JP2012134875A - Endoscope device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an endoscope device capable of changing the details of image processing depending on a change in a use environment and minimizing the degradation of measuring accuracy.SOLUTION: In an endoscope device, a signal picked up by an imaging device 8 using objective optical systems 7a and 7b having a parallax is input in a first image processing part 16 and a second image processing part 17 of an image processing part 15 through a video signal processing part 14. Following to an instruction from an image processing part selection part 19 that refers a reference data tabulated in advance in a storage part 20 according to a use environment depending on a detection temperature, the first image processing part 16 performs image processing by one unit of processing details among a plurality of processing details and outputs a pair of measurement images to a measurement part 18. The measurement part 18, then, measures the distance, area, and the like of the object to be inspected using the pair of measurement images and outputs the measurement result to an image display unit 4.

Description

本発明は、挿入部の先端部に搭載した撮像素子を駆動し得られた画像から被検体の計測を行う内視鏡装置に関する。   The present invention relates to an endoscope apparatus that measures a subject from an image obtained by driving an imaging device mounted on a distal end portion of an insertion portion.

被検体に内視鏡の挿入部を挿入し、挿入部の先端部に搭載された撮像素子により被検体内部を撮像する内視鏡装置は、工業用分野においても広く用いられる。このような内視鏡装置では、被検体を撮像し、その撮像画像を画像処理することで、被検体における距離、面積等の計測を行う計測機能を有しているものがある。
このような計測機能を有した内視鏡装置の従来例として、特開平10−248806号公報に開示されているように、例えば、ステレオ計測用に2つの光学系を持ち、その視差を利用するものがある。この従来例は、視差を持つ2つの光学系により生成した2つの画像における対応点をマッチング処理によって検出し、三角測量の原理を用いて、3次元座標位置を検出する。
2. Description of the Related Art Endoscope apparatuses that insert an endoscope insertion portion into a subject and image the inside of the subject with an imaging element mounted at the distal end of the insertion portion are widely used in the industrial field. Some endoscope apparatuses have a measurement function for measuring a distance, an area, and the like in a subject by imaging the subject and performing image processing on the captured image.
As a conventional example of an endoscope apparatus having such a measurement function, as disclosed in JP-A-10-248806, for example, it has two optical systems for stereo measurement and uses the parallax thereof. There is something. In this conventional example, corresponding points in two images generated by two optical systems having parallax are detected by matching processing, and a three-dimensional coordinate position is detected using the principle of triangulation.

また、従来の内視鏡装置では、撮像信号のオリジナルの撮像画像データをそのまま画像表示装置に表示するのではなく、各種画像処理を施して表示することで、モニタに表示される表示画像上の被検体の視認性、再現性を高めている。
例えば、内視鏡の撮像素子として使用されるCCDイメージセンサ(以下CCDと略記)やCMOSイメージセンサは、下記のような問題を有しており、画像処理によって解消又は低減している。
a.画素欠陥が発生しやくすく、画素欠陥が発生した画素部分は、被検体の画像にもよるが、白い輝点や黒点となって表示されてしまう。この場合には、欠陥画素の欠損データを周辺画素のデータから補完する画素欠陥補正処理を行うことによって、画素欠陥を目立たなくしている。
Further, in the conventional endoscope apparatus, the original captured image data of the imaging signal is not displayed on the image display apparatus as it is, but is displayed on the display image displayed on the monitor by performing various image processing and displaying it. The visibility and reproducibility of the subject are improved.
For example, a CCD image sensor (hereinafter abbreviated as CCD) and a CMOS image sensor used as an imaging device for an endoscope have the following problems and are eliminated or reduced by image processing.
a. A pixel defect is easily generated, and a pixel portion where the pixel defect has occurred is displayed as a white bright spot or a black spot depending on the image of the subject. In this case, the pixel defect is made inconspicuous by performing pixel defect correction processing that complements the defect data of the defective pixel from the data of the peripheral pixels.

b.温度変化に敏感で、高温になるほど、固定パターンノイズが増加する(高温になるほど、暗電流が増加し、それに伴いノイズも増長される)。この場合には、黒の撮像画像と被検体の撮像画像との差分により、固定パターンノイズを抽出し、フィルタリングすることで固定パターンノイズを低減・除去する。
また、そのフィルタリング処理の精度を向上させるために、温度と固定パターンノイズの出方の対応データを予め用意し、そのデータに基づき、温度に応じたフィルタリング処理を施す。これにより、固定パターンノイズを低減する。
c.CMOSイメージセンサは、各画素にアンプが用意されているが、そのアンプの特性のばらつきにより、固定パターンノイズが発生してしまう。この場合には、黒の撮像画像と被検体の撮像画像との差分により、固定パターンノイズを抽出し、フィルタリングすることで、固定パターンノイズを低減・除去する。
b. Sensitive to temperature changes, the fixed pattern noise increases as the temperature increases (the dark current increases and the noise increases as the temperature increases). In this case, the fixed pattern noise is extracted and filtered based on the difference between the black captured image and the captured image of the subject, and the fixed pattern noise is reduced / removed.
In addition, in order to improve the accuracy of the filtering process, correspondence data on how to generate the temperature and fixed pattern noise is prepared in advance, and a filtering process corresponding to the temperature is performed based on the data. Thereby, fixed pattern noise is reduced.
c. In the CMOS image sensor, an amplifier is prepared for each pixel, but fixed pattern noise occurs due to variations in the characteristics of the amplifier. In this case, the fixed pattern noise is extracted and filtered based on the difference between the black captured image and the captured image of the subject, thereby reducing / removing the fixed pattern noise.

従来、内視鏡装置の挿入部は非常に細く、は、挿入部先端内部の物理的なスペースが狭い為、撮像素子は小型(低画素)のものが採用されることが多い。
また、撮像素子の画素数が低い為、モニタ上に表示する際、アップスケーリングすることが多い。そうすると、仮に画素欠陥が発生していた場合、欠陥画素も拡大されるため、所定の画質を保つために画素欠陥の補正機能が重要になる。
また、挿入部は内視鏡の使用環境・用途の都合上、非常に長く、かつ細い為、挿入部内部に配置される撮像素子を駆動したり、撮像信号を伝送するための電気的な信号線は長く、細くなる。結果、電気的に不利になり、撮像信号にノイズが重畳され、画像ノイズが 発生しやすくなる。その為、ノイズを低減するためのフィルタリング処理が強く行われる傾向になる。
このように、内視鏡装置において、画素欠陥補正処理、フィルタリング処理は必要不可欠な処理となり、他の一般的なカメラ装置に比べ、その重要度が高い。
2. Description of the Related Art Conventionally, an insertion portion of an endoscope apparatus is very thin, and since a physical space inside the distal end of the insertion portion is narrow, an image sensor is often used with a small size (low pixel).
In addition, since the number of pixels of the image sensor is low, upscaling is often performed when displaying on a monitor. In this case, if a pixel defect has occurred, the defective pixel is also enlarged, so that a pixel defect correction function is important in order to maintain a predetermined image quality.
In addition, because the insertion section is very long and thin for the convenience of the endoscope's usage environment and applications, it is an electrical signal for driving the image sensor placed inside the insertion section and transmitting the imaging signal. The line is long and thin. As a result, it is electrically disadvantageous, noise is superimposed on the image pickup signal, and image noise is likely to occur. Therefore, there is a tendency that filtering processing for reducing noise is strongly performed.
As described above, in the endoscope apparatus, the pixel defect correction process and the filtering process are indispensable processes, and are more important than other general camera apparatuses.

しかしながら、挿入部の先端と被検体との距離、被検体上のキズの大きさ(面積・長さ)などを計測する機能が搭載されている従来例の内視鏡装置においては、上記の画像処理が計測精度を劣化させる主原因に成ることもあった。
従来例の内視鏡装置の計測技術においては、視差画像の対応点をマッチングし、視差を有する画像を用いた三角測量によって3次元座標位置を検出することで、 画像データの幾何学的な歪みを補正できるので、計測精度は高くできるが、被検体を撮像する撮像環境又は使用環境によっては下記のように精度劣化が生じる。
A.画像に固定パターンノイズが重畳されると、輝度分布が実物からずれてしまう為、画像処理後の画像を用いて視差画像のマッチング処理を行うと、それぞれの画像の輝度情報の変化によっては対応点がずれる恐れがあり、計測精度を劣化させる場合がある。
However, in the conventional endoscope apparatus in which the function of measuring the distance between the distal end of the insertion portion and the subject, the size (area / length) of the scratch on the subject, and the like is mounted, Processing may be the main cause of degradation of measurement accuracy.
In the measurement technology of the endoscope apparatus of the conventional example, the corresponding distortion point of the parallax image is matched and the geometric distortion of the image data is detected by detecting the three-dimensional coordinate position by triangulation using the parallax image. However, depending on the imaging environment or imaging environment in which the subject is imaged, accuracy degradation occurs as described below.
A. If fixed pattern noise is superimposed on the image, the luminance distribution will deviate from the actual object, so when matching the parallax image using the image after image processing, depending on the change in the luminance information of each image, the corresponding point There is a risk that the measurement accuracy will deteriorate.

B.一方、ノイズを除去する為に、フィルタリング処理を施すと、本来必要な画像情報もノイズとして除去してしまう可能性もあり、その場合も上記の場合と同様に対応点がずれ、計測精度を劣化させる場合がある。
C.画素欠陥補正処理を施す際、周辺画素のデータから補完するが、周辺画素にノイズ成分が重畳されていると、補正後の輝度分布が実物からずれてしまう可能性があり、上記の場合と同様に、対応点がずれ、計測精度を劣化させる場合がある。
このため、使用環境(又は撮像環境)の変化に応じて画像処理の内容を変更でき、画像を用いた計測精度の劣化を低減できる内視鏡装置が望まれる。
本発明は上述した点に鑑みてなされたもので、使用環境の変化に応じて画像処理の内容を変更でき、計測精度の劣化を低減できる内視鏡装置を提供することを目的とする。
B. On the other hand, if filtering processing is performed to remove noise, there is a possibility that the image information that is originally required may be removed as noise. In this case, the corresponding points are shifted as in the above case, and the measurement accuracy is degraded. There is a case to let you.
C. When performing pixel defect correction processing, it is complemented from the data of surrounding pixels, but if noise components are superimposed on the surrounding pixels, there is a possibility that the corrected luminance distribution may deviate from the real thing. In addition, the corresponding points may be shifted and the measurement accuracy may be degraded.
Therefore, an endoscope apparatus that can change the contents of image processing in accordance with changes in the use environment (or imaging environment) and can reduce deterioration in measurement accuracy using images is desired.
The present invention has been made in view of the above-described points, and an object of the present invention is to provide an endoscope apparatus that can change the contents of image processing in accordance with a change in use environment and can reduce deterioration in measurement accuracy.

本発明の内視鏡装置は、挿入部の先端部に設けられ、被検体の光学像を視差を有する対の対物光学系を用いて撮像する撮像素子と、前記撮像素子にて光電変換された撮像画像の信号を映像信号に変換する映像信号処理部と、前記映像信号処理部で生成された映像信号の画像に対し画像処理を施して、前記対の対物光学系に基づく対の計測用画像を生成する画像処理部と、前記画像処理部で生成された前記対の計測用画像を用いて、被検体に対する計測を行う計測部と、前記画像処理部に対して前記画像処理の処理内容を指示する画像処理選択部と、前記画像処理の処理内容を決める上で基準となる基準データを記憶する記憶部と、を有し、前記基準データは、前記計測部による計測を行う使用環境に応じて、前記画像処理としてノイズを低減するフィルタリング処理及び画素欠陥補正処理の少なくとも一方に対する複数の処理内容中の一つを規定するものであり、前記画像処理選択部は、前記記憶部に記憶された基準データを参照し、前記使用環境に応じて前記画像処理部に対して、前記画像処理の複数の処理内容中の一つを選択指示し、前記画像処理部は、前記画像処理選択部からの選択指示に基づき、前記フィルタリング処理及び前記画素欠陥補正処理の少なくとも一方に対する複数の処理内容中の一つに従った画像処理によって前記計測部が計測に使用する前記対の計測用画像を生成することを特徴とする。   An endoscope apparatus according to the present invention is provided at a distal end portion of an insertion portion, and images an optical image of a subject using a pair of objective optical systems having parallax, and is photoelectrically converted by the imaging device. A video signal processing unit that converts a captured image signal into a video signal, and a pair of measurement images based on the pair of objective optical systems by performing image processing on the image of the video signal generated by the video signal processing unit The image processing unit for generating the image, the measurement unit for measuring the subject using the pair of measurement images generated by the image processing unit, and the processing content of the image processing for the image processing unit An image processing selection unit for instructing, and a storage unit for storing reference data serving as a reference for determining the processing content of the image processing, the reference data corresponding to a use environment in which measurement by the measurement unit is performed And reduce noise as the image processing One of a plurality of processing contents for at least one of filtering processing and pixel defect correction processing, wherein the image processing selection unit refers to reference data stored in the storage unit, and the use environment And instructing the image processing unit to select one of a plurality of processing contents of the image processing, and the image processing unit, based on the selection instruction from the image processing selection unit, The pair of measurement images used for measurement by the measurement unit is generated by image processing according to one of a plurality of processing contents for at least one of the pixel defect correction processing.

