JP2010008333A - Non-contact voltage/current probe device, and voltage/current measuring method using it - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a non-contact voltage/current probe device for accurately measuring voltage and current in a cable. <P>SOLUTION: This non-contact voltage/current probe device includes a toroidal coil 1A having a cylindrical inner core 1 and an inner conductor line 2 wound on the inner core 1, a cylindrical outer conductor 3, a first spacer 4 disposed inside the inner core 1, an electrode 5 for fixing that is disposed inside the first spacer, fixes the cable 7, and has conductivity, a second spacer 6 that is disposed between the inner core 1 and the outer conductor 3 and makes the distance between the inner core 1 and the outer conductor 3 constant, a terminal resistor 8 inserted between both ends of the inner conductor line 2, a metal storage box 10 having a connection terminal 9, a voltage detection circuit 11a for detecting potential difference of one end of the terminal resistor 8 to the earth, a voltage detection circuit 11b for detecting potential difference of the other end of the terminal resistor 8 to the earth, an adder 13a for measuring the sum of potential differences, and a subtractor 13b for measuring the difference between the potential differences. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、ケーブルにおける電圧とケーブルに流れる電流を測定できる非接触型電圧電流プローブ装置とこれを用いた電圧電流測定方法に関する。   The present invention relates to a contactless voltage / current probe apparatus capable of measuring a voltage in a cable and a current flowing in the cable, and a voltage / current measuring method using the same.

情報通信装置や電子・電気機器では、半導体技術の進歩とともに高密度、高集積、大容量、低消費電力化が進んできている。装置の構成も複雑になってきており、様々なケーブル等が接続されるようになってきている。また様々な伝送方式が考案され、通信に供される信号の種類が増加している。さらに、省電力化のためインバータ技術等が導入され、電源系統の電源高調波やそれによって発生する電磁妨害波等も増加している。   In information communication devices and electronic / electrical devices, high-density, high-integration, large-capacity, and low-power consumption are progressing with the progress of semiconductor technology. The configuration of the apparatus has also become complicated, and various cables and the like have been connected. Various transmission systems have been devised, and the types of signals used for communication are increasing. Furthermore, inverter technology and the like have been introduced for power saving, and the power harmonics of the power supply system and electromagnetic interference waves generated thereby are increasing.

これらの状況では、信号の劣化による誤作動や故障、電源高調波による電源品質の劣化に伴う誤作動、様々な機器から発生した電磁妨害波が装置に接続されるケーブルに誘導され、ケーブルを伝わって他の装置の誤作動や故障を発生させるという現象が生じている。装置の大容量化によって、1回の故障が与える社会的影響は大きくなっており、このような原因による誤作動、故障を発生させないための技術が必要となっている。   In these situations, malfunctions and failures due to signal degradation, malfunctions due to power quality degradation due to power harmonics, and electromagnetic interference generated from various devices are induced to the cable connected to the device and transmitted through the cable. As a result, malfunctions and failures of other devices have occurred. As the capacity of the device increases, the social impact of a single failure is increasing, and a technique for preventing malfunctions and failures due to such causes is required.

上記のような事例においては、同一地点での信号の電圧や電流、高調波の電圧、電流、電磁妨害波の電圧、電流の測定が必要であるが、現状では、電圧、電流それぞれを検出するプローブが個別に必要である。これまで、電圧、電流の測定用として、様々なプローブが開発されている。たとえば、通常の電圧測定に用いられる電圧プローブでは、測定対象のケーブルの導体に接触する必要があり、ケーブルの切断や外皮の剥離といったことが必要であるため、実際に稼動いている装置に接続されているケーブルに適用することは困難であった。一方で、ケーブルとの電磁結合や静電結合を利用した非接触型の電圧プローブや電流プローブが開発されているが、それぞれ個別のプローブであり、様々なケーブルの径に同じように対応させることや必要な測定帯域をそろえる必要がある。物理的な大きさの制約や測定の際の影響等から、測定箇所が同一ではないなど、取り扱い上の課題があった。   In the above cases, it is necessary to measure the voltage and current of the signal at the same point, the voltage of the harmonic, the current, the voltage of the electromagnetic interference wave, and the current, but at present, the voltage and current are detected. A probe is required separately. Until now, various probes have been developed for measuring voltage and current. For example, in a voltage probe used for normal voltage measurement, it is necessary to contact the conductor of the cable to be measured, and it is necessary to cut the cable and peel off the outer sheath. It was difficult to apply to existing cables. On the other hand, non-contact type voltage probes and current probes using electromagnetic coupling and electrostatic coupling with cables have been developed, but each is a separate probe and should correspond to various cable diameters in the same way. It is necessary to arrange the necessary measurement bandwidth. Due to physical size restrictions and influences during measurement, there were problems in handling such as measurement locations being not the same.

さらにEMC(Electoromagnetic Compatibility 電磁両立性)の分野においては、電子装置からケーブルを伝わって外部に放射されるコモンモードの伝導性電磁妨害波の測定が必要であり、通常の電子装置の場合には、特定の試験サイトにおいて実施されている。しかしながら、試験用のサイトでは測定できないような大型の電子装置、例えばスタジアム等の大型ディスプレイや多数の機器から構成されるシステム等、においては、その伝導性妨害波をどのように測定するかが課題となっている。例えば、電圧、電流をそれぞれ個別に測定した場合には、被測定対象のコモンモードのインピーダンスが不明であるため、インピーダンスが低い場合の電圧測定、若しくはインピーダンスが高い場合の電流のみの測定等のように、発生している現象を正確に捉えられない可能性がある。したがって、この分野においても、電圧、電流を同時に同じ場所で測定する技術が求められている。   Furthermore, in the field of EMC (Electoromagnetic Compatibility), it is necessary to measure common-mode conductive electromagnetic interference radiated from the electronic device through the cable. In the case of ordinary electronic devices, Conducted at specific test sites. However, in a large electronic device that cannot be measured at a test site, such as a large display such as a stadium or a system composed of a large number of devices, how to measure the conducted disturbance is a problem. It has become. For example, when voltage and current are measured individually, the common mode impedance of the measurement target is unknown, so voltage measurement when the impedance is low, or measurement of only the current when the impedance is high, etc. In addition, there is a possibility that the phenomenon that occurs is not accurately captured. Therefore, also in this field, a technique for simultaneously measuring voltage and current at the same place is required.

なお、非接触型の電圧プローブ装置に関する文献としては、非特許文献1、2がある。これらの文献で開示された構造では、内部を通るケーブルに発生した電圧を円筒形内部電極で検出し、その内部電極と、同軸円筒状に配置され、かつアースに接続された外部電極との間の電圧を検出することによって、ケーブルに発生している電圧を測定することが可能となっている。この構造においては、内部電極は電圧検出の役割を果たし、外部電極は、基準電位の提供と内部電極のシールドの役割を提供している。   Note that there are Non-Patent Documents 1 and 2 as documents relating to the non-contact type voltage probe device. In the structures disclosed in these documents, a voltage generated in a cable passing through the inside is detected by a cylindrical internal electrode, and between the internal electrode and an external electrode arranged in a coaxial cylindrical shape and connected to ground. By detecting this voltage, it is possible to measure the voltage generated in the cable. In this structure, the internal electrode plays a role of voltage detection, and the external electrode provides a role of providing a reference potential and shielding the internal electrode.

また非接触型の電圧プローブのうち、電磁結合を利用しているものについては、非特許文献3に示すようなものが開発・販売されている。非特許文献3のような電磁結合を利用した電流プローブは、コア材に巻かれた内部導体線が低いインピーダンスで終端され、金属のシールド収納箱に納められた構造をしている。トロイダルコイルによって、ケーブルに流れる電流が作る磁界を検出し、電磁誘導によって終端のインピーダンスに発生した電圧は、ケーブルに流れる電流に比例するため、電流を測定することができる。多くの電流プローブでは金属のシールド収納箱内にトロイダルコイルが納められているが、これは、測定周囲の金属体との静電結合やケーブルとの静電結合による測定誤差を排除するためである。   Among non-contact type voltage probes, those utilizing electromagnetic coupling have been developed and sold as shown in Non-Patent Document 3. A current probe using electromagnetic coupling as in Non-Patent Document 3 has a structure in which an inner conductor wire wound around a core material is terminated with a low impedance and is housed in a metal shield storage box. The magnetic field generated by the current flowing in the cable is detected by the toroidal coil, and the voltage generated in the terminal impedance by electromagnetic induction is proportional to the current flowing in the cable, so that the current can be measured. In many current probes, a toroidal coil is housed in a shielded metal box in order to eliminate measurement errors caused by electrostatic coupling with the metal body surrounding the measurement and electrostatic coupling with the cable. .

