JP2011232928A - Input device and display device provided with the same - Google Patents

Input device and display device provided with the same Download PDF

Info

Publication number
JP2011232928A
JP2011232928A JP2010102064A JP2010102064A JP2011232928A JP 2011232928 A JP2011232928 A JP 2011232928A JP 2010102064 A JP2010102064 A JP 2010102064A JP 2010102064 A JP2010102064 A JP 2010102064A JP 2011232928 A JP2011232928 A JP 2011232928A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detection electrode
input device
capacitance
electrode pattern
detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010102064A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5495924B2 (en
Inventor
Akinori Sato
昭典 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP2010102064A priority Critical patent/JP5495924B2/en
Publication of JP2011232928A publication Critical patent/JP2011232928A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5495924B2 publication Critical patent/JP5495924B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Position Input By Displaying (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an input device capable of reducing the occurrence of ghosting, and a display device provided with the same.SOLUTION: An input device 1 comprises: a substrate 10; detection electrode patterns 20 provided on the substrate 10 having multiple detection electrodes 21 and connection portions 22 which electrically connect the adjacent detection electrodes 21 to each other; wiring conductors 30 which are electrically connected to one end 20of the detection electrode patterns 20 and are provided on the substrate 10; and a driver 40 which includes a capacity measurement portion 42 for measuring capacity generated in the detection electrodes 21 and a coordinate calculation portion 43 for calculating an input coordinate based on the capacity measured by the capacity measurement portion 42 and is electrically connected to the wiring conductors 30. The area of each of the multiple detection electrodes becomes smaller gradually from the one end 20of the detection electrode patterns to the other end 20of the detection electrode patterns in a planar view.

Description

本発明は、使用者が入力操作した箇所を入力位置として検出する入力装置、およびこれを備えた表示装置に関する。   The present invention relates to an input device that detects a position where a user performs an input operation as an input position, and a display device including the same.

従来、静電容量方式のタッチパネルに代表される入力装置では、検出電極パターンごとに検出電極に生じる容量を測定する、いわゆるラインスキャン方式が採用されている(例えば、特許文献1参照)。   Conventionally, an input device represented by a capacitive touch panel employs a so-called line scan method for measuring a capacitance generated in a detection electrode for each detection electrode pattern (see, for example, Patent Document 1).

特開平8−179871号公報Japanese Patent Laid-Open No. 8-179871

しかしながら、ラインスキャン方式を採用する入力装置では、指もしくはペンなどの導体が複数の個所に同時に近接もしくは接触(いわゆるマルチタッチ)すると、入力座標の位置が定まらず、違う位置に接触したものと誤検出される、いわゆるゴーストと呼ばれる問題が発生する。   However, in an input device that employs a line scan method, if a conductor such as a finger or pen approaches or touches multiple locations at the same time (so-called multi-touch), the position of the input coordinates cannot be determined, and it is mistaken that the input touches a different position. A problem called so-called ghost occurs.

本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、ゴーストの発生を低減させることである。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to reduce the occurrence of ghosts.

本発明の入力装置は、基体と、複数の検出電極および隣り合う前記検出電極を電気的に接続する接続部を有し、かつ前記基体上に設けられた検出電極パターンと、前記検出電極パターンの一端部と電気的に接続され、かつ前記基体上に設けられた配線導体と、前記検出電極に生じる容量を測定する容量測定部および前記容量測定部により測定された容量に基づいて入力座標を演算する座標演算部を有し、かつ前記配線導体と電気的に接続されたドライバと、を備え、平面視において、複数の前記検出電極それぞれの面積は、前記検出電極パターンの前記一端部から前記検出電極パターンの他端部にかけて順次小さくなっている。   The input device of the present invention includes a base, a plurality of detection electrodes and a connection portion that electrically connects the adjacent detection electrodes, and a detection electrode pattern provided on the base, and the detection electrode pattern An input coordinate is calculated based on a wiring conductor that is electrically connected to one end and provided on the substrate, a capacitance measuring unit that measures a capacitance generated in the detection electrode, and a capacitance measured by the capacitance measuring unit. A driver that is electrically connected to the wiring conductor, and in plan view, the area of each of the plurality of detection electrodes is detected from the one end of the detection electrode pattern. The size gradually decreases toward the other end of the electrode pattern.

本発明の入力装置は、ゴーストの発生を低減させることができる。   The input device of the present invention can reduce the occurrence of ghosts.

本発明の第1の実施形態における入力装置の一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the input device in the 1st Embodiment of this invention. 図1中に示したR部分を拡大した図である。It is the figure which expanded R part shown in FIG. (a)は図1のI−Iに沿った断面図である。(b)は図1のII−IIに沿った断面図である。(A) is sectional drawing which followed II of FIG. (B) is sectional drawing which followed II-II of FIG. 図1の入力装置を示す等価回路図である。FIG. 2 is an equivalent circuit diagram illustrating the input device of FIG. 1. 図1の入力装置の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the input device of FIG. 従来の入力装置において、使用者が導体を入力領域に近接もしくは接触させた場合に測定される容量の大きさを示す図である。In the conventional input device, it is a figure which shows the magnitude | size of the capacity | capacitance measured when a user brings a conductor close to or in contact with an input region. 図1の入力装置において、使用者が導体を入力領域に近接もしくは接触させた場合に測定される容量の大きさを示す図である。In the input device of FIG. 1, it is a figure which shows the magnitude | size of the capacity | capacitance measured when a user brings a conductor close to or in contact with an input region. 図1の入力装置において、使用者が導体を入力領域に近接もしくは接触させた場合に測定される容量の大きさを示す図である。In the input device of FIG. 1, it is a figure which shows the magnitude | size of the capacity | capacitance measured when a user brings a conductor close to or in contact with an input region. 図1の入力装置を備えた表示装置を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the display apparatus provided with the input device of FIG. 本発明の第2の実施形態における入力装置の一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the input device in the 2nd Embodiment of this invention. 図10中に示したR1部分を拡大した図である。It is the figure which expanded R1 part shown in FIG. 図10の入力装置の変形例であって、検出電極を示す拡大平面図である。FIG. 11 is a modified example of the input device in FIG. 10, and is an enlarged plan view showing detection electrodes. 本発明の第3の実施形態における入力装置の一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the input device in the 3rd Embodiment of this invention. 図13の入力装置の要部を示す拡大平面図である。It is an enlarged plan view which shows the principal part of the input device of FIG.

[実施の形態1]
まず、本発明の第1の実施形態における入力装置1について、図1〜図8を参照しながら説明する。ここで、入力装置1は、静電容量方式のタッチパネルである。また、入力装置1では、入力座標を演算するにあたり、いわゆるラインスキャン方式を採用している。
[Embodiment 1]
First, an input device 1 according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. Here, the input device 1 is a capacitive touch panel. Further, the input device 1 employs a so-called line scan method when calculating input coordinates.

入力装置1は、図1に示すように、使用者が指もしくはペンなどの導体を近接もしくは接触することで情報を入力するための入力領域Eと、入力領域Eの外側に位置する非入力領域Eとを有している。また、非入力領域Eは、フレキシブルプリント基板Fと電気的に接続される外部導通領域Eを有している。 As shown in FIG. 1, the input device 1 includes an input area E I for inputting information by a user approaching or touching a conductor such as a finger or a pen, and a non-input area E I located outside the input area E I. And an input area EO . The non-input region E O has an external conduction region E G connected flexible printed circuit board F and electrically.

入力装置1は、基体10と、検出電極パターン20と、配線導体30と、ドライバ40とを備えている。   The input device 1 includes a base body 10, a detection electrode pattern 20, a wiring conductor 30, and a driver 40.

