JP2009224733A - Package of semiconductor, and packaging method - Google Patents
Package of semiconductor, and packaging method Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009224733A JP2009224733A JP2008070507A JP2008070507A JP2009224733A JP 2009224733 A JP2009224733 A JP 2009224733A JP 2008070507 A JP2008070507 A JP 2008070507A JP 2008070507 A JP2008070507 A JP 2008070507A JP 2009224733 A JP2009224733 A JP 2009224733A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hole
- metal heat
- sealing resin
- semiconductor element
- semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/50—Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/50—Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
Description
本発明は、半導体の実装体および実装方法に関し、テレビ等のディスプレイ用途に多用されるテープキャリアパッケージのコストダウン、小型化に有効な構造に係るものである。 The present invention relates to a semiconductor mounting body and a mounting method, and relates to a structure effective for cost reduction and miniaturization of a tape carrier package frequently used for a display application such as a television.
現在、IC部品、半導体製品の多くの製品単価は非常に安く、常にコストダウンを要求されている。そのような中で、TCP(Tape Carrier Package)やCOF(Chip On Film)等のパッケージに対しても同様に更なるコストダウンや製品の小型化、多ピン化が求められている。 Currently, the unit price of many IC components and semiconductor products is very low, and there is a constant demand for cost reduction. Under such circumstances, further cost reduction, product miniaturization, and increase in the number of pins are demanded for packages such as TCP (Tape Carrier Package) and COF (Chip On Film).
その結果、製品の小型化に伴って、半導体素子上で局所的に発生する発熱量は増大傾向にある。発熱、蓄熱は回路等の耐久性に悪影響を及ぼすので、半導体の実装体には電気絶縁性等の電気的信頼性に加えて、従来よりも高い放熱性が要求される。 As a result, the amount of heat generated locally on the semiconductor element tends to increase as the product becomes smaller. Since heat generation and heat storage adversely affect the durability of the circuit and the like, the semiconductor mounting body is required to have higher heat dissipation than the conventional one in addition to electrical reliability such as electrical insulation.
放熱方法としては、熱伝導性が高い金属性フィンや金属放熱板と、半導体素子とを接触させて取り付ける方法が一般化している。しかしながら、コスト的に見合わない場合が多くある。 As a heat dissipating method, a method of attaching a metal element having a high thermal conductivity or a metal heat dissipating plate and a semiconductor element in general is common. However, there are many cases where the cost is not met.
図6は、一般的なテープキャリアを示す平面図である。図7は、図6のテープキャリアに半導体素子および金属放熱板を装着したTCPの平面図である。図8は、図7におけるC−C´断面図である。 FIG. 6 is a plan view showing a general tape carrier. FIG. 7 is a plan view of a TCP in which a semiconductor element and a metal heat sink are mounted on the tape carrier of FIG. 8 is a cross-sectional view taken along the line CC ′ in FIG.
図6〜図8に示すように、一般的なテープキャリア101は、ポリイミドフィルム等のフィルム基材102の上に導体パターン103を設け、導体パターン103をソルダーレジスト104で被覆したものであり、アウターリード105がソルダーレジスト104から露出している。導体パターン103は、一端がフィルム基材102のデバイスホール102aの内側に突出するインナーリード(フライングリード)103aと、フィルム基材102の上に延在するパターンリード104bと、ソルダーレジスト104から露出する前述のアウターリード105からなる。
As shown in FIGS. 6 to 8, a
