JP2011021993A - Autoanalyzer and probe cleaning mechanism - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technique for maintaining effective time of cleaning for a probe by means of a cleaning mechanism while shortening overall necessary time including moving time of the probe and the cleaning time, as to an autoanalyzer equipped with the probe and the cleaning mechanism. <P>SOLUTION: The movement means of this autoanalyzer is structured so to allow a probe to be moved between a specimen container or a reagent container and a reaction tube, and to move the cleaning mechanism together with the probe while the probe is moved at least toward the specimen container or the reagent container, with at least a sucking portion of the probe being cleaned by the cleaning mechanism. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、被検試料中に含まれる成分、特に血液や尿等に含まれる化学成分を分析する自動分析装置とそれに用いるプローブ洗浄機構に関する。   The present invention relates to an automatic analyzer for analyzing components contained in a test sample, particularly chemical components contained in blood, urine and the like, and a probe cleaning mechanism used therefor.

従来、医療機関の検査室などで自動分析装置が用いられている。この自動分析装置は、反応管で血液や尿等の被検試料(検体試料)と試薬とを分注してこれらを反応させた後、反応によって生じる色調の変化を光測定することにより検体中の被測定物質または酵素の濃度や活性を測定する。   Conventionally, an automatic analyzer is used in a laboratory of a medical institution. This automatic analyzer dispenses a test sample (specimen sample) such as blood or urine with a reagent in a reaction tube and reacts them, and then optically measures changes in color caused by the reaction. Measure the concentration and activity of the analyte or enzyme.

この自動分析装置は一般に、被検試料を収容する検体容器が複数配置されるサンプラ(検体ディスク)、複数の試薬ボトル(試薬容器)が配置される試薬庫および被検試料と試薬とを反応させる反応管を有している。また、自動分析装置は試薬ボトルから目的の試薬を吸引(分取)し、検体容器から被検試料を吸引し、反応管に吐出するプローブと、このプローブを反応ディスクと、試薬庫またはサンプラとの間で移動させるアームとを有している。   In general, this automatic analyzer reacts a sampler (sample disk) in which a plurality of sample containers containing test samples are arranged, a reagent store in which a plurality of reagent bottles (reagent containers) are arranged, and a test sample and a reagent. Has a reaction tube. In addition, the automatic analyzer sucks (sorts) the target reagent from the reagent bottle, sucks the sample to be tested from the sample container, and discharges the probe to the reaction tube. And an arm that moves between the two.

また従来、自動分析装置においては、検体容器または試薬容器と、反応管との間に配置され、洗浄水を溜めるように構成されたプローブ洗浄機構、または洗浄水を吐出しつつ排出させ、内部に一定量の洗浄水を滞留させるように構成されたプローブ洗浄機構が設けられている。このようなプローブ洗浄機構では、機構内部にプローブを収容し、当該収容されたプローブに対して洗浄水を噴出することにより、プローブの外壁(外周面)の洗浄を行う(例えば、特許文献1)。   Conventionally, in an automatic analyzer, a probe cleaning mechanism arranged between a sample container or a reagent container and a reaction tube and configured to collect cleaning water, or discharging cleaning water while discharging it, A probe cleaning mechanism configured to retain a certain amount of cleaning water is provided. In such a probe cleaning mechanism, a probe is accommodated in the mechanism, and the outer wall (outer peripheral surface) of the probe is cleaned by ejecting cleaning water to the accommodated probe (for example, Patent Document 1). .

当該文献の図1に記載のサンプリングプローブは洗浄槽の所定の位置まで水平移動し停止すると、洗浄ポンプ(図示せず)からサンプリングプローブ内に洗浄水が送水され、サンプリングプローブの内部が洗浄される。また、これと同時に、洗浄プールの内壁を貫通するように設けられた洗浄水パイプから、サンプリングプローブの先端部に対して洗浄水が連続的に噴水され、サンプリングプローブの外壁が洗浄される。このサンプリングプローブの内外の洗浄に用いられた洗浄水は、洗浄プールの底部に設けられたドレインを介して排水される。   When the sampling probe described in FIG. 1 of the document horizontally moves to a predetermined position in the cleaning tank and stops, cleaning water is fed into the sampling probe from a cleaning pump (not shown), and the inside of the sampling probe is cleaned. . At the same time, the cleaning water is continuously sprayed from the cleaning water pipe provided so as to penetrate the inner wall of the cleaning pool, and the outer wall of the sampling probe is cleaned. The cleaning water used for cleaning the inside and outside of this sampling probe is drained through a drain provided at the bottom of the cleaning pool.

特開2001−133466号公報JP 2001-133466 A

近年、自動分析装置による検査効率が向上し、自動分析装置の検査における一連の動作速度も向上している。したがって、試薬庫とサンプラの間を往復するプローブの洗浄工程も迅速に行われることが望まれる。また近年、自動分析装置の検査性能の向上が進んでおり、微量の被検試料であっても検査が可能となっている。この被検試料の微量化により、使用する試薬を減少させることができ、また患者等から採取される被検試料の総量を低減させることによって、患者等にかかる負担を軽減させることにつながる。また、被検試料の微量化によってプローブによる分注・吐出動作にかかる時間も短縮される。   In recent years, the inspection efficiency of an automatic analyzer has been improved, and a series of operation speeds in the inspection of the automatic analyzer has also been improved. Therefore, it is desirable that the cleaning process of the probe that reciprocates between the reagent storage and the sampler is also performed quickly. In recent years, the inspection performance of automatic analyzers has been improved, and even a very small amount of sample can be inspected. By reducing the amount of the test sample, the amount of reagent to be used can be reduced, and by reducing the total amount of the test sample collected from the patient or the like, the burden on the patient or the like can be reduced. In addition, the time required for dispensing and discharging operations by the probe can be shortened by reducing the amount of the test sample.

上述の特許文献1に記載のプローブ洗浄機構によってサンプリングプローブの洗浄を行う場合は、サンプリングプローブが洗浄機構の位置まで移動してから一旦停止する。また一旦停止されたサンプリングプローブは洗浄槽の位置まで下降し、洗浄槽内に収容されてから洗浄水が噴出されて洗浄される。さらに洗浄が完了するとサンプリングプローブが上昇し、再度試薬庫またはサンプラへ向かって移動する。つまり、特許文献1のサンプリングプローブは、洗浄のために、プローブ洗浄機構に到達し、洗浄が開始されると停止してしまう。またサンプリングプローブはプローブ洗浄機構によって洗浄されているまでの間、当該洗浄機構の位置において停止し続けている。   When the sampling probe is cleaned by the probe cleaning mechanism described in Patent Document 1, the sampling probe is temporarily stopped after moving to the position of the cleaning mechanism. Further, once stopped, the sampling probe descends to the position of the cleaning tank, and after being stored in the cleaning tank, cleaning water is ejected and cleaned. Further, when the cleaning is completed, the sampling probe rises and moves again toward the reagent storage or the sampler. That is, the sampling probe of Patent Document 1 reaches the probe cleaning mechanism for cleaning, and stops when cleaning is started. The sampling probe continues to stop at the position of the cleaning mechanism until it is cleaned by the probe cleaning mechanism.

しかしながら、自動分析装置による一連の検査工程が迅速化している中、プローブ洗浄機構による洗浄にかかる所要時間が従来通りであっては、検査工程の迅速化に反する結果となってしまう。すなわち、サンプラ、試薬庫、反応ディスクの回転や、反応管内の被検試料の攪拌、測光などの工程の迅速化に応じて、プローブの洗浄時間の短縮化が求められている。   However, while a series of inspection processes by the automatic analyzer is speeding up, if the time required for cleaning by the probe cleaning mechanism is the same as before, the result is contrary to speeding up of the inspection process. That is, the probe cleaning time is required to be shortened in accordance with the speed of steps such as rotation of the sampler, reagent storage, reaction disk, stirring of the test sample in the reaction tube, and photometry.

ここで、自動分析装置による一連の検査工程の迅速化に伴って、プローブの洗浄時間を削減することにより、プローブの洗浄時間を含めたプローブの往復移動の時間を短縮することはできるが、このような方法によると次のような問題が生じる。   Here, the time required for reciprocating the probe including the probe cleaning time can be shortened by reducing the probe cleaning time as the series of inspection processes by the automatic analyzer is accelerated. Such a method causes the following problems.

プローブ洗浄機構によってプローブが洗浄されると、被検試料、試薬等の外周面に付着した被検試料や試薬等は、洗浄水等によって洗浄機構外に流出される。しかしながら、上述のように洗浄時間が短縮されてしまうと、プローブの外壁部分が洗浄しきれず洗浄水、被検試料や試薬等が残留してしまう可能性がある。プローブの外壁部分に残留した洗浄水、被検試料、試薬等が極微量であったとしても、特に近年、被検試料が微量化しているので、その後の検査における分析結果に支障をきたすおそれがあった。したがって、洗浄時間を短縮するにしても、プローブ洗浄の質や効率を維持するに必要な時間(実効的な洗浄時間)は確保する必要があった。   When the probe is cleaned by the probe cleaning mechanism, the test sample, the reagent, etc. adhering to the outer peripheral surface of the test sample, the reagent, etc. flow out of the cleaning mechanism by the cleaning water or the like. However, if the cleaning time is shortened as described above, the outer wall portion of the probe may not be cleaned, and cleaning water, a test sample, a reagent, and the like may remain. Even if the amount of washing water, test sample, reagent, etc. remaining on the outer wall of the probe is extremely small, since the test sample has become very small in recent years, there is a risk of hindering the analysis results in subsequent tests. there were. Therefore, even if the cleaning time is shortened, it is necessary to secure the time (effective cleaning time) necessary for maintaining the quality and efficiency of the probe cleaning.

本発明は、以上の問題点に鑑みてなされたものであって、その目的は、プローブおよびプローブの洗浄機構を備えた自動分析装置において、プローブの洗浄機構による実効的な洗浄時間を維持するとともに、プローブの移動時間および洗浄時間を含んだ全体的な所要時間を短縮することを可能とする技術の提供をすることにある。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to maintain an effective cleaning time by a probe cleaning mechanism in an automatic analyzer equipped with a probe and a probe cleaning mechanism. Another object of the present invention is to provide a technique capable of shortening the overall required time including the probe moving time and the cleaning time.

上記の課題を解決するために、請求項1記載の発明は、被検試料を収容する試料容器と、試薬を収容する試薬容器と、該被検試料と該試薬との混合液を収容する反応管とを有し、該混合液の測定を行う自動分析装置であって、前記試料容器から前記被検試料を吸引するか、または前記試薬容器から前記試薬を吸引し、かつ該吸引した被検試料または試薬を前記反応管に吐出するプローブと、前記プローブの少なくとも吸引部分が収容される収容領域を有し、かつ該収容領域内に収容された該プローブにおける該吸引部分を洗浄可能な洗浄機構と、前記試料容器または前記試薬容器と、前記反応管との間で前記プローブを移動可能とし、かつ該プローブを少なくとも前記試料容器または前記試薬容器へ向かって移動させる間に、該プローブの少なくとも前記吸引部分が前記洗浄機構に洗浄されている状態で、該洗浄機構を該プローブとともに移動させる移動手段と、を備えたこと、を特徴とする自動分析装置である。
また上記の課題を解決するために、請求項8記載の発明は、被検試料を収容する試料容器と、試薬を収容する試薬容器と、該被検試料と該試薬との混合液を収容する反応管と、該試料容器もしくは該試薬容器と該反応間の間を移動するとともに該被検試料または該試薬の吸引および吐出をするプローブと、を有する自動分析装置における、該プローブの洗浄を行うプローブ洗浄機構であって、前記プローブの少なくとも吸引部分が収容される収容領域を備え、前記プローブが少なくとも前記試料容器または前記試薬容器へ向かって移動されている間に、該プローブとの前記吸引部分を収容したまま該プローブと連動して移動するとともに、少なくとも該吸引部分を洗浄すること、を特徴とするプローブ洗浄機構である。
また上記の課題を解決するために、請求項9記載の発明は、被検試料を収容する試料容器と、試薬を収容する試薬容器と、該被検試料と該試薬との混合液を収容する反応管とを有し、該混合液の測定を行う自動分析装置であって、前記試料容器から前記被検試料を吸引するか、または前記試薬容器から前記試薬を吸引し、かつ該吸引した被検試料または試薬を前記反応管に吐出するプローブと、前記プローブの少なくとも吸引部分が収容される収容領域を有し、かつ該収容領域内に収容された該プローブにおける該吸引部分を洗浄可能な洗浄機構と、前記試料容器もしくは前記試薬容器と、前記反応管との間で前記プローブを移動可能とし、かつ該プローブを少なくとも前記反応管へ向かって移動させる間に、該プローブの少なくとも前記吸引部分が前記洗浄機構に洗浄されたまま、該洗浄機構を該プローブとともに移動させる移動手段と、を備えたこと、を特徴とする自動分析装置。である。
In order to solve the above-described problems, the invention according to claim 1 is a sample container that contains a test sample, a reagent container that contains a reagent, and a reaction that contains a mixed solution of the test sample and the reagent. An automatic analyzer for measuring the mixed solution, wherein the test sample is aspirated from the sample container, or the reagent is aspirated from the reagent container, and the aspirated test A cleaning mechanism that has a probe that discharges a sample or a reagent to the reaction tube, and a storage area in which at least a suction part of the probe is stored, and that can clean the suction part in the probe stored in the storage area The probe can be moved between the sample container or the reagent container and the reaction tube, and the probe is moved at least while the probe is moved toward the sample container or the reagent container. In a state where Kutomo the suction portion is cleaned to the cleaning mechanism, to the cleaning mechanism and a moving means for moving together with the probe, an automatic analyzer according to claim.
In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 8 contains a sample container for storing a test sample, a reagent container for storing a reagent, and a mixed solution of the test sample and the reagent. The probe is cleaned in an automatic analyzer having a reaction tube and a probe that moves between the sample container or the reagent container and the reaction and sucks and discharges the test sample or the reagent. A probe cleaning mechanism, comprising a storage region in which at least a suction part of the probe is stored, and the suction part with the probe being moved toward at least the sample container or the reagent container The probe cleaning mechanism is characterized in that it moves in conjunction with the probe while accommodating the at least one suction portion and cleans at least the suction portion.
In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 9 contains a sample container for storing a test sample, a reagent container for storing a reagent, and a liquid mixture of the test sample and the reagent. An automatic analyzer having a reaction tube and measuring the mixed solution, wherein the test sample is sucked from the sample container or the reagent is sucked from the reagent container and the sucked target Cleaning that has a probe that discharges a test sample or a reagent to the reaction tube, and a storage area in which at least a suction part of the probe is stored, and that can clean the suction part in the probe stored in the storage area The probe is movable between a mechanism, the sample container or the reagent container, and the reaction tube, and at least the suction of the probe is moved while moving the probe toward at least the reaction tube. Part remains is washed in said washing mechanism, further comprising a moving means for moving the cleaning mechanism with the probe, the automatic analyzer according to claim. It is.

