JP2012223899A - Liquid ejection device, nozzle inspection method, and program for the same - Google Patents

Liquid ejection device, nozzle inspection method, and program for the same Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To efficiently make a nozzle inspection using a plurality of inspection parts.SOLUTION: When the inspection failure of a first inspection circuit 71A out of first to eighth inspection circuits 71A-71H is determined (a), a moving unit is controlled to move first to fifteenth heads 62a-62o so that uninspected nozzles of the first and third heads 62a, 62c facing the first inspection circuit 71A face the inspection circuits (the second to eighth inspection circuits 71B-71H) other than the first inspection circuit 71A (b). The inspection circuit (the second inspection circuit 71B) other than the inspection-disabled first inspection circuit 71A is used to make the nozzle inspection of the uninspected nozzles and to determine the ejection propriety of all the uninspected nozzles. Consequently, even if failing to inspect the presence or absence of ejection by the inspection-disabled inspection circuit, the ejection propriety of all the uninspected nozzles can be determined using the other inspection circuits.

Description

本発明は、液体吐出装置、ノズル検査方法及びそのプログラムに関する。   The present invention relates to a liquid ejection apparatus, a nozzle inspection method, and a program thereof.

従来より、液体吐出装置として、ヘッドに形成された複数のノズルから液体が吐出されたか否かを判定するものが知られている。このようにノズルから液体が吐出されたか否かを判定する処理は、ノズル検査あるいは吐出検査と称される。   2. Description of the Related Art Conventionally, a liquid ejecting apparatus that determines whether or not liquid is ejected from a plurality of nozzles formed on a head is known. The process for determining whether or not the liquid has been ejected from the nozzle in this way is referred to as nozzle inspection or ejection inspection.

例えば、特許文献1の液体吐出装置では、ノズルプレートに1000個を超えるノズルが形成されたヘッドのノズル検査として、15個のノズルを1つのブロックとし、ブロックごとにノズル検査を行う。また、1ブロックのノズル検査を行うごとに、1つのノイズ検査期間(非吐出ダミー期間ともいう)を設け、この期間中にノイズが発生したか否かによって、ノズル検査中にノイズが混入したか否かを検査する。すなわち、ノイズ検査期間中にノイズが発生しなければ、その直前のブロックのノズル検査を有効とし、ノイズが発生したならば、その直前のブロックのノズル検査を無効とする。その結果、実際には液体を吐出できないノズルであるにもかかわらず、ノズル検査時に混入したノイズにより液体を吐出したと誤判定された場合でも、ノイズ検査を行うことによりその誤判定を無効にすることができる。そして、ノイズによりノズル検査が無効とされたときには、ノズル検査を再度繰り返すこととしている。   For example, in the liquid ejecting apparatus disclosed in Patent Document 1, as nozzle inspection of a head in which more than 1000 nozzles are formed on a nozzle plate, 15 nozzles are used as one block, and nozzle inspection is performed for each block. In addition, one noise inspection period (also referred to as a non-ejection dummy period) is provided every time one block of nozzle inspection is performed, and whether noise is mixed during nozzle inspection depending on whether noise has occurred during this period. Check for no. That is, if noise does not occur during the noise inspection period, the nozzle inspection of the block immediately before is validated, and if noise occurs, the nozzle inspection of the block immediately before is invalidated. As a result, even if it is a nozzle that cannot actually discharge liquid, even if it is erroneously determined that liquid was discharged due to noise mixed during nozzle inspection, the erroneous determination is invalidated by performing noise inspection. be able to. When the nozzle inspection is invalidated due to noise, the nozzle inspection is repeated again.

特開2010−64309号公報JP 2010-64309 A

しかしながら、ノイズなどの異常が発生したときに単にノズル検査を繰り返すだけでは、ノズル検査がいつまでも完了しない場合や、完了が遅くなってしまう場合があり、非効率であった。   However, simply repeating the nozzle inspection when an abnormality such as noise occurs is inefficient because the nozzle inspection may not be completed indefinitely or may be delayed.

本発明は、上述した課題に鑑みなされたものであり、複数の検査部を用いて効率的にノズル検査を行うことを主目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and a main object thereof is to efficiently perform nozzle inspection using a plurality of inspection units.

本発明の液体吐出装置は、
液体を吐出する複数のノズルからなる第1ノズル群及び第2ノズル群を備えたヘッドユニットと、
前記ヘッドユニットと対向してノズルからの吐出の有無を検査する第1検査部及び第2検査部を備えた検査ユニットと、
前記ヘッドユニットと前記検査ユニットとを相対的に移動させる移動手段と、
前記第1ノズル群と前記第1検査部とが対向し前記第2ノズル群と前記第2検査部とが対向するように前記移動手段を制御して、前記第1ノズル群のノズルから順次液体を吐出させたときの前記第1検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定し、前記第2ノズル群のノズルから順次液体を吐出させたときの前記第2検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定する吐出判定を行う処理手段と、
を備え、
前記処理手段は、前記吐出判定を行うにあたり、前記第1検査部に異常があるとみなせる異常条件が成立したときには、前記第1ノズル群のうち吐出の良否を判定していない未検査ノズルの少なくとも一部と前記第2検査部とが対向するように前記移動手段を制御して、前記第1ノズル群のうち該第2検査部と対向する未検査ノズルについては該ノズルから順次液体を吐出させたときの該第2検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定する、
ものである。
The liquid ejection device of the present invention is
A head unit comprising a first nozzle group and a second nozzle group comprising a plurality of nozzles for discharging liquid;
An inspection unit including a first inspection unit and a second inspection unit that inspects the presence or absence of ejection from the nozzle opposite to the head unit;
Moving means for relatively moving the head unit and the inspection unit;
The moving means is controlled so that the first nozzle group and the first inspection section face each other, and the second nozzle group and the second inspection section face each other, and the liquid from the nozzles of the first nozzle group sequentially. Based on the inspection result of the first inspection unit when the liquid is discharged, the quality of discharge of the nozzle is determined, and the inspection of the second inspection unit when the liquid is sequentially discharged from the nozzles of the second nozzle group Processing means for performing discharge determination for determining whether the discharge of the nozzle is good or not based on the result;
With
In performing the discharge determination, the processing means, when an abnormal condition that can be regarded as abnormal in the first inspection unit is satisfied, at least of uninspected nozzles that have not determined whether the discharge is good or not in the first nozzle group. The moving means is controlled so that a part and the second inspection section are opposed to each other, and liquids are sequentially discharged from the nozzles of the first nozzle group that are not inspected facing the second inspection section. Determining whether the discharge of the nozzle is good or not based on the inspection result of the second inspection unit when
Is.

この液体吐出装置では、前記第1ノズル群と前記第1検査部とが対向し前記第2ノズル群と前記第2検査部とが対向するように前記移動手段を制御して、前記第1ノズル群のノズルから順次液体を吐出させたときの前記第1検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定し、前記第2ノズル群のノズルから順次液体を吐出させたときの前記第2検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定する吐出判定を行う。そして、この吐出判定を行うにあたり、前記第1検査部に異常があるとみなせる異常条件が成立したときには、前記第1ノズル群のうち吐出の良否を判定していない未検査ノズルの少なくとも一部と前記第2検査部とが対向するように前記移動手段を制御して、前記第1ノズル群のうち該第2検査部と対向する未検査ノズルについては該ノズルから順次液体を吐出させたときの該第2検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定する。すなわち、第1検査部に異常があるとみなせる異常条件が成立したときに、通常は第1検査部で検査するはずの第1ノズル群の未検査ノズルのうち少なくとも一部のノズルについては第2検査部を用いて吐出の良否を判定する。これにより、異常があるにもかかわらず第1検査部のみで第1ノズル群の検査を行う場合と比較して、複数の検査部を用いて効率的にノズル検査を行うことができる。   In the liquid ejection apparatus, the moving unit is controlled so that the first nozzle group and the first inspection unit face each other, and the second nozzle group and the second inspection unit face each other, so that the first nozzle The quality of the discharge of the nozzle is determined based on the inspection result of the first inspection unit when the liquid is sequentially discharged from the nozzles of the group, and the liquid when the liquid is sequentially discharged from the nozzles of the second nozzle group Based on the inspection result of the second inspection unit, discharge determination is performed to determine whether or not the nozzle is discharged. In performing the discharge determination, when an abnormal condition that can be regarded as abnormal in the first inspection unit is satisfied, at least a part of the uninspected nozzles in the first nozzle group that have not determined whether or not the discharge is good When the moving means is controlled so as to face the second inspection section, and the uninspected nozzles facing the second inspection section in the first nozzle group are sequentially ejected with liquid from the nozzles. Whether or not the nozzle is discharged is determined based on the inspection result of the second inspection unit. That is, when an abnormal condition that can be considered that there is an abnormality in the first inspection unit is satisfied, the second nozzle is set to at least some of the uninspected nozzles of the first nozzle group that should normally be inspected by the first inspection unit. Whether or not the ejection is good is determined using an inspection unit. Accordingly, compared with the case where the first nozzle group is inspected only by the first inspection unit despite the abnormality, the nozzle inspection can be efficiently performed using a plurality of inspection units.

本発明の液体吐出装置において、前記処理手段は、前記異常条件として前記第1検査部による吐出の有無の検査ができないとみなせる条件が成立したときには、前記第1ノズル群の未検査ノズルと前記第2検査部とが対向するように前記移動手段を制御して、該未検査ノズルから順次液体を吐出させたときの該第2検査部の検査結果に基づいて該未検査ノズルの吐出の良否を判定する処理を行い、すべての未検査ノズルの吐出の良否を該第2検査部の検査結果に基づいて判定してもよい。こうすれば、第1検査部による吐出の有無の検査ができない場合でも、第2検査部を用いて第1ノズル群のすべての未検査ノズルの吐出の良否を判定することができる。   In the liquid ejection apparatus according to the aspect of the invention, when the condition that the processing unit can be regarded as being incapable of inspecting the presence / absence of ejection by the first inspection unit is established as the abnormal condition, the processing unit and the uninspected nozzle of the first nozzle group 2 Control the moving means so as to face the inspection unit, and determine whether the uninspected nozzle is discharged based on the inspection result of the second inspection unit when the liquid is sequentially discharged from the uninspected nozzle. A determination process may be performed to determine whether or not all uninspected nozzles are discharged based on the inspection result of the second inspection unit. In this way, even if the first inspection unit cannot inspect the presence or absence of ejection, the second inspection unit can be used to determine the quality of ejection of all uninspected nozzles in the first nozzle group.

本発明の液体吐出装置において、前記処理手段は、前記第1ノズル群と前記第1検査部とが対向し前記第2ノズル群と前記第2検査部とが対向した状態において、前記異常条件として第1検査部による吐出の有無の検査は可能だが前記第1ノズル群のすべてのノズルの吐出の良否判定の完了が前記第2ノズル群に比べて遅延するとみなせる条件が成立したときには、前記第2ノズル群の未検査ノズルが前記第2検査部と対向する位置から外れない範囲で、前記第1ノズル群の未検査ノズルのうち少なくとも一部が前記第2検査部と対向し残りが前記第1検査部と対向するように前記移動手段を制御して、前記第1ノズル群のうち該第2検査部と対向する未検査ノズル及び前記第2ノズル群の未検査ノズルについては該ノズルから順次液体を吐出させたときの該第2検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定し、前記第1ノズル群のうち該第1検査部と対向する未検査ノズルについては該ノズルから順次液体を吐出させたときの該第1検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定してもよい。こうすれば、第1検査部による第1ノズル群のすべてのノズルの吐出の良否判定の完了が第2ノズル群に比べて遅延するときには、第1ノズル群の未検査ノズルの一部を第2検査部を用いて検査するため、ノズル検査の総時間を短くできる。   In the liquid ejection apparatus according to the aspect of the invention, the processing unit may be configured as the abnormal condition in a state where the first nozzle group and the first inspection unit face each other and the second nozzle group and the second inspection unit face each other. When the first inspection unit can inspect whether or not there is ejection, but the condition that the completion of the ejection quality determination of all the nozzles of the first nozzle group can be regarded as being delayed as compared with the second nozzle group is satisfied, the second As long as the uninspected nozzles of the nozzle group do not deviate from the position facing the second inspection part, at least some of the uninspected nozzles of the first nozzle group face the second inspection part and the rest are the first. The moving means is controlled so as to face the inspection section, and the uninspected nozzles facing the second inspection section and the uninspected nozzles of the second nozzle group in the first nozzle group are sequentially liquidated from the nozzles. Spit Based on the inspection result of the second inspection unit when the nozzles are discharged, the quality of ejection of the nozzles is determined, and the uninspected nozzles facing the first inspection unit in the first nozzle group are sequentially liquidated from the nozzles. Whether or not the nozzle is discharged may be determined based on the inspection result of the first inspection unit when the nozzle is discharged. In this way, when the completion of the ejection quality determination of all the nozzles of the first nozzle group by the first inspection unit is delayed as compared with the second nozzle group, a part of the uninspected nozzles of the first nozzle group is set to the second. Since the inspection is performed using the inspection unit, the total nozzle inspection time can be shortened.

本発明の液体吐出装置において、前記ヘッドユニットは、前記液体と接触する第1電極を有し、前記第1検査部及び前記第2検査部は、前記第1電極に対向可能な第2電極をそれぞれ有しており、該第1電極と該第2電極とを対向させて両電極間に電圧を印加した状態で、対向するノズルから該第2電極に向かって液体を吐出させる吐出検査期間における両電極間の電気的変化を検出すると共に対向するノズルのすべてから液体を吐出させないノイズ検査期間における両電極間の電気的変化を検出する動作を、前記対向する各ノズルごとに行い、各ノズルにつき前記電気的変化に関する信号に基づいて吐出の有無及びノイズの有無を検査し、前記処理手段は、前記検査結果である吐出の有無及びノイズの有無に基づいてノズルの吐出の良否を判定し、前記ノイズ検査期間における両電極間の電気的変化に基づいて前記異常条件の成否を判定してもよい。   In the liquid ejection apparatus according to the aspect of the invention, the head unit includes a first electrode that contacts the liquid, and the first inspection unit and the second inspection unit include a second electrode that can face the first electrode. In a discharge inspection period in which liquid is discharged from the facing nozzle toward the second electrode in a state where the first electrode and the second electrode are opposed to each other and a voltage is applied between the electrodes. An operation for detecting an electrical change between both electrodes and detecting an electrical change between both electrodes in a noise inspection period in which liquid is not discharged from all of the opposing nozzles is performed for each of the opposing nozzles. The presence or absence of ejection and the presence or absence of noise are inspected based on the signal relating to the electrical change, and the processing means determines whether or not the nozzles are ejected based on the presence or absence of ejection and the presence or absence of noise as the inspection results. Constant and may determine the success or failure of the abnormal condition based on an electrical change between the electrodes in the noise test period.

本発明のノズル検査方法は、
液体を吐出する複数のノズルからなる第1ノズル群及び第2ノズル群を備えたヘッドユニットと、前記ヘッドユニットと対向してノズルからの吐出の有無を検査する第1検査部及び第2検査部を備えた検査ユニットと、前記ヘッドユニットと前記検査ユニットとを相対的に移動させる移動手段と、を備えた液体吐出装置のノズル検査方法であって、
前記第1ノズル群と前記第1検査部とが対向し前記第2ノズル群と前記第2検査部とが対向するように前記移動手段を制御して、前記第1ノズル群のノズルから順次液体を吐出させたときの前記第1検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定し、前記第2ノズル群のノズルから順次液体を吐出させたときの前記第2検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定する吐出判定を行うにあたり、前記第1検査部に異常があるとみなせる異常条件が成立したときには、前記第1ノズル群のうち吐出の良否を判定していない未検査ノズルの少なくとも一部と前記第2検査部とが対向するように前記移動手段を制御して、前記第1ノズル群のうち該第2検査部と対向する未検査ノズルについては該ノズルから順次液体を吐出させたときの該第2検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定するステップ、
を含むものである。
The nozzle inspection method of the present invention includes:
A head unit having a first nozzle group and a second nozzle group each composed of a plurality of nozzles that eject liquid, and a first inspection unit and a second inspection unit that inspect the presence or absence of ejection from the nozzles facing the head unit. A nozzle inspection method for a liquid ejection apparatus, comprising: an inspection unit including: a moving unit that relatively moves the head unit and the inspection unit;
The moving means is controlled so that the first nozzle group and the first inspection section face each other, and the second nozzle group and the second inspection section face each other, and the liquid from the nozzles of the first nozzle group sequentially. Based on the inspection result of the first inspection unit when the liquid is discharged, the quality of discharge of the nozzle is determined, and the inspection of the second inspection unit when the liquid is sequentially discharged from the nozzles of the second nozzle group In performing the discharge determination for determining whether or not the nozzle is discharged based on the result, when an abnormal condition that can be considered that the first inspection unit is abnormal is satisfied, the discharge quality of the first nozzle group is determined. The moving means is controlled so that at least a part of uninspected nozzles and the second inspection part face each other, and the uninspected nozzles that face the second inspection part in the first nozzle group Discharges liquid sequentially from the nozzle Determining the quality of the discharge of the nozzle on the basis of the second inspection unit of the inspection results obtained while,
Is included.

このノズル検査方法によれば、第1検査部に異常があるとみなせる異常条件が成立したときに、通常は第1検査部で検査するはずの第1ノズル群の未検査ノズルのうち少なくとも一部のノズルについては第2検査部を用いて吐出の良否を判定するため、異常があるにもかかわらず第1検査部のみで第1ノズル群の検査を行う場合と比較して、複数の検査部を用いて効率的にノズル検査を行うことができる。なお、このノズル検査方法において、上述した液体吐出装置の種々の態様を採用してもよいし、上述した液体吐出装置の各機能を実現するようなステップを追加してもよい。   According to this nozzle inspection method, at least a part of the uninspected nozzles of the first nozzle group that should normally be inspected by the first inspection unit when an abnormal condition that allows the first inspection unit to be considered abnormal is satisfied. In order to determine the quality of ejection using the second inspection unit, the plurality of inspection units are compared with the case where the first nozzle group is inspected only by the first inspection unit even though there is an abnormality. The nozzle inspection can be efficiently performed using In this nozzle inspection method, various aspects of the above-described liquid ejecting apparatus may be employed, and steps for realizing each function of the above-described liquid ejecting apparatus may be added.

