm or more and a length of 50 m or more including the optical element of the present invention can be provided. In addition, a display device, a lighting device, a solar cell, and the like provided with the optical element of the present invention are provided.

本発明により、可視〜近赤外の広い波長領域、及び広い入射光角度範囲において、反射防止性能に優れる光学素子を提供することができる。   According to the present invention, an optical element excellent in antireflection performance can be provided in a wide wavelength region from visible to near infrared and a wide incident light angle range.

本実施の形態に係る光学素子の断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram of the optical element which concerns on this Embodiment. 本実施の形態に係る微細凹凸構造の一部を拡大した写真である。It is the photograph which expanded a part of fine concavo-convex structure concerning this embodiment. 本実施の形態に係る微細凹凸構造の配列パターンを示す電子顕微鏡写真である。It is an electron micrograph which shows the arrangement pattern of the fine concavo-convex structure concerning this embodiment. 分画の様子を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows the mode of a fractionation. 充填率及び変曲点について示す概念図である。It is a conceptual diagram shown about a filling rate and an inflection point. 微細凹凸構造において凹部と尾根を含む断面プロファイルの例を示す図である。It is a figure which shows the example of the cross-sectional profile containing a recessed part and a ridge in a fine concavo-convex structure. 微細項凸構造において凹部と凸部を含む断面プロファイルの例を示す図である。It is a figure which shows the example of the cross-sectional profile containing a recessed part and a convex part in a fine term convex structure. 微細凹凸構造において凸部と尾根を含む断面プロファイルの例を示す図である。It is a figure which shows the example of the cross-sectional profile containing a convex part and a ridge in a fine concavo-convex structure. 単位格子と、底面領域との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between a unit cell and a bottom face area | region. 操作型プローブ顕微鏡の測定エリアにおける最高点位置を0nmとした時の、光学素子の凹部と凸部からなる構造面の深さ分布を示す図である。It is a figure which shows the depth distribution of the structure surface which consists of the recessed part and convex part of an optical element when the highest point position in the measurement area of an operation type probe microscope is 0 nm. 操作型プローブ顕微鏡の測定エリアにおける最高点位置を0nmとした時の、光学素子の凹部と凸部からなる構造面の深さ分布を示す図である。It is a figure which shows the depth distribution of the structure surface which consists of the recessed part and convex part of an optical element when the highest point position in the measurement area of an operation type probe microscope is 0 nm. 実施例1の正反射率の波長依存性及び入射光角度依存性を示す図である。It is a figure which shows the wavelength dependence and incident light angle dependence of the regular reflectance of Example 1. FIG. 実施例2の正反射率の波長依存性及び入射光角度依存性を示す図である。It is a figure which shows the wavelength dependence and incident light angle dependence of the regular reflectance of Example 2. 実施例3の正反射率の波長依存性及び入射光角度依存性を示す図である。It is a figure which shows the wavelength dependence and incident light angle dependence of the regular reflectance of Example 3. 比較例1の正反射率の波長依存性及び入射光角度依存性を示す図である。It is a figure which shows the wavelength dependence and incident light angle dependence of the regular reflectance of the comparative example 1. 比較例2の正反射率の波長依存性及び入射光角度依存性を示す図である。It is a figure which shows the wavelength dependence and incident light angle dependence of the regular reflectance of the comparative example 2. 比較例3の正反射率の波長依存性及び入射光角度依存性を示す図である。It is a figure which shows the wavelength dependence and incident light angle dependence of the regular reflectance of the comparative example 3. 正反射率の波長465nm(青色光)における入射光角度依存性を示す図である。It is a figure which shows the incident light angle dependence in wavelength 465nm (blue light) of regular reflectance. 正反射率の波長525nm(緑色光)における入射光角度依存性を示す図である。It is a figure which shows the incident light angle dependence in wavelength 525nm (green light) of regular reflectance. 正反射率の波長630nm(赤色光)における入射光角度依存性を示す図である。It is a figure which shows the incident light angle dependence in wavelength 630nm (red light) of regular reflectance. 正反射率の波長900nm(近赤外光)における入射光角度依存性を示す図である。It is a figure which shows the incident light angle dependence in wavelength 900nm (near infrared light) of a regular reflectance. (正+拡散)反射率の波長依存性を示す図である。It is a figure which shows the wavelength dependence of (positive + diffusion) reflectance. 実施例1における、可視光領域(400nm〜800nm)の、垂直方向0°から60°までの入射角における反射率を示す図である。It is a figure in Example 1 which shows the reflectance in the incident angle from 0 degree to 60 degrees of the perpendicular direction of visible light region (400 nm-800 nm). 比較例4における、可視光領域(400nm〜800nm)の、垂直方向0°から60°までの入射角における反射率を示す図である。It is a figure which shows the reflectance in the incident angle from 0 degree to 60 degrees of the perpendicular | vertical direction of the visible light region (400 nm-800 nm) in the comparative example 4. 比較例5における、可視光領域(400nm〜800nm)の、垂直方向0°から60°までの入射角における反射率を示す図である。It is a figure which shows the reflectance in the incident angle from 0 degree to 60 degrees of the perpendicular | vertical direction of the visible region (400 nm-800 nm) in the comparative example 5. 実施例1における、高さと充填率との相関曲線を示す相関図である。FIG. 3 is a correlation diagram showing a correlation curve between height and filling rate in Example 1. 実施例2における、高さと充填率との相関曲線を示す相関図である。FIG. 6 is a correlation diagram showing a correlation curve between height and filling rate in Example 2. 実施例3における、高さと充填率との相関曲線を示す相関図である。FIG. 6 is a correlation diagram showing a correlation curve between height and filling rate in Example 3. 比較例1における、高さと充填率との相関曲線を示す相関図である。6 is a correlation diagram showing a correlation curve between height and filling rate in Comparative Example 1. FIG. 比較例2における、高さと充填率との相関曲線を示す相関図である。10 is a correlation diagram showing a correlation curve between height and filling rate in Comparative Example 2. FIG. 比較例3における、高さと充填率との相関曲線を示す相関図である。FIG. 10 is a correlation diagram showing a correlation curve between height and filling rate in Comparative Example 3. 本実施の形態に係る光学素子を備えた表示装置の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the display apparatus provided with the optical element which concerns on this Embodiment.

以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。なお、本発明は、以下の実施の形態に限定されるものではなく、その要旨の範囲内で種々変形して実施することができる。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail. In addition, this invention is not limited to the following embodiment, It can implement by changing variously within the range of the summary.

<光学素子の基本構造>
図1は、本発明の一実施の形態に係る光学素子1の断面模式図である。図1に示すように、本実施の形態に係る光学素子1は、表面に成型された微細凹凸構造10を有する。微細凹凸構造10は、光学素子1の基準面Xの面内方向(図1の左右方向及び奥行方向)に連続して延在するように設けられた複数の凸部11及び凹部12を有する(図2参照)。また、微細凹凸構造10は、光学素子1の基準面Xに対して直交する垂直方向からの平面視において、複数の凸部11及び複数の凹部12により任意の規則性を有する配列パターンを形成する。基準面Xは、例えば、複数存在する凹部12の底のうち、最も低い点を含む平面とすることができる。なお、基準面Xの取り方についてはこれに限られない。
<Basic structure of optical element>
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of an optical element 1 according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the optical element 1 according to the present embodiment has a fine concavo-convex structure 10 molded on the surface. The fine concavo-convex structure 10 has a plurality of convex portions 11 and concave portions 12 provided so as to continuously extend in the in-plane direction (left-right direction and depth direction in FIG. 1) of the reference surface X of the optical element 1 ( (See FIG. 2). Further, the fine concavo-convex structure 10 forms an array pattern having arbitrary regularity by the plurality of convex portions 11 and the plurality of concave portions 12 in a plan view from a perpendicular direction orthogonal to the reference plane X of the optical element 1. . For example, the reference plane X can be a plane including the lowest point among the bottoms of the plurality of recesses 12. In addition, about how to take the reference plane X, it is not restricted to this.

本実施の形態に係る光学素子1においては、微細凹凸構造の凸部11又は凹部12が、平面視において六方格子状に配列されることが好ましい。六方格子とすることにより、四方格子に比べ同一ピッチにおける凸部の充填密度を高くすることができる。また、配列による光学異方性を低減できる。さらに、屈折率勾配をなだらかに形成しやすくなる。これにより、可視光から近赤外光の広い領域で反射防止性能が向上する。図3に、六方格子状に配列された微細凹凸構造10の凸部11の配列パターンの一例を示す。図3に示すように、六方格子状の配列パターンとは、基準面Xに対する垂直方向からの平面視において、微細凹凸構造10の任意の一の凸部11に対して、当該凸部11に最も近接する凸部11が6個存在し、この6個の凸部11により六角形状21を形成する配列パターンである。図3には、凸部11及び凹部12間の領域に設けられ、凸部11の頂点の高さと凹部12の底の高さとの中間の高さを有する領域(尾根22)を併せて示す。尾根22は、例えば、隣接する凸部11の頂点どうしをつなぐ線状の領域であって、凹部12の底より高い領域に相当する。又は、隣接する凹部12の底どうしをつなぐ線状の領域であって、凸部11の頂点より低い領域に相当する。本明細書において、特に断りがない場合、高さ(H)とは、基準面に垂直な方向における基準面Xと対象との距離とする。なお、微細凹凸構造10の凸部11又は凹部12の配列パターンとしては、任意の一の凸部11に対して、当該凸部11に最も近接する凸部11が4個存在し、この4個の凸部11によって四角形状を形成する四方格子状の配列パターンであってもよく、凸部11の配列に規則性がないランダムパターンであってもよい。   In the optical element 1 according to the present embodiment, it is preferable that the convex portions 11 or the concave portions 12 of the fine concavo-convex structure are arranged in a hexagonal lattice shape in plan view. By using a hexagonal lattice, the packing density of the convex portions at the same pitch can be made higher than that of the tetragonal lattice. Further, the optical anisotropy due to the arrangement can be reduced. Furthermore, it becomes easy to form a refractive index gradient gently. This improves the antireflection performance in a wide region from visible light to near infrared light. FIG. 3 shows an example of an arrangement pattern of the protrusions 11 of the fine concavo-convex structure 10 arranged in a hexagonal lattice pattern. As shown in FIG. 3, the hexagonal lattice-like arrangement pattern is most similar to the convex portion 11 with respect to any one convex portion 11 of the fine concavo-convex structure 10 in a plan view from the direction perpendicular to the reference plane X. There are six adjacent protrusions 11, and the six protrusions 11 form an array pattern that forms a hexagonal shape 21. FIG. 3 also shows a region (ridge 22) that is provided in a region between the convex portion 11 and the concave portion 12 and has an intermediate height between the height of the vertex of the convex portion 11 and the bottom height of the concave portion 12. The ridge 22 is, for example, a linear region that connects the vertices of adjacent convex portions 11 and corresponds to a region that is higher than the bottom of the concave portion 12. Or it is a linear area | region which connects the bottoms of the adjacent recessed part 12, Comprising: It corresponds to the area | region lower than the vertex of the convex part 11. FIG. In this specification, unless otherwise specified, the height (H) is the distance between the reference plane X and the object in the direction perpendicular to the reference plane. As an array pattern of the convex portions 11 or the concave portions 12 of the fine concavo-convex structure 10, there are four convex portions 11 closest to the convex portion 11 for any one convex portion 11, and the four It may be a tetragonal lattice-like arrangement pattern that forms a quadrangular shape by the convex portions 11, or a random pattern having no regularity in the arrangement of the convex portions 11.

本実施の形態に係る光学素子1においては、互いに隣接する凸部11間のピッチPの平均値は260nm未満であり、好ましくは230nm未満であり、より好ましくは200nm未満である。少なくとも、ピッチPを260nm未満にすることで、回折現象の発生を抑制し、特定波長での反射率の上昇を抑制し、可視波長領域での反射防止性能を向上させることができる。   In the optical element 1 according to the present embodiment, the average value of the pitch P between the convex portions 11 adjacent to each other is less than 260 nm, preferably less than 230 nm, and more preferably less than 200 nm. At least by setting the pitch P to less than 260 nm, it is possible to suppress the occurrence of diffraction phenomenon, suppress the increase in reflectance at a specific wavelength, and improve the antireflection performance in the visible wavelength region.

また、本実施の形態に係る光学素子1において、凸部11の高さは200nm以上であることが好ましい。凸部11の高さは260nm以上であるとより好ましく、300nm以上であるとさらに好ましく、400nm以上であると一層好ましい。少なくとも、凸部11の高さを200nm以上にすることで、広い入射光角度範囲で優れた反射防止性能を発現できる。また、広い波長領域、特に近赤外波長領域(700〜1000nm)での反射防止性能を向上させることができる。但し、光学素子として所定の反射防止性能が発現すれば、全ての凸部11の高さが200nm以上である必要はない。なお、「凸部11(又は凹部12)の高さ」とは、光学素子1の基準面Xに対する垂直方向における基準面Xから凸部11の頂点(又は凹部12の底)までの距離とする。   In the optical element 1 according to the present embodiment, the height of the convex portion 11 is preferably 200 nm or more. The height of the convex portion 11 is more preferably 260 nm or more, further preferably 300 nm or more, and further preferably 400 nm or more. By making the height of the projection 11 at least 200 nm, excellent antireflection performance can be expressed in a wide incident light angle range. Further, the antireflection performance in a wide wavelength region, particularly in the near infrared wavelength region (700 to 1000 nm) can be improved. However, as long as a predetermined antireflection performance is exhibited as an optical element, the height of all the convex portions 11 does not need to be 200 nm or more. The “height of the convex portion 11 (or the concave portion 12)” is a distance from the reference plane X in the direction perpendicular to the reference plane X of the optical element 1 to the apex of the convex portion 11 (or the bottom of the concave portion 12). .

また、凸部11の高さを200nm以上として、かつピッチPを260nm未満にすることで、反射防止性能を一層向上させることができる。   Further, the antireflection performance can be further improved by setting the height of the convex portion 11 to 200 nm or more and the pitch P to less than 260 nm.

微細凹凸構造10の連続構造の形状としては、凸部11及び凹部12を含む連続構造であって、本発明の効果が得られる範囲であれば特に限定されない。連続構造の種類としては、例えば、ラインアンドスペース構造、ドット構造、ハニカム構造、モスアイ構造などが挙げられる。これらの中でも、高い反射防止性能を得るためには、ドット構造の1つであるモスアイ構造を適用することが好ましい。   The shape of the continuous structure of the fine concavo-convex structure 10 is not particularly limited as long as it is a continuous structure including the convex portions 11 and the concave portions 12 and can obtain the effects of the present invention. Examples of the type of continuous structure include a line and space structure, a dot structure, a honeycomb structure, and a moth eye structure. Among these, in order to obtain high antireflection performance, it is preferable to apply a moth-eye structure which is one of dot structures.

また、微細凹凸構造10の凸部11及び凹部12の形状としては、略角錐形状、略円錐形状、略角錐台形状、略円錐台形状のいずれかであることが好ましい。また、これらの中でも、略角錐形状、略円錐形状であることがより好ましく、略円錐形状であるとさらに好ましい。略円錐形状としては、真円錐でも楕円錐でもよく、頂部が丸みを帯びているものが好ましい。略円錐形状において頂部に丸みを帯びさせることで、さらに反射防止性能を向上させることができる。略円錐形状としては、テント型(凸部11の稜線がへこんだ形状)、ベル型(凸部11の稜線が膨らんだ形状)、三角形型(凸部11の稜線が直線である形状)が挙げられる。広い波長領域、特に、近赤外波長領域(700〜1000nm)で優れた反射防止性能を得られる点で、ベル型がより好ましい。   Moreover, it is preferable that the shape of the convex part 11 and the recessed part 12 of the fine concavo-convex structure 10 is any one of a substantially pyramid shape, a substantially cone shape, a substantially truncated cone shape, and a substantially truncated cone shape. Among these, a substantially pyramid shape and a substantially conical shape are more preferable, and a substantially conical shape is more preferable. The substantially conical shape may be a true cone or an elliptical cone, and preferably has a round top. The antireflection performance can be further improved by rounding the top of the substantially conical shape. Examples of the substantially conical shape include a tent shape (a shape in which the ridge line of the convex portion 11 is dented), a bell shape (a shape in which the ridge line of the convex portion 11 swells), and a triangular shape (a shape in which the ridge line of the convex portion 11 is a straight line). It is done. The bell type is more preferable in that an excellent antireflection performance can be obtained in a wide wavelength region, particularly in the near infrared wavelength region (700 to 1000 nm).

光学素子1において、下記式により算出される高さの平均偏差は3以上8以下であることが好ましい。また、高さの平均偏差は3以上7以下が好ましく、3以上5以下がより好ましく、3以上4以下がさらに好ましい。少なくとも、高さの平均偏差が3以上であれば、スタンパーからの剥離性を保持でき、かつ、広い入射光角度範囲で優れた反射防止性能を発現でき、8以下であれば、広い入射光角度範囲で優れた反射防止性能を発現でき、かつ広い波長領域で反射防止性能を向上させることができる。下記式において、nは、対象領域を基準面Xから高さ方向に50nm毎の区分に分画した時に生じる分画数(区分数)である。対象領域とは、例えば、走査型プローブ顕微鏡などの測定機器により精度よく測定可能な領域をいい、より具体的には、例えば、2.0μm×2.0μmの領域をいう。ただし、対象領域はこれに限られない。下記式において、Hiは、光学素子1の基準面Xに対し垂直な方向からの平面視において、第iの分画(第iの区分)に係る領域の面積が、所定領域の面積に対して占める比率(分画比率)である。Haveは、全分画における比率Hiの総計をnで除した値、すなわち、各分画比率の相加平均値(ΣHi/n)である。なお、分画比率は、小数第2位を四捨五入して小数点以下1桁までを有効数字として用いる。また、分画比率がゼロである場合、すなわち小数第2位を四捨五入する前の分画比率が0.50%未満の場合は、分画比率なしと扱う。
In the optical element 1, it is preferable that the average deviation of the height calculated by the following formula is 3 or more and 8 or less. The average deviation in height is preferably 3 or more and 7 or less, more preferably 3 or more and 5 or less, and further preferably 3 or more and 4 or less. If the average deviation in height is at least 3 or more, the peelability from the stamper can be maintained, and excellent antireflection performance can be exhibited in a wide incident light angle range, and if it is 8 or less, a wide incident light angle. The antireflection performance excellent in the range can be expressed, and the antireflection performance can be improved in a wide wavelength region. In the following formula, n is the number of fractions (number of segments) generated when the target area is fractionated from the reference plane X in the height direction every 50 nm. The target region refers to a region that can be measured with high accuracy by a measuring instrument such as a scanning probe microscope, and more specifically, for example, a region of 2.0 μm × 2.0 μm. However, the target area is not limited to this. In the following formula, Hi represents the area of the area related to the i-th fraction (i-th section) in the plan view from the direction perpendicular to the reference plane X of the optical element 1 with respect to the area of the predetermined area. It is the ratio (fraction ratio) that it occupies. Have is a value obtained by dividing the sum of ratios Hi in all fractions by n, that is, an arithmetic mean value (ΣHi / n) of each fraction ratio. The fraction ratio is rounded off to the first decimal place and up to one decimal place is used as a significant figure. Further, when the fraction ratio is zero, that is, when the fraction ratio before rounding to the second decimal place is less than 0.50%, it is treated as no fraction ratio.

