JP2011204322A - Magnetic disk and method for manufacturing magnetic disk - Google Patents

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Yuichi Otani
祐一 大谷
Takashi Morikawa
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a magnetic disk and a method for manufacturing magnetic disk which can raise a yield in a manufacturing process of the magnetic disk, while improving manufacturing efficiency in the manufacturing process of an HDD device.SOLUTION: In the manufacturing process of the HDD device, quality data containing a defective address obtained by a glide check or a certify check is read from the magnetic disk manufactured in the manufacturing process of the magnetic disk and is made usable by recording, in a specific area, quality data containing at least either of the defective address of a rugged defect found by the glide check to check a rugged defect of a disk surface and the defective address of a magnetic defect found by the certify check to check the magnetic defect.

Description

本発明は、磁気ディスクおよび磁気ディスクの製造方法に関し、特に、ハードディスクドライブ装置(HDD装置)に搭載される磁気ディスクおよび磁気ディスクの製造方法に関する。   The present invention relates to a magnetic disk and a magnetic disk manufacturing method, and more particularly to a magnetic disk mounted on a hard disk drive device (HDD device) and a magnetic disk manufacturing method.

HDD装置に搭載される磁気記録媒体として磁気ディスクがある。磁気ディスクは、NiP膜を被着したアルミニウム基板、ガラス基板又はセラミックス基板を用い、その上に磁性層や保護層を積層して作製される。作製された磁気ディスクは、磁気ディスク製造メーカにおいて、品質評価検査としてグライド検査及びサーティファイ検査が実施された後、磁気ディスク(HDD)装置製造メーカに出荷される。   There is a magnetic disk as a magnetic recording medium mounted on the HDD device. The magnetic disk is manufactured by using an aluminum substrate, a glass substrate or a ceramic substrate coated with a NiP film, and laminating a magnetic layer and a protective layer thereon. The manufactured magnetic disk is subjected to a glide inspection and a certification inspection as a quality evaluation inspection in a magnetic disk manufacturer, and then shipped to a magnetic disk (HDD) device manufacturer.

グライド検査工程は、磁気ディスクの表面の凹凸欠陥を検査する工程である。これは、HDD装置の記録・書き込み用ヘッド(以下「ヘッド」と呼ぶ)と磁気ディスクとのスペーシング(以下「浮上量」と呼ぶ)が数十nmから数nmと非常に狭く、磁気ディスクの凹凸欠陥とヘッドとの衝突を回避させるためである。このため、グライド検査工程では、磁気ディスクの表面の凹凸欠陥を検査して、凹凸欠陥が存在する磁気ディスクを不良品として製造工程から排除している。   The glide inspection process is a process for inspecting the irregularities on the surface of the magnetic disk. This is because the spacing between the recording / writing head (hereinafter referred to as “head”) of the HDD device and the magnetic disk (hereinafter referred to as “flying height”) is very narrow, from several tens of nanometers to several nanometers. This is to avoid a collision between the irregular defect and the head. For this reason, in the glide inspection process, the irregularity defect on the surface of the magnetic disk is inspected, and the magnetic disk having the irregularity defect is excluded from the manufacturing process as a defective product.

サーティファイ検査工程は、グライド検査工程に合格した磁気ディスクに対して、ヘッドによって実際にデータの読み書き等を検査するものである。サーティファイ検査工程に合格した磁気ディスクは、HDD装置製造メーカに出荷される。このとき書き込まれたデータは、ヘッドイレーズもしくはバルクイレーズ(一括消磁)され、HDD装置製造メーカに出荷されるのが一般的である。HDD装置製造メーカでは、HDD装置を組み立てた後、磁気ディスク製造メーカと同様な目的で製品ヘッドの接触検査及び欠陥検査が実施される。   In the certification inspection process, data read / write and the like are actually inspected by the head with respect to the magnetic disk that has passed the glide inspection process. The magnetic disk that has passed the certification inspection process is shipped to the HDD device manufacturer. The data written at this time is generally subjected to head erase or bulk erase (collective degaussing) and is shipped to the HDD device manufacturer. In the HDD device manufacturer, after assembling the HDD device, the contact inspection and defect inspection of the product head are performed for the same purpose as the magnetic disk manufacturer.

