JP2012160641A - Substrate for power module with heat sink, manufacturing method of substrate for power module with heat sink, and power module - Google Patents

Substrate for power module with heat sink, manufacturing method of substrate for power module with heat sink, and power module Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate for a power module with a heat sink which has high joining reliability between a ceramic substrate and first and second metal plates and suppresses the occurence of cracks in the ceramic, a manufacturing method of the substrate for a power module with a heat sink, and the power module using the substrate for a power module with a heat sink.SOLUTION: A substrate for a power module with a heat sink includes: a ceramic substrate; a first metal plate having one surface joined to a surface of the ceramic substrate and made of aluminum; a second metal plate having one surface joined to a rear surface of the ceramic substrate and made of aluminum; and a heat sink joined to the other surface of the second metal plate which is the opposite side of the one surface joined to the ceramic substrate and made of aluminum or aluminum alloy. Cu is solidly dissolved near joining interfaces of the first metal plate and the second metal plate with the ceramic substrate, from among the first metal plate and the second metal plate, and Ag is solidly dissolved near a joining interface of the second metal plate and the heat sink.

Description

この発明は、大電流、高電圧を制御する半導体装置に用いられるヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、及び、パワーモジュールに関するものである。   The present invention relates to a power module substrate with a heat sink, a method for manufacturing a power module substrate with a heat sink, and a power module used in a semiconductor device that controls a large current and a high voltage.

半導体素子の中でも電力供給のためのパワー素子は、発熱量が比較的高いため、これを搭載する基板としては、例えば、AlN(窒化アルミ)やAl(アルミナ)などからなるセラミックス基板の一方の面にAl(アルミニウム)からなる第一の金属板が接合されるとともに、セラミックス基板の他方の面にAl(アルミニウム)からなる第二の金属板が接合され、さらに、第二の金属板にヒートシンクが積層接合されたヒートシンク付パワーモジュール用基板が用いられる。
このようなヒートシンク付パワーモジュール用基板では、第一の金属板は回路層として形成され、第一の金属板の上に、はんだ材を介して半導体チップが搭載される。
Among semiconductor elements, a power element for supplying power has a relatively high calorific value, and as a substrate on which it is mounted, for example, a ceramic substrate made of AlN (aluminum nitride), Al 2 O 3 (alumina), or the like A first metal plate made of Al (aluminum) is bonded to one surface, a second metal plate made of Al (aluminum) is bonded to the other surface of the ceramic substrate, and a second metal plate A power module substrate with a heat sink, in which a heat sink is laminated and bonded, is used.
In such a power module substrate with a heat sink, the first metal plate is formed as a circuit layer, and a semiconductor chip is mounted on the first metal plate via a solder material.

従来、前述のヒートシンク付パワーモジュール用基板は、例えば特許文献1に記載されているように、セラミックス基板と第一の金属板及び第二の金属板とをろう付けによって接合してパワーモジュール用基板を製出するセラミックス基板接合工程と、パワーモジュール用基板とヒートシンクとをろう付けによって接合するヒートシンク接合工程と、によって製造されている。   Conventionally, the above-mentioned power module substrate with a heat sink is formed by joining a ceramic substrate, a first metal plate, and a second metal plate by brazing, as described in Patent Document 1, for example. Are produced by a ceramic substrate joining step for producing a heat sink and a heat sink joining step for joining the power module substrate and the heat sink by brazing.

また、特許文献2には、接合界面にCuを添加してセラミックス基板と第一の金属板及び第二の金属板とを接合したパワーモジュール用基板が提案されている。このパワーモジュール用基板においては、第一の金属板及び第二の金属板のうちセラミックス基板との接合界面近傍部分が、Cuの固溶によって強度が向上している。このため、冷熱サイクルによって接合界面にせん断応力が作用しても、接合界面近傍部分に亀裂が発生することが抑制され、接合信頼性が高いパワーモジュール用基板を提供できるものである。   Patent Document 2 proposes a power module substrate in which Cu is added to the bonding interface to bond the ceramic substrate, the first metal plate, and the second metal plate. In this power module substrate, the strength of the first metal plate and the second metal plate in the vicinity of the bonding interface with the ceramic substrate is improved by solid solution of Cu. For this reason, even if a shear stress acts on the bonding interface by the thermal cycle, the generation of cracks in the vicinity of the bonding interface is suppressed, and a power module substrate with high bonding reliability can be provided.

特開2002−009212号公報JP 2002-009212 A 特開2010−016349号公報JP 2010-016349 A

ところで、第二の金属板とヒートシンクとをろう付けする際には、融点を低く設定するために、Siを7.5質量%以上含有するAl−Si系合金のろう材箔が使用されることが多い。
Siを比較的多く含有するAl−Si系合金においては、延性が不十分であることから圧延等によって箔材を製造するのが困難であった。
By the way, when brazing the second metal plate and the heat sink, an Al—Si alloy brazing foil containing 7.5% by mass or more of Si is used to set the melting point low. There are many.
In an Al-Si alloy containing a relatively large amount of Si, it has been difficult to produce a foil material by rolling or the like because of insufficient ductility.

また、ヒートシンクと第二の金属板との間にろう材箔を配置し、これらを積層方向に加圧して加熱することになるが、この加圧に際してろう材箔の位置がずれないように、ろう材箔、ヒートシンク及び第二の金属板を積層配置する必要があった。
さらに、ろう材箔を用いた場合、第二の金属板とヒートシンクとの界面部分には、第二の金属板及びヒートシンクの表面、ろう材箔の両面の4つの面において酸化被膜が存在することになり、酸化被膜の合計厚さが厚くなる傾向にあった。この酸化被膜により、接合が阻害されるおそれがあった。
Also, the brazing material foil is disposed between the heat sink and the second metal plate, and these are heated by pressing in the laminating direction. The brazing material foil, the heat sink, and the second metal plate had to be laminated.
Furthermore, when brazing material foil is used, an oxide film is present at the interface between the second metal plate and the heat sink on the surfaces of the second metal plate and the heat sink and on both surfaces of the brazing material foil. And the total thickness of the oxide film tended to increase. This oxide film may hinder bonding.

また、セラミックス基板と第一の金属板及び第二の金属板とをろう材箔を用いて接合する場合には、前述のように、セラミックス基板と第一の金属板及び第二の金属板との間にろう材箔を配置し、これらを積層方向に加圧して加熱することになるが、この加圧に際してろう材箔の位置がずれないように、ろう材箔、セラミックス基板、第一の金属板及び第二の金属板を積層配置する必要があった。
さらに、ろう材箔を用いた場合、セラミックス基板と第一の金属板及び第二の金属板との界面部分には、第一の金属板及び第二の金属板の表面、セラミックス基板の表面、ろう材箔の両面の4つの面において酸化被膜が存在することになり、酸化被膜の合計厚さが厚くなる傾向にあった。この酸化被膜により、接合が阻害されるおそれがあった。
Further, when the ceramic substrate and the first metal plate and the second metal plate are joined using the brazing material foil, as described above, the ceramic substrate, the first metal plate, and the second metal plate, The brazing material foil is disposed between the two, and these are heated by pressing in the laminating direction, but the brazing material foil, ceramic substrate, The metal plate and the second metal plate had to be laminated.
Furthermore, when using the brazing material foil, the interface portion between the ceramic substrate and the first metal plate and the second metal plate includes the surface of the first metal plate and the second metal plate, the surface of the ceramic substrate, There was an oxide film on the four sides of the brazing foil, and the total thickness of the oxide film tended to be thick. This oxide film may hinder bonding.

また、ヒートシンクを接合した場合には、パワーモジュール用基板がヒートシンクによって拘束されるために、冷熱サイクル負荷時に、第一の金属板及び第二の金属板とセラミックス基板との接合界面に大きなせん断力が作用することになる。ここで、特許文献2では、Cuを第一の金属板及び第二の金属板に固溶させることによって、接合界面近傍部分に亀裂が発生することが抑制され、接合信頼性が高いパワーモジュール用基板を提供できるが、パワーモジュールの冷却性能を向上させるため、第一の金属板及び第二の金属板とセラミックス基板との接合界面でのさらなる接合信頼性の向上が求められている。   In addition, when the heat sink is bonded, the power module substrate is restrained by the heat sink, so that a large shearing force is applied to the bonding interface between the first metal plate and the second metal plate and the ceramic substrate during a thermal cycle load. Will act. Here, in Patent Document 2, by dissolving Cu in the first metal plate and the second metal plate, the occurrence of cracks in the vicinity of the bonding interface is suppressed, and the bonding module has a high bonding reliability. Although a substrate can be provided, in order to improve the cooling performance of the power module, further improvement in bonding reliability is required at the bonding interface between the first metal plate and the second metal plate and the ceramic substrate.

この発明は、前述した事情に鑑みてなされたものであって、セラミックス基板と第一の金属板及び第二の金属板との接合信頼性が高く、かつ、セラミックス割れの発生を抑制できるヒートシンク付パワーモジュール用基板、このヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、及び、このヒートシンク付パワーモジュール用基板を用いたパワーモジュールを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and has a heat sink that has high bonding reliability between the ceramic substrate, the first metal plate, and the second metal plate and can suppress the occurrence of ceramic cracks. It is an object of the present invention to provide a power module substrate, a method for manufacturing the power module substrate with a heat sink, and a power module using the power module substrate with a heat sink.

このような課題を解決して、前記目的を達成するために、本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板は、セラミックス基板と、前記セラミックス基板の表面に一面が接合されたアルミニウムからなる第一の金属板と、前記セラミックス基板の裏面に一面が接合されたアルミニウムからなる第二の金属板と、該第二の金属板の前記セラミックス基板と接合された前記一面と反対側の他面に接合されたアルミニウム又はアルミニウム合金からなるヒートシンクとを備え、前記第一の金属板及び前記第二の金属板のうち前記セラミックス基板との接合界面近傍には、Cuが固溶されており、前記第二の金属板及び前記ヒートシンクの接合界面近傍には、Agが固溶されていることを特徴としている。   In order to solve such problems and achieve the above object, a power module substrate with a heat sink according to the present invention includes a ceramic substrate and a first metal made of aluminum having one surface bonded to the surface of the ceramic substrate. A plate, a second metal plate made of aluminum with one surface bonded to the back surface of the ceramic substrate, and a second metal plate bonded to the other surface opposite to the one surface bonded to the ceramic substrate. A heat sink made of aluminum or an aluminum alloy, and Cu is dissolved in the vicinity of the bonding interface with the ceramic substrate among the first metal plate and the second metal plate, and the second metal Ag is dissolved in the vicinity of the bonding interface between the plate and the heat sink.

この構成のヒートシンク付パワーモジュール用基板においては、第一の金属板及び第二の金属板のうちセラミックス基板との接合界面近傍が、Cuの固溶によって強化されている。また、ヒートシンク及び第二の金属板の接合界面近傍が、Agの固溶によって強化されている。ここで、Cuは、Agに比べてアルミニウムの強度を向上させる効果が大きいことから、第一の金属板及び第二の金属板とセラミックス基板との接合強度が、第二の金属板とヒートシンクとの接合強度よりも高くなる。
よって、ヒートシンクと第二の金属板とが必要以上に強固に接合されず、冷熱サイクルを負荷させた際に、第一の金属板及び第二の金属板とセラミックス基板との接合界面に大きなせん断力が作用することが抑制され、セラミックス基板の割れを防止することが可能となる。
In the power module substrate with a heat sink having this configuration, the vicinity of the bonding interface with the ceramic substrate of the first metal plate and the second metal plate is reinforced by solid solution of Cu. Further, the vicinity of the bonding interface between the heat sink and the second metal plate is strengthened by the solid solution of Ag. Here, since Cu has a larger effect of improving the strength of aluminum than Ag, the bonding strength between the first metal plate and the second metal plate and the ceramic substrate is such that the second metal plate and the heat sink It becomes higher than the bonding strength.
Therefore, the heat sink and the second metal plate are not bonded more firmly than necessary, and a large shear is applied to the bonding interface between the first metal plate and the second metal plate and the ceramic substrate when a cooling cycle is applied. It is possible to prevent the force from acting and to prevent the ceramic substrate from cracking.

本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板において、第一の金属板及び第二の金属板のうち前記セラミックス基板との接合界面近傍におけるCu濃度が0.05質量%以上5質量%以下の範囲内に設定されていてもよい。
この場合、第一の金属板及び第二の金属板のうち前記セラミックス基板との接合界面近傍におけるCu濃度が0.05質量%以上とされているので、第一の金属板及び第二の金属板の前記接合界面近傍部分を確実に強化することができ、セラミックス基板と第一の金属板及び第二の金属板との接合信頼性を向上させることが可能となる。また、第一の金属板及び第二の金属板のうち前記セラミックス基板との接合界面近傍におけるCu濃度が5質量%以下とされているので、第一の金属板及び第二の金属板の前記接合界面近傍部分の強度が必要以上に高くなることを防止できる。よって、このパワーモジュール用基板に冷熱サイクルが負荷された際の応力を第一の金属板及び第二の金属板で吸収することにより、セラミックス基板の割れ等を防止できる。
In the power module substrate with a heat sink of the present invention, the Cu concentration in the vicinity of the bonding interface with the ceramic substrate of the first metal plate and the second metal plate is in the range of 0.05 mass% or more and 5 mass% or less. It may be set.
In this case, among the first metal plate and the second metal plate, the Cu concentration in the vicinity of the bonding interface with the ceramic substrate is 0.05% by mass or more, so the first metal plate and the second metal plate The vicinity of the bonding interface of the plate can be reliably strengthened, and the bonding reliability between the ceramic substrate, the first metal plate, and the second metal plate can be improved. In addition, since the Cu concentration in the vicinity of the bonding interface with the ceramic substrate of the first metal plate and the second metal plate is 5 mass% or less, the first metal plate and the second metal plate It is possible to prevent the strength in the vicinity of the joint interface from becoming higher than necessary. Therefore, the ceramic substrate can be prevented from cracking by absorbing the stress when the cooling cycle is applied to the power module substrate by the first metal plate and the second metal plate.

本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板において、前記第二の金属板と前記ヒートシンクとの接合界面近傍におけるAg濃度が0.05質量%以上10質量%以下の範囲内に設定されていてもよい。
この場合、前記第二の金属板と前記ヒートシンクとの接合界面近傍におけるAg濃度が0.05質量%以上とされているので、前記第二の金属板と前記ヒートシンクとを確実に接合することができる。また、前記第二の金属板と前記ヒートシンクとの接合界面近傍におけるAg濃度が10質量%以下とされているので、前記第二の金属板及び前記ヒートシンクの接合界面近傍部分の強度が必要以上に高くなることを防止できる。よって、このパワーモジュール用基板に冷熱サイクルが負荷された際の応力を、前記第二の金属板で吸収することができ、セラミックス基板の割れを確実に防止することができる。
In the power module substrate with a heat sink of the present invention, the Ag concentration in the vicinity of the bonding interface between the second metal plate and the heat sink may be set in a range of 0.05% by mass or more and 10% by mass or less.
In this case, since the Ag concentration in the vicinity of the bonding interface between the second metal plate and the heat sink is 0.05% by mass or more, the second metal plate and the heat sink can be reliably bonded. it can. In addition, since the Ag concentration in the vicinity of the bonding interface between the second metal plate and the heat sink is 10% by mass or less, the strength in the vicinity of the bonding interface between the second metal plate and the heat sink is more than necessary. It can be prevented from becoming high. Therefore, the stress when the cooling cycle is applied to the power module substrate can be absorbed by the second metal plate, and the ceramic substrate can be reliably prevented from cracking.

