JP2010154536A - Imaging apparatus and signal processing method - Google Patents

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JP2010154536A JP2010009466A JP2010009466A JP2010154536A JP 2010154536 A JP2010154536 A JP 2010154536A JP 2010009466 A JP2010009466 A JP 2010009466A JP 2010009466 A JP2010009466 A JP 2010009466A JP 2010154536 A JP2010154536 A JP 2010154536A
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Yoshiyuki Niijima
義之 新島
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Toshiba Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an imaging apparatus and a signal processing method for efficiently holding the position information of a defective pixel included in a CCD sensor, a CMOS image sensor or the like. <P>SOLUTION: This imaging apparatus 1 includes: an imaging device 13 for performing the photoelectric conversion of input information; a defective pixel detection module 15 for detecting a defective pixel that the imaging device includes from an output of each of pixels of the imaging device; and a defective pixel position storage module 17 for detecting that the defective pixel of the imaging device supplied from the defective pixel detection module is continued to an adjacent pixel, and storing the position of the defective pixel in accordance with the position information of a leading pixel and determination data of two bits when the defective pixels are adjacent. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

この発明は、CCDセンサやCMOSイメージセンサにおける欠陥画素を検出し、出力画像中の欠陥画素の影響を補正する撮像装置および信号処理方法に関する。   The present invention relates to an imaging apparatus and a signal processing method for detecting defective pixels in a CCD sensor or a CMOS image sensor and correcting the influence of defective pixels in an output image.

CCD(Charge Coupled Device)センサやCMOS(Complementary metal-oxide Semiconductor)イメージセンサを撮像素子として用いる撮像装置が、既に広く利用されている。なお、CCDセンサやCMOSイメージセンサにおいては、正常な画像信号が得られない欠陥画素を含むことが知られている。   Image pickup apparatuses using a CCD (Charge Coupled Device) sensor or a CMOS (Complementary metal-oxide Semiconductor) image sensor as an image pickup element have already been widely used. It is known that a CCD sensor or a CMOS image sensor includes a defective pixel from which a normal image signal cannot be obtained.

このような背景から、欠陥画素の位置情報を記憶し、出力画像を得る際に、欠陥画素の影響を補正する手法が、既に提案されている。   Against this background, a method for correcting the influence of defective pixels when storing positional information of defective pixels and obtaining an output image has already been proposed.

特許文献1には、保持手段に保持された画素情報と画像信号に同期した画素位置情報に基づいて欠陥画素の補正を行う画像信号処理装置が示されている。   Patent Document 1 discloses an image signal processing apparatus that corrects defective pixels based on pixel information held in a holding unit and pixel position information synchronized with an image signal.

特開2007−228269号公報JP 2007-228269 A

しかしながら、特許文献1には、欠陥画素の位置情報を保持すること、及び周辺画素を用いて欠陥画素を補正することが示されているが、複数の欠陥画素の位置情報を効率よく保持する方法すなわち欠陥画素の位置情報を記憶するメモリを低減する方法については、何ら記載がない。   However, Patent Document 1 discloses that the position information of defective pixels is retained and that the defective pixels are corrected using peripheral pixels, but a method of efficiently retaining the position information of a plurality of defective pixels. That is, there is no description about a method for reducing the memory for storing position information of defective pixels.

この発明の目的は、CCDセンサやCMOSイメージセンサが含む欠陥画素の位置情報を効率よく保持する撮像装置および信号処理方法を提供することである。   An object of the present invention is to provide an image pickup apparatus and a signal processing method that efficiently hold position information of defective pixels included in a CCD sensor or a CMOS image sensor.

この発明は、上記問題点に基づきなされたもので、入力情報を光電変換する撮像素子と、前記撮像素子の個々の画素の出力から前記撮像素子が含む欠陥画素を検出する欠陥画素検出モジュールと、前記欠陥画素検出モジュールから供給される前記撮像素子の前記欠陥画素が、隣接する画素に連続することを検出し、前記欠陥画素が隣接する場合の先頭の画素の位置情報と複数ビットの判定データにより前記欠陥画素の位置を記憶する欠陥画素位置記憶モジュールと、を有することを特徴とする撮像装置を提供するものである。   The present invention was made based on the above problems, an image sensor that photoelectrically converts input information, a defective pixel detection module that detects a defective pixel included in the image sensor from the output of each pixel of the image sensor, It is detected that the defective pixel of the image sensor supplied from the defective pixel detection module is continuous with an adjacent pixel, and the position information of the leading pixel and the determination data of a plurality of bits when the defective pixel is adjacent An imaging apparatus comprising: a defective pixel position storage module that stores the position of the defective pixel.

