JP2012099402A - Connector - Google Patents

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良尚 川手
Toshio Ota
稔男 太田
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
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    • H01R13/6473Impedance matching
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
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    • H01R13/46Bases; Cases
    • H01R13/514Bases; Cases composed as a modular blocks or assembly, i.e. composed of co-operating parts provided with contact members or holding contact members between them

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a connector capable of improving transmission characteristics of a high-frequency signal.SOLUTION: A connector 1 includes: a plurality of pairs of contacts 3 each having 3a and 3b which are each long and thin and placed at a distance from each other in parallel; and a plurality of first supporting parts (41-1 to 41-7, 42-1 to 42-7) attached in a longitudinal direction of corresponding contacts (3a, 3b). In at least one region, interior surfaces 32 of the contacts of each pair face to each other while being separated from each other by air; and exterior surfaces 31 of the contacts of each pair face to the outside direction with respect to each other; the center part of each exterior surface 31 is attached to each corresponding first supporting part in a longitudinal direction of each contact; and the edge of each exterior surface 31 is not attached to any of the plurality of first supporting parts.

Description

本発明は、回路基板を他の回路基板または電子機器に対して電気的に接続するために使用されるコネクタに関する。   The present invention relates to a connector used for electrically connecting a circuit board to another circuit board or an electronic device.

ルータまたは中継器といった通信装置、及び、サーバまたはストレージシステムといった情報処理装置のように、大量のデータを扱い、複数の回路基板を備える装置において、それら複数の回路基板間で信号を伝送するためにバックプレーンと呼ばれる回路基板が使用されている。そして、実際に情報処理を行うプロセッサなどの演算回路またはメモリなどを備えたドーターボードと呼ばれる回路基板が有する端子とバックプレーン上の対応する端子とは、コネクタを用いて接続される。
近年、上記のような装置において、基板間で伝送される信号の伝送速度が高速化しており、装置によっては伝送速度が10Gbit/secよりも速くなることがある。このような伝送速度の高速化に伴って、伝送される信号の周波数も高くなっている。そのため、コネクタには、高周波数信号を伝送できることが求められている。
In a device that handles a large amount of data and has a plurality of circuit boards, such as a communication device such as a router or a repeater, and an information processing device such as a server or a storage system, for transmitting signals between the plurality of circuit boards. A circuit board called a backplane is used. A terminal included in a circuit board called a daughter board including an arithmetic circuit such as a processor that actually performs information processing or a memory and a corresponding terminal on the backplane are connected using a connector.
In recent years, in the apparatus as described above, the transmission speed of signals transmitted between substrates has been increased, and depending on the apparatus, the transmission speed may be higher than 10 Gbit / sec. As the transmission speed is increased, the frequency of the transmitted signal is also increased. Therefore, the connector is required to be able to transmit a high frequency signal.

そこで、高速な信号伝送を可能にしたコネクタが開発されている(例えば、特許文献1〜4を参照)。例えば、特許文献1には、「高速コネクタは、2列の導電性端子(420)が絶縁性支持本体に支持される複数のウェハ形の構成要素(400)を含み、前記支持体は、列の導電性端子間に配設された内部キャビティ(133)を含む。端子は水平方向の端子対を作るように配列され、内部キャビティは2端子列内に配列された各水平方向の端子対の間に空気チャネルを画定する」ことが開示されている。   Thus, connectors that enable high-speed signal transmission have been developed (see, for example, Patent Documents 1 to 4). For example, Patent Document 1 states that “a high-speed connector includes a plurality of wafer-shaped components (400) in which two rows of conductive terminals (420) are supported by an insulating support body, and the support includes a row. Including an internal cavity (133) disposed between the conductive terminals of each of the horizontal terminals 133. The terminals are arranged to create a horizontal terminal pair, and the internal cavities of each horizontal terminal pair arranged in a two-terminal array. "Defining an air channel between".

特表2008−535184号公報Special table 2008-535184 gazette 特表2008−535185号公報Special table 2008-535185 gazette 特表2008−535187号公報Special table 2008-535187 特表2008−535188号公報Special table 2008-535188 gazette

コネクタは、高周波数信号を正確に伝送するために、挿入損失及び隣接する接触子ペア間でのクロストークをできるだけ抑制することが求められている。   The connector is required to suppress insertion loss and crosstalk between adjacent contact pairs as much as possible in order to accurately transmit a high frequency signal.

そこで本発明の目的は、高周波数信号の伝送特性を向上することが可能なコネクタを提供することにある。   Therefore, an object of the present invention is to provide a connector capable of improving the transmission characteristics of a high frequency signal.

本発明の一つの側面によれば、コネクタが提供される。このコネクタは、細長く、略平行でかつ離して配置された2本の接触子を含む複数の接触子ペアと、それぞれが対応する接触子の長手方向に沿って取り付けられた複数の第1の支持部とを有する。少なくとも一つの領域において、各接触子ペアの接触子の内面は互いに対向し、かつ空気により分離され、各接触子ペアの接触子の外面は互いに対して外方向を向いており、外面の中央部は接触子の長手方向に沿って対応する第1の支持部に取り付けられ、かつ外面の端部は第1の支持部に取り付けられない。   According to one aspect of the invention, a connector is provided. The connector includes a plurality of contact pairs including two contacts that are elongated, substantially parallel and spaced apart, and a plurality of first supports attached along the longitudinal direction of the corresponding contacts. Part. In at least one region, the inner surfaces of the contacts of each contact pair are opposed to each other and separated by air, and the outer surfaces of the contacts of each contact pair are directed outward with respect to each other, and the central portion of the outer surfaces Are attached to the corresponding first support portions along the longitudinal direction of the contact, and the end portions of the outer surfaces are not attached to the first support portions.

本発明の他の側面によれば、コネクタが提供される。このコネクタは、細長く、略平行でかつ離して配置された2本の接触子を含む、略同心円状に配置された複数の接触子ペアと、それぞれが対応する接触子の長手方向に沿って取り付けられた複数の第1の支持部とを有する。少なくとも一つの領域において、各接触子ペアの接触子の内面は互いに対向し、かつ空気により分離され、各接触子ペアの接触子の外面は互いに対して外方向を向いており、外面の中央部は接触子の長手方向に沿って対応する第1の支持部に取り付けられ、かつ外面の端部は第1の支持部に取り付けられない。   According to another aspect of the invention, a connector is provided. This connector is attached along a longitudinal direction of a plurality of contact pairs arranged in substantially concentric circles, including two elongated, substantially parallel and spaced apart contact pieces. A plurality of first support portions. In at least one region, the inner surfaces of the contacts of each contact pair are opposed to each other and separated by air, and the outer surfaces of the contacts of each contact pair are directed outward with respect to each other, and the central portion of the outer surfaces Are attached to the corresponding first support portions along the longitudinal direction of the contact, and the end portions of the outer surfaces are not attached to the first support portions.

本発明によれば、高周波数信号の伝送特性を向上することができるコネクタを提供することが可能となる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it becomes possible to provide the connector which can improve the transmission characteristic of a high frequency signal.