図4は、分画の様子を示す模式図である。図4には、凸部11と凹部12とがそれぞれ一つずつ存在する領域を分画する例を示す。ただし、分画に係る領域はこれに限定されない。図4Aは分画の様子を示す平面視であり、図4Bは図4AのA−A´における断面プロファイルである。ここでは、凹部12の底の高さを基準(基準面:0nm)として、50nmまでの高さの領域を分画1(第1の区分)としている。また、50nmから100nmまでの高さの領域を分画2(第2の区分)としている。同様に、対象領域を分画3〜分画8に分画(区分け)している。この場合、対象領域が8個の高さ区分に分画されているため、nは8となる。また、Hiは対象領域の面積に対して分画iが占める面積の比率であるから、例えば、対象領域の面積が100であり、分画1の面積が10であるとすれば、H1は10(%)となる。   FIG. 4 is a schematic diagram showing a state of fractionation. FIG. 4 shows an example in which a region in which one convex portion 11 and one concave portion 12 exist is fractionated. However, the area related to fractionation is not limited to this. FIG. 4A is a plan view showing a state of fractionation, and FIG. 4B is a cross-sectional profile taken along line AA ′ of FIG. 4A. Here, the height of the bottom of the recess 12 is set as a reference (reference plane: 0 nm), and a region having a height up to 50 nm is set as a fraction 1 (first division). A region having a height from 50 nm to 100 nm is defined as fraction 2 (second division). Similarly, the target area is fractionated (segmented) into fraction 3 to fraction 8. In this case, since the target area is divided into 8 height sections, n is 8. Since Hi is the ratio of the area occupied by the fraction i to the area of the target region, for example, if the area of the target region is 100 and the area of the fraction 1 is 10, H1 is 10 (%).

光学素子1において、上記式を用いて算出される高さの平均偏差は3以上8以下であることが好ましい。また、3以上7以下とするとより好ましく、3以上5以下がさらに好ましく、3以上4以下とすると一層好ましい。少なくとも、高さの平均偏差が3以上であれば、スタンパーからの剥離性を保持できる。また、8以下であれば、広い入射光角度範囲で優れた反射防止性能を発現でき、かつ広い波長領域で反射防止性能を向上させることができる。   In the optical element 1, it is preferable that the average deviation of the height calculated using the above formula is 3 or more and 8 or less. Further, it is more preferably 3 or more and 7 or less, further preferably 3 or more and 5 or less, and further preferably 3 or more and 4 or less. If the average deviation in height is at least 3, the peelability from the stamper can be maintained. Moreover, if it is 8 or less, the excellent antireflection performance can be expressed in a wide incident light angle range, and the antireflection performance can be improved in a wide wavelength region.

光学素子1の基準面Xに対し垂直な方向からの平面視において、基準面Xからの高さが250nm以上となる領域が占める面積の比率は、対象領域の面積に対して5%以上であることが好ましい。また、10%以上であるとより好ましく、30%以上であるとさらに好ましく、50%以上であると一層好ましい。また、高さが300nm以上となる領域の面積の比率は、対象領域の面積に対して5%以上であると好ましく、高さが350nm以上となる領域の面積の比率が5%以上であるとより好ましく、高さが500nm以上となる領域の面積の比率が5%以上であるとさらに好ましい。少なくとも、高さが250nm以上の領域の面積の比率を5%以上にすることで、広い入射光角度範囲で優れた反射防止性能を発現できる。   In a plan view from a direction perpendicular to the reference plane X of the optical element 1, the ratio of the area occupied by the region whose height from the reference plane X is 250 nm or more is 5% or more with respect to the area of the target region. It is preferable. Further, it is more preferably 10% or more, further preferably 30% or more, and further preferably 50% or more. The area ratio of the region having a height of 300 nm or more is preferably 5% or more with respect to the area of the target region, and the area ratio of the region having a height of 350 nm or more is 5% or more. More preferably, the area ratio of the region having a height of 500 nm or more is further preferably 5% or more. By setting the ratio of the area of the region having a height of 250 nm or more to 5% or more, excellent antireflection performance can be expressed in a wide incident light angle range.

光学素子1は、高さと、対象領域の平面視において当該高さ以上の領域が占める面積の割合(以下、充填率と呼ぶ)との関係を示す曲線(以下、相関曲線と呼ぶ)において、変曲点を2以上有していることが好ましい。このように、高さと充填率との相関曲線において変曲点を2以上有することで、当該相関曲線が、高さの基準点と高さが最大となる点とを結ぶ直線に近づき、その傾きがなだらかになる。相関曲線の傾斜は、微細凹凸構造10の傾斜に対応しており、なだらかな傾きの相関曲線は微細凹凸構造10の傾斜がなだらかであることを意味する。このため、相関曲線において変曲点を2以上有するようにすることで、微細凹凸構造10の傾斜をなだらかにして急峻な屈折率変化を抑制できる。これにより、反射防止性能が向上する。図5は、充填率及び変曲点について示す概念図である。図5Aは光学素子1の平面図であり、図5Bは図5AのB−B´断面図である。図5Cは高さと充填率との相関曲線を示す模式図である。図5A、Bに示すように、高さHaの充填率は、平面視における高さHa以上の領域Dの面積の和をS、対象領域の面積をSとして、S/Sで表される。また、変曲点とは、相関曲線を、高さxと充填率yの関数y=f(x)としたときに、f’(x)の増減が変化する点(増加が減少に転じる点、又は減少が増加に転じる点)をいう。例えば、図5Cにおいて、xがxより小さい領域ではf’(x)は単調に減少している(xが大きくなると接線の傾きが負方向に変化している)のに対し、xがxより大きい領域ではf’(x)は単調に増加している(xが大きくなると接線の傾きが正方向に変化している)。つまり、点(x,f(x))においてf’(x)の増減が変化している。このように、f’(x)の増減が変化する点(x,f(x))を変曲点と呼ぶ。なお、10nm以下の範囲における微細な形状変化は無視できる。 The optical element 1 varies in a curve (hereinafter referred to as a correlation curve) indicating a relationship between the height and a ratio of an area occupied by a region higher than the height in a plan view of the target region (hereinafter referred to as a filling rate). It is preferable to have two or more inflection points. Thus, by having two or more inflection points in the correlation curve between the height and the filling rate, the correlation curve approaches a straight line connecting the reference point of height and the point at which the height is maximum, and the inclination thereof Becomes gentle. The slope of the correlation curve corresponds to the slope of the fine concavo-convex structure 10, and the correlation curve of the gentle slope means that the slope of the fine concavo-convex structure 10 is gentle. For this reason, by having two or more inflection points in the correlation curve, the gradient of the fine concavo-convex structure 10 can be made gentle to suppress a steep refractive index change. Thereby, antireflection performance improves. FIG. 5 is a conceptual diagram showing the filling rate and the inflection point. 5A is a plan view of the optical element 1, and FIG. 5B is a cross-sectional view taken along the line BB ′ of FIG. 5A. FIG. 5C is a schematic diagram showing a correlation curve between height and filling rate. Figure 5A, as shown in B, the filling factor of the height Ha, the sum S D of the area of the height Ha or more regions D in the plan view, the area of the target region as S A, with S D / S A expressed. The inflection point is a point where the increase / decrease in f ′ (x) changes when the correlation curve is a function y = f (x) of the height x and the filling rate y (the point where the increase turns to decrease). Or the point where the decrease starts to increase). For example, in FIG. 5C, with respect to x is f 'of (x) is (when x is large tangent slope is changing in the negative direction) monotonically has decreased in x 0 smaller area, x is x In a region larger than 0 , f ′ (x) monotonously increases (when x increases, the tangent slope changes in the positive direction). That is, the increase / decrease in f ′ (x) changes at the point (x 0 , f (x 0 )). The point (x 0 , f (x 0 )) where the increase / decrease in f ′ (x) changes is called an inflection point. Note that a minute change in shape in the range of 10 nm or less is negligible.

光学素子1は、凹部12の高さ(すなわち、凹部12の底の高さ)の標準偏差が3以上20以下であることが好ましい。凹部12の高さをこの範囲にすることで、反射率の防止特性を向上させることができる。さらに、凸部11の高さ(すなわち、凸部11の頂点の高さ)の標準偏差が3以上20以下であるとより好ましい。凸部11の高さをこの範囲にすることで、反射率の防止特性をより向上させることができる。なお、凹部12の高さ及び/又は凸部11の高さの標準偏差を3以上20以下とする場合、相関曲線と、相関曲線において高さの基準点及び高さが最大となる点を結ぶ直線とを比較すると、高さの基準点付近及び高さが最大となる点付近では相関曲線と直線とのずれが大きくなる。そこで、前記のように相関曲線中に停留点が2以上現れるように微細凹凸構造10を形成することで、相関曲線と直線とが近づき、急峻な屈折率変化の無い、なだらかな相関曲線を得ることが可能となるため反射防止性能が向上する。   In the optical element 1, it is preferable that the standard deviation of the height of the recess 12 (that is, the height of the bottom of the recess 12) is 3 or more and 20 or less. By making the height of the recess 12 within this range, the reflectance prevention characteristic can be improved. Furthermore, it is more preferable that the standard deviation of the height of the convex portion 11 (that is, the height of the vertex of the convex portion 11) is 3 or more and 20 or less. By making the height of the convex portion 11 within this range, the reflectance prevention characteristic can be further improved. When the standard deviation of the height of the concave portion 12 and / or the height of the convex portion 11 is 3 or more and 20 or less, the correlation curve is connected to the height reference point and the point where the height is maximum in the correlation curve. When the straight line is compared, the deviation between the correlation curve and the straight line becomes large near the height reference point and near the maximum height. Therefore, by forming the fine concavo-convex structure 10 so that two or more stop points appear in the correlation curve as described above, the correlation curve and the straight line are close to each other, and a gentle correlation curve without a steep refractive index change is obtained. Therefore, the antireflection performance is improved.

光学素子1は、上述した尾根22を有することが好ましい。尾根を有する場合、湾曲に対する光学素子1の物理的強度が高まる。これにより、曲面画面を有するフレキシブルディスプレイなどへ適用が可能となる。また、広い波長領域において高い反射防止性能を得ることができる。ここで、尾根22の高さの平均値は、凸部11の高さの平均値に対して、20%以上80%以下であることが好ましく、30%以上70%であるとより好ましく、35%以上60%以下がさらに好ましい。上記範囲にすることで、湾曲に対する光学素子1の強度と反射防止性能とをバランスよく備えた光学素子1が実現できる。また、任意の単位格子内において、尾根は、4個又は8個存在することが好ましい。これにより、反射防止性能をさらに向上させることができる。   The optical element 1 preferably has the ridge 22 described above. In the case of having a ridge, the physical strength of the optical element 1 against bending is increased. This makes it possible to apply to a flexible display having a curved screen. Further, high antireflection performance can be obtained in a wide wavelength region. Here, the average value of the height of the ridge 22 is preferably 20% or more and 80% or less, more preferably 30% or more and 70% with respect to the average value of the height of the convex portion 11, % To 60% is more preferable. By setting the above range, the optical element 1 having a good balance between the strength of the optical element 1 against bending and the antireflection performance can be realized. Moreover, it is preferable that 4 or 8 ridges exist in an arbitrary unit cell. Thereby, the antireflection performance can be further improved.

また、微細凹凸構造10は、尾根22が存在する方向と尾根22が存在しない方向とが併存していることが好ましい。すなわち、尾根22が表れる断面と、尾根22が現れない断面とが併存することが好ましい。このような構造をとることで、反射防止性能をさらに向上させることができる。図6は、凹部12と尾根からなる断面30(尾根が存在する断面)における凹凸構造の断面プロファイルの例を示す図である。図6に示される断面では、凹部12の底22と尾根23とが確認できる。図7は、凸部11と凹部12とからなる断面31(尾根が存在しない断面)における微細凹凸構造10の断面プロファイルの例を示す図である。図7に示される断面では、凸部11の頂点20と凹部12の底22とが確認できる。図8は、凸部11と尾根からなる断面32(尾根が存在する断面)における微細凹凸構造10の断面プロファイルの例を示す図である。図8に示される断面では、凸部11の頂点20と尾根23とが確認できる。なお、図6、図7及び図8において、高さ方向の縮尺は同じになっている。   Moreover, it is preferable that the direction where the ridge 22 exists and the direction where the ridge 22 does not exist coexist in the fine concavo-convex structure 10. That is, it is preferable that a cross section where the ridge 22 appears and a cross section where the ridge 22 does not appear coexist. By taking such a structure, the antireflection performance can be further improved. FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a cross-sectional profile of the concavo-convex structure in a cross-section 30 (a cross-section in which a ridge exists) including the concave portion 12 and the ridge. In the cross section shown in FIG. 6, the bottom 22 and the ridge 23 of the recess 12 can be confirmed. FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a cross-sectional profile of the fine concavo-convex structure 10 in a cross-section 31 (a cross-section having no ridge) formed by the convex portions 11 and the concave portions 12. In the cross section shown in FIG. 7, the apex 20 of the convex portion 11 and the bottom 22 of the concave portion 12 can be confirmed. FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a cross-sectional profile of the fine concavo-convex structure 10 in a cross-section 32 (a cross-section where a ridge exists) including the convex portion 11 and the ridge. In the cross section shown in FIG. 8, the apex 20 and the ridge 23 of the convex part 11 can be confirmed. 6, 7 and 8, the scale in the height direction is the same.

尾根22の高さの均一度は、基準面Xを基準(高さ=0nm)とする尾根22の高さの平均値(Kave)と、任意の点jにおける尾根の高さ(Kj)との差の絶対値(|Kave−Kj|)の相加平均値で表される。光学素子1において、尾根の高さの均一度は60%以下が好ましく、40%以下がより好ましく、20%以下がさらに好ましく、10%以下が最も好ましい。60%以下であると反射防止性能を向上させることができる。尾根22の高さの均一度は、走査型プローブ顕微鏡により尾根22の高さを測定し、100個以上の測定値より算出することができる。   The uniformity of the height of the ridge 22 is the average value (Kave) of the height of the ridge 22 with respect to the reference plane X (height = 0 nm) and the height of the ridge (Kj) at an arbitrary point j. It is represented by an arithmetic average value of absolute values of differences (| Kave−Kj |). In the optical element 1, the ridge height uniformity is preferably 60% or less, more preferably 40% or less, further preferably 20% or less, and most preferably 10% or less. When it is 60% or less, the antireflection performance can be improved. The height uniformity of the ridge 22 can be calculated from 100 or more measured values by measuring the height of the ridge 22 with a scanning probe microscope.

光学素子1において、凸部11又は凹部12の配列パターンは、六方格子、四方格子、及びランダム格子のいずれでもよい。六方格子の場合、ある凸部11(又は凹部12)とこれに最も近接する6個の凸部11(又は凹部12)とのピッチPの最大値(Pmax)とピッチPの最小値(Pmin)との差を、ピッチの平均値(Pave)で除した値[(Pmax−Pmin)/Pave]は20%以下が好ましく、15%以下がより好ましく、10%以下がさらに好ましい。また、四方格子の場合、ある凸部11(又は凹部12)とこれに最も近接する4個の凸部11(又は凹部12)とのピッチPの最大値(Pmax)とピッチPの最小値(Pmin)との差を、ピッチPの平均値(Pave)で除した値[(Pmax−Pmin)/Pave]は20%以下が好ましく、15%以下がより好ましく、10%以下がさらに好ましい。また、ランダム格子の場合、凸部11(又は凹部12)とこれに隣接する4個(凸部11(又は凹部12)との距離が近いものから順に4個)の凸部11(又は凹部12)とのピッチPの最大値(Pmax)とピッチPの最小値(Pmin)との差を、ピッチPの平均値(Pave)で除した値[(Pmax−Pmin)/Pave]は20%以下が好ましく、15%以下がより好ましく、10%以下がさらに好ましい。(Pmax−Pmin)/Paveの値を20%以下にすることで、凸部11又は凹部12の配列パターンの規則性が高まる。これは、単位格子の形状が、六方格子の場合は正六角形へ、四方格子の場合は正方形へ近づくことを意味する。このように、凸部11又は凹部12の配列パターンの規則性を高めることにより、光学素子の反射防止性能の異方性を抑制することができる。   In the optical element 1, the arrangement pattern of the convex portions 11 or the concave portions 12 may be any of a hexagonal lattice, a tetragonal lattice, and a random lattice. In the case of a hexagonal lattice, the maximum value (Pmax) of the pitch P and the minimum value (Pmin) of the pitch P between the certain convex part 11 (or concave part 12) and the six convex parts 11 (or concave parts 12) closest thereto. The value [(Pmax−Pmin) / Pave] obtained by dividing the difference by the average pitch value (Pave) is preferably 20% or less, more preferably 15% or less, and even more preferably 10% or less. In the case of a tetragonal lattice, the maximum value (Pmax) and the minimum value (Pmax) of the pitch P between the certain convex portion 11 (or concave portion 12) and the four convex portions 11 (or concave portions 12) closest thereto. The value [(Pmax−Pmin) / Pave] obtained by dividing the difference from Pmin) by the average value (Pave) of the pitch P is preferably 20% or less, more preferably 15% or less, and even more preferably 10% or less. In the case of a random lattice, the convex portions 11 (or concave portions 12) and the four adjacent convex portions 11 (or concave portions 12 in order from the closest distance between the convex portions 11 (or concave portions 12)). ) And the difference between the maximum value (Pmax) of the pitch P and the minimum value (Pmin) of the pitch P by the average value (Pave) of the pitch P [(Pmax−Pmin) / Pave] is 20% or less Is preferably 15% or less, more preferably 10% or less. By setting the value of (Pmax−Pmin) / Pave to 20% or less, the regularity of the arrangement pattern of the convex portions 11 or the concave portions 12 is increased. This means that the shape of the unit cell approaches a regular hexagon in the case of a hexagonal lattice and a square in the case of a tetragonal lattice. Thus, the anisotropy of the antireflection performance of the optical element can be suppressed by increasing the regularity of the arrangement pattern of the convex portions 11 or the concave portions 12.

光学素子1の微細凹凸構造10において、単位格子の面積(Sall)と、基準面Xから10nm以下の高さとなる底面領域の面積の総和(Sb)との比率(Sb/Sall)は、10%以下であることが好ましい。また、Sb/Sallは5%以下であるとより好ましく、3%以下であるとさらに好ましく、最も好ましくは底面領域が点であることである。Sb/Sallを10%以下にすることで、広い波長領域での反射防止性能を向上することができる。図9に、単位格子と、底面領域との関係を模式的に示す。製造精度の限界により、Sb/Sallの下限は0.1%程度になる。ただし、Sb/Sallは小さければ小さいほど好ましく、0.1%以下であっても良い。単位格子の面積(Sall)は、例えば、表面SEM顕微鏡写真により求めることができる。また、凹部12の底面領域の面積(Sb)は、例えば、走査型プローブ顕微鏡を用いて求めることができる。底面領域の面積は、平面視における面積とする。   In the fine concavo-convex structure 10 of the optical element 1, the ratio (Sb / Sall) between the area (Sall) of the unit cell and the total area (Sb) of the bottom region having a height of 10 nm or less from the reference plane X is 10%. The following is preferable. Further, Sb / Sall is more preferably 5% or less, further preferably 3% or less, and most preferably the bottom region is a point. By making Sb / Sall 10% or less, antireflection performance in a wide wavelength region can be improved. FIG. 9 schematically shows the relationship between the unit cell and the bottom region. Due to the limit of manufacturing accuracy, the lower limit of Sb / Sall is about 0.1%. However, Sb / Sall is preferably as small as possible, and may be 0.1% or less. The area (Sall) of the unit cell can be determined by, for example, a surface SEM micrograph. In addition, the area (Sb) of the bottom surface region of the recess 12 can be obtained using, for example, a scanning probe microscope. The area of the bottom area is the area in plan view.

