JP2011197729A - 不揮発性メモリ装置 - Google Patents

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Toshiyuki Honda
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Abstract

【課題】不良ブロックを含む物理ブロック群内の良ブロックを有効に活用して信頼性の高い不揮発性メモリ装置を提供する。
【解決手段】スワップ処理部は、管理テーブル103を参照して、すべての物理ブロックグループの中で、消去回数Aよりも消去回数の多い物理ブロックを含む物理ブロックグループ401を検索する。さらに、不良ブロックを含む物理ブロックグループのうちで消去回数Bよりも消去回数の少ない物理ブロックを含み、かつその物理ブロックが良ブロックである物理ブロックグループ403を検索する。物理ブロックグループ401の物理ブロックと、物理ブロックグループ403の良ブロックである物理ブロックとを交換する。
【選択図】図4

Description

本発明は、不揮発性メモリ装置に関するものである。
近年、不揮発性メモリのひとつであるフラッシュメモリは大容量化が急速に進み、SDメモリーカードのような小型メモリ装置だけでなく、携帯電話や携帯音楽機器、ディジタルカメラなどの機器に広く利用されている。
フラッシュメモリにおいては、複数のメモリセルからなる所定の単位(以降、物理ブロック)で消去が行われる。また、各物理ブロックへのデータの書き込みや、データの読み出しは、ページと呼ばれる単位で行われる。物理ブロックは複数のページで構成される。
フラッシュメモリの大容量化は、データを格納するメモリセルを微細化することによって実現されている。しかし、メモリセルの微細化が進むにつれ、データの書換が所定の回数を超えると、データ保持特性の劣化を引き起こし、これが深刻な問題となっている。
そのため機器は、フラッシュメモリにデータを記録する際に、特定の物理ブロックに集中して書き込みが行われないような制御を求められる。そのような制御として、書き換え回数をフラッシュメモリ全体で平準化する「ウエアレベリング」技術が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
また従来から、ホストからフラッシュメモリへのアクセスを高速に行うために、複数のページを並列に書き込み・読み出しする技術が提案されている。この場合、並列処理するページを含む物理ブロックのグループをあらかじめ決定し、物理ブロックのグループの単位で、論理アドレスとの対応関係を管理する技術が提案されている(例えば、特許文献2参照)。
特開2007−133683号公報 特開2003−015946号公報
特許文献2に開示されているような、複数の物理ブロックをグループとして管理する技術を用いる場合、その物理ブロックのグループの中には、データの書き込みに使用することができる良ブロックと、使用することができない不良ブロックとが混在するものがありうる。そのような物理ブロックのグループは、ホストからのデータの書き込みにおいて、物理ブロックのグループ全体として使用しない。従って、その物理ブロックのグループに含まれる良ブロックが有効に使用することができず、適切なウエアレベリングが実現できない。
このような課題を解決するために、本発明にかかる不揮発性メモリ装置は、論理アドレスに基づきデータの書き込み、読み出しが可能な不揮発性メモリ装置であって、複数の物理ブロックから構成される不揮発性メモリと、前記不揮発メモリを管理する管理テーブルと、前記不揮発性メモリの物理ブロックの交換を制御するスワップ処理部と、を備え、前記管理テーブルは、少なくとも2つ以上の物理ブロックをひとつのグループとして、不揮発性メモリを構成するすべての物理ブロックを複数のグループとして管理し、グループに属する物理ブロックのアドレス情報と、論理アドレスとグループを対応づける情報と、グループ内の物理ブロックが良ブロックか不良ブロックかを識別する情報と、グループ内の物理ブロックの消去回数に関する情報と、が格納され、前記スワップ処理部は、前記管理テーブルの前記グループ内の物理ブロックの消去回数に関する情報から消去回数が所定値を超えた第1の物理ブロックを検索し、前記グループ内の物理ブロックが良ブロックか不良ブロックかを識別する情報とから前記グループ内の物理ブロックの消去回数に関する情報から論理アドレスと紐付けされていない不良ブロックを含むグループに属し、消去回数が所定値2以下の良ブロックである第2の物理ブロックを検索し、前記第1の物理ブロックと前記第2の物理ブロックを交換する。
本発明の不揮発性メモリ装置によれば、消去回数の多いブロックに格納されたデータを、不良ブロックを含む物理ブロックグループの中の、消去回数の少ない良ブロックに移動させるウエアレベリングが可能となり、信頼性の高い不揮発性メモリ装置が提供できる。