これらの構造を考えると、ともに同軸状に構成された検出用の内部電極やトロイダルコイルを持ち、かつ外乱からの影響を排除するための静電シールドを備えている。
R.Kobayashi,Y,Hiroshima,H,Ito,H,Furuya,M.Hattori,and,Y.Tada:“A Novel Non-contact Capacitive Probe for Common-mode Voltage Measurement”,Trans.EB,Vol.E90-B,No.6,Jun,2007 広島,桑原、「容量性電圧プローブにおける側面シールドの効果」電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集1999年通信ソサイエティ大会(講演論文集1),B-4-50,234,1999/08/16 ETS-EMCOカレント・プロ−ブ、[online],インターネット<URL:http://www.astechcorp.co.jp/jp/electronics/Electronics/content/EMCO/current.htm>
Considering these structures, both have an internal electrode for detection and a toroidal coil that are coaxially configured, and an electrostatic shield for eliminating the influence of disturbance.
R. Kobayashi, Y, Hiroshima, H, Ito, H, Fururu, M. Hattori, and, Y. Tada: “A Novel Non-contact Capacitive Probe for Common-mode Voltage Measurement”, Trans. EB, Vol. E90- B, No.6, Jun, 2007 Hiroshima, Kuwahara, "Effect of side shield on capacitive voltage probe" IEICE Society Conference Proceedings 1999 Communication Society Conference (Proceedings 1), B-4-50,234, 1999/08/16 ETS-EMCO current probe, [online], Internet <URL: http: //www.astechcorp.co.jp/jp/electronics/Electronics/content/EMCO/current.htm>

さて、本発明の発明者らは、これらのプローブを一体化する技術を開発したが、測定対象であるケーブルがプローブ内部を貫通する際、その位置によって静電結合の大きさが変化してしまうことがわかった。そして、電磁結合においても、磁界の分布が変化する。これらの影響は測定誤差を生じさせるため、測定の精度を高めるためには改善が必要であった。   Now, the inventors of the present invention have developed a technique for integrating these probes, but when the cable to be measured penetrates the inside of the probe, the size of the electrostatic coupling changes depending on the position. I understood it. Also in the electromagnetic coupling, the distribution of the magnetic field changes. Since these influences cause measurement errors, improvement is necessary to increase the accuracy of measurement.

本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、ケーブルにおける電圧とケーブルに流れる電流を高精度で測定できる非接触型電圧電流プローブ装置およびこれを用いた電圧電流測定方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a non-contact type voltage / current probe apparatus capable of measuring a voltage in a cable and a current flowing in the cable with high accuracy, and a voltage using the same. It is to provide a method for measuring current.

上記の課題を解決するには、同軸状に構成されたトロイダルコイルとその外部のシールドのための外部導体とで形成される構造の内部にさらにケーブルを固定するための固定用電極を設ける。固定用電極の外径を一定とした場合、内部コアに巻かれたトロイダルコアと固定用電極の静電結合を一定とすることが可能となる。さらに、内部を通る測定対象のケーブルと固定用電極とを密結合させることによって、ケーブルと固定用電極間の静電結合を無視することができ、安定した測定結果を得ることが可能となり、上記の課題を解決することが可能となる。   In order to solve the above-described problems, a fixing electrode for fixing the cable is further provided inside a structure formed by a coaxially configured toroidal coil and an outer conductor for shielding outside thereof. When the outer diameter of the fixing electrode is made constant, the electrostatic coupling between the toroidal core wound around the inner core and the fixing electrode can be made constant. Furthermore, by tightly coupling the measurement target cable passing through the inside and the fixing electrode, electrostatic coupling between the cable and the fixing electrode can be ignored, and a stable measurement result can be obtained. This problem can be solved.

これにより、上記課題であった同一地点の電圧電流の測定が可能になり、かつインピーダンスが不明な状態でも、電圧と電流の2つの物理量を同時に測定でき、正確な評価が可能となる。さらに取扱いの不便さが解消される。   As a result, it is possible to measure the voltage and current at the same point, which was the problem described above, and it is possible to measure two physical quantities of voltage and current at the same time even when the impedance is unknown, thereby enabling accurate evaluation. Furthermore, the inconvenience of handling is eliminated.

請求項1の本発明は、ケーブルにおけるアースに対する電圧と前記ケーブルに流れる電流を測定するための非接触型電圧電流プローブ装置であって、前記ケーブルが貫通する空間が内側に形成される筒形の内部コア、前記内部コアに巻回された内部導体線を有するトロイダルコイルと、前記ケーブルが貫通し且つ前記トロイダルコイルが配置される空間が内側に形成される筒形の外部導体と、前記内部コアの内側に設けられた筒形の第1スペーサと、前記第1スペーサの内側に設けられ、前記ケーブルを固定し且つ導電性を有する固定用電極と、前記内部コアと前記外部導体との間に設けられ、前記内部コアと前記外部導体との間の距離を一定にする第2スペーサと、前記内部導体線の一方端と他方端との間に挿入された終端抵抗と、前記終端抵抗の一方端のアースに対する電位差を検出する電圧検出回路と、前記終端抵抗の他方端のアースに対する電位差を検出する電圧検出回路と、アースに接続され、前記各電圧検出回路と前記終端抵抗とを収納する電磁シールド手段とを備えることを特徴とする非接触型電圧電流プローブ装置をもって解決手段とする。   The present invention of claim 1 is a non-contact type voltage / current probe device for measuring a voltage with respect to the ground in a cable and a current flowing through the cable, and is a cylindrical shape in which a space through which the cable passes is formed. An inner core, a toroidal coil having an inner conductor wire wound around the inner core, a cylindrical outer conductor in which a space through which the cable passes and the toroidal coil is disposed is formed, and the inner core A cylindrical first spacer provided on the inner side of the first spacer, a fixing electrode provided on the inner side of the first spacer for fixing the cable and having conductivity, and between the inner core and the outer conductor. A second spacer provided at a constant distance between the inner core and the outer conductor, a termination resistor inserted between one end and the other end of the inner conductor wire, and the termination A voltage detection circuit for detecting a potential difference with respect to the ground at one end of the resistor, a voltage detection circuit for detecting a potential difference with respect to the ground at the other end of the termination resistor, and each voltage detection circuit and the termination resistor connected to ground. A non-contact type voltage / current probe device characterized by comprising electromagnetic shielding means for housing is used as the solution means.

請求項2の本発明は、前記電磁シールド手段に収納され、検出された前記電位差同士の和と検出された前記電位差同士の差を測定する電圧電流算出手段を備えることを特徴とする請求項1記載の非接触型電圧電流プローブ装置をもって解決手段とする。   The present invention of claim 2 is characterized in that it comprises voltage-current calculation means which is housed in the electromagnetic shield means and measures the sum of the detected potential differences and the difference between the detected potential differences. The non-contact type voltage / current probe device described is used as a solution.

請求項3の本発明は、前記電圧電流算出手段は、検出された前記電位差同士の和を測定する加算器と、検出された前記電位差同士の差を測定する減算器とを備えることを特徴とする請求項2記載の非接触型電圧電流プローブ装置をもって解決手段とする。   The present invention of claim 3 is characterized in that the voltage-current calculation means includes an adder that measures the sum of the detected potential differences, and a subtractor that measures the difference between the detected potential differences. The non-contact type voltage / current probe device according to claim 2 is used as the solution.

請求項4の本発明は、前記固定用電極は、金属の非磁性体で形成されたことを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の非接触型電圧電流プローブ装置をもって解決手段とする。   According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the non-contact type voltage / current probe device according to any one of the first to third aspects, wherein the fixing electrode is formed of a metal nonmagnetic material. To do.

請求項5の本発明は、前記内部コアは、前記電流の周波数に応じて選択された磁性体材料により形成されたことを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の非接触型電圧電流プローブ装置をもって解決手段とする。   According to a fifth aspect of the present invention, in the non-contact type voltage according to any one of the first to fourth aspects, the inner core is formed of a magnetic material selected according to the frequency of the current. A current probe device is used as a solution.

