JP2011197942A - Detection device and display device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a detection device that withdraws electrode to be scanned without varying detection sensitivity of each detection electrode, and to provide a display device.SOLUTION: In sensor processing using "sparse scan", only calibration data for the detection electrodes selected for "sparse scan" is used, to decide a most suitable combination of the detection electrodes and calibration elements. The "sparse scan" is performed in sensor processing, "sparse scan" is also performed for calibration processing.

Description

本発明は、指、手、腕、ペンなどの物体(以下「指など」という)が検出面に触れた位置を検知したり、指などが検出面から離れた場所にいるときにその物体の空間位置を検知したり、または、物体の検出面上の動きを検知したりすることの可能な検知装置に関する。また、本発明は、そのような検知装置を備えた表示装置に関する。   The present invention detects a position where an object such as a finger, hand, arm, or pen (hereinafter referred to as a “finger”) touches the detection surface, or when the finger is located away from the detection surface. The present invention relates to a detection device capable of detecting a spatial position or detecting movement of an object on a detection surface. The present invention also relates to a display device including such a detection device.

従来から、指などで触れることにより情報を入力する技術が知られている。その中でも特に注目されている技術として、ディスプレイに表示された種々のボタンを指などで触れることにより、通常のボタンを指などで押した場合と同様の情報入力を可能とする表示装置がある(特許文献1,2参照)。この技術は、ディスプレイとボタンの共用化を可能にすることから、省スペース化や部品点数の削減という大きなメリットをもたらす。   Conventionally, a technique for inputting information by touching with a finger or the like is known. Among them, there is a display device capable of inputting information similar to a case where a normal button is pressed with a finger or the like by touching various buttons displayed on the display with a finger or the like as a technology that is particularly attracting attention ( (See Patent Documents 1 and 2). Since this technology enables the common use of the display and buttons, it brings great benefits such as space saving and a reduction in the number of parts.

指などの接触を検出するタッチセンサには、種々のタイプのものが存在するが、一般に普及しているものとして、例えば、静電容量タイプのものが挙げられる(特許文献2参照)。このタイプのものは、指などでタッチパネルに接触することによってパネルの表面電界に生じる変化を検出電極に流れる電流の周波数の変化で捕らえ、指などの接触を検出するようになっている。   There are various types of touch sensors that detect contact with a finger or the like, and examples of commonly used touch sensors include a capacitance type sensor (see Patent Document 2). In this type, a change in the surface electric field of the panel by touching the touch panel with a finger or the like is captured by a change in the frequency of the current flowing in the detection electrode, and the contact with the finger or the like is detected.

上記の検出方式は、タッチパネルの表面電界の変化を検出電極に流れる電流の周波数の変化で読み取る方式となっている。そのため、指などがタッチパネルの表面に接触するか、または十分に近接していることが必要となり、指などが表面から遠く離れている時(例えば、表面から1cm以上離れている時)には、タッチパネルに情報が入力されない。しかし、例えば、特許文献3に記載されているように、物体の空間位置に応じて、隣り合う検知電極同士の間隔を変更することにより、指などが表面から遠く離れている時であっても、タッチパネルへ情報を入力することが可能となる。上記特許文献3では、隣り合う検知電極同士の間隔の変更は、スキャンする検知電極を間引くことにより行われている。   The above detection method is a method of reading a change in the surface electric field of the touch panel by a change in the frequency of the current flowing through the detection electrode. Therefore, it is necessary that a finger or the like is in contact with or sufficiently close to the surface of the touch panel. When the finger or the like is far from the surface (for example, 1 cm or more away from the surface), Information is not entered on the touch panel. However, as described in Patent Document 3, for example, even when a finger or the like is far from the surface by changing the interval between adjacent detection electrodes according to the spatial position of the object. It becomes possible to input information to the touch panel. In Patent Document 3, the interval between adjacent detection electrodes is changed by thinning out the detection electrodes to be scanned.

また、上記の検出方式において、例えば、ディスプレイにわずか2つしかボタンが表示されていない場合は、消費電力を低減するために、スキャンする検知電極を間引くことが考えられる。また、上記の検出方式において、例えば、物体の検出面上の動きを連続して検出する必要のある場合も、検出周期を短くするために、スキャンする検知電極を間引くことが考えられる。   In the above detection method, for example, when only two buttons are displayed on the display, it is conceivable to thin out the detection electrodes to be scanned in order to reduce power consumption. In the above detection method, for example, when it is necessary to continuously detect the movement of the object on the detection surface, it is conceivable to thin out the detection electrodes to be scanned in order to shorten the detection cycle.

特開2005−275644号公報JP 2005-275644 A 特開2006−23904号公報JP 2006-23904 A 特開2008−117371号公報JP 2008-117371 A

ところで、上記の検出方式では、検知電極の静電容量が全ての検知電極で完全に同一ではなく、検知電極ごとにばらついている。そのため、検知電極の静電容量のばらつきに対応して検出感度が検知電極ごとにばらつくのを防止するために、通常、検出感度の校正が行われる。しかし、上述したように、スキャンする検知電極を間引く場合に、スキャンする検知電極を間引かないことを前提として設定された校正値を用いると、検出感度が検知電極ごとにばらつくことがあるという問題があった。   By the way, in the detection method described above, the capacitance of the detection electrodes is not completely the same for all the detection electrodes, but varies for each detection electrode. Therefore, in order to prevent the detection sensitivity from varying for each detection electrode corresponding to the variation in the capacitance of the detection electrode, calibration of the detection sensitivity is usually performed. However, as described above, when the detection electrode to be scanned is thinned out, if the calibration value set on the assumption that the scanning detection electrode is not thinned out is used, the detection sensitivity may vary from detection electrode to detection electrode. was there.

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、スキャンする検知電極を間引く場合に、検出感度が検知電極ごとにばらつくのをなくすることの可能な検知装置およびそれを備えた表示装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of such problems, and an object of the present invention is to provide a detection device capable of eliminating variation in detection sensitivity for each detection electrode when thinning the detection electrode to be scanned, and the detection device. Another object is to provide a display device.

本発明の検知装置は、複数の検知電極が検出面に配置されたセンサ部と、複数の校正用素子が配置された校正部と、複数の検知電極のうち1または複数の電極を選択するとともに、複数の校正用素子のうち1または複数の素子を選択する選択部とを備えている。この校正装置は、また、選択部により選択された1または複数の検知電極および1または複数の校正用素子に生じた容量により発振周波数が決まる発振部と、発振部からの信号を周波数に応じて電圧に変換する周波数・電圧変換部とを備えている。この校正装置は、さらに、選択部が複数の検知電極のうち一部の電極だけを順次選択するとともに複数の校正用素子を順次選択する選択信号を生成し選択部に印加する制御部を備えている。この制御部は、さらに周波数・電圧変換部からの信号を利用して、選択部により選択された検知電極および校正用素子の組み合わせにおける特性値を生成するようになっている。   The detection device of the present invention selects a sensor unit in which a plurality of detection electrodes are arranged on a detection surface, a calibration unit in which a plurality of calibration elements are arranged, and one or more electrodes among the plurality of detection electrodes. And a selection unit that selects one or a plurality of elements among the plurality of calibration elements. The calibration apparatus also includes an oscillation unit whose oscillation frequency is determined by the capacitance generated in one or more detection electrodes and one or more calibration elements selected by the selection unit, and a signal from the oscillation unit according to the frequency. A frequency / voltage converter for converting to voltage. The calibration apparatus further includes a control unit that the selection unit sequentially selects only some of the plurality of detection electrodes and generates a selection signal for sequentially selecting the plurality of calibration elements and applies the selection signal to the selection unit. Yes. The control unit further uses the signal from the frequency / voltage conversion unit to generate a characteristic value in the combination of the detection electrode and the calibration element selected by the selection unit.

本発明の表示装置は、映像信号に基づいて表示面上に画像を表示する表示パネルと、上記の校正装置とを備えたものである。この表示装置において、センサ部内の複数の検知電極が表示パネルの表示面上に配置されている。   A display device of the present invention includes a display panel that displays an image on a display surface based on a video signal, and the calibration device described above. In this display device, a plurality of detection electrodes in the sensor unit are arranged on the display surface of the display panel.

本発明の検知装置および表示装置では、選択部によって、複数の検知電極のうち一部の電極だけが順次選択されるとともに、複数の校正用素子が順次選択される。このような間引きスキャンが行われているときに得られた周波数・電圧変換部からの信号を利用して、選択部により選択された検知電極および校正用素子の組み合わせにおける特性値が生成される。これにより、スキャンする検知電極を間引くことを前提とした校正値を生成することが可能となる。   In the detection device and the display device of the present invention, only a part of the plurality of detection electrodes is sequentially selected by the selection unit, and the plurality of calibration elements are sequentially selected. Using the signal from the frequency / voltage conversion unit obtained when such a thinning scan is performed, a characteristic value in the combination of the detection electrode and the calibration element selected by the selection unit is generated. Thereby, it is possible to generate a calibration value based on the premise that the detection electrodes to be scanned are thinned out.

本発明の検知装置および表示装置によれば、スキャンする検知電極を間引くことを前提とした校正値を生成するようにしたので、スキャンする検知電極を間引いて、検出面(表示面)上の物体を検知する際に、検出感度が検知電極ごとにばらつくのをなくすることができる。   According to the detection device and the display device of the present invention, the calibration value is generated on the assumption that the detection electrode to be scanned is thinned out. Therefore, the object on the detection surface (display surface) is thinned out from the detection electrode to be scanned. It is possible to eliminate variation in detection sensitivity for each detection electrode.

接触検知の機能を有する検知装置の一構成例を示す図である。It is a figure which shows the example of 1 structure of the detection apparatus which has a function of contact detection. 接触検知および近接検知の機能を有する検知装置の一構成例を示す図である。It is a figure which shows one structural example of the detection apparatus which has a function of contact detection and proximity detection. 本発明の第1の実施の形態に係る表示装置の一構成例を示す図である。It is a figure which shows the example of 1 structure of the display apparatus which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 図3の表示装置に含まれる検知装置の一構成例を示す図である。It is a figure which shows the example of 1 structure of the detection apparatus contained in the display apparatus of FIG. 図4の検知装置の内部構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of an internal structure of the detection apparatus of FIG. 図4の検知装置の内部構成の他の例を示す図である。It is a figure which shows the other example of an internal structure of the detection apparatus of FIG. 順次スキャンの際に使用される校正テーブルの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the calibration table used in the case of sequential scanning. 間引きスキャンの際に使用される校正テーブルの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the calibration table used in the case of a thinning scan. 図4の検知装置における校正処理等の手順の一例を表す流れ図である。It is a flowchart showing an example of procedures, such as a calibration process in the detection apparatus of FIG. 図9の校正処理の手順の一例を表す流れ図である。10 is a flowchart illustrating an example of a procedure of a calibration process in FIG. 9. 図9の判断処理の手順の一例を表す流れ図である。10 is a flowchart illustrating an example of a procedure of determination processing in FIG. 9. 本発明の第2の実施の形態に係る表示装置の一構成例を示す図である。It is a figure which shows the example of 1 structure of the display apparatus which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 図12の表示装置に含まれる検知装置の一構成例を示す図である。It is a figure which shows the example of 1 structure of the detection apparatus contained in the display apparatus of FIG. 図13の検知装置の内部構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of an internal structure of the detection apparatus of FIG. 図14の検知装置の一変形例を示す図である。It is a figure which shows the modification of the detection apparatus of FIG. 図14の検知装置の他の変形例を示す図である。It is a figure which shows the other modification of the detection apparatus of FIG.

以下、発明を実施するための形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、説明は以下の順序で行う。

1.接触検知および近接検知の基本原理(図1、図2)
2.第1の実施の形態(接触検知可能な表示装置)(図3〜図11)
3.第2の実施の形態(接触検知・近接検知可能な表示装置)(図12〜図16)
DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments for carrying out the invention will be described in detail with reference to the drawings. The description will be given in the following order.

1. Basic principle of contact detection and proximity detection (Figs. 1 and 2)
2. First embodiment (display device capable of detecting contact) (FIGS. 3 to 11)
3. Second embodiment (display device capable of contact detection / proximity detection) (FIGS. 12 to 16)

<接触検知および近接検知の基本原理>
最初に、以下の実施の形態の表示装置で用いられる接触検知および近接検知の基本原理について説明する。図1は、接触検知を行うことの可能な検知装置100の構成例を表したものである。図2は、接触検知だけでなく近接検知も行うことの可能な検知装置200の構成例を表したものである。
<Basic principle of contact detection and proximity detection>
First, the basic principle of contact detection and proximity detection used in the display devices of the following embodiments will be described. FIG. 1 illustrates a configuration example of a detection device 100 capable of performing contact detection. FIG. 2 illustrates a configuration example of a detection device 200 that can perform not only contact detection but also proximity detection.

検知装置100は、静電容量型の検知装置であり、例えば、図1に示したように、2次元電極110を備えている。2次元電極110は、検出面(図示せず)に形成されたものであり、例えば、複数の検知電極110Hと、複数の検知電極110Vとにより構成されている。複数の検知電極110Hは、一の面内において、横方向に延在するとともに縦方向に所定の間隔で並列配置されている。複数の検知電極110Vは、複数の検知電極110Hの配置された面と平行な面内において、縦方向に延在するとともに横方向に所定の間隔で並列配置されている。   The detection device 100 is a capacitance-type detection device, and includes, for example, a two-dimensional electrode 110 as shown in FIG. The two-dimensional electrode 110 is formed on a detection surface (not shown), and includes, for example, a plurality of detection electrodes 110H and a plurality of detection electrodes 110V. The plurality of detection electrodes 110H extend in the horizontal direction and are arranged in parallel at predetermined intervals in the vertical direction within one plane. The plurality of detection electrodes 110V extend in the vertical direction and are arranged in parallel at predetermined intervals in the horizontal direction in a plane parallel to the surface on which the plurality of detection electrodes 110H are arranged.

検知装置100は、2次元電極110の他に、2次元電極110の切り替え用のスイッチ素子120と、2次元電極110に交流信号を供給する信号源130と、周波数・電圧変換回路(F・V変換回路)140とを備えている。スイッチ素子120は、例えば、マルチプレクサである。マルチプレクサの一端側に設けられた複数の端子が、各検知電極110Hおよび各検知電極110Vの一端に1つずつ接続されており、マルチプレクサの他端側に設けられた1つの端子が信号源130およびF・V変換回路140に接続されている。   In addition to the two-dimensional electrode 110, the detection apparatus 100 includes a switching element 120 for switching the two-dimensional electrode 110, a signal source 130 that supplies an AC signal to the two-dimensional electrode 110, and a frequency / voltage conversion circuit (F / V). Conversion circuit) 140. The switch element 120 is, for example, a multiplexer. A plurality of terminals provided on one end side of the multiplexer are connected to one end of each detection electrode 110H and each detection electrode 110V, and one terminal provided on the other end side of the multiplexer is connected to the signal source 130 and It is connected to the F / V conversion circuit 140.

