JP2011214917A - Identification method and identification device based on raman scattering, and method and device for measuring raman-scattering spectrum - Google Patents
Identification method and identification device based on raman scattering, and method and device for measuring raman-scattering spectrum Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011214917A JP2011214917A JP2010081749A JP2010081749A JP2011214917A JP 2011214917 A JP2011214917 A JP 2011214917A JP 2010081749 A JP2010081749 A JP 2010081749A JP 2010081749 A JP2010081749 A JP 2010081749A JP 2011214917 A JP2011214917 A JP 2011214917A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- raman scattering
- raman
- identification
- laser
- information
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
Description
本発明は、プラスチック、木や紙等の材質を非破壊的に識別するためのラマン散乱に基づくプラスチックの識別方法および識別装置、並びにラマン散乱スペクトルの計測方法および計測装置に関する。 The present invention relates to a plastic identification method and identification device based on Raman scattering for non-destructively identifying materials such as plastic, wood and paper, and a Raman scattering spectrum measurement method and measurement device.
家庭ごみや産業廃棄物として廃棄されるプラスチックの処理に際して、廃棄プラスチックの材質が不明な場合がある。このような廃棄プラスチックの大部分は、粉砕後、焼却処理するしかない。しかしながら、プラスチックは、その材質（原料の種類）が何であるかを識別することで、融解、再成形することが可能であるという特徴を有するので、付加価値の高い製品に再利用することが可能である。また、焼却する場合でも、例えばポリ塩化ビニルが存在していれば有毒ガス発生の恐れがあるので、事前にその存在を検出する必要がある。 When processing plastics that are discarded as household waste or industrial waste, the material of the discarded plastic may be unknown. Most of such waste plastics can only be incinerated after pulverization. However, plastic has the feature that it can be melted and re-molded by identifying what its material (type of raw material) is, so it can be reused for products with high added value. It is. Even in the case of incineration, for example, if polyvinyl chloride is present, toxic gas may be generated, so it is necessary to detect its presence in advance.
このような廃棄プラスチックの材質を識別する方法の一つとして、ラマン散乱スペクトルを利用した方法が提案されている。例えば、特許文献１には、レーザ光源から発した単色のレーザ光を、光ファイバを介してファイバヘッドに導き、このファイバヘッドを介してプラスチック素材にレーザ光を照射し、ファイバヘッドに備えられるファイバヘッド対物レンズを介して分光器に導き、分光分析することによりラマン散乱スペクトルを決定し、データベースに格納された既知のバンドパターンと照合することによりプラスチック素材の種類を識別することが記載されている。 As a method for identifying the material of such waste plastic, a method using a Raman scattering spectrum has been proposed. For example, in Patent Document 1, monochromatic laser light emitted from a laser light source is guided to a fiber head via an optical fiber, and a plastic material is irradiated with the laser light via the fiber head, so that the fiber provided in the fiber head It is described that a Raman scattering spectrum is determined by spectroscopic analysis through a head objective lens, and the type of plastic material is identified by collating with a known band pattern stored in a database. .
また、例えば、特許文献２には、ベルトコンベア上に載って運ばれてくる素材が未知の被識別プラスチックに、レーザ装置からレーザ光を照射して、分光器でラマン散乱スペクトルを測定し、このラマン散乱スペクトルから複数のラマンピークの波数およびその波数での相対強度値を抽出し、素材が既知のプラスチックのラマンピークの波数およびその波数での相対強度値と測定されたラマン散乱スペクトルのラマンピークの波数およびその波数での相対強度値とを比較し、この比較結果から被識別プラスチックの素材を識別することが記載されている。 Further, for example, in Patent Document 2, laser light is irradiated from a laser device onto an unknown plastic whose material is carried on a belt conveyor, and a Raman scattering spectrum is measured with a spectroscope. The wave number of multiple Raman peaks and their relative intensity values at that wave number are extracted from the Raman scattering spectrum, the wave number of the Raman peak of a known plastic, the relative intensity value at that wave number, and the Raman peak of the measured Raman scattering spectrum. And the relative intensity value at the wave number are compared, and the material of the plastic to be identified is identified from the comparison result.
上記特許文献１，２に記載のプラスチックの識別方法は、いずれも未知の被識別プラスチックから得たラマン散乱スペクトルと、既知のラマン散乱スペクトルとを直接比較することにより被識別プラスチックの種類を識別するものである。従来の方法では、ラマン散乱スペクトル同士を直接比較するため、ラマン散乱スペクトルをＳＮ比が大きくなるように測定する必要がある。そのため、通常の分光装置によるラマン散乱スペクトルの測定では、レーザ光を数秒照射し続けて行う必要があるため、従来の方法では１個のプラスチックを識別するのに長い時間が必要となる。 In the plastic identification methods described in Patent Documents 1 and 2, the type of the plastic to be identified is identified by directly comparing the Raman scattering spectrum obtained from the unknown plastic to be identified with the known Raman scattering spectrum. Is. In the conventional method, in order to directly compare the Raman scattering spectra, it is necessary to measure the Raman scattering spectrum so that the SN ratio is increased. For this reason, in the measurement of the Raman scattering spectrum by a normal spectroscopic device, it is necessary to continuously irradiate the laser beam for several seconds. Therefore, in the conventional method, it takes a long time to identify one plastic.
また、測定されたラマン散乱スペクトルからピークを抽出する数学的処理は、複雑で計算量の多いものであり、この操作にも長い時間を必要とする。上記特許文献１，２には測定時間についての記述はないが、最も良い条件で測定したとしても１秒間に数個程度の識別しか行うことができず、実用的ではない。多くの廃棄プラスチックが、粉砕して処理されていることを考えると、実用的なプラスチックの選別には、１秒間に数十個以上の識別を行うことが必要である。 In addition, the mathematical process for extracting a peak from the measured Raman scattering spectrum is complicated and computationally intensive, and this operation requires a long time. Although the above Patent Documents 1 and 2 do not describe the measurement time, even if measurement is performed under the best conditions, only a few identifications can be performed per second, which is not practical. Considering that many waste plastics are crushed and processed, it is necessary to identify several tens or more per second for practical plastic sorting.
そこで、本出願人は、特許文献３に記載の高速でプラスチックの材質を識別することが可能なラマン散乱に基づくプラスチックの識別方法を開発している。この識別方法では、レーザ光を被識別プラスチックに照射し、この被識別プラスチックから散乱されたラマン散乱光からラマン散乱信号を得て、予め既知のプラスチックのラマン散乱スペクトルを測定することにより設定した１点以上の既知ピーク位置のラマン散乱強度および既知ベースライン位置のラマン散乱強度と、被識別プラスチックのラマン散乱信号から得た識別したいプラスチックの材質ごとの既知ピーク位置に対応するラマンシフト波数におけるラマン散乱強度および既知ベースライン位置に対応するラマンシフト波数におけるラマン散乱強度とに基づいて被識別プラスチックの材質を識別する。 Therefore, the present applicant has developed a plastic identification method based on Raman scattering that can identify the plastic material at high speed described in Patent Document 3. This identification method is set by irradiating a plastic to be identified with laser light, obtaining a Raman scattering signal from the Raman scattered light scattered from the plastic to be identified, and measuring a Raman scattering spectrum of a known plastic in advance 1 Raman scattering intensity at the Raman shift wave number corresponding to the known peak position for each plastic material to be identified obtained from the Raman scattering intensity at the known peak position above the point, the Raman scattering intensity at the known baseline position, and the Raman scattering signal of the identified plastic The material of the plastic to be identified is identified based on the intensity and the Raman scattering intensity at the Raman shift wave number corresponding to the known baseline position.
ところが、上記のようにレーザ光を被識別プラスチックに照射して、この被識別プラスチックから散乱されたラマン散乱光を利用する場合において、レーザ光の波長が変動するとラマン散乱スペクトルが変化してしまうことが分かった。レーザ光の波長は検査環境の温度やレーザ光の駆動電流などにより簡単に変化するので、このようにラマン散乱スペクトルが変化した場合、プラスチックの識別を正確に行えなくなる可能性がある。 However, when the laser light is irradiated onto the plastic to be identified as described above and the Raman scattered light scattered from the plastic to be identified is used, the Raman scattering spectrum changes when the wavelength of the laser light varies. I understood. Since the wavelength of the laser light easily changes depending on the temperature of the inspection environment, the driving current of the laser light, etc., there is a possibility that the plastic cannot be accurately identified when the Raman scattering spectrum changes in this way.
そこで、本発明においては、レーザ光の波長の変動に関わらず、正確にプラスチックの識別を行うことが可能なプラスチックの識別方法および識別装置、並びにラマン散乱スペクトルの計測方法および計測装置を提供することを目的とする。 Accordingly, the present invention provides a plastic identification method and identification apparatus, and a Raman scattering spectrum measurement method and measurement apparatus that can accurately identify plastics regardless of fluctuations in the wavelength of laser light. With the goal.
本発明のラマン散乱に基づく識別方法は、レーザ光を識別対象物に照射し、この識別対象物から散乱されたラマン散乱光を検出してラマン散乱情報を得るラマン散乱情報取得ステップと、レーザ光を検出してレーザ情報を得るレーザ情報取得ステップと、レーザ情報に基づいてラマン散乱情報を補正する補正ステップと、補正後のラマン散乱情報に基づいて識別対象物を識別する識別ステップとを含む。 The identification method based on Raman scattering according to the present invention includes a Raman scattering information acquisition step of irradiating an identification target with laser light, detecting Raman scattered light scattered from the identification target and obtaining Raman scattering information, and laser light. Information acquisition step of detecting laser light to obtain laser information, a correction step of correcting Raman scattering information based on the laser information, and an identification step of identifying an identification object based on the corrected Raman scattering information.
