JP2010037618A - Plating equipment for tab tape, and method for manufacturing tab tape - Google Patents

Plating equipment for tab tape, and method for manufacturing tab tape Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide plating equipment for a TAB tape which is an object to be plated in which made it possible to surely apply the conductor plating having a uniform thickness on the TAB tape, and to provide a method for manufacturing the TAB tape. <P>SOLUTION: The plating equipment comprising: a plating water tank 2 which holds a plating liquid 1; partitions 3 which segment the plating water tank 2 into an upper compartment 2-1 and a lower compartment 2-2 such that the plating liquid 1 can flow from the upper compartment 2-1 to the lower compartment 2-2 only through an aperture 7; a plating liquid supply section 5 which supplies the plating liquid 1 through the aperture 7 from the upper compartment 2-1 to the lower compartment 2-2; the support 6 which supports the TAB tape 10 horizontally within the lower compartment 2-2 in such a manner that the plating liquid 1 flowing down through the aperture 7 to the lower compartment 2-2 is contacted with the surface of the TAB tape 10, and a plating liquid discharge section 4 which is disposed in the lower compartment 2-2 so as to discharge the plating liquid 1. and the method for plating the TAB tape by the plating equipment are provided. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、例えばTABテープにおけるフィルドビアあるいはコンフォーマルビアのような層間導通ビアや配線パターンのような導体パターンに、めっき導体を充填または被着させるための、めっき装置などに好適なTABテープ用めっき装置、およびそのようなTABテープ用めっき装置を用いるなどしてTABテープの所定位置にめっき導体を充填または被着させる工程を含んだTABテープの製造方法に関する。   The present invention provides plating for a TAB tape suitable for a plating apparatus or the like for filling or depositing a plated conductor on a conductive pattern such as an interlayer conductive via such as a filled via or a conformal via or a wiring pattern in a TAB tape. The present invention relates to an apparatus and a method for producing a TAB tape including a step of filling or depositing a plating conductor at a predetermined position of the TAB tape by using such a TAB tape plating apparatus.

従来、この種のTABテープ用めっき装置およびTABテープの製造工程では、感光性レジスト塗布や露光作業等の一連の工程を経て、絶縁性基板上に張り合わされた銅箔をパターニングしてなる配線パターン等の導体パターンを形成する。そして、配線パターン等の表面を陰極として、そのTABテープを幅方向にほぼ垂直に屹立させた状態に保ちつつ、めっき液を貯留し陽極を備えためっき水槽内を搬送通過させて行き、斯様ないわゆる縦搬送状態で、TABテープの配線パターン等が形成された表面に、その横方向(つまり立面視で水平方向)からめっき液を当てることで、被めっき物であるTABテープの配線パターンの表面や層間導通ビアの内部等にめっき導体を析出させるようにしている。   Conventionally, in this type of TAB tape plating apparatus and TAB tape manufacturing process, a wiring pattern formed by patterning a copper foil laminated on an insulating substrate through a series of processes such as photosensitive resist coating and exposure work. A conductor pattern such as is formed. Then, the surface of the wiring pattern or the like is used as a cathode, while the TAB tape is kept upright in the width direction, the plating solution is stored and transported through the plating water tank provided with the anode. In a so-called vertical conveyance state, the plating pattern is applied to the surface on which the TAB tape wiring pattern and the like are formed from the lateral direction (that is, in the horizontal direction in an elevational view), so that the wiring pattern of the TAB tape that is the workpiece The plated conductor is deposited on the surface of the metal, the inside of the interlayer conductive via, and the like.

図2は、そのような従来の一般的なTABテープにめっきを施す工程で用いられる典型的なめっき装置の主要部の構造の一例を模式的に示す図である。
めっき水槽100内には、縦搬送されて陰極となるTABテープ101の被めっき面に対向する陽極102、その陽極102とTABテープ101との間にはスプレーノズル103、そのスプレーノズル103とTABテープ101との間には遮蔽物104が、それぞれ配置されている。遮蔽物104と一体でTABテープ支持体105が形成されており、このTABテープ支持体105によってTABテープ101は屹立した状態に保たれながら、いわゆる縦搬送される。直流電源106は、その正極端子が陽極102に接続され、負極端子が例えばローラ接触電極(図示省略)等を介してTABテープ101の被めっき部に接続される。めっき水槽100内には、めっき液107が貯留(保持)されている。
FIG. 2 is a diagram schematically showing an example of the structure of the main part of a typical plating apparatus used in the process of plating such a conventional general TAB tape.
In the plating water tank 100, an anode 102 facing the surface to be plated of the TAB tape 101 that is vertically conveyed and becomes a cathode, a spray nozzle 103 between the anode 102 and the TAB tape 101, and the spray nozzle 103 and TAB tape Shields 104 are respectively arranged between the projectors 101 and 101. A TAB tape support 105 is formed integrally with the shield 104, and the TAB tape 101 is conveyed in a so-called vertical direction while being kept in an upright state by the TAB tape support 105. The DC power source 106 has a positive electrode terminal connected to the anode 102 and a negative electrode terminal connected to the portion to be plated of the TAB tape 101 via, for example, a roller contact electrode (not shown). A plating solution 107 is stored (held) in the plating water tank 100.

めっき液107は、まず流れ108aとしてポンプ111から供給管110を通ってスプレーノズル103へと送られる。そしてスプレーノズル103から所定の圧力に調整されためっき液107の流れ108bが噴流として噴射され、遮蔽物104の開口部を通してTABテープ101の被めっき面に当てられることで、その流れ108bの水勢によって陽極102と陰極であるTABテープ101との間に形成される電流線がTABテープ101の被めっき面に集中することとなる。このように所定の電流密度を確保しつつめっき液107の流れ108bを当てることにより、TABテープ101の被めっき面上に所定のめっき導体を析出させることができる。使用されためっき液107の流れ108cは、やがてめっき液排出部109の上方に設けられためっき液排出部109を通って、このめっき水槽100から外部へと排出される(以上、特許文献1参照)。   The plating solution 107 is first sent from the pump 111 through the supply pipe 110 to the spray nozzle 103 as a flow 108a. Then, the flow 108b of the plating solution 107 adjusted to a predetermined pressure is sprayed as a jet from the spray nozzle 103 and is applied to the surface to be plated of the TAB tape 101 through the opening of the shield 104. Current lines formed between the anode 102 and the TAB tape 101 serving as the cathode are concentrated on the plated surface of the TAB tape 101. In this way, by applying the flow 108b of the plating solution 107 while ensuring a predetermined current density, a predetermined plating conductor can be deposited on the surface to be plated of the TAB tape 101. The used flow 108c of the plating solution 107 is eventually discharged from the plating water tank 100 to the outside through the plating solution discharge unit 109 provided above the plating solution discharge unit 109 (see Patent Document 1 above). ).

