JP2013024825A - Measuring device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、赤外域における光学材料の屈折率および屈折率温度係数を測定する装置に関
する。
The present invention relates to an apparatus for measuring the refractive index and refractive index temperature coefficient of an optical material in the infrared region.
従来から、赤外域における光学材料の屈折率および屈折率温度係数を測定するため、リ
トロー法を用いた測定装置が知られている(例えば、非特許文献1および2を参照)。
Conventionally, a measuring apparatus using a Littrow method is known for measuring the refractive index and refractive index temperature coefficient of an optical material in the infrared region (see, for example, Non-Patent
従来の測定装置よりも、簡単な構成でありながら、広い波長帯域で使用でき、高い測定
精度が得られるものが要望されている。
There is a demand for a device that can be used in a wide wavelength band and has high measurement accuracy while having a simpler configuration than conventional measurement devices.
本発明は、このような課題を鑑みてなされたものであり、簡単な構成でありながら、広
い波長帯域で使用でき、測定精度を向上し得る屈折率および屈折率温度係数の測定装置を
提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such a problem, and provides a measurement apparatus for refractive index and refractive index temperature coefficient that can be used in a wide wavelength band and can improve measurement accuracy with a simple configuration. For the purpose.
このような目的達成のため、本発明を例示する態様に従えば、所定の単一波長光束を発
する光源部と、正のパワーを持つコリメータミラーと、小さな開口が形成された板状部材
の片方の面が鏡面となっており、前記開口が前記コリメータミラーの焦点位置と一致し、
前記鏡面が前記コリメータミラー側を向き且つ前記コリメータミラーで集光された光束が
反射した際に前記コリメータミラーに戻らないように光軸に対して傾けて設置された開口
板とを有して構成され、前記開口板の前記開口から入射した前記光源部からの光束を前記
コリメータミラーで平行光束に変換するコリメータ部と、前記コリメータ部からの平行光
束を透過可能な窓を備え、内部が密閉され且つ温度の可変制御が可能な恒温槽と、前記恒
温槽内部に設置され、ウェッジプリズム型試料を載置した状態で、前記試料の頂角を挟ん
だ第1面と第2面とがなす稜線に平行な回転軸を中心として回転可能な回転ステージと、
前記回転ステージの回転角度を検出する回転角度検出部と、前記窓を介して前記恒温槽内
部に入射し前記試料の前記第1面で反射した後に前記窓を介して前記恒温槽外部へ射出し
た前記平行光束か、または、前記窓を介して前記恒温槽内部に入射し前記第1面から前記
試料内部に入射し前記第2面の裏面で反射した後に前記第1面を経て前記試料外部へ射出
し、前記窓を介して前記恒温槽外部へ射出した前記平行光束が、前記コリメータ部に戻り
前記コリメータミラーで集光された後に前記開口板の前記鏡面で反射された光束を受信す
る測定光デテクタと、前記回転ステージの回転制御を行い、前記測定光デテクタからの出
力と、前記回転角度検出部で検出された前記ステージの回転角度との関係に基づき、前記
試料の屈折率を算出する解析制御部とを有することを特徴とする測定装置が提供される。
In order to achieve such an object, according to an embodiment of the present invention, a light source unit that emits a predetermined single wavelength light beam, a collimator mirror having a positive power, and a plate-like member in which a small opening is formed are provided. The surface is a mirror surface, the opening coincides with the focal position of the collimator mirror,
The mirror surface is directed to the collimator mirror side, and includes an aperture plate installed to be inclined with respect to the optical axis so as not to return to the collimator mirror when the light beam collected by the collimator mirror is reflected. A collimator that converts a light beam incident from the opening of the aperture plate from the light source unit into a parallel light beam by the collimator mirror, and a window that can transmit the parallel light beam from the collimator unit. And a ridge line formed by a first surface and a second surface sandwiching the apex angle of the sample in a state in which the wedge prism type sample is placed, and the temperature chamber is capable of variable temperature control. A rotation stage rotatable around a rotation axis parallel to the
A rotation angle detection unit that detects a rotation angle of the rotation stage, and enters the thermostatic chamber through the window, reflects off the first surface of the sample, and then exits the thermostatic chamber through the window. Either the parallel light flux or the inside of the thermostatic chamber through the window is incident on the sample from the first surface and reflected by the back surface of the second surface, and then passes through the first surface to the outside of the sample. Measurement light for receiving the light beam reflected by the mirror surface of the aperture plate after the parallel light beam emitted and emitted to the outside of the thermostatic chamber through the window returns to the collimator unit and is collected by the collimator mirror Analysis that controls the rotation of the detector and the rotation stage, and calculates the refractive index of the sample based on the relationship between the output from the measurement light detector and the rotation angle of the stage detected by the rotation angle detector. Measuring device characterized in that it comprises a control unit is provided.
本発明によれば、簡単な構成でありながら、広い波長帯域で使用でき、測定精度を向上
し得る屈折率および屈折率温度係数の測定装置を実現できる。
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, although it is a simple structure, it can be used by a wide wavelength band and the measuring apparatus of the refractive index and refractive index temperature coefficient which can improve a measurement precision is realizable.
以下、本実施形態について、添付の図面に基づいて説明する。 Hereinafter, this embodiment is described based on an accompanying drawing.
