JP2010113515A - Production management method and production management system - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、生産管理方法及び生産管理システムに関する。 The present invention relates to a production management method and a production management system.
半導体装置の生産ラインは、通常、数十〜数百の工程があり、半導体装置の基板となるウエーハを生産ラインに投入してから、半導体装置が完成するまでに1ヶ月〜3ヶ月程度を要する。その間に、ボトルネックとなる工程(ネック工程ともいう。)の能力不足、生産設備のメンテナンスに伴う休止、予期しないトラブルなど、生産活動に影響を与える想定外の状況(停滞)が発生することは珍しいことではなく、当所計画したスケジュールで生産を滞りなく完成させるには多くの困難がある。
このような生産ラインにおいて、多数のロットをできるだけ円滑に流動させるために、従来から様々な方法が採られている。例えば、特許文献1の従来技術に記載されているように、先入れ先出しに重点を置いた方法や、ネック工程に着目した方法がある。また、変化する受注情報や生産状況に応じて、ロットの優先度を都度変更、決定する方法もある。即ち、納期・数量を確保するため、長時間を要する生産ラインの生産結果を中間の特定生産ポイントでチェックし、その結果と目標との差異を算出して新たな生産スケジュールを作成し、生産を継続する方法である。
In such a production line, various methods have been conventionally employed in order to flow a large number of lots as smoothly as possible. For example, as described in the prior art of
しかしながら、日々変化する製造工程の生産状況に応じて、ロットの優先度を都度変更すると、生産現場での混乱を招き、生産ライン全体の生産性が低下したり、生産ライン全体のリードタイムが悪化したりする可能性があり、その結果として、客先納期を守ることができなくなる可能性があった。
また、生産指示を計算、シミュレーションするには大きなコンピュータを用い、長時間の計算が必要であった。即ち、工場内の全てのロットに対し各工程毎にスケジューリングを行い、各ロット毎に優先順位を日々決定してゆくには膨大な量の計算が必要となる、という課題があった。
そこで、本発明のいくつかの態様は、このような課題に着目してなされたものであって、ロットの優先度を簡単に、且つ適切に決定できるようにした生産管理方法及び生産管理システムの提供を目的とする。
However, changing the priority of each lot according to the production status of the manufacturing process that changes from day to day will cause confusion at the production site, resulting in a decrease in productivity of the entire production line and deterioration of the lead time of the entire production line. As a result, there was a possibility that the customer delivery date could not be kept.
In addition, a large computer was used to calculate and simulate production instructions, and a long time calculation was required. That is, there is a problem that enormous amounts of calculations are required to schedule all the lots in the factory for each process and to determine the priority order for each lot every day.
Accordingly, some aspects of the present invention have been made paying attention to such a problem, and a production management method and a production management system capable of easily and appropriately determining the priority of a lot. For the purpose of provision.
上記目的を達成するために、本発明の一態様に係る生産管理方法は、生産ラインが有する複数の工程で所定の処理が順次施される第1のロットの完成計画日時と、前記第1のロットが現在の工程に存在しているときの現工程日時と、前記第1のロットの残工程での処理時間の合計値とに基づいて、前記第1のロットの優先度を算出する工程、を有することを特徴とするものである。
また、上記の生産管理方法において、前記生産ラインが有する複数の工程で所定の処理が順次施される第2のロットの完成計画日時と、前記第2のロットが前記第1のロットと同じ前記現在の工程に存在しているときの現工程日時と、前記第2のロットの残工程での処理時間の合計値とに基づいて、前記第2のロットの優先度を算出する工程と、前記第1のロットの優先度と第2のロットの優先度とを比較して、前記第1のロット又は前記第2のロットのうちの優先度が高い方を先に処理する工程と、をさらに含むことを特徴としても良い。
In order to achieve the above object, a production management method according to an aspect of the present invention includes a completion date and time of a first lot on which a predetermined process is sequentially performed in a plurality of steps of a production line, and the first lot Calculating the priority of the first lot based on the current process date and time when the lot exists in the current process and the total processing time in the remaining process of the first lot; It is characterized by having.
Further, in the above production management method, the completion schedule date and time of the second lot sequentially subjected to predetermined processing in a plurality of steps of the production line, and the second lot is the same as the first lot Calculating the priority of the second lot based on the current process date and time when present in the current process and the total processing time in the remaining process of the second lot; and A step of comparing the priority of the first lot with the priority of the second lot, and processing the higher one of the first lot or the second lot first. It may be characterized by including.
