JP2012058085A - Lens inspection apparatus - Google Patents

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PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a lens inspection apparatus capable of measuring not only image forming performance for an on-axis light beam of a lens to be inspected but also image forming performance for an off-axis light beam as accurate numerical data in a wide angle range.SOLUTION: A lens inspection apparatus 10 includes: a center collimator 21 for applying cross chart beams 43 to 45 to a lens 12 to be inspected rotatably held by a lens holding part 15; first and second side collimators 22, 23; and an imaging part 28 for imaging cross charts passed through the lens 12 to be inspected. The first and second side collimators 22, 23 for inspecting image forming performance for the off-axis light beam of the lens 12 to be inspected can be freely moved by first and second rotary stages 24, 25 and first and second guides 26, 27, and can make the cross chart beams 43 to 45 incident on an incident surface of the lens 12 to be inspected from a position 105° to the optical axis 13 of the lens 12 to be inspected.

Description

本発明はレンズの光学性能を測定し、検査するレンズ検査装置に関するものである。   The present invention relates to a lens inspection apparatus for measuring and inspecting the optical performance of a lens.

カメラに内蔵あるいは交換使用されるレンズの性能を検査するために、例えばMTF(Modulation Transfer Function)に基づく数値化データが測定できるようにしたレンズの検査装置が用いられる。このようなレンズ検査装置として、被検レンズから一定の距離を隔てて対面させたテストチャートを被検レンズを通して空中結像させ、そのテストチャートの空中像を拡大光学系で拡大してからCCDあるいはCMOS型のイメージセンサで撮像し、得られた撮像データを解析して数値データを採取する方式のものが、例えば下記特許文献1で知られている。   In order to inspect the performance of a lens that is built in or used in a camera, a lens inspection device that can measure digitized data based on, for example, MTF (Modulation Transfer Function) is used. As such a lens inspection device, a test chart facing a certain distance from the test lens is imaged in the air through the test lens, and the aerial image of the test chart is magnified by the magnifying optical system, and then the CCD or For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-151820 discloses a method of capturing an image with a CMOS type image sensor and analyzing the obtained image data to collect numerical data.

このレンズ検査装置では、テストチャート及びイメージセンサの双方を被検レンズの光軸に直交する面内でシフトできるように構成されている。これにより被検レンズの光軸外のレンズ性能を測定することが可能で、例えば広角系のレンズでは像面湾曲も簡単に評価することができるようになる。   This lens inspection apparatus is configured so that both the test chart and the image sensor can be shifted within a plane orthogonal to the optical axis of the lens to be tested. This makes it possible to measure the lens performance outside the optical axis of the lens to be examined. For example, a wide-angle lens can easily evaluate the field curvature.

また、下記特許文献2記載のレンズ検査装置は、特に魚眼レンズの結像性能を評価するためのもので、通常の使用状態でレンズ後方の像面となる位置にテストチャートを配置し、その像を魚眼レンズの前方に配置された半透明スクリーンに投影させる構成で、半透明スクリーンの裏面側からテストチャートの結像状態を観察できるようにしている。   In addition, the lens inspection apparatus described in Patent Document 2 below is for evaluating the imaging performance of a fisheye lens in particular, and a test chart is arranged at a position that becomes an image plane behind the lens in a normal use state, and the image is displayed. The image is projected onto a semi-transparent screen arranged in front of the fisheye lens, so that the image formation state of the test chart can be observed from the back side of the semi-transparent screen.

特開2004−163207号公報JP 2004-163207 A 特開2006−125980号公報JP 2006-125980 A

特許文献1記載の装置は、被検レンズだけで直接的にテストチャートの像を結像させているため正確な測定が可能であるが、テストチャートとイメージセンサとを光軸に垂直な面内でシフトさせる構成であるため、テストチャートからの光束を光軸から45°程度以上傾いた軸外方向から被検レンズに入射させることは困難である。また、入射させることができたとしても、被検レンズがテストチャートのパターンを斜め方向から見込むことになるから、その方向に関してテストパターンが縮小された像として結像されるので測定精度に影響を与え、軸外光束に対する結像性能を十分に検査することができない。また、特許文献2の装置は、基本的には魚眼レンズ以外の広角レンズの検査にも利用できるが目視観察による評価を前提としており、定量的な数値データを精度良く測定することができない。   The apparatus described in Patent Document 1 enables accurate measurement because the test chart image is directly formed only by the lens to be examined, but the test chart and the image sensor are in a plane perpendicular to the optical axis. Therefore, it is difficult to cause the light beam from the test chart to enter the lens to be examined from the off-axis direction inclined at about 45 ° or more from the optical axis. Even if it can be made incident, the test lens looks at the pattern of the test chart from an oblique direction, and the test pattern is formed as a reduced image in that direction, which affects the measurement accuracy. Given this, it is not possible to sufficiently inspect the imaging performance with respect to the off-axis light beam. Moreover, although the apparatus of patent document 2 can be basically used for inspection of wide-angle lenses other than fish-eye lenses, it is premised on evaluation by visual observation, and quantitative numerical data cannot be measured with high accuracy.

本発明は上記背景を考慮してなされたもので、その目的は、被検レンズの軸上光束に対する結像性能はもとより、軸外光束に対する結像性能についても広い角度範囲で正確な数値データとして測定することが可能なレンズ検査装置を提供することにある。   The present invention has been made in consideration of the above-mentioned background. The purpose of the present invention is to provide accurate numerical data in a wide angle range for imaging performance for off-axis light flux as well as imaging performance for the on-axis light flux of the test lens. The object is to provide a lens inspection apparatus capable of measuring.

