JP2009535761A - Mass spectrometer - Google Patents

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マイクロマス ユーケー リミテッド
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    • H01J49/06Electron- or ion-optical arrangements
    • H01J49/062Ion guides
    • H01J49/065Ion guides having stacked electrodes, e.g. ring stack, plate stack

Abstract

イオンが使用時に移送される開口を有する複数の電極(2a)を含むイオンガイドまたは質量分析器(2)が開示される。擬ポテンシャル障壁がイオンガイドまたは質量分析器(2)の出口に作成される。擬ポテンシャル障壁の振幅または深さは、イオンの質量電荷比に反比例する。イオンをイオンガイドまたは質量分析器(2)の長さに沿って推進させるために、1つ以上の過渡DC電圧(4)がイオンガイドまたは質量分析器(2)の電極(2a)に印加される。電極(2a)に印加される過渡DC電圧(4)の振幅は、イオンがそれらの質量電荷比の逆順でイオンガイドまたは質量分析器(2)から出射されるように、時間と共に増加される。
【選択図】 図1
Disclosed is an ion guide or mass analyzer (2) comprising a plurality of electrodes (2a) having openings through which ions are transferred in use. A pseudopotential barrier is created at the exit of the ion guide or mass analyzer (2). The amplitude or depth of the pseudopotential barrier is inversely proportional to the mass-to-charge ratio of the ions. In order to drive ions along the length of the ion guide or mass analyzer (2), one or more transient DC voltages (4) are applied to the electrode (2a) of the ion guide or mass analyzer (2). The The amplitude of the transient DC voltage (4) applied to the electrode (2a) is increased over time so that ions are ejected from the ion guide or mass analyzer (2) in the reverse order of their mass-to-charge ratio.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、質量分析計および質量分析の方法に関する。   The present invention relates to a mass spectrometer and a method of mass spectrometry.

質量分析計に共通する要件は、イオンが中間圧力、すなわち、イオンがイオンガイドを通過する際にイオンおよびガス分子間の衝突が生じやすい圧力に維持された領域を通って転送されることである。イオンは、例えば、比較的高い圧力に維持されたイオン化領域から比較的低い圧力に維持された質量分析器に輸送される必要があり得る。約10-3〜101mbarの中間圧力で動作する無線周波数(radio frequency)(RF)輸送イオンガイドを使用して、イオンを中間圧力に維持された領域を通って輸送することが知られている。また、AC不均一電界(AC inhomogeneous electric field)による荷電粒子またはイオンに対する時間平均力を、荷電粒子またはイオンを電界のより弱い領域へ加速するようなものにすることが周知である。電界の極小値は、一般に擬ポテンシャル井戸(pseudo−potential well)または谷と呼ばれる。RFイオンガイドは、擬ポテンシャル井戸をイオンガイドの中心軸に沿って形成させて、イオンがイオンガイド内に半径方向に閉じ込められるようにすることによって、この現象を利用するように設計される。 A common requirement for mass spectrometers is that ions are transferred through a region maintained at an intermediate pressure, i.e., a pressure at which collisions between ions and gas molecules are likely to occur as the ions pass through the ion guide. . The ions may need to be transported, for example, from an ionization region maintained at a relatively high pressure to a mass analyzer maintained at a relatively low pressure. It is known to transport ions through a region maintained at intermediate pressure using a radio frequency (RF) transport ion guide that operates at an intermediate pressure of about 10 −3 to 10 1 mbar. Yes. It is also well known that the time average force on charged particles or ions due to an AC inhomogeneous electric field is such that the charged particles or ions are accelerated to a region where the electric field is weaker. The minimum value of the electric field is generally called a pseudo-potential well or valley. RF ion guides are designed to take advantage of this phenomenon by forming pseudopotential wells along the central axis of the ion guide so that ions are confined radially within the ion guide.

RFイオンガイドを使用して、イオンを半径方向に閉じ込め、およびイオンをイオンガイド内で衝突誘起解離またはフラグメンテーションさせることが知られている。イオンのフラグメンテーションは、通常、RFイオンガイドまたは専用のガス衝突セル内のいずれかにおいて10-3〜10-1mbarの範囲の圧力で実施される。 It is known to use an RF ion guide to confine ions radially and to cause collision induced dissociation or fragmentation within the ion guide. Ion fragmentation is typically performed at pressures ranging from 10 −3 to 10 −1 mbar, either in an RF ion guide or in a dedicated gas collision cell.

また、RFイオンガイドを使用して、イオンをイオン移動度セパレータ(ion mobility separator)またはスペクトロメータ(spectrometer)内に半径方向に閉じ込めることが知られている。イオン移動度分離は、大気圧または10-1〜101mbarの範囲の圧力で実施され得る。 It is also known to use an RF ion guide to confine ions radially within an ion mobility separator or spectrometer. Ion mobility separation may be performed at atmospheric pressure or pressures ranging from 10 −1 to 10 1 mbar.

異なる形態のRFイオンガイドが知られており、多極ロッドセットイオンガイドおよびリングスタック(ring stack)またはイオントンネル(ion tunnel)イオンガイドを含む。リングスタックまたはイオントンネルイオンガイドは、RF電圧の互いに反対の位相が隣り合う電極に印加される積層リング電極セット(stacked ring electrode set)を含む。擬ポテンシャル井戸は、イオンがイオンガイド内に半径方向に閉じ込められるようにイオンガイドの中心軸に沿って形成される。イオンガイドは、比較的高い移送効率を有する。   Different forms of RF ion guides are known, including multipole rod set ion guides and ring stack or ion tunnel ion guides. The ring stack or ion tunnel ion guide includes a stacked ring electrode set in which opposite phases of the RF voltage are applied to adjacent electrodes. The pseudopotential well is formed along the central axis of the ion guide so that ions are confined radially within the ion guide. The ion guide has a relatively high transfer efficiency.

イオンをイオンガイド内に半径方向に閉じ込めるために、RF電圧が細長いロッドセットに印加されるRFイオンガイドが米国特許公開公報2005/0253064に開示されている。静的な軸方向電界がイオンをイオンガイドの軸に沿って推進するように配置される。また、RF軸方向電界がイオンガイドの出口に配置される。RF軸方向電界は、イオンに対する障壁として作用する軸方向擬ポテンシャル障壁を生成する。擬ポテンシャル障壁の大きさは、イオンの質量電荷比の逆数に依存する。したがって、比較的低い質量電荷比を有するイオンは、比較的大きい振幅を有する擬ポテンシャル障壁を受けることになる。擬ポテンシャル障壁は、比較的低い質量電荷比を有するイオンに対しては静的な軸方向電界の影響を弱めるように作用するが、比較的高い質量電荷比を有するイオンに対しては静的な軸方向電界の影響を弱めるようには作用しない。したがって、比較的高い質量電荷比を有するイオンがイオンガイドから排出される。イオンは、イオンガイド内で操作され得るか、または静的または振動する電界の振幅を調節することによって質量選択的に排出され得る。   An RF ion guide in which an RF voltage is applied to an elongated rod set to radially confine ions within the ion guide is disclosed in US Patent Publication No. 2005/0253064. A static axial electric field is arranged to propel ions along the axis of the ion guide. In addition, an RF axial electric field is disposed at the outlet of the ion guide. The RF axial electric field creates an axial pseudopotential barrier that acts as a barrier to ions. The size of the pseudopotential barrier depends on the reciprocal of the mass-to-charge ratio of the ions. Thus, ions with a relatively low mass to charge ratio will experience a pseudopotential barrier with a relatively large amplitude. The pseudopotential barrier acts to weaken the effects of static axial electric fields for ions with a relatively low mass-to-charge ratio, but static for ions with a relatively high mass-to-charge ratio. It does not act to weaken the influence of the axial electric field. Accordingly, ions having a relatively high mass to charge ratio are ejected from the ion guide. Ions can be manipulated within the ion guide or can be ejected mass-selectively by adjusting the amplitude of a static or oscillating electric field.

上記公知のイオンガイドは、特定の質量電荷比を有するイオンに対して明確な半径方向安定性条件を有する。これは、維持される半径方向ポテンシャルがおよそ二次である性質(quadratic nature)によって決定される。したがって、イオンガイドの軸に沿った振動電界に何らかの変化があると、望ましくない半径方向の不安定性および/または共鳴効果が生じ、その結果、イオンがシステムから失われ得るという問題がある。   The known ion guide has a well defined radial stability condition for ions having a specific mass to charge ratio. This is determined by the quadratic nature of the maintained radial potential is approximately quadratic. Thus, any change in the oscillating electric field along the axis of the ion guide causes the problem of undesirable radial instability and / or resonance effects, so that ions can be lost from the system.

したがって、改善されたイオンガイドまたは質量分析器を提供することが所望される。   Accordingly, it is desirable to provide an improved ion guide or mass analyzer.

本発明の一態様によると、
複数の電極を含むイオンガイドと、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加して、使用時に、第1の振幅を有する複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁(pseudo−potential barriers)、波形形状(corrugations)もしくは井戸(wells)が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするための手段と、
イオンを前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って駆動または推進する手段とを含む質量分析器であって、
前記質量分析器は、
第2のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加して、使用時に、第2の振幅を有する1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにする手段であって、前記第2の振幅は、前記第1の振幅と異なる、手段をさらに含む、質量分析器が提供される。
According to one aspect of the invention,
An ion guide including a plurality of electrodes;
A first AC or RF voltage is applied to at least some of the plurality of electrodes and, in use, a plurality of first axial time averages or pseudo-potential barriers having a first amplitude. ), Means for causing corrugations or wells to be created along at least a portion of the axial length of the ion guide;
Means for driving or propelling ions along at least a portion of the axial length of the ion guide;
The mass spectrometer is
One or more second axial time average or pseudopotential barriers, waveform shapes having a second amplitude in use when a second AC or RF voltage is applied to one or more of the plurality of electrodes. Or means for allowing a well to be created along at least a portion of the axial length of the ion guide, wherein the second amplitude is different from the first amplitude, further comprising means An analyzer is provided.

一動作モードにおいて、質量電荷比≧M1を有するイオンが好ましくは前記イオンガイドを出て、他方質量電荷比<M2を有するイオンが好ましくは前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸によって前記イオンガイド内に軸方向にトラップまたは閉じ込められる。好ましくは、M1は、(i)<100、(ii)100〜200、(iii)200〜300、(iv)300〜400、(v)400〜500、(vi)500〜600、(vii)600〜700、(viii)700〜800、(ix)800〜900、(x)900〜1000、および(xi)>1000からなる群から選択される第1の範囲にある。好ましくは、M2は、(i)<100、(ii)100〜200、(iii)200〜300、(iv)300〜400、(v)400〜500、(vi)500〜600、(vii)600〜700、(viii)700〜800、(ix)800〜900、(x)900〜1000、および(xi)>1000からなる群から選択される第2の範囲にある。一実施形態によると、M1およびM2は同じ値を有し得る。   In one mode of operation, ions with a mass to charge ratio ≧ M1 preferably exit the ion guide, while ions with a mass to charge ratio <M2 preferably have the one or more second axial time averages or pseudopotentials. It is trapped or confined axially within the ion guide by a barrier, corrugation or well. Preferably, M1 is (i) <100, (ii) 100-200, (iii) 200-300, (iv) 300-400, (v) 400-500, (vi) 500-600, (vii) It is in a first range selected from the group consisting of 600-700, (viii) 700-800, (ix) 800-900, (x) 900-1000, and (xi)> 1000. Preferably, M2 is (i) <100, (ii) 100-200, (iii) 200-300, (iv) 300-400, (v) 400-500, (vi) 500-600, (vii) It is in a second range selected from the group consisting of 600-700, (viii) 700-800, (ix) 800-900, (x) 900-1000, and (xi)> 1000. According to one embodiment, M1 and M2 may have the same value.

一動作モードにおいて、イオンは、好ましくはそれらの質量電荷比の順またはそれらの質量電荷比の逆順で、前記質量分析器から逐次排出される。   In one mode of operation, ions are sequentially ejected from the mass analyzer, preferably in order of their mass to charge ratio or in reverse order of their mass to charge ratio.

上記好適な実施形態によると、前記イオンガイドは、n個の軸方向セグメントを含み、ここでnは、(i)1〜10、(ii)11〜20、(iii)21〜30、(iv)31〜40、(v)41〜50、(vi)51〜60、(vii)61〜70、(viii)71〜80、(ix)81〜90、(x)91〜100、および(xi)>100からなる群から選択される。各軸方向セグメントは、好ましくは1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20または>20個の電極を含む。前記軸方向セグメントのうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%の軸方向長さは、好ましくは(i)<1mm、(ii)1〜2mm、(iii)2〜3mm、(iv)3〜4mm、(v)4〜5mm、(vi)5〜6mm、(vii)6〜7mm、(viii)7〜8mm、(ix)8〜9mm、(x)9〜10mm、および(xi)>10mmからなる群から選択される。前記軸方向セグメントのうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%の間の間隔は、好ましくは(i)<1mm、(ii)1〜2mm、(iii)2〜3mm、(iv)3〜4mm、(v)4〜5mm、(vi)5〜6mm、(vii)6〜7mm、(viii)7〜8mm、(ix)8〜9mm、(x)9〜10mm、および(xi)>10mmからなる群から選択される。   According to the preferred embodiment, the ion guide comprises n axial segments, where n is (i) 1-10, (ii) 11-20, (iii) 21-30, (iv) ) 31-40, (v) 41-50, (vi) 51-60, (vii) 61-70, (viii) 71-80, (ix) 81-90, (x) 91-100, and (xi) )> 100. Each axial segment is preferably 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19, 20 or> 20 Including one electrode. Axial length of at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the axial segment Preferably, (i) <1 mm, (ii) 1-2 mm, (iii) 2-3 mm, (iv) 3-4 mm, (v) 4-5 mm, (vi) 5-6 mm, (vii) 6 -7 mm, (viii) 7-8 mm, (ix) 8-9 mm, (x) 9-10 mm, and (xi)> 10 mm. Spacing between at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the axial segments. Are preferably (i) <1 mm, (ii) 1-2 mm, (iii) 2-3 mm, (iv) 3-4 mm, (v) 4-5 mm, (vi) 5-6 mm, (vii) 6- 7 mm, (viii) 7-8 mm, (ix) 8-9 mm, (x) 9-10 mm, and (xi)> 10 mm.

前記イオンガイドは、好ましくは(i)<20mm、(ii)20〜40mm、(iii)40〜60mm、(iv)60〜80mm、(v)80〜100mm、(vi)100〜120mm、(vii)120〜140mm、(viii)140〜160mm、(ix)160〜180mm、(x)180〜200mm、および(xi)>200mmからなる群から選択される長さを有する。   The ion guide is preferably (i) <20 mm, (ii) 20-40 mm, (iii) 40-60 mm, (iv) 60-80 mm, (v) 80-100 mm, (vi) 100-120 mm, (vii ) 120-140 mm, (viii) 140-160 mm, (ix) 160-180 mm, (x) 180-200 mm, and (xi)> 200 mm in length.

前記イオンガイドは、好ましくは少なくとも(i)10〜20個の電極、(ii)20〜30個の電極、(iii)30〜40個の電極、(iv)40〜50個の電極、(v)50〜60個の電極、(vi)60〜70個の電極、(vii)70〜80個の電極、(viii)80〜90個の電極、(ix)90〜100個の電極、(x)100〜110個の電極、(xi)110〜120個の電極、(xii)120〜130個の電極、(xiii)130〜140個の電極、(xiv)140〜150個の電極、または(xv)>150個の電極を含む。   The ion guide is preferably at least (i) 10-20 electrodes, (ii) 20-30 electrodes, (iii) 30-40 electrodes, (iv) 40-50 electrodes, (v ) 50-60 electrodes, (vi) 60-70 electrodes, (vii) 70-80 electrodes, (viii) 80-90 electrodes, (ix) 90-100 electrodes, (x ) 100-110 electrodes, (xi) 110-120 electrodes, (xii) 120-130 electrodes, (xiii) 130-140 electrodes, (xiv) 140-150 electrodes, or ( xv)> 150 electrodes included.

上記好適な実施形態によると、前記複数の電極は、開口を有する電極を含み、イオンは、使用時に前記開口を通って移送される。前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、好ましくは実質的に円形、長方形、正方形または楕円形の開口を有する。   According to the preferred embodiment, the plurality of electrodes includes an electrode having an opening, and ions are transported through the opening in use. At least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the electrodes are preferably substantially Have a circular, rectangular, square or oval opening.

一実施形態によると、前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、実質的に同じサイズであるか、または実質的に同じ面積を有する開口を有する。別の実施形態によると、前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、サイズまたは面積が前記イオンガイドの軸に沿った方向に漸進的により大きくおよび/またはより小さくなる開口を有する。   According to one embodiment, at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the electrodes Have openings that are substantially the same size or have substantially the same area. According to another embodiment, at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100 of the electrodes % Has an opening whose size or area is progressively larger and / or smaller in the direction along the axis of the ion guide.

上記好適な実施形態によると、前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、好ましくは(i)≦1.0mm、(ii)≦2.0mm、(iii)≦3.0mm、(iv)≦4.0mm、(v)≦5.0mm、(vi)≦6.0mm、(vii)≦7.0mm、(viii)≦8.0mm、(ix)≦9.0mm、(x)≦10.0mm、および(xi)>10.0mmからなる群から選択される内径または寸法を有する開口を有する。   According to the preferred embodiment, at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% of the electrodes or 100% is preferably (i) ≦ 1.0 mm, (ii) ≦ 2.0 mm, (iii) ≦ 3.0 mm, (iv) ≦ 4.0 mm, (v) ≦ 5.0 mm, (vi) ≦ Selected from the group consisting of 6.0 mm, (vii) ≦ 7.0 mm, (viii) ≦ 8.0 mm, (ix) ≦ 9.0 mm, (x) ≦ 10.0 mm, and (xi)> 10.0 mm Having an opening having an inner diameter or dimension.

前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、好ましくは(i)5mm以下、(ii)4.5mm以下、(iii)4mm以下、(iv)3.5mm以下、(v)3mm以下、(vi)2.5mm以下、(vii)2mm以下、(viii)1.5mm以下、(ix)1mm以下、(x)0.8mm以下、(xi)0.6mm以下、(xii)0.4mm以下、(xiii)0.2mm以下、(xiv)0.1mm以下、および(xv)0.25mm以下からなる群から選択される軸方向距離だけ互いに間隔をあけられる。   At least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the electrodes are preferably (i ) 5 mm or less, (ii) 4.5 mm or less, (iii) 4 mm or less, (iv) 3.5 mm or less, (v) 3 mm or less, (vi) 2.5 mm or less, (vii) 2 mm or less, (viii) 1 0.5 mm or less, (ix) 1 mm or less, (x) 0.8 mm or less, (xi) 0.6 mm or less, (xii) 0.4 mm or less, (xiii) 0.2 mm or less, (xiv) 0.1 mm or less, And (xv) spaced apart from each other by an axial distance selected from the group consisting of 0.25 mm or less.

前記複数の電極のうちの少なくともいくつかは、開口を含み、かつ前記開口の内径または寸法の隣り合う電極間の中心間軸方向間隔に対する比は、(i)<1.0、(ii)1.0〜1.2、(iii)1.2〜1.4、(iv)1.4〜1.6、(v)1.6〜1.8、(vi)1.8〜2.0、(vii)2.0〜2.2、(viii)2.2〜2.4、(ix)2.4〜2.6、(x)2.6〜2.8、(xi)2.8〜3.0、(xii)3.0〜3.2、(xiii)3.2〜3.4、(xiv)3.4〜3.6、(xv)3.6〜3.8、(xvi)3.8〜4.0、(xvii)4.0〜4.2、(xviii)4.2〜4.4、(xix)4.4〜4.6、(xx)4.6〜4.8、(xxi)4.8〜5.0、および(xxii)>5.0からなる群から選択される。   At least some of the plurality of electrodes include openings, and the ratio of the inner diameter or size of the openings to the center-to-center axial spacing between adjacent electrodes is (i) <1.0, (ii) 1 0.0-1.2, (iii) 1.2-1.4, (iv) 1.4-1.6, (v) 1.6-1.8, (vi) 1.8-2.0 (Vii) 2.0-2.2, (viii) 2.2-2.4, (ix) 2.4-2.6, (x) 2.6-2.8, (xi) 2. 8-3.0, (xii) 3.0-3.2, (xiii) 3.2-3.4, (xiv) 3.4-3.6, (xv) 3.6-3.8, (Xvi) 3.8 to 4.0, (xvii) 4.0 to 4.2, (xviii) 4.2 to 4.4, (xix) 4.4 to 4.6, (xx) 4.6 ~ 4.8, (xxi) 4.8-5.0, and (x ii)> is selected from the group consisting of 5.0.

前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、好ましくは(i)5mm以下、(ii)4.5mm以下、(iii)4mm以下、(iv)3.5mm以下、(v)3mm以下、(vi)2.5mm以下、(vii)2mm以下、(viii)1.5mm以下、(ix)1mm以下、(x)0.8mm以下、(xi)0.6mm以下、(xii)0.4mm以下、(xiii)0.2mm以下、(xiv)0.1mm以下、および(xv)0.25mm以下からなる群から選択される厚さまたは軸方向長さを有する。   At least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the electrodes are preferably (i ) 5 mm or less, (ii) 4.5 mm or less, (iii) 4 mm or less, (iv) 3.5 mm or less, (v) 3 mm or less, (vi) 2.5 mm or less, (vii) 2 mm or less, (viii) 1 0.5 mm or less, (ix) 1 mm or less, (x) 0.8 mm or less, (xi) 0.6 mm or less, (xii) 0.4 mm or less, (xiii) 0.2 mm or less, (xiv) 0.1 mm or less, And (xv) having a thickness or axial length selected from the group consisting of 0.25 mm or less.

他の一実施形態によると、前記イオンガイドは、セグメント化ロッドセット(segmented rod set)イオンガイドを含む。前記イオンガイドは、例えば、セグメント化四重極、六重極もしくは八重極イオンガイドまたは8個より多くのセグメント化ロッドセットを含むイオンガイドを含み得る。前記イオンガイドは、好ましくは(i)略または実質的に円形断面、(ii)略または実質的に双曲面、(iii)円弧または部分円形断面、(iv)略または実質的に長方形断面、および(v)略または実質的に正方形断面からなる群から選択される断面を有する複数の電極を含む。   According to another embodiment, the ion guide comprises a segmented rod set ion guide. The ion guide can include, for example, a segmented quadrupole, hexapole or octupole ion guide or an ion guide including more than eight segmented rod sets. The ion guide is preferably (i) a substantially or substantially circular cross section, (ii) a substantially or substantially hyperboloid, (iii) an arc or partial circular cross section, (iv) a substantially or substantially rectangular cross section, and (V) includes a plurality of electrodes having a cross section selected from the group consisting of substantially or substantially square cross sections.

別の実施形態によると、前記イオンガイドは、複数のグループのプレート電極(plate electrodes)が前記イオンガイドの軸方向長さに沿って配置されるような複数のプレート電極を含み得る。各グループのプレート電極は、好ましくは第1のプレート電極および第2のプレート電極を含む。前記第1および第2のプレート電極は、好ましくは実質的に同じ平面内に配置され、かつ好ましくは前記イオンガイドの中心長軸のいずれか一方の側に配置される。前記質量分析器は、好ましくはイオンを前記イオンガイド内に第1の半径方向に閉じ込めるためにDC電圧またはポテンシャルを前記第1および第2のプレート電極に印加するための手段をさらに含む。   According to another embodiment, the ion guide may include a plurality of plate electrodes such that a plurality of groups of plate electrodes are disposed along the axial length of the ion guide. Each group of plate electrodes preferably includes a first plate electrode and a second plate electrode. The first and second plate electrodes are preferably disposed in substantially the same plane, and are preferably disposed on either side of the central long axis of the ion guide. The mass analyzer preferably further comprises means for applying a DC voltage or potential to the first and second plate electrodes to confine ions in a first radial direction within the ion guide.

各グループの電極は、好ましくは第3の電極および第4の電極をさらに含む。前記第3および第4の電極は、好ましくは実質的に同じ平面内に配置され、かつ好ましくは前記イオンガイドの中心長軸のいずれか一方の側に前記第1および第2の電極とは異なる方向に配置される。前記ACまたはRF電圧を印加するための手段は、好ましくはイオンを前記イオンガイド内に第2の半径方向に閉じ込めるために、前記ACまたはRF電圧を前記第3のおよび第4のプレート電極に印加するように構成される。第2の半径方向は、好ましくは第1の半径方向と直交する。   Each group of electrodes preferably further includes a third electrode and a fourth electrode. The third and fourth electrodes are preferably arranged in substantially the same plane and are preferably different from the first and second electrodes on either side of the central longitudinal axis of the ion guide. Arranged in the direction. The means for applying the AC or RF voltage preferably applies the AC or RF voltage to the third and fourth plate electrodes to confine ions in a second radial direction within the ion guide. Configured to do. The second radial direction is preferably orthogonal to the first radial direction.

前記イオンを駆動または推進するための手段は、好ましくは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形を前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%に印加するための手段を含む。前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは前記1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形は、好ましくは(i)1つのポテンシャルの山もしくは障壁、(ii)1つのポテンシャル井戸、(iii)複数のポテンシャルの山もしくは障壁、(iv)複数のポテンシャル井戸、(v)1つのポテンシャルの山もしくは障壁と1つのポテンシャル井戸の組み合わせ、または(vi)複数のポテンシャルの山もしくは障壁と複数のポテンシャル井戸の組み合わせを作成する。   The means for driving or propelling the ions preferably applies one or more transient DC voltages or potentials or one or more DC voltages or potential waveforms to at least 1%, 5%, 10%, 20% of the electrodes. Means for applying to 30%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100%. The one or more transient DC voltages or potentials or the one or more DC voltages or potential waveforms are preferably (i) a potential peak or barrier, (ii) a potential well, (iii) a plurality of potentials. (Iv) multiple potential wells, (v) a combination of one potential peak or barrier and one potential well, or (vi) a combination of multiple potential peaks or barriers and multiple potential wells. create.

前記1つ以上の過渡DC電圧またはポテンシャル波形は、好ましくは繰り返し波形または方形波を含む。   The one or more transient DC voltage or potential waveforms preferably include a repetitive waveform or a square wave.

上記好適な実施形態によると、複数の軸方向DCポテンシャル井戸が好ましくは前記イオンガイドの長さに沿って平行移動されるか、または複数の過渡DCポテンシャルまたは電圧が前記イオンガイドの軸方向長さに沿って電極に漸進的に印加される。   According to the preferred embodiment, a plurality of axial DC potential wells are preferably translated along the length of the ion guide, or a plurality of transient DC potentials or voltages are provided along the axial length of the ion guide. Are applied progressively to the electrodes.

一実施形態によると、前記質量分析器は、好ましくは前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは前記1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形の振幅、高さまたは深さを漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成または適合される第1の手段をさらに含む。   According to one embodiment, does the mass analyzer preferably gradually increase the amplitude, height or depth of the one or more transient DC voltages or potentials or the one or more DC voltage or potential waveforms? Progressively decreasing, incrementally changing, scanning, linearly increasing, linearly decreasing, incrementally, incrementally or otherwise, or incrementally , Further comprising first means configured or adapted to reduce progressively or otherwise.

前記第1の手段は、好ましくは前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは前記1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形の振幅、高さまたは深さをx1ボルトだけ期間t1にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成または適合される。好ましくは、x1は、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される。好ましくは、t1は、(i)<lms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される。 The first means preferably progressively increases the amplitude, height or depth of the one or more transient DC voltages or potentials or the one or more DC voltage or potential waveforms over a period t 1 by x 1 volts. Increasing, progressively decreasing, incrementally changing, scanning, increasing linearly, decreasing linearly, increasing stepwise, incrementally or otherwise, Or configured or adapted to reduce stepwise, incrementally or otherwise. Preferably, x 1 is (i) <0.1V, (ii) 0.1-0.2V, (iii) 0.2-0.3V, (iv) 0.3-0.4V, (v ) 0.4-0.5V, (vi) 0.5-0.6V, (vii) 0.6-0.7V, (viii) 0.7-0.8V, (ix) 0.8-0 .9V, (x) 0.9-1.0V, (xi) 1.0-1.5V, (xii) 1.5-2.0V, (xiii) 2.0-2.5V, (xiv) 2.5-3.0V, (xv) 3.0-3.5V, (xvi) 3.5-4.0V, (xvii) 4.0-4.5V, (xviii) 4.5-5. 0V, (xix) 5.0-5.5V, (xx) 5.5-6.0V, (xxi) 6.0-6.5V, (xxii) 6.5-7.0V, (xxiii) 7 0.0-7.5V, (xxiv) 7.5 8.0V, (xxv) 8.0-8.5V, (xxvi) 8.5-9.0V, (xxvii) 9.0-9.5V, (xxviii) 9.5-10.0V, and ( xxix)> 10.0V. Preferably, t 1 is (i) <lms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii ) 50-60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300-400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (xx) 900-1000 ms, (xxi) 1 ~ 2s, (xxii) 2-3s, (xxiii) 3-4s, (xxiv) 4-5s, and (xxv)> 5s It is selected from Ranaru group.

前記質量分析器は、好ましくは前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは前記1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形が前記電極に印加される速度またはレート(rate)を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第2の手段をさらに含む。前記第2の手段は、好ましくは前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは前記1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形が前記電極にx2m/sだけ期間t2にわたって印加される速度またはレートを漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される。好ましくは、x2は、(i)<1、(ii)1〜2、(iii)2〜3、(iv)3〜4、(v)4〜5、(vi)5〜6、(vii)6〜7、(viii)7〜8、(ix)8〜9、(x)9〜10、(xi)10〜11、(xii)11〜12、(xiii)12〜13、(xiv)13〜14、(xv)14〜15、(xvi)15〜16、(xvii)16〜17、(xviii)17〜18、(xix)18〜19、(xx)19〜20、(xxi)20〜30、(xxii)30〜40、(xxiii)40〜50、(xxiv)50〜60、(xxv)60〜70、(xxvi)70〜80、(xxvii)80〜90、(xxviii)90〜100、(xxix)100〜150、(xxx)150〜200、(xxxi)200〜250、(xxxii)250〜300、(xxxiii)300〜350、(xxxiv)350〜400、(xxxv)400〜450、(xxxvi)450〜500、および(xxxvii)>500からなる群から選択される。好ましくは、t2は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される。 The mass analyzer preferably progressively increases the rate or rate at which the one or more transient DC voltages or potentials or the one or more DC voltage or potential waveforms are applied to the electrodes, Progressively decreasing, incrementally changing, scanning, increasing linearly, decreasing linearly, incrementally, incrementally or otherwise, incrementally, It further includes a second means configured and adapted to reduce progressively or otherwise. The second means is preferably a rate or rate at which the one or more transient DC voltages or potentials or the one or more DC voltage or potential waveforms are applied to the electrodes for a period t 2 by x 2 m / s. Progressively increasing, progressively decreasing, incrementally changing, scanning, increasing linearly, decreasing linearly, stepwise, incrementally or otherwise Constructed and adapted to increase or decrease in stages, gradual or otherwise. Preferably, x 2 are, (i) <1, ( ii) 1~2, (iii) 2~3, (iv) 3~4, (v) 4~5, (vi) 5~6, (vii ) 6-7, (viii) 7-8, (ix) 8-9, (x) 9-10, (xi) 10-11, (xii) 11-12, (xiii) 12-13, (xiv) 13-14, (xv) 14-15, (xvi) 15-16, (xvii) 16-17, (xviii) 17-18, (xix) 18-19, (xx) 19-20, (xxi) 20 -30, (xxii) 30-40, (xxiii) 40-50, (xxiv) 50-60, (xxv) 60-70, (xxvi) 70-80, (xxvii) 80-90, (xxviii) 90- 100, (xxxix) 100-150, (xxx) 150-200, (xxxi 200-250, (xxxii) 250-300, (xxxiii) 300-350, (xxxiv) 350-400, (xxxv) 400-450, (xxxvi) 450-500, and (xxxvii)> 500 Is done. Preferably, t 2 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii ) 50-60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300-400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1 ~ 2s, (xxii) 2-3s, (xxiii) 3-4s, (xxiv) 4-5s, and (xxv)> 5s It is selected from Ranaru group.

上記好適な実施形態によると、前記第1のACまたはRF電圧は、好ましくは(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜550Vピークトゥピーク、(xxii)550〜600Vピークトゥピーク、(xxiii)600〜650Vピークトゥピーク、(xxiv)650〜700Vピークトゥピーク、(xxv)700〜750Vピークトゥピーク、(xxvi)750〜800Vピークトゥピーク、(xxvii)800〜850Vピークトゥピーク、(xxviii)850〜900Vピークトゥピーク、(xxix)900〜950Vピークトゥピーク、(xxx)950〜1000Vピークトゥピーク、および(xxxi)>1000Vピークトゥピークからなる群から選択される振幅を有する。   According to the preferred embodiment, the first AC or RF voltage is preferably (i) <50V peak-to-peak, (ii) 50-100V peak-to-peak, (iii) 100-150V peak-to-peak, ( (iv) 150-200V peak-to-peak, (v) 200-250V peak-to-peak, (vi) 250-300V peak-to-peak, (vii) 300-350V peak-to-peak, (viii) 350-400V peak-to-peak, (ix) 400-450V peak-to-peak, (x) 450-500V peak-to-peak, (xi) 500-550V peak-to-peak, (xxii) 550-600V peak-to-peak, (xxiii) 600-650V peak-to-peak, xxiv) 650-700V peak-to-peak, ( xxx) 700-750V peak-to-peak, (xxvi) 750-800V peak-to-peak, (xxvii) 800-850V peak-to-peak, (xxviii) 850-900V peak-to-peak, (xxix) 900-950V peak-to-peak, xxx) having an amplitude selected from the group consisting of 950-1000V peak-to-peak, and (xxx)> 1000V peak-to-peak.

上記好適な実施形態によると、前記第1のACまたはRF電圧は、好ましくは(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される周波数を有する。   According to the preferred embodiment, the first AC or RF voltage is preferably (i) <100 kHz, (ii) 100-200 kHz, (iii) 200-300 kHz, (iv) 300-400 kHz, (v) 400-500 kHz, (vi) 0.5-1.0 MHz, (vii) 1.0-1.5 MHz, (viii) 1.5-2.0 MHz, (ix) 2.0-2.5 MHz, (x ) 2.5-3.0 MHz, (xi) 3.0-3.5 MHz, (xii) 3.5-4.0 MHz, (xiii) 4.0-4.5 MHz, (xiv) 4.5-5 0.0 MHz, (xv) 5.0-5.5 MHz, (xvi) 5.5-6.0 MHz, (xvii) 6.0-6.5 MHz, (xviii) 6.5-7.0 MHz, (xix) 7.0 to 7.5 MHz, (xx) .5 to 8.0 MHz, (xxi) 8.0 to 8.5 MHz, (xxii) 8.5 to 9.0 MHz, (xxiii) 9.0 to 9.5 MHz, (xxiv) 9.5 to 10.0 MHz , And (xxv)> 10.0 MHz.

前記第1のACまたはRF電圧を印加するための手段は、好ましくは前記第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に印加するように構成される。   The means for applying the first AC or RF voltage preferably applies the first AC or RF voltage to at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20% of the plurality of electrodes, Apply to 25%, 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100% Configured as follows.

前記第1のACまたはRF電圧を印加するための手段は、好ましくは軸方向に隣り合う電極または軸方向に隣り合う電極グループに前記第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相を供給するように構成される。   The means for applying the first AC or RF voltage preferably provides opposite phases of the first AC or RF voltage to axially adjacent electrodes or axially adjacent electrode groups. Configured.

前記第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは、使用時に、前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%または95%に沿って作成される。   The first axial time average or pseudopotential barrier, corrugation or well is preferably at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30% of the axial length of the ion guide in use, Created along 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90% or 95%.

前記複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの中心長軸の少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%または95%に沿って作成または提供される。   The plurality of first axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40% of the central long axis of the ion guide, Created or provided along 50%, 60%, 70%, 80%, 90% or 95%.

前記複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの上流部分および/または中間部分および/または下流部分に作成または提供される。   The plurality of first axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably created or provided in the upstream and / or intermediate and / or downstream portions of the ion guide.

一実施形態によると、前記イオンガイドは、好ましくは長さLを有し、かつ前記複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの長さに沿って、(i)0〜0.1L、(ii)0.1〜0.2L、(iii)0.2〜0.3L、(iv)0.3〜0.4L、(v)0.4〜0.5L、(vi)0.5〜0.6L、(vii)0.6〜0.7L、(viii)0.7〜0.8L、(ix)0.8〜0.9L、および(x)0.9〜1.0Lからなる群から選択される変位(displacement)を有する1つ以上の領域または位置に作成または提供される。   According to one embodiment, the ion guide preferably has a length L, and the plurality of first axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably the length of the ion guide. (I) 0 to 0.1 L, (ii) 0.1 to 0.2 L, (iii) 0.2 to 0.3 L, (iv) 0.3 to 0.4 L, (v) 0 .4 to 0.5 L, (vi) 0.5 to 0.6 L, (vii) 0.6 to 0.7 L, (viii) 0.7 to 0.8 L, (ix) 0.8 to 0.9 L And (x) one or more regions or locations having a displacement selected from the group consisting of 0.9-1.0 L.

前記複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの中心長軸から遠ざかるように半径方向に少なくともr mmだけ延伸し、ここで、rは、(i)<1、(ii)1〜2、(iii)2〜3、(iv)3〜4、(v)4〜5、(vi)5〜6、(vii)6〜7、(viii)7〜8、(ix)8〜9、(x)9〜10、および(xi)>10からなる群から選択される。   The plurality of first axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells preferably extend radially at least r mm away from the central longitudinal axis of the ion guide, where r is (I) <1, (ii) 1-2, (iii) 2-3, (iv) 3-4, (v) 4-5, (vi) 5-6, (vii) 6-7, (viii) ) 7-8, (ix) 8-9, (x) 9-10, and (xi)> 10.

一実施形態によると、質量電荷比が1〜100、100〜200、200〜300、300〜400、400〜500、500〜600、600〜700、700〜800、800〜900または900〜1000の範囲にあるイオンに対して、前記第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%の振幅、高さまたは深さは、好ましくは(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される。   According to one embodiment, the mass to charge ratio is 1-100, 100-200, 200-300, 300-400, 400-500, 500-600, 600-700, 700-800, 800-900 or 900-1000. For ions in range, at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50% of the first axial time average or pseudopotential barrier, corrugation or well, The amplitude, height or depth of 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% is preferably (i) <0.1V, (ii) 0.1-0.2V, (iii) ) 0.2-0.3V, (iv) 0.3-0.4V, (v) 0.4-0.5V, (vi) 0.5-0.6V, (vii) 0.6-0 .7V, (viii) 0.7-0.8V, (ix) 0. ~ 0.9V, (x) 0.9-1.0V, (xi) 1.0-1.5V, (xii) 1.5-2.0V, (xiii) 2.0-2.5V, ( xiv) 2.5 to 3.0 V, (xv) 3.0 to 3.5 V, (xvi) 3.5 to 4.0 V, (xvii) 4.0 to 4.5 V, (xviii) 4.5 to 5.0V, (xix) 5.0-5.5V, (xx) 5.5-6.0V, (xxi) 6.0-6.5V, (xxii) 6.5-7.0V, (xxiii) ) 7.0-7.5V, (xxiv) 7.5-8.0V, (xxv) 8.0-8.5V, (xxvi) 8.5-9.0V, (xxvii) 9.0-9 .5V, (xxviii) 9.5 to 10.0V, and (xxix)> 10.0V.

好ましくは、使用時に、1cm当たり少なくとも1、2、3、4、5、6、7、8、9または10個の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って提供または作成される。   Preferably, in use, at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9 or 10 first axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells per cm are said ion guide. Provided or created along at least a portion of the axial length of the.

前記複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの軸方向長さに沿って、好ましくは前記複数の電極の軸方向位置に対応する極小値を有する。   The plurality of first axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably minimal values corresponding to the axial position of the plurality of electrodes, preferably along the axial length of the ion guide. Have

前記複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの軸方向長さに沿って、好ましくは近接する電極間の軸方向距離または間隔の実質的に50%に対応する軸方向位置に位置付けられた極大値を有する。   The plurality of first axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably substantially along the axial length of the ion guide, preferably a substantial axial distance or spacing between adjacent electrodes. And has a local maximum located at an axial position corresponding to 50%.

前記複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは特定の質量電荷比を有するイオンに対して実質的に同じ高さ、深さまたは振幅である極小値および/または極大値を有し、かつ前記極小値および/または極大値は、好ましくは前記複数の電極の軸方向変位または間隔と実質的に同じである周期(periodicity)、またはその倍数である周期を有する。   The plurality of first axial time-average or pseudo-potential barriers, corrugations or wells preferably have a minimum value that is substantially the same height, depth or amplitude for ions having a particular mass to charge ratio and And / or the minimum value and / or maximum value is preferably a period that is substantially the same as an axial displacement or interval of the plurality of electrodes, or a period that is a multiple thereof. Have.

一実施形態によると、前記質量分析器は、好ましくは前記電極に印加される前記第1のACまたはRF電圧の振幅を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第3の手段を含む。   According to one embodiment, the mass analyzer preferably progressively increases, progressively reduces or gradually changes the amplitude of the first AC or RF voltage applied to the electrode. Configured to scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, progressively or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise And includes a third means adapted.

