JP2009284295A - Low-impedance loss line component - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve a function of an ideal power supply that has an extremely low impedance value and an extremely small transmission coefficient value up to a band exceeding 1 GHz and cannot be achieved by a capacitor. <P>SOLUTION: One portion of a lead frame is connected to an edge in a width direction of a second cathode layer in a low-impedance loss line and the entire center section of a first cathode layer each, the low-impedance loss line and one portion of the lead frame are sealed with a packaging resin 36, the lead frame is cut with an edge section left, and the edge section exposed from the packaging resin 36 is bent to form a power terminal 35 and a ground terminal 34, thus forming a low-impedance loss line component 37. The low-impedance loss line component 37 is mounted on a printed circuit board 38, the power terminal 35 is inserted into power supply wiring 40 in series via a via 41, and the ground terminal 34 is connected to a ground plane 39 in parallel via the via 41. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、回路または回路部品に関し、特に、高速スイッチング素子を使用する、情報技術装置やディジタルデータ通信機器の直流電源分配回路、並びに高周波DC−DCコンバータ等の電力変換器に使用し、小型軽量化が可能で、変換効率、信号品位(シグナルインテグリティ)、および電磁環境適合性(EMC)を向上させることが出来る低インピーダンス損失線路部品に関する。 The present invention relates to a circuit or a circuit component, and in particular, is used for a power converter such as a high-frequency DC-DC converter and a DC power distribution circuit of an information technology apparatus and a digital data communication device using a high-speed switching element. The present invention relates to a low-impedance loss line component that can be improved and can improve conversion efficiency, signal quality (signal integrity), and electromagnetic compatibility (EMC).

近年、情報技術装置やマルチメディア機器のさらなる高性能化、高機能化のために、トランジスタの高速化が進んでいる。情報技術装置やマルチメディア機器、並びに電力変換器には、また、省エネルギー化や小型軽量化の要求も強い。 In recent years, transistors have been increased in speed in order to achieve higher performance and higher functionality of information technology devices and multimedia devices. Information technology devices, multimedia devices, and power converters are also strongly demanded to save energy and reduce size and weight.

しかし、高速スイッチング素子を使用する回路や機器においては、高いレベルの電磁ノイズが発生するという問題があり、コンデンサ等の従来の部品を使用する回路設計技術では、EMC対策部品やシールド材を使用してもシグナルインテグリティやEMCの向上が困難で、省エネルギー化や小型軽量化への要求に応えることも難しかった。 However, there is a problem that high-level electromagnetic noise is generated in circuits and devices that use high-speed switching elements. In circuit design technology that uses conventional components such as capacitors, EMC countermeasure components and shielding materials are used. However, it was difficult to improve signal integrity and EMC, and it was difficult to meet the demands for energy saving and miniaturization.

回路設計技術の理論を支配するのは物理学であり、より直接的には電磁気学である。電磁気学によると、回路の状態には活性状態(exited states)、定常状態(stationary states)および、実用上は定常状態と見なせる準定常状態(quasi
stationary states)が存在する。活性状態とは、回路上の電界と磁界が変化または振動している状態であり交流回路はその一例である。振動する電界と磁界は電磁波となって絶縁体中を進行する。該絶縁体が真空空間の場合は、電磁波は光速で進行する。
It is physics that dominates the theory of circuit design technology, and more directly, electromagnetism. According to electromagnetism, circuit states can be considered as active states (exited states), steady states (stationary states), and quasi-steady states (quasi-stationary states that can be regarded as steady states in practice)
There are stationary states. The active state is a state in which the electric field and magnetic field on the circuit are changing or oscillating, and an AC circuit is one example. The oscillating electric and magnetic fields travel as electromagnetic waves in the insulator. When the insulator is a vacuum space, the electromagnetic wave travels at the speed of light.

定常状態とは、回路上の電界と磁界が静止している状態であり直流回路はその一例である。準定常状態とは、電界と磁界が電磁波となって回路上を進行するが、電磁波の波長が回路長に対して非常に長く回路内での電磁波の挙動が強弱振動だけと見なしても実用上不都合が生じない状態である。低周波アナログ回路や、およそ1[ns]以上の立ち上がり時間を有するスイッチング素子を10[cm]以上の配線を有する回路で使用する場合は、準定常状態と見なすことが出来る一例である。 The steady state is a state where the electric field and magnetic field on the circuit are stationary, and a DC circuit is an example. The quasi-steady state means that an electric field and a magnetic field travel on the circuit as an electromagnetic wave, but the wavelength of the electromagnetic wave is very long compared to the circuit length, and even if the behavior of the electromagnetic wave in the circuit is regarded as only strong and weak vibration, it is practical. This is a state where no inconvenience occurs. When a low-frequency analog circuit or a switching element having a rise time of about 1 [ns] or more is used in a circuit having a wiring of 10 [cm] or more, this is an example that can be regarded as a quasi-stationary state.

電磁気学によると、活性状態にある回路の電流はアンペールの法則として定義され次式で示される。 According to electromagnetics, the current in a circuit in an active state is defined as Ampere's law and is given by

電磁気学によると、電位Vは、電界の及ばない無限遠から導線の一点までの電界の積分値と定義されるが実用的にはグランド面から導線の一点までの電界の積分値として、また、電界Eは電位Vの傾きとしてそれぞれ次式から求められる。 According to electromagnetism, the electric potential V is defined as an integral value of an electric field from an infinite point where the electric field does not reach to one point of the conductor, but practically as an integral value of the electric field from the ground plane to one point of the conductor, E is obtained from the following equation as the slope of the potential V.

マックスウエルは、磁界に関する理論と電界に関する理論を融合したマックスウエルの方程式を1873年に発表し、続いてこの式をダランベールの波動方程式の形式に変形し、ベクトル波動方程式を導出した。マックスウエルは、1862年頃から主張していた、電磁波と光はともに光速で伝搬することをこの式を用いて理論的に証明し、線形電磁波理論(以下電磁波理論)を完成させ、これにより電磁気学が完成した。ヘルツは、1887年に、実験によって電磁波の存在を実証し、マックスウエルの電磁波理論の正しさを証明した。 Maxwell published Maxwell's equation, which merged the theory of magnetic fields and the theory of electric fields, in 1873, and then transformed this equation into the form of D'Alembert's wave equation to derive the vector wave equation. Maxwell, who had been insisting since 1862, theoretically proved that both electromagnetic waves and light propagate at the speed of light using this equation, and completed linear electromagnetic wave theory (hereinafter referred to as electromagnetic wave theory). Was completed. In 1887, Hertz demonstrated the existence of electromagnetic waves by experiment and proved the correctness of Maxwell's electromagnetic wave theory.

電磁気学によると、時間的に変化する電界と磁界は相互に作用しつつ横波となって空間または誘電体中を伝搬する。真空中を伝搬する電磁波の速度は光速である。伝搬する電磁波はポインチングベクトル理論に従って電力を伝搬する。空間を伝搬する電磁波は、周期および極性が一致し振幅ベクトルが進行方向に対して直交する電界波と磁界波とから構成される。この状態の電磁波はTEM(transverse electromagnetic)波と呼ばれる。TEM波を構成する電界波の振幅を磁界波の振幅で割った値は波動インピーダンス(surge
impedanceまたはwave impedance)と呼ばれる。
According to electromagnetism, an electric field and a magnetic field that change with time interact with each other and propagate in a space or a dielectric as a transverse wave. The speed of the electromagnetic wave propagating in the vacuum is the speed of light. The propagating electromagnetic wave propagates power according to the pointing vector theory. An electromagnetic wave propagating in space is composed of an electric field wave and a magnetic field wave whose period and polarity coincide and whose amplitude vector is orthogonal to the traveling direction. The electromagnetic wave in this state is called a TEM (transverse electromagnetic) wave. The value obtained by dividing the amplitude of the electric field wave constituting the TEM wave by the amplitude of the magnetic field wave is the wave impedance (surge
impedance or wave impedance).

電磁気学によると、電磁波は空間だけでなく媒体中も進行する。損失のない誘電体中を進行する電磁波の速度は、光速に対して比誘電率の平方根だけ遅くなり、波長は比誘電率の平方根だけ短くなる。後者は、波長圧縮と呼ばれる。 According to electromagnetism, electromagnetic waves travel not only in space but also in media. The speed of the electromagnetic wave traveling through the lossless dielectric is slowed by the square root of the relative permittivity with respect to the speed of light, and the wavelength is shortened by the square root of the relative permittivity. The latter is called wavelength compression.

電磁気学によると、損失のある媒体中を進行する電磁波は、次式で示される減衰定数γに従い、進行に伴って振幅が減少し位相が変化する。γの実数項であるαは減衰定数、γの虚数項であるβは位相定数と呼ばれる。αは、nep/m(ネパー/メートル)の単位で表される。1
[nep/m]は、1メートル進行して振幅がexp-1または0.368倍に減衰することを意味する。
According to electromagnetism, an electromagnetic wave traveling in a lossy medium follows an attenuation constant γ expressed by the following equation, and the amplitude decreases and the phase changes with progress. α which is a real term of γ is called an attenuation constant, and β which is an imaginary term of γ is called a phase constant. α is expressed in units of nep / m (neper / meter). 1
[nep / m] means that the amplitude is attenuated by exp-1 or 0.368 times after proceeding 1 meter.

電磁気学によると、式(3)中のγ 2を変形して得られる次式の括弧の項は、損失のある誘電体に関する複素誘電率と定義され、虚数部(σ/ε0ω)を実数部(εr)で割った値を誘電体損失の正接と呼び、tanδで表す。但し、tanδは、電磁気学上、深い意味を持たない。 According to electromagnetics, the parenthesis term in the following equation obtained by transforming γ 2 in equation (3) is defined as the complex permittivity for a lossy dielectric, and the imaginary part (σ / ε0ω) is the real part. The value divided by (εr) is called the dielectric loss tangent and is represented by tan δ. However, tan δ has no deep meaning in electromagnetics.

電磁波が導体中を進行する場合は、導体中では電磁波に作用する電荷は存在せず導電率σは
ωεに比べて非常に大きいので、γは次式で表される。次式中における減衰定数α の逆数であるδは、表皮厚さと呼ばれる。
When the electromagnetic wave travels in the conductor, there is no electric charge acting on the electromagnetic wave in the conductor, and the electrical conductivity σ is much larger than ωε, so γ is expressed by the following equation. Δ, which is the reciprocal of the attenuation constant α in the following equation, is called the skin thickness.

電磁気学によると、導体中を進行する電磁波の電界と磁界の比である固有インピーダンスZ0は、損失のある媒体中の固有インピーダンスにおいて導電率σがωεに比べて非常に大きいとして、次式で与えられる。 According to electromagnetism, the specific impedance Z0, which is the ratio of the electric field to the magnetic field of the electromagnetic wave traveling in the conductor, is given by It is done.

回路上の電界と磁界が変化または振動している活性状態または準定常状態においては電磁波理論が回路を支配し、この場合は導体中を電磁波が進むことは困難である。しかし回路上の電界と磁界が静止している定常状態においては導体中を電流が比較的容易に移動することが出来る。 In an active state or quasi-stationary state where the electric and magnetic fields on the circuit are changing or oscillating, the electromagnetic wave theory dominates the circuit, and in this case, it is difficult for the electromagnetic wave to travel through the conductor. However, in a steady state where the electric and magnetic fields on the circuit are stationary, the current can move relatively easily through the conductor.

物理学によると、導体中には無尽蔵に近い自由電子すなわち電荷が存在する。しかし、導体中の総電荷量は物性に依存して決まり定常的にはその値は一定である。直流電源に静的負荷が接続されている場合は導体中の電荷の移動による電流が流れるが、一般に、電荷の移動軸にはわずかな電界しか印加出来ないので電荷の平均移動速度は極めて遅い。 According to physics, there are almost inexhaustible free electrons or charges in the conductor. However, the total charge amount in the conductor is determined depending on the physical properties, and the value is constant in a steady state. When a static load is connected to the direct current power source, a current flows due to the movement of charges in the conductor, but in general, only a small electric field can be applied to the movement axis of charges, so the average movement speed of charges is extremely slow.

例えば、1平方ミリメートルの断面を有する銅線中を導体中の電荷の速度(dq/dt)で定義される10アンペアの電流が進行しているときの電流の進行速度は、物理学に従って計算すると常温で0.368[mm/s]となる。導体中の電荷は、遅いながらも移動は可能であるので、導体の他端で定常的に電荷が消費される際に導体の一端から同量の電荷が定常的に供給されれば、導体の他端に接続される抵抗器等の定常負荷へのエネルギー供給が支障なく行われる。 For example, when a current of 10 amperes defined by a charge velocity (dq / dt) in a conductor is traveling in a copper wire having a cross section of 1 square millimeter, the current progression rate is calculated according to physics It becomes 0.368 [mm / s] at room temperature. Since the charge in the conductor can move although it is slow, if the same amount of charge is constantly supplied from one end of the conductor when the charge is constantly consumed at the other end of the conductor, Energy supply to a steady load such as a resistor connected to the other end is performed without any trouble.

伝送線路上の電気信号の進行を扱うのが電気通信工学である。電気通信工学によると、直流的に絶縁された2本の導体間に電気信号を与えると、電気信号は電流波と電圧波となって伝送線路を進行するとしている。 Telecommunications engineering handles the progression of electrical signals on transmission lines. According to telecommunications engineering, when an electric signal is applied between two DC-insulated conductors, the electric signal becomes a current wave and a voltage wave and travels through the transmission line.

電気通信工学では、交流回路理論と同様に、電流を導体中の電荷の平均速度(dq/dt)すなわち導体電流としている。しかし、電磁気学の基礎を成すマックスウエルの方程式においては、導体電流は、時間の関数ではない電流密度Jに対応させている。 In telecommunications engineering, as in AC circuit theory, the current is the average charge velocity (dq / dt) in the conductor, that is, the conductor current. However, in Maxwell's equations that form the basis of electromagnetism, the conductor current corresponds to a current density J that is not a function of time.

交流回路理論や電気通信工学が電流をdq/dtと定義しているのは以下の理由によると考えられる。交流回路理論を支える重要な法則の一つであるキルヒホッフの法則が発表されたのが1845年で、マックスウエルが電磁波の存在を理論的に証明しヘルツによって実験で電磁波の存在が確認される42年前である。また、電気通信工学を支える重要な理論の一つである電信方程式が開発されたのが1874年で、同様に電磁波の存在が確認される13年前である。従って、交流回路理論および電気通信工学が実用化された当時は、回路の作用を電磁波の作用とする考え方がそもそも存在していなかった。さらに、その後も理論の修正が行われなかった。 The AC circuit theory and telecommunications engineering define the current as dq / dt for the following reasons. Kirchhoff's law, one of the important laws supporting AC circuit theory, was announced in 1845, Maxwell theoretically proves the existence of electromagnetic waves, and Hertz confirms the existence of electromagnetic waves by experiments42 Years ago. The telegraph equation, one of the important theories supporting telecommunications engineering, was developed in 1874, 13 years before the existence of electromagnetic waves was confirmed. Therefore, at the time when AC circuit theory and telecommunications engineering were put into practical use, there was no idea that the action of the circuit was the action of electromagnetic waves. Furthermore, the theory was not revised after that.