本発明によれば、使用環境の変化に応じて画像処理の内容を変更でき、計測精度の劣化を低減できる。   According to the present invention, the content of image processing can be changed in accordance with changes in the usage environment, and degradation in measurement accuracy can be reduced.

図1は本発明の第1の実施形態の内視鏡装置の全体構成を示す図。FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of an endoscope apparatus according to a first embodiment of the present invention. 図2は画像処理部の構成を示すブロク図。FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the image processing unit. 図3は同一被検体を左右の対物光学系を用いて画像表示装置に表示した場合の画像と、計測部により計測した距離及び面積の計測結果を表示した様子を示す図。FIG. 3 is a diagram showing a state in which an image when the same subject is displayed on an image display device using left and right objective optical systems, and measurement results of distances and areas measured by a measurement unit are displayed. 図4は記憶部におけるテーブル化して記憶されている基準データの具体例を示す図。FIG. 4 is a diagram illustrating a specific example of reference data stored in a table in the storage unit. 図5は検知温度が所定温度以上か否かに応じてフィルタリング処理のON,OFFの処理内容を変更する処理を示すフローチャート。FIG. 5 is a flowchart showing processing for changing the processing contents of ON / OFF of the filtering processing according to whether the detected temperature is equal to or higher than a predetermined temperature. 図6は検知温度が所定温度以上か否かに応じてフィルタリング処理の強度(レベル)の処理内容を変更する処理を示すフローチャート。FIG. 6 is a flowchart showing processing for changing the processing content of the strength (level) of filtering processing according to whether the detected temperature is equal to or higher than a predetermined temperature. 図7は検知温度が所定温度以上か否かに応じてフィルタリング処理の空間フィルタのサイズの大きさの処理内容を変更する処理を示すフローチャート。FIG. 7 is a flowchart showing processing for changing the processing content of the size of the spatial filter of the filtering processing according to whether or not the detected temperature is equal to or higher than a predetermined temperature. 図8は検知温度が所定温度以上か否かに応じてフィルタリング処理としてのクロマサプレスのON,OFFの処理内容を変更する処理を示すフローチャート。FIG. 8 is a flowchart showing processing for changing the processing contents of ON / OFF of chroma suppress as filtering processing depending on whether the detected temperature is equal to or higher than a predetermined temperature. 図9は検知温度が所定温度以上か否かに応じて画素欠陥補正処理の有り、無しの処理内容を変更する処理を示すフローチャート。FIG. 9 is a flowchart showing a process for changing the content of processing with and without pixel defect correction processing depending on whether or not the detected temperature is equal to or higher than a predetermined temperature. 図10は検知温度が所定温度以上か否かに応じて画素欠陥補正処理を行う際の欠陥画素の周囲の補正に用いる画素範囲の処理内容を変更する処理を示すフローチャート。FIG. 10 is a flowchart showing processing for changing the processing content of a pixel range used for correction around a defective pixel when performing pixel defect correction processing depending on whether the detected temperature is equal to or higher than a predetermined temperature. 図11は本発明の第2の実施形態の内視鏡装置の全体構成を示す図。FIG. 11 is a diagram showing an overall configuration of an endoscope apparatus according to a second embodiment of the present invention. 図12は検知温度が所定温度以上の場合に、フィルタリング処理ONとOFFとの2種類の処理内容で計測評価用画像を生成して、計測を行い計測結果に応じて計測用画像を設定する処理を示すフローチャート。FIG. 12 is a process for generating a measurement evaluation image with two types of processing contents of filtering processing ON and OFF, performing measurement, and setting a measurement image according to the measurement result when the detected temperature is equal to or higher than a predetermined temperature. The flowchart which shows. 図13は検知温度が所定温度以上の場合に、画素欠陥補正処理有りと無しとの2種類の処理内容で計測評価用画像を生成して、計測を行い計測結果に応じて計測用画像を設定する処理を示すフローチャート。FIG. 13 shows that when a detected temperature is equal to or higher than a predetermined temperature, a measurement evaluation image is generated with two types of processing contents with and without pixel defect correction processing, measurement is performed, and a measurement image is set according to the measurement result. The flowchart which shows the process to do. 図14は検知温度が所定温度以上の場合に、欠陥画素の周囲の補正に用いる画素範囲を変えた2種類の処理内容で計測評価用画像を生成して、計測を行い計測結果に応じて計測用画像を設定する処理を示すフローチャート。In FIG. 14, when the detected temperature is equal to or higher than a predetermined temperature, an image for measurement evaluation is generated with two types of processing contents in which the pixel range used for correction around the defective pixel is changed, the measurement is performed, and the measurement is performed according to the measurement result. 6 is a flowchart showing processing for setting a work image.

以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
(第1の実施形態)
図1に示すように本発明の内視鏡装置1は、ジェットエンジン等の被検体の内部に挿入される細長の挿入部2と、この挿入部2の後端(基端)が接続され、信号処理等を行う内視鏡装置本体部3と、この内視鏡装置本体部(以下、単に本体部と略記)3に接続され、内視鏡画像(単に画像と略記)を表示する画像表示装置4とを有する。
挿入部2の先端部5には被検体の内部のブレード等の被検体を照明する照明手段としての発光ダイオード(LED)6と、照明された被検体を結像する対の対物光学系7a、7bが設けてある。
対物光学系7a,7bは、被検体に対して視差を持つように離間して配置され、両対物光学系7a,7bの結像位置には、被検体の光学像を撮像する1つのCCD又はCMOSイメージャ等の撮像素子8の撮像面が配置されている。本実施形態においては、この撮像素子8の撮像面に左右2つの光学系で結像された被検体の像が視差を有する状態で結像される。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
(First embodiment)
As shown in FIG. 1, an endoscope apparatus 1 according to the present invention has an elongated insertion portion 2 inserted into a subject such as a jet engine and a rear end (base end) of the insertion portion 2 connected to each other. An endoscope apparatus main body 3 that performs signal processing and the like, and an image display that is connected to the endoscope apparatus main body (hereinafter simply abbreviated as a main body) 3 and displays an endoscope image (abbreviated simply as an image). Device 4.
A light emitting diode (LED) 6 as an illuminating means for illuminating the subject such as a blade inside the subject is provided at the distal end portion 5 of the insertion portion 2 and a pair of objective optical systems 7a for imaging the illuminated subject. 7b is provided.
The objective optical systems 7a and 7b are arranged so as to have a parallax with respect to the subject, and a single CCD or the like that captures an optical image of the subject at the imaging position of both objective optical systems 7a and 7b. An imaging surface of the imaging element 8 such as a CMOS imager is disposed. In the present embodiment, the subject image formed by the two left and right optical systems is formed on the imaging surface of the image sensor 8 in a state having parallax.

両対物光学系7a,7b及び撮像素子8により、被検体を撮像する撮像手段を形成する。
本実施形態においては、既知の視差を有する2つの対物光学系7a,7bを用いることにより、三角測量の原理を利用してステレオ計測(立体計測)を行うことができるようにしている。
なお、上記2つの対物光学系7a,7bの光学特性のデータは、本体部3内部の後述する記憶部その他の記憶部に記憶されている。また、図1では、挿入部2の先端部5に2つの対物光学系7a,7bを一体的に設けた構成例を示しているが、2つの対物光学系7a,7bを備えた光学アダプタを先端部5に着脱自在に接続する構成にしても良い。また、本実施形態では1つの撮像素子8に、左右の像を結ぶようにしているが、2つの撮像素子を用いるようにしても良い。
The objective optical systems 7a and 7b and the imaging device 8 form an imaging means for imaging the subject.
In the present embodiment, by using two objective optical systems 7a and 7b having a known parallax, stereo measurement (stereoscopic measurement) can be performed using the principle of triangulation.
The data of the optical characteristics of the two objective optical systems 7a and 7b are stored in a storage unit and other storage units (to be described later) inside the main body unit 3. In addition, FIG. 1 shows a configuration example in which two objective optical systems 7a and 7b are integrally provided at the distal end portion 5 of the insertion portion 2. However, an optical adapter provided with two objective optical systems 7a and 7b is shown. You may make it the structure connected to the front-end | tip part 5 so that attachment or detachment is possible. In this embodiment, the left and right images are connected to one image sensor 8, but two image sensors may be used.

LED6は、挿入部2内を挿通された電源線9を介して本体部3内部のLED駆動部11に接続され、このLED駆動部11から供給されるLED駆動電力によりLED6は発光し、出射する照明光で被検体を照明する。
なお、LED6を用いる代わりに、本体部3内に設けたランプ等の光源で発生した光を挿入部2内に挿通した照明光伝送手段(又は導光手段)としてのライトガイドにより伝送して、照明窓から照明光として出射する構成にしても良い。
また、撮像素子8も挿入部2内を挿通された信号線12a,12bにより、本体部3内部の撮像素子駆動部13と映像信号処理部14にそれぞれ接続される。撮像素子駆動部13は、撮像素子駆動信号を生成し、この撮像素子駆動信号を撮像素子8に印加する。撮像素子8は、撮像素子駆動信号の印加により、光学像を光電変換した(撮像素子8で撮像した)撮像画像に対応する撮像信号を出力する。
The LED 6 is connected to the LED driving unit 11 inside the main body 3 through a power line 9 inserted through the insertion unit 2, and the LED 6 emits and emits light by the LED driving power supplied from the LED driving unit 11. Illuminate the subject with illumination light.
Instead of using the LED 6, the light generated by a light source such as a lamp provided in the main body 3 is transmitted by a light guide as illumination light transmission means (or light guiding means) inserted into the insertion portion 2, You may make it the structure radiate | emitted as illumination light from an illumination window.
The image pickup device 8 is also connected to the image pickup device drive unit 13 and the video signal processing unit 14 inside the main body unit 3 by signal lines 12 a and 12 b inserted through the insertion unit 2. The image sensor drive unit 13 generates an image sensor drive signal and applies the image sensor drive signal to the image sensor 8. The imaging element 8 outputs an imaging signal corresponding to a captured image obtained by photoelectrically converting the optical image (captured by the imaging element 8) by applying an imaging element driving signal.

この撮像信号は映像信号処理部14に入力され、映像信号処理部14は、撮像信号をもとに映像信号を生成する。
映像信号処理部14により生成された映像信号は、該映像信号の画像に対して各種の画像処理を施す画像処理部15に入力される。なお、この映像信号の画像は、上記対の対物光学系7a,7bによる撮像素子8に結像される左右の被検体像に対応する対の画像となる。
画像処理部15は、映像信号処理部14で生成された映像信号の(対の)画像に対して、各種の画像処理を行うものであり、この画像処理部15は、第1画像処理部16と、第2画像処理部17との2つの画像処理部から構成される。
The imaging signal is input to the video signal processing unit 14, and the video signal processing unit 14 generates a video signal based on the imaging signal.
The video signal generated by the video signal processing unit 14 is input to an image processing unit 15 that performs various types of image processing on the image of the video signal. The image of the video signal is a pair of images corresponding to the left and right subject images formed on the imaging element 8 by the pair of objective optical systems 7a and 7b.
The image processing unit 15 performs various types of image processing on the (pair) images of the video signal generated by the video signal processing unit 14, and the image processing unit 15 includes the first image processing unit 16. And the second image processing unit 17 and the second image processing unit 17.

第1画像処理部16は、映像信号の(対の)画像に対して画像処理を施して、計測に使用する(対の)計測用画像として計測部18に出力する。
一方、第2画像処理部17は、映像信号の(対の)画像に対する画像処理を施して、表示用の(対の)画像を画像表示装置4に出力し、画像表示装置4にはこの表示用の(対の)画像を表示する。この画像は、撮像素子8に結像された被検体の画像に、各種の画像処理を施したものに対応する。
計測部18は、(対の)計測用画像を用いて、被検体に対する計測の処理を行い、計測の処理を行った映像信号を画像表示装置4に出力し、画像表示装置4中に被検体の画像中において計測の処理結果を表示する。
The first image processing unit 16 performs image processing on the (pair) image of the video signal and outputs the image to the measurement unit 18 as a (pair) measurement image used for measurement.
On the other hand, the second image processing unit 17 performs image processing on the (pair) image of the video signal and outputs a display (pair) image to the image display device 4, which is displayed on the image display device 4. Display a (pair) image for use. This image corresponds to an image of the subject imaged on the image sensor 8 that has been subjected to various types of image processing.
The measurement unit 18 performs measurement processing on the subject using the (pair) measurement images, outputs a video signal subjected to the measurement processing to the image display device 4, and includes the subject in the image display device 4. The measurement processing result is displayed in the image.

