JP2009161782A - Atmospheric plasma processing apparatus - Google Patents

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雄一郎 前原
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an atmospheric plasma processing apparatus capable of consistently depositing a thin film of high film uniformity on a cylindrical base material with high productivity. <P>SOLUTION: The atmospheric plasma processing apparatus comprises at least one pair of base material driving units for rotating a cylindrical base material, at least one pair of electrodes, a high frequency power source connected to the electrodes, and a gas feed section for feeding gas containing thin film depositing gas. The base material driving unit moves the cylindrical base material along opposing surfaces of the opposing electrodes. The electrodes excite the gas fed from the gas feed section by the high frequency electric field by the high frequency power source under the atmospheric pressure or under the pressure in a vicinity thereof. By exposing the cylindrical base material moved along the opposing surfaces of the electrodes by at least one pair of base material driving units opposing each other to the excited gas, thin films can be deposited on at least two cylindrical base materials at the same time. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、円筒状基材の表面処理に用いる大気圧プラズマ処理装置に関するものである。   The present invention relates to an atmospheric pressure plasma processing apparatus used for surface treatment of a cylindrical substrate.

一般に、表面処理を行なって基材上に高機能性の薄膜を設ける方法としては、例えば、スパッタリング法、真空蒸着法、イオンプレーティング法等の真空を用いた乾式製膜法が用いられてきた。   In general, as a method for providing a high-functional thin film on a substrate by performing a surface treatment, for example, a dry film forming method using a vacuum such as a sputtering method, a vacuum deposition method, an ion plating method or the like has been used. .

このような製膜方法は、真空設備を必要とする為、設備費用が高額となる。更に、連続生産が出来ず、製膜速度が低いことから、生産性が低いという課題を有していた。   Since such a film forming method requires vacuum equipment, the equipment cost is high. Furthermore, since continuous production was not possible and the film forming speed was low, there was a problem that productivity was low.

これらの真空装置を用いることによる低生産性のデメリットを克服する方法として、特開昭61−238961号等において、大気圧下で放電プラズマを発生させ、該放電プラズマにより高い処理効果を得る大気圧プラズマ処理方法が提案されている。   As a method for overcoming the disadvantages of low productivity due to the use of these vacuum devices, Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-238961, etc., generates a discharge plasma under atmospheric pressure, and obtains a high treatment effect by the discharge plasma. Plasma processing methods have been proposed.

この大気圧プラズマ処理方法は、大気圧または大気圧近傍の圧力下で放電し、その放電空間に導入した反応性ガスをプラズマ励起し、電極間に配置した基材などの表面に低コストで、かつ簡便に機能性薄膜を形成する方法である。   This atmospheric pressure plasma treatment method is performed at a low cost on the surface of a substrate or the like, which is discharged under atmospheric pressure or near atmospheric pressure, plasma-excited reactive gas introduced into the discharge space, and disposed between the electrodes, In addition, the functional thin film can be easily formed.

この大気圧プラズマ処理方法は、基材が電極間に載置できるものであれば、電極間に載置することによって薄膜を形成することができる。   In this atmospheric pressure plasma treatment method, if the base material can be placed between the electrodes, the thin film can be formed by placing between the electrodes.

また、基材が電極間に載置できないものであれば、励起したプラズマを当該基材に吹き付けることによって薄膜を形成することができる。   Moreover, if a base material cannot be mounted between electrodes, a thin film can be formed by spraying the excited plasma on the base material.

このため、フィルム状のもの、シート状のもの、レンズ状等の立体形状のもの等、特に限定なく表面処理を施すことができる。   For this reason, surface treatment can be performed without particular limitation, such as a film shape, a sheet shape, and a three-dimensional shape such as a lens shape.

例えば、円筒状基材表面に大気圧プラズマ処理方法を用いて表面処理する大気圧プラズマ処理装置が提案されている(例えば、特許文献1、2参照。)。   For example, an atmospheric pressure plasma processing apparatus has been proposed in which a surface of a cylindrical base material is surface-treated using an atmospheric pressure plasma processing method (see, for example, Patent Documents 1 and 2).

しかしながら、該特許文献で提案されている方法は、成膜する基材に対向する位置に配置されている電極表面も同時に反応性ガス(励起ガス)に晒され続けるため、その表面が汚染されることになる。   However, in the method proposed in the patent document, the surface of the electrode disposed at the position facing the substrate on which the film is formed is also continuously exposed to the reactive gas (excitation gas), so that the surface is contaminated. It will be.

このため、長時間の連続表面処理を行った際に、電極表面の汚染物質に起因して発生する粉体などが、基材表面の薄膜に取り込まれ、表面平滑性の劣化や膜硬度の低下など、成膜する薄膜品質の低下の原因となる。   For this reason, when continuous surface treatment is performed for a long time, powder generated due to contaminants on the electrode surface is taken into the thin film on the surface of the substrate, resulting in deterioration of surface smoothness and film hardness. For example, it may cause a deterioration in the quality of the thin film formed.

更に、汚染物質の電極表面への堆積により、プラズマ放電やガス流れの不均一を引き起こし、その結果、形成する薄膜の膜厚ムラなどによるスジの発生や膜品質の不均一といった欠陥の要因となってしまう。   Furthermore, the deposition of contaminants on the electrode surface causes plasma discharge and gas flow non-uniformity, resulting in defects such as streaks due to uneven film thickness and non-uniform film quality. End up.

こういった問題発生を防ぐためには、電極表面の汚染物質の除去が必要となるため、生産性を阻害しコストアップ要因となる。   In order to prevent such problems from occurring, it is necessary to remove contaminants on the electrode surface, which hinders productivity and increases costs.

上記課題に対し、被処理基材に対向する電極表面の汚染を防止する技術として、対向するローラ電極のそれぞれの表面で被処理基材を搬送させ、そのローラ電極間にてプラズマ放電を行い、表面処理する大気圧プラズマ処理方法が提案されている(例えば、特許文献3、4参照。)。   As a technique for preventing contamination of the electrode surface facing the substrate to be treated, the substrate to be treated is conveyed on each surface of the opposed roller electrodes, and plasma discharge is performed between the roller electrodes. An atmospheric pressure plasma treatment method for surface treatment has been proposed (see, for example, Patent Documents 3 and 4).

しかしながら、これら提案されている方法は、熱に弱い樹脂基材の場合、熱ダメージを防止するためプラズマ放電処理一回あたりの励起ガスの曝写時間やプラズマ放電に加えられる電力密度を抑制することが必要となり、機能性薄膜の所望の膜厚が一回のプラズマ放電処理で得られなくなることが多い。   However, these proposed methods, in the case of resin substrates that are vulnerable to heat, suppress the exposure time of the excitation gas per plasma discharge treatment and the power density applied to the plasma discharge in order to prevent thermal damage. In many cases, the desired film thickness of the functional thin film cannot be obtained by a single plasma discharge treatment.

このため、プラズマ放電処理を複数回に分けることが必要となり、生産性を低下させたり、複数のプラズマ処理装置を並べ連続処理するなど大型な処理装置が必要となり、経済性の低下につながる。   For this reason, it is necessary to divide the plasma discharge treatment into a plurality of times, which reduces productivity, and requires a large processing device such as a plurality of plasma processing devices arranged and continuously processed, leading to a reduction in economic efficiency.

また、この様な提案されている大気圧プラズマ処理装置では、連続した円筒状基材に薄膜を安定に形成することが難しいという課題を抱えている。
特開2000−355772号公報 特開2003−160868号公報 特開2003−154255号公報 特開2001−279457号公報
Further, such a proposed atmospheric pressure plasma processing apparatus has a problem that it is difficult to stably form a thin film on a continuous cylindrical base material.
JP 2000-355772 A JP 2003-160868 A JP 2003-154255 A JP 2001-279457 A

本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、その目的は、円筒状基材上に、膜均一性の高い薄膜を安定し、かつ高生産性で形成できる大気圧プラズマ処理装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an atmospheric pressure plasma processing apparatus that can stably form a thin film with high film uniformity on a cylindrical base material with high productivity. There is.

本発明の上記目的は、以下の構成により達成される。   The above object of the present invention is achieved by the following configurations.

1.円筒状基材を回転させる、少なくとも1対の対向した基材駆動ユニットと、
少なくとも1対の、対向した電極と、
該電極の少なくとも一方に接続され、前記電極の対向領域に高周波電界を印加する高周波電源と、
前記電極の対向領域に薄膜形成ガスを含有するガスを供給するガス供給部と、を有し、
前記基材駆動ユニットは、それぞれ、前記対向した電極の対向面に沿って円筒状基材を移動させ、
前記電極は、前記ガス供給部から供給された前記ガスを、大気圧もしくはその近傍の圧力下で前記高周波電源による前記高周波電界により励起し、
前記基材駆動ユニットにより前記電極の対向面に沿って移動される円筒状基材を励起した前記ガスに晒すことにより、
同時に、少なくとも2つの前記円筒状基材の表面処理を行うことを特徴とする大気圧プラズマ処理装置。
1. At least one pair of opposed substrate drive units for rotating the cylindrical substrate;
At least one pair of opposing electrodes;
A high-frequency power source connected to at least one of the electrodes and applying a high-frequency electric field to the opposing region of the electrode;
A gas supply part for supplying a gas containing a thin film forming gas to the opposing region of the electrode,
Each of the base material driving units moves the cylindrical base material along the facing surface of the facing electrode,
The electrode excites the gas supplied from the gas supply unit by the high-frequency electric field from the high-frequency power source under atmospheric pressure or a pressure in the vicinity thereof,
By exposing the cylindrical substrate moved along the opposing surface of the electrode by the substrate driving unit to the excited gas,
At the same time, at least two of the cylindrical base materials are subjected to a surface treatment.

2.前記電極の対向領域の、円筒状基材の駆動方向上流側に前記ガス供給部を有し、
前記電極の対向領域の、円筒状基材の駆動方向下流側に、不要となったガスを排気するガス排気部を備えていることを特徴とする前記1項に記載の大気圧プラズマ処理装置。
2. The gas supply unit is provided on the upstream side in the driving direction of the cylindrical base material in the opposed region of the electrode,
2. The atmospheric pressure plasma processing apparatus according to claim 1, further comprising a gas exhaust unit that exhausts unnecessary gas at a downstream side in the driving direction of the cylindrical base material in a region facing the electrode.

3.前記電極が箱状又は板状をしていることを特徴とする前記1又は2項に記載の大気圧プラズマ処理装置。   3. 3. The atmospheric pressure plasma processing apparatus according to item 1 or 2, wherein the electrode has a box shape or a plate shape.

4.前記電極が回動可能なベルト状をしていることを特徴とする前記1又は2項に記載の大気圧プラズマ処理装置。   4). 3. The atmospheric pressure plasma processing apparatus according to item 1 or 2, wherein the electrode has a belt shape that can rotate.

5.前記電極が回動可能な円筒状をしていることを特徴とする前記1又は2項に記載の大気圧プラズマ処理装置。   5). 3. The atmospheric pressure plasma processing apparatus according to item 1 or 2, wherein the electrode has a rotatable cylindrical shape.

6.前記表面処理は少なくとも円筒状基材表面への薄膜形成を含むことを特徴とする前記1〜5項のいずれか1項に記載の大気圧プラズマ処理装置。   6). 6. The atmospheric pressure plasma processing apparatus according to any one of 1 to 5, wherein the surface treatment includes at least a thin film formation on a cylindrical base material surface.

7.前記表面処理乃至薄膜形成を行なった円筒状基材が、電子写真方式の画像形成装置に用いるエンドレスベルト状の中間転写体であることを特徴とする前記1〜6項のいずれか1項に記載の大気圧プラズマ処理装置。   7. The cylindrical substrate on which the surface treatment or thin film formation has been performed is an endless belt-shaped intermediate transfer member used in an electrophotographic image forming apparatus. Atmospheric pressure plasma processing equipment.

8.円筒状基材を回転させる、少なくとも1対の対向した基材駆動ユニットと、
少なくとも1対の、対向した電極と、
該電極の少なくとも一方に接続され、前記電極の対向領域に高周波電界を印加する高周波電源と、
前記電極の対向領域に薄膜形成ガスを含有するガスを供給するガス供給部と、
大気圧もしくはその近傍の圧力下で前記高周波電源による前記高周波電界により、前記ガス供給部から供給された前記ガスを励起し、励起した前記ガスを噴射する励起ガス噴射部と、を有し、
前記励起ガス噴射部は、前記基材駆動ユニットにより円筒状基材が対向しながら移動する基材対向領域に向けて励起した前記ガスを噴射し、
前記基材対向領域を対向しながら移動する前記円筒状基材に、噴射した前記ガスを晒すことにより、同時に、少なくとも2つの円筒状基材の表面処理を行うことを特徴とする大気圧プラズマ処理装置。
8). At least one pair of opposed substrate drive units for rotating the cylindrical substrate;
At least one pair of opposing electrodes;
A high-frequency power source connected to at least one of the electrodes and applying a high-frequency electric field to the opposing region of the electrode;
A gas supply unit for supplying a gas containing a thin film forming gas to the opposing region of the electrode;
An excitation gas injection unit that injects the excited gas by exciting the gas supplied from the gas supply unit by the high-frequency electric field from the high-frequency power source under atmospheric pressure or a pressure in the vicinity thereof,
The excitation gas injection unit injects the gas excited toward a substrate facing region that moves while the cylindrical substrate is opposed by the substrate driving unit,
Atmospheric pressure plasma treatment, wherein the surface treatment of at least two cylindrical substrates is performed simultaneously by exposing the jetted gas to the cylindrical substrate that moves while facing the substrate facing region. apparatus.

9.前記基材対向領域の、円筒状基材の駆動方向上流側に前記励起ガス噴射部を有し、
前記基材対向領域の、円筒状基材の駆動方向下流側に、不要となったガスを排気するガス排気部を備えていることを特徴とする前記8項に記載の大気圧プラズマ処理装置。
9. The excitation gas injection unit is provided on the upstream side in the driving direction of the cylindrical base material in the base material facing region,
9. The atmospheric pressure plasma processing apparatus according to claim 8, further comprising a gas exhaust unit that exhausts unnecessary gas on the downstream side in the drive direction of the cylindrical base material in the base material facing region.

10.前記表面処理は少なくとも円筒状基材表面への薄膜形成を含むことを特徴とする前記8〜9項のいずれか1項に記載の大気圧プラズマ処理装置。   10. The atmospheric pressure plasma processing apparatus according to any one of 8 to 9, wherein the surface treatment includes at least thin film formation on a cylindrical base material surface.

11.前記表面処理乃至薄膜形成を行なった円筒状基材が、電子写真方式の画像形成装置に用いるエンドレスベルト状の中間転写体であることを特徴とする前記8〜10項のいずれか1項に記載の大気圧プラズマ処理装置。   11. 11. The cylindrical substrate on which the surface treatment or thin film formation has been performed is an endless belt-shaped intermediate transfer member used in an electrophotographic image forming apparatus. Atmospheric pressure plasma processing equipment.

上記手段により、円筒状基材上に、膜均一性の高い薄膜を安定し、かつ高生産性で形成できる大気圧プラズマ処理装置を提供することができた。   By the above means, it was possible to provide an atmospheric pressure plasma processing apparatus capable of stably forming a thin film with high film uniformity on a cylindrical substrate with high productivity.

以下、本発明を実施するための最良の形態について詳細に説明する。   Hereinafter, the best mode for carrying out the present invention will be described in detail.

はじめに、本実施形態の大気圧プラズマ処理装置に用いる大気圧プラズマ処理方法(以下、大気圧プラズマCVD法ともいう)について説明する。   First, an atmospheric pressure plasma processing method (hereinafter also referred to as an atmospheric pressure plasma CVD method) used in the atmospheric pressure plasma processing apparatus of the present embodiment will be described.

大気圧プラズマ処理方法とは、大気圧または大気圧近傍の圧力下で放電ガスと原料ガス(反応性ガス)との混合ガスを放電空間へ導入し、放電により混合ガスを、励起し、基材の表面処理を行うもので、例えば、薄膜形成、表面酸化処理、粗し等の表面加工などが挙げられる。   The atmospheric pressure plasma processing method is a method in which a mixed gas of a discharge gas and a raw material gas (reactive gas) is introduced into a discharge space under atmospheric pressure or a pressure near atmospheric pressure, and the mixed gas is excited by discharge to form a substrate. For example, surface processing such as thin film formation, surface oxidation treatment, and roughening may be used.

ここでは、これらの表面処理のうち基材上に薄膜を形成する処理方法を指す。   Here, the processing method which forms a thin film on a base material among these surface treatments is pointed out.

そして、その方法については特開平11−133205号、特開2000−185362号、特開平11−61406号、特開2000−147209号、特開2000−121804号等に記載されている(以下、大気圧プラズマ法とも称する)。   The method is described in JP-A-11-133205, JP-A-2000-185362, JP-A-11-61406, JP-A-2000-147209, JP-A-2000-121804, etc. Also called the atmospheric pressure plasma method).

これによって高機能性の薄膜を、生産性高く形成することができる。   Accordingly, a highly functional thin film can be formed with high productivity.

ここで大気圧近傍とは、20kPa〜110kPaの圧力を表し、好ましくは、93kPa〜104kPaが好ましい。   Here, the vicinity of atmospheric pressure represents a pressure of 20 kPa to 110 kPa, preferably 93 kPa to 104 kPa.

以下、本発明の実施の形態を、図を参照して詳細に説明するが、本欄の記載は請求項の技術的範囲や用語の意義を限定するものではない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. However, the description in this section does not limit the technical scope of the claims or the meaning of terms.

以下の各図において、大気圧プラズマ処理装置は、円筒状基材Kの表面に目的に応じた機能性薄膜を形成するものである。   In each of the following drawings, an atmospheric pressure plasma processing apparatus forms a functional thin film on the surface of a cylindrical substrate K according to the purpose.

はじめに、固定した電極を有し、放電領域と製膜領域とが同一領域にある、第1の大気圧プラズマ処理装置について説明する。   First, a first atmospheric pressure plasma processing apparatus having a fixed electrode and having a discharge region and a film forming region in the same region will be described.

図1は、固定した電極を有する、第1の大気圧プラズマ処理装置の一例を示す概略構成図である。   FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an example of a first atmospheric pressure plasma processing apparatus having fixed electrodes.