この検知装置100では、スイッチ素子120によって、複数の検知電極110Hが順次1つずつ選択されるとともに、複数の検知電極110Vが順次1つずつ選択される。これにより、信号源130の信号が複数の検知電極110Hに順次1つずつ印加されるとともに、複数の検知電極110Vに順次1つずつ印加される。このとき、検出面に、例えば指など(図示せず)が接触すると、検出面の表面電界が変化し、その変化が2次元電極110に流れる電流の周波数を変化させ、その周波数の変化がF・V変換回路140によって電圧の変化に変換される。この電圧変化を評価することにより、検出面における指などの接触位置を検出することができる。   In this detection apparatus 100, the plurality of detection electrodes 110H are sequentially selected one by one by the switch element 120, and the plurality of detection electrodes 110V are sequentially selected one by one. As a result, signals from the signal source 130 are sequentially applied to the plurality of detection electrodes 110H one by one, and are sequentially applied to the plurality of detection electrodes 110V one by one. At this time, when a finger or the like (not shown) contacts the detection surface, for example, the surface electric field of the detection surface changes, and the change changes the frequency of the current flowing through the two-dimensional electrode 110, and the change in the frequency is F. Converted to a change in voltage by the V conversion circuit 140. By evaluating this voltage change, a contact position of a finger or the like on the detection surface can be detected.

なお、この検知装置100では、消費電力の低減や、検出周期の短縮化を目的として、スキャンする検知電極を間引くことが可能である。例えば、スイッチ素子120によって、複数の検知電極110Hのうち所定の電極だけを順次1つずつ選択するとともに、複数の検知電極110Vのうち所定の電極だけを順次1つずつ選択することにより、間引きスキャンを行うことが可能である。   In this detection apparatus 100, it is possible to thin out the detection electrodes to be scanned for the purpose of reducing power consumption and shortening the detection cycle. For example, the switch element 120 sequentially selects only one predetermined electrode from the plurality of detection electrodes 110H one by one and simultaneously selects only one predetermined electrode from the plurality of detection electrodes 110V one by one. Can be done.

検知装置200は、検知装置100と同様、静電容量型の検知装置であり、例えば、図2に示したように、2次元電極110、スイッチ素子120、信号源130およびF・V変換回路140を備えている。検知装置200は、さらに、2次元電極110とスイッチ素子120との間にスイッチ素子150を備えており、スイッチ素子120とスイッチ素子150との間の配線に信号源130の信号を供給する増幅器160および抵抗器170を備えている。スイッチ素子150は、入力端子の数と出力端子の数とが互いに等しいスイッチであり、一の入力端子と一の出力端子との間の電気的な継断を、端子ごとに独立に行うスイッチである。   Like the detection device 100, the detection device 200 is a capacitance-type detection device. For example, as illustrated in FIG. 2, the two-dimensional electrode 110, the switch element 120, the signal source 130, and the F / V conversion circuit 140 are provided. It has. The detection device 200 further includes a switch element 150 between the two-dimensional electrode 110 and the switch element 120, and an amplifier 160 that supplies a signal from the signal source 130 to the wiring between the switch element 120 and the switch element 150. And a resistor 170. The switch element 150 is a switch in which the number of input terminals and the number of output terminals are equal to each other, and is a switch that performs electrical disconnection between one input terminal and one output terminal independently for each terminal. is there.

この検知装置200では、スイッチ素子150によって、複数の検知電極110Hのうち所定の電極だけが選択されるとともに、複数の検知電極110Vのうち所定の電極だけが選択される。なお、複数の検知電極110Hのうちスイッチ素子150によって選択される電極を選択電極110H’(図示せず)と称し、複数の検知電極110Vのうちスイッチ素子150によって選択される電極を選択電極110V’(図示せず)と称するものとする。   In the detection device 200, the switch element 150 selects only a predetermined electrode from the plurality of detection electrodes 110H and selects only a predetermined electrode from the plurality of detection electrodes 110V. Note that an electrode selected by the switch element 150 among the plurality of detection electrodes 110H is referred to as a selection electrode 110H ′ (not shown), and an electrode selected by the switch element 150 among the plurality of detection electrodes 110V is the selection electrode 110V ′. (Not shown).

さらに、スイッチ素子120によって、複数の選択電極110H’が順次1つずつ選択されるとともに、複数の選択電極110V’が順次1つずつ選択される。つまり、複数の選択電極110H’および複数の選択電極110V’に対して、常時、信号源130の信号が増幅器160および抵抗器170を介して印加されている。そして、その状態で、それらの電極がスイッチ素子120によって順次1つずつ選択される。このとき、検出面(図示せず)の表面には、複数の選択電極110H’および複数の選択電極110V’の配置に対応した表面電界が形成されている。この検知装置200では、検出面に、例えば指など(図示せず)が近接し、F・V変換回路140の出力電圧(検知感度)が変化すると、その電圧値の変化に応じて、スイッチ素子150によって選択される複数の検知電極110Hおよび複数の検知電極110Vの数(検知電極ピッチ)が変化する。つまり、指などの空間位置に応じて、間引きする電極の数(検知電極ピッチ)を変化させることにより、検知感度が制御される。これにより、検出面における指などの接触位置だけでなく、検出面から離れた指などの空間位置や、検出面上の指などの動きも検出することができる。   Further, the switch element 120 sequentially selects the plurality of selection electrodes 110H ′ one by one and sequentially selects the plurality of selection electrodes 110V ′ one by one. That is, the signal from the signal source 130 is always applied to the plurality of selection electrodes 110 </ b> H ′ and the plurality of selection electrodes 110 </ b> V ′ via the amplifier 160 and the resistor 170. In this state, the electrodes are sequentially selected one by one by the switch element 120. At this time, a surface electric field corresponding to the arrangement of the plurality of selection electrodes 110H ′ and the plurality of selection electrodes 110V ′ is formed on the surface of the detection surface (not shown). In this detection device 200, for example, when a finger or the like (not shown) comes close to the detection surface and the output voltage (detection sensitivity) of the F / V conversion circuit 140 changes, the switching element changes according to the change in the voltage value. The number (detection electrode pitch) of the plurality of detection electrodes 110H and the plurality of detection electrodes 110V selected by 150 changes. That is, the detection sensitivity is controlled by changing the number of electrodes to be thinned out (detection electrode pitch) according to the spatial position of a finger or the like. Thereby, not only the contact position of the finger or the like on the detection surface but also the spatial position of the finger or the like away from the detection surface and the movement of the finger or the like on the detection surface can be detected.

<第1の実施の形態>
図3は、本発明の第1の実施の形態に係る表示装置1の断面構成の一例を表すものである。表示装置1は、タッチセンサ付きの表示装置であり、例えば、表示素子として液晶表示素子を備えており、さらに、この液晶表示素子の表面に静電容量型のタッチセンサを液晶表示素子とは別体で備えている。
<First Embodiment>
FIG. 3 illustrates an example of a cross-sectional configuration of the display device 1 according to the first embodiment of the present invention. The display device 1 is a display device with a touch sensor. For example, the display device 1 includes a liquid crystal display element as a display element, and a capacitive touch sensor is provided on the surface of the liquid crystal display element separately from the liquid crystal display element. It is prepared by the body.

表示装置1は、例えば、図3に示したように、液晶表示パネル10、タッチパネル20、バックライト30、周辺回路40および検知回路50を備えている。タッチパネル20は、液晶表示パネル10の観察者側(正面)に配置されており、バックライト30は液晶表示パネル10の背後に配置されている。   For example, as shown in FIG. 3, the display device 1 includes a liquid crystal display panel 10, a touch panel 20, a backlight 30, a peripheral circuit 40, and a detection circuit 50. The touch panel 20 is disposed on the viewer side (front side) of the liquid crystal display panel 10, and the backlight 30 is disposed behind the liquid crystal display panel 10.

[液晶表示パネル10]
液晶表示パネル10は、液晶分子の配列を変化させることにより光源(バックライト30)からの光を透過、変調させて映像表示を行うものである。この液晶表示パネル10は、例えば、映像信号40Aおよび同期信号40Bに応じて、マトリクス状に配置された複数の画素(図示せず)が周辺回路40によって駆動される透過型の表示パネルである。液晶表示パネル10は、例えば、行状に配置された複数の走査線WSL1と、列状に配置された複数の信号線DTLとを有している。各走査線WSL1と各信号線DTLとの交差部に対応して、複数の画素が行列状に配置されている。
[Liquid Crystal Display Panel 10]
The liquid crystal display panel 10 displays images by transmitting and modulating light from a light source (backlight 30) by changing the arrangement of liquid crystal molecules. The liquid crystal display panel 10 is, for example, a transmissive display panel in which a plurality of pixels (not shown) arranged in a matrix are driven by a peripheral circuit 40 in accordance with the video signal 40A and the synchronization signal 40B. The liquid crystal display panel 10 has, for example, a plurality of scanning lines WSL1 arranged in rows and a plurality of signal lines DTL arranged in columns. A plurality of pixels are arranged in a matrix corresponding to the intersection between each scanning line WSL1 and each signal line DTL.

[タッチパネル20]
タッチパネル20は、指などで、表示装置1の画像表示面20A(タッチパネル20の表面)に触れることにより情報を入力するためのものである。このタッチパネル20は、例えば、液晶表示パネル10とは別体で設けられたものであり、例えば、液晶表示パネル10の表面に、接着剤(図示せず)などを介して貼り合わされている。このタッチパネル20は、上述した静電容量型のタッチセンサの一具体例に相当するものであり、XY(行列)マトリクスで接触・非接触を検出するものである。
[Touch panel 20]
The touch panel 20 is for inputting information by touching the image display surface 20A (the surface of the touch panel 20) of the display device 1 with a finger or the like. The touch panel 20 is provided separately from the liquid crystal display panel 10, for example, and is bonded to the surface of the liquid crystal display panel 10 via an adhesive (not shown), for example. The touch panel 20 corresponds to a specific example of the capacitive touch sensor described above, and detects contact / non-contact using an XY (matrix) matrix.

[バックライト30]
バックライト30は、液晶表示パネル10を背後から照明するものであり、例えば、導光板と、導光板の側面に配置された光源と、導光板の上面(光射出面)に配置された光学素子とを備えている。導光板は、光源からの光を導光板の上面に導くものであり、側面から入射した光を散乱し、均一化する機能を有している。光源は、線状光源であり、例えば、HCFL (Hot Cathode Fluorescent Lamp)、CCFL(Cold Cathode Fluorescent Lamp)、または複数のLED(Light Emitting Diode)を一列に配置したものなどからなる。光学素子は、例えば、拡散板、拡散シート、レンズフィルム、偏光分離シートなどを積層して構成されたものである。
[Backlight 30]
The backlight 30 illuminates the liquid crystal display panel 10 from behind. For example, the light guide plate, a light source arranged on the side surface of the light guide plate, and an optical element arranged on the upper surface (light emission surface) of the light guide plate And. The light guide plate guides light from the light source to the upper surface of the light guide plate, and has a function of scattering and uniformizing light incident from the side surface. The light source is a linear light source, and includes, for example, a HCFL (Hot Cathode Fluorescent Lamp), a CCFL (Cold Cathode Fluorescent Lamp), or a plurality of LEDs (Light Emitting Diodes) arranged in a row. The optical element is configured by laminating, for example, a diffusion plate, a diffusion sheet, a lens film, a polarization separation sheet, and the like.

[検知装置2]
図4は、表示装置1のうち、接触・非接触の検知に関与する部分(検知装置2)を抜き出したものである。検知装置2は、図1に例示した検知装置100と同様、接触検知を行うことの可能な検知装置であり、例えば、図4に示したように、タッチパネル20および検知回路50を含んで構成されている。タッチパネル20は、例えば、センサ部21を有している。一方、検知回路50は、例えば、選択部51、発振部52、変換部53、制御部54、出力部55、入力部56、校正部57およびメモリ部59を含んで構成されている。
[Detection device 2]
FIG. 4 shows an extracted part (detection device 2) of the display device 1 that is involved in contact / non-contact detection. The detection device 2 is a detection device capable of performing contact detection, similar to the detection device 100 illustrated in FIG. 1, and includes, for example, the touch panel 20 and the detection circuit 50 as illustrated in FIG. 4. ing. The touch panel 20 includes, for example, a sensor unit 21. On the other hand, the detection circuit 50 includes, for example, a selection unit 51, an oscillation unit 52, a conversion unit 53, a control unit 54, an output unit 55, an input unit 56, a calibration unit 57, and a memory unit 59.

センサ部21は、指などの画像表示面20Aへの接触・非接触を検出するものである。センサ部21は、検出面である画像表示面20Aに形成されたものであり、例えば、図5に示したように、複数の検知電極21Hと、複数の検知電極21Vとにより構成されている。複数の検知電極21Hは、一の面内において、横方向に延在するとともに縦方向に所定の間隔で並列配置されている。複数の検知電極21Vは、複数の検知電極21Hの配置された面と平行な面内において、縦方向に延在するとともに横方向に所定の間隔で並列配置されている。   The sensor unit 21 detects contact / non-contact with the image display surface 20A such as a finger. The sensor unit 21 is formed on the image display surface 20A that is a detection surface, and includes, for example, a plurality of detection electrodes 21H and a plurality of detection electrodes 21V as shown in FIG. The plurality of detection electrodes 21H extend in the horizontal direction and are arranged in parallel at predetermined intervals in the vertical direction within one plane. The plurality of detection electrodes 21V extend in the vertical direction and are arranged in parallel at predetermined intervals in the horizontal direction in a plane parallel to the surface on which the plurality of detection electrodes 21H are arranged.

校正部57は、各検知電極21Hのインピーダンスのばらつきと、各検知電極21Vのインピーダンスのばらつきとを校正する際に用いられるものである。校正部57は、例えば、図5、図6に示したように、各検知電極21Hのインピーダンスのばらつきを校正する複数の校正用素子57H(4つの校正用素子57H−1〜57H−4)を有している。さらに、校正部57は、例えば、各検知電極21Vのインピーダンスのばらつきを校正する複数の校正用素子57V(図示せず)をさらに有している。   The calibration unit 57 is used when calibrating the impedance variation of each detection electrode 21H and the impedance variation of each detection electrode 21V. For example, as illustrated in FIGS. 5 and 6, the calibration unit 57 includes a plurality of calibration elements 57 </ b> H (four calibration elements 57 </ b> H- 1 to 57 </ b> H- 4) that calibrate variations in impedance of the detection electrodes 21 </ b> H. Have. Furthermore, the calibration unit 57 further includes, for example, a plurality of calibration elements 57V (not shown) that calibrate variations in impedance of the detection electrodes 21V.

校正用素子57H(57H−1〜57H−4)は、例えば、図5に示したように、容量素子であり、校正用素子57H−1〜57H−4ごとに素子容量が少しずつ異なっている。なお、校正用素子57H(57H−1〜57H−4)は、例えば、図6に示したように、配線となっていてもよい。この場合、校正用素子57H−1〜57H−4ごとに、例えば配線の長さが異なっており、その長さに応じて校正用素子57H−1〜57H−4ごとの配線容量が少しずつ異なっている。校正用素子57Vは、例えば、校正用素子57Hと同様に、容量素子であり、個々の校正用素子57Vごとに素子容量が少しずつ異なっている。なお、校正用素子57Vは、例えば、校正用素子57Hと同様に、配線となっていてもよい。この場合、個々の校正用素子57Vごとに、例えば配線の長さが異なっており、その長さに応じて個々の校正用素子57Vごとの配線容量が少しずつ異なっている。   The calibration elements 57H (57H-1 to 57H-4) are, for example, capacitive elements as shown in FIG. 5, and the element capacities are slightly different for the calibration elements 57H-1 to 57H-4. . The calibration element 57H (57H-1 to 57H-4) may be a wiring as shown in FIG. 6, for example. In this case, for example, the length of the wiring is different for each of the calibration elements 57H-1 to 57H-4, and the wiring capacity of each of the calibration elements 57H-1 to 57H-4 is slightly different depending on the length. ing. The calibration element 57V is, for example, a capacitive element like the calibration element 57H, and the element capacity is slightly different for each calibration element 57V. The calibration element 57V may be a wiring, for example, similarly to the calibration element 57H. In this case, for example, the length of the wiring is different for each calibration element 57V, and the wiring capacity for each calibration element 57V is slightly different according to the length.

