JP2012186968A - Power inverter apparatus - Google Patents

Power inverter apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP2012186968A
JP2012186968A JP2011049871A JP2011049871A JP2012186968A JP 2012186968 A JP2012186968 A JP 2012186968A JP 2011049871 A JP2011049871 A JP 2011049871A JP 2011049871 A JP2011049871 A JP 2011049871A JP 2012186968 A JP2012186968 A JP 2012186968A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
difference
igbt
switching element
storage unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011049871A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5482694B2 (en
Inventor
Tomoyuki Muraho
智之 村穗
Tsuneo Maehara
恒男 前原
Yoshiyuki Hamanaka
義行 濱中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2011049871A priority Critical patent/JP5482694B2/en
Publication of JP2012186968A publication Critical patent/JP2012186968A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5482694B2 publication Critical patent/JP5482694B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Inverter Devices (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a power inverter apparatus capable of accurately estimating a temperature without influence of characteristic variations of a switching element.SOLUTION: A microcomputer 124 finds a difference ΔR between on-resistances of an IGBT 110e and an IGBT 110f from on-resistances R0 and R1 stored in a memory 123 of, respectively, the IGBTs 110e and 110f. The microcomputer 124 finds, from data indicating relationship between on-resistance difference of the IGBTs stored in the memory 123 and a temperature difference associated with the on-resistance difference as well as the found on-resistance difference ΔR, a temperature difference ΔT associated with the on-resistance difference ΔR using the on-resistance R0 of the IGBT 110e as a reference. Further, the microcomputer 124 adds the found temperature difference ΔT to a detected temperature of the IGBT 110e to estimate a temperature of the IGBT 110f not detected. Therefore, the temperature can be accurately estimated without influence of the characteristic variations of the IGBT.

Description

本発明は、複数のスイッチング素子と、スイッチング素子の温度を検出する温度検出素子とを備えた電力変換装置に関する。   The present invention relates to a power conversion device including a plurality of switching elements and a temperature detection element that detects the temperature of the switching elements.

従来、複数のスイッチング素子と、スイッチング素子の温度を検出する温度検出素子とを備えた電力変換装置として、例えば特許文献1に開示されている半導体モジュールがある。   2. Description of the Related Art Conventionally, for example, there is a semiconductor module disclosed in Patent Document 1 as a power conversion device including a plurality of switching elements and a temperature detection element that detects the temperature of the switching elements.

この半導体モジュールは、複数のIGBT素子と、温度検出用ダイオードと、温度推定手段とを備えている。温度検出用ダイオードは、選択した1つのIGBT素子の温度を検出する。温度推定手段は、予め設定されている、温度を検出しているIGBT素子と温度を検出していない特定のIGBT素子の温度に関する相関データと、検出したIGBT素子の温度に基づいて、温度を検出していない特定のIGBT素子の温度を推定する。   This semiconductor module includes a plurality of IGBT elements, a temperature detection diode, and temperature estimation means. The temperature detection diode detects the temperature of one selected IGBT element. The temperature estimation means detects the temperature based on correlation data relating to a preset temperature of the IGBT element that detects the temperature and a specific IGBT element that does not detect the temperature, and the detected temperature of the IGBT element. The temperature of a specific IGBT element that has not been estimated is estimated.

特許第4032746号公報Japanese Patent No. 4032746

ところで、IGBT素子には特性にばらつきがあり、それに伴って温度もばらつく。そのため、IGBT素子の温度を精度よく推定するために、特性に応じて相関データを設定しなければならない。しかし、相関データは、固定されている。そのため、IGBT素子の温度を精度よく推定することができないという問題があった。   By the way, the characteristics of the IGBT elements vary, and the temperature varies accordingly. Therefore, in order to accurately estimate the temperature of the IGBT element, correlation data must be set according to the characteristics. However, the correlation data is fixed. For this reason, there is a problem that the temperature of the IGBT element cannot be accurately estimated.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、スイッチング素子の特性のばらつきに影響されることなく、温度を精度よく推定することができる電力変換装置を提供することを目的とする。   This invention is made | formed in view of such a situation, and it aims at providing the power converter device which can estimate temperature accurately, without being influenced by the dispersion | variation in the characteristic of a switching element.

そこで、本発明者らは、この課題を解決すべく鋭意研究し試行錯誤を重ねた結果、記憶部に記憶されている複数のスイッチング素子のそれぞれの特性情報に基づいて、温度を検出していないスイッチング素子の温度を推定することで、スイッチング素子の特性のばらつきに影響されることなく、温度を精度よく推定できることを見出し、本発明を完成するに至った。   Therefore, as a result of intensive research and trial and error to solve this problem, the present inventors have not detected the temperature based on the characteristic information of the plurality of switching elements stored in the storage unit. By estimating the temperature of the switching element, it has been found that the temperature can be accurately estimated without being affected by variations in the characteristics of the switching element, and the present invention has been completed.

すなわち、請求項1に記載の電力変換装置は、複数のスイッチング素子と、1つのスイッチング素子の温度を検出する温度検出素子と、温度検出素子の検出結果に基づいて、温度を検出していないスイッチング素子の温度を推定する温度推定回路と、を備えた電力変換装置において、温度推定回路は、スイッチング素子のそれぞれの特性情報を記憶する記憶部を有し、温度検出素子の検出結果と記憶部に記憶されている特性情報に基づいて、温度を検出していないスイッチング素子の温度を推定することを特徴とする。この構成によれば、スイッチング素子の特性情報に基づいて、温度を検出していないスイッチング素子の温度を推定する。そのため、スイッチング素子の特性のばらつきに影響されることなく、温度を精度よく推定することができる。   That is, the power conversion device according to claim 1 includes a plurality of switching elements, a temperature detection element that detects the temperature of one switching element, and a switching that does not detect the temperature based on a detection result of the temperature detection element. In the power conversion device including the temperature estimation circuit that estimates the temperature of the element, the temperature estimation circuit includes a storage unit that stores the characteristic information of each switching element, and the detection result of the temperature detection element and the storage unit Based on the stored characteristic information, the temperature of the switching element not detecting the temperature is estimated. According to this configuration, the temperature of the switching element not detecting the temperature is estimated based on the characteristic information of the switching element. Therefore, the temperature can be accurately estimated without being affected by variations in the characteristics of the switching elements.

請求項2に記載の電力変換装置は、特性情報は、オン抵抗であり、温度推定回路は、記憶部に記憶されているオン抵抗に基づいて、温度を検出しているスイッチング素子と温度を検出していないスイッチング素子のオン抵抗の差を求め、温度検出素子の検出結果と求めたオン抵抗の差に基づいて温度を推定することを特徴とする。この構成によれば、スイッチング素子がオンした後の定常状態におけるスイッチング素子の温度は、スイッチング素子のオン抵抗によって変化する。スイッチング素子のオン抵抗が小さいと、定常状態における損失が小さくなり、それに伴ってスイッチング素子の温度上昇も小さくなる。一方、スイッチング素子のオン抵抗が大きいと、定常状態における損失が大きくなり、それに伴ってスイッチング素子の温度上昇も大きくなる。そのため、温度を検出しているスイッチング素子と温度を検出していないスイッチング素子のオン抵抗の差に基づいて温度を推定することで、スイッチング素子の特性のばらつきに影響されることなく、温度を精度よく推定することができる。   The power conversion device according to claim 2, wherein the characteristic information is an on-resistance, and the temperature estimation circuit detects the temperature and the switching element that detects the temperature based on the on-resistance stored in the storage unit. A difference between the on-resistances of the switching elements that have not been obtained is obtained, and the temperature is estimated based on the detection result of the temperature detection element and the obtained difference between the on-resistances. According to this configuration, the temperature of the switching element in the steady state after the switching element is turned on varies depending on the on-resistance of the switching element. When the on-resistance of the switching element is small, the loss in the steady state is small, and accordingly, the temperature rise of the switching element is also small. On the other hand, when the on-resistance of the switching element is large, the loss in the steady state increases, and accordingly, the temperature rise of the switching element also increases. Therefore, by estimating the temperature based on the difference in on-resistance between the switching element that detects the temperature and the switching element that does not detect the temperature, the temperature is accurately measured without being affected by variations in the characteristics of the switching element. Can be estimated well.

請求項3に記載の電力変換装置は、温度推定回路は、求めたオン抵抗の差からそれに伴う温度差を求め、温度検出素子の検出結果と求めた温度差に基づいて温度を推定することを特徴とする。この構成によれば、温度を検出していないスイッチング素子の温度を確実に推定することができる。   The power conversion device according to claim 3, wherein the temperature estimation circuit obtains a temperature difference associated therewith from the obtained difference in on-resistance, and estimates the temperature based on the detection result of the temperature detection element and the obtained temperature difference. Features. According to this configuration, the temperature of the switching element that has not detected the temperature can be reliably estimated.

請求項4に記載の電力変換装置は、記憶部には、オン抵抗の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータが記憶され、温度推定回路は、記憶部に記憶されているオン抵抗の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータに基づいて、求めたオン抵抗の差からそれに伴う温度差を求めることを特徴とする。この構成によれば、オン抵抗の差に伴う温度差を確実に求めることができる。   In the power conversion device according to claim 4, the storage unit stores data indicating a relationship between the on-resistance difference and the accompanying temperature difference, and the temperature estimation circuit includes the on-resistance difference stored in the storage unit. And the temperature difference associated therewith from the obtained difference in on-resistance based on the data indicating the relationship between the temperature difference and the associated temperature difference. According to this configuration, the temperature difference associated with the difference in on-resistance can be reliably obtained.

