JP2011220954A - Chemical sensor and detection method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a chemical sensor allowing stable detection of target substances.SOLUTION: The chemical sensor includes: a first semiconductor region in which a channel region of a second conductivity type is formed between a drain region of a first conductivity type and a source region of a first conductivity type; and a sensitive membrane formed on the second conductivity type channel region; a sensor element for detecting a target substance in liquid; and a controlling mechanism for controlling and floating the potential of the second conductivity type channel region. The second conductivity type channel region of the sensor element is connected to a predetermined potential and then floated, thereby measuring the drain current of the sensor element.

Description

本発明は、化学センサ及び検出方法に関する。   The present invention relates to a chemical sensor and a detection method.

被検出物質を捉えて電気信号を出力する化学センサとして、電界効果トランジスタを応用したISFET(Ion Sensitive Field-Effect Transistor:イオン感応性電界効果トランジスタ)やCHEMFET(Chemical Field-Effect Transistor:化学的電界効果トランジスタ)が提案されている。これらの化学センサは、例えば、電界効果トランジスタのゲートに感応膜が形成されたものであり、被検出物質によって引き起こされるゲート電位の変化に応じたドレイン電流に基づいて、被検出物質を検出する。   ISFETs (Ion Sensitive Field-Effect Transistors) and CHEMFETs (Chemical Field-Effect Transistors) that use field-effect transistors as chemical sensors that capture detected substances and output electrical signals Transistor) has been proposed. These chemical sensors, for example, have a sensitive film formed on the gate of a field effect transistor, and detect a substance to be detected based on a drain current corresponding to a change in gate potential caused by the substance to be detected.

下記の特許文献1には、SOI(Silicon On Insulator)基板の埋め込み絶縁膜上に、ソース領域と、ドレイン領域と、イオンセンサ領域を含むチャネル領域とを形成したISFETが記載されている。このISFETにおいては、埋め込み絶縁膜によって、ソース領域、ドレイン領域及びチャネル・ボデイ領域(以下チャネル領域と記す)を他の素子と分離することにより、リーク電流の発生を防止している。   Patent Document 1 below describes an ISFET in which a source region, a drain region, and a channel region including an ion sensor region are formed on a buried insulating film of an SOI (Silicon On Insulator) substrate. In this ISFET, a source region, a drain region, and a channel body region (hereinafter referred to as a channel region) are separated from other elements by a buried insulating film, thereby preventing the occurrence of leakage current.

特開2008−215974号公報(段落0056〜0060、図11、12)JP 2008-215974 A (paragraphs 0056 to 0060, FIGS. 11 and 12)

しかし、特許文献1においては、チャネル・ボデイ領域がフローティング状態となっている。このような場合には、ヒストリー効果と呼ばれる現象が生じる。ヒストリー効果とは、ゲート、ドレイン、ソースに印加されていた電圧の履歴によって、チャネル領域における残留電荷が変化する結果、デバイス特性が変化してしまう現象である。   However, in Patent Document 1, the channel body region is in a floating state. In such a case, a phenomenon called a history effect occurs. The history effect is a phenomenon in which device characteristics change as a result of changes in residual charges in the channel region due to the history of voltages applied to the gate, drain, and source.

本発明は、以上のような技術的課題に鑑みてなされたものである。本発明の幾つかの態様は、化学センサにおいて、被検出物質の安定した検出ができるようにすることに関連している。   The present invention has been made in view of the above technical problems. Some embodiments of the present invention are related to enabling stable detection of a substance to be detected in a chemical sensor.

本発明の幾つかの態様において、化学センサは、第1導電型のドレイン領域と第1導電型のソース領域との間に第2導電型のチャネル領域が形成された第1半導体領域と、第2導電型のチャネル領域上に形成された感応膜と、を含み、液体中の被検出物質を検出する感応素子と、第2導電型のチャネル領域の電位を制御し、且つフローティング化する制御機構と、を具備する。
この態様によれば、感応素子のチャネル領域に蓄積電荷がある場合でも、外部よりチャネル電位を任意の値に初期設定することができる。従って、同じ参照電位における感応膜の電位を一定にすることができるので、被検出物質の安定した検出ができる。
In some embodiments of the present invention, the chemical sensor includes: a first semiconductor region in which a second conductivity type channel region is formed between a first conductivity type drain region and a first conductivity type source region; A sensitive film formed on the two-conductivity type channel region, a sensing element for detecting a substance to be detected in the liquid, and a control mechanism for controlling the potential of the second-conductivity type channel region and making it floating And.
According to this aspect, even when there is an accumulated charge in the channel region of the sensitive element, the channel potential can be initialized to an arbitrary value from the outside. Therefore, since the potential of the sensitive film at the same reference potential can be made constant, the substance to be detected can be detected stably.

上述の態様において、感応素子の第1半導体領域が絶縁層上に形成され、感応素子の第2導電型のチャネル領域は部分空乏化する不純物濃度及び膜厚で形成されていることが望ましい。
これによれば、感応素子の第1半導体領域が絶縁層上に形成されるので、チャネル領域の電位を他の領域と独立に制御することができる。
In the above-described aspect, it is desirable that the first semiconductor region of the sensitive element is formed on the insulating layer, and the second conductivity type channel region of the sensitive element is formed with an impurity concentration and a film thickness that are partially depleted.
According to this, since the first semiconductor region of the sensitive element is formed on the insulating layer, the potential of the channel region can be controlled independently of other regions.