本発明のプログラムは、上述したノズル検査方法をコンピューターに実現させるためのものである。このプログラムは、コンピューターが読み取り可能な記録媒体(例えばハードディスク、ROM、FD、CD、DVDなど)に記録されていてもよいし、伝送媒体(インターネットやLANなどの通信網)を介してあるコンピューターから別のコンピューターに配信されてもよいし、その他どのような形で授受されてもよい。このプログラムをコンピューターに実行させれば、上述した本発明のノズル検査方法のステップが実現されるため、本発明のノズル検査方法と同様の作用効果が得られる。   The program of the present invention is for causing a computer to realize the nozzle inspection method described above. This program may be recorded on a computer-readable recording medium (for example, hard disk, ROM, FD, CD, DVD, etc.) or from a computer via a transmission medium (communication network such as the Internet or LAN). It may be distributed to another computer, or may be exchanged in any other form. If this program is executed by a computer, the above-described steps of the nozzle inspection method of the present invention are realized, so that the same effects as the nozzle inspection method of the present invention can be obtained.

インクジェット型のプリンター10の構成を表すブロック図。1 is a block diagram illustrating a configuration of an inkjet printer 10. FIG. プリンター10の概略断面図。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the printer 10. プリンター10の概略平面図。FIG. 2 is a schematic plan view of the printer 10. ヘッドユニット60における複数のヘッド62の配置を示す説明図。FIG. 3 is an explanatory diagram showing an arrangement of a plurality of heads 62 in the head unit 60. 第1ヘッド62aに形成された複数のノズルの配置を示す説明図。Explanatory drawing which shows arrangement | positioning of the several nozzle formed in the 1st head 62a. 印刷の様子を示す説明図。Explanatory drawing which shows the mode of printing. 検査ユニット70の構成を表す説明図。An explanatory view showing composition of inspection unit 70. FIG. 検査電極72の平面図。The top view of the test | inspection electrode 72. FIG. 駆動信号COMとそれに対応した検出信号とを示す説明図。Explanatory drawing which shows the drive signal COM and the detection signal corresponding to it. 検出信号及び検出制御部での判定結果の一例を示す説明図。Explanatory drawing which shows an example of the determination result in a detection signal and a detection control part. 第1ヘッド62aが有するノズルをブロック分けしたときのテーブル。A table when the nozzles of the first head 62a are divided into blocks. ノズルの統合判定ルーチンのフローチャート。The flowchart of the integrated determination routine of a nozzle. 検出制御部76のメモリーに格納されたデータの説明図。Explanatory drawing of the data stored in the memory of the detection control part 76. FIG. デジタル信号出力ルーチンのフローチャート。The flowchart of a digital signal output routine. 検出制御部76の送信用レジスターのデータの一例を示す説明図。Explanatory drawing which shows an example of the data of the register for transmission of the detection control part. 統合判定の結果の一例を示す説明図。Explanatory drawing which shows an example of the result of integrated determination. 検査不能時処理ルーチンのフローチャート。The flowchart of a process routine at the time of a test impossible. 検査不能時処理ルーチンを行う様子を示す説明図。Explanatory drawing which shows a mode that a process routine at the time of an inspection impossible is performed. 遅延時処理ルーチンのフローチャート。The flowchart of a processing routine at the time of delay. ノズル検査を順次行う様子を示す説明図。Explanatory drawing which shows a mode that a nozzle test | inspection is performed sequentially. 図20の時刻t1,t2,t3における状態を示す説明図。Explanatory drawing which shows the state in the time t1, t2, t3 of FIG.

次に、本発明を具現化した一実施形態について説明する。図1はインクジェット型のプリンター10の構成を表すブロック図、図2はプリンター10の概略断面図、図3はプリンター10の概略平面図である。   Next, an embodiment embodying the present invention will be described. FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of an ink jet type printer 10, FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the printer 10, and FIG. 3 is a schematic plan view of the printer 10.

プリンター10は、パーソナルコンピューターPCと通信可能に接続され、パーソナルコンピューターPCから印刷データを入力し、その印刷データに基づいて紙や布などの印刷媒体Sに画像を印刷する。このプリンター10は、種々の制御を実行したり指令を出力したりするコントローラー20と、コントローラー20と信号のやり取りを行いながら各種処理を実行するユニット群30とを備えている。   The printer 10 is communicably connected to the personal computer PC, inputs print data from the personal computer PC, and prints an image on a print medium S such as paper or cloth based on the print data. The printer 10 includes a controller 20 that executes various controls and outputs commands, and a unit group 30 that executes various processes while exchanging signals with the controller 20.

コントローラー20は、プリンター10の全体の制御を司るCPU22と、ユニット群30の各ユニットを制御するユニット制御回路24とを備えている。CPU22は、ユニット群30に備えられた各種検出器から入力した検出信号やインターフェース部26を介してパーソナルコンピューターPCから受信した印刷データに基づいて、メモリー28に記憶された各種プログラムを実行し、メモリー28にデータを一時記憶しながらユニット制御回路24を介して各ユニットを制御する。ユニット群30には、印刷媒体Sを搬送する搬送ユニット40、ヘッドユニット60を移動する移動ユニット50、ノズルからインクが吐出するようヘッド62を駆動するヘッドユニット60、ヘッド62に形成されたノズルの検査を行う検査ユニット70などが含まれる。搬送ユニット40は、図2及び図3に示すように、モーター駆動される上流側ローラー42及び下流側ローラー44によってロール状の印刷媒体Sを搬送方向(X方向)の上流側から下流側へ搬送し、巻取機構46によって巻き取るものである。印刷媒体Sは、両ローラー42,44の間の印刷領域においてプラテン48の下側からバキューム吸着される。これにより、印刷中の印刷媒体Sの位置が固定される。移動ユニット50は、図2及び図3に示すように、ヘッドユニット60を印刷媒体Sの搬送方向(X方向)と印刷媒体Sの幅方向(Y方向)に自在に移動させるものである。この移動ユニット50は、X軸ステージ52によってヘッドユニット60をX方向に移動させ、Y軸ステージ54によってヘッドユニット60をX軸ステージ52と共にY方向に移動させる。ヘッドユニット60は、図3に示すように、複数のノズルを有するヘッド62を備え、コントローラー20からの駆動信号によってノズルからインクを印刷媒体Sに向かって吐出させるものである。このヘッドユニット60は、後述するように複数のヘッド62を備えている。各ヘッド62は、ピエゾ素子を用いて圧力によりインクを吐出する。検査ユニット70は、ノズルの詰まりの有無を検査するものであり、図3に示すように、ヘッドユニット60のヘッド62と対向可能な位置に検査電極72を備えている。この検査ユニット70の詳細については後述する。   The controller 20 includes a CPU 22 that controls the entire printer 10 and a unit control circuit 24 that controls each unit of the unit group 30. The CPU 22 executes various programs stored in the memory 28 based on detection signals input from various detectors provided in the unit group 30 and print data received from the personal computer PC via the interface unit 26. Each unit is controlled via the unit control circuit 24 while temporarily storing data in 28. The unit group 30 includes a transport unit 40 that transports the print medium S, a moving unit 50 that moves the head unit 60, a head unit 60 that drives the head 62 so that ink is ejected from the nozzles, and nozzles formed on the head 62. An inspection unit 70 that performs inspection is included. 2 and 3, the transport unit 40 transports the roll-shaped print medium S from the upstream side in the transport direction (X direction) to the downstream side by the motor-driven upstream roller 42 and the downstream roller 44. Then, it is wound up by the winding mechanism 46. The print medium S is vacuum-sucked from the lower side of the platen 48 in the printing area between the rollers 42 and 44. Thereby, the position of the printing medium S during printing is fixed. As shown in FIGS. 2 and 3, the moving unit 50 freely moves the head unit 60 in the transport direction (X direction) of the print medium S and the width direction (Y direction) of the print medium S. The moving unit 50 moves the head unit 60 in the X direction by the X-axis stage 52, and moves the head unit 60 together with the X-axis stage 52 in the Y direction by the Y-axis stage 54. As shown in FIG. 3, the head unit 60 includes a head 62 having a plurality of nozzles, and ejects ink from the nozzles toward the print medium S by a drive signal from the controller 20. The head unit 60 includes a plurality of heads 62 as will be described later. Each head 62 ejects ink by pressure using a piezo element. The inspection unit 70 is for inspecting whether or not the nozzle is clogged. As shown in FIG. 3, the inspection unit 70 includes an inspection electrode 72 at a position that can face the head 62 of the head unit 60. Details of the inspection unit 70 will be described later.

ヘッドユニット60について、更に詳しく説明する。図4は、ヘッドユニット60における複数のヘッド62の配置を示す説明図である。なお、図中では、ヘッド62の配置をプリンター10の上面から透視した状態を示した。図4に示すように、ヘッドユニット60は、15個のヘッド62を有する。15個のヘッド62は、Y方向に沿ってジグザグに並んでいる。説明の便宜上、Y方向の上端側から下端側に向かって、第1ヘッド62a,第2ヘッド62b,……、第14ヘッド62n,第15ヘッド62oと称することにする。このため、奇数番目のヘッド62a,62c,62e……はY方向に平行となるように直線状の列をなし、偶数番目のヘッド62b,62d,62f……はその隣でY方向に平行となるように直線状の列をなす。   The head unit 60 will be described in more detail. FIG. 4 is an explanatory diagram showing the arrangement of the plurality of heads 62 in the head unit 60. In the drawing, the arrangement of the head 62 is shown as seen through the top surface of the printer 10. As shown in FIG. 4, the head unit 60 has 15 heads 62. The fifteen heads 62 are arranged in a zigzag along the Y direction. For convenience of explanation, the first head 62a, the second head 62b,..., The fourteenth head 62n, and the fifteenth head 62o are referred to from the upper end side to the lower end side in the Y direction. For this reason, the odd-numbered heads 62a, 62c, 62e... Form a straight line so as to be parallel to the Y direction, and the even-numbered heads 62b, 62d, 62f. Make a straight line so that

図5は、第1ヘッド62aに形成された複数のノズルの配置を示す説明図である。なお、図中では、ノズルの配置を第1ヘッド62aの上面から透視した状態を示した。また、第2ヘッド62b〜第15ヘッド62oはいずれも第1ヘッド62aと同じ構成である。第1ヘッド62aは、8色のノズル列を有している。具体的には、図5の左側から順に、マットブラックインクを吐出するMk列、グリーンインクを吐出するGr列、オレンジインクを吐出するOr列、クリアインクを吐出するCl列、フォトブラックインクを吐出するPk列、シアンインクを吐出するCy列、マゼンタインクを吐出するMa列、イエローインクを吐出するYe列である。各ノズル列は、180個のノズルを有する。180個のノズルは、Y方向に沿って、一定のノズルピッチ(1/180インチ)で並んでいる。説明の便宜上、Y方向の上端側のノズルから順に#1,#2,……,#180と称することにする。第1ヘッド62bの各ノズル列と第2ヘッド62bの各ノズル列とを見ると、第1ヘッド62aのY方向の下端側の4つのノズルのそれぞれのY座標位置は、第2ヘッド62bのY方向の上端側の4つのノズルのそれぞれのY座標位置と一致している。このようにY座標位置が同じ2つのノズルは、互いに補間し合いながらドットを形成することが可能である。こうした関係は、第αヘッドと第(α+1)ヘッド(αは1〜14までの整数)との間でも同様である。   FIG. 5 is an explanatory diagram showing the arrangement of a plurality of nozzles formed in the first head 62a. In the drawing, the nozzle arrangement is shown as seen through the top surface of the first head 62a. Further, the second head 62b to the fifteenth head 62o have the same configuration as the first head 62a. The first head 62a has a nozzle row of eight colors. Specifically, in order from the left side of FIG. 5, the Mk row for ejecting mat black ink, the Gr row for ejecting green ink, the Or row for ejecting orange ink, the Cl row for ejecting clear ink, and the photo black ink are ejected. Pk column, Cy column that discharges cyan ink, Ma column that discharges magenta ink, and Ye column that discharges yellow ink. Each nozzle row has 180 nozzles. The 180 nozzles are arranged at a constant nozzle pitch (1/180 inch) along the Y direction. For convenience of explanation, they are referred to as # 1, # 2,..., # 180 in order from the nozzle on the upper end side in the Y direction. Looking at each nozzle row of the first head 62b and each nozzle row of the second head 62b, the Y coordinate position of each of the four nozzles on the lower end side in the Y direction of the first head 62a is Y of the second head 62b. The Y coordinate positions of the four nozzles on the upper end side in the direction coincide with each other. Thus, two nozzles having the same Y coordinate position can form dots while interpolating each other. This relationship is the same between the α-th head and the (α + 1) -th head (α is an integer from 1 to 14).

こうしたヘッドユニット60を用いて印刷媒体Sに印刷する手順を以下に概説する。まず、図2及び図3において、コントローラー20は、印刷領域に印刷媒体Sの新しい面が供給されるよう搬送ユニット40を制御すると共に、ヘッドユニット60が初期位置に来るように移動ユニット50を制御する。なお、初期位置とは、印刷領域におけるX方向の最上流の位置で且つY方向の最上端の位置である。初期位置に配置されているヘッドユニット60を、図2及び図3中、実線で示す。そして、コントローラー20は、ヘッドユニット60が印刷領域のX方向の最上流の位置から最下流の位置(図2及び図3中、1点鎖線で示す)まで移動するよう移動ユニット50を制御すると同時に、移動中のヘッド62のノズルからインクが吐出するようヘッドユニット60を制御することにより、X方向に並ぶドット列を形成する。この動作を1パスと称する。こうして1パス分のドット列を形成した後、コントローラー20は、ヘッドユニット60がY方向の下端側に移動するよう移動ユニット50を制御し、再び次の1パスを実行してX方向のドット列を形成する。Y方向の下端側に移動したヘッドユニット60の一例を図3の2点鎖線で示す。そして、印刷媒体Sの幅方向に応じて決まるパス数の動作を終了したとき、印刷媒体Sの印刷領域の画像が完成する。図6は、印刷の様子を示す説明図である。図6では、説明の便宜上、5つのノズルがY方向に平行に1列に並んだノズル列を例示した。この図6では、パス1〜パス4までの合計4パス分のX方向のドット列が順次形成されていく様子を示した。   The procedure for printing on the print medium S using such a head unit 60 will be outlined below. 2 and 3, the controller 20 controls the transport unit 40 so that a new surface of the print medium S is supplied to the print area, and also controls the moving unit 50 so that the head unit 60 is at the initial position. To do. The initial position is the most upstream position in the X direction and the most extreme position in the Y direction in the print area. The head unit 60 arranged at the initial position is indicated by a solid line in FIGS. At the same time, the controller 20 controls the moving unit 50 so that the head unit 60 moves from the most upstream position in the X direction of the printing region to the most downstream position (indicated by a one-dot chain line in FIGS. 2 and 3). By controlling the head unit 60 so that ink is ejected from the nozzles of the moving head 62, dot rows arranged in the X direction are formed. This operation is referred to as one pass. After forming a dot row for one pass in this way, the controller 20 controls the moving unit 50 so that the head unit 60 moves to the lower end side in the Y direction, and executes the next one pass again to execute the dot row in the X direction. Form. An example of the head unit 60 moved to the lower end side in the Y direction is indicated by a two-dot chain line in FIG. Then, when the operation of the number of passes determined according to the width direction of the print medium S is completed, the image of the print area of the print medium S is completed. FIG. 6 is an explanatory diagram showing a state of printing. FIG. 6 illustrates a nozzle row in which five nozzles are arranged in a row parallel to the Y direction for convenience of explanation. FIG. 6 shows a state in which dot rows in the X direction for a total of four passes from pass 1 to pass 4 are sequentially formed.

検査ユニット70について、以下に詳しく説明する。検査ユニット70は、検査回路71を備えている。検査回路71は、基本的には2つのヘッド62に1つの割合で形成されており、本実施形態ではヘッド数が15個であるため、それに対応して検査回路71は8個形成されている。説明の便宜上、8個の検査回路71を第1検査回路71A,第2検査回路71B,・・・と称することにする。図7は検査ユニット71の検査回路71のうちの1つの構成を表す説明図である。この検査回路71は、ヘッド62に形成されたノズルから吐出されたインクを受ける金属板状の検査電極72と、この検査電極72とヘッド62のノズルプレート63との間に電圧を印加する高圧電源74と、検査電極72とノズルプレート63との間に電圧を印加した状態でノズルからインクを吐出させたときの電圧信号に基づいてその信号の大小を判定する検出制御部76とを備えている。なお、ノズルプレート63は複数のノズルが形成されたプレートであり、検査ユニット70の一部としても機能するものである。   The inspection unit 70 will be described in detail below. The inspection unit 70 includes an inspection circuit 71. The inspection circuit 71 is basically formed at a rate of one for each of the two heads 62. In the present embodiment, the number of heads is fifteen, and thus eight inspection circuits 71 are formed corresponding thereto. . For convenience of explanation, the eight inspection circuits 71 are referred to as a first inspection circuit 71A, a second inspection circuit 71B,. FIG. 7 is an explanatory diagram showing the configuration of one of the inspection circuits 71 of the inspection unit 71. The inspection circuit 71 includes a metal plate-like inspection electrode 72 that receives ink ejected from nozzles formed on the head 62, and a high-voltage power source that applies a voltage between the inspection electrode 72 and the nozzle plate 63 of the head 62. 74, and a detection control unit 76 that determines the magnitude of the signal based on a voltage signal when ink is ejected from the nozzle while a voltage is applied between the inspection electrode 72 and the nozzle plate 63. . The nozzle plate 63 is a plate on which a plurality of nozzles are formed, and also functions as a part of the inspection unit 70.