本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板において、前記第二の金属板及び前記ヒートシンクには、Agに加えて、Si,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上の添加元素が固溶されていてもよい。
前述の添加元素は、アルミニウムの融点を低下させるものであることから、比較的低温の条件下で、第二の金属板とヒートシンクとを接合することができる。また、前述の添加元素は、Cuよりもアルミニウムの強度を向上させる効果が小さいものであるので、ヒートシンクと第二の金属板との接合強度が必要以上に高くならない。よって、第一の金属板及び第二の金属板とセラミックス基板との接合界面に大きなせん断力が作用することが抑制され、セラミックス基板の割れを防止することができる。
In the power module substrate with a heat sink of the present invention, the second metal plate and the heat sink may be one or two selected from Si, Zn, Mg, Ge, Ca, Ga and Li in addition to Ag. The above additive elements may be dissolved.
Since the aforementioned additive element lowers the melting point of aluminum, the second metal plate and the heat sink can be joined under a relatively low temperature condition. Further, since the additive element described above has a smaller effect of improving the strength of aluminum than Cu, the bonding strength between the heat sink and the second metal plate does not become higher than necessary. Therefore, it is possible to suppress a large shearing force from acting on the bonding interface between the first metal plate and the second metal plate and the ceramic substrate, and to prevent the ceramic substrate from cracking.

本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板において、前記第一の金属板及び前記第二の金属板には、Cuに加えて、Si,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上の添加元素が固溶されていてもよい。
前述の添加元素は、アルミニウムの融点を低下させるものであることから、比較的低温の条件下で、第一の金属板及び第二の金属板とセラミックス基板とを確実に接合することができる。
In the power module substrate with a heat sink of the present invention, the first metal plate and the second metal plate are selected from Si, Zn, Mg, Ge, Ca, Ga and Li in addition to Cu. The seed or two or more additional elements may be dissolved.
Since the aforementioned additive element lowers the melting point of aluminum, the first metal plate and the second metal plate can be reliably bonded to the ceramic substrate under relatively low temperature conditions.

本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板において、前記第二の金属板が、複数の金属板が積層されて構成されていてもよい。
この場合、第二の金属板が、複数の金属板が積層された構造とされているので、ヒートシンクとセラミックス基板との熱膨張係数の差に起因する熱応力をこの第二の金属板で十分に吸収することができ、セラミックス基板の割れを抑制することができる。
In the power module substrate with a heat sink of the present invention, the second metal plate may be configured by laminating a plurality of metal plates.
In this case, since the second metal plate has a structure in which a plurality of metal plates are laminated, the second metal plate is sufficient for the thermal stress caused by the difference in the thermal expansion coefficient between the heat sink and the ceramic substrate. Can be absorbed, and cracking of the ceramic substrate can be suppressed.

本発明のパワーモジュールは、前述のヒートシンク付パワーモジュール用基板と、該ヒートシンク付パワーモジュール用基板上に搭載される電子部品と、を備えたことを特徴としている。
この構成のパワーモジュールによれば、使用環境が厳しい場合であっても、セラミックス基板の割れを防止でき、かつ、電子部品から発生する熱をヒートシンクによって効率的に冷却することができ、信頼性に優れたパワーモジュールを提供することができる。
A power module according to the present invention includes the above-described power module substrate with a heat sink, and an electronic component mounted on the power module substrate with a heat sink.
According to the power module of this configuration, even when the usage environment is severe, the ceramic substrate can be prevented from cracking, and the heat generated from the electronic components can be efficiently cooled by the heat sink. An excellent power module can be provided.

本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法は、セラミックス基板と、前記セラミックス基板の表面に一面が接合されたアルミニウムからなる第一の金属板と、前記セラミックス基板の裏面に一面が接合されたアルミニウムからなる第二の金属板と、該第二の金属板の前記セラミックス基板と接合された前記一面と反対側の他面に接合されたアルミニウム又はアルミニウム合金からなるヒートシンクとを備えるヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法であって、前記セラミックス基板と前記第一の金属板、及び、前記セラミックス基板と前記第二の金属板とを接合するセラミックス基板接合工程と、前記第二の金属板の他面に前記ヒートシンクを接合するヒートシンク接合工程と、を有し、前記セラミックス基板接合工程は、前記セラミックス基板と前記第一の金属板との接合界面における前記セラミックス基板の接合面と前記第一の金属板の接合面のうちの少なくとも一方にCuを固着して第1Cu層を形成するとともに、前記セラミックス基板と前記第二の金属板との接合界面における前記セラミックス基板の接合面と前記第二の金属板の接合面のうちの少なくとも一方にCuを固着して第2Cu層を形成するCu固着工程と、前記第1Cu層を介して前記セラミックス基板と前記第一の金属板とを積層するとともに、前記第2Cu層を介して前記セラミックス基板と前記第二の金属板とを積層するセラミックス基板積層工程と、積層された前記第一の金属板と前記セラミックス基板と前記第二の金属板とを積層方向に加圧するとともに加熱し、前記第一の金属板と前記セラミックス基板との界面及び前記セラミックス基板と前記第二の金属板との界面に、第一溶融金属領域及び第二溶融金属領域を形成するセラミックス基板加熱工程と、この第一溶融金属領域及び第二溶融金属領域を凝固させることによって、前記第一の金属板と前記セラミックス基板及び前記セラミックス基板と前記第二の金属板とを接合する第一溶融金属及び第二溶融金属凝固工程と、を有し、前記ヒートシンク接合工程は、前記第二の金属板の他面と前記ヒートシンクの接合面のうち少なくとも一方にAgを固着してAg層を形成するAg層形成工程と、前記Ag層を介して前記第二の金属板と前記ヒートシンクとを積層するヒートシンク積層工程と、積層された前記第二の金属板と前記ヒートシンクとを積層方向に加圧するとともに加熱し、前記第二の金属板と前記ヒートシンクとの界面に溶融金属領域を形成するヒートシンク加熱工程と、この溶融金属領域を凝固させることによって、前記第二の金属板と前記ヒートシンクとを接合する溶融金属凝固工程と、を有することを特徴としている。   In the method for manufacturing a power module substrate with a heat sink according to the present invention, a ceramic substrate, a first metal plate made of aluminum having one surface bonded to the surface of the ceramic substrate, and one surface bonded to the back surface of the ceramic substrate. A power module with a heat sink, comprising: a second metal plate made of aluminum; and a heat sink made of aluminum or an aluminum alloy joined to the other surface opposite to the one surface joined to the ceramic substrate of the second metal plate. A method for manufacturing a substrate for a ceramic, comprising: a ceramic substrate and the first metal plate; a ceramic substrate bonding step for bonding the ceramic substrate and the second metal plate; and the second metal plate A heat sink bonding step for bonding the heat sink to a surface, and the ceramic substrate bonding The step forms a first Cu layer by fixing Cu to at least one of the bonding surface of the ceramic substrate and the bonding surface of the first metal plate at the bonding interface between the ceramic substrate and the first metal plate. And a second Cu layer is formed by fixing Cu to at least one of the bonding surface of the ceramic substrate and the bonding surface of the second metal plate at the bonding interface between the ceramic substrate and the second metal plate. And stacking the ceramic substrate and the first metal plate through the first Cu layer, and stacking the ceramic substrate and the second metal plate through the second Cu layer. The ceramic substrate laminating step, the laminated first metal plate, the ceramic substrate and the second metal plate are pressurized and heated in the laminating direction, A ceramic substrate heating step for forming a first molten metal region and a second molten metal region at an interface between the one metal plate and the ceramic substrate and at an interface between the ceramic substrate and the second metal plate; The first molten metal and the second molten metal solidified by joining the first metal plate and the ceramic substrate and the ceramic substrate and the second metal plate by solidifying the molten metal region and the second molten metal region. And the heat sink bonding step includes forming an Ag layer by fixing Ag to at least one of the other surface of the second metal plate and the bonding surface of the heat sink, and A heat sink laminating step of laminating the second metal plate and the heat sink via an Ag layer; and laminating the laminated second metal plate and the heat sink in a laminating direction. A heat sink heating step of forming a molten metal region at the interface between the second metal plate and the heat sink by applying pressure and heating, and solidifying the molten metal region, whereby the second metal plate and the heat sink And a molten metal solidification step for joining the two.

この構成のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法によれば、第二の金属板の他面にヒートシンクを接合するヒートシンク接合工程が、前記第二の金属板の他面と前記ヒートシンクの接合面のうち少なくとも一方にAgを固着してAg層を形成するAg層形成工程を備えているので、第二の金属板とヒートシンクとの接合界面には、Agが介在することになる。このAgは、アルミニウムの融点を降下させる元素であるため、比較的低温条件において、ヒートシンクと第二の金属板との界面に溶融金属領域を形成することができる。よって、比較的低温、短時間の条件で接合しても、ヒートシンクと第二の金属板とを接合することが可能となる。また、ヒートシンクと第二の金属板の接合界面近傍に、Agを固溶させることができる。   According to the method for manufacturing a power module substrate with a heat sink having this configuration, the heat sink joining step of joining the heat sink to the other surface of the second metal plate includes the step of joining the other surface of the second metal plate and the heat sink. Since an Ag layer forming step of forming Ag layer by fixing Ag to at least one of them is provided, Ag intervenes at the bonding interface between the second metal plate and the heat sink. Since Ag is an element that lowers the melting point of aluminum, a molten metal region can be formed at the interface between the heat sink and the second metal plate under relatively low temperature conditions. Therefore, it is possible to join the heat sink and the second metal plate even if they are joined under relatively low temperature and short time conditions. Further, Ag can be dissolved in the vicinity of the bonding interface between the heat sink and the second metal plate.

また、ヒートシンク加熱工程において、Ag層内のAgを前記第二の金属板及びヒートシンク側に拡散させることにより、前記ヒートシンクと前記第二の金属板との界面に前記溶融金属領域を形成し、この溶融金属領域を凝固させることで、前記第二の金属板と前記ヒートシンクを接合する構成としているので、製造が困難なAl−Si系のろう材箔等を用いる必要がなく、低コストで、第二の金属板とヒートシンクとが確実に接合されたヒートシンク付パワーモジュール用基板を製造することができる。   Further, in the heat sink heating step, the molten metal region is formed at the interface between the heat sink and the second metal plate by diffusing Ag in the Ag layer toward the second metal plate and the heat sink. Since the second metal plate and the heat sink are joined by solidifying the molten metal region, it is not necessary to use an Al-Si brazing foil that is difficult to manufacture, and at low cost, the first A power module substrate with a heat sink in which the second metal plate and the heat sink are securely bonded can be manufactured.

さらに、ろう材箔を使用せずに、前記ヒートシンクの接合面及び前記第二の金属板の他面のうち少なくとも一方に直接Agを固着しているので、ろう材箔の位置合わせ作業等を行う必要がない。
しかも、第二の金属板及びヒートシンクに直接Agを固着した場合、酸化被膜は、第二の金属板及びヒートシンクの表面にのみ形成されることになり、第二の金属板及びヒートシンクの界面に存在する酸化被膜の合計厚さが薄くなるので、初期接合の歩留りが向上する。
Further, since the Ag is directly fixed to at least one of the joining surface of the heat sink and the other surface of the second metal plate without using the brazing material foil, alignment work of the brazing material foil is performed. There is no need.
Moreover, when Ag is directly fixed to the second metal plate and the heat sink, the oxide film is formed only on the surface of the second metal plate and the heat sink, and exists at the interface between the second metal plate and the heat sink. Since the total thickness of the oxide film to be reduced is reduced, the yield of initial bonding is improved.

また、第一の金属板及び第二の金属板とセラミックス基板とを接合するセラミックス基板接合工程が、第一の金属板及び第二の金属板と前記セラミックス基板の接合面のうち少なくとも一方にCuを固着して第1Cu層及び第2Cu層を形成するCu固着工程を備えているので、第一の金属板及び第二の金属板と前記セラミックス基板との接合界面には、Cuが介在することになる。このCuは、アルミニウムの融点を降下させる元素であるため、比較的低温条件において、第一の金属板及び第二の金属板と前記セラミックス基板との界面に第一溶融金属領域及び第二溶融金属領域を形成することができる。よって、比較的低温、短時間の条件で接合しても、第一の金属板及び第二の金属板とセラミックス基板とを接合することが可能となる。また、第一の金属板及び第二の金属板とセラミックス基板の界面近傍にCuを固溶させることができる。   Further, the ceramic substrate bonding step of bonding the first metal plate and the second metal plate and the ceramic substrate may include Cu at least one of the bonding surfaces of the first metal plate and the second metal plate and the ceramic substrate. Cu is fixed to form a first Cu layer and a second Cu layer, so that Cu is present at the bonding interface between the first metal plate and the second metal plate and the ceramic substrate. become. Since this Cu is an element that lowers the melting point of aluminum, the first molten metal region and the second molten metal at the interface between the first metal plate and the second metal plate and the ceramic substrate at a relatively low temperature condition. Regions can be formed. Therefore, even if it joins on conditions of comparatively low temperature and a short time, it becomes possible to join a 1st metal plate and a 2nd metal plate, and a ceramic substrate. Also, Cu can be dissolved in the vicinity of the interface between the first metal plate and the second metal plate and the ceramic substrate.

セラミックス基板加熱工程において、第1Cu層及び第2Cu層のCuを第一の金属板及び第二の金属板側に拡散させることにより、前記セラミックス基板と第一の金属板及び第二の金属板との界面に第一溶融金属領域及び第二溶融金属領域を形成し、この第一溶融金属領域及び第二溶融金属領域を凝固させることで、第一の金属板及び第二の金属板と前記セラミックス基板を接合する構成としているので、ろう材箔等を用いる必要がなく、低コストで、第一の金属板及び第二の金属板とセラミックス基板とが確実に接合されたパワーモジュール用基板を製造することができる。   In the ceramic substrate heating step, by diffusing Cu of the first Cu layer and the second Cu layer toward the first metal plate and the second metal plate, the ceramic substrate, the first metal plate, and the second metal plate Forming a first molten metal region and a second molten metal region at the interface of the first metal plate, and solidifying the first molten metal region and the second molten metal region, so that the first metal plate, the second metal plate, and the ceramics are solidified. Because it is configured to bond substrates, it is not necessary to use brazing material foil, etc., and the first metal plate and the substrate for power modules in which the second metal plate and the ceramic substrate are securely bonded are manufactured at low cost. can do.

このように、ろう材箔を使用せずに、前記セラミックス基板と第一の金属板及び第二の金属板とを接合可能であることから、ろう材箔の位置合わせ作業等を行う必要がなく、例えば、予め回路パターン状に形成された金属片をセラミックス基板に接合する場合であっても、位置ズレ等によるトラブルを未然に防止することができる。
しかも、第一の金属板及び第二の金属板、あるいは、セラミックス基板に直接Cuを固着しているので、酸化被膜は、第一の金属板及び第二の金属板の表面にのみ形成されることになり、第一の金属板及び第二の金属板とセラミックス基板の界面に存在する酸化被膜の合計厚さが薄くなるので、初期接合の歩留りが向上する。
As described above, since the ceramic substrate and the first metal plate and the second metal plate can be joined without using the brazing material foil, it is not necessary to perform an alignment operation of the brazing material foil. For example, even when a metal piece previously formed in a circuit pattern is joined to a ceramic substrate, troubles due to misalignment can be prevented in advance.
Moreover, since Cu is directly fixed to the first metal plate and the second metal plate or the ceramic substrate, the oxide film is formed only on the surfaces of the first metal plate and the second metal plate. In other words, the total thickness of the oxide film present at the interface between the first metal plate and the second metal plate and the ceramic substrate is reduced, so that the yield of initial bonding is improved.