上述の態様において、制御機構は、第2導電型のソース領域と、第2導電型のソース領域と感応素子の第2導電型のチャネル領域との間に形成された第1導電型のチャネル領域と、第1導電型のチャネル領域上に形成されたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極と、を含んでおり、第2導電型のソース領域は電源装置に電気的に接続されることが望ましい。
これによれば、制御機構がトランジスタを含むことにより、感応素子の第2導電型のチャネル領域の電位の制御及びフローティング化を簡易な構成で行うことができる。
In the above-described aspect, the control mechanism includes a second conductivity type source region, and a first conductivity type channel region formed between the second conductivity type source region and the second conductivity type channel region of the sensitive element. A gate insulating film formed on the channel region of the first conductivity type and a gate electrode formed on the gate insulating film, and the source region of the second conductivity type is electrically connected to the power supply device. It is desirable to be connected.
According to this, since the control mechanism includes the transistor, the potential of the channel region of the second conductivity type of the sensitive element can be controlled and floated with a simple configuration.

上述の態様において、制御機構は、第2導電型のソース領域と第2導電型のドレイン領域との間に第1導電型のチャネル領域が形成された第2半導体領域と、第1導電型のチャネル領域上に形成されたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極と、を含んでおり、第2導電型のドレイン領域及び第2導電型のソース領域の内の一方は、感応素子の第2導電型のチャネル領域に電気的に接続され、第2ドレイン領域及び第2ソース領域の内の他方は、電源装置に電気的に接続されることが望ましい。
これによれば、制御機構がトランジスタを含むことにより、感応素子の第2導電型のチャネル領域の電位の制御及びフローティング化を簡易な構成で行うことができる。
In the above-described aspect, the control mechanism includes a second semiconductor region in which a channel region of the first conductivity type is formed between the source region of the second conductivity type and the drain region of the second conductivity type, and the first conductivity type. A gate insulating film formed on the channel region, and a gate electrode formed on the gate insulating film, wherein one of the second conductivity type drain region and the second conductivity type source region is It is desirable that the sensitive element is electrically connected to the channel region of the second conductivity type, and the other of the second drain region and the second source region is electrically connected to the power supply device.
According to this, since the control mechanism includes the transistor, the potential of the channel region of the second conductivity type of the sensitive element can be controlled and floated with a simple configuration.

上述の態様において、化学センサは、被検出物質が含まれる液体の電位を制御する参照電極をさらに具備することが望ましい。
これによれば、感応膜における被検出物質の捕獲量を制御することができる。
In the above-described aspect, it is desirable that the chemical sensor further includes a reference electrode that controls the potential of the liquid containing the substance to be detected.
According to this, the capture amount of the substance to be detected in the sensitive film can be controlled.

本発明の他の態様において、上述の化学センサを用いて参照電極と感応膜とに接触する液体中の被検出物質を検出する方法は、感応素子の第2導電型のチャネル領域を制御機構によって所定電位に接続するステップ(a)と、感応素子の第2導電型のチャネル領域を制御機構によってフローティング化するステップ(b)と、第2導電型のチャネル領域をフローティング化された状態で、参照電極の電位と感応素子のドレイン・ソース間電圧とが所定条件である場合の感応素子のドレイン電流を計測するステップ(c)と、を具備する。
これによれば、感応素子の第2導電型のチャネル領域を一定電位に調整し、この電位を保持できるので、被検出物質の安定した検出が可能となる
In another aspect of the present invention, a method for detecting a substance to be detected in a liquid that is in contact with a reference electrode and a sensitive film using the above-described chemical sensor includes: The step (a) of connecting to a predetermined potential, the step (b) of floating the second conductivity type channel region of the sensitive element by the control mechanism, and the second conductivity type channel region being floated are referred to (C) measuring the drain current of the sensitive element when the potential of the electrode and the drain-source voltage of the sensitive element are in a predetermined condition.
According to this, the channel region of the second conductivity type of the sensitive element can be adjusted to a constant potential, and this potential can be maintained, so that the detection target substance can be stably detected.

上述の態様において、ステップ(b)の前に、第1導電型のソース領域の電位に対する感応膜の電位を参照電極によって所定電位に制御するステップ(d)をさらに具備し、ステップ(c)において、感応膜の電位を、参照電極によって上記所定電位より低下させるとともに、感応膜の電位の低下前後における感応素子のドレイン電流を計測することが望ましい。
これによれば、部分空乏化したチャネル領域がフローティング化されているので、電圧を逆スイープしたときのS値(サブスレッショルドスイング値)が小さく、急峻なI−Vカーブを描くため、被検出物質の検出感度を高めることができる。
In the above aspect, the method further includes a step (d) of controlling the potential of the sensitive film with respect to the potential of the source region of the first conductivity type to a predetermined potential by the reference electrode before the step (b). It is desirable that the potential of the sensitive film is lowered from the predetermined potential by the reference electrode, and the drain current of the sensitive element before and after the decrease of the potential of the sensitive film is measured.
According to this, since the partially depleted channel region is floated, the S value (subthreshold swing value) when the voltage is reversely swept is small, and a steep IV curve is drawn. The detection sensitivity can be increased.

上述の態様において、ステップ(b)の前に、第1導電型のソース領域の電位に対する感応膜の電位を参照電極によって所定電位に制御するステップ(d)をさらに具備し、ステップ(c)において、感応膜の電位を、参照電極によって上記所定電位より上昇させるとともに、感応膜の電位の上昇前後における感応素子のドレイン電流を、第1導電型のソース領域と第1導電型のドレイン領域との間に1V以上の電圧を印加して計測することが望ましい。
これによれば、ドレイン電圧を1V以上としたことによってインパクトイオン化を生じさせ、大きなドレイン電流を得ることができるため、被検出物質の検出感度を高めることができる。
In the above aspect, the method further includes a step (d) of controlling the potential of the sensitive film with respect to the potential of the source region of the first conductivity type to a predetermined potential by the reference electrode before the step (b). The potential of the sensitive film is raised from the predetermined potential by the reference electrode, and the drain current of the sensitive element before and after the rise of the potential of the sensitive film is changed between the source region of the first conductivity type and the drain region of the first conductivity type. It is desirable to measure by applying a voltage of 1 V or more in between.
According to this, impact ionization can be caused by setting the drain voltage to 1 V or more, and a large drain current can be obtained, so that the detection sensitivity of the substance to be detected can be increased.

