JP2011257178A - Dust testing device and dust testing method for electronic apparatus - Google Patents

Dust testing device and dust testing method for electronic apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP2011257178A
JP2011257178A JP2010129851A JP2010129851A JP2011257178A JP 2011257178 A JP2011257178 A JP 2011257178A JP 2010129851 A JP2010129851 A JP 2010129851A JP 2010129851 A JP2010129851 A JP 2010129851A JP 2011257178 A JP2011257178 A JP 2011257178A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dust
housing
electronic device
air blowing
test apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2010129851A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akihiro Takeda
晃洋 武田
Takashi Sonehara
隆 曽根原
Koji Sonehara
浩司 曽根原
Toshio Oguchi
敏男 小口
Yoshimasa Furuta
吉昌 古田
Motoki Urashima
基 浦島
Yasuhiro Umiguchi
康洋 海口
Takashi Kasai
孝史 笠井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2010129851A priority Critical patent/JP2011257178A/en
Priority to CN201110128116XA priority patent/CN102288845A/en
Priority to TW100117593A priority patent/TW201217769A/en
Priority to BRPI1102198 priority patent/BRPI1102198A2/en
Priority to RU2011121851/28A priority patent/RU2011121851A/en
Publication of JP2011257178A publication Critical patent/JP2011257178A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a dust testing device and dust testing method for a electronic apparatus, whereby the adhering state of dust in the electronic apparatus used for a long time can be suitably reproduced.SOLUTION: The dust testing device for the electronic apparatus includes: a housing 11 in which dust D is sealed; a disposing table 13 for disposing the electronic apparatus 30 in the housing; a first blowing section 15 for blowing off the dust in the housing in a first period; and a second blowing section 17 for blowing off the dust, adhering to a vent hole 31 of the electronic apparatus, in a second period longer than the first period. By periodically blowing off the dust clogging the vent hole, a test can be continuously carried out while preventing the vent hole from being clogged completely in an early stage after the start of the test. Accordingly, the adhering state of the dust in the electronic apparatus after long use can be suitably reproduced.

Description

本発明は、電子機器用の埃試験装置および埃試験方法に関する。   The present invention relates to a dust test apparatus and a dust test method for electronic equipment.

パーソナルコンピュータ等の電子機器は、実際の使用条件下で多量の埃に曝されている。そして、電子機器に設けられた吸気口や排気口等の通気口に埃が詰まると、電子機器本来の放熱・冷却機能が低下し、電子機器の動作に支障を来たしてしまう場合がある。このため、電子機器の開発工程等では、通常、実際の使用条件下での電子機器の動作状況が埃試験装置を用いて確認される。   Electronic devices such as personal computers are exposed to a large amount of dust under actual use conditions. If dust is clogged in a ventilation port such as an air inlet or an exhaust port provided in the electronic device, the original heat dissipation / cooling function of the electronic device may be deteriorated, which may hinder the operation of the electronic device. For this reason, in the development process of an electronic device or the like, usually, the operation state of the electronic device under actual use conditions is confirmed using a dust test apparatus.

埃試験では、下記特許文献1に記載されるように、埃を封入された筐体内に電子機器を配置し、筐体内に埃を飛散させ、電子機器の通気口に対する埃の付着状況が観察される。ここで、埃試験では、長期間使用後の埃の付着状況を短い試験期間で適切に再現するために、埃の材質・形状・量、送風の量・圧力・方向等が適宜調節される。埃試験では、例えば1年間または2年間使用後の埃の付着状況が2時間または4時間程度の試験期間で各々に再現される。   In the dust test, as described in Patent Document 1 below, an electronic device is placed in a case in which dust is sealed, the dust is scattered in the case, and the state of dust adhesion to the vent of the electronic device is observed. The Here, in the dust test, the dust material / shape / amount, the amount / pressure / direction, etc. of the dust are appropriately adjusted in order to appropriately reproduce the dust adhesion after a long period of use in a short test period. In the dust test, for example, the state of dust adhesion after 1 year or 2 years of use is reproduced in a test period of about 2 hours or 4 hours.

特開平8−292239号公報JP-A-8-292239

しかし、筐体内に埃を飛散させるのみでは、試験開始後の早い段階で通気口が完全に詰まってしまい試験の継続が困難となり、長期間使用後の埃の付着状況を適切に再現することができない場合があった。   However, if dust is only scattered in the housing, the vents will be completely clogged at an early stage after the start of the test, making it difficult to continue the test. There were cases where it was not possible.

そこで、本発明は、長期間使用した電子機器における埃の付着状況を適切に再現可能な、電子機器用の埃試験装置および埃試験方法を提供しようとするものである。   Therefore, the present invention is intended to provide a dust testing apparatus and a dust testing method for electronic equipment that can appropriately reproduce the state of dust adhesion in electronic equipment that has been used for a long time.

本発明のある観点によれば、埃を封入するための筐体と、筐体内に電子機器を配置するための配置台と、第1の周期で筐体内に埃を飛散させるための第1の送風部と、第1の周期より長い第2の周期で、電子機器の通気口に付着した埃を吹飛ばすための第2の送風部とを備える、電子機器用埃試験装置が提供される。   According to an aspect of the present invention, a housing for enclosing dust, an arrangement table for arranging an electronic device in the housing, and a first for scattering dust in the housing at a first period There is provided a dust test apparatus for an electronic device, comprising: a blower unit; and a second blower unit for blowing off dust attached to a vent of the electronic device in a second cycle longer than the first cycle.

上記第2の送風部は、第2の周期で送風方向を変更しながら、通気口に向けて送風してもよい。   The second air blowing unit may blow air toward the vent hole while changing the air blowing direction in the second period.

上記第2の送風部は、通気口に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更してもよい。   The second air blowing section may change the air blowing direction within a predetermined angle range centering on the direction facing the vent.

上記第1の送風部は、第1の周期で送風方向を変更しながら、筐体の下部に向けて送風してもよい。   The first air blowing section may blow air toward the lower portion of the housing while changing the air blowing direction in the first cycle.

上記第1の送風部は、筐体の下部に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更してもよい。   The first air blowing section may change the air blowing direction within a predetermined angle range centering on a direction facing the lower portion of the housing.

上記筐体の下部は、すり鉢状に形成されてもよい。   The lower part of the housing may be formed in a mortar shape.

上記筐体の下部に配され、筐体の上部に向けて周期的に送風する第3の送風部をさらに備えてもよい。   You may further provide the 3rd ventilation part distribute | arranged to the lower part of the said housing | casing, and ventilates periodically toward the upper part of a housing | casing.

上記第2の送風部は、軸回りに回転可能な連通管と、連通管に取り付けられた送風ノズルからなってもよい。   The second air blowing section may include a communication pipe that can rotate around an axis and a blow nozzle that is attached to the communication pipe.

上記第1の送風部は、軸回りに回転可能な連通管と、連通管に取り付けられた送風ノズルからなってもよい。   The first air blowing section may include a communication pipe that can rotate around an axis and a blow nozzle that is attached to the communication pipe.

また、本発明の別の観点によれば、筐体内に埃を封入し、電子機器を配置するステップと、第1の周期で筐体内に埃を飛散させるステップと、第1の周期より長い第2の周期で、電子機器の通気口に付着した埃を吹飛ばすステップとを含む、電子機器用埃試験方法が提供される。   Further, according to another aspect of the present invention, the step of enclosing dust in the housing and disposing the electronic device, the step of scattering the dust in the housing in the first cycle, and a step longer than the first cycle A dust test method for an electronic device, the method including blowing off dust attached to a vent of the electronic device at a period of 2.

以上説明したように本発明によれば、長期間使用した電子機器における埃の付着状況を適切に再現可能な、電子機器用の埃試験装置および埃試験方法を提供することができる。   As described above, according to the present invention, it is possible to provide a dust test apparatus and a dust test method for an electronic device that can appropriately reproduce the state of dust adhesion in an electronic device that has been used for a long time.

本発明の実施形態に係る電子機器用の埃試験装置の概要を示す図である。It is a figure which shows the outline | summary of the dust test apparatus for electronic devices which concerns on embodiment of this invention. 埃試験方法の手順を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the procedure of a dust test method. 埃試験装置の前面図である。It is a front view of a dust test apparatus. 埃試験装置の側面図である。It is a side view of a dust test apparatus. 埃試験装置の平面図である。It is a top view of a dust test device. 電子機器の設置状況を示す図である。It is a figure which shows the installation condition of an electronic device. 第1の送風部の動作を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows operation | movement of a 1st ventilation part. 第2の送風部の動作を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows operation | movement of a 2nd ventilation part.

以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。   Exemplary embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. In addition, in this specification and drawing, about the component which has the substantially same function structure, duplication description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol.

[1.埃試験装置および埃試験方法の概要]
まず、図1および図2を参照して、本発明の実施形態に係る電子機器30の埃試験装置10および埃試験方法の概要について説明する。図1には、埃試験装置10の概要が示され、図2には、埃試験方法の手順が示されている。
[1. Outline of dust test apparatus and dust test method]
First, with reference to FIG. 1 and FIG. 2, the outline | summary of the dust test apparatus 10 and the dust test method of the electronic device 30 which concern on embodiment of this invention is demonstrated. FIG. 1 shows an outline of the dust test apparatus 10, and FIG. 2 shows a procedure of the dust test method.

図1に示すように、埃試験装置10は、埃Dを封入するための筐体11と、筐体11内に電子機器30を配置するための配置台13と、筐体11内に埃Dを飛散させるための第1の送風部15と、電子機器30の通気口31に付着した埃Dを吹飛ばすための第2の送風部17を備えている。なお、図1中、実線の矢印は、第1および第2の送風部15、17の動作ならびに埃Dの動作を示し、破線の矢印は、送風の方向を示している。また、図1には、通気孔31を含む筐体11内の埃Dの一部が示されている。   As shown in FIG. 1, the dust test apparatus 10 includes a housing 11 for enclosing dust D, a placement table 13 for placing an electronic device 30 in the housing 11, and dust D in the housing 11. The 1st ventilation part 15 for scattering and the 2nd ventilation part 17 for blowing off the dust D adhering to the vent 31 of the electronic device 30 are provided. In FIG. 1, solid arrows indicate the operations of the first and second air blowing units 15 and 17 and the dust D, and broken arrows indicate the direction of air blowing. Further, FIG. 1 shows a part of the dust D in the housing 11 including the air holes 31.

本実施形態に係る埃試験装置10では、従来の埃試験装置10とは異なり、第1の周期で筐体11内に埃Dを飛散させるとともに、第1の周期より長い第2の周期で、通気口31に付着した埃Dが吹飛ばされる。ここで、第1および第2の送風部15、17は、例えば、軸回りに回転可能な連通管15a、17aと、連通管15a、17aに取り付けられた送風ノズル15b、17bからなる(図3等参照)。   In the dust test apparatus 10 according to the present embodiment, unlike the conventional dust test apparatus 10, the dust D is scattered in the housing 11 in the first period, and in the second period longer than the first period, The dust D adhering to the vent 31 is blown off. Here, the 1st and 2nd ventilation parts 15 and 17 consist of the communication pipes 15a and 17a which can rotate around an axis | shaft, and the ventilation nozzles 15b and 17b attached to the communication pipes 15a and 17a, for example (FIG. 3). Etc.).

これにより、通気口31に詰まった埃Dを周期的に吹飛ばすことで、試験開始後の早い段階で通気口31が完全に詰まることがなく、試験の継続が可能となるので、長期間使用後の埃Dの付着状況を適切に再現することができる。   Accordingly, the dust D clogged in the vent 31 is periodically blown out so that the vent 31 is not completely clogged at an early stage after the start of the test, and the test can be continued. It is possible to appropriately reproduce the adhesion state of the later dust D.

第1の送風部15は、例えば、第1の周期で筐体11の下部に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、筐体11の下部に向けて送風することが好ましい。これにより、筐体11の下部に堆積した埃Dを筐体11の上部に周期的に飛散させることで、実際の使用条件に近い状況で埃Dを通気口31に付着させることができる。   For example, the first air blower 15 blows air toward the lower portion of the housing 11 while changing the air blowing direction within a predetermined angle range centering on the direction facing the lower portion of the housing 11 in the first cycle. It is preferable. Thereby, the dust D deposited on the lower portion of the housing 11 is periodically scattered on the upper portion of the housing 11, so that the dust D can be attached to the vent hole 31 in a situation close to actual use conditions.

第2の送風部17は、例えば、第2の周期で通気口31に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、通気口31に向けて送風することが好ましい。これにより、通気口31に詰まった埃Dを周期的に吹飛ばすことで、実際の使用条件に近い状況で通気口31の完全な詰まりを防ぐことができる。これは、通気口31に一旦付着した埃Dが風圧や振動等の作用により剥離する挙動を再現することになる。   It is preferable that the 2nd ventilation part 17 blows toward the ventilation hole 31, for example, changing a ventilation direction in the predetermined angle range centering on the direction which faces the ventilation hole 31 in a 2nd period. Thus, by periodically blowing off the dust D clogged in the vent 31, the clogging of the vent 31 can be prevented in a situation close to actual use conditions. This reproduces the behavior of the dust D once adhering to the vent 31 being peeled off by the action of wind pressure, vibration or the like.

筐体11の下部(底部材12)は、すり鉢状に形成されることが好ましい。また、筐体11の下部には、筐体11の上部に向けて周期的に送風する第3の送風部19が配されることが好ましい。これにより、筐体11の下部のすり鉢面に向けて送風したり、筐体11の下部から上部に向けて送風したりすることで、筐体11の下部に堆積した埃Dを筐体11の上部に効果的に拡散して飛散させることができる。   The lower portion (bottom member 12) of the housing 11 is preferably formed in a mortar shape. Further, it is preferable that a third blower 19 that periodically blows air toward the upper part of the housing 11 is arranged at the lower portion of the housing 11. Thereby, the dust D deposited on the lower part of the casing 11 is blown toward the mortar surface of the lower part of the casing 11 or blown toward the upper part from the lower part of the casing 11. It can be effectively diffused and scattered in the upper part.

図2に示すように、埃試験は、筐体11内に埃Dを封入し、電子機器30を配置するステップS11と、第1の周期で筐体11内に埃Dを飛散させるステップS13と、第1の周期より長い第2の周期で、電子機器30の通気口31に付着した埃Dを吹飛ばすステップS15を含んでいる。ステップS13、S15は、試験継続時間が経過するまで繰返される(S17)。なお、試験継続時間の経過は、ステップS13とステップS15の間で判定されてもよい。   As shown in FIG. 2, the dust test includes a step S11 in which the dust D is enclosed in the housing 11 and the electronic device 30 is disposed, and a step S13 in which the dust D is scattered in the housing 11 in the first period. Step S15 is included in which dust D attached to the vent 31 of the electronic device 30 is blown off in a second period longer than the first period. Steps S13 and S15 are repeated until the test duration time elapses (S17). In addition, progress of test continuation time may be determined between step S13 and step S15.

埃Dを飛散させるステップS13では、例えば、第1の周期で筐体11の下部に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、筐体11の下部に向けて送風することが好ましい。また、埃Dを吹飛ばすステップS15では、例えば、第2の周期で通気口31に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、通気口31に向けて送風することが好ましい。   In step S13 in which dust D is scattered, for example, air is blown toward the lower portion of the housing 11 while changing the air blowing direction within a predetermined angle range centering on the direction facing the lower portion of the housing 11 in the first cycle. It is preferable to do. Moreover, in step S15 which blows off the dust D, for example, air is blown toward the air vent 31 while changing the air blowing direction within a predetermined angle range centering on the direction facing the air vent 31 in the second period. Is preferred.

[2.埃試験装置10の構成]
つぎに、図3から図5を参照して、本発明の実施形態に係る電子機器30埃試験装置10の構成について説明する。図3、図4および図5には、埃試験装置10の前面図、側面図および平面図(図5では、後述する制御部23の記載が省略されている。)が各々に示されている。なお、図3から図5では、電子機器30がイメージとして示されている。
[2. Configuration of Dust Test Device 10]
Next, the configuration of the electronic device 30 dust test apparatus 10 according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 3 to 5. 3, 4, and 5 respectively show a front view, a side view, and a plan view of the dust test apparatus 10 (in FIG. 5, description of a control unit 23 that will be described later is omitted). . 3 to 5 show the electronic device 30 as an image.

図3から図5に示すように、埃試験装置10は、筐体11、配置台13、第1の送風部15、第2の送風部17、第3の送風部19、送風調整部21、制御部23および操作部24を備えている。なお、埃試験装置10には、環境条件の変化に応じた埃Dの付着状況の変化を再現するために、筐体11内の温度や湿度を制御するための機構が設けられてもよい。   As shown in FIGS. 3 to 5, the dust test apparatus 10 includes a housing 11, an arrangement table 13, a first air blowing unit 15, a second air blowing unit 17, a third air blowing unit 19, a air flow adjusting unit 21, A control unit 23 and an operation unit 24 are provided. The dust test apparatus 10 may be provided with a mechanism for controlling the temperature and humidity in the housing 11 in order to reproduce the change in the adhesion state of the dust D according to the change in the environmental conditions.

筐体11は、埃Dを封入するための外装として設けられる。筐体11は、フレーム部材11aと透明または半透明のカバー部材11bを用いて箱状、筒状等に形成される。   The casing 11 is provided as an exterior for enclosing the dust D. The casing 11 is formed in a box shape, a cylindrical shape, or the like using a frame member 11a and a transparent or translucent cover member 11b.

筐体11の一側面には、フレーム部材25a、カバー部材25b、開閉ロック25cからなる開閉扉25が設けられる。開閉扉25は、電子機器30の配置時や埃試験装置10の保守点検時に開放され、埃試験の実施時に密閉される。筐体11の下部には、すり鉢状の底部材12が設けられる。底部材12は、錘頂部を取除いて形成されてもよく、錘頂部を伴って形成されてもよい。筐体11は、フレーム状の支持構造27を介して床面等に設置される。支持構造27には、埃試験装置10を据付えるために、可動輪およびストッパからなる据付部材29が設けられている。   An opening / closing door 25 including a frame member 25a, a cover member 25b, and an opening / closing lock 25c is provided on one side surface of the housing 11. The open / close door 25 is opened when the electronic device 30 is arranged or when the dust test apparatus 10 is maintained and inspected, and is closed when the dust test is performed. A mortar-shaped bottom member 12 is provided at the lower part of the housing 11. The bottom member 12 may be formed by removing the top of the weight, or may be formed with the top of the weight. The casing 11 is installed on a floor surface or the like via a frame-like support structure 27. The support structure 27 is provided with an installation member 29 including a movable wheel and a stopper in order to install the dust test apparatus 10.

配置台13は、筐体11内に電子機器30を配置するために設けられる。配置台13は、電子機器30を載置するように構成されてもよく、電子機器30を吊り下げるように構成されてもよい。図示する例では、配置台13は、筐体11の中程の高さで筐体11の4つの側面に井桁状に渡された4本の桁部材により構成されている。配置台13は、配置する電子機器30の寸法・重量等に適した態様で、筐体11内での埃Dの流動を妨げないように構成される。なお、配置台13は、電子機器30の配置を調整するために、鉛直方向および/または水平方向に移動可能に構成されてもよい。   The placement table 13 is provided for placing the electronic device 30 in the housing 11. The placement table 13 may be configured to place the electronic device 30 or may be configured to suspend the electronic device 30. In the example shown in the drawing, the arrangement table 13 is composed of four girder members that are arranged in the form of a cross girder on the four side surfaces of the housing 11 at a middle height of the housing 11. The arrangement table 13 is configured so as not to hinder the flow of dust D in the housing 11 in a mode suitable for the size, weight, and the like of the electronic device 30 to be arranged. In addition, the arrangement table 13 may be configured to be movable in the vertical direction and / or the horizontal direction in order to adjust the arrangement of the electronic device 30.

第1の送風部15は、第1の周期で筐体11内に埃Dを飛散させるために設けられる。第1の送風部15は、送風ノズルを含んで構成されてもよく、送風ファンを含んで構成されてもよい。第1の送風部15は、送風方向を変化するようにスイング動作可能に構成されることが好ましい。図示する例では、第1の送風部15は、筐体11の底部材12の直上の高さで筐体11の4つの側面に井桁状に渡された4本の通風管15aと、各通風管15aに3つずつ吊り下げられた送風ノズル15bにより構成されている。なお、図3から図5では、送風ノズル15bの配置が模式的に示されている。   The 1st ventilation part 15 is provided in order to disperse the dust D in the housing | casing 11 with a 1st period. The 1st ventilation part 15 may be comprised including the ventilation nozzle, and may be comprised including the ventilation fan. It is preferable that the 1st ventilation part 15 is comprised so that swing operation | movement is possible so that a ventilation direction may be changed. In the example shown in the drawing, the first air blower 15 includes four ventilation pipes 15 a that are arranged in a grid pattern on the four side surfaces of the casing 11 at a height immediately above the bottom member 12 of the casing 11, and each ventilation It is comprised by the ventilation nozzle 15b suspended 3 each at the pipe | tube 15a. 3 to 5 schematically show the arrangement of the air blowing nozzles 15b.

第1の送風部15では、高圧エアがエア供給部(不図示)から送風調整部21を通じて通風管15aに供給され、送風ノズル15bから筐体11内に送風される。通風管15aは、スイング機構(不図示)を通じて軸方向に回転可能に構成されており、制御部23の制御下で、第1の周期で筐体11の下部に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、筐体11の下部に向けて送風する。   In the 1st ventilation part 15, high pressure air is supplied to the ventilation pipe 15a from the air supply part (not shown) through the ventilation adjustment part 21, and is ventilated in the housing | casing 11 from the ventilation nozzle 15b. The ventilation pipe 15a is configured to be rotatable in the axial direction through a swing mechanism (not shown), and is a predetermined centered on the direction facing the lower portion of the casing 11 in the first period under the control of the control unit 23. The air is blown toward the lower portion of the housing 11 while changing the air blowing direction within the angle range.

第1の送風部15は、埃試験に要求される送風の量・圧力に適した態様で、筐体11内での埃Dの流動を妨げないように構成される。第1の送風部15は、筐体11内での送風条件を調整するために、鉛直方向および/または水平方向に移動可能に構成されてもよい。   The 1st ventilation part 15 is the aspect suitable for the quantity and pressure of the ventilation | blower requested | required for a dust test, and is comprised so that the flow of the dust D in the housing | casing 11 may not be prevented. The first air blowing unit 15 may be configured to be movable in the vertical direction and / or the horizontal direction in order to adjust the air blowing conditions in the housing 11.

第2の送風部17は、第2の周期で電子機器30の通気口31に付着した埃Dを吹飛ばすために設けられる。第2の送風部17は、送風ノズルを含んで構成されてもよく、送風ファンを含んで構成されてもよい。第2の送風部17は、送風方向を変化するようにスイング動作可能に構成されることが好ましい。図示する例では、第2の送風部17は、配置台13の上方で筐体11の2つの側面に渡された1本の通風管17aと、通風管17aに吊り下げられた3つの送風ノズル17bにより構成されている。なお、図3から図5では、送風ノズル17bの配置が模式的に示されている。   The 2nd ventilation part 17 is provided in order to blow off the dust D adhering to the vent 31 of the electronic device 30 in the 2nd period. The 2nd ventilation part 17 may be comprised including the ventilation nozzle, and may be comprised including the ventilation fan. It is preferable that the 2nd ventilation part 17 is comprised so that swing operation | movement is possible so that a ventilation direction may be changed. In the example shown in the drawing, the second air blowing unit 17 includes one ventilation pipe 17a passed over two side surfaces of the housing 11 above the arrangement table 13, and three ventilation nozzles suspended from the ventilation pipe 17a. 17b. 3 to 5 schematically show the arrangement of the blower nozzles 17b.

第2の送風部17では、高圧エアがエア供給部(不図示)から送風調整部21を通じて通風管17aに供給され、送風ノズル17bから筐体11内に送風される。通風管17aは、スイング機構(不図示)を通じて軸方向に回転可能に構成されており、制御部23の制御下で、第2の周期で通気口31に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、通気口31に向けて送風する。   In the second blower unit 17, high-pressure air is supplied from the air supply unit (not shown) to the ventilation pipe 17 a through the blower adjustment unit 21 and blown into the housing 11 from the blower nozzle 17 b. The ventilation pipe 17a is configured to be rotatable in the axial direction through a swing mechanism (not shown), and has a predetermined angle centered on the direction facing the vent 31 in the second period under the control of the control unit 23. The air is blown toward the vent 31 while changing the blowing direction within the range.

第2の送風部17は、埃試験に要求される送風の量・圧力に適した態様で、筐体11内での埃Dの流動を妨げないように構成される。なお、第2の送風部17は、筐体11内での送風条件を調整するために、鉛直方向および/または水平方向に移動可能に構成されてもよい。また、第2の送風部17は、電子機器30の通気口31の位置に応じて、配置台13の上方に代えて下方に設けられてもよい。   The 2nd ventilation part 17 is comprised in the aspect suitable for the quantity and pressure of the ventilation requested | required for a dust test so that the flow of the dust D in the housing | casing 11 may not be prevented. The second air blowing unit 17 may be configured to be movable in the vertical direction and / or the horizontal direction in order to adjust the air blowing conditions in the housing 11. Further, the second air blowing unit 17 may be provided below instead of above the arrangement table 13 according to the position of the vent 31 of the electronic device 30.

ここで、第1および第2の送風部15、17は、長期間使用後の埃Dの付着状況を所定の試験期間で適切に再現するように、所定の周期・量・圧力・方向で送風する。送風の周期・量・圧力・方向は、各送風部15、17について、一定の値として設定されてもよく、複数の値の組合せとして設定されてもよい。また、第1の送風部15の各送風ノズル15b同士、または第1の送風部17の各送風ノズル17b同士で、異なる送風条件が調整されてもよい。   Here, the first and second air blowers 15 and 17 blow air at a predetermined cycle, amount, pressure, and direction so as to appropriately reproduce the adhesion state of the dust D after long-term use in a predetermined test period. To do. The air blowing period, amount, pressure, and direction may be set as a constant value or a combination of a plurality of values for each of the air blowing units 15 and 17. Different air blowing conditions may be adjusted between the air blowing nozzles 15b of the first air blowing unit 15 or between the air blowing nozzles 17b of the first air blowing unit 17.

第3の送風部19は、筐体11の下部から上部に向けて周期的に送風するために設けられる。第3の送風部19は、送風ファンを含んで構成されてもよく、送風ノズルを含んで構成されてもよい。図示する例では、第3の送風部19は、筐体11の底部材12の底面に送風ファンとして設けられているが、底部材12の傾斜面に設けられてもよい。なお、第3の送風部19は、必ずしも設けられなくてもよい。   The 3rd ventilation part 19 is provided in order to ventilate periodically toward the upper part from the lower part of the housing | casing 11. As shown in FIG. The 3rd ventilation part 19 may be comprised including a ventilation fan, and may be comprised including the ventilation nozzle. In the illustrated example, the third blower 19 is provided as a blower fan on the bottom surface of the bottom member 12 of the housing 11, but may be provided on an inclined surface of the bottom member 12. In addition, the 3rd ventilation part 19 does not necessarily need to be provided.

送風調整部21は、制御部23の制御下で、エア供給部(不図示)から第1および第2の送風部15、17(場合によっては第3の送風部19も含む。)への高圧エアの供給を調整する。送風調整部21は、高圧エアの供給量および供給圧力を調整することで、連続的、間欠的または風圧に緩急を付けて送風を行う。   The air supply adjustment unit 21 is under high pressure from the air supply unit (not shown) to the first and second air supply units 15 and 17 (including the third air supply unit 19 in some cases) under the control of the control unit 23. Adjust the air supply. The air supply adjusting unit 21 adjusts the supply amount and the supply pressure of the high-pressure air to perform air supply continuously, intermittently, or with a gentle and slow wind pressure.

制御部23は、第1から第3の送風部15、17、19、送風調整部21等、埃試験装置10全体を動作させるために必要な演算処理および制御処理を行う。制御部23は、回路等のハードウェアおよび/またはプログラム等のソフトウェアにより構成される。操作部24は、操作パネル、各種スイッチ等を含んで構成される。操作部24では、操作パネル、各種スイッチ等に対して、埃試験装置10を操作するためのユーザ指示が入力される。   The control unit 23 performs arithmetic processing and control processing necessary for operating the dust test apparatus 10 as a whole, such as the first to third air blowing units 15, 17, and 19, the air flow adjusting unit 21, and the like. The control unit 23 is configured by hardware such as a circuit and / or software such as a program. The operation unit 24 includes an operation panel, various switches, and the like. In the operation unit 24, a user instruction for operating the dust test apparatus 10 is input to an operation panel, various switches, and the like.

[3.埃試験装置10の動作]
つぎに、図6から図8を参照して、本発明の実施形態に係る埃試験装置10の動作について説明する。図6には、電子機器30の設置状況が正面図および側面図として示されており、図7および図8には、第1および第2の送風部15、17の動作が各々に示されている。なお、図7および図8中、実線の矢印は、第1および第2の送風部15、17の動作ならびに埃Dの動作を示し、破線の矢印は、送風の方向を示している。
[3. Operation of dust test apparatus 10]
Next, the operation of the dust test apparatus 10 according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 6 shows the installation status of the electronic device 30 as a front view and a side view, and FIGS. 7 and 8 show the operations of the first and second air blowing units 15 and 17 respectively. Yes. 7 and 8, solid arrows indicate the operations of the first and second blowers 15 and 17 and dust D, and broken arrows indicate the direction of blowing.

以下では、ノート型コンピュータ30(以下、ノートPC30とも称する。)を試験対象とする場合について説明する。なお、本実施形態に係る埃試験装置10および埃試験方法は、ノートPC30以外の電子機器30にも同様に適用されることはいうまでもない。   Hereinafter, a case where a notebook computer 30 (hereinafter also referred to as a notebook PC 30) is a test target will be described. Needless to say, the dust test apparatus 10 and the dust test method according to the present embodiment are similarly applied to the electronic device 30 other than the notebook PC 30.

埃試験の実施に際しては、筐体11の開閉扉25が開放された状態で、所定の材質・形状・量を伴う埃Dが筐体11内に封入される。封入された埃Dは、その一部分が筐体11内を浮遊し、他の部分が筐体11のすり鉢状の底部材12等、筐体11の下部に堆積することになる。   When performing the dust test, dust D having a predetermined material, shape, and amount is enclosed in the casing 11 with the open / close door 25 of the casing 11 being opened. Part of the encapsulated dust D floats inside the housing 11, and the other part accumulates in the lower part of the housing 11 such as the mortar-shaped bottom member 12 of the housing 11.

ここで、封入される埃Dの仕様は、実際の使用条件で同類型式や同一型式のノートPC30の吸気口31に付着した埃Dを分析した結果を用いて、長期間使用後の埃Dの付着状況を適切に再現することができるように適宜決定される。埃Dは、数mm程度の長さを有する綿、羊毛、コットンリンタ(綿から綿花を取り去った種子の根元に生えている短い繊維)等が単独または混合されて用いられる。   Here, the specification of the dust D to be enclosed is based on the result of analysis of the dust D adhering to the intake port 31 of the same type or the same type of notebook PC 30 under actual use conditions. It is determined as appropriate so that the adhesion state can be appropriately reproduced. As the dust D, cotton having a length of about several millimeters, wool, cotton linter (short fibers growing at the roots of seeds from which cotton is removed from cotton) or the like is used alone or in combination.