前記第3の手段は、好ましくは前記第1のACまたはRF電圧の振幅をx3ボルトだけ期間t3にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される。好ましくは、x3は、(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜550Vピークトゥピーク、(xxii)550〜600Vピークトゥピーク、(xxiii)600〜650Vピークトゥピーク、(xxiv)650〜700Vピークトゥピーク、(xxv)700〜750Vピークトゥピーク、(xxvi)750〜800Vピークトゥピーク、(xxvii)800〜850Vピークトゥピーク、(xxviii)850〜900Vピークトゥピーク、(xxix)900〜950Vピークトゥピーク、(xxx)950〜1000Vピークトゥピーク、および(xxxi)>1000Vピークトゥピークからなる群から選択される。好ましくは、t3は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される。 The third means preferably scans whether the amplitude of the first AC or RF voltage is gradually increased, gradually decreased, gradually changed, x 3 volts, over a period t 3 Configured, adapted to increase, linearly decrease, linearly decrease, increase stepwise, gradual or otherwise, or decrease stepwise, gradual or otherwise The Preferably, x 3 is, (i) <50V peak-to-peak, (ii) 50 to 100 peak-to-peak, (iii) 100~150V peak-to-peak, (iv) 150~200V peak-to-peak, (v) 200 ~ 250V peak-to-peak, (vi) 250-300V peak-to-peak, (vii) 300-350V peak-to-peak, (viii) 350-400V peak-to-peak, (ix) 400-450V peak-to-peak, (x) 450 ~ 500V peak-to-peak, (xi) 500-550V peak-to-peak, (xxii) 550-600V peak-to-peak, (xxiii) 600-650V peak-to-peak, (xxiv) 650-700V peak-to-peak, (xxv) 700 ~ 750V peak-to-peak, (xxv ) 750-800V peak-to-peak, (xxvii) 800-850V peak-to-peak, (xxviii) 850-900V peak-to-peak, (xxix) 900-950V peak-to-peak, (xxx) 950-1000V peak-to-peak, and xxxi)> 1000 V selected from the group consisting of peak-to-peak. Preferably, t 3 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii ) 50-60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300-400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1 ~ 2s, (xxii) 2-3s, (xxiii) 3-4s, (xxiv) 4-5s, and (xxv)> 5s It is selected from Ranaru group.

前記質量分析器は、好ましくは前記電極に印加される前記第1のRFまたはAC電圧の周波数を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第4の手段をさらに含む。前記第4の手段は、好ましくは前記電極に印加される前記第1のRFまたはAC電圧の周波数をx4MHzだけ期間t4にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される。好ましくは、x4は、(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される。好ましくは、t4は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される。 The mass analyzer preferably progressively increases, progressively decreases, progressively changes or scans the frequency of the first RF or AC voltage applied to the electrode; Configured and adapted to linearly increase, linearly decrease, increase stepwise, progressively or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise These means are further included. The fourth means preferably gradually increases, decreases gradually or gradually increases the frequency of the first RF or AC voltage applied to the electrode over a period t 4 by x 4 MHz. , Scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, gradual or otherwise, or decrease stepwise, gradual or otherwise As configured and adapted. Preferably, x 4 is, (i) <100kHz, ( ii) 100~200kHz, (iii) 200~300kHz, (iv) 300~400kHz, (v) 400~500kHz, (vi) 0.5~1. 0 MHz, (vii) 1.0-1.5 MHz, (viii) 1.5-2.0 MHz, (ix) 2.0-2.5 MHz, (x) 2.5-3.0 MHz, (xi) 3 0.0-3.5 MHz, (xii) 3.5-4.0 MHz, (xiii) 4.0-4.5 MHz, (xiv) 4.5-5.0 MHz, (xv) 5.0-5.5 MHz (Xvi) 5.5-6.0 MHz, (xvii) 6.0-6.5 MHz, (xviii) 6.5-7.0 MHz, (xix) 7.0-7.5 MHz, (xx) 7. 5 to 8.0 MHz, (xxi) 8.0 to 8.5 MH , (Xxii) 8.5~9.0MHz, (xxiii) 9.0~9.5MHz, is selected from the group consisting of (xxiv) 9.5~10.0MHz, and (xxv)> 10.0MHz. Preferably, t 4 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii ) 50-60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300-400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1 ~ 2s, (xxii) 2-3s, (xxiii) 3-4s, (xxiv) 4-5s, and (xxv)> 5s It is selected from Ranaru group.

一実施形態によると、前記第2のACまたはRF電圧は、好ましくは(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜550Vピークトゥピーク、(xxii)550〜600Vピークトゥピーク、(xxiii)600〜650Vピークトゥピーク、(xxiv)650〜700Vピークトゥピーク、(xxv)700〜750Vピークトゥピーク、(xxvi)750〜800Vピークトゥピーク、(xxvii)800〜850Vピークトゥピーク、(xxviii)850〜900Vピークトゥピーク、(xxix)900〜950Vピークトゥピーク、(xxx)950〜1000Vピークトゥピーク、および(xxxi)>1000Vピークトゥピークからなる群から選択される振幅を有する。   According to one embodiment, the second AC or RF voltage is preferably (i) <50V peak-to-peak, (ii) 50-100V peak-to-peak, (iii) 100-150V peak-to-peak, (iv) 150-200V peak-to-peak, (v) 200-250V peak-to-peak, (vi) 250-300V peak-to-peak, (vii) 300-350V peak-to-peak, (viii) 350-400V peak-to-peak, (ix) 400-450 V peak-to-peak, (x) 450-500 V peak-to-peak, (xi) 500-550 V peak-to-peak, (xxii) 550-600 V peak-to-peak, (xxiii) 600-650 V peak-to-peak, (xxiv) 650-700V peak-to-peak, (xxv) 00-750V peak-to-peak, (xxvi) 750-800V peak-to-peak, (xxvii) 800-850V peak-to-peak, (xxviii) 850-900V peak-to-peak, (xxix) 900-950V peak-to-peak, (xxx) Having an amplitude selected from the group consisting of 950-1000V peak-to-peak, and (xxxi)> 1000V peak-to-peak.

前記第2のACまたはRF電圧は、好ましくは(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される周波数を有する。   The second AC or RF voltage is preferably (i) <100 kHz, (ii) 100-200 kHz, (iii) 200-300 kHz, (iv) 300-400 kHz, (v) 400-500 kHz, (vi) 0 .5 to 1.0 MHz, (vii) 1.0 to 1.5 MHz, (viii) 1.5 to 2.0 MHz, (ix) 2.0 to 2.5 MHz, (x) 2.5 to 3.0 MHz (Xi) 3.0-3.5 MHz, (xii) 3.5-4.0 MHz, (xiii) 4.0-4.5 MHz, (xiv) 4.5-5.0 MHz, (xv) 5. 0 to 5.5 MHz, (xvi) 5.5 to 6.0 MHz, (xvii) 6.0 to 6.5 MHz, (xviii) 6.5 to 7.0 MHz, (xix) 7.0 to 7.5 MHz, (Xx) 7.5-8.0 MHz, (xx ) 8.0-8.5 MHz, (xxii) 8.5-9.0 MHz, (xxiii) 9.0-9.5 MHz, (xxiv) 9.5-10.0 MHz, and (xxv)> 10.0 MHz Having a frequency selected from the group consisting of:

前記第2のACまたはRF電圧を印加するための手段は、好ましくは前記第2のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%および/または前記複数の電極のうちの少なくとも1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20、21、22、23、24、25、26、27、28、29、30、31、32、33、34、35、36、37、38、39、40、41、42、43、44、45、46、47、48、49、50または>50個に印加するように構成される。   The means for applying the second AC or RF voltage preferably applies the second AC or RF voltage to at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20% of the plurality of electrodes, 25%, 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100% and / or At least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19, 20, 21, of the plurality of electrodes. 22, 23, 24, 25, 26, 27, 28, 29, 30, 31, 32, 33, 34, 35, 36, 37, 38, 39, 40, 41, 42, 43, 44, 45, 46, Configure to apply to 47, 48, 49, 50 or> 50.

前記第2のACまたはRF電圧を印加するための手段は、好ましくは軸方向に隣り合う電極または軸方向に隣り合う電極グループに前記第2のACまたはRF電圧の互いに反対の位相を供給するように構成される。   The means for applying the second AC or RF voltage preferably provides opposite phases of the second AC or RF voltage to axially adjacent electrodes or axially adjacent electrode groups. Configured.

前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは、使用時に、前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%または95%に沿って作成される。   The one or more second axial time-average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably at least 1%, 5%, 10%, 20% of the axial length of the ion guide in use. 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90% or 95%.

前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの中心長軸の少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%または95%に沿って作成または提供される。   The one or more second axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40% of the central long axis of the ion guide. %, 50%, 60%, 70%, 80%, 90% or 95%.

前記複数の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの上流部分および/または中間部分および/または下流部分に作成または提供される。   The plurality of second axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably created or provided in the upstream and / or intermediate and / or downstream portions of the ion guide.

前記イオンガイドは、好ましくは長さLを有し、かつ前記複数の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの長さに沿って、(i)0〜0.1L、(ii)0.1〜0.2L、(iii)0.2〜0.3L、(iv)0.3〜0.4L、(v)0.4〜0.5L、(vi)0.5〜0.6L、(vii)0.6〜0.7L、(viii)0.7〜0.8L、(ix)0.8〜0.9L、および(x)0.9〜1.0Lからなる群から選択される変位を有する1つ以上の領域または位置に作成または提供される。   The ion guide preferably has a length L, and the plurality of second axial time-average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably along the length of the ion guide (i ) 0-0.1L, (ii) 0.1-0.2L, (iii) 0.2-0.3L, (iv) 0.3-0.4L, (v) 0.4-0.5L , (Vi) 0.5-0.6L, (vii) 0.6-0.7L, (viii) 0.7-0.8L, (ix) 0.8-0.9L, and (x) 0 Created or provided in one or more regions or locations having a displacement selected from the group consisting of .9-1.0L.

前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの中心長軸から遠ざかるように半径方向に少なくともr mmだけ延伸し、ここで、rは、(i)<1、(ii)1〜2、(iii)2〜3、(iv)3〜4、(v)4〜5、(vi)5〜6、(vii)6〜7、(viii)7〜8、(ix)8〜9、(x)9〜10、および(xi)>10からなる群から選択される。   The one or more second axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells preferably extend radially at least r mm away from the central longitudinal axis of the ion guide, where r (I) <1, (ii) 1-2, (iii) 2-3, (iv) 3-4, (v) 4-5, (vi) 5-6, (vii) 6-7, (Viii) selected from the group consisting of 7-8, (ix) 8-9, (x) 9-10, and (xi)> 10.

一実施形態によると、質量電荷比が1〜100、100〜200、200〜300、300〜400、400〜500、500〜600、600〜700、700〜800、800〜900または900〜1000の範囲にあるイオンに対して、前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%の振幅、高さまたは深さは、好ましくは(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される。   According to one embodiment, the mass to charge ratio is 1-100, 100-200, 200-300, 300-400, 400-500, 500-600, 600-700, 700-800, 800-900 or 900-1000. For ions in range, at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40% of the one or more second axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% amplitude, height or depth is preferably (i) <0.1V, (ii) 0.1-0. 2V, (iii) 0.2-0.3V, (iv) 0.3-0.4V, (v) 0.4-0.5V, (vi) 0.5-0.6V, (vii) 0 .6 to 0.7 V, (viii) 0.7 to 0.8 V, ( x) 0.8-0.9V, (x) 0.9-1.0V, (xi) 1.0-1.5V, (xii) 1.5-2.0V, (xiii) 2.0- 2.5V, (xiv) 2.5-3.0V, (xv) 3.0-3.5V, (xvi) 3.5-4.0V, (xvii) 4.0-4.5V, (xviii) ) 4.5-5.0V, (xix) 5.0-5.5V, (xx) 5.5-6.0V, (xxi) 6.0-6.5V, (xxii) 6.5-7 0.0V, (xxiii) 7.0-7.5V, (xxiv) 7.5-8.0V, (xxv) 8.0-8.5V, (xxvi) 8.5-9.0V, (xxvii) It is selected from the group consisting of 9.0-9.5V, (xxviii) 9.5-10.0V, and (xxix)> 10.0V.

好ましくは、使用時に、1cm当たり少なくとも1、2、3、4、5、6、7、8、9または10個の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さに沿って提供または作成される。   Preferably, in use, at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9 or 10 second axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells per cm are said ion guide. Provided or created along the axial length of.

前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの軸方向長さに沿って、前記複数の電極の軸方向位置に対応する極小値を有する。   The one or more second axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably local minimums corresponding to axial positions of the plurality of electrodes along the axial length of the ion guide. Have

前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの軸方向長さに沿って、近接する電極間の軸方向距離または間隔の実質的に50%に対応する軸方向位置に位置付けられた極大値を有する。   The one or more second axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably substantially the axial distance or spacing between adjacent electrodes along the axial length of the ion guide. And has a local maximum located at an axial position corresponding to 50%.

前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは特定の質量電荷比を有するイオンに対して実質的に同じ高さ、深さまたは振幅である極小値および/または極大値を有する。前記極小値および/または極大値は、好ましくは前記複数の電極の軸方向変位または間隔と実質的に同じである周期、またはその倍数である周期を有する。   The one or more second axial time-average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably minimal, which are substantially the same height, depth or amplitude for ions having a particular mass to charge ratio. Value and / or local maximum. The minimum value and / or maximum value preferably have a period that is substantially the same as, or a multiple of, the axial displacement or spacing of the plurality of electrodes.

上記好適な実施形態によると、前記第2の振幅は、好ましくは前記第1の振幅よりも小さいか、または大きい。好ましくは、前記第2の振幅の前記第1の振幅に対する比は、(i)<1、(ii)>1、(iii)1〜2、(iv)2〜3、(v)3〜4、(vi)4〜5、(vii)5〜6、(viii)6〜7、(ix)7〜8、(x)8〜9、(xi)9〜10、(xii)10〜11、(xiii)11〜12、(xiv)12〜13、(xv)13〜14、(xvi)14〜15、(xvii)15〜16、(xviii)16〜17、(xix)17〜18、(xx)18〜19、(xxi)19〜20、(xxii)20〜25、(xxiii)25〜30、(xxiv)30〜35、(xxv)35〜40、(xxvi)40〜45、(xxvii)45〜50、(xxviii)50〜60、(xxix)60〜70、(xxx)70〜80、(xxxi)80〜90、(xxxii)90〜100、および(xxxiii)>100からなる群から選択される。   According to the preferred embodiment, the second amplitude is preferably smaller or larger than the first amplitude. Preferably, the ratio of the second amplitude to the first amplitude is (i) <1, (ii)> 1, (iii) 1-2, (iv) 2-3, (v) 3-4 , (Vi) 4-5, (vii) 5-6, (viii) 6-7, (ix) 7-8, (x) 8-9, (xi) 9-10, (xii) 10-11, (Xiii) 11-12, (xiv) 12-13, (xv) 13-14, (xvi) 14-15, (xvii) 15-16, (xviii) 16-17, (xix) 17-18, xx) 18-19, (xxi) 19-20, (xxii) 20-25, (xxiii) 25-30, (xxiv) 30-35, (xxv) 35-40, (xxvi) 40-45, (xxvii ) 45-50, (xxviii) 50-60, (xxix) 60-70, (xxx) 7 ~80, (xxxi) 80~90, is selected from the group consisting of (xxxii) 90 to 100, and (xxxiii)> 100.

一実施形態によると、前記質量分析器は、前記複数の電極のうちの1つ以上に印加される前記第2のACまたはRF電圧の振幅を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第5の手段をさらに含む。   According to one embodiment, the mass analyzer progressively increases or decreases the amplitude of the second AC or RF voltage applied to one or more of the plurality of electrodes. Incrementally changing, scanning, linearly increasing, linearly decreasing, incrementally, incrementally or otherwise, incrementally, incrementally, or otherwise A fifth means configured and adapted to reduce at a.

前記第5の手段は、好ましくは前記第2のACまたはRF電圧の振幅をx5ボルトだけ期間t5にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される。好ましくは、x5は、(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜550Vピークトゥピーク、(xxii)550〜600Vピークトゥピーク、(xxiii)600〜650Vピークトゥピーク、(xxiv)650〜700Vピークトゥピーク、(xxv)700〜750Vピークトゥピーク、(xxvi)750〜800Vピークトゥピーク、(xxvii)800〜850Vピークトゥピーク、(xxviii)850〜900Vピークトゥピーク、(xxix)900〜950Vピークトゥピーク、(xxx)950〜1000Vピークトゥピーク、および(xxxi)>1000Vピークトゥピークからなる群から選択される。好ましくは、t5は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される。 It said fifth means, or preferably either progressively increased over only a period t 5 amplitude x 5 volts of the second AC or RF voltage, or progressively reduced, progressively changes, scan Configured, adapted to increase, linearly decrease, linearly decrease, increase stepwise, gradual or otherwise, or decrease stepwise, gradual or otherwise The Preferably, x 5 is, (i) <50V peak-to-peak, (ii) 50 to 100 peak-to-peak, (iii) 100~150V peak-to-peak, (iv) 150~200V peak-to-peak, (v) 200 ~ 250V peak-to-peak, (vi) 250-300V peak-to-peak, (vii) 300-350V peak-to-peak, (viii) 350-400V peak-to-peak, (ix) 400-450V peak-to-peak, (x) 450 ~ 500V peak-to-peak, (xi) 500-550V peak-to-peak, (xxii) 550-600V peak-to-peak, (xxiii) 600-650V peak-to-peak, (xxiv) 650-700V peak-to-peak, (xxv) 700 ~ 750V peak-to-peak, (xxv ) 750-800V peak-to-peak, (xxvii) 800-850V peak-to-peak, (xxviii) 850-900V peak-to-peak, (xxix) 900-950V peak-to-peak, (xxx) 950-1000V peak-to-peak, and xxxi)> 1000 V selected from the group consisting of peak-to-peak. Preferably, t 5 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii ) 50-60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300-400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1 ~ 2s, (xxii) 2-3s, (xxiii) 3-4s, (xxiv) 4-5s, and (xxv)> 5s It is selected from Ranaru group.

前記質量分析器は、好ましくは前記複数の電極のうちの1つ以上に印加される前記第2のRFまたはAC電圧の周波数を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第6の手段をさらに含む。   The mass analyzer preferably progressively increases, progressively decreases or progressively increases the frequency of the second RF or AC voltage applied to one or more of the plurality of electrodes. To change, scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, progressively or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise And further includes a sixth means configured and adapted to.

前記第6の手段は、好ましくは前記電極に印加される前記第2のRFまたはAC電圧の周波数をx6MHzだけ期間t6にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される。好ましくは、x6は、(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される。好ましくは、t6は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される。 The sixth means preferably increases, decreases or decreases gradually the frequency of the second RF or AC voltage applied to the electrode over a period t 6 by x 6 MHz. , Scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, gradual or otherwise, or decrease stepwise, gradual or otherwise As configured and adapted. Preferably, x 6 is, (i) <100kHz, ( ii) 100~200kHz, (iii) 200~300kHz, (iv) 300~400kHz, (v) 400~500kHz, (vi) 0.5~1. 0 MHz, (vii) 1.0-1.5 MHz, (viii) 1.5-2.0 MHz, (ix) 2.0-2.5 MHz, (x) 2.5-3.0 MHz, (xi) 3 0.0-3.5 MHz, (xii) 3.5-4.0 MHz, (xiii) 4.0-4.5 MHz, (xiv) 4.5-5.0 MHz, (xv) 5.0-5.5 MHz (Xvi) 5.5-6.0 MHz, (xvii) 6.0-6.5 MHz, (xviii) 6.5-7.0 MHz, (xix) 7.0-7.5 MHz, (xx) 7. 5 to 8.0 MHz, (xxi) 8.0 to 8.5 MH , (Xxii) 8.5~9.0MHz, (xxiii) 9.0~9.5MHz, is selected from the group consisting of (xxiv) 9.5~10.0MHz, and (xxv)> 10.0MHz. Preferably, t 6 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii ) 50-60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300-400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1 ~ 2s, (xxii) 2-3s, (xxiii) 3-4s, (xxiv) 4-5s, and (xxv)> 5s It is selected from Ranaru group.

前記質量分析器は、好ましくは、第1のDC電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加して、使用時に、前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が好ましくはDC軸方向ポテンシャル障壁または井戸を軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁または井戸と組み合わせて含むようにするための手段をさらに含む。   The mass analyzer preferably applies a first DC voltage to one or more of the plurality of electrodes and, in use, the one or more second axial time average or pseudopotential barriers; The corrugated shape or well preferably further comprises means for including a DC axial potential barrier or well in combination with an axial time average or pseudopotential barrier or well.

一実施形態によると、前記質量分析器は、前記複数の電極のうちの1つ以上に印加される前記第1のDC電圧の振幅を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第7の手段をさらに含む。   According to one embodiment, the mass analyzer progressively increases, progressively decreases, progressively increases the amplitude of the first DC voltage applied to one or more of the plurality of electrodes. Change, scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, incrementally or otherwise, or decrease incrementally, incrementally, or otherwise And further includes a seventh means configured and adapted to do so.

前記第7の手段は、好ましくは前記第1のDC電圧の振幅をx7ボルトだけ期間t7にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される。好ましくは、x7は、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される。好ましくは、t7は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される。 Whether the seventh means preferably gradually increases, gradually decreases, gradually changes or scans the amplitude of the first DC voltage by a period of t 7 by x 7 volts. Configured and adapted to increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, incrementally or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise. Preferably, x 7 is, (i) <0.1V, ( ii) 0.1~0.2V, (iii) 0.2~0.3V, (iv) 0.3~0.4V, (v ) 0.4-0.5V, (vi) 0.5-0.6V, (vii) 0.6-0.7V, (viii) 0.7-0.8V, (ix) 0.8-0 .9V, (x) 0.9-1.0V, (xi) 1.0-1.5V, (xii) 1.5-2.0V, (xiii) 2.0-2.5V, (xiv) 2.5-3.0V, (xv) 3.0-3.5V, (xvi) 3.5-4.0V, (xvii) 4.0-4.5V, (xviii) 4.5-5. 0V, (xix) 5.0-5.5V, (xx) 5.5-6.0V, (xxi) 6.0-6.5V, (xxii) 6.5-7.0V, (xxiii) 7 0.0-7.5V, (xxiv) 7.5 8.0V, (xxv) 8.0-8.5V, (xxvi) 8.5-9.0V, (xxvii) 9.0-9.5V, (xxviii) 9.5-10.0V, and ( xxix)> 10.0V. Preferably, t 7 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii ) 50-60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300-400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1 ~ 2s, (xxii) 2-3s, (xxiii) 3-4s, (xxiv) 4-5s, and (xxv)> 5s It is selected from Ranaru group.

前記質量分析器は、好ましくは第3のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加して、使用時に、第3の振幅を有する1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするための手段をさらに含む。前記第3の振幅は、好ましくは前記第1の振幅および/または前記第2の振幅と異なる。一実施形態によると、前記第3の振幅は、前記第2の振幅と同じであり得るが、前記第1の振幅とは異なり得る。   The mass analyzer preferably applies a third AC or RF voltage to one or more of the plurality of electrodes to, in use, one or more third axial times having a third amplitude. Means are further included for causing an average or pseudopotential barrier, corrugation or well to be created along at least a portion of the axial length of the ion guide. The third amplitude is preferably different from the first amplitude and / or the second amplitude. According to one embodiment, the third amplitude may be the same as the second amplitude, but may be different from the first amplitude.

前記第3のACまたはRF電圧は、好ましくは(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜550Vピークトゥピーク、(xxii)550〜600Vピークトゥピーク、(xxiii)600〜650Vピークトゥピーク、(xxiv)650〜700Vピークトゥピーク、(xxv)700〜750Vピークトゥピーク、(xxvi)750〜800Vピークトゥピーク、(xxvii)800〜850Vピークトゥピーク、(xxviii)850〜900Vピークトゥピーク、(xxix)900〜950Vピークトゥピーク、(xxx)950〜1000Vピークトゥピーク、および(xxxi)>1000Vピークトゥピークからなる群から選択される振幅を有する。   The third AC or RF voltage is preferably (i) <50V peak-to-peak, (ii) 50-100V peak-to-peak, (iii) 100-150V peak-to-peak, (iv) 150-200V peak-to-peak (Vi) 200-250V peak-to-peak, (vi) 250-300V peak-to-peak, (vii) 300-350V peak-to-peak, (viii) 350-400V peak-to-peak, (ix) 400-450V peak-to-peak (X) 450-500V peak-to-peak, (xi) 500-550V peak-to-peak, (xxii) 550-600V peak-to-peak, (xxiii) 600-650V peak-to-peak, (xxiv) 650-700V peak-to-peak , (Xxv) 700-750V Toe peak, (xxvi) 750-800V peak-to-peak, (xxvii) 800-850V peak-to-peak, (xxviii) 850-900V peak-to-peak, (xxix) 900-950V peak-to-peak, (xxx) 950-1000V peak-to-peak With an amplitude selected from the group consisting of a peak and (xxxi)> 1000V peak-to-peak.

前記第3のACまたはRF電圧は、好ましくは(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される周波数を有する。   The third AC or RF voltage is preferably (i) <100 kHz, (ii) 100-200 kHz, (iii) 200-300 kHz, (iv) 300-400 kHz, (v) 400-500 kHz, (vi) 0 .5 to 1.0 MHz, (vii) 1.0 to 1.5 MHz, (viii) 1.5 to 2.0 MHz, (ix) 2.0 to 2.5 MHz, (x) 2.5 to 3.0 MHz (Xi) 3.0-3.5 MHz, (xii) 3.5-4.0 MHz, (xiii) 4.0-4.5 MHz, (xiv) 4.5-5.0 MHz, (xv) 5. 0 to 5.5 MHz, (xvi) 5.5 to 6.0 MHz, (xvii) 6.0 to 6.5 MHz, (xviii) 6.5 to 7.0 MHz, (xix) 7.0 to 7.5 MHz, (Xx) 7.5-8.0 MHz, (xx ) 8.0-8.5 MHz, (xxii) 8.5-9.0 MHz, (xxiii) 9.0-9.5 MHz, (xxiv) 9.5-10.0 MHz, and (xxv)> 10.0 MHz Having a frequency selected from the group consisting of:

前記第3のACまたはRF電圧を印加するための手段は、好ましくは前記第3のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に印加するように構成される。   The means for applying the third AC or RF voltage preferably comprises applying the third AC or RF voltage to at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20% of the plurality of electrodes, Apply to 25%, 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100% Configured as follows.

前記第3のACまたはRF電圧を印加するための手段は、好ましくは軸方向に隣り合う電極または軸方向に隣り合う電極グループに前記第3のACまたはRF電圧の互いに反対の位相を供給するように構成される。   The means for applying the third AC or RF voltage preferably provides opposite phases of the third AC or RF voltage to axially adjacent electrodes or axially adjacent electrode groups. Configured.

前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは、使用時に、前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%または95%に沿って作成される。   The one or more third axial time-average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably at least 1%, 5%, 10%, 20% of the axial length of the ion guide in use. 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90% or 95%.

前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの中心長軸の少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%または95%に沿って作成または提供される。   The one or more third axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40% of the central long axis of the ion guide. %, 50%, 60%, 70%, 80%, 90% or 95%.

前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの上流部分および/または中間部分および/または下流部分に作成または提供される。   The one or more third axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably created or provided in the upstream and / or intermediate and / or downstream portions of the ion guide.

前記イオンガイドは、好ましくは長さLを有し、かつ前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの長さに沿って、(i)0〜0.1L、(ii)0.1〜0.2L、(iii)0.2〜0.3L、(iv)0.3〜0.4L、(v)0.4〜0.5L、(vi)0.5〜0.6L、(vii)0.6〜0.7L、(viii)0.7〜0.8L、(ix)0.8〜0.9L、および(x)0.9〜1.0Lからなる群から選択される変位を有する1つ以上の領域または位置に作成または提供される。   The ion guide preferably has a length L, and the one or more third axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably along the length of the ion guide, (I) 0-0.1L, (ii) 0.1-0.2L, (iii) 0.2-0.3L, (iv) 0.3-0.4L, (v) 0.4-0 .5L, (vi) 0.5-0.6L, (vii) 0.6-0.7L, (viii) 0.7-0.8L, (ix) 0.8-0.9L, and (x ) Created or provided in one or more regions or locations having a displacement selected from the group consisting of 0.9-1.0 L.

前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの中心長軸から遠ざかるように半径方向に少なくともr mmだけ延伸し、ここで、rは、(i)<1、(ii)1〜2、(iii)2〜3、(iv)3〜4、(v)4〜5、(vi)5〜6、(vii)6〜7、(viii)7〜8、(ix)8〜9、(x)9〜10、および(xi)>10からなる群から選択される。   The one or more third axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells preferably extend radially at least r mm away from the central long axis of the ion guide, where r (I) <1, (ii) 1-2, (iii) 2-3, (iv) 3-4, (v) 4-5, (vi) 5-6, (vii) 6-7, (Viii) selected from the group consisting of 7-8, (ix) 8-9, (x) 9-10, and (xi)> 10.

一実施形態によると、質量電荷比が1〜100、100〜200、200〜300、300〜400、400〜500、500〜600、600〜700、700〜800、800〜900または900〜1000の範囲にあるイオンに対して、前記第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%の振幅、高さまたは深さは、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される。   According to one embodiment, the mass to charge ratio is 1-100, 100-200, 200-300, 300-400, 400-500, 500-600, 600-700, 700-800, 800-900 or 900-1000. For ions in range, at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50% of the third axial time average or pseudopotential barrier, corrugation or well, The amplitude, height or depth of 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% are (i) <0.1V, (ii) 0.1-0.2V, (iii) 0 .2 to 0.3 V, (iv) 0.3 to 0.4 V, (v) 0.4 to 0.5 V, (vi) 0.5 to 0.6 V, (vii) 0.6 to 0.7 V , (Viii) 0.7 to 0.8 V, (ix) 0.8 to 0.9 (X) 0.9-1.0V, (xi) 1.0-1.5V, (xii) 1.5-2.0V, (xiii) 2.0-2.5V, (xiv) 2. 5-3.0V, (xv) 3.0-3.5V, (xvi) 3.5-4.0V, (xvii) 4.0-4.5V, (xviii) 4.5-5.0V, (Xix) 5.0-5.5V, (xx) 5.5-6.0V, (xxi) 6.0-6.5V, (xxii) 6.5-7.0V, (xxiii) 7.0 -7.5V, (xxiv) 7.5-8.0V, (xxv) 8.0-8.5V, (xxvi) 8.5-9.0V, (xxvii) 9.0-9.5V, ( xxviii) selected from the group consisting of 9.5 to 10.0V, and (xxix)> 10.0V.

一実施形態によると、使用時に、1cm当たり少なくとも1、2、3、4、5、6、7、8、9または10個の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さに沿って提供または作成される。   According to one embodiment, there are at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9 or 10 third axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells per cm when used. Provided or created along the axial length of the ion guide.

前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの軸方向長さに沿って、好ましくは前記複数の電極の軸方向位置に対応する極小値を有する。   The one or more third axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells preferably correspond to the axial position of the plurality of electrodes, preferably along the axial length of the ion guide. Has a local minimum.

前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは前記イオンガイドの軸方向長さに沿って、好ましくは近接する電極間の軸方向距離または間隔の実質的に50%に対応する軸方向位置に位置付けられた極大値を有する。   The one or more third axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably along the axial length of the ion guide, preferably with an axial distance or spacing between adjacent electrodes. Having a local maximum located at an axial position substantially corresponding to 50%.

前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、好ましくは特定の質量電荷比を有するイオンに対して実質的に同じ高さ、深さまたは振幅である極小値および/または極大値を有し、かつ前記極小値および/または極大値は、前記複数の電極の軸方向変位または間隔と実質的に同じである周期、またはその倍数である周期を有する。   The one or more third axial time-average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are preferably minimal, which are substantially the same height, depth or amplitude for ions having a particular mass to charge ratio. The minimum value and / or the maximum value have a period that is substantially the same as, or a multiple of, the axial displacement or interval of the plurality of electrodes.

前記第3の振幅は、好ましくは前記第1の振幅および/または前記第2の振幅よりも小さいか、または大きい。前記第3の振幅の前記第1の振幅に対する比は、好ましくは(i)<1、(ii)>1、(iii)1〜2、(iv)2〜3、(v)3〜4、(vi)4〜5、(vii)5〜6、(viii)6〜7、(ix)7〜8、(x)8〜9、(xi)9〜10、(xii)10〜11、(xiii)11〜12、(xiv)12〜13、(xv)13〜14、(xvi)14〜15、(xvii)15〜16、(xviii)16〜17、(xix)17〜18、(xx)18〜19、(xxi)19〜20、(xxii)20〜25、(xxiii)25〜30、(xxiv)30〜35、(xxv)35〜40、(xxvi)40〜45、(xxvii)45〜50、(xxviii)50〜60、(xxix)60〜70、(xxx)70〜80、(xxxi)80〜90、(xxxii)90〜100、および(xxxiii)>100からなる群から選択される。   The third amplitude is preferably smaller or larger than the first amplitude and / or the second amplitude. The ratio of the third amplitude to the first amplitude is preferably (i) <1, (ii)> 1, (iii) 1-2, (iv) 2-3, (v) 3-4, (Vi) 4-5, (vii) 5-6, (viii) 6-7, (ix) 7-8, (x) 8-9, (xi) 9-10, (xii) 10-11, xiii) 11-12, (xiv) 12-13, (xv) 13-14, (xvi) 14-15, (xvii) 15-16, (xviii) 16-17, (xix) 17-18, (xx ) 18-19, (xxi) 19-20, (xxii) 20-25, (xxiii) 25-30, (xxiv) 30-35, (xxv) 35-40, (xxvi) 40-45, (xxvii) 45-50, (xxviii) 50-60, (xxix) 60-70, (xxx) 70 80, (xxxi) 80~90, it is selected from the group consisting of (xxxii) 90 to 100, and (xxxiii)> 100.

前記第3の振幅の前記第2の振幅に対する比は、好ましくは(i)<1、(ii)>1、(iii)1〜2、(iv)2〜3、(v)3〜4、(vi)4〜5、(vii)5〜6、(viii)6〜7、(ix)7〜8、(x)8〜9、(xi)9〜10、(xii)10〜11、(xiii)11〜12、(xiv)12〜13、(xv)13〜14、(xvi)14〜15、(xvii)15〜16、(xviii)16〜17、(xix)17〜18、(xx)18〜19、(xxi)19〜20、(xxii)20〜25、(xxiii)25〜30、(xxiv)30〜35、(xxv)35〜40、(xxvi)40〜45、(xxvii)45〜50、(xxviii)50〜60、(xxix)60〜70、(xxx)70〜80、(xxxi)80〜90、(xxxii)90〜100、および(xxxiii)>100からなる群から選択される。   The ratio of the third amplitude to the second amplitude is preferably (i) <1, (ii)> 1, (iii) 1-2, (iv) 2-3, (v) 3-4, (Vi) 4-5, (vii) 5-6, (viii) 6-7, (ix) 7-8, (x) 8-9, (xi) 9-10, (xii) 10-11, xiii) 11-12, (xiv) 12-13, (xv) 13-14, (xvi) 14-15, (xvii) 15-16, (xviii) 16-17, (xix) 17-18, (xx ) 18-19, (xxi) 19-20, (xxii) 20-25, (xxiii) 25-30, (xxiv) 30-35, (xxv) 35-40, (xxvi) 40-45, (xxvii) 45-50, (xxviii) 50-60, (xxix) 60-70, (xxx) 70 80, (xxxi) 80~90, it is selected from the group consisting of (xxxii) 90 to 100, and (xxxiii)> 100.

前記質量分析器は、前記複数の電極のうちの1つ以上に印加される前記第3のACまたはRF電圧の振幅を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第8の手段をさらに含み得る。   The mass analyzer progressively increases, progressively decreases, or gradually changes the amplitude of the third AC or RF voltage applied to one or more of the plurality of electrodes. Configured to scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, progressively or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise And may further comprise adapted eighth means.

前記第8の手段は、好ましくは前記第3のACまたはRF電圧の振幅をx8ボルトだけ期間t8にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される。好ましくは、x8は、(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)>500Vピークトゥピークからなる群から選択される。好ましくは、t8は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される。 The eighth means preferably increases or decreases the amplitude of the third AC or RF voltage progressively by x 8 volts over a period t 8 , gradually decreases, gradually changes, or scans. Configured, adapted to increase, linearly decrease, linearly decrease, increase stepwise, gradual or otherwise, or decrease stepwise, gradual or otherwise The Preferably, x 8 is, (i) <50V peak-to-peak, (ii) 50 to 100 peak-to-peak, (iii) 100~150V peak-to-peak, (iv) 150~200V peak-to-peak, (v) 200 ~ 250V peak-to-peak, (vi) 250-300V peak-to-peak, (vii) 300-350V peak-to-peak, (viii) 350-400V peak-to-peak, (ix) 400-450V peak-to-peak, (x) 450 Selected from the group consisting of ~ 500V peak-to-peak, (xi)> 500V peak-to-peak. Preferably, t 8 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii ) 50-60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300-400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1 ~ 2s, (xxii) 2-3s, (xxiii) 3-4s, (xxiv) 4-5s, and (xxv)> 5s It is selected from Ranaru group.

一実施形態によると、前記質量分析器は、好ましくは前記複数の電極のうちの1つ以上に印加される前記第3のRFまたはAC電圧の周波数を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第9の手段をさらに含む。   According to one embodiment, the mass analyzer preferably increases or decreases gradually the frequency of the third RF or AC voltage applied to one or more of the plurality of electrodes. , Change incrementally, scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, stepwise or otherwise, stepwise, stepwise or others A ninth means configured and adapted to reduce in this manner.

前記第9の手段は、好ましくは前記複数の電極のうちの1つ以上に印加される前記第3のRFまたはAC電圧の周波数をx9MHzだけ期間t9にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される。好ましくは、x9は、(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される。好ましくは、t9は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される。 The ninth means preferably increases the frequency of the third RF or AC voltage applied to one or more of the plurality of electrodes gradually over a period t 9 by x 9 MHz, or gradually Decreasing, incrementally changing, scanning, increasing linearly, decreasing linearly, incrementally, incrementally or otherwise, incrementally, incrementally Configured or adapted to reduce or otherwise. Preferably, x 9 is, (i) <100kHz, ( ii) 100~200kHz, (iii) 200~300kHz, (iv) 300~400kHz, (v) 400~500kHz, (vi) 0.5~1. 0 MHz, (vii) 1.0-1.5 MHz, (viii) 1.5-2.0 MHz, (ix) 2.0-2.5 MHz, (x) 2.5-3.0 MHz, (xi) 3 0.0-3.5 MHz, (xii) 3.5-4.0 MHz, (xiii) 4.0-4.5 MHz, (xiv) 4.5-5.0 MHz, (xv) 5.0-5.5 MHz (Xvi) 5.5-6.0 MHz, (xvii) 6.0-6.5 MHz, (xviii) 6.5-7.0 MHz, (xix) 7.0-7.5 MHz, (xx) 7. 5 to 8.0 MHz, (xxi) 8.0 to 8.5 MH , (Xxii) 8.5~9.0MHz, (xxiii) 9.0~9.5MHz, is selected from the group consisting of (xxiv) 9.5~10.0MHz, and (xxv)> 10.0MHz. Preferably, t 9 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii ) 50-60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300-400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1 ~ 2s, (xxii) 2-3s, (xxiii) 3-4s, (xxiv) 4-5s, and (xxv)> 5s It is selected from Ranaru group.

前記質量分析器は、好ましくは第2のDC電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加して、使用時に、前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸がDC軸方向ポテンシャル障壁または井戸を軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁もしくは井戸と組み合わせて含むようにするための手段をさらに含む。   The mass analyzer preferably applies a second DC voltage to one or more of the plurality of electrodes and, in use, the one or more third axial time average or pseudopotential barriers, waveforms There is further included means for causing the shape or well to include a DC axial potential barrier or well in combination with an axial time average or pseudopotential barrier or well.

前記質量分析器は、好ましくは前記複数の電極のうちの1つ以上に印加される前記第2のDC電圧の振幅を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第10の手段をさらに含む。   The mass analyzer preferably progressively increases, progressively reduces or gradually changes the amplitude of the second DC voltage applied to one or more of the plurality of electrodes. Configured to scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, progressively or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise And further includes a tenth means adapted.

前記第10の手段は、好ましくは前記第2のDC電圧の振幅をx10ボルトだけ期間t10にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される。好ましくは、x10は、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される。好ましくは、t10は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される。 Or the tenth means is preferably either progressively increased over only a period t 10 the amplitude of the second DC voltage x 10 volts, or progressively reduced, either gradually changed to scan Configured and adapted to increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, incrementally or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise. Preferably, x 10 is, (i) <0.1V, ( ii) 0.1~0.2V, (iii) 0.2~0.3V, (iv) 0.3~0.4V, (v ) 0.4-0.5V, (vi) 0.5-0.6V, (vii) 0.6-0.7V, (viii) 0.7-0.8V, (ix) 0.8-0 .9V, (x) 0.9-1.0V, (xi) 1.0-1.5V, (xii) 1.5-2.0V, (xiii) 2.0-2.5V, (xiv) 2.5-3.0V, (xv) 3.0-3.5V, (xvi) 3.5-4.0V, (xvii) 4.0-4.5V, (xviii) 4.5-5. 0V, (xix) 5.0-5.5V, (xx) 5.5-6.0V, (xxi) 6.0-6.5V, (xxii) 6.5-7.0V, (xxiii) 7 0.0-7.5V, (xxiv) 7.5 8.0V, (xxv) 8.0-8.5V, (xxvi) 8.5-9.0V, (xxvii) 9.0-9.5V, (xxviii) 9.5-10.0V, and ( xxix)> 10.0V. Preferably, t 10 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii ) 50-60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300-400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1 ~ 2s, (xxii) 2-3s, (xxiii) 3-4s, (xxiv) 4-5s, and (xxv)> 5s It is selected from Ranaru group.

一実施形態によると、前記質量分析器は、前記イオンガイドの前記電極のうちの少なくともいくつかに印加され、かつイオンを前記イオンガイド内に半径方向に閉じ込めるように作用するDC電圧またはポテンシャルの振幅を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第11の手段をさらに含む。   According to one embodiment, the mass analyzer is applied to at least some of the electrodes of the ion guide and has a DC voltage or potential amplitude that acts to radially confine ions within the ion guide. Progressively increasing, progressively decreasing, incrementally changing, scanning, increasing linearly, decreasing linearly, stepwise, incrementally or otherwise It further includes an eleventh means configured and adapted to increase or decrease stepwise, progressively or otherwise.

