JP2008292539A - Optical scanner - Google Patents

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JP2008292539A
JP2008292539A JP2007135103A JP2007135103A JP2008292539A JP 2008292539 A JP2008292539 A JP 2008292539A JP 2007135103 A JP2007135103 A JP 2007135103A JP 2007135103 A JP2007135103 A JP 2007135103A JP 2008292539 A JP2008292539 A JP 2008292539A
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optical scanning
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light
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Yoshihiro Murata
宜裕 村田
Katsuyuki Akashi
勝幸 明石
Masashi Watanabe
雅司 渡辺
Yoshito Nakamura
義人 中村
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Suzuka Fuji Xerox Manufacturing Co Ltd
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Suzuka Fuji Xerox Manufacturing Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem wherein beams limited by an open part are reflected on a slit in the vicinity of the open part of the slit when a portion of beams pass through the open part of the slit, the returning light and irregularly diffused light caused by the reflection partially returns to a light source, so that stable beams are not emitted owing to the returning light and the irregularly diffused light, and as a result, a stable electrostatic latent image is not formed on a photoreceptor. <P>SOLUTION: An influence of the returning light and the irregularly diffused light is reduced by simplifying the structure of the slit used in the optical scanner, and a manufacturing process is simplified to provide an inexpensive optical scanner. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、複写機、レーザープリンタ等の画像形成装置に用いられる光走査装置に関するものである。   The present invention relates to an optical scanning device used in an image forming apparatus such as a copying machine or a laser printer.

従来の光走査装置は、図9に示すように、ビームを出射させる発光素子を、独立して点灯および消灯の制御ができるよう電気的に駆動する回路基板に取り付けた光源1と、この光源1より出射されたビーム8を略平行にするコリメータレンズ2と、略平行となったビーム8を副走査平面内において集光させるシリンダレンズ3と、集光したビームを走査方向に偏向反射させる回転多面鏡(ポリゴンミラー)を備えた光偏向器4(多角面鏡回転制御手段)と、fθレンズ5、反射ミラ−6等で構成される走査光学系を備えている。   As shown in FIG. 9, the conventional optical scanning apparatus includes a light source 1 in which a light emitting element that emits a beam is attached to a circuit board that is electrically driven so that it can be turned on and off independently. A collimator lens 2 that makes the emitted beam 8 substantially parallel, a cylinder lens 3 that collects the substantially parallel beam 8 in the sub-scanning plane, and a rotating multi-face that deflects and reflects the collected beam in the scanning direction. A scanning optical system including an optical deflector 4 (polygonal mirror rotation control means) including a mirror (polygon mirror), an fθ lens 5, a reflection mirror 6 and the like is provided.

光源1から出射されたビーム8は、光偏向器4のポリゴンミラーにより偏向反射され、fθレンズ5によって集光されて感光体7上に静電潜像を形成し、紙に画像の記録を行う。   The beam 8 emitted from the light source 1 is deflected and reflected by the polygon mirror of the optical deflector 4 and is condensed by the fθ lens 5 to form an electrostatic latent image on the photosensitive member 7 and record the image on paper. .

この光走査装置9には、コリメータレンズ2を通過したビーム8の余分なビームを制限し、ビームの一部だけを通過させるためのスポット径の設定を行う手段である、制限開口(以下「スリット」と呼ぶ)を設けている。従来よりこのスリット10を搭載した光走査装置は一般的なものとなっている。   This optical scanning device 9 is a means for restricting an extra beam of the beam 8 that has passed through the collimator lens 2 and setting a spot diameter for allowing only a part of the beam to pass through, a limiting aperture (hereinafter referred to as “slit” "). Conventionally, an optical scanning device equipped with the slit 10 has become common.

従来より用いられるスリット10としては、例えば、図7に示すように、スリットの端部がコの字形状に曲げられて、光走査装置9のハウジング11に形成した凸部を挟み込み固定する構造となったものや、図8に示すようにネジ18で固定する構造となったものが用いられている。
特開平5−19187号公報 特開平6−43372号公報
As the slit 10 conventionally used, for example, as shown in FIG. 7, the end of the slit is bent into a U shape, and a convex portion formed on the housing 11 of the optical scanning device 9 is sandwiched and fixed. As shown in FIG. 8, a structure that is fixed with a screw 18 as shown in FIG. 8 is used.
Japanese Patent Laid-Open No. 5-19187 JP-A-6-43372

ビームの一部がこれらのスリット10の開口部を通過する際に、スリット10の開口部近傍では、開口部によって制限されたビーム(開口部を通過できなかったビーム)がスリット10によって反射し、戻り光および乱反射が発生する。   When a part of the beam passes through the openings of these slits 10, in the vicinity of the opening of the slit 10, the beam limited by the opening (the beam that could not pass through the opening) is reflected by the slit 10, Return light and diffuse reflection occur.