第1の大気圧プラズマ処理装置1は、ガス供給部から供給された薄膜形成ガスを、大気圧もしくはその近傍の圧力下で高周波電源による高周波電界により励起し、
基材駆動ユニットにより電極の対向面に沿って移動される円筒状基材を励起した前記ガスに晒すことにより、
同時に、少なくとも2つの前記円筒状基材に薄膜を形成することを特徴とするもので、以下詳細に説明する。
The first atmospheric pressure plasma processing apparatus 1 excites the thin film forming gas supplied from the gas supply unit by a high frequency electric field from a high frequency power source under atmospheric pressure or a pressure in the vicinity thereof,
By exposing the cylindrical substrate moved along the opposing surface of the electrode by the substrate driving unit to the excited gas,
At the same time, a thin film is formed on at least two cylindrical substrates, which will be described in detail below.

第1の大気圧プラズマ処理装置1は、円筒状基材Kを搬送する少なくとも1式の基材搬送部10(円筒状基材を回転させる、少なくとも1対の対向した基材駆動ユニット)と、
プラズマ放電を行なう1対の対向した電極20と、
1対の電極20のそれぞれに高周波電力を供給する電源30と、
電源30により供給された高周波電力により放電を行う放電領域Z(斜線部)に、少なくとも原料ガスと放電ガスとの混合ガス(薄膜形成ガス)を生成して放電空間Zに混合ガスGを供給する混合ガス供給部40と、
使用済みの排ガスG′を排気する排気部50と、を有している。
The first atmospheric pressure plasma processing apparatus 1 includes at least one type of substrate conveyance unit 10 (at least one pair of opposed substrate drive units that rotate the cylindrical substrate) that conveys the cylindrical substrate K;
A pair of opposed electrodes 20 for plasma discharge;
A power supply 30 for supplying high-frequency power to each of the pair of electrodes 20;
At least a mixed gas (thin film forming gas) of the source gas and the discharge gas is generated in the discharge region Z (shaded portion) where discharge is performed by the high-frequency power supplied from the power supply 30, and the mixed gas G is supplied to the discharge space Z. A mixed gas supply unit 40;
And an exhaust part 50 for exhausting the used exhaust gas G ′.

なお、1対の電極20の対向領域が放電領域Zとなっている。   A region where the pair of electrodes 20 face each other is a discharge region Z.

そして、基材搬送部10と電極20と混合ガス供給部40と排気部50とが、放電空間Z等に外部から空気の流入することを軽減する不図示の放電容器に収納されている。   And the base material conveyance part 10, the electrode 20, the mixed gas supply part 40, and the exhaust part 50 are accommodated in the discharge container not shown which reduces that air flows in into the discharge space Z etc. from the outside.

基材搬送部10は、第1の基材搬送部11と第1の基材搬送部11に対向して配設された第2の基材搬送部12とを有している。   The base material transport unit 10 includes a first base material transport unit 11 and a second base material transport unit 12 disposed to face the first base material transport unit 11.

そして、第1の基材搬送部11と第2の基材搬送部12とはそれぞれ、円筒状基材Kを矢印a方向に回転させるように搬送する駆動ローラ101と、
駆動ローラ101により円筒状基材Kを介して従動的に回転する少なくとも1対の従動ローラ102と、
駆動ローラ101を矢印b方向に回転駆動させる駆動モータ103と、を有している。
And the 1st base material conveyance part 11 and the 2nd base material conveyance part 12, respectively, drive roller 101 which conveys cylindrical base material K so that it may rotate in the direction of arrow a,
At least one pair of driven rollers 102 driven to rotate by a driving roller 101 through a cylindrical substrate K;
And a drive motor 103 that rotationally drives the drive roller 101 in the direction of arrow b.

ここで、第1の基材搬送部11と第2の基材搬送部12とは、対向する第1の電極21と第2の電極22との対向面に沿って円筒状基材Kを移動させる。   Here, the 1st base material conveyance part 11 and the 2nd base material conveyance part 12 move the cylindrical base material K along the opposing surface of the 1st electrode 21 and the 2nd electrode 22 which oppose. Let

また、円筒状基材Kに所定の張力を掛ける付勢ローラ104は、不図示の張力付与手段により矢印c方向に牽引され、円筒状基材Kに所定の張力を掛けている。   Further, the urging roller 104 for applying a predetermined tension to the cylindrical base material K is pulled in the direction of the arrow c by a tension applying means (not shown) to apply a predetermined tension to the cylindrical base material K.

なお、張力付与手段は円筒状基材Kの掛け替え時等は張力の付与を解除し、円筒状基材Kの掛け替えを容易にする。例えば矢印c方向と逆方向に移動して円筒状基材Kの張力を解除する。   The tension applying means cancels the application of tension when the cylindrical base material K is changed, and makes it easy to change the cylindrical base material K. For example, it moves in the direction opposite to the arrow c direction to release the tension of the cylindrical base material K.

電極20は、第1の基材搬送部11と第2の基材搬送部12との、1対の従動ローラ102の上流側の従動ローラ102aと下流側の従動ローラ102bの間にそれぞれ配設されており、
第1の基材搬送部11に配設された第1の電極21は第1の高周波電源31に接続され、第2の基材搬送部12に配設された第2の電極22は第2の電源32に接続されている。
The electrode 20 is disposed between the upstream driven roller 102a and the downstream driven roller 102b of the pair of driven rollers 102 of the first base material transport unit 11 and the second base material transport unit 12, respectively. Has been
The first electrode 21 disposed in the first base material transport unit 11 is connected to the first high-frequency power source 31, and the second electrode 22 disposed in the second base material transport unit 12 is the second. Is connected to the power source 32.

そして、対向して配設した第1の電極21と第2の電極22は、その対向領域が放電空間Zを形成している。   The opposing regions of the first electrode 21 and the second electrode 22 that are arranged to face each other form a discharge space Z.

そして、第1の電極21と第2の電極22とはその表面に、後述する誘電体が被覆されている。   And the 1st electrode 21 and the 2nd electrode 22 are coat | covered with the dielectric material mentioned later on the surface.

また、第1の電極21と第2の電極22とは円筒状基材Kの幅と略同一幅を有し、円筒状基材Kの搬送方向に延びた箱状をなしている。   Further, the first electrode 21 and the second electrode 22 have substantially the same width as that of the cylindrical base material K, and have a box shape extending in the conveyance direction of the cylindrical base material K.

なお、第1の電極21は上流側の従動ローラ102aと下流側の従動ローラ102bとの接線を結ぶ延長戦より放電領域Z側に僅かにはみ出しており、このため円筒状基材Kが第1の電極21に密着可能となっている。   The first electrode 21 slightly protrudes to the discharge region Z side from the extended battle connecting the tangent line between the upstream driven roller 102a and the downstream driven roller 102b. The electrode 21 can be closely attached.

同様に、円筒状基材Kが第2の電極22に密着可能となっている。   Similarly, the cylindrical substrate K can be in close contact with the second electrode 22.

電源30は、第1の電極21に第1の高周波電源31が接続され、第2の電極22に第2の高周波電源32が接続されている。   In the power source 30, a first high frequency power source 31 is connected to the first electrode 21, and a second high frequency power source 32 is connected to the second electrode 22.

そして、第1の高周波電源31は周波数ω1の高周波電圧Vω1を出力し、第1の電極21に印加される。   The first high frequency power supply 31 outputs a high frequency voltage Vω1 having a frequency ω1 and is applied to the first electrode 21.

また、第2の高周波電源32は周波数ω2の高周波電圧Vω2を出力し、第2の電極22に印加される。   The second high frequency power supply 32 outputs a high frequency voltage Vω 2 having a frequency ω 2 and is applied to the second electrode 22.

そして、第1の電極21に印加された高周波電圧Vω1と第2の電極22に印加された高周波電圧Vω2とにより、放電空間Zには周波数ω1とω2とが重畳された電界Eω1ω2が発生する。   Then, the high frequency voltage Vω1 applied to the first electrode 21 and the high frequency voltage Vω2 applied to the second electrode 22 generate an electric field Eω1ω2 in which the frequencies ω1 and ω2 are superimposed in the discharge space Z.

そして、電界Eω1ω2により混合ガスGを励起しプラズマ化して混合ガスGに含まれる原料ガスに応じた膜が円筒状基材Kの表面に堆積される。   Then, the mixed gas G is excited by the electric field Eω1ω2 to be turned into plasma, and a film corresponding to the raw material gas contained in the mixed gas G is deposited on the surface of the cylindrical substrate K.

従って、放電と薄膜堆積が略同一な領域で行われる(放電領域と製膜領域とが同一領域にある。)。   Therefore, discharge and thin film deposition are performed in substantially the same region (the discharge region and the film forming region are in the same region).

混合ガス供給部40は、機能性薄膜を形成する原料ガスと、窒素ガス或いはアルゴンガス等の希ガスを混合した混合ガスG(薄膜形成ガス)を生成し、ガス供給ノズル41から混合ガスGを、放電空間Z(電極20の対向領域)に供給する。   The mixed gas supply unit 40 generates a mixed gas G (thin film forming gas) in which a raw material gas for forming a functional thin film and a rare gas such as nitrogen gas or argon gas are mixed, and the mixed gas G is supplied from the gas supply nozzle 41. , And supplied to the discharge space Z (region facing the electrode 20).

排気部50は、不図示のブロワ等により、パーティクル等を含む使用済みの排ガスG′を吸引し、第1の大気圧プラズマ処理装置1の外部に排気する。   The exhaust unit 50 sucks used exhaust gas G ′ containing particles and the like by a blower (not shown) and exhausts the exhaust gas to the outside of the first atmospheric pressure plasma processing apparatus 1.

基材搬送部10の付勢ローラ104は、前述したように、円筒状基材Kの掛け替え時等は円筒状基材Kの掛け替えを容易にするため例えば矢印c方向と逆方向に移動して円筒状基材Kの張力を解除するようになっている。   As described above, the urging roller 104 of the base material transport unit 10 moves in the direction opposite to the arrow c direction, for example, in order to make it easy to change the cylindrical base material K when the cylindrical base material K is changed. The tension of the cylindrical substrate K is released.

同様に、駆動ローラ101、従動ローラ102a、及び従動ローラ102bはベルト着脱が容易な構成となっていることが好ましい。   Similarly, the driving roller 101, the driven roller 102a, and the driven roller 102b are preferably configured so that the belt can be easily attached and detached.

例えば、これらのローラを操作側と反対側で支持する片持ち構造とすると共に、円筒状基材Kの掛け替え時等は張力が低減する方向に傾く角度可変機構を設けても良い。   For example, it is possible to provide a cantilever structure that supports these rollers on the side opposite to the operation side, and to provide a variable angle mechanism that tilts in a direction that reduces the tension when the cylindrical base material K is replaced.

更に、円筒状基材Kを連続して搬送する際に、円筒状基材Kの蛇行を検知する蛇行センサを設け、蛇行センサの出力に基づいて、付勢ローラ104の角度を変化させ、蛇行を軽減させるようにしても良い。   Further, when the cylindrical base material K is continuously conveyed, a meandering sensor for detecting meandering of the cylindrical base material K is provided, and the angle of the urging roller 104 is changed based on the output of the meandering sensor to meander. May be reduced.

以上の様な第1の大気圧プラズマ処理装置1では、同時に少なくとも2つの基材を処理可能とでき、装置一台の時間当たりの処理能力を高めることができる。   In the first atmospheric pressure plasma processing apparatus 1 as described above, at least two substrates can be processed at the same time, and the processing capacity per unit of time can be increased.

また、第1の電極21と第2の電極22とは円筒状基材Kにより、常時被覆された状態で処理が行われるため、励起した混合ガスGに直接晒されることはない。   Further, since the first electrode 21 and the second electrode 22 are processed while being always covered with the cylindrical base material K, they are not directly exposed to the excited mixed gas G.

このため、電極の表面が汚染されることがなくなり、長時間の連続表面処理を行った際に、電極表面の汚染物質に起因して発生する粉体などが、基材表面の薄膜に取り込まれ、表面平滑性の劣化や膜硬度の低下など、成膜する薄膜品質の低下を防止できる。   For this reason, the surface of the electrode is not contaminated, and the powder generated due to the contaminant on the electrode surface is taken into the thin film on the substrate surface when continuous surface treatment is performed for a long time. In addition, it is possible to prevent deterioration of the quality of a thin film to be formed, such as deterioration of surface smoothness and film hardness.

更に、汚染物質の電極表面への堆積によるプラズマ放電やガス流れの不均一により、形成する薄膜の膜厚ムラなどによるスジの発生や膜品質の不均一といった欠陥を発生することもなくなる。   Further, due to non-uniformity of the plasma discharge and gas flow due to the deposition of contaminants on the electrode surface, there will be no occurrence of defects such as streaks due to uneven thickness of the thin film to be formed and non-uniform film quality.

また、電極20を円筒状基材Kの搬送方向に延びた箱状としたことで放電時間が延び、単位面積当たりの放電エネルギーを下げることが可能となる。   In addition, since the electrode 20 has a box shape extending in the conveyance direction of the cylindrical base material K, the discharge time is extended, and the discharge energy per unit area can be reduced.

このため、円筒状基材Kの温度も高くならず、円筒状基材Kの材質の選択範囲を広げられる。   For this reason, the temperature of the cylindrical base material K does not increase, and the selection range of the material of the cylindrical base material K can be expanded.

図2は、ベルト状の電極を有する、第2の大気圧プラズマ処理装置の一例を示す概略構成図である。   FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing an example of a second atmospheric pressure plasma processing apparatus having a belt-like electrode.

第2の大気圧プラズマ処理装置2は、図1を参照して説明した、放電領域と製膜領域とが同一領域にある第1の大気圧プラズマ処理装置1に対して、電極60(図1で説明した電極20に相当)のみが異なっている。   The second atmospheric pressure plasma processing apparatus 2 is different from the first atmospheric pressure plasma processing apparatus 1 described with reference to FIG. 1 in that the discharge region and the film forming region are in the same region. Only the electrode 20 described in (1) is different.

このため、第1の基材搬送部11と第2の基材搬送部12、第1の高周波電源31と第2の高周波電源32、及び混合ガス供給部40と排気部50については説明を省略する。   Therefore, the description of the first base material transport unit 11 and the second base material transport unit 12, the first high frequency power source 31 and the second high frequency power source 32, and the mixed gas supply unit 40 and the exhaust unit 50 is omitted. To do.

以下電極60について説明する。   Hereinafter, the electrode 60 will be described.

電極60は、第1の基材搬送部11と第2の基材搬送部12との、1対の従動ローラ102の上流側の従動ローラ102aと下流側の従動ローラ102bの間にそれぞれ配設されている。   The electrode 60 is disposed between the upstream driven roller 102a and the downstream driven roller 102b of the pair of driven rollers 102 in the first base material transport unit 11 and the second base material transport unit 12, respectively. Has been.

そして電極60は、駆動ローラ101の周速と同一周速で駆動される第2の駆動ローラ602(第1の基材搬送部11側の駆動ローラ6021、第2の基材搬送部12側の駆動ローラ6022)と、
第2の駆動ローラ602との接触面が導体で反対面に後述する誘電体が被覆された電極ベルト603(第1の基材搬送部11側の電極ベルト6031、第2の基材搬送部12側の電極ベルト6032)と、
従動ローラ601(第1の基材搬送部11側の従動ローラ6011、第2の基材搬送部12側の従動ローラ6012)と、を有している。
The electrode 60 is driven by the second driving roller 602 (the driving roller 6021 on the first base material transport unit 11 side, the second base material transport unit 12 side) driven at the same peripheral speed as the driving roller 101. Drive roller 6022);
An electrode belt 603 (electrode belt 6031 on the first base material transport unit 11 side, second base material transport unit 12) whose contact surface with the second drive roller 602 is a conductor and whose opposite surface is coated with a dielectric material to be described later. Side electrode belt 6032),
A driven roller 601 (a driven roller 6011 on the first base material transport unit 11 side, a driven roller 6012 on the second base material transport unit 12 side).

そして、電極ベルト6031は駆動ローラ6021により駆動され、円筒状基材Kと密着しながら円筒状基材Kと同一速度で回転する。   The electrode belt 6031 is driven by a driving roller 6021 and rotates at the same speed as the cylindrical substrate K while being in close contact with the cylindrical substrate K.

また、電極ベルト6032は駆動ローラ6022により駆動され、円筒状基材Kと密着しながら円筒状基材Kと同一速度で回転する。   The electrode belt 6032 is driven by a driving roller 6022 and rotates at the same speed as the cylindrical substrate K while being in close contact with the cylindrical substrate K.

従動ローラ6011は第1の高周波電源31に接続され、第1の高周波電源31から高周波電力を電極ベルト6031に供給する。   The driven roller 6011 is connected to the first high frequency power supply 31 and supplies high frequency power from the first high frequency power supply 31 to the electrode belt 6031.

また、従動ローラ6012は第2の電源32に接続され、第2の電源32から高周波電力を電極ベルト6032に供給する。   The driven roller 6012 is connected to the second power source 32 and supplies high-frequency power from the second power source 32 to the electrode belt 6032.

そして、対向して配設した第1の電極61と第2の電極62は、その対向領域が放電空間Zを形成している。   The opposing regions of the first electrode 61 and the second electrode 62 that are arranged to face each other form a discharge space Z.

そして、放電空間Zに発生した電界Eω1ω2により混合ガスGを励起しプラズマ化して混合ガスGに含まれる原料ガスに応じた膜が円筒状基材Kの表面に堆積される。   Then, the mixed gas G is excited by the electric field Eω1ω2 generated in the discharge space Z to be turned into plasma, and a film corresponding to the raw material gas contained in the mixed gas G is deposited on the surface of the cylindrical substrate K.

従って、放電と薄膜堆積が略同一な領域で行われる(放電領域と製膜領域とが同一領域にある。)。   Therefore, discharge and thin film deposition are performed in substantially the same region (the discharge region and the film forming region are in the same region).

また、電極ベルト6031と電極ベルト6032とは円筒状基材Kの幅と略同一幅を有している。   Further, the electrode belt 6031 and the electrode belt 6032 have substantially the same width as the width of the cylindrical substrate K.