本発明の一つの実施形態に係るコネクタを前方斜め上方から見た概略斜視図である。It is the schematic perspective view which looked at the connector which concerns on one Embodiment of this invention from front diagonally upward. 本発明の一つの実施形態に係るコネクタを後方斜め上方から見た概略斜視図である。It is the schematic perspective view which looked at the connector which concerns on one Embodiment of this invention from back diagonally upward. 本発明の一つの実施形態に係るコネクタを前方斜め下方から見た概略斜視図である。It is the schematic perspective view which looked at the connector which concerns on one Embodiment of this invention from the front diagonally downward. 複数の接触子ペアのそれぞれに含まれる一方の接触子を支持するウェハを一方の面から見たそのウェハの概略斜視図である。It is the schematic perspective view of the wafer which looked at the wafer which supports one contact contained in each of a plurality of contact pairs from one side. 図4に示されたウェハを他方の面から見たそのウェハの概略斜視図である。It is the schematic perspective view of the wafer which looked at the wafer shown by FIG. 4 from the other surface. 図1の面Aにおけるコネクタの断面を示す図である。It is a figure which shows the cross section of the connector in the surface A of FIG. 図6における領域Bの拡大図である。It is an enlarged view of the area | region B in FIG. (A)は、本発明の実施形態によるコネクタに含まれる一対の接触子間の電界ベクトルの向きと強さを表す電界ベクトル図であり、(B)は、比較例である従来技術による一対の接触子間の電界を表す電界ベクトル図である。(A) is an electric field vector diagram showing the direction and strength of an electric field vector between a pair of contacts included in a connector according to an embodiment of the present invention, and (B) is a pair of conventional techniques according to a comparative example. It is an electric field vector diagram showing the electric field between contacts. (A)は、シミュレーションに用いた、本実施形態によるコネクタの各部の寸法を示す図であり、(B)は、シミュレーションに用いた、比較例によるコネクタの各部の寸法を示す図である。(A) is a figure which shows the dimension of each part of the connector by this embodiment used for simulation, (B) is a figure which shows the dimension of each part of the connector by a comparative example used for simulation. 他の実施形態による、支持部材であるウェハを一方の面から見たそのウェハの概略斜視図である。It is the schematic perspective view of the wafer which looked at the wafer which is a supporting member from one side by other embodiments. 図10に示されたウェハを他方の面から見たそのウェハの概略斜視図である。It is the schematic perspective view of the wafer which looked at the wafer shown by FIG. 10 from the other surface. 図10の面Dにおけるウェハの断面を示す図である。It is a figure which shows the cross section of the wafer in the surface D of FIG. さらに他の実施形態によるコネクタが有する接触子ペアの概略斜視図である。It is a schematic perspective view of the contactor pair which the connector by other embodiment has. さらに他の変形例による、接触子ペアとその接触子ペアを支持するウェハを一方の側から見た概略斜視図である。It is the schematic perspective view which looked at the contactor pair and the wafer which supports the contactor pair from another side by other modification. 図14に示された接触子ペアとウェハを他方の側から見た概略斜視図である。FIG. 15 is a schematic perspective view of the contact pair and the wafer shown in FIG. 14 as viewed from the other side.

以下、図面を参照しつつ、本発明の一つの実施形態に係るコネクタについて説明する。このコネクタは、例えば、バックプレーンと他の回路基板または電子機器を接続するために用いられる。そしてこのコネクタにおいて、例えば、差動伝送方式により信号を伝送する複数の接触子ペアを支持する部材が、信号伝送時において各接触子ペア間で生じる電界強度ができるだけ低い領域に存在するように設けられる。これにより、このコネクタは、回路基板などと接続される接触子の両端子間におけるインピーダンスの容量成分が信号伝送時に生じる電界により増加することを抑制して、伝送特性を向上する。   Hereinafter, a connector according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. This connector is used, for example, to connect a backplane and other circuit boards or electronic devices. In this connector, for example, a member that supports a plurality of contact pairs that transmit signals by the differential transmission method is provided in a region where the electric field strength generated between the contact pairs during signal transmission is as low as possible. It is done. As a result, this connector suppresses an increase in the capacitance component of the impedance between both terminals of the contact connected to the circuit board or the like due to the electric field generated during signal transmission, and improves transmission characteristics.

図1は、本発明の一つの実施形態に係るコネクタを前方(本実施形態では、後述するキャップ側)斜め上方から見た概略斜視図であり、図2は、本発明の一つの実施形態に係るコネクタを後方斜め上方から見た概略斜視図である。また図3は、本発明の一つの実施形態に係るコネクタを前方斜め下方から見た概略斜視図である。
コネクタ1は、キャップ2と、複数の接触子ペア3と、複数のウェハ4とを含む。
FIG. 1 is a schematic perspective view of a connector according to one embodiment of the present invention as viewed from the front (in this embodiment, a cap side to be described later) obliquely from above, and FIG. 2 is a diagram illustrating one embodiment of the present invention. It is the schematic perspective view which looked at the connector which concerns from back diagonally upward. FIG. 3 is a schematic perspective view of the connector according to one embodiment of the present invention as seen from the front obliquely downward.
The connector 1 includes a cap 2, a plurality of contact pairs 3, and a plurality of wafers 4.

キャップ2は、筺体の一例であり、ウェハ4に支持された各接触子ペアに含まれる接触子間の距離が一定に保たれるように、各ウェハ4を保持する。そのために、キャップ2は、一つの側面が開放された箱型の形状を有している。そしてその開放された面と対向する端面2aには、各接触子ペア3の一方の端部(図示されていない)及びその端部と接続される回路基板の端子を挿入可能なように、複数の孔21が形成されている。またキャップ2の上壁2b及び下壁2cの内側の面には、側壁2dと平行な方向に沿って、ウェハ4が挿入される方向を規定するレール(図示されていない)が形成されている。さらに、キャップ2の上壁2bまたは下壁2cには、ウェハ4の上端または下端に形成された突起と係合して、ウェハ4が脱落することを防止するための孔が形成されていてもよい。
キャップ2を構成する材料は、誘電体であることが好ましい。その材料は、工業用プラスチックス、例えば、アクリロニトリル ブタジエンスチレンスチレン共重合樹脂(ABS樹脂)、ポリブチレンテレフタレート樹脂(PBT樹脂)、ポリエチレンテレフタレート樹脂(PET樹脂)、液晶ポリマー(LCP)、ポリカーボネート樹脂(PC樹脂)、ポリフェニレンオキサイド樹脂(PPO樹脂)、ポリサルフォン(PSF樹脂)、ポリエーテルイミド樹脂(PEI樹脂)、ポリエーテルケトン樹脂(PEK樹脂)、ポリアミド樹脂(PA樹脂)、ポリシクロヘキシレン ジメチレン テレフタレート樹脂(PCT樹脂)、ポリフェニレンサルファイド樹脂(PPS樹脂)、ポリエーテルサルフォン(PES樹脂)、ポリエーテル自身およびそれらの共重合体からなる樹脂を含んでもよい。またその材料は、剛性を上げるためにガラスファイバー等の絶縁性フィラー等を含んでもよい。
The cap 2 is an example of a housing, and holds each wafer 4 so that the distance between the contacts included in each contact pair supported by the wafer 4 is kept constant. Therefore, the cap 2 has a box shape with one side surface opened. In the end face 2a opposite to the opened face, a plurality of one end portions (not shown) of each contact pair 3 and terminals of the circuit board connected to the end portions can be inserted. The hole 21 is formed. Rails (not shown) that define the direction in which the wafer 4 is inserted are formed on the inner surfaces of the upper wall 2b and the lower wall 2c of the cap 2 along a direction parallel to the side wall 2d. . Further, even if the upper wall 2b or the lower wall 2c of the cap 2 is formed with a hole for engaging with the protrusion formed on the upper end or the lower end of the wafer 4 to prevent the wafer 4 from falling off. Good.
The material constituting the cap 2 is preferably a dielectric. The materials are industrial plastics such as acrylonitrile butadiene styrene styrene copolymer resin (ABS resin), polybutylene terephthalate resin (PBT resin), polyethylene terephthalate resin (PET resin), liquid crystal polymer (LCP), polycarbonate resin (PC). Resin), polyphenylene oxide resin (PPO resin), polysulfone (PSF resin), polyetherimide resin (PEI resin), polyether ketone resin (PEK resin), polyamide resin (PA resin), polycyclohexylene dimethylene terephthalate resin (PCT) Resin), polyphenylene sulfide resin (PPS resin), polyether sulfone (PES resin), polyether itself and a resin composed of a copolymer thereof may be included. The material may contain an insulating filler such as glass fiber in order to increase the rigidity.

複数の接触子ペア3のそれぞれは、例えば、コネクタ1に接続される二つの回路基板間での信号を、差動伝送方式によって伝送する。そのために、複数の接触子ペア3のそれぞれは、略平行な、一定幅を持つエアギャップにより隔てられた2本の接触子3a、3bを含む。接触子3a、3bは、細長く、その断面形状は略矩形である。接触子3a、3bは、その接触子3a、3bの長手方向に沿ったエアギャップの中心線に対して線対称となるように配置される。2本の接触子3a、3bは、それぞれ、二つのウェハ4a、4bによって別個に支持される。接触子3a、3bの一端は、コネクタ1の底面において2次元アレイ状に配列される。そして複数の接触子ペア3は、コネクタ1の底面に近接して配置された回路基板(例えば、ドーターボード)上に設けられた端子と電気的に接続可能となっている。
なお、各接触子ペアに含まれる一方の接触子は高周波数信号を伝送し、他方の接触子は接地されてもよい。
Each of the plurality of contact pairs 3 transmits, for example, a signal between two circuit boards connected to the connector 1 by a differential transmission method. For this purpose, each of the plurality of contact pairs 3 includes two contacts 3a and 3b separated by an air gap having a certain width and substantially parallel. The contacts 3a and 3b are elongated and have a substantially rectangular cross-sectional shape. The contacts 3a and 3b are arranged so as to be line symmetric with respect to the center line of the air gap along the longitudinal direction of the contacts 3a and 3b. The two contacts 3a and 3b are separately supported by two wafers 4a and 4b, respectively. One ends of the contacts 3 a and 3 b are arranged in a two-dimensional array on the bottom surface of the connector 1. The plurality of contact pairs 3 can be electrically connected to terminals provided on a circuit board (for example, a daughter board) disposed in proximity to the bottom surface of the connector 1.
One contact included in each contact pair may transmit a high-frequency signal, and the other contact may be grounded.

