JP2010274362A - Method for manufacturing polyurethane foam and method for manufacturing polishing pad - Google Patents

Method for manufacturing polyurethane foam and method for manufacturing polishing pad Download PDF

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Nobuyuki Oshima
伸之 大嶋
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing polyurethane foam and a polishing pad having uniform pores and suppressing shear droop at the end face. <P>SOLUTION: The method for manufacturing polyurethane foam includes the steps of mixing and stirring an isocyanate-group containing compound with 3,000 mPa s or below viscosity at 40°C, unfoamed heat-expandable minute spherical bodies, and an active hydrogen containing compound to be hardened, and foaming the heat-expandable minute spherical bodies by heat of reaction. The pot life of a urethane resin composite which is a mixture of the isocyanate-group containing compound and the active hydrogen containing compound is 200 s or longer. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、発泡ポリウレタンの製造方法およびそれを用いた研磨パッドの製造方法に関する。   The present invention relates to a method for producing foamed polyurethane and a method for producing a polishing pad using the same.

半導体ウェハなどの平坦化処理には、化学機械研磨(CMP)技術が用いられており、従来からCMP技術を用いた種々のCMP装置が提案されている。   A chemical mechanical polishing (CMP) technique is used for planarization processing of a semiconductor wafer or the like, and various CMP apparatuses using the CMP technique have been proposed.

図11は、従来のCMP装置の概略構成図である。定盤1の表面に取付けられた研磨パッド2には、研磨用のスラリー3がスラリー供給装置4から供給される。被研磨物としての例えば、半導体ウェハ5は、研磨ヘッド6に、バッキングフィルム7を介して保持される。研磨ヘッド6に荷重が加えられることによって、半導体ウェハ5は、研磨パッド2に押し付けられる。   FIG. 11 is a schematic configuration diagram of a conventional CMP apparatus. A polishing slurry 3 is supplied from a slurry supply device 4 to a polishing pad 2 attached to the surface of the surface plate 1. For example, a semiconductor wafer 5 as an object to be polished is held by a polishing head 6 via a backing film 7. When a load is applied to the polishing head 6, the semiconductor wafer 5 is pressed against the polishing pad 2.

研磨パッド2上に供給されるスラリー3は、研磨パッド2上を広がって半導体ウェハ5に到達する。定盤1と研磨ヘッド6とは、矢符Aで示すように同方向に回転して相対的に移動し、研磨パッド2と半導体ウェハ5との間にスラリー3が侵入して研磨が行われる。なお、8は研磨パッド2の表面を目立てするためのドレッサーである。   The slurry 3 supplied onto the polishing pad 2 spreads on the polishing pad 2 and reaches the semiconductor wafer 5. The surface plate 1 and the polishing head 6 rotate in the same direction and move relatively as indicated by an arrow A, and the slurry 3 enters between the polishing pad 2 and the semiconductor wafer 5 to perform polishing. . Reference numeral 8 denotes a dresser for conspicuous the surface of the polishing pad 2.

かかる研磨パッド2として、耐摩耗性等に優れた発泡ポリウレタンを使用したものが知られている(例えば、特許文献1参照)。   As such a polishing pad 2, one using foamed polyurethane having excellent wear resistance or the like is known (for example, see Patent Document 1).

発泡ポリウレタンでは、微細なポア(気泡)を生成する必要があり、例えば、イソシアネート基含有化合物を含む主剤と、芳香族アミンなどの活性水素基含有化合物を含む硬化剤とを、混合、攪拌して所定の型に注型して硬化させる、いわゆる2液硬化型ポリウレタンを用いた製造方法がある。   In foamed polyurethane, it is necessary to generate fine pores (bubbles). For example, a main agent containing an isocyanate group-containing compound and a curing agent containing an active hydrogen group-containing compound such as an aromatic amine are mixed and stirred. There is a manufacturing method using so-called two-component curable polyurethane which is cast and cured in a predetermined mold.

かかる従来例では、例えば、主剤に発泡剤として水を混入してイソシアネート基と水との反応によってCO2を生成して発泡させる。 In such a conventional example, for example, water is mixed as a foaming agent into the main agent, and CO 2 is generated by the reaction between an isocyanate group and water to be foamed.

他の従来例として、水に加えて、未発泡の加熱膨張性微小球状体を混入し、前記主剤と前記硬化剤との反応熱および外部からの加熱によって、加熱膨張性微小球状体を発泡させる方法もある(特許文献2参照)。   As another conventional example, in addition to water, unexpanded heat-expandable microspheres are mixed, and the heat-expandable microspheres are foamed by heat of reaction between the main agent and the curing agent and external heating. There is also a method (see Patent Document 2).

特開2005−236200号公報JP-A-2005-236200 特開2000−344850号公報JP 2000-344850 A

上記のように、イソシアネート基含有化合物を含む主剤、芳香族アミンなどの活性水素基含有化合物を含む硬化剤および発泡剤としての水を、混合、攪拌して注型する製造方法では、注型した後の発泡反応によって生じるCO2が、上方に上昇して成長するために、成型体であるポリウレタンケーキの下部には小さなポアが形成される一方、上部には大きなポアが形成され、ポリウレタンケーキ内におけるポア径が不均一となってしまう。 As described above, in the production method in which the main agent containing an isocyanate group-containing compound, the curing agent containing an active hydrogen group-containing compound such as an aromatic amine, and water as a blowing agent are mixed, stirred, and cast, the casting is performed. Since CO 2 generated by the subsequent foaming reaction rises upward and grows, a small pore is formed at the bottom of the polyurethane cake, which is a molded body, while a large pore is formed at the top, The pore diameter at becomes uneven.