上述したように、検査回路71は基本的には2つのヘッド62に1つの割合で形成されているため、検査電極72も同様に、基本的には2つのヘッド62に1つの割合で形成されている。図8に検査電極72の平面図を示す。本実施形態では、ヘッド数は15個であるため、それに対応して検査電極72は8個形成されている。説明の便宜上、8個の検査電極72を第1検査電極72A,第2検査電極72B,……と称することにする。具体的には、図8に示すように、第1ヘッド62aと第3ヘッド62cに対して第1検査電極72A、第5ヘッド62eと第7ヘッド62gに対して第2検査電極72B、第9ヘッド62iと第11ヘッド62kに対して第3検査電極72C、第13ヘッド62mと第15ヘッド62oに対して第4検査電極72D、第2ヘッド62bと第4ヘッド62dに対して第5検査電極72E、第6ヘッド62fと第8ヘッド62hに対して第6検査電極72F、第10ヘッド62jと第12ヘッド62lに対して第7検査電極72G、第14ヘッド62nに対して第8検査電極72Hが形成されている。つまり、本実施形態ではヘッド62の数が15個であるため、第14ヘッド62nについては、1つのヘッド62に対して1つの検査電極72が対応している。なお、各検査電極72は、いずれもY方向に隣接する他の検査電極72との間隔が等しくなるように配置されており、検査電極72の上端から、Y方向に隣接する他の検査電極72の上端までの距離を距離Lとする。このような検査電極72は、図3に示すように、印刷領域から左側(X方向の上流側)に外れた位置に設けられている。なお、図7には一つの検査電極72についての電気回路の構成を示したが、第1〜第8検査電極72A〜72Hのそれぞれについて、こうした電気回路が組まれている。   As described above, since the inspection circuit 71 is basically formed at a ratio of one to the two heads 62, the inspection electrode 72 is basically formed at a ratio of one to the two heads 62. ing. FIG. 8 shows a plan view of the inspection electrode 72. In this embodiment, since the number of heads is 15, eight inspection electrodes 72 are formed correspondingly. For convenience of explanation, the eight inspection electrodes 72 are referred to as a first inspection electrode 72A, a second inspection electrode 72B,. Specifically, as shown in FIG. 8, the first inspection electrode 72A for the first head 62a and the third head 62c, the second inspection electrode 72B for the fifth head 62e and the seventh head 62g, and the ninth The third inspection electrode 72C for the head 62i and the eleventh head 62k, the fourth inspection electrode 72D for the thirteenth head 62m and the fifteenth head 62o, and the fifth inspection electrode for the second head 62b and the fourth head 62d. 72E, a sixth inspection electrode 72F for the sixth head 62f and the eighth head 62h, a seventh inspection electrode 72G for the tenth head 62j and the twelfth head 62l, and an eighth inspection electrode 72H for the fourteenth head 62n. Is formed. That is, in the present embodiment, since the number of heads 62 is 15, one inspection electrode 72 corresponds to one head 62 in the fourteenth head 62n. Each of the inspection electrodes 72 is arranged so that the interval between the inspection electrode 72 and the other inspection electrode 72 adjacent in the Y direction is equal, and from the upper end of the inspection electrode 72, the other inspection electrode 72 adjacent in the Y direction. Let the distance to the upper end of L be the distance L. As shown in FIG. 3, such an inspection electrode 72 is provided at a position off the left side (upstream side in the X direction) from the printing region. FIG. 7 shows the configuration of the electric circuit for one inspection electrode 72, but such an electric circuit is assembled for each of the first to eighth inspection electrodes 72A to 72H.

高圧電源74は、検査電極72を所定電位にするための電源であり、ここでは600〜1000Vの直流電源によって構成される。高圧電源74と検査電極72との間には、第1制限抵抗73と第2制限抵抗75とが配置されている。これらの制限抵抗73,75は、高圧電源74と検査電極72との間に流れる電流を制御するものであり、ここでは両者の抵抗値を共に1.6MΩとした。   The high-voltage power source 74 is a power source for setting the inspection electrode 72 to a predetermined potential, and is constituted by a DC power source of 600 to 1000 V here. A first limiting resistor 73 and a second limiting resistor 75 are disposed between the high voltage power supply 74 and the inspection electrode 72. These limiting resistors 73 and 75 control the current flowing between the high-voltage power supply 74 and the inspection electrode 72, and here the resistance values of both are set to 1.6 MΩ.

検出制御部76は、高圧電源74による検査電極72とノズルプレート63との電圧印加を制御する。また、検出制御部76は、増幅器77で増幅された検査電極72の電圧信号(アナログ信号)に基づいて検査対象ノズルがインクを吐出したか否かを判定し、判定結果をデジタル信号としてコントローラー20に送信する。増幅器77と検査電極72との間には、検査電極72のバイアス成分(直流成分)を除去する検査用コンデンサー78が配置されている。また、第1制限抵抗73と第2制限抵抗75との間には、平滑コンデンサー79の一端が接続されている。この平滑コンデンサー79の他端は接地されている。平滑コンデンサー79は、電位の急激な変化を抑制するものである。ここでは、検査用コンデンサー78の容量を4700pF、増幅器77の増幅率を4000倍、平滑コンデンサー79の容量を0.1μFとした。   The detection control unit 76 controls voltage application between the inspection electrode 72 and the nozzle plate 63 by the high voltage power source 74. Further, the detection control unit 76 determines whether or not the inspection target nozzle ejects ink based on the voltage signal (analog signal) of the inspection electrode 72 amplified by the amplifier 77, and the controller 20 uses the determination result as a digital signal. Send to. Between the amplifier 77 and the inspection electrode 72, an inspection capacitor 78 for removing a bias component (DC component) of the inspection electrode 72 is disposed. One end of a smoothing capacitor 79 is connected between the first limiting resistor 73 and the second limiting resistor 75. The other end of the smoothing capacitor 79 is grounded. The smoothing capacitor 79 suppresses a rapid change in potential. Here, the capacity of the inspection capacitor 78 is 4700 pF, the amplification factor of the amplifier 77 is 4000 times, and the capacity of the smoothing capacitor 79 is 0.1 μF.

次に、本実施形態のプリンター10の動作、特にノズルを検査するときの動作について説明する。コントローラー20は、検査対象ノズルの検査において、インクを良好に吐出できるか否かを調べる吐出検査と、吐出検査中にその判定結果に影響を与えるノイズが発生したか否かを調べるノイズ検査とを実施する。   Next, the operation of the printer 10 of this embodiment, particularly the operation when inspecting the nozzles will be described. In the inspection of the nozzle to be inspected, the controller 20 performs a discharge inspection for checking whether ink can be discharged satisfactorily, and a noise inspection for checking whether noise that affects the determination result has occurred during the discharge inspection. carry out.

まず、吐出検査について説明する。図9は駆動信号COMとそれに対応した検出信号とを示す説明図であり、(a)は駆動信号COMの波形、(b)は増幅器77から出力される検出信号の波形を示す。コントローラー20は、ノズルプレート63と検査電極72との間に高圧電源74の電圧を印加した状態で、図9(a)に示すピエゾ素子を駆動する駆動信号COMを各ヘッド62に出力する。駆動信号COMは、20〜30個のインク吐出用パルスを出力するパルス出力区間と一定電位(中間電位)の休止区間との組み合わせとなっている。このような駆動信号COMがピエゾ素子に印加されると、そのピエゾ素子に対応するノズルから20〜30個のインク滴が吐出される。すると、これに対応して、増幅器77から検出信号(アナログ信号、図9(b)参照)が検出制御部76へ出力される。検出制御部76は、駆動信号COMに対応した検出信号の振幅Va(検出信号の最高電位VHと最低電位VLとの差)を検出し、検出された振幅Vaと予め定められた閾値Vth(例えば3V)とを比較する。そして、検出信号の振幅Vaが閾値Vthよりも大きければ、検出制御部76は、「振幅大」(吐出良好)を表すデジタル信号を生成する。逆に、検出信号の振幅Vaが閾値Vthよりも小さければ、「振幅小」(吐出不良)を表すデジタル信号を生成する。   First, the discharge inspection will be described. FIG. 9 is an explanatory diagram showing the drive signal COM and the detection signal corresponding to the drive signal COM. FIG. 9A shows the waveform of the drive signal COM, and FIG. 9B shows the waveform of the detection signal output from the amplifier 77. The controller 20 outputs a drive signal COM for driving the piezo element shown in FIG. 9A to each head 62 with the voltage of the high voltage power supply 74 applied between the nozzle plate 63 and the inspection electrode 72. The drive signal COM is a combination of a pulse output section for outputting 20 to 30 ink ejection pulses and a pause section of a constant potential (intermediate potential). When such a drive signal COM is applied to a piezo element, 20 to 30 ink droplets are ejected from the nozzle corresponding to the piezo element. Then, in response to this, a detection signal (analog signal, see FIG. 9B) is output from the amplifier 77 to the detection control unit 76. The detection control unit 76 detects the amplitude Va of the detection signal corresponding to the drive signal COM (difference between the highest potential VH and the lowest potential VL of the detection signal), and detects the detected amplitude Va and a predetermined threshold Vth (for example, 3V). If the amplitude Va of the detection signal is larger than the threshold value Vth, the detection control unit 76 generates a digital signal indicating “large amplitude” (good ejection). Conversely, if the amplitude Va of the detection signal is smaller than the threshold value Vth, a digital signal representing “small amplitude” (ejection failure) is generated.

ここで、吐出検査の原理について説明する。図7において、ノズルプレート63と検査電極72との間に電圧を印加した状態で、検査対象ノズルからインクが吐出するようにヘッドユニット60を制御したとき、実際にそのノズルからインクが吐出した場合には検査電極72の電圧信号が大きく変化するが、そのノズルからインクが吐出しなかった場合には検査電極72の電圧信号はほとんど変化しない。このため、その電圧信号の変化に基づいて検査対象ノズルがインクを吐出したか否かを判定することができる。この原理は正確には解明されていないが、次のように考えられる。一般的に、コンデンサーを構成する一対の電極板の間隔が変化すると、コンデンサーに蓄えられる電荷が変化することが知られている。グランド電位のノズルプレート63から高電位の検査電極72に向かってインクが吐出されると、グランド電位のインク滴と検査電極72との間隔d(図6参照)が変化し、コンデンサーの一対の電極板の間隔が変化したときのように、検査電極72に蓄えられる電荷が変化する。この結果、検査電極72に電荷が移動し、これに伴って変化する電圧を検査用コンデンサー78及び増幅器77が検出し、検出信号が検出制御部76に出力されると考えられる。   Here, the principle of the discharge inspection will be described. In FIG. 7, when the head unit 60 is controlled so that ink is ejected from the nozzle to be inspected in a state where a voltage is applied between the nozzle plate 63 and the inspection electrode 72, ink is actually ejected from the nozzle. In this case, the voltage signal of the inspection electrode 72 changes greatly, but when the ink is not ejected from the nozzle, the voltage signal of the inspection electrode 72 hardly changes. Therefore, it is possible to determine whether or not the inspection target nozzle has ejected ink based on the change in the voltage signal. Although this principle has not been clarified accurately, it is thought as follows. In general, it is known that when the distance between a pair of electrode plates constituting a capacitor changes, the charge stored in the capacitor changes. When ink is ejected from the ground potential nozzle plate 63 toward the high potential inspection electrode 72, the distance d (see FIG. 6) between the ink droplet of the ground potential and the inspection electrode 72 changes, and a pair of electrodes of the capacitor As when the distance between the plates changes, the charge stored in the inspection electrode 72 changes. As a result, the charge is transferred to the inspection electrode 72, and the inspection capacitor 78 and the amplifier 77 detect the voltage that changes accordingly, and the detection signal is output to the detection control unit 76.

次に、ノイズ検査について説明する。ノイズ検査期間中は、コントローラー20は、ノズルプレート63と検査電極72との間に高圧電源74の電圧を印加した状態で、どのノズルのピエゾ素子にも駆動信号COMを付与しない。つまり、ノイズ検査期間は、インク滴を吐出させない非吐出期間になる。この期間中も、増幅器77から検出信号(アナログ信号)が検出制御部76へ出力される。検出制御部76は、この検出信号の振幅Vaと閾値Vthとを比較し、検出信号の振幅Vaが閾値Vthよりも大きければ、「振幅大」(ノイズあり)を表すデジタル信号をコントローラー20へ送信する。逆に、検出信号の振幅Vaが閾値Vthよりも小さければ、「振幅小」(ノイズなし)を表すデジタル信号をコントローラー20へ送信する。図7において、ノズルプレート63と検査電極72との間に電圧を印加した状態で、どのノズルのピエゾ素子にも駆動信号COMを付与しない場合、本来であれば検査電極72の電圧信号はほとんど変化しないが、検査電極72にノイズが発生するとそのノイズによって検査電極72の電圧信号が大きく変化する。このため、その電圧信号の変化に基づいてノイズの有無を判定することができる。   Next, noise inspection will be described. During the noise inspection period, the controller 20 does not give the drive signal COM to the piezo element of any nozzle in a state where the voltage of the high voltage power supply 74 is applied between the nozzle plate 63 and the inspection electrode 72. That is, the noise inspection period is a non-ejection period in which ink droplets are not ejected. Even during this period, the detection signal (analog signal) is output from the amplifier 77 to the detection control unit 76. The detection control unit 76 compares the amplitude Va of the detection signal with the threshold value Vth, and if the amplitude Va of the detection signal is larger than the threshold value Vth, a digital signal indicating “large amplitude” (with noise) is transmitted to the controller 20. To do. Conversely, if the amplitude Va of the detection signal is smaller than the threshold value Vth, a digital signal representing “small amplitude” (no noise) is transmitted to the controller 20. In FIG. 7, in the state where a voltage is applied between the nozzle plate 63 and the inspection electrode 72, when the drive signal COM is not applied to the piezo element of any nozzle, the voltage signal of the inspection electrode 72 is hardly changed. However, when noise occurs in the inspection electrode 72, the voltage signal of the inspection electrode 72 greatly changes due to the noise. For this reason, the presence or absence of noise can be determined based on the change in the voltage signal.

吐出検査とノイズ検査の具体例について説明する。ここでは、1つのノズルに対して、吐出検査を2回行い、その後ノイズ検査を1回行う場合を例に挙げて説明する。そのときの増幅器77から出力される検出信号及び検出制御部76での判定結果の例を図10に示す。図10(a)では、2回の吐出検査で共に検出信号の振幅Vaが閾値Vthを超えているため、検出制御部76で共に「振幅大」のデジタル信号が生成され、その後のノイズ検査で振幅Vaが閾値Vth以下のため「振幅小」のデジタル信号が生成される。これらの3つのデジタル信号を統合して判定すると、そのノズルは「正常」と決定される。図10(b)では、2回の吐出検査で共に検出信号の振幅Vaが閾値Vth以下のため、検出制御部76で共に「振幅小」のデジタル信号が生成され、その後のノイズ検査で振幅Vaが閾値Vth以下のため「振幅小」のデジタル信号が生成される。これらの3つのデジタル信号を統合して判断すると、そのノズルは「異常」と決定される。図10(c)の検出信号では、1回目の吐出検査で検出信号の振幅Vaが閾値Vthを超えたため、検出制御部76で「振幅大」のデジタル信号が生成され、2回目の吐出検査で振幅Vaが閾値Vth以下のため「振幅小」のデジタル信号が生成され、その後のノイズ検査で振幅Vaが閾値Vth以下のため「振幅小」のデジタル信号が生成される。これらの3つのデジタル信号を統合して判断すると、そのノズルは「異常」と決定される。つまり、複数の吐出検査のうち1回でも「振幅小」のものがあれば、そのノズルは詰まり等が生じている可能性があることから、「異常」と判定するのである。図10(d)では、2回の吐出検査で共に検出信号の振幅Vaが閾値Vthを超えているため、検出制御部76で共に「振幅大」のデジタル信号が生成され、その後のノイズ検査でも振幅Vaが閾値Vthを超えたため「振幅大」のデジタル信号が生成される。これらの3つのデジタル信号を統合して判断すると、そのノズルは「不明」と決定される。ノイズ検査で振幅Vaが閾値Vthを超えたということは、その前の吐出検査においてノイズが混入している可能性が高く、ノイズのせいで振幅Vaが閾値Vthを超えた可能性があるため、正常か異常かを判定できず、「不明」と判定するのである。このように、ノイズ検査の結果が「振幅大」の場合には、その直前の吐出検査はノイズの影響を受けている可能性が高いことから、統合判断では吐出検査の結果にかかわらず「不明」と判定する。   Specific examples of discharge inspection and noise inspection will be described. Here, a case where the ejection inspection is performed twice for one nozzle and then the noise inspection is performed once will be described as an example. An example of the detection signal output from the amplifier 77 at that time and the determination result in the detection control unit 76 is shown in FIG. In FIG. 10A, since the amplitude Va of the detection signal exceeds the threshold value Vth in both ejection inspections, the detection control unit 76 generates both “large amplitude” digital signals, and in the subsequent noise inspection. Since the amplitude Va is equal to or less than the threshold value Vth, a “small amplitude” digital signal is generated. When these three digital signals are combined and determined, the nozzle is determined as “normal”. In FIG. 10B, since the amplitude Va of the detection signal is less than or equal to the threshold value Vth in the two ejection inspections, the detection control unit 76 generates both “small amplitude” digital signals, and the amplitude Va in the subsequent noise inspection. Is less than the threshold value Vth, a “small amplitude” digital signal is generated. When these three digital signals are integrated and determined, the nozzle is determined to be “abnormal”. In the detection signal of FIG. 10C, since the amplitude Va of the detection signal exceeds the threshold value Vth in the first ejection test, the detection control unit 76 generates a “large amplitude” digital signal, and in the second ejection test. Since the amplitude Va is equal to or smaller than the threshold value Vth, a “small amplitude” digital signal is generated. In the subsequent noise inspection, a digital signal having “small amplitude” is generated because the amplitude Va is equal to or smaller than the threshold value Vth. When these three digital signals are integrated and determined, the nozzle is determined to be “abnormal”. That is, if one of the plurality of ejection inspections is “small in amplitude” even once, the nozzle may be clogged, so that it is determined as “abnormal”. In FIG. 10D, since the amplitude Va of the detection signal exceeds the threshold value Vth in both of the ejection inspections, the detection control unit 76 generates both “large amplitude” digital signals, and also in the subsequent noise inspection. Since the amplitude Va exceeds the threshold value Vth, a “large amplitude” digital signal is generated. When these three digital signals are integrated and determined, the nozzle is determined as “unknown”. The fact that the amplitude Va exceeds the threshold value Vth in the noise inspection is highly likely that noise has been mixed in the previous ejection inspection, and the amplitude Va may have exceeded the threshold value Vth due to the noise. Whether it is normal or abnormal cannot be determined, and it is determined as “unknown”. In this way, when the noise test result is “large amplitude”, it is highly possible that the immediately preceding discharge test is affected by noise. Is determined.