また、本発明のラマン散乱に基づく識別装置は、レーザ光が照射された識別対象物から散乱されたラマン散乱光を検出してラマン散乱情報を得るラマン散乱情報取得手段と、レーザ光を検出してレーザ情報を得るレーザ情報取得手段と、レーザ情報に基づいてラマン散乱情報を補正する補正手段と、補正後のラマン散乱情報に基づいて識別対象物を識別する識別手段とを有するものである。 Further, the identification device based on Raman scattering according to the present invention detects Raman scattered light scattered from an identification object irradiated with laser light and obtains Raman scattering information, and detects laser light. Laser information acquisition means for obtaining laser information, correction means for correcting Raman scattering information based on the laser information, and identification means for identifying an identification object based on the corrected Raman scattering information.
これらの発明によれば、識別対象物に照射するレーザ光の波長の変動によりラマン散乱情報が変化した場合であっても、この識別対象物に照射するレーザ光を検出してレーザ情報を得て、得られたレーザ情報に基づいてラマン散乱情報を補正し、補正したラマン散乱情報に基づいて識別対象物を識別することができる。 According to these inventions, even when the Raman scattering information is changed due to a change in the wavelength of the laser light applied to the identification target, the laser information applied to the identification target is detected to obtain laser information. Then, the Raman scattering information is corrected based on the obtained laser information, and the identification object can be identified based on the corrected Raman scattering information.
上記本発明のラマン散乱に基づく識別方法における識別ステップでは、予め既知の識別対象物のラマン散乱スペクトルを測定することにより設定した１点以上のピーク位置（以下、「既知ピーク位置」と称す。）のラマン散乱強度およびベースライン位置（以下、「既知ベースライン位置」と称す。）のラマン散乱強度と、識別対象物の補正後のラマン散乱情報から得た識別したい識別対象物の材質ごとの既知ピーク位置に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度および既知ベースライン位置に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度とに基づいて識別対象物の材質を識別することが望ましい。 In the identification step in the identification method based on Raman scattering of the present invention, one or more peak positions set by measuring a Raman scattering spectrum of a known identification object in advance (hereinafter referred to as “known peak positions”). Raman scattering intensity and the baseline position (hereinafter referred to as “known baseline position”) of the light source, and the known material for each material of the identification object to be identified obtained from the corrected Raman scattering information of the identification object It is desirable to identify the material of the identification object based on the Raman scattering intensity at the wave number of the Raman shift corresponding to the peak position and the Raman scattering intensity at the wave number of the Raman shift corresponding to the known baseline position.
また、上記本発明のラマン散乱に基づく識別装置は、予め既知の識別対象物のラマン散乱スペクトルを測定することにより設定した１点以上のピーク位置（既知ピーク位置）のラマン散乱強度およびベースライン位置（既知ベースライン位置）のラマン散乱強度を記憶する記憶手段を有し、識別手段が、識別対象物の補正後のラマン散乱情報から得た識別したい識別対象物の材質ごとの既知ピーク位置に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度および既知ベースライン位置に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度と、記憶手段に記憶された既知ピーク位置のラマン散乱強度および既知ベースライン位置のラマン散乱強度とに基づいて識別対象物の材質を識別するものであることが望ましい。 Further, the identification device based on Raman scattering of the present invention has the Raman scattering intensity and the baseline position of one or more peak positions (known peak positions) set by measuring the Raman scattering spectrum of a known identification object in advance. It has a storage means for storing the Raman scattering intensity of (known baseline position), and the identification means corresponds to the known peak position for each material of the identification object to be identified obtained from the corrected Raman scattering information of the identification object. The Raman scattering intensity at the wave number of Raman shift and the Raman scattering intensity at the wave number of Raman shift corresponding to the known baseline position, the Raman scattering intensity at the known peak position and the Raman scattering intensity at the known baseline position stored in the storage means It is desirable to identify the material of the identification object based on the above.
これらにより、予め既知のプラスチックのラマン散乱スペクトルを測定して１点以上の既知ピーク位置のラマン散乱強度および既知ベースライン位置のラマン散乱強度を設定しておき、これらの既知ピーク位置のラマン散乱強度および既知ベースライン位置のラマン散乱強度と、レーザ光を識別対象物である識別対象物に照射して得られた補正後のラマン散乱情報から得た識別したいプラスチックの材質ごとの既知ピーク位置に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度および既知ベースライン位置に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度とに基づいて識別対象物の材質を識別することができる。 From these, the Raman scattering spectrum of a known plastic is measured in advance to set the Raman scattering intensity at one or more known peak positions and the Raman scattering intensity at a known baseline position, and the Raman scattering intensity at these known peak positions. Corresponding to the known peak position for each plastic material to be identified obtained from the Raman scattering intensity at the known baseline position and the corrected Raman scattering information obtained by irradiating the identification target object with laser light. The material of the identification object can be identified based on the Raman scattering intensity at the wave number of Raman shift and the Raman scattering intensity at the wave number of Raman shift corresponding to the known baseline position.
また、上記本発明のラマン散乱に基づく識別方法におけるレーザ情報取得ステップは、レーザ情報としてレーザ光の波長および強度を得ることが望ましい。また、上記本発明のラマン散乱に基づく識別装置においては、レーザ情報取得手段が、レーザ情報としてレーザ光の波長および強度を得るものであり、補正手段が、レーザ光の波長および強度に基づいてラマン散乱情報を補正するものであることが望ましい。これらにより、レーザ光の波長および強度の変動に応じてラマン散乱情報を補正することで、より正確なラマン散乱情報を得ることができる。 In the laser information acquisition step in the identification method based on Raman scattering of the present invention, it is desirable to obtain the wavelength and intensity of the laser light as the laser information. In the identification device based on the Raman scattering of the present invention, the laser information acquisition means obtains the wavelength and intensity of the laser light as the laser information, and the correction means determines the Raman based on the wavelength and intensity of the laser light. It is desirable to correct the scattering information. Thus, more accurate Raman scattering information can be obtained by correcting the Raman scattering information in accordance with fluctuations in the wavelength and intensity of the laser light.
また、本発明のラマン散乱に基づく識別装置において、レーザ情報取得手段は、識別対象物に照射され、反射されたレーザ光を検出してレーザ情報を得るものであることが望ましい。識別対象物に照射されるレーザ光を直接検出するのではなく反射されたレーザ光を検出することによって、レーザ光を直接検出するための構成を別に備えることが不要となる。 In the identification device based on Raman scattering according to the present invention, it is desirable that the laser information acquisition means is configured to obtain laser information by detecting the reflected laser beam irradiated on the identification object. By detecting the reflected laser beam instead of directly detecting the laser beam applied to the identification object, it is not necessary to provide a separate configuration for directly detecting the laser beam.
また、識別対象物から散乱されたラマン散乱光と反射されたレーザ光とは、共通の集光系により集光されるものであることが望ましい。ラマン散乱光と反射されたレーザ光とを共通の集光系により集光して行うことで、装置構成を簡略化することができる。 Further, it is desirable that the Raman scattered light scattered from the identification object and the reflected laser light are collected by a common light collecting system. The apparatus configuration can be simplified by condensing the Raman scattered light and the reflected laser light with a common condensing system.
また、本発明のラマン散乱に基づく識別装置は、ラマン散乱光およびレーザ光を分光する分光器と、レーザ光を減光するフィルタと、分光器により分光されたラマン散乱光およびフィルタにより減光されたレーザ光を検出する光検出器とを有する構成とすることができる。 Further, the identification device based on Raman scattering of the present invention is attenuated by the spectroscope for spectrally separating the Raman scattered light and the laser light, the filter for reducing the laser light, and the Raman scattered light and the filter dispersed by the spectroscope. And a photodetector that detects the laser beam.
ラマン散乱光と比較して非常に強度が高いレーザ光についてはフィルタにより減光して光検出器により検出することで、ラマン散乱信号の取得およびレーザ光の測定を１つの光検出器により行うことができる。 Laser light that is much stronger than Raman scattered light is attenuated by a filter and detected by a photodetector, so that the Raman scattered signal is acquired and the laser light is measured by a single photodetector. Can do.
あるいは、本発明のラマン散乱に基づく識別装置は、ラマン散乱光およびレーザ光を分光する分光器と、レーザ光を減光するフィルタと、分光器により分光されたラマン散乱光およびフィルタにより減光されたレーザ光を検出する光検出器と、レーザ光を光検出器の所定の位置へ反射するミラーとを有する構成とすることができる。 Alternatively, the identification device based on Raman scattering according to the present invention is dimmed by a spectroscope that splits the Raman scattered light and the laser light, a filter that attenuates the laser light, and the Raman scattered light and the filter that are spectrally separated by the spectroscope. The light detector for detecting the laser light and the mirror for reflecting the laser light to a predetermined position of the light detector can be used.
これにより、ラマン散乱光と比較して非常に強度が高いレーザ光についてはフィルタにより減光し、さらにこの減光されたレーザ光を、ラマン散乱信号の検出の必要がない光検出器の所定の位置へミラーにより反射して導くことで、光検出器の分解能を有効に利用して、ラマン散乱信号の取得およびレーザ光の測定を１つの光検出器により行うことができる。 As a result, the laser light having a very high intensity compared to the Raman scattered light is attenuated by the filter, and the dimmed laser light is further reduced to a predetermined value of the photodetector that does not require detection of the Raman scattered signal. By reflecting the light to a position by a mirror and effectively utilizing the resolution of the photodetector, the Raman scattering signal can be acquired and the laser beam can be measured by one photodetector.