基体10は、検出電極パターン20および配線導体30を支持する役割を有する。基体10は、第1主面10aと、該第1主面10aとは反対側に位置する第2主面10bとを有している。ここで、入力領域Eに対応する基体10の第2主面10bは、使用者が指もしくはペンなどの導体(以下、単に「導体」と称する)で近接もしくは直接接触する面となる。図1に示すように、基体10の平面視形状は例えば矩形状をしているが、これに
は限られず、任意である。基体10の材料としては、絶縁性および透光性を有するものが挙げられ、例えば、ガラスおよびプラスチックなどである。ここで、透光性とは、可視光に対する透過性を有することを意味する。
The substrate 10 has a role of supporting the detection electrode pattern 20 and the wiring conductor 30. The base 10 has a first main surface 10a and a second main surface 10b located on the opposite side of the first main surface 10a. Here, the second main surface 10b of the base 10 corresponding to the input area E I is a surface that the user approaches or directly contacts with a conductor such as a finger or a pen (hereinafter simply referred to as “conductor”). As shown in FIG. 1, the planar view shape of the base body 10 is, for example, a rectangular shape, but is not limited thereto and is arbitrary. Examples of the material of the base 10 include insulating and translucent materials, such as glass and plastic. Here, translucency means having transparency to visible light.

検出電極パターン20は、複数の検出電極21と、複数の接続部22とを有している。検出電極パターン20は、入力領域Eに対応する基体10の第1主面10aに設けられており、X方向およびY方向に沿って配列している。以下では、X方向の入力座標を検出する検出電極パターン20を「X検出電極パターン20X」とし、Y方向の入力座標を検出する検出電極パターン20を「Y検出電極パターン20Y」とする。 The detection electrode pattern 20 includes a plurality of detection electrodes 21 and a plurality of connection portions 22. Detection electrode pattern 20 is provided on the first major surface 10a of the substrate 10 corresponding to the input region E I, it is arranged along the X and Y directions. Hereinafter, the detection electrode pattern 20 that detects input coordinates in the X direction is referred to as “X detection electrode pattern 20X”, and the detection electrode pattern 20 that detects input coordinates in the Y direction is referred to as “Y detection electrode pattern 20Y”.

検出電極パターン20の材料としては、透光性および導電性を有するものが挙げられる。透光性および導電性を有するものとしては、例えば、ITO(Indium Tin Oxide:インジウムスズ酸化物)、IZO(Indium Zinc Oxide:インジウム亜鉛酸化物)、ATO(Antimony Tin Oxide:アンチモン錫酸化物)、酸化錫、酸化亜鉛が挙げられる。   Examples of the material of the detection electrode pattern 20 include those having translucency and conductivity. As what has translucency and electroconductivity, ITO (Indium Tin Oxide: indium tin oxide), IZO (Indium Zinc Oxide: indium zinc oxide), ATO (Antimony Tin Oxide: antimony tin oxide), Examples thereof include tin oxide and zinc oxide.

検出電極パターン20の形成方法は、例えば、次のような方法が挙げられる。まず、スパッタリング法、蒸着法、もしくは化学気相成長法により、例えば、ITOを基体10の第1主面10aに膜として形成する。このITO膜の表面に対して感光性樹脂を塗布し、塗布した感光性樹脂に対して露光処理、現像処理を行うことで感光性樹脂に所望のパターンを形成する。次いで、ITO膜を薬液でエッチングすることで、ITO膜を所望の形状にする。そして、ITO膜の表面に設けられている感光性樹脂を除去することで、検出電極パターン20が形成される。   Examples of the method for forming the detection electrode pattern 20 include the following methods. First, for example, ITO is formed as a film on the first main surface 10a of the substrate 10 by sputtering, vapor deposition, or chemical vapor deposition. A photosensitive resin is applied to the surface of the ITO film, and a desired pattern is formed on the photosensitive resin by performing exposure processing and development processing on the applied photosensitive resin. Next, the ITO film is etched into a desired shape by etching the ITO film with a chemical solution. Then, the detection electrode pattern 20 is formed by removing the photosensitive resin provided on the surface of the ITO film.

X検出電極パターン20Xは、複数のX検出電極21Xと、複数のX接続部22Xとを有している。複数のX検出電極パターン20Xは、Y方向に沿って配列している。また、本実施形態では、X検出電極パターン20X、X検出電極パターン20X、・・・X検出電極パターン20Xのように、I個のX検出電極パターン20Xが配列させている。 The X detection electrode pattern 20X includes a plurality of X detection electrodes 21X and a plurality of X connection portions 22X. The plurality of X detection electrode patterns 20X are arranged along the Y direction. Further, in the present embodiment, I X detection electrode patterns 20X are arranged like an X detection electrode pattern 20X 1 , an X detection electrode pattern 20X 2 ,... X detection electrode pattern 20X I.

X検出電極21Xは、グランドと容量を形成するとともに、導体と容量を形成する機能を有する。また、X検出電極21Xは、所定の間隔を空けてX方向およびY方向に配置されている。また、隣り合うX検出電極21Xは、X接続部22Xによって互いに電気的に接続されている。また、X検出電極21Xは、平面視形状が例えばひし形状をしているが、これには限られず、任意である。また、図4に示すように、X検出電極21Xに電圧を印加すると、X検出電極21Xに電荷が蓄積され、X検出電極21Xとグランドとの間には容量CPXが発生する。なお、図4では、説明の簡略化のために、X検出電極パターン20Xの数を1つとするとともに、X検出電極21Xの数を3つとしている。 The X detection electrode 21 </ b> X has a function of forming a ground and a capacitor and a conductor and a capacitor. The X detection electrodes 21X are arranged in the X direction and the Y direction with a predetermined interval. Further, the adjacent X detection electrodes 21X are electrically connected to each other by the X connection portion 22X. Further, the X detection electrode 21X has, for example, a rhombus shape in plan view, but is not limited thereto and is arbitrary. As shown in FIG. 4, when a voltage is applied to the X detection electrode 21X, charges are accumulated in the X detection electrode 21X, and a capacitor CPX is generated between the X detection electrode 21X and the ground. In FIG. 4, the number of X detection electrode patterns 20 </ b> X is one and the number of X detection electrodes 21 </ b> X is three for simplification of description.

図1および図2に示すように、X検出電極21Xの面積は、平面視して、配線導体30が接続されるX検出電極パターン20Xの一端部20から他端部20にかけて順次小さくなっている。すなわち、X電極20Xの一端部20からX方向に進むにつれて、X検出電極21Xの面積が小さくなっている。 As shown in FIGS. 1 and 2, the area of the X detection electrode 21X is a plan view, is sequentially decreased from one end 20 S of the X sensing electrode pattern 20X the wiring conductor 30 is connected toward the other end 20 F ing. That is, as one proceeds from one end 20 S of the X electrode 20X in the X direction, the area of the X detection electrode 21X is small.

X検出電極21Xの面積が小さくなると、このX検出電極21Xに発生する容量CPXの大きさは小さくなる。すなわち、図4に示すように、X検出電極パターン20Xにおいて、一端部20側に位置するX検出電極21Xに発生する容量CPX1は、他端部20側に位置するX検出電極21Xに発生する容量CPX2,CPX3に比べて大きくなる。これと同様に、X検出電極21Xに発生する容量CPX2は、X検出電極21Xに発生する容量CPX3に比べて大きくなる。 When the area of the X detection electrodes 21X decreases, the magnitude of the capacitance C PX generated in the X detection electrode 21X is small. That is, as shown in FIG. 4, the X sensing electrode pattern 20X, capacitance C PX1 generated in X detection electrodes 21X located at one end portion 20 S side, the X sensing electrodes 21X located at the other end portion 20 F side It becomes larger than the generated capacitances C PX2 and C PX3 . Similarly, the capacitance C PX2 generated at the X detection electrode 21X is larger than the capacitance C PX3 generated at the X detection electrode 21X.

