JP2010061722A - Method of manufacturing substrate, substrate manufactured by the method, and magnetic recording medium using the substrate - Google Patents

Method of manufacturing substrate, substrate manufactured by the method, and magnetic recording medium using the substrate Download PDF

Info

Publication number
JP2010061722A
JP2010061722A JP2008224674A JP2008224674A JP2010061722A JP 2010061722 A JP2010061722 A JP 2010061722A JP 2008224674 A JP2008224674 A JP 2008224674A JP 2008224674 A JP2008224674 A JP 2008224674A JP 2010061722 A JP2010061722 A JP 2010061722A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
solution
sacrificial layer
base material
substrate base
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008224674A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshiyuki Okano
誉之 岡野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Opto Inc
Original Assignee
Konica Minolta Opto Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Opto Inc filed Critical Konica Minolta Opto Inc
Priority to JP2008224674A priority Critical patent/JP2010061722A/en
Publication of JP2010061722A publication Critical patent/JP2010061722A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing a substrate having a projecting part of a desired shape and high flatness with ease and high accuracy at a high throughput. <P>SOLUTION: In the manufacturing method includes steps of: applying a solution formed by dissolving a structural material which constitutes a projecting part in a solvent on a substrate base material provided with a sacrifice layer in which a recessed part is formed to fill the recessed part with the solution; drying the solvent of the solution filled in the recessed part to form the projecting part; and removing the sacrifice layer so that the projecting part remains. A contact angle θ of the sacrifice layer to the solution is <90°. A value d determined by L×(1-sinθ)/(2cosθ) is <10 nm when the minimum distance between side surfaces of the recessed part passing through the center of gravity of the cross section parallel to the surface of the substrate base material is L. The smaller one of the distance between the position farthest from the substrate base material and the surface of the substrate base material when the recessed part is filled with the solution, and the depth of the recessed part, is d or larger. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、基板の製造方法、前記方法により製造される基板、及び前記基板を用いた磁気記録媒体に関する。   The present invention relates to a substrate manufacturing method, a substrate manufactured by the method, and a magnetic recording medium using the substrate.

磁気記録媒体は、記録密度をより高度化するために、磁性層をパターニングして磁性層を複数の領域に物理的に分割したパターンドメディア(PM)が提案されている。このPMの作製方法としては、例えば、ナノインプリント法によってパターンを形成する方法が提案されている。ナノインプリント法とは、まず、表面に凹凸形状を有する鋳型を、基板基材上に塗布したインプリント材料に押し付けること等によって、鋳型の凹凸形状をインプリント材料に転写させ、そして、凹凸形状が転写されたインプリント材料を固化させた後に鋳型を剥離することによって、表面に凹凸形状を有する基板を得る方法である。例えば、特許文献1や特許文献2に記載の方法が挙げられる。   As a magnetic recording medium, patterned media (PM) has been proposed in which a magnetic layer is patterned and the magnetic layer is physically divided into a plurality of regions in order to further increase the recording density. As a method for producing this PM, for example, a method of forming a pattern by a nanoimprint method has been proposed. In the nanoimprint method, first, the uneven shape of the mold is transferred to the imprint material by pressing a mold having an uneven shape on the surface against the imprint material applied on the substrate substrate, and the uneven shape is transferred. This is a method of obtaining a substrate having a concavo-convex shape on the surface by peeling the mold after solidifying the imprint material. For example, the method of patent document 1 and patent document 2 is mentioned.

特許文献1には、平坦な基板上又は凹凸構造を有するモールド上に被転写体(インプリント材料の層)を形成する工程と、前記モールドを被転写体に接触させ加圧する工程と、前記モールドの凹凸構造を前記被転写体に転写する工程と、前記モールドを被転写体から剥離する工程と、前記モールドの凹凸構造が転写された被転写体上に磁気記録層を堆積する工程とを有する磁気記録媒体の製造方法が記載されている。   Patent Document 1 discloses a step of forming a transfer target (imprint material layer) on a flat substrate or a mold having a concavo-convex structure, a step of bringing the mold into contact with the transfer target and pressurizing, and the mold. A step of transferring the concavo-convex structure to the transferred body, a step of peeling the mold from the transferred body, and a step of depositing a magnetic recording layer on the transferred body onto which the concavo-convex structure of the mold is transferred. A method of manufacturing a magnetic recording medium is described.

また、特許文献2には、表面にスタンパ(鋳型)のドット状凹部に対応したドット状凸部を有する下地を形成する工程と、前記下地の前記ドット状凸部を設けた面に強磁性材料を含む層(磁性層)を形成する工程とを含んだ記録媒体の製造方法が記載されている。   Patent Document 2 discloses a step of forming a base having a dot-shaped convex portion corresponding to a dot-shaped concave portion of a stamper (template) on the surface, and a ferromagnetic material on the surface of the base provided with the dot-shaped convex portion. And a method of manufacturing a recording medium including a step of forming a layer (magnetic layer) containing the.

また、予め形成された微細な凹凸形状の凹部に磁性粒子を充填させることによって、微細構造を形成する方法としては、例えば、特許文献3に記載の方法が挙げられる。   Moreover, as a method for forming a fine structure by filling magnetic particles into a concave portion having a fine concavo-convex shape formed in advance, for example, a method described in Patent Document 3 can be mentioned.

特許文献3には、軟磁性層とその上にある磁気記録層と当該磁気記録層の直下にある中間層とを有する円板状の磁気記録媒体の製造方法であって、当該中間層の上面に、当該円板の半径方向に凹凸を繰り返す凹部と凸部とを設け、当該凹部に磁性粒子を自己組織的に充填させることを含む磁気記録媒体の製造方法が記載されている。
特開2007−95162号公報 特開2004−303302号公報 特開2007−220196号公報
Patent Document 3 discloses a method of manufacturing a disk-shaped magnetic recording medium having a soft magnetic layer, a magnetic recording layer thereabove, and an intermediate layer directly under the magnetic recording layer, the upper surface of the intermediate layer Describes a method for manufacturing a magnetic recording medium, which includes providing a concave portion and a convex portion that repeat irregularities in the radial direction of the disk, and filling the concave portion with magnetic particles in a self-organized manner.
JP 2007-95162 A JP 2004-303302 A JP 2007-220196 A

特許文献1や特許文献2に記載されているようなナノインプリント法によれば、例えば、大気圧下で凹凸形状を形成させることができ、装置内を真空にする工程を特に必要としないので、凹凸形状を有する基板等を、簡単かつ高スループットで製造することができる。   According to the nanoimprint method as described in Patent Document 1 and Patent Document 2, for example, an uneven shape can be formed under atmospheric pressure, and a process of evacuating the apparatus is not particularly required. A substrate having a shape and the like can be manufactured easily and with high throughput.

しかしながら、特許文献1に記載の方法によれば、インプリント材料によっては、所望の凹凸形状を形成することが困難である場合があった。例えば、インプリント材料として、スピンオングラス材料(SOG)を用いた場合、SOG中の溶媒を乾燥させると、インプリント材料がガラス質になって硬くなる。そして、鋳型を押圧させる前にインプリント材料が硬くなりすぎた場合、鋳型を押圧する圧力が不足して、転写性が不充分となってしまい、所望の凹凸形状を形成することができないという問題があった。また、転写性を高めるために押圧する圧力を高くすると、鋳型が破損するおそれがあった。これに対して、SOG中の溶媒の乾燥が不充分な状態で、鋳型を押圧させて鋳型の形状を転写させた場合、転写中は、SOGが鋳型と基板とに挟まれており、SOGの空気に接触する面積が非常に小さいので、SOGが乾燥しにくくなる。このため、鋳型を離型する際に、形状を保持することができる程度までSOGを硬化させるには、時間がかかり、高スループット化の妨げとなるという問題があった。   However, according to the method described in Patent Document 1, it may be difficult to form a desired uneven shape depending on the imprint material. For example, when a spin-on-glass material (SOG) is used as the imprint material, when the solvent in the SOG is dried, the imprint material becomes vitreous and hardens. If the imprint material becomes too hard before pressing the mold, the pressure for pressing the mold is insufficient, the transferability becomes insufficient, and the desired uneven shape cannot be formed. was there. Further, when the pressure to be pressed is increased in order to improve transferability, the mold may be damaged. On the other hand, when the shape of the mold is transferred by pressing the mold while the solvent in the SOG is insufficiently dried, the SOG is sandwiched between the mold and the substrate during the transfer. Since the area in contact with air is very small, the SOG is difficult to dry. For this reason, when the mold is released, it takes time to cure the SOG to such an extent that the shape can be maintained, which hinders high throughput.

また、特許文献2に記載の方法によれば、鋳型上に液状のインプリント材料を塗布してそのまま乾燥させて基板を形成するので、転写中であっても、インプリント材料を乾燥させやすい。しかしながら、基板の鋳型と接触していない面は、開放された状態であるので、その面にうねり等が発生し、平坦性が低い場合があった。このような場合、鋳型から基板を離型すると、基板の鋳型と接触していない面のうねり等の平坦性の低さが、凹凸形状が転写された面にも影響するおそれがあった。例えば、平坦性の高い基板基材等に貼着させると、基板の鋳型と接触していない面のうねり等が、凹凸形状が転写された面に倣い、平坦性の低いものとなるおそれがあった。   Further, according to the method described in Patent Document 2, since a liquid imprint material is applied onto a mold and dried as it is to form a substrate, the imprint material can be easily dried even during transfer. However, since the surface of the substrate that is not in contact with the mold is in an open state, waviness or the like is generated on the surface and the flatness is sometimes low. In such a case, when the substrate is released from the mold, low flatness such as waviness on the surface of the substrate that is not in contact with the mold may affect the surface to which the uneven shape is transferred. For example, if it is attached to a substrate substrate with high flatness, the waviness of the surface that is not in contact with the mold of the substrate may follow the surface to which the concavo-convex shape is transferred, resulting in low flatness. It was.

