JP2012225984A - 光伝送路接続システム及び光伝送路接続方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 光伝送路接続システム1は、レーザ光を出力する光源部2と、光源部2が出力したレーザ光を、一方の光伝送路3Aの一端3aを介して他方の光伝送路3Bの一端3bからポンプ光として入射させるポンプ光生成部5と、他方の光伝送路3B内からの反射光に含まれる非線形散乱成分を観測する測定部6と、測定部6が観測した非線形散乱成分のスペクトルを評価して、一方の光伝送路3Aの一端3aと他方の光伝送路3Bの一端3bとの光軸の位置を制御する制御部7とを備える。
【選択図】 図1
Description
1.光伝送路接続システム
2.光伝送路接続方法
3.実施例
(1−1.第1の実施の形態)
図1に示す光伝送路接続システム1は、光源部2と、レーザ光を一方の光伝送路3Aの一端3aを介して他方の光伝送路3Bの一端3bからポンプ光として入射させるポンプ光生成部5と、光伝送路3B内からの反射光に含まれる非線形散乱成分を観測する測定部6と、非線形散乱成分のスペクトルを評価して光伝送路3Aの一端3aと光伝送路3Bの一端3bとの光軸の位置を制御する制御部7とを備える。
図3に示す光伝送路接続システム10は、上述した光伝送路接続システム1よりも分解能を高くするために、以下の点で光伝送路接続システム1とは構成が異なる。まず、光伝送路接続システム10は、参照光生成部11と検出部12と光カプラ13とを備える。また、光伝送路接続システム10は、測定部14において検出部12が検出した干渉信号に含まれる非線形散乱成分を観測する。さらに、光伝送路接続システム10は、制御部7において測定部6で観測した干渉信号の非線形散乱成分の強度が最大となるように、光伝送路3Aの一端3aと光伝送路3Bの一端3bとの光軸の位置を制御する。なお、光伝送路接続システム10の構成において、上述した光伝送路接続システム1と同じ構成には同一の符号を付し、その構成の詳細な説明を省略する。
また、上述した光伝送路3B内からの反射光に含まれる非線形散乱成分が十分に大きくない場合には、図4に示す光伝送路接続システム20を用いることが好ましい。光伝送路接続システム20は、上述した光伝送路接続システム10の構成に加えて、さらに光アイソレータ21と光増幅器22と偏波コントローラ23A,23Bと周波数シフタ24と発振器25とプリアンプ26とを備える。
図5は、光伝送路接続システム1を用いた光伝送路接続方法の処理の一例を説明するためのフローチャートである。光伝送路接続方法は、出力ステップS1と、ポンプ光生成ステップS2と、測定ステップS3と、制御ステップS4とを有する。
<3.実施例>
SMFの位置を固定し、GI−MMFを3軸位置決めステージに取り付けた。ここで、3軸位置決めステージにおけるx軸、y軸、z軸は、図2に示すように規定した。光ファイバの位置合わせは、次のように行った。まず、突合わせ接合する各光ファイバの相対的な角度を調整した。続いて、各光ファイバの一端のエアーギャップを満たすとともにフレネル反射を抑制するために、屈折率整合油(n=1.46)を各光ファイバの一端に塗布した。続いて、各光ファイバの一端の間隔がほぼ0となるようにz軸を調整した。最後に、以下に説明する方法でGI−MMFのx軸方向及びy軸方向の位置を調整した。これにより、SMFとGI−MMFとを突合わせ接合させた。
実施例2は、GI−MMFの代わりにPFGI−POF(A)を3軸位置決めステージに取り付けたこと、周波数シフタを導入しなかったこと以外は、実施例1と同様である。
実施例3は、GI−MMFの代わりにPFGI−POF(B)を3軸位置決めステージに取り付けたこと、周波数シフタを導入しなかったこと以外は、実施例1と同様である。
(実施例1)