この発明の一つの実施の形態によれば、撮像素子が含む欠陥画素のアドレスを高密度で記録できる。また、記録された欠陥画素のアドレスは、簡単に復調可能である。   According to one embodiment of the present invention, addresses of defective pixels included in an image sensor can be recorded with high density. Further, the address of the recorded defective pixel can be easily demodulated.

従って、欠陥画素のアドレスを不所望に多くのメモリを占有することなく記録可能で、しかも再生時のアドレスの復調が容易な撮像装置が得られる。   Therefore, it is possible to obtain an image pickup apparatus that can record the address of the defective pixel without unnecessarily occupying a large amount of memory and can easily demodulate the address during reproduction.

この発明の実施の一形態が摘要される撮像装置を説明する概略図。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Schematic explaining the imaging device with which one Embodiment of this invention is summarized. 図1に示した撮像装置のイメージセンサの撮像素子の欠陥を検出する方法の一例を説明する概略図。Schematic explaining an example of a method for detecting a defect of an image sensor of the image sensor of the imaging device shown in FIG. 図1に示した撮像装置のイメージセンサの連続欠陥画素のアドレスを、高密度で記録する方法の一例を説明する概略図。FIG. 2 is a schematic diagram illustrating an example of a method for recording addresses of consecutive defective pixels of the image sensor of the imaging apparatus illustrated in FIG. 1 at high density.

以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1は、この発明を適用した撮像装置の一例を示す。また、以下に説明する各要素において、「モジュール」と呼称する要素は、ハードウェアで実現するものであってもよいし、CPU等を使ってソフトウェアで実現するものであってもよい。   FIG. 1 shows an example of an imaging apparatus to which the present invention is applied. In each element described below, an element called “module” may be realized by hardware, or may be realized by software using a CPU or the like.

図1に示す撮像装置1は、撮像対象の情報を光の明暗及び色情報として取り込むレンズ11、及びレンズ11により所定の光学特性が与えられた撮像対象の情報を光電変換して輝度情報及び色情報として出力するイメージセンサ13を含む。なお、イメージセンサ13は、例えばCCD(Charge Coupled Device)センサやCMOS(Complementary metal-oxide Semiconductor)イメージセンサである。   The imaging apparatus 1 shown in FIG. 1 performs luminance conversion and color information by photoelectrically converting the information of the imaging target to which predetermined optical characteristics are given by the lens 11 that captures the imaging target information as light brightness and color and color information. An image sensor 13 that outputs information is included. The image sensor 13 is, for example, a CCD (Charge Coupled Device) sensor or a CMOS (Complementary metal-oxide Semiconductor) image sensor.

イメージセンサ13の出力は、イメージセンサ13から出力される輝度情報または色情報に基づいてイメージセンサ13が含む欠陥画素を検出し、欠陥画素に対応する出力画像を補正する画像処理回路モジュール(DSP)15に入力される。   The output of the image sensor 13 is an image processing circuit module (DSP) that detects defective pixels included in the image sensor 13 based on luminance information or color information output from the image sensor 13 and corrects an output image corresponding to the defective pixels. 15 is input.

DSP15により取得した欠陥画素の位置すなわち欠陥画素アドレスは、MPU(制御モジュール及びメモリユニット)17により、図3を用いて後段に説明する連続欠陥画素表示に従って記憶される。また、出力画像の出力が要求された場合には、MPU17により、欠陥画素アドレスが(連続欠陥画素表示から)復調され、DSP15に供給される。   The position of the defective pixel, that is, the defective pixel address acquired by the DSP 15 is stored by the MPU (control module and memory unit) 17 in accordance with the continuous defective pixel display described later with reference to FIG. When output of the output image is requested, the defective pixel address is demodulated (from the continuous defective pixel display) by the MPU 17 and supplied to the DSP 15.

なお、DSP15には、クロック発振器(OSC)19からクロック信号CLKが供給される。また、DSP15は、同期信号発生モジュール(Sync)17aを、一体に、あるいは独立に含む。   The DSP 15 is supplied with a clock signal CLK from a clock oscillator (OSC) 19. The DSP 15 includes a synchronization signal generation module (Sync) 17a integrally or independently.

DSP15から出力される出力画像は、出力インタフェース(IF)21を経由して、例えばLCD(Liquid Crystal Display)パネルもしくはCRT(Cathode Ray Cube)等であるモニタ装置23に、可視像として出力される。   An output image output from the DSP 15 is output as a visible image via an output interface (IF) 21 to a monitor device 23 such as an LCD (Liquid Crystal Display) panel or a CRT (Cathode Ray Cube). .

より詳細には、撮像装置1が起動されることにより、図2に一例を示すが、DSP15において、イメージセンサ13の個々の画素について、欠陥画素であるか否かがチェックされる。   More specifically, an example is shown in FIG. 2 when the imaging device 1 is activated, but the DSP 15 checks whether each pixel of the image sensor 13 is a defective pixel.

