JP2013026376A - Drying method of capacitor element, manufacturing method of capacitor, and dryer of capacitor element - Google Patents
Drying method of capacitor element, manufacturing method of capacitor, and dryer of capacitor element Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013026376A JP2013026376A JP2011158814A JP2011158814A JP2013026376A JP 2013026376 A JP2013026376 A JP 2013026376A JP 2011158814 A JP2011158814 A JP 2011158814A JP 2011158814 A JP2011158814 A JP 2011158814A JP 2013026376 A JP2013026376 A JP 2013026376A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- drying
- capacitor element
- insulation resistance
- capacitor
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
Description
本発明は、フィルムが巻回又は積層されて形成されたフィルム本体部を有するコンデンサに関する。 The present invention relates to a capacitor having a film main body formed by winding or laminating a film.
従来より、フィルムコンデンサのフィルムに含まれる水分の影響による絶縁抵抗不良を低減するために、例えば特許文献１に開示されるように、コンデンサの製造工程において、フィルムあるいはコンデンサ素子（フィルム本体部）を乾燥することが知られている。これにより、フィルムに含まれる水分が外部へ放出されるため、該フィルム本体部を用いて形成されるフィルムコンデンサの絶縁抵抗の低下を抑制できる。
Conventionally, in order to reduce insulation resistance failure due to the influence of moisture contained in a film of a film capacitor, for example, as disclosed in
更に、上述のように乾燥されたフィルム本体部は、例えば上記特許文献１に開示されるように、耐湿性を有する樹脂材料等によって封止される。これにより、フィルム本体部と外気とが遮断され、フィルムコンデンサの高い絶縁性が維持される。
Further, the film main body dried as described above is sealed with a moisture-resistant resin material or the like as disclosed in, for example,
ところで、フィルム本体部に含まれる水分の量は、該フィルム本体部が製造される湿度の違い（季節によって湿度は大きく異なる）や、フィルム本体部の個体差による特性のばらつき等によってばらつく。これに対して、従来は、全てのフィルム本体部を確実に乾燥できるような十分に余裕をもった長い時間、該フィルム本体部を乾燥していた。しかし、こうすると、含有される水分量が比較的少ないフィルム本体部については、必要以上に長い時間乾燥されることになる。その結果、無駄なエネルギーが消費されてしまう。 By the way, the amount of moisture contained in the film main body varies depending on the difference in humidity at which the film main body is manufactured (humidity varies greatly depending on the season), variation in characteristics due to individual differences in the film main body, and the like. On the other hand, conventionally, the film main body has been dried for a long time with a sufficient margin so that all the film main bodies can be reliably dried. However, in this case, the film main body portion containing a relatively small amount of moisture is dried for a longer time than necessary. As a result, useless energy is consumed.
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的は、フィルム本体部を有するコンデンサ素子の乾燥時間を短くしつつコンデンサ素子の絶縁性を確保することである。 This invention is made | formed in view of this point, The objective is to ensure the insulation of a capacitor | condenser element, shortening the drying time of the capacitor | condenser element which has a film main-body part.
第１の発明は、コンデンサ素子の乾燥方法を対象とし、フィルム（61）が巻回又は積層されて形成されたフィルム本体部（53）を有するコンデンサ素子（51）の乾燥を開始する乾燥開始工程と、乾燥中の上記コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗を計測する計測工程と、上記コンデンサ素子（51）の乾燥を停止させる乾燥停止条件が成立するか否かを、上記計測工程で計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ，Ｒｘ１，Ｒｘ２，Ｒｘ３に基づいて判定する判定工程と、該判定工程において上記乾燥停止条件が成立したと判定された場合、上記コンデンサ素子（51）の乾燥を停止する乾燥停止工程とを備えることを特徴とする。 The first invention is directed to a method for drying a capacitor element, and starts drying the capacitor element (51) having a film body (53) formed by winding or laminating a film (61). And the measurement step of measuring the insulation resistance of the capacitor element (51) during drying, and whether or not the drying stop condition for stopping the drying of the capacitor element (51) is satisfied was measured in the measurement step. A determination step for determining based on the insulation resistances Rx, Rx 1 , Rx 2 , Rx 3 of the capacitor element (51), and when it is determined that the drying stop condition is satisfied in the determination step, the capacitor element (51) And a drying stop step for stopping the drying of the material.
第１の発明では、コンデンサ素子（51）が乾燥されるため、該コンデンサ素子（51）に含まれる水分が蒸発する。その結果、コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗が高くなる。 In the first invention, since the capacitor element (51) is dried, moisture contained in the capacitor element (51) evaporates. As a result, the insulation resistance of the capacitor element (51) is increased.
第１の発明では、乾燥開始工程によって乾燥が開始されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗が計測され、この絶縁抵抗Ｒｘ，Ｒｘ１，Ｒｘ２，Ｒｘ３に基づいて、コンデンサ素子（51）の乾燥を停止させる乾燥停止条件が成立するか否かが判定される。乾燥停止条件が成立していないと判定された場合には、コンデンサ素子（51）の乾燥は継続され、乾燥停止条件が成立したと判定された場合には、コンデンサ素子（51）の乾燥は停止される。
In the first aspect of the invention, the insulation resistance measurement of the capacitor element drying is initiated by the start of drying step (51), the insulation resistance Rx, based on the
第２の発明は、第１の発明において、上記計測工程では、乾燥中の上記コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗が随時計測され、上記判定工程では、上記計測工程で計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘが所定値Ｒａを上回った場合、上記乾燥停止条件が成立したと判定されることを特徴とする。 According to a second aspect, in the first aspect, in the measurement step, the insulation resistance of the capacitor element (51) being dried is measured as needed, and in the determination step, the capacitor element (51 ) Exceeds a predetermined value Ra, it is determined that the drying stop condition is satisfied.
第２の発明では、計測工程において、乾燥中のコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗が、随時計測される。この計測工程で計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘが所定値Ｒａを上回った場合、乾燥停止条件が成立したと判定され、コンデンサ素子（51）の乾燥が停止される。 In 2nd invention, the insulation resistance of the capacitor | condenser element (51) in drying is measured at any time in a measurement process. When the insulation resistance Rx of the capacitor element (51) measured in this measurement step exceeds the predetermined value Ra, it is determined that the drying stop condition is satisfied, and the drying of the capacitor element (51) is stopped.
第３の発明は、第１の発明において、上記判定工程では、上記計測工程で計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ１，Ｒｘ２，Ｒｘ３に基づいて上記コンデンサ素子（51）の残りの乾燥時間Ｔｘが算出され、該残りの乾燥時間Ｔｘが経過した場合、上記乾燥停止条件が成立したと判定されることを特徴とする。 In a third aspect based on the first aspect, in the determination step, based on the insulation resistances Rx 1 , Rx 2 , Rx 3 of the capacitor element (51) measured in the measurement step, the capacitor element (51) The remaining drying time Tx is calculated, and when the remaining drying time Tx has elapsed, it is determined that the drying stop condition is satisfied.
第３の発明では、計測工程で計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ１，Ｒｘ２，Ｒｘ３に基づいて、該コンデンサ素子（51）の残りの乾燥時間Ｔｘが算出される。そして、この残りの乾燥時間Ｔｘが経過した場合、乾燥停止条件が成立したと判定され、コンデンサ素子（51）の乾燥が停止される。 In the third invention, the remaining drying time Tx of the capacitor element (51) is calculated based on the insulation resistances Rx 1 , Rx 2 , Rx 3 of the capacitor element (51) measured in the measuring step. Then, when the remaining drying time Tx has elapsed, it is determined that the drying stop condition is satisfied, and the drying of the capacitor element (51) is stopped.
第４の発明は、第３の発明において、上記判定工程では、上記計測工程で計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ１，Ｒｘ２の所定時間における変化量ΔＲが算出され、該変化量ΔＲに基づいて上記コンデンサ素子（51）の残りの乾燥時間Ｔｘが算出されることを特徴とする。 In a fourth aspect based on the third aspect, in the determination step, a change amount ΔR of the insulation resistances Rx 1 and Rx 2 of the capacitor element (51) measured in the measurement step in a predetermined time is calculated, and the change The remaining drying time Tx of the capacitor element (51) is calculated based on the amount ΔR.
第４の発明では、計測工程において、コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗が、時間をおいて少なくとも２回計測される。このように計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ１，Ｒｘ２に基づいて、該コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ１，Ｒｘ２の所定時間における変化量ΔＲが算出される。そして、該ΔＲに基づいて、コンデンサ素子（51）の残りの乾燥時間Ｔｘが算出される。この残りの乾燥時間Ｔｘが経過した場合、乾燥停止条件が成立したと判定され、コンデンサ素子（51）の乾燥が停止される。 In the fourth invention, in the measurement step, the insulation resistance of the capacitor element (51) is measured at least twice over time. Based on the measured insulation resistances Rx 1 and Rx 2 of the capacitor element (51), the amount of change ΔR of the insulation resistances Rx 1 and Rx 2 of the capacitor element (51) in a predetermined time is calculated. Based on ΔR, the remaining drying time Tx of the capacitor element (51) is calculated. When the remaining drying time Tx has elapsed, it is determined that the drying stop condition is satisfied, and the drying of the capacitor element (51) is stopped.
第５の発明は、コンデンサの製造方法を対象とし、上記第１から第４の発明によって乾燥されたコンデンサ素子（51）を封止する工程を備えることを特徴とする。 The fifth invention is directed to a method for manufacturing a capacitor, and includes a step of sealing the capacitor element (51) dried by the first to fourth inventions.
第５の発明では、第１から第４の発明によって乾燥されたコンデンサ素子（51）が封止されてコンデンサが形成される。これにより、コンデンサ素子（51）は、外気に含まれる水分に触れないように密閉される。 In the fifth invention, the capacitor element (51) dried by the first to fourth inventions is sealed to form a capacitor. Thereby, a capacitor | condenser element (51) is sealed so that the moisture contained in external air may not be touched.
第６の発明は、コンデンサ素子乾燥装置を対象とし、フィルム（61）が巻回又は積層されて形成されたフィルム本体部（53）を有するコンデンサ素子（51）を乾燥する乾燥機構（20）と、該乾燥機構（20）で乾燥中のコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗を計測する絶縁抵抗計測器（40）と、該絶縁抵抗計測器（40）によって計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ，Ｒｘ１，Ｒｘ２，Ｒｘ３に基づいて上記乾燥機構（20）を制御する制御部（30）とを備えることを特徴とする。 A sixth invention is directed to a capacitor element drying apparatus, and has a drying mechanism (20) for drying a capacitor element (51) having a film body (53) formed by winding or laminating a film (61). An insulation resistance measuring instrument (40) for measuring the insulation resistance of the capacitor element (51) being dried by the drying mechanism (20), and an insulation of the capacitor element (51) measured by the insulation resistance measuring instrument (40) resistance Rx, based on the Rx 1, Rx 2, Rx 3, characterized in that it comprises a control unit (30) for controlling the drying mechanism (20).
第６の発明では、乾燥機構（20）で乾燥中のコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗が、絶縁抵抗計測器（40）によって計測され、該絶縁抵抗計測器（40）によって計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ，Ｒｘ１，Ｒｘ２，Ｒｘ３に基づいて、制御部（30）が乾燥機構（20）を制御する。 In the sixth invention, the insulation resistance of the capacitor element (51) being dried by the drying mechanism (20) is measured by the insulation resistance measuring instrument (40), and the capacitor element measured by the insulation resistance measuring instrument (40). Based on the insulation resistances Rx, Rx 1 , Rx 2 , Rx 3 of (51), the control unit (30) controls the drying mechanism (20).
第１の発明によれば、乾燥中のコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ，Ｒｘ１，Ｒｘ２，Ｒｘ３に基づいて乾燥停止条件を判定することで、乾燥中のコンデンサ素子（51）に含まれる水分量を直接的に把握しながら、乾燥停止条件を判定している。こうすると、乾燥時間が過剰とならないため乾燥エネルギーを低減できる。しかも、乾燥時間が不足しないためコンデンサ素子（51）を十分に乾燥できる。 According to the first invention, by determining the drying stop condition based on the insulation resistances Rx, Rx 1 , Rx 2 , Rx 3 of the capacitor element (51) being dried, the capacitor element (51) being dried is determined. The drying stop condition is determined while directly grasping the amount of water contained. If it carries out like this, since drying time does not become excess, drying energy can be reduced. Moreover, since the drying time is not short, the capacitor element (51) can be sufficiently dried.