実施の形態の不揮発性メモリ装置の構成とホスト機器との関係を示すブロック図 実施の形態の管理テーブルの構成を示した模式図 実施の形態の管理テーブルに格納される物理ブロックグループに関する情報の配置を示す図 実施の形態の物理ブロックの消去回数の分布を示す図 実施の形態の不揮発性メモリ装置の動作を示すフローチャート (a)実施の形態の二つの異なる物理ブロックグループの物理ブロックを交換することを示した模式図(b)実施の形態の二つの異なる物理ブロックグループの物理ブロックを交換することを示した別の模式図
以下、実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
(実施の形態)
図1は、本実施の形態の不揮発性メモリ装置の構成と、ホスト機器との関係を示すブロック図である。図1において、105はホスト機器、100は不揮発性メモリ装置、101aおよび101bは不揮発性メモリ装置100内部において主にデータを記憶するための不揮発性メモリであるフラッシュメモリである。
なお、以下の説明では、2個のフラッシュメモリ101aおよび101bをまとめてフラッシュメモリ101とする。102はホスト機器105とのインターフェイスを制御するとともにフラッシュメモリ101の制御を行うコントローラである。103はコントローラ102の内部にあってフラッシュメモリ101を管理するための揮発性メモリである管理テーブルである。104はコントローラ102の内部にあって管理テーブル103を参照してフラッシュメモリ101の物理ブロック内のデータを別の物理ブロックにコピーする機能を有するスワップ処理部である。スワップ処理部104の機能の詳細については後述する。
図2は、管理テーブル103の構成を示した模式図である。本実施の形態においては、フラッシュメモリ101aおよび101bの構成として、消去単位が512KBの物理ブロックが2048個で構成される8Gbit(1GB)のものを一例として説明する。管理テーブル103には、2つの物理ブロックに関する情報がひとつのグループとして格納される。ひとつのグループが格納できるデータ量は1024KB(1MB)であり、フラッシュメモリ101全体のグループ数は2048になる。説明しやすいように、それぞれのグループに対して、管理テーブル103の格納順に#0〜#2047までの番号を付与することにする。
図3は、管理テーブル103に格納されるグループの情報について示したものである。203aおよび204aは、グループを構成する物理ブロックアドレス(PBA)であり、203aはフラッシュメモリ101aに属する物理ブロックのアドレスで、204aはフラッシュメモリ101bに属する物理ブロックのアドレスである。これらの物理ブロックは、他のグループと重複することはない。203bは物理ブロックアドレス203aで示される物理ブロックの消去回数(CT)である。同様に、204bは物理ブロックアドレス204aで示される物理ブロックの消去回数である。203cは物理ブロックアドレス203aで示される物理ブロックが良ブロックか不良ブロックかを識別するフラグ(BB)であり、「0」の場合は良ブロック、「1」の場合は不良ブロックであることを示す。同様に、204cは物理ブロックアドレス204aで示される物理ブロックが良ブロックか不良ブロックかを識別するフラグである。
本実施の形態において、物理ブロックグループ#0〜#1999は、ホスト機器105が指定する論理アドレスと対応づけられる。以下、これらの物理ブロックグループを有効グループ201とよぶ。
物理ブロックグループ#2000〜#2047は、ホスト機器105からのデータを書き込んだり、管理テーブル103の情報を記憶する物理ブロックグループとする。以下、これらの物理ブロックグループを無効グループ202とよぶ。有効グループ201の物理ブロックグループ数は2000になるため、不揮発性メモリ装置100のユーザが使用可能な容量は2000MBとなる。
有効グループ201に属する物理ブロックグループは、良品の物理ブロックのみで構成される。一方、無効グループ群202に属する物理ブロックグループは、良品の物理ブロックのみで構成されるもの、良品の物理ブロックと不良の物理ブロックで構成されるもの、あるいは不良の物理ブロックのみで構成されるものがある。不良の物理ブロックを含む物理ブロックグループは、ホスト機器105からのデータ書き込みや管理テーブル103の情報記憶用として用いられることはない。したがって、良ブロックと不良ブロックそれぞれひとつずつで構成される物理ブロックグループにおいて、その良ブロックは使用できるにも関わらず使用されない。不良ブロックを含む物理ブロック群は、データの書き込みに使用されず、その物理ブロック群に含まれる良ブロックの消去回数は基本的に少ない状態である。この良ブロックを積極的に利用するところが、本実施の形態における特徴である。
スワップ処理部104は、有効グループにある物理ブロックと、無効グループにある物理ブロックとを交換する処理を行う。交換処理の詳細を図4、図5、図6を用いて説明する。