Y検出電極パターン20Yは、複数のY検出電極21Yと、複数のY接続部22Yとを有している。   The Y detection electrode pattern 20Y has a plurality of Y detection electrodes 21Y and a plurality of Y connection portions 22Y.

Y検出電極パターン20Yは、複数のY検出電極21Yと、複数のY接続部22Yとを有している。複数のY検出電極パターン20Yは、X方向に沿って配列されている。また、本実施形態では、X方向に向かって、Y検出電極パターン20Y、Y検出電極パターン20Y、・・・Y検出電極パターン20Yのように、J個のY検出電極パターン20Yが配列されている。 The Y detection electrode pattern 20Y has a plurality of Y detection electrodes 21Y and a plurality of Y connection portions 22Y. The plurality of Y detection electrode patterns 20Y are arranged along the X direction. Further, in the present embodiment, J Y detection electrode patterns 20Y are arranged in the X direction as in the Y detection electrode pattern 20Y 1 , the Y detection electrode pattern 20Y 2 ,... Y detection electrode pattern 20Y I. Has been.

Y検出電極21Yは、X検出電極21Xと同様、グランドとの間に容量を形成するとともに、導体と容量を形成する機能を有する。Y検出電極21Yは、所定の間隔を空けてX方向およびY方向に配置されている。また、隣り合うY検出電極21Yは、Y接続部22Yによって互いに電気的に接続されている。また、Y検出電極21Yは、平面視形状が例えばひし形状をしているが、これには限られず、任意である。また、図4に示すように、Y検出電極21Yに電圧を印加すると、Y検出電極21Yとグランドとの間の容量CPYには電荷が蓄積される。なお、図4では、説明の簡略化のために、Y検出電極パターン20Yの数を1個とするとともに、Y検出電極21Yの数を3個としている。 Similar to the X detection electrode 21X, the Y detection electrode 21Y has a function of forming a capacitance with the ground and forming a conductor and a capacitance. The Y detection electrodes 21Y are arranged in the X direction and the Y direction at a predetermined interval. Adjacent Y detection electrodes 21Y are electrically connected to each other by a Y connection portion 22Y. The Y detection electrode 21Y has, for example, a rhombus shape in plan view, but is not limited thereto and is arbitrary. Further, as shown in FIG. 4, when a voltage is applied to the Y detection electrode 21Y, electric charges are accumulated in the capacitor CPY between the Y detection electrode 21Y and the ground. In FIG. 4, for simplification of description, the number of Y detection electrode patterns 20Y is one, and the number of Y detection electrodes 21Y is three.

図1および図2に示すように、Y検出電極21Yの面積は、平面視して、配線導体30が接続されるY検出電極パターン20Yの一端部20から他端部20にかけて順次小さくなっている。すなわち、Y検出電極21Yの一端部20からY方向に進むにつれて、Y検出電極21Yの面積が小さくなっている。 As shown in FIGS. 1 and 2, the area of the Y detection electrode 21 </ b> Y gradually decreases from one end 20 S to the other end 20 F of the Y detection electrode pattern 20 </ b> Y to which the wiring conductor 30 is connected in plan view. ing. That is, as one proceeds from one end 20 S of the Y detection electrodes 21Y in the Y direction, the area of the Y detection electrodes 21Y is smaller.

Y検出電極21Yの面積が小さくなると、このY検出電極21Yに発生する容量CPYの大きさは小さくなる。すなわち、図4に示すように、Y検出電極パターン20Yにおいて、一端部20側に位置するY検出電極21Yに発生する容量CPY1は、他端部20側に位置するY検出電極21Yに発生する容量CPY2,CPY3に比べて大きくなる。これと同様に、Y検出電極21Yに発生する容量CPY2は、Y検出電極21Yに発生する容量CPY3に比べて大きくなる。 When the area of the Y detection electrodes 21Y decreases, the magnitude of the capacitance C PY occurring this Y detection electrodes 21Y becomes small. That is, as shown in FIG. 4, the Y detection electrode patterns 20Y, capacitance C PY1 occurring Y detection electrodes 21Y located at one end portion 20 S side, the Y detection electrodes 21Y located at the other end portion 20 F side The generated capacitances C PY2 and C PY3 become larger. Similarly, the capacitance C PY2 generated at the Y detection electrode 21Y is larger than the capacitance C PY3 generated at the Y detection electrode 21Y.

また、X検出電極パターン20XとY検出電極パターン20Yとは、平面視して交差している。具体的には、X検出電極パターン20XとY検出電極パターン20Yとの交差する部位には、絶縁部材20Aが介在している。この絶縁部材20AによりX検出電極パターン20XとY検出電極パターン20Yとは電気的に絶縁される。絶縁部材20Aの材料としては、絶縁性を有するものが挙げられ、例えば、アクリル樹脂、エポキシ樹脂などの樹脂である。   Further, the X detection electrode pattern 20X and the Y detection electrode pattern 20Y intersect each other in plan view. Specifically, an insulating member 20A is interposed at a portion where the X detection electrode pattern 20X and the Y detection electrode pattern 20Y intersect. The X detection electrode pattern 20X and the Y detection electrode pattern 20Y are electrically insulated by the insulating member 20A. Examples of the material of the insulating member 20A include those having insulating properties, such as resins such as acrylic resin and epoxy resin.

配線導体30は、検出電極パターン20とドライバ40とを電気的に接続する機能を有する。配線導体30は、外側領域Eに対応する基体10の第1主面10aに設けられている。配線導体30は、一端がX検出電極パターン20Xの一端部20およびY検出電極パターン20Yの一端部20と電気的に接続され、外部導通領域Eに位置する他端がフレキシブルプリント基板Fを介してドライバ40と接続されている。 The wiring conductor 30 has a function of electrically connecting the detection electrode pattern 20 and the driver 40. The wiring conductor 30 is provided on the first main surface 10a of the base 10 corresponding to the outer region EO . Wiring conductor 30 has one end X detection electrode pattern 20X end 20 S and Y sensing electrode pattern 20Y end 20 S and is electrically connected to the other end is a flexible printed circuit board F which is located outside conductive region E G It is connected to the driver 40 via

配線導体30の材料としては、導電性を有するものが挙げられ、例えば、ITO、酸化錫、アルミニウム、アルミニウム合金、銀、もしくは銀合金などである。また、配線導体30の形成方法は、検出電極パターン20と同様の方法が挙げられる。   Examples of the material of the wiring conductor 30 include a conductive material, such as ITO, tin oxide, aluminum, aluminum alloy, silver, or silver alloy. Moreover, the formation method of the wiring conductor 30 includes the same method as that of the detection electrode pattern 20.

図4に示すように、ドライバ40は、発振部41と、容量測定部42と、座標演算部43とを有している。   As shown in FIG. 4, the driver 40 includes an oscillation unit 41, a capacitance measurement unit 42, and a coordinate calculation unit 43.

発振部41は、検出電極パターン20に電圧信号を伝達する機能を有する。発振部41は、フレキシブルプリント基板Fを介して検出電極パターン20と電気的に接続されている。   The oscillation unit 41 has a function of transmitting a voltage signal to the detection electrode pattern 20. The oscillation unit 41 is electrically connected to the detection electrode pattern 20 via the flexible printed board F.