本発明の第1の実施形態に係る化学センサを示す平面模式図1 is a schematic plan view showing a chemical sensor according to a first embodiment of the present invention. 図1のA−A線断面図及びB−B線断面図AA line sectional view and BB line sectional view of FIG. 本発明の第2の実施形態に係る化学センサを示す平面模式図Plane | planar schematic diagram which shows the chemical sensor which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 図3のIV−IV線断面図IV-IV sectional view of FIG. 上記化学センサを用いた第1の検出方法を説明する図The figure explaining the 1st detection method using the said chemical sensor 上記化学センサを用いた第2の検出方法を説明する図The figure explaining the 2nd detection method using the said chemical sensor インパクトイオン化について説明するグラフGraph explaining impact ionization

以下、本発明の実施形態について詳細に説明する。なお、以下に説明する本実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また本実施形態で説明される構成の全てが本発明の解決手段として必須であるとは限らない。また同一の構成要素には同一の参照符号を付して説明を省略する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail. In addition, this embodiment demonstrated below does not unduly limit the content of this invention described in the claim. Further, not all of the configurations described in the present embodiment are essential as a solution means of the present invention. The same constituent elements are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

<1.第1の実施形態の構成>
図1は、本発明の第1の実施形態に係る化学センサを示す平面模式図である。また、図2(A)は図1のA−A線断面図であり、図2(B)は図1のB−B線断面図である。図1に示す化学センサ1は、感応素子2と制御機構3とを具備している。
<1. Configuration of First Embodiment>
FIG. 1 is a schematic plan view showing a chemical sensor according to the first embodiment of the present invention. 2A is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1, and FIG. 2B is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. A chemical sensor 1 shown in FIG. 1 includes a sensitive element 2 and a control mechanism 3.

<1−1.感応素子>
感応素子2は、図1に示すように、第1導電型(例えばN型)のドレイン領域21と、第1導電型(例えばN型)のソース領域22と、第1導電型のドレイン領域21と第1導電型のソース領域22との間に形成された第2導電型(例えばP型)のチャネル領域23とを含むISFETである。
チャネル領域23に隣接する位置には、チャネル領域23より第2導電型の不純物濃度の高い第2導電型のコンタクト領域27が形成されている。
<1-1. Sensitive element>
As shown in FIG. 1, the sensitive element 2 includes a first conductivity type (for example, N type) drain region 21, a first conductivity type (for example, N type) source region 22, and a first conductivity type drain region 21. And a second conductivity type (for example, P type) channel region 23 formed between the first conductivity type source region 22 and the first conductivity type source region 22.
A second conductivity type contact region 27 having a second conductivity type impurity concentration higher than that of the channel region 23 is formed at a position adjacent to the channel region 23.

図2に示すように、第1導電型のドレイン領域21、第1導電型のソース領域22、第2導電型のチャネル領域23、及び、第2導電型のコンタクト領域27は、基板層10上に形成されている。基板層10は、半導体基板11上に絶縁層12が形成されたものである。第2導電型のチャネル領域23上には、感応膜25が成膜されている。   As shown in FIG. 2, the first conductivity type drain region 21, the first conductivity type source region 22, the second conductivity type channel region 23, and the second conductivity type contact region 27 are formed on the substrate layer 10. Is formed. The substrate layer 10 is obtained by forming an insulating layer 12 on a semiconductor substrate 11. A sensitive film 25 is formed on the channel region 23 of the second conductivity type.

半導体基板11、第1導電型のドレイン領域21、第1導電型のソース領域22、第2導電型のチャネル領域23、第2導電型のコンタクト領域27は、例えば単結晶シリコンによって形成されている。これらのうち、チャネル領域23は、部分空乏化する不純物濃度及び膜厚で形成されている。
絶縁層12は、例えば酸化シリコン膜によって形成されている。
第1導電型のドレイン領域21及び第1導電型のソース領域22の周辺には、素子分離膜120が形成されている。また、ドレイン領域21及びソース領域22の上面側には、パシベーション膜16が形成されている。
The semiconductor substrate 11, the first conductivity type drain region 21, the first conductivity type source region 22, the second conductivity type channel region 23, and the second conductivity type contact region 27 are formed of, for example, single crystal silicon. . Of these, the channel region 23 is formed with an impurity concentration and a film thickness that are partially depleted.
The insulating layer 12 is made of, for example, a silicon oxide film.
An element isolation film 120 is formed around the first conductivity type drain region 21 and the first conductivity type source region 22. A passivation film 16 is formed on the upper surface side of the drain region 21 and the source region 22.

感応膜25は、検出しようとする物質(被検出物質)に応じて、例えば次に示すものを用いることができる。   As the sensitive film 25, for example, the following can be used according to a substance to be detected (a substance to be detected).

検出するイオンを水素イオン(H)とするならば、窒化シリコン(Si)や酸化タンタル(Ta)を用いることができる。検出するイオンをカリウムイオン(K)とするならば、バリノマイシンを用いることができる。検出するイオンをナトリウムイオン(Na)とするならば、ビスクラウンエーテル誘導体を用いることができる。検出するイオンをカルシウムイオン(Ca2+)とするならば、非環状ポリエーテルアミド誘導体を用いることができる。検出するイオンをアンモニウムイオン(NH )とするならば、ノナクチンや塩化テトラセチルアンモニウムを用いることができる。 If the ions to be detected are hydrogen ions (H + ), silicon nitride (Si 3 N 4 ) or tantalum oxide (Ta 2 O 2 ) can be used. If the ion to be detected is potassium ion (K + ), valinomycin can be used. If the ion to be detected is sodium ion (Na + ), a biscrown ether derivative can be used. If the ion to be detected is calcium ion (Ca 2+ ), an acyclic polyetheramide derivative can be used. If the ion to be detected is ammonium ion (NH 4 + ), nonactin or tetracetylammonium chloride can be used.

