JP2009159800A - Abnormality protecting apparatus - Google Patents

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Masanori Dobashi
正典 土橋
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an abnormality protecting apparatus which has low current consumption and a small area, monitors an abnormal temperature state and a low voltage state, and generates an abnormality protecting signal. <P>SOLUTION: An abnormality protecting circuit 15 has a temperature detector 151 to generate a voltage signal Va according to a temperature, a low-voltage detector 152 to generate a voltage signal Vb according to a power supply voltage Vcc, and a comparator 153 to generate the abnormality protecting signal S2 by comparing one of the voltage signals Va and Vb with a prescribed threshold voltage Vc. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、異常温度状態や低電圧状態を監視して異常保護信号を生成する異常保護装置に関するものである。   The present invention relates to an abnormality protection device that generates an abnormality protection signal by monitoring an abnormal temperature state or a low voltage state.

図7は、異常保護装置の一従来例を示す回路図である。   FIG. 7 is a circuit diagram showing a conventional example of the abnormality protection device.

図7に示す異常保護装置は、異常温度状態を監視して第1異常保護信号(TSD信号)を生成するTSD[Thermal Shutdown]回路200と、低電圧状態を監視して第2異常保護信号(UVLO信号)を生成するUVLO[Under Voltage Lock Out]回路300と、を個別に有して成る。   7 includes a TSD [Thermal Shutdown] circuit 200 that monitors the abnormal temperature state and generates a first abnormal protection signal (TSD signal), and the second abnormal protection signal ( And a UVLO [Under Voltage Lock Out] circuit 300 for generating a UVLO signal).

ロジック回路400は、上記構成から成る異常保護装置から各々入力される異常保護信号に基づいて、所定の異常保護動作(例えば負荷の駆動停止やホストへの通報)を行う。   The logic circuit 400 performs a predetermined abnormality protection operation (for example, stop driving of the load or reporting to the host) based on the abnormality protection signal input from the abnormality protection device having the above-described configuration.

なお、温度保護回路に関連する従来技術の一例としては、特許文献1などを挙げることができる。また、低電圧保護回路に関連する従来技術の一例としては、特許文献2などを挙げることができる。
特開2005−80349号公報 特開平10−323038号公報
As an example of the prior art related to the temperature protection circuit, Patent Document 1 can be cited. Moreover, as an example of the prior art related to the low voltage protection circuit, Patent Document 2 can be cited.
JP 2005-80349 A Japanese Patent Laid-Open No. 10-323038

確かに、上記従来の異常保護装置であれば、異常温度状態や低電圧状態を監視して異常保護信号を生成することができるので、これを搭載したシステム(例えば、ステッピングモータドライバIC)の安全性を向上することが可能となる。   Certainly, with the above-described conventional abnormality protection device, an abnormality protection signal can be generated by monitoring an abnormal temperature state or low voltage state. Therefore, the safety of a system (for example, a stepping motor driver IC) equipped with the abnormality protection signal can be generated. It becomes possible to improve the property.

しかしながら、上記従来の異常保護装置は、TSD回路200とUVLO回路300を個別に有する構成とされていたため、装置の起動時など、電源電圧Vccが所定の閾値に達しておらず、UVLO信号が低電圧状態を示している状態であっても、TSD回路200は、不安定なまま起動されてしまい、TSD回路200の内部(図7の例では、コンパレータ204、205やラッチ回路206)では、不要な回路電流が消費されていた。   However, since the above-described conventional abnormality protection device is configured to have the TSD circuit 200 and the UVLO circuit 300 separately, the power supply voltage Vcc does not reach a predetermined threshold when the device is started up, and the UVLO signal is low. Even in the state indicating the voltage state, the TSD circuit 200 is started in an unstable state and is not required inside the TSD circuit 200 (in the example of FIG. 7, the comparators 204 and 205 and the latch circuit 206). Circuit current was consumed.

また、上記従来の異常保護装置において、TSD信号及びUVLO信号のスレッショルドレベルに各々ヒステリシスを持たせる場合には、4つのコンパレータ204、205、304、305と、2つのラッチ回路206、306を用いねばならず、非常に大きな回路面積を必要としていた。   In the above-described conventional abnormality protection device, when the threshold levels of the TSD signal and the UVLO signal are each provided with hysteresis, four comparators 204, 205, 304, 305 and two latch circuits 206, 306 must be used. Rather, a very large circuit area was required.

本発明は、上記の問題点に鑑み、低消費電流かつ省面積でありながら、異常温度状態と低電圧状態を監視して異常保護信号を生成することが可能な異常保護装置を提供することを目的とする。   In view of the above problems, the present invention provides an abnormality protection device capable of generating an abnormality protection signal by monitoring an abnormal temperature state and a low voltage state while having a low current consumption and a small area. Objective.

上記目的を達成すべく、本発明に係る異常保護装置は、温度に応じた第1の電圧信号を生成する温度検出部と、電源電圧に応じた第2の電圧信号を生成する低電圧検出部と、第1、第2の電圧信号の一方と所定の閾値電圧を比較して異常保護信号を生成するコンパレータと、を有して成る構成(第1の構成)とされている。   In order to achieve the above object, an abnormality protection device according to the present invention includes a temperature detection unit that generates a first voltage signal according to temperature, and a low voltage detection unit that generates a second voltage signal according to a power supply voltage. And a comparator that compares one of the first and second voltage signals with a predetermined threshold voltage to generate an abnormality protection signal (first configuration).

なお、上記第1の構成から成る異常保護装置で、前記コンパレータは、前記異常保護信号のスレッショルドレベルにヒステリシスを有する構成(第2の構成)にするとよい。   In the abnormality protection device having the first configuration, the comparator may be configured to have a hysteresis (second configuration) at a threshold level of the abnormality protection signal.

また、上記第1または第2の構成から成る異常保護装置において、前記温度検出部は、定電流が流されるダイオードのアノード電圧を第1の電圧信号として出力し、前記低電圧検出部は、前記電源電圧の分圧電圧を第2の電圧信号として出力する構成(第3の構成)にするとよい。   In the abnormality protection device having the first or second configuration, the temperature detection unit outputs an anode voltage of a diode through which a constant current flows as a first voltage signal, and the low voltage detection unit A configuration in which the divided voltage of the power supply voltage is output as the second voltage signal (third configuration) is preferable.

本発明に係る異常保護装置であれば、低消費電流かつ省面積でありながら、異常温度状態と低電圧状態を監視して異常保護信号を生成することが可能となる。   With the abnormality protection device according to the present invention, it is possible to generate an abnormality protection signal by monitoring an abnormal temperature state and a low voltage state while maintaining low current consumption and area saving.

以下では、モータドライバICの異常保護手段(温度保護手段及び低電圧保護手段)として、本発明に係る異常保護装置を用いた構成を例に挙げて、詳細な説明を行う。   In the following, a detailed description will be given by taking as an example a configuration using the abnormality protection device according to the present invention as the abnormality protection means (temperature protection means and low voltage protection means) of the motor driver IC.

図1は、本発明に係る異常保護装置を備えたモータドライバICの一実施形態を示すブロック図である。   FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a motor driver IC provided with an abnormality protection device according to the present invention.

図1に示すように、本実施形態のモータドライバIC10は、モータ20の駆動制御を行う主段であり、ロジック回路11と、プリドライバ12と、ドライバ13と、過電流保護回路14(以下では、OCP[Over Current Protection]回路14と呼ぶ)と、異常保護回路15と、を集積化して成る。   As shown in FIG. 1, the motor driver IC 10 of the present embodiment is a main stage that performs drive control of the motor 20, and includes a logic circuit 11, a pre-driver 12, a driver 13, and an overcurrent protection circuit 14 (in the following, , OCP [Over Current Protection] circuit 14) and abnormality protection circuit 15 are integrated.

ロジック回路11は、モータドライバICの動作を統括的に制御する主体であり、特に本発明に関連した機能としては、OCP回路14から入力される過電流保護信号S1や、異常保護回路15から入力される異常保護信号S2に基づいて、所定の異常保護動作(例えば、モータ20の駆動停止やホスト(不図示)への通報)を行う機能を具備している。   The logic circuit 11 is a main body that comprehensively controls the operation of the motor driver IC. In particular, functions related to the present invention include an overcurrent protection signal S1 input from the OCP circuit 14 and an input from the abnormality protection circuit 15. On the basis of the abnormality protection signal S <b> 2, a function for performing a predetermined abnormality protection operation (for example, stopping driving of the motor 20 or reporting to a host (not shown)) is provided.

プリドライバ12は、ロジック回路11から入力されるプリ駆動制御信号に対してレベルシフトや波形成形を施すことで、ドライバ13の駆動制御信号を生成する手段である。   The pre-driver 12 is means for generating a drive control signal for the driver 13 by performing level shift and waveform shaping on the pre-drive control signal input from the logic circuit 11.

ドライバ13は、プリドライバ12から入力される駆動制御信号に基づいて、モータ20を構成するコイルに駆動電流を供給する手段である。   The driver 13 is means for supplying a drive current to the coils constituting the motor 20 based on the drive control signal input from the pre-driver 12.

OCP回路14は、モータ20のコイルに流れる駆動電流を監視して、過電流保護信号S1を生成する手段である。   The OCP circuit 14 is means for monitoring the drive current flowing through the coil of the motor 20 and generating the overcurrent protection signal S1.

異常保護回路15は、異常温度状態や低電圧状態を監視して異常保護信号S2を生成する手段である。なお、異常保護回路15の構成や動作については、後ほど詳述する。   The abnormality protection circuit 15 is means for monitoring the abnormal temperature state and the low voltage state and generating the abnormality protection signal S2. The configuration and operation of the abnormality protection circuit 15 will be described in detail later.

モータドライバIC10には、上記した回路ブロックのほかにも、電源電圧Vccから所定の内部電圧VREGを生成するレギュレータや、電源電圧Vccの過電圧状態を監視する過電圧保護回路など、種々の回路ブロックが集積化されているが、図1では、説明を簡単とするために、それらの描写が省略されている。   In addition to the circuit blocks described above, the motor driver IC 10 includes various circuit blocks such as a regulator that generates a predetermined internal voltage VREG from the power supply voltage Vcc and an overvoltage protection circuit that monitors the overvoltage state of the power supply voltage Vcc. However, in FIG. 1, the depiction thereof is omitted for the sake of simplicity.

次に、異常保護回路15の構成及び動作について、詳細な説明を行う。   Next, the configuration and operation of the abnormality protection circuit 15 will be described in detail.

図2は、異常保護回路15の一構成例を示す回路図である。   FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration example of the abnormality protection circuit 15.

図2に示すように、本構成例の異常保護回路15は、温度検出部151と、低電圧検出部152と、コンパレータ153と、を有して成る。   As shown in FIG. 2, the abnormality protection circuit 15 of this configuration example includes a temperature detection unit 151, a low voltage detection unit 152, and a comparator 153.

温度検出部151は、ダイオードの温度特性(−2.0〜−2.5[mV/℃])を利用して、モータドライバIC10のジャンクション温度Tjが高いほど、その電圧レベルが低下する電圧信号Vaを生成する手段であり、定電流源I1と、ダイオードD1、D2とを有して成る。定電流源I1の一端は、内部電圧VREGの印加端に接続されている。定電流源I1の他端(定電流出力端)は、ダイオードD1のアノードに接続されている。なお、ダイオードD1のアノードは、電圧信号Vaの引出端に相当する。ダイオードD1のカソードは、ダイオードD2のアノードに接続されている。ダイオードD2のカソードは、接地端に接続されている。   The temperature detector 151 uses a temperature characteristic of the diode (−2.0 to −2.5 [mV / ° C.]), and a voltage signal whose voltage level decreases as the junction temperature Tj of the motor driver IC 10 increases. A means for generating Va, which includes a constant current source I1 and diodes D1 and D2. One end of the constant current source I1 is connected to the application end of the internal voltage VREG. The other end (constant current output end) of the constant current source I1 is connected to the anode of the diode D1. Note that the anode of the diode D1 corresponds to the leading end of the voltage signal Va. The cathode of the diode D1 is connected to the anode of the diode D2. The cathode of the diode D2 is connected to the ground terminal.

このように、温度検出部151は、定電流が流されるダイオード(図2の例では、ダイオードD1、D2を直列接続して成るダイオード列)のアノード電圧を第1の電圧信号Vaとして出力する構成とされている。   As described above, the temperature detection unit 151 outputs the anode voltage of the diode through which a constant current flows (in the example of FIG. 2, the diode string formed by connecting the diodes D1 and D2 in series) as the first voltage signal Va. It is said that.

低電圧検出部152は、電源電圧Vccに応じた電圧信号Vbを生成する手段であり、抵抗R1、R2を有して成る。抵抗R1の一端は、電源電圧Vccの印加端に接続されている。抵抗R1の他端は、抵抗R2の一端に接続されている。なお、抵抗R2の他端は、接地端に接続されている。なお、抵抗R1と抵抗R2との接続ノードは、電圧信号Vbの引出端に相当する。   The low voltage detector 152 is a means for generating a voltage signal Vb corresponding to the power supply voltage Vcc, and includes resistors R1 and R2. One end of the resistor R1 is connected to the application end of the power supply voltage Vcc. The other end of the resistor R1 is connected to one end of the resistor R2. The other end of the resistor R2 is connected to the ground terminal. Note that a connection node between the resistor R1 and the resistor R2 corresponds to a leading end of the voltage signal Vb.

このように、低電圧検出部152は、電源電圧Vccの分圧電圧を第2の電圧信号Vbとして出力する構成とされている。   As described above, the low voltage detection unit 152 is configured to output the divided voltage of the power supply voltage Vcc as the second voltage signal Vb.

コンパレータ153は、第1の非反転入力端(+)に印加される電圧信号Vaと、第2の非反転入力端(+)に印加される電圧信号Vbのうち、より電圧レベルの低い方と、反転入力端(−)に印加される所定の閾値電圧Vcとを比較し、その比較結果に応じた論理の異常保護信号S2を生成する手段である。   The comparator 153 has a lower voltage level among the voltage signal Va applied to the first non-inverting input terminal (+) and the voltage signal Vb applied to the second non-inverting input terminal (+). This is means for comparing a predetermined threshold voltage Vc applied to the inverting input terminal (−) and generating a logical abnormality protection signal S2 according to the comparison result.

なお、異常保護信号S2の論理は、電圧信号Va、Vbのうち、より電圧レベルの低い方が所定の閾値電圧Vcよりも高ければハイレベルとなり、低ければローレベルとなる。   The logic of the abnormality protection signal S2 is a high level if the lower voltage level of the voltage signals Va and Vb is higher than the predetermined threshold voltage Vc, and a low level if it is lower.

より正確に述べると、異常保護信号S2の論理は、電圧信号Va、Vbのうち、より電圧レベルの低い方が所定の閾値電圧Vc+ΔVよりも高ければハイレベルとなり、所定の閾値電圧Vc−ΔVよりも低ければローレベルとなる。   More precisely, the logic of the abnormality protection signal S2 is high when the lower voltage level of the voltage signals Va and Vb is higher than the predetermined threshold voltage Vc + ΔV, and higher than the predetermined threshold voltage Vc−ΔV. If it is too low, it becomes low level.

すなわち、コンパレータ153は、異常保護信号S2のスレッショルドレベルに所定のヒステリシス幅(±ΔV)を有する構成とされている。   That is, the comparator 153 is configured to have a predetermined hysteresis width (± ΔV) at the threshold level of the abnormality protection signal S2.

次に、上記構成から成る異常保護回路15の動作について、詳細な説明を行う。   Next, the operation of the abnormality protection circuit 15 having the above configuration will be described in detail.

まず、異常保護回路15の低電圧保護動作について、図3を参照しながら説明する。   First, the low voltage protection operation of the abnormality protection circuit 15 will be described with reference to FIG.

図3は、異常保護回路15の低電圧保護動作を説明するための図である。なお、図3の上段には、電源電圧Vccと電圧信号Va、Vb及び閾値電圧Vcとの相関関係が示されており、図3の下段には、電源電圧Vccと異常保護信号S2との相関関係が示されている。なお、図3では、モータドライバIC10のジャンクション温度Tjが定常値に維持されているものとする。   FIG. 3 is a diagram for explaining the low-voltage protection operation of the abnormality protection circuit 15. 3 shows the correlation between the power supply voltage Vcc, the voltage signals Va and Vb, and the threshold voltage Vc. The lower part of FIG. 3 shows the correlation between the power supply voltage Vcc and the abnormality protection signal S2. The relationship is shown. In FIG. 3, it is assumed that the junction temperature Tj of the motor driver IC 10 is maintained at a steady value.

モータドライバIC10の起動時には、まず、内部電圧VREGが最先に立ち上がり、電圧信号Va及び閾値電圧Vcが所望値に維持される。一方、電圧信号Vbについては、電源電圧Vccの立ち上がりに応じて、その電圧レベルがゼロから上昇する。   When the motor driver IC 10 is started, first, the internal voltage VREG rises first, and the voltage signal Va and the threshold voltage Vc are maintained at desired values. On the other hand, the voltage level of voltage signal Vb rises from zero in response to the rise of power supply voltage Vcc.

すなわち、モータドライバIC10の起動時には、電圧信号Vaよりも電圧信号Vbの方がより低い電圧レベルとなるため、コンパレータ153では、電圧信号Vbと閾値電圧Vcとの比較が行われる。   That is, when the motor driver IC 10 is started up, the voltage signal Vb has a lower voltage level than the voltage signal Va, and therefore the comparator 153 compares the voltage signal Vb with the threshold voltage Vc.

モータドライバIC10が起動されてから、電圧信号Vbが閾値電圧Vc+ΔVに達するまで、異常保護信号S2はローレベルに維持される。このような論理の異常保護信号S2の入力を受けたロジック回路11は、モータドライバIC10が異常状態(ここでは低電圧状態)であることを認識して、モータ20の駆動制御を停止状態に維持する。   The abnormality protection signal S2 is maintained at a low level until the voltage signal Vb reaches the threshold voltage Vc + ΔV after the motor driver IC 10 is activated. The logic circuit 11 receiving the logic abnormality protection signal S2 recognizes that the motor driver IC 10 is in an abnormal state (here, a low voltage state), and maintains the drive control of the motor 20 in a stopped state. To do.

電源電圧Vccの立ち上がりに応じて、電圧信号Vbが閾値電圧Vc+ΔVまで上昇すると、異常保護信号S2はローレベルからハイレベルに変遷される。このような論理の異常保護信号S2の入力を受けたロジック回路11は、モータドライバIC10が正常状態(異常温度状態や低電圧状態ではない状態)であることを認識して、モータ20の駆動制御を開始する。   When the voltage signal Vb rises to the threshold voltage Vc + ΔV in response to the rise of the power supply voltage Vcc, the abnormality protection signal S2 is changed from the low level to the high level. The logic circuit 11 receiving the logic abnormality protection signal S2 recognizes that the motor driver IC 10 is in a normal state (not in an abnormal temperature state or a low voltage state), and controls the drive of the motor 20. To start.

その後も、電源電圧Vccは上昇を続けて、最終的には所望値まで立ち上がる。この段階では、電圧信号Vaよりも電圧信号Vbの方が高くなるので、コンパレータ153の非反転入力信号としては、電圧信号Vaが優先される形となる。すなわち、電源電圧Vccが正常に立ち上がって以後、異常保護回路15は、低電圧保護機能から温度保護機能へと移行される。逆に言えば、電源電圧Vccの低電圧状態が解消されない限り、異常保護回路15の温度保護機能は作動しない。   Thereafter, the power supply voltage Vcc continues to rise and finally rises to a desired value. At this stage, since the voltage signal Vb is higher than the voltage signal Va, the voltage signal Va is given priority as the non-inverting input signal of the comparator 153. That is, after the power supply voltage Vcc rises normally, the abnormality protection circuit 15 is shifted from the low voltage protection function to the temperature protection function. In other words, the temperature protection function of the abnormality protection circuit 15 does not operate unless the low voltage state of the power supply voltage Vcc is resolved.

なお、電源電圧Vccの低電圧状態が解消され、異常保護信号S2がローレベルからハイレベルに変遷されて以後は、電圧信号Vbが閾値電圧Vc−ΔVまで低下しない限り、異常保護信号S2はハイレベルに維持される。従って、電源電圧Vccが多少変動したとしても、モータドライバIC10の異常状態が誤検出されることはない。   After the low voltage state of the power supply voltage Vcc is eliminated and the abnormality protection signal S2 is changed from the low level to the high level, the abnormality protection signal S2 is high unless the voltage signal Vb is reduced to the threshold voltage Vc−ΔV. Maintained at level. Therefore, even if the power supply voltage Vcc slightly varies, the abnormal state of the motor driver IC 10 is not erroneously detected.

一方、電源電圧Vccの立ち下がりに伴い、電圧信号Vbが閾値電圧Vc−ΔVまで低下すると、異常保護信号S2はハイレベルからローレベルに変遷される。このような論理の異常保護信号S2の入力を受けたロジック回路11は、モータドライバIC10が異常状態(ここでは低電圧状態)に陥ったことを認識し、モータ20の駆動制御を停止する。   On the other hand, when the voltage signal Vb decreases to the threshold voltage Vc−ΔV with the fall of the power supply voltage Vcc, the abnormality protection signal S2 is changed from the high level to the low level. The logic circuit 11 receiving the logic abnormality protection signal S2 recognizes that the motor driver IC 10 has entered an abnormal state (here, a low voltage state), and stops driving control of the motor 20.

次に、異常保護回路15の温度保護動作について、図4を参照しながら説明する。   Next, the temperature protection operation of the abnormality protection circuit 15 will be described with reference to FIG.

図4は、異常保護回路15の温度保護動作を説明するための図である。なお、図4の上段には、モータドライバIC10のジャンクション温度Tjと電圧信号Va、Vb及び閾値電圧Vcとの相関関係が示されており、図4の下段には、ジャンクション温度Tjと異常保護信号S2との相関関係が示されている。なお、図4では、電源電圧Vccが所望値に維持されているものとする。   FIG. 4 is a diagram for explaining the temperature protection operation of the abnormality protection circuit 15. 4 shows the correlation between the junction temperature Tj of the motor driver IC 10 and the voltage signals Va and Vb and the threshold voltage Vc. The lower part of FIG. 4 shows the junction temperature Tj and the abnormality protection signal. The correlation with S2 is shown. In FIG. 4, it is assumed that the power supply voltage Vcc is maintained at a desired value.

モータドライバIC10の定常時には、電源電圧Vccが所望値に維持されており、電圧信号Vbが電圧信号Vaよりも高い電圧レベルまで上昇しているため、コンパレータ153では、電圧信号Vaと閾値電圧Vcとの比較が行われる。   When the motor driver IC 10 is in a steady state, the power supply voltage Vcc is maintained at a desired value, and the voltage signal Vb has risen to a voltage level higher than the voltage signal Va. Therefore, the comparator 153 generates the voltage signal Va and the threshold voltage Vc. A comparison is made.

なお、温度検出部151は、モータドライバIC10のジャンクション温度Tjが常温であれば、電圧信号Vaが閾値電圧Vcよりも高くなるように設計されている。例えば、閾値電圧Vcを1.0[V]とした場合、常温時の電圧信号Vaは、約1.4[V]となるように設計されている。   The temperature detection unit 151 is designed so that the voltage signal Va is higher than the threshold voltage Vc when the junction temperature Tj of the motor driver IC 10 is normal temperature. For example, when the threshold voltage Vc is 1.0 [V], the voltage signal Va at normal temperature is designed to be about 1.4 [V].

ジャンクション温度Tjの上昇に伴い、電圧信号Vaは所定の温度特性に従って低下していくが、電圧信号Vaが閾値電圧Vc−ΔVに達するまで、異常保護信号S2はハイレベルに維持される。このような論理の異常保護信号S2の入力を受けたロジック回路11は、モータドライバIC10が正常状態(異常温度状態や低電圧状態ではない状態)であることを認識して、モータ20の駆動制御を継続する。   As the junction temperature Tj increases, the voltage signal Va decreases according to a predetermined temperature characteristic, but the abnormality protection signal S2 is maintained at a high level until the voltage signal Va reaches the threshold voltage Vc−ΔV. The logic circuit 11 receiving the logic abnormality protection signal S2 recognizes that the motor driver IC 10 is in a normal state (not in an abnormal temperature state or a low voltage state), and controls the drive of the motor 20. Continue.

ジャンクション温度Tjの上昇に伴い、電圧信号Vaが閾値電圧Vc−ΔVまで低下すると、異常保護信号S2はハイレベルからローレベルに変遷される。このような論理の異常保護信号S2の入力を受けたロジック回路11は、モータドライバIC10が異常状態(ここでは異常温度状態)に陥ったことを認識し、モータ20の駆動制御を停止する。   When the voltage signal Va decreases to the threshold voltage Vc−ΔV as the junction temperature Tj increases, the abnormality protection signal S2 is changed from the high level to the low level. The logic circuit 11 receiving the logic abnormality protection signal S2 recognizes that the motor driver IC 10 has entered an abnormal state (in this case, an abnormal temperature state), and stops driving control of the motor 20.

異常保護信号S2がハイレベルからローレベルに変遷されて以後は、電圧信号Vaが閾値電圧Vc+ΔVまで上昇しない限り、異常保護信号S2はローレベルに維持される。従って、ジャンクション温度Tjが多少低下したとしても、モータドライバIC10の駆動制御が再開されることはない。   After the abnormality protection signal S2 is changed from the high level to the low level, the abnormality protection signal S2 is maintained at the low level unless the voltage signal Va rises to the threshold voltage Vc + ΔV. Therefore, even if the junction temperature Tj is somewhat lowered, the drive control of the motor driver IC 10 is not resumed.

一方、ジャンクション温度Tjの低下に伴い、電圧信号Vaが閾値電圧Vc+ΔVまで上昇すると、異常保護信号S2はローレベルからハイレベルに変遷される。このような論理の異常保護信号S2の入力を受けたロジック回路11は、モータドライバIC10が正常状態(異常温度状態や低電圧状態ではない状態)に復帰したことを認識して、モータ20の駆動制御を再開する。   On the other hand, when the voltage signal Va rises to the threshold voltage Vc + ΔV as the junction temperature Tj decreases, the abnormality protection signal S2 changes from the low level to the high level. The logic circuit 11 receiving the logic abnormality protection signal S2 recognizes that the motor driver IC 10 has returned to a normal state (not an abnormal temperature state or a low voltage state), and drives the motor 20. Resume control.

上記したように、本構成例の異常保護回路15であれば、異常温度状態や低電圧状態を監視して異常保護信号S2を生成することができるので、これを搭載したモータドライバIC10の安全性を向上することが可能となる。   As described above, the abnormality protection circuit 15 of the present configuration example can monitor the abnormal temperature state and low voltage state and generate the abnormality protection signal S2, so that the safety of the motor driver IC 10 equipped with the abnormality protection signal S2 is improved. Can be improved.

また、本構成例の異常保護回路15であれば、ヒステリシス付きのコンパレータ153を1つだけ用いて、低電圧保護機能と温度保護機能の双方を実現することができるので、図7に示した従来構成と異なり、低電圧保護動作中に、温度保護動作が並行して行われることはないので、不要な回路電流が消費されることはなく、また、従来構成に比べて、その回路規模を大幅に縮小し、コストダウンを実現することが可能となる。   Further, in the case of the abnormality protection circuit 15 of this configuration example, both the low voltage protection function and the temperature protection function can be realized by using only one comparator 153 with hysteresis, so that the conventional circuit shown in FIG. Unlike the configuration, the temperature protection operation is not performed in parallel during the low-voltage protection operation, so unnecessary circuit current is not consumed and the circuit scale is greatly increased compared to the conventional configuration. It is possible to reduce the cost to realize cost reduction.

次に、コンパレータ153の構成及び動作について、図5を参照しながら詳述する。   Next, the configuration and operation of the comparator 153 will be described in detail with reference to FIG.

図5は、コンパレータ153の一構成例を示す回路図である。   FIG. 5 is a circuit diagram illustrating a configuration example of the comparator 153.

図5に示すように、本構成例のコンパレータ153は、pnp型バイポーラトランジスタQ1〜Q3と、npn型バイポーラトランジスタQ4〜Q11と、定電流源I2〜I4と、抵抗R3〜R5と、を有して成る。   As shown in FIG. 5, the comparator 153 of this configuration example includes pnp bipolar transistors Q1 to Q3, npn bipolar transistors Q4 to Q11, constant current sources I2 to I4, and resistors R3 to R5. It consists of

定電流源I2の一端は、内部電圧VREGの印加端に接続されている。定電流源I2の他端(定電流Irefの出力端)は、トランジスタQ1〜Q3のエミッタにそれぞれ接続されている。トランジスタQ1のベースは、電圧信号Vaの印加端に接続されている。トランジスタQ2のベースは、電圧信号Vbの印加端に接続されている。トランジスタQ3のベースは、閾値電圧Vcの印加端に接続されている。トランジスタQ1のコレクタは、トランジスタQ7のコレクタに接続されている。トランジスタQ2のコレクタは、トランジスタQ4のコレクタに接続されている。トランジスタQ3のコレクタは、トランジスタQ5、Q6のコレクタにそれぞれ接続されている。トランジスタQ4、Q5のベースは、いずれもトランジスタQ4のコレクタに接続されている。トランジスタQ6、Q7のベースは、いずれもトランジスタQ6のコレクタに接続されている。トランジスタQ4、Q5のエミッタは、いずれも抵抗R3を介して接地端に接続されている。トランジスタQ6、Q7のエミッタは、いずれも抵抗R4を介して接地端に接続されている。トランジスタQ4、Q5のエミッタ面積比、及び、トランジスタQ6、Q7のエミッタ面積比は、それぞれ、1:nとされている。   One end of the constant current source I2 is connected to the application end of the internal voltage VREG. The other end of constant current source I2 (the output end of constant current Iref) is connected to the emitters of transistors Q1-Q3, respectively. The base of the transistor Q1 is connected to the application end of the voltage signal Va. The base of the transistor Q2 is connected to the application terminal for the voltage signal Vb. The base of the transistor Q3 is connected to the application terminal for the threshold voltage Vc. The collector of the transistor Q1 is connected to the collector of the transistor Q7. The collector of the transistor Q2 is connected to the collector of the transistor Q4. The collector of the transistor Q3 is connected to the collectors of the transistors Q5 and Q6, respectively. The bases of the transistors Q4 and Q5 are both connected to the collector of the transistor Q4. The bases of the transistors Q6 and Q7 are both connected to the collector of the transistor Q6. The emitters of the transistors Q4 and Q5 are both connected to the ground terminal via the resistor R3. The emitters of the transistors Q6 and Q7 are both connected to the ground terminal via the resistor R4. The emitter area ratio of the transistors Q4 and Q5 and the emitter area ratio of the transistors Q6 and Q7 are set to 1: n, respectively.

定電流源I3の一端は、内部電圧VREGの印加端に接続されている。定電流源I3の他端(定電流出力端)は、トランジスタQ8のコレクタに接続されている。定電流源I4の一端は、内部電圧VREGの印加端に接続されている。定電流源I4の他端(定電流出力端)は、トランジスタQ9、Q10のコレクタにそれぞれ接続されている。トランジスタQ8、Q9のベースは、いずれもトランジスタQ8のコレクタに接続されている。トランジスタQ8のエミッタは、抵抗R4の一端(電圧Veの引出端)に接続されている。トランジスタQ9のエミッタは、抵抗R3の一端(電圧Vdの引出端)に接続されている。トランジスタQ10のベースは、トランジスタQ10のコレクタに接続されている。トランジスタQ10のエミッタは、トランジスタQ11のベースに接続されている。トランジスタQ11のコレクタは、抵抗R5を介して内部電圧VREGの印加端に接続されるとともに、異常保護信号S2の引出端として、ロジック回路11(図5では不図示)にも接続されている。トランジスタQ11のエミッタは、接地端に接続されている。   One end of the constant current source I3 is connected to the application end of the internal voltage VREG. The other end (constant current output end) of the constant current source I3 is connected to the collector of the transistor Q8. One end of the constant current source I4 is connected to the application end of the internal voltage VREG. The other end (constant current output end) of the constant current source I4 is connected to the collectors of the transistors Q9 and Q10, respectively. The bases of the transistors Q8 and Q9 are both connected to the collector of the transistor Q8. The emitter of the transistor Q8 is connected to one end of the resistor R4 (the extraction end of the voltage Ve). The emitter of the transistor Q9 is connected to one end of the resistor R3 (the drawing end of the voltage Vd). The base of the transistor Q10 is connected to the collector of the transistor Q10. The emitter of the transistor Q10 is connected to the base of the transistor Q11. The collector of the transistor Q11 is connected to the application terminal of the internal voltage VREG through the resistor R5, and is also connected to the logic circuit 11 (not shown in FIG. 5) as the extraction terminal of the abnormality protection signal S2. The emitter of the transistor Q11 is connected to the ground terminal.

次に、上記構成から成るコンパレータ153の動作について、電源電圧Vccの立ち上がり時など、電圧信号Vbが電圧信号Vaよりも低い場合、すなわち、電圧信号Vbと閾値電圧Vcが比較される場合を例に挙げて説明を行う。   Next, with respect to the operation of the comparator 153 having the above-described configuration, as an example, when the voltage signal Vb is lower than the voltage signal Va, such as when the power supply voltage Vcc rises, that is, when the voltage signal Vb and the threshold voltage Vc are compared. Give a description.

電圧信号Vbが閾値電圧Vcよりも低い場合、トランジスタQ2、Q3から成る差動対においては、トランジスタQ3に流れる電流Ibよりも、トランジスタQ2に流れる電流Iaの方が大きくなる。このとき、抵抗R3の一端から引き出される電圧Vdと、抵抗R4の一端から引き出される電圧Veとの関係は、Vd>>Veとなるため、トランジスタQ8、Q9のベース・エミッタ間電圧に差違が生じ、トランジスタQ8に流れる電流よりもトランジスタQ9に流れる電流の方が大きくなるが、カレントミラーを形成するトランジスタQ8、Q9は、互いに等しい電流を流そうとするため、過剰分の電流がトランジスタQ10を介してトランジスタQ11のベースに流れ込む。その結果、トランジスタQ11がオンして、異常保護信号S2がローレベルとされる。   When the voltage signal Vb is lower than the threshold voltage Vc, in the differential pair including the transistors Q2 and Q3, the current Ia flowing through the transistor Q2 is larger than the current Ib flowing through the transistor Q3. At this time, since the relationship between the voltage Vd drawn from one end of the resistor R3 and the voltage Ve drawn from one end of the resistor R4 is Vd >> Ve, a difference occurs between the base-emitter voltages of the transistors Q8 and Q9. The current flowing through the transistor Q9 is larger than the current flowing through the transistor Q8. However, since the transistors Q8 and Q9 forming the current mirror try to pass the same current, the excess current flows through the transistor Q10. Flows into the base of the transistor Q11. As a result, the transistor Q11 is turned on and the abnormality protection signal S2 is set to the low level.

一方、電源電圧Vccの上昇に伴って、電圧信号Vbが閾値電圧Vcよりも高くなった場合、トランジスタQ2、Q3から成る差動対においては、トランジスタQ2に流れる電流Iaよりも、トランジスタQ3に流れる電流Ibの方が大きくなる。このとき、抵抗R3の一端から引き出される電圧Vdと、抵抗R4の一端から引き出される電圧Veとの関係は、Vd<Veとなるため、トランジスタQ9に流れる電流よりもトランジスタQ8に流れる電流の方が大きくなるが、カレントミラーを形成するトランジスタQ8、Q9は、互いに等しい電流を流そうとするため、不足分の電流がトランジスタQ10を介してトランジスタQ11のベースから引き込まれる。その結果、トランジスタQ11がオフして、異常保護信号S2がハイレベルとされる。   On the other hand, when the voltage signal Vb becomes higher than the threshold voltage Vc as the power supply voltage Vcc increases, in the differential pair composed of the transistors Q2 and Q3, the current flows through the transistor Q3 rather than the current Ia flowing through the transistor Q2. The current Ib is larger. At this time, since the relationship between the voltage Vd drawn from one end of the resistor R3 and the voltage Ve drawn from one end of the resistor R4 is Vd <Ve, the current flowing through the transistor Q8 is more than the current flowing through the transistor Q9. Although increased, the transistors Q8 and Q9 forming the current mirror try to pass the same current to each other, so that the insufficient current is drawn from the base of the transistor Q11 through the transistor Q10. As a result, the transistor Q11 is turned off and the abnormality protection signal S2 is set to the high level.

なお、電圧信号Vaが電圧信号Vbよりも低い場合の動作についても、上記と同様であり、上記した説明の中で、「電圧信号Vb」と記載されている箇所を「電圧信号Va」と読み替えればよい。   The operation in the case where the voltage signal Va is lower than the voltage signal Vb is the same as described above. In the above description, the place where “voltage signal Vb” is described is read as “voltage signal Va”. Just do it.

次に、コンパレータ153のヒステリシス動作について、詳細な説明を行う。   Next, the hysteresis operation of the comparator 153 will be described in detail.

トランジスタQ1のベース・エミッタ間電圧VBEaがトランジスタQ3のベース・エミッタ間電圧VBEbよりも大きいときには、トランジスタQ1に流れる電流Iaが大きく、トランジスタQ3に流れる電流Ibが小さくなる。このとき、n×Ibは小さくなるので、電流Iaは、トランジスタQ4に流れる電流Icとほぼ等しくなる。   When the base-emitter voltage VBEa of the transistor Q1 is larger than the base-emitter voltage VBEb of the transistor Q3, the current Ia flowing through the transistor Q1 is large and the current Ib flowing through the transistor Q3 is small. At this time, since n × Ib becomes small, the current Ia becomes substantially equal to the current Ic flowing through the transistor Q4.

一方、トランジスタQ1のベース・エミッタ間電圧VBEaがトランジスタQ3のベース・エミッタ間電圧VBEbよりも小さいときには、トランジスタQ1に流れる電流Iaが小さく、トランジスタQ3に流れる電流Ibが大きくなる。このとき、n×Iaは小さくなるので、電流Ibは、トランジスタQ6に流れる電流Idとほぼ等しくなる。   On the other hand, when base-emitter voltage VBEa of transistor Q1 is smaller than base-emitter voltage VBEb of transistor Q3, current Ia flowing through transistor Q1 is small and current Ib flowing through transistor Q3 is large. At this time, since n × Ia becomes small, the current Ib becomes substantially equal to the current Id flowing through the transistor Q6.

以上より、Ib=n×Iaのとき、または、n×Ib=Iaのときに、差動対の両側で電流が釣り合う形となる。   From the above, when Ib = n × Ia or n × Ib = Ia, the current is balanced on both sides of the differential pair.

上記の動作について、より詳細な説明を行う。   The above operation will be described in more detail.

異常保護信号S2の論理がローレベルからハイレベルに切り替わる場合を考えると、下記の(1)式、及び、(2)式が成立する。   Considering the case where the logic of the abnormality protection signal S2 is switched from the low level to the high level, the following expressions (1) and (2) are established.

Ia≧n×Ib … (1)
Ib=Iref−Ia … (2)
Ia ≧ n × Ib (1)
Ib = Iref−Ia (2)

なお、上記の(2)式に(1)式を代入して変形すると、下記の(3)式が得られる。   If the equation (1) is substituted into the above equation (2) and modified, the following equation (3) is obtained.

Ia≧(n/n+1)×Iref … (3)   Ia ≧ (n / n + 1) × Iref (3)

また、上記の(2)式に(3)式を代入して変形すると、下記の(4)式が得られる。
Ib≦(1/n+1)×Iref … (4)
Further, when the equation (3) is substituted into the above equation (2) and transformed, the following equation (4) is obtained.
Ib ≦ (1 / n + 1) × Iref (4)

電流Iaと電流Ibとの差を電圧信号Vaと閾値電圧Vcとの差(すなわち、閾値電圧Vcに対するヒステリシス幅ΔV)に換算すると、下記の(5)式が得られる。   When the difference between the current Ia and the current Ib is converted into the difference between the voltage signal Va and the threshold voltage Vc (that is, the hysteresis width ΔV with respect to the threshold voltage Vc), the following equation (5) is obtained.

