JP2009117278A - Manufacturing method of organic el display device - Google Patents

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Atsushi Shiozaki
篤志 塩崎
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of an organic EL display device, which enables separated material painting and constitution for every pixel without positioning a substrate to the other members with high precision. <P>SOLUTION: In the manufacturing method of the organic EL display device in which a plurality of pixels composed of the lower part electrode 110, organic compound layers 112 (114, 116), and the upper electrode 113 (115, 117) are formed on the substrate 101, a thin film heat generator 107 corresponding at least to one of the pixels is formed on the substrate, and after a process of forming at least one organic compound layer 112, regarding the pixel in which the organic compound layer 112 is not necessary, a process of removing the organic compound layer 112 by flowing current to the thin film heat generator 107 and generating heat, and furthermore another organic compound layer and the upper part electrode are formed. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、基板上に下部電極と有機化合物層と上部電極からなる複数の画素を形成する有機EL表示装置の製造方法において、画素により有機化合物層の構成を異ならせる有機EL表示装置の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing an organic EL display device in which a plurality of pixels including a lower electrode, an organic compound layer, and an upper electrode are formed on a substrate. About.

現在、開発が進められている有機EL表示装置は、基板上に下部電極を設け、その上に電荷の注入や輸送や再結合に関して機能を分離した複数層の有機化合物層と、さらに上部電極を積層する有機EL素子を基本としている。   The organic EL display device currently under development is provided with a lower electrode on a substrate, a plurality of organic compound layers having functions related to charge injection, transport and recombination separated thereon, and an upper electrode. It is based on organic EL elements to be stacked.

複数色のカラー表示装置も開発されている。   Multi-color display devices have also been developed.

また、フルカラー平面ディスプレイとして、パッシブマトリクス方式から、各画素に薄膜トランジスタを設けるアクティブマトリクス方式へと開発の重点が移っている。   As a full-color flat display, the focus of development has shifted from a passive matrix method to an active matrix method in which a thin film transistor is provided for each pixel.

いずれの場合も画素により有機化合物層の材料や構成を異ならせて、複数色の画素を組み合わせ、カラー表示することが一般的である。低分子材料を金属のマスクを用いた真空蒸着により塗分ける方法や、高分子材料をインクジェット法にて塗分ける方法が知られている。   In any case, it is common to perform color display by combining pixels of a plurality of colors with different materials and configurations of the organic compound layer depending on the pixels. A method of coating a low molecular material by vacuum vapor deposition using a metal mask and a method of coating a high molecular material by an ink jet method are known.

さらに近年、特許文献1にあるレーザーを用いて不要部分を除去する塗分け方法も提案されている。   Further, in recent years, a coating method for removing unnecessary portions using a laser disclosed in Patent Document 1 has also been proposed.

特開2002−324672号公報JP 2002-324672 A

前述のいずれの方法においても、画素に対して高精度に位置を制御する必要があるという問題が生じる。   In any of the above-described methods, there is a problem that it is necessary to control the position with respect to the pixel with high accuracy.

すなわち、金属のマスクを用いた真空蒸着により塗分ける方法では、基板とマスクの位置を合せる必要があると同時に、マスク自体の精度が必要であり、コストアップや歩留り低下の一因となる問題がある。   In other words, in the method of coating by vacuum deposition using a metal mask, it is necessary to align the position of the substrate and the mask, and at the same time, the accuracy of the mask itself is necessary, which causes a problem that increases costs and decreases yield. is there.

高分子材料をインクジェット法にて塗分ける方法でも、液滴を画素に精度よく着弾させる必要があると同時に、画素内に均一に拡がらせる必要があり、表示領域全体に再現性よく作製するのは必ずしも容易ではない。   Even with a method of coating a polymer material by the ink jet method, it is necessary to make the droplets land on the pixels with high accuracy, and at the same time, it is necessary to spread the droplets uniformly within the pixels. Is not always easy.

レーザーを用いて不要部分を除去する塗分け方法も、レーザーの位置を精度よく制御し、移動させる必要がある。さらにこの場合には、レーザー光の強度に関して、有機化合物層を除去するのに十分なエネルギーが必要であり、また、それ以外の部材には影響のない強度に抑える必要が生じる。これにはレーザービーム内の強度分布と焦点位置の両方を制御する必要があり、必ずしも容易ではない。   The coating method for removing unnecessary portions using a laser also requires the laser position to be accurately controlled and moved. Furthermore, in this case, with respect to the intensity of the laser beam, sufficient energy is required to remove the organic compound layer, and it is necessary to suppress the intensity so as not to affect other members. This requires control of both the intensity distribution in the laser beam and the focal position, which is not always easy.

本発明は通常の成膜工程とフォトリソグラフィ工程のパターニングで作製でき、従来の製造装置で容易に実施できる。パターン形成した後は、基板を他の部材と高精度に位置合せすることなく、画素毎に材料や構成の塗り分けを可能とする有機EL表示装置の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention can be manufactured by patterning of a normal film forming process and a photolithography process, and can be easily performed by a conventional manufacturing apparatus. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing an organic EL display device that enables different materials and configurations for each pixel without aligning the substrate with other members with high accuracy after pattern formation.

上記課題を解決するための手段として、本発明は、
基板上に下部電極と有機化合物層と上部電極からなる複数の画素を形成する有機EL表示装置の製造方法において、
前記画素の少なくとも1つに対応した薄膜発熱体を基板上に形成し、少なくとも一つの有機化合物層を形成する工程の後、
前記有機化合物層が不要な画素について、前記薄膜発熱体に通電して発熱させ、前記有機化合物層を除去する工程を実施し、
さらに別の有機化合物層と上部電極とを形成することを特徴とする。
As means for solving the above problems, the present invention provides:
In a method for manufacturing an organic EL display device in which a plurality of pixels including a lower electrode, an organic compound layer, and an upper electrode are formed on a substrate,
After forming a thin film heating element corresponding to at least one of the pixels on the substrate and forming at least one organic compound layer,
For pixels that do not require the organic compound layer, the thin film heating element is energized to generate heat, and the organic compound layer is removed.
Furthermore, another organic compound layer and an upper electrode are formed.

本発明により、従来、画素によって有機化合物の材料や構成を異ならせるために必要であった高精度の位置合せが不要となる。そのため、マザーガラスの大判化に伴う位置合せの困難を解消でき、高精細の画素の作製も可能になる。コストや歩留りにおいても著しい改善を可能とするものである。   The present invention eliminates the need for high-accuracy alignment that has conventionally been required to vary the material and configuration of the organic compound from pixel to pixel. For this reason, it is possible to eliminate the difficulty of alignment due to the increase in size of the mother glass, and it is possible to manufacture high-definition pixels. This will enable significant improvement in cost and yield.

本発明は、薄膜トランジスタを用いるアクティブマトリクス方式にも、時分割駆動のパッシブマトリクス方式にも適用可能である。ここではアクティブマトリクス方式を例に説明する。なお、一般に表示装置の表示部と周辺部では構造が必ずしも同じではない。本発明は表示部に関する発明であるが、端子部や接続部の有機化合物層の除去にも適応可能である。   The present invention can be applied to an active matrix system using thin film transistors and a passive matrix system using time division driving. Here, an active matrix method will be described as an example. In general, the structure of the display portion and the peripheral portion of the display device are not necessarily the same. Although the present invention relates to a display portion, it can also be applied to removal of an organic compound layer in a terminal portion or a connection portion.

まず、ガラス等の基板に、チャネル層、ゲート酸化膜、ゲート電極、第1の保護膜、電極層、第2の保護膜からなる薄膜トランジスタをマトリクス状に多数形成する。この時の表面は下部電極に接続する薄膜トランジスタの電極と、表示装置外への電気的接続のための取出し電極の端子部とが表出しているほかは絶縁性の保護膜で覆われている。これらはCVD法等の成膜法と一連のフォトリソグラフィ工程によるパターニングと価電子制御のためのドーピングと必要に応じて結晶化のためのアニーリングや表面処理を施すことで作製可能である。表示部の周辺に制御用回路を同時に形成してもよい。   First, a large number of thin film transistors each including a channel layer, a gate oxide film, a gate electrode, a first protective film, an electrode layer, and a second protective film are formed in a matrix on a substrate such as glass. The surface at this time is covered with an insulating protective film except that the electrode of the thin film transistor connected to the lower electrode and the terminal portion of the extraction electrode for electrical connection outside the display device are exposed. These can be produced by performing film forming methods such as CVD, patterning by a series of photolithography processes, doping for valence electron control, annealing for crystallization and surface treatment as necessary. A control circuit may be simultaneously formed around the display portion.

この上に第1の通電層を形成し、1つの色の画素に対応する薄膜発熱体へ通電できるパターンを形成する。この第1の通電層に外部から電力を供給する給電部は表示装置の周囲に設けることが好ましい。この上に第1の層間絶縁層を形成し、第1の通電層への多層配線の接続部と、第1の通電層の給電部と、薄膜トランジスタの電極への接続が必要な接続部と、取出し電極の端子部とをエッチングで取り除く。   A first energization layer is formed thereon, and a pattern capable of energizing a thin film heating element corresponding to a pixel of one color is formed. It is preferable to provide a power supply unit that supplies power to the first conductive layer from the outside around the display device. A first interlayer insulating layer is formed thereon, a connection portion of the multilayer wiring to the first energization layer, a power supply portion of the first energization layer, a connection portion that needs to be connected to the electrode of the thin film transistor, The terminal portion of the extraction electrode is removed by etching.

通電層及び層間絶縁層の作製は必要に応じて繰り返すことで、任意の階層に多層配線の状態で設けることが可能である。例えば3色によるカラー表示であれば2色分に対応する2階層に設ければ十分である。   The production of the current-carrying layer and the interlayer insulating layer can be repeated as necessary, so that the conductive layer and the interlayer insulating layer can be provided in an arbitrary hierarchy in a multilayer wiring state. For example, in the case of color display with three colors, it is sufficient to provide two layers corresponding to two colors.