容量測定部42は、検出電極21に発生する容量を測定する機能を有する。容量測定部42は、オペアンプ421と、コンデンサ422と、リセットスイッチ423と、ADコンバータ424とを有している。オペアンプ421は、入力された信号を増幅する機能を有する。また、オペアンプ421は、X検出電極パターン20XおよびY検出電極パターン20Yと、コンデンサ422と、リセットスイッチ423とに電気的に接続される。   The capacitance measuring unit 42 has a function of measuring the capacitance generated at the detection electrode 21. The capacitance measuring unit 42 includes an operational amplifier 421, a capacitor 422, a reset switch 423, and an AD converter 424. The operational amplifier 421 has a function of amplifying an input signal. The operational amplifier 421 is electrically connected to the X detection electrode pattern 20X and the Y detection electrode pattern 20Y, the capacitor 422, and the reset switch 423.

コンデンサ422は、X検出電極21XもしくはY検出電極21Yとグランドとの間の容量Cpで、およびX検出電極21XもしくはY検出電極21Yと導体との間の容量CDX,CDYでそれぞれ電荷を蓄積する機能を有する。 Capacitor 422 accumulates charges with capacitance Cp between X detection electrode 21X or Y detection electrode 21Y and ground, and capacitances C DX and C DY between X detection electrode 21X or Y detection electrode 21Y and the conductor, respectively. It has the function to do.

リセットスイッチ423は、コンデンサ422に蓄積された電荷の転送回数を制御する機能を有する。リセットスイッチ423は、所定の周期でオン・オフされるように設定されており、リセットスイッチ423によって検出時間を制御できる。   The reset switch 423 has a function of controlling the number of transfers of charges accumulated in the capacitor 422. The reset switch 423 is set to be turned on / off at a predetermined cycle, and the detection time can be controlled by the reset switch 423.

ADコンバータ424は、信号を数値化する機能を有する。すなわち、オペアンプ421により出力された信号は、ADコンバータ424によって数値化される。また、ADコンバータ424は、数値化した信号を座標演算部43に出力する。   The AD converter 424 has a function of digitizing a signal. That is, the signal output from the operational amplifier 421 is digitized by the AD converter 424. Further, the AD converter 424 outputs the digitized signal to the coordinate calculation unit 43.

容量測定部42では、コンデンサ422が、X検出電極21XもしくはY検出電極21Yとグランドとの間の容量CpおよびX検出電極21XもしくはY検出電極21Yと導体との間の容量Cでそれぞれ電荷を蓄積し、この電荷をリセットスイッチ423が所定の周期でオペアンプ421を介してADコンバータ424に出力する。そして、この出力信号はADコンバータ424によって数値化される。なお、本実施形態では、容量測定部42がドライバ40に組み込まれている構成について説明したが、検出電極21に発生する容量を測定できれば、このような構成には限られない。 The capacitance measuring unit 42, a capacitor 422, each charge in the capacitance C D between the capacitor Cp and X detection electrodes 21X or Y detection electrode 21Y and the conductor between the X detection electrodes 21X or Y detection electrode 21Y and the ground The charge is accumulated and the reset switch 423 outputs the charge to the AD converter 424 via the operational amplifier 421 at a predetermined cycle. This output signal is digitized by the AD converter 424. In the present embodiment, the configuration in which the capacitance measuring unit 42 is incorporated in the driver 40 has been described. However, the configuration is not limited to this configuration as long as the capacitance generated in the detection electrode 21 can be measured.

座標演算部43は、導体が近接もしくは接触する個所のX座標およびY座標を演算する機能を有する。具体的には、座標演算部43は、まず、容量測定部42により測定された容量に基づいて、導体が基体10の第2主面10bに対して近接もしくは接触したか否かを判定する。この判定については、閾値が設定されており、この閾値を基準として判定される。すなわち、座標演算部43は、導体が近接もしくは接触していない場合の容量を基準として、導体が近接もしくは接触することで変化する容量が閾値を超えると、導体が近接もしくは接触したと判定する。なお、本実施形態では、座標演算部43がドライバ40に組み込まれている構成について説明したが、導体が近接もしくは接触した位置のX座標およびY座標を演算できれば、このような構成には限られない。   The coordinate calculation unit 43 has a function of calculating the X coordinate and the Y coordinate of a portion where the conductor is close or in contact. Specifically, the coordinate calculation unit 43 first determines whether or not the conductor has approached or contacted the second main surface 10 b of the base body 10 based on the capacitance measured by the capacitance measurement unit 42. About this determination, the threshold value is set and it determines with this threshold value as a reference | standard. That is, the coordinate calculation unit 43 determines that the conductor is close or in contact when the capacitance that changes due to the proximity or contact of the conductor exceeds a threshold with reference to the capacitance when the conductor is not close or in contact. In the present embodiment, the configuration in which the coordinate calculation unit 43 is incorporated in the driver 40 has been described. However, the configuration is limited to this configuration as long as the X coordinate and the Y coordinate of the position where the conductor approaches or contacts can be calculated. Absent.

次に、図4および図5を参照しながら、入力装置1の入力位置の検出原理について説明する。   Next, the detection principle of the input position of the input device 1 will be described with reference to FIGS. 4 and 5.

入力装置1では、ドライバ40の発振部41から配線導体30を介して、X検出電極パターン20XおよびY検出電極パターン20Yに電圧が印加される。すなわち、入力装置1では、X検出電極21XおよびY検出電極21Yには電荷が帯電され、X検出電極21Xとグランドとの間には容量CPXが発生し、Y検出電極21Yとグランドとの間には容量CPYが発生する。 In the input device 1, a voltage is applied to the X detection electrode pattern 20 </ b> X and the Y detection electrode pattern 20 </ b> Y from the oscillation unit 41 of the driver 40 through the wiring conductor 30. That is, in the input device 1, the X detection electrode 21X and the Y detection electrode 21Y are charged, a capacitance CPX is generated between the X detection electrode 21X and the ground, and between the Y detection electrode 21Y and the ground. A capacitance C PY is generated.

入力装置1では、まず、容量測定部42によってX検出電極パターン20Xに発生する容量CPXの測定を行う。次に、容量測定部42によってX検出電極パターン20Xに発生する容量CPXの測定を行う。このように、容量測定部42は、1からI番目の全てのX検出電極パターン20Xに発生する容量CPXの測定を行う(Op1)。 In the input device 1, first, the capacitance C PX generated in the X detection electrode pattern 20 </ b> X 1 is measured by the capacitance measuring unit 42. Next, to measure the capacitance C PX occurring X detection electrode pattern 20X 2 by the capacitance measuring part 42. Thus, the capacitance measuring part 42 to measure the capacitance C PX generated from 1 to I-th all X detection electrode pattern 20X (Op1).

容量測定部42によって全てのX検出電極パターン20Xの容量の測定が終了した後、座標演算部43は、X方向において導体が入力領域Eに対して近接もしくは接触したか否かを判定する(Op2)。具体的には、座標演算部43は、容量測定部42によって測定された容量(X検出電極に発生する容量)が閾値を超えているか否かを判定する。X方向において導体が入力領域Eに対して近接もしくは接触したと判定すれば(Op2にてYES)、座標演算部43は、閾値を超えたX検出電極パターン20Xの容量を抽出する(Op3)。一方、X方向において導体が入力領域Eに対して近接もしくは接触していないと判定すれば(Op2にてNO)、Op1へ戻る。 After the measurement of the capacity of all the X sensing electrode pattern 20X completed by the capacitance measuring unit 42, the coordinate calculation unit 43 determines whether the conductor is close to or contact with the input region E I in the X direction ( Op2). Specifically, the coordinate calculation unit 43 determines whether or not the capacitance (capacitance generated in the X detection electrode) measured by the capacitance measurement unit 42 exceeds a threshold value. If determined that the conductors are close to or in contact with respect to the input region E I in the X direction (YES at Op2), the coordinate calculation unit 43 extracts the capacitance of the X detection electrode pattern 20X exceeding the threshold value (Op3) . On the other hand, if determined that the conductor in the X direction is not close or in contact to the input region E I (at Op2 NO), it returns to Op1.

