JP2011138963A - Circuit module and method of manufacturing the circuit module - Google Patents

Circuit module and method of manufacturing the circuit module Download PDF

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茂 浅見
Hiroki Hara
浩樹 原
Yukihiro Azuma
幸弘 東
Shuichi Takizawa
修一 滝澤
Morikazu Tajima
盛一 田島
Kenichi Kawabata
賢一 川畑
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress the durability of a shielding member from deteriorating. <P>SOLUTION: A circuit module 1 includes: a substrate 10 having an electronic component mounting surface 10a; an electronic component group 11 mounted on the electronic component mounting surface 10a; a first mold resin 12 as a first sealing member for covering the electronic component group 11; a plated layer 13 as a shield member covering the first mold resin 12, and at the same time, brought into contact with the substrate 10; and a second mold resin 14 as a second sealing member sandwiching a substrate contact part 13a of the portion of the plated layer 13 which is brought into contact with the substrate 10 with the substrate 10 and covering at least a part of the plated layer 13. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、回路モジュール及び回路モジュール製造方法に関するものである。   The present invention relates to a circuit module and a circuit module manufacturing method.

基板に搭載された電子部品を覆う封止部材と、電子部品を覆った封止部材を被覆するシールド材とで構成される回路モジュールがある。例えば、特許文献1には、実装部品(電子部品)を封止する無機質フィラーを含有するエポキシ樹脂からなる封止体と、封止体の表面に形成した複数のメッキ層と、シールド層とを有する回路モジュールが開示されている。   There is a circuit module including a sealing member that covers an electronic component mounted on a substrate and a shield material that covers the sealing member that covers the electronic component. For example, Patent Literature 1 includes a sealing body made of an epoxy resin containing an inorganic filler that seals a mounted component (electronic component), a plurality of plating layers formed on the surface of the sealing body, and a shield layer. A circuit module is disclosed.

特開2005−109306号公報JP 2005-109306 A

特許文献1に開示されている技術は、特許文献1の図2に示すように、電子部品が設けられる側を内側とすると、最も外側にシールド層(本発明のシールド部材に相当)が配置される。シールド層は、具体的には金属のメッキ層である。特許文献1に開示されている技術では、このメッキ層に酸素が接触するので、シールド層として機能するメッキ層が酸化するおそれがある。また、特許文献1に開示されている技術は、シールド層に外部からの力が作用することも考えられる。これにより、特許文献1に開示されている技術は、シールド層の酸化や剥離が生じ耐久性が低下するおそれがある。   In the technique disclosed in Patent Document 1, as shown in FIG. 2 of Patent Document 1, when the side on which the electronic component is provided is the inside, a shield layer (corresponding to the shield member of the present invention) is arranged on the outermost side. The Specifically, the shield layer is a metal plating layer. In the technique disclosed in Patent Document 1, since oxygen comes into contact with this plating layer, the plating layer functioning as a shield layer may be oxidized. Moreover, the technique currently disclosed by patent document 1 can also consider that the force from the outside acts on a shield layer. As a result, the technique disclosed in Patent Document 1 may cause oxidation and peeling of the shield layer, resulting in a decrease in durability.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、シールド部材の耐久性の低下を抑制することを目的とする。   This invention is made | formed in view of the above, Comprising: It aims at suppressing the fall of durability of a shield member.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る回路モジュールは、電子部品実装面を有する基板と、前記電子部品実装面に搭載される電子部品と、前記電子部品を覆う第1封止部材と、当該第1封止部材を覆うと共に前記基板に一部が接触するシールド部材と、当該シールド部材のうち前記基板に接触する部分を前記基板との間で挟み込み、かつ、前記シールド部材の少なくとも一部を覆う第2封止部材と、を備えることを特徴とする。   In order to solve the above-described problems and achieve the object, a circuit module according to the present invention includes a substrate having an electronic component mounting surface, an electronic component mounted on the electronic component mounting surface, and a first covering the electronic component. 1 sealing member, a shield member that covers the first sealing member and partially contacts the substrate, and a portion of the shield member that contacts the substrate is sandwiched between the substrate, and And a second sealing member that covers at least a part of the shield member.

上記構成により、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材が第2封止部材によって覆われる。これにより、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の総面積のうち、酸素に接触する部分の面積を低減できる。その結果、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の酸化を抑制できる。また、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の外部から力が働くおそれを低減できる。以上により、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の酸化や剥離を抑制できる。結果として、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の耐久性の低下を抑制できる。   With the above configuration, in the circuit module according to the present invention, the shield member is covered with the second sealing member. Thereby, the circuit module which concerns on this invention can reduce the area of the part which contacts oxygen among the total areas of a shield member. As a result, the circuit module according to the present invention can suppress oxidation of the shield member. In addition, the circuit module according to the present invention can reduce the possibility of force acting from the outside of the shield member. As described above, the circuit module according to the present invention can suppress oxidation and peeling of the shield member. As a result, the circuit module according to the present invention can suppress a decrease in the durability of the shield member.

本発明の好ましい態様としては、前記基板は、前記電子部品実装面とは反対側の端子形成面と、前記電子部品実装面から前記端子形成面に向かって窪む部分を有する段差部と、を備え、前記シールド部材のうち前記基板に接触する部分は、前記段差部と前記第2封止部材とに挟み込まれることが好ましい。   As a preferred aspect of the present invention, the substrate includes a terminal forming surface opposite to the electronic component mounting surface, and a stepped portion having a portion recessed from the electronic component mounting surface toward the terminal forming surface. Preferably, a portion of the shield member that contacts the substrate is sandwiched between the stepped portion and the second sealing member.

シールド部材は薄い金属膜である。このため、段差部の端部が何らかの接触により変形したり、擦られたり、回路モジュール自体に反りが発生したりしたときに、シールド部材は剥離しやすくなる。しかしながら、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材が、第2封止部材と段差部との間で挟み込まれる。これにより、シールド部材は、基板から剥離しにくくなる。上記構成により、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材が基板から剥離しにくくなるため、シールド部材の耐久性の低下をより好適に低減できる。   The shield member is a thin metal film. For this reason, when the end of the stepped portion is deformed or rubbed due to some contact, or the circuit module itself is warped, the shield member is easily peeled off. However, in the circuit module according to the present invention, the shield member is sandwiched between the second sealing member and the stepped portion. Thereby, a shield member becomes difficult to peel from a board | substrate. With the configuration described above, the circuit module according to the present invention makes it difficult for the shield member to peel from the substrate, and thus can more suitably reduce the durability of the shield member.

本発明の好ましい態様としては、前記第2封止部材は、前記シールド部材の全体を覆うことが好ましい。   As a preferable aspect of the present invention, the second sealing member preferably covers the entire shield member.

上記構成により、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の酸素に接触する部分の面積を低減できる。また、本発明に係る回路モジュールは、例えば、水のような液体が内部へ侵入しようとする隙間を低減できる。これによって、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の酸化をより好適に抑制できる。また、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の端部に、外部から力が働くおそれを低減できる。以上により、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の酸化や剥離をより好適に抑制できる。その結果、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の耐久性の低下をより好適に抑制できる。   With the above configuration, the circuit module according to the present invention can reduce the area of the portion of the shield member that contacts oxygen. In addition, the circuit module according to the present invention can reduce a gap in which a liquid such as water tries to enter the inside. Thereby, the circuit module according to the present invention can more suitably suppress the oxidation of the shield member. Moreover, the circuit module which concerns on this invention can reduce a possibility that force may act on the edge part of a shield member from the outside. As described above, the circuit module according to the present invention can more suitably suppress oxidation and peeling of the shield member. As a result, the circuit module according to the present invention can more suitably suppress a decrease in the durability of the shield member.

本発明の好ましい態様としては、前記基板は、前記電子部品実装面とは反対側の端子形成面と、前記電子部品実装面から前記端子形成面に向かって窪む部分を有する第1段差部と、前記第1段差部と隣接する部分であって、前記第1段差部を境に前記電子部品とは反対側の部分に設けられ、前記電子部品実装面から前記端子形成面に向かって前記第1段差部よりもさらに前記端子形成面側へ窪む部分を有する第2段差部と、を備え、前記シールド部材の端部は、前記第1段差部に接触すると共に当該前記第1段差部と前記第2封止部材とに挟み込まれて設けられ、前記第2封止部材は、前記第2段差部に接触することが好ましい。   As a preferred aspect of the present invention, the substrate includes a terminal forming surface opposite to the electronic component mounting surface, and a first step portion having a portion that is recessed from the electronic component mounting surface toward the terminal forming surface. A portion adjacent to the first step portion and provided on a portion opposite to the electronic component with the first step portion as a boundary, from the electronic component mounting surface toward the terminal forming surface. A second step portion having a portion recessed further toward the terminal forming surface than the one step portion, and an end portion of the shield member is in contact with the first step portion and the first step portion. It is preferable that the second sealing member is provided between the second sealing member and the second sealing member is in contact with the second step portion.

上記構成により、本発明に係る回路モジュールは、第2封止部材がシールド部材のすべてを覆う。これにより、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の総面積のうち、酸素に接触する部分の面積を理論的には0にできる。また、本発明に係る回路モジュールは、例えば水のような液体が内部へ侵入しようとする隙間を低減できる。これによって、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の酸化をより好適に抑制できる。また、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の総面積のうち、外部から力が働くおそれのある部分の面積を理論的には0にできる。以上により、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の酸化や剥離をより好適に抑制できる。その結果、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の耐久性の低下をより好適に抑制できる。   With the above configuration, in the circuit module according to the present invention, the second sealing member covers all of the shield member. Thereby, the circuit module which concerns on this invention can make the area of the part which contacts oxygen out of the total area of a shield member theoretically zero. In addition, the circuit module according to the present invention can reduce a gap in which a liquid such as water tries to enter the inside. Thereby, the circuit module according to the present invention can more suitably suppress the oxidation of the shield member. In addition, the circuit module according to the present invention can theoretically reduce the area of the portion of the total area of the shield member where a force may be applied from the outside to zero. As described above, the circuit module according to the present invention can more suitably suppress oxidation and peeling of the shield member. As a result, the circuit module according to the present invention can more suitably suppress a decrease in the durability of the shield member.

本発明の好ましい態様としては、前記回路モジュール全体の外形を形成する面であって、前記電子部品実装面に対して角度を有する回路モジュール側面は、平面であることが好ましい。   As a preferred aspect of the present invention, it is preferable that a side surface of the circuit module which forms an outer shape of the entire circuit module and has an angle with respect to the electronic component mounting surface is a flat surface.