一方、ハードディスクドライブ等の磁気記録装置において、磁気ヘッドは、磁気記録媒体に情報を記録したり、記録した情報を読み取ったりする場合に、回転する磁気記録媒体の表面から、例えば、10nm程度離間している。従って、上記のような、凹凸形状の転写性や凹凸形状が転写された面の平坦性等が劣った基板の表面上に磁性層等を形成させて得られた磁気記録媒体を用いると、磁気ヘッドが磁気記録媒体に接触するヘッドクラッシュが起こるという問題があった。また、磁気記録媒体を製造する際、特許文献2に記載されているように、所望の形状の磁性層を形成した後に、SOG等を塗布し、磁性層の間にSOG等からなる非磁性膜を形成させて、その後、エッチバックして、均一な表面を得ることも考えられる。しかしながら、このように表面を均一にしても、凹凸形状の転写性や凹凸形状が転写された面の平坦性等が劣った基板を用いた場合は、ヘッドクラッシュが発生するおそれがあった。また、エッチバックを施すと、高スループット化の妨げとなるという問題があった。例えば、エッチバックを行う際、ドライエッチングを用いると、エッチングを行う装置内を真空にしなければならず、高スループット化の妨げとなった。   On the other hand, in a magnetic recording device such as a hard disk drive, the magnetic head is separated from the surface of the rotating magnetic recording medium by, for example, about 10 nm when recording information on the magnetic recording medium or reading the recorded information. ing. Accordingly, when a magnetic recording medium obtained by forming a magnetic layer or the like on the surface of a substrate having inferior shape transferability or inferior flatness of the surface to which the uneven shape is transferred, as described above, There is a problem that a head crash occurs when the head contacts the magnetic recording medium. Further, when manufacturing a magnetic recording medium, as described in Patent Document 2, after a magnetic layer having a desired shape is formed, SOG or the like is applied, and a nonmagnetic film made of SOG or the like is provided between the magnetic layers. It is also possible to form a film and then etch back to obtain a uniform surface. However, even if the surface is made uniform in this way, head crush may occur when a substrate having inferior shape transferability, flatness of the surface to which the uneven shape is transferred, etc. is used. In addition, when etch back is performed, there is a problem that high throughput is hindered. For example, when dry etching is used when performing etch back, the inside of the etching apparatus must be evacuated, which hinders high throughput.

また、特許文献3によれば、スピンコート等によって、予め形成された微細な凹凸形状の凹部のみに磁性粒子を充填させることができる。この磁性粒子の代わりに、上記インプリント材料のような構造材料を用い、予め形成された微細な凹凸形状を犠牲層として除去することによって、微細な凹凸形状を形成することができると考えられる。しかしながら、微細な凹凸形状を形成させるために、磁性粒子の代りに、SOG等の液体状材料を用いた場合、凹部にのみに液体状材料が充填されたとしても、液体状材料の表面張力等によって、凹部の壁面付近において、液体状材料が隆起したり、沈下したりする、いわゆるメニスカスが発生する。このメニスカスによって、凹凸形状が転写された面の平坦性を充分に高めることが困難であり、ヘッドクラッシュが発生するおそれがあった。   Further, according to Patent Document 3, magnetic particles can be filled only in a fine concave-convex recess formed in advance by spin coating or the like. It is considered that a fine uneven shape can be formed by using a structural material such as the imprint material in place of the magnetic particles and removing a previously formed fine uneven shape as a sacrificial layer. However, when a liquid material such as SOG is used instead of magnetic particles to form a fine uneven shape, even if the liquid material is filled only in the recess, the surface tension of the liquid material, etc. As a result, a so-called meniscus in which the liquid material rises or sinks near the wall surface of the recess is generated. Due to this meniscus, it is difficult to sufficiently improve the flatness of the surface to which the concavo-convex shape is transferred, and there is a possibility that a head crash may occur.

本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであり、所望の形状の凸部を複数有し、平坦性の高い基板、例えば、表面に磁性層等を設けて磁気記録媒体とした場合にヘッドクラッシュの発生を抑制する平坦性の高いものを製造できる基板を、簡単かつ高スループットで高精度に製造することができる製造方法を提供することを目的とする。また、前記製造方法により製造される基板、及び前記基板を用いた磁気記録媒体を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and a head having a plurality of convex portions having a desired shape and having a high flatness, for example, a magnetic layer or the like on the surface is used as a magnetic recording medium. It is an object of the present invention to provide a manufacturing method capable of manufacturing a substrate with high flatness that suppresses the occurrence of a crash with high accuracy with a simple and high throughput. It is another object of the present invention to provide a substrate manufactured by the manufacturing method and a magnetic recording medium using the substrate.

本発明の一態様に係る基板の製造方法は、複数の凸部を有する基板の製造方法であって、前記凸部に対応する凹部が形成された犠牲層を備えた基板基材上に、前記凸部を構成する構造材料を溶媒に溶解させた溶液を塗布することにより、前記凹部に前記溶液を充填させる工程と、前記凹部に充填された前記溶液の前記溶媒を乾燥させることにより、前記凸部を形成する工程と、前記凸部を残存するように前記犠牲層を除去する工程とを備え、前記犠牲層の、前記溶液に対する接触角θが90°未満であって、前記凹部の、前記基板基材の表面に平行な断面における重心を通る側面間の最小距離をLとしたときに、L×(1−sinθ)/(2cosθ)により決定される値dが、10nm未満であって、前記凹部に前記溶液を充填したときに、前記溶液の前記基板基材から最も遠い位置と前記基板基材の表面との距離、及び前記凹部の深さのうちの小さい方の長さが、前記d以上であることを特徴とする。   A method for manufacturing a substrate according to an aspect of the present invention is a method for manufacturing a substrate having a plurality of convex portions, on a substrate base material provided with a sacrificial layer in which concave portions corresponding to the convex portions are formed. The step of filling the concave portion with the solution by applying a solution in which the structural material constituting the convex portion is dissolved in a solvent, and the step of drying the solvent of the solution filled in the concave portion. A step of forming a portion, and a step of removing the sacrificial layer so as to leave the convex portion, and a contact angle θ of the sacrificial layer with respect to the solution is less than 90 °, The value d determined by L × (1-sin θ) / (2 cos θ) is less than 10 nm, where L is the minimum distance between the side surfaces passing through the center of gravity in the cross section parallel to the surface of the substrate base material, When the recess is filled with the solution, The distance between the position farthest from the substrate base material of the solution and the surface of the substrate base material, and the smaller length of the depth of the concave portion is not less than d.

上記構成によれば、所望の形状の凸部を複数有し、平坦性の高い基板を、簡単かつ高スループットで高精度に製造することができる。このことは、以下のことによると考えられる。   According to the above configuration, a substrate having a plurality of convex portions having a desired shape and having high flatness can be easily manufactured with high accuracy and high throughput. This is considered to be due to the following.

まず、前記犠牲層の前記溶液に対する接触角θが90°未満であるので、前記犠牲層の凹部に乾燥前の前記溶液を充分に充填させることができる。そして、前記凹部の側面間距離Lが、L×(1−sinθ)/(2cosθ)により決定される値dが10nm未満となるような大きさであると、前記凹部に充填された前記溶液の表面にメニスカスが発生しても、得られた凸部の平坦性は充分に高いものになると考えられる。よって、凸部を複数形成された面の平坦性が大きく低下することなく、平坦性の優れた基板を、特別な工程を施すことなく、簡単かつ高スループットで高精度に製造することができる。また、前記凹部に充填された溶液の表面が、前記基板基材に近接すると、前記基板基材の影響を受けてしまい、前記溶液の形状が、スピンコートの回転数等の前記溶液の塗布条件によって変化する。そこで、前記溶液の前記基板基材から最も遠い位置と前記基板基材の表面との距離、及び前記凹部の深さのうちの小さい方の長さが、前記d以上であることを満たすような、前記凹部に充填された前記溶液の量等に調整することによって、塗布条件等に影響されず、平坦性の高い基板を製造することができる。   First, since the contact angle θ of the sacrificial layer with respect to the solution is less than 90 °, the concave portion of the sacrificial layer can be sufficiently filled with the solution before drying. When the distance L between the side surfaces of the recesses is such that the value d determined by L × (1-sin θ) / (2 cos θ) is less than 10 nm, the solution filled in the recesses Even if meniscus is generated on the surface, it is considered that the flatness of the obtained convex portion is sufficiently high. Therefore, the flatness of the surface on which a plurality of convex portions are formed is not greatly reduced, and a substrate with excellent flatness can be easily manufactured with high throughput and high accuracy without performing a special process. Further, when the surface of the solution filled in the concave portion is close to the substrate base material, the solution is affected by the substrate base material, and the shape of the solution depends on the application conditions of the solution such as the number of spin coat rotations. It depends on. Therefore, the distance between the position farthest from the substrate base material of the solution and the surface of the substrate base material, and the smaller length of the depth of the recess satisfy the d or more. By adjusting to the amount of the solution filled in the recess, etc., a substrate with high flatness can be manufactured without being affected by the coating conditions.

前記構造材料が、ケイ素化合物であり、前記溶媒が、エーテル類及びアルコール類から選ばれる少なくとも1種であり、前記犠牲層が、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、及びフェノール系樹脂からなる群から選ばれる少なくとも1種であることが好ましい。上記のような組み合わせによれば、前記犠牲層の前記溶液に対する接触角θが90°未満を実現でき、平坦性のより高く、所望の形状の凸部を複数有する基板を、簡単かつ高スループットで高精度に製造することができる。   The structural material is a silicon compound, the solvent is at least one selected from ethers and alcohols, and the sacrificial layer is selected from the group consisting of acrylic resins, epoxy resins, and phenolic resins. It is preferable that it is at least one kind. According to the combination as described above, the contact angle θ of the sacrificial layer with respect to the solution can be realized to be less than 90 °, and a substrate having a plurality of convex portions with higher flatness and a desired shape can be easily and with high throughput. It can be manufactured with high accuracy.

前記凸部が、円柱状であることが好ましい。この構成によれば、平坦性のより高く、所望の形状の凸部を複数有する基板を、より簡単かつ高スループットで高精度に製造することができる。また、得られた基板は、PM用の基板としてより好適である。   It is preferable that the convex portion has a cylindrical shape. According to this configuration, a substrate having higher flatness and having a plurality of convex portions having a desired shape can be manufactured more easily, with high throughput, and with high accuracy. The obtained substrate is more suitable as a substrate for PM.

