JP2009245552A - 磁気記録媒体検査装置、磁気記録媒体検査方法および磁気記録装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】磁性体のパターニングの品質検査を高速化するとともに、磁気記録媒体を磁気記録装置に搭載した際のサーボ動作を安定化させることを課題とする。
【解決手段】磁気記録媒体検査装置は、磁性体の磁化方向によって信号を記録する磁気記録媒体の性能検査を行なう場合に、サーボ信号のプリアンブル部の再生信号を取得し、取得された再生信号の周波数特性を解析して、当該周波数特性に基づいて磁気記録媒体の形状パターンを推定し、推定される形状パターンから磁気記録媒体の良否判定を行なう。
【選択図】 図1
【解決手段】磁気記録媒体検査装置は、磁性体の磁化方向によって信号を記録する磁気記録媒体の性能検査を行なう場合に、サーボ信号のプリアンブル部の再生信号を取得し、取得された再生信号の周波数特性を解析して、当該周波数特性に基づいて磁気記録媒体の形状パターンを推定し、推定される形状パターンから磁気記録媒体の良否判定を行なう。
【選択図】 図1
Description
本発明は、磁気記録媒体検査装置、磁気記録媒体検査方法および磁気記録装置に関する。
従来より、磁気記録媒体を有する磁気記録装置においては、計算機の処理性能向上に伴って、当該磁気記録装置に対する高転送レート、大容量化が要求されている。そして、磁気記録装置に対する高転送レートや大容量化などについては、磁気記録媒体の出荷検査時に実施されるパラメタ設定を最適な値に設定することや、磁気記録媒体の記録領域(記録密度)を有効に利用することなどが考えられる。
ここで、上記した磁気記録媒体の製造および検査を、図12を用いて説明する。図12は、従来技術に係る磁気記録媒体の製造および検査の手順例を説明するためのフローチャートである。図12に示すように、磁気記録媒体検査装置は、基盤が投入されると(ステップS11肯定)、基盤の研磨と洗浄とを実施する(ステップS12)。そして、磁気記録媒体検査装置は、磁性体の製膜、当該磁気記録媒体の表面を処理する潤滑材塗布やTapeBurnishなどを実施する(ステップS13〜ステップS15)。続いて、磁気記録媒体検査装置は、当該磁気記録媒体の表面の平滑性検査(ステップS16)、電気磁気特性検査(ステップS17)などの検査を実施する。その後、磁気記録媒体は、梱包・出荷されることとなる(ステップS18)。
そして、最近では、磁気記録媒体にサーボ信号情報を書き込む処理の時間を短縮するために、磁気的に媒体に転写する磁気転写方式によってサーボ信号情報を記録する技術が検討されている。一方、物理的に媒体に転写する方式としては、ディスクリートトラック記録方式やパターンドメディア記録方式などがある。ディスクリートトラック記録方式は、隣接するトラック間に非磁性体領域を形成し、当該磁性体によって形成されるトラック部のみに記録して、記録密度を向上したり信号品質の劣化を抑制したりする。また、パターンドメディア記録方式は、ディスクリートトラック記録方式に対して、さらに磁区粒子を孤立させ、単一のビットパターンを作製して、記録分解能を向上させている。
ところが、上記したそれぞれの方式によって作製された磁気記録媒体を磁気記録装置に搭載して組み立てを行い、出荷検査において当該磁気記録媒体の良否を判断することは、工数がかかってしまうため生産効率に問題があった。このことにより、磁気記録媒体の構造を形成するパターニングによって作製されたサーボ信号の良否判定は、磁気記録媒体作製時に検査することが重要である。
サーボ信号情報の良否を判定するために、例えば、特許文献1では、性能評価用の磁気転写パターンを作製して評価する。具体的に説明すると、特許文献1では、長い波長と短い波長との2種類の異なる周波数を持つ信号パターンを作成し、磁気転写を行い再生する。続いて、特許文献1では、再生して検出された信号振幅の強度を比較する。そして、特許文献1では、磁気転写方式の性能評価として、個々の強度が一定の閾値を超えている場合に判定基準を満たす性能があるとしている。
しかしながら、上記した従来の技術は、磁性体のパターニングの品質検査において工数がかかってしまうという課題があった。また、上記した従来の技術は、磁気記録媒体を磁気記録装置に搭載した際のサーボ動作が不安定であるという課題があった。
具体的には、特許文献1では、サーボ信号以外の転写性能を確認するためのパターンに基づいて評価しているので、全ての領域の品質を調査することができない上に、評価用のパターンを作成する際に磁気記録媒体の記録領域を利用しているので、当該磁気記録媒体領域の利用効率が低下してしまう。
また、ディスクリートトラック記録方式とパターンドメディア記録方式とは、トラックに追従させるように制御するオントラック処理のためのフィルタ設定や制御パラメタなどを調整する時間がかかってしまう。また、磁気記録装置に搭載された磁気記録媒体は、物理的にエッチングする工程において、変形するなどの事象が発生し、サーボ動作のための最適な特性設定値を得られないことがある。