請求項1、8および9に記載の発明によれば、被検試料または試薬の吸引および吐出をするプローブが、少なくとも反応管から戻っている間や反応管へ向かっている間に、洗浄機構に洗浄されたまま、当該洗浄機構とともに移動されるように構成されている。このような構成によれば、プローブの洗浄を行うために、プローブが固定された洗浄機構に一旦留まることがなく、移動しながら洗浄されるので、実効的なプローブの洗浄時間を維持しつつ、プローブの移動時間および洗浄時間を含んだ全体的な所要時間を短縮することが可能である。   According to the first, eighth, and ninth aspects of the present invention, the probe for sucking and discharging the test sample or the reagent is at least in the cleaning mechanism while returning from the reaction tube or toward the reaction tube. It is configured to be moved together with the cleaning mechanism while being cleaned. According to such a configuration, in order to perform the cleaning of the probe, the probe is not moved to the cleaning mechanism to which the probe is fixed, but is cleaned while moving, so that the effective probe cleaning time is maintained, It is possible to reduce the overall time required, including probe travel time and cleaning time.

この発明の実施形態にかかる自動分析装置の概略構成を示す概略全体斜視図である。1 is a schematic overall perspective view showing a schematic configuration of an automatic analyzer according to an embodiment of the present invention. この発明の実施形態にかかる各プローブの回動軌跡と洗浄機構および洗浄機構ガイドとの位置関係を示す概略上面図である。It is a schematic top view which shows the positional relationship between the rotation locus | trajectory of each probe concerning this Embodiment, a washing | cleaning mechanism, and a washing | cleaning mechanism guide. この発明の実施形態にかかる洗浄機構の概略を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the outline of the washing | cleaning mechanism concerning embodiment of this invention. この発明の実施形態にかかる洗浄機構の一例の概略を示す概略斜視図である。It is a schematic perspective view which shows the outline of an example of the washing | cleaning mechanism concerning embodiment of this invention. この発明の実施形態にかかる自動分析装置の制御構成等を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the control structure etc. of the automatic analyzer concerning embodiment of this invention. この発明の実施形態にかかる自動分析装置において被検試料等を吸引した時点から、プローブが反応ディスクにおける反応管へ向かって移動するまでの動作を示すための概略図である。It is the schematic for showing operation | movement until a probe moves toward the reaction tube in a reaction disk from the time of attracting the test sample etc. in the automatic analyzer concerning embodiment of this invention. この発明の実施形態にかかる自動分析装置においてプローブが反応管へ到達した時点から、吐出後、プローブが再び試料容器等へ向かって移動するまでの動作を示すための概略図である。It is the schematic for showing operation | movement until it moves toward a sample container etc. again after discharge from the time of a probe reaching | attaining a reaction tube in the automatic analyzer concerning embodiment of this invention. この発明の第1実施形態にかかる自動分析装置において、プローブが洗浄機構へ収容され、洗浄されつつ移動する状態を示すための概略図である。In the automatic analyzer concerning 1st Embodiment of this invention, it is the schematic for showing the state which a probe is accommodated in a washing | cleaning mechanism, and moves while being washed. この発明の第2実施形態にかかる自動分析装置において、プローブが洗浄機構へ収容され、洗浄されつつ移動する状態を示すための概略図である。In the automatic analyzer concerning 2nd Embodiment of this invention, it is the schematic for showing the state which a probe is accommodated in a washing | cleaning mechanism, and moves while being washed. この発明の第3実施形態にかかる自動分析装置において、プローブが洗浄機構へ収容され、洗浄されつつ移動する状態を示すための概略図である。In the automatic analyzer concerning 3rd Embodiment of this invention, it is the schematic for showing the state which a probe is accommodated in the washing | cleaning mechanism, and moves while being washed.

以下、本発明の実施形態の一例について図1〜図10を参照して説明する。   Hereinafter, an exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

[第1実施形態]
(全体構成)
この発明の第1実施形態にかかる自動分析装置100の全体構成の概略について、図1を参照して説明する。図1は、第1実施形態にかかる自動分析装置100の概略構成を示す全体斜視図である。
[First Embodiment]
(overall structure)
An outline of the overall configuration of the automatic analyzer 100 according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is an overall perspective view showing a schematic configuration of an automatic analyzer 100 according to the first embodiment.

図1に示すようにこの実施形態にかかる自動分析装置100は、試薬ラック111を収納した第1試薬庫110と、当該第1試薬庫110に並設され試薬ラック121を収納した第2試薬庫120と、を備え、被検試料の分析に使用する試薬を供給可能とする。また、自動分析装置100は、第1試薬庫110の周囲に配置され反応管131を複数配置可能な反応ディスク130と、第1試薬庫110近傍に配置され、5本程度の試料容器140bが並列に載置されるラックトレイ140aと、複数の試料容器140bを直線方向に並べた状態で載置するラックサンプラ140とを有する。さらに、複数の試料容器141aを円周方向に並べた状態で載置するディスクサンプラ141を有する。これらのラックサンプラ140とディスクサンプラ141とは、被検試料を自動分析装置100の各部へ搬送可能とする。   As shown in FIG. 1, the automatic analyzer 100 according to this embodiment includes a first reagent container 110 that stores a reagent rack 111 and a second reagent container that is arranged in parallel with the first reagent container 110 and stores a reagent rack 121. 120, and can supply a reagent used for analyzing the test sample. In addition, the automatic analyzer 100 is arranged around the first reagent storage 110 and can be provided with a plurality of reaction tubes 131, and is disposed in the vicinity of the first reagent storage 110, and about five sample containers 140b are arranged in parallel. And a rack sampler 140 for placing a plurality of sample containers 140b in a state of being arranged in a linear direction. Furthermore, it has the disk sampler 141 which mounts the some sample container 141a in the state arranged in the circumferential direction. The rack sampler 140 and the disk sampler 141 can transport the test sample to each part of the automatic analyzer 100.

また自動分析装置100は、試薬を反応管131へ搬送する分注アーム112、122と、被検試料を反応管131へ搬送するサンプリングアーム142とを備え、被検試料や、試薬を異なる容器間で分注・吐出可能とする。また、自動分析装置100は、反応ディスク130の周囲に設置される攪拌ユニット150、測光ユニット160、反応管洗浄ユニット170を備え、被検試料の測定などを実行する。また自動分析装置100は、分注アーム112、122およびサンプリングアーム142に設けられたプローブそれぞれの回動軌跡上に、当該プローブそれぞれの洗浄を行う洗浄機構200等が配置されている。本実施形態における洗浄機構200および洗浄機構ガイド201等の詳細については後述する。   Further, the automatic analyzer 100 includes dispensing arms 112 and 122 for transporting the reagent to the reaction tube 131 and a sampling arm 142 for transporting the test sample to the reaction tube 131, so that the test sample and the reagent are transferred between different containers. Dispensing and dispensing are possible with Further, the automatic analyzer 100 includes a stirring unit 150, a photometric unit 160, and a reaction tube cleaning unit 170 installed around the reaction disk 130, and performs measurement of a test sample and the like. Further, in the automatic analyzer 100, a cleaning mechanism 200 for cleaning each of the probes is disposed on the rotation trajectory of each of the probes provided on the dispensing arms 112 and 122 and the sampling arm 142. Details of the cleaning mechanism 200 and the cleaning mechanism guide 201 in the present embodiment will be described later.

〈試薬ラックおよび第1試薬庫〉
図1に示すように第1試薬庫110の内部には、複数の試薬ボトル180を環状に並べて設置可能な試薬ラック111が設けられている。この試薬ラック111に設置された試薬ボトル180には、標準試料や被検試料に含まれる各項目の成分に対して選択的に反応する第1試薬が入っている。また、この試薬ラック111は、後述する制御部300によって制御された試薬ラック駆動部311により、試薬ボトル180を収容した状態で回転可能にされている。
<Reagent rack and first reagent storage>
As shown in FIG. 1, a reagent rack 111 in which a plurality of reagent bottles 180 can be arranged in a ring shape is provided inside the first reagent storage 110. The reagent bottle 180 installed in the reagent rack 111 contains a first reagent that selectively reacts with components of each item included in the standard sample and the test sample. The reagent rack 111 is rotatable in a state in which the reagent bottle 180 is accommodated by a reagent rack driving unit 311 controlled by the control unit 300 described later.

〈第2試薬庫〉
また第2試薬庫120は、図1に示すように第1試薬庫110の近傍に配置され、当該第1試薬庫110と同様の構成となっている。つまり第2試薬庫120内部には、試薬ボトル180を収容し、回転移動可能に構成された試薬ラック121を備える。また試薬ラック121には、標準試料や被検試料に含まれる各項目の成分に対して選択的に反応する第2試薬が入った試薬ボトル180が設置される。また、本発明における自動分析装置は、複数の試薬庫を有するものに限られず、例えばこの第2試薬庫120を備えない構成であってもよい。
<Second reagent storage>
The second reagent storage 120 is arranged in the vicinity of the first reagent storage 110 as shown in FIG. 1 and has the same configuration as the first reagent storage 110. That is, the second reagent storage 120 includes a reagent rack 121 that accommodates the reagent bottle 180 and is configured to be rotatable. The reagent rack 121 is provided with a reagent bottle 180 containing a second reagent that selectively reacts with the components of each item included in the standard sample and the test sample. In addition, the automatic analyzer according to the present invention is not limited to one having a plurality of reagent containers, and may be configured not to include the second reagent container 120, for example.

〈反応ディスク〉
また、図1に示すように反応ディスク130は、第1試薬庫110の周囲を囲うように円環状に形成される。この反応ディスク130には、自動分析装置100によって分析・測定を行うための被検試料および試薬を収容する反応管131が、当該反応ディスク130の形状に合わせて円環状に配列されて設置される。この反応管131は、上端が開放されており、この開口部分から第1・第2試薬や被検試料を分注可能とするため、開口部分が上方へ向くように反応ディスク130に設置される。また、反応ディスク130は、反応管131を収容したまま回転移動する。
<Reaction disk>
Further, as shown in FIG. 1, the reaction disk 130 is formed in an annular shape so as to surround the first reagent storage 110. On this reaction disk 130, reaction tubes 131 that contain test samples and reagents for analysis / measurement by the automatic analyzer 100 are arranged in an annular shape according to the shape of the reaction disk 130. . The reaction tube 131 has an open top, and is installed on the reaction disk 130 so that the first and second reagents and the test sample can be dispensed from the opening. . Further, the reaction disk 130 rotates while accommodating the reaction tube 131.

〈分注アーム〉
当該反応ディスク130の周囲には、分注アーム112が設けられる。この分注アーム112は、反応ディスク130の近傍で略垂直に立設する回動軸112aと、当該回動軸112aの上端に回動軸112aと略直交して回動可能に接続されたアーム部112bと、当該アーム部112bの回動軸112a側に対する他端に接続された分注プローブ112cとを備えて構成される。分注アーム112は、回動軸112aを軸中心として、アーム部112bおよび当該アーム部112bの先端に接続された分注プローブ112cが回動するように構成されている。この分注プローブ112cの回動範囲は、少なくとも第1試薬庫110に収容された試薬ボトル180の注入口と、反応管131との間を往復可能とする範囲である。また分注プローブ112cは、アーム部112bに対し、上下動(昇降)可能に接続されている。またこの分注プローブ112cは、ポンプを備えており第1試薬庫110に収容された試薬ボトル180の注入口から試薬を吸引し、被検試料が収容された反応管131に吐出する。
<Dispensing arm>
A dispensing arm 112 is provided around the reaction disk 130. The dispensing arm 112 includes a rotating shaft 112a standing substantially vertically in the vicinity of the reaction disk 130, and an arm connected to the upper end of the rotating shaft 112a so as to be rotatable substantially orthogonal to the rotating shaft 112a. And a dispensing probe 112c connected to the other end of the arm 112b with respect to the rotation shaft 112a. The dispensing arm 112 is configured such that the dispensing probe 112c connected to the arm portion 112b and the tip of the arm portion 112b rotates about the rotation shaft 112a. The pivoting range of the dispensing probe 112c is a range in which reciprocation between at least the inlet of the reagent bottle 180 accommodated in the first reagent storage 110 and the reaction tube 131 is possible. The dispensing probe 112c is connected to the arm portion 112b so as to move up and down (up and down). The dispensing probe 112c is equipped with a pump and sucks the reagent from the inlet of the reagent bottle 180 accommodated in the first reagent storage 110 and discharges it to the reaction tube 131 in which the sample to be examined is accommodated.