また、第２の発明によれば、乾燥中のコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘが所定値Ｒａを上回った場合、コンデンサ素子（51）の乾燥が停止される。この所定値Ｒａを適切な値に設定することで、コンデンサ素子（51）の絶縁性を確実に確保できる。 According to the second invention, when the insulation resistance Rx of the capacitor element (51) being dried exceeds a predetermined value Ra, the drying of the capacitor element (51) is stopped. By setting the predetermined value Ra to an appropriate value, the insulation of the capacitor element (51) can be reliably ensured.
また、第３の発明によれば、算出されたコンデンサ素子（51）の残りの乾燥時間Ｔｘの経過後、コンデンサ素子（51）の乾燥が停止される。こうすると、残りの乾燥時間Ｔｘを算出した後、コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘを計測する必要がなくなる。従って、コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘを計測する時間を短くできる。 In addition, according to the third aspect, after the calculated remaining drying time Tx of the capacitor element (51), the drying of the capacitor element (51) is stopped. This eliminates the need to measure the insulation resistance Rx of the capacitor element (51) after calculating the remaining drying time Tx. Therefore, the time for measuring the insulation resistance Rx of the capacitor element (51) can be shortened.
また、第４の発明によれば、乾燥中のコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ１，Ｒｘ２が、時間をおいて少なくとも２回計測され、これらの絶縁抵抗Ｒｘ１，Ｒｘ２を用いて残りの乾燥時間Ｔｘを算出している。 Further, according to the fourth invention, the insulation resistances Rx 1 and Rx 2 of the capacitor element (51) being dried are measured at least twice with time, and these insulation resistances Rx 1 and Rx 2 are used. The remaining drying time Tx is calculated.
例えば、乾燥中のコンデンサ素子の絶縁抵抗が１回だけ計測され、該計測値のみを用いて残りの乾燥時間を算出する場合、コンデンサ素子の特性（具体的には、乾燥中のコンデンサ素子の絶縁抵抗の所定時間における変化量）を予測し、その予測された特性に基づいて残りの乾燥時間を算出する必要がある。しかし、こうすると、実際に絶縁抵抗が計測されるコンデンサ素子（51）の特性が、予測されるコンデンサ素子の特性と異なる場合、算出された残りの乾燥時間と、本来必要な残りの乾燥時間との間に大きなずれが生じる虞がある。 For example, when the insulation resistance of the capacitor element being dried is measured only once and the remaining drying time is calculated using only the measured value, the characteristics of the capacitor element (specifically, the insulation of the capacitor element being dried) It is necessary to predict the amount of change in resistance for a predetermined time) and calculate the remaining drying time based on the predicted characteristics. However, in this case, if the characteristics of the capacitor element (51) for which the insulation resistance is actually measured are different from the expected characteristics of the capacitor element, the calculated remaining drying time and the originally required remaining drying time There is a risk that a large shift will occur between the two.
これに対して、第４の発明では、コンデンサ素子の特性（乾燥中のコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗の所定時間における変化量ΔＲ）を実際に計測し、その値に基づいて残りの乾燥時間Ｔｘを算出している。こうすると、算出される残りの乾燥時間Ｔｘと、本来必要な残りの乾燥時間との間のずれを少なくできる。従って、コンデンサ素子（51）の乾燥不足や、乾燥に用いられるエネルギーの無駄を回避できる。 On the other hand, in the fourth invention, the characteristic of the capacitor element (amount of change ΔR of the insulation resistance of the capacitor element (51) being dried at a predetermined time) is actually measured, and the remaining drying time is based on the value. Tx is calculated. In this way, the difference between the calculated remaining drying time Tx and the originally required remaining drying time can be reduced. Therefore, insufficient drying of the capacitor element (51) and waste of energy used for drying can be avoided.
また、第５の発明によれば、第１から第４の発明によって十分に乾燥されたコンデンサ素子（51）を封止することによりコンデンサが形成されるため、コンデンサの絶縁性を十分に確保できる。しかも、上記第１から第４の発明によるコンデンサ素子（51）を乾燥するためのエネルギーは従来よりも低いため、コンデンサの製造時に使用されるエネルギーを低減できる。 In addition, according to the fifth invention, since the capacitor is formed by sealing the capacitor element (51) sufficiently dried by the first to fourth inventions, sufficient insulation of the capacitor can be secured. . In addition, since the energy for drying the capacitor element (51) according to the first to fourth aspects of the present invention is lower than that of the prior art, the energy used in manufacturing the capacitor can be reduced.
また、第６の発明によれば、コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ，Ｒｘ１，Ｒｘ２，Ｒｘ３に基づいて乾燥機構（20）が制御されるため、コンデンサ素子（51）の絶縁性を十分に確保しつつ、コンデンサ素子（51）の乾燥に必要なエネルギーを低減できる。しかも、コンデンサ素子（51）の乾燥は、制御部（30）によって自動で制御されるため、作業者の作業工数を低減できる。 Further, according to the sixth aspect, since the drying mechanism (20) is controlled based on the insulation resistance Rx, Rx 1, Rx 2, Rx 3 of the capacitor element (51), an insulating capacitor element (51) The energy required for drying the capacitor element (51) can be reduced while sufficiently securing the above. In addition, since the drying of the capacitor element (51) is automatically controlled by the control unit (30), it is possible to reduce the work man-hours of the operator.
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下の実施形態は、本質的に好ましい例示であって、本発明、その適用物、あるいはその用途の範囲を制限することを意図するものではない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The following embodiments are essentially preferable examples, and are not intended to limit the scope of the present invention, its application, or its use.
《発明の実施形態１》
−全体構成−
実施形態１に係るコンデンサ素子乾燥装置（1）は、図１に示すように、真空乾燥器（10）と、絶縁抵抗計測器（40）とを備えている。真空乾燥器（10）は、フィルムコンデンサ（50）のコンデンサ素子（51）を乾燥させるためのものであり、絶縁抵抗計測器（40）は、真空乾燥器（10）によって乾燥されるコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗を計測するためのものである。
-Overall configuration-
The capacitor | condenser element drying apparatus (1) which concerns on
真空乾燥器（10）は、図２に示すように、開口を有する箱状の乾燥器本体（11）と、該乾燥器本体（11）の開口を開閉可能な扉部（12）とを備えている。扉部（12）は、ヒンジ部（13）を介して乾燥器本体（11）に取り付けられている。扉部（12）の中央部には、耐熱性を有するガラス等で構成された観測窓（14）が設けられていて、乾燥器本体（11）の内部を観測することができるようになっている。また、乾燥器本体（11）には、該乾燥器本体（11）の内部に収容されたコンデンサ素子（51）に電圧を印加するための電圧印加用端子（15）が取り付けられている。 As shown in FIG. 2, the vacuum dryer (10) includes a box-shaped dryer body (11) having an opening, and a door (12) capable of opening and closing the opening of the dryer body (11). ing. The door part (12) is attached to the dryer main body (11) via the hinge part (13). An observation window (14) made of heat-resistant glass or the like is provided at the center of the door (12) so that the inside of the dryer body (11) can be observed. Yes. In addition, a voltage application terminal (15) for applying a voltage to the capacitor element (51) housed in the dryer body (11) is attached to the dryer body (11).
乾燥器本体（11）の内側には、内槽部（16）が収容されている。内槽部（16）は、開口を有する箱状に形成されている。内槽部（16）の開口は、乾燥器本体（11）の開口と同じ向きに開いている。内槽部（16）は、ステンレスの鋼板等で構成される。内槽部（16）によって囲まれた空間は、コンデンサ素子（51）を収容可能な乾燥室（S）を構成している。 An inner tank (16) is accommodated inside the dryer body (11). The inner tank part (16) is formed in a box shape having an opening. The opening of the inner tank part (16) opens in the same direction as the opening of the dryer body (11). The inner tank portion (16) is made of a stainless steel plate or the like. The space surrounded by the inner tank part (16) constitutes a drying chamber (S) that can accommodate the capacitor element (51).
真空乾燥器（10）は、図１に示すように、乾燥機構（20）と、制御部（30）とを備えている。 As shown in FIG. 1, the vacuum dryer (10) includes a drying mechanism (20) and a control unit (30).
乾燥機構（20）は、ヒーター（21）と、真空ポンプ（25）とを備えている。 The drying mechanism (20) includes a heater (21) and a vacuum pump (25).
ヒーター（21）は、乾燥室（S）内を加熱するための加熱機構を構成している。ヒーター（21）は、内槽部（16）の外側に取り付けられている。ヒーター（21）によって内槽部（16）が加熱されると、内槽部（16）内の乾燥室（S）が昇温する。真空ポンプ（25）は、乾燥室（S）内を減圧するための減圧機構を構成している。真空ポンプ（25）は、配管（26）によって乾燥室（S）と繋がっている。真空ポンプ（25）が駆動すると、乾燥室（S）内の空気が配管（26）を通じて外部へ排出される。これにより、乾燥室（S）内が減圧される。 The heater (21) constitutes a heating mechanism for heating the inside of the drying chamber (S). The heater (21) is attached to the outside of the inner tank part (16). When the inner tank part (16) is heated by the heater (21), the temperature of the drying chamber (S) in the inner tank part (16) is increased. The vacuum pump (25) constitutes a decompression mechanism for decompressing the inside of the drying chamber (S). The vacuum pump (25) is connected to the drying chamber (S) by a pipe (26). When the vacuum pump (25) is driven, the air in the drying chamber (S) is discharged to the outside through the pipe (26). Thereby, the inside of the drying chamber (S) is depressurized.
制御部（30）は、絶縁抵抗計測器（40）で計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗に基づいて、乾燥機構（20）を制御するように構成されている。制御部（30）の構成については、詳しくは後述する。 The control unit (30) is configured to control the drying mechanism (20) based on the insulation resistance of the capacitor element (51) measured by the insulation resistance measuring instrument (40). The configuration of the control unit (30) will be described later in detail.
絶縁抵抗計測器（40）は、真空乾燥器（10）によって乾燥されるコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗を計測するためのものである。絶縁抵抗計測器（40）は、図３に示すように、絶縁抵抗計（41）と、素子設置台（45）とを備えている。 The insulation resistance measuring instrument (40) is for measuring the insulation resistance of the capacitor element (51) dried by the vacuum dryer (10). As shown in FIG. 3, the insulation resistance measuring instrument (40) includes an insulation resistance meter (41) and an element installation base (45).
絶縁抵抗計（41）は、乾燥器本体（11）の外側に配置されている。絶縁抵抗計（41）は、図４に示すように、直流電源部（42）と、固定抵抗（43）とが直列に接続された計測回路（41a）を備えている。この計測回路（41a）の両端は、ケーブル等によって、乾燥器本体（11）に取り付けられた電圧印加用端子（15）に接続される。 The insulation resistance meter (41) is disposed outside the dryer body (11). As shown in FIG. 4, the insulation resistance meter (41) includes a measurement circuit (41a) in which a DC power supply (42) and a fixed resistance (43) are connected in series. Both ends of the measurement circuit (41a) are connected to a voltage application terminal (15) attached to the dryer body (11) by a cable or the like.
なお、本実施形態１では、絶縁抵抗計（41）を、乾燥器本体（11）の外側に配置しているが、この限りでなく、例えば、乾燥器本体（11）に内蔵されていてもよい。また、絶縁抵抗計（41）の構成は上述のものに限らず、絶縁抵抗を計測可能であれば、どのような構成であってもよい。 In the first embodiment, the insulation resistance meter (41) is arranged outside the dryer main body (11). However, the present invention is not limited to this. For example, the insulation resistance meter (41) may be built in the dryer main body (11). Good. The configuration of the insulation resistance meter (41) is not limited to the above-described configuration, and any configuration may be used as long as the insulation resistance can be measured.
