JP2010072230A - Microscope system, and method of observing observation object - Google Patents

Microscope system, and method of observing observation object Download PDF

Info

Publication number
JP2010072230A
JP2010072230A JP2008238351A JP2008238351A JP2010072230A JP 2010072230 A JP2010072230 A JP 2010072230A JP 2008238351 A JP2008238351 A JP 2008238351A JP 2008238351 A JP2008238351 A JP 2008238351A JP 2010072230 A JP2010072230 A JP 2010072230A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
objective lens
observation
microscope system
dish
reference mark
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2008238351A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroto Hayasaka
浩人 早坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2008238351A priority Critical patent/JP2010072230A/en
Publication of JP2010072230A publication Critical patent/JP2010072230A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a microscope system for achieving more excellent autofocus, and a method of observing an observation object. <P>SOLUTION: The microscope system includes: an objective lens 29; a stage 27; a holding part installed on the stage 27; a container-like observation sample held by the holding part and having a placing surface 22 on which the observation object 25 is placed in a bottom thereof; a focusing drive part 149 driving at least one of the objective lens 29 and the holding part in the optical axis direction of the objective lens 29; a control part 151 controlling the focusing drive part 149; and a reference member 15 which is provided in the vicinity of the placing surface 22 of the bottom of the observation sample and in which a reference mark 17 for autofocus is formed in a position facing the placing surface 22 in the optical axis direction of the objective lens 29. The control part 151 controls the focusing drive part 149, to perform the autofocus with respect to the reference mark 17, move at least one of the objective lens 29 and the holding part to a reference position and then, move at least one of the objective lens 29 and the holding part by a previously set offset amount. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、顕微鏡システム、観察体の観察方法に関するものである。   The present invention relates to a microscope system and an observation method of an observation body.

顕微鏡を使用して長時間観察を行う場合、時間とともに標本に対するピントがずれてしまうことを防ぐ目的でオートフォーカス装置を搭載することがあった。   When observing for a long time using a microscope, an autofocus device may be mounted for the purpose of preventing the specimen from being out of focus with time.

オートフォーカスの精度を上げる目的で、標本や容器からなる観察試料ではなく顕微鏡本体側に赤外線反射膜や高コントラストのマーキングを施すことがある。例えば、観察試料を保持するトレーに高コントラストのマーキングを施し、公知の山登り方式などによってオートフォーカスの精度を上げる方法が開示されている(特許文献1を参照)。
特開2006−189470号公報
In order to increase the accuracy of autofocus, an infrared reflecting film or high-contrast marking may be provided on the microscope main body rather than an observation sample consisting of a specimen or a container. For example, a method is disclosed in which high-contrast marking is performed on a tray that holds an observation sample, and autofocus accuracy is increased by a known hill-climbing method (see Patent Document 1).
JP 2006-189470 A

例えば4連ディッシュのように広い範囲を移動する場合はオフセットが大きくなり、周囲温度が変化することで生じる誤差も大きくなるため、ピントずれが発生しやすくなる問題がある。   For example, when moving over a wide range such as a quadruple dish, the offset increases, and the error caused by the change in the ambient temperature also increases.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、より良好なオートフォーカスを実現する顕微鏡システム、観察体の観察方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a microscope system and a method for observing an observation body that realize better autofocus.

上記課題を解決するために、本発明の顕微鏡システムは、対物レンズと、ステージと、前記ステージ上に設置された保持部と、前記保持部に保持され、観察体を載せる載置面を底部に有する容器状の観察試料と、前記対物レンズと前記保持部との少なくとも一方を前記対物レンズの光軸方向に駆動する焦準駆動部と、前記焦準駆動部を制御する制御部と、前記観察試料の底部の載置面近傍に設けられ、前記対物レンズの光軸方向で前記載置面と対峙する位置にオートフォーカス用の参照マークが施された参照部材とを有し、前記制御部は、前記焦準駆動部を制御し、前記参照マークに対してオートフォーカスを行って前記対物レンズと前記保持部との少なくとも一方を基準位置に移動した後、前記対物レンズと前記保持部との少なくとも一方を予め設定したオフセット量だけ移動することを特徴とする。   In order to solve the above problems, a microscope system of the present invention includes an objective lens, a stage, a holding unit installed on the stage, and a holding surface that is held by the holding unit and on which an observation object is placed. A container-like observation sample, a focusing drive unit that drives at least one of the objective lens and the holding unit in an optical axis direction of the objective lens, a control unit that controls the focusing drive unit, and the observation A reference member provided in the vicinity of the mounting surface at the bottom of the sample and provided with a reference mark for autofocus at a position facing the mounting surface in the optical axis direction of the objective lens, and the control unit Controlling the focusing drive unit, performing autofocus on the reference mark and moving at least one of the objective lens and the holding unit to a reference position, and then at least the objective lens and the holding unit on the other hand Characterized in that it moves by a preset offset amount.

また、本発明の観察体の観察方法は、前記顕微鏡システムによる観察体の観察方法において、前記参照マークに対してオートフォーカスを行う度に前記基準位置を更新し、更新した基準位置から前記対物レンズと前記保持部との少なくとも一方を予め設定したオフセット量だけ移動することにより1つ以上の観察点での観察を行うことを特徴とする。   The observation object observation method of the present invention is the observation object observation method using the microscope system, wherein the reference position is updated every time auto-focusing is performed on the reference mark, and the objective lens is updated from the updated reference position. And observation at one or more observation points by moving at least one of the holding unit and a predetermined offset amount.

本発明によれば、より良好なオートフォーカスを実現する顕微鏡システム、観察体の観察方法が提供される。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the microscope system and the observation method of an observation body which implement | achieve more favorable autofocus are provided.

以下、本願の一実施形態に係る顕微鏡システム及び観察体の観察方法について図面を参照して説明する。   Hereinafter, a microscope system and an observation method of an observation body according to an embodiment of the present application will be described with reference to the drawings.

図1は、本願の一実施形態に係る顕微鏡システムの構成を示す図である。   FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a microscope system according to an embodiment of the present application.

図2は、図1の顕微鏡システムの一部を拡大して示す図である。   FIG. 2 is an enlarged view showing a part of the microscope system of FIG.

本願の一実施形態に係る顕微鏡システムは、実質的に、顕微鏡と、培養細胞等の標本を培養するための培養装置とを組み合わせて構成されている。図1に示すように、顕微鏡システム100は、培養チャンバ1を載置して固定するステージ27と、培養チャンバ1の内部にあり水平方向の1方向に移動できる移動ブロック9と、移動ブロック9に搭載された4連ディッシュ19と、標本を保持する4連ディッシュ19に対峙するように下方に配置される対物レンズ29を備えている。   A microscope system according to an embodiment of the present application is substantially configured by combining a microscope and a culture apparatus for culturing specimens such as cultured cells. As shown in FIG. 1, the microscope system 100 includes a stage 27 on which the culture chamber 1 is placed and fixed, a moving block 9 inside the culture chamber 1 that can move in one horizontal direction, and a moving block 9. An objective lens 29 is provided so as to face the mounted quadruple dish 19 and the quadruple dish 19 that holds the specimen.

顕微鏡システム100は、培養チャンバ1内に調整空気を送り込む加湿装置101、顕微鏡システム100と外気を遮断する筐体103内の温度を制御するための温度制御装置105、撮像装置107を備える。   The microscope system 100 includes a humidifier 101 that sends adjusted air into the culture chamber 1, a temperature controller 105 for controlling the temperature in the housing 103 that blocks the microscope system 100 and the outside air, and an imaging device 107.

加湿装置101は、ヒータ109と温度センサ111とを備え、これらにより培養に適した温度(例えば37℃)に保たれる蒸留水の満たされた容器113に、CO5%空気をチューブ115から減菌フィルタを通して導入し、バブリングによって95%程度の高湿度のCO5%空気を得る。高湿度のCO5%空気は、給気チューブ117によって培養チャンバ1内に供給され、排気チューブ119によって外部に排出される。このようにして、標本の培養条件に合わせた環境を培養チャンバ1内に実現することができる。 The humidifier 101 includes a heater 109 and a temperature sensor 111, and CO 2 5% air is supplied from a tube 115 to a container 113 filled with distilled water maintained at a temperature suitable for culture (for example, 37 ° C.). introduced through sterile filter, to obtain a CO 2 5% air high humidity about 95% by bubbling. High-humidity CO 2 5% air is supplied into the culture chamber 1 by an air supply tube 117 and discharged to the outside by an exhaust tube 119. In this way, an environment that matches the culture conditions of the specimen can be realized in the culture chamber 1.

温度制御装置105は、筐体103内の温度調整用のヒータ121、送風用のファン123、不図示の温度センサを備える。ファン123によって、ダクト125を通して温風を顕微鏡システム1の上部へ送り、筐体103内で温風を循環させる。また、不図示の温度センサにより、筐体103内の温度を検出して、一定の温度、例えば37℃を保つようにヒータ121を制御する。このようにして、筐体103内の温度を調整することができる。   The temperature control device 105 includes a heater 121 for adjusting temperature in the housing 103, a fan 123 for blowing air, and a temperature sensor (not shown). Hot air is sent to the upper part of the microscope system 1 through the duct 125 by the fan 123, and the hot air is circulated in the housing 103. Further, the temperature in the housing 103 is detected by a temperature sensor (not shown), and the heater 121 is controlled so as to maintain a constant temperature, for example, 37 ° C. In this way, the temperature in the housing 103 can be adjusted.

撮像装置107は、断熱部材127を介して筐体103と連結されており、対物レンズ29、ミラー129、結像レンズ131等を介して、標本の画像データを取得する。   The imaging device 107 is connected to the housing 103 via a heat insulating member 127, and acquires sample image data via the objective lens 29, the mirror 129, the imaging lens 131, and the like.

顕微鏡システム100は、透過照明装置133と落射照明装置135を備えている。培養チャンバ1の上方に設けられた透過照明装置133の光源137は、筐体103内の温度が上昇し難いLED光源とすることが好ましい。一部を図示する落射照明装置135の照明光は、筐体103の外部から光ファイバ139によって導入され、フィルタブロック141、対物レンズ29等からなる光学系を介して、標本に照射される。また、顕微鏡システム100は、電源装置143、湿度制御装置145も備えている。   The microscope system 100 includes a transmission illumination device 133 and an epi-illumination device 135. The light source 137 of the transmission illumination device 133 provided above the culture chamber 1 is preferably an LED light source in which the temperature inside the housing 103 does not easily rise. Illumination light from an epi-illumination device 135, a part of which is shown, is introduced from the outside of the housing 103 through an optical fiber 139, and is irradiated onto the specimen via an optical system including the filter block 141, the objective lens 29, and the like. The microscope system 100 also includes a power supply device 143 and a humidity control device 145.

顕微鏡システム100は、対物レンズ29のXY方向の位置を制御する図示しないXY駆動部と、対物レンズ29のZ方向の位置を制御するZ駆動部147とからなる焦準駆動部149を備えている。制御部である駆動系制御装置151により焦準駆動部149を制御することで、対物レンズ29のZ方向の位置を焦準のために電動制御することが可能である。   The microscope system 100 includes a focusing drive unit 149 including an XY drive unit (not shown) that controls the position of the objective lens 29 in the XY direction and a Z drive unit 147 that controls the position of the objective lens 29 in the Z direction. . By controlling the focusing drive unit 149 by the drive system control device 151 which is a control unit, the position of the objective lens 29 in the Z direction can be electrically controlled for focusing.

図2に示すように、チャンバ蓋3、シールドガラス5、7等を有する培養チャンバ1内部に設けられた移動ブロック9は、図示しないガイド機構、ボールねじ11、モータ13等の移動手段により、培養チャンバ1内でステージ27に添った1方向に移動可能である。駆動系制御装置151により移動手段を制御することで、移動ブロック9の一方向の位置を電動制御することが可能である。移動ブロック9を移動させ、移動ブロック9に保持されている4連ディッシュ19中の任意のディッシュを対物レンズ29に対峙する位置に移動することで、観察するディッシュを切り替えることができる。また、移動ブロック9の底部には、底部に形成された開口を塞ぐ形で、オートフォーカスの精度を上げる目的で4つの参照マーク17が施された参照ガラス15が固定されている。   As shown in FIG. 2, the moving block 9 provided inside the culture chamber 1 having the chamber lid 3, the shield glasses 5, 7 and the like is cultured by a moving mechanism such as a guide mechanism, a ball screw 11 and a motor 13 (not shown). It can move in one direction along the stage 27 in the chamber 1. By controlling the moving means by the drive system controller 151, the position of the moving block 9 in one direction can be electrically controlled. The dish to be observed can be switched by moving the moving block 9 and moving an arbitrary dish in the quadruple dish 19 held by the moving block 9 to a position facing the objective lens 29. Further, a reference glass 15 provided with four reference marks 17 is fixed to the bottom of the moving block 9 in order to close the opening formed in the bottom and improve the accuracy of autofocus.

観察試料は、4連ディッシュ19と、4連ディッシュ19の底部に固定されたカバーガラス21と、それらにより形成された箱状部の底面22(以下載置面と呼ぶ)に配置された観察体25と、4連ディッシュ19の上部を覆うディッシュ蓋23とからなる。載置面22に載せられる観察体25は、例えば標本と培養液からなる。従って、観察体25はカバーガラス21の上方に位置し、対物レンズ29はカバーガラス21の下方に位置している。   The observation sample is a four-dish 19, a cover glass 21 fixed to the bottom of the four-dish 19, and an observation body arranged on a bottom surface 22 (hereinafter referred to as a placement surface) of a box-shaped part formed by them. 25 and a dish lid 23 that covers the upper part of the quadruple dish 19. The observation body 25 placed on the placement surface 22 is made of, for example, a specimen and a culture solution. Therefore, the observation body 25 is located above the cover glass 21 and the objective lens 29 is located below the cover glass 21.

4連ディッシュ19の4つのディッシュにそれぞれ対応する4つの載置面22に観察体25を載せることができる。また、参照ガラス15上の4つの参照マーク17は、対物レンズ29の光軸方向で4つの載置面22とそれぞれ対峙する位置に施されている。   The observation body 25 can be placed on the four placement surfaces 22 respectively corresponding to the four dishes of the quadruple dish 19. Further, the four reference marks 17 on the reference glass 15 are provided at positions facing the four placement surfaces 22 in the optical axis direction of the objective lens 29.

顕微鏡システム100の駆動系制御装置151は、公知のパッシブ型のオートフォーカスユニットを含んでおり、Z駆動部147を制御する。つまり、オートフォーカスユニットは、公知の技術により、観察光学系のピント位置を、対物レンズ29および撮像装置107から光学的に検出し、その情報をZ駆動部147に送る。Z駆動部147はオートフォーカスユニットからの情報に従い、対物レンズ29を観察試料のピント位置へ移動させる。   The drive system control device 151 of the microscope system 100 includes a known passive autofocus unit and controls the Z drive unit 147. That is, the autofocus unit optically detects the focus position of the observation optical system from the objective lens 29 and the imaging device 107 by a known technique, and sends the information to the Z drive unit 147. The Z drive unit 147 moves the objective lens 29 to the focus position of the observation sample according to the information from the autofocus unit.

撮像条件を設定する手順は、まず、移動ブロック9を移動して、4連ディッシュ19を第1番目のディッシュを観察する位置に切り替える。切り替えた後、対物レンズ29のXY移動範囲内に、参照ガラス15上に施された参照マーク17があり、参照マーク17に対物レンズ29の光軸を一致させ、参照マーク17に対してオートフォーカスを行う。この参照マーク17に対してピントが合った対物レンズ29の位置が基準位置になる。オートフォーカスを行うたびに、基準位置のZ座標は更新される。   The procedure for setting the imaging conditions is as follows. First, the moving block 9 is moved, and the quadruple dish 19 is switched to a position where the first dish is observed. After switching, there is a reference mark 17 on the reference glass 15 within the XY movement range of the objective lens 29, the optical axis of the objective lens 29 is made to coincide with the reference mark 17, and auto-focusing with respect to the reference mark 17 is performed. I do. The position of the objective lens 29 in focus with respect to the reference mark 17 becomes the reference position. Each time autofocus is performed, the Z coordinate of the reference position is updated.

次に、観察者は所望の標本にピントを合わせるため、駆動系制御装置151により、まず対物レンズ29をYX方向に移動させて、観察位置を決定し、次に対物レンズ29をZ方向に移動し、観察位置にピントを合わせる。標本にピントを合わせた後、この対物レンズ29のZ方向の位置を登録する。前記基準位置とこの登録位置の距離がオフセットとなる。同一のディッシュ内では基準は1つであり、複数の観察点に対しても共通の基準となる。このようにして、第1番目のディッシュにおける、1つまたは複数の観察点に対するオフセットが設定される。   Next, in order to focus the desired specimen, the observer first moves the objective lens 29 in the YX direction by the drive system controller 151 to determine the observation position, and then moves the objective lens 29 in the Z direction. And focus on the observation position. After focusing on the sample, the position of the objective lens 29 in the Z direction is registered. The distance between the reference position and the registered position is an offset. There is only one reference in the same dish, and it is a common reference for a plurality of observation points. In this way, an offset for one or more observation points in the first dish is set.

なお、特にZ方向のオフセットは変化しないことが重要であるが、上述のように、本実施形態では、4連ディッシュ19の各ディッシュの載置面22に対峙する部分に参照マーク17があるため、オフセットの値を小さくすることができる。その上で、4連ディッシュ19を移動ブロック9へ適切な方法で固定することにより、温度変化や時間経過に対してオフセットが変化しないようにすることは、容易に可能である。   Although it is important that the offset in the Z direction does not change in particular, as described above, in the present embodiment, the reference mark 17 is provided at the portion of the quadruple dish 19 that faces the mounting surface 22 of each dish. The offset value can be reduced. In addition, by fixing the four-dish 19 to the moving block 9 by an appropriate method, it is possible to easily prevent the offset from changing with respect to temperature change and time passage.

次に、移動ブロック9を第2番目のディッシュの位置に切り替える。切り替えた後、対物レンズ29のXY移動範囲内に、参照ガラス15上に施された参照マーク17があり、参照マーク17に対物レンズ29の光軸を一致させ、参照マーク17に対してオートフォーカスを行う。以下、第1番目のディッシュと同様である。また、第3番目、第4番目のディッシュに対しても同様である。   Next, the moving block 9 is switched to the position of the second dish. After switching, there is a reference mark 17 on the reference glass 15 within the XY movement range of the objective lens 29, the optical axis of the objective lens 29 is made to coincide with the reference mark 17, and auto-focusing with respect to the reference mark 17 is performed. I do. Hereinafter, it is the same as the first dish. The same applies to the third and fourth dishes.

例えば、第1番目のディッシュで1つ目の観察点を登録した後、他のディッシュへ移動し、再び第1番目のディッシュへ戻って2つ目の観察点を登録する場合は、第1番目のディッシュに移動した直後に参照マーク17をオートフォーカスして、基準位置を更新する。つまり、ディッシュを移動した後は、観察点を登録する前に、参照マーク17に対してオートフォーカスを行う必要がある。   For example, if you register the first observation point in the first dish, move to another dish, go back to the first dish again, and register the second observation point, Immediately after moving to the dish, the reference mark 17 is autofocused to update the reference position. That is, after moving the dish, it is necessary to perform autofocus on the reference mark 17 before registering the observation point.

タイムラプス観察を行う時は、まず移動ブロック9が、第1番目のディッシュが対物レンズ29に対応するように移動する。対物レンズ29は基準位置へ移動してオートフォーカスを行った後、予め設定したオフセット量だけ、観察点まで移動して撮影する。第1番目のディッシュ内に他の観察点がある場合は、同様にオフセット分だけ移動して撮影する。   When performing time-lapse observation, first, the moving block 9 moves so that the first dish corresponds to the objective lens 29. The objective lens 29 moves to the reference position and performs autofocusing, and then moves to the observation point by a preset offset amount to take an image. If there are other observation points in the first dish, the image is moved by the same amount of offset.

次に、移動ブロック9が、第2番目のディッシュが対物レンズ29に対応するように移動する。同様にオートフォーカスを行い、各観察点まで予め設定したオフセット量だけ移動して撮影する。第3番目、第4番目のディッシュに対しても同様である。このようにして、移動ブロック9が移動したときに生じる位置決め再現性の誤差を打ち消すことが可能である。   Next, the moving block 9 moves so that the second dish corresponds to the objective lens 29. Similarly, autofocus is performed, and the image is taken while moving to each observation point by a preset offset amount. The same applies to the third and fourth dishes. In this way, it is possible to cancel the positioning reproducibility error that occurs when the moving block 9 moves.

移動ブロック9を可動とし、参照マーク17を4連ディッシュ19の各ディッシュの載置面22に対峙する位置に施しているため、参照マーク17と観察体25との距離を小さくすることができる。従って、オフセット駆動の際に対物レンズ29の移動範囲は必要最小限になり、例えば周囲温度が変化した場合のオフセットの変化への影響を小さくすることができる。   Since the movable block 9 is movable and the reference mark 17 is provided at a position facing the mounting surface 22 of each dish of the quadruple dish 19, the distance between the reference mark 17 and the observation body 25 can be reduced. Therefore, the range of movement of the objective lens 29 is minimized when performing offset driving, and for example, the influence on the change in offset when the ambient temperature changes can be reduced.

さらに、対物レンズ29の移動範囲が小さいことは、移動時間が短いことになり、タイムラプス時におけるスループットを向上させることができる。   Furthermore, if the movement range of the objective lens 29 is small, the movement time is short, and the throughput during time lapse can be improved.

次に、本実施形態に係る顕微鏡システムの変形例について説明する。   Next, a modification of the microscope system according to this embodiment will be described.

図3は、本実施形態に係る顕微鏡システムの変形例の一部を拡大して示す図である。   FIG. 3 is an enlarged view showing a part of a modification of the microscope system according to the present embodiment.

本変形例は、オフセット駆動に関する上記特徴的構成を、培養チャンバや移動ブロックを備えていない一般型の顕微鏡に適用した例である。上述の実施形態と同様の部材は同一符号で示し、重複する説明は省略する。上述の実施形態は、ステージ27、培養チャンバ1、移動ブロック9、移動手段などからなる保持部に観察試料が保持されている構成であるが、本変形例では、プレート押さえ31を用いて、4連のウェルプレート33をステージ27に直接保持している。   This modification is an example in which the above-described characteristic configuration relating to offset driving is applied to a general-purpose microscope that does not include a culture chamber or a moving block. The same members as those in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted. In the above-described embodiment, the observation sample is held in the holding unit including the stage 27, the culture chamber 1, the moving block 9, the moving unit, and the like. A series of well plates 33 are held directly on the stage 27.

観察試料は、ウェルプレート33と、ウェルプレート33の底部に固定されたカバーガラス21と、それらにより形成された載置面22に配置された観察体25と、ウェルプレート33の上部を覆うウェルプレート蓋35とからなる。また、4つの参照マーク17が施された参照ガラス15は、ステージ27に形成された開口を塞ぐ形で、ステージ27に固定されている。その他の構成は、上述の実施形態と同様であり、観察体の観察方法も同様である。   The observation sample includes a well plate 33, a cover glass 21 fixed to the bottom of the well plate 33, an observation body 25 disposed on the mounting surface 22 formed by them, and a well plate that covers the top of the well plate 33. And a lid 35. The reference glass 15 provided with the four reference marks 17 is fixed to the stage 27 so as to close the opening formed in the stage 27. Other configurations are the same as those in the above-described embodiment, and the observation method of the observation body is also the same.

本変形例によっても、上述の実施形態と同様の効果を得ることができる。   Also by this modification, the same effect as the above-mentioned embodiment can be acquired.

以上のように、本実施形態によれば、オートフォーカスの精度を高め、長時間観察において、高いスループットを保ちながら、例えば周囲温度の変化によるピントずれを抑えて標本の状態を鮮明な画像で得ることが可能な顕微鏡システム100、及び顕微鏡システム100による観察体の観察方法を提供することができる。   As described above, according to the present embodiment, the accuracy of autofocus is improved, and, for long-time observation, while maintaining a high throughput, for example, a focus state due to a change in ambient temperature is suppressed, and a sample state is obtained with a clear image. It is possible to provide a microscope system 100 and a method for observing an observation body using the microscope system 100.

なお、本実施形態の顕微鏡システム100は、対物レンズ29をXYZ方向に移動させる構成となっているが、ステージ27を移動させる構成であってもよく、或いは両方を移動させる構成であってもよい。いずれの場合でも同様の効果を得ることが可能である。   The microscope system 100 of the present embodiment is configured to move the objective lens 29 in the XYZ directions, but may be configured to move the stage 27 or may be configured to move both. . In either case, the same effect can be obtained.

さらにまた、この実施形態は例に過ぎず、この構成や形状に限定されるものではない。本発明の範囲内において適時修正、変更が可能である。例えば、観察試料は観察体を載せる載置面を底部に有する容器状であれば、形状や載置面の数は上記の形態に限定されない。例えば8連ディッシュも可能であり、この場合、移動ブロックをXYの2方向に移動できる構成とすることが可能である。また、参照マークを1つのディッシュに対して複数にしてもよい。   Furthermore, this embodiment is only an example and is not limited to this configuration or shape. Modifications and changes can be made in a timely manner within the scope of the present invention. For example, the shape and the number of mounting surfaces are not limited to the above-described form as long as the observation sample has a container shape having a mounting surface on which the observation body is placed at the bottom. For example, an eight-dish is also possible, and in this case, the moving block can be configured to move in two directions of XY. A plurality of reference marks may be provided for one dish.

本願の一実施形態に係る顕微鏡システムの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the microscope system which concerns on one Embodiment of this application. 図1の顕微鏡システムの一部を拡大して示す図である。It is a figure which expands and shows a part of microscope system of FIG. 本実施形態に係る顕微鏡システムの変形例の一部を拡大して示す図である。It is a figure which expands and shows a part of modification of the microscope system which concerns on this embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1 培養チャンバ
3 チャンバ蓋
5 シールドガラス
7 シールドガラス
9 移動ブロック
11 ボールねじ
13 モータ
15 参照ガラス
17 参照マーク
19 4連ディッシュ
21 カバーガラス
22 載置面
23 ディッシュ蓋
25 観察体
27 ステージ
29 対物レンズ
100 顕微鏡システム
151 駆動系制御装置(AF含む)
107 撮像装置
147 Z駆動部
149 焦準駆動部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Culture chamber 3 Chamber lid 5 Shield glass 7 Shield glass 9 Moving block 11 Ball screw 13 Motor 15 Reference glass 17 Reference mark 19 Quadruple dish 21 Cover glass 22 Placement surface 23 Dish lid 25 Observation body 27 Stage 29 Objective lens 100 Microscope System 151 Drive system controller (including AF)
107 Imaging Device 147 Z Drive Unit 149 Focusing Drive Unit

Claims (3)