前記第11の手段は、好ましくは前記少なくともいくつかの電極に印加される前記DC電圧またはポテンシャルの振幅をx11ボルトだけ期間t11にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される。好ましくは、x11は、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される。好ましくは、t11は、(i)<lms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される。 The eleventh means is either preferably or progressively increased over only a period t 11 amplitude x 11 volts of the DC voltage or potential applied to said at least some of the electrodes are progressively reduced, progressively Change, scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, gradual or otherwise, or decrease stepwise, gradual or otherwise Configured and adapted to. Preferably, x 11 is, (i) <0.1V, ( ii) 0.1~0.2V, (iii) 0.2~0.3V, (iv) 0.3~0.4V, (v ) 0.4-0.5V, (vi) 0.5-0.6V, (vii) 0.6-0.7V, (viii) 0.7-0.8V, (ix) 0.8-0 .9V, (x) 0.9-1.0V, (xi) 1.0-1.5V, (xii) 1.5-2.0V, (xiii) 2.0-2.5V, (xiv) 2.5-3.0V, (xv) 3.0-3.5V, (xvi) 3.5-4.0V, (xvii) 4.0-4.5V, (xviii) 4.5-5. 0V, (xix) 5.0-5.5V, (xx) 5.5-6.0V, (xxi) 6.0-6.5V, (xxii) 6.5-7.0V, (xxiii) 7 0.0-7.5V, (xxiv) 7.5 8.0V, (xxv) 8.0-8.5V, (xxvi) 8.5-9.0V, (xxvii) 9.0-9.5V, (xxviii) 9.5-10.0V, and ( xxix)> 10.0V. Preferably, t 11 is (i) <lms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii ) 50-60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300-400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (xx) 900-1000 ms, (xxi) 1 ~ 2s, (xxii) 2-3s, (xxiii) 3-4s, (xxiv) 4-5s, and (xxv)> 5s It is selected from Ranaru group.

前記質量分析器は、好ましくは一動作モードにおいて、前記イオンガイドを(i)<1.0×10-1mbar、(ii)<1.0×10-2mbar、(iii)<1.0×10-3mbar、および(iv)<1.0×10-4mbarからなる群から選択される圧力に維持するための手段をさらに含む。 The mass analyzer preferably moves the ion guide to (i) <1.0 × 10 −1 mbar, (ii) <1.0 × 10 −2 mbar, (iii) <1.0 in one mode of operation. It further comprises means for maintaining a pressure selected from the group consisting of x10 -3 mbar and (iv) <1.0 x 10 -4 mbar.

前記質量分析器は、一動作モードにおいて、前記イオンガイドを(i)>1.0×10-3mbar、(ii)>1.0×10-2mbar、(iii)>1.0×10-1mbar、(iv)>1mbar、(v)>10mbar、(vi)>100mbar、(vii)>5.0×10-3mbar、(viii)>5.0×10-2mbar、(ix)10-4〜10-3mbar、(x)10-3〜10-2mbar、および(xi)10-2〜10-1mbarからなる群から選択される圧力に維持するための手段をさらに含む。 In one mode of operation, the mass analyzer moves the ion guide to (i)> 1.0 × 10 −3 mbar, (ii)> 1.0 × 10 −2 mbar, (iii)> 1.0 × 10 −1 mbar, (iv)> 1 mbar, (v)> 10 mbar, (vi)> 100 mbar, (vii)> 5.0 × 10 −3 mbar, (viii)> 5.0 × 10 −2 mbar, (ix Further means for maintaining a pressure selected from the group consisting of: 10 −4 to 10 −3 mbar, (x) 10 −3 to 10 −2 mbar, and (xi) 10 −2 to 10 −1 mbar. Including.

前記質量分析器は、好ましくは前記イオンガイドを通るガスフロー(gas flow)を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される手段をさらに含む。   The mass analyzer preferably progressively increases, progressively decreases, progressively changes, scans or increases linearly the gas flow through the ion guide. Further comprising means adapted and adapted to reduce linearly, increase stepwise, progressively or otherwise, or decrease stepwise, progressively or otherwise.

一実施形態によると、一動作モードにおいて、イオンが好ましくは前記イオンガイド内にトラップされるが、実質的にフラグメンテーションされないように構成される。   According to one embodiment, in one mode of operation, ions are preferably trapped within the ion guide but configured to be substantially unfragmented.

前記質量分析器は、前記イオンガイド内においてイオンを衝突により冷却するか、または実質的に熱化する(thermalising)ための手段をさらに含み得る。   The mass analyzer may further include means for cooling or substantially thermalizing the ions in the ion guide by impact.

前記質量分析器は、一動作モードにおいて、前記イオンガイド内においてイオンを実質的にフラグメンテーションする手段をさらに含み得る。   The mass analyzer may further include means for substantially fragmenting ions within the ion guide in one mode of operation.

前記質量分析器は、前記イオンガイドの入口および/または出口に配置される1つ以上の電極をさらに含み得、一動作モードにおいて、前記1つ以上の電極がイオンをパルス化して前記イオンガイドへ入力および/またはそこから出力するように構成される。   The mass analyzer may further include one or more electrodes disposed at the inlet and / or outlet of the ion guide, wherein in one mode of operation, the one or more electrodes pulse ions to the ion guide. Configured to input and / or output therefrom.

本発明の別の態様によると、上記質量分析器を含む質量分析計が提供される。   According to another aspect of the present invention, a mass spectrometer is provided that includes the mass analyzer.

前記質量分析計は、好ましくは(i)エレクトロスプレーイオン化(「ESI」)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(「APPI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)マトリックス支援レーザ脱離イオン化(「MALDI」)イオン源、(v)レーザ脱離イオン化(「LDI」)イオン源、(vi)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(vii)シリコンを用いた脱離イオン化(「DIOS」)イオン源、(viii)電子衝突(「EI」)イオン源、(ix)化学イオン化(「CI」)イオン源、(x)電界イオン化(「FI」)イオン源、(xi)電界脱離(「FD」)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(「ICP」)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(「FAB」)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(「LSIMS」)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレーイオン化(「DESI」)イオン源、(xvi)ニッケル−63放射性イオン源、および(xvii)サーモスプレーイオン源からなる群から選択されるイオン源を含む。   The mass spectrometer preferably comprises (i) an electrospray ionization (“ESI”) ion source, (ii) atmospheric pressure photoionization (“APPI”) ion source, and (iii) atmospheric pressure chemical ionization (“APCI”) ion. (Iv) a matrix assisted laser desorption ionization (“MALDI”) ion source, (v) a laser desorption ionization (“LDI”) ion source, (vi) an atmospheric pressure ionization (“API”) ion source, (vii) ) Desorption ionization (“DIOS”) ion source using silicon, (viii) electron impact (“EI”) ion source, (ix) chemical ionization (“CI”) ion source, (x) field ionization (“FI”) ") Ion source, (xi) field desorption (" FD ") ion source, (xii) inductively coupled plasma (" ICP ") ion source, (xiii) fast atom bombardment (" FAB ") On-source, (xiv) liquid secondary ion mass spectrometry (“LSIMS”) ion source, (xv) desorption electrospray ionization (“DESI”) ion source, (xvi) nickel-63 radioactive ion source, and (xvii) An ion source selected from the group consisting of a thermospray ion source.

前記質量分析計は、好ましくは連続またはパルス化イオン源を含む。   The mass spectrometer preferably includes a continuous or pulsed ion source.

前記質量分析計は、好ましくは前記質量分析器の上流および/または下流に配置される1つ以上の質量フィルタをさらに含む。前記1つ以上の質量フィルタは、好ましくは(i)四重極ロッドセット質量フィルタ、(ii)飛行時間質量フィルタまたは質量分析器、(iii)ウィーンフィルタ、および(iv)扇形磁場質量フィルタ(magnetic sector mass filter)または質量分析器からなる群から選択される。   The mass spectrometer further includes one or more mass filters, preferably disposed upstream and / or downstream of the mass analyzer. The one or more mass filters are preferably (i) a quadrupole rod set mass filter, (ii) a time-of-flight mass filter or mass analyzer, (iii) a Wien filter, and (iv) a sector magnetic field mass filter (magnetic). (sector mass filter) or mass analyzer.

前記質量分析計は、好ましくは前記質量分析器の上流および/または下流に配置される1つ以上の第2のイオンガイドまたはイオントラップをさらに含む。前記1つ以上の第2のイオンガイドまたはイオントラップは、好ましくは
(i)四重極ロッドセット、六重極ロッドセット、八重極ロッドセットまたは8個より多くのロッドを含むロッドセットを含む多極ロッドセットもしくはセグメント化多極ロッドセットイオンガイドまたはイオントラップ、
(ii)開口を有する複数の電極または少なくとも2、5、10、20、30、40、50、60、70、80、90もしくは100個の電極を含むイオントンネルもしくはイオンファネルイオンガイドまたはイオントラップであって、使用時にイオンは、前記開口を通って移送され、前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%は、実質的に同じサイズもしくは面積の開口を有するか、またはサイズまたは面積が漸進的により大きくおよび/またはより小さくなる開口を有する、イオントンネルもしくはイオンファネルイオンガイドまたはイオントラップ、
(iii)1スタックもしくはアレイの平面、プレートまたはメッシュ電極であって、前記1スタックもしくはアレイの平面、プレートまたはメッシュ電極は、複数のまたは少なくとも2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19もしくは20個の平面、プレートまたはメッシュ電極を含むか、あるいは少なくとも前記平面、プレートまたはメッシュ電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%は、使用時にイオンが走行する平面内に一般に配置される、1スタックもしくはアレイの平面、プレートまたはメッシュ電極、および
(iv)イオントラップまたはイオンガイドであって、前記イオントラップまたはイオンガイドの長さに沿って軸方向に配置される複数のグループの電極を含み、各グループの電極は、(a)第1および第2の電極ならびにイオンを前記イオンガイド内に第1の半径方向に閉じ込めるためにDC電圧またはポテンシャルを前記第1および第2の電極に印加するための手段、および(b)第3および第4の電極ならびにイオンを前記イオンガイド内に第2の半径方向に閉じ込めるためにACまたはRF電圧を前記第3および第4の電極に印加するための手段を含み、前記第2の半径方向は、好ましくは前記第1の半径方向とは異なる、イオントラップまたはイオンガイドからなる群から選択される。
The mass spectrometer further includes one or more second ion guides or ion traps, preferably disposed upstream and / or downstream of the mass analyzer. The one or more second ion guides or ion traps preferably include (i) a quadrupole rod set, a hexapole rod set, an octupole rod set or a rod set comprising more than eight rods. Pole rod set or segmented multipole rod set ion guide or ion trap,
(Ii) In an ion tunnel or ion funnel ion guide or ion trap comprising a plurality of electrodes with openings or at least 2, 5, 10, 20, 30, 40, 50, 60, 70, 80, 90 or 100 electrodes In use, ions are transported through the aperture and at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20%, 25%, 30%, 35%, 40%, 45% of the electrodes. %, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100% have apertures of substantially the same size or area, or An ion tunnel or ion funnel ion guide or ion trap having openings that are progressively larger and / or smaller in size or area;
(Iii) one stack or array plane, plate or mesh electrode, wherein the one stack or array plane, plate or mesh electrode is a plurality or at least 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19 or 20 planes, plates or mesh electrodes, or at least 1% of said planes, plates or mesh electrodes 5%, 10%, 15%, 20%, 25%, 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85 %, 90%, 95% or 100% are typically placed in the plane in which ions travel in use, one stack or array plane, plate or mesh electrode And (iv) an ion trap or ion guide comprising a plurality of groups of electrodes arranged axially along the length of the ion trap or ion guide, each group of electrodes comprising: (a) a first And a second electrode and means for applying a DC voltage or potential to the first and second electrodes to confine ions in a first radial direction within the ion guide, and (b) a third and second 4 electrodes and means for applying an AC or RF voltage to the third and fourth electrodes to confine ions in a second radial direction within the ion guide, the second radial direction comprising: Preferably, it is selected from the group consisting of an ion trap or an ion guide different from the first radial direction.

一好適な実施形態によると、前記第2のイオンガイドまたはイオントラップは、好ましくはイオントンネルもしくはイオンファネルイオンガイドまたはイオントラップを含み、前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%は、(i)≦1.0mm、(ii)≦2.0mm、(iii)≦3.0mm、(iv)≦4.0mm、(v)≦5.0mm、(vi)≦6.0mm、(vii)≦7.0mm、(viii)≦8.0mm、(ix)≦9.0mm、(x)≦10.0mm、および(xi)>10.0mmからなる群から選択される内径または寸法を有する。   According to one preferred embodiment, the second ion guide or ion trap preferably comprises an ion tunnel or ion funnel ion guide or ion trap, at least 1%, 5%, 10%, 15% of the electrodes. %, 20%, 25%, 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100% is (i) ≦ 1.0 mm, (ii) ≦ 2.0 mm, (iii) ≦ 3.0 mm, (iv) ≦ 4.0 mm, (v) ≦ 5.0 mm, (vi) ≦ 6. Inner diameter selected from the group consisting of 0 mm, (vii) ≦ 7.0 mm, (viii) ≦ 8.0 mm, (ix) ≦ 9.0 mm, (x) ≦ 10.0 mm, and (xi)> 10.0 mm Or have dimensions.

前記第2のイオンガイドまたはイオントラップは、好ましくはイオンを前記第2のイオンガイドまたはイオントラップ内に半径方向に閉じ込めるためにACまたはRF電圧を前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの前記複数の電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に印加するように構成および適合される第4のACまたはRF電圧手段を含む。   The second ion guide or ion trap preferably applies an AC or RF voltage to the plurality of the second ion guide or ion trap to radially confine ions within the second ion guide or ion trap. At least 1%, 5%, 10%, 15%, 20%, 25%, 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70% of the electrodes, Includes a fourth AC or RF voltage means configured and adapted to apply 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100%.

前記第2のイオンガイドまたはイオントラップは、好ましくは1ビームまたはグループのイオンを前記質量分析器から受け取り、そして前記ビームまたはグループのイオンを変換または分割して、少なくとも1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19または20個の別々のパケットのイオンが任意の特定の時刻に前記第2のイオンガイドまたはイオントラップ内に閉じ込めおよび/または隔離されるように構成および適合される。各パケットのイオンは、好ましくは前記第2のイオンガイドまたはイオントラップ内に形成される別々の軸方向ポテンシャル井戸内に別々に閉じ込めおよび/または隔離される。   The second ion guide or ion trap preferably receives one beam or group of ions from the mass analyzer and converts or splits the beam or group of ions to at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19, or 20 ions of the second packet at any particular time Configured and adapted to be confined and / or isolated within a guide or ion trap. Each packet of ions is preferably confined and / or isolated separately in a separate axial potential well formed in the second ion guide or ion trap.

前記質量分析計は、一動作モードにおいて、少なくともいくつかのイオンを前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%を通るか、またはそれに沿って上流および/または下流へ推進するように構成および適合される手段をさらに含む。   The mass spectrometer, in one mode of operation, removes at least some ions at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20%, 25% of the axial length of the second ion guide or ion trap. 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100%, or It further includes means configured and adapted to propel upstream and / or downstream along it.

一実施形態によると、前記質量分析計は、少なくともいくつかのイオンを前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に沿って下流および/または上流へ推進するために、1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形を前記第2のイオンガイドまたはイオントラップを形成する前記電極に印加するように構成および適合される過渡DC電圧手段をさらに含む。   According to one embodiment, the mass spectrometer is configured to transfer at least some ions to at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20%, 25 of the axial length of the second ion guide or ion trap. Downstream along%, 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100% And / or applying one or more transient DC voltages or potentials or one or more transient DC voltages or potential waveforms to the electrodes forming the second ion guide or ion trap for propulsion upstream. It further includes a transient DC voltage means configured and adapted.

一実施形態によると、前記質量分析計は、好ましくは少なくともいくつかのイオンを前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に沿って下流および/または上流へ推進するために、2つ以上の位相シフトACまたはRF電圧を前記第2のイオンガイドまたはイオントラップを形成する電極に印加するように構成および適合されるACまたはRF電圧手段をさらに含む。   According to one embodiment, the mass spectrometer preferably has at least some ions at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20% of the axial length of the second ion guide or ion trap. Along 25%, 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100% AC or RF voltage configured and adapted to apply two or more phase-shifted AC or RF voltages to the electrode forming the second ion guide or ion trap for driving downstream and / or upstream Means are further included.

前記質量分析計は、好ましくは前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの少なくとも一部を(i)>0.0001mbar、(ii)>0.001mbar、(iii)>0.01mbar、(iv)>0.1mbar、(v)>1mbar、(vi)>10mbar、(vii)>1mbar、(viii)0.0001〜100mbar、および(ix)0.001〜10mbarからなる群から選択される圧力に維持するように構成および適合される手段をさらに含む。   The mass spectrometer preferably comprises at least a part of the second ion guide or ion trap (i)> 0.0001 mbar, (ii)> 0.001 mbar, (iii)> 0.01 mbar, (iv)> Maintain a pressure selected from the group consisting of 0.1 mbar, (v)> 1 mbar, (vi)> 10 mbar, (vii)> 1 mbar, (viii) 0.0001-100 mbar, and (ix) 0.001-10 mbar. Further comprising means adapted and adapted to do so.

前記質量分析計は、イオンを衝突誘起解離(「CID」)によってフラグメンテーションするように構成および適合される衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスをさらに含み得る。別の実施形態によると、前記質量分析計は、(i)表面誘起解離(「SID」)フラグメンテーションデバイス、(ii)電子移動解離フラグメンテーションデバイス、(iii)電子捕獲解離フラグメンテーションデバイス、(iv)電子衝突または衝撃解離フラグメンテーションデバイス、(v)光誘起解離(「PID」)フラグメンテーションデバイス、(vi)レーザ誘起解離フラグメンテーションデバイス、(vii)赤外放射誘起解離デバイス、(viii)紫外放射誘起解離デバイス、(ix)ノズル−スキマ間インターフェースフラグメンテーションデバイス、(x)インソースフラグメンテーションデバイス、(xi)イオン源衝突誘起解離フラグメンテーションデバイス、(xii)熱または温度源フラグメンテーションデバイス、(xiii)電界誘起フラグメンテーションデバイス、(xiv)磁場誘起フラグメンテーションデバイス、(xv)酵素消化または酵素分解フラグメンテーションデバイス、(xvi)イオン−イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xvii)イオン−分子反応フラグメンテーションデバイス、(xviii)イオン−原子反応フラグメンテーションデバイス、(xix)イオン−メタステーブルイオン反応フラグメンテーションデバイス、(xx)イオン−メタステーブル分子反応フラグメンテーションデバイス、(xxi)イオン−メタステーブル原子反応フラグメンテーションデバイス、(xxii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−イオン反応デバイス、(xxiii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−分子反応デバイス、(xxiv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−原子反応デバイス、(xxv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−メタステーブルイオン反応デバイス、(xxvi)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−メタステーブル分子反応デバイス、および(xxvii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−メタステーブル原子反応デバイスからなる群から選択される前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスをさらに含み得る。   The mass spectrometer may further include a collision, fragmentation or reaction device configured and adapted to fragment ions by collision-induced dissociation (“CID”). According to another embodiment, the mass spectrometer comprises (i) a surface-induced dissociation (“SID”) fragmentation device, (ii) an electron transfer dissociation fragmentation device, (iii) an electron capture dissociation fragmentation device, and (iv) electron collisions. Or impact dissociation fragmentation device, (v) photoinduced dissociation (“PID”) fragmentation device, (vi) laser induced dissociation fragmentation device, (vii) infrared radiation induced dissociation device, (viii) ultraviolet radiation induced dissociation device, (ix ) Nozzle-to-skim interface fragmentation device, (x) In-source fragmentation device, (xi) Ion source collision induced dissociation fragmentation device, (xii) Thermal or temperature source fragmentation A device, (xiii) an electric field induced fragmentation device, (xiv) a magnetic field induced fragmentation device, (xv) an enzymatic digestion or enzymatic degradation fragmentation device, (xvi) an ion-ion reaction fragmentation device, (xvii) an ion-molecule reaction fragmentation device, xviii) ion-atom reaction fragmentation device, (xix) ion-metastable ion reaction fragmentation device, (xx) ion-metastable molecular reaction fragmentation device, (xxi) ion-metastable atom reaction fragmentation device, (xxii) ions An ion-ion reaction device for reacting to form addition or product ions, (xxiii) Ion-molecule reaction device for reacting ions to form addition or product ions, (xxiv) ion-atom reaction device for reacting ions to form addition or product ions, (xxv) reacting ions Ion-metastable ion reaction device for forming addition or product ions, (xxvi) ion-metastable molecular reaction device for reacting ions to form addition or product ions, and (xxvii) ion reaction And may further comprise the collision, fragmentation or reaction device selected from the group consisting of ion-metastable atomic reaction devices for forming additional or product ions.

一実施形態によると、前記質量分析計は、好ましくは前記質量分析器のサイクル時間の間またはそれにわたって前記質量分析器と前記衝突、フラグメンテーションまたは反応セルとの間のポテンシャル差を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成または適合される手段をさらに含む。   According to one embodiment, the mass spectrometer progressively increases the potential difference between the mass analyzer and the collision, fragmentation or reaction cell, preferably during or over the cycle time of the mass analyzer. Or progressively decreasing, incrementally changing, scanning, linearly increasing, linearly decreasing, incrementally, incrementally or otherwise, or phased Further includes means configured or adapted to reduce, gradual, or otherwise.

一実施形態によると、前記質量分析計は、前記質量分析器の上流および/または下流に配置されるさらなる質量分析器をさらに含む。前記さらなる質量分析器は、好ましくは(i)フーリエ変換(「FT」)質量分析器、(ii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析器、(iii)飛行時間(「TOF」)質量分析器、(iv)直交加速飛行時間(「oaTOF」)質量分析器、(v)軸方向加速飛行時間質量分析器、(vi)扇形磁場質量分析計、(vii)ポールまたは3D四重極質量分析器、(viii)2Dまたは直線四重極質量分析器、(ix)ペニングトラップ質量分析器、(x)イオントラップ質量分析器、(xi)フーリエ変換オービトラップ、(xii)静電イオンサイクロトロン共鳴質量分析計、(xiii)静電フーリエ変換質量分析計、および(xiv)四重極ロッドセット質量フィルタまたは質量分析器からなる群から選択される。   According to an embodiment, the mass spectrometer further comprises a further mass analyzer arranged upstream and / or downstream of the mass analyzer. Said further mass analyzer is preferably (i) a Fourier transform (“FT”) mass analyzer, (ii) a Fourier transform ion cyclotron resonance (“FTICR”) mass analyzer, (iii) time of flight (“TOF”). Mass analyzer, (iv) orthogonal acceleration time-of-flight ("oaTOF") mass analyzer, (v) axial acceleration time-of-flight mass analyzer, (vi) sector magnetic mass spectrometer, (vii) pole or 3D quadrupole Mass analyzer, (viii) 2D or linear quadrupole mass analyzer, (ix) Penning trap mass analyzer, (x) ion trap mass analyzer, (xi) Fourier transform orbitrap, (xii) electrostatic ion cyclotron Resonant mass spectrometer, (xiii) electrostatic Fourier transform mass spectrometer, and (xiv) quadrupole rod set mass filter or mass analyzer It is selected from.

前記質量分析計は、好ましくは前記質量分析器のサイクル時間の間またはそれにわたって前記質量分析器の動作と同期して、前記さらなる分析器の質量電荷比移送ウィンドウ(mass to charge ratio transmission window)を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成または適合される手段をさらに含む。   The mass spectrometer preferably has a mass to charge ratio transmission window of the further analyzer in synchronism with the operation of the mass analyzer during or over the cycle time of the mass analyzer. Incrementally increasing, progressively decreasing, incrementally changing, scanning, increasing linearly, decreasing linearly, incrementally, incrementally or otherwise Or further configured or adapted to be reduced stepwise, progressively or otherwise.

本発明の一態様によると、イオンを質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドを準備するステップと、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加して、複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするステップと、
イオンを前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って駆動または推進するステップと、
第2のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加して、1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするステップであって、前記第2の振幅は、前記第1の振幅と異なる、ステップとを含む方法が提供される。
According to one aspect of the present invention, a method for mass spectrometry of ions comprising:
Providing an ion guide including a plurality of electrodes;
A first AC or RF voltage is applied to at least some of the plurality of electrodes such that a plurality of first axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are axial lengths of the ion guide. To be created along at least a portion of
Driving or propelling ions along at least a portion of the axial length of the ion guide;
A second AC or RF voltage is applied to one or more of the plurality of electrodes such that one or more second axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells are in the axial direction of the ion guide. Creating a method along at least a portion of a length, wherein the second amplitude is different from the first amplitude.

本発明の一態様によると、質量分析器であって、
開口を有する複数の電極を含むイオンガイドであって、使用時にイオンが前記開口を通って移送される、イオンガイドと、
イオンを前記イオンガイド内に半径方向に閉じ込めるために、第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加するための手段と、
第2の異なるACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加して、使用時に、1つ以上の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにする手段とを含む質量分析器が提供される。
According to one aspect of the invention, a mass analyzer comprising:
An ion guide comprising a plurality of electrodes having openings, wherein ions are transported through said openings in use;
Means for applying a first AC or RF voltage to one or more of the plurality of electrodes to confine ions radially within the ion guide;
A second, different AC or RF voltage is applied to one or more of the plurality of electrodes, and in use, one or more axial time-average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are in the axis of the ion guide. Means for generating along at least a portion of the directional length.

本発明の一態様によると、イオンを質量分析する方法であって、
開口を有する複数の電極を含むイオンガイドであって、イオンが前記開口を通って移送される、イオンガイドを準備するステップと、
イオンを前記イオンガイド内に半径方向に閉じ込めるために、第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加するステップと、
第2の異なるACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加して、1つ以上の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするステップとを含む方法が提供される。
According to one aspect of the present invention, a method for mass spectrometry of ions comprising:
Providing an ion guide comprising a plurality of electrodes having openings, wherein ions are transported through the openings;
Applying a first AC or RF voltage to one or more of the plurality of electrodes to confine ions radially within the ion guide;
A second different AC or RF voltage is applied to one or more of the plurality of electrodes such that one or more axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are axial lengths of the ion guide. In accordance with at least a portion of the method.

本発明の一態様によると、質量分析器であって、
複数の電極を含むイオンガイドであって、前記複数の電極は、開口を有する電極を含み、使用時にイオンが前記開口を通って移送される、イオンガイドと、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加して、軸方向に隣り合うグループの電極に前記第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相が供給されるようにするための手段であって、使用時に、第1の振幅を有する複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成される手段と、
1つ以上の軸方向に隣り合うグループの電極に印加される前記第1のACまたはRF電圧の極性を反転して、使用時に、第2の振幅を有する1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするため手段であって、前記第2の振幅は、前記第1の振幅と異なる手段とを含む質量分析器が提供される。
According to one aspect of the invention, a mass analyzer comprising:
An ion guide comprising a plurality of electrodes, the plurality of electrodes comprising an electrode having an opening, wherein ions are transported through the opening in use;
A first AC or RF voltage is applied to at least some of the plurality of electrodes, such that opposite phases of the first AC or RF voltage are applied to an axially adjacent group of electrodes. A plurality of first axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells having a first amplitude in at least a portion of the axial length of the ion guide in use. Means created along with,
One or more second axial times having a second amplitude in use by inverting the polarity of the first AC or RF voltage applied to one or more axially adjacent groups of electrodes. Means for causing an average or pseudopotential barrier, corrugation or well to be created along at least a portion of the axial length of the ion guide, wherein the second amplitude is the first amplitude And different means are provided.

各電極グループは、1、2、3、4、5、6、7、8、9、10または>10個の電極を含み得る。   Each electrode group may include 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10 or> 10 electrodes.

本発明の一態様によると、イオンを質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドであって、前記複数の電極は、開口を有する電極を含み、イオンが前記開口を通って移送される、イオンガイドを準備するステップと、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加して、軸方向に隣り合うグループの電極に前記第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相が供給されるようにするステップであって、第1の振幅を有する複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるステップと、
1つ以上の軸方向に隣り合うグループの電極に印加される前記第1のACまたはRF電圧の極性を反転して、第2の振幅を有する1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするステップであって、前記第2の振幅は、前記第1の振幅と異なる、ステップとを含む方法が提供される。
According to one aspect of the present invention, a method for mass spectrometry of ions comprising:
Providing an ion guide including a plurality of electrodes, wherein the plurality of electrodes includes an electrode having an opening, and ions are transported through the opening;
A first AC or RF voltage is applied to at least some of the plurality of electrodes, such that opposite phases of the first AC or RF voltage are applied to an axially adjacent group of electrodes. A plurality of first axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells having a first amplitude are created along at least a portion of the axial length of the ion guide. Steps,
Reversing the polarity of the first AC or RF voltage applied to one or more axially adjacent groups of electrodes to produce one or more second axial time averages or pseudo-values having a second amplitude. Causing a potential barrier, corrugation or well to be created along at least a portion of the axial length of the ion guide, wherein the second amplitude is different from the first amplitude; Is provided.

本発明の一態様によると、質量分析器であって、
複数の電極を含むイオンガイドであって、前記複数の電極は、開口を有する電極を含み、使用時にイオンが前記開口を通って移送される、イオンガイドと、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加して、軸方向に隣り合う電極または軸方向に隣り合うグループの電極に前記第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相が供給されるようにするための手段であって、使用時に、第1の振幅を有する複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成される手段と、
イオンを前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って駆動または推進するために1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形を前記複数の電極に印加するための手段と、
1対の軸方向に隣り合う電極または1対の軸方向に隣り合うグループの電極に印加される前記第1のACまたはRF電圧の極性を反転して、使用時に、第2の振幅を有する1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするため手段であって、前記第2の振幅は、前記第1の振幅と異なる手段と、
前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸の振幅を漸進的に低減するために、前記第1のACまたはRF電圧の振幅を直線的に、段階的に、または他のやり方で漸進的に低減するための手段とを含む質量分析器が提供される。
According to one aspect of the invention, a mass analyzer comprising:
An ion guide comprising a plurality of electrodes, the plurality of electrodes comprising an electrode having an opening, wherein ions are transported through the opening in use;
A first AC or RF voltage is applied to at least some of the plurality of electrodes, and the first AC or RF voltage is opposite to each other in an axially adjacent electrode or an axially adjacent group of electrodes. A plurality of first axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells having a first amplitude in use in the axial direction of the ion guide. Means created along at least a portion of the length;
One or more transient DC voltages or potentials or one or more transient DC voltages or potential waveforms are applied to the plurality of electrodes to drive or propel ions along at least a portion of the axial length of the ion guide. Means for
A polarity of the first AC or RF voltage applied to a pair of axially adjacent electrodes or a pair of axially adjacent groups of electrodes is reversed to have a second amplitude in use. Means for causing two or more second axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells to be created along at least a portion of the axial length of the ion guide, Means different from the first amplitude;
In order to progressively reduce the amplitude of the one or more second axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells, the amplitude of the first AC or RF voltage is linearly and stepwise. Or a means for progressive reduction in other manners.

好ましくは前記第1のACまたはRF電圧の振幅を漸進的に低減するための手段は、前記第1のACまたはRF電圧の振幅をx12ボルトだけ期間t12にわたり漸進的に低減するように構成される。好ましくは、x12は、(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜550Vピークトゥピーク、(xxii)550〜600Vピークトゥピーク、(xxiii)600〜650Vピークトゥピーク、(xxiv)650〜700Vピークトゥピーク、(xxv)700〜750Vピークトゥピーク、(xxvi)750〜800Vピークトゥピーク、(xxvii)800〜850Vピークトゥピーク、(xxviii)850〜900Vピークトゥピーク、(xxix)900〜950Vピークトゥピーク、(xxx)950〜1000Vピークトゥピーク、および(xxxi)>1000Vピークトゥピークからなる群から選択される。好ましくは、t12は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される。 Preferably the means for progressively reducing the amplitude of the first AC or RF voltage constituting the amplitude of the first AC or RF voltage to progressively reduce over time t 12 only x 12 volt Is done. Preferably, x 12 is, (i) <50V peak-to-peak, (ii) 50 to 100 peak-to-peak, (iii) 100~150V peak-to-peak, (iv) 150~200V peak-to-peak, (v) 200 ~ 250V peak-to-peak, (vi) 250-300V peak-to-peak, (vii) 300-350V peak-to-peak, (viii) 350-400V peak-to-peak, (ix) 400-450V peak-to-peak, (x) 450 ~ 500V peak-to-peak, (xi) 500-550V peak-to-peak, (xxii) 550-600V peak-to-peak, (xxiii) 600-650V peak-to-peak, (xxiv) 650-700V peak-to-peak, (xxv) 700 ~ 750V peak-to-peak, (xxv ) 750-800V peak-to-peak, (xxvii) 800-850V peak-to-peak, (xxviii) 850-900V peak-to-peak, (xxix) 900-950V peak-to-peak, (xxx) 950-1000V peak-to-peak, and xxxi)> selected from the group consisting of> 1000V peak-to-peak. Preferably, t 12 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii ) 50-60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300-400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (xx) 900-1000 ms, (xxi) 1 ~ 2s, (xxii) 2-3s, (xxiii) 3-4s, (xxiv) 4-5s, and (xxv)> 5s It is selected from Ranaru group.

本発明の一態様によると、イオンを質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドであって、前記複数の電極は、開口を有する電極を含み、イオンが前記開口を通って移送される、イオンガイドを準備するステップと、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加して、軸方向に隣り合う電極または軸方向に隣り合うグループの電極に前記第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相が供給されるようにするステップであって、第1の振幅を有する複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるステップと、
イオンを前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って駆動または推進するために1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形を前記複数の電極に印加するステップと、
1対の軸方向に隣り合う電極または1対の軸方向に隣り合うグループの電極に印加される前記第1のACまたはRF電圧の極性を反転して、第2の振幅を有する1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするステップであって、前記第2の振幅は、前記第1の振幅と異なるステップと、
前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸の振幅を漸進的に低減するために、前記第1のACまたはRF電圧の振幅を直線的に、段階的に、または他のやり方で漸進的に低減するステップとを含む方法が提供される。
According to one aspect of the present invention, a method for mass spectrometry of ions comprising:
Providing an ion guide including a plurality of electrodes, wherein the plurality of electrodes includes an electrode having an opening, and ions are transported through the opening;
A first AC or RF voltage is applied to at least some of the plurality of electrodes, and the first AC or RF voltage is opposite to each other in an axially adjacent electrode or an axially adjacent group of electrodes. A plurality of first axial time-average or pseudo-potential barriers, corrugations or wells having a first amplitude are at least one of the axial lengths of the ion guides. Steps created along the section,
One or more transient DC voltages or potentials or one or more transient DC voltages or potential waveforms are applied to the plurality of electrodes to drive or propel ions along at least a portion of the axial length of the ion guide. And steps to
One or more having a second amplitude by inverting the polarity of the first AC or RF voltage applied to a pair of axially adjacent electrodes or a pair of axially adjacent groups of electrodes Allowing a second axial time average or pseudopotential barrier, corrugation or well to be created along at least a portion of the axial length of the ion guide, wherein the second amplitude is: A step different from the first amplitude;
In order to progressively reduce the amplitude of the one or more second axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells, the amplitude of the first AC or RF voltage is linearly and stepwise. Or other gradual reduction steps.

本発明の一態様によると、イオンガイドまたは質量分析器であって、
複数の電極と、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極に印加して、少なくともいくつかの電極が、使用時に、前記第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相に維持されるようにするための手段と、
使用時に、前記イオンガイドまたは質量分析器の軸方向長さの少なくとも一部に沿って軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁を作成するために、1つ以上の電極の位相差または極性を変更、切り換え、変化またはスキャンするための手段とを含むイオンガイドまたは質量分析器が提供される。
According to one aspect of the invention, an ion guide or mass analyzer comprising:
A plurality of electrodes;
Means for applying a first AC or RF voltage to the plurality of electrodes such that at least some of the electrodes are maintained in opposite phases of the first AC or RF voltage in use. When,
In use, change or switch the phase difference or polarity of one or more electrodes to create an axial time average or pseudopotential barrier along at least a portion of the axial length of the ion guide or mass analyzer And an ion guide or mass analyzer including means for changing or scanning.

前記1つ以上の電極の位相差または極性を変更、切り換え、変化またはスキャンするための手段は、好ましくは前記位相差または極性をθ°だけ変更、切り換え、変化またはスキャンするように構成され、ここでθは、(i)<10、(ii)10〜20、(iii)20〜30、(iv)30〜40、(v)40〜50、(vi)50〜60、(vii)60〜70、(viii)70〜80、(ix)80〜90、(x)90、(xi)90〜100、(xii)100〜110、(xiii)110〜120、(xiv)120〜130、(xv)130〜140、(xvi)140〜150、(xvii)150〜160、(xviii)160〜170、(xix)170〜180、および(xx)180からなる群から選択される。   The means for changing, switching, changing or scanning the phase difference or polarity of the one or more electrodes is preferably configured to change, switch, change or scan the phase difference or polarity by θ °. And θ is (i) <10, (ii) 10-20, (iii) 20-30, (iv) 30-40, (v) 40-50, (vi) 50-60, (vii) 60- 70, (viii) 70-80, (ix) 80-90, (x) 90, (xi) 90-100, (xii) 100-110, (xiii) 110-120, (xiv) 120-130, xv) selected from the group consisting of 130-140, (xvi) 140-150, (xvii) 150-160, (xviii) 160-170, (xix) 170-180, and (xx) 180

本発明の一態様によると、イオンをガイドまたは質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドまたは質量分析器を準備するステップと、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極に印加して、少なくともいくつかの電極が前記第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相に維持されるようにするステップと、
前記イオンガイドまたは質量分析器の軸方向長さの少なくとも一部に沿って軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁を作成するために、1つ以上の電極の位相差または極性を変更、切り換え、変化またはスキャンするステップとを含む方法が提供される。
According to one aspect of the invention, a method for guiding or mass analyzing ions, comprising:
Providing an ion guide or mass analyzer comprising a plurality of electrodes;
Applying a first AC or RF voltage to the plurality of electrodes such that at least some of the electrodes are maintained in opposite phases of the first AC or RF voltage;
Change, switch, change or change the phase difference or polarity of one or more electrodes to create an axial time average or pseudopotential barrier along at least a portion of the axial length of the ion guide or mass analyzer. And a step of scanning is provided.

好ましくは、前記1つ以上の電極の位相差または極性を変更、切り換え、変化またはスキャンするステップは、前記位相差または極性をθ°だけ変更、切り換え、変化またはスキャンするステップを含み、ここでθは、(i)<10、(ii)10〜20、(iii)20〜30、(iv)30〜40、(v)40〜50、(vi)50〜60、(vii)60〜70、(viii)70〜80、(ix)80〜90、(x)90、(xi)90〜100、(xii)100〜110、(xiii)110〜120、(xiv)120〜130、(xv)130〜140、(xvi)140〜150、(xvii)150〜160、(xviii)160〜170、(xix)170〜180、および(xx)180からなる群から選択される。   Preferably, the step of changing, switching, changing or scanning the phase difference or polarity of the one or more electrodes includes the step of changing, switching, changing or scanning the phase difference or polarity by θ °, wherein θ (I) <10, (ii) 10-20, (iii) 20-30, (iv) 30-40, (v) 40-50, (vi) 50-60, (vii) 60-70, (Viii) 70-80, (ix) 80-90, (x) 90, (xi) 90-100, (xii) 100-110, (xiii) 110-120, (xiv) 120-130, (xv) Selected from the group consisting of 130-140, (xvi) 140-150, (xvii) 150-160, (xviii) 160-170, (xix) 170-180, and (xx) 180

本発明の一好適な実施形態によると、イオンをイオンガイド内に半径方向に中心軸の回りに閉じ込めるように構成されるRFイオンガイドが提供される。1つ以上の擬ポテンシャル障壁が好ましくはイオンガイドの中心軸に沿った1つ以上のポイントで維持される。1つ以上の擬ポテンシャル障壁の大きさ(magnitude)は、好ましくはイオンの質量電荷比に依存する。1つ以上の擬ポテンシャル障壁は、イオンガイドの入口および/または出口に位置付けられ得る。1つ以上の擬ポテンシャル障壁がイオンガイドの長さに沿ってイオンガイドの入口と出口との間の1つ以上の位置に位置付けられ得る他の実施形態が考えられる。   According to one preferred embodiment of the present invention, an RF ion guide is provided that is configured to confine ions radially within the ion guide about a central axis. One or more pseudopotential barriers are preferably maintained at one or more points along the central axis of the ion guide. The magnitude of the one or more pseudopotential barriers preferably depends on the mass to charge ratio of the ions. One or more pseudopotential barriers may be positioned at the inlet and / or outlet of the ion guide. Other embodiments are conceivable in which one or more pseudopotential barriers may be positioned at one or more locations along the length of the ion guide between the inlet and outlet of the ion guide.

RFイオンガイドは、好ましくは開口を有する1スタックの環状電極を含む。使用時に、イオンは開口を通って移送される。イオンをイオンガイド内に半径方向に閉じ込めるために、RF電圧の互いに反対の位相が好ましくは交互する電極に印加される。イオンガイドは、好ましくはリングスタックまたはイオントンネルイオンガイドを含む。   The RF ion guide preferably includes a stack of annular electrodes having openings. In use, ions are transported through the opening. In order to confine ions radially within the ion guide, opposite phases of the RF voltage are preferably applied to the alternating electrodes. The ion guide preferably comprises a ring stack or an ion tunnel ion guide.

好ましくは、イオンは、好ましくはイオンガイドの電極に印加される1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形によって、イオンガイドに沿っておよびそこを通って推進される。特定の質量電荷比値を有するイオンに対して、1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形の振幅が実質的に実効擬ポテンシャル障壁(effective pseudo−potential barrier)よりも小さければ、これらのイオンは、擬ポテンシャル障壁を越えて、またはそこを通って駆動されることはない。その結果、これらのイオンは、イオンガイド内に閉じ込められたままになる。特定の質量電荷比値を有するイオンに対して、1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形の振幅が実質的に実効擬ポテンシャル障壁よりも大きければ、これらのイオンは、擬ポテンシャル障壁を越えてまたは通って駆動されることになるので、イオンガイドを出ることになる。   Preferably, ions are propelled along and through the ion guide, preferably by one or more transient DC voltages or potentials or one or more transient DC voltages or potential waveforms applied to the electrodes of the ion guide. The For ions having a specific mass-to-charge ratio value, the amplitude of one or more transient DC voltages or potentials or one or more transient DC voltages or potential waveforms is substantially an effective pseudo-potential barrier. Otherwise, these ions will not be driven across or through the pseudopotential barrier. As a result, these ions remain confined within the ion guide. For ions having a particular mass to charge ratio value, if the amplitude of one or more transient DC voltages or potentials or one or more transient DC voltages or potential waveforms is substantially greater than the effective pseudopotential barrier, these As the ions will be driven across or through the pseudopotential barrier, they will exit the ion guide.

