JP2009159800A - Abnormality protecting apparatus - Google Patents
Abnormality protecting apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009159800A JP2009159800A JP2007338627A JP2007338627A JP2009159800A JP 2009159800 A JP2009159800 A JP 2009159800A JP 2007338627 A JP2007338627 A JP 2007338627A JP 2007338627 A JP2007338627 A JP 2007338627A JP 2009159800 A JP2009159800 A JP 2009159800A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- signal
- transistor
- abnormality protection
- abnormality
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Abstract
Description
本発明は、異常温度状態や低電圧状態を監視して異常保護信号を生成する異常保護装置に関するものである。 The present invention relates to an abnormality protection device that generates an abnormality protection signal by monitoring an abnormal temperature state or a low voltage state.
図7は、異常保護装置の一従来例を示す回路図である。 FIG. 7 is a circuit diagram showing a conventional example of the abnormality protection device.
図7に示す異常保護装置は、異常温度状態を監視して第1異常保護信号(TSD信号)を生成するTSD[Thermal Shutdown]回路200と、低電圧状態を監視して第2異常保護信号(UVLO信号)を生成するUVLO[Under Voltage Lock Out]回路300と、を個別に有して成る。
7 includes a TSD [Thermal Shutdown]
ロジック回路400は、上記構成から成る異常保護装置から各々入力される異常保護信号に基づいて、所定の異常保護動作(例えば負荷の駆動停止やホストへの通報)を行う。
The
なお、温度保護回路に関連する従来技術の一例としては、特許文献1などを挙げることができる。また、低電圧保護回路に関連する従来技術の一例としては、特許文献2などを挙げることができる。
確かに、上記従来の異常保護装置であれば、異常温度状態や低電圧状態を監視して異常保護信号を生成することができるので、これを搭載したシステム(例えば、ステッピングモータドライバIC)の安全性を向上することが可能となる。 Certainly, with the above-described conventional abnormality protection device, an abnormality protection signal can be generated by monitoring an abnormal temperature state or low voltage state. Therefore, the safety of a system (for example, a stepping motor driver IC) equipped with the abnormality protection signal can be generated. It becomes possible to improve the property.
しかしながら、上記従来の異常保護装置は、TSD回路200とUVLO回路300を個別に有する構成とされていたため、装置の起動時など、電源電圧Vccが所定の閾値に達しておらず、UVLO信号が低電圧状態を示している状態であっても、TSD回路200は、不安定なまま起動されてしまい、TSD回路200の内部(図7の例では、コンパレータ204、205やラッチ回路206)では、不要な回路電流が消費されていた。
However, since the above-described conventional abnormality protection device is configured to have the
また、上記従来の異常保護装置において、TSD信号及びUVLO信号のスレッショルドレベルに各々ヒステリシスを持たせる場合には、4つのコンパレータ204、205、304、305と、2つのラッチ回路206、306を用いねばならず、非常に大きな回路面積を必要としていた。
In the above-described conventional abnormality protection device, when the threshold levels of the TSD signal and the UVLO signal are each provided with hysteresis, four
本発明は、上記の問題点に鑑み、低消費電流かつ省面積でありながら、異常温度状態と低電圧状態を監視して異常保護信号を生成することが可能な異常保護装置を提供することを目的とする。 In view of the above problems, the present invention provides an abnormality protection device capable of generating an abnormality protection signal by monitoring an abnormal temperature state and a low voltage state while having a low current consumption and a small area. Objective.
上記目的を達成すべく、本発明に係る異常保護装置は、温度に応じた第1の電圧信号を生成する温度検出部と、電源電圧に応じた第2の電圧信号を生成する低電圧検出部と、第1、第2の電圧信号の一方と所定の閾値電圧を比較して異常保護信号を生成するコンパレータと、を有して成る構成(第1の構成)とされている。 In order to achieve the above object, an abnormality protection device according to the present invention includes a temperature detection unit that generates a first voltage signal according to temperature, and a low voltage detection unit that generates a second voltage signal according to a power supply voltage. And a comparator that compares one of the first and second voltage signals with a predetermined threshold voltage to generate an abnormality protection signal (first configuration).
なお、上記第1の構成から成る異常保護装置で、前記コンパレータは、前記異常保護信号のスレッショルドレベルにヒステリシスを有する構成(第2の構成)にするとよい。 In the abnormality protection device having the first configuration, the comparator may be configured to have a hysteresis (second configuration) at a threshold level of the abnormality protection signal.
また、上記第1または第2の構成から成る異常保護装置において、前記温度検出部は、定電流が流されるダイオードのアノード電圧を第1の電圧信号として出力し、前記低電圧検出部は、前記電源電圧の分圧電圧を第2の電圧信号として出力する構成(第3の構成)にするとよい。 In the abnormality protection device having the first or second configuration, the temperature detection unit outputs an anode voltage of a diode through which a constant current flows as a first voltage signal, and the low voltage detection unit A configuration in which the divided voltage of the power supply voltage is output as the second voltage signal (third configuration) is preferable.
本発明に係る異常保護装置であれば、低消費電流かつ省面積でありながら、異常温度状態と低電圧状態を監視して異常保護信号を生成することが可能となる。 With the abnormality protection device according to the present invention, it is possible to generate an abnormality protection signal by monitoring an abnormal temperature state and a low voltage state while maintaining low current consumption and area saving.
以下では、モータドライバICの異常保護手段(温度保護手段及び低電圧保護手段)として、本発明に係る異常保護装置を用いた構成を例に挙げて、詳細な説明を行う。 In the following, a detailed description will be given by taking as an example a configuration using the abnormality protection device according to the present invention as the abnormality protection means (temperature protection means and low voltage protection means) of the motor driver IC.