特開2001−155333号公報JP 2001-155333 A

しかしながら、HDD装置製造メーカでは、ディスク毎に製品ヘッドの接触検査および欠陥検査が実施されるため、HDD装置の製造効率を向上させることが困難となっていた。一方、磁気ディスク製造メーカにおいても、グライド検査において凹凸欠陥が検出された磁気ディスクをHDD装置製造メーカに出荷することができず、磁気ディスクの歩留まりを向上させることが困難となっていた。   However, since HDD device manufacturers perform contact inspections and defect inspections of product heads for each disk, it has been difficult to improve the manufacturing efficiency of HDD devices. On the other hand, even a magnetic disk manufacturer cannot ship a magnetic disk in which a concavo-convex defect is detected in a glide inspection to an HDD apparatus manufacturer, and it has been difficult to improve the yield of the magnetic disk.

本発明はこのような実情に鑑みてなされたものであり、HDD装置の製造工程において製造効率を向上させることができると共に、磁気ディスクの製造工程において歩留まりを向上させることができる磁気ディスクおよび磁気ディスクの製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such a situation, and can improve the manufacturing efficiency in the manufacturing process of the HDD device and can improve the yield in the manufacturing process of the magnetic disk and the magnetic disk. It aims at providing the manufacturing method of.

本発明の磁気ディスクは、ディスク表面の凹凸欠陥を検査するグライド検査で得られた凹凸欠陥の欠陥アドレス、および磁気的欠陥を検査するサーティファイ検査で得られた磁気的欠陥の欠陥アドレスの少なくとも一方を含む品質データが、特定領域に記録されたことを特徴とする。   The magnetic disk of the present invention has at least one of the defect address of the concavo-convex defect obtained by the glide inspection for inspecting the concavo-convex defect on the disk surface and the defect address of the magnetic defect obtained by the certify inspection for inspecting the magnetic defect. The quality data included is recorded in a specific area.

本発明の磁気ディスクの製造方法は、磁気ディスクを製作する工程と、製作された前記磁気ディスクに対し、ディスク表面の凹凸欠陥を検査するグライド検査、および磁気的欠陥を検査するサーティファイ検査の少なくとも一方を実施し、実施された検査で得られた欠陥の欠陥アドレスを含む品質データを、特定位置に書き込む工程とを有することを特徴とする。   The method for manufacturing a magnetic disk according to the present invention includes at least one of a step of manufacturing a magnetic disk, a glide inspection for inspecting a rugged surface defect on the surface of the manufactured magnetic disk, and a certify inspection for inspecting a magnetic defect. And writing quality data including a defect address of the defect obtained by the performed inspection at a specific position.

これらの構成によれば、HDD装置の製造工程において、磁気ディスクの製造工程で製造された磁気ディスクからグライド検査やサーティファイ検査で得られた欠陥アドレスを含む品質データを読み出して利用することができる。例えば、HDD装置製造メーカでは、磁気ディスク製造メーカで記録されたサーティファイ検査時の欠陥アドレスを利用することで、再度の欠陥検査を省略または簡略化し、HDD装置の製造効率を向上することができる。一方、磁気ディスク製造メーカでは、グライド検査時の欠陥アドレスの特定領域への記録により磁気ディスク装置製造メーカに欠陥アドレスを報知し、HDD装置の製造工程において凹凸欠陥とヘッドとの衝突を事前に回避させることができる。このため、磁気ディスク製造メーカでは、今まで不良品として処分してきた磁気ディスクを有効利用でき、歩留まりを向上することができる。   According to these configurations, in the HDD device manufacturing process, the quality data including the defect address obtained by the glide inspection and the certifying inspection can be read from the magnetic disk manufactured in the magnetic disk manufacturing process and used. For example, the HDD apparatus manufacturer can omit or simplify the second defect inspection by using the defect address at the time of the certification inspection recorded by the magnetic disk manufacturer, and improve the manufacturing efficiency of the HDD apparatus. On the other hand, the magnetic disk manufacturer notifies the magnetic disk device manufacturer of the defect address by recording the defect address in a specific area at the time of the glide inspection, and avoids the collision between the concavo-convex defect and the head in the HDD device manufacturing process in advance. Can be made. For this reason, the magnetic disk manufacturer can effectively use the magnetic disk that has been disposed of as a defective product, and can improve the yield.

