JP2009272260A - Fluorescent display tube and method of manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent formation of hillocks in anode wirings, which sometimes occurs, when aluminum anode wirings, which are generally formed on an anode substrate for a fluorescent display tube, are heated in the manufacturing step. <P>SOLUTION: Niobium anode wirings 23 are formed on a glass anode substrate 21, an insulating film 22 made of SiO<SB>2</SB>is formed thereover, aluminum anode electrodes 24 are formed further thereon, and a phosphor 25 is deposited further thereover. The anode wirings 23 and the anode electrodes 24 are electrically connected via aluminum of a through-hole 221. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本願発明は、蛍光表示管とその製造方法に関し、特に蛍光表示管のアノード基板の構造に関する。   The present invention relates to a fluorescent display tube and a manufacturing method thereof, and more particularly to a structure of an anode substrate of the fluorescent display tube.

図３により、従来の蛍光表示管の概要を説明する。
図３は、蛍光表示管の斜視図で、真空容器の一部を切除してある
蛍光表示管は、アノード基板１１１、アノード基板に対向する平面基板１１２、側面部材１１３からなる真空容器（気密容器）内に、電子源のフィラメントＦ、フィラメントＦから放出される電子を制御するグリッドＧ、蛍光体を被着した多数のアノード電極１４を備えている。アノード電極１４の蛍光体は、フィラメントＦから放出される電子によって発光する。
アノード基板１１１には、各アノード１４に表示データ（パルス状の電圧）を供給するアノード配線（図示せず）を形成し、その上にアノード配線を覆うようにＳｉＯ2の絶縁膜（図示せず）を形成し、その上にアノード電極１４を形成してある。そしてアノード電極１４の夫々は、対応するアノード配線と絶縁膜のスルーホール（図示せず）を介して電気的に接続されている。
図２は、従来のアノード基板の構造を示す（例えば特許文献１参照）。
図２は、図３のアノード基板１１１のアノード電極の一部を拡大した図である。
図２（ａ）は、平面図、図２（ｂ）は、図２（ａ）においてアノード電極上の蛍光体を省略した図、図２（ｃ）は、図２（ａ）のＸ１部分の矢印方向の断面図、図２（ｄ）は、アノード配線のヒロック（火ぶくれ）を説明する図である。
ガラスのアノード基板１１１には、アルミニウムのアノード配線１３を形成し、その上にアノード配線１３を覆うようにＳｉＯ2の絶縁膜１２を形成し、その上にアルミニウムのアノード電極１４を形成してある。アノード電極１４には、開口部１４１を形成してある。アノード配線１３とアノード電極１４は、絶縁膜１２のスルーホール１２１内のアルミニウムを介して電気的に接続されている。アノード電極１４には蛍光体１５を被着してある。
アノード配線１３、絶縁層１２及びアノード電極は、薄膜からなり、それらの膜厚は、通常μｍオーダである。またアノード配線１３やアノード電極１４は、通常アルミニウムで形成されている。
アノード基板１１１は、アノード基板形成後の製造工程、例えば真空容器の組立工程（封着工程）、封止工程を経て蛍光表示管に組立てられ、蛍光表示管が完成する。アノード基板１１１は、アノード基板形成後の製造工程において加熱されるため、アノード基板１１１上のアノード配線１３は、図２（ｄ）のように、ガラスの基板１１１から膨れ上がり、いわゆるヒロック（火ぶくれ）１３１のできることがある。ヒロック１３１は、アノード配線１３の断線の原因になり、またヒロック１３１により絶縁層１２にひび割れが生じて、絶縁不良の原因になる。 An outline of a conventional fluorescent display tube will be described with reference to FIG.
FIG. 3 is a perspective view of the fluorescent display tube. A fluorescent display tube, in which a part of the vacuum container is cut away, is a vacuum container (airtight container) including an anode substrate 111, a flat substrate 112 facing the anode substrate, and a side member 113. ) Includes a filament F of an electron source, a grid G for controlling electrons emitted from the filament F, and a large number of anode electrodes 14 on which phosphors are deposited. The phosphor of the anode electrode 14 emits light by electrons emitted from the filament F.