次に、コントローラー20が実行するノズルの統合判定ルーチンや、検査回路71の異常時の処理である検査不能時処理ルーチン及び遅延時処理ルーチン、検査ユニット70の検出制御部76が実行するデジタル信号出力ルーチンについて、説明する。ここでは、ノズルをブロック単位で処理していく。このため、各ルーチンの説明に先立って、ブロックの分け方について説明する。ブロックは、ヘッド62ごとに、そのヘッド62が有する複数のノズルを15個のノズルが1つのブロックになるように分ける。図11は、第1ヘッド62aが有する1440個(180個×8列)のノズルをブロック分けしたときの様子を示すテーブルである。具体的には、Mk列において、#1〜#15を第1ブロック、#16〜#30を第2ブロック、……という具合にブロック分けを行い、その後、Gr列、Or列、Cl列、Pk列、Cy列、Ma列、Ye列の順に同様にしてブロック分けを行う。なお、第2〜第15ヘッド62b〜62oについても図11と同様にしてブロック分けされる。   Next, a nozzle integration determination routine executed by the controller 20, an inspection impossible processing routine and a delay processing routine that are processing when the inspection circuit 71 is abnormal, and a digital signal output executed by the detection control unit 76 of the inspection unit 70 The routine will be described. Here, nozzles are processed in units of blocks. For this reason, prior to the description of each routine, how to divide the blocks will be described. For each head 62, the block divides a plurality of nozzles of the head 62 so that 15 nozzles form one block. FIG. 11 is a table showing a state when 1440 (180 × 8 columns) nozzles of the first head 62a are divided into blocks. Specifically, in the Mk column, # 1 to # 15 are first blocks, # 16 to # 30 are second blocks, and so on, and then the Gr column, Or column, Cl column, Block division is performed in the same order in the order of Pk column, Cy column, Ma column, and Ye column. The second to fifteenth heads 62b to 62o are also divided into blocks in the same manner as in FIG.

ノズルの統合判定ルーチンについて、図12のフローチャートを用いて説明する。コントローラー20は、統合判定の実行タイミングが到来するごとに、この統合判定ルーチンを開始する。このルーチンが開始されると、コントローラー20は、まず、移動ユニット50を制御して、ヘッドユニット60の各ヘッド62が各検査電極72に対向するようにヘッドユニット60を移動させる(ステップS100)。これにより、各ヘッド62と各検査電極72とは図8に示した位置関係となる。次いで、各検査電極72と対向するヘッド62のうち各検査電極72についてそれぞれ1つを検査対象ヘッドに設定する(ステップS105)。なお、統合判定ルーチンにおけるステップS105以降の処理は、8つの検査回路71A〜Hのそれぞれについて独立して実行される。また、本実施形態では、各検査電極72と対向するヘッド62が複数あるときには、図8で上側に位置するヘッド62を先に検査対象ヘッドに設定するものとした。したがって、例えば第1検査回路71AについてステップS105以降の処理を行う際には、ステップS105でまず第1ヘッド62aを検査対象ヘッドに設定し、第2検査回路71BについてステップS105以降の処理を行う際には、ステップS105でまず第5ヘッド62eを検査対象ヘッドに設定する。他の検査回路71についても同様である。第8検査回路71Hについては、第14ヘッド62nのみと対向しているため、ステップS105で第14ヘッド62nを検査対象ヘッドに設定する。   The nozzle integration determination routine will be described with reference to the flowchart of FIG. The controller 20 starts this integration determination routine every time the execution timing of the integration determination arrives. When this routine is started, the controller 20 first controls the moving unit 50 to move the head unit 60 so that each head 62 of the head unit 60 faces each inspection electrode 72 (step S100). Thereby, each head 62 and each test electrode 72 have the positional relationship shown in FIG. Next, one of the heads 62 facing each test electrode 72 is set as a test target head for each test electrode 72 (step S105). In addition, the process after step S105 in an integrated determination routine is performed independently about each of eight test | inspection circuits 71A-H. Further, in the present embodiment, when there are a plurality of heads 62 facing each inspection electrode 72, the head 62 positioned on the upper side in FIG. 8 is set as the inspection target head first. Therefore, for example, when the processing after step S105 is performed for the first inspection circuit 71A, the first head 62a is first set as the inspection target head in step S105, and the processing after step S105 is performed for the second inspection circuit 71B. In step S105, first, the fifth head 62e is set as an inspection target head. The same applies to the other inspection circuits 71. Since the eighth inspection circuit 71H faces only the fourteenth head 62n, the fourteenth head 62n is set as the inspection target head in step S105.

続いて、ブロックの番号を表す変数pに値1をセット(ステップS110)し、第pブロックを検査対象ブロックに設定して(ステップS120)、検査対象ブロックの検査を実行する(ステップS130)。具体的には、コントローラー20は、検査対象ヘッドの第pブロックに属する15個のノズルを順次、検査対象ノズルに設定し、検査対象ノズルのピエゾ素子に、図9(a)に示す駆動信号COMを2回連続して付与し、その後、駆動信号COMを所定期間付与しないようにする。これにより、検査対象ノズルは、2回の吐出検査と1回のノイズ検査とが実施されることになる。検査ユニット70の検出制御部76は、検査電極72とノズルプレート63との間に電圧を印加した状態で、増幅器77から出力される2回の吐出検査の検出信号と1回のノイズ検査の検出信号を取得し、検出制御部76の図示しない一時記憶領域に記憶する。そして、第pブロックに属する15個のノズルのすべてについて、各3つの検出信号を一時記憶した後、検出制御部76は、デジタル信号出力ルーチンを実行する。このときの検出制御部76の一時記憶領域に記憶されたデータを図13に示す。1〜3番目のデータは、第pブロックに属するノズルのうち番号(#1とか#2)の最小のものについての吐出検査(1回目)、吐出検査(2回目)及びノイズ検査の検出信号であり、4〜6番目のデータは、第pブロックに属するノズルのうち番号が2番目に小さいものについての吐出検査(1回目)、吐出検査(2回目)及びノイズ検査の検出信号である。これ以降のデータについても、意味するところは同じであるため説明を省略する。   Subsequently, a value 1 is set to the variable p representing the block number (step S110), the p-th block is set as the inspection target block (step S120), and the inspection target block is inspected (step S130). Specifically, the controller 20 sequentially sets 15 nozzles belonging to the p-th block of the inspection target head as inspection target nozzles, and supplies the drive signal COM shown in FIG. 9A to the piezo element of the inspection target nozzle. Is continuously applied twice, and thereafter, the drive signal COM is not applied for a predetermined period. As a result, the nozzle to be inspected is subjected to two ejection inspections and one noise inspection. The detection control unit 76 of the inspection unit 70 detects two discharge inspection detection signals output from the amplifier 77 and one noise inspection detection while a voltage is applied between the inspection electrode 72 and the nozzle plate 63. The signal is acquired and stored in a temporary storage area (not shown) of the detection control unit 76. Then, after temporarily storing each of the three detection signals for all 15 nozzles belonging to the p-th block, the detection control unit 76 executes a digital signal output routine. FIG. 13 shows data stored in the temporary storage area of the detection control unit 76 at this time. The first to third data are detection signals for the discharge inspection (first time), discharge inspection (second time), and noise inspection for the smallest nozzle (# 1 or # 2) belonging to the p-th block. Yes, the 4th to 6th data are detection signals for the discharge inspection (first time), discharge inspection (second time), and noise inspection for the nozzle having the second smallest number among the nozzles belonging to the p-th block. Since the meanings of the subsequent data are the same, the description thereof is omitted.

ここで、検出制御部76が実行するデジタル信号出力ルーチンについて、図14のフローチャートを用いて説明する。このルーチンは、第pブロックに含まれるすべてのノズルの検出信号の検出が終了した時点、つまり、図13に示す一時記憶領域に1〜45個のデータがすべて記憶された時点で開始される。このルーチンが開始されると、検出制御部76は、まず、変数kに値1をセットする(ステップS310)。続いて、検出制御部76の一時記憶領域から第k番目のデータを読み出し(ステップS320)、そのデータつまり検出信号の振幅Vaが閾値Vthを超えるか否かを判定する(ステップS330)。そして、振幅Vaが閾値Vthを超えていたならば、「振幅大」を表すデジタル信号を検出制御部76の図示しない送信用レジスターの第k番目の位置に書き込む(ステップS340)。一方、振幅Vaが閾値Vth以下ならば、「振幅小」を表すデジタル信号を検出制御部76の送信用レジスターの第k番目の位置に書き込む(ステップS350)。そして、ステップS340又はステップS350で送信用レジスターへの書き込みが終了した後、変数kは上限値(ここでは1ブロックに含まれるノズル数は15個のため上限値は値45)に達しているか否かを判定し(ステップS360)、変数kが上限値に達していなければ、変数kを1インクリメントし(ステップS370)、再びステップS320に戻る。一方、変数kが上限値に達していたならば、送信用レジスターの内容をコントローラー20へ送信し(ステップS380)、このルーチンを終了する。つまり、検出制御部76は、送信用レジスターのフル容量分のデジタル信号(45個のデジタル信号)が格納されたあと、その送信用レジスターの内容をコントローラー20へ送信する。このときの送信用レジスターのデータを図15に示す。   Here, a digital signal output routine executed by the detection control unit 76 will be described with reference to the flowchart of FIG. This routine is started when detection of detection signals of all the nozzles included in the p-th block is completed, that is, when all 1 to 45 pieces of data are stored in the temporary storage area shown in FIG. When this routine is started, the detection control unit 76 first sets a value 1 to the variable k (step S310). Subsequently, the kth data is read from the temporary storage area of the detection control unit 76 (step S320), and it is determined whether the data, that is, the amplitude Va of the detection signal exceeds the threshold value Vth (step S330). If the amplitude Va exceeds the threshold value Vth, a digital signal indicating “large amplitude” is written in a kth position of a transmission register (not shown) of the detection control unit 76 (step S340). On the other hand, if the amplitude Va is equal to or less than the threshold value Vth, a digital signal indicating “small amplitude” is written in the kth position of the transmission register of the detection control unit 76 (step S350). Then, after the writing to the transmission register is completed in step S340 or step S350, the variable k has reached the upper limit value (here, the upper limit value is 45 because the number of nozzles included in one block is 15). (Step S360), and if the variable k has not reached the upper limit, the variable k is incremented by 1 (step S370), and the process returns to step S320 again. On the other hand, if the variable k has reached the upper limit value, the contents of the transmission register are transmitted to the controller 20 (step S380), and this routine is terminated. That is, after the digital signal (45 digital signals) corresponding to the full capacity of the transmission register is stored, the detection control unit 76 transmits the contents of the transmission register to the controller 20. The data in the transmission register at this time is shown in FIG.

図12に戻り、コントローラー20は、検出制御部76から1ブロック分のデジタル信号(45個のデジタル信号)を取得したか否かを判定し(ステップS140)、取得していなければ再びステップS140に戻る。一方、検出制御部76から1ブロック分のデジタル信号を取得したならば、統合判定を実施し、ノズルと統合判定結果との対応付けを行う(ステップS150)。例えば、検査対象ブロックが第1ブロックの場合には、45個のデジタル信号のうち1〜3番目のデジタル信号がMk列の#1のノズルの吐出検査(1回目)、吐出検査(2回目)及びノイズ検査の結果を表し、4〜6番目のデジタル信号がMk列の#2のノズルの吐出検査(1回目)、吐出検査(2回目)及びノイズ検査の結果を表す、という具合に、どのデジタル信号がどのノズルに対応しているかを特定していく。それと共に、特定したノズルにつき、それに対応した3つのデジタル信号を統合判定して正常か異常かを決定する。なお、正常か異常かの判定(統合判定)は、既に図10を用いて説明したとおりである。こうして統合判定を実施した後、特定したノズルにつき、統合判定の結果を対応づける。その一例を図16に示す。図16(a)は検査制御部76からのデジタル信号、図16(b)はノズルごとの統合判定の結果を示す。   Returning to FIG. 12, the controller 20 determines whether or not one block of digital signals (45 digital signals) has been acquired from the detection control unit 76 (step S140). If not, the process returns to step S140. Return. On the other hand, if a digital signal for one block is acquired from the detection control unit 76, the integration determination is performed, and the nozzles are associated with the integration determination result (step S150). For example, when the block to be inspected is the first block, the first to third digital signals out of 45 digital signals are the ejection inspection (first time) and the ejection inspection (second time) of the # 1 nozzle in the Mk row. The 4th to 6th digital signals represent the results of the ejection test (first time), the ejection test (second time), and the noise test of the nozzle # 2 in the Mk column. Identify which nozzle the digital signal corresponds to. At the same time, for the specified nozzle, three digital signals corresponding thereto are integrated and determined to be normal or abnormal. It should be noted that the determination of normal or abnormal (integrated determination) is as already described with reference to FIG. After performing the integrated determination in this way, the integrated determination result is associated with the identified nozzle. An example is shown in FIG. 16A shows a digital signal from the inspection control unit 76, and FIG. 16B shows a result of the integrated determination for each nozzle.

続いて、コントローラー20は、第pブロックに含まれる15個のノズルの統合判定の結果に「不明」のものがあるか否かを判定する(ステップS160)。ステップS160で「不明」のものがあったならば、再検査回数Sを値1インクリメントし(ステップS170)、検査回路71が検査不能か否かを判定する(ステップS180)。具体的には、再検査回数Sが閾値Sthを超過したか否かを判定し、超過しているときには検査回路71が検査不能であると判定する。ここで、再検査回数Sは、今回の第pブロックを再度検査対象ブロックに設定するステップS190(後述)の繰り返し回数を表す値であり、初期値は値0に設定されている。また、閾値Sthは、ステップS190の繰り返し回数の上限値(例えば値5)として設定されている値である。そして、本実施形態では、ノズルの統合判定結果に「不明」のものがある場合には後述するように再検査を行うのであるが、この再検査回数Sが閾値Sthを超えたときに検査回路71による検査ができないとみなして、ステップS180で検査不能であると判定するのである。そして、このステップS180で否定的な判定をしたときには、検査不能でないと判定して、今回の第pブロックを再度検査対象ブロックに設定し(ステップS190)、ステップS130に戻る。これにより、ブロック単位で再検査が実施される。   Subsequently, the controller 20 determines whether or not there is an “unknown” result as a result of the integration determination of 15 nozzles included in the p-th block (step S160). If there is an "unknown" item in step S160, the reinspection count S is incremented by 1 (step S170), and it is determined whether or not the inspection circuit 71 cannot be inspected (step S180). Specifically, it is determined whether or not the number of retests S exceeds the threshold value Sth, and when it exceeds, it is determined that the test circuit 71 cannot be tested. Here, the reinspection number S is a value representing the number of repetitions of step S190 (described later) for setting the current p-th block as the inspection target block again, and the initial value is set to zero. The threshold value Sth is a value set as the upper limit value (for example, value 5) of the number of repetitions of step S190. In this embodiment, when there is an “unknown” nozzle integration determination result, re-inspection is performed as described later. When this re-inspection count S exceeds the threshold value Sth, the inspection circuit In step S180, it is determined that the inspection cannot be performed. If a negative determination is made in step S180, it is determined that the inspection is not possible, the current p-th block is set as the inspection target block again (step S190), and the process returns to step S130. As a result, re-inspection is performed in units of blocks.

最初の検査において不明ノズルがない場合や再検査により不明ノズルがなくなったときには、ステップS160で否定的な判定をして、再検査回数Sを値0に初期化し(ステップS215)、第pブロックのうちの15個の特定されたノズルとその統合判定の結果との対応関係を確定してメモリー28に保存する(ステップS220)。その後、変数pは上限値(ここではブロックの総数)に達しているか否かを判定し(ステップS230)、変数pが上限値に達していなければ、変数pを1インクリメントし(ステップS240)、再びステップS120に戻る。これにより、次のブロックの検査が実施されることになる。   If there are no unknown nozzles in the first inspection or if there are no unknown nozzles due to re-inspection, a negative determination is made in step S160, the re-inspection count S is initialized to 0 (step S215), and the p-th block Correspondences between the 15 identified nozzles and the integrated determination result are determined and stored in the memory 28 (step S220). Thereafter, it is determined whether or not the variable p has reached the upper limit value (here, the total number of blocks) (step S230). If the variable p has not reached the upper limit value, the variable p is incremented by 1 (step S240). The process returns to step S120 again. As a result, the next block is inspected.