また、2液硬化型ポリウレタンは、硬化が始まって流動性を失うまでの時間であるポットライフが短いために、上記の攪拌を高速で行う必要があり、その際に、大量のエアを巻き込む一方、硬化速度が速く、粘度が急激に上昇するために、巻き込んだエアを排出することができず、発泡反応によって形成されるポアに比べて極めて大きなポアが生じてしまい、前記ポリウレタンケーキ内のポア径が、一層不均一となる。   In addition, the two-component curable polyurethane has a short pot life, which is a time from the start of curing to the loss of fluidity. Therefore, it is necessary to perform the above stirring at a high speed. Since the curing speed is high and the viscosity rapidly increases, the entrained air cannot be discharged, resulting in extremely large pores compared to the pores formed by the foaming reaction, and the pores in the polyurethane cake The diameter becomes more uneven.

ポリウレタンケーキのポア径が不均一になると、このポリウレタンケーキを所定の厚さのシート状に裁断し、それを打ち抜いて得られる研磨パッドのポア径も不均一となる。   When the pore diameter of the polyurethane cake becomes uneven, the pore diameter of the polishing pad obtained by cutting the polyurethane cake into a sheet having a predetermined thickness and punching it is also uneven.

このように不均一なポアを有する研磨パッドでは、研磨圧力も不均一になり易く、スラリー保持量も面内でばらつくことになり、研磨が不安定になる。また、被研磨物の外周の縁が過度に研磨される端面だれ(ロールオフ)が生じる。   In such a polishing pad having non-uniform pores, the polishing pressure tends to be non-uniform, and the amount of slurry retained varies within the surface, resulting in unstable polishing. Further, end face dripping (roll-off) occurs in which the outer peripheral edge of the object to be polished is excessively polished.

また、上記特許文献2では、加熱膨張性微小球状体による発泡と水による発泡との2種類の大きさの異なるポアを形成することを必須の構成としているが、水発泡を使用する限り、発泡過程において大きくなったポアは、上述のように、浮力のためにポリウレタンケーキの上部に集まることとなり、ポア径が不均一となる。特許文献2によって得られる研磨パッドには、当該特許文献2に記載されているように、水発泡により生じる100〜800μmの比較的大径のポアが存在する。CMPなどの超精密研磨においては、大径のポアは、被研磨物の端部と衝突する頻度が高く、また、ポア径の大きさに比例して、当該衝突時に被研磨物端部に係る応力が大きくなり、結果として、端面だれが顕著になる。   In Patent Document 2, it is essential to form two types of pores having different sizes of foaming by heat-expandable microspheres and foaming by water. However, as long as water foaming is used, foaming is possible. As described above, the pores that have become larger in the process gather at the upper portion of the polyurethane cake due to buoyancy, and the pore diameter becomes uneven. As described in Patent Document 2, the polishing pad obtained by Patent Document 2 has a pore having a relatively large diameter of 100 to 800 μm caused by water foaming. In ultra-precision polishing such as CMP, a large-diameter pore has a high frequency of collision with the end of the object to be polished, and is related to the end of the object to be polished at the time of the collision in proportion to the size of the pore diameter. The stress increases, and as a result, the end face droop becomes remarkable.

本発明は、上述のような点に鑑みて為されたものであって、均一なポアを有するとともに、端面だれを抑制できる発泡ポリウレタンおよび研磨パッドの製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a method for producing a foamed polyurethane and a polishing pad that have uniform pores and can suppress end-face sagging.

本発明の発泡ポリウレタンの製造方法は、40℃での粘度が3000mPa・s以下のイソシアネート基含有化合物と、未発泡の加熱膨張性微小球状体と、活性水素含有化合物とを、混合攪拌して硬化させるとともに、反応熱によって前記加熱膨張性微小球状体を発泡させる発泡ポリウレタンの製造方法であって、前記イソシアネート基含有化合物と前記活性水素含有化合物とを、混合したウレタン樹脂組成物のポットライフが200秒以上である。   The process for producing a foamed polyurethane according to the present invention comprises curing by mixing and stirring an isocyanate group-containing compound having a viscosity at 40 ° C. of 3000 mPa · s or less, an unfoamed heat-expandable microsphere, and an active hydrogen-containing compound. And a foamed polyurethane manufacturing method in which the heat-expandable microspheres are foamed by reaction heat, the pot life of the urethane resin composition obtained by mixing the isocyanate group-containing compound and the active hydrogen-containing compound is 200. More than a second.

一つの実施形態では、前記イソシアネート基含有化合物が、イソシアネート基を有するイソシアネート末端プレポリマーであり、このイソシアネート末端プレポリマーは、イソシアネート成分として、芳香族イソシアネートを使用したものであってもよい。   In one embodiment, the isocyanate group-containing compound is an isocyanate-terminated prepolymer having an isocyanate group, and the isocyanate-terminated prepolymer may use an aromatic isocyanate as an isocyanate component.

他の実施形態では、前記未発泡の加熱膨張性微小球状体の粒径が、20μm〜40μmである。   In another embodiment, the unexpanded heat-expandable microspheres have a particle size of 20 μm to 40 μm.

本発明の研磨パッドの製造方法は、本発明に係る発泡ポリウレタンの製造方法を用いるものである。   The method for producing a polishing pad of the present invention uses the method for producing foamed polyurethane according to the present invention.

本発明の発泡ポリウレタンの製造方法によると、イソシアネート末端プレポリマーなどのイソシアネート基含有化合物の粘度が、従来例に比べて低く、ウレタン樹脂組成物のポットライフが、従来例に比べて長いので、イソシアネート基含有化合物と未発泡の加熱膨張性微小球状体と活性水素含有化合物とを、混合攪拌する際に、エアを巻き込むのを抑制できるとともに、巻き込んだエアを円滑に排出することが可能となり、エアの巻き込みによる極めて大きなポアが生じるのを防止することができる。しかも、粒径の小さな加熱膨張性微小球状体を用いるので、混合攪拌の際に、加熱膨張性微小球状体の浮上が抑制されて均一に分散されることになり、均一なポアの発泡ポリウレタンを得ることが可能となる。   According to the method for producing a polyurethane foam of the present invention, the viscosity of the isocyanate group-containing compound such as an isocyanate-terminated prepolymer is lower than that of the conventional example, and the pot life of the urethane resin composition is longer than that of the conventional example. When mixing and stirring the group-containing compound, the unexpanded heat-expandable microspheres, and the active hydrogen-containing compound, it is possible to suppress air entrainment and to smoothly discharge the entrained air. It is possible to prevent the generation of extremely large pores due to the entrainment of. In addition, since the heat-expandable microspheres having a small particle size are used, the floating of the heat-expandable microspheres is suppressed and uniformly dispersed during mixing and stirring. Can be obtained.