前記Ag層形成工程において、Agに加えて、Si,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上の添加元素を固着してもよい。
前述の添加元素は、アルミニウムの融点を低下させるものであることから、比較的低温の条件下で、第二の金属板とヒートシンクとを確実に接合することができる。さらに、前述の添加元素は、Cuよりもアルミニウムの強度を向上させる効果が小さいものであることから、ヒートシンクと第二の金属板との接合強度が必要以上に高くなることがない。
In the Ag layer forming step, in addition to Ag, one or more additive elements selected from Si, Zn, Mg, Ge, Ca, Ga, and Li may be fixed.
Since the aforementioned additive element lowers the melting point of aluminum, the second metal plate and the heat sink can be reliably bonded under relatively low temperature conditions. Furthermore, since the additive element described above has a smaller effect of improving the strength of aluminum than Cu, the bonding strength between the heat sink and the second metal plate does not become higher than necessary.

また、前記Cu固着工程において、Cuに加えて、Si,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上の添加元素を固着してもよい。
前述の添加元素は、アルミニウムの融点を低下させるものであることから、比較的低温の条件下で、第一の金属板及び第二の金属板とセラミックス基板とを確実に接合することができる。
Further, in the Cu fixing step, in addition to Cu, one or more additive elements selected from Si, Zn, Mg, Ge, Ca, Ga and Li may be fixed.
Since the aforementioned additive element lowers the melting point of aluminum, the first metal plate and the second metal plate can be reliably bonded to the ceramic substrate under relatively low temperature conditions.

本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法において、前記セラミックス基板接合工程と、前記ヒートシンク接合工程と、を同時に行ってもよい。
この場合、ヒートシンク積層工程とセラミックス基板積層工程、ヒートシンク加熱工程とセラミックス基板加熱工程、溶融金属凝固工程と第一溶融金属及び第二溶融金属凝固工程と、をそれぞれ同時に行うことによって、接合に掛かるコストを大幅に削減することができる。また、繰り返し加熱、冷却を行わずに済むので、このヒートシンク付パワーモジュール用基板の反りの低減を図ることができる。
In the method for manufacturing a power module substrate with a heat sink of the present invention, the ceramic substrate bonding step and the heat sink bonding step may be performed simultaneously.
In this case, the cost required for joining by simultaneously performing the heat sink lamination step and the ceramic substrate lamination step, the heat sink heating step and the ceramic substrate heating step, the molten metal solidification step and the first molten metal and second molten metal solidification step, respectively. Can be greatly reduced. Further, since it is not necessary to repeatedly heat and cool, it is possible to reduce the warpage of the power module substrate with a heat sink.

本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法において、前記Ag層形成工程では、AgとともにAlを固着させる構成としてもよい。
この場合、AgとともにAlを固着させているので、形成されるAg層がAlを含有することになり、このAg層が優先的に溶融し、第二の金属板とヒートシンクとの界面に溶融金属領域を確実に形成することが可能となる。なお、AgとともにAlを固着させるには、AgとAlとを同時に蒸着してもよいし、AgとAlの合金をターゲットとしてスパッタリングしてもよい。さらに、AgとAlを積層してもよい。
In the method for manufacturing a power module substrate with a heat sink according to the present invention, in the Ag layer forming step, Al may be fixed together with Ag.
In this case, since Al is fixed together with Ag, the formed Ag layer contains Al, and this Ag layer melts preferentially, and the molten metal is formed at the interface between the second metal plate and the heat sink. It is possible to reliably form the region. In order to fix Al together with Ag, Ag and Al may be vapor-deposited at the same time, or sputtering with an alloy of Ag and Al as a target. Furthermore, Ag and Al may be laminated.

また、本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法において、前記Cu固着工程においては、CuとともにAlを固着させる構成としてもよい。
この場合、CuとともにAlを固着させているので、形成される第1Cu層又は第2Cu層がAlを含有することになり、この第1Cu層又は第2Cu層が優先的に溶融し、第一の金属板又は第二の金属板とセラミックス基板との界面に第一溶融金属領域又は第二溶融金属領域を確実に形成することが可能となる。なお、CuとともにAlを固着させるには、CuとAlとを同時に蒸着してもよいし、CuとAlの合金をターゲットとしてスパッタリングしてもよい。さらに、CuとAlを積層してもよい。
Moreover, in the manufacturing method of the board | substrate for power modules with a heat sink of this invention, it is good also as a structure which fixes Al together with Cu in the said Cu adhering process.
In this case, since Al is fixed together with Cu, the first Cu layer or the second Cu layer to be formed contains Al, the first Cu layer or the second Cu layer is preferentially melted, and the first It becomes possible to reliably form the first molten metal region or the second molten metal region at the interface between the metal plate or the second metal plate and the ceramic substrate. In order to fix Al together with Cu, Cu and Al may be vapor-deposited at the same time, or sputtering using an alloy of Cu and Al as a target. Further, Cu and Al may be laminated.

また、前記Ag層形成工程は、めっき、蒸着、CVD、スパッタリング、コールドスプレー、又は、粉末が分散しているペースト及びインクなどの塗布によって前記ヒートシンクの接合面及び前記第二の金属板の他面のうち少なくとも一方に、Agを固着させる構成としてもよい。
この場合、めっき、蒸着、CVD、スパッタリング、コールドスプレー、又は、粉末が分散しているペースト及びインクなどの塗布によって、Agが前記ヒートシンクの接合面及び前記第二の金属板の他面のうち少なくとも一方に確実に固着されるので、ヒートシンクと第二の金属板との接合界面にAgを確実に介在させることが可能となる。また、Agの固着量を精度良く調整することができ、溶融金属領域を確実に形成して、ヒートシンクと第二の金属板とを確実に接合することが可能となる。
Further, the Ag layer forming step includes plating, vapor deposition, CVD, sputtering, cold spray, or application of paste or ink in which powder is dispersed, and the other surface of the heat sink and the other surface of the second metal plate. It is good also as a structure which adheres Ag to at least one among them.
In this case, Ag is at least one of the bonding surface of the heat sink and the other surface of the second metal plate by plating, vapor deposition, CVD, sputtering, cold spray, or application of paste and ink in which powder is dispersed. Since it is securely fixed to one side, Ag can be reliably interposed at the bonding interface between the heat sink and the second metal plate. In addition, the amount of Ag adhering can be adjusted with high accuracy, the molten metal region can be reliably formed, and the heat sink and the second metal plate can be reliably bonded.

また、前記Cu固着工程は、めっき、蒸着、CVD、スパッタリング、コールドスプレー、又は、粉末が分散しているペースト及びインクなどの塗布によってCuを固着させる構成としてもよい。
この場合、めっき、蒸着、CVD、スパッタリング、コールドスプレー、又は、粉末が分散しているペースト及びインクなどの塗布によって、Cuが確実に固着されるので、第一の金属板及び第二の金属板とセラミックス基板との接合界面にCuを確実に介在させることが可能となる。また、Cuの固着量を精度良く調整することができ、第一溶融金属領域及び第二溶融金属領域を確実に形成して、第一の金属板及び第二の金属板とセラミックス基板とを強固に接合することが可能となる。
The Cu fixing step may be configured to fix Cu by plating, vapor deposition, CVD, sputtering, cold spray, or application of paste and ink in which powder is dispersed.
In this case, Cu is firmly fixed by plating, vapor deposition, CVD, sputtering, cold spray, or application of paste and ink in which powder is dispersed, so the first metal plate and the second metal plate Cu can be reliably interposed at the bonding interface between the ceramic substrate and the ceramic substrate. In addition, the amount of adhesion of Cu can be adjusted with high accuracy, the first molten metal region and the second molten metal region can be reliably formed, and the first metal plate, the second metal plate, and the ceramic substrate can be firmly formed. It becomes possible to join to.

本発明によれば、セラミックス基板と第一の金属板及び第二の金属板との接合信頼性が高く、かつ、セラミックス割れの発生を抑制できるヒートシンク付パワーモジュール用基板、このヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、及び、このヒートシンク付パワーモジュール用基板を用いたパワーモジュールを提供することが可能となる。   According to the present invention, a power module substrate with a heat sink that has high bonding reliability between the ceramic substrate and the first metal plate and the second metal plate and can suppress the occurrence of ceramic cracks, and for the power module with this heat sink A substrate manufacturing method and a power module using the power module substrate with a heat sink can be provided.

本発明の第1の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板を用いたパワーモジュールの概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing of the power module using the board | substrate for power modules with a heat sink which is the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板の回路層及び金属層のCu濃度分布を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows Cu density | concentration distribution of the circuit layer and metal layer of the board | substrate for power modules with a heat sink which is the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板の金属層及びヒートシンクのAg濃度分布を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows Ag density distribution of the metal layer and heat sink of the board | substrate for power modules with a heat sink which are the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法のフロー図である。It is a flowchart of the manufacturing method of the board | substrate for power modules with a heat sink which is the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the manufacturing method of the board | substrate for power modules with a heat sink which is the 1st Embodiment of this invention. 図5における回路層及び金属層とセラミックス基板との接合界面近傍を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the joining interface vicinity of the circuit layer in FIG. 5, a metal layer, and a ceramic substrate. 図5における金属層とヒートシンクとの接合界面近傍を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the joining interface vicinity of the metal layer and heat sink in FIG. 本発明の第2の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板を用いたパワーモジュールの概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing of the power module using the board | substrate for power modules with a heat sink which is the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板の回路層及び金属層のCu濃度分布及びMg濃度分布を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows Cu density | concentration distribution and Mg density | concentration distribution of the circuit layer and metal layer of the board | substrate for power modules with a heat sink which are the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板の金属層及びヒートシンクのAg濃度分布及びMg濃度を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows Ag density distribution and Mg density | concentration of the metal layer of a power module board | substrate with a heat sink which is the 2nd Embodiment of this invention, and a heat sink. 本発明の第2の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法のフロー図である。It is a flowchart of the manufacturing method of the board | substrate for power modules with a heat sink which is the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the manufacturing method of the board | substrate for power modules with a heat sink which is the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the manufacturing method of the board | substrate for power modules with a heat sink which is the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板を用いたパワーモジュールの概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing of the power module using the board | substrate for power modules with a heat sink which is other embodiment of this invention.

以下に、本発明の実施形態について添付した図面を参照して説明する。
図1に本発明の第1の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板及びパワーモジュールを示す。
このパワーモジュール1は、回路層12が配設されたパワーモジュール用基板10と、回路層12の表面にはんだ層2を介して接合された半導体チップ3と、ヒートシンク40とを備えている。ここで、はんだ層2は、例えばSn−Ag系、Sn−In系、若しくはSn−Ag−Cu系のはんだ材とされている。なお、本実施形態では、回路層12とはんだ層2との間にNiメッキ層(図示なし)が設けられている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 shows a power module substrate with a heat sink and a power module according to the first embodiment of the present invention.
The power module 1 includes a power module substrate 10 on which a circuit layer 12 is disposed, a semiconductor chip 3 bonded to the surface of the circuit layer 12 via a solder layer 2, and a heat sink 40. Here, the solder layer 2 is made of, for example, a Sn—Ag, Sn—In, or Sn—Ag—Cu solder material. In the present embodiment, a Ni plating layer (not shown) is provided between the circuit layer 12 and the solder layer 2.

パワーモジュール用基板10は、セラミックス基板11と、このセラミックス基板11の一方の面(図1において上面)に配設された回路層12と、セラミックス基板11の他方の面(図1において下面)に配設された金属層13とを備えている。
セラミックス基板11は、回路層12と金属層13との間の電気的接続を防止するものであって、絶縁性の高いAlN(窒化アルミ)で構成されている。また、セラミックス基板11の厚さは、0.2〜1.5mmの範囲内に設定されており、本実施形態では、0.635mmに設定されている。
The power module substrate 10 has a ceramic substrate 11, a circuit layer 12 disposed on one surface (the upper surface in FIG. 1) of the ceramic substrate 11, and the other surface (lower surface in FIG. 1) of the ceramic substrate 11. And a disposed metal layer 13.
The ceramic substrate 11 prevents electrical connection between the circuit layer 12 and the metal layer 13, and is made of highly insulating AlN (aluminum nitride). In addition, the thickness of the ceramic substrate 11 is set within a range of 0.2 to 1.5 mm, and in this embodiment is set to 0.635 mm.

回路層12は、セラミックス基板11の一方の面に導電性を有する金属板22が接合されることにより形成されている。本実施形態においては、回路層12は、純度が99.99%以上のアルミニウム(いわゆる4Nアルミニウム)の圧延板からなる金属板22がセラミックス基板11に接合されることにより形成されている。
金属層13は、セラミックス基板11の他方の面に金属板23が接合されることにより形成されている。本実施形態においては、金属層13は、純度が99.99%以上のアルミニウム(いわゆる4Nアルミニウム)の圧延板からなる金属板23がセラミックス基板11に接合されることで形成されている。
The circuit layer 12 is formed by bonding a conductive metal plate 22 to one surface of the ceramic substrate 11. In the present embodiment, the circuit layer 12 is formed by joining a metal plate 22 made of a rolled plate of aluminum (so-called 4N aluminum) having a purity of 99.99% or more to the ceramic substrate 11.
The metal layer 13 is formed by bonding a metal plate 23 to the other surface of the ceramic substrate 11. In the present embodiment, the metal layer 13 is formed by bonding a metal plate 23 made of a rolled plate of aluminum (so-called 4N aluminum) having a purity of 99.99% or more to the ceramic substrate 11.

ヒートシンク40は、前述のパワーモジュール用基板10を冷却するためのものであり、パワーモジュール用基板10と接合される天板部41と、冷却媒体(例えば冷却水)を流通するための流路42と、を備えている。ヒートシンク40(天板部41)は、熱伝導性が良好な材質で構成されることが望ましく、本実施形態においては、A6063(アルミニウム合金)で構成されている。   The heat sink 40 is for cooling the power module substrate 10 described above, and a top plate portion 41 joined to the power module substrate 10 and a flow path 42 for circulating a cooling medium (for example, cooling water). And. The heat sink 40 (top plate portion 41) is preferably made of a material having good thermal conductivity, and is made of A6063 (aluminum alloy) in the present embodiment.

そして、図2に示すように、セラミックス基板11と回路層12(金属板22)及び金属層13(金属板23)との接合界面においては、回路層12(金属板22)及び金属層13(金属板23)に、Cuが固溶している。
回路層12及び金属層13の接合界面近傍には、接合界面から積層方向に離間するにしたがい漸次Cu濃度が低下する濃度傾斜層32が形成されている。ここで、回路層12及び金属層13の接合界面近傍のCu濃度が、0.05質量%以上5質量%以下の範囲内に設定されている。
なお、回路層12及び金属層13の接合界面近傍のCu濃度は、EPMA分析(スポット径30μm)によって、接合界面30から50μmの位置で5点測定した平均値である。また、図2のグラフは、回路層12(金属板22)及び金属層13(金属板23)の中央部分において積層方向にライン分析を行い、前述の50μm位置での濃度を基準として求めたものである。
As shown in FIG. 2, at the bonding interface between the ceramic substrate 11, the circuit layer 12 (metal plate 22), and the metal layer 13 (metal plate 23), the circuit layer 12 (metal plate 22) and the metal layer 13 ( Cu is dissolved in the metal plate 23).
In the vicinity of the junction interface between the circuit layer 12 and the metal layer 13, a concentration gradient layer 32 is formed in which the Cu concentration gradually decreases as the distance from the junction interface in the stacking direction increases. Here, the Cu concentration in the vicinity of the bonding interface between the circuit layer 12 and the metal layer 13 is set within a range of 0.05 mass% or more and 5 mass% or less.
The Cu concentration in the vicinity of the bonding interface between the circuit layer 12 and the metal layer 13 is an average value measured at five points from the bonding interface 30 by a EPMA analysis (spot diameter of 30 μm). The graph of FIG. 2 is obtained by performing line analysis in the stacking direction in the central portion of the circuit layer 12 (metal plate 22) and the metal layer 13 (metal plate 23), and obtaining the above-mentioned concentration at the 50 μm position as a reference. It is.

