JP2009129868A - Mass spectroscope and its method for adjustment - Google Patents

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Megumi Hirooka
恵 廣岡
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To enhance a signal intensity relevant to a molecular weight with less cleavage when ionizing a molecular specimen, even when an EI/CI convertible ionization chamber is used with less sealing density than that of the CI-exclusive ionization chamber. <P>SOLUTION: To a reagent ion gas m/z 41 is paid attention among various kinds of the reagent gases when methane is used for the reagent gas of a CI, a repeller voltage is checked to maximize the signal intensity of the ion (S5), and a parameter such as a lens voltage is determined so as to maximize the signal intensity of the m/z designated by an analyzer in charge under the fixed condition of the repeller voltage to a checked value (S6). Because the ion of the m/z 41 is highly dependent on the repeller voltage of the signal intensity, the suitable repeller voltage can be easily and certainly found out. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は質量分析装置及びその調整方法に関し、特に、化学イオン化法(CI=Chemical Ionization)によりガス状の試料をイオン化するイオン源を備える質量分析装置、及びその調整方法に関する。   The present invention relates to a mass spectrometer and an adjustment method thereof, and more particularly, to a mass spectrometer including an ion source that ionizes a gaseous sample by chemical ionization (CI) and an adjustment method thereof.

ガスクロマトグラフと質量分析計とを組み合わせたガスクロマトグラフ質量分析計(GC/MS)のようにガス状の試料をイオン化する場合、電子イオン化法(EI、電子衝撃イオン化法とも呼ばれる)や化学イオン化法(CI)が利用されるのが一般的である。   When ionizing a gaseous sample such as a gas chromatograph mass spectrometer (GC / MS) that combines a gas chromatograph and a mass spectrometer, an electron ionization method (EI, also called an electron impact ionization method) or a chemical ionization method ( CI) is generally used.

EIでは、フィラメントにより生成した熱電子を加速してガス状の試料分子に接触させる。すると、試料分子から電子が放出され、該試料分子はイオン化される。一般に、EIにより発生したイオンは過剰な内部エネルギーをもつため、開裂を生じてフラグメントイオンを発生し易い。このため、開裂状態を調べることにより元の分子の構造を得る目的で特に有用なイオン化法である。   In EI, thermal electrons generated by a filament are accelerated and brought into contact with gaseous sample molecules. Then, electrons are emitted from the sample molecules, and the sample molecules are ionized. In general, since ions generated by EI have excessive internal energy, fragment ions are easily generated due to cleavage. For this reason, it is a particularly useful ionization method for the purpose of obtaining the structure of the original molecule by examining the cleavage state.

一方、CIでは、イオン化室内にメタン、イソブタン等の試薬ガスを導入し、この試薬ガス分子に熱電子を接触させて試薬ガスイオン(例えばCH 、(CH等)を多量に発生させる。そして、この試薬ガスイオン雰囲気中に試料分子を導入し、化学反応を生じさせることにより試料分子をイオン化する。例えば試薬ガスとしてメタン(CH)を用いた場合、分子量がMである試料分子に対して質量がM+1であるイオンが主に発生する。この方法では、イオン化が比較的穏やかに行われるため、フラグメントの少ないマススペクトルが得られる。このため、分子量の情報を得る目的で特に有用なイオン化法である。なお、一般に化学イオン化法という場合には上記のような原理で正イオンが生成される場合を指すことが多いが、これとは別に負イオンを生成させる方法もあり、これは負化学イオン化法(NCI)と呼ばれる。 On the other hand, in CI, a reagent gas such as methane or isobutane is introduced into an ionization chamber, and thermal electrons are brought into contact with the reagent gas molecules to produce a large amount of reagent gas ions (for example, CH 5 + , (CH 3 ) 3 C +, etc.). To generate. Then, sample molecules are ionized by introducing sample molecules into the reagent gas ion atmosphere and causing a chemical reaction. For example, when methane (CH 4 ) is used as the reagent gas, ions having a mass of M + 1 are mainly generated with respect to sample molecules having a molecular weight of M. In this method, since ionization is performed relatively gently, a mass spectrum with few fragments can be obtained. For this reason, it is a particularly useful ionization method for the purpose of obtaining molecular weight information. In general, the chemical ionization method often refers to the case where positive ions are generated based on the principle as described above, but there is also a method of generating negative ions separately from this, which includes the negative chemical ionization method ( NCI).

上述のようにGC/MSでは、主にEI、CI、NCIの3種類のイオン化法が使用され、分析の目的や試料の種類等に応じてそれらが使い分けられる。それぞれのイオン化法において最良のイオン化効率を達成し得るガス圧等のイオン化条件は相違するため、各イオン化法の特徴を十分に発揮させるにはそれぞれ専用のイオン化室を用いることが望ましい(例えば特許文献1など参照)。即ち、EIは低ガス圧(高真空度)条件の下でイオン化効率が高くなるので、イオン化室の密閉度が低く、NCI、CIの順にイオン化室の密閉度は高くなる。しかしながら、イオン化法毎に専用のイオン化室を用いる場合には、イオン化法を変える際に真空チャンバ内をほぼ大気圧に戻してイオン化室の交換作業を行う必要があり、たいへん煩雑で分析効率も悪くなる。   As described above, in GC / MS, three types of ionization methods of EI, CI, and NCI are mainly used, and they are properly used according to the purpose of analysis and the type of sample. Since ionization conditions such as gas pressure that can achieve the best ionization efficiency in each ionization method are different, it is desirable to use a dedicated ionization chamber in order to fully exhibit the features of each ionization method (for example, patent documents) 1 etc.). That is, since EI has high ionization efficiency under low gas pressure (high vacuum level) conditions, the sealing degree of the ionization chamber is low, and the sealing degree of the ionization chamber increases in the order of NCI and CI. However, when a dedicated ionization chamber is used for each ionization method, it is necessary to return the inside of the vacuum chamber to almost atmospheric pressure when changing the ionization method, and the ionization chamber needs to be replaced, which is very complicated and poor in analysis efficiency. Become.