また、加熱膨張性微小球状体は、硬化反応による反応熱で発泡するので、未発泡の状態で混合攪拌することができ、発泡済みの球状体を混合攪拌する場合に比べて、粘度の上昇が少なく、多量に添加することが可能となり、これによって、低密度の発泡ポリウレタンを得ることが可能となる。   Further, since the heat-expandable microspheres are foamed by the reaction heat due to the curing reaction, they can be mixed and stirred in an unfoamed state, and the viscosity is increased compared to the case of mixing and stirring the foamed spherical bodies. It can be added in a small amount and in a large amount, whereby a low-density foamed polyurethane can be obtained.

本発明の研磨パッドの製造方法によると、エアの巻き込みによる極めて大きなポアが生じるのを防止することができるとともに、加熱膨張性微小球状体の発泡による均一なポアの研磨パッドを得ることが可能となり、これによって、研磨圧力やスラリー保持量がばらつくことがなく、研磨が安定する。また、被研磨物の外周の縁が過度に研磨される端面だれ(ロールオフ)を改善することができる。   According to the polishing pad manufacturing method of the present invention, it is possible to prevent the formation of extremely large pores due to air entrainment, and it is possible to obtain a polishing pad having a uniform pore due to foaming of heat-expandable microspheres. As a result, the polishing pressure and the slurry holding amount do not vary, and the polishing is stabilized. Further, it is possible to improve end face droop (roll-off) in which the outer peripheral edge of the object to be polished is excessively polished.

本発明によれば、低粘度でポットライフの長いウレタン樹脂組成物および未発泡の加熱膨張性微小球体を用いて発泡ポリウレタンを製造するので、エアの巻き込みによる極めて大きなポアの発生を防止して均一なポアの発泡ポリウレタンおよび研磨パッドを得ることが可能となり、これによって、安定した研磨が可能になるとともに、被研磨物の端面だれを改善することができる。   According to the present invention, a polyurethane foam is produced using a urethane resin composition having a low viscosity and a long pot life and an unexpanded heat-expandable microsphere, so that generation of extremely large pores due to air entrainment is prevented and uniform. Therefore, it is possible to obtain a foamed polyurethane and a polishing pad having a small pore, thereby enabling stable polishing and improving the end face of the object to be polished.

従来例1,2および実施例の断面の走査型電子顕微鏡(SEM)写真である。It is a scanning electron microscope (SEM) photograph of a section of conventional examples 1 and 2 and an example. 従来例1,2および実施例のパッド位置と削れ量との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the pad position and scraping amount of the prior art examples 1 and 2 and an Example. 実施例のポア分布を示す図である。It is a figure which shows the pore distribution of an Example. 従来例1のポア分布を示す図である。It is a figure which shows the pore distribution of the prior art example 1. 従来例2のポア分布を示す図である。It is a figure which shows the pore distribution of the prior art example 2. 特許文献2のポア分布を示す図である。It is a figure which shows the pore distribution of patent document 2. FIG. 温度による貯蔵弾性率(E’)の変化を示す図である。It is a figure which shows the change of the storage elastic modulus (E ') by temperature. 温度による損失弾性率(E’’)の変化を示す図である。It is a figure which shows the change of the loss elastic modulus (E '') with temperature. 温度による損失正接(tanδ)の変化を示す図である。It is a figure which shows the change of the loss tangent (tan-delta) by temperature. 従来例1,2および実施例の研磨レートを示す図である。It is a figure which shows the polishing rate of the prior art examples 1 and 2 and an Example. CMP装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of CMP apparatus.

以下、図面によって本発明の実施形態について詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

この実施形態では、発泡ポリウレタンからなる研磨パッドの製造方法に適用して説明する。   In this embodiment, description will be made by applying to a method for producing a polishing pad made of polyurethane foam.

この実施形態では、発泡ポリウレタンからなる研磨パッドは、イソシアネート基含有化合物としてのイソシアネート末端プレポリマーと、未発泡の加熱膨張性微小球状体と、活性水素含有化合物としての芳香族アミンとを、混合攪拌し、所定の型に注型し、反応硬化させて、その反応熱によって加熱膨張性微小球状体を発泡させて発泡ポリウレタンの成型体を得るものである。   In this embodiment, the polishing pad made of foamed polyurethane is prepared by mixing and stirring an isocyanate-terminated prepolymer as an isocyanate group-containing compound, an unfoamed heat-expandable microsphere, and an aromatic amine as an active hydrogen-containing compound. Then, it is poured into a predetermined mold, reacted and cured, and the heat-expandable microspheres are foamed by the reaction heat to obtain a foamed polyurethane molded body.

更に、発泡ポリウレタンの成型体を、所定の厚さのシート状に裁断し、それを打ち抜いて研磨パッドを得るものである。   Further, the foamed polyurethane molding is cut into a sheet having a predetermined thickness, and punched out to obtain a polishing pad.

この実施形態では、上記混合攪拌の際に巻き込んだエアによって、発泡ポリウレタンの成型体中に、極めて大きなポアが生じるのを防ぐために、イソシアネート基含有化合物であるイソシアネート末端プレポリマーは、従来に比べて、低粘度のものを用いており、40℃での粘度が3000mPa・s以下でありであり、より好ましくは2000mPa・s以下である。   In this embodiment, an isocyanate-terminated prepolymer, which is an isocyanate group-containing compound, is used in order to prevent the formation of extremely large pores in the foamed polyurethane molded body due to the air entrained during the mixing and stirring. A low-viscosity material is used, and the viscosity at 40 ° C. is 3000 mPa · s or less, more preferably 2000 mPa · s or less.