対物レンズと、ステージと、前記ステージ上に設置された保持部と、
前記保持部に保持され、観察体を載せる載置面を底部に有する容器状の観察試料と、
前記対物レンズと前記保持部との少なくとも一方を前記対物レンズの光軸方向に駆動する焦準駆動部と、
前記焦準駆動部を制御する制御部と、
前記観察試料の底部の載置面近傍に設けられ、前記対物レンズの光軸方向で前記載置面と対峙する位置にオートフォーカス用の参照マークが施された参照部材とを有し、
前記制御部は、前記焦準駆動部を制御し、前記参照マークに対してオートフォーカスを行って前記対物レンズと前記保持部との少なくとも一方を基準位置に移動した後、前記対物レンズと前記保持部との少なくとも一方を予め設定したオフセット量だけ移動することを特徴とする顕微鏡システム。
An objective lens, a stage, and a holding unit installed on the stage;
A container-like observation sample held on the holding part and having a mounting surface on the bottom for placing an observation body;
A focusing drive unit that drives at least one of the objective lens and the holding unit in an optical axis direction of the objective lens;
A control unit for controlling the focusing drive unit;
A reference member provided near the placement surface at the bottom of the observation sample, and provided with a reference mark for autofocus at a position facing the placement surface in the optical axis direction of the objective lens;
The control unit controls the focusing drive unit, performs auto focus on the reference mark, moves at least one of the objective lens and the holding unit to a reference position, and then holds the objective lens and the holding unit. A microscope system, wherein at least one of the first and second units is moved by a preset offset amount.
前記保持部は、前記ステージ上に固定された培養チャンバと、前記培養チャンバ内に設けられ、前記参照部材が固定される移動ブロックと、前記培養チャンバ内で前記移動ブロックを水平移動する移動手段とを含み、
前記観察試料は、複数のディッシュと、それぞれのディッシュごとの前記載置面とを有し、前記移動ブロックに保持され、
前記参照マークは、前記対物レンズの光軸方向でそれぞれのディッシュごとの前記載置面と対峙する位置に施されており、
前記制御部は、前記移動手段を制御して前記移動ブロックを水平方向に移動させ、観察するディッシュを切り替えることを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡システム。
The holding unit includes a culture chamber fixed on the stage, a moving block provided in the culture chamber, to which the reference member is fixed, and a moving unit that horizontally moves the moving block in the culture chamber. Including
The observation sample has a plurality of dishes and the placement surface described above for each dish, and is held by the moving block,
The reference mark is provided at a position facing the mounting surface described above for each dish in the optical axis direction of the objective lens,
2. The microscope system according to claim 1, wherein the control unit controls the moving unit to move the moving block in a horizontal direction to switch a dish to be observed.
請求項1又は2に記載の顕微鏡システムによる観察体の観察方法において、
前記参照マークに対してオートフォーカスを行う度に前記基準位置を更新し、更新した基準位置から前記対物レンズと前記保持部との少なくとも一方を予め設定したオフセット量だけ移動することにより1つ以上の観察点での観察を行うことを特徴とする観察体の観察方法。
In the observation method of the observation body by the microscope system according to claim 1 or 2,
The reference position is updated each time auto-focusing is performed on the reference mark, and at least one of the objective lens and the holding unit is moved from the updated reference position by a preset offset amount. An observation method of an observation body characterized by performing observation at an observation point.
JP2008238351A 2008-09-17 2008-09-17 Microscope system, and method of observing observation object Withdrawn JP2010072230A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008238351A JP2010072230A (en) 2008-09-17 2008-09-17 Microscope system, and method of observing observation object

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008238351A JP2010072230A (en) 2008-09-17 2008-09-17 Microscope system, and method of observing observation object

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010072230A true JP2010072230A (en) 2010-04-02

Family

ID=42204087

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008238351A Withdrawn JP2010072230A (en) 2008-09-17 2008-09-17 Microscope system, and method of observing observation object

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010072230A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013254108A (en) * 2012-06-07 2013-12-19 Canon Inc Defocus amount estimating method, imaging device, and translucent member

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013254108A (en) * 2012-06-07 2013-12-19 Canon Inc Defocus amount estimating method, imaging device, and translucent member

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7308033B2 (en) Equipment for Microscopy and Aberration Correction
JP5047669B2 (en) Scanning confocal microscope
EP1653269B1 (en) Microscope and method of preventing dew condensation on objective lens
JP4933706B2 (en) microscope
US7855831B2 (en) Microscope objective
JP5212382B2 (en) Microscope and aberration correction control method
US20160319236A1 (en) Culture device
US20170168280A1 (en) Method and microscope for imaging a volume sample
JP2011022283A5 (en) Microscope system
JP2007334141A (en) Culture observation system
US20090029450A1 (en) Incubator
JP6529997B2 (en) Adjustment apparatus for sample holder, microscope with adjustment apparatus and method
CN111065950B (en) Dynamic focus and zoom system for wide-field, confocal and multiphoton microscopes
CN104991336B (en) A kind of microscopic system for longitudinal scanning
JP2002516408A (en) Apparatus for directly controlling the operation of a zoom system in a stereo microscope
JP2010072230A (en) Microscope system, and method of observing observation object
JP2009092772A (en) Microscope and culture apparatus
JP2011022322A (en) Culture object observation system
JP2003029162A (en) Objective lens for microscope and microscope
JP2012163767A (en) Control program, control program recorded medium, and microscope system
JP2001305432A (en) Focus stabilizer
ATE530942T1 (en) MICROSCOPE
JP2002328309A (en) Sample support device
JP3124245B2 (en) Heating device for microscope observation
US11841490B2 (en) Arrangement for light sheet microscopy, immersion objective, and method for reducing aberrations

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110920

A072 Dismissal of procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A073

Effective date: 20130129

A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20130205