選択部51は、センサ部21内の各検知電極と、校正部57内の各校正用素子との電気的な継断を行うものである。具体的には、選択部51は、複数の検知電極21H,21Vのうち1または複数の電極を選択するとともに、複数の校正用素子57H,57Vのうち1または複数の素子を選択するようになっている。選択部51は、複数の検知電極21H(図5、図6では4つの検知電極21H−1〜21H−4)の切り替え用のスイッチング素子51Aを有している。選択部51は、また、複数の校正用素子57H(図5、図6では4つの校正用素子57H−1〜57H−4)の切り替え用のスイッチング素子51Bを有している。選択部51は、さらに、複数の検知電極21Vの切り替え用のスイッチング素子51C(図示せず)と、複数の校正用素子57Vの切り替え用のスイッチング素子51D(図示せず)とを有している。   The selection unit 51 electrically disconnects each detection electrode in the sensor unit 21 and each calibration element in the calibration unit 57. Specifically, the selection unit 51 selects one or a plurality of electrodes from the plurality of detection electrodes 21H and 21V, and selects one or a plurality of elements from the plurality of calibration elements 57H and 57V. ing. The selection unit 51 includes a switching element 51A for switching a plurality of detection electrodes 21H (four detection electrodes 21H-1 to 21H-4 in FIGS. 5 and 6). The selection unit 51 also includes a switching element 51B for switching between a plurality of calibration elements 57H (four calibration elements 57H-1 to 57H-4 in FIGS. 5 and 6). The selection unit 51 further includes a switching element 51C (not shown) for switching the plurality of detection electrodes 21V and a switching element 51D (not shown) for switching the plurality of calibration elements 57V. .

スイッチング素子51A〜51Dは、それぞれ、例えば、マルチプレクサである。スイッチング素子51Aにおいて、マルチプレクサの一端側に設けられた複数の端子が走査線WSL2を介して各検知電極21Hの一端に1つずつ接続されており、マルチプレクサの他端側に設けられた1つの端子が加算部51Eに接続されている。また、スイッチング素子51Bにおいて、マルチプレクサの一端側に設けられた複数の端子が各校正用素子57Hの一端に1つずつ接続されており、マルチプレクサの他端側に設けられた1つの端子が加算部51Eに接続されている。また、図示しないが、スイッチング素子51Cにおいて、マルチプレクサの一端側に設けられた複数の端子が走査線WSL3を介して各検知電極21Vの一端に1つずつ接続されており、マルチプレクサの他端側に設けられた1つの端子が加算部51Eに接続されている。また、図示しないが、スイッチング素子51Dにおいて、マルチプレクサの一端側に設けられた複数の端子が各校正用素子57Vの一端に1つずつ接続されており、マルチプレクサの他端側に設けられた1つの端子が加算部51Eに接続されている。   Each of the switching elements 51A to 51D is, for example, a multiplexer. In the switching element 51A, a plurality of terminals provided on one end side of the multiplexer are connected to one end of each detection electrode 21H via the scanning line WSL2, and one terminal provided on the other end side of the multiplexer. Is connected to the adder 51E. In the switching element 51B, a plurality of terminals provided on one end side of the multiplexer are connected to one end of each calibration element 57H, and one terminal provided on the other end side of the multiplexer is an adder. 51E. In addition, although not shown, in the switching element 51C, a plurality of terminals provided on one end side of the multiplexer are connected to one end of each detection electrode 21V via the scanning line WSL3, and are connected to the other end side of the multiplexer. One provided terminal is connected to the adder 51E. Although not shown, in the switching element 51D, a plurality of terminals provided on one end side of the multiplexer are connected to one end of each calibration element 57V, and one terminal provided on the other end side of the multiplexer is provided. The terminal is connected to the adding unit 51E.

スイッチング素子51A〜51Dは、制御部54から入力される選択信号およびEN信号(後述)に従って内部スイッチの切り替えを行うようになっている。スイッチング素子51A,51Cは、EN信号がイネーブルである場合は、センサ部21側の複数の端子のうち選択信号で選択された端子と、センサ部21とは反対側の端子とを電気的に接続するようになっている。スイッチング素子51B,51Dは、EN信号がイネーブルである場合は、校正部57側の複数の端子のうち選択信号で選択された端子と、校正部57とは反対側の端子とを電気的に接続するようになっている。スイッチング素子51A,51Cは、EN信号がディスエーブルである場合は、センサ部21側の全ての端子と、センサ部21とは反対側の端子とを電気的に開放するようになっている。スイッチング素子51B,51Dは、EN信号がディスエーブルである場合は、校正部57側の全ての端子と、校正部57とは反対側の端子とを電気的に開放するようになっている。   The switching elements 51 </ b> A to 51 </ b> D switch internal switches according to a selection signal and an EN signal (described later) input from the control unit 54. When the EN signal is enabled, the switching elements 51 </ b> A and 51 </ b> C electrically connect the terminal selected by the selection signal among the plurality of terminals on the sensor unit 21 side and the terminal on the side opposite to the sensor unit 21. It is supposed to be. When the EN signal is enabled, the switching elements 51 </ b> B and 51 </ b> D electrically connect the terminal selected by the selection signal among the plurality of terminals on the calibration unit 57 side and the terminal on the opposite side of the calibration unit 57. It is supposed to be. When the EN signal is disabled, the switching elements 51A and 51C are configured to electrically open all terminals on the sensor unit 21 side and terminals on the side opposite to the sensor unit 21. When the EN signal is disabled, the switching elements 51B and 51D are configured to electrically open all terminals on the calibration unit 57 side and terminals on the opposite side of the calibration unit 57.

加算部51Eは、スイッチング素子51Aの、センサ部21とは反対側の端子の電圧と、スイッチング素子51Bの、校正部57とは反対側の端子の電圧と、スイッチング素子51Cの、センサ部21とは反対側の端子の電圧と、スイッチング素子51Dの、校正部57とは反対側の端子の電圧と、発振部52の出力端の電圧とを互いに加算するものである。加算部51Eは、例えば、スイッチング素子51Aの、センサ部21とは反対側の端子と、スイッチング素子51Bの、校正部57とは反対側の端子と、スイッチング素子51Cの、センサ部21とは反対側の端子と、スイッチング素子51Dの、校正部57とは反対側の端子、発振部52の出力端とを互いに接続する配線によって構成されている。   The adding unit 51E includes a voltage at a terminal opposite to the sensor unit 21 of the switching element 51A, a voltage at a terminal opposite to the calibration unit 57 of the switching element 51B, and the sensor unit 21 of the switching element 51C. Is the sum of the voltage at the terminal on the opposite side, the voltage at the terminal on the switching element 51D opposite to the calibration section 57, and the voltage at the output end of the oscillating section 52. For example, the adding unit 51E is opposite to the terminal of the switching element 51A opposite to the sensor unit 21, the terminal of the switching element 51B opposite to the calibration unit 57, and the switching element 51C opposite to the sensor unit 21. The terminal on the side, the terminal on the side opposite to the calibration unit 57 of the switching element 51D, and the output end of the oscillation unit 52 are configured by wirings that connect each other.

発振部52は、選択部51により選択された1または複数の検知電極21H,21Vおよび1または複数の校正用素子57H,57Vに生じた容量により発振周波数が決まるようになっている。発振部52は、例えば、交流信号を発生する信号源を含んで構成されている。発振部52は、加算部51Eおよびスイッチング素子51Aを介して各検知電極21Hに交流信号を印加するとともに、加算部51Eおよびスイッチング素子51Cを介して各検知電極21Vに交流信号を印加するようになっている。   The oscillation unit 52 has an oscillation frequency determined by the capacitance generated in the one or more detection electrodes 21H and 21V and the one or more calibration elements 57H and 57V selected by the selection unit 51. The oscillating unit 52 includes, for example, a signal source that generates an AC signal. The oscillation unit 52 applies an AC signal to each detection electrode 21H via the addition unit 51E and the switching element 51A, and applies an AC signal to each detection electrode 21V via the addition unit 51E and the switching element 51C. ing.

変換部53は、例えば、図示しないが、F・V変換回路と、A/Dコンバータとを含んで構成されている。F・V変換回路は、発振部52からの信号を周波数に応じて電圧に変換するものである。F・V変換回路は、例えば、発振部52の出力端の信号を、その信号の周波数の大きさに応じた電圧値に変換し、その電圧値のアナログ信号を出力するようになっている。A/Dコンバータは、入力されたアナログ信号をデジタル信号に変換するものであり、例えば、F・V変換回路から出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換するようになっている。出力部55は、例えば、制御部54で導出された接触座標などを検知信号50Aとして出力するものである。入力部56は、例えば、検知回路50を駆動する際に使用する同期信号50Bや、画像表示面20Aに表示されるボタンなどの機能部分の座標を示す位置信号50Cなどの入力を受け付けるものである。   For example, the conversion unit 53 includes an F / V conversion circuit and an A / D converter (not shown). The F / V conversion circuit converts a signal from the oscillation unit 52 into a voltage according to the frequency. The F / V conversion circuit, for example, converts the signal at the output end of the oscillating unit 52 into a voltage value corresponding to the magnitude of the frequency of the signal, and outputs an analog signal of the voltage value. The A / D converter converts an input analog signal into a digital signal. For example, the A / D converter converts an analog signal output from an F / V conversion circuit into a digital signal. The output unit 55 outputs, for example, the contact coordinates derived by the control unit 54 as the detection signal 50A. The input unit 56 receives, for example, inputs such as a synchronization signal 50B used when driving the detection circuit 50 and a position signal 50C indicating the coordinates of functional parts such as buttons displayed on the image display surface 20A. .

制御部54は、選択部51に含まれる各スイッチング素子51A〜51Dを制御するものである。制御部54は、選択部51が複数の検知電極21H,21Vのうち一部の電極だけを順次選択するとともに複数の校正用素子57H,57Vを順次選択する選択信号を生成し選択部51(各スイッチング素子51A〜51D)に印加するようになっている。具体的には、制御部54は、各スイッチング素子51A〜51Dに対して、EN信号および選択信号を入力することにより、各スイッチング素子51A〜51Dの内部スイッチの切り替えを行うようになっている。   The control unit 54 controls the switching elements 51 </ b> A to 51 </ b> D included in the selection unit 51. The control unit 54 generates a selection signal for the selection unit 51 to sequentially select only some of the plurality of detection electrodes 21H and 21V and to sequentially select the plurality of calibration elements 57H and 57V. The switching elements 51A to 51D) are applied. Specifically, the control unit 54 switches the internal switches of the switching elements 51A to 51D by inputting an EN signal and a selection signal to the switching elements 51A to 51D.

制御部54は、例えば、所定のときに、スイッチング素子51AにEN信号としてディスエーブルを入力するようになっている。これにより、スイッチング素子51Aにおいて、センサ部21側の全ての端子と、センサ部21とは反対側の端子とが電気的に開放される。同様に、制御部54は、例えば、所定のときに、スイッチング素子51BにEN信号としてディスエーブルを入力するようになっている。これにより、スイッチング素子51Bにおいて、校正部27側の全ての端子と、校正部27とは反対側の端子とが電気的に開放される。制御部54は、例えば、所定のときに、スイッチング素子51CにEN信号としてディスエーブルを入力するようになっている。これにより、スイッチング素子51Cにおいて、センサ部21側の全ての端子と、センサ部21とは反対側の端子とが電気的に開放される。制御部54は、例えば、所定のときに、スイッチング素子51DにEN信号としてディスエーブルを入力するようになっている。これにより、スイッチング素子51Dにおいて、校正部27側の全ての端子と、校正部27とは反対側の端子とが電気的に開放される。   For example, the control unit 54 inputs disable to the switching element 51A as an EN signal at a predetermined time. Thereby, in the switching element 51 </ b> A, all terminals on the sensor unit 21 side and terminals on the side opposite to the sensor unit 21 are electrically opened. Similarly, the control unit 54 is configured to input disable as an EN signal to the switching element 51B at a predetermined time, for example. Thereby, in the switching element 51B, all terminals on the calibration unit 27 side and terminals on the opposite side to the calibration unit 27 are electrically opened. For example, the control unit 54 inputs disable as an EN signal to the switching element 51C at a predetermined time. Thereby, in the switching element 51 </ b> C, all terminals on the sensor unit 21 side and terminals on the opposite side to the sensor unit 21 are electrically opened. For example, the control unit 54 inputs disable as an EN signal to the switching element 51D at a predetermined time. Thereby, in the switching element 51D, all terminals on the calibration unit 27 side and terminals on the opposite side to the calibration unit 27 are electrically opened.

また、制御部54は、例えば、所定のときに、スイッチング素子51Aに選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力するようになっている。これにより、スイッチング素子51Aにおいて、センサ部21側の複数の端子のうち選択信号で選択された端子と、センサ部21とは反対側の端子とが電気的に接続される。同様に、制御部54は、例えば、所定のときに、スイッチング素子51Bに選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力するようになっている。これにより、スイッチング素子51Bにおいて、校正部27側の複数の端子のうち選択信号で選択された端子と、校正部27とは反対側の端子とが電気的に接続される。制御部54は、例えば、所定のときに、スイッチング素子51Cに選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力するようになっている。これにより、スイッチング素子51Cにおいて、センサ部21側の複数の端子のうち選択信号で選択された端子と、センサ部21とは反対側の端子とが電気的に接続される。制御部54は、例えば、所定のときに、スイッチング素子51Dに選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力するようになっている。これにより、スイッチング素子51Dにおいて、校正部27側の複数の端子のうち選択信号で選択された端子と、校正部27とは反対側の端子とが電気的に接続される。   Further, for example, the control unit 54 inputs a selection signal to the switching element 51A and inputs enable as an EN signal at a predetermined time. Thereby, in the switching element 51 </ b> A, the terminal selected by the selection signal among the plurality of terminals on the sensor unit 21 side and the terminal on the opposite side to the sensor unit 21 are electrically connected. Similarly, for example, the control unit 54 inputs a selection signal to the switching element 51B and inputs enable as an EN signal at a predetermined time. Thereby, in the switching element 51B, the terminal selected by the selection signal among the plurality of terminals on the calibration unit 27 side and the terminal on the opposite side to the calibration unit 27 are electrically connected. For example, at a predetermined time, the control unit 54 inputs a selection signal to the switching element 51C and inputs enable as an EN signal. Thereby, in the switching element 51 </ b> C, the terminal selected by the selection signal among the plurality of terminals on the sensor unit 21 side and the terminal on the opposite side to the sensor unit 21 are electrically connected. For example, at a predetermined time, the control unit 54 inputs a selection signal to the switching element 51D and inputs enable as an EN signal. Thereby, in the switching element 51D, the terminal selected by the selection signal among the plurality of terminals on the calibration unit 27 side and the terminal on the opposite side to the calibration unit 27 are electrically connected.