請求項6の本発明は、前記固定用電極は、金属の円筒を螺旋状に切断したバネで構成されていることを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載の非接触型電圧電流プローブ装置をもって解決手段とする。   According to a sixth aspect of the present invention, in the non-contact type voltage current according to any one of the first to fifth aspects, the fixing electrode includes a spring obtained by cutting a metal cylinder into a spiral shape. A probe device is used as a solution.

請求項7の本発明は、前記第1スペーサは、低誘電率の誘電体でかつ低透磁率の磁性体または非磁性体でかつ可塑性を有するもので形成されたことを特徴とする請求項6記載の非接触型電圧電流プローブ装置をもって解決手段とする。   The present invention of claim 7 is characterized in that the first spacer is formed of a dielectric material having a low dielectric constant and a magnetic material or non-magnetic material having a low magnetic permeability and having plasticity. The non-contact type voltage / current probe device described is used as a solution.

請求項8の本発明は、前記内部コアの端面に対向させて前記外部導体の端面に接続され、前記ケーブルが貫通する開口が内側に形成される導電板を備えることを特徴とする請求項1ないし7のいずれかに記載の非接触型電圧電流プローブ装置をもって解決手段とする。   The present invention of claim 8 is provided with a conductive plate which is connected to the end face of the outer conductor so as to face the end face of the inner core and has an opening formed on the inside thereof through which the cable passes. The non-contact type voltage / current probe device according to any one of 7 to 7 is used as a solution.

請求項9の本発明は、ケーブルにおけるアースに対する電圧と前記ケーブルに流れる電流を測定するための非接触型電圧電流プローブ装置を用いた電圧電流測定方法であって、前記非接触型電圧電流プローブ装置は、前記ケーブルが貫通する空間が内側に形成される筒形の内部コア、前記内部コアに巻回された内部導体線を有するトロイダルコイルと、前記ケーブルが貫通し且つ前記トロイダルコイルが配置される空間が内側に形成される筒形の外部導体と、前記内部コアの内側に設けられた筒形の第1スペーサと、前記第1スペーサの内側に設けられ、前記ケーブルを固定し且つ導電性を有する固定用電極と、前記内部コアと前記外部導体との間に設けられ、前記内部コアと前記外部導体との間の距離を一定にする第2スペーサと、前記内部導体線の一方端と他方端との間に挿入された終端抵抗と、前記終端抵抗の一方端のアースに対する電位差を検出する電圧検出回路と、前記終端抵抗の他方端のアースに対する電位差を検出する電圧検出回路と、アースに接続され、前記各電圧検出回路と前記終端抵抗とを収納する電磁シールド手段とを備え、前記電圧電流測定方法は、前記終端抵抗の一方端のアースに対する電位差を検出する前記電圧検出回路が当該電位差を検出する段階と、前記終端抵抗の他方端のアースに対する電位差を検出する前記電圧検出回路が当該電位差を検出する段階とを含むことを特徴とする非接触型電圧電流プローブ装置を用いた電圧電流測定方法をもって解決手段とする。   The present invention according to claim 9 is a voltage / current measuring method using a non-contact type voltage / current probe apparatus for measuring a voltage with respect to ground in a cable and a current flowing through the cable, wherein the non-contact type voltage / current probe apparatus is provided. A toroidal coil having a cylindrical inner core in which a space through which the cable penetrates is formed, an inner conductor wire wound around the inner core, and the toroidal coil penetrating the cable. A cylindrical outer conductor having a space formed on the inside, a cylindrical first spacer provided on the inner side of the inner core, and an inner side of the first spacer for fixing the cable and providing conductivity. A fixing electrode having a second spacer provided between the inner core and the outer conductor, the distance between the inner core and the outer conductor being constant; A termination resistor inserted between one end and the other end of the conductor wire, a voltage detection circuit for detecting a potential difference with respect to the ground at one end of the termination resistor, and a potential difference with respect to the ground at the other end of the termination resistor A voltage detection circuit; and an electromagnetic shield means that is connected to ground and accommodates each of the voltage detection circuits and the termination resistor. The voltage / current measurement method detects a potential difference with respect to ground at one end of the termination resistor. The non-contact voltage current comprising: a step of detecting the potential difference by the voltage detection circuit; and a step of detecting the potential difference by the voltage detection circuit detecting a potential difference with respect to the ground at the other end of the termination resistor. A voltage / current measurement method using a probe device is used as a solution.

本発明によれば、ケーブルにおける電圧とケーブルに流れる電流を高精度で測定できる非接触型電圧電流プローブ装置およびを提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the non-contact-type voltage current probe apparatus which can measure the voltage in a cable and the electric current which flows through a cable with high precision can be provided.

以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。なお、各実施の形態では、基本的技術や実施の形態における特徴的な技術を述べるが、各実施の形態で述べた技術を適宜組み合わせて実施してもよい。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In each embodiment, a basic technique and a characteristic technique in the embodiment are described. However, the technique described in each embodiment may be combined as appropriate.

[第1の実施の形態]
図1は、第1の実施の形態に係る非接触型電圧電流プローブ装置の構成図である。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a configuration diagram of a non-contact type voltage / current probe apparatus according to the first embodiment.

非接触型電圧電流プローブ装置は、ケーブル7におけるアースに対する電圧Vとケーブル7に流れる電流Iを測定するための非接触型電圧電流プローブ装置であって、ケーブル7が貫通する空間が内側に形成される筒形の内部コア1、内部コア1に巻回された内部導体線2を有するトロイダルコイル1Aと、ケーブル7が貫通し且つトロイダルコイル1Aが配置される空間が内側に形成される筒形の外部導体3と、内部コア1の内側に設けられた第1スペーサ4と、第1スペーサの内側に設けられ、ケーブル7を固定し且つ導電性を有する固定用電極5と、内部コア1と外部導体3との間に設けられ、内部コア1と外部導体3との間の距離を一定にする第2スペーサ6と、内部導体線2の一方端と他方端との間に挿入された終端抵抗8と、外部導体3をアースに接続する手段である接続端子9を備えた金属収納箱10と、終端抵抗8の一方端のアースに対する電位差を検出する電圧検出回路11aと、終端抵抗8の他方端のアースに対する電位差を検出する電圧検出回路11bと、検出された前記電位差同士の和を測定する加算器13aと、検出された前記電位差同士の差を測定する減算器13bとを備える。第1スペーサ4と固定用電極5とにより、ケーブル7が内部導体線2に対して予め定めた距離以内に接近するのを防止している。   The non-contact type voltage / current probe apparatus is a non-contact type voltage / current probe apparatus for measuring a voltage V with respect to the ground in the cable 7 and a current I flowing through the cable 7, and a space through which the cable 7 passes is formed inside. A cylindrical inner core 1, a toroidal coil 1 </ b> A having an inner conductor 2 wound around the inner core 1, and a cylindrical shape in which a space through which the cable 7 penetrates and the toroidal coil 1 </ b> A is disposed is formed. The outer conductor 3, the first spacer 4 provided on the inner side of the inner core 1, the fixing electrode 5 provided on the inner side of the first spacer for fixing the cable 7 and having conductivity, the inner core 1 and the outer A second spacer 6 provided between the conductor 3 and making the distance between the inner core 1 and the outer conductor 3 constant, and a termination resistor inserted between one end and the other end of the inner conductor wire 2 8 and outside A metal storage box 10 having a connection terminal 9 as means for connecting the conductor 3 to the ground, a voltage detection circuit 11a for detecting a potential difference with respect to the ground at one end of the termination resistor 8, and a ground at the other end of the termination resistor 8 A voltage detection circuit 11b that detects a potential difference, an adder 13a that measures the sum of the detected potential differences, and a subtractor 13b that measures a difference between the detected potential differences are provided. The first spacer 4 and the fixing electrode 5 prevent the cable 7 from approaching the inner conductor wire 2 within a predetermined distance.

内部コア1は、電流Iの周波数に応じて選択された磁性体材料により形成されたものである。トロイダルコイル1Aを空芯にしたい場合、内部コア1は、非磁性体で形成される。トロイダルコイル1Aとケーブル7との結合性を高くし、トロイダルコイル1Aのインダクタンスを大きくした場合、内部コア1は、高い透磁率を有する磁性体、例えばフェライトやアモルファスで形成される。このように内部コア1は、目的に応じた材料で形成すればよい。内部コア1は、円筒形であるが、トロイダルコイルを構成するためには筒形であればよく、横断面形状が例えば四角形のものであってもよい。   The inner core 1 is made of a magnetic material selected according to the frequency of the current I. When it is desired to use the toroidal coil 1A as an air core, the inner core 1 is formed of a nonmagnetic material. When the connectivity between the toroidal coil 1A and the cable 7 is increased and the inductance of the toroidal coil 1A is increased, the inner core 1 is formed of a magnetic material having high magnetic permeability, for example, ferrite or amorphous. Thus, the inner core 1 may be formed of a material according to the purpose. Although the inner core 1 has a cylindrical shape, the inner core 1 may have a cylindrical shape in order to form a toroidal coil, and may have a rectangular cross-sectional shape, for example.