本実施形態では、複数の接触子ペア3は、略同心円状に配置される。そして複数の接触子ペア3は、コネクタ1の底面から上方に向けて伸び、略45°曲げられ、さらにもう一度略45°曲げられて、キャップ2の端面2aへ向けられる。このように、複数の接触子ペア3に含まれる各接触子3a、3bは、その内面に沿って略直角に曲げられる。そして複数の接触子ペア3のそれぞれに含まれる接触子3a、3bの他端は、それぞれ、ウェハ4の前側の端部からキャップ2の端面2aへ向けて突出するように形成される。
なお変形例によれば、各接触子は、コネクタの底面からキャップの端面へ向けて、円弧または楕円弧などの曲線状に曲げられてもよい。
In the present embodiment, the plurality of contact pairs 3 are arranged substantially concentrically. The plurality of contact pairs 3 extend upward from the bottom surface of the connector 1, bend about 45 °, bend about 45 ° again, and be directed toward the end surface 2 a of the cap 2. Thus, each contact 3a, 3b included in the plurality of contact pairs 3 is bent at a substantially right angle along the inner surface. The other ends of the contacts 3 a and 3 b included in each of the plurality of contact pairs 3 are formed so as to protrude from the front end portion of the wafer 4 toward the end surface 2 a of the cap 2.
According to the modification, each contact may be bent in a curved shape such as an arc or an elliptical arc from the bottom surface of the connector toward the end surface of the cap.

また本実施形態では、各接触子3a、3bの他端は、キャップ2の端面2aよりもキャップ2の内部に位置する。さらに各接触子ペア3に含まれる接触子の他端は、端面2aに形成された一つの孔21に一つずつ挿入される。そして各接触子3a、3bの他端は、孔21にコネクタ1の外側から挿入されたバックプレーンなどの回路基板の端子、またはコネクタ1の各接触子ペア3と回路基板の端子とを接続するための相手勘合コネクタの端子と電気的に接続可能となっている。
各接触子ペア3に含まれる接触子3a、3bは、例えば、銅、金、銀、ニッケルといった金属またはこれらの合金若しくはその他の導電性を有する材料によって形成される。
またコネクタ1は、各接触子ペア3と回路基板の端子との接続位置で生じる信号の反射を抑制することが好ましい。そこで、各接触子ペア3に含まれる接触子3aと接触子3bの間隔、線幅及びそれら接触子を構成する材料は、各接触子ペア3の差動特性インピーダンスが接触子ペア3と接続される回路基板の端子の差動特性インピーダンスと等しくなるように決定されてもよい。
In the present embodiment, the other end of each contact 3 a, 3 b is located inside the cap 2 rather than the end surface 2 a of the cap 2. Further, the other ends of the contacts included in each contact pair 3 are inserted one by one into one hole 21 formed in the end face 2a. The other end of each contact 3a, 3b connects a terminal of a circuit board such as a backplane inserted into the hole 21 from the outside of the connector 1, or each contact 3 of the connector 1 and a terminal of the circuit board. Therefore, it can be electrically connected to the terminal of the mating connector.
The contacts 3a and 3b included in each contact pair 3 are formed of, for example, a metal such as copper, gold, silver, nickel, an alloy thereof, or other conductive material.
Moreover, it is preferable that the connector 1 suppresses the reflection of the signal which arises in the connection position of each contactor pair 3 and the terminal of a circuit board. Therefore, the distance between the contact 3a and the contact 3b included in each contact 3, the line width, and the material constituting the contact are connected to the contact pair 3 in the differential characteristic impedance of each contact 3. It may be determined to be equal to the differential characteristic impedance of the terminal of the circuit board.

複数のウェハ4は、それぞれ、接触子ペア3に含まれる各接触子を支持する支持部材の一例である。本実施形態では、複数のウェハ4のそれぞれは、各接触子ペア3に含まれる接触子3a、3bのうち、キャップ2の端面2a側から見て右側に位置する接触子3aを支持するウェハ4aと、キャップ2の端面2a側から見て左側に位置する接触子3bを支持するウェハ4bとを含む。ウェハ4a及び4bは、板状の部材として形成される。そしてウェハ4a及び4bは、例えば、端面2a側から見て左右対称となるように形成される。   Each of the plurality of wafers 4 is an example of a support member that supports each contact included in the contact pair 3. In the present embodiment, each of the plurality of wafers 4 is a wafer 4a that supports a contact 3a located on the right side of the contacts 3a and 3b included in each contact pair 3 when viewed from the end face 2a side of the cap 2. And a wafer 4b that supports a contact 3b located on the left side when viewed from the end face 2a side of the cap 2. The wafers 4a and 4b are formed as plate-like members. The wafers 4a and 4b are formed, for example, so as to be symmetric when viewed from the end face 2a side.

図4は、接触子3aを支持するウェハ4aを一方の面から見たウェハ4の概略斜視図である。また図5は、ウェハ4aを他方の面から見たウェハ4aの概略斜視図である。さらに図6は、図1の面Aにおけるコネクタ1の断面を、矢印X方向から見た斜視図である。また図7は、図6における領域Bの拡大図である。
ウェハ4a及び4bの上端及び下端は、それぞれ、キャップ2の上壁2b及び下壁2cの内側の面に形成されたレールと係合する形状を有する。そしてウェハ4a及び4bは、そのレールに沿ってキャップ2内に挿入される。またウェハ4a及び4bは、その上端または下端に、ラッチとしてキャップ2の上壁2bまたは下壁2cに形成された孔と係合する突起を有してもよい。
ウェハ4a及び4bは、それぞれ、誘電体により形成されることが好ましい。その誘電体は、約1.5〜8の誘電率を持ち、例えば、キャップ2を構成する材料に含まれ得る様々な樹脂材料と同様の樹脂材料を含む。さらにこの誘電体は、ガラスファイバー等の絶縁性フィラー等を含んでもよい。
FIG. 4 is a schematic perspective view of the wafer 4 when the wafer 4a supporting the contact 3a is viewed from one side. FIG. 5 is a schematic perspective view of the wafer 4a when the wafer 4a is viewed from the other surface. Further, FIG. 6 is a perspective view of the cross section of the connector 1 in the plane A of FIG. FIG. 7 is an enlarged view of region B in FIG.
The upper and lower ends of the wafers 4a and 4b have shapes that engage with rails formed on the inner surfaces of the upper wall 2b and the lower wall 2c of the cap 2, respectively. The wafers 4a and 4b are inserted into the cap 2 along the rails. Further, the wafers 4a and 4b may have protrusions that engage with holes formed in the upper wall 2b or the lower wall 2c of the cap 2 as a latch at the upper end or the lower end thereof.
Wafers 4a and 4b are each preferably formed of a dielectric. The dielectric has a dielectric constant of about 1.5 to 8, and includes, for example, resin materials similar to various resin materials that can be included in the material constituting the cap 2. Further, the dielectric may include an insulating filler such as glass fiber.