屈折率測定については、従来からいろいろな方法が知られているが、よく用いられてい
るのは最小偏角法である。最小偏角法は、図5に概略を示すように、測定対象の媒質でで
きたウェッジプリズム型の試料7における、屈折率測定に用いる単一波長平行光束に対す
る最小偏角位置を探して最小偏角値εを計測し、この計測された最小偏角値εと試料7の
入射面と射出面のなす頂角τとから、(1)式によって、試料7の屈折率nを算出するも
のである。
Various methods for measuring the refractive index have been known, but the least deviation method is often used. As shown schematically in FIG. 5, the minimum declination method searches for a minimum declination position with respect to a single wavelength parallel light beam used for refractive index measurement in a wedge
ところで、屈折率の温度係数の測定では、まず基準温度で試料7の屈折率を測定し、次
いで試料7を所定量温度変化させた後で再び試料7の屈折率を測定し、その変化量を求め
るが、測定系全体の温度を一様に変化させるのは大変である。そこで、図5に示す最小偏
角法を用いて屈折率温度係数を測定する場合には、図6に示すように試料7のみを恒温槽
6の中に入れ、恒温槽6内部のみ温度変化させ、最小偏角値εを測るのが普通である。最
小偏角値εは測定媒質の屈折率に依存するが、恒温槽6の入射窓602と射出窓603の
位置は恒温槽6に対して固定されているため、試料7がおおよそ所定の最小偏角値εを示
すようにするには、試料7の屈折率に応じて試料7の頂角τを変える必要がある。しかし
ながら、試料7の屈折率が不明である場合には、まず恒温槽6なしの状態で基準温度にお
ける試料7の屈折率を測定し、その測定結果を基に改めて恒温槽6に適合する試料7を作
り直し、温度特性の測定をするという二度手間がかかる。
By the way, in measuring the temperature coefficient of the refractive index, first, the refractive index of the
このような手間を省くためには、恒温槽6の窓が一つで済む、リトロー法を採用するこ
とが考えられる。リトロー法は、最小偏角法の一形態であり、図3(a),(b)に示す
ような、頂角τを挟んだ第1面701と第2面702とを有するウェッジプリズムを試料
7として用いる。このようなウェッジプリズム型の試料7では、第1面701から入射し
た平行光束は、第1面701で屈折作用を受け、第2面702で反射し、再び第1面70
1に戻って屈折作用を受け、試料7の外に射出される。
In order to save such trouble, it is conceivable to adopt a Littrow method in which only one window of the
Returning to 1, it undergoes a refraction action and is ejected out of the
ここで、測定光束が試料7の第2面702に対して垂直に入射する条件のとき、第1面
701における二回の屈折角度は全く同じとなり、最小偏角での屈折条件と同等になる。
よって、試料7の屈折率nは、図7に示す幾何学的関係と(1)式とを比較することによ
り、(2)式で求められることが判る。なお、角度iは、測定光束の第1面701の法線
に対する角度である。
Here, when the measurement light beam is incident on the
Therefore, it can be seen that the refractive index n of the
リトロー法による赤外域における屈折率の測定装置については、例えば、上述の非特許
文献1、2に紹介されている。これらの従来技術においては、光源には波長が分かってい
る輝線光源またはモノクロメータ光源を用い、光学系には全て反射系で構成したものを用
いている。そして、コリメータへの入射光束と、試料からコリメータに戻り集光された反
射光束との光路分離をするために、試料へ入射する測定光の平行光束を傾けることによっ
て、それぞれの光路のコリメータのスリット長手方向についての通過位置を、コリメータ
光軸に対称となるようにずらしてあるのが特徴である。
An apparatus for measuring a refractive index in the infrared region by the Littrow method is introduced, for example, in
このリトロー法の従来技術について、図8の模式図を用いて説明する。なお、図8では
、コリメータミラー502を薄肉レンズで表現している。図8に示すように、入射光束と
反射光束のスリット504における通過位置を、スリット504の長手方向についてずら
すと、試料7に入射する平行光束が試料主断面704に対して傾き角度αを持つことにな
る。なお、試料主断面704とは、試料7の第1面701と第2面702とがなす稜線7
03に垂直な平面である。この条件で測定される最小偏角値は、試料主断面704に平行
な入射光束についての最小偏角値εよりも大きな値を示す(例えば、応用分光学ハンドブ
ック 吉永弘編集 朝倉書店(1973年) P.399参照)。つまり、屈折率nは、
試料主断面704に平行な入射光束についての最小偏角値εから求めるべきものだが、こ
の従来技術による方法では原理的に本来の値εからずれた値が算出されることになる。
The prior art of this Littrow method will be described with reference to the schematic diagram of FIG. In FIG. 8, the
It is a plane perpendicular to 03. The minimum declination value measured under these conditions is larger than the minimum declination value ε for the incident light beam parallel to the sample main section 704 (for example, Akira Shoten edited by Hiroshi Yoshinaga, Applied Spectroscopy Handbook (1973)). P.399). That is, the refractive index n is
Although it should be obtained from the minimum declination value ε for the incident light beam parallel to the sample
この問題を解決する一般的な手法として、図9に示すように、ビームスプリッタプリズ
ム505を用いて、試料7への入射光束と反射光束の光路を分離する方法がある。この方
法で用いる光学系は、可視域で使うオートコリメータによく用いられている光学系であり
、試料7への入射光束が試料主断面704に対して傾かない設定が可能となる。具体的に
は、試料7からの反射光束の一部が、ビームスプリッタプリズム505によって分岐され
、試料7への入射光束が通るスリット504と共役なスリット507を通過するように、
試料7が載置されている回転ステージ8を回転させて、試料7への平行光束の入射角度を
調整する。但し、この方法では、ビームスプリッタプリズム505内を非平行光束が通過
し、ビームスプリッタプリズム505によって軸上色収差や球面収差などが発生すること
から、これら収差を補正するために、光学系の全部または一部に屈折レンズを用いること
が多い。図9では、コリメータとして、ダブレットレンズ506を用いた例を示した。こ
のような光学系では、使用する透過材料の分光透過特性によって、測定できる波長帯域が
制限されることになる。従って、装置の波長帯域をなるべく広く確保するためには、透過
材料の使用を避け、光学系を反射ミラーで構成する必要がある。
As a general method for solving this problem, as shown in FIG. 9, there is a method of separating the optical paths of the incident light beam and the reflected light beam to the
The
また、測定光束として赤外域を使用する場合、赤外域では輝線光源が少なく、単一波長
光束を作り出すためには連続スペクトラム光源からバンドパスフィルタを用いて、単一波
長とみなせる光束を切り出すことが普通である。バンドパスフィルタとしてはモノクロメ
ータがよく使われるが、モノクロメータから出力される単一波長光束の波長精度は、モノ
クロメータの波長表示精度に依存するため、使用するモノクロメータの波長表示精度につ
いての定期的な較正が必要不可欠であった。
In addition, when the infrared region is used as the measurement light beam, there are few bright line light sources in the infrared region, and in order to create a single wavelength light beam, a continuous light source can be used to cut out a light beam that can be regarded as a single wavelength. It is normal. A monochromator is often used as a bandpass filter, but the wavelength accuracy of the single wavelength light beam output from the monochromator depends on the wavelength display accuracy of the monochromator. Calibration was essential.