図1は、本発明に係る異常保護装置を備えたモータドライバICの一実施形態を示すブロック図である。 FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a motor driver IC provided with an abnormality protection device according to the present invention.
図1に示すように、本実施形態のモータドライバIC10は、モータ20の駆動制御を行う主段であり、ロジック回路11と、プリドライバ12と、ドライバ13と、過電流保護回路14(以下では、OCP[Over Current Protection]回路14と呼ぶ)と、異常保護回路15と、を集積化して成る。
As shown in FIG. 1, the
ロジック回路11は、モータドライバICの動作を統括的に制御する主体であり、特に本発明に関連した機能としては、OCP回路14から入力される過電流保護信号S1や、異常保護回路15から入力される異常保護信号S2に基づいて、所定の異常保護動作(例えば、モータ20の駆動停止やホスト(不図示)への通報)を行う機能を具備している。
The
プリドライバ12は、ロジック回路11から入力されるプリ駆動制御信号に対してレベルシフトや波形成形を施すことで、ドライバ13の駆動制御信号を生成する手段である。
The pre-driver 12 is means for generating a drive control signal for the
ドライバ13は、プリドライバ12から入力される駆動制御信号に基づいて、モータ20を構成するコイルに駆動電流を供給する手段である。
The
OCP回路14は、モータ20のコイルに流れる駆動電流を監視して、過電流保護信号S1を生成する手段である。
The
異常保護回路15は、異常温度状態や低電圧状態を監視して異常保護信号S2を生成する手段である。なお、異常保護回路15の構成や動作については、後ほど詳述する。
The
モータドライバIC10には、上記した回路ブロックのほかにも、電源電圧Vccから所定の内部電圧VREGを生成するレギュレータや、電源電圧Vccの過電圧状態を監視する過電圧保護回路など、種々の回路ブロックが集積化されているが、図1では、説明を簡単とするために、それらの描写が省略されている。 In addition to the circuit blocks described above, the motor driver IC 10 includes various circuit blocks such as a regulator that generates a predetermined internal voltage VREG from the power supply voltage Vcc and an overvoltage protection circuit that monitors the overvoltage state of the power supply voltage Vcc. However, in FIG. 1, the depiction thereof is omitted for the sake of simplicity.
次に、異常保護回路15の構成及び動作について、詳細な説明を行う。
Next, the configuration and operation of the
図2は、異常保護回路15の一構成例を示す回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration example of the
図2に示すように、本構成例の異常保護回路15は、温度検出部151と、低電圧検出部152と、コンパレータ153と、を有して成る。
As shown in FIG. 2, the
温度検出部151は、ダイオードの温度特性(−2.0〜−2.5[mV/℃])を利用して、モータドライバIC10のジャンクション温度Tjが高いほど、その電圧レベルが低下する電圧信号Vaを生成する手段であり、定電流源I1と、ダイオードD1、D2とを有して成る。定電流源I1の一端は、内部電圧VREGの印加端に接続されている。定電流源I1の他端(定電流出力端)は、ダイオードD1のアノードに接続されている。なお、ダイオードD1のアノードは、電圧信号Vaの引出端に相当する。ダイオードD1のカソードは、ダイオードD2のアノードに接続されている。ダイオードD2のカソードは、接地端に接続されている。
The
このように、温度検出部151は、定電流が流されるダイオード(図2の例では、ダイオードD1、D2を直列接続して成るダイオード列)のアノード電圧を第1の電圧信号Vaとして出力する構成とされている。
As described above, the
低電圧検出部152は、電源電圧Vccに応じた電圧信号Vbを生成する手段であり、抵抗R1、R2を有して成る。抵抗R1の一端は、電源電圧Vccの印加端に接続されている。抵抗R1の他端は、抵抗R2の一端に接続されている。なお、抵抗R2の他端は、接地端に接続されている。なお、抵抗R1と抵抗R2との接続ノードは、電圧信号Vbの引出端に相当する。
The
このように、低電圧検出部152は、電源電圧Vccの分圧電圧を第2の電圧信号Vbとして出力する構成とされている。
As described above, the low
コンパレータ153は、第1の非反転入力端(+)に印加される電圧信号Vaと、第2の非反転入力端(+)に印加される電圧信号Vbのうち、より電圧レベルの低い方と、反転入力端(−)に印加される所定の閾値電圧Vcとを比較し、その比較結果に応じた論理の異常保護信号S2を生成する手段である。
The
なお、異常保護信号S2の論理は、電圧信号Va、Vbのうち、より電圧レベルの低い方が所定の閾値電圧Vcよりも高ければハイレベルとなり、低ければローレベルとなる。 The logic of the abnormality protection signal S2 is a high level if the lower voltage level of the voltage signals Va and Vb is higher than the predetermined threshold voltage Vc, and a low level if it is lower.
より正確に述べると、異常保護信号S2の論理は、電圧信号Va、Vbのうち、より電圧レベルの低い方が所定の閾値電圧Vc+ΔVよりも高ければハイレベルとなり、所定の閾値電圧Vc−ΔVよりも低ければローレベルとなる。 More precisely, the logic of the abnormality protection signal S2 is high when the lower voltage level of the voltage signals Va and Vb is higher than the predetermined threshold voltage Vc + ΔV, and higher than the predetermined threshold voltage Vc−ΔV. If it is too low, it becomes low level.
