JP2012009779A - Light emitting module and lighting apparatus having the same - Google Patents

Light emitting module and lighting apparatus having the same Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light emitting module capable of preventing the possibility of damage of disconnection for wiring pattern due to a lighting check pad.SOLUTION: The light emitting module 21 comprises a module substrate 22, a first wiring pattern 25, a hemimorphic second wiring pattern 26, a plurality of semiconductor light emitting elements 45, a transparent sealing resin 57 and a protective layer 37. The pattern 25 comprises a lighting check pad 28 branched from it. The pattern 26 comprises a lighting check pad 29 branched from it. Light emitting elements 45 are mounted on the substrate 22, and light emitting elements 45 are electrically connected to both patterns 25, 26 via bonding wires 47 to 52. The sealing resin 57 is provided on the substrate 22, and seals parts of patterns 25, 26, each of light emitting elements 45 and wires 47 to 52. A part where is not sealed in both patterns 25, 26 are coated by the protective layer 37 except lighting check pads 28, 29 included in the part.

Description

本発明の実施形態は、例えば光源等に好適に使用可能な発光モジュール、及びこのモジュールを光源として備えた例えば道路灯等の照明器具に関する。   Embodiments of the present invention relate to a light-emitting module that can be suitably used for, for example, a light source, and a lighting device such as a road lamp that includes the module as a light source.

COB(Chip On Board)形発光モジュールとして、モジュール基板上に設けた複数の配線パターン間に、複数の半導体発光素子例えばチップ状のLED(発光ダイオード)を配置し、これらLEDをボンディングワイヤで配線パターンに電気的に接続するとともに、蛍光体が混ぜられた封止樹脂で配線パターン及び各LED等を埋設した構成を備えるものが、従来技術として知られている。   As a COB (Chip On Board) type light emitting module, a plurality of semiconductor light emitting elements, for example, chip-shaped LEDs (light emitting diodes) are arranged between a plurality of wiring patterns provided on a module substrate, and these LEDs are connected with bonding wires. A device having a configuration in which a wiring pattern, each LED, and the like are embedded with a sealing resin mixed with a phosphor is known as a prior art.

この発光モジュールで白色発光を得る場合、一般的に、青色発光をするLEDが用いられるとともに、蛍光体には青色光により励起されて黄色の光を放射する黄色蛍光体が用いられている。それにより、封止樹脂の表面は白色の発光面として機能するようになっている。   When white light emission is obtained with this light emitting module, an LED that emits blue light is generally used, and a yellow phosphor that emits yellow light when excited by blue light is used as the phosphor. Thereby, the surface of the sealing resin functions as a white light emitting surface.

ところで、COB形発光モジュールを提供する上で、各LEDが点灯するかどうか、及び点灯状態が適正であるかどうか等を検査する必要があり、そのための点灯検査用パッドが配線パターンに設けられている。   By the way, in providing the COB type light emitting module, it is necessary to inspect whether each LED is lit, whether the lighting state is proper, etc., and a lighting inspection pad for that purpose is provided in the wiring pattern. Yes.

この点灯検査用パッドが配線パターンの中間部に設けられていて前記封止樹脂の外側にむき出しの状態で設けられている構成では、点灯検査用パッドが空気中の硫黄成分等と反応して劣化し、点灯検査用パッドの電気的抵抗が増えることがある。このことは、配線パターンとともに点灯検査用パッドを単層の銀製とした場合に顕在化する。   In the configuration in which the lighting inspection pad is provided in the intermediate portion of the wiring pattern and exposed outside the sealing resin, the lighting inspection pad is deteriorated by reacting with a sulfur component in the air. However, the electrical resistance of the lighting test pad may increase. This becomes obvious when the lighting inspection pad is made of a single layer of silver together with the wiring pattern.

そのため、点灯検査用パッドが、LEDへの給電のために配線パターンを流れる電流経路中に設けられている構成、又は前記電流経路に至近距離で連続する位置に設けられている構成では、前記劣化により電気抵抗が増えた点灯検査用パッドがそこを流れる電流によって発熱し、その結果として、最悪の場合、配線パターンが溶けて切れる恐れが考えられる。したがって、点灯検査用パッドの高抵抗化を原因として配線パターンが断線する恐れがないようにした高品質な発光モジュールを開発することが望まれている。   Therefore, in the configuration in which the lighting inspection pad is provided in the current path that flows through the wiring pattern for supplying power to the LED, or in the configuration in which the lighting inspection pad is provided at a position that is continuous at a close distance to the current path, the deterioration is caused. As a result, the lighting test pad with increased electrical resistance generates heat due to the current flowing therethrough, and as a result, the wiring pattern may melt and break. Therefore, it is desired to develop a high-quality light-emitting module that prevents the wiring pattern from being disconnected due to the high resistance of the lighting inspection pad.

特開2009−290244号公報JP 2009-290244 A

実施形態は、点灯検査用パッドを原因として配線パターンが断線する恐れをなくすことが可能な発光モジュール、及びこのモジュールを備える照明器具を提供しようとするものである。   Embodiments are intended to provide a light emitting module capable of eliminating the risk of a wiring pattern being disconnected due to a lighting inspection pad, and a lighting fixture including the module.

前記課題を解決するために、実施形態の発光モジュールは、モジュール基板、第1配線パターン、第1配線パターンとは異極の第2配線パターン、複数の半導体発光素子、及び透光性の封止部材を具備する。第1配線パターンをモジュール基板上に設ける。第1配線パターンは、これから枝分かれされた第1点灯検査用パッドを有する。第2配線パターンをモジュール基板上に設ける。第2配線パターンは、これから枝分かれされた第2点灯検査用パッドを有する。複数の半導体発光素子をモジュール基板上に実装し、かつ、これら発光素子を両配線パターンにボンディングワイヤを介して電気的に接続する。封止部材をモジュール基板上に設けて、両配線パターンの一部、各半導体発光素子、及びボンディングワイヤを封止する。両配線パターンのうちで封止されていない部分をこの部分に含まれた点灯検査用パッドを除いて保護層で被着したことを特徴としている。   In order to solve the above problems, a light emitting module according to an embodiment includes a module substrate, a first wiring pattern, a second wiring pattern different in polarity from the first wiring pattern, a plurality of semiconductor light emitting elements, and a light-transmitting sealing A member is provided. A first wiring pattern is provided on the module substrate. The first wiring pattern has a first lighting inspection pad that is branched from the first wiring pattern. A second wiring pattern is provided on the module substrate. The second wiring pattern has a second lighting test pad branched from this. A plurality of semiconductor light emitting elements are mounted on a module substrate, and these light emitting elements are electrically connected to both wiring patterns via bonding wires. A sealing member is provided on the module substrate to seal part of both wiring patterns, each semiconductor light emitting element, and the bonding wire. Of the two wiring patterns, a portion not sealed is covered with a protective layer except for a lighting inspection pad included in this portion.

実施形態の発光モジュールによれば、点灯検査用パッドを原因として配線パターンが断線する恐れをなくすことが可能である、という効果を期待できる。   According to the light emitting module of the embodiment, it is possible to expect an effect that it is possible to eliminate the possibility that the wiring pattern is disconnected due to the lighting inspection pad.

実施例1に係る発光モジュールを備えた道路灯を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the road light provided with the light emitting module which concerns on Example 1. FIG. 図1の道路灯の灯具を拡大して示す斜視図である。It is a perspective view which expands and shows the lamp of the road light of FIG. 図2の灯具が備える光源装置を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the light source device with which the lamp of FIG. 2 is provided. 図3の光源装置を示す略正面図である。It is a schematic front view which shows the light source device of FIG. 図3の光源装置が備える発光モジュールを示す正面図である。It is a front view which shows the light emitting module with which the light source device of FIG. 3 is provided. 図5の発光モジュールを、第1製造工程を経た状態で示す正面図である。It is a front view which shows the light emitting module of FIG. 5 in the state which passed through the 1st manufacturing process. 図5の発光モジュールを、第2製造工程を経た状態で示す正面図である。It is a front view which shows the light emitting module of FIG. 5 in the state which passed through the 2nd manufacturing process. 図5の発光モジュールを、第3製造工程を経た状態で示す正面図である。It is a front view which shows the light emitting module of FIG. 5 in the state which passed through the 3rd manufacturing process. 図5の発光モジュールを、第4製造工程を経た状態で示す正面図である。It is a front view which shows the light emitting module of FIG. 5 in the state which passed through the 4th manufacturing process. 図4中F10−F10線に沿って示す断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line F10-F10 in FIG.

実施形態1の発光モジュールは、モジュール基板と;枝分かれした第1点灯検査用パッドを有して前記モジュール基板上に設けられた第1配線パターンと;枝分かれした第2点灯検査用パッドを有して、前記第1配線パターンとは異極をなして前記モジュール基板上に設けられた第2配線パターンと;前記両配線パターンにボンディングワイヤを介して電気的に接続して前記モジュール基板上に実装された複数の半導体発光素子と;前記両配線パターンの一部、前記各半導体発光素子、及び前記ボンディングワイヤを封止して前記モジュール基板上に設けられた透光性の封止部材と;前記両配線パターンのうちで前記封止部材により封止されない部分が前記点灯検査用パッドを含んでいて、この点灯検査用パッドを除いて前記封止されない部分に被着された保護層と;を具備することを特徴としている。   The light emitting module of Embodiment 1 includes a module substrate; a first lighting test pad branched and a first wiring pattern provided on the module substrate; and a second lighting test pad branched. A second wiring pattern provided on the module substrate with a different polarity from the first wiring pattern; and electrically connected to both the wiring patterns via bonding wires and mounted on the module substrate. A plurality of semiconductor light emitting elements; a part of the wiring patterns, the semiconductor light emitting elements, and the bonding wires; and a translucent sealing member provided on the module substrate; The portion of the wiring pattern that is not sealed by the sealing member includes the lighting inspection pad, and the portion that is not sealed except for the lighting inspection pad It is characterized by comprising; applied has been the protective layer.

