JP2011257178A - Dust testing device and dust testing method for electronic apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電子機器用の埃試験装置および埃試験方法に関する。 The present invention relates to a dust test apparatus and a dust test method for electronic equipment.
パーソナルコンピュータ等の電子機器は、実際の使用条件下で多量の埃に曝されている。そして、電子機器に設けられた吸気口や排気口等の通気口に埃が詰まると、電子機器本来の放熱・冷却機能が低下し、電子機器の動作に支障を来たしてしまう場合がある。このため、電子機器の開発工程等では、通常、実際の使用条件下での電子機器の動作状況が埃試験装置を用いて確認される。 Electronic devices such as personal computers are exposed to a large amount of dust under actual use conditions. If dust is clogged in a ventilation port such as an air inlet or an exhaust port provided in the electronic device, the original heat dissipation / cooling function of the electronic device may be deteriorated, which may hinder the operation of the electronic device. For this reason, in the development process of an electronic device or the like, usually, the operation state of the electronic device under actual use conditions is confirmed using a dust test apparatus.
埃試験では、下記特許文献1に記載されるように、埃を封入された筐体内に電子機器を配置し、筐体内に埃を飛散させ、電子機器の通気口に対する埃の付着状況が観察される。ここで、埃試験では、長期間使用後の埃の付着状況を短い試験期間で適切に再現するために、埃の材質・形状・量、送風の量・圧力・方向等が適宜調節される。埃試験では、例えば1年間または2年間使用後の埃の付着状況が2時間または4時間程度の試験期間で各々に再現される。 In the dust test, as described in Patent Document 1 below, an electronic device is placed in a case in which dust is sealed, the dust is scattered in the case, and the state of dust adhesion to the vent of the electronic device is observed. The Here, in the dust test, the dust material / shape / amount, the amount / pressure / direction, etc. of the dust are appropriately adjusted in order to appropriately reproduce the dust adhesion after a long period of use in a short test period. In the dust test, for example, the state of dust adhesion after 1 year or 2 years of use is reproduced in a test period of about 2 hours or 4 hours.
しかし、筐体内に埃を飛散させるのみでは、試験開始後の早い段階で通気口が完全に詰まってしまい試験の継続が困難となり、長期間使用後の埃の付着状況を適切に再現することができない場合があった。 However, if dust is only scattered in the housing, the vents will be completely clogged at an early stage after the start of the test, making it difficult to continue the test. There were cases where it was not possible.
そこで、本発明は、長期間使用した電子機器における埃の付着状況を適切に再現可能な、電子機器用の埃試験装置および埃試験方法を提供しようとするものである。 Therefore, the present invention is intended to provide a dust testing apparatus and a dust testing method for electronic equipment that can appropriately reproduce the state of dust adhesion in electronic equipment that has been used for a long time.
本発明のある観点によれば、埃を封入するための筐体と、筐体内に電子機器を配置するための配置台と、第1の周期で筐体内に埃を飛散させるための第1の送風部と、第1の周期より長い第2の周期で、電子機器の通気口に付着した埃を吹飛ばすための第2の送風部とを備える、電子機器用埃試験装置が提供される。 According to an aspect of the present invention, a housing for enclosing dust, an arrangement table for arranging an electronic device in the housing, and a first for scattering dust in the housing at a first period There is provided a dust test apparatus for an electronic device, comprising: a blower unit; and a second blower unit for blowing off dust attached to a vent of the electronic device in a second cycle longer than the first cycle.
上記第2の送風部は、第2の周期で送風方向を変更しながら、通気口に向けて送風してもよい。 The second air blowing unit may blow air toward the vent hole while changing the air blowing direction in the second period.
上記第2の送風部は、通気口に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更してもよい。 The second air blowing section may change the air blowing direction within a predetermined angle range centering on the direction facing the vent.
上記第1の送風部は、第1の周期で送風方向を変更しながら、筐体の下部に向けて送風してもよい。 The first air blowing section may blow air toward the lower portion of the housing while changing the air blowing direction in the first cycle.