すなわち、コンパレータ153は、異常保護信号S2のスレッショルドレベルに所定のヒステリシス幅(±ΔV)を有する構成とされている。
That is, the
次に、上記構成から成る異常保護回路15の動作について、詳細な説明を行う。
Next, the operation of the
まず、異常保護回路15の低電圧保護動作について、図3を参照しながら説明する。
First, the low voltage protection operation of the
図3は、異常保護回路15の低電圧保護動作を説明するための図である。なお、図3の上段には、電源電圧Vccと電圧信号Va、Vb及び閾値電圧Vcとの相関関係が示されており、図3の下段には、電源電圧Vccと異常保護信号S2との相関関係が示されている。なお、図3では、モータドライバIC10のジャンクション温度Tjが定常値に維持されているものとする。
FIG. 3 is a diagram for explaining the low-voltage protection operation of the
モータドライバIC10の起動時には、まず、内部電圧VREGが最先に立ち上がり、電圧信号Va及び閾値電圧Vcが所望値に維持される。一方、電圧信号Vbについては、電源電圧Vccの立ち上がりに応じて、その電圧レベルがゼロから上昇する。
When the
すなわち、モータドライバIC10の起動時には、電圧信号Vaよりも電圧信号Vbの方がより低い電圧レベルとなるため、コンパレータ153では、電圧信号Vbと閾値電圧Vcとの比較が行われる。
That is, when the
モータドライバIC10が起動されてから、電圧信号Vbが閾値電圧Vc+ΔVに達するまで、異常保護信号S2はローレベルに維持される。このような論理の異常保護信号S2の入力を受けたロジック回路11は、モータドライバIC10が異常状態(ここでは低電圧状態)であることを認識して、モータ20の駆動制御を停止状態に維持する。
The abnormality protection signal S2 is maintained at a low level until the voltage signal Vb reaches the threshold voltage Vc + ΔV after the
電源電圧Vccの立ち上がりに応じて、電圧信号Vbが閾値電圧Vc+ΔVまで上昇すると、異常保護信号S2はローレベルからハイレベルに変遷される。このような論理の異常保護信号S2の入力を受けたロジック回路11は、モータドライバIC10が正常状態(異常温度状態や低電圧状態ではない状態)であることを認識して、モータ20の駆動制御を開始する。
When the voltage signal Vb rises to the threshold voltage Vc + ΔV in response to the rise of the power supply voltage Vcc, the abnormality protection signal S2 is changed from the low level to the high level. The
その後も、電源電圧Vccは上昇を続けて、最終的には所望値まで立ち上がる。この段階では、電圧信号Vaよりも電圧信号Vbの方が高くなるので、コンパレータ153の非反転入力信号としては、電圧信号Vaが優先される形となる。すなわち、電源電圧Vccが正常に立ち上がって以後、異常保護回路15は、低電圧保護機能から温度保護機能へと移行される。逆に言えば、電源電圧Vccの低電圧状態が解消されない限り、異常保護回路15の温度保護機能は作動しない。
Thereafter, the power supply voltage Vcc continues to rise and finally rises to a desired value. At this stage, since the voltage signal Vb is higher than the voltage signal Va, the voltage signal Va is given priority as the non-inverting input signal of the
なお、電源電圧Vccの低電圧状態が解消され、異常保護信号S2がローレベルからハイレベルに変遷されて以後は、電圧信号Vbが閾値電圧Vc−ΔVまで低下しない限り、異常保護信号S2はハイレベルに維持される。従って、電源電圧Vccが多少変動したとしても、モータドライバIC10の異常状態が誤検出されることはない。
After the low voltage state of the power supply voltage Vcc is eliminated and the abnormality protection signal S2 is changed from the low level to the high level, the abnormality protection signal S2 is high unless the voltage signal Vb is reduced to the threshold voltage Vc−ΔV. Maintained at level. Therefore, even if the power supply voltage Vcc slightly varies, the abnormal state of the
一方、電源電圧Vccの立ち下がりに伴い、電圧信号Vbが閾値電圧Vc−ΔVまで低下すると、異常保護信号S2はハイレベルからローレベルに変遷される。このような論理の異常保護信号S2の入力を受けたロジック回路11は、モータドライバIC10が異常状態(ここでは低電圧状態)に陥ったことを認識し、モータ20の駆動制御を停止する。
On the other hand, when the voltage signal Vb decreases to the threshold voltage Vc−ΔV with the fall of the power supply voltage Vcc, the abnormality protection signal S2 is changed from the high level to the low level. The
次に、異常保護回路15の温度保護動作について、図4を参照しながら説明する。
Next, the temperature protection operation of the
図4は、異常保護回路15の温度保護動作を説明するための図である。なお、図4の上段には、モータドライバIC10のジャンクション温度Tjと電圧信号Va、Vb及び閾値電圧Vcとの相関関係が示されており、図4の下段には、ジャンクション温度Tjと異常保護信号S2との相関関係が示されている。なお、図4では、電源電圧Vccが所望値に維持されているものとする。
FIG. 4 is a diagram for explaining the temperature protection operation of the
モータドライバIC10の定常時には、電源電圧Vccが所望値に維持されており、電圧信号Vbが電圧信号Vaよりも高い電圧レベルまで上昇しているため、コンパレータ153では、電圧信号Vaと閾値電圧Vcとの比較が行われる。
When the
なお、温度検出部151は、モータドライバIC10のジャンクション温度Tjが常温であれば、電圧信号Vaが閾値電圧Vcよりも高くなるように設計されている。例えば、閾値電圧Vcを1.0[V]とした場合、常温時の電圧信号Vaは、約1.4[V]となるように設計されている。
The
ジャンクション温度Tjの上昇に伴い、電圧信号Vaは所定の温度特性に従って低下していくが、電圧信号Vaが閾値電圧Vc−ΔVに達するまで、異常保護信号S2はハイレベルに維持される。このような論理の異常保護信号S2の入力を受けたロジック回路11は、モータドライバIC10が正常状態(異常温度状態や低電圧状態ではない状態)であることを認識して、モータ20の駆動制御を継続する。
As the junction temperature Tj increases, the voltage signal Va decreases according to a predetermined temperature characteristic, but the abnormality protection signal S2 is maintained at a high level until the voltage signal Va reaches the threshold voltage Vc−ΔV. The