また、図1に示すように反応ディスク130と第2試薬庫120の間には、分注アーム122が設けられている。分注アーム122は、分注アーム112と同様の構成となっており、回動軸122a、アーム部122bおよび分注プローブ122cを備えている。また、回動軸122aを軸中心とし、アーム部122bを介して分注プローブ122cが回動する。分注プローブ122cの回動範囲は、少なくとも第2試薬庫120に収容された試薬ボトル180の注入口181と、反応管131との間となる。また、分注プローブ122cは、アーム部122bに対し上下動可能に接続され、ポンプを備えており、第2試薬庫120に収容された試薬ボトル180の注入口181から試薬を吸引し、被検試料が収容された反応管131に吐出・分注する。なお、自動分析装置が単一の試薬庫のみを有して構成される場合は、当該第2試薬庫120に対応する分注アーム122は設けられない。   As shown in FIG. 1, a dispensing arm 122 is provided between the reaction disk 130 and the second reagent storage 120. The dispensing arm 122 has the same configuration as the dispensing arm 112, and includes a rotating shaft 122a, an arm portion 122b, and a dispensing probe 122c. In addition, the dispensing probe 122c rotates around the rotation shaft 122a via the arm portion 122b. The pivoting range of the dispensing probe 122c is at least between the inlet 181 of the reagent bottle 180 accommodated in the second reagent storage 120 and the reaction tube 131. The dispensing probe 122c is connected to the arm portion 122b so as to be movable up and down, and includes a pump. The dispensing probe 122c sucks the reagent from the inlet 181 of the reagent bottle 180 accommodated in the second reagent storage 120 and Discharge and dispense into the reaction tube 131 containing the sample. When the automatic analyzer is configured to have only a single reagent storage, the dispensing arm 122 corresponding to the second reagent storage 120 is not provided.

〈サンプラ〉
また、図1に示すように本実施形態における自動分析装置100においては、被検試料がラックサンプラ140の試料容器140bと、ディスクサンプラ141の試料容器141aに収容されている。この試料容器140b、141aには、各項目の標準試料や被検試料などが収容されている。
<Sampler>
As shown in FIG. 1, in the automatic analyzer 100 according to the present embodiment, the test sample is stored in the sample container 140 b of the rack sampler 140 and the sample container 141 a of the disk sampler 141. The sample containers 140b and 141a contain standard samples and test samples for each item.

〈サンプリングアーム〉
また、図1に示すように反応ディスク130とラックサンプラ140との間には、サンプリングアーム142が設置される。サンプリングアーム142は、分注アーム112、122と同様の構成となっており、回動軸142a、アーム部142bおよびサンプリングプローブ142cを備えている。また、回動軸142aを軸中心とし、アーム部142bを介してサンプリングプローブ142cが回動する。サンプリングプローブ142cの回動範囲は、ラックサンプラ140に収容された試料容器140bと、反応管131との間および、ディスクサンプラ141に収容された試料容器141aと反応管131との間となる。また、サンプリングプローブ142cは、ラックサンプラ140に収容された試料容器140bから被検試料を吸引し、反応管131に吐出する。
<Sampling arm>
As shown in FIG. 1, a sampling arm 142 is installed between the reaction disk 130 and the rack sampler 140. The sampling arm 142 has the same configuration as the dispensing arms 112 and 122, and includes a rotation shaft 142a, an arm portion 142b, and a sampling probe 142c. Further, the sampling probe 142c rotates about the rotation shaft 142a through the arm portion 142b. The rotation range of the sampling probe 142 c is between the sample container 140 b accommodated in the rack sampler 140 and the reaction tube 131 and between the sample container 141 a accommodated in the disk sampler 141 and the reaction tube 131. The sampling probe 142 c sucks the test sample from the sample container 140 b accommodated in the rack sampler 140 and discharges it to the reaction tube 131.

〈攪拌ユニット〉
また、図1に示すように、攪拌ユニット150は反応ディスク130の近傍であって、サンプリングアーム142の位置より、反応ディスク130の回転方向における下流側へ配置される。ラックサンプラ140にあった被検試料が分注され、かつ第1試薬庫110、第2試薬庫120にあった試薬が分注された各反応管131は、反応ディスク130の回転移動により、当該攪拌ユニット150の位置まで移動する。攪拌ユニット150は搬送されてきた反応管131に内蔵された、被検試料と試薬の混合液を攪拌する。このように被検試料と試薬とが、反応管131内で攪拌されることにより、被検試料内の特定の成分と試薬との反応が生じ、被検試料の吸光度が変化する。
<Agitator unit>
Further, as shown in FIG. 1, the stirring unit 150 is disposed in the vicinity of the reaction disk 130 and downstream from the position of the sampling arm 142 in the rotation direction of the reaction disk 130. Each reaction tube 131 into which the test sample in the rack sampler 140 is dispensed and the reagent in the first reagent container 110 and the second reagent container 120 is dispensed is moved by the rotational movement of the reaction disk 130. Move to the position of the stirring unit 150. The agitation unit 150 agitates the mixed solution of the test sample and the reagent contained in the reaction tube 131 that has been conveyed. As described above, the test sample and the reagent are stirred in the reaction tube 131, whereby a reaction between a specific component in the test sample and the reagent occurs, and the absorbance of the test sample changes.

〈測光ユニット〉
また、図1に示すように、測光ユニット160は反応ディスク130の近傍であって、攪拌ユニット150の位置より、反応ディスク130の回転方向における下流側(進行方向側)へ配置される。攪拌された被検試料と試薬の混合液を有する反応管131は、反応ディスク130によって、攪拌ユニット150の攪拌位置から下流側に配置された測光ユニット160の位置(図1参照)まで移動する。測光ユニット160は、搬送されてきた反応管131に内蔵され、攪拌された被検試料と試薬の混合液の吸光度を測定する。このように測光ユニット160で被検試料の吸光度を測定することにより、被検試料内における特定の成分についての濃度を得ることができる。
<Metering unit>
Further, as shown in FIG. 1, the photometric unit 160 is arranged in the vicinity of the reaction disk 130 and downstream from the position of the stirring unit 150 in the rotation direction of the reaction disk 130 (traveling direction side). The reaction tube 131 having the mixed liquid of the sample to be tested and the reagent is moved by the reaction disk 130 from the stirring position of the stirring unit 150 to the position of the photometric unit 160 arranged on the downstream side (see FIG. 1). The photometric unit 160 is built in the transported reaction tube 131 and measures the absorbance of the mixed liquid of the sample to be stirred and the reagent. Thus, by measuring the absorbance of the test sample with the photometric unit 160, the concentration of a specific component in the test sample can be obtained.

〈反応管洗浄ユニット〉
また、測光ユニット160により吸光度を測定され、分析が終了された被検試料と試薬の混合液は、反応管洗浄ユニット170により反応管131から廃棄される。また混合液が廃棄された状態の反応管131は、反応管洗浄ユニット170により洗浄される。
<Reaction tube cleaning unit>
Further, the mixture of the test sample and the reagent whose absorbance has been measured by the photometric unit 160 and whose analysis has been completed is discarded from the reaction tube 131 by the reaction tube cleaning unit 170. Further, the reaction tube 131 in a state where the mixed solution is discarded is cleaned by the reaction tube cleaning unit 170.

(洗浄機構および洗浄機構ガイドの構成)
次に本実施形態における洗浄機構200および洗浄機構ガイド201の構成につき、図2乃至図4を参照して説明する。図2は、この発明の実施形態にかかるサンプリングプローブ142cの回動軌跡と洗浄機構200および洗浄機構ガイド201との位置関係を示す概略上面図である。図3は、この発明の実施形態にかかる洗浄機構200の概略を示す概略断面図である。図4は、この発明の実施形態にかかる洗浄機構200の一例の概略を示す概略斜視図である。なお、図2および図3における洗浄機構200および洗浄機構ガイド201は、サンプリングプローブ142cを洗浄するためのものであるが、分注プローブ112c、122cを洗浄するための洗浄機構(不図示)および洗浄機構ガイドも設けられているものとする。すなわち図2に示す洗浄機構ガイド201は、ディスクサンプラ141と反応ディスク130との間のサンプリングプローブ142cの回動軌跡上にのみ設けられているが、本実施形態における洗浄機構ガイドは他のプローブの回動軌跡上にも設けられているものとする。また、これら分注プローブ112c、122cを洗浄するための洗浄機構および洗浄機構ガイドも図2や図3等における洗浄機構200および洗浄機構ガイド201と同様の構成である。
(Structure of cleaning mechanism and cleaning mechanism guide)
Next, the configuration of the cleaning mechanism 200 and the cleaning mechanism guide 201 in the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is a schematic top view showing the positional relationship between the rotation trajectory of the sampling probe 142c and the cleaning mechanism 200 and the cleaning mechanism guide 201 according to the embodiment of the present invention. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing an outline of the cleaning mechanism 200 according to the embodiment of the present invention. FIG. 4 is a schematic perspective view showing an outline of an example of the cleaning mechanism 200 according to the embodiment of the present invention. The cleaning mechanism 200 and the cleaning mechanism guide 201 in FIGS. 2 and 3 are for cleaning the sampling probe 142c. However, the cleaning mechanism (not shown) and the cleaning for cleaning the dispensing probes 112c and 122c are used. A mechanism guide is also provided. That is, the cleaning mechanism guide 201 shown in FIG. 2 is provided only on the rotation trajectory of the sampling probe 142c between the disk sampler 141 and the reaction disk 130. However, the cleaning mechanism guide in this embodiment is the same as that of other probes. It is assumed that it is also provided on the rotation trajectory. Further, the cleaning mechanism and the cleaning mechanism guide for cleaning the dispensing probes 112c and 122c have the same configuration as the cleaning mechanism 200 and the cleaning mechanism guide 201 in FIGS.

まず図2乃至図4を参照して洗浄機構200の構成について説明する。この洗浄機構200は図2および図3に示すように、壁部202、202に囲われて形成されている。この壁部202、202は反応ディスク130やディスクサンプラ141が設置されている自動分析装置100の天面から離れる方向に立設するとともに、互いに対向して配置されている。また洗浄機構200は壁部202、202に囲われた領域(以下、「収容領域」という)を有している。この収容領域内にはサンプリングプローブ142cにおける、少なくとも被検試料を吸引する部分(吸引部分)が収容可能となっている。   First, the configuration of the cleaning mechanism 200 will be described with reference to FIGS. As shown in FIGS. 2 and 3, the cleaning mechanism 200 is formed so as to be surrounded by the walls 202 and 202. The wall portions 202 and 202 are erected in a direction away from the top surface of the automatic analyzer 100 on which the reaction disk 130 and the disk sampler 141 are installed, and are disposed to face each other. The cleaning mechanism 200 has an area (hereinafter referred to as “accommodating area”) surrounded by the walls 202 and 202. In this accommodation area, at least a portion (aspiration portion) for aspirating the test sample in the sampling probe 142c can be accommodated.

なお図4に示すように、洗浄機構200の壁部202、202における、サンプリングプローブ142cの回動軌跡に対応する位置には、サンプリングプローブ142cを通過可能とする、図4に示すような切欠きを設ける構成とすることも可能である。この図4に示す構成によれば、洗浄機構200における開口に隣接した側面のうち、サンプリングプローブ142cの回動軌跡に対応する位置に、サンプリングプローブ142cを少なくとも通過可能とする幅および高さの切欠きが設けられる。さらに洗浄機構200の収容領域の高さはサンプリングプローブ142cが回動しているときの高さに合わせられる。この収容領域の高さは、洗浄機構200壁部202の高さを高くするか、もしくは移動基部204の高さを高くすることによって調整される。このような構成によれば、サンプリングプローブ142cを洗浄機構200の収容領域に対し出入するとき、サンプリングプローブ142cを上下動する必要が無く、回動するのみで洗浄機構200の切欠きから洗浄機構200の収容領域に収容・排出されることになる。その結果、サンプリングプローブ142cの往復動作・洗浄動作の1サイクルにかかる時間をより短縮することができるとともに、洗浄時間をより長く確保することが可能となる。   As shown in FIG. 4, a notch as shown in FIG. 4 that allows the sampling probe 142c to pass through a position corresponding to the rotation trajectory of the sampling probe 142c in the walls 202 and 202 of the cleaning mechanism 200. It is also possible to provide a configuration. According to the configuration shown in FIG. 4, the width and height are cut so that at least the sampling probe 142c can pass through the side surface adjacent to the opening of the cleaning mechanism 200 at a position corresponding to the rotation trajectory of the sampling probe 142c. A notch is provided. Furthermore, the height of the storage area of the cleaning mechanism 200 is adjusted to the height when the sampling probe 142c is rotating. The height of the accommodation area is adjusted by increasing the height of the cleaning mechanism 200 wall 202 or by increasing the height of the moving base 204. According to such a configuration, when the sampling probe 142c is moved in and out of the accommodation area of the cleaning mechanism 200, the sampling probe 142c does not need to be moved up and down, and the cleaning mechanism 200 can be removed from the notch of the cleaning mechanism 200 only by rotating. It will be stored and discharged in the storage area. As a result, the time required for one cycle of the reciprocating operation / cleaning operation of the sampling probe 142c can be further shortened, and a longer cleaning time can be secured.

また洗浄機構200には壁部202、202を貫通し、互いに対向する放出口206、206が設けられる。また壁部202それぞれが互いに対向する面と反対側の面(以下、「外面」という)には、各放出口206に対応する位置に円筒状かつ両端が開口されたパイプ208が設けられている。   The cleaning mechanism 200 is provided with discharge ports 206 and 206 that pass through the walls 202 and 202 and face each other. Also, pipes 208 that are cylindrical and open at both ends are provided at positions corresponding to the respective discharge ports 206 on the surface opposite to the surface where the wall portions 202 face each other (hereinafter referred to as “outer surface”). .