上記目的を達成するにあたり、本発明のレンズ検査装置は、ベース部材上に支持され、被検レンズを光軸回りに回転自在に保持するレンズ保持部と、前記ベース部材上に支持されるとともに、テストチャート及びコリメートレンズを内蔵し、被検レンズにその光軸上から前記テストチャートからの平行光を入射させるセンタコリメータと、前記センタコリメータ側から前記レンズ保持部側に近づくにつれて前記光軸から離れるように前記ベース部材上に設けられた直線状の第1ガイドと、前記第1ガイドにより直線的に移動自在、かつ前記第1ガイド上の任意の位置でベース部材に垂直な軸回りに揺動自在に支持されるとともに、テストチャート及びコリメートレンズを内蔵し、前記レンズ保持部で保持された被検レンズにその光軸上から前記テストチャートからの平行光を入射させる第1サイドコリメータと、前記被検レンズの光軸と平行に、かつ前記光軸に直交する面内の2方向に移動自在に支持され、前記被検レンズによって空中結像された前記センタコリメータまたは第1サイドコリメータからのテストチャートの像を撮像する撮像部とから構成される。   In achieving the above object, the lens inspection apparatus of the present invention is supported on a base member, and is supported on the base member, a lens holding portion that holds the lens to be tested so as to be rotatable around the optical axis, A center collimator that incorporates a test chart and a collimating lens and makes the parallel light from the test chart enter the lens under test from the optical axis thereof, and moves away from the optical axis as it approaches the lens holding part side from the center collimator side. As described above, a linear first guide provided on the base member, and linearly movable by the first guide and swinging about an axis perpendicular to the base member at an arbitrary position on the first guide A test chart and a collimating lens are built in and supported by the lens holder. A first side collimator for allowing parallel light from a test chart to enter; and a first side collimator that is parallel to the optical axis of the lens to be tested and movably supported in two directions in a plane perpendicular to the optical axis; And an imaging unit that captures an image of the test chart from the center collimator or the first side collimator formed in the air.

前記第1ガイドは、前記センタコリメータの近傍から光軸方向に前記被検レンズが保持される位置を越えて延ばされ、かつ前記第1サイドコリメータの光軸が前記センタコリメータの光軸から120°まで傾くように前記第1サイドコリメータの揺動範囲を設定しておくことが望ましく、これにより超広角や魚眼レンズの最大画角付近からの軸外光束に対する結像性能についても検査することが可能となる。さらに、センタコリメータの光軸に関し、第1サイドコリメータと対称関係となるように第2サイドコリメータを設けることも効率的な測定を行う上で有効である。また、上記それぞれのコリメータに内蔵されるテストチャートを複数種類とし、測定条件に応じて最適のものを選択して用いられるようにしておくことが望ましい。   The first guide extends from the vicinity of the center collimator beyond the position where the lens to be tested is held in the optical axis direction, and the optical axis of the first side collimator is 120 from the optical axis of the center collimator. It is desirable to set the swing range of the first side collimator so that it tilts to °°, so that it is possible to inspect the imaging performance for off-axis light beams from near the maximum field angle of the super wide angle or fisheye lens. It becomes. Furthermore, it is also effective for efficient measurement to provide the second side collimator so as to be symmetrical with the first side collimator with respect to the optical axis of the center collimator. In addition, it is desirable to use a plurality of types of test charts built in each of the above collimators, and select and use the optimum one according to the measurement conditions.

本発明によれば、レンズ保持部で保持された被検レンズにテストチャートからの平行光を軸上光束として入射させるセンタコリメータのほかに、テストチャートからの平行光を軸外光束として入射させるサイドコリメータを設けるとともに、サイドコリメータを被検レンズに自在に接近させ、かつ任意の角度に揺動することができるようにしているから、画角が大きい被検レンズの光軸に対して角度をもって入射する軸外光束についても様々な検査条件のもとで数値データを精度良く測定することが可能となる。   According to the present invention, in addition to the center collimator that causes the parallel light from the test chart to enter the test lens held by the lens holding portion as the on-axis light beam, the side on which the parallel light from the test chart is incident as the off-axis light beam. In addition to providing a collimator, the side collimator can be freely moved close to the lens to be examined and can be swung to an arbitrary angle, so that the angle of incidence is incident on the optical axis of the lens to be examined having a large angle of view. As for off-axis light flux, numerical data can be accurately measured under various inspection conditions.

本発明によるレンズ検査装置の構成を示す上面図である。It is a top view which shows the structure of the lens inspection apparatus by this invention. 図1の中心断面図である。FIG. 2 is a central sectional view of FIG. 1. 図1の第1サイドコリメータを中心断面で表した模式的断面図である。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing the first side collimator of FIG. 1 in a central cross section. チャート板を示す図である。It is a figure which shows a chart board. レンズ保持部にセットされた被検レンズに入射するチャート光の角度を表した水平断面図である。It is a horizontal sectional view showing the angle of the chart light incident on the test lens set in the lens holding part. 電気的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows an electric structure. 被検レンズの空中像と顕微鏡部の光軸中心のズレの説明図である。It is explanatory drawing of the shift | offset | difference of the aerial image of a to-be-tested lens, and the optical axis center of a microscope part. 被検レンズの入射面上の測定個所を示す図である。It is a figure which shows the measurement location on the entrance plane of a to-be-tested lens. 図1から第1,第2サイドコリメータを移動させた時の図である。It is a figure when the 1st, 2nd side collimator is moved from FIG. 図9から第1,第2サイドコリメータを更に移動させた時の図である。FIG. 10 is a diagram when the first and second side collimators are further moved from FIG. 9.

本発明によるレンズ検査装置10は、魚眼レンズも含めてレンズ性能の検査ができるように工夫されたもので、図1〜図3に示すように、ベース部材40上に設けられた台座41に固定され、性能測定検査が行われる被検レンズ12が光軸13回りに回転自在に保持されるレンズ保持部15と、十字チャート(テストチャート)16〜19(図4参照)とコリメートレンズ36を内蔵し、レンズ保持部15で保持された被検レンズ12にその光軸13上から十字チャートが付与された平行光を入射させて被検レンズ12の軸上光束に対する性能を検査するセンタコリメータ21を備える。センタコリメータ21は、固定枠42によってベース部材40に固定される。   The lens inspection apparatus 10 according to the present invention is devised so as to be able to inspect lens performance including a fisheye lens, and is fixed to a pedestal 41 provided on a base member 40 as shown in FIGS. A lens holding unit 15 in which a lens 12 to be tested for performance measurement is rotatably held around the optical axis 13, a cross chart (test chart) 16 to 19 (see FIG. 4), and a collimating lens 36 are incorporated. And a center collimator 21 for inspecting the lens 12 held by the lens holder 15 with parallel light with a cross chart from the optical axis 13 to inspect the performance of the lens 12 on the axial beam. . The center collimator 21 is fixed to the base member 40 by a fixed frame 42.