そこで、本発明は、上述した従来技術の課題を解決するためになされたものであり、磁性体のパターニングの品質検査を高速化することが可能であるとともに、磁気記録媒体を磁気記録装置に搭載した際のサーボ動作を安定化させることが可能である磁気記録媒体検査装置、磁気記録媒体検査方法および磁気記録装置を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するため、本願の開示する磁気記録媒体検査装置は、磁性体の磁化方向によって信号を記録する磁気記録媒体において、前記磁性体の連続した周波数信号が書き込まれた領域の再生信号の周波数特性を解析する周波数特性解析部と、前記周波数特性解析部によって解析された周波数特性において、基本波と高調波との信号振幅を比較して前記磁気記録媒体の形状パターンを推定する信号振幅比較部と、前記信号振幅比較部によって推定された磁気記録媒体の形状パターンに基づいて、当該磁気記録媒体の性能の良否を判定する性能良否判定部と、を備えたことを要件とする。
本願の開示する磁気記録媒体検査装置によれば、磁性体のパターニングの品質検査を高速化することが可能であるとともに、磁気記録媒体を磁気記録装置に搭載した際のサーボ動作を安定化させることが可能であるという効果を奏する。
以下に添付図面を参照して、本発明に係る磁気記録媒体検査装置の実施例を詳細に説明する。なお、以下では、本発明に係る磁気記録媒体検査装置の概要および特徴、磁気記録媒体検査装置の構成および処理の流れを順に説明し、最後に本実施例による効果を説明する。
[概要および特徴]
最初に、図1を用いて、実施例1に係る磁気記録媒体検査装置の概要および特徴を説明する。図1は、実施例1に係る磁気記録媒体検査装置の概要および特徴を示す図である。
最初に、図1を用いて、実施例1に係る磁気記録媒体検査装置の概要および特徴を説明する。図1は、実施例1に係る磁気記録媒体検査装置の概要および特徴を示す図である。
本願の開示する磁気記録媒体検査装置は、所定データの記録や再生などを行う磁気記録媒体の試験媒体が挿入されると、当該磁気記録媒体の品質検査を行なう。そして、磁気記録媒体検査装置は、品質検査の結果を、接続される制御用PC(ホスト)などに出力する。
このような構成において、磁気記録媒体検査装置は、磁性体の磁化方向によって信号を記録する磁気記録媒体の性能検査を行うことを概要とするものであり、特に、磁性体のパターニングの品質検査を高速化することが可能であるとともに、磁気記録媒体を磁気記録装置に搭載した際のサーボ動作を安定化させることが可能である点を主たる特徴とする。
主たる特徴について具体的に説明すると、磁気記録媒体検査装置は、磁性体の連続した周波数信号が書き込まれた領域の再生信号の周波数特性を解析する(図1の(1)参照)。具体的に説明すると、磁気記録媒体検査装置は、磁気記録媒体の再生ヘッドの位置決め制御に利用されるサーボ信号のうち、先頭の単一周波数領域であるプリアンブル部の再生信号を取得する。そして、磁気記録媒体検査装置は、取得された再生信号をDFT(Discrete Fourier Transform)演算によって周波数特性の解析を行なう。
そして、磁気記録媒体検査装置は、解析された周波数特性において、基本波と高調波との信号振幅を比較して、磁気記録媒体の形状パターンを推定する(図1の(2)参照)。上記した例で具体的に説明すると、磁気記録媒体検査装置は、解析された周波数特性において、信号強度の高い基本波「V1」と3次高調波「V3」とを比較する。そして、磁気記録媒体検査装置は、基本波「V1」と3次高調波「V3」との強度比から、磁気記録媒体の形状パターンを推定する。
続いて、磁気記録媒体検査装置は、推定された磁気記録媒体の形状パターンに基づいて、当該磁気記録媒体の性能の良否を判定する(図1の(3)参照)。上記した例で具体的に説明すると、磁気記録媒体検査装置は、基本波「V1」と3次高調波「V3」とが一定の強度比である場合に正常な形状パターンであると推定してホストに出力する。また、磁気記録媒体検査装置は、基本波「V1」と3次高調波「V3」とが一定の強度比でない場合に異常な形状パターンであると推定してホストに出力する。
このようなことから、実施例1に係る磁気記録媒体検査装置は、磁性体の磁化方向によって信号を記録する磁気記録媒体の性能検査を行なう場合に、サーボ信号のプリアンブル部の再生信号を周波数特性解析して、当該周波数特性に基づいて磁気記録媒体の形状パターンを推定することができる結果、磁性体のパターニングの品質検査を高速化することが可能であるとともに、磁気記録媒体を磁気記録装置に搭載した際のサーボ動作を安定化させることが可能である。
つまり、磁気記録媒体検査装置は、磁性体の磁化方向によって信号を記録する磁気記録媒体の性能検査を行なう場合に、媒体検査にかかるオントラック処理のフィルタ設定や位置決め制御のためのパラメタ設定などが不要であるサーボ信号のプリアンブル部を利用して性能検査を行なうので、従来技術のように、トラックに追従するように位置決め制御するフィルタ設定や制御のためのパラメタ設定などの調整が必要であるのと比較して、磁性体のパターニングの品質検査を高速化することが可能である。
また、磁気記録媒体検査装置は、磁性層に物理的な影響がないサーボ信号のプリアンブル部を利用して媒体の形状パターンを推定し、性能が正常であるか異常であるかを出力するので、従来技術のように、物理的なエッチング処理によって媒体に記録される磁性層のパターン形状が変形し、サーボ信号特性が変化するのと比較して、磁気記録媒体を磁気記録装置に搭載した際のサーボ動作を安定化させることが可能である。