また、本実施形態においては、例えば本体部は、画像処理部15における第1画像処理部16に対して画像処理の内容を指示する画像処理選択部19と、画像処理の内容を決める際に基準となる基準データを有する記憶部20とを有する。
また、本実施形態は、計測部18により計測を行う使用環境を形成する環境温度を検知するために、挿入部2の先端部5内に搭載された撮像素子8の近傍に、この撮像素子8の温度を検知する温度センサ21が配置している。この温度センサ21によるセンサ信号は、信号線22を介して本体部3内の温度検知部23に入力される。この温度検知部23はセンサ信号から温度データに変換する。
In the present embodiment, for example, the main body unit includes an image processing selection unit 19 that instructs the first image processing unit 16 in the image processing unit 15 to specify the content of the image processing, and a reference when determining the content of the image processing. And storage unit 20 having reference data.
Further, in the present embodiment, in order to detect an environmental temperature that forms a use environment in which measurement is performed by the measurement unit 18, the image sensor 8 is provided in the vicinity of the image sensor 8 mounted in the distal end portion 5 of the insertion unit 2. A temperature sensor 21 for detecting the temperature of is arranged. A sensor signal from the temperature sensor 21 is input to the temperature detection unit 23 in the main body 3 via the signal line 22. The temperature detector 23 converts the sensor signal into temperature data.

上記画像処理選択部19は、温度検知部23からの温度データに対応した記憶部20に記憶された基準データを取り込み、第1画像処理部16による画像処理の内容を指示又は選択する指示信号を出力する。
従って、第1画像処理部16は、画像処理選択部19からの指示信号に従って、各種の画像処理を行う。一方、第2画像処理部17は、画像処理選択部19からの指示信号に無関係に各種の画像処理を行い、視認性等を向上した画像を表示できるようにしている。
なお、計測部18に対して使用者(ユーザ)が距離又は面積等の計測指示の信号を出力する計測指示部24は、計測部18の他に画像処理選択部19にも出力する。画像処理選択部19は、計測指示の信号が入力されたタイミングにおける使用環境を形成する環境温度としての検知温度情報を温度検知部23を介して取得する。
The image processing selection unit 19 takes in the reference data stored in the storage unit 20 corresponding to the temperature data from the temperature detection unit 23, and receives an instruction signal for instructing or selecting the content of the image processing by the first image processing unit 16. Output.
Therefore, the first image processing unit 16 performs various image processing in accordance with the instruction signal from the image processing selection unit 19. On the other hand, the second image processing unit 17 performs various types of image processing regardless of the instruction signal from the image processing selection unit 19 so that an image with improved visibility can be displayed.
The measurement instruction unit 24 that outputs a measurement instruction signal such as distance or area to the measurement unit 18 is also output to the image processing selection unit 19 in addition to the measurement unit 18. The image processing selection unit 19 acquires, through the temperature detection unit 23, detected temperature information as an environmental temperature that forms a use environment at a timing when a measurement instruction signal is input.

そして、画像処理選択部19は、この検知温度情報と記憶部20に記憶されている温度に応じた画像処理方法のテーブルデータ(図4参照)とを比較して、検知温度に対応する基準データを選択する。
図2は、画像処理部15周辺部の構成を示す。映像信号処理部14から出力される輝度信号Y及びクロマ信号U,Vは、画像処理部15における第1画像処理部16及び第2画像処理部17に入力される。
第1画像処理部16は、各種の画像処理を行う回路として、暗電流等による固定パターンノイズを低減するフィルタリング処理回路31a及び画素欠陥の補正を行う画素欠陥補正処理回路32aを有する。これらの画像処理により生成された)計測用画像は、計測部18に出力される。
Then, the image processing selection unit 19 compares the detected temperature information with the table data (see FIG. 4) of the image processing method corresponding to the temperature stored in the storage unit 20, and the reference data corresponding to the detected temperature. Select.
FIG. 2 shows the configuration of the periphery of the image processing unit 15. The luminance signal Y and the chroma signals U and V output from the video signal processing unit 14 are input to the first image processing unit 16 and the second image processing unit 17 in the image processing unit 15.
The first image processing unit 16 includes a filtering processing circuit 31a that reduces fixed pattern noise due to dark current and a pixel defect correction processing circuit 32a that corrects pixel defects as circuits that perform various types of image processing. The measurement image (generated by these image processes) is output to the measurement unit 18.

なお、フィルタリング処理は、固定パターンノイズを低減のためにONして処理する他に、クロマ信号U,Vに重畳して色ノイズが顕著になるような場合にはクロマ信号U,Vを許容された範囲内で抑圧して色ノイズを低減する処理の場合(後述)も含む。
第2画像処理部17についても、暗電流等による固定パターンノイズを低減するフィルタリング処理回路31b、画素欠陥の補正を行う画素欠陥補正処理回路32bを有するが、第2画像処理部17は第1画像処理部16と異なり、画像処理選択部19からの指示に左右されない。なお、(図示しない)ガンマ補正回路、輪郭強調回路等は、映像信号処理部に設けられ、ガンマ補正、輪郭強調等の処理を施している。
この第2画像処理部17により各種の画像処理された表示用画像の映像信号が画像表示装置4に出力され、画像表示装置4には撮像素子8に結像された被検体の画像が視認性等を向上した画像として表示される。
Note that the filtering process is performed by turning on the fixed pattern noise to reduce it. In addition, the chroma signals U and V are allowed when the color noise becomes conspicuous when superimposed on the chroma signals U and V. This also includes the case of processing to reduce color noise by suppressing within the range (described later).
The second image processing unit 17 also includes a filtering processing circuit 31b that reduces fixed pattern noise due to dark current and the like, and a pixel defect correction processing circuit 32b that corrects pixel defects, but the second image processing unit 17 includes the first image. Unlike the processing unit 16, it is not affected by an instruction from the image processing selection unit 19. Note that a gamma correction circuit, a contour enhancement circuit, and the like (not shown) are provided in the video signal processing unit and perform processing such as gamma correction and contour enhancement.
Video signals of display images subjected to various types of image processing by the second image processing unit 17 are output to the image display device 4, and the image of the subject imaged on the image sensor 8 is visible in the image display device 4. Etc. are displayed as an improved image.

図3は画像表示装置4における被検体の画像の表示例を示す。図3は同じ被検体を左右に視差を有する対物光学系7a,7bにより撮像し、第2画像処理部17により画像処理して画像表示装置4で表示した場合の左右の画像を示す。図3の左側の図は、距離の計測を行った様子を示す。
内視鏡装置1のユーザは、表示された左右の画像の一方の画像(例えば右画像)に対して、計測指示部24に設けられている図示しないマウス等の操作により計測しようとする複数の位置を指定して、計測部18に対して複数の位置間の距離計測を指示する。
例えば、ユーザは、被検体の表面にできた傷の大きさを知ることを望む場合がある。この場合には、ユーザは、一方の画像(例えば右画像)に対して、傷の両端のとなる2つの位置を指定して、計測部18に対して両位置間の距離の計測指示をする。
FIG. 3 shows a display example of the image of the subject on the image display device 4. FIG. 3 shows left and right images when the same subject is imaged by the objective optical systems 7 a and 7 b having parallax on the left and right, subjected to image processing by the second image processing unit 17 and displayed on the image display device 4. The figure on the left side of FIG. 3 shows how the distance is measured.
The user of the endoscope apparatus 1 performs a plurality of measurements on one of the displayed left and right images (for example, the right image) by operating a mouse (not shown) provided in the measurement instruction unit 24. A position is designated and the measurement unit 18 is instructed to measure a distance between a plurality of positions.
For example, the user may desire to know the size of a wound made on the surface of the subject. In this case, the user designates two positions that are both ends of the wound for one image (for example, the right image), and instructs the measurement unit 18 to measure the distance between the two positions. .

また、この場合の計測指示の信号は画像処理選択部19にも入力され、画像処理選択部19はこの信号が入力された使用環境に対応した基準データを記憶部20から選択し、この基準データに従って第1画像処理部16の画像処理の処理内容を決定(規定)する。そして、第1画像処理部16は、画像処理選択部19による選択指示に対応した画像処理の処理内容に従って画像処理を行う。
計測部18は、第1画像処理部16から出力される映像信号の対の計測用画像、つまり左右の計測用画像を用いて、一方(右又は左)の計測用画像における指定された複数の位置にそれぞれ対応する他方(左又は右)の計測用画像における対応位置をそれぞれ算出する計測処理を行う。
In this case, the measurement instruction signal is also input to the image processing selection unit 19, and the image processing selection unit 19 selects reference data corresponding to the use environment to which the signal is input from the storage unit 20, and the reference data Accordingly, the processing content of the image processing of the first image processing unit 16 is determined (defined). Then, the first image processing unit 16 performs image processing according to the processing content of the image processing corresponding to the selection instruction from the image processing selection unit 19.
The measurement unit 18 uses a pair of measurement images of video signals output from the first image processing unit 16, that is, left and right measurement images, and designates a plurality of designated images in one (right or left) measurement image. Measurement processing is performed to calculate the corresponding position in the other (left or right) measurement image corresponding to each position.

そして、複数の位置間の距離の計測処理の結果を、画像表示装置4に出力し、図3の左側に示すように計測処理の結果としての距離を表示する。また、図3の右側は、面積計測を行った様子を示す。
また、使用者は、例えば被検体の表面にできた変形した領域が存在して、その変形した領域の面積を算出することを望む場合がある。この様な場合には、使用者は、一方の画像(例えば右画像)に対して計測指示手段により変形した領域を囲むように複数の位置を指定して、計測部18に対して面積の計測の指示をする。
この場合にも、計測部18は、一方の計測用画像における指定された複数の位置にそれぞれ対応する他方の計測用画像における対応位置をそれぞれ算出する計測処理を行う。
And the result of the measurement process of the distance between several positions is output to the image display apparatus 4, and the distance as a result of a measurement process is displayed as shown on the left side of FIG. Moreover, the right side of FIG. 3 shows a state where the area measurement is performed.
In addition, there are cases where the user has a deformed area formed on the surface of the subject and desires to calculate the area of the deformed area. In such a case, the user designates a plurality of positions so as to surround a region deformed by the measurement instruction unit with respect to one image (for example, the right image), and measures the area with respect to the measurement unit 18. Instruct.
Also in this case, the measurement unit 18 performs measurement processing for calculating corresponding positions in the other measurement image respectively corresponding to a plurality of designated positions in the one measurement image.

そして、複数の位置間の距離の計測処理の結果から面積算出の計測処理を行い、面積の計測結果を画像表示装置4に出力し、図3の右側に示すように計測処理の結果としての面積を表示する。
本実施形態においては、このように距離計測、面積計測等を行う場合、使用環境の変化に対応して記憶部20に記憶された基準データに従って画像処理の処理内容を変更する。そして、このように基準データに従って画像処理の内容を変更することにより、使用環境が変化した場合にも、計測精度の劣化を防止ないしは低減する。
図4は、記憶部20に予め記憶されて、テーブル化された基準データの例を示す。
Then, an area calculation measurement process is performed from the results of the distance measurement process between a plurality of positions, the area measurement result is output to the image display device 4, and the area as a result of the measurement process as shown on the right side of FIG. Is displayed.
In the present embodiment, when performing distance measurement, area measurement, and the like in this way, the processing content of the image processing is changed according to the reference data stored in the storage unit 20 in response to a change in the use environment. Then, by changing the contents of the image processing according to the reference data in this way, even when the usage environment changes, deterioration in measurement accuracy is prevented or reduced.
FIG. 4 shows an example of the reference data stored in advance in the storage unit 20 and tabulated.

この記憶部20には、各温度データに対してフィルタリング処理を行うか否か(つまりフィルタリング処理ON/OFF)、またフィルタリングを行う場合のフィルタリング処理の強度、空間フィルタのサイズ、(フィルタリング処理における)クロマ信号のサプレスを行うか否か(つまりクロマサプレスON/OFF)、画素欠陥補正処理を行うか否か(つまり画素欠陥補正処理ON/OFF)、また画素欠陥補正処理を行う場合の補正参照範囲のデータが記憶されている。
なお、図4における所定温度X1,X2,X3等は、図4の備考欄に記載しているようにX1<X2<…の関係である。つまり、テーブルの下側ほど、温度が高い場合の基準データに該当する。また、フィルタリング処理の強度を表すレベルL1,L2,…は、L1<L2<…の関係である。一方、フィルタリング処理を行う場合の空間フィルタのサイズは、A>Bの関係である。なお、図4における温度X1は例えば常温領域、X3は高温領域を表す。
In this storage unit 20, whether or not to perform filtering processing on each temperature data (that is, filtering processing ON / OFF), the strength of the filtering processing when filtering, the size of the spatial filter (in the filtering processing) Whether to suppress the chroma signal (that is, chroma suppression ON / OFF), whether to perform pixel defect correction processing (that is, pixel defect correction processing ON / OFF), and the correction reference range when performing pixel defect correction processing Is stored.
Note that the predetermined temperatures X1, X2, X3, etc. in FIG. 4 have a relationship of X1 <X2 <... As described in the remarks column of FIG. That is, the lower side of the table corresponds to the reference data when the temperature is high. Further, the levels L1, L2,... Representing the strength of the filtering process have a relationship of L1 <L2 <. On the other hand, the size of the spatial filter when performing the filtering process has a relationship of A> B. Note that the temperature X1 in FIG. 4 represents, for example, a normal temperature region, and X3 represents a high temperature region.