An anode wiring (not shown) for supplying display data (pulse voltage) to each anode 14 is formed on the anode substrate 111, and an SiO 2 insulating film (not shown) is formed thereon so as to cover the anode wiring. ) And the anode electrode 14 is formed thereon. Each of the anode electrodes 14 is electrically connected to a corresponding anode wiring through a through hole (not shown) in the insulating film.
FIG. 2 shows a structure of a conventional anode substrate (see, for example, Patent Document 1).
FIG. 2 is an enlarged view of a part of the anode electrode of the anode substrate 111 of FIG.
2A is a plan view, FIG. 2B is a view in which the phosphor on the anode electrode is omitted in FIG. 2A, and FIG. 2C is a view of the X1 portion of FIG. 2A. FIG. 2D is a cross-sectional view in the direction of the arrow, and is a view for explaining hillocks (blur) of the anode wiring.
An aluminum anode wiring 13 is formed on a glass anode substrate 111, an SiO 2 insulating film 12 is formed thereon to cover the anode wiring 13, and an aluminum anode electrode 14 is formed thereon. . An opening 141 is formed in the anode electrode 14. The anode wiring 13 and the anode electrode 14 are electrically connected through aluminum in the through hole 121 of the insulating film 12. A phosphor 15 is deposited on the anode electrode 14.
The anode wiring 13, the insulating layer 12, and the anode electrode are made of a thin film, and their film thickness is usually on the order of μm. The anode wiring 13 and the anode electrode 14 are usually made of aluminum.
The anode substrate 111 is assembled into a fluorescent display tube through a manufacturing process after the anode substrate is formed, for example, a vacuum container assembly process (sealing process) and a sealing process, thereby completing the fluorescent display tube. Since the anode substrate 111 is heated in the manufacturing process after forming the anode substrate, the anode wiring 13 on the anode substrate 111 swells from the glass substrate 111 as shown in FIG. Kure) There are 131 things you can do. The hillock 131 causes disconnection of the anode wiring 13, and the hillock 131 causes a crack in the insulating layer 12 and causes insulation failure.