そこで、最近のGC/MSでは、CI専用のイオン化室よりも密閉度をやや低くした各イオン化法兼用のイオン化室(以下、EI/CI兼用イオン化室という)を用い、試薬ガスの供給/停止の切替えやイオン化に関連した各電極への印加電圧などの極性の変更などの制御のみによりイオン化法の切替えを行うことが行われている。一般に、CI専用イオン化室は、試薬ガスを導入した状態で10Pa程度のガス圧条件で使用されるが、EI/CI兼用イオン化室の場合には、ガス圧はその10分の1〜数分の1程度の低いガス条件で使用される。この程度のガス圧条件であれば、CI専用イオン化室を用いた場合に比べてフラグメントイオンはやや多くなる傾向にあるものの、質量M+1の分子量関連イオンを十分に確認することが可能であり、本来のCIの特徴が発揮できる。 Therefore, in recent GC / MS, the ionization chamber combined with each ionization method (hereinafter referred to as EI / CI combined ionization chamber) having a slightly lower sealing degree than the ionization chamber dedicated to CI is used to supply / stop reagent gas. The ionization method is switched only by control such as change in polarity such as applied voltage to each electrode related to switching and ionization. In general, the CI dedicated ionization chamber is used under a gas pressure condition of about 10 2 Pa with the reagent gas introduced. In the case of an EI / CI combined ionization chamber, the gas pressure is one-tenth of the number. It is used under gas conditions as low as 1 / min. Under such a gas pressure condition, although the fragment ions tend to be slightly larger than when using a CI dedicated ionization chamber, it is possible to sufficiently confirm the molecular weight related ions of mass M + 1. The characteristics of CI can be exhibited.

ところで、一般にGC/MSでは、未知試料の分析に先立って、成分の種類や濃度などが既知である標準試料を利用して、レンズ電極への印加電圧などの各種パラメータを最適な値に調整するオートチューニングと呼ばれる機能が備えられている。一般にCIの試薬ガスであるメタンのマススペクトルパターンはイオン化室内のガス圧条件に依存するため、CIを用いたGC/MSの調整手順としては、まず、イオン化室へのメタンの導入量を変化させながら、このメタン由来のm/z29のピーク強度I29とm/z17のピーク強度I17とを比較し、例えばI29/I17>0.2となるようにメタンの導入量を決める。そうして求めた値にメタンの導入量を固定した状態で、オートチューニングの機能を利用して、ユーザーが指定したm/zにおける信号強度が最大になるようにレンズ電極に印加する電圧などの他の条件を決定するようにしている。 In general, in GC / MS, prior to analysis of an unknown sample, various parameters such as the voltage applied to the lens electrode are adjusted to optimum values using a standard sample whose component type and concentration are known. A function called auto-tuning is provided. Since the mass spectrum pattern of methane, which is a reagent gas for CI, generally depends on the gas pressure conditions in the ionization chamber, the GC / MS adjustment procedure using CI first involves changing the amount of methane introduced into the ionization chamber. However, the peak intensity I 29 of m / z 29 derived from methane and the peak intensity I 17 of m / z 17 are compared, and the amount of methane introduced is determined so that, for example, I 29 / I 17 > 0.2. With the amount of methane introduced fixed to the calculated value, the auto-tuning function is used to set the voltage applied to the lens electrode so that the signal intensity at the m / z specified by the user is maximized. Other conditions are determined.

ところが、CIを用いた質量分析で得られるマススペクトルのパターンはイオン化室内のガス圧のみに依存するわけではなく、イオン化室内に配設された、イオン化室内からイオンを押し出すためのリペラー電極に印加されるリペラー電圧にも依存する。また、このリペラー電圧は検出感度にも関係している。本願発明者の検討によれば、このようなリペラー電圧依存性は、特に、密閉度が相対的に低いEI/CI兼用イオン化室を用いたCIにおいて明確に現れることが判明した。そのため、こうしたCIを行うGC/MSでは、上述したような従来の一般的な調整手順で以てレンズ電圧等のパラメータを定めても、必ずしも開裂が起こりにくいような状態になるとは限らない。   However, the pattern of mass spectrum obtained by mass spectrometry using CI does not depend only on the gas pressure in the ionization chamber, but is applied to a repeller electrode disposed in the ionization chamber for extruding ions from the ionization chamber. It depends on the repeller voltage. The repeller voltage is also related to detection sensitivity. According to the study of the present inventor, it has been found that such repeller voltage dependency clearly appears particularly in a CI using an EI / CI combined ionization chamber having a relatively low sealing degree. Therefore, in the GC / MS that performs such CI, even if the parameters such as the lens voltage are determined by the conventional general adjustment procedure as described above, it is not always in a state in which cleavage does not easily occur.

特開2007-258025号公報JP 2007-258025 A ユルゲン・グロス(Jurgen. H Gross)、「マス・スペクトロメトリ−テキスト・ブック−2004(Mass Spectrometry-Text Book-2004)」 、スプリンガー社、2004年、pp.331-340Jurgen. H Gross, “Mass Spectrometry-Text Book-2004”, Springer, 2004, pp.331-340

本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、CIによるイオン化を行う際にできるだけ開裂が起こりにくく分子量の推定が容易であるように適切にレンズ電圧などの調整を行うことができる、質量分析装置及びその調整方法を提供することにある。   The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and the object of the present invention is to appropriately apply a lens voltage or the like so that cleavage is not likely to occur as much as possible when performing ionization by CI, and molecular weight can be easily estimated. It is an object of the present invention to provide a mass spectrometer and an adjustment method thereof.

前述のようにCIにおいては、イオン化室内でまず試薬ガスがイオン化され、この試薬ガスイオンと試料分子とが化学反応を起こすことにより試料分子がイオン化される。したがって、イオン化室内に十分な量の試薬ガスイオンが存在しないと、CIの特徴である分子量関連イオンの生成が良好に行われない。試薬ガスとしてメタンを用いる場合、m/z17であるCH 、m/z29であるC 、m/z41であるC などの試薬ガスイオンがCIに寄与することが知られている(例えば非特許文献1参照)。 As described above, in the CI, the reagent gas is first ionized in the ionization chamber, and the sample gas is ionized by causing a chemical reaction between the reagent gas ions and the sample molecules. Therefore, unless a sufficient amount of reagent gas ions are present in the ionization chamber, generation of molecular weight related ions, which is a feature of CI, cannot be performed satisfactorily. When methane is used as the reagent gas, reagent gas ions such as CH 5 + that is m / z 17, C 2 H 3 + that is m / z 29, and C 3 H 5 + that is m / z 41 may contribute to CI. It is known (for example, refer nonpatent literature 1).