図4に示す基準データは、実際に各温度においてフィルタリング処理をON及びOFF、画素欠陥補正処理をON及びOFF等して、実際に計測を行った過去に蓄積した計測データから分類して、各温度において精度の良い計測結果が得られる場合の処理内容を決定したものである。従って、図4に示した基準データの処理内容に従って計測用画像を生成すると、多くの場合精度の良い計測を行うことが可能になる。
なお、本実施形態においては、記憶部20は、書き換え可能なフラッシュメモリ等の記憶手段により構成され、さらなる計測データの蓄積結果に基づいて基準データをより信頼性が高い基準データに更新可能にしている。
例えば、図4のテーブルでは、使用環境における温度が所定温度X3以上になると、フィルタリング処理がOFFからONになり、また、ONになった場合には所定温度以上か否かに応じてフィルタリング処理の強度(レベル)が変化する。
The reference data shown in FIG. 4 is classified from the measurement data accumulated in the past by actually performing the filtering process ON and OFF, the pixel defect correction process ON and OFF, etc. at each temperature. The processing contents when a highly accurate measurement result is obtained at the temperature are determined. Therefore, if the measurement image is generated according to the processing content of the reference data shown in FIG. 4, it is possible to perform highly accurate measurement in many cases.
In the present embodiment, the storage unit 20 is configured by a storage unit such as a rewritable flash memory, and the reference data can be updated to more reliable reference data based on the accumulation result of further measurement data. Yes.
For example, in the table of FIG. 4, when the temperature in the usage environment is equal to or higher than the predetermined temperature X3, the filtering process is turned from OFF to ON, and when it is turned ON, the filtering process is performed depending on whether the temperature is higher than the predetermined temperature. The intensity (level) changes.

また、フィルタリング処理は温度が高い場合に、低い場合よりも空間フィルタのサイズを小さくして行う傾向を示している。なお、図4中において、例えば温度X1、X2では、フィルタリング処理は、通常はOFFに設定されるが、ユーザからの選択によりONに設定して行う場合もあるため、記憶部20はその場合に使用されるレベルL1,L2やサイズA×A等も記憶している。
また、図4の備考欄に示すように画素欠陥補正処理を行う場合においては、欠陥画素に隣接する隣接画素を参照して画素欠陥補正処理を行う(施す)場合と、さらに隣接画素の外側に隣接する画素(本実施形態では近傍画素)を参照して画素欠陥補正処理を行う場合とがある。
Further, the filtering process tends to be performed when the temperature is high and the size of the spatial filter is smaller than when the temperature is low. In FIG. 4, for example, at temperatures X1 and X2, the filtering process is normally set to OFF, but may be set to ON by selection from the user. The used levels L1, L2, size A × A, and the like are also stored.
In addition, when performing pixel defect correction processing as shown in the remarks column of FIG. 4, pixel defect correction processing is performed (applied) with reference to an adjacent pixel adjacent to the defective pixel, and further outside the adjacent pixel. In some cases, pixel defect correction processing is performed with reference to adjacent pixels (neighboring pixels in this embodiment).

図4のテーブルにおいては、環境温度が低い使用環境の場合の方が欠陥画素の周囲の画素を参照する参照範囲を大きくして欠陥画素補正処理を行う傾向を示している。
つまり、図4の基準データとしては、環境温度が高くなると、フィルタリング処理をOFFからONにする傾向となる。また、環境温度が高くなると、空間フィルタのサイズを小さくする傾向となる。
また、環境温度が高くなると、フィルタリング処理としてクロマ信号に対するサプレス処理をOFFからONにする傾向となる。これに対して、画素欠陥補正処理に関しては、環境温度が高くなると、ONからOFFにする傾向となる。
The table of FIG. 4 shows a tendency that the defective pixel correction process is performed by increasing the reference range in which surrounding pixels of the defective pixel are referred to in the use environment where the environmental temperature is low.
That is, as the reference data in FIG. 4, when the environmental temperature increases, the filtering process tends to be turned on from OFF. Further, when the environmental temperature increases, the size of the spatial filter tends to be reduced.
Further, when the environmental temperature increases, the suppression processing for the chroma signal tends to be turned from OFF to ON as the filtering processing. On the other hand, regarding the pixel defect correction processing, when the environmental temperature increases, the pixel defect correction processing tends to be turned from ON to OFF.

この様な構成による本実施形態の内視鏡装置1は、挿入部2の先端部5に設けられ、被検体の光学像を、視差を有する対の対物光学系7a,7bを用いて撮像する撮像素子8と、前記撮像素子8を駆動するための撮像素子駆動部13と、前記撮像素子8にて光電変換された撮像画像の信号を映像信号に変換する映像信号処理部14と、を有する。
また、内視鏡装置1は、前記映像信号処理部14で生成された映像信号の画像に対し画像処理を施して、前記対の対物光学系7a,7bに基づく対の計測用画像を生成する(第1の画像処理部16を含む)画像処理部15と、前記画像処理部15で生成された前記対の計測用画像を用いて、被検体に対する計測を行う計測部18と、前記画像処理部15に対して前記画像処理部15の処理内容を指示する画像処理選択部19と、前記画像処理部15の処理内容を決める上で基準となる基準データを記憶する記憶部20と、を有する。
The endoscope apparatus 1 of the present embodiment having such a configuration is provided at the distal end portion 5 of the insertion portion 2 and images an optical image of the subject using a pair of objective optical systems 7a and 7b having parallax. An image sensor 8; an image sensor driver 13 for driving the image sensor 8; and a video signal processor 14 for converting a signal of a captured image photoelectrically converted by the image sensor 8 into a video signal. .
Further, the endoscope apparatus 1 performs image processing on the image of the video signal generated by the video signal processing unit 14, and generates a pair of measurement images based on the pair of objective optical systems 7a and 7b. An image processing unit 15 (including the first image processing unit 16), a measurement unit 18 that performs measurement on a subject using the pair of measurement images generated by the image processing unit 15, and the image processing An image processing selection unit 19 for instructing the processing content of the image processing unit 15 to the unit 15, and a storage unit 20 for storing reference data serving as a reference for determining the processing content of the image processing unit 15. .

また、前記基準データは、前記計測部18による計測を行う使用環境に応じて、前記画像処理としてノイズを低減するフィルタリング処理及び画素欠陥補正処理の少なくとも一方に対する複数の処理内容中の一つを規定するものであり、前記画像処理選択部19は、前記記憶部20に記憶された基準データを参照し、前記使用環境に応じて前記画像処理部15に対して、前記画像処理部15の複数の処理内容中の一つを選択指示し、前記画像処理部15は、前記画像処理選択部19からの選択指示に基づき、前記フィルタリング処理及び前記画素欠陥補正処理の少なくとも一方に対する複数の処理内容中の一つに従った画像処理によって前記計測部18が計測に使用する前記対の計測用画像を生成することを特徴とする。   The reference data defines one of a plurality of processing contents for at least one of filtering processing and pixel defect correction processing for reducing noise as the image processing according to a use environment in which measurement by the measurement unit 18 is performed. The image processing selection unit 19 refers to the reference data stored in the storage unit 20, and makes a plurality of the image processing unit 15 to the image processing unit 15 according to the use environment. One of the processing contents is selected and instructed, and the image processing unit 15 is based on a selection instruction from the image processing selecting unit 19 and includes at least one of the filtering process and the pixel defect correction process. The pair of measurement images used for measurement by the measurement unit 18 is generated by image processing according to one.

次に図4に従った本実施形態の動作を図5から図8を参照して説明する。上述したようにユーザにより、計測指示が行われると、画像処理選択部19は、指示された際の使用環境を形成する温度環境を認識するために、温度センサ21により検知した検知温度Tを取得する。そして、画像処理選択部19は、この検知温度Tに対応する環境温度に応じて、基準データに従ってフィルタリング処理の処理内容としてON/OFFを選択する。
図5のステップS1に示すように画像処理選択部19は、検知温度Tがフィルタリング処理をON/OFFする閾値の温度(この場合、所定温度X3)以上か否かを判定する。検知温度Tが所定温度X3以上であると、ステップS2に示すように画像処理選択部19は、フィルタリング処理をONにする処理内容を選択する。そして、画像処理選択部19は、この選択を第1画像処理部16のフィルタリング処理回路31aに指示する。
Next, the operation of this embodiment according to FIG. 4 will be described with reference to FIGS. As described above, when the measurement instruction is given by the user, the image processing selection unit 19 acquires the detected temperature T detected by the temperature sensor 21 in order to recognize the temperature environment that forms the use environment at the time of the instruction. To do. Then, the image processing selection unit 19 selects ON / OFF as the processing content of the filtering process according to the reference data according to the environmental temperature corresponding to the detected temperature T.
As shown in step S1 of FIG. 5, the image processing selection unit 19 determines whether or not the detected temperature T is equal to or higher than a threshold temperature (in this case, a predetermined temperature X3) at which the filtering process is turned ON / OFF. If the detected temperature T is equal to or higher than the predetermined temperature X3, the image processing selection unit 19 selects processing contents for turning on the filtering processing as shown in step S2. Then, the image processing selection unit 19 instructs this selection to the filtering processing circuit 31a of the first image processing unit 16.

一方、検知温度Tが所定温度X3未満であると、ステップS3に示すように画像処理選択部19は、フィルタリング処理をOFFにする処理内容を選択する。そして、そして、画像処理選択部19は、この選択を第1画像処理部16のフィルタリング処理回路31aに指示する。第1画像処理部16のフィルタリング処理回路31aは、指示に対応した処理内容でフィルタリング処理を行い、計測用画像を生成する。このようにして図5の処理を終了する。
温度が低い場合には、固定パターン等のノイズの影響が小さいため、本実施形態では図4のテーブルに従って温度が低い場合には、固定パターン等のノイズを除去するフィルタリング処理をOFFにして、画像処理を行う。これにより精度よく計測を行うことができる。
On the other hand, if the detected temperature T is lower than the predetermined temperature X3, the image processing selection unit 19 selects processing contents for turning off the filtering processing as shown in step S3. Then, the image processing selection unit 19 instructs this selection to the filtering processing circuit 31a of the first image processing unit 16. The filtering processing circuit 31a of the first image processing unit 16 performs a filtering process with the processing content corresponding to the instruction, and generates a measurement image. In this way, the process of FIG.
When the temperature is low, the influence of noise such as the fixed pattern is small. Therefore, in this embodiment, when the temperature is low according to the table of FIG. Process. Thereby, measurement can be performed with high accuracy.

一方、温度が高くなると、固定パターン等のノイズが大きくなるため、予め蓄積された基準データに基づいて、所定温度以上の場合フィルタリング処理をOFFからONにする。これにより、計測を精度良く行うことができる。なお、フィルタリング処理をONにした場合には、さらに図6、図7、図8のようにフィルタリング処理の強度、空間フィルタのサイズ、クロマサプレス等の処理内容を選択して、第1画像処理部16のフィルタリング処理回路31aに指示することになる。
図5の手順に従ってフィルタリング処理のON/OFFを行うことにより、計測用画像を用いた計測精度の劣化を防止して行うことができる。
また、フィルタリング処理をONにした場合、さらに図6のステップS6に示すように画像処理選択部19は、検知温度Tがフィルタリング処理の強度を変更する閾値の温度(この場合、所定温度X4)以上か否かを判定する。
On the other hand, since the noise such as the fixed pattern increases as the temperature increases, the filtering process is switched from OFF to ON when the temperature is equal to or higher than the predetermined temperature based on the reference data accumulated in advance. Thereby, measurement can be performed with high accuracy. When the filtering process is turned on, the first image processing unit is selected by selecting the processing contents such as the strength of the filtering process, the size of the spatial filter, and the chroma suppress as shown in FIGS. 16 filtering processing circuits 31a are instructed.
By performing ON / OFF of the filtering process according to the procedure of FIG. 5, it is possible to prevent the measurement accuracy using the measurement image from being deteriorated.
When the filtering process is turned on, as shown in step S6 of FIG. 6, the image processing selection unit 19 further detects the detected temperature T equal to or higher than a threshold temperature (in this case, a predetermined temperature X4) that changes the intensity of the filtering process. It is determined whether or not.

検知温度Tが所定温度X4以上である判定した場合には、ステップS7に示すように画像処理選択部19は、フィルタリング処理の強度をレベルL4にする選択をする。そして、画像処理選択部19は、この選択を第1画像処理部16のフィルタリング処理回路31aに指示する。
一方、検知温度Tが所定温度X4未満であると、ステップS8に示すように画像処理選択部19は、フィルタリング処理の強度をレベルL3にする選択をする。そして、画像処理選択部19は、この選択を第1画像処理部16のフィルタリング処理回路31aに指示する。第1画像処理部16のフィルタリング処理回路31aは、指示に対応した処理内容でフィルタリング処理を行い、計測用画像を生成する。このようにして、図6の処理を終了する。
When it is determined that the detected temperature T is equal to or higher than the predetermined temperature X4, the image processing selection unit 19 selects the filtering processing intensity to be level L4 as shown in step S7. Then, the image processing selection unit 19 instructs this selection to the filtering processing circuit 31a of the first image processing unit 16.
On the other hand, if the detected temperature T is lower than the predetermined temperature X4, the image processing selection unit 19 selects the level of filtering processing to be level L3 as shown in step S8. Then, the image processing selection unit 19 instructs this selection to the filtering processing circuit 31a of the first image processing unit 16. The filtering processing circuit 31a of the first image processing unit 16 performs a filtering process with the processing content corresponding to the instruction, and generates a measurement image. In this way, the process of FIG.