更に、この実施形態では、イソシアネート基含有化合物と活性水素含有化合物とを混合したウレタン樹脂組成物のポットライフを、従来に比べて長くしており、このポットライフは、200秒以上、より好ましくは、250秒以上である。   Furthermore, in this embodiment, the pot life of the urethane resin composition in which the isocyanate group-containing compound and the active hydrogen-containing compound are mixed is made longer than before, and the pot life is 200 seconds or more, more preferably , 250 seconds or more.

このウレタン樹脂組成物のポットライフは、例えば、60℃の場合において8分以下であるのが好ましい。   The pot life of this urethane resin composition is preferably 8 minutes or less, for example, at 60 ° C.

このように低粘度およびポットライフの長いウレタン樹脂組成物を用いるので、混合攪拌の際には、硬化による粘度の上昇が始まっておらず、低粘度の状態を維持しており、攪拌効率が向上し、エアの巻き込みが抑制されるとともに、巻き込んだエアを排出することができる。   Since the urethane resin composition having a low viscosity and a long pot life is used in this way, the viscosity increase due to curing has not started when mixing and stirring, and the low viscosity state is maintained, and the stirring efficiency is improved. In addition, the entrainment of air can be suppressed and the entrained air can be discharged.

イソシアネート末端プレポリマーは、ポリイソシアネートとポリオールとを、通常用いられる条件で反応させて得られるものである。このイソシアネート末端プレポリマーは、市販されているものを用いてもよいし、ポリオールとポリイソシアネートとから合成して用いてもよい。   The isocyanate-terminated prepolymer is obtained by reacting a polyisocyanate and a polyol under commonly used conditions. This isocyanate-terminated prepolymer may be a commercially available one, or may be synthesized from a polyol and a polyisocyanate.

ポリイソシアネートとしては、2,4−トリレンジイソシアネート、2,6−トリレンジイソシアネート、4,4´−ジフェニルメタンジイソシアネート、ナフタレン−1,5−ジイソシアネート等が挙げられる。   Examples of the polyisocyanate include 2,4-tolylene diisocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, 4,4′-diphenylmethane diisocyanate, naphthalene-1,5-diisocyanate, and the like.

ポリオールとしては、ポリ(オキシテトラメチレン)グリコールやポリ(オキシプロピレン)グリコール等のポリエーテル系ポリオール、ポリカーボネート系ポリオール、ポリエステル系ポリオール等が挙げられる。   Examples of the polyol include polyether polyols such as poly (oxytetramethylene) glycol and poly (oxypropylene) glycol, polycarbonate polyols, and polyester polyols.

研磨用としては、加水分解を起こさないエーテル系のポリオールが好ましく、エーテル系のポリオールとして、PPG(ポリプロピレングリコール)、PTMG(ポリテトラメチレンエーテルグリコール)、PEG(ポリエチレングリコール)等の−O−結合を有するものが好ましく、その中でも一般的には、物性(引張り特性)の良好なPTMG系が好ましい。特に、分子量MW=500〜2000のPTMGが好ましい。   For polishing, an ether-based polyol that does not cause hydrolysis is preferable. As an ether-based polyol, -O- bonds such as PPG (polypropylene glycol), PTMG (polytetramethylene ether glycol), and PEG (polyethylene glycol) are used. Among them, a PTMG system having good physical properties (tensile properties) is preferable. In particular, PTMG having a molecular weight MW = 500 to 2000 is preferable.

活性水素含有化合物である芳香族アミンとしては、例えば、ジアミン系化合物として、3,3´−ジクロロ−4,4´−ジアミノジフェニルメタン(MOCA )、クロロアニリン変性ジクロロジアミノジフェニルメタン、3,5−ビス(メチルチオ)−2,4−トルエンジアミン、3,5−ビス(メチルチオ)−2,6−トルエンジアミン等が挙げられる。   As an aromatic amine which is an active hydrogen-containing compound, for example, as a diamine compound, 3,3′-dichloro-4,4′-diaminodiphenylmethane (MOCA), chloroaniline-modified dichlorodiaminodiphenylmethane, 3,5-bis ( And methylthio) -2,4-toluenediamine and 3,5-bis (methylthio) -2,6-toluenediamine.

未発泡の加熱膨張性微小球状体は、中空部に低沸点炭化水素を内包し、殻部分が熱可塑性樹脂で構成されるものであり、例えば、松本油脂製薬株式会社製の熱膨張性マイクロカプセルなどを挙げることができる。   Unexpanded heat-expandable microspheres are those in which low-boiling hydrocarbons are encapsulated in the hollow portion and the shell portion is made of a thermoplastic resin. For example, heat-expandable microcapsules manufactured by Matsumoto Yushi Seiyaku Co., Ltd. And so on.

この未発泡の加熱膨張性微小球状体は、殻を形成する熱可塑性樹脂の軟化温度が、内包した低沸点炭化水素の沸点よりも高温であることが好ましい。従って、殻の熱可塑性樹脂の軟化温度以上の熱が加えられると、熱可塑性樹脂の軟化及び低沸点炭化水素の体積膨張が同時に起こり、微小球状体が膨張する性質を有する。   The unexpanded heat-expandable microspheres preferably have a softening temperature of the thermoplastic resin forming the shell higher than the boiling point of the encapsulated low-boiling hydrocarbon. Therefore, when heat equal to or higher than the softening temperature of the thermoplastic resin of the shell is applied, the thermoplastic resin softens and the volume of the low-boiling hydrocarbons expands simultaneously, and the microspheres expand.