また、上記の生産管理方法において、前記優先度は、前記完成計画日時から前記現工程日時を減算した値を、前記残工程での処理時間の合計値で除算することにより算出されることを特徴としても良い。
また、上記の生産管理方法において、前記現在の工程の次以降の工程の状況に応じて、前記現在の工程における前記優先度を調整することを特徴としても良い。
本発明の別の態様に係る生産管理システムは、生産ラインが有する複数の工程で所定の処理が順次施される第1のロットの完成計画日時と、前記第1のロットが現在の工程に存在しているときの現工程日時と、前記第1のロットの残工程での処理時間の合計値と、に関する情報を取得する取得手段と、前記取得手段によって取得された前記情報に基づいて、前記第1のロットの優先度を算出する算出手段と、前記算出手段によって算出された前記優先度を表示する表示手段と、を有することを特徴とするものである。
In the above production management method, the priority is calculated by dividing a value obtained by subtracting the current process date from the completion plan date by a total value of processing times in the remaining processes. It is also good.
In the above production management method, the priority in the current process may be adjusted according to the status of the process subsequent to the current process.
In the production management system according to another aspect of the present invention, the completion date and time of the first lot on which a predetermined process is sequentially performed in a plurality of processes of the production line, and the first lot exists in the current process Based on the information acquired by the acquisition means, the acquisition means for acquiring information relating to the current process date and time, the total value of the processing time in the remaining process of the first lot, It has a calculation means for calculating the priority of the first lot, and a display means for displaying the priority calculated by the calculation means.
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。なお、以下に説明する各図において、同一の構成を有する部分には同一の符号を付し、その重複する説明は省略する。
(1)第1実施形態
図1は、本発明の実施の形態に係る生産管理システム100の一例を示すブロック図である。図1に示す生産管理システム100は、生産ラインが有する各工程において、ロットの優先度を計算するシステムである。ここで、生産ラインとは、例えば半導体装置の生産ラインであり、前工程、後工程又は検査工程、或いは、これらの工程うちの少なくとも2つ以上を含むものである。前工程はウエーハプロセスとも呼ばれており、イオン注入工程、酸化拡散工程、成膜(CVD:Chemical Vapor Deposition)工程、フォトリソグラフィ工程、エッチング工程、などを有する。前工程では、上記の各工程が交互に繰り返し行われ、のべ工程数は例えば数十〜数百に上る。また、後工程は、ダイシング工程、ダイボンディング工程、ワイヤボンディング工程、パッケージング工程などを有する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. Note that, in each drawing described below, parts having the same configuration are denoted by the same reference numerals, and redundant description thereof is omitted.
(1) First Embodiment FIG. 1 is a block diagram showing an example of a
図1に示す生産管理システム100は、上述の前工程又は後工程、或いは前工程及び後工程の何れにも適用可能なものであり、例えば、入力装置群1と、ホストCPU(Central Processing Unit)2と、データベース3と、ロットの優先度を計算するためのパーソナルコンピュータ(以下、計算用PCという。)4と、出力装置群5と、を有する。
これらの中で、入力装置群1は、生産ラインを構成する各工程にそれぞれ配置された入力装置からなり、例えば、A工程入力装置1a、B工程入力装置1b、C工程入力装置1c、…を有する。この生産管理システム100が前工程に適用される場合は、A工程は例えばイオン注入工程であり、B工程は例えば酸化拡散工程、C工程は例えば成膜工程である。
The
Among these, the
図1に示すように、これらA工程入力装置1a、B工程入力装置1b、C工程入力装置1c、…は、例えば有線又は無線を介してそれぞれホストCPU2に接続されており、ホストCPU2との間で情報(即ち、データ)を含む信号の送授が互いに可能となっている。また、ホストCPU2は、プログラムによって様々な数値計算や情報処理、機器制御などを行う電子装置であり、生産ラインを流動する全てのロットの進捗管理を行う。
As shown in FIG. 1, the A process input device 1a, the B
データベース3は、生産ラインに存在する全てのロットについての情報や、生産ラインが有する各工程の生産状況、処理装置の状況に関する情報、の集合体である。例えば、データベース3には、個々のロットについて、前工程への投入日時や、各工程で施された処理の履歴、及び、処理レシピ(即ち、処理条件)に関する情報が含まれる。また、データベース3には、個々のロットについて、前工程での完成計画日時(即ち、生産計画上での完成期限日時)や、後工程への投入計画日時、客先への納入期限に関する情報が含まれる。さらに、データベース3には、A工程に存在するロット(即ち、在庫)、B工程の在庫、C工程の在庫、…など、各工程の在庫に関する情報が含まれる。このような情報の集合体は、例えばハードディスク等の記憶装置に格納されている。そして、この記憶装置は、例えば有線を介してホストCPU2に接続されており、ホストCPU2との間で情報を含む信号の授受が可能となっている。