レンズ検査装置10は、十字チャート16〜19とコリメートレンズ36とを内蔵し、レンズ保持部15で保持された被検レンズ12にその光軸13外から十字チャートが付与された平行光を入射させ被検レンズ12の軸外光束に対する性能を検査する第1サイドコリメータ22及び第2サイドコリメータ23を備える。第1サイドコリメータ22と第2サイドコリメータ23はセンタコリメータ21の出射光軸43に対してそれぞれ線対称となる位置に配置され、第1,第2回転ステージ24,25に取り付けられる。レンズ保持部15は、レンズ保持部用モータ115(図6参照)によって光軸13回りに45°刻みで回転される。   The lens inspection apparatus 10 includes cross charts 16 to 19 and a collimator lens 36, and makes parallel light with a cross chart applied from the outside of the optical axis 13 to the lens 12 held by the lens holding unit 15. A first side collimator 22 and a second side collimator 23 for inspecting the performance of the lens 12 to be tested with respect to an off-axis light beam are provided. The first side collimator 22 and the second side collimator 23 are arranged at positions that are line-symmetric with respect to the outgoing optical axis 43 of the center collimator 21, and are attached to the first and second rotary stages 24 and 25. The lens holding unit 15 is rotated around the optical axis 13 in 45 ° increments by a lens holding unit motor 115 (see FIG. 6).

第1,第2回転ステージ24,25は、第1,第2ガイド26,27に設けられた第1,第2スライドステージ46,47に固定され、ベース部材40に垂直な軸回りに回転自在に支持されて、第1,第2回転ステージ用モータ111,112(図6参照)によって回転される。第1,第2ガイド26,27はベース部材40上に直線状に配置され、送りネジとガイドレールによって移動自在に支持された第1,第2スライドステージ46,47を備え、第1,第2スライドステージ46,47は第1,第2ガイド26,27に設けられた第1,第2スライドステージ用モータ113,114によって駆動される。   The first and second rotary stages 24 and 25 are fixed to first and second slide stages 46 and 47 provided on the first and second guides 26 and 27, respectively, and are rotatable about an axis perpendicular to the base member 40. And rotated by first and second rotary stage motors 111 and 112 (see FIG. 6). The first and second guides 26 and 27 are linearly arranged on the base member 40 and include first and second slide stages 46 and 47 that are movably supported by a feed screw and a guide rail. The two slide stages 46 and 47 are driven by first and second slide stage motors 113 and 114 provided on the first and second guides 26 and 27, respectively.

第1,第2ガイド26,27はセンタコリメータ21側からレンズ保持部15側に近づくにつれて光軸13から離れるようにハの字に配置されるとともに、センタコリメータ21の近傍から光軸方向に被検レンズ12が保持される位置を越えて延ばされ、第1,第2サイドコリメータ22,23の光軸がセンタコリメータ21の光軸からそれぞれ反対の方向に120°まで傾くように第1,第2サイドコリメータ22,23の揺動範囲が設定されている。   The first and second guides 26 and 27 are arranged in a U shape so as to be separated from the optical axis 13 as they approach the lens holding unit 15 side from the center collimator 21 side, and are covered in the optical axis direction from the vicinity of the center collimator 21. The first and second side collimators 22 and 23 are extended beyond the position where the analyzer lens 12 is held, and the first and second side collimators 22 and 23 are inclined in the opposite directions from the optical axis of the center collimator 21 to 120 °. The swing range of the second side collimators 22 and 23 is set.

センタコリメータ21及び第1,第2サイドコリメータ22,23は、十字チャート16〜19を有するチャート板30とチャート板30に光を投射する光源部32とを備える。光源部32は、LED33とヒートシンク34と集光レンズ35とからなり、チャート板30を照射する。チャート板30は十字チャート16〜19のいずれか1つが光路上にセットされ、チャート板30の位置に焦点が合わされたコリメートレンズ36から十字チャート16〜19のいずれか1つが付与されたチャート光が平行光となって被検レンズ12に向けて出射される。   The center collimator 21 and the first and second side collimators 22 and 23 include a chart plate 30 having cross charts 16 to 19 and a light source unit 32 that projects light onto the chart plate 30. The light source unit 32 includes an LED 33, a heat sink 34, and a condenser lens 35, and irradiates the chart plate 30. Any one of the cross charts 16 to 19 is set on the optical path of the chart plate 30, and the chart light to which any one of the cross charts 16 to 19 is applied from the collimating lens 36 focused on the position of the chart plate 30. Parallel light is emitted toward the lens 12 to be examined.

レンズ検査装置10は、被検レンズ12を透過した前記チャート光を撮像する撮像部28を備える。撮像部28は、被検レンズ12の作る十字チャート16〜19の空中像を拡大して観察する拡大光学系50と、拡大光学系50で観察された十字チャート16〜19を結像させる結像レンズ51と、結像レンズ51によって結像された図柄を撮像するカメラ部52とを備え、三次元ステージ55に載置されベース部材40に固定される。三次元ステージ55は、撮像部28を鉛直方向(図2における上下方向)に移動させるYステージ56と、Yステージ56を水平(図1における上下方向)に移動させるXステージ57と、Xステージ57を光軸13と平行(図1,2における左右方向)に移動させるZステージ58とからなる。   The lens inspection device 10 includes an imaging unit 28 that images the chart light that has passed through the lens 12 to be examined. The imaging unit 28 enlarges and observes the aerial image of the cross charts 16 to 19 formed by the test lens 12 and forms an image of the cross charts 16 to 19 observed by the enlargement optical system 50. A lens 51 and a camera unit 52 that captures an image formed by the imaging lens 51 are provided, and are placed on a three-dimensional stage 55 and fixed to the base member 40. The three-dimensional stage 55 includes a Y stage 56 that moves the imaging unit 28 in the vertical direction (vertical direction in FIG. 2), an X stage 57 that moves the Y stage 56 horizontally (vertical direction in FIG. 1), and an X stage 57. Is moved in parallel with the optical axis 13 (left and right direction in FIGS. 1 and 2).