また、図3に示すように、金属層13(金属板23)とヒートシンク40との接合界面においては、金属層13(金属板23)及びヒートシンク40に、Agが固溶している。金属層13及びヒートシンク40の接合界面近傍には、接合界面から積層方向に離間するにしたがい漸次Ag濃度が低下する濃度傾斜層33、34が形成されている。ここで、この濃度傾斜層33、34の接合界面側(金属層13及びヒートシンク40の接合界面近傍)のAg濃度が、0.05質量%以上10質量%以下の範囲内に設定されている。
なお、金属層13及びヒートシンク40の接合界面近傍のAg濃度は、EPMA分析(スポット径30μm)によって、接合界面から50μmの位置で5点測定した平均値である。また、図3のグラフは、金属層13(金属板23)及びヒートシンク40(天板部41)の幅中央部分において積層方向にライン分析を行い、前述の50μm位置での濃度を基準として求めたものである。
As shown in FIG. 3, Ag is dissolved in the metal layer 13 (metal plate 23) and the heat sink 40 at the bonding interface between the metal layer 13 (metal plate 23) and the heat sink 40. In the vicinity of the bonding interface between the metal layer 13 and the heat sink 40, concentration gradient layers 33 and 34 in which the Ag concentration gradually decreases as the distance from the bonding interface in the stacking direction is formed. Here, the Ag concentration on the bonding interface side of the concentration gradient layers 33 and 34 (in the vicinity of the bonding interface between the metal layer 13 and the heat sink 40) is set within a range of 0.05 mass% or more and 10 mass% or less.
The Ag concentration in the vicinity of the bonding interface between the metal layer 13 and the heat sink 40 is an average value measured at five points at a position of 50 μm from the bonding interface by EPMA analysis (spot diameter of 30 μm). Further, the graph of FIG. 3 was obtained by performing line analysis in the stacking direction in the central portion of the width of the metal layer 13 (metal plate 23) and the heat sink 40 (top plate portion 41), and obtaining the concentration at the above-mentioned 50 μm position as a reference. Is.

以下に、前述の構成のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法について、図4から図7を参照して説明する。   Below, the manufacturing method of the board | substrate for power modules with a heat sink of the above-mentioned structure is demonstrated with reference to FIGS.

(Ag層形成工程S01/Cu固着工程S11)
まず、図5に示すように、回路層12となる金属板22の一面に、スパッタリングによってCuを固着して第1Cu層24を形成するとともに、金属層13となる金属板23の一面に、スパッタリングによってCuを固着して第2Cu層25を形成する(Cu固着工程S11)。第1Cu層24及び第2Cu層25におけるCu量は、0.08mg/cm以上2.7mg/cm以下に設定されている。
(Ag layer forming step S01 / Cu fixing step S11)
First, as shown in FIG. 5, Cu is fixed to one surface of the metal plate 22 to be the circuit layer 12 by sputtering to form the first Cu layer 24, and sputtering is performed to one surface of the metal plate 23 to be the metal layer 13. Cu is fixed to form the second Cu layer 25 (Cu fixing step S11). The amount of Cu in the first Cu layer 24 and the second Cu layer 25 is set to 0.08 mg / cm 2 or more and 2.7 mg / cm 2 or less.

また、金属層13となる金属板23の他面に、Agペーストを塗布して、150〜200℃で乾燥した後に300〜500℃で焼成を行うことによりAg層26を形成する。(Ag層形成工程S01)。なお、Agペーストの厚さは、乾燥後で約0.02〜200μmとした。また、Ag層26におけるAg量は、0.01mg/cm以上10mg/cm以下に設定されている。 In addition, an Ag paste is applied to the other surface of the metal plate 23 to be the metal layer 13, dried at 150 to 200 ° C., and then fired at 300 to 500 ° C., thereby forming the Ag layer 26. (Ag layer forming step S01). In addition, the thickness of Ag paste was about 0.02-200 micrometers after drying. Further, the Ag amount in the Ag layer 26 is set to 0.01 mg / cm 2 or more and 10 mg / cm 2 or less.

ここで使用されるAgペーストは、Ag粉末と、樹脂と、溶剤と、分散剤と、を含有し、Ag粉末の含有量が、Agペースト全体の60質量%以上90質量%以下とされており、残部が樹脂、溶剤、分散剤とされている。なお、本実施形態では、Ag粉末の含有量は、Agペースト全体の85質量%とされている。
また、本実施形態では、Agペーストの粘度が10Pa・s以上500Pa・s以下、より好ましくは50Pa・s以上300Pa・s以下に調整されている。
The Ag paste used here contains Ag powder, a resin, a solvent, and a dispersant, and the content of the Ag powder is 60% by mass or more and 90% by mass or less of the entire Ag paste. The remainder is made of resin, solvent and dispersant. In the present embodiment, the content of the Ag powder is 85% by mass of the entire Ag paste.
In the present embodiment, the viscosity of the Ag paste is adjusted to 10 Pa · s to 500 Pa · s, more preferably 50 Pa · s to 300 Pa · s.

Ag粉末は、その粒径が0.05μm以上1.0μm以下とされており、本実施形態では、平均粒径0.8μmのものを使用した。
溶剤は、沸点が200℃以上のものが適しており、例えば、α−テルピネオール、ブチルカルビトールアセテート、ジエチレンクリコールジブチルエーテル等を適用することができる。なお、本実施形態では、ジエチレンクリコールジブチルエーテルを用いている。
樹脂は、Agペーストの粘度を調整するものであり、500℃以上で分解されるものが適しており、例えば、アクリル樹脂、アルキッド樹脂等を適用することができる。なお、本実施形態では、エチルセルロースを用いている。
また、本実施形態では、ジカルボン酸系の分散剤を添加している。なお、分散剤を添加することなくAgペーストを構成してもよい。
The Ag powder has a particle size of 0.05 μm or more and 1.0 μm or less. In this embodiment, an Ag powder having an average particle size of 0.8 μm was used.
As the solvent, those having a boiling point of 200 ° C. or more are suitable, and for example, α-terpineol, butyl carbitol acetate, diethylene glycol dibutyl ether and the like can be applied. In the present embodiment, diethylene glycol dibutyl ether is used.
The resin is for adjusting the viscosity of the Ag paste, and is suitable to be decomposed at 500 ° C. or higher. For example, an acrylic resin, an alkyd resin, or the like can be applied. In this embodiment, ethyl cellulose is used.
In this embodiment, a dicarboxylic acid-based dispersant is added. In addition, you may comprise Ag paste, without adding a dispersing agent.

(ヒートシンク積層工程S02/セラミックス基板積層工程S12)
次に、図5に示すように、金属板22をセラミックス基板11の一方の面側に積層し、かつ、金属板23をセラミックス基板11の他方の面側に積層する(セラミックス基板積層工程S12)。このとき、図5に示すように、金属板22の第1Cu層24、金属板23の第2Cu層25が形成された面がセラミックス基板11を向くように、金属板22、23を積層する。
さらに、金属板23の他方の面側に、ヒートシンク40を積層する(ヒートシンク積層工程S02)。このとき、図5に示すように、金属板23のAg層26が形成された面がヒートシンク40を向くように、金属板23とヒートシンク40とを積層する。
すなわち、金属板22、23とセラミックス基板11との間にそれぞれ第1Cu層24、第2Cu層25を介在させ、金属板23とヒートシンク40との間にAg層26を介在させているのである。
(Heat sink lamination step S02 / Ceramic substrate lamination step S12)
Next, as shown in FIG. 5, the metal plate 22 is laminated on one surface side of the ceramic substrate 11, and the metal plate 23 is laminated on the other surface side of the ceramic substrate 11 (ceramic substrate lamination step S12). . At this time, as shown in FIG. 5, the metal plates 22 and 23 are laminated so that the surface of the metal plate 22 on which the first Cu layer 24 and the second Cu layer 25 of the metal plate 23 are formed faces the ceramic substrate 11.
Further, the heat sink 40 is laminated on the other surface side of the metal plate 23 (heat sink lamination step S02). At this time, as shown in FIG. 5, the metal plate 23 and the heat sink 40 are laminated so that the surface of the metal plate 23 on which the Ag layer 26 is formed faces the heat sink 40.
That is, the first Cu layer 24 and the second Cu layer 25 are interposed between the metal plates 22 and 23 and the ceramic substrate 11, respectively, and the Ag layer 26 is interposed between the metal plate 23 and the heat sink 40.

(ヒートシンク加熱工程S03/セラミックス基板加熱工程S13)
次に、金属板22、セラミックス基板11、金属板23、ヒートシンク40を積層方向に加圧(圧力1〜35kgf/cm)した状態で真空加熱炉内に装入して加熱し、金属板22、23とセラミックス基板11との界面にそれぞれ第一溶融金属領域27、第二溶融金属領域28を形成する(セラミックス基板加熱工程S13)。
また、同時に、金属板23とヒートシンク40との間に溶融金属領域29を形成する(ヒートシンク加熱工程S03)。
ここで、第一溶融金属領域27、第二溶融金属領域28は、図6に示すように、第1Cu層24、第2Cu層25のCuが金属板22、23に向けて拡散することによって、金属板22、23の第1Cu層24、第2Cu層25近傍のCu濃度が上昇して融点が低くなることにより形成されるものである。
また、溶融金属領域29は、図7に示すように、Ag層26のAgが金属板23側及びヒートシンク40側に拡散することによって、金属板23及びヒートシンク40のAg層26近傍のAg濃度が上昇して融点が低くなることにより形成されるものである。
(Heat sink heating step S03 / Ceramic substrate heating step S13)
Next, the metal plate 22, the ceramic substrate 11, the metal plate 23, and the heat sink 40 are charged in the stacking direction (pressure 1 to 35 kgf / cm 2 ) in a vacuum heating furnace and heated, and the metal plate 22 is heated. , 23 and the ceramic substrate 11 are formed with a first molten metal region 27 and a second molten metal region 28, respectively (ceramic substrate heating step S13).
At the same time, a molten metal region 29 is formed between the metal plate 23 and the heat sink 40 (heat sink heating step S03).
Here, as shown in FIG. 6, the first molten metal region 27 and the second molten metal region 28 are diffused toward the metal plates 22 and 23 by Cu in the first Cu layer 24 and the second Cu layer 25, The metal plates 22 and 23 are formed by increasing the Cu concentration in the vicinity of the first Cu layer 24 and the second Cu layer 25 and lowering the melting point.
In addition, as shown in FIG. 7, the molten metal region 29 diffuses Ag in the Ag layer 26 toward the metal plate 23 and the heat sink 40, so that the Ag concentration in the vicinity of the Ag layer 26 of the metal plate 23 and the heat sink 40 is reduced. It is formed by rising and lowering the melting point.

なお、上述の圧力が1kgf/cm未満の場合には、セラミックス基板11と金属板22、23との接合及び金属板23とヒートシンク40との接合を良好に行うことができなくなるおそれがある。また、上述の圧力が35kgf/cmを超えた場合には、金属板22,23及びヒートシンク40が変形するおそれがある。よって、上述の加圧圧力は、1〜35kgf/cmの範囲内とすることが好ましい。
ここで、本実施形態では、真空加熱炉内の圧力は10−6Pa以上10−3Pa以下の範囲内に、加熱温度は600℃以上650℃以下の範囲内に設定している。
In addition, when the above-mentioned pressure is less than 1 kgf / cm < 2 >, there exists a possibility that joining of the ceramic substrate 11 and the metal plates 22 and 23 and joining of the metal plate 23 and the heat sink 40 cannot be performed favorably. Moreover, when the above-mentioned pressure exceeds 35 kgf / cm < 2 >, there exists a possibility that the metal plates 22 and 23 and the heat sink 40 may deform | transform. Therefore, the above-mentioned pressurizing pressure is preferably in the range of 1 to 35 kgf / cm 2 .
Here, in this embodiment, the pressure in the vacuum heating furnace is set in the range of 10 −6 Pa to 10 −3 Pa, and the heating temperature is set in the range of 600 ° C. to 650 ° C.

(溶融金属凝固工程S04/第一溶融金属及び第二溶融金属凝固工程S14)
次に、溶融金属領域29が形成された状態で温度を一定に保持しておく。すると、溶融金属領域29中のAgが、さらに金属板23側及びヒートシンク40側へと拡散していくことになる。これにより、溶融金属領域29であった部分のAg濃度が徐々に低下していき融点が上昇することになり、温度を一定に保持した状態で凝固が進行していくことになる。つまり、ヒートシンク40と金属板23とは、いわゆる拡散接合(Transient Liquid Phase Diffusion Bonding)によって接合されているのである。
(Molten metal solidification step S04 / first molten metal and second molten metal solidification step S14)
Next, the temperature is kept constant with the molten metal region 29 formed. Then, Ag in the molten metal region 29 further diffuses toward the metal plate 23 side and the heat sink 40 side. As a result, the Ag concentration in the portion that was the molten metal region 29 gradually decreases and the melting point increases, and solidification proceeds while the temperature is kept constant. That is, the heat sink 40 and the metal plate 23 are bonded by so-called diffusion bonding (Transient Liquid Phase Diffusion Bonding).

同様に、第一溶融金属領域27、第二溶融金属領域28中のCuが、さらに金属板22、23側へと拡散していくことになる。これにより、第一溶融金属領域27、第二溶融金属領域28であった部分のCu濃度が徐々に低下していき融点が上昇することになり、温度を一定に保持した状態で凝固が進行していくことになる。これにより、セラミックス基板11と金属板22、23とが接合される。つまり、金属板22,23とセラミックス基板11とは、いわゆる拡散接合(Transient Liquid Phase Diffusion Bonding)によって接合されているのである。   Similarly, Cu in the 1st molten metal area | region 27 and the 2nd molten metal area | region 28 will spread | diffuse further to the metal plates 22 and 23 side. As a result, the Cu concentration in the first molten metal region 27 and the second molten metal region 28 gradually decreases and the melting point increases, and solidification proceeds while the temperature is kept constant. It will follow. Thereby, the ceramic substrate 11 and the metal plates 22 and 23 are joined. That is, the metal plates 22 and 23 and the ceramic substrate 11 are joined by so-called diffusion bonding (Transient Liquid Phase Diffusion Bonding).

以上のようにして、金属板22、23とセラミックス基板11とが接合され、かつ、金属板23とヒートシンク40とが接合され、本実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板が製造される。   As described above, the metal plates 22 and 23 and the ceramic substrate 11 are joined, and the metal plate 23 and the heat sink 40 are joined, whereby the power module substrate with a heat sink according to this embodiment is manufactured.