そこで、本願発明者は、通常のCIイオン化室よりも密閉性の低いEI/CI兼用イオン化室を用いた場合の、イオン化室内における上記各種の試薬ガスイオンの存在量とリペラー電圧との関係を、試薬ガスイオンのスペクトルピークをマススペクトル上で観測することにより実験的に調べた。その結果、上記のようなCIに寄与し得る試薬ガスイオンの信号強度はリペラー電圧が0〜1Vの範囲で最大になり、それよりもリペラー電圧が大きくなると信号強度が減少する傾向を示すことが判明した。特にm/z41ではその傾向が顕著であり、最大の信号強度を示すリペラー電圧よりも電圧を小さくした場合と大きくした場合との信号強度の減少の程度が明確であることが分かった。さらに、標準試料として用いられるベンゾフェノンなどの検出感度とリペラー電圧との関係も調べ、m/z41である試薬ガスイオンと同様の挙動を示し、リペラー電圧を大きくするに従い感度が下がることが分かった。本発明はこうした実験的な知見に基づいてなされたものであり、質量分析装置の各種パラメータを自動的に調整する際の手法にその特徴を有する。   Therefore, the inventor of the present application uses the EI / CI combined ionization chamber having a lower hermeticity than the normal CI ionization chamber to determine the relationship between the amount of the various reagent gas ions in the ionization chamber and the repeller voltage. The spectral peaks of the reagent gas ions were experimentally examined by observing them on the mass spectrum. As a result, the signal intensity of the reagent gas ions that can contribute to the CI as described above is maximized when the repeller voltage is in the range of 0 to 1 V, and the signal intensity tends to decrease as the repeller voltage increases. found. In particular, the tendency is remarkable at m / z 41, and it was found that the degree of decrease in the signal intensity is clear when the voltage is made smaller and larger than the repeller voltage showing the maximum signal intensity. Furthermore, the relationship between the detection sensitivity of the benzophenone used as the standard sample and the repeller voltage was also examined, and the behavior was similar to that of the reagent gas ion of m / z 41, and it was found that the sensitivity decreased as the repeller voltage was increased. The present invention has been made based on such experimental findings, and has a feature in a technique for automatically adjusting various parameters of a mass spectrometer.

即ち、上記課題を解決するために成された本発明に係る質量分析装置は、その内部で化学イオン化法(CI)によるイオン化を行うイオン化室と、該イオン化室内にメタンを試薬ガスとして導入する試薬ガス導入部と、前記イオン化室内に配設され、内部で生成されたイオンを外部に押し出す電場を形成するためのリペラー電極と、前記イオン化室から放出されたイオンを質量分析部に輸送する1乃至複数のレンズ電極と、を具備する質量分析装置において、
少なくとも前記リペラー電極へ印加するリペラー電圧及び前記レンズ電極へ印加するレンズ電圧を最適又はそれに近い状態に自動的に調整するために、
a)前記試薬ガス導入部によりメタンを前記イオン化室内に導入した状態で、質量電荷比(m/z)が41であるイオンの信号強度を最大にするように前記リペラー電圧を決定するリペラー電圧決定手段と、
b)前記リペラー電圧決定手段により決定されたリペラー電圧を前記リペラー電極へ印加した状態を維持して前記レンズ電圧を決定するレンズ電圧決定手段と、
を備えることを特徴としている。
That is, a mass spectrometer according to the present invention, which has been made to solve the above-described problems, includes an ionization chamber that performs ionization by chemical ionization (CI) therein, and a reagent that introduces methane as a reagent gas into the ionization chamber. A gas introduction unit, a repeller electrode disposed in the ionization chamber for forming an electric field for pushing out the ions generated inside, and the ions released from the ionization chamber for transporting the ions to the mass analysis unit In a mass spectrometer comprising a plurality of lens electrodes,
In order to automatically adjust at least the repeller voltage applied to the repeller electrode and the lens voltage applied to the lens electrode to an optimum state or a state close thereto,
a) Repeller voltage determination for determining the repeller voltage so as to maximize the signal intensity of ions having a mass-to-charge ratio (m / z) of 41 in a state where methane is introduced into the ionization chamber by the reagent gas introduction unit. Means,
b) Lens voltage determining means for determining the lens voltage while maintaining the state where the repeller voltage determined by the repeller voltage determining means is applied to the repeller electrode;
It is characterized by having.

また上記課題を解決するために成された本発明に係る質量分析装置の調整方法は、その内部で化学イオン化法(CI)によるイオン化を行うイオン化室と、該イオン化室内にメタンを試薬ガスとして導入する試薬ガス導入部と、前記イオン化室内に配設され、内部で生成されたイオンを外部に押し出す電場を形成するためのリペラー電極と、前記イオン化室から放出されたイオンを質量分析部に輸送する1乃至複数のレンズ電極と、を具備する質量分析装置において、少なくとも前記リペラー電極へ印加するリペラー電圧及び前記レンズ電極へ印加するレンズ電圧を最適又はそれに近い状態に自動的に調整するための調整方法であって、
a)前記試薬ガス導入部によりメタンを前記イオン化室内に導入した状態で、質量電荷比(m/z)が41であるイオンの信号強度を最大にするように前記リペラー電圧を決定するリペラー電圧決定ステップと、
b)前記リペラー電圧決定ステップにおいて決定されたリペラー電圧を前記リペラー電極へ印加した状態を維持して前記レンズ電圧を決定するレンズ電圧決定ステップと、
を実行することを特徴としている。
In addition, an adjustment method for a mass spectrometer according to the present invention, which has been made to solve the above-described problems, includes an ionization chamber in which ionization is performed by chemical ionization (CI), and methane is introduced into the ionization chamber as a reagent gas. A reagent gas introduction unit, a repeller electrode disposed in the ionization chamber for forming an electric field for pushing out the ions generated inside, and the ions released from the ionization chamber are transported to the mass analysis unit An adjustment method for automatically adjusting at least a repeller voltage applied to the repeller electrode and a lens voltage applied to the lens electrode to an optimum or close state in a mass spectrometer comprising one or more lens electrodes Because
a) Repeller voltage determination for determining the repeller voltage so as to maximize the signal intensity of ions having a mass-to-charge ratio (m / z) of 41 in a state where methane is introduced into the ionization chamber by the reagent gas introduction unit. Steps,
b) a lens voltage determination step for determining the lens voltage while maintaining the state where the repeller voltage determined in the repeller voltage determination step is applied to the repeller electrode;
It is characterized by performing.