図4に示すように、チャート板30の十字チャート16〜19はMTF測定用図柄であり、16,17,18,19の順に線の太さが太くなっている。第1,第2サイドコリメータ22,23では、コリメートレンズ36から被検レンズ12の入射面60へ入射させる光の入射位置(入射角度)(図5参照)によって十字チャート16〜19の中から1つが選択される。センタコリメータ21は十字チャート16を使用する。あるいは、十字チャート16より少し細い十字線の図柄の十字チャートを用いても良い。なお、センタコリメータ21に使用するチャート板30は第1,第2サイドコリメータ22,23に用いる十字チャート16〜19とは異なる図柄を用いても良く、測定されるレンズによって適切なものが用いられるようにすれば良い。   As shown in FIG. 4, the cross charts 16 to 19 of the chart plate 30 are symbols for MTF measurement, and the thickness of the lines increases in the order of 16, 17, 18, and 19. In the first and second side collimators 22 and 23, one of the cross charts 16 to 19 is selected depending on the incident position (incident angle) (see FIG. 5) of the light incident from the collimating lens 36 onto the incident surface 60 of the lens 12 to be examined. Is selected. The center collimator 21 uses a cross chart 16. Alternatively, a cross chart having a crosshair pattern slightly thinner than the cross chart 16 may be used. The chart plate 30 used for the center collimator 21 may use a pattern different from the cross charts 16 to 19 used for the first and second side collimators 22 and 23, and an appropriate one is used depending on the lens to be measured. You can do that.

図5に示すように、第1,第2サイドコリメータ22,23は、出射されたチャート光の出射光軸44,45が被検レンズ12の入射面60上の光軸13を通る水平方向の任意の位置に、光軸13に対して被検レンズ12の左右方向から斜め水平に入射させる。第1,第2サイドコリメータ22,23は、レンズ保持部15によって45°毎に回転された被検レンズ12の入射面60に交互にチャート光を入射させ、順次にMTFの測定を行う。これによって、レンズ保持部15を180°回転させるだけで被検レンズ12に対して360°の範囲の測定をすることができる。1回のレンズセットで2回の測定が行えるので、測定精度への影響が大きい被検レンズ12の回転位置決め数を減らすことで、測定精度が向上する。   As shown in FIG. 5, the first and second side collimators 22 and 23 are arranged in the horizontal direction in which the outgoing optical axes 44 and 45 of the emitted chart light pass through the optical axis 13 on the incident surface 60 of the test lens 12. The light is incident obliquely horizontally on the optical axis 13 from the left-right direction of the lens 12 to be measured. The first and second side collimators 22 and 23 alternately make the chart light incident on the incident surface 60 of the test lens 12 rotated every 45 ° by the lens holding unit 15, and sequentially measure the MTF. Accordingly, it is possible to perform measurement in the range of 360 ° with respect to the lens 12 to be measured only by rotating the lens holding portion 15 by 180 °. Since the measurement can be performed twice with a single lens set, the measurement accuracy is improved by reducing the rotational positioning number of the lens 12 to be measured, which has a large influence on the measurement accuracy.

図6に示すように、制御装置100は、CPU102とシステムメモリ103とモータ用のドライバ105とを有する。CPU102は8つのドライバ105を介して8つのモータ111〜118を駆動し制御する。第1,第2サイドコリメータ22,23は、被検レンズ12の周辺部にチャート光を照射するが、被検レンズ12を透過した十字チャート16〜19の空中像64の中心位置が拡大光学系50の光軸53に対してずれている場合は、図7に示すように、拡大光学系50の撮影範囲62の中に空中像64が写らない。そこで、拡大光学系50の倍率を下げて撮影範囲を、例えば、63で示す範囲まで広げ、空中像64の十字図柄を撮影範囲内に入れる。   As shown in FIG. 6, the control device 100 includes a CPU 102, a system memory 103, and a motor driver 105. The CPU 102 drives and controls the eight motors 111 to 118 via the eight drivers 105. The first and second side collimators 22 and 23 irradiate the periphery of the test lens 12 with the chart light, but the center position of the aerial image 64 of the cross charts 16 to 19 transmitted through the test lens 12 is the magnifying optical system. When the optical axis 53 is deviated from the 50 optical axis 53, the aerial image 64 does not appear in the imaging range 62 of the magnifying optical system 50 as shown in FIG. Therefore, the magnification of the magnifying optical system 50 is lowered to widen the shooting range, for example, to the range indicated by 63, and the cross pattern of the aerial image 64 is placed within the shooting range.

カメラ部52は、X軸方向とY軸方向の輝度から十字図柄の中心位置を探し出して拡大光学系50の光軸53とのずれ量65を求める。求められたずれ量65の情報はCPU102に伝えられる。CPU102はこの情報を基にドライバ105を介して第1,第2回転ステージ用モータ111,112と第1,第2スライドステージ用モータ113,114を駆動して、第1,第2サイドコリメータ22,23から出射されるチャート光の出射光軸44,45の被検レンズ12への入射位置を調節して、チャート光の空中像64の中心が拡大光学系50の撮影範囲62の中心(光軸53)に一致させる。その後、拡大光学系50の倍率を元に戻し、撮影範囲が元に戻される。   The camera unit 52 finds the center position of the cross pattern from the luminance in the X-axis direction and the Y-axis direction, and obtains a deviation amount 65 from the optical axis 53 of the magnifying optical system 50. Information on the obtained shift amount 65 is transmitted to the CPU 102. Based on this information, the CPU 102 drives the first and second rotary stage motors 111 and 112 and the first and second slide stage motors 113 and 114 via the driver 105, and the first and second side collimators 22. , 23 is adjusted to adjust the incident position of the outgoing optical axes 44 and 45 of the chart light to the lens 12 to be examined, so that the center of the aerial image 64 of the chart light is the center of the photographing range 62 of the magnifying optical system 50 (light Axis 53). Thereafter, the magnification of the magnifying optical system 50 is restored, and the photographing range is restored.