以上のような従来技術の課題を解決するために、本実施形態では、恒温槽の窓が一つで
あるため屈折率および屈折率温度係数の測定がし易いリトロー法を採用し、反射ミラー主
体で構成された光学系を用いて広い波長帯域で使用を可能とし、試料への入射(測定)光
束が試料主断面に対して傾かないようにして正確な最小偏角値が得られ、輝線の少ない赤
外域において測定光束の正確な波長値が簡便に把握できるように構成した、屈折率および
屈折率温度係数の測定装置を提供する。
In order to solve the problems of the prior art as described above, the present embodiment employs a Littrow method that allows easy measurement of the refractive index and the refractive index temperature coefficient because there is only one constant temperature chamber window. It can be used in a wide wavelength band using the optical system configured with the above, and an accurate minimum declination value can be obtained by preventing the incident (measurement) light beam on the sample from tilting with respect to the main cross section of the sample. Provided is a measuring device for refractive index and refractive index temperature coefficient configured so that an accurate wavelength value of a measurement light beam can be easily grasped in a small infrared region.
以下、本実施形態に係る屈折率および屈折率温度係数の測定装置について、図1を用い
て説明する。図1に示す光源部1は、ニクロム線やセラミックヒーターなど、電熱式の赤
外域光源101を測定光光源としている。赤外域光源101から発せられた測定光束は、
回転式チョッパ102を経て、光源部凹面ミラー103で反射集光され、光源部ダイクロ
イックミラー104で反射された後、モノクロメータ部2の入り口スリット201上に赤
外域光源101の発光源像を形成する。光源部ダイクロイックミラー104は、可視域で
透明なガラス製平行平面板を基板とし、反射面にはITO膜が形成されている。ITO膜
は、赤外光を反射し、可視光を透過する性質がある。可視域輝線光源105は、測定光束
の波長較正のための可視域輝線光を発する光源であり、可視域レーザや輝線ランプなどが
使われるが、本実施形態の場合は波長632.82nmのHe−Neレーザとする。可視
域輝線光源105から発せられたレーザ光束は、集光光学系106によって集光され、光
源部ダイクロイックミラー104を透過して、モノクロメータ部2の入り口スリット20
1上に集光する。
Hereinafter, the measuring apparatus for refractive index and refractive index temperature coefficient according to the present embodiment will be described with reference to FIG. The
After passing through the
Concentrate on 1.
モノクロメータ部2には、全ての光学素子がミラーまたは反射型回折格子で構成された
ものを用いる。本実施形態では、ツェルニー・ターナー型を採用している。このようなモ
ノクロメータ部2では、入り口スリット201から入射した測定光束が、平面ミラー20
2で光路を曲げられ、コリメータミラー203によって平行光束にコリメートされ、平面
反射グレーティング204によって分光作用を受け、波長に応じて異なる回折角度で反射
回折する。その後、測定光束は、集光ミラー205で集光作用を受け、平面ミラー206
で光路を曲げられるが、所定の回折角度で平面反射グレーティング204を反射した光束
のみが出口スリット207上に集光し、モノクロメータ部2の外に射出される。平面反射
グレーティング204は、回転ステージ208上に設置され、回転ステージ208と一緒
に回転する。平面反射グレーティング204を回転させ、出口スリット207から射出す
る光束の波長を変えることにより、所望の単一波長光束が取り出される。出口スリット2
07の直後には、ハルトマンプレート209が設置されている。ハルトマンプレート20
9は、図2に示すように、2枚の遮光板を有し、それらは図示していない保持機構に保持
され、スリット207の開口長手方向(紙面上下方向)に沿って動くようになっており、
出口スリット207の開口長手方向の寸法を変える働きをする。なお、モノクロメータ部
2の入り口スリット201の直前に、上記同様のハルトマンプレートを設置してもよい。
このような構成を有するモノクロメータは多い。
As the
2, the optical path is bent, collimated into a parallel light beam by the
However, only the light beam reflected by the planar reflection grating 204 at a predetermined diffraction angle is condensed on the exit slit 207 and emitted outside the
Immediately after 07, a
2 has two light shielding plates as shown in FIG. 2, which are held by a holding mechanism (not shown) and move along the longitudinal direction of the slit 207 (vertical direction in the drawing). And
It functions to change the size of the outlet slit 207 in the longitudinal direction of the opening. A Hartmann plate similar to the above may be installed just before the entrance slit 201 of the
Many monochromators have such a configuration.