本実施形態では、一つのウェハ4aに、7本の接触子3a−1〜3a−7が一列に並べて取り付けられる。同様に、一つのウェハ4bに、7本の接触子3b−1〜3b−7が一列に並べて取り付けられる。そしてウェハ4a、4bがそれぞれキャップ2に取り付けられた状態で、接触子3a−1と接触子3b−1とが互いに対向し、所定幅を持つエアギャップで隔てられるように配置されることにより、接触子3a−1と接触子3b−1とが一つの接触子ペア3−1を構成する。同様に、ウェハ4a、4bがそれぞれキャップ2に取り付けられた状態で、接触子3a−2〜3a−7と接触子3b−2〜3b−7とがそれぞれ接触子ペア3−2〜3−7を構成する。
なお、接触子3a−1〜3a−7とウェハ4aは、例えば、インサート成型によって一体的に形成される。同様に、接触子3b−1〜3b−7とウェハ4bは、例えば、インサート成型によって一体的に形成される。
In the present embodiment, seven contacts 3a-1 to 3a-7 are attached to one wafer 4a in a line. Similarly, seven contacts 3b-1 to 3b-7 are mounted in a row on one wafer 4b. Then, with the wafers 4a and 4b attached to the cap 2, respectively, the contact 3a-1 and the contact 3b-1 face each other and are arranged so as to be separated by an air gap having a predetermined width. The contact 3a-1 and the contact 3b-1 constitute one contact pair 3-1. Similarly, in a state where the wafers 4a and 4b are respectively attached to the cap 2, the contacts 3a-2 to 3a-7 and the contacts 3b-2 to 3b-7 are respectively contact pairs 3-2 to 3-7. Configure.
The contacts 3a-1 to 3a-7 and the wafer 4a are integrally formed by, for example, insert molding. Similarly, the contacts 3b-1 to 3b-7 and the wafer 4b are integrally formed by, for example, insert molding.

ウェハ4a、4bは、コネクタ1に回路基板を取り付けたり、取り外したりする際に、接触子3a−1〜3a−7、3b−1〜3b−7が変形することを防止するために、各接触子について、接触子の長手方向に沿って第2の支持部43−1から第2の支持部43−2までの間に設けられた第1の支持部41−1〜41−7、42−1〜42−7をそれぞれ有する。
各第1の支持部41−1〜41−7、42−1〜42−7は、それぞれ、接触子3a−1〜3a−7、3b−1〜3b−7の外面31に近接するように形成される。なお、接触子の外面とは、その接触子とともに接触子ペアを構成する他の接触子と対向する接触子の内面32の反対側の面である。また「接触子の外面に第1の支持部が近接する」ことには、接触子の外面と第1の支持部とが接触するように第1の支持部が配置されるだけでなく、接触子の外面と第1の支持部との間に接触子の厚さ未満のエアギャップが生じるように第1の支持部が配置されることも含まれる。
The wafers 4a and 4b are contacted with each other to prevent the contacts 3a-1 to 3a-7 and 3b-1 to 3b-7 from being deformed when the circuit board is attached to or detached from the connector 1. The first support portions 41-1 to 41-7, 42- provided between the second support portion 43-1 and the second support portion 43-2 along the longitudinal direction of the contact. 1 to 42-7.
The first support portions 41-1 to 41-7 and 42-1 to 42-7 are close to the outer surface 31 of the contacts 3a-1 to 3a-7 and 3b-1 to 3b-7, respectively. It is formed. In addition, the outer surface of a contactor is a surface on the opposite side of the inner surface 32 of the contactor facing the other contactors that form a contactor pair together with the contactor. In addition, “the first support portion is close to the outer surface of the contact” means that not only the first support portion is disposed so that the outer surface of the contact and the first support portion are in contact, but also the contact. It is also included that the first support portion is disposed so that an air gap less than the thickness of the contact is generated between the outer surface of the child and the first support portion.

本実施形態では、ウェハ4aに関して、第1の支持部41−1〜41−7は、それぞれ、端面2a側からウェハ4aを見たときに、接触子3a−1〜3a−7の右側に近接するように配置される。またウェハ4bに関して、第1の支持部42−1〜42−7は、それぞれ、端面2a側からウェハ4bを見たときに、接触子3b−1〜3b−7の左側に近接するように配置される。なお各第1の支持部は、接触子と接していてもよく、あるいは離れていてもよい。   In the present embodiment, with respect to the wafer 4a, the first support portions 41-1 to 41-7 are close to the right side of the contacts 3a-1 to 3a-7 when the wafer 4a is viewed from the end surface 2a side. To be arranged. Regarding the wafer 4b, the first support portions 42-1 to 42-7 are arranged so as to be close to the left side of the contacts 3b-1 to 3b-7 when the wafer 4b is viewed from the end face 2a side. Is done. In addition, each 1st support part may be in contact with the contactor or may be separated.

また、隣接する第1の支持部もエアギャップで隔てられるように、第1の支持部41−1〜41−7は、ウェハ4aにおいて格子状に形成される。同様に、第1の支持部42−1〜42−7は、ウェハ4bにおいて格子状に形成される。これにより、ウェハ4aと4bによって支持される接触子ペア3−1〜3−7のうちの隣接する接触子ペアは、エアギャップによって隔てられる。   Further, the first support portions 41-1 to 41-7 are formed in a lattice shape on the wafer 4a so that the adjacent first support portions are also separated by the air gap. Similarly, the first support portions 42-1 to 42-7 are formed in a lattice shape on the wafer 4b. Thus, adjacent contact pairs among the contact pairs 3-1 to 3-7 supported by the wafers 4a and 4b are separated by the air gap.

図7に示されるように、矢印Yで示される接触子3a−4〜3a−6、3b−4〜3b−6の外面31に平行な接触子の短手方向における第1の支持部41−4〜41−6、42−4〜42−6の幅Waは、接触子3a−4〜3a−6、3b−4〜3b−6の短手方向の幅Wl以下となることが好ましい。本実施形態では、第1の支持部の短手方向の幅Waは、接触子の短手方向の幅W1よりも狭くなっている。そしてその短手方向において、接触子3a−4〜3a−6、3b−4〜3b−6の両端は、それぞれ、第1の支持部41−4〜41−6、42−4〜42−6の接触子に近接する側の面の両端と一致しているか、あるいはその近接する側の面よりも突出していることが好ましい。本実施形態では、短手方向における接触子の両端は、第1の支持部の接触子に近接する側の面の両端よりも突出している。言い換えれば、接触子の外面31の中央部はその接触子の長手方向に沿って対応する第1の支持部に取り付けられ、かつ接触子の外面31の端部は第1の支持部材に取り付けられない。そのため、接触子3a−4〜3a−6、3b−4〜3b−6の外面31において接触子3a−4〜3a−6、3b−4〜3b−6の両端から所定幅だけ、接触子3a−4〜3a−6、3b−4〜3b−6は第1の支持部41−4〜41−6、42−4〜42−6と接していない。そのため、電界強度が強い領域には、第1の支持部の少なくとも大部分が存在しなくなる。このため、第1の支持部全体の体積に対する、電界強度が強い領域に位置する第1の支持部の部分の体積の比が減少するため、インピーダンスの容量成分がより小さくなる。   As shown in FIG. 7, the first support portion 41-in the short direction of the contacts parallel to the outer surface 31 of the contacts 3 a-4 to 3 a-6 and 3 b-4 to 3 b-6 indicated by the arrow Y. The width Wa of 4 to 41-6 and 42-4 to 42-6 is preferably equal to or less than the width Wl in the short direction of the contacts 3a-4 to 3a-6 and 3b-4 to 3b-6. In the present embodiment, the width Wa in the short direction of the first support portion is narrower than the width W1 of the contact in the short direction. In the short direction, both ends of the contacts 3a-4 to 3a-6 and 3b-4 to 3b-6 are respectively connected to the first support portions 41-4 to 41-6 and 42-4 to 42-6. It is preferable that they coincide with both ends of the surface on the side close to the contactor or protrude from the surface on the close side. In the present embodiment, both ends of the contact in the short direction protrude beyond both ends of the surface of the first support portion on the side close to the contact. In other words, the center part of the outer surface 31 of the contactor is attached to the corresponding first support part along the longitudinal direction of the contactor, and the end part of the outer surface 31 of the contactor is attached to the first support member. Absent. Therefore, the contact 3a has a predetermined width from both ends of the contacts 3a-4 to 3a-6 and 3b-4 to 3b-6 on the outer surface 31 of the contacts 3a-4 to 3a-6 and 3b-4 to 3b-6. -4 to 3a-6 and 3b-4 to 3b-6 are not in contact with the first support portions 41-4 to 41-6 and 42-4 to 42-6. Therefore, at least most of the first support portion does not exist in the region where the electric field strength is strong. For this reason, since the ratio of the volume of the part of the 1st support part located in the field where electric field strength is strong to the volume of the whole 1st support part decreases, the capacity component of impedance becomes smaller.