上記第1の送風部は、筐体の下部に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更してもよい。 The first air blowing section may change the air blowing direction within a predetermined angle range centering on a direction facing the lower portion of the housing.
上記筐体の下部は、すり鉢状に形成されてもよい。 The lower part of the housing may be formed in a mortar shape.
上記筐体の下部に配され、筐体の上部に向けて周期的に送風する第3の送風部をさらに備えてもよい。 You may further provide the 3rd ventilation part distribute | arranged to the lower part of the said housing | casing, and ventilates periodically toward the upper part of a housing | casing.
上記第2の送風部は、軸回りに回転可能な連通管と、連通管に取り付けられた送風ノズルからなってもよい。 The second air blowing section may include a communication pipe that can rotate around an axis and a blow nozzle that is attached to the communication pipe.
上記第1の送風部は、軸回りに回転可能な連通管と、連通管に取り付けられた送風ノズルからなってもよい。 The first air blowing section may include a communication pipe that can rotate around an axis and a blow nozzle that is attached to the communication pipe.
また、本発明の別の観点によれば、筐体内に埃を封入し、電子機器を配置するステップと、第1の周期で筐体内に埃を飛散させるステップと、第1の周期より長い第2の周期で、電子機器の通気口に付着した埃を吹飛ばすステップとを含む、電子機器用埃試験方法が提供される。 Further, according to another aspect of the present invention, the step of enclosing dust in the housing and disposing the electronic device, the step of scattering the dust in the housing in the first cycle, and a step longer than the first cycle A dust test method for an electronic device, the method including blowing off dust attached to a vent of the electronic device at a period of 2.
以上説明したように本発明によれば、長期間使用した電子機器における埃の付着状況を適切に再現可能な、電子機器用の埃試験装置および埃試験方法を提供することができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to provide a dust test apparatus and a dust test method for an electronic device that can appropriately reproduce the state of dust adhesion in an electronic device that has been used for a long time.
以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。 Exemplary embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. In addition, in this specification and drawing, about the component which has the substantially same function structure, duplication description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol.
[1.埃試験装置および埃試験方法の概要]
まず、図1および図2を参照して、本発明の実施形態に係る電子機器30の埃試験装置10および埃試験方法の概要について説明する。図1には、埃試験装置10の概要が示され、図2には、埃試験方法の手順が示されている。
[1. Outline of dust test apparatus and dust test method]
First, with reference to FIG. 1 and FIG. 2, the outline | summary of the