本発明に係る質量分析装置及びその調整方法は、密閉度が高いCI専用のイオン化室を用いたものにも適用することが可能であるが、通常のCIよりも開裂が起こり易い傾向にある、CIによるイオン化とEIによるイオン化との両方が可能であるCI/EI兼用のイオン化室を用いたものに特に有用である。   The mass spectrometer according to the present invention and the adjustment method thereof can be applied to those using an ionization chamber dedicated to CI having a high degree of sealing, but cleavage tends to occur more easily than normal CI. It is particularly useful for those using a CI / EI combined ionization chamber capable of both ionization by CI and ionization by EI.

メタンを試薬ガスとして用いた場合に、上述の如くm/z41の試薬ガスイオンの信号強度はリペラー電圧の変化に対する依存性が明瞭であるため、リペラー電圧を少しずつ変化させながら該試薬ガスイオンの信号強度が最大となる電圧値を見い出す作業が容易に且つ確実に行える。   When methane is used as the reagent gas, the signal intensity of the reagent gas ion of m / z 41 is clearly dependent on the change of the repeller voltage as described above. The operation of finding the voltage value that maximizes the signal strength can be easily and reliably performed.

それにより、試料分子をイオン化するに際し、良好な、つまりは開裂の少ないCIを行うのに必要な試薬ガスイオンの存在量をイオン化室内で十分に確保して、分子量関連イオンの信号強度を大きくすることができる。特に本発明に係る質量分析装置及びその調整方法によれば、例えばEI/CI兼用イオン化室のように密閉度が比較的低くガス圧が低い(真空度の高い)条件の下でCIが行われる場合でも、開裂を起こしにくくして分子量関連イオン(プロトン付加イオン)の信号強度を大きくすることができ、それによって分子量の推定などに有用な情報を提供することができる。   As a result, when ionizing sample molecules, the abundance of reagent gas ions necessary for performing good CI, that is, with little cleavage, is sufficiently secured in the ionization chamber, and the signal intensity of molecular weight related ions is increased. be able to. In particular, according to the mass spectrometer and the adjustment method thereof according to the present invention, CI is performed under conditions where the sealing degree is relatively low and the gas pressure is low (high degree of vacuum), for example, as in the EI / CI combined ionization chamber. Even in this case, it is difficult to cause cleavage, and the signal intensity of molecular weight related ions (proton addition ions) can be increased, thereby providing useful information for estimating the molecular weight.

以下、本発明に係る質量分析装置の一実施例であるGC/MSを図面を参照して説明する。この実施例のGC/MSは本発明に係る質量分析装置の調整方法を採用した各種パラメータのオートチューニング機能を備える。   A GC / MS which is an embodiment of a mass spectrometer according to the present invention will be described below with reference to the drawings. The GC / MS of this embodiment includes an auto-tuning function for various parameters that employs the method for adjusting a mass spectrometer according to the present invention.

図1は本実施例のGC/MSの要部の構成図である。GC部1において、図示しないカラムオーブン内に配設されたキャピラリカラム14の入口端には試料気化室11が設けられ、キャリアガス流路13から略一定流量で試料気化室11に供給されたHe等のキャリアガスはキャピラリカラム14に送られる。分析時にインジェクタ12により少量の液体試料が加熱された試料気化室11内に滴下されると、液体試料は即座に気化してキャリアガス流に乗ってキャピラリカラム14に送り込まれる。キャリアガス流に乗った試料成分はキャピラリカラム14を通過する際に時間方向に分離されて溶出し、流路切替部16を経てMS部2へ送られる。   FIG. 1 is a configuration diagram of a main part of the GC / MS of this embodiment. In the GC unit 1, a sample vaporizing chamber 11 is provided at the inlet end of a capillary column 14 disposed in a column oven (not shown), and He supplied from the carrier gas channel 13 to the sample vaporizing chamber 11 at a substantially constant flow rate. And the like are sent to the capillary column 14. When a small amount of liquid sample is dropped into the heated sample vaporization chamber 11 by the injector 12 at the time of analysis, the liquid sample is immediately vaporized and is sent to the capillary column 14 along the carrier gas flow. The sample components riding on the carrier gas flow are separated and eluted in the time direction when passing through the capillary column 14, and are sent to the MS unit 2 through the flow path switching unit 16.

MS部2において、図示しない真空ポンプにより真空排気される真空チャンバ20内には、イオン化室21、レンズ電極26、四重極質量フィルタ27、イオン検出器28が配設されている。イオン化室21はEI/CI兼用イオン化室であり、途中にバルブ23が設けられた試薬ガス流路22が接続され、内部にはリペラー電極24が設置されている。また、図示しないが、イオン化室21にはフィラメントが付設されており、該フィラメントで生成された熱電子がイオン化室21内に送り込まれる。CIによるイオン化が行われる場合、バルブ23が開放されて試薬ガス(ここではメタン)がイオン化室21内に供給され、これに熱電子が接触することにより試薬ガスがイオン化される。この試薬ガスイオンと試料分子とが化学反応を生じて試料分子イオンが生成され、生成されたイオンは、電圧印加部33よりリペラー電極24に印加されるリペラー電圧により形成される電場の作用によりイオン化室21内から図1中で右方向へと押し出される。   In the MS unit 2, an ionization chamber 21, a lens electrode 26, a quadrupole mass filter 27, and an ion detector 28 are disposed in a vacuum chamber 20 that is evacuated by a vacuum pump (not shown). The ionization chamber 21 is an EI / CI combined ionization chamber, to which a reagent gas flow path 22 provided with a valve 23 is connected, and a repeller electrode 24 is installed inside. Although not shown, a filament is attached to the ionization chamber 21, and thermoelectrons generated by the filament are sent into the ionization chamber 21. When ionization by CI is performed, the valve 23 is opened and a reagent gas (in this case, methane) is supplied into the ionization chamber 21, and the reagent gas is ionized by contacting thermal electrons with the reagent gas. The reagent gas ions and sample molecules cause a chemical reaction to generate sample molecule ions, and the generated ions are ionized by the action of an electric field formed by a repeller voltage applied to the repeller electrode 24 from the voltage application unit 33. It is pushed out from the chamber 21 to the right in FIG.

イオン化室21から出たイオンはレンズ電極26により形成される電場の作用により収束されるとともに場合によっては加速され、四重極質量フィルタ27に送り込まれる。四重極質量フィルタ27には直流電圧と高周波電圧とを重畳した電圧が印加され、その電圧に応じた質量電荷比(m/z)を持つイオンのみが選択的に該フィルタ27を通過してイオン検出器28に到達する。四重極質量フィルタ27への印加電圧を所定パターンで変化させることで、該フィルタ27を通過するイオンの質量電荷比を所定範囲で走査することができる。イオン検出器28による検出信号はデータ処理部32に入力され、ここでマススペクトルが作成されるとともに定量分析、定性分析が実行される。流路切替部16は、後述する自動調整時に標準試料導入部40に用意された所定の標準試料をイオン化室21に導入するように流路を切り替える。分析制御部31は分析や自動調整などを行うために各部を制御する。また、操作部36や表示部37が接続された中央制御部30は、予め定められた制御プログラムに従って各部を統括的に制御するべく分析制御部31、データ処理部32に指示を与えるとともに、分析結果などを表示部37により表示する。なお、この中央制御部30やデータ処理部32は、汎用のパーソナルコンピュータ上で所定の制御・処理プログラムを実行させることでその機能を実現するものとすることができる。   Ions exiting from the ionization chamber 21 are converged by the action of the electric field formed by the lens electrode 26 and accelerated in some cases, and sent to the quadrupole mass filter 27. A voltage obtained by superimposing a DC voltage and a high frequency voltage is applied to the quadrupole mass filter 27, and only ions having a mass-to-charge ratio (m / z) corresponding to the voltage selectively pass through the filter 27. The ion detector 28 is reached. By changing the voltage applied to the quadrupole mass filter 27 in a predetermined pattern, the mass-to-charge ratio of ions passing through the filter 27 can be scanned within a predetermined range. A detection signal from the ion detector 28 is input to the data processing unit 32, where a mass spectrum is created and quantitative analysis and qualitative analysis are performed. The channel switching unit 16 switches the channel so that a predetermined standard sample prepared in the standard sample introducing unit 40 is introduced into the ionization chamber 21 during automatic adjustment described later. The analysis control unit 31 controls each unit in order to perform analysis, automatic adjustment, and the like. In addition, the central control unit 30 to which the operation unit 36 and the display unit 37 are connected gives instructions to the analysis control unit 31 and the data processing unit 32 in order to comprehensively control each unit in accordance with a predetermined control program, and also performs analysis. Results and the like are displayed on the display unit 37. The central control unit 30 and the data processing unit 32 can realize their functions by executing predetermined control / processing programs on a general-purpose personal computer.

本実施例のGC/MSでは、未知試料の分析に先立ってMS部2のリペラー電極24への印加電圧(リペラー電圧)やレンズ電極26への印加電圧(レンズ電圧)などのMS部2の各種パラメータを調整するために、特徴的な制御・処理が実行される。この際の制御・処理について図2のフローチャートにより説明する。   In the GC / MS of this embodiment, various types of MS unit 2 such as an applied voltage (repeller voltage) to the repeller electrode 24 of the MS unit 2 and an applied voltage (lens voltage) to the lens electrode 26 prior to the analysis of the unknown sample. Characteristic control / processing is executed to adjust the parameters. Control and processing at this time will be described with reference to the flowchart of FIG.

まず分析制御部31の制御の下にバルブ23が開放され、試薬ガスとしてメタンが試薬ガス流路22を通してイオン化室21内に供給される(ステップS1)。真空チャンバ20内は真空排気されているため、イオン化室21からメタンがその外部に流出することでイオン化室21内は略一定のガス条件に維持される。次に、分析担当者は操作部36によりオートチューニング条件(例えばレンズ電圧調整のための質量電荷比など)を入力した上で、オートチューニングの実行を指示する(ステップS2)。中央制御部30はこれに応じてオートチューニング機能を開始する(ステップS3)。   First, the valve 23 is opened under the control of the analysis control unit 31, and methane as a reagent gas is supplied into the ionization chamber 21 through the reagent gas flow path 22 (step S1). Since the inside of the vacuum chamber 20 is evacuated, methane flows out of the ionization chamber 21 to the outside, so that the inside of the ionization chamber 21 is maintained at a substantially constant gas condition. Next, the person in charge of the analysis inputs auto-tuning conditions (for example, a mass-to-charge ratio for adjusting the lens voltage) through the operation unit 36, and then instructs execution of auto-tuning (step S2). In response to this, the central control unit 30 starts an auto-tuning function (step S3).

まず、標準試料導入部40に用意された所定の標準試料をイオン化室21に導入し、これを質量分析して得たマススペクトル上に現れたスペクトルピークの位置や形状に基づいて、質量電荷比(m/z)の校正、ピークプロファイルの半値幅の調整などを実行する(ステップS4)。これは従来も行っている通常の調整作業である。そのあと、イオン化室21内に標準試料を導入しない状態で、試薬ガスイオンであるm/z41のイオンがイオン検出器28に到達するように四重極質量フィルタ27への印加電圧を設定する。そして、電圧印加部33によりリペラー電極24へ印加するリペラー電圧を所定の範囲(例えば−1〜3V)の範囲で少しずつ変化させながら、信号強度が最大になる電圧値を探索する(ステップS5)。後で詳述するが、m/z41では、m/z17、m/z29などの他の試薬ガスイオンと比べてリペラー電圧を変化させた際の信号強度の変化のピークが鋭く現れる。そのために、試薬ガスイオンの信号強度を最大とするようなリペラー電圧の決定を容易に且つ確実に行うことができる。   First, a predetermined standard sample prepared in the standard sample introduction unit 40 is introduced into the ionization chamber 21, and the mass-to-charge ratio is calculated based on the position and shape of the spectrum peak appearing on the mass spectrum obtained by mass analysis. Calibration of (m / z), adjustment of the half width of the peak profile, and the like are executed (step S4). This is a normal adjustment work that has been performed conventionally. Thereafter, the voltage applied to the quadrupole mass filter 27 is set so that the ions of the reagent gas ions m / z 41 reach the ion detector 28 without introducing the standard sample into the ionization chamber 21. Then, the voltage value that maximizes the signal strength is searched for while gradually changing the repeller voltage applied to the repeller electrode 24 by the voltage application unit 33 within a predetermined range (for example, −1 to 3 V) (step S5). . As will be described in detail later, at m / z 41, the peak of the change in signal intensity when the repeller voltage is changed appears sharply as compared with other reagent gas ions such as m / z 17 and m / z 29. Therefore, the repeller voltage that maximizes the signal intensity of the reagent gas ions can be determined easily and reliably.

次に、そうして決定された電圧値にリペラー電圧を固定した状態で所定の標準試料をイオン化室21に導入し、ステップS2において分析担当者により指定されたm/zを持つイオンがイオン検出器28に到達するように四重極質量フィルタ27への印加電圧を設定する。そして、電圧印加部33によりレンズ電極26へ印加するレンズ電圧を所定の範囲の範囲で少しずつ変化させながら、信号強度が最大になる電圧値を探索する。また、レンズ電圧のほかに調整すべきパラメータがある場合にも、同じリペラー電圧の条件の下でここで調整する(ステップS6)。そうして必要なパラメータの調整が終了したならば(ステップS7)、分析の指示等が与えられるまで待機する。   Next, a predetermined standard sample is introduced into the ionization chamber 21 with the repeller voltage fixed at the voltage value thus determined, and ions having m / z designated by the analyst in step S2 are detected. The voltage applied to the quadrupole mass filter 27 is set so as to reach the vessel 28. The voltage application unit 33 searches for a voltage value that maximizes the signal intensity while gradually changing the lens voltage applied to the lens electrode 26 within a predetermined range. Further, when there is a parameter to be adjusted in addition to the lens voltage, the adjustment is performed here under the same repeller voltage condition (step S6). When necessary parameter adjustment is completed (step S7), the process waits until an analysis instruction or the like is given.

上述のようにリペラー電圧を決定する際にm/z41を利用する理由及びその根拠について図3〜図7を参照して説明する。
図3(a)は質量分析計の感度等を示すために一般に利用されるメチルステアレート(methyl stearate)の実測によるEIマススペクトル、図3(b)は同じく実測によるCIマススペクトルである。これらはそれぞれEI専用イオン化室、CI専用イオン化室でEI、CI(試薬ガスはメタン)を実施した場合の結果である。
The reason why the m / z 41 is used when determining the repeller voltage as described above and the basis thereof will be described with reference to FIGS.
FIG. 3A shows an EI mass spectrum obtained by actual measurement of methyl stearate, which is generally used to show sensitivity of the mass spectrometer, and FIG. 3B shows a CI mass spectrum obtained by actual measurement. These are the results when EI and CI (reagent gas is methane) are carried out in the EI ionization chamber and the CI ionization chamber, respectively.

EIマススペクトルでは、m/z74に大きな信号強度のベースピーク(図中矢印A)が存在し、m/z298の分子イオンについては非常に信号強度が小さなピーク(図中矢印B)が確認できるだけである。これに対し、CIマススペクトルでは、プロトン付加イオン[M+H]のピーク(図中矢印C)がm/z299に現れ、これが分子量の決定に非常に有用であることが分かる。EI/CI兼用イオン化室でCIを実施した場合には、図3(b)のようにm/z299がベースピークになるものの、CI専用イオン化室を用いた通常のCIよりはEIに近い傾向を示し、m/z74のピークも観測される。   In the EI mass spectrum, there is a base peak with a large signal intensity at m / z 74 (arrow A in the figure), and a peak with a very low signal intensity (arrow B in the figure) can be confirmed for the molecular ion at m / z 298. is there. On the other hand, in the CI mass spectrum, the peak of the proton-added ion [M + H] (arrow C in the figure) appears at m / z 299, which proves very useful for determining the molecular weight. When CI is performed in the EI / CI combined ionization chamber, m / z 299 becomes the base peak as shown in FIG. 3 (b), but tends to be closer to EI than normal CI using the CI dedicated ionization chamber. A peak at m / z 74 is also observed.

図4は、リペラー電圧を変化させた場合のm/z299に対する信号強度I299とm/z74に対する信号強度I74との強度比I299/I74を示す図である。なお、ガス圧条件は450Paである。リペラー電圧が約0.3VであるときにI299の比率が最も高く、それよりも電圧を増加させてゆくとI74が相対的に強くなることが分かる。即ち、このことは、リペラー電圧が高いと開裂が起こり易くなる傾向であることを意味する。これは、リペラー電圧が大きくなるに従い、イオン化室において試料分子が十分にCIを行うための時間が不足してくるためと考えられる。一方、リペラー電圧が0Vに近いときには、平均自由行程の長い軽い質量のイオンのイオン化室内での透過率が、平均自由行程の短い重い質量のイオンのそれと比べて相対的に向上し、上記信号強度比I299/I74がやや小さくなるものと推測できる。 FIG. 4 is a diagram showing an intensity ratio I 299 / I 74 between the signal intensity I 299 with respect to m / z 299 and the signal intensity I 74 with respect to m / z 74 when the repeller voltage is changed. The gas pressure condition is 450 Pa. It can be seen that the ratio of I 299 is the highest when the repeller voltage is about 0.3 V, and that I 74 becomes relatively stronger as the voltage is increased further. That is, this means that when the repeller voltage is high, cleavage tends to occur. This is presumably because the time required for the sample molecules to sufficiently perform CI in the ionization chamber becomes insufficient as the repeller voltage increases. On the other hand, when the repeller voltage is close to 0 V, the transmittance of light mass ions with a long mean free path in the ionization chamber is relatively improved compared to that of heavy mass ions with a short mean free path, and the signal intensity It can be inferred that the ratio I 299 / I 74 is slightly reduced.