請求項5に記載の電力変換装置は、特性情報は、制御端子の入力容量であり、温度推定回路は、記憶部に記憶されている制御端子の入力容量に基づいて、温度を検出しているスイッチング素子と温度を検出していないスイッチング素子の制御端子の入力容量の差を求め、温度検出素子の検出結果と求めた制御端子の入力容量の差に基づいて温度を推定することを特徴とする。この構成によれば、スイッチング素子がオフからオンする際の過渡状態におけるスイッチング素子の温度は、スイッチング素子のスイッチング速度によって変化する。スイッチング速度が速いと、過渡状態における損失が小さくなり、それに伴ってスイッチング素子の温度上昇も小さくなる。一方、スイッチング速度が遅いと、過渡状態における損失が大きくなり、それに伴ってスイッチング素子の温度上昇も大きくなる。ところで、スイッチング素子の制御端子の入力容量が小さいと、その充電時間が短くなり、スイッチング速度が速くなる。一方、スイッチング素子の制御端子の入力容量が大きいと、その充電時間が長くなり、スイッチング速度が遅くなる。そのため、温度を検出しているスイッチング素子と温度を検出していないスイッチング素子の制御端子の入力容量の差に基づいて温度を推定することで、スイッチング素子の特性のばらつきに影響されることなく、温度を精度よく推定することができる。   In the power conversion device according to claim 5, the characteristic information is an input capacity of the control terminal, and the temperature estimation circuit detects the temperature based on the input capacity of the control terminal stored in the storage unit. The difference between the input capacitances of the control terminals of the switching elements and the switching elements not detecting the temperature is obtained, and the temperature is estimated based on the difference between the detection results of the temperature detection elements and the obtained input capacitance of the control terminals. . According to this configuration, the temperature of the switching element in a transient state when the switching element is turned on from off varies depending on the switching speed of the switching element. When the switching speed is high, the loss in the transient state is reduced, and accordingly, the temperature rise of the switching element is also reduced. On the other hand, when the switching speed is slow, the loss in the transient state increases, and accordingly, the temperature rise of the switching element also increases. By the way, when the input capacity of the control terminal of the switching element is small, the charging time is shortened and the switching speed is increased. On the other hand, when the input capacity of the control terminal of the switching element is large, the charging time becomes long and the switching speed becomes slow. Therefore, by estimating the temperature based on the difference between the input capacitances of the control terminals of the switching element that detects the temperature and the switching element that does not detect the temperature, without being affected by variations in the characteristics of the switching element, The temperature can be accurately estimated.

請求項6に記載の電力変換装置は、温度推定回路は、求めた制御端子の入力容量の差からそれに伴う温度差を求め、温度検出素子の検出結果と求めた温度差に基づいて温度を推定することを特徴とする。この構成によれば、温度を検出していないスイッチング素子の温度を確実に推定することができる。   The power conversion device according to claim 6, wherein the temperature estimation circuit obtains a temperature difference associated therewith from the obtained difference in the input capacitance of the control terminal, and estimates the temperature based on the detection result of the temperature detection element and the obtained temperature difference. It is characterized by doing. According to this configuration, the temperature of the switching element that has not detected the temperature can be reliably estimated.

請求項7に記載の電力変換装置は、記憶部には、制御端子の入力容量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータが記憶され、温度推定回路は、記憶部に記憶されている制御端子の入力容量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータに基づいて、求めた制御端子の入力容量の差からそれに伴う温度差を求めることを特徴とする。この構成によれば、制御端子の入力容量の差に伴う温度差を確実に求めることができる。   In the power conversion device according to claim 7, the storage unit stores data indicating a relationship between a difference in input capacitance of the control terminal and a temperature difference associated therewith, and the temperature estimation circuit is a control stored in the storage unit. Based on the difference between the input capacitances of the terminals and the data indicating the temperature difference associated therewith, the temperature difference associated therewith is obtained from the difference between the input capacitances of the control terminals obtained. According to this configuration, the temperature difference associated with the difference in input capacitance between the control terminals can be reliably obtained.

請求項8に記載の電力変換装置は、特性情報は、端子間の蓄積可能電荷量であり、温度推定回路は、記憶部に記憶されている温度を検出しているスイッチング素子と温度を検出していないスイッチング素子の端子間の蓄積可能電荷量の差を求め、温度検出素子の検出結果と求めた端子間の蓄積可能電荷量の差に基づいて温度を推定することを特徴とする。この構成によれば、スイッチング素子がオフからオンする際の過渡状態におけるスイッチング素子の温度は、スイッチング素子のスイッチング速度によって変化する。スイッチング速度が速いと、過渡状態における損失が小さくなり、それに伴ってスイッチング素子の温度上昇も小さくなる。一方、スイッチング速度が遅いと、過渡状態における損失が大きくなり、それに伴ってスイッチング素子の温度上昇も大きくなる。ところで、スイッチング素子の端子間の蓄積可能電荷量が小さいと、電荷の蓄積時間が短くなり、スイッチング速度が速くなる。一方、スイッチング素子の端子間の蓄積可能電荷量が大きいと、電荷の蓄積時間が長くなり、スイッチング速度が遅くなる。そのため、温度を検出しているスイッチング素子と温度を検出していないスイッチング素子の端子間の蓄積可能電荷量の差に基づいて温度を推定することで、スイッチング素子の特性のばらつきに影響されることなく、温度を精度よく推定することができる。   The power conversion device according to claim 8, wherein the characteristic information is an amount of charge that can be accumulated between the terminals, and the temperature estimation circuit detects the temperature and the switching element that detects the temperature stored in the storage unit. A difference in the storable charge amount between the terminals of the switching elements that are not present is obtained, and the temperature is estimated based on the detection result of the temperature detection element and the obtained difference in the storable charge amount between the terminals. According to this configuration, the temperature of the switching element in a transient state when the switching element is turned on from off varies depending on the switching speed of the switching element. When the switching speed is high, the loss in the transient state is reduced, and accordingly, the temperature rise of the switching element is also reduced. On the other hand, when the switching speed is slow, the loss in the transient state increases, and accordingly, the temperature rise of the switching element also increases. By the way, if the amount of charge that can be stored between the terminals of the switching element is small, the charge storage time is shortened and the switching speed is increased. On the other hand, if the amount of charge that can be stored between the terminals of the switching element is large, the charge storage time becomes long and the switching speed becomes slow. For this reason, the temperature is estimated based on the difference in the amount of charge that can be accumulated between the switching element that detects the temperature and the terminal of the switching element that does not detect the temperature. Temperature can be estimated accurately.

請求項9に記載の電力変換装置は、温度推定回路は、求めた端子間の蓄積可能電荷量の差からそれに伴う温度差を求め、温度検出素子の検出結果と求めた温度差に基づいて温度を推定することを特徴とする。この構成によれば、温度を検出していないスイッチング素子の温度を確実に推定することができる。   The power conversion device according to claim 9, wherein the temperature estimation circuit obtains a temperature difference associated therewith from the difference in the amount of charge that can be accumulated between the obtained terminals, and the temperature based on the detection result of the temperature detection element and the obtained temperature difference. Is estimated. According to this configuration, the temperature of the switching element that has not detected the temperature can be reliably estimated.

請求項10に記載の電力変換装置は、記憶部には、端子間の蓄積可能電荷量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータが記憶され、温度推定回路は、記憶部に記憶されている端子間の蓄積可能電荷量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータに基づいて、求めた端子間の蓄積可能電荷量の差からそれに伴う温度差を求めることを特徴とする。この構成によれば、端子間の蓄積可能電荷量の差に伴う温度差を確実に求めることができる。   In the power conversion device according to claim 10, the storage unit stores data indicating a relationship between a difference in charge amount that can be accumulated between the terminals and a temperature difference associated therewith, and the temperature estimation circuit is stored in the storage unit. On the basis of the data indicating the relationship between the difference in the amount of charge that can be accumulated between the terminals and the temperature difference associated therewith, the temperature difference associated therewith is obtained from the difference in the amount of charge that can be accumulated between the obtained terminals. According to this configuration, it is possible to reliably determine the temperature difference associated with the difference in the amount of charge that can be accumulated between the terminals.

請求項11に記載の電力変換装置は、特性情報は、温度を検出しているスイッチング素子と温度を検出していないスイッチング素子の損失の差であり、温度推定回路は、温度検出素子の検出結果と、記憶部に記憶されている温度を検出しているスイッチング素子と温度を検出していないスイッチング素子の損失の差に基づいて温度を推定することを特徴とする。この構成によれば、スイッチング素子の特性のばらつきに影響されることなく、温度を精度よく推定することができる。   In the power conversion device according to claim 11, the characteristic information is a difference in loss between the switching element that detects the temperature and the switching element that does not detect the temperature, and the temperature estimation circuit detects the detection result of the temperature detection element. And the temperature is estimated based on a difference in loss between the switching element detecting the temperature stored in the storage unit and the switching element not detecting the temperature. According to this configuration, the temperature can be accurately estimated without being affected by variations in the characteristics of the switching elements.