この反射によって発生した戻り光および乱反射の中には光源へ戻るものもある。この場合、光源の内部では、ビームを常に安定してビームを出射する様にフィードバックしているが、前記した戻り光および乱反射が光源に入光すると、安定したビームを出射することができず、結果として感光体7上に安定した静電潜像を形成することができない問題が発生する。   Some return light and irregular reflection generated by this reflection return to the light source. In this case, inside the light source, the beam is always fed back so as to stably emit the beam, but when the return light and irregular reflection enter the light source, a stable beam cannot be emitted, As a result, a problem that a stable electrostatic latent image cannot be formed on the photoconductor 7 occurs.

かかる問題を解決するため、つまり戻り光および乱反射によって光源が影響を受けないようにするために、従来より、スリットは開口部の位置や構造等について多くの改善がなされ、構造は複雑となった。   In order to solve such a problem, that is, to prevent the light source from being affected by the return light and diffuse reflection, the slit has been improved in terms of the position and structure of the opening, and the structure has become complicated. .

スリットの構造が複雑となると、スリットのコストアップになり、ひいては光走査装置のコストアップになるという問題が生じる。   When the structure of the slit becomes complicated, the cost of the slit increases, and as a result, the cost of the optical scanning device increases.

近年、光走査装置の小型化・コストダウンの要求にともない、光学系の各部品にもコストダウンが求められ、できるだけ安価で単純な構造のスリットが望まれてきている。   In recent years, along with a demand for downsizing and cost reduction of an optical scanning device, cost reduction is required for each component of the optical system, and a slit having a simple structure as much as possible has been desired.

本発明は、前記した全ての問題点に鑑みてなされたものであり、スリットの構造を単純にすることにより、戻り光および乱反射による影響を低減し、かつ、製造工程を簡略化できる安価な光走査装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of all the above-mentioned problems. By simplifying the structure of the slit, the inexpensive light that can reduce the influence of return light and irregular reflection and can simplify the manufacturing process. An object is to provide a scanning device.

本発明は、ビームを出射する光源と、光源から出射されたビームを平行光にするコリメータレンズと、コリメータレンズを透過したビームの一部が通過する開口部を備えたスリットと、を有する光学系部品と、光学系部品を取り付けるためのハウジングとを備える光走査装置に関するものである。   The present invention includes an optical system having a light source that emits a beam, a collimator lens that collimates the beam emitted from the light source, and a slit having an opening through which a part of the beam that has passed through the collimator lens passes. The present invention relates to an optical scanning device including a component and a housing for mounting an optical system component.

スリットは、弾性部材からなる平面板であり、その材質は、金属、プラスチック、ゴムであってもよい。   The slit is a flat plate made of an elastic member, and the material thereof may be metal, plastic, or rubber.

そして、スリットを光走査装置に備えるハウジングには、スリットを保持できるように、ハウジングと一体的に形成された保持部材が設けられている。   The housing provided with the slit in the optical scanning device is provided with a holding member formed integrally with the housing so that the slit can be held.

スリットを前記保持部材にて保持することで、湾曲して保持することができる。   By holding the slit with the holding member, it can be held curved.

スリットを湾曲して保持することで、スリットの開口部近傍が曲面状態となるため、ビームの一部が開口部を通過する際に、ビームの反射によって発生した戻り光および乱反射が、光源へ戻る影響を少なくすることができる。   By holding the slit in a curved shape, the vicinity of the opening of the slit becomes a curved surface. Therefore, when a part of the beam passes through the opening, the return light and irregular reflection generated by the reflection of the beam return to the light source. The influence can be reduced.