このテープキャリア101のデバイスホール102aに半導体素子106を配置し、ILB(Inner Lead Bonding)により半導体素子106とインナーリード103aとを接続し、インナーリード103aの保護のためにデバイスホール102aにアンダーフィル樹脂113(もしくは非導電性ペースト)を充填し、テープキャリア101と半導体素子106とのギャップを埋めるアンダーフィル樹脂113で半導体素子106を封止してTCP108を形成する。アンダーフィル樹脂113はデバイスホール102aの周辺のテープキャリア101の表面上まで延在する。
The
金属放熱板107は、半導体素子106に対応する搭載位置に凹部107aを有しており、凹部107aに放熱グリス112を塗布してTCP108に装着する。すなわち、放熱グリス112を介してTCP108の半導体素子106の裏面に金属放熱板107を押し付けながら、粘着テープ109を用いてフィルム基材102と金属放熱板107とを互いに固着させる。TCP108と金属放熱板107とにはあらかじめ開口穴110が形成してあり、開口穴110の周囲にランド110aを形成したTCP108の上面側からネジ等の締結部材111を取り付け、締結部材111でTCP108と金属放熱板107とを締結して金属放熱板を装着したTCPを完成させる。
しかしながら、上記の従来の構成では、TCP108上面から開口穴110にネジ等の締結部材111を挿入し、締結部材111でTCP108に金属放熱板107を取り付ける際に、締結部材111の締め付けが強過ぎるとフィルム基材102が変形することがあり、このためにフィルム基材102上の導体パターン103が変形し、または断線するという課題があった。
However, in the conventional configuration described above, when the
また、金属放熱板107の凹部107aにおいて半導体素子106の周囲は放熱グリス112を除いて空洞であり、半導体素子106で発生する熱は、主として放熱グリス112を介して金属放熱板107に伝導する。このため、放熱グリス112と金属放熱板107との接触面積および放熱グリス112と半導体素子106との接触面積の多寡が放熱性に影響する要素となる。
Further, the periphery of the
しかしながら、金属放熱板107の凹部107aに放熱グリス112を塗布する際に、放熱グリス112の塗布量の管理が難しく、放熱グリス112の塗布量が過少である場合には、前述の接触面積の不足により放熱性が悪化するという課題があった。
However, when the
また、フィルム基材102に開口孔110を設けるために、開口孔110の存在によって導体パターン103の配線の引き回しのための領域が減少し、パッケージの小型化や多ピン化に適していないという課題があった。
In addition, since the
本発明は上記した課題を解決するものであり、TCPと金属放熱板とをネジ等の締結部材を用いずに取り付けることができ、かつ優れた放熱性を実現でき、さらには生産設備を少なくすることで低コスト化が可能になり、パッケージの小型化や多ピン化に対応可能となり、かつ信頼性を確保した半導体装置を提供することを目的とする。 The present invention solves the above-described problems, and can attach a TCP and a metal heat radiating plate without using a fastening member such as a screw, can realize excellent heat dissipation, and further reduce production facilities. Accordingly, an object of the present invention is to provide a semiconductor device that can be reduced in cost, can cope with downsizing of a package and increase in the number of pins, and ensures reliability.
上記した課題を解決するために、本発明の半導体の実装体は、導体配線を配置したフレキシブルなベース基材と、前記ベース基材のデバイスホールに搭載する半導体素子と、前記デバイスホールに充填して前記半導体素子を封止する封止樹脂と、前記ベース基材に対向して配置する金属放熱板とを備え、前記金属放熱板が前記デバイスホールに連通する貫通孔を有し、前記封止樹脂を前記デバイスホールおよび前記貫通孔に充填して前記金属放熱板を前記ベース基材に固着させることを特徴とする。 In order to solve the above-described problems, a semiconductor mounting body according to the present invention includes a flexible base substrate on which conductor wiring is arranged, a semiconductor element mounted in a device hole of the base substrate, and the device hole filled. A sealing resin for sealing the semiconductor element, and a metal heat dissipating plate arranged to face the base substrate, the metal heat dissipating plate having a through hole communicating with the device hole, and the sealing The device hole and the through hole are filled with resin, and the metal heat radiating plate is fixed to the base substrate.
また、本発明の半導体の実装体において、前記金属放熱板は、前記貫通孔の一部をなし、かつ前記貫通孔より広い拡幅部を有する孔を備え、前記封止樹脂が前記拡幅部を満たすことを特徴とする。 In the semiconductor package of the present invention, the metal heat radiating plate includes a hole that forms a part of the through hole and has a widened portion wider than the through hole, and the sealing resin fills the widened portion. It is characterized by that.
また、本発明の半導体の実装体において、前記金属放熱板は、前記ベース基材と対向する面と表裏をなす反対側の主面に、前記貫通孔に連通し、かつ前記貫通孔より広い拡幅部を有する座ぐり孔を備え、前記封止樹脂が前記拡幅部を満たすことを特徴とする。 Further, in the semiconductor mounting body of the present invention, the metal heat dissipating plate communicates with the through hole on the opposite main surface opposite to the surface facing the base substrate, and is wider than the through hole. A countersunk hole having a portion, wherein the sealing resin fills the widened portion.
また、本発明の半導体の実装体において、前記金属放熱板は、表裏の主面に、前記貫通孔に連通し、かつ前記貫通孔より広い拡幅部を有する座ぐり孔を備え、前記封止樹脂が前記拡幅部を満たすことを特徴とする。 Further, in the semiconductor mounting body of the present invention, the metal heat radiating plate includes a counterbore hole that communicates with the through hole and has a widened portion wider than the through hole on the main surface of the front and back surfaces. Fills the widened portion.
また、本発明の半導体の実装体において、前記封止樹脂は、電気絶縁性と放熱性を兼ね備えることを特徴とする。
また、本発明の半導体の実装体において、前記封止樹脂は、放熱性のあるフィラーを含有することを特徴とする。
In the semiconductor package of the present invention, the sealing resin has both electrical insulation and heat dissipation.
In the semiconductor package of the present invention, the sealing resin contains a heat radiating filler.
本発明の半導体の実装方法は、導体配線を配置したフレキシブルなベース基材のデバイスホールに半導体素子を配置し、前記ベース基材に対向して金属放熱板を配置し、前記金属放熱板を表裏に貫通して形成した貫通孔および前記デバイスホールに封止樹脂を充填し、前記封止樹脂で前記金属放熱板を前記ベース基材に固着させることを特徴とする。 In the semiconductor mounting method of the present invention, a semiconductor element is disposed in a device hole of a flexible base substrate on which conductor wiring is disposed, a metal heat sink is disposed opposite to the base substrate, and the metal heat sink is front and back. A sealing resin is filled in the through-holes and the device holes formed so as to penetrate the metal holes, and the metal heat radiating plate is fixed to the base substrate with the sealing resin.
また、本発明の半導体の実装方法は、前記封止樹脂が前記金属放熱板の前記貫通孔に形成した拡幅部を満たして樹脂アンカー部を形成することを特徴とする。 The semiconductor mounting method of the present invention is characterized in that the sealing resin fills a widened portion formed in the through hole of the metal heat radiating plate to form a resin anchor portion.
以上のように、本発明の半導体の実装体は、封止樹脂が半導体素子を封止するとともに、半導体素子を搭載したベース基材と金属放熱板とを固着させるので、金属放熱板を取り付ける際に、ネジ等の締結部材が不要となり、ネジの締め付けに起因するベース基材の変形、基材上の導体パターンの変形および断線といった現象が無くなり、且つネジ等の締結部材の配置領域をなくして小型化、多ピン化が可能になる。さらに、放熱グリスが不要となり、低コスト化を実現できる。 As described above, in the semiconductor mounting body of the present invention, the sealing resin seals the semiconductor element, and the base substrate on which the semiconductor element is mounted and the metal heat sink are fixed. In addition, there is no need for a fastening member such as a screw, the phenomenon of deformation of the base substrate, deformation of the conductor pattern on the substrate and disconnection due to the tightening of the screw is eliminated, and the arrangement area of the fastening member such as a screw is eliminated. It is possible to reduce the size and increase the number of pins. Furthermore, no heat radiation grease is required, and cost reduction can be realized.
半導体素子が、その全周囲において封止樹脂に接し、金属放熱板が貫通孔および拡幅部の全内壁面で封止樹脂と当接することで優れた放熱性を実現できる。また、封止樹脂に放熱性のあるフィラーを含有することで金属放熱板への熱伝導性を高めて、より高い絶縁性を持ったままでさらに熱伝導性を向上させることができる。 The semiconductor element is in contact with the sealing resin at the entire periphery thereof, and the metal heat radiating plate is in contact with the sealing resin at all the inner wall surfaces of the through hole and the widened portion, thereby realizing excellent heat dissipation. Moreover, the heat conductivity to a metal heat sink can be improved by containing the filler with heat dissipation in sealing resin, and heat conductivity can be improved further with having higher insulation.
よって、電気絶縁性等の電気的信頼性に加え、より高い放熱性を有し、且つ更なる小型化、多ピン化が可能になり、極めて低コストで半導体装置を提供することができる。 Therefore, in addition to electrical reliability such as electrical insulation, the semiconductor device can be provided at extremely low cost because it has higher heat dissipation and can be further reduced in size and increased in pin count.
以下本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1におけるテープキャリアを示す平面図である。図2は、本発明の実施の形態1における金属放熱板の平面図である。図3は、図2におけるA−A´断面図である。図4は、本発明の実施の形態1におけるテープキャリアに金属放熱板を装着したTCPを示す平面図である、図5は、図4におけるB−B´断面図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a plan view showing a tape carrier according to Embodiment 1 of the present invention. FIG. 2 is a plan view of the metal heat sink in the first embodiment of the present invention. 3 is a cross-sectional view taken along the line AA ′ in FIG. 4 is a plan view showing a TCP in which a metal heat sink is mounted on the tape carrier according to Embodiment 1 of the present invention. FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line BB ′ in FIG.
図1〜図5において、1はテープキャリア、2はフィルム基材、2aはデバイスホール、3は導体パターン、3aはパターンリード、4はソルダーレジスト、5はアウターリード、6は半導体素子、7は金属放熱板、8はTCP(Tape Carrier Package)、9は粘着テープ、10は金属放熱板の半導体素子搭載用座ぐり孔、11は金属放熱板の裏面座ぐり孔、12はインナーリード、13は樹脂、14は金属放熱板の貫通孔を各々示している。
1 to 5, 1 is a tape carrier, 2 is a film substrate, 2a is a device hole, 3 is a conductor pattern, 3a is a pattern lead, 4 is a solder resist, 5 is an outer lead, 6 is a semiconductor element, 7 is Metal heat sink, 8 is TCP (Tape Carrier Package), 9 is adhesive tape, 10 is a counterbore hole for mounting a semiconductor element of the metal heat sink, 11 is a counterbore hole on the back surface of the metal heat sink, 12 is an inner lead, 13 is
図1〜図5に示すように、テープキャリア1は、ポリイミドフィルム等のフィルム基材2の上に導体パターン3を設け、導体パターン3をソルダーレジスト4で被覆したものであり、アウターリード5がソルダーレジスト4から露出している。
As shown in FIGS. 1 to 5, the tape carrier 1 is obtained by providing a
導体パターン3は、一端がフィルム基材2のデバイスホール2aの内側に突出するインナーリード(フライングリード)12と、フィルム基材2の上に延在するパターンリード3aと、ソルダーレジスト4から露出する前述のアウターリード5からなる。
The
図2および図3に示すように、金属放熱板7は、表裏の主面間を貫通する貫通孔14を有し、テープキャリア1に対向する主面に半導体素子搭載用座ぐり孔10を有し、テープキャリア1と対向する主面と表裏をなす反対側の主面に裏面座ぐり孔11を有している。
As shown in FIGS. 2 and 3, the metal
半導体素子搭載用座ぐり孔10は半導体素子6を格納するためのもので、貫通孔14の一部なすとともに、貫通孔14より広い拡幅部に、後述する樹脂アンカー部を受け止める座10aを形成している。裏面座ぐり孔11は貫通孔14の一部をなすとともに、貫通孔14より広い拡幅部に、後述する樹脂アンカー部を受け止める座11aを形成している。
The
図4および図5に示すTCP8の製造工程では、最初に、テープキャリア1のデバイスホール2aに半導体素子6を配置し、インナーリード12に半導体素子6をボンディングする。
In the manufacturing process of the TCP 8 shown in FIGS. 4 and 5, first, the semiconductor element 6 is disposed in the
次に、テープキャリア1の裏面側に対向して金属放熱板7を配置し、テープキャリア1に実装した半導体素子6を金属放熱板7の半導体素子搭載用座ぐり孔10に格納するように金属放熱板7を位置合わせし、粘着テープ9でテープキャリア1の下部に金属放熱板7を固着する。
Next, a metal
次に、テープキャリア1のデバイスホール2aおよび金属放熱板7の半導体素子搭載用座ぐり孔10、貫通孔14、裏面座ぐり孔11に封止用の封止封止樹脂13を充填し、テープキャリア1および金属放熱板7と半導体素子6とのギャップを封止封止樹脂13で埋める。封止封止樹脂13の硬化により半導体素子6を封止して実装体としてのTCP8を形成する。
Next, the
封止封止樹脂13は、デバイスホール2aの周辺のテープキャリア1の表面上まで延在して樹脂アンカー部をなし、半導体素子搭載用座ぐり孔10を満たして拡幅部の座10aに当接する部位が樹脂アンカー部を形成し、さらに、裏面座ぐり孔11を満たして拡幅部の座11aに当接する部位がアンカーとして機能することで、テープキャリア1と金属放熱板7とを締結する。
The sealing and sealing
よって、半導体素子6を封止封止樹脂13で封止する同時に金属放熱板7とテープキャリア1との固着が可能になり、従来のように、テープキャリア1と金属放熱板7とを締結するためのネジ等の締結部材が不要となるとともに、ネジ等の締結部材を用いての取り付け工程が不要となる。
Therefore, the
このため、従来において課題であった、ネジ等の締結部材の締め付けに起因するフィルム基材2の変形が生じず、導体パターン3の変形、断線の現象が無くなる。また、従来において必要であったネジ等の締結部材を配置するための開口孔をテープキャリア1に設ける必要がなくなるので、導体パターン3の配線引き回しのための領域が広くなり、TCP8の多ピン化、小型化が可能になる。
For this reason, the deformation | transformation of the
本実施の形態では、金属放熱板7の表裏面に貫通孔14より広い拡幅部を形成し、拡幅部の座10a、11aで封止樹脂13の樹脂アンカー部を受け止めた。しかしながら、拡幅部は貫通孔14の軸心方向の途中位置に形成することも可能である。また、半導体素子搭載用座ぐり孔10、貫通孔14、裏面座ぐり孔11の形状は本実施の形態に示すものに限らず、種々の形状とすることが可能である。
In the present embodiment, wide portions wider than the through
従来においては、図8に示すように、放熱グリス112を用いるために、半導体素子106の半分程度がアンダーフィル樹脂113から露出していた。しかしながら、本実施の形態では、熱硬化樹脂などの接着性のある封止樹脂13を充填し、封止樹脂13により半導体素子6の全周囲を保持して強固に固定できる。
Conventionally, as shown in FIG. 8, about half of the
また、半導体素子6で発生する熱が封止樹脂13を介して放熱板7に伝導するに際して、半導体素子6の周囲と放熱板7との間を封止樹脂13が満たすことで、半導体素子6と封止樹脂13との接触面積および放熱板7と半導体素子6との接触面積を十分に確保することができ、十分な放熱性を実現できる。
Further, when the heat generated in the semiconductor element 6 is conducted to the
さらに、金属放熱板7の半導体素子搭載用座ぐり孔10、貫通孔14、裏面座ぐり孔11の内壁面はエッチング等により粗面仕上げとすることで、封止樹脂13との接合強度が増すとともに、封止樹脂13との界面における熱伝導性が向上する。
Further, the inner wall surfaces of the
また、ここで使用する封止樹脂13に放熱性のあるフィラーを含有することで金属放熱板7への熱伝導性を向上させることができる。このフィラーとしては、例えば特開2005−306718において公知の無機フィラーを多く充填することにより、高い絶縁性を持ったままで、さらに熱伝導性を向上させて優れた放熱性を実現できる。
Moreover, the thermal conductivity to the
また、従来のような、ネジ等の締結部材を用いての取り付け工程が不要となり、かつ放熱グリス塗布工程がなくなるので、極めて低コストでの実装体を作成することが可能になる。 In addition, since a conventional attachment process using a fastening member such as a screw is not required, and a heat dissipating grease application process is eliminated, it is possible to create a mounting body at an extremely low cost.
本発明の半導体の実装体によれば、電気絶縁性等の電気的信頼性に加え、より高い放熱性を備えたTCPを形成することが可能になり、テレビ等のディスプレイ用途に有用である。 According to the semiconductor package of the present invention, it is possible to form a TCP having higher heat dissipation in addition to electrical reliability such as electrical insulation, which is useful for display applications such as televisions.
1、101 テープキャリア
2、102 フィルム基材
2a、102a デバイスホール
3、103 導体パターン
3a、103b パターンリード
4、104 ソルダーレジスト
5、105 アウターリード
6、106 半導体素子
7、107 金属放熱板
8、108 TCP(Tape Carrier Package)
9、109 粘着テープ
10 金属放熱板の半導体素子搭載用座ぐり孔
11 金属放熱板の裏面座ぐり孔
12、103a インナーリード
13 封止樹脂
14 金属放熱板の貫通孔
107a 凹部
110 開口孔
111 ネジ等の締結部材
112 放熱グリス
113 アンダーフィル樹脂
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,101 Tape carrier 2,102
9, 109
Claims (8)
前記金属放熱板が前記デバイスホールに連通する貫通孔を有し、前記封止樹脂を前記デバイスホールおよび前記貫通孔に充填して前記金属放熱板を前記ベース基材に固着させることを特徴とする半導体の実装体。 A flexible base substrate in which conductor wiring is arranged; a semiconductor element mounted in a device hole of the base substrate; a sealing resin that fills the device hole and seals the semiconductor element; and A metal heatsink disposed oppositely,
The metal heat radiating plate has a through hole communicating with the device hole, the sealing resin is filled in the device hole and the through hole, and the metal heat radiating plate is fixed to the base substrate. Semiconductor mounting body.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008070507A JP2009224733A (en) | 2008-03-19 | 2008-03-19 | Package of semiconductor, and packaging method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008070507A JP2009224733A (en) | 2008-03-19 | 2008-03-19 | Package of semiconductor, and packaging method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009224733A true JP2009224733A (en) | 2009-10-01 |
Family
ID=41241179
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008070507A Withdrawn JP2009224733A (en) | 2008-03-19 | 2008-03-19 | Package of semiconductor, and packaging method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009224733A (en) |
-
2008
- 2008-03-19 JP JP2008070507A patent/JP2009224733A/en not_active Withdrawn
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6900535B2 (en) | BGA/LGA with built in heat slug/spreader | |
US7440282B2 (en) | Heat sink electronic package having compliant pedestal | |
US5856911A (en) | Attachment assembly for integrated circuits | |
US7388284B1 (en) | Integrated circuit package and method of attaching a lid to a substrate of an integrated circuit | |
TW201411788A (en) | Hybrid thermal interface material for IC packages with integrated heat spreader | |
JP2007158279A (en) | Semiconductor device and electronic controller using the same | |
KR20050077866A (en) | Semiconductor package with heat-dissipating structure and method for fabricating the same | |
US9271388B2 (en) | Interposer and package on package structure | |
JP2009105366A (en) | Semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device as well as package of semiconductor device | |
US20210175145A1 (en) | Electronic control device | |
JP2015082576A (en) | Electronic device, electronic equipment, and manufacturing method of electronic device | |
WO2018159453A1 (en) | Module | |
JP2012191002A (en) | Semiconductor device | |
US9147630B2 (en) | Power semiconductor assembly and module | |
CN110637361B (en) | Electronic equipment | |
JP2008198921A (en) | Module component and manufacturing method | |
JP2014220921A (en) | Connector integrated electronic control device | |
JP2009252894A (en) | Semiconductor device | |
JP4975584B2 (en) | Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device. | |
JP2014216326A (en) | Electronic device and method of manufacturing the same | |
JP2009302556A (en) | Semiconductor device | |
US7692290B2 (en) | Heat slug and semiconductor package | |
JP2009224733A (en) | Package of semiconductor, and packaging method | |
JP2010219554A (en) | Semiconductor device and electronic controller using the same | |
US9870977B2 (en) | Semiconductor device with heat information mark |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110302 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20111116 |