[実施例1に係る磁気記録媒体検査装置の構成]
次に、図2を用いて、実施例1に係る磁気記録媒体検査装置の構成を説明する。図2は、実施例1に係る磁気記録媒体検査装置の構成を示す図である。
次に、図2を用いて、実施例1に係る磁気記録媒体検査装置の構成を説明する。図2は、実施例1に係る磁気記録媒体検査装置の構成を示す図である。
図2に示すように、磁気記録媒体検査装置10は、ホストI/F制御部11と、記憶部20と、制御部30とを有し、接続されるホスト1によって磁気記録媒体の性能検査のための制御が行なわれると、挿入される磁気記録媒体の性能検査を行なう。
ホストI/F制御部11は、接続されるホスト1からの磁気記録媒体の性能検査制御を受け付けたり、性能検査結果をホスト1に出力したりする。また、記憶部20は、制御部30による各種処理に必要なデータや、制御部30による各種処理結果を記憶する。
制御部30は、制御プログラム、各種の処理手順などを規定したプログラムおよび所要データを格納するための内部メモリを有するとともに、特に本発明に密接に関連するものとしては、周波数特性解析部31と、信号振幅比較部32と、性能良否判定部33とを有し、これらによって種々の処理を実行する。
周波数特性解析部31は、磁性体の連続した周波数信号が書き込まれた領域の再生信号の周波数特性を解析する。具体的に例を挙げて説明すると、周波数特性解析部31は、磁気記録媒体の再生ヘッドの位置決め制御に利用されるサーボ信号のうち、先頭の単一周波数領域であるプリアンブル部の再生信号を取得する。そして、周波数特性解析部31は、取得された再生信号に基づいて、DFT演算によって周波数特性の解析を行なう。
周波数特性解析部31によって取得される再生信号は、図3に示すように、磁気記録媒体の磁性体の磁化方向に記録されているサーボ信号である。また、サーボ信号のフレームは、単一周波数信号が作製されたプリアンブル部と、セクタ情報が書き込まれたサーボマークと、トラックアドレス情報が書き込まれたアドレス部と、位置誤差を検出するためのバースト信号などが書き込まれたバースト信号部(PES)とを含む。そして、周波数特性解析部31は、サーボ信号のフレームのうち、プリアンブル部から再生信号を取得する。なお、図3は、サーボ信号のプリアンブル部から取得される再生信号の波形例を示す図である。
信号振幅比較部32は、周波数特性解析部31によって解析された周波数特性において、基本波と高調波との信号振幅を比較して、磁気記録媒体の形状パターンを推定する。上記した例で具体的に例を挙げると、信号振幅比較部32は、周波数特性解析部31によって解析された周波数特性において、信号強度の高い基本波「V1」と3次高調波「V3」とを比較する。そして、信号振幅比較部32は、基本波「V1」と3次高調波「V3」との強度比から、磁気記録媒体の形状パターンを推定する。
正常な磁性体の形状パターンである場合の周波数特性は、図4−1に示すように、基本波「V1」と3次高調波「V3」とが一定の強度比である。なお、図4−1は、正常な磁性体の形状パターンである場合の再生信号波形と周波数特性との例を示す図である。
また、磁性膜が削れた形状パターンである場合の周波数特性は、図4−2に示すように、基本波「V1」成分が減少し、3次高調波「V3」成分が増加する。そして、磁性膜が削れた形状パターンでは、基本波「V1」と3次高調波「V3」との強度比が一定の強度比ではなくなる。なお、図4−2は、磁性膜が削れた磁性体の形状パターンである場合の再生信号波形と周波数特性との例を示す図である。
また、磁性体が狭くなった形状パターンである場合の周波数特性は、図4−3に示すように、基本波「V1」と3次高調波「V3」とに加え、偶数次波である2次高調波「V2」が基準値よりも高くなる。2次高調波「V2」の出現は、磁性体が狭くなった場合だけでなく、広くなった場合も同様に発生する。なお、図4−3は、磁性体が狭くなった磁性体の形状パターンである場合の再生信号波形と周波数特性との例を示す図である。
性能良否判定部33は、信号振幅比較部32によって推定された磁気記録媒体の形状パターンに基づいて、当該磁気記録媒体の性能の良否を判定する。上記した例で具体的に例を挙げると、性能良否判定部33は、基本波「V1」と3次高調波「V3」とが一定の強度比である場合に(図5−1参照)、信号振幅比較部32によって正常な形状パターンであると推定され、推定された形状パターンから磁気記録媒体が正常であるとしてホスト1に出力する。また、磁性体の形状パターンが正常である場合には、再生信号波形が正弦波となる。
また、性能良否判定部33は、基本波「V1」と3次高調波「V3」とが一定の強度比でない場合に(図5−2参照)、信号振幅比較部32によって異常な形状パターンであると推定され、推定された形状パターンから磁気記録媒体が異常であるとしてホスト1に出力する。また、再生信号波形が三角波である場合の周波数特性には、信号波形の歪み成分の影響を受けて、偶数次(2次)の高調波が出現する。なお、図5−1は、正常な媒体である場合の再生信号から得られる周波数特性の例を示す図であり、図5−2は、異常な媒体である場合の再生信号から得られる周波数特性の例を示す図である。
