JP2012189509A - Particle counter - Google Patents

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Toshimitsu Shidenouchi
俊光 幣之内
Takahiro Mori
隆弘 森
Munehiro Inoue
統宏 井上
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a particle counter capable of more exactly performing count of particles.SOLUTION: In a particle counter which counts particles P which pass through a measurement target area 140 toward the fixed direction, it is provided with: light irradiation means 129 for irradiating the measurement target area with light; scattered light detection means 132 for detecting scattered light to be generated when the measurement target area 140 is irradiated with the light: and particle counting means 211 for comparing detection signals to be sequentially output from the scattered light detection means 132 with a predetermined threshold, and determining that until detection signals become less than the threshold again after the detection signals exceed the threshold as signals derived from one particle to count the particles.

Description

本発明は、半導体処理装置等の排気中に含まれる粉塵等のパーティクルを検出するパーティクル計数装置に関する。   The present invention relates to a particle counter that detects particles such as dust contained in exhaust gas from a semiconductor processing apparatus or the like.

半導体の処理工程で発生し、処理室内を浮遊する粉塵などのパーティクルは、製品の性能等を低下させる原因となる。そこで、半導体処理装置には、その処理室内を浮遊するパーティクルをリアルタイムで検出するパーティクル計数装置が設けられている(例えば、特許文献1を参照)。前記パーティクル計数装置は、例えば処理室からの排気ダクトに配設されており、当該排気ダクト内の測定対象領域に光源からの光を照射すると、該測定対象領域内をパーティクルが通過するときに散乱光を発する。この散乱光を検出器で検出し、該検出器の検出信号を予め設定された閾値と比較することでパーティクルの計数が行われる。   Particles such as dust generated in the semiconductor processing process and floating in the processing chamber cause the performance of the product to deteriorate. Therefore, a semiconductor processing apparatus is provided with a particle counter that detects particles floating in the processing chamber in real time (see, for example, Patent Document 1). The particle counter is disposed in, for example, an exhaust duct from a processing chamber. When light from a light source is irradiated on a measurement target area in the exhaust duct, the particle counting apparatus scatters when particles pass through the measurement target area. Emits light. Particles are counted by detecting the scattered light with a detector and comparing the detection signal of the detector with a preset threshold value.

また、パーティクルによる散乱光の強度は該パーティクルの粒径に依存するため、前記検出信号に現れる各パーティクル由来のピークの高さから該パーティクルの粒径を推定することができる。また更に、上記検出信号に現れるピークの幅からパーティクルが前記測定対象領域を通過するのに要した時間を求めることができ、この値と前記測定対象領域の長さから各パーティクルの通過速度(すなわちパーティクルの流速)を求めることができる。   Further, since the intensity of the scattered light by the particle depends on the particle size of the particle, the particle size of the particle can be estimated from the height of the peak derived from each particle appearing in the detection signal. Furthermore, the time required for the particles to pass through the measurement target region can be obtained from the width of the peak appearing in the detection signal, and the passing speed of each particle (ie, the length of the measurement target region (ie, the length of the measurement target region) Particle flow velocity).

但し、上記のようなパーティクル計数装置において、粒径の大きなパーティクルが測定対象領域を通過した場合、光の干渉により、前記検出信号上でピークの先割れが生じる場合がある。そこで、従来のパーティクル計数装置では、図5のように、検出信号の強度が前記閾値を超えてから所定時間(図中の「パーティクル判定時間」)が経過するまでの間に複数のピーク(閾値を超える部分)が出現した場合でも、これらを1つのパーティクル由来のピークと判定してパーティクルの計数を行っていた。   However, in the particle counting apparatus as described above, when a particle having a large particle diameter passes through the measurement target region, a peak crack may occur on the detection signal due to light interference. Therefore, in the conventional particle counter, as shown in FIG. 5, a plurality of peaks (threshold values) are detected after a predetermined time (“particle determination time” in the figure) elapses after the intensity of the detection signal exceeds the threshold value. Even when a portion exceeding (1) appears, these were determined to be peaks derived from one particle, and particles were counted.