特開2006−52471号公報JP 2006-52471 A

しかしながら、上記のような従来のめっき装置およびそれを用いためっき工程を含んだTABテープの製造方法では、遮蔽物104の開口部を通って被めっき物であるTABテープ101の表面に到達した後の、めっき液107の流れ108cには、指向性が殆ど全く付与されていない。また、縦搬送方式であるため、めっき水槽100内に貯留されてい
るめっき液107は重力の影響を不可避的に受けることとなり、重量密度の異なる、金属イオン成分を多く含んだ重めの電解めっき前の状態のめっき液107と、TABテープ101の表面に当って金属イオン成分が消費された後の軽めの電解めっき後のめっき液107とが、めっき水槽100内で均一にまざり合わずに分離したり濃度むらが生じたりする傾向にある。そうすると、めっき液107の撹絆が十分でない場合が多いこととも相まって、めっき水槽100内に貯留されているめっき液107の金属イオン濃度分布が、めっき水槽100内で不均一になり易く、ひいては出来上がりのめっき導体の厚さに、めっき不良と判定されてしまうようなばらつきが生じることとなる。
また、従来のめっき装置では、スプレーノズル103から噴射されためっき液107は、必ずしもその全てがTABテープ101に当たることになるとは限らず、遮蔽物104の開口部を通ってTABテープ101の表面に到達する流れ以外にも、例えば遮蔽物104を迂回するなどしてめっき液排出部109に到達し、このめっき水槽100から外へと、全く無駄に排出されてしまう流れ(図示省略)なども生じ得る。
また、TABテープ101特有の幅方向の反りの発生などとも相まって、特に被めっき物であるTABテープ101が幅広のものである場合には、そのTABテープ101の幅方向、つまり縦搬送状態におけるTABテープ101の上端側と下端側とで、出来上がりのめっき導体(図示省略)の厚さに、めっき不良と判定されてしまうような差異が生じることとなる。
また、TABテープ101の表面には、一般に、配線パターンや層間導通ビア穴等(い
ずれも図示省略)のような立体的な厚みや凹凸を有する各種構造物が形成されているが、
そのようなTABテープ101を縦搬送で屹立した状態に保ちつつめっきを施すと、そのTABテープ101の被めっき面の立体的な厚みや凹凸の部分に、気泡が引っ掛かるようにして残留し、それがめっきボイドのような不めっきやめっき厚むらのようなめっき不良を引き起こす要因となり易い。
しかも、近年のTABテープ101には、極めて微小な寸法の層間導通用ビアや配線パターンが形成されているので、従来の比較的大きな層間導通用ビアや配線パターンを有するTABテープの場合にはさほど問題とはならなかったような微細な気泡の付着や微少な金属イオン濃度分布の不均一が生じても、それが要因となって、めっきボイドのような不めっきやめっき厚むらのようなめっき不良を引き起こす虞が益々高くなってきている。
However, in the TAB tape manufacturing method including the conventional plating apparatus and the plating process using the conventional plating apparatus as described above, after reaching the surface of the TAB tape 101 to be plated through the opening of the shield 104. The directivity is hardly given to the flow 108c of the plating solution 107. In addition, because of the vertical conveyance method, the plating solution 107 stored in the plating water tank 100 is inevitably affected by gravity, and is a heavy electrolytic plating containing a large amount of metal ion components having different weight densities. The plating solution 107 in the previous state and the plating solution 107 after the light electrolytic plating after the metal ion component is consumed by hitting the surface of the TAB tape 101 are not uniformly mixed in the plating water tank 100. There is a tendency for separation and uneven density. Then, coupled with the fact that the plating solution 107 is often not sufficiently stirred, the metal ion concentration distribution of the plating solution 107 stored in the plating water tank 100 tends to be non-uniform in the plating water tank 100, and is thus completed. Variations in the thickness of the plating conductors that would be judged as plating defects occur.
Further, in the conventional plating apparatus, the plating solution 107 sprayed from the spray nozzle 103 does not necessarily all hit the TAB tape 101, and passes through the opening of the shielding object 104 to the surface of the TAB tape 101. In addition to the reaching flow, for example, a flow (not shown) that reaches the plating solution discharge unit 109 by bypassing the shielding object 104 and is discharged out of the plating water tank 100 is generated. obtain.
In addition, in combination with the occurrence of warpage in the width direction peculiar to the TAB tape 101, particularly when the TAB tape 101 as the object to be plated is wide, the TAB in the width direction of the TAB tape 101, that is, in the longitudinal conveyance state. There will be a difference in the thickness of the finished plated conductor (not shown) between the upper end side and the lower end side of the tape 101 so that it is determined that the plating is defective.
Further, on the surface of the TAB tape 101, in general, various structures having a three-dimensional thickness and unevenness such as wiring patterns and interlayer conductive via holes (all not shown) are formed.
When plating is performed while maintaining such a TAB tape 101 in an upright state by vertical conveyance, bubbles remain on the three-dimensional thickness and uneven portions of the surface to be plated of the TAB tape 101, Tends to cause non-plating such as plating voids and plating defects such as uneven plating thickness.
In addition, since the TAB tape 101 in recent years is formed with very small dimensions of interlayer conduction vias and wiring patterns, the conventional TAB tape has a relatively large interlayer conduction via and wiring pattern. Even if fine bubbles adherence that was not a problem or even a small non-uniform distribution of metal ion concentration occurs, this may be the cause of plating such as plating voids and uneven plating thickness. The risk of causing defects is increasing.

このように、従来のTABテープ用めっき装置およびTABテープの製造方法では、めっき水槽100に貯蔵されているめっき液107における金属イオン濃度分布の不均一やTABテープ101表面における気泡の付着などに起因して、めっき厚むらのようなめっき不良やめっきボイドのような不めっきが発生しやすいという問題があった。
本発明は、このような問題に鑑みて成されたもので、その目的は、めっき厚むらのようなめっき不良やめっきボイドのような不めっき等の発生を抑制ないしは解消して、所定の均一な厚さを有する導体めっきを被めっき物であるTABテープに確実に施すことを可能としたTABテープ用めっき装置およびTABテープの製造方法を提供することにある。
As described above, in the conventional TAB tape plating apparatus and TAB tape manufacturing method, the metal ion concentration distribution in the plating solution 107 stored in the plating water tank 100 is not uniform or air bubbles adhere to the TAB tape 101 surface. Thus, there is a problem that plating defects such as uneven plating thickness and non-plating such as plating voids are likely to occur.
The present invention has been made in view of such problems, and its purpose is to suppress or eliminate the occurrence of plating defects such as uneven plating thickness and non-plating such as plating voids, and to achieve a predetermined uniformity. Another object of the present invention is to provide a TAB tape plating apparatus and a TAB tape manufacturing method capable of reliably performing conductor plating having an appropriate thickness on a TAB tape that is an object to be plated.