上述したように温度が高くなった場合、フィルタリング処理をONすることにより、計測の精度の劣化を防止できる。また、フィルタリング処理をONにした状態においても、さらに図6に示すようにフィルタリング処理の強度を変更することにより、変更しない場合よりも計測精度の劣化を防止できる。
具体的には、温度が高くなった場合には、フィルタリング処理の強度を大きく(高く)することにより、計測の精度の劣化を防止できる。
また、図7は画像処理選択部19が検知温度Tに応じてフィルタリング処理する場合の空間フィルタのサイズを選択する動作を示す。以下においては、第1画像処理部16に指示する動作及び、第1画像処理部16が指示に対応した計測用画像を生成する動作の説明を省略する。
As described above, when the temperature becomes high, deterioration of measurement accuracy can be prevented by turning on the filtering process. Further, even when the filtering process is turned on, by further changing the strength of the filtering process as shown in FIG. 6, it is possible to prevent the measurement accuracy from being deteriorated as compared with the case where the filtering process is not changed.
Specifically, when the temperature becomes high, deterioration of measurement accuracy can be prevented by increasing (increasing) the strength of the filtering process.
FIG. 7 shows an operation of selecting the size of the spatial filter when the image processing selection unit 19 performs the filtering process according to the detected temperature T. In the following, description of the operation for instructing the first image processing unit 16 and the operation for generating the measurement image corresponding to the instruction by the first image processing unit 16 will be omitted.

ステップS11に示すように画像処理選択部19は、検知温度Tが空間フィルタのサイズを変更する閾値の温度(この場合、所定温度X3)以上か否かを判定する。検知温度Tが所定温度X3以上であると、ステップS12に示すように画像処理選択部19は、B×Bの空間フィルタを採用する処理内容を選択する。
一方、検知温度Tが所定温度X3未満であると、ステップS13に示すように画像処理選択部19は、A×Aの空間フィルタを採用する処理内容を選択する。そして、図7の処理を終了する。
上述したように温度が高くなった場合、フィルタリング処理をONすることにより、計測精度の劣化を防止できる。また、フィルタリング処理をONにした状態においても、さらに図7に示すようにフィルタリング処理する場合の空間フィルタのサイズを変更することにより、変更しない場合よりも計測精度の劣化を防止できる。
As shown in step S11, the image processing selection unit 19 determines whether or not the detected temperature T is equal to or higher than a threshold temperature (in this case, a predetermined temperature X3) for changing the size of the spatial filter. If the detected temperature T is equal to or higher than the predetermined temperature X3, the image processing selection unit 19 selects the processing content that employs the B × B spatial filter, as shown in step S12.
On the other hand, if the detected temperature T is lower than the predetermined temperature X3, the image processing selection unit 19 selects the processing content that employs the A × A spatial filter, as shown in step S13. Then, the process of FIG. 7 ends.
As described above, when the temperature becomes high, deterioration of measurement accuracy can be prevented by turning on the filtering process. Even in the state where the filtering process is turned on, by further changing the size of the spatial filter when the filtering process is performed as shown in FIG.

具体的には、温度が高くなった場合には、空間フィルタのサイズを小さくすることにより、計測の精度の劣化を防止できる。
また、図8のステップS16に示すように画像処理選択部19は、検知温度Tがクロマサプレスのフィルタリング処理をON/OFFする閾値の温度(この場合、所定温度X3)以上か否かを判定する。検知温度Tが所定温度X3以上であると、ステップS17に示すように画像処理選択部19は、クロマサプレスのフィルタリング処理をONにする処理内容を選択する。
一方、検知温度Tが所定温度X3未満であると、ステップS18に示すように画像処理選択部19は、クロマサプレスのフィルタリング処理をOFFにする処理内容を選択する。そして、図8の処理を終了する。
Specifically, when the temperature becomes high, the measurement accuracy can be prevented from deteriorating by reducing the size of the spatial filter.
Further, as shown in step S16 of FIG. 8, the image processing selection unit 19 determines whether or not the detected temperature T is equal to or higher than a threshold temperature (in this case, a predetermined temperature X3) for turning on / off the filtering processing of chroma suppress. . If the detected temperature T is equal to or higher than the predetermined temperature X3, the image processing selection unit 19 selects the processing content for turning on the chroma suppression filtering processing as shown in step S17.
On the other hand, if the detected temperature T is lower than the predetermined temperature X3, the image processing selection unit 19 selects the processing content for turning off the filtering processing of the chroma suppress as shown in step S18. Then, the process of FIG. 8 ends.

上述したように温度が高くなった場合、クロマ信号に混入するノイズのために、計測精度の劣化を防止するために、図8に示すようクロマサプレスをONにすることにより、OFFの場合よりも計測の精度の劣化を防止できる。
また、図9のステップS21に示すように画像処理選択部19は、検知温度Tが画素欠陥補正処理有り/無し(ON/OFF)の閾値の温度(この場合、所定温度X3)以上か否かを判定する。検知温度Tが所定温度X3以上であると、ステップS22に示すように画像処理選択部19は、画素欠陥補正処理無し(OFF)にする処理内容を選択する。
一方、検知温度Tが所定温度X3未満であると、ステップS23に示すように画像処理選択部19は、画素欠陥補正処理有り(ON)にする処理内容を選択する。そして、図9の処理を終了する。
As described above, when the temperature is high, the chroma suppression is turned on as shown in FIG. 8 in order to prevent deterioration in measurement accuracy due to noise mixed in the chroma signal. Degradation of measurement accuracy can be prevented.
Further, as shown in step S21 of FIG. 9, the image processing selection unit 19 determines whether or not the detected temperature T is equal to or higher than a threshold temperature (in this case, a predetermined temperature X3) with / without pixel defect correction processing (ON / OFF). Determine. If the detected temperature T is equal to or higher than the predetermined temperature X3, as shown in step S22, the image processing selection unit 19 selects the processing content for which no pixel defect correction processing is performed (OFF).
On the other hand, if the detected temperature T is lower than the predetermined temperature X3, the image processing selection unit 19 selects the processing content to be set to the pixel defect correction processing present (ON) as shown in step S23. Then, the process of FIG. 9 ends.

温度が高くなった場合、画素信号に重畳されるノイズ量が増えるため、画素欠陥補正処理有りの場合、欠陥画素に対して、その周辺画素の輝度値および色値をもとに補正が行われるため、増加したノイズ成分も一緒に重畳されることになる。そのため、対応位置の検出の精度が低下する。このため、閾値の温度以上では画素欠陥補正処理無しにすることにより計測の精度の劣化を防止できる。
また、画素欠陥補正処理有りにした場合、さらに図10のステップS26に示すように画像処理選択部19は、検知温度Tが画素欠陥補正処理の補正参照範囲を変更する閾値の温度(この場合、所定温度X2)以上か否かを判定する。検知温度Tが所定温度X2以上である判定した場合には、ステップS27に示すように画像処理選択部19は、欠陥画素の隣接画素を用いて欠陥画素の補正する処理内容を選択する。
When the temperature rises, the amount of noise superimposed on the pixel signal increases. Therefore, when there is a pixel defect correction process, the defective pixel is corrected based on the luminance value and color value of its surrounding pixels. Therefore, the increased noise component is also superimposed together. For this reason, the accuracy of detection of the corresponding position decreases. For this reason, the accuracy of measurement can be prevented from deteriorating by eliminating the pixel defect correction processing above the threshold temperature.
In addition, when the pixel defect correction process is performed, as illustrated in step S26 in FIG. 10, the image processing selection unit 19 further detects the threshold temperature at which the detected temperature T changes the correction reference range of the pixel defect correction process (in this case, It is determined whether or not the temperature is equal to or higher than a predetermined temperature X2). When it is determined that the detected temperature T is equal to or higher than the predetermined temperature X2, as illustrated in step S27, the image processing selection unit 19 selects the processing content to be corrected for the defective pixel using the adjacent pixel of the defective pixel.

一方、検知温度Tが所定温度X2未満であると、ステップS28に示すように画像処理選択部19は、欠陥画素の隣接画素及び近傍画素を用いて欠陥画素の補正する処理内容を選択する。そして、図10の処理を終了する。
画素欠陥補正処理有りにした場合、温度に応じて欠陥画素を補正する場合の欠陥画素の周囲の補正参照範囲を選択することにより、計測の精度の劣化を防止できる。
このように動作する本実施形態によれば、使用環境に応じて予め記憶部20に記憶した基準データに従って、フィルタリング処理又は画素欠陥補正処理のON/OFFを選択して、その選択に従って画像処理した計測用画像を用いて、距離又は面積等の計測を行うようにしているので、精度の高い計測を行うことができる。従って、本実施形態によれば、使用環境が変化した場合にも使用環境に応じて精度の劣化を低減又は防止した計測ができる。
なお、図5−図10により、代表的な処理を示したが、フィルタリング処理と画素欠陥補正処理とを組み合わせた処理を行うようにしても良い。
On the other hand, if the detected temperature T is lower than the predetermined temperature X2, as shown in step S28, the image processing selection unit 19 selects the processing content to be corrected for the defective pixel using the adjacent pixel and the neighboring pixel of the defective pixel. Then, the process of FIG.
When the pixel defect correction processing is performed, deterioration of measurement accuracy can be prevented by selecting a correction reference range around the defective pixel when the defective pixel is corrected according to the temperature.
According to this embodiment that operates as described above, ON / OFF of filtering processing or pixel defect correction processing is selected according to the reference data stored in advance in the storage unit 20 according to the use environment, and image processing is performed according to the selection. Since measurement of distance, area, or the like is performed using the measurement image, highly accurate measurement can be performed. Therefore, according to the present embodiment, even when the usage environment changes, it is possible to perform measurement with reduced or prevented accuracy degradation according to the usage environment.
Although typical processing is shown in FIG. 5 to FIG. 10, processing in which filtering processing and pixel defect correction processing are combined may be performed.

(第2の実施形態)
次に図11を参照して本発明の第2の実施形態を説明する。図11は、本発明の第2の実施形態の内視鏡装置1Bを示し、図1の場合と本体部3Bの構成が一部異なる。
上述した第1の実施形態は、過去に蓄積した計測データから、精度良く計測を行うことができるように分類し、各環境温度に応じて処理内容を決定(規定)できるように基準データとしてテーブル化したものである。この基準データに従った処理内容を採用することにより、使用環境としての環境温度の変化に応じて多くの場合に計測の精度の低下又は劣化を防止することができる。
一方、ユーザは、実際に計測を行う被検体に対して処理内容を変えた場合、その処理内容の変更による計測結果のずれ量(差分量)からノイズによる影響を把握して、ずれ量に応じて計測用画像を設定することを望む場合もある。或いは、例えば温度が高く、ノイズの影響を受け易いような場合には、ユーザは、処理内容を変えて実際に計測を行い、計測結果に応じて計測用画像を設定することを望む場合もある。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 11 shows an endoscope apparatus 1B according to the second embodiment of the present invention, and the configuration of the main body 3B is partially different from that in FIG.
In the first embodiment described above, the measurement data accumulated in the past is classified so that measurement can be performed with high accuracy, and the processing contents can be determined (defined) according to each environmental temperature as a table as reference data. It has become. By adopting the processing content according to the reference data, it is possible to prevent a decrease or deterioration in measurement accuracy in many cases according to a change in the environmental temperature as a use environment.
On the other hand, when the user changes the processing contents for the subject to be actually measured, the user grasps the influence of noise from the deviation amount (difference amount) of the measurement result due to the change of the processing contents, and responds to the deviation amount. In some cases, it may be desired to set a measurement image. Alternatively, for example, when the temperature is high and it is easily affected by noise, the user may desire to actually perform measurement by changing the processing content and set a measurement image according to the measurement result. .

或いは、基準データとして処理内容が変化する温度付近においては、僅かの温度の違いにより処理内容が変化するため、実際の計測対象物としての被検体の撮像条件(撮像環境)によって基準データを修正した方が精度良く計測できる可能性がある。
また、過去に蓄積したデータに当てはまらないような使用環境に該当する可能性もある。
このような場合に対応するために、本実施形態においては、以下に説明するように異なる処理内容で生成した暫定的な計測用画像(計測評価用画像という)を複数対生成し、それぞれを用いて実際に計測を行い、計測結果に応じて実際の計測に使用する対の計測用画像を決定することができる機能を設けている。
Alternatively, in the vicinity of the temperature at which the processing content changes as the reference data, the processing content changes due to a slight temperature difference, so the reference data is corrected according to the imaging conditions (imaging environment) of the subject as the actual measurement object. There is a possibility that it can be measured more accurately.
Moreover, there is a possibility that it corresponds to a use environment that does not apply to data accumulated in the past.
In order to cope with such a case, in this embodiment, a plurality of provisional measurement images (referred to as measurement evaluation images) generated with different processing contents are generated as described below, and each is used. A function is provided for actually measuring and determining a pair of measurement images to be used for actual measurement according to the measurement result.