ジャンクション温度Tjの上昇に伴い、電圧信号Vaが閾値電圧Vc−ΔVまで低下すると、異常保護信号S2はハイレベルからローレベルに変遷される。このような論理の異常保護信号S2の入力を受けたロジック回路11は、モータドライバIC10が異常状態(ここでは異常温度状態)に陥ったことを認識し、モータ20の駆動制御を停止する。
When the voltage signal Va decreases to the threshold voltage Vc−ΔV as the junction temperature Tj increases, the abnormality protection signal S2 is changed from the high level to the low level. The
異常保護信号S2がハイレベルからローレベルに変遷されて以後は、電圧信号Vaが閾値電圧Vc+ΔVまで上昇しない限り、異常保護信号S2はローレベルに維持される。従って、ジャンクション温度Tjが多少低下したとしても、モータドライバIC10の駆動制御が再開されることはない。
After the abnormality protection signal S2 is changed from the high level to the low level, the abnormality protection signal S2 is maintained at the low level unless the voltage signal Va rises to the threshold voltage Vc + ΔV. Therefore, even if the junction temperature Tj is somewhat lowered, the drive control of the
一方、ジャンクション温度Tjの低下に伴い、電圧信号Vaが閾値電圧Vc+ΔVまで上昇すると、異常保護信号S2はローレベルからハイレベルに変遷される。このような論理の異常保護信号S2の入力を受けたロジック回路11は、モータドライバIC10が正常状態(異常温度状態や低電圧状態ではない状態)に復帰したことを認識して、モータ20の駆動制御を再開する。
On the other hand, when the voltage signal Va rises to the threshold voltage Vc + ΔV as the junction temperature Tj decreases, the abnormality protection signal S2 changes from the low level to the high level. The
上記したように、本構成例の異常保護回路15であれば、異常温度状態や低電圧状態を監視して異常保護信号S2を生成することができるので、これを搭載したモータドライバIC10の安全性を向上することが可能となる。
As described above, the
また、本構成例の異常保護回路15であれば、ヒステリシス付きのコンパレータ153を1つだけ用いて、低電圧保護機能と温度保護機能の双方を実現することができるので、図7に示した従来構成と異なり、低電圧保護動作中に、温度保護動作が並行して行われることはないので、不要な回路電流が消費されることはなく、また、従来構成に比べて、その回路規模を大幅に縮小し、コストダウンを実現することが可能となる。
Further, in the case of the
次に、コンパレータ153の構成及び動作について、図5を参照しながら詳述する。
Next, the configuration and operation of the
図5は、コンパレータ153の一構成例を示す回路図である。
FIG. 5 is a circuit diagram illustrating a configuration example of the
図5に示すように、本構成例のコンパレータ153は、pnp型バイポーラトランジスタQ1〜Q3と、npn型バイポーラトランジスタQ4〜Q11と、定電流源I2〜I4と、抵抗R3〜R5と、を有して成る。
As shown in FIG. 5, the
定電流源I2の一端は、内部電圧VREGの印加端に接続されている。定電流源I2の他端(定電流Irefの出力端)は、トランジスタQ1〜Q3のエミッタにそれぞれ接続されている。トランジスタQ1のベースは、電圧信号Vaの印加端に接続されている。トランジスタQ2のベースは、電圧信号Vbの印加端に接続されている。トランジスタQ3のベースは、閾値電圧Vcの印加端に接続されている。トランジスタQ1のコレクタは、トランジスタQ7のコレクタに接続されている。トランジスタQ2のコレクタは、トランジスタQ4のコレクタに接続されている。トランジスタQ3のコレクタは、トランジスタQ5、Q6のコレクタにそれぞれ接続されている。トランジスタQ4、Q5のベースは、いずれもトランジスタQ4のコレクタに接続されている。トランジスタQ6、Q7のベースは、いずれもトランジスタQ6のコレクタに接続されている。トランジスタQ4、Q5のエミッタは、いずれも抵抗R3を介して接地端に接続されている。トランジスタQ6、Q7のエミッタは、いずれも抵抗R4を介して接地端に接続されている。トランジスタQ4、Q5のエミッタ面積比、及び、トランジスタQ6、Q7のエミッタ面積比は、それぞれ、1:nとされている。 One end of the constant current source I2 is connected to the application end of the internal voltage VREG. The other end of constant current source I2 (the output end of constant current Iref) is connected to the emitters of transistors Q1-Q3, respectively. The base of the transistor Q1 is connected to the application end of the voltage signal Va. The base of the transistor Q2 is connected to the application terminal for the voltage signal Vb. The base of the transistor Q3 is connected to the application terminal for the threshold voltage Vc. The collector of the transistor Q1 is connected to the collector of the transistor Q7. The collector of the transistor Q2 is connected to the collector of the transistor Q4. The collector of the transistor Q3 is connected to the collectors of the transistors Q5 and Q6, respectively. The bases of the transistors Q4 and Q5 are both connected to the collector of the transistor Q4. The bases of the transistors Q6 and Q7 are both connected to the collector of the transistor Q6. The emitters of the transistors Q4 and Q5 are both connected to the ground terminal via the resistor R3. The emitters of the transistors Q6 and Q7 are both connected to the ground terminal via the resistor R4. The emitter area ratio of the transistors Q4 and Q5 and the emitter area ratio of the transistors Q6 and Q7 are set to 1: n, respectively.