本発明のTABテープ用めっき装置は、めっき液を保持するめっき水槽と、前記めっき水槽の槽内を上下に上区画と下区画とに区分し、かつ開口を有し当該開口を通してのみ前記上区画から前記下区画への前記めっき液の流動を可能とするように、前記めっき水槽内に設けられた隔壁と、前記上区画にめっき液を供給する、または前記めっき液を噴出して、当該めっき液を前記上区画から前記開口を通って前記下区画へと流動させるように、前記上区画に設けられためっき液供給部と、前記開口を通って前記下区画へと流動して来ためっき液が被めっき物であるTABテープの表面に当たるように、当該TABテープを前記下区画内で水平に支持する支持体と、前記めっき液を排出するように前記下区画に設けられためっき液排出部とを備えたことを特徴としている。
本発明のTABテープの製造方法は、絶縁性基板に所定の導体パターンおよびビア穴を
形成する工程と、前記ビア穴にめっき導体を充填するめっき工程と、を含んだTABテープの製造方法であって、前記めっき工程では、めっき液を保持するめっき水槽に、当該槽内を上下に上区画と下区画とに区分する隔壁を設けると共に当該隔壁には開口を設けて、当該開口を通してのみ前記上区画から前記下区画へと前記めっき液を流動可能にしておき、前記上区画には、当該上区画にめっき液を供給する、または前記めっき液を噴出して、当該めっき液を前記上区画から前記開口を通って前記下区画へと流動させるめっき液供給部を設けると共に、前記下区画にはめっき液排出部を設けて当該下区画から前記めっき液を排出するようにしておき、かつ前記TABテープを前記下区画内で水平に支持しておくことにより、前記上区画から前記開口を通って前記下区画へと流動されて来ためっき液を被めっき物であるTABテープの表面に当てることで、当該TABテープにおける前記ビア穴に前記めっき導体を充填することを特徴としている。
また、本発明のTABテープの製造方法は、絶縁性基板に所定の導体パターンを形成する工程と、前記導体パターンの表面にめっき導体を被着させるめっき工程と、を含んだTABテープの製造方法であって、前記めっき工程では、めっき液を保持するめっき水槽に、当該槽内を上下に上区画と下区画とに区分する隔壁を設けると共に当該隔壁には開口を設けて、当該開口を通してのみ前記上区画から前記下区画へと前記めっき液を流動可能にしておき、前記上区画には、当該上区画にめっき液を供給する、または前記めっき液を噴出して、当該めっき液を前記上区画から前記開口を通して前記下区画へと流動させるめっき液供給部を設けると共に、前記下区画にはめっき液排出部を設けて当該下区画から前記めっき液を排出するようにしておき、かつ前記TABテープを前記下区画内で水平に支持しておくことにより、前記上区画から前記開口を通って前記下区画へと流動して来ためっき液を被めっき物であるTABテープの表面に当てて、当該TABテープにおける前記導体パターンの表面にめっき導体を被着させることを特徴としている。
The plating apparatus for TAB tape of the present invention comprises a plating water tank for holding a plating solution, the tank of the plating water tank vertically divided into an upper compartment and a lower compartment, and has an opening and the upper compartment only through the opening. In order to allow the plating solution to flow from the lower compartment to the partition, the plating solution is supplied to the upper compartment, and the plating solution is supplied to the upper compartment, or the plating solution is ejected to perform the plating. A plating solution supply section provided in the upper compartment so that the liquid flows from the upper compartment through the opening to the lower compartment, and plating that has flowed to the lower compartment through the opening. A support that horizontally supports the TAB tape in the lower compartment so that the liquid hits the surface of the TAB tape that is the object to be plated, and a plating solution discharge provided in the lower compartment so as to discharge the plating solution With department It is characterized in that.
The method for producing a TAB tape of the present invention is a method for producing a TAB tape including a step of forming a predetermined conductor pattern and a via hole on an insulating substrate, and a plating step of filling the via hole with a plating conductor. In the plating step, the plating water tank holding the plating solution is provided with a partition that divides the tank into upper and lower compartments in the vertical direction, and an opening is provided in the partition. The plating solution is allowed to flow from the compartment to the lower compartment, and the plating solution is supplied to the upper compartment or sprayed to the upper compartment, and the plating solution is discharged from the upper compartment. A plating solution supply part is provided for flowing through the opening to the lower compartment, and a plating solution discharge part is provided in the lower compartment so that the plating solution is discharged from the lower compartment. By supporting the TAB tape horizontally in the lower compartment, the plating solution flowing from the upper compartment through the opening to the lower compartment is applied to the surface of the TAB tape that is the object to be plated. By being applied, the plated conductor is filled in the via hole in the TAB tape.
Moreover, the manufacturing method of the TAB tape of the present invention includes a step of forming a predetermined conductor pattern on an insulating substrate and a plating step of depositing a plating conductor on the surface of the conductor pattern. In the plating step, the plating water tank holding the plating solution is provided with a partition that divides the inside of the tank into an upper compartment and a lower compartment, and an opening is provided in the partition, and only through the opening. The plating solution is allowed to flow from the upper compartment to the lower compartment, and the plating solution is supplied to the upper compartment, or the plating solution is ejected to the upper compartment, and the plating solution is supplied to the upper compartment. Provided with a plating solution supply section for flowing from the compartment to the lower compartment through the opening, and provided with a plating solution discharge section in the lower compartment to discharge the plating solution from the lower compartment And by supporting the TAB tape horizontally in the lower compartment, the plating solution that has flowed from the upper compartment through the opening to the lower compartment is a TAB tape to be plated. A plating conductor is deposited on the surface of the conductor pattern of the TAB tape.

本発明によれば、めっき液を保持するめっき水槽に、その槽内を上下に上区画と下区画とに区分する隔壁を設けると共にその隔壁には開口を設けて、その開口を通してのみ上区画から下区画へとめっき液を流動可能にしておき、上区画には、その上区画にめっき液を供給する、またはめっき液を噴出して、そのめっき液を上区画から開口を通って下区画へと流動させるめっき液供給部を設けると共に、下区画にはめっき液排出部を設けてその下区画からめっき液を排出するようにしておき、かつTABテープを下区画内で水平に支持しておくことにより、上区画から開口を通って前区画へと流動されて来ためっき液を被めっき物であるTABテープの表面に当てることで、そのTABテープにおけるビア穴や導体パターンにめっき導体を施すようにしたので、めっき液を、重力や浮力等の悪影響を受けることなく均一な濃度および流量で、しかも気泡の付着や再付着の畏れなく、常に上区画から開口を通って下区画の支持体に支持されているTABテープの表面へと向う一義的に定常的な流れで流動させて、常にTABテープの表面に確実かつ均一に当てることができる。その結果、めっき厚むらのようなめっき不良やめっきボイドのような不めっき等の発生を抑制ないしは解消して、所定の均一な厚さを有する導体めっきを被めっき物であるTABテープに確実に施すことが可能となる。   According to the present invention, the plating water tank that holds the plating solution is provided with the partition that divides the tank into the upper compartment and the lower compartment, and the partition is provided with an opening. Allow the plating solution to flow to the lower compartment, and supply the plating solution to the upper compartment or eject the plating solution to the upper compartment, and pass the plating solution from the upper compartment through the opening to the lower compartment. And a plating solution discharge part in the lower compartment so that the plating solution is discharged from the lower compartment, and the TAB tape is horizontally supported in the lower compartment. By applying the plating solution that has flowed from the upper section through the opening to the previous section on the surface of the TAB tape that is the object to be plated, the plated conductor is applied to the via hole or conductor pattern in the TAB tape. As a result, the plating solution can be applied at a uniform concentration and flow rate without being adversely affected by gravity, buoyancy, etc. It can be made to flow in a uniquely steady flow toward the surface of the TAB tape being supported, and can always be reliably and uniformly applied to the surface of the TAB tape. As a result, the occurrence of plating defects such as uneven plating thickness and non-plating such as plating voids can be suppressed or eliminated, and conductor plating having a predetermined uniform thickness can be reliably applied to the TAB tape to be plated. Can be applied.