図1に示すように、埃試験装置10は、埃Dを封入するための筐体11と、筐体11内に電子機器30を配置するための配置台13と、筐体11内に埃Dを飛散させるための第1の送風部15と、電子機器30の通気口31に付着した埃Dを吹飛ばすための第2の送風部17を備えている。なお、図1中、実線の矢印は、第1および第2の送風部15、17の動作ならびに埃Dの動作を示し、破線の矢印は、送風の方向を示している。また、図1には、通気孔31を含む筐体11内の埃Dの一部が示されている。
As shown in FIG. 1, the
本実施形態に係る埃試験装置10では、従来の埃試験装置10とは異なり、第1の周期で筐体11内に埃Dを飛散させるとともに、第1の周期より長い第2の周期で、通気口31に付着した埃Dが吹飛ばされる。ここで、第1および第2の送風部15、17は、例えば、軸回りに回転可能な連通管15a、17aと、連通管15a、17aに取り付けられた送風ノズル15b、17bからなる(図3等参照)。
In the
これにより、通気口31に詰まった埃Dを周期的に吹飛ばすことで、試験開始後の早い段階で通気口31が完全に詰まることがなく、試験の継続が可能となるので、長期間使用後の埃Dの付着状況を適切に再現することができる。
Accordingly, the dust D clogged in the
第1の送風部15は、例えば、第1の周期で筐体11の下部に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、筐体11の下部に向けて送風することが好ましい。これにより、筐体11の下部に堆積した埃Dを筐体11の上部に周期的に飛散させることで、実際の使用条件に近い状況で埃Dを通気口31に付着させることができる。
For example, the
第2の送風部17は、例えば、第2の周期で通気口31に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、通気口31に向けて送風することが好ましい。これにより、通気口31に詰まった埃Dを周期的に吹飛ばすことで、実際の使用条件に近い状況で通気口31の完全な詰まりを防ぐことができる。これは、通気口31に一旦付着した埃Dが風圧や振動等の作用により剥離する挙動を再現することになる。
It is preferable that the
筐体11の下部(底部材12)は、すり鉢状に形成されることが好ましい。また、筐体11の下部には、筐体11の上部に向けて周期的に送風する第3の送風部19が配されることが好ましい。これにより、筐体11の下部のすり鉢面に向けて送風したり、筐体11の下部から上部に向けて送風したりすることで、筐体11の下部に堆積した埃Dを筐体11の上部に効果的に拡散して飛散させることができる。
The lower portion (bottom member 12) of the
図2に示すように、埃試験は、筐体11内に埃Dを封入し、電子機器30を配置するステップS11と、第1の周期で筐体11内に埃Dを飛散させるステップS13と、第1の周期より長い第2の周期で、電子機器30の通気口31に付着した埃Dを吹飛ばすステップS15を含んでいる。ステップS13、S15は、試験継続時間が経過するまで繰返される(S17)。なお、試験継続時間の経過は、ステップS13とステップS15の間で判定されてもよい。
As shown in FIG. 2, the dust test includes a step S11 in which the dust D is enclosed in the
埃Dを飛散させるステップS13では、例えば、第1の周期で筐体11の下部に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、筐体11の下部に向けて送風することが好ましい。また、埃Dを吹飛ばすステップS15では、例えば、第2の周期で通気口31に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、通気口31に向けて送風することが好ましい。
In step S13 in which dust D is scattered, for example, air is blown toward the lower portion of the
[2.埃試験装置10の構成]
つぎに、図3から図5を参照して、本発明の実施形態に係る電子機器30埃試験装置10の構成について説明する。図3、図4および図5には、埃試験装置10の前面図、側面図および平面図(図5では、後述する制御部23の記載が省略されている。)が各々に示されている。なお、図3から図5では、電子機器30がイメージとして示されている。
[2. Configuration of Dust Test Device 10]
Next, the configuration of the
図3から図5に示すように、埃試験装置10は、筐体11、配置台13、第1の送風部15、第2の送風部17、第3の送風部19、送風調整部21、制御部23および操作部24を備えている。なお、埃試験装置10には、環境条件の変化に応じた埃Dの付着状況の変化を再現するために、筐体11内の温度や湿度を制御するための機構が設けられてもよい。
As shown in FIGS. 3 to 5, the
筐体11は、埃Dを封入するための外装として設けられる。筐体11は、フレーム部材11aと透明または半透明のカバー部材11bを用いて箱状、筒状等に形成される。