素子設置台（45）は、図３に示すように、乾燥室（S）内に配置されている。素子設置台（45）には、乾燥室（S）内で乾燥されるコンデンサ素子（51）が設置される。具体的には、素子設置台（45）は、一対の端子部（46,46）を備えていて、該一対の端子部（46,46）のそれぞれにコンデンサ素子（51）の外部端子（55,55）のそれぞれが接続される。これにより、コンデンサ素子（51）が素子設置台（45）に設置される。また、一対の端子部（46,46）は、それぞれ、ケーブル等によって、電圧印加用端子（15）に接続される。 As shown in FIG. 3, the element installation base (45) is disposed in the drying chamber (S). A capacitor element (51) to be dried in the drying chamber (S) is installed on the element installation base (45). Specifically, the element mounting base (45) includes a pair of terminal portions (46, 46), and an external terminal (55) of the capacitor element (51) is connected to each of the pair of terminal portions (46, 46). , 55) are connected. Thus, the capacitor element (51) is installed on the element installation base (45). The pair of terminal portions (46, 46) are connected to the voltage application terminal (15) by cables or the like.
上記絶縁抵抗計測器（40）では、素子設置台（45）にコンデンサ素子（51）が設置された状態において直流電源部（42）がＯＮされると、次の式（1）に基づいて、コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗が計測される。 In the insulation resistance measuring instrument (40), when the DC power supply (42) is turned on in a state where the capacitor element (51) is installed on the element installation base (45), based on the following equation (1), The insulation resistance of the capacitor element (51) is measured.
Ｒｘ＝Ｒ０×（Ｅ／Ｖ０−１）…（1）
式（1）において、Ｒｘはコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗、Ｒ０は固定抵抗（43）の抵抗、Ｅは直流電源部（42）の電圧、Ｖ０は固定抵抗（43）の電圧である。
Rx = R 0 × (E / V 0 −1) (1)
In the formula (1), Rx is the insulation resistance of the capacitor element (51), R 0 is the voltage across the resistor, E is a direct current power source portion (42) of the fixed resistor (43), V 0 is the voltage of the fixed resistor (43) is there.
なお、式（1）において、Ｅ≫Ｖ０の場合（例えば、Ｖ０がＥの１／１００以下の場合）、式（1）は次の式（2）のように表すことができる。 In the equation (1), if the E»V 0 (e.g., if V 0 is less than 1/100 of E), formula (1) can be expressed as the following equation (2).
Ｒｘ＝Ｒ０×Ｅ／Ｖ０…（2）
絶縁抵抗計（41）では、固定抵抗（43）の電圧Ｖ０が計測され、該電圧Ｖ０を式（1）又は式（2）に代入することによって、コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘが算出される。絶縁抵抗計（41）では、コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗が、随時計測される。
Rx = R 0 × E / V 0 (2)
In the insulation resistance meter (41), the voltage V 0 of the fixed resistance (43) is measured, and the insulation resistance Rx of the capacitor element (51) is substituted by substituting the voltage V 0 into the formula (1) or the formula (2). Is calculated. The insulation resistance meter (41) measures the insulation resistance of the capacitor element (51) as needed.
また、絶縁抵抗計（41）は、計測値送信部（44）を備えている。絶縁抵抗計（41）で随時計測されるコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘは、計測値送信部（44）から制御部（30）へ送信される。 The insulation resistance meter (41) includes a measured value transmission unit (44). The insulation resistance Rx of the capacitor element (51) measured at any time by the insulation resistance meter (41) is transmitted from the measured value transmission unit (44) to the control unit (30).
−制御部の構成−
制御部（30）は、上記絶縁抵抗計測器（40）で随時計測されるコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘが所定値Ｒａを上回った場合、乾燥機構（20）（ヒーター（21）及び真空ポンプ（25））の駆動を停止するように構成されている。
-Control unit configuration-
When the insulation resistance Rx of the capacitor element (51) measured at any time by the insulation resistance measuring instrument (40) exceeds a predetermined value Ra, the control unit (30) performs the drying mechanism (20) (heater (21) and vacuum). The pump (25)) is configured to stop driving.
制御部（30）は、図５に示すように、記憶部（31）と、判定部（32）と、指令部（33）とを備えている。 As shown in FIG. 5, the control unit (30) includes a storage unit (31), a determination unit (32), and a command unit (33).
記憶部（31）には、絶縁抵抗の所定値Ｒａが記憶されている。本実施形態１では、所定値Ｒａは、フィルムコンデンサ（50）の絶縁抵抗の規格値（例えば１００ＭΩ）よりも高い値に設定される。 The storage unit (31) stores a predetermined value Ra of the insulation resistance. In the first embodiment, the predetermined value Ra is set to a value higher than the standard value (for example, 100 MΩ) of the insulation resistance of the film capacitor (50).
判定部（32）は、絶縁抵抗の所定値Ｒａと、絶縁抵抗計（41）の計測値送信部（44）から随時送信されるコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘとを比較する。判定部（32）は、絶縁抵抗Ｒｘが所定値Ｒａを上回った場合、乾燥機構（20）を停止させるための乾燥停止条件が成立したと判定する。 The determination unit (32) compares the predetermined value Ra of the insulation resistance with the insulation resistance Rx of the capacitor element (51) transmitted from time to time from the measurement value transmission unit (44) of the insulation resistance meter (41). When the insulation resistance Rx exceeds the predetermined value Ra, the determination unit (32) determines that the drying stop condition for stopping the drying mechanism (20) is satisfied.
指令部（33）は、判定部（32）で乾燥停止条件が成立したと判定された場合（すなわち、コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘが所定値Ｒａを上回った場合）、ヒーター（21）へヒーター停止信号Ｓｈを送信するとともに、真空ポンプ（25）へポンプ停止信号Ｓｐを送信する。ヒーター停止信号Ｓｈを受信したヒーター（21）は乾燥室（S）の加熱を停止し、ポンプ停止信号Ｓｐを受信した真空ポンプ（25）は乾燥室（S）の減圧を停止する。 When the determination unit (32) determines that the drying stop condition is satisfied (that is, when the insulation resistance Rx of the capacitor element (51) exceeds a predetermined value Ra), the command unit (33) A heater stop signal Sh is transmitted to the vacuum pump (25), and a pump stop signal Sp is transmitted to the vacuum pump (25). The heater (21) that has received the heater stop signal Sh stops heating of the drying chamber (S), and the vacuum pump (25) that has received the pump stop signal Sp stops depressurization of the drying chamber (S).
−フィルムコンデンサ−
フィルムコンデンサ（50）は、電源供給回路の平滑コンデンサ等に用いられる。図６に示すように、フィルムコンデンサ（50）は、コンデンサ素子（51）と、絶縁カバー（57）と、封止樹脂（58）とを備えている。
-Film capacitor-
The film capacitor (50) is used as a smoothing capacitor for a power supply circuit. As shown in FIG. 6, the film capacitor (50) includes a capacitor element (51), an insulating cover (57), and a sealing resin (58).
コンデンサ素子（51）は、巻芯（52）と、該巻芯（52）に巻回されたフィルム本体部としての巻回部（53）と、該巻回部（53）の軸方向両端部にそれぞれ設けられるメタリコン電極（54）と、各メタリコン電極（54）にそれぞれ電気的に接続される外部端子（55）とを備えている。 The capacitor element (51) includes a winding core (52), a winding portion (53) as a film main body wound around the winding core (52), and both axial ends of the winding portion (53). Each of the metallicon electrodes (54), and an external terminal (55) electrically connected to each of the metallicon electrodes (54).
巻芯（52）は、円筒状の樹脂部材で構成されている。なお、この円筒状の巻芯（52）の内部に金属製の芯部を設けてもよい。 The winding core (52) is made of a cylindrical resin member. In addition, you may provide a metal core part in the inside of this cylindrical winding core (52).
巻回部（53）は、フィルムコンデンサ用フィルムを構成する２枚の金属化フィルム（61,61）が厚さ方向に重ね合わされたものが、巻芯（52）に所定の回数巻回されて形成される。各金属化フィルム（61）は、図７に示すように、フィルム体（62）と、該フィルム体（62）の一方の面に形成される第１金属膜（63）と、フィルム体（62）の他方の面に形成される第２金属膜（64）とを有する。フィルム体（62）は、ポリプロピレン（ＰＰ）、ポリエチレンテレフタラート（ＰＥＴ）、ポリフッ化ビニリデン（ＰＶＤＦ）等の絶縁性の樹脂材料で構成される。つまり、フィルム体（62）は、帯状の誘電体フィルムで構成される。 In the winding part (53), two metallized films (61, 61) constituting a film for a film capacitor are overlapped in the thickness direction and wound around the core (52) a predetermined number of times. It is formed. As shown in FIG. 7, each metallized film (61) includes a film body (62), a first metal film (63) formed on one surface of the film body (62), and a film body (62 ) On the other surface of the second metal film (64). The film body (62) is made of an insulating resin material such as polypropylene (PP), polyethylene terephthalate (PET), or polyvinylidene fluoride (PVDF). That is, the film body (62) is composed of a strip-shaped dielectric film.
メタリコン電極（54）は、コンデンサ素子（51）の軸方向端部に露出する２つの金属化フィルム（61,61）と電気的に導通する。外部端子（55）は、その基端部が巻芯（52）に対応する位置で、メタリコン電極（54）と電気的に接続している。これらの外部端子（55）は、メタリコン電極（54）の径方向外方に向かって延び、その先端部が封止樹脂（58）から外方に突出している。 The metallicon electrode (54) is electrically connected to the two metallized films (61, 61) exposed at the axial end of the capacitor element (51). The external terminal (55) is electrically connected to the metallicon electrode (54) at a position corresponding to the core (52) at the base end. These external terminals (55) extend outward in the radial direction of the metallicon electrode (54), and tip portions thereof protrude outward from the sealing resin (58).
絶縁カバー（57）は、樹脂材料からなるシート状の部材を、円筒状の巻回部（53）の外周面に沿うように丸めて円筒状にしたものである。この絶縁カバー（57）は、巻回部（53）全体を覆うように設けられている。 The insulating cover (57) is formed by rolling a sheet-like member made of a resin material so as to be along the outer peripheral surface of the cylindrical winding part (53). The insulating cover (57) is provided so as to cover the entire winding part (53).
封止樹脂（58）は、絶縁カバー（57）、巻回部（53）、巻芯（52）、メタリコン電極（54）、及び外部端子（55）の基端部を封止している。すなわち、封止樹脂（58）は、コンデンサ素子（51）における、外部端子（55）の先端部を除く部分を封止している。なお、巻回部（53）の外周側を覆うように絶縁カバー（57）を配設しているが、この限りではなく、絶縁カバー（57）がなく、該巻回部（53）を封止樹脂（58）で直接、封止するような構成であってもよい。 The sealing resin (58) seals the base ends of the insulating cover (57), the winding part (53), the winding core (52), the metallicon electrode (54), and the external terminal (55). That is, the sealing resin (58) seals a portion of the capacitor element (51) excluding the tip of the external terminal (55). The insulating cover (57) is disposed so as to cover the outer peripheral side of the winding part (53). However, the insulating cover (57) is not limited to this and the winding part (53) is sealed. It may be configured to be directly sealed with a stop resin (58).
−フィルムコンデンサの製造方法−
フィルムコンデンサ（50）の製造方法について、図８を用いて説明する。
-Film capacitor manufacturing method-
The manufacturing method of a film capacitor (50) is demonstrated using FIG.
まず、ステップＳ１０で、巻芯（52）に２枚の金属化フィルム（61,61）を所定の回数巻回することにより、巻回部（53）を形成する。金属化フィルム（61,61）は、フィルム体（62）の両面にアルミニウム等が蒸着されることによって形成される。 First, in step S10, the winding portion (53) is formed by winding the two metallized films (61, 61) around the winding core (52) a predetermined number of times. The metallized films (61, 61) are formed by depositing aluminum or the like on both surfaces of the film body (62).