また、検出するイオンをフッ素イオン(F)とするならば、フッ化ランタン(LaF)を用いることができる。検出するイオンを銀イオン(Ag)や鉛イオン(Pb2+)とするならば、カリックスアレンなどを用いることができる。また、感応膜25を液膜型イオンセンサ溶媒とすることもでき、その場合は、ニトロベンゼンやニトロフェニルオチルエーテルなどを用いることができる。
また、種々の蛋白質やDNA(deoxyribonucleic acid)などの生体分子検出では、シリコン酸化膜(SiO)の表面を感応化処理した膜を用いることができる。
Further, if the ion to be detected is a fluorine ion (F ), lanthanum fluoride (LaF 3 ) can be used. If the ions to be detected are silver ions (Ag + ) or lead ions (Pb 2+ ), calixarene or the like can be used. Moreover, the sensitive film | membrane 25 can also be used as a liquid film type | mold ion sensor solvent, In that case, nitrobenzene, nitrophenyl octyl ether, etc. can be used.
In the detection of biomolecules such as various proteins and DNA (deoxyribonucleic acid), a film obtained by sensitizing the surface of a silicon oxide film (SiO 2 ) can be used.

半導体基板11には、参照電極40が形成されていても良い。参照電極40は、白金(Pt)等の導電性材料で形成され、図示しない外部電極に接続される。これにより、被検出物質が含まれる液体の電位を制御し、感応膜25における被検出物質の捕獲感度を制御することができる。また、参照電極40は、半導体基板11とは別体に設けられても良い。   A reference electrode 40 may be formed on the semiconductor substrate 11. The reference electrode 40 is made of a conductive material such as platinum (Pt) and connected to an external electrode (not shown). Thereby, the potential of the liquid containing the substance to be detected can be controlled, and the capture sensitivity of the substance to be detected in the sensitive film 25 can be controlled. Further, the reference electrode 40 may be provided separately from the semiconductor substrate 11.

第1ドレイン領域21は所定の電位(例えば正電位)に接続される。第1ソース領域22は、第1ドレイン領域21と異なる所定の電位(例えば接地電位)に接続される。   The first drain region 21 is connected to a predetermined potential (for example, a positive potential). The first source region 22 is connected to a predetermined potential (for example, ground potential) different from that of the first drain region 21.

以上説明した感応素子2において、イオンなどの被検出物質が感応膜25に捕獲されたとき、感応膜25に電荷が蓄積される。感応膜25に例えば正の電荷が蓄積されると、第2導電型のチャネル領域23に存在する正孔が感応膜25から離れる方向に移動し、電子が感応膜25側に移動する。これにより、第2導電型のチャネル領域23に、感応膜25における電荷量に応じたチャネルが形成され、第1ドレイン領域21と第1ソース領域22との間の電気抵抗が変化し、ドレイン電流が変化する。これにより、被検出物質が検出される。   In the sensitive element 2 described above, charges are accumulated in the sensitive film 25 when a substance to be detected such as ions is captured by the sensitive film 25. When positive charges are accumulated in the sensitive film 25, for example, holes present in the channel region 23 of the second conductivity type move away from the sensitive film 25, and electrons move to the sensitive film 25 side. As a result, a channel corresponding to the amount of charge in the sensitive film 25 is formed in the channel region 23 of the second conductivity type, the electrical resistance between the first drain region 21 and the first source region 22 changes, and the drain current Changes. Thereby, the substance to be detected is detected.

<1−2.制御機構>
制御機構3は、トランジスタ30を含んでいる。トランジスタ30は、ソース領域及びドレイン領域がコンタクト領域27と同一の導電型を有するMOSトランジスタである。トランジスタ30のドレイン領域は、コンタクト領域27を介して感応素子2のチャネル領域23に接続されている。トランジスタ30のソース領域は、可変電源装置38に接続されている。トランジスタ30のゲート電極は、トランジスタ30のON/OFFを制御する制御信号の出力端子に接続される。
<1-2. Control mechanism>
The control mechanism 3 includes a transistor 30. The transistor 30 is a MOS transistor whose source region and drain region have the same conductivity type as the contact region 27. The drain region of the transistor 30 is connected to the channel region 23 of the sensitive element 2 through the contact region 27. The source region of the transistor 30 is connected to the variable power supply device 38. A gate electrode of the transistor 30 is connected to an output terminal of a control signal that controls ON / OFF of the transistor 30.

なお、本実施形態において、第1導電型をN型、第2導電型をP型とする例を示したが、第1導電型をP型、第2導電型をN型としても良い。
また、本実施形態において、制御機構3としてトランジスタ30を可変電源装置38に接続した例を示したが、トランジスタ30の代わりに、他のスイッチング素子を用いても良い。
In the present embodiment, an example in which the first conductivity type is the N type and the second conductivity type is the P type is shown, but the first conductivity type may be the P type and the second conductivity type may be the N type.
In the present embodiment, an example in which the transistor 30 is connected to the variable power supply device 38 as the control mechanism 3 has been described. However, other switching elements may be used instead of the transistor 30.

化学センサ1は、制御機構3のトランジスタ30をONにすることにより、感応素子2のチャネル領域23の電位を制御し、制御機構3のトランジスタ30をOFFにすることにより、感応素子2のチャネル領域23をフローティング化することができる。   The chemical sensor 1 controls the potential of the channel region 23 of the sensitive element 2 by turning on the transistor 30 of the control mechanism 3 and turns off the transistor 30 of the control mechanism 3 to turn off the channel region of the sensitive element 2. 23 can be floated.

