JP2009294541A - Image forming apparatus and control method for the same - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an image forming apparatus which corrects potential unevenness generated when a photoreceptor drum is charged, in an image forming position as well as a position where the image is not formed at high speed, and to provide a control method for the image forming apparatus. <P>SOLUTION: The image forming apparatus corrects the exposure amount in an exposure device so that the potential unevenness caused by exposure of the charged photoreceptor and the potential unevenness in non-exposure. In addition, the potential unevenness in the exposure and the potential unevenness in the non-exposure are measured in a region obtained by dividing the surface of the photoreceptor drum into a plurality of regions. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、感光体をレーザビームで走査する機器に関し、特に電子写真方式の複写機や、レーザビームプリンタなどの画像形成装置及びその制御方法に関するものである。   The present invention relates to an apparatus for scanning a photosensitive member with a laser beam, and more particularly to an image forming apparatus such as an electrophotographic copying machine or a laser beam printer, and a control method thereof.

電子写真方式の画像形成装置は、原稿画像を複写する機能、コンピュータで作成した電子画像を用紙上に可視画像として印刷する機能、FAXとして画像の送受信を行う機能等を有する画像入出力装置として家庭、オフィス、軽印刷分野で広く活用されている。このように画像出力を可能とする電子写真技術は、以下のような仕組みで用紙上に可視画像を形成している。まず、感光ドラムを均一に帯電させ、当該感光ドラムに対して画像に応じたレーザ光を照射する。続いて、例えばレーザ光照射された部分のみをトナーで現像するプロセスの場合、画像に応じたトナー画像が感光ドラム上に形成される。この感光ドラムのトナー画像を用紙上に転写して、定着器にて用紙上のトナーを、圧力と温度とを加えて用紙上に定着させることで永久可視画像を形成している。この一連の動作を高精度に制御することで、例えば、原稿画像と同等である高画質な複写画像を作成することが可能となる。   An electrophotographic image forming apparatus is an image input / output apparatus having a function of copying a document image, a function of printing a computer-generated electronic image as a visible image on paper, a function of transmitting / receiving an image as a FAX, and the like. Widely used in the office and light printing fields. The electrophotographic technology that enables image output in this way forms a visible image on a sheet by the following mechanism. First, the photosensitive drum is uniformly charged, and the photosensitive drum is irradiated with laser light corresponding to the image. Subsequently, for example, in the case of a process of developing only a portion irradiated with laser light with toner, a toner image corresponding to the image is formed on the photosensitive drum. The toner image on the photosensitive drum is transferred onto a sheet, and a permanent visible image is formed by fixing the toner on the sheet on the sheet by applying pressure and temperature with a fixing device. By controlling this series of operations with high accuracy, for example, a high-quality copy image equivalent to a document image can be created.

しかし、上述の仕組みで高画質な画像を作成するためには感光ドラムを均一に帯電する必要がある。なぜなら、感光ドラムが均一に帯電されず、感光ドラム面の部分によって帯電電位が異なると、例えば用紙全域にハーフトーン画像を印刷した場合に電位ムラによりハーフトーン画像濃度が一定した高画質画像とならないからである。つまり、高画質画像を作成するためには、感光ドラムにおける電位ムラの発生を抑制するか又は発生した電位ムラを補正する必要がある。   However, in order to create a high-quality image with the above-described mechanism, it is necessary to uniformly charge the photosensitive drum. This is because if the photosensitive drum is not uniformly charged and the charging potential varies depending on the surface of the photosensitive drum, for example, when a halftone image is printed over the entire area of the paper, a high-quality image with a constant halftone image density is not obtained due to potential unevenness. Because. That is, in order to create a high-quality image, it is necessary to suppress the occurrence of potential unevenness on the photosensitive drum or to correct the generated potential unevenness.

例えば、感光ドラムを−500Vで均一に帯電し、感光ドラムの電位を測定すると、どの部分であっても−500Vであることが必要となる。しかし、感光ドラムの特性として全面にわたり帯電特性を同等にするには、生産技術的に非常に困難であり、現状では電位ムラが発生してしまう。この問題を解決するために例えば、特許文献1では、感光ドラム全面の2次元的な電位を測定する仕組みが提案されている。また、特許文献2では、電位ムラの特性に応じて、帯電電位を変える仕組みが提案されている。さらに、特許文献3では、電位ムラの特性に応じて、画像に応じたレーザ発光時のレーザ光量を変える仕組みが提案されている。
特開平05−165295号公報 特開2002−207350号公報 特開2004−223716号公報
For example, when the photosensitive drum is uniformly charged at −500 V and the potential of the photosensitive drum is measured, it is necessary to be −500 V at any portion. However, it is very difficult in terms of production technology to equalize the charging characteristics over the entire surface as the characteristics of the photosensitive drum, and potential unevenness occurs at present. In order to solve this problem, for example, Patent Document 1 proposes a mechanism for measuring a two-dimensional potential on the entire surface of the photosensitive drum. Patent Document 2 proposes a mechanism for changing the charging potential according to the potential unevenness characteristic. Furthermore, Patent Document 3 proposes a mechanism for changing the amount of laser light at the time of laser emission corresponding to an image in accordance with the characteristic of potential unevenness.
JP 05-165295 A JP 2002-207350 A JP 2004-223716 A

しかしながら、従来技術においては、以下に記載する問題がある。例えば、感光ドラムの2次元的な電位ムラや感度ムラを測定し、その測定結果に応じて帯電電位を変える方式の場合、感光ドラムを帯電させる際に必要となる高圧発生回路の応答性や帯電器又は感光ドラムの応答性により高速な帯電電位の補正が困難である。一方、レーザ素子及び駆動回路は高速な応答性を実現することが可能であり、画像に応じたレーザ発光時に、感光ドラムの電位ムラ測定結果に応じて光量を変えることで感光ドラムの電位ムラを補正することが可能である。しかし、画像データの無い部分の感光ドラムの電位ムラを補正することはできない。この画像データの無い部分の感光ドラムの電位ムラは、トナー現像時に現像しない部分ではあるが、装置のプロセス特性によっては、意図しない画像領域外の部分に微小なトナーが現像されてしまうカブリといった現象を発生させる。さらに、画像エッジ部分であるレーザ光で露光した部分と露光しない部分の電位差が領域ごとに異なることでトナーを現像した場合のエッジの先鋭さの違いにより、例えば文字エッジ部分のかすれといった現象が発生してしまう。   However, the conventional techniques have the following problems. For example, when measuring the two-dimensional potential unevenness and sensitivity unevenness of the photosensitive drum and changing the charging potential according to the measurement result, the response and charging of the high voltage generation circuit required for charging the photosensitive drum It is difficult to correct the charged potential at high speed due to the responsiveness of the charger or the photosensitive drum. On the other hand, the laser element and the drive circuit can realize high-speed responsiveness, and the potential unevenness of the photosensitive drum can be reduced by changing the light amount according to the measurement result of the potential unevenness of the photosensitive drum at the time of laser emission corresponding to the image. It is possible to correct. However, it is impossible to correct the potential unevenness of the photosensitive drum in a portion where there is no image data. The unevenness of the potential of the photosensitive drum where there is no image data is a portion that is not developed at the time of toner development, but depending on the process characteristics of the apparatus, a phenomenon such as fog in which a minute toner is developed in an unintended portion outside the image area. Is generated. Furthermore, due to the difference in the potential difference between the image edge part exposed with the laser beam and the non-exposed part for each region, a phenomenon such as blurring of the character edge part occurs due to the difference in edge sharpness when developing toner. Resulting in.

本発明は、上述の問題に鑑みて成されたものであり、感光ドラムを帯電した際に発生する電位ムラのうち、画像形成位置だけでなく、画像形成されない位置の電位ムラを高速に補正する画像形成装置及びその制御方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and corrects at high speed not only the image forming position but also the potential non-image forming position among the potential unevenness generated when the photosensitive drum is charged. An object of the present invention is to provide an image forming apparatus and a control method thereof.

本発明は、例えば、像担持体と、像担持体を帯電させる帯電手段と、帯電させた像担持体に対して、画像データに応じた光量で露光する露光手段と、露光により像担持体に形成される静電潜像をトナーにより現像する現像手段とを備える画像形成装置として実現できる。画像形成装置は、像担持体の表面を複数の領域に分割した分割領域において、帯電させた像担持体に対して露光手段により露光した状態の第1電位及び露光していない状態の第2電位を測定する測定手段と、測定された第1電位に基づいて、形成する画像の画像データに従った露光位置の電位ムラを解消すべく、露光位置に対する露光量を補正する第1補正手段と、測定された第2電位に基づいて、画像データに従った非露光位置の電位ムラを解消すべく、非露光位置に対する露光量を補正する第2補正手段とを備えることを特徴とする。   The present invention includes, for example, an image carrier, a charging unit that charges the image carrier, an exposure unit that exposes the charged image carrier with a light amount according to image data, and an image carrier that is exposed to light. It can be realized as an image forming apparatus including a developing unit that develops the formed electrostatic latent image with toner. The image forming apparatus includes a first potential in a state where the charged image carrier is exposed by an exposure unit and a second potential in an unexposed state in a divided region obtained by dividing the surface of the image carrier into a plurality of regions. Measuring means for measuring the first correction means for correcting the exposure amount with respect to the exposure position in order to eliminate the potential unevenness of the exposure position according to the image data of the image to be formed based on the measured first potential; And a second correction unit that corrects an exposure amount with respect to the non-exposure position based on the measured second potential in order to eliminate potential unevenness at the non-exposure position according to the image data.

また、本発明は、像担持体と、像担持体を帯電させる帯電手段と、帯電させた像担持体に対して、画像データに応じた光量で露光する露光手段と、露光により像担持体に形成される静電潜像をトナーにより現像する現像手段とを備える画像形成装置の制御方法として実現できる。制御方法は、像担持体の表面を複数の領域に分割した分割領域において、帯電させた像担持体に対して露光手段により露光した状態の第1電位及び露光していない状態の第2電位を測定する測定ステップと、測定された第1電位に基づいて、形成する画像の画像データに従った露光位置の電位ムラを解消すべく、露光位置に対する露光量を補正する第1補正ステップと、測定された第2電位に基づいて、画像データに従った非露光位置の電位ムラを解消すべく、非露光位置に対する露光量を補正する第2補正ステップとを含むことを特徴とする。   The present invention also provides an image carrier, a charging unit that charges the image carrier, an exposure unit that exposes the charged image carrier with a light amount corresponding to image data, and an image carrier by exposure. This can be realized as a control method of an image forming apparatus including a developing unit that develops the formed electrostatic latent image with toner. In the control method, in the divided region obtained by dividing the surface of the image carrier into a plurality of regions, the first potential in a state where the charged image carrier is exposed by the exposure means and the second potential in a state where the image carrier is not exposed are set. A measurement step for measuring, a first correction step for correcting the exposure amount with respect to the exposure position in order to eliminate potential unevenness at the exposure position according to the image data of the image to be formed, based on the measured first potential, and measurement And a second correction step of correcting the exposure amount with respect to the non-exposure position so as to eliminate the potential unevenness at the non-exposure position according to the image data based on the second potential.

本発明は、例えば、感光ドラムを帯電した際に発生する電位ムラのうち、画像形成位置だけでなく、画像形成されない位置の電位ムラを高速に補正する画像形成装置及びその制御方法を提供できる。   The present invention can provide, for example, an image forming apparatus and a control method therefor that can rapidly correct potential unevenness not only at an image forming position but also at a position where no image is formed, among potential unevenness generated when a photosensitive drum is charged.

以下に本発明の一実施形態を示す。以下で説明される個別の実施形態は、本発明の上位概念、中位概念及び下位概念など種々の概念を理解するために役立つであろう。また、本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲によって確定されるのであって、以下の個別の実施形態によって限定されるわけではない。   An embodiment of the present invention is shown below. The individual embodiments described below will help to understand various concepts, such as superordinate concepts, intermediate concepts and subordinate concepts of the present invention. Further, the technical scope of the present invention is determined by the scope of the claims, and is not limited by the following individual embodiments.

<第1の実施形態>
<画像形成装置の構成>
以下では、図1乃至図7、及び図18を参照して、第1の実施形態について説明する。図1は、第1の実施形態に係る画像形成装置における一部のハードウェア構成を示す図である。101は、像担持体である感光ドラムを示し、一次帯電器102により所定の例えば−700Vの帯電電圧で帯電される。103はレーザ走査光を示す。レーザ走査光103は、図中の手前から奥に向かって感光ドラム101の軸方向に走査される。104は電位センサを示し、感光ドラム101の帯電電圧を測定する測定器である。
<First Embodiment>
<Configuration of image forming apparatus>
The first embodiment will be described below with reference to FIGS. 1 to 7 and FIG. FIG. 1 is a diagram illustrating a partial hardware configuration of the image forming apparatus according to the first embodiment. Reference numeral 101 denotes a photosensitive drum as an image carrier, which is charged by the primary charger 102 at a predetermined charging voltage of −700 V, for example. Reference numeral 103 denotes laser scanning light. The laser scanning light 103 is scanned in the axial direction of the photosensitive drum 101 from the front to the back in the drawing. Reference numeral 104 denotes a potential sensor, which is a measuring device that measures the charging voltage of the photosensitive drum 101.

ここで、レーザ光を走査光に変換する仕組みについて説明をする。105は半導体レーザを示し、画像データに応じてレーザ光を生成する。106は、ポリゴンミラーを示し、半導体レーザ105からのレーザ光をドラム軸方向の走査光に変換する。107は、fθレンズを示し、感光ドラム101の画像領域dgで、レーザスポットの焦点が合うように走査光を光学的に補正する。109、は、BDセンサを示し、ポリゴンミラー106のレーザ照射面でのレーザ光走査光を検知して、主走査の基準信号であるBD信号110を生成する。   Here, a mechanism for converting laser light into scanning light will be described. Reference numeral 105 denotes a semiconductor laser, which generates laser light according to image data. Reference numeral 106 denotes a polygon mirror, which converts laser light from the semiconductor laser 105 into scanning light in the drum axis direction. Reference numeral 107 denotes an fθ lens, which optically corrects the scanning light so that the laser spot is focused on the image region dg of the photosensitive drum 101. Reference numeral 109 denotes a BD sensor, which detects the laser beam scanning light on the laser irradiation surface of the polygon mirror 106 and generates a BD signal 110 that is a reference signal for main scanning.

画像形成の際には、まず、感光ドラム101を均一に帯電し、感光ドラム101に対して画像に応じてレーザ光を照射する。これにより、感光ドラム101上に静電潜像が形成される。この静電潜像をトナーによって現像することにより、画像に応じたトナー画像が感光ドラム101上に形成される。この形成されたトナー画像を用紙上に転写し、定着器にて用紙上のトナーを、圧力と温度とを加えて用紙上に定着させることで永久可視画像を作成している。   When forming an image, first, the photosensitive drum 101 is uniformly charged, and the photosensitive drum 101 is irradiated with laser light according to the image. Thereby, an electrostatic latent image is formed on the photosensitive drum 101. By developing the electrostatic latent image with toner, a toner image corresponding to the image is formed on the photosensitive drum 101. The formed toner image is transferred onto a sheet, and a permanent visible image is created by fixing the toner on the sheet on the sheet by applying pressure and temperature with a fixing device.

しかし、一次帯電器102によって感光ドラム101を均一に帯電した際に電位ムラが発生することにより、形成した画像品質が低下するという問題がある。また、この電位ムラは、感光ドラム101の全体で発生する。つまり、画像形成位置(トナーで現像する位置)だけでなく、画像形成が行われない位置(トナーで現像しない位置)でも電位ムラが発生してしまう。したがって、従来から行われているように、画像形成位置の電位ムラを改善したとしても、画像カブリや画像エッジ部分のかすれといった問題が発生してしまう。そこで、本実施形態に係る画像形成装置は、さらに画像品質を向上させるために、感光ドラム101上で発生する電位ムラを、画像形成位置だけでなく、画像形成が行われない位置についても低減させることにより、画像品質を向上させる。   However, when the photosensitive drum 101 is uniformly charged by the primary charger 102, there is a problem that the formed image quality is deteriorated due to generation of potential unevenness. Further, this potential unevenness occurs in the entire photosensitive drum 101. That is, potential unevenness occurs not only at the image formation position (position where development is performed with toner) but also at a position where image formation is not performed (position where development is not performed using toner). Therefore, as is conventionally done, even if the potential unevenness at the image forming position is improved, problems such as image fogging and blurring of the image edge occur. Therefore, in order to further improve the image quality, the image forming apparatus according to the present embodiment reduces potential unevenness generated on the photosensitive drum 101 not only at the image forming position but also at a position where no image formation is performed. This improves the image quality.

感光ドラム101の電位ムラを測定する場合、まず、感光ドラム101を帯電が安定する所定回転数で回転させ、一次帯電器102によって例えば−700Vとなるように帯電させる。電位センサ104は、主走査方向の任意位置に移動可能に配置されている。そこで、感光ドラム101の2次元面について、例えば主走査5ブロック、副走査10ブロックの50ブロックの電位を測定したい場合には、主走査のあるブロック位置に電位センサ104を移動させる。その後、当該ブロックを副走査10ブロック分測定する。この動作を、主走査の各ブロックについて行えば2次元面の50ブロック全ての感光ドラム101における帯電電位を測定することができる。このように、本実施形態に係る画像形成装置では、感光ドラムの表面を複数の領域に分割した分割領域において、当該表面電位を測定する。さらには、レーザ点灯時(露光位置)の電位ムラについては、感光ドラム101を一次帯電器102によって帯電させ、半導体レーザ105によって画像領域dgについて所定の露光量で露光を行い、上述と同様の測定動作を実行することで測定できる。   When measuring the potential unevenness of the photosensitive drum 101, first, the photosensitive drum 101 is rotated at a predetermined rotational speed at which charging is stabilized, and is charged by the primary charger 102 to −700 V, for example. The potential sensor 104 is movably disposed at an arbitrary position in the main scanning direction. Therefore, for example, when it is desired to measure the potential of 50 blocks of the main scanning 5 blocks and the sub-scanning 10 blocks on the two-dimensional surface of the photosensitive drum 101, the potential sensor 104 is moved to a block position where the main scanning is performed. Thereafter, the block is measured for 10 sub-scanning blocks. If this operation is performed for each block of main scanning, the charged potentials on the photosensitive drums 101 of all 50 blocks on the two-dimensional surface can be measured. As described above, in the image forming apparatus according to the present embodiment, the surface potential is measured in a divided region obtained by dividing the surface of the photosensitive drum into a plurality of regions. Further, regarding the potential unevenness when the laser is turned on (exposure position), the photosensitive drum 101 is charged by the primary charger 102, the image area dg is exposed by the semiconductor laser 105 at a predetermined exposure amount, and the same measurement as described above is performed. It can be measured by executing the operation.

<電位ムラの測定方法>
次に、図2A及び図2Bを参照して、感光ドラム101の2次元面の測定方式について説明する。図2Aは、第1の実施形態に係る感光ドラムの周辺の構成例を示す図である。
<Measurement method of potential unevenness>
Next, with reference to FIGS. 2A and 2B, a method for measuring the two-dimensional surface of the photosensitive drum 101 will be described. FIG. 2A is a diagram illustrating a configuration example of the periphery of the photosensitive drum according to the first embodiment.