なお、所定幅が大きいほど、第1の支持部全体の体積に対する、電界強度が強い領域に位置する第1の支持部の部分の体積の比がより減少するので、インピーダンスの容量成分がより小さくなるので好ましい。所定幅は、例えば、その第1の支持部が支持する接触子の厚さ(すなわち、図7のZ方向における接触子の幅)の1/4以上とすることができる。所定幅が接触子の厚さの1/4以上あれば、インサート成型によりウェハを形成する際、金型で接触子の短手方向の両端を挟んで固定できるので、ウェハに対する接触子の位置決め精度を向上できる。また、コネクタ1の剛性を高めるために、各第1の支持部の短手方向の幅Waは、その第1の支持部が支持する接触子の短手方向の幅W1の1/3以上であることが好ましい。   In addition, since the ratio of the volume of the part of the 1st support part located in the area | region where electric field strength is strong with respect to the volume of the whole 1st support part decreases more so that predetermined width is large, the capacitive component of impedance becomes smaller. This is preferable. The predetermined width can be, for example, 1/4 or more of the thickness of the contact supported by the first support portion (that is, the width of the contact in the Z direction in FIG. 7). If the predetermined width is 1/4 or more of the contact thickness, when forming a wafer by insert molding, it is possible to fix the contact with both ends in the short direction of the contact with a mold, so the contact positioning accuracy with respect to the wafer Can be improved. Further, in order to increase the rigidity of the connector 1, the width Wa in the short direction of each first support portion is not less than 1/3 of the width W1 in the short direction of the contact supported by the first support portion. Preferably there is.

このように各第1の支持部が配置されることにより、各接触子ペアに含まれる接触子間で生じる電界強度が強い領域に占める空気の割合が大きくなるので、各接触子の両端部間のインピーダンスの容量成分が小さくなる。   Since each first support portion is arranged in this manner, the proportion of air in the region where the electric field strength generated between the contacts included in each contact pair is strong increases, so that the distance between both ends of each contact The capacitance component of the impedance becomes smaller.

また、各接触子3a−1〜3a−7は、キャップ2側の接触子3a−1〜3a−7の端部の近傍に設けられた第2の支持部43−1により固定されている。第2の支持部43−1は、キャップ2の外側から回路基板の端子が接触子3a−1〜3a−7と接続されるようにキャップ2の端面2aに形成された孔21へ挿入される方向に対して略直交する方向、すなわち垂直方向に伸びるように形成される。一方、各接触子3a−1〜3a−7は、コネクタ1の底面側の接触子3a−1〜3a−7の端部の近傍に設けられた第2の支持部43−2により固定されている。そして第2の支持部43−2は、回路基板の端子を接触子3a−1〜3a−7と接続するために接触子3a−1〜3a−7をその回路基板へ向けて動かす方向に対して略直交する方向、すなわち水平方向に伸びるように形成される。すなわち、第2の支持部43−1、43−2は、各接触子ペア3−1〜3−7と交差している。
なお、上記のように、ウェハ4aとウェハ4bは、端面2a側から見て左右対称となるように形成されるので、ウェハ4bにも、各支持部42−1〜42−7を接続する二つの第2の支持部が形成されている。
Each contact 3a-1 to 3a-7 is fixed by a second support portion 43-1 provided in the vicinity of the end of the contact 3a-1 to 3a-7 on the cap 2 side. The second support portion 43-1 is inserted into the hole 21 formed in the end surface 2a of the cap 2 so that the terminal of the circuit board is connected to the contacts 3a-1 to 3a-7 from the outside of the cap 2. It is formed so as to extend in a direction substantially perpendicular to the direction, that is, in a vertical direction. On the other hand, each contact 3a-1 to 3a-7 is fixed by a second support 43-2 provided in the vicinity of the end of the contact 3a-1 to 3a-7 on the bottom side of the connector 1. Yes. The second support portion 43-2 moves the contacts 3a-1 to 3a-7 toward the circuit board in order to connect the terminals of the circuit board to the contacts 3a-1 to 3a-7. Are formed so as to extend in a substantially orthogonal direction, that is, in a horizontal direction. That is, the second support portions 43-1 and 43-2 intersect with the contact pairs 3-1 to 3-7.
As described above, the wafer 4a and the wafer 4b are formed so as to be bilaterally symmetric when viewed from the end face 2a side, so that the two supporting portions 42-1 to 42-7 are also connected to the wafer 4b. Two second supports are formed.

図8(A)は、本発明の実施形態によるコネクタに含まれる一対の接触子間の電界ベクトルの向きと強さを表す電界ベクトル図であり、図8(B)は、比較例である、従来技術によるコネクタに含まれる一対の接触子間の電界を表す電界ベクトル図である。
図8(A)及び図8(B)では、それぞれ、3組の接触子ペア801、802、803の断面が示されている。そして図8(A)では、ウェハの第1の支持部811〜816が、接触子ペア801〜803の外側に設けられている。一方、図8(B)に示される比較例では、第1の支持部821〜824が、それぞれ、隣接する接触子ペアがエアギャップで隔てられるものの、第1の支持部821〜824は、隣接する接触子ペアに跨るように設けられている。
また、図中に示された矢印は、それぞれ、中央の接触子ペア802の上側の接触子と下側の接触子に、互いに逆向きの電流が流れる場合の電界ベクトルを表し、矢印が長いほど、電界が強い。
FIG. 8 (A) is an electric field vector diagram showing the direction and strength of an electric field vector between a pair of contacts included in the connector according to the embodiment of the present invention, and FIG. 8 (B) is a comparative example. It is an electric field vector diagram showing the electric field between a pair of contacts contained in the connector by a prior art.
8A and 8B show cross sections of three contact pairs 801, 802, and 803, respectively. In FIG. 8A, the first support portions 811 to 816 of the wafer are provided outside the contact pairs 801 to 803. On the other hand, in the comparative example shown in FIG. 8B, the first support portions 821 to 824 are adjacent to each other, but the adjacent contactor pairs are separated by an air gap, but the first support portions 821 to 824 are adjacent to each other. It is provided so that it may straddle the contactor pair.
Also, the arrows shown in the figure represent electric field vectors when currents flowing in opposite directions flow through the upper contact and the lower contact of the central contact pair 802, respectively, and the longer the arrow, The electric field is strong.

図8(A)及び図8(B)から明らかなように、本実施形態によるコネクタの第1の支持部811〜816を通る、接触子ペア802において生じる電界の強さは、比較例によるコネクタの第1の支持部821〜824を通る電界よりも弱い。その結果、本実施形態によるコネクタにおけるインピーダンスの容量成分は、比較例によるコネクタにおけるインピーダンスの容量成分よりも小さくなる。そのため、この容量成分による隣接する接触子ペア間の信号の漏洩が抑制されるので、本実施形態によるコネクタにおいて生じるクロストークは、比較例によるコネクタにおいて生じるクロストークよりも小さくできる。本実施形態によるコネクタは、インピーダンスの容量成分が小さいため、伝送遅延時間も短くできる。
さらに、接触子ペアの特性インピーダンスを接触子ペアに接続する回路基板の端子のインピーダンスと一致させるために、インピーダンスの容量成分が小さいほど、接触子の断面積を大きくすることができる。その結果、本実施形態によるコネクタは、挿入損失も抑制することができる。
As is apparent from FIGS. 8A and 8B, the strength of the electric field generated in the contact pair 802 passing through the first support portions 811 to 816 of the connector according to the present embodiment is as follows. It is weaker than the electric field passing through the first support portions 821 to 824. As a result, the capacitance component of impedance in the connector according to the present embodiment is smaller than the capacitance component of impedance in the connector according to the comparative example. Therefore, signal leakage between adjacent contact pairs due to this capacitive component is suppressed, so that the crosstalk generated in the connector according to the present embodiment can be made smaller than the crosstalk generated in the connector according to the comparative example. Since the connector according to the present embodiment has a small capacitance component of impedance, the transmission delay time can be shortened.
Furthermore, in order to make the characteristic impedance of the contact pair coincide with the impedance of the terminal of the circuit board connected to the contact pair, the smaller the capacitance component of the impedance, the larger the cross-sectional area of the contact. As a result, the connector according to the present embodiment can also suppress insertion loss.