また本発明は、上記磁気ディスクにおいて、前記品質データの記録方式を、磁気的または光学的の記録方式とすることができる。   According to the present invention, in the magnetic disk, the quality data recording method can be a magnetic or optical recording method.

本発明によれば、HDD装置の製造工程において製造効率を向上させることができると共に、磁気ディスクの製造工程において歩留まりを向上させることができる。   According to the present invention, the manufacturing efficiency can be improved in the manufacturing process of the HDD device, and the yield can be improved in the manufacturing process of the magnetic disk.

本発明に係る磁気ディスクの実施の形態を示す図であり、磁気ディスクの製造工程のフロー図である。It is a figure which shows embodiment of the magnetic disc which concerns on this invention, and is a flowchart of the manufacturing process of a magnetic disc. 本発明に係る磁気ディスクの実施の形態を示す図であり、凹凸欠陥および磁気的欠陥の欠陥アドレスの説明図である。It is a figure which shows embodiment of the magnetic disc based on this invention, and is explanatory drawing of the defect address of an uneven | corrugated defect and a magnetic defect.

以下、本発明の実施の形態について添付図面を参照して詳細に説明する。なお、これらの図、実施例等および説明は本発明を例示するものであり、本発明の範囲を制限するものではない。本発明の趣旨に合致する限り他の実施の形態も本発明の範疇に属し得ることは言うまでもない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In addition, these figures, Examples, etc. and description illustrate the present invention, and do not limit the scope of the present invention. It goes without saying that other embodiments may belong to the category of the present invention as long as they match the gist of the present invention.

磁気ディスクに用いられる磁気ディスク用基板の材料としては、アルミノシリケートガラス、ソーダライムガラス、ボロシリケートガラス、アルミニウム−マグネシウム合金などを用いることができる。特に、化学強化を施すことができ、また主表面の平坦性及び基板強度において優れた磁気ディスク用基板を提供することができるという点で、アルミノシリケートガラスを好ましく用いることができる。本実施の形態においては、磁気ディスク用基板がガラス基板である場合について説明する。   As a material for the magnetic disk substrate used in the magnetic disk, aluminosilicate glass, soda lime glass, borosilicate glass, aluminum-magnesium alloy, or the like can be used. In particular, aluminosilicate glass can be preferably used in that it can be chemically strengthened and can provide a magnetic disk substrate excellent in flatness of the main surface and substrate strength. In the present embodiment, the case where the magnetic disk substrate is a glass substrate will be described.

以下に、図1を参照して磁気ディスクの製造の各工程について説明する。   Hereinafter, each process of manufacturing the magnetic disk will be described with reference to FIG.

(1)ガラス基板製造工程
ガラス基板は、例えば、アルミノシリケートガラス等のガラス母材からガラスディスクを切り出して、ラッピング加工、研磨加工等を施して外形形状を形成し、これに化学強化を施して形成される。
(1) Glass substrate manufacturing process For example, a glass substrate is formed by cutting out a glass disk from a glass base material such as aluminosilicate glass and applying a lapping process, a polishing process, etc. to form an outer shape, and applying chemical strengthening thereto. It is formed.