201はドラム駆動モータであり、感光ドラム101をダイレクトに駆動する。通常、モータから感光ドラム101の回転軸まではギヤやベルトを介して減速させ駆動を行うが、感光ドラム101の軸上でギヤピッチの回転ムラやベルト噛み合いピッチの回転ムラが発生する。これにより、画像においてもピッチムラによる濃度ムラが発生する場合もあるため、ダイレクト駆動にするほうが望ましい。   A drum driving motor 201 directly drives the photosensitive drum 101. Normally, the motor to the rotating shaft of the photosensitive drum 101 is driven while being decelerated via a gear or a belt. However, uneven rotation of the gear pitch or uneven rotation of the belt meshing pitch occurs on the shaft of the photosensitive drum 101. As a result, density unevenness due to pitch unevenness may also occur in the image, so it is desirable to use direct drive.

207はドラムHP(ホームポジション)センサであり、感光ドラム101の画像領域外に設けられたHPマーク208を検知するための反射型のセンサである。このドラムHPセンサ207は感光ドラムの回転位相の原点を示す信号を生成する。よって、感光ドラム101は、ドラム駆動モータ201により所定の一定回転速度で駆動されているため、ドラムHPセンサ207からの信号の出力時間を測定することで、感光ドラム101の2次元面の副走査方向の位置を知ることができる。   Reference numeral 207 denotes a drum HP (home position) sensor, which is a reflective sensor for detecting the HP mark 208 provided outside the image area of the photosensitive drum 101. The drum HP sensor 207 generates a signal indicating the origin of the rotational phase of the photosensitive drum. Therefore, since the photosensitive drum 101 is driven at a predetermined constant rotational speed by the drum drive motor 201, the sub-scan of the two-dimensional surface of the photosensitive drum 101 is measured by measuring the output time of the signal from the drum HP sensor 207. You can know the position of the direction.

202は電位センサ104を主走査方向に移動させるための駆動源であるステッピングモータである。ステッピングモータ202の駆動軸を反時計方向(CCW)に回転させると電位センサ104は主走査方向111側に移動する。ステッピングモータ202の駆動軸を時計方向(CW)に回転させると電位センサ104は主走査方向のCW方向に移動する。   A stepping motor 202 is a drive source for moving the potential sensor 104 in the main scanning direction. When the drive shaft of the stepping motor 202 is rotated counterclockwise (CCW), the potential sensor 104 moves to the main scanning direction 111 side. When the drive shaft of the stepping motor 202 is rotated clockwise (CW), the potential sensor 104 moves in the CW direction of the main scanning direction.

205は電位センサのHPセンサであり、透過型のフォトインタラプタである。フォトインタラプタ205がHPフラグ206を検知すると、主走査方向の画像領域dg以外の所定基準位置で電位センサ104の移動が停止される。   Reference numeral 205 denotes an HP sensor as a potential sensor, which is a transmissive photo interrupter. When the photo interrupter 205 detects the HP flag 206, the movement of the potential sensor 104 is stopped at a predetermined reference position other than the image area dg in the main scanning direction.

感光ドラム101の電位ムラを測定する場合は、電位ムラを検知したい主走査位置にステッピングモータ202によって電位センサ104を移動させる。測定開始前には、確実に電位センサ104を基準位置に移動させるホームポジション動作が行われる。この動作は、ステッピングモータ202により電位センサ104を移動させ、CCW回転時のフォトインタラプタ205がHPフラグ206を検知した状態でモータを停止することで確実に電位センサ104が基準位置で停止している状態にすることができる。   When measuring the potential unevenness of the photosensitive drum 101, the potential sensor 104 is moved by the stepping motor 202 to the main scanning position where the potential unevenness is to be detected. Before starting the measurement, a home position operation for reliably moving the potential sensor 104 to the reference position is performed. In this operation, the potential sensor 104 is moved by the stepping motor 202, and the potential sensor 104 is reliably stopped at the reference position by stopping the motor while the photo interrupter 205 detects the HP flag 206 during CCW rotation. Can be in a state.

その基準位置から主走査方向に所定距離移動させるためには、ステッピングモータ202を距離に応じたパルス数分だけ駆動させることで実現できる。ステッピングモータ202の動作としては、1パルスの駆動パルスで例えば駆動軸が0.36度回転する特性を有する。本実施形態による電位センサ104の移動機構では、モータ駆動軸に取り付けられたギヤの回転角度に応じて電位センサ104が移動するため、ステッピングモータ202の回転数、回転角度に応じて電位センサ104が移動する距離が確定する。よって、主走査方向のフォトインタラプタ205から複数の電位測定ポイントの距離を予め定め、距離に応じたステッピングモータ202の回転数、回転角度に応じた駆動パルス数を予め算出することで、主走査方向の任意位置の電位を測定することができる。   The predetermined distance in the main scanning direction from the reference position can be realized by driving the stepping motor 202 by the number of pulses corresponding to the distance. The operation of the stepping motor 202 has a characteristic that, for example, the drive shaft rotates 0.36 degrees with one drive pulse. In the moving mechanism of the potential sensor 104 according to this embodiment, since the potential sensor 104 moves according to the rotation angle of the gear attached to the motor drive shaft, the potential sensor 104 changes according to the rotation speed and rotation angle of the stepping motor 202. The distance traveled is fixed. Therefore, the distance between the plurality of potential measurement points from the photo interrupter 205 in the main scanning direction is determined in advance, and the number of rotations of the stepping motor 202 corresponding to the distance and the number of drive pulses corresponding to the rotation angle are calculated in advance, thereby The potential at any position can be measured.

図2Bは、第1の実施形態に係る感光ドラムにおける1周分の電位ムラの測定方法を説明するための図である。感光ドラム101をダイレクトに駆動するドラム駆動モータ201はエンコーダが内蔵され、そのエンコーダからモータ駆動軸の回転速度、位相情報が出力される。ドラム駆動モータ201は、それらの速度、位相情報に応じてモータの駆動軸が一定回転になるように制御される。ダイレクトドライブモータであるためにモータ駆動軸と感光ドラム軸はダイレクトに接続されているので感光ドラム101は常に一定回転速度、一定位相になる。基準位置からのドラム面上の副走査方向の移動距離D(mm)は、基準位置であるHPマーク208をドラムHPセンサ207が検知してから所定のドラム回転速度V(mm/sec)と基準位置信号からの時間t(sec)を乗算することにより求められる。   FIG. 2B is a diagram for explaining a method of measuring potential unevenness for one rotation in the photosensitive drum according to the first embodiment. The drum driving motor 201 that directly drives the photosensitive drum 101 includes an encoder, and the rotation speed and phase information of the motor driving shaft are output from the encoder. The drum drive motor 201 is controlled so that the motor drive shaft rotates at a constant rotation according to the speed and phase information. Since the motor drive shaft and the photosensitive drum shaft are directly connected because of the direct drive motor, the photosensitive drum 101 always has a constant rotational speed and a constant phase. The movement distance D (mm) in the sub-scanning direction on the drum surface from the reference position is a predetermined drum rotation speed V (mm / sec) and a reference after the HP mark 208 is detected by the drum HP sensor 207. It is obtained by multiplying the time t (sec) from the position signal.

D(mm)=V(mm/sec)×t(sec)………(1)
よって、基準位置から副走査方向の任意位置での時間は、
t(sec)=D(mm)/V(mm/sec)………(2)
となる。したがって、基準位置からの感光ドラム101の副走査方向の所定位置D(mm)の電位ムラは、基準信号から式(2)で求めたt(sec)後に電位センサ104にて感光ドラム101の電位をサンプリングすればよい。
D (mm) = V (mm / sec) × t (sec) (1)
Therefore, the time from the reference position to an arbitrary position in the sub-scanning direction is
t (sec) = D (mm) / V (mm / sec) (2)
It becomes. Therefore, the potential unevenness at the predetermined position D (mm) in the sub-scanning direction of the photosensitive drum 101 from the reference position is the potential of the photosensitive drum 101 by the potential sensor 104 after t (sec) obtained from the reference signal by the equation (2). Should be sampled.

221は感光ドラム101の基準位置を基準として2次元面に展開した様子を示す。224は主走査方向を示し、225は副走査方向を示す。220は基準位置を示す。ここでは、感光ドラム101の2次元面を主走査方向について1〜5のアドレスの5領域、副走査方向についてA〜Jのアドレスの10領域に分割し、2次元面として1A〜5Jまでの50領域に分割している。   Reference numeral 221 denotes a state where the reference position of the photosensitive drum 101 is developed on a two-dimensional surface. 224 indicates the main scanning direction, and 225 indicates the sub-scanning direction. Reference numeral 220 denotes a reference position. Here, the two-dimensional surface of the photosensitive drum 101 is divided into five regions with addresses 1 to 5 in the main scanning direction and 10 regions with addresses A to J in the sub-scanning direction, and 50 as 1A to 5J as two-dimensional surfaces. It is divided into areas.

上述したように、ここでは、感光ドラム101における電位ムラの測定方法について示したが、電位ムラを測定する代わりに、予め測定した電位ムラ情報を予め記憶しておいてもよい。予め測定したドラム電位ムラ情報の取得方法の一例を図18に示す。   As described above, the method for measuring the potential unevenness in the photosensitive drum 101 has been described here. However, instead of measuring the potential unevenness, previously measured potential unevenness information may be stored in advance. An example of a method for acquiring previously measured drum potential unevenness information is shown in FIG.

図18は、予め測定した電位ムラ情報の取得方法を示す図である。1801は、感光ドラム101に貼付されたバーコードを示す。バーコード1801は、感光ドラム101の識別情報を保持する。この識別情報を用いて電位ムラ情報がいずれの感光ドラムに対応する情報であるかを識別することができる。   FIG. 18 is a diagram illustrating a method of acquiring potential unevenness information measured in advance. Reference numeral 1801 denotes a barcode attached to the photosensitive drum 101. The bar code 1801 holds identification information of the photosensitive drum 101. Using this identification information, it is possible to identify which photosensitive drum the potential unevenness information corresponds to.

具体的には、感光ドラム101における電位ムラのデータを測定すると、バーコードリーダ1802でドラム識別情報が読み込まれ、この識別情報と共に電位ムラ情報がデータサーバ1803に格納される。その後、画像形成装置100にドラムを組み込む際にドラムに貼り付けられたバーコード1807をバーコードリーダ1808が読み込み、データサーバ1803からLAN1804を介して、対応する電位ムラ情報を取得し、画像形成装置100に格納される。以上のような仕組みにより、予め測定した電位ムラ情報を取得し、容易に電位ムラ補正を実行することができる。   Specifically, when potential unevenness data on the photosensitive drum 101 is measured, drum identification information is read by the barcode reader 1802, and potential unevenness information is stored in the data server 1803 together with this identification information. Thereafter, the barcode reader 1808 reads the barcode 1807 attached to the drum when the drum is incorporated into the image forming apparatus 100, acquires the corresponding potential unevenness information from the data server 1803 via the LAN 1804, and the image forming apparatus. 100. With the mechanism described above, potential unevenness information measured in advance can be acquired, and potential unevenness correction can be easily performed.

図3A及び図3Bは、感光ドラムの2次元面の電位ムラを測定した結果を示す図である。図3Aの301は、感光ドラム101を550Vに帯電させ、レーザ光を走査しない場合のドラム2次元面の副走査アドレスD、Hにおける主走査方向の電位ムラを示す。横軸302、306はドラム2次元面の主走査アドレスを示している。縦軸305は、測定したドラム電位(V)を示す。また、308はレーザ駆動電流量を示す。   3A and 3B are diagrams showing the results of measuring the potential unevenness on the two-dimensional surface of the photosensitive drum. Reference numeral 301 in FIG. 3A indicates potential unevenness in the main scanning direction at the sub-scanning addresses D and H on the two-dimensional surface of the drum when the photosensitive drum 101 is charged to 550 V and laser light is not scanned. Horizontal axes 302 and 306 indicate main scanning addresses of the two-dimensional drum surface. The vertical axis 305 indicates the measured drum potential (V). Reference numeral 308 denotes a laser drive current amount.

半導体レーザ105の特性として、レーザ発光の基準電流Ithを有しており、Ith320以下の電流ではLED発光領域、Ith以上の電流ではレーザ発光領域という特性を示す。つまり、ドラム2次元面の主走査のアドレス全域にわたりレーザ駆動電流307がIth320以下となっているため、半導体レーザ105はレーザ発光を行わない。したがって、図3Aでは、感光ドラム101がレーザ光で露光されない状態での測定結果となる。   As a characteristic of the semiconductor laser 105, it has a reference current Ith of laser emission, and shows a characteristic of an LED emission region at a current of Ith320 or less and a laser emission region at a current of Ith or more. That is, since the laser drive current 307 is equal to or less than Ith320 over the entire main scanning address on the two-dimensional drum surface, the semiconductor laser 105 does not emit laser light. Therefore, in FIG. 3A, the measurement result is obtained when the photosensitive drum 101 is not exposed to the laser beam.

この状態で、感光ドラム101の帯電感度が2次元面全域にわたり同一であれば、550Vで帯電を行えばドラム2次元面の全領域で帯電電圧は550Vであり、電位センサの測定結果も550Vである。しかし、帯電感度ムラがあると、例えばドラム2次元面の副走査アドレスDでの測定結果303では、主走査アドレス1で520V、主走査アドレス3で550Vといったように領域によって帯電特性が異なる。この特性は2次元面の領域ごとに異なり、例えば、ドラム2次元面の副走査アドレスHでの測定結果304では、主走査アドレス1で500V、主走査アドレス3で520Vといったように領域によって異なる。   In this state, if the charging sensitivity of the photosensitive drum 101 is the same over the entire two-dimensional surface, if charging is performed at 550 V, the charging voltage is 550 V over the entire two-dimensional surface of the drum, and the measurement result of the potential sensor is also 550 V. is there. However, if there is uneven charging sensitivity, for example, in the measurement result 303 at the sub-scanning address D on the two-dimensional surface of the drum, the charging characteristics differ depending on the region, such as 520 V at the main scanning address 1 and 550 V at the main scanning address 3. This characteristic is different for each region of the two-dimensional surface. For example, in the measurement result 304 at the sub-scanning address H of the drum two-dimensional surface, it varies depending on the region, such as 500 V for the main scanning address 1 and 520 V for the main scanning address 3.

図3Bの309は、感光ドラム101を550Vに帯電させ、レーザ光を走査させた場合のドラム2次元面の副走査アドレスC、Hにおける主走査方向の電位ムラを示す。横軸310、314はドラム2次元面の主走査アドレスを示す。縦軸313は、測定したドラム電位(V)を示す。また、縦軸316はレーザ駆動電流量を示す。   Reference numeral 309 in FIG. 3B indicates potential unevenness in the main scanning direction at the sub-scanning addresses C and H on the two-dimensional surface of the drum when the photosensitive drum 101 is charged to 550 V and laser light is scanned. Horizontal axes 310 and 314 indicate main scanning addresses of the two-dimensional drum surface. The vertical axis 313 indicates the measured drum potential (V). The vertical axis 316 indicates the amount of laser drive current.

半導体レーザ105の特性として、レーザ発光の基準電流Ithを有しており、Ith320以下の電流ではLED発光領域、Ith以上の電流ではレーザ発光領域という特性を示す。つまり、ドラム2次元面の主走査のアドレス全域にわたりレーザ駆動電流315はIth320以上となっているため、レーザ発光が行われ感光ドラム101がレーザ光で露光される。   As a characteristic of the semiconductor laser 105, it has a reference current Ith of laser emission, and shows a characteristic of an LED emission region at a current of Ith320 or less and a laser emission region at a current of Ith or more. That is, since the laser drive current 315 is equal to or greater than Ith320 over the entire main scanning address on the two-dimensional surface of the drum, laser light emission is performed and the photosensitive drum 101 is exposed with the laser light.

この状態で、感光ドラム101の帯電感度が2次元面全域にわたり同一であれば、例えば200V均一であり、電位センサの測定結果も200Vである。しかし、帯電感度ムラがあると、例えばドラム2次元面の副走査アドレスCでの測定結果311では、主走査アドレス1で170V、主走査アドレス3で200Vといったように領域によって帯電特性が異なる。この特性は2次元面の領域ごとに異なり、例えば、ドラム2次元面の副走査アドレスHでの測定結果312では、主走査アドレス1で150V、主走査アドレス3で165Vといったように領域によって異なる。   In this state, if the charging sensitivity of the photosensitive drum 101 is the same over the entire two-dimensional plane, for example, 200V is uniform, and the measurement result of the potential sensor is also 200V. However, if there is uneven charging sensitivity, for example, in the measurement result 311 at the sub-scanning address C on the two-dimensional surface of the drum, the charging characteristics differ depending on the region, such as 170 V for the main scanning address 1 and 200 V for the main scanning address 3. This characteristic is different for each region of the two-dimensional surface. For example, in the measurement result 312 at the sub-scanning address H of the drum two-dimensional surface, it varies depending on the region, such as 150 V for the main scanning address 1 and 165 V for the main scanning address 3.

よって、感光ドラム101を所定電位で帯電させ、レーザ発光あり時のドラム2次元面の電位測定、レーザ発光無し時のドラム2次元面の電位測定を行うことで、レーザ発光を行わない場合の電位ムラ特性も測定することができる。   Accordingly, the photosensitive drum 101 is charged with a predetermined potential, and the potential of the two-dimensional surface of the drum when laser light is emitted is measured, and the potential of the two-dimensional surface of the drum when no laser light is emitted is measured. Unevenness characteristics can also be measured.

<電位ムラの補正方法>
図4A及び図4Bは、第1の実施形態に係る感光ドラムのレーザ非露光部における電位ムラ補正を示す図である。図4Aの401はドラム2次元面の副走査アドレスDにおける画像データが無くレーザ非点灯部分(非露光位置)であるドラム電位(第2電位)ムラの補正方法を示す。横軸403、407は、ドラム2次元面での主走査アドレスを示す。縦軸402は測定したドラム電位(V)を示す。また、縦軸406はレーザ駆動電流を示す。ここで、404は、感光ドラム101を550Vで帯電させレーザ非点灯時の測定結果を示す。つまり、Ith以下であるレーザ駆動電流409の場合の測定結果である。
<Correction method for potential unevenness>
4A and 4B are diagrams illustrating potential unevenness correction in the laser non-exposed portion of the photosensitive drum according to the first embodiment. Reference numeral 401 in FIG. 4A shows a method for correcting drum potential (second potential) unevenness which is a laser non-lighting portion (non-exposure position) without image data at the sub-scanning address D on the two-dimensional drum surface. Horizontal axes 403 and 407 indicate main scanning addresses on the two-dimensional drum surface. The vertical axis 402 represents the measured drum potential (V). The vertical axis 406 represents the laser drive current. Reference numeral 404 denotes a measurement result when the photosensitive drum 101 is charged at 550 V and the laser is not lit. That is, it is a measurement result in the case of a laser drive current 409 that is equal to or less than Ith.