電気通信工学の基礎を成す電信方程式において、導体電流が光速で流れることが出来るとしている根拠となっているのはダランベールの波動方程式である。ダランベールの波動方程式では波動の主体を、スカラー量のラプラシアンとするベクトル関数で表現し、特定していない。導体電流が導体間電圧とともに波となることがは、電気回路を支配する電磁気学と整合していなので、電圧と電流に関する回路方程式をダランベールの波動方程式に対比させて得られる電信方程式は、電磁気学とは無関係であり、また電磁気学に反していることになる。 In the telegraph equation that forms the basis of telecommunications engineering, the basis of the fact that the conductor current can flow at the speed of light is the D'Alembert wave equation. In D'Alembert's wave equation, the subject of the wave is expressed by a vector function with a Laplacian of scalar quantity and is not specified. The fact that the conductor current becomes a wave with the voltage between conductors is consistent with the electromagnetism governing the electrical circuit, so the telegraph equation obtained by comparing the circuit equation for voltage and current with the D'Alembert wave equation is the electromagnetism Is irrelevant and is contrary to electromagnetism.

電流の定義が電磁気学に反すると、線路の電圧や、インピーダンス、電磁波との関係、さらには伝送損失に関しても電磁気学と矛盾する考え方が生じる。電気通信工学にはこの矛盾が散見されるが、歴史が古く現在でも伝送線路設計への豊富な適用実績があることから、従来通りの連続波を対象とする伝送線路設計では電磁気学との矛盾は顕在化していない。 If the definition of current is contrary to electromagnetism, the idea of contradicting electromagnetism also arises in relation to line voltage, impedance, electromagnetic waves, and transmission loss. Although this contradiction is seen in telecommunications engineering, it has a long history and has abundant track record of application to transmission line design. Therefore, conventional transmission line design for continuous wave is inconsistent with electromagnetics. Has not been revealed.

スイッチング波またはディジタル波のような間欠波を対象とする伝送線路設計においても電気通信工学に基づくと効率的であると言う考え方が支配的である。しかし電気通信工学のディジタル回路への実用実績が少ないため電磁気学と対比しつつ慎重に設計や解析を行わないと、電磁気学との前記矛盾が顕在化する可能性がある。 In transmission line design for intermittent waves such as switching waves or digital waves, the idea of being efficient based on telecommunications engineering is dominant. However, since there is little practical experience with digital circuits in telecommunications engineering, the contradiction with electromagnetism may become apparent unless careful design and analysis is performed in contrast to electromagnetism.

電磁気学によれば伝送線路を構成する2本の導体に挟まれる絶縁体が真空である場合は、TEM波の電磁波は光速で真空中を進行する。つまり、この場合の電流や電圧は、伝送線路の導体ではなくて絶縁体中を進み、それぞれ式(1)および式(2)から求められる値となる。実際の電流や電圧は磁界や電界であるので絶縁体中を波となって準光速で進むことが可能となる。伝送線路上のTEM波を構成する電界波の振幅を磁界波の振幅で割った値が、特性インピーダンスである。 According to electromagnetics, when the insulator sandwiched between the two conductors constituting the transmission line is in a vacuum, the electromagnetic wave of the TEM wave travels in the vacuum at the speed of light. In other words, the current and voltage in this case travel through the insulator, not the conductor of the transmission line, and have values obtained from the equations (1) and (2), respectively. Since an actual current or voltage is a magnetic field or an electric field, it can travel in a quasi-light speed as a wave in the insulator. A value obtained by dividing the amplitude of the electric field wave constituting the TEM wave on the transmission line by the amplitude of the magnetic field wave is the characteristic impedance.

電気通信工学によると、伝送線路上を進行する信号の挙動は、伝送線路の特性インピーダンスと伝搬定数によって決まる。理想的な平板導体が理想的な絶縁体を挟んで平行に対向している平行板線路の特性インピーダンスZ0は、伝送線路の物理定数によって次式から求められる。平板導体や絶縁体の材料特性は、伝送線路の特性インピーダンスに対して実用上大きな影響を及ぼさない。 According to telecommunications engineering, the behavior of a signal traveling on a transmission line is determined by the characteristic impedance and propagation constant of the transmission line. The characteristic impedance Z0 of the parallel plate line in which the ideal flat conductors face each other across the ideal insulator is obtained from the following equation according to the physical constant of the transmission line. The material characteristics of the flat conductor and the insulator do not have a large practical effect on the characteristic impedance of the transmission line.

電気通信工学によると、既知の特性インピーダンス(Z0)を有する伝送線路を通して未知の特性インピーダンス(Z1)を有する伝送線路に電磁波を注入したときの、
前記二つの伝送線路の接続点における反射係数(S11)は、次式で表される。
According to telecommunications engineering, when electromagnetic waves are injected into a transmission line having an unknown characteristic impedance (Z1) through a transmission line having a known characteristic impedance (Z0),
The reflection coefficient (S11) at the connection point of the two transmission lines is expressed by the following equation.

電気通信工学によると、損失を有する伝送線路すなわち損失線路の透過係数(S21α)は、次式で表される。 According to telecommunications engineering, the transmission coefficient (S21α) of a transmission line having a loss, that is, a lossy line is expressed by the following equation.

電磁気学によると、実用的な伝送線路の減衰定数は、電磁波が損失のある誘電体内を進行するときの減衰と、電磁波が誘電体内を進行する過程でその一部が導体内に侵入して熱になる導体損と、伝送線路外に漏れ出る放射損との和となると考えることが出来る。 According to electromagnetics, the practical transmission line attenuation constant is determined by the attenuation when the electromagnetic wave travels through a lossy dielectric body, and part of the electromagnetic wave penetrates into the conductor in the course of the electromagnetic wave traveling through the dielectric. It can be considered that this is the sum of the conductor loss and the radiation loss leaking out of the transmission line.

高速ディジタルデータ通信機器の配線設計は電気通信工学に従って行われている。しかし、電気通信工学は正弦波等の連続波を扱う伝送線路設計には適するが、前述のようにディジタル信号のような間欠波を扱う伝送線路設計には、電磁気学との矛盾があり適さない。 Wiring design of high-speed digital data communication equipment is performed according to telecommunication engineering. However, telecommunications engineering is suitable for transmission line design that handles continuous waves such as sine waves, but as mentioned above, transmission line design that handles intermittent waves such as digital signals is not suitable because of inconsistencies with electromagnetics. .

情報技術装置や高速ディジタルデータ通信機器等に使用される直流電源は、回路に電荷を供給すると考えられている。 DC power supplies used in information technology equipment, high-speed digital data communication equipment, and the like are considered to supply electric charges to circuits.

電磁気学によると、マックスウエルは、単位(試験)点電荷に働く力の原因は、単位点電荷の存在する場所における電界にあるとし、クーロンの法則を修正した。この事実はあまり知られていない。 According to electromagnetism, Maxwell modified Coulomb's law, assuming that the force acting on the unit (test) point charge is due to the electric field where the unit point charge exists. This fact is not well known.

修正された電磁気学によると、電界に関する静電(electrostatic)エネルギーwEは、次式で表される。 According to the modified electromagnetism, the electrostatic energy wE related to the electric field is expressed by the following equation.

このように、静電エネルギー(wE)は電荷が持っているのではなくて電界Eと電束密度Dの積または電界Eとして媒質に蓄積していることになる。 Thus, the electrostatic energy (wE) is not carried by the electric charge but is accumulated in the medium as the product of the electric field E and the electric flux density D or the electric field E.

なお、電圧Vが印加された容量Cのコンデンサに蓄積されている静電エネルギーwCは、電極距離をd、電極面積をSとすると、次式で表される。 The electrostatic energy wC stored in the capacitor having the capacitance C to which the voltage V is applied is expressed by the following equation, where d is the electrode distance and S is the electrode area.

数メガヘルツ以上の帯域におけるコンデンサのインピーダンス特性の測定には、ネットワークアナライザまたはネットワークアナライザの原理を応用した4端子のインピーダンスアナライザが使用されている。IT機器を支えるディジタル回路において、コンデンサは、圧倒的に電源分配回路のデカップリングコンデンサとして使われることが多いこともあって、DUT(device under test)としてのコンデンサは測定系の線路に並列に接続されて測定される。 For measuring the impedance characteristics of capacitors in a band of several megahertz or more, a network analyzer or a four-terminal impedance analyzer applying the principle of the network analyzer is used. In digital circuits that support IT equipment, capacitors are overwhelmingly often used as decoupling capacitors for power distribution circuits. Capacitors as DUTs (device under test) are connected in parallel to measurement lines. Measured.

測定法によるコンデンサの端子インピーダンス(ZC)は散乱行列(scattering matrix)を構成する透過係数(S21)から次式によって求めることが出来る。 The terminal impedance (ZC) of the capacitor by the measurement method can be obtained from the transmission coefficient (S21) constituting the scattering matrix according to the following equation.

測定系のケーブルの特性インピーダンス(Z0)が50[Ω]であって、S21が1よりかなり小さい場合は、次式のようにZCとS21の関係はさらに簡略化される。この方法は無損失線路またはコンデンサのような線路長がゼロと見なせる素子に使用できるが、一般の伝送線路の場合は、式(8)の関係から反射係数(S11)の測定結果から推定しなければならない。 When the characteristic impedance (Z0) of the measurement system cable is 50 [Ω] and S21 is considerably smaller than 1, the relationship between ZC and S21 is further simplified as in the following equation. This method can be used for a lossless line or an element such as a capacitor whose line length can be regarded as zero. However, in the case of a general transmission line, it must be estimated from the measurement result of the reflection coefficient (S11) from the relationship of equation (8). I must.

コンデンサの場合のように測定系のケーブルの特性インピーダンスに比べて端子インピーダンスが非常に小さい場合は、式(12)から求める方が、誤差が小さくなる。但し、式(12)はコンデンサを、電磁波の作用を無視した集中要素回路の素子と見なす場合に成立する式であるので、一般の大きさの回路で電磁波の作用が無視できなくなる1MHz前後以上では成立しないことに注意が必要である。 When the terminal impedance is very small as compared with the characteristic impedance of the measurement system cable as in the case of the capacitor, the error is reduced by obtaining from the equation (12). However, since the expression (12) is an expression that is established when the capacitor is regarded as an element of a lumped element circuit in which the action of electromagnetic waves is ignored, the action of the electromagnetic waves cannot be ignored in a circuit of a general size. Note that it does not hold.

式(12)に透過係数(S21)の測定値を代入してインピーダンス特性を求めると、市販されているコンデンサは、共振点と呼ばれるインピーダンスが最小となる周波数を有するとされている。共振点以下の周波数帯域においては周波数に比例してインピーダンス値が減少するほぼ理想的なインピーダンス特性を示すが、共振周波数以上ではインピーダンスが周波数に比例して増加するリアクタンス特性を示すことが確認される。この理由は、コンデンサにはリード線、端子、および電極がありこの部分は等価直列インダクタンス(ESL)として作用するためと考えられている。さらに前記共振点のインピーダンスは等価直列抵抗(ESR)によって決まると考えられている。 When the impedance characteristic is obtained by substituting the measured value of the transmission coefficient (S21) into the equation (12), a commercially available capacitor is said to have a frequency at which the impedance called a resonance point is minimized. In the frequency band below the resonance point, it shows an almost ideal impedance characteristic in which the impedance value decreases in proportion to the frequency, but it is confirmed that it shows a reactance characteristic in which the impedance increases in proportion to the frequency above the resonance frequency. . The reason for this is thought to be that a capacitor has lead wires, terminals, and electrodes, and this portion acts as an equivalent series inductance (ESL). Furthermore, the impedance at the resonance point is considered to be determined by the equivalent series resistance (ESR).

電磁気学に従って式(12)から求められるインピーダンス特性の共振点を検討すると、共振点が、コンデンサを集中要素モデルと見なせる上限であって、共振点以上の特性はコンデンサと測定回路の物理的な配置や大きさの関係する電磁波の挙動を示す特性であることが判る。 Examining the resonance point of the impedance characteristic obtained from Equation (12) according to electromagnetics, the resonance point is the upper limit at which the capacitor can be regarded as a lumped element model, and the characteristic above the resonance point is the physical arrangement of the capacitor and the measurement circuit. It can be seen that the characteristic shows the behavior of the electromagnetic wave related to the size.

電気電子回路の設計や解析においては、電源は電気電子回路が扱う周波数帯域において端子インピーダンスおよび透過係数がゼロである理想電源として扱われている。しかし現実の電源は、商用電源、バッテリ、またはインダクタンスの作用を利用する電力変換器であるため、理想電源と見なすことができない。このため、コンデンサが現実の電源を理想電源化するために使用されている。しかし、コンデンサは集中要素モデルの素子であるため、コンデンサ単体としては、前述のように一般の大きさの回路で電磁波の作用が無視できなくなる1MHz前後以上での作用は考慮されていない。 In the design and analysis of electric and electronic circuits, the power source is treated as an ideal power source having zero terminal impedance and transmission coefficient in the frequency band handled by the electric and electronic circuit. However, since an actual power source is a commercial power source, a battery, or a power converter that uses the action of inductance, it cannot be regarded as an ideal power source. For this reason, a capacitor is used to make an actual power supply an ideal power supply. However, since the capacitor is an element of a lumped element model, as a single capacitor, an operation at about 1 MHz or higher where the action of electromagnetic waves cannot be ignored in a general size circuit is not considered.

以上にもかかわらず、前述の従来の考え方に基づいてコンデンサメーカや、情報技術装置関連メーカではコンデンサの使用法を種々工夫している。印刷配線基板の電源層とグランド層は、直流電圧低下を最小にするとともにコンデンサでは不可能なギガヘルツ以上の帯域での低インピーダンス化を実現するために平行板構造が採用されている。しかし、板上に数百個以上のコンデンサを搭載する場合の、個々のコンデンサの最適な容量値やサイズと最適な配置を決定する方法は高性能コンピュータを使用しても不可能なほど複雑であり現在に至っても確立されていない。 In spite of the above, capacitor manufacturers and information technology equipment related manufacturers have devised various ways to use capacitors based on the above-described conventional concept. The power supply layer and the ground layer of the printed wiring board employ a parallel plate structure in order to minimize a DC voltage drop and to realize a low impedance in a band of gigahertz or higher, which is impossible with a capacitor. However, when mounting hundreds or more capacitors on a board, the method of determining the optimal capacitance value, size, and optimal placement of individual capacitors is so complex that it is impossible even with a high-performance computer. There is not established even now.