自動分析装置100では、このパイプ208へ図示しない洗浄液供給手段から洗浄液を供給する。洗浄液は、パイプ208から放出口206を通じて、壁部202の内側の収容領域、すなわちプローブ洗浄領域へ洗浄液が放出される。   In the automatic analyzer 100, the cleaning liquid is supplied to the pipe 208 from a cleaning liquid supply means (not shown). The cleaning liquid is discharged from the pipe 208 through the discharge port 206 to the accommodation area inside the wall 202, that is, the probe cleaning area.

また図3に示すように、壁部202によって囲われた収容領域は、略上部が開口しており、当該開口からサンプリングプローブ142cが挿入(収容)可能とされている。また図2に示すように、本実施形態における自動分析装置100においてはサンプリングプローブ142cの回動軌跡に対応して当該回動軌跡に沿うとともに、当該回動軌跡を挟むようにして形成された洗浄機構ガイド201を有している。この洗浄機構ガイド201はレール状に形成されており、図3に示すように洗浄機構200における移動基部204の幅よりやや間隔が広くなるように設けられる。   As shown in FIG. 3, the accommodation region surrounded by the wall portion 202 has an approximately upper opening, and the sampling probe 142 c can be inserted (accommodated) through the opening. Further, as shown in FIG. 2, in the automatic analyzer 100 according to the present embodiment, the cleaning mechanism guide formed so as to follow the rotation locus corresponding to the rotation locus of the sampling probe 142c and sandwich the rotation locus. 201. The cleaning mechanism guide 201 is formed in a rail shape, and is provided so that the interval is slightly wider than the width of the moving base 204 in the cleaning mechanism 200 as shown in FIG.

洗浄機構200における移動基部204は、洗浄機構200の収容領域(プローブ洗浄領域)の下部に設けられており、洗浄機構200を移動可能に保持している。この移動基部204が駆動部(図5の符号315参照)に駆動され、洗浄機構ガイド201にガイドされて移動することにより、洗浄機構200はサンプリングプローブ142cの回動軌跡に沿って移動することが可能である。例えば、移動基部204はサンプリングアーム142の回動軸142aを軸として、または回動軸142aに対応した位置にある他の回動軸を軸として、サンプリングアーム142と同様に、サンプリングプローブ142cの回動軌跡上を回動するように構成することが可能である。この移動基部204は、サンプリングプローブ142cがその回動軌跡上で、洗浄機構200の収容領域側の方向へ移動(降下)したときにおいて、当該収容領域に少なくともサンプリングプローブ142cの吸引部分が収容される高さとなるように設けられる。   The moving base 204 in the cleaning mechanism 200 is provided in the lower part of the storage area (probe cleaning area) of the cleaning mechanism 200 and holds the cleaning mechanism 200 movably. The moving base 204 is driven by a driving unit (see reference numeral 315 in FIG. 5) and is guided and moved by the cleaning mechanism guide 201, so that the cleaning mechanism 200 can move along the rotation locus of the sampling probe 142c. Is possible. For example, the moving base 204 rotates the sampling probe 142c around the rotation axis 142a of the sampling arm 142 or the other rotation axis at a position corresponding to the rotation axis 142a as in the sampling arm 142. It can be configured to rotate on the movement trajectory. When the sampling probe 142c moves (descends) in the direction toward the accommodation area of the cleaning mechanism 200 on the rotation trajectory, the movement base 204 accommodates at least the suction portion of the sampling probe 142c in the accommodation area. Provided to be high.

なお、この吸引部分とはサンプリングプローブ142cが試料容器140bから被検試料を吸引するときに、サンプリングプローブ142cが被検試料に浸かる部分をいう。分注プローブ112c、122cの洗浄機構(不図示)であれば、分注プローブ112c、122cが試薬に浸かる部分である。   The suction part refers to a part where the sampling probe 142c is immersed in the test sample when the sampling probe 142c sucks the test sample from the sample container 140b. In the case of a cleaning mechanism (not shown) for the dispensing probes 112c and 122c, the dispensing probes 112c and 122c are portions that are immersed in the reagent.

すなわち、図2に示すようにサンプリングアーム142は、ラックサンプラ140と反応ディスク130との間に配置され、サンプリングプローブ142cは、サンプリングアーム142によって試料容器140bと反応管131との間で回動される。また、図2に示すように、洗浄機構200は、このサンプリングプローブ142cの回動軌跡上に形成された洗浄機構ガイド201にガイドされてサンプリングプローブ142cと同じ軌跡上で移動される。   That is, as shown in FIG. 2, the sampling arm 142 is disposed between the rack sampler 140 and the reaction disk 130, and the sampling probe 142 c is rotated between the sample container 140 b and the reaction tube 131 by the sampling arm 142. The Further, as shown in FIG. 2, the cleaning mechanism 200 is guided by the cleaning mechanism guide 201 formed on the rotation trajectory of the sampling probe 142c and moved on the same trajectory as the sampling probe 142c.

また図3に示すようにサンプリングプローブ142cが回動され、その後サンプリングプローブ142cが洗浄機構200の壁部202それぞれの間、すなわち収容領域(プローブ洗浄領域)に入ると、洗浄液収容部(不図示)から、ポンプ等によってパイプ208に洗浄液が供給され、放出口206から洗浄液が放出される。なお本実施形態における洗浄機構200は固定されず移動する構成であるため、洗浄液収容部から洗浄機構200のパイプ208へ洗浄液を供給するための洗浄液供給管(不図示)は、当該洗浄機構200の移動に対応可能な長さまたは伸縮性を有するように構成されている。   Further, as shown in FIG. 3, when the sampling probe 142c is rotated and thereafter the sampling probe 142c enters between the wall portions 202 of the cleaning mechanism 200, that is, the storage area (probe cleaning area), a cleaning liquid storage section (not shown) Then, the cleaning liquid is supplied to the pipe 208 by a pump or the like, and the cleaning liquid is discharged from the discharge port 206. Since the cleaning mechanism 200 in this embodiment is configured to move without being fixed, a cleaning liquid supply pipe (not shown) for supplying the cleaning liquid from the cleaning liquid container to the pipe 208 of the cleaning mechanism 200 is provided in the cleaning mechanism 200. It is configured to have a length or elasticity that can accommodate movement.

放出口206から放出された洗浄液により、洗浄領域内にあるサンプリングプローブ142cの外周面に付着した試薬、被検試料、混合液等を洗い流す。サンプリングプローブ142cから流下する洗浄液は、図3に示すような洗浄機構200の底部211の廃液口212から、洗浄領域外へ流出する。またこの底部211の廃液口212は、図3に示すように移動基部204と連通している。つまり洗浄領域から流出した廃液は、図3に示すように移動基部204の内部を経過して自動分析装置100本体側へ流出する。なお、廃液処理にかかる自動分析装置100側の構造については説明を割愛する。   With the cleaning liquid discharged from the discharge port 206, the reagent, test sample, mixed liquid, and the like attached to the outer peripheral surface of the sampling probe 142c in the cleaning area are washed away. The cleaning liquid flowing down from the sampling probe 142c flows out of the cleaning area from the waste liquid port 212 of the bottom 211 of the cleaning mechanism 200 as shown in FIG. Further, the waste liquid port 212 of the bottom portion 211 communicates with the moving base portion 204 as shown in FIG. That is, the waste liquid that has flowed out of the cleaning region flows through the inside of the moving base 204 to the automatic analyzer 100 main body as shown in FIG. Note that a description of the structure of the automatic analyzer 100 side for waste liquid treatment is omitted.

(制御)
次に、図5を参照して、自動分析装置100の各部における機能構成について説明する。図5は、この発明の実施形態にかかる自動分析装置100の制御構成等を示すブロック図である。
(control)
Next, with reference to FIG. 5, the functional configuration of each unit of the automatic analyzer 100 will be described. FIG. 5 is a block diagram showing a control configuration and the like of the automatic analyzer 100 according to the embodiment of the present invention.

図5に示すように自動分析装置100は、先に述べた図1に示す各部を含む分析部310の他に、データ処理部320、操作部330、表示部340、印刷部350および記憶部360を備える。また、これらの各部は制御部300によって制御される。   As shown in FIG. 5, the automatic analyzer 100 includes a data processing unit 320, an operation unit 330, a display unit 340, a printing unit 350, and a storage unit 360, in addition to the analysis unit 310 including each unit illustrated in FIG. 1 described above. Is provided. Each of these units is controlled by the control unit 300.

制御部300は例えばCPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等で構成される。記憶部360には、あらかじめ制御プログラムが記憶され、CPUが当該制御プログラムを適宜RAM上に展開することにより、制御部300として機能する。   The controller 300 includes, for example, a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), and the like. A control program is stored in the storage unit 360 in advance, and the CPU functions as the control unit 300 when the control program is appropriately expanded on the RAM.

分析部310は、第1試薬庫110の試薬ラック111と第2試薬庫120の試薬ラック121とをそれぞれ駆動する試薬ラック駆動部311、分注アーム112、122とサンプリングアーム142をそれぞれ駆動するアーム駆動部312、反応ディスク130を駆動する反応ディスク駆動部313、ラックサンプラ140を駆動するサンプラ駆動部314、を備えている。自動分析装置100の操作者が、操作部330を介し、自動分析装置100を稼働させる操作を行うと、制御部300は当該操作に基づき、上述の制御プログラムに基づき、分析部310の各駆動部を、あらかじめ定められた量だけ駆動するよう制御を行う。また、分析部310の各部は、それぞれの動作に合わせて同期して作動するように制御され、かつ連動するように駆動される。   The analysis unit 310 includes a reagent rack drive unit 311 that drives the reagent rack 111 of the first reagent store 110 and a reagent rack 121 of the second reagent store 120, and arms that drive the dispensing arms 112 and 122 and the sampling arm 142, respectively. A driving unit 312, a reaction disk driving unit 313 that drives the reaction disk 130, and a sampler driving unit 314 that drives the rack sampler 140 are provided. When the operator of the automatic analyzer 100 performs an operation for operating the automatic analyzer 100 via the operation unit 330, the control unit 300 performs each driving unit of the analysis unit 310 based on the above-described control program based on the operation. Is controlled so as to be driven by a predetermined amount. Each unit of the analysis unit 310 is controlled to operate in synchronization with each operation, and is driven to be interlocked.

また、本実施形態における制御部300は、洗浄機構駆動部315を駆動することにより、洗浄機構200における移動基部204を、洗浄機構ガイド201にガイドさせつつ移動させる。その結果、各プローブの回動軌跡に沿って洗浄機構200が移動される。この洗浄機構200の移動について図6乃至図8を参照して説明する。図6(A)乃至(C)は、の発明の実施形態にかかる自動分析装置100において被検試料等を吸引した時点から、各プローブが反応ディスク130における反応管131へ向かって移動するまでの動作を示すための概略図である。図7(A)乃至(C)は、この発明の実施形態にかかる自動分析装置100において各プローブが反応管131へ到達した時点から、反応管131への吐出後、各プローブが再び試料容器141a、試薬ボトル180等へ向かって移動するまでの動作を示すための概略図である。図8(A)乃至(C)は、この発明の第1実施形態にかかる自動分析装置100において、各プローブが洗浄機構200へ収容され、洗浄されつつ移動する状態を示すための概略図である。なお、図6(A)乃至(C)、図7(A)乃至(C)および図8(A)乃至(C)では、洗浄機構ガイド201が直線状であるように示されているが、実際にはプローブの移動軌跡に添った形状をなしているものである。また、本実施形態にかかる自動分析装置100における制御部300と、分注アーム112、122、サンプリングアーム142およびアーム駆動部312と、移動基部204および洗浄機構駆動部315は、本発明にかかる「移動手段」の一例に該当する。   Further, the control unit 300 in the present embodiment drives the cleaning mechanism driving unit 315 to move the moving base 204 in the cleaning mechanism 200 while guiding the cleaning mechanism guide 201. As a result, the cleaning mechanism 200 is moved along the rotation trajectory of each probe. The movement of the cleaning mechanism 200 will be described with reference to FIGS. 6A to 6C are diagrams from the time when the test sample or the like is sucked in the automatic analyzer 100 according to the embodiment of the present invention to the time when each probe moves toward the reaction tube 131 in the reaction disk 130. It is the schematic for showing operation | movement. FIGS. 7A to 7C show that each probe once again reaches the reaction tube 131 in the automatic analyzer 100 according to the embodiment of the present invention. FIG. 5 is a schematic diagram for illustrating an operation until the reagent bottle 180 moves toward the reagent bottle 180 and the like. FIGS. 8A to 8C are schematic views showing a state in which each probe is housed in the cleaning mechanism 200 and moves while being cleaned in the automatic analyzer 100 according to the first embodiment of the present invention. . In FIGS. 6A to 6C, FIGS. 7A to 7C, and FIGS. 8A to 8C, the cleaning mechanism guide 201 is shown to be linear. Actually, the shape follows the movement locus of the probe. In addition, the control unit 300, the dispensing arms 112 and 122, the sampling arm 142 and the arm driving unit 312 in the automatic analyzer 100 according to the present embodiment, the moving base unit 204 and the cleaning mechanism driving unit 315 according to the present invention. This corresponds to an example of “moving means”.

〈吸引〜反応管へ移動(往路移動)〉
図6(A)に示すように、サンプリングプローブ142cが試料容器141aから被検試料を吸引した後、図6(B)に示すように反応ディスク130における反応管131へ移動を開始すると、図6(C)に示すようにサンプリングプローブ142cの移動に同期して洗浄機構200が移動される。
<Suction to transfer to reaction tube (outward movement)>
As shown in FIG. 6 (A), after the sampling probe 142c sucks the test sample from the sample container 141a, the movement to the reaction tube 131 in the reaction disk 130 is started as shown in FIG. 6 (B). As shown in (C), the cleaning mechanism 200 is moved in synchronization with the movement of the sampling probe 142c.