光学素子1において、高さ200nm以上の凸部11におけるピッチPと高さHの比で定義されるアスペクト比(H/P)の平均値は、0.67以上10以下が好ましく、1以上5以下が好ましい。アスペクト比の平均値を0.67以上にすることで、反射防止性能を向上でき、アスペクト比の平均値を10以下にすることで、光学素子作製時にスタンパーからの剥離性を保持でき、微細凹凸構造10の高さの平均偏差が小さい光学素子を得ることができる。   In the optical element 1, the average value of the aspect ratio (H / P) defined by the ratio of the pitch P and the height H in the convex portion 11 having a height of 200 nm or more is preferably 0.67 or more and 10 or less, and preferably 1 or more and 5 or more. The following is preferred. By making the average value of the aspect ratio 0.67 or more, the antireflection performance can be improved, and by making the average value of the aspect ratio 10 or less, the releasability from the stamper can be maintained at the time of producing the optical element, and the fine unevenness An optical element having a small average deviation of the height of the structure 10 can be obtained.

<基材>
光学素子1に用いられる基材には、(a)微細凹凸構造10を構成する組成物との接着性が良いこと、(b)微細凹凸構造10を構成する組成物との屈折率差が小さいこと、(c)微細凹凸構造10を構成する組成物層のヘーズが小さいこと、が求められる。また、基材には、(d)フレキシブル性を有し、(e)易加工性を有し、(f)高生産性を有し、(g)軽量であり、(h)高耐衝撃性を有し、(i)低価格であること、が求められる。(a)〜(c)の要件を満たす材料として、ガラス、樹脂が挙げられる。また、(a)〜(c)の要件に加え、(d)〜(g)の要件を満たす材料として、樹脂が挙げられる。なお、本発明に係る光学素子に用いられる基材はこれに限定されない。使用目的や用途に応じて、ガラス、セラミック、金属等の無機材料、樹脂等の有機材料を任意に選択することができる。
<Base material>
The base material used for the optical element 1 has (a) good adhesion to the composition constituting the fine concavo-convex structure 10 and (b) small refractive index difference from the composition constituting the fine concavo-convex structure 10. (C) The haze of the composition layer constituting the fine relief structure 10 is required to be small. The base material has (d) flexibility, (e) easy processability, (f) high productivity, (g) light weight, and (h) high impact resistance. (I) it is required to be inexpensive. Examples of materials that satisfy the requirements (a) to (c) include glass and resin. Moreover, resin is mentioned as a material which satisfy | fills the requirements of (d)-(g) in addition to the requirements of (a)-(c). In addition, the base material used for the optical element which concerns on this invention is not limited to this. An inorganic material such as glass, ceramic or metal, or an organic material such as resin can be arbitrarily selected according to the purpose of use or application.

本発明に係る光学素子には、透過性が要求される場合と非透過性が要求される場合がある。このため、目的や用途に応じて基材の種類を選択することが望ましい。透過性が必要な場合、目的とする波長領域で基材が透明である必要がある。この場合、基材として、透明な樹脂やガラスを用いることが好ましい。さらに屈曲性を要求される場合には、透明な樹脂を用いることが好ましい。また、非透過性が必要な場合、目的とする波長領域で基材が不透明である必要がある。この場合、基材として、セラミック、金属、不透明な樹脂を用いることが好ましい。さらに、屈曲性が要求され、(d)〜(g)を満たすためには、不透明な樹脂を用いることが好ましい。   The optical element according to the present invention may require transparency or non-transparency. For this reason, it is desirable to select the kind of base material according to the objective and the use. When transparency is required, the substrate needs to be transparent in the target wavelength region. In this case, it is preferable to use a transparent resin or glass as the substrate. Further, when flexibility is required, it is preferable to use a transparent resin. Moreover, when non-transparency is required, the base material needs to be opaque in the target wavelength region. In this case, it is preferable to use ceramic, metal, or opaque resin as the substrate. Further, in order to satisfy the requirements (d) to (g), it is preferable to use an opaque resin.

上記透明な樹脂として、例えば、ポリメタクリル酸メチル樹脂(PMMA樹脂)、アクリル系樹脂、ポリカーボネート樹脂(PC樹脂)、ポリスチレン樹脂(PS樹脂)、メタクリル酸メチル−スチレン樹脂(MS樹脂)、スチレン系樹脂、シクロオレフィン系樹脂(COP樹脂)、ポリアリレート樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリエーテルサルフォン樹脂、ポリサルフォン樹脂、ポリエーテルケトン樹脂、ポリエチレンテレフタレート樹脂(PET樹脂)、ポリエチレンナフタレート樹脂(PEN樹脂)、ポリトリメチレンテレフタレート樹脂、芳香族ポリエステル樹脂、トリアセチルセルロース樹脂(TAC樹脂)、ポリイミド樹脂あるいはアクリル系、エポキシ系、ウレタン系などの紫外線硬化性樹脂や熱硬化性樹脂が挙げられる。特に、PMMA樹脂、アクリル系樹脂、PC樹脂、PS樹脂、スチレン系樹脂、COP樹脂、PET樹脂、PEN樹脂、芳香族ポリエステル樹脂、TAC樹脂が好ましい。   Examples of the transparent resin include polymethyl methacrylate resin (PMMA resin), acrylic resin, polycarbonate resin (PC resin), polystyrene resin (PS resin), methyl methacrylate-styrene resin (MS resin), and styrene resin. , Cycloolefin resin (COP resin), polyarylate resin, polyetherimide resin, polyether sulfone resin, polysulfone resin, polyether ketone resin, polyethylene terephthalate resin (PET resin), polyethylene naphthalate resin (PEN resin), Examples include polytrimethylene terephthalate resin, aromatic polyester resin, triacetyl cellulose resin (TAC resin), polyimide resin, acrylic resin, epoxy resin, urethane resin such as ultraviolet curable resin, and thermosetting resin.In particular, PMMA resin, acrylic resin, PC resin, PS resin, styrene resin, COP resin, PET resin, PEN resin, aromatic polyester resin, and TAC resin are preferable.

上記不透明な樹脂として、例えば、ABS(アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン)樹脂、AAS(アクリロニトリル・アクリルゴム・スチレン)樹脂、AES(アクリロニトリル・エチレン−プロピレンジエン・スチレン)樹脂、ACS(アクリロニトリル・塩素化ポリエチレン・スチレン)樹脂、ゴム含有スチレン系樹脂、ゴム含有アクリル系樹脂、ポリアミド樹脂、ポリアセタール樹脂、ポリエチレン樹脂、架橋ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、変性ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリブチレンテレフタレート樹脂などが挙げられる。また、ABS樹脂(又は、AAS樹脂、AES樹脂、ACS樹脂、ゴム含有スチレン系樹脂)/ポリアミド樹脂、ABS樹脂(又は、AAS樹脂、AES樹脂、ACS樹脂、ゴム含有スチレン系樹脂)/アクリル系樹脂、等のアロイを挙げることができる。   Examples of the opaque resin include ABS (acrylonitrile / butadiene / styrene) resin, AAS (acrylonitrile / acrylic rubber / styrene) resin, AES (acrylonitrile / ethylene-propylenediene / styrene) resin, ACS (acrylonitrile / chlorinated polyethylene / Styrene) resin, rubber-containing styrene resin, rubber-containing acrylic resin, polyamide resin, polyacetal resin, polyethylene resin, crosslinked polyethylene resin, polypropylene resin, polyvinyl chloride resin, polyphenylene ether resin, modified polyphenylene ether resin, polybutylene terephthalate resin Etc. Also, ABS resin (or AAS resin, AES resin, ACS resin, rubber-containing styrene resin) / polyamide resin, ABS resin (or AAS resin, AES resin, ACS resin, rubber-containing styrene resin) / acrylic resin And the like.

基材が樹脂の場合、目的とする要件を損なわない範囲で、必要に応じて添加剤を加えても良い。添加剤は、樹脂に直接含有させても良く、及び/又は樹脂基材表面に層形成させても良い。添化剤の種類として、例えば、有機及び/又は無機粒子、可塑剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、帯電防止剤、防曇剤、易接着剤等を挙げることができる。   In the case where the substrate is a resin, an additive may be added as necessary as long as the target requirements are not impaired. The additive may be directly contained in the resin and / or may be layered on the surface of the resin substrate. Examples of the additive include organic and / or inorganic particles, plasticizers, antioxidants, ultraviolet absorbers, antistatic agents, antifogging agents, and easy adhesives.

光学素子1の非透過性を向上させるために、基材の樹脂中に黒色の顔料及び/又は染料を含有させても良い。また、微細凹凸構造10の非形成面に黒色塗料を塗装しても良い。   In order to improve the impermeability of the optical element 1, a black pigment and / or dye may be contained in the resin of the base material. Further, a black paint may be applied to the non-formed surface of the fine uneven structure 10.

また、目的とする要件を損なわない範囲で、樹脂基材表面に、バリア性樹脂層をコーティング等により形成しても良い。樹脂基材表面に、バリア性樹脂層を形成することで、熱、光、水分、酸素、二酸化炭素、窒素、水素などの劣化要因から樹脂基材を保護することができる。   In addition, a barrier resin layer may be formed on the surface of the resin base material by coating or the like as long as the target requirements are not impaired. By forming the barrier resin layer on the surface of the resin substrate, the resin substrate can be protected from deterioration factors such as heat, light, moisture, oxygen, carbon dioxide, nitrogen, and hydrogen.

基材がガラスの場合、シランカップリング剤やプライマー処理やUV処理などの表面処理を適用することができる。また、これらを組み合わせて用いても良い。   When the substrate is glass, a surface treatment such as a silane coupling agent, primer treatment, or UV treatment can be applied. Moreover, you may use combining these.

また、基材として、表面コーティングや接着層や干渉低減層が形成されている基材を使用しても良い。   Moreover, you may use the base material in which the surface coating, the contact bonding layer, and the interference reduction layer are formed as a base material.

基材の形状としては、板、シート、フィルム、薄膜、織物、不織布、その他任意の形状及びこれらを複合化したものを、使用目的に応じて選択することができる。屈曲性が必要な場合は、シート、フィルム、薄膜、織物、不織布とすることが好ましい。   As a shape of a base material, a board, a sheet, a film, a thin film, a woven fabric, a nonwoven fabric, other arbitrary shapes, and what combined these can be selected according to the intended purpose. When flexibility is required, it is preferable to use a sheet, a film, a thin film, a woven fabric, or a non-woven fabric.

基材の厚みは、使用目的に応じて選択することができる。薄肉化又はフレキシブル化が要求される場合、基材の厚みは350μm以下が好ましく、120μm以下がより好ましく、80μm以下がさらに好ましく、40μm以下が最も好ましい。また、取り扱い容易性の点で、基材の厚みは10μm以上が好ましい。   The thickness of the substrate can be selected according to the purpose of use. When thinning or flexibility is required, the thickness of the substrate is preferably 350 μm or less, more preferably 120 μm or less, further preferably 80 μm or less, and most preferably 40 μm or less. Further, the thickness of the substrate is preferably 10 μm or more from the viewpoint of easy handling.

<微細凹凸構造を構成する組成物>
光学素子1が有する凸部11と凹部12とを含む微細凹凸構造10を構成する組成物の種類としては、光硬化組成物、熱硬化組成物、熱可塑組成物等から選択することができるが、転写忠実性の点で、光硬化組成物を用いて形成されることが好ましい。微細凹凸構造10に用いられる光硬化組成物中の単量体及びオリゴマー(以下、単量体成分ともいう。)の種類として、反応速度と連続生産性の観点から、ラジカル重合系単量体成分がより好ましく、スタンパーの凹凸構造パターン深部での反応性を高める観点から、ラジカル重合系単量体へ反応寿命の長いカチオン重合系単量体成分を混合しても良い。光硬化用のカチオン重合系単量体として、重合性官能基がエポキシ基やビニルオキシ基、オキセタニル基、オキサゾリル基等を有する単量体が好ましい。
<Composition constituting the fine relief structure>
The type of the composition constituting the fine concavo-convex structure 10 including the convex portion 11 and the concave portion 12 included in the optical element 1 can be selected from a photocuring composition, a thermosetting composition, a thermoplastic composition, and the like. From the viewpoint of transfer fidelity, it is preferably formed using a photocurable composition. As the types of monomers and oligomers (hereinafter also referred to as monomer components) in the photocurable composition used in the fine relief structure 10, radical polymerization monomer components are used from the viewpoint of reaction rate and continuous productivity. It is more preferable, and from the viewpoint of increasing the reactivity of the stamper in the deep part of the concave-convex structure pattern, a cationic polymerization monomer component having a long reaction lifetime may be mixed with the radical polymerization monomer. As the photopolymerization cationic monomer, a monomer having a polymerizable functional group having an epoxy group, a vinyloxy group, an oxetanyl group, an oxazolyl group, or the like is preferable.

ラジカル系単量体成分としては、例えば、メチルアクリレート、エチルアクリレート、
n−ブチルアクリレート、イソブチルアクリレート、t−ブチルアクリレート、2−エチルヘキシルアクリレート、イソデシルアクリレート、イソアミルアクリレート、n−ラウリルアクリレート、イソミリスチルアクリレート、ステアリルアクリレート、n−ブトキシエチルアクリレート、ブトキシジエチレングリコールアクリレート、メトキシトリエチレングリコールアクリレート、メトキシポリエチレングリコールアクリレート、トリプロピレングリコールジアクリレート、テトラエチレングリコールジアクリレート、カプロラクトンアクリレート、シクロヘキシルアクリレート、テトラヒドロフルフリルアクリレート、ベンジルアクリレート、フェノキシエチルアクリレート、イソボルニルアクリレート、ジシクロペンテニルアクリレート、ジシクロペンテニルオキシエチルアクリレート、ジシクロペンタニルアクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレート、4−ヒドロキシブチルアクリレート、2−ヒドロキシプロピルアクリレート、ジエチルアミノエチルアクリレート、ジメチルアミノエチルアクリレート4級化物、アクリル酸、2−アクリロイロキシエチルコハク酸、2−アクリロイロキシエチルヘキサヒドロフタル酸、2−アクリロイロキシエチルフタル酸、2−アクリロイロキシエチル2−ヒドロキシエチルフタル酸、ネオペンチルグリコールアクリル酸安息香酸エステル、2−アクリロイロキシエチル2−ヒドロキシプロピルフタレート、グリシジルアクリレート、2−アクリロイロキシエチルアシッドホスフェート、エチレングリコールジアクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、トリエチレングリコールジアクリレート、PEG#200ジアクリレート、PEG#400ジアクリレート、PEG#600ジアクリレート、1,4−ブタンジオールジアクリレート、ネオペンチルグリコールジアクリレート、3−メチル−1,5−ペンタンジオールジアクリレート、2−ブチル−2−エチル−1,3−プロパンジオールジアクリレート、1,6−ヘキサンジオールジアクリレート、1,9−ノナンジオールジアクリレート、1,10−デカンジオールジアクリレート、グリセリンジアクリレート、2−ヒドロキシ−3−アクリロイロキシプロピルアクリレート、ビスフェノールA−EO付加物ジアクリレート、トリフロロエチルアクリレート、テトラフルオロペンチルアクリレート、オクタフルオロペンチルアクリレート、パーフロロオクチルエチルアクリレート、ノニルフェノール−EO付加物アクリレート、ジメチロールトリシクロデカンジアクリレート、トリメチロールプロパンアクリル酸安息香酸エステル、ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコールジアクリレート、テトラフルフリルアルコールオリゴアクリレート、エチルカルビトールオリゴアクリレート、1,4−ブタンジオールオリゴアクリレート、1,6−ヘキサンジオールオリゴアクリレート、トリメチロールプロパンオリゴアクリレート、ペンタエリスリトールオリゴアクリレート、ペンタメチルピペリジルアクリレート、テトラメチルピペリジルアクリレート、パラクミルフェノール−EO変性アクリレート、N−アクリロイロキシエチルヘキサヒドロフタルイミド、イソシアヌル酸−EO変性ジアクリレート、メチルメタクリレート、エチルメタクリレート、n−ブチルメタクリレート、イソブチルメタクリレート、t−ブチルメタクリレート、2−エチルヘキシルメタクリレート、イソデシルメタクリレート、イソアミルメタクリレート、n−ラウリルメタクリレート、イソミリスチルメタクリレート、ステアリルメタクリレート、n−ブトキシエチルメタクリレート、ブトキシジエチレングリコールメタクリレート、メトキシトリエチレングリコールメタクリレート、メトキシポリエチレングリコールメタクリレート、トリプロピレングリコールジメタクリレート、テトラエチレングリコールジメタクリレート、カプロラクトンメタクリレート、シクロヘキシルメタクリレート、テトラヒドロフルフリルメタクリレート、ベンジルメタクリレート、フェノキシエチルメタクリレート、イソボルニルメタクリレート、ジシクロペンテニルメタクリレート、ジシクロペンテニルオキシエチルメタクリレート、ジシクロペンタニルメタクリレート、2−ヒドロキシエチルメタクリレート、4−ヒドロキシブチルメタクリレート、2−ヒドロキシプロピルメタクリレート、ジエチルアミノエチルメタクリレート、ジエチルアミノエチルメタクリレート、ジメチルアミノエチルメタクリレート4級化物、メタクリル酸、2−メタクリロイロキシエチルコハク酸、2−メタクリロイロキシエチルヘキサヒドロフタル酸、2−メタクリロイロキシエチルフタル酸、2−メタクリロイロキシエチル2−ヒドロキシエチルフタル酸、ネオペンチルグリコールメタクリル酸安息香酸エステル、2−メタクリロイロキシエチル−2−ヒドロキシプロピルフタレート、グリシジルメタクリレート、2−メタクリロイロキシエチルアシッドホスフェート、エチレングリコールジメタクリレート、ジエチレングリコールジメタクリレート、トリエチレングリコールジメタクリレート、PEG#200ジメタクリレート、PEG#400ジメタクリレート、PEG#600ジメタクリレート、1,4−ブタンジオールジメタクリレート、ネオペンチルグリコールジメタクリレート、3−メチル−1,5−ペンタンジオールジメタクリレート、2−ブチル−2−エチル−1,3−プロパンジオールジメタクリレート、1,6−ヘキサンジオールジメタクリレート、1,9−ノナンジオールジメタクリレート、1,10−デカンジオールジメタクリレート、グリセリンジメタクリレート、2−ヒドロキシ−3−アクリロイロキシプロピルメタクリレート、ビスフェノールA−EO付加物ジメタクリレート、トリフロロエチルメタクリレート、テトラフルオロペンチルメタクリレート、オクタフルオロペンチルメタクリレート、パーフロロオクチルエチルメタクリレート、ノニルフェノール−EO付加物メタクリレート、ジメチロールトリシクロデカンジメタクリレート、トリメチロールプロパンメタクリル酸安息香酸エステル、ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコールジメタクリレート、テトラフルフリルアルコールオリゴメタクリレート、エチルカルビトールオリゴメタクリレート、1,4−ブタンジオールオリゴメタクリレート、1,6−ヘキサンジオールオリゴメタクリレート、トリメチロールプロパンオリゴメタクリレート、ペンタエリスリトールオリゴメタクリレート、ペンタメチルピペリジルメタクリレート、テトラメチルピペリジルメタクリレート、パラクミルフェノール−EO変性メタクリレート、N−メタクリロイロキシエチルヘキサヒドロフタルイミド、イソシアヌル酸−EO変性ジメタクリレート、3−エチル−3−ヒドロキシメチルオキセタン、1,4−ビス{[(3−エチルオキセタン−3−イル)メトキシ]メチル}ベンゼン、3−エチル−3−{[(3−エチルオキセタン−3−イル)メトキシ]メチル}オキセタン、3−エチル−3−(2−エチルヘキシロキシメチル)オキセタン、3−エチル−3−(フェノキシメチル)オキセタン、3−エチル−3−(シクロヘキシロキシ)メチルオキセタン、オキセタニルシルセスキオキサン、オキセタニルシリケート、フェノールノボラックオキセタン、1,3−ビス[(3−エチルオキセタン−3−イル)メトキシ]ベンゼンなどが挙げられる。
Examples of radical monomer components include methyl acrylate, ethyl acrylate,
n-butyl acrylate, isobutyl acrylate, t-butyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, isodecyl acrylate, isoamyl acrylate, n-lauryl acrylate, isomyristyl acrylate, stearyl acrylate, n-butoxyethyl acrylate, butoxydiethylene glycol acrylate, methoxytriethylene Glycol acrylate, methoxy polyethylene glycol acrylate, tripropylene glycol diacrylate, tetraethylene glycol diacrylate, caprolactone acrylate, cyclohexyl acrylate, tetrahydrofurfuryl acrylate, benzyl acrylate, phenoxyethyl acrylate, isobornyl acrylate, dicyclopentenyl acrylate Dicyclopentenyloxyethyl acrylate, dicyclopentanyl acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, 4-hydroxybutyl acrylate, 2-hydroxypropyl acrylate, diethylaminoethyl acrylate, dimethylaminoethyl acrylate quaternized product, acrylic acid, 2 -Acryloyloxyethyl succinic acid, 2-acryloyloxyethyl hexahydrophthalic acid, 2-acryloyloxyethyl phthalic acid, 2-acryloyloxyethyl 2-hydroxyethyl phthalic acid, neopentyl glycol acrylic acid benzoate, 2-acryloyloxyethyl 2-hydroxypropyl phthalate, glycidyl acrylate, 2-acryloyloxyethyl acid phosphate, ethylene glycol diacrylate Diethylene glycol diacrylate, triethylene glycol diacrylate, PEG # 200 diacrylate, PEG # 400 diacrylate, PEG # 600 diacrylate, 1,4-butanediol diacrylate, neopentyl glycol diacrylate, 3-methyl-1,5 -Pentanediol diacrylate, 2-butyl-2-ethyl-1,3-propanediol diacrylate, 1,6-hexanediol diacrylate, 1,9-nonanediol diacrylate, 1,10-decanediol diacrylate, Glycerin diacrylate, 2-hydroxy-3-acryloyloxypropyl acrylate, bisphenol A-EO adduct diacrylate, trifluoroethyl acrylate, tetrafluoropentyl acrylate , Octafluoropentyl acrylate, perfluorooctyl ethyl acrylate, nonylphenol-EO adduct acrylate, dimethylol tricyclodecane diacrylate, trimethylol propane acrylate benzoate, hydroxypivalate neopentyl glycol diacrylate, tetrafurfuryl alcohol oligo Acrylate, ethyl carbitol oligoacrylate, 1,4-butanediol oligoacrylate, 1,6-hexanediol oligoacrylate, trimethylolpropane oligoacrylate, pentaerythritol oligoacrylate, pentamethylpiperidyl acrylate, tetramethylpiperidyl acrylate, paracumylphenol -EO modified acrylate, N-acryloyloxyethyl Sahydrophthalimide, isocyanuric acid-EO modified diacrylate, methyl methacrylate, ethyl methacrylate, n-butyl methacrylate, isobutyl methacrylate, t-butyl methacrylate, 2-ethylhexyl methacrylate, isodecyl methacrylate, isoamyl methacrylate, n-lauryl methacrylate, isomristyl Methacrylate, stearyl methacrylate, n-butoxyethyl methacrylate, butoxydiethylene glycol methacrylate, methoxytriethylene glycol methacrylate, methoxypolyethylene glycol methacrylate, tripropylene glycol dimethacrylate, tetraethylene glycol dimethacrylate, caprolactone methacrylate, cyclohexyl methacrylate , Tetrahydrofurfuryl methacrylate, benzyl methacrylate, phenoxyethyl methacrylate, isobornyl methacrylate, dicyclopentenyl methacrylate, dicyclopentenyloxyethyl methacrylate, dicyclopentanyl methacrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, 4-hydroxybutyl methacrylate, 2- Hydroxypropyl methacrylate, diethylaminoethyl methacrylate, diethylaminoethyl methacrylate, dimethylaminoethyl methacrylate quaternized product, methacrylic acid, 2-methacryloyloxyethyl succinic acid, 2-methacryloyloxyethyl hexahydrophthalic acid, 2-methacryloyloxyethyl phthalate Acid, 2-methacryloyloxyethyl 2-hydroxyethylphthalic acid, neo Pentyl glycol methacrylic acid benzoate, 2-methacryloyloxyethyl-2-hydroxypropyl phthalate, glycidyl methacrylate, 2-methacryloyloxyethyl acid phosphate, ethylene glycol dimethacrylate, diethylene glycol dimethacrylate, triethylene glycol dimethacrylate, PEG # 200 dimethacrylate, PEG # 400 dimethacrylate, PEG # 600 dimethacrylate, 1,4-butanediol dimethacrylate, neopentyl glycol dimethacrylate, 3-methyl-1,5-pentanediol dimethacrylate, 2-butyl-2- Ethyl-1,3-propanediol dimethacrylate, 1,6-hexanediol dimethacrylate, 1,9-nonanediol dimethyl Chryrate, 1,10-decanediol dimethacrylate, glycerin dimethacrylate, 2-hydroxy-3-acryloyloxypropyl methacrylate, bisphenol A-EO adduct dimethacrylate, trifluoroethyl methacrylate, tetrafluoropentyl methacrylate, octafluoropentyl methacrylate Perfluorooctylethyl methacrylate, nonylphenol-EO adduct methacrylate, dimethylol tricyclodecane dimethacrylate, trimethylolpropane methacrylic acid benzoate, hydroxypivalate neopentyl glycol dimethacrylate, tetrafurfuryl alcohol oligomethacrylate, ethyl carbitol Oligomethacrylate, 1,4-butanediol oligomethacrylate 1,6-hexanediol oligomethacrylate, trimethylolpropane oligomethacrylate, pentaerythritol oligomethacrylate, pentamethylpiperidylmethacrylate, tetramethylpiperidylmethacrylate, paracumylphenol-EO modified methacrylate, N-methacryloyloxyethylhexahydrophthalimide, Isocyanuric acid-EO modified dimethacrylate, 3-ethyl-3-hydroxymethyloxetane, 1,4-bis {[(3-ethyloxetane-3-yl) methoxy] methyl} benzene, 3-ethyl-3-{[( 3-ethyloxetane-3-yl) methoxy] methyl} oxetane, 3-ethyl-3- (2-ethylhexyloxymethyl) oxetane, 3-ethyl-3- (phenoxymethyl) oxetane , 3-ethyl-3- (cyclohexyloxy) methyl oxetane, oxetanylsilsesquioxane, oxetanyl silicate, phenol novolac oxetane, 1,3-bis [(3-ethyloxetane-3-yl) methoxy] benzene, and the like. .