すなわち、DSP15に入力されたイメージセンサ13の個々の画素の出力が、DSP15によりチェックされる(Block 1)。   That is, the output of each pixel of the image sensor 13 input to the DSP 15 is checked by the DSP 15 (Block 1).

続いて、DSP15により欠陥画素と判定された画素については、そのアドレス(位置情報)が、MPU17に記憶される。なお、MPU17が記憶すべきアドレスは、DSP15からMPU17に送信される(Block 2)。   Subsequently, the address (position information) of the pixel determined as a defective pixel by the DSP 15 is stored in the MPU 17. The address to be stored by the MPU 17 is transmitted from the DSP 15 to the MPU 17 (Block 2).

以下、DSP15により、イメージセンサ13の総ての画素について欠陥の有無がチェックされると、MPU17において、DSP15から受信した欠陥画素のアドレスに基づき、欠陥が連続しているか否か、すなわち連続欠陥画素の有無がチェックされる(全アドレス走査)。ここで、任意数の連続した欠陥画素の存在がチェックできた場合、図3により以下に説明する方法により、連続欠陥画素表示に従って記憶される。   Thereafter, when the DSP 15 checks all pixels of the image sensor 13 for defects, the MPU 17 determines whether defects are continuous based on the defective pixel addresses received from the DSP 15, that is, continuous defective pixels. Is checked (all address scanning). Here, when the presence of an arbitrary number of consecutive defective pixels can be checked, it is stored according to the continuous defective pixel display by the method described below with reference to FIG.

一方、イメージセンサ13で撮像した画像を出力する場合、MPU17から欠陥画素のアドレスが順次DSP15に送信される。このとき、連続欠陥画素については、図3により説明する連続画素欠陥表示から個々の欠陥画素のアドレスに復調され、DSP15に送信される(Block 11)。   On the other hand, when outputting an image captured by the image sensor 13, the address of the defective pixel is sequentially transmitted from the MPU 17 to the DSP 15. At this time, the continuous defective pixels are demodulated from the continuous pixel defect display described with reference to FIG. 3 to the addresses of the individual defective pixels and transmitted to the DSP 15 (Block 11).

以下、DSP15において、連続欠陥画素あるいは単独の(独立した)欠陥画素のアドレスで特定される画素からの出力画像については、周囲の画素からの出力を用いて補正される(Block 12)。   Hereinafter, in the DSP 15, the output image from the pixel specified by the address of the continuous defective pixel or the single (independent) defective pixel is corrected using the output from the surrounding pixels (Block 12).

図3は、2以上の欠陥画素が連続する連続欠陥画素のアドレスを表示する方法の一例を示す。なお、図3に示す連続欠陥画素の表示方法は、連続欠陥画素を、『代表画素』に、『2bit』の連続(方向)判定フラグを付加する形で記憶するものである。また、『代表画素』は、垂直方向を「V」で示し、水平方向を「H」で示すものとする。このとき、連続(方向)判定フラグは、欠陥画素検出中に使用するメモリ領域を活用することにする。   FIG. 3 shows an example of a method for displaying addresses of consecutive defective pixels in which two or more defective pixels are continuous. Note that the continuous defective pixel display method shown in FIG. 3 stores the continuous defective pixels by adding a “2 bit” continuous (direction) determination flag to the “representative pixel”. The “representative pixel” is indicated by “V” in the vertical direction and “H” in the horizontal direction. At this time, the continuity (direction) determination flag uses a memory area used during defective pixel detection.

図3(a)は、単一(非連続)欠陥画素の場合を示す。   FIG. 3A shows the case of a single (non-continuous) defective pixel.

図3(a)に示す例は、単独の「画素a」のみが欠陥画素であるから、連続欠陥表示としては、「画素a」のアドレス(H,V)に加え、連続判定フラグ“00”を付加する。   In the example shown in FIG. 3A, since only a single “pixel a” is a defective pixel, the continuous determination flag “00” is used in addition to the address (H, V) of “pixel a” for continuous defect display. Is added.

図3(b)は、水平方向に連続した連続欠陥画素の場合を示す。   FIG. 3B shows the case of continuous defective pixels that are continuous in the horizontal direction.

図3(b)に示す例は、欠陥画素が水平方向に2つすなわち代表画素である「画素a」の水平方向に隣接して「画素b」が存在する場合であり、代表画素である「画素a」のアドレス(H,V)に加え、“01”を付加する。このとき、「画素b」のアドレスは(H+1,V)である。   The example shown in FIG. 3B is a case where there are two defective pixels in the horizontal direction, that is, “pixel a” that is adjacent to the “pixel a” that is the representative pixel, and the representative pixel “ In addition to the address (H, V) of the pixel “a”, “01” is added. At this time, the address of “pixel b” is (H + 1, V).