この実施形態1で、モジュール基板は、エポキシ樹脂等の合成樹脂製、金属板に絶縁層が積層された金属ベース基板、或いは無機材料例えばセラミックス製のいずれであってもよい。そして、このモジュール基板を白色のセラミックス製とする場合、そのセラミックスには、酸化アルミニウム(アルミナ)、窒化アルミニウム、ボロンナイトライド、窒化ケイ素、酸化マグネシウム、フォルステライト、ステアタイト、低温焼結セラミックスから選ばれるいずれか、又はこれらの複合材料を用いることが可能であり、特に、安価で光反射率が高く、加工し易いアルミナを好適に使用できる。   In the first embodiment, the module substrate may be made of a synthetic resin such as an epoxy resin, a metal base substrate in which an insulating layer is laminated on a metal plate, or an inorganic material such as ceramics. When the module substrate is made of white ceramic, the ceramic is selected from aluminum oxide (alumina), aluminum nitride, boron nitride, silicon nitride, magnesium oxide, forsterite, steatite, and low-temperature sintered ceramics. In particular, alumina that is inexpensive, has high light reflectivity, and is easy to process can be suitably used.

この実施形態1で、第1、第2の配線パターンは、銅、銀、金等の金属により形成できるが、金よりも低コストで、かつ、発光モジュールが例えば白色光を出射する構成である場合、その出射光に配線パターンの色が影響を与え難い点で、単層の銀製とすることが好ましい。この実施形態1で、第1配線パターンと第2配線パターンのうちの一方は正極であり、他方は負極である。   In the first embodiment, the first and second wiring patterns can be formed of a metal such as copper, silver, or gold. However, the light-emitting module emits white light, for example, at a lower cost than gold. In this case, it is preferable to use a single layer of silver because the color of the wiring pattern hardly affects the emitted light. In the first embodiment, one of the first wiring pattern and the second wiring pattern is a positive electrode, and the other is a negative electrode.

この実施形態1で、半導体発光素子には、例えば素子基板上に化合物半導体を設けた各種の発光素子を使用することが可能であり、特に、青色発光をするベアチップ製の青色LEDを用いることが好ましいが、紫外線或いは緑色光を発するLEDを半導体発光素子として使用することも可能である。また、LED以外の半導体発光素子を使用することも可能である。   In the first embodiment, for example, various light-emitting elements in which a compound semiconductor is provided on an element substrate can be used as the semiconductor light-emitting element, and in particular, a blue LED made of a bare chip that emits blue light is used. Although it is preferable, it is also possible to use LED which emits an ultraviolet-ray or green light as a semiconductor light-emitting device. Moreover, it is also possible to use semiconductor light emitting elements other than LED.

この実施形態1で、ボンディングワイヤには、金属細線、例えば金線、アルミニウム線、銅線、及び白金線等を用いることができるが、特に、耐湿性、耐環境、密着性、電気伝導性、熱伝導性、及び伸び率が良好である金線をボンディングワイヤとして用いることが好ましい。   In the first embodiment, the bonding wire may be a fine metal wire, such as a gold wire, an aluminum wire, a copper wire, and a platinum wire, but in particular, moisture resistance, environment resistance, adhesion, electrical conductivity, It is preferable to use a gold wire having good thermal conductivity and elongation as a bonding wire.

この実施形態1で、封止部材には、エポキシ樹脂、ユリア樹脂、シリコーン樹脂等の透光性樹脂材料からなる封止樹脂を用いることができる他、ガラスを用いることも可能である。この実施形態1で、半導体発光素子が発した光で励起されて、この光とは異なった色の光を放射し、この放射された光の色と半導体発光素子の発光色との組み合わせ等により照明に必要とする色の光を形成する蛍光体を、封止部材に混入することができる。例えば、半導体発光素子に青色LEDを用いた条件で白色の照明光を得るためには、黄色の蛍光体を用いればよく、又、半導体発光素子に紫外線を発するLEDを用いた条件で白色の照明光を得るためには、赤色、青色、及び黄色の各蛍光体を用いればよい。この実施形態1で、保護層は、無機材料又は有機材料で形成することができる。   In Embodiment 1, a sealing resin made of a light-transmitting resin material such as an epoxy resin, a urea resin, or a silicone resin can be used for the sealing member, and glass can also be used. In the first embodiment, the semiconductor light emitting element is excited by light emitted, emits light of a color different from this light, and the combination of the color of the emitted light and the emission color of the semiconductor light emitting element A phosphor that forms light of a color necessary for illumination can be mixed in the sealing member. For example, in order to obtain white illumination light under conditions using a blue LED as a semiconductor light emitting element, a yellow phosphor may be used, and white illumination under conditions using an LED emitting ultraviolet light as a semiconductor light emitting element. In order to obtain light, phosphors of red, blue, and yellow may be used. In Embodiment 1, the protective layer can be formed of an inorganic material or an organic material.

実施形態1では、第1、第2の両配線パターンのうちで封止部材により封止されていない部分は、この部分に含まれた点灯検査用パッドを除いて保護層で覆われているので、大気中の成分と反応して前記封止されていない部分が劣化することを防止できる。これに対して、第1配線パターンが有する第1点灯検査用パッド及び第2配線パターンが有する第2点灯検査用パッドは封止部材外でむき出しの状態に配設されているので、これら点灯検査用パッドが空気中の硫黄成分等と反応して劣化することは避けられない。   In the first embodiment, the portion of the first and second wiring patterns that is not sealed by the sealing member is covered with the protective layer except for the lighting inspection pad included in this portion. It is possible to prevent deterioration of the unsealed portion by reacting with components in the atmosphere. On the other hand, the first lighting inspection pad included in the first wiring pattern and the second lighting inspection pad included in the second wiring pattern are disposed in an exposed state outside the sealing member. It is inevitable that the pad for use reacts with sulfur components in the air and deteriorates.

しかし、これら第1、第2の点灯検査用パッドは、配線パターンから枝分かれされていて、これら点灯検査用パッドを経由せずに各半導体発光素子に給電してこれら発光素子を発光させるために配線パターンを通る電流の経路中には設けられていない。そのため、点灯検査用パッドが前記劣化を原因として高抵抗化した場合、配線パターンが断線する恐れをなくすことが可能であり、したがって、発光モジュールの発光性能を持続できる。   However, these first and second lighting test pads are branched from the wiring pattern, and are used for supplying power to the respective semiconductor light emitting elements without causing the lighting test pads to emit light. It is not provided in the current path through the pattern. Therefore, when the lighting test pad has a high resistance due to the deterioration, it is possible to eliminate the possibility that the wiring pattern is disconnected, and thus the light emission performance of the light emitting module can be maintained.

実施形態2の発光モジュールは、実施形態1において、給電用のコネクタが前記第1、第2の配線パターンに接続して前記モジュール基板上に実装されているとともに、このコネクタの両側に前記第1、第2の点灯検査用パッドが配設されていることを特徴としている。   In the light emitting module according to the second embodiment, the power supply connector is connected to the first and second wiring patterns and mounted on the module substrate in the first embodiment, and the first and second connectors are mounted on both sides of the connector. The second lighting inspection pad is provided.

この実施形態2は、実施形態1において、更に、コネクタを利用して第1、第2の点灯検査用パッド間の相互間隔を広くできるとともに延面距離を長くできる。そのため、第1、第2の配線パターンが銀製である場合、銀マイクレーションを生じても、それによる第1、第2の点灯検査用パッドの短絡を長期間にわたって防止することができ、したがって、発光モジュールの発光性能を持続できる。   In the second embodiment, the distance between the first and second lighting test pads can be increased using the connector, and the distance of the extended surface can be increased. Therefore, when the first and second wiring patterns are made of silver, even if silver calibration occurs, the first and second lighting test pads can be prevented from being short-circuited over a long period of time. The light emission performance of the light emitting module can be maintained.

実施形態3の照明器具は、実施形態1又は実施形態2に記載の発光モジュールを光源として有した光源装置と;この光源装置が取付けられた器具本体と;を具備することを特徴としている。この実施形態3は、後述の実施例1で説明する道路灯に制約されることなく、いかなるタイプの照明器具にも適用することが可能である。   The lighting fixture of Embodiment 3 includes a light source device having the light emitting module of Embodiment 1 or 2 as a light source; and a fixture body to which the light source device is attached. This Embodiment 3 can be applied to any type of lighting fixture without being restricted by the road lamp described in Example 1 described later.

この実施形態3の照明器具では、光源装置が実施形態1又は2に記載の発光モジュールを光源として有しているので、点灯検査用パッドを原因として配線パターンが断線する恐れがないようにすることが可能である。   In the lighting fixture of the third embodiment, since the light source device has the light emitting module described in the first or second embodiment as a light source, the wiring pattern should not be disconnected due to the lighting inspection pad. Is possible.

以下、実施例1の発光モジュールを備えた照明器具例えば道路灯について、図1〜図10を参照して詳細に説明する。なお、図10は説明の都合上後述する保護層を省略して描かれている。   Hereinafter, the lighting fixture provided with the light emitting module of Example 1, for example, a road lamp, is demonstrated in detail with reference to FIGS. Note that FIG. 10 is drawn with the protective layer described later omitted for convenience of explanation.

図1中符号1は道路照明のために設置される道路灯1を示している。道路灯1は、支柱2の上端部に灯具3を取付けて形成されている。   Reference numeral 1 in FIG. 1 indicates a road lamp 1 installed for road lighting. The road lamp 1 is formed by attaching a lamp 3 to the upper end of a column 2.

支柱2は、道路傍に立設され、その上部は道路上に覆い被さるように曲げられている。灯具3は、図2に示すように支柱2に連結された器具本体例えば灯体4と、道路に臨んだ灯体4の下面開口を塞いで灯体4に装着された透光板5と、この透光板5に対向して灯体4に収容された少なくとも一台の光源装置6を備えて形成されている。灯体4は、金属例えば複数個のアルミニウムダイキャスト成形品を組み合わせて形成されている。透光板5は強化ガラスからなる。   The column 2 is erected on the side of the road, and its upper part is bent so as to cover the road. As shown in FIG. 2, the lamp 3 includes a fixture body connected to the column 2 as shown in FIG. 2, for example, a lamp body 4, a translucent plate 5 attached to the lamp body 4 by closing the lower surface opening of the lamp body 4 facing the road, At least one light source device 6 accommodated in the lamp body 4 is formed to face the light transmitting plate 5. The lamp body 4 is formed by combining a metal, for example, a plurality of aluminum die cast products. The translucent plate 5 is made of tempered glass.

図3及び図4に示すように光源装置6は、装置ベース11の裏面に複数の放熱フィン14を突設するとともに、装置ベース11の正面に、反射器15と、光源として発光モジュール21を取付けてユニット化された構成である。   As shown in FIGS. 3 and 4, the light source device 6 has a plurality of heat radiation fins 14 protruding from the back surface of the device base 11, and a reflector 15 and a light emitting module 21 as a light source are attached to the front surface of the device base 11. This is a unitized configuration.

装置ベース11は、金属例えばアルミニウムダイキャスト製であって、四角形に作られている。装置ベース11はその正面に開放された四角い凹みからなるモジュール設置部12(図4及び図10参照)を有している。モジュール設置部12の底面12aは平坦であり、モジュール設置部12を区画する四つの側面12bは互に直角に連続している。放熱フィン14は装置ベース11に一体に形成されている。   The device base 11 is made of a metal, for example, aluminum die-cast, and is formed in a square shape. The apparatus base 11 has a module installation portion 12 (see FIGS. 4 and 10) formed of a square recess opened on the front surface thereof. The bottom surface 12a of the module installation part 12 is flat, and the four side surfaces 12b defining the module installation part 12 are continuous at right angles to each other. The heat radiating fins 14 are formed integrally with the apparatus base 11.

反射器15は、第1の反射板15a〜第4の反射板15dをラッパ状に組み合わせて形成されている。第1の反射板15aと第2の反射板15bは、平らな構成の平面ミラーであり、互に平行に設けられている。これら第1の反射板15aと第2の反射板15bに連結された第3の反射板15cと第4の反射板15dは、湾曲した構成のカーブミラーであり、互いの間隔が次第に広くなるように設けられている。   The reflector 15 is formed by combining the first reflecting plate 15a to the fourth reflecting plate 15d in a trumpet shape. The first reflecting plate 15a and the second reflecting plate 15b are flat mirrors having a flat configuration, and are provided in parallel to each other. The third reflecting plate 15c and the fourth reflecting plate 15d connected to the first reflecting plate 15a and the second reflecting plate 15b are curved mirrors having a curved configuration so that the distance between them gradually increases. Is provided.

光源装置6は、その反射器15の出射開口を透光板5に対向させて灯体4内に固定されている。この固定状態で、装置ベース11の一部例えば周部は灯体4の内面に熱伝導可能に接続されている。この熱的接続は、前記周部を灯体4の内面に直接接触させることにより実現できる他、前記周部を放熱性の高い金属やヒートパイプ等の熱伝導部材を介して灯体4の内面に接続することで実現できる。これにより、光源装置6が発した熱を金属製の灯体4を放熱面として外部に放出できるようになっている。   The light source device 6 is fixed in the lamp body 4 with the exit opening of the reflector 15 facing the translucent plate 5. In this fixed state, a part of the device base 11, for example, a peripheral portion is connected to the inner surface of the lamp body 4 so as to be able to conduct heat. This thermal connection can be realized by bringing the peripheral portion into direct contact with the inner surface of the lamp body 4, and the peripheral portion is connected to the inner surface of the lamp body 4 through a heat conductive member such as a metal or a heat pipe having high heat dissipation. It can be realized by connecting to. As a result, the heat generated by the light source device 6 can be released to the outside using the metal lamp body 4 as a heat radiating surface.

次に、発光モジュール21について説明する。図5等に示すように発光モジュール21は、モジュール基板22と、第1配線パターン例えば正極をなす配線パターン25と、第2配線パターン例えば負極をなす配線パターン26と、アライメントマーク35と、第1の保護層37と、第2の保護層38と、複数のアイデンティティーマーク例えば第1のアイデンティティーマーク41〜第4のアイデンティティーマーク44と、複数の半導体発光素子45と、ボンディングワイヤ47〜52と、枠55と、封止部材例えば封止樹脂57と、コネクタ61と、コンデンサ65等を備えている。   Next, the light emitting module 21 will be described. As shown in FIG. 5 and the like, the light emitting module 21 includes a module substrate 22, a first wiring pattern, for example, a wiring pattern 25 that forms a positive electrode, a second wiring pattern, for example, a wiring pattern 26 that forms a negative electrode, an alignment mark 35, Protective layer 37, second protective layer 38, a plurality of identity marks, for example, a first identity mark 41 to a fourth identity mark 44, a plurality of semiconductor light emitting elements 45, and bonding wires 47 to 52. A frame 55, a sealing member such as a sealing resin 57, a connector 61, a capacitor 65, and the like.

モジュール基板22は、例えば白色のセラミックス例えば白色の酸化アルミニウムで形成されている。このモジュール基板22は、酸化アルミニウムのみで形成されていても良いが、酸化アルミニウムを主成分としこれに他のセラミックス等が混ぜられていてもよく、その場合、酸化アルミニウムを主成分とするために、その含有率を70%以上とすることが好ましい。   The module substrate 22 is made of, for example, white ceramics such as white aluminum oxide. The module substrate 22 may be formed of only aluminum oxide, but may contain aluminum oxide as a main component and other ceramics or the like mixed therein. The content is preferably 70% or more.

可視光領域に対する白色のモジュール基板22の平均反射率は80%以上であり、特に、85%以上99%以下であることがより好ましい。したがって、モジュール基板22は、後述する青色LEDが発する特定の発光波長440nm〜460nmの青色光、及び後述する蛍光体が放射する特定の発光波長470nm〜490nmの黄色光に対しても、同様な光反射性能を発揮する。   The average reflectance of the white module substrate 22 with respect to the visible light region is 80% or more, and more preferably 85% or more and 99% or less. Therefore, the module substrate 22 has similar light for blue light having a specific emission wavelength of 440 nm to 460 nm emitted by a blue LED described later and yellow light having a specific emission wavelength of 470 nm to 490 nm emitted by a phosphor described later. Exhibits reflective performance.

モジュール基板22は図4に示すようにモジュール設置部12より多少小さい略四角形である。図5に示すようにモジュール基板22の四隅は丸みを帯びている。モジュール基板22の厚みは、図10に示すようにモジュール設置部12の深さより薄い。このモジュール基板22の両面は、互に平行に作られた平坦な面からなり、そのうちの一面は部品実装面22aとして用いられている。   As shown in FIG. 4, the module substrate 22 has a substantially rectangular shape that is slightly smaller than the module installation portion 12. As shown in FIG. 5, the four corners of the module substrate 22 are rounded. The thickness of the module substrate 22 is thinner than the depth of the module installation part 12 as shown in FIG. Both surfaces of the module substrate 22 are flat surfaces made parallel to each other, and one of the surfaces is used as a component mounting surface 22a.

正極用の配線パターン25及び負極用の配線パターン26は部品実装面22aに設けられている。   The positive electrode wiring pattern 25 and the negative electrode wiring pattern 26 are provided on the component mounting surface 22a.

詳しくは、図6等に示すように正極用の配線パターン25は、正極パターン基部25aとワイヤ接続部25bを有して形成されている。ワイヤ接続部25bは真っ直ぐに延びて形成されている。正極パターン基部25aとワイヤ接続部25bは略平行で、かつ、斜めのパターン部を介して一体に連続されている。正極パターン基部25aに、第1の正極パッド部25cと第2の正極パッド部25dが一体に突設されている。   Specifically, as shown in FIG. 6 and the like, the positive electrode wiring pattern 25 has a positive electrode pattern base portion 25a and a wire connection portion 25b. The wire connecting portion 25b is formed to extend straight. The positive electrode pattern base portion 25a and the wire connection portion 25b are substantially parallel to each other and are integrally continuous via an oblique pattern portion. A first positive electrode pad portion 25c and a second positive electrode pad portion 25d are integrally projected on the positive electrode pattern base portion 25a.

負極用の配線パターン26は、負極パターン基部26aと、第1のワイヤ接続部26bと、中間パターン部26cと、第2のワイヤ接続部26dを有して形成されている。この配線パターン26は正極用の配線パターン25を囲むように設けられている。   The negative electrode wiring pattern 26 includes a negative electrode pattern base portion 26a, a first wire connection portion 26b, an intermediate pattern portion 26c, and a second wire connection portion 26d. This wiring pattern 26 is provided so as to surround the wiring pattern 25 for the positive electrode.

即ち、負極パターン基部26aは配線パターン25の正極パターン基部25aに対して所定の絶縁距離A(図6参照)を隔てて隣接して設けられている。この負極パターン基部26aに、第1の正極パッド部25cに並べて設けられる第1の負極パッド部26eが一体に突設されている。第1のワイヤ接続部26bは、負極パターン基部26aに対して略90°折れ曲がるように一体に連続している。この第1のワイヤ接続部26bは、配線パターン25のワイヤ接続部25bとの間に第1素子配設スペースS1を形成してワイヤ接続部25bに対し略平行に設けられている。ここに「略平行」とは、図6に示すように平行である形態、又はワイヤ接続部25bに対して多少傾いた形態、若しくは多少湾曲した形態等も含んでいる。   That is, the negative electrode pattern base portion 26a is provided adjacent to the positive electrode pattern base portion 25a of the wiring pattern 25 with a predetermined insulation distance A (see FIG. 6). A first negative electrode pad portion 26e provided side by side with the first positive electrode pad portion 25c is integrally projected from the negative electrode pattern base portion 26a. The first wire connecting portion 26b is integrally continuous so as to be bent about 90 ° with respect to the negative electrode pattern base portion 26a. The first wire connection portion 26b is provided substantially parallel to the wire connection portion 25b by forming a first element disposition space S1 between the wire connection portion 25b of the wiring pattern 25. Here, “substantially parallel” includes a parallel form as shown in FIG. 6, a slightly inclined form with respect to the wire connecting portion 25 b, a slightly curved form, and the like.

中間パターン部26cは、第1のワイヤ接続部26bに対して略90°折れ曲がるように一体に連続して設けられている。この中間パターン部26cの長手方向中間部に、ワイヤ接続部25bの先端(正極パターン基部25aと反対側の端)が隣接している。中間パターン部26cの両端部は互いに逆方向に傾いていて、中間パターン部26cは略湾曲形状に形成されている。それにより、中間パターン部26cの長手方向中間部はワイヤ接続部25bの先端から遠ざけられている。   The intermediate pattern portion 26c is provided integrally and continuously so as to be bent about 90 ° with respect to the first wire connecting portion 26b. The leading end of the wire connecting portion 25b (the end opposite to the positive electrode pattern base portion 25a) is adjacent to the intermediate portion in the longitudinal direction of the intermediate pattern portion 26c. Both end portions of the intermediate pattern portion 26c are inclined in opposite directions, and the intermediate pattern portion 26c is formed in a substantially curved shape. Thereby, the intermediate portion in the longitudinal direction of the intermediate pattern portion 26c is kept away from the tip of the wire connection portion 25b.

第2のワイヤ接続部26dは、中間パターン部26cに対して略90°折れ曲がるように一体に連続して設けられている。それにより、第2のワイヤ接続部26dは、配線パターン25のワイヤ接続部25bとの間に第2素子配設スペースS2を形成してワイヤ接続部25bに対し略平行に設けられている。ここに「略平行」とほ、図6に示すように平行である形態、又はワイヤ接続部25bに対して多少傾いた形態、或いは多少湾曲した形態等も含んでいる。   The second wire connecting portion 26d is provided integrally and continuously so as to be bent by approximately 90 ° with respect to the intermediate pattern portion 26c. Thereby, the second wire connecting portion 26d is provided substantially parallel to the wire connecting portion 25b by forming the second element disposition space S2 between the wire connecting portion 25b of the wiring pattern 25 and the second element connecting space 25b. Here, “substantially parallel” includes a parallel form as shown in FIG. 6, a slightly inclined form with respect to the wire connecting portion 25b, a slightly curved form, and the like.

したがって、負極用の配線パターン26は正極用の配線パターン25を三方から囲むように設けられている。負極用の配線パターン26で囲まれた領域の中央部に配設された配線パターン25のワイヤ接続部25bを境に、負極用の配線パターン26の第1のワイヤ接続部26bと第2のワイヤ接続部26dは対称に配設されている。   Therefore, the negative electrode wiring pattern 26 is provided so as to surround the positive electrode wiring pattern 25 from three directions. The first wire connecting portion 26b and the second wire of the negative wiring pattern 26 are bordered by the wire connecting portion 25b of the wiring pattern 25 disposed in the center of the region surrounded by the negative wiring pattern 26. The connecting portions 26d are arranged symmetrically.

第2のワイヤ接続部26dの先端に一体に連続して第2の負極パッド部26fが、第2の正極パッド部25dに対応して設けられている。これら第2の負極パッド部26fは第2の正極パッド部25dから離間しているとともに、これらの間に位置して中間パッド27が部品実装面22aに形成されている。   A second negative electrode pad portion 26f is provided corresponding to the second positive electrode pad portion 25d continuously and integrally at the tip of the second wire connection portion 26d. The second negative electrode pad portion 26f is separated from the second positive electrode pad portion 25d, and an intermediate pad 27 is formed between the second negative electrode pad portion 25d and the component mounting surface 22a.

なお、第1配線パターン25を負極用とするとともに第2配線パターン26を正極用としてもよく、この場合、前記説明の「正極用」又は「正極」を「負極用」又は「負極」に読み替えるとともに、「負極用」又は「負極」を「正極用」又は「正極」に読み替えればよい。   The first wiring pattern 25 may be used for the negative electrode and the second wiring pattern 26 may be used for the positive electrode. In this case, “positive electrode” or “positive electrode” in the above description is read as “for negative electrode” or “negative electrode”. In addition, “for negative electrode” or “negative electrode” may be read as “for positive electrode” or “positive electrode”.

更に、部品実装面22aに、点灯確認試験用の第1点灯検査用パッド28及び第2点灯検査用パッド29と、温度測定用の温度検査パッド31と、部品固定用の実装パッド33が設けられている。   Further, a first lighting inspection pad 28 and a second lighting inspection pad 29 for lighting confirmation test, a temperature inspection pad 31 for temperature measurement, and a mounting pad 33 for fixing components are provided on the component mounting surface 22a. ing.

即ち、第1点灯検査用パッド28は正極用の配線パターン25の一部である。具体的には、正極パターン基部25aから枝分かれして一体に突出された枝パターン部28aを介して第1点灯検査用パッド28が設けられている。つまり、第1点灯検査用パッド28は、正極パターン基部25a及びワイヤ接続部25bから離れて設けられている。それにより、後述の半導体発光素子45を非検査時に発光させるために配線パターン25に流れる電流経路から外れた位置に、第1点灯検査用パッド28が配設されている。   That is, the first lighting inspection pad 28 is a part of the wiring pattern 25 for the positive electrode. Specifically, the first lighting inspection pad 28 is provided via a branch pattern portion 28a that branches from the positive electrode pattern base portion 25a and protrudes integrally. That is, the first lighting inspection pad 28 is provided apart from the positive electrode pattern base portion 25a and the wire connection portion 25b. Accordingly, the first lighting inspection pad 28 is disposed at a position deviated from a current path flowing through the wiring pattern 25 in order to cause a semiconductor light emitting element 45 described later to emit light during non-inspection.

同様に、第2点灯検査用パッド29は負極用の配線パターン26の一部である。具体的には、負極パターン基部26aから枝分かれして一体に突出された枝パターン部29aを介して第2点灯検査用パッド29が設けられている。つまり、第2点灯検査用パッド29は、正極パターン基部26a、第1のワイヤ接続部26b、中間パターン部26c、及び第2のワイヤ接続部26dから離れて設けられている。それにより、後述の半導体発光素子45を非検査時に発光させるために配線パターン26に流れる電流経路から外れた位置に、第2点灯検査用パッド29が配設されている。   Similarly, the second lighting inspection pad 29 is a part of the negative wiring pattern 26. Specifically, a second lighting inspection pad 29 is provided through a branch pattern portion 29a that branches from the negative electrode pattern base portion 26a and protrudes integrally. That is, the second lighting test pad 29 is provided apart from the positive electrode pattern base portion 26a, the first wire connection portion 26b, the intermediate pattern portion 26c, and the second wire connection portion 26d. Thereby, a second lighting test pad 29 is disposed at a position deviated from a current path flowing through the wiring pattern 26 in order to cause a semiconductor light emitting element 45 described later to emit light during non-testing.

温度検査パッド31は、点灯検査用パッド29及び負極用の配線パターン26の近傍に、これらとは電気的な接続関係を有することなく独立して設けられている。この温度検査パッド31に熱電対を接続して発光モジュール21の温度を測定できるようになっている。   The temperature inspection pad 31 is provided in the vicinity of the lighting inspection pad 29 and the negative wiring pattern 26 independently of each other without having an electrical connection relationship therewith. A thermocouple is connected to the temperature inspection pad 31 so that the temperature of the light emitting module 21 can be measured.

実装パッド33は一対形成されていて、これらは第1点灯検査用パッド28と第2点灯検査用パッド29の間に位置して設けられている。   A pair of mounting pads 33 are formed, and these are provided between the first lighting inspection pad 28 and the second lighting inspection pad 29.

アライメントマーク35は、ワイヤ接続部25b、この両側の第1素子配設スペースS1及び第2素子配設スペースS2、第1素子配設スペースS1に隣接した第1のワイヤ接続部26b、及び第2素子配設スペースS2に隣接した第2のワイヤ接続部26dを間に置いて、その両側に夫々複数設けられている。そのため、アライメントマーク35の一部は、所定間隔で第1のワイヤ接続部26bの長手方向に沿って一列に設けられており、他のアライメントマーク35も、同様に所定間隔で第2のワイヤ接続部26dの長手方向に沿って一列に設けられている。   The alignment mark 35 includes a wire connecting portion 25b, a first element disposing space S1 and a second element disposing space S2 on both sides thereof, a first wire connecting portion 26b adjacent to the first element disposing space S1, and a second A plurality of second wire connecting portions 26d adjacent to the element arrangement space S2 are provided on both sides of the second wire connecting portion 26d. Therefore, a part of the alignment mark 35 is provided in a line along the longitudinal direction of the first wire connection part 26b at a predetermined interval, and the other alignment marks 35 are similarly connected to the second wire at a predetermined interval. It is provided in a line along the longitudinal direction of the portion 26d.

前記配線パターン25,26、中間パッド27、点灯検査用パッド28,29、実装パッド33、及びアライメントマーク35は、いずれも単層であり銀製例えば銀を主成分として形成されており、これらはスクリーン印刷等で部品実装面22aに印刷して設けられたものである(第1製造工程)。なお、印刷に代えてメッキにより単層に設けることもできる。   The wiring patterns 25 and 26, the intermediate pad 27, the lighting inspection pads 28 and 29, the mounting pad 33, and the alignment mark 35 are all a single layer, and are formed of silver, for example, silver as a main component. It is provided by printing on the component mounting surface 22a by printing or the like (first manufacturing process). In addition, it can replace with printing and can also provide in a single layer by plating.

前記第1の保護層37及び第2の保護層38は、電気絶縁材料からなるとともに、スクリーン印刷により部品実装面22a上に印刷されていて、前記銀製の印刷物のうちで後述する封止樹脂57で封止されない部位の劣化を防止するためにこの部位を主として覆って設けられている(第2製造工程)。   The first protective layer 37 and the second protective layer 38 are made of an electrically insulating material, and are printed on the component mounting surface 22a by screen printing, and the sealing resin 57 described later in the silver printed matter. In order to prevent the deterioration of the part that is not sealed by this, this part is mainly covered (second manufacturing process).

即ち、図7に示すように第1の保護層37は、第1の正極パッド部25c及び第2の正極パッド部25dを除いて正極パターン基部25aに被着されているとともに、第1の負極パッド部26eを除いて負極パターン基部26aに被着されている。更に、第1の保護層37は、正極パターン基部25aと負極パターン基部26aとの間の絶縁距離Aを確保した隙間部分にも被着されているとともに、点灯検査用パッド28,29を除いて枝パターン部28a,29aにも被着されている。したがって、第1の保護層37は、配線パターン25,26の後述する封止樹脂57で封止されない部分に、この部分に含まれる点灯検査用パッド28,29を除いて被着されている。加えて、第1の保護層37は、第2のワイヤ接続部26dの第2の負極パッド部26f側の端部に、第2の負極パッド部26fを除いて被着されているとともに、中間パッド27の両端部を除いてこの中間パッド27にも被着されている。第2の保護層38は、中間パターン部26cの略全体に被着されている。   That is, as shown in FIG. 7, the first protective layer 37 is applied to the positive electrode pattern base 25a except for the first positive electrode pad portion 25c and the second positive electrode pad portion 25d, and the first negative electrode Except for the pad portion 26e, the negative electrode pattern base portion 26a is attached. Further, the first protective layer 37 is also applied to a gap portion that secures an insulation distance A between the positive electrode pattern base portion 25a and the negative electrode pattern base portion 26a, and except for the lighting inspection pads 28 and 29. The branch pattern portions 28a and 29a are also attached. Accordingly, the first protective layer 37 is attached to portions of the wiring patterns 25 and 26 that are not sealed with a sealing resin 57 described later except for the lighting inspection pads 28 and 29 included in these portions. In addition, the first protective layer 37 is attached to the end of the second wire connecting portion 26d on the second negative electrode pad portion 26f side except for the second negative electrode pad portion 26f, and the intermediate layer The pad 27 is also attached to the intermediate pad 27 except for both ends of the pad 27. The second protective layer 38 is attached to substantially the entire intermediate pattern portion 26c.

前記第1のアイデンティティーマーク41〜第4のアイデンティティーマーク44は、モジュール基板22とは異なる色で部品実装面22aにスクリーン印刷等により設けられている(第3製造工程)。更に、この印刷等により「+」「−」の極性表示等も部品実装面22aに設けられている。第1のアイデンティティーマーク41は製造者を示す社名であり、第2のアイデンティティーマーク42は商品名であり、第3のアイデンティティーマーク43は製品番号であり、第4のアイデンティティーマーク44は発光モジュール21についての情報を示した二次元バーコード(QRコード)である。   The first identity mark 41 to the fourth identity mark 44 are provided on the component mounting surface 22a in a color different from that of the module substrate 22 by screen printing or the like (third manufacturing process). Further, by this printing or the like, polarity indications of “+” and “−” are also provided on the component mounting surface 22a. The first identity mark 41 is a company name indicating the manufacturer, the second identity mark 42 is a product name, the third identity mark 43 is a product number, and the fourth identity mark 44 is It is a two-dimensional barcode (QR code) showing information about the light emitting module 21.

複数の前記半導体発光素子45の夫々には、発光状態で発熱を伴う発光素子、例えば青色発光をするチップ状の青色LEDが用いられている。これら半導体発光素子45は、好ましくはサファイアガラス製の透光性素子基板上に半導体発光層を設けるとともに、この発光層上に一対の素子電極を設けた構成を備えるベアチップからなる。   For each of the plurality of semiconductor light emitting elements 45, a light emitting element that generates heat in a light emitting state, for example, a chip-like blue LED that emits blue light is used. These semiconductor light emitting elements 45 are preferably formed of a bare chip having a configuration in which a semiconductor light emitting layer is provided on a light-transmitting element substrate made of sapphire glass and a pair of element electrodes is provided on the light emitting layer.

LEDの発光は、半導体のp−n接合に順方向電流を流すことで実現されるので、LEDは電気エネルギーを直接光に変換する固体素子である。こうした発光原理で発光する半導体発光素子は、通電によりフィラメントを高温に白熱させて、その熱放射により可視光を放射させる白熱電球と比較して、省エネルギー効果を有している。   Since light emission of an LED is realized by passing a forward current through a pn junction of a semiconductor, the LED is a solid element that directly converts electric energy into light. A semiconductor light emitting element that emits light based on such a light emission principle has an energy saving effect as compared with an incandescent bulb that inclines a filament to a high temperature by energization and emits visible light by its thermal radiation.

各半導体発光素子45のうちの半数は、前記第1素子配設スペースS1内でモジュール基板22に直に実装されている。この実装は、透明なダイボンド材を用いて素子基板を部品実装面22aに接着することで実現されており、第1素子配設スペースS1に実装された複数の半導体発光素子45は縦横に整列してマトリックス状に配設されている。同様に、残りの半導体発光素子45は、前記第2素子配設スペースS2内でモジュール基板22に直に実装されている。この実装も、透明なダイボンド材を用いて素子基板を部品実装面22aに接着することで実現されており、第2素子配設スペースS2に実装された複数の半導体発光素子45も縦横に整列してマトリックス状に配設されている。   Half of the semiconductor light emitting elements 45 are directly mounted on the module substrate 22 in the first element disposition space S1. This mounting is realized by bonding the element substrate to the component mounting surface 22a using a transparent die bond material, and the plurality of semiconductor light emitting elements 45 mounted in the first element disposition space S1 are aligned vertically and horizontally. Arranged in a matrix. Similarly, the remaining semiconductor light emitting elements 45 are mounted directly on the module substrate 22 in the second element arrangement space S2. This mounting is also realized by adhering the element substrate to the component mounting surface 22a using a transparent die bond material, and the plurality of semiconductor light emitting elements 45 mounted in the second element arrangement space S2 are also aligned vertically and horizontally. Arranged in a matrix.

第1素子配設スペースS1に配設された複数の半導体発光素子45と、第2素子配設スペースS2に配設された複数の半導体発光素子45は、ワイヤ接続部25bを境に対称に設けられている。   The plurality of semiconductor light emitting elements 45 disposed in the first element disposition space S1 and the plurality of semiconductor light emitting elements 45 disposed in the second element disposition space S2 are provided symmetrically with respect to the wire connection portion 25b. It has been.

配線パターン25のワイヤ接続部25bと配線パターン26の第1のワイヤ接続部26bとが並んだ方向に列をなした半導体発光素子45同士は、ボンディングワイヤ47で直列に接続されている。こうして直列接続された素子列の一端に配置された半導体発光素子45は、ワイヤ接続部25bにボンディングワイヤ48で接続されている。これとともに、前記素子列の他端に配置された半導体発光素子45は、第1のワイヤ接続部26bにボンディングワイヤ49で接続されている。   The semiconductor light emitting elements 45 arranged in a line in the direction in which the wire connection part 25 b of the wiring pattern 25 and the first wire connection part 26 b of the wiring pattern 26 are arranged are connected in series by a bonding wire 47. The semiconductor light emitting elements 45 arranged at one end of the element rows connected in series in this way are connected to the wire connecting portion 25b by the bonding wires 48. At the same time, the semiconductor light emitting element 45 disposed at the other end of the element row is connected to the first wire connecting portion 26b by a bonding wire 49.

同様に、配線パターン25のワイヤ接続部25bと配線パターン26の第2のワイヤ接続部26dとが並んだ方向に列をなした半導体発光素子45同士は、ボンディングワイヤ50で直列に接続されている。こうして直列接続された素子列の一端に配置された半導体発光素子45は、ワイヤ接続部25bにボンディングワイヤ51で接続されている。これとともに、前記素子列の他端に配置された半導体発光素子45は、第2のワイヤ接続部26dにボンディングワイヤ52で接続されている(第4製造工程)。なお、ボンディングワイヤ47〜52はいずれも金属細線好ましくは金線からなり、ワイヤボンディングにより設けられている。   Similarly, the semiconductor light emitting elements 45 arranged in a row in the direction in which the wire connection portion 25 b of the wiring pattern 25 and the second wire connection portion 26 d of the wiring pattern 26 are arranged are connected in series by a bonding wire 50. . The semiconductor light emitting element 45 arranged at one end of the element rows thus connected in series is connected to the wire connecting portion 25b by the bonding wire 51. At the same time, the semiconductor light emitting element 45 disposed at the other end of the element row is connected to the second wire connecting portion 26d by the bonding wire 52 (fourth manufacturing process). The bonding wires 47 to 52 are all made of fine metal wires, preferably gold wires, and are provided by wire bonding.

モジュール基板22上に実装された複数の半導体発光素子45を以上のように電気的に接続したことにより、COB(Chip On Board)形の発光モジュール21が構成されている。前記電気的接続により、各素子配設スペースS1、S2に設けられた複数の半導体発光素子45は、例えば7個の半導体発光素子45を直列接続してなる例えば12個の素子列を、電気的には並列接続した配列となっている。   By electrically connecting a plurality of semiconductor light emitting elements 45 mounted on the module substrate 22 as described above, a COB (Chip On Board) type light emitting module 21 is configured. Due to the electrical connection, the plurality of semiconductor light emitting elements 45 provided in the element disposition spaces S1 and S2 are electrically connected to, for example, 12 element rows formed by connecting 7 semiconductor light emitting elements 45 in series. Is an array connected in parallel.

直列となっている素子列の延長線上に前記アライメントマーク35が夫々配設されている。そして、前記延長線上に位置された左右(図において)のアライメントマーク35を基準に、これらを通る直線上に半導体発光素子45が実装機により実装されている。   The alignment marks 35 are respectively disposed on the extended lines of the element rows in series. Then, with reference to the left and right (in the drawing) alignment marks 35 positioned on the extension line, a semiconductor light emitting element 45 is mounted on a straight line passing through them by a mounting machine.

図9に示すように前記枠55は、例えば四角環状をなして、その内側に各ワイヤ接続部25b,26b,26d、複数の半導体発光素子45、及び各ボンディングワイヤ47〜52を収めて部品実装面22a上に装着されている。枠55は白色の合成樹脂でつくることが好ましい。この枠55は第1の保護層37の一部及び第2の保護層38の一部に被着されている。第1の保護層37で覆われていない第1点灯検査用パッド28及び第2点灯検査用パッド29は、枠55の外側に配設されていて、むき出しの状態となっている。   As shown in FIG. 9, the frame 55 has, for example, a square ring shape, and each of the wire connecting portions 25b, 26b, and 26d, the plurality of semiconductor light emitting elements 45, and the bonding wires 47 to 52 are housed inside the frame. Mounted on the surface 22a. The frame 55 is preferably made of a white synthetic resin. The frame 55 is attached to part of the first protective layer 37 and part of the second protective layer 38. The first lighting inspection pad 28 and the second lighting inspection pad 29 that are not covered with the first protective layer 37 are disposed outside the frame 55 and are exposed.

前記封止樹脂57は、枠55内に充填されて、各ワイヤ接続部25b,26b,26d、複数の半導体発光素子45、及び各ボンディングワイヤ47〜52を埋設した状態でこれらを封止して、モジュール基板22上に設けられている(第5製造工程)。封止樹脂57は、蛍光体(図示しない)が混ぜられた透明なシリコーン樹脂等からなり、透光性でかつガス透過性を有している。蛍光体には、半導体発光素子45が発した青色の光によって励起されて黄色の光を放射する黄色の蛍光体が用いられている。   The sealing resin 57 is filled in the frame 55 and seals the wire connecting portions 25b, 26b, and 26d, the plurality of semiconductor light emitting elements 45, and the bonding wires 47 to 52 in an embedded state. Are provided on the module substrate 22 (fifth manufacturing step). The sealing resin 57 is made of a transparent silicone resin or the like mixed with a phosphor (not shown), and is translucent and gas permeable. A yellow phosphor that emits yellow light when excited by blue light emitted from the semiconductor light emitting element 45 is used as the phosphor.

前記青色の光とこれに対して補色の関係にある黄色の光が混じることによって白色の光が形成され、この白色光は封止樹脂57の表面から光の利用方向に出射される。そのため、封止樹脂57の表面、つまり、光出射面によって、発光モジュール21の発光面57aが形成されている。この発光面57aの大きさは枠55によって規定されている。   White light is formed by mixing the blue light and yellow light having a complementary color to the blue light, and the white light is emitted from the surface of the sealing resin 57 in the light use direction. Therefore, the light emitting surface 57 a of the light emitting module 21 is formed by the surface of the sealing resin 57, that is, the light emitting surface. The size of the light emitting surface 57 a is defined by the frame 55.

封止樹脂57で覆われた銀製の部分の面積をCとし、発光面57aの面積をDと置いた場合、面積Dに対する面積Cの占有率は、5%以上40%以下に設定されている。配線パターン25,26の封止樹脂57で覆われた部分とは、各ワイヤ接続部25b、26b、26dである。   When the area of the silver portion covered with the sealing resin 57 is C and the area of the light emitting surface 57a is D, the occupation ratio of the area C to the area D is set to 5% or more and 40% or less. . The portions covered with the sealing resin 57 of the wiring patterns 25 and 26 are the wire connection portions 25b, 26b, and 26d.

なお、枠55に相当する型部材を設けて、この内部に封止樹脂57を設けた後に、型部材をモジュール基板22上から離脱させることにより、封止樹脂57を設けても良い。この場合、配線パターン25,26の封止樹脂57からはみ出す部位を、予め第1の保護層37又は第2の保護層38で被着して置くと良い。   Alternatively, the sealing resin 57 may be provided by providing a mold member corresponding to the frame 55 and providing the sealing resin 57 therein, and then removing the mold member from the module substrate 22. In this case, the portion of the wiring patterns 25 and 26 that protrudes from the sealing resin 57 is preferably previously deposited with the first protective layer 37 or the second protective layer 38.

図5に示すように部品実装面22aには、面実装部品からなる1個の給電用のコネクタ61及び2個のコンデンサ65が実装されている(第6製造工程)。   As shown in FIG. 5, on the component mounting surface 22a, one power feeding connector 61 and two capacitors 65 made of surface mounted components are mounted (sixth manufacturing process).

即ち、コネクタ61は、その一側面から突出された第1の端子ピン61aと第2の端子ピン61bを有した2ピンタイプの構成である。このコネクタ61は、前記実装パッド33に半田付けされ、それにより、対をなした第1点灯検査用パッド28と第2点灯検査用パッド29との間に配設されている。言い換えれば、コネクタ61の両側に第1点灯検査用パッド28と第2点灯検査用パッド29が配設されている。   That is, the connector 61 has a two-pin type configuration having a first terminal pin 61a and a second terminal pin 61b protruding from one side surface thereof. The connector 61 is soldered to the mounting pad 33, and is thereby disposed between the paired first lighting inspection pad 28 and second lighting inspection pad 29. In other words, the first lighting inspection pad 28 and the second lighting inspection pad 29 are disposed on both sides of the connector 61.

これとともに、第1の端子ピン61aが第1の正極パッド部25cに、第2の端子ピン61bが第1の負極パッド部26eに夫々田付けされている。このコネクタ61には図示しない電源装置に接続された直流給電用の絶縁被覆電線が差し込み接続される。それにより、コネクタ61を経由して発光モジュール21への給電が可能となっている。   At the same time, the first terminal pin 61a is attached to the first positive electrode pad portion 25c, and the second terminal pin 61b is attached to the first negative electrode pad portion 26e. The connector 61 is connected with an insulation coated electric wire for direct current power supply connected to a power supply device (not shown). As a result, power can be supplied to the light emitting module 21 via the connector 61.

2個のコンデンサ65のうちの一方は、配線パターン25の第2の正極パッド部25d及び中間パッド27の一端部に半田付けされて、これらにわたって配設されている。同様に、2個のコンデンサ65のうちの他方は、配線パターン26の第2の負極パッド部26f及び中間パッド27の他端部に半田付けされて、これらにわたって配設されている。各半導体発光素子45に直流が供給される通常の点灯状態では、コンデンサ65に電流が流れることはない。しかし、ノイズが重畳して交流が流れるような事態に至った場合、コンデンサ65に電流が流れて配線パターン25,26が短絡され、それにより、各半導体発光素子45に交流が供給されることを防止している。   One of the two capacitors 65 is soldered to one end portion of the second positive electrode pad portion 25d and the intermediate pad 27 of the wiring pattern 25, and is disposed over these. Similarly, the other of the two capacitors 65 is soldered to the second negative electrode pad portion 26 f of the wiring pattern 26 and the other end portion of the intermediate pad 27, and is disposed over these. In a normal lighting state in which direct current is supplied to each semiconductor light emitting element 45, no current flows through the capacitor 65. However, when an alternating current flows due to noise superposition, a current flows through the capacitor 65 and the wiring patterns 25 and 26 are short-circuited, whereby an alternating current is supplied to each semiconductor light emitting element 45. It is preventing.

図10に示すように前記構成の発光モジュール21は、そのモジュール基板22の裏面、つまり、部品実装面22aと反対側の面を、前記モジュール設置部12の底面12aに密接させて装置ベース11に支持されている。それにより、モジュール基板22からモジュール設置部12への放熱ができるように発光モジュール21が装置ベース11に支持されている。このように支持された発光モジュール21が灯体4に取付けられた状態で、発光面57aは、透光板5に対向されている。   As shown in FIG. 10, the light emitting module 21 having the above-described configuration is attached to the apparatus base 11 by bringing the back surface of the module substrate 22, that is, the surface opposite to the component mounting surface 22 a into close contact with the bottom surface 12 a of the module installation portion 12. It is supported. Thereby, the light emitting module 21 is supported by the apparatus base 11 so that heat can be radiated from the module substrate 22 to the module installation unit 12. In a state where the light emitting module 21 supported in this manner is attached to the lamp body 4, the light emitting surface 57 a faces the light transmitting plate 5.

前記モジュールの支持のために、図4及び図10に示すように装置ベース11に複数例えば2個の金属製の押え板71がねじ止めされている。これら押え板71の先端部はモジュール基板22の周部に対向していて、この先端部にモジュール基板22の周部を押圧する金属製のばね72が取付けられている。これらのばね72のばね力でモジュール基板22の裏面が底面12aに密接された状態が保持されている。こうした保持によって、発光モジュール21の点灯に伴う温度上昇と消灯に伴う温度下降によるヒートサイクルで、セラミックス製のモジュール基板22にストレスが作用しても、このモジュール基板22が損傷することを防止できるように構成されている。   In order to support the module, a plurality of, for example, two metal pressing plates 71 are screwed to the apparatus base 11 as shown in FIGS. The front ends of these presser plates 71 are opposed to the peripheral portion of the module substrate 22, and a metal spring 72 that presses the peripheral portion of the module substrate 22 is attached to the front end portion. The state in which the back surface of the module substrate 22 is in close contact with the bottom surface 12a is maintained by the spring force of the springs 72. Such holding can prevent the module substrate 22 from being damaged even if stress is applied to the ceramic module substrate 22 in the heat cycle caused by the temperature increase accompanying the lighting of the light emitting module 21 and the temperature decrease accompanying the extinction of light. It is configured.

前記構成の道路灯1への給電が行われると、発光モジュール21が有した複数の半導体発光素子45が一斉に発光するので、発光面57aから出射された白色の光は、透光板5を直接透過し、若しくは反射器15の内面で反射された上で透光板5を透過して、照明対称の道路を照射する。この照明で、平面ミラーからなる第1の反射板15a及び第2の反射板15bで反射された光は、略広がらずに主に道路の長手方向に照射される。これとともに、カーブミラーからなる第3の反射板15c及び第4の反射板15dで反射された光は、道路の幅方向に対する照射角を制御されて主に道路の幅方向に照射される。   When power is supplied to the road light 1 having the above-described configuration, the plurality of semiconductor light emitting elements 45 included in the light emitting module 21 emit light at the same time, so that white light emitted from the light emitting surface 57a is transmitted through the light transmitting plate 5. Directly transmitted or reflected by the inner surface of the reflector 15 and then transmitted through the light-transmitting plate 5 to illuminate a road having illumination symmetry. With this illumination, the light reflected by the first reflecting plate 15a and the second reflecting plate 15b made of a plane mirror is irradiated mainly in the longitudinal direction of the road without substantially spreading. At the same time, the light reflected by the third reflecting plate 15c and the fourth reflecting plate 15d made of a curved mirror is mainly irradiated in the width direction of the road with the irradiation angle with respect to the width direction of the road being controlled.

こうした照明において発光面57aから出射される光は、半導体発光素子45から封止樹脂57を直接透過した光、封止樹脂57内の蛍光体から放射されて封止樹脂57を直接透過した光の他に、半導体発光素子45の素子基板及びダイボンド材を通って部品実装面22aに入射されて、この部品実装面22aで反射されて封止樹脂57を透過した光、及び蛍光体から放射されて封止樹脂57を通って部品実装面22aに入射されて、この部品実装面22aで反射されて再び封止樹脂57を透過した光を含んでいる。   In such illumination, light emitted from the light emitting surface 57a is light that has directly transmitted through the sealing resin 57 from the semiconductor light emitting element 45, or light that has been emitted from the phosphor in the sealing resin 57 and directly transmitted through the sealing resin 57. In addition, the light is incident on the component mounting surface 22a through the element substrate and the die bonding material of the semiconductor light emitting device 45, reflected by the component mounting surface 22a, and transmitted through the sealing resin 57, and emitted from the phosphor. Light that is incident on the component mounting surface 22a through the sealing resin 57, reflected by the component mounting surface 22a, and transmitted through the sealing resin 57 again is included.

発光モジュール21は、既述のように部品実装面22aを有したモジュール基板22が白色のセラミックス製で、その平均反射率は80%以上であるので、部品実装面22aに入射された光、つまり、半導体発光素子45をなす青色LEDが発した発光波長440nm〜460nmの青色光、及び蛍光体が放射した発光波長470nm〜490nmの黄色光を、道路方向、言い換えれば、光の取出し方向に効率良く反射させることができる。特に、モジュール基板22の部品実装面22aの平均反射率を85%以上99%以下とした場合は、更に効率よく、部品実装面22aに入射された光を光の取出し方向に効率良く反射させることができる。   As described above, the light emitting module 21 has the module mounting surface 22a having the component mounting surface 22a made of white ceramics and has an average reflectance of 80% or more. Therefore, the light incident on the component mounting surface 22a, that is, The blue light emitted from the blue LED forming the semiconductor light emitting device 45 and the yellow light emitted from the phosphor having the emission wavelength of 470 nm to 490 nm are efficiently emitted in the road direction, in other words, the light extraction direction. Can be reflected. In particular, when the average reflectance of the component mounting surface 22a of the module substrate 22 is 85% or more and 99% or less, the light incident on the component mounting surface 22a is more efficiently reflected in the light extraction direction. Can do.

このように光を反射する部品実装面22aを有したモジュール基板22は、白色のセラミックス製であり、その地肌面を部品実装面22aとして利用しているので、このモジュール基板22での反射性能は、発光モジュール21の使用開始からの経過時間に拘らず、一定に維持される。   Since the module substrate 22 having the component mounting surface 22a that reflects light is made of white ceramics and uses the ground surface as the component mounting surface 22a, the reflection performance of the module substrate 22 is as follows. Regardless of the elapsed time from the start of use of the light emitting module 21, it is maintained constant.

更に、モジュール基板22側での光の反射は、部品実装面22aだけではなく、封止樹脂57で封止された銀製の配線パターン25のワイヤ接続部25b、及び銀製の配線パターン26の第1のワイヤ接続部26b並びに第2のワイヤ接続部26dでも行われるが、これらワイヤ接続部25b,26b,26dは、空気中の硫黄成分と反応(硫化)するので、道路灯1が設置された時からの経過時間が長くなるほど、黒ずみが進行して、その光反射性能は次第に低下する。   Further, the reflection of light on the module substrate 22 side is not limited to the component mounting surface 22a, but the wire connection portion 25b of the silver wiring pattern 25 sealed with the sealing resin 57 and the first of the silver wiring pattern 26. The wire connection portion 26b and the second wire connection portion 26d are also performed, but these wire connection portions 25b, 26b, and 26d react (sulfurize) with sulfur components in the air, so when the road lamp 1 is installed. As the elapsed time from the time becomes longer, darkening progresses, and the light reflection performance gradually decreases.

しかし、前記構成の発光モジュール21は、既述のように発光面57aの面積に対する銀製のワイヤ接続部25b,26b,26dの面積占有率が40%以下に規定されている。言い換えれば、部品実装面22aでの反射面積が、発光面57aの面積の60%を超える大きさに確保されている。この場合、銀製の配線パターン25の正極パターン基部25a、及び銀製の配線パターン26の中間パターン部26cは、封止樹脂57で封止されておらず、発光面57aの外側に外れているので、前記面積占有率を40%以下にする上で好ましい。又、配線パターン25及び配線パターン26のうちで封止樹脂57により封止されていない部分は、この部分に含まれた点灯検査用パッド28,29を除いて第1の保護層37で覆われている。そのため、封止樹脂57で封止されていない部分は、その点灯検査用パッド28,29を除いて、大気中の成分と反応して劣化することを防止できる。   However, in the light emitting module 21 configured as described above, the area occupation ratio of the silver wire connection portions 25b, 26b, and 26d with respect to the area of the light emitting surface 57a is defined to be 40% or less. In other words, the reflection area on the component mounting surface 22a is ensured to exceed 60% of the area of the light emitting surface 57a. In this case, the positive electrode pattern base 25a of the silver wiring pattern 25 and the intermediate pattern portion 26c of the silver wiring pattern 26 are not sealed with the sealing resin 57 and are outside the light emitting surface 57a. It is preferable for making the area occupancy 40% or less. Further, portions of the wiring pattern 25 and the wiring pattern 26 that are not sealed with the sealing resin 57 are covered with the first protective layer 37 except for the lighting inspection pads 28 and 29 included in this portion. ing. Therefore, the portions not sealed with the sealing resin 57 can be prevented from being deteriorated by reacting with components in the atmosphere except for the lighting inspection pads 28 and 29.

前記面積占有率の規定により、ワイヤ接続部25b,26b,26dの黒化の進行に伴う光反射性能の低下が発光モジュール21全体の光反射性能に与える影響を、小さく制限できる。したがって、実施例1の発光モジュールによれば、発光モジュール21の光束維持率の低下を緩慢にすることが可能である。言い換えれば、発光面57aで覆われた反射領域での光反射性能の低下が緩慢である。それに伴い光の取出し効率が高く維持されるので、省エネルギー効果を促進することが可能である。   By defining the area occupancy rate, it is possible to limit the influence of the decrease in the light reflection performance accompanying the progress of the blackening of the wire connection portions 25b, 26b, and 26d on the light reflection performance of the entire light emitting module 21. Therefore, according to the light emitting module of Example 1, it is possible to moderate the decrease in the luminous flux maintenance factor of the light emitting module 21. In other words, the deterioration of the light reflection performance in the reflection region covered with the light emitting surface 57a is slow. As a result, the light extraction efficiency is maintained at a high level, so that the energy saving effect can be promoted.

そして、このように光束維持率の低下が緩慢であることに伴い、光源としての発光モジュール21が規定寿命例えば光束維持率が70%に達するまでに要する時間が長い道路灯1を提供することが可能である。言い換えれば、封止された銀の部分の発光面57aに対する面積占有率が40%以下であることにより、道路灯(照明器具)1が推奨寿命を超えて使用された場合にも、前記銀の部分の黒化に拘らず、発光モジュール21の光束維持率を70%以上に保持することができる。なお、道路灯1の交換の目安となる推奨寿命としては、光束維持率が70%に達する時期をもって規定されている。   As the decrease in the luminous flux maintenance factor is slow as described above, it is possible to provide the road lamp 1 that takes a long time for the light emitting module 21 as the light source to reach a specified life, for example, the luminous flux maintenance factor reaches 70%. Is possible. In other words, when the area occupancy of the sealed silver portion with respect to the light emitting surface 57a is 40% or less, even when the road lamp (lighting fixture) 1 is used beyond the recommended life, Regardless of the blackening of the portion, the luminous flux maintenance factor of the light emitting module 21 can be maintained at 70% or more. Note that the recommended life as a guide for replacement of the road lamp 1 is defined when the luminous flux maintenance factor reaches 70%.

なお、封止された銀の部分の発光面57aに対する面積占有率が40%を超えると、前記銀の部分の黒化の進行による発光モジュール21全体の光反射性能に与える影響が大きくなり過ぎ、それに伴い発光モジュール21の光束維持率の低下が早められて、光束維持率が70%に達するまでに要する時間が短くなる。そのため、本実施形態の課題を解決できなくなるので不適当である。   In addition, when the area occupation ratio with respect to the light emitting surface 57a of the sealed silver portion exceeds 40%, the influence on the light reflecting performance of the entire light emitting module 21 due to the progress of blackening of the silver portion becomes too large. Accordingly, the decrease in the luminous flux maintenance factor of the light emitting module 21 is accelerated, and the time required for the luminous flux maintenance factor to reach 70% is shortened. Therefore, the problem of the present embodiment cannot be solved, which is inappropriate.

更に、封止樹脂57で封止された配線パターン25,26のワイヤ接続部25b,26b,26dの発光面57aに対する面積占有率は5%以上である。それにより、ワイヤ接続部25b,26b,26dの幅を、これらの部分に対するボンディングワイヤ48,49、51,52のワイヤボンディングに支障がないように、ある程度広く形成できる。したがって、製造上の問題を招かないようにできる。   Further, the area occupation ratio of the wire connection portions 25b, 26b, and 26d of the wiring patterns 25 and 26 sealed with the sealing resin 57 to the light emitting surface 57a is 5% or more. Thereby, the width of the wire connecting portions 25b, 26b, and 26d can be formed to be wide to some extent so as not to hinder the wire bonding of the bonding wires 48, 49, 51, and 52 to these portions. Accordingly, it is possible to prevent manufacturing problems.

前記構成の発光モジュール21の製造においては、前記第4製造工程の完了後、未封止の状態で半導体発光素子45の点灯検査が行われる。即ち、図示しない検査機が有した一対の検査プローブを第1点灯検査用パッド28及び第2点灯検査用パッド29に接触させて、これらを経由して通電することにより、各半導体発光素子45が点灯するかどうか等の検査が行われる。更に、同製造においては、前記第6製造工程の完了後に、封止された半導体発光素子45の点灯検査が行われる。この検査も前記と同様の手順で行われるので、その際にコネクタ61に電線を着脱する手間を要しない。   In the manufacture of the light emitting module 21 having the above-described configuration, the lighting inspection of the semiconductor light emitting element 45 is performed in an unsealed state after the completion of the fourth manufacturing process. That is, a pair of inspection probes included in an inspection machine (not shown) is brought into contact with the first lighting inspection pad 28 and the second lighting inspection pad 29 and energized therethrough, so that each semiconductor light emitting element 45 Inspections such as lighting are performed. Further, in the manufacturing, after the sixth manufacturing process is completed, a lighting inspection of the sealed semiconductor light emitting element 45 is performed. Since this inspection is also performed in the same procedure as described above, it is not necessary to attach or detach the electric wire to / from the connector 61 at that time.

こうした検査に用いられる第1点灯検査用パッド28及び第2点灯検査用パッド29は、封止樹脂57の外部であって、かつ、第1の保護層37からもはみ出していて、むき出しの状態にある。そのため、これら第1点灯検査用パッド28及び第2点灯検査用パッド29が空気中の硫黄成分等と反応して劣化することは避けられない。   The first lighting inspection pad 28 and the second lighting inspection pad 29 used for such an inspection are outside the sealing resin 57 and protrude from the first protective layer 37 so as to be exposed. is there. Therefore, it is inevitable that the first lighting inspection pad 28 and the second lighting inspection pad 29 are deteriorated by reacting with sulfur components in the air.

しかし、第1点灯検査用パッド28は配線パターン25から枝分かれされていて、この第1点灯検査用パッド28を経由せずに各半導体発光素子45に給電をするために配線パターン25を流れる電流経路(正極パターン基部25a及びワイヤ接続部25b)中には設けられていない。同様に、第2点灯検査用パッド29は配線パターン26から枝分かれされていて、この第2点灯検査用パッド29を経由せずに各半導体発光素子45に給電をするために配線パターン26を流れる電流経路(負極パターン基部26a、第1ワイヤ接続部26b、中間パターン部26c、及び第2ワイヤ接続部25d)中には設けられていない。   However, the first lighting test pad 28 is branched from the wiring pattern 25, and a current path flows through the wiring pattern 25 in order to supply power to each semiconductor light emitting element 45 without going through the first lighting test pad 28. They are not provided in (the positive electrode pattern base 25a and the wire connecting portion 25b). Similarly, the second lighting test pad 29 is branched from the wiring pattern 26, and the current flowing through the wiring pattern 26 to supply power to each semiconductor light emitting element 45 without passing through the second lighting test pad 29. It is not provided in the path (the negative electrode pattern base 26a, the first wire connection portion 26b, the intermediate pattern portion 26c, and the second wire connection portion 25d).

そのため、第1点灯検査用パッド28及び第2点灯検査用パッド29が前記劣化を原因として高抵抗化することがあっても、その影響が前記電流経路に及んで、配線パターン25,26が断線する恐れをなくすことが可能である。したがって、以上のように第1点灯検査用パッド28及び第2点灯検査用パッド29がむき出し状態に設けられているにも拘らず、道路灯1の光源をなした発光モジュール21の発光性能を長期間にわたり持続できる。   Therefore, even if the first lighting test pad 28 and the second lighting test pad 29 are increased in resistance due to the deterioration, the influence reaches the current path, and the wiring patterns 25 and 26 are disconnected. It is possible to eliminate the fear. Therefore, although the first lighting inspection pad 28 and the second lighting inspection pad 29 are provided in an exposed state as described above, the light emission performance of the light emitting module 21 serving as the light source of the road lamp 1 is increased. Can last for a period of time.

更に、銀製の第1点灯検査用パッド28と第2の点灯検査用パッド29は、これらの間で銀マイクレーションを生じる可能性が考えられる。しかし、第1点灯検査用パッド28と第2の点灯検査用パッド29は、モジュール基板22上に実装された給電用のコネクタ61の両側に配設されている。したがって、コネクタ61を利用して、第1点灯検査用パッド28と第2点灯検査用パッド29との相互間隔を広く確保できるとともに、第1点灯検査用パッド28と第2点灯検査用パッド29間の延面距離をコネクタ61により長く確保できる。   Furthermore, there is a possibility that the silver first lighting inspection pad 28 and the second lighting inspection pad 29 are likely to cause silver microphones therebetween. However, the first lighting inspection pad 28 and the second lighting inspection pad 29 are arranged on both sides of the power supply connector 61 mounted on the module substrate 22. Therefore, the connector 61 can be used to ensure a wide space between the first lighting test pad 28 and the second lighting test pad 29 and between the first lighting test pad 28 and the second lighting test pad 29. Can be secured longer by the connector 61.

そのため、第1点灯検査用パッド28と第2点灯検査用パッド29間で銀マイクレーションを生じても、それにより、第1点灯検査用パッド28と第2点灯検査用パッド29とが短絡することを確実に防止できる。したがって、この点でも、道路灯1の光源をなした発光モジュール21の発光性能を長期間にわたり持続できる。   For this reason, even if a silver microphone is generated between the first lighting test pad 28 and the second lighting test pad 29, the first lighting test pad 28 and the second lighting test pad 29 are short-circuited. Can be reliably prevented. Therefore, also in this respect, the light emission performance of the light emitting module 21 that is the light source of the road lamp 1 can be maintained for a long time.

1…道路灯(照明器具)、4…灯体(器具本体)、6…光源装置、21…発光モジュール、22…モジュール基板、25…第1配線パターン、26…第2配線パターン、28…第1点灯検査用パッド、28a…枝パターン部、29…第2点灯検査用パッド、29a…枝パターン部、37…保護層、45…半導体発光素子、47〜52…ボンディングワイヤ、57…封止樹脂(封止部材)、61…コネクタ   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Road light (lighting fixture), 4 ... Lamp body (equipment main body), 6 ... Light source device, 21 ... Light emitting module, 22 ... Module board | substrate, 25 ... 1st wiring pattern, 26 ... 2nd wiring pattern, 28 ... 1st DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 lighting test pad, 28a ... branch pattern part, 29 ... 2nd lighting test pad, 29a ... branch pattern part, 37 ... protective layer, 45 ... semiconductor light emitting element, 47-52 ... bonding wire, 57 ... sealing resin (Sealing member), 61 ... Connector

Claims (3)

モジュール基板と;
枝分かれした第1点灯検査用パッドを有して前記モジュール基板上に設けられた第1配線パターンと;
枝分かれした第2点灯検査用パッドを有して、前記第1配線パターンとは異極をなして前記モジュール基板上に設けられた第2配線パターンと;
前記両配線パターンにボンディングワイヤを介して電気的に接続して前記モジュール基板上に実装された複数の半導体発光素子と;
前記両配線パターンの一部、前記各半導体発光素子、及び前記ボンディングワイヤを封止して前記モジュール基板上に設けられた透光性の封止部材と;
前記両配線パターンのうちで前記封止部材により封止されない部分が前記点灯検査用パッドを含んでいて、この点灯検査用パッドを除いて前記封止されない部分に被着された保護層と;
を具備することを特徴とする発光モジュール。
A module substrate;
A first wiring pattern provided on the module substrate having a branched first lighting test pad;
A second wiring pattern provided on the module substrate having a branched second lighting test pad and having a different polarity from the first wiring pattern;
A plurality of semiconductor light emitting elements mounted on the module substrate by being electrically connected to both the wiring patterns via bonding wires;
A translucent sealing member provided on the module substrate by sealing a part of the wiring patterns, the semiconductor light emitting elements, and the bonding wires;
A portion of the wiring patterns that is not sealed by the sealing member includes the lighting inspection pad; and a protective layer that is deposited on the portion that is not sealed except for the lighting inspection pad;
A light emitting module comprising:
給電用のコネクタが前記第1、第2の配線パターンに接続して前記モジュール基板上に実装されているとともに、このコネクタの両側に前記第1、第2の点灯検査用パッドが配設されていることを特徴とする請求項1に記載の発光モジュール。   A power supply connector is connected to the first and second wiring patterns and mounted on the module substrate, and the first and second lighting inspection pads are disposed on both sides of the connector. The light-emitting module according to claim 1. 請求項1又は2に記載の発光モジュールを光源として有した光源装置と;
この光源装置が取付けられた器具本体と;
を具備することを特徴とする照明器具。
A light source device having the light emitting module according to claim 1 as a light source;
An instrument body to which the light source device is attached;
The lighting fixture characterized by comprising.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2017050106A (en) * 2015-08-31 2017-03-09 シチズン電子株式会社 Light emitting device
JP2018093151A (en) * 2016-12-07 2018-06-14 シチズン電子株式会社 Light-emitting device

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