図4は、物理ブロックの消去回数の分布を示す図である。ある時点における物理ブロックグループ内の物理ブロックの消去回数の分布の一例を示している。横軸は物理ブロックグループ番号、縦軸はフラッシュメモリ101aに属する物理ブロックの消去回数を表している(図3のCT−aに相当する)。無効グループ群に属する物理ブロックグループのうち、点線404で囲まれたものは、その物理ブロックグループに不良ブロックを含むために、消去回数が少ない。
図5は、交換処理の動作を示すフローチャートである。
S601では、交換元のブロックを検索する。スワップ処理部104は、まず、図4に示す消去回数Aよりも消去回数の多い物理ブロックを含む物理ブロックグループを、すべての物理ブロックグループから検索する。図4においては、401および402がこれに相当する。検索されたグループ401は、有効グループに属するので有効なデータが格納されており、検索されたグループ402は、無効グループに属するので有効なデータは格納されていない。
S602では、交換先のブロックを検索する。無効グループに属する物理ブロックグループのうち、図4に示す消去回数Bよりも消去回数の少ない物理ブロックを含み、かつその物理ブロックが良ブロックであるものを検索する。図4においては、物理ブロックグループ403がこれに相当するものとする。本実施の形態では、例えばA=5000、B=2とした。
次に、S603ではブロックを交換する。物理ブロックグループ401あるいは402のフラッシュメモリ101aに属する物理ブロックと、物理ブロックグループ403のフラッシュメモリ101aに属する物理ブロックとを交換する。図6(a)および図6(b)はこの様子を模式的に示した図である。図6(a)において、物理ブロックグループ401は、良ブロックである物理ブロック401aおよび401bで構成される。物理ブロック401aはフラッシュメモリ101aに属し、物理ブロック401bはフラッシュメモリ101bに属する。一方、無効グループ群に属する物理ブロックグループ403は、良ブロックである物理ブロック403aおよび不良ブロックである物理ブロック403bで構成される。物理ブロック403aはフラッシュメモリ101aに属し、物理ブロック403bはフラッシュメモリ101bに属する。スワップ処理部104は、まず物理ブロック403aを消去した後、物理ブロック401aに書き込まれているデータを、物理ブロック403aにコピーする。そして、管理テーブル103の物理ブロックグループ401および物理ブロックグループ403の内容を更新し、管理テーブル103の情報を記憶する物理ブロックグループに情報を書き込む。
図6(b)において、物理ブロックグループ402は、良ブロックである物理ブロック402aおよび402bで構成される。物理ブロック402aはフラッシュメモリ101aに属し、物理ブロック402bはフラッシュメモリ101bに属する。スワップ処理部104は、管理テーブル103の物理ブロックグループ402および物理ブロックグループ403の内容を更新し、管理テーブル103の情報を記憶する物理ブロックグループに情報を書き込む。物理ブロック402aは有効なデータが格納されていないので、物理ブロック402aから物理ブロック403へのデータのコピーは必要ない。
最後にS604では管理テーブルの更新を行う。管理テーブル103の更新において、交換元の物理ブロック401aあるいは402aは、消去回数が多くデータを格納するにあたって信頼性が低下している可能性があるため、これ以上使用することのないように、不良ブロックを示すフラグをセットしておくようにしてもよい。ただし、交換元と対になるフラッシュメモリ101bに属する物理ブロック401bあるいは402bは不良ブロックであるため、そもそも交換後の物理ブロックグループはデータの書き込みなどに使用されることはない。
上述では、フラッシュメモリ101aに属する物理ブロックの交換を一例として説明しているが、フラッシュメモリ101bに属する物理ブロックの交換に関しても同様の処理を行う。また、本発明の実施の形態においては、物理ブロックグループを構成する物理ブロックの数は2であったが、それより大きな数(例えば4)においても同様である。
本実施の形態の不揮発性メモリ装置によれば、消去回数の多いブロックに格納されたデータを、不良ブロックを含む物理ブロックグループの中の、消去回数の少ない良ブロックに移動させるウエアレベリングが可能となり、信頼性の高い不揮発性メモリ装置が提供できる。
以上説明したように、本発明にかかる不揮発性メモリ装置は、消去回数の多いブロックに格納されたデータを、不良ブロックを含む物理ブロックグループの中の、消去回数の少ない良ブロックに移動させることが可能となり、信頼性を向上させることができる。本発明は、静止画記録再生装置や動画記録再生装置などのポータブルAV機器、あるいは携帯電話などのポータブル通信機器の記録媒体に適用することができる。
100 不揮発性メモリ装置
101 フラッシュメモリ
101a フラッシュメモリ
101b フラッシュメモリ
102 コントローラ
103 管理テーブル
104 スワップ処理部
105 ホスト機器