図5(a)はCIの際に試薬ガスとして使用されるメタン自体のEIマススペクトル、図5(b)はCIイオン化室に試薬ガスとしてメタンを導入したときのマススペクトルである。EIマススペクトルでは、m/z16をベースピーク(図中矢印D)とし、ピークの信号強度はm/z15、14と順に小さくなる。これに対しCIマススペクトルでは、m/z17、29、41に試薬ガス由来の大きなピーク(図中矢印E)が存在する。m/z17はCH 、m/z29はC 、m/z41はC 、であり、これらは試薬ガス分子同士の反応のために元の試料ガス分子よりも大きな質量のイオンとなったものである。これらの試薬ガスイオンから例えば1個のプロトンが試料分子に移動することで、質量がM+1であるイオンが生成される。 FIG. 5A shows an EI mass spectrum of methane itself used as a reagent gas during CI, and FIG. 5B shows a mass spectrum when methane is introduced as a reagent gas into the CI ionization chamber. In the EI mass spectrum, m / z 16 is a base peak (arrow D in the figure), and the peak signal intensity decreases in order of m / z 15 and 14. In contrast, in the CI mass spectrum, there are large peaks (arrow E in the figure) derived from the reagent gas at m / z 17, 29, 41. m / z 17 is CH 5 + , m / z 29 is C 2 H 5 + , and m / z 41 is C 3 H 5 + , which are larger than the original sample gas molecules due to the reaction between the reagent gas molecules. It became a mass ion. For example, one proton moves from these reagent gas ions to the sample molecule, thereby generating an ion having a mass of M + 1.

図6はEI/CI兼用イオン化室を用いたときのCIマススペクトルにおける各ピークの信号強度のリペラー電圧依存性を示すグラフである。リペラー電圧を大きくすると、m/z15、16といったEIにおいて観測され易いピークの信号強度が大きくなる。これは、リペラー電圧を大きくするとEIの傾向が強くなる、という上述のメチルステアレートについての実験結果と一致していることが分かる。一方、全般的な傾向として、リペラー電圧を小さくするとm/z17、29、41などのCI特有のピークの信号強度が高くなる。これは、CIにおいてプロトンを受け渡す作用を担う試薬ガスイオンが増加し、試料分子を良好にイオン化できる可能性が高いことを示唆している。即ち、このような状態の下でのCIでは試料分子について良好な、つまり開裂が少なく分子量関連イオンのピーク強度が高いマススペクトルが得られることを示唆している。   FIG. 6 is a graph showing the repeller voltage dependence of the signal intensity of each peak in the CI mass spectrum when the EI / CI combined ionization chamber is used. When the repeller voltage is increased, the signal intensity of peaks that are easily observed in EI such as m / z 15 and 16 increases. It can be seen that this agrees with the experimental result for methyl stearate described above that the tendency of EI increases when the repeller voltage is increased. On the other hand, as a general tendency, when the repeller voltage is reduced, the signal intensity of peaks peculiar to CI such as m / z 17, 29, 41, etc. increases. This suggests that there is a high possibility that the reagent gas ions responsible for delivering protons in the CI increase and the sample molecules can be ionized well. That is, the CI under such a condition suggests that a mass spectrum that is good for the sample molecule, that is, has a high peak intensity of molecular weight related ions with little cleavage is obtained.

図7は図6の結果について各m/zにおいて信号強度が最大であるものを1として規格化したグラフである。リペラー電圧の変化に対する信号強度の変化を詳細に見ると、いずれもリペラー電圧が約0.3V付近であるときに最大となり、m/z41ではm/z17、29などに比べて、その最大値を与えるリペラー電圧から離れたときの信号強度の減少が顕著である、つまりピークが鋭くなっていることが分かる。即ち、同じ試薬ガスイオンであっても、m/z41のイオンはその信号強度のリペラー電圧依存性が顕著であると言える。前述のようにリペラー電圧を少しずつ変化させながら信号強度が最大となる電圧値を探索する場合、リペラー電圧の変化に対するピークが鋭いほうが最適な電圧を見い出し易いことは明らかである。こうしたことから、上記実施例のGC/MSでは、最適なリペラー電圧を探察する際にm/z41を利用するようにしている。   FIG. 7 is a graph obtained by normalizing the result of FIG. 6 with 1 having the maximum signal intensity at each m / z. When the change in the signal intensity with respect to the change in the repeller voltage is examined in detail, the maximum is obtained when the repeller voltage is about 0.3 V, and the maximum value is obtained at m / z 41 compared to m / z 17, 29, etc. It can be seen that there is a significant decrease in signal strength when the voltage is away from the applied repeller voltage, that is, the peak is sharp. That is, even with the same reagent gas ion, it can be said that the m / z 41 ion has a remarkable repeller voltage dependency of its signal intensity. As described above, when searching for a voltage value that maximizes the signal intensity while gradually changing the repeller voltage, it is clear that the optimum voltage is more easily found when the peak with respect to the change in the repeller voltage is sharp. For this reason, in the GC / MS of the above embodiment, m / z 41 is used when searching for the optimum repeller voltage.

なお、上記実施例は本発明の一例であって、本発明の趣旨の範囲で適宜修正や変更を行えることは明らかである。   The above-described embodiment is an example of the present invention, and it is obvious that modifications and changes can be made as appropriate within the scope of the present invention.

本発明の一実施例であるGC/MSの要部の構成図。The block diagram of the principal part of GC / MS which is one Example of this invention. 本実施例であるGC/MSにおいてMS部の各種パラメータを調整するための特徴的な制御・処理を示すフローチャート。The flowchart which shows the characteristic control and process for adjusting the various parameters of MS part in GC / MS which is a present Example. メチルステアレートの実測によるEIマススペクトル(a)及び同じく実測によるCIマススペクトル(b)。Measured EI mass spectrum (a) of methyl stearate and CI measured mass spectrum (b). リペラー電圧を変化させた場合の強度比I299/I74を示す図。It shows the intensity ratio I 299 / I 74 in the case of changing the repeller voltage. メタンのEIマススペクトル(a)及びCIイオン化室に試薬ガスとしてメタンを導入したときのマススペクトル(b)。EI mass spectrum of methane (a) and mass spectrum (b) when methane is introduced as a reagent gas into the CI ionization chamber. EI/CI兼用イオン化室を用いたときのCIマススペクトルにおける各ピークの信号強度のリペラー電圧依存性を示すグラフ。The graph which shows the repeller voltage dependence of the signal intensity | strength of each peak in CI mass spectrum when an EI / CI combined ionization chamber is used. 図6の結果について各m/zにおいて信号強度が最大であるものを1として規格化したグラフ。FIG. 7 is a graph obtained by normalizing the result of FIG. 6 with 1 having the maximum signal intensity at each m / z.