感光ドラム101の特性としては、当該感光ドラム101上をレーザ光で露光することで帯電電位が低下する特性であり、レーザ光量に応じて電位低下量が決定される。本実施形態によれば、レーザ非点灯時である感光ドラム101における2次元面の電位を全て測定した後、測定結果の最低電圧、ここでは500Vに感光ドラム101の電位を合わせるようにレーザ駆動電流を増大させる。これにより、レーザ非点灯時の電位ムラを解消することができる。即ち、500V以上の電位ムラを有している領域に微小なレーザ光を露光することにより電位を500Vに補正する。   The characteristic of the photosensitive drum 101 is a characteristic in which the charged potential is lowered by exposing the photosensitive drum 101 with laser light, and the amount of potential reduction is determined according to the amount of laser light. According to this embodiment, after measuring all the potentials of the two-dimensional surface of the photosensitive drum 101 when the laser is not lit, the laser driving current is set so that the potential of the photosensitive drum 101 is adjusted to the lowest voltage of the measurement result, here, 500V. Increase. Thereby, potential unevenness when the laser is not turned on can be eliminated. That is, the potential is corrected to 500 V by exposing a minute laser beam to a region having potential unevenness of 500 V or more.

したがって、ドラム2次元面の電位ムラデータに応じてレーザを微小発光させるべく、画像データに従った非レーザ発光領域であっても、Ith以上の補正電流408でレーザをレーザ発光領域にて駆動する。これにより、電位ムラを含む測定結果404を、500V均一の帯電電位405のように補正することができる。   Therefore, in order to cause the laser to emit a small amount of light according to the potential unevenness data on the two-dimensional drum surface, the laser is driven in the laser emission region with a correction current 408 equal to or greater than Ith even in the non-laser emission region according to the image data. . As a result, the measurement result 404 including the potential unevenness can be corrected like a 500V uniform charging potential 405.

図4Bの410はドラム2次元面の副走査アドレスHにおける画像データが無くレーザ非点灯部分であるドラム電位ムラの補正方法を示す。横軸412、416はドラム2次元面での主走査アドレスを示す。縦軸411は測定したドラム電位を示す。また、縦軸415はレーザ駆動電流を示す。ここで、414は、感光ドラム101を550Vで帯電させレーザ非点灯時の測定結果を示す。つまり、Ith以下であるレーザ駆動電流418の場合の測定結果である。   Reference numeral 410 in FIG. 4B denotes a method for correcting drum potential unevenness in which there is no image data at the sub-scanning address H on the two-dimensional drum surface, which is a laser non-lighting portion. The horizontal axes 412 and 416 indicate main scanning addresses on the two-dimensional drum surface. The vertical axis 411 represents the measured drum potential. The vertical axis 415 indicates the laser drive current. Here, reference numeral 414 denotes a measurement result when the photosensitive drum 101 is charged at 550 V and the laser is not lit. That is, it is a measurement result in the case of the laser drive current 418 that is equal to or less than Ith.

図4Aと同様に、レーザ非点灯時の感光ドラム101における2次元面の電位を全て測定した後、測定結果の最低電圧、ここでは500Vに感光ドラム101の電位を合わせるようにレーザ駆動電流を補正する。即ち、レーザ駆動電流を増大させる。   Similar to FIG. 4A, after all the potentials of the two-dimensional surface of the photosensitive drum 101 when the laser is not turned on are measured, the laser driving current is corrected so that the potential of the photosensitive drum 101 is adjusted to the lowest voltage of the measurement result, here 500V. To do. That is, the laser drive current is increased.

したがって、ドラム2次元面の電位ムラデータに応じてレーザを微小発光させるべく、画像データに従った非レーザ発光領域であっても、Ith以上の補正電流417でレーザを駆動する。これにより、電位ムラを含む測定結果414を、500V均一の帯電電位413のように補正することができる。このように、図4A及び図4Bの電位ムラの補正方法は、第2補正手段における制御の一例である。   Therefore, the laser is driven with a correction current 417 equal to or greater than Ith even in the non-laser emission region according to the image data so that the laser emits a minute amount of light according to the potential unevenness data on the two-dimensional drum surface. As a result, the measurement result 414 including the potential unevenness can be corrected like a 500V uniform charging potential 413. 4A and 4B is an example of the control in the second correction unit.

また、レーザ光による電位ムラの補正方法としては、予め測定した電位ムラを保存したメモリ等から、ドラム2次元面のレーザ非点灯時の電位ムラデータを読み出して、電位ムラを補正してもよい。この場合、例えば、レーザ光での露光量に応じて電位が低下するドラム特性であるため、最低電位を基準に、最低電位からの電位ムラ量に応じてレーザ発光光量を求めることが望ましい。また、2次元の各々の領域について、帯電電位を500Vにするために、所定の1領域についてレーザ電流を段階的に増加させ、電位センサ104によって読み取られた電位が500Vとなったレーザ電流を、当該領域についての補正量としてもよい。   As a method for correcting the potential unevenness due to the laser light, the potential unevenness may be corrected by reading out the potential unevenness data when the laser on the two-dimensional surface of the drum is not lit from a memory or the like storing the potential unevenness measured in advance. . In this case, for example, since the drum characteristic is such that the potential decreases according to the exposure amount with the laser beam, it is desirable to obtain the laser light emission amount according to the amount of potential unevenness from the minimum potential with reference to the minimum potential. In addition, in order to set the charging potential to 500 V for each of the two-dimensional regions, the laser current is increased stepwise for a predetermined region, and the laser current read by the potential sensor 104 becomes 500 V. A correction amount for the region may be used.

図5A及び図5Bは、第1の実施形態に係る感光ドラムのレーザ露光部における電位ムラ補正を示す図である。図5Aの501はドラム2次元面の副走査アドレスCにおける画像データが有りレーザ点灯部分(露光位置)であるドラム電位(第1電位)ムラの補正方法を示す。横軸503、507は、ドラム2次元面での主走査アドレスを示す。縦軸502は測定したドラム電位を示す。また、縦軸506はレーザ駆動電流を示す。ここで、504は、感光ドラム101を550Vで帯電させた後のレーザ点灯時の測定結果を示す。つまり、Ith以下であるレーザ駆動電流508の場合の測定結果である。   5A and 5B are diagrams illustrating potential unevenness correction in the laser exposure unit of the photosensitive drum according to the first embodiment. Reference numeral 501 in FIG. 5A indicates a method for correcting drum potential (first potential) unevenness, which has image data at the sub-scanning address C on the two-dimensional surface of the drum and is a laser lighting portion (exposure position). Horizontal axes 503 and 507 indicate main scanning addresses on the two-dimensional drum surface. The vertical axis 502 indicates the measured drum potential. The vertical axis 506 represents the laser drive current. Here, reference numeral 504 denotes a measurement result at the time of laser lighting after the photosensitive drum 101 is charged at 550V. That is, it is a measurement result in the case of a laser drive current 508 that is equal to or less than Ith.

本実施形態によれば、レーザ点灯時である感光ドラム101における2次元面の電位を全て測定した後、測定結果の最高電圧、ここでは200Vに感光ドラム101の電位を合わせるようにレーザ駆動電流を補正する。即ち、200V以下の電位ムラを有している領域において、レーザ光量を減少させることにより全てのドラム面のレーザ点灯時の電位を200Vに補正する。これにより、レーザ点灯時の電位ムラを解消することができる。   According to this embodiment, after all the potentials of the two-dimensional surface of the photosensitive drum 101 at the time of laser lighting are measured, the laser drive current is set so that the potential of the photosensitive drum 101 is adjusted to the highest voltage of the measurement result, here 200V. to correct. In other words, in the region having the potential unevenness of 200 V or less, the laser light potential on all the drum surfaces is corrected to 200 V by reducing the laser light quantity. Thereby, potential unevenness at the time of laser lighting can be eliminated.

したがって、ドラム2次元面の電位ムラデータに応じてレーザの光量補正を行うべく、レーザ発光領域において補正電流509でレーザを駆動する。これにより、電位ムラを含む測定結果505を、200V均一の帯電電位504のように補正することができる。   Therefore, the laser is driven with the correction current 509 in the laser emission region in order to correct the laser light amount in accordance with the potential unevenness data on the two-dimensional drum surface. As a result, the measurement result 505 including the potential unevenness can be corrected like a charging potential 504 having a uniform voltage of 200V.

図5Bの510はドラム2次元面の副走査アドレスHにおける画像データが有りレーザ点灯部分であるドラム電位ムラの補正方法を示す。横軸512、516はドラム2次元面での主走査アドレスを示す。縦軸511は測定したドラム電位を示す。また、縦軸515はレーザ駆動電流を示す。ここで、514は、感光ドラム101を550Vで帯電させレーザ非点灯時の測定結果を示す。つまり、Ith以下であるレーザ駆動電流517の場合の測定結果である。   Reference numeral 510 in FIG. 5B shows a method for correcting drum potential unevenness, which has image data at the sub-scanning address H on the two-dimensional drum surface and is a laser lighting portion. Horizontal axes 512 and 516 indicate main scanning addresses on the two-dimensional surface of the drum. The vertical axis 511 represents the measured drum potential. The vertical axis 515 indicates the laser drive current. Here, reference numeral 514 denotes a measurement result when the photosensitive drum 101 is charged at 550 V and the laser is not turned on. That is, it is a measurement result in the case of the laser drive current 517 that is equal to or less than Ith.

図5Aと同様に、レーザ点灯時の感光ドラム101における2次元面の電位を全て測定した後、測定結果の最高電圧、ここでは200Vに感光ドラム101の電位を合わせるようにレーザ光量を下げる。即ち、レーザ駆動電流を減少させる。   Similarly to FIG. 5A, after all the potentials of the two-dimensional surface of the photosensitive drum 101 at the time of laser lighting are measured, the laser light quantity is lowered so that the potential of the photosensitive drum 101 is adjusted to the highest voltage of the measurement result, here 200V. That is, the laser drive current is reduced.

したがって、ドラム2次元面の電位ムラデータに応じてレーザの光量補正を行うべく、レーザ発光領域において補正電流518でレーザを駆動する。これにより、電位ムラを含む測定結果514を、200V均一の帯電電位513のように補正することができる。このように、図5A及び図5Bの電位ムラの補正方法は、第1補正手段における制御の一例である。   Accordingly, the laser is driven with the correction current 518 in the laser emission region in order to correct the laser light amount according to the potential unevenness data of the two-dimensional drum surface. As a result, the measurement result 514 including the potential unevenness can be corrected like a 200 V uniform charging potential 513. As described above, the potential unevenness correction method of FIGS. 5A and 5B is an example of control in the first correction unit.

また、レーザ光による電位ムラの補正方法としては、予め測定した電位ムラを保存したメモリ等から、ドラム2次元面のレーザ点灯時の電位ムラデータを読み出して、電位ムラを補正してもよい。この場合、例えば、レーザ光での露光量に応じて電位が低下するドラム特性であるため、最高電位を基準に、最高電位からの電位ムラ量に応じてレーザ発光光量を求めることが望ましい。また、2次元の各々の領域について、帯電電位を200Vにするために、各領域でレーザ点灯時のレーザ電流量を求めても良い。具体的には、電位ムラの測定結果が、200Vよりも低い領域についてレーザ電流を段階的に上げていき、電位センサ104によって読み取られた電位が200Vとなったレーザ電流を、その領域についての補正量としてもよい。   As a method for correcting potential unevenness due to laser light, potential unevenness may be corrected by reading out potential unevenness data at the time of laser lighting of the two-dimensional drum surface from a memory or the like that stores previously measured potential unevenness. In this case, for example, since the drum characteristic is such that the potential decreases according to the exposure amount with the laser beam, it is desirable to obtain the laser light emission amount according to the amount of potential unevenness from the maximum potential with reference to the maximum potential. Further, in each two-dimensional region, in order to set the charging potential to 200 V, the laser current amount at the time of laser lighting in each region may be obtained. Specifically, the laser current is increased stepwise in a region where the measurement result of potential unevenness is lower than 200V, and the laser current whose potential read by the potential sensor 104 becomes 200V is corrected for that region. It may be an amount.

<レーザ駆動部>
図6は、第1の実施形態に係るレーザ駆動部の構成例を示す図である。従来の画像形成装置に用いられてきたレーザ駆動部としては、半導体レーザへのIth以下のバイアス電流制御部と、当該バイアス電流に加算した電流を制御し、レーザ発光量を制御する駆動電流制御部の構成であった。しかし、本実施形態に係るレーザ駆動部3は、2つの駆動電流制御部を備え、画像データに応じて何れの駆動電流制御部を用いるかを決定する。
<Laser drive unit>
FIG. 6 is a diagram illustrating a configuration example of the laser driving unit according to the first embodiment. As a laser drive unit that has been used in a conventional image forming apparatus, a bias current control unit that is equal to or less than Ith to a semiconductor laser, and a drive current control unit that controls a current added to the bias current and controls a laser emission amount. It was the composition of. However, the laser drive unit 3 according to this embodiment includes two drive current control units, and determines which drive current control unit is used according to image data.

図6の601は画像信号に応じたLaser_ON信号である。Laser_ON信号601が“L”であると、スイッチ608がONされ、スイッチ609はOFFとなる。したがって、電流設定電圧VL603に応じた電流量で定電流制御される定電流回路607に流れる電流iL(mA)とバイアス電流ib(mA)の加算された電流量であるib+iL(mA)がカレントミラー回路610に流れる。この場合、半導体レーザ105に流れる電流iP(mA)は同電流に制御されるためiP(mA)=ib+iL(mA)に制御される。   Reference numeral 601 in FIG. 6 denotes a Laser_ON signal corresponding to the image signal. When the Laser_ON signal 601 is “L”, the switch 608 is turned on and the switch 609 is turned off. Therefore, the current amount ib + iL (mA), which is the sum of the current iL (mA) and the bias current ib (mA) flowing in the constant current circuit 607 controlled at a constant current according to the current setting voltage VL603, is the current mirror. The circuit 610 flows. In this case, since the current iP (mA) flowing through the semiconductor laser 105 is controlled to the same current, iP (mA) = ib + iL (mA).

Laser_ON信号601が“H”であると、スイッチ609がONされ、スイッチ608はOFFとなる。したがって、電流設定電圧VD604に応じた電流量で定電流制御される定電流回路612に流れる電流iD(mA)とバイアス電流ib(mA)の加算された電流量であるib+iD(mA)がカレントミラー回路610に流れる。この場合、半導体レーザ105に流れる電流iP(mA)は同電流に制御されるためiP(mA)=ib+iD(mA)に制御される。   When the Laser_ON signal 601 is “H”, the switch 609 is turned on and the switch 608 is turned off. Therefore, ib + iD (mA), which is the sum of the current iD (mA) and the bias current ib (mA) flowing through the constant current circuit 612 controlled at a constant current according to the current setting voltage VD604, is the current mirror. The circuit 610 flows. In this case, since the current iP (mA) flowing through the semiconductor laser 105 is controlled to the same current, iP (mA) = ib + iD (mA).

ここで、電流iLを設定する電流設定電圧VL603は、上述したレーザOFF時のドラム電位ムラに応じた補正電流量に対する電圧が設定される。さらにその補正電圧は、上述のドラムHPからの回転位相に応じて、逐次そのドラムの位相でのレーザOFF時のドラム電位ムラ量に応じた電圧が設定される。よって、画像データに応じてレーザOFFとなる領域においても、本実施形態では、レーザ駆動電流をドラムの電位ムラ特性に応じて制御することが可能となる。   Here, the current setting voltage VL603 for setting the current iL is set to a voltage corresponding to the correction current amount corresponding to the drum potential unevenness when the laser is turned off. Further, as the correction voltage, a voltage corresponding to the drum potential unevenness amount at the time of laser OFF at the phase of the drum is sequentially set according to the rotation phase from the drum HP. Therefore, even in a region where the laser is turned off according to the image data, in this embodiment, the laser driving current can be controlled according to the potential unevenness characteristic of the drum.

また、電流iDを設定する電流設定電圧VD604は、上述したレーザON時のドラム電位ムラに応じた補正電流量に対する電圧が設定される。さらにその補正電圧は、上述のドラムHPからの回転位相に応じて、逐次そのドラムの位相でのレーザON時のドラム電位ムラ量に応じた電圧が設定される。よって、画像データに応じてレーザONとなる領域においても、レーザ駆動電流をドラムの電位ムラ特性に応じて制御することが可能となる。   The current setting voltage VD 604 for setting the current iD is set to a voltage corresponding to the correction current amount corresponding to the drum potential unevenness when the laser is ON. Further, as the correction voltage, a voltage corresponding to the amount of drum potential unevenness at the time of laser ON at the phase of the drum is set in accordance with the rotation phase from the drum HP. Therefore, even in a region where the laser is turned on according to the image data, the laser driving current can be controlled according to the potential unevenness characteristic of the drum.

図7は、第1の実施形態に係るレーザ駆動部のタイミングチャートである。縦軸701はレーザ駆動電流を示し、横軸702は主走査アドレスを示す。図7では、2次元ドラム面でのある副走査アドレス部での主走査アドレスに応じたドラム電位ムラを補正するためのレーサOFF時の電流量として704、レーザON時の電流量として703であることを示している。   FIG. 7 is a timing chart of the laser driving unit according to the first embodiment. The vertical axis 701 indicates the laser drive current, and the horizontal axis 702 indicates the main scanning address. In FIG. 7, the current amount when the laser is OFF is 704 and the current amount when the laser is ON is 703 for correcting the drum potential unevenness corresponding to the main scanning address in the sub-scanning address portion on the two-dimensional drum surface. It is shown that.

補正したレーザ駆動電流704は、バイアス電流ibとレーザOFF時の補正電流iLを加算した電流ib+iL(mA)であり、主走査アドレスに応じてレーザOFF時は、この電流量でレーザ駆動される。補正したレーザ駆動電流703は、バイアス電流ibとレーザON時の補正電流iDを加算した電流ib+iD(mA)であり、主走査アドレスに応じてレーザON時は、この電流量でレーザ駆動される。   The corrected laser drive current 704 is a current ib + iL (mA) obtained by adding the bias current ib and the correction current iL when the laser is OFF, and the laser is driven with this current amount when the laser is OFF according to the main scanning address. The corrected laser drive current 703 is a current ib + iD (mA) obtained by adding the bias current ib and the correction current iD when the laser is ON, and the laser is driven with this amount of current when the laser is ON according to the main scanning address.

705はVideo_CLKであり、主走査アドレスに対する基準信号である。706はLaser_ON信号であり、主走査アドレスに対して、画像に応じてレーザをON/OFF制御し画像を形成するための露光制御を行う信号である。Vb707はバイアス電流を制御する基準電圧である。通常、半導体レーザ105は、長周期の温度特性によりIth電流が変化するわけであるが、このIth電流以下に設定されるバイアス電流が常にIthに対して所定値以下となるように制御される。本実施形態では、短周期である1ラインの走査を例と示しており、Ithの変化がないためにバイアス電流も一定であるためVb707も一定である。   Reference numeral 705 denotes Video_CLK, which is a reference signal for the main scanning address. Reference numeral 706 denotes a Laser_ON signal, which is a signal for performing exposure control for forming an image by controlling ON / OFF of the laser in accordance with the image with respect to the main scanning address. Vb707 is a reference voltage for controlling the bias current. Normally, the Ith current changes in the semiconductor laser 105 due to the long-period temperature characteristics, but the bias current set to be equal to or less than the Ith current is controlled so as to always be a predetermined value or less with respect to Ith. In this embodiment, scanning of one line with a short cycle is shown as an example. Since there is no change in Ith, the bias current is also constant, so Vb 707 is also constant.