スリットの両端部は、孔または切り欠きを形成する構造であることが望ましい。このような構造にすることで、スリットの両端部の弾性力が大きくなるので、スリットを光走査装置のハウジングに設ける保持部材へ保持させるのが容易となる。   It is desirable that both ends of the slit have a structure that forms a hole or notch. With such a structure, since the elastic force at both ends of the slit is increased, it is easy to hold the slit on the holding member provided in the housing of the optical scanning device.

スリットには位置決め穴を形成し、前記保持部材には、前記位置決め穴を嵌め合わせて前記スリットを位置決めし保持するための位置決め突起を形成することで、高精度にスリットを固定することができる。これにより、良質な画像を形成することができる。   The slit can be fixed with high accuracy by forming a positioning hole in the slit and forming a positioning projection on the holding member for positioning and holding the slit by fitting the positioning hole. Thereby, a good quality image can be formed.

スリットは、つや消し黒色を表面処理されたものが望ましい。これはスリットにビームが反射した時に発生する戻り光や乱反射を防止する作用が働き、光源へビームが戻る影響を少なくすることができる。   The slit is preferably a matte black surface-treated. This works to prevent return light and irregular reflection that occur when the beam is reflected by the slit, and can reduce the influence of the beam returning to the light source.

保持部材は、スリットの開口部近傍を保持する中央部材と、前記スリットの両端部を保持する端部材があり、前記中央部材および端部材には、それぞれ前記スリットと触れる接触部が存在し、前記端部材の接触部は、前記中央部の接触部を基準とした場合に、光軸の向きに対し、±10mmの範囲内の位置に設けられていることが望ましい。   The holding member has a central member that holds the vicinity of the opening of the slit, and an end member that holds both ends of the slit, and the central member and the end member each have a contact portion that contacts the slit, The contact portion of the end member is desirably provided at a position within a range of ± 10 mm with respect to the direction of the optical axis when the contact portion at the center is used as a reference.

以上より、このようなスリットの構造を単純にすることにより、戻り光および乱反射による影響を低減し、かつ、製造工程を簡略化できる安価な光走査装置を提供することができる。   As described above, by simplifying the structure of such a slit, it is possible to provide an inexpensive optical scanning device that can reduce the influence of return light and irregular reflection and can simplify the manufacturing process.

本発明は、光走査装置に使用するスリットの構造を単純にすることにより、戻り光および乱反射による影響を低減し、かつ、製造工程を簡略化できる安価な光走査装置を提供することができるという効果を奏する。   The present invention can provide an inexpensive optical scanning device that can reduce the influence of return light and irregular reflection, and can simplify the manufacturing process, by simplifying the structure of the slit used in the optical scanning device. There is an effect.

図1〜図9を用いて、本発明を詳細に説明する。   The present invention will be described in detail with reference to FIGS.

図1〜図2に本発明に係る光走査装置に使用するスリットの構造の一実施例を示す。なお、従来より一般的に使用されている光走査装置の構成については、前記した説明により省略する(図9参照)。   1 to 2 show an embodiment of a slit structure used in an optical scanning device according to the present invention. Note that the configuration of the optical scanning device that has been generally used conventionally will be omitted from the above description (see FIG. 9).

図1は、本実施例1に係る光走査装置のスリットの構造を表した斜視図である。 そして、図2は、本実施例1に係る光走査装置のスリットの構造を表した平面図である。尚、説明を簡単にするために、図1はスリットをハウジングへ取り付ける前の状態を示し、図2はスリットをハウジングへ取り付けた後の状態を示す。   FIG. 1 is a perspective view illustrating the structure of the slit of the optical scanning device according to the first embodiment. FIG. 2 is a plan view illustrating the structure of the slit of the optical scanning device according to the first embodiment. For ease of explanation, FIG. 1 shows a state before the slit is attached to the housing, and FIG. 2 shows a state after the slit is attached to the housing.

図1に示すように、スリット10は弾性部材(例えば、0.1mmの板金)からなる平面板であり、ビームの一部が通過する開口部を備えている。   As shown in FIG. 1, the slit 10 is a flat plate made of an elastic member (for example, a sheet metal of 0.1 mm), and has an opening through which a part of the beam passes.

そして、光源、コリメータレンズ、スリット等の光走査装置の光学系部品を取り付けるためのハウジング11には、スリット10を保持するための保持部材12が一体的に形成されている。   A holding member 12 for holding the slit 10 is integrally formed in a housing 11 for mounting optical parts of the optical scanning device such as a light source, a collimator lens, and a slit.