次に、巻回部（53）の両端面に金属を溶射してメタリコン電極（54）を形成し（ステップＳ２０）、このメタリコン電極（54）に外部端子（55,55）を半田付け等によって取り付ける（ステップＳ３０）。 Next, a metallized electrode (54) is formed by spraying metal on both end faces of the winding part (53) (step S20), and external terminals (55, 55) are soldered to the metallized electrode (54). Attach (step S30).
以上のステップＳ１０、Ｓ２０及びＳ３０の工程により、巻芯（52）、巻回部（53）、メタリコン電極（54）及び外部端子（55）を備えたコンデンサ素子（51）が形成される。 Through the steps S10, S20, and S30, the capacitor element (51) including the core (52), the winding part (53), the metallicon electrode (54), and the external terminal (55) is formed.
次に、ステップＳ４０で、コンデンサ素子（51）をコンデンサ素子乾燥装置（1）によって乾燥する。ステップＳ４０では、例えば作業者が、コンデンサ素子（51）を乾燥室（S）内に収容し、扉部（12）を閉じた後、ヒーター（21）及び真空ポンプ（25）を起動する。ヒーター（21）の起動によりコンデンサ素子（51）が加熱されるため、コンデンサ素子（51）に含まれる水分が蒸発し、コンデンサ素子（51）が乾燥される。しかも、真空ポンプ（25）の起動により、乾燥室（S）内が減圧されるため、コンデンサ素子（51）に含まれる水分が蒸発しやすくなる。従って、コンデンサ素子（51）が比較的短時間で乾燥される。 Next, at step S40, the capacitor element (51) is dried by the capacitor element drying device (1). In step S40, for example, the worker houses the capacitor element (51) in the drying chamber (S), closes the door (12), and then activates the heater (21) and the vacuum pump (25). Since the capacitor element (51) is heated by the activation of the heater (21), moisture contained in the capacitor element (51) evaporates and the capacitor element (51) is dried. Moreover, since the inside of the drying chamber (S) is depressurized by starting the vacuum pump (25), the water contained in the capacitor element (51) is likely to evaporate. Therefore, the capacitor element (51) is dried in a relatively short time.
従来は、コンデンサ素子の乾燥は、コンデンサ素子に含まれる水分の量に関係なく十分に長い時間行われていた。具体的には、コンデンサ素子の乾燥時間は、湿度の高い時期に形成される含水量の多いコンデンサ素子を基準として決定されていた。そして、この乾燥時間は、湿度の低い時期に形成される含水量の少ないコンデンサ素子にも適用されていた。 Conventionally, drying of the capacitor element has been performed for a sufficiently long time regardless of the amount of moisture contained in the capacitor element. Specifically, the drying time of the capacitor element has been determined based on a capacitor element having a high water content formed at a time of high humidity. And this drying time was applied also to the capacitor | condenser element with little moisture content formed in the period when humidity is low.
しかし、上述のように乾燥時間を決定すると、全てのコンデンサ素子において含水量を十分に低減でき絶縁抵抗を所望の値以上にできる反面、含水量の少ないコンデンサ素子については、必要以上に長い時間乾燥されることになる。その結果、無駄なエネルギーが消費されることになったり、フィルムコンデンサの製造時間が長くなったりしてしまう。 However, if the drying time is determined as described above, the moisture content can be sufficiently reduced in all capacitor elements and the insulation resistance can be increased to a desired value or more. On the other hand, capacitor elements with a low moisture content can be dried for longer than necessary. Will be. As a result, useless energy is consumed and the manufacturing time of the film capacitor becomes long.
これに対して、本実施形態１では、コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗に応じて、コンデンサ素子（51）の乾燥時間を決定している。具体的には、本実施形態１では、コンデンサ素子（51）の乾燥は、該コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗が所定値Ｒａを上回ると停止される。コンデンサ素子（51）の乾燥方法については、詳しくは後述する。 In contrast, in the first embodiment, the drying time of the capacitor element (51) is determined according to the insulation resistance of the capacitor element (51). Specifically, in the first embodiment, the drying of the capacitor element (51) is stopped when the insulation resistance of the capacitor element (51) exceeds a predetermined value Ra. The method for drying the capacitor element (51) will be described later in detail.
次に、乾燥されたコンデンサ素子（51）の外周面に絶縁カバー（57）を巻きつける（ステップＳ５０）。そして、該絶縁カバー（57）、巻回部（53）、巻芯（52）、メタリコン電極（54）、及び外部端子（55）の基端部を溶融した封止樹脂で覆い、該封止樹脂を硬化する（ステップＳ６０）。これにより、コンデンサ素子（51）における外部端子（55）の先端部を除く部分が封止され、フィルムコンデンサが形成される。このステップＳ６０により、コンデンサ素子（51）を封止する工程が行われる。 Next, the insulating cover (57) is wound around the outer peripheral surface of the dried capacitor element (51) (step S50). Then, the insulating cover (57), the winding part (53), the core (52), the metallicon electrode (54), and the base terminal part of the external terminal (55) are covered with molten sealing resin, and the sealing is performed. The resin is cured (step S60). Thereby, the part except the front-end | tip part of the external terminal (55) in a capacitor | condenser element (51) is sealed, and a film capacitor is formed. By this step S60, a step of sealing the capacitor element (51) is performed.
このように、十分に乾燥されたコンデンサ素子（51）を樹脂で封止することにより、コンデンサ素子（51）に水分が侵入するのが抑制されるため、フィルムコンデンサの絶縁抵抗を維持できる。 In this way, by sealing the sufficiently dried capacitor element (51) with resin, moisture can be prevented from entering the capacitor element (51), so that the insulation resistance of the film capacitor can be maintained.
−コンデンサ素子の乾燥方法−
本実施形態では、ステップＳ１０、Ｓ２０及びＳ３０で形成された多数のコンデンサ素子（51,51,…）を同時に乾燥する。ここで同時に乾燥される多数のコンデンサ素子（51,51,…）は、同一ロットのもの（同じ日に生産された素子）であり、概ね同じ湿度（例えば、±１０％の範囲内）の下で形成されたものである。従って、これら同時に乾燥される多数のコンデンサ素子（51,51,…）については、含まれる水分量が概ね同じになるため、乾燥前における絶縁抵抗や、乾燥中における絶縁抵抗も、概ね同じになる。なお、上記多数のコンデンサ素子（51,51,…）は、同一ロットのものに限らず、概ね同じ湿度の下で形成されたものであればよい。
-Drying method of capacitor element-
In the present embodiment, a large number of capacitor elements (51, 51,...) Formed in steps S10, S20, and S30 are simultaneously dried. Here, a large number of capacitor elements (51, 51,...) To be dried at the same time are of the same lot (elements produced on the same day), and are generally under the same humidity (for example, within a range of ± 10%). Is formed. Therefore, since many of the capacitor elements (51, 51,...) Dried at the same time have almost the same moisture content, the insulation resistance before drying and the insulation resistance during drying are also almost the same. . It should be noted that the large number of capacitor elements (51, 51,...) Are not limited to those in the same lot, and may be those formed under substantially the same humidity.
コンデンサ素子（51,51,…）の乾燥方法を、図９を用いて説明する。 A method for drying the capacitor elements (51, 51,...) Will be described with reference to FIG.
まず最初に、図１０に示すように、乾燥対象となる多数のコンデンサ素子（51,51,…）のうちの１つを、素子設置台（45）にセットする（ステップＳ４１ａ）。具体的には、コンデンサ素子（51）の各外部端子（55,55）を、素子設置台（45）の各端子部（46,46）に接続する。また、素子設置台（45）にセットされたコンデンサ素子（51）を除く残りのコンデンサ素子（51,51,…）をバスケット（70）に入れ、真空乾燥器（10）の乾燥室（S）内に収容する（ステップＳ４１ｂ）。なお、以下において、素子設置台（45）にセットされたコンデンサ素子（51）を、計測用コンデンサ素子（51）と呼ぶ場合もある。 First, as shown in FIG. 10, one of a large number of capacitor elements (51, 51,...) To be dried is set on the element installation base (45) (step S41a). Specifically, the external terminals (55, 55) of the capacitor element (51) are connected to the terminal portions (46, 46) of the element installation base (45). Also, the remaining capacitor elements (51, 51, ...) except for the capacitor element (51) set on the element installation base (45) are placed in the basket (70), and the drying chamber (S) of the vacuum dryer (10) (Step S41b). Hereinafter, the capacitor element (51) set on the element installation base (45) may be referred to as a measurement capacitor element (51).
次に、ステップＳ４２で、乾燥機構（20）（ヒーター（21）及び真空ポンプ（25））を起動する。これにより、乾燥室（S）内の昇温及び減圧が開始され、コンデンサ素子（51,51…）の乾燥が開始される。コンデンサ素子（51,51,…）に含まれる水分は、時間の経過とともに該コンデンサ素子（51,51,…）の外部へ徐々に放出される。なお、ステップＳ４１ａ、Ｓ４１ｂ及びＳ４２は、乾燥開始工程に相当する。 Next, in step S42, the drying mechanism (20) (heater (21) and vacuum pump (25)) is started. Thereby, the temperature rise and pressure reduction in the drying chamber (S) are started, and the drying of the capacitor elements (51, 51...) Is started. The moisture contained in the capacitor elements (51, 51,...) Is gradually released to the outside of the capacitor elements (51, 51,...) As time passes. Steps S41a, S41b, and S42 correspond to a drying start process.
次に、ステップＳ４３では、絶縁抵抗計（41）が、計測用コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗を計測する計測工程を行う。本実施形態では、計測用コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗は、絶縁抵抗計（41）によって所定のタイミング毎に計測される。このように計測された絶縁抵抗Ｒｘは、絶縁抵抗計（41）の計測値送信部（44）から制御部（30）の判定部（32）へ送信される。 Next, in step S43, the insulation resistance meter (41) performs a measurement process of measuring the insulation resistance of the measurement capacitor element (51). In the present embodiment, the insulation resistance of the measuring capacitor element (51) is measured at predetermined timings by the insulation resistance meter (41). The insulation resistance Rx measured in this way is transmitted from the measurement value transmission unit (44) of the insulation resistance meter (41) to the determination unit (32) of the control unit (30).
次に、ステップＳ４４では、制御部（30）の判定部（32）が、計測値送信部（44）から送信された絶縁抵抗Ｒｘと、記憶部（31）に記憶されている所定値Ｒａとを比較し、乾燥停止条件が成立しているか否かを判定する判定工程を行う。具体的には、ＲｘがＲａ以下の場合、判定部（32）は乾燥停止条件が成立していないと判定し、再びステップＳ４３が行われる。ＲｘがＲａを上回った場合、判定部（32）は乾燥停止条件が成立したと判定し、ステップＳ４５が行われる。 Next, in step S44, the determination unit (32) of the control unit (30) receives the insulation resistance Rx transmitted from the measurement value transmission unit (44) and the predetermined value Ra stored in the storage unit (31). And a determination step of determining whether or not the drying stop condition is satisfied. Specifically, when Rx is equal to or less than Ra, the determination unit (32) determines that the drying stop condition is not satisfied, and step S43 is performed again. When Rx exceeds Ra, the determination unit (32) determines that the drying stop condition is satisfied, and step S45 is performed.
通常、コンデンサ素子（51,51,…）の乾燥が開始された直後は、コンデンサ素子（51,51,…）に含まれる水分は十分に除去されておらず、絶縁抵抗は十分に高くなっていない。よって、該コンデンサ素子（51,51,…）の絶縁抵抗Ｒｘは所定値Ｒａよりも低くなっている。従って、コンデンサ素子（51,51,…）の乾燥が開始されてから暫くは、ステップＳ４３とステップＳ４４とが繰り返される。その間、コンデンサ素子（51,51,…）の絶縁抵抗は徐々に高くなる。そして、コンデンサ素子（51,51,…）の乾燥が開始されてからある程度時間が経過し、ＲｘがＲａよりも大きくなると、ステップＳ４５が行われる。 Normally, immediately after the drying of the capacitor elements (51, 51,...), The moisture contained in the capacitor elements (51, 51,...) Is not sufficiently removed, and the insulation resistance is sufficiently high. Absent. Therefore, the insulation resistance Rx of the capacitor elements (51, 51,...) Is lower than the predetermined value Ra. Therefore, step S43 and step S44 are repeated for a while after the drying of the capacitor elements (51, 51,...) Is started. Meanwhile, the insulation resistance of the capacitor elements (51, 51,...) Gradually increases. When a certain amount of time has elapsed since the drying of the capacitor elements (51, 51,...) Is started and Rx becomes larger than Ra, step S45 is performed.