(2)磁気ディスク製造工程(記録層等形成工程)
化学強化を施したガラス基板に、例えば、付着層、軟磁性層、非磁性下地層、垂直磁気記録層、保護層、及び潤滑層を順次成膜することにより、垂直磁気記録ディスクを製造する。付着層を構成する材料としては、Cr合金などを挙げることができる。軟磁性層を構成する材料としては、CoTaZr基合金などを挙げることができる。非磁性下地層としては、Ru合金などを挙げることができる。垂直磁気記録層としては、グラニュラー磁性層などを挙げることができる。保護層を構成する材料としては、水素化カーボンなどを挙げることができる。潤滑層を構成する材料としては、パーフルオロポリエーテル等のフッ素含有高分子などを挙げることができる。例えば、これらの記録層等は、より具体的には、スパッタリング装置を用いて、ガラス基板の上に、CrTiの付着層、CoTaZr/Ru/CoTaZrの軟磁性層、Ruの非磁性下地層、CoCrPt−SiO・TiOのグラニュラー磁性層、水素化カーボン保護膜を順次成膜し、さらに、ディップ法によりパーフルオロポリエーテル潤滑層を成膜する。
(2) Magnetic disk manufacturing process (recording layer formation process)
A perpendicular magnetic recording disk is manufactured by sequentially forming, for example, an adhesion layer, a soft magnetic layer, a nonmagnetic underlayer, a perpendicular magnetic recording layer, a protective layer, and a lubricating layer on a chemically strengthened glass substrate. Examples of the material constituting the adhesion layer include a Cr alloy. Examples of the material constituting the soft magnetic layer include a CoTaZr-based alloy. Examples of the nonmagnetic underlayer include a Ru alloy. An example of the perpendicular magnetic recording layer is a granular magnetic layer. Examples of the material constituting the protective layer include hydrogenated carbon. Examples of the material constituting the lubricating layer include fluorine-containing polymers such as perfluoropolyether. For example, these recording layers are more specifically formed on a glass substrate by using a sputtering apparatus, a CrTi adhesion layer, a CoTaZr / Ru / CoTaZr soft magnetic layer, a Ru nonmagnetic underlayer, a CoCrPt A granular magnetic layer of SiO 2 · TiO 2 and a hydrogenated carbon protective film are sequentially formed, and a perfluoropolyether lubricating layer is formed by a dipping method.

(3)検査工程
このような工程で製造された磁気ディスクには、ディスク面の凹凸欠陥を検査するグライド検査およびディスク面の磁気的欠陥を検査するサーティファイ検査が実施される。グライド検査は、回転する磁気ディスクの表面上に検査ヘッドを浮上走行させ、検査ヘッドと磁気ディスクの表面の凹凸形状との接触を電気的に検知し、磁気ディスクの凹凸欠陥を検出する。グライド検査において一定の品質レベルに達した磁気ディスクには、サーティファイ検査が実施される。
(3) Inspection process The magnetic disk manufactured by such a process is subjected to a glide inspection for inspecting the irregularities on the disk surface and a certification inspection for inspecting the magnetic defects on the disk surface. In the glide inspection, an inspection head is levitated on the surface of a rotating magnetic disk, the contact between the inspection head and the uneven shape on the surface of the magnetic disk is electrically detected, and the uneven defect of the magnetic disk is detected. A certify test is performed on a magnetic disk that has reached a certain quality level in the glide test.

サーティファイ検査は、回転する磁気ディスクの表面上に検査ヘッドを浮上走行させ、この状態で書き込みや読み込みを行って磁気的欠陥を検出する。なお、磁気ディスク製造工程におけるサーティファイ検査のトラックピッチは、例えば、0.2μmである。サーティファイ検査後の磁気ディスクは、ヘッドイレーズまたはバルクイレーズ(消磁)される。そして、磁気ディスクの特定領域に、グライド検査で検出された凹凸欠陥の欠陥アドレスおよびサーティファイ検査で検出された磁気的欠陥の欠陥アドレスを含む品質データが書き込まれる。   In the certification inspection, an inspection head is floated on the surface of a rotating magnetic disk, and writing and reading are performed in this state to detect a magnetic defect. Note that the track pitch of the certification inspection in the magnetic disk manufacturing process is, for example, 0.2 μm. The magnetic disk after the certification inspection is subjected to head erase or bulk erase (demagnetization). Quality data including the defect address of the concavo-convex defect detected by the glide inspection and the defect address of the magnetic defect detected by the certify inspection is written in a specific area of the magnetic disk.