The
筐体11の一側面には、フレーム部材25a、カバー部材25b、開閉ロック25cからなる開閉扉25が設けられる。開閉扉25は、電子機器30の配置時や埃試験装置10の保守点検時に開放され、埃試験の実施時に密閉される。筐体11の下部には、すり鉢状の底部材12が設けられる。底部材12は、錘頂部を取除いて形成されてもよく、錘頂部を伴って形成されてもよい。筐体11は、フレーム状の支持構造27を介して床面等に設置される。支持構造27には、埃試験装置10を据付えるために、可動輪およびストッパからなる据付部材29が設けられている。
An opening / closing
配置台13は、筐体11内に電子機器30を配置するために設けられる。配置台13は、電子機器30を載置するように構成されてもよく、電子機器30を吊り下げるように構成されてもよい。図示する例では、配置台13は、筐体11の中程の高さで筐体11の4つの側面に井桁状に渡された4本の桁部材により構成されている。配置台13は、配置する電子機器30の寸法・重量等に適した態様で、筐体11内での埃Dの流動を妨げないように構成される。なお、配置台13は、電子機器30の配置を調整するために、鉛直方向および/または水平方向に移動可能に構成されてもよい。
The placement table 13 is provided for placing the
第1の送風部15は、第1の周期で筐体11内に埃Dを飛散させるために設けられる。第1の送風部15は、送風ノズルを含んで構成されてもよく、送風ファンを含んで構成されてもよい。第1の送風部15は、送風方向を変化するようにスイング動作可能に構成されることが好ましい。図示する例では、第1の送風部15は、筐体11の底部材12の直上の高さで筐体11の4つの側面に井桁状に渡された4本の通風管15aと、各通風管15aに3つずつ吊り下げられた送風ノズル15bにより構成されている。なお、図3から図5では、送風ノズル15bの配置が模式的に示されている。
The
第1の送風部15では、高圧エアがエア供給部(不図示)から送風調整部21を通じて通風管15aに供給され、送風ノズル15bから筐体11内に送風される。通風管15aは、スイング機構(不図示)を通じて軸方向に回転可能に構成されており、制御部23の制御下で、第1の周期で筐体11の下部に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、筐体11の下部に向けて送風する。
In the
第1の送風部15は、埃試験に要求される送風の量・圧力に適した態様で、筐体11内での埃Dの流動を妨げないように構成される。第1の送風部15は、筐体11内での送風条件を調整するために、鉛直方向および/または水平方向に移動可能に構成されてもよい。
The
第2の送風部17は、第2の周期で電子機器30の通気口31に付着した埃Dを吹飛ばすために設けられる。第2の送風部17は、送風ノズルを含んで構成されてもよく、送風ファンを含んで構成されてもよい。第2の送風部17は、送風方向を変化するようにスイング動作可能に構成されることが好ましい。図示する例では、第2の送風部17は、配置台13の上方で筐体11の2つの側面に渡された1本の通風管17aと、通風管17aに吊り下げられた3つの送風ノズル17bにより構成されている。なお、図3から図5では、送風ノズル17bの配置が模式的に示されている。
The
第2の送風部17では、高圧エアがエア供給部(不図示)から送風調整部21を通じて通風管17aに供給され、送風ノズル17bから筐体11内に送風される。通風管17aは、スイング機構(不図示)を通じて軸方向に回転可能に構成されており、制御部23の制御下で、第2の周期で通気口31に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、通気口31に向けて送風する。
In the
第2の送風部17は、埃試験に要求される送風の量・圧力に適した態様で、筐体11内での埃Dの流動を妨げないように構成される。なお、第2の送風部17は、筐体11内での送風条件を調整するために、鉛直方向および/または水平方向に移動可能に構成されてもよい。また、第2の送風部17は、電子機器30の通気口31の位置に応じて、配置台13の上方に代えて下方に設けられてもよい。
The
ここで、第1および第2の送風部15、17は、長期間使用後の埃Dの付着状況を所定の試験期間で適切に再現するように、所定の周期・量・圧力・方向で送風する。送風の周期・量・圧力・方向は、各送風部15、17について、一定の値として設定されてもよく、複数の値の組合せとして設定されてもよい。また、第1の送風部15の各送風ノズル15b同士、または第1の送風部17の各送風ノズル17b同士で、異なる送風条件が調整されてもよい。
Here, the first and
第3の送風部19は、筐体11の下部から上部に向けて周期的に送風するために設けられる。第3の送風部19は、送風ファンを含んで構成されてもよく、送風ノズルを含んで構成されてもよい。図示する例では、第3の送風部19は、筐体11の底部材12の底面に送風ファンとして設けられているが、底部材12の傾斜面に設けられてもよい。なお、第3の送風部19は、必ずしも設けられなくてもよい。
The
送風調整部21は、制御部23の制御下で、エア供給部(不図示)から第1および第2の送風部15、17(場合によっては第3の送風部19も含む。)への高圧エアの供給を調整する。送風調整部21は、高圧エアの供給量および供給圧力を調整することで、連続的、間欠的または風圧に緩急を付けて送風を行う。