制御部54は、センサ部21に連結された各スイッチング素子51A,51Cに対して選択信号およびEN信号を入力する際には、その選択信号で選択した端子に連結された検知電極21H,21Vに対応する選択信号およびEN信号を生成するようになっている。具体的には、制御部54は、センサ部21内の各検知電極21H,21Vと、校正部57内の各校正用素子57H,57Vとの組み合わせを記述した校正テーブルを用いて、選択信号およびEN信号を生成するようになっている。   When the control unit 54 inputs the selection signal and the EN signal to the switching elements 51A and 51C connected to the sensor unit 21, the control unit 54 applies the detection electrodes 21H and 21V connected to the terminals selected by the selection signal. Corresponding selection signals and EN signals are generated. Specifically, the control unit 54 uses the calibration table describing the combinations of the detection electrodes 21H and 21V in the sensor unit 21 and the calibration elements 57H and 57V in the calibration unit 57 to select the selection signal and An EN signal is generated.

ここで、校正テーブルは、例えば、図7(A)に示したような電圧値のリストとなっていたり、例えば、図7(B)に示したような補正値のリストとなっていたりする。校正テーブルは、メモリ59内に格納されている。   Here, the calibration table is, for example, a list of voltage values as shown in FIG. 7A or a list of correction values as shown in FIG. 7B, for example. The calibration table is stored in the memory 59.

図7(A)に示した電圧値は、画像表示面20Aおよびその近傍に、指などが存在しないときに、スイッチング素子51A,51Bの内部スイッチを切り替え、その結果、F・V変換回路から出力された電圧値を計測した値である。図7(A)には、計測した電圧値が全ての検知電極21H−1〜21H−4において互いに等しくなる組み合わせ(検知電極21Hと校正用素子57Hとの組み合わせ)に対して丸が付されている。F・V変換回路から出力された電圧値が全ての検知電極21H−1〜21H−4において互いに等しくなるというのは、それぞれの組み合わせにおいて、発振部52の出力端に、互いに同等の容量が取り付けられていることを意味する。従って、センサ部21内の各検知電極21Hと、校正部57内の各校正用素子57Hとの組み合わせを、図7(A)において丸が付された組み合わせにした場合には、指などが画像表示面20Aのいずれの場所に接触したとしても、F・V変換回路から出力される電圧値の変化量がほぼ等しくなる。   The voltage value shown in FIG. 7A is output from the F / V conversion circuit by switching the internal switches of the switching elements 51A and 51B when there is no finger or the like on the image display surface 20A and its vicinity. This is a value obtained by measuring the measured voltage value. In FIG. 7A, a circle is attached to a combination (a combination of the detection electrode 21H and the calibration element 57H) in which the measured voltage values are equal to each other in all the detection electrodes 21H-1 to 21H-4. Yes. The voltage values output from the F / V conversion circuit are equal to each other in all the detection electrodes 21H-1 to 21H-4. In each combination, equivalent capacitors are attached to the output end of the oscillation unit 52. Means that Therefore, when the combination of each detection electrode 21H in the sensor unit 21 and each calibration element 57H in the calibration unit 57 is a combination with a circle in FIG. Regardless of where the display surface 20A is touched, the amount of change in the voltage value output from the F / V conversion circuit is substantially equal.

そこで、本実施の形態では、制御部54は、例えば、F・V変換回路から出力される電圧値が全ての検知電極21Hにおいて互いに等しくなるように、センサ部21内の各検知電極21Hと、校正部57内の各校正用素子57Hとを組み合わせるようになっている。具体的には、制御部54は、例えば、センサ部21内の各検知電極21Hと、校正部57内の各校正用素子57Hとの組み合わせが、例えば図7(A)で丸で示した組み合わせとなるように、スイッチング素子51Bへ入力するEN信号および選択信号を決定するようになっている。同様に、制御部54は、例えば、F・V変換回路から出力される電圧値が全ての検知電極21Vにおいて互いに等しくなるように、センサ部21内の各検知電極21Vと、校正部57内の各校正用素子57Vとを組み合わせるようになっている。   Therefore, in the present embodiment, the control unit 54, for example, each detection electrode 21H in the sensor unit 21 so that the voltage values output from the F / V conversion circuit are equal to each other in all the detection electrodes 21H, Each calibration element 57H in the calibration unit 57 is combined. Specifically, the control unit 54, for example, combines the detection electrodes 21H in the sensor unit 21 with the calibration elements 57H in the calibration unit 57, for example, the combinations indicated by circles in FIG. Thus, the EN signal and the selection signal input to the switching element 51B are determined. Similarly, the control unit 54, for example, detects each detection electrode 21V in the sensor unit 21 and the calibration unit 57 so that the voltage values output from the F / V conversion circuit are equal to each other in all the detection electrodes 21V. Each calibration element 57V is combined.

図7(B)に示した補正値は、画像表示面20Aおよびその近傍に、指などが存在しないときに、スイッチング素子51A,51Bの内部スイッチを切り替え、その結果、F・V変換回路から出力された電圧値に対して所望の演算処理を施した数値である。図7(B)には、補正値が互いに等しくなる組み合わせ(検知電極21Hと校正用素子57Hとの組み合わせ)に対して丸が付されている。補正値が全ての検知電極21H−1〜21H−4において互いに等しくなるというのは、それぞれの組み合わせにおいて、補正処理を考慮した画像表示面20Aの基準条件が、画像表示面20Aのいずれの場所においても揃っていることを意味する。従って、センサ部21内の各検知電極21Hと、校正部57内の各校正用素子57Hとの組み合わせを、図7(B)において丸が付された組み合わせにした場合には、指などが画像表示面20Aのいずれの場所に接触したとしても、補正処理後の補正値の変化量がほぼ等しくなる。   The correction values shown in FIG. 7B are output from the F / V conversion circuit as a result of switching the internal switches of the switching elements 51A and 51B when there is no finger or the like on the image display surface 20A and its vicinity. This is a numerical value obtained by performing desired arithmetic processing on the voltage value. In FIG. 7B, circles are attached to combinations (combinations of the detection electrode 21H and the calibration element 57H) in which correction values are equal to each other. The correction values are equal to each other in all the detection electrodes 21H-1 to 21H-4. In each combination, the reference condition of the image display surface 20A in consideration of the correction processing is set at any location on the image display surface 20A. It means that they are also available. Therefore, when the combination of each detection electrode 21H in the sensor unit 21 and each calibration element 57H in the calibration unit 57 is a combination with a circle in FIG. Regardless of which location on the display surface 20A is touched, the amount of change in the correction value after the correction processing becomes substantially equal.

そこで、本実施の形態では、制御部54は、例えば、補正値が全ての検知電極21Hにおいて互いに等しくなるように、センサ部21内の各検知電極21Hと、校正部57内の各校正用素子57Hとを組み合わせるようになっている。具体的には、制御部54は、例えば、センサ部21内の各検知電極21Hと、校正部57内の各校正用素子57Hとの組み合わせが、例えば図7(B)で丸で示した組み合わせとなるように、スイッチング素子51Bへ入力するEN信号および選択信号を決定するようになっている。同様に、制御部54は、例えば、補正値が全ての検知電極21Vにおいて互いに等しくなるように、センサ部21内の各検知電極21Vと、校正部57内の各校正用素子57Vとを組み合わせるようになっている。   Therefore, in the present embodiment, the control unit 54, for example, each detection electrode 21H in the sensor unit 21 and each calibration element in the calibration unit 57 so that the correction values are equal to each other in all the detection electrodes 21H. It is designed to be combined with 57H. Specifically, the control unit 54, for example, a combination of each detection electrode 21H in the sensor unit 21 and each calibration element 57H in the calibration unit 57 is a combination indicated by a circle in FIG. 7B, for example. Thus, the EN signal and the selection signal input to the switching element 51B are determined. Similarly, for example, the control unit 54 combines each detection electrode 21V in the sensor unit 21 and each calibration element 57V in the calibration unit 57 so that the correction values are equal to each other in all the detection electrodes 21V. It has become.

ところで、制御部54は、通常、選択部51内のスイッチング素子51A,51Cに対して、選択信号として、センサ部21内の全ての検知電極21H,21Vを順次1つずつスキャンさせる信号を入力するようになっている。しかし、本実施の形態では、制御部54は、所定の条件下では、センサ部21内の全ての検知電極21H,21Vのうち所定の電極だけをスキャンさせる信号を、選択信号として選択部51内のスイッチング素子51A,51Cに入力するようになっている。ここで、上記の「所定の条件」としては、例えば、画像表示面20Aにわずか2つしかボタンが表示されていない場合や、指などの物体の検出面上の動きを連続して検出する必要のある場合などが挙げられる。このように、センサ部21内の全ての検知電極21H,21Vのうち所定の電極だけをスキャンする「間引きスキャン」を行うことにより、消費電力を低減したり、検出周期を短くしたりすることができる。   By the way, the control unit 54 normally inputs a signal for sequentially scanning all the detection electrodes 21H and 21V in the sensor unit 21 one by one as a selection signal to the switching elements 51A and 51C in the selection unit 51. It is like that. However, in the present embodiment, the control unit 54 uses, as a selection signal, a signal for scanning only a predetermined electrode among all the detection electrodes 21H and 21V in the sensor unit 21 under a predetermined condition. The switching elements 51A and 51C are input. Here, as the “predetermined condition”, for example, when only two buttons are displayed on the image display surface 20A, or the movement of an object such as a finger on the detection surface needs to be continuously detected. The case where there is. In this way, by performing “decimation scan” in which only predetermined electrodes among all the detection electrodes 21H and 21V in the sensor unit 21 are scanned, the power consumption can be reduced or the detection cycle can be shortened. it can.

具体的には、制御部54は、所定の条件下で、センサ部21内の全ての検知電極21Hのうち所定の電極だけを順次1つずつスキャンさせる信号を、選択信号としてスイッチング素子51Aに出力するようになっている。また、制御部54は、所定の条件下で、センサ部21内の全ての検知電極21Vのうち所定の電極だけを順次1つずつスキャンさせる信号を、選択信号として、スイッチング素子51C(図示せず)に出力するようになっている。   Specifically, the control unit 54 outputs, to the switching element 51A as a selection signal, a signal for sequentially scanning only a predetermined electrode among all the detection electrodes 21H in the sensor unit 21 under a predetermined condition. It is supposed to be. In addition, the control unit 54 selects, as a selection signal, a switching element 51C (not shown) that scans only one predetermined electrode sequentially at a time among all the detection electrodes 21V in the sensor unit 21 under a predetermined condition. ) Is output.

このとき、制御部54は、例えば図7(A)または図7(B)の校正テーブルにおいて、間引きの対象となった検知電極についてのデータを利用することがなくなる。例えば、間引きの対象となった検知電極が検知電極21H−2、21H−3であったとする。このとき、制御部54は、例えば図7(A)または図7(B)の校正テーブルにおいて、21H−2および21H−3の欄のデータを利用することがなくなる。つまり、制御部54は、例えば図8(A)または図8(B)に示したような歯抜けの校正テーブルを用いて、スイッチング素子51A,51Cへ入力する選択信号およびEN信号を決定することになる。その結果、制御部54は、センサ部21内の全ての検知電極を順次1つずつスキャンさせるときに選択する組み合わせ(図7(A),(B)で丸で示した個所)とは異なる組み合わせ(図8(A),(B)で丸で示した個所)を選択することになる場合がある。   At this time, for example, in the calibration table of FIG. 7A or FIG. 7B, the control unit 54 does not use data on the detection electrode that is the target of thinning. For example, it is assumed that the detection electrodes to be thinned out are the detection electrodes 21H-2 and 21H-3. At this time, the control unit 54 does not use the data in the columns 21H-2 and 21H-3 in the calibration table of FIG. 7A or FIG. 7B, for example. That is, the control unit 54 determines the selection signal and the EN signal to be input to the switching elements 51A and 51C using, for example, a tooth missing calibration table as shown in FIG. 8A or 8B. become. As a result, the control unit 54 is different from the combination selected when the detection electrodes in the sensor unit 21 are sequentially scanned one by one (the portions indicated by circles in FIGS. 7A and 7B). There are cases in which (a part indicated by a circle in FIGS. 8A and 8B) is selected.

次に、本実施の形態の検知装置2における動作の一例について説明する。   Next, an example of the operation in the detection device 2 of the present embodiment will be described.

[動作全体]
図9は、検知装置2における動作全体の手順の一例を表したものである。まず、例えば、表示装置1の電源投入、または検知装置2の起動により、制御部54は、検知装置2の動作を開始する(ステップS101)。制御部54は、まず、センサ部21内の各検知電極21H,21Vと、校正部57内の各校正用素子57H,57Vとの組み合わせを調査し、適切な組み合わせを決定する(ステップS102)。次に、制御部54は、先のステップS102で決定した組み合わせを用いて、指などの画像表示面20Aへの接触・非接触を検知する(ステップS103)。その後、制御部54は、引き続きステップS103を実行するか、それとも、ステップS102に戻るかの判断をする。なお、図9では、検知装置2の動作を修了するステップについての記載が省略されている。
[Overall operation]
FIG. 9 illustrates an example of the procedure of the entire operation in the detection device 2. First, for example, when the display device 1 is turned on or the detection device 2 is activated, the control unit 54 starts the operation of the detection device 2 (step S101). First, the control unit 54 investigates the combinations of the detection electrodes 21H and 21V in the sensor unit 21 and the calibration elements 57H and 57V in the calibration unit 57, and determines an appropriate combination (step S102). Next, the control unit 54 detects contact / non-contact with the image display surface 20A such as a finger using the combination determined in the previous step S102 (step S103). Thereafter, the control unit 54 determines whether to continue to execute step S103 or return to step S102. In FIG. 9, the description of the step of completing the operation of the detection device 2 is omitted.

[校正処理]
図10は、検知装置2における校正処理(ステップS102)の手順の一例を表したものである。制御部54は、検知装置2の動作の開始に伴い、校正処理を開始する(ステップS201)。制御部54は、まず、校正用データの計測を行う(ステップS202)。具体的には、制御部54は、センサ部21内の各検知電極21Hと校正部57内の各校正用素子57Hとの全ての組み合わせにおいて、校正用データの計測を行う。さらに、制御部54は、センサ部21内の各検知電極21Vと、校正部57内の各校正用素子57Vとの全ての組み合わせにおいて、校正用データの計測を行う。具体的には、制御部54は、変換部53からの信号を利用して、選択部51により選択された検知電極21H,21Vおよび校正用素子57H,57Vの組み合わせにおける特性値を生成する。次に、制御部54は、それらの結果得られたデータ(特性値)を校正データとしてメモリ部59に保存する(ステップS203)。
[Proofreading]
FIG. 10 shows an example of the procedure of the calibration process (step S102) in the detection apparatus 2. The control unit 54 starts calibration processing with the start of the operation of the detection device 2 (step S201). First, the controller 54 measures calibration data (step S202). Specifically, the control unit 54 measures calibration data in all combinations of the detection electrodes 21H in the sensor unit 21 and the calibration elements 57H in the calibration unit 57. Further, the control unit 54 measures calibration data in all combinations of the detection electrodes 21V in the sensor unit 21 and the calibration elements 57V in the calibration unit 57. Specifically, the control unit 54 uses the signal from the conversion unit 53 to generate a characteristic value in the combination of the detection electrodes 21H and 21V and the calibration elements 57H and 57V selected by the selection unit 51. Next, the control unit 54 stores the data (characteristic values) obtained as a result thereof in the memory unit 59 as calibration data (step S203).