この場合、図2に示すように、グライド検査およびサーティファイ検査において、凹凸欠陥および磁気的欠陥の位置情報をディスクの回転中心からの距離Rと基準角度からの回転角度θとにより求めておく。   In this case, as shown in FIG. 2, in the glide inspection and the certification inspection, the position information of the concavo-convex defect and the magnetic defect is obtained from the distance R from the rotation center of the disk and the rotation angle θ from the reference angle.

磁気ディスクの品質データが書き込まれる特定領域は、磁気ディスク製造メーカとHDD装置製造メーカとの間で予め規定された領域である。このように、メーカ間で特定領域を予め規定することで、HDD装置製造メーカは、HDD装置の製造工程において、この特定領域から品質データを読み出して利用することが可能となる。特定領域は、例えば、磁気ディスクの外周に設けられている。   The specific area in which the quality data of the magnetic disk is written is an area defined in advance between the magnetic disk manufacturer and the HDD device manufacturer. Thus, by predefining a specific area between manufacturers, the HDD device manufacturer can read and use quality data from the specific area in the manufacturing process of the HDD device. The specific area is provided, for example, on the outer periphery of the magnetic disk.

なお、磁気ディスクの品質データは、単一の特定領域に書き込まれる構成に限定されず、複数の特定領域に書き込まれる構成としてもよい。これにより、HDD装置の製造工程において、一つの特定領域が凹凸欠陥および磁気的欠陥により読み出し不能な場合に、他の特定領域から品質データを読み出すことが可能となる。   The quality data of the magnetic disk is not limited to the configuration written in a single specific area, and may be configured to be written in a plurality of specific areas. Thereby, in the manufacturing process of the HDD device, when one specific area cannot be read due to the unevenness defect and the magnetic defect, the quality data can be read from the other specific area.

検査工程を経た磁気ディスクは、磁気ディスク製造メーカからHDD装置製造メーカに出荷される。HDD装置製造メーカに出荷された磁気ディスクは、HDD装置に組み込まれて、HDD装置の製造工程において検査工程が施される。この検査工程では、磁気ディスクメーカと同様の目的で、ヘッド接触検査およぶ欠陥検査が実施される。このとき、磁気ディスクの特定領域から品質データを読み出すことで、サーティファイ検査を省略または簡略化することができる。   The magnetic disk that has undergone the inspection process is shipped from the magnetic disk manufacturer to the HDD device manufacturer. The magnetic disk shipped to the HDD device manufacturer is incorporated into the HDD device and subjected to an inspection process in the HDD device manufacturing process. In this inspection process, head contact inspection and defect inspection are performed for the same purpose as the magnetic disk manufacturer. At this time, the certification inspection can be omitted or simplified by reading the quality data from the specific area of the magnetic disk.

すなわち、HDD装置製造メーカの製造工程では、磁気ディスクの製造工程において既に磁気ディスクの欠陥アドレスが品質データとして特定領域に記録されているため、欠陥検査の再検査が不要となる。また、欠陥検査を再検査する場合であっても、少なくとも欠陥部分を再検査する必要がないため、検査時間を短縮することができる。なお、HDD装置の製造工程における欠陥検査のトラックピッチは、例えば、0.2umである。このように、HDD装置の製造工程において、欠陥検査を省略または簡略化できるため、HDD装置の製造効率を向上させることが可能となる。   That is, in the manufacturing process of the HDD device manufacturer, since the defect address of the magnetic disk is already recorded in the specific area as quality data in the manufacturing process of the magnetic disk, it is not necessary to re-inspect the defect inspection. Further, even when the defect inspection is re-inspected, it is not necessary to re-inspect at least the defective portion, so that the inspection time can be shortened. The track pitch for defect inspection in the HDD device manufacturing process is, for example, 0.2 μm. As described above, since the defect inspection can be omitted or simplified in the manufacturing process of the HDD device, the manufacturing efficiency of the HDD device can be improved.