The air
制御部23は、第1から第3の送風部15、17、19、送風調整部21等、埃試験装置10全体を動作させるために必要な演算処理および制御処理を行う。制御部23は、回路等のハードウェアおよび/またはプログラム等のソフトウェアにより構成される。操作部24は、操作パネル、各種スイッチ等を含んで構成される。操作部24では、操作パネル、各種スイッチ等に対して、埃試験装置10を操作するためのユーザ指示が入力される。
The
[3.埃試験装置10の動作]
つぎに、図6から図8を参照して、本発明の実施形態に係る埃試験装置10の動作について説明する。図6には、電子機器30の設置状況が正面図および側面図として示されており、図7および図8には、第1および第2の送風部15、17の動作が各々に示されている。なお、図7および図8中、実線の矢印は、第1および第2の送風部15、17の動作ならびに埃Dの動作を示し、破線の矢印は、送風の方向を示している。
[3. Operation of dust test apparatus 10]
Next, the operation of the
以下では、ノート型コンピュータ30(以下、ノートPC30とも称する。)を試験対象とする場合について説明する。なお、本実施形態に係る埃試験装置10および埃試験方法は、ノートPC30以外の電子機器30にも同様に適用されることはいうまでもない。
Hereinafter, a case where a notebook computer 30 (hereinafter also referred to as a notebook PC 30) is a test target will be described. Needless to say, the
埃試験の実施に際しては、筐体11の開閉扉25が開放された状態で、所定の材質・形状・量を伴う埃Dが筐体11内に封入される。封入された埃Dは、その一部分が筐体11内を浮遊し、他の部分が筐体11のすり鉢状の底部材12等、筐体11の下部に堆積することになる。
When performing the dust test, dust D having a predetermined material, shape, and amount is enclosed in the
ここで、封入される埃Dの仕様は、実際の使用条件で同類型式や同一型式のノートPC30の吸気口31に付着した埃Dを分析した結果を用いて、長期間使用後の埃Dの付着状況を適切に再現することができるように適宜決定される。埃Dは、数mm程度の長さを有する綿、羊毛、コットンリンタ(綿から綿花を取り去った種子の根元に生えている短い繊維)等が単独または混合されて用いられる。
Here, the specification of the dust D to be enclosed is based on the result of analysis of the dust D adhering to the
図6に示すように、埃試験の実施に際しては、開閉扉25が開放された状態で、底面にファン用の吸気口31が設けられたノートPC30が配置台13に配置される。ノートPC30は、本体部に対してパネル部を若干傾けた状態で、吸気口31が第2の送風部17の送風ノズル17bに対向するように配置される。ここで、ノートPC30の本体内部では、ファンが連続的または間欠的に動作していてもよく、ファンが停止していてもよい。なお、埃Dの封入とノートPC30の配置は、相前後して行われてもよい。
As shown in FIG. 6, when performing the dust test, the
埃Dの封入および電子機器30の配置が完了すると、開閉扉25が密閉され、操作パネルを通じて試験条件(試験継続時間等)の設定および試験開始のユーザ指示が入力される。そして、埃試験が開始されると、第1から第3の送風部15、17、19が動作を開始する。
When the enclosure of the dust D and the arrangement of the
図7に示すように、第1の送風部15は、第1の周期で筐体11の下部に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、筐体11の下部に向けて送風する。これにより、筐体11の下部に堆積した埃Dは、筐体11の下部を掃流して上部に周期的に飛散する。また、第1の送風部15は、筐体11の底部材12のすり鉢面に向けて送風し、第3の送風部19は、筐体11の下部から上部に向けて周期的に送風する。これにより、すり鉢面に堆積した埃Dは、第2および第3の送風部17、19の送風により筐体11の上部に効果的に拡散して飛散する。
As shown in FIG. 7, the first
そして、飛散した埃Dは、筐体11内を落下し、一部分がノートPC30の吸気口31に付着し、他の一部分が筐体11の下部に堆積し、他の一部分が筐体11内を浮遊中に送風により再び筐体11の上部に飛散する。これにより、実際の使用条件に近い状況で埃Dを吸気口31に付着させることができる。
Then, the scattered dust D falls in the
図8に示すように、第2の送風部17は、第2の周期で吸気口31に対面する方向を中心とする所定の角度範囲で送風方向を変更しながら、吸気口31に向けて送風する。これにより、吸気口31に詰まった埃Dは、吸気口31から周期的に吹飛ばされる。特に、吸気口31に対して異なる方向から送風することで、吸気口31に付着して詰まった埃Dを効果的に吹飛ばすことができる。