すなわち制御部300は、まずサンプラ駆動部314を駆動して、ディスクサンプラ141を回転移動させ試料容器141aを適宜、サンプリングプローブ142cの吸引位置まで移動させる。これに連動して制御部300は、分析部310のアーム駆動部312を駆動させることにより、サンプリングアーム142を回動させてサンプリングプローブ142cを当該吸引位置まで移動させるとともに、サンプリングプローブ142cを試料容器141aの内部に移動させる。その後制御部300は、さらにアーム駆動部312を駆動させて、サンプリングプローブ142cにより、試料容器141a内の被検試料を吸引する(図6(A)参照)。   That is, the control unit 300 first drives the sampler driving unit 314 to rotate and move the disk sampler 141 to appropriately move the sample container 141a to the suction position of the sampling probe 142c. In conjunction with this, the control unit 300 drives the arm driving unit 312 of the analysis unit 310 to rotate the sampling arm 142 and move the sampling probe 142c to the suction position, and the sampling probe 142c is moved to the sample container. 141a is moved inside. Thereafter, the control unit 300 further drives the arm driving unit 312 to suck the test sample in the sample container 141a by the sampling probe 142c (see FIG. 6A).

制御部300は、サンプリングプローブ142cが被検試料を吸引すると、アーム駆動部312を駆動させてサンプリングプローブ142cを試料容器141aから排出させる(図6(B)参照)。さらに制御部300は、アーム駆動部312を駆動させて、サンプリングアーム142を回動させ、サンプリングプローブ142cを反応ディスク130へと移動させる。このとき制御部300は、当該移動に同期して洗浄機構駆動部315を駆動させ、移動基部204を介して洗浄機構200も反応ディスク130へ移動させる。なお、このように洗浄機構200とサンプリングプローブ142cとを必ずしも同期させる必要は無く、サンプリングプローブ142cの移動に前後して洗浄機構200を移動させることも可能である。ただし、次に述べるように被検試料の吐出後までに洗浄機構200が、当該吐出された反応管131まで到達していることが好ましい。また、洗浄機構駆動部315としては、例えばステッピングモータ等を用いることが可能である。   When the sampling probe 142c sucks the test sample, the control unit 300 drives the arm driving unit 312 to discharge the sampling probe 142c from the sample container 141a (see FIG. 6B). Further, the control unit 300 drives the arm driving unit 312 to rotate the sampling arm 142 and move the sampling probe 142 c to the reaction disk 130. At this time, the control unit 300 drives the cleaning mechanism driving unit 315 in synchronization with the movement, and also moves the cleaning mechanism 200 to the reaction disk 130 via the moving base unit 204. Note that the cleaning mechanism 200 and the sampling probe 142c are not necessarily synchronized as described above, and the cleaning mechanism 200 can be moved before and after the sampling probe 142c is moved. However, it is preferable that the cleaning mechanism 200 reaches the discharged reaction tube 131 before the test sample is discharged as described below. As the cleaning mechanism driving unit 315, for example, a stepping motor or the like can be used.

〈反応管到達〜試料容器へ移動(復路移動)〉
図7(A)に示すように、サンプリングプローブ142cが反応ディスク130における反応管131へ移動した後、図7(B)に示すように反応管131へ収容されて、被検試料を吐出し、さらにその後、図7(C)に示すようにサンプリングプローブ142cが反応管131から排出されて、再び試料容器141aに移動される。このとき洗浄機構200は、吐出が行われた反応管131の吐出位置の近傍に配置されている。
<Reach tube arrival to sample container (return trip)>
As shown in FIG. 7A, after the sampling probe 142c moves to the reaction tube 131 in the reaction disk 130, it is accommodated in the reaction tube 131 as shown in FIG. Thereafter, as shown in FIG. 7C, the sampling probe 142c is discharged from the reaction tube 131 and moved to the sample container 141a again. At this time, the cleaning mechanism 200 is disposed in the vicinity of the discharge position of the reaction tube 131 from which the discharge has been performed.

すなわち制御部300は、アーム駆動部312によってサンプリングプローブ142cが反応ディスク130の吐出位置まで移動されると(図7(A)参照)、反応ディスク駆動部313によって反応ディスク130を回転駆動させ、適宜反応管131を吐出位置まで移動させる。さらに制御部300は、アーム駆動部312を駆動してサンプリングアーム142のサンプリングプローブ142cを反応管131の内部側へ移動(降下)させ、さらにサンプリングプローブ142cが保有している被検試料を反応管131へ吐出させる(図7(B)参照)。吐出が完了すると、制御部300は、アーム駆動部312を駆動させて、サンプリングプローブ142cを反応管131から排出させる(図7(C)参照)。このとき洗浄機構200は、当該反応管131の周囲において停止している状態である。   That is, when the sampling probe 142c is moved to the discharge position of the reaction disk 130 by the arm driving unit 312 (see FIG. 7A), the control unit 300 rotates the reaction disk 130 by the reaction disk driving unit 313, and appropriately The reaction tube 131 is moved to the discharge position. Further, the control unit 300 drives the arm driving unit 312 to move (lower) the sampling probe 142c of the sampling arm 142 toward the inside of the reaction tube 131, and further, the test sample held by the sampling probe 142c is transferred to the reaction tube. The ink is discharged to 131 (see FIG. 7B). When the discharge is completed, the control unit 300 drives the arm driving unit 312 to discharge the sampling probe 142c from the reaction tube 131 (see FIG. 7C). At this time, the cleaning mechanism 200 is in a stopped state around the reaction tube 131.

〈プローブ収容〜洗浄開始〜プローブ排出(復路移動)〉
図8(A)に示すように、サンプリングプローブ142cが反応ディスク130における反応管131から排出されると待機していた洗浄機構200に収容されてサンプリングプローブ142cの洗浄が開始される。ここで本実施形態における自動分析装置100では、図8(B)に示すようにサンプリングプローブ142cが洗浄されつつ、洗浄機構200がサンプリングプローブ142cを収容したまま、同期して試料容器141aへ移動される。さらにその後、図8(C)に示すようにサンプリングプローブ142cは、試料容器141aに到達するまで洗浄され、試料容器141aに到達するとサンプリングプローブ142cの洗浄が完了し、洗浄機構200から排出される。
<Probe storage-cleaning start-probe discharge (return trip)>
As shown in FIG. 8A, when the sampling probe 142c is discharged from the reaction tube 131 in the reaction disk 130, the sampling probe 142c is accommodated in the waiting cleaning mechanism 200 and cleaning of the sampling probe 142c is started. Here, in the automatic analyzer 100 according to the present embodiment, as shown in FIG. 8B, the cleaning mechanism 200 is synchronously moved to the sample container 141a while the sampling probe 142c is accommodated while the sampling probe 142c is being cleaned. The After that, as shown in FIG. 8C, the sampling probe 142c is cleaned until it reaches the sample container 141a, and when it reaches the sample container 141a, the cleaning of the sampling probe 142c is completed and discharged from the cleaning mechanism 200.

すなわち制御部300は、アーム駆動部312を駆動させて、図8(A)に示すように反応管131への吐出を完了し、反応管131から排出されたサンプリングプローブ142cを、洗浄機構200の収容領域側へ移動(降下)させ、洗浄機構200の収容領域にサンプリングプローブ142cを収容させる。さらに制御部300は、洗浄機構200にサンプリングプローブ142cを収容させると、図示しない洗浄水放出ポンプを駆動させ、洗浄水収容部から洗浄水を洗浄機構200に供給する。このようにして洗浄機構200におけるパイプ208、放出口206それぞれを介して収容領域に洗浄水が放出される。この洗浄水により収容領域内のサンプリングプローブ142cに付着した被検試料、試薬、混合液等が流れ落ち、サンプリングプローブ142cが洗浄される。   That is, the control unit 300 drives the arm driving unit 312 to complete the discharge to the reaction tube 131 as shown in FIG. 8A, and the sampling probe 142 c discharged from the reaction tube 131 is removed from the cleaning mechanism 200. The sampling probe 142c is accommodated in the accommodating area of the cleaning mechanism 200 by moving (lowering) toward the accommodating area. Further, when the cleaning probe 200 is accommodated in the cleaning mechanism 200, the control unit 300 drives a cleaning water discharge pump (not shown) to supply cleaning water from the cleaning water storage unit to the cleaning mechanism 200. In this manner, the cleaning water is discharged to the accommodation area through the pipe 208 and the discharge port 206 in the cleaning mechanism 200. The test sample, reagent, mixed liquid, and the like attached to the sampling probe 142c in the storage area flow down by the cleaning water, and the sampling probe 142c is cleaned.

さらに制御部300は、分析部310の洗浄機構駆動部315とアーム駆動部312を連動して駆動させて、洗浄機構200とサンプリングプローブ142cとを同じ軌跡上で移動させる。図8(B)・(C)に示すように、これによって洗浄機構200内でサンプリングプローブ142cが洗浄されつつ、サンプリングプローブ142cが試料容器141aに移動される。   Further, the control unit 300 drives the cleaning mechanism driving unit 315 and the arm driving unit 312 of the analysis unit 310 in conjunction with each other to move the cleaning mechanism 200 and the sampling probe 142c on the same locus. As shown in FIGS. 8B and 8C, the sampling probe 142c is moved to the sample container 141a while the sampling probe 142c is cleaned in the cleaning mechanism 200.

なお、本実施形態にかかる自動分析装置100は、図8(A)に示すような洗浄機構200の収容領域にサンプリングプローブ142cを収容するにあたりサンプリングプローブ142cを洗浄機構200へ向けて下降させる構成に限られない。例えば図4に示すような、サンプリングプローブ142cの回動軌跡上に切り欠きを有する洗浄機構200であって、なおかつ洗浄機構200の収容領域の高さを、サンプリングプローブ142cが試料容器141aから反応管131へ移動しているときの高さに合わせる構成によることも可能である。すなわち、この構成によれば、サンプリングプローブ142cが、洗浄機構200の壁部202においてプローブの回動軌跡に対応する位置に設けられた切り欠きを通過して、洗浄機構200の収容領域に出入されるので、サンプリングプローブ142cを上下動する必要が無くなる。その結果、サンプリングプローブ142cの往復動作・洗浄動作の1サイクルにかかる時間をより短縮することができるとともに、洗浄時間をより長く確保することが可能となる。   The automatic analyzer 100 according to the present embodiment is configured to lower the sampling probe 142c toward the cleaning mechanism 200 when the sampling probe 142c is stored in the storage region of the cleaning mechanism 200 as shown in FIG. Not limited. For example, as shown in FIG. 4, the cleaning mechanism 200 has a notch on the rotation trajectory of the sampling probe 142 c, and the height of the accommodation region of the cleaning mechanism 200 is set so that the sampling probe 142 c extends from the sample container 141 a to the reaction tube. It is also possible to adopt a configuration that matches the height when moving to 131. In other words, according to this configuration, the sampling probe 142 c passes through the notch provided at the position corresponding to the rotational trajectory of the probe in the wall 202 of the cleaning mechanism 200, and enters and exits the accommodation region of the cleaning mechanism 200. Therefore, it is not necessary to move the sampling probe 142c up and down. As a result, the time required for one cycle of the reciprocating operation / cleaning operation of the sampling probe 142c can be further shortened, and a longer cleaning time can be secured.

(作用・効果)
以上説明した第1実施形態にかかる自動分析装置100の作用及び効果について説明する。
(Action / Effect)
The operation and effect of the automatic analyzer 100 according to the first embodiment described above will be described.

第1実施形態にかかる自動分析装置100の洗浄機構200における被検試料または試薬の吸引および吐出をするプローブ(112c、122c、142c)が、少なくとも反応管131から試料容器(140b、141a)や試薬ボトル180から戻る復路移動中間に、洗浄機構200に洗浄されたまま、当該洗浄機構200とともに移動されるように構成されている。このような構成によれば、プローブの洗浄を行うために、プローブが自動分析装置100に固定された洗浄機構200に一旦留まることがなく、移動しながら洗浄されるので、実効的なプローブの洗浄時間を維持しつつ、プローブの移動時間および洗浄時間を含んだ全体的な所要時間を短縮することが可能である。   Probes (112c, 122c, 142c) for aspirating and discharging test samples or reagents in the cleaning mechanism 200 of the automatic analyzer 100 according to the first embodiment are at least sample containers (140b, 141a) and reagents from the reaction tube 131. In the middle of the return path movement returning from the bottle 180, the cleaning mechanism 200 is configured to be moved together with the cleaning mechanism 200 while being cleaned. According to such a configuration, in order to perform the cleaning of the probe, the probe does not stay in the cleaning mechanism 200 fixed to the automatic analyzer 100 but is cleaned while moving, so that effective probe cleaning is performed. While maintaining time, it is possible to reduce the overall time required, including probe travel time and cleaning time.

また、プローブの回動軌跡(往復移動経路)に沿い、当該軌跡全体にわたって固定された洗浄機構を設ける構成と比較しても本実施形態における自動分析装置100では、構成の実現可能性やコストの面で効率がよい。すなわち、回動軌跡全体にわたって固定された洗浄機構を設けると洗浄水の噴出機構や、洗浄水の排出機構が多数必要になるとともに、複雑な構成となってしまうのに対し、本実施形態における自動分析装置100では、従来の洗浄機構の構成を利用することが可能である。   In addition, the automatic analyzer 100 according to this embodiment has a feasibility and cost of the configuration even when compared with a configuration in which a cleaning mechanism fixed along the entire trajectory (reciprocating path) of the probe is provided. In terms of efficiency. That is, if a cleaning mechanism fixed over the entire rotation trajectory is provided, a large number of cleaning water ejection mechanisms and cleaning water discharge mechanisms are required and the configuration becomes complicated. The analyzer 100 can use the configuration of a conventional cleaning mechanism.