この上に、薄膜発熱体と、前記薄膜発熱体と接する通電層とを順に積層し、画素に対応する薄膜発熱体と前記薄膜発熱体に通電できるパターンを形成する。この通電層は、基板側の通電層と薄膜発熱体との接続を担うと同時に、基板側の通電層に対し反対極とし、基板側の配線とは直交する方向で表示装置の周囲に取り出すことが好ましい。   On top of this, a thin film heating element and an energization layer in contact with the thin film heating element are sequentially laminated to form a thin film heating element corresponding to a pixel and a pattern capable of energizing the thin film heating element. This energizing layer is responsible for the connection between the energizing layer on the substrate side and the thin-film heating element, and at the same time has an opposite polarity to the energizing layer on the substrate side and is taken out around the display device in a direction perpendicular to the wiring on the substrate side. Is preferred.

なお、薄膜発熱体は通電層の一部を取り除くことで得られる。通電層を先にパターニングすれば、通電層の上に薄膜発熱体を設けることも可能である。   The thin film heating element can be obtained by removing a part of the energization layer. If the conductive layer is patterned first, a thin film heating element can be provided on the conductive layer.

この上にさらに層間絶縁層を形成し、電気的接続が必要な部分はパターニングして取り除く。この時点で最表面は下部電極に接続する薄膜トランジスタの電極の接続部と、表示装置外への電気的接続のための取出し電極の端子部と、薄膜発熱体へ電気を供給する通電層の給電部とが表出しているほかは層間絶縁層で覆われている。なお、層間絶縁層のパターニングは同じ位置であれば複数層をまとめてエッチングして形成してもよい。   An interlayer insulating layer is further formed thereon, and portions that require electrical connection are removed by patterning. At this time, the outermost surface is the connection portion of the electrode of the thin film transistor connected to the lower electrode, the terminal portion of the extraction electrode for electrical connection to the outside of the display device, and the feeding portion of the energization layer that supplies electricity to the thin film heating element Is covered with an interlayer insulating layer. Note that the interlayer insulating layer may be patterned by etching a plurality of layers at the same position.

この層間絶縁層の表面に下部電極を形成し、パターニングする。下部電極は層間絶縁層に設けたスルーホールを通じて薄膜トランジスタの電極の接続部と電気的に接続される。場合により、下部電極の一部を覆い、画素の発光部を規定する絶縁性あるいは半導体性の素子分離膜を設けてもよい。   A lower electrode is formed on the surface of the interlayer insulating layer and patterned. The lower electrode is electrically connected to the connection portion of the thin film transistor electrode through a through hole provided in the interlayer insulating layer. In some cases, an insulating or semiconductive element isolation film that covers a part of the lower electrode and defines the light emitting portion of the pixel may be provided.

機能分離した複数の第1の有機化合物層を表示部に一様に設ける。取出し電極の端子部や通電層の給電部には表示部全体に大きく開口したマスクを利用することで形成しないことが好ましい。この時、有機発光層とは別に下部電極からの電荷(電子あるいは正孔)の注入性や輸送性を改善する有機化合物層を設けてもよい。有機化合物層は低分子化合物を真空蒸着法で設けてもよいし、高分子化合物をインクジェット法や塗布法で設けてもよい。転写法も利用可能である。さらに第1の上部電極を有機化合物層より広い領域に、スパッタリングなどにより設けてもよい。第1の上部電極は外部に接続する取出し配線に接続される。   A plurality of first organic compound layers separated in function are provided uniformly on the display portion. It is preferable that the terminal part of the extraction electrode and the power feeding part of the energization layer are not formed by using a mask having a large opening in the entire display part. At this time, in addition to the organic light emitting layer, an organic compound layer that improves the injectability and transportability of charges (electrons or holes) from the lower electrode may be provided. In the organic compound layer, a low molecular compound may be provided by a vacuum deposition method, or a high molecular compound may be provided by an ink jet method or a coating method. A transfer method can also be used. Further, the first upper electrode may be provided in a region wider than the organic compound layer by sputtering or the like. The first upper electrode is connected to an extraction wiring connected to the outside.

この後、第1の有機化合物層が不要な画素に対応する薄膜発熱体に通電し、発熱させ、第1の有機化合物層と第1の上部電極とを同時に除去する。上部電極は薄いため有機化合物層の短時間での蒸発により破壊され除去される。この除去工程は真空雰囲気で可能である。また、露点管理された不活性ガス雰囲気の大気圧中でも可能である。なお、第1の上部電極は必ずしも必要ではなく、2色カラーや狭い色再現範囲で十分な場合は第1の有機化合物層だけでもよい。   Thereafter, a thin film heating element corresponding to a pixel that does not require the first organic compound layer is energized to generate heat, and the first organic compound layer and the first upper electrode are removed simultaneously. Since the upper electrode is thin, it is destroyed and removed by evaporation of the organic compound layer in a short time. This removal process is possible in a vacuum atmosphere. Further, it is possible even in an atmospheric pressure of an inert gas atmosphere with dew point management. Note that the first upper electrode is not necessarily required, and if the two-color color or a narrow color reproduction range is sufficient, only the first organic compound layer may be used.

上記の除去工程で供給する電力は直流でも、交流でも、任意の波形のパルスでも可能である。例えば画素の大きさが80μm×20μm程度で直流電力の場合であれば360mW程度で取り除くことができる。1msecの矩形パルスの場合でも490mW程度の電力で取り除くことができる。特に、有機化合物層と上部電極とを同時に取り除く場合は、1sec以下の短いパルスで瞬間的に蒸発させるのが好ましい。電力を増やせばμsecのパルスでも除去可能である。例えば30万画素を同時に発熱させることは電力的に困難であるが、多層配線を利用して時分割駆動することで順次発熱させることが可能である。なお、通電は表示装置の周囲に通電層につながる給電部を設けて、プローブなどを利用して供給できる。   The power supplied in the above removal step can be direct current, alternating current, or a pulse having an arbitrary waveform. For example, if the pixel size is about 80 μm × 20 μm and DC power is used, it can be removed at about 360 mW. Even a rectangular pulse of 1 msec can be removed with a power of about 490 mW. In particular, when the organic compound layer and the upper electrode are removed at the same time, it is preferable to instantaneously evaporate with a short pulse of 1 sec or less. If the power is increased, even a microsecond pulse can be removed. For example, although it is difficult in terms of power to generate heat simultaneously for 300,000 pixels, it is possible to generate heat sequentially by time-division driving using multilayer wiring. The energization can be supplied using a probe or the like by providing a power supply unit connected to the energization layer around the display device.

別の層構成が必要な場合は引き続き、別の有機化合物層を形成する工程と、薄膜発熱体に通電して発熱させ不要な画素の有機化合物層を除去する工程とを必要に応じて繰り返す。この時も前述の上部電極と同様に、上部電極を有機化合物層より広い領域に、スパッタリングなどにより設けてもよい。ここでも、上部電極は外部に接続する取出し配線に接続される。   If another layer configuration is required, the process of forming another organic compound layer and the process of removing electricity from the unnecessary pixel by energizing the thin film heating element to generate heat are repeated as necessary. Also at this time, like the above-described upper electrode, the upper electrode may be provided in a region wider than the organic compound layer by sputtering or the like. Here again, the upper electrode is connected to an extraction wiring connected to the outside.

表示装置の応用分野によっては必ずしもフルカラーである必要はなく、有機化合物層の構成を画素により異ならせるだけで十分な場合もある。また、フルカラー表示においては有機化合物層と外部に接続する上部電極とを形成し、除去することで3原色表示が可能になる。この場合、各色の有機化合物層を重ねると駆動条件や光の取り出しにおいてやや不利になるため、発光効率の高いものから作製することが好ましい。ただし、一般的に重ねる上層の光透過率は90%以上にすることが容易であり、大きな問題ではない。   Depending on the application field of the display device, it is not always necessary to have a full color, and it may be sufficient to change the structure of the organic compound layer depending on the pixel. Further, in the full color display, the three primary colors can be displayed by forming and removing the organic compound layer and the upper electrode connected to the outside. In this case, since the organic compound layers of the respective colors are overlapped, it is slightly disadvantageous in driving conditions and light extraction, and therefore, it is preferable that the organic compound layers are manufactured from those having high luminous efficiency. However, in general, the light transmittance of the upper layer to be overlaid can be easily set to 90% or more, which is not a big problem.

また、除去した端部のカバレッジを確保するためには膜厚の薄い色から重ねることが好ましい。ただし、再蒸発により除去する部分を下部電極の露出した画素部より広くすることにより、画素部の層構成への影響はない。つまり、再蒸発の端部を素子分離膜上に設けることが可能である。一般的に段差部ではショートが発生しやすいが、この再蒸発部の端部では上部電極間の導通は発生しても、素子分離膜上であり上部電極と下部電極との短絡は発生しない。さらに、再蒸発部の端部は再蒸発時の加熱条件や別途なまし用の加熱を行うなどして、なだらかにすることが好ましい。また、たとえ段差の一部で断切れが発生しても再蒸発部の周囲全てで断線になることは一般的にない。   Moreover, in order to ensure the coverage of the removed edge part, it is preferable to overlap from a thin color. However, by making the portion to be removed by re-evaporation wider than the pixel portion where the lower electrode is exposed, the layer configuration of the pixel portion is not affected. That is, it is possible to provide an end portion of reevaporation on the element isolation film. In general, a short-circuit is likely to occur at the step portion, but even if conduction between the upper electrodes occurs at the end of the reevaporation portion, the short-circuit between the upper electrode and the lower electrode does not occur on the element isolation film. Furthermore, it is preferable that the end portion of the re-evaporating section is made gentle by performing heating conditions for re-evaporation or heating for additional annealing. Further, even if a break occurs at a part of the step, it is generally not broken at all around the re-evaporating part.