イオンは、イオンガイドの電極に印加される1つ以上の過渡DC電圧またはポテンシャルの振幅を増加するか、および/または擬ポテンシャル障壁の実効振幅を低減することによって、それらの質量電荷比の降順に擬ポテンシャル障壁を越えて漸進的に駆動され得る。擬ポテンシャル障壁の振幅は、印加RF電圧の振幅を低減するか、および/または印加RF電圧の周波数を増加することによって低減し得る。   Ions are in descending order of their mass-to-charge ratio by increasing the amplitude of one or more transient DC voltages or potentials applied to the electrodes of the ion guide and / or reducing the effective amplitude of the pseudopotential barrier. It can be driven incrementally across the pseudopotential barrier. The amplitude of the pseudopotential barrier may be reduced by reducing the amplitude of the applied RF voltage and / or increasing the frequency of the applied RF voltage.

別の実施形態によると、擬ポテンシャル障壁は、さらなるDCポテンシャルを擬ポテンシャル障壁に近い電極に印加することによって増加され得る。この実施形態によると、障壁の振幅が質量電荷比依存擬ポテンシャル障壁および質量電荷比非依存DCポテンシャル障壁の組み合わせである。実効障壁の振幅は、RF電圧の振幅を低減するか、および/または印加RF電圧の印加周波数を増加するか、および/または印加DCポテンシャルの振幅を低減することによって低減され得る。軸方向にイオンガイドから質量選択的に排出されるイオンは、さらなる処理および/または解析のために前方へ移送され得る。   According to another embodiment, the pseudopotential barrier can be increased by applying an additional DC potential to the electrode close to the pseudopotential barrier. According to this embodiment, the barrier amplitude is a combination of a mass to charge ratio dependent pseudopotential barrier and a mass to charge ratio independent DC potential barrier. The effective barrier amplitude can be reduced by reducing the RF voltage amplitude and / or increasing the applied RF voltage applied frequency and / or reducing the applied DC potential amplitude. Ions that are mass selectively ejected from the ion guide in the axial direction can be transported forward for further processing and / or analysis.

別の実施形態によると、擬ポテンシャル障壁は、特定の質量電荷比を有するイオンが十分な軸方向エネルギー有するならば、イオンは、擬ポテンシャル障壁を乗り越え、そして上記好適なイオンガイドに入ることになるように、イオンガイドの入口に配置され得る。特定の質量電荷比を有するイオンが擬ポテンシャル障壁を乗り越えるのに不十分な軸方向エネルギーを有する場合、イオンは、好ましくはイオンガイドに入ることを防止され、そしてしたがってシステムから失われる。好適なイオンガイドは、低質量カットオフ特性に影響を与えるように使用され得る。この低質量カットオフの特性は、質量電荷比依存障壁の振幅を増加するか、および/またはイオンガイドに入るイオンの軸方向エネルギーを増加することによって変更され得る。   According to another embodiment, the pseudopotential barrier is such that if an ion with a particular mass to charge ratio has sufficient axial energy, the ion will overcome the pseudopotential barrier and enter the preferred ion guide. As such, it can be placed at the entrance of the ion guide. If an ion with a specific mass to charge ratio has insufficient axial energy to overcome the pseudopotential barrier, the ion is preferably prevented from entering the ion guide and is therefore lost from the system. Suitable ion guides can be used to affect the low mass cutoff characteristics. This low mass cutoff characteristic can be altered by increasing the amplitude of the mass to charge ratio dependent barrier and / or increasing the axial energy of ions entering the ion guide.

特に好適な実施形態によると、第1のACまたはRF電圧が電極に印加され、軸方向に隣り合う電極が第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相に維持されるようにする。次いで、一対の電極の極性が切り換え、または反転され得る。したがって、ある時間において、複数の電極の極性は、+−+−+−+−から+−++−−+−へ変化するようにされ得る。その結果、イオンガイドのある部分または区分に沿った電極の実効厚さが有効に増加される。   According to a particularly preferred embodiment, a first AC or RF voltage is applied to the electrodes so that axially adjacent electrodes are maintained in opposite phases of the first AC or RF voltage. The polarity of the pair of electrodes can then be switched or reversed. Thus, at some time, the polarity of the plurality of electrodes can be allowed to change from +-++-++-++-to +-++-+-. As a result, the effective thickness of the electrode along a portion or section of the ion guide is effectively increased.

多相RF電圧が電極に印加され得るさらなる実施形態が考えられる。例えば、最初に120°位相差が隣り合う電極間に維持されるように、三相RF電圧が印加され得る。擬ポテンシャル障壁がイオンガイドまたは質量分析器のある領域または区分において電極間または多くの電極の位相関係を変更することによって作成され得る。例えば、イオンガイドまたは質量分析器のある区分に沿った位相関係またはパターンが123 123 123 123 123から123 331 112 223 123に変化するようにされ得る。この実施形態によると、イオンガイドまたは質量分析器のある部分または区分に沿った電極の実効厚さがやはり有効に増加される。したがって、そうでない場合にイオンガイドの長さに沿って形成される擬ポテンシャル波形形状の振幅よりも大きな振幅を有する擬ポテンシャル障壁がこの領域に作成されることになる。   Further embodiments are contemplated where a multiphase RF voltage can be applied to the electrodes. For example, a three-phase RF voltage can be applied such that initially a 120 ° phase difference is maintained between adjacent electrodes. Pseudopotential barriers can be created by changing the phase relationship between electrodes or many electrodes in a region or section of an ion guide or mass analyzer. For example, the phase relationship or pattern along a section of the ion guide or mass analyzer may be changed from 123 123 123 123 123 to 123 331 112 223 123. According to this embodiment, the effective thickness of the electrode along a portion or section of the ion guide or mass analyzer is still effectively increased. Therefore, a pseudopotential barrier having an amplitude greater than the amplitude of the pseudopotential waveform formed along the length of the ion guide otherwise would be created in this region.

本発明の一態様によると、イオンガイドまたは質量分析器であって、
複数の電極と、
n−位相ACまたはRF電圧を前記複数の電極に印加するための手段であって、ここで、n≧2である手段と、
前記複数の電極の間の、そこでの、またはそれらの第1の位相関係または第1のアスペクト比を維持するための手段と、
使用時に、1つ以上の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸を前記イオンガイドまたは質量分析器の軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成するために、前記複数の電極のサブセットの間の、そこでの、またはそれらの位相関係またはアスペクト比を変化させて、前記電極サブセットの間の、そこでの、またはそれらの第2の異なる位相関係または第2のアスペクト比が維持されるようにするための手段とを含むイオンガイドまたは質量分析器が提供される。
According to one aspect of the invention, an ion guide or mass analyzer comprising:
A plurality of electrodes;
means for applying an n-phase AC or RF voltage to the plurality of electrodes, wherein n ≧ 2;
Means for maintaining a first phase relationship or a first aspect ratio between or at the plurality of electrodes;
In use, in order to create one or more axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells along at least a portion of the axial length of the ion guide or mass analyzer, Varying the phase relationship or aspect ratio between, there or their subsets to maintain a second, different phase relationship or second aspect ratio between, or between the electrode subsets An ion guide or a mass analyzer is provided.

好ましくは、nは、(i)2、(ii)3、(iii)4、(iv)5、(v)6、(vi)7、(vii)8、(viii)9、(ix)10、および(x)>10からなる群から選択される。   Preferably, n is (i) 2, (ii) 3, (iii) 4, (iv) 5, (v) 6, (vi) 7, (vii) 8, (viii) 9, (ix) 10 And (x)> 10.

前記第1の位相関係または第1のアスペクト比は、好ましくは第1の周期、パターン、シーケンスまたは値を有し、かつ前記第2の位相関係または第2のアスペクト比は、好ましくは第2の異なる周期、パターン、シーケンスまたは値を有する。   The first phase relationship or first aspect ratio preferably has a first period, pattern, sequence or value, and the second phase relationship or second aspect ratio is preferably second. Have different periods, patterns, sequences or values.

本発明の一態様によると、イオンをガイドまたは質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドまたは質量分析器を準備するステップと、
n−位相ACまたはRF電圧を前記複数の電極に印加するステップであって、ここで、n≧2であるステップと、
前記複数の電極の間の第1の位相関係または第1のアスペクト比を維持するステップと、
1つ以上の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸を前記イオンガイドまたは質量分析器の軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成するために、前記複数の電極のサブセットの間の、そこでの、またはそれらの位相関係またはアスペクト比を変化させて、前記電極サブセットの間の、そこでの、またはそれらの第2の異なる位相関係または第2のアスペクト比が維持されるようにするステップとを含む方法が提供される。
According to one aspect of the invention, a method for guiding or mass analyzing ions, comprising:
Providing an ion guide or mass analyzer comprising a plurality of electrodes;
applying an n-phase AC or RF voltage to the plurality of electrodes, where n ≧ 2.
Maintaining a first phase relationship or a first aspect ratio between the plurality of electrodes;
Between the subsets of the plurality of electrodes to create one or more axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells along at least a portion of the axial length of the ion guide or mass analyzer Changing the phase relationship or aspect ratio thereof, or so that the second different phase relationship or second aspect ratio there between or between the electrode subsets is maintained. A method comprising the steps of:

本発明の別の態様によると、イオンガイドまたは質量分析器であって、
複数の電極と、
n−位相ACまたはRF電圧を前記複数の電極に印加するための手段であって、ここで、n≧2である手段と、
使用時に、1つ以上の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸を前記イオンガイドまたは質量分析器の軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成するために、前記複数の電極のうちの1つ以上の電極の位相またはアスペクト比をスキャンするための手段とを含むイオンガイドまたは質量分析器が提供される。
According to another aspect of the invention, an ion guide or mass analyzer comprising:
A plurality of electrodes;
means for applying an n-phase AC or RF voltage to the plurality of electrodes, wherein n ≧ 2;
In use, in order to create one or more axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells along at least a portion of the axial length of the ion guide or mass analyzer, An ion guide or mass analyzer is provided that includes means for scanning the phase or aspect ratio of one or more of the electrodes.

本発明の別の態様によると、イオンをガイドまたは質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドまたは質量分析器を準備するステップと、
n−位相ACまたはRF電圧を前記複数の電極に印加するステップであって、ここで、n≧2であるステップと、
使用時に、1つ以上の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸を前記イオンガイドまたは質量分析器の軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成するために、前記複数の電極のうちの1つ以上の電極の位相またはアスペクト比をスキャンするステップとを含む方法が提供される。
According to another aspect of the invention, a method for guiding or mass analyzing ions, comprising:
Providing an ion guide or mass analyzer comprising a plurality of electrodes;
applying an n-phase AC or RF voltage to the plurality of electrodes, where n ≧ 2.
In use, in order to create one or more axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells along at least a portion of the axial length of the ion guide or mass analyzer, Scanning the phase or aspect ratio of one or more of the electrodes.

この実施形態によると、1つ以上の電極の位相は、漸進的に変更またはスキャンされ得る。1つ以上の電極の位相は、少なくともθ°だけスキャンされ得る。ここで、θは、(i)<10、(ii)10〜20、(iii)20〜30、(iv)30〜40、(v)40〜50、(vi)50〜60、(vii)60〜70、(viii)70〜80、(ix)80〜90、(x)90、(xi)90〜100、(xii)100〜110、(xiii)110〜120、(xiv)120〜130、(xv)130〜140、(xvi)140〜150、(xvii)150〜160、(xviii)160〜170、(xix)170〜180、および(xx)180からなる群から選択される。1つ以上の電極の位相が漸進的に変更またはスキャンされるにつれ、1つ以上の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸の高さは、好ましくは増加または低減する。   According to this embodiment, the phase of one or more electrodes can be progressively changed or scanned. The phase of one or more electrodes may be scanned by at least θ °. Here, θ is (i) <10, (ii) 10-20, (iii) 20-30, (iv) 30-40, (v) 40-50, (vi) 50-60, (vii) 60-70, (viii) 70-80, (ix) 80-90, (x) 90, (xi) 90-100, (xii) 100-110, (xiii) 110-120, (xiv) 120-130 , (Xv) 130-140, (xvi) 140-150, (xvii) 150-160, (xviii) 160-170, (xix) 170-180, and (xx) 180. As the phase of one or more electrodes is progressively changed or scanned, the height of one or more axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells is preferably increased or decreased.

上記好適な実施形態によると、積層リングイオンガイドの中心近くのイオンは、広い範囲の条件で安定した軌跡を有することになる。これは、四重極ロッドセットにおけるイオンに対する半径方向安定性条件とは対照的である。四重極ロッドセットにおいては、そのようなデバイスの軸に沿って振動電界の性質を変化させることによって、イオンの喪失を生じさせる望ましくない半径方向不安定性および/または共鳴が生じ得る。   According to the preferred embodiment, ions near the center of the laminated ring ion guide will have a stable trajectory over a wide range of conditions. This is in contrast to the radial stability condition for ions in a quadrupole rod set. In a quadrupole rod set, changing the nature of the oscillating electric field along the axis of such a device can cause undesirable radial instabilities and / or resonances that cause loss of ions.

また、多重極ロッドセットは、上記好適な実施形態にかかる障壁デバイスまたは質量分析器に比べて、製造するには比較的大きくかつ高価である。したがって、上記好適な実施形態にかかるイオンガイドまたは質量分析器は、公知構成に比べて特に有利である。   The multipole rod set is also relatively large and expensive to manufacture compared to the barrier device or mass analyzer according to the preferred embodiment. Therefore, the ion guide or the mass analyzer according to the preferred embodiment is particularly advantageous as compared with the known configuration.

ここで、添付の図面を参照して、本発明の種々実施形態を、あくまで例として、説明する。   Various embodiments of the present invention will now be described by way of example only with reference to the accompanying drawings.

ここで、図1を参照して本発明の一実施形態を説明する。この実施形態によると、RFリングスタックイオンガイド2が提供される。好ましくは、イオンガイドは、好ましくは使用時にDCポテンシャルに保持または維持される入口プレートまたは電極1、および複数の他の環状電極またはプレート2aを含む。変調された(RF)ポテンシャルの互いに反対の位相が、好ましくはイオンガイドを形成する交番電極またはプレート2aに印加される。好ましくは、イオンガイド2は、好ましくは使用時にDCポテンシャルに保持または維持される出口プレートまたは電極3を含む。   An embodiment of the present invention will now be described with reference to FIG. According to this embodiment, an RF ring stack ion guide 2 is provided. Preferably, the ion guide includes an inlet plate or electrode 1 that is preferably held or maintained at a DC potential in use, and a plurality of other annular electrodes or plates 2a. Opposite phases of the modulated (RF) potential are preferably applied to the alternating electrode or plate 2a forming the ion guide. Preferably, the ion guide 2 includes an exit plate or electrode 3 that is preferably held or maintained at a DC potential in use.

上記好適な実施形態によると、図示のようにさらなる過渡DCポテンシャル4が好ましくはリング電極2aのうちの1つ以上に印加される。過渡DCポテンシャル4は、好ましくは比較的短い期間に1つ以上の電極2aに同時に印加される。次いで、DCポテンシャル4は、好ましくは1つ以上の隣接または後続の電極2aに切り換えまたは印加される。上記好適な実施形態によると、1つ以上の過渡DCポテンシャルもしくは電圧または1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形は、好ましくはイオンをイオンガイド2の長さに沿って特定の方向に推進するために、イオンガイド2の電極2aのうちのいくつかまたはすべてに順次印加される。   According to the preferred embodiment, a further transient DC potential 4 is preferably applied to one or more of the ring electrodes 2a as shown. The transient DC potential 4 is preferably applied simultaneously to one or more electrodes 2a in a relatively short period. The DC potential 4 is then preferably switched or applied to one or more adjacent or subsequent electrodes 2a. According to the preferred embodiment, the one or more transient DC potentials or voltages or the one or more transient DC voltages or potential waveforms are preferably for propelling ions in a particular direction along the length of the ion guide 2. Are sequentially applied to some or all of the electrodes 2 a of the ion guide 2.

好ましくは、イオンガイド2は、好ましくは内径が5mmの一続きの環状電極2aを含む。図2は、x,y平面上で見た場合の積層リングイオンガイド2を示す。各電極2aは、好ましくは厚さが0.5mmであり、かつ隣り合う電極の中心間間隔が好ましくは1.5mmである。入口および出口電極1、3の開口の直径は、好ましくは2mmである。   Preferably, the ion guide 2 includes a continuous annular electrode 2a, preferably having an inner diameter of 5 mm. FIG. 2 shows the laminated ring ion guide 2 when viewed on the x, y plane. Each electrode 2a preferably has a thickness of 0.5 mm, and the distance between the centers of adjacent electrodes is preferably 1.5 mm. The diameter of the openings of the inlet and outlet electrodes 1, 3 is preferably 2 mm.

図3Aは、最大電圧が100Vであり、周波数が1MHzであるRF電圧がイオンガイド2に印加される場合に質量電荷比が100であるイオンが受けるようなイオンガイド2の中心軸に沿った時間平均または擬ポテンシャルのプロットを示す。図3Bは、質量電荷比が500であるイオンが受けるようなイオンガイド2の中心軸に沿った時間平均または擬ポテンシャルの比較用プロットを示す。   FIG. 3A shows a time along the central axis of the ion guide 2 such that ions having a mass to charge ratio of 100 are received when an RF voltage having a maximum voltage of 100 V and a frequency of 1 MHz is applied to the ion guide 2. A mean or pseudopotential plot is shown. FIG. 3B shows a comparative plot of time average or pseudopotential along the central axis of the ion guide 2 as received by ions having a mass to charge ratio of 500.

図3Aおよび3Bに示すプロットは、図1に示されるような形状を有するイオンガイドの三次元コンピュータシミュレーション(SIMION)における電圧勾配を記録することによって得た。1周波数サイクルの間の最大電圧に相当する静的なDC電圧(static DC voltage)を各レンズ素子に印加した。次いで、擬ポテンシャルを、次式を使用して、記録された電界から直接計算した。   The plots shown in FIGS. 3A and 3B were obtained by recording voltage gradients in a three-dimensional computer simulation (SIMION) of an ion guide having a shape as shown in FIG. A static DC voltage corresponding to the maximum voltage during one frequency cycle was applied to each lens element. The pseudopotential was then calculated directly from the recorded electric field using the following equation:

Figure 2009535761
Figure 2009535761

ここで、qは、イオン(z.e)上の全電荷であり、eは、電子電荷であり、zは、電荷の数であり、mは、イオンの原子質量であり、Ωは、変調ポテンシャルの周波数であり、およびEは、記録された電界である。   Where q is the total charge on the ion (ze), e is the electronic charge, z is the number of charges, m is the atomic mass of the ion, and Ω is the modulation Is the frequency of the potential, and E is the recorded electric field.

図4は、イオンガイド2の出口における領域であって、x軸(半径方向)に0〜1mm延びた領域について、好適なイオンガイド2内の半径方向および軸方向擬ポテンシャルをz軸の中心に沿って切断した(cut)ものを示す。電圧および周波数の条件は、質量電荷比が100であるイオンについては上記のとおりである。   FIG. 4 shows a region at the exit of the ion guide 2 and a region extending from 0 to 1 mm in the x-axis (radial direction) with the radial and axial pseudopotentials in the preferred ion guide 2 centered on the z-axis. It shows what was cut along. The voltage and frequency conditions are as described above for ions having a mass to charge ratio of 100.

図3Aおよび図3Bから分かるように、z軸における軸方向擬ポテンシャルの波形形状は、比較的高い質量電荷比を有するイオンに対するものよりも比較的低い質量電荷比を有するイオンの方が大きい。図4から明らかなように、中心軸に沿った、軸方向擬ポテンシャル波形形状は、中心軸から半径方向に離れた位置の擬ポテンシャル波形形状の振幅と比べて、比較的低い振幅を有する。イオンは、1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形をイオンガイド2の電極2aに印加することによって、イオンガイド2に沿って容易に推進され得る。   As can be seen from FIGS. 3A and 3B, the waveform of the axial pseudopotential in the z-axis is larger for ions having a relatively low mass to charge ratio than for ions having a relatively high mass to charge ratio. As apparent from FIG. 4, the axial pseudopotential waveform shape along the central axis has a relatively low amplitude compared to the amplitude of the pseudopotential waveform shape at a position away from the central axis in the radial direction. Ions can be easily propelled along the ion guide 2 by applying one or more transient DC voltages or potentials or one or more transient DC voltages or potential waveforms to the electrode 2 a of the ion guide 2.

図5は、本発明の一実施形態を示す。ここで、好ましくは、出口開口3の直前または直ぐ上流の最後の2つの環状プレートまたは電極5a、5bは、好ましくは先行する環状プレートまたは電極2aに印加される第1のRF電圧源と好ましくは異なる第2のRF電圧源によって駆動される。   FIG. 5 illustrates one embodiment of the present invention. Here, preferably the last two annular plates or electrodes 5a, 5b immediately before or immediately upstream of the outlet opening 3 are preferably the first RF voltage source applied to the preceding annular plate or electrode 2a, preferably Driven by a different second RF voltage source.

好ましくは最後の2つの環状プレートまたは電極5a、5bの一方または両方に印加される第2のRF電圧の振幅がその他のプレートまたは電極2aに印加される第1のRF電圧の振幅に対して増加される場合、イオントンネルイオンガイドまたは質量分析器2の出口における擬ポテンシャル波形形状の深さおよびしたがって擬ポテンシャル障壁の高さは、好ましくは増加される。   Preferably the amplitude of the second RF voltage applied to one or both of the last two annular plates or electrodes 5a, 5b is increased relative to the amplitude of the first RF voltage applied to the other plates or electrodes 2a. If so, the depth of the pseudopotential waveform at the exit of the ion tunnel ion guide or mass analyzer 2 and thus the height of the pseudopotential barrier is preferably increased.

別の実施形態によると、最後の2つの環状プレートまたは電極5a、5bの一方または両方に印加される第2のRF変調周波数は、イオンガイドまたは質量分析器2のその他の電極2aに印加される第1のRF電圧の変調周波数に対して低減され得る。   According to another embodiment, the second RF modulation frequency applied to one or both of the last two annular plates or electrodes 5a, 5b is applied to the other electrode 2a of the ion guide or mass analyzer 2. It can be reduced with respect to the modulation frequency of the first RF voltage.

図6Aは、質量電荷比が100であるイオンが受けるようなイオンガイドまたは質量分析器2の中心軸に沿った時間平均または擬ポテンシャルのプロットを示す。ここで、最大振幅が100Vであり、かつ周波数が1MHzである第1のRF電圧が環状プレートまたは電極2aに印加され、最大振幅が400VであるRF電圧がプレート5b(出口電極3の直ぐ上流に配置される)に印加され、および最大振幅が200Vである第3のRF電圧がプレート5a(電極5bの上流に配置される)に印加される。プレートまたは電極2a、5a、5bのすべてに印加される変調ポテンシャルの位相および周波数は、同一であった。図6Bは、質量電荷比が500より高いイオンが受けるようなイオンガイドまたは質量分析器2の中心軸に沿った時間平均または擬ポテンシャルを示す。   FIG. 6A shows a plot of time average or pseudopotential along the central axis of the ion guide or mass analyzer 2 as received by ions with a mass to charge ratio of 100. Here, a first RF voltage having a maximum amplitude of 100V and a frequency of 1 MHz is applied to the annular plate or electrode 2a, and an RF voltage having a maximum amplitude of 400V is applied to the plate 5b (immediately upstream of the outlet electrode 3). And a third RF voltage with a maximum amplitude of 200V is applied to the plate 5a (located upstream of the electrode 5b). The phase and frequency of the modulation potential applied to all of the plates or electrodes 2a, 5a, 5b were the same. FIG. 6B shows the time average or pseudopotential along the central axis of the ion guide or mass analyzer 2 such that ions with a mass to charge ratio of greater than 500 are received.

図7は、イオンガイドまたは質量分析器2の出口における領域であって、x軸(半径方向)に0〜1mm延びた領域について、好適なイオンガイドまたは質量分析器2内の半径方向および軸方向擬ポテンシャルをz軸の中心に沿って切断したものを示す。電圧および周波数の条件は、質量電荷比が100であるイオンについての図6Aを参照する上記の記載のとおりである。   FIG. 7 shows the region at the exit of the ion guide or mass analyzer 2 that extends 0-1 mm in the x-axis (radial direction) in the radial and axial directions in the preferred ion guide or mass analyzer 2. The pseudopotential is cut along the center of the z-axis. Voltage and frequency conditions are as described above with reference to FIG. 6A for ions with a mass to charge ratio of 100.

イオンガイドまたは質量分析器2の出口において変調ポテンシャルの振幅を増加すると、その結果、好ましくはイオンの質量電荷比に反比例する振幅を有する擬ポテンシャル障壁が生成される。   Increasing the amplitude of the modulation potential at the exit of the ion guide or mass analyzer 2 results in a pseudopotential barrier, preferably having an amplitude that is inversely proportional to the mass to charge ratio of the ions.

上記好適な実施形態によると、イオンは、好ましくは外部イオン源からイオンガイド中へ導入される。イオンは、例えば、パルス化してまたは連続してのいずれかによって時刻T0で導入され得る。イオンが導入されると、イオンガイドまたは質量分析器2に入ったイオンの軸方向エネルギーは、好ましくは、特定範囲内の質量電荷比を有するすべてのイオンが半径方向RF電界によって閉じ込められ、かつ好ましくは擬ポテンシャル障壁の存在によってイオンガイドまたは質量分析器2から出ることが防止されるように構成される。 According to the preferred embodiment, ions are preferably introduced into the ion guide from an external ion source. The ions can be introduced at time T 0 , for example, either by pulsing or continuously. When ions are introduced, the axial energy of ions entering the ion guide or mass analyzer 2 is preferably such that all ions having a mass to charge ratio within a specific range are confined by a radial RF electric field and Is configured to be prevented from exiting the ion guide or mass analyzer 2 due to the presence of a pseudopotential barrier.

イオンガイドまたは質量分析器2内に閉じ込められたイオンの初期エネルギーの広がりは、冷却ガスをイオンガイドまたは質量分析器2のイオン閉じ込め領域内に導入することによって低減され得る。イオンガイドまたは質量分析器2は、好ましくは10-5〜101mbarの範囲またはより好ましくは10-3〜10-1mbarの範囲の圧力に維持される。イオンの運動エネルギー(kinetic energy)は、好ましくはイオンとガス分子との間の衝突の結果として低減されることになる。したがって、イオンは、熱エネルギー(thermal energies)に冷却することになる。 The spread of the initial energy of ions confined in the ion guide or mass analyzer 2 can be reduced by introducing a cooling gas into the ion confinement region of the ion guide or mass analyzer 2. The ion guide or mass analyzer 2 is preferably maintained at a pressure in the range of 10 −5 to 10 1 mbar or more preferably in the range of 10 −3 to 10 −1 mbar. The kinetic energy of ions will preferably be reduced as a result of collisions between ions and gas molecules. Thus, the ions will cool to thermal energy.

一旦イオンがイオンガイドまたは質量分析器2内に蓄積されると、入口電極1に印加されるDC電圧は、イオンが入口を介してイオンガイドまたは質量分析器2から出ることを防止するために上昇され得る。   Once ions are accumulated in the ion guide or mass analyzer 2, the DC voltage applied to the inlet electrode 1 rises to prevent ions from leaving the ion guide or mass analyzer 2 through the inlet. Can be done.

別の実施形態によると、1つ以上の適切なポテンシャルをイオンガイドまたは質量分析器2の入口に配置された1つ以上の環状プレートまたは電極に印加することによって、1つ以上の擬ポテンシャル障壁がイオンガイドまたは質量分析器2の入口において形成され得る。   According to another embodiment, one or more pseudopotential barriers are created by applying one or more suitable potentials to one or more annular plates or electrodes located at the entrance of the ion guide or mass analyzer 2. It can be formed at the inlet of an ion guide or mass analyzer 2.

初期時刻T0において、1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形が好ましくはイオンガイドまたは質量分析器2を形成する電極2aに印加される。一実施形態によると、1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形の振幅は、初期には、比較的低いか、または実質的にゼロであり得る。次いで、一実施形態によると、1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形の振幅は、漸進的に最終の最大値へ直線的に(ramped)増加され得るか、段階的に増加され得るか、または増加され得る。このように、イオンは、好ましくはイオンガイドまたは質量分析器2の出口に配置された擬ポテンシャル障壁に向かって推進されるか、駆動されるか、または平行移動される。イオンは、好ましくは質量電荷比の逆順でイオンガイドまたは質量分析器2を出るようにされる。すなわち、比較的高い質量電荷比を有するイオンが比較的低い質量電荷比を有するイオンより先にイオンガイドまたは質量分析器2を出る。上記プロセスは、一旦イオンガイドまたは質量分析器2からイオンが無くなると繰り返され得る。 At an initial time T 0 , one or more transient DC voltages or potentials or one or more DC voltages or potential waveforms are preferably applied to the electrode 2 a forming the ion guide or mass analyzer 2. According to one embodiment, the amplitude of one or more DC voltages or potentials or one or more DC voltage or potential waveforms may initially be relatively low or substantially zero. Then, according to one embodiment, the amplitude of one or more transient DC voltages or potentials or one or more DC voltages or potential waveforms can be gradually ramped up to a final maximum value, It can be increased in stages or can be increased. In this way, the ions are preferably propelled, driven or translated towards a pseudopotential barrier located at the exit of the ion guide or mass analyzer 2. The ions are preferably allowed to exit the ion guide or mass analyzer 2 in reverse order of mass to charge ratio. That is, ions having a relatively high mass to charge ratio exit the ion guide or mass analyzer 2 before ions having a relatively low mass to charge ratio. The above process can be repeated once ions are gone from the ion guide or mass analyzer 2.

図8は、イオンガイドまたは質量分析器2の出口に配置された2つの環状プレートまたは電極5a、5bの直径が好ましくはイオンガイドまたは質量分析器2の残りの部分を含む電極2aの直径よりも小さい一実施形態を示す。質量選択的擬ポテンシャル障壁が好ましくは図5を参照して前述した実施形態と同様にイオンガイドまたは質量分析器2の出口に形成される。図8に示される実施形態は、好ましくは同様の振幅質量依存擬ポテンシャル障壁を生成するために必要な変調RFポテンシャルの振幅が図5の実施形態よりも小さいという利点を有する。   FIG. 8 shows that the diameter of the two annular plates or electrodes 5 a, 5 b arranged at the outlet of the ion guide or mass analyzer 2 is preferably larger than the diameter of the electrode 2 a including the rest of the ion guide or mass analyzer 2. One small embodiment is shown. A mass selective pseudopotential barrier is preferably formed at the exit of the ion guide or mass analyzer 2 as in the embodiment described above with reference to FIG. The embodiment shown in FIG. 8 preferably has the advantage that the amplitude of the modulated RF potential required to produce a similar amplitude mass dependent pseudopotential barrier is smaller than the embodiment of FIG.

図9Aおよび9Bを参照して、イオンガイドまたは質量分析器2内に質量電荷比依存擬ポテンシャル障壁を生成する好ましさが劣る好ましい方法を説明する。イオンガイドまたは質量分析器2は、好ましくは図1に示すイオンガイドまたは質量分析器2と同様である。しかし、印加されるRF電圧の振幅、または好ましくはリング電極2aに印加されるさらなるRFまたはAC電圧は、好ましくはイオンガイドまたは質量分析器2の出口へ向かってまたはイオンガイドまたは質量分析器2の長さに沿って漸進的に増加するように構成される。図9Bは、さらなる変調電圧の最大振幅6および最小振幅7を図9Aに示すようなイオンガイドまたは質量分析器2のレンズ素子の番号の関数としてプロットしたものを示す。   With reference to FIGS. 9A and 9B, a preferred less preferred method of creating a mass to charge ratio dependent pseudopotential barrier in the ion guide or mass analyzer 2 will be described. The ion guide or mass analyzer 2 is preferably similar to the ion guide or mass analyzer 2 shown in FIG. However, the amplitude of the applied RF voltage, or preferably the additional RF or AC voltage applied to the ring electrode 2a, is preferably towards the exit of the ion guide or mass analyzer 2 or of the ion guide or mass analyzer 2 It is configured to increase gradually along the length. FIG. 9B shows a plot of the maximum amplitude 6 and minimum amplitude 7 of the further modulation voltage as a function of the number of lens elements of the ion guide or mass analyzer 2 as shown in FIG. 9A.

レンズ素子nに印加されるさらなる時間変化ポテンシャルVnの一般形は、以下によって記述され得る。   The general form of a further time-varying potential Vn applied to the lens element n can be described by:

Figure 2009535761
Figure 2009535761

ここで、nは、レンズ素子のインデックス番号であり、f(n)は、素子nに対する振動の振幅を記述する関数であり、およびσは、変調周波数である。   Here, n is the index number of the lens element, f (n) is a function describing the amplitude of vibration for the element n, and σ is the modulation frequency.

f(n)によって記述されるさらなる変調ポテンシャルの最大振幅がイオンガイドまたは質量分析器2の出口へ向かって図9Bに示すような非線形関数で増加するならば、質量電荷比依存擬ポテンシャル障壁が好ましくはイオンガイドまたは質量分析器2の出口に形成されることになり、好ましくは連続するリング電極2aに印加されるACまたはRF電圧の交番位相の結果として形成される上記のまたは任意の軸方向擬ポテンシャル波形形状に重畳される。   A mass to charge ratio dependent pseudopotential barrier is preferred if the maximum amplitude of the further modulation potential described by f (n) increases with a nonlinear function as shown in FIG. 9B towards the exit of the ion guide or mass analyzer 2. Will be formed at the exit of the ion guide or mass analyzer 2 and preferably the above or any axial pseudomorphism formed as a result of the alternating phase of the AC or RF voltage applied to the continuous ring electrode 2a. It is superimposed on the potential waveform shape.

別の実施形態によると、1つ以上の質量選択的擬ポテンシャル障壁が、リング電極2aの内径と、イオンガイドまたは質量分析器2の特定の領域または部分の内部でまたはそれに沿って隣接するリング電極間の間隔とのアスペクト比を変化させることによって、生成または作成され得る。アスペクト比の変化は、リング電極2aの機械的設計を変更することによって、および/または一続きの2つ以上の近接するリング電極の間の位相または位相関係を変化させることによって実現され得る。例えば、2つの近接するリング電極が変調ポテンシャルの同じ位相(変調されたポテンシャルの互いに反対の位相とは対照的)が供給されるように切り換えられるならば、イオンガイドまたは質量分析器2のこの領域または区分におけるアスペクト比も、実際には、変更されることになる。一実施形態によると、一対の電極の極性または位相は、イオンガイドまたは質量分析器2のある領域または区分の実効アスペクト比がイオンガイドまたは質量分析器2の残りの部分に沿って維持されるようなアスペクト比に対して変化するように切り換えまたは反転され得る。一実施形態によると、擬ポテンシャル障壁のアスペクト比およびしたがって高さは、近接する電極または電極群間の位相差を、例えば、180度から0度に連続的にまたはそれ以外で調節することによって、連続的にまたはそれ以外で調節され得る。これらの方法は、印加される変調ポテンシャルの振幅および/または周波数を変化させる手法と併用して使用され得る。   According to another embodiment, one or more mass selective pseudopotential barriers are adjacent to the inner diameter of the ring electrode 2a and within or along a particular region or portion of the ion guide or mass analyzer 2. It can be created or created by changing the aspect ratio with the spacing between. Changing the aspect ratio can be achieved by changing the mechanical design of the ring electrode 2a and / or by changing the phase or phase relationship between a series of two or more adjacent ring electrodes. For example, if two adjacent ring electrodes are switched to be supplied with the same phase of the modulation potential (as opposed to opposite phases of the modulated potential), this region of the ion guide or mass analyzer 2 Or, the aspect ratio in the section is actually changed. According to one embodiment, the polarity or phase of the pair of electrodes is such that the effective aspect ratio of a region or section of the ion guide or mass analyzer 2 is maintained along the rest of the ion guide or mass analyzer 2. Can be switched or inverted to change for different aspect ratios. According to one embodiment, the aspect ratio and thus the height of the pseudopotential barrier can be adjusted by adjusting the phase difference between adjacent electrodes or electrode groups, for example, continuously from 180 degrees to 0 degrees or otherwise. It can be adjusted continuously or otherwise. These methods can be used in conjunction with techniques that change the amplitude and / or frequency of the applied modulation potential.

図10は、好適なイオンガイドまたは質量分析器2が四重極質量フィルタなどのより高分解能の質量分析器11と直列に結合される本発明の一実施形態を示す。これにより、全体的に改善されたデューティサイクルおよび感度を有する質量分析計を提供することができる。好ましくは、イオン源からのイオンは、好ましくは好適なイオンガイドまたは質量分析器2の上流に位置するイオントラップ8内に蓄積される。次いで、イオンは、好ましくはイオントラップ8の出口に設けられたゲート電極9をパルス化することによってイオントラップ8から周期的に放出される。次いで、イオントラップ8から放出またはパルスとして出射されたイオンは、好ましくは好適なイオンガイドまたは質量分析器2に入るように方向付けられる。イオンは、好ましくは好適なイオンガイドまたは質量分析器2の出口に形成される擬ポテンシャル障壁が存在することによって、好適なイオンガイドまたは質量分析器2内に軸方向に閉じ込められたままである。一旦イオンが好適なイオンガイドまたは質量分析器2に入ると、DC障壁電圧が好ましくは好適なイオンガイドまたは質量分析器2の入口電極1に印加される。これにより、好ましくはイオンが入口電極1における開口を介して上流へ向かって好適なイオンガイドまたは質量分析器2を出ることが防止される。一旦イオンが好適なイオンガイドまたは質量分析器2内に蓄積されると、イオンを好適なイオンガイドまたは質量分析器2の出口へ向かって駆動または推進するために、1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形が好ましくはイオンガイドまたは質量分析器2を形成する電極に重畳される。   FIG. 10 shows an embodiment of the invention in which a suitable ion guide or mass analyzer 2 is coupled in series with a higher resolution mass analyzer 11 such as a quadrupole mass filter. This can provide a mass spectrometer with an overall improved duty cycle and sensitivity. Preferably, ions from the ion source are stored in an ion trap 8, preferably located upstream of a suitable ion guide or mass analyzer 2. The ions are then periodically ejected from the ion trap 8 by preferably pulsing the gate electrode 9 provided at the exit of the ion trap 8. The ions emitted or pulsed from the ion trap 8 are then preferably directed to enter a suitable ion guide or mass analyzer 2. The ions remain axially confined within the preferred ion guide or mass analyzer 2, preferably by the presence of a pseudopotential barrier formed at the exit of the suitable ion guide or mass analyzer 2. Once the ions enter a suitable ion guide or mass analyzer 2, a DC barrier voltage is preferably applied to the entrance electrode 1 of the suitable ion guide or mass analyzer 2. This preferably prevents ions from exiting a suitable ion guide or mass analyzer 2 upstream through an opening in the entrance electrode 1. Once ions are stored in a suitable ion guide or mass analyzer 2, one or more transient DC voltages or to drive or propel the ions toward the exit of the suitable ion guide or mass analyzer 2 A potential or one or more transient DC voltages or potential waveforms are preferably superimposed on the electrodes forming the ion guide or mass analyzer 2.

1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形の振幅は、好ましくは時間とともに最終の最大電圧へ漸進的に増加される。好ましくは、イオンは、好ましくは好適なイオンガイドまたは質量分析器2の出口に配置された擬ポテンシャル障壁を、質量電荷比の降順で、越えるように推進、駆動または押進される。好適なイオンガイドまたは質量分析器2の出力は、好ましくはイオンの質量電荷比および時間の関数である。   The amplitude of one or more transient DC voltages or potentials or one or more transient DC voltages or potential waveforms is preferably progressively increased over time to the final maximum voltage. Preferably, the ions are propelled, driven or pushed, preferably in a descending order of mass to charge ratio, over a pseudopotential barrier, preferably located at the exit of a suitable ion guide or mass analyzer 2. The output of a suitable ion guide or mass analyzer 2 is preferably a function of the ion mass to charge ratio and time.

まず、比較的高い質量電荷比を有するイオンが好ましくは好適なイオンガイドまたは質量分析器2を出る。漸進的により低い質量電荷比を有するイオンが好ましくは後続してイオンガイドまたは質量分析器2を出る。特定の質量電荷比を有するイオンが好ましくは比較的短いまたは狭い期間にわたりイオンガイドまたは質量分析器2を出ることになる。一実施形態によると、好適なイオンガイドまたは質量分析器2の下流に配置されたスキャン四重極質量フィルタ/分析器11の質量電荷比移送ウィンドウは、好ましくはイオンガイドまたは質量分析器2を出るイオンの質量電荷比に同期するようにされる。その結果、スキャン四重極質量分析器11のデューティサイクルは、好ましくは増加される。イオン検出器12が好ましくは四重極質量分析器11の下流に配置され、イオンを検出する。   First, ions having a relatively high mass to charge ratio preferably exit a suitable ion guide or mass analyzer 2. Ions with progressively lower mass to charge ratios preferably exit the ion guide or mass analyzer 2 subsequently. Ions having a specific mass to charge ratio will preferably exit the ion guide or mass analyzer 2 for a relatively short or narrow period. According to one embodiment, the mass to charge ratio transfer window of the scan quadrupole mass filter / analyzer 11 arranged downstream of a suitable ion guide or mass analyzer 2 preferably exits the ion guide or mass analyzer 2. It is made to synchronize with the mass-to-charge ratio of ions. As a result, the duty cycle of the scan quadrupole mass analyzer 11 is preferably increased. An ion detector 12 is preferably arranged downstream of the quadrupole mass analyzer 11 to detect ions.

別の実施形態によると、四重極質量フィルタ11の質量電荷比移送ウィンドウは、段階的にまたは他のやり方で増加され得る。これは、好ましくはイオンガイドまたは質量分析器2を出るイオンの質量電荷比に実質的に同期するようにされる。この実施形態によると、四重極質量フィルタ11の移送効率およびデューティサイクルは、特定の質量または質量電荷比を有するイオンだけが測定または分析されることが所望される一動作モードにおいて増加され得る。   According to another embodiment, the mass to charge ratio transfer window of the quadrupole mass filter 11 may be increased stepwise or otherwise. This is preferably made to be substantially synchronized with the mass to charge ratio of the ions exiting the ion guide or mass analyzer 2. According to this embodiment, the transfer efficiency and duty cycle of the quadrupole mass filter 11 can be increased in one mode of operation where only ions having a particular mass or mass to charge ratio are desired to be measured or analyzed.