上記構成により、本発明に係る回路モジュールは、側面が平面になる。側面が平面になることにより、本発明に係る回路モジュールは、回路モジュールの外観を一体化できる。さらに、本発明に係る回路モジュールは、段差部が形成されないので、回路モジュールが取り扱われる際には、側面において応力が集中しやすい部分を少なくできる。これによって、本発明に係る回路モジュールは、耐久性の低下を抑制できる。   With the above configuration, the side surface of the circuit module according to the present invention is flat. When the side surfaces are flat, the circuit module according to the present invention can integrate the appearance of the circuit module. Furthermore, since the step portion is not formed in the circuit module according to the present invention, when the circuit module is handled, the portion where stress tends to concentrate on the side surface can be reduced. Thereby, the circuit module according to the present invention can suppress a decrease in durability.

本発明の好ましい態様としては、前記第2封止部材の線膨張係数は、前記第1封止部材の線膨張係数よりも小さいことが好ましい。   As a preferable aspect of the present invention, it is preferable that the linear expansion coefficient of the second sealing member is smaller than the linear expansion coefficient of the first sealing member.

一般的に、第1封止部材の線膨張係数と、基板の線膨張係数とは異なる。このため、第2封止部材が設けられない回路モジュールでは、この線膨張係数の違いに起因して回路モジュールが湾曲するおそれがある。しかしながら、本発明に係る回路モジュールは、第1封止部材の線膨張係数よりも線膨張係数が小さい材料である第2封止部材がシールド部材よりも外側(シールド部材を境に電子部品とは反対側)に設けられる。そして、第2封止部材は、基板と第1封止部材との線膨張係数の差に起因する本発明に係る回路モジュールの湾曲を抑制する。その結果、本発明に係る回路モジュールは、自身が湾曲するおそれを低減できる。   Generally, the linear expansion coefficient of the first sealing member is different from the linear expansion coefficient of the substrate. For this reason, in a circuit module in which the second sealing member is not provided, the circuit module may be bent due to the difference in the linear expansion coefficient. However, in the circuit module according to the present invention, the second sealing member, which is a material whose linear expansion coefficient is smaller than that of the first sealing member, is outside of the shield member (what is an electronic component? Provided on the opposite side). And a 2nd sealing member suppresses the curve of the circuit module concerning this invention resulting from the difference of the linear expansion coefficient of a board | substrate and a 1st sealing member. As a result, the circuit module according to the present invention can reduce the risk of bending itself.

本発明の好ましい態様としては、前記第2封止部材の線膨張係数は、前記基板の線膨張係数以下であることが好ましい。   As a preferable aspect of the present invention, it is preferable that a linear expansion coefficient of the second sealing member is not more than a linear expansion coefficient of the substrate.

一般的に、回路モジュールが備える部材の中では、前記基板は、最も線膨張係数が小さい部材である。よって、上記構成により、本発明に係る回路モジュールが備える第2封止部材は、本発明に係る回路モジュールを構成する複数の部材の中で、最も線膨張係数が小さい部材になる。このような第2封止部材を備えることにより、本発明に係る回路モジュールは、基板の線膨張係数と、基板に設けられるモールド樹脂(第1封止部材及び第2封止部材)全体での線膨張係数との差をより低減できる。その結果、本発明に係る回路モジュールは、自身が湾曲するおそれをより好適に低減できる。   Generally, among the members included in the circuit module, the substrate is a member having the smallest linear expansion coefficient. Therefore, with the above configuration, the second sealing member included in the circuit module according to the present invention is the member having the smallest linear expansion coefficient among the plurality of members configuring the circuit module according to the present invention. By providing such a second sealing member, the circuit module according to the present invention has a linear expansion coefficient of the substrate and the entire mold resin (first sealing member and second sealing member) provided on the substrate. The difference from the linear expansion coefficient can be further reduced. As a result, the circuit module according to the present invention can more suitably reduce the risk of bending itself.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る回路モジュール製造方法は、電子部品実装面と、当該電子部品実装面とは反対側の端子形成面との2つの面を有する基板の前記電子部品実装面に形成される電子部品を第1封止部材で覆う第1工程と、前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって、少なくとも前記第1封止部材を切断する第2工程と、前記第1封止部材をシールド部材で覆い、かつ前記シールド部材の一部を前記基板に接触させる第3工程と、第2封止部材で前記シールド部材の少なくとも一部を覆うと共に、前記シールド部材のうち前記基板に接触する部分を前記基板との間で挟み込む第4工程と、前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって、少なくとも前記第2封止部材及び前記基板を切断する第5工程と、を備えることを特徴とする。   In order to solve the above-described problems and achieve the object, a circuit module manufacturing method according to the present invention has two surfaces: an electronic component mounting surface and a terminal formation surface opposite to the electronic component mounting surface. A first step of covering an electronic component formed on the electronic component mounting surface of the substrate with a first sealing member; and at least the first sealing member from the electronic component mounting surface side toward the terminal forming surface side A second step of cutting, a third step of covering the first sealing member with a shield member and contacting a part of the shield member with the substrate, and at least a part of the shield member with the second sealing member A fourth step of sandwiching a portion of the shield member that contacts the substrate with the substrate, and at least the second sealing from the electronic component mounting surface side to the terminal forming surface side Member and substrate Characterized in that it comprises a fifth step of cutting, the.

本発明に係る回路モジュール製造方法を用いることで製造される回路モジュールは、シールド部材が第2封止部材によって覆われる。これにより、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の酸素に接触する部分の面積を低減できる。その結果、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の酸化を抑制できる。また、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の外部から力が働くおそれのある部分を低減できる。以上により、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の酸化や剥離を抑制できる。その結果、本発明に係る回路モジュール製造方法を用いることで、本発明に係る回路モジュールが備えるシールド部材の耐久性の低下を抑制できる。   In the circuit module manufactured by using the circuit module manufacturing method according to the present invention, the shield member is covered with the second sealing member. Thereby, the circuit module which concerns on this invention can reduce the area of the part which contacts the oxygen of a shield member. As a result, the circuit module according to the present invention can suppress oxidation of the shield member. In addition, the circuit module according to the present invention can reduce a portion where a force may be applied from the outside of the shield member. As described above, the circuit module according to the present invention can suppress oxidation and peeling of the shield member. As a result, by using the circuit module manufacturing method according to the present invention, it is possible to suppress a decrease in durability of the shield member included in the circuit module according to the present invention.

本発明の好ましい態様としては、前記第2工程では、前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって前記第1封止部材を切断すると共に、前記電子部品実装面から前記端子形成面に向かって前記基板の一部を切除し、前記第5工程では、前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって前記第2封止部材と、前記基板と、前記シールド部材とを切断することが好ましい。   As a preferred aspect of the present invention, in the second step, the first sealing member is cut from the electronic component mounting surface side toward the terminal forming surface side, and from the electronic component mounting surface to the terminal forming surface. In the fifth step, the second sealing member, the substrate, and the shield member are cut from the electronic component mounting surface side to the terminal forming surface side in the fifth step. It is preferable to cut.

本発明の好ましい態様としては、前記第3工程と前記第4工程との間に、前記シールド部材の部分のうち前記基板に接触する部分を、前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって切断する第6工程を備えることが好ましい。   As a preferred aspect of the present invention, between the third step and the fourth step, a portion of the shield member that contacts the substrate is moved from the electronic component mounting surface side to the terminal forming surface side. It is preferable to provide the 6th process cut | disconnected toward.

本発明に係る回路モジュール製造方法を用いることで製造される本発明に係る回路モジュールは、第2封止部材がシールド部材のすべてが覆われる。したがって、この本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の酸素に接触する部分をなくすことができる。また、本発明に係る回路モジュール製造方法によって製造された回路モジュールは、例えば水のような液体が内部へ侵入しようとする隙間を低減できる。これによって、本発明に係る回路モジュールは、シールド部材の酸化をより好適に抑制できる。また、本発明に係る回路モジュール製造方法によって製造された回路モジュールは、シールド部材外部から力が働くおそれのある部分をなくすことができる。以上により、本発明に係る回路モジュール製造方法によって製造された回路モジュールは、シールド部材の酸化や剥離をより好適に抑制できる。その結果、本発明に係る回路モジュール製造方法を用いることで、回路モジュールが備えるシールド部材の耐久性の低下をより好適に抑制できる回路モジュールを製造できる。   In the circuit module according to the present invention manufactured by using the circuit module manufacturing method according to the present invention, the second sealing member covers all of the shield member. Therefore, the circuit module according to the present invention can eliminate the portion of the shield member that comes into contact with oxygen. Moreover, the circuit module manufactured by the circuit module manufacturing method according to the present invention can reduce a gap in which a liquid such as water tries to enter the inside. Thereby, the circuit module according to the present invention can more suitably suppress the oxidation of the shield member. Moreover, the circuit module manufactured by the circuit module manufacturing method according to the present invention can eliminate a portion where a force may be applied from the outside of the shield member. As described above, the circuit module manufactured by the circuit module manufacturing method according to the present invention can more suitably suppress oxidation and peeling of the shield member. As a result, by using the circuit module manufacturing method according to the present invention, it is possible to manufacture a circuit module that can more suitably suppress a decrease in durability of the shield member included in the circuit module.

本発明の好ましい態様としては、前記第2工程では、前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって前記第1封止部材を切断すると共に、前記電子部品実装面から前記端子形成面に向かって前記基板の一部を切除し、前記第6工程では、前記シールド部材の部分のうち前記基板に接触する部分を、前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって切断すると共に、前記電子部品実装面から前記端子形成面に向かって前記基板の一部も切除し、前記第5工程では、前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって、前記第2封止部材及び前記基板を切断することが好ましい。   As a preferred aspect of the present invention, in the second step, the first sealing member is cut from the electronic component mounting surface side toward the terminal forming surface side, and from the electronic component mounting surface to the terminal forming surface. In the sixth step, the portion of the shield member that contacts the substrate is cut from the electronic component mounting surface side to the terminal forming surface side. In addition, a part of the substrate is also cut away from the electronic component mounting surface toward the terminal forming surface, and in the fifth step, the second sealing is performed from the electronic component mounting surface side toward the terminal forming surface side. It is preferable to cut the stop member and the substrate.

本発明は、シールド部材の耐久性の低下を抑制できる。   The present invention can suppress a decrease in durability of the shield member.