前述の構成とされた本実施形態においては、金属板22、23のセラミックス基板11との接合面にCuを固着させるCu固着工程S11を備えているので、金属板22、23とセラミックス基板11の接合界面にCuが介在することになる。Cuは、Alに対して反応性の高い元素であるため、接合界面にCuが存在することによってアルミニウムからなる金属板22、23の表面が活性化し、金属板22、23とセラミックス基板11とを強固に接合することが可能となる。また、Cuが固溶することにより、回路層12及び金属層13のうちセラミックス基板11との接合界面近傍部分の強度を向上させることができる。   In the present embodiment configured as described above, since the Cu fixing step S11 for fixing Cu to the bonding surfaces of the metal plates 22 and 23 to the ceramic substrate 11 is provided, the metal plates 22 and 23 and the ceramic substrate 11 Cu intervenes at the bonding interface. Since Cu is a highly reactive element with respect to Al, the presence of Cu at the bonding interface activates the surfaces of the metal plates 22 and 23 made of aluminum, and connects the metal plates 22 and 23 and the ceramic substrate 11 together. It becomes possible to join firmly. In addition, when Cu is dissolved, the strength of the circuit layer 12 and the metal layer 13 in the vicinity of the bonding interface with the ceramic substrate 11 can be improved.

また、金属板23とヒートシンク40との間にAg層26を形成するAg層形成工程S01を備えているので、金属板23とヒートシンク40との接合界面にAgが介在することになる。Agは、アルミニウムの融点を降下させる元素であるため、比較的低温条件において金属板23とヒートシンク40とを接合することができる。また、Agが固溶することから、金属層13とヒートシンク40との接合界面近傍部分の強度を向上させることができる。   Further, since the Ag layer forming step S01 for forming the Ag layer 26 between the metal plate 23 and the heat sink 40 is provided, Ag intervenes at the bonding interface between the metal plate 23 and the heat sink 40. Since Ag is an element that lowers the melting point of aluminum, the metal plate 23 and the heat sink 40 can be bonded under relatively low temperature conditions. Moreover, since Ag dissolves, the strength of the vicinity of the bonding interface between the metal layer 13 and the heat sink 40 can be improved.

ここで、Cuは、Agに比べてアルミニウムの強度を向上させる効果が大きく、金属板22,23とセラミックス基板11との接合強度が、金属板23とヒートシンク40との接合強度よりも高くなる。このように、ヒートシンク40と金属板23とが必要以上に強固に接合されないことから、冷熱サイクルを負荷させた際に、回路層12及び金属層13とセラミックス基板11との接合界面に大きなせん断力が作用することが抑制され、セラミックス基板11の割れを防止することができる。   Here, Cu has a greater effect of improving the strength of aluminum than Ag, and the bonding strength between the metal plates 22 and 23 and the ceramic substrate 11 is higher than the bonding strength between the metal plate 23 and the heat sink 40. As described above, since the heat sink 40 and the metal plate 23 are not firmly bonded to each other more than necessary, a large shear force is applied to the bonding interface between the circuit layer 12 and the metal layer 13 and the ceramic substrate 11 when a cooling cycle is applied. Is suppressed, and the ceramic substrate 11 can be prevented from cracking.

回路層12及び金属層13のうちセラミックス基板11との接合界面近傍におけるCu濃度が0.05質量%以上とされているので、回路層12及び金属層13の接合界面側部分を確実に強化することができ、回路層12及び金属層13における亀裂の発生を防止できる。また、回路層12及び金属層13のうちセラミックス基板11との接合界面近傍におけるCu濃度が5質量%以下とされているので、回路層12及び金属層13の接合界面の強度が必要以上に高くなることを防止できる。よって、このパワーモジュール用基板10に冷熱サイクルが負荷された際の熱応力を回路層12及び金属層13で吸収することができ、セラミックス基板11の割れ等を防止できる。   Since the Cu concentration in the vicinity of the bonding interface with the ceramic substrate 11 in the circuit layer 12 and the metal layer 13 is 0.05% by mass or more, the bonding interface side portion of the circuit layer 12 and the metal layer 13 is surely strengthened. And the occurrence of cracks in the circuit layer 12 and the metal layer 13 can be prevented. Moreover, since the Cu concentration in the vicinity of the bonding interface with the ceramic substrate 11 in the circuit layer 12 and the metal layer 13 is 5% by mass or less, the strength of the bonding interface between the circuit layer 12 and the metal layer 13 is higher than necessary. Can be prevented. Therefore, the thermal stress when the cooling cycle is applied to the power module substrate 10 can be absorbed by the circuit layer 12 and the metal layer 13, and the ceramic substrate 11 can be prevented from cracking.

金属層13及びヒートシンク40の接合界面近傍におけるAg濃度が0.05質量%以上とされているので、金属層13及びヒートシンク40の接合界面側部分を適度に強化することができる。また、金属層13及びヒートシンク40の接合界面近傍におけるAg濃度が10質量%以下とされているので、金属層13の接合界面の強度が必要以上に高くなることを防止できる。よって、このパワーモジュール用基板10に冷熱サイクルが負荷された際の熱応力を金属層13で吸収することができ、セラミックス基板11の割れを確実に防止することができる。   Since the Ag concentration in the vicinity of the bonding interface between the metal layer 13 and the heat sink 40 is 0.05 mass% or more, the bonding interface side portion between the metal layer 13 and the heat sink 40 can be appropriately strengthened. Moreover, since the Ag concentration in the vicinity of the bonding interface between the metal layer 13 and the heat sink 40 is 10% by mass or less, the strength of the bonding interface between the metal layer 13 can be prevented from becoming higher than necessary. Therefore, the thermal stress when the cooling cycle is applied to the power module substrate 10 can be absorbed by the metal layer 13, and the ceramic substrate 11 can be reliably prevented from cracking.

また、本実施形態では、ヒートシンク加熱工程S03において、金属板23の他面に形成されたAg層26のAgを金属板23側及びヒートシンク40側に拡散させることによって溶融金属領域29を形成し、溶融金属凝固工程S04において、溶融金属領域29中のAgをさらに金属板23側及びヒートシンク40側へ拡散させることによって凝固させて、ヒートシンク40と金属層13(金属板23)とを接合する構成としているので、比較的低温、短時間の接合条件で接合しても、ヒートシンク40と金属板23とを接合することが可能となる。   In the present embodiment, in the heat sink heating step S03, the molten metal region 29 is formed by diffusing Ag of the Ag layer 26 formed on the other surface of the metal plate 23 toward the metal plate 23 and the heat sink 40, In the molten metal solidifying step S04, Ag in the molten metal region 29 is further solidified by diffusing to the metal plate 23 side and the heat sink 40 side, thereby joining the heat sink 40 and the metal layer 13 (metal plate 23). Therefore, the heat sink 40 and the metal plate 23 can be bonded even when bonded under relatively low temperature and short time bonding conditions.

また、本実施形態では、セラミックス基板加熱工程S13において、金属板22、23の接合面に形成された第1Cu層24、第2Cu層25のCuを金属板22、23側に拡散させることによって第一溶融金属領域27、第二溶融金属領域28を形成し、第一溶融金属及び第二溶融金属凝固工程S14において、第一溶融金属領域27、第二溶融金属領域28中のCuをさらに金属板22、23側へ拡散させることによって凝固させて、セラミックス基板11と金属板22,23とを接合する構成としているので、比較的低温、短時間の接合条件で接合しても、セラミックス基板11と金属板22、23とを強固に接合することが可能となる。   In the present embodiment, in the ceramic substrate heating step S13, the first Cu layer 24 and the second Cu layer 25 formed on the bonding surfaces of the metal plates 22 and 23 are diffused toward the metal plates 22 and 23 by the first Cu layer 24 and 23. The first molten metal region 27 and the second molten metal region 28 are formed, and in the first molten metal and second molten metal solidification step S14, Cu in the first molten metal region 27 and the second molten metal region 28 is further added to the metal plate. Since the ceramic substrate 11 and the metal plates 22 and 23 are joined by being diffused by diffusion to the side 22 and 23, the ceramic substrate 11 It becomes possible to join the metal plates 22 and 23 firmly.

さらに、ヒートシンク40と金属板23との接合、及び、セラミックス基板11と金属板22、23との接合に、ろう材箔を使用していないので、ろう材箔の位置合わせ作業等を行う必要がなく、確実に、ヒートシンク40と金属板23、セラミックス基板11と金属板22,23、をそれぞれ接合することができる。よって、本実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板を、低コストで効率良く製出することが可能となる。
また、ろう材箔を使用していないので、ヒートシンク40と金属板23との界面、セラミックス基板11と金属板22、23との界面に存在する酸化皮膜の合計厚さが薄くなり、初期接合の歩留りが向上する
Furthermore, since the brazing material foil is not used for joining the heat sink 40 and the metal plate 23 and joining the ceramic substrate 11 and the metal plates 22 and 23, it is necessary to perform an alignment operation of the brazing material foil. The heat sink 40 and the metal plate 23, and the ceramic substrate 11 and the metal plates 22 and 23 can be bonded to each other without fail. Therefore, the power module substrate with a heat sink according to the present embodiment can be produced efficiently at low cost.
In addition, since no brazing foil is used, the total thickness of the oxide films existing at the interface between the heat sink 40 and the metal plate 23 and the interface between the ceramic substrate 11 and the metal plates 22 and 23 is reduced. Yield improves

また、本実施形態では、セラミックス基板11と金属板22、23との接合と、金属板23とヒートシンク40との接合とを、同時に行う構成としているので、これらの接合に掛かるコストを大幅に削減することができる。また、セラミックス基板11に対して繰り返し加熱、冷却を行わずに済むので、このヒートシンク付パワーモジュール用基板の反りの低減を図ることができ、高品質なヒートシンク付パワーモジュール用基板を製出することができる。   Moreover, in this embodiment, since the joining of the ceramic substrate 11 and the metal plates 22 and 23 and the joining of the metal plate 23 and the heat sink 40 are performed at the same time, the cost required for the joining is greatly reduced. can do. Further, since it is not necessary to repeatedly heat and cool the ceramic substrate 11, the warpage of the power module substrate with a heat sink can be reduced, and a high-quality power module substrate with a heat sink can be produced. Can do.

さらに、Ag層形成工程S01は、Agペーストを塗布して焼成することによってAg層26を形成する構成としているので、ヒートシンク40と金属板23との間にAgを確実に介在させることが可能となる。また、Agの固着量を精度良く調整することができ、溶融金属領域29を確実に形成して、ヒートシンク40と金属板23とを接合することが可能となる。さらに、このAgペーストは、大気雰囲気で加熱して焼成してもAgが酸化しないことから、比較的容易にAg層26を形成することができる。   Furthermore, since the Ag layer forming step S01 is configured to form the Ag layer 26 by applying and baking Ag paste, Ag can be reliably interposed between the heat sink 40 and the metal plate 23. Become. In addition, the amount of Ag adhering can be adjusted with high accuracy, and the molten metal region 29 can be reliably formed and the heat sink 40 and the metal plate 23 can be joined. Furthermore, since this Ag paste does not oxidize even when heated and baked in an air atmosphere, the Ag layer 26 can be formed relatively easily.

また、Cu固着工程S11は、スパッタリングによって金属板22、23の接合面にCuを固着させて第1Cu層24、第2Cu層25を形成する構成としているので、セラミックス基板11と金属板22、23との間にCuを確実に介在させることが可能となる。また、Cuの固着量を精度良く調整することができ、第一溶融金属領域27、第二溶融金属領域28を確実に形成して、セラミックス基板11と金属板22、23とを強固に接合することが可能となる。   In addition, since the Cu fixing step S11 is configured to fix the Cu to the joint surfaces of the metal plates 22 and 23 by sputtering to form the first Cu layer 24 and the second Cu layer 25, the ceramic substrate 11 and the metal plates 22 and 23 are formed. Cu can be reliably interposed between the two. In addition, the amount of Cu adhering can be accurately adjusted, the first molten metal region 27 and the second molten metal region 28 are reliably formed, and the ceramic substrate 11 and the metal plates 22 and 23 are firmly bonded. It becomes possible.

次に、本発明の第2の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板及びパワーモジュールについて、図8から図13を用いて説明する。
このパワーモジュール101は、回路層112が配設されたパワーモジュール用基板110と、回路層112の表面にはんだ層2を介して接合された半導体チップ3と、ヒートシンク140とを備えている。
Next, a power module substrate with a heat sink and a power module according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
The power module 101 includes a power module substrate 110 on which a circuit layer 112 is disposed, a semiconductor chip 3 bonded to the surface of the circuit layer 112 via a solder layer 2, and a heat sink 140.

パワーモジュール用基板110は、セラミックス基板111と、このセラミックス基板111の一方の面(図8において上面)に配設された回路層112と、セラミックス基板111の他方の面(図8において下面)に配設された金属層113とを備えている。
なお、セラミックス基板111は絶縁性の高いAl(アルミナ)で構成されている。また、セラミックス基板111の厚さは、0.2〜1.5mmの範囲内に設定されており、本実施形態では、0.32mmに設定されている。
The power module substrate 110 has a ceramic substrate 111, a circuit layer 112 disposed on one surface (the upper surface in FIG. 8) of the ceramic substrate 111, and the other surface (the lower surface in FIG. 8) of the ceramic substrate 111. And a disposed metal layer 113.
The ceramic substrate 111 is made of highly insulating Al 2 O 3 (alumina). Further, the thickness of the ceramic substrate 111 is set in a range of 0.2 to 1.5 mm, and in this embodiment, is set to 0.32 mm.

回路層112は、純度が99.99%以上のアルミニウム(いわゆる4Nアルミニウム)の圧延板からなる金属板122がセラミックス基板111に接合されることにより形成されている。
金属層113は、回路層112と同様に、純度が99.99%以上のアルミニウム(いわゆる4Nアルミニウム)の圧延板からなる金属板123がセラミックス基板111に接合されることで形成されている。
The circuit layer 112 is formed by joining a metal plate 122 made of a rolled plate of aluminum (so-called 4N aluminum) having a purity of 99.99% or more to the ceramic substrate 111.
Similar to the circuit layer 112, the metal layer 113 is formed by joining a metal plate 123 made of a rolled plate of aluminum (so-called 4N aluminum) having a purity of 99.99% or more to the ceramic substrate 111.

ヒートシンク140は、前述のパワーモジュール用基板110を冷却するためのものである。本実施形態であるヒートシンク140は、パワーモジュール用基板110と接合される天板部141と、この天板部141に対向するように配置された底板部145と、天板部141と底板部145との間に介装されたコルゲートフィン146と、を備えており、天板部141と底板部145とコルゲートフィン146とによって、冷却媒体が流通する流路142が画成されている。   The heat sink 140 is for cooling the power module substrate 110 described above. The heat sink 140 according to the present embodiment includes a top plate portion 141 joined to the power module substrate 110, a bottom plate portion 145 disposed so as to face the top plate portion 141, and the top plate portion 141 and the bottom plate portion 145. A corrugated fin 146 interposed between the top plate portion 141, the bottom plate portion 145, and the corrugated fin 146 defines a flow path 142 through which a cooling medium flows.