ΔV=VBEb−VBEa
=VT×ln(Ia/Is)−VT×ln(Ib/Is)
=VT×ln(Ia/Ib)
=VT×ln(n) … (5)
ΔV = VBEb−VBEa
= VT * ln (Ia / Is) -VT * ln (Ib / Is)
= VT * ln (Ia / Ib)
= VT * ln (n) (5)

なお、上記実施形態では、上側のスレッショルドレベルが閾値電圧Vc+ΔVとなり、下側の下側のスレッショルドレベルが閾値電圧Vc−ΔVとなるように設計されたコンパレータ153(上下両側にヒステリシスが付与された構成)を例示して説明を行ったが、本発明の構成はこれに限定されるものではなく、上側及び下側のいずれか一方にのみヒステリシスが付与された構成を採用しても構わない。   In the above embodiment, the comparator 153 is designed so that the upper threshold level is the threshold voltage Vc + ΔV and the lower lower threshold level is the threshold voltage Vc−ΔV (a configuration in which hysteresis is applied to both the upper and lower sides). However, the configuration of the present invention is not limited to this, and a configuration in which hysteresis is given only to either the upper side or the lower side may be adopted.

また、上記の実施形態では、モータドライバICの異常保護手段として、本発明に係る異常保護装置を用いた構成を例に挙げて説明を行ったが、本発明の適用対象はこれに限定されるものではなく、例えば、大電流を取り扱うスイッチング電源ICなど、様々なICやLSIの異常保護手段として、本発明に係る異常保護装置を用いることが可能である。   In the above embodiment, the configuration using the abnormality protection device according to the present invention has been described as an example of the abnormality protection means of the motor driver IC, but the scope of application of the present invention is limited to this. For example, the abnormality protection device according to the present invention can be used as abnormality protection means for various ICs and LSIs such as a switching power supply IC that handles a large current.

また、本発明の構成は、上記実施形態のほか、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えることが可能である。   The configuration of the present invention can be variously modified within the scope of the present invention in addition to the above embodiment.

図6は、コンパレータ153の別の一構成例を示す回路図である。   FIG. 6 is a circuit diagram showing another configuration example of the comparator 153.

図6に示すように、本構成例のコンパレータ153は、Pチャネル型MOS[Metal Oxide Semiconductor]電界効果トランジスタP1〜P5と、Nチャネル型MOS電界効果トランジスタN1〜N7と、定電流源I5、I6と、を有して成る。   As shown in FIG. 6, the comparator 153 of this configuration example includes P-channel MOS [Metal Oxide Semiconductor] field effect transistors P1 to P5, N-channel MOS field effect transistors N1 to N7, and constant current sources I5 and I6. And comprising.

定電流源I5の一端は、内部電圧VREGの印加端に接続されている。定電流源I5の他端(定電流出力端)は、トランジスタP1〜P3のソースにそれぞれ接続されている。トランジスタP1のゲートは、電圧信号Vaの印加端に接続されている。トランジスタP2のゲートは、電圧信号Vbの印加端に接続されている。トランジスタP3のゲートは、閾値電圧Vcの印加端に接続されている。トランジスタP1、P2のドレインは、いずれもトランジスタN1、N3のドレインにそれぞれ接続されている。トランジスタP3のドレインは、トランジスタN2、N4のドレインにそれぞれ接続されている。トランジスタN1、N2のゲートは、いずれもトランジスタN1のドレインに接続されている。トランジスタN3、N4のゲートは、いずれもトランジスタN4のドレインに接続されている。トランジスタN1〜N4のソースは、いずれも接地端に接続されている。トランジスタN1、N2のソース面積比、及び、トランジスタN3、N4のソース面積比は、それぞれ、1:nとされている。   One end of the constant current source I5 is connected to the application end of the internal voltage VREG. The other end (constant current output end) of the constant current source I5 is connected to the sources of the transistors P1 to P3, respectively. The gate of the transistor P1 is connected to the application end of the voltage signal Va. The gate of the transistor P2 is connected to the application terminal for the voltage signal Vb. The gate of the transistor P3 is connected to the application terminal for the threshold voltage Vc. The drains of the transistors P1 and P2 are both connected to the drains of the transistors N1 and N3, respectively. The drain of the transistor P3 is connected to the drains of the transistors N2 and N4, respectively. The gates of the transistors N1 and N2 are both connected to the drain of the transistor N1. The gates of the transistors N3 and N4 are both connected to the drain of the transistor N4. The sources of the transistors N1 to N4 are all connected to the ground terminal. The source area ratio of the transistors N1 and N2 and the source area ratio of the transistors N3 and N4 are set to 1: n, respectively.

トランジスタP4、P5のソースは、いずれも内部電圧VREGの印加端に接続されている。トランジスタP4、P5のゲートは、いずれもトランジスタP4のドレインに接続されている。トランジスタP4のドレインは、トランジスタN5のドレインに接続されている。トランジスタP5のドレインは、トランジスタN6のドレインに接続されている。トランジスタN5のゲートは、トランジスタN1、N3のドレインにそれぞれ接続されている。トランジスタN6のゲートは、トランジスタN2、N4のドレインにそれぞれ接続されている。トランジスタN5、N6のソースは、いずれも接地端に接続されている。定電流源I6の一端は、内部電圧VREGの印加端に接続されている。定電流源I6の他端(定電流出力端)は、トランジスタN7のドレインに接続されるとともに、異常保護信号S2の引出端として、ロジック回路11(図6では不図示)にも接続されている。トランジスタN7のゲートは、トランジスタN6のドレインに接続されている。トランジスタN7のソースは、接地端に接続されている。   The sources of the transistors P4 and P5 are both connected to the application terminal for the internal voltage VREG. The gates of the transistors P4 and P5 are both connected to the drain of the transistor P4. The drain of the transistor P4 is connected to the drain of the transistor N5. The drain of the transistor P5 is connected to the drain of the transistor N6. The gate of the transistor N5 is connected to the drains of the transistors N1 and N3, respectively. The gate of the transistor N6 is connected to the drains of the transistors N2 and N4, respectively. The sources of the transistors N5 and N6 are both connected to the ground terminal. One end of the constant current source I6 is connected to the application end of the internal voltage VREG. The other end (constant current output terminal) of the constant current source I6 is connected to the drain of the transistor N7, and is also connected to the logic circuit 11 (not shown in FIG. 6) as an extraction terminal for the abnormality protection signal S2. . The gate of the transistor N7 is connected to the drain of the transistor N6. The source of the transistor N7 is connected to the ground terminal.

このように、本構成例のコンパレータ153は、バイポーラトランジスタではなく、MOS電界効果トランジスタを用いて形成されている。   Thus, the comparator 153 of this configuration example is formed using a MOS field effect transistor instead of a bipolar transistor.

なお、図5で示すように、バイポーラトランジスタを用いた場合には、MOS電界効果トランジスタを用いた場合に比べて、コンパレータ153のオフセットを低減することが可能となる。一方、図6で示すように、MOS電界効果トランジスタを用いた場合には、バイポーラトランジスタを用いた場合に比べて、回路を微細化することが可能となる。   As shown in FIG. 5, when the bipolar transistor is used, the offset of the comparator 153 can be reduced as compared with the case where the MOS field effect transistor is used. On the other hand, as shown in FIG. 6, when a MOS field effect transistor is used, the circuit can be made finer than when a bipolar transistor is used.

また、コンパレータ153にヒステリシスを付与する構成についても、図5の構成に限定されることなく、いかなる構成を採用しても構わない。例えば、図6の構成(いわゆるたすき掛け回路)を採用した場合、閾値電圧Vcに対するヒステリシス幅ΔVは、図5の構成と同様、先出の(5)式で算出される値となる。   Further, the configuration for giving hysteresis to the comparator 153 is not limited to the configuration in FIG. 5, and any configuration may be adopted. For example, when the configuration of FIG. 6 (a so-called slashing circuit) is employed, the hysteresis width ΔV with respect to the threshold voltage Vc is a value calculated by the above equation (5) as in the configuration of FIG.

本発明は、異常温度状態や低電圧状態を監視して異常保護信号を生成する異常保護装置の消費電力低減と回路規模縮小を実現する上で有用な技術である。   The present invention is a technique useful in realizing power consumption reduction and circuit scale reduction of an abnormality protection device that generates an abnormality protection signal by monitoring an abnormal temperature state or a low voltage state.

は、本発明に係る異常保護装置を備えたモータドライバICの一実施形態を示すブロック図である。These are block diagrams which show one Embodiment of the motor driver IC provided with the abnormality protection apparatus which concerns on this invention. は、異常保護回路15の一構成例を示す回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration example of an abnormality protection circuit 15. は、異常保護回路15の低電圧保護動作を説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining a low voltage protection operation of the abnormality protection circuit 15. は、異常保護回路15の温度保護動作を説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining a temperature protection operation of the abnormality protection circuit 15. は、コンパレータ153の一構成例を示す回路図である。FIG. 9 is a circuit diagram illustrating a configuration example of a comparator 153. は、コンパレータ153の別の一構成例を示す回路図である。FIG. 10 is a circuit diagram illustrating another configuration example of the comparator 153. は、異常保護装置の一従来例を示す回路図である。These are circuit diagrams which show a prior art example of an abnormality protection device.

符号の説明Explanation of symbols

10 モータドライバIC
11 ロジック回路
12 プリドライバ
13 ドライバ
14 過電流保護回路(OCP)
15 異常保護回路(UVLO+TSD)
151 温度検出部
152 低電圧検出部
153 コンパレータ
I1〜I6 定電流源
D1、D2 ダイオード
R1〜R5 抵抗
Q1〜Q3 pnp型バイポーラトランジスタ
Q4〜Q11 npn型バイポーラトランジスタ
P1〜P5 Pチャネル型MOS電界効果トランジスタ
N1〜N7 Nチャネル型MOS電界効果トランジスタ
10 Motor driver IC
11 Logic circuit 12 Pre-driver 13 Driver 14 Overcurrent protection circuit (OCP)
15 Abnormal protection circuit (UVLO + TSD)
151 Temperature detector 152 Low voltage detector 153 Comparator I1-I6 Constant current source D1, D2 Diode R1-R5 Resistor Q1-Q3 Pnp-type bipolar transistor Q4-Q11 npn-type bipolar transistor P1-P5 P-channel MOS field effect transistor N1 N7 N-channel MOS field effect transistor

Claims (3)

温度に応じた第1の電圧信号を生成する温度検出部と、電源電圧に応じた第2の電圧信号を生成する低電圧検出部と、第1、第2の電圧信号の一方と所定の閾値電圧を比較して異常保護信号を生成するコンパレータと、を有して成ることを特徴とする異常保護装置。   A temperature detection unit that generates a first voltage signal corresponding to the temperature; a low voltage detection unit that generates a second voltage signal corresponding to the power supply voltage; and one of the first and second voltage signals and a predetermined threshold value And a comparator that compares the voltages to generate an abnormality protection signal. 前記コンパレータは、前記異常保護信号のスレッショルドレベルにヒステリシスを有することを特徴とする請求項1に記載の異常保護装置。   The abnormality protection device according to claim 1, wherein the comparator has a hysteresis in a threshold level of the abnormality protection signal. 前記温度検出部は、定電流が流されるダイオードのアノード電圧を第1の電圧信号として出力し、前記低電圧検出部は、前記電源電圧の分圧電圧を第2の電圧信号として出力することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の異常保護装置。   The temperature detector outputs an anode voltage of a diode through which a constant current flows as a first voltage signal, and the low voltage detector outputs a divided voltage of the power supply voltage as a second voltage signal. The abnormality protection device according to claim 1, wherein the abnormality protection device is characterized by the following.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017195654A (en) * 2016-04-18 2017-10-26 ローム株式会社 Protection circuit self-diagnosis device and protection circuit diagnostic method
CN111711172A (en) * 2020-06-22 2020-09-25 电子科技大学 Undervoltage protection circuit with ultralow power consumption
WO2021253203A1 (en) * 2020-06-16 2021-12-23 江苏新安电器股份有限公司 Detection system for variable-frequency motor driver

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04273714A (en) * 1990-11-30 1992-09-29 Motorola Inc Low-power-consumption current comparator provided with temperature coefficient of zero and with hysteresis
JPH0766722A (en) * 1993-08-25 1995-03-10 Sony Tektronix Corp Operation state switching device
JPH09297165A (en) * 1996-03-04 1997-11-18 Hioki Ee Corp Battery tester
JP2009044297A (en) * 2007-08-07 2009-02-26 Ricoh Co Ltd Detecting circuit, and electronic apparatus using the detecting circuit

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04273714A (en) * 1990-11-30 1992-09-29 Motorola Inc Low-power-consumption current comparator provided with temperature coefficient of zero and with hysteresis
JPH0766722A (en) * 1993-08-25 1995-03-10 Sony Tektronix Corp Operation state switching device
JPH09297165A (en) * 1996-03-04 1997-11-18 Hioki Ee Corp Battery tester
JP2009044297A (en) * 2007-08-07 2009-02-26 Ricoh Co Ltd Detecting circuit, and electronic apparatus using the detecting circuit

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017195654A (en) * 2016-04-18 2017-10-26 ローム株式会社 Protection circuit self-diagnosis device and protection circuit diagnostic method
WO2021253203A1 (en) * 2020-06-16 2021-12-23 江苏新安电器股份有限公司 Detection system for variable-frequency motor driver
CN111711172A (en) * 2020-06-22 2020-09-25 电子科技大学 Undervoltage protection circuit with ultralow power consumption

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