また、このとき前記パーティクル判定時間内における信号強度の最大値(図中のSmax)を前記1つのパーティクルに対応した信号強度とし、該信号強度に基づいてパーティクルの粒径を算出していた。更に、前記複数のピークの内の最初のピークが閾値を超えてから最後のピークが閾値を下回るまでの時間を前記1つのパーティクルが測定対象領域を通過するのに要した時間として、この値からパーティクルの通過速度を算出していた。 At this time, the maximum signal intensity (S max in the figure) within the particle determination time is set as the signal intensity corresponding to the one particle, and the particle size of the particle is calculated based on the signal intensity. Further, the time from the time when the first peak of the plurality of peaks exceeds the threshold to the time when the last peak falls below the threshold is defined as the time required for the one particle to pass through the measurement target region. The passing speed of particles was calculated.

特開平6-26823号公報Japanese Patent Laid-Open No. 6-26833

しかしながら、上記従来のパーティクル計数装置では、上記のパーティクル判定時間の間に実際に複数のパーティクルが測定対象領域を通過した場合でも、1つのパーティクルが通過したものとして扱われることとなる。そのため、パーティクルの計数結果や、粒径の算出結果、及び通過速度の算出結果が不正確になる場合があった。   However, in the conventional particle counter, even when a plurality of particles actually pass through the measurement target region during the particle determination time, one particle is treated as having passed. Therefore, the particle counting result, the particle size calculation result, and the passing speed calculation result may be inaccurate.

本発明は上記の点に鑑みて成されたものであり、その目的とするところは、パーティクルの計数、及びパーティクルの粒径や通過速度の推定をより正確に行うことのできるパーティクル計数装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a particle counter capable of more accurately counting particles and estimating the particle size and passing speed of particles. There is to do.

測定対象領域を一定方向に向かって通過するパーティクルを計数するパーティクル計数装置であって、
a)測定対象領域に光を照射する光照射手段と、
b)前記測定対象領域に光が照射されたときに生じる散乱光を検出する散乱光検出手段と、
c)前記散乱光検出手段から順次出力される検出信号を予め定められた閾値と比較し、検出信号が前記閾値を超えてから再び該閾値を下回るまでを1つのパーティクル由来の信号と判定してパーティクルの計数を行うパーティクル計数手段と、
を有することを特徴としている。
A particle counting device that counts particles passing through a measurement target region in a certain direction,
a) a light irradiation means for irradiating the measurement target region with light;
b) scattered light detection means for detecting scattered light generated when light is irradiated onto the measurement target region;
c) The detection signals sequentially output from the scattered light detection means are compared with a predetermined threshold value, and the detection signal from the time when the detection signal exceeds the threshold value and again falls below the threshold value is determined as a signal derived from one particle. Particle counting means for counting particles;
It is characterized by having.

また、上記本発明に係るパーティクル計数装置は、更に、
d)前記検出信号が前記閾値を超えてから再び該閾値を下回るまでの間における検出信号の最大値に基づいてパーティクルの粒径を算出する粒径算出手段、
を有するものとすることが望ましい。
Moreover, the particle counter according to the present invention further includes:
d) Particle size calculation means for calculating the particle size of the particles based on the maximum value of the detection signal from when the detection signal exceeds the threshold value to again below the threshold value,
It is desirable to have.

また、上記本発明に係るパーティクル計数装置は、更に、
e)前記検出信号が前記閾値を超えてから再び該閾値を下回るまでの時間と、パーティクルの通過方向に沿った前記測定対象領域の長さとに基づいてパーティクルの通過速度を算出する通過速度算出手段、
を有するものとすることが望ましい。
Moreover, the particle counter according to the present invention further includes:
e) Passing speed calculation means for calculating the passing speed of particles based on the time from when the detection signal exceeds the threshold value until it falls below the threshold value again, and the length of the measurement target region along the particle passing direction. ,
It is desirable to have.

上記のような構成を有する本発明に係るパーティクル計数装置によれば、散乱光検出器からの検出信号が閾値を超えてから再び該閾値を下回るまでを1つのパーティクルに由来する信号として扱うため、短時間に複数のパーティクルが測定対象領域を通過した場合でも、パーティクルの計数、及びパーティクルの粒径や通過速度の算出を正確に行うことができる。   According to the particle counter according to the present invention having the above-described configuration, since the detection signal from the scattered light detector exceeds the threshold value and again falls below the threshold value as a signal derived from one particle, Even when a plurality of particles pass through the measurement target region in a short time, it is possible to accurately calculate the particle count and the particle size and passage speed of the particles.