ここで、前記開口における、前記上区画から前記下区画までの間の流路長を、前記めっき液供給部と前記TABテープとの間の距離の1/2以上とすることは、より好ましい態様である。このようにすることにより、その開口におけるめっき液の流動方向を、TABテープに効果的に当たるような所定の方向に揃うように整えることが可能となるからである。   Here, in the opening, it is more preferable that the flow path length from the upper section to the lower section is ½ or more of the distance between the plating solution supply unit and the TAB tape. It is. By doing so, it is possible to arrange the flow direction of the plating solution in the opening so as to align with a predetermined direction that effectively hits the TAB tape.

以下、本実施の形態に係るTABテープ用めっき装置およびそれを用いためっき工程を含んだTABテープの製造方法について、図面を参照して説明する。
図1は、本発明の実施の形態に係るTABテープ用めっき装置の主要な構造を模式的に示す図である。
Hereinafter, a TAB tape plating apparatus according to the present embodiment and a TAB tape manufacturing method including a plating process using the same will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a diagram schematically showing the main structure of a TAB tape plating apparatus according to an embodiment of the present invention.

このTABテープ用めっき装置は、めっき液1と、めっき水槽2と、隔壁3と、めっき液排出部4と、めっき液供給部5と、支持体6とを、その機械的な構成の主要部として備えている。隔壁3には、開口7が設けられている。そして、このTABテープ用めっき装置は、めっき液1の流れ8(主に8b)に対して電解めっき用電流を供給するための陽極9と、その陽極9に正極端子が接続されると共に陰極であるTABテープ10にローラ接触電極(図示省略)等を介して負極端子が接続される直流電源11とを、その電気的な構成の主要部として備えている。また、めっき水槽2の外部には、そのめっき水槽2に対してめっき液1を供給および排出させるためのポンプ12が配置されている。   This TAB tape plating apparatus includes a plating solution 1, a plating water tank 2, a partition wall 3, a plating solution discharge unit 4, a plating solution supply unit 5, and a support 6. As prepared. An opening 7 is provided in the partition wall 3. This TAB tape plating apparatus includes an anode 9 for supplying an electrolytic plating current to the flow 8 (mainly 8b) of the plating solution 1, a positive electrode terminal connected to the anode 9, and a cathode. A DC power supply 11 to which a negative electrode terminal is connected to a certain TAB tape 10 via a roller contact electrode (not shown) or the like is provided as a main part of its electrical configuration. A pump 12 for supplying and discharging the plating solution 1 to and from the plating water tank 2 is disposed outside the plating water tank 2.

めっき水槽2は、その槽内にめっき液1を保持するためのものである。このめっき水槽2内には、隔壁3と、めっき液排出部4と、めっき液供給部5と、支持体6と、陽極9とが配置されている。   The plating water tank 2 is for holding the plating solution 1 in the tank. A partition wall 3, a plating solution discharge unit 4, a plating solution supply unit 5, a support 6, and an anode 9 are disposed in the plating water tank 2.

隔壁3は、めっき水槽2の槽内を鉛直方向に上方の上区画2−1と下方の下区画2−2とに区分するように設けられたものである。そして、隔壁3には開口7が形成されている。めっき液1は、その開口7を通ってのみ、上区画2−1から下区画2−2へと流動することが可能となっている。従って、それ以外の流動経路でめっき液1が上区画2−1から下区画2−2へと流動することはあり得ないようになっている。また、上区画2−1に貯蔵されているめっき液1には重力が掛かっているので(流体力学的に比較的大きくかつ安定した位置ヘッドを有しているので)、この開口7を通るめっき液1の流れ8bは、めっき液供給部5による水勢が与えられていなくとも、基本的に、上区画2−1から下区画2−2へと定常的に流動するダウンフローとなるポテンシャルを有している。
この隔壁3に設けられている開口7の奥行、つまりこの開口7を通して上区画2−1から下区画2−2へと至る間の流路長は、少なくとも、めっき液供給部5の噴出口とTABテープ10の表面との間の距離の1/2以上となっている。このようにすることにより、開口7におけるめっき液1の流れ8bの流動方向を、TABテープ10の表面に対してほぼ正対して効果的に当たるような所定の方向に揃うように整えることが可能となる。ここで、もしも流路長がめっき液供給部5の噴出口とTABテープ10の表面との間の距離の1/2未満であると、そのような流動方向を整えるという効果を十分なものとすることが困難になる虞が高くなる。なお、この流路長の上限については、構造上の制約からして、理論上、めっき液供給部5の噴出口とTABテープ10の表面との間の距離と等しい距離(つまり液供給部5の噴出口とTABテープ10の表面との間の距離と等しい)、ということになることは言うまでもない。
The partition wall 3 is provided so as to divide the inside of the plating water tank 2 into an upper upper section 2-1 and a lower lower section 2-2 in the vertical direction. An opening 7 is formed in the partition wall 3. The plating solution 1 can flow from the upper section 2-1 to the lower section 2-2 only through the opening 7. Therefore, the plating solution 1 cannot flow from the upper section 2-1 to the lower section 2-2 through other flow paths. Further, since the plating solution 1 stored in the upper section 2-1 is subjected to gravity (since it has a relatively large and stable position head hydrodynamically), the plating passing through the opening 7 is used. The flow 1b of the liquid 1 basically has a potential of a down flow that constantly flows from the upper section 2-1 to the lower section 2-2 even if no water is given by the plating solution supply section 5. is doing.
The depth of the opening 7 provided in the partition wall 3, that is, the flow path length from the upper section 2-1 to the lower section 2-2 through the opening 7 is at least the outlet of the plating solution supply section 5. The distance to the surface of the TAB tape 10 is ½ or more. By doing in this way, it is possible to arrange the flow direction of the flow 8b of the plating solution 1 in the opening 7 so as to be aligned with a predetermined direction so as to be almost directly opposed to the surface of the TAB tape 10. Become. Here, if the flow path length is less than ½ of the distance between the jet port of the plating solution supply unit 5 and the surface of the TAB tape 10, the effect of adjusting the flow direction is sufficient. There is a high risk that it will be difficult to do. Note that the upper limit of the flow path length is theoretically equal to the distance between the jet port of the plating solution supply unit 5 and the surface of the TAB tape 10 (that is, the liquid supply unit 5 due to structural limitations). Needless to say, this is equal to the distance between the nozzle outlet and the surface of the TAB tape 10.