この保持部材12には、スリット10の開口部近傍を保持する中央部材13と、スリット10の両端部を保持する端部材14があり、中央部材13および端部材14には、それぞれ前記スリットと触れる接触部15が存在する。   The holding member 12 includes a central member 13 that holds the vicinity of the opening of the slit 10 and an end member 14 that holds both ends of the slit 10. The central member 13 and the end member 14 touch the slit, respectively. A contact portion 15 exists.

そして端部材14の接触部は、前記中央部13の接触部を基準とした場合に、光軸の向きに対し、−2mmの位置に設けられている。   The contact portion of the end member 14 is provided at a position of −2 mm with respect to the direction of the optical axis when the contact portion of the central portion 13 is used as a reference.

スリット10は、端部材14である中央部材13と端部材14によって湾曲して保持されている。   The slit 10 is held curved by a central member 13 and an end member 14 which are end members 14.

このような保持部材12により、スリット10は光軸の方向および光軸の方向の垂直な方向に対して保持部材12によって保持できる。   With such a holding member 12, the slit 10 can be held by the holding member 12 with respect to the direction of the optical axis and the direction perpendicular to the direction of the optical axis.

従来スリット10の開口部近傍が真っ直ぐな平坦な状態の場合、ビームの一部がこれらのスリット10の開口部を通過する際に、スリット10の開口部近傍では、開口部によって制限されたビームがスリット10によって反射し、この反射によって発生した戻り光および乱反射が光源に入光すると、安定したビームを出射することができず、結果として感光体上に安定した静電潜像を形成することができない問題が発生していた。しかし本実施例に示したように、スリット10を湾曲に保持することで、スリット10の開口部近傍が曲面状態となるため、ビームの反射よる戻り光および乱反射が、光源へ直接戻ることなく拡散されるので、光源への影響を少なくすることができる。よって、良質な画像を形成することができる。   Conventionally, when the vicinity of the opening of the slit 10 is straight and flat, when a part of the beam passes through the opening of the slit 10, the beam limited by the opening is near the opening of the slit 10. When the reflected light reflected by the slit 10 and the return light and irregular reflection generated by this reflection enter the light source, a stable beam cannot be emitted, resulting in the formation of a stable electrostatic latent image on the photoreceptor. There was a problem that could not be done. However, as shown in the present embodiment, by holding the slit 10 in a curved shape, the vicinity of the opening of the slit 10 becomes a curved surface, so that the return light and irregular reflection due to the reflection of the beam diffuse without directly returning to the light source. Therefore, the influence on the light source can be reduced. Therefore, a good quality image can be formed.

前記のようにスリット10の構造を単純にすることにより、戻り光および乱反射による影響を低減し、かつ、製造工程を簡略化できる安価な光走査装置を提供することができる。   By simplifying the structure of the slit 10 as described above, it is possible to provide an inexpensive optical scanning apparatus that can reduce the influence of return light and irregular reflection and can simplify the manufacturing process.

図3に本発明に係る他の実施例を示す。尚、実施例1に係るスリットの構造と同一の部分については、同一の符号を付して説明を省略し、実施例1との相違点についてのみ詳細に説明する。   FIG. 3 shows another embodiment according to the present invention. In addition, about the part same as the structure of the slit concerning Example 1, the same code | symbol is attached | subjected and description is abbreviate | omitted, and only a different point from Example 1 is demonstrated in detail.

図3は、本実施例2に係るスリットの構造を表した斜視図であり、説明を簡単にするために、図3はスリットをハウジングへ取り付ける前の状態を示しており、取り付けた後の状態は図2と同様になる。実施例1との相違点は、前記スリットの両端部に、孔20が形成されている点である。   FIG. 3 is a perspective view showing the structure of the slit according to the second embodiment. For simplicity of explanation, FIG. 3 shows a state before the slit is attached to the housing, and the state after the slit is attached. Is the same as FIG. The difference from Example 1 is that holes 20 are formed at both ends of the slit.