未発泡の加熱膨張性微小球状体の粒径は、例えば、20μm〜30μm程度である。このように未発泡時の粒径が小さいので、イソシアネート末端プレポリマーとの混合時のコンパウンドの粘度を低く抑えることができ、活性水素化合物との混合撹拌の際のエアの巻き込みを抑制できるとともに、発泡済みの球状体に比べて多量に添加することが可能となり、低密度の発泡ポリウレタンを得ることができる。   The particle size of the unexpanded heat-expandable microsphere is, for example, about 20 μm to 30 μm. Thus, since the particle size at the time of unfoaming is small, the viscosity of the compound at the time of mixing with the isocyanate-terminated prepolymer can be kept low, and the entrainment of air at the time of mixing and stirring with the active hydrogen compound can be suppressed, Compared to the foamed spherical body, it can be added in a large amount, and a low density foamed polyurethane can be obtained.

この未発泡の加熱膨張性微小球状体は、2液反応硬化の際に発泡して、微小ポアとして存在する。   This unfoamed heat-expandable microsphere is foamed during the two-component reaction curing and exists as a micropore.

未発泡の加熱膨張性微小球状体の殻部を構成する熱可塑性樹脂は、例えば、アクリロニトリル-塩化ビニリデン共重合体またはアクリロニトリル-メチルメタクリレート共重合体などで構成される。   The thermoplastic resin constituting the shell of the unexpanded heat-expandable microsphere is composed of, for example, an acrylonitrile-vinylidene chloride copolymer or an acrylonitrile-methyl methacrylate copolymer.

また、微小球状体の内部に存する低沸点炭化水素としては、好ましくは、例えば、イソブタン、ペンタン、イソペンタン、石油エーテル等が挙げられる。この未発泡の加熱膨張性微小球状体は、主に、イソシアネート末端プレポリマーと活性水素含有化合物とを混合撹拌し、反応硬化する際に放出される反応熱によって発泡する。   Moreover, as a low boiling point hydrocarbon which exists in the inside of a microsphere, Preferably, for example, isobutane, pentane, isopentane, petroleum ether, etc. are mentioned. The unexpanded heat-expandable microspheres are mainly foamed by the heat of reaction released when the isocyanate-terminated prepolymer and the active hydrogen-containing compound are mixed and stirred and cured by reaction.

以下、本発明を、実施例および従来例に基づいて、更に詳細に説明する。   Hereinafter, the present invention will be described in more detail based on examples and conventional examples.

実施例として、下記の表1に示される物性値のイソシアネート末端プレポリマーおよびポットライフのウレタン樹脂組成物を用いて上記製法によって発泡ポリウレタンからなる研磨パッドを製造した。   As an example, a polishing pad made of foamed polyurethane was produced by the above-described method using an isocyanate-terminated prepolymer having physical properties shown in Table 1 below and a urethane resin composition having a pot life.

また、従来例として、加熱膨張性微小球状体を含まない上述の水発泡の発泡ポリウレタンからなる従来例の研磨パッドを製造した。この従来例のイソシアネート末端プレポリマーの物性値およびウレタン樹脂組成物のポットライフを併せて表1に示す。   Further, as a conventional example, a conventional polishing pad made of the above-mentioned water-foamed polyurethane without containing heat-expandable microspheres was produced. The physical property values of the isocyanate-terminated prepolymer of this conventional example and the pot life of the urethane resin composition are shown together in Table 1.

表1に示すように、実施例のイソシアネート末端プレポリマーは、40℃での粘度が1500mPa・sであり、従来例の粘度4620mPa・sの略1/3の低粘度である。実施例のウレタン樹脂組成物のポットライフは、450秒であり、従来例のポットライフ150秒の略3倍の長さである。また、実施例のイソシアネート末端プレポリマーのショアA硬度は、75度であり、従来例の硬度72度よりも高くなっている。   As shown in Table 1, the isocyanate-terminated prepolymers of the examples have a viscosity at 40 ° C. of 1500 mPa · s and a low viscosity of about 1/3 of the viscosity of the conventional example of 4620 mPa · s. The pot life of the urethane resin composition of the example is 450 seconds, which is approximately three times as long as the pot life of the conventional example of 150 seconds. Moreover, the Shore A hardness of the isocyanate terminal prepolymer of an Example is 75 degree | times, and is higher than the hardness of 72 degree | times of a prior art example.

また、実施例のイソシアネート末端プレポリマーの引っ張り強度は56Mpaであって、従来例の引っ張り強度60Mpaよりもやや低くなっている。更に、実施例のイソシアネート末端プレポリマーの伸びは50%、引き裂き強度は99N/mであり、従来例の伸び238%、引き裂き強度190N/mに比べて低くなっている。   The tensile strength of the isocyanate-terminated prepolymer of the example is 56 Mpa, which is slightly lower than the tensile strength of 60 Mpa of the conventional example. Further, the elongation of the isocyanate-terminated prepolymer of the example is 50% and the tear strength is 99 N / m, which is lower than the elongation of 238% and the tear strength of 190 N / m of the conventional example.

このように伸びおよび引き裂き強度が、従来例よりも低くなっており、得られる研磨パッドは、硬くて脆いものとなり、後述のように、高硬度であって、しかも、カットレートが高い、目詰まりしにくい研磨パッドとなる。   Thus, the elongation and tear strength are lower than those of the conventional example, and the resulting polishing pad is hard and brittle. As will be described later, the hardness is high and the cut rate is high. This makes it difficult to polish.

実施例および従来例の研磨パッドの配合を、下記の表2に示す。   The composition of the polishing pads of the examples and the conventional examples is shown in Table 2 below.

従来例については、発泡剤である水の添加量を異ならせて、従来例1,2の2種類の研磨パッドを製造した。   As for the conventional example, two types of polishing pads of Conventional Examples 1 and 2 were manufactured by changing the amount of water as a foaming agent.

実施例の研磨パッドは、表2の配合に従って、イソシアネート末端プレポリマーと、未発泡の加熱膨張性微小球状体とを予め混合した混合物と、3,3−ジクロロー4,4−ジアミノフェニルメタン(MOCA)とを混合攪拌し、所定の型に注型し、100℃のオーブンで4時間キュアして発泡ポリウレタンの成型体を得、更に、発泡ポリウレタンの成型体を、所定の厚さのシート状に裁断し、それを打ち抜いて研磨パッドを得た。   The polishing pad of the example was prepared by mixing a mixture of an isocyanate-terminated prepolymer and an unexpanded heat-expandable microsphere in advance according to the formulation shown in Table 2, and 3,3-dichloro-4,4-diaminophenylmethane (MOCA). Are mixed and stirred, cast into a predetermined mold, and cured in an oven at 100 ° C. for 4 hours to obtain a foamed polyurethane molded body. Further, the foamed polyurethane molded body is formed into a sheet having a predetermined thickness. Cut and punched out to obtain a polishing pad.

従来例1,2は、表2の配合にそれぞれ従って、イソシアネート末端プレポリマーと、発泡剤としての水と、3,3−ジクロロー4,4−ジアミノフェニルメタン(MOCA)とを混合攪拌し、所定の型に注型し、100℃のオーブンで4時間キュアして発泡ポリウレタンの成型体を得、更に、発泡ポリウレタンの成型体を、所定の厚さのシート状に裁断し、それを打ち抜いて研磨パッドをそれぞれ得た。   Conventional examples 1 and 2 were prepared by mixing and stirring an isocyanate-terminated prepolymer, water as a blowing agent, and 3,3-dichloro-4,4-diaminophenylmethane (MOCA) according to the formulation in Table 2, respectively. And then cured in an oven at 100 ° C. for 4 hours to obtain a foamed polyurethane molded body. Further, the foamed polyurethane molded body is cut into a sheet having a predetermined thickness, and then punched and polished. Each pad was obtained.

得られた実施例および従来例1,2の研磨パッド物性値を下記の表3に示し、断面の走査型電子顕微鏡(SEM)写真を、図1(a)〜(c)にそれぞれ示す。   The physical properties of the polishing pads obtained in Examples and Conventional Examples 1 and 2 are shown in Table 3 below, and cross-sectional scanning electron microscope (SEM) photographs are shown in FIGS. 1 (a) to 1 (c), respectively.

表3に示すように、実施例の研磨パッドの密度は、0.37であり、従来例1,2の密度0.52,0.40に比べて低密度であるにも拘らず、実施例の研磨パッドのショアA硬度は、85度であり、従来例1,2の硬度85度,83度と同等である。   As shown in Table 3, the density of the polishing pad of the example is 0.37, which is lower than the density of 0.52 and 0.40 of the conventional examples 1 and 2, although the density is low. The Shore A hardness of this polishing pad is 85 degrees, which is equivalent to the hardness of 85 degrees and 83 degrees of the conventional examples 1 and 2.

このように実施例の研磨パッドは、従来例と同様に高硬度でありながら、低密度であり、従来例に比べてポアが占める割合が多く、これによって、スラリーの保持量を増やして研磨レートを高めることができる。   As described above, the polishing pad of the example is high in hardness as in the conventional example, but has a low density and a larger proportion of pores than the conventional example, thereby increasing the amount of slurry retained and increasing the polishing rate. Can be increased.

表3におけるカットレート(μm/min)は、ドレス時間4分、圧力100g/cm2、ドレッサーは直径150μmで突き出し量70μmのダイヤモンドペレット、ヘッド回転数100rpm、プラテン回転数100rpmの条件でドレスを行い、単位時間当たりの削れ量として算出した。 The cut rate (μm / min) in Table 3 is dressed under the conditions of a dressing time of 4 minutes, a pressure of 100 g / cm 2 , a dresser having a diameter of 150 μm and a protruding amount of 70 μm diamond pellets, a head rotation speed of 100 rpm, and a platen rotation speed of 100 rpm. The amount of wear per unit time was calculated.

すなわち、カットレートは、単位時間当たりにドレッサーにより削り取られる研磨パッドの量をいう。   That is, the cut rate refers to the amount of polishing pad that is scraped off by a dresser per unit time.

このドレスによるパッド位置と厚み変位(削れ量)との関係を、図2に示す。ドレスされないパッドの中心部とその周囲のドレスされた部分との変位差である削れ量を、ドレス時間で割ってカットレートとした。この図2において、ラインLは実施例を、ラインL1,L2は従来例1,2をそれぞれ示す。   FIG. 2 shows the relationship between the pad position due to this dress and the thickness displacement (scrap amount). The cut amount, which is the displacement difference between the center portion of the pad that is not dressed and the dressed portion around it, was divided by the dress time to obtain the cut rate. In FIG. 2, a line L indicates an embodiment, and lines L1 and L2 indicate conventional examples 1 and 2, respectively.

従来例1のカットレートが9μm/min(=35/4)、従来例2のカットレートが13μm/min(=50/4)であるのに対して、実施例のカットレーは24μm/min(=95/4)であり、カットレートが高く、削れ易く、したがって、目詰まりしにくい研磨パッドであることが分る。   The cut rate of Conventional Example 1 is 9 μm / min (= 35/4) and the cut rate of Conventional Example 2 is 13 μm / min (= 50/4), whereas the cut rate of Example is 24 μm / min (= It is found that the polishing pad has a high cut rate, is easy to cut, and therefore is not easily clogged.

また、実施例および従来例1,2の研磨パッドのポアの測定を、次の条件で行った。   Further, the pores of the polishing pads of the example and the conventional examples 1 and 2 were measured under the following conditions.

走査型電子顕微鏡(SEM)として、キーエンス製のVE−8800を用いて、加速電圧1kV、倍率50倍で観察し、得られた画像を、画像解析ソフトウェアであるWinRoof Ver5.6.2(三谷商事製)を用いて、1600×2000μmを測定範囲として、ポアの分布を測定した。   Using a VE-8800 manufactured by Keyence as a scanning electron microscope (SEM), the image was observed at an acceleration voltage of 1 kV and a magnification of 50 times, and the obtained image was image analysis software WinRoof Ver 5.6.2 (Mitani Corporation). The distribution of pores was measured using 1600 × 2000 μm as a measurement range.

表3に示すように、従来例1,2のポア径の範囲が、10μm〜2.5mmと広いのに対して、実施例のポア径の範囲は、10μm〜250μmと狭くなっており、図1の走査型電子顕微鏡写真からも、同図(a),(b)の従来例1,2では、大小のポアが存在し、ポア径が不均一であるのに対して、同図(c)の実施例では、ポア径が均一であることが分る。   As shown in Table 3, the range of pore diameters of Conventional Examples 1 and 2 is as wide as 10 μm to 2.5 mm, whereas the range of pore diameters of Examples is as narrow as 10 μm to 250 μm. From the scanning electron micrographs of FIG. 1, the conventional examples 1 and 2 in FIGS. 1A and 1B have large and small pores and uneven pore diameters, whereas FIG. ), The pore diameter is found to be uniform.

図3〜図5は、実施例および従来例1,2のポア分布をそれぞれ示すものであり、横軸はポア径を、縦軸は頻度をそれぞれ示している。これらの図では、1500μmまでのポア径の分布を示している。   3 to 5 show the pore distributions of Example and Conventional Examples 1 and 2, respectively. The horizontal axis indicates the pore diameter, and the vertical axis indicates the frequency. In these figures, the pore diameter distribution up to 1500 μm is shown.

図3の実施例は、図4および図5の従来例1,2に比べてポア径が小さい150μm前後で頻度が非常に高く、シャープな分布となっている。   The embodiment of FIG. 3 has a very high frequency and a sharp distribution around 150 μm in which the pore diameter is smaller than the conventional examples 1 and 2 of FIGS. 4 and 5.

なお、図6には、上述の特許文献2と同様に、未発泡の加熱膨張性微小球状体および水を添加して発泡させた研磨パッドを製造し、ポアの分布を測定した結果を示している。特許文献2では、加熱膨張性微小球状体による発泡と水発泡によるポアを含むので、図6に示すように、200μm程度のポア径および450μm程度のポア径の出現頻度が高く、複数のピークを有するとともに、800μm以上のポア径の出現頻度も高いことが分かる。   FIG. 6 shows the result of measuring the pore distribution after manufacturing an unfoamed heat-expandable microsphere and a foamed polishing pad by adding water, as in the above-mentioned Patent Document 2. Yes. Since Patent Document 2 includes pores formed by heat-expandable microspheres and pores formed by water foaming, as shown in FIG. 6, the appearance frequency of a pore diameter of about 200 μm and a pore diameter of about 450 μm is high, and a plurality of peaks are observed. It can be seen that the appearance frequency of pore diameters of 800 μm or more is high.

図7〜図9に、実施例および従来例1,2の貯蔵弾性率(E’)、損失弾性率(E’’)および損失正接(tanδ)の温度による変化を示す。   FIGS. 7 to 9 show changes in storage elastic modulus (E ′), loss elastic modulus (E ″), and loss tangent (tan δ) of Example and Conventional Examples 1 and 2 with temperature.

図8に示すように、実施例は、20℃〜80℃の領域で、損失弾性率(E’’)が、殆ど変化しないことが分かる。   As shown in FIG. 8, it can be seen that the loss elastic modulus (E ″) hardly changes in the range of 20 ° C. to 80 ° C. in the example.

次に、実施例および従来例1,2の研磨パッドを用いて、下記の研磨条件でウェハの研磨を行い、研磨レートを計測した。
研磨条件
・ドレス
圧力 100g/cm2、 回転数100rpm、 時間 600sec
・レート
圧力 300g/cm2、回転数100rpm、 スラリー流量 100ml/min、 時間 30min
スラリー ニッタ・ハース社製Nanopure NP6220 20倍希釈
その計測結果を図10に示す。
Next, using the polishing pads of Examples and Conventional Examples 1 and 2, the wafer was polished under the following polishing conditions, and the polishing rate was measured.
Polishing conditions / dress pressure 100g / cm2, rotation speed 100rpm, time 600sec
・ Rate pressure 300g / cm2, rotation speed 100rpm, slurry flow rate 100ml / min, time 30min
Slurry Nanopure NP6220 manufactured by Nitta Haas, 20-fold diluted The measurement results are shown in FIG.

実施例は、従来例1に比べて低密度で軟らかいために、従来例1に比べて研磨レートが低いが、密度が同程度である従来例2に比べて、研磨レートが高くなっている。   Since the example has a lower density and is softer than Conventional Example 1, the polishing rate is lower than that of Conventional Example 1, but the polishing rate is higher than that of Conventional Example 2 that has the same density.

本発明の発泡ポリウレタンの製造方法は、研磨パッドに限らず、クッション材、シール材や防振材などの製造に用いてもよい。   The manufacturing method of the polyurethane foam of the present invention is not limited to the polishing pad, and may be used for manufacturing a cushion material, a sealing material, a vibration isolating material, and the like.

本発明は、シリコンウェハやガラス基板等の研磨に用いる研磨パッドなどの製造に有用である。   The present invention is useful for manufacturing a polishing pad used for polishing a silicon wafer or a glass substrate.