コンデンサメーカでは、ESLやESRを小さくするためのコンデンサ自身の改良を進めている。しかし、電解コンデンサにおいては大容量化と低ESR化に焦点が置かれ、セラミックコンデンサにおいては小型化とESRをやや高くすることに焦点が置かれており、電磁波の挙動を考慮した改良には至っていない。 Capacitor manufacturers are working to improve capacitors themselves to reduce ESL and ESR. However, in electrolytic capacitors, the focus is on higher capacity and lower ESR, and in ceramic capacitors, focus is on miniaturization and slightly higher ESR, leading to improvements that take electromagnetic behavior into consideration. Not in.

非特許文献1および非特許文献2に示される孤立電磁波コンセプトによると、スイッチング素子は、スイッチングの瞬間に、非線形波動またはソリトンの一種である孤立電磁波を励起する。一般のスイッチング機器のスイッチング素子も、同様のメカニズムで、スイッチングの瞬間に非線形波動またはソリトンの一種である孤立電磁波を励起する。 According to the isolated electromagnetic wave concept shown in Non-Patent Document 1 and Non-Patent Document 2, the switching element excites an isolated electromagnetic wave, which is a kind of nonlinear wave or soliton, at the moment of switching. A switching element of a general switching device excites a solitary electromagnetic wave, which is a kind of nonlinear wave or soliton, at the moment of switching by the same mechanism.

スイッチング素子のスイッチング動作時の孤立電磁波の励起メカニズムは、1834年にJohn Scott Russell がソリトンを発見する際に行った種々の実験の内の水を貯めた水門(ゲート)を急に開くことによって生じたソリトンの発生メカニズムや、ソリトンの一種であると確認されている津波の生成過程に極めて類似している。 The excitation mechanism of isolated electromagnetic waves during the switching operation of the switching element is caused by suddenly opening a gate for storing water in various experiments conducted by John Scott Russell in 1834 when he discovered solitons. It is very similar to the generation mechanism of solitons and the tsunami generation process that has been confirmed to be a kind of solitons.

非特許文献1および非特許文献2に示される孤立電磁波コンセプトによると、スイッチング素子がオフからオンにスイッチングする瞬間に、スイッチング素子が電源線路と信号線路を接続する点の電位は、前記直流電源の電圧を電源線路と信号線路の特性インピーダンス分割した値になる。従って、電源線路には電圧を分割電圧まで下げる極性の孤立電磁波が、信号線路には電圧を分割電圧まで上げる極性の孤立電磁波がそれぞれ同時に励起され、電磁波理論に従い、互いにその振幅ベクトルが直交する孤立電界波と孤立磁界波を伴って伝送線路上を進行する。 According to the isolated electromagnetic wave concept shown in Non-Patent Document 1 and Non-Patent Document 2, at the moment when the switching element switches from off to on, the potential at the point where the switching element connects the power line and the signal line is The voltage is a value obtained by dividing the characteristic impedance of the power line and the signal line. Therefore, isolated electromagnetic waves with a polarity that lowers the voltage to the divided voltage are excited on the power line, and isolated electromagnetic waves with a polarity that raises the voltage to the divided voltage are excited simultaneously on the signal line, and the isolated amplitude vectors are orthogonal to each other according to the electromagnetic wave theory. It travels on the transmission line with electric field waves and solitary magnetic field waves.

図1は、孤立電磁波の挙動を説明するためのインバータまたはプッシュプル回路(以下プッシュプル回路)1に関する等価回路の一例である。図1において、特性インピーダンスZ0の伝送線路の途中にプッシュプル回路1が接続されており、特性インピーダンスZ0の電源線路5は直流電源4とプッシュプル回路1との間に接続されて電源線路を構成し、特性インピーダンスZ0の信号線路6はプッシュプル回路1と整合終端抵抗7との間に接続されて信号線路を構成している。プッシュプル回路1は、PチャネルMOS
FET2とNチャネルMOS FET3によって構成されている。
FIG. 1 is an example of an equivalent circuit related to an inverter or push-pull circuit (hereinafter referred to as push-pull circuit) 1 for explaining the behavior of isolated electromagnetic waves. In FIG. 1, a push-pull circuit 1 is connected in the middle of a transmission line having a characteristic impedance Z0, and a power supply line 5 having a characteristic impedance Z0 is connected between the DC power supply 4 and the push-pull circuit 1 to form a power supply line. The signal line 6 having the characteristic impedance Z0 is connected between the push-pull circuit 1 and the matching termination resistor 7 to constitute a signal line. Push-pull circuit 1 is a P-channel MOS
It consists of FET2 and N-channel MOS FET3.

図1において、プッシュプル回路1のオン状態とは、PチャネルMOS FET2がオンでNチャネルMOS FET3がオフの状態であり、プッシュプル回路1のオフ状態はその逆である。伝送線路を進行するTEM波に関する磁界と電流の関係および電界と電位の関係は、電磁気学においてそれぞれアンペアの法則および電位の定義として示される。 In FIG. 1, the on state of the push-pull circuit 1 is a state where the P-channel MOS FET 2 is on and the N-channel MOS FET 3 is off, and the push-pull circuit 1 is off. The relationship between the magnetic field and the current and the relationship between the electric field and the potential with respect to the TEM wave traveling through the transmission line are shown as the amperage law and the definition of the potential in electromagnetics, respectively.

図2に、プッシュプル回路1がオフからオンに変化する時の信号線路6上の電位波形9と、電磁気学に示される電位の定義から逆算して求められる信号線路6上を進む電界波形8とを示す。図3は、プッシュプル回路1がオフからオンに変化する時の電源線路5上の電位波形11と、電磁気学に示される電位の定義から逆算して求められる電源線路5上を進む電界波形10とを示す。 FIG. 2 shows a potential waveform 9 on the signal line 6 when the push-pull circuit 1 changes from off to on, and an electric field waveform 8 that travels on the signal line 6 obtained by calculating backward from the definition of the potential shown in electromagnetics. It shows. FIG. 3 shows a potential waveform 11 on the power supply line 5 when the push-pull circuit 1 changes from off to on, and an electric field waveform 10 that travels on the power supply line 5 obtained by calculating backward from the definition of the potential shown in electromagnetics. It shows.

図2および図3に示すように、プッシュプル回路1のスイッチングによって生じる電界の波形は、スイッチング素子の立ち上がり波形の最大傾斜部の接線を立ち上がり波形と見なして求める立ち上がり時間と円周率との積の逆数として求められる周波数で定義される実効周波数(significant frequency)を有する正弦波の半波形に近似している。実効周波数の考え方を引用すると、前記近似の確かさ(accuracy)は、92%以上と見込まれる。従って、設計だけに限ると実用上実効周波数で行うことが出来る。 As shown in FIGS. 2 and 3, the waveform of the electric field generated by the switching of the push-pull circuit 1 is the product of the rise time and the circumference obtained by regarding the tangent of the maximum slope of the rising waveform of the switching element as the rising waveform. It approximates to a half waveform of a sine wave having an effective frequency defined by the frequency obtained as the reciprocal of. To quote the concept of effective frequency, the accuracy of the approximation is expected to be 92% or more. Therefore, practically, it can be performed at an effective frequency as far as design is concerned.

図1から図3において、プッシュプル回路1がオフからオンに変化すると、図1中のB点とC点の電位は等しくE/2[V]となる。プッシュプル回路1によって励起された、お互い逆極性を有する信号線路6上を進む孤立電界波8と電源線路5上を進む孤立電界波10は、それぞれプッシュプル回路1を背にして反対方向に進む。信号線路6上を進む孤立電界波8は、信号線路6の電位を0[V]からE/2[V]に上昇させつつ進み、整合終端抵抗7で消滅する。一方、電源線路5上を進む孤立電界波10は、電源線路5の電位をE[V]からE/2[V]に降下させつつ直流電源4に向かって、それぞれの伝送線路を構成する絶縁体中を準光速で進行する。 1 to 3, when the push-pull circuit 1 changes from off to on, the potentials at the points B and C in FIG. 1 are equal to E / 2 [V]. The isolated electric field wave 8 traveling on the signal line 6 having opposite polarities and the isolated electric field wave 10 traveling on the power supply line 5 excited by the push-pull circuit 1 travel in opposite directions with the push-pull circuit 1 as the back. . The isolated electric field wave 8 traveling on the signal line 6 proceeds while increasing the potential of the signal line 6 from 0 [V] to E / 2 [V], and disappears by the matching termination resistor 7. On the other hand, the isolated electric field wave 10 traveling on the power line 5 insulates each transmission line toward the DC power source 4 while lowering the potential of the power line 5 from E [V] to E / 2 [V]. It travels through the body at quasi-light speed.

直流電源4が端子インピーダンスゼロの理想電源である場合は、電源線路5上を進行する孤立電磁波は直流電源4で、反射し、信号線路6上に励起された孤立電磁波と同極性となり、電源線路5および信号線路6の電位をE/2[V]からE[V]に上昇させつつ進行し、整合終端抵抗7で消滅する。 When the DC power supply 4 is an ideal power supply with zero terminal impedance, the isolated electromagnetic wave traveling on the power supply line 5 is reflected by the DC power supply 4 and has the same polarity as the isolated electromagnetic wave excited on the signal line 6. 5 and the potential of the signal line 6 are increased from E / 2 [V] to E [V], and disappear with the matching termination resistor 7.

非特許文献1および非特許文献2によると、伝送線路上を進行する孤立電磁波の波長は次式で定義される。 According to Non-Patent Document 1 and Non-Patent Document 2, the wavelength of an isolated electromagnetic wave traveling on the transmission line is defined by the following equation.

従来の電源デカップリング回路または回路部品については、下記の特許文献や非特許文献に記載されている。その要点は後述される。
特開2002−260965(P2002−260965A) 特開2005−294449(P2005−294499A) 特開2007−42732(P2007−42732A) 特開2002−164760(P2002−164760A) 特開2004−048650(P2004−048650A) HirokazuTohya and Noritaka Toya著 「A Novel Design Methodologyof the On - Chip Power Distribution Network Enhancing the Performance andSuppressing EMI of the SoC」、IEEE International Symposium on Circuits andSystems 2007、 pp. 889-892、 May 2007. 遠矢弘和、遠矢紀尚 著 「SoCの性能とEMCを大きく改善するオンチップ電源分配回路の新しい設計法」、電子情報通信学会 信学技報、Vol.107、No. 149、 EE2007-20、pp.73-78、2007年7月.
Conventional power supply decoupling circuits or circuit components are described in the following patent documents and non-patent documents. The point will be described later.
JP 2002-260965 (P2002-260965A) JP-A-2005-294449 (P2005-294499A) JP2007-42732 (P2007-42732A) JP 2002-164760 (P2002-164760A) JP-A-2004-048650 (P2004-048650A) Hirokazu Tohya and Noritaka Toya, "A Novel Design Methodology of the On-Chip Power Distribution Network Enhancing the Performance and Suppressing EMI of the SoC", IEEE International Symposium on Circuits and Systems 2007, pp. 889-892, May 2007. Hirokazu Toya, Norio Naoya Toya "New design method of on-chip power distribution circuit that greatly improves SoC performance and EMC", IEICE Technical Report, Vol.107, No.149, EE2007-20, pp .73-78, July 2007.

解決しようとする問題点の第1は、特許文献1に関する。特許文献1は、簡便な製造工程で、良好な特性を有する固体電解コンデンサを得ることができる固体電解コンデンサの製造方法を提供するために、固体電解質層に関する詳細な製法を開示している。しかし、改良の目的がESRの低減であり、開示されている技術によって、コンデンサに期待されている理想電源の機能に近づけることは不可能であった。 The first problem to be solved relates to Patent Document 1. Patent Document 1 discloses a detailed manufacturing method for a solid electrolyte layer in order to provide a method for manufacturing a solid electrolytic capacitor capable of obtaining a solid electrolytic capacitor having good characteristics by a simple manufacturing process. However, the purpose of the improvement is to reduce ESR, and it has been impossible to approximate the function of an ideal power source expected for a capacitor by the disclosed technology.

解決しようとする問題点の第2は、特許文献2に関する。特許文献2は、静電容量及び耐圧の向上と、小型大容量化を可能とした固体電解コンデンサの製造方法を提供するために、固体電解質層に関する詳細な製法を開示している。しかし、改良の目的が静電容量及び耐圧の向上と、小型大容量化であり、開示されている技術によって、コンデンサに期待されている理想電源の機能に近づけることは不可能であった。 A second problem to be solved relates to Patent Document 2. Patent Document 2 discloses a detailed manufacturing method related to a solid electrolyte layer in order to provide a method for manufacturing a solid electrolytic capacitor capable of improving capacitance and withstand voltage and reducing the size and capacity. However, the purpose of the improvement is to increase the capacitance and withstand voltage and to increase the size and capacity, and it has been impossible to approximate the function of an ideal power source expected for a capacitor by the disclosed technology.

解決しようとする問題点の第3は、特許文献3に関する。特許文献3は、大容量、低ESR、高信頼性である固体電解コンデンサを提供するために、セパレータを含む固体電解質層に関する詳細な製法を開示している。しかし、改良の目的が大容量、低ESR、高信頼性であり、開示されている技術によって、コンデンサに期待されている理想電源の機能に近づけることは不可能であった。 A third problem to be solved relates to Patent Document 3. Patent Document 3 discloses a detailed manufacturing method for a solid electrolyte layer including a separator in order to provide a solid electrolytic capacitor having a large capacity, low ESR, and high reliability. However, the purpose of the improvement is large capacity, low ESR, and high reliability, and it has been impossible to approach the function of an ideal power source expected for a capacitor by the disclosed technology.