ここで、このヒートシンク140は、天板部141とコルゲートフィン146、コルゲートフィン146と底板部145が、それぞれろう付けされることによって構成されている。本実施形態では、図13に示すように、天板部141及び底板部145は、A3003合金からなる基材層141A、145Aと、A4045合金からなる接合層141B、145Bとが積層された積層アルミ板で構成されており、接合層141B、145Bがコルゲートフィン146側を向くように天板部141及び底板部145が配設されている。つまり、天板部141の基材層141Aが金属層113に接する構成とされているのである。   Here, the heat sink 140 is configured by brazing the top plate portion 141 and the corrugated fin 146, and the corrugated fin 146 and the bottom plate portion 145. In this embodiment, as shown in FIG. 13, the top plate portion 141 and the bottom plate portion 145 are laminated aluminum in which base material layers 141A and 145A made of an A3003 alloy and bonding layers 141B and 145B made of an A4045 alloy are laminated. The top plate portion 141 and the bottom plate portion 145 are arranged so that the bonding layers 141B and 145B face the corrugated fins 146 side. That is, the base material layer 141 </ b> A of the top plate portion 141 is configured to contact the metal layer 113.

そして、図9に示すように、回路層112とセラミックス基板111との接合界面、及び、金属層113とセラミックス基板111との接合界面においては、Cuに加えてSi,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上の添加元素が固溶しており、本実施形態では添加元素としてMgが固溶している。
回路層112及び金属層113の接合界面近傍には、接合界面から積層方向に離間するにしたがい漸次Cu濃度及びMg濃度が低下する濃度傾斜層132が形成されている。ここで、回路層112及び金属層113の接合界面近傍のCu濃度及びMg濃度の合計が、0.05質量%以上6.5質量%以下の範囲内に設定されている。
なお、回路層112及び金属層113の接合界面近傍のCu濃度及びMg濃度は、EPMA分析(スポット径30μm)によって、接合界面から50μmの位置で5点測定した平均値である。また、図9のグラフは、回路層112及び金属層113の中央部分において積層方向にライン分析を行い、前述の50μm位置での濃度を基準として求めたものである。
As shown in FIG. 9, at the bonding interface between the circuit layer 112 and the ceramic substrate 111 and at the bonding interface between the metal layer 113 and the ceramic substrate 111, in addition to Cu, Si, Zn, Mg, Ge, Ca , Ga and Li, one or more additive elements selected from the group consisting of solid solution, Mg is dissolved as the additive element in the present embodiment.
In the vicinity of the bonding interface between the circuit layer 112 and the metal layer 113, a concentration gradient layer 132 is formed in which the Cu concentration and the Mg concentration gradually decrease as the distance from the bonding interface in the stacking direction increases. Here, the sum of the Cu concentration and the Mg concentration in the vicinity of the bonding interface between the circuit layer 112 and the metal layer 113 is set within a range of 0.05 mass% or more and 6.5 mass% or less.
The Cu concentration and the Mg concentration in the vicinity of the bonding interface between the circuit layer 112 and the metal layer 113 are average values measured at five points at a position of 50 μm from the bonding interface by EPMA analysis (spot diameter of 30 μm). Further, the graph of FIG. 9 is obtained by performing line analysis in the stacking direction in the central portion of the circuit layer 112 and the metal layer 113 and using the concentration at the above-described 50 μm position as a reference.

また、図10に示すように、ヒートシンク140(天板部141の基材層141A)と金属層113(金属板123)との接合界面においては、金属層113(金属板123)及びヒートシンク140(天板部141の基材層141A)に、Agに加えてSi,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上の添加元素が固溶している。なお、本実施形態では、添加元素としてMgが固溶している。
金属層113及びヒートシンク140の接合界面近傍には、接合界面から積層方向に離間するにしたがい漸次Ag濃度及びMg濃度が低下する濃度傾斜層133、134が形成されている。ここで、この濃度傾斜層133、134の接合界面側(金属層113及びヒートシンク140の接合界面近傍)のAg濃度及びMg濃度の合計が、0.05質量%以上10質量%以下の範囲内に設定されている。
なお、金属層113及びヒートシンク140の接合界面近傍のAg濃度及びMg濃度は、EPMA分析(スポット径30μm)によって、接合界面から50μmの位置で5点測定した平均値である。また、図10のグラフは、金属層113及びヒートシンク140(天板部141)の幅中央部分において積層方向にライン分析を行い、前述の50μm位置での濃度を基準として求めたものである。
Also, as shown in FIG. 10, at the bonding interface between the heat sink 140 (base material layer 141A of the top plate portion 141) and the metal layer 113 (metal plate 123), the metal layer 113 (metal plate 123) and the heat sink 140 ( In addition to Ag, one or more additive elements selected from Si, Zn, Mg, Ge, Ca, Ga, and Li are dissolved in the base material layer 141A) of the top plate portion 141. In the present embodiment, Mg is dissolved as an additive element.
In the vicinity of the bonding interface between the metal layer 113 and the heat sink 140, concentration gradient layers 133 and 134 in which the Ag concentration and the Mg concentration gradually decrease as the distance from the bonding interface in the stacking direction is formed. Here, the sum of the Ag concentration and the Mg concentration on the bonding interface side of the concentration gradient layers 133 and 134 (near the bonding interface of the metal layer 113 and the heat sink 140) is in the range of 0.05 mass% or more and 10 mass% or less. Is set.
The Ag concentration and the Mg concentration in the vicinity of the bonding interface between the metal layer 113 and the heat sink 140 are average values measured at five points at a position of 50 μm from the bonding interface by EPMA analysis (spot diameter of 30 μm). In addition, the graph of FIG. 10 is obtained by performing line analysis in the stacking direction in the central portion of the width of the metal layer 113 and the heat sink 140 (top plate portion 141), and obtaining the above-described concentration at the 50 μm position as a reference.

以下に、前述の構成のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法について説明する。   Below, the manufacturing method of the board | substrate for power modules with a heat sink of the above-mentioned structure is demonstrated.

(Cu固着工程S101)
まず、図12に示すように、回路層112となる金属板122の一面に、スパッタリングによってCuを固着して第1Cu層124を形成するとともに、金属層113となる金属板123の一面に、スパッタリングによってCuを固着して第2Cu層125を形成する。なお、この第1Cu層124、第2Cu層125には、Cuに加えてSi,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上の添加元素が固着されており、本実施形態では、添加元素としてMgを用いている。
ここで、本実施形態では、第1Cu層124、第2Cu層125におけるCu量は、0.08mg/cm以上2.7mg/cm以下に設定されている。また、Mg量は、0.01mg/cm以上10mg/cm以下に設定されている。
(Cu fixing step S101)
First, as shown in FIG. 12, Cu is fixed to one surface of the metal plate 122 to be the circuit layer 112 by sputtering to form the first Cu layer 124, and sputtering is performed to one surface of the metal plate 123 to be the metal layer 113. Then, Cu is fixed to form the second Cu layer 125. The first Cu layer 124 and the second Cu layer 125 are fixed with one or more additive elements selected from Si, Zn, Mg, Ge, Ca, Ga and Li in addition to Cu. In this embodiment, Mg is used as the additive element.
Here, in this embodiment, the Cu amount in the first Cu layer 124 and the second Cu layer 125 is set to 0.08 mg / cm 2 or more and 2.7 mg / cm 2 or less. The amount of Mg is set to 0.01 mg / cm 2 or more and 10 mg / cm 2 or less.

(セラミックス基板積層工程S102)
次に、図12に示すように、金属板122をセラミックス基板111の一方の面側に積層し、かつ、金属板123をセラミックス基板111の他方の面側に積層する。このとき、図12に示すように、金属板122の第1Cu層124、金属板123の第2Cu層125が形成された面がセラミックス基板111を向くように、金属板122、123を積層する。すなわち、金属板122、123とセラミックス基板111との間にそれぞれ第1Cu層124、第2Cu層125を介在させているのである。
(Ceramic substrate lamination step S102)
Next, as shown in FIG. 12, the metal plate 122 is laminated on one surface side of the ceramic substrate 111, and the metal plate 123 is laminated on the other surface side of the ceramic substrate 111. At this time, as shown in FIG. 12, the metal plates 122 and 123 are laminated so that the surface of the metal plate 122 on which the first Cu layer 124 and the second Cu layer 125 of the metal plate 123 are formed faces the ceramic substrate 111. That is, the first Cu layer 124 and the second Cu layer 125 are interposed between the metal plates 122 and 123 and the ceramic substrate 111, respectively.

(セラミックス基板加熱工程S103)
次に、金属板122、セラミックス基板111、金属板123を積層方向に加圧(圧力1〜35kgf/cm)した状態で、真空加熱炉内に装入して加熱し、金属板122、123とセラミックス基板111との界面にそれぞれ第一溶融金属領域、第二溶融金属領域を形成する。このとき、第1Cu層124、第2Cu層125のCu及びMgが金属板122、123に向けて拡散し、金属板122、123の第1Cu層124、第2Cu層125近傍のCu濃度及びMg濃度が上昇して融点が低くなることにより、第一溶融金属領域、第二溶融金属領域が形成される。
ここで、本実施形態では、真空加熱炉内の圧力は10−6Pa以上10−3Pa以下の範囲内に、加熱温度は600℃以上650℃以下の範囲内に設定している。
(Ceramic substrate heating step S103)
Next, in a state where the metal plate 122, the ceramic substrate 111, and the metal plate 123 are pressurized in the stacking direction (pressure 1 to 35 kgf / cm 2 ), the metal plate 122, 123 is loaded into the vacuum heating furnace and heated. A first molten metal region and a second molten metal region are formed at the interface between the ceramic substrate 111 and the ceramic substrate 111, respectively. At this time, Cu and Mg in the first Cu layer 124 and the second Cu layer 125 diffuse toward the metal plates 122 and 123, and the Cu concentration and Mg concentration in the vicinity of the first Cu layer 124 and the second Cu layer 125 in the metal plates 122 and 123. As the temperature rises and the melting point decreases, the first molten metal region and the second molten metal region are formed.
Here, in this embodiment, the pressure in the vacuum heating furnace is set in the range of 10 −6 Pa to 10 −3 Pa, and the heating temperature is set in the range of 600 ° C. to 650 ° C.

(第一溶融金属及び第二溶融金属凝固工程S104)
次に、第一溶融金属領域、第二溶融金属領域が形成された状態で温度を一定に保持しておく。すると、第一溶融金属領域、第二溶融金属領域中のCu及びMgが、さらに金属板122、123側へと拡散していくことになる。これにより、第一溶融金属領域、第二溶融金属領域であった部分のCu濃度及びMg濃度が徐々に低下していき融点が上昇することになり、温度を一定に保持した状態で凝固が進行していく。これにより、セラミックス基板111と金属板122、123とが接合され、パワーモジュール用基板110が製出されることになる。
(First molten metal and second molten metal solidification step S104)
Next, the temperature is kept constant with the first molten metal region and the second molten metal region formed. Then, Cu and Mg in the first molten metal region and the second molten metal region further diffuse toward the metal plates 122 and 123 side. As a result, the Cu concentration and the Mg concentration in the first molten metal region and the second molten metal region are gradually decreased and the melting point is increased, and solidification proceeds while the temperature is kept constant. I will do it. Thereby, the ceramic substrate 111 and the metal plates 122 and 123 are joined, and the power module substrate 110 is produced.

(Ag層形成工程S105)
次に、金属層113の他方の面に、スパッタリングによってAg及びMgを固着してAg層126を形成する。ここで、本実施形態では、Ag層126におけるAg量は、0.08mg/cm以上5.4mg/cm以下に設定され、Mg量は、0.01mg/cm以上10mg/cm以下に設定されている。
(Ag layer forming step S105)
Next, Ag and Mg are fixed to the other surface of the metal layer 113 by sputtering to form an Ag layer 126. Here, in the present embodiment, Ag amount in the Ag layer 126 is set below 0.08 mg / cm 2 or more 5.4 mg / cm 2, Mg amount is 0.01 mg / cm 2 or more 10 mg / cm 2 or less Is set to

(ヒートシンク積層工程S106)
次に、図13に示すように、パワーモジュール用基板110の金属層113の他方の面側に、ヒートシンク140を構成する天板部141、コルゲートフィン146、底板部145を積層する。このとき、天板部141の接合層141B及び底板部145の接合層145Bがコルゲートフィン146側を向くように、天板部141及び底板部145を積層する。また、天板部141とコルゲートフィン146、底板部145とコルゲートフィン146との間には、例えば、KAlFを主成分とするフラックス(図示なし)を介在させておく。
また、金属板123のAg層126が形成された面が、ヒートシンク140の天板部141を向くように配置し、金属板123とヒートシンク140との間にAg層126を介在させる。
(Heat sink lamination step S106)
Next, as shown in FIG. 13, the top plate portion 141, the corrugated fins 146, and the bottom plate portion 145 constituting the heat sink 140 are laminated on the other surface side of the metal layer 113 of the power module substrate 110. At this time, the top plate portion 141 and the bottom plate portion 145 are laminated so that the bonding layer 141B of the top plate portion 141 and the bonding layer 145B of the bottom plate portion 145 face the corrugated fin 146 side. Further, a flux (not shown) mainly composed of KAlF 4 is interposed between the top plate portion 141 and the corrugated fins 146, and the bottom plate portion 145 and the corrugated fins 146, for example.
Further, the surface of the metal plate 123 on which the Ag layer 126 is formed is disposed so as to face the top plate portion 141 of the heat sink 140, and the Ag layer 126 is interposed between the metal plate 123 and the heat sink 140.

(ヒートシンク加熱工程S107)
次に、積層されたパワーモジュール用基板110、天板部141、コルゲートフィン146及び底板部145を積層方向に加圧(圧力1〜35kgf/cm)した状態で、雰囲気加熱炉内に装入して加熱し、金属板123とヒートシンク140の天板部141との間に溶融金属領域を形成する。このとき、Ag層126のAg及びMgが金属板123及び天板部141に向けて拡散し、Ag層126近傍のAg濃度及びMg濃度が上昇して融点が低くなることにより、溶融金属領域が形成される。
また、同時に、天板部141とコルゲートフィン146、底板部145とコルゲートフィン146との間にも、接合層141B、145Bを溶融させた溶融金属層を形成する。
ここで、本実施形態では、雰囲気加熱炉内は、窒素ガス雰囲気とされており、加熱温度は550℃以上630℃以下の範囲内に設定している。
(Heat sink heating step S107)
Next, the laminated power module substrate 110, the top plate portion 141, the corrugated fins 146, and the bottom plate portion 145 are charged in the laminating direction (pressure 1 to 35 kgf / cm 2 ) and charged into the atmosphere heating furnace. Then, a molten metal region is formed between the metal plate 123 and the top plate portion 141 of the heat sink 140. At this time, Ag and Mg in the Ag layer 126 diffuse toward the metal plate 123 and the top plate portion 141, and the Ag concentration and Mg concentration in the vicinity of the Ag layer 126 are increased to lower the melting point, so that the molten metal region is reduced. It is formed.
At the same time, a molten metal layer obtained by melting the bonding layers 141B and 145B is also formed between the top plate portion 141 and the corrugated fins 146 and between the bottom plate portion 145 and the corrugated fins 146.
Here, in this embodiment, the inside of the atmosphere heating furnace is a nitrogen gas atmosphere, and the heating temperature is set in a range of 550 ° C. or more and 630 ° C. or less.