次に、検出電極パターン20Xと同様に、容量測定部42は、1からJ番目の全てのY検出電極パターン20Yに発生する容量CPYの測定を行う(Op4)。 Then, similarly to the detection electrode patterns 20X, capacitance measuring unit 42 to measure the capacitance C PY generated from 1 to J-th all Y detection electrode pattern 20Y (Op4).

容量測定部42によって全てのY検出電極パターン20Yの容量の測定が終了した後、座標演算部43は、Y方向において導体が入力領域Eに対して近接もしくは接触したか否かを判定する(Op5)。具体的には、座標演算部43は、容量測定部42によって測定された容量(Y検出電極に発生する容量)が閾値を超えているか否かを判定する。Y方向において導体が入力領域Eに対して近接もしくは接触したと判定すれば(Op5にてYES)、座標演算部43は、閾値を超えたY検出電極パターン20Yの容量を抽出する
(Op6)。一方、Y方向において導体が入力領域Eに対して近接もしくは接触していないと判定すれば(Op5にてNO)、Op1へ戻る。
After the capacitance measurement unit 42 finishes measuring the capacitances of all the Y detection electrode patterns 20Y, the coordinate calculation unit 43 determines whether or not the conductor is close to or in contact with the input region E I in the Y direction ( Op5). Specifically, the coordinate calculation unit 43 determines whether or not the capacitance (capacitance generated in the Y detection electrode) measured by the capacitance measurement unit 42 exceeds a threshold value. When it is determined in the Y direction conductors are close to or in contact with respect to the input region E I (YES in Op5), the coordinate calculation unit 43 extracts the capacitance of the Y detection electrode pattern 20Y exceeding the threshold value (Op6) . On the other hand, if determined that the conductor in the Y direction is not close or in contact to the input region E I (in Op5 NO), it returns to Op1.

そして、座標演算部43は、Op3にて抽出されたX検出電極パターン20Xの容量、およびOp6にて抽出されたY検出電極パターン20Xの容量に基づいて、入力位置であるX座標およびY座標を算出する(Op7)。このようにして、入力装置1は、入力座標を検出することができる。なお、上述で説明した入力装置1の入力位置の検出原理は、一例であり、導体が入力領域Eに対して近接もしくは接触した位置のX座標およびY座標を求めることができれば、入力装置1の検出原理はこれに限られない。 Then, the coordinate calculation unit 43 calculates the X coordinate and the Y coordinate as the input position based on the capacitance of the X detection electrode pattern 20X extracted at Op3 and the capacitance of the Y detection electrode pattern 20X extracted at Op6. Calculate (Op7). In this way, the input device 1 can detect the input coordinates. The detection principle of the input position of the input device 1 described above is an example. If the X coordinate and the Y coordinate of the position where the conductor is close to or in contact with the input region E I can be obtained, the input device 1 The detection principle is not limited to this.

なお、以下では、導体が入力領域Eの2個所に同時に近接もしくは接触(いわゆるマルチタッチ)した場合における、Op7の座標演算部43の処理について、従来の入力装置の動作と比較しながら、さらに詳細に説明する。 In the following, the processing of the coordinate calculation unit 43 of Op7 when the conductor is simultaneously approaching or contacting (so-called multi-touch) at two places in the input area E I will be further compared with the operation of the conventional input device. This will be described in detail.

従来のラインスキャン方式を採用した入力装置では、平面視において、検出電極パターン20における複数の検出電極21のそれぞれの面積が略同一に形成されていた。そのため、例えば、導体が入力領域Eの2個所の部分、例えば、白丸の(X1,Y1)と、(X2,Y2)とを同時に近接もしくは接触した場合、X方向(X検出電極21X)での容量変化およびY方向(Y検出電極21Y)での容量変化は、図6に示すようになる。 In an input device employing a conventional line scan method, the areas of the plurality of detection electrodes 21 in the detection electrode pattern 20 are formed substantially the same in plan view. Therefore, for example, when the conductor is close to or in contact with two portions of the input region E I , for example, white circles (X1, Y1) and (X2, Y2) simultaneously, in the X direction (X detection electrode 21X). The change in capacitance and the change in capacitance in the Y direction (Y detection electrode 21Y) are as shown in FIG.

すなわち、ラインスキャン方式を採用しているため、図6に示すように、座標X1および座標X2の容量が変化することになる。具体的には、座標X1の容量CX1は、座標X2の容量CX2と略同じ大きさになる。また、ラインスキャン方式を採用しているため、座標Y1および座標Y2の容量が変化することになる。具体的には、座標Y1の容量CY1は、座標Y2の容量CY2と略同じ大きさになる。このため、座標演算部では、入力位置のX座標がX1,X2であり、入力位置のY座標がY1,Y2であることを判定することができる。そのため、座標演算部では、導体が実際に近接もしくは接触した個所(図6の白丸)を正しく判定することができなかった。具体的には、座標演算部は、入力座標が白丸の(X1,Y1)および(X2,Y2)の組み合わせであるのか、あるいは入力座標が黒丸の(X1,Y2)および(X2,Y1)の組み合わせであるのか、判定することができなかった。すなわち、従来の入力装置では、導体が複数同時に近接もしくは接触した場合、入力座標が定まらず、違う位置に接触したものと誤検出される、いわゆるゴーストの問題が発生していた。 That is, since the line scan method is employed, the capacitances of the coordinates X1 and the coordinates X2 change as shown in FIG. Specifically, the capacitance C X1 at the coordinate X1 is substantially the same size as the capacitance C X2 at the coordinate X2. In addition, since the line scan method is adopted, the capacities of the coordinates Y1 and the coordinates Y2 change. Specifically, the capacity C Y1 at the coordinate Y1 is approximately the same size as the capacity C Y2 at the coordinate Y2. For this reason, the coordinate calculation unit can determine that the X coordinate of the input position is X1 and X2, and the Y coordinate of the input position is Y1 and Y2. For this reason, the coordinate calculation unit cannot correctly determine the location (white circle in FIG. 6) where the conductor actually approaches or contacts. Specifically, the coordinate calculation unit is a combination of (X1, Y1) and (X2, Y2) with input coordinates of white circles, or (X1, Y2) and (X2, Y1) with input coordinates of black circles. It was not possible to determine whether it was a combination. That is, in the conventional input device, when a plurality of conductors approach or come into contact at the same time, the input coordinates are not fixed, and a so-called ghost problem occurs in which it is erroneously detected as a contact at a different position.

これに対して、本実施形態に係る入力装置1では、平面視において、検出電極パターン20における複数の検出電極21のそれぞれの面積は、配線導体30が接続される一端部20から他端部20にかけて順次小さくなっている。このため、図7に示すように、導体が入力領域Eの2個所の部分、例えば、白丸の(X1,Y1)と、(X2,Y2)とを同時に近接もしくは接触した場合、上記従来の入力装置と同様に、座標X1および座標X2の容量が変化するとともに、座標Y1および座標Y2の容量が変化することになる。しかしながら、入力装置1では、座標X1の容量CX1は、座標X2の容量CX2よりも大きくなる。また、入力装置1では、座標Y1の容量CY1は、座標Y2の容量CY2よりも大きくなる。このため、座標演算部43は、Op7の処理において、導体が実際に近接もしくは接触した2個所(図7の白丸)を正しく判定することができる。 In contrast, in the input device 1 according to the present embodiment, in plan view, the area of each of the plurality of detection electrodes 21 of the detection electrode patterns 20, from one end 20 S that the wiring conductor 30 is connected It has become successively smaller over the 20 F. For this reason, as shown in FIG. 7, when the conductor is close to or in contact with two portions of the input area E I , for example, white circles (X1, Y1) and (X2, Y2) simultaneously, Similar to the input device, the capacitances of the coordinates X1 and X2 change, and the capacitances of the coordinates Y1 and Y2 change. However, in the input device 1, the capacity C X1 at the coordinate X1 is larger than the capacity C X2 at the coordinate X2. Further, in the input device 1, the capacitance C Y1 at the coordinate Y1 is larger than the capacitance C Y2 at the coordinate Y2. For this reason, the coordinate calculation unit 43 can correctly determine two places (white circles in FIG. 7) where the conductors actually approach or contact each other in the processing of Op7.