特開２００３−６８１８９号公報JP 2003-68189 A

本願発明者は、ヒロックの発生原因について、種々の実験を重ねた結果、アノード基板１１１は、アノード基板形成後の工程で４００〜５００℃に加熱されるため、アルミニウムのアノード配線１３が膨張し、常温に戻ったときにもヒロック１３１が残ってしまうことを突き止めた。即ちアノード配線１３のヒロックの原因は、アルミニウムの加熱時の熱膨張によることが分かった。
本願発明は、前記実験結果を活かしてアノード配線にヒロックが生じないアノード基板を備えた蛍光表示管とその製造方法を提供することを目的とする。 As a result of repeating various experiments on the cause of the generation of hillocks, the inventor of the present application has heated the anode substrate 111 to 400 to 500 ° C. in the process after forming the anode substrate, so that the aluminum anode wiring 13 expanded, It was ascertained that hillock 131 would remain even when the temperature returned to room temperature. That is, it has been found that the cause of hillocks in the anode wiring 13 is thermal expansion during heating of aluminum.
An object of the present invention is to provide a fluorescent display tube having an anode substrate that does not cause hillocks in the anode wiring by utilizing the experimental results, and a manufacturing method thereof.

本願発明は、その目的を達成するため、請求項１に記載の蛍光表示管は、真空容器内に電子源、グリッド及びアノード電極を備えた蛍光表示管において、ガラスのアノード基板に高融点金属のアノード配線を形成し、そのアノード配線の上にアノード配線を覆うようにＳｉＯｘの絶縁膜を形成し、その絶縁膜の上にアルミニウムのアノード電極を形成し、アノード配線とアノード電極は絶縁膜のスルーホールのアルミニウムを介して電気的に接続されていることを特徴とする。
請求項２に記載の蛍光表示管は、請求項１に記載の蛍光表示管において、前記高融点金属は、ニオブであることを特徴とする。
請求項３に記載の蛍光表示管は、請求項２に記載の蛍光表示管において、前記アノード電極は開口部を有し前記アノード配線はその開口部に対向する位置に配置してあることを特徴とする。
請求項４に記載の蛍光表示管は、請求項３に記載の蛍光表示管において、アノード配線の膜厚は０．１μｍ〜１μｍ、絶縁膜の膜厚は０．２μｍ〜２μｍ、アノード電極の膜厚は０．１μｍ〜２μｍであることを特徴とする。
請求項５に記載の蛍光表示管の製造方法は、真空容器内に電子源、グリッド及びアノード電極を備えた蛍光表示管の製造方法において、ガラスのアノード基板にスパッタ法により高融点金属の膜を形成し、その高融点金属の膜をフォトエッチングしてアノード配線を形成し、アノード配線２３の上にアノード配線を覆うようにプラズマＣＶＤ法によりＳｉＯｘの絶縁膜を形成し、その絶縁膜をドライエッチングしてテーパーを有するスルーホールを形成し、その絶縁膜の上にスパッタ法によりアルミニウムの膜を形成し、そのアルミニウムの膜をフォトリソ法によりパターニングしてアノード電極を形成することを特徴とする。
請求項６に記載の蛍光表示管の製造方法は、請求項５に記載の蛍光表示管の製造方法において、前記高融点金属は、ニオブであることを特徴とする。
請求項７に記載の蛍光表示管の製造方法は、請求項６に記載の蛍光表示管の製造方法において、前記アノード電極は開口部を有し前記アノード配線はその開口部に対向する位置に配置することを特徴とする。
請求項８に記載の蛍光表示管の製造方法は、請求項７に記載の蛍光表示管の製造方法において、アノード配線の膜厚は０．１μｍ〜１μｍ、絶縁膜の膜厚は０．２μｍ〜２μｍ、アノード電極の膜厚は０．１μｍ〜２μｍであることを特徴とする。 In order to achieve the object of the present invention, the fluorescent display tube according to claim 1 is a fluorescent display tube having an electron source, a grid, and an anode electrode in a vacuum vessel. An anode wiring is formed, an SiOx insulating film is formed on the anode wiring so as to cover the anode wiring, an aluminum anode electrode is formed on the insulating film, and the anode wiring and the anode electrode pass through the insulating film. It is electrically connected through the aluminum of the hole.
According to a second aspect of the present invention, in the fluorescent display tube according to the first aspect, the refractory metal is niobium.
According to a third aspect of the present invention, in the fluorescent display tube according to the second aspect, the anode electrode has an opening, and the anode wiring is disposed at a position facing the opening. And
A fluorescent display tube according to claim 4 is the fluorescent display tube according to claim 3, wherein the anode wiring has a thickness of 0.1 μm to 1 μm, the insulating film has a thickness of 0.2 μm to 2 μm, and the anode electrode film. The thickness is 0.1 μm to 2 μm.
The method for manufacturing a fluorescent display tube according to claim 5 is a method for manufacturing a fluorescent display tube having an electron source, a grid, and an anode electrode in a vacuum vessel. A glass substrate having a high melting point is formed on the glass anode substrate by sputtering. Then, the refractory metal film is photo-etched to form an anode wiring, a SiOx insulating film is formed on the anode wiring 23 by plasma CVD so as to cover the anode wiring, and the insulating film is dry-etched. Then, a through hole having a taper is formed, an aluminum film is formed on the insulating film by a sputtering method, and the anode film is formed by patterning the aluminum film by a photolithography method.
A method for manufacturing a fluorescent display tube according to a sixth aspect is the method for manufacturing a fluorescent display tube according to the fifth aspect, wherein the refractory metal is niobium.
The method for manufacturing a fluorescent display tube according to claim 7 is the method for manufacturing a fluorescent display tube according to claim 6, wherein the anode electrode has an opening and the anode wiring is disposed at a position facing the opening. It is characterized by doing.
The method for producing a fluorescent display tube according to claim 8 is the method for producing a fluorescent display tube according to claim 7, wherein the anode wiring has a thickness of 0.1 μm to 1 μm, and the insulating film has a thickness of 0.2 μm to The film thickness is 2 μm, and the anode electrode is 0.1 μm to 2 μm.