めっき液排出部4は、下区画2−2の例えば左右側壁部にそれぞれ設けられて、下区画2−2からめっき液1をその外部へと排出するように設定してなるものである。このめっき液排出部4によって排出されためっき液1の流れ8cは、ポンプ12によって循環され、その帰還経路の途中に設けられた再生装置等(図示省略)によって、所定の金属イオン濃度を有するめっき液1として再生されて、再びめっき水槽2へと供給されるようにすることなどが可能である。あるいは、図示は省略するが、めっき液排出部4によって排出されためっき液1は、循環的に使用するのではなく、廃棄または外部貯留するようにしてもよい。   The plating solution discharge unit 4 is provided on, for example, the left and right side walls of the lower section 2-2, and is configured to discharge the plating solution 1 from the lower section 2-2 to the outside. A flow 8c of the plating solution 1 discharged by the plating solution discharge unit 4 is circulated by a pump 12 and is plated with a predetermined metal ion concentration by a regenerator (not shown) provided in the middle of the return path. It is possible to regenerate the liquid 1 and supply it to the plating water tank 2 again. Or although illustration is abbreviate | omitted, you may make it discard the plating solution 1 discharged | emitted by the plating solution discharge | emission part 4 instead of using it cyclically or storing outside.

めっき液供給部5は、ポンプ12から上区画2−2への流れ8aによってめっき液1を上区画2−1に供給する、またはめっき液1を噴出させ、開口7を通して、下区画2−2に水平姿勢で支持されているTABテープ10の表面へと、その噴出させためっき液1の流れ8bを衝突させる(当てる)ように、上区画2−1に設けられたものである。このめ
っき液供給部5は、めっき液1を強い勢いで噴射させることが必要とされるような場合には、例えば先細口つまりノズル状の供給口を有するものとすればよい。または、その他にも、例えばエジェクタ(図示省略)のような流体力学的水勢増幅構造を備えたものとすることも可能である。あるいは、めっき液1を噴出させる勢いが弱くても構わない場合などには、ノズル状ではない(水勢増幅作用や付勢作用等のない)直通状態の流出口を備えたものとすることなども可能である。
The plating solution supply unit 5 supplies the plating solution 1 to the upper section 2-1 by the flow 8a from the pump 12 to the upper section 2-2 or ejects the plating solution 1 and passes through the opening 7 to lower the section 2-2. In the upper section 2-1, the surface 8b of the TAB tape 10 supported in a horizontal posture is made to collide (apply) the flow 8b of the sprayed plating solution 1. The plating solution supply unit 5 may have, for example, a tapered opening, that is, a nozzle-shaped supply port, when it is necessary to spray the plating solution 1 with a strong momentum. Alternatively, for example, a hydrodynamic water amplification structure such as an ejector (not shown) may be provided. Alternatively, when the moment of jetting the plating solution 1 may be weak, it may be provided with a direct outlet that is not nozzle-like (no water amplification or biasing action). Is possible.

支持体6は、上区画2−1から開口7を通って下区画2−2に流されて来ためっき液1の流れ8bが被めっき物であるTABテープ10の表面へと効果的に均一に当たるように、そのTABテープ10を下区画2−2内で水平に支持しつつ、そのTABテープ10を長手方向に移動可能とするものである。TABテープ10は、この支持体6によって水平姿勢に支持されつつ、その長手方向に所定の速度で移動させられて行くことにより、その全長に亘って所定の導体めっきが施されることとなる。   In the support 6, the flow 8 b of the plating solution 1 flowing from the upper section 2-1 through the opening 7 to the lower section 2-2 is effectively uniform on the surface of the TAB tape 10 that is the object to be plated. The TAB tape 10 can be moved in the longitudinal direction while horizontally supporting the TAB tape 10 in the lower section 2-2. The TAB tape 10 is supported in a horizontal position by the support 6 and is moved in the longitudinal direction at a predetermined speed, whereby predetermined conductor plating is performed over the entire length.

このような本実施の形態に係るTABテープ用めっき装置を用いて、TABテープ10に均一な膜厚の導体めっきを施すことが可能となる。次に、そのようなTABテープのめっき工程を中心とした本実施の形態に係るTABテープの製造方法について説明する。
まず、TABテープ10へのめっきを施す工程を施行するに先立って、絶縁性基板に所定の導体パターンおよびビア穴を形成しておく(いずれも図示省略)。
Using such a TAB tape plating apparatus according to this embodiment, the TAB tape 10 can be subjected to conductor plating with a uniform film thickness. Next, a manufacturing method of the TAB tape according to the present embodiment centering on such a TAB tape plating step will be described.
First, prior to performing the step of plating the TAB tape 10, a predetermined conductor pattern and via holes are formed on the insulating substrate (both not shown).

そして、そのTABテープ10のビア穴にめっき導体を充填するための、あるいは導体パターンの表面にめっき導体を被着させるための、めっき工程を行うが、その際に、上記のようなTABテープ用めっき装置を用いためっきを行うことにより、不めっきやめっき厚のばらつき等を生じることなく、極めて効果的に、常に均一な膜厚の導体めっきをTABテープ10に施すことができる。   Then, a plating process is performed for filling the via hole of the TAB tape 10 with the plating conductor or for depositing the plating conductor on the surface of the conductor pattern. At that time, for the TAB tape as described above By performing plating using a plating apparatus, conductor plating with a uniform film thickness can be applied to the TAB tape 10 extremely effectively without causing any non-plating or uneven plating thickness.