解決しようとする問題点の第4は、特許文献4に関する。特許文献4は、10KHzから1GHz間での帯域で使用する分布定数型ノイズフィルタの形成法を示している。該分布定数型ノイズフィルタの長さは、電子部品から発生する高周波の1/4波長以上の長さとなるように設定するとしているが、たとえば100[MHz]の高調波すなわち正弦波の1/4波長は大気中で75[cm]、この文献で絶縁体として使用している酸化アルミニウムの場合は、比誘電率が約8.5であるので26[cm]となり、通常の電子・電気機器に使用するには長すぎる。また、線路の入力インピーダンス特性は、反射係数(S11)の測定値または同等の電磁界シミュレーション値から求めるべきところを透過係数(S21)から求める理論的な誤りを犯しているのでデータの信頼性が無い。従って、開示されている技術によって、コンデンサに期待されている理想電源の機能に近づけることは不可能であった。 A fourth problem to be solved relates to Patent Document 4. Patent Document 4 shows a method of forming a distributed constant noise filter used in a band between 10 KHz and 1 GHz. The length of the distributed constant type noise filter is set so as to be at least a quarter wavelength of a high frequency generated from an electronic component. For example, a harmonic of 100 [MHz], that is, a quarter of a sine wave is used. The wavelength is 75 [cm] in the atmosphere, and in the case of aluminum oxide used as an insulator in this document, the relative dielectric constant is about 8.5, so it is 26 [cm]. Too long to use. Further, the input impedance characteristic of the line has a theoretical error in determining where the transmission coefficient (S21) should be obtained from the measured value of the reflection coefficient (S11) or the equivalent electromagnetic field simulation value. No. Therefore, it has been impossible to approximate the function of an ideal power source expected for a capacitor by the disclosed technique.

解決しようとする問題点の第5は、特許文献5に関する。特許文献7は、高速化、高周波数化に適した平行平板線路型素子を提供するために、電極の構造を詳細に示しているが、使用する材料の物理定数や固体電解質層に関する製法が示されていない。従って期待する透過係数(S21)の特性の裏付けが無い。開示されている技術によって、コンデンサに期待されている理想電源の機能に近づけることは不可能であった。 The fifth problem to be solved relates to Patent Document 5. Patent Document 7 shows the structure of an electrode in detail in order to provide a parallel plate line type element suitable for higher speed and higher frequency, but shows a physical constant of a material used and a manufacturing method related to a solid electrolyte layer. It has not been. Therefore, there is no support for the expected transmission coefficient (S21) characteristics. With the disclosed technology, it has been impossible to approximate the function of an ideal power source expected for a capacitor.

アナログ回路は、回路状態の変化が比較的緩やかで始まりと終わりが明確でないことが多い。アナログ回路の歴史は古く、特に工学においては経験則等の適用によって、電磁気学に戻らなくても、従来の交流回路理論や電気通信工学に従う回路設計において、実用上、問題が生じることはほとんど無かった。 In analog circuits, changes in the circuit state are relatively gradual and the beginning and end are often unclear. Analog circuits have a long history, and especially in engineering, there are almost no problems in practical use in circuit design according to conventional AC circuit theory or telecommunications engineering without having to return to electromagnetism by applying rules of thumb, etc. It was.

一方、アナログ回路の場合と異なり、スイッチング回路における状態の変化の始まりと終わりは明確である。スイッチング回路の状態の変化は非常に急激であり、急激な電界または磁界の変化は当然ながら大きなレベルの電磁波を励起する。スイッチング回路における電界または磁界の変化は間歇的である。さらに、半導体集積回路中の約9割を占めるデータ処理回路においては、一般にスイッチングの周期は不定である。 On the other hand, unlike the case of the analog circuit, the beginning and end of the state change in the switching circuit are clear. Changes in the state of the switching circuit are very rapid, and sudden changes in electric or magnetic fields naturally excite large levels of electromagnetic waves. The change in the electric or magnetic field in the switching circuit is intermittent. Furthermore, in a data processing circuit that occupies about 90% of a semiconductor integrated circuit, the switching cycle is generally indefinite.

以上のようにアナログ回路とスイッチング回路は、電磁気学の観点からは大きく異なっている。しかし、従来の電気通信工学や交流回路理論では、間欠的な回路動作を想定した回路すなわちパルス回路の設計は、電磁気学とは関係のない前述のような手法で行われ、解析は、スイッチング波をひずみ波の一種と考えるフーリエ変換法が適用されてきた。 As described above, the analog circuit and the switching circuit are greatly different from the viewpoint of electromagnetics. However, in conventional telecommunications engineering and AC circuit theory, the design of a circuit that assumes intermittent circuit operation, that is, a pulse circuit, is performed by the above-mentioned method that has nothing to do with electromagnetics, and the analysis is performed using a switching wave. The Fourier transform method has been applied, which is considered as a kind of distorted wave.

フーリエ変換法によると、ひずみ波は正弦波である多数の高調波から構成されている。これらの高調波は始まりと終わりが無い多数の正弦波である。回路上の信号を高調波毎に解析してその結果を加算すれば、スイッチング回路の解析が可能となる。しかし、フーリエ変換法は数学の一手法であり、上位理論である電磁気学との整合性を確認した上で電気電子回路の設計や解析に採用されている訳ではないため、ディジタル回路で発生する瞬時現象の解析は、現実との乖離が甚だしく、不可能である。 According to the Fourier transform method, the distorted wave is composed of a number of harmonics that are sine waves. These harmonics are numerous sine waves with no beginning and no end. If the signal on the circuit is analyzed for each harmonic and the results are added, the switching circuit can be analyzed. However, the Fourier transform method is a mathematical method, and it is not used in the design and analysis of electrical and electronic circuits after confirming the consistency with the higher theory of electromagnetism. The analysis of instantaneous phenomena is impossible because of the large deviation from reality.

たとえばデューティが1/10で繰り返し周波数が1[GHz]のスイッチング波をフーリエ変換すると振幅の1/10の値の直流成分と1[GHz]を基本波とする高調波とに分解できる。直流電流はほとんど流さないCMOS回路を使用する半導体集積回路内のある長さの配線または伝送線路が、1[GHz]の振幅を1/2に低下させる損失を有しているとすると、配線または伝送線路の終端でのスイッチング波の振幅は、解析結果ではほぼ1/2以下に低下する。 For example, when a switching wave having a duty of 1/10 and a repetition frequency of 1 [GHz] is Fourier transformed, it can be decomposed into a DC component having a value of 1/10 of the amplitude and a harmonic having 1 [GHz] as a fundamental wave. If a certain length of wiring or transmission line in a semiconductor integrated circuit using a CMOS circuit that hardly passes direct current has a loss that reduces the amplitude of 1 [GHz] to 1/2, The amplitude of the switching wave at the end of the transmission line is reduced to almost ½ or less in the analysis result.

しかし、電磁気学に従うと、スイッチング波の振幅は直流電源から供給される静電エネルギーによって維持される。静電エネルギーは波ではないので配線または伝送線路の損失の作用は受けない。従って、伝送線路の終端で観測されるスイッチング波の振幅は減衰しないはずである。 However, according to electromagnetics, the amplitude of the switching wave is maintained by electrostatic energy supplied from a DC power source. Since electrostatic energy is not a wave, it is not affected by the loss of wiring or transmission lines. Therefore, the amplitude of the switching wave observed at the end of the transmission line should not be attenuated.

以上の現象は電源線路上を進行する電磁波についても同様である。電源線路上を進行する電磁波はディジタル回路の設計者が全く意図していないものであって、この電磁波による電源線路上での作用は好ましいものではない。スイッチング素子またはスイッチング素子を内蔵する回路を搭載する回路システムの電源線路上の、スイッチング素子またはスイッチング素子を内蔵する回路に近接して、理想電源の機能を有する素子が接続されていれば、スイッチング電源が励起する電磁波が回路システムの電源線路上に漏洩することは無く、シグナルインテグリティを劣化されることも無い。 The same phenomenon applies to electromagnetic waves traveling on the power supply line. The electromagnetic wave traveling on the power line is not intended at all by the designer of the digital circuit, and the action of the electromagnetic wave on the power line is not preferable. If a switching element or an element having the function of an ideal power supply is connected in the vicinity of a switching element or a circuit incorporating a switching element on a power supply line of a circuit system including a switching element or a circuit incorporating the switching element, the switching power supply The electromagnetic wave excited by the signal does not leak onto the power line of the circuit system, and the signal integrity is not deteriorated.

しかし、この機能が期待されている従来のコンデンサを始めとする素子は、非特許文献1および非特許文献2に示される孤立電磁波コンセプトに従っていないばかりか、マックスウエルによって確立された電磁波理論にも従っていないため、理想電源の機能を果たすことが不可能であった。 However, devices such as conventional capacitors that are expected to have this function not only follow the isolated electromagnetic wave concept shown in Non-Patent Document 1 and Non-Patent Document 2, but also follow the electromagnetic wave theory established by Maxwell. Therefore, it was impossible to fulfill the function of an ideal power source.

本発明は、上記問題を根本的に解決する手段を提供することを目的の一つとしている。 An object of the present invention is to provide means for fundamentally solving the above problems.

上記課題を解決するため、請求項1記載の発明は、低インピーダンス損失線路部品に係り、弁作用金属から成り両面にエッチング部が形成され該エッチング部の表面に誘電体酸化被膜が形成された陽極箔と、前記陽極箔の両面の誘電体酸化皮膜上に形成されるモノマー又はモノマー溶液を酸化剤で重合してなる導電性ポリマーからなる第1の固体電解質層および第2の固体電解質層と、前記第1の固体電解質層および前記第2の固体電解質層の表面に形成される第1の導電性カーボンペースト層および第2の導電性カーボンペースト層と、前記第1の導電性カーボンペースト層および前記第2の導電性カーボンペースト層の表面に形成される導電性金属粉ペーストからなる第1の陰極層および第2の陰極層から形成される低インピーダンス損失線路において、前記第1の陰極層の長さ方向の両端部に電源端子が、前記第2の陰極層の長さ方向の両端部よりやや内側にグランド端子がそれぞれ装着され、少なくとも該電源端子および該グランド端子を残して前記低インピーダンス損失線路が外装樹脂で封止されて形成されることを特徴としている。 In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 1 relates to a low impedance loss line component, and comprises an anode made of a valve metal and having an etched portion formed on both surfaces and a dielectric oxide film formed on the surface of the etched portion. A first solid electrolyte layer and a second solid electrolyte layer comprising a foil and a conductive polymer obtained by polymerizing a monomer or a monomer solution formed on the dielectric oxide films on both surfaces of the anode foil with an oxidizing agent; A first conductive carbon paste layer and a second conductive carbon paste layer formed on the surfaces of the first solid electrolyte layer and the second solid electrolyte layer; the first conductive carbon paste layer; Low impedance loss formed from a first cathode layer and a second cathode layer made of a conductive metal powder paste formed on the surface of the second conductive carbon paste layer In the line, power terminals are attached to both ends in the length direction of the first cathode layer, and ground terminals are attached slightly inside both ends in the length direction of the second cathode layer, and at least the power terminals and The low-impedance loss line is formed by being sealed with an exterior resin while leaving the ground terminal.

また、請求項2記載の発明は、低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1記載の低インピーダンス損失線路部品において、該低インピーダンス損失線路部品が、スイッチング素子またはスイッチング回路に直流電源を分配するために設けられた電源線路上の前記スイッチング素子またはスイッチング回路の近傍に搭載され、前記第1の陰極層が前記電源端子を介して前記電源線路を構成する電源線に直列に挿入され、前記第2の陰極層が前記グランド端子を介して前記電源線路を構成するグランド線またはグランド板に並列に接続されて使用されることを特徴としている。 The invention described in claim 2 relates to a low impedance loss line component, wherein the low impedance loss line component distributes a DC power source to a switching element or a switching circuit. Mounted in the vicinity of the switching element or the switching circuit on the power supply line provided in the first power supply line, the first cathode layer is inserted in series with the power supply line constituting the power supply line via the power supply terminal, and the second The cathode layer is connected in parallel to a ground line or a ground plate constituting the power supply line via the ground terminal.

また、請求項3記載の発明は、低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項2記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記モノマーが3,4−エチレンジオキシチオフェンまたはポリピロールであることを特徴としている。 The invention described in claim 3 relates to a low impedance loss line component, wherein in the low impedance loss line component according to claim 1 or 2, the monomer is 3,4-ethylenedioxythiophene or polypyrrole. It is characterized by.

また、請求項4記載の発明は、低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項3記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記陽極箔が、エッチング加工および誘電体酸化皮膜形成済の前記弁金属の箔膜を穿孔して残された格子子の部分を使用して形成されることを特徴としている。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a low impedance loss line part, wherein the anode foil is etched and formed with a dielectric oxide film. It is characterized in that it is formed by using a portion of a lattice left by perforating a valve metal foil film.

また、請求項5記載の発明は、低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項4記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記弁作用金属がアルミニウムであることを特徴としている。 The invention according to claim 5 relates to a low impedance loss line part, wherein the valve metal is aluminum in the low impedance loss line part according to claims 1 to 4.

また、請求項6記載の発明は、低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項5記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記固体電解質層が形成済の低インピーダンス損失線路が、60〜90℃の温度、および20〜60%の相対湿度の雰囲気中で前記誘電体酸化皮膜層を修復するための再化成を施されて成ることを特徴としている。 The invention described in claim 6 relates to a low impedance loss line component. In the low impedance loss line component according to claims 1 to 5, the low impedance loss line in which the solid electrolyte layer has been formed is 60 to It is characterized by being subjected to re-chemical conversion for repairing the dielectric oxide film layer in an atmosphere at a temperature of 90 ° C. and a relative humidity of 20 to 60%.

また、請求項7記載の発明は、低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項6記載の低インピーダンス損失線路部品において、リードフレームが、導電性金属粉ペーストによって前記第1の陰極層および前記第2の陰極層に接着されることを特徴としている。 The invention described in claim 7 relates to a low impedance loss line component, wherein the lead frame is made of the first cathode layer by a conductive metal powder paste. And being adhered to the second cathode layer.

また、請求項8記載の発明は、低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項7記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記リードフレームの一部が、導電性金属粉ペーストによって前記第1の陰極層の幅の60%以下を有する中心領域に接着され、前記第1の陰極層の長さ方向の端部において該第1の陰極層の長さ方向に展開される前記電源端子用の突起を有することを特徴している。 The invention described in claim 8 relates to a low impedance loss line component, wherein in the low impedance loss line component according to any one of claims 1 to 7, a part of the lead frame is made of the conductive metal powder paste. For the power supply terminal, which is bonded to a central region having 60% or less of the width of one cathode layer and is developed in the length direction of the first cathode layer at an end portion in the length direction of the first cathode layer It is characterized by having protrusions.

また、請求項9記載の発明は、回路または低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項8記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記リードフレームの一部が、導電性金属粉ペーストによって前記第1の陰極層の幅の60%以下を有する中心領域に接着され、前記第1の陰極層の長さ方向の端部において該第1の陰極層の幅方向に展開される前記電源端子用の突起を有することを特徴としている。 The invention described in claim 9 relates to a circuit or a low impedance loss line component. In the low impedance loss line component according to any one of claims 1 to 8, a part of the lead frame is made of a conductive metal powder paste. The power supply terminal which is bonded to a central region having 60% or less of the width of the first cathode layer and is developed in the width direction of the first cathode layer at an end portion in the length direction of the first cathode layer It is characterized by having a projection for use.