本願発明は、蛍光表示管のガラスのアノード基板に高融点金属のアノード配線を形成してあるから、蛍光表示管の製造工程において、そのアノード基板が加熱されてもアノード配線にヒロックが生じない。したがってアノード配線は、ヒロックにより断線することがなく、また絶縁膜は、アノード配線のヒロックによりひび割れて絶縁不良になることがない。
高融点金属は、アノード基板のガラスに含まれるＮａ2Ｏによって腐食され難いから、ガラスの基板上にアノード配線を形成しても、そのアノード配線が腐食により断線することは少ない。 In the present invention, since the high-melting point metal anode wiring is formed on the glass anode substrate of the fluorescent display tube, even if the anode substrate is heated in the manufacturing process of the fluorescent display tube, no hillock occurs in the anode wiring. Therefore, the anode wiring is not broken by hillocks, and the insulating film is not cracked by the hillocks of the anode wiring to cause insulation failure.
Since the refractory metal is hardly corroded by Na 2 O contained in the glass of the anode substrate, even if the anode wiring is formed on the glass substrate, the anode wiring is rarely disconnected due to corrosion.

図１により本願発明の実施例に係る蛍光表示管のアノード基板を説明する。   An anode substrate of a fluorescent display tube according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

図１（ａ）は、平面図、図１（ｂ）は、図１（ａ）においてアノード電極上の蛍光体を省略した図、図１（ｃ）は、図１（ａ）のＸ２部分の矢印方向の断面図である。
蛍光表示管の構造は、図３の蛍光表示管と同じであり、アノード配線、絶縁層、アノード電極の配置は、図１と同じである。
低アルカリガラスのアノード基板２１にニオブ（Ｎｂ）のアノード配線１３を形成し、その上にアノード配線１３を覆うようにＳｉＯ2の絶縁膜２２を形成し、その上にアルミニウムのアノード電極２４を形成してある。アノード２４には、開口部２４１を形成してある。アノード配線２３とアノード電極２４は、絶縁膜２２のスルーホール２２１のアルミニウムを介して電気的に接続されている。アノード電極２４には蛍光体２５を被着してある。
アノード基板２１のガラスには、Ｎａ2Ｏの含有量が３〜５ｗｔ％の低アルカリガラスを用いたが、一般のソーダライムガラス（Ｎａ2Ｏの含有量１３ｗｔ％）も使用できる。また絶縁膜２２は、ＳｉＯ2に限らずＳｉＯXでよい。 1A is a plan view, FIG. 1B is a view in which the phosphor on the anode electrode is omitted in FIG. 1A, and FIG. 1C is a view of the X2 portion of FIG. 1A. It is sectional drawing of an arrow direction.
The structure of the fluorescent display tube is the same as that of the fluorescent display tube of FIG. 3, and the arrangement of the anode wiring, the insulating layer, and the anode electrode is the same as that of FIG.
A niobium (Nb) anode wiring 13 is formed on a low alkali glass anode substrate 21, an SiO 2 insulating film 22 is formed on the anode wiring 13 so as to cover the anode wiring 13, and an aluminum anode electrode 24 is formed thereon. It is. An opening 241 is formed in the anode 24. The anode wiring 23 and the anode electrode 24 are electrically connected via aluminum in the through hole 221 of the insulating film 22. A phosphor 25 is deposited on the anode electrode 24.
The glass of the anode substrate 21, but the content of Na 2 O is using the low-alkali glass 3~5wt%, (the Na 2 O content 13 wt%) General soda lime glass can be used. The insulating film 22 is not limited to SiO 2 but may be SiO x .

アノード基板２１上のアノード配線２３にニオブを用いた結果、アノード配線２３は、アノード基板形成後の製造工程において加熱されてもヒロックの生じないことが確認できた。ニオブは、アルミニウムに比べて線膨張係数が小さいから、そのためにアノード配線２３にヒロックが生じないものと考えられる。
アノード配線２３は、ニオブを用いて形成すればアノード基板形成後の製造工程においてヒロックが生じないから、アノード配線が断線したり、絶縁不良になったりする恐れがない。 As a result of using niobium for the anode wiring 23 on the anode substrate 21, it was confirmed that the hillock did not occur even when the anode wiring 23 was heated in the manufacturing process after the anode substrate was formed. Since niobium has a smaller linear expansion coefficient than aluminum, it is considered that hillock does not occur in the anode wiring 23.
If the anode wiring 23 is formed using niobium, no hillocks are generated in the manufacturing process after the anode substrate is formed, so that there is no possibility that the anode wiring is disconnected or an insulation failure occurs.