上述の構成によれば、感応素子2のチャネル領域23の電位を制御し、且つフローティング化できるようにすることにより、チャネル領域23の蓄積電荷量を制御することができる。従って、仮に化学センサ1の使用時にチャネル領域23に電荷が蓄積したとしても、その蓄積電荷量を制御することにより、再現性のある初期値設定が可能になり、被検出物質の安定した検出ができる。
また、制御機構3がトランジスタ30を含むことにより、感応素子2のチャネル領域23の電位の制御及びフローティング化を簡易な構成で行うことができる。
According to the above-described configuration, the amount of accumulated charge in the channel region 23 can be controlled by controlling the potential of the channel region 23 of the sensitive element 2 and making it floating. Therefore, even if charges are accumulated in the channel region 23 when the chemical sensor 1 is used, it is possible to set a reproducible initial value by controlling the amount of accumulated charges, and stable detection of a substance to be detected is possible. it can.
Further, since the control mechanism 3 includes the transistor 30, the control of the potential of the channel region 23 of the sensitive element 2 and the floating can be performed with a simple configuration.

<2.第2の実施形態の構成>
図3は、本発明の第2の実施形態に係る化学センサを示す平面模式図である。また、図4は図3のIV−IV線断面図である。図3のA−A線断面図は、図2(A)と同様であるので省略している。
図3に示す化学センサ1aは、感応素子2と制御機構3aとを具備している。
<2. Configuration of Second Embodiment>
FIG. 3 is a schematic plan view showing a chemical sensor according to the second embodiment of the present invention. 4 is a cross-sectional view taken along line IV-IV in FIG. A sectional view taken along line AA in FIG. 3 is omitted because it is the same as FIG.
A chemical sensor 1a shown in FIG. 3 includes a sensitive element 2 and a control mechanism 3a.

制御機構3aは、図3に示すように、第2導電型(チャネル領域23と同じ導電型)のソース領域32と、第2導電型のソース領域32と第2導電型のチャネル領域23との間に形成された第1導電型(ドレイン領域21及びソース領域22と同じ導電型)のチャネル領域33と、を有するトランジスタを含んでいる。
制御機構3aにおけるトランジスタのドレイン領域は、感応素子2のチャネル領域23によって構成されている。ソース領域32は、上述の可変電源装置の出力電極に接続される。
As shown in FIG. 3, the control mechanism 3 a includes a source region 32 of the second conductivity type (the same conductivity type as the channel region 23), a source region 32 of the second conductivity type, and a channel region 23 of the second conductivity type. And a channel region 33 of the first conductivity type (the same conductivity type as the drain region 21 and the source region 22) formed therebetween.
The drain region of the transistor in the control mechanism 3 a is configured by the channel region 23 of the sensitive element 2. The source region 32 is connected to the output electrode of the above-described variable power supply device.

図4に示すように、ソース領域32及びチャネル領域33は、基板層10上に形成されている。また、チャネル領域33上には、ゲート絶縁膜34を介してゲート電極35が形成されている。
第2導電型のソース領域32及び第1導電型のチャネル領域33の周辺には、素子分離膜120が形成されている。
As shown in FIG. 4, the source region 32 and the channel region 33 are formed on the substrate layer 10. A gate electrode 35 is formed on the channel region 33 with a gate insulating film 34 interposed therebetween.
An element isolation film 120 is formed around the second conductivity type source region 32 and the first conductivity type channel region 33.

図3に示すように、化学センサ1aは、感応素子2のドレイン・ソース間のチャネルにおける電荷の移動方向(A−A方向)に対して、トランジスタのドレイン・ソース間のチャネルにおける電荷の移動方向(IV−IV方向)が直交するように配置されている。
他の点については第1の実施形態において説明した通りである。
As shown in FIG. 3, the chemical sensor 1a has a charge movement direction in the channel between the drain and the source of the transistor with respect to the charge movement direction (A-A direction) in the channel between the drain and the source of the sensitive element 2. They are arranged so that (IV-IV direction) is orthogonal.
Other points are as described in the first embodiment.

<3.第1の検出方法>
図5は、上記化学センサを用いた第1の検出方法を説明する図である。第1の検出方法においては、感応素子2のチャネル領域23を所定電位に初期設定した後、チャネル領域23をフローティング化する。そして、第1の検出方法においては、チャネル領域23をフローティング化した状態で、参照電極40の参照電位Vrefを高電位から0に低下させながら、感応素子2のドレイン電流を計測する。
<3. First detection method>
FIG. 5 is a diagram for explaining a first detection method using the chemical sensor. In the first detection method, after the channel region 23 of the sensitive element 2 is initially set to a predetermined potential, the channel region 23 is floated. In the first detection method, the drain current of the sensitive element 2 is measured while lowering the reference potential Vref of the reference electrode 40 from a high potential to 0 with the channel region 23 floating.

まず、被検出物質を含む液体に参照電極40及び感応膜25を接触させた状態で、図5(A)に示すように、トランジスタ30をONにして、感応素子2のチャネル領域23を所定電位(例えば接地電位)に接続する。これにより、チャネル領域23の電位Vcが上記所定電位に調整される。このとき、参照電位Vrefを例えば正電位に設定すると、感応素子2のソース電位に対して液体の電位が高くなるので、正電荷をもつ被検出物質がより多く感応膜25に蓄積される。被検出物質の蓄積量は、液体における被検出物質の濃度に依存する。
次に、図5(B)に示すように、トランジスタ30をOFFにして、感応素子2のチャネル領域23をフローティング化する。これにより、チャネル領域23に蓄積していた電荷をほぼ0にした状態でフローティング化することができる。
First, in a state where the reference electrode 40 and the sensitive film 25 are in contact with the liquid containing the substance to be detected, as shown in FIG. 5A, the transistor 30 is turned on to set the channel region 23 of the sensitive element 2 to a predetermined potential. (For example, ground potential). Thereby, the potential Vc of the channel region 23 is adjusted to the predetermined potential. At this time, if the reference potential Vref is set to, for example, a positive potential, the potential of the liquid becomes higher than the source potential of the sensitive element 2, so that more of the detected substance having a positive charge is accumulated in the sensitive film 25. The accumulation amount of the substance to be detected depends on the concentration of the substance to be detected in the liquid.
Next, as shown in FIG. 5B, the transistor 30 is turned off, and the channel region 23 of the sensitive element 2 is floated. As a result, floating can be performed with the charge accumulated in the channel region 23 being substantially zero.