本発明の一実施形態に係るパーティクル計数装置の全体構成を示す概略図。Schematic which shows the whole structure of the particle counter which concerns on one Embodiment of this invention. 排気管内の測定対象領域を示す図。The figure which shows the measurement object area | region in an exhaust pipe. 同実施形態におけるパーティクルの計数方法、粒径の算出方法、及び通過速度の算出方法を説明する模式図。FIG. 3 is a schematic diagram for explaining a particle counting method, a particle diameter calculating method, and a passing speed calculating method in the embodiment. 同実施形態におけるパーティクルの計数方法の別の例を説明する模式図。The schematic diagram explaining another example of the counting method of the particle | grains in the embodiment. 従来のパーティクル計数装置におけるパーティクルの計数方法、粒径の算出方法、及び通過速度の算出方法を説明する模式図。The schematic diagram explaining the counting method of the particle in the conventional particle counter, the calculation method of a particle size, and the calculation method of passage speed. 従来の方法によるパーティクルの計数結果を示すグラフ。The graph which shows the counting result of the particle by the conventional method. 本発明の方法によるパーティクルの計数結果を示すグラフ。The graph which shows the count result of the particle | grains by the method of this invention.

以下、図面を参照して本発明の実施形態について詳細に説明する。図1は、本発明の一実施形態に係るパーティクル計数装置の概略構成図である。パーティクル計数装置は、大きく分けて検出部100と制御/処理部200から構成されている。図1及び図2に示すように、検出部100は例えば半導体製造装置の排気管122の途中に設けられている。排気管122内は真空状態ないし真空に近い状態になっており、図2において紙面と垂直な方向に(例えば紙面手前側から裏側に向かって)パーティクルPが流れてくるようになっている。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a particle counter according to an embodiment of the present invention. The particle counting device is roughly composed of a detection unit 100 and a control / processing unit 200. As shown in FIGS. 1 and 2, the detection unit 100 is provided in the middle of an exhaust pipe 122 of a semiconductor manufacturing apparatus, for example. The inside of the exhaust pipe 122 is in a vacuum state or a state close to a vacuum, and in FIG. 2, particles P flow in a direction perpendicular to the paper surface (for example, from the front side to the back side of the paper surface).

検出部100は、排気管122の壁面に対向配置される光入射窓124と光出射窓126、前記光入射窓124から光出射窓126に向かってレーザ光を照射する光照射部128、前記レーザ光の照射方向と略直交する方向の排気管122の壁面に設けられた検出窓130、前記レーザ光の照射方向に延伸したスリット137を有する遮光板136、検出窓130及びスリット137を通過した散乱光を検出する散乱光検出器132、検出窓130と散乱光検出器132との間に配置された集光レンズ134、等を備えている。   The detection unit 100 includes a light incident window 124 and a light emission window 126 that are arranged to face the wall surface of the exhaust pipe 122, a light irradiation unit 128 that irradiates laser light from the light incident window 124 toward the light emission window 126, and the laser. A detection window 130 provided on the wall surface of the exhaust pipe 122 in a direction substantially orthogonal to the light irradiation direction, a light shielding plate 136 having a slit 137 extending in the laser light irradiation direction, and the scattering that has passed through the detection window 130 and the slit 137 There are provided a scattered light detector 132 for detecting light, a condenser lens 134 disposed between the detection window 130 and the scattered light detector 132, and the like.

光照射部128は、半導体レーザ素子等の光源129と、この光源129が照射するレーザ光をシート状の光に変換するレンズ(図示せず)から成る。光照射部128から照射されたシート状の光は光入射窓124から排気管122内に入射し、排気管122内(真空領域)を通過する。これにより排気管122内の矩形シート状の測定対象領域140に光が照射され、当該領域140を通過するパーティクルによって散乱光が発生する。前記測定対象領域140で発生した散乱光のうち検出窓130及びスリット137を通過した散乱光は集光レンズ134によって散乱光検出器132に集光される。   The light irradiation unit 128 includes a light source 129 such as a semiconductor laser element and a lens (not shown) that converts laser light emitted from the light source 129 into sheet-like light. The sheet-like light irradiated from the light irradiation unit 128 enters the exhaust pipe 122 from the light incident window 124 and passes through the exhaust pipe 122 (vacuum region). As a result, the rectangular sheet-shaped measurement target region 140 in the exhaust pipe 122 is irradiated with light, and scattered light is generated by particles passing through the region 140. Of the scattered light generated in the measurement target region 140, the scattered light that has passed through the detection window 130 and the slit 137 is condensed on the scattered light detector 132 by the condenser lens 134.