また、本発明の他の一態様に係る基板は、前記製造方法によって得られることを特徴とする。上記の構成によれば、所望の形状の凸部を複数有し、平坦性の高い基板が得られる。例えば、表面に磁性層等を設けて磁気記録媒体とした場合にヘッドクラッシュの発生を抑制する平坦性の高いものを製造できる基板が得られる。   A substrate according to another embodiment of the present invention is obtained by the manufacturing method. According to said structure, the board | substrate which has multiple convex parts of desired shape and has high flatness is obtained. For example, when a magnetic recording medium is provided by providing a magnetic layer or the like on the surface, a substrate that can produce a highly flat substrate that suppresses the occurrence of head crashes can be obtained.

また、本発明の他の一態様に係る磁気記録媒体は、前記基板と、前記基板上に設けられた磁性層とを備え、前記磁性層が、前記基板の凸部上に形成された磁性層と前記基板基材上に形成された磁性層とが規則的に配列されていることを特徴とする。上記の構成によれば、ヘッドクラッシュの発生を抑制できるような平坦性が高い磁気記録媒体が得られる。   A magnetic recording medium according to another aspect of the present invention includes the substrate and a magnetic layer provided on the substrate, and the magnetic layer is formed on a convex portion of the substrate. And a magnetic layer formed on the substrate substrate are regularly arranged. According to said structure, the magnetic recording medium with high flatness which can suppress generation | occurrence | production of a head crash is obtained.

本発明によれば、所望の形状の凸部を複数有し、平坦性の高い基板を、簡単かつ高スループットで高精度に製造することができる製造方法を提供することができる。また、このような基板の製造方法により製造される基板、前記基板を用いた磁気記録媒体が提供される。   According to the present invention, it is possible to provide a manufacturing method capable of manufacturing a substrate having a plurality of convex portions having a desired shape and having high flatness easily and with high throughput and high accuracy. Further, a substrate manufactured by such a substrate manufacturing method and a magnetic recording medium using the substrate are provided.

以下、本発明の基板の製造方法に係る実施形態について説明するが、本発明は、これらに限定されるものではない。   Hereinafter, although the embodiment concerning the manufacturing method of the substrate of the present invention is described, the present invention is not limited to these.

本実施形態に係る基板の製造方法は、複数の凸部を有する基板の製造方法である。具体的には、図1に示すような前記凸部に対応する凹部13が形成された犠牲層12を備えた基板基材11上に、前記凸部を構成する構造材料を溶媒に溶解させた溶液を塗布することにより、前記凹部に前記溶液を充填させる工程と、前記凹部に充填された前記溶液の前記溶媒を乾燥させることにより、前記凸部を形成する工程と、前記凸部を残存するように前記犠牲層を除去する工程とを備える。このような工程によって、複数の凸部を有する基板を製造することができる。なお、図1は、本実施形態に係る基板の製造方法に用いる犠牲層12を備えた基板基材11の一例を示す鳥瞰図であり、前記基板基材11の一部を示すものである。また、ここでは、前記凹部13として、円柱状のものを挙げて説明するが、円柱状に限らず、四角形柱状や六角形柱状等の多角形柱状であってもよいし、特定の方向に延びる溝状であってもよい。また、前記基板基材11が円板状である場合、前記基板基材11の円周方向に延びる溝状であってもよい。   The substrate manufacturing method according to the present embodiment is a method for manufacturing a substrate having a plurality of convex portions. Specifically, the structural material constituting the convex portion was dissolved in a solvent on the substrate base 11 provided with the sacrificial layer 12 in which the concave portion 13 corresponding to the convex portion as shown in FIG. 1 was formed. The step of filling the recess with the solution by applying a solution, the step of forming the projection by drying the solvent of the solution filled in the recess, and the projection remaining. Removing the sacrificial layer. By such a process, a substrate having a plurality of convex portions can be manufactured. FIG. 1 is a bird's-eye view showing an example of the substrate base 11 provided with the sacrificial layer 12 used in the substrate manufacturing method according to the present embodiment, and shows a part of the substrate base 11. Here, the concave portion 13 is described by taking a cylindrical shape, but is not limited to a cylindrical shape, and may be a polygonal columnar shape such as a quadrangular columnar shape or a hexagonal columnar shape, and extends in a specific direction. It may be groove-shaped. Moreover, when the said board | substrate base material 11 is disk shape, the groove shape extended in the circumferential direction of the said board | substrate base material 11 may be sufficient.

また、ここで製造する基板としては、表面に複数の凸部を有するものであればよく、例えば、パターン化された磁気記録媒体(パターンドメディア:PM)用の基板等が挙げられる。また、前記凸部としては、微細な凸部であり、例えば、nmオーダーの凸部等が挙げられる。   Further, the substrate manufactured here may be any substrate having a plurality of convex portions on the surface, and examples thereof include a substrate for a patterned magnetic recording medium (patterned media: PM). Moreover, as said convex part, it is a fine convex part, for example, a convex part of nm order etc. are mentioned.

そして、前記犠牲層及び前記溶液の種類や形状等が、図2及び図3に示すような、以下のような関係を満たすようなものを用いる。なお、図2は、前記犠牲層12の前記凹部13内に前記溶液が充填された状態の前記基板基材11の、前記凹部13の開口上方から見た上面図を示す。図3は、図2に示す前記基板基材11を、切断面線III−III’から見た概略断面図である。   Then, the sacrificial layer and the kind and shape of the solution satisfy the following relationship as shown in FIGS. FIG. 2 is a top view of the substrate base material 11 in a state where the recess 13 of the sacrificial layer 12 is filled with the solution, as viewed from above the opening of the recess 13. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of the substrate base material 11 shown in FIG. 2 as viewed from the cutting plane line III-III ′.

まず、図3に示すように、前記犠牲層12の、前記溶液14に対する接触角θが90°未満である。このような関係を満たせば、前記基板基材11に備えられた前記犠牲増12の前記凹部13に乾燥前の前記溶液14を充分に充填させることができる。このことは、以下のことによると考えられる。前記犠牲層12の前記溶液14に対する接触角θが90°未満であると、その状態は一般的に浸漬ぬれであると言われ、前記溶液14が前記犠牲層11によくぬれ広がる状態である。よって、前記溶液14の充填性を充分に高めることができると考えられる。なお、前記溶媒を乾燥させる前は、前記溶液14の主成分が前記溶媒であるため、前記犠牲層12の前記溶液14に対する接触角θは、前記犠牲層12の前記溶媒に対する接触角θとほぼ同等であり、前記犠牲層12と前記溶媒との性質によって、前記犠牲層12の前記凹部13への前記溶液14の充填性を変化させることができると考えられる。また、このような浸漬ぬれの状態において、溶液の塗布面がわずかに粗化されていると、ぬれ性がさらに高まる。例えば、基板基材11として、磁気記録媒体として一般的に用いられる2.5インチの基板を用いると、その基板基材11は、外径65mm、内径20mmのドーナツ形状であり、PM用の磁気記録媒体を得るためには、前記犠牲層12の、隣り合う前記凹部13の中心間距離が数十nmという大きさであるので、上記の塗布面がわずかに粗化されている状態に該当し、ぬれ性がさらに向上するため、より充填性が高まる。このため、基板基材の面積が大きくても、良好な充填性を確保できるという点でも好適である。   First, as shown in FIG. 3, the contact angle θ of the sacrificial layer 12 with respect to the solution 14 is less than 90 °. If such a relationship is satisfied, the solution 14 before drying can be sufficiently filled in the concave portion 13 of the sacrificial increase 12 provided in the substrate base material 11. This is considered to be due to the following. When the contact angle θ of the sacrificial layer 12 with respect to the solution 14 is less than 90 °, the state is generally said to be immersion wet, and the solution 14 is well wet spread over the sacrificial layer 11. Therefore, it is considered that the filling property of the solution 14 can be sufficiently improved. Since the main component of the solution 14 is the solvent before the solvent is dried, the contact angle θ of the sacrificial layer 12 with respect to the solution 14 is substantially equal to the contact angle θ of the sacrificial layer 12 with respect to the solvent. It is considered that the filling property of the solution 14 into the concave portion 13 of the sacrificial layer 12 can be changed by the properties of the sacrificial layer 12 and the solvent. Further, in such a state of immersion wetting, the wettability is further enhanced if the application surface of the solution is slightly roughened. For example, when a 2.5-inch substrate generally used as a magnetic recording medium is used as the substrate base material 11, the substrate base material 11 has a donut shape with an outer diameter of 65 mm and an inner diameter of 20 mm, and is magnetic for PM. In order to obtain a recording medium, the distance between the centers of the adjacent concave portions 13 of the sacrificial layer 12 is as large as several tens of nanometers, which corresponds to a state in which the coated surface is slightly roughened. Further, the wettability is further improved, so that the filling property is further increased. For this reason, even if the area of a board | substrate base material is large, it is suitable also at the point that favorable filling property can be ensured.

そして、図2及び図3に示すように、前記凹部13の、前記基板基材11の表面に平行な断面における重心を通る側面間の最小距離をLとしたときに、L×(1−sinθ)/(2cosθ)により決定される値dが、10nm未満である。なお、ここでは、Lは、前記凹部13が円柱状であるので、直径に相当する。このような関係を満たすようなLとすることによって、前記凹部13に充填された前記溶液14の表面にメニスカスが発生しても、得られた凸部の平坦性は充分に高いものになると考えられる。   As shown in FIGS. 2 and 3, when L is the minimum distance between the side surfaces of the recess 13 passing through the center of gravity in the cross section parallel to the surface of the substrate base 11, L × (1-sin θ ) / (2 cos θ), the value d is less than 10 nm. Here, L corresponds to the diameter because the concave portion 13 is cylindrical. By setting L so as to satisfy such a relationship, even if meniscus is generated on the surface of the solution 14 filled in the concave portion 13, the flatness of the obtained convex portion is considered to be sufficiently high. It is done.

以下、この平坦性の高いものが得られる理由について説明するために、まず、液体の表面の形状であるメニスカスの形状について説明する。   Hereinafter, in order to explain the reason why this high flatness is obtained, first, the shape of the meniscus, which is the shape of the surface of the liquid, will be described.

液体の表面の形状は、一般的に液体の表面張力と重力とによって決定される。そして、メニスカスが形成されている部分の液体の内外の圧力は、表面張力の影響で、ラプラス圧力という圧力分だけ圧力差が生じる。つまり、このラプラス圧力と重力による液圧とのバランスによって、メニスカスの形状が決まる。例えば、液体が凹部等に充填されている場合、前記凹部のサイズが毛管長と呼ばれる長さから規定されるサイズより小さくなると、ラプラス圧力が液圧より常に大きくなる。このような場合、メニスカスの形状は、曲率一定の形状となる。   The shape of the surface of the liquid is generally determined by the surface tension and gravity of the liquid. The pressure inside and outside the liquid in the portion where the meniscus is formed has a pressure difference corresponding to the pressure of Laplace pressure due to the influence of surface tension. That is, the shape of the meniscus is determined by the balance between the Laplace pressure and the fluid pressure due to gravity. For example, when liquid is filled in a recess or the like, if the size of the recess is smaller than a size defined by a length called a capillary length, the Laplace pressure is always greater than the hydraulic pressure. In such a case, the meniscus has a constant curvature.

ここで、図1に示すような、前記犠牲層12の円柱状の凹部13に、前記溶液14としてSOGを充填した場合について説明する。なお、上記関係を満たすのであれば、ここでの凹部13の形状や前記溶液14に限定されない。   Here, the case where SOG is filled as the solution 14 in the cylindrical recess 13 of the sacrificial layer 12 as shown in FIG. 1 will be described. In addition, if the said relationship is satisfy | filled, it is not limited to the shape of the recessed part 13 here or the said solution 14. FIG.

この場合、毛管長κ−1は、下記式(1)で表すことができる。 In this case, the capillary length κ −1 can be expressed by the following formula (1).

κ−1=(2γ/ρg)1/2 (1)
ここで、γは液体の表面張力を示し、ρは液体の密度を示し、gは重力加速度を示す。そして、SOGに用いられる一般的な有機溶媒の表面張力は25mN/m程度であり、密度は0.9g/cm程度であるので、上記式(1)より、毛管長κ−1は、2mm程度である。凹部13の直径が、この毛管長κ−1より小さいと、メニスカスの形状が曲率一定の形状となる。そこで、この凹部13に対応する凸部の直径は、磁気記録媒体に用いられる基板、例えばPM用基板の場合、毛管長κ−1より遥かに小さく、数十nm以下である。このため、前記凹部13に充填された前記溶液14の表面の形状であるメニスカス形状は、図3に示すように、曲率一定の形状となり、球の一部を切りとった形となる。また、前記犠牲層12の、前記溶液14の前記溶液に対する接触角θが90°未満であるので、前記凹部13の、前記溶液14の前記溶液に対する接触角θは、図3に示すように、90°未満である。
κ −1 = (2γ / ρg) 1/2 (1)
Here, γ represents the surface tension of the liquid, ρ represents the density of the liquid, and g represents the gravitational acceleration. And since the surface tension of the general organic solvent used for SOG is about 25 mN / m and a density is about 0.9 g / cm < 3 >, capillary length (kappa) -1 is 2 mm from said Formula (1). Degree. When the diameter of the concave portion 13 is smaller than the capillary length κ- 1 , the shape of the meniscus becomes a shape with a constant curvature. Therefore, in the case of a substrate used for a magnetic recording medium, for example, a substrate for PM, the diameter of the convex portion corresponding to the concave portion 13 is far smaller than the capillary length κ −1 and is several tens of nm or less. For this reason, the meniscus shape, which is the shape of the surface of the solution 14 filled in the concave portion 13, becomes a shape with a constant curvature and a shape obtained by cutting off a part of the sphere, as shown in FIG. Further, since the contact angle θ of the solution 14 to the solution of the sacrificial layer 12 is less than 90 °, the contact angle θ of the recess 13 to the solution of the solution 14 is as shown in FIG. It is less than 90 °.

そして、前記凹部の、前記基板基材の表面に平行な断面における重心を通る側面間の最小距離をLとしたときに、L×(1−sinθ)/(2cosθ)により決定される値dは、前記溶液14の前記基板基材11から最も遠い位置と前記溶液14の前記基板基材11に最も近い位置との距離であるメニスカスの凹み量とほぼ一致する。よって、前記凹部の側面間距離Lが、L×(1−sinθ)/(2cosθ)により決定される値dが10nm未満となるような大きさであると、前記凹部に充填された前記溶液の表面にメニスカスが発生しても、得られた凸部の平坦性は、ハードディスク装置に用いられた場合、ヘッドクラッシュを起こさないような充分に高いものになると考えられる。   A value d determined by L × (1−sin θ) / (2 cos θ) where L is a minimum distance between side surfaces passing through the center of gravity in a cross section parallel to the surface of the substrate base material of the recess. The amount of depression of the meniscus that is the distance between the position of the solution 14 farthest from the substrate base 11 and the position of the solution 14 closest to the substrate base 11 is substantially the same. Therefore, when the distance L between the side surfaces of the recesses is such that the value d determined by L × (1-sin θ) / (2 cos θ) is less than 10 nm, the solution filled in the recesses Even if a meniscus is generated on the surface, the flatness of the obtained protrusion is considered to be sufficiently high so as not to cause a head crash when used in a hard disk device.

そして、図4に示すように、前記凹部13に前記溶液14を充填したときに、前記溶液14の前記基板基材11から最も遠い位置と前記基板基材11の表面との距離、及び前記凹部13の深さのうちの小さい方の長さhが、前記d以上であると、塗布条件等に影響されず、平坦性の高い基板を製造することができる。これに対して、図5に示すように、前記凹部13に前記溶液14を充填したときに、前記溶液14の前記基板基材11から最も遠い位置と前記基板基材11の表面との距離、及び前記凹部13の深さのうちの小さい方の長さhが、前記d未満であると、前記凹部13に充填された溶液14の表面が、前記基板基材11に近接し、前記基板基材11の影響を受けてしまう。よって、前記溶液14の形状が、スピンコートの回転数等の前記溶液14の塗布条件によって変化してしまう。なお、図4は、前記犠牲層12の前記凹部13内に前記溶液が充填した際、hがd以上である場合の断面図を示す。また、図5は、前記犠牲層12の前記凹部13内に前記溶液が充填した際、hがd未満である場合の断面図を示す。   As shown in FIG. 4, when the concave portion 13 is filled with the solution 14, the distance between the position farthest from the substrate base material 11 of the solution 14 and the surface of the substrate base material 11, and the concave portion If the smaller length h of the 13 depths is equal to or greater than d, a substrate with high flatness can be manufactured without being affected by the coating conditions. On the other hand, as shown in FIG. 5, when the concave portion 13 is filled with the solution 14, the distance between the position of the solution 14 farthest from the substrate base material 11 and the surface of the substrate base material 11, When the smaller length h of the depths of the recesses 13 is less than the d, the surface of the solution 14 filled in the recesses 13 is close to the substrate base material 11, and the substrate base It will be affected by the material 11. Therefore, the shape of the solution 14 changes depending on the application conditions of the solution 14 such as the number of spin coating revolutions. FIG. 4 shows a cross-sectional view when h is d or more when the recess 13 of the sacrificial layer 12 is filled with the solution. FIG. 5 shows a cross-sectional view when h is less than d when the recess 13 of the sacrificial layer 12 is filled with the solution.

したがって、前記溶液14の前記基板基材11から最も遠い位置と前記基板基材11の表面との距離、及び前記凹部13の深さのうちの小さい方の長さhが、前記d以上となるように、前記凹部に充填された前記溶液の量等を調整することによって、塗布条件等に影響されず、平坦性の高い基板を製造することができる。   Therefore, the distance h between the position farthest from the substrate base material 11 of the solution 14 and the surface of the substrate base material 11, and the smaller length h of the depth of the recess 13 is equal to or greater than d. As described above, by adjusting the amount of the solution filled in the concave portion, a substrate with high flatness can be manufactured without being affected by the coating conditions.

以上のことから、上記の各構成を満たすようにすれば、所望の形状の凸部を複数有し、平坦性の高い基板を、簡単かつ高スループットで高精度に製造することができる。また、表面に磁性層等を設けて磁気記録媒体とした場合にヘッドクラッシュの発生を抑制する平坦性の高いものを製造できる基板が得られる。また、このような基板の製造方法は、極めて高い平坦性が求められるPM用の基板等の製造方法に特に好適である。   From the above, if each of the above-described configurations is satisfied, a substrate having a plurality of convex portions having a desired shape and high flatness can be easily manufactured with high accuracy and high throughput. In addition, when a magnetic recording medium is provided by providing a magnetic layer or the like on the surface, it is possible to obtain a substrate that can be manufactured with high flatness that suppresses the occurrence of head crash. Such a substrate manufacturing method is particularly suitable for a method for manufacturing a PM substrate or the like that requires extremely high flatness.

以下、本実施形態に係る基板の製造方法について説明する。   Hereinafter, a method for manufacturing a substrate according to the present embodiment will be described.

まず、図1に示すような凹部13を複数有する犠牲層12を備えた基板基材11を用意する。このような凹部を複数有する犠牲層の作製方法としては、特に制限されず、例えば、以下の方法等が挙げられる。まず、スピンコート法やディップコート法等によって、犠牲層を構成する材料からなる層を形成させ、その層に対して、電子線描画(電子線リソグラフィ)法、フォトリソグラフィ法及びナノインプリント法等によって、凹部を複数形成させる。その後、必要に応じて、凹部において、基板基材表面が露出するまで、エッチングする。そうすることによって、凹部を複数有する犠牲層を備えた基板基材が得られる。   First, a substrate base 11 provided with a sacrificial layer 12 having a plurality of recesses 13 as shown in FIG. 1 is prepared. The method for producing the sacrificial layer having a plurality of such recesses is not particularly limited, and examples thereof include the following methods. First, a layer made of a material constituting the sacrificial layer is formed by a spin coating method, a dip coating method, or the like, and an electron beam drawing (electron beam lithography) method, a photolithography method, a nanoimprint method, or the like is performed on the layer. A plurality of recesses are formed. Thereafter, if necessary, etching is performed in the recess until the substrate base material surface is exposed. By doing so, a substrate substrate provided with a sacrificial layer having a plurality of recesses is obtained.

次に、前記基板基材の前記犠牲層を備えた側の表面上に前記溶液を塗布する。塗布方法としては、前記凹部に前記溶液を充填させることができれば、特に制限されず、公知の塗布方法を用いることができる。例えば、ディスペンサ等による滴下塗布であってもよいし、スピンコート法やディップコート法等であってもよいし、ワイヤーバー及びアプリケータ等を用いて塗り広げてもよい。その際、前記接触角θ、d及びhが、上記各関係を満たすように、犠牲層の種類や形状及び溶液の種類や量等を調整する。また、前記凹部に前記溶液を充填させるために、前記溶液の濃度を調整したり、スピンコート法の場合は、回転数を調整してもよい。なお、スピンコート法における回転数は、例えば、1000〜10000rpmであることが好ましい。   Next, the solution is applied on the surface of the substrate base on the side provided with the sacrificial layer. The application method is not particularly limited as long as the concave portion can be filled with the solution, and a known application method can be used. For example, it may be a drop application by a dispenser, a spin coating method, a dip coating method, or the like, or may be spread using a wire bar, an applicator, or the like. At that time, the kind and shape of the sacrificial layer and the kind and amount of the solution are adjusted so that the contact angles θ, d, and h satisfy the above relationships. Moreover, in order to fill the said recessed part with the said solution, you may adjust the density | concentration of the said solution, and in the case of a spin coat method, you may adjust the rotation speed. In addition, it is preferable that the rotation speed in a spin coat method is 1000-10000 rpm, for example.

前記犠牲層、構造材料及び溶媒の組み合わせは、接触角θ等が、上記関係を満たせば、特に制限されない。例えば、前記犠牲層が、樹脂であり、前記溶媒が、有機溶媒であり、前記構造材料が、無機材料である組み合わせであることが好ましい。   The combination of the sacrificial layer, the structural material, and the solvent is not particularly limited as long as the contact angle θ and the like satisfy the above relationship. For example, it is preferable that the sacrificial layer is a resin, the solvent is an organic solvent, and the structural material is an inorganic material.

前記樹脂としては、例えば、ポリオレフィン系樹脂、ポリスチレン系樹脂、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、フェノール系樹脂等が挙げられる。また、前記ポリオレフィン系樹脂としては、例えば、シクロオレフィン樹脂等が挙げられる。ポリスチレン系樹脂としては、例えば、電子線用レジスト樹脂として用いられるもの等が挙げられる。アクリル系樹脂としては、例えば、紫外線硬化樹脂として用いられるもの等が挙げられる。なお、前記犠牲層として、電子線用レジストとして用いられるものを用いた場合、前記凹部を形成するのに、電子線描画法を用いることができ、紫外線硬化樹脂として用いられるものを用いた場合、前記凹部を形成するのに、光インプリント法を用いることができる。   Examples of the resin include polyolefin resins, polystyrene resins, acrylic resins, epoxy resins, and phenol resins. Moreover, as said polyolefin resin, cycloolefin resin etc. are mentioned, for example. Examples of the polystyrene-based resin include those used as an electron beam resist resin. Examples of the acrylic resin include those used as ultraviolet curable resins. When the sacrificial layer is used as an electron beam resist, an electron beam drawing method can be used to form the recess, and when an ultraviolet curable resin is used, An optical imprint method can be used to form the recess.

前記有機溶媒としては、例えば、ケトン類、エーテル類、アルコール類及びエステル類等が挙げられる。また、前記ケトン類としては、例えば、アセトン及びメチルイソブチルケトン等が挙げられる。前記エーテル類としては、例えば、プロピレングリコールジメチルエーテル及びエチレングリコールジメチルエーテル等のグライム等が挙げられる。前記アルコール類としては、例えば、グリコール、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール及びブタノール等が挙げられる。   Examples of the organic solvent include ketones, ethers, alcohols, and esters. Examples of the ketones include acetone and methyl isobutyl ketone. Examples of the ethers include glyme such as propylene glycol dimethyl ether and ethylene glycol dimethyl ether. Examples of the alcohols include glycol, methanol, ethanol, isopropyl alcohol, and butanol.

前記無機材料としては、例えば、シリケート及びシロキサン等のケイ素化合物等が挙げられる。また、前記シロキサンとしては、例えば、水素シルセスキオキサン(HSQ)等のシルセスキオキサン等が挙げられる。   Examples of the inorganic material include silicon compounds such as silicate and siloxane. Examples of the siloxane include silsesquioxanes such as hydrogen silsesquioxane (HSQ).

また、前記溶媒は、1種のみからなるものを用いてもよいし、溶液の粘度、乾燥速度、及び構造材料の溶解性等を調整する点から、2種以上を組み合わせて用いてもよい。また、前記構造材料は、1種のみからなるものを用いてもよいし、溶液の粘度、構造材料の溶解性及び乾燥固化後の硬さを調整する点から、2種以上を組み合わせて用いてもよい。   Moreover, what consists only of 1 type may be used for the said solvent, and 2 or more types may be used in combination from the point which adjusts the viscosity of a solution, a drying rate, the solubility of a structural material, etc. The structural material may be composed of only one kind, or may be used in combination of two or more kinds from the viewpoint of adjusting the viscosity of the solution, the solubility of the structural material and the hardness after drying and solidification. Also good.

さらに、前記構造材料が、ケイ素化合物であり、前記溶媒が、エーテル類及びアルコール類から選ばれる少なくとも1種であり、前記犠牲層が、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、及びフェノール系樹脂からなる群から選ばれる少なくとも1種である組み合わせであることがより好ましい。上記のような組み合わせによれば、前記犠牲層の前記溶液に対する接触角θが90°未満を実現でき、平坦性のより高く、所望の形状の凸部を複数有する基板を、簡単かつ高スループットで高精度に製造することができる。また、前記構造溶液を前記溶媒に溶解させた溶液としては、例えば、スピンオングラス(SOG)と呼ばれる材料を用いることができる。   Further, the structural material is a silicon compound, the solvent is at least one selected from ethers and alcohols, and the sacrificial layer is made of an acrylic resin, an epoxy resin, and a phenol resin. It is more preferable that the combination is at least one selected from. According to the combination as described above, the contact angle θ of the sacrificial layer with respect to the solution can be realized to be less than 90 °, and a substrate having a plurality of convex portions with higher flatness and a desired shape can be easily and with high throughput. It can be manufactured with high accuracy. Moreover, as a solution in which the structural solution is dissolved in the solvent, for example, a material called spin-on-glass (SOG) can be used.

次に、前記凹部に充填された前記溶液の前記溶媒を乾燥させる。そうすることによって、前記凹部に充填された前記溶液が固化され、前記凹部に対応する凸部が形成される。ここでの乾燥は、形成された凸部の形状を維持できればよく、前記溶媒が全て除去されていなくてもよい。完全に乾燥されていない場合、前記犠牲層を除去した後に、さらに乾燥させてもよい。また、乾燥方法としては、特に制限なく、公知の乾燥方法を用いることができる。例えば、室温で放置してもよいが、さらに、減圧、送風及び加熱等を行うと、乾燥をより早める点から好ましい。また、加熱を行う場合、加熱温度を溶媒の沸点を超えないようにすることが好ましい。そうすることによって、前記溶液が沸騰せず、形成された凸部内部に気泡が残存する可能性が低くなるため、形成される凸部の形状不良の発生が抑制される。   Next, the solvent of the solution filled in the recess is dried. By doing so, the said solution with which the said recessed part was filled is solidified, and the convex part corresponding to the said recessed part is formed. The drying here may be performed as long as the shape of the formed convex portion can be maintained, and the solvent may not be completely removed. If not completely dried, the sacrificial layer may be removed and further dried. The drying method is not particularly limited, and a known drying method can be used. For example, although it may be allowed to stand at room temperature, it is preferable to further reduce the pressure, blow, and heat from the viewpoint of faster drying. Moreover, when heating, it is preferable that heating temperature does not exceed the boiling point of a solvent. By doing so, since the solution does not boil and the possibility that bubbles remain inside the formed convex portion is reduced, the occurrence of defective shape of the formed convex portion is suppressed.

最後に、前記凸部を残存するように、前記犠牲層を除去する。除去方法としては、前記犠牲層のみを除去することができれば、特に限定されず、例えば、前記犠牲層を溶解させる溶媒、例えば、有機溶媒等を用いて除去してもよいし、ドライエッチングや酸素アッシング等によって除去してもよい。   Finally, the sacrificial layer is removed so that the convex portion remains. The removal method is not particularly limited as long as only the sacrificial layer can be removed. For example, the sacrificial layer may be removed using a solvent that dissolves the sacrificial layer, for example, an organic solvent, or dry etching or oxygen. It may be removed by ashing or the like.

上記の製造方法によって、微細な凸部を複数有する基板を、形状損傷を抑制しながら、容易に製造することができる。したがって、ここで得られる基板は、例えば、PM用の基板に好適に利用することができる。   By the above manufacturing method, a substrate having a plurality of fine convex portions can be easily manufactured while suppressing shape damage. Therefore, the board | substrate obtained here can be utilized suitably for the board | substrate for PM, for example.

また、この基板の表面上に、磁性層を形成させることによって、PMを形成させることができる。すなわち、前記基板と、前記基板上に設けられた磁性層とを備え、前記磁性層が、前記基板の凸部上に形成された磁性層と前記基板基材上に形成された磁性層とが規則的に配列されているPMが得られる。このPMの一例としては、例えば、前記基板と、前記基板上に設けられた磁性層とを備え、前記磁性層が、前記基板の凸部上に形成された磁性層と前記基板基材上に形成された磁性層とが分離されているPM等が挙げられる。基板の凸部を微細にすれば、記録密度の高いPMが得られる。また、前記磁性層やその形成方法としては、特に制限なく、公知の磁性層や公知の形成方法を用いることができる。また、前記基板と前記磁性層との間に、下地層を備えていてもよい。   Further, PM can be formed by forming a magnetic layer on the surface of the substrate. That is, the apparatus includes the substrate and a magnetic layer provided on the substrate, and the magnetic layer includes a magnetic layer formed on the convex portion of the substrate and a magnetic layer formed on the substrate base material. Regularly arranged PMs are obtained. An example of the PM includes, for example, the substrate and a magnetic layer provided on the substrate, and the magnetic layer is formed on the magnetic layer formed on the convex portion of the substrate and the substrate base material. Examples thereof include PM and the like in which the formed magnetic layer is separated. If the convex portion of the substrate is made fine, PM having a high recording density can be obtained. The magnetic layer and its formation method are not particularly limited, and a known magnetic layer or a known formation method can be used. In addition, an underlayer may be provided between the substrate and the magnetic layer.

以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。   EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

[実施例1]
図6に示すように基板を作製した。
[Example 1]
A substrate was prepared as shown in FIG.

基板基材41であるハードディスクドライブ用2.5インチガラス基板(外径65mm、内径20mm)の表面上に、紫外線硬化樹脂であるPAK−02(東洋合成工業株式会社製)を塗布した。そして、光インプリント法を用いて、図6(a)に示すように、基板基材41上に、円柱状の凹部43を正方格子状に複数有する樹脂層42を形成させた。その後、前記凹部43の底面から前記基板基材41の表面が露出するまで、前記樹脂層42に対して酸素アッシングを施す。そうすることによって、図6(b)に示すように、基板基材41上に、ピッチ50nm、深さ50nm、直径25nmの円柱状の凹部45を正方格子状に複数有する犠牲層44を形成させた。   PAK-02 (manufactured by Toyo Gosei Co., Ltd.), which is an ultraviolet curable resin, was applied on the surface of a 2.5-inch glass substrate for hard disk drive (outer diameter 65 mm, inner diameter 20 mm) as the substrate base material 41. Then, as shown in FIG. 6A, a resin layer 42 having a plurality of columnar concave portions 43 in a square lattice shape was formed on the substrate base material 41 using the optical imprint method. Thereafter, oxygen ashing is performed on the resin layer 42 until the surface of the substrate base material 41 is exposed from the bottom surface of the recess 43. By doing so, as shown in FIG. 6B, a sacrificial layer 44 having a plurality of columnar recesses 45 with a pitch of 50 nm, a depth of 50 nm, and a diameter of 25 nm in a square lattice shape is formed on the substrate base material 41. It was.

次に、溶液46として、スピンオングラス材料(SOG)であるOCD T−12 900−V(東京応化工業株式会社製)を用意した。このSOGは、溶媒がプロピレングリコールジメチルエーテルであり、溶質(構造材料)がラダー型の水素シルセスキオキサンである。なお、ここでの前記犠牲層44の、前記溶液46に対する接触角θは、30°であり、90°未満であった。また、L×(1−sinθ)/(2cosθ)により決定されるdは、7.2nmであり、10nm未満であった。   Next, as the solution 46, OCD T-12 900-V (manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.), which is a spin-on-glass material (SOG), was prepared. In this SOG, the solvent is propylene glycol dimethyl ether, and the solute (structural material) is ladder-type hydrogen silsesquioxane. Here, the contact angle θ of the sacrificial layer 44 with respect to the solution 46 was 30 ° and less than 90 °. In addition, d determined by L × (1-sin θ) / (2 cos θ) was 7.2 nm, which was less than 10 nm.

そして、図6(c)に示すように、前記溶液46をディスペンサで前記犠牲層44上に100μl滴下した。次に、前記溶液46を滴下した前記犠牲層44を備える基板基材41を、回転数4000rpmで30秒間、スピンコートした。そうすることによって、前記犠牲層44の前記凹部45に前記溶液46が充填された。また、スピンコート終了時には、前記溶液46の溶媒がほぼ乾燥したため、特に加熱や減圧等の乾燥促進を行わなかった。すなわち、図6(d)に示すように、前記犠牲層44の前記凹部45に凸部47が形成された。ここで得られた凸部47が形成された基板基材41を割り、その断面を走査型電子顕微鏡(SEM)により観察したところ、前記凹部45に凸部47を構成する構造材料が埋め込まれており、凹部45の底面からメニスカスの最上面までの距離hが20nmであり、d以上であった。また、メニスカスの凹み量が、7nmであり、dとほぼ一致した。   And as shown in FIG.6 (c), 100 microliters of said solutions 46 were dripped on the said sacrificial layer 44 with the dispenser. Next, the substrate base material 41 provided with the sacrificial layer 44 onto which the solution 46 was dropped was spin-coated at a rotational speed of 4000 rpm for 30 seconds. By doing so, the recess 46 of the sacrificial layer 44 was filled with the solution 46. Moreover, since the solvent of the solution 46 was almost dried at the end of spin coating, drying acceleration such as heating or reduced pressure was not particularly performed. That is, as shown in FIG. 6 (d), a convex portion 47 was formed in the concave portion 45 of the sacrificial layer 44. The substrate base material 41 formed with the protrusions 47 obtained here was split and the cross section was observed with a scanning electron microscope (SEM). As a result, the structural material constituting the protrusions 47 was embedded in the recesses 45. The distance h from the bottom surface of the recess 45 to the uppermost surface of the meniscus was 20 nm and was d or more. Moreover, the amount of depressions of the meniscus was 7 nm, which almost coincided with d.

最後に、酸素アッシングにより、前記犠牲層44を除去することによって、図6(e)に示すように、前記基板基材41上に前記凸部47が複数形成された基板48が得られた。ここで得られた基板48を割り、その断面をSEMにより観察したところ、上記の場合と比較して、前記凸部47の形状に特に変化がなく、得られた基板48は、ヘッドクラッシュを起こさない程度、高い平坦性を備えていることがわかった。   Finally, by removing the sacrificial layer 44 by oxygen ashing, a substrate 48 in which a plurality of the protrusions 47 were formed on the substrate base material 41 was obtained as shown in FIG. When the substrate 48 obtained here was divided and the cross section thereof was observed with an SEM, the shape of the convex portion 47 was not particularly changed as compared with the above case, and the obtained substrate 48 caused a head crash. It was found to have a high level of flatness.

[実施例2]
図7に示すように基板を作製した。
[Example 2]
A substrate was prepared as shown in FIG.

基板基材51であるハードディスクドライブ用2.5インチガラス基板(外径65mm、内径20mm)の表面上に、電子線用レジスト樹脂であるZEP520A(日本ゼオン株式会社製、ポリスチレン系共重合)を塗布した。そして、電子線描画及び現像によって、図7(a)に示すように、基板基材51上に、ピッチ50nm、深さ50nm、直径25nmの円柱状の凹部53を正方格子状に複数有する犠牲層52を形成させた。   ZEP520A (made by Nippon Zeon Co., Ltd., polystyrene copolymer) is applied on the surface of a 2.5-inch glass substrate (outer diameter 65 mm, inner diameter 20 mm) for hard disk drive, which is the substrate base material 51. did. Then, by electron beam drawing and development, as shown in FIG. 7A, a sacrificial layer having a plurality of cylindrical recesses 53 with a pitch of 50 nm, a depth of 50 nm, and a diameter of 25 nm on a substrate base 51 in a square lattice shape. 52 was formed.

次に、溶液54として、スピンオングラス材料(SOG)であるFOx−16(東レ・ダウコーニング株式会社製)を用意した。このSOGは、溶媒がメチルイソブチルケトンであり、溶質(構造材料)がかご型の水素シルセスキオキサンである。なお、ここでの前記犠牲層52の、前記溶液54に対する接触角θは、30°であり、90°未満であった。また、L×(1−sinθ)/(2cosθ)により決定されるdは、7.2nmであり、10nm未満であった。   Next, FOx-16 (manufactured by Toray Dow Corning Co., Ltd.), which is a spin-on-glass material (SOG), was prepared as the solution 54. In this SOG, the solvent is methyl isobutyl ketone and the solute (structural material) is a cage-type hydrogen silsesquioxane. Here, the contact angle θ of the sacrificial layer 52 with respect to the solution 54 was 30 ° and less than 90 °. In addition, d determined by L × (1-sin θ) / (2 cos θ) was 7.2 nm, which was less than 10 nm.

そして、図7(b)に示すように、前記溶液54をディスペンサで前記犠牲層52上に100μl滴下した。次に、前記溶液54を滴下した前記犠牲層52を備える基板基材51を、回転数4000rpmで30秒間、スピンコートした。そうすることによって、前記犠牲層52の前記凹部53に前記溶液54が充填された。また、スピンコート終了時には、前記溶液54の溶媒がほぼ乾燥したため、特に加熱や減圧等の乾燥促進を行わなかった。すなわち、図7(c)に示すように、前記犠牲層52の前記凹部53に凸部55が形成された。ここで得られた凸部55が形成された基板基材51を割り、その断面を走査型電子顕微鏡(SEM)により観察したところ、前記凹部53に凸部55を構成する構造材料が埋め込まれており、凹部53の底面からメニスカスの最上面までの距離hが25nmであり、d以上であった。また、メニスカスの凹み量が、8nmであり、dとほぼ一致した。   Then, as shown in FIG. 7B, 100 μl of the solution 54 was dropped onto the sacrificial layer 52 with a dispenser. Next, the substrate base material 51 including the sacrificial layer 52 onto which the solution 54 was dropped was spin-coated at a rotation speed of 4000 rpm for 30 seconds. By doing so, the concave portion 53 of the sacrificial layer 52 was filled with the solution 54. Moreover, since the solvent of the solution 54 was almost dried at the end of spin coating, drying acceleration such as heating or reduced pressure was not particularly performed. That is, as shown in FIG. 7C, a convex portion 55 was formed in the concave portion 53 of the sacrificial layer 52. The substrate base material 51 formed with the convex portions 55 obtained here was divided and the cross section thereof was observed with a scanning electron microscope (SEM). As a result, the structural material constituting the convex portions 55 was embedded in the concave portions 53. The distance h from the bottom surface of the recess 53 to the uppermost surface of the meniscus was 25 nm and was d or more. Moreover, the amount of depressions of the meniscus was 8 nm, which almost coincided with d.

最後に、アセトンを用いて、前記犠牲層52を溶解させることによって、前記犠牲層52を除去した。そうすることによって、図7(d)に示すように、前記基板基材51上に前記凸部55が複数形成された基板56が得られた。ここで得られた基板56を割り、その断面をSEMにより観察したところ、上記の場合と比較して、前記凸部55の形状に特に変化がなく、得られた基板56は、ヘッドクラッシュを起こさない程度、高い平坦性を備えていることがわかった。   Finally, the sacrificial layer 52 was removed by dissolving the sacrificial layer 52 using acetone. By doing so, as shown in FIG.7 (d), the board | substrate 56 with which the said convex part 55 was formed in multiple numbers on the said board | substrate base material 51 was obtained. When the substrate 56 obtained here was divided and the cross section thereof was observed by SEM, the shape of the convex portion 55 was not particularly changed as compared with the above case, and the obtained substrate 56 caused a head crash. It was found to have a high level of flatness.

[比較例1]
前記犠牲層44の高さ(前記凹部45の深さ)を5nmとなるようにしたこと以外、実施例1と同様にして、基板を作製した。
[Comparative Example 1]
A substrate was fabricated in the same manner as in Example 1 except that the height of the sacrificial layer 44 (depth of the recess 45) was 5 nm.

ここでは、前記犠牲層44を備える基板基材41に、前記溶液46を滴下したものを、回転数4000rpmで30秒間、スピンコートした際、前記犠牲層44の前記凹部45に前記溶液46が充填されたが、前記溶液46が前記犠牲層44を全て覆ってしまった。したがって、犠牲層44を好適に除去することができず、平坦性の高い基板を得ることができなかった。   Here, when the solution 46 is dropped onto the substrate base material 41 including the sacrificial layer 44 and spin-coated at a rotational speed of 4000 rpm for 30 seconds, the recess 46 of the sacrificial layer 44 is filled with the solution 46. However, the solution 46 completely covered the sacrificial layer 44. Therefore, the sacrificial layer 44 could not be removed suitably, and a substrate with high flatness could not be obtained.

なお、ここでの前記犠牲層44の、前記溶液46に対する接触角θは、実施例1と同様、30°であり、90°未満であった。また、L×(1−sinθ)/(2cosθ)により決定されるdは、実施例1と同様、7.2nmであり、10nm未満であった。そして、前記凹部45の深さhは、前記溶液46が前記犠牲層44を全て覆ってしまっているので、前記溶液46の前記基板基材41から最も遠い位置と前記基板基材41の表面との距離より小さく、5nmであり、d未満であった。   Here, the contact angle θ of the sacrificial layer 44 with respect to the solution 46 was 30 ° as in Example 1, and was less than 90 °. Further, d determined by L × (1-sin θ) / (2 cos θ) was 7.2 nm as in Example 1, and was less than 10 nm. The depth h of the recess 45 is such that the solution 46 covers all the sacrificial layer 44, so that the position of the solution 46 farthest from the substrate base 41 and the surface of the substrate base 41 It was smaller than this distance, 5 nm, and less than d.

[比較例2]
前記基板基材41の前記犠牲層44を形成させた後に、フッ素系の離型剤であるオプツール DSX(ダイキン工業株式会社製)をディップコート法により、コーティングする離型処理を施したこと以外、実施例1と同様にして、基板を作製した。
[Comparative Example 2]
After forming the sacrificial layer 44 of the substrate base material 41, except that the release tool for coating OPTOOL DSX (manufactured by Daikin Industries, Ltd.), which is a fluorine-based release agent, is applied by a dip coating method. A substrate was produced in the same manner as in Example 1.

ここでは、前記犠牲層44を備える基板基材41に、前記溶液46を滴下したものを、回転数4000rpmで30秒間、スピンコートした際、前記溶液46が前記犠牲層44をはじき、前記犠牲層44の前記凹部45に前記溶液46が充填されなかった。したがって、所望の凸部を有する基板を得ることができなかった。   Here, when the solution 46 is dropped onto the substrate base material 41 provided with the sacrificial layer 44 and spin-coated at 4000 rpm for 30 seconds, the solution 46 repels the sacrificial layer 44 and the sacrificial layer. The concave portion 45 of 44 was not filled with the solution 46. Therefore, a substrate having a desired convex portion could not be obtained.

なお、ここでの前記犠牲層44の、前記溶液46に対する接触角θは、100°であり、90°以上であった。また、L×(1−sinθ)/(2cosθ)により決定されるdは、−2.2nmであり、10nm未満であった。そして、前記凹部45の深さhは、前記溶液46の前記基板基材41から最も遠い位置と前記基板基材41の表面との距離より小さく、50nmであり、d以上であった。   Here, the contact angle θ of the sacrificial layer 44 with respect to the solution 46 was 100 ° and was 90 ° or more. Moreover, d determined by L × (1-sin θ) / (2 cos θ) was −2.2 nm, which was less than 10 nm. And the depth h of the said recessed part 45 was smaller than the distance of the position farthest from the said substrate base material 41 of the said solution 46, and the surface of the said substrate base material 41, 50 nm, and was d or more.

[比較例3]
ピッチ50nm、深さ50nm、直径25nmの円柱状の凹部45を正方格子状に複数有する犠牲層44の代わりに、ピッチ100nm、深さ50nm、直径50nmの円柱状の凹部45を正方格子状に複数有する犠牲層44を形成させたこと以外、実施例1と同様にして、基板を作製した。
[Comparative Example 3]
Instead of the sacrificial layer 44 having a plurality of columnar recesses 45 having a pitch of 50 nm, a depth of 50 nm, and a diameter of 25 nm in a square lattice shape, a plurality of columnar recesses 45 having a pitch of 100 nm, a depth of 50 nm, and a diameter of 50 nm are formed in a square lattice shape. A substrate was produced in the same manner as in Example 1 except that the sacrificial layer 44 was formed.

このようにして得られた基板は、前記溶液46の前記基板基材41から最も遠い位置と前記基板基材41の表面との距離hは、20nmであり、d以上であり、メニスカスの凹み量は、15nmであった。したがって、得られた基板48は、ヘッドクラッシュを起こさない程度の高い平坦性を備えていないことがわかった。   In the substrate thus obtained, the distance h between the position farthest from the substrate base material 41 of the solution 46 and the surface of the substrate base material 41 is 20 nm, which is d or more, and the amount of depression of the meniscus Was 15 nm. Therefore, it was found that the obtained substrate 48 does not have a flatness that does not cause head crash.

なお、ここでの前記犠牲層44の、前記溶液46に対する接触角θは、実施例1と同様、30°であり、90°未満であった。また、L×(1−sinθ)/(2cosθ)により決定されるdは、14.4nmであり、10nm以上であった。   Here, the contact angle θ of the sacrificial layer 44 with respect to the solution 46 was 30 ° as in Example 1, and was less than 90 °. Moreover, d determined by L × (1-sin θ) / (2 cos θ) was 14.4 nm, which was 10 nm or more.

以上より、(1)前記犠牲層の、前記溶液に対する接触角θが90°未満であること、(2)前記凹部の、前記基板基材の表面に平行な断面における重心を通る側面間の最小距離をLとしたときに、L×(1−sinθ)/(2cosθ)により決定される値dが、10nm未満であること、(3)前記凹部に前記溶液を充填したときに、前記溶液の前記基板基材から最も遠い位置と前記基板基材の表面との距離、及び前記凹部の深さのうちの小さい方の長さが、前記d以上であることのすべてを満たしている場合(実施例1及び実施例2)、得られた基板が、ヘッドクラッシュを起こさない程度の高い平坦性を備えた基板が得られた。これに対して、上記(1)〜(3)のいずれかを満たさない場合(比較例1〜3)、ヘッドクラッシュを起こさない程度の高い平坦性を備えた基板が得られなかった。   From the above, (1) the contact angle θ of the sacrificial layer with respect to the solution is less than 90 °, and (2) the minimum between the side surfaces passing through the center of gravity in the cross section parallel to the surface of the substrate base material of the recess. When the distance is L, the value d determined by L × (1-sin θ) / (2 cos θ) is less than 10 nm. (3) When the solution is filled in the recess, When the distance between the position farthest from the substrate base material and the surface of the substrate base material and the length of the smaller one of the depths of the recesses satisfy all of the above d (implementation) Example 1 and Example 2) A substrate having high flatness so that the obtained substrate did not cause head crash was obtained. On the other hand, when any of the above (1) to (3) is not satisfied (Comparative Examples 1 to 3), a substrate having high flatness that does not cause a head crash cannot be obtained.

次に、スピンコート法における回転数を変化させた場合について検討した。   Next, the case where the rotation speed in the spin coating method was changed was examined.

[実施例3]
スピンコート法における回転数を、1000〜7000rpmに変更して行う以外、実施例1と同様にして、基板を作製した。すべての回転数において、ヘッドクラッシュを起こさない程度の高い平坦性を備えた基板が得られた。
[Example 3]
A substrate was produced in the same manner as in Example 1 except that the rotation speed in the spin coating method was changed to 1000 to 7000 rpm. A substrate having high flatness that does not cause head crashes at all rotation speeds was obtained.

[比較例4]
スピンコート法における回転数を、1000〜7000rpmに変更して行う以外、比較例1と同様にして、基板を作製した。回転数が4000rpm以下では、ヘッドクラッシュを起こさない程度の高い平坦性を備えた基板が得られなかった。
[Comparative Example 4]
A substrate was produced in the same manner as in Comparative Example 1 except that the rotation speed in the spin coating method was changed to 1000 to 7000 rpm. When the rotational speed was 4000 rpm or less, a substrate having high flatness that did not cause head crash could not be obtained.

以上のことから、上記(1)〜(3)の全てを満たす場合(実施例3)、スピンコートの回転数等の塗布条件によらず、ヘッドクラッシュを起こさない程度の高い平坦性を備えた基板が得られた。これに対して、上記(1)を満たさない場合(比較例4)、塗布条件によっては、ヘッドクラッシュを起こさない程度の高い平坦性を備えた基板が得られなかった。このことは、凹部に充填された液体の表面と基板基材との表面が近接することとなるため、基板基材の影響を受けてしまったものと考えられる。   From the above, when all of the above (1) to (3) are satisfied (Example 3), high flatness that does not cause head crashes is provided regardless of the coating conditions such as the spin coating rotation speed. A substrate was obtained. On the other hand, when the above (1) is not satisfied (Comparative Example 4), depending on the coating conditions, a substrate having high flatness that does not cause a head crash cannot be obtained. This is presumably because the surface of the liquid filled in the recesses and the surface of the substrate base material are close to each other, so that it is influenced by the substrate base material.

本実施形態に係る基板の製造方法に用いる犠牲層12を備えた基板基材11の一例を示す鳥瞰図である。It is a bird's-eye view which shows an example of the board | substrate base material 11 provided with the sacrificial layer 12 used for the manufacturing method of the board | substrate which concerns on this embodiment. 前記犠牲層12の前記凹部13内に前記溶液が充填された状態の前記基板基材11の、前記凹部13の開口上方から見た上面図を示す。FIG. 3 is a top view of the substrate base material 11 in a state where the recess 13 of the sacrificial layer 12 is filled with the solution as viewed from above the opening of the recess 13. 図2に示す前記基板基材11を、切断面線III−III’から見た概略断面図である。It is the schematic sectional drawing which looked at the said board | substrate base material 11 shown in FIG. 2 from cut surface line III-III '. 前記犠牲層12の前記凹部13内に前記溶液が充填した際、hがd以上である場合の断面図を示す。FIG. 4 is a cross-sectional view when h is d or more when the recess 13 of the sacrificial layer 12 is filled with the solution. 前記犠牲層12の前記凹部13内に前記溶液が充填した際、hがd未満である場合の断面図を示す。FIG. 4 is a cross-sectional view when h is less than d when the recess 13 of the sacrificial layer 12 is filled with the solution. 実施例1に係る基板の製造方法を示す図面である。1 is a drawing showing a method for manufacturing a substrate according to Example 1; 実施例2に係る基板の製造方法を示す図面である。10 is a view showing a method for manufacturing a substrate according to Example 2.

符号の説明Explanation of symbols

11,41,51 基板基材
12,44,52 犠牲層
13,43,45,53 凹部
14,46,54 溶液
42 樹脂層
47,55 凸部
48,56 基板
11, 41, 51 Substrate base material 12, 44, 52 Sacrificial layer 13, 43, 45, 53 Concave part 14, 46, 54 Solution 42 Resin layer 47, 55 Convex part 48, 56 Substrate

Claims (5)

複数の凸部を有する基板の製造方法であって、
前記凸部に対応する凹部が形成された犠牲層を備えた基板基材上に、前記凸部を構成する構造材料を溶媒に溶解させた溶液を塗布することにより、前記凹部に前記溶液を充填させる工程と、
前記凹部に充填された前記溶液の前記溶媒を乾燥させることにより、前記凸部を形成する工程と、
前記凸部を残存するように前記犠牲層を除去する工程とを備え、
前記犠牲層の、前記溶液に対する接触角θが90°未満であって、
前記凹部の、前記基板基材の表面に平行な断面における重心を通る側面間の最小距離をLとしたときに、L×(1−sinθ)/(2cosθ)により決定される値dが、10nm未満であって、
前記凹部に前記溶液を充填したときに、前記溶液の前記基板基材から最も遠い位置と前記基板基材の表面との距離、及び前記凹部の深さのうちの小さい方の長さが、前記d以上であることを特徴とする基板の製造方法。
A method for manufacturing a substrate having a plurality of protrusions,
The concave portion is filled with the solution by applying a solution in which the structural material constituting the convex portion is dissolved in a solvent on a substrate substrate provided with a sacrificial layer in which the concave portion corresponding to the convex portion is formed. A process of
Forming the convex portion by drying the solvent of the solution filled in the concave portion;
Removing the sacrificial layer so as to leave the convex part,
A contact angle θ of the sacrificial layer with respect to the solution is less than 90 °,
A value d determined by L × (1−sin θ) / (2 cos θ) is 10 nm, where L is a minimum distance between side surfaces passing through the center of gravity in a cross section parallel to the surface of the substrate base material. Less than,
When the recess is filled with the solution, the distance between the position of the solution farthest from the substrate base and the surface of the substrate base, and the smaller length of the depth of the recess, A method for producing a substrate, characterized by being d or more.
前記構造材料が、ケイ素化合物であり、
前記溶媒が、エーテル類及びアルコール類から選ばれる少なくとも1種であり、
前記犠牲層が、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、及びフェノール系樹脂からなる群から選ばれる少なくとも1種であることを特徴とする請求項1に記載の基板の製造方法。
The structural material is a silicon compound;
The solvent is at least one selected from ethers and alcohols;
The method of manufacturing a substrate according to claim 1, wherein the sacrificial layer is at least one selected from the group consisting of an acrylic resin, an epoxy resin, and a phenol resin.
前記凸部が、円柱状であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の基板の製造方法。   The method for manufacturing a substrate according to claim 1, wherein the convex portion has a cylindrical shape. 請求項1〜3のいずれか1項に記載の基板の製造方法によって得られることを特徴とする基板。   A substrate obtained by the method for producing a substrate according to claim 1. 請求項4に記載の基板と、前記基板上に設けられた磁性層とを備え、
前記磁性層が、前記基板の凸部上に形成された磁性層と前記基板基材上に形成された磁性層とが規則的に配列されていることを特徴とする磁気記録媒体。
A substrate according to claim 4 and a magnetic layer provided on the substrate,
A magnetic recording medium, wherein the magnetic layer is regularly arranged with a magnetic layer formed on a convex portion of the substrate and a magnetic layer formed on the substrate substrate.
JP2008224674A 2008-09-02 2008-09-02 Method of manufacturing substrate, substrate manufactured by the method, and magnetic recording medium using the substrate Pending JP2010061722A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008224674A JP2010061722A (en) 2008-09-02 2008-09-02 Method of manufacturing substrate, substrate manufactured by the method, and magnetic recording medium using the substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008224674A JP2010061722A (en) 2008-09-02 2008-09-02 Method of manufacturing substrate, substrate manufactured by the method, and magnetic recording medium using the substrate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010061722A true JP2010061722A (en) 2010-03-18

Family

ID=42188358

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008224674A Pending JP2010061722A (en) 2008-09-02 2008-09-02 Method of manufacturing substrate, substrate manufactured by the method, and magnetic recording medium using the substrate

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010061722A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10020185B2 (en) 2014-10-07 2018-07-10 Samsung Sdi Co., Ltd. Composition for forming silica layer, silica layer, and electronic device
US10093830B2 (en) 2014-12-19 2018-10-09 Samsung Sdi Co., Ltd. Composition for forming a silica based layer, method for manufacturing silica based layer, and electronic device including the silica based layer
US10106687B2 (en) 2015-07-31 2018-10-23 Samsung Sdi Co., Ltd. Composition for forming silica layer, method for manufacturing silica layer and silica layer
US10427944B2 (en) 2014-12-19 2019-10-01 Samsung Sdi Co., Ltd. Composition for forming a silica based layer, silica based layer, and electronic device

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10020185B2 (en) 2014-10-07 2018-07-10 Samsung Sdi Co., Ltd. Composition for forming silica layer, silica layer, and electronic device
US10093830B2 (en) 2014-12-19 2018-10-09 Samsung Sdi Co., Ltd. Composition for forming a silica based layer, method for manufacturing silica based layer, and electronic device including the silica based layer
US10427944B2 (en) 2014-12-19 2019-10-01 Samsung Sdi Co., Ltd. Composition for forming a silica based layer, silica based layer, and electronic device
US10106687B2 (en) 2015-07-31 2018-10-23 Samsung Sdi Co., Ltd. Composition for forming silica layer, method for manufacturing silica layer and silica layer

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4544372B2 (en) Substrate manufacturing method
JP4630795B2 (en) Pattern forming method and method for manufacturing magnetic recording medium
JP6496320B2 (en) Uniform imprint pattern transfer method for sub-20 nm design
US8946835B2 (en) Magnetic device with different planarization areas
US20110195183A1 (en) Spin coater and method for spin coating
US20140287266A1 (en) Pattern forming method and manufacturing method of magnetic recording medium
KR101367906B1 (en) Method of manufacturing a patterned magnetic recording media
JP2010061722A (en) Method of manufacturing substrate, substrate manufactured by the method, and magnetic recording medium using the substrate
JP5558444B2 (en) Mold manufacturing method
JP5687679B2 (en) Imprint method
JP4068544B2 (en) Nanoimprint method
JP4110199B2 (en) Method for manufacturing magnetic recording medium
JP4553075B2 (en) Microstructure pattern manufacturing method and information recording medium substrate manufacturing method
JP2010080010A (en) Method of manufacturing information recording medium substrate
JP6757241B2 (en) Pattern formation method and replica mold manufacturing method
JP6972581B2 (en) Imprint mold and imprint mold manufacturing method
JP4471040B2 (en) Substrate manufacturing method, substrate manufactured by the manufacturing method, and magnetic recording medium using the substrate
JP4110207B2 (en) Method for manufacturing magnetic recording medium
JP2017019149A (en) Mold for imprint and release treatment method thereof
JP2010118106A (en) Method of manufacturing substrate for information recording medium
JP2011073304A (en) Method for manufacturing mold for imprint
JP2014078309A (en) Substrate, manufacturing method of substrate, recording medium, manufacturing method of recording medium
JPH0981931A (en) Magnetic disk
WO2010035594A1 (en) Imprint mold and information recording medium substrate manufacturing method using the same
JP2012185889A (en) Nanoimprint method and nanoimprint device