本実施形態は、第1の実施形態において、第1画像処理部16がさらに処理内容が異なる2対の計測評価用画像を生成可能にし、計測部18は、2対の計測評価用画像を用いて同一の計測指示に対する2つの計測結果を取得する。そして、2つの計測結果に基づいて、例えば2つの計測結果の差分量と設定範囲との比較結果に応じて2対の計測評価用画像から、実際に計測部18が計測に使用する計測用画像を決定する機能を追加したものである。
本実施形態の内視鏡装置1Bは、図1の内視鏡装置1において、ユーザは計測指示部24から第1の実施形態の計測指示を行う第1計測指示と、計測評価用画像から計測用画像を決定して計測指示を行う第2計測指示とを行うことができる。
In this embodiment, in the first embodiment, the first image processing unit 16 can further generate two pairs of measurement evaluation images having different processing contents, and the measurement unit 18 uses two pairs of measurement evaluation images. To obtain two measurement results for the same measurement instruction. Then, based on the two measurement results, for example, from the two pairs of measurement evaluation images according to the comparison result between the difference amount between the two measurement results and the set range, the measurement image that is actually used for measurement by the measurement unit 18 The function to determine
The endoscope apparatus 1B according to the present embodiment is the same as the endoscope apparatus 1 shown in FIG. 1 except that the user performs measurement from the first measurement instruction for performing the measurement instruction of the first embodiment from the measurement instruction unit 24 and the measurement evaluation image. A second measurement instruction for determining a use image and giving a measurement instruction can be performed.

第1計測指示の場合の動作は、第1の実施形態と同じであるため、以下においては第2計測指示の場合を説明する。
ユーザは第2計測指示として、フィルタリング処理又は画素欠陥補正処理における一方の画像処理における複数の処理内容から互いに異なる2つの処理内容に従った2対の計測評価用画像を生成する指示を行う。
画像処理選択部19は、第2計測指示に応じて、第1画像処理部16に対して、指示された画像処理における互いに異なる2つの処理内容を指示し、第1画像処理部16はその指示に従って2対の計測評価用画像を生成し、計測部18に出力する。つまり、第1画像処理部16は、2対の計測評価用画像を生成する計測評価用画像生成部40を有する。
Since the operation in the case of the first measurement instruction is the same as that of the first embodiment, the case of the second measurement instruction will be described below.
As the second measurement instruction, the user gives an instruction to generate two pairs of measurement evaluation images according to two different process contents from a plurality of process contents in one image process in the filtering process or the pixel defect correction process.
In response to the second measurement instruction, the image processing selection unit 19 instructs the first image processing unit 16 of two different processing contents in the instructed image processing, and the first image processing unit 16 2 pairs of measurement evaluation images are generated and output to the measurement unit 18. That is, the first image processing unit 16 includes a measurement evaluation image generation unit 40 that generates two pairs of measurement evaluation images.

計測部18は、第2計測指示に応じて、2対の計測評価用画像を用いて同一の計測を実施し、それぞれ計測を実施した場合における2つの計測結果を、本体部3B内に設けた計測結果比較部41に出力する。
このように、本実施形態においては本体部3Bは、計測部18から出力される2つの計測結果を比較する計測結果比較部41を有する。この計測結果比較部41は、2つの計測結果を比較する場合、例えば2つの計測結果の差分量を算出し、その差分量が予め設定された設定範囲内か否かの判定を行う。
例えば、処理内容を変更した場合、ノイズのために差分量の絶対値が大きくなることが考えられ、許容される範囲の閾値としての設定範囲以内の場合には基本的には画像処理を行なうもの、又はこれに近い処理内容で計測用画像を生成する。
In response to the second measurement instruction, the measurement unit 18 performs the same measurement using the two pairs of measurement evaluation images, and provides two measurement results in the case where each measurement is performed in the main body 3B. The result is output to the measurement result comparison unit 41.
As described above, in the present embodiment, the main body 3 </ b> B includes the measurement result comparison unit 41 that compares two measurement results output from the measurement unit 18. When comparing two measurement results, the measurement result comparison unit 41 calculates, for example, a difference amount between the two measurement results, and determines whether or not the difference amount is within a preset setting range.
For example, if the processing content is changed, the absolute value of the difference amount may increase due to noise, and image processing is basically performed when it is within the set range as the allowable range threshold. Alternatively, a measurement image is generated with processing contents close to this.

一方、差分量(の絶対値)が設定範囲から逸脱する場合には、ノイズの影響が大きいと考えられるため、画像処理を行わないもの、又は処理内容をより弱くするもので計測用画像を生成する。
本体部3Bは、この設定範囲のデータを記憶する記憶部42を有し、計測結果比較部41は、この設定範囲のデータを参照して計測結果の差分量が、設定範囲内か否かを判定する。なお、この設定範囲のデータを記憶部20が記憶するようにしても良い。また、計測結果比較部41は、差分量の絶対値が正の設定値以内か否かの比較をして差分量がノイズにより許容される設定範囲内か否かの判定を行うようにしても良い。
計測結果比較部41は、差分量と設定範囲との比較結果に応じて、2対の計測評価用画像から実際に計測に用いる1対の計測用画像を選択して決定する計測用画像選択部43を有する。その他の構成は第1の実施形態と同じである。
On the other hand, if the difference amount (absolute value) deviates from the setting range, it is considered that the influence of noise is large. Therefore, an image for measurement is generated without image processing or with weaker processing content. To do.
The main body 3B has a storage unit 42 for storing data of the setting range, and the measurement result comparison unit 41 refers to the data of the setting range to determine whether or not the difference amount of the measurement result is within the setting range. judge. Note that the storage unit 20 may store data of the setting range. In addition, the measurement result comparison unit 41 may determine whether or not the difference value is within a setting range allowed by noise by comparing whether or not the absolute value of the difference value is within a positive setting value. good.
The measurement result comparison unit 41 selects and determines a pair of measurement images actually used for measurement from two pairs of measurement evaluation images according to the comparison result between the difference amount and the set range. 43. Other configurations are the same as those of the first embodiment.

次に図12を参照して本実施形態の動作を具体的に説明する。図12は使用環境としてのユーザが例えば検知温度Tが所定温度X3以上の場合に対して、フィルタリング処理をON/OFFして計測用画像を選択(決定)する様に第2計測指示を行った場合の処理手順を示す。
最初のステップS31において画像処理選択部19は、検知温度Tがフィルタリング処理のON/OFFする閾値の温度(この場合、所定温度X3)以上か否かを判定する。検知温度Tが所定温度X3未満であると、ステップS32に示すように画像処理選択部19は、記憶部20の基準データを参照してフィルタリング処理をOFFにする処理内容を選択する。
Next, the operation of this embodiment will be specifically described with reference to FIG. In FIG. 12, when the user as the use environment is, for example, when the detected temperature T is equal to or higher than the predetermined temperature X3, the second measurement instruction is performed so as to select (determine) the measurement image by turning on / off the filtering process. The processing procedure is shown.
In the first step S31, the image processing selection unit 19 determines whether or not the detected temperature T is equal to or higher than a threshold temperature (in this case, a predetermined temperature X3) at which the filtering process is turned ON / OFF. If the detected temperature T is lower than the predetermined temperature X3, the image processing selection unit 19 refers to the reference data in the storage unit 20 and selects the processing content for turning off the filtering processing, as shown in step S32.

一方、検知温度Tが所定温度X3以上であると、ステップS33に示すように画像処理選択部19は、フィルタリング処理をONした場合と、OFFにした場合との処理内容を(2対の計測評価用画像を生成するために)選択して、この選択に対応した処理内容を第1画像処理部16のフィルタリング処理回路31aに指示する。
ステップS34に示すように第1画像処理部16(のフィルタリング処理回路31a)は、指示に対応して2対の計測評価用画像を生成し、計測部18に出力する。
ステップS35に示すように計測部18は、2対の計測評価用画像を用いて同一の計測を実施し、2つの計測結果を取得し、計測結果比較部41に出力する。
On the other hand, when the detected temperature T is equal to or higher than the predetermined temperature X3, the image processing selection unit 19 determines the processing contents when the filtering process is turned on and when the filtering process is turned off (two pairs of measurement evaluations) as shown in step S33. And select the processing contents corresponding to this selection to the filtering processing circuit 31a of the first image processing unit 16.
As shown in step S <b> 34, the first image processing unit 16 (the filtering processing circuit 31 a) generates two pairs of measurement evaluation images corresponding to the instructions and outputs them to the measurement unit 18.
As shown in step S <b> 35, the measurement unit 18 performs the same measurement using the two pairs of measurement evaluation images, acquires two measurement results, and outputs them to the measurement result comparison unit 41.

ステップS36に示すように計測結果比較部41は、2つの計測結果に対する比較処理を行う。計測結果比較部41は、2つの計測結果に対する比較処理を行うために、例えば2つの計測結果の差分量を算出する。そして、ステップS37に示すように計測結果比較部41つの計測結果の差分量が設定範囲以内となるか否かの比較を行う。
差分量が設定範囲以内となる比較結果の場合には、ステップS38に示すように計測結果比較部41は、フィルタリング処理がONの場合の対の計測評価用画像を対の計測用画像として選択(設定)する。
一方、差分量が設定範囲以内に収まらないで設定範囲から逸脱する比較結果の場合には、ステップS39に示すように計測結果比較部41は、フィルタリング処理がOFFNの場合の対の計測評価用画像を対の計測用画像として選択(設定)する。
As shown in step S36, the measurement result comparison unit 41 performs a comparison process on the two measurement results. The measurement result comparison unit 41 calculates, for example, a difference amount between two measurement results in order to perform a comparison process on the two measurement results. Then, as shown in step S <b> 37, a comparison is made as to whether or not the amount of difference between the measurement results of the 41 measurement result comparison units 41 is within the set range.
In the case of a comparison result in which the difference amount is within the set range, as shown in step S38, the measurement result comparison unit 41 selects a pair of measurement evaluation images when the filtering process is ON as a pair of measurement images ( Setting).
On the other hand, in the case of a comparison result in which the difference amount does not fall within the set range and deviates from the set range, as shown in step S39, the measurement result comparison unit 41 sets a pair of measurement evaluation images when the filtering process is OFFN. Is selected (set) as a pair of measurement images.

このように計測結果が設定範囲内に有るか否かに応じて2対の計測評価用画像から、計測部18が実際に計測に使用する対の計測用画像を選択(設定)して、選択された対の計測用画像を使用して計測を実行することになる。
このように本実施形態においては処理内容が異なる、つまりフィルタリング処理ONと,OFFにした2対の計測評価用画像を生成して、実際の使用環境において実際にそれぞれ計測を行い、計測結果に基づいて対の計測用画像を設定するようにしているので、使用環境が変化するような場合においても、その使用環境に応じて適切な対の計測用画像を設定でき、精度の劣化を防止した計測を行うことが可能になる。
また、ノイズの影響を受け易い温度環境や、処理内容が変わる温度付近や、過去の蓄積したデータには当てはまらないような使用環境に対しても、その使用環境に応じて適切な対の計測用画像を設定でき、精度の劣化を防止した計測を行うことが可能になる。
Thus, the measurement unit 18 selects (sets) a pair of measurement images that are actually used for measurement from the two pairs of measurement evaluation images depending on whether or not the measurement result is within the setting range, and selects Measurement is executed using the paired measurement images.
As described above, in this embodiment, the processing contents are different, that is, two pairs of measurement evaluation images that are turned on and off are generated, and each measurement is actually performed in an actual use environment, and based on the measurement result. Therefore, even when the usage environment changes, it is possible to set an appropriate pair of measurement images according to the usage environment and prevent deterioration in accuracy. It becomes possible to do.
In addition, for temperature environments that are easily affected by noise, near temperatures where processing contents change, and usage environments that do not apply to past accumulated data, it is necessary to perform appropriate pairs of measurements according to the usage environment. It is possible to set an image and perform measurement while preventing deterioration in accuracy.

図13はユーザが例えば検知温度Tが所定温度X3以上の場合に対して、画素欠陥補正処理有り/無しにして計測用画像を選択(決定)する様に第2計測指示を行った場合の処理手順を示す。
最初のステップS41において画像処理選択部19は、検知温度Tが画素欠陥補正処理有り/無しにする閾値の温度(この場合、所定温度X3)以上か否かを判定する。検知温度Tが所定温度X3未満であると、ステップS42に示すように画像処理選択部19は、記憶部20の基準データを参照して画素欠陥補正処理有りにする処理内容を選択する。なお、ユーザの選択的な指示により、ステップS42に相当する処理を(特に検知温度が所定温度X3とは異なる所定温度未満のような場合に)行わせるようにしても良い。
FIG. 13 shows a process when the user gives a second measurement instruction to select (determine) a measurement image with / without pixel defect correction processing, for example, when the detected temperature T is equal to or higher than the predetermined temperature X3. Show the procedure.
In first step S41, the image processing selection unit 19 determines whether or not the detected temperature T is equal to or higher than a threshold temperature (in this case, a predetermined temperature X3) at which pixel defect correction processing is performed / not performed. If the detected temperature T is lower than the predetermined temperature X3, the image processing selection unit 19 refers to the reference data in the storage unit 20 as shown in step S42, and selects the processing content to be subjected to the pixel defect correction processing. Note that the processing corresponding to step S42 may be performed (particularly when the detected temperature is lower than a predetermined temperature different from the predetermined temperature X3) according to a user's selective instruction.