ここでアルミニウムとニオブの線膨張係数等についてみると、アルミニウムは、融点６６０（℃）、線膨張係数２３．５（１０-6／Ｋ）であるのに対して、ニオブは、融点２４６７（℃）、線膨張係数７．２（１０-6／Ｋ）であるから、この線膨張係数の違いにより、アルミニウムのアノード配線にはヒロックが生じるが、ニオブのアノード配線にはヒロックが生じないものと考えられる。一般に融点の高い金属は、線膨張係数が小さいと言われていから、ニオブ以外の高融点金属と呼ばれている、モリブデン（融点２６２０（℃）、線膨張率５．１（１０-6／Ｋ））、タングステン（融点３４００（℃）、線膨張率４．５（１０-6／Ｋ））、ジルコニウム（融点４４００（℃）、線膨張率５．９（１０-6／Ｋ））、タンタル（融点３０１５（℃）、線膨張率６．５（１０-6／Ｋ））等も、アノード配線に用いることができる。 Here, regarding the linear expansion coefficient of aluminum and niobium, aluminum has a melting point of 660 (° C.) and a linear expansion coefficient of 23.5 (10 −6 / K), whereas niobium has a melting point of 2467 (° C. ), Because the linear expansion coefficient is 7.2 (10 −6 / K), the difference in the linear expansion coefficient causes hillocks in the aluminum anode wiring, but no hillocks occur in the niobium anode wiring. Conceivable. In general, a metal having a high melting point is said to have a low coefficient of linear expansion, so it is called a high melting point metal other than niobium, molybdenum (melting point 2620 (° C.), linear expansion coefficient 5.1 (10 −6 / K). )), Tungsten (melting point 3400 (° C.), linear expansion coefficient 4.5 (10 −6 / K)), zirconium (melting point 4400 (° C.), linear expansion coefficient 5.9 (10 −6 / K)), tantalum (Melting point 3015 (° C.), linear expansion coefficient 6.5 (10 −6 / K)) and the like can also be used for the anode wiring.

アルミニウムは、ガラスに含まれるＮａ2Ｏに腐食され易いため、アノード基板には、無アルカリガラスを用いるか、或いはソーダライムガラスや低アルカリガラスを用いる場合には、ガラスの表面にＮａイオンの拡散防止膜を形成しなければならないが、ニオブ等の高融点金属は、Ｎａ2Ｏに腐食され難いため駆動電圧が低い（１２Ｖ以下）場合には、ソーダライムガラスに直接アノード配線を形成することができし、低アルカリガラスの場合には、駆動電圧が高い場合にもガラスに直接アノード配線を形成することができる。即ちアノード配線がニオブの場合には、アノード基板に無アルカリガラスを用いなくても、アノード配線が腐食されることがない。
また図１のアノード配線２３は、アノード電極２４の開口部２４１と対向する位置に配置してあるから、アノード配線２３とアノード電極２４の間の静電容量が小さくなり、充放電電流が小さくなるため無効電力を低減できる。 Since aluminum is easily corroded by Na 2 O contained in glass, when alkali-free glass is used for the anode substrate, or soda-lime glass or low-alkali glass is used, Na ions diffuse on the surface of the glass. Although a protective film must be formed, refractory metals such as niobium are not easily corroded by Na 2 O, so when the driving voltage is low (12 V or less), anode wiring can be formed directly on soda lime glass. In the case of low alkali glass, anode wiring can be formed directly on the glass even when the driving voltage is high. That is, when the anode wiring is niobium, the anode wiring is not corroded without using alkali-free glass for the anode substrate.
1 is arranged at a position facing the opening 241 of the anode electrode 24, the capacitance between the anode wiring 23 and the anode electrode 24 is reduced, and the charge / discharge current is reduced. Therefore, reactive power can be reduced.

次に図１のアノード配線２３等の膜厚等について説明する。
アノード配線２３は、線幅１５μｍ、線間隔１５μｍ、膜厚０．４μｍ、絶縁膜２２は、膜厚１μｍ、アノード電極２４は、膜厚１μｍである。スルーホール２２１は、直径１５μｍの円形又は幅６μｍ・長さ３０μｍの楕円形である。アノード配線２３は、膜厚が０．１μｍ以下になると抵抗が大きくなり、１μｍ以上になると絶縁膜２２の上面が不均一になる（平らにならない）。絶縁膜２２は、膜厚が０．２μｍ以下になるとアノード配線２３の被覆が不十分になり、２μｍ以上になるとひび割れが生じ易くなる。アノード電極２４は、膜厚が０．１μｍ以下になると抵抗が大きくなり、２μｍ以上になると絶縁膜２２のひび割れや剥離の原因になる。またアノード配線２３の線幅は、１０〜５０μｍに設定するのが望ましい。 Next, the film thickness etc. of the anode wiring 23 etc. of FIG. 1 are demonstrated.
The anode wiring 23 has a line width of 15 μm, a line interval of 15 μm, a film thickness of 0.4 μm, the insulating film 22 has a film thickness of 1 μm, and the anode electrode 24 has a film thickness of 1 μm. The through hole 221 has a circular shape with a diameter of 15 μm or an elliptical shape with a width of 6 μm and a length of 30 μm. The resistance of the anode wiring 23 increases when the film thickness is 0.1 μm or less, and the upper surface of the insulating film 22 becomes non-uniform (not flat) when the film thickness is 1 μm or more. When the thickness of the insulating film 22 is 0.2 μm or less, the coating of the anode wiring 23 is insufficient, and when the thickness is 2 μm or more, cracking is likely to occur. The anode electrode 24 has a large resistance when the film thickness is 0.1 μm or less, and causes cracking or peeling of the insulating film 22 when the film thickness is 2 μm or more. The line width of the anode wiring 23 is desirably set to 10 to 50 μm.

次にアノード配線２３、絶縁膜２２、アノード電極２４の形成方法について説明する。
まずガラスのアノード基板２１にスパッタ法によりニオブの膜を形成し、フォトエッチング法によりアノード配線２３を形成する。次にアノード配線２３の上にアノード配線２３を覆うようにプラズマＣＶＤ法によりＳｉＯ2の絶縁膜２２を形成する。絶縁膜２２にドライエッチング法によりテーパーを有するスルーホール２２１を形成する。その絶縁膜２２の上にスパッタ法によりアルミニウムの膜を形成し、フォトリソ法によりパターニングしてアノード電極２４を形成する。スルーホール２２１は、アルミニウムの膜を形成するときアルミニウムによって埋められるから、アノード配線２３とアノード電極２４はそのアルミニウムによって電気的に接続される。 Next, a method for forming the anode wiring 23, the insulating film 22, and the anode electrode 24 will be described.
First, a niobium film is formed on a glass anode substrate 21 by sputtering, and an anode wiring 23 is formed by photoetching. Next, an insulating film 22 of SiO 2 is formed on the anode wiring 23 by plasma CVD so as to cover the anode wiring 23. A tapered through hole 221 is formed in the insulating film 22 by dry etching. An aluminum film is formed on the insulating film 22 by sputtering and patterned by photolithography to form the anode electrode 24. Since the through hole 221 is filled with aluminum when forming an aluminum film, the anode wiring 23 and the anode electrode 24 are electrically connected by the aluminum.

本願発明の実施例に係る蛍光表示管のアノード基板の構造を示す。1 shows a structure of an anode substrate of a fluorescent display tube according to an embodiment of the present invention. 従来の蛍光表示管のアノード基板の構造を示す。The structure of the anode substrate of the conventional fluorescent display tube is shown. 従来の蛍光表示管の構成を示す。The structure of the conventional fluorescent display tube is shown.