また、磁気ディスク製造メーカの磁気ディスクの製造工程では、凹凸欠陥の欠陥アドレスを品質データとして特定領域に書き込むことで、HDD装置製造メーカに凹凸欠陥の欠陥アドレスを報知している。すなわち、HDD装置製造メーカの製造工程において、凹凸欠陥とヘッドとの衝突が事前回避されるため、磁気ディスク製造メーカが今まで不良品として処分してきた磁気ディスクを有効利用することが可能となる。   Further, in the magnetic disk manufacturing process of the magnetic disk manufacturer, the defect address of the uneven defect is notified to the HDD device manufacturer by writing the defect address of the uneven defect as quality data in a specific area. That is, in the manufacturing process of the HDD device manufacturer, collision between the concave and convex defect and the head is avoided in advance, so that the magnetic disk that has been disposed of as a defective product by the magnetic disk manufacturer can be used effectively.

また、磁気ディスクに記録された凹凸欠陥および磁気的欠陥の位置情報は、HDD装置製造メーカにてCHS方式に変換されるため、HDD装置の製造工程において欠陥アドレスを容易に特定することが可能となっている。なお、上記した実施の形態では、凹凸欠陥および磁気的欠陥の位置情報をCHS方式に変換する構成としたが、この構成に限定されるものではない。HDD装置の製造工程において、凹凸欠陥および磁気的欠陥の位置情報を特定可能であれば、どのような方式で欠陥アドレスが記録されてもよい。   In addition, since the concave / convex defect and the magnetic defect position information recorded on the magnetic disk are converted into the CHS method by the HDD device manufacturer, the defect address can be easily specified in the HDD device manufacturing process. It has become. In the above-described embodiment, the position information of the concavo-convex defect and the magnetic defect is converted to the CHS method. However, the present invention is not limited to this configuration. In the manufacturing process of the HDD device, the defect address may be recorded by any method as long as the position information of the concavo-convex defect and the magnetic defect can be specified.

以上のように、本実施の形態に係る磁気ディスクによれば、HDD装置の製造工程において、磁気ディスクの製造工程で製造された磁気ディスクからグライド検査やサーティファイ検査で得られた欠陥アドレスを含む品質データを読み出して利用することができる。例えば、HDD装置製造メーカでは、磁気ディスク製造メーカで記録されたサーティファイ検査時の欠陥アドレスを利用することで、再度の欠陥検査を省略または簡略化し、HDD装置の製造効率を向上することが可能となる。一方、磁気ディスク製造メーカでは、グライド検査時の欠陥アドレスの特定領域への記録によりHDD装置製造メーカに欠陥アドレスを報知し、HDD装置の製造工程において凹凸欠陥とヘッドとの衝突を事前に回避させることができる。このため、磁気ディスク製造メーカでは、今まで不良品として処分してきた磁気ディスクを有効利用でき、歩留まりを向上することが可能となる。   As described above, according to the magnetic disk according to the present embodiment, in the HDD device manufacturing process, the quality including the defect address obtained from the magnetic disk manufactured in the magnetic disk manufacturing process by the glide inspection or the certification inspection. Data can be read and used. For example, the HDD device manufacturer can use the defect address at the time of the certification inspection recorded by the magnetic disk manufacturer to omit or simplify the second defect inspection and improve the manufacturing efficiency of the HDD device. Become. On the other hand, the magnetic disk manufacturer notifies the HDD device manufacturer of the defect address by recording the defect address in the specific area at the time of the glide inspection, and avoids the collision between the concavo-convex defect and the head in the HDD device manufacturing process in advance. be able to. For this reason, the magnetic disk manufacturer can effectively use the magnetic disk that has been disposed of as a defective product, and can improve the yield.

なお、上記した実施の形態においては、磁気ディスクがHDD装置に搭載される構成について説明したが、この構成に限定されるものではない。磁気ディスクは、磁気ディスク装置に搭載されればよく、例えば、リムーバブルディスク装置に使用される構成としてもよい。   In the above-described embodiment, the configuration in which the magnetic disk is mounted on the HDD device has been described. However, the present invention is not limited to this configuration. The magnetic disk only needs to be mounted on the magnetic disk device. For example, the magnetic disk may be configured to be used in a removable disk device.