固定用電極5は、ケーブル7を固定し、かつ内部導体線2との静電結合を一定とするためのものであり、例えば、金属の非磁性体(アルミニウム等)で形成される。目的から明らかなように、固定用電極5は、非磁性の導電性材質であれば、いかなる材質のものでもよい。   The fixing electrode 5 is for fixing the cable 7 and making the electrostatic coupling with the internal conductor wire 2 constant, and is formed of, for example, a metal nonmagnetic material (aluminum or the like). As is clear from the purpose, the fixing electrode 5 may be made of any material as long as it is a nonmagnetic conductive material.

第1スペーサ4および第2スペーサ6は、発泡性を有する材料、例えば発砲ゴム、発泡ウレタンで形成され、可塑性を有する。第1スペーサ4および第2スペーサ6により、固定用電極5は、内部コア1および外部導体3と同軸上に配置される。ケーブル7も同様に、固定用電極5、内部コア1および外部導体3と同軸上に配置される。   The first spacer 4 and the second spacer 6 are formed of a foaming material such as foamed rubber or foamed urethane, and have plasticity. Due to the first spacer 4 and the second spacer 6, the fixing electrode 5 is arranged coaxially with the inner core 1 and the outer conductor 3. Similarly, the cable 7 is arranged coaxially with the fixing electrode 5, the inner core 1 and the outer conductor 3.

第1スペーサ4および第2スペーサ6は、低誘電率の誘電体でかつ低透磁率の磁性体または非磁性体である材料(例えば、プラスチック、シリコンコーキング剤など)で形成されたものである。これにより、高周波領域における測定の影響を少なくできる。   The first spacer 4 and the second spacer 6 are formed of a material (for example, plastic, silicon caulking agent, or the like) that is a low dielectric constant dielectric material and a low magnetic permeability magnetic material or nonmagnetic material. Thereby, the influence of the measurement in the high frequency region can be reduced.

第2スペーサ6は、円柱状であるが、内部コア1と外部導体3との間の距離を一定にできれば、円筒形でもよい。また、第2スペーサ6は、内部コア1と外部導体3との間を上記材料で充填するものでもよい。   The second spacer 6 is columnar, but may be cylindrical as long as the distance between the inner core 1 and the outer conductor 3 can be made constant. The second spacer 6 may be filled with the above material between the inner core 1 and the outer conductor 3.

金属収納箱10は導電性を有する電磁シールド手段であり、外部導体3および接続端子9に電気的および機械的に接続され、各電圧検出回路11a、11bと加算器13aと減算器13bとを収納する。各電圧検出回路11a、11bは高い入力インピーダンスを有するものを使用する。   The metal storage box 10 is a conductive electromagnetic shielding means, and is electrically and mechanically connected to the external conductor 3 and the connection terminal 9 to store the voltage detection circuits 11a and 11b, the adder 13a, and the subtractor 13b. To do. Each voltage detection circuit 11a, 11b has a high input impedance.

接続端子9をアースに接続することにより、金属収納箱10と外部導体3とがアースと等電位になり、内部導体線2や金属収納箱10内の回路が静電シールドされ、周囲の影響による測定の誤差が低減される。   By connecting the connection terminal 9 to the ground, the metal storage box 10 and the external conductor 3 become equipotential with the ground, the internal conductor wire 2 and the circuit in the metal storage box 10 are electrostatically shielded, and are influenced by the influence of the surroundings. Measurement error is reduced.

内部導体線2の両端は、貫通孔14を通して金属収納箱10の中に引き込まれ、終端抵抗8は、金属収納箱10の中に配置されている。内部導体線2を金属収納箱10の中に引き込むことで、内部導体線2と周囲と高周波領域での結合による寄生キャパシタンスの影響を最低限にできる。また、内部導体線2を金属収納箱10の中に引き込むことで、引き込む部分の長さを最短にでき、高周波域での寄生インダクタンスの影響を最小限にできる。また、内部導体線2を金属収納箱10の中に引き込むことで、各電圧検出回路11a、11bと加算器13aと減算器13bの取り付けが容易になる。   Both ends of the inner conductor wire 2 are drawn into the metal storage box 10 through the through holes 14, and the termination resistor 8 is disposed in the metal storage box 10. By drawing the inner conductor wire 2 into the metal storage box 10, the influence of the parasitic capacitance due to the coupling between the inner conductor wire 2 and the periphery and the high frequency region can be minimized. In addition, by drawing the inner conductor wire 2 into the metal storage box 10, the length of the drawn portion can be minimized, and the influence of parasitic inductance in the high frequency region can be minimized. Further, by pulling the inner conductor wire 2 into the metal storage box 10, the voltage detection circuits 11a and 11b, the adder 13a, and the subtractor 13b can be easily attached.

各電圧検出回路11a、11bの出力は、加算器13aと減算器13bに入力に接続されている。加算器13aと減算器13bは、本発明の電圧電流算出手段に対応する。   The outputs of the voltage detection circuits 11a and 11b are connected to the inputs of an adder 13a and a subtractor 13b. The adder 13a and the subtractor 13b correspond to the voltage / current calculation means of the present invention.

加算器13aの出力は、金属収納箱10に電気的および機械的に接続された出力端子12aに接続されている。減算器13bの出力は、金属収納箱10に電気的および機械的に接続された出力端子12bに接続されている。   The output of the adder 13 a is connected to an output terminal 12 a that is electrically and mechanically connected to the metal storage box 10. The output of the subtractor 13 b is connected to an output terminal 12 b that is electrically and mechanically connected to the metal storage box 10.

各電圧検出回路11a、11bと加算器13aと減算器13bは、金属収納箱10に収納されたバッテリ25から電力供給を受けている。バッテリ25の充電には、例えばニッケル水素電池、リチウムイオン電池などを使用すればよい。なお、金属収納箱10に電源端子を設け、外部から電力供給してもよい。   The voltage detection circuits 11 a and 11 b, the adder 13 a and the subtractor 13 b are supplied with power from the battery 25 stored in the metal storage box 10. For charging the battery 25, for example, a nickel metal hydride battery or a lithium ion battery may be used. In addition, a power supply terminal may be provided in the metal storage box 10 to supply power from the outside.

図1に示す電圧Vと電流Iを考えると、このとき、ケーブル7の周囲には、アンペアの法則に基づく磁界Bが発生する。トロイダルコイル1Aを構成する内部導体線2には、電磁誘導により電流Iに比例する起電力が生じ、終端抵抗8に誘導起電力が印加される。   Considering the voltage V and current I shown in FIG. 1, a magnetic field B based on Ampere's law is generated around the cable 7 at this time. An electromotive force proportional to the current I is generated by electromagnetic induction in the internal conductor wire 2 constituting the toroidal coil 1 </ b> A, and the induced electromotive force is applied to the termination resistor 8.

電圧検出回路11aが終端抵抗8の一方端のアースに対する電位差を検出し、電圧検出回路11bが終端抵抗8の他方端のアースに対する電位差を検出し、減算器13bが、検出された前記電位差同士の差を測定すると、その差は、終端抵抗8の両端の電位差となる。この電位差は、電流Iによって誘起されたもので、電流Iに比例する。つまり、電流Iに比例した出力が得られる。   The voltage detection circuit 11a detects a potential difference with respect to the ground at one end of the termination resistor 8, the voltage detection circuit 11b detects a potential difference with respect to the ground at the other end of the termination resistor 8, and a subtractor 13b detects the potential difference between the detected potential differences. When the difference is measured, the difference becomes a potential difference between both ends of the termination resistor 8. This potential difference is induced by the current I and is proportional to the current I. That is, an output proportional to the current I is obtained.

一方、ケーブル7は、固定用電極5に対して静電誘導によって結合しており、固定用電極5は、内部導体線2に対して静電誘導によって結合しており、静電誘導電圧が生じる。また、内部導体線2は、外部導体3に対して静電誘導によって結合しており、内部導体線2と外部導体3の間に静電誘導電圧が生じる。外部導体3がアースに接続されていれば、ケーブル7〜固定用電極5〜内部導体線2〜外部導体3の間は、キャパシタンスで分圧されていることと等価である。したがって、内部導体線2と外部導体3の間の電位差を測定することにより、電圧Vを測定することができる。内部導体線2と外部導体3の間の電位差は、終端抵抗8の一方端とアースとの電位差と、終端抵抗8の他方端とアースとの電位差V2の平均(和の1/2)を測定することによって得ることができる。ケーブル7と固定用電極5の静電結合が大きい場合、ケーブル7〜固定用電極5〜内部導体線2の静電結合の大きさは、一定の範囲では、固定用電極5〜内部導体線2間の静電結合に等しくなる。   On the other hand, the cable 7 is coupled to the fixing electrode 5 by electrostatic induction, and the fixing electrode 5 is coupled to the internal conductor wire 2 by electrostatic induction, and an electrostatic induction voltage is generated. . Further, the inner conductor line 2 is coupled to the outer conductor 3 by electrostatic induction, and an electrostatic induction voltage is generated between the inner conductor line 2 and the outer conductor 3. If the outer conductor 3 is connected to the ground, it is equivalent to the voltage between the cable 7, the fixing electrode 5, the inner conductor line 2, and the outer conductor 3 being divided by capacitance. Therefore, the voltage V can be measured by measuring the potential difference between the inner conductor wire 2 and the outer conductor 3. The potential difference between the inner conductor wire 2 and the outer conductor 3 is the average (1/2 of the sum) of the potential difference between one end of the terminating resistor 8 and the ground and the potential difference V2 between the other end of the terminating resistor 8 and the ground. Can be obtained. When the electrostatic coupling between the cable 7 and the fixing electrode 5 is large, the size of the electrostatic coupling between the cable 7 to the fixing electrode 5 to the inner conductor line 2 is within a certain range. It becomes equal to the electrostatic coupling between.

図2は、第1の実施の形態に係る非接触型電圧電流プローブ装置の等価回路を示す図である。   FIG. 2 is a diagram showing an equivalent circuit of the non-contact voltage / current probe apparatus according to the first embodiment.

ケーブル7とプローブの検出部分は、ケーブル7のインダクタンスL1、内部コア1と内部導体線2で構成されるトロイダルコイル1AのインダクタンスL2、及びその間の相互インダクタンスM、内部導体線2とケーブル7との結合キャパシタンスC、C、内部導体線2と外部導体3との結合キャパシタンスCs、Cs、終端抵抗8のインピーダンスZで表される。   The detection portion of the cable 7 and the probe includes the inductance L1 of the cable 7, the inductance L2 of the toroidal coil 1A composed of the inner core 1 and the inner conductor wire 2, and the mutual inductance M between them, the inner conductor wire 2 and the cable 7. The coupling capacitances C and C, the coupling capacitances Cs and Cs between the inner conductor line 2 and the outer conductor 3, and the impedance Z of the termination resistor 8 are represented.

インピーダンスZの一方端に接続された電圧検出回路11aは、高抵抗RpとコンデンサCpの並列回路20aで与えられる。インピーダンスZの他方端に接続された電圧検出回路11bは、高抵抗RpとコンデンサCpの並列回路20bで与えられる。   The voltage detection circuit 11a connected to one end of the impedance Z is given by a parallel circuit 20a of a high resistance Rp and a capacitor Cp. The voltage detection circuit 11b connected to the other end of the impedance Z is given by a parallel circuit 20b of a high resistance Rp and a capacitor Cp.

高抵抗Rpは通常100kΩ〜数10MΩの範囲であり、コンデンサCpは、通常数pF〜50pF程度で与えられる。   The high resistance Rp is usually in the range of 100 kΩ to several tens of MΩ, and the capacitor Cp is usually given in the order of several pF to 50 pF.

図2の等価回路において、結合キャパシタンスCfixとCの関係を考えると、Cfix≫Cの範囲では、その合成キャパシタンスはCに等しくなる。 In the equivalent circuit of FIG. 2, considering the relationship between the coupling capacitances C fix and C, in the range of C fix >> C, the combined capacitance is equal to C.

図2において、電流I、電圧Vがもつ周波数の帯域におけるインダクタンスL1によるインピーダンスjωL1が十分に小さく、かつ結合キャパシタンスC、Cによるインピーダンス1/jωCが十分に大きい場合、電流Iによってトロイダルコイルに発生する電磁誘導電圧は、結合キャパシタンスC、Cによらず、かつインダクタンスL1の電位降下が十分小さければ内部導体線2に生じる静電誘導電圧は、コモンモード電圧のみに比例する。したがって、インピーダンスZの両端の電位をV1,V2とすると、その電位差Vdは、
Vd=V1−V2 (1)
である。これは、インダクタンスL1及びインダクタンスL2、相互インダクタンスMによって生じる電位であり、ケーブルを流れる電流Iに比例する。
In FIG. 2, when the impedance jωL1 due to the inductance L1 in the frequency band of the current I and the voltage V is sufficiently small and the impedance 1 / jωC due to the coupling capacitances C and C is sufficiently large, the current I generates in the toroidal coil. The electromagnetic induction voltage does not depend on the coupling capacitances C and C, and if the potential drop of the inductance L1 is sufficiently small, the electrostatic induction voltage generated in the internal conductor line 2 is proportional only to the common mode voltage. Therefore, if the potentials at both ends of the impedance Z are V1 and V2, the potential difference Vd is
Vd = V1-V2 (1)
It is. This is a potential generated by the inductance L1, the inductance L2, and the mutual inductance M, and is proportional to the current I flowing through the cable.

一方、静電誘導によって内部導体線2に電位が生じるが、これは、jωL1での電位降下が十分に小さいと仮定できる場合には、インピーダンスZの一方端とアースとの電位差V1と、インピーダンスZの他方端とアースとの電位差V2の平均で与えられる。すなわち、平均電圧Vcは、
Vc=(V1+V2)/2 (2)
として与えられる。このVcは、ケーブル7と内部導体線2との結合キャパシタンスC、Cと、内部導体線2と外部導体3の結合キャパシタンスCs、Cs及び電圧検出回路11a,11bのインピーダンス20a,20bで定まる電圧であり、ケーブルに発生した電圧Vに比例する。
On the other hand, a potential is generated in the internal conductor line 2 by electrostatic induction. This can be assumed when the potential drop at jωL1 is sufficiently small, and the potential difference V1 between one end of the impedance Z and the ground and the impedance Z Is given by the average of the potential difference V2 between the other end of each and the ground. That is, the average voltage Vc is
Vc = (V1 + V2) / 2 (2)
As given. This Vc is a voltage determined by the coupling capacitances C and C between the cable 7 and the inner conductor line 2, the coupling capacitances Cs and Cs between the inner conductor line 2 and the outer conductor 3, and the impedances 20a and 20b of the voltage detection circuits 11a and 11b. Yes, proportional to the voltage V generated in the cable.

図2の等価回路より、以下の条件(A)
(A)ケーブルのインダクタンスL1のインピーダンスjωL1が結合キャパシタンスC、Cのインピーダンス1/jωCに比べ十分に小さい。
From the equivalent circuit of FIG.
(A) The impedance jωL1 of the cable inductance L1 is sufficiently smaller than the impedance 1 / jωC of the coupling capacitances C and C.

が成立する範囲では、電流Iはケーブルのみに流れるため、トロイダルコイルのインダクタンスL2の両端の電圧V1,V2の差は、電磁誘導によって発生する電圧Vmになる。また、結合キャパシタンスC、Cとケーブルの接点の電位Va,VbはインダクタンスL1の電位降下が十分に小さければ等しいと考えられる。そのため、トロイダルコイルのインダクタンスL2の両端の電圧V1,V2は、結合キャパシタンスC、Cと並列回路20a,20b、内部導体線2と外部導体3の結合キャパシタンスCs、Csの分圧によって生じる電位Vc分だけ底上げされることになる。したがって、トロイダルコイルのインダクタンスL2の両端の電位V1,V2は
V1=Vm/2+Vc (3)
V2=−Vm/2+Vc (4)
で与えられ、電圧検出回路11a、11bによって、トロイダルコイルの両端とアースの間の電圧を測定することにより、その差分(V1−V2)をとると、電流に比例した値、その和の平均(V1+V2)/2をとると、電圧に比例した値となる。すなわち、条件(A)が成立する範囲では、電圧V、電流Iに比例した出力を得ることができる。
Since the current I flows only in the cable in the range where is established, the difference between the voltages V1 and V2 across the inductance L2 of the toroidal coil is the voltage Vm generated by electromagnetic induction. Further, the potentials Va and Vb of the coupling capacitances C and C and the contact point of the cable are considered to be equal if the potential drop of the inductance L1 is sufficiently small. Therefore, the voltages V1 and V2 across the toroidal coil inductance L2 are divided by the potential Vc generated by the divided capacitance of the coupling capacitances C and C and the parallel circuits 20a and 20b, and the coupling capacitances Cs and Cs of the inner conductor 2 and the outer conductor 3, respectively. Will only be raised. Accordingly, the potentials V1 and V2 at both ends of the inductance L2 of the toroidal coil are V1 = Vm / 2 + Vc (3)
V2 = −Vm / 2 + Vc (4)
By measuring the voltage between both ends of the toroidal coil and the ground by the voltage detection circuits 11a and 11b, and taking the difference (V1-V2), the value proportional to the current, the average of the sum ( When V1 + V2) / 2 is taken, the value is proportional to the voltage. That is, an output proportional to the voltage V and the current I can be obtained within a range where the condition (A) is satisfied.

また、第1の実施の形態にあっては、トロイダルコイル1Aを構成する内部コア1の内側に第1スペーサ4を設け、第1スペーサ4の内側に、ケーブル7を固定し且つ導電性を有する固定用電極5を設けることで、ケーブル7とトロイダルコイル1Aの距離の変化を少なくでき、両者間の静電結合や磁気結合の変化を少なくでき、よって、ケーブル7における電圧とケーブル7に流れる電流を高精度で測定することができる。   Further, in the first embodiment, the first spacer 4 is provided inside the inner core 1 constituting the toroidal coil 1A, and the cable 7 is fixed inside the first spacer 4 and has conductivity. By providing the fixing electrode 5, the change in the distance between the cable 7 and the toroidal coil 1 </ b> A can be reduced, and the change in electrostatic coupling and magnetic coupling between the two can be reduced, so that the voltage in the cable 7 and the current flowing in the cable 7 can be reduced. Can be measured with high accuracy.

また、第1の実施の形態にあっては、内部コア1は、電流の周波数に応じて選択された磁性体材料により形成されているので、電流をより高精度で測定することができる。   In the first embodiment, since the inner core 1 is formed of a magnetic material selected according to the frequency of the current, the current can be measured with higher accuracy.

[第2の実施の形態]
図3は、第2の実施の形態に係る非接触型電圧電流プローブ装置の構成図である。
[Second Embodiment]
FIG. 3 is a configuration diagram of the non-contact type voltage / current probe apparatus according to the second embodiment.

第2の実施の形態では、図1に示した第1の実施の形態とは異なり、金属収納箱10の内部に加算器13a及び減算器13bを収納していない場合のものである。第1の実施の形態の場合、加算器13aと減算器13bを収納することにより、回路構成が複雑となることが考えられる。そのため、加算器13a、減算器13bを無くし、終端抵抗8の両端で検出された電圧を個々に出力端子12a,12bに出力することによって、金属収納箱10の内部構成を簡単なものとすることができる。さらに接続端子に繋がる測定機器にデジタルオシロスコープ等のデジタルデータを蓄積でき、かつ内部演算処理が可能なものを用いることによって、測定データの出力を任意に加工できる利点が得られる。   In the second embodiment, unlike the first embodiment shown in FIG. 1, the adder 13 a and the subtracter 13 b are not housed in the metal storage box 10. In the case of the first embodiment, it is conceivable that the circuit configuration becomes complicated by housing the adder 13a and the subtractor 13b. Therefore, the internal configuration of the metal storage box 10 is simplified by eliminating the adder 13a and the subtractor 13b and individually outputting the voltages detected at both ends of the termination resistor 8 to the output terminals 12a and 12b. Can do. Furthermore, by using a digital oscilloscope or the like that can store digital data in a measuring device connected to the connection terminal and can perform internal arithmetic processing, an advantage that the output of measurement data can be arbitrarily processed can be obtained.

[第3の実施の形態]
図4は、第3の実施の形態に係る非接触型電圧電流プローブ装置の構成図である。
[Third Embodiment]
FIG. 4 is a configuration diagram of the non-contact voltage / current probe apparatus according to the third embodiment.

第3の実施の形態では、図1に示した非接触型電圧電流プローブ装置の周囲に存在する外乱からのシールド性能を高めるべく、さらに円板状の導電板24を設けたものである。導電板24は、内部コア1の端面に対向させて外部導体3の端面に接続される。導電板24には、ケーブル7が貫通する開口が内側に形成される。   In the third embodiment, a disc-shaped conductive plate 24 is further provided in order to improve the shielding performance from the disturbance existing around the non-contact type voltage / current probe apparatus shown in FIG. The conductive plate 24 is connected to the end face of the outer conductor 3 so as to face the end face of the inner core 1. In the conductive plate 24, an opening through which the cable 7 passes is formed inside.

図1の非接触型電圧電流プローブ装置では、内部導体線2がその周囲にある外乱要因(金属体、他のケーブル等)と結合する可能性が考えられる。そこで、第3の実施の形態の導電板24を設けることによって、外部導体3により得られたシールド効果を高めることができる。   In the non-contact type voltage / current probe device of FIG. 1, there is a possibility that the inner conductor wire 2 is coupled with a disturbance factor (metal body, other cable, etc.) around the inner conductor wire 2. Therefore, by providing the conductive plate 24 of the third embodiment, the shielding effect obtained by the external conductor 3 can be enhanced.

図5は、その概要を示す図である。
図5(a)に示すように、外乱要因は内部導体線2に直接結合し、測定結果に影響を与える。しかし、図5(b)に示すように、導電板24を設けることにより、内部導体線2と外乱要因との静電結合を減らし、測定の精度を向上させることが可能となる。第3の実施の形態では、外部導体3の形状に合わせて導電板24を円板状としたが、ケーブル7が貫通する開口を備えれていればよく、例えば、四角形状としてもよい。
FIG. 5 is a diagram showing an outline thereof.
As shown in FIG. 5A, the disturbance factor is directly coupled to the inner conductor line 2 and affects the measurement result. However, as shown in FIG. 5B, by providing the conductive plate 24, it is possible to reduce the electrostatic coupling between the internal conductor wire 2 and the disturbance factor and improve the measurement accuracy. In the third embodiment, the conductive plate 24 is formed in a disc shape in accordance with the shape of the outer conductor 3. However, the conductive plate 24 may be provided with an opening through which the cable 7 passes, and may have a rectangular shape, for example.

[第4の実施の形態]
図6は、第4の実施の形態に係る非接触型電圧電流プローブ装置の構成図である。
[Fourth Embodiment]
FIG. 6 is a configuration diagram of a non-contact type voltage / current probe apparatus according to the fourth embodiment.

第4の実施の形態では、図1に示した非接触型電圧電流プローブ装置に対して、内部コア1、外部導体3、第1スペーサ4、固定用電極5が分割されている。内部導体線2の一部は、分割で生じた内部コア1の一方の部分に巻回され、内部導体線2の他の一部は、分割で生じた内部コア1の他方の部分に巻回されている。これにより、ケーブルを容易に挟みこむことが可能となっている。また、第4の実施の形態では、導電板24を設けて、これを分割しているが、導電板24はなくてもよい。   In the fourth embodiment, the inner core 1, the outer conductor 3, the first spacer 4, and the fixing electrode 5 are divided with respect to the non-contact type voltage / current probe apparatus shown in FIG. A part of the inner conductor wire 2 is wound around one part of the inner core 1 generated by the division, and the other part of the inner conductor wire 2 is wound around the other part of the inner core 1 generated by the division. Has been. As a result, the cable can be easily sandwiched. In the fourth embodiment, the conductive plate 24 is provided and divided, but the conductive plate 24 may not be provided.