出口スリット207から射出された光束は、モノクロメータ部ダイクロイックミラー3
に当たる。モノクロメータ部ダイクロイックミラー3は、光源部ダイクロイックミラー1
04と同様のミラーで、反射面にITO膜が形成され、赤外光(測定光束)を反射し、可
視光は透過させる。モノクロメータ部ダイクロイックミラー3で反射された測定光束は、
第1の凹面ミラー4でミラースリット501の開口上に反射集光され、ミラースリット5
01を通過してコリメータ部5に入射する。モノクロメータ部ダイクロイックミラー3を
透過した可視域輝線光源105からの波長較正光束は、リレーレンズ13で波長較正光デ
テクタ14上に集光され、該デテクタ14により受信される。
The luminous flux emitted from the exit slit 207 is the monochromator
It hits. The monochromator
With the same mirror as 04, an ITO film is formed on the reflection surface, reflects infrared light (measurement light beam), and transmits visible light. The measurement light beam reflected by the monochromator
The first concave mirror 4 is reflected and focused on the opening of the mirror slit 501, and the
The light passes through 01 and enters the
コリメータ部5は、ミラースリット501、コリメータミラー502、および、平面ミ
ラー503から構成される。ミラースリット501は、2枚のスリット刃からなり、これ
ら2枚のスリット刃のコリメータミラー502側の面が平面研磨され、アルミニュームま
たは金がコーティングされたミラー面501aとなっており、これら2枚のスリットミラ
ー面501aが同一平面上に並ぶように、且つ、開口幅が調整可能なように保持されてい
る。なお、ミラースリット501の開口幅について、本実施形態では可変式とするが、仕
様上問題なければ固定式とする場合もある。このようなミラースリット501の保持機構
については、図示を省略する。ミラースリット501を通過した測定光束は、発散しなが
らコリメータミラー502で反射され、平行光束になる。コリメータミラー502は正の
パワーを持つ凹面の軸外しパラボラミラーであり、パラボラ焦点をミラースリット501
の開口中心に合わせて設置されている。コリメータミラー502で反射された後、平行光
束になった測定光束は、平面ミラー503で反射されて光路を曲げられ、窓601から恒
温槽6の内部に入射する。
The
It is installed according to the opening center. After being reflected by the
恒温槽6は、内部が密閉された構造となっており、外界に対して温度の上げ下げができ
るようになっている。但し、その仕組みは本発明の対象外なので、ここでは詳述しない。
窓601は、赤外光である測定光束に対して透明な材質(例えば、シリコン結晶、ゲルマ
ニウム結晶、硫化亜鉛結晶など)からなる平行平面板であり、恒温槽6の側壁にはめ込ま
れている。窓601の両面には、屈折率の測定波長範囲に分光特性を適合させた、反射防
止コートが施されている。しかしながら、窓601が入射して来る測定光束に直交してい
ると、窓601による反射光が入射光束と同一方向に戻り、屈折率測定光束と混じって測
定ノイズになる。これを避けるため、窓601は測定光束に対して傾けて設置し、試料7
における反射光束が測定光束と同一光路に戻らないようにする。窓601を通過した測定
光束は、恒温槽6内部の試料回転ステージ8の上に設置された試料7に入射する。
The
The
So that the reflected light beam does not return to the same optical path as the measurement light beam. The measurement light beam that has passed through the
試料7は、図3(a),(b)に示すように、屈折率を測定すべき光学材料で製作され
たウェッジプリズムであって、平面研磨された第1面(入射面)701と第2面(反射面
)702を有する。本実施形態では、第1面701と第2面702とのなす頂角をτとし
ている。測定光束の入射面である第1面701には、必要に応じて反射防止コートを施す
。また、試料7内に入射した測定光束が反射する第2面702には、必要に応じてミラー
コートを施し、裏面ミラーにする。いずれも測定S/N比を向上させたい場合の処置であ
る。第1面701と第2面702との交線である稜線703に直交する平面を試料主断面
704とする。第1面701から試料7内に屈折作用を受けながら入射した測定光束は、
第2面702で反射され、第1面701に戻って再び屈折作用を受け、試料7の外部に射
出される。試料7を載せている試料回転ステージ8は、試料7を稜線703に平行な回転
軸中心に回転させる。また、試料回転ステージ8には、回転角度検出部8aが設けられて
おり、所定の初期位置を基準として、該ステージ8の回転角度が読み取れる機能が備わっ
ている。回転角度検出部8aにより読み取られた試料回転ステージ8の回転角度は、解析
制御部15に送信される。
As shown in FIGS. 3A and 3B, the
The light is reflected by the
試料7の第1面701における反射光束、または第2面702における反射光束は、窓
601を経て、恒温槽6の外部へ出る。恒温槽6への入射光束(測定光束)と、恒温槽6
から戻って来た反射光束とのなす角度が所定角度範囲内にあれば、恒温槽6から射出され
た光束はコリメータ部5に入射し、ミラースリット501の開口像をミラースリット50
1上に投影倍率1倍で形成する。ミラースリット501のミラー面501aは光軸に対し
て傾けて設置されており、ミラースリット501のミラー面501aで反射された光束は
、第2の凹面ミラー9で反射集光され、測定光デテクタ11へ向かい、該デテクタ11で
受信される。もし、ミラースリット501の開口像がミラースリット501の開口に一致
して形成された場合には、ほとんどの光エネルギーは(反射されずに)ミラースリット5
01を通過し、測定光デテクタ11には到達しない。
The reflected light beam on the
If the angle formed with the reflected light beam returned from the light beam is within a predetermined angle range, the light beam emitted from the
1 is formed at a projection magnification of 1 ×. The
01 passes through and does not reach the
測定光デテクタ11の受信S/N比を高めるために、本実施形態では赤外域の測光でよ
く用いられる交流測光方式を採用する。すなわち、機械式のチョッパ102により、赤外
域光源101から発する測定光束を所定周波数でチョッピングする。この機械式のチョッ
パ102と、測定光デテクタ11とをロックインアンプ12によって同期制御することに
よって、測定光束の交流測光を行う。
In order to increase the reception S / N ratio of the
解析制御部15は、試料回転ステージ8の回転制御を行うとともに、測定光デテクタ1
1からの出力と、回転角度検出部8aで検出された試料回転ステージ8の回転角度との関
係に基づき、試料7の屈折率を算出する。また、この算出された屈折率と、恒温槽6の内
部温度との関係に基づき、試料7の屈折率温度係数を算出する。以下にその手順を示す。
The
The refractive index of the
まず、屈折率の測定手順について述べる。試料7の第1面701が入射する測定光束に
対して直交するように、試料7を恒温槽6内の試料回転ステージ8に載せる。試料回転ス
テージ8を回転させながら、第1面701からの反射光を測定光デテクタ11でモニタリ