別の実施形態によると、好適なイオンガイドまたは質量分析器2は、図11に示すような直交加速飛行時間質量分析器4に結合され得る。好適なイオンガイドまたは質量分析器2は、好ましくはさらなるイオンガイド13を介して飛行時間質量分析器14に結合される。好適なイオンガイドまたは質量分析器2から受け取られたイオンを移送し、かつイオンを好ましくはイオンが受け取られた順番を維持するやり方で移送するために、1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形が好ましくはさらなるイオンガイド13の電極に印加される。したがって、イオンは、好ましくは最適なやり方で前方の飛行時間質量分析器14へ移送される。好適なイオンガイドまたは質量分析器2および飛行時間質量分析器14を組み合わせることで、好ましくは質量分析計全体のデューティサイクルおよび感度が改善される。任意の特定の場合に好適なイオンガイドまたは質量分析器2から出力されるイオンは、好ましくは明確な質量電荷比を有する。   According to another embodiment, a suitable ion guide or mass analyzer 2 may be coupled to an orthogonal acceleration time-of-flight mass analyzer 4 as shown in FIG. A suitable ion guide or mass analyzer 2 is preferably coupled to a time-of-flight mass analyzer 14 via a further ion guide 13. One or more transient DC voltages or potentials or 1 to transfer ions received from a suitable ion guide or mass analyzer 2 and preferably in a manner that maintains the order in which the ions were received. One or more transient DC voltages or potential waveforms are preferably applied to the electrodes of the further ion guide 13. Thus, the ions are preferably transferred to the forward time-of-flight mass analyzer 14 in an optimal manner. Combining a suitable ion guide or mass analyzer 2 and time-of-flight mass analyzer 14 preferably improves the overall duty cycle and sensitivity of the mass spectrometer. The ions output from the ion guide or mass analyzer 2 suitable for any particular case preferably have a well-defined mass-to-charge ratio.

さらなるイオンガイド13は、好ましくはイオンガイドまたは質量分析器2から現れるか、または受け取られるイオンを複数の別個のイオンパケットに区切る。好ましくは、さらなるイオンガイド13によって受け取られた各イオンパケットは、好ましくはさらなるイオンガイド13の長さに沿って連続して平行移動される別々の軸方向ポテンシャル井戸内にトラップされる。したがって、各軸方向ポテンシャル井戸は、好ましくは限定された範囲の質量電荷比を有するイオンを含む。軸方向ポテンシャル井戸は、好ましくは、イオンが直交加速飛行時間質量分析器14へ向かって、またはその中へ放出されるまで、さらなるイオンガイド13の長さに沿って継続的に輸送される。直交加速度パルスは、好ましくは、各パケットまたは井戸に存在するイオン(好ましくは、限定された範囲の質量電荷比を有する)の直交加速飛行時間質量分析器14中への移送を最大化するために、さらなるイオンガイド13からのイオンの到達に同期するようにされる。   The further ion guide 13 preferably separates the ions emerging or received from the ion guide or mass analyzer 2 into a plurality of separate ion packets. Preferably, each ion packet received by the further ion guide 13 is trapped in a separate axial potential well that is preferably translated continuously along the length of the further ion guide 13. Thus, each axial potential well preferably contains ions having a limited range of mass to charge ratios. The axial potential well is preferably continuously transported along the length of the further ion guide 13 until ions are ejected towards or into the orthogonal acceleration time-of-flight mass analyzer 14. The orthogonal acceleration pulses are preferably used to maximize the transport of ions (preferably having a limited range of mass to charge ratios) present in each packet or well into the orthogonal acceleration time-of-flight mass analyzer 14. , Synchronized with the arrival of ions from the further ion guide 13.

別の実施形態によると、擬ポテンシャル障壁は、好適なイオンガイドまたは質量分析器2の入口に位置付けられ得る。したがって、特定の質量電荷比を有するイオンが擬ポテンシャル障壁を乗り越えるのに十分な初期軸方向エネルギーを有するならば、イオンは、好適なイオンガイドまたは質量分析器2に入ることになる。しかし、特定の質量電荷比を有するイオンが擬ポテンシャル障壁を乗り越えるのに不十分な初期軸方向エネルギーを有するならば、イオンは、好ましくはイオンガイドまたは質量分析器2に入ることを防止され、そしてシステムから失われ得る。この実施形態によると、イオンガイドまたは質量分析器2は、低質量または質量電荷比カットオフを有するように動作され得る。低質量または質量電荷比カットオフの特性は、質量電荷比依存障壁の振幅を増加または変化させることによって、または好適なイオンガイドまたは質量分析器2に入るイオンの初期軸方向エネルギーを増加または変化させることによって、時間の関数として変更または変化させ得る。擬ポテンシャル障壁の大きさは、RF電圧を増加することによって、および/または電極に印加されるRF電圧の周波数を低減することによって増加され得る。   According to another embodiment, the pseudopotential barrier can be positioned at the entrance of a suitable ion guide or mass analyzer 2. Thus, if an ion with a specific mass to charge ratio has sufficient initial axial energy to overcome the pseudopotential barrier, the ion will enter a suitable ion guide or mass analyzer 2. However, if an ion with a specific mass to charge ratio has insufficient initial axial energy to overcome the pseudopotential barrier, the ion is preferably prevented from entering the ion guide or mass analyzer 2 and Can be lost from the system. According to this embodiment, the ion guide or mass analyzer 2 can be operated to have a low mass or mass to charge ratio cutoff. The low mass or mass to charge ratio cut-off characteristic increases or changes the initial axial energy of ions entering or entering a suitable ion guide or mass analyzer 2 by increasing or changing the amplitude of the mass to charge ratio dependent barrier. Can be changed or changed as a function of time. The magnitude of the pseudopotential barrier can be increased by increasing the RF voltage and / or by reducing the frequency of the RF voltage applied to the electrode.

図12は、入口電極1の直後または直ぐ下流の第1の環状プレートまたは電極15が好ましくはイオンガイドまたは質量分析器2を形成または構成するその他の環状プレートまたは電極2aに好ましくは印加されるRF電圧源とは好ましくは別のまたは異なるRF電圧源によって好ましくは駆動される、さらなる実施形態を示す。第1の環状プレートまたは電極15に印加されるRF電圧の振幅がその他の環状プレートまたは電極2aに印加されるRF電圧の振幅に対して増加される場合、好適なイオンガイドまたは質量分析器2の入口における擬ポテンシャル障壁の高さは、好ましくは増加される。第1の環状プレートまたは電極15に印加されるRF変調周波数をイオンガイドまたは質量分析器2のその他の電極2aに印加されるポテンシャルの変調周波数に対して低減することによっても同様の効果が実現され得る。   FIG. 12 shows that the first annular plate or electrode 15 immediately after or immediately downstream of the inlet electrode 1 is preferably applied to the other annular plate or electrode 2a that preferably forms or constitutes the ion guide or mass analyzer 2. Fig. 4 shows a further embodiment, preferably driven by an RF voltage source that is preferably separate from or different from the voltage source. If the amplitude of the RF voltage applied to the first annular plate or electrode 15 is increased relative to the amplitude of the RF voltage applied to the other annular plate or electrode 2a, a suitable ion guide or mass analyzer 2 The height of the pseudopotential barrier at the inlet is preferably increased. A similar effect is achieved by reducing the RF modulation frequency applied to the first annular plate or electrode 15 relative to the modulation frequency of the potential applied to the other electrode 2a of the ion guide or mass analyzer 2. obtain.

図13Aは、最大100Vで周波数が1MHzのRF電圧が環状プレートまたは電極2aに印加される場合に質量電荷比が100であるイオンが受けるような、図12に示す好適なイオンガイドまたは質量分析器2の中心軸に沿った時間平均ポテンシャルまたは擬ポテンシャルのプロットを示す。第1の環状プレートまたは電極15に印加された変調ポテンシャルの最大振幅は、400Vであった。環状プレートまたは電極2a、15のすべてに印加された変調ポテンシャルの位相および周波数は、同一であった。図13Bは、質量電荷比が500であるイオンが受けるような、イオンガイドまたは質量分析器2の中心軸に沿って対応する時間平均ポテンシャルまたは擬ポテンシャルを示す。   FIG. 13A shows a suitable ion guide or mass analyzer as shown in FIG. 12 where ions having a mass to charge ratio of 100 are received when an RF voltage of up to 100 V and a frequency of 1 MHz is applied to the annular plate or electrode 2a. 2 shows a plot of time-average potential or pseudopotential along the central axis of 2. The maximum amplitude of the modulation potential applied to the first annular plate or electrode 15 was 400V. The phase and frequency of the modulation potential applied to all of the annular plates or electrodes 2a, 15 were the same. FIG. 13B shows the corresponding time-averaged potential or pseudopotential along the central axis of the ion guide or mass analyzer 2 as received by ions with a mass to charge ratio of 500.

図14は、好適なイオンガイドまたは質量分析器2の入口における領域であって、x軸(半径方向)に0〜1mm延びた領域について、好適なイオンガイドまたは質量分析器2内の半径方向および軸方向擬ポテンシャルの形態をz軸の中心に沿って切断したものを示す。電圧および周波数の条件は、図13を参照して前述した実施形態に対して前述したとおりである。   FIG. 14 shows a region at the entrance of a preferred ion guide or mass analyzer 2 that extends 0-1 mm in the x-axis (radial direction) and in the radial direction within the preferred ion guide or mass analyzer 2 and The axial pseudopotential is cut along the center of the z-axis. The voltage and frequency conditions are as described above for the embodiment described above with reference to FIG.

イオンガイドまたは質量分析器2の入口において変調ポテンシャルの振幅を増加すると、その結果、イオンの質量電荷比に反比例する振幅を有する擬ポテンシャル障壁が生成される。十分な軸方向エネルギーを有するイオンは、擬ポテンシャル障壁を乗り越えることになり、および好適なイオンガイドまたは質量分析器2中へ移送されることになり、他方この障壁を乗り越えるのに不十分な軸方向エネルギーを有するイオンは、システムから失われることになる。   Increasing the amplitude of the modulation potential at the entrance of the ion guide or mass analyzer 2 results in a pseudopotential barrier having an amplitude that is inversely proportional to the mass to charge ratio of the ions. Ions with sufficient axial energy will overcome the pseudopotential barrier and will be transported into a suitable ion guide or mass analyzer 2 while insufficient axial direction to overcome this barrier. Energetic ions will be lost from the system.

一実施形態によると、低い質量電荷比移送特性は、好適なイオンガイドまたは質量分析器2の入口の近く、またはその場所に配置される1つ以上の第1の電極15に印加される変調ポテンシャルの振幅および/または周波数を変化させることによってスキャンされ得るか、変化するようにされ得るか、または段階的に変化するようにされ得る。   According to one embodiment, the low mass-to-charge ratio transfer characteristic is a modulation potential applied to one or more first electrodes 15 located near or at the location of a suitable ion guide or mass analyzer 2 entrance. Can be scanned, changed, or stepped by changing the amplitude and / or frequency of the.

図15に示すような別の実施形態によると、好適なイオンガイドまたは質量分析器2は、イオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aに結合され得る。一好適な実施形態にかかるイオンガイドまたは質量分析器2は、イオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aの下流に位置づけられ得、および比較的高い電荷状態のイオンの前方移送を可能にしつつ、比較的低い電荷状態を有するイオンの前方移送を防止するように使用され得る。イオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aが質量分析計または質量分析器と組み合わされる場合、好適なイオンガイドまたは質量分析器2は、イオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aの下流かつ質量分析計または質量分析器の上流に位置付けられ得る。好適なイオンガイドまたは質量分析器2は、後の質量分析のために比較的高い電荷状態を有するイオンの前方移送を可能にしつつ、比較的低い電荷状態を有するイオンの前方移送を防止するように使用され得る。   According to another embodiment as shown in FIG. 15, a suitable ion guide or mass analyzer 2 can be coupled to an ion mobility separator or spectrometer 15a. The ion guide or mass analyzer 2 according to one preferred embodiment may be positioned downstream of the ion mobility separator or spectrometer 15a and is relatively low while allowing forward transfer of relatively high charge state ions. It can be used to prevent forward transport of ions having a charge state. When the ion mobility separator or spectrometer 15a is combined with a mass spectrometer or mass analyzer, a suitable ion guide or mass analyzer 2 is downstream of the ion mobility separator or spectrometer 15a and the mass spectrometer or mass analyzer. Can be positioned upstream of the. A suitable ion guide or mass analyzer 2 prevents forward transfer of ions having a relatively low charge state while allowing forward transfer of ions having a relatively high charge state for subsequent mass analysis. Can be used.

イオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aと組み合わせて使用する場合、好適なイオンガイドまたは質量分析器2の領域に設けられる擬ポテンシャル障壁の大きさまたは高さおよびしたがってイオンガイドまたは質量分析器2の低質量電荷比カットオフ特性は、イオンのイオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15a中へのパルス化またはイオンのイオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aからの出現と同期してスキャンされ得る。所定のドリフト時刻にイオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aから現れ、かつ所定レベルを下回る質量または質量電荷比を有するイオンは、好適なイオンガイドまたは質量分析器2を通る移送から除外または防止され得る。この実施形態の重要な用途は、同じ質量電荷比を有するが電荷状態の異なるイオンを区別することにある。   When used in combination with an ion mobility separator or spectrometer 15a, the size or height of the pseudopotential barrier provided in the region of the preferred ion guide or mass analyzer 2 and thus the low mass of the ion guide or mass analyzer 2 The charge ratio cutoff characteristic can be scanned in synchronism with the pulsing of ions into the ion mobility separator or spectrometer 15a or the appearance of ions from the ion mobility separator or spectrometer 15a. Ions that emerge from the ion mobility separator or spectrometer 15a at a predetermined drift time and have a mass or mass to charge ratio below a predetermined level can be excluded or prevented from transport through a suitable ion guide or mass analyzer 2. An important application of this embodiment is to distinguish between ions having the same mass to charge ratio but different charge states.

図15を参照すると、イオン源からのイオンは、好ましくはイオントラップ8内に蓄積され得る。イオンは、イオントラップ8の出口に配置されたゲート電極9をパルス化することによって、イオントラップ8から周期的に放出され得る。次いで、イオンは、イオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15a中へパルス化され得る。次いで、イオンは、好ましくはイオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aを通って走行する。次いで、イオンは、好ましくはイオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aを通過する際に、それらのイオン移動度にしたがって時間的に分離される。比較的高いイオン移動度を有するイオンは、好ましくは比較的低いイオン移動度を有するイオンより先にイオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aから出ることになる。   Referring to FIG. 15, ions from the ion source can preferably accumulate in the ion trap 8. Ions can be periodically ejected from the ion trap 8 by pulsing the gate electrode 9 located at the exit of the ion trap 8. The ions can then be pulsed into an ion mobility separator or spectrometer 15a. The ions then preferably travel through an ion mobility separator or spectrometer 15a. The ions are then separated in time according to their ion mobility, preferably when passing through an ion mobility separator or spectrometer 15a. Ions having a relatively high ion mobility will preferably exit the ion mobility separator or spectrometer 15a before ions having a relatively low ion mobility.

イオンは、イオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aを出ると、好ましくはイオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aの出口電極16と好適なイオンガイドまたは質量分析器2への入口電極17との間のDCポテンシャル差を維持することによって加速される。好ましくは、好適なイオンガイドまたは質量分析器2に入るイオンは、好ましくはイオンの質量電荷比に依存する振幅を好ましくは有する擬ポテンシャル障壁を受けることになる。比較的低い質量電荷比を有するイオンは、好ましくは比較的高い振幅を有する擬ポテンシャル障壁を受けることになり、他方比較的高い質量電荷比を有するイオンは、好ましくは比較的低い振幅を有する擬ポテンシャル障壁を受けることになる。したがって、ある質量電荷比を下回るイオンは、好ましくは好適なイオンガイドまたは質量分析器2中へ移送されないことになる。好適なイオンガイドまたは質量分析器2から前方へ移送されるイオンは、好ましくは必要に応じてさらに処理される。例えば、イオンは、後の質量解析のための質量分析計へ移送され得る。好適なイオンガイドまたは質量分析器2に入ることを防止されたイオンは、好ましくはシステムから失われる。   As ions exit the ion mobility separator or spectrometer 15a, the DC potential between the exit electrode 16 of the ion mobility separator or spectrometer 15a and the entrance electrode 17 to a suitable ion guide or mass analyzer 2 is preferred. It is accelerated by maintaining the difference. Preferably, ions entering a suitable ion guide or mass analyzer 2 will undergo a pseudopotential barrier, preferably having an amplitude that preferably depends on the mass to charge ratio of the ions. Ions with a relatively low mass to charge ratio will preferably undergo a pseudopotential barrier with a relatively high amplitude, while ions with a relatively high mass to charge ratio will preferably have a pseudopotential with a relatively low amplitude. You will receive a barrier. Thus, ions below a certain mass to charge ratio will preferably not be transferred into a suitable ion guide or mass analyzer 2. The ions transported forward from a suitable ion guide or mass analyzer 2 are preferably further processed as needed. For example, the ions can be transferred to a mass spectrometer for later mass analysis. Ions that are prevented from entering a suitable ion guide or mass analyzer 2 are preferably lost from the system.

好適なイオンガイドまたは質量分析器2への入口内またはその場所に設けられた擬ポテンシャル障壁の大きさは、イオン移動度分離の際に漸進的に増加され得る。図16は、イオン移動度ドリフト時間の関数としての質量電荷比値のプロットを示す。図から分かるように、一価イオンおよび多価イオンは、2つの別個のバンドに分かれる。任意の与えられたドリフト時間において、イオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aを出る一価イオンは、同時にイオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aを出る多価イオンよりも低い質量電荷比を有することになる。したがって、好適なイオンガイドまたは質量分析器2への入口における擬ポテンシャル障壁の高さが図16に示すライン18に示されたよりも小さな質量電荷比値を有するイオンが除外されるようなドリフト時間でスキャンされるように構成されるならば、ほとんど多価イオンだけが好適なイオンガイドまたは質量分析器2に入ることになる。一価イオンは、好ましくは失われることになる。これにより、多価イオンの後段における検出に対して信号対ノイズを著しく改善するという利点が得られる結果となる。   The size of the pseudopotential barrier provided in or at the entrance to a suitable ion guide or mass analyzer 2 can be progressively increased during ion mobility separation. FIG. 16 shows a plot of mass to charge ratio values as a function of ion mobility drift time. As can be seen, the monovalent and multivalent ions are divided into two distinct bands. At any given drift time, monovalent ions exiting the ion mobility separator or spectrometer 15a will have a lower mass to charge ratio than multivalent ions exiting the ion mobility separator or spectrometer 15a at the same time. Thus, with a drift time such that the height of the pseudopotential barrier at the entrance to the preferred ion guide or mass analyzer 2 excludes ions having a mass to charge ratio value less than that shown in line 18 shown in FIG. If configured to be scanned, almost only multivalent ions will enter the preferred ion guide or mass analyzer 2. Monovalent ions will preferably be lost. This results in the advantage of significantly improving signal to noise over subsequent detection of multiply charged ions.

イオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aは、ドリフト管を含み得る。ここで、軸方向電界は、ドリフト管の長さに沿って印加されるか、または維持される。あるいは、イオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aは、開口を有する複数の電極を含むイオンガイドを含み得る。ここで、1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形がイオン移動度セパレータまたはスペクトロメータの電極に印加される。ACまたはRF電圧が電極に印加されて、イオンを中心軸に閉じ込め、それにより移送を最大化し得る。イオン移動度セパレータまたはスペクトロメータ15aに対する好適な動作圧力は、好ましくは10-2mbar〜102mbarの範囲内にあり、より好ましくは10-1mbar〜101mbarの範囲にある。 The ion mobility separator or spectrometer 15a may include a drift tube. Here, an axial electric field is applied or maintained along the length of the drift tube. Alternatively, the ion mobility separator or spectrometer 15a may include an ion guide that includes a plurality of electrodes having openings. Here, one or more transient DC voltages or potentials or one or more DC voltages or potential waveforms are applied to the electrodes of the ion mobility separator or spectrometer. An AC or RF voltage can be applied to the electrodes to confine ions to the central axis, thereby maximizing transport. Suitable operating pressure for the ion mobility separator or spectrometer 15a is preferably in the range of 10 -2 mbar~10 2 mbar, more preferably in the range of 10 -1 mbar~10 1 mbar.

イオン移動度にしたがって分離されたイオンのグループは、好ましくは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形をイオンガイドまたは質量分析器2を含む電極に印加することによって、分離を失わずに、好適なイオンガイドまたは質量分析器2を通って移送される。これは、好適なイオンガイドまたは質量分析器2がまた直交加速飛行時間質量分析器に結合される際に特に有利である。デューティサイクルは、質量分析器の直交サンプリングパルスをイオンの直交加速度電極への到達と同期させることによって改善され得る。   The group of ions separated according to ion mobility preferably applies one or more transient DC voltages or potentials or one or more transient DC voltages or potential waveforms to the electrode comprising the ion guide or mass analyzer 2. Is transferred through a suitable ion guide or mass analyzer 2 without loss of separation. This is particularly advantageous when a suitable ion guide or mass analyzer 2 is also coupled to the orthogonal acceleration time-of-flight mass analyzer. The duty cycle can be improved by synchronizing the mass analyzer quadrature sampling pulses with the arrival of ions at the quadrature acceleration electrode.

複数の擬ポテンシャル障壁が好適なイオンガイドまたは質量分析器2内に、またはその長さに沿って生成または作成される他の実施形態が考えられる。これによって、好適なイオンガイドまたは質量分析器2内にトラップされたイオン群がより複雑なやり方で操作されることが可能になる。例えば、好適なイオンガイドまたは質量分析器2を充填する際に使用される第1のデバイスまたは領域の低質量電荷比カットオフ特性は、それと異なるより高い第2のデバイスまたは領域の低質量電荷比カットオフ特性(好適なイオンガイドまたは質量分析器2の出口におけるイオンの排出を可能にするために使用される)と組み合わされ得る。これにより、2つのカットオフ値の間の質量電荷比値を有するイオンが好適なイオンガイドまたは質量分析器2内にトラップされることが可能になる。   Other embodiments are conceivable in which multiple pseudopotential barriers are created or created in a suitable ion guide or mass analyzer 2 or along its length. This allows a group of ions trapped in a suitable ion guide or mass analyzer 2 to be manipulated in a more complex manner. For example, the low mass to charge ratio cut-off characteristic of the first device or region used in filling a suitable ion guide or mass analyzer 2 is different from the lower mass to charge ratio of the second device or region that is different from that. It can be combined with a cut-off characteristic (used to allow discharge of ions at the outlet of a suitable ion guide or mass analyzer 2). This allows ions having a mass to charge ratio value between two cutoff values to be trapped in a suitable ion guide or mass analyzer 2.

図17は、好適なイオンガイドまたは質量分析器2が直交加速飛行時間質量分析器14に結合された実験構成を示す。イオンの連続ビームをエレクトロスプレーイオン化源から導入した。イオンは、アルゴン約10-1mbarの圧力に維持された第1の積層リングイオンガイド19を通るように構成された。イオンをイオンガイド19を通っておよびそれに沿って推進するために、振幅が2Vの過渡DCポテンシャルをイオンガイド19の長さに沿って印加および漸進的に平行移動した。イオンは、好ましくはDC専用出口プレート20における開口を介してイオンガイド19を出て、そして入口電極21を介して、アルゴン約10-2mbarに維持された好適な積層リングイオンガイドまたは質量分析器2に入る。イオンガイド19の出口プレート20と好適なイオンガイドまたは質量分析器2の入口プレート21との間のポテンシャル差を−2Vに維持した。好適なイオンガイドまたは質量分析器2を出る際に、イオンは、転送領域を通って、そして次いで直交加速飛行時間質量分析器14によって質量分析される。イオンを上流のイオンガイド19および好適なイオンガイドまたは質量分析器2内に半径方向に閉じ込めるために、イオンガイド19および好適なイオンガイドまたは質量分析器2の両方に、周波数が2MHzで200Vpk−pkのRF電圧を供給した。 FIG. 17 shows an experimental setup in which a suitable ion guide or mass analyzer 2 is coupled to an orthogonal acceleration time-of-flight mass analyzer 14. A continuous beam of ions was introduced from an electrospray ionization source. The ions were configured to pass through a first stacked ring ion guide 19 maintained at a pressure of about 10 -1 mbar argon. In order to propel the ions through and along the ion guide 19, a transient DC potential with an amplitude of 2V was applied and translated along the length of the ion guide 19. The ions exit the ion guide 19 preferably through an opening in the DC dedicated outlet plate 20 and through a inlet electrode 21 a suitable stacked ring ion guide or mass analyzer maintained at about 10 −2 mbar argon. Enter 2. The potential difference between the outlet plate 20 of the ion guide 19 and a suitable ion guide or inlet plate 21 of the mass analyzer 2 was maintained at -2V. Upon exiting a suitable ion guide or mass analyzer 2, the ions are mass analyzed through the transfer region and then by the orthogonal acceleration time-of-flight mass analyzer 14. In order to confine ions radially within the upstream ion guide 19 and the preferred ion guide or mass analyzer 2, both the ion guide 19 and the preferred ion guide or mass analyzer 2 have 200 Vpk-pk at a frequency of 2 MHz. RF voltage was supplied.

DC電圧の印加に加えて、好適なイオンガイドまたは質量分析器2への入口プレート21を独立した可変振幅を有する独立したRF源に結合した。RF源の周波数は、750MHzであった。実験中に、入口プレート21に印加される変調ポテンシャルの振幅を0Vから550Vpk−pkに増加した。   In addition to applying a DC voltage, the inlet plate 21 to a suitable ion guide or mass analyzer 2 was coupled to an independent RF source with independent variable amplitude. The frequency of the RF source was 750 MHz. During the experiment, the amplitude of the modulation potential applied to the inlet plate 21 was increased from 0 V to 550 Vpk-pk.

図18A〜図18Eは、平均分子質量が1000であるポリエチレングリコールおよびトリアセチル−シクロデキストリン(ここで、[M+H]+=2034.6)を含む標準化合物の混合物を連続注入して得られた質量スペクトルを示す。   FIGS. 18A-18E show the mass obtained by continuous injection of a mixture of standard compounds including polyethylene glycol having an average molecular mass of 1000 and triacetyl-cyclodextrin (where [M + H] + = 2034.6). The spectrum is shown.

図18Aは、入口プレート21に印加されたRF電圧の振幅が0Vであった場合に記録された質量スペクトルを示す。図18B〜図18Eは、入口プレート21に印加されたRF電圧の振幅を手動で0Vから最大の550Vpk−pkに増加した際に得られた質量スペクトルを示す。図18Eに示す質量スペクトルは、RF電圧を最大の550Vpk−pkに設定した場合に得られたものである。すべての質量スペクトルについて、その強度を同じ値に正規化して、直接に比較できるようにした。   FIG. 18A shows the mass spectrum recorded when the amplitude of the RF voltage applied to the inlet plate 21 was 0V. 18B to 18E show mass spectra obtained when the amplitude of the RF voltage applied to the inlet plate 21 is manually increased from 0 V to a maximum of 550 Vpk-pk. The mass spectrum shown in FIG. 18E is obtained when the RF voltage is set to the maximum of 550 Vpk-pk. For all mass spectra, their intensities were normalized to the same value so that they could be directly compared.

図18A〜図18Eから分かるように、入口プレート21に印加されるRF電圧の振幅が漸進的に増加されるにつれ、低質量電荷比イオンは、好適なイオンガイドまたは質量分析器2に入ることがより一層防止され、およびしたがって質量スペクトルに現れない。図18Eに示すように最大RF振幅の550Vpk−pkを印加した場合、質量電荷比<1800を有するイオンの大多数は、より高い質量電荷比を有するイオンに対応するピークが減衰されること無く、取り除かれたことが見て取れる。   As can be seen from FIGS. 18A-18E, as the amplitude of the RF voltage applied to the inlet plate 21 is progressively increased, low mass to charge ratio ions can enter a suitable ion guide or mass analyzer 2. It is even more prevented and therefore does not appear in the mass spectrum. When applying a maximum RF amplitude of 550 Vpk-pk as shown in FIG. 18E, the majority of ions with a mass to charge ratio <1800 are not attenuated in peaks corresponding to ions with a higher mass to charge ratio, You can see that it was removed.

RFポテンシャルを入口プレート21に印加することによって、RFの振幅が増加されるにつれ大きさが増加する質量依存障壁が生成される。特定のRF振幅において、ある質量電荷比を下回るイオンは、この擬ポテンシャル障壁を乗り越えることができず、およびしたがって、好適なイオンガイドまたは質量分析器2に入ることが防止される。   By applying an RF potential to the inlet plate 21, a mass dependent barrier is created that increases in magnitude as the RF amplitude is increased. At a certain RF amplitude, ions below a certain mass to charge ratio cannot overcome this pseudopotential barrier and are thus prevented from entering a suitable ion guide or mass analyzer 2.

好適なイオンガイドまたは質量分析器2の近接する素子に印加されるACポテンシャルの周波数が異なるならば、質量選択的障壁を形成する変調ポテンシャルと好適なイオンガイドまたは質量分析器2内に半径方向にイオンを閉じ込めるために使用される変調ポテンシャルとの間に何らかの相互作用があり得る。この相互作用は、イオンガイドまたは質量分析器2のこれらの領域内のイオンの不安定性を招き得る。この相互作用が望ましくない場合、異なるACポテンシャルの領域は、ACポテンシャルではなく、DCポテンシャルによって供給される電極によって分離または遮蔽され得る。   If the frequency of the AC potential applied to the adjacent elements of the preferred ion guide or mass analyzer 2 is different, then the modulation potential forming the mass selective barrier and the preferred ion guide or mass analyzer 2 radially There can be some interaction with the modulation potential used to confine ions. This interaction can lead to ion instability in these regions of the ion guide or mass analyzer 2. If this interaction is not desired, regions of different AC potentials can be separated or shielded by electrodes supplied by DC potentials rather than AC potentials.

上記好適な実施形態によると、イオンは、好ましくはゲート電極を使用してパルス化されて好適なイオンガイドまたは質量分析器2中へ入力される。しかし、例えば、MALDIイオン源などのパルス化イオン源が使用される実施形態、および時刻T0がレーザの発射に対応する実施形態などの別の実施形態が考えられる。 According to the preferred embodiment, the ions are preferably pulsed using a gate electrode and input into a suitable ion guide or mass analyzer 2. However, other embodiments are conceivable, such as, for example, an embodiment in which a pulsed ion source such as a MALDI ion source is used, and an embodiment in which time T 0 corresponds to laser firing.

一実施形態によると、フラグメンテーション領域またはデバイスが質量分離領域の後または下流に設けられ得る。好適なイオンガイドまたは質量分析器2とフラグメンテーション領域またはデバイスとの間のポテンシャル差は、1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形の振幅が好ましくは直線的-に増加されるにつれ、直線的に低減され得る。次いで、好適なイオンガイドまたは質量分析器2は、与えられた時刻に所望の質量電荷比範囲のイオンをフラグメンテーションするために最適化され得る。   According to one embodiment, a fragmentation region or device may be provided after or downstream of the mass separation region. The potential difference between the preferred ion guide or mass analyzer 2 and the fragmentation region or device is preferably linear with the amplitude of one or more transient DC voltages or potentials or one or more transient DC voltages or potential waveforms. As it is increased, it can be reduced linearly. A suitable ion guide or mass analyzer 2 can then be optimized to fragment ions in the desired mass to charge ratio range at a given time.

上記好適な実施形態によると、好ましくは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形の形態の電界が好ましくは擬ポテンシャル障壁を越えてまたは横断してイオンを駆動するように使用される。他の実施形態によると、イオンは、ガスフローによって生じる粘性抵抗(viscous drag)によって、擬ポテンシャル障壁を横断するよう駆動され得る。ガスフローによる粘性抵抗は、10-2mbarよりも大きい、好ましくは10-1mbarよりも大きいガス圧に対して著しくなる。また、ガスフローによる粘性抵抗は、電界による力(1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形から導かれる力など)と組み合わされ得る。イオンにかかる粘性抵抗よる力および電界による力は、一斉に働くように構成され得るか、またはあるいは、互いに反対するように構成され得る。 According to the preferred embodiment, an electric field, preferably in the form of one or more transient DC voltages or potentials or one or more transient DC voltages or potential waveforms, preferably drives ions across or across the pseudopotential barrier. Used to be. According to other embodiments, ions can be driven across the pseudopotential barrier by a viscous drag caused by gas flow. Viscous resistance due to gas flow becomes significant for gas pressures greater than 10 −2 mbar, preferably greater than 10 −1 mbar. Viscous resistance due to gas flow can also be combined with electric field forces (such as one or more transient DC voltages or potentials or forces derived from one or more transient DC voltages or potential waveforms). The forces due to viscous drag on the ions and the forces due to the electric field can be configured to work together or alternatively, can be configured to oppose each other.

本発明を好適な実施形態を参照して説明してきたが、添付の特許請求の範囲に記載されるような発明の範囲を逸脱することなく種々の変更が形態および詳細においてなされ得ることが当業者に理解される。   Although the present invention has been described with reference to preferred embodiments, workers skilled in the art will recognize that various changes can be made in form and detail without departing from the scope of the invention as set forth in the appended claims. To be understood.

図1は、本発明の一実施形態にかかるy,z平面における積層リングイオンガイドを示す。FIG. 1 shows a laminated ring ion guide in the y, z plane according to one embodiment of the present invention. 図2は、本発明の一実施形態にかかるx,y平面における積層リングイオンガイドを示す。FIG. 2 shows a laminated ring ion guide in the x, y plane according to one embodiment of the present invention. 図3Aは、質量電荷比が100であるイオンが受けるイオンガイドの中心軸に沿った軸方向擬ポテンシャルのプロットを示す。FIG. 3A shows a plot of the axial pseudopotential along the central axis of the ion guide received by ions with a mass to charge ratio of 100. 図3Bは、質量電荷比が500であるイオンが受けるイオンガイドの中心軸に沿った軸方向擬ポテンシャルのプロットを示す。FIG. 3B shows a plot of the axial pseudopotential along the central axis of the ion guide received by ions with a mass to charge ratio of 500. 図4は、図3Aに示す実施形態に対するものであって、かつ質量電荷比が100であるイオンが受ける軸方向および半径方向擬ポテンシャルの三次元プロットを示す。FIG. 4 is for the embodiment shown in FIG. 3A and shows a three-dimensional plot of axial and radial pseudopotentials experienced by ions having a mass to charge ratio of 100. FIG. 図5は、質量電荷比依存障壁が好適なイオンガイドまたは質量分析器の出口に設けられる本発明の一実施形態を示す。FIG. 5 shows an embodiment of the invention in which a mass to charge ratio dependent barrier is provided at the exit of a suitable ion guide or mass analyzer. 図6Aは、図5に示すようなイオンガイドまたは質量分析器の中心線に沿った軸方向擬ポテンシャルであって、質量電荷比が100であるイオンが受けるような軸方向擬ポテンシャルの、イオンガイドまたは質量分析器に対する距離の関数としてのプロットを示す。6A is an axial pseudopotential along the center line of an ion guide or mass analyzer as shown in FIG. 5 and has an axial pseudopotential that is received by ions having a mass to charge ratio of 100. FIG. Or a plot as a function of distance for a mass spectrometer. 図6Bは、図5に示すようなイオンガイドまたは質量分析器の中心線に沿った軸方向擬ポテンシャルであって、質量電荷比が500であるイオンが受けるような軸方向擬ポテンシャルの、イオンガイドまたは質量分析器に対する距離の関数としてのプロットを示す。FIG. 6B is an axial pseudopotential along the center line of the ion guide or mass analyzer as shown in FIG. 5, which is received by an ion with a mass to charge ratio of 500. Or a plot as a function of distance for a mass spectrometer. 図7は、図6Aに示す実施形態に対するものであって、かつ質量電荷比が100であるイオンが受けるような軸方向および半径方向擬ポテンシャルの三次元プロットを示す。FIG. 7 is a three-dimensional plot of axial and radial pseudopotentials for the embodiment shown in FIG. 6A and as experienced by ions with a mass to charge ratio of 100. 図8は、質量電荷比依存障壁がイオンガイドまたは質量分析器の出口に形成され、かつ出口電極が比較的小さい開口を有するように構成される本発明の別の実施形態を示す。FIG. 8 shows another embodiment of the invention in which a mass to charge ratio dependent barrier is formed at the exit of the ion guide or mass analyzer and the exit electrode is configured to have a relatively small aperture. 図9Aは、質量電荷比依存障壁がイオンガイドまたは質量分析器の出口に形成されるさらなる実施形態を示す。FIG. 9A shows a further embodiment in which a mass to charge ratio dependent barrier is formed at the exit of the ion guide or mass analyzer. 図9Bは、電極に印加されるさらなる時間変化ポテンシャルの最大および最小ポテンシャルを示す。FIG. 9B shows the maximum and minimum potentials of further time-varying potentials applied to the electrodes. 図10は、好適なイオンガイドまたは質量分析器が使用時にスキャンされる四重極ロッドセット質量分析器と結合される一実施形態を示す。FIG. 10 shows an embodiment in which a suitable ion guide or mass analyzer is combined with a quadrupole rod set mass analyzer that is scanned in use. 図11は、好適なイオンガイドまたは質量分析器が直交加速飛行時間質量分析器に結合される一実施形態を示す。FIG. 11 illustrates one embodiment in which a suitable ion guide or mass analyzer is coupled to an orthogonal acceleration time-of-flight mass analyzer. 図12は、質量電荷比依存障壁が好適なイオンガイドまたは質量分析器の入口に形成される一実施形態を示す。FIG. 12 shows one embodiment where a mass to charge ratio dependent barrier is formed at the entrance of a suitable ion guide or mass analyzer. 図13Aは、図12に示すようなイオンガイドまたは質量分析器の中心線に沿った軸方向擬ポテンシャルであって、質量電荷比が100であるイオンの受けるような軸方向擬ポテンシャルのイオンガイドまたは質量分析器に対する距離の関数としてのプロットを示す。FIG. 13A is an axial pseudopotential along the center line of an ion guide or mass analyzer as shown in FIG. 12, and an axial pseudopotential ion guide as received by an ion having a mass to charge ratio of 100 or Figure 5 shows a plot as a function of distance for a mass analyzer. 図13Bは、図12に示すようなイオンガイドの中心線に沿った軸方向擬ポテンシャルであって、質量電荷比が500であるイオンの受けるような軸方向擬ポテンシャルのイオンガイドまたは質量分析器に対する距離の関数としてのプロットを示す。FIG. 13B shows an axial pseudopotential along the centerline of the ion guide as shown in FIG. 12, and an axial pseudopotential ion guide or mass analyzer as received by an ion having a mass-to-charge ratio of 500. A plot as a function of distance is shown. 図14は、質量電荷比が100であるイオンの受けるような、図13Aに示されるような軸方向および半径方向擬ポテンシャルの三次元プロットを示す。FIG. 14 shows a three-dimensional plot of axial and radial pseudopotentials as shown in FIG. 13A, as received by ions with a mass to charge ratio of 100. 図15は、イオン移動度分離デバイスが好適なイオンガイドまたは質量分析器に結合される一実施形態を示す。FIG. 15 illustrates one embodiment where the ion mobility separation device is coupled to a suitable ion guide or mass analyzer. 図16は、イオンの質量電荷比のイオン移動度デバイスを通るドリフト時間の関数としてのプロットを示し、低質量カットオフ動作に対するスキャンラインを示す。FIG. 16 shows a plot of ion mass-to-charge ratio as a function of drift time through an ion mobility device, showing the scan line for low mass cutoff operation. 図17は、図18A〜図18Eに示すような実験データを生成するために使用された実験構成を示す。FIG. 17 shows the experimental setup used to generate the experimental data as shown in FIGS. 18A-18E. 図18Aは、軸方向擬ポテンシャル障壁が存在しない場合に得られた質量スペクトルを示す。FIG. 18A shows the mass spectrum obtained in the absence of an axial pseudopotential barrier. 図18Bは、軸方向擬ポテンシャル障壁が図17に示すような好適なイオンガイドまたは質量分析器の入口に設けられた場合に得られた質量スペクトルを示す。FIG. 18B shows the mass spectrum obtained when an axial pseudopotential barrier is provided at the entrance of a suitable ion guide or mass analyzer as shown in FIG. 図18Cは、軸方向擬ポテンシャル障壁が図18Bに示す結果を得るために使用されたものよりも大きい大きさを有した場合に得られた質量スペクトルを示す。FIG. 18C shows the mass spectrum obtained when the axial pseudopotential barrier had a larger magnitude than that used to obtain the result shown in FIG. 18B. 図18Dは、軸方向擬ポテンシャル障壁が図18Cに示す結果を得るために使用されたものよりも大きい大きさを有した場合に得られた質量スペクトルを示す。FIG. 18D shows the mass spectrum obtained when the axial pseudopotential barrier has a larger magnitude than that used to obtain the result shown in FIG. 18C. 図18Eは、軸方向擬ポテンシャル障壁が図18Dに示す結果を得るために使用されたものよりも大きい大きさを有した場合に得られた質量スペクトルを示す。FIG. 18E shows the mass spectrum obtained when the axial pseudopotential barrier has a larger magnitude than that used to obtain the result shown in FIG. 18D.