例えば、制御部54は、スイッチング素子51Aに対して、センサ部21内の一の検知電極21Hに接続された端子を選択する選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力する。さらに、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Bに対して、校正部57内の一の校正用素子57Hに接続された端子を選択する選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力する。これにより、制御部54によって選択された検知電極21Hと、制御部54によって選択された校正用素子57Hとが互いに電気的に接続される。制御部54は、この状態で、変換部53(F・V変換回路)から出力された電圧値を取得し、メモリ部59に格納する。制御部54は、この一連のプロセスを、センサ部21内の全ての検知電極21Hおよび校正部57内の全ての校正用素子57Hに対して順次行う。   For example, the control unit 54 inputs a selection signal for selecting a terminal connected to one detection electrode 21H in the sensor unit 21 and inputs enable as an EN signal to the switching element 51A. Further, for example, the control unit 54 inputs a selection signal for selecting a terminal connected to one calibration element 57H in the calibration unit 57 to the switching element 51B and inputs enable as an EN signal. Thereby, the detection electrode 21H selected by the control unit 54 and the calibration element 57H selected by the control unit 54 are electrically connected to each other. In this state, the control unit 54 acquires the voltage value output from the conversion unit 53 (F / V conversion circuit) and stores it in the memory unit 59. The control unit 54 sequentially performs this series of processes on all the detection electrodes 21H in the sensor unit 21 and all the calibration elements 57H in the calibration unit 57.

また、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Cに対して、センサ部21内の一の検知電極21Vに接続された端子を選択する選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力する。さらに、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Dに対して、校正部57内の一の校正用素子57Vに接続された端子を選択する選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力する。これにより、制御部54によって選択された検知電極21Vと、制御部54によって選択された校正用素子57Vとが互いに電気的に接続される。制御部54は、この状態で、変換部53(F・V変換回路)から出力された電圧値を取得し、メモリ部59に格納する。制御部54は、この一連のプロセスを、センサ部21内の全ての検知電極21Vと、校正部57内の全ての校正用素子57Vに対して順次行う。   For example, the control unit 54 inputs a selection signal for selecting a terminal connected to one detection electrode 21 </ b> V in the sensor unit 21 to the switching element 51 </ b> C and inputs enable as an EN signal. Further, for example, the control unit 54 inputs a selection signal for selecting a terminal connected to one calibration element 57V in the calibration unit 57 and inputs enable as an EN signal to the switching element 51D. As a result, the detection electrode 21V selected by the control unit 54 and the calibration element 57V selected by the control unit 54 are electrically connected to each other. In this state, the control unit 54 acquires the voltage value output from the conversion unit 53 (F / V conversion circuit) and stores it in the memory unit 59. The control unit 54 sequentially performs this series of processes on all the detection electrodes 21V in the sensor unit 21 and all the calibration elements 57V in the calibration unit 57.

また、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Aに対して、センサ部21内の一の検知電極21Hに接続された端子を選択する選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力する。さらに、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Bに対して、EN信号としてディスエーブルを入力する。これにより、制御部54によって選択された検知電極21Hは、校正部57内のいずれの校正用素子57Hとも非接続となる。制御部54は、この状態で、変換部53(F・V変換回路)から出力された電圧値を取得し、メモリ部59に格納する。制御部54は、この一連のプロセスを、センサ部21内の全ての検知電極21Hに対して順次行う。   For example, the control unit 54 inputs a selection signal for selecting a terminal connected to one detection electrode 21H in the sensor unit 21 to the switching element 51A and inputs enable as an EN signal. Further, for example, the control unit 54 inputs disable as an EN signal to the switching element 51B. Thereby, the detection electrode 21H selected by the control unit 54 is disconnected from any calibration element 57H in the calibration unit 57. In this state, the control unit 54 acquires the voltage value output from the conversion unit 53 (F / V conversion circuit) and stores it in the memory unit 59. The control unit 54 sequentially performs this series of processes on all the detection electrodes 21H in the sensor unit 21.

また、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Cに対して、センサ部21内の一の検知電極21Vに接続された端子を選択する選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力する。さらに、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Dに対して、EN信号としてディスエーブルを入力する。これにより、制御部54によって選択された検知電極21Vは、校正部57内のいずれの校正用素子57Vとも非接続となる。制御部54は、この状態で、変換部53(F・V変換回路)から出力された電圧値を取得し、メモリ部59に格納する。制御部54は、この一連のプロセスを、センサ部21内の全ての検知電極21Vに対して順次行う。   For example, the control unit 54 inputs a selection signal for selecting a terminal connected to one detection electrode 21 </ b> V in the sensor unit 21 to the switching element 51 </ b> C and inputs enable as an EN signal. Further, for example, the control unit 54 inputs disable as an EN signal to the switching element 51D. As a result, the detection electrode 21V selected by the control unit 54 is disconnected from any calibration element 57V in the calibration unit 57. In this state, the control unit 54 acquires the voltage value output from the conversion unit 53 (F / V conversion circuit) and stores it in the memory unit 59. The control unit 54 sequentially performs this series of processes for all the detection electrodes 21 </ b> V in the sensor unit 21.

なお、制御部54は、さらに、上述の一連のプロセスを経て取得した電圧値に対する補正値をメモリ部59に格納してもよい。   The control unit 54 may further store a correction value for the voltage value acquired through the above-described series of processes in the memory unit 59.

次に、制御部54は、組み合わせを決定する(ステップS204)。具体的には、制御部54は、まず、校正データを用いて、センサ部21内の各検知電極21Hと校正部57内の各校正用素子57Hとの最も好ましい組み合わせを決定する。制御部は、例えば、選択部51により選択された検知電極21Hおよび校正用素子57Hの組み合わせにおいて、得られたデータ(特性値)が互いに最も等しくなる組み合わせを選択する。さらに、制御部54は、校正データを用いて、センサ部21内の各検知電極21Vと、校正部57内の各校正用素子57Vとの最も好ましい組み合わせを決定する。制御部は、例えば、選択部51により選択された検知電極21Vおよび校正用素子57Vの組み合わせにおいて、得られたデータ(特性値)が互いに最も等しくなる組み合わせを選択する。制御部54は、例えば、全体としてばらつきが小さくなるように、組み合わせを決定する。また、制御部54は、例えば、誤差の最大値と誤差の最小値との差が小さくなるように、組み合わせを決定する。   Next, the control part 54 determines a combination (step S204). Specifically, the control unit 54 first determines the most preferable combination of each detection electrode 21H in the sensor unit 21 and each calibration element 57H in the calibration unit 57 using the calibration data. For example, in the combination of the detection electrode 21H and the calibration element 57H selected by the selection unit 51, the control unit selects a combination in which the obtained data (characteristic values) are the same. Further, the control unit 54 determines the most preferable combination of each detection electrode 21V in the sensor unit 21 and each calibration element 57V in the calibration unit 57 using the calibration data. For example, in the combination of the detection electrode 21V and the calibration element 57V selected by the selection unit 51, the control unit selects the combination in which the obtained data (characteristic values) are the same. For example, the control unit 54 determines the combination so that the variation is reduced as a whole. For example, the control unit 54 determines the combination so that the difference between the maximum error value and the minimum error value is small.

制御部54は、センサ処理(ステップS103)において、センサ部21内の全ての検知電極21H,21Vのうち所定の電極だけをスキャンする「間引きスキャン」を行う際には、校正処理(ステップS102)において、例えば、以下のプロセスを実行する。なお、以下では、複数の検知電極21Hのうち「間引きスキャン」を行うために選択された電極を選択電極21H’と称し、複数の検知電極21Vのうち「間引きスキャン」を行うために選択された電極を選択電極21V’と称するものとする。   The control unit 54 performs calibration processing (step S102) when performing “decimation scanning” in which only predetermined electrodes are scanned among all the detection electrodes 21H and 21V in the sensor unit 21 in the sensor processing (step S103). For example, the following process is executed. In the following description, an electrode selected for performing the “thinning scan” among the plurality of detection electrodes 21H is referred to as a selection electrode 21H ′, and the electrode selected for performing the “thinning scanning” among the plurality of detection electrodes 21V. The electrode is referred to as a selection electrode 21V ′.

制御部54は、「間引きスキャン」において最も好ましい組み合わせとなるように、校正データを用いて、センサ部21内の各選択電極21H’と校正部57内の各校正用素子57Hとの最も好ましい組み合わせを決定する。制御部は、例えば、選択部51により選択された選択電極21H’および校正用素子57Hの組み合わせにおいて、得られたデータ(特性値)が互いに最も等しくなる組み合わせを選択する。さらに、制御部54は、「間引きスキャン」において最も好ましい組み合わせとなるように、校正データを用いて、センサ部21内の各選択電極21V’と校正部57内の各校正用素子57Vとの最も好ましい組み合わせを決定する。制御部は、例えば、選択部51により選択された選択電極21V’および校正用素子57Vの組み合わせにおいて、得られたデータ(特性値)が互いに最も等しくなる組み合わせを選択する。   The control unit 54 uses the calibration data to make the most preferable combination of each selection electrode 21H ′ in the sensor unit 21 and each calibration element 57H in the calibration unit 57 so as to be the most preferable combination in the “decimation scan”. To decide. For example, in the combination of the selection electrode 21H ′ and the calibration element 57H selected by the selection unit 51, the control unit selects the combination in which the obtained data (characteristic values) are the same. Further, the control unit 54 uses the calibration data to make the most preferable combination of each selection electrode 21V ′ in the sensor unit 21 and each calibration element 57V in the calibration unit 57 so as to be the most preferable combination in the “decimation scan”. A preferred combination is determined. For example, in the combination of the selection electrode 21V ′ and the calibration element 57V selected by the selection unit 51, the control unit selects a combination in which the obtained data (characteristic values) are the same.

このとき、制御部54は、選択電極21H’,21V’についての校正データだけを利用して、選択電極21H’,21V’と校正用素子57H,57Vとの最も好ましい組み合わせを決定する。つまり、制御部54は、「間引きスキャン」のときは、複数の選択電極21Hのうち選択電極21H’以外の電極や、複数の選択電極21Vのうち選択電極21V’以外の電極についての校正データを利用しない。従って、「間引きスキャン」を行うときと、「間引きスキャン」を行わないときとで、最も好ましい組み合わせが異なる場合がある。その場合、制御部54は、スキャンの方法に応じた最適な組み合わせの校正データを利用する。   At this time, the control unit 54 determines the most preferable combination of the selection electrodes 21H 'and 21V' and the calibration elements 57H and 57V using only the calibration data for the selection electrodes 21H 'and 21V'. That is, in the “thinning-out scan”, the control unit 54 provides calibration data for electrodes other than the selection electrode 21H ′ among the plurality of selection electrodes 21H and electrodes other than the selection electrode 21V ′ among the plurality of selection electrodes 21V. Do not use. Therefore, the most preferable combination may differ between when “decimation scan” is performed and when “decimation scan” is not performed. In that case, the control unit 54 uses calibration data of an optimal combination according to the scanning method.

その後、制御部54は、一連の校正処理の実施を終了する(ステップS205)。   Thereafter, the control unit 54 ends the series of calibration processing (step S205).

[校正判断]
図11は、検知装置2における校正判断(ステップS104)の手順の一例を表したものである。制御部54は、ステップS103の修了に伴い、校正判断を開始する(ステップS301)。制御部54は、まず、先のステップS103で得られたデータから、センサ部21が何かを検出しているか否かを判断する(ステップS302)。制御部54は、センサ部21が何かを検出していると判断した場合は、ステップS103を実行する。その逆に、制御部54は、センサ部21が何も検出していない判断した場合は、検知状態が終了した直後か否かを判断する(ステップS303)。
[Calibration judgment]
FIG. 11 shows an example of the procedure of calibration judgment (step S104) in the detection apparatus 2. The control unit 54 starts calibration determination upon completion of step S103 (step S301). First, the control unit 54 determines whether or not the sensor unit 21 has detected something from the data obtained in the previous step S103 (step S302). If the control unit 54 determines that the sensor unit 21 has detected something, it executes step S103. On the contrary, when it is judged that the sensor part 21 has not detected anything, the control part 54 judges whether it is immediately after the detection state is complete | finished (step S303).

制御部54は、検知状態が終了した直後であると判断した場合は、ステップS103を実行する。その逆に、制御部54は、検知状態が終了してから所定の期間が経過していると判断した場合は、変換部53(F・V変換回路)から出力された電圧値またはその電圧値を補正した値が許容値未満であるか否かを判断する(ステップS304)。制御部54は、電圧値またはその電圧値を補正した値が許容値未満であると判断した場合は、ステップS103を実行する。その逆に、制御部54は、電圧値またはその電圧値を補正した値が許容値以上であると判断した場合は、システム運用上、連続計測をすべきか否かを判断する(ステップS305)。制御部54は、連続計測をすべきであると判断した場合は、ステップS103を実行する。その逆に、制御部54は、連続計測すべきでないと判断した場合は、ステップS102を実行する。   If the control unit 54 determines that the detection state has just ended, it executes step S103. Conversely, when the control unit 54 determines that the predetermined period has elapsed since the detection state has ended, the voltage value output from the conversion unit 53 (F / V conversion circuit) or the voltage value thereof It is determined whether the corrected value is less than the allowable value (step S304). When the control unit 54 determines that the voltage value or the value obtained by correcting the voltage value is less than the allowable value, the control unit 54 executes Step S103. Conversely, when the control unit 54 determines that the voltage value or the value obtained by correcting the voltage value is greater than or equal to the allowable value, the control unit 54 determines whether continuous measurement should be performed in system operation (step S305). When the control unit 54 determines that continuous measurement should be performed, the control unit 54 executes Step S103. Conversely, if the control unit 54 determines that continuous measurement should not be performed, it executes step S102.

[効果]
本実施の形態では、「間引きスキャン」でセンサ処理を行う際に、「間引きスキャン」を行うために選択された選択電極21H’,21V’についての校正データだけを利用して、選択電極21H’,21V’と校正用素子57H,57Vとの最も好ましい組み合わせが決定される。これにより、スキャンする検知電極21H,21Vを間引いて、画像表示面20A上の物体を検知する際に、検出感度が検知電極ごとにばらつくのをなくすることができる。
[effect]
In the present embodiment, when the sensor process is performed by the “thinning scan”, only the calibration data for the selection electrodes 21H ′ and 21V ′ selected to perform the “thinning scan” is used to select the selection electrode 21H ′. , 21V ′ and the calibration elements 57H, 57V are most preferably combined. Thereby, when the detection electrodes 21H and 21V to be scanned are thinned out and an object on the image display surface 20A is detected, it is possible to prevent the detection sensitivity from varying for each detection electrode.

[変形例]
上記実施の形態では、制御部54は、センサ処理(ステップS103)において「間引きスキャン」を行う場合であっても、校正処理(ステップS102)において、全ての検出電極21H,21Vをスキャンする「順次スキャン」を行っていた。しかし、制御部54は、センサ処理(ステップS103)において「間引きスキャン」を行う場合には、校正処理(ステップS102)においても「間引きスキャン」を行うようにしてもよい。このとき、校正処理(ステップS102)において選択する検出電極21H,21Vが、センサ処理(ステップS103)において選択する検出電極21H,21Vと等しくなっていることが必要である。このように、校正処理(ステップS102)においても「間引きスキャン」を行うようにした場合には、「順次スキャン」を行っていた場合と比べて、校正処理(ステップS102)に要する時間を短縮することができる。
[Modification]
In the above-described embodiment, the controller 54 scans all the detection electrodes 21H and 21V in the calibration process (step S102) even when the “decimation scan” is performed in the sensor process (step S103). Scan ". However, when performing the “decimation scan” in the sensor process (step S103), the control unit 54 may perform the “decimation scan” also in the calibration process (step S102). At this time, the detection electrodes 21H and 21V selected in the calibration process (step S102) need to be equal to the detection electrodes 21H and 21V selected in the sensor process (step S103). As described above, in the calibration process (step S102), when the “thinning scan” is performed, the time required for the calibration process (step S102) is shortened compared to the case where the “sequential scan” is performed. be able to.

<第2の実施の形態>
図12は、本発明の第2の実施の形態に係る表示装置3の断面構成の一例を表すものである。表示装置3は、近接センサ付きの表示装置であり、例えば、表示素子として液晶表示素子を備えており、さらに、この液晶表示素子の表面に静電容量型の近接センサを液晶表示素子とは別体で備えている。
<Second Embodiment>
FIG. 12 shows an example of a cross-sectional configuration of the display device 3 according to the second embodiment of the present invention. The display device 3 is a display device with a proximity sensor. For example, the display device 3 includes a liquid crystal display element as a display element. Further, a capacitive proximity sensor is separated from the liquid crystal display element on the surface of the liquid crystal display element. It is prepared by the body.

表示装置3は、例えば、図12に示したように、液晶表示パネル10、近接パネル60、バックライト30、周辺回路40および検知回路70を備えている。近接パネル60は、液晶表示パネル10の観察者側(正面)に配置されており、バックライト30は液晶表示パネル10の背後に配置されている。   The display device 3 includes, for example, a liquid crystal display panel 10, a proximity panel 60, a backlight 30, a peripheral circuit 40, and a detection circuit 70 as shown in FIG. The proximity panel 60 is disposed on the viewer side (front side) of the liquid crystal display panel 10, and the backlight 30 is disposed behind the liquid crystal display panel 10.

[近接パネル60]
近接パネル60は、指などで、表示装置3の画像表示面60A(近接パネル60の表面)に触れたり、指などを画像表示面60Aに近づけたり、指などを画像表示面60A上で動かしたりすることにより情報を入力するためのものである。この近接パネル60は、例えば、液晶表示パネル10とは別体で設けられたものであり、例えば、液晶表示パネル10の表面に、接着剤(図示せず)などを介して貼り合わされている。この近接パネル60は、上述した静電容量型のタッチセンサの一具体例に相当するものであり、XY(行列)マトリクスで接触・非接触を検出したり、空間位置を検出したり、動きを検出したりするものである。
[Proximity panel 60]
The proximity panel 60 touches the image display surface 60A (the surface of the proximity panel 60) of the display device 3 with a finger, moves the finger or the like close to the image display surface 60A, or moves the finger or the like on the image display surface 60A. This is for inputting information. For example, the proximity panel 60 is provided separately from the liquid crystal display panel 10 and is bonded to the surface of the liquid crystal display panel 10 via an adhesive (not shown) or the like. The proximity panel 60 corresponds to a specific example of the capacitive touch sensor described above, and detects contact / non-contact with an XY (matrix) matrix, detects a spatial position, and moves. It is something to detect.

[検知装置4]
図13は、表示装置3のうち、接触・非接触、空間位置、動きの検知に関与する部分(検知装置4)を抜き出したものである。検知装置4は、図2に例示した検知装置200と同様、接触検知および近接検知を行うことの可能な検知装置であり、例えば、図13に示したように、近接パネル60および検知回路70を含んで構成されている。近接パネル60は、例えば、センサ部21を有している。一方、検知回路70は、例えば、図13に示したように、選択部58、発振部52、変換部53、制御部54、出力部55、入力部56、校正部57およびメモリ部59を含んで構成されている。
[Detecting device 4]
FIG. 13 shows an extracted part (detection device 4) of the display device 3 that is involved in detection of contact / non-contact, spatial position, and movement. The detection device 4 is a detection device capable of performing contact detection and proximity detection similarly to the detection device 200 illustrated in FIG. 2. For example, as illustrated in FIG. 13, the detection device 4 includes a proximity panel 60 and a detection circuit 70. It is configured to include. The proximity panel 60 has, for example, the sensor unit 21. On the other hand, the detection circuit 70 includes, for example, a selection unit 58, an oscillation unit 52, a conversion unit 53, a control unit 54, an output unit 55, an input unit 56, a calibration unit 57, and a memory unit 59 as shown in FIG. It consists of

本実施の形態において、センサ部21は、指などの画像表示面60Aへの接触・非接触を検出したり、空間位置を検出したり、動きを検出したりするものである。センサ部21は、上記実施の形態のセンサ部21と同様、複数の検知電極21Hと、複数の検知電極21Vとにより構成されている。   In the present embodiment, the sensor unit 21 detects contact / non-contact with the image display surface 60A such as a finger, detects a spatial position, and detects movement. The sensor unit 21 includes a plurality of detection electrodes 21H and a plurality of detection electrodes 21V, like the sensor unit 21 of the above embodiment.

選択部58は、例えば、図14に示したように、上記実施の形態の選択部51において、スイッチング素子58A、抵抗器58B、増幅器58Cおよびスイッチング素子58D(図示せず)をさらに設けた構成となっている。スイッチング素子58Aは、検出電極21Hとスイッチング素子51Aとの間に挿入されており、スイッチング素子58Dは、検出電極21Vとスイッチング素子51C(図示せず)との間に挿入されている。また、選択部58では、発振部52の出力端が、抵抗器58Bおよび増幅器58Cを介して、スイッチング素子51A,51Cの、センサ部21側の各端子に接続されている。つまり、選択部58は、発振部52から出力された信号がスイッチ素子51A,51Cの、センサ部21とは反対側の端子だけでなく、スイッチ素子51A,51Cの、センサ部21側の各端子にも印加されるようになっている。   For example, as illustrated in FIG. 14, the selection unit 58 includes a switching element 58A, a resistor 58B, an amplifier 58C, and a switching element 58D (not shown) in the selection unit 51 of the above embodiment. It has become. The switching element 58A is inserted between the detection electrode 21H and the switching element 51A, and the switching element 58D is inserted between the detection electrode 21V and the switching element 51C (not shown). In the selection unit 58, the output end of the oscillation unit 52 is connected to each terminal on the sensor unit 21 side of the switching elements 51A and 51C via the resistor 58B and the amplifier 58C. That is, the selection unit 58 includes not only the terminals of the switch elements 51A and 51C on the side opposite to the sensor unit 21 but also the terminals of the switch elements 51A and 51C on the sensor unit 21 side. Is also applied to.

スイッチ素子58A,58Dは、例えば、複数対の入力端子および出力端子を有するスイッチであり、一の入力端子と一の出力端子との間の電気的な継断を、端子ごとに独立に行うスイッチである。抵抗器58Bは、例えば、複数対の入力端子および出力端子を有する抵抗器であり、一の入力端子と一の出力端子との間に抵抗素子が設けられた抵抗器である。増幅器58Cは、発振部52の出力を増幅するものである。   The switch elements 58A and 58D are, for example, switches having a plurality of pairs of input terminals and output terminals, and are switches that perform electrical connection between one input terminal and one output terminal independently for each terminal. It is. The resistor 58B is, for example, a resistor having a plurality of pairs of input terminals and output terminals, and is a resistor in which a resistance element is provided between one input terminal and one output terminal. The amplifier 58C amplifies the output of the oscillation unit 52.

制御部54は、選択部58に含まれる各スイッチング素子を制御するものである。具体的には、制御部54は、選択部58に含まれる各スイッチング素子に対して、EN信号および選択信号を入力することにより、選択部58に含まれる各スイッチング素子の内部スイッチの切り替えを行うようになっている。   The control unit 54 controls each switching element included in the selection unit 58. Specifically, the control unit 54 switches the internal switch of each switching element included in the selection unit 58 by inputting an EN signal and a selection signal to each switching element included in the selection unit 58. It is like that.

制御部54は、例えば、所定のときに、スイッチング素子58AにEN信号としてディスエーブルを入力するようになっている。これにより、スイッチング素子58Aにおいて、センサ部21側の全ての端子と、センサ部21とは反対側の全ての端子とが電気的に開放され、発振部52の出力がいずれの検知電極21Hにも印加されなくなる。同様に、制御部54は、例えば、所定のときに、スイッチング素子51DにEN信号としてディスエーブルを入力するようになっている。これにより、スイッチング素子51Dにおいて、センサ部21側の全ての端子と、センサ部21とは反対側の全ての端子とが電気的に開放され、発振部52の出力がいずれの検知電極21Vにも印加されなくなる。   For example, the control unit 54 is configured to input disable to the switching element 58A as an EN signal at a predetermined time. Thereby, in the switching element 58A, all the terminals on the sensor unit 21 side and all the terminals on the opposite side to the sensor unit 21 are electrically opened, and the output of the oscillation unit 52 is applied to any detection electrode 21H. No longer applied. Similarly, the control unit 54 inputs a disable signal as an EN signal to the switching element 51D at a predetermined time, for example. Thereby, in the switching element 51D, all the terminals on the sensor unit 21 side and all the terminals on the side opposite to the sensor unit 21 are electrically opened, and the output of the oscillation unit 52 is applied to any detection electrode 21V. No longer applied.

また、制御部54は、例えば、所定のときに、スイッチング素子58Aに選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力するようになっている。これにより、スイッチング素子58Aにおいて、複数対の入力端子および出力端子のうち選択信号で選択された1または複数対の入力端子および出力端子(以下「選択端子」と称する)が電気的に接続される。その結果、複数の検知電極21Hのうち選択端子に接続された電極には、発振部52の出力が増幅部58Cおよび抵抗器58Bを介して印加される。このとき、スイッチング素子58Aにおいて、全ての対の入力端子および出力端子が電気的に接続される場合もある。   For example, the control unit 54 inputs a selection signal to the switching element 58A and inputs enable as an EN signal at a predetermined time. Thereby, in switching element 58A, one or a plurality of pairs of input terminals and output terminals (hereinafter referred to as “selection terminals”) selected by the selection signal among a plurality of pairs of input terminals and output terminals are electrically connected. . As a result, the output of the oscillation unit 52 is applied to the electrode connected to the selection terminal among the plurality of detection electrodes 21H via the amplification unit 58C and the resistor 58B. At this time, in the switching element 58A, all pairs of input terminals and output terminals may be electrically connected.

同様に、制御部54は、例えば、所定のときに、スイッチング素子58Dに選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力するようになっている。これにより、スイッチング素子58Dにおいて、複数対の入力端子および出力端子のうち選択信号で選択された1または複数対の入力端子および出力端子(以下「選択端子」と称する)が電気的に接続される。その結果、複数の検知電極21Vのうち選択端子に接続された電極には、発振部52の出力が増幅部58Cおよび抵抗器58Bを介して印加される。このとき、スイッチング素子58Dにおいて、全ての対の入力端子および出力端子が電気的に接続される場合もある。   Similarly, for example, the control unit 54 inputs a selection signal to the switching element 58D and inputs enable as an EN signal at a predetermined time. Thereby, in switching element 58D, one or a plurality of pairs of input terminals and output terminals (hereinafter referred to as “selection terminals”) selected by the selection signal among a plurality of pairs of input terminals and output terminals are electrically connected. . As a result, the output of the oscillation unit 52 is applied to the electrode connected to the selection terminal among the plurality of detection electrodes 21V via the amplification unit 58C and the resistor 58B. At this time, in the switching element 58D, all pairs of input terminals and output terminals may be electrically connected.

制御部54の、スイッチング素子51A〜51Dに対する制御は、上記実施の形態と同様である。しかし、制御部54の、スイッチング素子51A,51Cに対する制御は、スイッチング素子58A,58Dに対する制御と連動する場合がある。   The control of the control unit 54 with respect to the switching elements 51A to 51D is the same as in the above embodiment. However, the control of the control unit 54 for the switching elements 51A and 51C may be linked with the control for the switching elements 58A and 58D.

例えば、制御部54は、スイッチング素子51Aにおいて、スイッチング素子58A内の複数の内部スイッチのうちオン(接続)となっているスイッチの端子に接続された端子だけを、選択信号で選択するようになっている。これにより、制御部54は、例えば、複数の検知電極21Hのうち、スイッチング素子58Aに入力した選択信号で選択された1または複数の端子に接続された電極(以下「選択電極21H’(図示せず)」と称する)を全てスキャンする速度を速くすることができる。   For example, in the switching element 51A, the control unit 54 selects only the terminal connected to the terminal of the switch that is turned on (connected) among the plurality of internal switches in the switching element 58A by the selection signal. ing. Accordingly, the control unit 54, for example, of the plurality of detection electrodes 21H, is connected to one or a plurality of terminals selected by the selection signal input to the switching element 58A (hereinafter referred to as “selection electrode 21H ′ (not shown). Z))) can be scanned at a higher speed.

同様に、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Cにおいて、スイッチング素子58D内の複数の内部スイッチのうちオン(接続)となっているスイッチの端子に接続された端子だけを、選択信号で選択するようになっている。これにより、制御部54は、例えば、複数の検知電極21Vのうち、スイッチング素子58Dに入力した選択信号で選択された1または複数の端子に接続された電極(以下「選択電極21V’(図示せず)」と称する)を全てスキャンする速度を速くすることができる。   Similarly, for example, in the switching element 51C, the control unit 54 selects only the terminal connected to the terminal of the switch that is turned on (connected) among the plurality of internal switches in the switching element 58D using the selection signal. It is like that. Accordingly, the control unit 54, for example, among the plurality of detection electrodes 21V, is connected to one or a plurality of terminals selected by the selection signal input to the switching element 58D (hereinafter referred to as “selection electrode 21V ′ (not shown). Z))) can be scanned at a higher speed.

また、制御部54は、例えば、全ての検知電極21Hをスキャンするときと同じ時間で、全ての選択電極21H’をスキャンすることにより、各選択電極21H’に発振部52の出力を長い時間、印加させることも可能である。同様に、制御部54は、例えば、全ての検知電極21Vをスキャンするときと同じ時間で、全ての選択電極21V’をスキャンすることにより、各選択電極21V’に発振部52の出力を長い時間、印加させることも可能である。そのようにした場合は、高精度の接触検知および空間検知を実現することができる場合がある。   Further, the control unit 54 scans all the selection electrodes 21H ′ in the same time as when all the detection electrodes 21H are scanned, for example, and outputs the output of the oscillation unit 52 to each selection electrode 21H ′ for a long time. It is also possible to apply. Similarly, the control unit 54 scans all the selection electrodes 21V ′ in the same time as when scanning all the detection electrodes 21V, for example, and outputs the output of the oscillation unit 52 to each selection electrode 21V ′ for a long time. It is also possible to apply. In such a case, it may be possible to realize highly accurate contact detection and space detection.