図8は、実施例1において、電気スペクトルアナライザで得られたブリルアンゲインスペクトルの測定結果を示すグラフである。具体的には、3軸位置決めステージに取付けたGI−MMFをy軸0μmの位置で固定し、x軸が0μm(符号a)、−10μm(符号b)、−20μm(符号c)、−30μm(符号d)の位置で観測したブリルアンゲインスペクトルを示す。SMFの一端における光学的パワー(Pin)は、15dBmに固定した。
図11は、実施例2において、電気スペクトルアナライザで得られたブリルアンゲインスペクトルの分布測定結果を示すグラフである。具体的には、3軸位置決めステージに取付けたPFGI−POF(A)をy軸0μmの位置で固定し、x軸が0μm(符号a)、−15μm(符号b)、−20μm(符号c)、−30μm(符号d)の位置で観測したブリルアンゲインスペクトルを示す。SMFの一端における光学的パワー(Pin)は、12dBmに固定した。
図13、図14は、実施例3において、電気スペクトルアナライザで得られたブリルアンゲインスペクトルの分布測定結果を示すグラフである。具体的には、3軸位置決めステージに取付けたPFGI−POF(B)をy軸0μmの位置で固定し、x軸が0μm(符号a)、20μm(符号b)、40μm(符号c)、60μm(符号d)の位置で観測したブリルアンゲインスペクトル(図13)、x軸が0μm(符号e)、−20μm(符号f)、−30μm(符号g)、−40μm(符号h)、−60μm(符号i)の位置で観測したブリルアンゲインスペクトル(図14)をそれぞれ示す。SMFの一端における光学的パワー(Pin)は、15dBmに固定した。
Claims (5)
- 二つの光伝送路を突合わせ接合する光伝送路接続システムにおいて、
レーザ光を出力する光源部と、
上記光源部が出力したレーザ光を、一方の上記光伝送路の一端を介して他方の上記光伝送路の一端からポンプ光として入射させるポンプ光生成部と、
上記他方の光伝送路内から上記ポンプ光の反射光が入射され、該反射光に含まれる非線形散乱成分を観測する測定部と、
上記測定部が観測した非線形散乱成分のスペクトルを評価して、上記一方の光伝送路の一端と他方の光伝送路の一端との光軸の位置を制御する制御部と
を備える光伝送路接続システム。 - 上記光源部が出力したレーザ光から、参照光と上記ポンプ光とを生成する参照光生成部と、
上記他方の光伝送路内からの反射光と上記参照光とを干渉させ、該反射光と該参照光との差の周波数成分を有する干渉信号を検出する検出部とを備え、
上記測定部は、上記検出部が検出した干渉信号に含まれる非線形散乱成分を観測し、
上記制御部は、上記測定部が観測した干渉信号の非線形散乱成分のスペクトルを評価して、上記一方の光伝送路の一端と他方の光伝送路の一端との光軸の位置を制御する請求項1記載の光伝送路接続システム。 - 上記測定部は、上記非線形散乱成分として上記干渉信号に含まれるブリルアン散乱成分を観測し、
上記制御部は、上記測定部で観測したブリルアン散乱成分のスペクトルを評価して、上記一方の光伝送路の一端と他方の光伝送路の一端との光軸の位置を制御する請求項2記載の光伝送路接続システム。 - 上記制御部は、上記ブリルアン散乱成分の強度が最大となるように、上記一方の光伝送路の一端と他方の光伝送路の一端との光軸の位置を制御する請求項3記載の光伝送路接続システム。
- 二つの光伝送路を突合わせ接合する光伝送路接続方法において、
レーザ光を出力する出力ステップと、
上記出力ステップで出力されたレーザ光を、一方の上記光伝送路の一端を介して他方の上記光伝送路の一端からポンプ光として入射させるポンプ光生成ステップと、
上記他方の光伝送路内から上記ポンプ光の反射光が入射され、該反射光に含まれる非線形散乱成分を観測する観測ステップと、
上記観測ステップで観測した非線形散乱成分のスペクトルを評価して、上記一方の光伝送路の一端と他方の光伝送路の一端との光軸の位置を制御する制御ステップとを有する光伝送路接続方法。
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