なお、従動ローラ6011と駆動ローラ6021とは上流側の従動ローラ102aと下流側の従動ローラ102bとの接線を結ぶ延長戦より放電領域Z側に僅かにはみ出しており、このため円筒状基材Kが第1の電極61(電極ベルト6031)に密着可能となっている。   The driven roller 6011 and the driving roller 6021 slightly protrude to the discharge region Z side from the extended battle connecting the tangent line between the upstream driven roller 102a and the downstream driven roller 102b. Can be in close contact with the first electrode 61 (electrode belt 6031).

同様に、円筒状基材Kが第2の電極62(電極ベルト6032)に密着可能となっている。   Similarly, the cylindrical base material K can be in close contact with the second electrode 62 (electrode belt 6032).

以上の様な第2の大気圧プラズマ処理装置2では、同時に少なくとも2つの基材を処理可能とでき、装置一台の時間当たりの処理能力を高めることができる。   In the second atmospheric pressure plasma processing apparatus 2 as described above, at least two substrates can be processed at the same time, and the processing capacity per unit of time can be increased.

また、第1の電極61(電極ベルト6031)と第2の電極62(電極ベルト6032)とは円筒状基材Kにより、常時被覆された状態で処理が行われるため、励起した混合ガスGに直接晒されることはない。   In addition, since the first electrode 61 (electrode belt 6031) and the second electrode 62 (electrode belt 6032) are always covered with the cylindrical base material K, the treatment is performed on the excited mixed gas G. There is no direct exposure.

このため、電極の表面が汚染されることがなくなり、長時間の連続表面処理を行った際に、電極表面の汚染物質に起因して発生する粉体などが、基材表面の薄膜に取り込まれ、表面平滑性の劣化や膜硬度の低下など、成膜する薄膜品質の低下を防止できる。   For this reason, the surface of the electrode is not contaminated, and the powder generated due to the contaminant on the electrode surface is taken into the thin film on the substrate surface when continuous surface treatment is performed for a long time. In addition, it is possible to prevent deterioration of the quality of a thin film to be formed, such as deterioration of surface smoothness and film hardness.

更に、汚染物質の電極表面への堆積によるプラズマ放電やガス流れの不均一により、形成する薄膜の膜厚ムラなどによるスジの発生や膜品質の不均一といった欠陥を発生することもなくなる。   Further, due to non-uniformity of the plasma discharge and gas flow due to the deposition of contaminants on the electrode surface, there will be no occurrence of defects such as streaks due to uneven thickness of the thin film to be formed and non-uniform film quality.

また、電極60を円筒状基材Kの搬送方向に延びたベルト状としたことで放電時間が延び、単位面積当たりの放電エネルギーを下げることが可能となる。   Further, since the electrode 60 has a belt shape extending in the conveyance direction of the cylindrical substrate K, the discharge time is extended, and the discharge energy per unit area can be reduced.

このため、円筒状基材Kの温度も高くならず、円筒状基材Kの材質の選択範囲を広げられる。   For this reason, the temperature of the cylindrical base material K does not increase, and the selection range of the material of the cylindrical base material K can be expanded.

図3は、複数のローラ電極を有する、第3の大気圧プラズマ処理装置の一例を示す概略構成図である。   FIG. 3 is a schematic configuration diagram showing an example of a third atmospheric pressure plasma processing apparatus having a plurality of roller electrodes.

図3(a)は複数のローラ電極がそれぞれ対向して配設された例を示し、図3(b)は複数のローラ電極がそれぞれ千鳥状に対向して配設されている例を示している。   FIG. 3A shows an example in which a plurality of roller electrodes are arranged to face each other, and FIG. 3B shows an example in which a plurality of roller electrodes are arranged to face each other in a staggered manner. Yes.

先ず図3(a)を参照して、複数ローラ電極がそれぞれ対向して配設された例を説明する。   First, an example in which a plurality of roller electrodes are arranged to face each other will be described with reference to FIG.

第3の大気圧プラズマ処理装置3は、図1を参照して説明した、放電領域と製膜領域とが同一領域にある第1の大気圧プラズマ処理装置1に対して、電極70(図1で説明した電極20に相当)のみが異なっている。   The third atmospheric pressure plasma processing apparatus 3 is different from the first atmospheric pressure plasma processing apparatus 1 described with reference to FIG. 1 in that the discharge region and the film forming region are in the same region (FIG. 1). Only the electrode 20 described in (1) is different.

このため、第1の基材搬送部11と第2の基材搬送部12、第1の高周波電源31と第2の高周波電源32、及び混合ガス供給部40と排気部50については説明を省略する。   Therefore, the description of the first base material transport unit 11 and the second base material transport unit 12, the first high frequency power source 31 and the second high frequency power source 32, and the mixed gas supply unit 40 and the exhaust unit 50 is omitted. To do.

以下電極70について説明する。   Hereinafter, the electrode 70 will be described.

電極70は、第1の基材搬送部11と第2の基材搬送部12との、1対の従動ローラ102の上流側の従動ローラ102aと下流側の従動ローラ102bの間にそれぞれ配設されている。   The electrode 70 is disposed between the upstream driven roller 102a and the downstream driven roller 102b of the pair of driven rollers 102 in the first base material transport unit 11 and the second base material transport unit 12, respectively. Has been.

そして電極70は、円筒状基材Kにより従属的に回転され、円筒状基材Kと密着しながら円筒状基材Kと同一速度で回転する複数のローラ電極(第1の基材搬送部11側のローラ電極701と第2の基材搬送部12側のローラ電極702)を有している。   The electrode 70 is rotated dependently by the cylindrical base material K, and rotates at the same speed as the cylindrical base material K while being in close contact with the cylindrical base material K (the first base material transport unit 11). Side roller electrode 701 and second base material transport unit 12 side roller electrode 702).

ローラ電極701は第1の高周波電源31に接続され、第1の高周波電源31から高周波電力を供給される。   The roller electrode 701 is connected to the first high frequency power supply 31 and is supplied with high frequency power from the first high frequency power supply 31.

また、ローラ電極702は第2の電源32に接続され、第2の電源32から高周波電力を供給される。   Further, the roller electrode 702 is connected to the second power source 32 and is supplied with high frequency power from the second power source 32.

ローラ電極701とローラ電極702とはそれぞれ対向する位置に配設され、各対向するローラの対向領域が放電空間Z’を形成している。   The roller electrode 701 and the roller electrode 702 are disposed at positions facing each other, and a facing area of each facing roller forms a discharge space Z ′.

そして、放電空間Z’に発生した電界Eω1ω2により混合ガスGを励起しプラズマ化して混合ガスGに含まれる原料ガスに応じた膜が円筒状基材Kの表面に堆積される。   Then, the mixed gas G is excited by the electric field Eω1ω2 generated in the discharge space Z ′ to be turned into plasma, and a film corresponding to the raw material gas contained in the mixed gas G is deposited on the surface of the cylindrical substrate K.

従って、放電と薄膜堆積が略同一な領域で行われる(放電領域と製膜領域とが同一領域にある。)。   Therefore, discharge and thin film deposition are performed in substantially the same region (the discharge region and the film forming region are in the same region).

また、ローラ電極701とローラ電極702とは円筒状基材Kの幅と略同一長さを有している。   Further, the roller electrode 701 and the roller electrode 702 have substantially the same length as the width of the cylindrical substrate K.

なお、ローラ電極701とローラ電極702とは上流側の従動ローラ102aと下流側の従動ローラ102bとの接線を結ぶ延長戦より放電領域Z’側に僅かにはみ出しており、このため円筒状基材Kが第1の電極71(ローラ電極701)に密着可能となっている。   The roller electrode 701 and the roller electrode 702 slightly protrude to the discharge region Z ′ side from the extended battle connecting the tangent line between the upstream driven roller 102a and the downstream driven roller 102b. K can be in close contact with the first electrode 71 (roller electrode 701).

同様に、円筒状基材Kが第2の電極72(ローラ電極702)に密着可能となっている。   Similarly, the cylindrical base material K can be in close contact with the second electrode 72 (roller electrode 702).

次に図3(b)を参照して、複数のローラ電極がそれぞれ千鳥状に対向して配設されている例を説明する。   Next, an example in which a plurality of roller electrodes are arranged so as to face each other in a staggered manner will be described with reference to FIG.

図3(b)に示した第3の大気圧プラズマ処理装置3’は、図3(a)に示した第3の大気圧プラズマ処理装置3に対して、電極のみが異なっている。   The third atmospheric pressure plasma processing apparatus 3 ′ shown in FIG. 3B is different from the third atmospheric pressure plasma processing apparatus 3 shown in FIG.

このため、以下電極80について説明する。   For this reason, the electrode 80 will be described below.

電極80は、第1の基材搬送部11と第2の基材搬送部12との、1対の従動ローラ102の上流側の従動ローラ102aと下流側の従動ローラ102bの間にそれぞれ配設されている。   The electrode 80 is disposed between the upstream driven roller 102a and the downstream driven roller 102b of the pair of driven rollers 102 in the first base material transport unit 11 and the second base material transport unit 12, respectively. Has been.

そして電極80は、円筒状基材Kにより従属的に回転され、円筒状基材Kと密着しながら円筒状基材Kと同一速度で回転する複数のローラ電極(第1の基材搬送部11側のローラ電極801と第2の基材搬送部12側のローラ電極802)を有している。   The electrode 80 is rotated dependently by the cylindrical base material K, and rotates at the same speed as the cylindrical base material K while being in close contact with the cylindrical base material K (the first base material transport unit 11). Side roller electrode 801 and second base material transport unit 12 side roller electrode 802).

ローラ電極801は第1の高周波電源31に接続され、第1の高周波電源31から高周波電力を供給される。   The roller electrode 801 is connected to the first high frequency power supply 31 and is supplied with high frequency power from the first high frequency power supply 31.

また、ローラ電極802は第2の電源32に接続され、第2の電源32から高周波電力を供給される。   The roller electrode 802 is connected to the second power source 32 and is supplied with high frequency power from the second power source 32.

ローラ電極801とローラ電極802とはそれぞれ軸方向から見て千鳥状に対向する位置に配設され、それぞれ斜めに対向するローラの対向領域が放電空間Z’を形成している。   The roller electrode 801 and the roller electrode 802 are arranged at positions facing each other in a zigzag shape when viewed from the axial direction, and opposing areas of the rollers facing each other form a discharge space Z ′.

そして、放電空間Z’に発生した電界Eω1ω2により混合ガスGを励起しプラズマ化して混合ガスGに含まれる原料ガスに応じた膜が円筒状基材Kの表面に堆積される。   Then, the mixed gas G is excited by the electric field Eω1ω2 generated in the discharge space Z ′ to be turned into plasma, and a film corresponding to the raw material gas contained in the mixed gas G is deposited on the surface of the cylindrical substrate K.

従って、放電と薄膜堆積が略同一な領域で行われる(放電領域と製膜領域とが同一領域にある。)。   Therefore, discharge and thin film deposition are performed in substantially the same region (the discharge region and the film forming region are in the same region).

また、ローラ電極801とローラ電極802とは円筒状基材Kの幅と略同一長さを有している。   Further, the roller electrode 801 and the roller electrode 802 have substantially the same length as the width of the cylindrical substrate K.

なお、ローラ電極801とローラ電極802とは上流側の従動ローラ102aと下流側の従動ローラ102bとの接線を結ぶ延長戦より放電領域Z’側に僅かにはみ出しており、このため円筒状基材Kが第1の電極81(ローラ電極801)に密着可能となっている。   The roller electrode 801 and the roller electrode 802 slightly protrude to the discharge region Z ′ side from the extended battle connecting the tangent line between the upstream driven roller 102a and the downstream driven roller 102b. K can be in close contact with the first electrode 81 (roller electrode 801).

同様に、円筒状基材Kが第2の電極82(ローラ電極802)に密着可能となっている。   Similarly, the cylindrical base material K can be in close contact with the second electrode 82 (roller electrode 802).

以上の様な第3の大気圧プラズマ処理装置3では、同時に少なくとも2つの基材を処理可能とでき、装置一台の時間当たりの処理能力を高めることができる。   In the third atmospheric pressure plasma processing apparatus 3 as described above, at least two substrates can be processed at the same time, and the processing capacity per unit of time can be increased.

また、第1の電極81(ローラ電極701とローラ電極801)と第2の電極82(ローラ電極702とローラ電極802)とは円筒状基材Kにより、常時被覆された状態で処理が行われるため、励起した混合ガスGに直接晒されることはない。   In addition, the first electrode 81 (roller electrode 701 and roller electrode 801) and the second electrode 82 (roller electrode 702 and roller electrode 802) are processed while being always covered with the cylindrical base material K. Therefore, it is not directly exposed to the excited mixed gas G.

このため、電極の表面が汚染されることがなくなり、長時間の連続表面処理を行った際に、電極表面の汚染物質に起因して発生する粉体などが、基材表面の薄膜に取り込まれ、表面平滑性の劣化や膜硬度の低下など、成膜する薄膜品質の低下を防止できる。   For this reason, the surface of the electrode is not contaminated, and the powder generated due to the contaminant on the electrode surface is taken into the thin film on the substrate surface when continuous surface treatment is performed for a long time. In addition, it is possible to prevent deterioration of the quality of a thin film to be formed, such as deterioration of surface smoothness and film hardness.

更に、汚染物質の電極表面への堆積によるプラズマ放電やガス流れの不均一により、形成する薄膜の膜厚ムラなどによるスジの発生や膜品質の不均一といった欠陥を発生することもなくなる。   Further, due to non-uniformity of the plasma discharge and gas flow due to the deposition of contaminants on the electrode surface, there will be no occurrence of defects such as streaks due to uneven thickness of the thin film to be formed and non-uniform film quality.

また、電極70と電極80を円筒状基材Kの搬送方向に複数配列されたローラとしたことで放電時間が延び、単位面積当たりの放電エネルギーを下げることが可能となる。   In addition, since a plurality of the electrodes 70 and 80 are arranged in the conveying direction of the cylindrical substrate K, the discharge time is extended, and the discharge energy per unit area can be reduced.

このため、円筒状基材Kの温度も高くならず、円筒状基材Kの材質の選択範囲を広げられる。   For this reason, the temperature of the cylindrical base material K does not increase, and the selection range of the material of the cylindrical base material K can be expanded.

図4は、固定した電極と活性ガスの流路とを有する、第4の大気圧プラズマ処理装置の一例を示す概略構成図である。   FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing an example of a fourth atmospheric pressure plasma processing apparatus having fixed electrodes and active gas flow paths.

第4の大気圧プラズマ処理装置4は、図1を参照して説明した、放電領域と製膜領域とが同一領域にある第1の大気圧プラズマ処理装置1に対して、電極90(図1で説明した電極20に相当)のみが異なっている。   The fourth atmospheric pressure plasma processing apparatus 4 is different from the first atmospheric pressure plasma processing apparatus 1 described with reference to FIG. 1 in that the discharge region and the film forming region are in the same region. Only the electrode 20 described in (1) is different.

このため、第1の基材搬送部11と第2の基材搬送部12、第1の高周波電源31と第2の高周波電源32、及び混合ガス供給部40と排気部50については説明を省略する。   Therefore, the description of the first base material transport unit 11 and the second base material transport unit 12, the first high frequency power source 31 and the second high frequency power source 32, and the mixed gas supply unit 40 and the exhaust unit 50 is omitted. To do.

以下電極90について説明する。   Hereinafter, the electrode 90 will be described.

電極90は、第1の基材搬送部11と第2の基材搬送部12との、1対の従動ローラ102の上流側の従動ローラ102aと下流側の従動ローラ102bの間にそれぞれ配設されている。   The electrode 90 is disposed between the upstream driven roller 102a and the downstream driven roller 102b of the pair of driven rollers 102 of the first base material transport unit 11 and the second base material transport unit 12, respectively. Has been.

そして電極90は、原料ガスと放電ガスとの混合ガスG1のプラズマ放電を行なう1対の電極20’(第1の基材搬送部11側の電極21’、第2の基材搬送部12側の電極22’)と、
電極20’により励起しプラズマ化した混合ガスG1の流路Yと、ローラ901(第1の基材搬送部11側のローラ9011、第2の基材搬送部12側のローラ9012)と、を有している。
The electrode 90 is a pair of electrodes 20 ′ (electrode 21 ′ on the first base material transport unit 11 side, second base material transport unit 12 side) that performs plasma discharge of the mixed gas G 1 of the source gas and the discharge gas. Electrode 22 '),
The flow path Y of the mixed gas G1 excited by the electrode 20 ′ and turned into plasma, and the roller 901 (the roller 9011 on the first base material transport unit 11 side, the roller 9012 on the second base material transport unit 12 side), Have.

電極21’は第1の高周波電源31に接続され、第1の高周波電源31から高周波電力が供給される。   The electrode 21 ′ is connected to the first high frequency power supply 31, and high frequency power is supplied from the first high frequency power supply 31.

電極22’は第2の電源32に接続され、第2の電源32から高周波電力が供給される。   The electrode 22 ′ is connected to the second power supply 32, and high frequency power is supplied from the second power supply 32.

そして、対向して配設した電極21’と電極22’とは、その対向領域が放電空間Zを形成している。   The opposing regions of the electrode 21 ′ and the electrode 22 ′ that are disposed to face each other form a discharge space Z.

そして、電極21’と電極22’とはその表面に、後述する誘電体が被覆されている。   The electrodes 21 ′ and 22 ′ are covered with a dielectric material to be described later.

また、電極21’と電極22’とは円筒状基材Kの幅と略同一幅を有し、
その一端が上流側の従動ローラ102a近傍に位置し、他端が従動ローラ102aと下流側の従動ローラ102bとの中間まで延びた箱状をなしている。
Further, the electrode 21 ′ and the electrode 22 ′ have substantially the same width as the width of the cylindrical substrate K,
One end thereof is located in the vicinity of the upstream driven roller 102a, and the other end has a box shape extending to the middle between the driven roller 102a and the downstream driven roller 102b.

なお、電極21’は上流側の従動ローラ102aと下流側の従動ローラ102bとの接線を結ぶ延長戦より放電領域Z側に僅かにはみ出しており、このため円筒状基材Kが電極21’に密着可能となっている。   The electrode 21 ′ slightly protrudes to the discharge region Z side from the extended battle connecting the tangent line between the upstream driven roller 102a and the downstream driven roller 102b, and the cylindrical base material K thus protrudes from the electrode 21 ′. Close contact is possible.

同様に、円筒状基材Kが電極22’に密着可能となっている。   Similarly, the cylindrical substrate K can be in close contact with the electrode 22 '.