第1実施形態におけるモータ制御装置の回路図である。It is a circuit diagram of the motor control device in a 1st embodiment. 図1における制御装置の回路図である。It is a circuit diagram of the control apparatus in FIG. 第1実施形態における温度推定動作を説明するためのグラフである。It is a graph for demonstrating the temperature estimation operation | movement in 1st Embodiment. 第2実施形態における温度推定動作を説明するためのグラフである。It is a graph for demonstrating the temperature estimation operation | movement in 2nd Embodiment. 第3実施形態における温度推定動作を説明するためのグラフである。It is a graph for demonstrating the temperature estimation operation | movement in 3rd Embodiment.

次に実施形態を挙げ、本発明をより詳しく説明する。本実施形態では、本発明に係る電力変換装置を、車両に搭載され、車両駆動用モータを制御するモータ制御装置に適用した例を示す。   Next, an embodiment is given and this invention is demonstrated in detail. In the present embodiment, an example in which the power conversion device according to the present invention is applied to a motor control device that is mounted on a vehicle and controls a motor for driving the vehicle is shown.

(第1実施形態)
まず、図1を参照して第1実施形態のモータ制御装置の構成について説明する。ここで、図1は、第1実施形態におけるモータ制御装置の回路図である。
(First embodiment)
First, the configuration of the motor control device of the first embodiment will be described with reference to FIG. Here, FIG. 1 is a circuit diagram of the motor control device according to the first embodiment.

図1に示すモータ制御装置1(電力変換装置)は、車体から絶縁された高電圧バッテリB1の出力する直流高電圧(例えば288V)を3相交流電圧に変換して車両駆動用モータM1に供給し、車両駆動用モータM1を制御する装置である。モータ制御装置1は、平滑コンデンサ10と、インバータ装置11と、制御装置12とを備えている。   A motor control device 1 (power conversion device) shown in FIG. 1 converts a DC high voltage (for example, 288 V) output from a high-voltage battery B1 insulated from a vehicle body into a three-phase AC voltage and supplies it to a vehicle drive motor M1. And a device for controlling the vehicle drive motor M1. The motor control device 1 includes a smoothing capacitor 10, an inverter device 11, and a control device 12.

平滑コンデンサ10は、高電圧バッテリB1の直流高電圧を平滑化するための素子である。平滑コンデンサ10の一端は、高電圧バッテリB1の正極端子に接続されている。また、他端は、高電圧バッテリB1の負極端子に接続されている。さらに、高電圧バッテリB1の負極端子は、車体から絶縁された高電圧バッテリ用のグランドに接続されている。   The smoothing capacitor 10 is an element for smoothing the DC high voltage of the high voltage battery B1. One end of the smoothing capacitor 10 is connected to the positive terminal of the high voltage battery B1. The other end is connected to the negative terminal of the high voltage battery B1. Furthermore, the negative terminal of the high voltage battery B1 is connected to the ground for the high voltage battery insulated from the vehicle body.

インバータ装置11は、平滑コンデンサ10によって平滑化された直流電圧を3相交流電圧に変換して車両駆動用モータM1に供給する装置である。インバータ装置11は、IGBT110a〜110f(スイッチング素子)と、電流センス抵抗111a〜111fと、感温ダイオード112a〜112c(温度検出素子)とを備えている。   The inverter device 11 is a device that converts the DC voltage smoothed by the smoothing capacitor 10 into a three-phase AC voltage and supplies it to the vehicle drive motor M1. The inverter device 11 includes IGBTs 110a to 110f (switching elements), current sense resistors 111a to 111f, and temperature sensitive diodes 112a to 112c (temperature detection elements).

IGBT110a〜110fは、ゲート(制御端子)の電圧を制御することで駆動され、オン、オフすることで平滑コンデンサ10に平滑化された直流電圧を3相交流電圧に変換するためのスイッチング素子である。IGBT110a〜110fは、コレクタ電流に比例し、コレクタ電流より小さい電流が流れる電流センス端子を備えている。IGBT110a、110d、IGBT110b、110e及びIGBT110c、110fはそれぞれ直列接続されている。具体的には、IGBT110a〜110cのエミッタが、IGBT110d〜110fのコレクタにそれぞれ接続されている。直列接続された3組のIGBT110a、110d、IGBT110b、110e及びIGBT110c、110fは並列接続されている。IGBT110a〜110cのコレクタは平滑コンデンサ10の一端に、IGBT110d〜110fのエミッタは平滑コンデンサ10の他端にそれぞれ接続されている。また、IGBT110a〜110fのゲートとエミッタは制御装置12にそれぞれ接続されている。さらに、直列接続されたIGBT110a、110d、IGBT110b、110e及びIGBT110c、110fの直列接続点は、車両駆動用モータM1にそれぞれ接続されている。   The IGBTs 110a to 110f are switching elements that are driven by controlling the voltage of the gate (control terminal) and convert the DC voltage smoothed by the smoothing capacitor 10 by turning on and off to a three-phase AC voltage. . The IGBTs 110a to 110f include a current sense terminal through which a current that is proportional to the collector current and smaller than the collector current flows. The IGBTs 110a and 110d, the IGBTs 110b and 110e, and the IGBTs 110c and 110f are respectively connected in series. Specifically, the emitters of the IGBTs 110a to 110c are connected to the collectors of the IGBTs 110d to 110f, respectively. Three sets of IGBTs 110a and 110d, IGBTs 110b and 110e, and IGBTs 110c and 110f connected in series are connected in parallel. The collectors of the IGBTs 110 a to 110 c are connected to one end of the smoothing capacitor 10, and the emitters of the IGBTs 110 d to 110 f are connected to the other end of the smoothing capacitor 10. The gates and emitters of the IGBTs 110a to 110f are connected to the control device 12, respectively. Further, the series connection points of the IGBTs 110a and 110d, the IGBTs 110b and 110e, and the IGBTs 110c and 110f that are connected in series are respectively connected to the vehicle drive motor M1.

電流センス抵抗111a〜111fは、IGBT110a〜110fに流れる電流を電圧に変換するための素子である。具体的には、電流センス端子に流れる電流を電圧に変換する素子である。電流センス抵抗111a〜111fの一端はIGBT110a〜110fの電流センス端子に、他端はIGBT110a〜110fのエミッタにそれぞれ接続されている。また、電流センス抵抗111a〜111fの両端は、制御装置12にそれぞれ接続されている。   The current sense resistors 111a to 111f are elements for converting the current flowing through the IGBTs 110a to 110f into a voltage. Specifically, it is an element that converts a current flowing through a current sense terminal into a voltage. One ends of the current sense resistors 111a to 111f are connected to the current sense terminals of the IGBTs 110a to 110f, and the other ends are connected to the emitters of the IGBTs 110a to 110f, respectively. Further, both ends of the current sense resistors 111a to 111f are connected to the control device 12, respectively.

感温ダイオード112a〜112cは、インバータ装置11を構成する複数のIGBT110a〜110fのうち、1つのIGBT110eの温度を検出するための素子である。具体的には、定電流を流すことで温度に応じた電圧を出力する素子である。感温ダイオード112a〜112cは、IGBT110eに一体的に構成され、直列接続されている。直列接続された感温ダイオード112a〜112cのうち、一端側の感温ダイオード112aのアノードは制御装置12に、多端側の感温ダイオード112cのカソードはIGBT110eのエミッタにそれぞれ接続されている。   The temperature sensitive diodes 112 a to 112 c are elements for detecting the temperature of one IGBT 110 e among the plurality of IGBTs 110 a to 110 f configuring the inverter device 11. Specifically, it is an element that outputs a voltage according to temperature by passing a constant current. The temperature sensitive diodes 112a to 112c are integrally configured with the IGBT 110e and connected in series. Among the temperature-sensitive diodes 112a to 112c connected in series, the anode of the temperature-sensitive diode 112a on one end side is connected to the control device 12, and the cathode of the temperature-sensitive diode 112c on the multi-end side is connected to the emitter of the IGBT 110e.

制御装置12は、IGBT110a〜110fを制御する装置である。制御装置12は、IGBT110a〜110fのゲートとエミッタにそれぞれ接続されている。また、IGBT110a〜110fに流れる電流を検出するため、電流センス抵抗111a〜111fの両端にそれぞれ接続されている。さらに、IGBT110eの温度を検出するため、感温ダイオード112aのアノードに接続されている。   The control device 12 is a device that controls the IGBTs 110a to 110f. The control device 12 is connected to the gates and emitters of the IGBTs 110a to 110f, respectively. Moreover, in order to detect the electric current which flows into IGBT110a-110f, it connects to the both ends of current sense resistance 111a-111f, respectively. Further, in order to detect the temperature of the IGBT 110e, it is connected to the anode of the temperature sensitive diode 112a.

次に、図2及び図3を参照して制御装置について詳細に説明する。ここで、図2は、図1における制御装置の回路図である。具体的には、1つのIGBTに対する回路部分を示す回路図である。図3は、第1実施形態における温度推定動作を説明するためのグラフである。   Next, the control device will be described in detail with reference to FIGS. Here, FIG. 2 is a circuit diagram of the control device in FIG. Specifically, it is a circuit diagram showing a circuit portion for one IGBT. FIG. 3 is a graph for explaining the temperature estimation operation in the first embodiment.

図2に示すように、制御装置12は、IGBT110eに対して、変換回路120と、フォトカプラ121と、駆動回路122とを備えている。また、IGBT110a〜110d、110fに対して、それぞれ、変換回路と、フォトカプラと、駆動回路とを備えている。さらに、IGBT110a〜110fに対してメモリ123(温度推定回路、記憶部)と、マイクロコンピュータ124(温度推定回路)とを備えている。   As shown in FIG. 2, the control device 12 includes a conversion circuit 120, a photocoupler 121, and a drive circuit 122 for the IGBT 110e. Further, each of the IGBTs 110a to 110d and 110f includes a conversion circuit, a photocoupler, and a drive circuit. Furthermore, a memory 123 (temperature estimation circuit, storage unit) and a microcomputer 124 (temperature estimation circuit) are provided for the IGBTs 110a to 110f.