また、本発明のラマン散乱に基づく識別装置は、ラマン散乱光およびレーザ光を分光する分光器と、レーザ光を減光するフィルタと、分光器により分光されたラマン散乱光を検出する第１光検出器と、フィルタにより減光されたレーザ光を検出する第２光検出器とを有する構成とすることができる。 In addition, the identification device based on Raman scattering according to the present invention includes a spectroscope that splits the Raman scattered light and the laser light, a filter that attenuates the laser light, and a first light that detects the Raman scattered light dispersed by the spectroscope. It can be set as the structure which has a detector and the 2nd photodetector which detects the laser beam attenuated by the filter.
これにより、ラマン散乱光と比較して非常に強度が高いレーザ光についてはフィルタにより減光し、ラマン散乱光を検出する第１光検出器とは別の第２光検出器により検出してラマン散乱信号の取得およびレーザ光の測定を行うことができる。 As a result, the laser light having a very high intensity compared to the Raman scattered light is attenuated by the filter, and is detected by the second photodetector different from the first photodetector for detecting the Raman scattered light. Scattering signal acquisition and laser light measurement can be performed.
また、本発明のラマン散乱スペクトルの計測方法は、レーザ光を対象物に照射し、この対象物から散乱されたラマン散乱光を検出してラマン散乱スペクトルを算出するラマン散乱スペクトルの計測方法において、レーザ光を検出してレーザ情報を得ること、レーザ情報に基づいてラマン散乱スペクトルを補正することを含む。 Further, the Raman scattering spectrum measurement method of the present invention is a method for measuring a Raman scattering spectrum by irradiating an object with laser light, detecting Raman scattered light scattered from the object, and calculating a Raman scattering spectrum. It includes detecting laser light to obtain laser information, and correcting a Raman scattering spectrum based on the laser information.
また、本発明のラマン散乱スペクトルの計測装置は、レーザ光を対象物に照射し、この対象物から散乱されたラマン散乱光を検出してラマン散乱スペクトルを算出するラマン散乱スペクトルの計測装置において、レーザ光を検出してレーザ情報を得るレーザ情報取得手段と、レーザ情報に基づいてラマン散乱スペクトルを補正する補正手段とを有するものである。 Further, the Raman scattering spectrum measuring apparatus of the present invention is a Raman scattering spectrum measuring apparatus that irradiates an object with laser light, detects Raman scattered light scattered from the object, and calculates a Raman scattering spectrum. Laser information acquisition means for detecting laser light to obtain laser information and correction means for correcting the Raman scattering spectrum based on the laser information are included.
これらの発明によれば、前述と同様に、対象物に照射するレーザ光の波長の変動によりラマン散乱スペクトルが変化した場合であっても、この対象物に照射するレーザ光を検出してレーザ情報を得て、得られたレーザ情報に基づいてラマン散乱スペクトルを補正することで、より正確なラマン散乱スペクトルを測定することが可能となる。 According to these inventions, as described above, even if the Raman scattering spectrum is changed due to the change in the wavelength of the laser beam irradiated to the object, the laser information is detected by detecting the laser beam irradiated to the object. And correcting the Raman scattering spectrum based on the obtained laser information, it becomes possible to measure a more accurate Raman scattering spectrum.
（１）レーザ光を識別対象物に照射し、この識別対象物から散乱されたラマン散乱光を検出してラマン散乱情報を得るとともに、レーザ光を検出してレーザ情報を得て、得られたレーザ情報に基づいてラマン散乱情報を補正し、補正後のラマン散乱情報に基づいて識別対象物を識別する構成により、識別対象物に照射するレーザ光の波長の変動によりラマン散乱情報が変化した場合であっても、この識別対象物に照射するレーザ光のレーザ情報を得てラマン散乱情報を補正し、補正したラマン散乱情報に基づいて識別対象物を識別することができ、より正確に識別対象物の識別を行うことが可能となる。 (1) It was obtained by irradiating an identification target with laser light, detecting Raman scattered light scattered from the identification target, obtaining Raman scattering information, and detecting laser light to obtain laser information. When the Raman scattering information changes due to fluctuations in the wavelength of the laser light that irradiates the identification target due to the configuration that corrects the Raman scattering information based on the laser information and identifies the identification target based on the corrected Raman scattering information Even so, it is possible to correct the Raman scattering information by obtaining the laser information of the laser light that irradiates the identification target, and to identify the identification target based on the corrected Raman scattering information. It becomes possible to identify an object.
（２）予め既知の識別対象物のラマン散乱スペクトルを測定することにより設定した１点以上のピーク位置のラマン散乱強度およびベースライン位置のラマン散乱強度と、識別対象物の補正後のラマン散乱情報から得た識別したい識別対象物の材質ごとの既知ピーク位置に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度および既知ベースライン位置に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度とに基づいて識別対象物の材質を識別する構成により、識別対象物のラマン散乱スペクトルを正確に測定してピーク位置を求めることなく、予め識別対象物の材質ごとに設定した既知ピーク位置と既知ベースライン位置にそれぞれ対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度のみを補正後のラマン散乱情報から求めるだけで良いため、高速に識別対象物の材質を識別することが可能となる。 (2) Raman scattering intensity at one or more peak positions and Raman scattering intensity at the baseline position set by measuring a Raman scattering spectrum of a known identification object in advance, and Raman scattering information after correction of the identification object Based on the Raman scattering intensity at the Raman shift wave number corresponding to the known peak position and the Raman scattering intensity at the Raman shift wave number corresponding to the known baseline position obtained from By identifying the material, the Raman scattering spectrum corresponding to the known peak position and the known baseline position set in advance for each material of the identification object can be obtained without accurately measuring the Raman scattering spectrum of the identification object and determining the peak position. Only the Raman scattering intensity at the wave number of the shift is obtained from the corrected Raman scattering information. Fried, it is possible to identify the material of the identification object at high speed.
（３）レーザ情報としてレーザ光の波長および強度を得る構成により、レーザ光の波長および強度の変動に応じてラマン散乱情報を補正し、より正確なラマン散乱情報を得ることができ、さらに正確な識別対象物の識別を行うことが可能となる。 (3) The configuration that obtains the wavelength and intensity of the laser light as the laser information can correct the Raman scattering information according to the fluctuation of the wavelength and intensity of the laser light to obtain more accurate Raman scattering information. The identification object can be identified.
（４）識別対象物に照射されるレーザ光を直接検出するのではなく反射されたレーザ光を検出することによって、レーザ光を直接検出するための構成を別に備えることが不要となり、簡単な構成で識別対象物の識別を行うことが可能となる。 (4) By detecting the reflected laser beam instead of directly detecting the laser beam applied to the identification object, it is not necessary to provide a separate configuration for directly detecting the laser beam, and a simple configuration The identification object can be identified with.
（５）識別対象物から散乱されたラマン散乱光と反射されたレーザ光とが共通の集光系により集光されるものであることにより、装置構成をより簡略化することができ、低廉な識別装置を得ることができる。 (5) Since the Raman scattered light scattered from the identification object and the reflected laser light are condensed by a common condensing system, the apparatus configuration can be further simplified and the cost can be reduced. An identification device can be obtained.
（６）ラマン散乱光およびレーザ光を分光する分光器と、レーザ光を減光するフィルタと、分光器により分光されたラマン散乱光およびフィルタにより減光されたレーザ光を検出する光検出器とを有する構成により、ラマン散乱信号の取得およびレーザ光の測定を１つの光検出器により行うことができ、低廉な識別装置を得ることが可能となる。 (6) A spectroscope that splits Raman scattered light and laser light, a filter that attenuates laser light, and a photodetector that detects Raman scattered light that has been dispersed by the spectroscope and laser light that has been attenuated by the filter, With this configuration, it is possible to obtain a Raman scattered signal and measure a laser beam with a single photodetector, and to obtain an inexpensive identification device.
（７）ラマン散乱光およびレーザ光を分光する分光器と、レーザ光を減光するフィルタと、分光器により分光されたラマン散乱光およびフィルタにより減光されたレーザ光を検出する光検出器と、レーザ光を光検出器の所定の位置へ反射するミラーとを有する構成により、光検出器の分解能を有効に利用して、ラマン散乱信号の取得およびレーザ光の測定を１つの光検出器により行うことができるので、高精度で低廉な識別装置を実現できる。 (7) A spectroscope that splits Raman scattered light and laser light, a filter that attenuates the laser light, and a photodetector that detects Raman scattered light that has been spectrally separated by the spectroscope and the laser light that has been attenuated by the filter, The configuration having the mirror that reflects the laser light to a predetermined position of the photodetector effectively utilizes the resolution of the photodetector to acquire the Raman scattered signal and measure the laser light with a single photodetector. Therefore, a highly accurate and inexpensive identification device can be realized.
（８）ラマン散乱光およびレーザ光を分光する分光器と、レーザ光を減光するフィルタと、分光器により分光されたラマン散乱光を検出する第１光検出器と、フィルタにより減光されたレーザ光を検出する第２光検出器とを有する構成により、ラマン散乱光を検出する第１光検出器とは別の第２光検出器により検出してラマン散乱信号の取得およびレーザ光の測定を行うことができるので、第１光検出器は分解能の高いものを、第２光検出器は分解能の低いものを使用して、低コスト化を図ることが可能となる。 (8) A spectroscope that splits Raman scattered light and laser light, a filter that attenuates laser light, a first photodetector that detects Raman scattered light dispersed by the spectroscope, and light that has been attenuated by the filter With a configuration including a second photodetector for detecting laser light, detection by a second photodetector different from the first photodetector for detecting Raman scattered light to obtain a Raman scattered signal and measurement of the laser light Therefore, it is possible to reduce the cost by using a high-resolution first photodetector and a low-resolution second photodetector.
（９）レーザ光を検出してレーザ情報を得て、得られたレーザ情報に基づいてラマン散乱スペクトルを補正することで、より正確なラマン散乱スペクトルを測定することが可能となる。 (9) By detecting laser light to obtain laser information and correcting the Raman scattering spectrum based on the obtained laser information, it becomes possible to measure a more accurate Raman scattering spectrum.