ステップS230で変数pが上限値に達していたならば、検査電極72と対向する未検査のヘッド62があるか否かを判定する(ステップS250)。例えば、第1検査回路71Aについて、上述したステップS105により第1ヘッド62aを検査対象ヘッドに設定してノズル検査を行ったときには、第1検査電極72Aと対向する第3ヘッド62cが未検査であるため、ステップS250で肯定的な判定をする。そして、肯定的な判定をすると、未検査のヘッドを次の検査対象ヘッドに設定して(ステップS260)、ステップS110に戻る。これにより、未検査のヘッドについてノズル検査が行われることになる。そして、検査電極72と対向する未検査のヘッドがなくなったときには、ステップS250で肯定的な判定をして、本ルーチンを終了する。   If the variable p has reached the upper limit value in step S230, it is determined whether there is an uninspected head 62 that faces the inspection electrode 72 (step S250). For example, regarding the first inspection circuit 71A, when the nozzle inspection is performed by setting the first head 62a as the inspection target head in the above-described step S105, the third head 62c facing the first inspection electrode 72A is not inspected. Therefore, a positive determination is made in step S250. If a positive determination is made, an uninspected head is set as the next inspection target head (step S260), and the process returns to step S110. As a result, nozzle inspection is performed for an uninspected head. When there is no uninspected head facing the inspection electrode 72, an affirmative determination is made in step S250, and this routine is terminated.

一方、再検査を繰り返しても不明ノズルがなくならず、再検査回数Sが閾値Sthを超えたときには、ステップS180で肯定的な判定をし、検査不能と判定された検査回路71及び未検査ノズルをメモリー28に記憶して(ステップS270)、本ルーチンを終了する。なお、上述したようにステップS105以降の処理は8つの検査回路71A〜Hのそれぞれについて独立して実行されているため、8つの検査回路A〜HのうちステップS180で肯定的な判定をした検査回路71と、その検査回路71によりノズル検査を行うはずであったがまだノズル検査を行っていない未検査ノズルとをメモリー28に記憶することになる。例えば、検査回路71AについてステップS105以降の処理を行い、ステップS180で肯定的な判定をしたときの検査対象ヘッドが第1ヘッド62aであり、検査対象ブロックが第5ブロック(変数pが値5)であったときには、検査不能な検査回路71が第1検査回路71Aであり、第1ヘッド62aの第5〜第96ブロック及び第3ヘッド62cの第1〜第96ブロックのノズルが未検査ノズルである旨がメモリー28に記憶される。   On the other hand, when the reexamination is repeated, the unknown nozzle does not disappear, and when the reinspection number S exceeds the threshold value Sth, an affirmative determination is made in step S180, and the inspection circuit 71 and the uninspected nozzle that are determined as incapable of inspection. Is stored in the memory 28 (step S270), and this routine is terminated. As described above, since the processing after step S105 is performed independently for each of the eight inspection circuits 71A to 71H, the inspection in which the positive determination is made in step S180 among the eight inspection circuits A to H. The memory 71 stores the circuit 71 and the untested nozzle that should have been subjected to the nozzle test by the test circuit 71 but has not yet performed the nozzle test. For example, the processing after step S105 is performed on the inspection circuit 71A, and the head to be inspected when the positive determination is made in step S180 is the first head 62a, and the block to be inspected is the fifth block (the variable p is a value of 5). In this case, the inspection circuit 71 that cannot be inspected is the first inspection circuit 71A, and the nozzles of the fifth to 96th blocks of the first head 62a and the first to 96th blocks of the third head 62c are uninspected nozzles. The fact is stored in the memory 28.

以上の統合判定ルーチンを行うことにより、各ヘッド62のノズル検査が行われる。具体的には、第1検査回路71Aを用いた第1ヘッド62a,第3ヘッド62cのノズル検査、第2検査回路71Bを用いた第5ヘッド62e,第7ヘッド62gのノズル検査、第3検査回路71Cを用いた第9ヘッド62i,第11ヘッド62kのノズル検査、第4検査回路71Dを用いた第13ヘッド62m,第15ヘッド62oのノズル検査、第5検査回路71Eを用いた第2ヘッド62b,第4ヘッド62dのノズル検査、第6検査回路71Fを用いた第6ヘッド62f,第8ヘッド62hのノズル検査、第7検査回路71Gを用いた第10ヘッド62j,第12ヘッド62lのノズル検査、第8検査回路71Hを用いた第14ヘッド62nのノズル検査、が行われる。なお、上述したステップS180で検査不能と判定された検査回路71がある場合には、その検査回路71に対向するヘッド62のノズルのうち少なくとも一部は、統合判定ルーチンが終了してもノズル検査が行われてない未検査ノズルとなる。   By performing the above integrated determination routine, the nozzle inspection of each head 62 is performed. Specifically, the nozzle inspection of the first head 62a and the third head 62c using the first inspection circuit 71A, the nozzle inspection of the fifth head 62e and the seventh head 62g using the second inspection circuit 71B, the third inspection Nozzle inspection of ninth head 62i and eleventh head 62k using circuit 71C, thirteenth head 62m using fourth inspection circuit 71D, nozzle inspection of fifteenth head 62o, second head using fifth inspection circuit 71E 62b, nozzle inspection of the fourth head 62d, nozzle inspection of the sixth head 62f, eighth head 62h using the sixth inspection circuit 71F, nozzles of the tenth head 62j, twelfth head 62l using the seventh inspection circuit 71G Inspection and nozzle inspection of the fourteenth head 62n using the eighth inspection circuit 71H are performed. If there is an inspection circuit 71 that has been determined to be uninspectable in step S180 described above, at least some of the nozzles of the head 62 that face the inspection circuit 71 will be subjected to nozzle inspection even if the integrated determination routine ends. This is an uninspected nozzle that is not performed.

次に、検査不能時処理ルーチンについて、図17を用いて説明する。検査不能時処理ルーチンは、統合判定ルーチンで検査不能と判定された検査回路71を用いてノズル検査を行うはずだった未検査ノズルについて、他の検査回路71によりノズル検査を行うためのものである。コントローラー20は、検査回路71A〜Hのすべてについての上述した統合判定ルーチンが終了すると、この検査不能時処理ルーチンを実行する。このルーチンが開始されると、コントローラー20は、まず、統合判定ルーチンで検査不能と判定された検査回路71があるか否かを判定する(ステップS410)。この判定は、メモリー28を調べて、上述した統合判定ルーチンのステップS270で記憶された検査不能な検査回路71があるか否かを判定することにより行う。そして、検査不能な検査回路71がメモリー28に記憶されていない場合には、否定的な判定をして本ルーチンを終了する。   Next, the processing routine when the inspection is impossible will be described with reference to FIG. The non-inspection processing routine is for performing a nozzle inspection by another inspection circuit 71 for an uninspected nozzle that should have been subjected to a nozzle inspection using the inspection circuit 71 that has been determined to be uninspectable by the integrated determination routine. . When the above-described integrated determination routine for all of the inspection circuits 71A to 71H is completed, the controller 20 executes this inspection impossible processing routine. When this routine is started, the controller 20 first determines whether or not there is an inspection circuit 71 that is determined to be uninspectable in the integrated determination routine (step S410). This determination is performed by examining the memory 28 and determining whether or not there is an uninspectable inspection circuit 71 stored in step S270 of the above-described integrated determination routine. If the inspection circuit 71 that cannot be inspected is not stored in the memory 28, a negative determination is made and this routine is terminated.

検査不能な検査回路71がメモリー28に記憶されている場合には、ステップS410で肯定的な判定をして、検査不能な検査回路71と対向する未検査ノズルを他の検査回路71と対向させる(ステップS420)。この処理は、コントローラー20が移動ユニット50を制御してヘッドユニット60を移動することにより行う。なお、検査不能な検査回路71と対向する未検査ノズルがいずれであるかは、ステップS270で記憶した未検査ノズルを調べることで特定する。そして、移動後に未検査ノズルと対向する検査回路71を用いて、未検査ノズルについてのノズル検査を行って(ステップS430)、本ルーチンを終了する。   When the inspection circuit 71 that cannot be inspected is stored in the memory 28, an affirmative determination is made in step S 410, and an uninspected nozzle that faces the inspection circuit 71 that cannot be inspected is made to face another inspection circuit 71. (Step S420). This process is performed by the controller 20 moving the head unit 60 by controlling the moving unit 50. Note that it is specified by examining the uninspected nozzle stored in step S270 which of the uninspected nozzles faces the inspection circuit 71 that cannot be inspected. Then, using the inspection circuit 71 facing the uninspected nozzle after the movement, a nozzle inspection is performed for the uninspected nozzle (step S430), and this routine is finished.

ここで、この検査不能時処理ルーチンを行う様子を図18を用いて説明する。例えば、第1検査回路71Aを用いて統合判定ルーチンのステップS105以降の処理を行うにあたり、第1ヘッド62aの第1〜48ブロックまでのノズル検査は完了し、第49ブロックのノズル検査を行う際には不明ノズルがなくならず、再検査回数Sが閾値Sthを超えたとする。この場合、変数pが値49のときの統合判定ルーチンのステップS180で肯定的な判定をして、ステップS270で検査回路71Aが検査不能である旨と、第1ヘッド62aの第49〜96ブロック及び第3ヘッド62cの第1〜96ブロックのノズルが未検査ノズルである旨とがメモリー28に記憶されることになる。なお、このように不明ノズルがなくならない場合としては、例えば検査電極71状にインクが堆積して、このインクによりノイズが発生している場合などが挙げられる。そして、他の検査回路71B〜71Hについては検査不能とならずに統合判定ルーチンが終了したとすると、検査不能時処理ルーチンの開始時には図18(a)に示す状態となっている。すなわち、第1検査回路71Aは検査不能であり、第1ヘッド62aの第49〜96ブロック及び第3ヘッド62cの第1〜96ブロックのノズルはノズル検査が完了しておらず未検査ノズルのままとなっている。また、それ以外のヘッド62のノズルは全てノズル検査が完了している。この状態で検査不能時処理ルーチンを行うと、ステップS410で肯定的な判定をして、ステップS420で移動ユニット50を制御し、未検査ノズルが検査不能な第1検査回路71A以外の検査回路と対向するようにヘッドユニット60をY方向の下端側に移動させる。これにより、図18(b)の状態となる。すなわち、未検査ノズルである第1ヘッド62aの第49〜96ブロック及び第3ヘッド62cの第1〜96ブロックのノズルが第2検査回路71Bの第2電極72Bと対向した状態になる。そして、続くステップS430でこの未検査ノズルのノズル検査を第2検査回路71Bを用いて行う。このノズル検査は、上述した統合判定ルーチンのステップS105以降と同様にして行えばよい。例えば図18(b)の状態となった場合には、ステップS105,S110の代わりに、検査対象ヘッドを第1ヘッド62aとし、変数pを値49とする処理を行って、ステップS120以降の処理を行えばよい。これにより、第2検査回路71Bを用いて未検査ノズルのノズル検査が行われる。そして、ノズル検査が完了したときは、検査不能時処理ルーチンを終了する。このように検査不能時処理ルーチンを行うことで、検査不能な検査回路71があっても、他の検査回路71を用いて未検査ノズルのノズル検査を行うことができる。なお、図18(b)では、第2検査回路71Bの検査電極72Bを未検査ノズルと対向させてノズル検査を行ったが、検査不能でない検査回路71でノズル検査を行えばよく、第3検査回路71C〜第8検査回路71Hのいずれかの検査電極72を未検査ノズルと対向させてもよい。なお、ヘッドユニット62の移動に要する時間が少なくなるよう、検査不能な検査回路71に最も近い検査回路71を未検査ノズルに対向させることとすれば、ノズル検査の総時間を短くできる。   Here, the state of performing the processing routine when the inspection is impossible will be described with reference to FIG. For example, when performing the processing after step S105 of the integration determination routine using the first inspection circuit 71A, the nozzle inspection for the first to 48th blocks of the first head 62a is completed, and the nozzle inspection for the 49th block is performed. , It is assumed that the unknown nozzle does not disappear and the number of retests S exceeds the threshold value Sth. In this case, an affirmative determination is made in step S180 of the integrated determination routine when the variable p is 49, and the inspection circuit 71A cannot be inspected in step S270, and the 49th to 96th blocks of the first head 62a. The fact that the nozzles of the first to 96th blocks of the third head 62c are uninspected nozzles is stored in the memory 28. Examples of the case where the unknown nozzle does not disappear in this way include a case where ink is accumulated on the inspection electrode 71 and noise is generated by the ink. Assuming that the integrated determination routine is completed without being incapable of inspecting the other inspection circuits 71B to 71H, the state shown in FIG. That is, the first inspection circuit 71A is not inspected, and the nozzles of the 49th to 96th blocks of the first head 62a and the nozzles of the first to 96th blocks of the third head 62c have not been subjected to nozzle inspection and remain uninspected nozzles. It has become. In addition, the nozzle inspection of all the nozzles of the other heads 62 has been completed. In this state, when the inspection impossible processing routine is performed, an affirmative determination is made in step S410, the moving unit 50 is controlled in step S420, and inspection circuits other than the first inspection circuit 71A incapable of inspecting uninspected nozzles The head unit 60 is moved to the lower end side in the Y direction so as to face each other. As a result, the state shown in FIG. That is, the nozzles of the 49th to 96th blocks of the first head 62a and the first to 96th blocks of the third head 62c, which are uninspected nozzles, face the second electrode 72B of the second inspection circuit 71B. In subsequent step S430, the nozzle inspection of the uninspected nozzle is performed using the second inspection circuit 71B. This nozzle inspection may be performed in the same manner as step S105 and subsequent steps in the integrated determination routine described above. For example, in the case of the state of FIG. 18B, instead of steps S105 and S110, the inspection target head is set to the first head 62a and the variable p is set to the value 49, and the processing after step S120 is performed. Can be done. Thereby, the nozzle inspection of the uninspected nozzle is performed using the second inspection circuit 71B. When the nozzle inspection is completed, the processing routine when the inspection is impossible is terminated. By performing the inspection impossible processing routine in this manner, even if there is an inspection circuit 71 that cannot be inspected, the nozzle inspection of the uninspected nozzle can be performed using another inspection circuit 71. In FIG. 18B, the nozzle inspection is performed with the inspection electrode 72B of the second inspection circuit 71B opposed to the uninspected nozzle. However, the nozzle inspection may be performed by the inspection circuit 71 that is not inspectable. Any of the inspection electrodes 72 of the circuit 71C to the eighth inspection circuit 71H may be opposed to the uninspected nozzle. If the inspection circuit 71 closest to the inspection circuit 71 that cannot be inspected is opposed to the uninspected nozzle so that the time required for moving the head unit 62 is reduced, the total nozzle inspection time can be shortened.

次に、遅延時処理ルーチンについて図19を用いて説明する。この遅延時処理ルーチンは、8つの検査回路71を用いたノズル検査を行うにあたり、ノズル検査が遅延している検査回路71の未検査ノズルを他の検査回路71を用いて検査し、ノズル検査の総時間を短くするためのものである。コントローラー20は、統合判定ルーチンの実行中に、所定時間ごとにこの遅延時処理ルーチンを繰り返し実行する。   Next, the delay processing routine will be described with reference to FIG. In this delay processing routine, when performing nozzle inspection using the eight inspection circuits 71, the non-inspected nozzles of the inspection circuit 71 in which the nozzle inspection is delayed are inspected using the other inspection circuits 71, and the nozzle inspection is performed. This is to shorten the total time. The controller 20 repeatedly executes this delay time processing routine at predetermined time intervals during execution of the integration determination routine.

このルーチンが開始されると、コントローラー20は、まず、8つの検査回路71のうち、他の検査回路71と比べてノズル検査が遅延しているものがあるか否かを判定する(ステップS510)。この判定は、例えば、8つの検査回路71のうち、ノズル検査を完了したブロック数が最も少ない検査回路71と最も多い検査回路71とを比較して、ノズル検査を完了したブロック数の差が所定の閾値以上であるか否かを判定することにより行う。なお、この判定は、ステップS180で検査不能と判定された検査回路71は除いて、それ以外の検査回路71のみで行う。そして、否定的な判定をしたときにはそのまま本ルーチンを終了する。   When this routine is started, the controller 20 first determines whether there is any of the eight inspection circuits 71 whose nozzle inspection is delayed compared to the other inspection circuits 71 (step S510). . This determination is made, for example, by comparing the inspection circuit 71 having the smallest number of blocks completed with the nozzle inspection among the eight inspection circuits 71 with the inspection circuit 71 having the largest number of blocks. This is performed by determining whether or not the threshold is equal to or greater than the threshold value. This determination is performed only by the other inspection circuits 71 except for the inspection circuit 71 that is determined to be uninspectable in step S180. When a negative determination is made, this routine is terminated as it is.

ステップS510で肯定的な判定をしたときには、ヘッドユニット60の移動方向を設定する(ステップS520)。この移動方向は、詳しくは後述するが、ノズル検査が遅延している検査回路71と対向するヘッド62の未検査ノズルを、他の検査回路71を用いて検査させるための移動方向である。本実施形態では、この移動方向は、ステップS510でノズル検査が遅延していると判定された検査回路71がいずれであるかにより設定する。具体的には、ノズル検査が遅延していると判定された検査回路71が第1検査回路71A,第2検査回路71B,第5検査回路71E,第6検査回路71Fのいずれかであったときには、ヘッドユニット60の移動方向をY方向の下端側に設定する。一方、ノズル検査が遅延していると判定された検査回路71が第3検査回路71C,第4検査回路71D,第7検査回路71G,第8検査回路71Hのいずれかであったときには、ヘッドユニット60の移動方向をY方向の上端側に設定する。   When a positive determination is made in step S510, the moving direction of the head unit 60 is set (step S520). As will be described in detail later, this moving direction is a moving direction for inspecting an uninspected nozzle of the head 62 facing the inspection circuit 71 in which the nozzle inspection is delayed by using another inspection circuit 71. In the present embodiment, this moving direction is set depending on which inspection circuit 71 has been determined that the nozzle inspection is delayed in step S510. Specifically, when the inspection circuit 71 that has been determined that the nozzle inspection is delayed is one of the first inspection circuit 71A, the second inspection circuit 71B, the fifth inspection circuit 71E, and the sixth inspection circuit 71F. The moving direction of the head unit 60 is set to the lower end side in the Y direction. On the other hand, when the inspection circuit 71 determined to have delayed the nozzle inspection is one of the third inspection circuit 71C, the fourth inspection circuit 71D, the seventh inspection circuit 71G, and the eighth inspection circuit 71H, the head unit The moving direction of 60 is set to the upper end side in the Y direction.