ングする。第1面701からの反射光束がミラースリット501を通過するときが、第1
面701が入射光束に対して直交しているときで、そのとき測定光デテクタ11出力は最
小となる。回転角度検出部8aでは、このときの試料回転ステージ8の位置を「基準位置
」とし、図4に示すように、試料回転ステージ8の固定カーソル801に合致している回
転側目盛り位置を、基準目盛り802とする。なお、このとき測定光束は必ずしも測定波
長光である必要はなく、測定S/N比を上げるためにモノクロメータ部2から強い強度が
得られる0次回折光を出力し、これを光源としても構わない。
First, the refractive index measurement procedure will be described. The
When the
回転角度検出部8aを介して基準目盛り802を読み取った後、モノクロメータ部2か
ら射出される光束の波長が測定波長である状態で試料回転ステージ8を回転させ、試料7
の第2面702からの反射光束が測定光デテクタ11でモニタできるようにする。次いで
、試料回転ステージ8の回転角度を調整し、測定光デテクタ11の出力が最小となる位置
を探す。測定光デテクタ11の出力が最小となる位置が最小偏角状態であり、そこを最小
偏角位置とする。そして、最小偏角位置におけるカーソル801に合致する目盛りを、最
小偏角目盛り803とする。基準目盛り802と最小偏角目盛り803との間の角度が、
図7に示すように、最小偏角時における測定光束の試料7の第1面701への入射角度i
になる。解析制御部15は、試料7の頂角τと入射角度iの実測値を上述の(2)式に代
入し、試料7の測定波長における屈折率nを算出する。
After reading the
The reflected light beam from the
As shown in FIG. 7, the incident angle i of the measurement light beam on the
become. The
続いて、屈折率温度係数の測定手順について述べる。まず、基準温度における試料7の
屈折率を上述のように測定する。次に、恒温槽6の内部の温度を所定温度だけ変化させ、
この状態で安定させる。そして、上述の試料7の屈折率測定を再び行う。変化させる温度
は、これらの測定で得られた屈折率変化量を温度変化量で割った値が、基準温度近傍の試
料7の屈折率の温度について近似的に微分値とみなせる程度に設定する。こうして得られ
た値が、測定波長についての基準温度近傍における試料7の屈折率温度係数となる。
Subsequently, a procedure for measuring the refractive index temperature coefficient will be described. First, the refractive index of the
Stabilize in this state. And the refractive index measurement of the above-mentioned
なお、恒温槽6内部の温度を変化させると、恒温槽6の内外空気の屈折率に差異が生じ
る。恒温槽6の窓601は前述の通り光軸に対して傾けて設置されているので、窓601
の外界側の面における測定光束の屈折角度と、窓601の内界側の面における測定光束の
屈折角度とに差異が生じ、窓601の通過に際して測定光束に偏角を生ずるが、最小偏角
状態のとき、窓601の往復光路は原理的に一致するので、測定値には影響を与えない。
In addition, if the temperature inside the
There is a difference between the refraction angle of the measurement light beam on the outer surface side of the window and the refraction angle of the measurement light beam on the inner surface side of the
次に、測定光束の波長値の正確な把握方法について述べる。赤外域光源101と可視域
輝線光源105とからの光束は、共にモノクロメータ部2の入り口スリット201を通過
する。平面反射グレーティング204の格子定数は、可視域輝線光源105として使用し
ているHe−Neレーザの波長632.82nm光束が、所定の高次回折で反射されるよ
うに設定する。本実施形態では、平面反射グレーティング204の格子定数を0.01m
mとする。以下の表1に、波長632.82nm高次回折光束と一緒にモノクロメータ部
2の出口スリット207から出力される赤外域光源101からの測定光束波長を、波長6
32.82nm光束の回折次数を10まで取ったものを示す。なお、測定光束については
、全て1次回折光の場合である。
Next, a method for accurately grasping the wavelength value of the measurement light beam will be described. Both the light beams from the infrared region light source 101 and the visible region bright line
m. Table 1 below shows the measurement light beam wavelength from the infrared light source 101 output from the exit slit 207 of the
The diffraction order of a 32.82 nm light beam is shown up to 10. Note that the measurement light beams are all in the case of first-order diffracted light.
(表1)
波長632.82nm光束回折次数 測定光束(nm)
2 1265.64
3 1898.46
4 2531.28
5 3164.10
6 3796.92
7 4429.74
8 5062.56
9 5695.38
10 6328.20
(Table 1)
Wavelength 632.82nm Light diffraction order Measurement light flux (nm)
2 1265.64
3 1898.46
4 2531.28
5 3164.10
6 3796.92
7 4429.74
8 5062.56
9 5695.38
10 6328.20
モノクロメータ部2の回転ステージ208を回転させながら、出口スリット207から
出力される波長632.82nm光束を、波長較正光デテクタ14でモニタする。波長6
32.82nm光束は、出口スリット207から出力された後、発散しながらモノクロメ
ータ部ダイクロイックミラー3を透過し、リレーレンズ13で集光され、波長較正光デテ
クタ14に至る。
While rotating the
After the 32.82 nm light beam is output from the exit slit 207, it is transmitted through the monochromator
波長632.82nm光束の回折次数は、波長632.82nm、格子定数0.01m
m、回転ステージ208の0次回折位置からの回転角度、および、平面反射グレーティン
グ204に対する光束入射角度と回折角度から求めるが、回転ステージ208の回転角度
と回折次数との対応関係を予め求めておけば、いちいち計算する必要はない。また、モノ
クロメータ部2は、全て反射光学素子で構成されているため、波長依存性がない。よって
、測定光束の波長は、光学系の色収差などの影響を受けることなく、波長632.82n
m光束を基準として正確に決まる。
The diffraction order of a light beam with a wavelength of 632.82 nm is a wavelength of 632.82 nm and a lattice constant of 0.01 m.
m, the rotation angle of the
It is accurately determined based on m luminous flux.