散乱光検出器132が検出した散乱光はそこで電気信号に変換され、この電気信号は制御/処理部200に設けられた信号処理部210に入力される。信号処理部210は、散乱光検出器132からの検出信号に基づいて所定の処理を行うものであり、パーティクルの計数を行う計数部211と、パーティクルの粒径を算出する粒径算出部212と、パーティクルの通過速度を算出する通過速度算出部213とを備えている。制御/処理部200は、更に、検出部100及び信号処理部210の動作を制御する制御部220と、操作ボタンやキーボードを備えた入力部230と、モニタ等から成る表示部240と、信号処理部210における処理結果や入力部230を用いて設定された測定条件等を記憶する記憶部250とを備えている。なお、制御/処理部200は、専用のハードウェアによって構成してもよく、所定の制御/処理用のソフトウェアを搭載したパーソナルコンピュータによって構成してもよい。また、専用のハードウェアとパーソナルコンピュータを組み合わせて成るものとしてもよい。   The scattered light detected by the scattered light detector 132 is converted into an electrical signal there, and this electrical signal is input to the signal processing unit 210 provided in the control / processing unit 200. The signal processing unit 210 performs predetermined processing based on the detection signal from the scattered light detector 132, and includes a counting unit 211 that counts particles, a particle size calculation unit 212 that calculates particle size of particles, and the like. And a passage speed calculation unit 213 for calculating the passage speed of the particles. The control / processing unit 200 further includes a control unit 220 that controls operations of the detection unit 100 and the signal processing unit 210, an input unit 230 including operation buttons and a keyboard, a display unit 240 including a monitor, and a signal processing unit. And a storage unit 250 that stores processing results in the unit 210, measurement conditions set using the input unit 230, and the like. The control / processing unit 200 may be configured by dedicated hardware, or may be configured by a personal computer on which predetermined control / processing software is installed. Further, it may be a combination of dedicated hardware and a personal computer.

次に、本実施形態のパーティクル計数装置の動作について説明する。まず、ユーザが入力部230から測定に必要なパラメータ(サンプリング周波数、閾値電圧、測定時間等)を設定して測定の開始を指示すると、信号処理部210による検出信号の収集が開始される。即ち、光源129による光の照射によって生じた散乱光が散乱光検出器132によって検出され、その検出信号(アナログ電圧)が順次、信号処理部210に送出される。   Next, the operation of the particle counter of this embodiment will be described. First, when the user sets parameters (sampling frequency, threshold voltage, measurement time, etc.) necessary for measurement from the input unit 230 and instructs the start of measurement, collection of detection signals by the signal processing unit 210 is started. That is, the scattered light generated by the light irradiation by the light source 129 is detected by the scattered light detector 132, and the detection signal (analog voltage) is sequentially sent to the signal processing unit 210.

信号処理部210に送出された検出信号は計数部211にて閾値電圧と比較される。なお、検出信号は通常は閾値電圧を下回っており、パーティクルによる散乱光が検出されたときに閾値電圧を超えるようになっている。計数部211は、検出信号が一旦閾値電圧を超え、その後再び閾値電圧を下回った時点で1つのパーティクルが通過したと判定する。従って、例えば図3に示すように、閾値電圧を超える時間域(図中のA、B、C)が短時間の間に複数出現した場合、従来であれば、これらを纏めて1つのパーティクルとして計数していたところを、本実施形態のパーティクル計数装置では、3個のパーティクルとして計数する。なお、このとき、閾値の設定によっては大粒径のパーティクルによるピークの先割れを複数のパーティクルとカウントしてしまう可能性もあるが、一般に、半導体処理装置の排気等において、ピークの先割れを生じるような大粒径のパーティクルが含まれる割合は僅かであるため、全体としてはパーティクル検出に関する精度を向上させることができる。   The detection signal sent to the signal processing unit 210 is compared with a threshold voltage by the counting unit 211. The detection signal is usually lower than the threshold voltage, and exceeds the threshold voltage when scattered light from particles is detected. The counting unit 211 determines that one particle has passed when the detection signal once exceeds the threshold voltage and then falls below the threshold voltage again. Therefore, for example, as shown in FIG. 3, when a plurality of time zones (A, B, C in the figure) exceeding the threshold voltage appear in a short time, conventionally, these are combined into one particle. In the particle counting device of the present embodiment, the counted number is counted as three particles. At this time, depending on the setting of the threshold value, there is a possibility that the peak cracking due to the large particle size is counted as a plurality of particles. Since the ratio of such large-sized particles to be generated is small, the accuracy of particle detection can be improved as a whole.