The
計算用PC4は、ホストCPU2を介してデータベース3から情報を取得し、取得した情報に基づいて、各工程におけるロットの優先度を計算するものである。ここで、計算用PC4が取得する情報とは、生産ラインが有する複数の工程で所定の処理が順次施されるロットの完成計画日時と、このロットが現在の工程で待機し、又は処理が施されているとき(即ち、存在しているとき)の現工程日時と、このロットの残工程での処理時間の合計値と、に関する情報である。また、ロットの優先度は例えば残加工倍率で表され、残加工倍率は下記(1)式により算出される。
残加工倍率=(完成計画日時−現工程日時)/残工程での処理時間の合計値…(1)
The calculation PC 4 acquires information from the
Residual processing magnification = (Completion plan date−Current process date / time) / Total value of processing time in remaining process (1)
この式から分かるように、残加工倍率が小さいロットほどその完成計画日までの余裕が少なく、現在の工程での処理の順番(即ち、処理順)に関して優先度が高い。
なお、残工程での処理時間の合計値は、例えば、残工程での「実」処理時間の合計値(即ち、該ロットに対して、現時点以降に処理が施される工程での実処理時間の合計値)であり、工程間の搬送時間や、停滞時間は含まない。実処理時間とは、ロットに対する処理が実際に行われる間の時間のことであり、例えば、イオン注入装置や、拡散炉、ドライエッチング装置などの処理装置に対して、ロットの搬入を開始してから、ロットの搬出を終了するまでの時間のことである。
As can be seen from this equation, the smaller the remaining machining magnification, the less the margin until the planned completion date, and the higher the order of processing in the current process (that is, the processing order).
Note that the total value of the processing time in the remaining process is, for example, the total value of the “actual” processing time in the remaining process (that is, the actual processing time in the process in which the lot is processed after the current time) And does not include transport time between processes or stagnation time. The actual processing time is the time during which processing for a lot is actually performed. For example, when a lot is started to be transferred to a processing apparatus such as an ion implantation apparatus, a diffusion furnace, or a dry etching apparatus. Until the end of the lot delivery.
図1に示すように、計算用PC4は、例えば、残加工倍率の計算を実行する演算部4と、演算部4での計算を実行するためのプログラム、及び、演算部4での計算結果を記憶する記憶部4bとを有する。演算部4は、例えばロジックICからなる。また、記憶部4bは、例えばROM及びRAM、又はハードディスク、或いはこれらの組み合わせからなる。計算用PC4は、例えば有線又は無線を介してホストCPU2に接続されており、ホストCPU2との間で情報を含む信号の授受が可能となっている。
As shown in FIG. 1, the calculation PC 4 includes, for example, a
出力装置群5は、生産ラインを構成する各工程にそれぞれ配置された表示装置からなり、例えば、A工程表示装置5a、B工程表示装置5b、C工程表示装置5c、…を有する。この生産管理システム100が前工程に適用される場合は、入力装置群1と同様に、A工程は例えばイオン注入工程であり、B工程は例えば酸化拡散工程であり、C工程は例えば成膜工程である。図1に示すように、これらA工程表示装置5a、B工程表示装置5b、C工程表示装置5c、…は、例えば有線又は無線を介してそれぞれ計算用PC4に接続されており、計算用PC4と各表示装置との間で情報を含む信号の送授が互いに可能となっている。
The
次に、上記の生産管理システム100を用いて、生産ラインに存在するロットの残加工倍率を算出すると共に、算出した残加工倍率に基づいてロットの処理順を決める方法について説明する。
図2は、本発明の実施の形態に係る生産管理方法の一例を示すフローチャートである。
図2のステップ(S)1では、残加工倍率を算出するための情報の取り込みを行う。例えば、あるロット(以下、第1のロットともいう。)がA工程に到達すると、この第1のロットのID(即ち、ロットID)と、第1のロットに含まれるウエーハの枚数と、第1のロットがA工程に到達したときの日時(以下、到達日時という。)と、ステータス(例えば、待機)などに関する情報がA工程入力装置に入力される。A工程に入力された情報は、ホストCPU2に送信され、データベース3に追記される。なお、このデータベース3には、第1のロットについて処理が行われる数十〜数百の工程名や、これら各工程での処理条件、使用可能な処理装置(例えば、号機)、第1のロットの完成計画日時、及び、最終的な客先納期などが記録されている。
Next, a method for calculating the remaining processing magnification of a lot existing on the production line using the
FIG. 2 is a flowchart showing an example of the production management method according to the embodiment of the present invention.
In step (S) 1 in FIG. 2, information for calculating the remaining machining magnification is captured. For example, when a lot (hereinafter also referred to as a first lot) reaches the step A, the ID of the first lot (that is, the lot ID), the number of wafers included in the first lot, Information about the date and time when one lot arrives at the A process (hereinafter referred to as arrival date and time), status (for example, standby), and the like are input to the A process input device. Information input to the A process is transmitted to the
次に、これらの情報が記録されたデータベース3から、計算用PC4が情報の取り込みを行う。取り込まれる情報は、例えば第1のロットについて、そのロットIDと、到達日時と、完成計画日時と、残工程での処理時間の合計値と、である。また、このステップ(S)1では、第1のロットだけでなく、A工程に到達する他のロットについても、情報の取り込みを行う。例えば、第1のロットと同時に、或いは前後して、A工程に到達した第2のロットついても、そのロットIDと、到達日時と、完成計画日時と、残工程での処理時間の合計値と、を計算用PC4が取り込む。
Next, the
次に、図2のステップ(S)2では、計算用PC4を用いて残加工倍率の計算を行う。
例えば、第1のロットについての到達日時を現工程日時とし、第1のロットについての現工程日時と、完成計画日時と、残工程での処理時間の合計値とを上記の(1)式にそれぞれ代入して、残加工倍率を算出する。一例を挙げると、A工程に到達した第1のロットについて、現工程日時(この例では、到達日時と同じ)が1月15日の午後12:00であり、完成計画日時が1月30日の午後12:00であり、残工程での処理時間の合計値が168時間の場合を想定する。この場合、完成計画日時−現工程日時は、(30−15)×24=360時間となるため、上記の(1)式より、第1のロットの残加工倍率は、360/168≒2.1と算出される。
Next, in step (S) 2 of FIG. 2, the remaining machining magnification is calculated using the
For example, the arrival date / time for the first lot is the current process date / time, and the current process date / time for the first lot, the completion plan date / time, and the total value of the processing time in the remaining process are expressed by the above equation (1). Substituting each, the remaining machining magnification is calculated. As an example, for the first lot that has reached process A, the current process date and time (in this example, the same as the arrival date and time) is 12:00 pm on January 15, and the completion plan date and time is January 30. Is 12:00 pm, and the total processing time in the remaining process is 168 hours. In this case, since the completion plan date-current process date is (30-15) × 24 = 360 hours, the remaining processing magnification of the first lot is 360 / 168≈2. 1 is calculated.
同様に、第2のロットについても、その残加工倍率を算出する。一例を挙げると、A工程に到達した第2のロットについて、現工程日時(この例では、到達日時と同じ)が1月15日の午後12:00であり、完成計画日時が1月25日の午後12:00であり、残工程での処理時間の合計値が120時間の場合を想定する。この場合、完成計画日時−現工程日時は、(25−15)×24=240時間となるため、上記の(1)式より、第2のロットの残加工倍率は、240/120=2.0と算出される。このような計算は計算用PC4の演算部4が行い、算出された残加工倍率は計算用PC4の記憶部4bに記憶される。
次に、図2のステップ(S)3では、計算用PC4が算出した残加工倍率の表示を行う。例えば、第1のロットの残加工倍率に関する情報と、第2のロットの残加工倍率に関する情報とが、計算用PC4からA工程表示装置5aに送信される。また、これら各ロットに関する他の情報が、ホストCPU2から計算用PC4を介して(或いは、ホストCPU2から直接)A工程表示装置5aに送信される。
Similarly, the remaining processing magnification is calculated for the second lot. As an example, for the second lot that has reached process A, the current process date and time (in this example, the same as the arrival date and time) is 12:00 pm on January 15, and the completion plan date and time is January 25. Is 12:00 pm, and the total processing time in the remaining process is 120 hours. In this case, since the completion plan date-current process date is (25-15) × 24 = 240 hours, the remaining machining magnification of the second lot is 240/120 = 2. Calculated as zero. Such calculation is performed by the
Next, in step (S) 3 of FIG. 2, the remaining machining magnification calculated by the
図3は、工程表示装置による画面表示の一例を示す図である。図3に示すように、例えばA工程表示装置5aの画面には、A工程の工程名(工程I)と、工程Iをさらに細かく分類した工程名(工程II)と、第1のロットの機種(品種)名と、ロットIDと、ロットを構成するウエーハの枚数と、ステータス(状態)と、処理条件と、使用している処理装置の号機番号と、残加工倍率と、ロットの優先度とが表示される。図3に示すように、この画面表示を見れば、A工程の在庫(即ち、A工程に到達している複数のロット)について、その各々の状況を残加工倍率と共に容易に把握することができる。
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a screen display by the process display device. As shown in FIG. 3, for example, on the screen of the A
なお、図3において、工程IIの欄のP+S/Dは、Pチャネル型のMOSトランジスタのソース、ドレインを形成するためのイオン注入工程を示し、N+S/Dは、Nチャネル型のMOSトランジスタのソース、ドレインを形成するためのイオン注入工程を示す。また、同欄のPWellは、P型のウェル拡散層を形成するためのイオン注入工程を示し、NWellは、N型のウェル拡散層を形成するためのイオン注入工程を示す。さらに、図3において、ステータスが待機(即ち、未処理)のものについては、処理装置の号機の欄に数字の0(ゼロ)を表示させている。 In FIG. 3, P + S / D in the column of Step II indicates an ion implantation step for forming the source and drain of the P-channel MOS transistor, and N + S / D indicates the source of the N-channel MOS transistor. The ion implantation process for forming a drain is shown. PWell in the same column indicates an ion implantation process for forming a P-type well diffusion layer, and NWell indicates an ion implantation process for forming an N-type well diffusion layer. Further, in FIG. 3, for a status of standby (that is, unprocessed), the number 0 (zero) is displayed in the column of the machine number of the processing apparatus.
次に、図2のステップ(S)4では、A工程表示装置5aで画面表示された残加工倍率に基づいて、A工程での仕掛り順(即ち、優先順位)を決定する。残加工倍率の数値が小さいものほど完成計画日までの余裕が少ないため、このステップ(S)4では原則として、残加工倍率の小さいものから先に処理を行う。例えば、第2のロットの残加工倍率は2.0であり、第1のロットの残加工倍率は2.1の場合は、第1のロットよりも第2のロットの方が残加工倍率が小さいので、第1ロットよりも第2のロットの方を先に処理する。このような、ステップ(S)4における残加工倍率の大小の比較、及び、この比較の結果に基づく仕掛り順の決定は、例えばA工程の作業者が行う。
Next, in step (S) 4 of FIG. 2, the in-process order (ie, priority order) in the A process is determined based on the remaining machining magnification displayed on the screen of the A
なお、図2に示したフローチャートは、A工程のみならず、B工程、C工程、…においてもそれぞれ適用可能である。また、図3に示した画面表示の例も、A工程表示装置5aのみならず、B工程表示装置5b、C工程表示装置5c、にそれぞれ適用可能である。例えば、図3に示した画面表示の例をB工程に適用する場合は、工程Iの欄が「酸化拡散」と表示され、工程IIの欄が「Wellアニール」「ゲート酸化」「S/Dアニール」…というようにそれぞれ表示される。B工程、C工程、…の各工程に存在しているロットについても、A工程の場合と同様、それぞれ残加工倍率を算出し、算出した残加工倍率に基づいてその仕掛り順を決定することができる。
Note that the flowchart shown in FIG. 2 can be applied not only to the A process but also to the B process, the C process,. Further, the screen display example shown in FIG. 3 is applicable not only to the A
このように、本発明の実施の形態によれば、完成計画日時を基点にロットの優先度を算出しているので、納期遵守を図ることができる。また、式(1)で示したように、残加工倍率はシンプルな計算により算出されるため、PCレベルでも短時間のうちに計算を終わらせることができる。さらに、PCレベルの場合は、ハードウェアがシンプルであり、ソフト開発も容易である。このため、上記の生産管理方法、又は生産管理システム100を生産ラインに導入する際のコスト(即ち、導入コスト)を低く抑えることができる。また、残加工倍率というシンプルな意味を持った指標であるため、作業者にも分かり易く、各工程でのロットの優先度、仕掛り順を容易に、且つ適切に決定することができる。
この実施の形態では、計算用PC4が本発明の「取得手段」に対応し、計算用PC4の演算部4が本発明の「算出手段」に対応している。また、出力装置群5が本発明の「表示手段」に対応している。
As described above, according to the embodiment of the present invention, since the priority of the lot is calculated based on the completion plan date and time, the delivery date can be observed. Further, as shown in the expression (1), the remaining machining magnification is calculated by simple calculation, so that the calculation can be completed in a short time even at the PC level. Further, in the case of the PC level, the hardware is simple and software development is easy. For this reason, the cost (namely, introduction cost) at the time of introduce | transducing said production management method or the
In this embodiment, the
(2)第2実施形態
上記の第1実施形態では、式(1)において、「残工程での処理時間の合計値」を、残工程での実処理時間の合計値とする場合について説明した。しかしながら、本発明はこれに限られることはない。例えば、「残工程での処理時間の合計値」は、残工程での実処理時間の合計値の他に、ロス時間(例えば、工程間の搬送時間や、残工程で発生する停滞時間)を含んでいても良い。搬送時間や停滞時間は、必ずしも一定の値ではなく、また、改善活動等によってその短縮が可能な時間であるが、ロス時間をある程度正確に予想することができるのであれば(例えば、過去の経験や統計から、各ロットについて残工程でのロス時間を予想することができるのであれば)、予想されるロス時間を実処理時間の合計値に加えることにより、残加工倍率の値を生産ラインの実体に近づけることができる。
(2) Second Embodiment In the first embodiment described above, in Equation (1), “the total value of processing time in the remaining process” is described as the total value of actual processing time in the remaining process. . However, the present invention is not limited to this. For example, the “total value of processing time in the remaining process” indicates the loss time (for example, the transfer time between processes and the stagnation time generated in the remaining process) in addition to the total value of the actual processing time in the remaining process. It may be included. The transport time and stagnation time are not necessarily constant values and can be shortened by improvement activities, etc., but if the loss time can be predicted to some extent accurately (for example, past experience) If the loss time in the remaining process for each lot can be predicted from the statistics), add the expected loss time to the total value of the actual processing time to obtain the value of the remaining processing magnification of the production line. Can be close to the entity.
(3)第3実施形態
上記の第1実施形態では、式(1)において、「現工程日時」をロットの到達日時とする場合について説明した。しかしながら、本発明はこれに限られることはない。現工程日時は、下記のように設定しても良い。
図4(a)及び図4(b)は現工程日時として設定することが可能なタイミングの例を示す図である。図4(a)はステータスが待機(即ち、未処理)のロットについて示し、図4(b)はステータスが処理中のロットについて示している。
図4(a)に示すように、ステータスが待機のロットについては、「現工程日時」は、残加工倍率の計算を実行するときの日時(即ち、リアルタイム)であっても良い。「現工程日時」をロットの到達日時、又は、リアルタイムとする場合は、現在の工程の実処理時間を全て、残工程の処理時間に含めることができる(時間軸に沿って記された実線矢印を参照。)。
(3) Third Embodiment In the first embodiment described above, the case has been described in which the “current process date / time” is the arrival date / time of the lot in the equation (1). However, the present invention is not limited to this. The current process date and time may be set as follows.
FIGS. 4A and 4B are diagrams illustrating examples of timings that can be set as the current process date and time. FIG. 4A shows a lot whose status is standby (that is, unprocessed), and FIG. 4B shows a lot whose status is being processed.
As shown in FIG. 4A, for the lot whose status is standby, the “current process date and time” may be the date and time when the remaining processing magnification is calculated (ie, real time). When the "current process date" is the lot arrival date or real time, all the actual process time of the current process can be included in the process time of the remaining process (solid arrows marked along the time axis) See).
一方、図4(b)に示すように、ステータスが処理中のロットについては、「現工程日時」は、残加工倍率の計算を実行するときの日時(即ち、リアルタイム)であっても良く、また、処理を開始したときの日時であっても良く、さらに処理が終了する予定日時であっても良い。「現工程日時」をロットの到達日時、又は、処理を開始したときの日時とする場合は、現在の工程の実処理時間を全て、残工程の処理時間に含めることができる(時間軸に沿って記された実線矢印を参照。)。また、「現工程日時」をリアルタイムとする場合は、当該工程の実処理時間の残りを、残工程の処理時間に含めることができる(時間軸に沿って記された破線矢印を参照。)。さらに、「現工程日時」を処理が終了する予定日時とする場合は、当該工程の実処理時間を、残工程の処理時間に含めないようにすることができる(時間軸に沿って記された二点鎖線の矢印を参照。)。 On the other hand, as shown in FIG. 4B, for the lot whose status is being processed, the “current process date and time” may be the date and time when the remaining processing magnification is calculated (ie, real time), Further, it may be the date and time when the process is started, or may be a scheduled date and time when the process is finished. When the “current process date” is the lot arrival date or the date when processing started, all the actual processing time of the current process can be included in the remaining process time (along the time axis) (See solid arrows marked as Further, when the “current process date / time” is set to real time, the remainder of the actual process time of the process can be included in the process time of the remaining process (see the broken-line arrows written along the time axis). Furthermore, when the “current process date / time” is set as the scheduled date / time for the process to be completed, the actual processing time of the process can be excluded from the processing time of the remaining process (indicated along the time axis). (See double-dotted arrows).
(4)第4実施形態
上記の第1実施形態では、「完成計画日時」を前工程での完成計画日時とする場合について例示した。ここで、前工程での完成計画日時とは、即ち、ウエーハプロセス工程の最後の処理が終了し後工程へ移動できる状態となる日時のことを意味している。
しかしながら、本発明において、完成計画日時は上記の例示に限定されることはない。本発明の完成計画日時は、後工程の完成計画日時でも良いし、客先出荷計画日でも良いし、客先納期日でも良い。また、ゲートアレイデバイスの様に、配線工程前まで製造しておき、受注仕様により配線をカスタマイズする製品においては、ウエーハプロセス工程の配線工程前に到達する計画日時を暫定的に、完成計画日時としても良い。
このように、本発明の完成計画日時は、例えば、製品の性質、顧客の注文形態、生産ラインの状況から任意に決めることができる。
(4) Fourth Embodiment In the first embodiment described above, the case where the “completion plan date and time” is set as the completion plan date and time in the previous process is illustrated. Here, the completion plan date and time in the previous process means the date and time when the last process of the wafer process process is completed and the process can move to the subsequent process.
However, in the present invention, the completion plan date and time is not limited to the above example. The completion plan date and time of the present invention may be the completion plan date and time of the post-process, the customer shipping plan date, or the customer delivery date. In addition, for products that are manufactured before the wiring process, such as gate array devices, and the wiring is customized according to order specifications, the planned date and time to arrive before the wiring process of the wafer process process is provisionally set as the completion planned date and time. Also good.
In this way, the completion plan date and time of the present invention can be arbitrarily determined from, for example, the nature of the product, the customer's order form, and the production line status.
(5)第5実施形態
上記の第1実施形態では、式(1)により残加工倍率を算出することについて説明した。しかしながら、本発明では、現在の工程の次以降の工程における在庫状況、処理装置の稼動状況等に応じて、現在の工程での残加工倍率を微調整しても良い。
即ち、第1のロットについて、現在の工程がA工程であり、A工程の次に処理される工程(即ち、次工程)がB工程である場合を想定する。仮に、第1のロットをA工程で優先的に処理してB工程へ進めたとしても、第1のロットよりも残加工倍率の小さなロットがB工程に多数存在していたり、B工程の処理装置がメンテナンス等で休止している場合は、第1のロットはB工程で暫くの間停滞することになる。この場合、A工程で優先的に処理したことが、結果的に無駄となる可能性がある。
(5) Fifth Embodiment In the first embodiment described above, the calculation of the remaining machining magnification is described using Expression (1). However, in the present invention, the remaining processing magnification in the current process may be finely adjusted in accordance with the inventory status in the process subsequent to the current process, the operating status of the processing apparatus, and the like.
That is, for the first lot, it is assumed that the current process is the A process and the process processed after the A process (that is, the next process) is the B process. Even if the first lot is preferentially processed in the A process and proceeds to the B process, there are many lots in the B process having a smaller remaining processing magnification than the first lot, When the apparatus is stopped due to maintenance or the like, the first lot is stagnated for a while in the B process. In this case, processing preferentially in step A may result in waste.