微細凹凸構造10を構成する組成物の組成は、微細凹凸構造10を構成する組成物中の単量体成分合計100質量部中、1分子中に3個以上のアクリル基及び/又はメタクリル基を有する1種類以上の単量体成分が20〜60質量部、N−ビニル基を有する単量体成分が5〜40質量部、その他単量体成分が0〜75質量部であることが好ましい。   The composition of the fine concavo-convex structure 10 includes three or more acrylic groups and / or methacrylic groups in one molecule in 100 parts by mass of the monomer components in the composition constituting the fine concavo-convex structure 10. It is preferable that the one or more kinds of monomer components have 20 to 60 parts by mass, the monomer component having an N-vinyl group 5 to 40 parts by mass, and the other monomer components 0 to 75 parts by mass.

1分子中に3個以上のアクリル基及び/又はメタクリル基を含有する1種以上の単量体成分は、微細凹凸構造10を構成する組成物中の単量体成分合計100質量部中、25〜50質量部であることがより好ましく、30〜40質量部含有することがさらに好ましい。20質量部以上にすることで、微細凹凸構造10を構成する組成物部分が高強度になり、また高架橋密度となるため、微細凹凸構造10を構成する組成物部分からの未反応単量体及び低重合度オリゴマーのブリードアウトや副生成物の生成を最低限抑制することができる。また60質量部以下とすることで、微細凹凸構造10を構成する組成物の粘度上昇を抑制でき、微細凹凸構造10を構成する組成物のスタンパーの凹部と凸部のパターンへの充填率低下を防止できる。   One or more types of monomer components containing three or more acrylic groups and / or methacrylic groups in one molecule are 25 in total of 100 parts by mass of monomer components in the composition constituting the fine relief structure 10. It is more preferable that it is -50 mass parts, and it is still more preferable to contain 30-40 mass parts. By setting it to 20 parts by mass or more, the composition part constituting the fine relief structure 10 has high strength and has a high crosslinking density. Therefore, unreacted monomers from the composition part constituting the fine relief structure 10 and Bleed out of low polymerization degree oligomer and generation of by-products can be minimized. Moreover, by setting it as 60 mass parts or less, the viscosity increase of the composition which comprises the fine concavo-convex structure 10 can be suppressed, and the filling rate reduction to the pattern of the recessed part and convex part of the stamper of the composition which comprises the fine concavo-convex structure 10 can be reduced. Can be prevented.

1分子中に3個以上のアクリル基及び/又はメタクリル基を含有する単量体成分としては、例えばトリメチロールプロパントリアクリレート、エトキシ化トリメチロールプロパントリアクリレート、プロポキシ化トリメチロールプロパントリアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、プロポキシ化グリセルトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレート、エトキシ化ペンタエリスリトールテトラアクリレート、ジトリメチロールプロパンテトラアクリレート、ジペンタエリスリトールペンタアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート、トリス(2−ヒドロキシエチル)イソシアヌレートトリアクリレート、トリスアクリロイルオキシエチルフォスフェート、3官能以上のポリエステルアクリレートオリゴマー、3官能以上のウレタンアクリレートオリゴマー、3官能以上のエポキシアクリレートオリゴマー、トリメチロールプロパントリメタアクリレート、エトキシ化トリメチロールプロパントリメタアクリレート、プロポキシ化トリメチロールプロパントリメタアクリレート、ペンタエリスリトールトリメタアクリレート、プロポキシ化グリセルトリメタアクリレート、ペンタエリスリトールテトラメタアクリレート、エトキシ化ペンタエリスリトールテトラメタアクリレート、ジトリメチロールプロパンテトラメタアクリレート、ジペンタエリスリトールペンタメタアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサメタアクリレート、トリス(2−ヒドロキシエチル)イソシアヌレートトリメタアクリレート、トリスメタアクリロイルオキシエチルフォスフェート、3官能以上のポリエステルメタアクリレートオリゴマー、3官能以上のウレタンメタアクリレートオリゴマー、3官能以上のエポキシメタアクリレートオリゴマーなどが挙げられる。ここで、エトキシ化及びプロポキシ化された単量体成分とは、単量体1分子当たり、1〜20当量の1種以上のエトキシ基及び/又はプロポキシ基を含む単量体成分をさす。   Examples of monomer components containing three or more acrylic groups and / or methacrylic groups in one molecule include trimethylolpropane triacrylate, ethoxylated trimethylolpropane triacrylate, propoxylated trimethylolpropane triacrylate, and pentaerythritol. Triacrylate, propoxylated glyceryl triacrylate, pentaerythritol tetraacrylate, ethoxylated pentaerythritol tetraacrylate, ditrimethylolpropane tetraacrylate, dipentaerythritol pentaacrylate, dipentaerythritol hexaacrylate, tris (2-hydroxyethyl) isocyanurate triacrylate , Trisacryloyloxyethyl phosphate, trifunctional or higher polyester acrylate Oligomer, trifunctional or higher urethane acrylate oligomer, trifunctional or higher epoxy acrylate oligomer, trimethylolpropane trimethacrylate, ethoxylated trimethylolpropane trimethacrylate, propoxylated trimethylolpropane trimethacrylate, pentaerythritol trimethacrylate, Propoxylated glyceryl trimethacrylate, pentaerythritol tetramethacrylate, ethoxylated pentaerythritol tetramethacrylate, ditrimethylolpropane tetramethacrylate, dipentaerythritol pentamethacrylate, dipentaerythritol hexamethacrylate, tris (2-hydroxyethyl) isocyania Nurate trimethacrylate, trismethacrylo Oxyethyl phosphate, tri- or higher-functional polyester methacrylate oligomer, trifunctional or higher urethane methacrylate oligomer, and the like trifunctional or more epoxy methacrylate oligomer. Here, the ethoxylated and propoxylated monomer component refers to a monomer component containing 1 to 20 equivalents of one or more ethoxy groups and / or propoxy groups per monomer molecule.

1分子中に3個以上のアクリル基及び/又はメタクリル基を含有する単量体成分の中でも、トリメチロールプロパントリアクリレート、エトキシ化トリメチロールプロパントリアクリレート、プロポキシ化トリメチロールプロパントリアクリレート、トリメチロールプロパントリメタアクリレート、エトキシ化トリメチロールプロパントリメタアクリレート、プロポキシ化トリメチロールプロパントリメタアクリレートは諸物性のバランスが良いので好ましい。中でもトリメチロールプロパントリアクリレート、トリメチロールプロパントリメタアクリレートが、硬化後のスタンパーからの硬化成形体の離型性に優れるため、より好ましい。1分子中に3個以上のアクリル基及び/又はメタクリル基を含有する単量体成分は、1種類又は2種類以上用いても良い。   Among the monomer components containing three or more acrylic groups and / or methacrylic groups in one molecule, trimethylolpropane triacrylate, ethoxylated trimethylolpropane triacrylate, propoxylated trimethylolpropane triacrylate, trimethylolpropane Trimethacrylate, ethoxylated trimethylolpropane trimethacrylate, and propoxylated trimethylolpropane trimethacrylate are preferred because of a good balance of physical properties. Among these, trimethylolpropane triacrylate and trimethylolpropane trimethacrylate are more preferable because they are excellent in the release property of the cured molded product from the cured stamper. One type or two or more types of monomer components containing three or more acrylic groups and / or methacrylic groups in one molecule may be used.

N−ビニル基を有する単量体成分は、微細凹凸構造10を構成する組成物中の単量体成分合計100質量部中、15〜38質量部含有することがより好ましく、25〜35質量部含有することがさらに好ましい。N−ビニル基を有する単量体成分を5質量部以上含有することにより、成型体の基材への付着性を向上できる、かつ硬化後の成型体のスタンパーからの離型性を良好にすることができ、また40質量部以下含有することにより、未反応単量体及び低重合度オリゴマーの成型体からブリードアウトを最低限抑制でき、また成型体の過度の吸湿も抑制でき、成型体の耐湿特性を向上することができる。   The monomer component having an N-vinyl group is more preferably contained in an amount of 15 to 38 parts by mass in a total of 100 parts by mass of the monomer components in the composition constituting the fine concavo-convex structure 10, and 25 to 35 parts by mass. It is more preferable to contain. By containing 5 parts by mass or more of the monomer component having an N-vinyl group, the adhesion of the molded body to the base material can be improved, and the mold release from the stamper of the molded body after curing is improved. In addition, by containing 40 parts by mass or less, bleed out can be suppressed to a minimum from the molded body of the unreacted monomer and the low polymerization degree oligomer, and excessive moisture absorption of the molded body can be suppressed. Moisture resistance can be improved.

N−ビニル基を有する単量体成分としては、N−ビニルホルムアミド、N−ビニルアセトアミド、N−ビニルピロリドン、及びN−ビニルカプロラムタムが、特に好ましく用いることができる。N−ビニル基を有する単量体成分は、1種類又は2種類以上用いても良い。   As the monomer component having an N-vinyl group, N-vinylformamide, N-vinylacetamide, N-vinylpyrrolidone, and N-vinylcaprolatum are particularly preferably used. One or more kinds of monomer components having an N-vinyl group may be used.

<シリコン系化合物>
微細凹凸構造10を構成する組成物には、アクリル基及び/又はメタクリル基を含むシリコン化合物を含有しても良い。微細凹凸構造10を構成する組成物の単量体成分合計100質量部に対し、アクリル基及び/又はメタクリル基を含むシリコン化合物を0.1〜10質量部含有することが好ましく、0.2〜5質量部含有することがより好ましく、0.3〜2質量部含有することがさらに好ましい。0.1質量部以上含有させることで、硬化後の光学素子をスタンパーからの離型性をさらに向上でき、10質量部以下含有させることにより、光学素子1の微細凹凸構造10を構成する組成物層、特に微細凹凸構造10の強度を維持できる。
<Silicon compounds>
The composition constituting the fine concavo-convex structure 10 may contain a silicon compound containing an acryl group and / or a methacryl group. It is preferable to contain 0.1-10 mass parts of silicon compounds containing an acryl group and / or a methacryl group with respect to 100 mass parts in total of the monomer components of the composition constituting the fine concavo-convex structure 10. The content is more preferably 5 parts by mass, and further preferably 0.3 to 2 parts by mass. By containing 0.1 part by mass or more, the releasability of the cured optical element from the stamper can be further improved, and by containing 10 parts by mass or less, the composition constituting the fine uneven structure 10 of the optical element 1 The strength of the layer, particularly the fine relief structure 10 can be maintained.

アクリル基及び/又はメタクリル基を含むシリコン化合物の種類として、例えばシリコンアクリレート系化合物を挙げることができる。ポリジメチルシロキサン骨格にアクリル基を結合させた、BYK−UV3500、BYK−UV3570(ビックケミー・ジャパン社製)、ebecryl350(ダイセル・サイテック社製)が、硬化後の光学素子1の微細凹凸構造10を構成する組成物層からのブリードアウトも少なく、より好ましい。   As a kind of silicon compound containing an acryl group and / or a methacryl group, for example, a silicon acrylate compound can be exemplified. BYK-UV3500, BYK-UV3570 (manufactured by Big Chemie Japan) and ebecryl 350 (manufactured by Daicel-Cytec), which have an acrylic group bonded to the polydimethylsiloxane skeleton, constitute the fine uneven structure 10 of the optical element 1 after curing. The bleed-out from the composition layer is less and more preferable.