708はレーザOFF時のドラム電位ムラを補正するためのレーザ光量に応じた定電流回路の基準電圧である。この基準電圧VL708をレーザOFF時のドラム電位ムラに応じた設定にすることで、レーザ駆動電流は、704のように補正される。709はレーザON時のドラム電位ムラを補正するためのレーザ光量に応じた定電流回路の基準電圧である。この基準電圧VD709をレーザON時のドラム電位ムラに応じた設定にすることで、レーザ駆動電流は、703のように補正される。   Reference numeral 708 denotes a reference voltage of a constant current circuit corresponding to the amount of laser light for correcting drum potential unevenness when the laser is OFF. By setting the reference voltage VL708 according to the drum potential unevenness when the laser is OFF, the laser drive current is corrected as indicated by 704. Reference numeral 709 denotes a reference voltage of a constant current circuit corresponding to the amount of laser light for correcting drum potential unevenness when the laser is on. By setting the reference voltage VD 709 according to the drum potential unevenness when the laser is ON, the laser driving current is corrected as indicated by 703.

710はLaser_ON信号706に応じて、レーザ駆動電流の703、704が選択された後のレーザ駆動電流量を示している。Laser_ON信号706が“L”のときは、レーザ駆動電流704が選択され、Laser_ON信号706が“H”のときは、レーザ駆動電流703が選択される。この実現には、上述の図6のレーザ駆動部3の構成で初めて実現可能となり、従来のレーザ駆動部で実行することはできない。   Reference numeral 710 denotes the laser drive current amount after the laser drive currents 703 and 704 are selected in response to the Laser_ON signal 706. When the Laser_ON signal 706 is “L”, the laser drive current 704 is selected, and when the Laser_ON signal 706 is “H”, the laser drive current 703 is selected. This realization can be realized for the first time with the configuration of the laser drive unit 3 in FIG. 6 described above, and cannot be executed by a conventional laser drive unit.

711は、Laser_ON信号706に応じて、ドラム電位ムラ補正を行った後のレーザ光量を示している。従来では、Laser_ON信号706が“L”でOFFであった712に示す領域であっても、本実施形態ではレーザを微小発光させてドラムの電位ムラを補正する。さらには、Laser_ON信号706が“H”でONである713に示す領域においても、レーザ光量をドラム電位ムラに応じて変化させ電位ムラを補正する。   Reference numeral 711 denotes the laser light amount after the drum potential unevenness correction is performed in accordance with the Laser_ON signal 706. Conventionally, even in the region indicated by 712 in which the Laser_ON signal 706 is “L” and OFF, in this embodiment, the laser is caused to emit a small amount of light to correct drum potential unevenness. Further, even in a region 713 where the Laser_ON signal 706 is “H” and ON 713, the laser light quantity is changed according to the drum potential unevenness to correct the potential unevenness.

以上説明したように、本実施形態に係る画像形成装置は、帯電させた感光ドラムを露光した状態の電位ムラと、露光していない状態の電位ムラを解消するように、露光装置の露光量を補正する。また、露光した状態の電位ムラと、露光していない状態の電位ムラとを、感光ドラムの表面を複数の領域に分割した分割領域において測定する。これにより、本画像形成装置は、電位ムラの測定を高速に行うとともに、トナーにより現像されない位置(非露光位置)の電位ムラについても解消する。これにより、画像かぶりや文字等のエッジのかすれを低減させることができる。   As described above, the image forming apparatus according to the present embodiment reduces the exposure amount of the exposure apparatus so as to eliminate the potential unevenness when the charged photosensitive drum is exposed and the potential unevenness when the photosensitive drum is not exposed. to correct. Further, the potential unevenness in the exposed state and the potential unevenness in the unexposed state are measured in a divided region obtained by dividing the surface of the photosensitive drum into a plurality of regions. As a result, the image forming apparatus measures the potential unevenness at a high speed and also eliminates the potential unevenness at a position where the toner is not developed (non-exposed position). As a result, it is possible to reduce blurring of edges such as image fog and characters.

<第2の実施形態>
次に、図8A乃至図11を参照して、第2の実施形態について説明する。本実施形態では、画像データとして8Bitの多値データとし、0(h)〜FF(h)の256パルス幅でレーザ点灯パルス幅を調整し、電位ムラを補正する。
<Second Embodiment>
Next, a second embodiment will be described with reference to FIGS. 8A to 11. In the present embodiment, 8-bit multi-value data is used as image data, the laser lighting pulse width is adjusted with a 256 pulse width from 0 (h) to FF (h), and potential unevenness is corrected.

図8A及び図8Bは、感光ドラムの2次元面における電位ムラの測定結果を示す図である。図8Aの801は、感光ドラム101を550Vに帯電させ、レーザ光を走査しない場合のドラム2次元面の副走査アドレスD、Hにおける主走査方向の電位ムラを示す。横軸802、806はドラム2次元面の主走査アドレスを示している。縦軸805は測定したドラム電位(V)を示す。また、縦軸308はレーザ点灯パルス幅を示す。   8A and 8B are diagrams illustrating measurement results of potential unevenness on the two-dimensional surface of the photosensitive drum. Reference numeral 801 in FIG. 8A indicates potential unevenness in the main scanning direction at the sub-scanning addresses D and H on the two-dimensional surface of the drum when the photosensitive drum 101 is charged to 550 V and laser light is not scanned. Horizontal axes 802 and 806 indicate main scanning addresses of the two-dimensional drum surface. The vertical axis 805 represents the measured drum potential (V). The vertical axis 308 indicates the laser lighting pulse width.

807に示すように、ドラム2次元面の主走査のアドレス全域にわたりレーザ点灯パルス幅は“0”となっているため、レーザ発光されずに感光ドラム101はレーザ光で露光されていない。この状態で、感光ドラム101の帯電感度が2次元面全域にわたり同一であれば、550Vで帯電を行えばドラム2次元面の全領域で帯電電圧は550Vであり、電位センサ104の測定結果も550Vとなる。しかし、帯電感度ムラがあると、例えばドラム2次元面の副走査アドレスDの測定結果803では、主走査アドレス1で520V、主走査アドレス3で550Vといったように領域によって帯電特性が異なる。この特性は2次元面の領域ごとに異なり、例えば、ドラム2次元面の副走査アドレスHの測定結果804では、主走査アドレス1で500V、主走査アドレス3で520Vといったように領域によって異なる。   As indicated by reference numeral 807, since the laser lighting pulse width is “0” over the entire main scanning address on the two-dimensional surface of the drum, the photosensitive drum 101 is not exposed to the laser beam without laser emission. In this state, if the charging sensitivity of the photosensitive drum 101 is the same throughout the two-dimensional surface, if charging is performed at 550 V, the charging voltage is 550 V in the entire region of the two-dimensional surface of the drum, and the measurement result of the potential sensor 104 is also 550 V. It becomes. However, if there is uneven charging sensitivity, for example, in the measurement result 803 of the sub-scanning address D on the two-dimensional drum surface, the charging characteristics differ depending on the region, such as 520 V for the main scanning address 1 and 550 V for the main scanning address 3. This characteristic is different for each region of the two-dimensional surface. For example, in the measurement result 804 of the sub-scanning address H of the drum two-dimensional surface, it varies depending on the region, such as 500 V for the main scanning address 1 and 520 V for the main scanning address 3.

図8Bの809は、感光ドラム101を550Vに帯電させ、レーザ光を走査させた場合のドラム2次元面の副走査アドレスC、Hにおける主走査方向の電位ムラを示す。横軸810、814はドラム2次元面の主走査アドレスを示している。縦軸813は測定したドラム電位(V)を示す。また、縦軸816はレーザ点灯パルス幅を示す。   Reference numeral 809 in FIG. 8B indicates potential unevenness in the main scanning direction at the sub-scanning addresses C and H on the two-dimensional surface of the drum when the photosensitive drum 101 is charged to 550 V and laser light is scanned. Horizontal axes 810 and 814 indicate main scanning addresses of the two-dimensional drum surface. The vertical axis 813 represents the measured drum potential (V). The vertical axis 816 represents the laser lighting pulse width.

815に示すように、ドラム2次元面の主走査のアドレス全域にわたりレーザ点灯パルス幅は“FF”(レーザとしては、主走査アドレス全領域で常時点灯状態)となっているため、レーザ発光が行われ感光ドラム101はレーザ光で露光される。この状態で、感光ドラム101の帯電感度が2次元面全域にわたり同一であれば、例えば200V均一であり、電位センサ104の測定結果も200Vとなる。しかし、帯電感度ムラがあると、例えばドラム2次元面の副走査アドレスCでの測定結果811では、主走査アドレス1で170V、主走査アドレス3で200Vといったように領域によって帯電特性が異なる。この特性は2次元面の領域ごとにことなり、例えば、ドラム2次元面の副走査アドレスHの測定結果812では、主走査アドレス1で150V、主走査アドレス3で165Vといったように領域によって異なる。   As shown at 815, the laser lighting pulse width is “FF” over the entire area of the main scanning address on the two-dimensional surface of the drum (the laser is always on in the entire area of the main scanning address). The photosensitive drum 101 is exposed with a laser beam. In this state, if the charging sensitivity of the photosensitive drum 101 is the same over the entire two-dimensional plane, for example, 200V is uniform, and the measurement result of the potential sensor 104 is also 200V. However, when there is uneven charging sensitivity, for example, in the measurement result 811 at the sub-scanning address C on the two-dimensional drum surface, the charging characteristics differ depending on the region, such as 170 V for the main scanning address 1 and 200 V for the main scanning address 3. This characteristic is different for each region of the two-dimensional surface. For example, in the measurement result 812 of the sub-scanning address H of the drum two-dimensional surface, it varies depending on the region, such as 150 V for the main scanning address 1 and 165 V for the main scanning address 3.

よって、感光ドラム101を所定電位で帯電させ、レーザ発光あり時のドラム2次元面の電位測定、レーザ発光無し時のドラム2次元面の電位測定を行うことで、レーザ発光を行わない場合の電位ムラ特性も測定することができる。   Accordingly, the photosensitive drum 101 is charged with a predetermined potential, and the potential of the two-dimensional surface of the drum when laser light is emitted is measured, and the potential of the two-dimensional surface of the drum when no laser light is emitted is measured. Unevenness characteristics can also be measured.

図9A及び図9Bは、第2の実施形態に係る感光ドラムのレーザ非露光部の電位ムラ補正を示す図である。図9Aの901はドラム2次元面の副走査アドレスDにおける画像データが“0(h)”でレーザ非点灯部分であるドラム電位ムラの補正を示す。横軸903、907は、ドラム2次元面での主走査アドレスを示す。縦軸902は測定したドラム電位を(V)示す。また、縦軸906はレーザ点灯パルス幅を示す。ここで、904は、感光ドラム101を550Vで帯電させたレーザ非点灯時の測定結果を示す。つまり、レーザ点灯パルス幅909が“0(h)”の場合の測定結果である。   FIGS. 9A and 9B are diagrams illustrating potential unevenness correction of the laser non-exposed portion of the photosensitive drum according to the second embodiment. Reference numeral 901 in FIG. 9A indicates correction of drum potential unevenness that is a laser non-lighting portion when the image data at the sub-scanning address D on the two-dimensional surface of the drum is “0 (h)”. Horizontal axes 903 and 907 indicate main scanning addresses on the two-dimensional drum surface. The vertical axis 902 indicates the measured drum potential (V). The vertical axis 906 indicates the laser lighting pulse width. Here, reference numeral 904 denotes a measurement result when the photosensitive drum 101 is charged at 550 V and the laser is not lit. That is, it is a measurement result when the laser lighting pulse width 909 is “0 (h)”.

第1の実施形態と同様に、本実施形態では、ドラム2次元面の電位ムラデータに応じてレーザを微小発光させるべく、非レーザ発光領域である画像データが“0(h)”の場合においても補正パルス幅908でレーザを駆動する。これにより、電位ムラを含む測定結果904を、500V均一の帯電電位905のように補正することができる。   Similar to the first embodiment, in the present embodiment, when the image data that is a non-laser emission region is “0 (h)” in order to cause the laser to emit a small amount of light according to the potential unevenness data of the two-dimensional drum surface. Also, the laser is driven with the correction pulse width 908. As a result, the measurement result 904 including the potential unevenness can be corrected like a charging potential 905 having a uniform voltage of 500V.

図9Bの910はドラム2次元面の副走査アドレスHにおける画像データが“0(h)”でレーザ非点灯部分であるドラム電位ムラの補正を示す。横軸912、916は、ドラム2次元面での主走査アドレスを示す。縦軸911は測定したドラム電位を(V)示す。また、縦軸915はレーザ点灯パルス幅を示す。ここで、914は、感光ドラム101を550Vで帯電させたレーザ非点灯時の測定結果を示す。つまり、レーザ点灯パルス幅918が“0(h)”の場合の測定結果である。   Reference numeral 910 in FIG. 9B indicates correction of drum potential unevenness that is a laser non-lighting portion when the image data at the sub-scanning address H on the two-dimensional surface of the drum is “0 (h)”. Horizontal axes 912 and 916 indicate main scanning addresses on the two-dimensional drum surface. The vertical axis 911 indicates the measured drum potential (V). The vertical axis 915 indicates the laser lighting pulse width. Here, reference numeral 914 denotes a measurement result when the photosensitive drum 101 is charged at 550 V and the laser is not lit. That is, this is a measurement result when the laser lighting pulse width 918 is “0 (h)”.

第1の実施形態と同様に、本実施形態では、ドラム2次元面の電位ムラデータに応じてレーザを微小発光させるべく、非レーザ発光領域である画像データが“0(h)”の場合においても補正パルス幅917でレーザを駆動する。これにより、電位ムラを含む測定結果914を、500V均一の帯電電位913のように補正することができる。   Similar to the first embodiment, in the present embodiment, when the image data that is a non-laser emission region is “0 (h)” in order to cause the laser to emit a small amount of light according to the potential unevenness data of the two-dimensional drum surface. Also, the laser is driven with the correction pulse width 917. As a result, the measurement result 914 including the potential unevenness can be corrected like a 500 V uniform charging potential 913.

また、レーザ光による電位ムラの補正方法としては、予め測定した電位ムラを保存したメモリ等から、ドラム2次元面のレーザ非点灯時の電位ムラデータを読み出して、電位ムラを補正してもよい。この場合、例えば、レーザ光での露光量に応じて電位が低下するドラム特性であるため、最低電位を基準に、最低電位からの電位ムラ量に応じてレーザ発光パルス幅を求めことが望ましい。また、2次元の各々の領域について、帯電電位を500Vにするために、所定の1領域についてレーザ発光パルス幅を段階的に増加させ、電位センサ104によって読み取られた電位が500Vとなったレーザ発光パルス幅を、当該領域についての補正量としてもよい。   As a method for correcting the potential unevenness due to the laser light, the potential unevenness may be corrected by reading out the potential unevenness data when the laser on the two-dimensional surface of the drum is not lit from a memory or the like storing the potential unevenness measured in advance. . In this case, for example, since the drum characteristic is such that the potential decreases according to the exposure amount with laser light, it is desirable to obtain the laser emission pulse width according to the amount of potential unevenness from the minimum potential with reference to the minimum potential. Further, in order to set the charging potential to 500 V for each of the two-dimensional regions, the laser light emission pulse width is increased stepwise for a predetermined region, and the laser light emission with the potential read by the potential sensor 104 becomes 500 V. The pulse width may be a correction amount for the region.

図10A及び図10Bは、第2の実施形態に係る感光ドラムのレーザ露光部における電位ムラ補正を示す図である。図10Aの1001はドラム2次元面の副走査アドレスCにおける画像データが“FF(h)”でのレーザ点灯部分であるドラム電位ムラの補正を示す。横軸1003、1007は、ドラム2次元面での主走査アドレスを示す。縦軸1002は測定したドラム電位を(V)示す。また、縦軸1006はレーザ点灯パルス幅を示す。ここで、1005は、感光ドラム101を550Vで帯電させたレーザ点灯時の測定結果を示す。つまり、レーザ点灯パルス幅1008が“FF(h)”の場合の測定結果である。   10A and 10B are diagrams illustrating potential unevenness correction in the laser exposure unit of the photosensitive drum according to the second embodiment. 10A in FIG. 10A indicates correction of drum potential unevenness that is a laser lighting portion when the image data at the sub-scanning address C on the two-dimensional surface of the drum is “FF (h)”. Horizontal axes 1003 and 1007 indicate main scanning addresses on the two-dimensional surface of the drum. The vertical axis 1002 indicates the measured drum potential (V). The vertical axis 1006 indicates the laser lighting pulse width. Here, reference numeral 1005 denotes a measurement result at the time of laser lighting with the photosensitive drum 101 charged at 550V. That is, it is a measurement result when the laser lighting pulse width 1008 is “FF (h)”.

したがって、本実施形態では、ドラム2次元面の電位ムラデータに応じてレーザの光量補正を行うべく、レーザ点灯パルス幅をパルス幅1009に補正する。これにより、電位ムラを含む測定結果1005を、200V均一の帯電電位1004のように補正することができる。   Therefore, in the present embodiment, the laser lighting pulse width is corrected to the pulse width 1009 in order to perform laser light amount correction according to the potential unevenness data on the two-dimensional drum surface. As a result, the measurement result 1005 including the potential unevenness can be corrected like a charging potential 1004 having a uniform voltage of 200V.

図10Bの1010はドラム2次元面の副走査アドレスHにおける画像データがFF(h)”でのレーザ点灯部分であるドラム電位ムラの補正を示す。横軸1012、1016は、ドラム2次元面での主走査アドレスを示す。縦軸1011は測定したドラム電位を(V)示す。また、縦軸1015はレーザ点灯パルス幅を示す。ここで、1014は、感光ドラム101を550Vで帯電させたレーザ点灯時の測定結果を示す。つまり、レーザ点灯パルス幅1017が“FF(h)”の場合の測定結果である。   10B in FIG. 10B indicates correction of drum potential unevenness that is a laser lighting portion when the image data at the sub-scanning address H on the two-dimensional surface of the drum is FF (h) ". The horizontal axes 1012, 1016 are on the two-dimensional surface of the drum. The vertical axis 1011 indicates the measured drum potential (V), and the vertical axis 1015 indicates the laser lighting pulse width, where 1014 indicates a laser in which the photosensitive drum 101 is charged at 550V. The measurement result at the time of lighting is shown, that is, the measurement result when the laser lighting pulse width 1017 is “FF (h)”.

したがって、本実施形態では、ドラム2次元面の電位ムラデータに応じてレーザの光量補正を行うべく、レーザ点灯パルス幅をパルス幅1018に補正する。これにより、電位ムラを含む測定結果1014を、200V均一の帯電電位1013のように補正することができる。   Therefore, in the present embodiment, the laser lighting pulse width is corrected to the pulse width 1018 in order to perform laser light amount correction according to the potential unevenness data on the two-dimensional drum surface. As a result, the measurement result 1014 including the potential unevenness can be corrected like a charging potential 1013 having a uniform voltage of 200V.