なお、例えば表1において、測定光束である、波長6328.20nm光束を出力して
いるときは、波長3164.10nm光束の2次回折光も一緒に出力される。同時に出力
される短波長の高次回折光を除くために、次数選択フィルタターレット10を測定光デテ
クタ11の直前に設置する。この場合であれば、波長6328.20nm光束は透過させ
、波長3164.10nm光束は阻止する分光特性を持つフィルタを光路中に挿入する。
このように互いに異なる所定の分光特性を有する複数のフィルタをターレットに設置し、
測定波長に応じて適切なフィルタを選択し、光路に挿入することで、不要な高次回折光束
が測定光デテクタ11へ入射することを阻止することができる。
For example, in Table 1, when a light beam having a wavelength of 6328.20 nm, which is a measurement light beam, is output, second-order diffracted light having a light beam of 3164.10 nm is also output together. In order to remove high-order diffracted light having a short wavelength that is output at the same time, the order
In this way, a plurality of filters having predetermined spectral characteristics different from each other are installed in the turret,
By selecting an appropriate filter according to the measurement wavelength and inserting it in the optical path, it is possible to prevent unnecessary high-order diffracted light from entering the
続いて、波長632.82nm光束の高次回折位置の中間にある測定光束、例えば表1
の波長範囲ならば、3000nm、4000nm、5000nmなどの波長を出力する方
法について述べる。まず、表1の測定光束波長に対応する、モノクロメータ部2の回転ス
テージ208の回転角度を、測定前後あるいは中間に実測しておき、これらの値から上記
中間波長に対応する回転ステージ208の回転角度をインターポレーションによって算出
する。回転ステージ208をそれら算出された回転角度に合わせることで、所望の中間波
長の測定光束を高精度で出力することができる。
Subsequently, a measurement light beam in the middle of the higher-order diffraction position of the light beam having a wavelength of 632.82 nm, for example, Table 1
A method for outputting wavelengths such as 3000 nm, 4000 nm, and 5000 nm will be described. First, the rotation angle of the
モノクロメータ部2の入り口スリット201の開口幅、および、出口スリット207の
スリット開口幅が、測定光束の波長純度に直接的に影響することは言うまでもない。それ
だけでなく、出口スリット207の開口の長手方向寸法も、測定光束の波長純度に影響を
与える。出口スリット207から出力される測定光束と、測定光束の波長較正のための波
長632.82nm光束は、出口スリット207の開口全域で重なるように光学系は設定
されているが、出口スリット207上にできる入り口スリット201の像は、長波長側に
凹となるように湾曲するので(例えば、応用分光学ハンドブック 吉永弘編集 朝倉書房
(1973年) P.409を参照)、出口スリット207の開口長手方向が長すぎると
、出口スリット207の開口中心部と端部では通過波長にずれが生じ、測定光束の波長純
度が低下する。
Needless to say, the opening width of the entrance slit 201 and the slit opening width of the exit slit 207 of the
さらに、従来技術の説明でも述べたように、試料7への入射光束が試料主断面704に
対して角度を持つと、最小偏角値が正しい値に対して増大する方向にずれる。出口スリッ
ト207が長いほど、この効果が大きくなり、屈折率の測定精度を低下させる。
Further, as described in the description of the prior art, when the incident light beam on the
上述の通り、モノクロメータ部2の出口スリット207の開口長手方向寸法は、測定光
束の波長純度と最小偏角値の測定誤差に影響を与えることから、極力短い開口寸法にする
ことが原則となる。一方、入り口スリット201および出口スリット207の開口幅は大
きいほど、測定光束の光エネルギーを大きくすることが可能になるため、測定光デテクタ
11の出力のS/N比を見ながら、入り口スリット201および出口スリット207のス
リット開口幅と、長手方向の長さとを決める。出口スリット207の開口長手方向のスリ
ット幅については、ハルトマンプレート209の間隔を調整して決定する。本実施形態で
は、出口スリット207の開口長手方向の中央部を通過する測定光束を使うので、必要最
小の出口スリット207の開口長手方向寸法になる。なお、測定に必要な精度および光強
度が得られることが判っている場合には、入り口スリット201および出口スリット20
7の開口は固定式であってもよい。
As described above, the size in the opening longitudinal direction of the exit slit 207 of the
The opening of 7 may be fixed.
以上のように、本実施形態に係る測定装置においては、(1)リトロー法を用いた屈折
率測定装置であることから恒温槽の窓が一つだけで済むので、屈折率および屈折率温度係
数を容易に測定でき、(2)反射ミラー主体で構成された光学系を用いているため、広い
波長帯域で使用可能であり、(3)回転ステージの回転角度を調整して試料への入射光束
の試料主断面に対する傾き成分を最小限に抑えることができるため、誤差が小さく、より
正確な最小偏角値が得られ、(4)特に輝線の少ない赤外域において、測定光束の正確な
波長値が簡便に把握できる。また、(5)恒温槽の窓を入射光束に対して傾けて設けてい
るため、恒温槽の窓で反射した測定光束が測定光デテクタに至ることがなく、ミラースリ
ットのミラー面で反射した恒温槽からの戻り光束と、ミラースリットから抜けて出てくる
測定光束とが重ならない角度で、ミラースリットを光軸に対して傾けて設けているため、
ミラースリットのミラー面で反射した恒温槽からの戻り光束だけが測定光デテクタへ入射
することから、高いS/N比で屈折率および屈折率温度係数を測定することができる。
As described above, in the measuring apparatus according to the present embodiment, (1) since the refractive index measuring apparatus using the Littrow method requires only one constant temperature chamber window, the refractive index and the refractive index temperature coefficient. (2) Since an optical system mainly composed of a reflecting mirror is used, it can be used in a wide wavelength band. (3) The incident light flux on the sample is adjusted by adjusting the rotation angle of the rotary stage. The tilt component with respect to the main cross section of the sample can be minimized, so that the error is small and a more accurate minimum declination value can be obtained. (4) The exact wavelength value of the measured light beam, particularly in the infrared region where there are few bright lines Can be easily grasped. (5) Since the temperature chamber window is inclined with respect to the incident light beam, the measurement light beam reflected by the temperature chamber window does not reach the measurement light detector, and is reflected by the mirror surface of the mirror slit. Because the mirror slit is tilted with respect to the optical axis at an angle where the return beam from the tank and the measurement beam coming out of the mirror slit do not overlap,
Since only the returning light beam from the thermostat reflected by the mirror surface of the mirror slit enters the measurement light detector, the refractive index and the refractive index temperature coefficient can be measured with a high S / N ratio.
なお、本実施形態においては、モノクロメータ部2として、ツェルニー・ターナー型を
採用したが、これに限定されものではない。例えば、凹面の回折格子1枚で構成される瀬
谷・波岡型のモノクロメータを採用することも可能である。
In this embodiment, the Czerny-Turner type is adopted as the
1 光源部
101 赤外域光源 102 チョッパ
103 光源部凹面ミラー
104 ダイクロイックミラー(第1のダイクロイックミラー)
105 可視域輝線光源 106 集光光学系
2 モノクロメータ部
201 入り口スリット 202 平面ミラー
203 コリメータミラー 204 平面反射グレーティング
205 集光ミラー 206 平面ミラー
207 出口スリット 208 回転ステージ(回転駆動部)
209 ハルトマンプレート
3 モノクロメータ部ダイクロイックミラー(第2のダイクロイックミラー)
4 第1の凹面ミラー
5 コリメータ部
501 ミラースリット 501a ミラー面
502 コリメータミラー
503 平面ミラー
6 恒温槽
601 窓
7 試料
701 入射面 702 反射面
703 稜線 704 試料主断面
8 試料回転ステージ(回転ステージ)
8a 回転角度検出部
801 カーソル 802 基準目盛り
803 最小偏角目盛り
9 第2の凹面ミラー
10 次数選択フィルタターレット
11 測定光デテクタ
12 ロックインアンプ
13 リレーレンズ
14 波長較正光デテクタ
15 解析制御部
DESCRIPTION OF
104 Dichroic mirror (first dichroic mirror)
105 Visible
209
4 First
8a
Claims (6)
正のパワーを持つコリメータミラーと、小さな開口が形成された板状部材の片方の面が
鏡面となっており、前記開口が前記コリメータミラーの焦点位置と一致し、前記鏡面が前
記コリメータミラー側を向き且つ前記コリメータミラーで集光された光束が反射した際に
前記コリメータミラーに戻らないように光軸に対して傾けて設置された開口板とを有して
構成され、前記開口板の前記開口から入射した前記光源部からの光束を前記コリメータミ
ラーで平行光束に変換するコリメータ部と、
前記コリメータ部からの平行光束を透過可能な窓を備え、内部が密閉され且つ温度の可
変制御が可能な恒温槽と、
前記恒温槽内部に設置され、ウェッジプリズム型試料を載置した状態で、前記試料の頂
角を挟んだ第1面と第2面とがなす稜線に平行な回転軸を中心として回転可能な回転ステ
ージと、
前記回転ステージの回転角度を検出する回転角度検出部と、
前記窓を介して前記恒温槽内部に入射し前記試料の前記第1面で反射した後に前記窓を
介して前記恒温槽外部へ射出した前記平行光束か、または、前記窓を介して前記恒温槽内
部に入射し前記第1面から前記試料内部に入射し前記第2面の裏面で反射した後に前記第
1面を経て前記試料外部へ射出し、前記窓を介して前記恒温槽外部へ射出した前記平行光
束が、前記コリメータ部に戻り前記コリメータミラーで集光された後に前記開口板の前記
鏡面で反射された光束を受信する測定光デテクタと、
前記回転ステージの回転制御を行い、前記測定光デテクタからの出力と、前記回転角度
検出部で検出された前記ステージの回転角度との関係に基づき、前記試料の屈折率を算出
する解析制御部とを有することを特徴とする測定装置。 A light source unit that emits a predetermined single wavelength light beam;
One surface of a collimator mirror having a positive power and a plate-like member formed with a small opening is a mirror surface, the opening coincides with the focal position of the collimator mirror, and the mirror surface faces the collimator mirror side. And an aperture plate that is inclined with respect to the optical axis so that it does not return to the collimator mirror when the light beam collected by the collimator mirror is reflected, and the aperture of the aperture plate A collimator unit that converts the light beam incident from the light source unit into a parallel light beam by the collimator mirror;
A constant temperature bath provided with a window capable of transmitting a parallel light beam from the collimator unit, the inside of which is sealed and the temperature can be variably controlled;
Rotation that can be rotated around a rotation axis parallel to the ridge line formed by the first surface and the second surface sandwiching the apex angle of the sample in a state where the wedge prism type sample is placed in the thermostatic chamber. Stage,
A rotation angle detector that detects a rotation angle of the rotation stage;
The parallel light flux that is incident on the inside of the thermostatic chamber through the window and is reflected by the first surface of the sample and then exits the thermostatic chamber through the window, or the thermostatic chamber through the window The light enters the inside of the sample from the first surface, is reflected by the back surface of the second surface, is then emitted to the outside of the sample through the first surface, and is emitted to the outside of the thermostatic chamber through the window. A measuring light detector for receiving the light beam reflected by the mirror surface of the aperture plate after the parallel light beam returns to the collimator unit and is collected by the collimator mirror;
An analysis control unit that performs rotation control of the rotation stage and calculates a refractive index of the sample based on a relationship between an output from the measurement light detector and a rotation angle of the stage detected by the rotation angle detection unit; A measuring apparatus comprising:
平行光束が前記開口を透過し、前記測定光デテクタへ入射する光量が最小になるときの、
前記回転角度検出部で検出された前記回転ステージの回転角度と、前記第2面で裏面反射
された前記平行光束が前記開口を透過し、前記測定光デテクタへ入射する光量が最小にな
るときの、前記回転角度検出部で検出された前記回転ステージの回転角度との関係に基づ
き、前記試料の屈折率を算出することを特徴とする請求項1に記載の測定装置。 The analysis control unit performs rotation control of the rotary stage, and the parallel light beam reflected by the first surface passes through the opening, and the amount of light incident on the measurement light detector is minimized.
When the rotation angle of the rotation stage detected by the rotation angle detector and the parallel light beam reflected from the back surface of the second surface pass through the opening and the amount of light incident on the measurement light detector is minimized. The measurement apparatus according to claim 1, wherein the refractive index of the sample is calculated based on a relationship with a rotation angle of the rotation stage detected by the rotation angle detection unit.