<光重合開始剤>
微細凹凸構造10を構成する組成物として、光硬化組成物を用いる場合、光重合開始剤を含有することができる。光重合開始剤としては、例えば、2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン、1−ヒドロキシ−シクロヘキシル−フェニル−ケトン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニル−プロパン−1−オン、ベンゾフェノン、1−ヒドロキシ−シクロヘキシル−フェニル−ケトン、1−[4−(2−ヒドロキシエトキシ)−フェニル]−2−ヒドロキシ−2−メチル−1−プロパン−1−オン、2−ヒドロキシ−1−{4−[4−(2−ヒドロキシ−2−メチル−プロピオニル)−ベンジル]―フェニル}−2−メチル−プロパン、フェニルグリオキシリックアシッドメチルエステル、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モリフォリノプロパン−1−オン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノン、1,2−ジメチルアミノ−2−(4−メチル−ベンジル)−1−(4−モルフォリン−4−イル−フェニル)−ブタン−1−オン、ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フェニルフォスフィンオキサイド、ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フェニルフォスフィンオキサイド、2,4,6−トリメチルベンゾイル−ジフェニル−フォスフィンオキサイド、ビス(η5−2,4−シクロペンタジエン−1−イル)−ビス(2,6−ジフルオロ−3−(1H−ピロール−1−イル)−フェニル)チタニウム、1,2−オクタンジオン,1−[4−(フェニルチオ)−2−(O−ベンゾイルオキシム)]エタノン、1−[9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル]−1−(O−アセチルオキシム)などが挙げられるが、特に本発明においては、高感度で、低揮発性である2,4,6−トリメチルベンゾイル−ジフェニル−フォスフィンオキサイド、1,2−オクタンジオン、1−[4−(フェニルチオ)−2−(O−ベンゾイルオキシム)]エタノン、1−[9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル]−1−(O−アセチルオキシム)などを好ましく用いることができる。光重合開始剤の配合比は、光硬化組成物中の単量体成分合計100質量部に対し、0.1〜5.0質量部であることが好ましい。これら光重合開始剤は単独で適用することも可能であるが、2種以上を組み合わせて使用することもできる。
<Photopolymerization initiator>
When using a photocurable composition as a composition which comprises the fine concavo-convex structure 10, a photoinitiator can be contained. Examples of the photopolymerization initiator include 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one, 1-hydroxy-cyclohexyl-phenyl-ketone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl-propane- 1-one, benzophenone, 1-hydroxy-cyclohexyl-phenyl-ketone, 1- [4- (2-hydroxyethoxy) -phenyl] -2-hydroxy-2-methyl-1-propan-1-one, 2-hydroxy -1- {4- [4- (2-hydroxy-2-methyl-propionyl) -benzyl] -phenyl} -2-methyl-propane, phenylglyoxylic acid methyl ester, 2-methyl-1- [4- (Methylthio) phenyl] -2-morpholinopropan-1-one, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4- Ruphorinophenyl) -butanone, 1,2-dimethylamino-2- (4-methyl-benzyl) -1- (4-morpholin-4-yl-phenyl) -butan-1-one, bis (2,4 , 6-trimethylbenzoyl) -phenylphosphine oxide, bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) -phenylphosphine oxide, 2,4,6-trimethylbenzoyl-diphenyl-phosphine oxide, bis (η5-2, 4-cyclopentadien-1-yl) -bis (2,6-difluoro-3- (1H-pyrrol-1-yl) -phenyl) titanium, 1,2-octanedione, 1- [4- (phenylthio)- 2- (O-benzoyloxime)] ethanone, 1- [9-ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9H-carbazole-3 -Yl] -1- (O-acetyloxime) and the like. In the present invention, 2,4,6-trimethylbenzoyl-diphenyl-phosphine oxide having high sensitivity and low volatility, 2-octanedione, 1- [4- (phenylthio) -2- (O-benzoyloxime)] ethanone, 1- [9-ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9H-carbazol-3-yl]- 1- (O-acetyloxime) and the like can be preferably used. The blending ratio of the photopolymerization initiator is preferably 0.1 to 5.0 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total monomer components in the photocurable composition. These photopolymerization initiators can be applied alone, but can also be used in combination of two or more.

<光増感剤>
微細凹凸構造10を構成する組成物として、光硬化組成物を用いる場合、光硬化組成物には、光重合促進剤及び光増感剤などと組み合わせて使用することもできる。例えば、光増感剤としては、n−ブチルアミン、ジ−n−ブチルアミン、トリ−n−ブチルホスフィン、アリルチオ尿素、s−ベンジスイソチウロニウム−p−トルエンスルフィネート、トリエチルアミン、ジエチルアミノエチルメタクリレート、トリエチレンテトラミン、4,4’−ビス(ジアルキルアミノ)ベンゾフェノン、N,N−ジメチルアミノ安息香酸エチルエステル、N,N−ジメチルアミノ安息香酸イソアミルエステル、ペンチル−4−ジメチルアミノベンゾエート、トリエチルアミン、トリエタノールアミンなどのアミン類のような光増感剤を1種あるいは2種以上組み合わせて用いることができる。
<Photosensitizer>
When using a photocurable composition as a composition which comprises the fine concavo-convex structure 10, it can also be used for a photocurable composition in combination with a photoinitiator, a photosensitizer, etc. For example, photosensitizers include n-butylamine, di-n-butylamine, tri-n-butylphosphine, allylthiourea, s-benzisoisouronium-p-toluenesulfinate, triethylamine, diethylaminoethyl methacrylate, Triethylenetetramine, 4,4′-bis (dialkylamino) benzophenone, N, N-dimethylaminobenzoic acid ethyl ester, N, N-dimethylaminobenzoic acid isoamyl ester, pentyl-4-dimethylaminobenzoate, triethylamine, triethanol Photosensitizers such as amines such as amines can be used alone or in combination of two or more.

<光硬化組成物のろ過>
微細凹凸構造10を構成する組成物として、光硬化組成物を用いる場合、光硬化組成物は、ろ過などの手法により、異物を除去したものであることが好ましい。ろ過に使用するフィルター孔径は1μm以下がより好ましく、0.5μm以下がさらに好ましい。また、フィルターの異物捕捉効率は、99.9%以上であることが好ましい。異物を除去することにより、スタンパーの凹凸部への充填率や光硬化反応率を向上し、光学素子1の微細凹凸構造10の構造欠陥を実用上問題がないレベルに減少させることができる。
<Filtration of photocuring composition>
When using a photocurable composition as a composition which comprises the fine concavo-convex structure 10, it is preferable that the photocurable composition removes a foreign material by a technique such as filtration. The filter pore size used for filtration is more preferably 1 μm or less, and further preferably 0.5 μm or less. The foreign matter capturing efficiency of the filter is preferably 99.9% or more. By removing the foreign matter, the filling rate of the uneven portion of the stamper and the photocuring reaction rate can be improved, and the structural defects of the fine uneven structure 10 of the optical element 1 can be reduced to a level where there is no practical problem.

<光硬化組成物の粘度>
微細凹凸構造10を構成する組成物として、光硬化組成物を用いる場合、硬化前の光硬化組成物の50℃における粘度は、100mPa・s以下が好ましく、50mPa・s以下がより好ましく、20mPa・sがさらに好ましい。100mPa・s以下にすることで、基材表面へ光硬化組成物をロールツーロール方式により塗布する場合、光硬化組成物層の厚み均一性を高めることができ、またスタンパーの凹凸構造部への光硬化組成物の充填率を高めることができ、結果として光学素子への転写忠実性を高めることができる。また、目的とする光硬化組成物層の厚みを得るために、光硬化組成物中へさらに減粘剤又は増粘剤を添加することで、上記基材の粘度範囲で、適宜粘度調整をしてもよい。
<Viscosity of photocuring composition>
When a photocurable composition is used as the composition constituting the fine concavo-convex structure 10, the viscosity at 50 ° C. of the photocured composition before curing is preferably 100 mPa · s or less, more preferably 50 mPa · s or less, and 20 mPa · s. s is more preferable. When the photocurable composition is applied to the surface of the substrate by the roll-to-roll method, the thickness uniformity of the photocurable composition layer can be increased, and the stamper has an uneven structure portion. The filling rate of the photocurable composition can be increased, and as a result, the transfer fidelity to the optical element can be increased. In addition, in order to obtain the desired thickness of the photocurable composition layer, the viscosity is appropriately adjusted within the viscosity range of the substrate by further adding a thickener or thickener to the photocurable composition. May be.

<スタンパーの表面温度>
微細凹凸構造10を構成する組成物として、光硬化組成物を用いる場合、光学素子1の製造に用いるスタンパーの凹凸構造面の表面温度は、25〜100℃が好ましく、30〜80℃がより好ましく、35〜70℃がさらに好ましく、40〜65℃が最も好ましい。スタンパーの凹凸構造面の表面温度を25℃以上にすることで、光硬化組成物の粘度を下げることができるため、基材と光硬化組成物との付着性と、光硬化後の光学素子1のスタンパーからの離型性とを向上できる。また、スタンパーの凹凸構造面の表面温度を100℃以下にすることで、基材の熱変形を抑制することができる。また、スタンパーの凹凸構造面の表面温度は、略一定に調節されていることが好ましい。
<Stamper surface temperature>
When a photocurable composition is used as the composition constituting the fine concavo-convex structure 10, the surface temperature of the concavo-convex structure surface of the stamper used for producing the optical element 1 is preferably 25 to 100 ° C, more preferably 30 to 80 ° C. 35-70 degreeC is further more preferable, and 40-65 degreeC is the most preferable. Since the viscosity of the photocurable composition can be lowered by setting the surface temperature of the concavo-convex structure surface of the stamper to 25 ° C. or higher, the adhesion between the base material and the photocurable composition, and the optical element 1 after photocuring The mold releasability from the stamper can be improved. Moreover, the thermal deformation of a base material can be suppressed by making the surface temperature of the uneven | corrugated structure surface of a stamper into 100 degrees C or less. The surface temperature of the concavo-convex structure surface of the stamper is preferably adjusted to be substantially constant.

表面温度を略一定に調整する手段として、温調機を付属したスタンパーを用いることができる。スタンパーの凹凸構造面の表面温度を一定に維持することで、凹凸部を構成する組成物の粘度も一定に保つことができるため、凹凸部を構成する組成物層の厚みの均一性を高めることができ、スタンパーから光学素子1への転写忠実性を向上することができる。   As a means for adjusting the surface temperature substantially constant, a stamper with a temperature controller can be used. By maintaining the surface temperature of the concavo-convex structure surface of the stamper constant, the viscosity of the composition constituting the concavo-convex part can also be kept constant, thereby increasing the uniformity of the thickness of the composition layer constituting the concavo-convex part. Transfer fidelity from the stamper to the optical element 1 can be improved.

<微細凹凸構造を構成する組成物層の厚み>
微細凹凸構造10を構成する組成物層の厚みは、0.4〜10μm以下であることが好ましく、0.5〜7μm以下であることがより好ましく、0.8〜4μm以下であることがさらに好ましい。凹凸部を構成する組成物層の厚みを0.4μm以上にすることで、基材と凹凸部を構成する組成物との密着性を向上させ、スタンパーの凹凸構造を基材へ転写する際の未転写部分の発生を防止できる。また凹凸部を構成する組成物層の厚みを4μm以下にすることで、高温高湿条件下で生じる凹凸部を構成する組成物層のクラック発生と、高温高湿下での凹凸部を構成する組成物の収縮に起因するカール発生とを抑制できる。
<Thickness of the composition layer constituting the fine relief structure>
The thickness of the composition layer constituting the fine concavo-convex structure 10 is preferably 0.4 to 10 μm or less, more preferably 0.5 to 7 μm or less, and further preferably 0.8 to 4 μm or less. preferable. By making the thickness of the composition layer constituting the concavo-convex part 0.4 μm or more, the adhesion between the base material and the composition constituting the concavo-convex part is improved, and when the concavo-convex structure of the stamper is transferred to the base material Generation of untransferred parts can be prevented. In addition, by setting the thickness of the composition layer constituting the concavo-convex portion to 4 μm or less, the occurrence of cracks in the composition layer constituting the concavo-convex portion generated under high temperature and high humidity conditions and the concavo-convex portion under high temperature and high humidity Curling due to shrinkage of the composition can be suppressed.

微細凹凸構造10を構成する組成物層の厚みは、基材とスタンパー間の押つけ圧力、スタンパーの凹凸構造面の表面温度、微細凹凸構造10を構成する組成物の温度と粘度等により、調節することができる。   The thickness of the composition layer constituting the fine concavo-convex structure 10 is adjusted by the pressing pressure between the base material and the stamper, the surface temperature of the concavo-convex structure surface of the stamper, the temperature and viscosity of the composition constituting the fine concavo-convex structure 10, etc. can do.

<原版の作製方法>
光学素子1の製造に用いられる光学素子原版の作製方法としては、レーザ光を用いた干渉露光法、電子線描画法、機械加工切削法、ドライエッチング法、リソグラフィー法等が挙げられる。凹凸部の形状、ピッチ、又は高さ、凹凸部の配列パターンやその規則性/不規則性、原版大きさ、コスト等の目的に応じて、任意に作製方法を選択することができる。凹凸部が規則性のある配列パターンで、かつ大面積な原版を得たい場合、レーザ光を用いた干渉露光法が好ましい。
<Preparation method of original plate>
Examples of a method for producing an optical element original plate used for manufacturing the optical element 1 include an interference exposure method using a laser beam, an electron beam drawing method, a machining cutting method, a dry etching method, and a lithography method. A production method can be arbitrarily selected according to the shape, pitch, or height of the concavo-convex portion, the arrangement pattern of the concavo-convex portion, regularity / irregularity thereof, the size of the original plate, cost, and the like. When it is desired to obtain an original plate having a regular pattern with uneven portions and a large area, an interference exposure method using laser light is preferable.

干渉露光法とは、特定の波長のレーザ光を角度θ’の2つの方向から照射して形成される干渉縞を利用した露光法であり、角度θ’を変化させることで使用するレーザの波長で制限される範囲内で様々なピッチを有する凹凸格子の構造を得ることができる。干渉露光に使用できるレーザとしては、TEM00モードのレーザを挙げることができる。TEM00モードのレーザを発振できる紫外光レーザとしては、アルゴンレーザ(波長364nm,351nm,333nm)や、YAGレーザの4倍波(波長266nm)などが挙げられる。   The interference exposure method is an exposure method using interference fringes formed by irradiating laser light of a specific wavelength from two directions of angle θ ′, and the wavelength of the laser used by changing angle θ ′. The structure of the concavo-convex lattice having various pitches can be obtained within the range limited by the above. Examples of the laser that can be used for the interference exposure include a TEM00 mode laser. Examples of the ultraviolet laser capable of oscillating a TEM00 mode laser include an argon laser (wavelengths 364 nm, 351 nm, and 333 nm) and a fourth harmonic wave (wavelength 266 nm) of a YAG laser.

原版の材料の種類として、石英ガラス、紫外線透過ガラス、サファイア、ダイヤモンド、ポリジメチルシロキサン等のシリコーン材、フッ素樹脂、シリコンウエハ、SiC基板、マイカ基板等が挙げられ、目的に応じて選択することができる。   Examples of the material of the original plate include quartz glass, ultraviolet transmissive glass, sapphire, diamond, polydimethylsiloxane, and other silicone materials, fluororesin, silicon wafer, SiC substrate, mica substrate, and the like. it can.

ナノパターン転写時の離型性をより向上させるために、原版に離型処理を行っても良い。離型処理剤としては、シランカップリング系離型剤が好ましく、フッ素含有離型剤であることがより好ましい。市販されている離型剤の例としては、ダイキン工業社製のオプツールDSX、デュラサーフHD1101やHD2101、住友スリーエム社製のノベック、信越化学工業社製のKP−801M、KBM−7103、モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン社製のTSL−8257等が挙げられる。   In order to further improve the releasability at the time of transferring the nano pattern, the original plate may be subjected to a release treatment. As the release treatment agent, a silane coupling release agent is preferable, and a fluorine-containing release agent is more preferable. Examples of commercially available release agents include Daikin Industries, Ltd. OPTOOL DSX, Durasurf HD1101 and HD2101, Sumitomo 3M Novec, Shin-Etsu Chemical KP-801M, KBM-7103, Momentive Performance -Examples include TSL-8257 manufactured by Materials Japan.

<スタンパーの作製方法>
原版の凹凸構造や配列パターンを転写したスタンパーは、原版から、電鋳法や上記のナノインプリント法等により作製することができる。解像度の点では、電鋳法及び光硬化組成物を使用した光ナノプリント法が好ましい。
<Production method of stamper>
The stamper to which the concavo-convex structure and the array pattern of the original plate are transferred can be produced from the original plate by an electroforming method or the above-described nanoimprint method. From the viewpoint of resolution, an electroforming method and an optical nanoprint method using a photocuring composition are preferable.

また、ナノインプリント法により、転写を繰り返すことができる。転写を繰り返すことで、(1)転写した凹凸部構造パターン転写物を複数個製造でき、及び/又は(2)凹凸部パターンが反転した反転転写型を得ることができる。   Further, the transfer can be repeated by the nanoimprint method. By repeating the transfer, (1) a plurality of transferred concavo-convex structure pattern transfer products can be produced, and / or (2) an inverted transfer mold in which the concavo-convex pattern is reversed can be obtained.

<光学素子の作製方法>
光学素子1は、上記凹凸構造パターンを有する原版又はスタンパーから転写して、作製することができる。光学素子1の作製方法として、ナノインプリント法が好ましい。ナノインプリント法の種類として、マイクロコンタクトプリント(ソフトリソグラフィー)、室温ナノインプリント、リバースナノインプリント、熱ナノインプリント、光(UV)ナノプリントが挙げられる。微細凹凸構造10を形成する樹脂の種類として、光硬化組成物、熱硬化組成物、熱可塑組成物、ゾルゲル反応物等を挙げられるが、解像度、重ね合わせ精度、連続転写性の点で、光硬化組成物を使用した光ナノインプリント法がより好ましい。また、簡単で安価な装置で大量生産できる点で、熱可塑組成物を使用した熱ナノインプリント法が好ましい。熱ナノインプリント法の成形方法として、押出成形(エンボスロールの凹凸構造面を転写)、キャスト成形法(エンボスロールの凹凸構造面を転写)、プレス成形法、射出成形法等が好ましい。
<Method for producing optical element>
The optical element 1 can be produced by transferring from an original plate or stamper having the concavo-convex structure pattern. As a manufacturing method of the optical element 1, a nanoimprint method is preferable. Examples of the nanoimprint method include microcontact printing (soft lithography), room temperature nanoimprint, reverse nanoimprint, thermal nanoimprint, and optical (UV) nanoprint. Examples of the resin that forms the fine concavo-convex structure 10 include a photocuring composition, a thermosetting composition, a thermoplastic composition, a sol-gel reaction product, etc., but in terms of resolution, overlay accuracy, and continuous transferability, The optical nanoimprint method using a curable composition is more preferable. Moreover, the thermal nanoimprint method using a thermoplastic composition is preferable in that it can be mass-produced with a simple and inexpensive apparatus. As the molding method of the thermal nanoimprint method, extrusion molding (transferring the concavo-convex structure surface of the embossing roll), cast molding method (transferring the concavo-convex structure surface of the embossing roll), press molding method, injection molding method and the like are preferable.

<光硬化組成物の塗布方法>
光ナノインプリント法における光硬化組成物の基材への塗布方法として、例えば、ロールコーター法、(マイクロ)グラビアコーター法、エアドクターコーター法、ブレ−ドコーター法、ナイフコーター法、ロッドコーター法、カーテン(フロー)コーター法、キスコーター法、ビードコーター法、キャストコーター法、ロータリースクリーン法、浸漬コーティング法、スロットオリフィスコーター法、バーコード法、スプレーコーティング法、スピンコーティング法、押出コーター等が挙げられる。生産性を高め、大面積の光学素子を得るためには、ロールツーロール方式を用い、塗布方法は上記から適宜選択して、光学素子を含むフィルムロールを得ることが好ましい。また、ロールツーロール方式は、生産性、凸部11の高さ及び凹部12の高さ、のそれぞれの標準偏差を20以下に制御するという点においてバッチ方式より優れるため好ましい。
<Method for applying photocurable composition>
Examples of the method for applying the photocurable composition to the substrate in the optical nanoimprint method include a roll coater method, a (micro) gravure coater method, an air doctor coater method, a blade coater method, a knife coater method, a rod coater method, and a curtain ( Flow) coater method, kiss coater method, bead coater method, cast coater method, rotary screen method, dip coating method, slot orifice coater method, bar code method, spray coating method, spin coating method, extrusion coater and the like. In order to increase productivity and obtain an optical element with a large area, it is preferable to use a roll-to-roll method and select a coating method as appropriate from the above to obtain a film roll containing the optical element. The roll-to-roll method is preferable because it is superior to the batch method in that the standard deviations of productivity and the height of the convex portion 11 and the height of the concave portion 12 are controlled to 20 or less.