変換回路120は、電流センス抵抗111eの電圧を、その電圧に応じた周期のパルス信号に変換して出力する回路である。また、感温ダイオード112a〜112cの電圧を、その電圧に応じた周期のパルス信号に変換して出力する回路でもある。なお、IGBT110a〜110d、110fに対する変換回路は、電流センス抵抗111a〜111d、111fの電圧だけを、その電圧に応じた周期のパルス信号に変換して出力する回路である。変換回路120の入力端子は、電流センス抵抗111eの一端と感温ダイオード112aのアノードにそれぞれ接続されている。また、出力端子は、フォトカプラ121に接続されている。   The conversion circuit 120 is a circuit that converts the voltage of the current sense resistor 111e into a pulse signal having a period corresponding to the voltage and outputs the pulse signal. Further, it is also a circuit that converts the voltage of the temperature sensitive diodes 112a to 112c into a pulse signal having a period corresponding to the voltage and outputs the pulse signal. Note that the conversion circuit for the IGBTs 110a to 110d and 110f is a circuit that converts only the voltage of the current sense resistors 111a to 111d and 111f into a pulse signal having a period corresponding to the voltage and outputs the pulse signal. The input terminal of the conversion circuit 120 is connected to one end of the current sense resistor 111e and the anode of the temperature sensitive diode 112a. The output terminal is connected to the photocoupler 121.

フォトカプラ121は、変換回路120の出力するパルス信号を電気的に絶縁してマイクロコンピュータ124に伝達する素子である。フォトカプラ121の入力端子は、変換回路120の出力端子に接続されている。また、出力端子は、マイクロコンピュータ124に接続されている。   The photocoupler 121 is an element that electrically insulates the pulse signal output from the conversion circuit 120 and transmits the pulse signal to the microcomputer 124. The input terminal of the photocoupler 121 is connected to the output terminal of the conversion circuit 120. The output terminal is connected to the microcomputer 124.

駆動回路122は、マイクロコンピュータ124によって制御され、IGBT110eを駆動する回路である。駆動回路122は、マイクロコンピュータ124に接続されている。また、IGBT110eのゲートに接続されている。   The drive circuit 122 is a circuit that is controlled by the microcomputer 124 and drives the IGBT 110e. The drive circuit 122 is connected to the microcomputer 124. Further, it is connected to the gate of the IGBT 110e.

メモリ123は、IGBT110a〜110d、110fの温度を推定するための情報を記憶する素子である。メモリ123には、IGBT110a〜110fの特性情報として、事前に測定しておいたそれぞれのオン抵抗が記憶されている。また、図3に示すように、事前に測定しておいたIGBTのオン抵抗の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータが記憶されている。具体的には、IGBTに流れる電流がI1、I2(>I1)、I3(>I2)の場合における、IGBTのオン抵抗と温度の関係を示すデータが記憶されている。メモリ123は、マイクロコンピュータ124に接続されている。   The memory 123 is an element that stores information for estimating the temperatures of the IGBTs 110a to 110d and 110f. The memory 123 stores each on-resistance measured in advance as the characteristic information of the IGBTs 110a to 110f. Further, as shown in FIG. 3, data is stored that indicates the relationship between the difference in on-resistance of the IGBT measured in advance and the accompanying temperature difference. Specifically, data indicating the relationship between the on-resistance of the IGBT and the temperature when the current flowing through the IGBT is I1, I2 (> I1), or I3 (> I2) is stored. The memory 123 is connected to the microcomputer 124.

マイクロコンピュータ124は、外部から入力される駆動信号とIGBT110a〜110fに流れる電流に基づいて駆動回路を制御して、IGBT110a〜110fを駆動する素子である。また、IGBT110eに流れる電流と、IGBT110a〜110fの特性情報と、IGBTのオン抵抗の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータに基づいて、IGBT110a〜110d、110fの温度を推定して、IGBTを保護する素子でもある。マイクロコンピュータ124は、フォトカプラ121の出力端子に接続されている。また、メモリ123に接続されている。さらに、駆動回路122に接続されている。   The microcomputer 124 is an element that drives the IGBTs 110a to 110f by controlling a drive circuit based on a drive signal input from the outside and a current flowing through the IGBTs 110a to 110f. Further, the temperature of the IGBTs 110a to 110d and 110f is estimated based on the current flowing through the IGBT 110e, the characteristic information of the IGBTs 110a to 110f, and the data indicating the relationship between the difference in the on-resistance of the IGBT and the temperature difference associated therewith. It is also an element to protect. The microcomputer 124 is connected to the output terminal of the photocoupler 121. Further, it is connected to the memory 123. Further, it is connected to the drive circuit 122.

次に、図1を参照してモータ制御装置の動作について説明する。車両のイグニッションスイッチ(図略)がオンすると、図1に示すモータ制御装置1が動作を開始する。高電圧バッテリB1の直流高電圧は、平滑コンデンサ10によって平滑化される。制御装置12は、外部から入力される駆動信号と、電流センス抵抗111a〜111fの検出結果に基づいて、インバータ装置11を構成するIGBT110a〜110fを制御する。具体的には、IGBT110a〜110fを所定周期でオン、オフする。インバータ装置11は、平滑コンデンサ10によって平滑化された直流高電圧を3相交流電圧に変換して車両駆動用モータM1に供給する。このようにして、モータ制御装置1が車両駆動用モータM1を制御する。   Next, the operation of the motor control device will be described with reference to FIG. When the ignition switch (not shown) of the vehicle is turned on, the motor control device 1 shown in FIG. 1 starts its operation. The DC high voltage of the high voltage battery B1 is smoothed by the smoothing capacitor 10. The control device 12 controls the IGBTs 110a to 110f configuring the inverter device 11 based on the drive signal input from the outside and the detection results of the current sense resistors 111a to 111f. Specifically, the IGBTs 110a to 110f are turned on and off at a predetermined cycle. The inverter device 11 converts the DC high voltage smoothed by the smoothing capacitor 10 into a three-phase AC voltage and supplies it to the vehicle drive motor M1. In this way, the motor control device 1 controls the vehicle drive motor M1.

また、制御装置12は、感温ダイオード112a〜112cによって検出したIGBT110eの温度と、内部に記憶されているIGBT110a〜110fの特性情報に基づいて、温度を検出していないIGBT110a〜110d、110fの温度を推定する。そして、検出したIGBT110eの温度と、推定したIGBT110a〜110d、110f温度に基づいて、IGBTの温度異常の有無を判断し、異常がある場合、インバータ装置11の動作を停止する。   Moreover, the control apparatus 12 is based on the temperature of IGBT110e detected by the temperature sensing diodes 112a-112c, and the characteristic information of IGBT110a-110f memorize | stored inside, The temperature of IGBT110a-110d, 110f which has not detected temperature Is estimated. Then, based on the detected temperature of the IGBT 110e and the estimated IGBTs 110a to 110d and 110f, the presence / absence of an IGBT temperature abnormality is determined. If there is an abnormality, the operation of the inverter device 11 is stopped.

次に、図2及び図3を参照してIGBTの温度推定動作について説明する。具体的には、IGBT110fの温度を推定する場合を例に挙げて説明する。   Next, the temperature estimation operation of the IGBT will be described with reference to FIGS. Specifically, a case where the temperature of the IGBT 110f is estimated will be described as an example.

図2において、電流センス抵抗111eによって検出されたIGBT110eに流れている電流と、感温ダイオード112a〜112cによって検出されたIGBT110eの温度が、変換回路120によってパルス信号に変換され、フォトカプラ123を介してマイクロコンピュータ124に入力される。マイクロコンピュータ124は、メモリ123に記憶されているIGBT110e、110fのそれぞれのオン抵抗R0、R1から、IGBT110eとIGBT110fのオン抵抗の差ΔRを求める。そして、検出されたIGBT110eに流れている電流に基づいて、図3に示す、メモリ123に記憶されているIGBTのオン抵抗の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータの中から、温度推定に用いるデータを特定する。例えば、IGBT110eに流れている電流がI2である場合、メモリ123に記憶されているIGBTのオン抵抗の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータの中から、電流I2に対応するデータを特定する。さらに、特定した電流I2に対応するIGBTのオン抵抗の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータと、求めたオン抵抗の差ΔRから、IGBT110eのオン抵抗R0を基準としてオン抵抗の差ΔRに伴う温度差ΔTを求める。そして、検出されたIGBT110eの温度に求めた温度差ΔTを加算して、温度を検出していないIGBT110fの温度を推定する。同様にして、温度を検出していないIGBT110a〜IGBT110dの温度も推定する。   In FIG. 2, the current flowing through the IGBT 110 e detected by the current sense resistor 111 e and the temperature of the IGBT 110 e detected by the temperature sensitive diodes 112 a to 112 c are converted into pulse signals by the conversion circuit 120, via the photocoupler 123. Are input to the microcomputer 124. The microcomputer 124 calculates a difference ΔR between the on-resistances of the IGBT 110e and the IGBT 110f from the on-resistances R0 and R1 of the IGBTs 110e and 110f stored in the memory 123. Then, based on the detected current flowing through the IGBT 110e, the temperature estimation is performed from the data indicating the relationship between the difference in the on-resistance of the IGBT stored in the memory 123 and the accompanying temperature difference shown in FIG. Identify the data to use. For example, when the current flowing through the IGBT 110e is I2, the data corresponding to the current I2 is identified from the data indicating the relationship between the IGBT on-resistance difference stored in the memory 123 and the accompanying temperature difference. . Furthermore, from the data indicating the relationship between the difference in on-resistance of the IGBT corresponding to the specified current I2 and the temperature difference associated therewith, and the obtained difference in on-resistance ΔR, the difference in on-resistance ΔR is obtained with reference to the on-resistance R0 of the IGBT 110e. The accompanying temperature difference ΔT is obtained. And the temperature difference (DELTA) T calculated | required is added to the detected temperature of IGBT110e, and the temperature of IGBT110f which has not detected temperature is estimated. Similarly, the temperatures of the IGBTs 110a to 110d whose temperatures are not detected are also estimated.