また、請求項10記載の発明は、回路または低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項9記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記リードフレームの一部が、導電性金属粉ペーストによって前記第2の陰極層の前記中心領域に接触しない幅方向の両端部領域に接着され、前記電源端子用の突起の内側において前記第2の陰極層の幅方向に展開される前記グランド端子用の突起を有することを特徴としている。 The invention described in claim 10 relates to a circuit or a low impedance loss line component. In the low impedance loss line component according to claims 1 to 9, a part of the lead frame is made of a conductive metal powder paste. Bonded to both end regions in the width direction that do not contact the central region of the second cathode layer, and for the ground terminal developed in the width direction of the second cathode layer inside the projection for the power supply terminal It has a protrusion.

また、請求項11記載の発明は、回路または低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項10記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記リードフレームが、銅、ニッケル、またはこれらを含む任意の合金から成ることを特徴としている。 The invention described in claim 11 relates to a circuit or a low-impedance loss line component. In the low-impedance loss line component according to any one of claims 1 to 10, the lead frame is copper, nickel, or an arbitrary element including these. It is characterized by comprising an alloy of

また、請求項12記載の発明は、回路または低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項11記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記導電性金属粉ペーストが、10[μm]以下の長径を有する、金粒子、銀粒子、銅粒子、錫粒子、インジウム粒子、パラジウム粒子、ニッケル粒子、およびこれらの任意の合金粒子から選ばれる少なくとも1種の金属粒子を含むことを特徴としている。 The invention described in claim 12 relates to a circuit or a low impedance loss line component. In the low impedance loss line component according to claims 1 to 11, the conductive metal powder paste is 10 [μm] or less. It is characterized by containing at least one metal particle selected from gold particles, silver particles, copper particles, tin particles, indium particles, palladium particles, nickel particles, and any alloy particles thereof having a long diameter.

また、請求項13記載の発明は、回路または低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項12記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記リードフレームに接着済の前記低インピーダンス損失線路が、該低インピーダンス損失線路の端部を耐熱性樹脂によってマスキングされて成ることを特徴としている。 The invention described in claim 13 relates to a circuit or a low impedance loss line component. In the low impedance loss line component according to claims 1 to 12, the low impedance loss line already bonded to the lead frame is An end portion of the low impedance loss line is masked with a heat resistant resin.

また、請求項14記載の発明は、低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項13記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記マスキングが、シリコン樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエステル樹脂、ポリフェニレンスルフィド樹脂、ポリフェニレンスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、シアン酸エステル樹脂、フッ素樹脂またはこれらの混合物もしくは変性物から選択される1種以上の耐熱性樹脂を使用して行われることを特徴としている。 The invention according to claim 14 relates to a low impedance loss line component, wherein in the low impedance loss line component according to claims 1 to 13, the masking is made of silicon resin, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, It is carried out using one or more heat-resistant resins selected from polyester resins, polyphenylene sulfide resins, polyphenylene sulfone resins, polyether sulfone resins, cyanate ester resins, fluororesins, and mixtures or modified products thereof. It is said.

また、請求項15記載の発明は、低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項14記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記低インピーダンス損失線路が前記リードフレームの前記低インピーダンス損失線路との接続部分とともに外装樹脂で封止され、前記リードフレームが端子部を残して切断されることを特徴としている。 The invention described in claim 15 relates to a low impedance loss line component. In the low impedance loss line component according to claims 1 to 14, the low impedance loss line is connected to the low impedance loss line of the lead frame. The lead frame is sealed with an exterior resin together with the connecting portion, and the lead frame is cut leaving a terminal portion.

また、請求項16記載の発明は、低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項15記載の低インピーダンス損失線路部品において前記電源端子および前記グランド端子が、前記リードフレームの端子部を第2の前記陰極層側に前記外装樹脂の表面に沿って折り曲げることによって形成されることを特徴としている。 The invention described in claim 16 relates to a low-impedance loss line component. In the low-impedance loss line component according to any one of claims 1 to 15, the power supply terminal and the ground terminal are connected to a terminal portion of the lead frame. 2 is formed on the cathode layer side by bending along the surface of the exterior resin.

また、請求項17記載の発明は、低インピーダンス損失線路部品に係り、請求項1から請求項16記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記外装樹脂が、脱水凝縮材として作用するカルボジイミド基を含む化合物とエポキシ樹脂とを主成分とすることを特徴としている。 The invention described in claim 17 relates to a low impedance loss line component, wherein the exterior resin has a carbodiimide group that acts as a dehydration condensing material. And epoxy resin as main components.

孤立電磁波コンセプトに基づく本発明を印刷配線基板または回路システムに適用すると、スイッチング素子によって励起される電磁波の漏洩が大幅に抑圧されるために、スイッチング素子が使用されている機器の電磁環境適合性(EMC)を大幅に向上させることが可能となる。 When the present invention based on the isolated electromagnetic wave concept is applied to a printed wiring board or a circuit system, the leakage of electromagnetic waves excited by the switching element is greatly suppressed. EMC) can be greatly improved.

孤立電磁波コンセプトに基づく本発明を印刷配線基板または回路システムに適用すると、スイッチング素子によって励起される電磁波の漏洩が大幅に抑圧されるために、アナログ回路とディジタル回路の混在設計が容易になる。 When the present invention based on the isolated electromagnetic wave concept is applied to a printed wiring board or a circuit system, leakage of electromagnetic waves excited by the switching elements is greatly suppressed, so that mixed design of analog circuits and digital circuits is facilitated.

孤立電磁波コンセプトに基づく本発明を印刷配線基板または回路システムに適用すると、高速スイッチング素子を使用する情報技術装置、ディジタルデータ通信機器、並びに高周波DC−DCコンバータの直流電源分配回路に使用し、小型軽量化、低コスト化、高変換効率化、高信号品位(シグナルインテグリティ)化、および高電磁環境適合性(EMC)化を両立させることが可能となる。 When the present invention based on the isolated electromagnetic wave concept is applied to a printed wiring board or a circuit system, it is used for an information technology device using a high-speed switching element, a digital data communication device, and a direct-current power distribution circuit of a high-frequency DC-DC converter. , Low cost, high conversion efficiency, high signal quality (signal integrity), and high electromagnetic compatibility (EMC).

以下、本発明に係る 最良の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。 DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, the best embodiment according to the invention will be described in detail with reference to the drawings.

(実施の形態1)
図4は、低インピーダンス損失線路の一例である。
図4において、低インピーダンス損失線路は、陽極箔19、誘電体酸化皮膜18、20、固体電解質層17、21、カーボングラファイト層16,22、および陰極層15、23、によって構成されている。耐圧の確保と漏れ電流の低減のために、低インピーダンス損失線路の端部は耐熱性樹脂によってマスキングされている。
(Embodiment 1)
FIG. 4 is an example of a low impedance loss line.
In FIG. 4, the low impedance loss line is constituted by an anode foil 19, dielectric oxide films 18 and 20, solid electrolyte layers 17 and 21, carbon graphite layers 16 and 22, and cathode layers 15 and 23. The end of the low impedance loss line is masked with a heat resistant resin in order to ensure a breakdown voltage and reduce a leakage current.

図4において、陽極箔19、誘電体酸化皮膜18、固体電解質層17、カーボングラファイト層16、および導電性金属粉ペーストからなる陰極層15で構成される電極、および陽極箔19、誘電体酸化皮膜20、固体電解質層21、カーボングラファイト層22、および導電性金属粉ペーストからなる陰極層23で構成される電極は、それぞれ整流作用を有している。従って、陽極箔23にグランド線またはグランド板が接続され陰極層15に正の電圧を有する電源線が接続された場合は、陽極箔19と陰極層23で構成される線路が低インピーダンス損失線路の機能を発揮し、陰極層15にグランド線またはグランド板が接続され陰極層23に正の電圧を有する電源線が接続された場合は陽極箔19と陰極層15で構成される線路が低インピーダンス損失線路の機能を発揮する。 In FIG. 4, an electrode composed of an anode foil 19, a dielectric oxide film 18, a solid electrolyte layer 17, a carbon graphite layer 16, and a cathode layer 15 made of a conductive metal powder paste, and an anode foil 19, a dielectric oxide film 20, the electrode composed of the solid electrolyte layer 21, the carbon graphite layer 22, and the cathode layer 23 made of a conductive metal powder paste has a rectifying action. Therefore, when a ground line or a ground plate is connected to the anode foil 23 and a power supply line having a positive voltage is connected to the cathode layer 15, the line composed of the anode foil 19 and the cathode layer 23 is a low impedance loss line. When a ground line or a ground plate is connected to the cathode layer 15 and a power supply line having a positive voltage is connected to the cathode layer 23, the line composed of the anode foil 19 and the cathode layer 15 has a low impedance loss. Demonstrate the function of the track.

図5は、低インピーダンス損失線路を使用するディジタル基本回路の等価回路の一例である。 FIG. 5 is an example of an equivalent circuit of a digital basic circuit using a low impedance loss line.

図5において、低インピーダンス損失線を使用するディジタル基本回路の等価回路は、直流電源4、プッシュプル回路1および14、プッシュプル回路1を構成するPチャネルMOS FET2およNチャネルMOS FET3、電源線路5および12、低インピーダンス損失線路13、ならびに信号線路6から構成されている。図10において、電源線路5と信号線路6の特性インピーダンスは等しいと仮定する。 In FIG. 5, an equivalent circuit of a digital basic circuit using a low impedance loss line includes a DC power supply 4, push-pull circuits 1 and 14, a P-channel MOS FET 2 and an N-channel MOS FET 3 constituting the push-pull circuit 1, and a power line. 5 and 12, a low impedance loss line 13, and a signal line 6. In FIG. 10, it is assumed that the characteristic impedances of the power line 5 and the signal line 6 are equal.

図5において、プッシュプル回路1のオン状態とオフ状態の定義は前述と同様であり、伝送線路上の電界と伝送線路の電位との関係は電磁気学に従う。 In FIG. 5, the definition of the ON state and the OFF state of the push-pull circuit 1 is the same as described above, and the relationship between the electric field on the transmission line and the potential of the transmission line follows electromagnetics.

プッシュプル回路1がオフからオンに変化する時の信号線路6の電位波形と、信号線路6上を進む孤立電界波形、並びに電源線路5の電位波形と電源線路5上を進む孤立電界波形は、前述と同様である。従って、図5の回路の動作説明には図2と図3の波形を使用する。 The potential waveform of the signal line 6 when the push-pull circuit 1 changes from off to on, the isolated electric field waveform traveling on the signal line 6, and the potential waveform of the power line 5 and the isolated electric field waveform traveling on the power line 5 are as follows: Same as above. Therefore, the waveforms of FIGS. 2 and 3 are used to explain the operation of the circuit of FIG.

図2、図3、および図5において、プッシュプル回路1がオフからオンに変化したときの孤立電界波の伝送線路上の進行の様子と伝送線路の電位変化は前述の通りである。 2, 3, and 5, the state of the isolated electric field wave traveling on the transmission line and the change in the potential of the transmission line when the push-pull circuit 1 changes from off to on are as described above.

図5において、低インピーダンス損失線路13が信号線路6に対して1/1000の特性インピーダンスを有しているとすると、電源線路5の電源側の端部に理想電源である直流電源4が接続されている図1の場合とほぼ同様に、電源線路5上を進行する孤立電磁波は低インピーダンス損失線路13の端部で、反射し、信号線路6上に励起された孤立電磁波と同極性となり、電源線路5および信号線路6の電位をE/2[V]からほぼE[V]に上昇させつつ進行し、整合終端抵抗7で消滅する。 In FIG. 5, assuming that the low impedance loss line 13 has a characteristic impedance of 1/1000 with respect to the signal line 6, the DC power source 4, which is an ideal power source, is connected to the power source side end of the power source line 5. 1, the isolated electromagnetic wave traveling on the power line 5 is reflected at the end of the low impedance loss line 13 and has the same polarity as the isolated electromagnetic wave excited on the signal line 6. The line 5 and the signal line 6 proceed while raising the potential from E / 2 [V] to almost E [V], and disappear with the matching termination resistor 7.

このとき、プッシュプル回路1がオンする瞬間にB点またはC点の電位は、直流電源4の電圧(E[V])の1000/1001であるので、通信を行うのにほぼ充分な値となる。従って、電源分配回路の影響によるシグナルインテグリティの劣化は生じない。 At this time, since the potential at the point B or C at the moment when the push-pull circuit 1 is turned on is 1000/1001 of the voltage (E [V]) of the DC power supply 4, the value is almost sufficient for communication. Become. Therefore, there is no degradation of signal integrity due to the influence of the power distribution circuit.

図5において、低インピーダンス損失線路13の特性インピーダンスは実際にはゼロではないので、電源線路5を進行する孤立電磁波の一部が低インピーダンス損失線路13に侵入する。 In FIG. 5, the characteristic impedance of the low impedance loss line 13 is not actually zero, so that a part of the isolated electromagnetic wave traveling through the power supply line 5 enters the low impedance loss line 13.

放射電力Pを有する線形電磁波がアンテナから放射されたときのr[m]の距離での電界強度Eは、IEC CISPR16−2−3に示されている次式から求めることが出来る。 The electric field intensity E at a distance r [m] when a linear electromagnetic wave having radiated power P is radiated from the antenna can be obtained from the following equation shown in IEC CISPR 16-2-3.

例えば家庭内使用を目的とするクラスB情報技術装置から10[m]の距離での妨害波電界強度の許容値は、VCCI(CISPR22)で決められており、30[MHz]から230[MHz]で30[dBμV/m]、230[MHz]から1[GHz]で37[dBμV/m]である。式(14)から、例えば230[MHz]での許容放射電力値を求めると、2[nW]となる。 For example, the permissible value of the interference wave electric field strength at a distance of 10 [m] from a class B information technology device intended for home use is determined by VCCI (CISPR22), and is from 30 [MHz] to 230 [MHz]. 30 [dBμV / m] and 230 [MHz] to 1 [GHz] and 37 [dBμV / m]. From the equation (14), for example, the allowable radiated power value at 230 [MHz] is 2 [nW].

図5の低インピーダンス損失線路を使用するディジタル基本回路の等価回路において、プッシュプル回路1が100[W]の消費電力を有する半導体集積回路に20個の電源端子が設けられており1個の電源端子で5Wの電力を分担しているとする。 In the equivalent circuit of the digital basic circuit using the low impedance loss line of FIG. 5, the push-pull circuit 1 has 20 power terminals provided in the semiconductor integrated circuit having a power consumption of 100 [W]. Assume that the terminal shares 5 W of power.