そこで、このような無駄を少なくするために、第1のロットをA工程で処理する前に、B工程の在庫状況や処理装置の稼動状況等を確認し、この確認の結果に基づいて第1のロットの残加工倍率を調整しても良い。例えば、第1のロットよりも残加工倍率の小さなロットがB工程に多数待機していたり、B工程の処理装置が休止している場合は、第1のロットの残加工倍率に+αを加算して、残加工倍率を暫定的に調整する。ここで、αはB工程の在庫状況や、処理装置の稼動状況に応じて任意に設定される値であり、計算用PC4の記憶部4bに予め記憶させておくことができる。
Therefore, in order to reduce such waste, before processing the first lot in the A process, the inventory status of the B process, the operating status of the processing apparatus, and the like are confirmed, and the first result is based on the result of this confirmation. The remaining processing magnification of the lot may be adjusted. For example, if many lots with a smaller remaining machining ratio than the first lot are waiting in the B process, or if the processing apparatus for the B process is stopped, + α is added to the remaining machining magnification of the first lot. Then, temporarily adjust the remaining processing magnification. Here, α is a value arbitrarily set according to the stock status of the B process and the operating status of the processing apparatus, and can be stored in advance in the
一例を挙げると、B工程において、第1のロットよりも残加工倍率が大きく、且つ、ステータスが待機であるロット(以下、第3のロットという。)の数が、所定数を超える場合は、図3に示した第1ロットの残加工倍率にα=1を加算し、その値を2.1から3.1に変更する。これにより、第1のロットの優先度が下がり、A工程(即ち、現在の工程)における第1のロットの仕掛り順が繰り下げられる。第1のロットについてA工程での処理が終了した後は、第1のロットの残加工倍率から+αを取り除き、残加工倍率の調整を解除する。これにより、上記の無駄を少なくすることができ、生産ラインにおいて多数のロットをより円滑に流動させることが可能となる。 As an example, in the process B, when the number of lots whose remaining processing magnification is larger than that of the first lot and whose status is standby (hereinafter referred to as a third lot) exceeds a predetermined number, Α = 1 is added to the remaining machining magnification of the first lot shown in FIG. 3, and the value is changed from 2.1 to 3.1. Thereby, the priority of the first lot is lowered, and the in-process order of the first lot in the process A (that is, the current process) is lowered. After the process in the process A is completed for the first lot, + α is removed from the remaining machining magnification of the first lot, and the adjustment of the remaining machining magnification is cancelled. As a result, the above-mentioned waste can be reduced, and a large number of lots can flow more smoothly in the production line.
1 入力装置群、1a A工程入力装置、1b B工程入力装置、1c C工程入力装置、2 ホストCPU、3 データベース、4 計算用PC、5 出力装置群、5a A工程表示装置、5b B工程表示装置、5c C工程表示装置 1 input device group, 1a A process input device, 1b B process input device, 1c C process input device, 2 host CPU, 3 database, 4 calculation PC, 5 output device group, 5a A process display device, 5b B process display Device, 5c C process display device
Claims (5)
前記第1のロットの優先度と第2のロットの優先度とを比較して、前記第1のロット又は前記第2のロットのうちの優先度が高い方を先に処理する工程と、をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の生産管理方法。 The completion schedule date and time of the second lot on which the predetermined processing is sequentially performed in a plurality of processes of the production line, and the second lot exists in the same current process as the first lot Calculating the priority of the second lot based on the current process date and time and the total processing time in the remaining process of the second lot;
Comparing the priority of the first lot with the priority of the second lot and processing the higher one of the first lot or the second lot first; The production management method according to claim 1, further comprising:
前記取得手段によって取得された前記情報に基づいて、前記第1のロットの優先度を算出する算出手段と、
前記算出手段によって算出された前記優先度を表示する表示手段と、を有することを特徴とする生産管理システム。 Completion plan date and time of a first lot on which a predetermined process is sequentially performed in a plurality of processes of the production line, a current process date and time when the first lot exists in a current process, and the first A total value of the processing time in the remaining processes of the lot, and an acquisition means for acquiring information about
Calculation means for calculating the priority of the first lot based on the information acquired by the acquisition means;
And a display unit for displaying the priority calculated by the calculation unit.
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