なお、制御部54は、例えば、スイッチング素子58A内の複数の内部スイッチの状態に拘わらず、スイッチング素子51Aの各端子に接続された端子を、選択信号で選択するようになっていてもよい。   Note that, for example, the control unit 54 may select a terminal connected to each terminal of the switching element 51A with a selection signal regardless of the states of a plurality of internal switches in the switching element 58A.

制御部54は、センサ部21に連結された各スイッチング素子51A,51Cに対して選択信号およびEN信号を入力する際には、その選択信号で選択した端子に連結された検知電極21H,21Vに対応する選択信号およびEN信号を生成するようになっている。具体的には、制御部54は、センサ部21内の各検知電極21H,21Vと、校正部57内の各校正用素子57H,57Vとの組み合わせを記述した校正テーブルを用いて、選択信号およびEN信号を生成するようになっている。   When the control unit 54 inputs the selection signal and the EN signal to the switching elements 51A and 51C connected to the sensor unit 21, the control unit 54 applies the detection electrodes 21H and 21V connected to the terminals selected by the selection signal. Corresponding selection signals and EN signals are generated. Specifically, the control unit 54 uses the calibration table describing the combinations of the detection electrodes 21H and 21V in the sensor unit 21 and the calibration elements 57H and 57V in the calibration unit 57 to select the selection signal and An EN signal is generated.

ここで、制御部54は、スイッチング素子58A内の全ての内部スイッチをオン(接続)にする場合には、校正テーブルとして、例えば、図7(A)に示したような電圧値のリストを使用するようになっている。このとき、制御部54は、F・V変換回路から出力される電圧値が全ての検知電極21Hにおいて互いに等しくなるように、校正テーブルを用いて、センサ部21内の各検知電極21Hと、校正部57内の各校正用素子57Hとを組み合わせるようになっている。また、制御部54は、スイッチング素子58D内の全ての内部スイッチをオン(接続)にする場合には、校正テーブルとして、例えば、図7(A)と同様の電圧値のリストを使用するようになっている。このとき、制御部54は、F・V変換回路から出力される電圧値が全ての検知電極21Vにおいて互いに等しくなるように、校正テーブルを用いて、センサ部21内の各検知電極21Vと、校正部57内の各校正用素子57Vとを組み合わせるようになっている。   Here, the control unit 54 uses, for example, a list of voltage values as shown in FIG. 7A as the calibration table when all the internal switches in the switching element 58A are turned on (connected). It is supposed to be. At this time, the control unit 54 uses the calibration table to calibrate each detection electrode 21H in the sensor unit 21 so that the voltage values output from the F / V conversion circuit are equal to each other in all the detection electrodes 21H. Each calibration element 57H in the unit 57 is combined. Further, when all the internal switches in the switching element 58D are turned on (connected), the control unit 54 uses, for example, a list of voltage values similar to that in FIG. 7A as the calibration table. It has become. At this time, the control unit 54 uses the calibration table to calibrate each detection electrode 21V in the sensor unit 21 so that the voltage values output from the F / V conversion circuit are equal to each other in all the detection electrodes 21V. Each calibration element 57V in the unit 57 is combined.

また、制御部54は、スイッチング素子58A内の全ての内部スイッチをオン(接続)にする場合には、校正テーブルとして、例えば、図7(B)に示したような補正値のリストを使用するようになっている。このとき、制御部54は、補正値が全ての検知電極21Hにおいて互いに等しくなるように、校正テーブルを用いて、センサ部21内の各検知電極21Hと、校正部57内の各校正用素子57Hとを組み合わせるようになっている。また、制御部54は、スイッチング素子58D内の全ての内部スイッチをオン(接続)にする場合には、校正テーブルとして、例えば、図7(B)と同様の補正値のリストを使用するようになっている。このとき、制御部54は、補正値が全ての検知電極21Vにおいて互いに等しくなるように、校正テーブルを用いて、センサ部21内の各検知電極21Vと、校正部57内の各校正用素子57Vとを組み合わせるようになっている。   In addition, when all the internal switches in the switching element 58A are turned on (connected), the control unit 54 uses, for example, a list of correction values as shown in FIG. 7B as a calibration table. It is like that. At this time, the control unit 54 uses each calibration electrode in the sensor unit 21 and each calibration element 57H in the calibration unit 57 using the calibration table so that the correction values are equal to each other in all the detection electrodes 21H. And come to be combined. Further, when all the internal switches in the switching element 58D are turned on (connected), the control unit 54 uses, for example, a correction value list similar to that in FIG. 7B as the calibration table. It has become. At this time, the control unit 54 uses each calibration electrode in the sensor unit 21 and each calibration element 57V in the calibration unit 57 using the calibration table so that the correction values are equal to each other in all the detection electrodes 21V. And come to be combined.

また、制御部54は、スイッチング素子58A内の一部の内部スイッチだけをオン(接続)にする場合には、校正テーブルとして、例えば、図8(A)に示したような電圧値のリストを使用するようになっている。このとき、制御部54は、F・V変換回路から出力される電圧値が全ての選択電極21H’において互いに等しくなるように、校正テーブルを用いて、センサ部21内の各選択電極21H’と、校正部57内の各校正用素子57Hとを組み合わせるようになっている。また、制御部54は、スイッチング素子58D内の一部の内部スイッチだけをオン(接続)にする場合には、校正テーブルとして、例えば、図8(A)に示したような電圧値のリストを使用するようになっている。このとき、制御部54は、F・V変換回路から出力される電圧値が全ての選択電極21V’において互いに等しくなるように、校正テーブルを用いて、センサ部21内の各選択電極21V’と、校正部57内の各校正用素子57Vとを組み合わせるようになっている。   Further, when only a part of the internal switches in the switching element 58A are turned on (connected), the control unit 54 uses, for example, a list of voltage values as shown in FIG. 8A as a calibration table. It is designed to be used. At this time, the control unit 54 uses the calibration table so that the voltage values output from the F / V conversion circuit are equal to each other in all the selection electrodes 21H ′. The calibration elements 57 in the calibration unit 57 are combined with each other. Further, when only a part of the internal switches in the switching element 58D are turned on (connected), the control unit 54 uses, for example, a list of voltage values as shown in FIG. 8A as a calibration table. It is designed to be used. At this time, the control unit 54 uses the calibration table so that the voltage values output from the F / V conversion circuit are equal to each other in all the selection electrodes 21V ′. The calibration elements 57 in the calibration unit 57 are combined with each calibration element 57V.

また、制御部54は、スイッチング素子58A内の一部の内部スイッチだけをオン(接続)にする場合には、校正テーブルとして、例えば、図8(B)に示したような補正値のリストを使用するようになっている。このとき、制御部54は、補正値が全ての選択電極21H’において互いに等しくなるように、校正テーブルを用いて、センサ部21内の各選択電極21H’と、校正部57内の各校正用素子57Hとを組み合わせるようになっている。また、制御部54は、スイッチング素子58D内の一部の内部スイッチだけをオン(接続)にする場合には、校正テーブルとして、例えば、図8(B)と同様の補正値のリストを使用するようになっている。このとき、制御部54は、補正値が全ての選択電極21V’において互いに等しくなるように、校正テーブルを用いて、センサ部21内の各選択電極21V’と、校正部57内の各校正用素子57Vとを組み合わせるようになっている。   Further, when only a part of the internal switches in the switching element 58A are turned on (connected), the control unit 54 uses, for example, a correction value list as shown in FIG. 8B as a calibration table. It is designed to be used. At this time, the control unit 54 uses each calibration electrode in the sensor unit 21 and each calibration electrode in the calibration unit 57 using the calibration table so that the correction values are equal to each other in all the selection electrodes 21H ′. The element 57H is combined. Further, when only a part of the internal switches in the switching element 58D are turned on (connected), the control unit 54 uses, for example, a correction value list similar to that in FIG. 8B as the calibration table. It is like that. At this time, the control unit 54 uses each calibration electrode in the sensor unit 21 and each calibration electrode in the calibration unit 57 using the calibration table so that the correction values are equal to each other in all the selection electrodes 21V ′. The element 57V is combined.

このように、制御部54は、スイッチング素子58A,58D内の一部の内部スイッチだけをオン(接続)にする場合には、校正テーブルにおいて、間引きの対象となった検知電極についてのデータを利用することがなくなる。そのため、制御部54は、例えば図8(A)または図8(B)に示したような歯抜けの校正テーブルを用いて、スイッチング素子51A,51Cへ入力する選択信号およびEN信号を決定することになる。その結果、制御部54は、センサ部21内の全ての検知電極を順次1つずつスキャンさせるときに選択する組み合わせ(図7(A),(B)で丸で示した個所)とは異なる組み合わせ(図8(A),(B)で丸で示した個所)を選択することになる場合がある。   As described above, when only a part of the internal switches in the switching elements 58A and 58D are turned on (connected), the control unit 54 uses data on the detection electrode that is the object of thinning in the calibration table. There is no longer to do. Therefore, the control unit 54 determines a selection signal and an EN signal to be input to the switching elements 51A and 51C using, for example, a calibration table for missing teeth as shown in FIG. 8A or FIG. 8B. become. As a result, the control unit 54 is different from the combination selected when the detection electrodes in the sensor unit 21 are sequentially scanned one by one (the portions indicated by circles in FIGS. 7A and 7B). There are cases in which (a part indicated by a circle in FIGS. 8A and 8B) is selected.

次に、本実施の形態の検知装置4の動作の一例について説明する。検知装置4における動作全体の手順は、上記第1の実施の形態と同様である。また、検知装置4における校正処理(ステップS102)の手順についても、スイッチング素子58A,58D内の全ての内部スイッチをオン(接続)にする場合には、上記第1の実施の形態と同様である。検知装置4における校正判断(ステップS104)の手順についても、上記第1の実施の形態と同様である。   Next, an example of operation | movement of the detection apparatus 4 of this Embodiment is demonstrated. The procedure of the entire operation in the detection device 4 is the same as that in the first embodiment. The procedure of the calibration process (step S102) in the detection device 4 is the same as that in the first embodiment when all the internal switches in the switching elements 58A and 58D are turned on (connected). . The procedure for the calibration determination (step S104) in the detection device 4 is also the same as in the first embodiment.

一方、検知装置4における校正処理(ステップS102)の手順のうち、スイッチング素子58A,58D内の一部の内部スイッチだけをオン(接続)にするときの手順については、上記第1の実施の形態と異なる。そこで、以下では、上記第1の実施の形態と異なる部分について主に説明し、上記第1の実施の形態と共通する部分についての説明を省略するものとする。   On the other hand, in the procedure of the calibration process (step S102) in the detection device 4, the procedure for turning on (connecting) only some of the internal switches in the switching elements 58A and 58D is the first embodiment described above. And different. Therefore, in the following description, parts different from those of the first embodiment will be mainly described, and description of parts common to the first embodiment will be omitted.

[校正処理]
制御部54は、検知装置4の動作の開始に伴い、校正処理を開始する。制御部54は、まず、校正用データの計測を行う。具体的には、制御部54は、センサ部21内の各選択電極21H’と校正部57内の各校正用素子57Hとの全ての組み合わせにおいて、校正用データの計測を行う。さらに、制御部54は、センサ部21内の各選択電極21V’と、校正部57内の各校正用素子57Vとの全ての組み合わせにおいて、校正用データの計測を行う。このとき、校正処理(ステップS102)において選択する検出電極21H,21Vが、センサ処理(ステップS103)において選択する検出電極21H,21Vと等しくなっていることが必要である。次に、制御部54は、それらの結果得られたデータを校正データとしてメモリ部59に保存する。
[Proofreading]
The control unit 54 starts the calibration process as the operation of the detection device 4 starts. First, the control unit 54 measures calibration data. Specifically, the control unit 54 measures calibration data in all combinations of the selection electrodes 21H ′ in the sensor unit 21 and the calibration elements 57H in the calibration unit 57. Further, the control unit 54 measures calibration data in all combinations of the selection electrodes 21V ′ in the sensor unit 21 and the calibration elements 57V in the calibration unit 57. At this time, the detection electrodes 21H and 21V selected in the calibration process (step S102) need to be equal to the detection electrodes 21H and 21V selected in the sensor process (step S103). Next, the control unit 54 stores the data obtained as a result thereof in the memory unit 59 as calibration data.

例えば、制御部54は、スイッチング素子51Aに対して、センサ部21内の一の選択電極21H’に接続された端子を選択する選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力する。さらに、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Bに対して、校正部57内の一の校正用素子57Hに接続された端子を選択する選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力する。これにより、制御部54によって選択された選択電極21H’と、制御部54によって選択された校正用素子57Hとが互いに電気的に接続される。制御部54は、この状態で、変換部53(F・V変換回路)から出力された電圧値を取得し、メモリ部59に格納する。制御部54は、この一連のプロセスを、センサ部21内の全ての選択電極21H’および校正部57内の全ての校正用素子57Hに対して順次行う。   For example, the control unit 54 inputs a selection signal for selecting a terminal connected to one selection electrode 21 </ b> H ′ in the sensor unit 21 and inputs enable as an EN signal to the switching element 51 </ b> A. Further, for example, the control unit 54 inputs a selection signal for selecting a terminal connected to one calibration element 57H in the calibration unit 57 to the switching element 51B and inputs enable as an EN signal. Thereby, the selection electrode 21H ′ selected by the control unit 54 and the calibration element 57H selected by the control unit 54 are electrically connected to each other. In this state, the control unit 54 acquires the voltage value output from the conversion unit 53 (F / V conversion circuit) and stores it in the memory unit 59. The control unit 54 sequentially performs this series of processes on all the selection electrodes 21 </ b> H ′ in the sensor unit 21 and all the calibration elements 57 </ b> H in the calibration unit 57.

また、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Cに対して、センサ部21内の一の選択電極21V’に接続された端子を選択する選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力する。さらに、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Dに対して、校正部57内の一の校正用素子57Vに接続された端子を選択する選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力する。これにより、制御部54によって選択された選択電極21V’と、制御部54によって選択された校正用素子57Vとが互いに電気的に接続される。制御部54は、この状態で、変換部53(F・V変換回路)から出力された電圧値を取得し、メモリ部59に格納する。制御部54は、この一連のプロセスを、センサ部21内の全ての選択電極21V’と、校正部57内の全ての校正用素子57Vに対して順次行う。   Further, for example, the control unit 54 inputs a selection signal for selecting a terminal connected to one selection electrode 21V ′ in the sensor unit 21 and inputs enable as an EN signal to the switching element 51C. Further, for example, the control unit 54 inputs a selection signal for selecting a terminal connected to one calibration element 57V in the calibration unit 57 and inputs enable as an EN signal to the switching element 51D. Accordingly, the selection electrode 21V ′ selected by the control unit 54 and the calibration element 57V selected by the control unit 54 are electrically connected to each other. In this state, the control unit 54 acquires the voltage value output from the conversion unit 53 (F / V conversion circuit) and stores it in the memory unit 59. The control unit 54 sequentially performs this series of processes on all the selection electrodes 21V ′ in the sensor unit 21 and all the calibration elements 57V in the calibration unit 57.