次に、効果について説明する。第1実施形態によれば、IGBT110a〜110fの特性情報に基づいて、温度を検出していないIGBT110a〜110d、110fの温度を推定する。そのため、IGBTの特性のばらつきに影響されることなく、温度を精度よく推定することができる。   Next, the effect will be described. According to 1st Embodiment, based on the characteristic information of IGBT110a-110f, the temperature of IGBT110a-110d, 110f which has not detected temperature is estimated. Therefore, the temperature can be accurately estimated without being affected by variations in IGBT characteristics.

第1実施形態によれば、IGBTがオンした後の定常状態におけるIGBTの温度は、IGBTのオン抵抗によって変化する。IGBTのオン抵抗が小さいと、定常状態における損失が小さくなり、それに伴ってIGBTの温度上昇も小さくなる。一方、IGBTのオン抵抗が大きいと、定常状態における損失が大きくなり、それに伴ってIGBTの温度上昇も大きくなる。そのため、温度を検出しているIGBT110eと温度を検出していないIGBT110a〜110d、110fのオン抵抗の差に基づいて温度を推定することで、IGBTの特性のばらつきに影響されることなく、温度を精度よく推定することができる。   According to the first embodiment, the temperature of the IGBT in a steady state after the IGBT is turned on varies depending on the on-resistance of the IGBT. If the on-resistance of the IGBT is small, the loss in the steady state is small, and accordingly, the temperature rise of the IGBT is also small. On the other hand, if the on-resistance of the IGBT is large, the loss in the steady state increases, and accordingly, the temperature rise of the IGBT also increases. Therefore, by estimating the temperature based on the difference in on-resistance between the IGBT 110e that detects the temperature and the IGBTs 110a to 110d and 110f that do not detect the temperature, the temperature is not affected by variations in the characteristics of the IGBT. It can be estimated with high accuracy.

第1実施形態によれば、マイクロコンピュータ124は、オン抵抗の差ΔRからそれに伴う温度差ΔTを求め、感温ダイオード112a〜112cの検出結果と求めた温度差ΔTに基づいて温度を推定する。そのため、温度を検出していないIGBT110a〜110d、110fの温度を確実に推定することができる。   According to the first embodiment, the microcomputer 124 obtains the temperature difference ΔT associated therewith from the on-resistance difference ΔR, and estimates the temperature based on the detection results of the temperature sensitive diodes 112a to 112c and the obtained temperature difference ΔT. Therefore, it is possible to reliably estimate the temperatures of the IGBTs 110a to 110d and 110f that have not detected the temperature.

第1実施形態によれば、図3に示すように、マイクロコンピュータ124は、メモリ123に記憶されているオン抵抗の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータに基づいて、オン抵抗の差ΔRからそれに伴う温度差ΔTを求める。そのため、オン抵抗の差ΔRに伴う温度差ΔTを確実に求めることができる。   According to the first embodiment, as shown in FIG. 3, the microcomputer 124 uses the data indicating the relationship between the on-resistance difference stored in the memory 123 and the temperature difference associated therewith to determine the on-resistance difference ΔR. From the temperature difference ΔT associated therewith. Therefore, the temperature difference ΔT associated with the on-resistance difference ΔR can be reliably obtained.

なお、第1実施形態では、メモリ123に記憶されているIGBTのオン抵抗の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータが、IGBTに流れる電流毎に設けられている例を挙げているが、これに限られるものではない。IGBTに流れる電流が異なる場合であっても、IGBTのオン抵抗の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータに差異がない場合、IGBTのオン抵抗の差とそれに伴う温度差の関係を示す1組のデータに基づいて温度を推定してもよい。   In the first embodiment, an example is given in which data indicating the relationship between the difference in on-resistance of the IGBT stored in the memory 123 and the accompanying temperature difference is provided for each current flowing through the IGBT. It is not limited to this. Even if the current flowing through the IGBT is different, if there is no difference in the data indicating the relationship between the IGBT on-resistance difference and the accompanying temperature difference, the relationship between the IGBT on-resistance difference and the accompanying temperature difference 1 is shown. The temperature may be estimated based on the set of data.

(第2実施形態)
次に、第2実施形態のモータ制御装置について説明する。第2実施形態のモータ制御装置は、第1実施形態のモータ制御装置が、IGBTの特性情報としてオン抵抗を用い温度を推定するのに対して、IGBTの特性情報としてゲートの入力容量を用い温度を推定するようにしたものである。第2実施形態のモータ制御装置は、メモリに記憶されるIGBTの特性情報と、温度推定動作を除いて第1実施形態のモータ制御装置と同一構成である。
(Second Embodiment)
Next, the motor control device of the second embodiment will be described. The motor control device according to the second embodiment uses the input capacitance of the gate as the IGBT characteristic information, while the motor control device according to the first embodiment estimates the temperature using the on-resistance as the IGBT characteristic information. Is to be estimated. The motor control device of the second embodiment has the same configuration as the motor control device of the first embodiment except for the IGBT characteristic information stored in the memory and the temperature estimation operation.

まず、図2及び図4を参照して制御回路の温度推定動作について説明する。ここで、図4は、第2実施形態における温度推定動作を説明するためのグラフである。   First, the temperature estimation operation of the control circuit will be described with reference to FIGS. Here, FIG. 4 is a graph for explaining the temperature estimation operation in the second embodiment.

図2に示すメモリ123には、IGBT110a〜110fの特性情報として、事前に測定しておいたそれぞれのゲートの入力容量が記憶されている。具体的には、ゲート−コレクタ間容量とゲート−エミッタ間容量の合成容量が記憶されている。また、図4に示すように、事前に測定しておいたIGBTのゲートの入力容量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータが記憶されている。具体的には、IGBTに流れる電流がI1、I2(>I1)、I3(>I2)の場合における、IGBTのゲートの入力容量と温度の関係を示すデータが記憶されている。   The memory 123 shown in FIG. 2 stores the input capacitance of each gate measured in advance as the characteristic information of the IGBTs 110a to 110f. Specifically, a combined capacity of a gate-collector capacity and a gate-emitter capacity is stored. Further, as shown in FIG. 4, data indicating the relationship between the input capacitance difference of the IGBT gate measured in advance and the temperature difference associated therewith is stored. Specifically, data indicating the relationship between the input capacitance of the IGBT gate and the temperature when the current flowing through the IGBT is I1, I2 (> I1), or I3 (> I2) is stored.

図2において、マイクロコンピュータ124は、メモリ123に記憶されているIGBT110e、110fのそれぞれのゲートの入力容量Cin0、Cin1から、IGBT110eとIGBT110fのゲートの入力容量の差ΔCinを求める。そして、検出されたIGBT110eに流れている電流に基づいて、図4に示す、メモリ123に記憶されているIGBTのゲートの入力容量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータの中から、温度推定に用いるデータを特定する。例えば、IGBT110eに流れている電流がI2である場合、メモリ123に記憶されているIGBTのゲートの入力容量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータの中から電流I2に対応するデータを特定する。さらに、特定した電流I2に対応するIGBTのゲートの入力容量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータと、求めたゲートの入力容量の差ΔCinから、IGBT110eのゲートの入力容量Cin0を基準としてゲートの入力容量の差ΔCinに伴う温度差ΔTを求める。そして、検出されたIGBT110eの温度に求めた温度差ΔTを加算して、温度を検出していないIGBT110fの温度を推定する。同様にして、温度を検出していないIGBT110a〜IGBT110dの温度も推定する。   In FIG. 2, the microcomputer 124 obtains the gate input capacitance difference ΔCin between the IGBT 110 e and the IGBT 110 f from the gate input capacitances Cin 0 and Cin 1 of the IGBTs 110 e and 110 f stored in the memory 123. Based on the detected current flowing in the IGBT 110e, the temperature shown in FIG. 4 is obtained from the data indicating the relationship between the input capacitance difference of the IGBT gate stored in the memory 123 and the accompanying temperature difference. Identify the data used for estimation. For example, when the current flowing through the IGBT 110e is I2, the data corresponding to the current I2 is specified from the data indicating the relationship between the input capacitance difference of the IGBT gate stored in the memory 123 and the accompanying temperature difference. To do. Further, based on the data indicating the relationship between the input capacitance difference of the IGBT corresponding to the specified current I2 and the temperature difference associated therewith, and the obtained gate input capacitance difference ΔCin, the gate input capacitance Cin0 of the IGBT 110e is used as a reference. A temperature difference ΔT associated with the gate input capacitance difference ΔCin is obtained. And the temperature difference (DELTA) T calculated | required is added to the detected temperature of IGBT110e, and the temperature of IGBT110f which has not detected temperature is estimated. Similarly, the temperatures of the IGBTs 110a to 110d whose temperatures are not detected are also estimated.