一方、検知温度Tが所定温度X3以上であると、ステップS43に示すように画像処理選択部19は、画素欠陥補正処理有りの場合と、無しの場合との2種類の処理内容を(2対の計測評価用画像を生成するために)選択する。画像処理選択部19は、この選択に対応した処理内容を第1画像処理部16(の計測評価用画像生成部40を形成する)の画素欠陥補正処理回路32aに指示する。
ステップS44に示すように第1画像処理部16(の画素欠陥補正処理回路32a)は、指示に対応して2対の計測評価用画像を生成し、計測部18に出力する。
ステップS45に示すように計測部18は、2対の計測評価用画像を用いて同一の計測を実施し、2つの計測結果を取得し、2つの計測結果を計測結果比較部41に出力する。
On the other hand, if the detected temperature T is equal to or higher than the predetermined temperature X3, as shown in step S43, the image processing selection unit 19 performs two types of processing contents with and without pixel defect correction processing (two pairs). To generate a measurement evaluation image). The image processing selection unit 19 instructs the processing content corresponding to this selection to the pixel defect correction processing circuit 32a of the first image processing unit 16 (which forms the measurement evaluation image generation unit 40).
As shown in step S <b> 44, the first image processing unit 16 (the pixel defect correction processing circuit 32 a) generates two pairs of measurement evaluation images corresponding to the instructions and outputs them to the measurement unit 18.
As shown in step S <b> 45, the measurement unit 18 performs the same measurement using two pairs of measurement evaluation images, acquires two measurement results, and outputs the two measurement results to the measurement result comparison unit 41.

ステップS46に示すように計測結果比較部41は、2つの計測結果に対する比較処理を行う。計測結果比較部41は、2つの計測結果に対する比較処理を行うために、例えば2つの計測結果の差分量を算出する。そして、ステップS47に示すように計測結果比較部41は2つの計測結果の差分量が設定範囲以内となるか否かの比較を行う。
差分量が設定範囲以内となる比較結果の場合には、ステップS48に示すように計測結果比較部41は、画素欠陥補正処理有りの場合の対の計測評価用画像を、対の計測用画像として選択(設定)する。
一方、差分量が設定範囲以内に収まらないで設定範囲から逸脱する比較結果の場合には、ステップS49に示すように計測結果比較部41は、画素欠陥補正処理無しの場合の対の計測評価用画像を、対の計測用画像として選択(設定)する。
As shown in step S46, the measurement result comparison unit 41 performs a comparison process on the two measurement results. The measurement result comparison unit 41 calculates, for example, a difference amount between two measurement results in order to perform a comparison process on the two measurement results. Then, as shown in step S47, the measurement result comparison unit 41 compares whether or not the difference amount between the two measurement results is within the set range.
In the case of the comparison result in which the difference amount is within the set range, as shown in step S48, the measurement result comparison unit 41 uses the pair of measurement evaluation images when the pixel defect correction processing is performed as the pair of measurement images. Select (set).
On the other hand, in the case of a comparison result in which the difference amount does not fall within the set range and deviates from the set range, as shown in step S49, the measurement result comparison unit 41 is for measurement evaluation of a pair without pixel defect correction processing. The image is selected (set) as a pair of measurement images.

このように計測結果が設定範囲内に有るか否かに応じて2対の計測評価用画像から、計測部18が実際に計測に使用する対の計測用画像を選択(設定)して、選択された対の計測用画像を使用して計測を実行することになる。
このように本実施形態においては処理内容が異なる、つまり画素欠陥補正処理有り、無しにした2対の計測評価用画像を生成して、実際の使用環境において実際にそれぞれ計測を行い、計測結果に基づいて対の計測用画像を設定するようにしているので、使用環境が変化するような場合においても、その使用環境に応じて適切な対の計測用画像を設定でき、精度の劣化を防止した計測を行うことが可能になる。
また、ノイズの影響を受け易い温度環境や、処理内容が変わる温度付近や、過去の蓄積したデータには当てはまらないような使用環境に対しても、その使用環境に応じて精度の劣化を防止した計測を行うことが可能になる。
Thus, the measurement unit 18 selects (sets) a pair of measurement images that are actually used for measurement from the two pairs of measurement evaluation images depending on whether or not the measurement result is within the setting range, and selects Measurement is executed using the paired measurement images.
As described above, in this embodiment, the processing contents are different, that is, two pairs of measurement evaluation images with and without pixel defect correction processing are generated, and each measurement is actually performed in an actual use environment, and the measurement result is obtained. Since the measurement images for the pair are set based on this, even when the usage environment changes, an appropriate pair of measurement images can be set according to the usage environment, preventing deterioration of accuracy. Measurement can be performed.
In addition, even in a temperature environment that is easily affected by noise, in the vicinity of a temperature at which the content of processing changes, or in a usage environment that does not apply to past accumulated data, accuracy deterioration was prevented according to the usage environment. Measurement can be performed.

図14はユーザが例えば検知温度Tが所定温度X2以上の場合に対して、画素欠陥補正処理を隣接画素から補正した場合と、隣接画素及び近傍画素から補正した場合とにおいて計測用画像を選択(決定)する様に第2計測指示を行った場合の処理手順を示す。最初のステップS51において画像処理選択部19は、検知温度Tが隣接画素で補正する閾値の温度(この場合、所定温度X2)以上か否かを判定する。検知温度Tが所定温度X2未満であると、ステップS52に示すように画像処理選択部19は、記憶部20の基準データを参照して画素欠陥補正処理を隣接画素及び近傍画素を用いて補正を行う処理内容を選択する。   FIG. 14 shows a case where the user selects a measurement image when the pixel defect correction processing is corrected from an adjacent pixel and when correction is performed from an adjacent pixel and a neighboring pixel, for example, when the detected temperature T is equal to or higher than a predetermined temperature X2. A processing procedure in the case where the second measurement instruction is performed as shown in FIG. In the first step S51, the image processing selection unit 19 determines whether or not the detected temperature T is equal to or higher than a threshold temperature (in this case, a predetermined temperature X2) corrected by the adjacent pixels. If the detected temperature T is lower than the predetermined temperature X2, as shown in step S52, the image processing selection unit 19 refers to the reference data in the storage unit 20 and performs pixel defect correction processing using adjacent pixels and neighboring pixels. Select the process to be performed.

一方、検知温度Tが所定温度X2以上であると、ステップS53に示すように画像処理選択部19は、画素欠陥補正処理を隣接画素及び近傍画素を用いた補正と、隣接画素のみを用いた補正との2種類の処理内容を(2対の計測評価用画像を生成するために)選択する。画像処理選択部19は、この選択に対応した処理内容を第1画像処理部16の画素欠陥補正処理回路32aに指示する。
ステップS54に示すように第1画像処理部16(の画素欠陥補正処理回路32a)は、指示に対応して2対の計測評価用画像を生成し、計測部18に出力する。
ステップS55に示すように計測部18は、2対の計測評価用画像を用いて同一の計測を実施し、2つの計測結果を取得し、2つの計測結果に対する差分量を計測結果比較部41に出力する。
On the other hand, when the detected temperature T is equal to or higher than the predetermined temperature X2, as shown in step S53, the image processing selection unit 19 performs pixel defect correction processing using correction using adjacent pixels and neighboring pixels, and correction using only adjacent pixels. Are selected (in order to generate two pairs of measurement evaluation images). The image processing selection unit 19 instructs the processing content corresponding to this selection to the pixel defect correction processing circuit 32 a of the first image processing unit 16.
As shown in step S <b> 54, the first image processing unit 16 (the pixel defect correction processing circuit 32 a) generates two pairs of measurement evaluation images corresponding to the instructions and outputs them to the measurement unit 18.
As shown in step S <b> 55, the measurement unit 18 performs the same measurement using the two pairs of measurement evaluation images, acquires the two measurement results, and sends the difference between the two measurement results to the measurement result comparison unit 41. Output.

ステップS56に示すように計測結果比較部41は、2つの計測結果に対する比較処理を行う。計測結果比較部41は、2つの計測結果に対する比較処理を行うために、例えば2つの計測結果の差分量を算出する。そして、ステップS57に示すように計測結果比較部41は2つの計測結果の差分量が設定範囲以内となるか否かの比較を行う。
差分量が設定範囲以内となる比較結果の場合には、ステップS58に示すように計測結果比較部41は、隣接画素及び近傍画素を用いて補正した場合の対の計測評価用画像を対の計測用画像として選択(設定)する。
一方、差分量が設定範囲以内に収まらないで設定範囲から逸脱する比較結果の場合には、ステップS59に示すように計測結果比較部41は、隣接画素のみを用いて補正した場合の対の計測評価用画像を対の計測用画像として選択(設定)する。
As shown in step S56, the measurement result comparison unit 41 performs a comparison process on the two measurement results. The measurement result comparison unit 41 calculates, for example, a difference amount between two measurement results in order to perform a comparison process on the two measurement results. Then, as shown in step S57, the measurement result comparison unit 41 compares whether or not the difference amount between the two measurement results is within the set range.
In the case of the comparison result in which the difference amount is within the set range, as shown in step S58, the measurement result comparison unit 41 measures the pair of measurement evaluation images when the correction is performed using the adjacent pixel and the neighboring pixel. Select (set) as an image.
On the other hand, in the case of a comparison result in which the difference amount does not fall within the set range and deviates from the set range, as shown in step S59, the measurement result comparison unit 41 performs pair measurement when correction is performed using only adjacent pixels. The evaluation image is selected (set) as a pair of measurement images.

このように計測結果が設定範囲内に有るか否かに応じて2対の計測評価用画像から、計測部18が実際に計測に使用する対の計測用画像を選択(設定)して、選択された対の計測用画像を使用して計測を実行することになる。
従って、本実施形態によれば、処理内容が異なる2対の計測評価用画像を生成して、実際の使用環境において実際にそれぞれ計測を行い、計測結果に基づいて対の計測用画像を設定するようにしているので、使用環境が変化するような場合においても、その使用環境に応じて適切な対の計測用画像を設定でき、精度の劣化を低減又は防止した計測を行うことが可能になる。その他、本実施形態は、第1の実施形態と同様の効果も有する。
Thus, the measurement unit 18 selects (sets) a pair of measurement images that are actually used for measurement from the two pairs of measurement evaluation images depending on whether or not the measurement result is within the setting range, and selects Measurement is executed using the paired measurement images.
Therefore, according to the present embodiment, two pairs of measurement evaluation images having different processing contents are generated, each measurement is actually performed in an actual use environment, and a pair of measurement images is set based on the measurement result. Therefore, even when the usage environment changes, an appropriate pair of measurement images can be set according to the usage environment, and measurement with reduced or prevented deterioration in accuracy can be performed. . In addition, the present embodiment also has the same effect as the first embodiment.

なお、本実施形態においては、図12−図14により代表的な処理を説明したが、図12−図14に示した以外の処理を行うこともできる。例えば、図12の場合において、検知温度Tが所定温度X3の代わりに所定温度X4以上か否かに応じて、図12に類似した処理を行うようにしても良い。
この場合には、検知温度Tが所定温度X4未満の場合には、ステップS32に相当する処理として、画像処理選択部19は、フィルタリング処理の強度が小さいレベルでフィルタリング処理をONにする処理内容を選択する。
一方、検知温度Tが所定温度X4以上の場合には、ステップS33に相当する処理として、画像処理選択部19は、フィルタリング処理の強度が小さいレベルでフィルタリング処理をONと、フィルタリング処理をOFFにした2種類の処理内容を選択して、ステップS34以降の処理を行うようにしても良い。
In the present embodiment, typical processing has been described with reference to FIGS. 12 to 14, but processing other than that illustrated in FIGS. 12 to 14 can also be performed. For example, in the case of FIG. 12, processing similar to FIG. 12 may be performed depending on whether the detected temperature T is equal to or higher than the predetermined temperature X4 instead of the predetermined temperature X3.
In this case, when the detected temperature T is lower than the predetermined temperature X4, as the processing corresponding to step S32, the image processing selection unit 19 sets the processing content to turn on the filtering processing at a level where the filtering processing strength is low. select.
On the other hand, when the detected temperature T is equal to or higher than the predetermined temperature X4, as a process corresponding to step S33, the image processing selection unit 19 turns on the filtering process and turns off the filtering process at a level where the strength of the filtering process is small. Two types of processing contents may be selected, and the processing after step S34 may be performed.

また、図12と、図13又は図14との組み合わせの処理を行うようにしても良い。なお、上述した説明においては、処理内容が異なる2対の計測評価用画像を生成する場合で説明したが、本発明は対の計測評価用画像を生成する場合に限定されるものでなく、3対以上の場合を含む複数対の計測評価用画像を生成し、複数の計測結果の値に応じて、実際にその使用環境で使用する対の計測用画像を設定するようにしても良い。3対以上の計測評価用画像を生成する場合においても、3つ以上の計測結果のずれ量に応じて、予め対の計測用画像として用いる条件を決めておくと良い。
なお、上述した各実施形態等を部分的に組み合わせる等して構成される実施形態も本発明に属する。
Further, the combination processing of FIG. 12 and FIG. 13 or FIG. 14 may be performed. In the above description, two pairs of measurement evaluation images having different processing contents are generated. However, the present invention is not limited to the case of generating a pair of measurement evaluation images. A plurality of pairs of measurement evaluation images including a pair or more cases may be generated, and a pair of measurement images actually used in the use environment may be set according to a plurality of measurement result values. Even when three or more pairs of measurement evaluation images are generated, conditions to be used as a pair of measurement images may be determined in advance according to the amount of deviation of three or more measurement results.
Note that embodiments configured by partially combining the above-described embodiments and the like also belong to the present invention.