拡大光学系50によって拡大された像は結像レンズ51によって結像されカメラ部52で撮像される。撮像部28はカメラ部52による撮像結果からピント情報をCPU102に伝達する。CPU102はドライバ105を介してXステージ用モータ116,Yステージ用モータ117,Zステージ用モータ118を駆動し三次元ステージ55によってカメラ部52に撮像された十字チャート16〜19のピント調節を自動的に行う。ピント調節はZステージ58のZ軸方向の移動によって行われが、被検レンズ12の入射面60に入射するチャート光が軸外光であるとZ軸方向の位置によってX軸,Y軸方向の位置も変わってしまうので、Xステージ57,Yステージ56によってX軸,Y軸方向の位置調整が行われる。   The image magnified by the magnifying optical system 50 is imaged by the imaging lens 51 and captured by the camera unit 52. The imaging unit 28 transmits focus information to the CPU 102 from the imaging result of the camera unit 52. The CPU 102 drives the X stage motor 116, the Y stage motor 117, and the Z stage motor 118 via the driver 105 to automatically adjust the focus of the cross charts 16 to 19 imaged on the camera unit 52 by the three-dimensional stage 55. To do. Focus adjustment is performed by movement of the Z stage 58 in the Z-axis direction. If the chart light incident on the incident surface 60 of the lens 12 to be tested is off-axis light, the X-axis and Y-axis directions depend on the position in the Z-axis direction. Since the position also changes, the X stage 57 and the Y stage 56 adjust the position in the X-axis and Y-axis directions.

CPU102はZステージ58をZ軸方向に移動させて、カメラ部52に最初に結像された像だけでなくピント位置を変えた数点についての像のMTFを撮像部28に測定させる。撮像部28は、その中からベストピント位置のMTF値を求める。測定した数点の中にベストピント位置がない場合でも、求めたデータから補間的にベストピント位置とそのときのMTF値を求めることができる。   The CPU 102 moves the Z stage 58 in the Z-axis direction, and causes the imaging unit 28 to measure not only the image initially formed on the camera unit 52 but also the MTFs of the images at several points whose focus positions are changed. The imaging unit 28 obtains the MTF value at the best focus position from among them. Even when there is no best focus position among the measured several points, the best focus position and the MTF value at that time can be interpolated from the obtained data.

次に、本発明の作用効果をレンズ検査装置10による被検レンズ12のMTF測定を通して説明する。図8に示すように、被検レンズ12は入射面60の25ヶ所についてMTF測定が行われる。前記25ヶ所の位置は、全てシステムメモリ103に入力される。被検レンズ12をレンズ保持部15にセットする。センタコリメータ21はチャート板30に十字チャート16がセットされ、電源がオンされ、十字チャート16の図柄が付与されたチャート光(出射光軸43)が被検レンズ12の入射面60の中心(図8の71の位置)に入射される。   Next, the effect of the present invention will be described through MTF measurement of the lens 12 to be examined by the lens inspection device 10. As shown in FIG. 8, the test lens 12 performs MTF measurement at 25 locations on the incident surface 60. All the 25 positions are input to the system memory 103. The test lens 12 is set on the lens holding unit 15. In the center collimator 21, the cross chart 16 is set on the chart plate 30, the power is turned on, and the chart light (emitted optical axis 43) to which the pattern of the cross chart 16 is applied is centered on the incident surface 60 (see FIG. 8 at 71).

被検レンズ12の中心部を透過したチャート光(43)は拡大光学系50で観察され、その図柄が結像レンズ51によってカメラ部52に結像される。撮像された十字チャート16のピント調節が行われた後に、十字チャート16の画像情報がCPU102に伝達され、被検レンズ12の中心部71におけるMTFが計測される。ここで、被検レンズ12に入射される光は平行光であるから、センタコリメータ21及び第1,第2サイドコリメータ22,23のいずれの光も光軸13と垂直な面上に結像するので、拡大光学系50の光軸53は被検レンズ12の光軸13と平行な状態で用いられ、これによって常に安定した測定ができる。   The chart light (43) transmitted through the central portion of the test lens 12 is observed by the magnifying optical system 50, and the design is imaged on the camera unit 52 by the imaging lens 51. After focus adjustment of the imaged cross chart 16 is performed, the image information of the cross chart 16 is transmitted to the CPU 102, and the MTF at the central portion 71 of the lens 12 to be measured is measured. Here, since the light incident on the test lens 12 is parallel light, both the center collimator 21 and the first and second side collimators 22 and 23 form an image on a plane perpendicular to the optical axis 13. Therefore, the optical axis 53 of the magnifying optical system 50 is used in a state parallel to the optical axis 13 of the lens 12 to be measured, and thus stable measurement can always be performed.