すなわち、図8に示すように、導体が入力領域Eの2個所の部分、例えば、白丸の(X2,Y1)と、(X1,Y2)とを同時に近接もしくは接触した場合、図7に示す態様とは逆に、座標X2の容量CX2は、座標X1の容量CX1よりも大きくなる。また、図7に示す態様とは逆に、座標Y2の容量CY2は、座標Y1の容量CY1よりも大きくなる。このため、座標演算部43は、Op7の処理において、導体が実際に近接もしくは接
触した2個所(図8の白丸)を正しく判定することができる。
That is, as shown in FIG. 8, when the conductor is close to or in contact with two portions of the input area E I , for example, white circles (X2, Y1) and (X1, Y2) simultaneously, as shown in FIG. Contrary to the aspect, the capacity C X2 at the coordinate X2 is larger than the capacity C X1 at the coordinate X1. In contrast to the aspect shown in FIG. 7, the capacity C Y2 at the coordinate Y2 is larger than the capacity C Y1 at the coordinate Y1. For this reason, the coordinate calculation unit 43 can correctly determine two places (white circles in FIG. 8) where the conductors actually approach or contact each other in the processing of Op7.

このように、入力装置1では、ゴーストの発生を低減させることができる。   As described above, in the input device 1, it is possible to reduce the occurrence of ghosts.

[表示装置の構成]
図9は、第2の実施形態における表示装置3の一例を示す断面図である。図9に示すように、表示装置3は、入力装置1と、液晶表示装置2とを備えている。
[Configuration of display device]
FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating an example of the display device 3 according to the second embodiment. As shown in FIG. 9, the display device 3 includes an input device 1 and a liquid crystal display device 2.

液晶表示装置2は、液晶表示パネル2aと、光源装置2bと、筐体2cとを備えている。   The liquid crystal display device 2 includes a liquid crystal display panel 2a, a light source device 2b, and a housing 2c.

光源装置2bは、液晶表示パネル2aに向けて光を照射する機能を有し、液晶表示パネル2aと下側筐体2cとの間に配置されている。 Light source device 2b has a function of irradiating light toward the liquid crystal display panel 2a, it is arranged between the liquid crystal display panel 2a and a lower housing 2c 2.

筐体2cは、液晶表示パネル2aおよび光源装置2bを収容する役割を担うものであり、上側筐体2cおよび下側筐体2cを有する。筐体2cの材料としては、例えば、ポリカーボネート等の樹脂、あるいはステンレス(SUS)やアルミニウム等の金属が挙げられる。   The housing 2c plays a role of housing the liquid crystal display panel 2a and the light source device 2b, and includes an upper housing 2c and a lower housing 2c. Examples of the material of the housing 2c include a resin such as polycarbonate or a metal such as stainless steel (SUS) or aluminum.

表示装置3は、例えば、携帯電話やPDA(Personal Digital Assistant)等の携帯用の端末装置、工場等の産業用途で使用されるプログラマブル表示器、電子手帳、パーソナルコンピュータ、複写機、あるいはゲーム用の端末装置等の種々の電子機器に備えられる。   The display device 3 is, for example, a portable terminal device such as a mobile phone or a PDA (Personal Digital Assistant), a programmable display device used in industrial applications such as a factory, an electronic notebook, a personal computer, a copying machine, or a game. It is provided in various electronic devices such as terminal devices.

以上のように、本実施形態の表示装置3によれば、上記の入力装置1を備えているので、ゴーストの発生を低減させることができる。   As described above, according to the display device 3 of the present embodiment, since the input device 1 is provided, the occurrence of ghost can be reduced.

[実施の形態2]
図10は、第2の実施形態に係る入力装置1Aの一例を示す平面図である。図11は、図10のR1部分を拡大した平面図である。
[Embodiment 2]
FIG. 10 is a plan view illustrating an example of the input device 1A according to the second embodiment. FIG. 11 is an enlarged plan view of a portion R1 in FIG.

図10および図11に示すように、入力装置1Aでは、複数の検出電極21のそれぞれは、開口部211を有している。また、平面視において、この開口部211の面積は、検出電極パターン20の一端部20から他端部20にかけて順次大きくなっている。このようにして、入力装置1Aは、入力装置1と同様、複数の検出電極21それぞれの面積は、検出電極パターン20の一端部20から他端部20にかけて順次小さくなっている。これにより、入力装置1Aは、入力装置1と同様の効果が得られる。また、入力装置1Aでは、検出電極21に開口部211を設けているので、開口部211をパターニングにて形成する際に、パターニングのずれが生じたとしても、所望の検出電極21の面積から大きくずれることを低減できる。 As shown in FIGS. 10 and 11, in the input device 1 </ b> A, each of the plurality of detection electrodes 21 has an opening 211. In plan view, the area of the opening 211 gradually increases from the one end 20 S to the other end 20 F of the detection electrode pattern 20. In this manner, in the input device 1 </ b> A, as in the input device 1, the areas of the plurality of detection electrodes 21 are sequentially reduced from the one end 20 S to the other end 20 F of the detection electrode pattern 20. Thereby, the input device 1 </ b> A can obtain the same effects as the input device 1. Further, in the input device 1A, since the detection electrode 21 is provided with the opening 211, even if a patterning shift occurs when the opening 211 is formed by patterning, the area of the desired detection electrode 21 is greatly increased. Shifting can be reduced.

また、図12に示すように、検出電極21に複数の開口部211を設けることにより、複数の検出電極21それぞれの面積を、検出電極パターン20の一端部20から他端部20にかけて順次小さくなるようにしてもよい。このようにすると、開口部211を視認され難くすることができる。 Further, as shown in FIG. 12, by providing a plurality of openings 211 to the detecting electrode 21, a plurality of detection electrodes 21 of the respective areas, sequentially from one end 20 S of the detection electrode pattern 20 toward the other end portion 20 F It may be made smaller. If it does in this way, it can be made difficult to visually recognize the opening part 211. FIG.

[実施の形態3]
図13は、第3の実施形態における入力装置1Bの一例を示す平面図である。図14は、入力装置1Bの要部拡大図である。入力装置1と入力装置1Bとの異なる点は、入力装置1Bでは、隣り合う検出電極21の間に、調整パターンTが設けられている点である。
[Embodiment 3]
FIG. 13 is a plan view illustrating an example of the input device 1B according to the third embodiment. FIG. 14 is an enlarged view of a main part of the input device 1B. The difference between the input device 1 and the input device 1B is that an adjustment pattern T is provided between adjacent detection electrodes 21 in the input device 1B.

調整パターンTは、図13および図14に示すように、平面視において、隣り合う検出電極21間に設けられている。調整パターンTは、基体10の第1主面10a上に位置している。また、調整パターンTは、検出電極21と同じ材料を含んでなる。   As shown in FIGS. 13 and 14, the adjustment pattern T is provided between the adjacent detection electrodes 21 in plan view. The adjustment pattern T is located on the first main surface 10 a of the base body 10. The adjustment pattern T includes the same material as the detection electrode 21.