本発明は熱により有機化合物層を転写する方法や昇華蒸着する方法に比べ、発光部の有機化合物層は最も実績のある真空蒸着法で形成し、利用できる。加熱して、再蒸発させるのは発光には寄与しない部分である。   In the present invention, the organic compound layer of the light emitting part can be formed and used by the most proven vacuum deposition method, compared to the method of transferring the organic compound layer by heat or the method of sublimation vapor deposition. The portion that does not contribute to light emission is heated and re-evaporated.

しかも、熱の伝導は膜厚方向であり、サブミクロンオーダである。平面方向の数十ミクロンオーダへの熱の伝導は設計により、充分に無視しうる。   Moreover, the heat conduction is in the direction of the film thickness, which is on the order of submicrons. The conduction of heat to the order of several tens of microns in the planar direction can be sufficiently ignored by design.

また、本件は基板と反対側に光を取り出すトップエミッションタイプに好適ではあるが、発明の本質は基板側に光を取り出すボトムエミッションタイプへも適用でき、平面的な構成を適宜に設計することで実施することが可能である。光を取り出す方向とは反対の電極はAlやAgMgなどの金属や合金も利用可能である。下部電極は陽極でも陰極でもよい。上部電極も陽極でも陰極でもよい。   Although this case is suitable for the top emission type that extracts light to the opposite side of the substrate, the essence of the invention can also be applied to the bottom emission type that extracts light to the substrate side, by designing the planar configuration appropriately. It is possible to implement. A metal or an alloy such as Al or AgMg can be used for the electrode opposite to the direction in which light is extracted. The lower electrode may be an anode or a cathode. The upper electrode may be an anode or a cathode.

さらに最上部の有機化合物層と上部電極とを設ける。いずれの場合も、上部電極への電荷(電子または正孔)の注入性や輸送性を改善する有機化合物層を有機発光層とは別に設けてもよい。   Further, an uppermost organic compound layer and an upper electrode are provided. In either case, an organic compound layer that improves the injectability and transportability of charges (electrons or holes) to the upper electrode may be provided separately from the organic light emitting layer.

取出し電極の端子部を除いて、ガラス等からなる封止部材を基板の周囲で接着し密閉する。密閉空間内の光の出射部を避けて吸湿剤を設けるか、あるいは吸湿剤が透明であれば光の出射部を含めて設けてもよい。また、SiONやSiNなどからなる保護膜を多層に設けてもよいし、保護膜と封止部材の両方を設けてもよい。封止部材や保護膜の表面に偏光板を設けてもよい。偏光板は一部分での接着や全面での接着のほかに機械的な固定方法によってもよい。   A sealing member made of glass or the like is adhered and sealed around the substrate except for the terminal portion of the extraction electrode. A hygroscopic agent may be provided avoiding the light emitting part in the sealed space, or the light emitting part may be provided if the hygroscopic agent is transparent. Further, a protective film made of SiON, SiN, or the like may be provided in multiple layers, or both the protective film and the sealing member may be provided. A polarizing plate may be provided on the surface of the sealing member or the protective film. The polarizing plate may be mechanically fixed in addition to partial adhesion or entire surface adhesion.

以上で、本発明の有機EL表示装置が完成できる。上述した方法により、従来、画素によって有機化合物の材料や構成を異ならせるために必要であった位置合せが不要となり、マザーガラスの大判化に伴う位置合せの困難を解消でき、高精細の画素の作製も可能になる。コストや歩留りにおいても著しい改善を可能とするものである。   Thus, the organic EL display device of the present invention can be completed. The above-described method eliminates the need for alignment that was conventionally required to vary the material and configuration of the organic compound depending on the pixel, eliminates the alignment difficulties associated with the increase in the size of the mother glass, and enables high-definition pixels. Production is also possible. This will enable significant improvement in cost and yield.

次に、本発明の実施の形態を図を用いてより詳細に説明する。   Next, embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.

図1は本発明の有機EL表示装置の1例であり、図1(a)が断面の概念図であり、図1(b)が対応する平面の概念図である。表示領域は3つの副画素について拡大表示しているが実際には、例えば対角約3インチ、640画素×480画素、各副画素のピッチは、画素当り3色の副画素で95μm×32μm程度となる。本来、画素は複数色の副画素で構成されるが、説明の煩雑さを避けるため、他の説明箇所においては副画素を画素と表現している。また、対角約27インチ、1920画素×1080画素の場合では画素当り3色の副画素で285μm×127μm程度となる。駆動回路は薄膜トランジスタ1個で表現しているが、実際には複数のトランジスタやコンデンサや接続配線からなってよい。また、表示領域の外側にある制御用回路は図1には不図示とした。本発明は表示装置の大きさや精細度に関係せず適用できる。   FIG. 1 shows an example of an organic EL display device according to the present invention. FIG. 1 (a) is a conceptual diagram of a cross section, and FIG. 1 (b) is a conceptual diagram of a corresponding plane. The display area is enlarged and displayed for three subpixels. Actually, for example, the diagonal is about 3 inches, 640 pixels × 480 pixels, and the pitch of each subpixel is about 95 μm × 32 μm for the subpixels of three colors per pixel. It becomes. Originally, pixels are composed of sub-pixels of a plurality of colors. However, in order to avoid complicated explanation, sub-pixels are expressed as pixels in other explanation portions. In the case of about 27 inches diagonal and 1920 pixels × 1080 pixels, the subpixels of three colors per pixel are about 285 μm × 127 μm. Although the drive circuit is represented by one thin film transistor, it may actually be composed of a plurality of transistors, capacitors, and connection wirings. The control circuit outside the display area is not shown in FIG. The present invention can be applied regardless of the size and definition of the display device.

図2には有機EL表示装置のより巨視的な平面の概念図を示す。表示領域202には画素に対応して駆動回路が設けられ、外側に制御用回路203を設ける。取出し電極の端子部204以外は封止部材205で封止する。なお、図中、符号206は発光領域以外の封止空間を示している。   FIG. 2 is a conceptual view of a more macroscopic plane of the organic EL display device. A driving circuit is provided in the display area 202 corresponding to the pixel, and a control circuit 203 is provided outside. A portion other than the terminal portion 204 of the extraction electrode is sealed with a sealing member 205. In the figure, reference numeral 206 denotes a sealed space other than the light emitting region.

本発明では基板101(201)上の各画素のそれぞれの位置に駆動用の薄膜トランジスタ102を設ける。まず、ガラスや石英やシリコン等の基板101にプラズマCVD法等によりSiO2やSiNやSiON等のバリア層(不図示)を100nmから200nmの厚みで形成する。 In the present invention, a driving thin film transistor 102 is provided at each position of each pixel on the substrate 101 (201). First, a barrier layer (not shown) such as SiO 2 , SiN, or SiON is formed with a thickness of 100 nm to 200 nm on a substrate 101 such as glass, quartz, or silicon by a plasma CVD method or the like.

やはりプラズマCVD法により非晶質あるいは微結晶のシリコンを30nmから150nmの厚みで設けチャネル層を形成する。レーザアニール等により多結晶化し、フォトリソグラフィ技術により所望の形状にパターニングする。   Again, a channel layer is formed by providing amorphous or microcrystalline silicon with a thickness of 30 nm to 150 nm by plasma CVD. It is polycrystallized by laser annealing or the like, and is patterned into a desired shape by photolithography.

50nmから200nmの厚みでSiO2やSiNやSiON等のゲート絶縁膜を形成し、その上にスパッタリング法などによりTaやWからなるゲート電極層を50nmから200nmの厚みで形成し、パターニングする。ゲート電極をチャネル層の下に設ける構成も可能である。 A gate insulating film of SiO 2 , SiN, SiON or the like is formed with a thickness of 50 nm to 200 nm, and a gate electrode layer made of Ta or W is formed thereon with a thickness of 50 nm to 200 nm by sputtering or the like, and is patterned. A configuration in which the gate electrode is provided under the channel layer is also possible.

前記チャネル層のソース領域とドレイン領域の別々にリンやボロン等のドーピングを行い、その後レーザー光による活性化を行う。さらにこの上にSiO2やSiNやSiON等からなる保護膜を100nmから1000nmの厚みで設ける。さらに、前記保護膜にフォトリソグラフィ技術を用いて接続用の開口をパターニングし、TiやAlなどからなる電極層を成膜後、パターニングしてソース電極とドレイン電極を設ける。膜厚は100nmから500nmで多層構成にするのが好ましい。さらにこの上にSiO2やSiNやSiON等からなる保護膜を100nmから1000nmの厚みで設ける。有機EL素子の下部電極と接続する部分のみをエッチングする。 The source and drain regions of the channel layer are separately doped with phosphorus, boron, etc., and then activated with laser light. Further, a protective film made of SiO 2 , SiN, SiON or the like is provided thereon with a thickness of 100 nm to 1000 nm. Further, a connection opening is patterned on the protective film using a photolithography technique, an electrode layer made of Ti, Al, or the like is formed, and then patterned to provide a source electrode and a drain electrode. The film thickness is preferably 100 nm to 500 nm and a multilayer structure. Further, a protective film made of SiO 2 , SiN, SiON or the like is provided thereon with a thickness of 100 nm to 1000 nm. Only the portion connected to the lower electrode of the organic EL element is etched.

薄膜トランジスタは1画素あたり複数個で構成してよく、また、コンデンサや制御回路との配線や外部との接続端子等もチャネル層や電極層を利用して形成可能である。制御用のシフトレジスタなどの周辺回路も同じ基板の表示領域周囲に同時に作製することが可能である。また、上記の例は多結晶タイプの薄膜トランジスタであるが、非晶質タイプや微結晶タイプやInGaZnOなどの透明酸化物半導体でも可能である。   A plurality of thin film transistors may be formed per pixel, and wirings to capacitors and control circuits, connection terminals to the outside, and the like can be formed using a channel layer or an electrode layer. Peripheral circuits such as a shift register for control can also be manufactured simultaneously around the display area of the same substrate. The above example is a thin film transistor of a polycrystalline type, but it can also be an amorphous type, a microcrystalline type, or a transparent oxide semiconductor such as InGaZnO.