低インピーダンス損失線路13の特性インピーダンスは電源線路の特性インピーダンスの1/1000であると仮定しているので、このときの孤立電界波8が信号線路6の電位を0[V]から(1000E/1001)[V]まで上昇させるエネルギーと、電源線路5に向かう孤立電界波が電源線路の電位をE[V]から(1000E/1001)[V]まで降下させるエネルギーの比は0.00201であって、特性インピーダンスの比の約2倍となる。なお、信号線路に向かう孤立電界波の振幅と電源線路に向かう孤立電界波の振幅との比は、前記電力の比の平方根であるので約0.014となる。従って、低インピーダンス損失線路13には10[mW]の電磁エネルギーが侵入することになる。 Since it is assumed that the characteristic impedance of the low impedance loss line 13 is 1/1000 of the characteristic impedance of the power line, the isolated electric field wave 8 at this time changes the potential of the signal line 6 from 0 [V] to (1000E / 1001). ) The ratio of the energy raised to [V] and the energy that the isolated electric field wave toward the power line 5 lowers the potential of the power line from E [V] to (1000E / 1001) [V] is 0.00201 The characteristic impedance ratio is about twice. Note that the ratio of the amplitude of the isolated electric field wave toward the signal line and the amplitude of the isolated electric field wave toward the power line is about 0.014 because it is the square root of the ratio of the power. Therefore, 10 [mW] of electromagnetic energy enters the low impedance loss line 13.

ここで、低インピーダンス損失線路13が損失を有していない場合について放射電力量を試算する。10[mW]の電磁エネルギーの0.1%が大気中に放され、放射するまでの過程で多くの箇所で反射を繰り返すことによってその0.1%のエネルギーが230[MHz]から1[GHz]の間の1つの周波数に存在すると過程した場合の電磁エネルギーは10[nW]であり、クラスB情報技術装置の前記許容放射電力値2[nW]を上回る。 Here, the amount of radiated power is estimated for the case where the low impedance loss line 13 has no loss. 0.1% of the electromagnetic energy of 10 [mW] is released into the atmosphere, and the energy of 0.1% is reduced from 230 [MHz] to 1 [GHz by repeating reflection at many points until it radiates. ] Is 10 [nW] when it is assumed that it is present at one frequency between, and exceeds the allowable radiated power value 2 [nW] of the class B information technology device.

(実施の形態2)
図6は、リードフレームの一例である。図7は、低インピーダンス損失線路がリードフレームに接着された状態の一例である。図8は、図7のA,A‘側から見た一例である。図9は、低インピーダンス損失線路が外装樹脂によって封止された状態の、図7のA,A‘側から見た一例である。図10は、低インピーダンス損失線路部品の端子面の一例である。図11は、低インピーダンス損失線路部品の側面の一例である。
(Embodiment 2)
FIG. 6 is an example of a lead frame. FIG. 7 is an example of a state in which the low impedance loss line is bonded to the lead frame. FIG. 8 is an example viewed from the A and A ′ sides of FIG. FIG. 9 is an example viewed from the A and A ′ sides in FIG. 7 in a state where the low impedance loss line is sealed with the exterior resin. FIG. 10 is an example of a terminal surface of the low impedance loss line component. FIG. 11 is an example of a side surface of a low impedance loss line component.

図6において、リードフレーム24は図6に示す白色部が打ち抜かれており、斜線部の実線の部分が切断されている。図7において、低インピーダンス損失線路25は、低インピーダンス損失線路25の第1の陰極層面を下、第2の陰極層面を上にしてリードフレーム24上の図7に示す波線部に置かれる。 In FIG. 6, the white portion shown in FIG. 6 is punched out in the lead frame 24, and the solid line portion of the hatched portion is cut. In FIG. 7, the low impedance loss line 25 is placed on the wavy line portion shown in FIG. 7 on the lead frame 24 with the first cathode layer surface of the low impedance loss line 25 facing down and the second cathode layer surface facing up.

図8において、低インピーダンス損失線路25の上面の幅方向の端部に上下から突き出すリードフレーム24の一部が接続される。一方、低インピーダンス損失線路25の下面の幅方向の中央部全体にリードフレーム24の一部が接続される。その後、低インピーダンス損失線路25が耐熱性のエポキシ樹脂を主成分とする外装樹脂26によって封止される。リードフレーム24が、図10に示す電源端子27およびグランド端子28を形成するための外装樹脂26から露出している部分を残して切断される。次に、図10、11に示すように、外装樹脂26から露出している端子部を第2の陰極層面側に折り曲げて電源端子27およびグランド端子28を形成する。以上の工程によって低インピーダンス損失線路部品が形成される。 In FIG. 8, a part of the lead frame 24 protruding from above and below is connected to the end portion in the width direction of the upper surface of the low impedance loss line 25. On the other hand, a part of the lead frame 24 is connected to the entire center portion in the width direction of the lower surface of the low impedance loss line 25. Thereafter, the low impedance loss line 25 is sealed with an exterior resin 26 whose main component is a heat-resistant epoxy resin. The lead frame 24 is cut leaving a portion exposed from the exterior resin 26 for forming the power supply terminal 27 and the ground terminal 28 shown in FIG. Next, as shown in FIGS. 10 and 11, the terminal portion exposed from the exterior resin 26 is bent to the second cathode layer surface side to form the power supply terminal 27 and the ground terminal 28. A low impedance loss line component is formed by the above process.

低インピーダンス損失線路25の陰極層とリードフレーム24の一部との接続には銀ペーストを使用する。外装樹脂26は、脱水凝縮材として作用するカルボジイミド基を含む化合物とエポキシ樹脂とを主成分としている。 Silver paste is used to connect the cathode layer of the low impedance loss line 25 and a part of the lead frame 24. The exterior resin 26 is mainly composed of a compound containing a carbodiimide group that acts as a dehydrating condensing material and an epoxy resin.

(実施の形態3)
図12は、リードフレームの他の一例である。図13は、低インピーダンス損失線路がリードフレームに接着された状態の他の一例である。図14は、図7のA,A‘側から見た他の一例である。図15は、低インピーダンス損失線路が外装樹脂によって封止された状態の、図7のA,A‘側から見た他の一例である。図16は、低インピーダンス損失線路部品の端子面の他の一例である。図17は、低インピーダンス損失線路部品の側面の他の一例である。
(Embodiment 3)
FIG. 12 shows another example of the lead frame. FIG. 13 shows another example of the state in which the low impedance loss line is bonded to the lead frame. FIG. 14 is another example viewed from the A and A ′ sides in FIG. FIG. 15 is another example viewed from the A and A ′ side in FIG. 7 in a state where the low impedance loss line is sealed with the exterior resin. FIG. 16 is another example of the terminal surface of the low impedance loss line component. FIG. 17 is another example of the side surface of the low impedance loss line component.

図12において、リードフレーム29は図12に示す白色部が打ち抜かれており、斜線部の実線の部分が切断されている。図13において、低インピーダンス損失線路30は、低インピーダンス損失線路30の第1の陰極層面を下、第2の陰極層面を上にしてリードフレーム29上の図7に示す波線部に置かれる。 In FIG. 12, the lead frame 29 has a white portion shown in FIG. 12 punched out, and a hatched portion with a solid line is cut. In FIG. 13, the low impedance loss line 30 is placed on the wavy line portion shown in FIG. 7 on the lead frame 29 with the first cathode layer surface of the low impedance loss line 30 facing down and the second cathode layer surface facing up.

図14において、低インピーダンス損失線路30の上面の幅方向の端部に上下から突き出すリードフレーム29の一部が接続される。一方、低インピーダンス損失線路25の下面の幅方向の中央部全体にリードフレーム29の一部が接続される。その後、低インピーダンス損失線路30が耐熱性のエポキシ樹脂を主成分とする外装樹脂31によって封止される。リードフレーム29が、図16に示す電源端子33およびグランド端子32を形成するための外装樹脂31から露出している部分を残して切断される。次に、図16、17に示すように、外装樹脂31から露出している端子部を第2の陰極層面側に折り曲げて電源端子27およびグランド端子28を形成する。以上の工程によって低インピーダンス損失線路部品が形成される。 In FIG. 14, a part of the lead frame 29 protruding from above and below is connected to the end of the upper surface of the low impedance loss line 30 in the width direction. On the other hand, a part of the lead frame 29 is connected to the entire center portion in the width direction of the lower surface of the low impedance loss line 25. Thereafter, the low impedance loss line 30 is sealed with an exterior resin 31 mainly composed of a heat-resistant epoxy resin. The lead frame 29 is cut leaving a portion exposed from the exterior resin 31 for forming the power supply terminal 33 and the ground terminal 32 shown in FIG. Next, as shown in FIGS. 16 and 17, the terminal portion exposed from the exterior resin 31 is bent to the second cathode layer surface side to form the power supply terminal 27 and the ground terminal 28. A low impedance loss line component is formed by the above process.

低インピーダンス損失線路25の陰極層とリードフレーム24の一部との接続には銀ペースト始めとする導電性金属粉ペーストを使用する。外装樹脂26は、脱水凝縮材として作用するカルボジイミド基を含む化合物とエポキシ樹脂とを主成分としている。 For the connection between the cathode layer of the low impedance loss line 25 and a part of the lead frame 24, a conductive metal powder paste such as a silver paste is used. The exterior resin 26 is mainly composed of a compound containing a carbodiimide group that acts as a dehydrating condensing material and an epoxy resin.

(実施の形態4)
図18は、低インピーダンス損失線路部品を印刷配線基板に搭載した状態の一例である。
(Embodiment 4)
FIG. 18 is an example of a state where the low impedance loss line component is mounted on the printed wiring board.

図18において、低インピーダンス損失線路部品37は、印刷配線基板38に搭載され、電源端子35はビア41によって電源配線40に直列に挿入されている。低インピーダンス損失線路部品37のグランド端子34はビア41によってグランドプレーン39に並列に接続されている。また、低インピーダンス損失線路部品37は、印刷配線基板38上の半導体集積回路の電源端子の近傍に、低インピーダンス損失線路部品37の直流電流容量に見合う数の電源端子毎に接続される。 In FIG. 18, a low impedance loss line component 37 is mounted on a printed wiring board 38, and a power supply terminal 35 is inserted in series with a power supply wiring 40 by a via 41. The ground terminal 34 of the low impedance loss line component 37 is connected in parallel to the ground plane 39 by a via 41. Further, the low impedance loss line components 37 are connected in the vicinity of the power supply terminals of the semiconductor integrated circuit on the printed wiring board 38 for each number of power supply terminals corresponding to the DC current capacity of the low impedance loss line components 37.

このような状態の印刷配線基板を内蔵する情報装置からの放射電界強度を試算する。本実施の形態においては、低インピーダンス損失線路の陽極箔の両面に約50[μm]の厚さのスポンジ状のエッチング加工が施されエッチング表面には約10[nm]の厚さの酸化アルミニウム被膜が化成処理によって形成され、エッチング部に固体電解質であるポリチオフェンが含浸されている。低インピーダンス損失線路の幅は1[mm]であって、固体電解質の実効導電率を1.5×104[S/m]、絶縁体として使用する酸化アルミニウムの比誘電率を8.5とする。 The radiated electric field intensity from the information device incorporating the printed wiring board in such a state is estimated. In this embodiment, a sponge-like etching process having a thickness of about 50 [μm] is applied to both surfaces of the anode foil of the low impedance loss line, and an aluminum oxide film having a thickness of about 10 [nm] is formed on the etching surface. Is formed by chemical conversion treatment, and the etched portion is impregnated with polythiophene which is a solid electrolyte. The width of the low impedance loss line is 1 [mm], the effective conductivity of the solid electrolyte is 1.5 × 104 [S / m], and the relative permittivity of aluminum oxide used as an insulator is 8.5. .

低インピーダンス損失線路を構成する平行板の静電容量をCとすると、エッチングによる対向面積の拡大率kは、次式から得られる。 When the capacitance of the parallel plate constituting the low impedance loss line is C, the enlargement ratio k of the facing area by etching is obtained from the following equation.

周波数をf、静電容量をC[F]とするとコンデンサのインピーダンスZCは、
(2πfC)−1[Ω]であって、コンデンサが、特性インピーダンスが50[Ω]
の測定系の線路に並列に接続されたときの透過係数(S21C)は、次式から求めることが出来る。
When the frequency is f and the capacitance is C [F], the impedance ZC of the capacitor is
(2πfC) -1 [Ω], the capacitor has a characteristic impedance of 50 [Ω]
The transmission coefficient (S21C) when connected in parallel to the measurement system line can be obtained from the following equation.

低インピーダンス損失線路の特性インピーダンスをZ1とすると、測定系の50[Ω]のケーブルに接続したときの反射の影響による低インピーダンス損失線路への透過係数(S21R)は、次式から求めることが出来る。 If the characteristic impedance of the low impedance loss line is Z1, the transmission coefficient (S21R) to the low impedance loss line due to the influence of reflection when connected to the 50 [Ω] cable of the measurement system can be obtained from the following equation. .

低インピーダンス損失線路部品の端部間の距離をzとしたときの端部間の静電容量 CTをCT0/zとし、周波数がfのときのCTのインピーダンスをZTとすると、周波から1[GHz]以上の高周波に亘る透過係数(S21T)は、次式から求めることが出来る。 Capacitance between the ends when the distance between the ends of the low-impedance loss line components is z, CT is CT0 / z, and the impedance of CT when the frequency is f is ZT. The transmission coefficient (S21T) over the above high frequency can be obtained from the following equation.

Z1の特性インピーダンスを有する損失線路を構成する絶縁体の導電率が無限大、半導体の導電率がσPである場合、絶縁体中を進行するインピーダンスZ1を有する電磁波の一部が固有インピーダンスZPを有する半導体中に侵入する。該半導体中に進行中にした電磁波はTEM波以外の通信に役立たない電磁波であって全てが損失となる。半導体の導電率を実際に損失に関わる割合で修正した値を半導体の実効導電率と定義すると、実効導電率 σ
P1は次式から求めることができる。
When the conductivity of the insulator constituting the loss line having the characteristic impedance of Z1 is infinite and the conductivity of the semiconductor is σP, a part of the electromagnetic wave having the impedance Z1 traveling through the insulator has a specific impedance ZP. Invade into semiconductors. The electromagnetic waves in progress in the semiconductor are electromagnetic waves that are not useful for communication other than TEM waves, and all of them are lost. When the effective conductivity of a semiconductor is defined as the value obtained by correcting the conductivity of the semiconductor with the actual loss-related ratio, the effective conductivity σ
P1 can be obtained from the following equation.