図3(c)は、垂直方向に連続した連続欠陥画素の場合を示す。   FIG. 3C shows the case of continuous defective pixels that are continuous in the vertical direction.

図3(c)に示す例は、欠陥画素が垂直方向に2つであるから、代表画素である「画素a」のアドレス(H,V)に加え、“10”を付加する。このとき、「画素b」のアドレスは(H,V+1)である。   In the example shown in FIG. 3C, since there are two defective pixels in the vertical direction, “10” is added to the address (H, V) of the “pixel a” that is the representative pixel. At this time, the address of “pixel b” is (H, V + 1).

図3(d)は、垂直方向および水平方向のそれぞれに連続した連続欠陥画素の場合を示す。   FIG. 3D shows the case of continuous defective pixels that are continuous in the vertical direction and the horizontal direction, respectively.

図3(d)に示す例は、欠陥画素が垂直方向、水平方向ともに2つである2×2の4つの連続欠陥画素であるから、代表画素である「画素a」のアドレス(H,V)に加え、“11”を付加する。   In the example shown in FIG. 3D, since the defective pixels are 2 × 2 four consecutive defective pixels, two in the vertical direction and in the horizontal direction, the address (H, V) of the “pixel a” that is the representative pixel. In addition, “11” is added.

このとき、「画素a」の水平方向に隣接する「画素b」のアドレスは(H+1,V)であり、「画素a」の垂直方向に隣接する「画素c」のアドレスは(H,V+1)である。また、「画素a」に対して、辺が接しないすなわち2×2の4個のマトリクスを考えるとき「画素a」の対角線上に位置する「画素d」のアドレスは(H+1,V+1)で表すことができる。   At this time, the address of “pixel b” adjacent to “pixel a” in the horizontal direction is (H + 1, V), and the address of “pixel c” adjacent to “pixel a” in the vertical direction is (H, V + 1). It is. In addition, when considering a 4 × 2 matrix in which the sides do not touch “pixel a”, the address of “pixel d” located on the diagonal line of “pixel a” is represented by (H + 1, V + 1). be able to.

一方、DSP15から出力画像を出力する場合、すなわちイメージセンサ13で撮像した画像を再生する場合は、図3(a)に示した単独の欠陥画素については、MPU17がDSP15に出力する欠陥画素のアドレスは、「画素a」のアドレス(H,V)となる。   On the other hand, when an output image is output from the DSP 15, that is, when an image captured by the image sensor 13 is reproduced, the address of the defective pixel output by the MPU 17 to the DSP 15 for the single defective pixel shown in FIG. Is the address (H, V) of “pixel a”.

これに対し、MPU17からDSP15に出力されるアドレスが(H+1,V)である場合には、DSP15において、図3(b)に示したように「画素a」と「画素a」の水平方向に隣接する「画素b」が欠陥画素である、と判断される。   On the other hand, when the address output from the MPU 17 to the DSP 15 is (H + 1, V), the DSP 15 in the horizontal direction of “pixel a” and “pixel a” as shown in FIG. It is determined that the adjacent “pixel b” is a defective pixel.

以下、同様に、MPU17からDSP15に出力されるアドレスが(H,V+1)である場合には、DSP15において、図3(c)に示したように「画素a」と「画素a」の垂直方向に隣接する「画素b」が欠陥画素である、と判断できる。   Similarly, when the address output from the MPU 17 to the DSP 15 is (H, V + 1), the vertical direction of “pixel a” and “pixel a” in the DSP 15 as shown in FIG. It can be determined that the “pixel b” adjacent to is a defective pixel.

なお、図3(b)及び図3(c)に示したような、水平方向または垂直方向で代表画素に隣接する1つの画素(代表画素と合わせて連続する2つの画素)が欠陥画素である場合には、代表画素に対してどの側に隣接する画素が欠陥画素であるかが明示できることが好ましい。   As shown in FIGS. 3B and 3C, one pixel adjacent to the representative pixel in the horizontal direction or the vertical direction (two pixels continuous with the representative pixel) is a defective pixel. In this case, it is preferable that it is possible to clearly indicate on which side the pixel adjacent to the representative pixel is a defective pixel.