図１は本発明の実施の形態におけるプラスチック識別装置の概略構成図、図２は図１のラマン散乱光識別装置の光学系を示す構成図、図３は図１のラマン散乱光識別装置のブロック図、図４は図２のマルチチャンネル分光器の概略構成図である。 1 is a schematic configuration diagram of a plastic identification device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a configuration diagram showing an optical system of the Raman scattered light identification device in FIG. 1, and FIG. 3 is a block diagram of the Raman scattered light identification device in FIG. 4 and 4 are schematic configuration diagrams of the multi-channel spectrometer of FIG.
図１において、本発明の実施の形態におけるラマン散乱に基づく識別装置としてのプラスチック識別装置１は、搬入された粉砕プラスチックを異物とプラスチック片とに選別する風力選別や比重選別のような前処理設備２と、前処理設備２により選別されたプラスチック片を振動させて整列させる振動整列フィーダ３と、振動整列フィーダ３により整列させたプラスチック片を載置台としてのベルト４ａ上に載置して搬送する搬送装置としてのベルトコンベア４と、ベルトコンベア４上のプラスチック片、すなわち識別対象物である被識別プラスチックにレーザ光を照射し、この被識別プラスチックから散乱されたラマン散乱光を得て被識別プラスチックの材質および品質を識別するラマン散乱光識別装置５とを備える。 In FIG. 1, a plastic identification device 1 as an identification device based on Raman scattering in an embodiment of the present invention is a pre-processing facility such as wind sorting or specific gravity sorting that sorts crushed plastic into foreign substances and plastic pieces. 2, a vibration alignment feeder 3 that vibrates and aligns the plastic pieces selected by the pretreatment facility 2, and the plastic pieces aligned by the vibration alignment feeder 3 are placed on a belt 4 a serving as a placement table and conveyed. A belt conveyor 4 as a conveying device and a plastic piece on the belt conveyor 4, that is, a plastic to be identified that is an identification target, are irradiated with laser light, and Raman scattered light scattered from the plastic to be identified is obtained to identify the plastic to be identified. And a Raman scattered light identification device 5 for identifying the material and quality of
また、このプラスチック識別装置１は、ラマン散乱識別装置５による識別の結果に応じて圧縮空気を噴出することにより被識別プラスチックを材質および品質ごとに選別する選別用エアガン６と、選別用エアガン６を駆動するエアガン駆動装置７と、ラマン散乱識別装置５とエアガン駆動装置７との動作を同期させて制御する同期制御装置８とを備える。また、このプラスチック識別装置１は、ベルトコンベア４の搬送速度を調整するコンベア速度調整装置９を備えており、同期制御装置８は、ラマン散乱識別装置５とエアガン駆動装置７とともにコンベア速度調整装置９の動作を同期させて制御する。 Further, the plastic identifying device 1 includes a sorting air gun 6 that sorts the plastic to be identified according to material and quality by ejecting compressed air according to the result of identification by the Raman scattering identifying device 5, and a sorting air gun 6. An air gun driving device 7 for driving, and a synchronous control device 8 for controlling operations of the Raman scattering identification device 5 and the air gun driving device 7 in synchronization are provided. In addition, the plastic identification device 1 includes a conveyor speed adjustment device 9 that adjusts the conveyance speed of the belt conveyor 4, and the synchronization control device 8 includes the Raman scattering identification device 5 and the air gun driving device 7, and the conveyor speed adjustment device 9. The operation is controlled in synchronization.
ラマン散乱識別装置５は、図２に示すように、レーザ光Ｌをベルト４ａ上に載置された被識別プラスチックＰに照射するとともに、この被識別プラスチックＰから散乱されたラマン散乱光および被識別プラスチックにより反射されたレーザ光を集光する検出部ヘッド１１と、検出ヘッド１１と光ファイバ２１により接続されるマルチチャンネル分光器２２と、マルチチャンネル分光器２２から出力される電気信号を入力して処理するデータ処理装置３０と、後述の半導体レーザ発生装置１２を駆動するための半導体レーザ駆動電源４０とを有する。 As shown in FIG. 2, the Raman scattering identification device 5 irradiates the identification target plastic P placed on the belt 4a with the laser light L, and the Raman scattered light scattered from the identification plastic P and the identification target. The detection unit head 11 that condenses the laser light reflected by the plastic, the multichannel spectrometer 22 connected by the detection head 11 and the optical fiber 21, and the electrical signal output from the multichannel spectrometer 22 are input. It has a data processing device 30 for processing and a semiconductor laser drive power source 40 for driving a semiconductor laser generator 12 described later.
検出部ヘッド１１は、レーザ光Ｌを識別対象物である被識別プラスチックＰに照射するレーザ照射系、および、レーザ光Ｌの照射により被識別プラスチックＰから散乱されたラマン散乱光Ｒと被識別プラスチックＰにより反射されたレーザ光とを集光する集光系を構成する。 The detection unit head 11 irradiates the identification target plastic P that is the identification target with the laser beam L, and the Raman scattered light R scattered from the identification plastic P by the irradiation of the laser beam L and the identification plastic. A condensing system for condensing the laser beam reflected by P is configured.
検出部ヘッド１１は、半導体レーザ発生装置１２と、集光レンズ１３と、半導体レーザ発生装置１２により発生したレーザ光Ｌを反射して集光レンズ１３まで導くミラー１４ａおよびダイクロイックミラー１４ｂとを備える。ダイクロイックミラー１４ｂは、レーザ光Ｌを反射し、かつラマン散乱光Ｒを透過するものである。なお、ミラー１４ａは、半導体レーザ発生装置１２の向きを調整することで省略することも可能である。また、ダイクロイックミラー１４ｂは、レーザ光Ｌを反射し、かつラマン散乱光Ｒを透過するハーフミラーに代えることも可能である。 The detection unit head 11 includes a semiconductor laser generator 12, a condenser lens 13, and a mirror 14 a and a dichroic mirror 14 b that reflect the laser light L generated by the semiconductor laser generator 12 and guide it to the condenser lens 13. The dichroic mirror 14b reflects the laser light L and transmits the Raman scattered light R. The mirror 14 a can be omitted by adjusting the direction of the semiconductor laser generator 12. The dichroic mirror 14b can be replaced with a half mirror that reflects the laser light L and transmits the Raman scattered light R.
半導体レーザ発生装置１２は、例えば、波長６００〜１０６４ｎｍの範囲で１００ｍＷ以上の出力が得られる高出力のものを用いる。半導体レーザ発生装置１２により発生したレーザ光Ｌは、ミラー１４ａにより反射され、さらにダイクロイックミラー１４ｂにより反射されて集光レンズ１３へ導かれ、集光レンズ１３により集光されて被識別プラスチックＰへと照射される。 For example, a semiconductor laser generator 12 having a high output capable of obtaining an output of 100 mW or more in a wavelength range of 600 to 1064 nm is used. The laser light L generated by the semiconductor laser generator 12 is reflected by the mirror 14a, is further reflected by the dichroic mirror 14b, is guided to the condenser lens 13, and is condensed by the condenser lens 13 to the identification plastic P. Irradiated.
検出部ヘッド１１は、このレーザ光Ｌの照射により被識別プラスチックＰから散乱されたラマン散乱光Ｒを集光レンズ１３により集光して光ファイバ２１へ導く。ラマン散乱光Ｒは、ダイクロイックミラー１４ｂを透過して光ファイバ２１の入射口へ集光される。また、集光レンズ１３には被識別プラスチックＰにより反射されたレーザ光も入射し、一部はダイクロイックミラー１４ｂを透過して光ファイバ２１の入射口へ集光される。 The detection unit head 11 condenses the Raman scattered light R scattered from the identification plastic P by the irradiation of the laser light L by the condenser lens 13 and guides it to the optical fiber 21. The Raman scattered light R passes through the dichroic mirror 14 b and is collected at the entrance of the optical fiber 21. Further, laser light reflected by the identification plastic P also enters the condenser lens 13, and a part of the laser light passes through the dichroic mirror 14 b and is condensed on the entrance of the optical fiber 21.
光ファイバ２１は、このように検出部ヘッド１１の集光レンズ１３により集光したラマン散乱光Ｒおよび反射されたレーザ光をマルチチャンネル分光器２２へ導くものである。なお、光ファイバ２１を省略し、検出部ヘッド１１にマルチチャンネル分光器２２を内蔵して、集光レンズ１３により集光したラマン散乱光Ｒおよび反射されたレーザ光を直接マルチチャンネル分光器２２に入光させる構成とすることも可能である。 The optical fiber 21 guides the Raman scattered light R and the reflected laser light collected by the condenser lens 13 of the detection unit head 11 to the multichannel spectrometer 22 in this way. In addition, the optical fiber 21 is omitted, and the multi-channel spectrometer 22 is built in the detection unit head 11, and the Raman scattered light R and the reflected laser light collected by the condenser lens 13 are directly supplied to the multi-channel spectrometer 22. It is also possible to adopt a configuration for entering light.
マルチチャンネル分光器２２は、図４に示すように、ラマン散乱光Ｒおよび反射されたレーザ光を反射および分光する反射型回折格子等の分光器２３と、分光器２３により分光された光を検出して電気信号へ変換するＣＣＤ（Charge Coupled Device）やリニアアレイフォトダイオード等の例えば１０２４画素の２次元の光検出器２４と、分光器２３により分光されたレーザ光Ｌの反射光を減光するフィルタとしての減光フィルタ２５とから構成される。 As shown in FIG. 4, the multichannel spectroscope 22 detects a spectroscope 23 such as a reflective diffraction grating that reflects and splits the Raman scattered light R and the reflected laser light, and detects the light split by the spectroscope 23. Then, the two-dimensional photodetector 24 of 1024 pixels, such as a CCD (Charge Coupled Device) or a linear array photodiode, which converts it into an electrical signal, and the reflected light of the laser beam L dispersed by the spectrometer 23 are reduced. And a neutral density filter 25 as a filter.