また、上記した実施の形態においては、凹凸欠陥および磁気的欠陥の欠陥アドレスを含む品質データは、磁気ディスクの特定領域に読取可能に記録されていればよく、例えば、磁気的に読取可能な構成としてもよいし、光学的に読取可能な構成としてもよい。   In the above-described embodiment, the quality data including the defect addresses of the concavo-convex defect and the magnetic defect may be recorded so as to be readable in a specific area of the magnetic disk. Alternatively, an optically readable configuration may be used.

また、上記した実施の形態においては、品質データは、凹凸欠陥および磁気的欠陥の欠陥アドレスを含む構成としたが、いずれか一方を含む構成としてもよい。また、品質データは、他の欠陥の欠陥アドレスや、その他のHDD装置の製造工程において用いられる付加情報を含むようにしてもよい。例えば、磁気ディスクの静磁気特性(Hc、Hnなど)を品質データに含めておき、HDD装置の製造工程において磁気ヘッドとの組み合わせにおいて最適なトラックピッチを選択することが可能になる。   In the above-described embodiment, the quality data includes the defect address of the concavo-convex defect and the magnetic defect. However, the quality data may include any one of them. The quality data may include defect addresses of other defects and additional information used in other HDD device manufacturing processes. For example, it is possible to include the magnetostatic characteristics (Hc, Hn, etc.) of the magnetic disk in the quality data, and to select an optimum track pitch in combination with the magnetic head in the HDD device manufacturing process.

また、今回開示された実施の形態は、全ての点で例示であってこの実施の形態に制限されるものではない。本発明の範囲は、上記した実施の形態のみの説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内での全ての変更が含まれることが意図される。   The embodiment disclosed this time is illustrative in all respects and is not limited to this embodiment. The scope of the present invention is shown not by the above description of the embodiments but by the scope of the claims, and is intended to include all modifications within the meaning and scope equivalent to the scope of the claims.

以上説明したように、本発明は、磁気ディスク(HDD)装置の製造工程において製造効率を向上させることができると共に、磁気ディスクの製造工程において歩留まりを向上させることができるという効果を有する。   As described above, the present invention has an effect that the manufacturing efficiency can be improved in the manufacturing process of the magnetic disk (HDD) device and the yield can be improved in the manufacturing process of the magnetic disk.

Claims (3)

ディスク表面の凹凸欠陥を検査するグライド検査で得られた凹凸欠陥の欠陥アドレス、および磁気的欠陥を検査するサーティファイ検査で得られた磁気的欠陥の欠陥アドレスの少なくとも一方を含む品質データが、特定領域に記録されたことを特徴とする磁気ディスク。   Quality data including at least one of the defect address of the uneven defect obtained by the glide inspection for inspecting the uneven defect on the disk surface and the defect address of the magnetic defect obtained by the certification inspection for inspecting the magnetic defect is in a specific area. A magnetic disk characterized by being recorded on. 前記品質データの記録方式は、磁気的または光学的であることを特徴とする請求項1に記載の磁気ディスク。   2. The magnetic disk according to claim 1, wherein the quality data recording method is magnetic or optical. 磁気ディスクを製作する工程と、
製作された前記磁気ディスクに対し、ディスク表面の凹凸欠陥を検査するグライド検査、および磁気的欠陥を検査するサーティファイ検査の少なくとも一方を実施し、実施された検査で得られた欠陥の欠陥アドレスを含む品質データを、特定位置に書き込む工程とを有することを特徴とする磁気ディスクの製造方法。
Manufacturing a magnetic disk;
The manufactured magnetic disk is subjected to at least one of a glide inspection for inspecting the concave / convex defect on the disk surface and a certification inspection for inspecting a magnetic defect, and includes a defect address of the defect obtained by the inspection performed. And writing the quality data at a specific position.
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