また、レーザ光による電位ムラの補正方法としては、予め測定した電位ムラを保存したメモリ等から、ドラム2次元面のレーザ点灯時の電位ムラデータを読み出して、電位ムラを補正してもよい。この場合、例えば、レーザ光での露光量に応じて電位が低下するドラム特性であるため、最高電位を基準に、最高電位からの電位ムラ量に応じてレーザ発光パルス幅を求めることが望ましい。また、2次元の各々の領域について、帯電電位を200Vにするために、各領域で測定を実行しレーザ点灯時のレーザ発光パルス幅を求めてもよい。具体的には、電位ムラの測定結果が、200Vよりも低い領域についてレーザ発光パルス幅を段階的に増加させ、電位センサ104によって読み取られた電位が200Vとなるレーザ発光パルス幅を、当該領域についての補正量としてもよい。   As a method for correcting potential unevenness due to laser light, potential unevenness may be corrected by reading out potential unevenness data at the time of laser lighting of the two-dimensional drum surface from a memory or the like that stores previously measured potential unevenness. In this case, for example, since the drum characteristic is such that the potential decreases according to the exposure amount with the laser beam, it is desirable to obtain the laser emission pulse width according to the amount of potential unevenness from the maximum potential with reference to the maximum potential. In addition, for each two-dimensional region, in order to set the charging potential to 200 V, measurement may be performed in each region to obtain the laser emission pulse width when the laser is turned on. Specifically, the laser light emission pulse width is gradually increased in a region where the measurement result of potential unevenness is lower than 200 V, and the laser light emission pulse width at which the potential read by the potential sensor 104 becomes 200 V is determined for the region. It may be a correction amount.

図11A乃至図11Cは、第2の実施形態に係るレーザ駆動部の構成例を示す図である。従来の画像形成装置に用いられてきたレーザ駆動部では、画像データに応じてレーザ光で感光ドラムを露光してトナーで現像した濃度が入力される画像データに対してリニアになるようにγ−LUTテーブルにてパルス幅を補正しレーザ点灯制御を行っていた。したがって、従来では、画像データ(8Bit)が“0(h)”の場合は、1画素内のパルス幅は“0”であった。   11A to 11C are diagrams illustrating a configuration example of a laser driving unit according to the second embodiment. In a laser driving unit used in a conventional image forming apparatus, a density obtained by exposing a photosensitive drum with laser light and developing with toner according to image data is linear with respect to input image data. The laser lighting control was performed by correcting the pulse width with the LUT table. Therefore, conventionally, when the image data (8 bits) is “0 (h)”, the pulse width in one pixel is “0”.

図11Aに示すように、本実施形態に係るレーザ駆動部1100は、γ−LUT1101での階調補正後、電位ムラLUT1102を通すことで、画像データが“0(h)”時のパルス幅をドラム2次元の領域ごとに補正する。さらにはFF(h)時のパルス幅も補正し、入力される0〜100%のパルス幅領域をドラムの電位ムラ特性に応じて、00(h)のパルス幅のオフセットパルス幅と、入力100%のパルス幅に対する、出力最大パルス幅を設定可能とする。これにより、オフセットと、パルス幅特性の傾きを任意に可変することができる。   As shown in FIG. 11A, the laser driving unit 1100 according to the present embodiment passes the potential unevenness LUT1102 after gradation correction by the γ-LUT 1101, thereby increasing the pulse width when the image data is “0 (h)”. Correction is performed for each two-dimensional drum area. Furthermore, the pulse width at the time of FF (h) is also corrected, and the input pulse width region of 0 to 100% is set to the offset pulse width of 00 (h) according to the potential unevenness characteristic of the drum, and the input 100 The maximum output pulse width for% pulse width can be set. Thereby, the offset and the slope of the pulse width characteristic can be varied arbitrarily.

図11Bは、横軸に画像データを示し、縦軸に補正前のパルス幅を示す。1116は、γLUT1101に定義された値となる。γ−LUT1101では、画像データを8Bitの多値データとしているため、入力画像データとしては0(h)〜FF(h)の256データとなる。   FIG. 11B shows image data on the horizontal axis and the pulse width before correction on the vertical axis. 1116 is a value defined in the γLUT 1101. In the γ-LUT 1101, since the image data is 8-bit multi-value data, the input image data is 256 data from 0 (h) to FF (h).

図11Cは、横軸にγLUT出力パルス幅を示し、縦軸に補正後のパルス幅を示す。ここでは入力画像データに対するレーザ駆動パルス幅のγ特性を示している。このγ特性は、入力画像データに対してレーザ露光によるトナーの濃度特性がリニアになるようなパルス幅の特性に設定されている。1118は、電位ムラLUT1102で補正された補正パルス幅を示す。ここでは、レーザOFF時とレーザFF点灯時の電位ムラデータから電位ムラを無くすように補正する補正データ特性を示している。   In FIG. 11C, the horizontal axis represents the γLUT output pulse width, and the vertical axis represents the corrected pulse width. Here, the γ characteristic of the laser drive pulse width with respect to the input image data is shown. This γ characteristic is set to a pulse width characteristic such that the toner density characteristic by laser exposure becomes linear with respect to the input image data. Reference numeral 1118 denotes a correction pulse width corrected by the potential unevenness LUT1102. Here, correction data characteristics for correcting the potential unevenness from the potential unevenness data when the laser is OFF and when the laser FF is turned on are shown.

本実施形態では、ドラム電位ムラ特性に応じて、00(h)のγ入力パルス幅が入力された場合は、10(h)のパルス幅に補正し、FF(h)のγ入力パルス幅が入力された場合は、E0(h)に補正する。したがって、00(h)〜FF(h)のγ入力パルス幅が10(h)〜E0(h)となるように、オフセットと傾きが補正される。その後、レーザドライバ1103にパルス幅信号が出力され、レーザ1104が駆動される。   In this embodiment, when a γ input pulse width of 00 (h) is input according to the drum potential unevenness characteristic, the pulse width is corrected to 10 (h) and the γ input pulse width of FF (h) is If it is input, it is corrected to E0 (h). Therefore, the offset and the inclination are corrected so that the γ input pulse width of 00 (h) to FF (h) is 10 (h) to E0 (h). Thereafter, a pulse width signal is output to the laser driver 1103 and the laser 1104 is driven.

以上説明したように、画像データが“00(h)”でレーザ非点灯となる領域であっても、レーザを微小パルス幅で発光させてドラムの電位ムラを補正することができる。さらには、画像データが00(h)以外の領域でレーザを画像データに応じたパルス幅で点灯させる領域においても、レーザ光量をドラム電位ムラに応じて補正することができる。これにより、画像データが“00(h)”の場合においても感光ドラム101の電位ムラを補正することができる。   As described above, even when the image data is “00 (h)” and the laser is not turned on, the potential unevenness of the drum can be corrected by emitting the laser with a minute pulse width. Further, even in a region where the laser is turned on with a pulse width corresponding to the image data in a region other than 00 (h) in the image data, the laser light quantity can be corrected according to the drum potential unevenness. Thereby, even when the image data is “00 (h)”, the potential unevenness of the photosensitive drum 101 can be corrected.

<第3の実施形態>
次に、図12乃至図15を参照して、第3の実施形態について説明する。図12は、第3の実施形態に係る補間の仕組みを説明する図である。1202は感光ドラム101の軸方向である主走査方向を示し、1203は感光ドラム101の回転方向である副走査方向を示す。1204は感光ドラム101の回転位置の基準信号を示しいる。この基準信号は感光ドラム101の1回転毎に発生する。感光ドラム101の半径はrとする。1201はドラム2次元面の展開図である。この2次元面の主走査方向は、画像書き込みの最大幅を示しており、例えば本実施形態では、画像書き込み幅はdgとなる。Videoクロックとしては700クロックとしている。また、副走査方向の長さ1206は、感光ドラム101の半径をrとすると2πrとなる。ドラム1回転分の走査数としては、600ライン相当となる。よって時間換算としては、主走査方向で700×VIDEO_CLK1周期時間となり、副走査方向で600ライン×1h走査時間となる。1h走査時間とは、走査基準信号であるBD信号の間隔を示す。
<Third Embodiment>
Next, a third embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 12 is a diagram for explaining an interpolation mechanism according to the third embodiment. Reference numeral 1202 denotes a main scanning direction which is an axial direction of the photosensitive drum 101, and 1203 denotes a sub-scanning direction which is a rotation direction of the photosensitive drum 101. Reference numeral 1204 denotes a reference signal for the rotational position of the photosensitive drum 101. This reference signal is generated every rotation of the photosensitive drum 101. The radius of the photosensitive drum 101 is r. 1201 is a development view of a two-dimensional drum surface. The main scanning direction of the two-dimensional surface indicates the maximum width of image writing. For example, in this embodiment, the image writing width is dg. The video clock is 700 clocks. The length 1206 in the sub-scanning direction is 2πr where r is the radius of the photosensitive drum 101. The number of scans for one rotation of the drum is equivalent to 600 lines. Therefore, the time conversion is 700 × VIDEO_CLK1 period time in the main scanning direction and 600 lines × 1h scanning time in the sub-scanning direction. The 1h scanning time indicates an interval between BD signals that are scanning reference signals.

1208は感光ドラム101における2次元面1201のある1つの補正領域を示している。ここでは、主走査アドレス:1、副走査アドレス:Hの領域の中をさらに補間により細分化した例を示す。感光ドラム101の電位ムラを補正するためには、感光ドラム101の電位を測定する必要があるが、ドラム2次元面の測定領域が多いほど高精度な補正が可能となるが多大な測定時間が発生する。一方、測定領域が少ないほど補正精度は下がるが、測定時間を低減することができる。   Reference numeral 1208 denotes one correction area having a two-dimensional surface 1201 on the photosensitive drum 101. Here, an example is shown in which the region of the main scanning address: 1 and the sub scanning address: H is further subdivided by interpolation. In order to correct the potential unevenness of the photosensitive drum 101, it is necessary to measure the potential of the photosensitive drum 101. However, as the measurement area on the two-dimensional surface of the drum increases, more accurate correction is possible, but a great amount of measurement time is required. appear. On the other hand, the smaller the measurement area, the lower the correction accuracy, but the measurement time can be reduced.

しかし、製品としては、少ない測定時間で高精度な補正精度が必要という相反する技術課題を解決する必要がある。そこで、本実施形態では、測定領域として、ドラム主走査方向の電位ムラプロファイルを最低限再現化可能な複数のサンプル領域数と、副走査方向の電位ムラプロファイルを最低限再現可能な複数のサンプル領域数を測定する。例えば、1201に示すように主走査方向を5分割し、副走査方向を10分割した50領域において測定する。しかし、ドラム電位ムラについて主走査方向を5分割した測定である場合、例えば領域1と領域2との間で補正レベルが大きく変わってしまうため、電位ムラ補正を行ったとしてもこの領域の切り替わりで急激な濃度変化が起こってしまう可能性がある。そこで、本実施形態では、高精度な電位ムラ補正を実現するために感光ドラム101の2次元面の測定領域間を線形補完し、所定数の補間データを追加する。   However, as a product, it is necessary to solve a conflicting technical problem that high correction accuracy is required with a short measurement time. Therefore, in the present embodiment, as the measurement area, a plurality of sample areas capable of reproducing at least the potential unevenness profile in the drum main scanning direction and a plurality of sample areas capable of reproducing at least the potential unevenness profile in the sub-scanning direction. Measure the number. For example, as shown in 1201, the measurement is performed in 50 regions in which the main scanning direction is divided into five and the sub-scanning direction is divided into ten. However, when the drum potential unevenness is measured by dividing the main scanning direction into 5 parts, for example, the correction level greatly changes between the region 1 and the region 2, so even if potential unevenness correction is performed, this region is switched. Abrupt changes in concentration may occur. Therefore, in this embodiment, in order to realize highly accurate potential unevenness correction, a linear interpolation is performed between the measurement areas on the two-dimensional surface of the photosensitive drum 101, and a predetermined number of interpolation data is added.

図13は、第3の実施形態に係る補間方法を示す図である。縦軸は設定電位(V)を示し、横軸は副走査補間アドレスを示す。Vα、Vβは、各々副走査アドレスのα、βにて実際にドラム電位を測定した電圧を示している。また、V1、V2、V3は、VαとVβから各々補間した電圧を示している。このように、VαとVβの2点を実測すればその間の電位ムラを予測し、補間データを作成し、滑らかに電位ムラを補正するためのデータを作成することができる。この補間の仕組みについて以下で詳細に説明する。測定領域間の補間データ数をnとし、m=n+1とすると、
V(n)=Vα+{(Vβ−Vα)/m}×n‥‥‥(3)
の式に当てはめて、線形補間できる。よって、図13のV1は、n=3、m=4として
V1=Vα+{(Vβ−Vα)/4}×1 ‥‥‥(4)
V2は、n=3、m=4として
V2=Vα+{(Vβ−Vα)/4}×2 ‥‥‥(5)
V3は、n=3、m=4として
V3=Vα+{(Vβ−Vα)/4}×3 ‥‥‥(6)
として補間データを作成することができる。ここでは、ドラム電位の測定データ間の補間データ作成例を説明したが、ドラム電位測定データから、感光ドラム101の露光時の露光量補正データを作成し、その露光補正データに対して補間データを作成してもよい。
FIG. 13 is a diagram illustrating an interpolation method according to the third embodiment. The vertical axis represents the set potential (V), and the horizontal axis represents the sub-scan interpolation address. Vα and Vβ indicate voltages obtained by actually measuring the drum potential at α and β of the sub-scanning address, respectively. V1, V2, and V3 indicate voltages interpolated from Vα and Vβ, respectively. Thus, if two points of Vα and Vβ are actually measured, potential unevenness between them can be predicted, interpolation data can be created, and data for smoothly correcting potential unevenness can be created. This interpolation mechanism will be described in detail below. If the number of interpolation data between measurement areas is n and m = n + 1,
V (n) = Vα + {(Vβ−Vα) / m} × n (3)
It is possible to perform linear interpolation by applying Therefore, V1 in FIG. 13 is assumed that n = 3 and m = 4. V1 = Vα + {(Vβ−Vα) / 4} × 1 (4)
V2 is n = 3 and m = 4 V2 = Vα + {(Vβ−Vα) / 4} × 2 (5)
V3 is assumed that n = 3 and m = 4. V3 = Vα + {(Vβ−Vα) / 4} × 3 (6)
Interpolation data can be created as Here, an example of creating interpolation data between drum potential measurement data has been described. However, exposure amount correction data at the time of exposure of the photosensitive drum 101 is created from the drum potential measurement data, and interpolation data is generated for the exposure correction data. You may create it.

図14は、第3の実施形態に係る補間データを作成する回路ブロック図である。1401は副走査アドレスカウンタである。Drum_HP信号1410はドラムの基準位置信号であり、ドラム1回転で1回出力される。この基準位置信号入力後のBD信号1411の入力を副走査アドレスカウンタ1401でカウントする。BD信号1411は上述のレーザスキャナーの1走査で1回出力される信号であり、1走査は通常1画素(600dpi=約42μm)である。したがって、Drum_HP信号1410の入力後にBD信号1411の入力回数をカウントすることにより、ドラム基準位置からの回転位置が把握可能となる。副走査アドレスカウンタ1401は、ドラム基準位置からの回転位置信号である副走査アドレス1407を出力する。   FIG. 14 is a circuit block diagram for creating interpolation data according to the third embodiment. Reference numeral 1401 denotes a sub-scanning address counter. The Drum_HP signal 1410 is a drum reference position signal, and is output once per drum rotation. Sub-scanning address counter 1401 counts the input of BD signal 1411 after the input of the reference position signal. The BD signal 1411 is a signal that is output once in one scan of the above laser scanner, and one scan is normally one pixel (600 dpi = about 42 μm). Therefore, by counting the number of times the BD signal 1411 is input after the Drum_HP signal 1410 is input, the rotational position from the drum reference position can be grasped. The sub scanning address counter 1401 outputs a sub scanning address 1407 that is a rotation position signal from the drum reference position.

1402は主走査アドレスカウンタである。主走査イネーブル信号(ENB)1414は画像書き込み開始を示す信号であり、半導体レーザ105にてレーザ走査する際の感光ドラム101の画像領域部の先頭信号である。この主走査イネーブル信号1414の入力後にVideo_CLK1413の入力を主走査アドレスカウンタ1402でカウントする。Video_CLK1413は主走査の1画素(600dpi=約42μm)で1クロックの周期となる。したがって、主走査イネーブル信号1414の入力後にVideo_CLK1413の入力回数をカウントすることにより、感光ドラム101上における画像領域での主走査走査位置を把握することが可能となる。主走査アドレスカウンタ1402は、感光ドラム101上での走査位置信号である主走査アドレス1408を出力する。   Reference numeral 1402 denotes a main scanning address counter. The main scanning enable signal (ENB) 1414 is a signal indicating the start of image writing, and is the leading signal of the image area portion of the photosensitive drum 101 when the semiconductor laser 105 performs laser scanning. After the input of the main scanning enable signal 1414, the input of Video_CLK 1413 is counted by the main scanning address counter 1402. Video_CLK 1413 has a cycle of one clock for one pixel (600 dpi = about 42 μm) of main scanning. Accordingly, by counting the number of times Video_CLK 1413 is input after the main scanning enable signal 1414 is input, the main scanning scanning position in the image area on the photosensitive drum 101 can be grasped. The main scanning address counter 1402 outputs a main scanning address 1408 that is a scanning position signal on the photosensitive drum 101.

補間部1403は、感光ドラム101の主走査アドレス1408及び副走査アドレス1407をもとに、主走査補間分割数1418と副走査補間分割数1417に応じてドラム電位ムラ測定データ1404のデータ間を補間する。補間されたデータは、レーザOFF部の電位ムラと電位ムラ補正レーザ電流量の関係を定義したハイライト部電位ムラLUT1421を通して、DAコンバータ1405に入力され、レーザのOFF側定電流回路の基準電圧VL1419が生成される。   The interpolation unit 1403 interpolates between the drum potential unevenness measurement data 1404 based on the main scanning interpolation division number 1418 and the sub scanning interpolation division number 1417 based on the main scanning address 1408 and the sub scanning address 1407 of the photosensitive drum 101. To do. The interpolated data is input to the DA converter 1405 through the highlight portion potential unevenness LUT1421 that defines the relationship between the potential unevenness of the laser OFF portion and the potential unevenness correction laser current amount, and is supplied to the reference voltage VL1419 of the laser OFF side constant current circuit. Is generated.

さらに、補間されたデータは、レーザON部の電位ムラと電位ムラ補正レーザ電流量の関係を定義したダーク部電位ムラLUT1422を通して、DAコンバータ1406に入力され、レーザのON側定電流回路の基準電圧VD1420が生成される。このように、感光ドラム101の全領域について、電位ムラを測定した結果を補間することで測定データ以上の微小の領域で滑らかな電位ムラ補正を実行することができる。   Further, the interpolated data is input to the DA converter 1406 through the dark portion potential unevenness LUT1422 that defines the relationship between the potential unevenness of the laser ON portion and the potential unevenness correction laser current amount, and the reference voltage of the laser ON-side constant current circuit. A VD 1420 is generated. As described above, smooth potential unevenness correction can be executed in a minute region that is larger than the measurement data by interpolating the result of measuring the potential unevenness for the entire region of the photosensitive drum 101.