以下、2次元有限要素法を用いた電磁界解析に基づくシミュレーションにより求めた、図8(A)に示される本実施形態によるコネクタの伝送特性と、図8(B)に示される比較例によるコネクタの伝送特性を示す。
図9(A)は、シミュレーションに用いた、本実施形態によるコネクタの各部の寸法を示し、一方、図9(B)は、シミュレーションに用いた、比較例によるコネクタの各部の寸法を示す。なお、図9(A)及び図9(B)において、単位はミリメートルである。
また、本実施形態によるコネクタ及び比較例によるコネクタの第1の支持部の誘電率は4.0、誘電損失は0.01であり、本実施形態によるコネクタ及び比較例によるコネクタの差動特性インピーダンスは100Ωであり、伝送される信号の周波数は2.5GHzである。
Hereinafter, the transmission characteristics of the connector according to the present embodiment shown in FIG. 8 (A) and the connector according to the comparative example shown in FIG. 8 (B) obtained by simulation based on electromagnetic field analysis using a two-dimensional finite element method. The transmission characteristics are shown.
FIG. 9A shows the dimensions of each part of the connector according to the present embodiment used in the simulation, while FIG. 9B shows the dimensions of each part of the connector according to the comparative example used in the simulation. In FIGS. 9A and 9B, the unit is millimeter.
Further, the dielectric constant of the first support portion of the connector according to this embodiment and the connector according to the comparative example is 4.0 and the dielectric loss is 0.01, and the differential characteristic impedance of the connector according to this embodiment and the connector according to the comparative example is 100Ω. The frequency of the transmitted signal is 2.5GHz.

表1に、本実施形態によるコネクタ及び比較例によるコネクタの伝送特性を示す。

Figure 2012099402
なお、表1における性能向上率は、次式により算出される。
性能向上率 = (比較例における伝送特性値−本実施形態による伝送特性値)
/本実施形態による伝送特性値 Table 1 shows transmission characteristics of the connector according to the present embodiment and the connector according to the comparative example.
Figure 2012099402
In addition, the performance improvement rate in Table 1 is calculated by the following equation.
Performance improvement rate = (Transmission characteristic value in comparative example-Transmission characteristic value according to this embodiment)
/ Transmission characteristic value according to this embodiment

以上説明してきたように、本発明によるコネクタは、信号伝送時において接触子ペアを伝送される高周波数信号により生じる電界強度が強い領域に位置する樹脂の体積を小さくすることで、インピーダンスの容量成分を抑制することができる。そのため、このコネクタは、高周波数信号を伝送する際に生じるクロストークの発生及び挿入損失を抑制できる。   As described above, the connector according to the present invention reduces the volume of the resin located in a region where the electric field strength generated by the high frequency signal transmitted through the contact pair during signal transmission is strong, thereby reducing the capacitance component of the impedance. Can be suppressed. Therefore, this connector can suppress the occurrence of crosstalk and insertion loss that occur when transmitting a high-frequency signal.

なお、他の実施形態によれば、各支持部材は、各第1の支持部及び接触子が変形することを防止するために、第1の支持部の途中において、第1の支持部の少なくとも幾つかを接続する少なくとも一つの第2の支持部材をさらに有してもよい。
例えば、装置をメンテナンスするため、あるいは、ドーターボードを交換するために、ドーターボード上の端子またはバックプレーン上の端子に対するコネクタの挿入及び取り外しは、何百回、何千回と行われることがある。そのため、コネクタは、そのような回路基板の取り付け及び取り外しの繰り返しによって破損しないように、堅牢であることが望ましい。また、コネクタの回路基板への取付は、例えば、弾性を有するプレスフィット端子を介した圧入により行われることも多い。圧入時には、コネクタに対して、1ピンあたり、3N〜50Nの荷重が加えられる。100本よりも多い数のピンを有するコネクタもあるので、1つのコネクタに対する全荷重が5000Nを超えることもある。コネクタは、このような圧入時の荷重により破損しないように堅牢であることが好ましい。
According to another embodiment, each support member includes at least the first support part in the middle of the first support part in order to prevent the first support part and the contactor from being deformed. You may further have at least 1 2nd support member which connects some.
For example, connectors may be inserted and removed hundreds or thousands of times on terminals on the daughter board or terminals on the backplane to maintain the device or replace the daughter board. . Therefore, it is desirable that the connector be robust so that it will not be damaged by repeated mounting and removal of such circuit boards. Further, the attachment of the connector to the circuit board is often performed by press-fitting through a press-fit terminal having elasticity, for example. When press-fitting, a load of 3N to 50N is applied to each connector per pin. Some connectors have more than 100 pins, so the total load on one connector can exceed 5000N. The connector is preferably robust so as not to be damaged by such a load during press fitting.

図10は、他の実施形態による、支持部材であるウェハを一方の面から見たそのウェハの概略斜視図である。また図11は、他の実施形態による、ウェハを他方の面から見たそのウェハの概略斜視図である。図10及び図11に示されたウェハ5の各部には、図4及び図5に示された対応する構成要素に対する参照番号と同一の参照番号を付した。   FIG. 10 is a schematic perspective view of a wafer as a support member as viewed from one side according to another embodiment. FIG. 11 is a schematic perspective view of the wafer as seen from the other surface according to another embodiment. Each part of the wafer 5 shown in FIGS. 10 and 11 is given the same reference numeral as the reference numeral for the corresponding component shown in FIGS. 4 and 5.

ウェハ5には、各接触子ペアの略放射方向に沿って伸びる第2の支持部43−1〜43−7が設けられる。第2の支持部43−1〜43−7は、少なくとも一部の領域において、複数の接触子ペア3−1〜3−7のうちの隣接する接触子ペアがエアギャップで隔てられるように、接触子ごとに設けられた第1の支持部を固定する。
特に、少なくとも一つの第2の支持部が、回路基板の端子を接触子ペア3の端部に接続する際に、接触子ペア3及び第1の支持部に圧力が掛かる方向に対して略直交する方向に伸びるように設けられることが好ましい。本実施形態では、ウェハ5には、第1の支持部41−1〜41−7を接続する5本の第2の支持部43−1〜43−5と、第1の支持部41−1〜41−5を接続する第2の支持部43−6と、第1の支持部41−1〜41−3を接続する第2の支持部43−7が形成されている。
また第2の支持部43−3〜43−5は、それぞれ、接触子3a−1〜3a−7が屈曲する位置に設けられている。さらに第2の支持部43−6は、第2の支持部43−3と43−5の中間に形成される。さらに第2の支持部43−7は、第2の支持部43−4と43−5の中間に形成される。このように、ウェハ5は、複数の第2の支持部を有するので、回路基板の端子を接触子ペアに接続する際の荷重により破損しないように堅牢となる。
同様に、ウェハ5が支持する接触子と対をなす接触子を支持するウェハも、少なくとも幾つかの第1の支持部を接続する第2の支持部を含む。
The wafer 5 is provided with second support portions 43-1 to 43-7 extending along a substantially radial direction of each contact pair. The second support portions 43-1 to 43-7 are arranged such that adjacent contact pairs among the plurality of contact pairs 3-1 to 3-7 are separated by an air gap in at least some of the regions. The 1st support part provided for every contact is fixed.
In particular, at least one second support portion is substantially orthogonal to the direction in which pressure is applied to the contact pair 3 and the first support portion when the terminal of the circuit board is connected to the end of the contact pair 3. It is preferable that it is provided so as to extend in the direction in which it moves. In the present embodiment, the wafer 5 includes five second support portions 43-1 to 43-5 that connect the first support portions 41-1 to 41-7, and the first support portion 41-1. To 41-5, and a second support portion 43-7 for connecting the first support portions 41-1 to 41-3 are formed.
The second support portions 43-3 to 43-5 are provided at positions where the contacts 3a-1 to 3a-7 are bent. Further, the second support portion 43-6 is formed between the second support portions 43-3 and 43-5. Further, the second support portion 43-7 is formed between the second support portions 43-4 and 43-5. Thus, since the wafer 5 has a plurality of second support portions, the wafer 5 is robust so as not to be damaged by a load when the terminals of the circuit board are connected to the contact pairs.
Similarly, the wafer that supports the contact that is paired with the contact that the wafer 5 supports also includes a second support that connects at least some of the first supports.