2 研磨パッド
3 スラリー
5 半導体ウェハ
2 Polishing pad 3 Slurry 5 Semiconductor wafer

Claims (5)

40℃での粘度が3000mPa・s以下のイソシアネート基含有化合物と、未発泡の加熱膨張性微小球状体と、活性水素含有化合物とを、混合攪拌して硬化させるとともに、反応熱によって前記加熱膨張性微小球状体を発泡させる発泡ポリウレタンの製造方法であって、
前記イソシアネート基含有化合物と前記活性水素含有化合物とを、混合したウレタン樹脂組成物のポットライフが200秒以上であることを特徴とする発泡ポリウレタンの製造方法。
An isocyanate group-containing compound having a viscosity at 40 ° C. of 3000 mPa · s or less, a non-foamed heat-expandable microsphere, and an active hydrogen-containing compound are mixed and stirred to be cured, and the heat-expandable by reaction heat. A method of producing a polyurethane foam for foaming microspheres,
A polyurethane resin composition in which the isocyanate group-containing compound and the active hydrogen-containing compound are mixed has a pot life of 200 seconds or longer.
前記イソシアネート基含有化合物が、イソシアネート基を有するイソシアネート末端プレポリマーである請求項1に記載の発泡ポリウレタンの製造方法。   The method for producing a polyurethane foam according to claim 1, wherein the isocyanate group-containing compound is an isocyanate-terminated prepolymer having an isocyanate group. 前記イソシアネート末端プレポリマーは、イソシアネート成分として、芳香族イソシアネートを使用したものである請求項2に記載の発泡ポリウレタンの製造方法。   The method for producing a polyurethane foam according to claim 2, wherein the isocyanate-terminated prepolymer uses an aromatic isocyanate as an isocyanate component. 前記未発泡の加熱膨張性微小球状体の粒径が、20μm〜30μmである請求項1ないし3のいずれか一項に記載の発泡ポリウレタンの製造方法。   The method for producing a polyurethane foam according to any one of claims 1 to 3, wherein a particle size of the unfoamed heat-expandable microsphere is 20 µm to 30 µm. 前記請求項1ないし4のいずれか一項に記載の発泡ポリウレタンの製造方法を用いる研磨パッドの製造方法。   The manufacturing method of the polishing pad using the manufacturing method of the polyurethane foam as described in any one of the said Claims 1 thru | or 4.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013018897A (en) * 2011-07-13 2013-01-31 Nhk Spring Co Ltd Sheet-like polyurethane foam and method for producing the same
JP2015157353A (en) * 2014-02-19 2015-09-03 ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ シーエムピー ホウルディングス インコーポレイテッド Method of manufacturing chemical mechanical polishing layers
JP2016117152A (en) * 2014-12-19 2016-06-30 ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ シーエムピー ホウルディングス インコーポレイテッド Controlled-viscosity cmp casting method
JP2020104235A (en) * 2018-12-28 2020-07-09 ニッタ・デュポン株式会社 Polishing pad
CN111542415A (en) * 2017-12-27 2020-08-14 霓达杜邦股份有限公司 Polishing pad
JP2020163536A (en) * 2019-03-29 2020-10-08 富士紡ホールディングス株式会社 Abrasive pad
CN113999368A (en) * 2021-11-05 2022-02-01 中国科学院过程工程研究所 Polyurethane polishing pad and preparation method thereof
US20220097201A1 (en) * 2020-09-29 2022-03-31 Skc Solmics Co., Ltd. Polishing pad, manufacturing method thereof and preparing method of semiconductor device using the same
WO2023281629A1 (en) * 2021-07-06 2023-01-12 昭和電工マテリアルズ株式会社 Method for producing molded object

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11322878A (en) * 1998-05-13 1999-11-26 Dainippon Ink & Chem Inc Production of foamed polyurethane molded product, urethane resin composition for producing the same and abrasive pad using the same
JP2003171433A (en) * 2001-12-07 2003-06-20 Toyo Tire & Rubber Co Ltd Method for producing expanded polyurethane polishing pad
JP2004162010A (en) * 2002-06-18 2004-06-10 Bayer Corp Syntactic foam having improved water resistance, long pot life and short taking-out time of molded product
JP2008302465A (en) * 2007-06-07 2008-12-18 Fujibo Holdings Inc Manufacturing method of polishing pad and polishing pad

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11322878A (en) * 1998-05-13 1999-11-26 Dainippon Ink & Chem Inc Production of foamed polyurethane molded product, urethane resin composition for producing the same and abrasive pad using the same
JP2003171433A (en) * 2001-12-07 2003-06-20 Toyo Tire & Rubber Co Ltd Method for producing expanded polyurethane polishing pad
JP2004162010A (en) * 2002-06-18 2004-06-10 Bayer Corp Syntactic foam having improved water resistance, long pot life and short taking-out time of molded product
JP2008302465A (en) * 2007-06-07 2008-12-18 Fujibo Holdings Inc Manufacturing method of polishing pad and polishing pad

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013018897A (en) * 2011-07-13 2013-01-31 Nhk Spring Co Ltd Sheet-like polyurethane foam and method for producing the same
JP2015157353A (en) * 2014-02-19 2015-09-03 ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ シーエムピー ホウルディングス インコーポレイテッド Method of manufacturing chemical mechanical polishing layers
JP2016117152A (en) * 2014-12-19 2016-06-30 ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ シーエムピー ホウルディングス インコーポレイテッド Controlled-viscosity cmp casting method
CN111542415A (en) * 2017-12-27 2020-08-14 霓达杜邦股份有限公司 Polishing pad
CN111542415B (en) * 2017-12-27 2022-08-23 霓达杜邦股份有限公司 Polishing pad
JP7273509B2 (en) 2018-12-28 2023-05-15 ニッタ・デュポン株式会社 polishing pad
JP2020104235A (en) * 2018-12-28 2020-07-09 ニッタ・デュポン株式会社 Polishing pad
JP2020163536A (en) * 2019-03-29 2020-10-08 富士紡ホールディングス株式会社 Abrasive pad
JP7436776B2 (en) 2019-03-29 2024-02-22 富士紡ホールディングス株式会社 Polishing pad manufacturing method
US20220097201A1 (en) * 2020-09-29 2022-03-31 Skc Solmics Co., Ltd. Polishing pad, manufacturing method thereof and preparing method of semiconductor device using the same
WO2023281629A1 (en) * 2021-07-06 2023-01-12 昭和電工マテリアルズ株式会社 Method for producing molded object
CN113999368A (en) * 2021-11-05 2022-02-01 中国科学院过程工程研究所 Polyurethane polishing pad and preparation method thereof
CN113999368B (en) * 2021-11-05 2022-11-11 中国科学院过程工程研究所 Polyurethane polishing pad and preparation method thereof

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