図15は、第3の実施形態に係る補間データ作成のタイミングチャートである。1521は、電位ムラの測定タイミングを示し、1522は、補正データの作成タイミングを示す。   FIG. 15 is a timing chart for creating interpolation data according to the third embodiment. Reference numeral 1521 denotes a measurement timing of potential unevenness, and 1522 denotes a creation timing of correction data.

1501はDrum_HP信号であり、感光ドラム101が1回転するごとに1回出力される。1502、1508はBD信号でレーザスキャナー1走査に1回出力される。BDカウンタ1503、1509は、Drum_HPでリセットされ、Drum_HP信号1501、1506からのBD入力回数がカウントされる。1504は副走査方向についてのドラム電位ムラを測定したドラム1回転でのBD数/測定数となるアドレス分割数を示す。1505、1507は、分割された副走査アドレスの領域を示す。副走査補間カウント値1510は、副走査補間カウンタによってカウントされた値を示す。1511は上述した式(3)のVαを示し、1512はVβを示し、1513はmを示す。1514は、補間出力を示す。   A Drum_HP signal 1501 is output once every time the photosensitive drum 101 rotates once. Reference numerals 1502 and 1508 denote BD signals that are output once per laser scanner scan. The BD counters 1503 and 1509 are reset by Drum_HP, and the number of BD inputs from the Drum_HP signals 1501 and 1506 is counted. Reference numeral 1504 denotes an address division number which is the number of BDs / the number of measurements in one rotation of the drum in which the drum potential unevenness in the sub-scanning direction is measured. Reference numerals 1505 and 1507 denote divided sub-scan address areas. The sub-scanning interpolation count value 1510 indicates a value counted by the sub-scanning interpolation counter. Reference numeral 1511 denotes Vα in the above-described formula (3), 1512 denotes Vβ, and 1513 denotes m. Reference numeral 1514 denotes an interpolation output.

1521に示すように、本実施形態の場合、ドラム1回転でBD1000発が入力される。アドレス分割数1504は、副走査方向についてのドラム電位ムラを測定したドラム1回転でのBD数(=1000)/測定数(=10)が設定され、本実施形態の場合100(D)が設定される。よって、副走査アドレス1505としては、電位ムラ測定領域のアドレスが出力されることになる。本実施形態の場合は、副走査の測定領域としてA〜Jの10領域に分割しているために、副走査アドレスについては1〜10の10領域が出力される。   As shown by 1521, in the case of this embodiment, 1000 shots of BD are input by one rotation of the drum. The address division number 1504 is set to BD number (= 1000) / measured number (= 10) per rotation of the drum in which the drum potential unevenness in the sub-scanning direction is measured. In the present embodiment, 100 (D) is set. Is done. Therefore, as the sub-scanning address 1505, the address of the potential unevenness measurement region is output. In the case of this embodiment, since 10 areas A to J are divided as measurement areas for sub-scanning, 10 areas 1 to 10 are output for sub-scanning addresses.

1522を参照して、副走査アドレスが1から2での補間のタイミングを説明する。副走査補間BDカウンタは、副走査アドレスの切り替わりでリセットされ、BDをカウントする。そして領域分割数m1513に設定された値でカウントUPし、このカウントUP信号を副走査補間カウンタでカウントした値が、副走査補間カウント値1510である。この副走査補間カウント値1510は上述した式(3)のnに相当する。さらに、領域1でのドラム測定電位Vα1511、領域2でのドラム測定電位Vβ1512に基づいて、副走査補間カウント値1510に応じた補間出力1514が生成される。ここでは、副走査の測定データの補間タイミングを説明したが、主走査においても同様なタイミングで補間可能である。   The interpolation timing when the sub-scanning address is 1 to 2 will be described with reference to 1522. The sub-scanning interpolation BD counter is reset by switching the sub-scanning address and counts BD. Then, the count is increased by the value set in the area division number m1513, and the value obtained by counting the count UP signal by the sub-scan interpolation counter is a sub-scan interpolation count value 1510. This sub-scanning interpolation count value 1510 corresponds to n in the above equation (3). Further, based on the drum measurement potential Vα 1511 in region 1 and the drum measurement potential Vβ 1512 in region 2, an interpolation output 1514 corresponding to the sub-scanning interpolation count value 1510 is generated. Here, the interpolation timing of the measurement data of the sub-scan has been described, but the interpolation can be performed at the same timing in the main scan.

以上説明したように、本実施形態に係る画像形成装置は、感光ドラムの表面を複数の領域に分割した分割領域において、露光した状態の電位及び露光していない状態の電位を測定し、各状態の電位ムラを半導体レーザの駆動電流を補正することにより解消する。さらに、本画像形成装置は、測定したデータ間を補間することにより、滑らかな補正を高速に実現することができる。また、測定したデータにより生成した補正データ間を補間してもよい。   As described above, the image forming apparatus according to the present embodiment measures the potential in the exposed state and the potential in the unexposed state in each divided region obtained by dividing the surface of the photosensitive drum into a plurality of regions. Is corrected by correcting the drive current of the semiconductor laser. Furthermore, this image forming apparatus can realize smooth correction at high speed by interpolating between measured data. Further, correction data generated from measured data may be interpolated.

<第4の実施形態>
次に、図16乃至図17を参照して、第4の実施形態について説明する。図16は、第4の実施形態に係る補間データを作成する回路ブロック図である。ここでは、図14と異なるブロックについてのみ説明する。したがって、図14の回路ブロック図と同一のブロックは、同一の番号を付し説明を省略する。
<Fourth Embodiment>
Next, a fourth embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 16 is a circuit block diagram for creating interpolation data according to the fourth embodiment. Here, only the blocks different from FIG. 14 will be described. Therefore, the same blocks as those in the circuit block diagram of FIG.

補間されたレーザOFF時の電位ムラデータ1602は、レーザOFF部の電位ムラとγLUTの画像データ00hの補正パルス幅の関係が定義されたハイライト部電位ムラLUT1421を通して、補正γLUT生成部1601に入力される。さらに、補間されたレーザON時の電位ムラデータ1603は、レーザON部の電位ムラとγLUTの画像データFFhの補正パルス幅の関係が定義されたダーク部電位ムラLUT1422を通して、補正γLUT生成部1601に入力される。   The interpolated potential unevenness data 1602 when the laser is OFF is input to the corrected γLUT generation unit 1601 through the highlight portion potential unevenness LUT1421 in which the relationship between the potential unevenness of the laser OFF portion and the correction pulse width of the image data 00h of the γLUT is defined. Is done. Further, the interpolated potential unevenness data 1603 at the time of laser ON is passed through the dark portion potential unevenness LUT 1422 in which the relationship between the potential unevenness of the laser ON portion and the correction pulse width of the image data FFh of the γLUT is defined. Entered.

補正γLUT生成部1601では、00hとFFhの補正データから新たなγLUTテーブルを作成する。そして、画像データをγLUTに通して変換したパルス幅で感光ドラム101に露光することで、感光ドラム101の電位ムラが測定データ以上の微小の領域で滑らかな電位ムラ補正を実行することができる。   The correction γLUT generation unit 1601 creates a new γLUT table from the correction data of 00h and FFh. Then, by exposing the photosensitive drum 101 with the pulse width converted by passing the image data through the γLUT, it is possible to perform smooth potential unevenness correction in a region where the potential unevenness of the photosensitive drum 101 is smaller than the measurement data.

図17は、第4の実施形態に係る補間データ作成のタイミングチャートである。1721は、電位ムラの測定タイミングを示し、1722は、補正データの作成タイミングを示す。   FIG. 17 is a timing chart for creating interpolation data according to the fourth embodiment. Reference numeral 1721 denotes a measurement timing of potential unevenness, and 1722 denotes a creation timing of correction data.

1701はDrum_HP信号であり、感光ドラム101が1回転するごとに1回出力される。1702、1708はBD信号でレーザスキャナー1走査に1回出力される。BDカウンタ1703、1709は、Drum_HPでリセットされ、Drum_HP信号1701、1706からのBD入力回数がカウントされる。1704は副走査方向についてのドラム電位ムラを測定したドラム1回転でのBD数/測定数となるアドレス分割数を示す。1705、1707は、分割された副走査アドレスの領域を示す。副走査補間カウント値1710は、副走査補間カウンタによってカウントされた値を示す。1711は上述した式(3)のVαを示し、1712はVβを示し、1713はmを示す。1714は、補間出力を示す。   Reference numeral 1701 denotes a Drum_HP signal, which is output once every time the photosensitive drum 101 rotates once. Reference numerals 1702 and 1708 denote BD signals that are output once per laser scanner scan. The BD counters 1703 and 1709 are reset by Drum_HP, and the number of BD inputs from the Drum_HP signals 1701 and 1706 is counted. Reference numeral 1704 denotes an address division number which is the number of BDs / the number of measurements in one rotation of the drum in which the drum potential unevenness in the sub-scanning direction is measured. Reference numerals 1705 and 1707 denote divided sub-scan address areas. The sub-scanning interpolation count value 1710 indicates a value counted by the sub-scanning interpolation counter. Reference numeral 1711 denotes Vα in the above-described formula (3), 1712 denotes Vβ, and 1713 denotes m. Reference numeral 1714 denotes an interpolation output.

1721に示すように、本実施形態の場合、ドラム1回転でBD1000発が入力される。アドレス分割数1704は、副走査方向についてのドラム電位ムラを測定したドラム1回転でのBD数(=1000)/測定数(=10)が設定され、本実施形態の場合100(D)が設定される。よって、副走査アドレス1705としては、電位ムラ測定領域のアドレスが出力されることになる。本実施形態の場合は、副走査の測定領域としてA〜Jの10領域に分割しているために、副走査アドレスについては1〜10の10領域が出力される。   As shown in 1721, in the case of the present embodiment, 1000 BDs are input by one rotation of the drum. The address division number 1704 is set to BD number (= 1000) / measured number (= 10) in one rotation of the drum in which the drum potential unevenness in the sub-scanning direction is measured. In the present embodiment, 100 (D) is set. Is done. Therefore, the potential unevenness measurement area address is output as the sub-scanning address 1705. In the case of this embodiment, since 10 areas A to J are divided as measurement areas for sub-scanning, 10 areas 1 to 10 are output for sub-scanning addresses.

1722を参照して、副走査アドレスが1から2での補間のタイミングを説明する。副走査補間BDカウンタは、副走査アドレスの切り替わりでリセットされ、BDをカウントする。そして領域分割数m1713に設定された値でカウントUPし、このカウントUP信号を副走査補間カウンタでカウントした値が、副走査補間カウント値1710である。この副走査補間カウント値1710は上述した式(3)のnに相当する。さらに、領域1でのドラム測定電位Vα1711、領域2でのドラム測定電位Vβ1712に基づいて、副走査補間カウント値1710に応じたレーザOFF時の補間出力1714が生成される。同様に、レーザON時の補間出力1715も出力される。ここでは、副走査の測定データの補間タイミングを説明したが、主走査においても同様なタイミングで補間可能である。   The timing of interpolation when the sub-scanning address is 1 to 2 will be described with reference to 1722. The sub-scanning interpolation BD counter is reset by switching the sub-scanning address and counts BD. Then, the count is increased by the value set in the area division number m1713, and a value obtained by counting the count UP signal by the sub-scan interpolation counter is a sub-scan interpolation count value 1710. This sub-scanning interpolation count value 1710 corresponds to n in the above-described equation (3). Further, based on the drum measurement potential Vα 1711 in region 1 and the drum measurement potential Vβ 1712 in region 2, an interpolation output 1714 at the time of laser OFF corresponding to the sub-scan interpolation count value 1710 is generated. Similarly, an interpolation output 1715 when the laser is ON is also output. Here, the interpolation timing of the measurement data of the sub-scan has been described, but the interpolation can be performed at the same timing in the main scan.

以上説明したように、本実施形態に係る画像形成装置は、感光ドラムの表面を複数の領域に分割した分割領域において、露光した状態の電位及び露光していない状態の電位を測定し、各状態の電位ムラを半導体レーザの駆動パルス幅を補正することにより解消する。さらに、本画像形成装置は、測定したデータ間を補間することにより、滑らかな補正を高速に実現することができる。また、測定したデータにより生成した補正データ間を補間してもよい。   As described above, the image forming apparatus according to the present embodiment measures the potential in the exposed state and the potential in the unexposed state in each divided region obtained by dividing the surface of the photosensitive drum into a plurality of regions. Is corrected by correcting the drive pulse width of the semiconductor laser. Furthermore, this image forming apparatus can realize smooth correction at high speed by interpolating between measured data. Further, correction data generated from measured data may be interpolated.

<第5の実施形態>
次に、図19A乃至図24Bを参照して、第5の実施形態について説明する。本実施形態では、感光ドラム101上で発生する電位ムラを補正するためのより具体的な補正方法について説明する。本実施形態に係るハードウェア構成は、図1に示すハードウェア構成と同様であるため、説明を省略する。なお、ここでは、図1に示す半導体レーザ105を半導体レーザ4として記載している。
<Fifth Embodiment>
Next, a fifth embodiment will be described with reference to FIGS. 19A to 24B. In the present embodiment, a more specific correction method for correcting potential unevenness occurring on the photosensitive drum 101 will be described. The hardware configuration according to this embodiment is the same as the hardware configuration shown in FIG. Here, the semiconductor laser 105 shown in FIG. 1 is described as the semiconductor laser 4.

<画像形成装置の制御構成>
まず、図19Aを参照して、本実施形態に係る画像形成装置の制御構成について説明する。図19Aは、第5の実施形態に係る画像形成装置の制御構成を示す概略図である。ここでは、主に本発明に関する構成について説明する。したがって、本発明に係る画像形成装置は、他の構成を含んで実現されてもよい。
<Control Configuration of Image Forming Apparatus>
First, the control configuration of the image forming apparatus according to the present embodiment will be described with reference to FIG. 19A. FIG. 19A is a schematic diagram illustrating a control configuration of the image forming apparatus according to the fifth embodiment. Here, the configuration related to the present invention will be mainly described. Therefore, the image forming apparatus according to the present invention may be realized including other configurations.

画像形成装置100は、制御構成として、主にエンジン制御部17、画像制御部18、レーザ駆動部3及びバックアップメモリ16を備える。エンジン制御部17は、画像制御部18を制御して、レーザ駆動部3に含まれるEEPROM5から出力されるデータ信号31をバックアップメモリ16に格納する。さらに、エンジン制御部17は、バックアップメモリ16に格納された補正近似式を用いて、EEPROM5から出力される光量補正データの補正近似値25を演算する。さらに、エンジン制御部17は、感光ドラム101に所定のレーザが照射されるようレーザ駆動電流を制御するために、画像形成装置100に含まれる光量センサの入力結果に基づいて光量調整値24を生成する。また、エンジン制御部17は、感光ドラム101に備えられるEEPROM8に格納された感度データに基づいて、感度補正式26を生成する。   The image forming apparatus 100 mainly includes an engine control unit 17, an image control unit 18, a laser driving unit 3, and a backup memory 16 as a control configuration. The engine control unit 17 controls the image control unit 18 to store the data signal 31 output from the EEPROM 5 included in the laser driving unit 3 in the backup memory 16. Further, the engine control unit 17 calculates a correction approximate value 25 of the light amount correction data output from the EEPROM 5 using the correction approximate expression stored in the backup memory 16. Further, the engine control unit 17 generates the light amount adjustment value 24 based on the input result of the light amount sensor included in the image forming apparatus 100 in order to control the laser driving current so that a predetermined laser is irradiated onto the photosensitive drum 101. To do. Further, the engine control unit 17 generates a sensitivity correction formula 26 based on sensitivity data stored in the EEPROM 8 provided in the photosensitive drum 101.

画像制御部18は、エンジン制御部17から画像制御信号23を介して、EEPROM5のデータ信号31の読み出し及びレーザ駆動回路6の状態制御を行う。また、画像制御部18は、スイッチング電流(Isw)補正データ27及びバイアス電流(Ib)補正データ28を生成する補正データ生成部19を備える。ここで、スイッチング電流とは、半導体レーザ4の変調部を駆動するための変調駆動電流を示す。補正データ生成部19に関する詳細は、図20を用いて後述する。   The image control unit 18 reads out the data signal 31 of the EEPROM 5 and controls the state of the laser driving circuit 6 via the image control signal 23 from the engine control unit 17. The image control unit 18 also includes a correction data generation unit 19 that generates switching current (Isw) correction data 27 and bias current (Ib) correction data 28. Here, the switching current indicates a modulation driving current for driving the modulation unit of the semiconductor laser 4. Details regarding the correction data generation unit 19 will be described later with reference to FIG.

レーザ駆動部3は、半導体レーザ4から射出する光量を制御するために、レーザ駆動回路6、補正電流制御回路9及びEEPROM5を備える。レーザ駆動回路6は、半導体レーザ4の駆動電流を制御することにより、半導体レーザ4を所定光量(強度)で一定に発光させる。補正電流制御回路9については、図20を用いて後述する。半導体レーザ4は、レーザダイオード(以下、LDと称する。)4aと、LD4aから出力されるレーザ光をモニタするフォトダイオード(以下、PDと称する。)4bとを備える。PD4bはモニタするレーザビームの光量に応じた電流を出力する。   The laser drive unit 3 includes a laser drive circuit 6, a correction current control circuit 9, and an EEPROM 5 in order to control the amount of light emitted from the semiconductor laser 4. The laser drive circuit 6 controls the drive current of the semiconductor laser 4 to cause the semiconductor laser 4 to emit light constantly with a predetermined light amount (intensity). The correction current control circuit 9 will be described later with reference to FIG. The semiconductor laser 4 includes a laser diode (hereinafter referred to as “LD”) 4a and a photodiode (hereinafter referred to as “PD”) 4b that monitors laser light output from the LD 4a. The PD 4b outputs a current corresponding to the amount of laser beam to be monitored.

次に、図19Bを参照して、図19Aに示すレーザ駆動回路6の詳細な構成例について説明する。図19Bは、第5の実施形態に係るレーザ駆動部の構成例を示すブロック図である。   Next, a detailed configuration example of the laser drive circuit 6 shown in FIG. 19A will be described with reference to FIG. 19B. FIG. 19B is a block diagram illustrating a configuration example of a laser driving unit according to the fifth embodiment.

7は、LD4aが所定の光量で発光するように調整する光量調整可変抵抗である。PD4bから出力される、レーザビームの光量に応じたPD電流(Im)は光量調整可変抵抗7で電圧変換され、PD電圧信号71として出力する。PD電圧信号71は、基準電圧発生回路(Vref)72で生成される基準電圧73と共に光量制御回路(APC CTL)74に入力される。   Reference numeral 7 denotes a light amount adjustment variable resistor for adjusting the LD 4a to emit light with a predetermined light amount. The PD current (Im) corresponding to the light amount of the laser beam output from the PD 4 b is converted into a voltage by the light amount adjustment variable resistor 7 and output as a PD voltage signal 71. The PD voltage signal 71 is input to a light amount control circuit (APC CTL) 74 together with a reference voltage 73 generated by a reference voltage generation circuit (Vref) 72.