<樹脂ロール>
また、ロールツーロール方式で製造された光学素子1を含む樹脂フィルムロールは、幅10cm以上かつ長さ50m以上であることが好ましい。ロール幅は、10cm以上200cm以下がより好ましく、20cm以上200cm以下がさらに好ましく、50cm以上200cm以下が最も好ましい。また、ロール長さは、50m以上10000m以下がより好ましく、200m以上10000m以下がさらに好ましく、500m以上10000m以下が最も好ましい。樹脂フィルムロールの幅10cmかつ長さ50m以上にすることで、小型から大型までの多種多様な大きさの光学素子1を、大量に提供することができる。ロール幅が200cmを超える場合、微細凹凸構造10を構成する組成物層の厚み均一性が低下する場合があり、ロール長が10000mを超える場合、ロール巻取機の軸ブレにより巻取精度が低下する場合や、ロール質量の増加によりロール巻取機の軸強度が不足して破損する場合がある。このため、上記幅及び長さの樹脂フィルムロールとすることが望ましい。
<Resin roll>
Moreover, it is preferable that the resin film roll containing the optical element 1 manufactured by the roll-to-roll method has a width of 10 cm or more and a length of 50 m or more. The roll width is more preferably from 10 cm to 200 cm, further preferably from 20 cm to 200 cm, and most preferably from 50 cm to 200 cm. The roll length is more preferably 50 m or more and 10,000 m or less, further preferably 200 m or more and 10,000 m or less, and most preferably 500 m or more and 10,000 m or less. By setting the width of the resin film roll to 10 cm and a length of 50 m or more, it is possible to provide a large amount of optical elements 1 having various sizes from small to large. When the roll width exceeds 200 cm, the thickness uniformity of the composition layer constituting the fine concavo-convex structure 10 may be reduced. When the roll length exceeds 10000 m, the winding accuracy decreases due to the shaft shake of the roll winder. In some cases, the roll strength of the roll winder becomes insufficient due to an increase in the mass of the roll, resulting in damage. For this reason, it is desirable to set it as the resin film roll of the said width | variety and length.

<塗布する順序>
微細凹凸構造10を構成する組成物として、光硬化組成物を用いる場合、光学素子1を作製する方法としては、基材に光硬化組成物を薄膜状に塗布した後、基材の光硬化組成物塗布面とスタンパーの凹凸構造面とを接触させることで、スタンパーの凹凸構造面と基材間に光硬化組成物を充填し、その後UV照射する方法がある。また、スタンパーの凹凸構造面に光硬化組成物を塗布して、スタンパーの凹凸構造内も充填した後、基材と接触させて、その後UV照射する方法がある。また、基材とスタンパーの凹凸構造面との両方に光硬化組成物を薄膜状に塗布した後、基材の光硬化組成物塗布面とスタンパーの凹凸構造面を接触させて、その後UV照射する方法がある。選択する塗布方法に応じて、塗布する順序は適宜選択することができる。
<Application order>
When a photocurable composition is used as the composition constituting the fine concavo-convex structure 10, the optical element 1 is produced by applying the photocurable composition to the base material in a thin film and then applying the photocurable composition of the base material. There is a method in which a photocurable composition is filled between the uneven structure surface of the stamper and the substrate by bringing the object application surface and the uneven structure surface of the stamper into contact with each other, and then UV irradiation is performed. Further, there is a method in which a photocurable composition is applied to the concavo-convex structure surface of the stamper, the concavo-convex structure of the stamper is filled, and then contacted with a substrate, and then UV irradiation is performed. Also, after the photocurable composition is applied in a thin film on both the base material and the uneven structure surface of the stamper, the photocurable composition application surface of the base material and the uneven structure surface of the stamper are brought into contact with each other, and then UV irradiation is performed. There is a way. Depending on the application method to be selected, the order of application can be appropriately selected.

<露光光源>
本発明に係る光学素子の製造の際の光硬化に用いる露光光源の種類としては、メタルハライドランプ、高圧水銀ランプ、ケミカルランプ、UV−LED、無電極UVランプが好ましい。また、長時間露光時の発熱を抑える観点から、可視波長以上の波長をカットするフィルター(バンドパスフィルターを含む)を利用することが好ましい。
<Exposure light source>
As the type of exposure light source used for photocuring in the production of the optical element according to the present invention, a metal halide lamp, a high-pressure mercury lamp, a chemical lamp, a UV-LED, and an electrodeless UV lamp are preferable. Further, from the viewpoint of suppressing heat generation during long exposure, it is preferable to use a filter (including a bandpass filter) that cuts a wavelength longer than the visible wavelength.

露光光源の積算光量としては、300mJ/cm以上であることが好ましく、光硬化組成物の光硬化反応率を高くする目的で、800mJ/cm〜6000mJ/cmであることがより好ましく、光による樹脂劣化性を防ぐため、800mJ/cm〜3000mJ/cmであることがさらに好ましい。 The integrated light quantity of the exposure light source, is preferably 300 mJ / cm 2 or more, in order to increase the light curing reaction rate of the photocurable composition, more preferably 800mJ / cm 2 ~6000mJ / cm 2 , to prevent resin degradation due to light, further preferably 800mJ / cm 2 ~3000mJ / cm 2 .

<保護フィルム>
光学素子1の微細凹凸構造10を有する面及び/又は微細凹凸構造10を有しない面に対し、保護フィルムを貼合しても良い。保護フィルムを貼合することで、使用するために保護フィルムを剥がすまでの期間、微細凹凸構造10の形状を保護し、異物の付着を防止できる。保護フィルムに必要な性能は、(1)剥離時に、微細凹凸構造10を有する面に保護フィルムの粘着層が残らないこと、又は残っても反射率や透過率に影響を与えないこと、(2)光学素子1の特に微細凹凸構造10を有する面を傷つけるような異物を含有しないこと、又は傷つけても反射率や透過率に影響を与えないことである。光学素子1に対し、上記性能を持つ保護フィルムから任意に選択して用いることができる。
<Protective film>
A protective film may be bonded to the surface of the optical element 1 having the fine uneven structure 10 and / or the surface not having the fine uneven structure 10. By sticking the protective film, the shape of the fine concavo-convex structure 10 can be protected and the adhesion of foreign matters can be prevented until the protective film is peeled off for use. The performance required for the protective film is as follows: (1) When peeling, the adhesive layer of the protective film does not remain on the surface having the fine concavo-convex structure 10, or even if it does not affect the reflectance or transmittance, (2 ) It does not contain foreign matters that damage the surface of the optical element 1 having the fine concavo-convex structure 10 or does not affect the reflectance or transmittance even if it is damaged. The optical element 1 can be arbitrarily selected from protective films having the above performance.

<屈折率>
基材と微細凹凸構造10を構成する組成物層の屈折率差は、両者の界面での屈折や反射を低減するために、0.2以下が好ましく、0.1以下がより好ましく、0.05以下がさらに好ましく、0.02以下が最も好ましい。また、基材と微細凹凸構造10を構成する組成物層の間に、易接着性を有する中間層を加えても良い。中間層の屈折率を、基材と微細凹凸構造10を構成する組成物層それぞれの屈折率の間にすることで、中間層がない場合と比較し、干渉を低減でき、干渉縞の発生を抑制できる。
<Refractive index>
The refractive index difference between the base material and the composition layer constituting the fine relief structure 10 is preferably 0.2 or less, more preferably 0.1 or less, in order to reduce refraction or reflection at the interface between the two. 05 or less is more preferable, and 0.02 or less is most preferable. Moreover, you may add the intermediate | middle layer which has easy adhesiveness between the base material and the composition layer which comprises the fine concavo-convex structure 10. By setting the refractive index of the intermediate layer between the refractive indexes of the base material and each of the composition layers constituting the fine concavo-convex structure 10, interference can be reduced and interference fringes can be generated compared to the case where there is no intermediate layer. Can be suppressed.

また基材に粘着層が付与されている場合、基材と粘着層の屈折率差も、上記と同様な理由で、0.2以下が好ましく、0.1以下がより好ましく、0.05以下がさらに好ましく、0.02以下が最も好ましい。   Moreover, when the adhesive layer is provided to the base material, the difference in refractive index between the base material and the adhesive layer is preferably 0.2 or less, more preferably 0.1 or less, and 0.05 or less for the same reason as described above. Is more preferable, and 0.02 or less is most preferable.

<全光線透過率、ヘーズ>
光学素子1に透過性が必要な場合、微細凹凸構造10を有する光学素子1のヘーズ、基材のみのヘーズ、及び光学素子1のヘーズから基材のヘーズを引いた値(以下、Δヘーズとする)は、片面のみに微細凹凸構造10が形成されている場合、それぞれ1.5%以下が好ましく、1.0%以下がより好ましく、0.5%以下がさらに好ましい。特にΔヘーズを1.5%以下にするためには、上記屈折率差を0.2以下にする以外に、基材面に反射防止性能を有する凹凸形状を有する構造を付与することが有効である。Δヘーズを低下させることで、光学素子1の全光線透過率を向上させることができる。
<Total light transmittance, haze>
When the optical element 1 requires transparency, the haze of the optical element 1 having the fine concavo-convex structure 10, the haze of the base material alone, and the value obtained by subtracting the haze of the base material from the haze of the optical element 1 (hereinafter referred to as Δhaze) ) Is preferably 1.5% or less, more preferably 1.0% or less, and even more preferably 0.5% or less when the fine relief structure 10 is formed only on one side. In particular, in order to reduce Δhaze to 1.5% or less, it is effective to give the base material surface a structure having an uneven shape having antireflection performance, in addition to making the refractive index difference 0.2 or less. is there. By reducing Δhaze, the total light transmittance of the optical element 1 can be improved.

ヘーズとは、全光線透過率に対する拡散透過率の比率で定義される。ヘーズが小さいことは、光が光学素子1を透過した時の拡散光が少ないこと、言い換えると全光線透過率に対する直線透過率の比率が高いことを意味する。光学素子1に透明な基材を使用した場合、界面で屈折や反射を低減できるためヘーズが減少し、全光線透過率が上昇するため、光学素子1の見た目の透明性が高まる。   Haze is defined as the ratio of diffuse transmittance to total light transmittance. A small haze means that the amount of diffused light is small when light passes through the optical element 1, in other words, the ratio of the linear transmittance to the total light transmittance is high. When a transparent base material is used for the optical element 1, since refraction and reflection can be reduced at the interface, the haze is reduced and the total light transmittance is increased, so that the apparent transparency of the optical element 1 is increased.

<反射率>
反射防止性能は、正反射率、及び(正+拡散)反射率で評価することができる。これらの値は、いずれも低い方が好ましい。
<Reflectance>
The antireflection performance can be evaluated by regular reflectance and (positive + diffuse) reflectance. It is preferable that these values are all low.

<用途>
光学素子1は、任意の目的又は用途に使用できる。例えば、光学素子1をディスプレイ装置用途に配設する場合、ヘーズが減少し全光線透過率が上昇するため、鮮明な画像を視認することができる。光学素子1を太陽電池に配設する場合、全光線透過率が上昇するため、光利用効率を向上させることができる。光学素子1を照明用途に配設する場合、同様に全光線透過率が上昇するため、光利用効率を向上させることができ、輝度を向上し、又は消費電力を低減することができる。光学素子1を複写機用途に配設する場合、全光線透過率が上昇し、反射率が低減するので、複写精度の向上させることができ、又は輝度の向上により消費電力を低減することができる。
<Application>
The optical element 1 can be used for any purpose or application. For example, when the optical element 1 is disposed for use in a display device, the haze is reduced and the total light transmittance is increased, so that a clear image can be visually recognized. When the optical element 1 is arranged in a solar cell, the total light transmittance increases, so that the light utilization efficiency can be improved. When the optical element 1 is disposed for illumination, the total light transmittance similarly increases, so that the light utilization efficiency can be improved, the luminance can be improved, or the power consumption can be reduced. When the optical element 1 is disposed for use in a copying machine, the total light transmittance increases and the reflectance decreases, so that the copying accuracy can be improved, or the power consumption can be reduced by improving the luminance. .

図31は、本実施の形態に係る光学素子1を備えた表示装置100(ディスプレイ装置)の一例を示す図である。なお、図31においては、表示装置100の表面に対する断面を模式的に示している。この表示装置100においては、光学素子1を反射防止フィルムとして用いている。   FIG. 31 is a diagram illustrating an example of a display device 100 (display device) including the optical element 1 according to the present embodiment. In addition, in FIG. 31, the cross section with respect to the surface of the display apparatus 100 is shown typically. In the display device 100, the optical element 1 is used as an antireflection film.

本実施の形態に係る表示装置100は、表示素子101と、この表示素子101上面の両端部に配置されたスペーサー102と、このスペーサー102により表示素子101の前面側(上面側)に支持される前面板103と、を具備する。表示素子101の上面の中央部の領域には、反射防止フィルム104(光学素子1)が配置される。この反射防止フィルム104の上方には、空気層(エアーギャップ層)105を介して、前面板103の表示素子101側の主面に固定された反射防止フィルム106(光学素子1)が配置される。   The display device 100 according to the present embodiment is supported on the front surface side (upper surface side) of the display element 101 by the display element 101, the spacers 102 disposed at both ends of the upper surface of the display element 101, and the spacer 102. And a front plate 103. An antireflection film 104 (optical element 1) is disposed in the central area on the upper surface of the display element 101. Above the antireflection film 104, an antireflection film 106 (optical element 1) fixed to the main surface of the front plate 103 on the display element 101 side is disposed via an air layer (air gap layer) 105. .

この表示装置100においては、表示素子101から出光した光が、反射防止フィルム104、空気層105、反射防止フィルム106及び前面板104を透過して出光する。ここで、反射防止フィルム104,106として、上記実施の形態に係る光学素子1を用いることにより、表示素子101上に反射防止フィルム104を配置した場合においても、全光線透過率が向上すると共に、反射率が低減される。これにより、複写精度を向上させることができると共に、消費電力を低減することができる。特に、この表示装置100においては、空気層105を介して反射防止フィルム104,106を配置することにより、反射防止フィルム104,106を積層した場合に対して界面反射の影響を極力低減できる。このため、特に、反射防止フィルム104,106を積層した場合と比較して、特に全光線透過率を向上できると共に、反射率を低減できる。   In the display device 100, the light emitted from the display element 101 passes through the antireflection film 104, the air layer 105, the antireflection film 106, and the front plate 104 and is emitted. Here, as the antireflection films 104 and 106, by using the optical element 1 according to the above embodiment, even when the antireflection film 104 is arranged on the display element 101, the total light transmittance is improved, Reflectance is reduced. As a result, the copy accuracy can be improved and the power consumption can be reduced. In particular, in the display device 100, by arranging the antireflection films 104 and 106 through the air layer 105, the influence of interface reflection can be reduced as much as possible when the antireflection films 104 and 106 are laminated. Therefore, in particular, the total light transmittance can be improved and the reflectance can be reduced as compared with the case where the antireflection films 104 and 106 are laminated.

以下、具体的な実施例と比較例を挙げて本発明について詳細に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。   Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to specific examples and comparative examples, but the present invention is not limited to the following examples.

(実施例1)
上記実施の形態に係る光学素子の特性を測定、評価した。以下、光学素子の概略及び評価された特性について述べる。
Example 1
The characteristics of the optical element according to the above embodiment were measured and evaluated. The outline of the optical element and the evaluated characteristics will be described below.

(凹凸構造を構成する組成物)
1分子中に3個以上のアクリル基及び/又はメタクリル基を含有する単量体成分としてトリメチロールプロパントリアクリレートを32質量部、N−ビニル基を含有する単量体成分としてN−ビニル−2−ピロリドン(NVP)を32質量部、その他の単量体成分として1,9−ノナンジオールジアクリレートを33質量部、光重合開始剤として2,4,6−トリメチルベンゾイル−ジフェニル−フォスフィンオキサイド(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ社製、ダロキュアTPO)を2質量部、アクリル基を含有するシリコン化合物としてシリコンジアクリレートを1質量部配合し、孔径1μmのフィルターを用いて異物をろ過して凹凸構造を構成する組成物を作製した。得られた凹凸構造を構成する光硬化組成物の50℃での粘度は5mPa・sであった。当該粘度は、E型粘度計(東機産業社製、型番:RE550L)を用い、50℃で測定した。
(Composition composing uneven structure)
32 parts by mass of trimethylolpropane triacrylate as a monomer component containing three or more acrylic groups and / or methacryl groups in one molecule, and N-vinyl-2 as a monomer component containing an N-vinyl group 32 parts by weight of pyrrolidone (NVP), 33 parts by weight of 1,9-nonanediol diacrylate as the other monomer component, 2,4,6-trimethylbenzoyl-diphenyl-phosphine oxide ( 2 parts by mass of Ciba Specialty Chemicals, Darocur TPO), 1 part by mass of silicon diacrylate as a silicon compound containing an acrylic group, and filter the foreign matter using a filter with a pore size of 1 μm to form an uneven structure A composition was prepared. The viscosity at 50 ° C. of the photocurable composition constituting the obtained uneven structure was 5 mPa · s. The viscosity was measured at 50 ° C. using an E-type viscometer (manufactured by Toki Sangyo Co., Ltd., model number: RE550L).

(原版の作製方法)
均一な厚みのフォトレジスト層が形成されているガラスプレートへ、レーザ干渉露光法により、ビームスプリッターで分けられた2本のレーザ光を照射し、干渉稿を得た。次に、ガラスプレートを60°回転して、同様に干渉稿を得た。その後、フォトレジストを現像し、凹部と凸部からなるモスアイ状の連続構造を有する原版を作製した。当該原版において、凹部及び凸部がそれぞれ六方格子パターンに配列されていた。
(Original plate production method)
A glass plate on which a photoresist layer having a uniform thickness was formed was irradiated with two laser beams separated by a beam splitter by a laser interference exposure method to obtain an interference draft. Next, the glass plate was rotated 60 ° to obtain an interference paper in the same manner. Thereafter, the photoresist was developed to prepare an original plate having a moth-eye continuous structure composed of concave and convex portions. In the original plate, the concave portions and the convex portions were each arranged in a hexagonal lattice pattern.

(スタンパーロールA)
上記原版から、電鋳法により凹凸構造を転写して、ニッケルメッキされたモスアイ状の凹凸連続構造を有するスタンパー(平板状、厚み0.2mm)を作製した。当該スタンパーにおいて、凹凸構造のピッチは240nm、高さは310nmであった。また、当該スタンパーにおいて、凹部及び凸部がそれぞれ六方格子パターンに配列されていた。その後、当該スタンパーを円筒状に加工して、凹部と凸部からなるモスアイ状連続構造を有するスタンパーロールAを得た。該スタンパーロール表面には、離型剤(ダイキン工業社製、デュラサーフHD−2101Z)を用いて、離型処理を行った。
(Stamper roll A)
From the original plate, the concavo-convex structure was transferred by electroforming to produce a nickel-plated stamper (flat plate, thickness 0.2 mm) having a moth-eye concavo-convex continuous structure. In the stamper, the pitch of the concavo-convex structure was 240 nm and the height was 310 nm. In the stamper, the concave portions and the convex portions are arranged in a hexagonal lattice pattern. Thereafter, the stamper was processed into a cylindrical shape to obtain a stamper roll A having a moth-eye-like continuous structure composed of a concave portion and a convex portion. The stamper roll surface was subjected to a mold release treatment using a mold release agent (Daikin Industries, Durasurf HD-2101Z).