Claims (173)

質量分析器であって、
複数の電極を含むイオンガイドと、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加して、使用時に、第1の振幅を有する複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするための手段と、
イオンを前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って駆動または推進する手段とを含む質量分析器であって、
前記質量分析器は、
第2のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加して、使用時に、第2の振幅を有する1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにする手段であって、前記第2の振幅は、前記第1の振幅と異なる、手段をさらに含む、質量分析器。
A mass analyzer,
An ion guide including a plurality of electrodes;
A first AC or RF voltage is applied to at least some of the plurality of electrodes and, in use, a plurality of first axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells having a first amplitude. Means for generating along at least a portion of the axial length of the ion guide;
Means for driving or propelling ions along at least a portion of the axial length of the ion guide;
The mass spectrometer is
One or more second axial time average or pseudopotential barriers, waveform shapes having a second amplitude in use when a second AC or RF voltage is applied to one or more of the plurality of electrodes. Or means for allowing a well to be created along at least a portion of the axial length of the ion guide, wherein the second amplitude is different from the first amplitude, further comprising means Analyzer.
一動作モードにおいて、質量電荷比≧M1を有するイオンが前記イオンガイドを出て、他方質量電荷比<M2を有するイオンが前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸によって前記イオンガイド内に軸方向にトラップまたは閉じ込められる、請求項1に記載の質量分析器。   In one mode of operation, ions having a mass to charge ratio ≧ M1 exit the ion guide, while ions having a mass to charge ratio <M2 are the one or more second axial time-average or pseudopotential barriers, waveform shapes The mass analyzer of claim 1, alternatively trapped or confined axially within the ion guide by a well. 前記M1は、(i)<100、(ii)100〜200、(iii)200〜300、(iv)300〜400、(v)400〜500、(vi)500〜600、(vii)600〜700、(viii)700〜800、(ix)800〜900、(x)900〜1000、および(xi)>1000からなる群から選択される第1の範囲にある、請求項2に記載の質量分析器。   The M1 is (i) <100, (ii) 100 to 200, (iii) 200 to 300, (iv) 300 to 400, (v) 400 to 500, (vi) 500 to 600, (vii) 600 to The mass of claim 2 in a first range selected from the group consisting of 700, (viii) 700-800, (ix) 800-900, (x) 900-1000, and (xi)> 1000. Analyzer. 前記M2は、(i)<100、(ii)100〜200、(iii)200〜300、(iv)300〜400、(v)400〜500、(vi)500〜600、(vii)600〜700、(viii)700〜800、(ix)800〜900、(x)900〜1000、および(xi)>1000からなる群から選択される第2の範囲にある、請求項2または3に記載の質量分析器。   The M2 is (i) <100, (ii) 100 to 200, (iii) 200 to 300, (iv) 300 to 400, (v) 400 to 500, (vi) 500 to 600, (vii) 600 to 4 or 3 in a second range selected from the group consisting of 700, (viii) 700-800, (ix) 800-900, (x) 900-1000, and (xi)> 1000. Mass spectrometer. 一動作モードにおいて、イオンは、それらの質量電荷比の順またはそれらの質量電荷比の逆順で、前記質量分析器から逐次排出される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   A mass analyzer according to any preceding claim, wherein in one mode of operation, ions are sequentially ejected from the mass analyzer in the order of their mass to charge ratio or in the reverse order of their mass to charge ratio. 前記イオンガイドは、n個の軸方向セグメントを含み、前記nは、(i)1〜10、(ii)11〜20、(iii)21〜30、(iv)31〜40、(v)41〜50、(vi)51〜60、(vii)61〜70、(viii)71〜80、(ix)81〜90、(x)91〜100、および(xi)>100からなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The ion guide includes n axial segments, where n is (i) 1-10, (ii) 11-20, (iii) 21-30, (iv) 31-40, (v) 41 -50, (vi) 51-60, (vii) 61-70, (viii) 71-80, (ix) 81-90, (x) 91-100, and (xi)> 100 A mass analyzer according to any preceding claim. 各軸方向セグメントは、1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20または>20個の電極を含む、請求項6に記載の質量分析器。   Each axial segment is 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19, 20 or> 20 The mass analyzer of claim 6, comprising an electrode. 前記軸方向セグメントのうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%の軸方向長さは、(i)<1mm、(ii)1〜2mm、(iii)2〜3mm、(iv)3〜4mm、(v)4〜5mm、(vi)5〜6mm、(vii)6〜7mm、(viii)7〜8mm、(ix)8〜9mm、(x)9〜10mm、および(xi)>10mmからなる群から選択される、請求項6または7に記載の質量分析器。   Axial length of at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the axial segment (I) <1 mm, (ii) 1-2 mm, (iii) 2-3 mm, (iv) 3-4 mm, (v) 4-5 mm, (vi) 5-6 mm, (vii) 6-7 mm The mass spectrometer of claim 6 or 7, selected from the group consisting of: (viii) 7-8 mm, (ix) 8-9 mm, (x) 9-10 mm, and (xi)> 10 mm. 前記軸方向セグメントのうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%の間の間隔は、(i)<1mm、(ii)1〜2mm、(iii)2〜3mm、(iv)3〜4mm、(v)4〜5mm、(vi)5〜6mm、(vii)6〜7mm、(viii)7〜8mm、(ix)8〜9mm、(x)9〜10mm、および(xi)>10mmからなる群から選択される、請求項6、7または8に記載の質量分析器。   Spacing between at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the axial segments. (I) <1 mm, (ii) 1-2 mm, (iii) 2-3 mm, (iv) 3-4 mm, (v) 4-5 mm, (vi) 5-6 mm, (vii) 6-7 mm, The mass spectrometer according to claim 6, 7 or 8, selected from the group consisting of (viii) 7-8mm, (ix) 8-9mm, (x) 9-10mm, and (xi)> 10mm. 前記イオンガイドは、(i)<20mm、(ii)20〜40mm、(iii)40〜60mm、(iv)60〜80mm、(v)80〜100mm、(vi)100〜120mm、(vii)120〜140mm、(viii)140〜160mm、(ix)160〜180mm、(x)180〜200mm、および(xi)>200mmからなる群から選択される長さを有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The ion guide comprises (i) <20 mm, (ii) 20-40 mm, (iii) 40-60 mm, (iv) 60-80 mm, (v) 80-100 mm, (vi) 100-120 mm, (vii) 120 Any of the preceding claims having a length selected from the group consisting of ~ 140 mm, (viii) 140-160 mm, (ix) 160-180 mm, (x) 180-200 mm, and (xi)> 200 mm The mass spectrometer described. 前記イオンガイドは、少なくとも(i)10〜20個の電極、(ii)20〜30個の電極、(iii)30〜40個の電極、(iv)40〜50個の電極、(v)50〜60個の電極、(vi)60〜70個の電極、(vii)70〜80個の電極、(viii)80〜90個の電極、(ix)90〜100個の電極、(x)100〜110個の電極、(xi)110〜120個の電極、(xii)120〜130個の電極、(xiii)130〜140個の電極、(xiv)140〜150個の電極、または(xv)>150個の電極を含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The ion guide comprises at least (i) 10-20 electrodes, (ii) 20-30 electrodes, (iii) 30-40 electrodes, (iv) 40-50 electrodes, (v) 50 ~ 60 electrodes, (vi) 60-70 electrodes, (vii) 70-80 electrodes, (viii) 80-90 electrodes, (ix) 90-100 electrodes, (x) 100 ~ 110 electrodes, (xi) 110-120 electrodes, (xii) 120-130 electrodes, (xiii) 130-140 electrodes, (xiv) 140-150 electrodes, or (xv) A mass analyzer according to any preceding claim, comprising> 150 electrodes. 前記複数の電極は、開口を有する電極を含み、イオンは、使用時に前記開口を通って移送される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer of any preceding claim, wherein the plurality of electrodes includes an electrode having an opening, and ions are transported through the opening in use. 前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、実質的に円形、長方形、正方形または楕円形の開口を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   At least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the electrodes are substantially circular. A mass analyzer according to any preceding claim, having a rectangular, square or elliptical opening. 前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、実質的に同じサイズであるか、または実質的に同じ面積を有する開口を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   At least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the electrodes are substantially the same. A mass analyzer according to any preceding claim, having openings that are sized or have substantially the same area. 前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、サイズまたは面積が前記イオンガイドの軸に沿った方向に漸進的により大きくおよび/またはより小さくなる開口を有する、請求項1〜13のいずれかに記載の質量分析器。   At least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the electrodes have a size or area 14. A mass analyzer as claimed in any preceding claim, having an opening that progressively becomes larger and / or smaller in a direction along the axis of the ion guide. 前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、(i)≦1.0mm、(ii)≦2.0mm、(iii)≦3.0mm、(iv)≦4.0mm、(v)≦5.0mm、(vi)≦6.0mm、(vii)≦7.0mm、(viii)≦8.0mm、(ix)≦9.0mm、(x)≦10.0mm、および(xi)>10.0mmからなる群から選択される内径または寸法を有する開口を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   At least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the electrodes are (i) ≦ 1.0 mm, (ii) ≦ 2.0 mm, (iii) ≦ 3.0 mm, (iv) ≦ 4.0 mm, (v) ≦ 5.0 mm, (vi) ≦ 6.0 mm, (vii) ≦ 7. Having an aperture having an inner diameter or dimension selected from the group consisting of 0 mm, (viii) ≦ 8.0 mm, (ix) ≦ 9.0 mm, (x) ≦ 10.0 mm, and (xi)> 10.0 mm, A mass analyzer according to any of the preceding claims. 前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、(i)5mm以下、(ii)4.5mm以下、(iii)4mm以下、(iv)3.5mm以下、(v)3mm以下、(vi)2.5mm以下、(vii)2mm以下、(viii)1.5mm以下、(ix)1mm以下、(x)0.8mm以下、(xi)0.6mm以下、(xii)0.4mm以下、(xiii)0.2mm以下、(xiv)0.1mm以下、および(xv)0.25mm以下からなる群から選択される軸方向距離だけ互いに間隔をあけられる、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   At least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the electrodes are (i) 5 mm Hereinafter, (ii) 4.5 mm or less, (iii) 4 mm or less, (iv) 3.5 mm or less, (v) 3 mm or less, (vi) 2.5 mm or less, (vii) 2 mm or less, (viii) 1.5 mm Hereinafter, (ix) 1 mm or less, (x) 0.8 mm or less, (xi) 0.6 mm or less, (xii) 0.4 mm or less, (xiii) 0.2 mm or less, (xiv) 0.1 mm or less, and ( xv) A mass analyzer according to any preceding claim, spaced apart from one another by an axial distance selected from the group consisting of 0.25 mm or less. 前記複数の電極のうちの少なくともいくつかは、開口を含み、かつ前記開口の内径または寸法の隣り合う電極間の中心間軸方向間隔に対する比は、(i)<1.0、(ii)1.0〜1.2、(iii)1.2〜1.4、(iv)1.4〜1.6、(v)1.6〜1.8、(vi)1.8〜2.0、(vii)2.0〜2.2、(viii)2.2〜2.4、(ix)2.4〜2.6、(x)2.6〜2.8、(xi)2.8〜3.0、(xii)3.0〜3.2、(xiii)3.2〜3.4、(xiv)3.4〜3.6、(xv)3.6〜3.8、(xvi)3.8〜4.0、(xvii)4.0〜4.2、(xviii)4.2〜4.4、(xix)4.4〜4.6、(xx)4.6〜4.8、(xxi)4.8〜5.0、および(xxii)>5.0からなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   At least some of the plurality of electrodes include openings, and the ratio of the inner diameter or size of the openings to the center-to-center axial spacing between adjacent electrodes is (i) <1.0, (ii) 1 0.0-1.2, (iii) 1.2-1.4, (iv) 1.4-1.6, (v) 1.6-1.8, (vi) 1.8-2.0 (Vii) 2.0-2.2, (viii) 2.2-2.4, (ix) 2.4-2.6, (x) 2.6-2.8, (xi) 2. 8-3.0, (xii) 3.0-3.2, (xiii) 3.2-3.4, (xiv) 3.4-3.6, (xv) 3.6-3.8, (Xvi) 3.8 to 4.0, (xvii) 4.0 to 4.2, (xviii) 4.2 to 4.4, (xix) 4.4 to 4.6, (xx) 4.6 ~ 4.8, (xxi) 4.8-5.0, and (x ii)> is selected from the group consisting of 5.0, the mass analyzer according to any one of the preceding claims. 前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、(i)5mm以下、(ii)4.5mm以下、(iii)4mm以下、(iv)3.5mm以下、(v)3mm以下、(vi)2.5mm以下、(vii)2mm以下、(viii)1.5mm以下、(ix)1mm以下、(x)0.8mm以下、(xi)0.6mm以下、(xii)0.4mm以下、(xiii)0.2mm以下、(xiv)0.1mm以下、および(xv)0.25mm以下からなる群から選択される厚さまたは軸方向長さを有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   At least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the electrodes are (i) 5 mm Hereinafter, (ii) 4.5 mm or less, (iii) 4 mm or less, (iv) 3.5 mm or less, (v) 3 mm or less, (vi) 2.5 mm or less, (vii) 2 mm or less, (viii) 1.5 mm Hereinafter, (ix) 1 mm or less, (x) 0.8 mm or less, (xi) 0.6 mm or less, (xii) 0.4 mm or less, (xiii) 0.2 mm or less, (xiv) 0.1 mm or less, and ( A mass spectrometer according to any preceding claim, wherein xv) has a thickness or axial length selected from the group consisting of 0.25 mm or less. 前記イオンガイドは、セグメント化ロッドセットイオンガイドを含む、請求項1〜11のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer according to claim 1, wherein the ion guide includes a segmented rod set ion guide. 前記イオンガイドは、セグメント化四重極、六重極もしくは八重極イオンガイドまたは8個より多くのセグメント化ロッドセットを含むイオンガイドを含む、請求項20に記載の質量分析器。   21. The mass analyzer of claim 20, wherein the ion guide comprises a segmented quadrupole, hexapole or octupole ion guide or an ion guide comprising more than eight segmented rod sets. 前記イオンガイドは、(i)略または実質的に円形断面、(ii)略または実質的に双曲面、(iii)円弧または部分円形断面、(iv)略または実質的に長方形断面、および(v)略または実質的に正方形断面からなる群から選択される断面を有する複数の電極を含む、請求項20または21に記載の質量分析器。   The ion guide comprises (i) a substantially or substantially circular cross section, (ii) a substantially or substantially hyperboloid, (iii) an arc or partial circular cross section, (iv) a substantially or substantially rectangular cross section, and (v The mass analyzer of claim 20 or 21, comprising a plurality of electrodes having a cross section selected from the group consisting of substantially or substantially square cross sections. 前記イオンガイドは、複数のプレート電極を含み、複数のグループのプレート電極は、前記イオンガイドの軸方向長さに沿って配置される、請求項1〜11のいずれかに記載の質量分析器。   The mass spectrometer according to claim 1, wherein the ion guide includes a plurality of plate electrodes, and the plurality of groups of plate electrodes are arranged along an axial length of the ion guide. 各グループのプレート電極は、第1のプレート電極および第2のプレート電極を含み、前記第1および第2のプレート電極は、実質的に同じ平面内に配置され、かつ前記イオンガイドの中心長軸のいずれか一方の側に配置される、請求項23に記載の質量分析器。   Each group of plate electrodes includes a first plate electrode and a second plate electrode, wherein the first and second plate electrodes are disposed in substantially the same plane, and the central longitudinal axis of the ion guide 24. A mass spectrometer as claimed in claim 23, arranged on either side. 前記質量分析器は、イオンを前記イオンガイド内に第1の半径方向に閉じ込めるためにDC電圧またはポテンシャルを前記第1および第2のプレート電極に印加するための手段をさらに含む、請求項24に記載の質量分析器。   25. The mass analyzer further comprises means for applying a DC voltage or potential to the first and second plate electrodes to confine ions in a first radial direction within the ion guide. The mass spectrometer described. 各グループの電極は、第3の電極および第4の電極をさらに含み、前記第3および第4の電極は、実質的に同じ平面内に配置され、かつ前記イオンガイドの中心長軸のいずれか一方の側に前記第1および第2の電極とは異なる方向に配置される、請求項24または25に記載の質量分析器。   Each group of electrodes further includes a third electrode and a fourth electrode, wherein the third and fourth electrodes are arranged in substantially the same plane and are either one of the central long axes of the ion guides 26. A mass spectrometer as claimed in claim 24 or 25, arranged on one side in a different direction from the first and second electrodes. 前記ACまたはRF電圧を印加するための手段は、イオンを前記イオンガイド内に第2の半径方向に閉じ込めるために、前記ACまたはRF電圧を前記第3のおよび第4のプレート電極に印加するように構成される、請求項26に記載の質量分析器。   The means for applying the AC or RF voltage applies the AC or RF voltage to the third and fourth plate electrodes to confine ions in a second radial direction within the ion guide. 27. The mass analyzer of claim 26, configured as follows. 前記イオンを駆動または推進するための手段は、1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形を前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%に印加するための手段を含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The means for driving or propelling the ions comprises applying one or more transient DC voltages or potentials or one or more DC voltage or potential waveforms to at least 1%, 5%, 10%, 20% of the electrodes, Mass spectrometer according to any of the preceding claims, comprising means for applying to 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100%. 前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは前記1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形は、(i)1つのポテンシャルの山もしくは障壁、(ii)1つのポテンシャル井戸、(iii)複数のポテンシャルの山もしくは障壁、(iv)複数のポテンシャル井戸、(v)1つのポテンシャルの山もしくは障壁と1つのポテンシャル井戸との組み合わせ、または(vi)複数のポテンシャルの山もしくは障壁と複数のポテンシャル井戸との組み合わせを作成する、請求項28に記載の質量分析器。   The one or more transient DC voltages or potentials or the one or more DC voltages or potential waveforms include: (i) a potential peak or barrier, (ii) a potential well, and (iii) a plurality of potential peaks. Or (iv) a combination of a plurality of potential wells, (v) a combination of one potential peak or barrier and one potential well, or (vi) a combination of a plurality of potential peaks or barriers and a plurality of potential wells. The mass analyzer according to claim 28, wherein the mass analyzer is created. 前記1つ以上の過渡DC電圧またはポテンシャル波形は、繰り返し波形または方形波を含む、請求項28または29に記載の質量分析器。   30. A mass analyzer as claimed in claim 28 or 29, wherein the one or more transient DC voltage or potential waveforms comprise a repetitive waveform or a square wave. 使用時に、複数の軸方向DCポテンシャル井戸が前記イオンガイドの長さに沿って平行移動されるか、または複数の過渡DCポテンシャルまたは電圧が前記イオンガイドの軸方向長さに沿って電極に漸進的に印加される、請求項28、29または30に記載の質量分析器。   In use, multiple axial DC potential wells are translated along the length of the ion guide or multiple transient DC potentials or voltages are progressively applied to the electrodes along the axial length of the ion guide. 31. A mass analyzer as claimed in claim 28, 29 or 30, wherein 前記質量分析器は、前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは前記1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形の振幅、高さまたは深さを漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成または適合される第1の手段をさらに含む、請求項28〜31のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer progressively increases or decreases the amplitude, height or depth of the one or more transient DC voltages or potentials or the one or more DC voltage or potential waveforms; Incrementally changing, scanning, linearly increasing, linearly decreasing, incrementally, incrementally or otherwise, incrementally, incrementally or otherwise 32. The mass analyzer of any of claims 28-31, further comprising first means configured or adapted to reduce. 前記第1の手段は、前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは前記1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形の振幅、高さまたは深さをx1ボルトだけ期間t1にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成または適合される、請求項32に記載の質量分析器。 The first means progressively increases the amplitude, height or depth of the one or more transient DC voltages or potentials or the one or more DC voltage or potential waveforms over a period t 1 by x 1 volts. , Progressively decreasing, incrementally changing, scanning, linearly increasing, linearly decreasing, incrementally, incrementally or otherwise, or phased 33. A mass analyzer according to claim 32, wherein the mass analyzer is configured or adapted to reduce, gradual, or otherwise. 前記x1は、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される、請求項33に記載の質量分析器。 The x 1 is (i) <0.1V, (ii) 0.1-0.2V, (iii) 0.2-0.3V, (iv) 0.3-0.4V, (v) 0 .4 to 0.5 V, (vi) 0.5 to 0.6 V, (vii) 0.6 to 0.7 V, (viii) 0.7 to 0.8 V, (ix) 0.8 to 0.9 V (X) 0.9-1.0V, (xi) 1.0-1.5V, (xii) 1.5-2.0V, (xiii) 2.0-2.5V, (xiv) 2. 5-3.0V, (xv) 3.0-3.5V, (xvi) 3.5-4.0V, (xvii) 4.0-4.5V, (xviii) 4.5-5.0V, (Xix) 5.0-5.5V, (xx) 5.5-6.0V, (xxi) 6.0-6.5V, (xxii) 6.5-7.0V, (xxiii) 7.0 ~ 7.5V, (xxiv) 7.5-8.0 (Xxv) 8.0-8.5 V, (xxvi) 8.5-9.0 V, (xxvii) 9.0-9.5 V, (xxviii) 9.5-10.0 V, and (xxix)> 34. The mass analyzer of claim 33, selected from the group consisting of 10.0V. 前記t1は、(i)<lms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項33または34に記載の質量分析器。 The t 1 is (i) <lms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii) 50 -60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300- 400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (xx) 900-1000 ms, (xxi) 1-2 s , (Xxii) 2-3 s, (xxiii) 3-4 s, (xxiv) 4-5 s, and (xxv)> 5 s It is selected from the mass analyzer of claim 33 or 34. 前記質量分析器は、前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは前記1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形が前記電極に印加される速度またはレートを漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第2の手段をさらに含む、請求項28〜35のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer progressively increases or decreases the rate or rate at which the one or more transient DC voltages or potentials or the one or more DC voltage or potential waveforms are applied to the electrodes. , Change incrementally, scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, stepwise or otherwise, stepwise, stepwise or other 36. The mass analyzer of any of claims 28-35, further comprising a second means configured and adapted to reduce in a manner. 前記第2の手段は、前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは前記1つ以上のDC電圧もしくはポテンシャル波形が前記電極にx2m/sだけ期間t2にわたって印加される速度またはレートを漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される、請求項36に記載の質量分析器。 The second means progressively increases the rate or rate at which the one or more transient DC voltages or potentials or the one or more DC voltage or potential waveforms are applied to the electrodes for a period t 2 by x 2 m / s. Increasing, progressively decreasing, incrementally changing, scanning, increasing linearly, decreasing linearly, incrementally, incrementally or otherwise 38. A mass analyzer as claimed in claim 36, wherein the mass analyzer is configured and adapted to reduce, stepwise, gradual or otherwise. 前記x2は、(i)<1、(ii)1〜2、(iii)2〜3、(iv)3〜4、(v)4〜5、(vi)5〜6、(vii)6〜7、(viii)7〜8、(ix)8〜9、(x)9〜10、(xi)10〜11、(xii)11〜12、(xiii)12〜13、(xiv)13〜14、(xv)14〜15、(xvi)15〜16、(xvii)16〜17、(xviii)17〜18、(xix)18〜19、(xx)19〜20、(xxi)20〜30、(xxii)30〜40、(xxiii)40〜50、(xxiv)50〜60、(xxv)60〜70、(xxvi)70〜80、(xxvii)80〜90、(xxviii)90〜100、(xxix)100〜150、(xxx)150〜200、(xxxi)200〜250、(xxxii)250〜300、(xxxiii)300〜350、(xxxiv)350〜400、(xxxv)400〜450、(xxxvi)450〜500、および(xxxvii)>500からなる群から選択される、請求項37に記載の質量分析器。 Said x 2 is (i) <1, (ii) 1-2, (iii) 2-3, (iv) 3-4, (v) 4-5, (vi) 5-6, (vii) 6 -7, (viii) 7-8, (ix) 8-9, (x) 9-10, (xi) 10-11, (xii) 11-12, (xiii) 12-13, (xiv) 13- 14, (xv) 14-15, (xvi) 15-16, (xvii) 16-17, (xviii) 17-18, (xix) 18-19, (xx) 19-20, (xxi) 20-30 , (Xxii) 30-40, (xxiii) 40-50, (xxiv) 50-60, (xxv) 60-70, (xxvi) 70-80, (xxvii) 80-90, (xxviii) 90-100, (Xxx) 100 to 150, (xxx) 150 to 200, (xxx) 200 250, (xxxii) 250-300, (xxxiii) 300-350, (xxxiv) 350-400, (xxxv) 400-450, (xxxvi) 450-500, and (xxxvii)> 500 The mass spectrometer according to claim 37. 前記t2は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項37または38に記載の質量分析器。 The t 2 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii) 50 -60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300- 400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1-2 s , (Xxii) 2-3 s, (xxiii) 3-4 s, (xxiv) 4-5 s, and (xxv)> 5 s It is selected from the mass analyzer of claim 37 or 38. 前記第1のACまたはRF電圧は、(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜550Vピークトゥピーク、(xxii)550〜600Vピークトゥピーク、(xxiii)600〜650Vピークトゥピーク、(xxiv)650〜700Vピークトゥピーク、(xxv)700〜750Vピークトゥピーク、(xxvi)750〜800Vピークトゥピーク、(xxvii)800〜850Vピークトゥピーク、(xxviii)850〜900Vピークトゥピーク、(xxix)900〜950Vピークトゥピーク、(xxx)950〜1000Vピークトゥピーク、および(xxxi)>1000Vピークトゥピークからなる群から選択される振幅を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The first AC or RF voltage is (i) <50V peak-to-peak, (ii) 50-100V peak-to-peak, (iii) 100-150V peak-to-peak, (iv) 150-200V peak-to-peak, ( v) 200-250V peak-to-peak, (vi) 250-300V peak-to-peak, (vii) 300-350V peak-to-peak, (viii) 350-400V peak-to-peak, (ix) 400-450V peak-to-peak, x) 450-500V peak-to-peak, (xi) 500-550V peak-to-peak, (xxii) 550-600V peak-to-peak, (xxiii) 600-650V peak-to-peak, (xxiv) 650-700V peak-to-peak, xxv) 700-750V peak toe (Xxvi) 750-800V peak-to-peak, (xxvii) 800-850V peak-to-peak, (xxviii) 850-900V peak-to-peak, (xxix) 900-950V peak-to-peak, (xxx) 950-1000V peak-to-peak And (xxxi)> 1000V A mass analyzer according to any preceding claim, having an amplitude selected from the group consisting of peak-to-peak. 前記第1のACまたはRF電圧は、(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される周波数を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The first AC or RF voltage is (i) <100 kHz, (ii) 100-200 kHz, (iii) 200-300 kHz, (iv) 300-400 kHz, (v) 400-500 kHz, (vi) 0.5 -1.0 MHz, (vii) 1.0-1.5 MHz, (viii) 1.5-2.0 MHz, (ix) 2.0-2.5 MHz, (x) 2.5-3.0 MHz, ( xi) 3.0 to 3.5 MHz, (xii) 3.5 to 4.0 MHz, (xiii) 4.0 to 4.5 MHz, (xiv) 4.5 to 5.0 MHz, (xv) 5.0 to 5.5 MHz, (xvi) 5.5-6.0 MHz, (xvii) 6.0-6.5 MHz, (xviii) 6.5-7.0 MHz, (xix) 7.0-7.5 MHz, (xx ) 7.5-8.0 MHz, (xxi) 8.0 8.5 MHz, (xxii) 8.5-9.0 MHz, (xxiii) 9.0-9.5 MHz, (xxiv) 9.5-10.0 MHz, and (xxv)> 10.0 MHz A mass analyzer according to any of the preceding claims, having a frequency that is measured. 前記第1のACまたはRF電圧を印加するための手段は、前記第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に印加するように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The means for applying the first AC or RF voltage comprises applying the first AC or RF voltage to at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20%, 25% of the plurality of electrodes. 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100% to apply A mass analyzer according to any preceding claim, wherein the mass analyzer is configured. 前記第1のACまたはRF電圧を印加するための手段は、軸方向に隣り合う電極または軸方向に隣り合う電極グループに前記第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相を供給するように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The means for applying the first AC or RF voltage is configured to provide opposite phases of the first AC or RF voltage to axially adjacent electrodes or axially adjacent electrode groups. A mass analyzer according to any of the preceding claims. 前記第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、使用時に、前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%または95%に沿って作成される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The first axial time average or pseudopotential barrier, corrugated shape or well is in use at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40% of the axial length of the ion guide; A mass spectrometer according to any preceding claim, made along 50%, 60%, 70%, 80%, 90% or 95%. 前記複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの中心長軸の少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%または95%に沿って作成または提供される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The plurality of first axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50% of the central long axis of the ion guide. , 60%, 70%, 80%, 90% or 95% according to any of the preceding claims. 前記複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの上流部分および/または中間部分および/または下流部分に作成または提供される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   Any of the preceding claims, wherein the plurality of first axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are created or provided in an upstream portion and / or an intermediate portion and / or a downstream portion of the ion guide. A mass spectrometer according to any one of the above. 前記イオンガイドは、長さLを有し、かつ前記複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの長さに沿って、(i)0〜0.1L、(ii)0.1〜0.2L、(iii)0.2〜0.3L、(iv)0.3〜0.4L、(v)0.4〜0.5L、(vi)0.5〜0.6L、(vii)0.6〜0.7L、(viii)0.7〜0.8L、(ix)0.8〜0.9L、および(x)0.9〜1.0Lからなる群から選択される変位を有する1つ以上の領域または位置に作成または提供される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The ion guide has a length L, and the plurality of first axial time-average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are (i) 0 to 0 along the length of the ion guide. .1L, (ii) 0.1-0.2L, (iii) 0.2-0.3L, (iv) 0.3-0.4L, (v) 0.4-0.5L, (vi) 0.5-0.6L, (vii) 0.6-0.7L, (viii) 0.7-0.8L, (ix) 0.8-0.9L, and (x) 0.9-1 A mass analyzer according to any preceding claim, created or provided in one or more regions or positions having a displacement selected from the group consisting of 0.0L. 前記複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの中心長軸から遠ざかるように半径方向に少なくともr mmだけ延伸し、前記rは、(i)<1、(ii)1〜2、(iii)2〜3、(iv)3〜4、(v)4〜5、(vi)5〜6、(vii)6〜7、(viii)7〜8、(ix)8〜9、(x)9〜10、および(xi)>10からなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The plurality of first axial time-average or pseudopotential barriers, corrugations or wells extend at least r mm in a radial direction away from the central long axis of the ion guide, where r is (i) < 1, (ii) 1-2, (iii) 2-3, (iv) 3-4, (v) 4-5, (vi) 5-6, (vii) 6-7, (viii) 7-8 A mass analyzer according to any preceding claim, selected from the group consisting of: (ix) 8-9, (x) 9-10, and (xi)> 10. 質量電荷比が1〜100、100〜200、200〜300、300〜400、400〜500、500〜600、600〜700、700〜800、800〜900または900〜1000の範囲にあるイオンに対して、前記第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%の振幅、高さまたは深さは、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   For ions whose mass to charge ratio is in the range of 1-100, 100-200, 200-300, 300-400, 400-500, 500-600, 600-700, 700-800, 800-900 or 900-1000. At least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70% of the first axial time average or pseudopotential barrier, corrugation or well, The amplitude, height or depth of 80%, 90%, 95% or 100% are (i) <0.1V, (ii) 0.1-0.2V, (iii) 0.2-0.3V. (Iv) 0.3 to 0.4 V, (v) 0.4 to 0.5 V, (vi) 0.5 to 0.6 V, (vii) 0.6 to 0.7 V, (viii) 0. 7 to 0.8 V, (ix) 0.8 to 0.9 V, (x) 0.9 to 1 0V, (xi) 1.0-1.5V, (xii) 1.5-2.0V, (xiii) 2.0-2.5V, (xiv) 2.5-3.0V, (xv) 3 0.0-3.5V, (xvi) 3.5-4.0V, (xvii) 4.0-4.5V, (xviii) 4.5-5.0V, (xix) 5.0-5.5V (Xx) 5.5-6.0V, (xxi) 6.0-6.5V, (xxii) 6.5-7.0V, (xxiii) 7.0-7.5V, (xxiv) 5-8.0V, (xxv) 8.0-8.5V, (xxvi) 8.5-9.0V, (xxvii) 9.0-9.5V, (xxviii) 9.5-10.0V, And a mass analyzer according to any preceding claim, selected from the group consisting of: (xxix)> 10.0V. 使用時に、1cm当たり少なくとも1、2、3、4、5、6、7、8、9または10個の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って提供または作成される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   In use, at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9 or 10 first axial time-average or pseudopotential barriers, corrugations or wells per cm are axial directions of the ion guide. A mass analyzer as claimed in any preceding claim, provided or created along at least part of its length. 前記複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの軸方向長さに沿って、前記複数の電極の軸方向位置に対応する極小値を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The plurality of first axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells have a minimum value corresponding to the axial position of the plurality of electrodes along the axial length of the ion guide. The mass spectrometer according to claim 1. 前記複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの軸方向長さに沿って、近接する電極間の軸方向距離または間隔の実質的に50%に対応する軸方向位置に位置付けられた極大値を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The plurality of first axial time-average or pseudo-potential barriers, corrugations or wells are substantially 50% of the axial distance or spacing between adjacent electrodes along the axial length of the ion guide. A mass analyzer according to any preceding claim, having a local maximum located at a corresponding axial position. 前記複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、特定の質量電荷比を有するイオンに対して実質的に同じ高さ、深さまたは振幅である極小値および/または極大値を有し、かつ前記極小値および/または極大値は、前記複数の電極の軸方向変位または間隔と実質的に同じである周期、またはその倍数である周期を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The plurality of first axial time-average or pseudo-potential barriers, corrugations or wells are minimal and / or are substantially the same height, depth or amplitude for ions having a particular mass to charge ratio The preceding claim, wherein the minimum value and / or the maximum value have a period that is substantially the same as, or a multiple of, an axial displacement or spacing of the plurality of electrodes. A mass spectrometer according to any one of the above. 前記質量分析器は、前記電極に印加される前記第1のACまたはRF電圧の振幅を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第3の手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer may progressively increase, progressively decrease, progressively change, scan, linearly increase the amplitude of the first AC or RF voltage applied to the electrode. A third means configured and adapted to increase, decrease linearly, increase stepwise, incrementally or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise A mass analyzer according to any preceding claim, further comprising: 前記第3の手段は、前記第1のACまたはRF電圧の振幅をx3ボルトだけ期間t3にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される、請求項54に記載の質量分析器。 Whether the third means progressively increases, progressively reduces, gradually changes or scans the amplitude of the first AC or RF voltage over a period t 3 by x 3 volts. Configured and adapted to linearly increase, linearly decrease, increase stepwise, gradual or otherwise, or decrease stepwise, gradual or otherwise, 55. A mass spectrometer as claimed in claim 54. 前記x3は、(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜550Vピークトゥピーク、(xxii)550〜600Vピークトゥピーク、(xxiii)600〜650Vピークトゥピーク、(xxiv)650〜700Vピークトゥピーク、(xxv)700〜750Vピークトゥピーク、(xxvi)750〜800Vピークトゥピーク、(xxvii)800〜850Vピークトゥピーク、(xxviii)850〜900Vピークトゥピーク、(xxix)900〜950Vピークトゥピーク、(xxx)950〜1000Vピークトゥピーク、および(xxxi)>1000Vピークトゥピークからなる群から選択される、請求項55に記載の質量分析器。 The x 3 is (i) <50V peak-to-peak, (ii) 50-100V peak-to-peak, (iii) 100-150V peak-to-peak, (iv) 150-200V peak-to-peak, (v) 200-250V Peak-to-peak, (vi) 250-300V peak-to-peak, (vii) 300-350V peak-to-peak, (viii) 350-400V peak-to-peak, (ix) 400-450V peak-to-peak, (x) 450-500V Peak-to-peak, (xi) 500-550V peak-to-peak, (xxii) 550-600V peak-to-peak, (xxiii) 600-650V peak-to-peak, (xxiv) 650-700V peak-to-peak, (xxv) 700-750V Peak to peak, (xxvi) 75 ~ 800V peak-to-peak, (xxvii) 800-850V peak-to-peak, (xxviii) 850-900V peak-to-peak, (xxix) 900-950V peak-to-peak, (xxx) 950-1000V peak-to-peak, and (xxxi) 56. The mass spectrometer of claim 55, selected from the group consisting of> 1000V peak to peak. 前記t3は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項55または56に記載の質量分析器。 The t 3 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii) 50 -60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300- 400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1-2 s , (Xxii) 2-3 s, (xxiii) 3-4 s, (xxiv) 4-5 s, and (xxv)> 5 s It is selected from the mass analyzer of claim 55 or 56. 前記質量分析器は、前記電極に印加される前記第1のACまたはRF電圧の周波数を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第4の手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer may progressively increase, progressively decrease, progressively change, scan, linearly increase the frequency of the first AC or RF voltage applied to the electrode. A fourth means constructed and adapted to increase, linearly decrease, increase stepwise, gradual or otherwise, or decrease stepwise, gradual or otherwise A mass analyzer according to any preceding claim, further comprising: 前記第4の手段は、前記電極に印加される前記第1のRFまたはAC電圧の周波数をx4MHzだけ期間t4にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される、請求項58に記載の質量分析器。 The fourth means gradually increases, gradually decreases, or gradually changes the frequency of the first RF or AC voltage applied to the electrode by a period of t 4 by x 4 MHz. To scan, to increase linearly, to decrease linearly, to increase stepwise, incrementally or otherwise, or to decrease incrementally, incrementally, or otherwise 59. A mass analyzer according to claim 58, configured and adapted. 前記x4は、(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される、請求項59に記載の質量分析器。 The x 4 is (i) <100 kHz, (ii) 100 to 200 kHz, (iii) 200 to 300 kHz, (iv) 300 to 400 kHz, (v) 400 to 500 kHz, (vi) 0.5 to 1.0 MHz, (Vii) 1.0 to 1.5 MHz, (viii) 1.5 to 2.0 MHz, (ix) 2.0 to 2.5 MHz, (x) 2.5 to 3.0 MHz, (xi) 3.0 -3.5 MHz, (xii) 3.5-4.0 MHz, (xiii) 4.0-4.5 MHz, (xiv) 4.5-5.0 MHz, (xv) 5.0-5.5 MHz, ( xvi) 5.5-6.0 MHz, (xvii) 6.0-6.5 MHz, (xviii) 6.5-7.0 MHz, (xix) 7.0-7.5 MHz, (xx) 7.5- 8.0 MHz, (xxi) 8.0-8.5 MHz, (x ii) selected from the group consisting of 8.5-9.0 MHz, (xxiii) 9.0-9.5 MHz, (xxiv) 9.5-10.0 MHz, and (xxv)> 10.0 MHz. 59. A mass spectrometer according to 59. 前記t4は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項59または60に記載の質量分析器。 The t 4 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii) 50 -60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300- 400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1-2 s , (Xxii) 2-3 s, (xxiii) 3-4 s, (xxiv) 4-5 s, and (xxv)> 5 s It is selected from the mass analyzer of claim 59 or 60. 前記第2のACまたはRF電圧は、(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜550Vピークトゥピーク、(xxii)550〜600Vピークトゥピーク、(xxiii)600〜650Vピークトゥピーク、(xxiv)650〜700Vピークトゥピーク、(xxv)700〜750Vピークトゥピーク、(xxvi)750〜800Vピークトゥピーク、(xxvii)800〜850Vピークトゥピーク、(xxviii)850〜900Vピークトゥピーク、(xxix)900〜950Vピークトゥピーク、(xxx)950〜1000Vピークトゥピーク、および(xxxi)>1000Vピークトゥピークからなる群から選択される振幅を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The second AC or RF voltage is (i) <50V peak-to-peak, (ii) 50-100V peak-to-peak, (iii) 100-150V peak-to-peak, (iv) 150-200V peak-to-peak, ( v) 200-250V peak-to-peak, (vi) 250-300V peak-to-peak, (vii) 300-350V peak-to-peak, (viii) 350-400V peak-to-peak, (ix) 400-450V peak-to-peak, x) 450-500V peak-to-peak, (xi) 500-550V peak-to-peak, (xxii) 550-600V peak-to-peak, (xxiii) 600-650V peak-to-peak, (xxiv) 650-700V peak-to-peak, xxv) 700-750V peak toe (Xxvi) 750-800V peak-to-peak, (xxvii) 800-850V peak-to-peak, (xxviii) 850-900V peak-to-peak, (xxix) 900-950V peak-to-peak, (xxx) 950-1000V peak-to-peak And (xxxi)> 1000V A mass analyzer according to any preceding claim, having an amplitude selected from the group consisting of peak-to-peak. 前記第2のACまたはRF電圧は、(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される周波数を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The second AC or RF voltage is (i) <100 kHz, (ii) 100-200 kHz, (iii) 200-300 kHz, (iv) 300-400 kHz, (v) 400-500 kHz, (vi) 0.5 -1.0 MHz, (vii) 1.0-1.5 MHz, (viii) 1.5-2.0 MHz, (ix) 2.0-2.5 MHz, (x) 2.5-3.0 MHz, ( xi) 3.0 to 3.5 MHz, (xii) 3.5 to 4.0 MHz, (xiii) 4.0 to 4.5 MHz, (xiv) 4.5 to 5.0 MHz, (xv) 5.0 to 5.5 MHz, (xvi) 5.5-6.0 MHz, (xvii) 6.0-6.5 MHz, (xviii) 6.5-7.0 MHz, (xix) 7.0-7.5 MHz, (xx ) 7.5-8.0 MHz, (xxi) 8.0 8.5 MHz, (xxii) 8.5-9.0 MHz, (xxiii) 9.0-9.5 MHz, (xxiv) 9.5-10.0 MHz, and (xxv)> 10.0 MHz A mass analyzer according to any of the preceding claims, having a frequency that is measured. 前記第2のACまたはRF電圧を印加するための手段は、前記第2のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%および/または前記複数の電極のうちの少なくとも1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20、21、22、23、24、25、26、27、28、29、30、31、32、33、34、35、36、37、38、39、40、41、42、43、44、45、46、47、48、49、50または>50個に印加するように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The means for applying the second AC or RF voltage comprises applying the second AC or RF voltage to at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20%, 25% of the plurality of electrodes. 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100% and / or the plurality At least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19, 20, 21, 22, 23, 24, 25, 26, 27, 28, 29, 30, 31, 32, 33, 34, 35, 36, 37, 38, 39, 40, 41, 42, 43, 44, 45, 46, 47, Of the preceding claim, configured to apply to 48, 49, 50 or> 50 The mass analyzer according to any misalignment. 前記第2のACまたはRF電圧を印加するための手段は、軸方向に隣り合う電極または軸方向に隣り合う電極グループに前記第2のACまたはRF電圧の互いに反対の位相を供給するように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The means for applying the second AC or RF voltage is configured to supply opposite phases of the second AC or RF voltage to axially adjacent electrodes or axially adjacent electrode groups. A mass analyzer according to any of the preceding claims. 前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、使用時に、前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%または95%に沿って作成される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The one or more second axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are in use at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30% of the axial length of the ion guide. , 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90% or 95% according to any of the preceding claims. 前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの中心長軸の少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%または95%に沿って作成または提供される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The one or more second axial time-average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40% of the central long axis of the ion guide, Mass spectrometer according to any of the preceding claims, made or provided along 50%, 60%, 70%, 80%, 90% or 95%. 