光量制御回路74は、画像制御部18から入力されるモード制御信号10によりモード制御回路(MODE CTL)78において光量調整モードが設定される場合には、PD電圧信号71と基準電圧73とを比較する。さらに、スイッチング電流(Isw)設定値14を加減制御することにより半導体レーザ4を所定光量に調整する。同様に、例えば、所定光量の1/4設定時の駆動電流から半導体レーザ4の発光開始電流を求め、発光開始電流に対して所定電流を除算又は減算することによって得られる電流をバイアス電流(Ib)設定値20とし出力する。また、光量制御回路74は、モード制御信号10によりモード制御回路78において電流保持モードが設定される場合には、光量調整モード設定時に得られた結果に基づいたスイッチング電流(Isw)設定値14を保持する。   The light amount control circuit 74 compares the PD voltage signal 71 with the reference voltage 73 when the light amount adjustment mode is set in the mode control circuit (MODE CTL) 78 by the mode control signal 10 input from the image control unit 18. To do. Furthermore, the semiconductor laser 4 is adjusted to a predetermined light quantity by controlling the switching current (Isw) set value 14 in an adjustable manner. Similarly, for example, the light emission start current of the semiconductor laser 4 is obtained from the drive current when 1/4 of the predetermined light quantity is set, and the current obtained by dividing or subtracting the predetermined current from the light emission start current is determined as the bias current (Ib ) Set value 20 is output. Further, when the current holding mode is set in the mode control circuit 78 by the mode control signal 10, the light amount control circuit 74 sets the switching current (Isw) setting value 14 based on the result obtained when the light amount adjustment mode is set. Hold.

75は、スイッチング電流(Isw)制御部であり、スイッチング電流(Isw)設定値14及びスイッチング補正値12に基づいて電流ドライバの駆動信号77を出力する。76は、バイアス電流(Ib)制御部であり、バイアス電流(Ib)設定値20及びバイアス補正値13に基づいてバイアス電流(Ib)を生成し、電流ドライバ88出力信号と加算した駆動電流(Iop)86によって半導体レーザ4を駆動する。   A switching current (Isw) control unit 75 outputs a drive signal 77 for the current driver based on the switching current (Isw) set value 14 and the switching correction value 12. A bias current (Ib) control unit 76 generates a bias current (Ib) based on the bias current (Ib) set value 20 and the bias correction value 13, and adds the drive current (Iop) to the current driver 88 output signal. ) 86 to drive the semiconductor laser 4.

モード制御信号10によりモード制御回路(MODE CTL)78においてデータ出力モードが設定される場合には、スイッチング電流(Isw)制御部75に応じた電流ドライバの駆動信号77が出力される。81は、差動入力を有する差動レシーバ(LVDS)であり、画像制御部18から入力される差動データ信号を受信する。出力選択回路(OUTPUT SELECT)83は、モード制御信号10によりモード制御回路78においてサンプルモードが設定される場合には、スイッチング信号a84をONに設定し、スイッチング信号b85をOFFに設定する。また、データ出力モード設定時には差動出力信号82に応じたスイッチング信号a84及びスイッチング信号b85を出力する。   When the data output mode is set in the mode control circuit (MODE CTL) 78 by the mode control signal 10, the drive signal 77 of the current driver corresponding to the switching current (Isw) control unit 75 is output. A differential receiver (LVDS) 81 having a differential input receives a differential data signal input from the image control unit 18. When the sample mode is set in the mode control circuit 78 by the mode control signal 10, the output selection circuit (OUTPUT SELECT) 83 sets the switching signal a84 to ON and sets the switching signal b85 to OFF. When the data output mode is set, the switching signal a84 and the switching signal b85 corresponding to the differential output signal 82 are output.

88は、電流ドライバであり、トランジスタ88a及びトランジスタ88bのエミッタ端子を接続した差動増幅の構成となる。トランジスタ88aは、駆動信号77とスイッチング信号a84とに基づいて、LD4aをスイッチング駆動する。同様に、トランジスタ88bは、駆動信号77とスイッチング信号b85とに基づいて、負荷抵抗89をスイッチング駆動する。   Reference numeral 88 denotes a current driver, which has a differential amplification configuration in which the emitter terminals of the transistors 88a and 88b are connected. The transistor 88a performs switching driving of the LD 4a based on the drive signal 77 and the switching signal a84. Similarly, the transistor 88b performs switching drive of the load resistor 89 based on the drive signal 77 and the switching signal b85.

<補正データ生成部及び補正電流制御回路の構成>
図20は、第5の実施形態に係る補正データ生成部及び補正電流制御回路の構成例を示すブロック図である。図20に示すように、補正データ生成部19は、感度補正係数演算部32、光量補正値演算部34、感度補正値演算部36及び加算器38を備える。感度補正係数演算部32は、画像形成装置100内に配備される光量センサの入力結果に基づいてエンジン制御部17にて決定される光量調整値(D)24と感度補正式26により感度補正係数33を生成する。光量補正値演算部34は、エンジン制御部17にて生成した補正近似値25に基づいて、感度補正係数33に応じた光量補正値35を演算する。
<Configuration of Correction Data Generation Unit and Correction Current Control Circuit>
FIG. 20 is a block diagram illustrating a configuration example of a correction data generation unit and a correction current control circuit according to the fifth embodiment. As illustrated in FIG. 20, the correction data generation unit 19 includes a sensitivity correction coefficient calculation unit 32, a light amount correction value calculation unit 34, a sensitivity correction value calculation unit 36, and an adder 38. The sensitivity correction coefficient calculation unit 32 uses a light amount adjustment value (D) 24 determined by the engine control unit 17 based on an input result of a light amount sensor provided in the image forming apparatus 100 and a sensitivity correction formula 26 to obtain a sensitivity correction coefficient. 33 is generated. The light amount correction value calculation unit 34 calculates a light amount correction value 35 corresponding to the sensitivity correction coefficient 33 based on the correction approximate value 25 generated by the engine control unit 17.

感度補正値演算部36は、レーザ駆動回路6からのバイアス電流(Ib)設定値20が入力され、感度補正式26に基づいてバイアス電流(Ib)設定値20により感度補正値を演算し、バイアス電流(Ib)補正データ28を出力する。バイアス電流(Ib)補正データ28は加算器38と後述するバイアス電流(Ib)補正格納部42に入力される。   The sensitivity correction value calculation unit 36 receives the bias current (Ib) set value 20 from the laser drive circuit 6, calculates the sensitivity correction value based on the bias current (Ib) set value 20 based on the sensitivity correction formula 26, and the bias Current (Ib) correction data 28 is output. The bias current (Ib) correction data 28 is input to an adder 38 and a bias current (Ib) correction storage unit 42 described later.

加算器38はバイアス電流(Ib)補正データ28と光量補正値35を加算し、スイッチング電流(Isw)補正データ27を後述する補正格納部40に格納する。   The adder 38 adds the bias current (Ib) correction data 28 and the light amount correction value 35 and stores the switching current (Isw) correction data 27 in a correction storage unit 40 described later.

補正電流制御回路9は、スイッチング電流(Isw)補正格納部40、バイアス電流(Ib)補正格納部42、乗算器44、スイッチング補正値生成部46及びバイアス補正値生成部47を備える。Isw補正格納部40には、上述したように、スイッチング電流(Isw)補正データ27が格納される。また、バイアス電流補正格納部42には、感度補正値演算部36からバイアス電流(Ib)補正データ28が入力される。乗算器44は、レーザ駆動回路6から出力されるスイッチング電流(Isw)設定値14と光量調整値(D)24を乗算し、スイッチング電流(Isw)調整値45を出力する。スイッチング補正値生成部46は、スイッチング電流(Isw)補正格納部40に格納されたスイッチング電流(Isw)補正格納データ41とスイッチング電流(Isw)調整値45とを用いてスイッチング補正値12を生成する。バイアス補正値生成部47は、レーザ駆動回路6から出力されるバイアス電流(Ib)設定値20とバイアス電流(Ib)補正格納部42に格納されたバイアス電流(Ib)補正格納データ43とを用いてバイアス補正値13を生成する。   The correction current control circuit 9 includes a switching current (Isw) correction storage unit 40, a bias current (Ib) correction storage unit 42, a multiplier 44, a switching correction value generation unit 46, and a bias correction value generation unit 47. The Isw correction storage unit 40 stores the switching current (Isw) correction data 27 as described above. In addition, bias current (Ib) correction data 28 is input from the sensitivity correction value calculation unit 36 to the bias current correction storage unit 42. The multiplier 44 multiplies the switching current (Isw) set value 14 output from the laser driving circuit 6 by the light amount adjustment value (D) 24 and outputs a switching current (Isw) adjustment value 45. The switching correction value generation unit 46 generates the switching correction value 12 using the switching current (Isw) correction storage data 41 and the switching current (Isw) adjustment value 45 stored in the switching current (Isw) correction storage unit 40. . The bias correction value generation unit 47 uses the bias current (Ib) set value 20 output from the laser driving circuit 6 and the bias current (Ib) correction storage data 43 stored in the bias current (Ib) correction storage unit 42. Thus, the bias correction value 13 is generated.

<補正方法>
ここで、図21A及び図21Bを参照して、本実施形態における補正方法について説明する。図21Aは、感光ドラムの像面分布特性及び近似式生成方法を示す図である。図21Bは、第5の実施形態に係る補正データの生成方法を示す図である。図21Aにおいて、横軸は像高を示し、縦軸はドラム面光量を示す。また、2101は、100%発光時の4次近似式を示す。2102は、80%発光時の4次近似式を示す。2103は、60%発光時の4次近似式を示す。2104は、40%発光時の4次近似式を示す。2105は、20%発光時の4次近似式を示す。図21Bにおいて、横軸は像高を示し、縦軸は像面照度を示す。2111は、像面の照度を測定する際のブロックを示す。
<Correction method>
Here, the correction method in the present embodiment will be described with reference to FIGS. 21A and 21B. FIG. 21A is a diagram illustrating an image plane distribution characteristic of the photosensitive drum and an approximate expression generation method. FIG. 21B is a diagram illustrating a correction data generation method according to the fifth embodiment. In FIG. 21A, the horizontal axis indicates the image height, and the vertical axis indicates the drum surface light amount. Reference numeral 2101 denotes a fourth-order approximate expression at 100% light emission. Reference numeral 2102 denotes a fourth-order approximation expression at 80% light emission. Reference numeral 2103 denotes a fourth-order approximation expression at 60% light emission. Reference numeral 2104 denotes a fourth-order approximation expression at 40% light emission. Reference numeral 2105 denotes a fourth-order approximation expression at 20% light emission. In FIG. 21B, the horizontal axis represents the image height, and the vertical axis represents the image plane illuminance. Reference numeral 2111 denotes a block for measuring the illuminance on the image plane.

ここでは、補正データ生成の仕様を、
像高(画像領域内):±150mm
像面照度測定/像高数:9(37.5mm等間隔)
像面照度/近似次数:4
補正ブロック数:25(12.5mm等間隔)
照度測定数:5(100%、80%、60%、40%、20%)
レーザ駆動電流(ILD)分解能:10bit
とする。
Here, the specifications for generating correction data are
Image height (within image area): ± 150mm
Image surface illuminance measurement / image height: 9 (37.5 mm equally spaced)
Image plane illuminance / approximate order: 4
Number of correction blocks: 25 (12.5 mm equidistant)
Illuminance measurement number: 5 (100%, 80%, 60%, 40%, 20%)
Laser drive current (ILD) resolution: 10 bits
And

まず、半導体レーザ4の光量を調整する。具体的には、画像領域内像高(±150mm)を37.5mm等間隔で分割し、計9箇所での像面照度測定を行う。但し、像高の各位置の間隔は等間隔でなくともよい。9箇所の像高での照度を測定すると、最低照度となる像高を検出し、その像高での照度が所定値となるようレーザ駆動部3を光量調整モードにし、光量調整を行う。以上によって得られた光量を100%光量と定義し、この時に設定されるレーザ駆動電流(ILD)を100%光量駆動電流とする。   First, the light quantity of the semiconductor laser 4 is adjusted. Specifically, the image height in the image area (± 150 mm) is divided at an equal interval of 37.5 mm, and image plane illuminance measurement is performed at a total of nine locations. However, the intervals between the positions of the image height need not be equal. When the illuminance at the nine image heights is measured, the image height that is the minimum illuminance is detected, and the laser drive unit 3 is set to the light amount adjustment mode so that the illuminance at the image height becomes a predetermined value, thereby adjusting the light amount. The amount of light obtained as described above is defined as 100% light amount, and the laser drive current (ILD) set at this time is defined as 100% light amount drive current.

次に、像面照度を測定する。具体的には、100%光量駆動電流を含め、100%光量駆動電流に対して20%、40%、60%、80%光量駆動電流の各々の9箇所の像高における像面照度を測定する。   Next, the image plane illuminance is measured. Specifically, the image plane illuminance is measured at nine image heights including 20%, 40%, 60%, and 80% light amount drive current with respect to 100% light amount drive current including 100% light amount drive current. .

次に、近似式を算出する。具体的には、像面照度測定で得られる9箇所の像高における像面照度の測定値から4次近似式を生成する。   Next, an approximate expression is calculated. Specifically, a fourth-order approximate expression is generated from the measured values of image plane illuminance at nine image heights obtained by image plane illuminance measurement.

次に、補正値を算出する。具体的には、画像領域内像高(±150mm)を12.5mm等間隔で計25の補正ブロックで照度補正値の算出を行う。像高に対する補正ブロックの配置方法は像面照度測定時の像高と一致しなくともよい。4次近似式から、最低照度となる補正ブロックに対する他の24ブロックの像面照度差(X(k%)n)を算出する。ここでは、図21Bに示すように、補正ブロック24の像面照度が最低照度となる。像面照度差(X(k%)n)を、レーザ駆動電流(ILD)をフルスケールとして量子化し、補正データとする。レーザ駆動電流(ILD)分解能を10bitとした場合、補正ビットΔXは、100%光量駆動電流/1024となる。   Next, a correction value is calculated. Specifically, the illuminance correction value is calculated by a total of 25 correction blocks at an image area internal image height (± 150 mm) at an equal interval of 12.5 mm. The arrangement method of the correction block with respect to the image height may not coincide with the image height at the time of image plane illuminance measurement. From the fourth-order approximation, the image plane illuminance difference (X (k%) n) of the other 24 blocks with respect to the correction block having the lowest illuminance is calculated. Here, as shown in FIG. 21B, the image plane illuminance of the correction block 24 is the minimum illuminance. The image plane illuminance difference (X (k%) n) is quantized using the laser drive current (ILD) as a full scale to obtain correction data. When the resolution of the laser drive current (ILD) is 10 bits, the correction bit ΔX is 100% light amount drive current / 1024.

最後に、算出した補正値を格納する。上述までの方法により、レーザ駆動電流の各光量駆動電流を100%、80%、60%、40%及び20%に設定した時の像面照度に対して、補正カウント値を算出する。その結果得られた補正カウント値をメモリ制御信号30を経由してEEPROM5に格納する。   Finally, the calculated correction value is stored. By the method described above, the correction count value is calculated with respect to the image plane illuminance when each light amount driving current of the laser driving current is set to 100%, 80%, 60%, 40%, and 20%. The correction count value obtained as a result is stored in the EEPROM 5 via the memory control signal 30.

<光量補正値生成方法>
図22は、第5の実施形態に係る光量補正値演算部における光量補正値の生成方法を説明するための図である。2201において、横軸は光量調整値Dを示し、縦軸は補正データPとしたときの補正データ特性を示す。また、2202において、横軸は像高dを示し、縦軸は補正係数ε(d)を示す。2201に示す曲線で表されたn次近似式はバックアップメモリ16に格納されている。補正係数ε(d)はバックアップメモリ16に格納されている。また、補正仕様として以下を想定する。
補正仕様
1.n次近似式P=150D(2−D)、2次
2.光量調整値(D)=70%
3.感度係数ε(d)ブロック数=24
さらに、以下では、像高d=−125mmにおける光量補正値35の算出方法について説明する。
<Light intensity correction value generation method>
FIG. 22 is a diagram for explaining a light amount correction value generation method in the light amount correction value calculation unit according to the fifth embodiment. In 2201, the horizontal axis indicates the light amount adjustment value D, and the vertical axis indicates the correction data characteristic when the correction data P is used. In 2202, the horizontal axis indicates the image height d, and the vertical axis indicates the correction coefficient ε (d). An nth-order approximation expression represented by a curve 2201 is stored in the backup memory 16. The correction coefficient ε (d) is stored in the backup memory 16. The following is assumed as the correction specification.
Correction specifications nth-order approximation P = 150D (2-D), second order 2. Light intensity adjustment value (D) = 70%
3. Sensitivity coefficient ε (d) Number of blocks = 24
Further, a method for calculating the light amount correction value 35 at the image height d = −125 mm will be described below.

まず、n次近似式による補正データを算出する。具体的には、光量調整値D=70%での補正データPは、150×0.7×(2−0.7)=136.5となる。続いて、感度係数による補正データを算出する。具体的には、像高d=−125mmにおける感度係数ε(−125)=0.8である場合、P’=150×(0.7×0.8)×{2−(0.7×0.8)}=121.0となる。   First, correction data based on an nth-order approximation is calculated. Specifically, the correction data P at the light amount adjustment value D = 70% is 150 × 0.7 × (2−0.7) = 136.5. Subsequently, correction data based on the sensitivity coefficient is calculated. Specifically, when the sensitivity coefficient ε (−125) = 0.8 at the image height d = −125 mm, P ′ = 150 × (0.7 × 0.8) × {2− (0.7 × 0.8)} = 121.0.

図23は、第5の実施形態に係る感光ドラムの電位補正方法を説明するための図である。2301において、横軸は、駆動電流Iopを示し、縦軸はレーザ光量Poを示す。2302は、補正前の光量分布とドラムの表面電位を示す。2303は、ハイライト電位VLを補正した後の光量分布とドラムの表面電位を示す。2304は、ハイライト電位VL及びダーク電位Vdを補正した後の光量分布とドラムの表面電位を示す。   FIG. 23 is a diagram for explaining a photosensitive drum potential correction method according to the fifth embodiment. In 2301, the horizontal axis represents the drive current Iop, and the vertical axis represents the laser light amount Po. Reference numeral 2302 denotes a light amount distribution before correction and a surface potential of the drum. Reference numeral 2303 denotes the light amount distribution after correcting the highlight potential VL and the surface potential of the drum. Reference numeral 2304 denotes a light amount distribution after correcting the highlight potential VL and the dark potential Vd and the surface potential of the drum.

補正前の感光ドラム101の光量分布に対し、光量補正値演算部34によって生成される光量補正値35により補正した結果、表面電位はハイライト電位VLのみが均一となる。これに対して、感度補正値演算部36にて生成されたバイアス電流(Ib)補正データ28を光量補正値35に加算した結果をスイッチング電流(Isw)補正データ27とする。さらに、バイアス電流(Ib)補正データ28に基づいて半導体レーザ4の駆動電流(Iop)を生成する。これにより、感光ドラム101の表面電位におけるダーク電位Vdが補正される。   As a result of correcting the light amount distribution of the photosensitive drum 101 before correction by the light amount correction value 35 generated by the light amount correction value calculation unit 34, only the highlight potential VL becomes uniform as the surface potential. On the other hand, a result obtained by adding the bias current (Ib) correction data 28 generated by the sensitivity correction value calculation unit 36 to the light amount correction value 35 is referred to as switching current (Isw) correction data 27. Further, a drive current (Iop) of the semiconductor laser 4 is generated based on the bias current (Ib) correction data 28. Thereby, the dark potential Vd in the surface potential of the photosensitive drum 101 is corrected.