ステップＳ４５では、制御部（30）の指令部（33）が乾燥停止工程を行う。具体的には、制御部（30）の指令部（33）が、ヒーター（21）へヒーター停止信号Ｓｈを送信するとともに、真空ポンプ（25）へポンプ停止信号Ｓｐを送信する。ヒーター停止信号Ｓｈを受信したヒーター（21）、及びポンプ停止信号Ｓｐを受信した真空ポンプ（25）は、ともに停止する。その後、作業者によって、計測用コンデンサ素子（51）とバスケット（70）に収容されたコンデンサ素子（51,51,…）とが、乾燥器本体（11）から取り出される（ステップＳ４６）。 In step S45, the command unit (33) of the control unit (30) performs a drying stop process. Specifically, the command unit (33) of the control unit (30) transmits a heater stop signal Sh to the heater (21) and transmits a pump stop signal Sp to the vacuum pump (25). The heater (21) that has received the heater stop signal Sh and the vacuum pump (25) that has received the pump stop signal Sp both stop. Thereafter, the capacitor element for measurement (51) and the capacitor elements (51, 51,...) Accommodated in the basket (70) are taken out from the dryer body (11) by the operator (step S46).
−実施形態１の効果−
以上のように、実施形態１では、乾燥中の計測用コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗が所定値Ｒａを上回った場合、乾燥機構（20）が停止される。所定値Ｒａは、コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗の規格値よりも高い値に設定されているため、計測用コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗を確実に所望の値以上にできる。
-Effect of Embodiment 1-
As described above, in the first embodiment, when the insulation resistance of the measuring capacitor element (51) being dried exceeds the predetermined value Ra, the drying mechanism (20) is stopped. Since the predetermined value Ra is set to a value higher than the standard value of the insulation resistance of the capacitor element (51), the insulation resistance of the measurement capacitor element (51) can be reliably increased to a desired value or more.
また、本実施形態１で同時に乾燥される多数のコンデンサ素子（51,51,…）は、含水量が概ね同じであるため、乾燥中における絶縁抵抗の値もほぼ同じである。よって、同時に乾燥される多数のコンデンサ素子（51,51,…）のうちの１つ（計測用コンデンサ素子）の絶縁抵抗を計測すれば、残りのコンデンサ素子（51,51,…）の絶縁抵抗を計測する必要がなくなる。従って、計測用コンデンサ素子（51）以外のコンデンサ素子（51,51,…）については、素子設置台（45）への設置や、絶縁抵抗の計測に必要な電圧の印加を行わなくても、絶縁抵抗を十分に確保できる。 In addition, since a large number of capacitor elements (51, 51,...) That are simultaneously dried in the first embodiment have substantially the same moisture content, the insulation resistance values during drying are also substantially the same. Therefore, if the insulation resistance of one of the many capacitor elements (51, 51,...) Dried simultaneously (measurement capacitor element) is measured, the insulation resistance of the remaining capacitor elements (51, 51,...) There is no need to measure. Therefore, for the capacitor elements (51, 51,...) Other than the measurement capacitor element (51), it is possible to install them on the element installation base (45) and to apply the voltage necessary for measuring the insulation resistance. Insulation resistance can be secured sufficiently.
また、従来の場合、コンデンサ素子（51,51,…）の乾燥が必要以上長い時間行われていたのに対して、本実施形態１では、コンデンサ素子（51,51,…）の絶縁抵抗が所望の値を上回った場合に乾燥が停止される。従って、従来と比べてコンデンサ素子（51,51,…）を乾燥するのに必要なエネルギーを低減できる。 In the conventional case, the capacitor elements (51, 51,...) Have been dried for a longer time than necessary. In the first embodiment, the insulation resistance of the capacitor elements (51, 51,...) Drying is stopped when the desired value is exceeded. Therefore, the energy required for drying the capacitor elements (51, 51,...) Can be reduced as compared with the conventional case.
しかも、本実施形態１では、乾燥停止条件の算出や、乾燥機構（20）の停止が、制御部（30）によって自動で行われるため、作業者の作業工数を低減できる。 Moreover, in the first embodiment, since the calculation of the drying stop condition and the stop of the drying mechanism (20) are automatically performed by the control unit (30), the number of work steps of the operator can be reduced.
−実施形態１の変形例−
実施形態１の変形例におけるコンデンサ素子乾燥装置（1）は、図１１に示すように、上記実施形態１の場合と比べて制御部（30）が省略された構成となっている。そして、本変形例のコンデンサ素子（51）の乾燥方法では、上記実施形態１において制御部（30）によって行われていた工程が、作業者によって行われる。具体的には、本変形例では、図９におけるステップＳ４４及びＳ４５の工程が、作業者によって行われる。
-Modification of Embodiment 1-
As shown in FIG. 11, the capacitor element drying apparatus (1) in the modification of the first embodiment has a configuration in which the control unit (30) is omitted as compared with the first embodiment. And in the drying method of the capacitor | condenser element (51) of this modification, the process performed by the control part (30) in the said
ステップＳ４４では、作業者は、絶縁抵抗計（41）で随時計測される絶縁抵抗Ｒｘを目視し、該Ｒｘが所定値Ｒａを上回った場合、作業者は、ヒーター（21）及び真空ポンプ（25）の電源を切る（ステップＳ４５）。 In step S44, the worker visually observes the insulation resistance Rx measured at any time with the insulation resistance meter (41), and when the Rx exceeds a predetermined value Ra, the worker selects the heater (21) and the vacuum pump (25 ) Is turned off (step S45).
このように、コンデンサ素子乾燥装置（1）において、制御部（30）を省略した構成であっても、作業者がステップＳ４４及びＳ４５を行うことで、コンデンサ素子（51）の絶縁性を確保しつつ、従来と比べて、コンデンサ素子（51）を乾燥するためのエネルギーを低減できる。 As described above, in the capacitor element drying apparatus (1), even if the control unit (30) is omitted, the operator performs steps S44 and S45 to ensure the insulation of the capacitor element (51). However, the energy for drying the capacitor element (51) can be reduced as compared with the conventional case.
《発明の実施形態２》
実施形態２では、ヒーター（21）及び真空ポンプ（25）を停止させるための乾燥停止条件が、上記実施形態１とは異なる。本実施形態２は、上記実施形態１の場合と比べて、絶縁抵抗計（41）の動作、制御部（30）の構成、及びコンデンサ素子（51）の乾燥方法が異なる。以下では、上記実施形態１と異なる点について説明する。
<< Embodiment 2 of the Invention >>
In the second embodiment, the drying stop condition for stopping the heater (21) and the vacuum pump (25) is different from that in the first embodiment. The second embodiment differs from the first embodiment in the operation of the insulation resistance meter (41), the configuration of the control unit (30), and the drying method of the capacitor element (51). Below, a different point from the said
−絶縁抵抗計の動作−
絶縁抵抗計（41）では、コンデンサ素子（51）の乾燥が開始された後、該コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗が２回、計測される。具体的には、絶縁抵抗計（41）では、コンデンサ素子（51）の乾燥が開始されてから所定時間経過後にコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ１が計測され、該Ｒｘ１が計測されてから所定時間経過後、再び該コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ２が計測される。これらの絶縁抵抗Ｒｘ１及びＲｘ２は、計測値送信部（44）によって制御部（30）へ送信される。
-Operation of insulation resistance meter-
In the insulation resistance meter (41), after the drying of the capacitor element (51) is started, the insulation resistance of the capacitor element (51) is measured twice. Specifically, the insulation resistance meter (41), insulated resistance Rx 1 is measurement of the capacitor element (51) from the drying of the capacitor element (51) is started after a predetermined time has elapsed, the Rx 1 is measured after a predetermined time, the insulation resistance Rx 2 again the capacitor element (51) is measured from. These insulation resistances Rx 1 and Rx 2 are transmitted to the control unit (30) by the measurement value transmission unit (44).
−制御部の構成−
制御部（30）は、図１２に示すように、記憶部（31）と、算出部（34）と、判定部（32）と、指令部（33）とを備えている。
-Control unit configuration-
As shown in FIG. 12, the control unit (30) includes a storage unit (31), a calculation unit (34), a determination unit (32), and a command unit (33).
記憶部（31）には、実施形態１の場合と同様、絶縁抵抗の所定値Ｒａが記憶されている。本実施形態２では、所定値Ｒａは、フィルムコンデンサ（50）の絶縁抵抗の規格値（例えば１００ＭΩ）よりも高い値に設定される。 As in the case of the first embodiment, the storage unit (31) stores a predetermined value Ra of the insulation resistance. In the second embodiment, the predetermined value Ra is set to a value higher than the standard value (for example, 100 MΩ) of the insulation resistance of the film capacitor (50).
算出部（34）は、変化量算出部（34a）と、残り乾燥時間算出部（34b）とを備えている。 The calculation unit (34) includes a change amount calculation unit (34a) and a remaining drying time calculation unit (34b).
変化量算出部（34a）は、絶縁抵抗計（41）の計測値送信部（44）から送信される２つの絶縁抵抗Ｒｘ１及びＲｘ２に基づいて、乾燥中のコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗の所定時間における変化量ΔＲを算出する。所定時間における変化量ΔＲは、次の式（3）に基づいて算出される。 Based on the two insulation resistances Rx 1 and Rx 2 transmitted from the measurement value transmission unit (44) of the insulation resistance meter (41), the change amount calculation unit (34a) insulates the capacitor element (51) being dried. A change amount ΔR of the resistance in a predetermined time is calculated. The change amount ΔR in the predetermined time is calculated based on the following equation (3).
ΔＲ＝（Ｒｘ２−Ｒｘ１）／ΔＴ…（3）
式（3）において、ΔＴは、Ｒｘ１を計測してからＲｘ２を計測するまでの時間である。
ΔR = (Rx 2 −Rx 1 ) / ΔT (3)
In Expression (3), ΔT is the time from when Rx 1 is measured until Rx 2 is measured.
変化量算出部（34a）は、このように算出されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗の所定時間における変化量ΔＲを、残り乾燥時間算出部（34b）へ送信する。 The change amount calculation unit (34a) transmits the change amount ΔR of the insulation resistance of the capacitor element (51) calculated in this way over a predetermined time to the remaining drying time calculation unit (34b).
残り乾燥時間算出部（34b）は、記憶部（31）に記憶されている絶縁抵抗の所定値Ｒａと、変化量算出部（34a）から送信される上記ΔＲに基づいて、コンデンサ素子（51）の残りの乾燥時間Ｔｘを算出する。本実施形態２では、残りの乾燥時間Ｔｘは、コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗がＴｘ経過後にＲａとなるように設定される。具体的には、残りの乾燥時間Ｔｘは、次の式（4）の基づいて算出される。 The remaining drying time calculation unit (34b) is configured to generate a capacitor element (51) based on the predetermined value Ra of the insulation resistance stored in the storage unit (31) and the ΔR transmitted from the change amount calculation unit (34a). The remaining drying time Tx is calculated. In the second embodiment, the remaining drying time Tx is set so that the insulation resistance of the capacitor element (51) becomes Ra after the lapse of Tx. Specifically, the remaining drying time Tx is calculated based on the following equation (4).
Ｔｘ＝（Ｒａ−Ｒｘ２）／ΔＲ…（4）
残り乾燥時間算出部（34b）は、このように算出された残りの乾燥時間Ｔｘを、判定部（32）へ送信する。
Tx = (Ra−Rx 2 ) / ΔR (4)
The remaining drying time calculation unit (34b) transmits the remaining drying time Tx thus calculated to the determination unit (32).