続いて、ステップS520で設定した移動方向にヘッドユニット60を移動可能であるか否かを判定する(ステップS530)。具体的には、ステップS520で設定した移動方向にヘッドユニット60を所定距離だけ移動させたときに、ヘッド62の未検査ノズルが検査電極72と対向する位置から外れないか否かを判定する。このような判定を行う理由については後述する。なお本実施形態では、所定距離とは、図8に示した距離Lの半分の距離であるものとした。そして、ステップS530で否定的な判定をしたときには、そのまま本ルーチンを終了する。   Subsequently, it is determined whether or not the head unit 60 can be moved in the movement direction set in step S520 (step S530). Specifically, it is determined whether or not the untested nozzle of the head 62 does not deviate from the position facing the test electrode 72 when the head unit 60 is moved by a predetermined distance in the moving direction set in step S520. The reason for making such a determination will be described later. In the present embodiment, the predetermined distance is a half of the distance L shown in FIG. If a negative determination is made in step S530, this routine is terminated as it is.

一方、ステップS530で肯定的な判定をすると、ノズル検査が遅延していると判定された検査回路71と対向する未検査ノズルが、他の検査回路71と対向するよう、ヘッドユニット60をステップS520で設定した移動方向に所定距離だけ移動させる(ステップS540)。そして、移動後に未検査ノズルと対向する検査回路71を用いて、未検査ノズルについてのノズル検査を開始して(ステップS550)、本ルーチンを終了する。このステップS550は、具体的には次のように行う。すなわち、まず、それまで実行していた統合判定ルーチンを中止する。そして、移動後に未検査ノズルと対向する検査回路71を用いて未検査ノズルのノズル検査を行うよう、ステップS105,ステップS110,S120の代わりの処理として各検査回路71の検査対象ヘッド及び検査対象ブロックを改めて設定し、統合判定ルーチンのステップS130以降の処理を改めて開始する。   On the other hand, if an affirmative determination is made in step S530, the head unit 60 is moved to step S520 so that an uninspected nozzle that faces the inspection circuit 71 that is determined to be delayed in the nozzle inspection faces another inspection circuit 71. Is moved by a predetermined distance in the moving direction set in (Step S540). Then, using the inspection circuit 71 facing the uninspected nozzle after the movement, nozzle inspection for the uninspected nozzle is started (step S550), and this routine is ended. Specifically, step S550 is performed as follows. That is, first, the integrated determination routine that has been executed is canceled. Then, the inspection target head and inspection target block of each inspection circuit 71 are processed as a process in place of steps S105, S110, and S120 so that the nozzle inspection of the uninspected nozzle is performed using the inspection circuit 71 that faces the uninspected nozzle after the movement. Is newly set, and the processing after step S130 of the integration determination routine is started again.

ここで、この遅延時処理ルーチンを行う様子を図20,図21を用いて説明する。図20は、時刻t0から統合判定ルーチンを開始して各検査回路71を用いたノズル検査を順次行う様子を示す説明図である。図21は、図20における時刻t1,t2,t3における各検査電極72と各ヘッド62の状態を示す説明図である。なお、図20において、括弧内の数字は各ヘッド62のブロック番号を表す。図20(a)に示すように、時刻t0から統合判定ルーチンが開始されると、コントローラー20は、統合判定ルーチンを開始し各検査回路71を用いて順次ノズル検査を行う。また、遅延時処理ルーチンを時刻t0から所定時間ごとに繰り返し実行する。そして、例えば各検査回路71の処理速度にばらつきがあったり、統合判定ルーチンにおいてステップS180で肯定判定されてはいないもののたびたび不明ノズルが発生して再検査を行ったりすることにより、第1検査回路71Aのノズル検査が遅延しているとする。このような場合には、ノズル検査を完了したブロック数が最も少ない第1検査回路71Aと最も多い他の検査回路71とで、ノズル検査を完了したブロック数の差が時間経過とともに大きくなっていく。そして、時刻t1で実行した遅延時処理ルーチンにおいて、その差が初めて所定の閾値以上となったとすると、ステップS510で肯定的な判定をする。このときの各検査電極72及び各ヘッド62の状態を図21(a)に示す。ステップS510で肯定的な判定をすると、遅延しているのは第1検査回路71Aであるため、ステップS520でヘッドユニット60の移動方向をY方向の下端側に設定する。続いて、ステップS530でヘッドユニット60を移動可能か否かを判定する。ここで、図20(a)及び図21(a)に示すように時刻t1の時点では第4検査電極72Dと対向している第15ヘッド62oの第86〜96ブロックのノズルは未検査ノズルである。したがって、所定距離(Y方向の下端側に距離L/2)だけヘッドユニット60を移動させると、第15ヘッド62oの未検査ノズルが検査電極72と対向する位置から外れてしまう。すなわち、未検査ノズルがいずれの検査電極72とも対向しなくなり、その状態ではこの未検査ノズルの検査を行うことができなくなる。そのため、ステップS530では否定的な判定をして、ヘッドユニット60の移動を行わずに遅延時処理ルーチンを終了する。このように、ステップS530の判定を行うことで、ヘッドユニット60の移動により未検査ノズルが検査電極72と対向する位置から外れないようにし、移動後の状態でノズル検査を行えない未検査ノズルが生じないようにしているのである。   Here, the state of performing this delay processing routine will be described with reference to FIGS. FIG. 20 is an explanatory diagram showing a state in which the integrated determination routine is started from time t0 and nozzle inspection using each inspection circuit 71 is sequentially performed. FIG. 21 is an explanatory diagram showing the state of each inspection electrode 72 and each head 62 at times t1, t2, and t3 in FIG. In FIG. 20, the numbers in parentheses represent the block numbers of the heads 62. As shown in FIG. 20A, when the integrated determination routine is started from time t <b> 0, the controller 20 starts the integrated determination routine and sequentially performs nozzle inspection using each inspection circuit 71. Further, the delay time processing routine is repeatedly executed every predetermined time from time t0. Then, for example, the processing speed of each inspection circuit 71 varies, or an unknown nozzle is frequently generated and re-inspected although it is not affirmatively determined in step S180 in the integrated determination routine. Assume that the nozzle inspection of 71A is delayed. In such a case, the difference in the number of blocks in which the nozzle inspection has been completed increases with time in the first inspection circuit 71A having the smallest number of blocks in which the nozzle inspection has been completed and the other inspection circuit 71 having the largest number of blocks. . Then, in the delay processing routine executed at time t1, if the difference becomes equal to or greater than a predetermined threshold value for the first time, an affirmative determination is made in step S510. The state of each inspection electrode 72 and each head 62 at this time is shown in FIG. If an affirmative determination is made in step S510, since it is the first inspection circuit 71A that is delayed, the moving direction of the head unit 60 is set to the lower end side in the Y direction in step S520. Subsequently, in step S530, it is determined whether or not the head unit 60 can be moved. Here, as shown in FIGS. 20A and 21A, at the time t1, the nozzles of the 86th to 96th blocks of the fifteenth head 62o facing the fourth inspection electrode 72D are uninspected nozzles. is there. Therefore, if the head unit 60 is moved by a predetermined distance (distance L / 2 toward the lower end side in the Y direction), the uninspected nozzles of the fifteenth head 62o are displaced from the positions facing the inspection electrodes 72. That is, the uninspected nozzle does not face any inspection electrode 72, and in this state, the uninspected nozzle cannot be inspected. Therefore, a negative determination is made in step S530, and the delay time processing routine is terminated without moving the head unit 60. As described above, the determination in step S530 prevents the uninspected nozzles from moving away from the position facing the inspection electrode 72 due to the movement of the head unit 60, and the uninspected nozzles that cannot perform the nozzle inspection in the moved state. It does not occur.

次に、時刻t2で遅延時処理ルーチンが実行されたときを考える。このときの状態を図20(b),図21(b)に示す。遅延時処理ルーチンを実行すると、時刻t2でも第1検査回路71Aによるノズル検査は遅延しているためステップS510で肯定的な判定をし、ステップS520ではY方向の下端側に移動方向が設定される。そして、続くステップS530では、時刻t1と異なり第4検査電極72Dを用いたノズル検査は完了しているため、ヘッドユニット60をY方向の下端側に所定距離だけ移動しても、ヘッド62の検査電極72と対向する位置から外れる未検査ノズルはない。そのため、ヘッドユニット60は移動可能でありステップS530では肯定的な判定をする。そして、ステップS540でヘッドユニット60を所定距離(L/2)だけ移動させる。ヘッドユニット60の移動直後である時刻t3の状態を図20(c),図21(c)に示す。図示するように、この移動により、各検査電極72と対向するヘッド62が変化する。これにより、検査の遅延している第1検査回路71Aと対向していた第1ヘッド62a,第3ヘッド62cのうち、第3ヘッド62cが第2検査回路71Bと対向することになる。そして、ステップS550の処理を行って、移動後の時刻t3から未検査ノズルの検査を開始する。具体的には、第1検査回路71Aを用いて第1ヘッド62aの第91ブロックからノズル検査を開始し、第2検査回路71Bを用いて第3ヘッド62cの第1ブロックからノズル検査を開始し、第3検査回路71Cを用いて第7ヘッド62gの第75ブロックからノズル検査を開始し、第4検査回路71Dを用いて第11ヘッド62kの第78ブロックからノズル検査を開始し、第6検査回路71Fを用いて第4ヘッド62dの第85ブロックからノズル検査を開始し、第8検査回路71Hを用いて第12ヘッド62hの第90ブロックからノズル検査を開始するよう、各検査回路71の検査対象ヘッド及び検査対象ブロックを設定して、統合判定ルーチンのステップS130以降の処理を各検査回路71について行う。なお、図21(c)からわかるように、第5検査回路71E及び第7検査回路71Gについては、対向するヘッド62に未検査ノズルがないため、ノズル検査は行わない。   Next, consider the case where the delay processing routine is executed at time t2. The state at this time is shown in FIG. 20 (b) and FIG. 21 (b). When the delay time processing routine is executed, since the nozzle inspection by the first inspection circuit 71A is delayed even at time t2, a positive determination is made in step S510, and in step S520, the movement direction is set on the lower end side in the Y direction. . In the subsequent step S530, since the nozzle inspection using the fourth inspection electrode 72D is completed unlike the time t1, the head 62 is inspected even if the head unit 60 is moved to the lower end side in the Y direction by a predetermined distance. There is no uninspected nozzle that deviates from the position facing the electrode 72. Therefore, the head unit 60 is movable and a positive determination is made in step S530. In step S540, the head unit 60 is moved by a predetermined distance (L / 2). The state at time t3 immediately after the movement of the head unit 60 is shown in FIGS. 20 (c) and 21 (c). As shown in the drawing, this movement changes the head 62 facing each inspection electrode 72. As a result, of the first head 62a and the third head 62c that are opposed to the first inspection circuit 71A that is delayed in inspection, the third head 62c is opposed to the second inspection circuit 71B. And the process of step S550 is performed and the test | inspection of an untested nozzle is started from the time t3 after a movement. Specifically, nozzle inspection is started from the 91st block of the first head 62a using the first inspection circuit 71A, and nozzle inspection is started from the first block of the third head 62c using the second inspection circuit 71B. The nozzle inspection is started from the 75th block of the seventh head 62g using the third inspection circuit 71C, the nozzle inspection is started from the 78th block of the 11th head 62k using the fourth inspection circuit 71D, and the sixth inspection is started. The inspection of each inspection circuit 71 is started by starting the nozzle inspection from the 85th block of the fourth head 62d using the circuit 71F and starting the nozzle inspection from the 90th block of the twelfth head 62h using the eighth inspection circuit 71H. The target head and the inspection target block are set, and the processing after step S130 of the integrated determination routine is performed for each inspection circuit 71. As can be seen from FIG. 21C, the fifth inspection circuit 71E and the seventh inspection circuit 71G do not perform nozzle inspection because there is no uninspected nozzle in the opposing head 62.

このように、遅延時処理ルーチンを行うことで、ノズル検査の総時間を短縮することができる。すなわち、遅延時処理ルーチンを行わず、ノズル検査の遅延している第1検査回路71Aを用いて第1ヘッド62a及び第3ヘッド62cのノズル検査をそのまま行おうとすると、第1検査回路71Aのノズル検査速度が遅いままであった場合は、図21(a),(b)に示す時刻t5にすべてのノズルの検査が完了することになる。これに対し、遅延時処理ルーチンを行うと、第1検査回路71Aが検査するはずであった第3ヘッド62cをノズル検査速度が遅くない第2検査回路71Bを用いて検査するため、図21(c)に示すように時刻t5よりも早い時刻t4ですべてのノズル検査が完了する。   As described above, the total processing time of the nozzle inspection can be shortened by performing the delay processing routine. That is, if the nozzle inspection of the first head 62a and the third head 62c is performed as it is using the first inspection circuit 71A in which the nozzle inspection is delayed without performing the delay processing routine, the nozzles of the first inspection circuit 71A If the inspection speed remains low, inspection of all nozzles is completed at time t5 shown in FIGS. 21 (a) and 21 (b). On the other hand, when the processing routine at the time of delay is performed, the third head 62c that should have been inspected by the first inspection circuit 71A is inspected using the second inspection circuit 71B in which the nozzle inspection speed is not slow. As shown in c), all nozzle inspections are completed at time t4 earlier than time t5.

ここで、本実施形態の構成要素と本発明の構成要素との対応関係を明らかにする。本実施形態の検査不能と判定された検査回路71(図18では第1検査回路71A)や遅延が生じていると判定された検査回路71(図21では第1検査回路71A)が本発明の第1検査部に相当し、検査不能と判定されていない検査回路71(図18では第2検査回路71B〜第8検査回路71H)や遅延が生じていると判定されていない検査回路71(図21では第2検査回路71B〜第8検査回路71H)が第2検査部に相当し、検査不能と判定された検査回路71(図18では第1検査回路71A)や遅延が生じていると判定された検査回路71(図21では第1検査回路71A)とステップS100で対向するヘッド62(図18,図21では第1ヘッド62a,第3ヘッド62c)が本発明の第1ノズル群に相当し、検査不能と判定されていない検査回路71(図18では第2検査回路71B〜第8検査回路71H)や遅延が生じていると判定されていない検査回路71(図21では第2検査回路71B〜第8検査回路71H)とステップS100で対向するヘッド62(図18,21では、第2ヘッド62b,第4ヘッド62d〜第15ヘッド62o)が第2ノズル群に相当し、検査ユニット70が検査ユニットに相当し、移動ユニット50が移動ユニットに相当し、コントローラー20が判定手段に相当する。また、ノズルプレート63が第1電極に相当し、検査電極72が第2電極に相当する。なお、本実施形態では、プリンター10の動作を説明することにより本発明のノズル検査方法の一例も明らかにしている。   Here, the correspondence between the components of the present embodiment and the components of the present invention will be clarified. The inspection circuit 71 (first inspection circuit 71A in FIG. 18) determined to be inoperable according to the present embodiment and the inspection circuit 71 (first inspection circuit 71A in FIG. 21) determined to have a delay are included in the present invention. An inspection circuit 71 (second inspection circuit 71B to 8th inspection circuit 71H in FIG. 18) that corresponds to the first inspection unit and is not determined to be uninspectable, or an inspection circuit 71 that is not determined to have a delay (FIG. 18). 21, the second inspection circuit 71 </ b> B to the eighth inspection circuit 71 </ b> H) correspond to the second inspection unit, and it is determined that the inspection circuit 71 (first inspection circuit 71 </ b> A in FIG. 18) determined to be uninspectable or a delay occurs. The head 62 (the first head 62a and the third head 62c in FIGS. 18 and 21) facing the inspection circuit 71 (in FIG. 21, the first inspection circuit 71A) in step S100 corresponds to the first nozzle group of the present invention. And can not be inspected Inspection circuit 71 (second inspection circuit 71B to eighth inspection circuit 71H in FIG. 18) that is not defined or inspection circuit 71 that is not determined to have a delay (second inspection circuit 71B to eighth inspection in FIG. 21) The head 62 facing the circuit 71H) in step S100 (in FIGS. 18 and 21, the second head 62b and the fourth head 62d to the fifteenth head 62o) correspond to the second nozzle group, and the inspection unit 70 corresponds to the inspection unit. The moving unit 50 corresponds to a moving unit, and the controller 20 corresponds to a determination unit. The nozzle plate 63 corresponds to the first electrode, and the inspection electrode 72 corresponds to the second electrode. In the present embodiment, an example of the nozzle inspection method of the present invention is also clarified by describing the operation of the printer 10.

以上説明した本実施形態のプリンター10によれば、検査回路71のいずれかに異常があると判定したときには、異常と判定された検査回路71とステップS100で対向していたヘッド62の未検査ノズルの少なくとも一部と、異常と判定された検査回路71以外の検査回路71とが対向するように移動ユニット50を制御して、異常と判定された検査回路71以外の検査回路71を用いて未検査ノズルについてのノズル検査を行って未検査ノズルの吐出の良否を判定する。そのため、異常のある検査回路71とステップS100で対向していたヘッド62の未検査ノズルについて、異常のある検査回路71のみで未検査ノズルの検査を行う場合と比較して、複数の検査部を用いて効率的にノズル検査を行うことができる。   According to the printer 10 of the present embodiment described above, when it is determined that there is an abnormality in any of the inspection circuits 71, the unexamined nozzles of the head 62 that face the inspection circuit 71 determined to be abnormal in step S100. The moving unit 50 is controlled so that at least a part of the test circuit 71 and the test circuit 71 other than the test circuit 71 determined to be abnormal face each other, and the test circuit 71 other than the test circuit 71 determined to be abnormal is used. A nozzle inspection for the inspection nozzle is performed to determine whether or not the uninspected nozzle is discharged. For this reason, a plurality of inspection units are provided for the non-inspected nozzles of the head 62 that faced the abnormal inspection circuit 71 in step S100, as compared with the case of inspecting the non-inspected nozzles only with the abnormal inspection circuit 71. It is possible to efficiently perform the nozzle inspection.