次に、第1サイドコリメータ22のチャート板30に、例えば、十字チャート17がセットされ、十字チャート17の図柄が付与されたチャート光(出射光軸44)が水平方向に20°傾いた位置(図5参照)から被検レンズ12の瞳位置に向けて出射される。CPU102はシステムメモリ103に記憶されたデータに基いて第1,第2回転ステージ24,25と第1,第2スライドステージ46,47とを駆動し、第1,第2サイドコリメータ22,23から出射されるチャート光の出射光軸44,45を被検レンズ12の所定位置に正しく入射させる。入射面60上の入射位置は中心から少しずれた図8の72で示される位置となる。   Next, for example, the cross chart 17 is set on the chart plate 30 of the first side collimator 22, and the chart light (emitted optical axis 44) to which the pattern of the cross chart 17 is given is tilted by 20 ° in the horizontal direction ( 5) toward the pupil position of the lens 12 to be examined. The CPU 102 drives the first and second rotary stages 24 and 25 and the first and second slide stages 46 and 47 based on the data stored in the system memory 103, and from the first and second side collimators 22 and 23. The outgoing optical axes 44 and 45 of the emitted chart light are correctly incident on predetermined positions of the test lens 12. The incident position on the incident surface 60 is a position indicated by 72 in FIG.

被検レンズ12を透過したチャート光(43)の空中像64(図7参照)が拡大光学系50で観察され、十字チャート17が結像レンズ51によってカメラ部52に結像される。カメラ部52で撮像された十字チャート17の図柄の中心と拡大光学系50の光軸53とが一致していない場合は、一致するように、第1,第2回転ステージ24,25と第1,第2スライドステージ46,47とによって第1,第2サイドコリメータ22,23の位置が調節される。また、三次元ステージ55によって撮像部28の位置調節が行なわれ、撮像された十字チャート17のピントが調節される。十字チャート17の画像情報はCPU102に送られ、被検レンズ12の入射面60上の72の位置におけるMTFが計測される。   An aerial image 64 (see FIG. 7) of the chart light (43) transmitted through the test lens 12 is observed by the magnifying optical system 50, and the cross chart 17 is imaged on the camera unit 52 by the imaging lens 51. When the center of the pattern of the cross chart 17 imaged by the camera unit 52 and the optical axis 53 of the magnifying optical system 50 do not coincide with each other, the first and second rotary stages 24 and 25 and the first rotary stage 24 and 25 are arranged so as to coincide with each other. The positions of the first and second side collimators 22 and 23 are adjusted by the second slide stages 46 and 47. In addition, the position of the imaging unit 28 is adjusted by the three-dimensional stage 55, and the focus of the captured cross chart 17 is adjusted. The image information of the cross chart 17 is sent to the CPU 102, and the MTF at the position 72 on the incident surface 60 of the lens 12 to be measured is measured.

次に、第2サイドコリメータ23によって図8の73で示される位置のMTFが測定される。第2サイドコリメータ23のチャート光の出射光軸45は被検レンズ12の光軸13に対して第1サイドコリメータ22とは反対側から20°の傾き(図5参照)で入射面60に入射される。測定は第1サイドコリメータ22と同じであり、十字チャート17がセットされてMTFが測定が行われる。中心位置がずれている場合には位置合わせが行われ、ピンと調節も行われる。   Next, the MTF at the position indicated by 73 in FIG. 8 is measured by the second side collimator 23. The outgoing optical axis 45 of the chart light of the second side collimator 23 is incident on the incident surface 60 with an inclination of 20 ° (see FIG. 5) from the opposite side of the first side collimator 22 with respect to the optical axis 13 of the test lens 12. Is done. The measurement is the same as the first side collimator 22, and the cross chart 17 is set and the MTF is measured. When the center position is deviated, alignment is performed and adjustment is also performed.

図8に示す72,73の位置の測定が終わると、CPU102はドライバ105を介してレンズ保持部用モータ115を駆動し、システムメモリ103に記憶されたデータに基いて、レンズ保持部15を45°回転させる。被検レンズ12は図8に示す74,75の位置が72,73の位置に移動して、第1,第2サイドコリメータ22,23から74,75の位置に十字チャート17のチャート光が入射され、それぞれのMTFが測定される。レンズ保持部15が45°の回転を繰返して、入射面60上の72〜79までの位置のMTFの測定が行われる。レンズ保持部15が光軸13を中心に回転されることで被検レンズ12の軸対称性も検査できる。軸対称性の検査はプラスチックレンズの場合に有用である。   When the measurement of the positions 72 and 73 shown in FIG. 8 is completed, the CPU 102 drives the lens holding unit motor 115 via the driver 105 and moves the lens holding unit 15 to 45 based on the data stored in the system memory 103. Rotate. 8 moves to positions 72 and 73, and the chart light of the cross chart 17 enters the positions 74 and 75 from the first and second side collimators 22 and 23. And each MTF is measured. The lens holding unit 15 repeats the rotation of 45 °, and the MTFs at positions 72 to 79 on the incident surface 60 are measured. As the lens holding portion 15 is rotated about the optical axis 13, the axial symmetry of the lens 12 to be tested can also be inspected. Axisymmetric testing is useful for plastic lenses.

図9に示すように、レンズ保持部15が回転され初期位置に戻される。魚眼レンズのような広角レンズでは中心に対する位置(画角)によって倍率が変わってしまうので使用する十字チャートが17から18に変更される。CPU102はドライバ105を介して第1,第2回転ステージ用モータ111,112及び第1,第2スライドステージ用モータ113,114を駆動し、システムメモリ103に記憶されたデータに基いて、第1,第2サイドコリメータ22,23をそれぞれ矢印48,49の方向に移動するとともに回転させ、チャート光の出射方向を被検レンズ12の光軸13に対して62.5°傾いた80,81で示す方向(図5参照)にセットして、図8の82,83で示す位置にチャート光を入射させる。レンズ保持部15が45°毎に回転されながら、図8に示す82〜89の位置について十字チャート18によるMTFの測定が行われる。   As shown in FIG. 9, the lens holding part 15 is rotated and returned to the initial position. In a wide-angle lens such as a fisheye lens, the magnification changes depending on the position (view angle) with respect to the center, so the cross chart used is changed from 17 to 18. The CPU 102 drives the first and second rotary stage motors 111 and 112 and the first and second slide stage motors 113 and 114 via the driver 105, and based on the data stored in the system memory 103, the first The second side collimators 22 and 23 are moved and rotated in the directions of arrows 48 and 49, respectively, so that the emission direction of the chart light is 80 and 81 inclined by 62.5 ° with respect to the optical axis 13 of the lens 12 to be examined. In the direction shown (see FIG. 5), the chart light is incident on the positions indicated by 82 and 83 in FIG. While the lens holding part 15 is rotated every 45 °, the MTF is measured by the cross chart 18 at positions 82 to 89 shown in FIG.

図10に示すように、レンズ保持部15が回転し初期位置しなるとともに十字チャートが19に変更される。第1,第2サイドコリメータ22,23は、更に矢印48,49の方向に移動するとともに回転して、被検レンズ12の光軸13に対して105°傾いた90,91で示す方向(図5参照)から被検レンズ12の図8の92,93で示す位置にチャート光を入射させる。第1,第2サイドコリメータ22,23のそれぞれのコリメートレンズ36は、ハの字に開いた第1,第2ガイド26,27によって被検レンズ12に接近してセットされ、光軸13に対して大きく傾いた軸外光を近接位置から入射させることができる。続いて、レンズ保持部15を45°毎に回転させながら、図8に示す92〜99の位置について十字チャート19によるMTFの測定が行われる。   As shown in FIG. 10, the lens holding portion 15 is rotated to the initial position, and the cross chart is changed to 19. The first and second side collimators 22 and 23 are further moved and rotated in the directions of arrows 48 and 49, and directions indicated by 90 and 91 inclined by 105 ° with respect to the optical axis 13 of the lens 12 to be tested (see FIG. 5), the chart light is caused to enter the positions indicated by 92 and 93 in FIG. The collimating lenses 36 of the first and second side collimators 22 and 23 are set close to the lens 12 to be examined by the first and second guides 26 and 27 opened in a letter C, and are set to the optical axis 13. In this case, off-axis light that is greatly tilted can be incident from a close position. Subsequently, the MTF is measured by the cross chart 19 at positions 92 to 99 shown in FIG. 8 while rotating the lens holding portion 15 every 45 °.

なお、前記実施形態におけるチャート光の入射角度や被検レンズ12の入射面60の入射ポイント(測定点)は測定されるレンズの性質に応じて決定すれば良い。また、サイドコリメータを2台設けたが、1台にしてレンズ保持部15を360°回転させるようにしても良く、測定するレンズの性質を考えて選択すると良い。また、CTF検査や投影解像検査などに用いても良い。前記実施形態は被検レンズの光軸を水平に配置した検査装置であるが、センタコリメータや撮像部など装置全体を縦置き配置にして、被検レンズの光軸が垂直に配置される構成にしても良い。   In addition, what is necessary is just to determine the incident angle (measurement point) of the incident angle of the chart light in the said embodiment, and the entrance plane 60 of the to-be-tested lens 12 according to the property of the lens to be measured. In addition, although two side collimators are provided, the lens holding unit 15 may be rotated 360 ° by selecting one, and may be selected in consideration of the properties of the lens to be measured. Further, it may be used for CTF inspection or projection resolution inspection. The above embodiment is an inspection apparatus in which the optical axis of the test lens is horizontally arranged. However, the entire apparatus such as the center collimator and the imaging unit is vertically arranged, and the optical axis of the test lens is arranged vertically. May be.

10 レンズ検査装置
12 被検レンズ
13 光軸(被検レンズの光軸)
15 レンズ保持部
16〜19 十字チャート(テストチャート)
21 センタコリメータ
22 第1サイドコリメータ
23 第2サイドコリメータ
24 第1回転ステージ
25 第2回転ステージ
26 第1ガイド
27 第2ガイド
28 撮像部
30 チャート板
32 光源部
33 LED
34 ヒートシンク
35 集光レンズ
36 コリメートレンズ
40 ベース部材
41 台座
42 固定枠
43 (センタコリメータから出射する)チャート光の出射光軸
44,80,90 (第1サイドコリメータの)出射光軸
45,81,91 (第2サイドコリメータの)出射光軸
46 第1スライドステージ
47 第2スライドステージ
48,49 矢印
50 拡大光学系
51 結像レンズ
52 カメラ部
53 (拡大光学系の)光軸
55 三次元ステージ
56 Yステージ
57 Xステージ
58 Zステージ
60 (被検レンズの)入射面
62 拡大光学系50の撮影範囲
64 十字チャート16〜19の空中像
71〜79,82〜89,92〜99 入射面60上の位置
100 制御装置
102 CPU
103 システムメモリ
105 (モータ用の)ドライバ
111 第1回転ステージ用モータ
112 第2回転ステージ用モータ
113 第1スライドステージ用モータ
114 第2スライドステージ用モータ
115 レンズ保持部用モータ
116 Xステージ用モータ
117 Yステージ用モータ
118 Zステージ用モータ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Lens inspection apparatus 12 Test lens 13 Optical axis (Optical axis of test lens)
15 Lens holder 16-19 Cross chart (test chart)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 21 Center collimator 22 1st side collimator 23 2nd side collimator 24 1st rotation stage 25 2nd rotation stage 26 1st guide 27 2nd guide 28 Imaging part 30 Chart board 32 Light source part 33 LED
34 heat sink 35 condensing lens 36 collimating lens 40 base member 41 pedestal 42 fixed frame 43 outgoing optical axes 44, 80, 90 (for the first side collimator) outgoing optical axes 45, 81, 91 Output optical axis (of second side collimator) 46 First slide stage 47 Second slide stage 48, 49 Arrow 50 Magnifying optical system 51 Imaging lens 52 Camera unit 53 Optical axis (for magnifying optical system) 55 Three-dimensional stage 56 Y stage 57 X stage 58 Z stage 60 Incident surface (of the lens to be examined) 62 Imaging range of magnifying optical system 50 64 Aerial images of cross charts 16 to 19 71 to 79, 82 to 89, 92 to 99 On incident surface 60 Position 100 Control device 102 CPU
103 System memory 105 Driver (for motor) 111 Motor for first rotation stage 112 Motor for second rotation stage 113 Motor for first slide stage 114 Motor for second slide stage 115 Motor for lens holding portion 116 Motor for X stage 117 Y stage motor 118 Z stage motor