(溶融金属凝固工程S108)
次に、溶融金属領域が形成された状態で温度を一定に保持しておく。すると、溶融金属領域中のAg及びMgが、さらに金属板123側及びヒートシンク140の天板部141側へと拡散していくことになる。これにより、溶融金属領域であった部分のAg濃度及びMg濃度が徐々に低下していき融点が上昇することになり、温度を一定に保持した状態で凝固が進行していくことになる。つまり、ヒートシンク140の天板部141と金属板223とは、いわゆる拡散接合(Transient Liquid Phase Diffusion Bonding)によって接合されているのである。
(Molten metal solidification step S108)
Next, the temperature is kept constant with the molten metal region formed. Then, Ag and Mg in the molten metal region are further diffused to the metal plate 123 side and the top plate portion 141 side of the heat sink 140. As a result, the Ag concentration and Mg concentration of the portion that was the molten metal region gradually decrease and the melting point increases, and solidification proceeds while the temperature is kept constant. That is, the top plate part 141 and the metal plate 223 of the heat sink 140 are joined by so-called diffusion bonding (Transient Liquid Phase Diffusion Bonding).

また、天板部141とコルゲートフィン146、底板部145とコルゲートフィン146の間に形成された溶融金属層が凝固することによって、天板部141とコルゲートフィン146、底板部145とコルゲートフィン146とがろう付けされることになる。このとき、天板部141、コルゲートフィン146、底板部145の表面には、酸化被膜が形成されているが、前述のフラックスによってこれらの酸化被膜が除去される。   Further, the molten metal layer formed between the top plate portion 141 and the corrugated fins 146, and the bottom plate portion 145 and the corrugated fins 146 is solidified, so that the top plate portion 141 and the corrugated fins 146, and the bottom plate portion 145 and the corrugated fins 146 Will be brazed. At this time, oxide films are formed on the surfaces of the top plate part 141, the corrugated fins 146, and the bottom plate part 145, but these oxide films are removed by the above-described flux.

このようにして、天板部141とコルゲートフィン146と底板部145とがろう付けされてヒートシンク140が形成されるとともに、このヒートシンク140とパワーモジュール用基板110とが接合されて本実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板が製造される。   In this manner, the top plate portion 141, the corrugated fins 146, and the bottom plate portion 145 are brazed to form the heat sink 140, and the heat sink 140 and the power module substrate 110 are joined to form the present embodiment. A power module substrate with a heat sink is manufactured.

以上のような構成とされた本実施形態においては、回路層112及び金属層113に、Cuに加えて、Si,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上の添加元素としてMgが固溶されている。Mgは、アルミニウムの融点を低下させるものであることから、比較的低温の条件下で、金属板122、123とセラミックス基板111とを接合することができる。   In the present embodiment configured as described above, the circuit layer 112 and the metal layer 113 are either one or two selected from Si, Zn, Mg, Ge, Ca, Ga and Li in addition to Cu. Mg is dissolved as the above additive element. Since Mg lowers the melting point of aluminum, the metal plates 122 and 123 and the ceramic substrate 111 can be joined under relatively low temperature conditions.

また、金属層123及びヒートシンク140の天板部141には、Agに加えて、Si,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上の添加元素としてMgが固溶されている。Mgは、Cuよりもアルミニウムの強度を向上させる効果が小さいものであることから、ヒートシンク140と金属層113との接合強度が必要以上に高くならない。よって、冷熱サイクルを負荷した場合であっても、回路層112及び金属層113とセラミックス基板111との接合界面に大きなせん断力が作用することが抑制され、セラミックス基板111の割れを防止することができる。   In addition to Ag, Mg is added to the metal layer 123 and the top plate portion 141 of the heat sink 140 as one or more additive elements selected from Si, Zn, Mg, Ge, Ca, Ga, and Li. It is dissolved. Since Mg is less effective in improving the strength of aluminum than Cu, the bonding strength between the heat sink 140 and the metal layer 113 does not become higher than necessary. Therefore, even when a cooling cycle is applied, it is possible to prevent a large shearing force from acting on the bonding interface between the circuit layer 112 and the metal layer 113 and the ceramic substrate 111, and to prevent the ceramic substrate 111 from cracking. it can.

また、ヒートシンク140を、フラックスを用いたろう付けによって形成する場合、窒素ガス雰囲気で550℃以上630℃以下の温度条件で接合することになるが、本実施形態では、ヒートシンク140とパワーモジュール用基板110との接合に、Ag及びMgの拡散接合を利用しているので、前述のように、低温条件での接合及び窒素ガス雰囲気での接合が可能となる。よって、ヒートシンク140とパワーモジュール用基板110との接合と同時に、天板部141とコルゲートフィン146と底板部145とを、ろう付けによって接合してヒートシンク140を製出することができる。これにより、製造工程を省略することができ、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製作コストの削減を図ることができる。   When the heat sink 140 is formed by brazing using a flux, the heat sink 140 is bonded in a nitrogen gas atmosphere at a temperature of 550 ° C. or higher and 630 ° C. or lower. In this embodiment, the heat sink 140 and the power module substrate 110 are bonded. Since the diffusion bonding of Ag and Mg is used for the bonding, the bonding under the low temperature condition and the bonding in the nitrogen gas atmosphere are possible as described above. Therefore, simultaneously with joining of the heat sink 140 and the power module substrate 110, the top plate portion 141, the corrugated fins 146, and the bottom plate portion 145 can be joined by brazing to produce the heat sink 140. As a result, the manufacturing process can be omitted, and the production cost of the power module substrate with a heat sink can be reduced.

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されることはなく、その発明の技術的思想を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
例えば、回路層及び金属層を構成する金属板を純度99.99%の純アルミニウムの圧延板としたものとして説明したが、これに限定されることはなく、純度99%のアルミニウム(2Nアルミニウム)であってもよい。
また、セラミックス基板をAlN、Alで構成されたものとして説明したが、これに限定されることはなく、Si等の他のセラミックスで構成されていてもよい。
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to this, It can change suitably in the range which does not deviate from the technical idea of the invention.
For example, the metal plate constituting the circuit layer and the metal layer has been described as a rolled plate of pure aluminum having a purity of 99.99%, but is not limited to this, and aluminum having a purity of 99% (2N aluminum) It may be.
Further, the ceramic substrate AlN, has been described as being composed of Al 2 O 3, it is not limited thereto, but may be composed of other ceramics such Si 3 N 4.

さらに、第2の実施形態においては、Cu固着工程で、CuとともにMgを固着させるものとして説明したが、これに限定されることはない。添加元素として、Si,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上を用いても良い。
同様に、Ag層形成工程で、AgとともにMgを固着させるものとして説明したが、これに限定されることはない。添加元素として、Si,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上を用いても良い。
Furthermore, in 2nd Embodiment, although it demonstrated as what fixes Mg together with Cu at the Cu adhering process, it is not limited to this. As the additive element, one or more selected from Si, Zn, Mg, Ge, Ca, Ga, and Li may be used.
Similarly, in the Ag layer forming step, Mg is fixed together with Ag, but the present invention is not limited to this. As the additive element, one or more selected from Si, Zn, Mg, Ge, Ca, Ga, and Li may be used.

さらに、Ag層形成工程において、金属層となる金属板の他面にAgを固着させる構成としたものとして説明したが、これに限定されることはなく、ヒートシンクの接合面にAgを固着させてもよいし、ヒートシンクの接合面及び金属板の他面に、それぞれAgを固着させてもよい。
また、Ag層形成工程では、ペーストの塗布、スパッタによってAgを固着するものとして説明したが、これに限定されることはなく、めっき、蒸着、CVD、コールドスプレー、又は、粉末が分散しているインクなどの塗布等でAgを固着させてもよい。
さらに、Ag層形成工程において、AgとともにAlを固着する構成としてもよい。
Furthermore, in the Ag layer forming step, it has been described that the Ag is fixed to the other surface of the metal plate to be the metal layer. However, the present invention is not limited to this, and Ag is fixed to the bonding surface of the heat sink. Alternatively, Ag may be fixed to the joining surface of the heat sink and the other surface of the metal plate, respectively.
Further, in the Ag layer forming step, it has been described that the Ag is fixed by applying a paste or sputtering, but the present invention is not limited to this, and plating, vapor deposition, CVD, cold spray, or powder is dispersed. Ag may be fixed by application of ink or the like.
Furthermore, it is good also as a structure which fixes Al together with Ag in an Ag layer formation process.

また、Cu固着工程において、金属板にCuを固着させる構成としたものとして説明したが、これに限定されることはなく、セラミックス基板の接合面にCuを固着させてもよいし、セラミックス基板の接合面及び金属板の接合面に、それぞれCuを固着させてもよい。
また、Cu固着工程では、スパッタによってCuを固着するものとして説明したが、これに限定されることはなく、めっき、蒸着、CVD、コールドスプレー、又は、粉末が分散しているペースト又はインクなどの塗布等でCuを固着させてもよい。
さらに、Cu固着工程において、CuとともにAlを固着する構成としてもよい。
Moreover, although it demonstrated as what was set as the structure which fixes Cu to a metal plate in Cu fixation process, it is not limited to this, Cu may be fixed to the joint surface of a ceramic substrate, Cu may be fixed to the joining surface and the joining surface of the metal plate, respectively.
Further, in the Cu fixing process, it has been described that Cu is fixed by sputtering. However, the present invention is not limited to this, such as plating, vapor deposition, CVD, cold spray, or paste or ink in which powder is dispersed. Cu may be fixed by coating or the like.
Furthermore, in the Cu fixing step, Al may be fixed together with Cu.

また、本実施形態では、ヒートシンクの上に一つのパワーモジュール用基板が接合された構成として説明したが、これに限定されることはなく、一つのヒートシンクの上に複数のパワーモジュール用基板が接合されていてもよい。
また、ヒートシンクと金属層との接合を、真空加熱炉を用いて行うものとして説明したが、これに限定されることはなく、N雰囲気、Ar雰囲気及びHe雰囲気等でヒートシンクと金属層との接合を行ってもよい。
In the present embodiment, the power module substrate is described as being bonded to the heat sink. However, the present invention is not limited to this, and a plurality of power module substrates are bonded to the heat sink. May be.
Further, the bonding between the heat sink and the metal layer has been described as being carried out using a vacuum heating furnace is not limited thereto, N 2 atmosphere, the heat sink and the metal layer in Ar atmosphere and He atmosphere or the like Joining may be performed.

また、第2の実施形態において、天板部及び底板部が、基材層と接合層とを備えた積層アルミ材で構成されたものとして説明したが、これに限定されることはなく、コルゲートフィンを、例えばA3003からなる芯材とこの芯材の両面にA4045からなる接合層とを備えたクラッド材で構成してもよい。この場合、天板部及び底板部は、単純なアルミニウム板を用いることができる。   Further, in the second embodiment, the top plate portion and the bottom plate portion have been described as being made of a laminated aluminum material provided with a base material layer and a bonding layer. You may comprise a fin with the clad material provided with the core material which consists of A3003, for example, and the joining layer which consists of A4045 on both surfaces of this core material. In this case, a simple aluminum plate can be used for the top plate portion and the bottom plate portion.

また、天板部、コルゲートフィン、底板部の材質は、本実施形態に限定されることはない。
さらに、コルゲートフィンの形状等を含め、ヒートシンクの構造も本実施形態に限定されるものではない。
Moreover, the material of a top plate part, a corrugated fin, and a bottom plate part is not limited to this embodiment.
Further, the structure of the heat sink including the shape of the corrugated fins is not limited to this embodiment.

さらに、図14に示すように、第二の金属板213を、複数の金属板213A、213Bを積層した構造としてもよい。この場合、第二の金属板213のうち一方側(図14において上側)に位置する金属板213Aがセラミックス基板211に接合され、他方側(図14において下側)に位置する金属板213Bがヒートシンク240の天板部241に接合されることになる。なお、図14では、2枚の金属板213A、213Bを積層させたものとしているが、積層する枚数に制限はない。また、図14に示すように、積層する金属板同士の大きさ、形状が異なっていても良いし、同じ大きさ、形状に調整されたものであってもよい。さらに、これらの金属板の組成が異なっていても良い。   Furthermore, as shown in FIG. 14, the second metal plate 213 may have a structure in which a plurality of metal plates 213A and 213B are stacked. In this case, the metal plate 213A located on one side (the upper side in FIG. 14) of the second metal plate 213 is joined to the ceramic substrate 211, and the metal plate 213B located on the other side (the lower side in FIG. 14) is the heat sink. It will be joined to 240 top plate parts 241. In FIG. 14, two metal plates 213A and 213B are stacked, but the number of stacked plates is not limited. Moreover, as shown in FIG. 14, the metal plates to be stacked may have different sizes and shapes, or may be adjusted to the same size and shape. Furthermore, the composition of these metal plates may be different.

本発明の有効性を確認するために行った比較実験について説明する。
50mm×50mm×0.635mmのAlNからなるセラミックス基板、あるいは、50mm×50mm×0.32mmのAlからなるセラミックス基板に、47mm×47mm×0.6mmの4Nアルミニウムからなる回路層と、47mm×47mm×0.6mmの4Nアルミニウム板及び50mm×50mm×0.9mmの4Nアルミニウム板を積層した金属層とを接合し、パワーモジュール用基板を作製した。
また、ヒートシンクとして60mm×70mm×5mmのアルミニウム板を準備し、ヒートシンクとパワーモジュール用基板とを接合した。
A comparative experiment conducted to confirm the effectiveness of the present invention will be described.
On a ceramic substrate made of 50 mm × 50 mm × 0.635 mm AlN or a ceramic substrate made of 50 mm × 50 mm × 0.32 mm Al 2 O 3 , a circuit layer made of 4N aluminum of 47 mm × 47 mm × 0.6 mm; A 47 mm × 47 mm × 0.6 mm 4N aluminum plate and a metal layer obtained by stacking 50 mm × 50 mm × 0.9 mm 4N aluminum plate were joined together to produce a power module substrate.
Also, a 60 mm × 70 mm × 5 mm aluminum plate was prepared as a heat sink, and the heat sink and the power module substrate were joined.

ここで、回路層及び金属層となる金属板(4Nアルミニウム)の接合面に、表1、2に示す元素を固着して、金属板とセラミックス基板とを積層して加圧加熱(温度:650℃、圧力:12kgf/cm、時間:90分)し、金属板とセラミックス基板とを接合した。
また、ヒートシンクの接合面に、表1に示す元素を固着して、パワーモジュール用基板とヒートシンクとを積層して加圧加熱(温度:610℃、圧力:12kgf/cm、時間:90分)し、パワーモジュール用基板とヒートシンクとを接合した。
Here, the elements shown in Tables 1 and 2 are fixed to the joint surface of the metal plate (4N aluminum) to be the circuit layer and the metal layer, the metal plate and the ceramic substrate are laminated, and pressure heating (temperature: 650). C., pressure: 12 kgf / cm 2 , time: 90 minutes), and the metal plate and the ceramic substrate were joined.
Also, the elements shown in Table 1 are fixed to the joint surface of the heat sink, the power module substrate and the heat sink are laminated, and heated under pressure (temperature: 610 ° C., pressure: 12 kgf / cm 2 , time: 90 minutes). Then, the power module substrate and the heat sink were joined.

このようにして得られたヒートシンク付パワーモジュール用基板に、冷熱サイクル(−45℃〜200℃)を2000回繰り返した後、セラミックス基板の割れを評価した。なお、セラミックス基板の割れは、目視及び顕微鏡観察により、セラミックスにおける亀裂の有無で評価した。評価結果を表1、2に示す。   The thus-obtained power module substrate with a heat sink was subjected to 2000 cycles of cooling and heating (-45 ° C. to 200 ° C.) and then evaluated for cracks in the ceramic substrate. In addition, the crack of the ceramic substrate was evaluated by the presence or absence of the crack in ceramics by visual observation and microscopic observation. The evaluation results are shown in Tables 1 and 2.