外部導体3および導電板24を電気的、機械的に確実に接続させかつ可動性をよくするため、分割された外部導体3の片側には電極固定用の止め金具26が取り付けられており、その反対側は蝶番27が取り付けられている。これにより、可動性の確保と、ケーブルを挟んだ後の電気的、機械的接続を確実にしている。本実施の形態では、止め金具26は、外部導体3のみに取り付けられているが、より確実に接続するため、導電板24に追加してもよい。このような構造にすることによって、ケーブルに対し非接触型電圧電流プローブ装置を容易に取り付けることができ、作業性の向上が図れる。   In order to ensure electrical and mechanical connection between the outer conductor 3 and the conductive plate 24 and to improve the mobility, an electrode fixing stopper 26 is attached to one side of the divided outer conductor 3. A hinge 27 is attached to the opposite side. This ensures the mobility and secures the electrical and mechanical connection after the cable is sandwiched. In the present embodiment, the fastener 26 is attached only to the outer conductor 3, but may be added to the conductive plate 24 in order to connect more reliably. With this structure, the non-contact type voltage / current probe device can be easily attached to the cable, and workability can be improved.

[第5の実施の形態]
図7は、第5の実施の形態に係る非接触型電圧電流プローブ装置の構成図である。
[Fifth Embodiment]
FIG. 7 is a configuration diagram of a non-contact type voltage / current probe apparatus according to the fifth embodiment.

第5の実施の形態では、固定用電極5は、金属の非磁性体の円筒を螺旋状に切断したバネで構成されている。これにより、固定用電極5の内径よりも大きなケーブルを密着して取り囲むことができる。また、固定用電極5の長さを長くすることで、ケーブルとの接触面積を広くできる。これにより、ケーブルとの結合キャパシタンスの値を安定させることができ、かつプローブ内部でのケーブルの位置を固定することができる。   In the fifth embodiment, the fixing electrode 5 is constituted by a spring obtained by cutting a metal non-magnetic cylinder into a spiral shape. Thereby, a cable larger than the inner diameter of the fixing electrode 5 can be tightly surrounded. Further, by increasing the length of the fixing electrode 5, the contact area with the cable can be increased. Thereby, the value of the coupling capacitance with the cable can be stabilized, and the position of the cable inside the probe can be fixed.

なお、第1スペーサは、前述のように、低誘電率の誘電体でかつ低透磁率の磁性体または非磁性体でかつ可塑性を有するもので形成されたものなので、ケーブルの径により固定用電極5の外径が変化しても、固定用電極5を把持することができる。よって、ケーブルの電圧、電流を高精度で測定でき、特に、高周波領域における測定誤差を低減できる。   As described above, the first spacer is made of a dielectric material having a low dielectric constant and a magnetic material or non-magnetic material having a low magnetic permeability and having plasticity. Even if the outer diameter of 5 changes, the fixing electrode 5 can be gripped. Therefore, the voltage and current of the cable can be measured with high accuracy, and in particular, measurement errors in the high frequency region can be reduced.

[第6の実施の形態]
これまで説明した実施の形態では、固定用電極5は、例えば、金属の非磁性体で形成したが、第6の実施の形態では、固定用電極5については、非磁性体あるいは低透磁率の導電性のある材質に、発泡等により可塑性を持たせた材料を使用する。材質は、導電性があればよく、プラスチックでも金属でもかまわない。可塑性の材質を使用することにより、第5の実施の形態のバネと同様に、固定用電極5の内径よりも大きなケーブルを密着して取り囲むことができる。また、かかる材質は、加工が容易であり、これにより効果が得られる場合がある。
[Sixth Embodiment]
In the embodiment described so far, the fixing electrode 5 is formed of, for example, a metal non-magnetic material. In the sixth embodiment, the fixing electrode 5 is a non-magnetic material or a low magnetic permeability. A conductive material that is plasticized by foaming or the like is used. The material only needs to be conductive, and may be plastic or metal. By using a plastic material, a cable larger than the inner diameter of the fixing electrode 5 can be tightly surrounded as in the case of the spring of the fifth embodiment. In addition, such a material is easy to process, and thereby an effect may be obtained.

図8は、2つの部分電極5aで構成した固定用電極5を示す斜視図である。
この固定用電極5は、第4の実施の形態に対応すべく、2つの部分電極5aで構成されている。これにより、これにより、ケーブルを容易に挟みこむことが可能となっている。また、加工が容易なので、内部コア1と同軸上に各溝5bを容易に設けることができ、これにより、溝5b同士で挟み込まれるケーブルを内部コア1と同軸上に位置させることが容易に行える。
FIG. 8 is a perspective view showing the fixing electrode 5 constituted by two partial electrodes 5a.
The fixing electrode 5 includes two partial electrodes 5a so as to correspond to the fourth embodiment. Thereby, it is possible to easily pinch the cable. Further, since the processing is easy, each groove 5b can be easily provided on the same axis as the inner core 1, so that the cable sandwiched between the grooves 5b can be easily positioned on the same axis as the inner core 1. .

なお、図では、溝5bの断面を三角形としたが、断面が半円形、U字形の溝でケーブルを挟むようにしてもよい。   In the figure, the groove 5b has a triangular cross section, but the cable may be sandwiched by a semicircular and U-shaped groove.

第1の実施の形態に係る非接触型電圧電流プローブ装置の構成図である。It is a block diagram of the non-contact type voltage current probe apparatus which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る非接触型電圧電流プローブ装置の等価回路を示す図である。It is a figure which shows the equivalent circuit of the non-contact-type voltage current probe apparatus which concerns on 1st Embodiment. 第2の実施の形態に係る第1の実施の形態に係る非接触型電圧電流プローブ装置の構成図である。It is a block diagram of the non-contact type voltage current probe apparatus which concerns on 1st Embodiment which concerns on 2nd Embodiment. 第3の実施の形態に係る非接触型電圧電流プローブ装置の構成図である。It is a block diagram of the non-contact-type voltage current probe apparatus which concerns on 3rd Embodiment. 外部導体により得られたシールド効果を導電板により高めることの概要を示す図である。It is a figure which shows the outline | summary of heightening the shielding effect obtained by the external conductor with a conductive plate. 第4の実施の形態に係る非接触型電圧電流プローブ装置の構成図である。It is a block diagram of the non-contact-type voltage current probe apparatus which concerns on 4th Embodiment. 第5の実施の形態に係る非接触型電圧電流プローブ装置の構成図である。It is a block diagram of the non-contact-type voltage current probe apparatus which concerns on 5th Embodiment. 第6の実施の形態に係る非接触型電圧電流プローブ装置の固定用電極5を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the electrode 5 for fixing of the non-contact-type voltage current probe apparatus which concerns on 6th Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1…内部コア
1A…トロイダルコイル
2…内部導体線
3…外部導体
4…第1スペーサ
5…固定用電極
6…第2スペーサ
7…ケーブル
8…終端抵抗
9…接続端子
10…金属収納箱
11a,11b…電圧検出回路
13a…加算器
13b…減算器
24…導電板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Internal core 1A ... Toroidal coil 2 ... Internal conductor wire 3 ... External conductor 4 ... 1st spacer 5 ... Fixing electrode 6 ... 2nd spacer 7 ... Cable 8 ... Termination resistor 9 ... Connection terminal 10 ... Metal storage box 11a, 11b ... Voltage detection circuit 13a ... Adder 13b ... Subtractor 24 ... Conductive plate

Claims (9)