符号の説明Explanation of symbols

1…GC部
11…試料気化室
12…インジェクタ
13…キャリアガス流路
14…キャピラリカラム
16…流路切替部
2…MS部
20…真空チャンバ
21…イオン化室
22…試薬ガス流路
23…バルブ
24…リペラー電極
26…レンズ電極
27…四重極質量フィルタ
28…イオン検出器
30…中央制御部
31…分析制御部
32…データ処理部
33…電圧印加部
36…操作部
37…表示部
40…標準試料導入部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... GC part 11 ... Sample vaporization chamber 12 ... Injector 13 ... Carrier gas flow path 14 ... Capillary column 16 ... Flow path switching part 2 ... MS part 20 ... Vacuum chamber 21 ... Ionization chamber 22 ... Reagent gas flow path 23 ... Valve 24 ... repeller electrode 26 ... lens electrode 27 ... quadrupole mass filter 28 ... ion detector 30 ... central control unit 31 ... analysis control unit 32 ... data processing unit 33 ... voltage application unit 36 ... operation unit 37 ... display unit 40 ... standard Sample introduction part

Claims (4)

その内部で化学イオン化法(CI)によるイオン化を行うイオン化室と、該イオン化室内にメタンを試薬ガスとして導入する試薬ガス導入部と、前記イオン化室内に配設され、内部で生成されたイオンを外部に押し出す電場を形成するためのリペラー電極と、前記イオン化室から放出されたイオンを質量分析部に輸送する1乃至複数のレンズ電極と、を具備する質量分析装置において、
少なくとも前記リペラー電極へ印加するリペラー電圧及び前記レンズ電極へ印加するレンズ電圧を最適又はそれに近い状態に自動的に調整するために、
a)前記試薬ガス導入部によりメタンを前記イオン化室内に導入した状態で、質量電荷比(m/z)が41であるイオンの信号強度を最大にするように前記リペラー電圧を決定するリペラー電圧決定手段と、
b)前記リペラー電圧決定手段により決定されたリペラー電圧を前記リペラー電極へ印加した状態を維持して前記レンズ電圧を決定するレンズ電圧決定手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。
An ionization chamber that performs ionization by chemical ionization (CI) therein, a reagent gas introduction unit that introduces methane into the ionization chamber as a reagent gas, and an ion generated inside that is disposed in the ionization chamber to the outside In a mass spectrometer comprising: a repeller electrode for forming an electric field to be pushed into the ion source; and one or a plurality of lens electrodes for transporting ions released from the ionization chamber to a mass analyzer.
In order to automatically adjust at least the repeller voltage applied to the repeller electrode and the lens voltage applied to the lens electrode to an optimum state or a state close thereto,
a) Repeller voltage determination for determining the repeller voltage so as to maximize the signal intensity of ions having a mass-to-charge ratio (m / z) of 41 in a state where methane is introduced into the ionization chamber by the reagent gas introduction unit. Means,
b) Lens voltage determining means for determining the lens voltage while maintaining the state where the repeller voltage determined by the repeller voltage determining means is applied to the repeller electrode;
A mass spectrometer comprising:
請求項1に記載の質量分析装置において、前記イオン化室は、化学イオン化法(CI)によるイオン化と電子イオン化法(EI)によるイオン化とを兼用するものであることを特徴とする質量分析装置。   2. The mass spectrometer according to claim 1, wherein the ionization chamber combines ionization by chemical ionization (CI) and ionization by electron ionization (EI). その内部で化学イオン化法(CI)によるイオン化を行うイオン化室と、該イオン化室内にメタンを試薬ガスとして導入する試薬ガス導入部と、前記イオン化室内に配設され、内部で生成されたイオンを外部に押し出す電場を形成するためのリペラー電極と、前記イオン化室から放出されたイオンを質量分析部に輸送する1乃至複数のレンズ電極と、を具備する質量分析装置において、少なくとも前記リペラー電極へ印加するリペラー電圧及び前記レンズ電極へ印加するレンズ電圧を最適又はそれに近い状態に自動的に調整するための調整方法であって、
a)前記試薬ガス導入部によりメタンを前記イオン化室内に導入した状態で、質量電荷比(m/z)が41であるイオンの信号強度を最大にするように前記リペラー電圧を決定するリペラー電圧決定ステップと、
b)前記リペラー電圧決定ステップにおいて決定されたリペラー電圧を前記リペラー電極へ印加した状態を維持して前記レンズ電圧を決定するレンズ電圧決定ステップと、
を実行することを特徴とする質量分析装置の調整方法。
An ionization chamber that performs ionization by chemical ionization (CI) therein, a reagent gas introduction unit that introduces methane into the ionization chamber as a reagent gas, and an ion generated inside that is disposed in the ionization chamber to the outside In a mass spectrometer comprising: a repeller electrode for forming an electric field to be pushed out to the surface; and one or a plurality of lens electrodes for transporting ions released from the ionization chamber to a mass analyzer, and applied to at least the repeller electrode An adjustment method for automatically adjusting a repeller voltage and a lens voltage applied to the lens electrode to an optimum state or a state close thereto,
a) Repeller voltage determination for determining the repeller voltage so as to maximize the signal intensity of ions having a mass-to-charge ratio (m / z) of 41 in a state where methane is introduced into the ionization chamber by the reagent gas introduction unit. Steps,
b) a lens voltage determination step for determining the lens voltage while maintaining the state where the repeller voltage determined in the repeller voltage determination step is applied to the repeller electrode;
A method for adjusting a mass spectrometer, characterized in that
請求項3に記載の質量分析装置の調整方法において、前記イオン化室は、化学イオン化法(CI)によるイオン化と電子イオン化法(EI)によるイオン化とを兼用するものであることを特徴とする質量分析装置の調整方法。   4. The method of adjusting a mass spectrometer according to claim 3, wherein the ionization chamber combines ionization by chemical ionization (CI) and ionization by electron ionization (EI). Device adjustment method.
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