[第2実施形態]
次にこの発明の第2実施形態にかかる自動分析装置について説明する。
[Second Embodiment]
Next, an automatic analyzer according to a second embodiment of the present invention will be described.

(全体構成)
第2実施形態にかかる自動分析装置100においては、前述の第1実施形態にかかる自動分析装置100と比較して洗浄機構200の移動基部204の構成および制御部300によるプローブの駆動制御の一部が異なる。その他の部分は第1実施形態にかかる自動分析装置100と同様である。これらの相違点について図9(A)乃至(C)を参照して説明する。図9(A)乃至(C)は、この発明の第2実施形態にかかる自動分析装置100において、各プローブが洗浄機構200へ収容され、洗浄されつつ移動する状態を示すための概略図である。なお図9(A)乃至(C)では、洗浄機構ガイド201が直線状であるように示されているが、実際にはプローブの移動軌跡に添った形状をなしているものである。
(overall structure)
In the automatic analyzer 100 according to the second embodiment, compared to the automatic analyzer 100 according to the first embodiment described above, the configuration of the moving base 204 of the cleaning mechanism 200 and a part of probe drive control by the controller 300 are included. Is different. Other parts are the same as those of the automatic analyzer 100 according to the first embodiment. These differences will be described with reference to FIGS. FIGS. 9A to 9C are schematic views showing a state in which each probe is accommodated in the cleaning mechanism 200 and moved while being cleaned in the automatic analyzer 100 according to the second embodiment of the present invention. . In FIGS. 9A to 9C, the cleaning mechanism guide 201 is shown to be linear, but actually has a shape that follows the movement trajectory of the probe.

第2実施形態におけるデータ処理部320、操作部330、表示部340、印刷部350、記憶部360の構成、第1試薬庫110、第2試薬庫120、反応ディスク130、ラックサンプラ140、ディスクサンプラ141の全体構成、分注アーム112、122、サンプリングアーム142の構成、測定にかかる攪拌ユニット150、測光ユニット160、反応管洗浄ユニット170の構成は、第1実施形態と同様であるため、説明を割愛する。   Configuration of data processing unit 320, operation unit 330, display unit 340, printing unit 350, storage unit 360, first reagent storage 110, second reagent storage 120, reaction disk 130, rack sampler 140, disk sampler in the second embodiment The overall configuration of 141, the configuration of the dispensing arms 112 and 122, the sampling arm 142, the configuration of the stirring unit 150 for measurement, the photometric unit 160, and the reaction tube cleaning unit 170 are the same as in the first embodiment, so the explanation will be given. Omit.

また、第2実施形態にかかる洗浄機構200のうち、収容領域を構成する壁部202の構造についても第1実施形態と同様であるため、説明を割愛する。ただし、第2実施形態にかかる洗浄機構200においては、洗浄機構200の移動基部204の構成が第1実施形態と異なる。この移動基部204および制御部300によるプローブの駆動制御について以下、説明する。   Moreover, since the structure of the wall part 202 which comprises an accommodation area | region is the same as that of 1st Embodiment among the washing | cleaning mechanisms 200 concerning 2nd Embodiment, description is omitted. However, in the cleaning mechanism 200 according to the second embodiment, the configuration of the moving base 204 of the cleaning mechanism 200 is different from that of the first embodiment. Probe drive control by the movement base unit 204 and the control unit 300 will be described below.

図9(A)および図9(B)に示すように第2実施形態にかかる洗浄機構200の移動基部204は、伸縮自在に構成されており、かつ洗浄機構駆動部315によって駆動され伸縮される。第2実施形態の移動基部204は、最も伸長されたとき、図9(B)に示すようにサンプリングプローブ142c等の吸引部分が少なくとも洗浄機構200の収容領域に収容される高さとなるように構成される。また第2実施形態の移動基部204は、最も短縮されたとき、図6(C)および図7(C)に示すようにサンプリングプローブ142cが、少なくとも洗浄機構200の収容領域から排出され、解放された状態となるように構成される。また第2実施形態にかかる洗浄機構駆動部315は移動基部204の伸縮にかかる駆動も行う。   As shown in FIGS. 9 (A) and 9 (B), the moving base 204 of the cleaning mechanism 200 according to the second embodiment is configured to be extendable and contracted, and is driven to expand and contract by the cleaning mechanism driving unit 315. . The moving base 204 of the second embodiment is configured such that when it is most extended, the suction portion such as the sampling probe 142c is at least high enough to be accommodated in the accommodating area of the cleaning mechanism 200 as shown in FIG. 9B. Is done. Further, when the moving base 204 of the second embodiment is shortened the most, the sampling probe 142c is discharged from at least the accommodation region of the cleaning mechanism 200 and released as shown in FIGS. 6 (C) and 7 (C). It is comprised so that it may become a state. Further, the cleaning mechanism driving unit 315 according to the second embodiment also performs driving related to the expansion and contraction of the moving base unit 204.

このような移動基部204を有する自動分析装置100においてプローブが洗浄される工程について図6、図7および図9を参照して説明する。なお、第2実施形態における洗浄機構200においても、試薬ボトル180や試料容器140b、141aから試薬や被検試料を吸引して反応管131に吐出し、反応管131から分注プローブ112c、122cやサンプリングプローブ142cが排出されるまでの工程は、第1実施形態において説明した、図6(A)乃至(C)、図7(A)乃至(C)までの工程と同様であるので、説明を割愛する。   A process of cleaning the probe in the automatic analyzer 100 having the moving base 204 will be described with reference to FIGS. 6, 7, and 9. In the cleaning mechanism 200 in the second embodiment, the reagent and the test sample are sucked from the reagent bottle 180 and the sample containers 140b and 141a and discharged to the reaction tube 131, and the dispensing probes 112c and 122c and the like are discharged from the reaction tube 131. The steps until the sampling probe 142c is discharged are the same as the steps from FIGS. 6A to 6C and FIGS. 7A to 7C described in the first embodiment. Omit.

第2実施形態における自動分析装置100においては、制御部300がアーム駆動部312を駆動して、反応管131から分注プローブ112c、122cやサンプリングプローブ142cを排出させるのに対応して、制御部300は図9(A)に示すように洗浄機構駆動部315を駆動して移動基部204を伸長させ、洗浄機構200の収容領域をせり上げ、分注プローブ112c、122cやサンプリングプローブ142cの少なくとも吸引部分を当該収容領域に収容させる。この移動基部204の伸長のタイミングは、プローブの排出のタイミングと同時または排出のタイミングに前後して行われる。   In the automatic analyzer 100 according to the second embodiment, the control unit 300 drives the arm driving unit 312 to discharge the dispensing probes 112c and 122c and the sampling probe 142c from the reaction tube 131. As shown in FIG. 9A, 300 drives the cleaning mechanism driving unit 315 to extend the moving base 204, raises the accommodation area of the cleaning mechanism 200, and sucks at least the dispensing probes 112c and 122c and the sampling probe 142c. The portion is accommodated in the accommodation area. The movement base 204 is extended at the same time as the probe discharge timing or before and after the discharge timing.

次いで、制御部300は図9(B)に示すように、移動基部204の伸長状態を維持し、収容領域がせり上がった状態のまま、アーム駆動部312と洗浄機構駆動部315とを連動して駆動させ、さらに、図示しない洗浄水放出ポンプを駆動させ、洗浄水収容部から洗浄水を洗浄機構200に供給する。このようにして、第2実施形態にかかる自動分析装置100においても、吐出完了後の各プローブの復路移動時において、洗浄機構200にプローブを洗浄させつつ、洗浄機構200とプローブが同期して移動する。   Next, as shown in FIG. 9B, the control unit 300 maintains the extended state of the moving base unit 204 and interlocks the arm driving unit 312 and the cleaning mechanism driving unit 315 with the accommodation area raised. Further, a cleaning water discharge pump (not shown) is driven to supply cleaning water from the cleaning water storage unit to the cleaning mechanism 200. As described above, also in the automatic analyzer 100 according to the second embodiment, the cleaning mechanism 200 and the probe move synchronously while the probe is cleaned by the cleaning mechanism 200 when each probe moves backward after the ejection is completed. To do.

次いで、制御部300は図9(C)に示すように、洗浄機構200が試薬ボトル180や試料容器140b、141aに対し所定の距離まで近づくと、洗浄機構駆動部315を駆動して移動基部204を移動させつつ短縮させる。このようにして分注プローブ112c、122cやサンプリングプローブ142cが試薬ボトル180や試料容器140b、141aに到達するまでの間に洗浄を完了し、洗浄機構200の収容領域から排出させる。このときの移動基部204の高さは図6(C)および図7(C)に示すような高さまで短縮される。   Next, as shown in FIG. 9C, when the cleaning mechanism 200 approaches a predetermined distance from the reagent bottle 180 and the sample containers 140b and 141a, the control unit 300 drives the cleaning mechanism driving unit 315 to move the moving base 204. Shorten while moving. In this way, the cleaning is completed before the dispensing probes 112c and 122c and the sampling probe 142c reach the reagent bottle 180 and the sample containers 140b and 141a, and are discharged from the storage area of the cleaning mechanism 200. At this time, the height of the moving base 204 is shortened to a height as shown in FIGS. 6C and 7C.

上記説明した第2実施形態にかかる洗浄機構200においても、プローブの洗浄を行うために、プローブが自動分析装置100に固定された洗浄機構200に一旦留まることがなく、移動しながら洗浄されるので、実効的なプローブの洗浄時間を維持しつつ、プローブの移動時間および洗浄時間を含んだ全体的な所要時間を短縮することが可能である。さらには、洗浄機構200の収容領域にプローブを収容させるにあたり、プローブの上下動を省略することが可能であるため、第1実施形態と比較しても全体的な所要時間を短縮することが可能である。   Also in the cleaning mechanism 200 according to the second embodiment described above, the probe is cleaned while moving without being temporarily retained in the cleaning mechanism 200 fixed to the automatic analyzer 100 in order to clean the probe. While maintaining an effective probe cleaning time, it is possible to reduce the overall time required for the probe including the probe moving time and the cleaning time. Furthermore, when the probe is accommodated in the accommodation area of the cleaning mechanism 200, the vertical movement of the probe can be omitted, so that the overall required time can be shortened compared to the first embodiment. It is.

[第3実施形態]
次にこの発明の第3実施形態にかかる自動分析装置について説明する。
[Third Embodiment]
Next explained is an automatic analyzer according to the third embodiment of the invention.

(全体構成)
第3実施形態にかかる自動分析装置100においては、前述の第1実施形態および第2実施形態にかかる自動分析装置100と比較して、洗浄機構200の移動基部204の構成および制御部300によるプローブの駆動制御の一部が異なる。その他の部分は第1実施形態および第2実施形態にかかる自動分析装置100と同様である。これらの相違点について図10(A)乃至(C)を参照して説明する。図10(A)乃至(C)は、この発明の第3実施形態にかかる自動分析装置100において、各プローブが洗浄機構200へ収容され、洗浄されつつ移動する状態を示すための概略図である。なお、図10(A)乃至(C)では、洗浄機構ガイド201が直線状であるように示されているが、実際にはプローブの移動軌跡に添った形状をなしているものである。
(overall structure)
In the automatic analyzer 100 according to the third embodiment, the configuration of the moving base 204 of the cleaning mechanism 200 and the probe by the controller 300 are compared with the automatic analyzer 100 according to the first and second embodiments described above. Part of the drive control is different. Other parts are the same as those of the automatic analyzer 100 according to the first and second embodiments. These differences will be described with reference to FIGS. FIGS. 10A to 10C are schematic views showing a state in which each probe is housed in the cleaning mechanism 200 and moves while being cleaned in the automatic analyzer 100 according to the third embodiment of the present invention. . In FIGS. 10A to 10C, the cleaning mechanism guide 201 is shown as being linear, but actually has a shape that follows the movement locus of the probe.

第3実施形態におけるデータ処理部320、操作部330、表示部340、印刷部350、記憶部360の構成、第1試薬庫110、第2試薬庫120、反応ディスク130、ラックサンプラ140、ディスクサンプラ141の全体構成、分注アーム112、122、サンプリングアーム142の構成、測定にかかる攪拌ユニット150、測光ユニット160、反応管洗浄ユニット170の構成は、第1実施形態および第2実施形態と同様であるため、説明を割愛する。   Configuration of data processing unit 320, operation unit 330, display unit 340, printing unit 350, storage unit 360, first reagent storage 110, second reagent storage 120, reaction disk 130, rack sampler 140, disk sampler in the third embodiment The overall configuration of 141, the configuration of the dispensing arms 112 and 122, the sampling arm 142, the configuration of the stirring unit 150 for measurement, the photometry unit 160, and the reaction tube cleaning unit 170 are the same as in the first and second embodiments. Because there is, explanation is omitted.

また、第3実施形態にかかる洗浄機構200のうち、収容領域を構成する壁部202の構造についても第1実施形態および第2実施形態と同様であるため、説明を割愛する。ただし、第3実施形態にかかる洗浄機構200においては、洗浄機構200の移動基部204の構成が第1実施形態と異なる。この移動基部204および制御部300によるプローブの駆動制御について以下、説明する。   Moreover, since the structure of the wall part 202 which comprises an accommodation area | region is the same as that of 1st Embodiment and 2nd Embodiment among the washing | cleaning mechanisms 200 concerning 3rd Embodiment, description is omitted. However, in the cleaning mechanism 200 according to the third embodiment, the configuration of the moving base 204 of the cleaning mechanism 200 is different from that of the first embodiment. Probe drive control by the movement base unit 204 and the control unit 300 will be described below.

図10(A)および図10(C)に示すように第3実施形態にかかる洗浄機構200の移動基部204も第2実施形態と同様、伸縮自在に構成されており、かつ洗浄機構駆動部315によって駆動され伸縮される。また第3実施形態の制御部300は、移動基部204とサンプリングプローブ142cの双方を相対的に近接させ、図10(A)に示すように、サンプリングプローブ142c等の吸引部分が少なくとも洗浄機構200の収容領域に収容される高さとなるように制御を行う。また第3実施形態の制御部300は、図10(C)に示すように、移動基部204とサンプリングプローブ142cの双方を相対的に離隔させ、図6(C)および図7(C)に示すようにサンプリングプローブ142cが、少なくとも洗浄機構200の収容領域から排出され、解放された状態となるように制御を行う。また第3実施形態にかかる洗浄機構駆動部315も、第2実施形態と同様に移動基部204の伸縮にかかる駆動も行う。   As shown in FIGS. 10A and 10C, the moving base 204 of the cleaning mechanism 200 according to the third embodiment is also configured to be extendable and contractable, as in the second embodiment, and the cleaning mechanism driving unit 315. It is driven by and expanded and contracted. In addition, the control unit 300 of the third embodiment brings both the moving base 204 and the sampling probe 142c relatively close to each other, and as shown in FIG. 10A, the suction portion such as the sampling probe 142c is at least of the cleaning mechanism 200. Control is performed so that the height is accommodated in the accommodation area. Further, as shown in FIG. 10C, the control unit 300 of the third embodiment relatively separates both the moving base 204 and the sampling probe 142c, and the control unit 300 is shown in FIGS. 6C and 7C. As described above, the sampling probe 142c is discharged from at least the storage area of the cleaning mechanism 200 and is controlled to be released. Further, the cleaning mechanism driving unit 315 according to the third embodiment also performs driving related to the expansion and contraction of the moving base unit 204 as in the second embodiment.

このような移動基部204を有する自動分析装置100においてプローブが洗浄される工程について図6、図7および図10を参照して説明する。なお、第3実施形態における洗浄機構200においても、試薬ボトル180や試料容器140b、141aから試薬や被検試料を吸引して反応管131に吐出し、反応管131から分注プローブ112c、122cやサンプリングプローブ142cが排出されるまでの工程は、第1実施形態において説明した、図6(A)乃至(C)、図7(A)乃至(C)までの工程と同様であるので、説明を割愛する。   A process of cleaning the probe in the automatic analyzer 100 having the moving base 204 will be described with reference to FIGS. 6, 7, and 10. In the cleaning mechanism 200 in the third embodiment, the reagent and the test sample are sucked from the reagent bottle 180 and the sample containers 140b and 141a and discharged to the reaction tube 131, and the dispensing probes 112c and 122c and the like are discharged from the reaction tube 131. The steps until the sampling probe 142c is discharged are the same as the steps from FIGS. 6A to 6C and FIGS. 7A to 7C described in the first embodiment. Omit.

第3実施形態における自動分析装置100においては、制御部300がアーム駆動部312を駆動して反応管131から、分注プローブ112c、122cやサンプリングプローブ142cを排出させると、次いで制御部300は図10(A)に示すように洗浄機構駆動部315を駆動して移動基部204を伸長させ、洗浄機構200の収容領域をせり上げる。さらに制御部300は、これに連動してアーム駆動部312を駆動させて、図10(A)に示すように反応管131への吐出を完了し、反応管131から排出されたサンプリングプローブ142c等を、せり上がった洗浄機構200の収容領域側へ移動(降下)させ、サンプリングプローブ142c等の少なくとも吸引部分を当該収容領域に収容させる。この双方の上下動の移動量はあらかじめ設定されているものとする。また、この移動基部204の伸長およびプローブの降下のタイミングは、同時または反応管131からの排出のタイミングに前後して行われる。   In the automatic analyzer 100 according to the third embodiment, when the control unit 300 drives the arm driving unit 312 to discharge the dispensing probes 112c and 122c and the sampling probe 142c from the reaction tube 131, the control unit 300 then As shown in FIG. 10A, the cleaning mechanism driving unit 315 is driven to extend the moving base 204, and the accommodation area of the cleaning mechanism 200 is lifted. Further, the control unit 300 drives the arm driving unit 312 in conjunction with this, completes the discharge to the reaction tube 131 as shown in FIG. 10A, and the sampling probe 142c and the like discharged from the reaction tube 131. Is moved (lowered) to the storage area side of the raised cleaning mechanism 200, and at least a suction portion such as the sampling probe 142c is stored in the storage area. It is assumed that the movement amount of both the vertical movements is set in advance. The timing of extension of the moving base 204 and the lowering of the probe are performed at the same time or before or after the discharge timing from the reaction tube 131.

次いで、制御部300は図10(B)に示すように、移動基部204の伸長状態およびプローブの降下状態を維持したまま、アーム駆動部312と洗浄機構駆動部315とを連動して駆動させ、さらに、図示しない洗浄水放出ポンプを駆動させ、洗浄水収容部から洗浄水を洗浄機構200に供給する。このようにして、第3実施形態にかかる自動分析装置100においても、吐出完了後の各プローブの復路移動時において、洗浄機構200にプローブを洗浄させつつ、洗浄機構200とプローブが同期して移動する。   Next, as shown in FIG. 10B, the control unit 300 drives the arm driving unit 312 and the cleaning mechanism driving unit 315 in conjunction with each other while maintaining the extended state of the moving base unit 204 and the lowered state of the probe. Further, a cleaning water discharge pump (not shown) is driven to supply cleaning water to the cleaning mechanism 200 from the cleaning water storage unit. As described above, also in the automatic analyzer 100 according to the third embodiment, the cleaning mechanism 200 and the probe move synchronously while the probe is cleaned by the cleaning mechanism 200 when each probe moves backward after discharge. To do.

次いで、制御部300は図10(C)に示すように、洗浄機構200が試薬ボトル180や試料容器140b、141aに対し所定の距離まで近づくと、洗浄機構駆動部315を駆動して移動基部204を移動させつつ短縮させる。さらに制御部300は、これに連動してアーム駆動部312を駆動させて、図10(C)に示すように、分注プローブ112c、122cやサンプリングプローブ142cを、洗浄機構200の収容領域から排出させる。また、試薬ボトル180や試料容器140b、141aに到達するまでの間には洗浄が完了される。   Next, as shown in FIG. 10C, when the cleaning mechanism 200 approaches a predetermined distance from the reagent bottle 180 and the sample containers 140b and 141a, the control unit 300 drives the cleaning mechanism driving unit 315 to move the moving base unit 204. Shorten while moving. Further, the control unit 300 drives the arm driving unit 312 in conjunction with this, and discharges the dispensing probes 112c and 122c and the sampling probe 142c from the accommodation area of the cleaning mechanism 200 as shown in FIG. Let In addition, the cleaning is completed until the reagent bottle 180 and the sample containers 140b and 141a are reached.

上記説明した第3実施形態にかかる洗浄機構200においても、プローブの洗浄を行うために、プローブが自動分析装置100に固定された洗浄機構200に一旦留まることがなく、移動しながら洗浄されるので、実効的なプローブの洗浄時間を維持しつつ、プローブの移動時間および洗浄時間を含んだ全体的な所要時間を短縮することが可能である。さらには、第2実施形態と比較して洗浄機構200の上下動の幅を減少させることができるので、自動分析装置に確保すべき、短縮された移動基部204を収容するスペースを減少させることが可能となる。なおかつ洗浄機構200の収容領域にプローブを収容させるにあたり、移動基部204とプローブの上下動とが連動しているため、全体的な所要時間をさらに短縮することが可能である。   Also in the cleaning mechanism 200 according to the third embodiment described above, the probe is cleaned while moving without being temporarily retained in the cleaning mechanism 200 fixed to the automatic analyzer 100 in order to perform cleaning of the probe. While maintaining an effective probe cleaning time, it is possible to reduce the overall time required for the probe including the probe moving time and the cleaning time. Furthermore, since the width of the vertical movement of the cleaning mechanism 200 can be reduced as compared with the second embodiment, the space for accommodating the shortened moving base 204 to be secured in the automatic analyzer can be reduced. It becomes possible. In addition, when the probe is accommodated in the accommodation area of the cleaning mechanism 200, since the moving base 204 and the vertical movement of the probe are interlocked, the overall required time can be further shortened.

(変形例)
以上説明した第1実施形態、第2実施形態および第3実施形態における自動分析装置100の洗浄機構200は、洗浄機構駆動部315(例えばステッピングモータ)等によって駆動され、洗浄機構ガイド201にガイドされてサンプリングプローブ142cの回動軌跡上を移動する構成である。しかしながら本発明の自動分析装置はこの構成に限られず、例えば、次のような構成によることも可能である。すなわち、サンプリングアーム142の回動駆動を行うアーム駆動部312と、洗浄機構200の移動基部204との間にギア等の動力伝達機構を設ける。このように動力伝達機構を設け、アーム駆動部312がサンプリングプローブ142cを回動させることにより、動力伝達機構を介して移動基部204が移動し、サンプリングプローブ142cと洗浄機構200とが同期して回動するように構成することが可能である。
(Modification)
The cleaning mechanism 200 of the automatic analyzer 100 according to the first embodiment, the second embodiment, and the third embodiment described above is driven by a cleaning mechanism driving unit 315 (for example, a stepping motor) or the like and guided by a cleaning mechanism guide 201. In this configuration, the sampling probe 142c moves on the rotation trajectory. However, the automatic analyzer of the present invention is not limited to this configuration, and for example, the following configuration is also possible. That is, a power transmission mechanism such as a gear is provided between the arm drive unit 312 that rotates the sampling arm 142 and the moving base unit 204 of the cleaning mechanism 200. As described above, the power transmission mechanism is provided, and the arm driving unit 312 rotates the sampling probe 142c, so that the moving base 204 moves through the power transmission mechanism, and the sampling probe 142c and the cleaning mechanism 200 rotate in synchronization. It can be configured to move.

このような構成においても、上述した第1実施形態、第2実施形態および第3実施形態における自動分析装置100と同様に、実効的なプローブの洗浄時間を維持しつつ、プローブの移動時間および洗浄時間を含んだ全体的な所要時間を短縮することが可能である。さらには、洗浄機構駆動部315を省略することが可能である。   Even in such a configuration, as in the automatic analyzer 100 in the first embodiment, the second embodiment, and the third embodiment described above, the probe moving time and the cleaning are maintained while the effective probe cleaning time is maintained. It is possible to shorten the overall required time including time. Furthermore, the cleaning mechanism driving unit 315 can be omitted.

また、以上説明した第1実施形態、第2実施形態および第3実施形態における自動分析装置100の洗浄機構200は、各プローブが反応ディスク130の反応管131から、試薬ボトル180や試料容器140b、141aに到達するまでの復路移動の際に各プローブを洗浄する構成であるが、本発明の自動分析装置はこの構成に限られず、試薬ボトル180や試料容器140b、141aから反応管131へ移動する往路移動の際に各プローブの洗浄を行う構成とすることも可能である。このような構成では、上述した第1実施形態、第2実施形態および第3実施形態の自動分析装置100と同様に、実効的な洗浄時間の維持および、全体的な所要時間を短縮することが可能である。さらには、往路移動においてもプローブの洗浄を行うので、反応管131への被検試料や試薬の吐出の際、プローブ外面に付着した被検試料等画流出してしまうことによって、自動分析装置100の測定に誤差が生じてしまう事態を回避することが可能である。特に被検試料が微量化しても、分析結果に支障をきたすおそれを回避することが可能である。   In the cleaning mechanism 200 of the automatic analyzer 100 in the first embodiment, the second embodiment, and the third embodiment described above, each probe is moved from the reaction tube 131 of the reaction disk 130 to the reagent bottle 180, the sample container 140b, Each probe is cleaned during the backward movement until reaching 141a. However, the automatic analyzer of the present invention is not limited to this configuration, and moves from the reagent bottle 180 and the sample containers 140b and 141a to the reaction tube 131. It is also possible to employ a configuration in which each probe is washed during the forward movement. In such a configuration, as in the automatic analyzer 100 of the first embodiment, the second embodiment, and the third embodiment described above, it is possible to maintain an effective cleaning time and shorten the overall required time. Is possible. Furthermore, since the probe is cleaned even in the forward movement, the automatic analyzer 100 is discharged by discharging the test sample or the like adhering to the outer surface of the probe when the test sample or reagent is discharged to the reaction tube 131. It is possible to avoid a situation where an error occurs in the measurement. In particular, even if the amount of the test sample is reduced, it is possible to avoid the possibility of disturbing the analysis result.