Claims (4)

ベース部材上に支持され、被検レンズが光軸回りに回転自在に保持されるレンズ保持部と、
前記ベース部材上に支持されるとともに、テストチャート及びコリメートレンズを内蔵し、被検レンズにその光軸上から前記テストチャートからの平行光を入射させるセンタコリメータと、
前記センタコリメータ側から前記レンズ保持部側に近づくにつれて前記光軸から離れるように前記ベース部材上に設けられた直線状の第1ガイドと、
前記第1ガイドにより直線的に移動自在、かつ前記第1ガイド上の任意の位置でベース部材に垂直な軸回りに揺動自在に支持されるとともに、テストチャート及びコリメートレンズを内蔵し、前記レンズ保持部で保持された被検レンズにその光軸外から前記テストチャートからの平行光を入射させる第1サイドコリメータと、
前記被検レンズの光軸と平行に、かつ前記光軸に直交する面内の2方向に移動自在に支持され、前記被検レンズによって空中結像された前記センタコリメータまたは第1サイドコリメータからのテストチャートの像を撮像する撮像部と、
を備えたことを特徴とするレンズ検査装置。
A lens holding unit supported on the base member and rotatably held around the optical axis;
A center collimator that is supported on the base member, incorporates a test chart and a collimating lens, and makes the test lens enter parallel light from the test chart from the optical axis thereof;
A linear first guide provided on the base member so as to move away from the optical axis as approaching the lens holding part side from the center collimator side;
The lens is supported by the first guide so as to be linearly movable and swingable about an axis perpendicular to the base member at an arbitrary position on the first guide, and includes a test chart and a collimating lens. A first side collimator for allowing parallel light from the test chart to enter the lens to be tested held by the holding unit from outside the optical axis;
From the center collimator or the first side collimator, which is supported in parallel with the optical axis of the lens to be examined and movable in two directions in a plane perpendicular to the optical axis, and is imaged in the air by the lens to be examined. An imaging unit for capturing an image of the test chart;
A lens inspection apparatus comprising:
前記第1ガイドは、前記センタコリメータの近傍から光軸方向に前記被検レンズが保持される位置を越えて延ばされ、かつ前記第1サイドコリメータの光軸が前記センタコリメータの光軸から120°まで傾くように前記第1サイドコリメータの揺動範囲が設定されていることを特徴とする請求項1記載のレンズ検査装置。   The first guide extends from the vicinity of the center collimator beyond the position where the lens to be tested is held in the optical axis direction, and the optical axis of the first side collimator is 120 from the optical axis of the center collimator. 2. The lens inspection apparatus according to claim 1, wherein a swing range of the first side collimator is set so as to be inclined to [deg.]. 前記センタコリメータの光軸に関して前記第1ガイドと線対称となる位置に第2ガイドが設けられ、この第2ガイドにより直線的に移動自在、かつ前記第2ガイド上の任意の位置でベース部材に垂直な軸回りに揺動自在に支持されるとともに、テストチャート及びコリメートレンズを内蔵し、前記レンズ保持部で保持された被検レンズにその光軸上から前記テストチャートからの平行光を入射させる第2サイドコリメータを備えたことを特徴とする請求項2記載のレンズ検査装置。   A second guide is provided at a position that is line-symmetric with the first guide with respect to the optical axis of the center collimator. The second guide is linearly movable by the second guide, and is attached to the base member at an arbitrary position on the second guide. A test chart and a collimator lens are built in such a manner that they can swing around a vertical axis, and parallel light from the test chart is incident on the test lens held by the lens holding unit from the optical axis. The lens inspection apparatus according to claim 2, further comprising a second side collimator. 前記センタコリメータ及び第1,第2サイドコリメータの各々に複数種類のテストチャートが内蔵され、それぞれのコリメータごとに任意の1つのテストチャートが選択可能であることを特徴とする請求項3記載のレンズ検査装置。   4. The lens according to claim 3, wherein a plurality of types of test charts are built in each of the center collimator and the first and second side collimators, and any one test chart can be selected for each collimator. Inspection device.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI480578B (en) * 2012-12-06 2015-04-11 Avisonic Technology Corp Method for detecting optical center of wide-angle lens, and optical center detection apparatus
CN109084960A (en) * 2018-07-03 2018-12-25 长春理工大学 A kind of double parallel light pipe type pointing turntable pointing accuracy test macro and method
JP2019007758A (en) * 2017-06-21 2019-01-17 日本電産コパル株式会社 Lens inspection device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62138734A (en) * 1985-12-13 1987-06-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd Automatic mtf measuring instrument
JPH1068674A (en) * 1996-08-28 1998-03-10 Ricoh Co Ltd Measuring device of lens system and mtf measuring method of lens system
JPH10288566A (en) * 1997-04-15 1998-10-27 Ricoh Co Ltd Measuring device for afocal optical system
JPH11183326A (en) * 1997-12-25 1999-07-09 Ricoh Co Ltd Lens measuring device and method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62138734A (en) * 1985-12-13 1987-06-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd Automatic mtf measuring instrument
JPH1068674A (en) * 1996-08-28 1998-03-10 Ricoh Co Ltd Measuring device of lens system and mtf measuring method of lens system
JPH10288566A (en) * 1997-04-15 1998-10-27 Ricoh Co Ltd Measuring device for afocal optical system
JPH11183326A (en) * 1997-12-25 1999-07-09 Ricoh Co Ltd Lens measuring device and method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI480578B (en) * 2012-12-06 2015-04-11 Avisonic Technology Corp Method for detecting optical center of wide-angle lens, and optical center detection apparatus
JP2019007758A (en) * 2017-06-21 2019-01-17 日本電産コパル株式会社 Lens inspection device
CN109084960A (en) * 2018-07-03 2018-12-25 长春理工大学 A kind of double parallel light pipe type pointing turntable pointing accuracy test macro and method

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