次に、図5(C)に示すように、ドレイン電位Vdを正の一定電位に、ソース電位Vsを接地電位にそれぞれ接続し、感応素子2のドレイン電流を計測する。ここで、ドレイン電位Vdは0.8V以下であることが望ましい。ドレイン電位Vdを0.8V以下とすることにより、チャネル領域23におけるインパクトイオン化を抑制することができる。
このとき、参照電位Vrefを例えば高電位から0に掃引変化させながらドレイン電流を計測すると、参照電位Vrefが低下するにつれて、正電荷をもつ被検出物質が感応膜25から離脱し、それに応じてドレイン電流が変化する。
Next, as shown in FIG. 5C, the drain potential Vd is connected to a positive constant potential, the source potential Vs is connected to the ground potential, and the drain current of the sensitive element 2 is measured. Here, the drain potential Vd is preferably 0.8 V or less. By setting the drain potential Vd to 0.8 V or less, impact ionization in the channel region 23 can be suppressed.
At this time, when the drain current is measured while the reference potential Vref is swept from, for example, a high potential to 0, the detected substance having a positive charge is detached from the sensitive film 25 as the reference potential Vref is lowered, and the drain is accordingly drained. The current changes.

以上のようにして得られた参照電位Vrefとドレイン電流との間の関係に基づいて、目的とするイオンや生体分子を検出することができる。また、水には水素イオン(H)や水酸化物イオン(OH)が含まれるので、何れかのイオンを検出することによって水分の検出もできる。
また、以上のようにして得られた参照電位Vrefとドレイン電流との間の関係を、別途得られた基礎データと比較することにより、目的とするイオン又は生体分子の濃度を測定することができる。また、水素イオン(H)又は水酸化物イオン(OH)の濃度から、水溶液やコンクリートのpHを測定することもできる。
Based on the relationship between the reference potential Vref and the drain current obtained as described above, target ions and biomolecules can be detected. Further, since water contains hydrogen ions (H + ) and hydroxide ions (OH ), moisture can be detected by detecting any one of the ions.
Moreover, the concentration of the target ion or biomolecule can be measured by comparing the relationship between the reference potential Vref obtained as described above and the drain current with the basic data obtained separately. . Moreover, pH of aqueous solution or concrete can also be measured from the density | concentration of hydrogen ion (H <+> ) or hydroxide ion (OH < - > ).

上述のように、第1の検出方法においては、参照電位Vrefを高電位から0に掃引変化させながらドレイン電流を計測する。このとき、チャネル領域23がフローティング化されているので、参照電位Vrefを逆スイープしたときのS値(サブスレッショルドスイング値)が小さく、急峻なI−V特性を示す。従って、感応膜25におけるイオン量の変化に対してドレイン電流の大きな変化が得られるので、高感度な化学センサになるとともに、低電圧での動作が可能となるので消費電力が低減される。   As described above, in the first detection method, the drain current is measured while the reference potential Vref is swept from the high potential to zero. At this time, since the channel region 23 is floated, the S value (subthreshold swing value) when the reference potential Vref is reversely swept is small and shows a steep IV characteristic. Accordingly, since a large change in drain current can be obtained with respect to a change in the amount of ions in the sensitive film 25, it becomes a highly sensitive chemical sensor and can be operated at a low voltage, thereby reducing power consumption.

<4.第2の検出方法>
図6は、上記化学センサを用いた第2の検出方法を説明する図である。第2の検出方法においても、第1の検出方法と同様に、感応素子2のチャネル領域23を所定電位に初期設定した後、チャネル領域23をフローティング化する。そして、第2の検出方法においては、チャネル領域23をフローティング化した状態で、参照電極40の参照電位Vrefを0から高電位に上昇させながら、感応素子2のドレイン電流を計測する。
<4. Second detection method>
FIG. 6 is a diagram for explaining a second detection method using the chemical sensor. Also in the second detection method, as in the first detection method, after the channel region 23 of the sensitive element 2 is initially set to a predetermined potential, the channel region 23 is floated. In the second detection method, the drain current of the sensitive element 2 is measured while raising the reference potential Vref of the reference electrode 40 from 0 to a high potential with the channel region 23 floating.

まず、被検出物質を含む液体に参照電極40及び感応膜25を接触させた状態で、図6(A)に示すように、トランジスタ30をONにして、感応素子2のチャネル領域23を所定電位(例えば接地電位)に接続する。これにより、チャネル領域23の電位Vcが上記所定電位に調整される。このとき、参照電位Vrefを例えば0(接地電位)に設定すると、感応素子2の感応膜25の電位が0となる。
次に、図6(B)に示すように、トランジスタ30をOFFにして、感応素子2のチャネル領域23をフローティング化する。これにより、チャネル・ボデイ領域23の電位をほぼ0にした状態でフローティング化することができる。
First, in a state where the reference electrode 40 and the sensitive film 25 are in contact with the liquid containing the substance to be detected, as shown in FIG. 6A, the transistor 30 is turned on to set the channel region 23 of the sensitive element 2 to a predetermined potential. (For example, ground potential). Thereby, the potential Vc of the channel region 23 is adjusted to the predetermined potential. At this time, if the reference potential Vref is set to 0 (ground potential), for example, the potential of the sensitive film 25 of the sensitive element 2 becomes zero.
Next, as shown in FIG. 6B, the transistor 30 is turned off, and the channel region 23 of the sensitive element 2 is floated. As a result, the channel body region 23 can be floated in a state in which the potential of the channel body region 23 is substantially zero.