(光学素子の作製方法)
グラビアコーターを用いて、上記凹凸構造を構成する組成物を透明基材へ、幅200mm、厚み0.5μmになるように塗布した。塗布は、ロールツーロール方式で連続的に行った。透明基材としてTACフィルム(富士フイルム社製、フジタック、厚み80μm、幅250mm)を用いた。その後、TACフィルムの凹凸構造を構成する組成物塗布面と上記スタンパーロールAのモスアイ状連続構造面とを接触させ、フィルム側からメタルハライドランプ(ウシオ電機社製、型番:UVC−2519−1MNSC7−MS01)を用い、光量1J/cmでUV光を照射させた。これにより、上記凹凸構造を構成する組成物を光硬化させた。その後、硬化物をスタンパーロールから剥離し、スタンパーロールのモスアイ状連続構造面が転写されたモスアイ状連続構造面を有するTACフィルムロール(長さ250m)を得た。上記モスアイ状連続構造面を有するTACフィルムロールの作製において、UV光照射時のスタンパーロールの表面温度は約50℃で安定しており、また光硬化反応率は80%以上あることを、IRスペクトル(アクリル基及び/又はメタクリル基の2重結合に基づく吸収)で確認した。
(Method for producing optical element)
The composition which comprises the said uneven structure was apply | coated to the transparent base material so that it might become width 200mm and thickness 0.5micrometer using the gravure coater. Application was performed continuously by a roll-to-roll method. A TAC film (manufactured by FUJIFILM Corporation, Fujitac, thickness 80 μm, width 250 mm) was used as the transparent substrate. Then, the composition application surface constituting the concavo-convex structure of the TAC film was brought into contact with the moth-eye continuous structure surface of the above-described stamper roll A, and a metal halide lamp (manufactured by USHIO INC., Model number: UVC-2519-1MNSC7-MS01) was contacted from the film side. ) Was irradiated with UV light at a light amount of 1 J / cm 2 . Thereby, the composition which comprises the said uneven structure was photocured. Thereafter, the cured product was peeled from the stamper roll to obtain a TAC film roll (length: 250 m) having a moth-eye continuous structure surface onto which the moth-eye continuous structure surface of the stamper roll was transferred. In the preparation of the TAC film roll having the moth-eye-like continuous structure surface, the surface temperature of the stamper roll during UV light irradiation is stable at about 50 ° C., and the photocuring reaction rate is 80% or more. (Absorption based on double bond of acryl group and / or methacryl group).

上述のようにして得られた光学素子の特性を評価した。評価は、次のように行った。   The characteristics of the optical element obtained as described above were evaluated. Evaluation was performed as follows.

(正反射率の角度及び波長依存性測定)
光学素子の凹凸構造が形成されている面の裏面(凹凸構造が形成されていない面)を、黒色塗料スプレーを用いて黒色に塗工した後、凹凸構造が形成されている面(黒色非塗工面)に関して正反射率を測定した。測定は、分光光度計(株式会社日立ハイテクノロジーズ社製、型式:U−4100)を用いて行った。具体的には、S波偏光光又はP波偏光光を入射させた場合それぞれについて、入射光角度20°〜60°(20°、30°、40°、45°、50°、55°、60°)及び波長範囲400〜1000nm(1nm毎)における正反射率を測定した。S波偏光光の正反射率とP波偏光光の正反射率の平均値を、各入射光角度・波長での正反射率とした。
(Measurement of angle and wavelength dependence of regular reflectance)
The back side of the surface on which the concavo-convex structure of the optical element is formed (the surface on which the concavo-convex structure is not formed) is coated in black using a black paint spray, and then the surface on which the concavo-convex structure is formed (black non-coating) The regular reflectance was measured with respect to (work surface). The measurement was performed using a spectrophotometer (manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation, model: U-4100). Specifically, incident light angles of 20 ° to 60 ° (20 °, 30 °, 40 °, 45 °, 50 °, 55 °, 60 °, respectively) when S wave polarized light or P wave polarized light is incident. °) and regular reflectance in a wavelength range of 400 to 1000 nm (every 1 nm). The average value of the regular reflectance of the S-wave polarized light and the regular reflectance of the P-wave polarized light was taken as the regular reflectance at each incident light angle and wavelength.

((正+拡散)反射率)
光学素子の凹凸構造が形成されている面の裏面(凹凸構造が形成されていない面)を、黒色塗料スプレーを用いて黒色に塗工した後、凹凸構造が形成されている面(黒非塗工面)に関して(正+拡散)反射率を求めた。測定は、分光測色計(コニカミノルタセンシング社製、型式:CM−2600d)を用いて行った。具体的には、拡散光を入射させた場合の受光角度8°及び波長範囲360〜740nmにおける、(正、拡散)反射率を10nm毎に測定した(測定スポット径8mmφ)。
((Positive + diffuse) reflectance)
The back side of the surface on which the concavo-convex structure of the optical element is formed (the surface on which the concavo-convex structure is not formed) is coated in black using a black paint spray, and then the surface on which the concavo-convex structure is formed (black non-coating) (Positive surface + diffuse) reflectivity was determined. The measurement was performed using a spectrocolorimeter (manufactured by Konica Minolta Sensing Co., Ltd., model: CM-2600d). Specifically, the (positive, diffuse) reflectance was measured every 10 nm at a light receiving angle of 8 ° and a wavelength range of 360 to 740 nm when diffused light was incident (measured spot diameter 8 mmφ).

(ヘーズ測定)
基材が透明の場合、凹凸構造が形成されている光学素子、及び基材について、JIS K7136に準拠したヘーズメーター(日本電色工業社製、型式:NDH2000)を用いて、それぞれのヘーズを測定した。また、光学素子のヘーズから基材のヘーズを引いた値を、Δヘーズとした。
(Haze measurement)
When the base material is transparent, each haze is measured using a haze meter (manufactured by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd., model: NDH2000) in accordance with JIS K7136 for the optical element having the concavo-convex structure and the base material. did. A value obtained by subtracting the haze of the base material from the haze of the optical element was taken as Δhaze.

(全光線透過率)
基材が透明の場合、凹凸構造が形成されている光学素子、及び基材について、JIS K7136に準拠したヘーズメーター(日本電色工業社製、型式:NDH2000)を用いて、それぞれの全光線透過率を測定した。
(Total light transmittance)
When the substrate is transparent, the optical element on which the concavo-convex structure is formed, and the substrate are all transmitted through a haze meter (manufactured by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd., model: NDH2000) according to JIS K7136. The rate was measured.

(高さ測定)
凹部と凸部の形状を、走査型プローブ顕微鏡(Digital Instruments社製、型式:Nano Scope IIIa)を用いて測定した。カンチレバーとして、Nano WORLD社製、型式:SSS−NCH−10を用い、スキャンレートを0.50Hzとし、Tappingモードで測定を行った。測定領域は、2.0μm×2.0μmとした。また、測定点数は256点×256点(合計65536点)とした。これにより、各測定点の高さと、対応する平面方向の位置情報を得た。
(Height measurement)
The shape of the concave and convex portions was measured using a scanning probe microscope (manufactured by Digital Instruments, model: Nano Scope IIIa). As a cantilever, Nano WORLD Co., Ltd., model: SSS-NCH-10 was used, the scan rate was 0.50 Hz, and measurement was performed in a taping mode. The measurement area was 2.0 μm × 2.0 μm. The number of measurement points was 256 points × 256 points (a total of 65536 points). As a result, the height of each measurement point and the corresponding position information in the plane direction were obtained.

次に、得られた測定値を解析モードにて、Flatten Order0で傾き補正し、Bearingで、凸部の高さ、凹凸構造の高さの平均偏差、尾根の高さ、等を算出した。ここで、凸部の高さは200nm以上であることを確認した。また、凹凸構造の高さの平均偏差は、凹部の最下点の高さを基準(高さ=0nm)として、測定領域を高さ方向に50nm毎の区分に分画した時に生じる分画数(区分数)をnとし、第iの分画(第iの区分)に係る面積が、測定領域の面積に対して占める比率(分画比率)をHiとし、全分画における比率Hiの総計をnで除した値をHaveとして下記式から算出した。なお、分画比率は、小数第2位を四捨五入して小数点以下1桁までを有効数字として求めた。また、分画比率がゼロである場合、すなわち小数第2位を四捨五入する前の分画比率が0.50%未満の場合は、分画比率なしと扱った。
Next, in the analysis mode, the obtained measurement values were corrected for inclination by Flatten Order 0, and the height of the convex portion, the average deviation of the height of the concavo-convex structure, the height of the ridge, and the like were calculated by Bearing. Here, it was confirmed that the height of the convex portion was 200 nm or more. In addition, the average deviation of the height of the concavo-convex structure is the number of fractions generated when the measurement region is fractionated into 50-nm sections in the height direction with reference to the height of the lowest point of the recess (height = 0 nm). The number of sections) is n, the ratio of the area related to the i-th fraction (i-th section) to the area of the measurement region (fraction ratio) is Hi, and the total of the ratios Hi in all fractions is The value divided by n was calculated from the following formula as Have. In addition, the fraction ratio was calculated | required by rounding off the 2nd decimal place to one decimal place. Further, when the fraction ratio was zero, that is, when the fraction ratio before rounding off the second decimal place was less than 0.50%, it was treated as no fraction ratio.

(凹部高さの標準偏差)
上記の走査型プローブ顕微鏡を用いて測定した凹部と凸部の形状に関するデータを基に、近接する40個の凹部の底の高さを取得し、その標準偏差を求めた。
(Standard deviation of recess height)
Based on the data relating to the shape of the concave and convex portions measured using the above scanning probe microscope, the heights of the bottoms of the 40 adjacent concave portions were obtained, and the standard deviation was obtained.

(凸部高さの標準偏差)
上記の走査型プローブ顕微鏡を用いて測定した凹部と凸部の形状に関するデータを基に、上記凹部高さの標準偏差を算出する際に対象とした領域において近接する40個の凸部の頂部の高さを取得し、その標準偏差を求めた。
(Standard deviation of convex height)
Based on the data on the shape of the concave and convex portions measured using the scanning probe microscope, the tops of the 40 convex portions adjacent to each other in the target area when calculating the standard deviation of the concave portion height. The height was acquired and its standard deviation was determined.

(凸部高さと充填率の相関曲線)
走査型プローブ顕微鏡から得た微細凹凸構造の高さに関するデータをテキスト変換で抜き出して、高さが最小となる位置が基準面となるようにデータを補正した後、高さを10nm毎の区分に区切り、各区分の面積と、対象領域全体の面積から、高さと充填率との関係を示す相関曲線を得た。ここでは、65536個のテキストデータに対してMicrosoft社製Excel2003の分析ツールにあるヒストグラム解析を実施し、その累積度数を相関曲線とした。なお、このような離散データ(ここでは、10nm区分の離散データ)を連続関数に近似して相関曲線を得るために、多項近似法、離散データを直線で内挿する方法、その他の一般的な近似法を用いることができる。
(Correlation curve between convex height and filling rate)
After extracting the data regarding the height of the fine concavo-convex structure obtained from the scanning probe microscope by text conversion and correcting the data so that the position where the height becomes the minimum becomes the reference plane, the height is divided into sections of 10 nm. A correlation curve indicating the relationship between the height and the filling rate was obtained from the area of the partition, each section, and the area of the entire target region. Here, histogram analysis in the Excel 2003 analysis tool made by Microsoft was performed on 65536 text data, and the cumulative frequency was used as a correlation curve. In order to obtain a correlation curve by approximating such discrete data (in this case, discrete data of 10 nm section) to a continuous function, a polynomial approximation method, a method of interpolating discrete data with a straight line, and other general methods An approximation method can be used.

(ピッチ測定)
表面SEM顕微鏡観察によって、高さ200nm以上の凸部の頂点(最高点)と、該凸部の頂点と最も近接する高さ200nm以上の凸部の頂点との距離をピッチとして測定した。なお、凸部に頂点がなく平面が存在する場合、該平面の重心を頂点とした。また、表面SEM写真により、尾根の有無を判断し、また、単位格子の面積(Sall)を求めた。
(Pitch measurement)
By observation with a surface SEM microscope, the distance between the apex of the convex part having a height of 200 nm or more (the highest point) and the apex of the convex part having a height of 200 nm or more closest to the apex of the convex part was measured as a pitch. In addition, when the convex part has no vertex and a plane exists, the center of gravity of the plane is defined as the vertex. Moreover, the presence or absence of a ridge was judged from the surface SEM photograph, and the area (Sall) of the unit cell was obtained.

上記項目に関する評価結果を表1に示す。なお、凹凸構造を説明する上述の図6〜図8は実施例1において作製された光学素子の凹凸形状に相当する。図6及び図8から、尾根22の高さは、凸部の頂点20の高さの約50%であることが分かる。また、図10Aに、凸部の最高点位置を0nmとして凹凸部領域の深さ分布を示す。また、図11に、正反射率の波長依存性及び入射光角度依存性を示す。図11から、広い波長域において正反射率が低く抑えられており、入射光角度が大きい場合でも高い反射防止性能が得られることが分かる。また、図17〜図20に、正反射率の入射光角度依存性を示す。図17〜図20は、それぞれ、入射光の波長が、波長465nm(青色光)、525nm(緑色光)、630nm(赤色光)、900nm(近赤外光)の場合の入射光角度依存性を示している。図17から、波長465nm(青色光)の場合、入射角が60°までの範囲において極めて高い反射防止性能(反射率1%以下)が得られていることが分かる。同様に、図18から、波長525nm(緑色光)の場合、入射角が60°までの範囲において極めて高い反射防止性能(反射率1%以下)が得られていることが分かる。また、図19から、波長630nm(赤色光)の場合、入射角が55°までの範囲において極めて高い反射防止性能(反射率1%以下)が得られており、入射角が55°〜60°の範囲においても高い反射防止性能(反射率2%以下)が得られていることが分かる。また、図20から、波長900nm(近赤外光)の場合、入射角が50°までの範囲において高い反射防止性能(反射率2%以下)が得られており、入射角が50°〜60°の範囲においても必要な反射防止性能(反射率5%以下)が得られていることが分かる。また、図21に、(正+拡散)反射率の波長依存性を示す。図21から、広い波長域において(正+拡散)反射率が低く抑えられており、600nm以上の長波長領域においても高い反射防止性能が得られることが分かる。図22に、可視光領域(400nm〜800nm)の、垂直方向0°から60°までの入射角における反射率を示すシミュレーション結果を示す。図22からも、広い波長域、広い入射光角度範囲において高い反射防止性能が得られており、特に、40°以上の高角度の入射であっても十分な反射防止性能が得られることが分かる。図25に、高さと充填率との相関曲線を示す。なお、図25に示す相関曲線において変曲点の数は4個であった。   Table 1 shows the evaluation results regarding the above items. 6 to 8 for explaining the concavo-convex structure correspond to the concavo-convex shape of the optical element manufactured in Example 1. FIG. 6 and 8, it can be seen that the height of the ridge 22 is about 50% of the height of the vertex 20 of the convex portion. FIG. 10A shows the depth distribution of the concavo-convex region, where the highest point position of the bulge is 0 nm. FIG. 11 shows the wavelength dependence and incident light angle dependence of regular reflectance. FIG. 11 shows that the regular reflectance is kept low in a wide wavelength range, and high antireflection performance can be obtained even when the incident light angle is large. 17 to 20 show the incident light angle dependency of the regular reflectance. 17 to 20 show the incident light angle dependency when the wavelength of incident light is 465 nm (blue light), 525 nm (green light), 630 nm (red light), and 900 nm (near infrared light), respectively. Show. FIG. 17 shows that in the case of a wavelength of 465 nm (blue light), extremely high antireflection performance (reflectance of 1% or less) is obtained in the range of the incident angle up to 60 °. Similarly, it can be seen from FIG. 18 that in the case of a wavelength of 525 nm (green light), an extremely high antireflection performance (reflectance of 1% or less) is obtained in the range where the incident angle is up to 60 °. Further, from FIG. 19, in the case of a wavelength of 630 nm (red light), extremely high antireflection performance (reflectance of 1% or less) is obtained in the range up to an incident angle of 55 °, and the incident angle is 55 ° to 60 °. It can be seen that high antireflection performance (reflectance of 2% or less) is also obtained in this range. Further, from FIG. 20, in the case of a wavelength of 900 nm (near infrared light), high antireflection performance (reflectance of 2% or less) is obtained in the range of the incident angle up to 50 °, and the incident angle is 50 ° -60 It can be seen that the necessary antireflection performance (reflectance of 5% or less) is obtained even in the range of °. FIG. 21 shows the wavelength dependence of (positive + diffuse) reflectance. From FIG. 21, it can be seen that (positive + diffuse) reflectance is kept low in a wide wavelength region, and that high antireflection performance is obtained even in a long wavelength region of 600 nm or more. In FIG. 22, the simulation result which shows the reflectance in the incident angle from 0 degree to 60 degrees of the perpendicular | vertical direction of visible region (400 nm-800 nm) is shown. FIG. 22 also shows that high antireflection performance is obtained in a wide wavelength range and a wide incident light angle range, and in particular, sufficient antireflection performance can be obtained even at a high angle of 40 ° or more. . FIG. 25 shows a correlation curve between the height and the filling rate. In the correlation curve shown in FIG. 25, the number of inflection points was four.

(実施例2〜3、比較例1〜3)
実施例1で使用したスタンパーロールAの代わりに、モスアイ状連続構造の形状、配列パターンが異なるスタンパーロールB、C、D、E、Fを用いて、それぞれのスタンパーロールから、モスアイ状連続構造面を有するTACフィルムロールを得た。作製条件は、スタンパーロールが異なる点を除き、全て同一とした。また、得られた光学素子に対して、実施例1と同様の特性評価を行った。ここで、凸部の高さは200nm以上であることを確認した。評価結果を表1に示す。また、図10A、図10Bに、凸部の最高点位置を0nmとして微細凹凸構造の深さ分布を示す(実施例2〜実施例3、比較例1〜比較例3)。また、図12〜図16に、正反射率の波長依存性及び入射光角度依存性を示す(実施例2〜実施例3、比較例1〜比較例3)。図12〜図16から、実施例2、3では広い波長域において反射率が低く抑えられており、入射光角度が大きい場合でも高い反射防止性能が得られることが分かる。また、図17〜図20に、正反射率の入射光角度依存性を示す(実施例2〜実施例3、比較例1〜比較例3)。図17〜図20は、それぞれ、入射光の波長が、波長465nm(青色光)、525nm(緑色光)、630nm(赤色光)、900nm(近赤外光)の場合の入射光角度依存性を示している。図17〜図20から、実施例2、3では実施例1と同様の高い反射防止性能が得られていることが分かる。特に、実施例3は入射光角度が大きい場合の反射防止性能において極めて優れている。また、図21に、(正+拡散)反射率の波長依存性を示す(実施例2〜実施例3、比較例1〜比較例3)。図21から、実施例2、3でも、広い波長域において(正+拡散)反射率が低く抑えられていることが分かる。図26〜図30に高さと充填率の相関曲線を示す(実施例2〜実施例3、比較例1〜比較例3)。なお、図26に示す相関曲線(実施例2)及び図27に示す相関曲線(実施例3)において変曲点の数はそれぞれ4個であった。
(Examples 2-3, Comparative Examples 1-3)
Using the stamper rolls B, C, D, E, and F having different moth-eye continuous structure shapes and arrangement patterns instead of the stamper roll A used in Example 1, the moth-eye continuous structure surface was obtained from each stamper roll. A TAC film roll having The production conditions were all the same except that the stamper rolls were different. Moreover, the same characteristic evaluation as Example 1 was performed with respect to the obtained optical element. Here, it was confirmed that the height of the convex portion was 200 nm or more. The evaluation results are shown in Table 1. 10A and 10B show the depth distribution of the fine concavo-convex structure with the highest point position of the convex portion being 0 nm (Examples 2 to 3, Comparative Examples 1 to 3). 12 to 16 show the wavelength dependence and incident light angle dependence of regular reflectance (Examples 2 to 3, Comparative Examples 1 to 3). 12 to 16, it can be seen that in Examples 2 and 3, the reflectance is kept low in a wide wavelength range, and high antireflection performance can be obtained even when the incident light angle is large. 17 to 20 show the incident light angle dependency of the regular reflectance (Examples 2 to 3, Comparative Examples 1 to 3). 17 to 20 show the incident light angle dependency when the wavelength of incident light is 465 nm (blue light), 525 nm (green light), 630 nm (red light), and 900 nm (near infrared light), respectively. Show. 17 to 20, it can be seen that in Examples 2 and 3, the same high antireflection performance as in Example 1 is obtained. In particular, Example 3 is extremely excellent in antireflection performance when the incident light angle is large. FIG. 21 shows the wavelength dependence of (positive + diffuse) reflectance (Examples 2 to 3, Comparative Examples 1 to 3). From FIG. 21, it can be seen that also in Examples 2 and 3, the (positive + diffuse) reflectance is kept low in a wide wavelength range. FIG. 26 to FIG. 30 show the correlation curves of height and filling rate (Examples 2 to 3, Comparative Examples 1 to 3). In the correlation curve shown in FIG. 26 (Example 2) and the correlation curve shown in FIG. 27 (Example 3), the number of inflection points was 4, respectively.

(比較例4〜5)
六方格子のシヌソイダル形状の光学素子について、シミュレーションにより反射率を求めた。当該反射率のスペクトルは、RCWAシミュレーション(RSoft社DiffractMOD)によって得た。
(Comparative Examples 4-5)
The reflectivity of a hexagonal lattice-shaped sinusoidal optical element was determined by simulation. The reflectance spectrum was obtained by RCWA simulation (RSsoft DiffractMOD).

凹凸構造が直線状に配列された複数のシヌソイダル形状(凹凸構造のピッチと高さは互いに等しい)を60度の角度で交差するように重ね、高さの値を合計することで、凹部の底と凸部の頂点の高さにばらつきの無い6方格子のシヌソイダル形状(比較例4)の基本構造を作成した。得られた形状において、ピッチと高さは、実施例1の平均ピッチ及び凹凸の平均高さに合わせた。シミュレーションにおいて、作成した形状を、高さ方向(Z軸方向)に2nmごとに分割した。また、分割された各形状を構成する媒質の屈折率を1.5として、各断面における形状の充填率から屈折率プロファイルを作成してシミュレーションに用いた。高さ方向に垂直な面内(XY面)での計算領域は、長軸方向(X方向)に0.76マイクロメートル、短軸方向(Y方向)に1マイクロメートルとし、計算領域内におよそ16個の凸部と16個の凹部を収めた。X軸とY軸のHarmonicsを5に設定し、IndexResolutionを0.01とした。Z軸のIndexResolutionは0.002とした。入射光の偏光を45°とし、入射面はXZ面に設定した。Z軸計算領域の界面での高次の回折光を含むtotal反射率を、波長400nmから800nmまで100nm刻みで、かつ、入射角0°から60°まで10°刻みで計算し、図23の反射率のスペクトルを得た。   A plurality of sinusoidal shapes in which the concavo-convex structure is arranged in a straight line (pitch and height of the concavo-convex structure are equal to each other) are overlapped at an angle of 60 degrees, and the height value is totaled to obtain the bottom of the recess A basic structure of a sinusoidal shape (Comparative Example 4) having a hexagonal lattice with no variation in the height of the vertices of the convex portions was prepared. In the obtained shape, the pitch and height were adjusted to the average pitch of Example 1 and the average height of irregularities. In the simulation, the created shape was divided every 2 nm in the height direction (Z-axis direction). In addition, a refractive index profile was created from the filling factor of the shape in each cross section with the refractive index of the medium constituting each divided shape being 1.5 and used for the simulation. The calculation area in the plane perpendicular to the height direction (XY plane) is 0.76 micrometers in the major axis direction (X direction) and 1 micrometer in the minor axis direction (Y direction). 16 convex portions and 16 concave portions were accommodated. Harmonics for the X and Y axes were set to 5, and IndexResolution was set to 0.01. The Z-axis Index Resolution was 0.002. The polarization of the incident light was 45 °, and the incident surface was set to the XZ plane. The total reflectivity including high-order diffracted light at the interface of the Z-axis calculation region is calculated in steps of 100 nm from a wavelength of 400 nm to 800 nm and in steps of 10 ° from an incident angle of 0 ° to 60 °, and the reflection of FIG. A spectrum of rates was obtained.

凹部の底と凸部の頂点の高さにばらつきのあるシヌソイダル形状(比較例5)は、上記のバラつきの無いシヌソイダル形状(比較例4)を基に、実施例1において互いに隣接する凹部と凸部の高さのばらつきと同程度になるようにシヌソイダル形状の対応する凹部と凸部の高さを調整して作成した。そして、同様にバラつきのあるシヌソイダル形状から屈折率プロファイルを作成し、同一の計算条件によって、図24の反射率のスペクトルを得た。図23と図24との比較により、凹部の底の高さと凸部の頂点の高さが揃っている比較例4より、凹部の底と凸部の頂点の高さがばらついている比較例5の方が反射防止性能に優れていることが分かる。また、図22と図23との比較により、ピッチ、凹部と凸部の高さ、凹部と凸部の高さばらつきなどが同じ条件では、相関曲線における変曲点が4個の実施例1のほうが、変曲点が1個の比較例4より反射防止性能に優れていることが分かる。   The sinusoidal shape (Comparative Example 5) in which the heights of the bottoms of the recesses and the tops of the projections vary are based on the sinusoidal shape without any variation (Comparative Example 4) described above, and the recesses and projections adjacent to each other in Example 1 are used. The height of the corresponding concave and convex portions of the sinusoidal shape was adjusted so as to be approximately the same as the variation in the height of the portion. Similarly, a refractive index profile was created from a sinusoidal shape with variations, and the reflectance spectrum of FIG. 24 was obtained under the same calculation conditions. Compared with FIG. 23 and FIG. 24, Comparative Example 5 in which the height of the bottom of the concave portion and the height of the convex portion is different from Comparative Example 4 in which the height of the bottom of the concave portion and the height of the convex portion are aligned. It can be seen that is superior in antireflection performance. Further, by comparing FIG. 22 and FIG. 23, the inflection points in the correlation curve are four in the first embodiment under the same conditions such as the pitch, the height of the concave and convex portions, and the height variation of the concave and convex portions. It can be seen that the antireflection performance is superior to Comparative Example 4 having one inflection point.

以上、実施例と比較例との比較により、凸部の頂点が200nm以上の高さであり、凸部のピッチ(平均値)が260nm未満であり、高さ250nm以上の領域の比率(面積比)が5%以上であり、微細凹凸構造の高さの平均偏差が3以上8以下であり、高さと充填率との相関曲線において変曲点が2以上存在する実施例の構成では、可視〜近赤外の広い波長領域、及び広い入射光角度範囲において、反射防止性能に優れることが分かる。   As described above, according to the comparison between the example and the comparative example, the ratio of the area where the apex of the convex part is 200 nm or more in height, the pitch (average value) of the convex part is less than 260 nm, and the height is 250 nm or more (area ratio). ) Is 5% or more, the average deviation of the height of the fine concavo-convex structure is 3 or more and 8 or less, and in the configuration of the example in which there are two or more inflection points in the correlation curve between the height and the filling rate, It can be seen that the antireflection performance is excellent in a wide wavelength region of the near infrared and a wide incident light angle range.

本発明によれば、可視〜近赤外の広い波長領域、及び広い入射光角度範囲において、反射防止性能に優れる光学素子が得られる。また、本発明に係る上記光学素子を含む樹脂フィルムロールは、ロールツーロール方式により、生産性良く作製することできる。本発明に係る光学素子は、表示装置、照明装置、太陽電池、複写機などに配設することができる。   According to the present invention, an optical element excellent in antireflection performance can be obtained in a wide wavelength region from visible to near infrared and a wide incident light angle range. Moreover, the resin film roll containing the said optical element which concerns on this invention can be produced with sufficient productivity by a roll-to-roll system. The optical element according to the present invention can be disposed in a display device, a lighting device, a solar cell, a copying machine, or the like.

1 光学素子
10 微細凹凸構造
11 凸部
12 凹部
21 六角形状
22 尾根
30 凹部と尾根からなる断面
31 凹部と凸部からなる断面
32 凸部と尾根からなる断面
100 表示装置
101 表示素子
102 スペーサー
103 前面板
104,106 反射防止フィルム(光学素子)
105 空気層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical element 10 Fine concavo-convex structure 11 Convex part 12 Concave part 21 Hexagonal shape 22 Ridge 30 Cross section consisting of concave part and ridge 31 Cross section consisting of concave part and convex part 32 Cross section consisting of convex part and ridge 100 Display device 101 Display element 102 Spacer 103 Previous Face plate 104,106 Antireflection film (optical element)
105 Air layer

Claims (17)

基材表面に、複数の凹部と複数の凸部からなる微細凹凸構造を有し、
前記微細凹凸構造の所定領域において、前記複数の凸部の頂点は、いずれも、複数の凹部の底のうち最も低い点を含む基準面から200nm以上の高さであり、
前記複数の凸部のいずれかの頂点と、該凸部に最も近接する凸部の頂点との間隔が、平面視において260nm未満であり、
前記平面視における前記所定領域の面積に対し、前記基準面から250nm以上の高さを有する領域が前記平面視において占める面積の比率が5%以上であり、
前記微細凹凸構造を前記基準面から高さ方向に50nm毎の区分に分画した時に生じる分画数をn、前記所定領域における全分画が前記平面視において占める面積に対して第iの分画が平面視において占める面積の比率をHi、全分画における比率Hiの総計をnで除した値をHaveとしたときに、下記式で表される高さの平均偏差が3以上8以下であり、
前記微細凹凸構造において、高さと前記所定領域の平面視において当該高さ以上の領域が占める面積の割合との関係を示す曲線において、変曲点が2以上存在することを特徴とする光学素子。
The substrate surface has a fine concavo-convex structure consisting of a plurality of concave portions and a plurality of convex portions,
In the predetermined region of the fine concavo-convex structure, the vertices of the plurality of convex portions are all at a height of 200 nm or more from the reference plane including the lowest point among the bottoms of the plurality of concave portions,
The interval between any vertex of the plurality of convex portions and the vertex of the convex portion closest to the convex portion is less than 260 nm in plan view,
The ratio of the area occupied in the planar view by the region having a height of 250 nm or more from the reference plane to the area of the predetermined region in the planar view is 5% or more,
The number of fractions generated when the fine concavo-convex structure is fractionated every 50 nm in the height direction from the reference plane is n, and the i-th fraction with respect to the area occupied by the entire fraction in the predetermined region in the plan view When the ratio of the area occupied in plane view is Hi and the value obtained by dividing the total of the ratios Hi in all fractions by n is Have, the average deviation in height represented by the following formula is 3 or more and 8 or less. ,
2. The optical element according to claim 1, wherein in the fine concavo-convex structure, there are two or more inflection points in a curve indicating a relationship between a height and a ratio of an area occupied by a region higher than the predetermined region in a plan view.
前記凹部高さの標準偏差が3以上20以下であることを特徴とする請求項1に記載の光学素子。   The optical element according to claim 1, wherein a standard deviation of the height of the recess is 3 or more and 20 or less. 前記凸部高さの標準偏差が3以上20以下であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の光学素子。   The optical element according to claim 1 or 2, wherein a standard deviation of the height of the convex portion is 3 or more and 20 or less. 前記凸部と、該凸部と隣接する凸部との間に、尾根が存在することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の光学素子。   4. The optical element according to claim 1, wherein a ridge exists between the convex portion and a convex portion adjacent to the convex portion. 5. 前記凸部の高さの平均値に対する前記尾根の高さの平均値が、20%以上80%以下であることを特徴とする請求項4に記載の光学素子。   The optical element according to claim 4, wherein an average value of the height of the ridge with respect to an average value of the heights of the convex portions is 20% or more and 80% or less. 前記凸部と、該凸部と最も近接する複数の凸部からなる任意の1単位格子中、尾根が4個又は8個存在することを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の光学素子。   The optical system according to claim 4 or 5, wherein there are four or eight ridges in an arbitrary unit cell composed of the convex portions and a plurality of convex portions closest to the convex portions. element. 前記凹部と前記凸部からなる構造の単位格子において、前記単位格子の面積(Sall)と、前記基準面から10nm以下の高さの底面領域の面積の総和(Sb)との比(Sb/Sall)が、10%以下であることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載の光学素子。   In a unit cell having a structure including the concave portion and the convex portion, a ratio (Sb / Sall) of an area (Sall) of the unit cell and a total area (Sb) of a bottom region having a height of 10 nm or less from the reference surface. The optical element according to claim 1, wherein the optical element is 10% or less. 前記凸部又は凹部の配列パターンが、六方格子であることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれかに記載の光学素子。   The optical element according to claim 1, wherein the array pattern of the convex portions or the concave portions is a hexagonal lattice. 前記凸部の頂点と、該凸部と最も近接する6個の凸部の頂点との間隔のうち最大値と最小値との差を、当該間隔の平均値で除した値[(Pmax−Pmin)/Pave]が20%以下であることを特徴とする請求項8に記載の光学素子。   A value obtained by dividing the difference between the maximum value and the minimum value among the intervals between the vertices of the convex portions and the vertices of the six convex portions closest to the convex portions by the average value of the intervals [(Pmax−Pmin ) / Pave] is 20% or less. 前記微細凹凸構造を構成する組成物層の厚みが、0.4μm以上10μm以下であることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれかに記載の光学素子。   10. The optical element according to claim 1, wherein a thickness of the composition layer constituting the fine concavo-convex structure is 0.4 μm or more and 10 μm or less. 100質量部中、1分子中に3個以上のアクリル基及び/又はメタクリル基を有する1種類以上の単量体成分を20〜60質量部、N−ビニル基を有する単量体成分を5〜40質量部、その他単量体成分を0〜75質量部含む組成物を硬化させてなることを特徴とする請求項1から請求項10のいずれかに記載の光学素子。   In 100 parts by mass, 20 to 60 parts by mass of one or more monomer components having 3 or more acrylic groups and / or methacryl groups in one molecule, and 5 to 5 monomer components having an N-vinyl group The optical element according to any one of claims 1 to 10, wherein a composition containing 40 parts by mass and 0 to 75 parts by mass of other monomer components is cured. 前記凹凸部を構成する組成物が、光硬化組成物であることを特徴とする請求項10または請求項11に記載の光学素子。   The optical element according to claim 10 or 11, wherein the composition constituting the uneven portion is a photocurable composition. 光硬化前の50℃での粘度が100mPa・s以下である光硬化組成物を光硬化させたことを特徴とする請求項12に記載の光学素子。   The optical element according to claim 12, wherein a photocurable composition having a viscosity at 50 ° C. of 100 mPa · s or less before photocuring is photocured. 請求項1から請求項13いずれかに記載の光学素子を含む幅10cm以上、かつ長さ50m以上の樹脂フィルムロール。   A resin film roll having a width of 10 cm or more and a length of 50 m or more, comprising the optical element according to claim 1. 請求項1から請求項13のいずれかに記載の光学素子を配設した表示装置。   A display device provided with the optical element according to claim 1. 請求項1から請求項13のいずれかに記載の光学素子を配設した照明装置。   An illuminating device provided with the optical element according to any one of claims 1 to 13. 請求項1から請求項13のいずれかに記載の光学素子を配設した太陽電池。   A solar cell provided with the optical element according to any one of claims 1 to 13.
JP2011225751A 2011-06-21 2011-10-13 Optical element Pending JP2013061612A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011225751A JP2013061612A (en) 2011-06-21 2011-10-13 Optical element

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011137830 2011-06-21
JP2011137830 2011-06-21
JP2011183746 2011-08-25
JP2011183746 2011-08-25
JP2011225751A JP2013061612A (en) 2011-06-21 2011-10-13 Optical element

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2013061612A true JP2013061612A (en) 2013-04-04

Family

ID=48186298

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011225751A Pending JP2013061612A (en) 2011-06-21 2011-10-13 Optical element

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2013061612A (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014210237A (en) * 2013-04-19 2014-11-13 株式会社Dnpファインケミカル Manufacturing method of decorative film, manufacturing method of decorative molding product and energy line curable type inkjet composition
JP2015063441A (en) * 2013-08-31 2015-04-09 京セラ株式会社 Sapphire member and manufacturing method of sapphire member
JP2016071070A (en) * 2014-09-29 2016-05-09 大日本印刷株式会社 Information display system
WO2017073270A1 (en) * 2015-10-30 2017-05-04 デクセリアルズ株式会社 Optical body and display device
CN110799861A (en) * 2017-06-28 2020-02-14 凸版印刷株式会社 Color developing structure, display body, and method for producing color developing structure

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003240904A (en) * 2002-02-20 2003-08-27 Dainippon Printing Co Ltd Antireflection article
JP4626721B1 (en) * 2009-09-02 2011-02-09 ソニー株式会社 Transparent conductive electrode, touch panel, information input device, and display device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003240904A (en) * 2002-02-20 2003-08-27 Dainippon Printing Co Ltd Antireflection article
JP4626721B1 (en) * 2009-09-02 2011-02-09 ソニー株式会社 Transparent conductive electrode, touch panel, information input device, and display device

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014210237A (en) * 2013-04-19 2014-11-13 株式会社Dnpファインケミカル Manufacturing method of decorative film, manufacturing method of decorative molding product and energy line curable type inkjet composition
JP2015063441A (en) * 2013-08-31 2015-04-09 京セラ株式会社 Sapphire member and manufacturing method of sapphire member
JP2016071070A (en) * 2014-09-29 2016-05-09 大日本印刷株式会社 Information display system
WO2017073270A1 (en) * 2015-10-30 2017-05-04 デクセリアルズ株式会社 Optical body and display device
JP2017083794A (en) * 2015-10-30 2017-05-18 デクセリアルズ株式会社 Optical body and display device
US11307328B2 (en) 2015-10-30 2022-04-19 Dexerials Corporation Micro concave-convex structure for optical body and display device
US11789182B2 (en) 2015-10-30 2023-10-17 Dexerials Corporation Micro concave-convex structure for optical body and display device
CN110799861A (en) * 2017-06-28 2020-02-14 凸版印刷株式会社 Color developing structure, display body, and method for producing color developing structure

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5144826B1 (en) Optical element
JP2012118501A (en) Optical element
US10766169B2 (en) Resin mold
US20130236697A1 (en) Microstructured articles comprising nanostructures and method
SG189447A1 (en) Light extraction films for organic light emitting devices (oleds)
JP4824068B2 (en) Wire grid polarizer
US20140037900A1 (en) Active-Energy-Curable Resin Composition, Molding, Microrelief Structure, Water-Repellent Article, Mold, and Method for Producing Microrelief Structure
JP2014066975A (en) Fine concavo-convex molded body, fine concavo-convex pattern forming mold, and manufacturing method therefor
JP2013018910A (en) Resin cured product
US8998429B2 (en) Printed material and photographic material
JP2013061612A (en) Optical element
JP2014066976A (en) Fine concavo-convex molded body, fine concavo-convex pattern forming mold, and manufacturing method therefor
JP2014115403A (en) Method of manufacturing multi-functional film
JP6045871B2 (en) Molded body with protective member
JP5876977B2 (en) Active energy ray-curable resin composition, nano uneven structure using the same, method for producing the same, and water-repellent article provided with nano uneven structure
JP2014002322A (en) Optical element and conductive optical element
JP5330314B2 (en) Manufacturing method of wire grid polarizing plate
JP2010164824A (en) Antireflection laminate and method for manufacturing the same
WO2014189075A1 (en) Laminate
JP5839877B2 (en) Resin mold for spin coating
TWI698470B (en) Shading film and manufacturing method of shading film
JP2014002326A (en) Optical element and conductive optical element
JP2013092594A (en) Light absorption member
JP5990411B2 (en) Manufacturing method of dust-proof film
JP2013041086A (en) Optical element

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140730

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150318

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150324

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20150721