従って、MPU17においてアドレスを復調する場合は、代表画素である「画素a」の水平方向右側に欠陥画素である「画素b」が隣接する場合にのみ、図3(b)で説明した(H+1,V)をアドレスとすること、代表画素である「画素a」の垂直方向下方に欠陥画素である「画素b」が隣接する場合にのみ、図3(c)で説明した(H,V+1)をアドレスとすること、連続欠陥画素の表示方法における規則とする。   Therefore, in the case where the address is demodulated in the MPU 17, only when the “pixel b” that is the defective pixel is adjacent to the right side in the horizontal direction of the “pixel a” that is the representative pixel, (H + 1, V) is used as an address, and (H, V + 1) described with reference to FIG. 3C is used only when “pixel b” that is a defective pixel is adjacent to “pixel a” that is a representative pixel in the vertical direction. The address is a rule in the display method of continuous defective pixels.

なお、図3(d)に示す表示例では、代表画素である「画素a」を、数学的な象限の規定(平面上に平行座標系を定めるとき、座標軸によって規定される4つの部分のうち、x,yともに正である部分が第一象限、xが負でyが正である部分が第二象限、x,yともに負である部分が第三象限、xが正でyが負である部分が第四象限と示される)に従い区分すると、「画素a」が第二象限に位置する状態で「画素c」が第三象限に、同じく「画素d」が第四象限に、さらに「画素b」が第一象限に位置することが認められる。従って、2×2の4画素が連続欠陥である場合、それぞれ、「画素b」が(H+1,V)、「画素c」が(H,V+1)、「画素d」が(H+1,V+1)で、それぞれ表される。   In the display example shown in FIG. 3D, the representative pixel “pixel a” is defined as a mathematical quadrant (when a parallel coordinate system is defined on a plane, of the four parts defined by the coordinate axes. , X and y are positive in the first quadrant, x is negative and y is positive in the second quadrant, x and y are negative in the third quadrant, x is positive and y is negative (A certain part is shown as the fourth quadrant), “pixel a” is located in the second quadrant, “pixel c” is in the third quadrant, “pixel d” is in the fourth quadrant, and “ It can be seen that pixel b "is located in the first quadrant. Therefore, when 2 × 2 four pixels are continuous defects, “pixel b” is (H + 1, V), “pixel c” is (H, V + 1), and “pixel d” is (H + 1, V + 1), respectively. , Respectively.

すなわち、MPU17において復調された欠陥画素アドレスを、DSP15が受信した結果に基づいて、補正対象となる欠陥画素のアドレス(位置情報)を容易に特定することができる。   That is, based on the result of the DSP 15 receiving the defective pixel address demodulated by the MPU 17, the address (position information) of the defective pixel to be corrected can be easily specified.

なお、連続欠陥画素を、上述した『代表画素』のアドレスに『2bit』の連続判定フラグを付加することは、表示可能な欠陥画素の数が、最大で4つ(2×2)に制限されるが、MPU17により欠陥画素のアドレスを復調する際に、復調が非常に容易となる特徴がある。   Note that adding a continuous determination flag of “2 bits” to the address of “representative pixel” described above for the continuous defective pixels limits the number of displayable defective pixels to a maximum of four (2 × 2). However, when the address of the defective pixel is demodulated by the MPU 17, the demodulation is very easy.

また、図3(d)に示した2×2の4つの連続欠陥画素表示を用いて4つの連続画素のうちの任意の1つが欠陥ではない場合についても連続欠陥画素として表示することも可能である。すなわち、実質的に、3つの欠陥画素である場合について、2×2の4つの連続欠陥画素とみなしてアドレスを表示(MPU17に記憶する)ことにより、欠陥画素アドレスを保持するメモリの容量を一層低減できる。   In addition, by using the 2 × 2 four continuous defective pixel display shown in FIG. 3D, even when any one of the four continuous pixels is not defective, it can be displayed as a continuous defective pixel. is there. That is, in the case where there are substantially three defective pixels, the address is displayed (stored in the MPU 17) as 2 × 2 four consecutive defective pixels, thereby further increasing the capacity of the memory holding the defective pixel address. Can be reduced.

以上説明したように、この発明の実施の一形態を摘要することで、撮像素子が含む欠陥画素のアドレスを高密度で記録できる。また、記録された欠陥画素のアドレスは、簡単に復調可能である。   As described above, by taking one embodiment of the present invention, the addresses of defective pixels included in the image sensor can be recorded with high density. Further, the address of the recorded defective pixel can be easily demodulated.

従って、欠陥画素のアドレスを不所望に多くのメモリを占有することなく記録可能で、しかも再生時のアドレスの復調が容易な撮像装置が得られる。   Therefore, it is possible to obtain an image pickup apparatus that can record the address of the defective pixel without unnecessarily occupying a large amount of memory and can easily demodulate the address during reproduction.