分光器２３により反射および分光されたラマン散乱光Ｒは、光検出器２４の大部分である一部の画素群２４ａへ入射されるように調整されている。光検出器２４の画素群２４ａに入射されたラマン散乱光Ｒは、光検出器２４により電気信号へ変換され、データ処理装置３０へ入力される。データ処理装置３０は、この入力されたラマン散乱信号からラマン散乱情報を得るためのラマン散乱情報取得手段３１（図３参照。）を有している。 The Raman scattered light R reflected and dispersed by the spectroscope 23 is adjusted so as to be incident on a part of the pixel group 24 a that is the majority of the photodetector 24. The Raman scattered light R incident on the pixel group 24 a of the photodetector 24 is converted into an electrical signal by the photodetector 24 and input to the data processing device 30. The data processing device 30 has a Raman scattering information acquisition unit 31 (see FIG. 3) for obtaining Raman scattering information from the input Raman scattering signal.
また、分光器２３により反射されたレーザ光は、減光フィルタ２５により減光された後、光検出器２４の小部分である一部の画素群２４ｂへ入射されるように調整されている。光検出器２４の画素群２４ｂに入射されたレーザ光は、光検出器２４により電気信号へ変換され、データ処理装置３０へ入力される。データ処理装置３０は、この入力されたレーザ信号からレーザ情報を得るためのレーザ情報取得手段３２（図３参照。）を有している。 The laser light reflected by the spectroscope 23 is adjusted so as to be incident on a part of the pixel group 24 b which is a small part of the photodetector 24 after being attenuated by the neutral density filter 25. The laser light incident on the pixel group 24 b of the photodetector 24 is converted into an electrical signal by the photodetector 24 and input to the data processing device 30. The data processing device 30 includes laser information acquisition means 32 (see FIG. 3) for obtaining laser information from the input laser signal.
データ処理装置３０は、パーソナルコンピュータやＣＰＵボード等であり、マルチチャンネル分光器２２は、例えばＰＣＩ（Peripheral Component Interconnect）インタフェースにより接続される。図３に示すように、データ処理装置３０は、上記ラマン散乱情報取得手段３１およびレーザ情報取得手段３２の他、レーザ情報に基づいてラマン散乱情報を補正する補正手段３３と、予め設定された基準値等を記憶する記憶手段３４と、ラマン散乱情報に基づいて被識別プラスチックＰの材質を識別する識別手段３５と、識別結果を出力する出力手段３６とを有する。 The data processing device 30 is a personal computer, a CPU board, or the like, and the multichannel spectrometer 22 is connected by, for example, a PCI (Peripheral Component Interconnect) interface. As shown in FIG. 3, in addition to the Raman scattering information acquisition unit 31 and the laser information acquisition unit 32, the data processing device 30 includes a correction unit 33 that corrects Raman scattering information based on the laser information, and a preset reference. A storage unit 34 that stores values and the like, an identification unit 35 that identifies the material of the plastic P to be identified based on Raman scattering information, and an output unit 36 that outputs the identification result.
ラマン散乱情報取得手段３１は、光検出器２４の画素群２４ａから入力された電気信号からラマン散乱情報としての所定のラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度を得るものである。レーザ情報取得手段３２は、光検出器２４の画素群２４ｂから入力された電気信号からレーザ情報としてのレーザ光の波長および強度を得るものである。 The Raman scattering information acquisition means 31 obtains the Raman scattering intensity at a predetermined Raman shift wave number as Raman scattering information from the electrical signal input from the pixel group 24a of the photodetector 24. The laser information acquisition means 32 obtains the wavelength and intensity of laser light as laser information from the electrical signal input from the pixel group 24b of the photodetector 24.
補正手段３３は、レーザ情報に基づいてラマン散乱情報を補正するものである。前述のように、レーザ光Ｌの波長が変動するとラマン散乱スペクトルは変化する。具体的には、図７に示すようなラマン散乱スペクトルの各ピークの横軸上の位置（ラマンシフトの波数）および縦軸上の位置（強度）が、レーザ光の波長および強度の変化（波数０のピーク位置に相当）に応じて変化する。そこで、補正手段３３は、レーザ情報取得手段３２により取得したレーザ光の波長および強度に基づいて、ラマン散乱情報取得手段３１により取得する所定のラマンシフトの波数およびそのラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度を補正する。 The correcting means 33 corrects the Raman scattering information based on the laser information. As described above, when the wavelength of the laser beam L varies, the Raman scattering spectrum changes. Specifically, the position on the horizontal axis (wave number of Raman shift) and the position (intensity) on the vertical axis of each peak of the Raman scattering spectrum as shown in FIG. Corresponding to the peak position of 0). Therefore, the correcting means 33 is based on the wavelength and intensity of the laser light acquired by the laser information acquiring means 32, and the predetermined Raman shift wave number acquired by the Raman scattering information acquiring means 31 and the Raman scattering intensity at the Raman shift wave number. Correct.
記憶手段３４に記憶される基準値は、識別したいプラスチック、例えば、ＰＣ（ポリカーボネート）、ＰＳ（ポリスチレン）、ＰＰ（ポリプロピレン）、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）、ＰＶＣ（ポリ塩化ビニル）、ＡＢＳ樹脂（アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン共重合合成樹脂）、ＬＤＰＥ（低密度ポリエチレン）やＨＤＰＥ（高密度ポリエチレン）等の既知のプラスチックの材質ごとに予めラマン散乱スペクトルを測定することにより設定した１点以上の既知ピーク位置および既知ベースライン位置のそれぞれのラマン散乱強度である。 The reference values stored in the storage means 34 are plastics to be identified, such as PC (polycarbonate), PS (polystyrene), PP (polypropylene), PET (polyethylene terephthalate), PVC (polyvinyl chloride), ABS resin (acrylonitrile. One or more known peak positions set by measuring a Raman scattering spectrum in advance for each known plastic material such as butadiene / styrene copolymer synthetic resin), LDPE (low density polyethylene) and HDPE (high density polyethylene), and The Raman scattering intensity at each known baseline position.
図８は本実施形態におけるプラスチック識別装置により参照資料としての既知のプラスチック（アクリル、ＰＣ、ＡＢＳ、ＰＳ、ＰＶＣ）のそれぞれのラマン散乱スペクトルを取得した結果を示している。図８の横軸はラマンシフトの波数（ｃｍ-1）、縦軸はラマン散乱強度（任意強度）である。 FIG. 8 shows the result of acquiring the Raman scattering spectrum of each of known plastics (acrylic, PC, ABS, PS, PVC) as a reference material by the plastic identifying apparatus in the present embodiment. In FIG. 8, the horizontal axis represents the Raman shift wavenumber (cm −1 ), and the vertical axis represents the Raman scattering intensity (arbitrary intensity).
図８において、ＰＳを例に説明すると、ＰＳでは点Ａ1と点Ａ2の位置にピークがあるので、これらの２点Ａ1，Ａ2またはその近傍をＰＳ識別のためのピーク位置とする。また、これらのピーク位置Ａ1，Ａ2間にベースライン上の点Ｂがあるので、この点ＢをＰＳ識別のためのベースライン位置とする。なお、ベースラインの位置と強度には、ピーク位置からあまり離れていないラマン散乱強度が弱く、底になった部分の値を用いることが望ましい。また、強度の算出には、ピーク位置やベースライン位置を含む近傍の測定点の平均値を算出して、これを用いることでＳＮ比の向上を図ることができる。 8, when describing the PS as an example, there is a peak at a position of the point in the PS A 1 and point A 2, these two points A 1, A 2 or the vicinity thereof to the peak position for the PS identification . Since there is a point B on the baseline between these peak positions A 1 and A 2 , this point B is set as a baseline position for PS identification. For the baseline position and intensity, it is desirable to use the value of the bottom portion because the Raman scattering intensity that is not so far from the peak position is weak. In calculating the intensity, the average value of the measurement points in the vicinity including the peak position and the baseline position is calculated, and this can be used to improve the SN ratio.
識別手段３５は、識別したいプラスチックの材質ごとの既知ピーク位置（ＰＳの例では２点Ａ1，Ａ2）に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度および既知ベースライン位置（ＰＳの例では点Ｂ）に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度をラマン散乱情報取得手段３１によって得るものであるが、このとき、識別手段３５は、前述のようにレーザ光の波長および強度に基づいて補正手段３３により補正された対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度を得る。また、識別手段３５は、これらの得られたラマン散乱強度と記憶手段３４に記憶された基準値とに基づいて被識別プラスチックの材質を識別するものである。 The discriminating means 35 detects the Raman scattering intensity and the known baseline position (points in the PS example) corresponding to the known peak positions (two points A 1 and A 2 in the PS example) for each plastic material to be identified. B) The Raman scattering intensity at the wave number of the Raman shift corresponding to B) is obtained by the Raman scattering information acquisition means 31. At this time, the identification means 35 corrects based on the wavelength and intensity of the laser light as described above. The Raman scattering intensity at the wave number of the corresponding Raman shift corrected by 33 is obtained. The identifying means 35 identifies the material of the plastic to be identified based on the obtained Raman scattering intensity and the reference value stored in the storage means 34.