定電流源I3の一端は、内部電圧VREGの印加端に接続されている。定電流源I3の他端(定電流出力端)は、トランジスタQ8のコレクタに接続されている。定電流源I4の一端は、内部電圧VREGの印加端に接続されている。定電流源I4の他端(定電流出力端)は、トランジスタQ9、Q10のコレクタにそれぞれ接続されている。トランジスタQ8、Q9のベースは、いずれもトランジスタQ8のコレクタに接続されている。トランジスタQ8のエミッタは、抵抗R4の一端(電圧Veの引出端)に接続されている。トランジスタQ9のエミッタは、抵抗R3の一端(電圧Vdの引出端)に接続されている。トランジスタQ10のベースは、トランジスタQ10のコレクタに接続されている。トランジスタQ10のエミッタは、トランジスタQ11のベースに接続されている。トランジスタQ11のコレクタは、抵抗R5を介して内部電圧VREGの印加端に接続されるとともに、異常保護信号S2の引出端として、ロジック回路11(図5では不図示)にも接続されている。トランジスタQ11のエミッタは、接地端に接続されている。 One end of the constant current source I3 is connected to the application end of the internal voltage VREG. The other end (constant current output end) of the constant current source I3 is connected to the collector of the transistor Q8. One end of the constant current source I4 is connected to the application end of the internal voltage VREG. The other end (constant current output end) of the constant current source I4 is connected to the collectors of the transistors Q9 and Q10, respectively. The bases of the transistors Q8 and Q9 are both connected to the collector of the transistor Q8. The emitter of the transistor Q8 is connected to one end of the resistor R4 (the extraction end of the voltage Ve). The emitter of the transistor Q9 is connected to one end of the resistor R3 (the drawing end of the voltage Vd). The base of the transistor Q10 is connected to the collector of the transistor Q10. The emitter of the transistor Q10 is connected to the base of the transistor Q11. The collector of the transistor Q11 is connected to the application terminal of the internal voltage VREG through the resistor R5, and is also connected to the logic circuit 11 (not shown in FIG. 5) as the extraction terminal of the abnormality protection signal S2. The emitter of the transistor Q11 is connected to the ground terminal.
次に、上記構成から成るコンパレータ153の動作について、電源電圧Vccの立ち上がり時など、電圧信号Vbが電圧信号Vaよりも低い場合、すなわち、電圧信号Vbと閾値電圧Vcが比較される場合を例に挙げて説明を行う。
Next, with respect to the operation of the
電圧信号Vbが閾値電圧Vcよりも低い場合、トランジスタQ2、Q3から成る差動対においては、トランジスタQ3に流れる電流Ibよりも、トランジスタQ2に流れる電流Iaの方が大きくなる。このとき、抵抗R3の一端から引き出される電圧Vdと、抵抗R4の一端から引き出される電圧Veとの関係は、Vd>>Veとなるため、トランジスタQ8、Q9のベース・エミッタ間電圧に差違が生じ、トランジスタQ8に流れる電流よりもトランジスタQ9に流れる電流の方が大きくなるが、カレントミラーを形成するトランジスタQ8、Q9は、互いに等しい電流を流そうとするため、過剰分の電流がトランジスタQ10を介してトランジスタQ11のベースに流れ込む。その結果、トランジスタQ11がオンして、異常保護信号S2がローレベルとされる。 When the voltage signal Vb is lower than the threshold voltage Vc, in the differential pair including the transistors Q2 and Q3, the current Ia flowing through the transistor Q2 is larger than the current Ib flowing through the transistor Q3. At this time, since the relationship between the voltage Vd drawn from one end of the resistor R3 and the voltage Ve drawn from one end of the resistor R4 is Vd >> Ve, a difference occurs between the base-emitter voltages of the transistors Q8 and Q9. The current flowing through the transistor Q9 is larger than the current flowing through the transistor Q8. However, since the transistors Q8 and Q9 forming the current mirror try to pass the same current, the excess current flows through the transistor Q10. Flows into the base of the transistor Q11. As a result, the transistor Q11 is turned on and the abnormality protection signal S2 is set to the low level.
一方、電源電圧Vccの上昇に伴って、電圧信号Vbが閾値電圧Vcよりも高くなった場合、トランジスタQ2、Q3から成る差動対においては、トランジスタQ2に流れる電流Iaよりも、トランジスタQ3に流れる電流Ibの方が大きくなる。このとき、抵抗R3の一端から引き出される電圧Vdと、抵抗R4の一端から引き出される電圧Veとの関係は、Vd<Veとなるため、トランジスタQ9に流れる電流よりもトランジスタQ8に流れる電流の方が大きくなるが、カレントミラーを形成するトランジスタQ8、Q9は、互いに等しい電流を流そうとするため、不足分の電流がトランジスタQ10を介してトランジスタQ11のベースから引き込まれる。その結果、トランジスタQ11がオフして、異常保護信号S2がハイレベルとされる。 On the other hand, when the voltage signal Vb becomes higher than the threshold voltage Vc as the power supply voltage Vcc increases, in the differential pair composed of the transistors Q2 and Q3, the current flows through the transistor Q3 rather than the current Ia flowing through the transistor Q2. The current Ib is larger. At this time, since the relationship between the voltage Vd drawn from one end of the resistor R3 and the voltage Ve drawn from one end of the resistor R4 is Vd <Ve, the current flowing through the transistor Q8 is more than the current flowing through the transistor Q9. Although increased, the transistors Q8 and Q9 forming the current mirror try to pass the same current to each other, so that the insufficient current is drawn from the base of the transistor Q11 through the transistor Q10. As a result, the transistor Q11 is turned off and the abnormality protection signal S2 is set to the high level.
なお、電圧信号Vaが電圧信号Vbよりも低い場合の動作についても、上記と同様であり、上記した説明の中で、「電圧信号Vb」と記載されている箇所を「電圧信号Va」と読み替えればよい。 The operation in the case where the voltage signal Va is lower than the voltage signal Vb is the same as described above. In the above description, the place where “voltage signal Vb” is described is read as “voltage signal Va”. Just do it.
次に、コンパレータ153のヒステリシス動作について、詳細な説明を行う。
Next, the hysteresis operation of the
トランジスタQ1のベース・エミッタ間電圧VBEaがトランジスタQ3のベース・エミッタ間電圧VBEbよりも大きいときには、トランジスタQ1に流れる電流Iaが大きく、トランジスタQ3に流れる電流Ibが小さくなる。このとき、n×Ibは小さくなるので、電流Iaは、トランジスタQ4に流れる電流Icとほぼ等しくなる。 When the base-emitter voltage VBEa of the transistor Q1 is larger than the base-emitter voltage VBEb of the transistor Q3, the current Ia flowing through the transistor Q1 is large and the current Ib flowing through the transistor Q3 is small. At this time, since n × Ib becomes small, the current Ia becomes substantially equal to the current Ic flowing through the transistor Q4.
一方、トランジスタQ1のベース・エミッタ間電圧VBEaがトランジスタQ3のベース・エミッタ間電圧VBEbよりも小さいときには、トランジスタQ1に流れる電流Iaが小さく、トランジスタQ3に流れる電流Ibが大きくなる。このとき、n×Iaは小さくなるので、電流Ibは、トランジスタQ6に流れる電流Idとほぼ等しくなる。 On the other hand, when base-emitter voltage VBEa of transistor Q1 is smaller than base-emitter voltage VBEb of transistor Q3, current Ia flowing through transistor Q1 is small and current Ib flowing through transistor Q3 is large. At this time, since n × Ia becomes small, the current Ib becomes substantially equal to the current Id flowing through the transistor Q6.
以上より、Ib=n×Iaのとき、または、n×Ib=Iaのときに、差動対の両側で電流が釣り合う形となる。 From the above, when Ib = n × Ia or n × Ib = Ia, the current is balanced on both sides of the differential pair.
上記の動作について、より詳細な説明を行う。 The above operation will be described in more detail.
異常保護信号S2の論理がローレベルからハイレベルに切り替わる場合を考えると、下記の(1)式、及び、(2)式が成立する。 Considering the case where the logic of the abnormality protection signal S2 is switched from the low level to the high level, the following expressions (1) and (2) are established.
Ia≧n×Ib … (1)
Ib=Iref−Ia … (2)
Ia ≧ n × Ib (1)
Ib = Iref−Ia (2)
なお、上記の(2)式に(1)式を代入して変形すると、下記の(3)式が得られる。 If the equation (1) is substituted into the above equation (2) and modified, the following equation (3) is obtained.
Ia≧(n/n+1)×Iref … (3) Ia ≧ (n / n + 1) × Iref (3)
また、上記の(2)式に(3)式を代入して変形すると、下記の(4)式が得られる。
Ib≦(1/n+1)×Iref … (4)
Further, when the equation (3) is substituted into the above equation (2) and transformed, the following equation (4) is obtained.
Ib ≦ (1 / n + 1) × Iref (4)
電流Iaと電流Ibとの差を電圧信号Vaと閾値電圧Vcとの差(すなわち、閾値電圧Vcに対するヒステリシス幅ΔV)に換算すると、下記の(5)式が得られる。 When the difference between the current Ia and the current Ib is converted into the difference between the voltage signal Va and the threshold voltage Vc (that is, the hysteresis width ΔV with respect to the threshold voltage Vc), the following equation (5) is obtained.
ΔV=VBEb−VBEa
=VT×ln(Ia/Is)−VT×ln(Ib/Is)
=VT×ln(Ia/Ib)
=VT×ln(n) … (5)
ΔV = VBEb−VBEa
= VT * ln (Ia / Is) -VT * ln (Ib / Is)
= VT * ln (Ia / Ib)
= VT * ln (n) (5)
なお、上記実施形態では、上側のスレッショルドレベルが閾値電圧Vc+ΔVとなり、下側の下側のスレッショルドレベルが閾値電圧Vc−ΔVとなるように設計されたコンパレータ153(上下両側にヒステリシスが付与された構成)を例示して説明を行ったが、本発明の構成はこれに限定されるものではなく、上側及び下側のいずれか一方にのみヒステリシスが付与された構成を採用しても構わない。
In the above embodiment, the
また、上記の実施形態では、モータドライバICの異常保護手段として、本発明に係る異常保護装置を用いた構成を例に挙げて説明を行ったが、本発明の適用対象はこれに限定されるものではなく、例えば、大電流を取り扱うスイッチング電源ICなど、様々なICやLSIの異常保護手段として、本発明に係る異常保護装置を用いることが可能である。 In the above embodiment, the configuration using the abnormality protection device according to the present invention has been described as an example of the abnormality protection means of the motor driver IC, but the scope of application of the present invention is limited to this. For example, the abnormality protection device according to the present invention can be used as abnormality protection means for various ICs and LSIs such as a switching power supply IC that handles a large current.
また、本発明の構成は、上記実施形態のほか、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えることが可能である。 The configuration of the present invention can be variously modified within the scope of the present invention in addition to the above embodiment.
図6は、コンパレータ153の別の一構成例を示す回路図である。
FIG. 6 is a circuit diagram showing another configuration example of the
図6に示すように、本構成例のコンパレータ153は、Pチャネル型MOS[Metal Oxide Semiconductor]電界効果トランジスタP1〜P5と、Nチャネル型MOS電界効果トランジスタN1〜N7と、定電流源I5、I6と、を有して成る。
As shown in FIG. 6, the
定電流源I5の一端は、内部電圧VREGの印加端に接続されている。定電流源I5の他端(定電流出力端)は、トランジスタP1〜P3のソースにそれぞれ接続されている。トランジスタP1のゲートは、電圧信号Vaの印加端に接続されている。トランジスタP2のゲートは、電圧信号Vbの印加端に接続されている。トランジスタP3のゲートは、閾値電圧Vcの印加端に接続されている。トランジスタP1、P2のドレインは、いずれもトランジスタN1、N3のドレインにそれぞれ接続されている。トランジスタP3のドレインは、トランジスタN2、N4のドレインにそれぞれ接続されている。トランジスタN1、N2のゲートは、いずれもトランジスタN1のドレインに接続されている。トランジスタN3、N4のゲートは、いずれもトランジスタN4のドレインに接続されている。トランジスタN1〜N4のソースは、いずれも接地端に接続されている。トランジスタN1、N2のソース面積比、及び、トランジスタN3、N4のソース面積比は、それぞれ、1:nとされている。 One end of the constant current source I5 is connected to the application end of the internal voltage VREG. The other end (constant current output end) of the constant current source I5 is connected to the sources of the transistors P1 to P3, respectively. The gate of the transistor P1 is connected to the application end of the voltage signal Va. The gate of the transistor P2 is connected to the application terminal for the voltage signal Vb. The gate of the transistor P3 is connected to the application terminal for the threshold voltage Vc. The drains of the transistors P1 and P2 are both connected to the drains of the transistors N1 and N3, respectively. The drain of the transistor P3 is connected to the drains of the transistors N2 and N4, respectively. The gates of the transistors N1 and N2 are both connected to the drain of the transistor N1. The gates of the transistors N3 and N4 are both connected to the drain of the transistor N4. The sources of the transistors N1 to N4 are all connected to the ground terminal. The source area ratio of the transistors N1 and N2 and the source area ratio of the transistors N3 and N4 are set to 1: n, respectively.
トランジスタP4、P5のソースは、いずれも内部電圧VREGの印加端に接続されている。トランジスタP4、P5のゲートは、いずれもトランジスタP4のドレインに接続されている。トランジスタP4のドレインは、トランジスタN5のドレインに接続されている。トランジスタP5のドレインは、トランジスタN6のドレインに接続されている。トランジスタN5のゲートは、トランジスタN1、N3のドレインにそれぞれ接続されている。トランジスタN6のゲートは、トランジスタN2、N4のドレインにそれぞれ接続されている。トランジスタN5、N6のソースは、いずれも接地端に接続されている。定電流源I6の一端は、内部電圧VREGの印加端に接続されている。定電流源I6の他端(定電流出力端)は、トランジスタN7のドレインに接続されるとともに、異常保護信号S2の引出端として、ロジック回路11(図6では不図示)にも接続されている。トランジスタN7のゲートは、トランジスタN6のドレインに接続されている。トランジスタN7のソースは、接地端に接続されている。 The sources of the transistors P4 and P5 are both connected to the application terminal for the internal voltage VREG. The gates of the transistors P4 and P5 are both connected to the drain of the transistor P4. The drain of the transistor P4 is connected to the drain of the transistor N5. The drain of the transistor P5 is connected to the drain of the transistor N6. The gate of the transistor N5 is connected to the drains of the transistors N1 and N3, respectively. The gate of the transistor N6 is connected to the drains of the transistors N2 and N4, respectively. The sources of the transistors N5 and N6 are both connected to the ground terminal. One end of the constant current source I6 is connected to the application end of the internal voltage VREG. The other end (constant current output terminal) of the constant current source I6 is connected to the drain of the transistor N7, and is also connected to the logic circuit 11 (not shown in FIG. 6) as an extraction terminal for the abnormality protection signal S2. . The gate of the transistor N7 is connected to the drain of the transistor N6. The source of the transistor N7 is connected to the ground terminal.
このように、本構成例のコンパレータ153は、バイポーラトランジスタではなく、MOS電界効果トランジスタを用いて形成されている。
Thus, the
なお、図5で示すように、バイポーラトランジスタを用いた場合には、MOS電界効果トランジスタを用いた場合に比べて、コンパレータ153のオフセットを低減することが可能となる。一方、図6で示すように、MOS電界効果トランジスタを用いた場合には、バイポーラトランジスタを用いた場合に比べて、回路を微細化することが可能となる。
As shown in FIG. 5, when the bipolar transistor is used, the offset of the
また、コンパレータ153にヒステリシスを付与する構成についても、図5の構成に限定されることなく、いかなる構成を採用しても構わない。例えば、図6の構成(いわゆるたすき掛け回路)を採用した場合、閾値電圧Vcに対するヒステリシス幅ΔVは、図5の構成と同様、先出の(5)式で算出される値となる。
Further, the configuration for giving hysteresis to the
本発明は、異常温度状態や低電圧状態を監視して異常保護信号を生成する異常保護装置の消費電力低減と回路規模縮小を実現する上で有用な技術である。 The present invention is a technique useful in realizing power consumption reduction and circuit scale reduction of an abnormality protection device that generates an abnormality protection signal by monitoring an abnormal temperature state or a low voltage state.
10 モータドライバIC
11 ロジック回路
12 プリドライバ
13 ドライバ
14 過電流保護回路(OCP)
15 異常保護回路(UVLO+TSD)
151 温度検出部
152 低電圧検出部
153 コンパレータ
I1〜I6 定電流源
D1、D2 ダイオード
R1〜R5 抵抗
Q1〜Q3 pnp型バイポーラトランジスタ
Q4〜Q11 npn型バイポーラトランジスタ
P1〜P5 Pチャネル型MOS電界効果トランジスタ
N1〜N7 Nチャネル型MOS電界効果トランジスタ
10 Motor driver IC
11
15 Abnormal protection circuit (UVLO + TSD)
151
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007338627A JP2009159800A (en) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | Abnormality protecting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007338627A JP2009159800A (en) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | Abnormality protecting apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009159800A true JP2009159800A (en) | 2009-07-16 |
Family
ID=40963185
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007338627A Pending JP2009159800A (en) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | Abnormality protecting apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009159800A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017195654A (en) * | 2016-04-18 | 2017-10-26 | ローム株式会社 | Protection circuit self-diagnosis device and protection circuit diagnostic method |
CN111711172A (en) * | 2020-06-22 | 2020-09-25 | 电子科技大学 | Undervoltage protection circuit with ultralow power consumption |
WO2021253203A1 (en) * | 2020-06-16 | 2021-12-23 | 江苏新安电器股份有限公司 | Detection system for variable-frequency motor driver |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04273714A (en) * | 1990-11-30 | 1992-09-29 | Motorola Inc | Low-power-consumption current comparator provided with temperature coefficient of zero and with hysteresis |
JPH0766722A (en) * | 1993-08-25 | 1995-03-10 | Sony Tektronix Corp | Operation state switching device |
JPH09297165A (en) * | 1996-03-04 | 1997-11-18 | Hioki Ee Corp | Battery tester |
JP2009044297A (en) * | 2007-08-07 | 2009-02-26 | Ricoh Co Ltd | Detecting circuit, and electronic apparatus using the detecting circuit |
-
2007
- 2007-12-28 JP JP2007338627A patent/JP2009159800A/en active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04273714A (en) * | 1990-11-30 | 1992-09-29 | Motorola Inc | Low-power-consumption current comparator provided with temperature coefficient of zero and with hysteresis |
JPH0766722A (en) * | 1993-08-25 | 1995-03-10 | Sony Tektronix Corp | Operation state switching device |
JPH09297165A (en) * | 1996-03-04 | 1997-11-18 | Hioki Ee Corp | Battery tester |
JP2009044297A (en) * | 2007-08-07 | 2009-02-26 | Ricoh Co Ltd | Detecting circuit, and electronic apparatus using the detecting circuit |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017195654A (en) * | 2016-04-18 | 2017-10-26 | ローム株式会社 | Protection circuit self-diagnosis device and protection circuit diagnostic method |
WO2021253203A1 (en) * | 2020-06-16 | 2021-12-23 | 江苏新安电器股份有限公司 | Detection system for variable-frequency motor driver |
CN111711172A (en) * | 2020-06-22 | 2020-09-25 | 电子科技大学 | Undervoltage protection circuit with ultralow power consumption |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102252365B1 (en) | Overheat protection circuit and voltage regulator | |
US10168363B1 (en) | Current sensor with extended voltage range | |
US7626792B2 (en) | Power supply control apparatus including highly-reliable overcurrent detecting circuit | |
TWI435520B (en) | Method for providing over-voltage protection and circuit therefor | |
KR100703098B1 (en) | Voltage detection circuit | |
US8373957B2 (en) | Load driving circuit and protection method | |
JP5148537B2 (en) | Power supply voltage detection circuit | |
US8330406B2 (en) | Motor drive circuit | |
US20060256494A1 (en) | Overheat detecting circuit | |
JP2005333691A (en) | Overcurrent detection circuit and power supply having it | |
US9024660B2 (en) | Driving circuit with zero current shutdown and a driving method thereof | |
US20120206055A1 (en) | Light emitting diode driving apparatus | |
JP2010124032A (en) | Level shift circuit | |
JP2022044215A (en) | Semiconductor integrated circuit for power supply | |
US10291163B2 (en) | Cascode structure for linear regulators and clamps | |
JP2007087091A (en) | Overcurrent detecting circuit and circuit generating reference voltage | |
JP2009159800A (en) | Abnormality protecting apparatus | |
JP4614750B2 (en) | regulator | |
EP2733564B1 (en) | Two-wire transmitter starter circuit and two-wire transmitter including the same | |
JP2000308250A (en) | Controller and method for power supplying | |
JP2016192866A (en) | Drive device | |
US6987378B1 (en) | Over-voltage protection circuit and method therefor | |
JP3959924B2 (en) | Load drive circuit | |
KR102658159B1 (en) | Overheat protection circuit and semiconductor apparatus having the same | |
JP5759787B2 (en) | Temperature detection circuit |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20101221 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120820 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120904 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130108 |