図12は、図10の面Dにおけるウェハ5の断面を、矢印Z方向から見た断面図である。図10〜図12に示されるように、第2の支持部43−3は、各接触子3a−1〜3a−7の外周を囲んで各接触子を対応する第1の支持部41−1〜41−7(二点鎖線で示される)に固定する。同様に、他の第2の支持部も、各接触子を対応する第1の支持部に固定する。さらに、図12において、接触子3a−1〜3a−7と対を成す接触子3b−1〜3b−7が二点鎖線で示される。この接触子3b−1〜3b−7も、その接触子を支持する他のウェハが有する第2の支持部43−3’(二点鎖線で示される)によって囲まれる。そのため、各接触子が第2の支持部により固定された場所では、接触子ペアに含まれる2本の接触子間の空間には、誘電体が充填される。
なお、第2の支持部は、他の固定方法によって接触子を第1の支持部に固定してもよい。
FIG. 12 is a cross-sectional view of the cross section of the wafer 5 in the plane D of FIG. 10-12, the 2nd support part 43-3 surrounds the outer periphery of each contactor 3a-1 to 3a-7, and the 1st support part 41-1 which respond | corresponds to each contactor. Fix to ~ 41-7 (indicated by a two-dot chain line). Similarly, the other second support portions also fix the respective contacts to the corresponding first support portions. Furthermore, in FIG. 12, the contacts 3b-1 to 3b-7 that make a pair with the contacts 3a-1 to 3a-7 are indicated by two-dot chain lines. The contacts 3b-1 to 3b-7 are also surrounded by a second support portion 43-3 ′ (indicated by a two-dot chain line) included in another wafer that supports the contacts. Therefore, in a place where each contact is fixed by the second support portion, the space between the two contacts included in the contact pair is filled with a dielectric.
Note that the second support portion may fix the contact to the first support portion by another fixing method.

また、接触子を第1の支持部に固定する支持部は、隣接する接触子ペア同士がエアギャップで隔てられるように、第1の支持部同士を接続する第2の支持部とは別個に設けられてもよい。
この場合、接触子ペア間における、第2の支持部の接触子ペア側の端部が、第1の支持部の接触子に近接する側の面よりも接触子から離れるように形成されることが好ましい。接触子ペアに含まれる一方の接触子の外面から放射される電気力線は、その外面よりもさらに接触子の後方を通って他方の接触子に達する。そこで上記のように第2の支持部を形成することにより、接触子ペアが有する二つの接触子間で生じる電場による、第2の支持部の帯電を抑制できる。
In addition, the support unit that fixes the contact to the first support unit is separate from the second support unit that connects the first support units so that adjacent contact pairs are separated by an air gap. It may be provided.
In this case, between the contact pairs, the end of the second support portion on the contact pair side is formed so as to be farther from the contact than the surface of the first support portion on the side close to the contact. Is preferred. The electric lines of force radiated from the outer surface of one contact included in the contact pair reach the other contact through the rear of the contact further than the outer surface. Therefore, by forming the second support portion as described above, charging of the second support portion due to the electric field generated between the two contacts included in the contact pair can be suppressed.

また、他の変形例によれば、各ウェハは、一つの部材でなく、複数の部材を組み立てることにより形成されてもよい。この場合、図7において点線Cで示されるように、第1の支持部の剛性を向上するために、接触子の外面に平行な接触子の短手方向に沿った第1の支持部の外径幅を、接触子から離れるにつれて大きくしてもよい。一方の接触子の外面から放射され、他方の接触子に達する電気力線は、接触子の外面よりも後方においては、接触子から離れるにつれて、接触子の短手方向においても接触子から離れるような経路を通る。従って、第1の支持部の外径幅を接触子から離れるにつれて大きくしても、第1の支持部が存在する領域の電界強度は比較的弱い。そのため、このように第1の支持部を形成することにより、コネクタは、高周波数信号に対する伝送特性を劣化させることなく、第1の支持部の剛性を向上できる。   According to another modification, each wafer may be formed by assembling a plurality of members instead of a single member. In this case, as indicated by a dotted line C in FIG. 7, in order to improve the rigidity of the first support portion, the outer side of the first support portion along the short direction of the contactor parallel to the outer surface of the contactor. The diameter width may be increased as the distance from the contact increases. The lines of electric force radiated from the outer surface of one contact and reach the other contact are separated from the contact in the short direction of the contact as they move away from the contact behind the outer surface of the contact. Take a simple route. Therefore, even if the outer diameter width of the first support portion is increased as the distance from the contact increases, the electric field strength in the region where the first support portion exists is relatively weak. Therefore, by forming the first support portion in this way, the connector can improve the rigidity of the first support portion without deteriorating the transmission characteristics for high frequency signals.

また、図10〜図12に示される実施形態では、第2の支持部は、各接触子を第1の支持部のある側とその反対側から挟むように支持することで、各接触子を対応する第1の支持部に固定している。すなわち、第2の支持部が接触子を第1の支持部に固定する固定位置では、接触子はその周囲を誘電体である第2の支持部及び第1の支持部に囲まれている。一方、接触子が第1の支持部に固定されていない非固定位置では、第1の支持部のみが接触子に近接している。そのため、固定位置における接触子の近傍にある誘電体の断面積が、非固定位置における誘電体の断面積よりも大きくなる。したがって、接触子の太さが、固定位置と非固定位置とで等しければ、固定位置における接触子の特性インピーダンスが、非固定位置における接触子の特性インピーダンスと異なることがある。   Moreover, in embodiment shown by FIGS. 10-12, a 2nd support part supports each contactor so that each contactor may be pinched | interposed from the side which has a 1st support part, and the other side, and each contactor is supported. It fixes to the corresponding 1st support part. That is, in a fixed position where the second support portion fixes the contact to the first support, the contact is surrounded by the second support and the first support that are dielectrics. On the other hand, in the non-fixed position where the contact is not fixed to the first support, only the first support is close to the contact. Therefore, the cross-sectional area of the dielectric near the contact at the fixed position is larger than the cross-sectional area of the dielectric at the non-fixed position. Therefore, if the thickness of the contact is equal between the fixed position and the non-fixed position, the characteristic impedance of the contact at the fixed position may be different from the characteristic impedance of the contact at the non-fixed position.

図13は、さらに他の実施形態によるコネクタが有する接触子ペアの概略斜視図である。図13において、接触子ペア10−1〜10−7には、それぞれ、接触子10a−1〜10a−7及び10b−1〜10b−7が含まれている。各接触子は、固定位置101〜105において、第2の支持部により対応する第1の支持部に固定される。そして固定位置101〜105における各接触子の特性インピーダンスが、接触子が第1の支持部に固定されていない非固定位置111〜116における各接触子の特性インピーダンスと一致するように、固定位置101〜105での各接触子の太さは、未固定位置での横断面における太さよりも小さくなっている。例えば、接触子の特性インピーダンスが100Ωとなるように、未固定位置における接触子の幅が0.76mmに設定され、厚さが0.2mmに設定されているとする。そして、第2の支持部など、接触子を第1の支持部に固定する部材の誘電率が3.5であれば、固定位置における接触子の特性インピーダンスも100Ωに維持されるように、接触子の幅は0.3mmに設定され、厚さは0.2mmに設定される。そのため、この変形例による接触子ペアは、固定位置と未固定位置の境界で、接触子を伝送される高周波数信号が反射されることを防止できる。   FIG. 13 is a schematic perspective view of a contact pair included in a connector according to still another embodiment. In FIG. 13, the contact pairs 10-1 to 10-7 include contacts 10a-1 to 10a-7 and 10b-1 to 10b-7, respectively. Each contact is fixed to the corresponding first support by the second support at the fixing positions 101 to 105. The fixed position 101 is set so that the characteristic impedance of each contact at the fixed positions 101 to 105 matches the characteristic impedance of each contact at the non-fixed positions 111 to 116 where the contact is not fixed to the first support portion. The thickness of each contact in -105 is smaller than the thickness in the cross section in an unfixed position. For example, it is assumed that the width of the contact at the unfixed position is set to 0.76 mm and the thickness is set to 0.2 mm so that the characteristic impedance of the contact is 100Ω. If the dielectric constant of the member that fixes the contact to the first support, such as the second support, is 3.5, the contact impedance of the contact at the fixed position is maintained at 100Ω. The width is set to 0.3 mm and the thickness is set to 0.2 mm. Therefore, the contact pair according to this modification can prevent reflection of a high frequency signal transmitted through the contact at the boundary between the fixed position and the unfixed position.