以上説明した本実施形態のプリンター10によれば、検査回路71の異常として検査回路71のいずれかが検査不能であると判定したときには、検査不能な検査回路71とステップS100で対向していたヘッド62の未検査ノズルと、検査不能な検査回路71以外の検査回路71とが対向するように移動ユニット50を制御して、検査不能な検査回路71以外の検査回路71を用いて未検査ノズルについてのノズル検査を行って、すべての未検査ノズルの吐出の良否を判定する。そのため、検査不能な検査回路71による吐出の有無の検査ができない場合でも、他の検査回路71を用いてすべての未検査ノズルの吐出の良否を判定することができる。   According to the printer 10 of the present embodiment described above, when it is determined that any of the inspection circuits 71 cannot be inspected due to an abnormality in the inspection circuit 71, the head that has faced the inspection circuit 71 that cannot be inspected in step S100. The moving unit 50 is controlled so that the 62 uninspected nozzles and the inspection circuits 71 other than the uninspectable inspection circuit 71 face each other, and the uninspected nozzles are inspected using the inspection circuit 71 other than the uninspectable inspection circuit 71. Nozzle inspection is performed to determine whether all uninspected nozzles are discharged. For this reason, even when the inspection circuit 71 that cannot be inspected cannot inspect the presence or absence of ejection, it is possible to determine the quality of ejection of all the uninspected nozzles using the other inspection circuits 71.

また、検査回路71の異常として検査回路71のいずれかが検査不能ではないがノズル検査が遅延していると判定したときには、遅延していない検査回路71と対向している未検査ノズルが検査回路71と対向する位置から外れない範囲で、遅延している検査回路71のうちの少なくとも一部が他の遅延していない検査回路71と対向し残りが遅延している検査回路71と対向するように移動ユニット50を制御して、各検査回路71を用いて、移動後に各検査回路と対向する未検査ノズルのノズル検査を行う。こうすれば、他の検査回路71よりもノズル検査の完了が遅延する検査回路71があるときには、その検査回路71の未検査ノズルの一部を他の遅延していない検査回路71を用いて検査するため、ノズル検査の総時間を短くできる。   When it is determined that any of the inspection circuits 71 cannot be inspected but the nozzle inspection is delayed as an abnormality in the inspection circuit 71, an uninspected nozzle facing the inspection circuit 71 that is not delayed is inspected. As long as it does not deviate from the position opposed to 71, at least a part of the delayed inspection circuit 71 is opposed to the other non-delayed inspection circuit 71 and the remaining is opposed to the inspection circuit 71 that is delayed. Then, the moving unit 50 is controlled, and each inspection circuit 71 is used to perform nozzle inspection of uninspected nozzles that face each inspection circuit after movement. In this way, when there is an inspection circuit 71 in which the completion of nozzle inspection is delayed as compared with other inspection circuits 71, some of the uninspected nozzles of the inspection circuit 71 are inspected using other inspection circuits 71 that are not delayed. Therefore, the total nozzle inspection time can be shortened.

なお、本発明は上述した実施形態に何ら限定されることはなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の態様で実施し得ることはいうまでもない。   It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and it goes without saying that the present invention can be implemented in various modes as long as it belongs to the technical scope of the present invention.

例えば、上述した実施形態では、ステップS180において再検査回数Sが閾値Sthを超えたときに検査回路71が検査不能であると判定したが、他の方法により検査不能か否かを判定してもよい。例えば、ステップS160において1ブロックに含まれる15個のノズルの統合判定の結果に含まれる「不明」ノズルの数が検査不能であるとみなせる所定の閾値以上である場合に、検査不能であると判定してもよい。また、ノイズ検査期間における振幅Vaが、検査不能であるとみなせる所定の閾値(閾値Vthよりも大きい値)以上であったときに、検査不能であると判定してもよい。   For example, in the above-described embodiment, when the number of retests S exceeds the threshold value Sth in step S180, it is determined that the test circuit 71 is not testable. Good. For example, when the number of “unknown” nozzles included in the result of the integrated determination of 15 nozzles included in one block in step S160 is equal to or greater than a predetermined threshold value that can be regarded as uninspectable, it is determined that inspection is impossible. May be. Further, when the amplitude Va in the noise inspection period is equal to or greater than a predetermined threshold value (a value larger than the threshold value Vth) that can be regarded as uninspectable, it may be determined that the inspection is impossible.

上述した実施形態では、ステップS510において、ノズル検査を完了したブロック数が最も少ない検査回路71と最も多い検査回路71とを比較して、ノズル検査を完了したブロック数の差が所定の閾値以上であるか否かを判定することによりノズル検査が遅延している検査回路71があるか否かを判定したが、他の方法で判定してもよい。例えば、ステップS270で再検査回数Sをインクリメントした回数の合計を再検査累積回数として検査回路71ごとに記憶しておき、この再検査累積回数が検査が遅延しているとみなせる所定の閾値以上となった検査回路71について遅延していると判定してもよい。   In the embodiment described above, in step S510, the inspection circuit 71 having the smallest number of blocks having completed the nozzle inspection is compared with the inspection circuit 71 having the largest number, and the difference in the number of blocks having completed the nozzle inspection is equal to or greater than a predetermined threshold value. Whether or not there is an inspection circuit 71 in which the nozzle inspection is delayed is determined by determining whether or not there is, but may be determined by another method. For example, the total number of times the re-inspection number S is incremented in step S270 is stored as the re-inspection cumulative number for each inspection circuit 71, and this re-inspection cumulative number is equal to or greater than a predetermined threshold value that can be considered that the inspection is delayed. It may be determined that the inspection circuit 71 is delayed.

上述した実施形態では、ステップS520において遅延している検査回路71がいずれであるかによりヘッドユニット60の移動方向を設定しているが、他の方法で設定してもよい。例えば、図8所定距離だけヘッドユニット60を移動するにあたり、未検査ノズルが検査電極72と対向する位置から外れない方向を移動方向に設定してもよい。すなわち、移動により検査電極72と対向する位置から外れるヘッド62に未検査ノズルが含まれないように、移動方向を設定してもよい。例えば、図8の第1ヘッド62a,第2ヘッド62bに未検査ノズルがない場合にはヘッドユニット60の移動方向を上方向に設定して所定距離(L/2)だけ移動し、第15ヘッド62oに未検査ノズルがない場合にはヘッドユニット60の移動方向を下方向に設定して所定距離(L/2)だけ移動するものとしてもよい。   In the embodiment described above, the moving direction of the head unit 60 is set depending on which of the inspection circuits 71 is delayed in step S520, but may be set by another method. For example, when the head unit 60 is moved by a predetermined distance in FIG. 8, the direction in which the uninspected nozzle does not deviate from the position facing the inspection electrode 72 may be set as the movement direction. That is, the moving direction may be set so that the head 62 deviating from the position facing the inspection electrode 72 by movement does not include the uninspected nozzle. For example, when there are no uninspected nozzles in the first head 62a and the second head 62b in FIG. 8, the moving direction of the head unit 60 is set upward, and the head unit 60 moves by a predetermined distance (L / 2). When there is no uninspected nozzle at 62o, the moving direction of the head unit 60 may be set downward and moved by a predetermined distance (L / 2).

上述した実施形態では、ステップS540によるヘッドユニット60の移動距離は所定距離(L/2)であるものとしたが、これ以外の移動距離を所定距離としてもよい。例えば、移動距離を距離Lとして、遅延している検査回路71と対向している未検査ノズルを、全て他の検査回路71と対向させてノズル検査を行うこととしてもよい。また、1つのヘッド62を2つの検査回路71とが対向するように移動距離を定めて、1つのヘッド62の一部のノズルを1つの検査回路71が検査し、それ以外のノズルをもう1つの検査回路71が検査するようにしてもよい。また、移動距離を可変としても良い。例えば、遅延している検査回路71が現在1つ目のヘッド62のノズル検査の途中である場合には、移動距離を距離Lとし、2つ目のヘッド62のノズル検査の途中である場合には、移動距離を距離L/2としてもよい。   In the embodiment described above, the moving distance of the head unit 60 in step S540 is the predetermined distance (L / 2), but other moving distances may be the predetermined distance. For example, assuming that the moving distance is the distance L, all the uninspected nozzles facing the delayed inspection circuit 71 may be opposed to the other inspection circuits 71 to perform the nozzle inspection. Further, the moving distance is determined so that one head 62 faces two inspection circuits 71, one inspection circuit 71 inspects some nozzles of one head 62, and the other nozzles have another one. One inspection circuit 71 may inspect. Further, the moving distance may be variable. For example, when the delayed inspection circuit 71 is currently in the middle of the nozzle inspection of the first head 62, the movement distance is L and the nozzle inspection of the second head 62 is in the middle of the nozzle inspection. The distance may be a distance L / 2.

上述した実施形態では、ステップS520で設定する移動方向はY方向であるものとしたが、X方向であってもよい。その場合でも、上述した実施形態と同様、移動により未検査ノズルが検査電極72と対向する位置から外れない場合に移動を行うものとすればよい。また、X方向とY方向とに共に移動してもよい。例えば、第1検査回路71Aと第2ヘッド62b及び第4ヘッド62dとが対向する位置までX方向とY方向にヘッドユニット60を移動させるものとしてもよい。   In the above-described embodiment, the movement direction set in step S520 is the Y direction, but it may be the X direction. Even in that case, as in the above-described embodiment, the movement may be performed when the uninspected nozzle does not deviate from the position facing the inspection electrode 72 due to the movement. Moreover, you may move to a X direction and a Y direction together. For example, the head unit 60 may be moved in the X direction and the Y direction to a position where the first inspection circuit 71A and the second head 62b and the fourth head 62d face each other.

上述した実施形態では、第4検査回路71Dは第13ヘッド62mを先に検査対象ヘッドに設定し、次に第15ヘッド62oを検査対象ヘッドに設定するものとしたが、先に第15ヘッド62oを検査対象ヘッドに設定してもよい。こうすれば、ヘッドユニット60の移動により検査回路71と対向する位置から外れやすい第15ヘッド62o(ヘッドユニット60の移動方向に沿った端部に近いヘッド)のノズル検査を優先的に行ってノズル検査を先に完了するため、ステップS530で移動可能と判断されやすくなり、より効率的に複数の検査回路71によるノズル検査を行うことができる。   In the embodiment described above, the fourth inspection circuit 71D sets the thirteenth head 62m as the inspection target head first, and then sets the fifteenth head 62o as the inspection target head, but first the fifteenth head 62o. May be set as the inspection target head. In this way, the nozzle inspection of the fifteenth head 62o (head close to the end along the moving direction of the head unit 60) that is likely to be detached from the position facing the inspection circuit 71 due to the movement of the head unit 60 is performed preferentially. Since the inspection is completed first, it is easily determined that the movement is possible in step S530, and the nozzle inspection by the plurality of inspection circuits 71 can be performed more efficiently.

上述した実施形態では、図11や図18,21からわかるように、1つのヘッド62についてX方向の上流側から下流側に向かって未検査ノズルがなくなるよう(上流側のノズルが下流側のノズルよりも優先的に検査されるよう)にノズルの検査順が定められているが、Y方向の上端側から下端側に向かって未検査ノズルがなくなるよう(上端側のノズルが下端側のノズルよりも優先的に検査されるように)にノズルの検査順を定めたり、Y方向の下端側から上端側に向かって未検査ノズルがなくなるよう(下端側のノズルが上端側のノズルよりも優先的に検査されるように)にノズルの検査順を定めたりしてもよい。こうすれば、例えは第1ヘッド62a,第2ヘッド62bについてはY方向の上端側のノズルから優先的にノズル検査をし、第14ヘッド62n,第15ヘッド62oについてはY方向の下端側のノズルから優先的にノズル検査をするものとすることで、遅延時処理ルーチンにおいてY方向にヘッドユニット60を移動させるにあたり、ヘッドユニット60の移動により検査回路71と対向する位置から外れやすいノズルのノズル検査が優先的に完了する。このため、例えば距離L/2の移動はできないが距離L/3の移動を行っても未検査ノズルが検査回路71と対向する位置から外れない場合には、距離L/3だけ移動を行うなどとすることができ、より効率的に複数の検査回路71によるノズル検査を行うことができる。   In the embodiment described above, as can be seen from FIGS. 11, 18, and 21, there is no uninspected nozzle from the upstream side in the X direction toward the downstream side for one head 62 (the upstream nozzle is the downstream nozzle). The inspection order of the nozzles is determined so that there is no uninspected nozzle from the upper end side in the Y direction toward the lower end side (the upper end side nozzle is lower than the lower end side nozzle). The inspection order of the nozzles is determined so that the nozzles are not inspected from the lower end side in the Y direction toward the upper end side (the lower end nozzle has priority over the upper end nozzle). The inspection order of the nozzles may be determined as in In this way, for example, the first head 62a and the second head 62b are preferentially inspected from the nozzle on the upper end side in the Y direction, and the fourteenth head 62n and the fifteenth head 62o are on the lower end side in the Y direction. By preferentially inspecting the nozzles from the nozzles, when moving the head unit 60 in the Y direction in the delay time processing routine, the nozzles of the nozzles that are likely to deviate from the position facing the inspection circuit 71 due to the movement of the head unit 60 Inspection is completed preferentially. For this reason, for example, when the distance L / 2 cannot be moved but the uninspected nozzle does not deviate from the position facing the inspection circuit 71 even if the distance L / 3 is moved, the distance L / 3 is moved. Thus, the nozzle inspection by the plurality of inspection circuits 71 can be performed more efficiently.

上述した実施形態では、図11に示す順にブロック分けを行って、第1ブロックからノズル検査を行うこととしたが、ブロック分けを行わず、ステップS120でノズルを1つ検査対象ノズルに設定し、ステップS130で1つの検査対象ノズルの検査を実行することとし、未検査ノズルがなくなるまで順に検査対象ノズルを設定していくものとしてもよい。   In the embodiment described above, the block division is performed in the order shown in FIG. 11 and the nozzle inspection is performed from the first block. However, the block division is not performed, and one nozzle is set as the inspection target nozzle in step S120. In step S130, one inspection target nozzle may be inspected, and the inspection target nozzles may be sequentially set until there are no uninspected nozzles.

上述した実施形態において、検査不能と判定された検査回路71が複数ある場合には、検査不能時処理ルーチンを複数回行ってもよい。すなわち、最終的に未検査ノズルがすべてなくなるまで、検査不能でない検査回路71によりノズル検査を行えばよく、一度の検査不能時処理ルーチンですべての未検査ノズルを検査不能でない検査回路71と対向させる必要はない。例えば、第1検査回路71A〜第7検査回路71Gが検査不能と判定され、第1ヘッド62a〜第13ヘッド62m,第15ヘッド62oの全てに未検査ノズルがあるときには、検査不能時処理ルーチンを7回行ってすべての未検査ノズルのノズル検査を第8検査回路71Hを用いて行ってもよい。   In the above-described embodiment, when there are a plurality of inspection circuits 71 that are determined to be incapable of inspection, the processing routine when incapable of inspection may be performed a plurality of times. In other words, until all the uninspected nozzles are finally removed, the nozzle inspection may be performed by the inspection circuit 71 that is not inspectable, and all the uninspected nozzles are opposed to the inspection circuit 71 that is not inspectable in a single inspection impossible processing routine. There is no need. For example, when it is determined that the first inspection circuit 71A to the seventh inspection circuit 71G cannot be inspected and all of the first head 62a to the thirteenth head 62m and the fifteenth head 62o have uninspected nozzles, the processing routine for inability to inspect is performed. The eighth inspection circuit 71H may be used to perform the nozzle inspection of all the uninspected nozzles by performing 7 times.

上述した実施形態では、検査不能な検査回路71がある場合やノズル検査の遅延が生じている検査回路71があるときに、ヘッドユニット60の移動を行って他の検査回路71により未検査ノズルの検査を行うものとしたが、これに限らず検査回路71の異常時にヘッドユニット60の移動を行って異常のない検査回路71により未検査ノズルの検査を行うものであればよい。検査回路71の異常とは、例えば検出制御部76や高圧電源74の異常であってもよい。   In the above-described embodiment, when there is an inspection circuit 71 that cannot be inspected or when there is an inspection circuit 71 in which a delay in nozzle inspection occurs, the head unit 60 is moved and the inspection circuit 71 of the uninspected nozzle is moved. The inspection is performed. However, the present invention is not limited to this, and any apparatus may be used as long as the head unit 60 is moved when the inspection circuit 71 is abnormal and the inspection circuit 71 without abnormality is inspected. The abnormality of the inspection circuit 71 may be an abnormality of the detection control unit 76 or the high voltage power source 74, for example.

上述した実施形態では、移動ユニット50はヘッドユニット60を移動させて検査ユニット70との位置関係を変更するものとしたが、ヘッドユニット60と検査ユニット70とが相対的に移動可能であればよい。例えば、移動ユニット50が検査ユニット70を移動させるものとしてもよいし、ヘッドユニット60と検査ユニット70とを共に移動させるものとしてもよい。また、検査ユニット70のうち検査電極72のみ移動させるものとしてもよい。なお、ノズル検査は検査電極72とヘッド62とが対向していれば可能であり、ノズル検査を行うにあたり検査回路71のうち検査電極72以外の構成要素がヘッドユニット60と対向している必要はない。   In the embodiment described above, the moving unit 50 moves the head unit 60 to change the positional relationship with the inspection unit 70. However, it is only necessary that the head unit 60 and the inspection unit 70 are relatively movable. . For example, the moving unit 50 may move the inspection unit 70, or the head unit 60 and the inspection unit 70 may be moved together. Further, only the inspection electrode 72 in the inspection unit 70 may be moved. The nozzle inspection is possible if the inspection electrode 72 and the head 62 are opposed to each other, and in performing the nozzle inspection, the components other than the inspection electrode 72 in the inspection circuit 71 need to be opposed to the head unit 60. Absent.