判定部（32）は、タイマー部（32a）を備えている。タイマー部（32a）は、絶縁抵抗計（41）によってコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ２が計測されたときに起動する。タイマー部（32a）では、該タイマー部（32a）が起動してからの時間Ｔが計測される。 The determination unit (32) includes a timer unit (32a). Timer section (32a) is activated when the insulation resistance Rx 2 of the capacitor element (51) is measured by an insulation resistance meter (41). In the timer part (32a), the time T from the start of the timer part (32a) is measured.
判定部（32）は、残りの乾燥時間Ｔｘと、タイマー部（32a）が起動してからの時間Ｔとを比較する。判定部（32）は、上記タイマー部（32a）が起動してからの時間Ｔが残りの乾燥時間Ｔｘを上回った場合、乾燥機構（20）を停止させるための乾燥停止条件が成立したと判定する。 The determination unit (32) compares the remaining drying time Tx with the time T after the timer unit (32a) is activated. The determination unit (32) determines that the drying stop condition for stopping the drying mechanism (20) is satisfied when the time T since the timer unit (32a) is activated exceeds the remaining drying time Tx. To do.
指令部（33）は、判定部（32）で乾燥停止条件が成立したと判定された場合（すなわち、ＴがＴｘを上回った場合）、ヒーター（21）へヒーター停止信号Ｓｈを送信するとともに、真空ポンプ（25）へポンプ停止信号Ｓｐを送信する。ヒーター停止信号Ｓｈを受信したヒーター（21）は乾燥室（S）の加熱を停止し、ポンプ停止信号Ｓｐを受信した真空ポンプ（25）は乾燥室（S）の減圧を停止する。 The command unit (33) transmits a heater stop signal Sh to the heater (21) when the determination unit (32) determines that the drying stop condition is satisfied (that is, when T exceeds Tx), A pump stop signal Sp is transmitted to the vacuum pump (25). The heater (21) that has received the heater stop signal Sh stops heating of the drying chamber (S), and the vacuum pump (25) that has received the pump stop signal Sp stops depressurization of the drying chamber (S).
−コンデンサ素子の乾燥方法−
本実施形態２では、上記実施形態１と同様、ステップＳ１０、Ｓ２０及びＳ３０で形成された多数のコンデンサ素子（51,51,…）を同時に乾燥する。
-Drying method of capacitor element-
In the second embodiment, as in the first embodiment, a large number of capacitor elements (51, 51,...) Formed in steps S10, S20, and S30 are simultaneously dried.
実施形態２におけるコンデンサ素子（51,51,…）の乾燥方法を、図１３を用いて説明する。 A method for drying the capacitor elements (51, 51,...) In the second embodiment will be described with reference to FIG.
まず最初に、実施形態１の場合と同様、乾燥対象となる多数のコンデンサ素子（51,51,…）のうちの１つを計測用コンデンサ素子（51）として素子設置台（45）にセットし（ステップＳ４１ａ）、残りのコンデンサ素子（51,51,…）をバスケット（70）に入れ、真空乾燥器（10）の乾燥室（S）内に収容する（ステップＳ４１ｂ）。その後、ヒーター（21）及び真空ポンプ（25）を起動する（ステップＳ４２）。ステップＳ４１ａ、Ｓ４１ｂ及びＳ４２により、乾燥開始工程が行われる。 First, as in the first embodiment, one of a large number of capacitor elements (51, 51,...) To be dried is set as a measurement capacitor element (51) on the element mounting base (45). (Step S41a), the remaining capacitor elements (51, 51,...) Are put in the basket (70) and accommodated in the drying chamber (S) of the vacuum dryer (10) (Step S41b). Thereafter, the heater (21) and the vacuum pump (25) are started (step S42). A drying start process is performed by step S41a, S41b, and S42.
次に、ステップＳ４３では、絶縁抵抗計（41）が、計測用コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗を計測する計測工程を行う。本実施形態２では、コンデンサ素子（51,51,…）の乾燥が開始されてから所定時間経過後にＲｘ１が計測され、該Ｒｘ１が計測されてから所定時間経過後にＲｘ２が計測される。 Next, in step S43, the insulation resistance meter (41) performs a measurement process of measuring the insulation resistance of the measurement capacitor element (51). In the second embodiment, Rx 1 is measured after a predetermined time has elapsed since the drying of the capacitor elements (51, 51,...) Is started, and Rx 2 is measured after a predetermined time has elapsed since the measurement of Rx 1. .
次に、ステップＳ４４ａでは、変化量算出部（34a）が、計測用コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗の所定時間における変化量ΔＲを算出する。 Next, in step S44a, the change amount calculation unit (34a) calculates a change amount ΔR of the insulation resistance of the measurement capacitor element (51) in a predetermined time.
次に、ステップＳ４４ｂでは、残り乾燥時間算出部（34b）が、記憶部（31）に記憶されている所定値Ｒａと、ステップＳ４４ａで算出されたΔＲとに基づいて、残りの乾燥時間Ｔｘを算出する。 Next, in step S44b, the remaining drying time calculation unit (34b) calculates the remaining drying time Tx based on the predetermined value Ra stored in the storage unit (31) and ΔR calculated in step S44a. calculate.
次に、ステップＳ４４ｃでは、判定部（32）が、タイマー部（32a）が起動してからの時間Ｔと、ステップＳ４４ｂで算出された残りの乾燥時間Ｔｘとを比較し、乾燥停止条件が成立しているか否かを判定する。具体的には、ＴがＴｘ以下の場合、判定部（32）は乾燥停止条件が成立していないと判定し、再びステップＳ４４ｃを行う。ＴがＴｘを上回った場合、判定部（32）は乾燥停止条件が成立したと判定し、ステップＳ４５が行われる。なお、ステップＳ４４ａ、Ｓ４４ｂ及びＳ４４ｃが、判定工程に相当する。 Next, in step S44c, the determination unit (32) compares the time T after the timer unit (32a) is activated with the remaining drying time Tx calculated in step S44b, and the drying stop condition is satisfied. It is determined whether or not. Specifically, when T is equal to or less than Tx, the determination unit (32) determines that the drying stop condition is not satisfied, and performs Step S44c again. When T exceeds Tx, the determination unit (32) determines that the drying stop condition is satisfied, and step S45 is performed. Steps S44a, S44b, and S44c correspond to the determination process.
ステップＳ４６では、実施形態１の場合と同様、制御部（30）の指令部（33）が乾燥停止工程を行う。具体的には、制御部（30）の指令部（33）が、ヒーター（21）へヒーター停止信号Ｓｈを送信するとともに、真空ポンプ（25）へポンプ停止信号Ｓｐを送信する。ヒーター停止信号Ｓｈを受信したヒーター（21）、及びポンプ停止信号Ｓｐを受信した真空ポンプ（25）は、ともに停止する。その後、作業者によって、計測用コンデンサ素子（51）とバスケット（70）に収容されたコンデンサ素子（51,51,…）とが、乾燥器本体（11）から取り出される（ステップＳ４６）。 In step S46, as in the case of the first embodiment, the command unit (33) of the control unit (30) performs a drying stop process. Specifically, the command unit (33) of the control unit (30) transmits a heater stop signal Sh to the heater (21) and transmits a pump stop signal Sp to the vacuum pump (25). The heater (21) that has received the heater stop signal Sh and the vacuum pump (25) that has received the pump stop signal Sp both stop. Thereafter, the capacitor element for measurement (51) and the capacitor elements (51, 51,...) Accommodated in the basket (70) are taken out from the dryer body (11) by the operator (step S46).
−実施形態２の効果−
以上のように、実施形態２では、乾燥中の計測用コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗に基づいて、コンデンサ素子（51）を十分に乾燥するために必要な残りの乾燥時間Ｔｘを算出している。そして、残りの乾燥時間Ｔｘ経過後に乾燥機構（20）が停止される。従って、コンデンサ素子（51,51,…）の絶縁性を確保しつつ、コンデンサ素子（51,51,…）の乾燥に必要なエネルギーを低減できる。
-Effect of Embodiment 2-
As described above, in the second embodiment, the remaining drying time Tx necessary for sufficiently drying the capacitor element (51) is calculated based on the insulation resistance of the measuring capacitor element (51) being dried. Yes. Then, the drying mechanism (20) is stopped after the remaining drying time Tx has elapsed. Therefore, energy required for drying the capacitor elements (51, 51,...) Can be reduced while ensuring the insulation of the capacitor elements (51, 51,...).
また、実施形態２では、計測されるコンデンサ素子（51）の特性、具体的には、乾燥中のコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗の所定時間における変化量ΔＲを、直接、計測している。 In the second embodiment, the characteristic of the capacitor element (51) to be measured, specifically, the amount of change ΔR of the insulation resistance of the capacitor element (51) being dried at a predetermined time is directly measured.
例えば、乾燥中のコンデンサ素子の絶縁抵抗が１回だけ計測され、該計測値のみを用いて残りの乾燥時間を算出する場合、コンデンサ素子における上記ΔＲを予測し、該ΔＲに基づいて残りの乾燥時間を算出する必要がある。しかし、こうすると、実際に絶縁抵抗が計測されるコンデンサ素子（51）の特性が、予測されるコンデンサ素子の特性と異なる場合、算出された残りの乾燥時間と、本来必要な残りの乾燥時間との間に大きなずれが生じる虞がある。 For example, when the insulation resistance of the capacitor element being dried is measured only once and the remaining drying time is calculated using only the measured value, the ΔR in the capacitor element is predicted, and the remaining drying time is calculated based on the ΔR. Time needs to be calculated. However, in this case, if the characteristics of the capacitor element (51) for which the insulation resistance is actually measured are different from the expected characteristics of the capacitor element, the calculated remaining drying time and the originally required remaining drying time There is a risk that a large shift will occur between the two.
これに対して、実施形態２では、上記ΔＲを実際に計測し、該ΔＲに基づいて残りの乾燥時間Ｔｘを算出している。こうすると、算出される残りの乾燥時間Ｔｘと、本来必要な残りの乾燥時間との間のずれが少なくなる。従って、コンデンサ素子（51）の乾燥不足や、乾燥に用いられるエネルギーの無駄を回避できる。 On the other hand, in the second embodiment, ΔR is actually measured, and the remaining drying time Tx is calculated based on ΔR. This reduces the difference between the calculated remaining drying time Tx and the originally required remaining drying time. Therefore, insufficient drying of the capacitor element (51) and waste of energy used for drying can be avoided.
また、本実施形態２によれば、残りの乾燥時間Ｔｘを算出するために必要な計測用コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ２が計測された後は、計測用コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗を計測する必要がない。従って、計測用コンデンサ素子（51）に電圧が印加される時間を短くしたり、絶縁抵抗計（41）に必要な電力を低減できる。 Further, according to the second embodiment, after the insulation resistance Rx 2 of measurement capacitor element necessary for calculating the remaining drying time Tx (51) is measured, measurement capacitor element (51) insulating There is no need to measure resistance. Therefore, it is possible to shorten the time during which the voltage is applied to the measuring capacitor element (51) and to reduce the power required for the insulation resistance meter (41).
−実施形態２の変形例−
実施形態２の変形例におけるコンデンサ素子乾燥装置（1）は、実施形態１の変形例と同様、図１１に示すように、制御部（30）が省略された構成となっている。そして、本変形例のコンデンサ素子（51）の乾燥方法では、上記実施形態２では制御部（30）によって行われていた工程が、作業者によって行われる。具体的には、本変形例では、図１２におけるステップＳ４３、Ｓ４４ａ、Ｓ４４ｂ、Ｓ４４ｃ及びＳ４５の工程が、作業者によって行われる。
-Modification of Embodiment 2-
As in the modification of the first embodiment, the capacitor element drying device (1) in the modification of the second embodiment has a configuration in which the control unit (30) is omitted as shown in FIG. And in the drying method of the capacitor | condenser element (51) of this modification, the process performed by the control part (30) in the said Embodiment 2 is performed by the operator. Specifically, in this modification, steps S43, S44a, S44b, S44c, and S45 in FIG. 12 are performed by the operator.