なお、計数部211は散乱光検出器132からの検出信号をデジタル信号に変換し、該デジタル信号に基づいてパーティクルの計数を行うものとしてもよい。この場合、図3の検出信号は、閾値以上であればハイ(H)、閾値未満であればロー(L)として二値化され、図4のような信号となる。そして、該信号上の1つのパルス(信号がハイ状態になってから再びロー状態となるまでの領域)が1つのパーティクルとして計数される。   The counting unit 211 may convert the detection signal from the scattered light detector 132 into a digital signal and count particles based on the digital signal. In this case, the detection signal in FIG. 3 is binarized as high (H) if it is greater than or equal to the threshold, and low (L) if it is less than the threshold, resulting in a signal as shown in FIG. Then, one pulse on the signal (a region from when the signal goes to a high state until it goes back to a low state) is counted as one particle.

また、散乱光検出器132からの検出信号は、粒径算出部212にも送出され、ここで各パーティクルに対応した検出信号の強度から該パーティクルの粒径が算出される。このとき、本実施形態に係るパーティクル測定装置では、上述のパーティクル計数の際と同様に、信号強度が閾値を超えてから再び閾値を下回るまでの時間域(図中のA、B、C)の各々を、1つのパーティクル由来の散乱光が検出されている時間域として扱い、各時間域における信号強度の最大値(図中のAmax、Bmax、Cmax)を各パーティクルに対応した検出信号の強度として決定する。 The detection signal from the scattered light detector 132 is also sent to the particle size calculator 212, where the particle size of the particle is calculated from the intensity of the detection signal corresponding to each particle. At this time, in the particle measuring apparatus according to the present embodiment, as in the case of the above-described particle counting, the time range (A, B, C in the figure) from when the signal intensity exceeds the threshold value to below the threshold value again. Each is treated as a time region in which scattered light derived from one particle is detected, and the maximum value of signal intensity in each time region (A max , B max , C max in the figure) is a detection signal corresponding to each particle. Determine as the intensity.

なお、入射光Iがパーティクルに照射されたときに発生する散乱光強度Iscattは以下の式で表される。 Note that the scattered light intensity I scatt generated when the incident light I 0 is applied to the particles is expressed by the following equation.

Figure 2012189509
Figure 2012189509

なお、aはパーティクル半径、λは入射光の波長、nはパーティクルの屈折率、θは入射光の進行方向と散乱光の観測方向のなす角度、rはパーティクルから検出器までの距離を示す。
式(1)より、散乱光強度はパーティクル半径aの6乗に比例し、光の波長λの4乗に反比例することがわかる。散乱光強度は検出部100における検出信号の強度に対応するため、各パーティクルによる検出信号の強度が分かれば、それに基づいて該パーティクルの半径を求めることができる。
Here, a is the particle radius, λ is the wavelength of the incident light, n is the refractive index of the particle, θ is the angle between the traveling direction of the incident light and the observation direction of the scattered light, and r is the distance from the particle to the detector.
From equation (1), it can be seen that the scattered light intensity is proportional to the sixth power of the particle radius a and inversely proportional to the fourth power of the wavelength λ of the light. Since the scattered light intensity corresponds to the intensity of the detection signal in the detection unit 100, if the intensity of the detection signal by each particle is known, the radius of the particle can be obtained based on the intensity.

具体的には、例えば、散乱光検出器132による検出信号の強度とパーティクルの粒径との関係を表した換算式や対応テーブルを予め記憶部250に記憶しておき、粒径算出部212が該換算式又は対応テーブルを参照して前記各パーティクルに対応した信号強度から該パーティクルの粒径を決定する。   Specifically, for example, a conversion formula or a correspondence table representing the relationship between the intensity of the detection signal from the scattered light detector 132 and the particle size of the particles is stored in the storage unit 250 in advance, and the particle size calculation unit 212 The particle size of the particle is determined from the signal intensity corresponding to each particle with reference to the conversion formula or the correspondence table.

また更に、散乱光検出器132からの検出信号は、通過速度算出部213にも送出され、ここで測定対象領域140を通過する際の各パーティクルの通過速度が算出される。このとき、本実施形態に係るパーティクル測定装置では、上記同様に、信号強度が閾値を超えてから再び閾値を下回るまでの間(図中のA、B、C)を、それぞれ1つのパーティクルが測定対象領域140を通過している時間域と判定し、各時間域の幅(すなわち各パーティクルが測定対象領域140を通過するのに要した時間)で、パーティクルの流通方向に沿った測定対象領域140の長さ(すなわち、上記シート状の光の厚さw1、又はスリット137の開口幅w2)を除算することにより各パーティクルの通過速度をそれぞれ算出する。   Furthermore, the detection signal from the scattered light detector 132 is also sent to the passage speed calculation unit 213, where the passage speed of each particle when passing through the measurement target region 140 is calculated. At this time, in the particle measuring apparatus according to the present embodiment, as described above, each particle measures between the time when the signal intensity exceeds the threshold value and again falls below the threshold value (A, B, and C in the figure). The measurement target region 140 is determined to be a time region passing through the target region 140, and the width of each time region (that is, the time required for each particle to pass through the measurement target region 140) along the flow direction of the particles. Is divided by the length (namely, the thickness w1 of the sheet-like light or the opening width w2 of the slit 137) to calculate the passing speed of each particle.

上記のような測定及び信号処理が行われている間、表示部240にはパーティクルの通過状況に関する情報(例えば、一定時間の間に通過したパーティクルの数やその粒径、通過速度など)がリアルタイムで表示される。そして、測定が終了すると、一連の測定結果(測定中の各時点におけるパーティクルの通過数や、測定中に通過したパーティクル数の合計、粒径や通過速度の分布など)がパーティクル測定ファイルとして記憶部250に格納される。各ファイルにはヘッダー情報が記録され、その下に検出で得られたデータが順に格納される。また、データ取得前に設定したパラメータデータも記憶部250に保存される。記憶部250に保存されたファイルは適宜読み出して表示部240に表示させることができる。   During the measurement and signal processing as described above, the display unit 240 provides real-time information on the passage state of particles (for example, the number of particles that have passed during a certain period of time, the particle size, the passage speed, etc.). Is displayed. When the measurement is completed, a series of measurement results (the number of passing particles at each time point during the measurement, the total number of particles passed during the measurement, the distribution of the particle size and the passing speed, etc.) are stored as a particle measurement file. 250. In each file, header information is recorded, and data obtained by detection is sequentially stored under the header information. In addition, parameter data set before data acquisition is also stored in the storage unit 250. The file stored in the storage unit 250 can be appropriately read and displayed on the display unit 240.

以上、本発明を実施するための形態について説明を行ったが、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨の範囲で適宜変更が許容される。例えば、本発明のパーティクル計数装置における散乱光検出器として、特開2010-190814に記載のような複数の検出素子から成るもの(例えば、32チャンネルの光電子増倍管)を使用し、各素子からの信号を個別に処理することにより、排気管を通過するパーティクルの分布に関する正確な情報を取得できるようにしてもよい。また、本発明のパーティクル計数装置は、本発明の方法(図3〜5を用いて説明したもの)によるパーティクルの計数、粒径の算出、及び通過速度の算出と、上記従来方法(図5を用いて説明したもの)によるパーティクルの計数、粒径の算出、及び通過速度の算出の両方を実行可能なものとし、測定を行うに際し、いずれの方法を適用するかをユーザが適宜選択できるようにしてもよい。   As mentioned above, although the form for implementing this invention was demonstrated, this invention is not limited to said embodiment, A change is accept | permitted suitably in the range of the meaning of this invention. For example, as a scattered light detector in the particle counter of the present invention, a detector comprising a plurality of detection elements as described in JP 2010-190814 (for example, a 32-channel photomultiplier tube) is used. It is also possible to obtain accurate information on the distribution of particles passing through the exhaust pipe by individually processing these signals. In addition, the particle counting device of the present invention includes the particle counting, particle size calculation, and passage speed calculation according to the method of the present invention (described with reference to FIGS. 3 to 5) and the conventional method (FIG. 5). Both particle counting, particle size calculation, and passage speed calculation can be performed, and the user can appropriately select which method to apply when performing measurement. May be.