Claims (4)

  1. 論理アドレスに基づきデータの書き込み、読み出しが可能な不揮発性メモリ装置であって、
    複数の物理ブロックから構成される不揮発性メモリと、
    前記不揮発メモリを管理する管理テーブルと、
    前記不揮発性メモリの物理ブロックの交換を制御するスワップ処理部と、
    を備え、
    前記管理テーブルは、
    少なくとも2つ以上の物理ブロックをひとつのグループとして、不揮発性メモリを構成するすべての物理ブロックを複数のグループとして管理し、
    グループに属する物理ブロックのアドレス情報と、
    論理アドレスとグループを対応づける情報と、
    グループ内の物理ブロックが良ブロックか不良ブロックかを識別する情報と、
    グループ内の物理ブロックの消去回数に関する情報と、が格納され、
    前記スワップ処理部は、
    前記管理テーブルの前記グループ内の物理ブロックの消去回数に関する情報から消去回数が所定値を超えた第1の物理ブロックを検索し、
    前記グループ内の物理ブロックが良ブロックか不良ブロックかを識別する情報とから前記グループ内の物理ブロックの消去回数に関する情報から論理アドレスと紐付けされていない不良ブロックを含むグループに属し、消去回数が所定値2以下の良ブロックである第2の物理ブロックを検索し、前記第1の物理ブロックと前記第2の物理ブロックを交換する、不揮発性メモリ装置。
  2. 前記スワップ処理部は、前記第1の物理ブロックに格納されているデータを前記第2の物理ブロックにコピーする機能を具備することを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。
  3. 前記スワップ処理部は、前記管理テーブルを更新する機能を具備することを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。
  4. 前記管理テーブルは、前記第1の物理ブロックと前記第2の物理ブロックとを交換した後、前記第1の物理ブロックを不良ブロックとして取り扱い、交換後に使用されないようにする情報をさらに格納することを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2015069542A (ja) * 2013-09-30 2015-04-13 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体装置及び半導体メモリにおける消去回数の検索方法
JP2017162065A (ja) * 2016-03-08 2017-09-14 東芝メモリ株式会社 ストレージシステム、情報処理システムおよび制御方法

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