次に、図6(C)に示すように、ドレイン電位Vdを正の一定電位に、ソース電位Vsを接地電位にそれぞれ接続し、感応素子2のドレイン電流を計測する。ここで、ドレイン電位Vdは1V以上であることが望ましい。ドレイン電位Vdを1V以上とすることにより、チャネル領域23におけるインパクトイオン化を生じさせることができる。
このとき、参照電位Vrefを例えば0から正電位に掃引変化させながらドレイン電流を計測すると、参照電位Vrefが上昇するにつれて、正電荷をもつ被検出物質が感応膜25に捕獲され、それに応じてドレイン電流が変化する。
Next, as shown in FIG. 6C, the drain potential Vd is connected to a positive constant potential, the source potential Vs is connected to the ground potential, and the drain current of the sensitive element 2 is measured. Here, the drain potential Vd is desirably 1 V or more. By setting the drain potential Vd to 1 V or more, impact ionization in the channel region 23 can be caused.
At this time, if the drain current is measured while sweeping and changing the reference potential Vref from 0 to a positive potential, for example, the detected substance having a positive charge is captured by the sensitive film 25 as the reference potential Vref increases, and the drain is accordingly drained. The current changes.

以上のようにして得られた参照電位Vrefとドレイン電流との間の関係に基づいて、目的とするイオンや生体分子を検出することができる。また、水には水素イオン(H)や水酸化物イオン(OH)が含まれるので、何れかのイオンを検出することによって水分の検出もできる。
また、以上のようにして得られた参照電位Vrefとドレイン電流との間の関係を、別途得られた基礎データと比較することにより、目的とするイオン又は生体分子の濃度を測定することができる。また、水素イオン(H)又は水酸化物イオン(OH)の濃度から、水溶液やコンクリートのpHを測定することもできる。
Based on the relationship between the reference potential Vref and the drain current obtained as described above, target ions and biomolecules can be detected. Further, since water contains hydrogen ions (H + ) and hydroxide ions (OH ), moisture can be detected by detecting any one of the ions.
Moreover, the concentration of the target ion or biomolecule can be measured by comparing the relationship between the reference potential Vref obtained as described above and the drain current with the basic data obtained separately. . Moreover, pH of aqueous solution or concrete can also be measured from the density | concentration of hydrogen ion (H <+> ) or hydroxide ion (OH < - > ).

図7は、インパクトイオン化について説明するグラフである。
上述のように、第2の検出方法においては、ドレイン電位Vdを1V以上とした状態で、参照電位Vrefを0から正電位に掃引変化させながらドレイン電流を計測する。このとき、ドレイン電位Vdによってチャネル領域23に大きな電位差が生じているため、電子がシリコン原子に衝突したエネルギーによって、シリコン原子が電子を放出する。これにより、新たな電子と正孔の組が発生して、正孔がフローテイング状態のチャネル・ボデイ領域に蓄積する。このため、閾値電圧が低下し、ドレイン電流値が飛躍的に増加する。
このようなインパクトイオン化により、感応膜25におけるイオン量の変化に対してドレイン電流の大きな変化が得られるので、高感度な化学センサとなるとともに、低電圧での動作が可能となるので消費電力が低減される。
FIG. 7 is a graph for explaining impact ionization.
As described above, in the second detection method, the drain current is measured while the reference potential Vref is swept from 0 to a positive potential in a state where the drain potential Vd is 1 V or more. At this time, since a large potential difference is generated in the channel region 23 due to the drain potential Vd, the silicon atoms emit electrons due to the energy of the electrons colliding with the silicon atoms. As a result, a new pair of electrons and holes is generated, and the holes accumulate in the channel body region in the floating state. For this reason, the threshold voltage decreases and the drain current value increases dramatically.
By such impact ionization, a large change in the drain current is obtained with respect to the change in the amount of ions in the sensitive film 25, so that it becomes a highly sensitive chemical sensor and can be operated at a low voltage, so that power consumption is reduced. Reduced.

1、1a…化学センサ、2…感応素子、3、3a…制御機構、10…基板層、11…半導体基板、12…絶縁層、16…パシベーション膜、21…ドレイン領域、22…ソース領域、23…チャネル領域、25…感応膜、27…コンタクト領域、30…トランジスタ、32…ソース領域、33…チャネル領域、34…ゲート絶縁膜、35…ゲート電極、38…可変電源装置、40…参照電極、120…素子分離膜、Vc…チャネル領域の電位、Vd…ドレイン電位、Vref…参照電位、Vs…ソース電位 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 1a ... Chemical sensor, 2 ... Sensitive element 3, 3a ... Control mechanism, 10 ... Substrate layer, 11 ... Semiconductor substrate, 12 ... Insulating layer, 16 ... Passivation film, 21 ... Drain region, 22 ... Source region, 23 ... Channel region, 25 ... Sensitive film, 27 ... Contact region, 30 ... Transistor, 32 ... Source region, 33 ... Channel region, 34 ... Gate insulating film, 35 ... Gate electrode, 38 ... Variable power supply device, 40 ... Reference electrode, 120 ... element isolation film, Vc ... channel region potential, Vd ... drain potential, Vref ... reference potential, Vs ... source potential

Claims (8)