符号の説明Explanation of symbols

２１ アノード基板
２２ 絶縁膜
２３ アノード配線
２４ アノード電極
２５ 蛍光体 21 Anode substrate 22 Insulating film 23 Anode wiring 24 Anode electrode 25 Phosphor

Claims (8)

真空容器内に電子源、グリッド及びアノード電極を備えた蛍光表示管において、ガラスのアノード基板に高融点金属のアノード配線を形成し、そのアノード配線の上にアノード配線を覆うようにＳｉＯｘの絶縁膜を形成し、その絶縁膜の上にアルミニウムのアノード電極を形成し、アノード配線とアノード電極は絶縁膜のスルーホールのアルミニウムを介して電気的に接続されていることを特徴とする蛍光表示管。   In a fluorescent display tube having an electron source, a grid, and an anode electrode in a vacuum vessel, a high melting point metal anode wiring is formed on a glass anode substrate, and an SiOx insulating film is formed on the anode wiring so as to cover the anode wiring. A fluorescent display tube, wherein an anode electrode of aluminum is formed on the insulating film, and the anode wiring and the anode electrode are electrically connected through aluminum in the through hole of the insulating film. 請求項１に記載の蛍光表示管において、前記高融点金属は、ニオブであることを特徴とする蛍光表示管。   2. The fluorescent display tube according to claim 1, wherein the refractory metal is niobium. 請求項２に記載の蛍光表示管において、前記アノード電極は開口部を有し前記アノード配線はその開口部に対向する位置に配置してあることを特徴とする蛍光表示管。   3. The fluorescent display tube according to claim 2, wherein the anode electrode has an opening, and the anode wiring is disposed at a position facing the opening. 請求項３に記載の蛍光表示管において、アノード配線の膜厚は０．１μｍ〜１μｍ、絶縁膜の膜厚は０．２μｍ〜２μｍ、アノード電極の膜厚は０．１μｍ〜２μｍであることを特徴とする蛍光表示管。   4. The fluorescent display tube according to claim 3, wherein the thickness of the anode wiring is 0.1 μm to 1 μm, the thickness of the insulating film is 0.2 μm to 2 μm, and the thickness of the anode electrode is 0.1 μm to 2 μm. Features a fluorescent display tube. 真空容器内に電子源、グリッド及びアノード電極を備えた蛍光表示管の製造方法において、ガラスのアノード基板にスパッタ法により高融点金属の膜を形成し、その高融点金属の膜をフォトエッチングしてアノード配線を形成し、アノード配線２３の上にアノード配線を覆うようにプラズマＣＶＤ法によりＳｉＯｘの絶縁膜を形成し、その絶縁膜をドライエッチングしてテーパーを有するスルーホールを形成し、その絶縁膜の上にスパッタ法によりアルミニウムの膜を形成し、そのアルミニウムの膜をフォトリソ法によりパターニングしてアノード電極を形成することを特徴とする蛍光表示管の製造方法。   In a method of manufacturing a fluorescent display tube having an electron source, a grid, and an anode electrode in a vacuum vessel, a refractory metal film is formed on a glass anode substrate by sputtering, and the refractory metal film is photoetched. An anode wiring is formed, a SiOx insulating film is formed on the anode wiring 23 by plasma CVD so as to cover the anode wiring, the insulating film is dry-etched to form a tapered through hole, and the insulating film A method of manufacturing a fluorescent display tube, comprising: forming an aluminum film on a substrate by sputtering and patterning the aluminum film by photolithography to form an anode electrode. 請求項５に記載の蛍光表示管の製造方法において、前記高融点金属は、ニオブであることを特徴とする蛍光表示管の製造方法。   6. The method for manufacturing a fluorescent display tube according to claim 5, wherein the refractory metal is niobium. 請求項６に記載の蛍光表示管の製造方法において、前記アノード電極は開口部を有し前記アノード配線はその開口部に対向する位置に配置することを特徴とする蛍光表示管の製造方法。   7. The method of manufacturing a fluorescent display tube according to claim 6, wherein the anode electrode has an opening, and the anode wiring is disposed at a position facing the opening. 請求項７に記載の蛍光表示管の製造方法において、アノード配線の膜厚は０．１μｍ〜１μｍ、絶縁膜の膜厚は０．２μｍ〜２μｍ、アノード電極の膜厚は０．１μｍ〜２μｍであることを特徴とする蛍光表示管の製造方法。   8. The method of manufacturing a fluorescent display tube according to claim 7, wherein the thickness of the anode wiring is 0.1 μm to 1 μm, the thickness of the insulating film is 0.2 μm to 2 μm, and the thickness of the anode electrode is 0.1 μm to 2 μm. A method for manufacturing a fluorescent display tube, comprising:
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