検出電極21の面積が小さくなると、隣り合う検出電極21間の空間が大きくなる。すなわち、この部分では光の透過率が大きくなるので、入力領域Eで表示むらが発生する場合がある。これに対して、入力装置1Bでは、隣り合う検出電極21の間に調整パターンTを設けているので、入力領域Eでの表示むらを低減できる。 As the area of the detection electrode 21 decreases, the space between the adjacent detection electrodes 21 increases. In other words, since the transmittance of light becomes large in this portion, there is a case where display unevenness occurs in the input region E I. In contrast, in the input device 1B, since an adjusting pattern T between the detection electrodes 21 adjacent, can reduce the display unevenness in the input region E I.

また、入力装置1Bでは、調整パターンTの有する可視光の透過率を、検出電極21の有する可視光の透過率の±10%以内に設定することで、調整パターンTの有する可視光の透過率を、検出電極21の有する可視光の透過率と実質的に同一としている。   Further, in the input device 1B, the visible light transmittance of the adjustment pattern T is set within ± 10% of the visible light transmittance of the detection electrode 21 by setting the visible light transmittance of the adjustment pattern T. Is substantially the same as the visible light transmittance of the detection electrode 21.

なお、可視光の透過率は、例えば、以下のようにして測定できる。まず、可視光を対象物に照射して対象物を透過した透過光の発光スペクトルを測定する。測定して得られた透過光の発光スペクトルと出射光の発光スペクトルとを光の強度と波長との関係のグラフで表す。このグラフから、波長の可視光域での、透過光の発光スペクトルと出射光の発光スペクトルとの面積差を算出することで、可視光の透過率を判断できる。すなわち、この面積差が小さいほど可視光の透過率が高いことを意味する。   The visible light transmittance can be measured, for example, as follows. First, an emission spectrum of transmitted light that is transmitted through an object by irradiating the object with visible light is measured. The emission spectrum of the transmitted light and the emission spectrum of the emitted light obtained by measurement are represented by a graph of the relationship between the light intensity and the wavelength. From this graph, the visible light transmittance can be determined by calculating the area difference between the emission spectrum of the transmitted light and the emission spectrum of the emitted light in the visible light range of the wavelength. That is, the smaller the area difference, the higher the visible light transmittance.

以上、本発明の具体的な実施形態を示したが、本発明はこれに限定されるものではない。   The specific embodiment of the present invention has been described above, but the present invention is not limited to this.

表示装置3では、入力装置1を備える例について説明したが、他の実施形態に係る入力装置1A,1Bを備えても、上述で説明した効果と同様な効果を得られる。   In the display device 3, the example provided with the input device 1 has been described. However, even if the input devices 1 </ b> A and 1 </ b> B according to other embodiments are provided, the same effect as described above can be obtained.

入力装置X2では、検出電極20の開口部211内に調整パターンTを設けてもよい。   In the input device X2, the adjustment pattern T may be provided in the opening 211 of the detection electrode 20.

表示装置3では、表示パネルが液晶表示パネル2である例について説明したが、これに限定されない。すなわち、表示パネルは、CRT、プラズマディスプレイ、有機ELディスプレイ、無機ELディスプレイ、LEDディスプレイ、蛍光表示管、電界放出ディスプレイ、表面電界ディスプレイ、電子ペーパーなどであってもよい。   In the display device 3, the example in which the display panel is the liquid crystal display panel 2 has been described. However, the display device 3 is not limited thereto. That is, the display panel may be a CRT, plasma display, organic EL display, inorganic EL display, LED display, fluorescent display tube, field emission display, surface electric field display, electronic paper, or the like.

1,1A,1B 入力装置
2 表示装置
3 液晶表示装置
10 基体
20 検出電極パターン
30 配線導体
40 ドライバ
42 容量測定部
43 座標演算部
2a 表示パネル
60 調整パターン
1, 1A, 1B Input device 2 Display device 3 Liquid crystal display device 10 Base 20 Detection electrode pattern 30 Wiring conductor 40 Driver 42 Capacity measurement unit 43 Coordinate operation unit 2a Display panel 60 Adjustment pattern

Claims (5)

基体と、
複数の検出電極および隣り合う前記検出電極を電気的に接続する接続部を有し、かつ前記基体上に設けられた検出電極パターンと、
前記検出電極パターンの一端部と電気的に接続され、かつ前記基体上に設けられた配線導体と、
前記検出電極に生じる容量を測定する容量測定部および前記容量測定部により測定された容量に基づいて入力座標を演算する座標演算部を有し、かつ前記配線導体と電気的に接続されたドライバと、を備え、
平面視において、複数の前記検出電極それぞれの面積は、前記検出電極パターンの前記一端部から前記検出電極パターンの他端部にかけて順次小さくなっていることを特徴とする入力装置。
A substrate;
A detection electrode pattern having a plurality of detection electrodes and a connection part for electrically connecting the adjacent detection electrodes, and provided on the substrate;
A wiring conductor electrically connected to one end of the detection electrode pattern and provided on the substrate;
A driver having a capacitance measuring unit for measuring a capacitance generated in the detection electrode and a coordinate calculating unit for calculating input coordinates based on the capacitance measured by the capacitance measuring unit, and electrically connected to the wiring conductor; With
In plan view, an area of each of the plurality of detection electrodes is gradually reduced from the one end of the detection electrode pattern to the other end of the detection electrode pattern.
複数の前記検出電極のそれぞれは、開口部を有しており、
平面視において、前記開口部の面積は、前記検出電極パターンの前記一端部から前記他端部にかけて順次大きくなっている、請求項1に記載の入力装置。
Each of the plurality of detection electrodes has an opening,
2. The input device according to claim 1, wherein an area of the opening is sequentially increased from the one end to the other end of the detection electrode pattern in a plan view.
隣り合う前記検出電極間には、調整パターンが設けられている、請求項1または2に記載の入力装置。   The input device according to claim 1, wherein an adjustment pattern is provided between the adjacent detection electrodes. 請求項1〜3のいずれか一項に記載の入力装置と、
前記入力装置と対向配置される表示パネルと、を備えた表示装置。
The input device according to any one of claims 1 to 3,
A display device comprising: a display panel disposed opposite to the input device.
前記表示パネルは、液晶表示パネルである、請求項4に記載の表示装置。   The display device according to claim 4, wherein the display panel is a liquid crystal display panel.
JP2010102064A 2010-04-27 2010-04-27 Line scan type capacitive touch panel and display device having the same Expired - Fee Related JP5495924B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010102064A JP5495924B2 (en) 2010-04-27 2010-04-27 Line scan type capacitive touch panel and display device having the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010102064A JP5495924B2 (en) 2010-04-27 2010-04-27 Line scan type capacitive touch panel and display device having the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011232928A true JP2011232928A (en) 2011-11-17
JP5495924B2 JP5495924B2 (en) 2014-05-21

Family

ID=45322190

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010102064A Expired - Fee Related JP5495924B2 (en) 2010-04-27 2010-04-27 Line scan type capacitive touch panel and display device having the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5495924B2 (en)