そのめっき工程では、まず、めっき液1を常にほぼ一定の貯留量に保ちつつ、めっき水槽2に貯留することが望ましいこととなる。何故なら、めっき水槽2における特に上区画2−1に貯蔵されているめっき液1の量が大幅に変動すると、それに伴って、上区画2−1から下区画2−2へと開口7を通って流れて行くダウンフローの流れ8bの流体力学的な位置ヘッドに有意な差異が生じ、TABテープ10に当たるめっき液1の流れ8bの単位時間当たりの流量が所定の設計値とは大幅に異なったものとなり、ひいては出来上がりのめっき導体の膜厚が、所期のめっき膜厚とは異なったものとなってしまう虞が高くなるからである。
そのようにめっき液1を常にほぼ一定の貯留量に保つようにするためには、めっき液供給部5から噴出させることでめっき水槽2内に供給されるめっき液1の供給量と、めっき液排出部4によってめっき水槽2の外部へと排出されるめっき液1の排出量とを、常に均衡するように調節することがと重要である。
In the plating process, first, it is desirable to store the plating solution 1 in the plating water tank 2 while always maintaining a substantially constant storage amount. This is because when the amount of the plating solution 1 stored in the upper compartment 2-1 in the plating water tank 2 varies greatly, along with this, the opening 7 passes from the upper compartment 2-1 to the lower compartment 2-2. Therefore, a significant difference is caused in the hydrodynamic position head of the down flow 8b flowing down and the flow rate per unit time of the flow 8b of the plating solution 1 hitting the TAB tape 10 is significantly different from a predetermined design value. This is because there is a high possibility that the film thickness of the finished plating conductor is different from the intended plating film thickness.
In order to keep the plating solution 1 at a substantially constant storage amount as described above, the supply amount of the plating solution 1 supplied into the plating water tank 2 by being ejected from the plating solution supply unit 5, and the plating solution It is important to adjust the discharge amount of the plating solution 1 discharged to the outside of the plating water tank 2 by the discharge unit 4 so as to always be balanced.

このような調節を続けながら、上区画2−1にめっき液1を供給する、または上区画2−1に配置されためっき液供給部5からめっき液1を噴出させて、めっき液1の流れ8bを生成し、それを上区画2−1から開口7を通って下区画2−2へと流動させる。そして下区画2−2では、TABテープ10を支持体6によって水平に支持しておくことにより、上区画2−1から開口7を通ってこの下区画2−2へと流動されて来ためっき液1の流れ8bを、被めっき物であるTABテープ10の表面に効果的に均一に、かつ定常的に当てることができる。そして、TABテープ10の表面に当って金属イオンを放出しためっき液1の流れ8cは、この下区画2−2の左右両脇に配置されためっき液排出部4によって、めっき水槽2の外部へと排出される。
このようにして、めっき厚むら等を生じることなく均一に、かつめっきボイドのような不めっき等を生じることなく確実に、TABテープ10におけるビア穴にめっき導体を充
填することや、配線パターンの表面にめっき導体を被着させることなどを、実現することが可能となる。
While continuing such adjustment, the plating solution 1 is supplied to the upper section 2-1, or the plating solution 1 is ejected from the plating solution supply section 5 arranged in the upper section 2-1, and the flow of the plating solution 1 is performed. 8b is produced and flows from the upper section 2-1 through the opening 7 to the lower section 2-2. In the lower section 2-2, the TAB tape 10 is horizontally supported by the support 6 so that the plating that has flowed from the upper section 2-1 through the opening 7 to the lower section 2-2. The flow 1b of the liquid 1 can be effectively and uniformly applied to the surface of the TAB tape 10 that is the object to be plated. Then, the flow 8c of the plating solution 1 that has released the metal ions by hitting the surface of the TAB tape 10 is transferred to the outside of the plating water tank 2 by the plating solution discharge portions 4 arranged on the left and right sides of the lower section 2-2. And discharged.
In this way, it is possible to fill the via holes in the TAB tape 10 with the plating conductors uniformly without causing uneven plating thickness and without causing non-plating such as plating voids, For example, it is possible to realize the deposition of a plating conductor on the surface.

以上のように、本実施の形態に係るTABテープ用めっき装置およびTABテープの製造方法では、めっき液1の流れ8(8a、8b、8c)を、定常的に、かつ一義的に(他の主要な流路を形成することなく)、上区画2−1のめっき液供給部5から、隔壁3の開口7を通って、下区画2−2のTABテープ10の表面に当てることができる。そしてその後、めっき液1の流れ8cは、下区画2−2のめっき液排出部4へと吸引されて行き、最終的に、下区画2−2から上区画2−1へと逆流するような流れなどは全く発生することなしに、外部へと排出される。このように、めっき液1の流れ8は、強い指向性を以て一連の流路に沿ったものとなり、かつ常にそのような一義的な方向および経路のみに定まったものに保たれる。
しかも、開口7における流路長を上記のようにめっき液供給部5とTABテープ10の表面との間の距離の1/2以上としたことにより、めっき液1の上区画2−1から下区画2−2への流れ8bは、より強い(明確な)指向性が確保される。またさらには、めっき水槽2における左右両壁面付近に陽極9を配置してあるので、従来のめっき装置における陽極の配置構造よりも、電解めっきのための電流線経路が阻害される虞が小さいものとなっている。
As described above, in the TAB tape plating apparatus and the TAB tape manufacturing method according to the present embodiment, the flow 8 (8a, 8b, 8c) of the plating solution 1 is steadily and uniquely (others). Without forming a main flow path, the plating solution supply section 5 of the upper section 2-1 can be applied to the surface of the TAB tape 10 of the lower section 2-2 through the opening 7 of the partition wall 3. And after that, the flow 8c of the plating solution 1 is sucked into the plating solution discharge part 4 of the lower section 2-2, and finally flows backward from the lower section 2-2 to the upper section 2-1. The flow is discharged to the outside without any generation. In this way, the flow 8 of the plating solution 1 is along a series of flow paths with strong directivity, and is always kept in such a unique direction and path.
In addition, the flow path length in the opening 7 is set to 1/2 or more of the distance between the plating solution supply part 5 and the surface of the TAB tape 10 as described above, so The flow 8b to the section 2-2 ensures stronger (clear) directivity. Furthermore, since the anodes 9 are arranged in the vicinity of both the left and right wall surfaces in the plating water tank 2, the current line path for electrolytic plating is less likely to be obstructed than the anode arrangement structure in the conventional plating apparatus. It has become.

これらの結果、被めっき物であるTABテープ10の表面に当てられるめっき液1の金属イオン濃度が恒常的に均一なものとなると共に、その流量や流路が揺らいだり不均一になったりすることを防いで、めっき厚むらのようなめっき不良やめっきボイドのような不めっき等の発生を抑制ないしは解消することができ、ひいては所定の均一な厚さや体積を有する導体めっきを、被めっき物であるTABテープ10に対して確実に施すことが可能となる。   As a result, the metal ion concentration of the plating solution 1 applied to the surface of the TAB tape 10, which is the object to be plated, is constantly uniform, and its flow rate and flow path are fluctuated or non-uniform. Can prevent or eliminate plating defects such as uneven plating thickness and non-plating such as plating voids, so that conductor plating having a predetermined uniform thickness and volume can be It is possible to reliably apply to a certain TAB tape 10.