次に、図24A及び図24Bを参照して、補正データ及び電流補正値の生成における制御手順について説明する。図24Aは、第5の実施形態に係る補正データ生成部における補正データの生成手順を示すフローチャートである。   Next, a control procedure for generating correction data and current correction values will be described with reference to FIGS. 24A and 24B. FIG. 24A is a flowchart illustrating a correction data generation procedure in the correction data generation unit according to the fifth embodiment.

まず、ステップS2401において、補正データ生成部19は、感度補正係数演算部32によりエンジン制御部17から光量調整値24を読み出す。さらに、ステップS2402において、補正データ生成部19は、感度補正係数演算部32によりエンジン制御部17から感度補正式26を読み出す。その後、ステップS2403において、補正データ生成部19は、感度補正係数演算部32により光量調整値24及び感度補正式26を用いて、感度補正係数33を算出する。   First, in step S2401, the correction data generation unit 19 reads the light amount adjustment value 24 from the engine control unit 17 by the sensitivity correction coefficient calculation unit 32. Further, in step S2402, the correction data generation unit 19 reads the sensitivity correction formula 26 from the engine control unit 17 by the sensitivity correction coefficient calculation unit 32. Thereafter, in step S 2403, the correction data generation unit 19 calculates the sensitivity correction coefficient 33 using the light amount adjustment value 24 and the sensitivity correction formula 26 by the sensitivity correction coefficient calculation unit 32.

ステップS2404において、補正データ生成部19は、光量補正値演算部34によって感度補正係数33と補正近似値25とを用いて、光量補正値35を算出する。   In step S <b> 2404, the correction data generation unit 19 calculates a light amount correction value 35 using the sensitivity correction coefficient 33 and the correction approximate value 25 by the light amount correction value calculation unit 34.

ステップS2405において、補正データ生成部19は、感度補正値演算部36によってレーザ駆動回路6からバイアス電流(Ib)設定値20を読み出す。続いて、ステップS2406において、補正データ生成部19は、感度補正値演算部36によってエンジン制御部17から感度補正式26を読み出し、バイアス電流(Ib)設定値20と演算することにより感度補正値28を生成する。以下では、感度補正値28をバイアス電流(Ib)補正データ28とも称する。   In step S <b> 2405, the correction data generation unit 19 reads the bias current (Ib) set value 20 from the laser driving circuit 6 by the sensitivity correction value calculation unit 36. Subsequently, in step S2406, the correction data generation unit 19 reads the sensitivity correction formula 26 from the engine control unit 17 by the sensitivity correction value calculation unit 36, and calculates the sensitivity correction value 28 by calculating the bias current (Ib) set value 20. Is generated. Hereinafter, the sensitivity correction value 28 is also referred to as bias current (Ib) correction data 28.

ステップS2407において、補正データ生成部19は、加算器38によって光量補正値35に感度補正値28を加算し、スイッチング電流(Isw)補正データ27を生成する。   In step S <b> 2407, the correction data generation unit 19 adds the sensitivity correction value 28 to the light amount correction value 35 by the adder 38 to generate the switching current (Isw) correction data 27.

ステップS2408において、補正データ生成部19は、スイッチング電流(Isw)補正データ27をスイッチング電流(Isw)補正格納部40に格納する。また、ステップS2409において、補正データ生成部19は、バイアス電流(Ib)補正データ28をバイアス電流(Ib)補正格納部42に格納する。   In step S 2408, the correction data generation unit 19 stores the switching current (Isw) correction data 27 in the switching current (Isw) correction storage unit 40. In step S 2409, the correction data generation unit 19 stores the bias current (Ib) correction data 28 in the bias current (Ib) correction storage unit 42.

図24Bは、第5の実施形態に係る補正電流制御回路における電流補正値の生成手順を示すフローチャートである。   FIG. 24B is a flowchart illustrating a procedure for generating a current correction value in the correction current control circuit according to the fifth embodiment.

まず、ステップS2411において、補正電流制御回路9は、乗算器44によって光量調整値24とスイッチング電流(Isw)設定値を乗算し、スイッチング電流(Isw)調整値45を生成する。   First, in step S 2411, the correction current control circuit 9 multiplies the light amount adjustment value 24 and the switching current (Isw) setting value by the multiplier 44 to generate a switching current (Isw) adjustment value 45.

ステップS2412において、補正電流制御回路9は、スイッチング補正値生成部46によってスイッチング電流(Isw)補正格納データ41をIsw補正格納部40から読み出す。ステップS2413において、補正電流制御回路9は、スイッチング補正値生成部46によってスイッチング電流(Isw)調整値45からスイッチング電流(Isw)補正格納データ41を減算することによりスイッチング補正値12を生成する。   In step S 2412, the correction current control circuit 9 reads the switching current (Isw) correction storage data 41 from the Isw correction storage unit 40 by the switching correction value generation unit 46. In step S <b> 2413, the correction current control circuit 9 generates the switching correction value 12 by subtracting the switching current (Isw) correction stored data 41 from the switching current (Isw) adjustment value 45 by the switching correction value generation unit 46.

ステップS2414において、補正電流制御回路9は、バイアス補正値生成部47によってレーザ駆動回路6からバイアス電流(Ib)設定値20を読み出す。続いて、ステップS2415において、補正電流制御回路9は、バイアス補正値生成部47によってバイアス電流(Ib)補正格納データ43を読み出す。さらに、ステップS2416において、補正電流制御回路9は、バイアス補正値生成部47によってバイアス電流(Ib)設定値20とバイアス電流(Ib)補正格納データ43を加算することによりバイアス補正値13を生成する。   In step S <b> 2414, the correction current control circuit 9 reads the bias current (Ib) set value 20 from the laser driving circuit 6 by the bias correction value generation unit 47. Subsequently, in step S <b> 2415, the correction current control circuit 9 reads the bias current (Ib) correction storage data 43 by the bias correction value generation unit 47. In step S 2416, the correction current control circuit 9 generates the bias correction value 13 by adding the bias current (Ib) set value 20 and the bias current (Ib) correction storage data 43 by the bias correction value generation unit 47. .

第1の実施形態に係る画像形成装置における一部のハードウェア構成を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a partial hardware configuration in the image forming apparatus according to the first embodiment. 第1の実施形態に係る感光ドラムの周辺の構成例を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration example around a photosensitive drum according to the first embodiment. 第1の実施形態に係る感光ドラムにおける1周分の電位ムラの測定方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the measuring method of the electrical potential nonuniformity for 1 round in the photosensitive drum which concerns on 1st Embodiment. , 感光ドラムの2次元面の電位ムラを測定した結果を示す図である。It is a figure which shows the result of having measured the electrical potential nonuniformity of the two-dimensional surface of a photosensitive drum. , 第1の実施形態に係る感光ドラムのレーザ非露光部における電位ムラ補正を示す図である。It is a figure which shows the electric potential nonuniformity correction | amendment in the laser non-exposure part of the photosensitive drum which concerns on 1st Embodiment. , 第1の実施形態に係る感光ドラムのレーザ露光部における電位ムラ補正を示す図である。It is a figure which shows the electric potential nonuniformity correction | amendment in the laser exposure part of the photosensitive drum which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係るレーザ駆動部の構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of the laser drive part which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係るレーザ駆動部のタイミングチャートである。It is a timing chart of the laser drive part concerning a 1st embodiment. , 感光ドラムの2次元面における電位ムラの測定結果を示す図である。It is a figure which shows the measurement result of the electrical potential nonuniformity in the two-dimensional surface of a photosensitive drum. , 第2の実施形態に係る感光ドラムのレーザ非露光部の電位ムラ補正を示す図である。It is a figure which shows the electric potential nonuniformity correction | amendment of the laser non-exposure part of the photosensitive drum which concerns on 2nd Embodiment. , 第2の実施形態に係る感光ドラムのレーザ露光部における電位ムラ補正を示す図である。It is a figure which shows the electric potential nonuniformity correction | amendment in the laser exposure part of the photosensitive drum which concerns on 2nd Embodiment. , , 第2の実施形態に係るレーザ駆動部の構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of the laser drive part which concerns on 2nd Embodiment. 第3の実施形態に係る補間の仕組みを説明する図である。It is a figure explaining the mechanism of the interpolation which concerns on 3rd Embodiment. 第3の実施形態に係る補間方法を示す図である。It is a figure which shows the interpolation method which concerns on 3rd Embodiment. 第3の実施形態に係る補間データを作成する回路ブロック図である。It is a circuit block diagram which creates the interpolation data concerning a 3rd embodiment. 第3の実施形態に係る補間データ作成のタイミングチャートである。It is a timing chart of interpolation data creation concerning a 3rd embodiment. 第4の実施形態に係る補間データを作成する回路ブロック図である。It is a circuit block diagram which creates the interpolation data concerning a 4th embodiment. 第4の実施形態に係る補間データ作成のタイミングチャートである。It is a timing chart of interpolation data creation concerning a 4th embodiment. 予め測定した電位ムラ情報の取得方法を示す図である。It is a figure which shows the acquisition method of the electrical potential nonuniformity information measured beforehand. 第5の実施形態に係る画像形成装置の制御構成を示す概略図である。FIG. 10 is a schematic diagram illustrating a control configuration of an image forming apparatus according to a fifth embodiment. 第5の実施形態に係るレーザ駆動部の構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structural example of the laser drive part which concerns on 5th Embodiment. 第5の実施形態に係る補正データ生成部及び補正電流制御回路の構成例を示すブロック図である。FIG. 10 is a block diagram illustrating a configuration example of a correction data generation unit and a correction current control circuit according to a fifth embodiment. 感光ドラムの像面分布特性及び近似式生成方法を示す図である。It is a figure which shows the image surface distribution characteristic and approximate expression production | generation method of a photosensitive drum. 第5の実施形態に係る補正データの生成方法を示す図である。It is a figure which shows the production | generation method of the correction data which concerns on 5th Embodiment. 第5の実施形態に係る光量補正値演算部における光量補正値の生成方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the production | generation method of the light quantity correction value in the light quantity correction value calculating part which concerns on 5th Embodiment. 第5の実施形態に係る感光ドラムの電位補正方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the electric potential correction method of the photosensitive drum which concerns on 5th Embodiment. 第5の実施形態に係る補正データ生成部における補正データの生成手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the production | generation procedure of the correction data in the correction data generation part which concerns on 5th Embodiment. 第5の実施形態に係る補正電流制御回路における電流補正値の生成手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the production | generation procedure of the current correction value in the correction current control circuit which concerns on 5th Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

101:感光ドラム
102:一次帯電器
103:レーザ走査光
104:電位センサ
105:半導体レーザ
106:ポリゴンミラー
107:fθレンズ
109:BDセンサ
110:BD信号
101: photosensitive drum 102: primary charger 103: laser scanning light 104: potential sensor 105: semiconductor laser 106: polygon mirror 107: fθ lens 109: BD sensor 110: BD signal

Claims (11)

像担持体と、前記像担持体を帯電させる帯電手段と、帯電させた前記像担持体に対して、画像データに応じた光量で露光する露光手段と、露光により前記像担持体に形成される静電潜像をトナーにより現像する現像手段とを備える画像形成装置であって、
前記像担持体の表面を複数の領域に分割した分割領域において、帯電させた前記像担持体に対して前記露光手段により露光した状態の第1電位及び露光していない状態の第2電位を測定する測定手段と、
測定された前記第1電位に基づいて、形成する画像の画像データに従った露光位置の電位ムラを解消すべく、該露光位置に対する露光量を補正する第1補正手段と、
測定された前記第2電位に基づいて、前記画像データに従った非露光位置の電位ムラを解消すべく、該非露光位置に対する露光量を補正する第2補正手段と
を備えることを特徴とする画像形成装置。
An image carrier, charging means for charging the image carrier, exposure means for exposing the charged image carrier with a light amount corresponding to image data, and exposure are formed on the image carrier. An image forming apparatus comprising: a developing unit that develops the electrostatic latent image with toner;
In a divided region obtained by dividing the surface of the image carrier into a plurality of regions, a first potential in a state where the charged image carrier is exposed by the exposure unit and a second potential in a state where the image carrier is not exposed are measured. Measuring means to
First correcting means for correcting the exposure amount with respect to the exposure position in order to eliminate the potential unevenness of the exposure position according to the image data of the image to be formed based on the measured first potential;
An image comprising: second correction means for correcting an exposure amount with respect to the non-exposure position based on the measured second electric potential in order to eliminate potential unevenness at the non-exposure position according to the image data. Forming equipment.
各分割領域において測定された測定データ間を線形補間するために、所定数の補間データを追加する補間手段をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。   The image forming apparatus according to claim 1, further comprising an interpolation unit that adds a predetermined number of interpolation data in order to linearly interpolate between measurement data measured in each divided region. 各分割領域において測定された測定データに基づいて、前記第1補正手段及び前記第2補正手段によって補正された露光量のデータ間を線形補間するために、所定数の補間データを追加する補間手段をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。   Interpolation means for adding a predetermined number of interpolation data to linearly interpolate between exposure amount data corrected by the first correction means and the second correction means based on measurement data measured in each divided region The image forming apparatus according to claim 1, further comprising: 前記第1補正手段及び前記第2補正手段は、
前記露光手段に入力される前記画像データに従った駆動電流の電流量を補正することにより、前記露光量を補正することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の画像形成装置。
The first correction unit and the second correction unit are:
4. The image formation according to claim 1, wherein the exposure amount is corrected by correcting a current amount of a drive current according to the image data input to the exposure unit. 5. apparatus.
前記露光手段は、
レーザを射出する半導体レーザと、
前記半導体レーザの変調部を駆動するための変調駆動電流と、該半導体レーザのバイアス電流とに基づく前記駆動電流に従って該半導体レーザを駆動するレーザ駆動手段とを備え、
前記第1補正手段は、測定された前記第1電位に基づいて、前記変調駆動電流を補正し、
前記第2補正手段は、測定された前記第2電位に基づいて、前記バイアス電流を補正することを特徴とする請求項4に記載の画像形成装置。
The exposure means includes
A semiconductor laser emitting a laser;
A laser driving means for driving the semiconductor laser according to the driving current based on the modulation driving current for driving the modulation unit of the semiconductor laser and the bias current of the semiconductor laser;
The first correction means corrects the modulation drive current based on the measured first potential,
The image forming apparatus according to claim 4, wherein the second correction unit corrects the bias current based on the measured second potential.
測定された前記第1電位又は前記第2電位における電位ムラを解消するために、前記変調駆動電流又は前記バイアス電流を補正するための感度補正係数を演算する感度補正係数演算手段と、をさらに備え、
前記第1補正手段及び前記第2補正手段は、算出された前記感度補正係数を用いて前記変調駆動電流又は前記バイアス電流を補正することを特徴とする請求項5に記載の画像形成装置。
Sensitivity correction coefficient calculating means for calculating a sensitivity correction coefficient for correcting the modulation drive current or the bias current in order to eliminate the potential unevenness in the measured first potential or the second potential. ,
6. The image forming apparatus according to claim 5, wherein the first correction unit and the second correction unit correct the modulation drive current or the bias current using the calculated sensitivity correction coefficient.
前記第1補正手段及び前記第2補正手段は、
前記露光手段に入力される前記画像データに従った駆動パルスのパルス幅を補正することにより、前記露光量を補正することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の画像形成装置。
The first correction unit and the second correction unit are:
4. The image formation according to claim 1, wherein the exposure amount is corrected by correcting a pulse width of a driving pulse in accordance with the image data input to the exposure unit. 5. apparatus.
前記露光手段は、帯電させた前記像担持体に対して、前記画像データに従って露光することにより当該露光位置の帯電電位を低下させ、
前記第1補正手段は、各分割領域において測定された前記第1電位のうち最も高い電位に合わせるように、他の分割領域における露光量を減少させ、
前記第2補正手段は、各分割領域において測定された前記第2電位のうち最も低い電位に合わせるように、他の分割領域における露光量を増大させることを特徴とする請求項1乃至7の何れか1項に記載の画像形成装置。
The exposure means reduces the charged potential at the exposure position by exposing the charged image carrier according to the image data,
The first correction unit reduces the exposure amount in other divided regions so as to match the highest potential among the first potentials measured in each divided region,
8. The method according to claim 1, wherein the second correction unit increases an exposure amount in another divided region so as to match the lowest potential among the second potentials measured in each divided region. The image forming apparatus according to claim 1.
予め測定された前記第1電位の値及び前記第2電位の値を保存する保存手段をさらに備え、
前記第1補正手段及び第2補正手段は、
前記測定手段によって測定された第1電位の値及び第2電位の値の代わりに、前記保存手段に保存されている前記第1電位の値及び前記第2電位の値を用いて、前記露光量を補正することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の画像形成装置。
A storage means for storing the value of the first potential and the value of the second potential measured in advance;
The first correction unit and the second correction unit are:
The exposure amount using the first potential value and the second potential value stored in the storage means instead of the first potential value and the second potential value measured by the measuring means. The image forming apparatus according to claim 1, wherein:
前記第1電位の値及び前記第2電位の値を入力する入力手段をさらに備え、
前記第1補正手段及び第2補正手段は、
前記測定手段によって測定された第1電位の値及び第2電位の値の代わりに、前記入力手段によって入力された前記第1電位の値及び前記第2電位の値を用いて、前記露光量を補正することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の画像形成装置。
Input means for inputting the value of the first potential and the value of the second potential;
The first correction unit and the second correction unit are:
Instead of the first potential value and the second potential value measured by the measuring means, the first potential value and the second potential value input by the input means are used to determine the exposure amount. The image forming apparatus according to claim 1, wherein correction is performed.
像担持体と、前記像担持体を帯電させる帯電手段と、帯電させた前記像担持体に対して、画像データに応じた光量で露光する露光手段と、露光により前記像担持体に形成される静電潜像をトナーにより現像する現像手段とを備える画像形成装置の制御方法であって、
前記像担持体の表面を複数の領域に分割した分割領域において、帯電させた前記像担持体に対して前記露光手段により露光した状態の第1電位及び露光していない状態の第2電位を測定する測定ステップと、
測定された前記第1電位に基づいて、形成する画像の画像データに従った露光位置の電位ムラを解消すべく、該露光位置に対する露光量を補正する第1補正ステップと、
測定された前記第2電位に基づいて、前記画像データに従った非露光位置の電位ムラを解消すべく、該非露光位置に対する露光量を補正する第2補正ステップと
を含むことを特徴とする画像形成装置の制御方法。
An image carrier, charging means for charging the image carrier, exposure means for exposing the charged image carrier with a light amount corresponding to image data, and exposure are formed on the image carrier. A control method for an image forming apparatus comprising: a developing unit that develops an electrostatic latent image with toner,
In a divided region obtained by dividing the surface of the image carrier into a plurality of regions, a first potential in a state where the charged image carrier is exposed by the exposure unit and a second potential in a state where the image carrier is not exposed are measured. Measuring step to
A first correction step of correcting an exposure amount with respect to the exposure position in order to eliminate potential unevenness of the exposure position according to the image data of the image to be formed based on the measured first potential;
And a second correction step of correcting an exposure amount with respect to the non-exposure position in order to eliminate potential unevenness at the non-exposure position according to the image data based on the measured second potential. Control method of forming apparatus.
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