上述した実施形態では、検査回路71は、検査電極72をノズルプレート63とを対向させて両者間に電圧を印加した状態で、対向するノズルから検査電極72に向かってインクを吐出させる吐出検査期間やインクを吐出させないノイズ検査期間における電気的変化を検出して吐出の有無やノイズの有無を検査するものとしたが、ヘッドユニット60と対向してノズルからの吐出の有無を検査するものであれば、検査回路71はどのようなものであってもよい。例えば、ノイズの有無を検査しないものとしてもよい。また、上部が開口した部材で形成されたキャップであり、レーザー光を発射する発光素子と入射する受光素子とを備えたものを検査回路としてもよい。この場合、この検査回路が対向するノズルからのインクの吐出によりレーザー光が遮断されたか否かを受光素子で検出してインクの吐出の有無を検査するものとすればよい。さらに、対向するノズルから吐出された液体が着弾したときの圧力変化の有無によりインクの吐出の有無を検出するものを検出回路としてもよい。このように、検査回路が本実施形態以外の方法で吐出の有無を検査するものである場合でも、検査回路を複数備え、いずれかの検査回路の異常時にヘッドユニットと検査回路とを相対的に移動させて異常のない検査回路により未検査ノズルの検査を行うものとすれば、本実施形態と同様に効率的にノズル検査を行うことができる。   In the embodiment described above, the inspection circuit 71 discharges ink from the opposing nozzle toward the inspection electrode 72 in a state where a voltage is applied between the inspection electrode 72 and the nozzle plate 63 facing each other. In the noise inspection period in which ink is not ejected, the presence or absence of ejection or the presence or absence of noise is inspected by detecting an electrical change, but the head unit 60 is inspected for the presence or absence of ejection from the nozzle. For example, any inspection circuit 71 may be used. For example, it is good also as what does not test | inspect the presence or absence of noise. Moreover, it is good also as a test | inspection circuit what is the cap formed with the member which the upper part opened, and was provided with the light emitting element which emits a laser beam, and the incident light receiving element. In this case, it is only necessary to detect whether or not the ink is ejected by detecting whether or not the laser beam is blocked by the ejection of the ink from the nozzle facing this inspection circuit. Furthermore, a detection circuit that detects the presence or absence of ink ejection based on the presence or absence of a pressure change when the liquid ejected from the opposing nozzle has landed may be used. As described above, even when the inspection circuit is for inspecting the presence / absence of ejection by a method other than the present embodiment, a plurality of inspection circuits are provided, and the head unit and the inspection circuit are relatively arranged when any of the inspection circuits is abnormal. If the nozzles are moved and inspected for non-inspected nozzles by an inspection circuit having no abnormality, nozzle inspection can be performed efficiently as in the present embodiment.

上述した実施形態では、ノズルプレート63をグランド電位、検査電極72を高電位にし、検査電極72の電圧変化を検出したが、ノズルプレート63を高電位、検査電極72をグランド電位にし、ノズルプレート63の電圧変化を検出してもよい。   In the embodiment described above, the nozzle plate 63 is set to the ground potential and the test electrode 72 is set to the high potential, and the voltage change of the test electrode 72 is detected. However, the nozzle plate 63 is set to the high potential and the test electrode 72 is set to the ground potential. The change in voltage may be detected.

上述した実施形態では、検査電極72はプラテン48の横の平坦面に設けたが、検査電極72はヘッド62のキャップの内部に設けてもよい。こうしたキャップは、ノズルの乾燥を防止する際に使用する保湿キャップでもよいし、ノズル内のゴミやインクを吸引してクリーニングする際に使用するクリーニングキャップでもよい。   In the embodiment described above, the inspection electrode 72 is provided on the flat surface beside the platen 48, but the inspection electrode 72 may be provided inside the cap of the head 62. Such a cap may be a moisturizing cap used for preventing the nozzle from drying, or may be a cleaning cap used for cleaning by sucking dust and ink in the nozzle.

上述した実施形態では、インクジェットの方式として、ピエゾ素子を用いて圧力によりインクを吐出させる方式を例示したが、例えば、熱によりノズル内に気泡を発生させる方式などを採用してもよい。   In the above-described embodiment, a method of ejecting ink by pressure using a piezo element is illustrated as an ink jet method. However, for example, a method of generating bubbles in a nozzle by heat may be employed.

上述した実施形態では、本発明の液体吐出装置をインクジェットプリンター10に具体化した例を示したが、インク以外の他の液体や機能材料の粒子が分散されている液状体(分散液)、ジェルのような流状体などを吐出する流体吐出装置に具体化してもよいし、流体として吐出可能な固体を吐出する流体吐出装置に具体化してもよい。例えば、液晶ディスプレイ、EL(エレクトロルミネッセンス)ディスプレイ及び面発光ディスプレイの製造などに用いられる電極材や色材などの材料を溶解した液体を吐出する液体吐出装置、同材料を分散した液状体を吐出する液状体吐出装置、精密ピペットとして用いられ試料となる液体を吐出する液体吐出装置としてもよい。また、時計やカメラ等の精密機械にピンポイントで潤滑油を吐出する液体吐出装置、光通信素子等に用いられる微小半球レンズ(光学レンズ)などを形成するために紫外線硬化樹脂等の透明樹脂液を基板上に吐出する液体吐出装置、基板などをエッチングするために酸又はアルカリ等のエッチング液を吐出する液体吐出装置、ジェルを吐出する流状体吐出装置、トナーなどの粉体を吐出する粉体吐出式記録装置としてもよい。   In the embodiment described above, an example in which the liquid ejection apparatus of the present invention is embodied in the ink jet printer 10 has been described. However, a liquid (dispersion) in which particles of liquid other than ink or functional material are dispersed, gel The present invention may be embodied in a fluid ejection device that ejects a fluid or the like, or may be embodied in a fluid ejection device that ejects a solid that can be ejected as a fluid. For example, a liquid ejecting apparatus that ejects a liquid in which a material such as an electrode material or a color material used for manufacturing a liquid crystal display, an EL (electroluminescence) display, and a surface emitting display is ejected, and a liquid material in which the material is dispersed is ejected. It is good also as a liquid discharge apparatus which discharges the liquid used as a liquid body discharge apparatus and a precision pipette as a sample. Also, transparent resin liquids such as UV curable resin to form liquid ejection devices that pinpoint lubricating oil to precision machines such as watches and cameras, micro hemispherical lenses (optical lenses) used for optical communication elements, etc. A liquid discharge device that discharges a liquid onto a substrate, a liquid discharge device that discharges an etching liquid such as acid or alkali to etch the substrate, a fluid discharge device that discharges gel, a powder that discharges powder such as toner A body discharge type recording apparatus may be used.

10 プリンター、20 コントローラー、22 CPU、24 ユニット制御回路、26 インターフェース部、28 メモリー、30 ユニット群、40 搬送ユニット、42 上流側ローラー、44 下流側ローラー、46 巻取機構、48 プラテン、50 移動ユニット、52 X軸ステージ、54 Y軸ステージ、60 ヘッドユニット、62 ヘッド、62a〜62o 第1〜第15ヘッド、63 ノズルプレート、70 検査ユニット、71 検査回路、71A〜71H 第1〜第8検査回路、72 検査電極、72A〜72H 第1〜第8検査電極、73 第1制限抵抗、74 高圧電源、75 第2制限抵抗、76 検出制御部、77 増幅器、78 検査用コンデンサー、79 平滑コンデンサー   10 printer, 20 controller, 22 CPU, 24 unit control circuit, 26 interface unit, 28 memory, 30 unit group, 40 transport unit, 42 upstream roller, 44 downstream roller, 46 take-up mechanism, 48 platen, 50 moving unit , 52 X-axis stage, 54 Y-axis stage, 60 head unit, 62 head, 62a to 62o 1st to 15th head, 63 nozzle plate, 70 inspection unit, 71 inspection circuit, 71A to 71H 1st to 8th inspection circuit 72 inspection electrodes, 72A to 72H first to eighth inspection electrodes, 73 first limiting resistor, 74 high voltage power supply, 75 second limiting resistor, 76 detection control unit, 77 amplifier, 78 inspection capacitor, 79 smoothing capacitor

Claims (6)

液体を吐出する複数のノズルからなる第1ノズル群及び第2ノズル群を備えたヘッドユニットと、
前記ヘッドユニットと対向してノズルからの吐出の有無を検査する第1検査部及び第2検査部を備えた検査ユニットと、
前記ヘッドユニットと前記検査ユニットとを相対的に移動させる移動手段と、
前記第1ノズル群と前記第1検査部とが対向し前記第2ノズル群と前記第2検査部とが対向するように前記移動手段を制御して、前記第1ノズル群のノズルから順次液体を吐出させたときの前記第1検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定し、前記第2ノズル群のノズルから順次液体を吐出させたときの前記第2検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定する吐出判定を行う処理手段と、
を備え、
前記処理手段は、前記吐出判定を行うにあたり、前記第1検査部に異常があるとみなせる異常条件が成立したときには、前記第1ノズル群のうち吐出の良否を判定していない未検査ノズルの少なくとも一部と前記第2検査部とが対向するように前記移動手段を制御して、前記第1ノズル群のうち該第2検査部と対向する未検査ノズルについては該ノズルから順次液体を吐出させたときの該第2検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定する、
液体吐出装置。
A head unit comprising a first nozzle group and a second nozzle group comprising a plurality of nozzles for discharging liquid;
An inspection unit including a first inspection unit and a second inspection unit that inspects the presence or absence of ejection from the nozzle opposite to the head unit;
Moving means for relatively moving the head unit and the inspection unit;
The moving means is controlled so that the first nozzle group and the first inspection section face each other, and the second nozzle group and the second inspection section face each other, and the liquid from the nozzles of the first nozzle group sequentially. Based on the inspection result of the first inspection unit when the liquid is discharged, the quality of discharge of the nozzle is determined, and the inspection of the second inspection unit when the liquid is sequentially discharged from the nozzles of the second nozzle group Processing means for performing discharge determination for determining whether the discharge of the nozzle is good or not based on the result;
With
In performing the discharge determination, the processing means, when an abnormal condition that can be regarded as abnormal in the first inspection unit is satisfied, at least of uninspected nozzles that have not determined whether the discharge is good or not in the first nozzle group. The moving means is controlled so that a part and the second inspection section are opposed to each other, and liquids are sequentially discharged from the nozzles of the first nozzle group that are not inspected facing the second inspection section. Determining whether the discharge of the nozzle is good or not based on the inspection result of the second inspection unit when
Liquid ejection device.
前記処理手段は、前記異常条件として前記第1検査部による吐出の有無の検査ができないとみなせる条件が成立したときには、前記第1ノズル群の未検査ノズルと前記第2検査部とが対向するように前記移動手段を制御して、該未検査ノズルから順次液体を吐出させたときの該第2検査部の検査結果に基づいて該未検査ノズルの吐出の良否を判定する処理を行い、すべての未検査ノズルの吐出の良否を該第2検査部の検査結果に基づいて判定する、
請求項1に記載の液体吐出装置。
When the condition that the processing unit can assume that the first inspection unit cannot inspect the presence / absence of ejection is satisfied as the abnormal condition, the uninspected nozzle of the first nozzle group and the second inspection unit face each other. And controlling the moving means to determine whether or not the non-inspected nozzles are discharged based on the inspection result of the second inspection unit when the liquid is sequentially discharged from the uninspected nozzles. Determining whether or not the uninspected nozzle is discharged is based on the inspection result of the second inspection unit,
The liquid ejection device according to claim 1.
前記処理手段は、前記第1ノズル群と前記第1検査部とが対向し前記第2ノズル群と前記第2検査部とが対向した状態において、前記異常条件として第1検査部による吐出の有無の検査は可能だが前記第1ノズル群のすべてのノズルの吐出の良否判定の完了が前記第2ノズル群に比べて遅延するとみなせる条件が成立したときには、前記第2ノズル群の未検査ノズルが前記第2検査部と対向する位置から外れない範囲で、前記第1ノズル群の未検査ノズルのうち少なくとも一部が前記第2検査部と対向し残りが前記第1検査部と対向するように前記移動手段を制御して、前記第1ノズル群のうち該第2検査部と対向する未検査ノズル及び前記第2ノズル群の未検査ノズルについては該ノズルから順次液体を吐出させたときの該第2検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定し、前記第1ノズル群のうち該第1検査部と対向する未検査ノズルについては該ノズルから順次液体を吐出させたときの該第1検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定する、
請求項1又は2に記載の液体吐出装置。
In the state where the first nozzle group and the first inspection unit are opposed to each other and the second nozzle group and the second inspection unit are opposed to each other, the processing unit is configured to determine whether or not ejection is performed by the first inspection unit as the abnormal condition. Can be inspected, but when the condition that it can be considered that the completion of the ejection quality determination of all the nozzles of the first nozzle group is delayed as compared with the second nozzle group is satisfied, the uninspected nozzles of the second nozzle group are In a range that does not deviate from the position facing the second inspection section, at least a part of the uninspected nozzles of the first nozzle group faces the second inspection section and the rest faces the first inspection section. The moving means is controlled so that the uninspected nozzles facing the second inspection unit in the first nozzle group and the uninspected nozzles of the second nozzle group are sequentially ejected from the nozzles. 2 Inspection department inspection Based on the result, whether the discharge of the nozzle is good or not is determined, and for the uninspected nozzle that faces the first inspection section in the first nozzle group, the first inspection section when liquid is sequentially discharged from the nozzle Determining the quality of the discharge of the nozzle based on the inspection result of
The liquid ejection device according to claim 1 or 2.
前記ヘッドユニットは、前記液体と接触する第1電極を有し、
前記第1検査部及び前記第2検査部は、前記第1電極に対向可能な第2電極をそれぞれ有しており、該第1電極と該第2電極とを対向させて両電極間に電圧を印加した状態で、対向するノズルから該第2電極に向かって液体を吐出させる吐出検査期間における両電極間の電気的変化を検出すると共に対向するノズルのすべてから液体を吐出させないノイズ検査期間における両電極間の電気的変化を検出する動作を、前記対向する各ノズルごとに行い、各ノズルにつき前記電気的変化に関する信号に基づいて吐出の有無及びノイズの有無を検査し、
前記処理手段は、前記検査結果である吐出の有無及びノイズの有無に基づいてノズルの吐出の良否を判定し、前記ノイズ検査期間における両電極間の電気的変化に基づいて前記異常条件の成否を判定する、
請求項2に記載の液体吐出装置。
The head unit has a first electrode in contact with the liquid,
Each of the first inspection unit and the second inspection unit has a second electrode that can be opposed to the first electrode, and the first electrode and the second electrode are opposed to each other, and a voltage is applied between both electrodes. In a noise inspection period in which an electrical change between both electrodes is detected in a discharge inspection period in which liquid is discharged from the opposing nozzle toward the second electrode in a state where the liquid is applied, and liquid is not discharged from all of the opposing nozzles. An operation for detecting an electrical change between both electrodes is performed for each of the opposing nozzles, and for each nozzle, the presence or absence of ejection and the presence or absence of noise are inspected based on a signal relating to the electrical change,
The processing means determines the quality of nozzle ejection based on the presence or absence of ejection and the presence or absence of noise as the inspection results, and determines whether or not the abnormal condition is successful based on an electrical change between the electrodes during the noise inspection period. judge,
The liquid ejection apparatus according to claim 2.
液体を吐出する複数のノズルからなる第1ノズル群及び第2ノズル群を備えたヘッドユニットと、前記ヘッドユニットと対向してノズルからの吐出の有無を検査する第1検査部及び第2検査部を備えた検査ユニットと、前記ヘッドユニットと前記検査ユニットとを相対的に移動させる移動手段と、を備えた液体吐出装置のノズル検査方法であって、
前記第1ノズル群と前記第1検査部とが対向し前記第2ノズル群と前記第2検査部とが対向するように前記移動手段を制御して、前記第1ノズル群のノズルから順次液体を吐出させたときの前記第1検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定し、前記第2ノズル群のノズルから順次液体を吐出させたときの前記第2検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定する吐出判定を行うにあたり、前記第1検査部に異常があるとみなせる異常条件が成立したときには、前記第1ノズル群のうち吐出の良否を判定していない未検査ノズルの少なくとも一部と前記第2検査部とが対向するように前記移動手段を制御して、前記第1ノズル群のうち該第2検査部と対向する未検査ノズルについては該ノズルから順次液体を吐出させたときの該第2検査部の検査結果に基づいて該ノズルの吐出の良否を判定するステップ、
を含むノズル検査方法。
A head unit having a first nozzle group and a second nozzle group each composed of a plurality of nozzles that eject liquid, and a first inspection unit and a second inspection unit that inspect the presence or absence of ejection from the nozzles facing the head unit. A nozzle inspection method for a liquid ejection apparatus, comprising: an inspection unit including: a moving unit that relatively moves the head unit and the inspection unit;
The moving means is controlled so that the first nozzle group and the first inspection section face each other, and the second nozzle group and the second inspection section face each other, and the liquid from the nozzles of the first nozzle group sequentially. Based on the inspection result of the first inspection unit when the liquid is discharged, the quality of discharge of the nozzle is determined, and the inspection of the second inspection unit when the liquid is sequentially discharged from the nozzles of the second nozzle group In performing the discharge determination for determining whether or not the nozzle is discharged based on the result, when an abnormal condition that can be considered that the first inspection unit is abnormal is satisfied, the discharge quality of the first nozzle group is determined. The moving means is controlled so that at least a part of uninspected nozzles and the second inspection part face each other, and the uninspected nozzles that face the second inspection part in the first nozzle group Discharges liquid sequentially from the nozzle Determining the quality of the discharge of the nozzle on the basis of the second inspection unit of the inspection results obtained while,
Nozzle inspection method including:
請求項5に記載のノズル検査方法を1又は複数のコンピューターに実現させるプログラム。   A program for causing one or more computers to realize the nozzle inspection method according to claim 5.
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