また、めっき液1中に被めっき物であるTABテープ10を浸漬してめっきを施すという、いわゆるウェットな工程では、一般に、気泡が混入することは避け難い。しかし、そのような気泡が混入した場合でも、気泡がTABテープ10の被めっき面に残存したり再付着したりすることを防いで、斯様な気泡の付着等に起因しためっきボイドのようなめっき不良の発生を解消することが可能となる。すなわち、気泡は必然的に浮力を有しているので、水平に支持されている状態のTABテープ10の表面においては、その気泡の浮力が、その気泡自体をTABテープ10の表面から引き剥がす有効な力となる。しかも、気泡はTABテープ10の表面から一旦引き剥がされた後は、めっき液排出部4によってめっき液1に対して与えられる明確な指向性を有する流体力学的な吸引力によって、めっき液1の流れ8cと共に下区画2−2における左方向または右方向へと流され、最終的にはめっき液排出部4から外部へと排出されて行くので、TABテープ10の表面に再付着する虞がなくなる。その結果、被めっき物であるTABテープ10の表面における気泡の付着や再付着等に起因しためっきボイドのような不めっきやめっき厚むらのようなめっき不良等の発生を、抑制ないしは解消することが可能となる。   Further, in a so-called wet process in which plating is performed by immersing the TAB tape 10 which is an object to be plated in the plating solution 1, it is generally difficult to avoid air bubbles being mixed. However, even when such bubbles are mixed, it is possible to prevent the bubbles from remaining on the surface to be plated of the TAB tape 10 or to be reattached, such as plating voids caused by the adhesion of such bubbles. It is possible to eliminate the occurrence of plating defects. That is, since the bubbles necessarily have buoyancy, the buoyancy of the bubbles on the surface of the TAB tape 10 that is horizontally supported is effective in peeling off the bubbles themselves from the surface of the TAB tape 10. Will be a powerful force. In addition, after the bubbles are once peeled off from the surface of the TAB tape 10, the plating solution 1 is applied by the hydrodynamic suction force having a clear directivity applied to the plating solution 1 by the plating solution discharge unit 4. Since it flows in the left direction or the right direction in the lower section 2-2 together with the flow 8c and is finally discharged to the outside from the plating solution discharge portion 4, there is no possibility of reattaching to the surface of the TAB tape 10. . As a result, it is possible to suppress or eliminate the occurrence of non-plating such as plating voids and plating defects such as uneven plating thickness due to the adhesion or reattachment of bubbles on the surface of the TAB tape 10 as the object to be plated. Is possible.

なお、上記実施の形態では、実際上のTABテープにおけるフィルドビア等の形成には電解めっきが行われることが多いことなどを考慮し、本発明を適用するにあたっての最良の形態として電解めっきを行う場合について説明したが、本発明の適用が可能なめっきの方式は、電解めっきのみには限定されない。この他にも、フルアディティブ法のような無電解めっきによるめっき工程や、セミアディティブ法のような無電解めっきと電解めっきとの両方の要素を併せ持っためっき工程を含んだTABテープの製造方法やそれに用いられるTABテープ用めっき装置などにも、本発明は適用可能である。
また、例えば上記の無電解めっきの場合のように、めっき液1を比較的ゆっくりと時間をかけて流すようにするほうが望ましい場合などには、めっき液1を噴出させて得られる
流れ8bの流体力学的な速度ヘッドに頼らずとも、上区画2−1に貯留させためっき液1に掛かる重力の位置ヘッドと、めっき液排出部4によるめっき液吸出しに起因した圧力ヘッドとによって、めっき液1の上区画2−1から開口7を通って下区画2−2へと進むダウンフローの流れ8bを作り出すようにしてもよい。そしてその場合、そのダウンフローの流れ8bの単位時間当たりの流量は、例えば上区画2−1におけるめっき液1の貯留量を調節すると共にそれに合わせるようにしてめっき液排出部4によるめっき液吸出能率等を調節することなどによって、制御することが可能である。
あるいは、めっき水槽2を密封容器状のものとすると共に、そのめっき水槽2に貯留されているめっき液1の圧力を外部から強制的に加圧することで、そのめっき液1の持つ主に圧力ヘッドにより、めっき液1の上区画2−1から開口7を通って下区画2−2へと進むダウンフローの流れ8bの水勢を制御するようにしてもよい。
また、めっき液排出部4にて行われるめっき液1の排出方法としては、ポンプ12による直接吸出方式以外にも、例えばベンチュリ管(図示省略)を用いた間接吸出方式なども利用可能である。
In the above embodiment, in consideration of the fact that electrolytic plating is often performed for the formation of filled vias and the like in an actual TAB tape, the best mode for applying the present invention is when electrolytic plating is performed. However, the plating method to which the present invention can be applied is not limited to electrolytic plating. In addition to this, a TAB tape manufacturing method including a plating process by electroless plating such as a full additive method, and a plating process having both elements of electroless plating and electrolytic plating such as a semi-additive method, The present invention can also be applied to a TAB tape plating apparatus used therefor.
For example, when it is desirable to flow the plating solution 1 over a relatively slow time as in the case of the above electroless plating, the fluid of the flow 8b obtained by ejecting the plating solution 1 is used. Without relying on a dynamic speed head, the plating solution 1 can be obtained by the position head of gravity applied to the plating solution 1 stored in the upper section 2-1 and the pressure head caused by the plating solution sucking out by the plating solution discharge unit 4. You may make it produce the flow 8b of the downflow which goes to the lower division 2-2 from the upper division 2-1 through the opening 7. FIG. In that case, the flow rate per unit time of the flow 8b of the downflow is adjusted, for example, by adjusting the storage amount of the plating solution 1 in the upper section 2-1, and adjusting the plating solution discharge efficiency by the plating solution discharge unit 4. It is possible to control by adjusting etc.
Alternatively, the plating water tank 2 has a sealed container shape, and the pressure of the plating solution 1 stored in the plating water tank 2 is forcibly pressurized from the outside, so that the plating solution 1 mainly has a pressure head. Thus, the water flow of the downflow 8b that proceeds from the upper section 2-1 of the plating solution 1 to the lower section 2-2 through the opening 7 may be controlled.
Further, as a method of discharging the plating solution 1 performed in the plating solution discharge unit 4, in addition to the direct suction method using the pump 12, for example, an indirect suction method using a venturi pipe (not shown) can be used.

本発明の実施の形態に係るTABテープ用めっき装置の主要な構造を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the main structures of the plating apparatus for TAB tapes concerning embodiment of this invention. 従来の一般的なTABテープにめっきを施す工程で用いられる典型的なめっき装置の主要部の構造の一例を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically an example of the structure of the principal part of the typical plating apparatus used at the process of plating on the conventional general TAB tape.

符号の説明Explanation of symbols

1 めっき液
2 めっき水槽
2−1 上区画
2−2 下区画
3 隔壁
4 めっき液排出部
5 めっき液供給部
6 支持体
7 開口
8 (めっき液の)流れ
9 陽極
10 TABテープ
11 直流電源
12 ポンプ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Plating liquid 2 Plating water tank 2-1 Upper section 2-2 Lower section 3 Partition 4 Plating liquid discharge part 5 Plating liquid supply part 6 Support body 7 Opening 8 (Plating liquid flow) Anode 10 TAB tape 11 DC power supply 12 Pump

Claims (6)

めっき液を保持するめっき水槽と、
前記めっき水槽の槽内を上下に上区画と下区画とに区分し、かつ開口を有し当該開口を通してのみ前記上区画から前記下区画への前記めっき液の流動を可能とするように、前記めっき水槽内に設けられた隔壁と、
前記上区画にめっき液を供給する、または前記めっき液を噴出して、当該めっき液を前記上区画から前記開口を通って前記下区画へと流動させるように、前記上区画に設けられためっき液供給部と、
前記開口を通って前記下区画へと流動して来ためっき液が被めっき物であるTABテープの表面に当たるように、当該TABテープを前記下区画内で水平に支持する支持体と、
前記めっき液を排出するように前記下区画に設けられためっき液排出部と
を備えたことを特徴とするTABテープ用めっき装置。
A plating water tank for holding a plating solution;
In order to divide the inside of the plating water tank vertically into an upper compartment and a lower compartment, and to have an opening, allowing the plating solution to flow from the upper compartment to the lower compartment only through the opening, A partition wall provided in the plating water tank;
Plating provided in the upper compartment so that a plating solution is supplied to the upper compartment or the plating solution is ejected to flow the plating solution from the upper compartment to the lower compartment through the opening. A liquid supply unit;
A support that horizontally supports the TAB tape in the lower compartment so that the plating solution that has flowed to the lower compartment through the opening hits the surface of the TAB tape that is the object to be plated;
A plating apparatus for a TAB tape, comprising: a plating solution discharge portion provided in the lower compartment so as to discharge the plating solution.
請求項1記載のTABテープ用めっき装置において、
前記開口における、前記上区画から前記下区画までの間の流路長が、前記めっき液供給部と前記TABテープとの間の距離の1/2以上である
ことを特徴とするTABテープ用めっき装置。
In the TAB tape plating apparatus according to claim 1,
The TAB tape plating, wherein a flow path length from the upper compartment to the lower compartment in the opening is ½ or more of a distance between the plating solution supply unit and the TAB tape. apparatus.
請求項1または2記載のTABテープ用めっき装置において、
前記TABテープが、電解めっきまたは無電解めっきによって形成されるめっき充填ビアを有するものである
ことを特徴とするTABテープ用めっき装置。
In the TAB tape plating apparatus according to claim 1 or 2,
The TAB tape plating apparatus having a plating filling via formed by electrolytic plating or electroless plating.
絶縁性基板に所定の導体パターンおよびビア穴を形成する工程と、前記ビア穴にめっき導体を充填するめっき工程と、を含んだTABテープの製造方法であって、
前記めっき工程では、めっき液を保持するめっき水槽に、当該槽内を上下に上区画と下区画とに区分する隔壁を設けると共に当該隔壁には開口を設けて、当該開口を通してのみ前記上区画から前記下区画へと前記めっき液を流動可能にしておき、前記上区画には、当該上区画にめっき液を供給する、または前記めっき液を噴出して、当該めっき液を前記上区画から前記開口を通って前記下区画へと流動させるめっき液供給部を設けると共に、前記下区画にはめっき液排出部を設けて当該下区画から前記めっき液を排出するようにしておき、かつ前記TABテープを前記下区画内で水平に支持しておくことにより、前記上区画から前記開口を通って前記下区画へと流動されて来ためっき液を被めっき物であるTABテープの表面に当てることで、当該TABテープにおける前記ビア穴に前記めっき導体を充填する
ことを特徴とするTABテープの製造方法。
A method for producing a TAB tape comprising a step of forming a predetermined conductor pattern and a via hole on an insulating substrate, and a plating step of filling the via hole with a plating conductor,
In the plating step, the plating water tank holding the plating solution is provided with a partition that divides the inside of the tank into an upper compartment and a lower compartment, and an opening is provided in the partition, and only from the upper compartment through the opening. The plating solution is allowed to flow to the lower compartment, the plating solution is supplied to the upper compartment or the plating solution is ejected to the upper compartment, and the plating solution is opened from the upper compartment to the opening. A plating solution supply section for flowing to the lower section through the plate section, and a plating solution discharge section provided in the lower section so as to discharge the plating solution from the lower section, and the TAB tape By horizontally supporting in the lower compartment, the plating solution that has flowed from the upper compartment through the opening to the lower compartment is applied to the surface of the TAB tape that is the object to be plated. Method for producing a TAB tape, which comprises filling the plated conductor into the via holes in the TAB tape.
絶縁性基板に所定の導体パターンを形成する工程と、前記導体パターンの表面にめっき導体を被着させるめっき工程と、を含んだTABテープの製造方法であって、
前記めっき工程では、めっき液を保持するめっき水槽に、当該槽内を上下に上区画と下区画とに区分する隔壁を設けると共に当該隔壁には開口を設けて、当該開口を通してのみ前記上区画から前記下区画へと前記めっき液を流動可能にしておき、前記上区画には、当該上区画にめっき液を供給する、または前記めっき液を噴出して、当該めっき液を前記上区画から前記開口を通して前記下区画へと流動させるめっき液供給部を設けると共に、前記下区画にはめっき液排出部を設けて当該下区画から前記めっき液を排出するようにしておき、かつ前記TABテープを前記下区画内で水平に支持しておくことにより、前記上区画から前記開口を通って前記下区画へと流動して来ためっき液を被めっき物であるTABテープの表面に当てて、当該TABテープにおける前記導体パターンの表面にめっき導体を被着させる
ことを特徴とするTABテープの製造方法。
A method for producing a TAB tape comprising: a step of forming a predetermined conductor pattern on an insulating substrate; and a plating step of depositing a plating conductor on the surface of the conductor pattern,
In the plating step, the plating water tank holding the plating solution is provided with a partition that divides the inside of the tank into an upper compartment and a lower compartment, and an opening is provided in the partition, and only from the upper compartment through the opening. The plating solution is allowed to flow to the lower compartment, the plating solution is supplied to the upper compartment or the plating solution is ejected to the upper compartment, and the plating solution is opened from the upper compartment to the opening. A plating solution supply section for flowing to the lower section through the plate section, and a plating solution discharge section provided in the lower section so as to discharge the plating solution from the lower section, and the TAB tape is removed from the lower section. By supporting horizontally in the compartment, the plating solution that has flowed from the upper compartment through the opening to the lower compartment is applied to the surface of the TAB tape that is the object to be plated, and the T Method for producing a TAB tape, characterized in that depositing a plating conductor surface of the conductor pattern in B tape.
請求項4または5記載のTABテープの製造方法において、
前記開口における、前記上区画から前記下区画までの間の流路長を、前記めっき液供給部と前記TABテープとの間の距離の1/2以上とする
ことを特徴とするTABテープの製造方法。
In the manufacturing method of the TAB tape of Claim 4 or 5,
The manufacture of a TAB tape characterized in that a flow path length from the upper section to the lower section in the opening is at least 1/2 of a distance between the plating solution supply unit and the TAB tape. Method.
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