以上で薄膜トランジスタ102が作製できる。   Through the above steps, the thin film transistor 102 can be manufactured.

第1の通電層103をTiやAlなどを一様にスパッタリングや真空蒸着で作製し、フォトリソグラフィ技術により所望の形状にパターニングする。   The first energization layer 103 is formed by uniformly sputtering Ti or Al by sputtering or vacuum deposition, and patterned into a desired shape by photolithography.

第1の層間絶縁層104を作製する。SiO2やSiNやSiONなどのCVD膜や、アクリルやポリイミド等の樹脂や、SOG(スピンオングラス)やTEOS(テトラエトキシシラン)やVUV−CVD法(真空紫外光を用いた光CVD法)によるSiOCなども利用可能である。やはりフォトリソグラフィ技術により所望の位置を接続のためにエッチングする。 A first interlayer insulating layer 104 is formed. SiOC by SiO 2 , SiN, SiON, and other CVD films, resins such as acrylic and polyimide, SOG (spin-on-glass), TEOS (tetraethoxysilane), and VUV-CVD (photo CVD using vacuum ultraviolet light) Etc. are also available. The desired position is also etched for connection by photolithography.

第2の通電層105をTiやAlなどを一様にスパッタリングや真空蒸着で作製し、フォトリソグラフィ技術により所望の形状にパターニングする。   The second energization layer 105 is formed by uniformly sputtering Ti or Al by sputtering or vacuum deposition, and is patterned into a desired shape by photolithography.

第2の層間絶縁層106を第1の層間絶縁層104と同様に作製する。   The second interlayer insulating layer 106 is formed in the same manner as the first interlayer insulating layer 104.

薄膜発熱体107をTaNやHfB2やTiなどで作製し、引き続き、第3の通電層108をTiやAlなどを一様にスパッタリングや真空蒸着で作製する。薄膜発熱体107と第3の通電層108とを同時にフォトリソグラフィ技術により所望の形状にパターニングする。さらに、画素に対応する位置の第3の通電層108のみエッチングして薄膜発熱体を作製する。いずれも通電層のパターンの端部はテーパ形状にエッチングすることが好ましい。 The thin film heating element 107 is made of TaN, HfB 2 , Ti or the like, and then the third conductive layer 108 is made of Ti or Al uniformly by sputtering or vacuum deposition. The thin film heating element 107 and the third conductive layer 108 are simultaneously patterned into a desired shape by photolithography. Further, only the third conductive layer 108 at a position corresponding to the pixel is etched to produce a thin film heating element. In any case, it is preferable that the end of the pattern of the conductive layer is etched into a tapered shape.

第3の層間絶縁層109を作製する。薄膜トランジスタや通電層による凹凸を平坦化するのが好ましい。平坦化の度合いは高低差200nm程度、傾斜角度30°以下、好ましくは10°以下程度の凹凸で特に問題とはならない。アクリルやポリイミド等の樹脂や、SOG(スピンオングラス)やTEOS(テトラエトキシシラン)やVUV−CVD法(真空紫外光を用いた光CVD法)によるSiOCなども利用可能である。やはりフォトリソグラフィ技術により所望の位置を接続のためにエッチングする。   A third interlayer insulating layer 109 is formed. It is preferable to flatten the unevenness caused by the thin film transistor or the conductive layer. The degree of flattening is not particularly problematic with unevenness with an elevation difference of about 200 nm and an inclination angle of 30 ° or less, preferably 10 ° or less. Resins such as acrylic and polyimide, SOG (spin on glass), TEOS (tetraethoxysilane), and SiOC by VUV-CVD method (photo CVD method using vacuum ultraviolet light) can also be used. The desired position is also etched for connection by photolithography.

アルミニウム、クロム、銀、マグネシウム、酸化錫、酸化亜鉛、酸化インジウム、ITOなどをスパッタリング法等で成膜し、フォトリソグラフィ技術により下部電極110を作製する。混合物や積層構造も可能であり、反射層を設けてもよい。薄膜トランジスタとの接続には下部電極そのものでもよいが、接続用に他の導電層を設けてもよい。   Aluminum, chromium, silver, magnesium, tin oxide, zinc oxide, indium oxide, ITO, or the like is formed by a sputtering method or the like, and the lower electrode 110 is manufactured by a photolithography technique. A mixture or a laminated structure is also possible, and a reflective layer may be provided. The lower electrode itself may be used for connection with the thin film transistor, but another conductive layer may be provided for connection.

さらに、非晶質シリコンやSiNやポリイミドやアクリルなどを成膜し、パターニングして、下部電極110の端部を覆い、発光領域を制限する素子分離膜111を形成してもよい。   Further, an element isolation film 111 may be formed by depositing amorphous silicon, SiN, polyimide, acrylic, or the like and patterning to cover the end of the lower electrode 110 and restrict the light emitting region.

この後、真空中で加熱する等の十分な脱水処理に引き続き、第1の有機化合物層112を真空蒸着法などで表示部に一様に堆積する。なお、第1の有機化合物層112は不図示の電荷注入層、電荷輸送層、発光層から構成されてよい。例えば緑の発光層としてAlq3(ホスト)とクマリン6(発光性化合物)とを共蒸着(重量比99:1)する。有機化合物層の構成はこれに限られるものではなく、発光層を兼ねた輸送層を用いることで有機化合物層を2層構成にする場合、あるいはホール注入層や電子注入層を設けることで、有機化合物層の構成を4層、5層の複数の層構成にする場合などが可能である。   Thereafter, following a sufficient dehydration process such as heating in a vacuum, the first organic compound layer 112 is uniformly deposited on the display portion by a vacuum evaporation method or the like. The first organic compound layer 112 may be composed of a charge injection layer, a charge transport layer, and a light emitting layer (not shown). For example, Alq3 (host) and coumarin 6 (light emitting compound) are co-deposited (weight ratio 99: 1) as a green light emitting layer. The configuration of the organic compound layer is not limited to this, and when the organic compound layer is formed in a two-layer configuration by using a transport layer that also serves as a light emitting layer, or by providing a hole injection layer or an electron injection layer, For example, the compound layer may be composed of a plurality of layers of four layers and five layers.

例えば、正孔輸送性物質としては、N,N’−ジフェニル−N,N’−ジ(3−メチルフェニル)−1,1’−ジフェニル−4,4’−ジアミン(TPD)やN,N’−ジフェニル−N,N’−ジナフチル−1,1’−ジフェニル−4,4’−ジアミン(NPD)などに代表されるトリフェニルアミン類;
N−イソプロピルカルバゾール、ビスカルバゾール誘導体、ピラゾリン誘導体、スチルベン系化合物、ヒドラゾン系化合物、オキサジアゾール誘導体やフタロシアニン誘導体に代表される複素環化合物;
ポリマー系では前記単量体を側鎖に有するポリカーボネートやポリスチレン誘導体、ポリビニルカルバゾール、ポリシラン、ポリフェニレンビニレンなどが好ましい。
For example, as a hole transporting substance, N, N′-diphenyl-N, N′-di (3-methylphenyl) -1,1′-diphenyl-4,4′-diamine (TPD) or N, N Triphenylamines typified by '-diphenyl-N, N'-dinaphthyl-1,1'-diphenyl-4,4'-diamine (NPD) and the like;
Heterocyclic compounds represented by N-isopropylcarbazole, biscarbazole derivatives, pyrazoline derivatives, stilbene compounds, hydrazone compounds, oxadiazole derivatives and phthalocyanine derivatives;
In the polymer system, polycarbonate, polystyrene derivatives, polyvinyl carbazole, polysilane, polyphenylene vinylene and the like having the above monomer in the side chain are preferable.

正孔注入性物質としては、銅フタロシアニン、芳香族スターバーストアミン化合物、ポリチオフェン、アルコキシ置換ポリパラフェニレンビニレン、ポリピロール誘導体などを用いることが可能である。   As the hole injecting substance, copper phthalocyanine, aromatic starburst amine compound, polythiophene, alkoxy-substituted polyparaphenylene vinylene, polypyrrole derivative, or the like can be used.

発光層の材料は、アントラセンやピレン、そして8−ヒドロキシキノリンアルミニウムの他には、例えば、ビススチリルアントラセン誘導体、テトラフェニルブタジエン誘導体、クマリン誘導体、オキサジアゾール誘導体;
ジスチリルベンゼン誘導体、ピロロピリジン誘導体、ペリノン誘導体、シクロペンタジエン誘導体、チアジアゾロピリジン誘導体、ポリマー系では、ポリフェニレンビニレン誘導体、ポリパラフェニレン誘導体、そしてポリチオフェン誘導体などが使用できる。また、発光層に添加するドーパントとしては、ルブレン、キナクリドン誘導体、フェノキサゾン660,DCM1、ペリノン、ペリレン、クマリン540,ジアザインダセン誘導体などがそのまま使用できる。
In addition to anthracene, pyrene, and 8-hydroxyquinoline aluminum, the material of the light emitting layer is, for example, a bisstyryl anthracene derivative, a tetraphenylbutadiene derivative, a coumarin derivative, an oxadiazole derivative;
In the case of distyrylbenzene derivatives, pyrrolopyridine derivatives, perinone derivatives, cyclopentadiene derivatives, thiadiazolopyridine derivatives, and polymer systems, polyphenylene vinylene derivatives, polyparaphenylene derivatives, polythiophene derivatives, and the like can be used. Further, as the dopant added to the light emitting layer, rubrene, quinacridone derivatives, phenoxazone 660, DCM1, perinone, perylene, coumarin 540, diazaindacene derivatives and the like can be used as they are.