[磁気記録媒体の製造および検査]
次に、図6を用いて、磁気記録媒体の製造および検査を説明する。図6は、実施例1に係る磁気記録媒体の製造および検査の手順例を説明するためのフローチャートである。図6に示すように、磁気記録媒体検査装置10は、基盤が投入されると(ステップS101肯定)、基盤の研磨と洗浄とを実施する(ステップS102)。
次に、図6を用いて、磁気記録媒体の製造および検査を説明する。図6は、実施例1に係る磁気記録媒体の製造および検査の手順例を説明するためのフローチャートである。図6に示すように、磁気記録媒体検査装置10は、基盤が投入されると(ステップS101肯定)、基盤の研磨と洗浄とを実施する(ステップS102)。
そして、磁気記録媒体検査装置10は、磁性体の製膜、当該磁気記録媒体の表面を処理する潤滑材塗布やTapeBurnishなどを実施する(ステップS103〜ステップS105)。なお、磁性体の製膜が実施される際には、性能検査に利用するサーボ信号が形成される。
続いて、磁気記録媒体検査装置10は、当該磁気記録媒体の表面の平滑性検査(ステップS106)、サーボ特性検査(ステップS107)などの検査を実施する。その後、磁気記録媒体は、梱包・出荷されることとなる(ステップS108)。つまり、磁気記録媒体の性能検査は、磁性体製膜や媒体の表面加工などが実施されて表面平滑性検査が完了した後に行なわれるので、媒体をスピンドルモータから取り外す必要がなく、検査に係る工数を削減することができる。なお、図12のステップS17において説明した電磁特性検査は、磁気記録媒体の性能検査後に行なうこととしてもよい。
[実施例1による効果]
このようにして、実施例1によれば、磁気記録媒体検査装置10は、磁性体の磁化方向によって信号を記録する磁気記録媒体の性能検査を行なう場合に、磁気記録媒体の製造および検査において、表面平滑性検査が完了した後に、サーボ信号のプリアンブル部の再生信号を周波数特性解析して、当該周波数特性に基づいて磁気記録媒体の形状パターンを推定して良否判定を行なうので、磁性体のパターニングの品質検査を高速化することが可能であるとともに、磁気記録媒体を磁気記録装置に搭載した際のサーボ動作を安定化させることが可能である。
このようにして、実施例1によれば、磁気記録媒体検査装置10は、磁性体の磁化方向によって信号を記録する磁気記録媒体の性能検査を行なう場合に、磁気記録媒体の製造および検査において、表面平滑性検査が完了した後に、サーボ信号のプリアンブル部の再生信号を周波数特性解析して、当該周波数特性に基づいて磁気記録媒体の形状パターンを推定して良否判定を行なうので、磁性体のパターニングの品質検査を高速化することが可能であるとともに、磁気記録媒体を磁気記録装置に搭載した際のサーボ動作を安定化させることが可能である。
つまり、磁気記録媒体検査装置10は、磁性体の磁化方向によって信号を記録する磁気記録媒体の性能検査を行なう場合に、サーボ動作を安定化させるためのパラメタ調整を行なうことなく、媒体の性能検査を実施することができる結果、媒体の性能検査にかかる工数および製造コストを削減することが可能である。また、磁気記録媒体検査装置10は、1枚の媒体面内において磁性層の厚さの変化や形状パターンの変形などによるサーボパターン不良を事前に検知し、不良品を除外できることから、磁気記録媒体を磁気記録装置に搭載した際のサーボ動作を安定化させることが可能である。
ところで、上記実施例1では、磁気記録媒体の性能検査を行なう磁気記録媒体検査装置を説明したが、当該磁気記録媒体検査装置によって性能検査された磁気記録媒体が搭載された磁気記録装置として、さらに、サーボ動作を安定化することもできる。
そこで、以下の実施例2では、図7および図8を用いて、実施例2に係る磁気記録装置による処理について説明する。なお、図7は、実施例2に係る磁気記録装置の構成を示す図であり、図8は、実施例2に係る磁気記録装置によるサーボ特性最適化処理の手順を説明するためのフローチャートである。
ここで、従来技術に係る磁気記録装置の構成を、図13を用いて説明する。図13は、従来技術に係る磁気記録装置の構成例を示す図である。従来技術に係る磁気記録装置は、当該磁気記録装置の筐体内部に磁気記録媒体と、記録および再生を行なう磁気ヘッドと、当該磁気ヘッドの位置決めを行なうVCM(Voice Coil Motor)とを有する。また、磁気記録装置は、図示しない回路基盤において、記録再生信号をコントロールするためのリードチャネル(RDC)と、当該磁気記録装置の動作を制御するためのHDコントローラ(HDC)と、当該HDCからのサーボ信号に従ってVCMを駆動するためのパワーアンプ(パワーコントローラ)とを有する。
このような構成において、プリアンプは、磁気ヘッド付近に配設され、当該磁気ヘッドからの微弱な再生信号を増幅してRDCに送信する。そして、RDCは、受信した再生信号を、各種フィルタを介してサーボ信号や記録再生信号などを取得して復調する。続いて、HDCは、復調されたサーボ信号を位置決め用のコントロール信号(駆動信号)としてパワーアンプに送信する。その後、パワーアンプは、コントロール信号を電流に変換してVCMを制御する。