前記複数の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの上流部分および/または中間部分および/または下流部分に作成または提供される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   Any of the preceding claims, wherein the plurality of second axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are created or provided in an upstream portion and / or an intermediate portion and / or a downstream portion of the ion guide. A mass spectrometer according to any one of the above. 前記イオンガイドは、長さLを有し、かつ前記複数の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの長さに沿って、(i)0〜0.1L、(ii)0.1〜0.2L、(iii)0.2〜0.3L、(iv)0.3〜0.4L、(v)0.4〜0.5L、(vi)0.5〜0.6L、(vii)0.6〜0.7L、(viii)0.7〜0.8L、(ix)0.8〜0.9L、および(x)0.9〜1.0Lからなる群から選択される変位を有する1つ以上の領域または位置に作成または提供される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The ion guide has a length L, and the plurality of second axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells are (i) 0-0 along the length of the ion guide. .1L, (ii) 0.1-0.2L, (iii) 0.2-0.3L, (iv) 0.3-0.4L, (v) 0.4-0.5L, (vi) 0.5-0.6L, (vii) 0.6-0.7L, (viii) 0.7-0.8L, (ix) 0.8-0.9L, and (x) 0.9-1 A mass analyzer according to any preceding claim, created or provided in one or more regions or positions having a displacement selected from the group consisting of 0.0L. 前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの中心長軸から遠ざかるように半径方向に少なくともr mmだけ延伸し、前記rは、(i)<1、(ii)1〜2、(iii)2〜3、(iv)3〜4、(v)4〜5、(vi)5〜6、(vii)6〜7、(viii)7〜8、(ix)8〜9、(x)9〜10、および(xi)>10からなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The one or more second axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells extend radially at least r mm away from the central long axis of the ion guide, where r is (i ) <1, (ii) 1-2, (iii) 2-3, (iv) 3-4, (v) 4-5, (vi) 5-6, (vii) 6-7, (viii) 7 A mass spectrometer according to any preceding claim, selected from the group consisting of -8, (ix) 8-9, (x) 9-10, and (xi)> 10. 質量電荷比が1〜100、100〜200、200〜300、300〜400、400〜500、500〜600、600〜700、700〜800、800〜900または900〜1000の範囲にあるイオンに対して、前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%の振幅、高さまたは深さは、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   For ions whose mass to charge ratio is in the range of 1-100, 100-200, 200-300, 300-400, 400-500, 500-600, 600-700, 700-800, 800-900 or 900-1000. At least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60% of the one or more second axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells , 70%, 80%, 90%, 95% or 100% amplitude, height or depth are (i) <0.1V, (ii) 0.1-0.2V, (iii) 0.2 ~ 0.3V, (iv) 0.3-0.4V, (v) 0.4-0.5V, (vi) 0.5-0.6V, (vii) 0.6-0.7V, ( viii) 0.7-0.8V, (ix) 0.8-0.9V, (x) .9 to 1.0 V, (xi) 1.0 to 1.5 V, (xii) 1.5 to 2.0 V, (xiii) 2.0 to 2.5 V, (xiv) 2.5 to 3.0 V (Xv) 3.0-3.5V, (xvi) 3.5-4.0V, (xvii) 4.0-4.5V, (xviii) 4.5-5.0V, (xix) 5. 0 to 5.5 V, (xx) 5.5 to 6.0 V, (xxi) 6.0 to 6.5 V, (xxii) 6.5 to 7.0 V, (xxiii) 7.0 to 7.5 V, (Xxiv) 7.5-8.0V, (xxv) 8.0-8.5V, (xxvi) 8.5-9.0V, (xxvii) 9.0-9.5V, (xxviii) 9.5 A mass spectrometer according to any preceding claim, selected from the group consisting of ~ 10.0V and (xxix)> 10.0V. 使用時に、1cm当たり少なくとも1、2、3、4、5、6、7、8、9または10個の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さに沿って提供または作成される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   In use, at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9 or 10 second axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells per cm are in the axial direction of the ion guide. A mass analyzer according to any preceding claim, provided or created along a length. 前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの軸方向長さに沿って、前記複数の電極の軸方向位置に対応する極小値を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The one or more second axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells have a local minimum corresponding to the axial position of the plurality of electrodes along the axial length of the ion guide. A mass analyzer according to any of the preceding claims. 前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの軸方向長さに沿って、近接する電極間の軸方向距離または間隔の実質的に50%に対応する軸方向位置に位置付けられた極大値を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The one or more second axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are substantially 50 axial distances or intervals between adjacent electrodes along the axial length of the ion guide. A mass analyzer according to any preceding claim, having a local maximum located at an axial position corresponding to%. 前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、特定の質量電荷比を有するイオンに対して実質的に同じ高さ、深さまたは振幅である極小値および/または極大値を有し、かつ前記極小値および/または極大値は、前記複数の電極の軸方向変位または間隔と実質的に同じである周期、またはその倍数である周期を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The one or more second axial time-average or pseudo-potential barriers, corrugations or wells have local minimum values that are substantially the same height, depth, or amplitude for ions having a particular mass to charge ratio, and The preceding claim, wherein the minimum value and / or the maximum value have a period that is substantially the same as, or a multiple of, the axial displacement or spacing of the plurality of electrodes. The mass spectrometer according to any one of Items. 前記第2の振幅は、前記第1の振幅よりも小さいか、または大きい、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   A mass analyzer according to any preceding claim, wherein the second amplitude is less than or greater than the first amplitude. 前記第2の振幅の前記第1の振幅に対する比は、(i)<1、(ii)>1、(iii)1〜2、(iv)2〜3、(v)3〜4、(vi)4〜5、(vii)5〜6、(viii)6〜7、(ix)7〜8、(x)8〜9、(xi)9〜10、(xii)10〜11、(xiii)11〜12、(xiv)12〜13、(xv)13〜14、(xvi)14〜15、(xvii)15〜16、(xviii)16〜17、(xix)17〜18、(xx)18〜19、(xxi)19〜20、(xxii)20〜25、(xxiii)25〜30、(xxiv)30〜35、(xxv)35〜40、(xxvi)40〜45、(xxvii)45〜50、(xxviii)50〜60、(xxix)60〜70、(xxx)70〜80、(xxxi)80〜90、(xxxii)90〜100、および(xxxiii)>100からなる群から選択される、請求項76に記載の質量分析器。   The ratio of the second amplitude to the first amplitude is (i) <1, (ii)> 1, (iii) 1-2, (iv) 2-3, (v) 3-4, (vi ) 4-5, (vii) 5-6, (viii) 6-7, (ix) 7-8, (x) 8-9, (xi) 9-10, (xii) 10-11, (xiii) 11-12, (xiv) 12-13, (xv) 13-14, (xvi) 14-15, (xvii) 15-16, (xviii) 16-17, (xix) 17-18, (xx) 18 -19, (xxi) 19-20, (xxii) 20-25, (xxiii) 25-30, (xxiv) 30-35, (xxv) 35-40, (xxvi) 40-45, (xxvii) 45- 50, (xxviii) 50-60, (xxix) 60-70, (xxx) 70-80, ( xxi) 80~90, (xxxii) 90~100, and (xxxiii) is selected from the group consisting of> 100, the mass analyzer of claim 76. 前記質量分析器は、前記複数の電極のうちの1つ以上に印加される前記第2のACまたはRF電圧の振幅を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第5の手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer progressively increases, progressively reduces, or gradually changes the amplitude of the second AC or RF voltage applied to one or more of the plurality of electrodes. Configured to scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, progressively or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise And the mass analyzer of any preceding claim, further comprising a fifth means adapted. 前記第5の手段は、前記第2のACまたはRF電圧の振幅をx5ボルトだけ期間t5にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される、請求項78に記載の質量分析器。 Or said fifth means, or the amplitude of the second AC or RF voltage increases progressively over a period t 5 only x 5 volts, or progressively reduced, either gradually changed to scan Configured and adapted to linearly increase, linearly decrease, increase stepwise, gradual or otherwise, or decrease stepwise, gradual or otherwise, 79. A mass spectrometer as claimed in claim 78. 前記x5は、(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜550Vピークトゥピーク、(xxii)550〜600Vピークトゥピーク、(xxiii)600〜650Vピークトゥピーク、(xxiv)650〜700Vピークトゥピーク、(xxv)700〜750Vピークトゥピーク、(xxvi)750〜800Vピークトゥピーク、(xxvii)800〜850Vピークトゥピーク、(xxviii)850〜900Vピークトゥピーク、(xxix)900〜950Vピークトゥピーク、(xxx)950〜1000Vピークトゥピーク、および(xxxi)>1000Vピークトゥピークからなる群から選択される、請求項79に記載の質量分析器。 The x 5 is (i) <50V peak-to-peak, (ii) 50-100V peak-to-peak, (iii) 100-150V peak-to-peak, (iv) 150-200V peak-to-peak, (v) 200-250V Peak-to-peak, (vi) 250-300V peak-to-peak, (vii) 300-350V peak-to-peak, (viii) 350-400V peak-to-peak, (ix) 400-450V peak-to-peak, (x) 450-500V Peak-to-peak, (xi) 500-550V peak-to-peak, (xxii) 550-600V peak-to-peak, (xxiii) 600-650V peak-to-peak, (xxiv) 650-700V peak-to-peak, (xxv) 700-750V Peak to peak, (xxvi) 75 ~ 800V peak-to-peak, (xxvii) 800-850V peak-to-peak, (xxviii) 850-900V peak-to-peak, (xxix) 900-950V peak-to-peak, (xxx) 950-1000V peak-to-peak, and (xxxi) 80. The mass analyzer of claim 79, selected from the group consisting of> 1000V peak to peak. 前記t5は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項79または80に記載の質量分析器。 The t 5 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii) 50 -60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300- 400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1-2 s , (Xxii) 2-3 s, (xxiii) 3-4 s, (xxiv) 4-5 s, and (xxv)> 5 s It is selected from the mass analyzer of claim 79 or 80. 前記質量分析器は、前記複数の電極のうちの1つ以上に印加される前記第2のRFまたはAC電圧の周波数を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第6の手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer progressively increases, progressively decreases, or gradually changes the frequency of the second RF or AC voltage applied to one or more of the plurality of electrodes. Configured to scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, progressively or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise And a mass analyzer according to any preceding claim, further comprising sixth means adapted. 前記第6の手段は、前記電極に印加される前記第2のACまたはRF電圧の周波数をx6MHzだけ期間t6にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される、請求項82に記載の質量分析器。 The sixth means may gradually increase, gradually decrease, or gradually change the frequency of the second AC or RF voltage applied to the electrode over a period t 6 by x 6 MHz. To scan, to increase linearly, to decrease linearly, to increase stepwise, incrementally or otherwise, or to decrease incrementally, incrementally, or otherwise The mass analyzer of claim 82, configured and adapted. 前記x6は、(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される、請求項83に記載の質量分析器。 The x 6 is (i) <100 kHz, (ii) 100 to 200 kHz, (iii) 200 to 300 kHz, (iv) 300 to 400 kHz, (v) 400 to 500 kHz, (vi) 0.5 to 1.0 MHz, (Vii) 1.0 to 1.5 MHz, (viii) 1.5 to 2.0 MHz, (ix) 2.0 to 2.5 MHz, (x) 2.5 to 3.0 MHz, (xi) 3.0 -3.5 MHz, (xii) 3.5-4.0 MHz, (xiii) 4.0-4.5 MHz, (xiv) 4.5-5.0 MHz, (xv) 5.0-5.5 MHz, ( xvi) 5.5-6.0 MHz, (xvii) 6.0-6.5 MHz, (xviii) 6.5-7.0 MHz, (xix) 7.0-7.5 MHz, (xx) 7.5- 8.0 MHz, (xxi) 8.0-8.5 MHz, (x ii) selected from the group consisting of 8.5-9.0 MHz, (xxiii) 9.0-9.5 MHz, (xxiv) 9.5-10.0 MHz, and (xxv)> 10.0 MHz. 83. A mass spectrometer according to 83. 前記t6は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項83または84に記載の質量分析器。 The t 6 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii) 50 -60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300- 400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1-2 s , (Xxii) 2-3 s, (xxiii) 3-4 s, (xxiv) 4-5 s, and (xxv)> 5 s It is selected from the mass analyzer of claim 83 or 84. 前記質量分析器は、第1のDC電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加して、使用時に、前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸がDC軸方向ポテンシャル障壁または井戸を軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁もしくは井戸と組み合わせて含むようにするための手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer applies a first DC voltage to one or more of the plurality of electrodes and, in use, the one or more second axial time averages or pseudopotential barriers, waveform shapes or A mass analyzer according to any preceding claim, further comprising means for causing the well to include a DC axial potential barrier or well in combination with an axial time average or pseudopotential barrier or well. 前記質量分析器は、前記複数の電極のうちの1つ以上に印加される前記第1のDC電圧の振幅を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第7の手段をさらに含む、請求項86に記載の質量分析器。   The mass analyzer progressively increases, progressively reduces, or gradually changes the amplitude of the first DC voltage applied to one or more of the plurality of electrodes; Configure and adapt to scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, progressively or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise 87. The mass analyzer of claim 86, further comprising: 前記第7の手段は、前記第1のDC電圧の振幅をx7ボルトだけ期間t7にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される、請求項87に記載の質量分析器。 The seventh means may progressively increase, progressively decrease, progressively change, scan, or linearly increase the amplitude of the first DC voltage by x 7 volts over a period t 7. Configured and adapted to increase stepwise, decrease linearly, increase stepwise, incrementally or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise 87. Mass spectrometer according to 87. 前記x7は、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される、請求項88に記載の質量分析器。 X 7 is (i) <0.1V, (ii) 0.1-0.2V, (iii) 0.2-0.3V, (iv) 0.3-0.4V, (v) 0 .4 to 0.5 V, (vi) 0.5 to 0.6 V, (vii) 0.6 to 0.7 V, (viii) 0.7 to 0.8 V, (ix) 0.8 to 0.9 V (X) 0.9-1.0V, (xi) 1.0-1.5V, (xii) 1.5-2.0V, (xiii) 2.0-2.5V, (xiv) 2. 5-3.0V, (xv) 3.0-3.5V, (xvi) 3.5-4.0V, (xvii) 4.0-4.5V, (xviii) 4.5-5.0V, (Xix) 5.0-5.5V, (xx) 5.5-6.0V, (xxi) 6.0-6.5V, (xxii) 6.5-7.0V, (xxiii) 7.0 ~ 7.5V, (xxiv) 7.5-8.0 (Xxv) 8.0-8.5V, (xxvi) 8.5-9.0V, (xxvii) 9.0-9.5V, (xxviii) 9.5-10.0V, and (xxix)> 90. The mass analyzer of claim 88, selected from the group consisting of 10.0V. 前記t7は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項88または89に記載の質量分析器。 The t 7 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii) 50 -60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300- 400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1-2 s , (Xxii) 2-3 s, (xxiii) 3-4 s, (xxiv) 4-5 s, and (xxv)> 5 s It is selected from the mass analyzer of claim 88 or 89. 前記質量分析器は、第3のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加して、使用時に、第3の振幅を有する1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成され、かつ前記第3の振幅は、前記第1の振幅および/または前記第2の振幅と異なるようにするための手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer applies a third AC or RF voltage to one or more of the plurality of electrodes and, in use, one or more third axial time averages having a third amplitude or A pseudopotential barrier, corrugated shape or well is created along at least a portion of the axial length of the ion guide, and the third amplitude is different from the first amplitude and / or the second amplitude. A mass analyzer according to any preceding claim, further comprising means for: 前記第3のACまたはRF電圧は、(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜550Vピークトゥピーク、(xxii)550〜600Vピークトゥピーク、(xxiii)600〜650Vピークトゥピーク、(xxiv)650〜700Vピークトゥピーク、(xxv)700〜750Vピークトゥピーク、(xxvi)750〜800Vピークトゥピーク、(xxvii)800〜850Vピークトゥピーク、(xxviii)850〜900Vピークトゥピーク、(xxix)900〜950Vピークトゥピーク、(xxx)950〜1000Vピークトゥピーク、および(xxxi)>1000Vピークトゥピークからなる群から選択される振幅を有する、請求項91に記載の質量分析器。   The third AC or RF voltage is (i) <50V peak-to-peak, (ii) 50-100V peak-to-peak, (iii) 100-150V peak-to-peak, (iv) 150-200V peak-to-peak, ( v) 200-250V peak-to-peak, (vi) 250-300V peak-to-peak, (vii) 300-350V peak-to-peak, (viii) 350-400V peak-to-peak, (ix) 400-450V peak-to-peak, x) 450-500V peak-to-peak, (xi) 500-550V peak-to-peak, (xxii) 550-600V peak-to-peak, (xxiii) 600-650V peak-to-peak, (xxiv) 650-700V peak-to-peak, xxv) 700-750V peak toe (Xxvi) 750-800V peak-to-peak, (xxvii) 800-850V peak-to-peak, (xxviii) 850-900V peak-to-peak, (xxix) 900-950V peak-to-peak, (xxx) 950-1000V peak-to-peak 92. The mass analyzer of claim 91, having an amplitude selected from the group consisting of: and (xxxi)> 1000V peak-to-peak. 前記第3のACまたはRF電圧は、(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される周波数を有する、請求項91または92に記載の質量分析器。   The third AC or RF voltage is (i) <100 kHz, (ii) 100-200 kHz, (iii) 200-300 kHz, (iv) 300-400 kHz, (v) 400-500 kHz, (vi) 0.5 -1.0 MHz, (vii) 1.0-1.5 MHz, (viii) 1.5-2.0 MHz, (ix) 2.0-2.5 MHz, (x) 2.5-3.0 MHz, ( xi) 3.0 to 3.5 MHz, (xii) 3.5 to 4.0 MHz, (xiii) 4.0 to 4.5 MHz, (xiv) 4.5 to 5.0 MHz, (xv) 5.0 to 5.5 MHz, (xvi) 5.5-6.0 MHz, (xvii) 6.0-6.5 MHz, (xviii) 6.5-7.0 MHz, (xix) 7.0-7.5 MHz, (xx ) 7.5-8.0 MHz, (xxi) 8.0 8.5 MHz, (xxii) 8.5-9.0 MHz, (xxiii) 9.0-9.5 MHz, (xxiv) 9.5-10.0 MHz, and (xxv)> 10.0 MHz 93. Mass spectrometer according to claim 91 or 92, having a frequency that is 前記第3のACまたはRF電圧を印加するための手段は、前記第3のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に印加するように構成される、請求項91、92または93に記載の質量分析器。   The means for applying the third AC or RF voltage comprises applying the third AC or RF voltage to at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20%, 25% of the plurality of electrodes. 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100% to apply 94. A mass analyzer according to claim 91, 92 or 93 configured. 前記第3のACまたはRF電圧を印加するための手段は、軸方向に隣り合う電極または軸方向に隣り合う電極グループに前記第3のACまたはRF電圧の互いに反対の位相を供給するように構成される、請求項91〜94のいずれかに記載の質量分析器。   The means for applying the third AC or RF voltage is configured to supply opposite phases of the third AC or RF voltage to axially adjacent electrodes or axially adjacent electrode groups. The mass analyzer according to any one of claims 91 to 94. 前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、使用時に、前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%または95%に沿って作成される、請求項91〜95のいずれかに記載の質量分析器。   The one or more third axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are in use at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30% of the axial length of the ion guide. 96. A mass analyzer according to any of claims 91 to 95, made along the lines of: 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90% or 95%. 前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの中心長軸の少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%または95%に沿って作成または提供される、請求項91〜96のいずれかに記載の質量分析器。   The one or more third axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are at least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40% of the central long axis of the ion guide, 99. A mass spectrometer according to any of claims 91 to 96, made or provided along 50%, 60%, 70%, 80%, 90% or 95%. 前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの上流部分および/または中間部分および/または下流部分に作成または提供される、請求項91〜97のいずれかに記載の質量分析器。   92. The one or more third axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are created or provided in an upstream portion and / or an intermediate portion and / or a downstream portion of the ion guide. 97. The mass spectrometer according to any one of 97. 前記イオンガイドは、長さLを有し、かつ前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの長さに沿って、(i)0〜0.1L、(ii)0.1〜0.2L、(iii)0.2〜0.3L、(iv)0.3〜0.4L、(v)0.4〜0.5L、(vi)0.5〜0.6L、(vii)0.6〜0.7L、(viii)0.7〜0.8L、(ix)0.8〜0.9L、および(x)0.9〜1.0Lからなる群から選択される変位を有する1つ以上の領域または位置に作成または提供される、請求項91〜98のいずれかに記載の質量分析器。   The ion guide has a length L, and the one or more third axial time-average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are (i) 0 along the length of the ion guide. ~ 0.1L, (ii) 0.1-0.2L, (iii) 0.2-0.3L, (iv) 0.3-0.4L, (v) 0.4-0.5L, ( vi) 0.5-0.6 L, (vii) 0.6-0.7 L, (viii) 0.7-0.8 L, (ix) 0.8-0.9 L, and (x) 0.9 99. A mass spectrometer as claimed in any of claims 91 to 98, created or provided in one or more regions or locations having a displacement selected from the group consisting of -1.0L. 前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの中心長軸から遠ざかるように半径方向に少なくともr mmだけ延伸し、前記rは、(i)<1、(ii)1〜2、(iii)2〜3、(iv)3〜4、(v)4〜5、(vi)5〜6、(vii)6〜7、(viii)7〜8、(ix)8〜9、(x)9〜10、および(xi)>10からなる群から選択される、請求項91〜99のいずれかに記載の質量分析器。   The one or more third axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells extend radially at least r mm away from the central long axis of the ion guide, where r is (i ) <1, (ii) 1-2, (iii) 2-3, (iv) 3-4, (v) 4-5, (vi) 5-6, (vii) 6-7, (viii) 7 The mass spectrometer according to any of claims 91 to 99, selected from the group consisting of -8, (ix) 8-9, (x) 9-10, and (xi)> 10. 質量電荷比が1〜100、100〜200、200〜300、300〜400、400〜500、500〜600、600〜700、700〜800、800〜900または900〜1000の範囲にあるイオンに対して、前記第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%の振幅、高さまたは深さは、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される、請求項91〜100のいずれかに記載の質量分析器。   For ions whose mass to charge ratio is in the range of 1-100, 100-200, 200-300, 300-400, 400-500, 500-600, 600-700, 700-800, 800-900 or 900-1000. At least 1%, 5%, 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70% of the third axial time average or pseudopotential barrier, corrugation or well, The amplitude, height or depth of 80%, 90%, 95% or 100% are (i) <0.1V, (ii) 0.1-0.2V, (iii) 0.2-0.3V. (Iv) 0.3 to 0.4 V, (v) 0.4 to 0.5 V, (vi) 0.5 to 0.6 V, (vii) 0.6 to 0.7 V, (viii) 0. 7 to 0.8 V, (ix) 0.8 to 0.9 V, (x) 0.9 to 1 0V, (xi) 1.0-1.5V, (xii) 1.5-2.0V, (xiii) 2.0-2.5V, (xiv) 2.5-3.0V, (xv) 3 0.0-3.5V, (xvi) 3.5-4.0V, (xvii) 4.0-4.5V, (xviii) 4.5-5.0V, (xix) 5.0-5.5V (Xx) 5.5-6.0V, (xxi) 6.0-6.5V, (xxii) 6.5-7.0V, (xxiii) 7.0-7.5V, (xxiv) 5-8.0V, (xxv) 8.0-8.5V, (xxvi) 8.5-9.0V, (xxvii) 9.0-9.5V, (xxviii) 9.5-10.0V, 101. A mass spectrometer according to any of claims 91 to 100, selected from the group consisting of: and (xxix)> 10.0V. 使用時に、1cm当たり少なくとも1、2、3、4、5、6、7、8、9または10個の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さに沿って提供または作成される、請求項91〜101のいずれかに記載の質量分析器。   In use, at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9 or 10 third axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells per centimeter are in the axial direction of the ion guide. 102. Mass spectrometer according to any of claims 91 to 101, provided or created along a length. 前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの軸方向長さに沿って、前記複数の電極の軸方向位置に対応する極小値を有する、請求項91〜102のいずれかに記載の質量分析器。   The one or more third axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells have a local minimum corresponding to the axial position of the plurality of electrodes along the axial length of the ion guide. The mass spectrometer according to any one of claims 91 to 102. 前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、前記イオンガイドの軸方向長さに沿って、近接する電極間の軸方向距離または間隔の実質的に50%に対応する軸方向位置に位置付けられた極大値を有する、請求項91〜103のいずれかに記載の質量分析器。   The one or more third axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells are substantially 50 of the axial distance or spacing between adjacent electrodes along the axial length of the ion guide. 104. Mass spectrometer according to any of claims 91 to 103, having a local maximum located at an axial position corresponding to%. 前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸は、特定の質量電荷比を有するイオンに対して実質的に同じ高さ、深さまたは振幅である極小値および/または極大値を有し、かつ前記極小値および/または極大値は、前記複数の電極の軸方向変位または間隔と実質的に同じである周期、またはその倍数である周期を有する、請求項91〜104のいずれかに記載の質量分析器。   The one or more third axial time-average or pseudo-potential barriers, corrugations or wells have minimal values that are substantially the same height, depth, or amplitude for ions having a particular mass to charge ratio, and 92. having a local maximum and wherein said local minimum and / or local maximum have a period that is substantially the same as, or a multiple of, an axial displacement or spacing of said plurality of electrodes. The mass spectrometer in any one of -104. 前記第3の振幅は、前記第1の振幅および/または前記第2の振幅よりも小さいか、または大きい、請求項91〜105のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer according to any one of claims 91 to 105, wherein the third amplitude is smaller or larger than the first amplitude and / or the second amplitude. 前記第3の振幅の前記第1の振幅に対する比は、(i)<1、(ii)>1、(iii)1〜2、(iv)2〜3、(v)3〜4、(vi)4〜5、(vii)5〜6、(viii)6〜7、(ix)7〜8、(x)8〜9、(xi)9〜10、(xii)10〜11、(xiii)11〜12、(xiv)12〜13、(xv)13〜14、(xvi)14〜15、(xvii)15〜16、(xviii)16〜17、(xix)17〜18、(xx)18〜19、(xxi)19〜20、(xxii)20〜25、(xxiii)25〜30、(xxiv)30〜35、(xxv)35〜40、(xxvi)40〜45、(xxvii)45〜50、(xxviii)50〜60、(xxix)60〜70、(xxx)70〜80、(xxxi)80〜90、(xxxii)90〜100、および(xxxiii)>100からなる群から選択される、請求項91〜106のいずれかに記載の質量分析器。   The ratio of the third amplitude to the first amplitude is (i) <1, (ii)> 1, (iii) 1-2, (iv) 2-3, (v) 3-4, (vi ) 4-5, (vii) 5-6, (viii) 6-7, (ix) 7-8, (x) 8-9, (xi) 9-10, (xii) 10-11, (xiii) 11-12, (xiv) 12-13, (xv) 13-14, (xvi) 14-15, (xvii) 15-16, (xviii) 16-17, (xix) 17-18, (xx) 18 -19, (xxi) 19-20, (xxii) 20-25, (xxiii) 25-30, (xxiv) 30-35, (xxv) 35-40, (xxvi) 40-45, (xxvii) 45- 50, (xxviii) 50-60, (xxix) 60-70, (xxx) 70-80, ( xxi) 80~90, (xxxii) 90~100, and (xxxiii)> 100 is selected from the group consisting of a mass analyzer according to any one of claims 91 to 106. 前記第3の振幅の前記第2の振幅に対する比は、(i)<1、(ii)>1、(iii)1〜2、(iv)2〜3、(v)3〜4、(vi)4〜5、(vii)5〜6、(viii)6〜7、(ix)7〜8、(x)8〜9、(xi)9〜10、(xii)10〜11、(xiii)11〜12、(xiv)12〜13、(xv)13〜14、(xvi)14〜15、(xvii)15〜16、(xviii)16〜17、(xix)17〜18、(xx)18〜19、(xxi)19〜20、(xxii)20〜25、(xxiii)25〜30、(xxiv)30〜35、(xxv)35〜40、(xxvi)40〜45、(xxvii)45〜50、(xxviii)50〜60、(xxix)60〜70、(xxx)70〜80、(xxxi)80〜90、(xxxii)90〜100、および(xxxiii)>100からなる群から選択される、請求項91〜107のいずれかに記載の質量分析器。   The ratio of the third amplitude to the second amplitude is (i) <1, (ii)> 1, (iii) 1-2, (iv) 2-3, (v) 3-4, (vi ) 4-5, (vii) 5-6, (viii) 6-7, (ix) 7-8, (x) 8-9, (xi) 9-10, (xii) 10-11, (xiii) 11-12, (xiv) 12-13, (xv) 13-14, (xvi) 14-15, (xvii) 15-16, (xviii) 16-17, (xix) 17-18, (xx) 18 -19, (xxi) 19-20, (xxii) 20-25, (xxiii) 25-30, (xxiv) 30-35, (xxv) 35-40, (xxvi) 40-45, (xxvii) 45- 50, (xxviii) 50-60, (xxix) 60-70, (xxx) 70-80, ( xxi) 80~90, (xxxii) 90~100, and (xxxiii)> 100 is selected from the group consisting of a mass analyzer according to any one of claims 91 to 107. 前記質量分析器は、前記複数の電極のうちの1つ以上に印加される前記第3のACまたはRF電圧の振幅を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第8の手段をさらに含む、請求項91〜108のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer progressively increases, progressively decreases, or gradually changes the amplitude of the third AC or RF voltage applied to one or more of the plurality of electrodes. Configured to scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, progressively or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise 109. A mass analyzer according to any of claims 91 to 108, further comprising an eighth means adapted. 前記第8の手段は、前記第3のACまたはRF電圧の振幅をx8ボルトだけ期間t8にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される、請求項109に記載の質量分析器。 Or said eighth means, either the amplitude of the third AC or RF voltage increases progressively over x 8 volts only for the period t 8, or progressively reduced, either gradually changed to scan Configured and adapted to linearly increase, linearly decrease, increase stepwise, gradual or otherwise, or decrease stepwise, gradual or otherwise, 110. A mass spectrometer as claimed in claim 109. 前記x8は、(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜550Vピークトゥピーク、(xxii)550〜600Vピークトゥピーク、(xxiii)600〜650Vピークトゥピーク、(xxiv)650〜700Vピークトゥピーク、(xxv)700〜750Vピークトゥピーク、(xxvi)750〜800Vピークトゥピーク、(xxvii)800〜850Vピークトゥピーク、(xxviii)850〜900Vピークトゥピーク、(xxix)900〜950Vピークトゥピーク、(xxx)950〜1000Vピークトゥピーク、および(xxxi)>1000Vピークトゥピークからなる群から選択される、請求項110に記載の質量分析器。 The x 8 is (i) <50V peak-to-peak, (ii) 50-100V peak-to-peak, (iii) 100-150V peak-to-peak, (iv) 150-200V peak-to-peak, (v) 200-250V Peak-to-peak, (vi) 250-300V peak-to-peak, (vii) 300-350V peak-to-peak, (viii) 350-400V peak-to-peak, (ix) 400-450V peak-to-peak, (x) 450-500V Peak-to-peak, (xi) 500-550V peak-to-peak, (xxii) 550-600V peak-to-peak, (xxiii) 600-650V peak-to-peak, (xxiv) 650-700V peak-to-peak, (xxv) 700-750V Peak to peak, (xxvi) 75 ~ 800V peak-to-peak, (xxvii) 800-850V peak-to-peak, (xxviii) 850-900V peak-to-peak, (xxix) 900-950V peak-to-peak, (xxx) 950-1000V peak-to-peak, and (xxxi) 111. The mass spectrometer of claim 110, selected from the group consisting of> 1000V peak to peak. 前記t8は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項110または111に記載の質量分析器。 The t 8 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii) 50 -60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300- 400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1-2 s , (Xxii) 2-3 s, (xxiii) 3-4 s, (xxiv) 4-5 s, and (xxv)> 5 s It is selected from the mass analyzer of claim 110 or 111. 前記質量分析器は、前記複数の電極のうちの1つ以上に印加される前記第3のRFまたはAC電圧の周波数を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第9の手段をさらに含む、請求項91〜112のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer progressively increases, progressively decreases, or gradually changes the frequency of the third RF or AC voltage applied to one or more of the plurality of electrodes. Configured to scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, progressively or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise 119. The mass analyzer of any of claims 91-112, further comprising and ninth means adapted. 前記第9の手段は、前記複数の電極のうちの1つ以上に印加される前記第3のRFまたはAC電圧の周波数をx9MHzだけ期間t9にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される、請求項113に記載の質量分析器。 The ninth means progressively increases or gradually increases the frequency of the third RF or AC voltage applied to one or more of the plurality of electrodes over a period t 9 by x 9 MHz. Reduce, incrementally change, scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, incrementally or otherwise, stepwise, incrementally or 114. The mass analyzer of claim 113, configured and adapted to reduce otherwise. 前記x9は、(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される、請求項114に記載の質量分析器。 The x 9 is (i) <100 kHz, (ii) 100 to 200 kHz, (iii) 200 to 300 kHz, (iv) 300 to 400 kHz, (v) 400 to 500 kHz, (vi) 0.5 to 1.0 MHz, (Vii) 1.0 to 1.5 MHz, (viii) 1.5 to 2.0 MHz, (ix) 2.0 to 2.5 MHz, (x) 2.5 to 3.0 MHz, (xi) 3.0 -3.5 MHz, (xii) 3.5-4.0 MHz, (xiii) 4.0-4.5 MHz, (xiv) 4.5-5.0 MHz, (xv) 5.0-5.5 MHz, ( xvi) 5.5-6.0 MHz, (xvii) 6.0-6.5 MHz, (xviii) 6.5-7.0 MHz, (xix) 7.0-7.5 MHz, (xx) 7.5- 8.0 MHz, (xxi) 8.0-8.5 MHz, (x ii) selected from the group consisting of 8.5-9.0 MHz, (xxiii) 9.0-9.5 MHz, (xxiv) 9.5-10.0 MHz, and (xxv)> 10.0 MHz. 114. The mass spectrometer according to 114. 前記t9は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項114または115に記載の質量分析器。 The t 9 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii) 50 -60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300- 400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1-2 s , (Xxii) 2-3 s, (xxiii) 3-4 s, (xxiv) 4-5 s, and (xxv)> 5 s It is selected from the mass analyzer of claim 114 or 115. 前記質量分析器は、第2のDC電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加して、使用時に、前記1つ以上の第3の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸がDC軸方向ポテンシャル障壁または井戸を軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁もしくは井戸と組み合わせて含むようにするための手段をさらに含む、請求項91〜116のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer applies a second DC voltage to one or more of the plurality of electrodes and, in use, the one or more third axial time averages or pseudopotential barriers, waveform shapes or 119. The mass analyzer of any of claims 91-116, further comprising means for causing the well to include a DC axial potential barrier or well in combination with an axial time average or pseudopotential barrier or well. 前記質量分析器は、前記複数の電極のうちの1つ以上に印加される前記第2のDC電圧の振幅を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第10の手段をさらに含む、請求項117に記載の質量分析器。   The mass analyzer progressively increases, gradually decreases, or gradually changes the amplitude of the second DC voltage applied to one or more of the plurality of electrodes; Configure and adapt to scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, progressively or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise 118. The mass analyzer of claim 117, further comprising tenth means. 前記第10の手段は、前記第2のDC電圧の振幅をx10ボルトだけ期間t10にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される、請求項118に記載の質量分析器。 The tenth means, the or the amplitude of the second DC voltage increases progressively over a period t 10 only x 10 volts, or progressively reduced, either gradually changed, or scan, linear Configured and adapted to increase stepwise, decrease linearly, increase stepwise, incrementally or otherwise, or decrease stepwise, incrementally, or otherwise 118. A mass spectrometer according to 118. 前記x10は、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される、請求項119に記載の質量分析器。 The x 10 is (i) <0.1 V, (ii) 0.1-0.2 V, (iii) 0.2-0.3 V, (iv) 0.3-0.4 V, (v) 0 .4 to 0.5 V, (vi) 0.5 to 0.6 V, (vii) 0.6 to 0.7 V, (viii) 0.7 to 0.8 V, (ix) 0.8 to 0.9 V (X) 0.9-1.0V, (xi) 1.0-1.5V, (xii) 1.5-2.0V, (xiii) 2.0-2.5V, (xiv) 2. 5-3.0V, (xv) 3.0-3.5V, (xvi) 3.5-4.0V, (xvii) 4.0-4.5V, (xviii) 4.5-5.0V, (Xix) 5.0-5.5V, (xx) 5.5-6.0V, (xxi) 6.0-6.5V, (xxii) 6.5-7.0V, (xxiii) 7.0 ~ 7.5V, (xxiv) 7.5-8.0 (Xxv) 8.0-8.5V, (xxvi) 8.5-9.0V, (xxvii) 9.0-9.5V, (xxviii) 9.5-10.0V, and (xxix)> 120. The mass spectrometer of claim 119, selected from the group consisting of 10.0V. 前記t10は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項119または120に記載の質量分析器。 The t 10 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii) 50 -60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300- 400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1-2 s , (Xxii) 2-3 s, (xxiii) 3-4 s, (xxiv) 4-5 s, and (xxv)> 5 s It is selected from the mass analyzer of claim 119 or 120. 前記質量分析器は、前記イオンガイドの前記電極のうちの少なくともいくつかに印加され、かつイオンを前記イオンガイド内に半径方向に閉じ込めるように作用するDC電圧またはポテンシャルの振幅を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される第11の手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer progressively increases the amplitude of a DC voltage or potential applied to at least some of the electrodes of the ion guide and acting to confine ions radially within the ion guide. Or progressively decreasing, incrementally changing, scanning, linearly increasing, linearly decreasing, incrementally, incrementally or otherwise, or phased A mass analyzer as claimed in any preceding claim, further comprising eleventh means constructed and adapted to reduce, gradual or otherwise reduce. 前記第11の手段は、前記少なくともいくつかの電極に印加される前記DC電圧またはポテンシャルの振幅をx11ボルトだけ期間t11にわたって漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される、請求項122に記載の質量分析器。 Means of the eleventh or the progressively increasing the DC voltage or amplitude of the potential applied to at least some of the electrodes over x 11 volts only for the period t 11, or progressively reduced progressively To change, scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, gradual or otherwise, or decrease stepwise, gradual or otherwise The mass analyzer of claim 122, configured and adapted to. 前記x11は、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される、請求項123に記載の質量分析器。 Wherein x 11 is, (i) <0.1V, ( ii) 0.1~0.2V, (iii) 0.2~0.3V, (iv) 0.3~0.4V, (v) 0 .4 to 0.5 V, (vi) 0.5 to 0.6 V, (vii) 0.6 to 0.7 V, (viii) 0.7 to 0.8 V, (ix) 0.8 to 0.9 V (X) 0.9-1.0V, (xi) 1.0-1.5V, (xii) 1.5-2.0V, (xiii) 2.0-2.5V, (xiv) 2. 5-3.0V, (xv) 3.0-3.5V, (xvi) 3.5-4.0V, (xvii) 4.0-4.5V, (xviii) 4.5-5.0V, (Xix) 5.0-5.5V, (xx) 5.5-6.0V, (xxi) 6.0-6.5V, (xxii) 6.5-7.0V, (xxiii) 7.0 ~ 7.5V, (xxiv) 7.5-8.0 (Xxv) 8.0-8.5 V, (xxvi) 8.5-9.0 V, (xxvii) 9.0-9.5 V, (xxviii) 9.5-10.0 V, and (xxix)> 124. The mass analyzer of claim 123, selected from the group consisting of 10.0V. 前記t11は、(i)<lms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項123または124に記載の質量分析器。 The t 11 is (i) <lms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii) 50 -60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300- 400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (xx) 900-1000 ms, (xxi) 1-2 s , (Xxii) 2-3 s, (xxiii) 3-4 s, (xxiv) 4-5 s, and (xxv)> 5 s It is selected from the mass analyzer of claim 123 or 124. 前記質量分析器は、一動作モードにおいて、前記イオンガイドを(i)<1.0×10-1mbar、(ii)<1.0×10-2mbar、(iii)<1.0×10-3mbar、および(iv)<1.0×10-4mbarからなる群から選択される圧力に維持するための手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。 In one mode of operation, the mass analyzer moves the ion guide to (i) <1.0 × 10 −1 mbar, (ii) <1.0 × 10 −2 mbar, (iii) <1.0 × 10. A mass analyzer according to any preceding claim, further comprising means for maintaining a pressure selected from the group consisting of -3 mbar, and (iv) <1.0 x 10-4 mbar. 前記質量分析器は、一動作モードにおいて、前記イオンガイドを(i)>1.0×10-3mbar、(ii)>1.0×10-2mbar、(iii)>1.0×10-1mbar、(iv)>1mbar、(v)>10mbar、(vi)>100mbar、(vii)>5.0×10-3mbar、(viii)>5.0×10-2mbar、(ix)10-4〜10-3mbar、(x)10-3〜10-2mbar、および(xi)10-2〜10-1mbarからなる群から選択される圧力に維持するための手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。 In one mode of operation, the mass analyzer moves the ion guide to (i)> 1.0 × 10 −3 mbar, (ii)> 1.0 × 10 −2 mbar, (iii)> 1.0 × 10 −1 mbar, (iv)> 1 mbar, (v)> 10 mbar, (vi)> 100 mbar, (vii)> 5.0 × 10 −3 mbar, (viii)> 5.0 × 10 −2 mbar, (ix Further means for maintaining a pressure selected from the group consisting of: 10 −4 to 10 −3 mbar, (x) 10 −3 to 10 −2 mbar, and (xi) 10 −2 to 10 −1 mbar. A mass analyzer according to any preceding claim, comprising. 前記質量分析器は、前記イオンガイドを通るガスフローを漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成および適合される手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer progressively increases, progressively decreases, progressively changes, scans, increases linearly or decreases linearly the gas flow through the ion guide. Any of the preceding claims further comprising means adapted and adapted to increase, stepwise, gradual or otherwise, or to decrease stepwise, gradual or otherwise The mass spectrometer described. 一動作モードにおいて、イオンが前記イオンガイド内にトラップされるが、実質的にフラグメンテーションされないように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   A mass analyzer according to any preceding claim, configured in one mode of operation such that ions are trapped in the ion guide but are not substantially fragmented. 前記質量分析器は、前記イオンガイド内のイオンを衝突により冷却するか、または実質的に熱化するための手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   A mass analyzer according to any preceding claim, wherein the mass analyzer further comprises means for cooling or substantially heating the ions in the ion guide by impact. 前記質量分析器は、一動作モードにおいて、前記イオンガイド内のイオンを実質的にフラグメンテーションする手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer of any preceding claim, wherein the mass analyzer further comprises means for substantially fragmenting ions in the ion guide in one mode of operation. 前記質量分析器は、前記イオンガイドの入口および/または出口に配置される1つ以上の電極をさらに含み、一動作モードにおいて、前記1つ以上の電極がイオンをパルス化して前記イオンガイドへ入力および/またはそこから出力するように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。   The mass analyzer further includes one or more electrodes disposed at the inlet and / or outlet of the ion guide, and in one mode of operation, the one or more electrodes pulse ions into the ion guide. A mass analyzer according to any preceding claim, configured to output from and / or output therefrom. 先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器を含む質量分析計。   A mass spectrometer comprising the mass analyzer according to any of the preceding claims. 前記質量分析計は、(i)エレクトロスプレーイオン化(「ESI」)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(「APPI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)マトリックス支援レーザ脱離イオン化(「MALDI」)イオン源、(v)レーザ脱離イオン化(「LDI」)イオン源、(vi)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(vii)シリコンを用いた脱離イオン化(「DIOS」)イオン源、(viii)電子衝突(「EI」)イオン源、(ix)化学イオン化(「CI」)イオン源、(x)電界イオン化(「FI」)イオン源、(xi)電界脱離(「FD」)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(「ICP」)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(「FAB」)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(「LSIMS」)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレーイオン化(「DESI」)イオン源、(xvi)ニッケル−63放射性イオン源、および(xvii)サーモスプレーイオン源からなる群から選択されるイオン源をさらに含む、請求項133に記載の質量分析計。   The mass spectrometer comprises (i) an electrospray ionization (“ESI”) ion source, (ii) atmospheric pressure photoionization (“APPI”) ion source, (iii) atmospheric pressure chemical ionization (“APCI”) ion source, (Iv) matrix-assisted laser desorption ionization (“MALDI”) ion source, (v) laser desorption ionization (“LDI”) ion source, (vi) atmospheric pressure ionization (“API”) ion source, (vii) silicon Desorption ionization (“DIOS”) ion source, (viii) Electron impact (“EI”) ion source, (ix) Chemical ionization (“CI”) ion source, (x) Field ionization (“FI”) An ion source, (xi) a field desorption (“FD”) ion source, (xii) an inductively coupled plasma (“ICP”) ion source, (xiii) a fast atom bombardment (“FAB”) ion source, xiv) liquid secondary ion mass spectrometry (“LSIMS”) ion source, (xv) desorption electrospray ionization (“DESI”) ion source, (xvi) nickel-63 radioactive ion source, and (xvii) thermospray ion source 134. The mass spectrometer of claim 133, further comprising an ion source selected from the group consisting of: 前記質量分析計は、連続またはパルス化イオン源をさらに含む、請求項133または134に記載の質量分析計。   135. The mass spectrometer of claim 133 or 134, wherein the mass spectrometer further comprises a continuous or pulsed ion source. 前記質量分析計は、前記質量分析器の上流および/または下流に配置される1つ以上の質量フィルタをさらに含む、請求項133、134または135のいずれかに記載の質量分析計。   138. A mass spectrometer as claimed in any of claims 133, 134 or 135, wherein the mass spectrometer further comprises one or more mass filters positioned upstream and / or downstream of the mass analyzer. 前記1つ以上の質量フィルタは、(i)四重極ロッドセット質量フィルタ、(ii)飛行時間質量フィルタまたは質量分析器、(iii)ウィーンフィルタ、および(iv)扇形磁場質量フィルタまたは質量分析器からなる群から選択される、請求項136に記載の質量分析計。   The one or more mass filters include (i) a quadrupole rod set mass filter, (ii) a time-of-flight mass filter or mass analyzer, (iii) a Wien filter, and (iv) a sector magnetic field mass filter or mass analyzer. 137. The mass spectrometer of claim 136, selected from the group consisting of: 前記質量分析計は、前記質量分析器の上流および/または下流に配置される1つ以上の第2のイオンガイドまたはイオントラップをさらに含む、請求項133〜137のいずれかに記載の質量分析計。   138. The mass spectrometer of any of claims 133-137, wherein the mass spectrometer further includes one or more second ion guides or ion traps disposed upstream and / or downstream of the mass analyzer. . 前記1つ以上の第2のイオンガイドまたはイオントラップは、