次に、効果について説明する。第2実施形態によれば、IGBTがオフからオンする際の過渡状態におけるIGBTの温度は、IGBTのスイッチング速度によって変化する。スイッチング速度が速いと、過渡状態における損失が小さくなり、それに伴ってIGBTの温度上昇も小さくなる。一方、スイッチング速度が遅いと、過渡状態における損失が大きくなり、それに伴ってIGBTの温度上昇も大きくなる。ところで、IGBTのゲートの入力容量が小さいと、その充電時間が短くなり、スイッチング速度が速くなる。一方、IGBTのゲートの入力容量が大きいと、その充電時間が長くなり、スイッチング速度が遅くなる。そのため、温度を検出しているIGBTと温度を検出していないIGBTゲートの入力容量の差に基づいて温度を推定することで、IGBTの特性のばらつきに影響されることなく、温度を精度よく推定することができる。   Next, the effect will be described. According to the second embodiment, the temperature of the IGBT in a transient state when the IGBT is turned on from off varies depending on the switching speed of the IGBT. When the switching speed is high, the loss in the transient state is reduced, and accordingly, the temperature rise of the IGBT is also reduced. On the other hand, if the switching speed is slow, the loss in the transient state increases, and the temperature rise of the IGBT also increases accordingly. By the way, if the input capacity of the gate of the IGBT is small, the charging time is shortened and the switching speed is increased. On the other hand, if the input capacity of the gate of the IGBT is large, the charging time becomes long and the switching speed becomes slow. Therefore, by estimating the temperature based on the difference in input capacitance between the IGBT that detects the temperature and the IGBT gate that does not detect the temperature, the temperature is accurately estimated without being affected by variations in the characteristics of the IGBT. can do.

第2実施形態によれば、マイクロコンピュータ124は、ゲートの入力容量の差ΔCinからそれに伴う温度差ΔTを求め、感温ダイオード112a〜112cの検出結果と、求めた温度差ΔTに基づいて温度を推定する。そのため、温度を検出していないIGBT110a〜110d、110fの温度を確実に推定することができる。
第2実施形態によれば、マイクロコンピュータ124は、メモリ123に記憶されているゲートの入力容量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータに基づいて、ゲートの入力容量の差ΔCinからそれに伴う温度差ΔTを求める。そのため、ゲートの入力容量の差ΔCinに伴う温度差ΔTを確実に求めることができる。
According to the second embodiment, the microcomputer 124 obtains the temperature difference ΔT associated therewith from the gate input capacitance difference ΔCin, and calculates the temperature based on the detection results of the temperature sensitive diodes 112a to 112c and the obtained temperature difference ΔT. presume. Therefore, it is possible to reliably estimate the temperatures of the IGBTs 110a to 110d and 110f that have not detected the temperature.
According to the second embodiment, the microcomputer 124 accompanies the gate input capacitance difference ΔCin according to the data indicating the relationship between the gate input capacitance difference stored in the memory 123 and the accompanying temperature difference. A temperature difference ΔT is obtained. Therefore, the temperature difference ΔT associated with the gate input capacitance difference ΔCin can be reliably obtained.

なお、第2実施形態では、メモリ123に記憶されているIGBTのゲートの入力容量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータが、IGBTに流れる電流毎に設けられている例を挙げているが、これに限られるものではない。IGBTに流れる電流が異なる場合であっても、IGBTのゲートの入力容量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータに差異がない場合、IGBTのゲートの入力容量の差とそれに伴う温度差の関係を示す1組のデータに基づいて温度を推定してもよい。   In the second embodiment, an example is given in which data indicating the relationship between the input capacitance difference of the IGBT gate stored in the memory 123 and the accompanying temperature difference is provided for each current flowing through the IGBT. However, it is not limited to this. Even if the current flowing through the IGBT is different, if there is no difference in the data indicating the relationship between the input capacitance of the IGBT gate and the accompanying temperature difference, the difference in the input capacitance of the IGBT and the accompanying temperature difference The temperature may be estimated based on a set of data indicating the relationship.

(第3実施形態)
次に、第3実施形態のモータ制御装置について説明する。第3実施形態のモータ制御装置は、第1実施形態のモータ制御装置が、IGBTの特性情報としてオン抵抗を用い温度を推定するのに対して、IGBTの端子間の蓄積可能電荷量を用い温度を推定するようにしたものである。第2実施形態のモータ制御装置は、メモリに記憶されるIGBTの特性情報と、温度推定動作を除いて第1実施形態のモータ制御装置と同一構成である。
(Third embodiment)
Next, the motor control apparatus of 3rd Embodiment is demonstrated. The motor control device of the third embodiment uses the on-resistance as the IGBT characteristic information to estimate the temperature, while the motor control device of the first embodiment uses the storable charge amount between the IGBT terminals. Is to be estimated. The motor control device of the second embodiment has the same configuration as the motor control device of the first embodiment except for the IGBT characteristic information stored in the memory and the temperature estimation operation.

まず、図2及び図5を参照して制御回路の温度推定動作について説明する。ここで、図5は、第3実施形態における温度推定動作を説明するためのグラフである。   First, the temperature estimation operation of the control circuit will be described with reference to FIGS. Here, FIG. 5 is a graph for explaining the temperature estimation operation in the third embodiment.

図2に示すメモリ123には、IGBT110a〜110fの特性情報として、事前に測定しておいたそれぞれの端子間の蓄積可能電荷量が記憶されている。具体的には、ゲート、コレクタ、エミッタの各端子間の蓄積可能電荷量が記憶されている。また、図5に示すように、事前に測定しておいたIGBTの端子間の蓄積可能電荷量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータが記憶されている。具体的には、IGBTに流れる電流がI1、I2(>I1)、I3(>I2)の場合における、IGBTの端子間の蓄積可能電荷量と温度の関係を示すデータが記憶されている。   The memory 123 shown in FIG. 2 stores the charge amount that can be accumulated between the terminals measured in advance as the characteristic information of the IGBTs 110a to 110f. Specifically, the amount of charge that can be accumulated between the gate, collector, and emitter terminals is stored. Further, as shown in FIG. 5, data indicating the relationship between the difference in the amount of charge that can be accumulated between the terminals of the IGBT measured in advance and the temperature difference associated therewith is stored. Specifically, data indicating the relationship between the amount of charge that can be accumulated between the terminals of the IGBT and the temperature when the current flowing through the IGBT is I1, I2 (> I1), or I3 (> I2) is stored.

図2において、マイクロコンピュータ124は、メモリ123に記憶されているIGBT110e、110fのそれぞれの端子間の蓄積可能電荷量Qg0、Qg1から、IGBT110eとIGBT110fの端子間の蓄積可能電荷量の差ΔQgを求める。そして、検出されたIGBT110eに流れている電流に基づいて、図5に示す、メモリ123に記憶されているIGBTの端子間の蓄積可能電荷量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータの中から、温度推定に用いるデータを特定する。例えば、IGBT110eに流れている電流がI2である場合、メモリ123に記憶されているIGBTの端子間の蓄積可能電荷量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータの中から電流I2に対応するデータを特定する。さらに、特定した電流I2に対応するIGBTの端子間の蓄積可能電荷量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータと、求めた端子間の蓄積可能電荷量の差ΔQgから、IGBT110eの端子間の蓄積可能電荷量Qg0を基準として端子間の蓄積可能電荷量の差ΔQgに伴う温度差ΔTを求める。そして、検出されたIGBT110eの温度に求めた温度差ΔTを加算して、温度を検出していないIGBT110fの温度を推定する。同様にして、温度を検出していないIGBT110a〜IGBT110dの温度も推定する。   In FIG. 2, the microcomputer 124 obtains the difference ΔQg of the storable charge amount between the terminals of the IGBT 110 e and the IGBT 110 f from the storable charge amounts Qg 0 and Qg 1 between the terminals of the IGBTs 110 e and 110 f stored in the memory 123. . Based on the detected current flowing through the IGBT 110e, the data shown in FIG. 5 shows the relationship between the difference in the amount of charge that can be accumulated between the terminals of the IGBT stored in the memory 123 and the temperature difference associated therewith. From this, the data used for temperature estimation is specified. For example, when the current flowing through the IGBT 110e is I2, it corresponds to the current I2 among the data indicating the relationship between the difference in the amount of charge that can be stored between the terminals of the IGBT stored in the memory 123 and the temperature difference associated therewith. Identify the data. Furthermore, from the data indicating the relationship between the difference in the amount of charge that can be accumulated between the terminals of the IGBT corresponding to the specified current I2 and the temperature difference associated therewith, and the difference ΔQg in the amount of charge that can be accumulated between the obtained terminals, between the terminals of the IGBT 110e. The temperature difference ΔT associated with the difference ΔQg of the chargeable charge amount between the terminals is obtained with reference to the chargeable charge amount Qg0. And the temperature difference (DELTA) T calculated | required is added to the detected temperature of IGBT110e, and the temperature of IGBT110f which has not detected temperature is estimated. Similarly, the temperatures of the IGBTs 110a to 110d whose temperatures are not detected are also estimated.

