JP2009042568A - Foreign matter removing device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To strike a balance between high rigidity and thinning of a wiper frame. <P>SOLUTION: The wiper frame 31 is constituted of a flat part 31a, an attaching part 31b for fixing a foreign matter removing part 33, a reinforcement part 31c for surrounding the periphery of the attaching part 31b, plate-spring-like spring parts 31d, 31e in both ends, in a wiper type cleaning unit 30 for removing foreign matter such as dust deposited on the surface of an optical filter 14, a recess is formed in a metal thin plate by contraction working by a press, a bottom part of the recess serves as the attaching part 31b, and a side part thereof serves as the reinforcement part 31c. The one end (spring part 31d) of the wiper frame 31 is attached to a nut 25 by a wiper attaching pin 32, and the other end (spring part 31e) of the wiper frame 31 is inserted into a groove part 26a of a wiper regulation member 26. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、電子カメラ等に内蔵された撮像素子の前方やデータプロジェクタ等に内蔵された画像表示素子の前方に配置された光学素子の表面に付着した塵埃等の異物を除去するのに利用して好適な異物除去装置に関する。   The present invention is used to remove foreign matters such as dust adhering to the surface of an optical element disposed in front of an image sensor incorporated in an electronic camera or the like or in front of an image display element incorporated in a data projector or the like. It is related with a suitable foreign material removal apparatus.

撮影光学系と、CCDやC-MOSセンサ等の撮像素子とを用いて静止画や動画を撮影するいわゆる電子カメラは、ズーム光学系、焦点調節光学系、シャッタ、絞り(アイリス)、クイックリターンミラー等の可動機構を有するのが一般的である。ここで、これら可動機構の摺動部から排出される摩耗紛や、外界から進入した塵埃等の異物が、撮像素子のカバーガラスや撮像素子の近傍に配置されたフィルタ(光学ローパスフィルタや赤外線カットフィルタ)の表面に付着することがある。このように光学素子の表面に異物が付着した状態で撮影を行うと、異物の影が被写体像と共に写り込んでしまい、高品位な画像が得られないことがある。   A so-called electronic camera that captures still images and moving images using an imaging optical system and an image sensor such as a CCD or C-MOS sensor is a zoom optical system, a focusing optical system, a shutter, an iris (iris), and a quick return mirror. It is common to have a movable mechanism such as. Here, foreign matter such as wear dust discharged from the sliding parts of these movable mechanisms and dust entering from the outside is filtered by a filter (optical low-pass filter or infrared cut filter) disposed in the vicinity of the image sensor cover glass or image sensor. May adhere to the surface of the filter. When shooting is performed in a state where foreign matter is attached to the surface of the optical element in this way, the shadow of the foreign matter is reflected along with the subject image, and a high-quality image may not be obtained.

また、液晶パネル等の表示素子、照明光源、及び投影光学系により構成されるデータプロジェクタやプロジェクションテレビにおいても、外界から進入した塵埃等の異物が液晶パネル或いはその前面の保護ガラスに付着することがある。このように光学素子の表面に異物が付着した状態で投影を行うと、異物の影が投影画像に写り込んでしまい、画像品位の低下を招いてしまう。   In addition, in data projectors and projection televisions configured with a display element such as a liquid crystal panel, an illumination light source, and a projection optical system, foreign matter such as dust entering from the outside can adhere to the liquid crystal panel or the protective glass on the front surface thereof. is there. When projection is performed in a state where foreign matter is attached to the surface of the optical element in this way, the shadow of the foreign matter is reflected in the projected image, leading to a reduction in image quality.

このような異物を除去するための一つの手法として、ワイパーを用いて光学素子表面を清掃する機構(ワイパー式の異物除去機構)が種々提案されている。   As a technique for removing such foreign matters, various mechanisms (wiper type foreign matter removing mechanisms) for cleaning the surface of the optical element using a wiper have been proposed.

例えば特許文献1や特許文献2には、ゴム等の可撓性部材を備えたワイパーブレードがモータ軸に支持され、デジタル一眼レフカメラに内蔵された撮像素子のガラス表面を拭き取り走査することで、該表面に付着した塵埃を除去する機構が開示されている。   For example, in Patent Document 1 and Patent Document 2, a wiper blade having a flexible member such as rubber is supported by a motor shaft, and the glass surface of an image sensor incorporated in a digital single lens reflex camera is wiped and scanned. A mechanism for removing dust adhering to the surface is disclosed.

また、特許文献3には、フェルト又は植毛ブラシで構成されたワイパー部材の両端がリボン(ベルト)で支持され、交換式レンズをカメラ本体に装着する動作に連動して、撮像素子のガラス表面を清掃する機構が開示されている。   Further, in Patent Document 3, both ends of a wiper member made of felt or a flocking brush are supported by a ribbon (belt), and the glass surface of the imaging device is linked with the operation of mounting the interchangeable lens on the camera body. A cleaning mechanism is disclosed.

また、特許文献4には、植毛材、多孔質材等の収縮性・弾力性のある材料で製作されたワイパー部材が、フォーカルプレンシャッタのスリット形成縁に設けられ、シャッタチャージ時に撮像素子のガラス表面を清掃する機構が開示されている。   In Patent Document 4, a wiper member made of a shrinkable / elastic material such as a flocking material or a porous material is provided at the slit forming edge of the focal plane shutter, and the glass of the image sensor is used when the shutter is charged. A mechanism for cleaning the surface is disclosed.

特開2001−298640号公報JP 2001-298640 A 特開2003−18440号公報JP 2003-18440 A 特開2005−5972号公報JP 2005-5972 A 特開2003−5254号公報JP 2003-5254 A

上述したようなワイパー式の異物除去機構においては、被清掃平面の全領域に渡って均一な異物除去効果を得るために、ワイパー部材と被清掃平面との間の当接力分布を一定にすることが求められる。そのためには、ワイパー部材自身、或いは、これを支持するワイパーアーム(ワイパーフレームとも称する)の剛性を高くして、有害な弾性変形を防止する必要がある。   In the wiper type foreign matter removing mechanism as described above, in order to obtain a uniform foreign matter removing effect over the entire area of the surface to be cleaned, the contact force distribution between the wiper member and the surface to be cleaned is made constant. Is required. For this purpose, it is necessary to increase the rigidity of the wiper member itself or a wiper arm (also referred to as a wiper frame) that supports the wiper member to prevent harmful elastic deformation.

また、ワイパー式の異物除去機構をカメラ等の光学機器に内蔵する場合、被清掃平面の対向部にはシャッタ機構や光学部材が隣接して配置され、ワイパー機構が占有できる空間は極めて少ない。   Further, when the wiper-type foreign matter removing mechanism is built in an optical device such as a camera, a shutter mechanism and an optical member are disposed adjacent to each other on the surface to be cleaned, and the space that can be occupied by the wiper mechanism is very small.

このようにワイパー式の異物除去機構には、安定した異物除去効果を得るための高剛性化と、狭い空間に収納するための薄型化とを両立させることが要求されるが、上述の公知技術では以下のような欠点があった。   As described above, the wiper type foreign matter removing mechanism is required to achieve both high rigidity for obtaining a stable foreign matter removing effect and thinning for accommodating in a narrow space. Then, there were the following drawbacks.

特許文献1及び特許文献2において開示された構造では、ワイパーブレードが平板状のワイパーアームに装着されているため、高剛性化と薄型化との両立が困難である。   In the structures disclosed in Patent Document 1 and Patent Document 2, since the wiper blade is mounted on the flat wiper arm, it is difficult to achieve both high rigidity and thinning.

また、特許文献3において開示された構造では、フェルト又は植毛ブラシがリボンを介してガラス表面に当接するが、ワイパー部材の剛性を高めるための構成が開示されていない。そのため、ワイパー部材と被清掃部材との間の押圧力(当接力)分布を均一にすることが困難である。   Further, in the structure disclosed in Patent Document 3, the felt or the flocked brush is brought into contact with the glass surface via the ribbon, but a configuration for increasing the rigidity of the wiper member is not disclosed. For this reason, it is difficult to make the pressure (contact force) distribution between the wiper member and the member to be cleaned uniform.

また、特許文献4において開示された構造では、ワイパー部材を支持するワイパーアームはシャッタ羽根と兼用されている。この場合に、シャッタ羽根は、走行時の空気抵抗を減らすために、通常の構造部材と比較して極めて薄い板が用いられるため、ワイパーアームとして所定の剛性を備えることは非常に困難である。   In the structure disclosed in Patent Document 4, the wiper arm that supports the wiper member is also used as the shutter blade. In this case, in order to reduce the air resistance during travel, the shutter blades are extremely thin compared to ordinary structural members, so it is very difficult to provide a predetermined rigidity as a wiper arm.

本発明は上記のような点に鑑みてなされたものであり、ワイパーフレームの高剛性化及び薄型化を両立させることを目的とする。   The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to achieve both high rigidity and thinning of the wiper frame.

本発明の異物除去装置は、光学素子の表面に付着した異物を除去するための異物除去装置であって、前記光学素子の表面に当接するように異物除去部材を保持する帯状又は板状のワイパーフレームと、前記異物除去部材で前記光学素子の表面を拭き取るために前記ワイパーフレームを移動させる駆動機構とを備え、前記ワイパーフレームは、前記異物除去部材を固定する取付部と、前記取付部の周囲すべて或いは一部を取り囲む補強部とを具備し、前記光学素子の表面の法線方向における前記補強部の厚さが前記取付部の厚さより厚くなっていることを特徴とする。
本発明の別の異物除去装置は、光学素子の表面に付着した異物を除去するための異物除去装置であって、前記光学素子の表面に当接するように異物除去部材を保持する帯状又は板状のワイパーフレームと、前記異物除去部材で前記光学素子の表面を拭き取るために前記ワイパーフレームを移動させる駆動機構とを備え、前記ワイパーフレームの本体に凹部を形成し、その凹部の底部に前記異物除去部材を固定することを特徴とする。
The foreign matter removing device of the present invention is a foreign matter removing device for removing foreign matter attached to the surface of an optical element, and is a belt-like or plate-like wiper that holds a foreign matter removing member so as to contact the surface of the optical element. A frame, and a drive mechanism that moves the wiper frame to wipe the surface of the optical element with the foreign matter removing member. The wiper frame includes an attachment portion that fixes the foreign matter removal member, and a periphery of the attachment portion. And a reinforcing portion that surrounds all or part of the optical element, wherein the thickness of the reinforcing portion in the normal direction of the surface of the optical element is greater than the thickness of the mounting portion.
Another foreign matter removing device of the present invention is a foreign matter removing device for removing foreign matter adhering to the surface of an optical element, and is a belt-like or plate-like shape that holds a foreign matter removing member so as to contact the surface of the optical element. A wiper frame and a drive mechanism for moving the wiper frame to wipe the surface of the optical element with the foreign matter removing member, and forming a concave portion in the body of the wiper frame, and removing the foreign matter at the bottom of the concave portion. The member is fixed.

本発明によれば、異物除去部材を保持するワイパーフレームの高剛性化及び薄型化を両立させることができ、異物除去装置を小型化しながら、光学素子の全面を確実に拭き取ることが可能になる。   According to the present invention, it is possible to achieve both high rigidity and thinning of the wiper frame that holds the foreign matter removing member, and it is possible to reliably wipe the entire surface of the optical element while reducing the size of the foreign matter removing device.

以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明する。
(第1の実施形態)
図1は、本発明を適用した異物除去装置を含むデジタル一眼レフカメラの構成を示す図である。デジタル一眼レフカメラは、カメラ本体1と、交換レンズユニット80とにより構成される。同図は、デジタル一眼レフカメラの撮影準備状態を示す。
Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
(First embodiment)
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a digital single-lens reflex camera including a foreign matter removing apparatus to which the present invention is applied. The digital single-lens reflex camera is composed of a camera body 1 and an interchangeable lens unit 80. The figure shows a preparation state for photographing of a digital single-lens reflex camera.

カメラ本体1には交換レンズユニット80がカメラマウント2とレンズマウント82によって着脱可能に固定される。このとき、カメラ側接点3とレンズ側接点84とが接触することで、不図示のカメラ内制御回路とレンズ内制御回路の電気的な接続がなされ、カメラ本体1から交換レンズユニット80への電力の供給やレンズを制御するための通信が行われる。   An interchangeable lens unit 80 is detachably fixed to the camera body 1 by a camera mount 2 and a lens mount 82. At this time, the camera-side contact 3 and the lens-side contact 84 come into contact with each other, so that an in-camera control circuit and an in-lens control circuit are electrically connected to each other. And communication for controlling the lens.

交換レンズユニット80が有する撮影光学系81、虹彩絞り83を透過した光束は、カメラ本体1のメインミラー5に入射する。メインミラー5はハーフミラーとなっており、ここで反射した光束はファインダスクリーン9へと導かれ、ファインダスクリーン9に被写体像が形成される。撮影者は、ペンタダハプリズム11及び接眼レンズ12を介してファインダスクリーン9上の被写体像を観察することができる。測光センサ16は、ファインダスクリーン9上の被写体像の明るさを測定する。   The light beam that has passed through the photographing optical system 81 and the iris diaphragm 83 of the interchangeable lens unit 80 is incident on the main mirror 5 of the camera body 1. The main mirror 5 is a half mirror, and the light beam reflected here is guided to the finder screen 9, and a subject image is formed on the finder screen 9. The photographer can observe the subject image on the finder screen 9 through the penta roof prism 11 and the eyepiece 12. The photometric sensor 16 measures the brightness of the subject image on the finder screen 9.

一方、メインミラー5を透過した光束は、サブミラー7にて下方へ反射し、焦点検出装置10へと導かれる。焦点検出装置10は、撮影光学系81のピントずれ量、いわゆるデフォーカス量を検出し、撮影光学系81が合焦状態となるように撮影光学系81を駆動するレンズ駆動量を演算する。このレンズ駆動量が接点3、84を介して交換レンズユニット80へ送出されると、レンズは不図示のモータを制御し、撮影光学系81を駆動して焦点調節を行う。   On the other hand, the light beam transmitted through the main mirror 5 is reflected downward by the sub mirror 7 and guided to the focus detection device 10. The focus detection device 10 detects a focus shift amount of the photographic optical system 81, a so-called defocus amount, and calculates a lens driving amount for driving the photographic optical system 81 so that the photographic optical system 81 is in focus. When this lens driving amount is sent to the interchangeable lens unit 80 via the contacts 3 and 84, the lens controls a motor (not shown) and drives the photographing optical system 81 to adjust the focus.

メインミラー5はメインミラー保持枠6に接着固定され、メインミラー保持枠6はヒンジ軸6aによって不図示のミラーボックスに対して回転可能に軸支されている。また、サブミラー7はサブミラー保持枠8に接着固定され、サブミラー保持枠8はヒンジ軸8aによってメインミラー保持枠6に対して回転可能に軸支されている。   The main mirror 5 is bonded and fixed to a main mirror holding frame 6, and the main mirror holding frame 6 is pivotally supported by a hinge shaft 6a so as to be rotatable with respect to a mirror box (not shown). Further, the sub mirror 7 is bonded and fixed to the sub mirror holding frame 8, and the sub mirror holding frame 8 is rotatably supported with respect to the main mirror holding frame 6 by a hinge shaft 8a.

サブミラー7の後方には、フォーカルプレンシャッタ13が配置される。フォーカルプレンシャッタ13のシャッタ先幕13aは、通常閉じた状態、すなわち後述する撮像素子15を遮光した状態としている。   A focal plane shutter 13 is disposed behind the sub mirror 7. The shutter front curtain 13a of the focal plane shutter 13 is in a normally closed state, that is, a state in which an image sensor 15 described later is shielded from light.

フォーカルプレンシャッタ13の後方には、光学ローパスフィルタ及び赤外線カットフィルタを一体化した光学フィルタ14が配置される。撮影時には、光学フィルタ14を透過した光束が更に後方に配置された撮像素子15へと入射される。   Behind the focal plane shutter 13 is an optical filter 14 in which an optical low-pass filter and an infrared cut filter are integrated. At the time of shooting, the light beam that has passed through the optical filter 14 is incident on the image pickup device 15 that is disposed further rearward.

撮像素子15は、カバーガラス15a、センサパッケージ15b、センサチップ15c、センサ基板15dにより構成される。ここで撮像素子或いは撮像手段とは、狭義にはセンサチップ15c単体、広義には前記構成部材15a〜15dからなる撮像素子ユニット、更には該撮像素子ユニット及び光学フィルタ14を合わせた構造体を指すものとする。   The image pickup device 15 includes a cover glass 15a, a sensor package 15b, a sensor chip 15c, and a sensor substrate 15d. Here, the image pickup device or the image pickup means refers to a sensor chip 15c alone in a narrow sense, an image pickup device unit composed of the constituent members 15a to 15d in a broad sense, and a structure in which the image pickup device unit and the optical filter 14 are combined. Shall.

カメラ本体1の背面には、LCD等の表示器60が配置されている。表示器60には、カメラの撮影モードに関する情報、撮影前のプレビュー画像と撮影後の確認用画像等が表示される。   A display device 60 such as an LCD is disposed on the back of the camera body 1. The display 60 displays information related to the shooting mode of the camera, a preview image before shooting, a confirmation image after shooting, and the like.

シャッタ13の後方かつ光学フィルタ14の光学的有効面の外側空間には、光学素子である光学フィルタ14の表面に付着した塵埃等の異物を除去するためのワイパー式のクリーニングユニット30が配置される。このクリーニングユニット30が、本発明の異物除去装置として機能するものである。クリーニングユニット30には、詳しくは後述するが、構成部材としてワイパーフレーム31及びモータ24を含む。   In the space behind the shutter 13 and outside the optically effective surface of the optical filter 14, a wiper-type cleaning unit 30 for removing foreign matters such as dust adhering to the surface of the optical filter 14 as an optical element is disposed. . This cleaning unit 30 functions as the foreign matter removing apparatus of the present invention. Although described in detail later, the cleaning unit 30 includes a wiper frame 31 and a motor 24 as constituent members.

撮像素子及びクリーニングユニット30は、撮像素子保持台20に固定される。   The image sensor and cleaning unit 30 is fixed to the image sensor holding base 20.

ここで、図2はクリーニングユニット30の構成を示す図であり、図2(a)は撮影レンズ側から見た平面図、図2(b)は図2(a)のA−A線の断面図、図2(c)は図2(a)のB−B線の断面図である。また、図3は第1の実施形態のワイパーフレーム31の斜視図であり、図3(a)は撮影レンズ側から見た斜視図、図3(b)は撮像素子側から見た斜視図である。以下、これら図2、3を参照して、クリーニングユニット30の構造を説明する。   Here, FIG. 2 is a diagram showing a configuration of the cleaning unit 30, FIG. 2A is a plan view seen from the photographing lens side, and FIG. 2B is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. FIG. 2 and FIG. 2C are cross-sectional views taken along the line BB in FIG. 3 is a perspective view of the wiper frame 31 of the first embodiment. FIG. 3A is a perspective view seen from the photographing lens side, and FIG. 3B is a perspective view seen from the image sensor side. is there. Hereinafter, the structure of the cleaning unit 30 will be described with reference to FIGS.

図2において、撮像素子保持台20には、光学フィルタ14の一端側(図2の左側)にてモータ台21が設置される。モータ台21は、金属長板の上下端を折り曲げて製作されたものであり、下端にはモータ24が固定される。モータ台21の折り曲げ部の内側には、上下方向に延伸するガイド軸23が固定される。モータ24の出力軸にはリードスクリュー22が一体に設けられ、ガイド軸23と平行に配置される。リードスクリュー22にはナット25が螺合しており、モータ24の回転に応じてナット25がガイド軸23に沿ってスライドするように構成されている。   In FIG. 2, the image sensor holding base 20 is provided with a motor base 21 on one end side (left side in FIG. 2) of the optical filter 14. The motor base 21 is manufactured by bending the upper and lower ends of a long metal plate, and a motor 24 is fixed to the lower end. A guide shaft 23 extending in the vertical direction is fixed inside the bent portion of the motor base 21. A lead screw 22 is integrally provided on the output shaft of the motor 24 and is arranged in parallel with the guide shaft 23. A nut 25 is screwed into the lead screw 22, and the nut 25 is configured to slide along the guide shaft 23 as the motor 24 rotates.

また、撮像素子保持台20には、光学フィルタ14の他端側(図2の右側)にてワイパー規制部材26が設置される。ワイパー規制部材26は、同図(a)の紙面上において上下方向に延伸する角柱状をなし、該角柱の延伸方向には、図2(b)に示すように断面形状が一様な溝部26aが形成されている。   Further, the wiper regulating member 26 is installed on the image sensor holding base 20 on the other end side (right side in FIG. 2) of the optical filter 14. The wiper regulating member 26 has a prismatic shape extending in the vertical direction on the paper surface of FIG. 2A, and in the extending direction of the prism, a groove 26a having a uniform cross-sectional shape as shown in FIG. Is formed.

次に、ワイパーフレーム31について説明する。図2にはワイパーフレーム31をクリーニングユニット30に組み込んだ状態を、図3にはワイパーフレーム31単体を示している。ワイパーフレーム31は、光学フィルタ14の表面に当接するように異物除去部材33を保持するものであり、金属の薄板で製作され、帯状又は板状をなす。   Next, the wiper frame 31 will be described. 2 shows a state in which the wiper frame 31 is incorporated in the cleaning unit 30, and FIG. 3 shows the wiper frame 31 alone. The wiper frame 31 holds the foreign matter removing member 33 so as to come into contact with the surface of the optical filter 14, and is made of a thin metal plate and has a strip shape or a plate shape.

ワイパーフレーム31は、平坦部31aと、異物除去部材33を固定する取付部31bと、取付部31bの周囲を取り囲む補強部31cと、両端の板バネ状のバネ部31d及び31eにより構成される。具体的には、金属の薄板にプレス加工によって凹部を形成し、その凹部の底部を取付部31b、側面部を補強部31cとしている。   The wiper frame 31 includes a flat portion 31a, a mounting portion 31b for fixing the foreign matter removing member 33, a reinforcing portion 31c surrounding the mounting portion 31b, and leaf spring-shaped spring portions 31d and 31e at both ends. Specifically, a concave portion is formed in a metal thin plate by press working, and the bottom portion of the concave portion is an attachment portion 31b and the side portion is a reinforcing portion 31c.

取付部31bの光学フィルタ14と対向する面(凹部の底部)には、異物除去部材33が固定される。異物除去部材33には、省スペース化を実現するために薄いこと、光学フィルタ14との当接状態を安定させるために厚さ方向に弾性を有すること、光学フィルタ14に傷をつけないこと等の特性が要求される。これらの条件を満足する部材として、静電植毛によって製造された植毛部材、布や不織布等のクリーニングクロス、発泡ウレタンシート、エアフィルタ等が好適である。また、異物除去部材33の厚さは、薄型化及び弾性維持の両立を図るため、0.3mm乃至1.5mm程度が好適であり、両面接着テープもしくは接着剤を用いて取付部31bに固定される。   A foreign matter removing member 33 is fixed to the surface of the mounting portion 31b facing the optical filter 14 (the bottom of the recess). The foreign matter removing member 33 is thin in order to save space, has elasticity in the thickness direction in order to stabilize the contact state with the optical filter 14, and does not damage the optical filter 14. Characteristics are required. As a member that satisfies these conditions, a flocking member manufactured by electrostatic flocking, a cleaning cloth such as a cloth or a nonwoven fabric, a urethane foam sheet, an air filter, or the like is preferable. The thickness of the foreign substance removing member 33 is preferably about 0.3 mm to 1.5 mm in order to achieve both reduction in thickness and maintenance of elasticity, and is fixed to the attachment portion 31b using a double-sided adhesive tape or an adhesive. The

図2に説明を戻して、ワイパーフレーム31の一端(バネ部31d)が、ワイパー取り付けピン32によってナット25に取り付けられる。また、ワイパーフレーム31の他端(バネ部31e)が、ワイパー規制部材26の溝部26aに間挿される。ワイパー取り付けピン32及びワイパー規制部材26は、バネ部31d及び31eに所定の撓み量を与えるように、その寸法が設定されている。したがって、ワイパーフレーム31により保持されている異物除去部材33は所定の圧力で光学フィルタ14に当接する。   Returning to FIG. 2, one end (spring portion 31 d) of the wiper frame 31 is attached to the nut 25 by the wiper attachment pin 32. Further, the other end (spring portion 31 e) of the wiper frame 31 is inserted into the groove portion 26 a of the wiper regulating member 26. The dimensions of the wiper mounting pin 32 and the wiper regulating member 26 are set so as to give a predetermined amount of bending to the spring portions 31d and 31e. Accordingly, the foreign matter removing member 33 held by the wiper frame 31 contacts the optical filter 14 with a predetermined pressure.

なお、ワイパーフレーム31の光学フィルタ14と対向する面(平坦部31a)には、保護部材34が配設される。保護部材34は、ワイパーフレーム31が傾いて走査された場合にも、光学フィルタ14に接触して傷をつけないようにするために設けられたものであり、布やゴム板が好適である。   A protective member 34 is disposed on the surface of the wiper frame 31 facing the optical filter 14 (flat portion 31a). The protective member 34 is provided so as to prevent contact with the optical filter 14 and damage even when the wiper frame 31 is scanned at an inclination, and a cloth or a rubber plate is preferable.

また、ワイパー位置検出部27及び28は、ワイパーフレーム31が駆動範囲の下端及び上端に到達したことを検出するためのものであり、フォトリフレクタ等が好適に用いられる。   The wiper position detectors 27 and 28 are for detecting that the wiper frame 31 has reached the lower end and the upper end of the driving range, and a photo reflector or the like is preferably used.

このようにしたクリーニングユニット30において、モータ24を正転駆動すると、ナット25の昇降によってワイパーフレーム31が図2(a)の下から上に向かってスライド移動し、異物除去部材33が光学フィルタ14の表面を拭き取る(走査)。ワイパーフレーム31が駆動範囲の上端に達したことをワイパー位置検出部28が検出すると、モータ24を反転駆動する。モータ24を反転駆動すると、ワイパーフレーム31が図2(a)の上から下に向かってスライド移動する。ワイパーフレーム31が駆動範囲の下端に達したことをワイパー位置検出部27が検出すると、モータ24を停止する。本実施形態では、モータ24、ナット25、リードスクリュー22等が相まって本発明でいう駆動機構を構成する。   In the cleaning unit 30 configured as described above, when the motor 24 is driven to rotate in the forward direction, the wiper frame 31 slides upward from the bottom of FIG. Wipe the surface of (scan). When the wiper position detection unit 28 detects that the wiper frame 31 has reached the upper end of the driving range, the motor 24 is driven in reverse. When the motor 24 is driven in reverse, the wiper frame 31 slides from the top to the bottom in FIG. When the wiper position detection unit 27 detects that the wiper frame 31 has reached the lower end of the driving range, the motor 24 is stopped. In the present embodiment, the motor 24, the nut 25, the lead screw 22, and the like constitute a drive mechanism referred to in the present invention.

ワイパーフレーム31がスライド移動する際、バネ部31eの先端部はワイパー規制部材26の溝部26aに摺接しながら移動する。そこで、異物除去部材33と光学フィルタ14との間の当接力は、異物除去動作の開始から終了にわたって略一定に保たれ、光学フィルタ14の表面に付着した塵埃等の異物が除去される。   When the wiper frame 31 slides, the distal end portion of the spring portion 31 e moves while slidingly contacting the groove portion 26 a of the wiper regulating member 26. Therefore, the contact force between the foreign matter removing member 33 and the optical filter 14 is kept substantially constant from the start to the end of the foreign matter removing operation, and foreign matters such as dust attached to the surface of the optical filter 14 are removed.

ここで、図3を参照すると、取付部31bの周囲すべてには、プレスの絞り加工によって形成された補強部31cが設けられている。そして、光学フィルタ14の表面の法線方向における補強部31cの厚さ、換言するとその高さは、取付部31bの厚さより厚く(大きく)なっている。このようにワイパーフレーム31に補強部31cを設けることで、特に板厚方向の曲げ剛性を格段に高めることができる。一方で、バネ部31d及び31eは上述したように薄い金属板製であるので、バネ定数を小さくすることができる。   Here, referring to FIG. 3, a reinforcing portion 31c formed by press drawing is provided around the entire attachment portion 31b. And the thickness of the reinforcement part 31c in the normal line direction of the surface of the optical filter 14, in other words, the height is thicker (larger) than the thickness of the attachment part 31b. Thus, by providing the wiper frame 31 with the reinforcing portion 31c, it is possible to remarkably increase the bending rigidity particularly in the thickness direction. On the other hand, since the spring portions 31d and 31e are made of a thin metal plate as described above, the spring constant can be reduced.

すなわち、本実施形態のワイパーフレーム31では、薄い金属板等を用いることで付勢手段たるバネ部31d及び31eのバネ定数を小さくし、取付部31bの周囲を取り囲むように補強部31cを設けることで、ワイパーフレーム31の剛性維持を図っている。したがって、クリーニングユニット30や撮像素子を構成する各部材に寸法誤差が生じても、バネ部31d及び31eのバネ定数が小さいので、異物除去部材33の当接力の変動を抑えることができる。また、異物除去部材33の当接力が変動しても、異物除去部材33を保持する部位の剛性が高く、ワイパーフレーム31の弾性変形が防止されるので、異物除去部材33と光学フィルタ14の間の当接力分布を均一に維持することが可能である。   That is, in the wiper frame 31 of the present embodiment, the spring constant of the spring portions 31d and 31e, which are urging means, is reduced by using a thin metal plate or the like, and the reinforcing portion 31c is provided so as to surround the mounting portion 31b. Thus, the rigidity of the wiper frame 31 is maintained. Therefore, even if a dimensional error occurs in each member constituting the cleaning unit 30 and the image sensor, the spring constants of the spring portions 31d and 31e are small, so that fluctuations in the contact force of the foreign matter removing member 33 can be suppressed. Even if the contact force of the foreign matter removing member 33 fluctuates, the rigidity of the portion that holds the foreign matter removing member 33 is high and the elastic deformation of the wiper frame 31 is prevented. It is possible to maintain a uniform contact force distribution.

図4は、本実施形態のデジタル一眼レフカメラの電気回路構成を示すブロック図である。まず、カメラ本体1が内蔵する各種回路を説明する。41はカメラ本体1の種々の制御を司るカメラCPUであり、演算部、ROM、RAM、A/Dコンバータ、D/Aコンバータ、通信インターフェイス回路等を有する。42はカメラ内電源回路であり、リチウムイオン電池等の二次電池及び昇圧回路により構成される。   FIG. 4 is a block diagram showing an electric circuit configuration of the digital single-lens reflex camera of the present embodiment. First, various circuits built in the camera body 1 will be described. Reference numeral 41 denotes a camera CPU that controls various controls of the camera body 1 and includes a calculation unit, a ROM, a RAM, an A / D converter, a D / A converter, a communication interface circuit, and the like. Reference numeral 42 denotes an in-camera power supply circuit, which includes a secondary battery such as a lithium ion battery and a booster circuit.

43は測光センサ駆動回路であり、測光センサ16を駆動し、測光結果を演算してその出力をカメラCPU41に通信する。44は表示器駆動回路であり、表示器60の表示制御を行う。45は操作スイッチ駆動回路であり、不図示の各種操作スイッチ、例えば電源スイッチ、レリーズ(撮影トリガ)スイッチ、撮影モード選択スイッチ等が操作されたか否かを判別する。46は着脱可能なフラッシュメモリであり、撮影済み画像データを記録する。47はクリーニング機構駆動回路であり、上述したクリーニングユニット30の駆動制御を行う。   A photometric sensor driving circuit 43 drives the photometric sensor 16, calculates a photometric result, and communicates the output to the camera CPU 41. Reference numeral 44 denotes a display driver circuit that controls display of the display 60. An operation switch drive circuit 45 determines whether various operation switches (not shown) such as a power switch, a release (shooting trigger) switch, a shooting mode selection switch, and the like have been operated. Reference numeral 46 denotes a detachable flash memory that records captured image data. Reference numeral 47 denotes a cleaning mechanism drive circuit that controls the drive of the cleaning unit 30 described above.

55は撮像素子駆動回路であり、撮像素子15の撮像動作を制御するとともに、取得した画像信号をカメラCPU41に送信する。50はAFセンサ駆動回路であり、焦点検出装置10が内蔵するAFセンサを駆動し、焦点検出信号をカメラCPU41に送信する。52はミラー駆動回路であり、メインミラー保持枠6を駆動することで、メインミラー5及びサブミラー7を撮影光路の内外に進退させる。53はシャッタ駆動回路であり、カメラCPU41からの指令信号に基づいてシャッタ13の先幕及び後幕の駆動トリガ制御を行うほか、露光制御完了後には不図示のチャージモータを駆動して、シャッタ幕走行バネをチャージする。   Reference numeral 55 denotes an image sensor driving circuit that controls the image capturing operation of the image sensor 15 and transmits the acquired image signal to the camera CPU 41. Reference numeral 50 denotes an AF sensor drive circuit that drives an AF sensor built in the focus detection apparatus 10 and transmits a focus detection signal to the camera CPU 41. A mirror drive circuit 52 drives the main mirror holding frame 6 to move the main mirror 5 and the sub mirror 7 in and out of the photographing optical path. Reference numeral 53 denotes a shutter drive circuit that performs drive trigger control of the front curtain and rear curtain of the shutter 13 based on a command signal from the camera CPU 41, and drives a charge motor (not shown) after completion of exposure control to Charge the running spring.

次に、交換レンズユニット80が内蔵する各種回路を説明する。91はレンズCPUであり、演算部、ROM、RAM、A/Dコンバータ、D/Aコンバータ、通信インターフェイス回路等を有する。レンズCPU91は、カメラCPU41と通信して各種データと指令信号を授受するほか、以下の回路を制御する。92はレンズ内電源回路であり、カメラ内電源回路42から供給された電力を、レンズ内の各種回路やアクチュエータに供給する。   Next, various circuits built in the interchangeable lens unit 80 will be described. Reference numeral 91 denotes a lens CPU, which includes a calculation unit, ROM, RAM, A / D converter, D / A converter, communication interface circuit, and the like. The lens CPU 91 communicates with the camera CPU 41 to exchange various data and command signals, and controls the following circuits. Reference numeral 92 denotes an in-lens power circuit, which supplies the power supplied from the in-camera power circuit 42 to various circuits and actuators in the lens.

93は絞り駆動回路であり、虹彩絞り83の開口径を制御する。94はフォーカス駆動回路であり、不図示のフォーカスモータを駆動し、焦点調節用レンズを光軸方向に進退駆動する。   A diaphragm driving circuit 93 controls the aperture diameter of the iris diaphragm 83. Reference numeral 94 denotes a focus drive circuit that drives a focus motor (not shown) to drive the focus adjustment lens back and forth in the optical axis direction.

図5は、本実施形態のデジタル一眼レフカメラの異物除去動作を説明するためのフローチャートである。撮影者がカメラ本体1に設置された不図示のメインスイッチをオン操作すると、ステップS101以降の処理を実行する。   FIG. 5 is a flowchart for explaining the foreign substance removal operation of the digital single-lens reflex camera of the present embodiment. When the photographer turns on a main switch (not shown) installed in the camera body 1, the processing after step S <b> 101 is executed.

ステップS101では、クリーニングユニット30を駆動させる。具体的には、モータ24の通電制御により、既述したようにワイパーフレーム31の往復走査を行う。   In step S101, the cleaning unit 30 is driven. Specifically, the reciprocating scanning of the wiper frame 31 is performed by the energization control of the motor 24 as described above.

ステップS102では、撮影条件設定を受付ける状態に待機する。ここでは、撮影者が表示器60を目視しながら、不図示の操作スイッチを操作して露出制御や焦点調節、或いは記録画質の選択操作を行う。   In step S102, the apparatus stands by in a state of accepting shooting condition settings. Here, the photographer operates an operation switch (not shown) while viewing the display 60 to perform exposure control, focus adjustment, or recording image selection operation.

ステップS103では、撮影者によりクリーニング指示がなされたか否か(不図示のクリーニング指示操作部材が操作されたか否か)を判別する。クリーニング指示がなされた場合はステップS104に移行し、ワイパーフレーム31の往復走査を行った後、ステップS105に移行する。クリーニング指示がなされていない場合はステップS105に移行する。   In step S103, it is determined whether or not a cleaning instruction has been given by the photographer (whether or not a cleaning instruction operating member (not shown) has been operated). When the cleaning instruction is given, the process proceeds to step S104, and after the reciprocating scan of the wiper frame 31, the process proceeds to step S105. If no cleaning instruction has been given, the process proceeds to step S105.

ステップS105では、不図示の撮影準備スイッチがオン操作されたか否かを判別し、オン操作されるまで待機する。撮影準備スイッチがオン操作された場合はステップS106に移行する。ステップS106では、測光センサ16を用いて被写界の輝度を測定し、所定の露出制御プログラムに基づいて絞り値及びシャッタ秒時を決定する。続いて、ステップS107では、焦点検出装置10を用いて焦点状態を検出し、撮影光学系の焦点調節用レンズを光軸方向に進退駆動して焦点調節を行う。   In step S105, it is determined whether or not a shooting preparation switch (not shown) has been turned on, and waits until the operation is turned on. When the photographing preparation switch is turned on, the process proceeds to step S106. In step S106, the brightness of the object scene is measured using the photometric sensor 16, and the aperture value and shutter speed are determined based on a predetermined exposure control program. Subsequently, in step S107, the focus state is detected using the focus detection device 10, and the focus adjustment lens of the photographing optical system is driven back and forth in the optical axis direction to perform focus adjustment.

ステップS108では、不図示の撮影開始スイッチがオン操作されたか否かを判別し、オン操作されるまで待機する。撮影開始スイッチがオン操作された場合はステップS109に移行する。ステップS109では、撮影動作を実行する。具体的には、まず交換レンズユニット80が内蔵する虹彩絞り83の開口径を制御するとともに、メインミラー5及びサブミラー7を撮影光路外に退避させる。その後、フォーカルプレンシャッタ13の駆動制御を行い、撮像素子15に所定の光量を与えて撮影を行う。撮影が終了すると、虹彩絞り83と、メインミラー5及びサブミラー7を初期状態に復帰させる。そして、撮像素子は、取得した画像信号をカメラCPU41に送信し、撮影が完了する。   In step S108, it is determined whether or not a shooting start switch (not shown) has been turned on, and waits until the operation is turned on. When the photographing start switch is turned on, the process proceeds to step S109. In step S109, a shooting operation is executed. Specifically, first, the aperture diameter of the iris diaphragm 83 built in the interchangeable lens unit 80 is controlled, and the main mirror 5 and the sub mirror 7 are retracted out of the photographing optical path. Thereafter, drive control of the focal plane shutter 13 is performed, and a predetermined amount of light is given to the image sensor 15 to perform photographing. When shooting is completed, the iris diaphragm 83, the main mirror 5 and the sub mirror 7 are returned to the initial state. Then, the image sensor transmits the acquired image signal to the camera CPU 41, and the photographing is completed.

ステップS110では、メインスイッチがオフ操作されたか否かを判別する。メインスイッチがオフ操作されていない場合はステップS102に戻り、ステップS102〜S209を繰り返し実行する。メインスイッチがオフ操作された場合はステップS111に移行する。ステップS111では、ワイパーフレーム31の往復走査を行い、その後、本処理を終了する。   In step S110, it is determined whether or not the main switch is turned off. If the main switch is not turned off, the process returns to step S102, and steps S102 to S209 are repeatedly executed. When the main switch is turned off, the process proceeds to step S111. In step S111, the wiper frame 31 is reciprocated and the process is terminated.

以上述べたように、
(1)薄い金属板からなるワイパーフレーム31の一部に取付部31b及び補強部31cを形成し、取付部31bに所定厚さの異物除去部材33を収納するので、移動部分の薄型化と剛性維持、及び異物除去部材33の弾性確保を図ることができる。したがって、異物除去部材33と光学フィルタ14との間の当接力分布を均一にでき、異物除去にムラが生じるのを防止することができる。
(2)異物除去部材33を光学フィルタ14に当接させるための付勢手段として、バネ部31d及び31eをワイパーフレーム31に一体形成したので、クリーニングユニット30を小型化し、安価に提供することができる。
(3)付勢手段(バネ部31d及び31e)は薄い金属板からなるので、バネ定数を小さくすることができ、クリーニングユニット30を構成する各種部材の寸法誤差が生じても付勢力の変化を抑えることができる。これにより、安定した異物除去効果を得ることができるとともに、駆動手段であるモータ24の負荷変動の増加も防止することができる。
As mentioned above,
(1) Since the attachment part 31b and the reinforcement part 31c are formed in a part of the wiper frame 31 made of a thin metal plate, and the foreign matter removing member 33 having a predetermined thickness is accommodated in the attachment part 31b, the moving part is made thin and rigid. Maintenance and securing of the elasticity of the foreign matter removing member 33 can be achieved. Therefore, the contact force distribution between the foreign matter removing member 33 and the optical filter 14 can be made uniform, and unevenness in the foreign matter removal can be prevented.
(2) Since the spring portions 31d and 31e are integrally formed with the wiper frame 31 as urging means for bringing the foreign matter removing member 33 into contact with the optical filter 14, the cleaning unit 30 can be reduced in size and provided at low cost. it can.
(3) Since the urging means (spring portions 31d and 31e) are made of a thin metal plate, the spring constant can be reduced, and the urging force can be changed even if dimensional errors of various members constituting the cleaning unit 30 occur. Can be suppressed. As a result, a stable foreign matter removal effect can be obtained, and an increase in load fluctuations of the motor 24 that is the driving means can be prevented.

(第2の実施形態)
図6は第2の実施形態のワイパーフレーム131の斜視図である。第2の実施形態のワイパーフレーム131は、第1の実施形態のワイパーフレーム31の変形例である。図6は図3(b)の撮像素子側から見た斜視図に対応する。なお、ワイパーフレーム以外の構成は第1の実施形態と同様であるので、その詳細な説明は省略する。
(Second Embodiment)
FIG. 6 is a perspective view of the wiper frame 131 of the second embodiment. A wiper frame 131 according to the second embodiment is a modification of the wiper frame 31 according to the first embodiment. FIG. 6 corresponds to a perspective view seen from the image sensor side in FIG. Since the configuration other than the wiper frame is the same as that of the first embodiment, detailed description thereof is omitted.

ワイパーフレーム131は、第1の実施形態と同様、光学フィルタ14の表面に当接するように異物除去部材33を保持するものであり、金属の薄板で製作され、帯状又は板状をなす。   Similar to the first embodiment, the wiper frame 131 holds the foreign matter removing member 33 so as to come into contact with the surface of the optical filter 14, and is made of a thin metal plate and has a strip shape or a plate shape.

ワイパーフレーム131は、異物除去部材33を固定する取付部131bと、取付部131bの上下に設けられた補強部131cと、両端の板バネ状のバネ部131d及び131eにより構成される。具体的には、金属の薄板の両長手辺をプレスの曲げ加工により折り曲げて壁を形成し、その壁を補強部131cとしている。   The wiper frame 131 includes an attachment portion 131b for fixing the foreign matter removing member 33, reinforcing portions 131c provided above and below the attachment portion 131b, and leaf spring-like spring portions 131d and 131e at both ends. Specifically, both long sides of the metal thin plate are bent by a press bending process to form a wall, and the wall serves as a reinforcing portion 131c.

ここで、図6を参照すると、取付部131bの周囲一部には、プレスの曲げ加工によって形成された補強部131cが設けられている。そして、光学フィルタ14の表面の法線方向における補強部131cの厚さ、換言するとその高さは、取付部131bの厚さより厚く(大きく)なっている。このようにワイパーフレーム131に補強部131cを設けることで、特に板厚方向の曲げ剛性を格段に高めることができる。一方で、バネ部131d及び131eは上述したように薄い金属板製であるので、バネ定数を小さくすることができる。   Here, referring to FIG. 6, a reinforcing portion 131 c formed by press bending is provided in a part of the periphery of the attachment portion 131 b. And the thickness of the reinforcement part 131c in the normal line direction of the surface of the optical filter 14, in other words, the height is thicker (larger) than the thickness of the attachment part 131b. Thus, by providing the reinforcement part 131c in the wiper frame 131, especially the bending rigidity of a plate | board thickness direction can be improved markedly. On the other hand, since the spring portions 131d and 131e are made of a thin metal plate as described above, the spring constant can be reduced.

第2の実施形態のワイパーフレーム131においては、第1の実施形態のワイパーフレーム31でいう平坦部31aがないので、曲げ剛性が若干低下するものの、走査方向の幅を小さくすることができ、小型化に有利である。   In the wiper frame 131 of the second embodiment, since there is no flat portion 31a referred to in the wiper frame 31 of the first embodiment, the bending rigidity is slightly reduced, but the width in the scanning direction can be reduced, and the size is small. It is advantageous to make.

(第3の実施形態)
第1、2の実施形態では、金属の薄板からなるワイパーフレームを説明したが、第3の実施形態では、射出成形された樹脂製のワイパーフレーム231を説明する。なお、ワイパーフレーム以外の構成は第1の実施形態と同様であるので、その詳細な説明は省略する。
(Third embodiment)
In the first and second embodiments, the wiper frame made of a thin metal plate has been described. In the third embodiment, an injection-molded resin wiper frame 231 is described. Since the configuration other than the wiper frame is the same as that of the first embodiment, detailed description thereof is omitted.

図7は第3の実施形態のワイパーフレーム231の斜視図であり、図7(a)は撮影レンズ側から見た斜視図、図7(b)は撮像素子側から見た斜視図である。ワイパーフレーム231は、光学フィルタ14の表面に当接するように異物除去部材33を保持するものであり、樹脂を射出成形して製作され、帯状又は板状をなす。樹脂としては、薄肉成形に適した液晶ポリマーが好適だが、PC(ポリカーボネイト)、ABS(アクリル・ブタジエン・スチレン)等を用いてもよい。   7A and 7B are perspective views of the wiper frame 231 according to the third embodiment. FIG. 7A is a perspective view seen from the photographing lens side, and FIG. 7B is a perspective view seen from the image sensor side. The wiper frame 231 holds the foreign matter removing member 33 so as to come into contact with the surface of the optical filter 14, and is manufactured by injection molding of a resin and has a strip shape or a plate shape. As the resin, a liquid crystal polymer suitable for thin-wall molding is preferable, but PC (polycarbonate), ABS (acrylic butadiene styrene) or the like may be used.

ワイパーフレーム231は、平坦部231aと、異物除去部材33を固定する取付部231bと、両端の板バネ状のバネ部231d及び231eにより構成される。具体的には、厚さ2.0mm程度の平板の中央に深さ0.8mm程度の凹部を形成し、その凹部の底部を取付部231bとしている。この場合、平坦部231aが取付部231の周囲すべてを取り囲む厚肉部となり、補強部として機能する。   The wiper frame 231 includes a flat portion 231a, a mounting portion 231b for fixing the foreign matter removing member 33, and leaf spring-like spring portions 231d and 231e at both ends. Specifically, a concave portion having a depth of about 0.8 mm is formed at the center of a flat plate having a thickness of about 2.0 mm, and the bottom of the concave portion is used as an attachment portion 231b. In this case, the flat part 231a becomes a thick part surrounding the entire periphery of the attachment part 231 and functions as a reinforcing part.

取付部231bの厚さは1.2mmで、その周囲の平坦部231aの厚さは2.0mmであるので、光学フィルタ14の表面の法線方向における平坦部231a(補強部の役目をなす)の厚さは取付部231bの厚さより厚くなっている。   Since the thickness of the mounting portion 231b is 1.2 mm and the thickness of the surrounding flat portion 231a is 2.0 mm, the flat portion 231a in the normal direction of the surface of the optical filter 14 (acts as a reinforcing portion). Is thicker than the thickness of the mounting portion 231b.

取付部231bには、厚さ1.0mm程度の異物除去部材33が装着されるので、該異物除去部材33は、ワイパーフレーム231(の平坦部231a)より0.2mm程度突出する。   Since the foreign matter removing member 33 having a thickness of about 1.0 mm is attached to the mounting portion 231b, the foreign matter removing member 33 protrudes from the wiper frame 231 (the flat portion 231a thereof) by about 0.2 mm.

本実施形態のワイパーフレーム231では、最も厚い平坦部231aにより曲げ剛性が規定され、弾性変形が防止される。また、薄肉となった取付部231bには比較的厚い異物除去部材33が装着できるので、異物除去部材33の弾性変形を可能としている。一方、ワイパーフレーム231(平坦部231a)の両端には、薄板状のバネ部231d及び231eが一体的に成型され、バネ部231dがナット25に装着され、バネ部231eがワイパー規制部材26の溝部26aに間挿される。   In the wiper frame 231 of the present embodiment, the bending rigidity is defined by the thickest flat portion 231a, and elastic deformation is prevented. Moreover, since the relatively thick foreign matter removing member 33 can be attached to the thin mounting portion 231b, the foreign matter removing member 33 can be elastically deformed. On the other hand, thin plate-like spring portions 231d and 231e are integrally formed at both ends of the wiper frame 231 (flat portion 231a), the spring portion 231d is attached to the nut 25, and the spring portion 231e is a groove portion of the wiper regulating member 26. 26a.

以上の構成において、モータ24を駆動するとリードスクリュー22の回転に応じてナット25が移動し、ワイパーフレーム231は光学フィルタ14の表面を走査する。このとき、異物除去部材33と光学フィルタ14の間には、第1の実施形態と同様に、バネ部231d及び231eの弾性変形によって所定の当接力が生じている。また、ワイパーフレーム231は、上述したように曲げ剛性が高められているので、当接力が生じても弾性変形が防止される。更に、異物除去部材33は厚さ方向に弾性を有するので、光学フィルタ14との当接力分布を均一に維持し、光学フィルタ14の表面に付着した異物を効率よく除去することが可能である。   In the above configuration, when the motor 24 is driven, the nut 25 moves according to the rotation of the lead screw 22, and the wiper frame 231 scans the surface of the optical filter 14. At this time, a predetermined contact force is generated between the foreign matter removing member 33 and the optical filter 14 due to elastic deformation of the spring portions 231d and 231e, as in the first embodiment. Moreover, since the bending rigidity of the wiper frame 231 is enhanced as described above, elastic deformation is prevented even if a contact force is generated. Further, since the foreign matter removing member 33 has elasticity in the thickness direction, it is possible to maintain a uniform contact force distribution with the optical filter 14 and to efficiently remove foreign matter attached to the surface of the optical filter 14.

以上述べたように、
(1)樹脂で成型された平板状のワイパーフレーム231の一部に取付部231bを形成し、取付部231bに所定厚さの異物除去部材33を収納するとともに、取付部231bの周囲に取付部231bより厚肉の補強部(平坦部231a)を設ける。これにより、移動部分の薄型化と剛性維持、及び異物除去部材33の弾性確保を図ることができる。したがって、異物除去部材33と光学フィルタ14との間の当接力分布を均一にでき、異物除去にムラが生じるのを防止することができる。
(2)異物除去部材33を光学フィルタ14に当接させるための付勢手段として、バネ部231d及び2」31eをワイパーフレーム231に一体形成したので、クリーニングユニット30を小型化し、安価に提供することができる。
(3)付勢手段(バネ部231d及び231e)は流動性のよい樹脂材料を用いて薄肉成形しているので、バネ定数を小さくすることができ、クリーニングユニット30を構成する各種部材の寸法誤差が生じても付勢力の変化を抑えることができる。これにより、安定した異物除去効果を得ることができるとともに、駆動手段であるモータ24の負荷変動の増加も防止することができる。
As mentioned above,
(1) A mounting portion 231b is formed on a part of a flat plate-like wiper frame 231 molded from resin, and a foreign matter removing member 33 having a predetermined thickness is accommodated in the mounting portion 231b, and the mounting portion is provided around the mounting portion 231b. A reinforcing portion (flat portion 231a) thicker than 231b is provided. Thereby, it is possible to reduce the thickness of the moving part, maintain rigidity, and ensure the elasticity of the foreign matter removing member 33. Therefore, the contact force distribution between the foreign matter removing member 33 and the optical filter 14 can be made uniform, and unevenness in the foreign matter removal can be prevented.
(2) Since the spring portions 231d and 2 "31e are integrally formed with the wiper frame 231 as an urging means for bringing the foreign matter removing member 33 into contact with the optical filter 14, the cleaning unit 30 is reduced in size and provided at low cost. be able to.
(3) Since the biasing means (spring portions 231d and 231e) are thinly molded using a resin material having good fluidity, the spring constant can be reduced, and dimensional errors of various members constituting the cleaning unit 30 Even if this occurs, the change in the urging force can be suppressed. As a result, a stable foreign matter removal effect can be obtained, and an increase in load fluctuations of the motor 24 that is the driving means can be prevented.

(第4の実施形態)
図8は第4の実施形態のワイパーフレーム331の斜視図である。第4の実施形態のワイパーフレーム331は、第3の実施形態のワイパーフレーム231の変形例である。なお、ワイパーフレーム以外の構成は第1の実施形態と同様であるので、その詳細な説明は省略する。
(Fourth embodiment)
FIG. 8 is a perspective view of the wiper frame 331 of the fourth embodiment. A wiper frame 331 of the fourth embodiment is a modification of the wiper frame 231 of the third embodiment. Since the configuration other than the wiper frame is the same as that of the first embodiment, detailed description thereof is omitted.

ワイパーフレーム331は、平坦部331aと、異物除去部材33を固定する取付部331bと、両端の板バネ状のバネ部331d及び331eにより構成され、その外形形状は第2の実施形態のワイパーフレーム231と略同形であるが、取付部331bの上下に2本の細い金属板331fがインサートされている。この場合、金属板331fの幅がワイパーフレーム331の厚さ方向に延伸するので、平坦部331aの補強効果に金属板331fの補強効果が追加され、ワイパーフレーム331を厚くすることなく、曲げ剛性を大幅に向上させることができる。   The wiper frame 331 includes a flat portion 331a, a mounting portion 331b for fixing the foreign matter removing member 33, and leaf spring-like spring portions 331d and 331e at both ends, and the outer shape thereof is the wiper frame 231 of the second embodiment. The two thin metal plates 331f are inserted above and below the attachment portion 331b. In this case, since the width of the metal plate 331f extends in the thickness direction of the wiper frame 331, the reinforcement effect of the metal plate 331f is added to the reinforcement effect of the flat portion 331a, and the bending rigidity is increased without increasing the thickness of the wiper frame 331. It can be greatly improved.

本発明は、デジタルカメラ以外にも、データプロジェクタ等の画像表示装置へ応用しても、同様の効果が得られる。   The present invention can achieve the same effect when applied to an image display device such as a data projector in addition to a digital camera.

本発明を適用した異物除去装置を含むデジタル一眼レフカメラの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the digital single-lens reflex camera containing the foreign material removal apparatus to which this invention is applied. 第1の実施形態のクリーニングユニットの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the cleaning unit of 1st Embodiment. 第1の実施形態のワイパーフレームの斜視図である。It is a perspective view of the wiper frame of a 1st embodiment. 第1の実施形態のデジタル一眼レフカメラの電気回路構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electric circuit structure of the digital single-lens reflex camera of 1st Embodiment. 第1の実施形態のデジタル一眼レフカメラの異物除去動作を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the foreign material removal operation | movement of the digital single-lens reflex camera of 1st Embodiment. 第2の実施形態のワイパーフレームの斜視図である。It is a perspective view of the wiper frame of a 2nd embodiment. 第3の実施形態のワイパーフレームの斜視図である。It is a perspective view of the wiper frame of a 3rd embodiment. 第4の実施形態のワイパーフレームの斜視図である。It is a perspective view of the wiper frame of a 4th embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

30 クリーニングユニット
21 モータ台
22 リードスクリュー
23 ガイド軸
24 モータ
25 ナット
31、131、231、331 ワイパーフレーム
31b、131b、231b、331b 取付部
31c、131c、231c、331c 補強部
31d、131d、231d、331d バネ部
31e、131e、231e、331e バネ部
32 ワイパー取り付けピン
33 異物除去部材
34 保護部材
30 Cleaning unit 21 Motor base 22 Lead screw 23 Guide shaft 24 Motor 25 Nut 31, 131, 231, 331 Wiper frame 31b, 131b, 231b, 331b Mounting portion 31c, 131c, 231c, 331c Reinforcing portion 31d, 131d, 231d, 331d Spring portion 31e, 131e, 231e, 331e Spring portion 32 Wiper mounting pin 33 Foreign matter removing member 34 Protective member

Claims (6)

光学素子の表面に付着した異物を除去するための異物除去装置であって、
前記光学素子の表面に当接するように異物除去部材を保持する帯状又は板状のワイパーフレームと、
前記異物除去部材で前記光学素子の表面を拭き取るために前記ワイパーフレームを移動させる駆動機構とを備え、
前記ワイパーフレームは、前記異物除去部材を固定する取付部と、前記取付部の周囲すべて或いは一部を取り囲む補強部とを具備し、前記光学素子の表面の法線方向における前記補強部の厚さが前記取付部の厚さより厚くなっていることを特徴とする異物除去装置。
A foreign matter removing apparatus for removing foreign matter attached to the surface of an optical element,
A belt-like or plate-like wiper frame that holds a foreign matter removing member so as to contact the surface of the optical element;
A drive mechanism for moving the wiper frame to wipe the surface of the optical element with the foreign matter removing member;
The wiper frame includes an attachment portion for fixing the foreign matter removing member and a reinforcement portion surrounding all or a part of the attachment portion, and the thickness of the reinforcement portion in the normal direction of the surface of the optical element. Is larger than the thickness of the mounting portion.
前記ワイパーフレームは金属板からなり、前記取付部及び前記補強部はプレス加工によって形成されていることを特徴とする請求項1に記載の異物除去装置。   The foreign matter removing apparatus according to claim 1, wherein the wiper frame is made of a metal plate, and the attachment portion and the reinforcing portion are formed by pressing. 前記ワイパーフレームは樹脂で成形されており、前記補強部は前記取付部の周囲に設けられた厚肉部からなること特徴とする請求項1に記載の異物除去装置。   The foreign matter removing apparatus according to claim 1, wherein the wiper frame is formed of a resin, and the reinforcing portion includes a thick portion provided around the attachment portion. 前記光学素子と前記異物除去部材との間に当接力を生じさせるための付勢手段を前記ワイパーフレームと一体に構成することを特徴とする請求項2又は3に記載の異物除去装置。   4. The foreign matter removing apparatus according to claim 2, wherein an urging means for generating a contact force between the optical element and the foreign matter removing member is integrally formed with the wiper frame. 前記付勢手段は、前記ワイパーフレームに一体形成された板バネ状のバネ部により構成されることを特徴とする請求項4に記載の異物除去装置。   The foreign matter removing apparatus according to claim 4, wherein the urging unit includes a leaf spring-like spring portion integrally formed with the wiper frame. 光学素子の表面に付着した異物を除去するための異物除去装置であって、
前記光学素子の表面に当接するように異物除去部材を保持する帯状又は板状のワイパーフレームと、
前記異物除去部材で前記光学素子の表面を拭き取るために前記ワイパーフレームを移動させる駆動機構とを備え、
前記ワイパーフレームに凹部を形成し、その凹部の底部に前記異物除去部材を固定することを特徴とする異物除去装置。
A foreign matter removing apparatus for removing foreign matter attached to the surface of an optical element,
A belt-like or plate-like wiper frame that holds a foreign matter removing member so as to contact the surface of the optical element;
A drive mechanism for moving the wiper frame to wipe the surface of the optical element with the foreign matter removing member;
A foreign matter removing apparatus, wherein a concave portion is formed in the wiper frame, and the foreign matter removing member is fixed to a bottom portion of the concave portion.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114095704A (en) * 2021-11-18 2022-02-25 华能江西清洁能源有限责任公司 Photovoltaic power plant remote monitoring device

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