例えば、識別手段３５は、識別したいプラスチックの材質ごとの既知ピーク位置（２点
Ａ1，Ａ2）に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度ＲA1，ＲA2と既知ベースライン位置（点Ｂ）に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度ＲBとのそれぞれの差（ＲA1−ＲB），（ＲA2−ＲB）と、基準値としての既知のプラスチックの既知ピーク位置のラマン散乱強度ＲA10，ＲA20と既知ベースライン位置のラマン散乱強度ＲB0との差（ＲA01−ＲB0），（ＲA20−ＲB0）とを、直接またはそれぞれの比（ＲA1−ＲB）／（ＲA2−ＲB），（ＲA10−ＲB0）／（ＲA20−ＲB0）によって比較することにより被識別プラスチックの材質を識別する。なお、直接比較する際の基準値（ＲA10−ＲB0），（ＲA20−ＲB0）、または、比によって比較する際の基準値（ＲA10−ＲB0）／（ＲA20−ＲB0）は、予め記憶手段３４に記憶しておく。
For example, the discriminating means 35 uses the Raman scattering intensities R A1 and R A2 at the wave number of the Raman shift corresponding to the known peak positions (two points A 1 and A 2 ) for each plastic material to be identified, and the known baseline position (point B). each of the difference between the Raman scattering intensity R B at a wave number of the corresponding Raman shift in) (R A1 -R B), ( and R A2 -R B), the Raman scattering of the known peak positions of the known plastic as a reference value The difference between the intensities R A10 and R A20 and the Raman scattering intensity R B0 at the known baseline position (R A01 −R B0 ) and (R A20 −R B0 ) can be directly or ratioed (R A1 −R B ). The material of the plastic to be identified is identified by comparing with / (R A2 -R B ), (R A10 -R B0 ) / (R A20 -R B0 ). The reference value for comparing directly (R A10 -R B0), ( R A20 -R B0), or, the reference value for comparing the ratio (R A10 -R B0) / ( R A20 -R B0) Is stored in the storage means 34 in advance.
図９はこの識別手段３５によるＰＳの識別例を示している。図９に示すように、ＰＳの２点Ａ1，Ａ2の既知ピーク位置に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度ＲA1，ＲA2と点Ｂの既知ベースライン位置に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度ＲBとのそれぞれの差（ＲA1−ＲB），（ＲA2−ＲB）の比（ＲA1−ＲB）／（ＲA2−ＲB）は、他の材質のものとは大きく相違している。したがって、ＰＳの既知ピーク位置のラマン散乱強度ＲA10，ＲA20と既知ベースライン位置のラマン散乱強度ＲB0との差（ＲA01−ＲB0），（ＲA20−ＲB0）の比（ＲA10−ＲB0）／（ＲA20−ＲB0）から設定した基準値としての閾値ＳPSによってフィルタリング（図示例では（ＲA10−ＲB0），（ＲA20−ＲB0）＞ＳPS＝２．５のみ抽出）することにより、ＰＳ、ＰＰ、ＰＥＴ、ＬＤＰＥ、ＨＤＰＥが混在した試料からＰＳのみを識別して抽出することが可能である。 FIG. 9 shows an example of PS identification by the identification means 35. As shown in FIG. 9, the Raman scattering intensities R A1 and R A2 at the wave number of the Raman shift corresponding to the known peak positions at the two points A 1 and A 2 of PS and the Raman shift corresponding to the known baseline position at the point B are shown. The ratio (R A1 -R B ) / (R A2 -R B ) of the difference (R A1 -R B ) and (R A2 -R B ) from the Raman scattering intensity R B at the wave number is the same as that of other materials. It is very different from the thing. Therefore, the ratio (R A10 ) of the difference (R A01 −R B0 ) and (R A20 −R B0 ) between the Raman scattering intensities R A10 and R A20 at the known peak position of PS and the Raman scattering intensity R B0 at the known baseline position. -R B0) / (the filtering (shown example by thresholding S PS as a reference value set from R A20 -R B0) (R A10 -R B0), (R A20 -R B0)> S PS = 2.5 By extracting only PS), it is possible to identify and extract only PS from a sample in which PS, PP, PET, LDPE, and HDPE are mixed.
なお、図示しないが、他の種類のプラスチックにおいても同様にそれぞれのプラスチックの既知ピーク位置に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度と既知ベースライン位置に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度とのそれぞれの差や比等に基づいて被識別プラスチックの材質を識別することが可能である。 Although not shown, in other types of plastics, similarly, the Raman scattering intensity at the Raman shift wave number corresponding to the known peak position of each plastic and the Raman scattering intensity at the Raman shift wave number corresponding to the known baseline position It is possible to identify the material of the plastic to be identified on the basis of the difference or ratio.
上記構成のプラスチック識別装置１では、搬入された粉砕プラスチック（異物が含まれている場合もある。）を前処理風選機２により異物とプラスチック片とに選別し、この選別されたプラスチック片を振動整列フィーダ３により振動させて整列させ、ベルトコンベア４により搬送する。そして、ラマン散乱識別装置５によりベルトコンベア４のベルト４ａ上の被識別プラスチックＰにレーザ光を照射してプラスチックの材質を識別し、識別結果に応じて選別用エアガン６により選別して材質ごとに回収する。 In the plastic identification device 1 having the above-described configuration, the crushed plastic (which may contain foreign matter) is sorted into the foreign matter and the plastic piece by the pretreatment wind sorter 2, and the sorted plastic piece is separated. Vibrating and aligning is performed by the vibration alignment feeder 3 and conveyed by the belt conveyor 4. Then, the Raman scattering identification device 5 irradiates the plastic P to be identified on the belt 4a of the belt conveyor 4 with laser light to identify the material of the plastic, and sorts it by the sorting air gun 6 according to the identification result. to recover.
このとき、ラマン散乱識別装置５では、強力なレーザ光を発生する半導体レーザ発生装置１２を光源として、このレーザ光を試料である被識別プラスチックＰの表面に凸レンズ１３により集光照射し、その散乱光に含まれるラマン散乱光を、レーザ光の集光に使用した同じ凸レンズ１３により同軸で集光し、光ファイバ２１でマルチチャンネル分光器２２に導き、マルチチャンネル分光して光検出器２４の画素群２４ａに入射させることによりラマン散乱情報を得る。 At this time, the Raman scattering identification device 5 uses the semiconductor laser generation device 12 that generates a powerful laser beam as a light source, and condenses and irradiates the laser light on the surface of the identification plastic P that is a sample by the convex lens 13. The Raman scattered light contained in the light is condensed coaxially by the same convex lens 13 used for condensing the laser light, guided to the multichannel spectroscope 22 by the optical fiber 21, subjected to multichannel spectroscopy, and the pixel of the photodetector 24. Raman scattering information is obtained by entering the group 24a.
このとき、本実施形態におけるラマン散乱識別装置５では、同時に被識別プラスチックＰに反射されたレーザ光を光検出器２４の画素群２４ｂに入射させることにより検出してレーザ情報を得て、このレーザ情報に基づきラマン散乱情報を補正し、補正後のラマン散乱情報に基づいて被識別プラスチックＰを識別する。なお、ここで得る補正後のラマン散乱情報は、予め設定したピーク位置とベースライン位置のみを得るだけで良いため、従来のようにラマン散乱スペクトル全体を正確に測定する必要はない。 At this time, in the Raman scattering identification device 5 in this embodiment, the laser light simultaneously reflected by the plastic P to be identified is incident on the pixel group 24b of the photodetector 24 to detect and obtain laser information. The Raman scattering information is corrected based on the information, and the identified plastic P is identified based on the corrected Raman scattering information. Note that the corrected Raman scattering information obtained here only needs to obtain only the preset peak position and baseline position, and therefore it is not necessary to accurately measure the entire Raman scattering spectrum as in the prior art.
以上のように、本実施形態におけるラマン散乱識別装置５では、レーザ光を被識別プラスチックＰに照射し、この被識別プラスチックＰから散乱されたラマン散乱光を検出してラマン散乱情報を得るとともに、レーザ光を検出してレーザ情報を得て、得られたレーザ情報に基づいてラマン散乱情報を補正し、補正後のラマン散乱情報に基づいて被識別プラスチックＰを識別するので、被識別プラスチックＰに照射するレーザ光の波長の変動によりラマン散乱情報が変化した場合であっても、より正確に識別対象物の識別を行うことが可能である。 As described above, in the Raman scattering identification device 5 according to the present embodiment, the laser light is irradiated onto the identification plastic P, and the Raman scattering information scattered from the identification plastic P is detected to obtain the Raman scattering information. Laser information is obtained by detecting laser light, the Raman scattering information is corrected based on the obtained laser information, and the identified plastic P is identified based on the corrected Raman scattering information. Even when the Raman scattering information is changed due to a change in the wavelength of the laser light to be irradiated, it is possible to more accurately identify the identification target.
また、このプラスチック識別装置１では、識別したいプラスチックごとに予め決められたピーク位置（例えば、ＰＳの場合のＡ1，Ａ2）に対応するラマンシフトの波数の１点または２点のラマン散乱強度と、ベースライン位置（例えば、ＰＳの場合のＢ）に対応する補正後のラマンシフトの波数のラマン散乱強度とを求め、その比を計算するなど簡単な演算処理を行い、その値と参照試料のプラスチックで求めた基準値とを比較するという簡便な方法によって毎秒５０個以上のプラスチックを識別することが可能である。なお、本実施形態においては、ピーク位置に対応するラマンシフトの波数を１点または２点使用しているが、３点以上とすることも可能である。 Further, in this plastic identification device 1, the Raman scattering intensity at one or two points of the wave number of the Raman shift corresponding to the peak position (for example, A 1 and A 2 in the case of PS) predetermined for each plastic to be identified. And a simple scattering process such as calculating the Raman scattering intensity of the wave number of the corrected Raman shift corresponding to the baseline position (for example, B in the case of PS), calculating the ratio, and the value and the reference sample It is possible to identify 50 or more plastics per second by a simple method of comparing with the reference value obtained for the plastic. In this embodiment, one or two Raman shift wave numbers corresponding to the peak positions are used, but three or more points may be used.