次に、本発明に係るパーティクル計数装置の効果を確認するために行った実験の結果について説明する。図6及び図7は、同一の信号(散乱光検出器132からの検出信号に相当)を使用して、従来の方法でパーティクル計数を行った結果(図6)と、本発明の方法でパーティクルの計数を行った結果(図7)を示している。図中のグラフはいずれも横軸が信号強度、縦軸がパーティクルの積算個数を表している。前記信号強度はパーティクルの粒径に対応しているため、横軸は右へ行くほど粒径が大きいことになる。これらのグラフを比較すると、図7中の丸で囲んだ部分でパーティクルの検出個数が増加しており、本発明の方法によりパーティクル計数の感度が向上していることがわかる。   Next, the results of experiments conducted to confirm the effects of the particle counter according to the present invention will be described. FIG. 6 and FIG. 7 show the result (FIG. 6) of particle counting by the conventional method using the same signal (corresponding to the detection signal from the scattered light detector 132) and the particle by the method of the present invention. The result (FIG. 7) which performed the count is shown. In each graph, the horizontal axis represents the signal intensity, and the vertical axis represents the cumulative number of particles. Since the signal intensity corresponds to the particle size of the particle, the particle size increases as the horizontal axis moves to the right. Comparing these graphs, it can be seen that the number of detected particles is increased in the circled portion in FIG. 7, and the particle counting sensitivity is improved by the method of the present invention.

100…検出部
122…排気管
128…光照射部
129…光源
132…散乱光検出器
137…スリット
140…測定対象領域
200…制御/処理部
210…信号処理部
211…計数部
212…粒径算出部
213…通過速度算出部
220…制御部
230…入力部
240…表示部
250…記憶部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Detection part 122 ... Exhaust pipe 128 ... Light irradiation part 129 ... Light source 132 ... Scattered light detector 137 ... Slit 140 ... Measurement object area 200 ... Control / processing part 210 ... Signal processing part 211 ... Counting part 212 ... Particle size calculation Unit 213 ... Passing speed calculation unit 220 ... Control unit 230 ... Input unit 240 ... Display unit 250 ... Storage unit

Claims (3)

測定対象領域を一定方向に向かって通過するパーティクルを計数するパーティクル計数装置であって、
a)測定対象領域に光を照射する光照射手段と、
b)前記測定対象領域に光が照射されたときに生じる散乱光を検出する散乱光検出手段と、
c)前記散乱光検出手段から順次出力される検出信号を予め定められた閾値と比較し、検出信号が前記閾値を超えてから再び該閾値を下回るまでを1つのパーティクル由来の信号と判定してパーティクルの計数を行うパーティクル計数手段と、
を有することを特徴とするパーティクル計数装置。
A particle counting device that counts particles passing through a measurement target region in a certain direction,
a) a light irradiation means for irradiating the measurement target region with light;
b) scattered light detection means for detecting scattered light generated when light is irradiated onto the measurement target region;
c) The detection signals sequentially output from the scattered light detection means are compared with a predetermined threshold value, and the detection signal from the time when the detection signal exceeds the threshold value and again falls below the threshold value is determined as a signal derived from one particle. Particle counting means for counting particles;
A particle counting device comprising:
更に、
d)前記検出信号が前記閾値を超えてから再び該閾値を下回るまでの間における検出信号の最大値に基づいてパーティクルの粒径を算出する粒径算出手段、
を有することを特徴とする請求項1に記載のパーティクル計数装置。
Furthermore,
d) Particle size calculation means for calculating the particle size of the particles based on the maximum value of the detection signal from when the detection signal exceeds the threshold value to again below the threshold value,
The particle counter according to claim 1, wherein
更に、
e)前記検出信号が前記閾値を超えてから再び該閾値を下回るまでの時間と、パーティクルの通過方向に沿った前記測定対象領域の長さとに基づいてパーティクルの通過速度を算出する通過速度算出手段、
を有することを特徴とする請求項1又は2に記載のパーティクル計数装置。
Furthermore,
e) Passing speed calculation means for calculating the passing speed of particles based on the time from when the detection signal exceeds the threshold value until it falls below the threshold value again, and the length of the measurement target region along the particle passing direction. ,
The particle counter according to claim 1, wherein:
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