図1は、実施形態1の回路モジュールを基板に直交する平面で切って示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view of the circuit module of Embodiment 1 cut along a plane orthogonal to the substrate. 図2は、実施形態1の回路モジュール製造方法の工程を示すフローチャートである。FIG. 2 is a flowchart illustrating steps of the circuit module manufacturing method according to the first embodiment. 図3は、回路モジュール製造システムが有する機能を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram illustrating functions of the circuit module manufacturing system. 図4は、基板に電子部品が形成された製造途中の分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view showing a pre-division circuit module assembly in the middle of manufacture in which electronic components are formed on a substrate. 図5は、第1モールド樹脂が設けられた製造途中の分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly in the middle of manufacture provided with the first mold resin. 図6は、一回目の切削加工が施された製造途中の分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly in the middle of manufacture that has been subjected to the first cutting. 図7は、メッキ処理が施された製造途中の分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a pre-division circuit module assembly in the middle of manufacture that has been plated. 図8は、第2モールド樹脂が設けられた分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly provided with the second mold resin. 図9は、二回目の切削加工が施された分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。FIG. 9 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly that has been subjected to the second cutting. 図10は、実施形態2の回路モジュールを基板に直交する平面で切って示す断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view of the circuit module according to the second embodiment cut along a plane orthogonal to the substrate. 図11は、実施形態2の回路モジュール製造方法の工程を示すフローチャートである。FIG. 11 is a flowchart illustrating the steps of the circuit module manufacturing method according to the second embodiment. 図12は、二回目の切削加工が施された製造途中の分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。FIG. 12 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly in the middle of manufacture that has been subjected to the second cutting. 図13は、第2モールド樹脂が設けられた分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。FIG. 13 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly provided with the second mold resin. 図14は、三回目の切削加工が施された分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。FIG. 14 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly that has been subjected to the third cutting.

以下、本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、下記の実施形態は、本発明を限定するものではない。また、下記の実施形態で開示された構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均などの範囲のものが含まれる。さらに、下記実施形態で開示した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。   DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, modes (embodiments) for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The following embodiments do not limit the present invention. In addition, constituent elements disclosed in the following embodiments include those that can be easily assumed by those skilled in the art, those that are substantially the same, and those in the range of so-called averages. Furthermore, the constituent elements disclosed in the following embodiments can be appropriately combined.

(実施形態1)
図1は、実施形態1の回路モジュールを基板に直交する平面で切って示す断面図である。次においては、回路モジュール1が備える各部材の材料や形状、回路モジュール1の製造方法、回路モジュール1の構造の順に説明する。図1に示すように、回路モジュール1は、基板10と、電子部品群11と、第1封止部材である第1モールド樹脂12と、シールド部材であるメッキ層13と、第2封止部材である第2モールド樹脂14とを備える。次においては、各部材の材料や形状の一例を説明するが、各部材は説明された材料や形状に限定されない。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a cross-sectional view of the circuit module of Embodiment 1 cut along a plane orthogonal to the substrate. Next, the material and shape of each member included in the circuit module 1, the manufacturing method of the circuit module 1, and the structure of the circuit module 1 will be described in this order. As shown in FIG. 1, the circuit module 1 includes a substrate 10, an electronic component group 11, a first mold resin 12 that is a first sealing member, a plating layer 13 that is a shield member, and a second sealing member. And a second mold resin 14. In the following, an example of the material and shape of each member will be described, but each member is not limited to the described material and shape.

基板10は、樹脂製の板状部材である。本実施形態において、基板10の厚さは0.3mmである。また、基板10の線膨張係数は、17〜18ppm/℃である。基板10は、電子部品実装面10aと、端子形成面10bとを有する。電子部品実装面10aと、端子形成面10bとは、基板10の表面と裏面とを成す面であり、互いに平行かつ対向する面である。電子部品実装面10aと、端子形成面10bとの間の距離が基板10の厚さである。以下、電子部品実装面10a及び端子形成面10bに直交する方向、すなわち基板10の厚さ方向を第1方向という。また、第1方向に直交する方向のうち、回路モジュール1の互いに対向し合う2つの側面1sに直交する方向を第2方向という。なお、回路モジュール1の互いに対向し合う2つの側面1sは2組存在するため、実際には第2方向は2つあることになる。しかしながら、以下の説明では、二次元平面で回路モジュール1の構成を説明する。よって、以下の説明では、2つある方向のうちの1つを第2方向として説明する。   The substrate 10 is a resin plate member. In the present embodiment, the thickness of the substrate 10 is 0.3 mm. Moreover, the linear expansion coefficient of the board | substrate 10 is 17-18 ppm / degrees C. The substrate 10 has an electronic component mounting surface 10a and a terminal forming surface 10b. The electronic component mounting surface 10a and the terminal forming surface 10b are surfaces that form the front surface and the back surface of the substrate 10, and are parallel and opposed to each other. The distance between the electronic component mounting surface 10 a and the terminal forming surface 10 b is the thickness of the substrate 10. Hereinafter, the direction orthogonal to the electronic component mounting surface 10a and the terminal forming surface 10b, that is, the thickness direction of the substrate 10 is referred to as a first direction. Of the directions orthogonal to the first direction, the direction orthogonal to the two side surfaces 1s facing each other of the circuit module 1 is referred to as a second direction. Since there are two sets of two side surfaces 1 s facing each other of the circuit module 1, there are actually two second directions. However, in the following description, the configuration of the circuit module 1 will be described on a two-dimensional plane. Therefore, in the following description, one of the two directions will be described as the second direction.

電子部品群11は、複数の電子部品が電気的に接続されたものである。以下の説明では、回路モジュール1は、複数の電子部品を有するものとして説明する。但し、回路モジュール1は、単数の電子部品を有してもよい。電子部品群11は、基板10の電子部品実装面10aに形成される。第1モールド樹脂12は、フィラー(シリカ)を含むエポキシ樹脂である。第1モールド樹脂12が含むフィラーの含有率は、60wt%である。第1モールド樹脂12の厚さは、第1モールド樹脂12の第1方向の寸法であり、本実施形態では0.8mm〜1.0mmである。また、第1モールド樹脂12の線膨張係数は29ppm/℃である。メッキ層13は、銅メッキ層及びニッケルメッキ層によって構成される。メッキ層13の厚さは、電子部品実装面10aと平行な面ではメッキ層13の第1方向の寸法であり、電子部品実装面10aに対して角度を有する面ではメッキ層13の第2方向の寸法である。なお、電子部品実装面10aや端子形成面10bに対して角度を有する面は、本実施形態では、電子部品実装面10aや端子形成面10bに対して直交する面である。すなわち、ここでいう角度とは90°のことである。但し。前記角度は、90°に限定されず、製造誤差などの公差が含まれる。本実施形態において、メッキ層13の厚さは、銅メッキ層の厚さが10μm、ニッケルメッキ層の厚さが3μmの、計13μmである。メッキ層13の線膨張係数は、銅メッキ層が16.8ppm/℃であり、ニッケルメッキ層が12.8ppm/℃である。   In the electronic component group 11, a plurality of electronic components are electrically connected. In the following description, the circuit module 1 will be described as having a plurality of electronic components. However, the circuit module 1 may have a single electronic component. The electronic component group 11 is formed on the electronic component mounting surface 10 a of the substrate 10. The first mold resin 12 is an epoxy resin containing a filler (silica). The content rate of the filler which the 1st mold resin 12 contains is 60 wt%. The thickness of the first mold resin 12 is a dimension in the first direction of the first mold resin 12, and is 0.8 mm to 1.0 mm in the present embodiment. Further, the linear expansion coefficient of the first mold resin 12 is 29 ppm / ° C. The plating layer 13 is composed of a copper plating layer and a nickel plating layer. The thickness of the plating layer 13 is the dimension in the first direction of the plating layer 13 in a plane parallel to the electronic component mounting surface 10a, and the second direction of the plating layer 13 in a plane having an angle with respect to the electronic component mounting surface 10a. It is the dimension. In addition, the surface which has an angle with respect to the electronic component mounting surface 10a and the terminal formation surface 10b is a surface orthogonal to the electronic component mounting surface 10a and the terminal formation surface 10b in this embodiment. That is, the angle here is 90 °. However. The angle is not limited to 90 °, and includes tolerances such as manufacturing errors. In this embodiment, the plating layer 13 has a total thickness of 13 μm, with the copper plating layer having a thickness of 10 μm and the nickel plating layer having a thickness of 3 μm. The linear expansion coefficient of the plating layer 13 is 16.8 ppm / ° C. for the copper plating layer and 12.8 ppm / ° C. for the nickel plating layer.

第2モールド樹脂14は、フィラー(シリカ)を含むエポキシ樹脂である。第2モールド樹脂14は、第1モールド樹脂12よりも弾性率が高い。具体的には、第2モールド樹脂14の弾性率は、500Mpa以上である。第2モールド樹脂14が含むフィラーの含有率は、80wt%以上である。第2モールド樹脂14の厚さは、0.05mm〜0.1mmである。第2モールド樹脂14の厚さは、電子部品実装面10aと平行な面では第2モールド樹脂14の第1方向の寸法であり、電子部品実装面10aに対して角度を有する面では第2モールド樹脂14の第2方向の寸法である。第2モールド樹脂14の線膨張係数は、少なくとも第1モールド樹脂12の線膨張係数よりも小さく、基板10の線膨張係数以下であることが好ましい。本実施形態において、第2モールド樹脂14の線膨張係数は、5〜15ppm/℃である。次に、回路モジュール1の製造方法を説明する。   The second mold resin 14 is an epoxy resin containing a filler (silica). The second mold resin 14 has a higher elastic modulus than the first mold resin 12. Specifically, the elastic modulus of the second mold resin 14 is 500 Mpa or more. The content rate of the filler which the 2nd mold resin 14 contains is 80 wt% or more. The thickness of the second mold resin 14 is 0.05 mm to 0.1 mm. The thickness of the second mold resin 14 is a dimension in the first direction of the second mold resin 14 in a plane parallel to the electronic component mounting surface 10a, and the second mold resin in a surface having an angle with respect to the electronic component mounting surface 10a. It is the dimension of the resin 14 in the second direction. The linear expansion coefficient of the second mold resin 14 is preferably at least smaller than the linear expansion coefficient of the first mold resin 12 and less than or equal to the linear expansion coefficient of the substrate 10. In the present embodiment, the linear expansion coefficient of the second mold resin 14 is 5 to 15 ppm / ° C. Next, a method for manufacturing the circuit module 1 will be described.

図2は、実施形態1の回路モジュール製造方法の工程を示すフローチャートである。図3は、回路モジュール製造システムが有する機能を示すブロック図である。図4は、基板に電子回路が形成された製造途中の分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。図5は、第1モールド樹脂が設けられた製造途中の分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。図2に示す各工程は、図3に示す回路モジュール製造システム20によって実行される。   FIG. 2 is a flowchart illustrating steps of the circuit module manufacturing method according to the first embodiment. FIG. 3 is a block diagram illustrating functions of the circuit module manufacturing system. FIG. 4 is a cross-sectional view showing a pre-division circuit module assembly in the middle of manufacture in which an electronic circuit is formed on a substrate. FIG. 5 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly in the middle of manufacture provided with the first mold resin. Each step shown in FIG. 2 is executed by the circuit module manufacturing system 20 shown in FIG.

回路モジュール製造システム20は、回路形成部21と、封止部22と、切削部23と、メッキ層形成部24との機能を有する。回路形成部21は、図1に示す基板10に電子部品群11を搭載する。封止部22は、第1モールド樹脂12及び第2モールド樹脂14で対象とする部分を封止する。切削部23は、対象とする部分の一部を切除したり対象とする部材を切断したりする。メッキ層形成部24は、対象とする部分にメッキ層13を形成する。なお、回路モジュール製造システム20は、それぞれ異なる機能を実現する複数の装置を含んで構成されることにより、回路形成部21及び封止部22及び切削部23及びメッキ層形成部24の機能を実現してもよい。また、回路モジュール製造システム20は、前記機能をすべて実現してもよい。   The circuit module manufacturing system 20 has functions of a circuit forming part 21, a sealing part 22, a cutting part 23, and a plating layer forming part 24. The circuit forming unit 21 mounts the electronic component group 11 on the substrate 10 shown in FIG. The sealing part 22 seals a target portion with the first mold resin 12 and the second mold resin 14. The cutting part 23 cuts out a part of the target portion or cuts the target member. The plating layer forming unit 24 forms the plating layer 13 on the target portion. The circuit module manufacturing system 20 includes a plurality of devices that realize different functions, thereby realizing the functions of the circuit forming unit 21, the sealing unit 22, the cutting unit 23, and the plating layer forming unit 24. May be. Further, the circuit module manufacturing system 20 may realize all the functions.

図3に示す回路モジュール製造システム20は、まず、図1に示す回路モジュール1を複数含む分割前回路モジュール集合体1Aを製造し、分割前回路モジュール集合体1Aを切断することでそれぞれの回路モジュール1を製造する。図2に示すステップST101で、図3に示す回路形成部21は、図4に示すように基板10の電子部品実装面10aに1つ以上の電子部品を搭載して電子部品群11を設ける。なお、本実施形態では、回路形成部21が、電子部品実装面10aに複数の電子部品群11を搭載する例を説明する。次に、ステップST102(第1工程)に進み、図3に示す封止部22は、図5に示すように1つ以上の電子部品群11を覆うように第1モールド樹脂12で電子部品群11を封止する。   The circuit module manufacturing system 20 shown in FIG. 3 first manufactures a pre-division circuit module assembly 1A including a plurality of circuit modules 1 shown in FIG. 1, and cuts the pre-division circuit module assembly 1A to obtain each circuit module. 1 is produced. 2, the circuit forming unit 21 shown in FIG. 3 mounts one or more electronic components on the electronic component mounting surface 10a of the substrate 10 as shown in FIG. In the present embodiment, an example in which the circuit forming unit 21 mounts a plurality of electronic component groups 11 on the electronic component mounting surface 10a will be described. Next, it progresses to step ST102 (1st process), and the sealing part 22 shown in FIG. 3 is electronic component group by 1st mold resin 12 so that the one or more electronic component group 11 may be covered, as shown in FIG. 11 is sealed.

図6は、一回目の切削加工が施された製造途中の分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。図2に示すステップST103(第2工程)で、図3に示す切削部23は、図6に示すように、製造途中の分割前回路モジュール集合体1Aに一回目の切削加工を施す。具体的には、切削部23は、電子部品実装面10a側から端子形成面10b側に向かって第1モールド樹脂12をダイシングブレードで切断すると共に、基板10の厚さ方向の途中まで電子部品実装面10aから端子形成面10bに向かって基板10の一部をダイシングブレードで切除する。今回、一回目の切削加工で用いられるダイシングブレードの厚さは、例えば、0.4mmである。なお、切削部23は、少なくとも第1モールド樹脂12を切断すればよく、必ずしも基板10の一部を切除する必要はない。但し、第1モールド樹脂12のみを切削する場合、切削部23は、より高い加工精度が要求される。よって、切削部23に要求される加工精度を低減できるように、本実施形態では、切削部23は、ステップST103で第1モールド樹脂12と基板10との両方を切削するものとする。   FIG. 6 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly in the middle of manufacture that has been subjected to the first cutting. In step ST103 (second step) shown in FIG. 2, the cutting unit 23 shown in FIG. 3 performs the first cutting on the circuit module assembly 1A before division as shown in FIG. Specifically, the cutting unit 23 cuts the first mold resin 12 with a dicing blade from the electronic component mounting surface 10a side toward the terminal forming surface 10b side, and mounts the electronic component partway along the thickness direction of the substrate 10. A part of the substrate 10 is cut away by a dicing blade from the surface 10a toward the terminal forming surface 10b. This time, the thickness of the dicing blade used in the first cutting is, for example, 0.4 mm. Note that the cutting unit 23 only needs to cut at least the first mold resin 12, and it is not always necessary to cut out a part of the substrate 10. However, when only the first mold resin 12 is cut, the cutting portion 23 is required to have higher processing accuracy. Therefore, in this embodiment, the cutting part 23 shall cut both the 1st mold resin 12 and the board | substrate 10 by step ST103 so that the processing precision requested | required of the cutting part 23 can be reduced.

この一回目の切削加工において、切削部23は、基板10の深さD1まで基板10の一部を切削する。切削部23が切削加工を施す部分は、第2方向において隣接する2つの電子部品群11の間の部分15a、及び、第2方向の両端に配置された2つの電子部品群11aの両側のうち、隣接する電子部品群11がない側の部分15bである。これにより、切削部23は、各電子部品群11の第2方向での両脇に切削加工を施すことになる。なお、11aは、第2方向での両脇の電子部品群を他の電子部品群と区別するための符号である。電子部品群11aは、他の電子部品群11と実質的には同一である。   In the first cutting process, the cutting unit 23 cuts a part of the substrate 10 to the depth D1 of the substrate 10. The part to which the cutting part 23 performs the cutting is a part 15a between two electronic component groups 11 adjacent in the second direction, and both sides of the two electronic component groups 11a arranged at both ends in the second direction. This is a portion 15b on the side where the adjacent electronic component group 11 is not present. As a result, the cutting unit 23 performs cutting on both sides of each electronic component group 11 in the second direction. In addition, 11a is a code | symbol for distinguishing the electronic component group of the both sides in a 2nd direction from another electronic component group. The electronic component group 11 a is substantially the same as the other electronic component group 11.

図7は、製造途中でメッキ処理が施された分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。上述したステップST103が終了したらステップST104(第3工程)に進み、図3に示すメッキ層形成部24は、図7に示すように製造途中の分割前回路モジュール集合体1Aにメッキ層13を形成する。メッキ層13は、第1モールド樹脂12を覆う。また、メッキ層13は、基板10に一部が接触する。具体的には、メッキ層13は、第1モールド樹脂12の上面12aと、第1モールド樹脂12の側面12bと、基板10の一回目切削底面10c及び一回目切削側面10dとに形成される。第1モールド樹脂12の上面12aは、第1モールド樹脂12が有する複数の面のうち電子部品実装面10aと平行な面である。第1モールド樹脂12の側面12bは、第1モールド樹脂12が有する複数の面のうち電子部品実装面10aに対して角度を有する面である。基板10の一回目切削底面10c及び一回目切削側面10dは、基板10が有する複数の面のうち、ステップST103での一回目の切削加工で新たに露出した面である。一回目切削底面10cは、電子部品実装面10aと平行な面である。一回目切削側面10dは、電子部品実装面10aに対して角度を有する面である。メッキ層13のうち、一回目切削底面10c及び一回目切削側面10dに接触している部分を基板接触部13aという。   FIG. 7 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly that has been plated during the manufacturing process. When step ST103 described above is completed, the process proceeds to step ST104 (third step), and the plating layer forming unit 24 shown in FIG. 3 forms the plating layer 13 on the circuit module assembly 1A before division as shown in FIG. To do. The plating layer 13 covers the first mold resin 12. Further, the plating layer 13 is partially in contact with the substrate 10. Specifically, the plating layer 13 is formed on the upper surface 12a of the first mold resin 12, the side surface 12b of the first mold resin 12, the first-cut bottom surface 10c and the first-cut side surface 10d of the substrate 10. The upper surface 12a of the first mold resin 12 is a surface parallel to the electronic component mounting surface 10a among a plurality of surfaces of the first mold resin 12. The side surface 12b of the first mold resin 12 is a surface having an angle with respect to the electronic component mounting surface 10a among a plurality of surfaces of the first mold resin 12. The first-cut bottom surface 10c and the first-cut side surface 10d of the substrate 10 are newly exposed surfaces in the first cutting process in step ST103 among a plurality of surfaces of the substrate 10. The first-cut bottom surface 10c is a surface parallel to the electronic component mounting surface 10a. The first cut side surface 10d is a surface having an angle with respect to the electronic component mounting surface 10a. A portion of the plating layer 13 that is in contact with the first cut bottom surface 10c and the first cut side surface 10d is referred to as a substrate contact portion 13a.

図8は、第2モールド樹脂によって被覆された分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。図9は、二回目の切削加工が施された分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。上述したステップST104が終了したら、ステップST105(第4工程)に進み、図3に示す封止部22は、図8に示すように、メッキ層13を覆うように第2モールド樹脂14を設ける。これにより、分割前回路モジュール集合体1Aが完成する。次に、ステップST106(第5工程)へ進み、図3に示す切削部23は、図9に示すように分割前回路モジュール集合体1Aに二回目の切削加工を施す。   FIG. 8 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly covered with the second mold resin. FIG. 9 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly that has been subjected to the second cutting. When step ST104 described above is completed, the process proceeds to step ST105 (fourth process), and the sealing portion 22 shown in FIG. 3 is provided with the second mold resin 14 so as to cover the plated layer 13 as shown in FIG. Thereby, the pre-division circuit module assembly 1A is completed. Next, it progresses to step ST106 (5th process), and the cutting part 23 shown in FIG. 3 performs the 2nd time cutting process to the circuit module assembly 1A before division, as shown in FIG.

二回目の切削加工で、切削部23は、端子形成面10bに対して電子部品実装面10a側から端子形成面10b側に向かって、端子形成面10bに至るまで第2モールド樹脂14及び基板10を切断する。また、本実施形態では、切削部23は、電子部品実装面10a側から端子形成面10b側に向かって、メッキ層13も切断する。第2モールド樹脂14の面のうち、二回目の切削加工で露出した面をモールド樹脂切削側面14aとする。また、基板10の面のうち、二回目の切削加工で露出した面を二回目切削側面10eとする。   In the second cutting process, the cutting portion 23 extends from the electronic component mounting surface 10a side to the terminal forming surface 10b side to the terminal forming surface 10b with respect to the terminal forming surface 10b until reaching the terminal forming surface 10b. Disconnect. In this embodiment, the cutting part 23 also cuts the plating layer 13 from the electronic component mounting surface 10a side toward the terminal forming surface 10b side. Of the surfaces of the second mold resin 14, the surface exposed by the second cutting process is defined as a mold resin cutting side surface 14 a. Moreover, let the surface exposed by the 2nd cutting process among the surfaces of the board | substrate 10 be the 2nd cutting side surface 10e.

切削部23が二回目の切削加工を施す部位は、図8に示す部位16a及び部位16bである。部位16aは、メッキ層13が谷状となる部分である。より詳しくは、部位16aは、第2方向で隣接し合う電子部品群11の間であって、メッキ層13のうち電子部品実装面10aに対して角度を有する2つの面の間である。部位16bは、分割前回路モジュール集合体1Aの第2方向の両端部側の部分である。より詳しくは、部位16bは、この部分に形成されるメッキ層13のうち、電子部品実装面10aに対して角度を有する面に対して、第2方向のうち電子部品群11から離れる方向で隣接する部分である。本実施形態では、切削部23は、基板10の一回目切削底面10cの第2方向での中央に切削加工を施す。二回目の切削加工で用いられる切削工具であるダイシングブレードの厚さは、ステップST103の一回目の切削加工で用いられたダイシングブレードの厚さよりも小さい。これにより、切削部23が二回目の切削加工を施す第2方向での範囲は、ステップST103で一回目の切削加工を施した第2方向での範囲よりも狭くなる。したがって、一回目切削側面10dと二回目切削側面10eとは、第2方向において離れた位置に形成される。   The part which the cutting part 23 performs the second cutting process is the part 16a and the part 16b shown in FIG. The part 16a is a part where the plating layer 13 has a valley shape. More specifically, the portion 16a is between the electronic component groups 11 adjacent in the second direction, and is between the two surfaces of the plating layer 13 that have an angle with respect to the electronic component mounting surface 10a. The part 16b is a part on both end sides in the second direction of the circuit module assembly 1A before division. More specifically, the portion 16b is adjacent to the surface of the plated layer 13 formed in this portion having an angle with respect to the electronic component mounting surface 10a in the direction away from the electronic component group 11 in the second direction. It is a part to do. In the present embodiment, the cutting unit 23 performs a cutting process on the center of the first cutting bottom surface 10c of the substrate 10 in the second direction. The thickness of the dicing blade, which is a cutting tool used in the second cutting process, is smaller than the thickness of the dicing blade used in the first cutting process in step ST103. Thereby, the range in the 2nd direction which the cutting part 23 performs the 2nd cutting process becomes narrower than the range in the 2nd direction which performed the 1st cutting process in step ST103. Therefore, the first-cutting side surface 10d and the second-cutting side surface 10e are formed at positions separated in the second direction.

上述した工程により、回路モジュール製造システム20は、図1に示す回路モジュール1を製造する。本実施形態の製造方法で製造された回路モジュール1は、図1に示すように、メッキ層13が第2モールド樹脂14によって覆われている。このため、回路モジュール1は、メッキ層13の総面積のうち、露出される面積が低減されるので、メッキ層13の総面積のうち酸素に触れる部分の面積が低減される。その結果、回路モジュール1は、メッキ層13の酸化を抑制できる。また、回路モジュール1は、メッキ層13の総面積のうち、外部から力が働くおそれがある面積を低減できる。これにより、回路モジュール1は、メッキ層13の酸化や剥離を抑制し、結果としてメッキ層13の耐久性の低下を低減できる。   Through the steps described above, the circuit module manufacturing system 20 manufactures the circuit module 1 shown in FIG. As shown in FIG. 1, the circuit module 1 manufactured by the manufacturing method of the present embodiment has the plating layer 13 covered with the second mold resin 14. For this reason, since the exposed area of the circuit module 1 in the total area of the plating layer 13 is reduced, the area of the total area of the plating layer 13 that comes into contact with oxygen is reduced. As a result, the circuit module 1 can suppress oxidation of the plating layer 13. In addition, the circuit module 1 can reduce the area of the total area of the plating layer 13 where a force may be applied from the outside. Thereby, the circuit module 1 can suppress the oxidation and peeling of the plating layer 13, and as a result, decrease in durability of the plating layer 13 can be reduced.

特に、本実施形態のメッキ層13は、電子部品実装面10aから端子形成面10bに向かって窪む段差部と第2モールド樹脂14との間で、基板接触部13aが第1方向で挟み込まれている。前記段差部は、一回目切削側面10dと一回目切削底面10cとで形成される部分である。これにより、回路モジュール1は、メッキ層13が露出する場合よりも、第2モールド樹脂14と一回目切削底面10cとの間でメッキ層13が挟み込まれる方が、メッキ層13が基板10からより剥離しにくくなる。その結果、回路モジュール1は、メッキ層13の耐久性の低下をより好適に低減できる。   In particular, in the plated layer 13 of the present embodiment, the substrate contact portion 13a is sandwiched in the first direction between the step portion recessed from the electronic component mounting surface 10a toward the terminal forming surface 10b and the second mold resin 14. ing. The step portion is a portion formed by the first cut side face 10d and the first cut bottom face 10c. Thus, in the circuit module 1, the plating layer 13 is more easily removed from the substrate 10 when the plating layer 13 is sandwiched between the second mold resin 14 and the first cut bottom surface 10c than when the plating layer 13 is exposed. It becomes difficult to peel. As a result, the circuit module 1 can more suitably reduce the durability of the plated layer 13.

また、図8に示すように、回路モジュール1は、二回目の切削加工が施される部分である部位16a及び部位16bに第2モールド樹脂14が設けられる。そして、図9に示すように、回路モジュール1は、基板10と共に部位16a及び部位16bに設けられる第2モールド樹脂14もダイシングブレードで切断される。これにより、回路モジュール1は、図1に示すように、二回目切削側面10eの第2方向の位置と、モールド樹脂切削側面14aの第2方向の位置とが同一になる。その結果、回路モジュール1は、モールド樹脂切削側面14aと二回目切削側面10eとが同一面となるので、回路モジュール1は、モールド樹脂切削側面14aと二回目切削側面10eとの境界に段差部が形成されない。   Further, as shown in FIG. 8, in the circuit module 1, the second mold resin 14 is provided in a portion 16a and a portion 16b that are portions to be subjected to the second cutting. Then, as shown in FIG. 9, in the circuit module 1, the second mold resin 14 provided in the part 16 a and the part 16 b together with the substrate 10 is also cut by a dicing blade. As a result, in the circuit module 1, as shown in FIG. 1, the position of the second cutting side surface 10e in the second direction is the same as the position of the mold resin cutting side surface 14a in the second direction. As a result, in the circuit module 1, since the mold resin cutting side surface 14a and the second cutting side surface 10e are the same surface, the circuit module 1 has a step portion at the boundary between the mold resin cutting side surface 14a and the second cutting side surface 10e. Not formed.

これに対して、例えば、回路モジュールの側面に段差部が形成される場合、この段差に起因して回路モジュールの外観の美観が低下する。回路モジュールを取り扱う際に、回路モジュールに形成される段差部に外部からの力が電子部品モジュールの内部に集中する場合も考えられる。これにより、このような回路モジュールは、耐久性が低下するおそれも考えられる。   On the other hand, for example, when a step portion is formed on the side surface of the circuit module, the appearance of the circuit module deteriorates due to the step. When handling a circuit module, it is also conceivable that external force concentrates on the inside of the electronic component module at the step formed in the circuit module. Thereby, the durability of such a circuit module may be reduced.

しかしながら、回路モジュール1は、その側面1sが平面になる。側面1sは、回路モジュール1全体の外形を形成する面のうち、電子部品実装面10aに対して角度を有する面である。回路モジュール1は、4つの側面1sを有する。なお、図1には、4つの側面1sのうちの2つを示す。側面1sが平面になることにより、回路モジュール1は、回路モジュール1の外観の美観が損なわれないまた、回路モジュール1は、側面1sに段差部が形成されないため、側面1sに応力が集中しやすい部分が少ない。これにより、回路モジュール1は、回路モジュール1が取り扱われる際において、外部からの力が電子部品モジュールの内部に集中するおそれが低減されるので、耐久性の低下が抑制される。   However, the circuit module 1 has a flat side surface 1s. The side surface 1 s is a surface having an angle with respect to the electronic component mounting surface 10 a among the surfaces forming the outer shape of the entire circuit module 1. The circuit module 1 has four side surfaces 1s. FIG. 1 shows two of the four side surfaces 1s. By making the side surface 1s flat, the circuit module 1 does not lose the aesthetic appearance of the circuit module 1. Further, since the step portion is not formed on the side surface 1s, the circuit module 1 tends to concentrate stress on the side surface 1s. There are few parts. Thereby, when the circuit module 1 is handled, since the possibility that the force from the outside will concentrate inside the electronic component module is reduced, the deterioration of durability is suppressed.

また、回路モジュール1は、回路モジュール1の湾曲を低減できる。次にその理由を説明する。上述したように、第1モールド樹脂12の線膨張係数と、基板10の線膨張係数とは異なる。したがって、第2モールド樹脂14が設けられない回路モジュールでは、この線膨張係数の違いに起因して回路モジュールが湾曲するおそれがある。しかしながら、回路モジュール1は、第1モールド樹脂12の線膨張係数よりも線膨張係数が小さい材料である第2モールド樹脂14が、メッキ層13よりも外側(電子部品群11とは反対側)に設けられる。第2モールド樹脂14は、第1モールド樹脂12よりも湾曲しにくいため、基板10と第1モールド樹脂12との線膨張係数の差に起因する回路モジュール1の湾曲を抑制する。その結果、回路モジュール1は、自身(回路モジュール1)が湾曲するおそれを低減できる。   Further, the circuit module 1 can reduce the bending of the circuit module 1. Next, the reason will be described. As described above, the linear expansion coefficient of the first mold resin 12 and the linear expansion coefficient of the substrate 10 are different. Therefore, in a circuit module in which the second mold resin 14 is not provided, the circuit module may be bent due to the difference in the linear expansion coefficient. However, in the circuit module 1, the second mold resin 14, which is a material having a linear expansion coefficient smaller than that of the first mold resin 12, is located outside the plating layer 13 (on the side opposite to the electronic component group 11). Provided. Since the second mold resin 14 is less likely to bend than the first mold resin 12, the circuit module 1 is prevented from being bent due to a difference in linear expansion coefficient between the substrate 10 and the first mold resin 12. As a result, the circuit module 1 can reduce the possibility that the circuit module 1 itself (the circuit module 1) is bent.

さらに、第2モールド樹脂14の線膨張係数の値は、基板10の線膨張係数以下である。すなわち、第2モールド樹脂14は、回路モジュール1が備える複数の部材の中で最も線膨張係数が小さい部材である。このような第2モールド樹脂14を備えることにより、回路モジュール1は、基板10の線膨張係数と、基板10に設けられるモールド樹脂(第1モールド樹脂12及び第2モールド樹脂14)全体での線膨張係数との差をより好適に低減できる。これによって、回路モジュール1は、自身が湾曲するおそれをより好適に低減できる。   Further, the value of the linear expansion coefficient of the second mold resin 14 is not more than the linear expansion coefficient of the substrate 10. That is, the second mold resin 14 is a member having the smallest linear expansion coefficient among a plurality of members included in the circuit module 1. By providing the second mold resin 14 as described above, the circuit module 1 allows the linear expansion coefficient of the substrate 10 and the lines of the entire mold resin (the first mold resin 12 and the second mold resin 14) provided on the substrate 10. The difference from the expansion coefficient can be reduced more suitably. Thereby, the circuit module 1 can reduce the possibility that the circuit module 1 will bend more appropriately.

なお、回路モジュールの湾曲を低減するための方法、または、回路モジュールの側面に段差部を形成しないための方法として、第2モールド樹脂14を設けずに、メッキ層を従来よりも厚くするという方法も考えられる。しかしながら、近年の回路モジュールは軽量化が求められているのに対して、この場合の回路モジュールは金属の量が増加するため軽量化が図れない。これに対し、回路モジュール1は、金属よりも質量が小さい第2モールド樹脂14を備えるので、回路モジュール1は、自身を軽量化できる。   In addition, as a method for reducing the curvature of the circuit module or a method for not forming the stepped portion on the side surface of the circuit module, a method of making the plating layer thicker than before without providing the second mold resin 14. Is also possible. However, while recent circuit modules are required to be lighter, the circuit modules in this case cannot be reduced in weight because the amount of metal increases. On the other hand, since the circuit module 1 includes the second mold resin 14 having a mass smaller than that of the metal, the circuit module 1 can reduce its weight.

さらに、本実施形態の回路モジュール1は、メッキ層13の酸化が第2モールド樹脂14によって抑制される分、メッキ層13を構成するニッケル層を低減、または省略することもできる。これによって、回路モジュール1は、自身をより軽量化できる。また、第2モールド樹脂14は、金属であるメッキ層13よりも切削加工をしやすい材料である。このため、本実施形態に係る回路モジュール製造方法を用いて回路モジュール1を製造すれば、より切削加工しやすくなる。また、第2モールド樹脂14は、第1モールド樹脂12よりもフィラー(シリカ)の含有率が高い。ここで、フィラーの含有率が80wt%以上のエポキシ樹脂は、難燃性の材料である。したがって、第2モールド樹脂14が最も外側に配置されることにより、回路モジュール1は、より難燃性が向上する。   Furthermore, in the circuit module 1 of the present embodiment, the nickel layer constituting the plating layer 13 can be reduced or omitted because the oxidation of the plating layer 13 is suppressed by the second mold resin 14. As a result, the circuit module 1 can be lighter. The second mold resin 14 is a material that is easier to cut than the plated layer 13 that is a metal. For this reason, if the circuit module 1 is manufactured using the circuit module manufacturing method according to the present embodiment, it becomes easier to cut. The second mold resin 14 has a higher filler (silica) content than the first mold resin 12. Here, the epoxy resin having a filler content of 80 wt% or more is a flame-retardant material. Therefore, the flame resistance of the circuit module 1 is further improved by arranging the second mold resin 14 on the outermost side.

本実施形態に係る回路モジュール製造方法は、分割前回路モジュール集合体1Aを切断するよりも前に、第2モールド樹脂14を設ける点にも特徴がある。例えば、分割前回路モジュール集合体1Aを切断した後に、個々の製造途中の回路モジュールを第2モールド樹脂14で覆う場合、回路モジュール1は、図1に示す端子形成面10bも第2モールド樹脂14で覆われることがある。しかしながら、本実施形態に係る回路モジュール製造方法を用いれば、製造途中の個々の回路モジュールをそれぞれ第2モールド樹脂14で覆う場合よりも、第2モールド樹脂14を設ける際に第2モールド樹脂14が端子形成面10bに回り込むおそれが少ない。これによって、本実施形態に係る回路モジュール製造方法は、端子形成面10bが第2モールド樹脂14で覆われるおそれを低減できる。   The circuit module manufacturing method according to this embodiment is also characterized in that the second mold resin 14 is provided before the pre-division circuit module assembly 1A is cut. For example, when the circuit module assembly 1A before the division is cut and each circuit module being manufactured is covered with the second mold resin 14, the circuit module 1 also has the terminal molding surface 10b shown in FIG. It may be covered with. However, if the circuit module manufacturing method according to the present embodiment is used, the second mold resin 14 is provided when the second mold resin 14 is provided, rather than when each circuit module being manufactured is covered with the second mold resin 14. There is little risk of wrapping around the terminal forming surface 10b. Thereby, the circuit module manufacturing method according to the present embodiment can reduce the possibility that the terminal forming surface 10b is covered with the second mold resin 14.

(実施形態2)
図10は、実施形態2の回路モジュールを基板に直交する平面で切って示す断面図である。図11は、実施形態2の回路モジュール製造方法の工程を示すフローチャートである。図12は、二回目の切削加工が施された製造途中の分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。図10に示す回路モジュール2は、図3に示す回路モジュール製造システム20が図11に示す一連の工程を実行することで製造される。図10に示す回路モジュール2が備える各部材の材料は、図1に示す回路モジュール1が備える各部材の材料と同様である。
(Embodiment 2)
FIG. 10 is a cross-sectional view of the circuit module according to the second embodiment cut along a plane orthogonal to the substrate. FIG. 11 is a flowchart illustrating the steps of the circuit module manufacturing method according to the second embodiment. FIG. 12 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly in the middle of manufacture that has been subjected to the second cutting. The circuit module 2 shown in FIG. 10 is manufactured by the circuit module manufacturing system 20 shown in FIG. 3 executing a series of steps shown in FIG. The material of each member provided in the circuit module 2 shown in FIG. 10 is the same as the material of each member provided in the circuit module 1 shown in FIG.

本実施形態に係る回路モジュール製造方法のステップST201〜ステップST204工程は、実施形態1に係る回路モジュール製造方法のST101〜ステップST104の各工程と同様なので、説明を省略する。本実施形態に係る回路モジュール製造方法によって回路モジュールの製造を開始して、ステップST204まで終了したら、ステップST205(第6工程)へ進む。   Steps ST201 to ST204 of the circuit module manufacturing method according to the present embodiment are the same as the steps ST101 to ST104 of the circuit module manufacturing method according to Embodiment 1, and a description thereof will be omitted. When manufacturing of a circuit module is started by the circuit module manufacturing method according to the present embodiment and the process ends up to step ST204, the process proceeds to step ST205 (sixth step).

ステップST205で、図3に示す切削部23は、図12に示すように分割前回路モジュール集合体2Aに二回目の切削加工を施す。二回目の切削加工で、切削部23は、電子部品実装面10a側から端子形成面10b側へ向かって、メッキ層13を切断すると共に、基板10の深さD2まで基板10の一部を切除する。深さD2は、図6に示す深さD1よりも大きい。なお、切削部23は、少なくともメッキ層13を切断すればよく、必ずしも基板10の一部を切除する必要はない。ただし、メッキ層13のみを切削する場合、切削部23は、求められる加工精度が向上する。よって、本実施形態では、切削部23は、ステップST205でメッキ層13と基板10との両方を切削するものとする。   In step ST205, the cutting unit 23 shown in FIG. 3 performs the second cutting on the circuit module assembly 2A before division as shown in FIG. In the second cutting process, the cutting part 23 cuts the plating layer 13 from the electronic component mounting surface 10a side to the terminal forming surface 10b side and cuts a part of the substrate 10 to the depth D2 of the substrate 10. To do. The depth D2 is larger than the depth D1 shown in FIG. Note that the cutting portion 23 only needs to cut at least the plating layer 13, and it is not always necessary to cut off a part of the substrate 10. However, when only the plating layer 13 is cut, the machining accuracy required for the cutting portion 23 is improved. Therefore, in this embodiment, the cutting part 23 shall cut both the plating layer 13 and the board | substrate 10 by step ST205.

切削部23が二回目の切削加工を施す部位は、部位16a及び部位16bである。次においては、基板10の面のうち、二回目の切削加工で露出した面を二回目切削底面10f及び二回目切削側面10gとする。本実施形態では、切削部23は、基板10の一回目切削底面10cの第2方向での中央に切削加工を施す。二回目の切削加工で用いられる切削工具であるダイシングブレードの厚さは、ステップST203の一回目の切削加工で用いられたダイシングブレードの厚さよりも小さい。これにより、切削部23が二回目の切削加工を施す第2方向での範囲は、ステップST203で一回目の切削加工を施した第2方向での範囲よりも狭くなる。したがって、一回目切削側面10dと二回目切削側面10gとは、第2方向で離れた位置に形成される。   The site | part which the cutting part 23 performs the 2nd cutting process is the site | part 16a and the site | part 16b. Next, let the surface exposed by the 2nd cutting process be the 2nd cutting bottom face 10f and the 2nd cutting side face 10g among the surfaces of the board | substrate 10. FIG. In the present embodiment, the cutting unit 23 performs a cutting process on the center of the first cutting bottom surface 10c of the substrate 10 in the second direction. The thickness of the dicing blade that is a cutting tool used in the second cutting is smaller than the thickness of the dicing blade used in the first cutting in step ST203. Thereby, the range in the 2nd direction which the cutting part 23 performs the 2nd cutting process becomes narrower than the range in the 2nd direction which performed the 1st cutting process in step ST203. Therefore, the first-cutting side surface 10d and the second-cutting side surface 10g are formed at positions separated in the second direction.

図13は、第2モールド樹脂が設けられた分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。図14は、三回目の切削加工が施された分割前回路モジュール集合体を示す断面図である。ステップST206が終了したら、図11に示すステップST206(第4工程)へ進む。ステップST206で、図3に示す封止部22は、図13に示すようにステップST205で複数に分割されたメッキ層13全体を覆うように第2モールド樹脂14を設ける。これにより、分割前回路モジュール集合体2Aが完成する。次に、図2に示すステップST207(第5工程)に進み、図3に示す切削部23は、図14に示すように分割前回路モジュール集合体2Aに三回目の切削加工を施す。   FIG. 13 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly provided with the second mold resin. FIG. 14 is a cross-sectional view showing the pre-division circuit module assembly that has been subjected to the third cutting. When step ST206 ends, the process proceeds to step ST206 (fourth step) shown in FIG. In step ST206, the sealing part 22 shown in FIG. 3 is provided with the second mold resin 14 so as to cover the entire plating layer 13 divided in step ST205 as shown in FIG. Thereby, the pre-division circuit module assembly 2A is completed. Next, it progresses to step ST207 (5th process) shown in FIG. 2, and the cutting part 23 shown in FIG. 3 performs the cutting process of the circuit module assembly 2A before a division | segmentation 3rd time as shown in FIG.

三回目の切削加工で、切削部23は、電子部品実装面10a側から端子形成面10b側に向かって、端子形成面10bに至るまで第2モールド樹脂14及び基板10を切断する。本実施形態では、切削部23は、メッキ層13は切断しない。三回目の切削加工で切削部23が切削加工を施す部位は、図13に示す部位17a及び部位17bである。部位17aは、図13に示すように、第2方向で隣接し合う電子部品群11の間に形成される2つの二回目切削側面10gの間である。部位17bは、電子部品群11aの両脇のうち隣接する電子部品群11がない方の脇に形成される2つの二回目切削側面10gの間である。   In the third cutting process, the cutting part 23 cuts the second mold resin 14 and the substrate 10 from the electronic component mounting surface 10a side to the terminal forming surface 10b side until reaching the terminal forming surface 10b. In the present embodiment, the cutting unit 23 does not cut the plated layer 13. The parts to which the cutting part 23 performs the cutting process in the third cutting process are a part 17a and a part 17b shown in FIG. As shown in FIG. 13, the part 17a is between two second-cutting side faces 10g formed between the electronic component groups 11 adjacent in the second direction. The site | part 17b is between the two 2nd cutting side surfaces 10g formed in the side which does not have the adjacent electronic component group 11 among the both sides of the electronic component group 11a.

第2モールド樹脂14の面のうち、三回目の切削加工で露出した面をモールド樹脂切削側面14bとする。また、基板10の面のうち、三回目の切削加工で露出した面を三回目切削側面10hとする。本実施形態では、切削部23は、基板10の二回目切削底面10fの第2方向での中央に切削加工を施す。三回目の切削加工で用いられる切削工具としてのダイシングブレードの厚さは、ステップST205の二回目の切削加工で用いられたダイシングブレードの厚さよりも小さい。これにより、切削部23が三回目の切削加工を施す第2方向での範囲は、ステップST205で二回目の切削加工を施した第2方向での範囲よりも狭くなる。よって、二回目切削側面10gと三回目切削側面10hとは、第2方向で離れた位置に形成される。   Of the surface of the second mold resin 14, the surface exposed by the third cutting process is defined as a mold resin cutting side surface 14b. Further, among the surfaces of the substrate 10, a surface exposed by the third cutting process is defined as a third cutting side surface 10 h. In the present embodiment, the cutting unit 23 performs a cutting process on the center of the second cutting bottom surface 10f of the substrate 10 in the second direction. The thickness of the dicing blade as a cutting tool used in the third cutting process is smaller than the thickness of the dicing blade used in the second cutting process in step ST205. Thereby, the range in the 2nd direction which the cutting part 23 performs the 3rd cutting process becomes narrower than the range in the 2nd direction which performed the 2nd cutting process in step ST205. Therefore, the second cutting side surface 10g and the third cutting side surface 10h are formed at positions separated in the second direction.

上述した工程により、回路モジュール製造システム20は、図10に示す回路モジュール2を製造する。本実施形態の製造方法で製造された回路モジュール2は、図13に示すように、第2方向で対向し合うメッキ層13の間に第2モールド樹脂14が充填され、また、第2方向の両端に配置される電子部品群11aの両脇に第2モールド樹脂14が設けられる。そして、回路モジュール2は、図14に示すように基板10と共に第2モールド樹脂14も同時にダイシングブレードで切断される。これにより、回路モジュール2は、図10に示すように、三回目切削側面10hの第2方向の位置と、モールド樹脂切削側面14bの第2方向の位置とが同一になる。その結果、回路モジュール2は、モールド樹脂切削側面14bと三回目切削側面10hとが同一平面に存在することになるので、モールド樹脂切削側面14bと三回目切削側面10hとの境界には段差部が形成されない。   Through the process described above, the circuit module manufacturing system 20 manufactures the circuit module 2 shown in FIG. As shown in FIG. 13, the circuit module 2 manufactured by the manufacturing method of the present embodiment is filled with the second mold resin 14 between the plating layers 13 facing each other in the second direction, and the circuit module 2 in the second direction The second mold resin 14 is provided on both sides of the electronic component group 11a arranged at both ends. Then, in the circuit module 2, as shown in FIG. 14, the second mold resin 14 together with the substrate 10 is simultaneously cut with a dicing blade. Thereby, as shown in FIG. 10, in the circuit module 2, the position of the third cutting side surface 10h in the second direction is the same as the position of the mold resin cutting side surface 14b in the second direction. As a result, in the circuit module 2, since the mold resin cutting side surface 14b and the third cutting side surface 10h exist on the same plane, there is a step portion at the boundary between the mold resin cutting side surface 14b and the third cutting side surface 10h. Not formed.

これにより、回路モジュール2は、回路モジュール2の外観の美観低下を抑制できる。また、また、回路モジュール2は、側面1sに段差部が形成されないため、側面1sに応力が集中しやすい部分が少ない。これにより、回路モジュール2は、回路モジュール2が取り扱われる際において、外部からの力が電子部品モジュールの内部に集中するおそれが低減されるので、耐久性の低下が抑制される。   Thereby, the circuit module 2 can suppress a decrease in aesthetic appearance of the circuit module 2. Moreover, since the step part is not formed in the side surface 1s, the circuit module 2 has few portions where stress tends to concentrate on the side surface 1s. Thereby, when the circuit module 2 is handled, since the possibility that the external force will be concentrated inside the electronic component module is reduced, a decrease in durability is suppressed.

また、本実施形態に係る回路モジュール製造方法で製造された回路モジュール2は、上述した回路モジュール1と同様の効果を奏する。また、本実施形態に係る回路モジュール製造方法は、実施形態1に係る回路モジュール製造方法と同様の効果を奏する。また、これらの効果を奏する理由も、実施形態1で説明した理由と同様である。以下、回路モジュール2が奏する効果のうち、回路モジュール1が奏する効果とは異なる効果を説明する。   Further, the circuit module 2 manufactured by the circuit module manufacturing method according to the present embodiment has the same effects as the circuit module 1 described above. In addition, the circuit module manufacturing method according to the present embodiment has the same effects as the circuit module manufacturing method according to the first embodiment. Further, the reason why these effects are achieved is the same as the reason described in the first embodiment. Hereinafter, of the effects produced by the circuit module 2, effects different from the effects produced by the circuit module 1 will be described.

回路モジュール2は、図1に示す実施形態1の回路モジュール1よりも、メッキ層13の耐久性の低下をより好適に抑制できる。以下にその理由を説明する。図1に示す回路モジュール1は、回路モジュール1の側面1sにメッキ層13の端部13bが一部露出する。このメッキ層13の端部13bは、第2モールド樹脂14のモールド樹脂切削側面14a及び基板10の二回目切削側面10eと第2方向で同一の位置にある。すなわち、このメッキ層13の端部13bは、第2モールド樹脂14のモールド樹脂切削側面14a及び基板10の二回目切削側面10eから突出しない。よって、回路モジュール1でも、メッキ層13の耐久性は十分に確保できる。   The circuit module 2 can suppress the deterioration of the durability of the plating layer 13 more suitably than the circuit module 1 of Embodiment 1 shown in FIG. The reason will be described below. In the circuit module 1 shown in FIG. 1, a part of the end portion 13 b of the plating layer 13 is exposed on the side surface 1 s of the circuit module 1. The end 13b of the plating layer 13 is in the same position in the second direction as the mold resin cutting side surface 14a of the second mold resin 14 and the second cutting side surface 10e of the substrate 10. That is, the end 13 b of the plating layer 13 does not protrude from the mold resin cutting side surface 14 a of the second mold resin 14 and the second cutting side surface 10 e of the substrate 10. Therefore, the durability of the plating layer 13 can be sufficiently secured even in the circuit module 1.

一方、図10に示す回路モジュール2は、メッキ層13が第2モールド樹脂14によって完全に覆われている。具体的には、本実施形態の基板10は、第1段差部と第2段差部とを有する。第1段差部は、電子部品実装面10aから端子形成面10bに向かって窪む段差部であって、一回目切削底面10cと一回目切削側面10dとで形成される部分である。第2段差部は、電子部品群11から離れる第2方向で第1段差部と隣接して設けられ、電子部品実装面10aから端子形成面10bに向かって第1段差部よりもさらに窪む部分を有する段差部である。第2段差部は、二回目切削側面10gと二回目切削底面10fとで形成される。メッキ層13の基板接触部13aであってメッキ層13の端部13bは、この第1段差部と第2モールド樹脂14とで挟み込まれる。そして、第2モールド樹脂14は、第2段差部に設けられる。   On the other hand, in the circuit module 2 shown in FIG. 10, the plating layer 13 is completely covered with the second mold resin 14. Specifically, the substrate 10 of the present embodiment has a first step portion and a second step portion. The first stepped portion is a stepped portion that is recessed from the electronic component mounting surface 10a toward the terminal forming surface 10b, and is a portion formed by the first-cutting bottom surface 10c and the first-cutting side surface 10d. The second stepped portion is provided adjacent to the first stepped portion in the second direction away from the electronic component group 11, and is further recessed from the electronic component mounting surface 10a toward the terminal forming surface 10b than the first stepped portion. It is a level | step-difference part which has. The 2nd level | step-difference part is formed by 10g of 2nd cutting side surfaces, and 10f of 2nd cutting side surfaces. The substrate contact portion 13 a of the plating layer 13 and the end portion 13 b of the plating layer 13 are sandwiched between the first step portion and the second mold resin 14. The second mold resin 14 is provided at the second step portion.

これにより、回路モジュール2は、メッキ層13の端部13bが、第2段差部に設けられる第2モールド樹脂14によって覆われる。すなわち、回路モジュール2は、メッキ層13の端部13bが露出しない。これにより、回路モジュール2は、メッキ層13の総面積のうち酸素に接触する部分の面積を理論上0にできる。また、回路モジュール2は、例えば水のような液体が内部へ侵入しようとする隙間を低減できる。また、回路モジュール2は、メッキ層13に直接働く外部の力を理論上0にできる。よって、回路モジュール2は、メッキ層13の端部13bが露出する場合よりも、メッキ層13の剥離や酸化をより好適に抑制できる。結果として、回路モジュール2は、メッキ層13の耐久性の低下をより好適に低減できる。   As a result, in the circuit module 2, the end portion 13 b of the plating layer 13 is covered with the second mold resin 14 provided in the second step portion. That is, in the circuit module 2, the end portion 13 b of the plating layer 13 is not exposed. Thereby, the circuit module 2 can theoretically reduce the area of the portion in contact with oxygen out of the total area of the plating layer 13 to zero. Further, the circuit module 2 can reduce a gap where a liquid such as water tries to enter the inside. Further, the circuit module 2 can theoretically reduce the external force acting directly on the plating layer 13 to zero. Therefore, the circuit module 2 can more suitably suppress peeling and oxidation of the plating layer 13 than when the end portion 13b of the plating layer 13 is exposed. As a result, the circuit module 2 can more suitably reduce the durability of the plated layer 13.

以上のように、本発明に係る回路モジュール及び回路モジュール製造方法は、電子部品を封止する技術に有用であり、特に、シールド部材の耐久性の低下を抑制することに適している。   As described above, the circuit module and the circuit module manufacturing method according to the present invention are useful for a technique for sealing electronic components, and are particularly suitable for suppressing a decrease in durability of a shield member.

1、2 回路モジュール
1A、2A 分割前回路モジュール集合体
1s 側面
10 基板
10a 電子部品実装面
10b 端子形成面
10c 一回目切削底面
10d 一回目切削側面
10e 二回目切削側面
10f 二回目切削底面
10g 二回目切削側面
10h 三回目切削側面
11、11a 電子部品群
12 第1モールド樹脂
12a 上面
12b 側面
13 メッキ層
13a 基板接触部
13b 端部
14 第2モールド樹脂
14a モールド樹脂切削側面
14b モールド樹脂切削側面
15a〜17b 部位
20 回路モジュール製造システム
21 回路形成部
22 封止部
23 切削部
24 メッキ層形成部
D1、D2 深さ
1, 2 Circuit module 1A, 2A Pre-division circuit module assembly 1s Side surface 10 Substrate 10a Electronic component mounting surface 10b Terminal forming surface 10c First cut bottom surface 10d First cut side surface 10e Second cut side surface 10f Second cut bottom surface 10g Second time Cutting side surface 10h Third cutting side surface 11, 11a Electronic component group 12 First mold resin 12a Upper surface 12b Side surface 13 Plating layer 13a Substrate contact portion 13b End portion 14 Second mold resin 14a Mold resin cutting side surface 14b Mold resin cutting side surfaces 15a-17b Part 20 Circuit module manufacturing system 21 Circuit forming part 22 Sealing part 23 Cutting part 24 Plating layer forming part D1, D2 Depth

Claims (11)

電子部品実装面を有する基板と、
前記電子部品実装面に搭載される電子部品と、
前記電子部品を覆う第1封止部材と、
当該第1封止部材を覆うと共に前記基板に一部が接触するシールド部材と、
当該シールド部材のうち前記基板に接触する部分を前記基板との間で挟み込み、かつ、前記シールド部材の少なくとも一部を覆う第2封止部材と、
を備えることを特徴とする回路モジュール。
A substrate having an electronic component mounting surface;
An electronic component mounted on the electronic component mounting surface;
A first sealing member covering the electronic component;
A shield member that covers the first sealing member and partially contacts the substrate;
A second sealing member that sandwiches a portion of the shield member that contacts the substrate with the substrate and covers at least a portion of the shield member;
A circuit module comprising:
前記基板は、
前記電子部品実装面とは反対側の端子形成面と、
前記電子部品実装面から前記端子形成面に向かって窪む部分を有する段差部と、を備え、
前記シールド部材のうち前記基板に接触する部分は、前記段差部と前記第2封止部材とに挟み込まれる請求項1に記載の回路モジュール。
The substrate is
A terminal forming surface opposite to the electronic component mounting surface;
A step portion having a portion recessed from the electronic component mounting surface toward the terminal forming surface, and
The circuit module according to claim 1, wherein a portion of the shield member that contacts the substrate is sandwiched between the stepped portion and the second sealing member.
前記第2封止部材は、前記シールド部材の全体を覆う請求項1または請求項2に記載の回路モジュール。   The circuit module according to claim 1, wherein the second sealing member covers the entire shield member. 前記基板は、
前記電子部品実装面とは反対側の端子形成面と、
前記電子部品実装面から前記端子形成面に向かって窪む部分を有する第1段差部と、
前記第1段差部と隣接する部分であって、前記第1段差部を境に前記電子部品とは反対側の部分に設けられ、前記電子部品実装面から前記端子形成面に向かって前記第1段差部よりもさらに前記端子形成面側へ窪む部分を有する第2段差部と、を備え、
前記シールド部材の端部は、前記第1段差部に接触すると共に当該前記第1段差部と前記第2封止部材とに挟み込まれて設けられ、
前記第2封止部材は、前記第2段差部に接触する請求項1に記載の回路モジュール。
The substrate is
A terminal forming surface opposite to the electronic component mounting surface;
A first step portion having a portion recessed from the electronic component mounting surface toward the terminal forming surface;
A portion adjacent to the first step portion, provided at a portion opposite to the electronic component with the first step portion as a boundary, and from the electronic component mounting surface toward the terminal formation surface. A second step portion having a portion recessed further toward the terminal forming surface than the step portion,
An end portion of the shield member is provided to be in contact with the first step portion and sandwiched between the first step portion and the second sealing member,
The circuit module according to claim 1, wherein the second sealing member is in contact with the second stepped portion.
前記回路モジュール全体の外形を形成する面であって、前記電子部品実装面に対して角度を有する回路モジュール側面は、平面である請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の回路モジュール。   The circuit module according to any one of claims 1 to 4, wherein a side surface of the circuit module that forms an outer shape of the entire circuit module and has an angle with respect to the electronic component mounting surface is a flat surface. . 前記第2封止部材の線膨張係数は、前記第1封止部材の線膨張係数よりも小さい請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の回路モジュール。   The circuit module according to claim 1, wherein a linear expansion coefficient of the second sealing member is smaller than a linear expansion coefficient of the first sealing member. 前記第2封止部材の線膨張係数は、前記基板の線膨張係数以下である請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の回路モジュール。   The circuit module according to claim 1, wherein a linear expansion coefficient of the second sealing member is equal to or less than a linear expansion coefficient of the substrate. 電子部品実装面と、当該電子部品実装面とは反対側の端子形成面との2つの面を有する基板の前記電子部品実装面に形成される電子部品を第1封止部材で覆う第1工程と、
前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって、少なくとも前記第1封止部材を切断する第2工程と、
前記第1封止部材をシールド部材で覆い、かつ前記シールド部材の一部を前記基板に接触させる第3工程と、
第2封止部材で前記シールド部材の少なくとも一部を覆うと共に、前記シールド部材のうち前記基板に接触する部分を前記基板との間で挟み込む第4工程と、
前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって、少なくとも前記第2封止部材及び前記基板を切断する第5工程と、
を備えることを特徴とする回路モジュール製造方法。
A first step of covering the electronic component formed on the electronic component mounting surface of the substrate having two surfaces of the electronic component mounting surface and the terminal forming surface opposite to the electronic component mounting surface with a first sealing member When,
A second step of cutting at least the first sealing member from the electronic component mounting surface side toward the terminal forming surface side;
A third step of covering the first sealing member with a shield member and bringing a part of the shield member into contact with the substrate;
A fourth step of covering at least a part of the shield member with a second sealing member and sandwiching a portion of the shield member that contacts the substrate with the substrate;
A fifth step of cutting at least the second sealing member and the substrate from the electronic component mounting surface side toward the terminal forming surface side;
A circuit module manufacturing method comprising:
前記第2工程では、前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって前記第1封止部材を切断すると共に、前記電子部品実装面から前記端子形成面に向かって前記基板の一部を切除し、
前記第5工程では、前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって前記第2封止部材と、前記基板と、前記シールド部材とを切断する請求項8に記載の回路モジュール製造方法。
In the second step, the first sealing member is cut from the electronic component mounting surface side toward the terminal forming surface side, and a part of the substrate is directed from the electronic component mounting surface toward the terminal forming surface. Excise the
The circuit module manufacturing method according to claim 8, wherein in the fifth step, the second sealing member, the substrate, and the shield member are cut from the electronic component mounting surface side toward the terminal forming surface side. .
前記第3工程と前記第4工程との間に、前記シールド部材の部分のうち前記基板に接触する部分を、前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって切断する第6工程を備える請求項8に記載の回路モジュール製造方法。   Between the third step and the fourth step, a sixth step of cutting a portion of the shield member that contacts the substrate from the electronic component mounting surface side toward the terminal forming surface side The circuit module manufacturing method of Claim 8 provided. 前記第2工程では、前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって前記第1封止部材を切断すると共に、前記電子部品実装面から前記端子形成面に向かって前記基板の一部を切除し、
前記第6工程では、前記シールド部材の部分のうち前記基板に接触する部分を、前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって切断すると共に、前記電子部品実装面から前記端子形成面に向かって前記基板の一部も切除し、
前記第5工程では、前記電子部品実装面側から前記端子形成面側へ向かって、前記第2封止部材及び前記基板を切断する請求項10に記載の回路モジュール製造方法。
In the second step, the first sealing member is cut from the electronic component mounting surface side toward the terminal forming surface side, and a part of the substrate is directed from the electronic component mounting surface toward the terminal forming surface. Excise the
In the sixth step, the portion of the shield member that contacts the substrate is cut from the electronic component mounting surface side toward the terminal forming surface side, and from the electronic component mounting surface to the terminal forming surface. Also cut away part of the substrate towards
The circuit module manufacturing method according to claim 10, wherein in the fifth step, the second sealing member and the substrate are cut from the electronic component mounting surface side toward the terminal forming surface side.
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