また、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Aに対して、センサ部21内の一の選択電極21H’に接続された端子を選択する選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力する。さらに、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Bに対して、EN信号としてディスエーブルを入力する。これにより、制御部54によって選択された選択電極21H’は、校正部57内のいずれの校正用素子57Hとも非接続となる。制御部54は、この状態で、変換部53(F・V変換回路)から出力された電圧値を取得し、メモリ部59に格納する。制御部54は、この一連のプロセスを、センサ部21内の全ての選択電極21H’に対して順次行う。   For example, the control unit 54 inputs a selection signal for selecting a terminal connected to one selection electrode 21 </ b> H ′ in the sensor unit 21 to the switching element 51 </ b> A and inputs enable as an EN signal. Further, for example, the control unit 54 inputs disable as an EN signal to the switching element 51B. Accordingly, the selection electrode 21H ′ selected by the control unit 54 is disconnected from any calibration element 57H in the calibration unit 57. In this state, the control unit 54 acquires the voltage value output from the conversion unit 53 (F / V conversion circuit) and stores it in the memory unit 59. The control unit 54 sequentially performs this series of processes for all the selection electrodes 21 </ b> H ′ in the sensor unit 21.

また、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Cに対して、センサ部21内の一の選択電極21V’に接続された端子を選択する選択信号を入力するとともにEN信号としてイネーブルを入力する。さらに、例えば、制御部54は、スイッチング素子51Dに対して、EN信号としてディスエーブルを入力する。これにより、制御部54によって選択された選択電極21V’は、校正部57内のいずれの校正用素子57Vとも非接続となる。制御部54は、この状態で、変換部53(F・V変換回路)から出力された電圧値を取得し、メモリ部59に格納する。制御部54は、この一連のプロセスを、センサ部21内の全ての選択電極21V’に対して順次行う。   Further, for example, the control unit 54 inputs a selection signal for selecting a terminal connected to one selection electrode 21V ′ in the sensor unit 21 and inputs enable as an EN signal to the switching element 51C. Further, for example, the control unit 54 inputs disable as an EN signal to the switching element 51D. As a result, the selection electrode 21V ′ selected by the control unit 54 is disconnected from any calibration element 57V in the calibration unit 57. In this state, the control unit 54 acquires the voltage value output from the conversion unit 53 (F / V conversion circuit) and stores it in the memory unit 59. The control unit 54 sequentially performs this series of processes on all the selection electrodes 21V ′ in the sensor unit 21.

なお、制御部54は、さらに、上述の一連のプロセスを経て取得した電圧値に対する補正値をメモリ部59に格納してもよい。   The control unit 54 may further store a correction value for the voltage value acquired through the above-described series of processes in the memory unit 59.

次に、制御部54は、組み合わせを決定する。具体的には、制御部54は、まず、校正データを用いて、センサ部21内の各選択電極21H’と校正部57内の各校正用素子57Hとの最も好ましい組み合わせを決定する。さらに、制御部54は、校正データを用いて、センサ部21内の各選択電極21V’と、校正部57内の各校正用素子57Vとの最も好ましい組み合わせを決定する。制御部54は、例えば、全体としてばらつきが小さくなるように、組み合わせを決定する。また、制御部54は、例えば、誤差の最大値と誤差の最小値との差が小さくなるように、組み合わせを決定する。   Next, the control unit 54 determines a combination. Specifically, the control unit 54 first determines the most preferable combination of each selection electrode 21H ′ in the sensor unit 21 and each calibration element 57H in the calibration unit 57 using the calibration data. Further, the control unit 54 determines the most preferable combination of each selection electrode 21 </ b> V ′ in the sensor unit 21 and each calibration element 57 </ b> V in the calibration unit 57 using the calibration data. For example, the control unit 54 determines the combination so that the variation is reduced as a whole. For example, the control unit 54 determines the combination so that the difference between the maximum error value and the minimum error value is small.

このように、本実施の形態では、制御部54は、「間引きスキャン」でセンサ処理を行う際には、校正処理においても「間引きスキャン」を行うようになっている。これは、「間引きスキャン」を行ったときと、「順次スキャン」を行ったときとでは、校正処理により得られた校正テーブルの値が異なる場合があるからである。本実施の形態では、制御部54は、そのような誤差が校正テーブルに入り込まないようにするために、あえて校正処理時にも「間引きスキャン」を行うようにしている。   As described above, in the present embodiment, when performing the sensor processing by “thinning scan”, the control unit 54 performs “thinning scanning” also in the calibration processing. This is because the value of the calibration table obtained by the calibration process may be different when “decimation scan” is performed and when “sequential scan” is performed. In the present embodiment, the control unit 54 dares to perform “thinning-out scanning” even during calibration processing in order to prevent such errors from entering the calibration table.

[効果]
本実施の形態では、「間引きスキャン」でセンサ処理を行う際に、「間引きスキャン」を行うために選択された選択電極21H’,21V’についての校正データだけを利用して、選択電極21H’,21V’と校正用素子57H,57Vとの最も好ましい組み合わせが決定される。さらに、本実施の形態では、センサ処理を行う際に「間引きスキャン」を行うときには、校正処理においても「間引きスキャン」が行われる。これにより、スキャンする検知電極21H,21Vを間引いて、画像表示面20A上の物体を検知する際に、検出感度が検知電極ごとにばらつくのをなくすることができる。
[effect]
In the present embodiment, when the sensor process is performed by the “thinning scan”, only the calibration data for the selection electrodes 21H ′ and 21V ′ selected to perform the “thinning scan” is used to select the selection electrode 21H ′. , 21V ′ and the calibration elements 57H, 57V are most preferably combined. Furthermore, in the present embodiment, when performing “decimation scan” when performing sensor processing, “decimation scan” is also performed in calibration processing. Thereby, when the detection electrodes 21H and 21V to be scanned are thinned out and an object on the image display surface 20A is detected, it is possible to prevent the detection sensitivity from varying for each detection electrode.

[変形例]
上記実施の形態では、スイッチング素子58Aが検出電極21Hとスイッチング素子51Aとを互いに結ぶ走査線WSL2に挿入されていたが、他の場所に挿入されていてもよい。例えば、図15に示したように、スイッチング素子58Aが走査線WSL2と抵抗器58Bとを互いに結ぶ配線に挿入されていてもよい。また、例えば、図16に示したように、スイッチング素子58Aが抵抗器58Bと増幅器58Cとを互いに結ぶ配線に挿入されていてもよい。
[Modification]
In the above embodiment, the switching element 58A is inserted in the scanning line WSL2 that connects the detection electrode 21H and the switching element 51A to each other, but may be inserted in another place. For example, as shown in FIG. 15, the switching element 58A may be inserted into a wiring connecting the scanning line WSL2 and the resistor 58B to each other. Further, for example, as shown in FIG. 16, the switching element 58A may be inserted into a wiring connecting the resistor 58B and the amplifier 58C to each other.

以上、実施の形態ならびにその変形例および適用例を挙げて本発明を説明したが、本発明は実施の形態等に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。   The present invention has been described above with reference to the embodiment and its modifications and application examples. However, the present invention is not limited to the embodiment and the like, and various modifications can be made.

例えば、上記実施の形態等では、液晶表示素子として透過型の素子を用いた場合について説明したが、透過型以外のもの、例えば、反射型の素子を用いることも可能である。ただし、その場合には、光源(バックライト30)をなくするか、または液晶表示素子の上面側に配置することが必要となる。   For example, in the above-described embodiment and the like, the case where a transmissive element is used as the liquid crystal display element has been described. However, other than the transmissive element, for example, a reflective element can be used. However, in that case, it is necessary to eliminate the light source (backlight 30) or to dispose it on the upper surface side of the liquid crystal display element.

また、上記実施の形態等では、表示素子として液晶表示素子を用いた表示装置に対して本発明を適用した場合について説明したが、それ以外の表示素子、例えば有機EL素子を用いた表示装置にも適用可能である。   In the above-described embodiments and the like, the case where the present invention is applied to a display device using a liquid crystal display element as a display element has been described. However, the display device using other display elements, for example, organic EL elements, is used. Is also applicable.

また、上記実施の形態等において説明した一連の処理は、ハードウェアにより行うこともできるし、ソフトウェアにより行うこともできる。一連の処理をソフトウェアによって行う場合には、そのソフトウェアを構成するプログラムが、汎用のコンピュータ等にインストールされるようになっている。このようなプログラムは、コンピュータに内蔵されている記録媒体に予め記録しておくことも可能である。   In addition, the series of processing described in the above-described embodiments and the like can be performed by hardware or software. When a series of processing is performed by software, a program constituting the software is installed in a general-purpose computer or the like. Such a program can be recorded in advance in a recording medium built in the computer.

1,3…表示装置、2,4,100,200…検知装置、10…液晶表示パネル、20…タッチパネル、20A,60A…画像表示面、21…センサ部、21H,21H−1,21H−2,21H−3,21H−4,21V,21V−1,21V−2,21V−3,21V−4,110H,110V…検知電極、30…バックライト、40…周辺回路、40A…映像信号、40B,50B…同期信号、50,70…検知回路、50A…検知信号、50C…位置信号、51,58…選択部、51A,51B,51C,51D,58A,58D…スイッチング素子、51E…加算部、52…発振部、53…変換部、54…制御部、55…出力部、56…入力部、57…校正部、57H,57H−1,57H−2,57H−3,57H−4,57V…校正用素子、58B,170…抵抗器、58C,180…増幅器、59…メモリ部、60…近接パネル、110…2次元電極、120,150…スイッチ素子、130…信号源、140…F・V変換回路、DTL…信号線、WSL,WSL1,WSL2,WSL3…走査線。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,3 ... Display apparatus, 2, 4, 100, 200 ... Detection apparatus, 10 ... Liquid crystal display panel, 20 ... Touch panel, 20A, 60A ... Image display surface, 21 ... Sensor part, 21H, 21H-1, 21H-2 , 21H-3, 21H-4, 21V, 21V-1, 21V-2, 21V-3, 21V-4, 110H, 110V ... detection electrode, 30 ... backlight, 40 ... peripheral circuit, 40A ... video signal, 40B , 50B ... synchronization signal, 50, 70 ... detection circuit, 50A ... detection signal, 50C ... position signal, 51, 58 ... selection unit, 51A, 51B, 51C, 51D, 58A, 58D ... switching element, 51E ... addition unit, 52 ... Oscillator, 53 ... Converter, 54 ... Control, 55 ... Output, 56 ... Input, 57 ... Calibration, 57H, 57H-1, 57H-2, 57H-3, 57H-4, 57V Calibration element, 58B, 170 ... resistor, 58C, 180 ... amplifier, 59 ... memory unit, 60 ... proximity panel, 110 ... two-dimensional electrode, 120,150 ... switch element, 130 ... signal source, 140 ... FV Conversion circuit, DTL ... signal line, WSL, WSL1, WSL2, WSL3 ... scanning line.

Claims (4)

複数の検知電極が検出面に配置されたセンサ部と、
複数の校正用素子が配置された校正部と、
前記複数の検知電極のうち1または複数の電極を選択するとともに、前記複数の校正用素子のうち1または複数の素子を選択する選択部と、
前記選択部により選択された1または複数の検知電極および1または複数の校正用素子に生じた容量により発振周波数が決まる発振部と、
前記発振部からの信号を周波数に応じて電圧に変換する周波数・電圧変換部と、
前記選択部が前記複数の検知電極のうち一部の電極だけを順次選択するとともに前記複数の校正用素子を順次選択する選択信号を生成し前記選択部に印加し、さらに前記周波数・電圧変換部からの信号を利用して、前記選択部により選択された検知電極および校正用素子の組み合わせにおける特性値を生成する制御部と
を備えた
校正装置。
A sensor unit in which a plurality of detection electrodes are arranged on the detection surface;
A calibration section in which a plurality of calibration elements are arranged;
A selection unit that selects one or a plurality of electrodes among the plurality of detection electrodes, and selects one or a plurality of elements among the plurality of calibration elements;
An oscillation unit whose oscillation frequency is determined by the capacitance generated in the one or more detection electrodes and the one or more calibration elements selected by the selection unit;
A frequency / voltage conversion unit that converts a signal from the oscillation unit into a voltage according to a frequency; and
The selection unit sequentially selects only a part of the plurality of detection electrodes and generates a selection signal for sequentially selecting the plurality of calibration elements and applies the selection signal to the selection unit, and the frequency / voltage conversion unit And a control unit that generates a characteristic value in the combination of the detection electrode and the calibration element selected by the selection unit using a signal from the calibration device.
前記制御部は、前記選択部により選択された検知電極および校正用素子の組み合わせにおいて、前記特性値が互いに最も等しくなる組み合わせを選択する
請求項1に記載の校正装置。
The calibration apparatus according to claim 1, wherein the control unit selects a combination in which the characteristic values are most equal to each other in the combination of the detection electrode and the calibration element selected by the selection unit.
前記選択部は、
前記複数の検知電極のうち前記発振部の出力を常時印加する複数の選択電極を選択する第1選択部と、
前記第1選択部により選択された複数の選択電極のうち1または複数の電極と前記発振部とを互いに接続する第2選択部と、
前記複数の校正用素子のうち1または複数の素子と前記発振部とを互いに接続する第3選択部と
を含む
請求項1または請求項2に記載の校正装置。
The selection unit includes:
A first selection unit that selects a plurality of selection electrodes that constantly apply the output of the oscillation unit among the plurality of detection electrodes;
A second selection unit that connects one or more electrodes among the plurality of selection electrodes selected by the first selection unit and the oscillation unit;
The calibration apparatus according to claim 1, further comprising: a third selection unit that connects one or more of the plurality of calibration elements and the oscillation unit to each other.
映像信号に基づいて表示面上に画像を表示する表示パネルと、
複数の検知電極が前記表示面上に配置されたセンサ部と、
複数の校正用素子が配置された校正部と、
前記複数の検知電極のうち1または複数の電極を選択するとともに、前記複数の校正用素子のうち1または複数の素子を選択する選択部と、
前記選択部により選択された1または複数の検知電極および1または複数の校正用素子に生じた容量により発振周波数が決まる発振部と、
前記発振部からの信号を周波数に応じて電圧に変換する周波数・電圧変換部と、
前記選択部が前記複数の検知電極のうち一部の電極だけを順次選択するとともに前記複数の校正用素子を順次選択する選択信号を生成し前記選択部に印加し、さらに前記周波数・電圧変換部からの信号を利用して、前記選択部により選択された検知電極および校正用素子の組み合わせにおける特性値を生成する制御部と
を備えた
表示装置。
A display panel for displaying an image on a display surface based on a video signal;
A sensor unit in which a plurality of detection electrodes are arranged on the display surface;
A calibration section in which a plurality of calibration elements are arranged;
A selection unit that selects one or a plurality of electrodes among the plurality of detection electrodes, and selects one or a plurality of elements among the plurality of calibration elements;
An oscillation unit whose oscillation frequency is determined by the capacitance generated in the one or more detection electrodes and the one or more calibration elements selected by the selection unit;
A frequency / voltage conversion unit that converts a signal from the oscillation unit into a voltage according to a frequency; and
The selection unit sequentially selects only a part of the plurality of detection electrodes and generates a selection signal for sequentially selecting the plurality of calibration elements and applies the selection signal to the selection unit, and the frequency / voltage conversion unit And a control unit that generates a characteristic value in the combination of the detection electrode and the calibration element selected by the selection unit using a signal from the display unit.
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