電子輸送性物質としては、8−ヒドロキシキノリンアルミニウム、ヒドロキシベンゾキノリンベリリウム、2−(4−ビフェニル)−5−(4−t−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール(t−BuPBD)などのオキサジアゾール系誘導体;
オキサジアゾール二量体系誘導体の1,3−ビス(4−t−ブチルフェニル−1,3,4−オキサジゾリル)ビフェニレン(OXD−1)、1,3−ビス(4−t−ブチルフェニル−1,3,4−オキサジゾリル)フェニレン(OXD−7);
トリアゾール系誘導体、フェナントロリン系誘導体などがある。電子注入性物質としては、ニトロ置換フルオレノン誘導体、アントラキノジメタン誘導体、ジフェニルキノン誘導体、チオピランジオキシド誘導体;
ナフタレンペリレン等複素環テトラカルボン酸無水物、カルボジイミド、フレオレニリデンメタン誘導体、アントラキノジメタン誘導体及びアントロン誘導体、オキサジアゾール誘導体;
トリス(8−キノリノール)アルミニウム,トリス(5,7−ジクロロ−8−キノリノール)アルミニウム,トリス(5,7−ジブロモ−8−キノリノール)アルミニウム,トリス(2−メチル−8−キノリノール)アルミニウム;
ならびにアルミニウム,In以外のMg,Cu,Ga,Sn,Pb錯体等がある。メタルフリーあるいはメタルフタロシアニン,またはそれらの末端がアルキル基,スルホン酸基等で置換されているものも望ましい。また、アルカリ金属やアルカリ土類金属を有機材料に添加したものでもよい。さらに、アルカリ金属化合物やアルカリ土類金属化合物を酸化物、炭酸物、フッ化物、窒化物などを極薄く設けても可能である。
Examples of the electron transporting substance include 8-hydroxyquinoline aluminum, hydroxybenzoquinoline beryllium, 2- (4-biphenyl) -5- (4-t-butylphenyl) -1,3,4-oxadiazole (t-BuPBD). Oxadiazole derivatives such as
1,3-bis (4-t-butylphenyl-1,3,4-oxadizolyl) biphenylene (OXD-1), 1,3-bis (4-t-butylphenyl-1) of oxadiazole dimer system derivatives , 3,4-oxadizolyl) phenylene (OXD-7);
Examples include triazole derivatives and phenanthroline derivatives. Examples of electron injecting substances include nitro-substituted fluorenone derivatives, anthraquinodimethane derivatives, diphenylquinone derivatives, thiopyran dioxide derivatives;
Heterocyclic tetracarboxylic anhydrides such as naphthaleneperylene, carbodiimide, fluorenylidenemethane derivatives, anthraquinodimethane derivatives and anthrone derivatives, oxadiazole derivatives;
Tris (8-quinolinol) aluminum, tris (5,7-dichloro-8-quinolinol) aluminum, tris (5,7-dibromo-8-quinolinol) aluminum, tris (2-methyl-8-quinolinol) aluminum;
In addition, there are Mg, Cu, Ga, Sn, Pb complexes other than aluminum and In. Metal-free or metal phthalocyanine, or those having a terminal substituted with an alkyl group, a sulfonic acid group or the like is also desirable. Moreover, what added the alkali metal and alkaline-earth metal to the organic material may be used. Further, an alkali metal compound or an alkaline earth metal compound can be provided with an extremely thin oxide, carbonate, fluoride, nitride, or the like.

以上の正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層に用いられる材料は単独で各層を形成することができる。高分子結着剤としてポリ塩化ビニル、ポリカーボネート、ポリスチレン、ポリ(N−ビニルカルバゾール)、ポリメチルメタクリレート、ポリブチルメタクリレート、ポリエステル、ポリスルホン、ポリフェニレンエーテル;
ポリブタジエン、炭化水素樹脂、ケトン樹脂、フェノキシ樹脂、ポリウレタン樹脂などの溶剤可溶性樹脂や;
フェノール樹脂、キシレン樹脂、石油樹脂、ユリア樹脂、メラミン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、アルキド樹脂、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂などの硬化性樹脂などに分散させて用いることも可能である。
The materials used for the hole injection layer, the hole transport layer, the light emitting layer, the electron transport layer, and the electron injection layer can form each layer alone. As a polymer binder, polyvinyl chloride, polycarbonate, polystyrene, poly (N-vinylcarbazole), polymethyl methacrylate, polybutyl methacrylate, polyester, polysulfone, polyphenylene ether;
Solvent-soluble resins such as polybutadiene, hydrocarbon resins, ketone resins, phenoxy resins, polyurethane resins;
It can also be used by being dispersed in a curable resin such as phenol resin, xylene resin, petroleum resin, urea resin, melamine resin, unsaturated polyester resin, alkyd resin, epoxy resin, or silicone resin.

前記第1の有機化合物層112の上に、外部と接続する第1の上部電極113を一様に設ける。   A first upper electrode 113 connected to the outside is uniformly provided on the first organic compound layer 112.

この時点で図3の(a)の状態が得られる。通電層の給電部121にプローブ等を接続し、薄膜発熱体307a、307bを発熱させる。画素318(118)、319(119)の第1の有機化合物層112が蒸発し、第1の上部電極113ともども除去することができ、図3の(b)の状態が得られる。   At this time, the state of FIG. 3A is obtained. A probe or the like is connected to the power feeding portion 121 of the energization layer to cause the thin film heating elements 307a and 307b to generate heat. The first organic compound layer 112 of the pixels 318 (118) and 319 (119) evaporates and can be removed together with the first upper electrode 113, and the state of FIG. 3B is obtained.

この後、引き続き、第2の有機化合物層114を真空蒸着法などで表示部に一様に堆積する。なお、第2の有機化合物層114は不図示の電荷注入層、電荷輸送層、発光層から構成されてよい。例えば赤の発光層としてAlq3(ホスト)とDCM[4−(dicyanomethylene)−2−methyl−6(p−dimethylaminostyryl)−4H−pyran]とを共蒸着(重量比99:1)する。他の材料も前述の材料で作製できる。   Thereafter, the second organic compound layer 114 is uniformly deposited on the display portion by vacuum evaporation or the like. The second organic compound layer 114 may be composed of a charge injection layer, a charge transport layer, and a light emitting layer (not shown). For example, Alq3 (host) and DCM [4- (dicyanomethylene) -2-methyl-6 (p-dimethylaminostyryl) -4H-pyran] are co-evaporated (weight ratio 99: 1) as a red light emitting layer. Other materials can also be made from the materials described above.

前記第2の有機化合物層114の上に、外部と接続する第2の上部電極115を一様に設ける。第2の上部電極115は酸化錫、酸化亜鉛、酸化インジウム、ITO、IZOなど透明導電材料で構成できる。薄膜トランジスタの電極層と同時に作製できる取出し用の配線と表示領域の外側で接続し、接続端子とつなげるのが好ましい。   A second upper electrode 115 connected to the outside is uniformly provided on the second organic compound layer 114. The second upper electrode 115 can be made of a transparent conductive material such as tin oxide, zinc oxide, indium oxide, ITO, or IZO. It is preferable that the wiring for extraction which can be manufactured simultaneously with the electrode layer of the thin film transistor is connected to the outside of the display region and connected to the connection terminal.

この時点で図3の(c)の状態が得られる。通電層の給電部121にプローブ等を接続し、薄膜発熱体307bを発熱させる。画素319(119)の第2の有機化合物層114が蒸発し、第2の上部電極115ともども除去することができ、図3の(d)の状態が得られる。   At this point, the state shown in FIG. 3C is obtained. A probe or the like is connected to the power feeding portion 121 of the energization layer to cause the thin film heating element 307b to generate heat. The second organic compound layer 114 of the pixel 319 (119) evaporates and can be removed together with the second upper electrode 115, and the state shown in FIG. 3D is obtained.

この後、引き続き、第3の有機化合物層116を真空蒸着法などで表示部に一様に堆積する。例えば青の発光層としてペリレン色素(1.0vol%)とトリス[8−ヒドロキシキノリナート]アルミニウム(Alq3)とを共蒸着する。他の材料も前述の材料で作製できる。   Thereafter, the third organic compound layer 116 is uniformly deposited on the display portion by vacuum evaporation or the like. For example, perylene dye (1.0 vol%) and tris [8-hydroxyquinolinato] aluminum (Alq3) are co-evaporated as a blue light emitting layer. Other materials can also be made from the materials described above.

前記第3の有機化合物層116の上に、外部と接続する第3の上部電極117を一様に設ける。第3の上部電極117は酸化錫、酸化亜鉛、酸化インジウム、ITO、IZOなど透明導電材料で構成できる。薄膜トランジスタの電極層と同時に作製できる取出し用の配線と表示領域の外側で接続し、接続端子とつなげることが好ましい。   A third upper electrode 117 connected to the outside is uniformly provided on the third organic compound layer 116. The third upper electrode 117 can be made of a transparent conductive material such as tin oxide, zinc oxide, indium oxide, ITO, or IZO. It is preferable that the wiring for extraction which can be manufactured simultaneously with the electrode layer of the thin film transistor is connected to the outside of the display region and connected to the connection terminal.

この時点で図3の(e)の状態が得られる。なお、有機化合物層と上部電極は、取出し端子部122や通電層の給電部121には表示部に大きく開口した金属マスクを用いるなどして設けないことが好ましい。   At this time, the state shown in FIG. 3E is obtained. Note that the organic compound layer and the upper electrode are preferably not provided in the extraction terminal portion 122 or the feeding portion 121 of the energization layer by using a metal mask having a large opening in the display portion.

この後、外部からの酸素や水等を遮断するために掘り込みを設けたガラス120等を接着する。内部の空間に吸湿材を設けることが好ましい。また、第3の上部電極まで作製した部材に窒化珪素、窒化酸化珪素等の保護膜をプラズマCVD法等で堆積してもよい。   Thereafter, glass 120 or the like provided with a digging is bonded in order to block oxygen, water, and the like from the outside. It is preferable to provide a hygroscopic material in the internal space. Further, a protective film such as silicon nitride or silicon nitride oxide may be deposited on the member manufactured up to the third upper electrode by a plasma CVD method or the like.