赤外域の所定の測定波長帯域において連続スペクトラム光を発する測定光源と、
前記測定光源から発せられた前記連続スペクトラム光の中から前記試料の屈折率測定に
使用する前記所定の単一波長光を取り出すモノクロメータ部とを有することを特徴とする
請求項1または2に記載の測定装置。 The light source unit is
A measurement light source that emits continuous spectrum light in a predetermined measurement wavelength band in the infrared region;
The monochromator unit for extracting the predetermined single wavelength light used for measuring the refractive index of the sample from the continuous spectrum light emitted from the measurement light source. Measuring device.
前記測定光源からの光束と、前記波長較正用光源からの光束とが同一光路を通るように
重畳する第1のダイクロイックミラーと、
入り口スリット、反射型回折格子、および、出口スリットを有し、その他のすべての光
学素子が反射素子から構成されていて、前記回折格子を回転させ、前記出口スリットから
射出する光束の波長を変化させる回転駆動部とを有する前記モノクロメータ部と、
前記出口スリットから射出した光束から、前記測定光源からの光束と、前記波長較正用
光源からの光束とを分離する第2のダイクロイックミラーと、
前記第2のダイクロイックミラーにより分離された前記波長較正用光源からの光束を受
信する波長較正光デテクタと、
前記出口スリットから射出した光束が所定波長となるように、前記波長較正光デテクタ
の出力結果に基づき、前記回転駆動部の制御を行う回転制御部とを有することを特徴とす
る請求項3に記載の測定装置。 A wavelength calibration light source that emits visible line light;
A first dichroic mirror that superimposes the light beam from the measurement light source and the light beam from the wavelength calibration light source so as to pass through the same optical path;
It has an entrance slit, a reflection type diffraction grating, and an exit slit, and all other optical elements are composed of reflection elements, and the diffraction grating is rotated to change the wavelength of the light beam emitted from the exit slit. The monochromator unit having a rotation drive unit;
A second dichroic mirror that separates a light beam from the measurement light source and a light beam from the wavelength calibration light source from the light beam emitted from the exit slit;
A wavelength calibration light detector for receiving a light beam from the wavelength calibration light source separated by the second dichroic mirror;
The rotation control unit that controls the rotation drive unit based on an output result of the wavelength calibration light detector so that the light beam emitted from the exit slit has a predetermined wavelength. Measuring device.
窓が前記コリメータ部からの前記平行光束に対して傾けて設置されていることを特徴とす
る請求項1〜4のいずれか一項に記載の測定装置。 2. The thermostatic chamber, wherein the window is installed to be inclined with respect to the parallel light beam from the collimator unit so that a light beam reflected by the window does not enter the measurement light detector. The measuring apparatus as described in any one of -4.
づき、前記試料の屈折率温度係数を算出することを特徴とする請求項1〜5のいずれか一
項に記載の測定装置。 The said analysis control part calculates the refractive index temperature coefficient of the said sample based on the relationship between the refractive index of the said sample, and the temperature change amount inside the said thermostat. A measuring device according to claim 1.
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104390938A (en) * | 2014-12-12 | 2015-03-04 | 长春理工大学 | Infrared glass refractive index photoelectric detection system based on measured top angle and incident angle |
CN110530821A (en) * | 2019-09-16 | 2019-12-03 | 中国科学院福建物质结构研究所 | A kind of measuring device and its measurement method of optical material refractive index |
CN110736721A (en) * | 2018-07-18 | 2020-01-31 | 西安工业大学 | Glass plate refractive index uniformity detection device and detection method based on diffraction grating |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102022123591A1 (en) | 2022-09-15 | 2024-03-21 | Trioptics Gmbh | Method for determining a refractive index of an optical test specimen, device and measuring system |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6243782A (en) * | 1985-08-21 | 1987-02-25 | Olympus Optical Co Ltd | Bar-code reader |
JPH02228505A (en) * | 1989-03-02 | 1990-09-11 | Nikon Corp | Interferometer |
JP2001053358A (en) * | 1999-06-03 | 2001-02-23 | Mitsubishi Electric Corp | Laser beam measuring apparatus |
JP2001280931A (en) * | 2000-03-31 | 2001-10-10 | Nikon Corp | Interferometer, instrument and method for measuring shape, and exposure device |
JP2010276362A (en) * | 2009-05-26 | 2010-12-09 | Hitachi High-Technologies Corp | Spectrofluorophotometer and spectroscopic analysis photometer |
-
2011
- 2011-07-26 JP JP2011162842A patent/JP5857499B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6243782A (en) * | 1985-08-21 | 1987-02-25 | Olympus Optical Co Ltd | Bar-code reader |
JPH02228505A (en) * | 1989-03-02 | 1990-09-11 | Nikon Corp | Interferometer |
JP2001053358A (en) * | 1999-06-03 | 2001-02-23 | Mitsubishi Electric Corp | Laser beam measuring apparatus |
JP2001280931A (en) * | 2000-03-31 | 2001-10-10 | Nikon Corp | Interferometer, instrument and method for measuring shape, and exposure device |
JP2010276362A (en) * | 2009-05-26 | 2010-12-09 | Hitachi High-Technologies Corp | Spectrofluorophotometer and spectroscopic analysis photometer |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
JPN6015012342; A. Ray Hilton and Charlie E. Jones: 'The Thermal Change in the Nondispersive Infrared Refractive Index of Optical Materials' APPLIED OPTICS Vol.6, No.9, 196709, pp.1513-1517 * |
JPN6015012343; E. D. McALISTER, et al.: 'Rapid and Accurate Measurements of Refractive Index in the Infrared' JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA Vol.46,No.7, 195607, pp.485-487 * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104390938A (en) * | 2014-12-12 | 2015-03-04 | 长春理工大学 | Infrared glass refractive index photoelectric detection system based on measured top angle and incident angle |
CN110736721A (en) * | 2018-07-18 | 2020-01-31 | 西安工业大学 | Glass plate refractive index uniformity detection device and detection method based on diffraction grating |
CN110530821A (en) * | 2019-09-16 | 2019-12-03 | 中国科学院福建物质结构研究所 | A kind of measuring device and its measurement method of optical material refractive index |
CN110530821B (en) * | 2019-09-16 | 2021-02-12 | 中国科学院福建物质结构研究所 | Measuring device and measuring method for refractive index of optical material |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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