実効導電率がσ P1のときの減衰定数αP1は次式から求めることが出来る。 The attenuation constant αP1 when the effective conductivity is σP1 can be obtained from the following equation.

低インピーダンス損失線路部品の低周波から1[GHz]以上の高周波に亘るおおよその透過係数(S21A)は、S21αに式(23)から求めたαP1を代入して、次式から求めることが出来る。 The approximate transmission coefficient (S21A) from the low frequency of the low impedance loss line component to the high frequency of 1 [GHz] or more can be obtained from the following equation by substituting αP1 obtained from the equation (23) into S21α.

端子間静電容量を構成するCT0を3×10−17[F/m]とした場合の、試作した低インピーダンス損失線路部品の透過係数(S21)は以下のように求められる。
低インピーダンス損失線路の長さが4[mm]の場合は、100[kHz]で−35dB、1[MHz] で−48dB、10[MHz] で−55dB、100[MHz] で−63dB、1[GHz]
で−47dBとなる。低インピーダンス損失線路の長さが8[mm]の場合は、100[kHz]で−40dB、1[MHz] で−51dB、10[MHz] で−61dB、100[MHz]
で−72dB、230[MHz] で−71dB、1[GHz] で−53dBとなる。低インピーダンス損失線路の長さが16[mm]の場合は、100[kHz]で−44dB、1[MHz]
で−55dB、10[MHz] で−72dB、100[MHz] で−89dB、1[GHz] で−59dBとなる。低インピーダンス損失線路の長さが24[mm]の場合は、100[kHz]で−47dB、1[MHz]
で−58dB、10[MHz] で−83dB、100[MHz] で−82dB、1[GHz] で−62dBとなる。
The transmission coefficient (S21) of the prototype low impedance loss line component when CT0 constituting the inter-terminal capacitance is 3 × 10−17 [F / m] is obtained as follows.
When the length of the low impedance loss line is 4 [mm], -35 dB at 100 [kHz], -48 dB at 1 [MHz], -55 dB at 10 [MHz], -63 dB at 100 [MHz], 1 [ GHz]
-47 dB. When the length of the low impedance loss line is 8 [mm], -40 dB at 100 [kHz], -51 dB at 1 [MHz], -61 dB at 100 [MHz], 100 [MHz]
Is -72 dB, 230 [MHz] is -71 dB, and 1 [GHz] is -53 dB. When the length of the low impedance loss line is 16 [mm], it is -44 dB at 100 [kHz], 1 [MHz]
-55 dB, 10 [MHz] is -72 dB, 100 [MHz] is -89 dB, and 1 [GHz] is -59 dB. When the length of the low impedance loss line is 24 [mm], -47 dB at 100 [kHz], 1 [MHz]
-58 dB at 10 [MHz], -83 dB at 100 [MHz], -82 dB at 1 [MHz], and -62 dB at 1 [GHz].

本実施の形態において、低インピーダンス損失線路部品33が半導体集積回路の近傍に搭載され、半導体集積回路のパッケージ内電源配線の特性インピーダンスを50[Ω]とする。低インピーダンス損失線路部品33の内蔵線路の特性インピーダンスは、式(7)中のwの代わりに拡大率kを考慮したwk1/2を使用して求められ、kを133とすると0.11[mΩ]となる。低インピーダンス損失線路部品33の内蔵線路の長さは8[mm]とし透過係数(S21)は前記計算値を使用する。 In the present embodiment, the low impedance loss line component 33 is mounted in the vicinity of the semiconductor integrated circuit, and the characteristic impedance of the power supply wiring in the package of the semiconductor integrated circuit is set to 50 [Ω]. The characteristic impedance of the built-in line of the low-impedance loss line component 33 is obtained by using wk1 / 2 considering the enlargement factor k instead of w in the equation (7), and when k is 133, 0.11 [mΩ It becomes. The length of the built-in line of the low impedance loss line component 33 is 8 [mm], and the calculated value is used for the transmission coefficient (S21).

低インピーダンス損失線路13の透過係数(S21)の計算値は、想定した半導体集積回路のパッケージ内電源配線の特性インピーダンスと同じ値の50[Ω]である。前記低インピーダンス損失線路13の透過係数(S21)の計算値は電力の平方根に対する値であるので電力に対しては6dB加えた値となる。従って、印刷配線基板に搭載されたときに合計で5Wの電力を分担する半導体集積回路の電源端子に接続されたときの低インピーダンス損失線路部品33から漏れ出る電磁波の電力は、0.7[mW]となる。 The calculated value of the transmission coefficient (S21) of the low impedance loss line 13 is 50 [Ω] which is the same value as the characteristic impedance of the power supply wiring in the package of the assumed semiconductor integrated circuit. Since the calculated value of the transmission coefficient (S21) of the low impedance loss line 13 is a value with respect to the square root of the power, it is a value obtained by adding 6 dB to the power. Accordingly, the power of the electromagnetic wave leaking from the low impedance loss line component 33 when connected to the power supply terminal of the semiconductor integrated circuit that shares the power of 5 W in total when mounted on the printed wiring board is 0.7 [mW It becomes.

この電磁エネルギーのネルギーの0.1%が大気中に放され、放射するまでの過程で多くの箇所で反射を繰り返すことによってその0.1%のエネルギーが230[MHz]から1[GHz]の間の1つの周波数に存在すると仮定した場合の電磁放射エネルギーは0.7[nW]となる。この値は、クラスB情報技術装置の前記許容放射電力値2[nW]を大きく下回る。 0.1% of the energy of this electromagnetic energy is released into the atmosphere, and the energy of 0.1% is reduced from 230 [MHz] to 1 [GHz] by repeating reflection at many points until it radiates. The electromagnetic radiation energy is 0.7 [nW] when it is assumed to exist at one frequency in between. This value is much lower than the allowable radiated power value 2 [nW] of the class B information technology device.

市販の高周波用チップセラミックコンデンサの230[MHz]での透過係数(S21)はほぼ−30dBであり、本実施の形態における低インピーダンス損失線路部品33の透過係数(S21)より48dB大きく、チップセラミックコンデンサ1個が合計で5Wの電力を分担する半導体集積回路の電源端子に接続されたときのチップセラミックコンデンサを通り抜ける230[MHz]の電磁波の電力は79[mW]であり、同じ条件での電磁放射エネルギーは79[nW]である。これはクラスB情報技術装置の前記許容放射電力値2[nW]を上回る値である。従って、従来のように、大量かつ多数のコンデンサを使用してもディジタル機器にEMC対策部品や電磁シールド材を使用する必要があるが、実施の形態の場合は、これらを全く使用しなくても、EMC問題は生じないと考えられる。 The transmission coefficient (S21) at 230 [MHz] of a commercially available high-frequency chip ceramic capacitor is approximately -30 dB, which is 48 dB larger than the transmission coefficient (S21) of the low impedance loss line component 33 in the present embodiment. When one is connected to the power supply terminal of a semiconductor integrated circuit that shares a power of 5 W, the electromagnetic wave power of 230 [MHz] passing through the chip ceramic capacitor is 79 [mW], and electromagnetic radiation under the same conditions The energy is 79 [nW]. This is a value exceeding the allowable radiated power value 2 [nW] of the class B information technology device. Therefore, it is necessary to use EMC countermeasure parts and electromagnetic shielding materials for digital equipment even if a large number and a large number of capacitors are used as in the prior art, but in the case of the embodiment, these may not be used at all. The EMC problem is not expected to occur.

(実施の形態5)
図19は、試作した低インピーダンス損失線路の一例である。図20は、試作した低インピーダンス損失線路の透過係数(S21)の周波数特性の一例である。
(Embodiment 5)
FIG. 19 is an example of a prototype low impedance loss line. FIG. 20 is an example of the frequency characteristic of the transmission coefficient (S21) of the prototype low impedance loss line.

試作した低インピーダンス損失線路は、陰極層50、弁作用金属を使用した陽極箔51、誘電体酸化皮膜52、固体電解質層53、およびカーボングラファイト層54とで構成され、弁陽極箔51は線路長方向に引き出されている。引き出された陽極箔51の線路長方向の両端が陽極端子となり、陰極層50の線路長方向の両端が陰極端子となる。 The prototype low impedance loss line is composed of a cathode layer 50, an anode foil 51 using a valve metal, a dielectric oxide film 52, a solid electrolyte layer 53, and a carbon graphite layer 54. The valve anode foil 51 has a line length. Has been pulled out in the direction. Both ends of the extracted anode foil 51 in the line length direction serve as anode terminals, and both ends of the cathode layer 50 in the line length direction serve as cathode terminals.

試作した低インピーダンス損失線路の幅は1[mm]または1.5[mm]で長さが4[mm]から24[mm]であり。エッチング処理が施されたアルミニウム箔が陽極箔51として使用されている。陽極箔51は235[μm]の厚さを有し、両面に約50[μm]の厚さのスポンジ状のエッチング加工が施され、エッチング表面には約10[nm]の厚さの酸化アルミニウム被膜が化成処理によって形成され、エッチング部に固体電解質であるポリピロールが含浸されている。 The prototype low impedance loss line has a width of 1 [mm] or 1.5 [mm] and a length of 4 [mm] to 24 [mm]. An aluminum foil that has been etched is used as the anode foil 51. The anode foil 51 has a thickness of 235 [μm], and has a sponge-like etching process with a thickness of about 50 [μm] on both sides, and an aluminum oxide with a thickness of about 10 [nm] on the etched surface. A film is formed by chemical conversion treatment, and the etched portion is impregnated with polypyrrole, which is a solid electrolyte.

ポリピロールの上に約30[μm]の厚さにカーボングラファイトが塗布され、その上に約50[μm]の銀ペーストが塗布されて陰極層が形成されている。ポリピロールの実効導電率を1.5×104[S/m]、絶縁体として使用する酸化アルミニウムの比誘電率を8.5と見なしている。 A carbon graphite is applied to a thickness of about 30 [μm] on polypyrrole, and a silver paste of about 50 [μm] is applied thereon to form a cathode layer. The effective conductivity of polypyrrole is assumed to be 1.5 × 10 4 [S / m], and the relative dielectric constant of aluminum oxide used as an insulator is assumed to be 8.5.

図21は、試作した低インピーダンス損失線路部品の一例である。図22は、試作した低インピーダンス損失線路部品の透過係数(S21)の周波数特性の一例である。 FIG. 21 is an example of a prototype low impedance loss line component. FIG. 22 shows an example of the frequency characteristic of the transmission coefficient (S21) of the prototype low impedance loss line component.

図22には、長さが4[mm]、8[mm]、16[mm]、 および24[mm]の低インピーダンス損失線路を内蔵する低インピーダンス損失線路部品の透過係数(S21)の周波数特性を示す。図22には、従来の2種類のチップセラミックコンデンサの特性も示されている。およそ10[MHz]以上で、ほぼ直線的に透過係数(S21)が増加しているのは、低インピーダンス損失線路部品に使用されている陽極端子間の電磁結合が原因であり、式(18)中のZTを支配する前述の単位長当たりの端子間静電容量CT0を3×10−17[F/m]とすると、ほぼ図22中の曲線となる。従って特性改善のためには、陽極端子間の電磁結合を低減することが必要である。 FIG. 22 shows the frequency characteristics of the transmission coefficient (S21) of a low impedance loss line component including low impedance loss lines having lengths of 4 [mm], 8 [mm], 16 [mm], and 24 [mm]. Indicates. FIG. 22 also shows the characteristics of two conventional chip ceramic capacitors. The reason why the transmission coefficient (S21) increases almost linearly at about 10 [MHz] or more is due to the electromagnetic coupling between the anode terminals used in the low impedance loss line components. If the inter-terminal capacitance CT0 per unit length governing ZT in the middle is 3 × 10−17 [F / m], the curve in FIG. 22 is obtained. Therefore, to improve the characteristics, it is necessary to reduce the electromagnetic coupling between the anode terminals.

陽極端子間の電磁波による結合を減らすためには、陽極端子間の静電容量を減らす、すなわち陽極端子間距離を長くするか陽極端子の対向面積を減じることや、電磁波の結合が疎となるように放射の指向性を調整することが有効である。この観点からは、試作した試作した低インピーダンス損失線路部品の端子構造よりも、実施の形態3中の図6と図7に示した形状の低インピーダンス損失線路部品の端子構造が優れていると考えられる。 To reduce the coupling between the anode terminals due to electromagnetic waves, reduce the capacitance between the anode terminals, that is, increase the distance between the anode terminals or reduce the facing area of the anode terminals, or reduce the coupling of the electromagnetic waves. It is effective to adjust the radiation directivity. From this viewpoint, it is considered that the terminal structure of the low impedance loss line component having the shape shown in FIGS. 6 and 7 in the third embodiment is superior to the terminal structure of the prototype low impedance loss line component. It is done.

図20および図22に示した透過係数(S21)の周波数特性は、実施の形態4で示した計算法による結果と大略一致する。実測と計算結果との間に生じる主な差異は、アルミニウム薄膜のエッチング部の構造が非常に複雑であるためである。電磁界シミュレーションを試みたが、エッチング部の構造のモデル化が非常に困難であるため、現在の技術水準では、シミュレーションによって正確な特性インピーダンスや透過係数(S21)の特性を得ることは不可能である。従って、低インピーダンス損失線路部品の設計においては、式(24)を使用することが実用的であると考えられる。 The frequency characteristics of the transmission coefficient (S21) shown in FIG. 20 and FIG. 22 substantially coincide with the results obtained by the calculation method shown in the fourth embodiment. The main difference between the actual measurement and the calculation result is that the structure of the etched portion of the aluminum thin film is very complicated. Although electromagnetic field simulation has been attempted, modeling of the structure of the etched portion is very difficult, and it is impossible to obtain accurate characteristic impedance and transmission coefficient (S21) characteristics by simulation at the current technical level. is there. Therefore, it is considered practical to use Equation (24) in the design of low impedance loss line components.

本発明はスイッチング回路を内蔵する半導体集積回路並びに、半導体集積回路を内蔵する情報技術機器、マルチメディア機器、電力変換機器の高性能化、設計容易化と設計期間の短縮化、小型軽量化、低消費電力化、低コスト化、電磁干渉問題の解消又は低減、電磁のノイズによる誤動作の低減、および品質・信頼性向上を実現することが出来る。 The present invention provides a semiconductor integrated circuit having a built-in switching circuit, a high-performance information technology device, a multimedia device, and a power converter device incorporating the semiconductor integrated circuit, easy design and shortening a design period, small size and light weight, low It is possible to reduce power consumption, reduce costs, eliminate or reduce electromagnetic interference problems, reduce malfunctions due to electromagnetic noise, and improve quality and reliability.