なお、この発明は、上述した各実施の形態に限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々な変形もしくは変更が可能である。また、各実施の形態は、可能な限り適宜組み合わせて、もしくは一部を削除して実施されてもよく、その場合は、組み合わせもしくは削除に起因したさまざまな効果が得られる。   In addition, this invention is not limited to each embodiment mentioned above, A various deformation | transformation or change is possible in the range which does not deviate from the summary in the stage of the implementation. In addition, the embodiments may be implemented by appropriately combining them as much as possible, or by deleting a part thereof. In that case, various effects resulting from the combination or deletion can be obtained.

1…撮像装置、11…レンズ、13…イメージセンサ、15…画像処理回路モジュール(DSP)、17…MPU(制御モジュール及びメモリユニット)、17a…同期信号発生部(Sync)、19…クロック発振器(OSC)、21…出力インタフェース(IF)、23…モニタ装置。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Imaging device, 11 ... Lens, 13 ... Image sensor, 15 ... Image processing circuit module (DSP), 17 ... MPU (control module and memory unit), 17a ... Synchronous signal generation part (Sync), 19 ... Clock oscillator ( OSC), 21... Output interface (IF), 23.

Claims (13)

入力情報を光電変換する撮像素子と、
前記撮像素子の個々の画素の出力から前記撮像素子が含む欠陥画素を検出する欠陥画素検出モジュールと、
前記欠陥画素検出モジュールから供給される前記撮像素子の前記欠陥画素が、隣接する画素に連続することを検出し、前記欠陥画素が隣接する場合の先頭の画素の位置情報と2ビットの判定データにより前記欠陥画素の位置を記憶する欠陥画素位置記憶モジュールと、
を有することを特徴とする撮像装置。
An image sensor that photoelectrically converts input information;
A defective pixel detection module for detecting a defective pixel included in the image sensor from an output of each pixel of the image sensor;
It is detected that the defective pixel of the image sensor supplied from the defective pixel detection module is continuous with an adjacent pixel, and based on positional information of the leading pixel and 2-bit determination data when the defective pixel is adjacent A defective pixel position storage module for storing the position of the defective pixel;
An imaging device comprising:
前記欠陥画素位置記憶モジュールは、前記欠陥画素が隣接する場合の先頭の画素のみ、前記先頭画素と先頭画素の水平方向の右隣に隣接する2つの画素、前記先頭画素と先頭画素の垂直方向の下方に隣接する2つの画素、及び前記先頭画素の水平方向の右隣に隣接する画素と前記先頭画素の垂直方向の下方に隣接する画素にそれぞれ接する画素を、前記2ビットの判定データにより特定することを特徴とする請求項1記載の撮像装置。   The defective pixel position storage module is configured such that only the top pixel when the defective pixel is adjacent to each other, two pixels adjacent to the right in the horizontal direction of the top pixel and the top pixel, and the vertical direction between the top pixel and the top pixel. The two adjacent pixels below, and the pixel adjacent to the right adjacent pixel in the horizontal direction of the first pixel and the pixel adjacent to the pixel adjacent in the lower vertical direction of the first pixel are specified by the 2-bit determination data. The imaging apparatus according to claim 1. 前記欠陥画素位置記憶モジュールは、前記欠陥画素の先頭画素が、数学的象限の記述に従う第二象限に位置するとき、第一象限、第三象限及び第四象限にそれぞれ連続する4つの欠陥画素を表示できることを特徴とする請求項2記載の撮像装置。   The defective pixel position storage module, when the first pixel of the defective pixel is located in the second quadrant according to the description of the mathematical quadrant, four defective pixels continuous in the first quadrant, the third quadrant, and the fourth quadrant, respectively. The imaging apparatus according to claim 2, wherein the imaging apparatus is capable of displaying. 前記欠陥画素位置記憶モジュールは、前記欠陥画素検出モジュールに対し、前記欠陥のある画素が、前記欠陥画素が隣接する場合の先頭の画素のみ、前記先頭画素と先頭画素の水平方向の右隣に隣接する2つの画素、前記先頭画素と先頭画素の垂直方向の下方に隣接する2つの画素、及び前記先頭画素の水平方向の右隣に隣接する画素と前記先頭画素の垂直方向の下方に隣接する画素にそれぞれ接する画素からなる4つの画素、のいずれかの状態で連続することを出力することを特徴とする請求項1記載の撮像装置。   The defective pixel position storage module is adjacent to the defective pixel detection module in which the defective pixel is adjacent to the right side in the horizontal direction of the first pixel and only the first pixel when the defective pixel is adjacent to the defective pixel. Two pixels that are adjacent to each other below the first pixel in the vertical direction of the first pixel, and a pixel that is adjacent to the right of the first pixel in the horizontal direction and a pixel that is adjacent to the lower side in the vertical direction of the first pixel. The imaging device according to claim 1, wherein the output is continuous in any state of four pixels each composed of pixels in contact with each other. 前記欠陥画素位置記憶モジュールは、前記欠陥画素の先頭画素が、数学的象限の記述に従う第二象限に位置するとき、第一象限、第三象限及び第四象限にそれぞれ連続する4つの欠陥画素を表示できることを特徴とする請求項4記載の撮像装置。   The defective pixel position storage module, when the first pixel of the defective pixel is located in the second quadrant according to the description of the mathematical quadrant, four defective pixels continuous in the first quadrant, the third quadrant, and the fourth quadrant, respectively. The imaging apparatus according to claim 4, wherein the imaging apparatus is capable of displaying. 入力情報を光電変換する撮像素子と、
前記撮像素子の個々の画素の出力から前記撮像素子が含む欠陥画素を検出する欠陥画素検出モジュールと、
前記欠陥画素検出モジュールから供給される前記撮像素子の前記欠陥画素が、隣接する画素に連続している場合は、前記欠陥画素が隣接する場合の先頭の画素の位置情報と複数ビットの判定データとにより前記欠陥画素の位置を記憶する欠陥画素位置記憶モジュールと、
を有することを特徴とする撮像装置。
An image sensor that photoelectrically converts input information;
A defective pixel detection module for detecting a defective pixel included in the image sensor from an output of each pixel of the image sensor;
When the defective pixel of the image sensor supplied from the defective pixel detection module is continuous with an adjacent pixel, positional information of a leading pixel and a plurality of bits of determination data when the defective pixel is adjacent A defective pixel position storage module for storing the position of the defective pixel by:
An imaging device comprising:
前記欠陥画素位置記憶モジュールは、前記欠陥画素の配置が隣接する場合の先頭の画素のみ、前記先頭画素と先頭画素の水平方向の右隣に隣接する第1の所定数の画素、前記先頭画素と先頭画素の垂直方向の下方に隣接する第2の所定数の画素、及び前記先頭画素の水平方向の右隣に隣接する第1の所定数の画素それぞれの下方に隣接する第2の所定数の画素の中の欠陥画素の配置を、前記複数ビットの判定データにより記憶することを特徴とする請求項6記載の撮像装置。   The defective pixel position storage module includes a first predetermined number of pixels adjacent to the right in the horizontal direction of the first pixel and the first pixel, only the first pixel when the arrangement of the defective pixels is adjacent, and the first pixel A second predetermined number of pixels adjacent below the first pixel in the vertical direction and a second predetermined number of pixels adjacent below the first predetermined number of pixels adjacent to the right in the horizontal direction of the first pixel. The imaging apparatus according to claim 6, wherein an arrangement of defective pixels in the pixel is stored by the determination data of the plurality of bits. 前記欠陥画素位置記憶モジュールは、前記欠陥のある画素が、前記欠陥画素が隣接する場合の先頭の画素のみ、前記先頭画素と先頭画素の水平方向の右隣に隣接する第1の所定数の画素、前記先頭画素と先頭画素の垂直方向の下方に隣接する第2の所定数の画素、及び前記先頭画素の水平方向の右隣に隣接する第1の所定数の画素それぞれの下方に隣接する第2の所定数の画素の中の欠陥画素の配置がいずれの状態で連続しているかを出力することを特徴とする請求項6記載の撮像装置。   The defective pixel position storage module includes a first predetermined number of pixels adjacent to the first pixel in the horizontal direction of the first pixel and only the first pixel when the defective pixel is adjacent to the defective pixel. , The second predetermined number of pixels adjacent to the top pixel in the vertical direction below the top pixel, and the first predetermined number of pixels adjacent to the right in the horizontal direction of the top pixel. The imaging apparatus according to claim 6, wherein in which state the arrangement of defective pixels among the predetermined number of pixels is continuous is output. 入力情報を光電変換する撮像素子と、
前記撮像素子が含む欠陥画素を予め検出しておき、この予め検出しておいた前記撮像素子の欠陥画素が、隣接する画素に連続する場合は、前記欠陥画素が隣接する場合の先頭の画素の位置情報と複数ビットの判定データにより前記欠陥画素の位置を記憶する欠陥画素位置記憶モジュールと、
を有することを特徴とする撮像装置。
An image sensor that photoelectrically converts input information;
If a defective pixel included in the image sensor is detected in advance and the previously detected defective pixel of the image sensor is continuous with an adjacent pixel, the first pixel in the case where the defective pixel is adjacent is detected. A defective pixel position storage module for storing the position of the defective pixel according to position information and determination data of a plurality of bits;
An imaging device comprising:
前記欠陥画素位置記憶モジュールは、前記欠陥画素の配置が隣接する場合の先頭の画素のみ、前記先頭画素と先頭画素の水平方向の右隣に隣接する第1の所定数の画素、前記先頭画素と先頭画素の垂直方向の下方に隣接する第2の所定数の画素、及び前記先頭画素の水平方向の右隣に隣接する第1の所定数の画素それぞれの下方に隣接する第2の所定数の画素の中の欠陥画素の配置を、前記複数ビットの判定データにより記憶することを特徴とする請求項9記載の撮像装置。   The defective pixel position storage module includes a first predetermined number of pixels adjacent to the right in the horizontal direction of the first pixel and the first pixel, only the first pixel when the arrangement of the defective pixels is adjacent, and the first pixel A second predetermined number of pixels adjacent below the first pixel in the vertical direction and a second predetermined number of pixels adjacent below the first predetermined number of pixels adjacent to the right in the horizontal direction of the first pixel. The imaging apparatus according to claim 9, wherein an arrangement of defective pixels in a pixel is stored by the plurality of bits of determination data. さらに画像処理モジュールを有し、
前記欠陥画素位置記憶モジュールは、前記画像処理モジュールに対し、前記欠陥のある画素が、前記欠陥画素が隣接する場合の先頭の画素のみ、前記先頭画素と先頭画素の水平方向の右隣に隣接する第1の所定数の画素、前記先頭画素と先頭画素の垂直方向の下方に隣接する第2の所定数の画素、及び前記先頭画素の水平方向の右隣に隣接する第1の所定数の画素それぞれの下方に隣接する第2の所定数の画素の中の欠陥画素の配置がいずれの状態で連続しているかを出力することを特徴とする請求項9記載の撮像装置。
Furthermore, it has an image processing module,
The defective pixel position storage module is adjacent to the image processing module in which the defective pixel is adjacent to the right in the horizontal direction of the first pixel and only the first pixel when the defective pixel is adjacent. A first predetermined number of pixels, a second predetermined number of pixels adjacent to the first pixel in the vertical direction below the first pixel, and a first predetermined number of pixels adjacent to the right of the first pixel in the horizontal direction The imaging apparatus according to claim 9, which outputs in which state the arrangement of defective pixels in a second predetermined number of pixels adjacent below each other is continuous.
撮像素子の個々の画素の出力から撮像素子が含む欠陥画素を検出し、
検出された撮像素子の欠陥画素が、隣接する画素に連続することを検出し、
欠陥画素が隣接する場合の先頭の画素の位置情報と複数ビットの判定データにより、欠陥画素の位置を記憶する
ことを特徴とする信号処理方法。
Detect defective pixels included in the image sensor from the output of each pixel of the image sensor,
Detecting that the detected defective pixel of the image sensor is continuous with the adjacent pixel,
A signal processing method characterized by storing a position of a defective pixel by position information of a leading pixel and a plurality of bits of determination data when the defective pixel is adjacent.
前記複数ビットの判定データは、2ビットのデータであることを特徴とする請求項12記載の信号処理方法。   13. The signal processing method according to claim 12, wherein the multi-bit determination data is 2-bit data.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US10742914B2 (en) 2017-03-17 2020-08-11 Canon Kabushiki Kaisha Head-wearable imaging apparatus with two imaging elements corresponding to a user left eye and right eye, method, and computer readable storage medium for correcting a defective pixel among plural pixels forming each image captured by the two imaging elements based on defective-pixel related position information