電極21’と電極22’との対向領域の搬送方向下流側後端部から従動ローラ102の対向部までの円筒状基材Kの対向領域が、放電領域Zで活性化されたガスの流路Yを形成している。   A gas flow path in which the facing region of the cylindrical base material K from the downstream end in the conveying direction of the facing region between the electrode 21 ′ and the electrode 22 ′ to the facing portion of the driven roller 102 is activated in the discharge region Z. Y is formed.

第1の高周波電源31から第1の電極21’に印加された高周波電圧Vω1と、第2の高周波電源32から第2の電極22’に印加された高周波電圧Vω2と、により放電空間Zに電界Eω1ω2が発生する。   The high-frequency voltage Vω1 applied to the first electrode 21 ′ from the first high-frequency power supply 31 and the high-frequency voltage Vω2 applied to the second electrode 22 ′ from the second high-frequency power supply 32 are applied to the electric field in the discharge space Z. Eω1ω2 is generated.

この電界Eω1ω2により混合ガスGを励起しプラズマ化した混合ガスGに含まれる原料ガスに応じた膜が円筒状基材Kの表面に堆積される。   A film corresponding to the source gas contained in the mixed gas G excited by the electric field Eω1ω2 and excited into plasma is deposited on the surface of the cylindrical substrate K.

そして更に励起しプラズマ化した混合ガスG1が流路Yを流れる間に、基材Kの表面に原料ガスに応じた膜が更に堆積される。   Further, a film corresponding to the source gas is further deposited on the surface of the base material K while the mixed gas G1 that is further excited and turned into plasma flows through the flow path Y.

以上説明したように第4の大気圧プラズマ処理装置4は、放電と薄膜堆積が略同一な領域で行われる(放電領域と製膜領域とが同一領域にある。)部分と、薄膜堆積鑿のみを行う部分と、の双方を有している。   As described above, in the fourth atmospheric pressure plasma processing apparatus 4, the discharge and thin film deposition are performed in substantially the same region (the discharge region and the film formation region are in the same region), and only the thin film deposition rod. And a part for performing the operation.

以上の様な第4の大気圧プラズマ処理装置4では、同時に少なくとも2つの基材を処理可能とでき、装置一台の時間当たりの処理能力を高めることができる。   In the fourth atmospheric pressure plasma processing apparatus 4 as described above, at least two substrates can be processed at the same time, and the processing capacity per unit of time can be increased.

また、第1の電極21’と第2の電極22’とは円筒状基材Kにより、常時被覆された状態で処理が行われるため、励起した混合ガスGに直接晒されることはない。   Further, since the first electrode 21 ′ and the second electrode 22 ′ are processed while being always covered with the cylindrical base material K, they are not directly exposed to the excited mixed gas G.

このため、電極の表面が汚染されることがなくなり、長時間の連続表面処理を行った際に、電極表面の汚染物質に起因して発生する粉体などが、基材表面の薄膜に取り込まれ、表面平滑性の劣化や膜硬度の低下など、成膜する薄膜品質の低下を防止できる。   For this reason, the surface of the electrode is not contaminated, and the powder generated due to the contaminant on the electrode surface is taken into the thin film on the substrate surface when continuous surface treatment is performed for a long time. In addition, it is possible to prevent deterioration of the quality of a thin film to be formed, such as deterioration of surface smoothness and film hardness.

更に、汚染物質の電極表面への堆積によるプラズマ放電やガス流れの不均一により、形成する薄膜の膜厚ムラなどによるスジの発生や膜品質の不均一といった欠陥を発生することもなくなる。   Further, due to non-uniformity of the plasma discharge and gas flow due to the deposition of contaminants on the electrode surface, there will be no occurrence of defects such as streaks due to uneven thickness of the thin film to be formed and non-uniform film quality.

また、電極21’と電極22’とを円筒状基材Kの搬送方向に延びた箱状としたことで放電時間が延び、単位面積当たりの放電エネルギーを下げることが可能となる。   Further, since the electrode 21 'and the electrode 22' are formed in a box shape extending in the conveying direction of the cylindrical base material K, the discharge time is extended and the discharge energy per unit area can be reduced.

このため、円筒状基材Kの温度も高くならず、円筒状基材Kの材質の選択範囲を広げられる。   For this reason, the temperature of the cylindrical base material K does not increase, and the selection range of the material of the cylindrical base material K can be expanded.

更に、励起しプラズマ化した混合ガスG1が流れる流路Yを設けたことにより、エネルギーを加えることなく(加熱)円筒状基材Kに膜の堆積を継続して可能とし、円筒状基材Kの温度も高くならず、円筒状基材Kの材質の選択範囲を広げられる。   Furthermore, by providing the flow path Y through which the mixed gas G1 that has been excited and turned into plasma flows, it is possible to continuously deposit a film on the cylindrical base material K without applying energy (heating). Thus, the selection range of the material of the cylindrical base material K can be expanded.

図5は、プラズマジェット方式の第5の大気圧プラズマ処理装置の一例を示す概略構成図である。   FIG. 5 is a schematic configuration diagram showing an example of a plasma jet type fifth atmospheric pressure plasma processing apparatus.

第5の大気圧プラズマ処理装置5は、大気圧もしくはその近傍の圧力下で高周波電源による高周波電界により、放電ガス供給部から供給された放電ガスを励起し、励起した前記ガスを噴射する励起ガス噴射部と、
薄膜形成ガスを励起ガス噴射部の出口に向けて噴出させる薄膜形成ガス供給部と、を有しており、
円筒状基材が対向しながら移動する基材対向領域に向けて、励起ガス噴射部により励起した放電ガスと、薄膜形成ガス供給部から噴出された薄膜形成ガスの混合ガスを噴射し、
移動する円筒状基材に、混合したガスを晒すことにより、同時に少なくとも2つの円筒状基材に薄膜を形成するものである。
The fifth atmospheric pressure plasma processing apparatus 5 excites the discharge gas supplied from the discharge gas supply unit by a high-frequency electric field from a high-frequency power source at atmospheric pressure or a pressure near the atmospheric pressure, and injects the excited gas. An injection unit;
A thin film forming gas supply section for ejecting the thin film forming gas toward the outlet of the excitation gas injection section,
Injecting the mixed gas of the discharge gas excited by the excitation gas injection unit and the thin film formation gas ejected from the thin film formation gas supply unit toward the substrate facing region where the cylindrical base material moves while facing,
By exposing the mixed gas to the moving cylindrical base material, a thin film is simultaneously formed on at least two cylindrical base materials.

第5の大気圧プラズマ処理装置5は、図1〜4を参照して説明した第1の大気圧プラズマ処理装置1〜第4の大気圧プラズマ処理装置4に対して、放電領域と製膜領域を分離したことが異なっている。   The fifth atmospheric pressure plasma processing apparatus 5 is different from the first atmospheric pressure plasma processing apparatus 1 to the fourth atmospheric pressure plasma processing apparatus 4 described with reference to FIGS. It is different to have separated.

即ち、電極(図1で説明した電極20に相当)と、混合ガス供給部40とが異なっている。   That is, the electrode (corresponding to the electrode 20 described in FIG. 1) and the mixed gas supply unit 40 are different.

このため、第1の基材搬送部11と第2の基材搬送部12、第1の高周波電源31と第2の高周波電源32、及び排気部50については説明を省略する。   For this reason, description about the 1st base material conveyance part 11 and the 2nd base material conveyance part 12, the 1st high frequency power supply 31, the 2nd high frequency power supply 32, and the exhaust part 50 is abbreviate | omitted.

放電ガス供給装置45は、プラズマジェット発生部46の電極の対向領域に放電ガスG2を供給する。   The discharge gas supply device 45 supplies the discharge gas G <b> 2 to the region facing the electrode of the plasma jet generator 46.

薄膜形成ガス供給部47は機能性薄膜を形成する原料ガス(薄膜形成ガス)を生成し、プラズマジェット発生部46の電極の先端部に原料ガス(薄膜形成ガス)とキャリアガスの混合ガスG3を供給する。   The thin film forming gas supply unit 47 generates a raw material gas (thin film forming gas) for forming a functional thin film, and supplies a mixed gas G3 of the raw material gas (thin film forming gas) and the carrier gas to the tip of the electrode of the plasma jet generator 46. Supply.

そして、励起ガス噴射部であるプラズマジェット発生部46は、所定距離離間した1対の対向する電極461と電極462と、先端部に原料ガス(薄膜形成ガス)とキャリアガスの混合ガスG3を供給する開口と、を有している。   Then, the plasma jet generator 46, which is an excitation gas injection unit, supplies a pair of opposed electrodes 461 and 462 spaced apart by a predetermined distance, and a gas mixture G3 of a source gas (thin film forming gas) and a carrier gas to the tip. And an opening.

電極461には第1の高周波電源31が接続され、周波数ω1の高周波電圧Vω1が印加される。   A first high frequency power supply 31 is connected to the electrode 461, and a high frequency voltage Vω1 having a frequency ω1 is applied thereto.

また、電極462には第2の高周波電源32が接続され、周波数ω2の高周波電圧Vω2が印加される。   The second high frequency power supply 32 is connected to the electrode 462, and a high frequency voltage Vω2 having a frequency ω2 is applied thereto.

なお、電極461と電極462とはその表面に、後述する誘電体が被覆されている。   Note that the electrode 461 and the electrode 462 are covered with a dielectric material to be described later.

そして、放電領域である電極461と電極462との対向領域に電界Eω1ω2が発生し、大気圧もしくはその近傍の圧力下で放電ガス供給装置45から供給された放電ガスG2が励起される。   Then, an electric field Eω1ω2 is generated in a region where the electrodes 461 and 462, which are discharge regions, are opposed to each other, and the discharge gas G2 supplied from the discharge gas supply device 45 is excited under atmospheric pressure or a pressure in the vicinity thereof.

そして、プラズマジェット発生部46で励起した放電ガスG2と、薄膜形成ガス供給部47から供給された原料ガス(薄膜形成ガス)とキャリアガスの混合ガスG3とはプラズマジェット発生部46の先端部で混合し活性化される。   The discharge gas G2 excited by the plasma jet generation unit 46, the raw material gas (thin film formation gas) supplied from the thin film formation gas supply unit 47, and the mixed gas G3 of the carrier gas are at the tip of the plasma jet generation unit 46. Mix and activate.

活性化された混合ガスG1は、原料ガスに応じた膜が堆積される堆積領域X(第1の基材搬送部11と第2の基材搬送部12とにより円筒状基材Kが対向しながら移動する基材対向領域)に放出される。   The activated mixed gas G1 has a deposition region X in which a film corresponding to the source gas is deposited (the cylindrical substrate K is opposed to the first substrate transport unit 11 and the second substrate transport unit 12). While moving to the substrate facing region).

活性化した状態で放出された混合ガスG1は2つの円筒状基材Kが対向する堆積領域X中を排気部50に向かって流れ、その間に、堆積領域Xを挟んで搬送される2つの円筒状基材Kに活性化した混合ガスG1が晒されて、2つの円筒状基材Kの表面に同時に原料ガスに応じた膜が堆積する。   The mixed gas G1 released in the activated state flows toward the exhaust part 50 through the deposition region X where the two cylindrical substrates K face each other, and the two cylinders are conveyed with the deposition region X interposed therebetween. The activated mixed gas G1 is exposed to the cylindrical substrate K, and a film corresponding to the raw material gas is simultaneously deposited on the surfaces of the two cylindrical substrates K.

即ち、堆積領域Xを挟んで対向しながら移動する円筒状基材Kに、励起した放電ガスと原料ガス(薄膜形成ガス)とキャリアガスの混合ガスを放出(噴出)し、活性化した状態で放出された混合ガスを円筒状基材Kに晒すことにより、同時に、少なくとも2つの円筒状基材に薄膜を形成する。   In other words, the excited discharge gas, the raw material gas (thin film forming gas), and the carrier gas mixed gas are discharged (spouted) onto the cylindrical base material K that moves while facing each other across the deposition region X, and activated. By exposing the released mixed gas to the cylindrical substrate K, a thin film is simultaneously formed on at least two cylindrical substrates.

以上の様な第5の大気圧プラズマ処理装置5では、同時に少なくとも2つの基材を処理可能とでき、装置一台の時間当たりの処理能力を高めることができる。   In the fifth atmospheric pressure plasma processing apparatus 5 as described above, at least two substrates can be processed at the same time, and the processing capacity per unit of time can be increased.

また、堆積領域X中を円筒状基材Kが搬送中に、円筒状基材Kへの膜の堆積を行うため、
長時間の連続表面処理を行った際に、電極表面の汚染物質に起因して発生する粉体などが、基材表面の薄膜に取り込まれ、表面平滑性の劣化や膜硬度の低下など、成膜する薄膜品質の低下を防止できる。
Further, in order to deposit a film on the cylindrical base material K while the cylindrical base material K is transported in the deposition region X,
When continuous surface treatment is performed for a long time, powder generated due to contaminants on the electrode surface is taken into the thin film on the surface of the substrate, resulting in deterioration of surface smoothness and film hardness. The deterioration of the quality of the thin film to be formed can be prevented.

また、円筒状基材Kの搬送方向に延びた堆積領域Xを設けたことにより、製膜時間を延ばすことが可能となり、円筒状基材Kの温度も高くならず、円筒状基材Kの材質の選択範囲を広げられる。   Further, by providing the deposition region X extending in the conveyance direction of the cylindrical base material K, it becomes possible to extend the film forming time, the temperature of the cylindrical base material K is not increased, and the cylindrical base material K The selection range of materials can be expanded.

また、放電領域と製膜領域とを分離したことで、プラズマジェット発生部46での放電エネルギーを上げることが可能となり、使用するガスの選択範囲を広げられる。   In addition, by separating the discharge region and the film forming region, it is possible to increase the discharge energy in the plasma jet generating unit 46, and the selection range of the gas to be used can be expanded.

また、放電ガス供給装置45と薄膜形成ガス供給部47とを分離し、放電ガスを励起後薄膜形成ガスを混合して薄膜を堆積させたことにより、プラズマジェット発生部46での薄膜堆積を防止し、円筒状基材K上に効率的に薄膜の形成が可能となる。   Further, the discharge gas supply device 45 and the thin film forming gas supply unit 47 are separated, and the thin film is deposited by mixing the thin film forming gas after exciting the discharge gas, thereby preventing the thin film deposition at the plasma jet generating unit 46. In addition, a thin film can be efficiently formed on the cylindrical substrate K.

以下、上記の各大気圧プラズマ処理装置に用いられる電極について説明する。   Hereinafter, the electrodes used in each of the above atmospheric pressure plasma processing apparatuses will be described.

電極には前述したような強い電界を印加して、均一で安定な放電状態を保つことが出来る電極を採用することが好ましく、各ローラ電極には強い電界による放電に耐えるため少なくとも一方の電極表面には下記の誘電体が被覆されている。   It is preferable to employ an electrode that can maintain a uniform and stable discharge state by applying a strong electric field as described above to each electrode, and each roller electrode has at least one electrode surface to withstand the discharge caused by the strong electric field. The following dielectric is coated.

図6は、上記大気圧プラズマ処理装置に用いる電極の一例を示す概略構成図である。   FIG. 6 is a schematic configuration diagram showing an example of an electrode used in the atmospheric pressure plasma processing apparatus.

図6(a)は第1の大気圧プラズマ処理装置1と、第4の大気圧プラズマ処理装置4と、第5の大気圧プラズマ処理装置5と、に用いる電極の部分断面図で、
図6(b)は第2の大気圧プラズマ処理装置2に用いる電極の部分断面図で、
図6(c)は第3の大気圧プラズマ処理装置3と3’に用いる電極の部分断面図である。
FIG. 6A is a partial sectional view of electrodes used in the first atmospheric pressure plasma processing apparatus 1, the fourth atmospheric pressure plasma processing apparatus 4, and the fifth atmospheric pressure plasma processing apparatus 5.
FIG. 6B is a partial sectional view of an electrode used in the second atmospheric pressure plasma processing apparatus 2.
FIG. 6C is a partial cross-sectional view of electrodes used in the third atmospheric pressure plasma processing apparatuses 3 and 3 ′.

図6(a)において、
電極20(21、22)と、プラズマジェット発生部46の電極461、462と、の構成について説明すると、金属等の導電性母材201(以下、「電極母材」ともいう。)に対しセラミックスを溶射後、無機材料を用いて封孔処理したセラミック被覆処理誘電体202(以下、単に「誘電体」ともいう。)を被覆した組み合わせで構成されている。
In FIG. 6A,
The structure of the electrode 20 (21, 22) and the electrodes 461, 462 of the plasma jet generating unit 46 will be described. Ceramics with respect to a conductive base material 201 (hereinafter also referred to as “electrode base material”) such as metal. After the thermal spraying, a ceramic coating treated dielectric 202 (hereinafter also simply referred to as “dielectric”) sealed with an inorganic material is used.

また、溶射に用いるセラミックス材としては、アルミナ・窒化ケイ素等が好ましく用いられるが、この中でもアルミナが加工し易いので、更に好ましく用いられる。   As the ceramic material used for thermal spraying, alumina, silicon nitride, or the like is preferably used. Among these, alumina is more preferably used because it is easily processed.

また、電極母材201にライニングにより無機材料を設けたライニング処理誘電体(不図示)を被覆した組み合わせで電極を構成してもよい。   Alternatively, the electrode may be constituted by a combination in which the electrode base material 201 is covered with a lining dielectric (not shown) provided with an inorganic material by lining.

ライニング材としては、ケイ酸塩系ガラス、ホウ酸塩系ガラス、リン酸塩系ガラス、ゲルマン酸塩系ガラス、亜テルル酸塩ガラス、アルミン酸塩ガラス、バナジン酸塩ガラス等が好ましく用いられるが、この中でもホウ酸塩系ガラスが加工し易いので、更に好ましく用いられる。   As the lining material, silicate glass, borate glass, phosphate glass, germanate glass, tellurite glass, aluminate glass, vanadate glass and the like are preferably used. Of these, borate glass is more preferred because it is easy to process.

電極母材201としては、銀、白金、ステンレス、アルミニウム、チタニウム、鉄等の金属等が挙げられるが、加工の観点からステンレスが好ましい。   Examples of the electrode base material 201 include metals such as silver, platinum, stainless steel, aluminum, titanium, and iron. Stainless steel is preferable from the viewpoint of processing.

尚、本実施の形態においては、電極20、461、462の電極母材201は、冷却水による冷却手段を有するステンレス製ジャケットローラ母材を使用することが好ましい。   In the present embodiment, the electrode base material 201 of the electrodes 20, 461, 462 is preferably a stainless jacket roller base material having a cooling means with cooling water.

図6(b)において、
電極60(電極ベルト603)の構成について説明すると、
基材203(以下、「ベルト電極母材」203ともいう。)の表面が固体誘電体204で被覆されていることが望ましい。
In FIG. 6B,
The configuration of the electrode 60 (electrode belt 603) will be described.
It is desirable that the surface of the base material 203 (hereinafter also referred to as “belt electrode base material” 203) is covered with a solid dielectric 204.

固体誘電体204としては、ポリテトラフルオロエチレン、ポリエチレンテレフタレート等のプラスチック、又はクロロプレンゴム、シリコンゴム等のゴム、又はガラス、又は二酸化珪素、又は酸化アルミニウム、酸化ジルコニウム、酸化チタン等の金属酸化物、あるいはチタン酸バリウム等の複合金属酸化物等を挙げることができる。   Examples of the solid dielectric 204 include plastics such as polytetrafluoroethylene and polyethylene terephthalate, rubbers such as chloroprene rubber and silicon rubber, glass, or silicon oxide, or metal oxides such as aluminum oxide, zirconium oxide, and titanium oxide. Or composite metal oxides, such as barium titanate, etc. can be mentioned.

ベルト電極母材203としては、銀、白金、銅、ステンレス、アルミニウム、チタニウム、鉄等の金属等が挙げることができる。   Examples of the belt electrode base material 203 include metals such as silver, platinum, copper, stainless steel, aluminum, titanium, and iron.

尚、本実施の形態においては、ベルト電極60の裏面に気体や液体を接触させることによる冷却手段を有することや、
ローラ601、602が冷却水を流せるジャケットローラであることがより好ましい。
In the present embodiment, there is a cooling means by bringing gas or liquid into contact with the back surface of the belt electrode 60,
More preferably, the rollers 601 and 602 are jacket rollers through which cooling water can flow.

図6(c)において、
ローラ電極701、801の構成について説明すると、図6(a)と同様、金属等の導電性母材201(以下、「電極母材」ともいう。)に対しセラミックスを溶射後、無機材料を用いて封孔処理したセラミック被覆処理誘電体202(以下、単に「誘電体」ともいう。)を被覆した組み合わせで構成されている。
In FIG. 6C,
The structure of the roller electrodes 701 and 801 will be described. Similarly to FIG. 6A, after spraying ceramics on a conductive base material 201 such as metal (hereinafter also referred to as “electrode base material”), an inorganic material is used. And a ceramic coating treated dielectric 202 (hereinafter, also simply referred to as “dielectric”) that has been sealed.

また、溶射に用いるセラミックス材としては、アルミナ・窒化ケイ素等が好ましく用いられるが、この中でもアルミナが加工し易いので、更に好ましく用いられる。   As the ceramic material used for thermal spraying, alumina, silicon nitride, or the like is preferably used. Among these, alumina is more preferably used because it is easily processed.

また、電極母材201にライニングにより無機材料を設けたライニング処理誘電体(不図示)を被覆した組み合わせで電極を構成してもよい。   Alternatively, the electrode may be constituted by a combination in which the electrode base material 201 is covered with a lining dielectric (not shown) provided with an inorganic material by lining.

ライニング材としては、ケイ酸塩系ガラス、ホウ酸塩系ガラス、リン酸塩系ガラス、ゲルマン酸塩系ガラス、亜テルル酸塩ガラス、アルミン酸塩ガラス、バナジン酸塩ガラス等が好ましく用いられるが、この中でもホウ酸塩系ガラスが加工し易いので、更に好ましく用いられる。   As the lining material, silicate glass, borate glass, phosphate glass, germanate glass, tellurite glass, aluminate glass, vanadate glass and the like are preferably used. Of these, borate glass is more preferred because it is easy to process.

電極母材201としては、銀、白金、ステンレス、アルミニウム、チタニウム、鉄等の金属等が挙げられるが、加工の観点からステンレスが好ましい。   Examples of the electrode base material 201 include metals such as silver, platinum, stainless steel, aluminum, titanium, and iron. Stainless steel is preferable from the viewpoint of processing.

尚、本実施の形態においては、ローラ電極701(801)の電極母材201は、冷却水による冷却手段を有するステンレス製ジャケットローラ母材を使用することが好ましい。   In the present embodiment, the electrode base material 201 of the roller electrode 701 (801) is preferably a stainless steel jacket roller base material having a cooling means using cooling water.

以上説明した第1〜第5の大気圧プラズマ処理装置1〜5を用いて薄膜を形成する円筒状基材は、電子写真方式の画像形成装置に用いるエンドレスベルト状の中間転写体(中間転写ベルト)であることが好ましい。   The cylindrical base material on which the thin film is formed using the first to fifth atmospheric pressure plasma processing apparatuses 1 to 5 described above is an endless belt-like intermediate transfer body (intermediate transfer belt) used for an electrophotographic image forming apparatus. ) Is preferable.

そして、その基材として以下を用いることができる。   And the following can be used as the base material.

中間転写ベルトの基材としては、樹脂材料または弾性体材料に導電剤を分散させてなるベルトを用いることができる。   As a base material of the intermediate transfer belt, a belt formed by dispersing a conductive agent in a resin material or an elastic material can be used.

これらの基材材料は、単独で用いても2種以上組み合わせても良く、これらの樹脂材料および弾性体材料の積層体による組み合わせからなるベルトを用いることもできる。   These base materials may be used alone or in combination of two or more, and a belt composed of a combination of a laminate of these resin material and elastic material can also be used.

ベルトに用いる樹脂としては、ポリカーボネート、ポリイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリフッ化ビニリデン、エチレンテトラフルオロエチレン共重合体、ポリアミド及びポリフェニレンサルファイド等、いわゆるエンジニアリングプラスチック材料を用いることができる。   As the resin used for the belt, so-called engineering plastic materials such as polycarbonate, polyimide, polyetheretherketone, polyvinylidene fluoride, ethylenetetrafluoroethylene copolymer, polyamide, and polyphenylene sulfide can be used.

弾性体材料としては、イソプレンゴム、ブタジエンゴム、スチレン・ブタジエンゴム、アクリロニトリル・ブタジエンゴム、ニトリルゴム、水素化ニトリルゴム、フッ素ゴム、シリコーンゴム、エチレン・プロピレンゴム、クロロプレンゴム、アクリルゴム、ブチルゴム、ウレタンゴム、クロロスルフォン化ポリエチレンゴム、エピクロルヒドリンゴム、天然ゴム、ポリエーテルゴム等のゴム材料や、ポリウレタン、ポリスチレン・ポリブタジエンブロック重合体、ポリオレフィン、ポリエチレン、塩素化ポリエチレン、エチレン・酢酸ビニル共重合体等のエラストマーを用いることができる。   Elastic materials include isoprene rubber, butadiene rubber, styrene / butadiene rubber, acrylonitrile / butadiene rubber, nitrile rubber, hydrogenated nitrile rubber, fluorine rubber, silicone rubber, ethylene / propylene rubber, chloroprene rubber, acrylic rubber, butyl rubber, urethane Rubber materials such as rubber, chlorosulfonated polyethylene rubber, epichlorohydrin rubber, natural rubber and polyether rubber, and elastomers such as polyurethane, polystyrene / polybutadiene block polymer, polyolefin, polyethylene, chlorinated polyethylene, ethylene / vinyl acetate copolymer, etc. Can be used.

そして、硬度を低下させるために弾性体層は発泡体としても良く、この場合、密度は0.1g/cm3〜0.9g/cm3が適当である。   In order to reduce the hardness, the elastic layer may be a foam. In this case, the density is suitably from 0.1 g / cm3 to 0.9 g / cm3.

また、導電剤としては、カーボンブラックを使用することができる。   Moreover, carbon black can be used as a conductive agent.

カーボンブラックとしては、中性または酸性カーボンブラックを使用することができる。   As the carbon black, neutral or acidic carbon black can be used.

導電性フィラーの使用量は、使用する導電性フィラーの種類によっても異なるが中間転写ベルトの体積抵抗値および表面抵抗値が所定の範囲になるように添加すれば良く、通常、樹脂材料100質量部に対して10〜20質量部、好ましくは10〜16質量部である。   The amount of the conductive filler used varies depending on the type of the conductive filler to be used, but may be added so that the volume resistance value and the surface resistance value of the intermediate transfer belt are within a predetermined range. It is 10-20 mass parts with respect to this, Preferably it is 10-16 mass parts.

本実施形態に用いられる基材は、従来公知の一般的な方法により製造することが可能である。例えば、材料となる樹脂を押し出し機により溶融し、環状ダイやTダイにより押しだして急冷することにより製造することができる。   The base material used in the present embodiment can be produced by a conventionally known general method. For example, it can be manufactured by melting a resin as a material by an extruder, extruding it with an annular die or a T die, and rapidly cooling it.

以上説明した、混合ガス供給部40及び混合ガス供給装置45に使用するガスは、機能性薄膜、例えば、無機酸化物層、無機窒化物層、無機炭化物層等を形成するための原料ガスと、窒素ガス、アルゴンガス等の希ガスが好適に用いられる。   The gas used in the mixed gas supply unit 40 and the mixed gas supply device 45 described above is a raw material gas for forming a functional thin film, for example, an inorganic oxide layer, an inorganic nitride layer, an inorganic carbide layer, etc. A rare gas such as nitrogen gas or argon gas is preferably used.

大気圧プラズマ処理装置1〜5では、上記説明した方法により、円筒状基材上に機能性薄膜が形成されるが、この機能性薄膜はXPS測定による炭素原子の含有量測定で、炭素原子20原子%以下含むことが好ましい。   In the atmospheric pressure plasma processing apparatuses 1 to 5, a functional thin film is formed on the cylindrical base material by the above-described method. This functional thin film is obtained by measuring the carbon atom content by XPS measurement. It is preferable to contain not more than atomic%.

そして、電極間で混合ガス(放電ガス)をプラズマ励起させ、このプラズマ中に存在する炭素原子を有する原料ガスをラジカル化して、円筒状基材Kの表面に晒すものである。   A mixed gas (discharge gas) is plasma-excited between the electrodes, the source gas having carbon atoms present in the plasma is radicalized and exposed to the surface of the cylindrical substrate K.

そして、この円筒状基材Kの表面に晒された炭素含有分子や炭素含有ラジカルが、形成した薄膜中に含有される。   And the carbon containing molecule | numerator and carbon containing radical which were exposed to the surface of this cylindrical base material K are contained in the formed thin film.

大気圧プラズマ処理装置1〜5で用いる放電ガスとは、上記のようなプラズマ処理条件においてプラズマ励起される気体をいい、例えば、窒素、アルゴン、ヘリウム、ネオン、クリプトン、キセノン等及びそれらの混合物などが挙げられる。   The discharge gas used in the atmospheric pressure plasma processing apparatuses 1 to 5 refers to a gas that is plasma-excited under the plasma processing conditions as described above, for example, nitrogen, argon, helium, neon, krypton, xenon, etc., and mixtures thereof. Is mentioned.

また、機能性薄膜を形成するための原料ガスとしては、常温で気体または液体の有機金属化合物、特に、アルキル金属化合物や金属アルコキシド化合物、有機金属錯体化合物が用いられる。これら原料における相状態は常温常圧において必ずしも気相である必要はなく、混合ガス供給装置24で加熱或は減圧等により溶融、蒸発、昇華等を経て気化し得るものであれば、液相でも固相でも使用可能である。   As a raw material gas for forming the functional thin film, an organic metal compound that is gaseous or liquid at room temperature, particularly an alkyl metal compound, a metal alkoxide compound, or an organometallic complex compound is used. The phase state of these raw materials does not necessarily need to be a gas phase at normal temperature and normal pressure, and can be a liquid phase as long as it can be vaporized through heating, decompression, etc. by melting, evaporation, sublimation, etc. It can also be used in a solid phase.

原料ガスとしては、放電空間でプラズマ状態となり、薄膜を形成する成分を含有するものであり、有機金属化合物、有機化合物、無機化合物等である。   The source gas contains a component that is in a plasma state in the discharge space and forms a thin film, and is an organometallic compound, an organic compound, an inorganic compound, or the like.

例えば、ケイ素化合物として、シラン、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン(TEOS)、テトラn−プロポキシシラン、テトライソプロポキシシラン、テトラn−ブトキシシラン、テトラt−ブトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジエチルジメトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、エチルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、(3,3,3−トリフルオロプロピル)トリメトキシシラン、ヘキサメチルジシロキサン、ビス(ジメチルアミノ)ジメチルシラン、ビス(ジメチルアミノ)メチルビニルシラン、ビス(エチルアミノ)ジメチルシラン、N,O−ビス(トリメチルシリル)アセトアミド、ビス(トリメチルシリル)カルボジイミド、ジエチルアミノトリメチルシラン、ジメチルアミノジメチルシラン、ヘキサメチルジシラザン、ヘキサメチルシクロトリシラザン、ヘプタメチルジシラザン、ノナメチルトリシラザン、オクタメチルシクロテトラシラザン、テトラキスジメチルアミノシラン、テトライソシアナートシラン、テトラメチルジシラザン、トリス(ジメチルアミノ)シラン、トリエトキシフルオロシラン、アリルジメチルシラン、アリルトリメチルシラン、ベンジルトリメチルシラン、ビス(トリメチルシリル)アセチレン、1,4−ビストリメチルシリル−1,3−ブタジイン、ジ−t−ブチルシラン、1,3−ジシラブタン、ビス(トリメチルシリル)メタン、シクロペンタジエニルトリメチルシラン、フェニルジメチルシラン、フェニルトリメチルシラン、プロパルギルトリメチルシラン、テトラメチルシラン、トリメチルシリルアセチレン、1−(トリメチルシリル)−1−プロピン、トリス(トリメチルシリル)メタン、トリス(トリメチルシリル)シラン、ビニルトリメチルシラン、ヘキサメチルジシラン、オクタメチルシクロテトラシロキサン、テトラメチルシクロテトラシロキサン、ヘキサメチルシクロテトラシロキサン、Mシリケート51などが挙げられるがこれらに限定されない。   For example, as a silicon compound, silane, tetramethoxysilane, tetraethoxysilane (TEOS), tetra n-propoxysilane, tetraisopropoxysilane, tetra n-butoxysilane, tetra t-butoxysilane, dimethyldimethoxysilane, dimethyldiethoxysilane , Diethyldimethoxysilane, diphenyldimethoxysilane, methyltriethoxysilane, ethyltrimethoxysilane, phenyltriethoxysilane, (3,3,3-trifluoropropyl) trimethoxysilane, hexamethyldisiloxane, bis (dimethylamino) dimethyl Silane, bis (dimethylamino) methylvinylsilane, bis (ethylamino) dimethylsilane, N, O-bis (trimethylsilyl) acetamide, bis (trimethylsilyl) carbodiimi , Diethylaminotrimethylsilane, dimethylaminodimethylsilane, hexamethyldisilazane, hexamethylcyclotrisilazane, heptamethyldisilazane, nonamethyltrisilazane, octamethylcyclotetrasilazane, tetrakisdimethylaminosilane, tetraisocyanatosilane, tetramethyldisilazane , Tris (dimethylamino) silane, triethoxyfluorosilane, allyldimethylsilane, allyltrimethylsilane, benzyltrimethylsilane, bis (trimethylsilyl) acetylene, 1,4-bistrimethylsilyl-1,3-butadiyne, di-t-butylsilane, 1,3-disilabutane, bis (trimethylsilyl) methane, cyclopentadienyltrimethylsilane, phenyldimethylsilane, phenyltrimethylsila , Propargyltrimethylsilane, tetramethylsilane, trimethylsilylacetylene, 1- (trimethylsilyl) -1-propyne, tris (trimethylsilyl) methane, tris (trimethylsilyl) silane, vinyltrimethylsilane, hexamethyldisilane, octamethylcyclotetrasiloxane, tetramethyl Examples include, but are not limited to, cyclotetrasiloxane, hexamethylcyclotetrasiloxane, M silicate 51, and the like.

チタン化合物としては、テトラジメチルアミノチタンなどの有機金属化合物、モノチタン、ジチタンなどの金属水素化合物、二塩化チタン、三塩化チタン、四塩化チタンなどの金属ハロゲン化合物、テトラエトキシチタン、テトライソプロポキシチタン、テトラブトキシチタンなどの金属アルコキシドなどが挙げられるがこれらに限定されない。   Titanium compounds include organometallic compounds such as tetradimethylaminotitanium, metal hydrogen compounds such as monotitanium and dititanium, metal halogen compounds such as titanium dichloride, titanium trichloride, and titanium tetrachloride, tetraethoxy titanium, tetraisopropoxy titanium And metal alkoxides such as tetrabutoxytitanium, but are not limited thereto.

アルミニウム化合物としては、アルミニウムn−ブトキシド、アルミニウムs−ブトキシド、アルミニウムt−ブトキシド、アルミニウムジイソプロポキシドエチルアセトアセテート、アルミニウムエトキシド、アルミニウムヘキサフルオロペンタンジオネート、アルミニウムイソプロポキシド、アルミニウムIII2,4−ペンタンジオネート、ジメチルアルミニウムクロライドなどが挙げられるがこれらに限定されない。   Examples of aluminum compounds include aluminum n-butoxide, aluminum s-butoxide, aluminum t-butoxide, aluminum diisopropoxide ethyl acetoacetate, aluminum ethoxide, aluminum hexafluoropentanedionate, aluminum isopropoxide, aluminum III 2,4- Pentandionate, dimethylaluminum chloride and the like are exemplified, but not limited thereto.

亜鉛化合物としては、ジンクビス(ビス(トリメチルシリル)アミド)、ジンク2,4−ペンタンジオネート、ジンク2,2,6,6−テトラメチル−3,5−ヘプタンジオネートなどが挙げられるがこれらに限定されない。   Examples of the zinc compound include zinc bis (bis (trimethylsilyl) amide), zinc 2,4-pentanedionate, zinc 2,2,6,6-tetramethyl-3,5-heptanedionate and the like. Not.

ジルコニウム化合物としては、ジルコニウムt−ブトキシド、ジルコニウムジイソプロポキシドビス(2,2,6,6−テトラメチル−3,5−ヘプタンジオネート、ジルコニウムエトキシ、ジルコニウムヘキサフルオロペンタンジオネート)、ジルコニウムイソプロポキシド、ジルコニウム2−メチル−2−ブトキシド、ジルコニウムトリフルオロペンタンジオネートなどが挙げられるがこれらに限定されない。   Zirconium compounds include zirconium t-butoxide, zirconium diisopropoxide bis (2,2,6,6-tetramethyl-3,5-heptanedionate, zirconium ethoxy, zirconium hexafluoropentanedionate), zirconium isopropoxy. , Zirconium 2-methyl-2-butoxide, zirconium trifluoropentandionate, and the like, but are not limited thereto.

また、これらの原料は、単独で用いても良いが、2種以上の成分を混合して使用するようにしても良い。   These raw materials may be used alone or in combination of two or more components.

また、大気圧プラズマ処理装置1〜5により形成される機能性薄膜の硬度は、成膜速度や添加ガス量比などによって調整することができる。   Further, the hardness of the functional thin film formed by the atmospheric pressure plasma processing apparatuses 1 to 5 can be adjusted by the film forming speed, the additive gas amount ratio, or the like.

大気圧プラズマ処理装置1〜5により形成される機能性薄膜を備えた円筒状基材が、電子写真方式の画像形成装置に用いるエンドレスベルト状の中間転写体(以下、中間転写ベルトともいう)であることが好ましい。   The cylindrical base material provided with the functional thin film formed by the atmospheric pressure plasma processing apparatuses 1 to 5 is an endless belt-shaped intermediate transfer body (hereinafter also referred to as an intermediate transfer belt) used in an electrophotographic image forming apparatus. Preferably there is.

本発明に係る中間転写体とは、電子写真方式の複写機、プリンタ、ファクシミリ等の画像形成装置に用いられる部材であり、感光体の表面に担持されたトナー画像をその表面に一次転写し、転写されたトナー画像を保持し、保持したトナー画像を記録紙等の被転写物の表面に二次転写するものである。   The intermediate transfer member according to the present invention is a member used for an image forming apparatus such as an electrophotographic copying machine, a printer, a facsimile, etc., and primarily transfers a toner image carried on the surface of the photosensitive member to the surface, The transferred toner image is held, and the held toner image is secondarily transferred onto the surface of an object to be transferred such as recording paper.

一般に、中間転写ベルトは、基材と、基材の表面に少なくとも1層の層からなる表層を有し、前記表層の表面の硬度が、ナノインデンテーション法による測定で、3GPa以上、11GPa以下であることが好ましい。   In general, the intermediate transfer belt has a substrate and a surface layer composed of at least one layer on the surface of the substrate, and the surface hardness of the surface layer is 3 GPa or more and 11 GPa or less as measured by a nanoindentation method. Preferably there is.

大気圧プラズマ処理装置1〜5において対向した位置に配置された電極では、
一方の電極(例えば、図1及び図4の第1の電極21、図2の第1の電極61、図3のローラ電極701と801、図5の電極461)には第1の電源25から周波数ω1の第1の高周波電圧Vω1が印加され、
他方の電極(例えば、図1及び図4の第2の電極22、図2の第2の電極62、図3のローラ電極702と802、図5の電極462)には第2の電源26から周波数ω2の高周波電圧Vω2が印加されるようになっている。
In the electrodes arranged at the opposed positions in the atmospheric pressure plasma processing apparatuses 1 to 5,
One electrode (for example, the first electrode 21 in FIGS. 1 and 4, the first electrode 61 in FIG. 2, the roller electrodes 701 and 801 in FIG. 3, and the electrode 461 in FIG. 5) is supplied from the first power supply 25. A first high-frequency voltage Vω1 of frequency ω1 is applied;
The other electrode (for example, the second electrode 22 in FIGS. 1 and 4, the second electrode 62 in FIG. 2, the roller electrodes 702 and 802 in FIG. 3, and the electrode 462 in FIG. 5) is supplied from the second power source 26. A high frequency voltage Vω2 having a frequency ω2 is applied.

それにより、一方の電極と他方の電極との間に、高周波電圧Vω1(電界強度Eω1)と高周波電圧Vω2(電界強度Eω2)とが重乗された電圧に応じた電界(電界強度Eω1ω2)が発生し、一方の電極には電流I1が流れ、他方の電極には電流I2が流れ、このローラ電極間にプラズマが発生する。   As a result, an electric field (electric field strength Eω1ω2) corresponding to a voltage obtained by multiplying the high frequency voltage Vω1 (electric field strength Eω1) and the high frequency voltage Vω2 (electric field strength Eω2) is generated between one electrode and the other electrode. The current I1 flows through one electrode, the current I2 flows through the other electrode, and plasma is generated between the roller electrodes.

ここで、周波数ω1と周波数ω2の関係、及び、電界強度Eω1と電界強度Eω2および放電ガスの放電を開始する電界強強度IVとの関係が、
ω1<ω2で、Eω1≧IV>Eω2、または、Eω1>IV≧Eω2を満たし、
前記第2の高周波電界の出力密度が1W/cm2以上となっている。
Here, the relationship between the frequency ω1 and the frequency ω2, and the relationship between the electric field strength Eω1, the electric field strength Eω2, and the electric field strength IV at which discharge of the discharge gas is started,
When ω1 <ω2, Eω1 ≧ IV> Eω2 or Eω1> IV ≧ Eω2 is satisfied,
The output density of the second high frequency electric field is 1 W / cm 2 or more.

窒素ガスの放電を開始する電界強強度IVは3.7kV/mmの為、少なくとも第1の電源25から印可する電界強度Eω1は3.7kV/mm、またはそれ以上とし、
第2の高周波電源26から印可する電界強度Eω2は3.7kV/mm、またはそれ未満とすることが好ましい。
Since the electric field strength IV for starting the discharge of nitrogen gas is 3.7 kV / mm, the electric field strength Eω1 applied from at least the first power supply 25 is 3.7 kV / mm or more,
The electric field strength Eω2 applied from the second high frequency power supply 26 is preferably 3.7 kV / mm or less.

また、第1〜5の大気圧プラズマ処理装置1〜5に適用可能な第1の高周波電源31としては、
印加電源記号 メーカー 周波数 製品名
A1 神鋼電機 3kHz SPG3−4500
A2 神鋼電機 5kHz SPG5−4500
A3 春日電機 15kHz AGI−023
A4 神鋼電機 50kHz SPG50−4500
A5 ハイデン研究所 100kHz* PHF−6k
A6 パール工業 200kHz CF−2000−200k
A7 パール工業 400kHz CF−2000−400k
A8 SEREN IPS 100〜460kHz L3000
等の市販のものを挙げることが出来、何れも使用することが出来る。
Moreover, as the 1st high frequency power supply 31 applicable to the 1st-5th atmospheric pressure plasma processing apparatuses 1-5,
Applied power symbol Manufacturer Frequency Product name A1 Shinko Electric 3kHz SPG3-4500
A2 Shinko Electric 5kHz SPG5-4500
A3 Kasuga Electric 15kHz AGI-023
A4 Shinko Electric 50kHz SPG50-4500
A5 HEIDEN Research Laboratories 100kHz * PHF-6k
A6 Pearl Industry 200kHz CF-2000-200k
A7 Pearl Industry 400kHz CF-2000-400k
A8 SEREN IPS 100-460kHz L3000
And the like, and any of them can be used.

また、第2の高周波電源32としては、
印加電源記号 メーカー 周波数 製品名
B1 パール工業 800kHz CF−2000−800k
B2 パール工業 2MHz CF−2000−2M
B3 パール工業 13.56MHz CF−5000−13M
B4 パール工業 27MHz CF−2000−27M
B5 パール工業 150MHz CF−2000−150M
B6 パール工業 20〜99.9MHz RP−2000−20/100M
等の市販のものを挙げることが出来、何れも使用することが出来る。
As the second high frequency power supply 32,
Applied power supply symbol Manufacturer Frequency Product name B1 Pearl Industry 800kHz CF-2000-800k
B2 Pearl Industry 2MHz CF-2000-2M
B3 Pearl Industry 13.56MHz CF-5000-13M
B4 Pearl Industry 27MHz CF-2000-27M
B5 Pearl Industry 150MHz CF-2000-150M
B6 Pearl Industry 20-99.9MHz RP-2000-20 / 100M
And the like, and any of them can be used.

なお、上記電源のうち、*印はハイデン研究所インパルス高周波電源(連続モードで100kHz)である。   Of the above power supplies, * indicates a HEIDEN Laboratory impulse high-frequency power supply (100 kHz in continuous mode).

それ以外は連続サイン波のみ印加可能な高周波電源である。   Other than that, it is a high-frequency power source that can apply only a continuous sine wave.

本実施形態において、第1及び第2の高周波電源から対向する電極間に供給する電力は、前記一方の電極に1W/cm2以上の電力(出力密度)を供給し、放電ガスを励起してプラズマを発生させ、薄膜を形成する。 In the present embodiment, the power supplied between the electrodes facing each other from the first and second high frequency power supplies supplies power (power density) of 1 W / cm 2 or more to the one electrode to excite the discharge gas. Plasma is generated to form a thin film.

前記一方の電極に供給する電力の上限値としては、好ましくは50W/cm2、より好ましくは20W/cm2である。 The upper limit value of power supplied to the one electrode is preferably 50 W / cm 2 , more preferably 20 W / cm 2 .

下限値は、好ましくは1.2W/cm2である。なお、放電面積(cm2)は、電極において放電が起こる範囲の面積のことを指す。 The lower limit is preferably 1.2 W / cm 2 . The discharge area (cm 2 ) refers to an area in a range where discharge occurs in the electrode.

また、前記他方の電極にも、1W/cm2以上、好ましくは5W/cm2以上の電力(出力密度)を供給することにより、高周波電界の均一性を維持したまま、出力密度を向上させることが出来る。 Also, by supplying power (power density) of 1 W / cm 2 or more, preferably 5 W / cm 2 or more to the other electrode, the power density can be improved while maintaining the uniformity of the high frequency electric field. I can do it.

なお、他方の電極に供給する電力の上限値は、好ましくは50W/cm2である。 The upper limit value of the power supplied to the other electrode is preferably 50 W / cm 2 .

これにより、更なる均一高密度プラズマを生成出来、更なる製膜速度の向上と膜質の向上が両立出来る。   Thereby, a further uniform high-density plasma can be generated, and a further improvement in film forming speed and an improvement in film quality can be achieved.

ここで高周波電界の波形としては、特に限定されない。   Here, the waveform of the high-frequency electric field is not particularly limited.

連続モードと呼ばれる連続サイン波状の連続発振モードと、パルスモードと呼ばれるON/OFFを断続的に行う断続発振モード等があり、そのどちらを採用してもよいが、少なくとも前記他方の電極に供給する高周波は、連続サイン波の方がより緻密で良質な膜が得られるので好ましい。   There are a continuous sine wave continuous oscillation mode called a continuous mode and an intermittent oscillation mode called a pulse mode that performs ON / OFF intermittently. Either of them may be adopted, but at least the other electrode is supplied. As for the high frequency, the continuous sine wave is preferable because a finer and better quality film can be obtained.

前記一方の電極と第1の高周波電源31との間には、第1フィルタ31aが設置されており、
他方の高周波電源32から一方の高周波電源31への電流が通過しにくくなるようにし、且つ第2の高周波電源32から一方の電極への電流をアースして通過しやすくしている。
Between the one electrode and the first high-frequency power supply 31, a first filter 31a is installed,
The current from the other high-frequency power supply 32 to the one high-frequency power supply 31 is made difficult to pass, and the current from the second high-frequency power supply 32 to one electrode is grounded to make it easier to pass.

また、前記他方の電極と第2の高周波電源32との間には、第2フィルタ32aが設置されており、
一方の高周波電源31から他方の高周波電源32への電流が通過しにくくなるようにし、且つ第1の高周波電源31から他方の電極への電流をアースして通過しやすくしている。
Further, a second filter 32a is installed between the other electrode and the second high-frequency power source 32,
The current from one high-frequency power supply 31 to the other high-frequency power supply 32 is made difficult to pass, and the current from the first high-frequency power supply 31 to the other electrode is grounded to facilitate the passage.

以上の説明において、電極と電源の関係は、前記一方の電極に第2の高周波電源32を接続して、前記他方の電極に第1の高周波電源32を接続しても良い。   In the above description, the relationship between the electrode and the power source may be that the second high frequency power source 32 is connected to the one electrode and the first high frequency power source 32 is connected to the other electrode.

また、特に放電ガスにアルゴン等の希ガスを用いる場合には、前記一方の電極と前記他方の電極20bの内、一方の電極をアースに接続して、他方の電極に電源を接続しても良い。   In particular, when a rare gas such as argon is used as the discharge gas, one of the one electrode and the other electrode 20b may be connected to the ground and a power source may be connected to the other electrode. good.

この場合の電源は第2の高周波電源32を使用することが緻密な薄膜形成を行うことができる観点から好ましい。   In this case, it is preferable to use the second high-frequency power source 32 from the viewpoint that a dense thin film can be formed.

以下に実施例を挙げて、本発明を具体的に説明するが、本発明の実施形態はこれに限定されるものではない。
(円筒状基材の作製)
下記の方法に従って、円筒状基材を作製した。
Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples. However, the embodiment of the present invention is not limited thereto.
(Production of cylindrical substrate)
A cylindrical base material was produced according to the following method.

ポリフェニレンサルファイド樹脂(E2180、東レ社製) 100質量部
導電フィラー(ファーネス#3030B、三菱化学社製) 16質量部
グラフト共重合体(モディパーA4400、日本油脂社製) 1質量部
滑材(モンタン酸カルシウム) 0.2質量部
上記の各材料を単軸押出機に投入し、溶融混練させて樹脂混合物とした。単軸押出機の先端にはスリット状でシームレスベルト形状の吐出口を有する環状ダイスが取り付けてあり、混練された上記樹脂混合物を、シームレスベルト状の形態で押し出した。
Polyphenylene sulfide resin (E2180, manufactured by Toray Industries, Inc.) 100 parts by mass Conductive filler (Furness # 3030B, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) 16 parts by mass Graft copolymer (Modiper A4400, manufactured by NOF Corporation) 1 part by mass Lubricant (calcium montanate) ) 0.2 part by mass Each of the above materials was put into a single screw extruder and melt kneaded to obtain a resin mixture. At the tip of the single screw extruder, a slit-shaped annular die having a seamless belt-shaped discharge port was attached, and the kneaded resin mixture was extruded in the form of a seamless belt.

押し出されたシームレスベルト状の樹脂混合物を、単軸押出機の吐出先に設けた円筒状の冷却筒に外挿させて冷却し、固化することにより中間転写ベルト用の無端の円筒状基材を得た。得られた基材の厚さは、120μmであった。
・実施例1〜4(比較例1、2)
(中間転写ベルト1の作製:実施例1)
上記作製した円筒状基材を、図1に記載の対向式並行平板電極から構成される大気圧プラズマ処理装置の円筒状基材Kとして装着し、円筒状基材Kを150m/minの搬送速度で連続搬送しながら、表層として酸化ケイ素層を下記の形成条件で250nmの厚さで形成した。この時、大気圧プラズマ処理装置の各並行平板電極20(21)、20(22)を被覆する誘電体は、いずれもセラミック溶射加工により片肉で1mm厚のアルミナを被覆したものを使用した。また、並行平板電極20(21)、20(22)間で形成する放電空間Z1の間隙は、最も狭い部分を0.5mmに設定した。
The extruded seamless belt-shaped resin mixture is extrapolated to a cylindrical cooling cylinder provided at the discharge destination of the single-screw extruder, cooled, and solidified to form an endless cylindrical substrate for the intermediate transfer belt. Obtained. The thickness of the obtained base material was 120 μm.
Examples 1 to 4 (Comparative Examples 1 and 2)
(Production of Intermediate Transfer Belt 1: Example 1)
The produced cylindrical base material is mounted as the cylindrical base material K of the atmospheric pressure plasma processing apparatus composed of the opposed parallel plate electrodes shown in FIG. 1, and the cylindrical base material K is transported at a speed of 150 m / min. As a surface layer, a silicon oxide layer having a thickness of 250 nm was formed under the following formation conditions. At this time, as the dielectric covering each of the parallel plate electrodes 20 (21) and 20 (22) of the atmospheric pressure plasma processing apparatus, a single-walled one-mm thick alumina coated by ceramic spraying was used. The gap between the discharge spaces Z1 formed between the parallel plate electrodes 20 (21) and 20 (22) was set to 0.5 mm at the narrowest portion.

また、各並行平板電極の誘電体を被覆した金属母材は、水循環による加熱、冷却機能を有するステンレス製ジャケット仕様であり、プラズマ放電中は60℃の水を循環することにより、各並行平板電極の表面温度を一定に保ちながらプラズマ処理を行い、中間転写ベルトKを100本連続して作製した。作製終了後の各並行平板電極表面には処理の障害となる汚れの付着は認められなかった。   Moreover, the metal base material which coat | covered the dielectric material of each parallel plate electrode is a stainless steel jacket specification which has the heating and cooling function by water circulation, and each parallel plate electrode is circulated by circulating 60 degreeC water during plasma discharge. A plasma treatment was carried out while keeping the surface temperature of the toner 100 constant, and 100 intermediate transfer belts K were continuously produced. The surface of each parallel plate electrode after the production was not found to be contaminated with dirt.

原料ガスは、加熱することで蒸気を生成し、あらかじめ余熱を行ったN2ガスおよびO2ガスと混合及び希釈した後、放電空間Z1へ、混合ガス供給装置(ノズル)41より供給を行った。混合ガス供給装置の反対側には排気ノズル50を設け、排気ノズル50内の圧力を−50Paに保つように調整し、プラズマ反応終了後の廃ガスを系外への排気した。
〈酸化ケイ素層の形成条件〉
放電ガス:N2ガス、処理巾1cmあたり3slm
反応ガス:O2ガスを全ガスに対し21体積%
原料ガス:テトラエトキシシラン(TEOS)を全ガスに対し0.1体積%
低周波側電源電力:神鋼電機社製高周波電源(50kHz)、5W/cm2
高周波側電源電力:パール工業社製広帯域高周波電源(60.0MHz)、5W/cm2
(中間転写ベルト2の作製:実施例2)
上記作製した円筒状基材を、図2に記載の対向式並行ベルト電極から構成される大気圧プラズマ処理装置の円筒状基材Kとして装着し、実施例1と同様に円筒状基材Kを150m/minの搬送速度で連続搬送しながら、表層として酸化ケイ素層を実施例1と同様の形成条件で250nmの厚さで形成した。この時、大気圧プラズマ処理装置の各ベルト電極60(61)、60(62)を被覆する誘電体は、いずれも1mm厚のポリ4フッ化エチレンのフィルムで被覆したものを使用した。
The source gas was heated to generate steam, mixed and diluted with preheated N 2 gas and O 2 gas, and then supplied to the discharge space Z1 from the mixed gas supply device (nozzle) 41. . An exhaust nozzle 50 was provided on the opposite side of the mixed gas supply device, and the pressure in the exhaust nozzle 50 was adjusted to be kept at −50 Pa, and exhaust gas after the plasma reaction was exhausted outside the system.
<Silicon oxide layer formation conditions>
Discharge gas: N 2 gas, 3 slm per 1 cm processing width
Reaction gas: 21% by volume of O 2 gas with respect to the total gas
Source gas: 0.1% by volume of tetraethoxysilane (TEOS) based on the total gas
Low frequency side power supply: High frequency power supply (50 kHz), 5 W / cm 2 manufactured by Shinko Electric Co., Ltd.
High frequency side power supply: Broadband high frequency power supply (60.0 MHz) manufactured by Pearl Industrial Co., Ltd., 5 W / cm 2
(Preparation of Intermediate Transfer Belt 2: Example 2)
The produced cylindrical base material is mounted as the cylindrical base material K of the atmospheric pressure plasma processing apparatus constituted by the opposed parallel belt electrodes shown in FIG. While continuously transporting at a transport speed of 150 m / min, a silicon oxide layer was formed as a surface layer with a thickness of 250 nm under the same formation conditions as in Example 1. At this time, the dielectrics covering the belt electrodes 60 (61) and 60 (62) of the atmospheric pressure plasma processing apparatus were all coated with a 1 mm thick polytetrafluoroethylene film.

また、各ベルト電極の駆動ローラ601(6011)、601(6012)は水循環による加熱、冷却機能を有するステンレス製ジャケット仕様であり、プラズマ放電中は60℃の水を循環することにより、各ベルト電極の表面温度を一定に保ちながらプラズマ処理を行った。実施例1と同様に中間転写ベルトKを100本連続して作製した。作成終了後の各ローラ電極には処理の障害となる汚れの付着は認められなかった。
(中間転写ベルト3の作製:実施例3)
上記作製した円筒状基材を、図3(a)に記載の対向複式ローラ電極から構成される大気圧プラズマ処理装置の円筒状基材Kとして装着し、実施例1と同様に円筒状基材Kを150m/minの搬送速度で連続搬送しながら、表層として酸化ケイ素層を実施例1と同様の形成条件で250nmの厚さで形成した。この時、大気圧プラズマ処理装置の各ローラ電極701、702を被覆する誘電体は、いずれもセラミック溶射加工により片肉で1mm厚のアルミナを被覆したものを使用した。
The drive rollers 601 (6011) and 601 (6012) of each belt electrode have a stainless steel jacket specification having heating and cooling functions by water circulation, and each belt electrode is circulated by circulating water at 60 ° C. during plasma discharge. The plasma treatment was performed while keeping the surface temperature of the film constant. As in Example 1, 100 intermediate transfer belts K were continuously produced. The roller electrodes after the production were not found to be contaminated with dirt that would hinder processing.
(Preparation of intermediate transfer belt 3: Example 3)
The produced cylindrical base material is mounted as the cylindrical base material K of the atmospheric pressure plasma processing apparatus constituted by the opposed double roller electrode shown in FIG. 3A, and the cylindrical base material is the same as in Example 1. While continuously transporting K at a transport speed of 150 m / min, a silicon oxide layer was formed as a surface layer with a thickness of 250 nm under the same formation conditions as in Example 1. At this time, as the dielectric covering each of the roller electrodes 701 and 702 of the atmospheric pressure plasma processing apparatus, the one coated with 1 mm thick alumina by ceramic spraying was used.

また、各ローラ電極の誘電体を被覆した金属母材は、水循環による加熱、冷却機能を有するステンレス製ジャケット仕様であり、プラズマ放電中は60℃の水を循環することにより、各ローラ電極の表面温度を一定に保ちながらプラズマ処理を行った。実施例1と同様に中間転写ベルトKを100本連続して作製した。作成終了後の各ベルト電極には処理の障害となる汚れの付着は認められなかった。
(中間転写ベルト4の作製:実施例4)
上記作製した円筒状基材を、図3(b)に記載の対向複式ローラ電極から構成される大気圧プラズマ処理装置とした以外は、実施例3と同様に中間転写ベルトKを100本連続して作製した。作成終了後の各ベルト電極には処理の障害となる汚れの付着は認められなかった。
(中間転写ベルト5の作製:比較例1)
前記中間転写ベルト1の作製において、大気圧プラズマ処理装置として、特開2007−017666号公報の図3に図示されたものと同様な単一の基材搬送ユニットを有する大気圧プラズマ処理装置を用いた以外は同様にして、中間転写ベルト5を100本連続して作製した。なお、中間転写ベルト5の作製において、10本処理する毎に、円筒状基材に対向した位置にある固定電極21の表面汚れを除去する操作を行った。
(中間転写ベルト6の作製:比較例2)
上記中間転写ベルト5の作製において、固定電極21の表面汚れの除去操作を全く行わなかった以外は同様にして、100本の中間転写ベルト3を連続して作製した。
《評価》
上記方法に従って作製した中間転写ベルトのうち、最後に作成した中間転写ベルトについて、下記に示す各評価を行った。
〔薄膜表面硬さの測定〕
作製した各中間転写ベルトの酸化ケイ素膜の薄膜表面硬さ(GPa)を、下記に示すナノインデンテーション法により測定した。
In addition, the metal base material coated with the dielectric of each roller electrode is a stainless steel jacket specification having heating and cooling functions by water circulation, and the surface of each roller electrode is circulated by circulating water at 60 ° C. during plasma discharge. Plasma treatment was performed while keeping the temperature constant. As in Example 1, 100 intermediate transfer belts K were continuously produced. The belt electrodes after completion of the production were not observed to be contaminated with dirt that would hinder processing.
(Preparation of intermediate transfer belt 4: Example 4)
100 intermediate transfer belts K were continuously formed in the same manner as in Example 3 except that the produced cylindrical base material was an atmospheric pressure plasma processing apparatus composed of opposed double roller electrodes as shown in FIG. Made. The belt electrodes after completion of the production were not observed to be contaminated with dirt that would hinder processing.
(Preparation of intermediate transfer belt 5: Comparative Example 1)
In the production of the intermediate transfer belt 1, an atmospheric pressure plasma processing apparatus having a single substrate transport unit similar to that shown in FIG. 3 of Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-017666 is used as the atmospheric pressure plasma processing apparatus. 100 intermediate transfer belts 5 were continuously produced in the same manner except for the above. In the production of the intermediate transfer belt 5, every time 10 pieces were processed, an operation of removing the surface contamination of the fixed electrode 21 at the position facing the cylindrical base material was performed.
(Preparation of Intermediate Transfer Belt 6: Comparative Example 2)
In the production of the intermediate transfer belt 5, 100 intermediate transfer belts 3 were continuously produced in the same manner except that the operation for removing the surface contamination of the fixed electrode 21 was not performed at all.
<Evaluation>
Among the intermediate transfer belts produced according to the above method, the following evaluation was performed on the last produced intermediate transfer belt.
[Measurement of surface hardness of thin film]
The thin film surface hardness (GPa) of the silicon oxide film of each produced intermediate transfer belt was measured by the nanoindentation method shown below.

使用した測定装置は、NANO Indenter XP/DCM(MTS Systems社/MTS Nano Instruments社製)で、先端形状が正三角形のダイヤモンドBerkovich圧子を用い、最大荷重設定を25μNとして、酸化ケイ素層の厚み(250nm)に対し十分に小さな押し込み深さとなる条件で、薄膜表面硬さ(GPa)を測定した。
〔表面粗さの測定〕
下記の方法に従って、10点平均粗さ(Rz)を測定した。
The measurement apparatus used was NANO Indenter XP / DCM (manufactured by MTS Systems / MTS Nano Instruments), using a diamond Berkovich indenter with a tip shape of an equilateral triangle, a maximum load setting of 25 μN, and a thickness of the silicon oxide layer (250 nm). The surface hardness (GPa) of the thin film was measured under the condition that the indentation depth was sufficiently small.
[Measurement of surface roughness]
According to the following method, 10-point average roughness (Rz) was measured.

原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscopy:AFM)として、セイコーインスツル社/エスアイアイ・ナノテクノロジー社製 SPI3800Nプローブステーション及びSPA400多機能型ユニットを測定装置として使用し、カンチレバーは、同社製シリコンカンチレバーSI−DF20を使用した。DFMモード(Dynamic Force Mode)で、測定領域10μm角を測定し、得られた三次元データより、10点平均粗さ(Rz)を算出した。
〔表面薄膜(酸化ケイ素膜)の膜厚の測定〕
作製した各中間転写ベルトの酸化ケイ素膜の膜厚(nm)を、反射分光膜厚計FE−3000(大塚電子(株)製)を使用した反射スペクトルの解析結果より求めた。なお、事前に膜厚の解析結果と中間転写ベルト断面(表層部分)の電子顕微鏡観察により実測した膜厚とがほぼ一致することを確認しておいた。
As an atomic force microscope (AFM), the SPI3800N probe station and SPA400 multifunctional unit manufactured by Seiko Instruments Inc./SII Nanotechnology Co., Ltd. were used as measuring devices. DF20 was used. In the DFM mode (Dynamic Force Mode), a measurement area of 10 μm square was measured, and 10-point average roughness (Rz) was calculated from the obtained three-dimensional data.
[Measurement of film thickness of surface thin film (silicon oxide film)]
The thickness (nm) of the silicon oxide film of each of the produced intermediate transfer belts was obtained from the analysis result of the reflection spectrum using a reflection spectral film thickness meter FE-3000 (manufactured by Otsuka Electronics Co., Ltd.). It was confirmed in advance that the analysis result of the film thickness and the film thickness actually measured by electron microscope observation of the cross section (surface layer portion) of the intermediate transfer belt almost coincided with each other.

各中間転写ベルト表面の作画に関与する範囲内について、巾方向および周方向それぞれ15mm間隔で膜厚を測定した。設計膜厚250nmからのバラツキ巾を測定し、これを薄膜均一性の尺度とした。
〔カラーレーザープリンタによる画質評価〕
カラーレーザープリンタとして、コニカミノルタビジネステクノロジー社製のmagicolor5440DLを用い、内部の中間転写ベルトを外し、上記作製した中間転写ベルト1〜3をそれぞれ装着した。トナーとして、平均粒径6.5μmの重合トナーを使用し、コニカミノルタCFペーパー(コニカミノルタビジネステクノロジー社製)に、赤(イエローおよびマゼンタトナー)、青(マゼンタおよびシアントナー)、緑(イエローおよびシアントナー)、黒の各色毎にベタ画像の濃度を低〜高の5段階に変化させた原稿を使用して、プリントを行い、出力した画像のムラやトナー濃度を目視観察し、下記の基準に従って画質評価を行った。
The film thickness was measured at intervals of 15 mm in the width direction and in the circumferential direction within the range involved in the drawing on the surface of each intermediate transfer belt. The variation width from the designed film thickness of 250 nm was measured, and this was used as a measure of thin film uniformity.
[Image quality evaluation by color laser printer]
As a color laser printer, a magiccolor 5440DL manufactured by Konica Minolta Business Technology was used, the internal intermediate transfer belt was removed, and the intermediate transfer belts 1 to 3 prepared above were mounted. As the toner, a polymerized toner having an average particle diameter of 6.5 μm is used, and Konica Minolta CF paper (manufactured by Konica Minolta Business Technology) is used with red (yellow and magenta toner), blue (magenta and cyan toner), green (yellow and yellow and toner). (Cyan toner) and black using a document in which the density of the solid image is changed in five levels from low to high for each color, printing is performed, and the unevenness of the output image and the toner density are visually observed. The image quality was evaluated according to

○:全ての濃度域で画像ムラ及び濃度低下は認められない
△:全ての濃度域で画像ムラの発生はないが、高濃度画像でやや濃度が低い
×:全ての濃度域で画像ムラが発生し、かつ得られた画像の濃度が低い
〔クリーニング適性の評価〕
上記カラーレーザープリンタを用いて、各中間転写体表面をクリーニングブレードでクリーニングした後、各中間転写体の表面状態を目視観察してトナーの付着状態を確認し、下記の基準に従ってクリーニング適性の評価を行った。
○: Image unevenness and density reduction are not recognized in all density regions. Δ: Image unevenness does not occur in all density regions, but density is slightly low in high density images. ×: Image unevenness occurs in all density regions. And the density of the obtained image is low [Evaluation of cleaning suitability]
After cleaning the surface of each intermediate transfer member with a cleaning blade using the color laser printer, the surface state of each intermediate transfer member is visually observed to confirm the toner adhesion state, and the cleaning suitability is evaluated according to the following criteria. went.

○:トナーの付着がまったく認められない、
△:僅かにトナーの付着が認められるが、実用上問題はない
×:明らかなトナーの拭き取り残しが発生しており、実用上問題がある
以上により得られた結果を、表1に示す。
○: No toner adhesion is observed
Δ: Slight toner adhesion is observed, but there is no problem in practical use. X: Clear toner wiping off has occurred, and there are practical problems. Table 1 shows the results obtained as described above.

Figure 2009161782
Figure 2009161782

表1に記載の結果より明らかなように、本発明の大気圧プラズマ処理装置により作製した中間転写ベルト1〜4は均一に表面に薄膜が形成されており、薄膜の硬さ、表面粗さともに良好で、中間転写ベルトとして優れた特性であることが分かる。これに対し、比較例の中間転写ベルト5は、表面に均一の薄膜が形成されていたものの、形成した薄膜の硬さや表面粗さは中間転写ベルト1〜4に比べやや劣り、実機による中間転写ベルトとしての評価においても、中間転写ベルト1〜4よりやや劣っていた。また、100本の中間転写ベルトを作製するのに要した時間も、本発明の中間転写ベルト1〜4の約4倍であった。また、薄膜形成時に電極のクリーニング処理を全く行わなかった中間転写ベルト6は、円筒の周方向に表層の膜厚ムラに起因するスジが全面に発生しており、薄膜形成が不均一であり、かつ全体に白濁し、粉っぽく観察された。また、形成した薄膜の表面硬さや表面粗さも劣り、場所による測定値にばらつきが見られた。さらに、実機評価においても強い画像ムラが認められ、中間転写ベルトとして要求される品質を満たしていなかった。
・実施例5〜6(比較例3)
前記、ポリフェニレンサルファイド製中間転写ベルト(円筒状基体)の処理前の表面に対し下記に示すような弾性層および酸化ケイ素層を設けた。
(弾性層の作製)
「円筒状基体K」の外周に、クロロプレンゴムからなる厚さ50μmの「弾性層1」をディッピング塗布法により設けた。
(酸化ケイ素層の作製)
上記、弾性層1を持つ円筒状基体に実施例1と同様にして酸化ケイ素層を100nm設けた。
(中間転写ベルト7の作製:実施例5)
上記作製した円筒状基材を、図4に記載の対向式並行平板電極から構成される大気圧プラズマ処理装置の円筒状基材Kとして装着し、円筒状基材Kを100m/minの搬送速度で連続搬送しながら、表面処理としてフッ化アルキルシラン(FAS、CF3(CF27(CH22Si(OC253)による処理を1分間おこなった。この時、大気圧プラズマ処理装置の各並行平板電極20’(21’)、20’(22’)を被覆する誘電体は、いずれもセラミック溶射加工により片肉で1mm厚のアルミナを被覆したものを使用した。また、並行平板電極20’(21’)、20’(22’)間で形成する放電空間Z5の間隙は、最も狭い部分を1.0mmに設定した。
As is clear from the results shown in Table 1, the intermediate transfer belts 1 to 4 produced by the atmospheric pressure plasma processing apparatus of the present invention have a thin film uniformly formed on the surface, and both the hardness and the surface roughness of the thin film are It can be seen that it is good and has excellent properties as an intermediate transfer belt. On the other hand, although the intermediate transfer belt 5 of the comparative example had a uniform thin film formed on the surface, the hardness and surface roughness of the formed thin film were slightly inferior to those of the intermediate transfer belts 1 to 4, and the intermediate transfer by an actual machine. Also in evaluation as a belt, it was slightly inferior to the intermediate transfer belts 1 to 4. Further, the time required for producing 100 intermediate transfer belts was about four times that of the intermediate transfer belts 1 to 4 of the present invention. In addition, the intermediate transfer belt 6 that did not perform any electrode cleaning process at the time of thin film formation has streaks due to uneven thickness of the surface layer in the circumferential direction of the cylinder, and the thin film formation is uneven. Moreover, the whole was cloudy and was observed as a powder. Moreover, the surface hardness and surface roughness of the formed thin film were also inferior, and the measured value depending on the location was varied. Further, in the actual machine evaluation, strong image unevenness was recognized and the quality required for the intermediate transfer belt was not satisfied.
Examples 5 to 6 (Comparative Example 3)
An elastic layer and a silicon oxide layer as described below were provided on the surface of the polyphenylene sulfide intermediate transfer belt (cylindrical substrate) before treatment.
(Production of elastic layer)
On the outer periphery of “cylindrical substrate K”, “elastic layer 1” made of chloroprene rubber and having a thickness of 50 μm was provided by dipping coating.
(Production of silicon oxide layer)
A silicon oxide layer having a thickness of 100 nm was provided on the cylindrical substrate having the elastic layer 1 in the same manner as in Example 1.
(Preparation of Intermediate Transfer Belt 7: Example 5)
The produced cylindrical base material is mounted as the cylindrical base material K of the atmospheric pressure plasma processing apparatus constituted by the opposed parallel plate electrodes shown in FIG. 4, and the cylindrical base material K is transported at a speed of 100 m / min. As a surface treatment, treatment with fluorinated alkylsilane (FAS, CF 3 (CF 2 ) 7 (CH 2 ) 2 Si (OC 2 H 5 ) 3 ) was performed for 1 minute. At this time, the dielectric covering each of the parallel plate electrodes 20 ′ (21 ′) and 20 ′ (22 ′) of the atmospheric pressure plasma processing apparatus is a single-walled alumina coated by ceramic spraying. It was used. Further, the narrowest portion of the gap of the discharge space Z5 formed between the parallel plate electrodes 20 ′ (21 ′) and 20 ′ (22 ′) was set to 1.0 mm.

また、各並行平板電極の誘電体を被覆した金属母材は、水循環による加熱、冷却機能を有するステンレス製ジャケット仕様であり、プラズマ放電中は75℃の水を循環することにより、各並行平板電極の表面温度を一定に保ちながらプラズマ処理を行い、中間転写ベルトKを100本連続して作製した。作製終了後の各並行平板電極表面には処理の障害となる汚れの付着は認められなかった。   Moreover, the metal base material which coat | covered the dielectric material of each parallel plate electrode is a stainless steel jacket specification which has a heating and cooling function by water circulation, and each parallel plate electrode is circulated by circulating 75 degreeC water during plasma discharge. A plasma treatment was carried out while keeping the surface temperature of the toner 100 constant, and 100 intermediate transfer belts K were continuously produced. The surface of each parallel plate electrode after the production was not found to be contaminated with dirt.

原料ガスは、加熱することで蒸気を生成し、あらかじめ余熱を行ったArガスと混合及び希釈した後、放電空間Z1へ、混合ガス供給装置(ノズル)41より供給を行った。混合ガス供給装置の反対側には排気ノズル50を設け、排気ノズル50内の圧力を−20Paに保つように調整し、プラズマ反応終了後の廃ガスを系外への排気した。
〈フッ化アルキル表面処理条件〉
放電ガス:Arガス、処理巾1cmあたり1slm
原料ガス:フッ化アルキルシラン(FAS)を全ガスに対し0.01体積%
高周波電源電力:神鋼電機社製高周波電源(5kHz)、5W/cm2
(印加されていない側の電極はアース(グランド)とした)
(中間転写ベルト8の作製:実施例6)
上記作製した円筒状基材を、図5に記載のプラズマジェット電極から構成される大気圧プラズマ処理装置の円筒状基材Kとして装着し、実施例5と同様に円筒状基材Kを100m/minの搬送速度で連続搬送しながら、表面処理としてフッ化アルキルシラン(FAS、CF3(CF27(CH22Si(OC253)による処理を1分間おこなった。この時、大気圧プラズマ処理装置のプラズマジェットノズル内の平行電極461、462を被覆する誘電体は、いずれもセラミック溶射加工により片肉で1mm厚のアルミナを被覆したものを使用した。また、並行電極461、462間で形成する放電空間Z6の間隙は、1.0mmに設定した。
The raw material gas was heated to generate steam, mixed and diluted with preheated Ar gas, and then supplied to the discharge space Z1 from the mixed gas supply device (nozzle) 41. An exhaust nozzle 50 was provided on the opposite side of the mixed gas supply device, and the pressure in the exhaust nozzle 50 was adjusted to be kept at −20 Pa, and exhaust gas after the plasma reaction was exhausted out of the system.
<Alkyl fluoride surface treatment conditions>
Discharge gas: Ar gas, 1 slm per 1 cm processing width
Source gas: 0.01% by volume of fluoroalkylsilane (FAS) based on the total gas
High frequency power supply: Shinko Electric Co., Ltd. high frequency power supply (5 kHz), 5 W / cm 2
(The non-applied electrode is grounded)
(Preparation of Intermediate Transfer Belt 8: Example 6)
The produced cylindrical base material is mounted as a cylindrical base material K of an atmospheric pressure plasma processing apparatus constituted by the plasma jet electrode shown in FIG. While continuously transporting at a transport speed of min, as a surface treatment, treatment with fluorinated alkylsilane (FAS, CF 3 (CF 2 ) 7 (CH 2 ) 2 Si (OC 2 H 5 ) 3 ) was performed for 1 minute. At this time, as the dielectric covering the parallel electrodes 461 and 462 in the plasma jet nozzle of the atmospheric pressure plasma processing apparatus, a single-walled alumina coated with 1 mm thickness by ceramic spraying was used. Further, the gap between the discharge spaces Z6 formed between the parallel electrodes 461 and 462 was set to 1.0 mm.

また、各並行電極の誘電体を被覆した金属母材は、水循環による加熱、冷却機能を有するステンレス製ジャケット仕様であり、プラズマ放電中は95℃の水を循環することにより、電極の表面温度を一定に保ちながらプラズマ処理を行った。実施例5と同様に中間転写ベルトKを100本連続して作製した。作成終了後の各並行電極には処理の障害となる汚れの付着は認められなかった。
〈フッ化アルキル表面処理条件〉
放電ガス:Arガス、処理巾1cmあたり1slm
原料ガス:フッ化アルキルシラン(FAS)をキャリアガスAr(処理巾1cmあたり0.5slm)に対し0.02体積%
なお、電源は実施例5と同様。
(中間転写ベルト9の作製:比較例3)
前記中間転写ベルト7の作製において、大気圧プラズマ処理装置として、前述の単一の基材搬送ユニットを有する大気圧プラズマ処理装置を用いた以外は同様にして、中間転写ベルト9を100本連続して作製した。なお、中間転写ベルト9の作製において、円筒状基材に対向した位置にある固定電極21の表面汚れの除去はおこなっていない。
〔水接触角の測定〕
作製した各中間転写ベルトの表面の水接触角をFibro system社製接触角計PG−Xにより評価した。25℃、50%RHの室内にて1μlの水を滴下し、滴下後5秒経った後の接触角を採用した。
In addition, the metal base material coated with the dielectric of each parallel electrode has a stainless steel jacket specification that has heating and cooling functions by water circulation. During plasma discharge, the surface temperature of the electrode is controlled by circulating water at 95 ° C. The plasma treatment was performed while keeping constant. In the same manner as in Example 5, 100 intermediate transfer belts K were continuously produced. The parallel electrodes after the completion of the production were not found to be contaminated with dirt that would hinder processing.
<Alkyl fluoride surface treatment conditions>
Discharge gas: Ar gas, 1 slm per 1 cm processing width
Source gas: 0.02% by volume of fluoroalkylsilane (FAS) with respect to the carrier gas Ar (0.5 slm per 1 cm treatment width)
The power source is the same as in Example 5.
(Preparation of intermediate transfer belt 9: Comparative Example 3)
In the production of the intermediate transfer belt 7, 100 intermediate transfer belts 9 were continuously formed except that the atmospheric pressure plasma processing apparatus was the atmospheric pressure plasma processing apparatus having the above-mentioned single substrate transport unit. Made. In the production of the intermediate transfer belt 9, the surface contamination of the fixed electrode 21 at the position facing the cylindrical base material is not removed.
(Measurement of water contact angle)
The water contact angle on the surface of each of the produced intermediate transfer belts was evaluated by a contact angle meter PG-X manufactured by Fibro system. 1 μl of water was dropped in a room at 25 ° C. and 50% RH, and the contact angle after 5 seconds from the dropping was adopted.

各中間転写ベルト表面の作画に関与する範囲内について、巾方向および周方向それぞれ15mm間隔で水接触角を測定し、これを表面処理均一性の尺度とした。
〔カラーレーザープリンタによる画質評価〕
実施例1〜4と同一の評価を実施した。
Water contact angles were measured at intervals of 15 mm in the width direction and in the circumferential direction within the range involved in the drawing of the surface of each intermediate transfer belt, and this was used as a measure of surface treatment uniformity.
[Image quality evaluation by color laser printer]
The same evaluation as in Examples 1 to 4 was performed.

Figure 2009161782
Figure 2009161782

表2に記載の結果より明らかなように、本発明の大気圧プラズマ処理装置により作製した中間転写ベルト7、8は均一に表面処理されており、中間転写ベルトとして優れた特性であることが分かる。これに対し、比較例の中間転写ベルト9は表面処理にムラがあり、さらに処理状態も劣っていることが示された。   As is apparent from the results shown in Table 2, it can be seen that the intermediate transfer belts 7 and 8 produced by the atmospheric pressure plasma processing apparatus of the present invention are uniformly surface-treated and have excellent characteristics as an intermediate transfer belt. . On the other hand, it was shown that the intermediate transfer belt 9 of the comparative example has uneven surface treatment and inferior treatment state.

図7は、中間転写ベルトの層構成の説明図である。   FIG. 7 is an explanatory diagram of the layer configuration of the intermediate transfer belt.

以下、中間転写ベルト7〜9の層構成について図7を参照して説明する。   Hereinafter, the layer structure of the intermediate transfer belts 7 to 9 will be described with reference to FIG.

中間転写ベルト6は、基材6aの表面に、弾性層6b、酸化ケイ素層6c、フッ化アルキル層6dとを有している。   The intermediate transfer belt 6 has an elastic layer 6b, a silicon oxide layer 6c, and an alkyl fluoride layer 6d on the surface of the substrate 6a.

そして、基材層6aは120μm程度の厚さの例えばPPSで、弾性層6bは例えばクロロプレンゴムで、少なくとも酸化ケイ素層6c、とフッ化アルキル層6dとのいずれか1方が大気圧プラズマ処理装置により形成される。   The base material layer 6a is, for example, PPS having a thickness of about 120 μm, the elastic layer 6b is, for example, chloroprene rubber, and at least one of the silicon oxide layer 6c and the alkyl fluoride layer 6d is an atmospheric pressure plasma processing apparatus. It is formed by.

固定した電極を有する、第1の大気圧プラズマ処理装置の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the 1st atmospheric pressure plasma processing apparatus which has the fixed electrode. ベルト状の電極を有する、第2の大気圧プラズマ処理装置の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the 2nd atmospheric pressure plasma processing apparatus which has a belt-shaped electrode. 複数のローラ電極を有する、第3の大気圧プラズマ処理装置の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the 3rd atmospheric pressure plasma processing apparatus which has a some roller electrode. 固定した電極と活性ガスの流路とを有する、第4の大気圧プラズマ処理装置の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the 4th atmospheric pressure plasma processing apparatus which has the fixed electrode and the flow path of active gas. プラズマジェット方式の第5の大気圧プラズマ処理装置の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the 5th atmospheric pressure plasma processing apparatus of a plasma jet system. 上記大気圧プラズマ処理装置に用いる電極の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the electrode used for the said atmospheric pressure plasma processing apparatus. 中間転写ベルトの層構成の説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of a layer configuration of an intermediate transfer belt.

符号の説明Explanation of symbols

1、2、3、4、5 大気圧プラズマ処理装置
11 第1の基材搬送部
12 第2の基材搬送部
20 電極
21 第1の電極
22 第2の電極
30 電源
31 第1の高周波電源
32 第2の高周波電源
40 混合ガス供給部
45 混合ガス供給装置
46 プラズマジェット発生部
50 排気部
60、70、80、90 電極
101 駆動ローラ
102 従動ローラ
G 混合ガス
K 円筒状基材
X 堆積領域
Z 放電領域
1, 2, 3, 4, 5 Atmospheric pressure plasma processing apparatus 11 1st base material conveyance part 12 2nd base material conveyance part 20 Electrode 21 1st electrode 22 2nd electrode 30 Power supply 31 1st high frequency power supply 32 Second high-frequency power source 40 Mixed gas supply unit 45 Mixed gas supply unit 46 Plasma jet generation unit 50 Exhaust unit 60, 70, 80, 90 Electrode 101 Drive roller 102 Followed roller G Mixed gas K Cylindrical substrate X Deposition region Z Discharge area

Claims (11)

円筒状基材を回転させる、少なくとも1対の対向した基材駆動ユニットと、
少なくとも1対の、対向した電極と、
該電極の少なくとも一方に接続され、前記電極の対向領域に高周波電界を印加する高周波電源と、
前記電極の対向領域に薄膜形成ガスを含有するガスを供給するガス供給部と、を有し、
前記基材駆動ユニットは、それぞれ、前記対向した電極の対向面に沿って円筒状基材を移動させ、
前記電極は、前記ガス供給部から供給された前記ガスを、大気圧もしくはその近傍の圧力下で前記高周波電源による前記高周波電界により励起し、
前記基材駆動ユニットにより前記電極の対向面に沿って移動される円筒状基材を励起した前記ガスに晒すことにより、
同時に、少なくとも2つの前記円筒状基材の表面処理を行うことを特徴とする大気圧プラズマ処理装置。
At least one pair of opposed substrate drive units for rotating the cylindrical substrate;
At least one pair of opposing electrodes;
A high-frequency power source connected to at least one of the electrodes and applying a high-frequency electric field to the opposing region of the electrode;
A gas supply part for supplying a gas containing a thin film forming gas to the opposing region of the electrode,
Each of the base material driving units moves the cylindrical base material along the facing surface of the facing electrode,
The electrode excites the gas supplied from the gas supply unit by the high-frequency electric field from the high-frequency power source under atmospheric pressure or a pressure in the vicinity thereof,
By exposing the cylindrical substrate moved along the opposing surface of the electrode by the substrate driving unit to the excited gas,
At the same time, at least two of the cylindrical base materials are subjected to a surface treatment.
前記電極の対向領域の、円筒状基材の駆動方向上流側に前記ガス供給部を有し、
前記電極の対向領域の、円筒状基材の駆動方向下流側に、不要となったガスを排気するガス排気部を備えていることを特徴とする請求項1に記載の大気圧プラズマ処理装置。
The gas supply unit is provided on the upstream side in the driving direction of the cylindrical base material in the opposed region of the electrode,
2. The atmospheric pressure plasma processing apparatus according to claim 1, further comprising a gas exhaust unit configured to exhaust unnecessary gas on a downstream side in the driving direction of the cylindrical base material in a region facing the electrode.
前記電極が箱状又は板状をしていることを特徴とする請求項1又は2に記載の大気圧プラズマ処理装置。 The atmospheric pressure plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the electrode has a box shape or a plate shape. 前記電極が回動可能なベルト状をしていることを特徴とする請求項1又は2に記載の大気圧プラズマ処理装置。 The atmospheric pressure plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the electrode has a belt-like shape that can rotate. 前記電極が回動可能な円筒状をしていることを特徴とする請求項1又は2に記載の大気圧プラズマ処理装置。 The atmospheric pressure plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the electrode has a rotatable cylindrical shape. 前記表面処理は少なくとも円筒状基材表面への薄膜形成を含むことを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の大気圧プラズマ処理装置。 The atmospheric pressure plasma processing apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the surface treatment includes at least a thin film formation on a cylindrical base material surface. 前記表面処理乃至薄膜形成を行なった円筒状基材が、電子写真方式の画像形成装置に用いるエンドレスベルト状の中間転写体であることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の大気圧プラズマ処理装置。 The cylindrical substrate on which the surface treatment or thin film formation has been performed is an endless belt-shaped intermediate transfer member used in an electrophotographic image forming apparatus. Atmospheric pressure plasma processing equipment. 円筒状基材を回転させる、少なくとも1対の対向した基材駆動ユニットと、
少なくとも1対の、対向した電極と、
該電極の少なくとも一方に接続され、前記電極の対向領域に高周波電界を印加する高周波電源と、
前記電極の対向領域に薄膜形成ガスを含有するガスを供給するガス供給部と、
大気圧もしくはその近傍の圧力下で前記高周波電源による前記高周波電界により、前記ガス供給部から供給された前記ガスを励起し、励起した前記ガスを噴射する励起ガス噴射部と、を有し、
前記励起ガス噴射部は、前記基材駆動ユニットにより円筒状基材が対向しながら移動する基材対向領域に向けて励起した前記ガスを噴射し、
前記基材対向領域を対向しながら移動する前記円筒状基材に、噴射した前記ガスを晒すことにより、同時に、少なくとも2つの円筒状基材の表面処理を行うことを特徴とする大気圧プラズマ処理装置。
At least one pair of opposed substrate drive units for rotating the cylindrical substrate;
At least one pair of opposing electrodes;
A high-frequency power source connected to at least one of the electrodes and applying a high-frequency electric field to the opposing region of the electrode;
A gas supply unit for supplying a gas containing a thin film forming gas to the opposing region of the electrode;
An excitation gas injection unit that injects the excited gas by exciting the gas supplied from the gas supply unit by the high-frequency electric field from the high-frequency power source under atmospheric pressure or a pressure in the vicinity thereof,
The excitation gas injection unit injects the gas excited toward a substrate facing region that moves while the cylindrical substrate is opposed by the substrate driving unit,
Atmospheric pressure plasma treatment, wherein the surface treatment of at least two cylindrical substrates is performed simultaneously by exposing the jetted gas to the cylindrical substrate that moves while facing the substrate facing region. apparatus.
前記基材対向領域の、円筒状基材の駆動方向上流側に前記励起ガス噴射部を有し、
前記基材対向領域の、円筒状基材の駆動方向下流側に、不要となったガスを排気するガス排気部を備えていることを特徴とする請求項8に記載の大気圧プラズマ処理装置。
The excitation gas injection unit is provided on the upstream side in the driving direction of the cylindrical base material in the base material facing region,
The atmospheric pressure plasma processing apparatus according to claim 8, further comprising a gas exhaust unit that exhausts unnecessary gas at a downstream side of the base material facing region in the driving direction of the cylindrical base material.
前記表面処理は少なくとも円筒状基材表面への薄膜形成を含むことを特徴とする請求項8〜9のいずれか1項に記載の大気圧プラズマ処理装置。 The atmospheric pressure plasma processing apparatus according to any one of claims 8 to 9, wherein the surface treatment includes forming a thin film on at least a cylindrical substrate surface. 前記表面処理乃至薄膜形成を行なった円筒状基材が、電子写真方式の画像形成装置に用いるエンドレスベルト状の中間転写体であることを特徴とする請求項8〜10のいずれか1項に記載の大気圧プラズマ処理装置。 The cylindrical substrate on which the surface treatment or thin film formation has been performed is an endless belt-shaped intermediate transfer member used in an electrophotographic image forming apparatus. Atmospheric pressure plasma processing equipment.
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