なお、本実施形態におけるプラスチック識別装置１では、図４に示すようにマルチチャンネル分光器２２が、ラマン散乱光およびレーザ光を分光する分光器２３と、分光器２３により分光されたレーザ光を減光する減光フィルタ２５と、分光器２３により分光されたラマン散乱光および減光フィルタ２５により減光されたレーザ光を検出する光検出器２４とから構成されるものとし、ラマン散乱信号の取得およびレーザ光の測定を１つの光検出器２４により行っているので、低廉な識別装置を得ることが可能であるが、これに代えて図５または図６に示す構成とすることも可能である。 In the plastic identification device 1 according to the present embodiment, as shown in FIG. 4, the multichannel spectroscope 22 splits the Raman scattered light and the laser light into the spectroscope 23 and the laser light split by the spectroscope 23. It is composed of a light reducing filter 25 and a light detector 24 for detecting the Raman scattered light dispersed by the spectroscope 23 and the laser light attenuated by the light reducing filter 25, and obtaining a Raman scattered signal. In addition, since the measurement of the laser beam is performed by the single photodetector 24, it is possible to obtain an inexpensive identification device, but it is also possible to adopt the configuration shown in FIG. 5 or FIG. 6 instead. .
図５は図２のマルチチャンネル分光器の別の実施形態を示す概略構成図、図６は図２のマルチチャンネル分光器のさらに別の実施形態を示す概略構成図である。なお、図５および図６において図４と共通の構成部分については同一符号を付して、その詳細な説明を省略する。 FIG. 5 is a schematic configuration diagram showing another embodiment of the multi-channel spectrometer of FIG. 2, and FIG. 6 is a schematic configuration diagram showing still another embodiment of the multi-channel spectrometer of FIG. 5 and 6, the same reference numerals are given to the same components as those in FIG. 4, and detailed description thereof is omitted.
図５に示すマルチチャンネル分光器２２ａでは、分光器２３により分光されたレーザ光を光検出器２６の所定の位置の画素群２６ｂへ反射するミラー２７を備えた構成である。画素群２６ｂは、分光器２４により分光されたラマン散乱光Ｒのうち各プラスチックにおいて特徴が現れない部分（図７の例では波数１６００〜２２００ｃｍ-1の範囲）である。ラマン散乱光Ｒの特徴が現れる他の部分は、光検出器２６の画素群２６ａ，２６ｃに入射される。 The multi-channel spectroscope 22a shown in FIG. 5 includes a mirror 27 that reflects the laser light dispersed by the spectroscope 23 to the pixel group 26b at a predetermined position of the photodetector 26. The pixel group 26b is a portion of the Raman scattered light R dispersed by the spectroscope 24 where no feature appears in each plastic (in the example of FIG. 7, a range of wave numbers 1600 to 2200 cm −1 ). Other portions where the characteristics of the Raman scattered light R appear are incident on the pixel groups 26 a and 26 c of the photodetector 26.
このような構成を採用することにより、光検出器２６の分解能を有効に利用して、ラマン散乱信号の取得およびレーザ光の測定を１つの光検出器２６により行うことができるので、高精度で低廉な識別装置を実現することが可能となる。 By adopting such a configuration, it is possible to acquire the Raman scattering signal and measure the laser beam by one photo detector 26 by effectively using the resolution of the photo detector 26. An inexpensive identification device can be realized.
一方、図６に示すマルチチャンネル分光器２２ｂでは、ラマン散乱光Ｒを入射させる第１光検出器２８ａとは別に、レーザ光を入射させる第２光検出器２８ｂを設けた構成である。分光器２３により分光されたレーザ光はミラー２９によって反射させる。 On the other hand, the multi-channel spectroscope 22b shown in FIG. 6 has a configuration in which a second photodetector 28b that makes laser light incident is provided separately from the first photodetector 28a that makes Raman scattered light R incident. The laser beam dispersed by the spectroscope 23 is reflected by the mirror 29.
このような構成を採用することにより、ラマン散乱光を検出する第１光検出器２８ａとは別の第２光検出器２８ｂにより検出してラマン散乱信号の取得およびレーザ光の測定を行うので、ラマン散乱信号を取得する第１光検出器２８ａは分解能の高いものを使用し、レーザ光を測定する第２光検出器２８ｂは分解能の低いものを使用して、低コスト化を図ることが可能である。 By adopting such a configuration, the detection of the Raman scattered signal and the measurement of the laser light are performed by the detection by the second photodetector 28b different from the first photodetector 28a that detects the Raman scattered light. The first photodetector 28a for acquiring the Raman scattering signal can be used with a high resolution, and the second photodetector 28b for measuring the laser beam can be used with a low resolution, so that the cost can be reduced. It is.
なお、以上の説明においては、分光器２３は反射型の回折格子（グレーティング）を用いた例について説明したが、透過型の回折格子を使用することも可能である。また、減光フィルタ２５に代えて、分光器２３により分光する前にレーザ光を減光する目的でノッチフィルタ等のフィルタを設置し、フィルタ２５を省略したり併用したりすることも可能である。 In the above description, the spectroscope 23 has been described using an example of a reflection type diffraction grating (grating), but a transmission type diffraction grating can also be used. Further, in place of the neutral density filter 25, a filter such as a notch filter may be provided for the purpose of dimming the laser light before the spectroscope 23 performs spectral separation, and the filter 25 may be omitted or used together. .
なお、上記のように本実施形態においては、プラスチックの材質を識別するプラスチック識別装置１について説明したが、プラスチック以外にも木や紙などの識別対象物の識別にも応用することが可能である。また、上記ラマン散乱光識別装置５を応用して正確なラマン散乱スペクトルを算出する構成とすることは容易である。 As described above, in the present embodiment, the plastic identification device 1 that identifies a plastic material has been described. However, the present invention can be applied to identification of an identification object such as wood or paper in addition to plastic. . Moreover, it is easy to apply the Raman scattered light identification device 5 to calculate an accurate Raman scattering spectrum.
本発明は、プラスチック、木や紙等の材質を非破壊的に識別するためのラマン散乱に基づくプラスチックの識別方法および識別装置、並びにラマン散乱スペクトルの計測方法および計測装置として有用である。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is useful as a plastic identification method and identification apparatus based on Raman scattering for nondestructively identifying materials such as plastic, wood, and paper, and a Raman scattering spectrum measurement method and measurement apparatus.
１ プラスチック識別装置
２ 前処理設備
３ 振動整列フィーダ
４ ベルトコンベア
４ａ ベルト
５ ラマン散乱識別装置
６ 選別用エアガン
７ エアガン駆動装置
８ 同期制御装置
９ コンベア速度調整装置
１１ 検出部ヘッド
１２ 半導体レーザ発生装置
１３ 集光レンズ
１４ａ ミラー
１４ｂ ダイクロイックミラー
２１ 光ファイバ
２２，２２ａ，２２ｂ マルチチャンネル分光器
２３ 分光器
２４，２６ 光検出器
２５ 減光フィルタ
２７，２９ ミラー
２８ａ 第１光検出器
２８ｂ 第２光検出器
３０ データ処理装置
３１ ラマン散乱情報取得手段
３２ レーザ情報取得手段
３３ 補正手段
３４ 記憶手段
３５ 識別手段
３６ 出力手段
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Plastic identification device 2 Pre-processing equipment 3 Vibration alignment feeder 4 Belt conveyor 4a Belt 5 Raman scattering identification device 6 Sorting air gun 7 Air gun drive device 8 Synchronous control device 9 Conveyor speed adjustment device 11 Detector head 12 Semiconductor laser generator 13 Collection Optical lens 14a Mirror 14b Dichroic mirror 21 Optical fiber 22, 22a, 22b Multi-channel spectroscope 23 Spectroscope 24, 26 Photo detector 25 Neutral filter 27, 29 Mirror 28a First photo detector 28b Second photo detector 30 Data Processing device 31 Raman scattering information acquisition means 32 Laser information acquisition means 33 Correction means 34 Storage means 35 Identification means 36 Output means
Claims (13)
前記レーザ光を検出してレーザ情報を得るレーザ情報取得ステップと、
前記レーザ情報に基づいて前記ラマン散乱情報を補正する補正ステップと、
前記補正後のラマン散乱情報に基づいて前記識別対象物を識別する識別ステップと
を含むラマン散乱に基づく識別方法。 Raman scattering information acquisition step of irradiating the identification target with laser light, detecting Raman scattered light scattered from the identification target and obtaining Raman scattering information,
A laser information obtaining step for obtaining laser information by detecting the laser beam;
A correction step of correcting the Raman scattering information based on the laser information;
An identification method based on Raman scattering, including an identification step of identifying the identification object based on the corrected Raman scattering information.
前記レーザ光を検出してレーザ情報を得るレーザ情報取得手段と、
前記レーザ情報に基づいて前記ラマン散乱情報を補正する補正手段と、
前記補正後のラマン散乱情報に基づいて前記識別対象物を識別する識別手段と
を有するラマン散乱に基づく識別装置。 Raman scattering information acquisition means for obtaining Raman scattering information by detecting Raman scattered light scattered from the identification object irradiated with the laser beam;
Laser information acquisition means for detecting the laser beam and obtaining laser information;
Correction means for correcting the Raman scattering information based on the laser information;
An identification device based on Raman scattering, comprising: identification means for identifying the identification object based on the corrected Raman scattering information.