図6に示すように、埃試験の実施に際しては、開閉扉25が開放された状態で、底面にファン用の吸気口31が設けられたノートPC30が配置台13に配置される。ノートPC30は、本体部に対してパネル部を若干傾けた状態で、吸気口31が第2の送風部17の送風ノズル17bに対向するように配置される。ここで、ノートPC30の本体内部では、ファンが連続的または間欠的に動作していてもよく、ファンが停止していてもよい。なお、埃Dの封入とノートPC30の配置は、相前後して行われてもよい。   As shown in FIG. 6, when performing the dust test, the notebook PC 30 having the fan inlet 31 provided on the bottom surface is arranged on the arrangement table 13 with the door 25 being opened. The notebook PC 30 is arranged so that the air inlet 31 faces the air blowing nozzle 17 b of the second air blowing unit 17 in a state where the panel portion is slightly inclined with respect to the main body. Here, inside the main body of the notebook PC 30, the fan may be operating continuously or intermittently, and the fan may be stopped. In addition, enclosure of the dust D and arrangement | positioning of the notebook PC 30 may be performed in succession.

埃Dの封入および電子機器30の配置が完了すると、開閉扉25が密閉され、操作パネルを通じて試験条件(試験継続時間等)の設定および試験開始のユーザ指示が入力される。そして、埃試験が開始されると、第1から第3の送風部15、17、19が動作を開始する。   When the enclosure of the dust D and the arrangement of the electronic device 30 are completed, the open / close door 25 is sealed, and setting of test conditions (such as test duration) and a user instruction for starting the test are input through the operation panel. And if a dust test is started, the 1st-3rd ventilation parts 15, 17, and 19 will start operation | movement.

図7に示すように、第1の送風部15は、第1の周期で筐体11の下部に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、筐体11の下部に向けて送風する。これにより、筐体11の下部に堆積した埃Dは、筐体11の下部を掃流して上部に周期的に飛散する。また、第1の送風部15は、筐体11の底部材12のすり鉢面に向けて送風し、第3の送風部19は、筐体11の下部から上部に向けて周期的に送風する。これにより、すり鉢面に堆積した埃Dは、第2および第3の送風部17、19の送風により筐体11の上部に効果的に拡散して飛散する。   As shown in FIG. 7, the first air blowing unit 15 changes the air blowing direction within a predetermined angle range centering on the direction facing the lower part of the housing 11 in the first period, and lowers the lower part of the housing 11. Vent toward As a result, the dust D accumulated in the lower part of the casing 11 sweeps the lower part of the casing 11 and periodically scatters in the upper part. Moreover, the 1st ventilation part 15 ventilates toward the mortar surface of the bottom member 12 of the housing | casing 11, and the 3rd ventilation part 19 ventilates periodically toward the upper part from the lower part of the housing | casing 11. FIG. Thereby, the dust D deposited on the surface of the mortar is effectively diffused and scattered in the upper part of the housing 11 by the air blown by the second and third blowers 17 and 19.

そして、飛散した埃Dは、筐体11内を落下し、一部分がノートPC30の吸気口31に付着し、他の一部分が筐体11の下部に堆積し、他の一部分が筐体11内を浮遊中に送風により再び筐体11の上部に飛散する。これにより、実際の使用条件に近い状況で埃Dを吸気口31に付着させることができる。   Then, the scattered dust D falls in the housing 11, a part of the dust D adheres to the intake port 31 of the notebook PC 30, the other part accumulates in the lower part of the housing 11, and the other part in the housing 11. While floating, the air blows again to the upper part of the housing 11 by air blowing. Thereby, the dust D can be made to adhere to the inlet port 31 in a situation close to actual use conditions.

図8に示すように、第2の送風部17は、第2の周期で吸気口31に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、吸気口31に向けて送風する。これにより、吸気口31に詰まった埃Dは、吸気口31から周期的に吹飛ばされる。特に、吸気口31に対して異なる方向から送風することで、吸気口31に付着して詰まった埃Dを効果的に吹飛ばすことができる。   As shown in FIG. 8, the second air blowing unit 17 blows air toward the air inlet 31 while changing the air blowing direction within a predetermined angle range centering on the direction facing the air inlet 31 in the second period. To do. Thereby, the dust D clogged in the intake port 31 is periodically blown out from the intake port 31. In particular, by blowing air from a different direction with respect to the intake port 31, the dust D adhering to the intake port 31 and clogged can be effectively blown off.

そして、吹飛ばされた埃Dは、筐体11内を落下し、一部分が筐体11の下部に堆積し、他の一部分が筐体11内を浮遊中に送風により再び筐体11の上部に飛散する。これにより、吸気口31に一旦付着した埃Dが風圧や振動等の作用により剥離する状況を再現することで、実際の使用条件に近い状況で吸気口31の完全な詰まりを防ぐことができる。結果として、試験の継続が可能となり、長期間使用後の埃Dの付着状況を適切に再現することができる。   Then, the dust D blown off falls in the housing 11, a part of the dust D accumulates in the lower part of the housing 11, and the other part floats in the housing 11 and again returns to the upper part of the housing 11 by blowing air. Scatter. Thereby, by reproducing the situation where the dust D once attached to the intake port 31 is peeled off by the action of wind pressure, vibration, etc., it is possible to prevent the intake port 31 from being completely clogged in a situation close to actual use conditions. As a result, the test can be continued, and the state of adhesion of the dust D after long-term use can be appropriately reproduced.

試験継続時間が終了すると、第1から第3の送風部15、17、19が動作を停止する。埃Dの飛散状態がおさまると、開閉扉25が開放され、筐体11内からノートPC30が取り出される。そして、ノートPC30の吸気口31に対する埃Dの付着状況が確認される。   When the test duration time ends, the first to third air blowing units 15, 17, and 19 stop operating. When the dust D scatters, the open / close door 25 is opened, and the notebook PC 30 is taken out of the housing 11. And the adhesion state of the dust D with respect to the inlet 31 of notebook PC30 is confirmed.

[4.まとめ]
以上説明したように、本発明の実施形態に係る電子機器30の埃試験装置10および埃試験方法によれば、従来の埃試験装置10とは異なり、第1の周期で筐体11内に埃Dを飛散させるとともに、第1の周期より長い第2の周期で、通気口31に付着した埃Dが吹飛ばされる。これにより、通気口31に詰まった埃Dを周期的に吹飛ばすことで、試験開始後の早い段階で通気口31が完全に詰まることがなく、試験の継続が可能となるので、長期間使用後の埃Dの付着状況を適切に再現することができる。
[4. Summary]
As described above, according to the dust test apparatus 10 and the dust test method of the electronic device 30 according to the embodiment of the present invention, unlike the conventional dust test apparatus 10, dust is contained in the housing 11 at the first period. D is scattered and the dust D attached to the vent 31 is blown off in a second period longer than the first period. Accordingly, the dust D clogged in the vent 31 is periodically blown out so that the vent 31 is not completely clogged at an early stage after the start of the test, and the test can be continued. It is possible to appropriately reproduce the adhesion state of the later dust D.

以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。   The preferred embodiments of the present invention have been described in detail above with reference to the accompanying drawings, but the present invention is not limited to such examples. It is obvious that a person having ordinary knowledge in the technical field to which the present invention pertains can come up with various changes or modifications within the scope of the technical idea described in the claims. Of course, it is understood that these also belong to the technical scope of the present invention.

10 埃試験装置
11 筐体
13 配置台
15 第1の送風部
17 第2の送風部
19 第3の送風部
30 電子機器(ノートPC)
31 通気口(吸気口)
D 埃
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Dust test apparatus 11 Housing | casing 13 Arrangement | positioning stand 15 1st ventilation part 17 2nd ventilation part 19 3rd ventilation part 30 Electronic device (notebook PC)
31 Vent (intake)
D dust

Claims (10)

埃を封入するための筐体と、
前記筐体内に電子機器を配置するための配置台と、
第1の周期で前記筐体内に埃を飛散させるための第1の送風部と、
前記第1の周期より長い第2の周期で、前記電子機器の通気口に付着した埃を吹飛ばすための第2の送風部と
を備える、電子機器用埃試験装置。
A housing for enclosing dust,
An arrangement table for arranging electronic devices in the housing;
A first air blowing unit for scattering dust in the housing in a first period;
A dust test apparatus for an electronic device, comprising: a second air blowing unit for blowing off dust attached to the vent of the electronic device in a second cycle longer than the first cycle.
前記第2の送風部は、前記第2の周期で送風方向を変更しながら、前記通気口に向けて送風する、請求項1に記載の電子機器用埃試験装置。   The dust test apparatus for an electronic device according to claim 1, wherein the second blower blows air toward the vent hole while changing a blow direction in the second period. 前記第2の送風部は、前記通気口に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更する、請求項2に記載の電子機器用埃試験装置。   The electronic device dust test apparatus according to claim 2, wherein the second air blowing unit changes the air blowing direction within a predetermined angle range centering on a direction facing the vent. 前記第1の送風部は、前記第1の周期で送風方向を変更しながら、前記筐体の下部に向けて送風する、請求項1に記載の電子機器用埃試験装置。   2. The dust test apparatus for an electronic device according to claim 1, wherein the first blower blows air toward a lower portion of the housing while changing a blow direction in the first cycle. 前記第1の送風部は、前記筐体の下部に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更する、請求項4に記載の電子機器用埃試験装置。   The dust test apparatus for an electronic device according to claim 4, wherein the first air blowing unit changes the air blowing direction within a predetermined angle range centering on a direction facing the lower portion of the housing. 前記筐体の下部は、すり鉢状に形成される、請求項1に記載の電子機器用埃試験装置。   The dust testing apparatus for electronic equipment according to claim 1, wherein a lower part of the housing is formed in a mortar shape. 前記筐体の下部に配され、前記筐体の上部に向けて周期的に送風する第3の送風部をさらに備える、請求項1に記載の電子機器用埃試験装置。   The dust test apparatus for an electronic device according to claim 1, further comprising a third air blowing section that is arranged at a lower portion of the housing and periodically blows air toward an upper portion of the housing. 前記第2の送風部は、軸回りに回転可能な連通管と、前記連通管に取り付けられた送風ノズルからなる、請求項1に記載の電子機器用埃試験装置。   2. The dust test apparatus for an electronic device according to claim 1, wherein the second air blowing unit includes a communication pipe rotatable around an axis and a blower nozzle attached to the communication pipe. 前記第1の送風部は、軸回りに回転可能な連通管と、前記連通管に取り付けられた送風ノズルからなる、請求項1に記載の電子機器用埃試験装置。   2. The dust test apparatus for an electronic device according to claim 1, wherein the first blower unit includes a communication pipe rotatable around an axis and a blower nozzle attached to the communication pipe. 筐体内に埃を封入し、電子機器を配置するステップと、
第1の周期で前記筐体内に埃を飛散させるステップと、
前記第1の周期より長い第2の周期で、前記電子機器の通気口に付着した埃を吹飛ばすステップと
を含む、電子機器用埃試験方法。
Enclosing dust in a housing and arranging electronic devices;
Scattering dust in the housing in a first period;
Blowing off dust adhering to the vent of the electronic device in a second period longer than the first period.
JP2010129851A 2010-06-07 2010-06-07 Dust testing device and dust testing method for electronic apparatus Withdrawn JP2011257178A (en)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010129851A JP2011257178A (en) 2010-06-07 2010-06-07 Dust testing device and dust testing method for electronic apparatus
CN201110128116XA CN102288845A (en) 2010-06-07 2011-05-18 Dust test device and method for electronic device
TW100117593A TW201217769A (en) 2010-06-07 2011-05-19 Dust test apparatus and method for electronic instrument
BRPI1102198 BRPI1102198A2 (en) 2010-06-07 2011-05-30 apparatus and dust test method for an electronic instrument
RU2011121851/28A RU2011121851A (en) 2010-06-07 2011-05-30 DUST CAMERA AND METHOD FOR TESTING AN ELECTRONIC INSTRUMENT IN THE DUST CAMERA

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010129851A JP2011257178A (en) 2010-06-07 2010-06-07 Dust testing device and dust testing method for electronic apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011257178A true JP2011257178A (en) 2011-12-22

Family

ID=45335423

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010129851A Withdrawn JP2011257178A (en) 2010-06-07 2010-06-07 Dust testing device and dust testing method for electronic apparatus

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP2011257178A (en)
CN (1) CN102288845A (en)
BR (1) BRPI1102198A2 (en)
RU (1) RU2011121851A (en)
TW (1) TW201217769A (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2580103C2 (en) * 2014-09-03 2016-04-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Государственный университет-учебно-научно-производственный комплекс" (ФГБОУ ВПО "Госуниверситет-УНПК") Test rig for elements of industrial ventilation systems
KR101675469B1 (en) * 2016-03-24 2016-11-14 주식회사 코스메카코리아 Apparatus for making Dust environment artificially
KR20170038221A (en) * 2015-09-30 2017-04-07 (주)아모레퍼시픽 Method for evaluating anti-stickiness effect of cosmetic material
KR101737611B1 (en) * 2016-08-08 2017-05-19 주식회사 코스메카코리아 Analysis system of dust-blocking of cosmetics using Apparatus for making Dust environment artificially
KR20190005300A (en) * 2017-07-06 2019-01-16 코스맥스 주식회사 Method for evaluating anti-pollen cosmetic effect
WO2019212837A1 (en) * 2018-05-02 2019-11-07 Microsoft Technology Licensing, Llc Server testing applying controlled flow and temperature
RU2721590C1 (en) * 2016-08-24 2020-05-20 Фукс Петролуб Се Method and device for testing dust suppression systems

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08292239A (en) * 1995-04-20 1996-11-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method and apparatus for accelerated life test of electronic equipment
CN201003844Y (en) * 2007-01-27 2008-01-09 珠海格力电器股份有限公司 Air filtering and cleaning device for air conditioner
CN101685332B (en) * 2008-09-25 2013-04-24 索尼株式会社 Cooling apparatus, electronic apparatus, and blower apparatus
CN101408497B (en) * 2008-09-27 2011-10-19 黄美华 Automatic adjusting arm test stand powder dust environmental test apparatus for vehicle brake gap

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2580103C2 (en) * 2014-09-03 2016-04-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Государственный университет-учебно-научно-производственный комплекс" (ФГБОУ ВПО "Госуниверситет-УНПК") Test rig for elements of industrial ventilation systems
KR20170038221A (en) * 2015-09-30 2017-04-07 (주)아모레퍼시픽 Method for evaluating anti-stickiness effect of cosmetic material
KR102299278B1 (en) 2015-09-30 2021-09-08 (주)아모레퍼시픽 Method for evaluating anti-stickiness effect of cosmetic material
KR101675469B1 (en) * 2016-03-24 2016-11-14 주식회사 코스메카코리아 Apparatus for making Dust environment artificially
WO2017164457A1 (en) * 2016-03-24 2017-09-28 주식회사 코스메카코리아 Apparatus for creating artificial atmospheric environment containing fine dust, and system for analyzing fine dust blocking ability of cosmetics by using same
JP2018513958A (en) * 2016-03-24 2018-05-31 コスメッカコリア シーオー.、 エルティーディー. Artificial atmospheric environment composition device containing fine dust, and analysis system for fine dust blocking ability of cosmetics using the same
US10379060B2 (en) 2016-03-24 2019-08-13 Cosmecca Korea Co., Ltd. Apparatus for making artificial atmospheric environment including dust and analysis system for dust-blocking of cosmetics using the same
KR101737611B1 (en) * 2016-08-08 2017-05-19 주식회사 코스메카코리아 Analysis system of dust-blocking of cosmetics using Apparatus for making Dust environment artificially
RU2721590C9 (en) * 2016-08-24 2020-11-13 Фукс Петролуб Се Method and device for testing dust suppression systems
US11029239B2 (en) 2016-08-24 2021-06-08 Fuchs Petrolub Se Test apparatus and method for testing dust suppression systems
RU2721590C1 (en) * 2016-08-24 2020-05-20 Фукс Петролуб Се Method and device for testing dust suppression systems
KR20190005300A (en) * 2017-07-06 2019-01-16 코스맥스 주식회사 Method for evaluating anti-pollen cosmetic effect
KR102078061B1 (en) 2017-07-06 2020-02-19 코스맥스 주식회사 Method for evaluating anti-pollen cosmetic effect
WO2019212837A1 (en) * 2018-05-02 2019-11-07 Microsoft Technology Licensing, Llc Server testing applying controlled flow and temperature

Also Published As

Publication number Publication date
BRPI1102198A2 (en) 2012-10-30
CN102288845A (en) 2011-12-21
RU2011121851A (en) 2012-12-10
TW201217769A (en) 2012-05-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2011257178A (en) Dust testing device and dust testing method for electronic apparatus
CN204018302U (en) A kind of dust cleaning case for the dedusting of ammeter housing
WO2017177775A1 (en) Cpu margin temperature-based fan speed adjustment method for rack
CN108634580A (en) A kind of indoor design workbench
CN103217860A (en) Projector system with dustproof and dust-removal function
CN214871479U (en) Automatic detect bulky concrete temperature and humidity and linkage curing means
KR101308969B1 (en) Cooling controlling apparatus and its method of internet data center
CN204327597U (en) A kind of modularization FFU device
CN107396561A (en) A kind of antidetonation and the industrial computer for being easy to radiating
CN206310635U (en) Air conditioner outdoor unit mounting bracket
CN208637019U (en) A kind of computerized information instructional device facilitating remote control
CN208419108U (en) A kind of experimental laboratory air exhausting equipment variable air volume control system
CN206860552U (en) A kind of noise-damping ventilating machine and granary ventilation device
CN205392028U (en) Wall -hanging homogenization stock ground of intelligence is with dust fall dust removal spraying wind big gun
CN108621328B (en) Medical polymer particle drying and sieving device
CN204008643U (en) Chamber
CN205648300U (en) Electronic device and shell thereof
CN206848895U (en) Deashing device for main frame
CN209070435U (en) A kind of strong heat dissipation dedusting industry computer
KR101207416B1 (en) Test apparatus for Wind Turbine
CN207751261U (en) A kind of rubber seal processing drying device
CN203830024U (en) Constant temperature and humidity testing machine
CN205324285U (en) Circuit board dust extraction
CN205783363U (en) Table top type Household Air Purifier
CN110221639A (en) Central machine room temperature and humidity control device and method

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20130903