Figure 2012160641
Figure 2012160641

Figure 2012160641
Figure 2012160641

回路層及び金属層とセラミックス基板とをCuの拡散接合によって接合し、金属層とヒートシンクとをCuの拡散接合によって接合した場合には、セラミックス基板の割れが観察された。これは、ヒートシンクと金属層とが必要以上に強固に固定されているので、冷熱サイクルによってセラミックス基板と回路層及び金属層との接合界面に大きなせん断応力が作用したためと推測される。
これに対して、回路層及び金属層とセラミックス基板とをCuの拡散接合によって接合し、金属層とヒートシンクとをAgの拡散接合によって接合した場合には、セラミックス基板の割れが抑制されることが確認された。
When the circuit layer and the metal layer were joined to the ceramic substrate by Cu diffusion bonding, and the metal layer and the heat sink were joined by Cu diffusion bonding, cracks in the ceramic substrate were observed. This is presumably because the heat sink and the metal layer were firmly fixed more than necessary, and a large shear stress was applied to the bonding interface between the ceramic substrate, the circuit layer, and the metal layer due to the thermal cycle.
On the other hand, when the circuit layer and the metal layer are bonded to the ceramic substrate by Cu diffusion bonding, and the metal layer and the heat sink are bonded to each other by Ag diffusion bonding, cracking of the ceramic substrate may be suppressed. confirmed.

10、110、210 パワーモジュール用基板
11、111、211 セラミックス基板
12、112、212 回路層(第一の金属板)
13、113、213 金属層(第二の金属板)
40、140、240 ヒートシンク
24、124 第1Cu層
25、125 第2Cu層
26、126 Ag層
27 第一溶融金属領域
28 第二溶融金属領域
29 溶融金属領域
10, 110, 210 Power module substrate 11, 111, 211 Ceramic substrate 12, 112, 212 Circuit layer (first metal plate)
13, 113, 213 Metal layer (second metal plate)
40, 140, 240 Heat sink 24, 124 First Cu layer 25, 125 Second Cu layer 26, 126 Ag layer 27 First molten metal region 28 Second molten metal region 29 Molten metal region

Claims (15)

セラミックス基板と、
前記セラミックス基板の表面に一面が接合されたアルミニウムからなる第一の金属板と、
前記セラミックス基板の裏面に一面が接合されたアルミニウムからなる第二の金属板と、
該第二の金属板の前記セラミックス基板と接合された前記一面と反対側の他面に接合されたアルミニウム又はアルミニウム合金からなるヒートシンクとを備え、
前記第一の金属板及び前記第二の金属板のうち前記セラミックス基板との接合界面近傍には、Cuが固溶されており、
前記第二の金属板及び前記ヒートシンクの接合界面近傍には、Agが固溶されていることを特徴とするヒートシンク付パワーモジュール用基板。
A ceramic substrate;
A first metal plate made of aluminum with one surface bonded to the surface of the ceramic substrate;
A second metal plate made of aluminum with one surface bonded to the back surface of the ceramic substrate;
A heat sink made of aluminum or aluminum alloy joined to the other surface opposite to the one surface joined to the ceramic substrate of the second metal plate,
Cu is dissolved in the vicinity of the bonding interface with the ceramic substrate among the first metal plate and the second metal plate,
A power module substrate with a heat sink, wherein Ag is dissolved in the vicinity of a bonding interface between the second metal plate and the heat sink.
前記第一の金属板及び前記第二の金属板のうち前記セラミックス基板との接合界面近傍におけるCu濃度が0.05質量%以上5質量%以下の範囲内に設定されていることを特徴とする請求項1に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。   Of the first metal plate and the second metal plate, a Cu concentration in the vicinity of a bonding interface with the ceramic substrate is set in a range of 0.05 mass% or more and 5 mass% or less. The power module substrate with a heat sink according to claim 1. 前記第二の金属板及び前記ヒートシンクの接合界面近傍におけるAg濃度が0.05質量%以上10質量%以下の範囲内に設定されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。   The Ag concentration in the vicinity of the bonding interface between the second metal plate and the heat sink is set in a range of 0.05% by mass or more and 10% by mass or less. Power module substrate with heat sink. 前記第二の金属板及び前記ヒートシンクには、Agに加えて、Si,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上の添加元素が固溶されていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。   In addition to Ag, one or more additive elements selected from Si, Zn, Mg, Ge, Ca, Ga, and Li are dissolved in the second metal plate and the heat sink. The power module substrate with a heat sink according to any one of claims 1 to 3, wherein: 前記第一の金属板及び前記第二の金属板には、Cuに加えて、Si,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上の添加元素が固溶されていることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。   In the first metal plate and the second metal plate, in addition to Cu, one or more additive elements selected from Si, Zn, Mg, Ge, Ca, Ga and Li are dissolved. The power module substrate with a heat sink according to any one of claims 1 to 4, wherein the power module substrate has a heat sink. 前記第二の金属板が、複数の金属板が積層されて構成されていることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。   The power module substrate with a heat sink according to any one of claims 1 to 5, wherein the second metal plate is configured by laminating a plurality of metal plates. 請求項1から請求項6のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板と、
該ヒートシンク付パワーモジュール用基板上に搭載される電子部品と、を備えたことを特徴とするパワーモジュール。
A power module substrate with a heat sink according to any one of claims 1 to 6,
And an electronic component mounted on the power module substrate with a heat sink.
セラミックス基板と、前記セラミックス基板の表面に一面が接合されたアルミニウムからなる第一の金属板と、前記セラミックス基板の裏面に一面が接合されたアルミニウムからなる第二の金属板と、該第二の金属板の前記セラミックス基板と接合された前記一面と反対側の他面に接合されたアルミニウム又はアルミニウム合金からなるヒートシンクとを備えるヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法であって、
前記セラミックス基板と前記第一の金属板、及び、前記セラミックス基板と前記第二の金属板とを接合するセラミックス基板接合工程と、
前記第二の金属板の他面に前記ヒートシンクを接合するヒートシンク接合工程と、を有し、
前記セラミックス基板接合工程は、
前記セラミックス基板と前記第一の金属板との接合界面における前記セラミックス基板の接合面と前記第一の金属板の接合面のうちの少なくとも一方にCuを固着して第1Cu層を形成するとともに、前記セラミックス基板と前記第二の金属板との接合界面における前記セラミックス基板の接合面と前記第二の金属板の接合面のうちの少なくとも一方にCuを固着して第2Cu層を形成するCu固着工程と、
前記第1Cu層を介して前記セラミックス基板と前記第一の金属板とを積層するとともに、前記第2Cu層を介して前記セラミックス基板と前記第二の金属板とを積層するセラミックス基板積層工程と、
積層された前記第一の金属板と前記セラミックス基板と前記第二の金属板とを積層方向に加圧するとともに加熱し、前記第一の金属板と前記セラミックス基板との界面及び前記セラミックス基板と前記第二の金属板との界面に、第一溶融金属領域及び第二溶融金属領域を形成するセラミックス基板加熱工程と、
この第一溶融金属領域及び第二溶融金属領域を凝固させることによって、前記第一の金属板と前記セラミックス基板及び前記セラミックス基板と前記第二の金属板とを接合する第一溶融金属及び第二溶融金属凝固工程と、を有し、
前記ヒートシンク接合工程は、
前記第二の金属板の他面と前記ヒートシンクの接合面のうち少なくとも一方にAgを固着してAg層を形成するAg層形成工程と、
前記Ag層を介して前記第二の金属板と前記ヒートシンクとを積層するヒートシンク積層工程と、
積層された前記第二の金属板と前記ヒートシンクとを積層方向に加圧するとともに加熱し、前記第二の金属板と前記ヒートシンクとの界面に溶融金属領域を形成するヒートシンク加熱工程と、
この溶融金属領域を凝固させることによって、前記第二の金属板と前記ヒートシンクとを接合する溶融金属凝固工程と、を有することを特徴とするヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法。
A ceramic substrate; a first metal plate made of aluminum with one surface bonded to the surface of the ceramic substrate; a second metal plate made of aluminum with one surface bonded to the back surface of the ceramic substrate; A method of manufacturing a power module substrate with a heat sink, comprising: a heat sink made of aluminum or aluminum alloy joined to the other surface opposite to the one surface joined to the ceramic substrate of a metal plate,
A ceramic substrate bonding step of bonding the ceramic substrate and the first metal plate, and the ceramic substrate and the second metal plate;
A heat sink joining step for joining the heat sink to the other surface of the second metal plate,
The ceramic substrate bonding step includes
While fixing Cu to at least one of the bonding surface of the ceramic substrate and the bonding surface of the first metal plate at the bonding interface between the ceramic substrate and the first metal plate, and forming a first Cu layer, Cu fixing that forms a second Cu layer by fixing Cu to at least one of a bonding surface of the ceramic substrate and a bonding surface of the second metal plate at a bonding interface between the ceramic substrate and the second metal plate. Process,
A ceramic substrate laminating step of laminating the ceramic substrate and the first metal plate via the first Cu layer, and laminating the ceramic substrate and the second metal plate via the second Cu layer;
The first metal plate, the ceramic substrate, and the second metal plate that are stacked are pressed and heated in the stacking direction, and the interface between the first metal plate and the ceramic substrate, the ceramic substrate, and the A ceramic substrate heating step for forming a first molten metal region and a second molten metal region at an interface with the second metal plate;
By solidifying the first molten metal region and the second molten metal region, the first molten metal and the second metal plate joining the first metal plate and the ceramic substrate and the ceramic substrate and the second metal plate. A molten metal solidification process,
The heat sink joining step includes
An Ag layer forming step of forming an Ag layer by fixing Ag to at least one of the other surface of the second metal plate and the bonding surface of the heat sink;
A heat sink laminating step of laminating the second metal plate and the heat sink via the Ag layer;
Heating and heating the laminated second metal plate and the heat sink in the laminating direction and forming a molten metal region at the interface between the second metal plate and the heat sink,
A method for producing a substrate for a power module with a heat sink, comprising: a molten metal solidification step for joining the second metal plate and the heat sink by solidifying the molten metal region.
前記Ag層形成工程において、Agに加えて、Si,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上の添加元素を固着することを特徴とする請求項8に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法。   9. In the Ag layer forming step, in addition to Ag, one or more additive elements selected from Si, Zn, Mg, Ge, Ca, Ga and Li are fixed. The manufacturing method of the board | substrate for power modules with a heat sink of description. 前記Cu固着工程において、Cuに加えて、Si,Zn,Mg,Ge,Ca,Ga及びLiから選択される1種又は2種以上の添加元素を固着することを特徴とする請求項8又は請求項9に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法。   9. The Cu fixing step, wherein one or more additive elements selected from Si, Zn, Mg, Ge, Ca, Ga and Li are fixed in addition to Cu. Item 10. A method for manufacturing a power module substrate with a heat sink according to Item 9. 前記セラミックス基板接合工程と、前記ヒートシンク接合工程と、を同時に行うことを特徴とする請求項8から請求項10のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法。   The method for manufacturing a power module substrate with a heat sink according to any one of claims 8 to 10, wherein the ceramic substrate bonding step and the heat sink bonding step are performed simultaneously. 前記Ag層形成工程では、AgとともにAlを固着させることを特徴とする請求項8から請求項11のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法。   The method for producing a power module substrate with a heat sink according to any one of claims 8 to 11, wherein in the Ag layer forming step, Al is fixed together with Ag. 前記Cu固着工程においては、CuとともにAlを固着させることを特徴とする請求項8から請求項12のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法。   The method for manufacturing a power module substrate with a heat sink according to any one of claims 8 to 12, wherein in the Cu fixing step, Al is fixed together with Cu. 前記Ag層形成工程は、めっき、蒸着、CVD、スパッタリング、コールドスプレー、又は、粉末が分散しているペースト及びインクなどの塗布によってAgを固着させることを特徴とする請求項8から請求項13のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法。   The Ag layer forming step fixes Ag by plating, vapor deposition, CVD, sputtering, cold spray, or application of paste or ink in which powder is dispersed. The manufacturing method of the board | substrate for power modules with a heat sink as described in any one of Claims. 前記Cu固着工程は、めっき、蒸着、CVD、スパッタリング、コールドスプレー、又は、粉末が分散しているペースト及びインクなどの塗布によってCuを固着させることを特徴とする請求項8から請求項14のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法。   The Cu fixing step fixes Cu by plating, vapor deposition, CVD, sputtering, cold spray, or application of paste or ink in which powder is dispersed. A method for manufacturing a power module substrate with a heat sink according to claim 1.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016031770A1 (en) * 2014-08-26 2016-03-03 三菱マテリアル株式会社 Joined body, substrate for power module provided with heat sink, heat sink, method for manufacturing joined body, method for manufacturing substrate for power module provided with heat sink, and method for manufacturing heat sink

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08141752A (en) * 1994-11-18 1996-06-04 Hino Motors Ltd Metallic member joining method
JPH1190649A (en) * 1997-07-22 1999-04-06 United Technol Corp <Utc> Method for joining metallic members together
JP2004158659A (en) * 2002-11-07 2004-06-03 Denki Kagaku Kogyo Kk Module structure and module employing same
WO2009148168A1 (en) * 2008-06-06 2009-12-10 三菱マテリアル株式会社 Substrate for power module, power module, and method for producing substrate for power module
JP2010258420A (en) * 2009-03-31 2010-11-11 Mitsubishi Materials Corp Substrate for power module with heat sink, power module, and method of manufacturing the substrate for power module with heat sink
JP2011109000A (en) * 2009-11-20 2011-06-02 Mitsubishi Materials Corp Method of manufacturing substrate for power module with heat sink

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08141752A (en) * 1994-11-18 1996-06-04 Hino Motors Ltd Metallic member joining method
JPH1190649A (en) * 1997-07-22 1999-04-06 United Technol Corp <Utc> Method for joining metallic members together
JP2004158659A (en) * 2002-11-07 2004-06-03 Denki Kagaku Kogyo Kk Module structure and module employing same
WO2009148168A1 (en) * 2008-06-06 2009-12-10 三菱マテリアル株式会社 Substrate for power module, power module, and method for producing substrate for power module
US20110074010A1 (en) * 2008-06-06 2011-03-31 Mitsubishi Materials Corporation Power module substrate, power module, and method for manufacturing power module substrate
JP2010258420A (en) * 2009-03-31 2010-11-11 Mitsubishi Materials Corp Substrate for power module with heat sink, power module, and method of manufacturing the substrate for power module with heat sink
JP2011109000A (en) * 2009-11-20 2011-06-02 Mitsubishi Materials Corp Method of manufacturing substrate for power module with heat sink

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016031770A1 (en) * 2014-08-26 2016-03-03 三菱マテリアル株式会社 Joined body, substrate for power module provided with heat sink, heat sink, method for manufacturing joined body, method for manufacturing substrate for power module provided with heat sink, and method for manufacturing heat sink
JP2016048782A (en) * 2014-08-26 2016-04-07 三菱マテリアル株式会社 Combination body, power module substrate with heat sink, heat sink, method for manufacturing combination body, method for manufacturing power module substrate with heat sink, and method for manufacturing heat sink
US10283431B2 (en) 2014-08-26 2019-05-07 Mitsubishi Materials Corporation Bonded body, power module substrate with heat sink, heat sink, method of manufacturing bonded body, method of manufacturing power module substrate with heat sink, and method of manufacturing heat sink

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