前記識別手段は、前記識別対象物の前記補正後のラマン散乱情報から得た識別したい識別対象物の材質ごとの既知ピーク位置に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度および既知ベースライン位置に対応するラマンシフトの波数におけるラマン散乱強度と、前記記憶手段に記憶された既知ピーク位置のラマン散乱強度および既知ベースライン位置のラマン散乱強度とに基づいて前記識別対象物の材質を識別するものである
請求項４記載のラマン散乱に基づく識別装置。 Raman scattering intensity and baseline position (hereinafter referred to as “known baseline”) of one or more peak positions (hereinafter referred to as “known peak positions”) set by measuring a Raman scattering spectrum of a known identification object in advance. Storage means for storing the Raman scattering intensity of the "position".)
The identification means corresponds to the Raman scattering intensity and the known baseline position at the wave number of the Raman shift corresponding to the known peak position for each material of the identification object to be identified obtained from the corrected Raman scattering information of the identification object. The material of the identification object is identified based on the Raman scattering intensity at the wave number of the Raman shift, the Raman scattering intensity at the known peak position and the Raman scattering intensity at the known baseline position stored in the storage means. The identification device based on Raman scattering according to claim 4.
前記補正手段は、前記レーザ光の波長および強度に基づいて前記ラマン散乱情報を補正するものである
請求項４または５に記載のラマン散乱に基づく識別装置。 The laser information acquisition means obtains the wavelength and intensity of the laser light as the laser information,
The identification device based on Raman scattering according to claim 4 or 5, wherein the correction means corrects the Raman scattering information based on a wavelength and intensity of the laser light.
前記レーザ光を減光するフィルタと、
前記分光器により分光されたラマン散乱光および前記フィルタにより減光されたレーザ光を検出する光検出器と
を有する請求項４から８のいずれかに記載のラマン散乱に基づく識別装置。 A spectroscope for dispersing the Raman scattered light and the laser light;
A filter that attenuates the laser light;
The identification device based on Raman scattering according to any one of claims 4 to 8, further comprising: a photodetector that detects Raman scattered light dispersed by the spectroscope and laser light attenuated by the filter.
前記レーザ光を減光するフィルタと、
前記分光器により分光されたラマン散乱光および前記フィルタにより減光されたレーザ光を検出する光検出器と、
前記レーザ光を前記光検出器の所定の位置へ反射するミラーと
を有する請求項４から８のいずれかに記載のラマン散乱に基づく識別装置。 A spectroscope for dispersing the Raman scattered light and the laser light;
A filter that attenuates the laser light;
A photodetector for detecting Raman scattered light dispersed by the spectroscope and laser light attenuated by the filter;
The identification device based on Raman scattering according to claim 4, further comprising a mirror that reflects the laser light to a predetermined position of the photodetector.
前記レーザ光を減光するフィルタと、
前記分光器により分光されたラマン散乱光を検出する第１光検出器と、
前記フィルタにより減光されたレーザ光を検出する第２光検出器と
を有する請求項４から８のいずれかに記載のラマン散乱に基づく識別装置。 A spectroscope for dispersing the Raman scattered light and the laser light;
A filter that attenuates the laser light;
A first photodetector for detecting Raman scattered light separated by the spectrometer;
The identification device based on Raman scattering according to claim 4, further comprising: a second photodetector that detects the laser light attenuated by the filter.
前記レーザ光を検出してレーザ情報を得ること、
前記レーザ情報に基づいて前記ラマン散乱スペクトルを補正すること
を含むラマン散乱スペクトルの計測方法。 In a method for measuring a Raman scattering spectrum, which irradiates an object with laser light, detects Raman scattered light scattered from the object, and calculates a Raman scattering spectrum.
Obtaining laser information by detecting the laser beam;
A method for measuring a Raman scattering spectrum, comprising correcting the Raman scattering spectrum based on the laser information.
前記レーザ光を検出してレーザ情報を得るレーザ情報取得手段と、
前記レーザ情報に基づいて前記ラマン散乱スペクトルを補正する補正手段と
を有するラマン散乱スペクトルの計測装置。 In the Raman scattering spectrum measuring device that irradiates the object with laser light, detects the Raman scattered light scattered from the object and calculates the Raman scattering spectrum,
Laser information acquisition means for detecting the laser beam and obtaining laser information;
An apparatus for measuring a Raman scattering spectrum, comprising: correction means for correcting the Raman scattering spectrum based on the laser information.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010081749A JP5143175B2 (en) | 2010-03-31 | 2010-03-31 | Identification method and identification device based on Raman scattering, and Raman scattering spectrum measurement method and measurement device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010081749A JP5143175B2 (en) | 2010-03-31 | 2010-03-31 | Identification method and identification device based on Raman scattering, and Raman scattering spectrum measurement method and measurement device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2011214917A true JP2011214917A (en) | 2011-10-27 |
| JP5143175B2 JP5143175B2 (en) | 2013-02-13 |
Family
ID=44944827
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010081749A Expired - Fee Related JP5143175B2 (en) | 2010-03-31 | 2010-03-31 | Identification method and identification device based on Raman scattering, and Raman scattering spectrum measurement method and measurement device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5143175B2 (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101291213B1 (en) * | 2012-05-21 | 2013-07-31 | 한국 전기안전공사 | System for analysis of electrical insulating oil using tunable laser and method thereof |
| CN108303407A (en) * | 2018-03-05 | 2018-07-20 | 哈尔滨工业大学（威海） | Become wavelength excitation and the adjustable Raman spectrometer of spectral region and calibration joining method |
| WO2023286632A1 (en) | 2021-07-14 | 2023-01-19 | キヤノン株式会社 | Identification device |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0954040A (en) * | 1995-08-09 | 1997-02-25 | Kdk Corp | Method for optically measuring component in exhalation |
| JPH11506206A (en) * | 1996-02-02 | 1999-06-02 | インストゥルメンテイション メトリックス，インコーポレイテッド | Method and apparatus for multispectral analysis in non-invasive infrared spectroscopy |
| JP2000055809A (en) * | 1998-08-13 | 2000-02-25 | Nikon Corp | Raman microspectroscope and method therefor |
| JP2005121479A (en) * | 2003-10-16 | 2005-05-12 | Tokyo Instruments Inc | Confocal microscopic spectroscope |
| JP2008209128A (en) * | 2007-02-23 | 2008-09-11 | Kitakyushu Foundation For The Advancement Of Industry Science & Technology | Method and apparatus for identifying plastic |
-
2010
- 2010-03-31 JP JP2010081749A patent/JP5143175B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0954040A (en) * | 1995-08-09 | 1997-02-25 | Kdk Corp | Method for optically measuring component in exhalation |
| JPH11506206A (en) * | 1996-02-02 | 1999-06-02 | インストゥルメンテイション メトリックス，インコーポレイテッド | Method and apparatus for multispectral analysis in non-invasive infrared spectroscopy |
| JP2000055809A (en) * | 1998-08-13 | 2000-02-25 | Nikon Corp | Raman microspectroscope and method therefor |
| JP2005121479A (en) * | 2003-10-16 | 2005-05-12 | Tokyo Instruments Inc | Confocal microscopic spectroscope |
| JP2008209128A (en) * | 2007-02-23 | 2008-09-11 | Kitakyushu Foundation For The Advancement Of Industry Science & Technology | Method and apparatus for identifying plastic |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101291213B1 (en) * | 2012-05-21 | 2013-07-31 | 한국 전기안전공사 | System for analysis of electrical insulating oil using tunable laser and method thereof |
| CN108303407A (en) * | 2018-03-05 | 2018-07-20 | 哈尔滨工业大学（威海） | Become wavelength excitation and the adjustable Raman spectrometer of spectral region and calibration joining method |
| WO2023286632A1 (en) | 2021-07-14 | 2023-01-19 | キヤノン株式会社 | Identification device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP5143175B2 (en) | 2013-02-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4203916B2 (en) | Plastic identification method and identification device | |
| JP2012042248A (en) | Raman scattering signal acquisition device and plastic discriminating device, and raman scattering signal acquisition method and plastic discriminating method | |
| JP2020073935A (en) | System and method for defect detection and photoluminescence measurement of sample | |
| JP2011226821A (en) | Identification device and identification method | |
| JP6584624B2 (en) | Identification device and sorting system | |
| CN103575737A (en) | Defect detection method and device | |
| WO2019111785A1 (en) | Identification device and sorting system | |
| JPWO2012035785A1 (en) | Brominated flame retardant determining method, brominated flame retardant determining device, recycling method, and recycling device | |
| JP4260205B1 (en) | Raman scattering signal acquisition method, Raman scattering signal acquisition device, plastic identification method and identification device | |
| JP5143175B2 (en) | Identification method and identification device based on Raman scattering, and Raman scattering spectrum measurement method and measurement device | |
| JP4932053B1 (en) | Raman scattering signal acquisition device, Raman scattering identification device, Raman scattering signal acquisition method, and Raman scattering identification method | |
| JP5298684B2 (en) | Foreign object detection device and detection method | |
| JPH08300354A (en) | Plastic classifying apparatus | |
| Cesetti et al. | Waste processing: new near infrared technologies for material identification and selection | |
| JP5229201B2 (en) | Plastic identification apparatus and method | |
| WO2012147717A1 (en) | Resin identification device | |
| US9880095B2 (en) | Laser based system for bitumen content determination, E.G., using discrete wavelength spectroscopic analysis | |
| JP2005164431A (en) | Method and apparatus for identifying plastics | |
| JP2011089892A (en) | Apparatus, method, and program for identification of plastics | |
| JP2003240713A (en) | Apparatus for judging material | |
| KR100408811B1 (en) | Apparatus for Plastics distinction using NIR | |
| WO2013076428A1 (en) | Method and system for identifying and separating wood for recycling | |
| de Lima Ribeiro et al. | Multisensor characterization of WEEE polymers: spectral fingerprints for the recycling industry | |
| WO2024034344A1 (en) | Analysis method | |
| KR200249511Y1 (en) | Apparatus for Plastics distinction using NIR |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120620 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120626 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120822 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121030 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121120 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151130 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |