JP2012234419A - Touch panel controller and touch panel control method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、アナログ抵抗膜方式のタッチパネルの制御装置及びその関連技術に関する。 The present invention relates to an analog resistive film type touch panel control device and related technology.
特許文献1及び2には、アナログ抵抗膜方式のタッチパネルが2点以上で同時に押されたか否かを検出するための処理を開示している。
いずれも、アナログ抵抗膜方式のタッチパネルが2点以上で同時に押された時、当該2点の間で、上下の抵抗膜(又は導電膜)による並列回路が形成され、その分抵抗膜上の合成抵抗が下がるという特性を利用している。
以下、タッチパネルが1点で押されることをシングルタッチと呼ぶ。また、タッチパネルが2点以上で同時に押されることをマルチタッチと呼ぶ。
In either case, when two or more analog resistive film type touch panels are pressed at the same time, a parallel circuit is formed by upper and lower resistive films (or conductive films) between the two points. Utilizes the characteristic that resistance decreases.
Hereinafter, pressing the touch panel at one point is referred to as single touch. In addition, the simultaneous pressing of the touch panel with two or more points is called multi-touch.
特許文献1の装置は電流計を有し、電流量の増加によって抵抗膜上の抵抗値の低下を検出する。特許文献2の装置は、抵抗膜と電源電圧(又は接地電圧)との間に検出用抵抗を有し、抵抗膜と検出用抵抗との間の電位を測定する。そして、特許文献2の装置は、測定した電位の変化によって抵抗膜上の抵抗値の低下を検出する。
The device of
特許文献1及び2は、マルチタッチを誤操作として排除することを目的としている。しかし、マルチタッチもユーザの操作の一つとして活用できれば、ユーザにとって便利である。
そこで、本発明の目的は、アナログ抵抗膜方式のタッチパネルにおいて、マルチタッチをユーザの操作として活用することである。 Accordingly, an object of the present invention is to utilize multi-touch as a user operation in an analog resistive film type touch panel.
本発明の第1の観点によれば、タッチパネルの制御装置は、アナログ抵抗膜方式タッチパネルの制御装置であって、抵抗膜上のX軸方向に対抗しているX軸電極間に電圧を印加するX軸印加手段と、抵抗膜上の前記X軸に対して垂直なY軸方向に対抗しているY軸電極間に電圧を印加するY軸印加手段と、X軸印加手段と前記Y軸印加手段とを切り替える切替手段と、前記X軸電極間の抵抗値を計測するX軸計測手段と、前記Y軸電極間の抵抗値を計測するY軸計測手段と、前記X軸印加手段が駆動している時の前記X軸計測手段の計測結果とX軸基準値との差であるX軸変化量を計算する第1計算手段と、前記Y軸印加手段が駆動している時の前記Y軸計測手段の計測結果とY軸基準値との差であるY軸変化量を計算する第2計算手段と、前記X軸変化量と前記Y軸変化量の和又は相加平均を計算する第3計算手段と、を備える。 According to the first aspect of the present invention, the touch panel control device is an analog resistance film type touch panel control device, and applies a voltage between the X-axis electrodes facing the X-axis direction on the resistance film. X-axis application means, Y-axis application means for applying a voltage between Y-axis electrodes facing the Y-axis direction perpendicular to the X-axis on the resistive film, X-axis application means, and Y-axis application A switching means for switching the means, an X-axis measuring means for measuring a resistance value between the X-axis electrodes, a Y-axis measuring means for measuring a resistance value between the Y-axis electrodes, and the X-axis applying means. First calculation means for calculating an X-axis variation that is a difference between a measurement result of the X-axis measurement means and an X-axis reference value, and the Y-axis when the Y-axis application means is driven Second calculation means for calculating a Y-axis change amount that is a difference between a measurement result of the measurement means and a Y-axis reference value; And a third calculating means for calculating a sum or arithmetic average of the serial X-axis change amount and the Y-axis variation amount.
この構成によれば、マルチタッチの2点の間隔と相関関係のある値を、前記第3計算手段の計算結果として取得することができる。当該値はマルチタッチの2点の間隔に応じて変化する。このため、座標の取得とは違う観点から、マルチタッチをユーザの操作の一つとして利用することができる。
また、殆どのアナログ抵抗膜方式のタッチパネルは、マルチタッチ時に電極間の抵抗値が低下する特性を有しているため、この制御装置は、多くの既存のアナログ抵抗膜方式のタッチパネルに接続して利用することができる。
According to this configuration, a value having a correlation with the interval between two points of multi-touch can be acquired as a calculation result of the third calculation means. The value changes according to the interval between two points of multi-touch. For this reason, multi-touch can be used as one of the user operations from a viewpoint different from the acquisition of coordinates.
In addition, since most analog resistive touch panels have the characteristic that the resistance value between the electrodes decreases during multi-touch, this control device is connected to many existing analog resistive touch panels. Can be used.
上記の構成において、前記第3計算手段の計算結果を記憶する記憶手段と、二つの時点における前記第3計算手段の計算結果を比較する比較手段と、をさらに備えてもよい。 The above configuration may further include storage means for storing the calculation result of the third calculation means and comparison means for comparing the calculation results of the third calculation means at two time points.
この構成によれば、ある時点からある時点の間に、マルチタッチの2点の間隔が広くなったか狭くなったかを検出することができる。これによって、後述するピンチイン/ピンチアウトと呼ばれる操作を検出することができる。 According to this configuration, it is possible to detect whether the interval between two points of multi-touch is widened or narrowed between a certain point in time and a certain point in time. Thereby, an operation called “pinch-in / pinch-out” described later can be detected.
上記の構成においてさらに、前記X軸印加手段と、前記X軸電極との間に配置されたX軸抵抗と、前記Y軸印加手段と、前記Y軸電極との間に配置されたY軸抵抗と、をさらに備え、前記X軸計測手段は、電圧計測手段を含み、前記X軸電極と前記X軸抵抗との間の電圧の変化に基づいて前記X軸電極間の抵抗値を計測し、前記Y軸計測手段は、電圧計測手段を含み、前記Y軸電極と前記Y軸抵抗との間の電圧の変化に基づいて前記Y軸電極間の抵抗値を計測するようにしてもよい。 In the above configuration, an X-axis resistance disposed between the X-axis application unit and the X-axis electrode, and a Y-axis resistance disposed between the Y-axis application unit and the Y-axis electrode. The X-axis measuring means includes a voltage measuring means, and measures a resistance value between the X-axis electrodes based on a change in voltage between the X-axis electrode and the X-axis resistance, The Y-axis measurement unit may include a voltage measurement unit, and measure a resistance value between the Y-axis electrodes based on a change in voltage between the Y-axis electrode and the Y-axis resistance.
この構成によれば、X軸電極間の抵抗値及びY軸電極間の抵抗値の変化を、電圧計測手段が計測する電圧値の変化として検出することができる。 According to this configuration, changes in the resistance value between the X-axis electrodes and the resistance value between the Y-axis electrodes can be detected as changes in the voltage value measured by the voltage measuring means.
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、図中、同一または相当部分については同一の参照符号を付してその説明を援用する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the drawings, the same or corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is incorporated.
図1は、本発明の実施の形態によるタッチパネル制御装置を使ったタッチパネルユニットの説明図である。
タッチパネル1は、抵抗膜11及び抵抗膜13を含む。抵抗膜11及び抵抗膜13は、いずれも均一な抵抗値を持った膜である。抵抗膜11の両端には電極XL及びXRがある。抵抗膜13の両端には電極YU及びYDがある。抵抗膜11と抵抗膜13の間には隙間があり、通常接触しない。しかし、ユーザがタッチパネル1を押すと、抵抗膜11と抵抗膜13とは押下点において接触する。
図1は説明のための概念図である。図示はしないが、タッチパネル1はガラス基板やセパレータ等の他の周知の部品も有する。
FIG. 1 is an explanatory diagram of a touch panel unit using a touch panel control device according to an embodiment of the present invention.
The
FIG. 1 is a conceptual diagram for explanation. Although not shown, the
ここで、一般的なアナログ抵抗膜方式のタッチパネルの構造について簡単に説明する。
図2(a)は4線式抵抗膜方式のタッチパネルの説明図である。
図2(b)は5線式抵抗膜方式のタッチパネルの説明図である。
アナログ抵抗膜方式のタッチパネルは、2枚の導電膜が通常時は接触しない状態で向かい合った構造をしている。そして、2枚の導電膜は、ユーザがタッチパネルを押した部分が接触し、導通状態になる。
Here, the structure of a general analog resistive film type touch panel will be briefly described.
FIG. 2A is an explanatory diagram of a 4-wire resistive film type touch panel.
FIG. 2B is an explanatory diagram of a 5-wire resistive touch panel.
An analog resistance film type touch panel has a structure in which two conductive films face each other without being in normal contact. And the part which the user pressed the touch panel contacts and the conductive film of 2 sheets will be in a conduction | electrical_connection state.
図2(a)を参照して、4線式のタッチパネルは、2枚の導電膜が両方とも、全面が均質な抵抗値を持つ抵抗膜である。一方の抵抗膜の端には、X軸方向に電極がついている。他方の抵抗膜の端には、X軸に垂直なY軸方向に電極がついている。4つの電極があるため、この形式は4線式と呼ばれる。
図2(b)を参照して、5線式のタッチパネルは、2枚の導電膜のうち下部の1枚が、全面が均質な抵抗値を持つ抵抗膜である。抵抗膜の4辺の端にはX軸方向とY軸方向に電極がついている。上部の導電膜には1本電極がついている。5つの電極があるため、この形式は5線式と呼ばれる。
Referring to FIG. 2A, the four-wire touch panel is a resistance film in which both of the two conductive films have a uniform resistance value on the entire surface. An electrode is attached to the end of one resistance film in the X-axis direction. An electrode is attached to the end of the other resistance film in the Y-axis direction perpendicular to the X-axis. Since there are four electrodes, this type is called a four-wire system.
Referring to FIG. 2B, in the 5-wire touch panel, one of the two conductive films is a resistive film having a uniform resistance value on the entire surface. Electrodes are attached to the ends of the four sides of the resistance film in the X-axis direction and the Y-axis direction. The upper conductive film has one electrode. Since there are five electrodes, this type is called a five-wire system.
いずれのタッチパネルも押下点の座標の検出原理は同じである。各電極には制御装置が接続される。制御装置が電極を通じて抵抗膜のX軸方向に電圧をかけると、Y軸に平行な等電位が当該抵抗膜上に形成される。このため、制御装置が抵抗膜のX軸方向に電圧をかけた時の押下点の電位から、押下点のX座標を算出することができる。
また、制御装置が電極を通じて抵抗膜のY軸方向に電圧をかけると、X軸に平行な等電位が抵抗膜上に形成される。このため、制御装置が抵抗膜のY軸方向に電圧をかけた時の押下点の電位から、押下点のY座標を算出することができる。
押下点の電位は、電圧をかけられていない側の導電膜に接続された制御装置の電圧測定手段によって検出される。以下の説明では、電圧をかけられた側の導電膜を駆動膜、電圧をかけられていない側の導電膜を検出膜と呼ぶ。
Both touch panels have the same detection principle of the coordinates of the pressed point. A control device is connected to each electrode. When the control device applies a voltage in the X-axis direction of the resistance film through the electrode, an equipotential parallel to the Y-axis is formed on the resistance film. For this reason, the X coordinate of the pressing point can be calculated from the potential at the pressing point when the control device applies a voltage in the X-axis direction of the resistance film.
Further, when the control device applies a voltage in the Y-axis direction of the resistance film through the electrode, an equipotential parallel to the X-axis is formed on the resistance film. For this reason, the Y coordinate of the pressing point can be calculated from the potential of the pressing point when the control device applies a voltage in the Y-axis direction of the resistance film.
The potential at the pressing point is detected by the voltage measuring means of the control device connected to the conductive film on the side to which no voltage is applied. In the following description, the conductive film on the side to which voltage is applied is referred to as a driving film, and the conductive film on the side to which voltage is not applied is referred to as a detection film.
押下点が1点だけの場合は、電圧測定手段のインピーダンスのために、検出膜にはほぼ電流が流れない。このため、検出膜に接続された電圧測定手段が出力する電圧値は、押下点の電位とみなすことができる。 When the pressing point is only one point, almost no current flows through the detection film because of the impedance of the voltage measuring means. For this reason, the voltage value output by the voltage measuring means connected to the detection film can be regarded as the potential at the pressing point.
これに対して、押下点が2点以上ある場合、押下点の間で駆動膜と検出膜とによって並列回路が形成される。このため、回路中のタッチパネル部分における抵抗は低下する。そして、電圧測定手段が出力する電圧値は、押下点の電位とみなすことはできない。このため、従来はマルチタッチ時に検出される電位をノイズとしてキャンセルしていた。なお、特許文献1や2にも記載されている通り、各押下点のほぼ中点を押した時の電位が検出される場合が多い。
On the other hand, when there are two or more pressing points, a parallel circuit is formed by the driving film and the detection film between the pressing points. For this reason, the resistance in the touch panel part in a circuit falls. The voltage value output from the voltage measuring means cannot be regarded as the potential at the pressing point. For this reason, conventionally, the potential detected during multi-touch has been canceled as noise. In addition, as described in
図1に戻って、制御装置3は、MCU31、A/Dコンバータ35L、35R、35U、35D、スイッチ37L、37R、37U、37D、検出用抵抗39L、39R、39U、39Dを含む。A/Dコンバータ35L、35R、35U、35Dを区別する必要が無い場合は、A/Dコンバータ35と呼ぶ。スイッチ37L、37R、37U、37Dを区別する必要が無い場合は、スイッチ37と呼ぶ。検出用抵抗39L、39R、39U、39Dを区別する必要が無い場合は検出用抵抗39と呼ぶ。
Returning to FIG. 1, the
MCU31は内部にメモリ33を含む。メモリ33は、RAM、ROM、及びフラッシュメモリ等の半導体メモリであり、プログラム格納領域、データ格納領域、作業領域、及び一時格納領域等として利用される。
なお、制御装置3の仕様に応じて、記録媒体として、メモリ33の他、光ディスク、半導体メモリを搭載したメモリカード・メモリカートリッジ・USBメモリ、及び、光磁気ディスク等を、MCU31に接続することもできる。そして、これらにプログラムやデータなどを格納することもできる。
The
In addition to the
A/Dコンバータ37は、タッチパネル1の各電極における電圧値をデジタル値に変換し、MCU31に伝える。A/Dコンバータ37Lには電極XLにおける電圧値を取得する。A/Dコンバータ37Rは電極XRにおける電圧値を取得する。A/Dコンバータ37Uは電極YUにおける電圧値を取得する。A/Dコンバータ37Dは電極YDにおける電圧値を取得する。
The A / D converter 37 converts the voltage value at each electrode of the
スイッチ37は、電圧をかけるラインを切り替えるためのスイッチである。スイッチの種類は何でもよい。この実施の形態では、スイッチ37は「H」レベルでオン、「L」レベルでオフになるアナログスイッチである。スイッチ37Lは、MCU31の第1出力ポートに接続されている。スイッチ37Rは、MCU31の第2出力ポートに接続されている。スイッチ37Uは、MCU31の第3出力ポートに接続されている。スイッチ37Dは、MCU31の第4出力ポートに接続されている。MCU31は各出力ポートの「H」と「L」とを切り替えることでスイッチ37のオン/オフを切り替える。
The switch 37 is a switch for switching a line to which a voltage is applied. Any type of switch can be used. In this embodiment, the switch 37 is an analog switch that is turned on at the “H” level and turned off at the “L” level. The
各電極と電源電圧又は接地電圧の間には、検出用抵抗39が設けられる。この検出用抵抗39を回路に組み込むことによって、抵抗膜上の抵抗値の変化、即ち、電極XL−XR間(又は電極YU−YD間)の抵抗値の変化が、A/Dコンバータ35が出力する電圧値の変化として現れる。
特許文献1のように、2つの電極間の抵抗値の変化を電流値の変化によって検出する場合は、検出用抵抗39は不要である。ただし、別途なんらかの電流測定手段が必要になる。
A detection resistor 39 is provided between each electrode and the power supply voltage or ground voltage. By incorporating this detection resistor 39 into the circuit, the A / D converter 35 outputs a change in the resistance value on the resistance film, that is, a change in the resistance value between the electrodes XL and XR (or between the electrodes YU and YD). Appears as a change in voltage value.
When the change in resistance value between two electrodes is detected by the change in current value as in
MCU31は、各スイッチ37を切り替え、各A/Dコンバータ35から電圧値の変化を取得する。そして、MCU31は、当該電圧値の変化に基づいて、ユーザの操作に応じた情報を出力する。
次に、シングルタッチとマルチタッチについて説明する。
The
Next, single touch and multi-touch will be described.
(シングルタッチ)
図3(a)は、タッチパネル1上の点PS1が押された状態を示す模式図である。
図3(b)は、図3(a)の状態を等価回路で示したものである。ただし、配線抵抗、接触抵抗、検出用抵抗39は説明を簡単にするために省略している。
抵抗膜11及び13は均質な抵抗値を持つ膜である。このため、抵抗膜11は、電極XLから点PS1までの抵抗RS1と、点PS1から電極XRまでの抵抗RS2とを直列につないだものとして説明することができる。
(Single touch)
FIG. 3A is a schematic diagram showing a state where a point PS1 on the
FIG. 3B shows the state of FIG. 3A with an equivalent circuit. However, the wiring resistance, contact resistance, and detection resistance 39 are omitted for the sake of simplicity.
The
電極XLと電極XRとの間に電圧がかかると、抵抗膜11上に電極XL及び電極XRに平行な等電位が形成される。このため、点PS1のX座標は、電極XLの電位、電極XRの電位及び点PS1の電位の比に基づいて計算できる。
同様に、電極YUと電極YDとの間に電圧がかかると、抵抗膜13上に電極YU及び電極YDに平行な等電位が形成される。このため、点PS1のY座標は、電極YUの電位、電極YDの電位及び点PS1の電位の比に基づいて計算できる。
When a voltage is applied between the electrode XL and the electrode XR, an equipotential parallel to the electrode XL and the electrode XR is formed on the
Similarly, when a voltage is applied between the electrode YU and the electrode YD, an equipotential parallel to the electrode YU and the electrode YD is formed on the
図3(a)では、ユーザがタッチパネル1上の1点を押している。そして、抵抗膜11上の点PS1と、抵抗膜13上の点PS1’とが接触している。
MCU31は、電極XLと電極XRとの間に電圧をかける。すると、抵抗膜11に電流が流れる。しかし、抵抗膜13の先にはA/Dコンバータ35U及び35Dが接続されているため、抵抗膜11から抵抗膜13へは電流がほぼ流れない。このため、点PS1の電位は、A/Dコンバータ35U及び35Dが出力する電圧値として現れる。MCU31はA/Dコンバータ35U及び35Dが出力する電圧値の平均に基づいて、点PS1の電位を取得する。そして、MCU31は、この時の点PS1の電位に基づき、点PS1のX座標を計算する。
次に、MCU21は、電極YUと電極YDとの間に電圧をかける。すると、抵抗膜13に電流が流れる。しかし、抵抗膜11の先にはA/Dコンバータ35L及び35Uが接続されているため、抵抗膜13から抵抗膜11へは電流は流れない。このため、点PS1の電位は、A/Dコンバータ35L及び35Rが出力する電圧値として現れる。MCU31はA/Dコンバータ35L及び35Rが出力する電圧値の平均に基づいて、点PS1の電位を取得する。そして、MCU31は、この時の点PS1の電位に基づき、点PS1のY座標を計算する。
In FIG. 3A, the user presses one point on the
The
Next, the MCU 21 applies a voltage between the electrode YU and the electrode YD. Then, a current flows through the
(マルチタッチ時1)
図4(a)は、図1のタッチパネル1上で、点PM1と点PM2とが押された例を示す模式図である。
図4(b)は、図4(a)の状態で抵抗膜11が駆動膜となっている時の状態を、等価回路で示したものである。
(Multi-touch 1)
FIG. 4A is a schematic diagram illustrating an example in which the point PM1 and the point PM2 are pressed on the
FIG. 4B shows an equivalent circuit when the
図4(a)を参照して、図4(a)の点PM1及び点PM2は、X軸に平行に並んでいる。抵抗膜11は、電極XLから点PM1までの抵抗RM1と、点PM1から点PM2までの抵抗RM2と、点PM2から電極XRまでの抵抗RM3とを直列につないだものとして説明することができる。
Referring to FIG. 4A, the points PM1 and PM2 in FIG. 4A are aligned in parallel to the X axis. The
抵抗膜11上の点PM1と、抵抗膜13上の点PM1’とが接触している。また、抵抗膜11上の点PM2と、抵抗膜13上の点PM2’とが接触している。
MCU31は、検出用抵抗39L、39R、電極XL及び電極XRを通るラインに電圧をかける。つまり、MCU31は、抵抗膜11を駆動膜にする。すると、抵抗膜11上に電流が流れる。そして、抵抗膜13上も、点PM1’と点PM2’との間で電流が流れる。つまり、図4(b)に示すように、並列回路が形成される。このため、電極XLと電極XRとの間の全体抵抗RTxは、マルチタッチがなされていない場合よりも低下する。
その結果、検出用抵抗39Lと電極XLとの間での電位は低下し、検出用抵抗39Rと電極XRとの間の電位は上昇する。この電位の変化は、A/Dコンバータ35L及び35Rによって計測できる。
つまり、MCU31は、抵抗膜11が駆動膜である時のA/Dコンバータ35L及び35Rが計測する電位に変化があった場合、マルチタッチがなされたと判断することができる。
The point PM1 on the
The
As a result, the potential between the
That is, the
次に、MCU31は、検出用抵抗39U、39D、電極YU及び電極YDを通るラインに電圧をかける。つまり、MCU31は、抵抗膜13を駆動膜にする。すると、抵抗膜13上に電流が流れる。しかし、抵抗膜13上の点PM1’と点PM2’とは等電位にあるため、抵抗膜11側には電流は流れない。つまり、図4(b)に示すような、並列回路は形成されない。このため、電極YUと電極YDとの間の全体抵抗RTyは変化しない。
つまり、MCU31は、抵抗膜11が駆動膜である時のA/Dコンバータ35L及び35Rが計測する電位に変化があった場合で、さらに抵抗膜13が駆動膜である時のA/Dコンバータ35U及び35Dが計測する電位に変化がなかった場合、マルチタッチされた2点は、X軸に平行に並んでいると判断することができる。
Next, the
That is, the
点PM1’と点PM2’との間の抵抗を抵抗RM4とする。抵抗膜11及び13は、均一な抵抗膜であるため、抵抗RM1〜RM4の抵抗値はそれぞれの長さに比例する。このため、点PM1と点PM2の間隔が大きいほど、並列接続される抵抗RM4が大きくなる。そして、全体抵抗RTxは低下する。そして、全体抵抗RTxが低下するほど、検出用抵抗39Lと電極XLとの間の電位は低下し、検出用抵抗39Rと電極XRとの間の電位は上昇する。
このように、抵抗膜11が駆動膜である時のA/Dコンバータ35L及び35Rが計測する電位の変化量は、点PM1と点PM2とのX軸方向の間隔と相関がある。
A resistance between the point PM1 ′ and the point PM2 ′ is a resistance RM4. Since the
As described above, the amount of change in potential measured by the A /
なお、図示は省略するが点PM1と点PM2とがY軸に平行な2点であった場合は、上記の例をX軸とY軸を逆にして同様の現象が起こる。
つまり、MCU31は、抵抗膜13が駆動膜である時のA/Dコンバータ35U及び35Dが計測する電位に変化があった場合、マルチタッチがなされたと判断することができる。
また、MCU31は、抵抗膜13が駆動膜である時のA/Dコンバータ35U及び35Dが計測する電位に変化があった場合で、さらに抵抗膜11が駆動膜である時のA/Dコンバータ35L及び35Rが計測する電位に変化がなかった場合、マルチタッチされた2点は、Y軸に平行に並んでいると判断することができる。
さらに、抵抗膜13が駆動膜である時のA/Dコンバータ35U及び35Dが計測する電位の変化量は、点PM1と点PM2とのY軸方向の間隔と相関がある。
Although illustration is omitted, when the point PM1 and the point PM2 are two points parallel to the Y axis, the same phenomenon occurs when the X axis and the Y axis are reversed.
That is, the
The
Further, the amount of change in potential measured by the A /
(マルチタッチ時2)
図5(a)は、タッチパネル1上で、点PM1と点PM2とが押された例を示す模式図である。
図5(b)は、図5(a)の状態で抵抗膜11が駆動膜となっている時の状態を、等価回路で示したものである。
(Multi-touch 2)
FIG. 5A is a schematic diagram illustrating an example in which a point PM1 and a point PM2 are pressed on the
FIG. 5B shows an equivalent circuit when the
図5(a)を参照して、図5(a)の点PM1及び点PM2は、X軸又はY軸に対して平行ではない。抵抗膜11は、電極XLから点PM1までの抵抗RM1と、電極XLから点PM2までの抵抗RM2と、点PM1から電極XRまでの抵抗RM3と、点PM2から電極XRまでの抵抗RM4と、に分けて説明することができる。
Referring to FIG. 5A, the point PM1 and the point PM2 in FIG. 5A are not parallel to the X axis or the Y axis. The
抵抗膜11上の点PM1と、抵抗膜13上の点PM1’とが接触している。また、抵抗膜11上の点PM2と、抵抗膜13上の点PM2’とが接触している。
MCU31は、検出用抵抗39L、39R、電極XL及び電極XRを通るラインに電圧をかける。つまり、MCU31は、抵抗膜11を駆動膜にする。すると、抵抗膜11上に電流が流れる。そして、抵抗膜13上も、点PM1’と点PM2’との間で電流が流れる。つまり、図5(b)に示すように、並列回路が形成される。このため、電極XLと電極XRとの間の全体抵抗RTxは、マルチタッチがなされていない場合よりも低下する。
その結果、検出用抵抗39Lと電極XLとの間での電位は低下し、検出用抵抗39Rと電極XRとの間の電位は上昇する。この電位の変化は、A/Dコンバータ35L及び35Rによって計測できる。
つまり、MCU31は、抵抗膜11が駆動膜である時のA/Dコンバータ35L及び35Rが計測する電位に変化があった場合、マルチタッチがなされたと判断することができる。
The point PM1 on the
The
As a result, the potential between the
That is, the
次に、MCU31は、検出用抵抗39U、39D、電極YU及び電極YDを通るラインに電圧をかける。つまり、MCU31は、抵抗膜13を駆動膜にする。すると、抵抗膜13上に電流が流れる。そして、抵抗膜13上も、点PM1’と点PM2’との間で電流が流れる。つまり、並列回路が形成される。このため、電極YUと電極YDとの間の全体抵抗RTyは、マルチタッチがなされていない場合よりも低下する。
その結果、検出用抵抗39Uと電極YUとの間での電位は低下し、検出用抵抗39Dと電極YDとの間の電位は上昇する。この電位の変化は、A/Dコンバータ35U及び35Dによって計測できる。
つまり、MCU31は、抵抗膜13が駆動膜である時のA/Dコンバータ35U及び35Dが計測する電位に変化があった場合、マルチタッチがなされたと判断することができる。
Next, the
As a result, the potential between the
That is, the
点PM1’と点PM2’の間の抵抗を抵抗RM5とする。抵抗膜11及び13は、均一な抵抗膜であるため、抵抗RM1〜RM5の抵抗値はそれぞれの長さに比例する。このため、点PM1と点PM2の間隔が大きいほど、並列接続される抵抗RM5が大きくなる。そして、全体抵抗RTxは低下する。そして、全体抵抗RTxが低下するほど、検出用抵抗39Lと電極XLとの間の電位は低下し、検出用抵抗39Rと電極XRとの間の電位は上昇する。
このように、抵抗膜11が駆動膜である時のA/Dコンバータ35L及び35Rが計測する電位の変化量は、点PM1と点PM2とのX軸方向の間隔と相関がある。
抵抗膜13が駆動膜である時、同様の現象が生じるため、抵抗膜13が駆動膜である時のA/Dコンバータ35U及び35Dが計測する電位の変化量は、点PM1と点PM2とのY軸方向の間隔と相関がある。
A resistance between the points PM1 ′ and PM2 ′ is a resistance RM5. Since the
As described above, the amount of change in potential measured by the A /
Since the same phenomenon occurs when the
以上の特性を利用して、MCU31は、シングルタッチ時には押下点の座標を検出し、マルチタッチ時には、ピンチイン・ピンチアウトと呼ばれる特別な操作の有無を検出する。
図6は、ピンチイン・ピンチアウトを説明する図である。
図6を参照して、ピンチインとは、2本の指で物をつまむ要領で、タッチパネル上で指を狭める操作をいう。また、ピンチアウトとは、ピンチインの反対に、タッチパネル上で指を広げる操作をいう。
Using the above characteristics, the
FIG. 6 is a diagram for explaining pinch-in / pinch-out.
With reference to FIG. 6, pinch-in is an operation of pinching an object with two fingers, and means an operation of narrowing the finger on the touch panel. Pinch-out refers to an operation of spreading a finger on the touch panel, as opposed to pinch-in.
MCU31が検出するピンチイン又はピンチアウトに応じてどのような処理を行うかは、タッチパネル1及び制御装置3が接続されるコンピュータ次第で、どのような処理を実行してもよい。例えば、ピンチインに応じて図を縮小させ、ピンチアウトに応じて図を拡大する、というような処理が行われる。
Depending on the computer to which the
次に、フローチャートを用いて図1のMCU31の処理について説明する。
図7は、MCU31が実行する処理の全体的な流れを説明するフローチャートである。
図7を参照して、MCU31は、電源がオンになると、ステップS1にて、各種パラメータを初期化する。ステップS3で、MCU31は、基準値取得処理を実行する。
Next, processing of the
FIG. 7 is a flowchart for explaining the overall flow of processing executed by the
Referring to FIG. 7, when power is turned on,
図8は、図7の基準値取得処理を説明するフローチャートである。
この基準値取得処理は、タッチパネル1が押されていない状態における各電極XL、XR、YU、YDの電位を取得する処理である。
FIG. 8 is a flowchart illustrating the reference value acquisition process of FIG.
This reference value acquisition process is a process of acquiring the potentials of the electrodes XL, XR, YU, and YD when the
図7を参照して、ステップS31で、MCU31は、第1出力ポートを“H”に、第2出力ポートを“H”に、第3出力ポートを“L”に、第4出力ポートを“L”に設定する。
この時、図1のスイッチ37L及び37Rがオンになり、スイッチ37U及び37Dがオフになる。すなわち、抵抗膜11が駆動膜になり、抵抗膜13が検出膜になる。
ステップS33で、MCU31は、A/Dコンバータ35Lの出力する値をチェックし、基準値Vloに格納する。また、MCU31は、A/Dコンバータ35Rの出力する値をチェックし、基準値Vroに格納する。
Referring to FIG. 7, in step S31, the
At this time, the
In step S33, the
ステップS35で、MCU31は、第1出力ポートを“L”に、第2出力ポートを“L”に、第3出力ポートを“H”に、第4出力ポートを“H”に設定する。
この時、図1のスイッチ37L及び37Rがオフになり、スイッチ37U及び37Dがオンになる。すなわち、抵抗膜11が検出膜になり、抵抗膜13が駆動膜になる。
ステップS37で、MCU31は、A/Dコンバータ35Uの出力する値をチェックし、基準値Vuoに格納する。また、MCU31は、A/Dコンバータ35Dの出力する値をチェックし、基準値Vdoに格納する。
In step S35, the
At this time, the
In step S37, the
ステップS39で、MCU31は、第1出力ポートを“H”に、第2出力ポートを“L”に、第3出力ポートを“H”に、第4出力ポートを“L”に設定する。
この時、図1のスイッチ37L及び37Dがオンになり、スイッチ37U及び37Rがオフになる。このため、ユーザがタッチパネル1を押し、抵抗膜11と抵抗膜13とが接触しない限り、回路に電流は流れない。
ステップS41で、MCU31は、A/Dコンバータ35Lの出力する値をチェックし、基準値Vlsoに格納する。また、MCU31は、A/Dコンバータ35Dの出力する値をチェックし、基準値Vdsoに格納する。
In step S39, the
At this time, the
In step S41, the
ステップS43で、MCU31は、第1出力ポートを“L”に、第2出力ポートを“H”に、第3出力ポートを“L”に、第4出力ポートを“H”に設定する。
この時、図1のスイッチ37L及び37Dがオフになり、スイッチ37U及び37Rがオンになる。このため、ユーザがタッチパネル1を押し、抵抗膜11と抵抗膜13とが接触しない限り、回路に電流は流れない。
ステップS45で、MCU31は、A/Dコンバータ35Uの出力する値をチェックし、基準値Vusoとして記録する。また、MCU31は、A/Dコンバータ35Rの出力する値をチェックし、基準値Vrsoとして記録する。そして、MCU31は、図7のフローにリターンする。
In step S43, the
At this time, the
In step S45, the
なお、予めタッチパネル1及び制御装置3の特性を考慮した基準値を定めておき、メモリ33にテーブルとして保存しておいてもよい。その場合、この基準値取得処理は不要である。
A reference value that takes into account the characteristics of the
図7に戻って、MCU23は、ステップS5のタッチ検出処理を行う。
図9は、図7のステップS5のタッチ検出処理を説明するフローチャートである。
Returning to FIG. 7, the MCU 23 performs the touch detection process in step S <b> 5.
FIG. 9 is a flowchart illustrating the touch detection process in step S5 of FIG.
図9を参照して、ステップS51で、MCU31は、第1出力ポートを“H”に、第2出力ポートを“L”に、第3出力ポートを“H”に、第4出力ポートを“L”に設定する。
この時、図1のスイッチ37L及び37Dがオンになり、スイッチ37U及び37Rがオフになる。このため、ユーザがタッチパネル1を押し、抵抗膜11と抵抗膜13とが接触しない限り、回路に電流は流れない。
ステップS53で、MCU31は、A/Dコンバータ35Lの出力する値をチェックし、計測値Vlsに格納する。また、MCU31は、A/Dコンバータ35Dの出力する値をチェックし、計測値Vdsに格納する。
Referring to FIG. 9, in step S51, the
At this time, the
In step S53, the
MCU31は、ステップS55で、計測値Vls及びVdsに変化があったか否かをチェックする。すなわち、タッチパネル1がタッチされ、抵抗膜11と抵抗膜13とが接触すると、電流が流れ、計測値Vls及びVdsに変化が現れる。変化がなかった場合、MCU31は、ステップS57で、タッチ無と判定してリターンする。変化があった場合、MCU31は、ステップS59で、タッチ有と判定する。
In step S55, the
ステップS59に進んだ場合、MCU31は、ステップS61で、第1出力ポートをL”に、第2出力ポートを“H”に、第3出力ポートを“L”に、第4出力ポートを“H”に設定する。
この時、図1のスイッチ37L及び37Dがオフになり、スイッチ37U及び37Rがオンになる。
When the process proceeds to step S59, the
At this time, the
ステップS63で、MCU31は、A/Dコンバータ35Uの出力する値をチェックし、計測値Vluに格納する。また、MCU31は、A/Dコンバータ35Rの出力する値をチェックし、計測値Vdrに格納する。
In step S63, the
ステップS65で、MCU31は、測定値Vlsと基準値Vlsoとを、測定値Vrsと基準値Vrsoを、測定値Vusと基準値Vusoを、測定値Vdsと基準値Vdsoとを比較し、その変化量をそれぞれメモリ33に格納する。
接触抵抗等のタッチパネルの特性によって、押した時の強さに応じて、測定値Vls、Vrs、Vus、Vdsの値が異なる。予めタッチパネルの特性を調べておき、タッチ検出処理時の測定値Vls、Vrs、Vus、Vdsとタッチの強さとを関連付けたテーブルを用意しておくことで、タッチの強さを判定することができる。
なお、ステップS61からS65までの処理は、タッチの強さを知る必要が無い場合は不要である。
In step S65, the
Depending on the touch panel characteristics such as contact resistance, the measured values Vls, Vrs, Vus, and Vds vary depending on the strength when pressed. By examining the characteristics of the touch panel in advance and preparing a table in which the measurement values Vls, Vrs, Vus, and Vds at the time of the touch detection process are associated with the strength of the touch, the strength of the touch can be determined. .
Note that the processing from step S61 to S65 is unnecessary when it is not necessary to know the strength of the touch.
ステップS63の処理を終えると、MCU31は、図7のフローにリターンする。
図7のステップS7で、MCU31は、タッチが有った場合はステップS9に進み、タッチが無かった場合はステップS5の処理を繰り返す。
なお、ステップS5及びS7のタッチ検出処理は、タッチが有る時だけ後述のマルチタッチ処理及びシングルタッチ処理を実行し、電力消費を抑えることを主な目的とする処理である。このため、ステップS5及びステップS7の処理を省くことも可能である。
When the process of step S63 is completed, the
In step S7 of FIG. 7, the
Note that the touch detection process in steps S5 and S7 is a process whose main purpose is to execute a multi-touch process and a single touch process, which will be described later, only when there is a touch, thereby suppressing power consumption. For this reason, it is also possible to omit the process of step S5 and step S7.
次に、ステップS9で、MCU31は、マルチ/シングル判定処理を実行する。
図10は、図7のステップS9のマルチ/シングル判定処理を説明するフローチャートである。
Next, in step S9, the
FIG. 10 is a flowchart illustrating the multi / single determination process in step S9 of FIG.
図10を参照して、ステップS71で、MCU31は、第1出力ポートを“H”に、第2出力ポートを“H”に、第3出力ポートを“L”に、第4出力ポートを“L”に設定する。
この時、図1のスイッチ37L及び37Rがオンになり、スイッチ37U及び37Dがオフになる。すなわち、抵抗膜11が駆動膜になり、抵抗膜13が検出膜になる。
ステップS73で、MCU31は、抵抗膜11が駆動膜の時の各A/Dコンバータ35の測定値Vlx、Vrx、Vux、Vdxを取得する。すなわち、MCU31は、A/Dコンバータ35Lの出力する値をチェックし、測定値Vlxに格納する。また、MCU31は、A/Dコンバータ35Rの出力する値をチェックし、測定値Vrxに格納する。また、MCU31は、A/Dコンバータ35Uの出力する値をチェックし、測定値Vuxに格納する。また、MCU31は、A/Dコンバータ35Dの出力する値をチェックし、測定値Vdxに格納する。
Referring to FIG. 10, in step S71, the
At this time, the
In step S73, the
ステップS75で、MCU31は、測定値Vlxと基準値Vloとの差の絶対値を変化量Vlvに格納し、測定値Vrxと基準値Vroとの差の絶対値を変化量Vrvに格納する。マルチタッチの2点のX軸方向の広がりが大きいほど、変化量Vlv及びVrvの値は大きくなる。また、シングルタッチの場合と、マルチタッチだが2点がY軸に平行に並びX軸方向には広がっていない場合は、変化量Vlv及びVrvは0になる。
In step S75, the
ステップS77で、MCU31は、第1出力ポートを“L”に、第2出力ポートを“L”に、第3出力ポートを“H”に、第4出力ポートを“H”に設定する。
この時、図1のスイッチ37L及び37Rがオフになり、スイッチ37U及び37Dがオンになる。すなわち、抵抗膜13が駆動膜になり、抵抗膜11が検出膜になる。
ステップS79で、MCU31は、抵抗膜13が駆動膜の時の各A/Dコンバータ35の測定値Vly、Vry、Vuy、Vdyを取得する。すなわち、MCU31は、A/Dコンバータ35Lの出力する値をチェックし、測定値Vlyに格納する。また、MCU31は、A/Dコンバータ35Rの出力する値をチェックし、測定値Vryに格納する。また、MCU31は、A/Dコンバータ35Uの出力する値をチェックし、測定値Vuyに格納する。また、MCU31は、A/Dコンバータ35Dの出力する値をチェックし、測定値Vdyに格納する。
In step S77, the
At this time, the
In step S79, the
ステップS81で、MCU31は、測定値Vuyと基準値Vuoとの差の絶対値を変化量Vuvに格納し、測定値Vdyと基準値Vdoとの差の絶対値を変化量Vdvに格納する。マルチタッチの2点のY軸方向の広がりが大きいほど、変化量Vuv及びVdvの値は大きくなる。また、シングルタッチの場合と、マルチタッチだが2点がX軸に平行に並びY軸方向には広がっていない場合は、変化量Vuv及びVdvは0になる。
In step S81, the
ステップS83で、MCU31は、変化量Vlv及びVrvが0より大きいか否かを判定し、大きければステップS85に進んでマルチタッチと判定してリターンし、小さければステップS87に進む。
ステップS87で、MCU31は、変化量Vuv及びVdvが0より大きいか否かを判定し、大きければステップS85に進んでマルチタッチと判定してリターンし、小さければステップS89に進んでシングルタッチと判定してリターンする。
In step S83, the
In step S87, the
図7に戻って、ステップS11でMCU31は、マルチタッチの場合はステップS13のマルチタッチ用処理へ進み、シングルタッチの場合はステップS15のシングルタッチ用処理に進む。
ステップS13又はステップS15の処理を終えると、MCU31は、再びステップS5に戻り、処理を繰り返す。
Returning to FIG. 7, in step S11, the
When the process of step S13 or step S15 is completed, the
(ピンチイン/ピンチアウトの検出)
図11は図7のステップS13のマルチタッチ用処理の一つとして実行される、ピンチイン/ピンチアウト検出処理を説明するフローチャートである。
(Pinch-in / pinch-out detection)
FIG. 11 is a flowchart for explaining the pinch-in / pinch-out detection process executed as one of the multi-touch processes in step S13 of FIG.
図11を参照して、MCU31はステップS91で、タイマーがオンになっているか否かをチェックする。オンの場合、MCU31はステップS95に進み、オフの場合はステップS93に進む。初期設定ではオフのため、最初MCU31はステップS93に進む。
ステップS93でMCU31は、図10で取得した変化量Vlv、Vrv、Vuv、Vdvの和を和L1としてメモリ33に格納し、図7のフローにリターンする。
Referring to FIG. 11, in step S91, the
In step S93, the
2回目以降、ステップS93でタイマーがオンの場合、MCU31はステップS95で所定時間が経過したか否かをチェックする。所定時間が経過した場合はステップS97に進み、そうでなければ、図7のフローにリターンする。
ステップS97で、MCU31は、図10で取得した変化量Vlv、Vrv、Vuv、Vdvの和を和L2としてメモリ33に格納する。
From the second time on, if the timer is on in step S93, the
In step S97, the
変化量Vlv及びVrvはマルチタッチの2点のX軸方向の広がりと相関がある。また、変化量Vuv及びVsvはマルチタッチの2点のY軸方向の広がりと相関がある。このため、和L1及び和L2は、マルチタッチの2点の間隔と相関関係がある。そして、和L2は和L1の一定時間後に計算される。
このため、ピンチアウトが行われ、マルチタッチの2点の間隔が狭い状態から広い状態になると、和L2は和L1よりも大きくなる。また、ピンチアウトが行われ、マルチタッチの2点の間隔が広い状態から狭い状態になると、和L2は和L1よりも小さくなる。
The change amounts Vlv and Vrv have a correlation with the spread in the X-axis direction of two points of multi-touch. Further, the change amounts Vuv and Vsv are correlated with the spread in the Y-axis direction of two points of multi-touch. For this reason, the sum L1 and the sum L2 are correlated with the interval between two points of multi-touch. The sum L2 is calculated after a certain time of the sum L1.
For this reason, when the pinch out is performed and the interval between the two points of the multi-touch is changed from the narrow state to the wide state, the sum L2 becomes larger than the sum L1. Further, when pinch-out is performed and the interval between two points of multi-touch is changed from a wide state to a narrow state, the sum L2 becomes smaller than the sum L1.
ステップS99で、和L2と和L1を比較する。和L2の方が大きい場合は、ステップS101に進み、ピンチアウトと判定して、図7のフローにリターンする。和L2の方が小さい場合は、ステップS103に進み、ピンチインと判定して、図7のフローにリターンする。 In step S99, the sum L2 is compared with the sum L1. If the sum L2 is larger, the process proceeds to step S101, where it is determined that the pinch is out, and the process returns to the flow of FIG. If the sum L2 is smaller, the process proceeds to step S103, where the pinch-in is determined, and the process returns to the flow of FIG.
(1点座標検出処理)
図12は、図7のステップS15のシングルタッチ用処理として行われる1点座標検出処理を説明するフローチャートである。この1点座標検出処理は、アナログ抵抗膜方式のタッチパネルの座標検出処理として一般的に行われている処理である。
(One point coordinate detection process)
FIG. 12 is a flowchart for explaining the one-point coordinate detection process performed as the single touch process in step S15 of FIG. This one-point coordinate detection process is a process generally performed as a coordinate detection process of an analog resistive film type touch panel.
図12を参照して、MCU31は、ステップS111で、抵抗膜13が検出膜となっている時のA/Dコンバータ35U及び35Dの計測値である計測値VuxとVdxとの平均値を取得する。そして、ステップS113で、MCU31はステップS111で取得した平均値と、計測値Vlx、Vrxとの比から、押下点のX座標を計算する。
なお、上記の平均値の代わりに計測値VuxとVdxのいずれか一方だけを使用してもよい。
Referring to FIG. 12, in step S111,
Note that only one of the measured values Vux and Vdx may be used instead of the average value.
ステップS115で、抵抗膜11が検出膜となっている時のA/Dコンバータ35L及び35Rの計測値である計測値VlyとVryとの平均値を取得する。そして、ステップS117で、MCU31はステップS115で取得した平均値と、計測値Vuy、Vdyとの比から、押下点のY座標を計算する。
なお、上記の平均値の代わりに計測値VlyとVryのいずれか一方だけを使用してもよい。
In step S115, an average value of the measurement values Vly and Vry, which are measurement values of the A /
Note that only one of the measured values Vly and Vry may be used instead of the average value.
図12の処理は、1回でX座標及びY座標を特定してもよいし、複数回同じ処理を繰り返し、平均値を取得してからX座標及びY座標を特定してもよい。 The process of FIG. 12 may specify the X coordinate and the Y coordinate at one time, or may repeat the same process a plurality of times to acquire the average value and then specify the X coordinate and the Y coordinate.
さて、以上のように、本実施の形態によれば、マルチタッチの2点の間隔と相関関係のある値である和L1及び和L2を取得することができる。和L1及び和L2はマルチタッチの2点の間隔に応じて変化する。このため、座標の取得とは違う観点から、マルチタッチをユーザの操作の一つとして利用することができる。
また、殆どのアナログ抵抗膜方式のタッチパネルは、マルチタッチ時に電極間の抵抗値が低下する特性を有しているため、この制御装置3は、多くの既存のアナログ抵抗膜方式のタッチパネルに接続して利用することができる。
また、本実施の形態によれば、ある時点からある時点の間に、マルチタッチの2点の間隔が広くなったか狭くなったかを検出することができる。これによって、ピンチイン/ピンチアウトと呼ばれる操作を検出することができる。
また、本実施の形態によれば、抵抗膜11の抵抗値及び抵抗膜13の抵抗値の変化を、A/Dコンバータが出力する電圧値の変化として検出することができる。
As described above, according to the present embodiment, it is possible to obtain the sum L1 and the sum L2, which are values correlated with the interval between two points of multi-touch. The sum L1 and the sum L2 change according to the interval between two points of multi-touch. For this reason, multi-touch can be used as one of the user operations from a viewpoint different from the acquisition of coordinates.
In addition, since most analog resistance film type touch panels have a characteristic that the resistance value between electrodes decreases at the time of multi-touch, the
Further, according to the present embodiment, it is possible to detect whether the interval between two points of multi-touch is widened or narrowed between a certain point in time and a certain point in time. Thereby, an operation called pinch-in / pinch-out can be detected.
Further, according to the present embodiment, changes in the resistance value of the
なお、本発明は、上記の実施の形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の態様において実施することが可能であり、例えば、以下のような変形も可能である。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be implemented in various modes without departing from the gist thereof. For example, the following modifications are possible.
(1)上記では、抵抗膜11及び抵抗膜13の抵抗値の低下を検出するために、検出用抵抗39を電極XL、XR、YU、YDのそれぞれに接続していた。そして、変化量Vlv、Vrv、Vuv、Vdvを計算していた。
しかしながら、検出用抵抗39は、電極XL又はXRのいずれか一方と、電極YU又はYDのいずれか一方とにだけ接続してもよい。そして、検出用抵抗39が接続された側の電位の変化量だけを計算してもよい。
(1) In the above description, the detection resistor 39 is connected to each of the electrodes XL, XR, YU, and YD in order to detect a decrease in the resistance values of the
However, the detection resistor 39 may be connected only to either the electrode XL or XR and either the electrode YU or YD. Then, only the amount of change in potential on the side to which the detection resistor 39 is connected may be calculated.
(2)検出用抵抗39は、抵抗膜11及び抵抗膜13の抵抗値の低下を電圧値の変化として検出し、マルチ/シングル判定処理及びマルチタッチ時用処理に必要となるものである。このため、図7のステップS15のシングルタッチ用処理の際には不要なものであるため、別途スイッチ及びMCU31の制御ポートを追加し、MCU31がシングルタッチと判断した場合は検出用抵抗39をバイパスできるような回路構成にしてもよい。
(2) The detection resistor 39 detects a decrease in the resistance value of the
(3)上記の例では、マルチタッチ時の2点の間隔を厳密に算出することはしなかった。しかし、予め計測やシミュレーションによってタッチパネル1の特性を調査し、変化量Vlv、Vrv、Vuv、Vdvに応じて、マルチタッチ時の2点の間隔、2点のX軸方向の間隔、2点のY軸方向の間隔を取得できるテーブルや近似式をメモリ33に用意しておくこともできる。
(3) In the above example, the interval between two points at the time of multi-touch was not calculated strictly. However, the characteristics of the
(4)変形例(3)において、以下の処理を追加することで、マルチタッチ時の2点PM1及びPM2の座標を推定することもできる。 (4) In the modified example (3), the coordinates of the two points PM1 and PM2 at the time of multi-touch can be estimated by adding the following processing.
(2点座標推定処理)
図13は、図7のステップS13のマルチタッチ用処理の一つとして実行される、2点座標推定処理を説明するフローチャートである。
図13を参照して、ステップS131で、MCU31は中点座標推定処理を実行する。この処理は図12の1点座標検出処理と同様の処理であるため、図示は省略する。ステップS131の処理は、マルチタッチ時に1点座標検出処理を行うと、ほぼ中点を押した場合の電位が検出膜側に検出されるという特性に基づいた処理である。
(Two-point coordinate estimation process)
FIG. 13 is a flowchart illustrating the two-point coordinate estimation process executed as one of the multi-touch processes in step S13 of FIG.
Referring to FIG. 13, in step S131,
ステップS133で、MCU31は、変形例(3)で説明したようなテーブル又は近似式を用いて、変化量Vlv、Vrv、Vuv、Vdvに基づきマルチタッチ時の2点の間隔を特定する。この段階で、上記中心座標を中心として、2点の間隔の1/2の長さの半径を持つ円の円周上のどこかに点PM1と点PM2があることが分かる。
In step S133, the
ステップS135で、MCU31は、上記のテーブル又は近似式を用いて、変化量Vlv、Vrv、Vuv、Vdvに基づき2点のX軸方向の間隔、2点のY軸方向の間隔を特定する。X軸方向の間隔と、Y軸方向の間隔が分かれば、それらの値から、2点の傾きを計算することができる。但し、MCU31は、この段階では傾きが正か負かを特定できない。このため、MCU31は、中心座標、半径、傾きを用いて、点PM1と点PM2の座標を2組4点まで絞り込むことができる。
そして、この後2点の座標を特定するには、X座標がX1の点のY座標はY1かY2かを特定する処理が必要となる。
In step S <b> 135, the
Then, in order to specify the coordinates of the two points thereafter, it is necessary to specify whether the Y coordinate of the point whose X coordinate is X1 is Y1 or Y2.
ステップS137で、MCU31は、検出膜側の電極における電位の大小を判定する。具体的には、ステップS73で取得した、計測値Vuxと計測値Vdxとを比較する。
In step S137, the
抵抗膜11が駆動膜、抵抗膜13が検出膜になっている場合、電源電圧に近い方の押下点、この実施の形態ではX座標がX1の点PM1が電極YDに近い場合、(図5のような状態の場合)、A/Dコンバータ35Dの方が、A/Dコンバータ35Uよりも、高い電圧を示す。
逆に点PM1が電極YUに近い場合、A/Dコンバータ35Uの方が、電極YDに接続されたA/Dコンバータ35Dよりも、高い電圧を示す。
When the
Conversely, when the point PM1 is closer to the electrode YU, the A /
このような特性を踏まえ、MCU31は、計測値Vuxが計測値Vuyより大きい場合、X座標がX1の点PM1のY座標はY2であると判断する。また、MCU31は、計測値Vuxが計測値Vuyより小さい場合、点PM1のY座標はY1であると判断する。
ステップS137の処理が完了すると、MCU31はリターンする。
Based on such characteristics, the
When the process of step S137 is completed, the
本発明は、アナログ抵抗膜方式のタッチパネルの分野に利用可能である。 The present invention can be used in the field of analog resistive film type touch panels.
1…タッチパネル、11…抵抗膜、13…抵抗膜、3…制御装置、31…MCU、33…メモリ、35…A/Dコンバータ、37…スイッチ、39…検出用抵抗
DESCRIPTION OF
Claims (3)
抵抗膜上のX軸方向に対抗しているX軸電極間に電圧を印加するX軸印加手段と、
抵抗膜上の前記X軸に対して垂直なY軸方向に対抗しているY軸電極間に電圧を印加するY軸印加手段と、
X軸印加手段と前記Y軸印加手段とを切り替える切替手段と、
前記X軸電極間の抵抗値を計測するX軸計測手段と、
前記Y軸電極間の抵抗値を計測するY軸計測手段と、
前記X軸印加手段が駆動している時の前記X軸計測手段の計測結果とX軸基準値との差であるX軸変化量を計算する第1計算手段と、
前記Y軸印加手段が駆動している時の前記Y軸計測手段の計測結果とY軸基準値との差であるY軸変化量を計算する第2計算手段と、
前記X軸変化量と前記Y軸変化量の和又は相加平均を計算する第3計算手段と、を備えるタッチパネルの制御装置。 A control device for an analog resistive touch panel,
X-axis application means for applying a voltage between the X-axis electrodes opposed to the X-axis direction on the resistance film;
Y-axis application means for applying a voltage between Y-axis electrodes facing the Y-axis direction perpendicular to the X-axis on the resistance film;
Switching means for switching between the X-axis application means and the Y-axis application means;
X-axis measuring means for measuring a resistance value between the X-axis electrodes;
Y-axis measuring means for measuring a resistance value between the Y-axis electrodes;
First calculation means for calculating an X-axis change amount that is a difference between a measurement result of the X-axis measurement means when the X-axis application means is driven and an X-axis reference value;
Second calculation means for calculating a Y-axis change amount which is a difference between a measurement result of the Y-axis measurement means when the Y-axis application means is driven and a Y-axis reference value;
A control device for a touch panel, comprising: third calculation means for calculating a sum or an arithmetic average of the X-axis change amount and the Y-axis change amount.
二つの時点における前記第3計算手段の計算結果を比較する比較手段と、をさらに含む請求項1に記載のタッチパネル制御装置。 Storage means for storing a calculation result of the third calculation means;
The touch panel control device according to claim 1, further comprising comparison means for comparing the calculation results of the third calculation means at two time points.
前記Y軸印加手段と、前記Y軸電極との間に配置されたY軸抵抗と、をさらに備え、
前記X軸計測手段は、電圧計測手段を含み、前記X軸電極と前記X軸抵抗との間の電圧の変化に基づいて前記X軸電極間の抵抗値を計測し、
前記Y軸計測手段は、電圧計測手段を含み、前記Y軸電極と前記Y軸抵抗との間の電圧の変化に基づいて前記Y軸電極間の抵抗値を計測することを特徴とする、請求項1又は2に記載のタッチパネル制御装置。 An X-axis resistance disposed between the X-axis applying means and the X-axis electrode;
A Y-axis resistor disposed between the Y-axis application unit and the Y-axis electrode;
The X-axis measuring unit includes a voltage measuring unit, and measures a resistance value between the X-axis electrodes based on a change in voltage between the X-axis electrode and the X-axis resistor,
The Y-axis measurement unit includes a voltage measurement unit, and measures a resistance value between the Y-axis electrodes based on a change in voltage between the Y-axis electrode and the Y-axis resistance. Item 3. The touch panel control device according to item 1 or 2.
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