As shown in FIG. 8, the second
そして、吹飛ばされた埃Dは、筐体11内を落下し、一部分が筐体11の下部に堆積し、他の一部分が筐体11内を浮遊中に送風により再び筐体11の上部に飛散する。これにより、吸気口31に一旦付着した埃Dが風圧や振動等の作用により剥離する状況を再現することで、実際の使用条件に近い状況で吸気口31の完全な詰まりを防ぐことができる。結果として、試験の継続が可能となり、長期間使用後の埃Dの付着状況を適切に再現することができる。
Then, the dust D blown off falls in the
試験継続時間が終了すると、第1から第3の送風部15、17、19が動作を停止する。埃Dの飛散状態がおさまると、開閉扉25が開放され、筐体11内からノートPC30が取り出される。そして、ノートPC30の吸気口31に対する埃Dの付着状況が確認される。
When the test duration time ends, the first to third
[4.まとめ]
以上説明したように、本発明の実施形態に係る電子機器30の埃試験装置10および埃試験方法によれば、従来の埃試験装置10とは異なり、第1の周期で筐体11内に埃Dを飛散させるとともに、第1の周期より長い第2の周期で、通気口31に付着した埃Dが吹飛ばされる。これにより、通気口31に詰まった埃Dを周期的に吹飛ばすことで、試験開始後の早い段階で通気口31が完全に詰まることがなく、試験の継続が可能となるので、長期間使用後の埃Dの付着状況を適切に再現することができる。
[4. Summary]
As described above, according to the
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。 The preferred embodiments of the present invention have been described in detail above with reference to the accompanying drawings, but the present invention is not limited to such examples. It is obvious that a person having ordinary knowledge in the technical field to which the present invention pertains can come up with various changes or modifications within the scope of the technical idea described in the claims. Of course, it is understood that these also belong to the technical scope of the present invention.
10 埃試験装置
11 筐体
13 配置台
15 第1の送風部
17 第2の送風部
19 第3の送風部
30 電子機器(ノートPC)
31 通気口(吸気口)
D 埃
DESCRIPTION OF
31 Vent (intake)
D dust
Claims (10)
前記筐体内に電子機器を配置するための配置台と、
第1の周期で前記筐体内に埃を飛散させるための第1の送風部と、
前記第1の周期より長い第2の周期で、前記電子機器の通気口に付着した埃を吹飛ばすための第2の送風部と
を備える、電子機器用埃試験装置。 A housing for enclosing dust,
An arrangement table for arranging electronic devices in the housing;
A first air blowing unit for scattering dust in the housing in a first period;
A dust test apparatus for an electronic device, comprising: a second air blowing unit for blowing off dust attached to the vent of the electronic device in a second cycle longer than the first cycle.
第1の周期で前記筐体内に埃を飛散させるステップと、
前記第1の周期より長い第2の周期で、前記電子機器の通気口に付着した埃を吹飛ばすステップと
を含む、電子機器用埃試験方法。
Enclosing dust in a housing and arranging electronic devices;
Scattering dust in the housing in a first period;
Blowing off dust adhering to the vent of the electronic device in a second period longer than the first period.
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