JP2008309573A - Eddy current flaw detector and eddy current flaw detection method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、渦電流探傷装置および渦電流探傷方法に関するものである。 The present invention relates to an eddy current flaw detector and an eddy current flaw detection method.
金属の非破壊検査方法として、渦電流探傷法(ECT; Eddy Current Testing)が知られている。これは、励磁電流を供給したECTコイルが発生する磁束により,被測定部材に渦電流を発生させ、さらにこの渦電流により発生する磁束を表す検出信号をECTコイルの出力信号として得て、この時の検出信号が被検体の欠陥(傷)の位置、形状、深さ等を反映したものとなることから、該検出信号に基づき被検体の探傷を行うものである。 Eddy current testing (ECT) is known as a nondestructive inspection method for metals. This is because an eddy current is generated in the member to be measured by the magnetic flux generated by the ECT coil supplied with the excitation current, and a detection signal representing the magnetic flux generated by this eddy current is obtained as an output signal of the ECT coil. Since the detection signal reflects the position, shape, depth, etc. of the defect (scratch) of the subject, the subject is flawed based on the detection signal.
このように、渦電流探傷法は、被検体中の欠陥によって生ずる渦電流の強度および流れの形の変化を検出して探傷を行うものである。しかしながら、このような渦電流の強度及び流れの形は、上記欠陥だけではなく、被検体の電気抵抗率および透磁率の変動や、コイル姿勢の変化などによって生ずるECTコイルのインピーダンスの変化等によっても変化する。従って、このようなECTコイルのインピーダンスの変化はノイズとなり、欠陥の検出精度を低下させることとなる。 As described above, the eddy current flaw detection method performs flaw detection by detecting changes in the strength and flow shape of the eddy current caused by defects in the subject. However, the strength and flow shape of such eddy currents are not only due to the above defects, but also due to changes in the electrical resistivity and permeability of the subject, changes in the impedance of the ECT coil caused by changes in the coil posture, etc. Change. Therefore, such a change in the impedance of the ECT coil becomes noise, and the detection accuracy of defects is lowered.
特に、被検体が磁性体である場合、或いは被検体近傍に磁性体が存在する場合には、図14(a)に示すように、透磁率変化が検出信号にノイズとして現れ、SN比が低下することが知られている。このようなノイズを低減する方法として、図14(c)に示すように、ECTコイル101周辺に永久磁石または電磁石102を配置して、透磁率変化の影響を低減することによりECTコイル101からの検出信号のSN比を向上させる磁気飽和式の渦電流探傷法が提案されている。
In particular, when the subject is a magnetic material, or when a magnetic material is present in the vicinity of the subject, the permeability change appears as noise in the detection signal as shown in FIG. It is known to do. As a method of reducing such noise, as shown in FIG. 14C, a permanent magnet or an
図14(b)に、磁性体に印加される磁界強度と透磁率の関係を示す。磁性体の透磁率は、磁界が印加されないときに非磁性体の透磁率よりも大きな透磁率を有しており、印加磁界が大きくなるにつれて透磁率も大きくなってピーク点に達する。さらに印加磁界が大きくなると磁性体の透磁率は小さくなって非磁性体の透磁率に近づいて行き、磁性体の透磁率と非磁性体の透磁率との間に殆ど差が無くなるが、この現象が磁気飽和と呼ばれる。つまり、磁気飽和の状態では、被検体100の透磁率の差が小さくなり、透磁率の差による渦電流の変化が小さくなるから、磁気飽和の状態で渦電流探傷を行えば、ノイズも小さく、欠陥の検出精度が向上することとなる。
FIG. 14B shows the relationship between the magnetic field strength applied to the magnetic material and the magnetic permeability. The magnetic material has a magnetic permeability greater than that of the non-magnetic material when no magnetic field is applied, and the magnetic permeability increases as the applied magnetic field increases and reaches a peak point. When the applied magnetic field is further increased, the magnetic permeability of the magnetic material decreases and approaches the magnetic permeability of the non-magnetic material, and there is almost no difference between the magnetic permeability of the magnetic material and the magnetic permeability of the non-magnetic material. Is called magnetic saturation. That is, in the magnetic saturation state, the magnetic permeability difference of the
このような磁気飽和を利用した渦電流探傷法の一例として、磁性体金属管の探傷に適用する場合の装置例が特開平6−94682号公報「電磁誘導探傷プローブ」に開示されている。
しかしながら、上述した磁気飽和式の渦電流探傷法においては、透磁率変化によるノイズを消失するために必要な強力な磁石を用いると、炭素鋼等の強磁性体近傍では、可動機構を備えたECTセンサが強力な磁力によって移動困難になり、被検体を走査し得る現実的な装置を構成できないという事情があった。 However, in the magnetic saturation type eddy current flaw detection method described above, if a strong magnet necessary to eliminate noise due to a change in permeability is used, an ECT equipped with a movable mechanism is used in the vicinity of a ferromagnetic material such as carbon steel. The sensor is difficult to move due to the strong magnetic force, and there is a situation that a realistic apparatus that can scan the subject cannot be configured.
また、アロイ溶接による異材継手部分の探傷検査などに適用する場合、異材境界部に透磁率変化によるノイズが生じるが、最も磁力の強い磁石を用いてもノイズを完全に消去できない場合があるという事情があった。また、被検体を走査し得る現実的な装置構成とするべく、磁石の磁力をやや弱めた磁気飽和式の渦電流探傷装置においては、透磁率変化によるノイズは完全には消去されず、検出信号波形が被検体の傷に起因するものか、或いは、透磁率変化によるノイズに起因するものかを判別する必要があった。 In addition, when applied to flaw detection inspection of dissimilar material joints by alloy welding, noise due to magnetic permeability change occurs at the dissimilar material boundary, but the noise may not be completely erased even with the strongest magnet was there. In addition, in a magnetic saturation type eddy current flaw detector in which the magnetic force of the magnet is slightly weakened in order to achieve a realistic apparatus configuration capable of scanning the subject, noise due to permeability change is not completely eliminated, and the detection signal It was necessary to determine whether the waveform was caused by a scratch on the subject or noise caused by a change in magnetic permeability.
また、透磁率変化によるノイズの他に、例えば、被検体表面形状によるECTセンサのリフトオフ変化やECTセンサの傾き変化による形状ノイズがあり、この形状ノイズは表面欠陥と似た信号波形を示すことが多いことから、検出信号波形が被検体の表面欠陥に起因するものか、或いは、形状ノイズに起因するものかを判別することが難しいという事情もあった。 In addition to noise due to magnetic permeability change, for example, there is shape noise due to ECT sensor lift-off change or ECT sensor tilt change due to the subject surface shape, and this shape noise may show a signal waveform similar to a surface defect. Since there are many cases, it has been difficult to determine whether a detection signal waveform is caused by a surface defect of a subject or a shape noise.
本発明は、上記問題を解決するためになされたもので、検査精度の向上を図ることの可能な渦電流探傷装置および渦電流探傷方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problem, and an object thereof is to provide an eddy current flaw detection apparatus and an eddy current flaw detection method capable of improving inspection accuracy.
上記課題を解決するために、本発明は以下の手段を採用する。
本発明は、渦電流探傷プローブと、磁石を備えて透磁率変化によるノイズを低減する磁気飽和型渦電流探傷プローブと、前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別する分析手段とを具備することを特徴とする渦電流探傷装置を提供する。
In order to solve the above problems, the present invention employs the following means.
The present invention includes an eddy current flaw detection probe, a magnetic saturation type eddy current flaw detection probe that includes a magnet to reduce noise due to magnetic permeability change, and scans the same location by the eddy current flaw detection probe and the magnetic saturation type eddy current flaw detection probe. And analyzing means for comparing and analyzing the signal waveform obtained in step (b) to determine whether the signal waveform is caused by a flaw of the subject to be measured or caused by noise. An eddy current flaw detector is provided.
本発明によれば、検出信号波形が被検体の欠陥(傷)に起因するものか、或いは、透磁率変化によるノイズに起因するものかを判別することができ、検査精度の向上を図ることが可能となる。 According to the present invention, it is possible to determine whether a detection signal waveform is caused by a defect (scratch) of a subject or noise caused by a change in magnetic permeability, thereby improving inspection accuracy. It becomes possible.
上記渦電流探傷装置において、前記磁気飽和型渦電流探傷プローブの磁石は、前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブを備える可動体が走査可能な範囲の磁力を持つか、或いは、走査可能な範囲のリフトオフで設置されることが好ましい。 In the eddy current flaw detection apparatus, the magnet of the magnetic saturation type eddy current flaw detection probe has a magnetic force in a range in which a movable body including the eddy current flaw detection probe and the magnetic saturation type eddy current flaw detection probe can scan, or It is preferable to install with a lift-off within a scannable range.
上記渦電流探傷装置において、前記分析手段は、前記渦電流探傷プローブによる信号波形が内在欠陥の特徴を示し、且つ、前記渦電流探傷プローブによる信号振幅が前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる信号振幅の所定数倍を超える大きさであるときに、透磁率変化によるノイズを要因とするものであると判定することとしてもよい。 In the eddy current flaw detection apparatus, the analyzing means may be characterized in that the signal waveform of the eddy current flaw probe has an intrinsic defect, and the signal amplitude of the eddy current flaw probe is a signal amplitude of the magnetic saturation eddy current flaw probe. When the size exceeds a predetermined number of times, it may be determined that the noise is caused by a change in magnetic permeability.
このようにすることで、透磁率変化によるノイズが完全に消去されない場合でも、検出信号波形が被検体の欠陥(傷)に起因するものか、或いは、透磁率変化によるノイズに起因するものかを判別することができ、検査精度の向上を図ることが可能となる。 By doing so, even if the noise due to the permeability change is not completely erased, whether the detection signal waveform is caused by a defect (scratch) of the subject or the noise caused by the permeability change. This makes it possible to determine the accuracy of inspection.
上記渦電流探傷装置において、前記分析手段は、前記渦電流探傷プローブによる信号波形が開口欠陥の特徴を示し、且つ、前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる信号振幅が前記渦電流探傷プローブによる信号振幅の所定数倍を超える大きさであるときに、前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブのリフトオフ変化または傾き変化による形状ノイズを要因とするものであると判定することとしてもよい。 In the eddy current flaw detection apparatus, the analysis means shows that the signal waveform of the eddy current flaw probe has a characteristic of an opening defect, and the signal amplitude of the magnetic saturation eddy current flaw probe is the signal amplitude of the eddy current flaw probe. When the size exceeds a predetermined number of times, it may be determined that the noise is caused by shape noise due to a lift-off change or a tilt change of the eddy current flaw detection probe and the magnetic saturation eddy current flaw detection probe. .
このようにすることで、検出信号の波形特徴が類似している開口欠陥および形状ノイズについて、検出信号波形が被検体の開口欠陥(傷)に起因するものか、或いは、形状ノイズに起因するものかを判別することができ、検査精度の向上を図ることが可能となる。 By doing in this way, regarding the opening defect and the shape noise having similar waveform characteristics of the detection signal, the detection signal waveform is caused by the opening defect (scratch) of the subject, or is caused by the shape noise. Therefore, it is possible to improve the inspection accuracy.
上記渦電流探傷装置において、前記分析手段は、傷の深さが既知の標準試料を前記渦電流探傷プローブ及び前記磁気飽和型渦電流探傷プローブにより実測して得る見本探傷信号を入力し、波形特徴を数値化した特徴量を生成する特徴量生成手段と、前記標準試料の傷の深さを表す量として既知の正解データを供給する正解データ供給手段と、前記特徴量および正解データを入力し、前記特徴量を利用して前記正解データとの誤差が十分小さい値を出力するためのパラメータである評価パラメータを、学習により生成する学習手段と、測定対象の被検体を前記渦電流探傷プローブ及び前記磁気飽和型渦電流探傷プローブにより探傷して得る実測探傷信号により、見本探傷信号と同様の特徴量を生成する特徴量生成手段と、前記実測探傷信号に基づく特徴量と該特徴量に対応する前記評価パラメータとに基づき、傷の深さ推定値を生成する評価結果生成手段とを具備することとしてもよい。 In the eddy current flaw detection apparatus, the analysis means inputs a sample flaw detection signal obtained by actually measuring a standard sample with a known flaw depth by the eddy current flaw detection probe and the magnetic saturation type eddy current flaw detection probe, and has waveform characteristics. A feature value generation means for generating a feature value that is quantified, a correct data supply means for supplying known correct data as an amount representing the depth of the scratch of the standard sample, and the feature value and the correct data are input. Learning means for generating by evaluation an evaluation parameter that is a parameter for outputting a value with a sufficiently small error from the correct answer data using the feature amount, and the eddy current flaw detection probe and the subject to be measured A feature value generating means for generating a feature value similar to the sample flaw detection signal based on the actual flaw detection signal obtained by flaw detection with the magnetic saturation type eddy current flaw detection probe, and based on the measured flaw detection signal Based on the Ku features and said evaluation parameter corresponding to the feature quantity, may be provided with a evaluation result generating means for generating depth estimates of wounds.
このようにすることで、透磁率変化の影響や、材質の違いの影響を考慮することができるので、前記渦電流探傷プローブの信号のみに基づいて判断する場合に比べて、格段に評価精度を向上させることが可能となる。 In this way, the influence of permeability change and the influence of material difference can be taken into account, so that the evaluation accuracy is markedly improved compared to the case where judgment is made based only on the signal of the eddy current flaw detection probe. It becomes possible to improve.
被検体が2種類以上の材質の領域を含む渦電流探傷において、前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブに加えて、被検体において異なる材質の境界である異材境界位置を検出するための位置検出センサを更に備え、前記分析手段は、前記位置検出センサの位置情報に基づき、前記渦電流探傷プローブまたは前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる信号波形に基づく欠陥抽出およびサイジングを行うこととしてもよい。 In an eddy current flaw detection in which a subject includes two or more kinds of material regions, in addition to the eddy current flaw detection probe and the magnetic saturation eddy current flaw detection probe, a different material boundary position that is a boundary between different materials in the subject is detected. A position detection sensor for detecting a defect based on a signal waveform of the eddy current flaw detection probe or the magnetic saturation type eddy current flaw detection probe based on the position information of the position detection sensor. It is good.
このようにすることで、判別した異材境界位置を基準として検出信号がどの材質の位置にあるかを正確に分類でき、より正確な判定・評価を行うことができる。 By doing in this way, it can classify | categorize correctly the position of the material which a detection signal has on the basis of the discriminated foreign material boundary position, and can perform more accurate determination and evaluation.
上記渦電流探傷装置において、前記分析手段は、被検体の前記磁気飽和型渦電流探傷プローブの信号値分布に基づき、測定対象の被検体において異なる材質の境界である異材境界の位置を判別し、該異材境界位置に基づき、前記渦電流探傷プローブまたは前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる信号波形に基づく欠陥抽出およびサイジングを行うこととしてもよい。 In the eddy current flaw detection apparatus, the analysis unit determines a position of a different material boundary that is a boundary of different materials in the subject to be measured based on the signal value distribution of the magnetic saturation type eddy current flaw detection probe of the subject. The defect extraction and sizing based on the signal waveform by the eddy current flaw detection probe or the magnetic saturation type eddy current flaw detection probe may be performed based on the dissimilar material boundary position.
このようにすることで、新たに位置センサを付加することなく、判別した異材境界位置を基準として検出信号がどの材質の位置にあるかを正確に分類でき、より正確な判定・評価を行うことができる。 In this way, without adding a new position sensor, it is possible to accurately classify which material the detection signal is on the basis of the determined different material boundary position, and perform more accurate determination / evaluation Can do.
上記渦電流探傷装置において、前記磁気飽和型渦電流探傷プローブは、1対の磁石と、前記1対の磁石で挟まれ、且つ、該1対の磁石で挟まれた領域の中央の磁力に対する減衰率が所定許容範囲の位置に並設された複数のセンサとを具備することとしてもよい。 In the eddy current flaw detection apparatus, the magnetic saturation type eddy current flaw detection probe is sandwiched between a pair of magnets and the pair of magnets, and is attenuated with respect to the magnetic force at the center of the region sandwiched between the pair of magnets. It is good also as providing the some sensor arranged in parallel in the position where a rate is a predetermined permissible range.
このようにすることで、内捜型または貫通型以外のマルチセンサ型プローブについても、磁気飽和型渦電流探傷プローブを実現できる。 By doing in this way, a magnetic saturation type eddy current flaw detection probe can be realized also for multi-sensor type probes other than the internal search type or the penetration type.
本発明は、渦電流探傷プローブと、磁石を備えて透磁率変化によるノイズを低減する磁気飽和型渦電流探傷プローブとを具備した渦電流探傷装置の渦電流探傷方法であって、前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別する分析工程を具備することを特徴とする渦電流探傷方法を提供する。 The present invention is an eddy current flaw detection method for an eddy current flaw detection apparatus comprising an eddy current flaw detection probe and a magnetic saturation type eddy current flaw detection probe that includes a magnet and reduces noise due to permeability change. By comparing and analyzing signal waveforms obtained by scanning the same location by the probe and the magnetic saturation type eddy current flaw detection probe, whether the signal waveform is caused by a flaw on the subject to be measured, or caused by noise There is provided an eddy current flaw detection method characterized by comprising an analysis step for discriminating whether or not.
本発明によれば、検査精度の向上を図ることができるという効果を奏する。 According to the present invention, it is possible to improve the inspection accuracy.
以下、本発明の渦電流探傷装置および渦電流探傷方法の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of an eddy current flaw detection apparatus and an eddy current flaw detection method according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
〔第1の実施形態〕
図1は本発明の第1の実施形態に係る渦電流探傷装置の構成図である。同図において、本実施形態の渦電流探傷装置は、通常型プローブ11、磁気飽和型プローブ13、駆動装置15、探傷器17、記憶装置19および分析装置21を備えて構成されている。
通常型プローブ11は、特許請求の範囲にいう渦電流探傷プローブであり、渦電流探傷法による配管等の保守検査で一般的に使用されているもので、例えば自己比較方式のものを用いる。また、磁気飽和型プローブ13は、特許請求の範囲にいう磁気飽和型渦電流探傷プローブであり、ECTコイル周辺に永久磁石または電磁石を配置して、透磁率変化の影響を低減するようにしたものである。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a configuration diagram of an eddy current flaw detector according to a first embodiment of the present invention. In the figure, the eddy current flaw detector according to this embodiment includes a
The
また、駆動装置15は、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13を備えた可動体25を移動させるものであり、エンコーダ等の位置検出器を備えて、位置信号を探傷器17に出力する。また、探傷器17は、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13のECTコイルを励磁して、該ECTコイルの出力信号を検出信号として受け取り、これら位置信号および検出信号をA/D変換した後記録装置19に出力する。
The driving
記録装置19は、探傷器17からの位置信号および検出信号を逐次記録していく。分析装置21は、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13で得られた信号波形に基づき欠陥抽出およびサイジングを行って評価するものであるが、本実施形態では、特に、分析装置21において、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13による同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が透磁率変化によるノイズを要因とするものであるか否かを判定する点に特徴がある。
The
本実施形態の渦電流探傷装置は、種々の被破壊検査に適用可能であるが、本実施形態の渦電流探傷装置による効果をより明確にするために、ここでは、図2(a)に示すような原子力発電プラントにおける容器40と配管50のつなぎ目を含む配管の保守検査に適用する場合を例に説明する。
The eddy current flaw detection apparatus of the present embodiment can be applied to various types of destructive inspections, but in order to clarify the effect of the eddy current flaw detection apparatus of the present embodiment, here, as shown in FIG. A case where the present invention is applied to maintenance inspection of piping including the joint between the
図2(a)におけるA部の配管50と容器40の接合部の断面を拡大して示したものが図2(b)である。容器40は、強磁性である炭素鋼41が用いられ、内面がSUSオーバレイ42で覆われている。SUSとしては非磁性のオーステナイト系のものが用いられるが、加工・溶接等により弱い磁性を帯びる場合もある。また、配管50にはSUS母材51が使用されている。これら容器40と配管50のつなぎ目は、アロイバタリング52で覆った後に、アロイ溶接で接合されている。アロイは非磁性である。図中、53はアロイ溶金である。
FIG. 2B is an enlarged view of the cross section of the joint portion between the pipe A of the portion A and the
容器40と配管50のつなぎ目(特に、図中B部)では、背景技術で述べたように、透磁率変化が検出信号にノイズとして現れ、SN比が低下する。これに対処するため、本実施形態でも磁気飽和型プローブ13を用いるが、透磁率変化によるノイズを完全に消失するために強力な磁石を用いると、炭素鋼等の強磁性体近傍では可動体25が移動困難になり、被検体を走査し得る現実的な装置を構成できなくなってしまう。そこで、本実施形態では、磁気飽和型プローブ13の磁石を、可動体25が走査可能な範囲のやや弱い磁力を持つものとするか、或いは、走査可能な範囲のリフトオフ(より大きなリフトオフ)で設置することとして、走査可能な範囲に磁気を弱くしている。なお、容器40と配管50のつなぎ目を含む配管の保守検査では、通常型プローブ11と磁気飽和型プローブ13を併置した可動体25を、軸方向および周方向に走査して検査を行う。
At the joint between the
このように、被検体を走査し得る現実的な装置構成とするべく、磁気飽和型プローブ13の磁石の磁力をやや弱めた場合には、透磁率変化によるノイズは完全には消去されず、検査精度の向上を図るためには、検出信号波形が被検体の欠陥に起因するものか、或いは、透磁率変化によるノイズに起因するものかを判別する必要が生じる。
そこで、本実施形態の渦電流探傷装置では、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13による同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が透磁率変化によるノイズを要因とするものであるか否かを判定するようにしている。
As described above, when the magnetic force of the magnet of the
Therefore, in the eddy current flaw detector according to the present embodiment, a signal waveform obtained by scanning the same location by the
次に、図3のフローチャートを参照して、分析装置21により行われるこの判定方法について詳細に説明する。なお、渦電流探傷法では、一般に、信号波形に基づく欠陥(傷)の特徴分類を容易にする目的で、複数の励磁周波数について計測する手法が採られており、本実施形態においても複数の周波数(例えば、100[kHz],200[kHz],400[kHz],…等)について計測する。
ここでは、標準信号として開口欠陥信号を使用する場合、すなわち、所定の開口欠陥信号の振幅および位相角が全ての探傷周波数波形について一定値になるように校正した場合の例を説明する。
Next, the determination method performed by the
Here, an example will be described in which an aperture defect signal is used as a standard signal, that is, calibration is performed so that the amplitude and phase angle of a predetermined aperture defect signal are constant for all flaw detection frequency waveforms.
まず、通常型プローブ11により通常センサ信号(…Sj…Sk…)を取得する(ステップS111)。ここで、Sjは励磁周波数Fjのときの検出信号で、Skは励磁周波数Fkのときの検出信号であり、Fj<Fkである。また、同様に、磁気飽和型プローブ13により磁気飽和型センサ信号(…S’j…S’k…)を取得する(ステップS112)。ここで、S’jは励磁周波数Fjのときの検出信号で、S’kは励磁周波数Fkのときの検出信号である。 First, a normal sensor signal (... Sj ... Sk ...) is acquired by the normal probe 11 (step S111). Here, Sj is a detection signal at the excitation frequency Fj, Sk is a detection signal at the excitation frequency Fk, and Fj <Fk. Similarly, magnetic saturation type sensor signals (... S'j ... S'k ...) are acquired by the magnetic saturation type probe 13 (step S112). Here, S'j is a detection signal at the excitation frequency Fj, and S'k is a detection signal at the excitation frequency Fk.
次に、通常型プローブ11による通常センサ信号について、内在欠陥特徴を示すかどうか、具体的には、探傷周波数のうちの低周波で探傷したときの信号Sjの振幅が探傷周波数のうちの高周波で探傷したときの信号Skの振幅よりも大きいか否かを判断する(ステップS113)。欠陥(傷)の特徴分類として大まかに走査面に開口していない内在欠陥と走査面に開口している開口欠陥とがあるが、透磁率変化によるノイズに起因する信号波形の特徴は、内在欠陥に起因する信号波形の特徴と類似している。また、内在欠陥に起因する信号波形の特徴は、開口欠陥に起因する信号波形の特徴と比較して、「低周波の信号振幅>高周波の信号振幅」という特性があり、ステップS113の判断により、内在欠陥または透磁率変化によるノイズに起因する可能性の高い信号が抽出されることになる。
Next, whether or not the normal sensor signal by the
なお、ステップS113の判断は、磁気飽和型プローブ13による磁気飽和型センサ信号について行っても良いが、透磁率変化によるノイズに起因している場合には、磁気飽和型センサ信号は磁気飽和により低減されてしまうことから、通常型プローブ11による通常センサ信号について行うのが望ましい。
The determination in step S113 may be performed on the magnetic saturation type sensor signal by the magnetic
ステップS113で「低周波の信号振幅>高周波の信号振幅」であるときは、次に、同一の周波数で探傷したときの通常型プローブ11による通常センサ信号SAの振幅が磁気飽和型プローブ13による磁気飽和型センサ信号S’Aの振幅の所定数倍を超える大きさであるか否かを判断する(ステップS114)。ここで、「所定数倍」は、磁気飽和型プローブ13の磁石の磁力またはリフトオフの大きさの設定により変わってくるが、概ね3〜5倍程度である。
If “low-frequency signal amplitude> high-frequency signal amplitude” in step S113, then the amplitude of the normal sensor signal SA by the
つまり、透磁率変化によるノイズに起因している場合には、磁気飽和型センサ信号は磁気飽和により低減されるので、この判断により透磁率変化によるノイズに起因する信号波形であるか否かを判定できる。すなわち、「通常センサ信号振幅>>磁気飽和型センサ信号振幅」であるときは、透磁率変化によるノイズに起因する信号と判断され(ステップS117)、「通常センサ信号振幅>>磁気飽和型センサ信号振幅」でないときは、内在欠陥に起因する信号の可能性があると判断される(ステップS116)。
また、ステップS113で「低周波の信号振幅>高周波の信号振幅」でないときは、内在欠陥または透磁率変化によるノイズ以外の要因による信号と判断される(ステップS115)。
In other words, if it is caused by noise due to permeability change, the magnetic saturation type sensor signal is reduced by magnetic saturation, so this judgment determines whether the signal waveform is caused by noise due to permeability change. it can. That is, when “normal sensor signal amplitude >> magnetic saturation type sensor signal amplitude”, it is determined that the signal is caused by noise due to magnetic permeability change (step S117), and “normal sensor signal amplitude >> magnetic saturation type sensor signal”. If it is not “amplitude”, it is determined that there is a possibility of a signal due to an intrinsic defect (step S116).
If “low frequency signal amplitude> high frequency signal amplitude” is not satisfied in step S113, the signal is determined to be a signal due to a factor other than an intrinsic defect or noise due to permeability change (step S115).
次に、分析装置21において行われる、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13で得られた信号波形に基づく欠陥抽出およびサイジングによる評価について、簡単に説明する。
一般に、渦電流探傷法による検査では、検出信号(電圧)を図4に示すような実軸(横軸)および虚軸(縦軸)による複素平面上のリサージュ図形で描いて評価する。このリサージュ図形は、大きさ(振幅)と実軸に対する傾き(位相角θ)で特徴づけられる。
Next, the defect extraction based on the signal waveforms obtained by the
In general, in an inspection by an eddy current flaw detection method, a detection signal (voltage) is drawn and evaluated by a Lissajous figure on a complex plane having a real axis (horizontal axis) and an imaginary axis (vertical axis) as shown in FIG. This Lissajous figure is characterized by a magnitude (amplitude) and an inclination (phase angle θ) with respect to the real axis.
また、図5には、内在欠陥(軸方向欠陥、周方向欠陥)および透磁率変化によるノイズに起因する通常センサ信号および磁気飽和型センサ信号のリサージュ図形を例示する。図5は、標準信号として開口欠陥信号を使用する場合、すなわち、所定の開口欠陥信号の振幅が同一値になり、および位相角が一定になるように校正した場合のECT波形例である。また、通常プローブと磁気飽和型プローブは、同じ励磁周波数により探傷を行い、校正条件も同じ標準欠陥を探傷した信号を同じ条件で校正する。 FIG. 5 illustrates Lissajous figures of a normal sensor signal and a magnetic saturation sensor signal caused by noise due to intrinsic defects (axial defects, circumferential defects) and permeability change. FIG. 5 is an example of an ECT waveform when an aperture defect signal is used as a standard signal, that is, when calibration is performed so that the amplitude of a predetermined aperture defect signal has the same value and the phase angle is constant. In addition, the normal probe and the magnetic saturation type probe perform flaw detection with the same excitation frequency, and calibrate a signal obtained by detecting a standard defect with the same calibration condition under the same condition.
同図に示すように、通常センサ信号および磁気飽和型センサ信号のそれぞれについて、内在欠陥(軸方向欠陥、周方向欠陥)および透磁率変化によるノイズの何れに起因する場合も、「低周波の信号振幅>高周波の信号振幅」という特性がある。また、低周波および高周波のそれぞれについて、内在欠陥(軸方向欠陥、周方向欠陥)に起因する場合には「通常センサ信号振幅≒磁気飽和型センサ信号振幅」であり、透磁率変化によるノイズの何れに起因する場合には「通常センサ信号振幅>>磁気飽和型センサ信号振幅」である。したがって、図5からも「低周波の信号振幅>高周波の信号振幅」であるか否か、並びに、「通常センサ信号振幅>>磁気飽和型センサ信号振幅」であるか否かの2段階の判断により、信号波形が透磁率変化によるノイズを要因とするものであるか否かを判定可能であると、容易に理解できる。 As shown in the figure, for each of the normal sensor signal and the magnetic saturation type sensor signal, the “low frequency signal” may be caused by any of the intrinsic defects (axial defects, circumferential defects) and noise due to permeability change. There is a characteristic of “amplitude> high-frequency signal amplitude”. In addition, for each of the low frequency and the high frequency, “normal sensor signal amplitude≈magnetic saturation type sensor signal amplitude” when it is caused by an intrinsic defect (axial defect, circumferential defect), and any noise caused by permeability change. In the case of the above, “normal sensor signal amplitude >> magnetic saturation type sensor signal amplitude”. Therefore, from FIG. 5 as well, a two-step judgment is made as to whether or not “low-frequency signal amplitude> high-frequency signal amplitude” and “normal sensor signal amplitude >> magnetic saturation sensor signal amplitude”. Thus, it can be easily understood that it can be determined whether or not the signal waveform is caused by noise due to a change in magnetic permeability.
以上説明したように、本実施形態の渦電流探傷装置および渦電流探傷方法では、通常型プローブ(渦電流探傷プローブ)11と、磁石を備えて透磁率変化によるノイズを低減する磁気飽和型プローブ(磁気飽和型渦電流探傷プローブ)13とを具備し、分析装置(分析手段)21により、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13による同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別する。
As described above, in the eddy current flaw detector and the eddy current flaw detection method according to the present embodiment, the normal probe (eddy current flaw probe) 11 and the magnetic saturation probe (which includes a magnet and reduces noise due to a change in permeability) A magnetic saturation type eddy current flaw detection probe) 13, and an analysis device (analysis means) 21 compares and analyzes signal waveforms obtained by scanning the same location by the
また、本実施形態の渦電流探傷装置および渦電流探傷方法では、分析装置(分析手段)21により、複数の周波数条件による探傷で得られた信号の内、通常型プローブ11または磁気飽和型プローブ13による相対的に低周波で探傷したときの信号振幅が相対的に高周波で探傷したときの信号振幅よりも大きく、且つ、任意の周波数で探傷したときの通常型プローブ11による信号振幅が磁気飽和型プローブ13による信号振幅の所定数倍を超える大きさであるときに、透磁率変化によるノイズを要因とするものであると判定する。
In the eddy current flaw detector and the eddy current flaw detection method of this embodiment, the
これにより、透磁率変化によるノイズが完全に消去されない場合でも、検出信号波形が被検体の欠陥(傷)に起因するものか、或いは、透磁率変化によるノイズに起因するものかを判別することができ、検査精度の向上を図ることができる。 Thereby, even when the noise due to the magnetic permeability change is not completely erased, it is possible to determine whether the detection signal waveform is caused by a defect (scratch) of the subject or the noise caused by the magnetic permeability change. It is possible to improve the inspection accuracy.
また、本実施形態の渦電流探傷装置では、磁気飽和型プローブ13の磁石を、可動体25が走査可能な範囲のやや弱い磁力を持つものとするか、或いは、走査可能な範囲のリフトオフ(より大きなリフトオフ)で設置する。つまり、検出信号波形が透磁率変化によるノイズに起因するものか否かを判別できるので、磁気飽和型プローブ13において磁気飽和するための磁石の強さをノイズを完全に除去するまで強くする必要が無くなり、強磁性体近辺でも可動体25が走査可能な範囲の相対的に弱い磁力で装置を構成することができる。
Further, in the eddy current flaw detector according to the present embodiment, the magnet of the
〔第2の実施形態〕
次に、本発明の第2の実施形態に係る渦電流探傷装置および渦電流探傷方法について説明する。本実施形態の渦電流探傷装置の構成は第1の実施形態(図1)と同等であり、各構成要素の詳しい説明を省略する。
ただし、分析装置21については、第1の実施形態と同様に、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13で得られた信号波形に基づき欠陥抽出およびサイジングを行って評価するが、特に、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13による同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13のリフトオフ変化または傾き変化による形状ノイズを要因とするものであるか否かを判定する点が異なる。
[Second Embodiment]
Next, an eddy current flaw detector and an eddy current flaw detection method according to a second embodiment of the present invention will be described. The configuration of the eddy current flaw detector of this embodiment is the same as that of the first embodiment (FIG. 1), and detailed description of each component will be omitted.
However, the
第1の実施形態で述べた透磁率変化によるノイズの他にも、被検体表面形状によるECTセンサのリフトオフ変化やECTセンサの傾き変化による形状ノイズがある。この形状ノイズを低減するために、例えば、クロスコイル方式、自己比較方式、相互誘導方式等のノイズ低減効果のある方式が提案されているが、急峻なリフトオフ変化または傾き変化による形状ノイズを完全に消去することはできず、この形状ノイズは開口欠陥と似た信号波形を示すことが多いことから、検査精度の向上を図るためには、検出信号波形が被検体の開口欠陥に起因するものか、或いは、形状ノイズに起因するものかを判別する必要が生じる。 In addition to the noise due to the magnetic permeability change described in the first embodiment, there is a shape noise due to the lift-off change of the ECT sensor due to the shape of the subject surface and the inclination change of the ECT sensor. In order to reduce this shape noise, for example, methods such as a cross coil method, a self-comparison method, and a mutual induction method have been proposed, but the shape noise due to a sudden lift-off change or inclination change is completely eliminated. This shape noise often shows a signal waveform similar to that of an opening defect. Therefore, in order to improve inspection accuracy, is the detection signal waveform caused by the opening defect of the subject? Alternatively, it is necessary to determine whether it is caused by shape noise.
そこで、本実施形態の渦電流探傷装置では、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13による同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が形状ノイズを要因とするものであるか否かを判定するようにしている。
Therefore, in the eddy current flaw detector of this embodiment, the signal waveforms obtained by scanning the same location by the
次に、図6のフローチャートを参照して、分析装置21により行われるこの判定方法について詳細に説明する。
まず、通常型プローブ11により通常センサ信号(…Sj…Sk…)を取得する(ステップS121)。ここで、Sjは励磁周波数Fjのときの検出信号で、Skは励磁周波数Fkのときの検出信号である。また、同様に、磁気飽和型プローブ13により磁気飽和型センサ信号(…S’j…S’k…)を取得する(ステップS122)。ここで、S’jは励磁周波数Fjのときの検出信号で、S’kは励磁周波数Fkのときの検出信号である。
Next, the determination method performed by the
First, a normal sensor signal (... Sj ... Sk ...) is acquired by the normal probe 11 (step S121). Here, Sj is a detection signal at the excitation frequency Fj, and Sk is a detection signal at the excitation frequency Fk. Similarly, magnetic saturation type sensor signals (... S′j... S′k...) Are acquired by the magnetic saturation type probe 13 (step S122). Here, S′j is a detection signal at the excitation frequency Fj, and S′k is a detection signal at the excitation frequency Fk.
次に、通常型プローブ11による通常センサ信号について、開口欠陥の信号波形の特徴を示すか否かを判断する(ステップS123)。ここで「開口欠陥の信号波形の特徴を示す」とは、例えば、第1の実施形態と同じ条件で校正したとき、Sj≒Skで、各周波数の波形の位相角もほぼ等しいことにより判断できる。形状ノイズに起因する信号波形の特徴は、開口欠陥に起因する信号波形の特徴と類似している。ステップS123の判断により、開口欠陥または形状ノイズに起因する可能性の高い信号が抽出されることになる。なお、ステップS123の判断は、磁気飽和型プローブ13による磁気飽和型センサ信号について行っても良い。
Next, it is determined whether or not the normal sensor signal from the
ステップS123で開口欠陥の信号波形の特徴を示すときは、次に、同一の周波数で探傷したときの磁気飽和型プローブ13による磁気飽和型センサ信号S’Aの振幅が通常型プローブ11による通常センサ信号SAの振幅の所定数倍を超える大きさであるか否かを判断する(ステップS124)。ここで、「所定数倍」は、概ね2倍程度である。
When the characteristics of the signal waveform of the opening defect are shown in step S123, the amplitude of the magnetic saturation type sensor signal S′A by the magnetic
標準欠陥信号波形が規定振幅となるように検出信号の校正を行ったとき、開口欠陥に起因する場合には、通常型プローブ11による通常センサ信号波形と磁気飽和型プローブ13による磁気飽和型センサ信号波形との間に有意な差はないが、形状ノイズに起因する場合には、通常型プローブ11による通常センサ信号に比べて磁気飽和型プローブ13による磁気飽和型センサ信号の振幅が大きくなるという特徴がある。これは、ノイズ低減効果のある方式では、形状ノイズを打ち消すようなコイル配置に設計されているが、磁石を持つ磁気飽和型プローブ13では磁石無しの通常型プローブ11に比べて渦電流分布が変形することから、形状ノイズを打ち消す効果が低減するためであると考えられる。
When the detection signal is calibrated so that the standard defect signal waveform has a specified amplitude, when it is caused by an opening defect, the normal sensor signal waveform by the
したがって、ステップS124で「磁気飽和型センサ信号振幅>>通常センサ信号振幅」であるときは、形状ノイズに起因する信号と判断され(ステップS127)、「磁気飽和型センサ信号振幅>>通常センサ信号振幅」でないときは、開口欠陥に起因する信号の可能性があると判断される(ステップS126)。
また、ステップS123で開口欠陥の信号波形の特徴を示していないときは、開口欠陥または形状ノイズ以外の要因による信号と判断される(ステップS125)。
図7には、開口欠陥(軸方向欠陥、周方向欠陥)および形状ノイズに起因する通常センサ信号および磁気飽和型センサ信号のリサージュ図形を例示する。
Therefore, when “magnetic saturation type sensor signal amplitude >> normal sensor signal amplitude” in step S124, it is determined that the signal is caused by shape noise (step S127), and “magnetic saturation type sensor signal amplitude >> normal sensor signal”. If it is not “amplitude”, it is determined that there is a possibility of a signal due to an opening defect (step S126).
Further, when the feature of the signal waveform of the opening defect is not shown in step S123, it is determined that the signal is due to a factor other than the opening defect or shape noise (step S125).
FIG. 7 illustrates a Lissajous figure of a normal sensor signal and a magnetic saturation type sensor signal caused by an opening defect (axial defect, circumferential defect) and shape noise.
同図に示すように、通常センサ信号および磁気飽和型センサ信号のそれぞれについて、内在欠陥(軸方向欠陥、周方向欠陥)および形状ノイズの何れに起因する場合も、類似した信号波形の特徴を示している。また、低周波および高周波のそれぞれについて、開口欠陥(軸方向欠陥、周方向欠陥)に起因する場合には「磁気飽和型センサ信号振幅≒通常センサ信号振幅」であり、形状ノイズの何れに起因する場合には「磁気飽和型センサ信号振幅>>通常センサ信号振幅」である。したがって、図7からも開口欠陥の信号波形の特徴を示すか否か、並びに、「磁気飽和型センサ信号振幅>>通常センサ信号振幅」であるか否かの2段階の判断により、信号波形が形状ノイズを要因とするものであるか否かを判定可能であると、容易に理解できる。 As shown in the figure, for each of the normal sensor signal and the magnetic saturation type sensor signal, the characteristics of similar signal waveforms are shown regardless of any inherent defects (axial defects, circumferential defects) and shape noise. ing. In addition, when each of the low frequency and the high frequency is caused by an opening defect (axial defect, circumferential defect), “magnetic saturation type sensor signal amplitude≈normal sensor signal amplitude”, which is caused by any of the shape noise In this case, “magnetic saturation type sensor signal amplitude >> normal sensor signal amplitude”. Therefore, from FIG. 7, the signal waveform is determined based on the two-stage determination of whether or not the characteristics of the signal waveform of the opening defect are exhibited and whether or not “magnetic saturation type sensor signal amplitude >> normal sensor signal amplitude”. It can be easily understood that it can be determined whether or not it is caused by shape noise.
以上説明したように、本実施形態の渦電流探傷装置および渦電流探傷方法では、通常型プローブ(渦電流探傷プローブ)11と、磁石を備えて透磁率変化によるノイズを低減する磁気飽和型プローブ(磁気飽和型渦電流探傷プローブ)13とを具備し、分析装置(分析手段)21により、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13による同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、該信号波形が通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13のリフトオフ変化または傾き変化による形状ノイズに起因するものかを判別する。
As described above, in the eddy current flaw detector and the eddy current flaw detection method according to the present embodiment, the normal probe (eddy current flaw probe) 11 and the magnetic saturation probe (which includes a magnet and reduces noise due to a change in permeability) A magnetic saturation type eddy current flaw detection probe) 13, and an analysis device (analysis means) 21 compares and analyzes signal waveforms obtained by scanning the same location by the
また、本実施形態の渦電流探傷装置および渦電流探傷方法では、分析装置(分析手段)21により、通常型プローブ11または磁気飽和型プローブ13による信号波形が開口欠陥の特徴を示し、且つ、磁気飽和型プローブ13による信号振幅が通常型プローブ11による信号振幅の所定数倍を超える大きさであるときに、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13のリフトオフ変化または傾き変化による形状ノイズを要因とするものであると判定する。
In the eddy current flaw detector and the eddy current flaw detection method of the present embodiment, the signal waveform of the
これにより、検出信号の波形特徴が類似している開口欠陥および形状ノイズについて、検出信号波形が被検体の開口欠陥(傷)に起因するものか、或いは、形状ノイズに起因するものかを判別することができ、検査精度の向上を図ることができる。 Thereby, with respect to the opening defect and the shape noise having similar waveform characteristics of the detection signal, it is determined whether the detection signal waveform is caused by the opening defect (scratch) of the subject or the shape noise. Therefore, the inspection accuracy can be improved.
〔第3の実施形態〕
次に、本発明の第3の実施形態に係る渦電流探傷装置について説明する。本実施形態の渦電流探傷装置の構成は第1の実施形態(図1)と同等であり、各構成要素の詳しい説明を省略する。
ただし、分析装置21については、傷の深さが既知の標準試料を通常型プローブ及び磁気飽和型プローブにより実測して得る見本探傷信号を入力し、波形特徴を数値化した特徴量を生成する特徴量生成手段と、標準試料の傷の深さを表す量として既知の正解データを供給する正解データ供給手段と、前記特徴量および正解データを入力し、特徴量を利用して正解データとの誤差が十分小さい値を出力するためのパラメータである評価パラメータを、学習により生成する学習手段と、測定対象の被検体を前記通常型プローブ及び前記磁気飽和型プローブにより探傷して得る実測探傷信号により、見本探傷信号と同様の特徴量を生成する特徴量生成手段と、実測探傷信号に基づく特徴量と該特徴量に対応する前記評価パラメータとに基づき、傷の深さ推定値を生成する評価結果生成手段とを具備する構成である点が異なる。
[Third Embodiment]
Next, an eddy current flaw detector according to a third embodiment of the present invention will be described. The configuration of the eddy current flaw detector of this embodiment is the same as that of the first embodiment (FIG. 1), and detailed description of each component will be omitted.
However, the
第1の実施形態の分析装置21では、位相角θを計測し、この位相角θを、予め用意しておいた探傷信号の位相と傷の深さとの関係を示す特性曲線にマッピングすることにより傷の深さを推定したが、両者の関係は必ずしも正確に対応していないこともあり、当該探傷の精度が実用上十分でない場合がある。傷の深さが同じでも傷の形(例えば、長さ、幅等)や、傷とコイルの相対的な位置関係等の各種要因により位相角θが異なるからである。特に、探傷信号の位相の変化の割合に対して傷の深さの変化の割合が小さい内面傷(伝熱管の内周面側の傷)の場合の検査精度が問題となる場合が多い。
In the
そこで、本実施形態の渦電流探傷装置では、本発明者等がすでに提案した特開2002−22708号公報の「渦電流探傷信号の評価方法およびその装置」を本発明に適用して、渦電流探傷により検出する傷の深さの評価精度を向上させる。
図8および図9は、本実施形態の渦電流探傷装置の分析装置21における渦電流探傷信号の分析評価方法を説明するフローチャートである。
Therefore, in the eddy current flaw detector of the present embodiment, the “eddy current flaw detection signal evaluation method and apparatus” disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2002-22708, which has already been proposed by the present inventors, is applied to the present invention. Improve the evaluation accuracy of the depth of flaws detected by flaw detection.
FIG. 8 and FIG. 9 are flowcharts for explaining an analysis and evaluation method for eddy current flaw detection signals in the
まず、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13のそれぞれについて、図9のステップS1からステップS3までの処理により生成したそれぞれの特徴量を結合し、結合した特徴量を用いてステップS4までの処理により評価用パラメータを予め生成しておく。
すなわち、傷の深さが既知の被測定部材である標準試料を実測して得る見本探傷信号を入力し(ステップS1)、所定のフィルタリング処理(ステップS2)をした後、波形特徴を数値化した特徴量を生成する(ステップS3)。通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13のそれぞれにより探傷した信号から得られた特徴量を結合して学習用の特徴量を生成する。ここで、特徴量は数値列であるから、特徴量を結合するとは数値列をつなげることをいう。その後、標準試料の傷の深さを表す量として既知の正解データ(ステップS1)を参照して、該正解データとの誤差が十分小さい値を出力するためのパラメータである評価パラメータを、結合した特徴量を利用して学習により生成する(ステップS4)。この結果、評価パラメータAを生成する。また、ステップS1からステップS4までの処理を繰り返して他の波形特徴を用いた評価パラメータBも生成する。なお、評価パラメータA、Bは傷の種類毎に生成する。
First, for each of the
That is, a sample flaw detection signal obtained by actually measuring a standard sample which is a member to be measured whose depth of flaw is known is input (step S1), a predetermined filtering process (step S2) is performed, and the waveform features are digitized. A feature amount is generated (step S3). A feature amount for learning is generated by combining feature amounts obtained from signals detected by the
次に、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13のそれぞれについて、評価パラメータA、Bに基づく実測探傷信号の特徴量の生成を図9のステップS5からステップS8により行い、それぞれの特徴量を結合して評価用特徴量を生成し、ステップ9からステップS11までの処理により評価を行う。
すなわち、実測探傷信号を入力し(ステップS5)、所定のフィルタリング処理(ステップS6)をした後、傷の種類を分類する(ステップS7)と共に、この分類毎に見本探傷信号と同様の特徴量を生成する(ステップS8)。さらに実測探傷信号に基づく特徴量とこの特徴量にそれぞれ対応する評価パラメータAとに基づき、傷の深さを表すデータを生成する(ステップS9、S10)。上述の如き処理を評価パラメータBについても行う。上述の処理により得る傷の深さを表す各データを比較して検証し(ステップS11)、各データが表す傷の深さが所定の範囲に納まっているとき、この傷の深さを推定値として採用する(ステップS12)。
Next, for each of the
That is, an actual measurement flaw detection signal is input (step S5), a predetermined filtering process (step S6) is performed, and then the type of flaw is classified (step S7), and a feature quantity similar to the sample flaw detection signal is obtained for each classification. Generate (step S8). Further, based on the feature quantity based on the actually measured flaw detection signal and the evaluation parameter A corresponding to the feature quantity, data representing the depth of the flaw is generated (steps S9 and S10). The processing as described above is also performed for the evaluation parameter B. Each data representing the depth of the flaw obtained by the above-mentioned processing is compared and verified (step S11), and when the flaw depth represented by each data is within a predetermined range, the flaw depth is estimated. (Step S12).
この評価パラメータに基づく実測探傷信号の分析評価を、図8を参照して説明すれば、次のようになる。まず、通常型プローブ11により通常センサ信号(…Sj…Sk…)を取得し(ステップS131)、また同様に、磁気飽和型プローブ13により磁気飽和型センサ信号(…S’j…S’k…)を取得する(ステップS132)。 The analysis and evaluation of the actually measured flaw detection signal based on this evaluation parameter will be described as follows with reference to FIG. First, a normal sensor signal (... Sj... Sk ...) is acquired by the normal probe 11 (step S131). Similarly, a magnetic saturation sensor signal (... S'j. ) Is acquired (step S132).
次に、第1の実施形態または第2の実施形態で示した信号波形の要因を特定する処理により欠陥が抽出されたときには(ステップS133)、該欠陥の位置および範囲に対応した評価パラメータに基づき、図9のステップS6からステップS9までの手順で信号波形に基づく特徴量を計算する(ステップS134,S135)。なお、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13のそれぞれのセンサ信号に基づく特徴量を計算した後にこれらを結合した特徴量を算出することになるが、それぞれの特徴量は数値列であるので、数値列を規定の順序でつなげればよい。
Next, when a defect is extracted by the process of specifying the factor of the signal waveform shown in the first embodiment or the second embodiment (step S133), based on the evaluation parameter corresponding to the position and range of the defect. The feature amount based on the signal waveform is calculated by the procedure from step S6 to step S9 in FIG. 9 (steps S134 and S135). Note that, after calculating the feature values based on the sensor signals of the
さらに、図9のステップS10からステップS11までの手順と同様の手順でサイジング(ステップS136)を行い、分析結果を得る。 Further, sizing (step S136) is performed in the same procedure as the procedure from step S10 to step S11 in FIG. 9, and an analysis result is obtained.
以上説明したように、本実施形態の渦電流探傷装置では、通常型プローブ及び磁気飽和型プローブにより探傷した信号を用いて、予め、傷の深さが既知の被測定部材である標準試料を実測して得る見本探傷信号に基づき評価に有効な特徴を数値化した特徴量を統計的に処理した評価用パラメータを生成し、該評価用パラメータに基づく実測探傷信号の分析評価を行うので、通常型プローブのみの探傷信号の大きさおよび位相角のみに基づいて判断する場合に比べて、格段に評価精度を向上させることができる。 As described above, in the eddy current flaw detector according to the present embodiment, a standard sample, which is a member to be measured whose flaw depth is known, is measured in advance using signals detected by a normal probe and a magnetic saturation probe. Since the evaluation parameters obtained by statistically processing the feature quantities obtained by quantifying the features effective for the evaluation based on the sample flaw detection signal obtained in this way are generated, and the analysis flaw detection signal is analyzed and evaluated based on the evaluation parameters, the normal type Compared with the case where the determination is made based only on the magnitude and phase angle of the flaw detection signal of only the probe, the evaluation accuracy can be significantly improved.
〔第4の実施形態〕
次に、本発明の第4の実施形態に係る渦電流探傷装置について説明する。本実施形態の渦電流探傷装置は、第1の実施形態の構成(図1参照)に位置検出センサを付加した構成であり、位置検出センサ以外の各構成要素の詳しい説明を省略する。
[Fourth Embodiment]
Next, an eddy current flaw detector according to a fourth embodiment of the present invention will be described. The eddy current flaw detector according to this embodiment has a configuration in which a position detection sensor is added to the configuration of the first embodiment (see FIG. 1), and detailed description of each component other than the position detection sensor is omitted.
第1の実施形態〜第3の実施形態では、位置情報を駆動装置15のエンコーダによる位置信号で得ていたのに対し、本実施形態では、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13に、異材境界位置検出用の位置検出センサ(例えば、標準比較方式のパンケーキコイル等)を併置して、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13の検出信号における異材境界位置を正確に検出するものである。なお、本実施形態の渦電流探傷装置の適用は、第1の実施形態と同様に、原子力発電プラントにおける容器40と配管50のつなぎ目を含む部位の保守検査(図2参照)を想定しており、異材境界位置はアロイバタリングとSUSオーバレイの境界、および、アロイ溶接部とSUS母材部の境界である。
In the first to third embodiments, the position information is obtained by the position signal from the encoder of the driving
図10は、本実施形態の渦電流探傷装置の分析装置21における渦電流探傷信号の分析評価方法を説明するフローチャートである。本実施形態においても、原則的に第3の実施形態と同様の分析評価を行う。
すなわち、通常型プローブ11により通常センサ信号(…Sj…Sk…)を取得し(ステップS141)、また同様に、磁気飽和型プローブ13により磁気飽和型センサ信号(…S’j…S’k…)を取得し(ステップS142)、位置検出センサにより溶接境界検出用センサ信号(…S”A…)を取得する(ステップS143)。
FIG. 10 is a flowchart for explaining an analysis and evaluation method for an eddy current flaw detection signal in the
That is, a normal sensor signal (... Sj ... Sk ...) is acquired by the normal probe 11 (step S141), and similarly, a magnetic saturation type sensor signal (... S'j ... S'k ...) is obtained by the magnetic saturation probe 13. ) Is acquired (step S142), and a sensor signal (... S "A ...) for detecting the welding boundary is acquired by the position detection sensor (step S143).
次に、評価対象信号の位置および範囲に対応した判定基準に基づき第1の実施形態または第2の実施形態で示した信号波形の要因を特定する処理により欠陥が抽出されたときには(ステップS145)、該欠陥の位置および範囲に対応した評価パラメータに基づき、信号波形に基づく特徴量を計算し、サイジング(ステップS146)を行い、分析結果を得る。 Next, when a defect is extracted by the process of specifying the factor of the signal waveform shown in the first embodiment or the second embodiment based on the determination criterion corresponding to the position and range of the evaluation target signal (step S145). Based on the evaluation parameter corresponding to the position and range of the defect, a feature amount based on the signal waveform is calculated, sizing (step S146), and an analysis result is obtained.
異材境界位置近傍は、例えば図2の例では、炭素鋼41の内側表面にSUSオーバレイ42がある部位、アロイ溶接部(アロイ溶金53およびアロイバタリング52)、SUS母材部51などの領域があり、それぞれの部位に応じて欠陥(傷)の評価基準が異なる。つまり、予めそれぞれの部位に応じた欠陥判定基準およびサイジング用の評価パラメータを生成しておく必要がある。
In the example of FIG. 2, for example, in the example of FIG. 2, the region where the
位置検出センサの溶接境界検出用センサ信号により、評価対象信号がどの部位にあるかを正確に判定し(ステップS144)、判定した結果に基づき各部位に応じた欠陥(傷)の評価基準を用いて、欠陥抽出(ステップS145)およびサイジング(ステップS146)の処理を行う。 Based on the sensor signal for detecting the welding boundary of the position detection sensor, it is accurately determined which part the evaluation target signal is in (step S144), and based on the determined result, the evaluation standard for defects (scratches) corresponding to each part is used. Then, defect extraction (step S145) and sizing (step S146) are performed.
以上説明したように、本実施形態の渦電流探傷装置では、評価対象信号がどの部位にあるかを検出する位置検出センサを更に備え、分析装置(分析手段)21は、位置検出センサの位置情報に基づき、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13による信号波形に基づく欠陥抽出およびサイジングを行う。
As described above, the eddy current flaw detector according to the present embodiment further includes a position detection sensor that detects which part the evaluation target signal is in, and the analysis device (analysis means) 21 includes position information of the position detection sensor. Based on the above, defect extraction and sizing based on signal waveforms by the
これにより、異材境界位置に通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13が位置するか否かを正確に判別でき、判別した異材境界位置を基準として通常型プローブ11または磁気飽和型プローブ13で検出した信号を正確に分類し、より正確な判定・評価を行うことができる。特に、溶接境界が直線でない場合や、スキャニングツールの位置情報(エンコーダの位置信号等)に誤差がある場合でも、検出信号がどの部位のものであるかを正確に把握することができる。
As a result, it is possible to accurately determine whether or not the
〔第5の実施形態〕
次に、本発明の第5の実施形態に係る渦電流探傷装置について説明する。本実施形態の渦電流探傷装置の構成は第1の実施形態(図1)と同等であり、各構成要素の詳しい説明を省略する。
ただし、分析装置21については、被検体の磁気飽和型プローブ13の信号値(ゼロ点ずれ)分布に基づき、測定対象の被検体において異なる材質の境界である異材境界の位置を判別し、該異材境界位置に基づき、通常型プローブ11または磁気飽和型プローブ13による信号波形に基づく欠陥抽出およびサイジングを行う点が異なる。つまり、第4の実施形態のように位置検出センサを新たに付加することなく、分析装置21により、磁気飽和型プローブ13の磁気飽和型センサ信号に基づき異材境界位置を判別するようにしたものである。
[Fifth Embodiment]
Next, an eddy current flaw detector according to a fifth embodiment of the present invention will be described. The configuration of the eddy current flaw detector of this embodiment is the same as that of the first embodiment (FIG. 1), and detailed description of each component will be omitted.
However, the
磁気飽和型プローブ13では、被検体の材質の変動によりゼロ点(例えば、信号値の中央値)がずれるが、このゼロ点ずれの分布を調べることにより、異材境界位置(溶接境界)を正確に判別することが可能である。なお、クロスコイル方式等のセンサ自身にドリフトノイズ低減効果があるセンサ方式の場合には、通常型プローブ11によって異材境界位置(溶接境界)でのゼロ点ずれを判別することは困難である。
In the magnetic
図11は、本実施形態の渦電流探傷装置の分析装置21における渦電流探傷信号の分析評価方法を説明するフローチャートである。本実施形態においても、原則的に第3の実施形態と同様の分析評価を行う。
すなわち、通常型プローブ11により通常センサ信号(…Sj…Sk…)を取得し(ステップS151)、また同様に、磁気飽和型プローブ13により磁気飽和型センサ信号(…S’j…S’k…)を取得する(ステップS152)。
FIG. 11 is a flowchart for explaining an analysis and evaluation method for an eddy current flaw detection signal in the
That is, a normal sensor signal (... Sj ... Sk ...) is acquired by the normal probe 11 (step S151), and similarly, a magnetic saturation type sensor signal (... S'j ... S'k ...) is obtained by the magnetic saturation probe 13. ) Is acquired (step S152).
次に、評価対象信号の位置および範囲に対応した判定基準に基づき第1の実施形態または第2の実施形態で示した信号波形の要因を特定する処理により欠陥が抽出されたときには(ステップS155)、該欠陥の位置および範囲に対応した評価パラメータに基づき、信号波形に基づく特徴量を計算し、サイジング(ステップS156)を行い、分析結果を得る。
磁気飽和型プローブ13の磁気飽和型センサの探傷信号のうちの1つの周波数の信号S’Bにより、評価対象信号がどの部位にあるかを正確に判定し(ステップS154)、判定した結果に基づき各部位に応じた欠陥(傷)の評価基準を用いて、欠陥抽出(ステップS155)およびサイジング(ステップS156)の処理を行う。
Next, when a defect is extracted by the process of specifying the factor of the signal waveform shown in the first embodiment or the second embodiment based on the determination criterion corresponding to the position and range of the evaluation target signal (step S155). Based on the evaluation parameter corresponding to the position and range of the defect, a feature quantity based on the signal waveform is calculated, sizing is performed (step S156), and an analysis result is obtained.
Based on the signal S′B having one frequency among the flaw detection signals of the magnetic saturation sensor of the
以上説明したように、本実施形態の渦電流探傷装置では、被検体の材質の変動による磁気飽和型プローブ13のゼロ点ずれ分布に基づき、測定対象の被検体において異なる材質の境界である異材境界の位置を判別し、該異材境界位置に基づき、通常型プローブ11または磁気飽和型プローブ13による信号波形に基づく欠陥抽出およびサイジングを行う。
As described above, in the eddy current flaw detector according to the present embodiment, based on the zero point deviation distribution of the
これにより、新たに位置センサを付加することなく、異材境界位置に通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13が位置するか否かを正確に判別でき、判別した異材境界位置を基準として通常型プローブ11または磁気飽和型プローブ13で検出した信号を正確に分類し、より正確な判定・評価を行うことができる。特に、溶接境界が直線でない場合や、スキャニングツールの位置情報(エンコーダの位置信号等)に誤差がある場合でも、検出信号がどの部位のものであるかを正確に把握することができる。さらに、位置検出センサに比べて、余分なノイズを低減する効果があるので、異材境界位置を精度良く検出することができる。
Accordingly, it is possible to accurately determine whether or not the
〔第6の実施形態〕
次に、本発明の第6の実施形態に係る渦電流探傷装置について説明する。本実施形態の渦電流探傷装置の構成は第1の実施形態(図1)と同等であり、各構成要素の詳しい説明を省略する。
ただし、分析装置21については、磁気飽和型プローブ13の磁気飽和型センサ信号に前処理フィルタをかけた信号を用いて、被検体の電気抵抗率または透磁率の変動による磁気飽和型プローブ13のゼロ点ずれ分布に基づき、測定対象の被検体において異なる材質の境界である異材境界の位置を判別し、該異材境界位置に基づき、通常型プローブ11または磁気飽和型プローブ13による信号波形に基づく欠陥抽出およびサイジングを行う点が異なる。
[Sixth Embodiment]
Next, an eddy current flaw detector according to a sixth embodiment of the present invention will be described. The configuration of the eddy current flaw detector of this embodiment is the same as that of the first embodiment (FIG. 1), and detailed description of each component will be omitted.
However, with respect to the
第5の実施形態の渦電流探傷装置においては、ゼロ点変動以外の信号が多数発生する場合に、異材境界位置(溶接境界)を精度良く判定するのが難しくなるが、磁気飽和型プローブ13の磁気飽和型センサ信号に前処理フィルタ(平滑化フィルタ)をかけた信号を用いて処理することにより、ゼロ点変動に基づく異材境界位置の判定を容易にすることができる。 In the eddy current flaw detector according to the fifth embodiment, when many signals other than the zero point fluctuation are generated, it is difficult to accurately determine the different material boundary position (welding boundary). By processing using a signal obtained by applying a pre-processing filter (smoothing filter) to the magnetic saturation type sensor signal, it is possible to easily determine the position of the different material boundary based on the zero point fluctuation.
前処理フィルタとして、ローパスフィルタ、平均値フィルタまたはメディアンフィルタ等の平滑化フィルタがあるが、高速処理が必要な場合にはローパスフィルタを使用し、また、波形変化を小さくする場合にはメディアンフィルタを使用するなど、用途に応じて選定すれば良い。 There are smoothing filters such as a low-pass filter, average value filter or median filter as pre-processing filters, but a low-pass filter is used when high-speed processing is required, and a median filter is used to reduce waveform changes. It may be selected according to the purpose of use.
図12は、本実施形態の渦電流探傷装置の分析装置21における渦電流探傷信号の分析評価方法を説明するフローチャートである。本実施形態においても、原則的に第3の実施形態と同様の分析評価を行う。
すなわち、通常型プローブ11により通常センサ信号(…Sj…Sk…)を取得し(ステップS161)、また同様に、磁気飽和型プローブ13により磁気飽和型センサ信号(…S’j…S’k…)を取得する(ステップS162)。
FIG. 12 is a flowchart for explaining an analysis and evaluation method for an eddy current flaw detection signal in the
That is, a normal sensor signal (... Sj ... Sk ...) is acquired by the normal probe 11 (step S161), and similarly, a magnetic saturation type sensor signal (... S'j ... S'k ...) is obtained by the magnetic saturation probe 13. ) Is acquired (step S162).
次に、評価対象信号の位置および範囲に対応した判定基準に基づき第1の実施形態または第2の実施形態で示した信号波形の要因を特定する処理により欠陥が抽出されたときには(ステップS165)、該欠陥の位置および範囲に対応した評価パラメータに基づき、信号波形に基づく特徴量を計算し、サイジング(ステップS166)を行い、分析結果を得る。 Next, when a defect is extracted by the process of specifying the factor of the signal waveform shown in the first embodiment or the second embodiment based on the determination criterion corresponding to the position and range of the evaluation target signal (step S165). Based on the evaluation parameter corresponding to the position and range of the defect, a feature amount based on the signal waveform is calculated, sizing (step S166), and an analysis result is obtained.
磁気飽和型プローブ13の磁気飽和型センサ信号に平滑化フィルタによる前処理を施し(ステップS163)、該前処理を施した磁気飽和型センサ信号により、評価対象信号がどの部位にあるかを正確に判定し(ステップS164)、判定した結果に基づき各部位に応じた欠陥(傷)の評価基準を用いて、欠陥抽出(ステップS165)およびサイジング(ステップS166)の処理を行う。
The magnetic saturation type sensor signal of the magnetic
以上説明したように、本実施形態の渦電流探傷装置では、磁気飽和型プローブ13の磁気飽和型センサ信号に前処理フィルタ(平滑化フィルタ)をかけた信号を用いて、ゼロ点ずれ分布に基づく異材境界位置判定を行うので、第5の実施形態の効果に加えて、ゼロ点変動以外の信号が多数発生する場合でも、ゼロ点変動に基づく異材境界位置の判定を容易に行うことができる。また、異材境界位置(溶接境界)の検出に最適な探傷周波数を追加することなく、欠陥検出用の探傷周波数の信号を用いて異材境界位置を正確に把握することができる。
As described above, in the eddy current flaw detector according to the present embodiment, a signal obtained by applying a preprocessing filter (smoothing filter) to the magnetic saturation sensor signal of the
〔第7の実施形態〕
次に、本発明の第7の実施形態に係る渦電流探傷装置について説明する。図13は、本実施形態の渦電流探傷装置における磁気飽和型プローブ13の外観図である。同図において、磁気飽和型プローブ13は、1対の磁石60と、1対の磁石60で挟まれ、且つ、該1対の磁石60で挟まれた領域の中央の磁力に対する減衰率が所定許容範囲の位置に並設された複数のセンサ61〜63とを備えた構成である。
[Seventh Embodiment]
Next, an eddy current flaw detector according to a seventh embodiment of the present invention will be described. FIG. 13 is an external view of the
従来、磁気飽和型プローブは、センサ1個に対し1対の磁石の組み合わせで構成されており、これをデッドゾーンが無い程度の至近距離に配置するのは困難であった。つまり、内捜型や貫通型以外のプローブで、マルチセンサの磁気飽和型センサを製作することが困難であった。つまり、平板型や曲面型などマルチコイルの配置に端がある場合、近接するコイルに配置した磁石の影響が端部と中央部では一様でなくなるため、マルチコイルのセンサ特性を一様に保つことが困難であった。 Conventionally, a magnetic saturation type probe is composed of a combination of a pair of magnets for one sensor, and it has been difficult to dispose it at a close distance without a dead zone. That is, it has been difficult to manufacture a multi-sensor magnetic saturation type sensor using probes other than the internal search type and the penetration type. In other words, when there is an end in the arrangement of the multi-coil such as a flat plate type or a curved surface type, the influence of the magnet arranged in the adjacent coil is not uniform between the end and the center, so the sensor characteristics of the multi-coil are kept uniform. It was difficult.
また、マルチセンサ型プローブのセンサ近傍に磁石を配置する場合、個々のセンサの位置に対し、相対的に同じ位置関係になるように磁石を配置しなければ、センサ毎の信号特性が不均一になってしまうが、複数のセンサ全体を十分長い板状(または棒状)の一対の磁石60で挟み込んだ配置とすることにより、マルチセンサ型プローブに対しても磁気飽和型プローブを構成できる。なお、板状磁石60は、端近くで磁力低下があるため、中央の磁力に対する減衰率が許容範囲の位置にマルチコイルを配置する。 In addition, when magnets are arranged near the sensors of a multi-sensor probe, the signal characteristics of each sensor will be non-uniform unless the magnets are arranged so as to have the same relative position with respect to the position of each sensor. However, a magnetic saturation type probe can be configured even for a multi-sensor type probe by arranging the entire plurality of sensors between a pair of sufficiently long plate-shaped (or bar-shaped) magnets 60. Since the plate magnet 60 has a magnetic force drop near the end, the multi-coil is disposed at a position where the attenuation rate with respect to the central magnetic force is within an allowable range.
以上説明したように、本実施形態の渦電流探傷装置によれば、内捜型や貫通型以外のマルチセンサ型プローブについても、磁気飽和型プローブ13を実現でき、該磁気飽和型プローブ13を第1の実施形態〜第6の実施形態に適用することにより、より高速でより高精度に保守検査を行い得る渦電流探傷装置を実現できる。
As described above, according to the eddy current flaw detector of the present embodiment, the
11 通常型プローブ
13 磁気飽和型プローブ
15 駆動装置
17 探傷器
19 記憶装置
21 分析装置
40 容器
41 炭素鋼
42 SUSオーバレイ
50 配管
51 SUS母材
52 アロイバタリング
53 アロイ溶金
60 磁石
61〜63 センサ
DESCRIPTION OF
Claims (9)
磁石を備えて透磁率変化によるノイズを低減する磁気飽和型渦電流探傷プローブと、
前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別する分析手段と
を具備する渦電流探傷装置。 An eddy current testing probe,
A magnetic saturation type eddy current flaw detection probe that includes a magnet and reduces noise due to magnetic permeability change;
By comparing and analyzing signal waveforms obtained by scanning the same location by the eddy current flaw detection probe and the magnetic saturation type eddy current flaw detection probe, whether the signal waveform is caused by a flaw on the subject to be measured or noise An eddy current flaw detector comprising: an analyzing means for discriminating whether or not it is caused by
傷の深さが既知の標準試料を前記渦電流探傷プローブ及び前記磁気飽和型渦電流探傷プローブにより実測して得る見本探傷信号を入力し、波形特徴を数値化した特徴量を生成する特徴量生成手段と、
前記標準試料の傷の深さを表す量として既知の正解データを供給する正解データ供給手段と、
前記特徴量および正解データを入力し、前記特徴量を利用して前記正解データとの誤差が十分小さい値を出力するためのパラメータである評価パラメータを、学習により生成する学習手段と、
測定対象の被検体を前記渦電流探傷プローブ及び前記磁気飽和型渦電流探傷プローブにより探傷して得る実測探傷信号により、見本探傷信号と同様の特徴量を生成する特徴量生成手段と、
前記実測探傷信号に基づく特徴量と該特徴量に対応する前記評価パラメータとに基づき、傷の深さ推定値を生成する評価結果生成手段と
を具備する請求項1から請求項4のいずれかに記載の渦電流探傷装置。 The analysis means includes
Generates a feature value by generating a sample value obtained by quantifying the waveform feature by inputting a sample flaw detection signal obtained by actually measuring a standard sample with a known flaw depth by the eddy current flaw detection probe and the magnetic saturation type eddy current flaw detection probe. Means,
Correct data supply means for supplying known correct data as a quantity representing the depth of the scratch of the standard sample;
Learning means for inputting the feature quantity and correct answer data, and generating an evaluation parameter, which is a parameter for outputting a value having a sufficiently small error from the correct answer data using the feature quantity, by learning;
A feature amount generating means for generating a feature amount similar to a sample flaw detection signal based on an actual flaw detection signal obtained by flaw detection of a subject to be measured by the eddy current flaw detection probe and the magnetic saturation type eddy current flaw detection probe;
5. An evaluation result generating means for generating an estimated value of a flaw depth based on a feature quantity based on the actually measured flaw detection signal and the evaluation parameter corresponding to the feature quantity. The eddy current flaw detector described.
前記分析手段は、前記位置検出センサの位置情報に基づき、前記渦電流探傷プローブまたは前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる信号波形に基づく欠陥抽出およびサイジングを行う請求項1から請求項5のいずれかに記載の渦電流探傷装置。 In an eddy current flaw detection in which a subject includes two or more kinds of material regions, in addition to the eddy current flaw detection probe and the magnetic saturation eddy current flaw detection probe, a different material boundary position that is a boundary between different materials in the subject is detected. A position detection sensor for
The said analysis means performs the defect extraction and sizing based on the signal waveform by the said eddy current flaw detection probe or the said magnetic saturation type eddy current flaw detection probe based on the position information of the said position detection sensor. The eddy current flaw detector described in 1.
前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別する分析工程を含む渦電流探傷方法。 An eddy current flaw detection method for an eddy current flaw detection apparatus comprising an eddy current flaw detection probe and a magnetic saturation type eddy current flaw detection probe that includes a magnet and reduces noise due to magnetic permeability change,
By comparing and analyzing signal waveforms obtained by scanning the same location by the eddy current flaw detection probe and the magnetic saturation type eddy current flaw detection probe, whether the signal waveform is caused by a flaw on the subject to be measured or noise An eddy current flaw detection method including an analysis step for discriminating whether it is caused by a fault.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008309573A true JP2008309573A (en) | 2008-12-25 |
JP4885068B2 JP4885068B2 (en) | 2012-02-29 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007156435A Active JP4885068B2 (en) | 2007-06-13 | 2007-06-13 | Eddy current flaw detector and eddy current flaw detection method |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN111133308B (en) * | 2017-09-27 | 2023-01-24 | 日立造船株式会社 | Eddy current flaw detection method |
JP7428893B2 (en) | 2020-04-17 | 2024-02-07 | 日本製鉄株式会社 | Learning device, abnormal eddy current loss estimation device, learning method, abnormal eddy current loss estimation method, and program |
CN114088807A (en) * | 2020-08-05 | 2022-02-25 | 常州常宝精特钢管有限公司 | Method for analyzing irrelevant signals in eddy current inspection of cold-rolled steel pipe |
WO2024154325A1 (en) * | 2023-01-20 | 2024-07-25 | 三菱電機株式会社 | Defect detection device |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP4885068B2 (en) | 2012-02-29 |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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