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11331704A (en) * 1998-05-19 1999-11-30 Fujitsu Ltd Defective pixel substitution system and infrared-ray video device
JP2000287134A (en) * 1999-03-30 2000-10-13 Fuji Film Microdevices Co Ltd Image processor and image processing method
JP2007228269A (en) * 2006-02-23 2007-09-06 Sony Corp Image signal processing device and method
JP2008278394A (en) * 2007-05-07 2008-11-13 Sony Corp Imaging apparatus, defective pixel correction device, processing method and program therein

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11331704A (en) * 1998-05-19 1999-11-30 Fujitsu Ltd Defective pixel substitution system and infrared-ray video device
JP2000287134A (en) * 1999-03-30 2000-10-13 Fuji Film Microdevices Co Ltd Image processor and image processing method
JP2007228269A (en) * 2006-02-23 2007-09-06 Sony Corp Image signal processing device and method
JP2008278394A (en) * 2007-05-07 2008-11-13 Sony Corp Imaging apparatus, defective pixel correction device, processing method and program therein

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10742914B2 (en) 2017-03-17 2020-08-11 Canon Kabushiki Kaisha Head-wearable imaging apparatus with two imaging elements corresponding to a user left eye and right eye, method, and computer readable storage medium for correcting a defective pixel among plural pixels forming each image captured by the two imaging elements based on defective-pixel related position information

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