JP2009043110A - Semiconductor storage device - Google Patents
Semiconductor storage device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009043110A JP2009043110A JP2007208721A JP2007208721A JP2009043110A JP 2009043110 A JP2009043110 A JP 2009043110A JP 2007208721 A JP2007208721 A JP 2007208721A JP 2007208721 A JP2007208721 A JP 2007208721A JP 2009043110 A JP2009043110 A JP 2009043110A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- write protect
- memory controller
- protect terminal
- write
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Abstract
Description
この発明は、データを記憶するメモリ部と、その読み出し/書き込み制御を行うメモリコントローラとを備えた半導体記憶装置に関する。 The present invention relates to a semiconductor memory device including a memory unit that stores data and a memory controller that performs read / write control thereof.
電気的書き換え可能な不揮発性半導体メモリ(EEPROM)の一つとして、NAND型フラッシュメモリが知られている。NAND型フラッシュメモリは、単位セル面積がNOR型に比べて小さく、大容量化が容易である。また、セル単位での読み出し/書き込み速度は、NOR型に比べると遅いが、セルアレイとページバッファとの間で同時に読み出し/書き込みが行われるセル範囲(物理的ページ長)を大きくすることで、実質的に高速の読み出し/書き込みが可能である。 NAND flash memory is known as one of electrically rewritable nonvolatile semiconductor memories (EEPROM). The NAND flash memory has a smaller unit cell area than the NOR type and can easily be increased in capacity. The read / write speed per cell is slower than that of the NOR type, but by increasing the cell range (physical page length) in which reading / writing is simultaneously performed between the cell array and the page buffer, In particular, high-speed reading / writing is possible.
このような特長を活かして、NAND型フラッシュメモリは、ファイルメモリやメモリカードをはじめとする各種記録メディアとして使用されている。 Taking advantage of these features, NAND flash memories are used as various recording media including file memories and memory cards.
メモリカード等においては、不揮発性メモリとメモリコントローラとをパッケージして、ホストから供給されるコマンドと論理アドレスにより、不揮発性メモリの読み出し/書き込みを制御することが行われる。例えば、ホストから論理アドレスとセクタ数を与えることにより、複数セクタのデータ読み出しを行うことも提案されている(特許文献1参照)。 In a memory card or the like, a nonvolatile memory and a memory controller are packaged, and reading / writing of the nonvolatile memory is controlled by a command and a logical address supplied from a host. For example, it has been proposed to read data of a plurality of sectors by giving a logical address and the number of sectors from a host (see Patent Document 1).
ところで、従来のNAND型フラッシュメモリでは、これを単体で使用する場合、書き込みの許可/禁止を指示するためのライトプロテクト(/WP)ピンが外部端子として設けられているため、誤書き込みが生じやすい状況、例えばパワーオン直後の所定期間では、/WPピンをアクティブレベルであるローレベルに制御し、デバイス動作時にはハイレベルに維持するという制御を外部から行う必要がある。しかし、このような制御は、外部システムにおける信号配線の増加を招き、外部システムによる特別な制御を必要とするという問題がある。
この発明は、外部システムによるライトプロテクトのための特別な信号配線及び制御を不要とする半導体記憶装置を提供することを目的とする。 It is an object of the present invention to provide a semiconductor memory device that does not require special signal wiring and control for write protection by an external system.
この発明の一態様による半導体記憶装置は、データを記憶すると共にライトプロテクト端子を有しこのライトプロテクト端子への制御信号がアクティブになったときにデータの書き込みを禁止するメモリ部と、前記メモリ部に対するアクセスを制御するメモリコントローラとを有し、外部から前記メモリコントローラを介して前記メモリ部をアクセスする半導体記憶装置において、前記メモリコントローラは、前記メモリ部のライトプロテクト端子への制御信号を生成し出力することを特徴とする。 A semiconductor memory device according to an aspect of the present invention includes a memory unit that stores data and has a write protect terminal, and prohibits data writing when a control signal to the write protect terminal becomes active, and the memory unit And a memory controller for controlling access to the memory unit, wherein the memory controller generates a control signal to the write protect terminal of the memory unit. It is characterized by outputting.
この発明によれば、外部システムによるライトプロテクトのための特別な信号配線及び制御を不要とすることかできる。 According to the present invention, special signal wiring and control for write protection by an external system can be eliminated.
以下、図面を参照して、この発明の実施の形態を説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
[半導体メモリの構成]
図1は、本実施の形態に係る半導体メモリを示すブロック図である。
[Configuration of semiconductor memory]
FIG. 1 is a block diagram showing a semiconductor memory according to the present embodiment.
この実施の形態の半導体メモリは、例えば一つ或いは複数個のNANDフラッシュメモリ21と、その読み出し/書き込みを制御するメモリコントローラ22とにより一体にパッケージ化されたメモリモジュールを構成する。搭載される全てのフラッシュメモリ21は、一つのメモリコントローラ22で論理メモリとしてコントロールされるので、以下これを、論理ブロックアドレス(Logic Block Address)NANDフラッシュメモリ(以下、LBA−NANDメモリと略称する)という。
The semiconductor memory of this embodiment constitutes a memory module integrally packaged by, for example, one or a plurality of
LBA−NANDメモリ20に搭載されるNANDフラッシュメモリ21は、1又は複数のメモリチップから構成されている。図1では二つのメモリチップchip1,chip2を示しているが、その場合も一つのメモリコントローラ22で制御される。最大搭載メモリチップ数は、レギュレータの電流能力や他のファクタとの関係で決まるが、例えば4チップとする。
The
メモリコントローラ22は、フラッシュメモリ21との間でデータ転送を行うためのNANDフラッシュインタフェース23、ホストデバイスとの間でデータ転送を行うためのホストインタフェース25、読み出し/書き込みデータ等を一時保持するバッファRAM26、データ転送制御を行うMPU24、NANDフラッシュメモリ21内のファームウェア(FW)の読み出し/書き込みのシーケンス制御等に用いられるハードウェアシーケンサ27を有する1チップコントローラである。
The
なお、NANDフラッシュメモリ21とメモリコントローラ22とが1チップであるか別チップであるかは、このLBA−NANDメモリ20にとって本質的ではない。
Whether the
図2は、図1のNANDフラッシュメモリ21のメモリコア部のセルアレイ構成を示している。
FIG. 2 shows a cell array configuration of the memory core portion of the
メモリセルアレイ1は、複数の電気的書き換え可能な不揮発性メモリセル(図の例では32個のメモリセル)M0−M31が直列接続され、その両端に選択トランジスタS1,S2が接続されたNANDセルユニット(NANDストリング)NUを配列して構成される。
The
NANDセルユニットNUの一端は、選択ゲートトランジスタS1を介してビット線BLo,BLeに、他端は選択ゲートトランジスタS2を介して共通ソース線CELSRCに接続される。メモリセルM0−M31の制御ゲートはそれぞれワード線WL0−WL31に接続され、選択ゲートトランジスタS1,S2のゲートは選択ゲート線SGD,SGSに接続される。 One end of the NAND cell unit NU is connected to the bit lines BLo and BLe via the selection gate transistor S1, and the other end is connected to the common source line CELSRC via the selection gate transistor S2. Control gates of memory cells M0-M31 are connected to word lines WL0-WL31, respectively, and gates of select gate transistors S1, S2 are connected to select gate lines SGD, SGS.
ワード線方向に配列されるNANDセルユニットの集合が、データ消去の最小単位となるブロックを構成し、図示のようにビット線の方向に複数のブロックBLK0−BLKn−1が配置される。 A set of NAND cell units arranged in the word line direction constitutes a block serving as a minimum unit of data erasure, and a plurality of blocks BLK0 to BLKn-1 are arranged in the bit line direction as shown in the figure.
ビット線BLe,BLoの一端側に、セルデータの読み出し及び書き込みに供させるセンスアンプ回路3が配置され、ワード線の一端側にワード線及び選択ゲート線の選択駆動を行うロウデコーダ2が配置される。図では、隣接する偶数番ビット線BLeと奇数番ビット線BLoがビット線選択回路により選択的にセンスアンプ回路3の各センスアンプSAに接続される場合を示している。
A
以上のように構成されたLBA−NANDメモリ20において、コマンド、アドレス(論理アドレス)及びデータ、並びにチップイネーブル信号/CE、書き込みイネーブル信号/WE、読み出しイネーブル信号/RE、コマンドラッチイネーブル信号CLE等の制御信号は、図示しない外部のホストシステムとホストI/F25との間で入出力される。ホストI/F25では、コマンドや制御信号を、MPU24及びハードウェアシーケンサ27に振り分けると共に、アドレス及びデータをバッファRAM26に格納する。
In the LBA-
外部から入力された論理アドレスは、NANDフラッシュI/F23で、NANDフラッシュメモリ21の物理アドレスに変換される。また、各種制御信号に基づくハードウェアシーケンサ27の制御の下、データの転送制御及び書き込み/消去/読み出しのシーケンス制御が実行される。変換された物理アドレスは、NANDフラッシュメモリ21内のアドレスレジスタを介して、ロウデコーダ2やカラムデコーダ(図示せず)に転送される。書き込みデータは、I/O制御回路等を介してセンスアンプ回路3にロードされ、読み出しデータはI/O制御回路等を介して、外部に出力される。
A logical address input from the outside is converted into a physical address of the
また、NANDフラッシュI/F23とNANDフラッシュメモリ21の間でも、内部的に、チップイネーブル信号/CE、書き込みイネーブル信号/WE、読み出しイネーブル信号/RE、コマンドラッチイネーブル信号CLE等の制御信号が入出力されている。更に、NANDフラッシュメモリ21には、ライトプロテクト(/WP)ピンが設けられ、このピンを介してNANDフラッシュI/F23から/WP信号が供給されている。/WP信号は、メモリコントローラ22の内部動作として、例えばNANDフラッシュI/F23で生成される。
In addition, control signals such as a chip enable signal / CE, a write enable signal / WE, a read enable signal / RE, and a command latch enable signal CLE are internally input / output between the NAND flash I /
このような内部動作としては、例えば、図3に示すように、パワーオンの後、このメモリ20がブートするまでの一定期間/WP信号をローレベルに維持する。コントローラ22を内蔵するLBA−NANDメモリ20では、パワーオンリセットのBusy期間が長くなる可能性があり、Busy期間が終了するまでは、NANDフラッシュメモリ21に対する書き込み許可を与えることはできない。このため、本実施形態では、ブート期間中に/WP信号を強制的にローレベルにするハードウェアをNANDフラッシュI/F23に備えている。これにより、NANDフラッシュメモリ21が誤書き込みを起こすことを防止することができる。
As such an internal operation, for example, as shown in FIG. 3, after the power is turned on, the / WP signal is maintained at a low level for a certain period until the
また、このLBA−NANDメモリ20の外部には、/WPは設けられていないので、外部のホストシステムによる、/WP制御のための特別の配線や制御を不要とすることができる。
In addition, since / WP is not provided outside the LBA-
なお、本発明は上述した実施形態に限定されるものではない。例えば、上記実施形態では、フラッシュメモリとしてNAND型を使用しているが、NOR型他の形式のメモリを用いても良い。 In addition, this invention is not limited to embodiment mentioned above. For example, in the above embodiment, the NAND type is used as the flash memory, but a NOR type other type of memory may be used.
1…メモリセルアレイ、2…ロウデコーダ、3…センスアンプ回路、20…LBA−NANDメモリ、21…NANDフラッシュメモリ、22…メモリコントローラ、23…NANDフラッシュインタフェース、24…MPU、25…ホストインタフェース、26…バッファRAM、27…ハードウェアシーケンサ。
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記メモリ部に対するアクセスを制御するメモリコントローラと
を有し、外部から前記メモリコントローラを介して前記メモリ部をアクセスする半導体記憶装置において、
前記メモリコントローラは、前記メモリ部のライトプロテクト端子への制御信号を生成し出力する
ことを特徴とする半導体記憶装置。 A memory unit that stores data and has a write protect terminal, and prohibits data writing when a control signal to the write protect terminal becomes active;
A memory controller that controls access to the memory unit; and a semiconductor memory device that accesses the memory unit from the outside via the memory controller,
The semiconductor memory device, wherein the memory controller generates and outputs a control signal to a write protect terminal of the memory unit.
ことを特徴とする請求項1記載の半導体記憶装置。 The semiconductor memory device according to claim 1, wherein the memory controller activates a control signal to the write protect terminal of the memory unit for a predetermined period immediately after power-on.
ことを特徴とする請求項1記載の半導体記憶装置。
The semiconductor memory device according to claim 1, wherein the memory controller does not have an externally accessible write protect terminal.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007208721A JP2009043110A (en) | 2007-08-10 | 2007-08-10 | Semiconductor storage device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007208721A JP2009043110A (en) | 2007-08-10 | 2007-08-10 | Semiconductor storage device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009043110A true JP2009043110A (en) | 2009-02-26 |
Family
ID=40443775
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007208721A Withdrawn JP2009043110A (en) | 2007-08-10 | 2007-08-10 | Semiconductor storage device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009043110A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012190195A (en) * | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Fujitsu Ltd | Control device |
CN103403805A (en) * | 2011-03-23 | 2013-11-20 | 株式会社东芝 | Semiconductor storage device and method for controlling same |
JP2015032317A (en) * | 2013-08-06 | 2015-02-16 | 慧榮科技股▲分▼有限公司 | Data storage device and access control method |
-
2007
- 2007-08-10 JP JP2007208721A patent/JP2009043110A/en not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012190195A (en) * | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Fujitsu Ltd | Control device |
CN103403805A (en) * | 2011-03-23 | 2013-11-20 | 株式会社东芝 | Semiconductor storage device and method for controlling same |
US9256523B2 (en) | 2011-03-23 | 2016-02-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor storage device and control method thereof |
US9582414B2 (en) | 2011-03-23 | 2017-02-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor storage device and control method thereof |
JP2015032317A (en) * | 2013-08-06 | 2015-02-16 | 慧榮科技股▲分▼有限公司 | Data storage device and access control method |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2332036B1 (en) | Solid state storage device controller with expansion mode | |
US8656092B2 (en) | Method for reading a multilevel cell in a non-volatile memory device | |
KR100939146B1 (en) | Non-volatile semiconductor memory system and data write method thereof | |
US8320200B2 (en) | Semiconductor storage device and method of reading data therefrom | |
US8248868B2 (en) | Asynchronous/synchronous interface | |
US7791952B2 (en) | Memory device architectures and operation | |
US7916557B2 (en) | NAND interface | |
TWI438780B (en) | Solid state storage device controller with parallel operation mode | |
US8116138B2 (en) | Memory device distributed controller system | |
JP5204069B2 (en) | Nonvolatile semiconductor memory device | |
JP2009003569A (en) | Semiconductor memory | |
JP2009043110A (en) | Semiconductor storage device | |
JP2009003995A (en) | Semiconductor memory device | |
JP2009003571A (en) | Semiconductor memory | |
JP2009003570A (en) | Semiconductor memory | |
JP2009163652A (en) | Semiconductor memory device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20101102 |