これらの表面に市販のディスプレイ用偏光板を設けてもよく、本発明の有機EL表示装置が完成する。偏光板は一部分での接着や全面での接着のほかにバネなどによる機械的な固定方法によってもよい。   Commercially available polarizing plates for display may be provided on these surfaces to complete the organic EL display device of the present invention. The polarizing plate may be mechanically fixed by a spring or the like in addition to partial adhesion or entire surface adhesion.

従来の方法では、例えば対角3inch、VGA(640画素×480画素)の高精細な有機EL表示装置の作製は容易ではない。本発明ではこのような高精細な表示装置が可能となるうえに、ヘッドマウントディスプレイ用などのさらに小型高精細な表示装置の作製も可能となる。   In the conventional method, for example, it is not easy to manufacture a high-definition organic EL display device having a diagonal of 3 inches and VGA (640 pixels × 480 pixels). According to the present invention, such a high-definition display device is possible, and further, a smaller and higher-definition display device for a head-mounted display or the like can be manufactured.

本発明の有機EL表示装置の実施例を説明する。   Examples of the organic EL display device of the present invention will be described.

<実施例1>
実施例1では図1の概念図に相当する有機EL表示装置を作製した。6インチφのガラス基板に対角3インチの表示装置を2枚、同時に作製した。640画素×480画素、各画素のピッチは、3色の副画素で約95μm×32μmである。平面の概念図は図2に相当する。
<Example 1>
In Example 1, an organic EL display device corresponding to the conceptual diagram of FIG. 1 was produced. Two 3 inch diagonal display devices were fabricated simultaneously on a 6 inch φ glass substrate. 640 pixels × 480 pixels, and the pitch of each pixel is about 95 μm × 32 μm for three color sub-pixels. A conceptual diagram of the plane corresponds to FIG.

ガラス基板101(201)にバリア層(不図示)をプラズマCVD法によりSiH4とNH3とH2を原料ガスとしてSiN層を200nmの厚みで形成した。次にやはりプラズマCVD法により非晶質シリコンを50nmの厚みで設けチャネル層を形成する。レーザアニールにより多結晶化し、フォトリソグラフィ技術によりパターニングした。駆動用とスイッチング用と制御回路用のトランジスタのチャネル層が形成できる。次に、100nmの厚みでSiO2のゲート絶縁膜を形成し、その上にスパッタリング法などによりTaを50nm、Alを200nmの厚みに積層し、パターニングしてゲート電極を作製した。次にチャネル層のN領域以外をレジストで保護し、リンをドープした。次にP領域以外をレジストで保護し、ボロンをドープした。その後レーザー光による活性化を行った。さらにこの上にSiNからなる保護膜を500nmの厚みで設けた。さらに、前記保護膜にフォトリソグラフィ技術を用いて接続用の開口をパターニングし、Tiを100nmとTiAl合金を300nmからなる2層構成の電極層を成膜し、パターニングしてソース電極とドレイン電極とコンデンサ電極と接続端子122を設けた。 A barrier layer (not shown) was formed on the glass substrate 101 (201) by a plasma CVD method using SiH 4 , NH 3, and H 2 as source gases to a thickness of 200 nm. Next, a channel layer is also formed by providing amorphous silicon with a thickness of 50 nm by plasma CVD. Polycrystallized by laser annealing and patterned by photolithography. Channel layers of transistors for driving, switching, and control circuits can be formed. Next, a SiO 2 gate insulating film with a thickness of 100 nm was formed, and Ta was deposited thereon with a thickness of 50 nm and Al with a thickness of 200 nm by sputtering or the like, and patterned to produce a gate electrode. Next, a portion other than the N region of the channel layer was protected with a resist, and phosphorus was doped. Next, the region other than the P region was protected with a resist, and boron was doped. After that, activation by laser light was performed. Further, a protective film made of SiN was provided thereon with a thickness of 500 nm. Further, a connection opening is patterned on the protective film using a photolithography technique to form a two-layer electrode layer composed of 100 nm of Ti and 300 nm of a TiAl alloy, and patterned to form a source electrode and a drain electrode. Capacitor electrodes and connection terminals 122 were provided.

第1の通電層103を10nmの厚みのTiと200nmの厚みのAlとを一様にスパッタリングで積層して作製し、フォトリソグラフィ技術により所望の形状にパターニングした。ウェットエッチングを利用して端部は約30°のテーパ形状にした。この時、第1の通電層103は赤色の画素118に対応した薄膜発熱体へ通電できるパターンとした。   The first conductive layer 103 was formed by uniformly laminating Ti with a thickness of 10 nm and Al with a thickness of 200 nm by sputtering, and patterned into a desired shape by a photolithography technique. The end portion was tapered by about 30 ° using wet etching. At this time, the first energization layer 103 has a pattern capable of energizing the thin film heating element corresponding to the red pixel 118.

第1の層間絶縁層104を作製する。SiNをCVD法により300nmの厚みに堆積し、フォトリソグラフィ技術により所望の位置を接続のためにエッチングした。   A first interlayer insulating layer 104 is formed. SiN was deposited to a thickness of 300 nm by a CVD method, and a desired position was etched for connection by a photolithography technique.

第2の通電層105を第1の通電層103と同様にTiとAlとを一様にスパッタリングで積層して作製し、フォトリソグラフィ技術により所望の形状にパターニングした。ウェットエッチングを利用して端部は約30°のテーパ形状にした。この時、第2の通電層105は青色の画素119に対応した薄膜発熱体へ通電できるパターンとした。   Similarly to the first energization layer 103, the second energization layer 105 was formed by uniformly laminating Ti and Al by sputtering, and was patterned into a desired shape by photolithography. The end portion was tapered by about 30 ° using wet etching. At this time, the second energization layer 105 has a pattern capable of energizing the thin film heating element corresponding to the blue pixel 119.

第2の層間絶縁層106を第1の層間絶縁層104と同様に作製した。   A second interlayer insulating layer 106 was formed in the same manner as the first interlayer insulating layer 104.

薄膜発熱体107をTaNを用い、厚み10nm、シート抵抗350Ωに調整して作製した。引き続き、第3の通電層108をAlを200nmの厚みに一様にスパッタリングして作製した。薄膜発熱体107と第3の通電層108とを同時にフォトリソグラフィ技術により所望の形状にパターニングした。さらに、画素に対応する位置の第3の通電層108のみエッチングして薄膜発熱体を作製した。端部はウェットエッチングを利用して約30°のテーパ形状にした。   The thin film heating element 107 was manufactured by using TaN and adjusting the thickness to 10 nm and the sheet resistance to 350Ω. Subsequently, the third current-carrying layer 108 was produced by sputtering Al uniformly to a thickness of 200 nm. The thin film heating element 107 and the third conductive layer 108 were simultaneously patterned into a desired shape by photolithography. Further, only the third conductive layer 108 at a position corresponding to the pixel was etched to produce a thin film heating element. The end portion was tapered by about 30 ° using wet etching.

第3の通電層108は層間絶縁層のエッチング部を通じて、第1と第2の通電層と接続させる。また、薄膜発熱体の片方の極ともなり、図1(b)の符号108のように取出し方向とは直交する方向で表示領域の周囲に給電部を設けた。   The third energization layer 108 is connected to the first and second energization layers through the etched portion of the interlayer insulating layer. Further, a power feeding portion is provided around the display area in a direction orthogonal to the extraction direction as indicated by reference numeral 108 in FIG.

第3の層間絶縁層109を作製する。薄膜トランジスタや通電層による凹凸を平坦化するのが好ましいため、VUV−CVD法(真空紫外光を用いた光CVD法)によるSiOCを500nmの厚みに形成した。やはりフォトリソグラフィ技術により所望の位置を接続のためにCF4を用いてドライエッチングした。平坦化の度合いは高低差200nm程度、傾斜角度は15°程度の凹凸にできた。真空中で300℃に加熱して十分な脱水処理を行った。   A third interlayer insulating layer 109 is formed. Since it is preferable to flatten the unevenness due to the thin film transistor and the current-carrying layer, SiOC was formed to a thickness of 500 nm by the VUV-CVD method (photo CVD method using vacuum ultraviolet light). Again, a desired position was dry-etched using CF4 for connection by photolithography. The degree of flattening was uneven with an elevation difference of about 200 nm and an inclination angle of about 15 °. Sufficient dehydration was performed by heating to 300 ° C. in vacuum.

50nmの厚みのAlSiと100nmのITOとをスパッタリング法等で積層して成膜し、フォトリソグラフィ技術により下部電極110を作製した。   A 50 nm thick AlSi film and a 100 nm ITO film were stacked by sputtering or the like, and a lower electrode 110 was fabricated by photolithography.

300nmのSiNを成膜し、パターニングして、下部電極110の端部を覆い、発光領域を制限する素子分離膜111を形成した。ウェットエッチングを利用して端部は約20°のテーパ形状にした。   A 300 nm SiN film was formed and patterned to form an element isolation film 111 that covered the end of the lower electrode 110 and restricted the light emitting region. The end portion was tapered by about 20 ° using wet etching.

この後、真空中で加熱する等の十分な脱水処理に引き続き、第1の有機化合物層112を表示部に大きく開口した金属マスクを用いて、真空蒸着法で一様に堆積した。なお、有機化合物層112は不図示の正孔輸送層、緑の発光層、電子注入層を積層した。正孔輸送層はαNPDで作製した。緑の発光層はAlq3(ホスト)とクマリン6(発光性化合物)とを共蒸着(重量比99:1)で作製した。電子注入層はフッ化リチウム(0.9vol%)と化学式1で表されるフェナントロリン化合物とを共蒸着で作製した。   Thereafter, following a sufficient dehydration treatment such as heating in vacuum, the first organic compound layer 112 was uniformly deposited by a vacuum evaporation method using a metal mask having a large opening in the display portion. The organic compound layer 112 was formed by laminating a hole transport layer (not shown), a green light emitting layer, and an electron injection layer. The hole transport layer was made of αNPD. The green light emitting layer was prepared by co-evaporation (weight ratio 99: 1) of Alq3 (host) and coumarin 6 (light emitting compound). The electron injection layer was prepared by co-evaporation of lithium fluoride (0.9 vol%) and a phenanthroline compound represented by Chemical Formula 1.