図1は、ディジタル基本回路の等価回路の一例である。FIG. 1 is an example of an equivalent circuit of a digital basic circuit. 図2は、信号線路の電位波形と信号線路上を進行する孤立電界波形である。FIG. 2 shows a potential waveform of the signal line and an isolated electric field waveform traveling on the signal line. 図3は、電源線路の電位波形と電源線路上を進行する孤立電界波形である。FIG. 3 shows a potential waveform of the power supply line and an isolated electric field waveform traveling on the power supply line. 図4は、低インピーダンス損失線路の一例である。FIG. 4 is an example of a low impedance loss line. 図5は、低インピーダンス損失線を使用するディジタル基本回路の等価回路の一例である。FIG. 5 is an example of an equivalent circuit of a digital basic circuit using a low impedance loss line. 図6は、リードフレームの一例である。FIG. 6 is an example of a lead frame. 図7は、低インピーダンス損失線路がリードフレームに接着された状態の一例である。FIG. 7 is an example of a state in which the low impedance loss line is bonded to the lead frame. 図8は、図7のA,A‘側から見た一例である。FIG. 8 is an example viewed from the A and A ′ sides in FIG. 図9は、低インピーダンス損失線路が外装樹脂によって封止された状態の、図7のA,A‘側から見た一例である。FIG. 9 is an example viewed from the A and A ′ sides in FIG. 7 in a state where the low impedance loss line is sealed with the exterior resin. 図10は、低インピーダンス損失線路部品の端子面の一例である。FIG. 10 is an example of a terminal surface of the low impedance loss line component. 図11は、低インピーダンス損失線路部品の側面の一例である。FIG. 11 is an example of a side surface of a low impedance loss line component. 図12は、リードフレームの他の一例である。FIG. 12 shows another example of the lead frame. 図13は、低インピーダンス損失線路がリードフレームに接着された状態の他の一例である。FIG. 13 shows another example of the state in which the low impedance loss line is bonded to the lead frame. 図14は、図7のA,A‘側から見た他の一例である。FIG. 14 shows another example viewed from the A and A ′ sides in FIG. 図15は、低インピーダンス損失線路が外装樹脂によって封止された状態の、図7のA,A‘側から見た他の一例である。FIG. 15 is another example viewed from the A and A ′ sides in FIG. 7 in a state where the low impedance loss line is sealed with the exterior resin. 図16は、低インピーダンス損失線路部品の端子面の他の一例である。FIG. 16 is another example of the terminal surface of the low impedance loss line component. 図17は、低インピーダンス損失線路部品の側面の他の一例である。FIG. 17 is another example of the side surface of the low impedance loss line component. 図18は、低インピーダンス損失線路部品を印刷配線基板に搭載した状態の一例である。FIG. 18 is an example of a state where the low impedance loss line component is mounted on the printed wiring board. 図19は、試作した低インピーダンス損失線路の一例である。FIG. 19 is an example of a prototype low impedance loss line. 図20は、試作した低インピーダンス損失線路の透過係数(S21)の周波数特性の一例である。FIG. 20 is an example of the frequency characteristic of the transmission coefficient (S21) of the prototype low impedance loss line. 図21は、試作した低インピーダンス損失線路部品の一例である。FIG. 21 is an example of a prototype low impedance loss line component. 図22は、試作した低インピーダンス損失線路部品の透過係数(S21)の周波数特性の一例である。FIG. 22 shows an example of the frequency characteristic of the transmission coefficient (S21) of the prototype low impedance loss line component.

符号の説明Explanation of symbols

1 、14 インバータまたはプッシュプル回路
2 PチャネルMOS トランジスタ
3 NチャネルMOS トランジスタ
4 直流電源
5 、12 電源線路
6 信号線路
7 抵抗器
8 信号線路上の孤立電界波
9 信号線路の電位波形
10 電源線路上の孤立電界波
11 電源線路の電位波形
13 、25、30 低インピーダンス損失線路
15 、23、50 陰極層
16 、18、20、22、52 誘電体酸化皮膜
17 、21、53 固体電解質層
19 、51 陽極箔
24 、29 リードフレーム
26 、31 外装樹脂
27 、33、35 電源端子
28 、32、34 グランド端子
37 低インピーダンス損失線路部品
38 印刷配線基板
39 グランドプレーン
40 電源配線
41 ビア
54 カーボングラファイト層
1, 14 Inverter or push-pull circuit
2 P-channel MOS transistor
3 N-channel MOS transistor
4 DC power supply
5, 12 Power line
6 Signal line
7 Resistor
8 Isolated electric wave on signal line
9 Potential waveform of signal line
10 Isolated electric field waves on power lines
11 Potential waveform of power line
13, 25, 30 Low impedance loss line
15, 23, 50 Cathode layer
16, 18, 20, 22, 52 Dielectric oxide film
17, 21, 53 Solid electrolyte layer
19, 51 Anode foil
24, 29 lead frame
26, 31 Exterior resin
27, 33, 35 Power terminal
28, 32, 34 Ground terminal
37 Low impedance loss line components
38 Printed wiring board
39 ground plane
40 Power supply wiring
41 Via
54 Carbon graphite layer

Claims (17)

弁作用金属から成り両面にエッチング部が形成され該エッチング部の表面に誘電体酸化被膜が形成された陽極箔と、前記陽極箔の両面の誘電体酸化皮膜上に形成されるモノマー又はモノマー溶液を酸化剤で重合してなる導電性ポリマーからなる第1の固体電解質層および第2の固体電解質層と、前記第1の固体電解質層および前記第2の固体電解質層の表面に形成される第1の導電性カーボンペースト層および第2の導電性カーボンペースト層と、前記第1の導電性カーボンペースト層および前記第2の導電性カーボンペースト層の表面に形成される導電性金属粉ペーストからなる第1の陰極層および第2の陰極層から形成される低インピーダンス損失線路において、前記第1の陰極層の長さ方向の両端部に電源端子が、前記第2の陰極層の長さ方向の両端部よりやや内側にグランド端子がそれぞれ装着され、少なくとも該電源端子および該グランド端子を残して前記低インピーダンス損失線路が外装樹脂で封止されて形成されることを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 An anode foil made of a valve metal and having an etched portion formed on both surfaces and a dielectric oxide film formed on the surface of the etched portion, and a monomer or monomer solution formed on the dielectric oxide film on both surfaces of the anode foil A first solid electrolyte layer and a second solid electrolyte layer made of a conductive polymer polymerized with an oxidizing agent, and a first formed on the surfaces of the first solid electrolyte layer and the second solid electrolyte layer. A first conductive carbon paste layer and a second conductive carbon paste layer, and a conductive metal powder paste formed on the surface of the first conductive carbon paste layer and the second conductive carbon paste layer. In a low-impedance loss line formed of one cathode layer and a second cathode layer, power terminals are provided at both ends in the length direction of the first cathode layer. A ground terminal is mounted slightly inside from both ends in the vertical direction, and at least the power supply terminal and the ground terminal are left, and the low impedance loss line is formed by being sealed with an exterior resin. Impedance loss line parts 請求項1記載の低インピーダンス損失線路部品において、該低インピーダンス損失線路部品が、スイッチング素子またはスイッチング回路に直流電源を分配するために設けられた電源線路上の前記スイッチング素子またはスイッチング回路の近傍に搭載され、前記第1の陰極層が前記電源端子を介して前記電源線路を構成する電源線に直列に挿入され、前記第2の陰極層が前記グランド端子を介して前記電源線路を構成するグランド線またはグランド板に並列に接続されて使用されることを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 2. The low-impedance loss line component according to claim 1, wherein the low-impedance loss line component is mounted in the vicinity of the switching element or switching circuit on a power line provided to distribute a DC power source to the switching element or switching circuit. The first cathode layer is inserted in series with the power supply line constituting the power supply line via the power supply terminal, and the second cathode layer is connected to the ground line constituting the power supply line via the ground terminal. Or a low impedance loss line component characterized by being used in parallel with a ground plate. 請求項1から請求項2記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記モノマーが3,4−エチレンジオキシチオフェンまたはポリピロールであることを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 3. The low impedance loss line component according to claim 1, wherein the monomer is 3,4-ethylenedioxythiophene or polypyrrole. 請求項1から請求項3記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記陽極箔が、エッチング加工および誘電体酸化皮膜形成済の前記弁金属の箔膜を穿孔して残された格子子の部分を使用して形成されることを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 4. The low-impedance loss line component according to claim 1, wherein the anode foil uses a portion of the lattice left by perforating the valve metal foil film that has been etched and formed with a dielectric oxide film. Low impedance loss line component characterized by being formed 請求項1から請求項4記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記弁作用金属がアルミニウムであることを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 5. The low impedance loss line component according to claim 1, wherein the valve action metal is aluminum. 請求項1から請求項5記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記固体電解質層が形成済の低インピーダンス損失線路が、60〜90℃の温度、および20〜60%の相対湿度の雰囲気中で前記誘電体酸化皮膜層を修復するための再化成を施されて成ることを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 The low-impedance loss line component according to claim 1, wherein the low-impedance loss line on which the solid electrolyte layer is formed is in an atmosphere at a temperature of 60 to 90 ° C. and a relative humidity of 20 to 60%. Low impedance loss line component characterized by being re-formed for repairing the dielectric oxide film layer 請求項1から請求項6記載の低インピーダンス損失線路部品において、リードフレームが、導電性金属粉ペーストによって前記第1の陰極層および前記第2の陰極層に接着されることを特徴とする、インピーダンス損失線路部品 7. The low impedance loss line component according to claim 1, wherein a lead frame is bonded to the first cathode layer and the second cathode layer with a conductive metal powder paste. Loss line parts 請求項1から請求項7記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記リードフレームの一部が、導電性金属粉ペーストによって前記第1の陰極層の幅の60%以下を有する中心領域に接着され、前記第1の陰極層の長さ方向の端部において該第1の陰極層の長さ方向に展開される前記電源端子用の突起を有することを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 The low impedance loss line component according to claim 1, wherein a part of the lead frame is adhered to a central region having a width of 60% or less of the first cathode layer by a conductive metal powder paste, A low-impedance loss line component having a projection for the power supply terminal developed in the length direction of the first cathode layer at an end portion in the length direction of the first cathode layer 請求項1から請求項8記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記リードフレームの一部が、導電性金属粉ペーストによって前記第1の陰極層の幅の60%以下を有する中心領域に接着され、前記第1の陰極層の長さ方向の端部において該第1の陰極層の幅方向に展開される前記電源端子用の突起を有することを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 The low impedance loss line component according to claim 1, wherein a part of the lead frame is adhered to a central region having 60% or less of the width of the first cathode layer by a conductive metal powder paste. A low-impedance loss line component having a projection for the power supply terminal developed in the width direction of the first cathode layer at an end in the length direction of the first cathode layer 請求項1から請求項9記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記リードフレームの一部が、導電性金属粉ペーストによって前記第2の陰極層の前記中心領域に接触しない幅方向の両端部領域に接着され、前記電源端子用の突起の内側において前記第2の陰極層の幅方向に展開される前記グランド端子用の突起を有することを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 10. The low-impedance loss line component according to claim 1, wherein a part of the lead frame is formed at both end regions in the width direction that do not contact the central region of the second cathode layer by a conductive metal powder paste. A low-impedance loss line component comprising a ground terminal protrusion that is bonded and developed in a width direction of the second cathode layer inside the power terminal protrusion. 請求項1から請求項10記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記リードフレームが、銅、ニッケル、またはこれらを含む任意の合金から成ることを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 11. The low impedance loss line component according to claim 1, wherein the lead frame is made of copper, nickel, or any alloy containing them. 請求項1から請求項11記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記導電性金属粉ペーストが、10[μm]以下の長径を有する、金粒子、銀粒子、銅粒子、錫粒子、インジウム粒子、パラジウム粒子、ニッケル粒子、およびこれらの任意の合金粒子から選ばれる少なくとも1種の金属粒子を含むことを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 12. The low impedance loss line component according to claim 1, wherein the conductive metal powder paste has a long diameter of 10 [μm] or less, gold particles, silver particles, copper particles, tin particles, indium particles, palladium. A low impedance loss line component comprising at least one metal particle selected from particles, nickel particles, and any alloy particles thereof 請求項1から請求項12記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記リードフレームに接着済の前記低インピーダンス損失線路が、該低インピーダンス損失線路の端部を耐熱性樹脂によってマスキングされて成ることを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 13. The low impedance loss line component according to claim 1, wherein the low impedance loss line already bonded to the lead frame is formed by masking an end portion of the low impedance loss line with a heat resistant resin. Low impedance loss line parts 請求項1から請求項13記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記マスキングが、シリコン樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエステル樹脂、ポリフェニレンスルフィド樹脂、ポリフェニレンスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、シアン酸エステル樹脂、フッ素樹脂またはこれらの混合物もしくは変性物から選択される1種以上の耐熱性樹脂を使用して行われることを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 14. The low impedance loss line component according to claim 1, wherein the masking includes silicon resin, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, polyester resin, polyphenylene sulfide resin, polyphenylene sulfone resin, polyether sulfone resin, cyanic acid. A low-impedance loss line component characterized by being performed using at least one heat-resistant resin selected from an ester resin, a fluororesin, or a mixture or modification thereof. 請求項1から請求項14記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記低インピーダンス損失線路が前記リードフレームの前記低インピーダンス損失線路との接続部分とともに外装樹脂で封止され、前記リードフレームが端子部を残して切断されることを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 15. The low impedance loss line component according to claim 1, wherein the low impedance loss line is sealed with an exterior resin together with a connection portion of the lead frame with the low impedance loss line, and the lead frame has a terminal portion. Low impedance loss line component characterized by being cut off 請求項1から請求項15記載の低インピーダンス損失線路部品において前記電源端子および前記グランド端子が、前記リードフレームの端子部を第2の前記陰極層側に前記外装樹脂の表面に沿って折り曲げることによって形成されることを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品 16. The low impedance loss line component according to claim 1, wherein the power supply terminal and the ground terminal bend the terminal portion of the lead frame to the second cathode layer side along the surface of the exterior resin. Low impedance loss line component characterized by being formed 請求項1から請求項16記載の低インピーダンス損失線路部品において、前記外装樹脂が、脱水凝縮材として作用するカルボジイミド基を含む化合物とエポキシ樹脂とを主成分とすることを特徴とする、低インピーダンス損失線路部品
The low impedance loss line component according to any one of claims 1 to 16, wherein the exterior resin is mainly composed of a compound containing a carbodiimide group acting as a dehydrating condensing material and an epoxy resin. Track parts
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