従来技術に係る磁気記録装置は、従来の媒体性能検査の際にサーボ信号特性が大きく変化しないことを前提に、各半径位置(各ゾーン位置)にてサーボ特性を最適化するパラメタを抽出している。そのため、従来の媒体面内や1トラック内などでサーボ信号特性が変化する場合には、全てのサーボ信号に対して最適な設定値とはなり得ない。
そこで、以下の実施例2では、実施例1において作製された磁気記録媒体のサーボ信号情報の変化に応じて、サーボ動作を安定して行なうことが可能である磁気記録装置を提供することを目的とする。
[実施例2に係る磁気記録装置の構成]
次に、実施例2に係る磁気記録装置の構成を説明する。図7に示すように、磁気記録装置40は、記憶部50と、制御部60と、磁気記録装置40の筐体内部に磁気記録媒体と、記録および再生を行なう磁気ヘッドとを有する。なお、筐体内部の磁気記録媒体と、記録および再生を行なう磁気ヘッドとは、磁気記録装置40の筐体内部に必ずしも含まれていなくても良く、記憶部50と制御部60とを有する制御装置として動作させるようにしてもよい。
次に、実施例2に係る磁気記録装置の構成を説明する。図7に示すように、磁気記録装置40は、記憶部50と、制御部60と、磁気記録装置40の筐体内部に磁気記録媒体と、記録および再生を行なう磁気ヘッドとを有する。なお、筐体内部の磁気記録媒体と、記録および再生を行なう磁気ヘッドとは、磁気記録装置40の筐体内部に必ずしも含まれていなくても良く、記憶部50と制御部60とを有する制御装置として動作させるようにしてもよい。
記憶部50は、制御部60による各種処理に必要なデータや、制御部60による各種処理結果を記憶する。また、記憶部50は、後述する特性設定値決定部63によって決定されたフィルタ特性やイコライザ特性などの設定値を記憶する。
制御部60は、制御プログラム、各種の処理手順などを規定したプログラムおよび所要データを格納するための内部メモリを有するとともに、特に本発明に密接に関連するものとしては、周波数特性解析部61と、信号振幅比較部62と、特性設定値決定部63とを有し、これらによって種々の処理を実行する。
周波数特性解析部61は、磁性体の連続した周波数信号が書き込まれた領域の再生信号の周波数特性を解析する。具体的に例を挙げて説明すると、周波数特性解析部61は、磁気記録媒体の再生ヘッドの位置決め制御に利用されるサーボ信号のうち、先頭の単一周波数領域であるプリアンブル部の再生信号を取得する。そして、周波数特性解析部61は、取得された再生信号に基づいて、DFT演算によって周波数特性の解析を行なう。
信号振幅比較部62は、周波数特性解析部61によって解析された周波数特性において、基本波と高調波との信号振幅を比較する。上記した例で具体的に例を挙げると、信号振幅比較部62は、周波数特性解析部61によって解析された周波数特性において、基本波と高調波との信号振幅を比較する。
特性設定値決定部63は、信号振幅比較部62によって比較されて得られた特性から磁気記録信号を復調するためのフィルタ特性およびイコライザ特性の設定値を決定し、決定された設定値を所定のメモリ領域に格納するとともに、決定された設定値に基づいてサーボ信号を復調する。
上記した例で具体的に例を挙げると、特性設定値決定部63は、信号振幅比較部62によって信号振幅が比較されると、パターニングされた磁性体の製造時のばらつきから媒体半径方向と、トラック円周方向とに形状のばらつきが生じることにより得られるフィルタ特性およびイコライザ特性の設定値の選択範囲に基づいて、磁性体の形状パターンに応じた設定値を決定する。つまり、磁気記録媒体の形状パターンに合致するフィルタ特性とイコライザ特性とを選択することは、最適化するパラメタの調査範囲を必要以上に拡大する必要がないので、調査にかかる工数を削減することとなる。
そして、特性設定値決定部63は、決定されたフィルタ設定およびイコライザ設定を記憶部50に格納するとともに、必要な場合に記憶部50に格納された設定値をサーボ信号復調(制御)のために利用する。なお、記憶部50は、例えば、半導体メモリなどのRAM領域を保有し、設定値が格納された後はROMとして動作する領域として用いる。
[サーボ特性最適化処理]
次に、図8を用いて、サーボ特性最適化処理の手順を説明する。図8は、実施例2に係る磁気記録装置40によるサーボ特性最適化処理の手順を説明するためのフローチャートである。
次に、図8を用いて、サーボ特性最適化処理の手順を説明する。図8は、実施例2に係る磁気記録装置40によるサーボ特性最適化処理の手順を説明するためのフローチャートである。
図8に示すように、磁気記録装置40は、当該磁気記録装置40の装置組み立てが完了すると(ステップS201肯定)、サーボ信号のうち、先頭の単一周波数領域であるプリアンブル部の再生信号を取得して周波数特性の解析を行なう(ステップS202)。そして、磁気記録装置40は、解析された周波数特性に基づいて、フィルタ特性とイコライザ特性との設定値を決定して、アナログフィルタ値とFIRフィルタ設定とを最適化する(ステップS203およびステップS204)。
続いて、磁気記録装置40は、決定された設定値を記憶部50に格納するとともに、記憶部50に格納された設定値をサーボ信号の復調のために利用して、サーボ設定の最適化を行なう(ステップS205)。
[実施例2による効果]
このようにして、実施例2によれば、磁気記録装置40は、サーボ信号のプリアンブル部の再生信号を周波数特性解析し、当該周波数特性に基づいてフィルタ特性やイコライザ特性などのパラメタ値を決定して、決定されたパラメタ値を所定のメモリに格納するので、磁気記録媒体のトラックにおいて目標のトラックに移動した場合に瞬時に格納されたパラメタ値を参照してサーボ動作を安定化させることが可能である。
このようにして、実施例2によれば、磁気記録装置40は、サーボ信号のプリアンブル部の再生信号を周波数特性解析し、当該周波数特性に基づいてフィルタ特性やイコライザ特性などのパラメタ値を決定して、決定されたパラメタ値を所定のメモリに格納するので、磁気記録媒体のトラックにおいて目標のトラックに移動した場合に瞬時に格納されたパラメタ値を参照してサーボ動作を安定化させることが可能である。
ところで、上記実施例2では、サーボ信号のプリアンブル部から取得した再生信号の周波数特性解析結果に基づいて、フィルタ特性やイコライザ特性などの設定値を決定して所定のメモリに格納する場合を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、決定された設定値に基づいて、サーボ領域に記録することもできる。
そこで、以下の実施例3では、図9−1と図9−2とを用いて、実施例3に係る磁気記録装置40によるサーボ設定の最適化処理について説明する。なお、図9−1は、実施例3に係るサーボ設定値をサーボ領域に記録する例を説明するための図であり、図9−2は、実施例3に係る磁気記録媒体の例を示す図である。なお、実施例3に係る磁気記録装置40の各構成や一部の機能については、実施例2と同様であるためその説明を省略し、特に、実施例2とは異なるサーボ設定の最適化処理について説明する。
[実施例3に係るサーボ設定の最適化処理]
図9−1に示すように、磁気記録装置40は、実施例2と同様に、サーボ信号のプリアンブル部から再生信号を取得して周波数特性を解析し、解析して得られたフィルタ設定値を所定のメモリに格納するとともに、サーボ制御パラメタを最適化する(図9−1の(1)参照)。
図9−1に示すように、磁気記録装置40は、実施例2と同様に、サーボ信号のプリアンブル部から再生信号を取得して周波数特性を解析し、解析して得られたフィルタ設定値を所定のメモリに格納するとともに、サーボ制御パラメタを最適化する(図9−1の(1)参照)。
そして、磁気記録装置40は、フィルタ設定値を所定のメモリに格納した後に調査したサーボ領域の先のセクタに、当該フィルタ設定値を記録する(図9−1の(2)参照)。つまり、磁気記録装置40は、サーボ信号のRRO情報などを書き込むための記録領域を用いて、さらに先のセクタのためのサーボ設定情報を書き込む。なお、RRO情報が多くなる場合には、トラックの先頭セクタに代表的なサーボ設定情報のみを書き込むこととしても良いし、または、間欠的にセクタに書き込むこととしても良い。
例えば、磁気記録装置40は、図9−2に示すように、媒体の一周目においてサーボ信号#Aと、サーボ信号#Bとの周波数特性を調査した後に、先のセクタであって、媒体の二周目においてサーボ信号#Mと、サーボ信号#Nとのセクタ後尾に設定値を記録させる。なお、サーボ信号#A、サーボ信号#B、サーボ信号#Mおよびサーボ信号#Nは、同じトラック上に存在するが、説明を簡略化するために同一位置のサーボ信号#A(一周目)とサーボ信号#M(二周目)、サーボ信号#B(一周目)とサーボ信号#N(二周目)に分けて図示している。
[実施例3による効果]
このようにして、実施例3によれば、磁気記録装置40は、サーボ信号のプリアンブル部から取得した再生信号の周波数特性を解析し、得られた最適なパラメタ値を先のサーボ領域の記録領域に書き込むので、磁気記録媒体のトラックにおいて各々のトラックに移動した場合に瞬時に記録されたパラメタ値を参照してサーボ動作を安定化させることが可能である。
このようにして、実施例3によれば、磁気記録装置40は、サーボ信号のプリアンブル部から取得した再生信号の周波数特性を解析し、得られた最適なパラメタ値を先のサーボ領域の記録領域に書き込むので、磁気記録媒体のトラックにおいて各々のトラックに移動した場合に瞬時に記録されたパラメタ値を参照してサーボ動作を安定化させることが可能である。
ところで、上記実施例2では、サーボ信号のプリアンブル部から取得した再生信号の周波数特性解析結果に基づいて、フィルタ特性やイコライザ特性などの設定値を決定して所定のメモリに格納する場合を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、磁気記録装置40の装置動作時に、サーボ信号のプリアンブル部から取得した再生信号の周波数特性結果に基づいて設定値を決定した後に、サーボマークやアドレスマークなどの復調を行なうこともできる。
そこで、以下の実施例4では、図10を用いて、実施例4に係る磁気記録装置40によるサーボ設定の最適化処理について説明する。なお、図10は、実施例4に係る装置動作時におけるサーボ信号最適化処理のタイムチャートを示す図である。なお、実施例4に係る磁気記録装置40の各構成や一部の機能については、実施例2と同様であるためその説明を省略し、特に、実施例2とは異なるサーボ設定の最適化処理について説明する。
[実施例4に係るサーボ設定の最適化処理]
図10に示すように、磁気記録装置40は、サーボゲートが上がった後にサーボ信号を再生して復調を開始する。そして、磁気記録装置40は、サーボ信号のプリアンブル部において信号レベルゲインの調整を行なう(Auto Gain Adjust)。続いて、磁気記録装置40は、単一周波数を追従するために、サーボ信号のクロックの調整を行なう(Timing Loop)。
図10に示すように、磁気記録装置40は、サーボゲートが上がった後にサーボ信号を再生して復調を開始する。そして、磁気記録装置40は、サーボ信号のプリアンブル部において信号レベルゲインの調整を行なう(Auto Gain Adjust)。続いて、磁気記録装置40は、単一周波数を追従するために、サーボ信号のクロックの調整を行なう(Timing Loop)。
また、磁気記録装置40は、サーボ信号に対するタイミングの同調と平行して、プリアンブル部の再生信号から周波数特性を解析して、磁性体の形状パターンの特性を把握し、サーボ信号の復調に最適であるパラメタ値を決定する。その後、磁気記録装置40は、サーボマークの検出とアドレスマークの検出とを行なう。この結果、磁気記録装置40は、サーボ信号の復調に際して、良好なエラーレートを持った状態で動作する。なお、パラメタ値の決定については、予め複数の代表的な設定を用意しておくことで復調動作を効率的に行なう。また、決定されたパラメタ値は、磁気記録装置40内のメモリ領域に格納して、サーボ領域を読み込むごとに随時情報を取り出す。
[実施例4による効果]
このようにして、実施例4によれば、磁気記録装置40は、磁気記録媒体の性能検査時に行なわれるサーボ信号のパラメタ値の最適化を簡素化し、磁気記録装置40の装置動作時にパラメタ値を決定してサーボ信号を復調した後に、サーボマークとアドレスマークとを復調するので、サーボ制御を安定して実施することが可能である。
このようにして、実施例4によれば、磁気記録装置40は、磁気記録媒体の性能検査時に行なわれるサーボ信号のパラメタ値の最適化を簡素化し、磁気記録装置40の装置動作時にパラメタ値を決定してサーボ信号を復調した後に、サーボマークとアドレスマークとを復調するので、サーボ制御を安定して実施することが可能である。
さて、これまで本発明の実施例について説明したが、本発明は上述した実施例以外にも
種々の異なる形態にて実施されてよいものである。そこで、(1)磁気記録媒体検査装置の構成、(2)プログラムにおいて異なる実施例を説明する。
種々の異なる形態にて実施されてよいものである。そこで、(1)磁気記録媒体検査装置の構成、(2)プログラムにおいて異なる実施例を説明する。
(1)磁気記録媒体検査装置の構成
上記文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種のデータやパラメタを含む情報(例えば、図2に示した「信号振幅比較部32」などの具体的名称)については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。
上記文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種のデータやパラメタを含む情報(例えば、図2に示した「信号振幅比較部32」などの具体的名称)については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。
また、図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、例えば、信号振幅比較部32を、周波数特性において基本波と高調波との信号振幅を比較する信号振幅比較部と、比較された信号振幅から形状パターンを推定する形状パターン推定部として分散するなど、その全部または一部を、各種の負担や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。さらに、各装置にて行われる各処理機能は、その全部または任意の一部が、CPUおよび当該CPUにて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現され得る。
(2)プログラム
ところで、上記の実施例では、ハードウェアロジックによって各種の処理を実現する場合を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、あらかじめ用意されたプログラムをコンピュータで実行することによって実現するようにしてもよい。そこで、以下では、図11を用いて、上記の実施例に示した磁気記録媒体検査装置10と同様の機能を有する磁気記録媒体検査プログラムを実行するコンピュータの一例を説明する。図11は、磁気記録媒体検査プログラムを実行するコンピュータを示す図である。
ところで、上記の実施例では、ハードウェアロジックによって各種の処理を実現する場合を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、あらかじめ用意されたプログラムをコンピュータで実行することによって実現するようにしてもよい。そこで、以下では、図11を用いて、上記の実施例に示した磁気記録媒体検査装置10と同様の機能を有する磁気記録媒体検査プログラムを実行するコンピュータの一例を説明する。図11は、磁気記録媒体検査プログラムを実行するコンピュータを示す図である。
図11に示すように、磁気記録媒体検査装置としてのコンピュータ110は、HDD130、CPU140、ROM150およびRAM160をバス180などで接続される。
ROM150には、上記の実施例1に示した磁気記録媒体検査装置10と同様の機能を発揮する磁気記録媒体検査プログラム、つまり、図11に示すように周波数特性解析プログラム150aと、信号振幅比較プログラム150bと、性能良否判定プログラム150cとが、あらかじめ記憶されている。なお、これらのプログラム150a〜プログラム150cについては、図2に示した磁気記録媒体検査装置10の各構成要素と同様、適宜統合または、分散してもよい。
そして、CPU140がこれらのプログラム150a〜プログラム150cをROM150から読み出して実行することで、図11に示すように、プログラム150a〜プログラム150cは、周波数特性解析プロセス140aと、信号振幅比較プロセス140bと、性能良否判定プロセス140cとして機能するようになる。なお、プロセス140a〜プロセス140cは、図2に示した、周波数特性解析部31と、信号振幅比較部32と、性能良否判定部33とに対応する。
そして、CPU140はRAM160に記録されたデータに基づいて磁気記録媒体検査プログラムを実行する。
1 ホスト
10 磁気記録媒体検査装置
11 ホストI/F制御部
20 記憶部
30 制御部
31 周波数特性解析部
32 信号振幅比較部
33 性能良否判定部
40 磁気記録装置
50 記憶部
60 制御部
61 周波数特性解析部
62 信号振幅比較部
63 特性設定値決定部
10 磁気記録媒体検査装置
11 ホストI/F制御部
20 記憶部
30 制御部
31 周波数特性解析部
32 信号振幅比較部
33 性能良否判定部
40 磁気記録装置
50 記憶部
60 制御部
61 周波数特性解析部
62 信号振幅比較部
63 特性設定値決定部
Claims (7)
- 磁性体の磁化方向によって信号を記録する磁気記録媒体において、前記磁性体の連続した周波数信号が書き込まれた領域の再生信号の周波数特性を解析する周波数特性解析部と、
前記周波数特性解析部によって解析された周波数特性において、基本波と高調波との信号振幅を比較して前記磁気記録媒体の形状パターンを推定する信号振幅比較部と、
前記信号振幅比較部によって推定された磁気記録媒体の形状パターンに基づいて、当該磁気記録媒体の性能の良否を判定する性能良否判定部と、
を備えたことを特徴とする磁気記録媒体検査装置。 - 前記周波数特性解析部は、前記磁性体の連続した周波数信号が書き込まれたサーボ信号領域のうち、先頭の単一周波数信号であるプリアンブル部の再生信号の周波数特性を解析することを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体検査装置。
- 前記磁気記録媒体検査装置による媒体検査は、磁気記録媒体の表面平滑性検査の後に実施することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の磁気記録媒体検査装置。
- 磁性体の磁化方向によって信号を記録する磁気記録媒体において、前記磁性体の連続した周波数信号が書き込まれた領域の再生信号の周波数特性を解析する周波数特性解析部と、
前記周波数特性解析部によって解析された周波数特性において、基本波と高調波との信号振幅を比較する信号振幅比較部と、
前記信号振幅比較部によって比較されて得られた特性から磁気記録信号を復調するためのフィルタ特性およびイコライザ特性の設定値を決定し、決定された設定値を所定のメモリ領域に格納するとともに、決定された設定値に基づいてサーボ信号を復調する特性設定値決定部と、
を備えたことを特徴とする磁気記録装置。 - 前記特性設定値決定部は、決定されたフィルタ特性およびイコライザ特性の設定値を、磁気記録媒体上の磁気記録信号の情報記録領域に格納することを特徴とする請求項4に記載の磁気記録装置。
- 前記特性設定値決定部は、所定のメモリ領域に格納されたフィルタ特性およびイコライザ特性の設定値を用いて、前記磁気記録装置の動作状態において連続してサーボ信号を復調することを特徴とする請求項4に記載の磁気記録装置。
- 磁性体の磁化方向によって信号を記録する磁気記録媒体において、前記磁性体の連続した周波数信号が書き込まれた領域の再生信号の周波数特性を解析する周波数特性解析ステップと、
前記周波数特性解析ステップによって解析された周波数特性において、基本波と高調波との信号振幅を比較して前記磁気記録媒体の形状パターンを推定する信号振幅比較ステップと、
前記信号振幅比較ステップによって推定された磁気記録媒体の形状パターンに基づいて、当該磁気記録媒体の性能の良否を判定する性能良否判定ステップと、
を含んだことを特徴とする磁気記録媒体検査方法。
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2008
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