次に、効果について説明する。第3実施形態によれば、IGBTがオフからオンする際の過渡状態におけるIGBTの温度は、IGBTのスイッチング速度によって変化する。スイッチング速度が速いと、過渡状態における損失が小さくなり、それに伴ってIGBTの温度上昇も小さくなる。一方、スイッチング速度が遅いと、過渡状態における損失が大きくなり、それに伴ってIGBTの温度上昇も大きくなる。ところで、IGBTの端子間の蓄積可能電荷量が小さいと、電荷の蓄積時間が短くなり、スイッチング速度が速くなる。一方、IGBTの端子間の蓄積可能電荷量が大きいと、電荷の蓄積時間が長くなり、スイッチング速度が遅くなる。そのため、温度を検出しているIGBTと温度を検出していないIGBTの端子間の蓄積可能電荷量の差に基づいて温度を推定することで、IGBTの特性のばらつきに影響されることなく、温度を精度よく推定することができる。   Next, the effect will be described. According to the third embodiment, the temperature of the IGBT in a transient state when the IGBT is turned on from off varies depending on the switching speed of the IGBT. When the switching speed is high, the loss in the transient state is reduced, and accordingly, the temperature rise of the IGBT is also reduced. On the other hand, if the switching speed is slow, the loss in the transient state increases, and the temperature rise of the IGBT also increases accordingly. By the way, if the amount of charge that can be stored between the terminals of the IGBT is small, the charge storage time is shortened and the switching speed is increased. On the other hand, if the amount of charge that can be stored between the terminals of the IGBT is large, the charge storage time becomes long and the switching speed becomes slow. Therefore, by estimating the temperature based on the difference in the amount of charge that can be accumulated between the IGBT that detects the temperature and the IGBT that does not detect the temperature, the temperature is not affected by variations in the characteristics of the IGBT. Can be estimated with high accuracy.

第3実施形態によれば、マイクロコンピュータ124は、端子間の蓄積可能電荷量の差ΔQgからそれに伴う温度差ΔTを求め、感温ダイオード112a〜112cの検出結果と、求めた温度差ΔTに基づいて温度を推定する。そのため、温度を検出していないIGBT110a〜110d、110fの温度を確実に推定することができる。   According to the third embodiment, the microcomputer 124 obtains the temperature difference ΔT associated therewith from the difference ΔQg in the amount of charge that can be accumulated between the terminals, and based on the detection results of the temperature sensitive diodes 112a to 112c and the obtained temperature difference ΔT. To estimate the temperature. Therefore, it is possible to reliably estimate the temperatures of the IGBTs 110a to 110d and 110f that have not detected the temperature.

第3実施形態によれば、マイクロコンピュータ124は、メモリ123に記憶されている端子間の蓄積可能電荷量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータに基づいて、端子間の蓄積可能電荷量の差ΔQgからそれに伴う温度差ΔTを求める。そのため、端子間の蓄積可能電荷量のΔQgに伴う温度差ΔTを確実に求めることができる。   According to the third embodiment, the microcomputer 124 determines the amount of charge that can be accumulated between terminals based on the data indicating the relationship between the difference in charge amount that can be accumulated between terminals stored in the memory 123 and the temperature difference associated therewith. The temperature difference ΔT associated therewith is obtained from the difference ΔQg. Therefore, the temperature difference ΔT associated with ΔQg of the storable charge amount between the terminals can be reliably obtained.

なお、第3実施形態では、メモリ123に記憶されているIGBTの端子間の蓄積可能電荷量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータが、IGBTに流れる電流毎に設けられている例を挙げているが、これに限られるものではない。IGBTに流れる電流が異なる場合であっても、IGBTの端子間の蓄積可能電荷量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータに差異がない場合、IGBTの端子間の蓄積可能電荷量の差とそれに伴う温度差の関係を示す1組のデータに基づいて温度を推定してもよい。   In the third embodiment, an example is provided in which data indicating the relationship between the difference in the amount of charge that can be accumulated between the terminals of the IGBT stored in the memory 123 and the temperature difference associated therewith is provided for each current flowing through the IGBT. It is mentioned, but not limited to this. Even if the current flowing through the IGBT is different, if there is no difference in the data indicating the relationship between the difference in the amount of charge that can be accumulated between the terminals of the IGBT and the accompanying temperature difference, the difference in the amount of charge that can be accumulated between the terminals in the IGBT The temperature may be estimated based on a set of data indicating the relationship between the temperature difference and the temperature difference associated therewith.

(第4実施形態)
次に、第4実施形態のモータ制御装置について説明する。第4実施形態のモータ制御装置は、第1実施形態のモータ制御装置が、IGBTの特性情報としてオン抵抗を用い温度を推定するのに対して、IGBTの特性情報として、温度を検出しているIGBTと温度を検出していないIGBTの損失の差を用い温度を推定するようにしたものである。第4実施形態のモータ制御装置は、メモリに記憶されるIGBTの特性情報と、温度推定動作を除いて第1実施形態のモータ制御装置と同一構成である。
(Fourth embodiment)
Next, a motor control device according to a fourth embodiment will be described. The motor control device of the fourth embodiment detects the temperature as the IGBT characteristic information, whereas the motor control device of the first embodiment estimates the temperature using the on-resistance as the IGBT characteristic information. The temperature is estimated using the difference in loss between the IGBT and the IGBT whose temperature is not detected. The motor control device of the fourth embodiment has the same configuration as the motor control device of the first embodiment except for the IGBT characteristic information stored in the memory and the temperature estimation operation.

まず、図2を参照して制御回路の温度推定動作について説明する。 図2に示すメモリ123には、IGBT110a〜110fの特性情報として、事前に測定しておいた、温度を検出しているIGBT110eと温度を検出していないIGBT110a〜110d、110fの損失の差が記憶されている。マイクロコンピュータ124は、検出されたIGBT110eの温度に、メモリ123に記憶されているIGBT110eとIGBT110fの損失の差から求めた温度差を加算して、温度を検出していないIGBT110fの温度を推定する。同様にして、温度を検出していないIGBT110a〜IGBT110dの温度も推定する。   First, the temperature estimation operation of the control circuit will be described with reference to FIG. The memory 123 shown in FIG. 2 stores, as characteristic information of the IGBTs 110a to 110f, the difference in loss between the IGBT 110e that detects the temperature and the IGBTs 110a to 110d and 110f that do not detect the temperature, which are measured in advance. Has been. The microcomputer 124 adds the temperature difference obtained from the difference in loss between the IGBT 110e and the IGBT 110f stored in the memory 123 to the detected temperature of the IGBT 110e, and estimates the temperature of the IGBT 110f that has not detected the temperature. Similarly, the temperatures of the IGBTs 110a to 110d whose temperatures are not detected are also estimated.

次に、効果について説明する。第4実施形態によれば、IGBTの特性のばらつきに影響されることなく、温度を精度よく推定することができる。   Next, the effect will be described. According to the fourth embodiment, the temperature can be accurately estimated without being affected by variations in the characteristics of the IGBT.

1・・・モータ制御装置(電力変換装置)、10・・・平滑コンデンサ、11・・・インバータ装置、110a〜110d・・・IGBT(スイッチング素子)、111a〜111f・・・電流センス抵抗、112a〜112c・・・感温ダイオード(温度検出素子)、12・・・制御装置、120・・・変換回路、121・・・フォトカプラ、122・・・駆動回路、123・・・メモリ(温度推定回路、記憶部)、124・・・マイクロコンピュータ(温度推定回路)、B1・・・高電圧バッテリ、M1・・・車両駆動用モータ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Motor control apparatus (power converter), 10 ... Smoothing capacitor, 11 ... Inverter apparatus, 110a-110d ... IGBT (switching element), 111a-111f ... Current sense resistance, 112a ˜112c ・ ・ ・ Temperature sensing diode (temperature detection element), 12 ・ ・ ・ Control device, 120 ・ ・ ・ Conversion circuit, 121 ・ ・ ・ Photo coupler, 122 ... Drive circuit, 123 ... Memory (temperature estimation) Circuit, storage unit), 124... Microcomputer (temperature estimation circuit), B1... High voltage battery, M1.