(i)四重極ロッドセット、六重極ロッドセット、八重極ロッドセットまたは8個より多くのロッドを含むロッドセットを含む多極ロッドセットもしくはセグメント化多極ロッドセットイオンガイドもまたはイオントラップ、
(ii)開口を有する複数の電極または少なくとも2、5、10、20、30、40、50、60、70、80、90もしくは100個の電極を含むイオントンネルもしくはイオンファネルイオンガイドまたはイオントラップであって、使用時にイオンは、前記開口を通って移送され、前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%は、実質的に同じサイズもしくは面積の開口を有するか、またはサイズもしくは面積が漸進的により大きくおよび/またはより小さくなる開口を有する、イオントンネルもしくはイオンファネルイオンガイドまたはイオントラップ、
(iii)1スタックもしくはアレイの平面、プレートまたはメッシュ電極であって、前記スタックもしくはアレイの平面、プレートまたはメッシュ電極は、複数のまたは少なくとも2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19もしくは20個の平面、プレートまたはメッシュ電極を含むか、または少なくとも前記平面、プレートまたはメッシュ電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%は、使用時にイオンが走行する平面内に一般に配置される、1スタックもしくはアレイの平面、プレートまたはメッシュ電極、および
(iv)イオントラップまたはイオンガイドであって、前記イオントラップまたはイオンガイドの長さに沿って軸方向に配置される複数のグループの電極を含み、各グループの電極は、(a)第1および第2の電極ならびにイオンを前記イオンガイド内に第1の半径方向に閉じ込めるためにDC電圧またはポテンシャルを前記第1および第2の電極に印加するための手段、および(b)第3および第4の電極ならびにイオンを前記イオンガイド内に第2の半径方向に閉じ込めるためにACまたはRF電圧を前記第3および第4の電極に印加するための手段を含む、イオントラップまたはイオンガイドからなる群から選択される、請求項138に記載の質量分析計。
The one or more second ion guides or ion traps;
(I) a quadrupole rod set, a hexapole rod set, an octupole rod set or a multipole rod set comprising a rod set comprising more than 8 rods or a segmented multipole rod set ion guide or ion trap;
(Ii) In an ion tunnel or ion funnel ion guide or ion trap comprising a plurality of electrodes with openings or at least 2, 5, 10, 20, 30, 40, 50, 60, 70, 80, 90 or 100 electrodes In use, ions are transported through the aperture and at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20%, 25%, 30%, 35%, 40%, 45% of the electrodes. %, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100% have openings of substantially the same size or area, or An ion tunnel or ion funnel ion guide or ion trap having openings that are progressively larger and / or smaller in size or area;
(Iii) a stack or array plane, plate or mesh electrode, wherein the stack or array plane, plate or mesh electrode is a plurality or at least 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19 or 20 planes, plates or mesh electrodes, or at least 1% of said planes, plates or mesh electrodes, 5%, 10%, 15%, 20%, 25%, 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85% , 90%, 95% or 100% are generally placed in the plane in which ions travel in use, one stack or array plane, plate or mesh electrode, and And (iv) an ion trap or ion guide comprising a plurality of groups of electrodes arranged axially along the length of the ion trap or ion guide, each group of electrodes comprising: (a) a first And a second electrode and means for applying a DC voltage or potential to the first and second electrodes to confine ions in a first radial direction within the ion guide, and (b) a third and second A group of ion traps or ion guides comprising four electrodes and means for applying an AC or RF voltage to the third and fourth electrodes to confine ions in a second radial direction within the ion guide 138. A mass spectrometer according to claim 138, selected from:
前記第2のイオンガイドまたはイオントラップは、イオントンネルもしくはイオンファネルイオンガイドまたはイオントラップを含み、前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%は、(i)≦1.0mm、(ii)≦2.0mm、(iii)≦3.0mm、(iv)≦4.0mm、(v)≦5.0mm、(vi)≦6.0mm、(vii)≦7.0mm、(viii)≦8.0mm、(ix)≦9.0mm、(x)≦10.0mm、および(xi)>10.0mmからなる群から選択される内径または寸法を有する、請求項138または139に記載の質量分析計。   The second ion guide or ion trap includes an ion tunnel or ion funnel ion guide or ion trap, and at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20%, 25%, 30% of the electrodes. , 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100% are (i) ≦ 1. 0 mm, (ii) ≦ 2.0 mm, (iii) ≦ 3.0 mm, (iv) ≦ 4.0 mm, (v) ≦ 5.0 mm, (vi) ≦ 6.0 mm, (vii) ≦ 7.0 mm, 140. 138 or 139 having an inner diameter or dimension selected from the group consisting of (viii) ≤ 8.0 mm, (ix) ≤ 9.0 mm, (x) ≤ 10.0 mm, and (xi)> 10.0 mm. The mass spectrometer described in 1. 前記第2のイオンガイドまたはイオントラップは、イオンを前記第2のイオンガイドまたはイオントラップ内に半径方向に閉じ込めるためにACまたはRF電圧を前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの前記複数の電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に印加するように構成および適合される第4のACまたはRF電圧手段をさらに含む、請求項138、139または140に記載の質量分析計。   The second ion guide or ion trap is configured to apply an AC or RF voltage to the plurality of electrodes of the second ion guide or ion trap to radially confine ions within the second ion guide or ion trap. At least 1%, 5%, 10%, 15%, 20%, 25%, 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75% 140. The mass spectrometer of claim 138, 139 or 140, further comprising a fourth AC or RF voltage means configured and adapted to apply at 80%, 85%, 90%, 95% or 100% . 前記第2のイオンガイドまたはイオントラップは、1ビームまたはグループのイオンを前記質量分析器から受け取り、そして前記ビームまたはグループのイオンを変換または分割して、少なくとも1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19または20個の別々のパケットのイオンが任意の特定の時刻に前記第2のイオンガイドまたはイオントラップ内に閉じ込めおよび/または隔離されるようにし、かつ各パケットのイオンは、前記第2のイオンガイドまたはイオントラップ内に形成される別々の軸方向ポテンシャル井戸内に別々に閉じ込めおよび/または隔離されるように構成および適合される、請求項138〜141のいずれかに記載の質量分析計。   The second ion guide or ion trap receives a beam or group of ions from the mass analyzer and converts or splits the beam or group of ions to at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19 or 20 separate packets of ions in the second ion guide or at any particular time The ions are confined and / or isolated in an ion trap, and the ions of each packet are confined and / or isolated separately in separate axial potential wells formed in the second ion guide or ion trap. 142. Mass spectrometer according to any of claims 138-141, configured and adapted as such. 前記質量分析計は、一動作モードにおいて、少なくともいくつかのイオンを前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%を通るか、またはそれに沿って上流および/または下流へ推進するように構成および適合される手段をさらに含む、請求項138〜142のいずれかに記載の質量分析計。   The mass spectrometer, in one mode of operation, removes at least some ions at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20%, 25% of the axial length of the second ion guide or ion trap. 30%, 35%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100%, or 143. A mass spectrometer according to any of claims 138-142, further comprising means configured and adapted to propel upstream and / or downstream along it. 前記質量分析計は、少なくともいくつかのイオンを前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に沿って下流および/または上流へ推進するために、1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形を前記第2のイオンガイドまたはイオントラップを形成する前記電極に印加するように構成および適合される過渡DC電圧手段をさらに含む、請求項138〜143のいずれかに記載の質量分析計。   The mass spectrometer has at least some ions at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20%, 25%, 30%, 35% of the axial length of the second ion guide or ion trap. Propel downstream and / or upstream along%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100% A transient configured and adapted to apply one or more transient DC voltages or potentials or one or more transient DC voltages or potential waveforms to the electrodes forming the second ion guide or ion trap 145. The mass spectrometer according to any of claims 138 to 143, further comprising a DC voltage means. 前記質量分析計は、少なくともいくつかのイオンを前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に沿って下流および/または上流へ推進するために、2つ以上の位相シフトACまたはRF電圧を前記第2のイオンガイドまたはイオントラップを形成する電極に印加するように構成および適合されるACまたはRF電圧手段をさらに含む、請求項138〜144のいずれかに記載の質量分析計。   The mass spectrometer has at least some ions at least 1%, 5%, 10%, 15%, 20%, 25%, 30%, 35% of the axial length of the second ion guide or ion trap. Propel downstream and / or upstream along%, 40%, 45%, 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90%, 95% or 100% 138, further comprising AC or RF voltage means configured and adapted to apply two or more phase shift AC or RF voltages to the electrodes forming the second ion guide or ion trap. The mass spectrometer in any one of -144. 前記質量分析計は、前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの少なくとも一部を(i)>0.0001mbar、(ii)>0.001mbar、(iii)>0.01mbar、(iv)>0.1mbar、(v)>1mbar、(vi)>10mbar、(vii)>1mbar、(viii)0.0001〜100mbar、および(ix)0.001〜10mbarからなる群から選択される圧力に維持するように構成および適合される手段をさらに含む、請求項138〜145のいずれかに記載の質量分析計。   In the mass spectrometer, at least a part of the second ion guide or ion trap is (i)> 0.0001 mbar, (ii)> 0.001 mbar, (iii)> 0.01 mbar, (iv)> 0. To maintain a pressure selected from the group consisting of 1 mbar, (v)> 1 mbar, (vi)> 10 mbar, (vii)> 1 mbar, (viii) 0.0001-100 mbar, and (ix) 0.001-10 mbar 146. The mass spectrometer according to any of claims 138-145, further comprising means configured and adapted to. 前記質量分析計は、イオンを衝突誘起解離(「CID」)によってフラグメンテーションするように構成および適合される衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスをさらに含む、請求項133〜146のいずれかに記載の質量分析計。   147. Mass spectrometer according to any of claims 133-146, wherein the mass spectrometer further comprises a collision, fragmentation or reaction device configured and adapted to fragment ions by collision-induced dissociation ("CID"). . 前記質量分析計は、(i)表面誘起解離(「SID」)フラグメンテーションデバイス、(ii)電子移動解離フラグメンテーションデバイス、(iii)電子捕獲解離フラグメンテーションデバイス、(iv)電子衝突または衝撃解離フラグメンテーションデバイス、(v)光誘起解離(「PID」)フラグメンテーションデバイス、(vi)レーザ誘起解離フラグメンテーションデバイス、(vii)赤外放射誘起解離デバイス、(viii)紫外放射誘起解離デバイス、(ix)ノズル−スキマ間インターフェースフラグメンテーションデバイス、(x)インソースフラグメンテーションデバイス、(xi)イオン源衝突誘起解離フラグメンテーションデバイス、(xii)熱または温度源フラグメンテーションデバイス、(xiii)電界誘起フラグメンテーションデバイス、(xiv)磁場誘起フラグメンテーションデバイス、(xv)酵素消化または酵素分解フラグメンテーションデバイス、(xvi)イオン−イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xvii)イオン−分子反応フラグメンテーションデバイス、(xviii)イオン−原子反応フラグメンテーションデバイス、(xix)イオン−メタステーブルイオン反応フラグメンテーションデバイス、(xx)イオン−メタステーブル分子反応フラグメンテーションデバイス、(xxi)イオン−メタステーブル原子反応フラグメンテーションデバイス、(xxii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−イオン反応デバイス、(xxiii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−分子反応デバイス、(xxiv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−原子反応デバイス、(xxv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−メタステーブルイオン反応デバイス、(xxvi)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−メタステーブル分子反応デバイス、および(xxvii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−メタステーブル原子反応デバイスからなる群から選択される衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスをさらに含む、請求項133〜147のいずれかに記載の質量分析計。   The mass spectrometer comprises (i) a surface induced dissociation (“SID”) fragmentation device, (ii) an electron transfer dissociation fragmentation device, (iii) an electron capture dissociation fragmentation device, (iv) an electron collision or impact dissociation fragmentation device, v) photoinduced dissociation (“PID”) fragmentation device, (vi) laser induced dissociation fragmentation device, (vii) infrared radiation induced dissociation device, (viii) ultraviolet radiation induced dissociation device, (ix) nozzle-skim interface fragmentation A device, (x) an in-source fragmentation device, (xi) an ion source collision induced dissociation fragmentation device, (xii) a thermal or temperature source fragmentation device, (xiii) Electric field induced fragmentation device, (xiv) magnetic field induced fragmentation device, (xv) enzymatic digestion or enzymatic fragmentation device, (xvi) ion-ion reaction fragmentation device, (xvii) ion-molecule reaction fragmentation device, (xviii) ion-atom Reaction fragmentation device, (xix) ion-metastable ion reaction fragmentation device, (xx) ion-metastable molecular reaction fragmentation device, (xxi) ion-metastable atomic reaction fragmentation device, (xxii) reacting addition or Ion-ion reaction device to form product ions, (xxiii) Add ions by reacting. Is an ion-molecule reaction device for forming product ions, an ion-atom reaction device for reacting (xxiv) ions to form addition or product ions, and (xxv) reacting addition or product ions by reacting ions. An ion-metastable ion reaction device for forming, (xxvi) an ion-metastable molecular reaction device for reacting ions to form an addition or product ion, and (xxvii) an ion reacting addition or product ion 148. The mass spectrometer of any of claims 133-147, further comprising a collision, fragmentation or reaction device selected from the group consisting of ion-metastable atomic reaction devices to form. 前記質量分析計は、前記質量分析器のサイクル時間の間またはそれにわたって前記質量分析器と前記衝突、フラグメンテーションまたは反応セルとの間のポテンシャル差を漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成または適合される手段をさらに含む、請求項147または148に記載の質量分析計。   Whether the mass spectrometer progressively increases or decreases the potential difference between the mass analyzer and the collision, fragmentation or reaction cell during or over the mass analyzer cycle time Incrementally changing, scanning, linearly increasing, linearly decreasing, incrementally, incrementally or otherwise, incrementally, incrementally, or otherwise 149. The mass spectrometer of claim 147 or 148, further comprising means configured or adapted to reduce at 前記質量分析器の上流および/または下流に配置されるさらなる質量分析器をさらに含む、請求項133〜149のいずれかに記載の質量分析計。   150. A mass spectrometer as claimed in any of claims 133 to 149, further comprising a further mass analyzer disposed upstream and / or downstream of the mass analyzer. 前記さらなる質量分析器は、(i)フーリエ変換(「FT」)質量分析器、(ii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析器、(iii)飛行時間(「TOF」)質量分析器、(iv)直交加速飛行時間(「oaTOF」)質量分析器、(v)軸方向加速飛行時間質量分析器、(vi)扇形磁場質量分析計、(vii)ポールまたは3D四重極質量分析器、(viii)2Dまたは直線四重極質量分析器、(ix)ペニングトラップ質量分析器、(x)イオントラップ質量分析器、(xi)フーリエ変換オービトラップ、(xii)静電イオンサイクロトロン共鳴質量分析計、(xiii)静電フーリエ変換質量分析計、および(xiv)四重極ロッドセット質量フィルタまたは質量分析器からなる群から選択される、請求項150に記載の質量分析計。   The additional mass analyzers include: (i) a Fourier transform (“FT”) mass analyzer, (ii) a Fourier transform ion cyclotron resonance (“FTICR”) mass analyzer, and (iii) a time of flight (“TOF”) mass spectrometer. (Iv) orthogonal acceleration time-of-flight ("oaTOF") mass analyzer, (v) axial acceleration time-of-flight mass analyzer, (vi) sector magnetic mass spectrometer, (vii) pole or 3D quadrupole mass spectrometry (Viii) 2D or linear quadrupole mass analyzer, (ix) Penning trap mass analyzer, (x) ion trap mass analyzer, (xi) Fourier transform orbitrap, (xii) electrostatic ion cyclotron resonance mass Selected from the group consisting of an analyzer, (xiii) an electrostatic Fourier transform mass spectrometer, and (xiv) a quadrupole rod set mass filter or mass analyzer The mass spectrometer according to claim 150. 前記質量分析計は、前記質量分析器のサイクル時間の間またはそれにわたって前記質量分析器の動作と同期して、前記さらなる分析器の質量電荷比移送ウィンドウを漸進的に増加するか、漸進的に低減するか、漸進的に変更するか、スキャンするか、直線的に増加するか、直線的に低減するか、段階的、漸進的もしくは他のやり方で増加するか、または段階的、漸進的もしくは他のやり方で低減するように構成または適合される手段をさらに含む、請求項150または151に記載の質量分析計。   The mass spectrometer progressively increases or progressively increases the mass-to-charge ratio transfer window of the further analyzer in synchronism with the operation of the mass analyzer during or over the cycle time of the mass analyzer. Reduce, incrementally change, scan, increase linearly, decrease linearly, increase stepwise, incrementally or otherwise, stepwise, incrementally or 152. A mass spectrometer as claimed in claim 150 or 151, further comprising means configured or adapted to otherwise reduce. イオンを質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドを準備するステップと、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加して、複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするステップと、
イオンを前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って駆動または推進するステップと
第2のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加して、1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするステップであって、前記第2の振幅は、前記第1の振幅と異なる、ステップとを含む方法。
A method for mass spectrometry of ions comprising:
Providing an ion guide including a plurality of electrodes;
A first AC or RF voltage is applied to at least some of the plurality of electrodes such that a plurality of first axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are axial lengths of the ion guide. To be created along at least a portion of
Driving or propelling ions along at least a portion of the axial length of the ion guide, and applying a second AC or RF voltage to one or more of the plurality of electrodes, Allowing a second axial time average or pseudopotential barrier, corrugation or well to be created along at least a portion of the axial length of the ion guide, wherein the second amplitude is: Different from the first amplitude.
質量分析器であって、
開口を有する複数の電極を含むイオンガイドであって、使用時にイオンが前記開口を通って移送される、イオンガイドと、
イオンを前記イオンガイド内に半径方向に閉じ込めるために、第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加するための手段と、
第2の異なるACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加して、使用時に、1つ以上の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにする手段とを含む質量分析器。
A mass analyzer,
An ion guide comprising a plurality of electrodes having openings, wherein ions are transported through said openings in use;
Means for applying a first AC or RF voltage to one or more of the plurality of electrodes to confine ions radially within the ion guide;
A second, different AC or RF voltage is applied to one or more of the plurality of electrodes, and in use, one or more axial time-average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are in the axis of the ion guide. Means for generating along at least a portion of the directional length.
イオンを質量分析する方法であって、
開口を有する複数の電極を含むイオンガイドであって、イオンが前記開口を通って移送される、イオンガイドを準備するステップと、
イオンを前記イオンガイド内に半径方向に閉じ込めるために、第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加するステップと、
第2の異なるACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの1つ以上に印加して、1つ以上の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするステップとを含む方法。
A method for mass spectrometry of ions comprising:
Providing an ion guide comprising a plurality of electrodes having openings, wherein ions are transported through the openings;
Applying a first AC or RF voltage to one or more of the plurality of electrodes to confine ions radially within the ion guide;
A second different AC or RF voltage is applied to one or more of the plurality of electrodes such that one or more axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells are axial lengths of the ion guide. Creating along at least a portion of.
質量分析器であって、
複数の電極を含むイオンガイドであって、前記複数の電極は、開口を有する電極を含み、使用時にイオンが前記開口を通って移送される、イオンガイドと、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加して、軸方向に隣り合うグループの電極に前記第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相が供給されるようにするための手段であって、使用時に、第1の振幅を有する複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成される、手段と、
1つ以上の軸方向に隣り合うグループの電極に印加される前記第1のACまたはRF電圧の極性を反転して、使用時に、第2の振幅を有する1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするための手段であって、前記第2の振幅は、前記第1の振幅と異なる、手段とを含む質量分析器。
A mass analyzer,
An ion guide comprising a plurality of electrodes, the plurality of electrodes comprising an electrode having an opening, wherein ions are transported through the opening in use;
A first AC or RF voltage is applied to at least some of the plurality of electrodes, such that opposite phases of the first AC or RF voltage are applied to an axially adjacent group of electrodes. A plurality of first axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells having a first amplitude in at least a portion of the axial length of the ion guide in use. Created along with the means,
One or more second axial times having a second amplitude in use by inverting the polarity of the first AC or RF voltage applied to one or more axially adjacent groups of electrodes. Means for causing an average or pseudopotential barrier, corrugation or well to be created along at least a portion of the axial length of the ion guide, wherein the second amplitude is the first amplitude A mass analyzer comprising means different from the amplitude.
各電極グループは、1、2、3、4、5、6、7、8、9、10または>10個の電極を含む、請求項156に記載の質量分析器。   156. The mass spectrometer of claim 156, wherein each electrode group includes 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, or> 10 electrodes. イオンを質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドであって、前記複数の電極は、開口を有する電極を含み、イオンが前記開口を通って移送される、イオンガイドを準備するステップと、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加して、軸方向に隣り合うグループの電極に前記第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相が供給されるようにするステップであって、第1の振幅を有する複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成される、ステップと、
1つ以上の軸方向に隣り合うグループの電極に印加される前記第1のACまたはRF電圧の極性を反転して、第2の振幅を有する1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするステップであって、前記第2の振幅は、前記第1の振幅と異なる、ステップとを含む方法。
A method for mass spectrometry of ions comprising:
Providing an ion guide including a plurality of electrodes, wherein the plurality of electrodes includes an electrode having an opening, and ions are transported through the opening;
A first AC or RF voltage is applied to at least some of the plurality of electrodes, such that opposite phases of the first AC or RF voltage are applied to an axially adjacent group of electrodes. A plurality of first axial time averages or pseudopotential barriers, corrugations or wells having a first amplitude are created along at least a portion of the axial length of the ion guide. , Steps and
Reversing the polarity of the first AC or RF voltage applied to one or more axially adjacent groups of electrodes to produce one or more second axial time averages or pseudo-values having a second amplitude. Causing a potential barrier, corrugation or well to be created along at least a portion of the axial length of the ion guide, wherein the second amplitude is different from the first amplitude; And a method comprising.
質量分析器であって、
複数の電極を含むイオンガイドであって、前記複数の電極は、開口を有する電極を含み、使用時にイオンが前記開口を通って移送される、イオンガイドと、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加して、軸方向に隣り合う電極または軸方向に隣り合うグループの電極に前記第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相が供給されるようにするための手段であって、使用時に、第1の振幅を有する複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成される、手段と、
イオンを前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って駆動または推進するために1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形を前記複数の電極に印加するための手段と、
1対の軸方向に隣り合う電極または1対の軸方向に隣り合うグループの電極に印加される前記第1のACまたはRF電圧の極性を反転して、使用時に、第2の振幅を有する1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするため手段であって、前記第2の振幅は、前記第1の振幅と異なる、手段と
前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸の振幅を漸進的に低減するために、前記第1のACまたはRF電圧の振幅を直線的に、段階的に、または他のやり方で漸進的に低減するための手段とを含む質量分析器。
A mass analyzer,
An ion guide comprising a plurality of electrodes, the plurality of electrodes comprising an electrode having an opening, wherein ions are transported through the opening in use;
A first AC or RF voltage is applied to at least some of the plurality of electrodes, and the first AC or RF voltage is opposite to each other in an axially adjacent electrode or an axially adjacent group of electrodes. A plurality of first axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells having a first amplitude in use in the axial direction of the ion guide. Means created along at least part of the length;
One or more transient DC voltages or potentials or one or more transient DC voltages or potential waveforms are applied to the plurality of electrodes to drive or propel ions along at least a portion of the axial length of the ion guide. Means for
The polarity of the first AC or RF voltage applied to a pair of axially adjacent electrodes or a pair of axially adjacent groups of electrodes is inverted to have a second amplitude in use. Means for causing two or more second axial time-average or pseudopotential barriers, corrugations or wells to be created along at least a portion of the axial length of the ion guide; And the first amplitude is different from the first amplitude to progressively reduce the amplitude of the means and the one or more second axial time averages or pseudopotential barriers, waveform shapes or wells. A mass analyzer comprising means for reducing the amplitude of the AC or RF voltage linearly, stepwise or otherwise progressively.
前記第1のACまたはRF電圧の振幅を漸進的に低減するための手段は、前記第1のACまたはRF電圧の振幅をx12ボルトだけ期間t12にわたり漸進的に低減するように構成される、請求項159に記載の質量分析器。 The means for progressively reducing the amplitude of the first AC or RF voltage is configured to progressively reduce the amplitude of the first AC or RF voltage over a period t 12 by x 12 volts. 159. A mass spectrometer according to claim 159. 前記x12は、(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜550Vピークトゥピーク、(xxii)550〜600Vピークトゥピーク、(xxiii)600〜650Vピークトゥピーク、(xxiv)650〜700Vピークトゥピーク、(xxv)700〜750Vピークトゥピーク、(xxvi)750〜800Vピークトゥピーク、(xxvii)800〜850Vピークトゥピーク、(xxviii)850〜900Vピークトゥピーク、(xxix)900〜950Vピークトゥピーク、(xxx)950〜1000Vピークトゥピーク、および(xxxi)>1000Vピークトゥピークからなる群から選択される、請求項160に記載の質量分析器。 Wherein x 12 is, (i) <50V peak-to-peak, (ii) 50 to 100 peak-to-peak, (iii) 100~150V peak-to-peak, (iv) 150~200V peak-to-peak, (v) 200~250V Peak-to-peak, (vi) 250-300V peak-to-peak, (vii) 300-350V peak-to-peak, (viii) 350-400V peak-to-peak, (ix) 400-450V peak-to-peak, (x) 450-500V Peak-to-peak, (xi) 500-550V peak-to-peak, (xxii) 550-600V peak-to-peak, (xxiii) 600-650V peak-to-peak, (xxiv) 650-700V peak-to-peak, (xxv) 700-750V Peak to peak, (xxvi) 75 ~ 800V peak-to-peak, (xxvii) 800-850V peak-to-peak, (xxviii) 850-900V peak-to-peak, (xxix) 900-950V peak-to-peak, (xxx) 950-1000V peak-to-peak, and (xxxi) 165. The mass analyzer of claim 160, selected from the group consisting of> 1000V peak to peak. 前記t12は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(Xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項160または161に記載の質量分析器。 The t 12 is (i) <1 ms, (ii) 1-10 ms, (iii) 10-20 ms, (iv) 20-30 ms, (v) 30-40 ms, (vi) 40-50 ms, (vii) 50 -60 ms, (viii) 60-70 ms, (ix) 70-80 ms, (x) 80-90 ms, (xi) 90-100 ms, (xii) 100-200 ms, (xiii) 200-300 ms, (xiv) 300- 400 ms, (xv) 400-500 ms, (xvi) 500-600 ms, (xvii) 600-700 ms, (xviii) 700-800 ms, (xix) 800-900 ms, (Xx) 900-1000 ms, (xxi) 1-2 s , (Xxii) 2-3 s, (xxiii) 3-4 s, (xxiv) 4-5 s, and (xxv)> 5 s It is selected from the mass analyzer of claim 160 or 161. イオンを質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドであって、前記複数の電極は、開口を有する電極を含み、イオンが前記開口を通って移送される、イオンガイドを準備するステップと、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加して、軸方向に隣り合う電極または軸方向に隣り合うグループの電極に前記第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相が供給されるようにするステップであって、第1の振幅を有する複数の第1の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成される、ステップと、
イオンを前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って駆動または推進するために1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形を前記複数の電極に印加するステップと、
1対の軸方向に隣り合う電極または1対の軸方向に隣り合うグループの電極に印加される前記第1のACまたはRF電圧の極性を反転して、第2の振幅を有する1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成されるようにするステップであって、前記第2の振幅は、前記第1の振幅と異なる、ステップと
前記1つ以上の第2の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸の振幅を漸進的に低減するために、前記第1のACまたはRF電圧の振幅を直線的に、段階的に、または他のやり方で漸進的に低減するステップとを含む方法。
A method for mass spectrometry of ions comprising:
Providing an ion guide including a plurality of electrodes, wherein the plurality of electrodes includes an electrode having an opening, and ions are transported through the opening;
A first AC or RF voltage is applied to at least some of the plurality of electrodes, and the first AC or RF voltage is opposite to each other in an axially adjacent electrode or an axially adjacent group of electrodes. A plurality of first axial time-average or pseudo-potential barriers, corrugations or wells having a first amplitude are at least one of the axial lengths of the ion guides. A step created along the section,
One or more transient DC voltages or potentials or one or more transient DC voltages or potential waveforms are applied to the plurality of electrodes to drive or propel ions along at least a portion of the axial length of the ion guide. And steps to
One or more having a second amplitude by inverting the polarity of the first AC or RF voltage applied to a pair of axially adjacent electrodes or a pair of axially adjacent groups of electrodes Causing a second axial time average or pseudopotential barrier, corrugation or well to be created along at least a portion of the axial length of the ion guide, wherein the second amplitude is: Steps different from the first amplitude and the first AC or RF voltage to progressively reduce the amplitude of the one or more second axial time-averaged or pseudopotential barriers, waveform shapes or wells. Reducing the amplitude of the linearly, stepwise, or otherwise incrementally.
イオンガイドまたは質量分析器であって、
複数の電極と、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極に印加して、少なくともいくつかの電極が、使用時に、前記第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相に維持されるようにするための手段と、
使用時に、前記イオンガイドまたは質量分析器の軸方向長さの少なくとも一部に沿って軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁を作成するために、1つ以上の電極の位相差または極性を変更、切り換え、変化またはスキャンするための手段とを含むイオンガイドまたは質量分析器。
An ion guide or mass analyzer,
A plurality of electrodes;
Means for applying a first AC or RF voltage to the plurality of electrodes such that at least some of the electrodes are maintained in opposite phases of the first AC or RF voltage in use. When,
In use, change or switch the phase difference or polarity of one or more electrodes to create an axial time average or pseudopotential barrier along at least a portion of the axial length of the ion guide or mass analyzer An ion guide or mass analyzer, including means for changing or scanning.
前記1つ以上の電極の位相差または極性を変更、切り換え、または変化するための手段は、前記位相差または極性をθ°だけ変更、切り換え、変化またはスキャンするように構成され、前記θは、(i)<10、(ii)10〜20、(iii)20〜30、(iv)30〜40、(v)40〜50、(vi)50〜60、(vii)60〜70、(viii)70〜80、(ix)80〜90、(x)90、(xi)90〜100、(xii)100〜110、(xiii)110〜120、(xiv)120〜130、(xv)130〜140、(xvi)140〜150、(xvii)150〜160、(xviii)160〜170、(xix)170〜180、および(xx)180からなる群から選択される、請求項164に記載のイオンガイドまたは質量分析器。   The means for changing, switching or changing the phase difference or polarity of the one or more electrodes is configured to change, switch, change or scan the phase difference or polarity by θ °, where θ is (I) <10, (ii) 10-20, (iii) 20-30, (iv) 30-40, (v) 40-50, (vi) 50-60, (vii) 60-70, (viii) ) 70-80, (ix) 80-90, (x) 90, (xi) 90-100, (xii) 100-110, (xiii) 110-120, (xiv) 120-130, (xv) 130- 166. The method of claim 164, selected from the group consisting of 140, (xvi) 140-150, (xvii) 150-160, (xviii) 160-170, (xix) 170-180, and (xx) 180. Ion guide or mass analyzer. イオンをガイドまたは質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドまたは質量分析器を準備するステップと、
第1のACまたはRF電圧を前記複数の電極に印加して、少なくともいくつかの電極が前記第1のACまたはRF電圧の互いに反対の位相に維持されるようにするステップと、
前記イオンガイドまたは質量分析器の軸方向長さの少なくとも一部に沿って軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁を作成するために、1つ以上の電極の位相差または極性を変更、切り換え、変化またはスキャンするステップとを含む方法。
A method for guiding or mass spectrometry of ions comprising:
Providing an ion guide or mass analyzer comprising a plurality of electrodes;
Applying a first AC or RF voltage to the plurality of electrodes such that at least some of the electrodes are maintained in opposite phases of the first AC or RF voltage;
Change, switch, change or change the phase difference or polarity of one or more electrodes to create an axial time average or pseudopotential barrier along at least a portion of the axial length of the ion guide or mass analyzer. And a step of scanning.
前記1つ以上の電極の位相差または極性を変更、切り換え、または変化するステップは、前記位相差または極性をθ°だけ変更、切り換え、変化またはスキャンするステップを含み、前記θは、(i)<10、(ii)10〜20、(iii)20〜30、(iv)30〜40、(v)40〜50、(vi)50〜60、(vii)60〜70、(viii)70〜80、(ix)80〜90、(x)90、(xi)90〜100、(xii)100〜110、(xiii)110〜120、(xiv)120〜130、(xv)130〜140、(xvi)140〜150、(xvii)150〜160、(xviii)160〜170、(xix)170〜180、および(xx)180からなる群から選択される、請求項166に記載の方法。   Changing, switching, or changing the phase difference or polarity of the one or more electrodes includes changing, switching, changing, or scanning the phase difference or polarity by θ °, where θ is (i) <10, (ii) 10-20, (iii) 20-30, (iv) 30-40, (v) 40-50, (vi) 50-60, (vii) 60-70, (viii) 70- 80, (ix) 80-90, (x) 90, (xi) 90-100, (xii) 100-110, (xiii) 110-120, (xiv) 120-130, (xv) 130-140, 166. The method of claim 166, selected from the group consisting of xvi) 140-150, (xvii) 150-160, (xviii) 160-170, (xix) 170-180, and (xx) 180. Law. イオンガイドまたは質量分析器であって、
複数の電極と、
n−位相ACまたはRF電圧を前記複数の電極に印加するための手段であって、前記n≧2である、手段と、
前記複数の電極の間の、そこでの、またはそれらの第1の位相関係または第1のアスペクト比を維持するための手段と、
使用時に、1つ以上の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸を前記イオンガイドまたは質量分析器の軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成するために、前記複数の電極のサブセットの間の、そこでの、またはそれらの位相関係またはアスペクト比を変化させて、前記電極サブセットの間の、そこでの、またはそれらの第2の異なる位相関係または第2のアスペクト比が維持されるようにするための手段とを含むイオンガイドまたは質量分析器。
An ion guide or mass analyzer,
A plurality of electrodes;
means for applying an n-phase AC or RF voltage to the plurality of electrodes, wherein the n ≧ 2.
Means for maintaining a first phase relationship or a first aspect ratio between or at the plurality of electrodes;
In use, in order to create one or more axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells along at least a portion of the axial length of the ion guide or mass analyzer, Varying the phase relationship or aspect ratio between, there or their subsets to maintain a second, different phase relationship or second aspect ratio between, or between the electrode subsets An ion guide or a mass analyzer.
前記nは、(i)2、(ii)3、(iii)4、(iv)5、(v)6、(vi)7、(vii)8、(viii)9、(ix)10、および(x)>10からなる群から選択される、請求項168に記載のイオンガイドまたは質量分析器。   N is (i) 2, (ii) 3, (iii) 4, (iv) 5, (v) 6, (vi) 7, (vii) 8, (viii) 9, (ix) 10, and 169. The ion guide or mass analyzer of claim 168, selected from the group consisting of (x)> 10. 前記第1の位相関係または第1のアスペクト比は、第1の周期、パターン、シーケンスまたは値を有し、かつ前記第2の位相関係または第2のアスペクト比は、第2の異なる周期、パターン、シーケンスまたは値を有する、請求項168または169に記載のイオンガイドまたは質量分析器。   The first phase relationship or first aspect ratio has a first period, pattern, sequence or value, and the second phase relationship or second aspect ratio has a second different period, pattern 170. The ion guide or mass analyzer of claim 168 or 169, having a sequence or value. イオンをガイドまたは質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドまたは質量分析器を準備するステップと、
n−位相ACまたはRF電圧を前記複数の電極に印加するステップであって、前記n≧2である、ステップと、
前記複数の電極の間の、そこでの、またはそれらの第1の位相関係または第1のアスペクト比を維持するステップと、
1つ以上の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸を前記イオンガイドまたは質量分析器の軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成するために、前記複数の電極のサブセットの間の、そこでの、またはそれらの位相関係またはアスペクト比を変化させて、前記電極サブセットの間の、そこでの、またはそれらの第2の異なる位相関係または第2のアスペクト比が維持されるようにするステップとを含む方法。
A method for guiding or mass spectrometry of ions comprising:
Providing an ion guide or mass analyzer comprising a plurality of electrodes;
applying an n-phase AC or RF voltage to the plurality of electrodes, wherein n ≧ 2.
Maintaining a first phase relationship or a first aspect ratio between or at the plurality of electrodes;
Between the subsets of the plurality of electrodes to create one or more axial time-averaged or pseudopotential barriers, corrugations or wells along at least a portion of the axial length of the ion guide or mass analyzer Changing the phase relationship or aspect ratio thereof, or so that the second different phase relationship or second aspect ratio there between or between the electrode subsets is maintained. And a method comprising:
イオンガイドまたは質量分析器であって、
複数の電極と、
n−位相ACまたはRF電圧を前記複数の電極に印加するための手段であって、前記n≧2である、手段と、
使用時に、1つ以上の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸を前記イオンガイドまたは質量分析器の軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成するために、前記複数の電極のうちの1つ以上の電極の位相またはアスペクト比をスキャンするための手段とを含むイオンガイドまたは質量分析器。
An ion guide or mass analyzer,
A plurality of electrodes;
means for applying an n-phase AC or RF voltage to the plurality of electrodes, wherein the n ≧ 2.
In use, in order to create one or more axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells along at least a portion of the axial length of the ion guide or mass analyzer, Means for scanning the phase or aspect ratio of one or more of the electrodes.
イオンをガイドまたは質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドまたは質量分析器を準備するステップと、
n−位相ACまたはRF電圧を前記複数の電極に印加するステップであって、前記n≧2である、ステップと、
使用時に、1つ以上の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形形状もしくは井戸を前記イオンガイドまたは質量分析器の軸方向長さの少なくとも一部に沿って作成するために、前記複数の電極のうちの1つ以上の電極の位相またはアスペクト比をスキャンするステップとを含む方法。
A method for guiding or mass spectrometry of ions comprising:
Providing an ion guide or mass analyzer comprising a plurality of electrodes;
applying an n-phase AC or RF voltage to the plurality of electrodes, wherein n ≧ 2.
In use, in order to create one or more axial time average or pseudopotential barriers, corrugations or wells along at least a portion of the axial length of the ion guide or mass analyzer, Scanning the phase or aspect ratio of one or more of the electrodes.
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