1…内視鏡装置、2…挿入部、3…本体部、4…画像表示装置、5…先端部、6…LED、7a,7b…対物光学系、8…撮像素子、14…映像信号処理部、15…画像処理部、16…第1画像処理部、17…第2画像処理部、18…計測部、19…画像処理選択部、20、42…記憶部、21…温度センサ、23…温度検知部、24…計測指示部、31a,31b…フィルタリング処理回路、32a,32b…画素欠陥補正処理回路、40…計測評価用画像生成部、41…計測結果比較部、43…計測画像選択部   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Endoscope apparatus, 2 ... Insertion part, 3 ... Main-body part, 4 ... Image display apparatus, 5 ... Tip part, 6 ... LED, 7a, 7b ... Objective optical system, 8 ... Imaging element, 14 ... Video signal processing 15, image processing unit, 16, first image processing unit, 17, second image processing unit, 18, measurement unit, 19, image processing selection unit, 20, 42, storage unit, 21, temperature sensor, 23,. Temperature detection unit, 24 ... measurement instruction unit, 31a and 31b ... filtering processing circuit, 32a and 32b ... pixel defect correction processing circuit, 40 ... measurement evaluation image generation unit, 41 ... measurement result comparison unit, 43 ... measurement image selection unit

特開平10−248806号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-248806

Claims (5)

挿入部の先端部に設けられ、被検体の光学像を視差を有する対の対物光学系を用いて撮像する撮像素子と、
前記撮像素子にて光電変換された撮像画像の信号を映像信号に変換する映像信号処理部と、
前記映像信号処理部で生成された映像信号の画像に対し画像処理を施して、前記対の対物光学系に基づく対の計測用画像を生成する画像処理部と、
前記画像処理部で生成された前記対の計測用画像を用いて、被検体に対する計測を行う計測部と、
前記画像処理部に対して前記画像処理の処理内容を指示する画像処理選択部と、
前記画像処理の処理内容を決める上で基準となる基準データを記憶する記憶部と、
を有し、
前記基準データは、前記計測部による計測を行う使用環境に応じて、前記画像処理としてノイズを低減するフィルタリング処理及び画素欠陥補正処理の少なくとも一方に対する複数の処理内容中の一つを規定するものであり、
前記画像処理選択部は、前記記憶部に記憶された基準データを参照し、前記使用環境に応じて前記画像処理部に対して、前記画像処理の複数の処理内容中の一つを選択指示し、
前記画像処理部は、前記画像処理選択部からの選択指示に基づき、前記フィルタリング処理及び前記画素欠陥補正処理の少なくとも一方に対する複数の処理内容中の一つに従った画像処理によって前記計測部が計測に使用する前記対の計測用画像を生成することを特徴とする内視鏡装置。
An image sensor that is provided at the distal end of the insertion unit and captures an optical image of the subject using a pair of objective optical systems having parallax;
A video signal processing unit that converts a signal of a captured image photoelectrically converted by the imaging element into a video signal;
An image processing unit that performs image processing on an image of the video signal generated by the video signal processing unit, and generates a pair of measurement images based on the pair of objective optical systems;
Using the pair of measurement images generated by the image processing unit, a measurement unit that performs measurement on a subject;
An image processing selection unit for instructing the image processing unit to process the image processing;
A storage unit that stores reference data serving as a reference in determining the processing content of the image processing;
Have
The reference data defines one of a plurality of processing contents for at least one of filtering processing and pixel defect correction processing for reducing noise as the image processing according to a use environment in which measurement by the measurement unit is performed. Yes,
The image processing selection unit refers to the reference data stored in the storage unit, and instructs the image processing unit to select one of a plurality of processing contents of the image processing according to the use environment. ,
Based on the selection instruction from the image processing selection unit, the image processing unit performs measurement by image processing according to one of a plurality of processing contents for at least one of the filtering processing and the pixel defect correction processing. An endoscope apparatus, characterized in that the pair of measurement images to be used for the generation is generated.
前記画像処理部は、さらに、前記映像信号の画像に対して前記複数の処理内容における前記画像処理を施さない場合と、前記画像処理を施した場合との2対の計測評価用画像を生成する計測評価用画像生成部を有し、
前記計測部は、前記被検体に対しての同一の計測指示に対して、前記画像処理部で生成された前記2対の計測評価用画像を用いて2つの計測結果を算出し、
さらに、前記計測部による2つの計測結果を、予め設定した設定範囲内になるか否かを比較する計測結果比較部を有し、前記計測結果比較部による比較結果が前記設定範囲から逸脱している場合には、前記画像処理部で生成された前記2対の計測評価用画像の中で画像処理を施さない場合の画像を前記対の計測用画像とし、
一方、比較結果が前記設定範囲以内の場合、前記画像処理部で生成された画像処理を施した場合の対の計測評価用画像を前記対の計測用画像として選択すること特徴とする請求項1に記載の内視鏡装置。
The image processing unit further generates two pairs of measurement evaluation images when the image processing is not performed on the image of the video signal and when the image processing is performed. It has an image generation unit for measurement evaluation,
The measurement unit calculates two measurement results using the two pairs of measurement evaluation images generated by the image processing unit in response to the same measurement instruction for the subject,
Furthermore, it has a measurement result comparison part which compares whether two measurement results by the said measurement part are in the preset setting range, and the comparison result by the said measurement result comparison part deviates from the said setting range. If the image processing unit does not perform image processing among the two pairs of measurement evaluation images generated by the image processing unit,
On the other hand, when the comparison result is within the set range, a pair of measurement evaluation images when the image processing generated by the image processing unit is performed is selected as the pair of measurement images. The endoscope apparatus described in 1.
前記使用環境として前記計測部で計測を行う環境温度が所定温度未満の場合、前記映像信号の画像に対して前記画像処理部は、前記基準データを参照して前記フィルタリング処理を施さない、または、前記フィルタリング処理の強度を下げた対の計測用画像を生成し、
一方、前記環境温度が所定温度以上の場合、さらに、前記映像信号の画像に対して前記画像処理部は、前記フィルタリング処理を施した場合と、前記フィルタリング処理を施さない場合との2対の計測評価用画像を生成する計測評価用画像生成部を有し、
前記計測部は、前記被検体に対しての同一の計測指示に対して、前記画像処理部で生成された前記2対の計測評価用画像を用いて2つの計測結果を算出し、
さらに、前記計測部による2つの計測結果を、予め設定した設定範囲内になるか否かを比較する計測結果比較部を有し、前記計測結果比較部による比較結果が前記設定範囲から逸脱している場合には、前記2対の計測評価用画像のうち、フィルタリング処理を施さない場合の対の計測評価用画像を前記計測部が計測に使用する前記計測対象画像として選択することを特徴とする請求項1に記載の内視鏡装置。
When the environmental temperature measured by the measurement unit as the use environment is less than a predetermined temperature, the image processing unit does not perform the filtering process with reference to the reference data for the image of the video signal, or Generating a pair of measurement images with reduced strength of the filtering process;
On the other hand, when the environmental temperature is equal to or higher than a predetermined temperature, the image processing unit further performs two pairs of measurements when the filtering process is performed on the image of the video signal and when the filtering process is not performed. It has an image generation unit for measurement evaluation that generates an image for evaluation,
The measurement unit calculates two measurement results using the two pairs of measurement evaluation images generated by the image processing unit in response to the same measurement instruction for the subject,
Furthermore, it has a measurement result comparison part which compares whether two measurement results by the said measurement part are in the preset setting range, and the comparison result by the said measurement result comparison part deviates from the said setting range. If there is, the pair of measurement evaluation images when the filtering process is not performed among the two pairs of measurement evaluation images is selected as the measurement target image used for measurement by the measurement unit. The endoscope apparatus according to claim 1.
前記使用環境として前記計測部で計測を行う環境温度が所定温度未満の場合、前記映像信号の画像に対して前記画像処理部は、前記基準データを参照して前記画素欠陥補正処理を施して前記対の計測用画像を生成し、
一方、環境温度が所定温度以上の場合、さらに、前記映像信号の画像に対して前記画像処理部は、前記画素欠陥補正処理を施した場合と、施さない場合との2対の画素欠陥補正用計測評価用画像を生成する計測評価用画像生成部を有し、
前記計測部は、前記被検体に対して同一の計測を、前記画像処理部で作成された前記2対の画素欠陥補正用計測評価用画像を用いて2つの計測結果を算出し、
さらに、前記計測部による2つの計測結果を、予め設定した設定範囲内になるか否かを比較する計測結果比較部を有し、前記計測結果比較部による比較結果が前記設定範囲から逸脱している場合には、前記2対の画素欠陥補正用計測評価用画像のうち、前記画素欠陥補正処理を施さない場合の対の画素欠陥補正用計測評価画像を前記計測部が計測に使用する前記計測対象画像として選択することを特徴とする請求項1又は3に記載の内視鏡装置。
When the environment temperature measured by the measurement unit as the use environment is less than a predetermined temperature, the image processing unit performs the pixel defect correction processing with reference to the reference data for the image of the video signal, and Generate a pair of measurement images,
On the other hand, when the environmental temperature is equal to or higher than a predetermined temperature, the image processing unit further performs two pairs of pixel defect corrections for the image signal image when the pixel defect correction process is performed and when the pixel defect correction process is not performed. A measurement evaluation image generation unit for generating a measurement evaluation image;
The measurement unit calculates the same measurement for the subject, and calculates two measurement results using the two pairs of pixel defect correction measurement evaluation images created by the image processing unit,
Furthermore, it has a measurement result comparison part which compares whether two measurement results by the said measurement part are in the preset setting range, and the comparison result by the said measurement result comparison part deviates from the said setting range. The measurement unit uses the pair of pixel defect correction measurement evaluation images for measurement when the pixel defect correction processing is not performed, of the two pairs of pixel defect correction measurement evaluation images. The endoscope apparatus according to claim 1, wherein the endoscope apparatus is selected as a target image.
前記使用環境として前記計測部で計測を行う環境温度が所定温度未満の場合、前記映像信号の画像に対して前記画像処理部は、前記基準データを参照して欠陥画素に隣接する隣接画素及び該隣接画素の外側に隣接する近傍画素から前記欠陥画素を補正する前記画素欠陥補正処理を施して前記対の計測用画像を生成し、
一方、環境温度が所定温度以上の場合、さらに、前記映像信号の画像に対して前記画像処理部は、前記欠陥画素に隣接する隣接画素及び近傍画素から前記画素欠陥補正処理を施す場合と、前記欠陥画素に隣接する隣接画素から前記画素欠陥補正処理を施す場合との2対の画素欠陥補正用計測評価用画像を生成する計測評価用画像生成部を有し、
前記計測部は、前記被検体に対して同一の計測を、前記画像処理部で作成された前記2対の画素欠陥補正用計測評価用画像を用いて2つの計測結果を算出し、
さらに、前記計測部による2つの計測結果を、予め設定した設定範囲内になるか否かを比較する計測結果比較部を有し、前記計測結果比較部による比較結果が前記設定範囲から逸脱している場合には、前記2対の画素欠陥補正用計測評価用画像のうち、前記欠陥画素の隣接画素から前記画素欠陥補正処理を施した場合の対の画素欠陥補正用計測評価用画像を前記計測部が計測に使用する前記計測対象画像として選択することを特徴とする請求項1又は3に記載の内視鏡装置。
When the environmental temperature measured by the measurement unit as the use environment is less than a predetermined temperature, the image processing unit for the image of the video signal refers to the reference data and the adjacent pixel adjacent to the defective pixel and the pixel Generate the pair of measurement images by performing the pixel defect correction processing for correcting the defective pixels from neighboring pixels adjacent to the outside of the adjacent pixels,
On the other hand, when the environmental temperature is equal to or higher than a predetermined temperature, the image processing unit further applies the pixel defect correction processing from an adjacent pixel and a neighboring pixel adjacent to the defective pixel to the image of the video signal, A measurement evaluation image generation unit that generates two pairs of pixel defect correction measurement evaluation images when performing the pixel defect correction processing from adjacent pixels adjacent to the defective pixels;
The measurement unit calculates the same measurement for the subject, and calculates two measurement results using the two pairs of pixel defect correction measurement evaluation images created by the image processing unit,
Furthermore, it has a measurement result comparison part which compares whether two measurement results by the said measurement part are in the preset setting range, and the comparison result by the said measurement result comparison part deviates from the said setting range. If the pixel defect correction measurement evaluation image for the pixel defect correction is performed from the adjacent pixels of the defective pixel, the measurement evaluation image for the pixel defect correction pair of the two pairs of pixel defect correction measurement evaluation images is measured. The endoscope apparatus according to claim 1, wherein the unit selects the measurement target image used for measurement.
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