Figure 2009117278
Figure 2009117278

前記第1の有機化合物層112の上に、外部と接続する第1の上部電極113をIZOで100nmの厚みでスパッタリングにより一様に設けた。開口した金属マスクを用い外部との接続部まで有機化合物層より広く作製した。   On the first organic compound layer 112, a first upper electrode 113 connected to the outside was uniformly provided by sputtering at a thickness of 100 nm using IZO. Using an opened metal mask, it was made wider than the organic compound layer up to the connection with the outside.

この時点で図3の(a)の状態が得られた。通電層の給電部121にプローブ等を接続し、薄膜発熱体307a、307bを発熱させた。1画素あたり、490mW(28V17.5mA)の電力を1msecのパルスで印加した。画素318(118)、319(119)の第1の有機化合物層112が蒸発し、第1の上部電極113ともども除去することができ、図3の(b)の状態が得られた。   At this point, the state of FIG. 3A was obtained. A probe or the like was connected to the power feeding portion 121 of the energization layer, and the thin film heating elements 307a and 307b were caused to generate heat. A power of 490 mW (28 V 17.5 mA) was applied with a 1 msec pulse per pixel. The first organic compound layer 112 of the pixels 318 (118) and 319 (119) was evaporated and could be removed together with the first upper electrode 113, and the state shown in FIG. 3B was obtained.

この後、引き続き、第2の有機化合物層114を大きく開口した金属マスクを用いて、真空蒸着法などで表示部に一様に堆積した。なお、第2の有機化合物層114は不図示の正孔輸送層、赤の発光層、電子注入層から構成した。赤の発光層としてAlq3(ホスト)とDCM[4−(dicyanomethylene)−2−methyl−6(p−dimethylaminostyryl)−4H−pyran]とを共蒸着(重量比99:1)した。正孔輸送層と電子注入層とは緑の画素と同じ物を使用した。   Thereafter, the second organic compound layer 114 was deposited uniformly on the display portion by a vacuum evaporation method or the like using a metal mask having a large opening. The second organic compound layer 114 was composed of a hole transport layer (not shown), a red light emitting layer, and an electron injection layer. Alq3 (host) and DCM [4- (dicyanomethylene) -2-methyl-6 (p-dimethylaminostyryl) -4H-pyran] were co-evaporated (weight ratio 99: 1) as a red light emitting layer. The hole transport layer and the electron injection layer used the same thing as a green pixel.

前記第2の有機化合物層114の上に、外部と接続する第2の上部電極115をIZOで100nmの厚みでスパッタリングにより一様に設けた。開口した金属マスクを用い外部との接続部まで有機化合物層より広く作製した。   On the second organic compound layer 114, a second upper electrode 115 connected to the outside was uniformly provided by sputtering with IZO at a thickness of 100 nm. Using an opened metal mask, it was made wider than the organic compound layer up to the connection with the outside.

この時点で図3の(c)の状態が得られた。通電層の給電部121にプローブ等を接続し、薄膜発熱体307bを発熱させた。1画素あたり、490mW(28V17.5mA)の電力を1msecのパルスで印加した。画素319(119)の第2の有機化合物層114が蒸発し、第2の上部電極115ともども除去することができ、図3の(d)の状態が得られた。   At this point, the state shown in FIG. 3C was obtained. A probe or the like was connected to the power feeding portion 121 of the energization layer, and the thin film heating element 307b was heated. A power of 490 mW (28 V 17.5 mA) was applied with a 1 msec pulse per pixel. The second organic compound layer 114 of the pixel 319 (119) evaporates and can be removed together with the second upper electrode 115, and the state of FIG. 3D is obtained.

この後、引き続き、第3の有機化合物層116を大きく開口した金属マスクを用いて真空蒸着法で表示部に一様に堆積した。正孔輸送層と電子注入層は緑と赤と同じ材料を用いた。青の発光層としてはペリレン色素(1.0vol%)とトリス[8−ヒドロキシキノリナート]アルミニウム(Alq3)とを共蒸着した。   Thereafter, the third organic compound layer 116 was deposited uniformly on the display portion by vacuum evaporation using a metal mask having a large opening. The same materials as green and red were used for the hole transport layer and the electron injection layer. For the blue light-emitting layer, perylene dye (1.0 vol%) and tris [8-hydroxyquinolinate] aluminum (Alq3) were co-evaporated.

前記第3の有機化合物層116の上に、外部と接続する第3の上部電極117をIZOで100nmの厚みでスパッタリングにより一様に設けた。開口した金属マスクを用い外部との接続部まで有機化合物層より広く作製した。この時点で図3の(e)の状態が得られた。   On the third organic compound layer 116, a third upper electrode 117 connected to the outside was uniformly formed by sputtering with IZO at a thickness of 100 nm. Using an opened metal mask, it was made wider than the organic compound layer up to the connection with the outside. At this point, the state shown in FIG. 3E was obtained.

この後、外部からの酸素や水等を遮断するために掘り込みを設けたガラス120等を接着した。内部の空間にはゼオライトからなる吸湿材を設けた。   Thereafter, glass 120 or the like provided with a digging in order to shut off oxygen and water from the outside was bonded. A hygroscopic material made of zeolite was provided in the internal space.

これらの表面に市販のディスプレイ用偏光板を設けて本発明の有機EL表示装置を完成した。動作させたところ、フルカラー表示が可能であった。   Commercially available polarizing plates for display were provided on these surfaces to complete the organic EL display device of the present invention. When operated, full color display was possible.

<実施例2>
実施例2では図4の概念図に相当するパッシブマトリクス方式の2色の有機EL表示装置を作製した。
<Example 2>
In Example 2, a passive matrix type two-color organic EL display device corresponding to the conceptual diagram of FIG. 4 was produced.

6インチφのガラス基板401に対角2インチの表示装置を4枚、同時に作製した。160画素×1200画素、各画素のピッチは、2色の副画素で約254μm×127μmである。   Four 2 inch diagonal display devices were simultaneously fabricated on a 6 inch φ glass substrate 401. 160 pixels × 1200 pixels, and the pitch of each pixel is about 254 μm × 127 μm for two-color subpixels.

第1の通電層402を10nmの厚みのTiと200nmの厚みのAlとを一様にスパッタリングで積層して作製し、フォトリソグラフィ技術により所望の形状にパターニングした。ウェットエッチングを利用して端部は約30°のテーパ形状にした。この時、第1の通電層402は赤色の画素412に対応した薄膜発熱体へ通電できるパターンとした。   The first conductive layer 402 was formed by uniformly laminating Ti with a thickness of 10 nm and Al with a thickness of 200 nm by sputtering, and patterned into a desired shape by a photolithography technique. The end portion was tapered by about 30 ° using wet etching. At this time, the first energization layer 402 has a pattern capable of energizing the thin film heating element corresponding to the red pixel 412.

第1の層間絶縁層403を作製した。SiNをCVD法により300nmの厚みに堆積し、フォトリソグラフィ技術により所望の位置を接続のためにエッチングした。   A first interlayer insulating layer 403 was produced. SiN was deposited to a thickness of 300 nm by a CVD method, and a desired position was etched for connection by a photolithography technique.

薄膜発熱体404をTaNを用いて10nmの厚みで作製し、引き続き、第2の通電層405をAlを300nmの厚みで一様にスパッタリングで作製した。薄膜発熱体404と第2の通電層405とを同時にフォトリソグラフィ技術によりパターニングした。さらに、画素に対応する位置の第2の通電層405のみエッチングして薄膜発熱体を作製した。   The thin film heating element 404 was formed using TaN with a thickness of 10 nm, and then the second conductive layer 405 was formed with Al uniformly with a thickness of 300 nm by sputtering. The thin film heating element 404 and the second conductive layer 405 were simultaneously patterned by a photolithography technique. Further, only the second conductive layer 405 at a position corresponding to the pixel was etched to produce a thin film heating element.

第2の層間絶縁層406を作製した。ポリイミドを塗布し、やはりフォトリソグラフィ技術により所望の位置を接続のためにエッチングした。   A second interlayer insulating layer 406 was produced. Polyimide was applied, and the desired position was etched for connection, also by photolithography.

Ag−Mg合金をスパッタリング法等で成膜し、フォトリソグラフィ技術により下部電極407を作製した。さらに、ポリイミドを成膜し、パターニングして、下部電極407の端部を覆い、発光領域を制限する逆テーパ状の素子分離膜408を形成した。   An Ag—Mg alloy was formed into a film by a sputtering method or the like, and a lower electrode 407 was produced by a photolithography technique. Further, a polyimide film was formed and patterned to form an inversely tapered element isolation film 408 that covers the end portion of the lower electrode 407 and restricts the light emitting region.

この後、真空中で180℃で加熱し、第1の有機化合物層409を真空蒸着法で表示部に一様に堆積した。なお、第1の有機化合物層409は電子輸送性の発光層であり、緑の発光層としてAlq3(ホスト)とクマリン6(発光性化合物)とを共蒸着(重量比99:1)した。   Thereafter, heating was performed at 180 ° C. in vacuum, and the first organic compound layer 409 was uniformly deposited on the display portion by a vacuum evaporation method. Note that the first organic compound layer 409 is an electron-transporting light-emitting layer, and Alq3 (host) and coumarin 6 (light-emitting compound) were co-deposited (weight ratio 99: 1) as a green light-emitting layer.

通電層の給電部414にプローブ等を接続し、薄膜発熱体404を発熱させた。1画素あたり30V、160mAの直流電力を約1sec印加した。画素412の第1の有機化合物層409が蒸発し、除去することができた。   A probe or the like was connected to the power feeding portion 414 of the energization layer, and the thin film heating element 404 was caused to generate heat. A DC power of 30 V and 160 mA per pixel was applied for about 1 sec. The first organic compound layer 409 of the pixel 412 was evaporated and could be removed.

引き続き、第2の有機化合物層410と第2の上部電極411とを一様に設けた。第2の有機化合物層410として赤色のAlq3(ホスト)とDCM[4−(dicyanomethylene)−2−methyl−6(p−dimethylaminostyryl)−4H−pyran]とを共蒸着(重量比99:1)した。この上に正孔輸送層をαNPDで積層した。第2の上部電極411はITO透明導電材料で構成できる。   Subsequently, the second organic compound layer 410 and the second upper electrode 411 were uniformly provided. As the second organic compound layer 410, red Alq3 (host) and DCM [4- (dicyanomethylene) -2-methyl-6 (p-dimethylaminostyryl) -4H-pyran] were co-evaporated (weight ratio 99: 1). . A hole transport layer was laminated thereon with αNPD. The second upper electrode 411 can be made of an ITO transparent conductive material.

有機化合物層と上部電極とは、取出し端子部415や通電層の給電部414には表示部に大きく開口した金属マスクを用いるなどして設けなかった。   The organic compound layer and the upper electrode were not provided by using a metal mask having a large opening in the display portion in the extraction terminal portion 415 or the feeding portion 414 of the energization layer.

この後、外部からの酸素や水等を遮断するために掘り込みを設けたガラス413を接着した。内部の空間に吸湿材を設けた。   Thereafter, a glass 413 provided with a digging in order to shut off oxygen, water, and the like from the outside was bonded. A hygroscopic material was provided in the internal space.

動作させたところ、赤色から黄色にかけての多色表示が可能であった。   When operated, multicolor display from red to yellow was possible.

本発明の有機EL表示装置の一例を拡大して示した概念図である。It is the conceptual diagram which expanded and showed an example of the organic electroluminescent display apparatus of this invention. 本発明の有機EL表示装置全体の一例の平面を示した概念図である。It is the conceptual diagram which showed the plane of an example of the whole organic electroluminescence display of this invention. 本発明の有機EL表示装置の作製手順の概念図である。It is a conceptual diagram of the preparation procedure of the organic electroluminescence display of this invention. 本発明の有機EL表示装置の別の一例の断面を拡大して示した概念図である。It is the conceptual diagram which expanded and showed the cross section of another example of the organic electroluminescent display apparatus of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

101 基板
102 薄膜トランジスタ
103 第1の通電層
104 第1の層間絶縁層
105 第2の通電層
106 第2の層間絶縁層
107a 赤色の画素に対応した薄膜発熱体
107b 青色の画素に対応した薄膜発熱体
108 第3の通電層
109 第3の層間絶縁層
110 下部電極
111 素子分離膜
112 第1の有機化合物層(緑)
113 第1の上部電極
114 第2の有機化合物層(赤)
115 第2の上部電極
116 第3の有機化合物層(青)
117 第3の上部電極
118 赤色の画素
119 青色の画素
120 封止部材
121 通電層の給電部
122 取出し電極の端子部
201 基板
202 表示領域
203 制御用回路
204 接続端子
205 封止部材
206 発光領域以外の封止空間
307a 赤色の画素に対応する薄膜発熱体
307b 青色の画素に対応する薄膜発熱体
318 赤色の画素
319 青色の画素
401 基板
402 第1の通電層
403 第1の層間絶縁層
404 薄膜発熱体
405 第2の通電層
406 第2の層間絶縁層
407 下部電極
408 素子分離膜
409 第1の有機化合物層(緑)
410 第2の有機化合物層(赤)
411 上部電極
412 赤色の画素
413 封止部材
414 通電層の給電部
415 取出し端子部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 101 Substrate 102 Thin film transistor 103 1st electricity supply layer 104 1st interlayer insulation layer 105 2nd electricity supply layer 106 2nd interlayer insulation layer 107a Thin film heating element 107b corresponding to a red pixel Thin film heating element corresponding to a blue pixel 108 Third conductive layer 109 Third interlayer insulating layer 110 Lower electrode 111 Element isolation film 112 First organic compound layer (green)
113 First upper electrode 114 Second organic compound layer (red)
115 Second upper electrode 116 Third organic compound layer (blue)
117 Third upper electrode 118 Red pixel 119 Blue pixel 120 Sealing member 121 Power feeding portion 122 of conductive layer Extraction electrode terminal portion 201 Substrate 202 Display region 203 Control circuit 204 Connection terminal 205 Sealing member 206 Other than light emitting region Sealing space 307a Thin film heating element 307b corresponding to red pixel Thin film heating element 318 corresponding to blue pixel Red pixel 319 Blue pixel 401 Substrate 402 First conductive layer 403 First interlayer insulating layer 404 Thin film heating Body 405 Second conductive layer 406 Second interlayer insulating layer 407 Lower electrode 408 Element isolation film 409 First organic compound layer (green)
410 Second organic compound layer (red)
411 Upper electrode 412 Red pixel 413 Sealing member 414 Current-carrying power feeding portion 415 Extraction terminal portion

Claims (6)

基板上に下部電極と有機化合物層と上部電極からなる複数の画素を形成する有機EL表示装置の製造方法において、
前記画素の少なくとも1つに対応した薄膜発熱体を基板上に形成し、少なくとも一つの有機化合物層を形成する工程の後、
前記有機化合物層が不要な画素について、前記薄膜発熱体に通電して発熱させ、前記有機化合物層を除去する工程を実施し、
さらに別の有機化合物層と上部電極とを形成することを特徴とする有機EL表示装置の製造方法。
In a method for manufacturing an organic EL display device in which a plurality of pixels including a lower electrode, an organic compound layer, and an upper electrode are formed on a substrate,
After forming a thin film heating element corresponding to at least one of the pixels on the substrate and forming at least one organic compound layer,
For pixels that do not require the organic compound layer, the thin film heating element is energized to generate heat, and the organic compound layer is removed.
Furthermore, another organic compound layer and an upper electrode are formed, The manufacturing method of the organic electroluminescence display characterized by the above-mentioned.
基板上に下部電極と有機化合物層と外部に接続する上部電極からなる複数の画素を形成する有機EL表示装置の製造方法において、
前記画素の少なくとも1つに対応した薄膜発熱体を基板上に形成し、第1の有機化合物層と外部に接続する第1の上部電極とを形成する工程の後、
前記第1の有機化合物層と第1の上部電極とが不要な画素について、前記薄膜発熱体に通電して発熱させ、前記第1の有機化合物層と第1の上部電極とを除去する工程を実施し、
さらに有機化合物層と外部に接続する上部電極とを形成することを特徴とする有機EL表示装置の製造方法。
In a method for manufacturing an organic EL display device, a plurality of pixels including a lower electrode, an organic compound layer, and an upper electrode connected to the outside are formed on a substrate.
After forming a thin film heating element corresponding to at least one of the pixels on the substrate and forming the first organic compound layer and the first upper electrode connected to the outside,
A step of removing the first organic compound layer and the first upper electrode by energizing the thin film heating element to generate heat for a pixel that does not require the first organic compound layer and the first upper electrode. Carried out,
Furthermore, the manufacturing method of the organic EL display device characterized by forming an organic compound layer and the upper electrode connected to the exterior.
基板上に下部電極と有機化合物層と外部に接続する上部電極からなる複数の画素を形成する有機EL表示装置の製造方法において、
前記画素の少なくとも1つに対応した薄膜発熱体を基板上に形成し、第1の有機化合物層と外部に接続する第1の上部電極とを形成する工程の後、
前記第1の有機化合物層と第1の上部電極とが不要な画素について、前記薄膜発熱体に通電して発熱させ、前記第1の有機化合物層と第1の上部電極とを除去する工程を実施し、
引き続き、別の有機化合物層と外部に接続する別の上部電極とを形成する工程と、
薄膜発熱体を通電して発熱させ、不要な画素の有機化合物層と上部電極とを除去する工程とを必要に応じて繰り返し、
さらに最上部の有機化合物層と外部に接続する最上部の上部電極とを形成することを特徴とする有機EL表示装置の製造方法。
In a method for manufacturing an organic EL display device, a plurality of pixels including a lower electrode, an organic compound layer, and an upper electrode connected to the outside are formed on a substrate.
After forming a thin film heating element corresponding to at least one of the pixels on the substrate and forming the first organic compound layer and the first upper electrode connected to the outside,
A step of removing the first organic compound layer and the first upper electrode by energizing the thin film heating element to generate heat for a pixel that does not require the first organic compound layer and the first upper electrode. Carried out,
Subsequently, forming another organic compound layer and another upper electrode connected to the outside,
The thin film heating element is energized to generate heat, and the process of removing the organic compound layer and the upper electrode of unnecessary pixels is repeated as necessary.
A method of manufacturing an organic EL display device, further comprising forming an uppermost organic compound layer and an uppermost upper electrode connected to the outside.
有機化合物層が複数の層からなることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の有機EL表示装置の製造方法。   The method for manufacturing an organic EL display device according to claim 1, wherein the organic compound layer includes a plurality of layers. 薄膜発熱体と通電するための通電層を、下部電極より基板側に多層配線の状態で設けたことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の有機EL表示装置の製造方法。   5. The organic EL display device according to claim 1, wherein an energization layer for energizing the thin film heating element is provided in a state of multilayer wiring on the substrate side from the lower electrode. Production method. 前記薄膜発熱体を画素より広く形成し、画素より広く有機化合物層を除去することを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載の有機EL表示装置の製造方法。   6. The method of manufacturing an organic EL display device according to claim 1, wherein the thin film heating element is formed wider than the pixel and the organic compound layer is removed wider than the pixel.
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