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013168125A (en) * 2012-02-14 2013-08-29 Samsung Display Co Ltd Touch panel
JP2013225266A (en) * 2012-04-23 2013-10-31 Fujitsu Component Ltd Touch panel
JP2014098967A (en) * 2012-11-13 2014-05-29 Tokai Rika Co Ltd Touch type input device
JP2014149560A (en) * 2013-01-30 2014-08-21 Japan Display Inc Touch detection device, and display device and electronic device attached with touch detection function provided with the same
JP2016001408A (en) * 2014-06-12 2016-01-07 アルプス電気株式会社 Input device
JP2016224902A (en) * 2015-05-28 2016-12-28 鴻海精密工業股▲ふん▼有限公司 Touch device
KR20170102111A (en) * 2016-02-29 2017-09-07 삼성디스플레이 주식회사 Touch panel and display device having the same
KR20170134836A (en) * 2016-05-26 2017-12-07 삼성디스플레이 주식회사 Touch sensor
KR20190114458A (en) * 2018-03-30 2019-10-10 엘지디스플레이 주식회사 Touch display device and touch sensing method
KR20190115682A (en) * 2018-04-03 2019-10-14 엘지디스플레이 주식회사 Touch display device and touch sensing method
EP2674842B1 (en) * 2012-06-12 2020-09-09 Samsung Display Co., Ltd. Touch screen panel
JP2020166774A (en) * 2019-03-29 2020-10-08 富士通コンポーネント株式会社 Touch panel
KR20210069601A (en) * 2018-10-22 2021-06-11 구글 엘엘씨 Conductive textile with custom placement conformal to the embroidery pattern
KR20220015840A (en) * 2020-07-31 2022-02-08 주식회사 다모아텍 Multi region motion sensor for motion feedback interface and method of operation therefor
JP2022037154A (en) * 2014-10-15 2022-03-08 株式会社半導体エネルギー研究所 Touch panel
US11467703B2 (en) 2018-09-10 2022-10-11 Fujitsu Component Limited Projective capacitive touch panel with suppressed capacitance coupling in corners
US11508790B2 (en) 2018-09-10 2022-11-22 Samsung Display Co., Ltd. Display device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009122969A (en) * 2007-11-15 2009-06-04 Hitachi Displays Ltd Screen input-type image-displaying device
JP3154177U (en) * 2009-03-24 2009-10-08 宸鴻科技(廈門)有限公司 Circuit structure of capacitive touch panel
JP2009265924A (en) * 2008-04-24 2009-11-12 Smk Corp Coordinate input device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009122969A (en) * 2007-11-15 2009-06-04 Hitachi Displays Ltd Screen input-type image-displaying device
JP2009265924A (en) * 2008-04-24 2009-11-12 Smk Corp Coordinate input device
JP3154177U (en) * 2009-03-24 2009-10-08 宸鴻科技(廈門)有限公司 Circuit structure of capacitive touch panel

Cited By (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101859515B1 (en) * 2012-02-14 2018-05-21 삼성디스플레이 주식회사 Touch panel
JP2013168125A (en) * 2012-02-14 2013-08-29 Samsung Display Co Ltd Touch panel
JP2013225266A (en) * 2012-04-23 2013-10-31 Fujitsu Component Ltd Touch panel
EP2674842B1 (en) * 2012-06-12 2020-09-09 Samsung Display Co., Ltd. Touch screen panel
JP2014098967A (en) * 2012-11-13 2014-05-29 Tokai Rika Co Ltd Touch type input device
JP2014149560A (en) * 2013-01-30 2014-08-21 Japan Display Inc Touch detection device, and display device and electronic device attached with touch detection function provided with the same
JP2016001408A (en) * 2014-06-12 2016-01-07 アルプス電気株式会社 Input device
JP7225362B2 (en) 2014-10-15 2023-02-20 株式会社半導体エネルギー研究所 touch panel
JP2022037154A (en) * 2014-10-15 2022-03-08 株式会社半導体エネルギー研究所 Touch panel
JP2016224902A (en) * 2015-05-28 2016-12-28 鴻海精密工業股▲ふん▼有限公司 Touch device
KR20170102111A (en) * 2016-02-29 2017-09-07 삼성디스플레이 주식회사 Touch panel and display device having the same
KR102464277B1 (en) * 2016-02-29 2022-11-08 삼성디스플레이 주식회사 Touch panel and display device having the same
KR20170134836A (en) * 2016-05-26 2017-12-07 삼성디스플레이 주식회사 Touch sensor
KR102533076B1 (en) * 2016-05-26 2023-05-18 삼성디스플레이 주식회사 Touch sensor
KR20190114458A (en) * 2018-03-30 2019-10-10 엘지디스플레이 주식회사 Touch display device and touch sensing method
KR102493681B1 (en) * 2018-03-30 2023-01-31 엘지디스플레이 주식회사 Touch display device and touch sensing method
KR102463801B1 (en) * 2018-04-03 2022-11-03 엘지디스플레이 주식회사 Touch display device and touch sensing method
KR20190115682A (en) * 2018-04-03 2019-10-14 엘지디스플레이 주식회사 Touch display device and touch sensing method
US11467703B2 (en) 2018-09-10 2022-10-11 Fujitsu Component Limited Projective capacitive touch panel with suppressed capacitance coupling in corners
US11508790B2 (en) 2018-09-10 2022-11-22 Samsung Display Co., Ltd. Display device
US11957026B2 (en) 2018-09-10 2024-04-09 Samsung Display Co., Ltd. Display device
KR20210069601A (en) * 2018-10-22 2021-06-11 구글 엘엘씨 Conductive textile with custom placement conformal to the embroidery pattern
KR102661486B1 (en) * 2018-10-22 2024-04-26 구글 엘엘씨 Conductive fabric with custom placement conformal to the embroidery pattern
JP2020166774A (en) * 2019-03-29 2020-10-08 富士通コンポーネント株式会社 Touch panel
JP7373913B2 (en) 2019-03-29 2023-11-06 富士通コンポーネント株式会社 touch panel
KR102378616B1 (en) 2020-07-31 2022-03-24 주식회사 다모아텍 Multi region motion sensor for motion feedback interface and method of operation therefor
KR20220015840A (en) * 2020-07-31 2022-02-08 주식회사 다모아텍 Multi region motion sensor for motion feedback interface and method of operation therefor

Also Published As

Publication number Publication date
JP5495924B2 (en) 2014-05-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5495924B2 (en) Line scan type capacitive touch panel and display device having the same
US8659575B2 (en) Touch panel device of digital capacitive coupling type with high sensitivity
KR101410414B1 (en) Touch screen panel having function of sensing motion
CN104731430B (en) Touch sensor apparatus and electronic equipment
US20070242054A1 (en) Light transmission touch panel and manufacturing method thereof
US20140160038A1 (en) Touch sensing method and touch sensing apparatus
JP2008217784A (en) Touch panel
JP6402884B2 (en) Touch sensor device, electronic device, position calculation method, and position calculation program
JP2009122969A (en) Screen input-type image-displaying device
CN103543870A (en) Touch screen panel and driving method thereof
JP2010507166A (en) Electronic device and touch panel arrangement method thereof
US20100321336A1 (en) Touch input device and touch sensor circuit
US20150153870A1 (en) Touchscreen device and method of sensing touch
CN104777929B (en) Control device
JP2011048541A (en) Touch panel-equipped display device
TWM465617U (en) Touch input system
US9098157B2 (en) Touch sensing apparatus
US20140139478A1 (en) Touch sensing method and touch sensing device
KR20150073529A (en) Touch panel, manufacturing method thereof, and touchscreen apparatus
KR101512571B1 (en) Touch sensing apparatus and touchscreen apparatus
KR101969831B1 (en) Touch sensor panel
JP2009026151A (en) Input device and electronic appliance
TW201500977A (en) Touch input method
WO2014042194A1 (en) Touch pen, touch panel system, and display device with touch panel
KR20150087714A (en) Touch panel and touchscreen apparatus including the same

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130115

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130918

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131001

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131101

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140304

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5495924

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees