JP2011088409A - Mold of wafer level lens array, manufacturing method of wafer level lens array, wafer level lens array, lens module, and imaging unit - Google Patents

Mold of wafer level lens array, manufacturing method of wafer level lens array, wafer level lens array, lens module, and imaging unit Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a mold of wafer level lens array capable of preventing the intrusion of air into a substrate and a lens to be molded, a method for manufacturing a wafer level lens array, a wafer level lens array, a lens module, and an imaging unit. <P>SOLUTION: A mold for molding integrally a wafer level lens array comprising a substrate and a plurality of lenses arranged on the substrate formed of resin has a pair of die materials for molding and curing the resin by sandwiching the resin and giving energy to the resin where an air discharging hole for discharging air in an interface between a die surface and a resin surface upon molding is formed in at least a die surface contacting with the resin. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、ウェハレベルレンズアレイの成形型、ウェハレベルレンズアレイの製造方法、ウェハレベルレンズアレイ、レンズモジュール及び撮像ユニットに関する。   The present invention relates to a wafer level lens array mold, a wafer level lens array manufacturing method, a wafer level lens array, a lens module, and an imaging unit.

近年、携帯電話やPDA(Personal Digital Assistant)などの電子機器の携帯端末には、小型で薄型な撮像ユニットが搭載されている。このような撮像ユニットは、一般に、CCD(Charge Coupled Device)イメージセンサやCMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor)イメージセンサなどの固体撮像素子と、固体撮像素子上に被写体像を形成するためのレンズと、を備えている。   In recent years, portable terminals of electronic devices such as mobile phones and PDAs (Personal Digital Assistants) are equipped with small and thin imaging units. Such an imaging unit generally includes a solid-state imaging device such as a CCD (Charge Coupled Device) image sensor or a CMOS (Complementary Metal-Oxide Semiconductor) image sensor, a lens for forming a subject image on the solid-state imaging device, It has.

携帯端末の小型化・薄型化に伴って撮像ユニットの小型化・薄型化が要請されている。また、携帯端末のコストの低下を図るため、製造工程の効率化が望まれている。このような小型かつ多数のレンズを製造する方法としては、基板部に複数のレンズ部を形成した構成であるウェハレベルレンズアレイを製造し、該基板部を切断して複数のレンズをそれぞれ分離させることでレンズモジュールを量産する方法が知られている。   With the downsizing and thinning of portable terminals, there is a demand for downsizing and thinning of imaging units. Moreover, in order to reduce the cost of the portable terminal, it is desired to increase the efficiency of the manufacturing process. As a method for manufacturing such a small and many lenses, a wafer level lens array having a configuration in which a plurality of lens portions are formed on a substrate portion is manufactured, and the plurality of lenses are separated by cutting the substrate portion. Thus, a method for mass-producing lens modules is known.

また、複数のレンズ部が形成された基板部と複数の固体撮像素子が形成された半導体ウェハとを一体に組み合わせ、レンズ部と固体撮像素子をセットとして含むように基板部とともに半導体ウェハを切断することで撮像ユニットを量産する方法が知られている。   In addition, the substrate portion on which the plurality of lens portions are formed and the semiconductor wafer on which the plurality of solid-state image sensors are formed are combined together, and the semiconductor wafer is cut together with the substrate portion so as to include the lens portions and the solid-state image sensors as a set. Thus, a method of mass-producing imaging units is known.

従来、ウェハレベルレンズの製造方法としては、例えば次の工程によりウェハレベルレンズアレイを製造する例がある。このような製造方法としては下記特許文献1に示すものがある。
(1)ウェハ上に樹脂を塗布した状態で、1つの転写体(型)の形状を樹脂に転写する。
(2)型の形状を転写する工程を1500〜2400回程度繰り返し、1つのウェハ上に1500〜2400個のレンズ形状を持つマスタレンズアレイを形成する。
(3)マスタレンズアレイのレンズ面に、電鋳によってNi等の金属イオンを堆積させてスタンパ(Ni電鋳型)を製造する。
(4)スタンパを一対のレンズアレイ用成形型として使用し、これら一対のレンズアレイ用成形型のうち下型部材に光硬化性樹脂又は熱硬化性樹脂を供給する。
(5)供給された樹脂を上型部材のレンズアレイ用成形型で押圧することによって上型部材及び下型部材の成形面に倣って樹脂を変形させる。
(6)樹脂に光又は熱を照射して硬化させることでレンズアレイを成形する。
Conventionally, as a method for manufacturing a wafer level lens, for example, there is an example of manufacturing a wafer level lens array by the following process. As such a manufacturing method, there is one shown in Patent Document 1 below.
(1) With the resin applied on the wafer, the shape of one transfer body (mold) is transferred to the resin.
(2) The process of transferring the shape of the mold is repeated about 1500 to 2400 times to form a master lens array having 1500 to 2400 lens shapes on one wafer.
(3) A stamper (Ni electroforming mold) is manufactured by depositing metal ions such as Ni on the lens surface of the master lens array by electroforming.
(4) A stamper is used as a pair of lens array molds, and a photocurable resin or a thermosetting resin is supplied to the lower mold member of the pair of lens array molds.
(5) The supplied resin is pressed by a lens array molding die of the upper mold member to deform the resin following the molding surfaces of the upper mold member and the lower mold member.
(6) The lens array is formed by irradiating the resin with light or heat and curing it.

特許文献2は、真空状態で、光硬化性樹脂にスタンパを押圧して、該光硬化性樹脂に微細パターンを転写する装置に関する。   Patent Document 2 relates to an apparatus for transferring a fine pattern onto a photocurable resin by pressing a stamper on the photocurable resin in a vacuum state.

国際公開第2008/153102号International Publication No. 2008/153102 特開2003−94445号公報JP 2003-94445 A

特許文献1のように、基板部とレンズ部とが同じ材料で一体に成形する場合、型に成形材料を供給したときに成形材料にエアが混入してしまうことが懸念されている。図21A及び図22Aは、下型部材M1と上型部材M2とで成形材料である樹脂10Rを挟み込んだ状態を示している。図21B及び図22Bは、下型部材M1及び上型部材M2で成形されたウェハレベルレンズの構成の例を示している。図21A及び図21Bでは、凸面を有するレンズを成形した場合を示している。また、図22A及び図22Bは、凹面を有するレンズを成形した場合を示している。
図21A及び図22Aに示すように、下型部材M1に樹脂を所定量だけ供給し、その後、下型部材M1と上型部材M2で樹脂を挟み込むこみ、樹脂を下型部材M1及び上型部材M2の表面に形成されたレンズ形状を転写するための凹部や凸部に倣わせて変形させる。このとき、各型M1,M2の、樹脂に接する面における凹部では、樹脂を挟み込んだときにエアが滞留して型M1,M2の間から抜けにくくなる。エアが凹部の内部に残存すると、樹脂を変形させた際に図中Aで示すように樹脂に混入してしまいやすい。樹脂にエアが混入した場合には、図21B及び図22Bに示すように、成形後のウェハレベルレンズのレンズ部にエアが混入した部位において、空洞や変形などの欠陥部Eが生じするため、光学的な機能に影響を与えてしまうことが避けられない。
When the substrate portion and the lens portion are integrally molded with the same material as in Patent Document 1, there is a concern that air may be mixed into the molding material when the molding material is supplied to the mold. FIG. 21A and FIG. 22A show a state in which the resin 10R that is a molding material is sandwiched between the lower mold member M1 and the upper mold member M2. 21B and 22B show an example of the configuration of a wafer level lens formed by the lower mold member M1 and the upper mold member M2. 21A and 21B show a case where a lens having a convex surface is molded. 22A and 22B show a case where a lens having a concave surface is molded.
As shown in FIG. 21A and FIG. 22A, a predetermined amount of resin is supplied to the lower mold member M1, and then the resin is sandwiched between the lower mold member M1 and the upper mold member M2, and the resin is inserted into the lower mold member M1 and the upper mold member. The lens shape formed on the surface of M2 is deformed following a concave portion or convex portion for transferring. At this time, in the recesses on the surfaces of the molds M1 and M2 that are in contact with the resin, when the resin is sandwiched, air stays and it is difficult to escape from between the molds M1 and M2. If air remains inside the recess, when the resin is deformed, it tends to be mixed into the resin as indicated by A in the figure. When air is mixed in the resin, as shown in FIGS. 21B and 22B, a defect E such as a cavity or deformation occurs in the portion where the air is mixed in the lens portion of the molded wafer level lens. It is inevitable that the optical function will be affected.

また、特許文献2のように、真空中で基板部とレンズ部とを一体成形する場合には、装置の大型化が避けられない。また、チャンバ内を真空にするための時間がかかり工程時間が長くなってしまう欠点がある。そのうえ、樹脂が真空雰囲気に曝されるため、樹脂材料中の揮発成分が揮発して樹脂の特性が変化してしまう懸念もある。   In addition, as in Patent Document 2, when the substrate portion and the lens portion are integrally formed in a vacuum, an increase in the size of the apparatus is inevitable. In addition, there is a disadvantage that it takes time to evacuate the chamber and the process time becomes long. In addition, since the resin is exposed to a vacuum atmosphere, the volatile components in the resin material may volatilize and the characteristics of the resin may change.

本発明は、基板部とレンズ部とが一体のウェハレベルレンズアレイを成形する際に、成形される基板部やレンズ部にエアが混入することを防止できるウェハレベルレンズアレイの成形型、ウェハレベルレンズアレイの製造方法、ウェハレベルレンズアレイ、レンズモジュール及び撮像ユニットを提供する。   The present invention relates to a wafer level lens array molding die capable of preventing air from being mixed into a molded substrate portion or lens portion when molding a wafer level lens array in which a substrate portion and a lens portion are integrated. A lens array manufacturing method, a wafer level lens array, a lens module, and an imaging unit are provided.

本発明は、基板部と、該基板部に配列された複数のレンズ部からなるウェハレベルレンズアレイを樹脂で一体に成形するための成形型であって、
該成形型は、前記樹脂を挟み込んでエネルギーを付加することにより該樹脂を成形し硬化させる一対の型部材からなり、該一対の型部材の少なくとも一方の型部材の前記樹脂と接する型面に、成形時に前記型面と前記樹脂との界面に存在する空気を外部に排出するエア抜き孔が設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型である。
The present invention is a molding die for integrally molding a wafer level lens array comprising a substrate portion and a plurality of lens portions arranged on the substrate portion with a resin,
The mold comprises a pair of mold members that mold and cure the resin by sandwiching the resin and applying energy, and on the mold surface that contacts the resin of at least one mold member of the pair of mold members, This is a mold for a wafer level lens array provided with an air vent hole for exhausting air existing at the interface between the mold surface and the resin during molding.

この成形型は、成形時に樹脂を挟み込んだときにエアがエア抜き孔を通って、型の外部に排出することができるため、型面と樹脂との界面に滞留したエアを成形型の外部へ抜きやすい。エア抜き孔によってエアが樹脂の内部に残存することを防止でき、樹脂にエアが混入することが抑えられる。このため、レンズ部にエアの混入に起因する欠陥部がない、良好な光学的な機能を有するウェハレベルレンズを成形するのに適している。   In this mold, air can be discharged to the outside of the mold through the air vent hole when the resin is sandwiched at the time of molding. Therefore, the air staying at the interface between the mold surface and the resin is discharged to the outside of the mold. Easy to remove. Air can be prevented from remaining inside the resin by the air vent hole, and air can be prevented from being mixed into the resin. For this reason, it is suitable for molding a wafer level lens having a good optical function in which the lens portion does not have a defect due to air mixing.

また、本発明は、基板部と、該基板部に配列された複数のレンズ部とからなるウェハレベルレンズアレイを樹脂で一体に成形する製造方法であって、
前記樹脂を挟み込んでエネルギーを付加することにより該樹脂を成形し硬化させる一対の型部材からなり、該一対の型部材の少なくとも一方の型部材の前記樹脂と接する型面にエア抜き孔が設けられ、前記樹脂に前記成形型の前記型面を押し付けた際に、前記エア抜き孔からエアを外部へ逃がしつつ、前記樹脂を変形するウェハレベルレンズアレイの製造方法である。
Further, the present invention is a manufacturing method for integrally molding a wafer level lens array comprising a substrate portion and a plurality of lens portions arranged on the substrate portion with a resin,
It consists of a pair of mold members that mold and cure the resin by sandwiching the resin and applying energy, and an air vent hole is provided on the mold surface of at least one mold member of the pair of mold members in contact with the resin The method of manufacturing a wafer level lens array, wherein when the mold surface of the mold is pressed against the resin, the resin is deformed while air is released to the outside from the air vent hole.

この製造方法は、成形時に、型のエア抜き孔から、型面と樹脂との間に滞留するエアを型の外部へ排出する処理を行うため、樹脂にエアが混入することが抑えられる。このため、レンズ部にエアの混入に起因する欠陥部がない、良好な光学的な機能を有するウェハレベルレンズを得ることができる。   Since this manufacturing method performs a process of discharging air staying between the mold surface and the resin from the mold air vent hole to the outside of the mold during molding, it is possible to prevent the air from being mixed into the resin. For this reason, it is possible to obtain a wafer level lens having a good optical function in which the lens portion does not have a defective portion due to air contamination.

また、上記ウェハレベルレンズアレイの成形型は、レンズ部が前記レンズ面の周囲に該レンズ面と同じ向きに突出する周辺部を含み、前記周辺部に対応する前記型面の凹部に少なくとも1つの前記エア抜き孔が設けられた構成とすることが好ましい。又は、前記レンズ部が前記レンズ面の周囲に該レンズ面と反対の向きに突出する周辺部を含み、前記周辺部に対応する前記型面の凹部に少なくとも1つの前記エア抜き孔が設けられた構成とすることが好ましい。
ここで周辺部とは、レンズ部の周囲に設けられたフランジ部又はスペーサを形成するものや、両凹レンズの中心部におけるレンズの厚さを確保するためにレンズ部よりも厚く設けられた部分である。
フランジはレンズをハンドリングする際に、レンズ機能面に触れたり、傷つけたりすることを防止する。また、レンズを鏡筒に組み込む際に鏡筒内での位置決めや保持される部分として機能する。なお、ウェハレベルレンズアレイの状態では、特に凸部に形成されていない場合でも基板部分で切断された状態では、レンズの周辺に残る基板部分がフランジとして機能する。
スペーサは、複数のレンズで光学系を構成する場合に、レンズ同士の間隔を確保するため、又は、レンズ(光学系)と光電変換素子等とを一体にモジュール化する場合にレンズ(光学系)と光電変換素子等との間隔を確保するための部材で、レンズの周辺に一体に設ける場合もある。
周辺部に対応する型面の凹部に少なくとも1つのエア抜き孔を設けることで、レンズの周辺にフランジ部やスペーサを形成するための型面の凹部に気泡が混入することを防止し、フランジ部やスペーサの形状にも欠陥ができないようにする効果がある。
Further, the mold for forming the wafer level lens array includes a peripheral portion in which the lens portion protrudes around the lens surface in the same direction as the lens surface, and at least one concave portion of the mold surface corresponding to the peripheral portion. It is preferable that the air vent hole is provided. Alternatively, the lens portion includes a peripheral portion that protrudes in a direction opposite to the lens surface around the lens surface, and at least one air vent hole is provided in the concave portion of the mold surface corresponding to the peripheral portion. A configuration is preferable.
Here, the peripheral portion is a portion that forms a flange portion or a spacer provided around the lens portion, or a portion that is provided thicker than the lens portion in order to ensure the thickness of the lens in the central portion of the biconcave lens. is there.
The flange prevents the lens functional surface from being touched or damaged when handling the lens. Further, when the lens is incorporated into the lens barrel, it functions as a portion that is positioned and held in the lens barrel. In the state of the wafer level lens array, the substrate portion remaining around the lens functions as a flange when the substrate is cut at the substrate portion even when it is not formed on the convex portion.
The spacer is a lens (optical system) for securing an interval between the lenses when the optical system is constituted by a plurality of lenses, or when the lens (optical system) and the photoelectric conversion element are integrated into a module. It is a member for ensuring the space between the photoelectric conversion element and the like, and may be provided integrally around the lens.
By providing at least one air vent hole in the concave portion of the mold surface corresponding to the peripheral portion, it is possible to prevent air bubbles from being mixed into the concave portion of the mold surface for forming the flange portion and the spacer around the lens. This also has the effect of preventing defects in the shape of the spacers.

本発明によれば、成形される基板部やレンズ部にエアが混入することを防止できるウェハレベルレンズアレイの成形型、ウェハレベルレンズアレイの製造方法、ウェハレベルレンズアレイ、レンズモジュール及び撮像ユニットを提供できる。   According to the present invention, a wafer level lens array molding die, a wafer level lens array manufacturing method, a wafer level lens array, a lens module, and an imaging unit that can prevent air from being mixed into a molded substrate portion or lens portion. Can be provided.

ウェハレベルレンズアレイの構成の一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of a structure of a wafer level lens array. 図1に示すウェハレベルレンズアレイの構成のA−A線断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA of the configuration of the wafer level lens array shown in FIG. 1. レンズモジュールの構成の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of a structure of a lens module. 撮像ユニットの構成の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of a structure of an imaging unit. 5A〜5Dは、基板部にレンズ部を成形するための成形型の製作する手順を示す図である。5A to 5D are diagrams illustrating a procedure for manufacturing a mold for molding a lens portion on a substrate portion. 6A〜6Cは、成形型で成形材料である樹脂を成形する手順を示す図である。6A to 6C are diagrams illustrating a procedure for molding a resin as a molding material with a molding die. 7A〜7Cは、成形されたウェハレベルレンズアレイの突起部を取り除くための切削処理又は遮光処理を行った状態を説明する図である。FIGS. 7A to 7C are diagrams illustrating a state where a cutting process or a light shielding process for removing the protrusions of the molded wafer level lens array is performed. 8A〜8Cは、他のウェハレベルレンズアレイを成形する例であって、型で成形材料である樹脂を成形する手順を示す図である。8A to 8C are examples of molding other wafer level lens arrays, and are diagrams illustrating a procedure of molding a resin as a molding material with a mold. 9A及び9Bは、成形されたウェハレベルレンズアレイに切削処理又は遮光処理を行った状態を説明する図である。9A and 9B are diagrams for explaining a state in which a cutting process or a light shielding process is performed on the molded wafer level lens array. 成形されたウェハレベルレンズアレイのレンズ部と型部材のエア抜き孔の構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a structure of the lens part of the shape | molded wafer level lens array, and the air vent hole of a type | mold member. 成形されたウェハレベルレンズアレイのレンズ部と型部材のエア抜き孔の構成の他の例を示す図である。It is a figure which shows the other example of a structure of the lens part of the shape | molded wafer level lens array, and the air vent hole of a type | mold member. 成形されたウェハレベルレンズアレイのレンズ部と型部材のエア抜き孔の構成の他の例を示す図である。It is a figure which shows the other example of a structure of the lens part of the shape | molded wafer level lens array, and the air vent hole of a type | mold member. 成形されたウェハレベルレンズアレイのレンズ部と型部材のエア抜き孔の構成の他の例を示す図である。It is a figure which shows the other example of a structure of the lens part of the shape | molded wafer level lens array, and the air vent hole of a type | mold member. 型部材の凹部の径とエア抜き孔との径を示す図である。It is a figure which shows the diameter of the recessed part of a type | mold member, and the diameter of an air vent hole. エア抜き孔に施す処理の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the process given to an air vent hole. 16A及び16Bは、ウェハレベルレンズアレイをダイシングする工程を説明する図である。16A and 16B are diagrams illustrating a process of dicing the wafer level lens array. 17A及び17Bは、レンズモジュールの製造方法の手順を示す図である。17A and 17B are diagrams illustrating a procedure of a manufacturing method of the lens module. レンズモジュールを製造する手順の別の例を示す図である。It is a figure which shows another example of the procedure which manufactures a lens module. 19A及び19Bは、撮像ユニットを製造する手順を示す図である。19A and 19B are diagrams illustrating a procedure for manufacturing the imaging unit. 20A及び20Bは、撮像ユニットを製造する手順の別の例を示す図である。20A and 20B are diagrams illustrating another example of the procedure for manufacturing the imaging unit. 21Aは一対の型部材で樹脂を成形する手順を示し、21Bは、硬化したウェハレベルレンズアレイの状態を示す図である。21A shows a procedure for molding a resin with a pair of mold members, and 21B shows a state of a cured wafer level lens array. 22Aは一対の型部材で樹脂を成形する手順を示し、22Bは、硬化したウェハレベルレンズアレイの状態を示す図である。22A shows a procedure for molding a resin with a pair of mold members, and 22B shows a state of a cured wafer level lens array.

先ず、ウェハレベルレンズアレイ、レンズモジュールと撮像ユニットの構成について説明する。   First, the configuration of the wafer level lens array, the lens module, and the imaging unit will be described.

図1は、ウェハレベルレンズアレイの構成の一例を示す平面図である。図2は、図1に示すウェハレベルレンズアレイの構成のA−A線断面図である。
ウェハレベルレンズアレイは、基板部1と、該基板部1に配列された複数のレンズ部10とを備えている。複数のレンズ部10は、基板部1に対して1次元又は2次元に配列されている。この構成例では、図1のように、複数のレンズ部10が、基板部1に対して2次元に配列されている構成を例に説明する。レンズ部10は、基板部1と同じ材料から構成され、該基板部1に一体成形されたものである。レンズ部10の形状は、特に限定されず、用途などによって適宜変形される。
FIG. 1 is a plan view showing an example of the configuration of a wafer level lens array. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA of the configuration of the wafer level lens array shown in FIG.
The wafer level lens array includes a substrate unit 1 and a plurality of lens units 10 arranged on the substrate unit 1. The plurality of lens units 10 are arranged one-dimensionally or two-dimensionally with respect to the substrate unit 1. In this configuration example, as illustrated in FIG. 1, a configuration in which a plurality of lens units 10 are two-dimensionally arranged with respect to the substrate unit 1 will be described as an example. The lens unit 10 is made of the same material as the substrate unit 1 and is integrally formed with the substrate unit 1. The shape of the lens unit 10 is not particularly limited, and can be appropriately changed depending on the application.

基板部1の一方の面には、他の部材と重ね合わせるときの間隔を確保するためのスペーサ12が設けられていてもよい。スペーサ12は、基板部1に取り付けた状態で、該基板部1を平面視したときに格子状の部材である。スペーサ12は、例えば、基板部1の面に対して垂直に延設された壁状の部材であって、レンズ部10の周囲の一部又は全部を囲うように設けられる。   On one surface of the substrate portion 1, a spacer 12 may be provided for securing a space when overlapping with another member. The spacer 12 is a lattice-shaped member when the substrate unit 1 is viewed in a plan view with the spacer 12 attached to the substrate unit 1. The spacer 12 is, for example, a wall-like member extending perpendicularly to the surface of the substrate unit 1, and is provided so as to surround a part or all of the periphery of the lens unit 10.

図3は、レンズモジュールの構成の一例を示す断面図である。
レンズモジュールは、基板部1と、及び該基板部1に一体成形されたレンズ部10とを含んだ構成であり、例えば図1及び図2に示すウェハレベルレンズアレイの基板部1をダイシングし、レンズ部10ごとに分離させたものを用いる。スペーサ12は、ダイシングする境界に位置し、ダイシングによって同時に分離され、各レンズモジュールの基板部1に付属する。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing an example of the configuration of the lens module.
The lens module includes a substrate unit 1 and a lens unit 10 formed integrally with the substrate unit 1. For example, the substrate unit 1 of the wafer level lens array shown in FIGS. 1 and 2 is diced. Those separated for each lens unit 10 are used. The spacers 12 are located at the dicing boundaries, are separated simultaneously by dicing, and are attached to the substrate portion 1 of each lens module.

図4は、撮像ユニットの構成の一例を示す断面図である。
撮像ユニットは、上述のレンズモジュールと、センサモジュールとを備える。レンズモジュールのレンズ部10は、センサモジュール側に設けられた固体撮像素子Dに被写体像を結像させる。レンズモジュールの基板部1とセンサモジュールの半導体基板Wとが、互いに略同一となるように平面視略矩形状に成形されている。
FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating an example of the configuration of the imaging unit.
The imaging unit includes the lens module described above and a sensor module. The lens unit 10 of the lens module forms a subject image on the solid-state imaging device D provided on the sensor module side. The substrate portion 1 of the lens module and the semiconductor substrate W of the sensor module are formed in a substantially rectangular shape in plan view so as to be substantially the same.

センサモジュールは、半導体基板Wと、半導体基板Wに設けられた固体撮像素子Dを含んでいる。半導体基板Wは、例えばシリコンなどの半導体材料で形成されたウェハを平面視略矩形状に切り出して成形されている。固体撮像素子Dは、半導体基板Wの略中央部に設けられている。固体撮像素子Dは、例えばCCDイメージセンサやCMOSイメージセンサである。センサモジュールは、チップ化された固体撮像素子Dを配線等が形成された半導体基板上にボンディングした構成とすることができる。又は、固体撮像素子Dは、半導体基板Wに対して周知の成膜工程、フォトリソグラフィ工程、エッチング工程、不純物添加工程等を繰り返し、該半導体基板に電極、絶縁膜、配線等を形成して構成されてもよい。   The sensor module includes a semiconductor substrate W and a solid-state imaging device D provided on the semiconductor substrate W. The semiconductor substrate W is formed by cutting a wafer formed of a semiconductor material such as silicon into a substantially rectangular shape in plan view. The solid-state image sensor D is provided at a substantially central portion of the semiconductor substrate W. The solid-state image sensor D is, for example, a CCD image sensor or a CMOS image sensor. The sensor module can have a configuration in which a solid-state imaging device D that is made into a chip is bonded onto a semiconductor substrate on which wirings and the like are formed. Alternatively, the solid-state imaging device D is configured by repeating a well-known film forming process, photolithography process, etching process, impurity adding process, and the like on the semiconductor substrate W, and forming electrodes, insulating films, wirings, and the like on the semiconductor substrate. May be.

レンズモジュールは、その基板部1がスペーサ12を挟んでセンサモジュールの半導体基板Wの上に重ね合わされている。レンズモジュールのスペーサ12とセンサモジュールの半導体基板Wとは、例えば接着剤などを用いて接合される。スペーサ12は、レンズモジュールのレンズ部10がセンサモジュールの固体撮像素子D上で被写体像を結像させるように設計され、レンズ部10がセンサモジュールに接触しないように、該レンズ部10と固体撮像素子Dとの間に所定の距離を隔てる厚みで形成されている。   In the lens module, the substrate portion 1 is superimposed on the semiconductor substrate W of the sensor module with the spacer 12 interposed therebetween. The spacer 12 of the lens module and the semiconductor substrate W of the sensor module are bonded using, for example, an adhesive. The spacer 12 is designed so that the lens unit 10 of the lens module forms a subject image on the solid-state imaging device D of the sensor module, and the lens unit 10 and the solid-state imaging are so arranged that the lens unit 10 does not contact the sensor module. It is formed with a thickness separating a predetermined distance from the element D.

スペーサ12は、レンズモジュールの基板部1とセンサモジュールの半導体基板Wとを所定の距離を隔てた位置関係を保持することができる範囲で、その形状は特に限定されず適宜変形することができる。例えば、スペーサ12は、基板の4隅にそれぞれ設けられる柱状の部材であってもよい。また、スペーサ12は、センサモジュールの固体撮像素子Dの周囲を取り囲むような枠状の部材であってもよい。固体撮像素子Dを枠状のスペーサ12によって取り囲むことで外部から隔絶すれば、固体撮像素子Dにレンズを透過する光以外の光が入射しないように遮光することができる。また、固体撮像素子Dを外部から密封することで、固体撮像素子Dに塵埃が付着することを防止できる。   The shape of the spacer 12 is not particularly limited as long as the spacer 12 can maintain a positional relationship with a predetermined distance between the substrate portion 1 of the lens module and the semiconductor substrate W of the sensor module, and the spacer 12 can be appropriately modified. For example, the spacers 12 may be columnar members provided at the four corners of the substrate. The spacer 12 may be a frame-shaped member that surrounds the solid-state imaging device D of the sensor module. If the solid-state image pickup device D is isolated from the outside by being surrounded by the frame-shaped spacer 12, the solid-state image pickup device D can be shielded from light other than the light passing through the lens. Moreover, it can prevent that dust adheres to the solid-state image sensor D by sealing the solid-state image sensor D from the outside.

なお、図3に示すレンズモジュールは、レンズ部10が形成された基板部1を1つ備えた構成であるが、レンズ部10が形成された基板部1を複数備えた構成としてもよい。このとき、互いに重ね合わされる基板部1同士がスペーサ12を介して組み付けられる。   The lens module shown in FIG. 3 is configured to include one substrate unit 1 on which the lens unit 10 is formed, but may be configured to include a plurality of substrate units 1 on which the lens unit 10 is formed. At this time, the substrate portions 1 that are overlapped with each other are assembled together via the spacers 12.

また、レンズ部10が形成された基板部1を複数備えたレンズモジュールの最下位置の基板部1にスペーサ12を介してセンサモジュールを接合して撮像ユニットを構成してもよい。レンズ部10が形成された基板部1を複数備えたレンズモジュール及び該レンズモジュールを備えた撮像ユニットの製造方法については後述する。   Alternatively, an imaging unit may be configured by joining a sensor module via a spacer 12 to the lowermost substrate portion 1 of the lens module including a plurality of substrate portions 1 on which the lens portions 10 are formed. A lens module including a plurality of substrate units 1 on which the lens unit 10 is formed and a method for manufacturing an imaging unit including the lens module will be described later.

以上のように構成された撮像ユニットは、携帯端末等に内蔵される図示しない回路基板にリフロー実装される。回路基板には、撮像ユニットが実装される位置に予めペースト状の半田が適宜印刷されており、そこに撮像ユニットが載せられ、この撮像ユニットを含む回路基板に赤外線の照射や熱風の吹付けといった加熱処理が施され、撮像ユニットが回路基板に溶着される。   The imaging unit configured as described above is reflow-mounted on a circuit board (not shown) built in a portable terminal or the like. The circuit board is preliminarily printed with paste-like solder at a position where the imaging unit is mounted, and the imaging unit is mounted on the circuit board. The circuit board including the imaging unit is irradiated with infrared rays or hot air is blown. Heat treatment is performed, and the imaging unit is welded to the circuit board.

本発明のウェハレベルレンズアレイに用いられるエネルギー硬化性の樹脂組成物は、熱により硬化する樹脂組成物、あるいは活性エネルギー線の照射(例えば紫外線、電子線照射)により硬化する樹脂組成物のいずれであってもよい。   The energy curable resin composition used in the wafer level lens array of the present invention is either a resin composition that is cured by heat or a resin composition that is cured by irradiation with active energy rays (for example, ultraviolet rays or electron beam irradiation). There may be.

モールド形状の転写適性等、成形性の観点から硬化前には適度な流動性を有していることが好ましい。具体的には常温で液体であり、粘度が1000〜50000mPa・s程度のものが好ましい。   From the viewpoint of moldability such as mold shape transfer suitability, it is preferable that the resin has appropriate fluidity before curing. Specifically, it is liquid at room temperature and has a viscosity of about 1000 to 50000 mPa · s.

一方、硬化後にはリフロー工程を通しても熱変形しない程度の耐熱性を有していることが好ましい。該観点から、硬化物のガラス転移温度は200℃以上であることが好ましく、250℃以上であることがより好ましく、300℃以上であることが特に好ましい。樹脂組成物にこのような高い耐熱性を付与するためには、分子レベルで運動性を束縛することが必要であり、有効な手段としては、(1)単位体積あたりの架橋密度を上げる手段、(2)剛直な環構造を有する樹脂を利用する手段(例えばシクロヘキサン、ノルボルナン、テトラシクロドデカン等の脂環構造、ベンゼン、ナフタレン等の芳香環構造、9,9’−ビフェニルフルオレン等のカルド構造、スピロビインダン等のスピロ構造を有する樹脂、具体的には例えば、特開平9−137043号公報、同10−67970号公報、特開2003−55316号公報、同2007−334018号公報、同2007−238883号公報等に記載の樹脂)、(3)無機微粒子など高Tgの物質を均一に分散させる手段(例えば特開平5−209027号公報、同10−298265号公報等に記載)等が挙げられる。これらの手段は複数併用してもよく、流動性、収縮率、屈折率特性など他の特性を損なわない範囲で調整することが好ましい。   On the other hand, it is preferable to have heat resistance that does not cause thermal deformation even after the reflow process after curing. From this viewpoint, the glass transition temperature of the cured product is preferably 200 ° C. or higher, more preferably 250 ° C. or higher, and particularly preferably 300 ° C. or higher. In order to impart such high heat resistance to the resin composition, it is necessary to constrain the mobility at the molecular level, and as effective means, (1) means for increasing the crosslinking density per unit volume, (2) Means utilizing a resin having a rigid ring structure (for example, an alicyclic structure such as cyclohexane, norbornane, tetracyclododecane, an aromatic ring structure such as benzene and naphthalene, a cardo structure such as 9,9′-biphenylfluorene, Resins having a spiro structure such as spirobiindane, specifically, for example, JP-A-9-137043, JP-A-10-67970, JP-A-2003-55316, JP-A-2007-334018, JP-A-2007-238883 (3) means for uniformly dispersing a high Tg substance such as inorganic fine particles (for example, JP-A-5-20 027, JP-described), and the like in the 10-298265 Patent Publication. A plurality of these means may be used in combination, and it is preferable to make adjustments within a range that does not impair other characteristics such as fluidity, shrinkage rate, and refractive index characteristics.

形状転写精度の観点からは硬化反応による体積収縮率が小さい樹脂組成物が好ましい。本発明に用いられる樹脂組成物の硬化収縮率としては10%以下であることが好ましく、5%以下であることがより好ましく、3%以下であることが特に好ましい。   From the viewpoint of shape transfer accuracy, a resin composition having a small volume shrinkage due to the curing reaction is preferable. The curing shrinkage rate of the resin composition used in the present invention is preferably 10% or less, more preferably 5% or less, and particularly preferably 3% or less.

硬化収縮率の低い樹脂組成物としては、例えば、(1)高分子量の硬化剤(プレポリマ−など)を含む樹脂組成物(例えば特開2001−19740号公報、同2004−302293号公報、同2007−211247号公報等に記載、高分子量硬化剤の数平均分子量は200〜100,000の範囲であることが好ましく、より好ましくは500〜50,000の範囲であり、特に好ましくは1,000〜20,000の場合である。また該硬化剤の数平均分子量/硬化反応性基の数で計算される値が、50〜10,000の範囲にあることが好ましく、100〜5,000の範囲にあることがより好ましく、200〜3,000の範囲にあることが特に好ましい。)、(2)非反応性物質(有機/無機微粒子,非反応性樹脂等)を含む樹脂組成物(例えば特開平6−298883号公報、同2001−247793号公報、同2006−225434号公報等に記載)、(3)低収縮架橋反応性基を含む樹脂組成物(例えば、開環重合性基(例えばエポキシ基(例えば、特開2004−210932号公報等に記載)、オキセタニル基(例えば、特開平8−134405号公報等に記載)、エピスルフィド基(例えば、特開2002−105110号公報等に記載)、環状カーボネート基(例えば、特開平7−62065号公報等に記載)、エン/チオール硬化基(例えば、特開2003−20334号公報等に記載)、ヒドロシリル化硬化基(例えば、特開2005−15666号公報等に記載)、(4)剛直骨格樹脂(フルオレン、アダマンタン、イソホロン等)を含む樹脂組成物(例えば、特開平9−137043号公報等に記載)、(5)重合性基の異なる2種類のモノマーを含み相互貫入網目構造(いわゆるIPN構造)が形成される樹脂組成物(例えば、特開2006−131868号公報等に記載)、(6)膨張性物質を含む樹脂組成物(例えば、特開2004−2719号公報、特開2008−238417号公報等に記載)等を挙げることができ、本発明において好適に利用することができる。また上記した複数の硬化収縮低減手段を併用すること(例えば、開環重合性基を含有するプレポリマーと微粒子を含む樹脂組成物など)が物性最適化の観点からは好ましい。   Examples of the resin composition having a low curing shrinkage rate include (1) resin compositions containing a high molecular weight curing agent (such as a prepolymer) (for example, JP-A Nos. 2001-19740, 2004-302293, and 2007). No. -21247, etc., the number average molecular weight of the high molecular weight curing agent is preferably in the range of 200 to 100,000, more preferably in the range of 500 to 50,000, particularly preferably 1,000 to. The value calculated by the number average molecular weight of the curing agent / the number of curing reactive groups is preferably in the range of 50 to 10,000, and in the range of 100 to 5,000. (2) a tree containing a non-reactive substance (organic / inorganic fine particles, non-reactive resin, etc.). Fat composition (for example, described in JP-A-6-298883, JP-A-2001-247793, JP-A-2006-225434, etc.), (3) Resin composition containing a low-shrinkage crosslinking reactive group (for example, ring-opening) A polymerizable group (for example, an epoxy group (for example, described in JP-A No. 2004-210932), an oxetanyl group (for example, described in JP-A No. 8-134405), an episulfide group (for example, JP-A No. 2002-105110) ), Cyclic carbonate groups (for example, described in JP-A-7-62065, etc.), ene / thiol curing groups (for example, described in JP-A 2003-20334), hydrosilylation curing groups (for example, (4) a tree containing a rigid skeleton resin (fluorene, adamantane, isophorone, etc.) Composition (for example, described in JP-A-9-137043), (5) a resin composition containing two types of monomers having different polymerizable groups and forming an interpenetrating network structure (so-called IPN structure) (for example, (Described in JP-A-2006-131868, etc.), (6) resin compositions containing expandable substances (for example, described in JP-A-2004-2719, JP-A-2008-238417, etc.) In addition, the present invention can be suitably used in the present invention, and the physical properties include the use of a plurality of curing shrinkage reducing means described above (for example, a prepolymer containing a ring-opening polymerizable group and fine particles). It is preferable from the viewpoint of optimization.

本発明のウェハレベルレンズアレイには、高−低2種類以上のアッベ数の異なる樹脂組成物が望まれる。
高アッべ数側の樹脂は、アッベ数(νd)が50以上であることが好ましく、より好ましくは55以上であり特に好ましくは60以上である。屈折率(nd)は1.52以上であることが好ましく、より好ましくは1.55以上であり、特に好ましくは1.57以上である。
このような樹脂としては、脂肪族の樹脂が好ましく、特に脂環構造を有する樹脂(例えば、シクロヘキサン、ノルボルナン、アダマンタン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等の環構造を有する樹脂、具体的には例えば、特開平10−152551号公報、特開2002−212500号公報、同2003−20334号公報、同2004−210932号公報、同2006−199790号公報、同2007−2144号公報、同2007−284650号公報、同2008−105999号公報等に記載の樹脂)が好ましい。
For the wafer level lens array of the present invention, two or more types of resin compositions having different Abbe numbers are desired.
The resin on the high Abbe number side preferably has an Abbe number (νd) of 50 or more, more preferably 55 or more, and particularly preferably 60 or more. The refractive index (nd) is preferably 1.52 or more, more preferably 1.55 or more, and particularly preferably 1.57 or more.
Such a resin is preferably an aliphatic resin, particularly a resin having an alicyclic structure (for example, a resin having a cyclic structure such as cyclohexane, norbornane, adamantane, tricyclodecane, tetracyclododecane, specifically, for example, JP-A-10-152551, JP-A-2002-212500, JP-A-2003-20334, JP-A-2004-210932, JP-2006-199790, JP-2007-2144, JP-2007-284650. And the resin described in JP-A-2008-105999.

低アッべ数側の樹脂は、アッベ数(νd)が30以下であることが好ましく、より好ましくは25以下であり特に好ましくは20以下である。屈折率(nd)は1.60以上であることが好ましく、より好ましくは1.63以上であり、特に好ましくは1.65以上である。
このような樹脂としては芳香族構造を有する樹脂が好ましく、例えば9,9’‐ジアリールフルオレン、ナフタレン、ベンゾチアゾール、ベンゾトリアゾール等の構造を含む樹脂(具体的には例えば、特開昭60−38411号公報、特開平10−67977号公報、特開2002−47335号公報、同2003−238884号公報、同2004−83855号公報、同2005−325331号公報、同2007−238883号公報、国際公開2006/095610号公報、特許第2537540号公報等に記載の樹脂等)が好ましい。
The resin on the low Abbe number side preferably has an Abbe number (νd) of 30 or less, more preferably 25 or less, and particularly preferably 20 or less. The refractive index (nd) is preferably 1.60 or more, more preferably 1.63 or more, and particularly preferably 1.65 or more.
As such a resin, a resin having an aromatic structure is preferable. For example, a resin having a structure such as 9,9′-diarylfluorene, naphthalene, benzothiazole, benzotriazole and the like (specifically, for example, JP-A-60-38411). Publication No. 10-67977, No. 2002-47335, No. 2003-238842, No. 2004-83855, No. 2005-325331, No. 2007-238883, International Publication 2006. / 095610 publication, Japanese Patent No. 2537540 publication, etc.) are preferable.

本発明の樹脂には屈折率を高める目的やアッベ数を調整する目的のために、無機微粒子をマトリックス中に分散させることが好ましい。無機微粒子としては、例えば、酸化物微粒子、硫化物微粒子、セレン化物微粒子、テルル化物微粒子が挙げられる。より具体的には、例えば、酸化ジルコニウム、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化スズ、酸化ニオブ、酸化セリウム、酸化アルミニウム、酸化ランタン、酸化イットリウム、硫化亜鉛等の微粒子を挙げることができる。
特に上記高アッべ数の樹脂に対しては、酸化ランタン、酸化アルミニウム、酸化ジルコニウム等の微粒子を分散させることが好ましく、低アッベ数の樹脂に対しては、酸化チタン、酸化スズ、酸化ジルコニウム等の微粒子を分散させることが好ましい。無機微粒子は、単独で用いても2種以上を併用してもよい。また、複数の成分による複合物であってもよい。また、無機微粒子には光触媒活性低減、吸水率低減などの種々の目的から、異種金属をドープしたり、表面層をシリカ、アルミナ等異種金属酸化物で被覆したり、シランカップリング剤、チタネートカップリング剤、有機酸(カルボン酸類、スルホン酸類、リン酸類、ホスホン酸類等)又は有機酸基を持つ分散剤などで表面修飾してもよい。無機微粒子の数平均粒子サイズは通常1nm〜1000nm程度とすればよいが、小さすぎると物質の特性が変化する場合があり、大きすぎるとレイリー散乱の影響が顕著となるため、1nm〜15nmが好ましく、2nm〜10nmが更に好ましく、3nm〜7nmが特に好ましい。また、無機微粒子の粒子サイズ分布は狭いほど望ましい。このような単分散粒子の定義の仕方はさまざまであるが、例えば、特開2006−160992号に記載されるような数値規定範囲が好ましい粒径分布範囲に当てはまる。ここで上述の数平均1次粒子サイズとは、例えばX線回折(XRD)装置あるいは透過型電子顕微鏡(TEM)などで測定することができる。無機微粒子の屈折率としては、22℃、589nmの波長において、1.90〜3.00であることが好ましく、1.90〜2.70であることが更に好ましく、2.00〜2.70であることが特に好ましい。無機微粒子の樹脂に対する含有量は、透明性と高屈折率化の観点から、5質量%以上であることが好ましく、10〜70質量%が更に好ましく、30〜60質量%が特に好ましい。
In the resin of the present invention, inorganic fine particles are preferably dispersed in a matrix for the purpose of increasing the refractive index and adjusting the Abbe number. Examples of the inorganic fine particles include oxide fine particles, sulfide fine particles, selenide fine particles, and telluride fine particles. More specifically, for example, fine particles of zirconium oxide, titanium oxide, zinc oxide, tin oxide, niobium oxide, cerium oxide, aluminum oxide, lanthanum oxide, yttrium oxide, zinc sulfide, and the like can be given.
In particular, it is preferable to disperse fine particles such as lanthanum oxide, aluminum oxide, and zirconium oxide for the high Abbe number resin, and titanium oxide, tin oxide, zirconium oxide, and the like for the low Abbe number resin. The fine particles are preferably dispersed. The inorganic fine particles may be used alone or in combination of two or more. Moreover, the composite by several components may be sufficient. In addition, for various purposes such as reducing photocatalytic activity and water absorption, the inorganic fine particles are doped with different metals, the surface layer is coated with different metal oxides such as silica and alumina, silane coupling agents and titanate cups. The surface may be modified with a ring agent, an organic acid (carboxylic acid, sulfonic acid, phosphoric acid, phosphonic acid, etc.) or a dispersant having an organic acid group. The number average particle size of the inorganic fine particles is usually about 1 nm to 1000 nm, but if it is too small, the properties of the substance may change. If it is too large, the influence of Rayleigh scattering becomes remarkable, so 1 nm to 15 nm is preferable. 2 nm to 10 nm are more preferable, and 3 nm to 7 nm are particularly preferable. Further, it is desirable that the particle size distribution of the inorganic fine particles is narrow. There are various ways of defining such monodisperse particles. For example, a numerical value range as described in JP-A No. 2006-160992 applies to a preferable particle size distribution range. Here, the above-mentioned number average primary particle size can be measured by, for example, an X-ray diffraction (XRD) apparatus or a transmission electron microscope (TEM). The refractive index of the inorganic fine particles is preferably 1.90 to 3.00, more preferably 1.90 to 2.70, and more preferably 2.00 to 2.70 at 22 ° C. and a wavelength of 589 nm. It is particularly preferred that The content of the inorganic fine particles with respect to the resin is preferably 5% by mass or more, more preferably 10 to 70% by mass, and particularly preferably 30 to 60% by mass from the viewpoint of transparency and high refractive index.

樹脂組成物に微粒子を均一に分散させるためには、例えばマトリックスを形成する樹脂モノマーとの反応性を有する官能基を含む分散剤(例えば特開2007−238884号公報実施例等に記載)、疎水性セグメント及び親水性セグメントで構成されるブロック共重合体(例えば特開2007−211164号公報に記載)、あるいは高分子末端又は側鎖に無機微粒子と任意の化学結合を形成しうる官能基を有する樹脂(例えば特開2007−238929号公報、特開2007−238930号公報等に記載)等を適宜用いて微粒子を分散させることが望ましい。   In order to uniformly disperse the fine particles in the resin composition, for example, a dispersant containing a functional group having reactivity with a resin monomer that forms a matrix (for example, described in Examples of JP 2007-238884 A), hydrophobic Block copolymer composed of a functional segment and a hydrophilic segment (for example, described in JP-A-2007-2111164), or having a functional group capable of forming an arbitrary chemical bond with inorganic fine particles at the polymer terminal or side chain It is desirable to disperse the fine particles by appropriately using a resin (for example, described in JP 2007-238929 A, JP 2007-238930 A, etc.).

また、本発明に用いられるには樹脂組成物には、シリコン系、フッ素系、長鎖アルキル基含有化合物等の公知の離型剤やヒンダードフェノール等の酸化防止剤等の添加剤が適宜配合されていてもよい。   In addition, the resin composition to be used in the present invention appropriately contains additives such as known release agents such as silicon-based, fluorine-based, and long-chain alkyl group-containing compounds and antioxidants such as hindered phenols. May be.

本発明の硬化性樹脂組成物には、必要に応じて硬化触媒又は開始剤を配合することができる。具体的には、例えば特開2005−92099号公報(段落番号[0063]〜[0070])等に記載の熱又は活性エネルギー線の作用により硬化反応(ラジカル重合あるいはイオン重合)を促進する化合物を挙げることができる。これらの硬化反応促進剤の添加量は、触媒や開始剤の種類、あるいは硬化反応性部位の違いなどによって異なり一概に規定することはできないが、一般的には硬化反応性樹脂組成物の全固形分に対して0.1〜15質量%程度が好ましく、0.5〜5質量%程度がより好ましい。   If necessary, the curable resin composition of the present invention may contain a curing catalyst or an initiator. Specifically, for example, a compound that accelerates a curing reaction (radical polymerization or ionic polymerization) by the action of heat or active energy rays described in JP-A-2005-92099 (paragraph numbers [0063] to [0070]). Can be mentioned. The amount of these curing reaction accelerators to be added varies depending on the type of catalyst and initiator, or the difference in the curing reactive site, and cannot be specified unconditionally, but in general, the total solid content of the curing reactive resin composition About 0.1-15 mass% is preferable with respect to a minute, and about 0.5-5 mass% is more preferable.

本発明の硬化性樹脂組成物は上記成分を適宜配合して製造することができる。この際、液状の低分子モノマー(反応性希釈剤)等に他の成分を溶解することができる場合には別途溶剤を添加する必要はないが、このケースに当てはまらない場合には溶剤を用いて各構成成分を溶解することにより硬化性樹脂組成物を製造することができる。該硬化性樹脂組成物に使用できる溶剤としては、組成物が沈殿することなく、均一に溶解又は分散されるものであれば特に制限はなく適宜選択することができ、具体的には、例えば、ケトン類(例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等)、エステル類(例えば、酢酸エチル、酢酸ブチル等)、エーテル類(例えば、テトラヒドロフラン、1,4−ジオキサン等)アルコール類(例えば、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール、ブタノール、エチレングリコール等)、芳香族炭化水素類(例えば、トルエン、キシレン等)、水等を挙げることができる。硬化性組成物が溶剤を含む場合には該組成物を基板及び/又は型の上にキャストし溶剤を乾燥させた後にモールド形状転写操作を行うことが好ましい。   The curable resin composition of the present invention can be produced by appropriately blending the above components. At this time, if other components can be dissolved in the liquid low molecular weight monomer (reactive diluent), etc., it is not necessary to add a separate solvent, but if this is not the case, use a solvent. A curable resin composition can be produced by dissolving each component. The solvent that can be used in the curable resin composition is not particularly limited as long as the composition is uniformly dissolved or dispersed without precipitation, and specifically, for example, Ketones (eg, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, etc.), esters (eg, ethyl acetate, butyl acetate, etc.), ethers (eg, tetrahydrofuran, 1,4-dioxane, etc.) Alcohols (eg, methanol, ethanol) Isopropyl alcohol, butanol, ethylene glycol, etc.), aromatic hydrocarbons (eg, toluene, xylene, etc.), water and the like. When the curable composition contains a solvent, it is preferable to perform a mold shape transfer operation after casting the composition on a substrate and / or a mold and drying the solvent.

次に、ウェハレベルレンズアレイの製造方法について詳細に説明する。
図5A〜5Dは、基板部にレンズ部を成形するための型を製作する手順を示す図である。
図5Aに示すように、ガラス基板21上に、コア23の型面を紫外線硬化性樹脂(アクリル又はエポキシ)に転写し、紫外線を照射することでレプリカレンズ22を成形する。こうして、図5Bに示すように、ガラス基板21上に複数のレプリカレンズ22が配列されてなる所望のレンズアレイの形状を模ったマスタレンズアレイを作成する。
Next, a manufacturing method of the wafer level lens array will be described in detail.
5A to 5D are diagrams illustrating a procedure for manufacturing a mold for forming a lens portion on a substrate portion.
As shown in FIG. 5A, the replica lens 22 is molded by transferring the mold surface of the core 23 onto an ultraviolet curable resin (acrylic or epoxy) on a glass substrate 21 and irradiating with ultraviolet rays. Thus, as shown in FIG. 5B, a master lens array simulating the shape of a desired lens array in which a plurality of replica lenses 22 are arranged on the glass substrate 21 is created.

次に、図5Cに見られるように、のマスタレンズアレイのレンズ面に電鋳によってニッケル(Ni)等の金属イオンを堆積させてスタンパ(Ni電鋳型)102を製造する。   Next, as shown in FIG. 5C, a metal ion such as nickel (Ni) is deposited on the lens surface of the master lens array by electroforming to manufacture a stamper (Ni electroforming mold) 102.

図5Dに見られるように、マスタレンズアレイから剥離したスタンパ102にはレンズ転写部102aが設けられる。この例では、レンズ転写部102aは凹部、つまり、凸状のレンズ部の形状に対応する形状としたが、凹状や非球面のレンズ部の形状に対応する形状としてもよい。なお、以下で説明する製造工程で用いる型は、このスタンパ102に特に限定されない。   As seen in FIG. 5D, the stamper 102 peeled from the master lens array is provided with a lens transfer portion 102a. In this example, the lens transfer portion 102a has a shape corresponding to the shape of the concave portion, that is, the convex lens portion, but may have a shape corresponding to the shape of the concave or aspherical lens portion. The mold used in the manufacturing process described below is not particularly limited to this stamper 102.

図5Dのように、曲面状の凹部をレンズ転写部102aとする場合には、凹部の最も窪んだ位置にエア抜き孔V1を形成する。   As shown in FIG. 5D, when the curved concave portion is used as the lens transfer portion 102a, the air vent hole V1 is formed at the most depressed position of the concave portion.

図6A〜6Cは、成形型で成形材料である樹脂を成形する手順を示している。以下の説明では、スタンパ102を成形型又は型ともいう。また、ウェハレベルレンズアレイの構成としては図2で示したものを適宜参照する。   6A to 6C show a procedure for molding a resin as a molding material with a molding die. In the following description, the stamper 102 is also referred to as a mold or a mold. For the configuration of the wafer level lens array, the structure shown in FIG.

ここでは、2つの成形型を用意し、一方の型を下型部材102とし、他方の型を上型部材104とする。下型部材102及び上型部材104の凹部であるレンズ転写部102a及び104aにはエア抜き孔V1,V2が設けられている。最初に下型部材102のレンズ転写部102aが設けられた型面に樹脂10Rを供給する。樹脂10Rとして、紫外線硬化性樹脂を用いて説明するが、熱硬化性樹脂であってもよい。   Here, two molds are prepared, one mold being the lower mold member 102 and the other mold being the upper mold member 104. Air vent holes V1 and V2 are provided in lens transfer portions 102a and 104a, which are concave portions of the lower mold member 102 and the upper mold member 104, respectively. First, the resin 10R is supplied to the mold surface of the lower mold member 102 provided with the lens transfer portion 102a. The resin 10R will be described using an ultraviolet curable resin, but may be a thermosetting resin.

下型部材102に樹脂10Rを供給した後、上型部材104を降下させる。そして、図6Bに見られるように、上型部材104のレンズ転写部104aが設けられた型面を樹脂10Rに接触させる。上型部材104のレンズ転写部104aと、樹脂10Rの表面との間には、エアが含まれる。このエアは、下型部材102と上型部材104とで樹脂10Rを挟み込んだことによる樹脂10Rの圧力によって、レンズ転写部104aに形成されたエア抜き孔V2に導かれ、該エア抜き孔V2を通って下型部材102及び上型部材104から排出される。   After the resin 10R is supplied to the lower mold member 102, the upper mold member 104 is lowered. Then, as seen in FIG. 6B, the mold surface provided with the lens transfer portion 104a of the upper mold member 104 is brought into contact with the resin 10R. Air is contained between the lens transfer portion 104a of the upper mold member 104 and the surface of the resin 10R. This air is guided to the air vent hole V2 formed in the lens transfer portion 104a by the pressure of the resin 10R by sandwiching the resin 10R between the lower mold member 102 and the upper mold member 104, and the air vent hole V2 is passed through the air vent hole V2. It is discharged from the lower mold member 102 and the upper mold member 104.

図6Cに示すように、上型部材104と下型部材102とが所定の間隔になるまで、両者を近接させる。上型部材104と下型部材102とを接近させている間、レンズ転写部104aに滞留したエアがなくなるまでエア抜き孔V2から排出され続ける。上型部材104及び下型部材102の移動を停止し、エアを抜き終わった後、紫外線を照射して上型部材104及び下型部材102を閉じた状態で樹脂10Rを硬化させる。硬化後、成形されたウェハレベルレンズアレイを下型部材102及び上型部材104から取り出す。   As shown in FIG. 6C, the upper mold member 104 and the lower mold member 102 are brought close to each other until a predetermined distance is reached. While the upper mold member 104 and the lower mold member 102 are brought close to each other, the air is continuously discharged from the air vent hole V2 until there is no air remaining in the lens transfer portion 104a. After the movement of the upper mold member 104 and the lower mold member 102 is stopped and the air is completely removed, the resin 10R is cured while the upper mold member 104 and the lower mold member 102 are closed by irradiating ultraviolet rays. After curing, the molded wafer level lens array is taken out from the lower mold member 102 and the upper mold member 104.

エア抜き孔V1,V2の断面形状は限定されないが、円形であれば孔を加工する際に加工作業が容易である。エア抜き孔V1,V2は、型部材102,104の型面以外の部分で外部に連通していればエア抜き孔として機能するが、型部材102,104内に直線状に設けられた構成とすることが好ましい。こうすると、エアの通過が円滑となるため、後述するエアを抜く処理が行いやすくなる。また、エア抜き孔V1,V2は、レンズ転写部102a,104aが設けられている型面に対して反対側の面に連通する構成とすることが好ましい。こうすると、レンズ転写部102a,104aの凹部に滞留したエアを、エア抜き孔V1,V2を通して円滑に抜くことができる。   The cross-sectional shape of the air vent holes V1 and V2 is not limited, but if it is circular, the machining operation is easy when machining the holes. The air vent holes V1 and V2 function as air vent holes as long as they communicate with the outside at portions other than the mold surfaces of the mold members 102 and 104. However, the air vent holes V1 and V2 are linearly provided in the mold members 102 and 104. It is preferable to do. This facilitates the passage of air and facilitates the process of extracting air, which will be described later. Further, it is preferable that the air vent holes V1 and V2 communicate with the surface opposite to the mold surface on which the lens transfer portions 102a and 104a are provided. In this way, the air staying in the concave portions of the lens transfer portions 102a and 104a can be smoothly extracted through the air vent holes V1 and V2.

また、エア抜き孔V1,V2が、図示しない吸引装置に接続された空気排出路に連通する構成としてもよい。こうすれば、吸引装置によってレンズ転写部の凹部側から空気排出路を通じてエアを吸引することで、エアの排出を促進することができる。   Further, the air vent holes V1 and V2 may communicate with an air discharge path connected to a suction device (not shown). If it carries out like this, discharge | emission of air can be accelerated | stimulated by attracting | sucking air through the air discharge path from the recessed part side of a lens transfer part with a suction device.

図7Aから図7Cは、成形されたウェハレベルレンズアレイの突起部を取り除くための切削処理又は遮光処理を行った状態を説明する図である。
エア抜き孔V1,V2には、樹脂10Rの一部が進入し、そのまま硬化してしまうことが考えられる。すると、図7Aに示すように、離型させたウェハレベルレンズアレイのレンズ部には、エア抜き孔V1,V2内で硬化した樹脂の一部が突起部として残ってしまうことがある。このような突起部は切削処理によって取り除くことができる。
FIGS. 7A to 7C are views for explaining a state in which a cutting process or a light shielding process for removing the protrusions of the molded wafer level lens array is performed.
It is conceivable that a part of the resin 10R enters the air vent holes V1 and V2 and is cured as it is. Then, as shown in FIG. 7A, a part of the resin cured in the air vent holes V1 and V2 may remain as protrusions in the lens portion of the released wafer level lens array. Such protrusions can be removed by a cutting process.

図7Bは、図7Aのウェハレベルレンズアレイのレンズ部10に形成された突起部10Xを切削処理によって取り除く手順を示している。切削処理では、基板部1の表面に対して平行な切削面で切削処理を行うことで、突起部10Xを取り除く。切削処理は、切削面に平行な刃を備えた切削部材によって、各レンズ部10の突起部10Xを同時に取り除くことができる。このとき、レンズ部10の凸面の頂部の一部が突起部10Xと一緒に切削され、レンズ部10の頂部に平坦部10Fが形成されてもよい。平坦部10Fは、レンズ部10の光軸側から見た状態で、光軸に対して同心円形状に形成される。平坦部10Fが十分に小さい面積であれば、レンズ部1の光学性能に与える影響を小さくすることができる。   FIG. 7B shows a procedure for removing the protrusion 10X formed on the lens portion 10 of the wafer level lens array of FIG. 7A by a cutting process. In the cutting process, the protruding part 10 </ b> X is removed by performing a cutting process on a cutting surface parallel to the surface of the substrate unit 1. In the cutting process, the protrusion 10X of each lens unit 10 can be simultaneously removed by a cutting member having a blade parallel to the cutting surface. At this time, a part of the top of the convex surface of the lens unit 10 may be cut together with the protrusion 10X, and the flat part 10F may be formed on the top of the lens unit 10. The flat portion 10F is formed concentrically with respect to the optical axis when viewed from the optical axis side of the lens portion 10. If the flat portion 10F has a sufficiently small area, the influence on the optical performance of the lens portion 1 can be reduced.

また、図7Cに見られるように、レンズ部10の突起部10Xを取り除いた後で、突起部10Xが形成されていた部位に遮光処理を行ってもよい。遮光処理としては、例えば、レンズ部10の突起部10Xが形成されていた部位の表面に、黒色の遮光層を塗布する。遮光層の材料としては、入射光を通過させることなく吸収できる性質のものを用いる。   Further, as seen in FIG. 7C, after removing the protrusion 10X of the lens unit 10, a light shielding process may be performed on the part where the protrusion 10X is formed. As the light shielding process, for example, a black light shielding layer is applied to the surface of the portion where the protrusion 10X of the lens unit 10 is formed. As a material for the light shielding layer, a material that can absorb incident light without allowing it to pass therethrough is used.

レンズ部10の遮光層を形成した部位は入射光を遮光するため、ウェハレベルレンズアレイを撮像モジュールに適用した場合に、画像上に遮光層の位置に対応して黒点状の影が撮像されることが考えられる。この場合、画像処理によって、影の部分を補正してもよい。   Since the portion where the light shielding layer of the lens unit 10 is formed shields incident light, when a wafer level lens array is applied to the imaging module, a black dot-like shadow is imaged on the image corresponding to the position of the light shielding layer. It is possible. In this case, the shadow portion may be corrected by image processing.

上記の手順では、レンズ部が基板部1から突出する凸面を含む形状であるウェハレベルレンズアレイを例に説明したが、成形するウェハレベルレンズアレイのレンズ部の形状はこれに限定されない。   In the above procedure, the wafer level lens array having a shape in which the lens portion includes a convex surface protruding from the substrate portion 1 has been described as an example. However, the shape of the lens portion of the wafer level lens array to be molded is not limited to this.

図8A〜図8Cは、他のウェハレベルレンズアレイを成形する例であって、型で成形材料である樹脂を成形する手順を示す図である。このウェハレベルレンズアレイは、レンズ部が基板部1側に窪んだ凹面と、凹面の周囲に基板部1の表面に対して突出した周辺部とを含む形状である構成である。   FIGS. 8A to 8C are diagrams illustrating an example of molding another wafer level lens array and illustrating a procedure of molding a resin as a molding material with a mold. This wafer level lens array has a configuration in which the lens portion includes a concave surface that is recessed toward the substrate portion 1 and a peripheral portion that protrudes from the surface of the substrate portion 1 around the concave surface.

図8Aに示すように、下型部材202及び上型部材204の、樹脂10Rと接する表面にはそれぞれ、レンズ部を転写するための複数の凹部が設けられている。
下型部材202の凹部は、レンズ部に凹面を転写するためのレンズ転写部202aと、レンズ部の凹面の周囲に設けられる周辺部の形状を転写するためのレンズ周囲転写部202bとを含む。同様に、上型部材204の凹部は、レンズ部に凹面を転写するためのレンズ転写部204aと、レンズ部の凹面の周囲に設けられる周辺部の形状を転写するためのレンズ周囲転写部204bとを含む。
下型部材202及び上型部材204では、樹脂10Rに接する表面に対して、レンズ周囲転写部202b,204bの方が深いため、樹脂10Rに押し付けた際には、エアが滞留しやすいと考えられる。このため、この例では、凹部のレンズ周囲転写部202b,204bに相当する部位にエア抜き孔V1,V2を形成した。
As shown in FIG. 8A, the lower mold member 202 and the upper mold member 204 are provided with a plurality of recesses for transferring the lens section on the surface in contact with the resin 10R.
The concave portion of the lower mold member 202 includes a lens transfer portion 202a for transferring the concave surface to the lens portion, and a lens peripheral transfer portion 202b for transferring the shape of the peripheral portion provided around the concave surface of the lens portion. Similarly, the concave portion of the upper mold member 204 includes a lens transfer portion 204a for transferring the concave surface to the lens portion, and a lens peripheral transfer portion 204b for transferring the shape of the peripheral portion provided around the concave surface of the lens portion. including.
In the lower mold member 202 and the upper mold member 204, since the lens peripheral transfer portions 202b and 204b are deeper than the surface in contact with the resin 10R, it is considered that air tends to stay when pressed against the resin 10R. . For this reason, in this example, air vent holes V1 and V2 are formed in portions corresponding to the lens peripheral transfer portions 202b and 204b in the concave portion.

成形の手順としては、先ず、図8Aに示すように、下型部材202の凹部が設けられた表面に樹脂10Rを供給し、上型部材204を降下させる。   As a molding procedure, first, as shown in FIG. 8A, the resin 10R is supplied to the surface of the lower mold member 202 provided with the recesses, and the upper mold member 204 is lowered.

図8Bに示すように、上型部材204を降下させると、最初にレンズ転写部204aが樹脂10Rに接触する。更に上型部材204を降下させると、樹脂10Rの表面とレンズ周囲転写部204bとの間のエアが、樹脂10Rの圧力によってエア抜き孔V2に導かれ、該エア抜き孔V2を通って外部へ排出される。   As shown in FIG. 8B, when the upper mold member 204 is lowered, the lens transfer portion 204a first contacts the resin 10R. When the upper mold member 204 is further lowered, the air between the surface of the resin 10R and the lens peripheral transfer portion 204b is guided to the air vent hole V2 by the pressure of the resin 10R, and passes through the air vent hole V2 to the outside. Discharged.

図8Cに示すように、上型部材204と下型部材202とが所定の間隔になるまで、両者を近接させる。上型部材204と下型部材202とを接近させている間、レンズ周囲転写部204bに滞留したエアがなくなるまでエア抜き孔V2から排出され続ける。上型部材204及び下型部材202の移動を停止し、エアを抜き終わった後、紫外線を照射して上型部材204及び下型部材202を閉じた状態で樹脂10Rを硬化させる。硬化後、成形されたウェハレベルレンズアレイを下型部材202及び上型部材204から取り出す。   As shown in FIG. 8C, the upper mold member 204 and the lower mold member 202 are brought close to each other until a predetermined distance is reached. While the upper mold member 204 and the lower mold member 202 are brought close to each other, the air is continuously discharged from the air vent hole V2 until there is no air remaining in the lens periphery transfer portion 204b. After the movement of the upper mold member 204 and the lower mold member 202 is stopped and the air is completely removed, the resin 10R is cured while the upper mold member 204 and the lower mold member 202 are closed by irradiating ultraviolet rays. After curing, the molded wafer level lens array is taken out from the lower mold member 202 and the upper mold member 204.

レンズ部の形状にかかわらず、レンズ部を転写するための凹部のうち、最も窪んだ位置に開口するようにエア抜き孔を設けることで、エアを円滑に排出することができる。また、レンズ部の形状によっては、型部材の凹部のうち、最も窪んだ位置を含め、樹脂と接する型面にエア抜き孔を設けることが好ましい。   Regardless of the shape of the lens portion, air can be smoothly discharged by providing the air vent hole so as to open at the most depressed position among the concave portions for transferring the lens portion. Further, depending on the shape of the lens part, it is preferable to provide an air vent hole in the mold surface in contact with the resin including the most depressed position among the concave parts of the mold member.

図9Aは、図8Aから図8Cの手順で成形されたウェハレベルレンズアレイの状態を示す図である。
このウェハレベルレンズアレイは、レンズ周辺部20bに突起部Xが形成される。なお、このレンズ部20の形状では、凹面20aが光学面として機能するため、レンズ周辺部20bの突起部20Xが光学性能を劣化させる影響は小さい。しかし、ウェハレベルレンズアレイの外観上の理由や、半導体ウェハや他のウェハレベルレンズアレイとの重ね合わせるうえでの理由、又はその他の理由で、突起部20Xを取り除くことが考えられる。
FIG. 9A is a diagram showing a state of the wafer level lens array formed by the procedure of FIGS. 8A to 8C.
In the wafer level lens array, a protrusion X is formed on the lens peripheral portion 20b. In the shape of the lens portion 20, since the concave surface 20a functions as an optical surface, the projection 20X of the lens peripheral portion 20b has little influence on the optical performance. However, it is conceivable to remove the protrusion 20X for the reason of the appearance of the wafer level lens array, the reason for overlaying with a semiconductor wafer or another wafer level lens array, or other reasons.

図9Bは、図9Aのウェハレベルレンズアレイのレンズ部20に形成された突起部20Xを切削処理によって取り除く手順を示している。切削処理は、基板部1の表面に対して平行な切削面(図中点線で示す)で切削処理を行うことで、突起部20Xを取り除く。
なお、取り除かれた突起部20Xの部位に上述した遮光処理を更に行ってもよい。
FIG. 9B shows a procedure for removing the protrusion 20X formed on the lens unit 20 of the wafer level lens array of FIG. 9A by a cutting process. In the cutting process, the protruding part 20 </ b> X is removed by performing a cutting process on a cutting surface (indicated by a dotted line in the drawing) parallel to the surface of the substrate unit 1.
In addition, you may further perform the light-shielding process mentioned above to the site | part of the removed projection part 20X.

エア抜き孔は、成形するレンズ部の形状に応じて、凹部の最も窪んだ位置に開口するように形成する。凹部及びレンズ部の形状は特に限定されず適宜変更可能である。   The air vent hole is formed so as to open at the most depressed position of the recess according to the shape of the lens part to be molded. The shapes of the concave portion and the lens portion are not particularly limited and can be changed as appropriate.

図10は、成形されたウェハレベルレンズアレイのレンズ部と型のエア抜き孔の構成の一例を示す図である。
図10に示すように、レンズ部10は、凹面と凸面とをともに含んだ非曲面形状である。レンズ部10は光軸OSを含むその近傍の同心円上に形成された凹面と、該凹面の周囲に設けられた凸面10aとを含む形状である。型部材102は、凹部のうち、レンズ部10の凸面10aを転写する部位が最も窪んでおり、かかる部位に複数のエア抜き孔V1が設けられる。複数のエア抜き孔V1は、光軸OSを中心とする円の周方向に、略等間隔に形成される。この構成によれば、成形時に、型部材102の凹部のエアがエア抜き孔V1を通じて排出されるため、成形されるレンズ部10の光学性能の劣化を防止できる。
FIG. 10 is a diagram showing an example of the configuration of the lens portion of the molded wafer level lens array and the air vent hole of the mold.
As shown in FIG. 10, the lens unit 10 has a non-curved surface shape including both a concave surface and a convex surface. The lens unit 10 has a shape including a concave surface formed on a concentric circle in the vicinity including the optical axis OS, and a convex surface 10a provided around the concave surface. Of the concave portion, the mold member 102 has the most concave portion where the convex surface 10a of the lens portion 10 is transferred, and a plurality of air vent holes V1 are provided in the portion. The plurality of air vent holes V1 are formed at substantially equal intervals in the circumferential direction of a circle centered on the optical axis OS. According to this configuration, since air in the concave portion of the mold member 102 is discharged through the air vent hole V1 during molding, deterioration of the optical performance of the molded lens unit 10 can be prevented.

図11は、成形されたウェハレベルレンズアレイのレンズ部と型のエア抜き孔の構成の他の例を示す図である。
図11に示すように、レンズ部10は、凹面と凸面とをともに含んだ非曲面形状である。レンズ部10は光軸OSを含むその近傍の同心円上に形成された凸面と、該凸面の周囲に設けられた凹面10aと、該凹面10aの周囲に基板部1表面から突出するレンズ周辺部10cとを含む形状である。型部材102は、凹部のうち、レンズ部10の凸面10bを転写する部位が最も窪んでおり、かかる部位にエア抜き孔V1が設けられている。凹部のうち、レンズ部10の凸面10bを転写する部位に設けられたエア抜き孔V1は、光軸OSと略同じ位置に開口するように設けられている。
FIG. 11 is a diagram showing another example of the configuration of the lens portion of the molded wafer level lens array and the air vent hole of the mold.
As shown in FIG. 11, the lens unit 10 has a non-curved surface shape including both a concave surface and a convex surface. The lens unit 10 includes a convex surface formed on a concentric circle in the vicinity including the optical axis OS, a concave surface 10a provided around the convex surface, and a lens peripheral portion 10c protruding from the surface of the substrate unit 1 around the concave surface 10a. It is a shape containing. In the mold member 102, a portion of the concave portion where the convex surface 10 b of the lens portion 10 is transferred is most recessed, and an air vent hole V <b> 1 is provided in the portion. An air vent hole V1 provided in a portion of the concave portion where the convex surface 10b of the lens unit 10 is transferred is provided so as to open at substantially the same position as the optical axis OS.

また、レンズ周辺部10cの形状を転写するレンズ周囲転写部が、基板部1の型面に設けられた凹部の一部を構成している。このレンズ周囲転写部にも複数のエア抜き孔V1が設けられている。レンズ周囲転写部に設けられた複数のエア抜き孔V1は、光軸OSを中心とする円の周方向に、略等間隔に形成される。この構成によれば、成形時に、型部材102の凹部のエアがエア抜き孔V1を通じて排出されるため、成形されるレンズ部10の光学性能の劣化を防止できる。   Further, the lens peripheral transfer portion that transfers the shape of the lens peripheral portion 10 c constitutes a part of the concave portion provided on the mold surface of the substrate portion 1. The lens peripheral transfer portion is also provided with a plurality of air vent holes V1. The plurality of air vent holes V1 provided in the lens periphery transfer portion are formed at substantially equal intervals in the circumferential direction of a circle centered on the optical axis OS. According to this configuration, since air in the concave portion of the mold member 102 is discharged through the air vent hole V1 during molding, deterioration of the optical performance of the molded lens unit 10 can be prevented.

図12は、成形されたウェハレベルレンズアレイのレンズ部と型のエア抜き孔の構成の他の例を示す図である。
図12に示すように、レンズ部10は、凸面10dと、該凸面10dの周囲に基板部1に対して略垂直な壁状のレンズ周辺部10eとをともに含んだ形状である。ここで、凸面10dとレンズ周辺部10eとの基板部1からの高さはほぼ等しいものとする。型部材102の型面には、レンズ部10の凸面10dを転写する部位にエア抜き孔V1が設けられている。凹部のうち、レンズ部10の凸面10dを転写する部位に設けられたエア抜き孔V1は、光軸OSと略同じ位置に開口するように設けられている。
FIG. 12 is a diagram showing another example of the configuration of the lens portion of the molded wafer level lens array and the air vent hole of the mold.
As shown in FIG. 12, the lens portion 10 has a shape including both a convex surface 10d and a wall-shaped lens peripheral portion 10e substantially perpendicular to the substrate portion 1 around the convex surface 10d. Here, it is assumed that the heights of the convex surface 10d and the lens peripheral portion 10e from the substrate portion 1 are substantially equal. In the mold surface of the mold member 102, an air vent hole V1 is provided at a portion where the convex surface 10d of the lens unit 10 is transferred. An air vent hole V1 provided in a portion of the concave portion where the convex surface 10d of the lens portion 10 is transferred is provided so as to open at substantially the same position as the optical axis OS.

また、レンズ周辺部10eの形状を転写するレンズ周囲転写部が、型面に設けられた凹部の一部を構成している。このレンズ周囲転写部にも複数のエア抜き孔V1が設けられている。レンズ周囲転写部に設けられた複数のエア抜き孔V1は、光軸OSを中心とする円の周方向に、略等間隔に形成される。この構成によれば、成形時に、樹脂と型部材102の凹部との間に入り込んだエアがエア抜き孔V1を通じて排出されるため、成形されるレンズ部10の光学性能の劣化を防止できる。   Moreover, the lens periphery transfer part which transfers the shape of the lens periphery part 10e comprises a part of recessed part provided in the type | mold surface. The lens peripheral transfer portion is also provided with a plurality of air vent holes V1. The plurality of air vent holes V1 provided in the lens periphery transfer portion are formed at substantially equal intervals in the circumferential direction of a circle centered on the optical axis OS. According to this configuration, since air that has entered between the resin and the recess of the mold member 102 is discharged through the air vent hole V1 during molding, deterioration of the optical performance of the molded lens unit 10 can be prevented.

図13は、成形されたウェハレベルレンズアレイのレンズ部と型のエア抜き孔の構成の他の例を示す図である。
図13に示すように、基板部1の一方の面に設けられたレンズ部10は、凹面10fからなる形状である。型部材102の型面には、レンズ部10の凹面10fを転写する凸部が設けられている。型面の凸部が設けられていない平坦部分にエア抜き孔V1が設けられている。こうすれば、型部材102の型面を樹脂に押し付けた際に、凸部同士の間に溜まったエアをエア抜き孔V1を通して外部へ排出することができる。
FIG. 13 is a diagram showing another example of the configuration of the lens portion of the molded wafer level lens array and the air vent hole of the mold.
As shown in FIG. 13, the lens unit 10 provided on one surface of the substrate unit 1 has a shape including a concave surface 10 f. The mold surface of the mold member 102 is provided with a convex portion that transfers the concave surface 10 f of the lens unit 10. An air vent hole V1 is provided in a flat portion where the convex portion of the mold surface is not provided. In this way, when the mold surface of the mold member 102 is pressed against the resin, the air accumulated between the convex portions can be discharged to the outside through the air vent hole V1.

図14は、型部材の凹部の径とエア抜き孔との径を示す図である。ここでは、型部材102に設けられた凹部の径をD1とし、凹部に設けられたエア抜き孔V1の径をD2とした。このとき、エア抜き孔の径D2が、凹部の径D1の1/10以下であることが好ましい。また、より好ましくは、エア抜き孔の径D2が、凹部の径D1の1/20以下である。   FIG. 14 is a diagram showing the diameter of the concave portion of the mold member and the diameter of the air vent hole. Here, the diameter of the recess provided in the mold member 102 is D1, and the diameter of the air vent hole V1 provided in the recess is D2. At this time, the diameter D2 of the air vent hole is preferably 1/10 or less of the diameter D1 of the recess. More preferably, the diameter D2 of the air vent hole is 1/20 or less of the diameter D1 of the recess.

図13に示すように、凹部が(凹状のレンズ面を転写するための)型面の凸同士の間であって、この凹部にエア抜き孔V1を設ける場合は、当該エア抜き孔V1に最も近い凸部の外縁と当該エア抜き孔V1の中心との距離d1と、当該エア抜き孔V1に2番目に近い凸部の外縁と当該エア抜き孔V1の中心との距離d2との和d1+d2をD1とする。この場合、エア抜き孔V1の径をD2とすると、径D2がD1(d1+d2)の1/10以下であることが好ましく、1/20以下であることがより好ましい。   As shown in FIG. 13, when the concave portion is between the projections of the mold surface (for transferring the concave lens surface) and the air vent hole V1 is provided in the concave portion, the air vent hole V1 is the most. The sum d1 + d2 of the distance d1 between the outer edge of the close convex portion and the center of the air vent hole V1 and the distance d2 between the outer edge of the convex portion second closest to the air vent hole V1 and the center of the air vent hole V1 Let D1. In this case, when the diameter of the air vent hole V1 is D2, the diameter D2 is preferably 1/10 or less of D1 (d1 + d2), and more preferably 1/20 or less.

図15は、成形後にエア抜き孔に施す処理の一例を示す図である。
成形後、型部材102のエア抜き孔V1には、成形材料である樹脂が残って、エア抜き孔V1自体を塞いでしまい、次回の成形時にエアの抜けにくくなることが考えられる。小径の部材をエア抜け孔V1に挿入して残った樹脂を除去してもよい。又は、処理液や溶剤をエア抜け孔V1に注入することで、残った樹脂を除去してもよい。こうすれば、型を良好な状態で、繰り返し成形に使用することができる。
FIG. 15 is a diagram illustrating an example of processing performed on the air vent hole after molding.
It is conceivable that after molding, the resin as a molding material remains in the air vent hole V1 of the mold member 102 and closes the air vent hole V1 itself, so that it is difficult for air to escape during the next molding. The remaining resin may be removed by inserting a small-diameter member into the air vent hole V1. Alternatively, the remaining resin may be removed by injecting a treatment liquid or a solvent into the air vent hole V1. If it carries out like this, a type | mold can be used for repeated shaping | molding in a favorable state.

次に、ウェハレベルレンズアレイを用いて、更に、レンズモジュール及び撮像ユニットを製造する手順を説明する。   Next, a procedure for manufacturing a lens module and an imaging unit using the wafer level lens array will be described.

図16A及び16Bは、ウェハレベルレンズアレイをダイシングする工程を説明する図である。ウェハレベルレンズアレイの基板部1の一方の表面(同図では下方の面)には、スペーサ12が設けられている。
同図16Bに示すように、ウェハレベルレンズアレイの基板部1と、該基板部1と同様にウェハ状に形成された半導体基板Wとの位置合わせが行われる。このとき、ウェハレベルレンズアレイ同士が複数積層したものを半導体基板Wと重ね合わせてもよい。半導体基板Wの一方の面(同図では上側の面)には、基板部1に設けられた複数のレンズ部10の配列と同じ配列で固体撮像素子Dが設けられている。そして、ウェハレベルレンズアレイの基板部1がスペーサ12(図14参照)を介して、該基板部1と同様にウェハ状に形成された半導体基板Wに重ね合わされ、一体に接合される。その後、一体とされたウェハレベルレンズアレイ及び半導体基板Wは、レンズ部10及び固体撮像素子Dそれぞれの配列の列間に規定される切断ラインに沿って、ブレードC等の切断手段を用いて切断され、複数の撮像ユニットに分離される。切断ラインは、例えば基板部1の平面視において格子状である。
16A and 16B are diagrams illustrating a process of dicing the wafer level lens array. A spacer 12 is provided on one surface (the lower surface in the figure) of the substrate unit 1 of the wafer level lens array.
As shown in FIG. 16B, alignment is performed between the substrate unit 1 of the wafer level lens array and the semiconductor substrate W formed in a wafer shape in the same manner as the substrate unit 1. At this time, a plurality of stacked wafer level lens arrays may be superimposed on the semiconductor substrate W. On one surface (the upper surface in the figure) of the semiconductor substrate W, the solid-state imaging device D is provided in the same arrangement as the arrangement of the plurality of lens units 10 provided on the substrate unit 1. Then, the substrate portion 1 of the wafer level lens array is superimposed on the semiconductor substrate W formed in a wafer shape similarly to the substrate portion 1 via the spacer 12 (see FIG. 14), and is integrally bonded. Thereafter, the integrated wafer level lens array and the semiconductor substrate W are cut using a cutting means such as a blade C along a cutting line defined between the arrays of the lens unit 10 and the solid-state imaging device D. And separated into a plurality of imaging units. The cutting line is, for example, in a lattice shape in plan view of the substrate unit 1.

なお、本例では、撮像ユニットを製造する際のダイジングを例に説明している。一方で、レンズモジュールを製造する際のダイジングは、半導体基板Wに接合させないで、レンズ部10の配列に応じて切断して複数のレンズモジュールに分離する。   In this example, the description is given by taking an example of dicing when an imaging unit is manufactured. On the other hand, the dicing when manufacturing the lens module is not bonded to the semiconductor substrate W, but is cut according to the arrangement of the lens portions 10 and separated into a plurality of lens modules.

図17A及び17Bは、レンズモジュールの製造方法の手順を示す図である。この手順では、1つの基板部1に複数のレンズ部10が一体成形されたウェハレベルレンズアレイをダイジングして複数のレンズモジュールに分離する例を説明する。   17A and 17B are diagrams illustrating a procedure of a manufacturing method of the lens module. In this procedure, an example will be described in which a wafer level lens array in which a plurality of lens portions 10 are integrally formed on one substrate portion 1 is diced and separated into a plurality of lens modules.

先ず、図17Aに示すように、ウェハレベルレンズアレイを準備する。ウェハレベルレンズアレイは、既に上述した手順で製造することができ、以下の説明では、その手順については説明することなく省略する。   First, as shown in FIG. 17A, a wafer level lens array is prepared. The wafer level lens array can be manufactured by the procedure described above, and in the following description, the procedure is omitted without being described.

次に、図17Bに示すように、ウェハレベルレンズアレイの基板部1を、図中点線で示される切断ラインに沿って切断し、複数のレンズモジュールに分離する。このとき、各切断ライン上に位置するスペーサ12も同時に切断される。スペーサ12は、各切断ラインを境界として分割され、各切断ラインに隣接するレンズモジュールにそれぞれ付属する。こうして、レンズモジュールが完成する。   Next, as shown in FIG. 17B, the substrate unit 1 of the wafer level lens array is cut along a cutting line indicated by a dotted line in the drawing, and separated into a plurality of lens modules. At this time, the spacers 12 positioned on each cutting line are also cut simultaneously. The spacer 12 is divided with each cutting line as a boundary, and is attached to each lens module adjacent to each cutting line. Thus, the lens module is completed.

なお、分離されたレンズモジュールは、スペーサ12を介して図示しないセンサモジュールやその他の光学素子を備えた基板に組み付けられてもよい。   Note that the separated lens module may be assembled to a substrate including a sensor module (not shown) and other optical elements via the spacer 12.

ウェハレベルレンズアレイの基板部1に予めスペーサ12を一体成形しておき、その後に、スペーサ12ごとウェハレベルレンズアレイの基板部1をダイシング工程で切断してもよい。こうすれば、分離されたレンズモジュールにそれぞれスペーサ12を接合する場合に比べて効率良くレンズモジュールを量産することができ、生産性を向上することができる。   The spacer 12 may be integrally formed in advance on the substrate unit 1 of the wafer level lens array, and then the substrate unit 1 of the wafer level lens array together with the spacer 12 may be cut in a dicing process. By doing so, the lens modules can be mass-produced more efficiently than in the case where the spacers 12 are joined to the separated lens modules, and the productivity can be improved.

図18は、レンズモジュールを製造する手順の別の例を示す図である。この手順では、2つの基板部1と、各基板部1に複数のレンズ部10が一体成形されたウェハレベルレンズアレイをダイジングし、複数のレンズモジュールに分離する例を説明する。   FIG. 18 is a diagram showing another example of a procedure for manufacturing a lens module. In this procedure, an example will be described in which two substrate portions 1 and a wafer level lens array in which a plurality of lens portions 10 are integrally formed on each substrate portion 1 are diced and separated into a plurality of lens modules.

先ず、図18に示すように、複数のウェハレベルレンズアレイを準備する。ウェハレベルレンズアレイは、既に上述した手順で製造することができ、以下の説明では、その手順については説明することなく省略する。複数のウェハレベルレンズアレイの各基板部1の一方の面にスペーサ12が成形されている。そして、重ね合わせるウェハレベルレンズアレイの基板部1同士の位置合わせを行い、下方に配置するウェハレベルレンズアレイの基板部1の上面に、重ね合わせるウェハレベルレンズアレイの基板部1の下面を、スペーサ12を介して接合する。ウェハレベルレンズアレイ同士を重ね合わせた状態で、各基板部1に対してスペーサ12の位置が、各基板部1で同じになるようにする。   First, as shown in FIG. 18, a plurality of wafer level lens arrays are prepared. The wafer level lens array can be manufactured by the procedure described above, and in the following description, the procedure is omitted without being described. A spacer 12 is formed on one surface of each substrate portion 1 of the plurality of wafer level lens arrays. Then, the substrate portions 1 of the wafer level lens array to be overlaid are aligned with each other, and the lower surface of the substrate portion 1 of the wafer level lens array to be overlaid is placed on the upper surface of the substrate portion 1 of the wafer level lens array to be placed below the spacer. 12 is joined. In a state where the wafer level lens arrays are overlapped with each other, the position of the spacer 12 with respect to each substrate unit 1 is set to be the same in each substrate unit 1.

そして、ウェハレベルレンズアレイの基板部1を、図中点線で示される切断ラインに沿って切断し、複数のレンズモジュールに分離する。このとき、各切断ライン上に重なり合う位置のスペーサ12も同時に切断され、各切断ラインを境界として分割されたスペーサ12が、各切断ラインに隣接するレンズモジュールにそれぞれ付属する。こうして、複数のレンズ部10を備えたレンズモジュールが完成する。この手順では、重ね合わされるそれぞれの基板部1に対するレンズ部10及びスペーサ12の位置が同じであるため、分離された複数のレンズモジュールの構成はいずれも同じになる。また、重ね合わされるそれぞれの基板部1のうち、最上部の基板部1を基準に切断ラインの位置を決定し、切断すればよい。   And the board | substrate part 1 of a wafer level lens array is cut | disconnected along the cutting line shown with a dotted line in a figure, and is isolate | separated into a some lens module. At this time, the spacers 12 at the overlapping positions on the respective cutting lines are also cut at the same time, and the spacers 12 divided with the respective cutting lines as boundaries are attached to the lens modules adjacent to the respective cutting lines. Thus, a lens module including a plurality of lens units 10 is completed. In this procedure, since the positions of the lens unit 10 and the spacer 12 with respect to the respective substrate units 1 to be overlaid are the same, the configurations of the plurality of separated lens modules are all the same. Further, the position of the cutting line may be determined based on the uppermost substrate portion 1 among the respective substrate portions 1 to be overlapped and cut.

なお、分離されたレンズモジュールは、スペーサ12を介して図示しないセンサモジュールやその他の光学素子を備えた基板に組み付けられてもよい。   Note that the separated lens module may be assembled to a substrate including a sensor module (not shown) and other optical elements via the spacer 12.

このように、複数のウェハレベルレンズアレイ同士を重ね合わせ、その後に、ウェハレベルレンズアレイの基板部1をスペーサ12ごとダイシング工程で切断すれば、分離されたレンズモジュールを個別に重ね合わせる場合に比べて、効率よくレンズモジュールを量産することができ、生産性が向上する。   In this way, if a plurality of wafer level lens arrays are overlapped, and then the substrate part 1 of the wafer level lens array is cut together with the spacers 12 in the dicing process, compared to the case where the separated lens modules are individually overlapped. Thus, the lens module can be mass-produced efficiently, and the productivity is improved.

図19A及び19Bは、撮像ユニットを製造する手順を示す図である。この手順では、1つの基板部1と該基板部1に複数のレンズ部10が一体成形されたレンズモジュールをセンサモジュールに接合してダイジングし、複数の撮像ユニットに分離する例を説明する。   19A and 19B are diagrams illustrating a procedure for manufacturing the imaging unit. In this procedure, an example will be described in which a single substrate unit 1 and a lens module in which a plurality of lens units 10 are integrally formed on the substrate unit 1 are joined to a sensor module and diced to be separated into a plurality of imaging units.

先ず、図19Aに示すように、ウェハレベルレンズアレイを準備する。ウェハレベルレンズアレイは、既に上述した手順で製造することができ、以下の説明では、その手順については説明することなく省略する。基板部1の下側の面にはスペーサ12が一体成形されている。   First, as shown in FIG. 19A, a wafer level lens array is prepared. The wafer level lens array can be manufactured by the procedure described above, and in the following description, the procedure is omitted without being described. A spacer 12 is integrally formed on the lower surface of the substrate unit 1.

次に、複数の固体撮像素子Dが配列された半導体基板Wを準備する。ウェハレベルレンズアレイの基板部1と、半導体基板Wとの位置合わせを行った後、該基板部1をスペーサ12を介して半導体基板Wの上側の面に接合する。このとき、基板部1に設けられた各レンズ部10の光軸の延長が固体撮像素子Dの中央部とそれぞれ交わるようにする。   Next, a semiconductor substrate W on which a plurality of solid-state imaging elements D are arranged is prepared. After aligning the substrate unit 1 of the wafer level lens array with the semiconductor substrate W, the substrate unit 1 is bonded to the upper surface of the semiconductor substrate W via the spacer 12. At this time, the extension of the optical axis of each lens unit 10 provided on the substrate unit 1 intersects with the central part of the solid-state imaging device D.

そして、図19Bに示すように、ウェハレベルレンズアレイの基板部1と半導体基板Wとを接合した後、基板部1を、図中点線で示される切断ラインに沿って切断し、複数の撮像ユニットに分離する。このとき、各切断ライン上に位置するスペーサ12も同時に切断される。スペーサ12は、各切断ラインを境界として分割され、各切断ラインに隣接する撮像ユニットにそれぞれ付属する。こうして、撮像ユニットが完成する。   Then, as shown in FIG. 19B, after joining the substrate unit 1 of the wafer level lens array and the semiconductor substrate W, the substrate unit 1 is cut along a cutting line indicated by a dotted line in the drawing, and a plurality of imaging units To separate. At this time, the spacers 12 positioned on each cutting line are also cut simultaneously. The spacer 12 is divided with each cutting line as a boundary, and is attached to each imaging unit adjacent to each cutting line. Thus, the imaging unit is completed.

このように、ウェハレベルレンズアレイに予めスペーサ12を成形しておき、その後に、ウェハレベルレンズアレイの基板と固体撮像素子Dを備えた半導体基板Wを重ね合わせて、基板部1及び半導体基板Wをダイシング工程で一緒に切断すれば、分離されたレンズモジュールにそれぞれスペーサ12を介してセンサモジュールを接合して撮像ユニットを製造する場合に比べて、効率良く撮像ユニットを量産することができ、生産性を向上することができる。   In this way, the spacer 12 is formed in advance on the wafer level lens array, and then the substrate of the wafer level lens array and the semiconductor substrate W provided with the solid-state imaging device D are overlapped to form the substrate unit 1 and the semiconductor substrate W. Can be mass-produced and produced more efficiently than in the case of manufacturing the imaging unit by joining the sensor module to the separated lens modules via the spacers 12, respectively. Can be improved.

図20A及び20Bは、撮像ユニットを製造する手順の別の例を示す図である。この手順では、2つの基板部1と各基板部1に複数のレンズ部10が一体成形されたウェハレベルレンズアレイを、固体撮像素子が設けられた半導体基板に接合してダイジングし、それぞれが2つのレンズ部10を備えた複数の撮像ユニットに分離する例を説明する。   20A and 20B are diagrams illustrating another example of the procedure for manufacturing the imaging unit. In this procedure, two substrate portions 1 and a wafer level lens array in which a plurality of lens portions 10 are integrally formed on each substrate portion 1 are bonded to a semiconductor substrate provided with a solid-state imaging device, and each is dized. An example of separation into a plurality of imaging units including one lens unit 10 will be described.

先ず、図20Aに示すように、2つのウェハレベルレンズアレイを準備する。ウェハレベルレンズアレイは、既に上述した手順で製造することができ、以下の説明では、その手順については説明することなく省略する。重ね合わせる2つの基板部1それぞれの下側の面には、スペーサ12が予め成形されている。そして、重ね合わせるウェハレベルレンズアレイの基板部1同士の位置合わせを行い、下方に配置するウェハレベルレンズアレイの基板部1の上面に、上方に配置するウェハレベルレンズアレイの基板部1の下面を、スペーサ12を介して接合する。ウェハレベルレンズアレイ同士を重ね合わせた状態で、各基板部1に対するスペーサ12の位置が、各基板部1で同じになるようにする。   First, as shown in FIG. 20A, two wafer level lens arrays are prepared. The wafer level lens array can be manufactured by the procedure described above, and in the following description, the procedure is omitted without being described. A spacer 12 is formed in advance on the lower surface of each of the two substrate portions 1 to be superimposed. Then, the substrate portions 1 of the wafer level lens array to be superimposed are aligned with each other, and the lower surface of the substrate portion 1 of the wafer level lens array disposed above is placed on the upper surface of the substrate portion 1 of the wafer level lens array disposed below. , And joined through the spacer 12. In a state where the wafer level lens arrays are overlapped with each other, the position of the spacer 12 with respect to each substrate unit 1 is set to be the same in each substrate unit 1.

次に、複数の固体撮像素子Dが配列された半導体基板Wを準備する。重ね合わされた状態の複数のウェハレベルレンズアレイの基板部1と、半導体基板Wとの位置合わせを行う。その後、最下部に位置する該基板部1を、スペーサ12を介して半導体基板Wの上側の面に接合する。このとき、基板部1に設けられた各レンズ部10の光軸の延長が固体撮像素子Dの中央部とそれぞれ交わるようにする。   Next, a semiconductor substrate W on which a plurality of solid-state imaging elements D are arranged is prepared. The alignment of the semiconductor substrate W with the substrate portions 1 of the plurality of wafer level lens arrays in a superposed state is performed. Thereafter, the substrate portion 1 positioned at the lowermost portion is bonded to the upper surface of the semiconductor substrate W via the spacer 12. At this time, the extension of the optical axis of each lens unit 10 provided on the substrate unit 1 intersects with the central part of the solid-state imaging device D.

そして、図20Bに示すように、ウェハレベルレンズアレイの基板部1と半導体基板Wとを接合した後、基板部1及び半導体基板Wを、図中点線で示される切断ラインに沿って切断し、複数の撮像ユニットに分離する。このとき、各切断ライン上に位置するスペーサ12も同時に切断される。スペーサ12は、各切断ラインを境界として分割され、各切断ラインに隣接する撮像ユニットにそれぞれ付属する。こうして、複数のレンズ部10を備えた撮像ユニットが完成する。   Then, as shown in FIG. 20B, after bonding the substrate unit 1 of the wafer level lens array and the semiconductor substrate W, the substrate unit 1 and the semiconductor substrate W are cut along a cutting line indicated by a dotted line in the drawing, Separated into a plurality of imaging units. At this time, the spacers 12 positioned on each cutting line are also cut simultaneously. The spacer 12 is divided with each cutting line as a boundary, and is attached to each imaging unit adjacent to each cutting line. In this way, an imaging unit including a plurality of lens units 10 is completed.

このように、複数のウェハレベルレンズアレイ同士をスペーサ12を介して接合しておき、その後に、最下部のウェハレベルレンズアレイの基板部1と固体撮像素子Dを備えた半導体基板Wを重ね合わせて、基板部1及び半導体基板Wをダイシング工程で一緒に切断している。このような手順によれば、分離されたレンズモジュール同士を重ね合わせ、更に、各レンズモジュールとセンサモジュールとを接合していくことで各撮像ユニットを製造する場合に比べて、効率良く撮像ユニットを量産することができ、生産性を向上することができる。   In this way, a plurality of wafer level lens arrays are bonded to each other via the spacer 12, and then, the substrate portion 1 of the lowermost wafer level lens array and the semiconductor substrate W including the solid-state imaging device D are overlapped. The substrate portion 1 and the semiconductor substrate W are cut together in a dicing process. According to such a procedure, the separated lens modules are overlapped with each other, and further, the image pickup units are more efficiently compared with the case of manufacturing each image pickup unit by joining the lens modules and the sensor modules. Mass production is possible and productivity can be improved.

本明細書は以下の内容を開示する。
(1)基板部と、該基板部に配列された複数のレンズ部からなるウェハレベルレンズアレイを樹脂で一体に成形するための成形型であって、
該成形型は、前記樹脂を挟み込んでエネルギーを付加することにより該樹脂を成形し硬化させる一対の型部材からなり、該一対の型部材の少なくとも一方の型部材の前記樹脂と接する型面に、成形時に前記型面と前記樹脂との界面に存在する空気を外部に排出するエア抜き孔が設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型。
(2)(1)に記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記型面に凸状のレンズ面を有する前記レンズ部を転写するための凹部が複数設けられ、前記凹部に前記型部材の外部に連通するエア抜き孔が設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型。
(3)(1)又は(2)に記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記レンズ部が前記レンズ面の周囲に該レンズ面と同じ向きに突出する周辺部を含み、前記周辺部に対応する前記型面の凹部に少なくとも1つの前記エア抜き孔が設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型。
(4)(1)に記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記型面に凹状のレンズ面を有する前記レンズ部を転写するための凸部が複数設けられ、前記凸部同士の間の凹部に前記型部材の外部に連通するエア抜き孔が設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型。
(5)(1)又は(4)に記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記レンズ部が前記レンズ面の周囲に該レンズ面と反対の向きに突出する周辺部を含み、前記周辺部に対応する前記型面の凹部に少なくとも1つの前記エア抜き孔が設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型。
(6)(2)から(5)のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記エア抜き孔は、前記型面の凹部における最深部に設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型。
(7)(2)から(6)のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記エア抜き孔が、前記凹部側から型の外部に向かってエアを吸引する吸引装置に接続された空気排出路に連通するウェハレベルレンズアレイの成形型。
(8)(1)から(7)のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記エア抜き孔が前記型面に対して反対側に連通するウェハレベルレンズアレイの成形型。
(9)(1)から(8)のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記エア抜き孔が、型部材の内部に直線状に設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型。
(10)(1)から(9)のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記エア抜き孔の径が、前記凹部の径の1/10以下であるウェハレベルレンズアレイの成形型。
(11)(1)から(10)のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記エア抜き孔が円形状の断面であるウェハレベルレンズアレイの成形型。
(12)基板部と、該基板部に配列された複数のレンズ部とからなるウェハレベルレンズアレイを樹脂で一体に成形する製造方法であって、
該成形型は、前記樹脂を挟み込んでエネルギーを付加することにより該樹脂を成形し硬化させる一対の型部材からなり、該一対の型部材の少なくとも一方の型部材の前記樹脂と接する型面にエア抜き孔が設けられ、前記樹脂に前記成形型の前記型面を押し付けた際に、前記エア抜き孔からエアを外部へ逃がしつつ、前記樹脂を変形するウェハレベルレンズアレイの製造方法。
(13)(12)に記載のウェハレベルレンズアレイの製造方法であって、
前記型面に凹部が設けられ、前記エア抜き孔が前記凹部に設けられているウェハレベルレンズアレイの製造方法。
(14)(12)又は(13)に記載のウェハレベルレンズアレイの製造方法であって、
前記エア抜き孔における前記成形型の外部に連通する側からエア吸引を行うウェハレベルレンズアレイの製造方法。
(15)(12)から(14)のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの製造方法であって、
前記樹脂を硬化させた後、離型された前記レンズ部の前記エア抜き孔の位置に相当する部位に残された突起部を取り除くウェハレベルレンズアレイの製造方法。
(16)(15)に記載のウェハレベルレンズアレイの製造方法であって、
各レンズ部に対して前記基板部の表面と平行な切削面で切削処理を行うことで、前記突起部を取り除くウェハレベルレンズアレイの製造方法。
(17)(15)又は(16)に記載のウェハレベルレンズアレイの製造方法であって、
前記レンズ部の、前記突起部が取り除かれた部位に遮光処理を行うウェハレベルレンズアレイの製造方法。
(18)(12)から(17)のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの製造方法によって得られたウェハレベルレンズアレイ。
(19)(18)に記載の前記ウェハレベルレンズアレイの前記基板部をダイシングして、前記レンズ部ごとに分断してなるレンズモジュール。
(20)(18)に記載のウェハレベルレンズアレイの前記基板部をダイシングして、前記レンズ部ごとに分断してなるレンズモジュールであって、
前記レンズ部が形成された前記基板部を複数備え、複数の前記基板部同士がそれら間に前記スペーサを挟んで重ね合わされるレンズモジュール。
(21)(19)又は(20)に記載のレンズモジュールを備えた撮像ユニットであって、
撮像素子と、
前記撮像素子が設けられた半導体基板とを備え、
前記基板部と前記半導体基板とが、前記スペーサを介して一体に接合された撮像ユニット。
This specification discloses the following contents.
(1) A molding die for integrally molding a wafer level lens array comprising a substrate portion and a plurality of lens portions arranged on the substrate portion with a resin,
The mold comprises a pair of mold members that mold and cure the resin by sandwiching the resin and applying energy, and on the mold surface that contacts the resin of at least one mold member of the pair of mold members, A molding die for a wafer level lens array provided with an air vent hole for discharging air existing at the interface between the mold surface and the resin to the outside during molding.
(2) A mold for the wafer level lens array according to (1),
A mold for forming a wafer level lens array, wherein a plurality of recesses for transferring the lens portion having a convex lens surface are provided on the mold surface, and an air vent hole communicating with the outside of the mold member is provided in the recess. .
(3) A mold for molding a wafer level lens array according to (1) or (2),
A wafer level lens in which the lens portion includes a peripheral portion protruding in the same direction as the lens surface around the lens surface, and at least one air vent hole is provided in a concave portion of the mold surface corresponding to the peripheral portion. Array mold.
(4) A mold for molding a wafer level lens array according to (1),
A wafer in which a plurality of convex portions for transferring the lens portion having a concave lens surface is provided on the mold surface, and an air vent hole communicating with the outside of the mold member is provided in a concave portion between the convex portions. Mold for level lens array.
(5) A mold for molding a wafer level lens array according to (1) or (4),
A wafer level in which the lens portion includes a peripheral portion that protrudes around the lens surface in a direction opposite to the lens surface, and at least one air vent hole is provided in a concave portion of the mold surface corresponding to the peripheral portion. Lens array mold.
(6) A mold for a wafer level lens array according to any one of (2) to (5),
The air vent hole is a mold for forming a wafer level lens array provided at the deepest portion of the concave portion of the mold surface.
(7) The mold for a wafer level lens array according to any one of (2) to (6),
A mold for molding a wafer level lens array, wherein the air vent hole communicates with an air discharge path connected to a suction device that sucks air from the concave side toward the outside of the mold.
(8) A mold for a wafer level lens array according to any one of (1) to (7),
A mold for forming a wafer level lens array, wherein the air vent hole communicates with the opposite side of the mold surface.
(9) The mold for the wafer level lens array according to any one of (1) to (8),
A mold for molding a wafer level lens array, wherein the air vent holes are linearly provided inside the mold member.
(10) The mold for a wafer level lens array according to any one of (1) to (9),
A mold for forming a wafer level lens array, wherein the diameter of the air vent hole is 1/10 or less of the diameter of the recess.
(11) A mold for molding a wafer level lens array according to any one of (1) to (10),
A mold for forming a wafer level lens array, wherein the air vent hole has a circular cross section.
(12) A manufacturing method in which a wafer level lens array including a substrate portion and a plurality of lens portions arranged on the substrate portion is integrally molded with a resin,
The mold includes a pair of mold members that mold and cure the resin by sandwiching the resin and applying energy, and air is applied to the mold surface of at least one mold member of the pair of mold members. A method for manufacturing a wafer level lens array, wherein a punch hole is provided, and the resin is deformed while air is released from the air vent hole when the mold surface of the mold is pressed against the resin.
(13) The method for producing a wafer level lens array according to (12),
A method of manufacturing a wafer level lens array, wherein a recess is provided in the mold surface, and the air vent hole is provided in the recess.
(14) The method for producing a wafer level lens array according to (12) or (13),
A method of manufacturing a wafer level lens array, wherein air is sucked from a side communicating with the outside of the mold in the air vent hole.
(15) The method for producing a wafer level lens array according to any one of (12) to (14),
A method of manufacturing a wafer level lens array, wherein after the resin is cured, a protrusion left at a portion corresponding to the position of the air vent hole of the released lens portion is removed.
(16) The method for producing a wafer level lens array according to (15),
A method for manufacturing a wafer level lens array, in which the protrusions are removed by performing a cutting process on each lens part with a cutting surface parallel to the surface of the substrate part.
(17) The method for producing a wafer level lens array according to (15) or (16),
A method for manufacturing a wafer level lens array, wherein a light shielding process is performed on a portion of the lens portion from which the protrusion is removed.
(18) A wafer level lens array obtained by the method for producing a wafer level lens array according to any one of (12) to (17).
(19) A lens module obtained by dicing the substrate portion of the wafer level lens array according to (18) and dividing the substrate portion for each lens portion.
(20) A lens module obtained by dicing the substrate part of the wafer level lens array according to (18) and dividing the lens part for each lens part,
A lens module comprising a plurality of the substrate portions on which the lens portions are formed, wherein the plurality of substrate portions are overlapped with each other with the spacer interposed therebetween.
(21) An imaging unit comprising the lens module according to (19) or (20),
An image sensor;
A semiconductor substrate provided with the imaging device,
An imaging unit in which the substrate portion and the semiconductor substrate are integrally joined via the spacer.

上記ウェハレベルレンズアレイの製造方法は、デジタルカメラ、内視鏡装置、携帯型電子機器等の撮像部に設けられる撮像レンズを製造する際に適用することができる。   The manufacturing method of the wafer level lens array can be applied when manufacturing an imaging lens provided in an imaging unit of a digital camera, an endoscope apparatus, a portable electronic device or the like.

1 基板部
10 レンズ部
12 スペーサ
102,104 型部材
V1,V2 エア抜き孔
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate part 10 Lens part 12 Spacer 102,104 Mold member V1, V2 Air vent hole

Claims (21)

基板部と、該基板部に配列された複数のレンズ部からなるウェハレベルレンズアレイを樹脂で一体に成形するための成形型であって、
該成形型は、前記樹脂を挟み込んでエネルギーを付加することにより該樹脂を成形し硬化させる一対の型部材からなり、該一対の型部材の少なくとも一方の型部材の前記樹脂と接する型面に、成形時に前記型面と前記樹脂との界面に存在する空気を外部に排出するエア抜き孔が設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型。
A molding die for integrally molding a wafer level lens array comprising a substrate portion and a plurality of lens portions arranged on the substrate portion with a resin,
The mold comprises a pair of mold members that mold and cure the resin by sandwiching the resin and applying energy, and on the mold surface that contacts the resin of at least one mold member of the pair of mold members, A molding die for a wafer level lens array provided with an air vent hole for discharging air existing at the interface between the mold surface and the resin to the outside during molding.
請求項1に記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記型面に凸状のレンズ面を有する前記レンズ部を転写するための凹部が複数設けられ、前記凹部に前記型部材の外部に連通するエア抜き孔が設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型。
A mold for forming a wafer level lens array according to claim 1,
A mold for forming a wafer level lens array, wherein a plurality of recesses for transferring the lens portion having a convex lens surface are provided on the mold surface, and an air vent hole communicating with the outside of the mold member is provided in the recess. .
請求項1又は2に記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記レンズ部が前記レンズ面の周囲に該レンズ面と同じ向きに突出する周辺部を含み、前記周辺部に対応する前記型面の凹部に少なくとも1つの前記エア抜き孔が設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型。
A mold for forming a wafer level lens array according to claim 1 or 2,
A wafer level lens in which the lens portion includes a peripheral portion protruding in the same direction as the lens surface around the lens surface, and at least one air vent hole is provided in a concave portion of the mold surface corresponding to the peripheral portion. Array mold.
請求項1に記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記型面に凹状のレンズ面を有する前記レンズ部を転写するための凸部が複数設けられ、前記凸部同士の間の凹部に前記型部材の外部に連通するエア抜き孔が設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型。
A mold for forming a wafer level lens array according to claim 1,
A wafer in which a plurality of convex portions for transferring the lens portion having a concave lens surface is provided on the mold surface, and an air vent hole communicating with the outside of the mold member is provided in a concave portion between the convex portions. Mold for level lens array.
請求項1又は4に記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記レンズ部が前記レンズ面の周囲に該レンズ面と反対の向きに突出する周辺部を含み、前記周辺部に対応する前記型面の凹部に少なくとも1つの前記エア抜き孔が設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型。
A mold for molding a wafer level lens array according to claim 1 or 4,
A wafer level in which the lens portion includes a peripheral portion that protrudes around the lens surface in a direction opposite to the lens surface, and at least one air vent hole is provided in a concave portion of the mold surface corresponding to the peripheral portion. Lens array mold.
請求項2から5のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記エア抜き孔は、前記型面の凹部における最深部に設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型。
A mold for molding a wafer level lens array according to any one of claims 2 to 5,
The air vent hole is a mold for forming a wafer level lens array provided at the deepest portion of the concave portion of the mold surface.
請求項2から6のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記エア抜き孔が、前記凹部側から型の外部に向かってエアを吸引する吸引装置に接続された空気排出路に連通するウェハレベルレンズアレイの成形型。
A mold for molding a wafer level lens array according to any one of claims 2 to 6,
A mold for molding a wafer level lens array, wherein the air vent hole communicates with an air discharge path connected to a suction device that sucks air from the concave side toward the outside of the mold.
請求項1から7のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記エア抜き孔が前記型面に対して反対側に連通するウェハレベルレンズアレイの成形型。
A mold for a wafer level lens array according to any one of claims 1 to 7,
A mold for forming a wafer level lens array, wherein the air vent hole communicates with the opposite side of the mold surface.
請求項1から8のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記エア抜き孔が、型部材の内部に直線状に設けられたウェハレベルレンズアレイの成形型。
A mold for forming a wafer level lens array according to any one of claims 1 to 8,
A mold for molding a wafer level lens array, wherein the air vent holes are linearly provided inside the mold member.
請求項1から9のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記エア抜き孔の径が、前記凹部の径の1/10以下であるウェハレベルレンズアレイの成形型。
A mold for forming a wafer level lens array according to any one of claims 1 to 9,
A mold for forming a wafer level lens array, wherein the diameter of the air vent hole is 1/10 or less of the diameter of the recess.
請求項1から10のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの成形型であって、
前記エア抜き孔が円形状の断面であるウェハレベルレンズアレイの成形型。
A mold for a wafer level lens array according to any one of claims 1 to 10,
A mold for forming a wafer level lens array, wherein the air vent hole has a circular cross section.
基板部と、該基板部に配列された複数のレンズ部とからなるウェハレベルレンズアレイを樹脂で一体に成形する製造方法であって、
前記樹脂を挟み込んでエネルギーを付加することにより該樹脂を成形し硬化させる一対の型部材からなる成形型を用い、前記一対の型部材の少なくとも一方の型部材の前記樹脂と接する型面にエア抜き孔が設けられ、前記樹脂に前記成形型の前記型面を押し付けた際に、前記エア抜き孔からエアを外部へ逃がしつつ、前記樹脂を変形するウェハレベルレンズアレイの製造方法。
A manufacturing method in which a wafer level lens array comprising a substrate part and a plurality of lens parts arranged on the substrate part is integrally molded with a resin,
Using a mold composed of a pair of mold members that mold and cure the resin by sandwiching the resin and applying energy, air is vented to the mold surface of at least one mold member of the pair of mold members in contact with the resin A method of manufacturing a wafer level lens array, wherein a hole is provided, and the resin is deformed while air is released from the air vent hole when the mold surface of the mold is pressed against the resin.
請求項12に記載のウェハレベルレンズアレイの製造方法であって、
前記型面に凹部が設けられ、前記エア抜き孔が前記凹部に設けられているウェハレベルレンズアレイの製造方法。
A method of manufacturing a wafer level lens array according to claim 12,
A method of manufacturing a wafer level lens array, wherein a recess is provided in the mold surface, and the air vent hole is provided in the recess.
請求項12又は13に記載のウェハレベルレンズアレイの製造方法であって、
前記エア抜き孔における前記成形型の外部に連通する側からエア吸引を行うウェハレベルレンズアレイの製造方法。
A method for producing a wafer level lens array according to claim 12 or 13,
A method of manufacturing a wafer level lens array, wherein air is sucked from a side communicating with the outside of the mold in the air vent hole.
請求項12から14のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの製造方法であって、
前記樹脂を硬化させた後、離型された前記レンズ部の前記エア抜き孔の位置に相当する部位に残された突起部を取り除くウェハレベルレンズアレイの製造方法。
A method of manufacturing a wafer level lens array according to any one of claims 12 to 14,
A method of manufacturing a wafer level lens array, wherein after the resin is cured, a protrusion left at a portion corresponding to the position of the air vent hole of the released lens portion is removed.
請求項15に記載のウェハレベルレンズアレイの製造方法であって、
各レンズ部に対して前記基板部の表面と平行な切削面で切削処理を行うことで、前記突起部を取り除くウェハレベルレンズアレイの製造方法。
A method for producing a wafer level lens array according to claim 15,
A method for manufacturing a wafer level lens array, in which the protrusions are removed by performing a cutting process on each lens part with a cutting surface parallel to the surface of the substrate part.
請求項15又は16に記載のウェハレベルレンズアレイの製造方法であって、
前記レンズ部の、前記突起部が取り除かれた部位に遮光処理を行うウェハレベルレンズアレイの製造方法。
A method for producing a wafer level lens array according to claim 15 or 16,
A method for manufacturing a wafer level lens array, wherein a light shielding process is performed on a portion of the lens portion from which the protrusion is removed.
請求項12から17のいずれか1つに記載のウェハレベルレンズアレイの製造方法によって得られたウェハレベルレンズアレイ。   A wafer level lens array obtained by the method for manufacturing a wafer level lens array according to claim 12. 請求項18に記載の前記ウェハレベルレンズアレイの前記基板部をダイシングして、前記レンズ部ごとに分断してなるレンズモジュール。   The lens module formed by dicing the said board | substrate part of the said wafer level lens array of Claim 18, and dividing | segmenting for every said lens part. 請求項18に記載のウェハレベルレンズアレイの前記基板部をダイシングして、前記レンズ部ごとに分断してなるレンズモジュールであって、
前記レンズ部が形成された前記基板部を複数備え、複数の前記基板部同士がそれら間に前記スペーサを挟んで重ね合わされるレンズモジュール。
A lens module obtained by dicing the substrate portion of the wafer level lens array according to claim 18 and dividing the substrate portion for each lens portion,
A lens module comprising a plurality of the substrate portions on which the lens portions are formed, wherein the plurality of substrate portions are overlapped with each other with the spacer interposed therebetween.
請求項19又は20に記載のレンズモジュールを備えた撮像ユニットであって、
撮像素子と、
前記撮像素子が設けられた半導体基板とを備え、
前記基板部と前記半導体基板とが、前記スペーサを介して一体に接合された撮像ユニット。
An imaging unit comprising the lens module according to claim 19 or 20,
An image sensor;
A semiconductor substrate provided with the imaging device,
An imaging unit in which the substrate portion and the semiconductor substrate are integrally joined via the spacer.
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