ケーブルにおけるアースに対する電圧と前記ケーブルに流れる電流を測定するための非接触型電圧電流プローブ装置であって、
前記ケーブルが貫通する空間が内側に形成される筒形の内部コア、前記内部コアに巻回された内部導体線を有するトロイダルコイルと、
前記ケーブルが貫通し且つ前記トロイダルコイルが配置される空間が内側に形成される筒形の外部導体と、
前記内部コアの内側に設けられた筒形の第1スペーサと、
前記第1スペーサの内側に設けられ、前記ケーブルを固定し且つ導電性を有する固定用電極と、
前記内部コアと前記外部導体との間に設けられ、前記内部コアと前記外部導体との間の距離を一定にする第2スペーサと、
前記内部導体線の一方端と他方端との間に挿入された終端抵抗と、
前記終端抵抗の一方端のアースに対する電位差を検出する電圧検出回路と、
前記終端抵抗の他方端のアースに対する電位差を検出する電圧検出回路と、
アースに接続され、前記各電圧検出回路と前記終端抵抗とを収納する電磁シールド手段と
を備えることを特徴とする非接触型電圧電流プローブ装置。
A non-contact voltage-current probe device for measuring a voltage to ground in a cable and a current flowing in the cable,
A cylindrical inner core in which a space through which the cable penetrates is formed, a toroidal coil having an inner conductor wire wound around the inner core;
A cylindrical outer conductor in which a space through which the cable passes and the toroidal coil is disposed is formed;
A cylindrical first spacer provided inside the inner core;
A fixing electrode provided inside the first spacer, for fixing the cable and having conductivity;
A second spacer which is provided between the inner core and the outer conductor and makes a distance between the inner core and the outer conductor constant;
A terminating resistor inserted between one end and the other end of the inner conductor wire;
A voltage detection circuit for detecting a potential difference with respect to ground at one end of the termination resistor;
A voltage detection circuit for detecting a potential difference with respect to ground at the other end of the termination resistor;
A non-contact type voltage / current probe apparatus comprising: an electromagnetic shield means connected to ground and storing each of the voltage detection circuits and the termination resistor.
前記電磁シールド手段に収納され、検出された前記電位差同士の和と検出された前記電位差同士の差を測定する電圧電流算出手段
を備えることを特徴とする請求項1記載の非接触型電圧電流プローブ装置。
The non-contact type voltage / current probe according to claim 1, further comprising: a voltage / current calculating unit that is housed in the electromagnetic shielding unit and measures a sum of the detected potential differences and a difference between the detected potential differences. apparatus.
前記電圧電流算出手段は、
検出された前記電位差同士の和を測定する加算器と、
検出された前記電位差同士の差を測定する減算器と
を備えることを特徴とする請求項2記載の非接触型電圧電流プローブ装置。
The voltage / current calculation means includes:
An adder that measures the sum of the detected potential differences;
The non-contact type voltage / current probe apparatus according to claim 2, further comprising: a subtractor that measures a difference between the detected potential differences.
前記固定用電極は、金属の非磁性体で形成されたことを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の非接触型電圧電流プローブ装置。   4. The non-contact type voltage / current probe apparatus according to claim 1, wherein the fixing electrode is made of a metal non-magnetic material. 前記内部コアは、前記電流の周波数に応じて選択された磁性体材料により形成されたことを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の非接触型電圧電流プローブ装置。   5. The non-contact type voltage / current probe apparatus according to claim 1, wherein the inner core is made of a magnetic material selected according to the frequency of the current. 前記固定用電極は、金属の円筒を螺旋状に切断したバネで構成されていることを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載の非接触型電圧電流プローブ装置。   6. The non-contact type voltage / current probe apparatus according to claim 1, wherein the fixing electrode includes a spring obtained by cutting a metal cylinder into a spiral shape. 前記第1スペーサは、低誘電率の誘電体でかつ低透磁率の磁性体または非磁性体でかつ可塑性を有するもので形成されたことを特徴とする請求項6記載の非接触型電圧電流プローブ装置。   7. The non-contact type voltage / current probe according to claim 6, wherein the first spacer is made of a dielectric material having a low dielectric constant, a magnetic material having a low magnetic permeability, or a non-magnetic material and having plasticity. apparatus. 前記内部コアの端面に対向させて前記外部導体の端面に接続され、前記ケーブルが貫通する開口が内側に形成される導電板を備えることを特徴とする請求項1ないし7のいずれかに記載の非接触型電圧電流プローブ装置。   8. The conductive plate according to claim 1, further comprising a conductive plate that is connected to an end surface of the outer conductor so as to face an end surface of the inner core and that has an opening formed on an inner side thereof. Non-contact voltage / current probe device. ケーブルにおけるアースに対する電圧と前記ケーブルに流れる電流を測定するための非接触型電圧電流プローブ装置を用いた電圧電流測定方法であって、
前記非接触型電圧電流プローブ装置は、
前記ケーブルが貫通する空間が内側に形成される筒形の内部コア、前記内部コアに巻回された内部導体線を有するトロイダルコイルと、
前記ケーブルが貫通し且つ前記トロイダルコイルが配置される空間が内側に形成される筒形の外部導体と、
前記内部コアの内側に設けられた筒形の第1スペーサと、
前記第1スペーサの内側に設けられ、前記ケーブルを固定し且つ導電性を有する固定用電極と、
前記内部コアと前記外部導体との間に設けられ、前記内部コアと前記外部導体との間の距離を一定にする第2スペーサと、
前記内部導体線の一方端と他方端との間に挿入された終端抵抗と、
前記終端抵抗の一方端のアースに対する電位差を検出する電圧検出回路と、
前記終端抵抗の他方端のアースに対する電位差を検出する電圧検出回路と、
アースに接続され、前記各電圧検出回路と前記終端抵抗とを収納する電磁シールド手段と
を備え、
前記電圧電流測定方法は、
前記終端抵抗の一方端のアースに対する電位差を検出する前記電圧検出回路が当該電位差を検出する段階と、
前記終端抵抗の他方端のアースに対する電位差を検出する前記電圧検出回路が当該電位差を検出する段階と
を含むことを特徴とする非接触型電圧電流プローブ装置を用いた電圧電流測定方法。
A voltage / current measurement method using a non-contact type voltage / current probe device for measuring a voltage with respect to ground in a cable and a current flowing in the cable,
The non-contact type voltage / current probe device includes:
A cylindrical inner core in which a space through which the cable penetrates is formed, a toroidal coil having an inner conductor wire wound around the inner core;
A cylindrical outer conductor in which a space through which the cable passes and the toroidal coil is disposed is formed;
A cylindrical first spacer provided inside the inner core;
A fixing electrode provided inside the first spacer, for fixing the cable and having conductivity;
A second spacer which is provided between the inner core and the outer conductor and makes a distance between the inner core and the outer conductor constant;
A terminating resistor inserted between one end and the other end of the inner conductor wire;
A voltage detection circuit for detecting a potential difference with respect to ground at one end of the termination resistor;
A voltage detection circuit for detecting a potential difference with respect to ground at the other end of the termination resistor;
An electromagnetic shield means connected to the ground and storing each of the voltage detection circuits and the termination resistor;
The voltage / current measurement method includes:
The voltage detection circuit for detecting a potential difference with respect to ground at one end of the termination resistor detects the potential difference;
A voltage-current measuring method using a non-contact type voltage-current probe device, wherein the voltage detection circuit that detects a potential difference with respect to ground at the other end of the termination resistor detects the potential difference.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106062569A (en) * 2014-03-13 2016-10-26 欧姆龙株式会社 Non-contact voltage measurement device
CN112067895A (en) * 2020-08-25 2020-12-11 中国电力科学研究院有限公司 Cable conductor direct current resistance testing device
CN114200199A (en) * 2021-11-26 2022-03-18 电子科技大学 Non-contact voltage measuring device based on multi-stage plate differential probe

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62140461A (en) * 1985-12-13 1987-06-24 Mitsubishi Electric Corp Image sensor
JP2002257865A (en) * 2001-02-28 2002-09-11 Akita Kaihatsu Center Ard:Kk Current sensor
JP2002365315A (en) * 2001-04-04 2002-12-18 Hokuto Denshi Kogyo Kk Non-contact voltage measurement method and device and detecting probe
JP2003098194A (en) * 1995-04-05 2003-04-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Noncontact type voltage probe device
JP2009103608A (en) * 2007-10-24 2009-05-14 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Noncontact-type voltage and current probe device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62140461A (en) * 1985-12-13 1987-06-24 Mitsubishi Electric Corp Image sensor
JP2003098194A (en) * 1995-04-05 2003-04-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Noncontact type voltage probe device
JP2002257865A (en) * 2001-02-28 2002-09-11 Akita Kaihatsu Center Ard:Kk Current sensor
JP2002365315A (en) * 2001-04-04 2002-12-18 Hokuto Denshi Kogyo Kk Non-contact voltage measurement method and device and detecting probe
JP2009103608A (en) * 2007-10-24 2009-05-14 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Noncontact-type voltage and current probe device

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106062569A (en) * 2014-03-13 2016-10-26 欧姆龙株式会社 Non-contact voltage measurement device
US10145865B2 (en) 2014-03-13 2018-12-04 Omron Corporation Non-contact voltage measurement device
CN112067895A (en) * 2020-08-25 2020-12-11 中国电力科学研究院有限公司 Cable conductor direct current resistance testing device
CN114200199A (en) * 2021-11-26 2022-03-18 电子科技大学 Non-contact voltage measuring device based on multi-stage plate differential probe
CN114200199B (en) * 2021-11-26 2022-09-06 电子科技大学 Non-contact voltage measuring device based on multi-stage plate differential probe

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