Claims (11)

複数のスイッチング素子と、
1つのスイッチング素子の温度を検出する温度検出素子と、
前記温度検出素子の検出結果に基づいて、温度を検出していないスイッチング素子の温度を推定する温度推定回路と、
を備えた電力変換装置において、
前記温度推定回路は、スイッチング素子のそれぞれの特性情報を記憶する記憶部を有し、前記温度検出素子の検出結果と前記記憶部に記憶されている前記特性情報に基づいて、前記温度を検出していないスイッチング素子の温度を推定することを特徴とする電力変換装置。
A plurality of switching elements;
A temperature detection element for detecting the temperature of one switching element;
A temperature estimation circuit that estimates the temperature of the switching element that does not detect the temperature based on the detection result of the temperature detection element;
In a power conversion device comprising:
The temperature estimation circuit includes a storage unit that stores characteristic information of each switching element, and detects the temperature based on a detection result of the temperature detection element and the characteristic information stored in the storage unit. The power converter characterized by estimating the temperature of the switching element which is not.
前記特性情報は、オン抵抗であり、
前記温度推定回路は、前記記憶部に記憶されているオン抵抗に基づいて、前記温度を検出しているスイッチング素子と前記温度を検出していないスイッチング素子のオン抵抗の差を求め、前記温度検出素子の検出結果と求めたオン抵抗の差に基づいて温度を推定することを特徴とする請求項1に記載の電力変換装置。
The characteristic information is on-resistance,
The temperature estimation circuit obtains a difference between the on-resistance of the switching element that detects the temperature and the switching element that does not detect the temperature based on the on-resistance stored in the storage unit, and detects the temperature The power conversion device according to claim 1, wherein the temperature is estimated based on a difference between the element detection result and the obtained on-resistance.
前記温度推定回路は、求めたオン抵抗の差からそれに伴う温度差を求め、前記温度検出素子の検出結果と求めた温度差に基づいて温度を推定することを特徴とする請求項2に記載の電力変換装置。   3. The temperature estimation circuit according to claim 2, wherein the temperature estimation circuit obtains a temperature difference associated therewith from the obtained difference in on-resistance, and estimates the temperature based on the detection result of the temperature detection element and the obtained temperature difference. Power conversion device. 前記記憶部には、オン抵抗の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータが記憶され、
前記温度推定回路は、前記記憶部に記憶されているオン抵抗の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータに基づいて、求めたオン抵抗の差からそれに伴う温度差を求めることを特徴とする請求項3に記載の電力変換装置。
The storage unit stores data indicating a relationship between a difference in on-resistance and a temperature difference associated therewith,
The temperature estimation circuit obtains a temperature difference associated therewith from the obtained difference in on-resistance based on data indicating a relationship between a difference in on-resistance stored in the storage unit and a temperature difference associated therewith. The power conversion device according to claim 3.
前記特性情報は、制御端子の入力容量であり、
前記温度推定回路は、前記記憶部に記憶されている制御端子の入力容量に基づいて、前記温度を検出しているスイッチング素子と前記温度を検出していないスイッチング素子の制御端子の入力容量の差を求め、前記温度検出素子の検出結果と求めた制御端子の入力容量の差に基づいて温度を推定することを特徴とする請求項1に記載の電力変換装置。
The characteristic information is an input capacity of a control terminal,
The temperature estimation circuit, based on the input capacity of the control terminal stored in the storage unit, the difference between the input capacity of the control element of the switching element that detects the temperature and the switching element that does not detect the temperature The power conversion device according to claim 1, wherein the temperature is estimated based on a difference between a detection result of the temperature detection element and a calculated input capacitance of the control terminal.
前記温度推定回路は、求めた制御端子の入力容量の差からそれに伴う温度差を求め、前記温度検出素子の検出結果と求めた温度差に基づいて温度を推定することを特徴とする請求項5に記載の電力変換装置。   6. The temperature estimating circuit calculates a temperature difference associated therewith from the calculated input capacitance difference of the control terminal, and estimates the temperature based on a detection result of the temperature detecting element and the calculated temperature difference. The power converter device described in 1. 前記記憶部には、制御端子の入力容量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータが記憶され、
前記温度推定回路は、前記記憶部に記憶されている制御端子の入力容量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータに基づいて、求めた制御端子の入力容量の差からそれに伴う温度差を求めることを特徴とする請求項6に記載の電力変換装置。
The storage unit stores data indicating the relationship between the difference in input capacity of the control terminal and the temperature difference associated therewith,
The temperature estimation circuit calculates a temperature difference associated therewith from the obtained difference in the input capacitance of the control terminal based on data indicating a relationship between the difference in the input capacitance of the control terminal stored in the storage unit and the temperature difference associated therewith. It calculates | requires, The power converter device of Claim 6 characterized by the above-mentioned.
前記特性情報は、端子間の蓄積可能電荷量であり、
前記温度推定回路は、前記記憶部に記憶されている前記温度を検出しているスイッチング素子と前記温度を検出していないスイッチング素子の端子間の蓄積可能電荷量の差を求め、前記温度検出素子の検出結果と求めた端子間の蓄積可能電荷量の差に基づいて温度を推定することを特徴とする請求項1に記載の電力変換装置。
The characteristic information is a charge amount that can be accumulated between terminals,
The temperature estimation circuit obtains a difference in the chargeable charge amount between terminals of the switching element that detects the temperature stored in the storage unit and the switching element that does not detect the temperature, and the temperature detection element The power converter according to claim 1, wherein the temperature is estimated based on a difference between the detected result and the obtained charge accumulation amount between the terminals.
前記温度推定回路は、求めた端子間の蓄積可能電荷量の差からそれに伴う温度差を求め、前記温度検出素子の検出結果と求めた温度差に基づいて温度を推定することを特徴とする請求項8に記載の電力変換装置。   The temperature estimation circuit calculates a temperature difference associated therewith from a difference in the amount of charge that can be accumulated between the obtained terminals, and estimates the temperature based on a detection result of the temperature detection element and the calculated temperature difference. Item 9. The power conversion device according to Item 8. 前記記憶部には、端子間の蓄積可能電荷量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータが記憶され、
前記温度推定回路は、前記記憶部に記憶されている端子間の蓄積可能電荷量の差とそれに伴う温度差の関係を示すデータに基づいて、求めた端子間の蓄積可能電荷量の差からそれに伴う温度差を求めることを特徴とする請求項9に記載の電力変換装置。
The storage unit stores data indicating the relationship between the difference in the amount of charge that can be accumulated between the terminals and the accompanying temperature difference,
The temperature estimation circuit is configured to calculate the difference between the chargeable charge amounts between the terminals obtained based on the data indicating the relationship between the difference in chargeable charge amount between the terminals stored in the storage unit and the temperature difference associated therewith. The power converter according to claim 9, wherein the accompanying temperature difference is obtained.
前記特性情報は、前記温度を検出しているスイッチング素子と前記温度を検出していないスイッチング素子の損失の差であり、
前記温度推定回路は、前記温度検出素子の検出結果と、前記記憶部に記憶されている前記温度を検出しているスイッチング素子と前記温度を検出していないスイッチング素子の損失の差に基づいて温度を推定することを特徴とする請求項1に記載の電力変換装置。
The characteristic information is a difference in loss between a switching element that detects the temperature and a switching element that does not detect the temperature.
The temperature estimation circuit detects a temperature based on a detection result of the temperature detection element, and a difference in loss between the switching element that detects the temperature stored in the storage unit and the switching element that does not detect the temperature. The power conversion device according to claim 1, wherein
JP2011049871A 2011-03-08 2011-03-08 Power converter Active JP5482694B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011049871A JP5482694B2 (en) 2011-03-08 2011-03-08 Power converter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011049871A JP5482694B2 (en) 2011-03-08 2011-03-08 Power converter

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012186968A true JP2012186968A (en) 2012-09-27
JP5482694B2 JP5482694B2 (en) 2014-05-07

Family

ID=47016517

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011049871A Active JP5482694B2 (en) 2011-03-08 2011-03-08 Power converter

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5482694B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018034022A1 (en) * 2016-08-17 2018-02-22 住友電気工業株式会社 Semiconductor module
DE112020001279T5 (en) 2019-04-17 2021-12-02 Hitachi Astemo, Ltd. Power converter

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007195343A (en) * 2006-01-19 2007-08-02 Nissan Motor Co Ltd Inverter device
JP2011097812A (en) * 2009-11-02 2011-05-12 Toshiba Corp Inverter device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007195343A (en) * 2006-01-19 2007-08-02 Nissan Motor Co Ltd Inverter device
JP2011097812A (en) * 2009-11-02 2011-05-12 Toshiba Corp Inverter device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018034022A1 (en) * 2016-08-17 2018-02-22 住友電気工業株式会社 Semiconductor module
JPWO2018034022A1 (en) * 2016-08-17 2019-03-14 住友電気工業株式会社 Semiconductor module
DE112020001279T5 (en) 2019-04-17 2021-12-02 Hitachi Astemo, Ltd. Power converter

Also Published As

Publication number Publication date
JP5482694B2 (en) 2014-05-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5161641B2 (en) Temperature detection circuit
US10890493B2 (en) Systems and methods for measuring transistor junction temperature while operating
US9535107B2 (en) Apparatus for diagnosing DC link capacitor of inverter
JP5725166B2 (en) Control device for power converter
TWI453428B (en) Device for detecting deterioration in insulation
JP6201296B2 (en) Control device for power converter
US9651510B2 (en) Voltage measuring apparatus with temperature abnormality detection function and power conversion apparatus
US20100193266A1 (en) Power Supply Apparatus And Electric Vehicle
TW201606328A (en) Battery remaining power predicting device and battery pack
MXPA04005093A (en) Vehicle controller.
JPWO2015079492A1 (en) Gate drive circuit and intelligent power module
JP6184335B2 (en) Power converter and failure sign detection method
JP4924700B2 (en) Physical quantity detection device
JP2014193060A (en) Power supply unit
JP5482694B2 (en) Power converter
CN111525818A (en) Temperature detection device, abnormality detection device, and power conversion device
CN103630754A (en) Stray inductance detection device for laminated busbar
KR101531018B1 (en) Failure prediction method of power semiconductor device
JP6326024B2 (en) Voltage detection circuit and voltage detection method
US10868487B2 (en) Motor drive device configured to detect capacitor deterioration and to restrict a motor based upon the detected deterioration
JP2009261112A (en) Power conversion device
JP2008125157A (en) Power converter
JP6186646B2 (en) Voltage detector
KR20150118730A (en) Fault detection circuit of inverter
CN115411998A (en) Method for determining a current flowing through a switching element, circuit arrangement and motor vehicle

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130311

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131114

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131126

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131224

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140121

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140203

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5482694

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250