第1導電型のドレイン領域と第1導電型のソース領域との間に第2導電型のチャネル領域が形成された第1半導体領域と、前記第2導電型のチャネル領域上に形成された感応膜と、を含み、液体中の被検出物質を検出する感応素子と、
前記第2導電型のチャネル領域の電位を制御し、且つフローティング化する制御機構と、
を具備する化学センサ。
A first semiconductor region in which a channel region of the second conductivity type is formed between the drain region of the first conductivity type and the source region of the first conductivity type; and a sensitivity formed on the channel region of the second conductivity type. A sensitive element for detecting a substance to be detected in the liquid,
A control mechanism for controlling the potential of the channel region of the second conductivity type and for floating;
A chemical sensor comprising:
請求項1において、
前記感応素子の第1半導体領域が絶縁層上に形成され、前記感応素子の第2導電型のチャネル領域は部分空乏化する不純物濃度及び膜厚で形成されている化学センサ。
In claim 1,
A chemical sensor in which a first semiconductor region of the sensitive element is formed on an insulating layer, and a channel region of the second conductivity type of the sensitive element is formed with an impurity concentration and a film thickness that are partially depleted.
請求項1又は2において、
前記制御機構は、第2導電型のソース領域と、前記第2導電型のソース領域と前記感応素子の第2導電型のチャネル領域との間に形成された第1導電型のチャネル領域と、前記第1導電型のチャネル領域上に形成されたゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極と、を含み、
前記第2導電型のソース領域は電源装置に電気的に接続された化学センサ。
In claim 1 or 2,
The control mechanism includes: a second conductivity type source region; a first conductivity type channel region formed between the second conductivity type source region and the second conductivity type channel region of the sensitive element; A gate insulating film formed on the channel region of the first conductivity type, and a gate electrode formed on the gate insulating film,
The second conductivity type source region is a chemical sensor electrically connected to a power supply device.
請求項1又は2において、
前記制御機構は、第2導電型のソース領域と第2導電型のドレイン領域との間に第1導電型のチャネル領域が形成された第2半導体領域と、前記第1導電型のチャネル領域上に形成されたゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極と、を含み、
前記第2導電型のドレイン領域及び前記第2導電型のソース領域の内の一方は、前記感応素子の第2導電型のチャネル領域に電気的に接続され、前記第2ドレイン領域及び第2ソース領域の内の他方は、電源装置に電気的に接続された化学センサ。
In claim 1 or 2,
The control mechanism includes a second semiconductor region in which a channel region of the first conductivity type is formed between a source region of the second conductivity type and a drain region of the second conductivity type, and the channel region of the first conductivity type. A gate insulating film formed on the gate insulating film, and a gate electrode formed on the gate insulating film,
One of the drain region of the second conductivity type and the source region of the second conductivity type is electrically connected to the channel region of the second conductivity type of the sensitive element, and the second drain region and the second source The other of the areas is a chemical sensor electrically connected to a power supply.
請求項1乃至4の何れか一項において、
前記被検出物質が含まれる液体の電位を制御する参照電極をさらに具備する化学センサ。
In any one of Claims 1 thru | or 4,
A chemical sensor further comprising a reference electrode for controlling a potential of a liquid containing the substance to be detected.
請求項5記載の化学センサを用いて、前記参照電極と前記感応膜とに接触する液体中の被検出物質を検出する方法において、
前記感応素子の第2導電型のチャネル領域を前記制御機構によって所定電位に接続するステップ(a)と、
前記感応素子の第2導電型のチャネル領域を前記制御機構によってフローティング化するステップ(b)と、
前記第2導電型のチャネル領域がフローティング化された状態で、前記参照電極の電位と前記感応素子のドレイン・ソース間電圧とが所定条件である場合の前記感応素子のドレイン電流を計測するステップ(c)と、
を具備する検出方法。
A method for detecting a substance to be detected in a liquid in contact with the reference electrode and the sensitive film using the chemical sensor according to claim 5,
Connecting the channel region of the second conductivity type of the sensitive element to a predetermined potential by the control mechanism;
(B) floating the channel region of the second conductivity type of the sensitive element by the control mechanism;
A step of measuring a drain current of the sensitive element when a potential of the reference electrode and a drain-source voltage of the sensitive element are in a predetermined condition in a state where the channel region of the second conductivity type is floated ( c) and
A detection method comprising:
請求項6において、
ステップ(b)の前に、前記第1導電型のソース領域の電位に対する前記感応膜の電位を前記参照電極によって所定電位に制御するステップ(d)をさらに具備し、
ステップ(c)において、前記感応膜の電位を、前記参照電極によって前記所定電位より低下させるとともに、前記感応膜の電位の低下前後における前記感応素子のドレイン電流を計測する検出方法。
In claim 6,
Before step (b), the method further comprises a step (d) of controlling the potential of the sensitive film with respect to the potential of the source region of the first conductivity type to a predetermined potential by the reference electrode,
In step (c), the potential of the sensitive film is lowered from the predetermined potential by the reference electrode, and the drain current of the sensitive element is measured before and after the potential of the sensitive film is lowered.
請求項6において、
ステップ(b)の前に、前記第1導電型のソース領域の電位に対する前記感応膜の電位を前記参照電極によって所定電位に制御するステップ(d)をさらに具備し、
ステップ(c)において、前記感応膜の電位を、前記参照電極によって前記所定電位より上昇させるとともに、前記感応膜の電位の上昇前後における前記感応素子のドレイン電流を、前記第1導電型のソース領域と前記第1導電型のドレイン領域との間に1V以上の電圧を印加して計測する検出方法。
In claim 6,
Before step (b), the method further comprises a step (d) of controlling the potential of the sensitive film with respect to the potential of the source region of the first conductivity type to a predetermined potential by the reference electrode,
In step (c), the potential of the sensitive film is raised above the predetermined potential by the reference electrode, and the drain current of the sensitive element before and after the rise of the potential of the sensitive film is changed to the source region of the first conductivity type. And a method of measuring by applying a voltage of 1 V or more between the first conductivity type drain region and the drain region of the first conductivity type.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019230917A1 (en) * 2018-05-31 2019-12-05 国立大学法人静岡大学 Ion concentration measuring device
US11828721B2 (en) 2018-05-31 2023-11-28 National University Corporation Shizuoka University Ion concentration measuring device
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