さらに他の変形例によれば、コネクタを2枚の基板が略平行となるように配置される装置において使用する場合に、そのコネクタが有する各接触子ペアに含まれる接触子は、直線状に形成されてもよい。
図14は、さらに他の実施形態による、接触子ペアとその接触子ペアを支持するウェハを一方の側から見た概略斜視図である。また図15は、その接触子ペア及びウェハを他方の側から見た斜視図である。
図14、15に示されるように、各接触子ペア3−1〜3−7に含まれる2本の接触子3a−1〜3a−7、3b−1〜3b−7は、それぞれ、水平方向に直線状に形成され、また略平行でかつ離して配置される。そのため、各接触子を支持する、ウェハ6a、6bが有する第1の支持部41−1〜41−7、42−1〜42−7も直線状に形成される。そしてこの実施形態においても、第1の支持部は、対応する接触子の外面の中央部に取り付けられ、一方、接触子の外面の端部には取り付けられない。
また、この実施形態では、接触子ペアの何れの端部に回路基板を接続する場合も、接触子ペアの長手方向に沿って、すなわち、水平方向に沿って圧力が掛かる。そのため、回路基板をコネクタに接続する際に生じる圧力に対して、接触子ペア及び第1の支持部の剛性は高い。そこで本実施形態では、第1の支持部及び接触子ペアを固定する二つの第2の支持部43−1、43−2のみが、接触子ペアのそれぞれの端部の近傍に設けられる。
According to still another modification, when the connector is used in an apparatus in which two substrates are arranged so as to be substantially parallel, the contacts included in each contact pair of the connector are linear. It may be formed.
FIG. 14 is a schematic perspective view of a contact pair and a wafer supporting the contact pair as viewed from one side according to still another embodiment. FIG. 15 is a perspective view of the contact pair and the wafer as viewed from the other side.
As shown in FIGS. 14 and 15, the two contacts 3 a-1 to 3 a-7 and 3 b-1 to 3 b-7 included in each contact pair 3-1 to 3-7 are respectively in the horizontal direction. Are formed in a straight line, and are substantially parallel and spaced apart. Therefore, the first support portions 41-1 to 41-7 and 42-1 to 42-7 included in the wafers 6a and 6b that support the contacts are also formed linearly. And also in this embodiment, the 1st support part is attached to the center part of the outer surface of a corresponding contact child, while it is not attached to the edge part of the outer surface of a contact child.
In this embodiment, when a circuit board is connected to any end portion of the contact pair, pressure is applied along the longitudinal direction of the contact pair, that is, along the horizontal direction. Therefore, the rigidity of the contact pair and the first support portion is high with respect to the pressure generated when the circuit board is connected to the connector. Therefore, in the present embodiment, only the two second support portions 43-1 and 43-2 for fixing the first support portion and the contact pair are provided in the vicinity of the respective end portions of the contact pair.

以上のように、当業者は、本発明の範囲内で、実施される形態に合わせて様々な変更を行うことができる。   As described above, those skilled in the art can make various modifications in accordance with the embodiment to be implemented within the scope of the present invention.

1 コネクタ
2 キャップ
2a 端面
21 孔
3、3−1〜3−7 接触子ペア
3a、3b、3a−1〜3a−7、3b−1〜3b−7 接触子
31 接触子の外面
32 接触子の内面
4、4a、4b、5、6a、6b ウェハ(支持部材)
41−1〜41−7、42−1〜42−7 第1の支持部
43−1〜43−7 第2の支持部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Connector 2 Cap 2a End surface 21 Hole 3, 3-1 to 3-7 Contactor pair 3a, 3b, 3a-1 to 3a-7, 3b-1 to 3b-7 Contactor 31 Outer surface of a contactor 32 Contactor Inner surface 4, 4a, 4b, 5, 6a, 6b Wafer (support member)
41-1 to 41-7, 42-1 to 42-7 1st support part 43-1 to 43-7 2nd support part

Claims (11)

細長く、略平行でかつ離して配置された2本の接触子を含む複数の接触子ペアと、
それぞれが対応する前記接触子の長手方向に沿って取り付けられた複数の第1の支持部とを有し、
少なくとも一つの領域において、前記各接触子ペアの接触子の内面は互いに対向し、かつ空気により分離され、
前記各接触子ペアの接触子の外面は互いに対して外方向を向いており、
前記外面の中央部は前記接触子の長手方向に沿って対応する前記第1の支持部に取り付けられ、かつ前記外面の端部は前記第1の支持部に取り付けられない、
コネクタ。
A plurality of contactor pairs comprising two contacts that are elongated, generally parallel and spaced apart;
Each having a plurality of first support parts attached along the longitudinal direction of the corresponding contact,
In at least one region, the inner surfaces of the contacts of each contact pair face each other and are separated by air;
The outer surfaces of the contacts of each of the contact pairs are directed outward with respect to each other,
The center portion of the outer surface is attached to the corresponding first support portion along the longitudinal direction of the contact, and the end portion of the outer surface is not attached to the first support portion.
connector.
複数の第2の支持部をさらに有し、各第2の支持部は前記接触子ペアの少なくとも幾つかを接続し、
前記複数の第1の支持部は前記複数の第2の支持部の間の領域に配置される、請求項1に記載のコネクタ。
A plurality of second supports, each second support connecting at least some of the contact pairs;
The connector according to claim 1, wherein the plurality of first support portions are arranged in a region between the plurality of second support portions.
前記各第2の支持部は、前記接触子ペアの略交差方向に沿って向けられる、請求項2に記載のコネクタ。   The connector according to claim 2, wherein each of the second support portions is oriented along a substantially intersecting direction of the contact pair. 前記複数の第1の支持部を保持するキャップをさらに有する、請求項1〜3の何れか一項に記載のコネクタ。   The connector according to any one of claims 1 to 3, further comprising a cap that holds the plurality of first support portions. 前記複数の接触子ペアのそれぞれは、差動伝送方式により信号を伝送する、請求項1〜4の何れか一項に記載のコネクタ。   The connector according to claim 1, wherein each of the plurality of contact pairs transmits a signal by a differential transmission method. 前記第1の支持部及び前記第2の支持部は誘電体であり、
前記第2の支持部によって前記接触子が前記第1の支持部に固定される固定位置における前記接触子のインピーダンスが、前記固定位置と異なり、かつ前記接触子が前記第1の支持部に固定されていない未固定位置における前記接触子のインピーダンスと一致するように、前記固定位置における前記接触子の太さが前記未固定位置における前記接触子の太さよりも小さい、請求項1〜5の何れか一項に記載のコネクタ。
The first support part and the second support part are dielectrics,
The impedance of the contact at a fixed position where the contact is fixed to the first support by the second support is different from the fixed position, and the contact is fixed to the first support. The thickness of the contact at the fixed position is smaller than the thickness of the contact at the unfixed position so as to match the impedance of the contact at an unfixed position that has not been performed. A connector according to claim 1.
前記各接触子ペアの前記接触子は、当該接触子の内面に沿って略直角に曲げられる、請求項1〜6の何れか一項に記載のコネクタ。   The connector according to claim 1, wherein the contact of each contact pair is bent at a substantially right angle along an inner surface of the contact. 前記各接触子ペアの前記接触子は、直線状に形成される、請求項1〜6の何れか一項に記載のコネクタ。   The connector according to claim 1, wherein the contacts of each contact pair are formed in a straight line. 細長く、略平行でかつ離して配置された2本の接触子を含む、略同心円状に配置された複数の接触子ペアと、
それぞれが対応する前記接触子の長手方向に沿って取り付けられた複数の第1の支持部とを有し、
少なくとも一つの領域において、前記各接触子ペアの接触子の内面は互いに対向し、かつ空気により分離され、
前記各接触子ペアの接触子の外面は互いに対して外方向を向いており、
前記外面の中央部は前記接触子の長手方向に沿って対応する前記第1の支持部に取り付けられ、かつ前記外面の端部は前記第1の支持部に取り付けられない、
コネクタ。
A plurality of contact pairs arranged in substantially concentric circles, including two contacts arranged in an elongated, substantially parallel and spaced apart configuration;
Each having a plurality of first support parts attached along the longitudinal direction of the corresponding contact,
In at least one region, the inner surfaces of the contacts of each contact pair face each other and are separated by air;
The outer surfaces of the contacts of each of the contact pairs are directed outward with respect to each other,
The center portion of the outer surface is attached to the corresponding first support portion along the longitudinal direction of the contact, and the end portion of the outer surface is not attached to the first support portion.
connector.
複数の第2の支持部をさらに有し、各第2の支持部は前記接触子ペアの少なくとも幾つかを接続し、
前記複数の第1の支持部は前記複数の第2の支持部の間の領域に配置される、請求項9に記載のコネクタ。
A plurality of second supports, each second support connecting at least some of the contact pairs;
The connector according to claim 9, wherein the plurality of first support portions are disposed in a region between the plurality of second support portions.
前記各第2の支持部は、前記接触子ペアの略放射方向に沿って向けられる、請求項10に記載のコネクタ。   The connector according to claim 10, wherein each of the second support portions is oriented along a substantially radial direction of the contact pair.
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