ステップＳ４３では、作業者は、コンデンサ素子（51）の乾燥が開始されてから所定時間経過後、絶縁抵抗計（41）で計測される絶縁抵抗Ｒｘ１を読み取る。そして、Ｒｘ１が計測されてから所定時間経過後、絶縁抵抗計（41）で計測される絶縁抵抗Ｒｘ２を読み取る。また、作業者は、Ｒｘ１を計測してからＲｘ２を計測するまでの時間を、タイマー等によって計測する。 At step S43, the operator, after a predetermined time has elapsed since the drying of the capacitor element (51) is started, read the insulation resistance Rx 1 measured by an insulation resistance meter (41). Then, after a predetermined time has elapsed since Rx 1 was measured, the insulation resistance Rx 2 measured by the insulation resistance meter (41) is read. Further, the worker measures the time from measuring Rx 1 to measuring Rx 2 by using a timer or the like.
ステップＳ４４ａでは、作業者は、ステップＳ４３で計測した絶縁抵抗Ｒｘ１、絶縁抵抗Ｒｘ２、及びＲｘ１とＲｘ２とが計測される間の時間ΔＴを、式（3）に代入することにより、所定時間における変化量ΔＲを算出する。 In step S44a, the operator substitutes the time ΔT during which the insulation resistance Rx 1 , the insulation resistance Rx 2 , and Rx 1 and Rx 2 measured in step S43 are measured into the equation (3), A change amount ΔR in a predetermined time is calculated.
次に、ステップＳ４４ｂでは、作業者は、予め設定された絶縁抵抗の所定値Ｒａと、上記Ｒｘ２及びΔＲとを、式（4）に代入することにより、残りの乾燥時間Ｔｘを算出する。 Next, in Step S44b, the operator calculates the remaining drying time Tx by substituting the predetermined value Ra of the insulation resistance set in advance and the Rx 2 and ΔR into the equation (4).
そして、作業者は、Ｒｘ２が計測されてから上記残りの乾燥時間Ｔｘが経過した後（ステップＳ４４ｃにおいてＹｅｓの場合）、ヒーター（21）及び真空ポンプ（25）の電源を切る（ステップＳ４５）。 Then, the operator (Yes at step S44c) After the remaining drying time Tx has elapsed from Rx 2 is measured, turn off the heater (21) and vacuum pump (25) (step S45) .
このように、コンデンサ素子乾燥装置（1）において、制御部（30）を省略した構成であっても、作業者がステップＳ４３、Ｓ４４ａ、Ｓ４４ｂ、Ｓ４４ｃ及びＳ４５を行うことで、コンデンサ素子（51）の絶縁性を確保しつつ、コンデンサ素子（51）を乾燥するためのエネルギーを低減できる。 As described above, in the capacitor element drying apparatus (1), even if the control unit (30) is omitted, the operator performs steps S43, S44a, S44b, S44c, and S45, thereby allowing the capacitor element (51). The energy for drying the capacitor element (51) can be reduced while ensuring the insulating property.
《発明の実施形態３》
実施形態３では、上記実施形態２の場合と比べて、残りの乾燥時間Ｔｘの算出方法が異なる。具体的には、本実施形態３では、上記実施形態２の場合と比べて、絶縁抵抗計（41）の動作、制御部（30）の構成、及びコンデンサ素子（51）の乾燥方法が異なっている。以下では、上記実施形態２と異なる点について説明する。
<< Embodiment 3 of the Invention >>
In the third embodiment, the method for calculating the remaining drying time Tx is different from that in the second embodiment. Specifically, the third embodiment differs from the second embodiment in the operation of the insulation resistance meter (41), the configuration of the control unit (30), and the drying method of the capacitor element (51). Yes. Below, a different point from the said Embodiment 2 is demonstrated.
−絶縁抵抗計の動作−
絶縁抵抗計（41）では、コンデンサ素子（51）の乾燥が開始されてから所定時間経過後、該コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗が１回、計測される（この絶縁抵抗をＲｘ３とする）。このＲｘ３は、計測値送信部（44）によって制御部（30）へ送信される。
-Operation of insulation resistance meter-
In the insulation resistance meter (41), after a predetermined time has elapsed since the drying of the capacitor element (51) is started, the insulation resistance of the capacitor element (51) is once, is measured (the insulation resistance Rx 3 ). This Rx 3 is transmitted to the control unit (30) by the measurement value transmission unit (44).
−制御部の構成−
制御部（30）は、図１４に示すように、記憶部（31）と、算出部（34）と、判定部（32）と、指令部（33）とを備えている。
-Control unit configuration-
As shown in FIG. 14, the control unit (30) includes a storage unit (31), a calculation unit (34), a determination unit (32), and a command unit (33).
記憶部（31）には、テーブルＡが記憶されている。このテーブルＡをプロットしたグラフを図１５に示す。テーブルＡは、乾燥中のコンデンサ素子の絶縁抵抗と残りの乾燥時間との関係を表すものであって、実験等によって予め作成されたものである。このテーブルＡによれば、コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗の測定値Ｒｘ３に基づいて、残りの乾燥時間Ｔｘを算出することができる。 Table A is stored in the storage unit (31). A graph plotting this table A is shown in FIG. Table A shows the relationship between the insulation resistance of the capacitor element being dried and the remaining drying time, and is created in advance by experiments or the like. According to this table A, based on the measured value Rx 3 of the insulation resistance of the capacitor element (51) can calculate the remaining drying time Tx.
算出部（34）は、絶縁抵抗計（41）の計測値送信部（44）から送信される絶縁抵抗Ｒｘ３を、記憶部（31）に記憶されているテーブルＡに照らし合わせて、残りの乾燥時間Ｔｘを算出する。例えば、Ｒｘ３が１０ＭΩであった場合、この値をテーブルＡに照らし合わせると、残りの乾燥時間Ｔｘが１０時間であると算出される。算出部（34）は、このように算出された残りの乾燥時間Ｔｘを、判定部（32）へ送信する。 Calculator (34), an insulation resistance Rx 3 transmitted from the measurement value transmission section of the insulation resistance meter (41) (44), against the table A stored in the storage unit (31), the remaining The drying time Tx is calculated. For example, when Rx 3 is 10 MΩ, when this value is checked against Table A, the remaining drying time Tx is calculated to be 10 hours. The calculation unit (34) transmits the remaining drying time Tx thus calculated to the determination unit (32).
判定部（32）は、上記実施形態２の場合と同様、タイマー部（32a）を備えている。タイマー部（32a）は、絶縁抵抗計（41）によってコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ３が計測されたときに起動する。タイマー部（32a）では、該タイマー部（32a）が起動してからの時間Ｔが計測される。そして、判定部（32）では、ＴがＴｘを上回った場合、乾燥機構（20）を停止させるための乾燥停止条件が成立したと判定し、ヒーター（21）及び真空ポンプ（25）のそれぞれにヒータ停止信号Ｓｈ及びポンプ停止信号Ｓｐを送信して、ヒーター（21）及び真空ポンプ（25）を停止する。 As in the case of the second embodiment, the determination unit (32) includes a timer unit (32a). Timer section (32a) is activated when the insulation resistance Rx 3 of the capacitor element (51) is measured by an insulation resistance meter (41). In the timer part (32a), the time T from the start of the timer part (32a) is measured. Then, in the determination unit (32), when T exceeds Tx, it is determined that the drying stop condition for stopping the drying mechanism (20) is satisfied, and each of the heater (21) and the vacuum pump (25) is determined. A heater stop signal Sh and a pump stop signal Sp are transmitted to stop the heater (21) and the vacuum pump (25).
−コンデンサ素子の乾燥方法−
本実施形態３では、上記実施形態１及び２の場合と同様、図１６に示すように、１つのコンデンサ素子を計測用コンデンサ素子（51）として素子設置台（45）にセットし（ステップＳ４１ａ）、残りのコンデンサ素子（51,51,…）をバスケット（70）に入れて真空乾燥器（10）の乾燥室（S）内に収容する（ステップＳ４１ｂ）。その後、ヒーター（21）及び真空ポンプ（25）を起動する（ステップＳ４２）。
-Drying method of capacitor element-
In the third embodiment, as in the first and second embodiments, as shown in FIG. 16, one capacitor element is set as a measurement capacitor element (51) on the element mounting base (45) (step S41a). The remaining capacitor elements (51, 51,...) Are put in the basket (70) and accommodated in the drying chamber (S) of the vacuum dryer (10) (step S41b). Thereafter, the heater (21) and the vacuum pump (25) are started (step S42).
次に、ステップＳ４３では、絶縁抵抗計（41）が、計測用コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗を計測する計測工程を行う。本実施形態３では、コンデンサ素子（51）の乾燥が開始されてから所定時間経過後にＲｘ３が計測される。 Next, in step S43, the insulation resistance meter (41) performs a measurement process of measuring the insulation resistance of the measurement capacitor element (51). In the third embodiment, the drying of the capacitor element (51) Rx 3 is measured from the start after a predetermined time has elapsed.
次に、ステップＳ４４ｂでは、算出部（34）が、ステップＳ４３で計測された絶縁抵抗Ｒｘ３を、記憶部（31）に記憶されているテーブルＡと照らし合わせることにより、残りの乾燥時間Ｔｘを算出する。 Next, in step S44b, calculator (34), an insulation resistance Rx 3 measured in step S43, by collating the table A stored in the storage unit (31), the remaining drying time Tx calculate.
以下、ステップＳ４４ｃ以降の工程は、上記実施形態２と同じであるため、説明を省略する。 Hereinafter, since the process after step S44c is the same as the said Embodiment 2, description is abbreviate | omitted.
−実施形態３の効果−
以上のように、実施形態３では、乾燥中の計測用コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗と、予め準備されるテーブルＡとに基づいて、コンデンサ素子（51,51,…）を十分に乾燥するために必要な残りの乾燥時間Ｔｘを算出している。そして、残りの乾燥時間Ｔｘ経過後に乾燥機構（20）が停止される。従って、コンデンサ素子（51,51,…）の絶縁性を確保しつつ、コンデンサ素子（51,51,…）の乾燥に必要なエネルギーを低減できる。
-Effect of Embodiment 3-
As described above, in the third embodiment, the capacitor elements (51, 51,...) Are sufficiently dried based on the insulation resistance of the measurement capacitor element (51) being dried and the table A prepared in advance. Therefore, the remaining drying time Tx necessary for this is calculated. Then, the drying mechanism (20) is stopped after the remaining drying time Tx has elapsed. Therefore, energy required for drying the capacitor elements (51, 51,...) Can be reduced while ensuring the insulation of the capacitor elements (51, 51,...).
また、本実施形態２によれば、残りの乾燥時間Ｔｘを算出するために必要な計測用コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ３が計測された後は、計測用コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗を計測する必要がない。従って、計測用コンデンサ素子（51）に電圧が印加される時間を短くしたり、絶縁抵抗計（41）に必要な電力を低減できる。 Further, according to the second embodiment, after the insulation resistance Rx 3 of the capacitor element (51) for measurement required to calculate the remaining drying time Tx is measured, measurement capacitor element (51) insulating There is no need to measure resistance. Therefore, it is possible to shorten the time during which the voltage is applied to the measuring capacitor element (51) and to reduce the power required for the insulation resistance meter (41).
−実施形態３の変形例−
実施形態３の変形例におけるコンデンサ素子乾燥装置（1）は、実施形態１の変形例及び実施形態２の変形例の場合と同様、図１１に示すように、制御部（30）が省略された構成となっている。そして、本変形例のコンデンサ素子（51）の乾燥方法では、上記実施形態３では制御部（30）によって行われていた工程が、作業者によって行われる。具体的には、本変形例では、図１６におけるステップＳ４３、Ｓ４４ｂ、Ｓ４４ｃ及びＳ４５の工程が、作業者によって行われる。
-Modification of Embodiment 3-
The capacitor element drying apparatus (1) in the modification of the third embodiment is similar to the modification of the first embodiment and the modification of the second embodiment, and the control unit (30) is omitted as shown in FIG. It has a configuration. And in the drying method of the capacitor | condenser element (51) of this modification, the process performed by the control part (30) in the said Embodiment 3 is performed by the operator. Specifically, in this modification, steps S43, S44b, S44c, and S45 in FIG. 16 are performed by the operator.