100 自動分析装置
110 第1試薬庫
111 試薬ラック
112 分注アーム
112a 回動軸
112b アーム部
112c 分注プローブ
120 第2試薬庫
121 試薬ラック
122 分注アーム
122a 回動軸
122b アーム部
122c 分注プローブ
130 反応ディスク
131 反応管
140 ラックサンプラ
140a ラックトレイ
140b、141a 試料容器
141 ディスクサンプラ
142 サンプリングアーム
142a 回動軸
142b アーム部
142c サンプリングプローブ
150 攪拌ユニット
160 測光ユニット
170 反応管洗浄ユニット
180 試薬ボトル
200 洗浄機構
201 洗浄機構ガイド
202 壁部
204 移動基部
206 放出口
208 パイプ
211 底部
212 廃液口
300 制御部
310 分析部
311 試薬ラック駆動部
312 アーム駆動部
313 反応ディスク駆動部
314 サンプラ駆動部
315 洗浄機構駆動部
320 データ処理部
330 操作部
340 表示部
350 印刷部
360 記憶部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Automatic analyzer 110 1st reagent storage 111 Reagent rack 112 Dispensing arm 112a Rotating shaft 112b Arm part 112c Dispensing probe 120 2nd reagent storage 121 Reagent rack 122 Dispensing arm 122a Rotating shaft 122b Arm part 122c Dispensing probe DESCRIPTION OF SYMBOLS 130 Reaction disk 131 Reaction tube 140 Rack sampler 140a Rack tray 140b, 141a Sample container 141 Disk sampler 142 Sampling arm 142a Rotating shaft 142b Arm part 142c Sampling probe 150 Stirring unit 160 Photometric unit 170 Reaction tube cleaning unit 180 Reagent bottle 200 Cleaning mechanism 201 Cleaning Mechanism Guide 202 Wall 204 Moving Base 206 Discharge Port 208 Pipe 211 Bottom 212 Waste Liquid Port 300 Control Unit 310 Analysis Unit 311 Reagent rack drive unit 312 Arm drive unit 313 Reaction disk drive unit 314 Sampler drive unit 315 Cleaning mechanism drive unit 320 Data processing unit 330 Operation unit 340 Display unit 350 Printing unit 360 Storage unit

Claims (9)

被検試料を収容する試料容器と、試薬を収容する試薬容器と、該被検試料と該試薬との混合液を収容する反応管とを有し、該混合液の測定を行う自動分析装置であって、
前記試料容器から前記被検試料を吸引するか、または前記試薬容器から前記試薬を吸引し、かつ該吸引した被検試料または試薬を前記反応管に吐出するプローブと、
前記プローブの少なくとも吸引部分が収容される収容領域を有し、かつ該収容領域内に収容された該プローブにおける該吸引部分を洗浄可能な洗浄機構と、
前記試料容器または前記試薬容器と、前記反応管との間で前記プローブを移動可能とし、かつ該プローブを少なくとも前記試料容器または前記試薬容器へ向かって移動させる間に、該プローブの少なくとも前記吸引部分が前記洗浄機構に洗浄されている状態で、該洗浄機構を該プローブとともに移動させる移動手段と、を備えたこと、
を特徴とする自動分析装置。
An automatic analyzer having a sample container for storing a test sample, a reagent container for storing a reagent, and a reaction tube for storing a mixed liquid of the test sample and the reagent, and measuring the mixed liquid There,
A probe for aspirating the test sample from the sample container or aspirating the reagent from the reagent container and discharging the aspirated test sample or reagent to the reaction tube;
A cleaning mechanism having a storage area for storing at least a suction portion of the probe, and capable of cleaning the suction portion of the probe stored in the storage area;
The probe is movable between the sample container or the reagent container and the reaction tube, and at least the suction part of the probe is moved while the probe is moved toward at least the sample container or the reagent container. A moving means for moving the cleaning mechanism together with the probe in a state where the cleaning mechanism is cleaned by the cleaning mechanism,
Automatic analyzer characterized by
前記移動手段は、前記プローブおよび前記洗浄機構のいずれか一方または双方を移動させることにより、該プローブと該洗浄機構とを相対的に近づけて、前記吸引部分を前記収容領域に収容させること、
を特徴とする請求項1に記載の自動分析装置。
The moving means moves either one or both of the probe and the cleaning mechanism, thereby bringing the probe and the cleaning mechanism relatively close to each other, and storing the suction portion in the storage area;
The automatic analyzer according to claim 1.
前記移動手段は、前記プローブの移動を行うプローブ移動手段と、前記洗浄機構の移動を行う洗浄機構移動手段とを有し、
前記プローブ移動手段は、前記試料容器または前記試薬容器と前記反応管との間で前記プローブを往復移動させ、かつ該プローブが該試料容器または該試薬容器の位置に到達すると、前記吸引部分を該試料容器または該試薬容器の内部に収容させ、かつ該プローブが該反応管の位置に到達すると、該吸引部分を該反応管の内部に収容させ、かつ該プローブが該反応管から該試料容器または試薬容器へ向かって移動を開始すると、さらに前記洗浄機構の前記収容領域に少なくとも該吸引部分を収容させ、
前記洗浄機構移動手段は、前記プローブが前記吐出を完了するまでに前記洗浄機構を前記反応管側に配置させ、かつ該プローブが該反応管から前記試料容器または試薬容器へ向かって移動を開始し、さらに該吐出後のプローブが該洗浄機構に収容されると、該洗浄機構を前記プローブに対応して移動させること、
を特徴とする請求項1に記載の自動分析装置。
The moving means includes probe moving means for moving the probe, and cleaning mechanism moving means for moving the cleaning mechanism,
The probe moving means reciprocates the probe between the sample container or the reagent container and the reaction tube, and when the probe reaches the position of the sample container or the reagent container, When the probe is accommodated in the sample container or the reagent container and the probe reaches the position of the reaction tube, the suction portion is accommodated in the reaction tube, and the probe is moved from the reaction tube to the sample container or When the movement toward the reagent container is started, further, at least the suction part is accommodated in the accommodating region of the cleaning mechanism,
The cleaning mechanism moving means arranges the cleaning mechanism on the reaction tube side until the probe completes the discharge, and the probe starts moving from the reaction tube toward the sample container or the reagent container. Further, when the discharged probe is accommodated in the cleaning mechanism, the cleaning mechanism is moved corresponding to the probe,
The automatic analyzer according to claim 1.
前記移動手段は、前記プローブの移動を行うプローブ移動手段と、前記洗浄機構の移動を行う洗浄機構移動手段とを有し、
前記プローブ移動手段は、前記試料容器または前記試薬容器と前記反応管との間で前記プローブを往復移動させ、かつ該プローブが該試料容器または該試薬容器の位置に到達すると、前記吸引部分を該試料容器または該試薬容器の内部に収容させ、かつ該プローブが該反応管の位置に到達すると、該吸引部分を該反応管の内部に収容させ、
前記洗浄機構移動手段は、前記プローブが前記吐出を完了するまでに前記洗浄機構を前記反応管側に配置させ、かつ該プローブが該反応管から前記試料容器または試薬容器へ向かって移動を開始すると、さらに該洗浄機構の前記収容領域を該吐出後のプローブの方向へ移動させ、該収容領域に前記吸引部分を収容させるとともに、該洗浄機構を前記プローブに対応して移動させること、
を特徴とする請求項1に記載の自動分析装置。
The moving means includes probe moving means for moving the probe, and cleaning mechanism moving means for moving the cleaning mechanism,
The probe moving means reciprocates the probe between the sample container or the reagent container and the reaction tube, and when the probe reaches the position of the sample container or the reagent container, When the probe reaches the position of the reaction tube, the suction part is accommodated inside the reaction tube.
The cleaning mechanism moving means arranges the cleaning mechanism on the reaction tube side until the probe completes the ejection, and starts moving the probe from the reaction tube toward the sample container or the reagent container. Further, the storage area of the cleaning mechanism is moved in the direction of the probe after discharge, the suction portion is stored in the storage area, and the cleaning mechanism is moved corresponding to the probe,
The automatic analyzer according to claim 1.
前記移動手段は、前記プローブの移動を行うプローブ移動手段と、前記洗浄機構の移動を行う洗浄機構移動手段とを有し、
前記プローブ移動手段は、前記試料容器または前記試薬容器と前記反応管との間で前記プローブを往復移動させ、かつ該プローブが該試料容器または該試薬容器の位置に到達すると、前記吸引部分を該試料容器または該試薬容器の内部に収容させ、かつ該プローブが該反応管の位置に到達すると、該吸引部分を該反応管の内部に収容させ、
前記洗浄機構移動手段は、前記プローブが前記吐出を完了するまでに前記洗浄機構を前記反応管側に配置させ、
前記プローブが前記反応管から前記試料容器または試薬容器へ向かって移動を開始すると、さらに前記プローブ移動手段および前記洗浄機構移動手段は、該プローブと前記洗浄機構の前記収容領域とをそれぞれ互いに近接させることにより、該収容領域に少なくとも前記吸引部分を収容させるとともに、該洗浄機構を該プローブに対応して移動させること、
を特徴とする請求項1に記載の自動分析装置。
The moving means includes probe moving means for moving the probe, and cleaning mechanism moving means for moving the cleaning mechanism,
The probe moving means reciprocates the probe between the sample container or the reagent container and the reaction tube, and when the probe reaches the position of the sample container or the reagent container, When the probe reaches the position of the reaction tube, the suction part is accommodated inside the reaction tube.
The cleaning mechanism moving means arranges the cleaning mechanism on the reaction tube side until the probe completes the discharge,
When the probe starts to move from the reaction tube toward the sample container or the reagent container, the probe moving means and the cleaning mechanism moving means further bring the probe and the storage area of the cleaning mechanism close to each other. Thereby accommodating at least the suction portion in the accommodation area and moving the cleaning mechanism corresponding to the probe;
The automatic analyzer according to claim 1.
前記洗浄機構は、前記プローブ移動手段によって前記プローブが前記試料容器または前記試薬容器へ向かうときに、該プローブにおける前記吸引部分の外面に対して洗浄液を放出し、該外面を洗浄し、さらに該外面に付着した該洗浄液を除去すること、
を特徴とする請求項3〜5のいずれか1項に記載の自動分析装置。
The cleaning mechanism discharges a cleaning liquid to the outer surface of the suction portion of the probe when the probe moves toward the sample container or the reagent container by the probe moving means, and cleans the outer surface. Removing the cleaning liquid adhering to
The automatic analyzer according to any one of claims 3 to 5, wherein:
前記プローブ移動手段は、一端に回動軸が設けられるとともに他端に前記プローブが設けられた回動アームを有し、該回動軸を中心に該回動アームを回動させることにより、前記試料容器または前記試薬容器に対し、該プローブを近接または離隔させ、
前記洗浄機構移動手段により移動される前記洗浄機構は、前記プローブ移動手段による前記プローブの回動軌跡上に配置されたレールにガイドされ、
前記洗浄機構は、前記収容領域を囲うとともに上方に開口を形成する壁部を有し、
前記プローブは、前記洗浄機構における前記開口を通じて前記収容領域に出し入れされること、
を特徴とする請求項3〜5のいずれか1項に記載の自動分析装置。
The probe moving means has a rotating arm provided with a rotating shaft at one end and the probe at the other end, and by rotating the rotating arm around the rotating shaft, Bringing the probe close to or away from the sample container or the reagent container;
The cleaning mechanism that is moved by the cleaning mechanism moving means is guided by a rail that is disposed on a rotation trajectory of the probe by the probe moving means,
The cleaning mechanism has a wall portion that surrounds the accommodation area and forms an opening upward.
The probe is withdrawn into and out of the receiving area through the opening in the cleaning mechanism;
The automatic analyzer according to any one of claims 3 to 5, wherein:
被検試料を収容する試料容器と、試薬を収容する試薬容器と、該被検試料と該試薬との混合液を収容する反応管と、該試料容器もしくは該試薬容器と該反応間の間を移動するとともに該被検試料または該試薬の吸引および吐出をするプローブと、を有する自動分析装置における、該プローブの洗浄を行うプローブ洗浄機構であって、
前記プローブの少なくとも吸引部分が収容される収容領域を備え、
前記プローブが少なくとも前記試料容器または前記試薬容器へ向かって移動されている間に、該プローブの前記吸引部分を収容したまま該プローブと連動して移動するとともに、少なくとも該吸引部分を洗浄すること、
を特徴とするプローブ洗浄機構。
A sample container containing a test sample, a reagent container containing a reagent, a reaction tube containing a mixed solution of the test sample and the reagent, and between the sample container or the reagent container and the reaction A probe cleaning mechanism for cleaning the probe in an automatic analyzer having a probe that moves and sucks and discharges the test sample or the reagent,
An accommodation area for accommodating at least a suction portion of the probe;
While the probe is moved toward at least the sample container or the reagent container, the probe moves while interlocking with the probe while containing the suction part, and at least the suction part is washed.
A probe cleaning mechanism.
被検試料を収容する試料容器と、試薬を収容する試薬容器と、該被検試料と該試薬との混合液を収容する反応管とを有し、該混合液の測定を行う自動分析装置であって、
前記試料容器から前記被検試料を吸引するか、または前記試薬容器から前記試薬を吸引し、かつ該吸引した被検試料または試薬を前記反応管に吐出するプローブと、
前記プローブの少なくとも吸引部分が収容される収容領域を有し、かつ該収容領域内に収容された該プローブにおける該吸引部分を洗浄可能な洗浄機構と、
前記試料容器もしくは前記試薬容器と、前記反応管との間で前記プローブを移動可能とし、かつ該プローブを少なくとも前記反応管へ向かって移動させる間に、該プローブの少なくとも前記吸引部分が前記洗浄機構に洗浄されたまま、該洗浄機構を該プローブとともに移動させる移動手段と、を備えたこと、
を特徴とする自動分析装置。
An automatic analyzer having a sample container for storing a test sample, a reagent container for storing a reagent, and a reaction tube for storing a mixed liquid of the test sample and the reagent, and measuring the mixed liquid There,
A probe for aspirating the test sample from the sample container or aspirating the reagent from the reagent container and discharging the aspirated test sample or reagent to the reaction tube;
A cleaning mechanism having a storage area for storing at least a suction portion of the probe, and capable of cleaning the suction portion of the probe stored in the storage area;
The probe can be moved between the sample container or the reagent container and the reaction tube, and at least the suction portion of the probe is moved to the cleaning mechanism while the probe is moved at least toward the reaction tube. And moving means for moving the cleaning mechanism together with the probe while being cleaned.
Automatic analyzer characterized by
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