ステップＳ４３では、作業者は、コンデンサ素子（51）の乾燥が開始されてから所定時間経過後、絶縁抵抗計（41）で計測される絶縁抵抗Ｒｘ３を読み取る。 At step S43, the operator, after a predetermined time has elapsed since the drying of the capacitor element (51) is started, read the insulation resistance Rx 3 that is measured by an insulation resistance meter (41).
ステップＳ４４ｂでは、作業者は、ステップＳ４３で計測された絶縁抵抗Ｒｘ３を、予め準備されたテーブルＡに照らし合わせて、残りの乾燥時間Ｔｘを算出する。 In step S44b, the operator of the insulation resistance Rx 3 measured in step S43, in the light of previously prepared table A, and calculates the remaining drying time Tx.
そして、作業者は、Ｒｘ３が計測されてから上記残りの乾燥時間Ｔｘが経過した後（ステップＳ４４ｃにおいてＹｅｓの場合）、ヒーター（21）及び真空ポンプ（25）の電源を切る（ステップＳ４５）。 Then, after the remaining drying time Tx has elapsed since Rx 3 was measured (Yes in step S44c), the operator turns off the heater (21) and the vacuum pump (25) (step S45). .
このように、コンデンサ素子乾燥装置（1）において、制御部（30）を省略した構成であっても、作業者がステップＳ４３、Ｓ４４ｂ、Ｓ４４ｃ及びＳ４５を行うことで、コンデンサ素子（51）の絶縁性を確保しつつ、コンデンサ素子（51）を乾燥するためのエネルギーを低減できる。 As described above, in the capacitor element drying apparatus (1), even if the control unit (30) is omitted, the operator performs steps S43, S44b, S44c, and S45, thereby insulating the capacitor element (51). The energy for drying the capacitor element (51) can be reduced while securing the properties.
−その他の実施形態−
上記実施形態については、以下のような構成にしてもよい。
-Other embodiments-
About the said embodiment, you may make it the following structures.
上記各実施形態では、金属化フィルム（61）を巻回した巻回部（53）を有するコンデンサ素子（51）の乾燥方法について記載しているが、この限りでなく、金属電極と誘電体とを交互に重ねることによって形成される、いわゆる積層コンデンサを対象とすることもできる。 In each of the above embodiments, the method of drying the capacitor element (51) having the winding part (53) around which the metallized film (61) is wound is described. It is also possible to target so-called multilayer capacitors formed by alternately stacking.
また、上記各実施形態では、乾燥機構（20）は、ヒーター（21）及び真空ポンプ（25）を備えているが、この限りでなく、ヒーター（21）のみを備えた構成であってもよい。 In each of the above embodiments, the drying mechanism (20) includes the heater (21) and the vacuum pump (25). However, the present invention is not limited to this, and the drying mechanism (20) may include only the heater (21). .
また、上記各実施形態では、絶縁抵抗計測器（40）を、１つのコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗を計測可能なように構成しているが、この限りでなく、複数のコンデンサ素子（51,51,…）の絶縁抵抗を計測可能なように構成してもよい。こうすると、コンデンサ素子（51）毎の絶縁抵抗のばらつきを加味して乾燥停止条件を決定することができるため、コンデンサ素子（51,51,…）をより確実に乾燥することができる。 In each of the above embodiments, the insulation resistance measuring instrument (40) is configured to measure the insulation resistance of one capacitor element (51). However, the present invention is not limited to this, and a plurality of capacitor elements (51 , 51,...) May be configured to be able to measure the insulation resistance. In this way, since the drying stop condition can be determined in consideration of the variation in insulation resistance for each capacitor element (51), the capacitor elements (51, 51,...) Can be dried more reliably.
以上説明したように、本発明は、フィルムコンデンサに有用である。 As described above, the present invention is useful for a film capacitor.
１ コンデンサ素子乾燥装置
２０ 乾燥機構
３０ 制御部
４０ 絶縁抵抗計測器
５０ フィルムコンデンサ（コンデンサ）
５１ コンデンサ素子
５３ 巻回部（フィルム本体部）
６１ 金属化フィルム（フィルム）
Ｒｘ，Ｒｘ１，Ｒｘ２，Ｒｘ３ 絶縁抵抗
Ｒａ 所定値
Ｔｘ 残りの乾燥時間
ΔＲ 所定時間における変化量
DESCRIPTION OF
51
61 Metallized film (film)
Rx, Rx 1, Rx 2, Rx 3 weight change in insulation resistance Ra predetermined value Tx remaining drying time ΔR predetermined time
Claims (6)
乾燥中の上記コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗を計測する計測工程と、
上記コンデンサ素子（51）の乾燥を停止させる乾燥停止条件が成立するか否かを、上記計測工程で計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ，Ｒｘ１，Ｒｘ２，Ｒｘ３に基づいて判定する判定工程と、
上記判定工程において上記乾燥停止条件が成立したと判定された場合、上記コンデンサ素子（51）の乾燥を停止する乾燥停止工程と
を備えることを特徴とするコンデンサ素子の乾燥方法。 A drying start step for starting the drying of the capacitor element (51) having the film body (53) formed by winding or laminating the film (61);
A measurement process for measuring the insulation resistance of the capacitor element (51) during drying;
Based on the insulation resistances Rx, Rx 1 , Rx 2 , Rx 3 of the capacitor element (51) measured in the measurement step, whether or not the drying stop condition for stopping the drying of the capacitor element (51) is satisfied. A determination step for determining;
A drying stop method for a capacitor element, comprising: a drying stop step for stopping drying of the capacitor element (51) when it is determined in the determination step that the drying stop condition is satisfied.
上記計測工程では、乾燥中の上記コンデンサ素子（51）の絶縁抵抗が随時計測され、
上記判定工程では、上記計測工程で計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘが所定値Ｒａを上回った場合、上記乾燥停止条件が成立したと判定されることを特徴とするコンデンサ素子の乾燥方法。 In claim 1,
In the measurement step, the insulation resistance of the capacitor element (51) during drying is measured at any time,
In the determination step, when the insulation resistance Rx of the capacitor element (51) measured in the measurement step exceeds a predetermined value Ra, it is determined that the drying stop condition is satisfied. Method.
上記判定工程では、上記計測工程で計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ１，Ｒｘ２，Ｒｘ３に基づいて上記コンデンサ素子（51）の残りの乾燥時間Ｔｘが算出され、該残りの乾燥時間Ｔｘが経過した場合、上記乾燥停止条件が成立したと判定されることを特徴とするコンデンサ素子の乾燥方法。 In claim 1,
In the determination step, the remaining drying time Tx of the insulation resistance Rx 1, Rx 2, the based on the Rx 3 capacitor element (51) of the measurement process in the measured capacitor element (51) is calculated, said residue Rino A method of drying a capacitor element, wherein when the drying time Tx has elapsed, it is determined that the drying stop condition is satisfied.
上記判定工程では、上記計測工程で計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ１，Ｒｘ２の所定時間における変化量ΔＲが算出され、該変化量ΔＲに基づいて上記コンデンサ素子（51）の残りの乾燥時間Ｔｘが算出されることを特徴とするコンデンサ素子の乾燥方法。 In claim 3,
In the determination step, the change amount ΔR of the insulation resistances Rx 1 and Rx 2 of the capacitor element (51) measured in the measurement step in a predetermined time is calculated, and the change amount ΔR of the capacitor element (51) is calculated based on the change amount ΔR. A method for drying a capacitor element, wherein the remaining drying time Tx is calculated.
上記乾燥機構（20）で乾燥中のコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗を計測する絶縁抵抗計測器（40）と、
上記絶縁抵抗計測器（40）によって計測されたコンデンサ素子（51）の絶縁抵抗Ｒｘ，Ｒｘ１，Ｒｘ２，Ｒｘ３に基づいて上記乾燥機構（20）を制御する制御部（30）と
を備えることを特徴とするコンデンサ素子乾燥装置。 A drying mechanism (20) for drying a capacitor element (51) having a film body (53) formed by winding or laminating a film (61);
An insulation resistance measuring instrument (40) for measuring the insulation resistance of the capacitor element (51) being dried by the drying mechanism (20);
A controller (30) for controlling the drying mechanism (20) based on the insulation resistances Rx, Rx 1 , Rx 2 , Rx 3 of the capacitor element (51) measured by the insulation resistance measuring instrument (40). A capacitor element drying apparatus.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2011158814A JP2013026376A (en) | 2011-07-20 | 2011-07-20 | Drying method of capacitor element, manufacturing method of capacitor, and dryer of capacitor element |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2011158814A JP2013026376A (en) | 2011-07-20 | 2011-07-20 | Drying method of capacitor element, manufacturing method of capacitor, and dryer of capacitor element |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2013026376A true JP2013026376A (en) | 2013-02-04 |
Family
ID=47784378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2011158814A Withdrawn JP2013026376A (en) | 2011-07-20 | 2011-07-20 | Drying method of capacitor element, manufacturing method of capacitor, and dryer of capacitor element |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2013026376A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103515120A (en) * | 2013-09-26 | 2014-01-15 | 铜陵市佳龙飞电容器有限公司 | Method for reducing air in core bag of capacitor |
| CN104882296A (en) * | 2015-06-12 | 2015-09-02 | 肇庆绿宝石电子科技股份有限公司 | Supercapacitor manufacturing method |
-
2011
- 2011-07-20 JP JP2011158814A patent/JP2013026376A/en not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103515120A (en) * | 2013-09-26 | 2014-01-15 | 铜陵市佳龙飞电容器有限公司 | Method for reducing air in core bag of capacitor |
| CN104882296A (en) * | 2015-06-12 | 2015-09-02 | 肇庆绿宝石电子科技股份有限公司 | Supercapacitor manufacturing method |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102031509B1 (en) | Electrode roll drying method, and electrode roll drying device | |
| JP5632723B2 (en) | Cell balance control device | |
| JP2007159280A (en) | Power supply unit for vehicle | |
| JP4561350B2 (en) | Discharge lamp lighting device, lighting fixture, and lighting system | |
| US20040112893A1 (en) | Heater | |
| JP2007030649A5 (en) | ||
| JP2013026376A (en) | Drying method of capacitor element, manufacturing method of capacitor, and dryer of capacitor element | |
| US7412347B2 (en) | Method and apparatus for measuring physical parameters | |
| US9379577B2 (en) | Capacitive power system having a service life extending approach | |
| CN108852013B (en) | Absolute humidity detection device and method for cooking appliance and cooking appliance | |
| JP6267866B2 (en) | Insulation state detector | |
| CA2844199A1 (en) | Sacrificial anode control | |
| JP2004037258A (en) | Deterioration diagnosing device for film capacitor | |
| US10985599B2 (en) | Method for preparing an emergency energy store for operation | |
| US20160338149A1 (en) | Heating resistor | |
| CN106225222B (en) | Electric water heater and dry burning prevention control method thereof | |
| JP4931755B2 (en) | Dry metal evaporated film capacitor | |
| CN112428876A (en) | Electric vehicle charging heating control method and device, storage medium and electric vehicle | |
| US20100303637A1 (en) | Method, apparatus and use of the apparatus for controlling a compressor | |
| JP2018136134A (en) | Humidity sensor and adjusting method therefor | |
| US20230042987A1 (en) | Heater Control in Aerosol Generating Device | |
| JP7045064B2 (en) | Electrolytic capacitors and electronic devices using them | |
| JP2014160593A (en) | Battery temperature control method and secondary battery system | |
| JP2016173973A (en) | Method for manufacturing lithium ion secondary battery | |
| JP2021025994A (en) | Gas detection device with multiple gas sensors and gas detection method |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20141007 |