このようなスリットを形成することで、スリットの両端部が曲げ易くなる。このため、光走査装置のハウジングに設ける保持部材12の端部材14へスリットを設置するのが容易になり、組立工数を低減することが可能であり、結果として安価な光走査装置を提供することができる。   By forming such a slit, both ends of the slit can be easily bent. For this reason, it becomes easy to install a slit in the end member 14 of the holding member 12 provided in the housing of the optical scanning device, the assembly man-hour can be reduced, and as a result, an inexpensive optical scanning device is provided. Can do.

また、孔20は切り欠きであってもよい。   The hole 20 may be a notch.

尚、本実施例においても、実施例1の同様の効果を奏することができる。   In this embodiment, the same effect as that of the first embodiment can be obtained.

図4〜図6に本発明に係る他の実施例を示す。尚、実施例1および実施例2に係るスリットの構造と同一の部分については、同一の符号を付して説明を省略し、実施例1および実施例2との相違点についてのみ詳細に説明する。   4 to 6 show other embodiments according to the present invention. In addition, about the same part as the structure of the slit which concerns on Example 1 and Example 2, the same code | symbol is attached | subjected and description is abbreviate | omitted, and only the difference with Example 1 and Example 2 is demonstrated in detail. .

図4は、本実施例3に係るスリットの構造を表した斜視図であり、説明を簡単にするために、図4はスリットをハウジングへ取り付ける前の状態を示しており、取り付けた後の状態は図2と同様になる。実施例1および実施例2との相違点は、スリット10には位置決め穴16が形成され、保持部材16には、スリットを位置決めして保持するための位置決め突起17が形成されている点である。   FIG. 4 is a perspective view showing the structure of the slit according to the third embodiment. For ease of explanation, FIG. 4 shows a state before the slit is attached to the housing, and the state after the slit is attached. Is the same as FIG. The difference from the first and second embodiments is that a positioning hole 16 is formed in the slit 10 and a positioning protrusion 17 for positioning and holding the slit is formed in the holding member 16. .

前記のようにスリットを形成することで、ビーム形成に影響するスリットの開口部を、さらに正確な位置に保持することができるので、実施例1および実施例2より、さらに良質な画像を形成できる光走査装置を提供することができる。   By forming the slit as described above, the opening of the slit that affects the beam formation can be held at a more accurate position, so that a higher quality image can be formed than in the first and second embodiments. An optical scanning device can be provided.

さらにスリットの両端部の弾性力が大きく(曲げ易く)なるように、孔または切り欠きを形成した図5や図6に示すようにしてもよい。   Further, it may be as shown in FIG. 5 or FIG. 6 in which holes or notches are formed so that the elastic force at both ends of the slit is large (easy to bend).

前記した実施例は、説明のために例示したものであって、本発明としてはそれらに限定されるものではなく、特許請求の範囲、発明の詳細な説明および図面の記載から当業者が認識することができる本発明の技術的思想に反しない限り、変更および付加が可能である。   The above-described embodiments are illustrated for explanation, and the present invention is not limited thereto, and those skilled in the art will recognize from the claims, the detailed description of the invention, and the description of the drawings. Modifications and additions are possible without departing from the technical idea of the present invention.

例えば、実施例記載のスリットの両端部の弾性力が大きくなるように、スリットの両端部に孔または切り欠きを形成することは自由であり、実施例に示した以外の形状を採用してもよい。   For example, it is free to form holes or notches at both ends of the slit so that the elastic force at both ends of the slit described in the embodiment is large, and shapes other than those shown in the embodiment may be adopted. Good.

また、実施例記載のスリットは、前記保持部材によってスリットが湾曲して保持することができると例示したが、円弧形状にして保持してもよい。   In addition, although the slits described in the embodiments are exemplified as being capable of being curved and held by the holding member, they may be held in an arc shape.

また、実施例記載のスリットの表面は、つや消し黒色で表面処理のものが望ましい。これはスリットにビームが反射した時に発生する戻り光や乱反射を防止する作用が働き、光源へ戻る影響を少なくすることができる。   The surface of the slits described in the examples is preferably matte black and surface-treated. This works to prevent return light and irregular reflection that occur when the beam is reflected by the slit, and can reduce the effect of returning to the light source.

また、実施例記載の弾性部材は、プラスチック、ゴムであってもよい。   Further, the elastic member described in the embodiments may be plastic or rubber.

また、実施例記載の保持部材の中央部材は、1箇所でも複数箇所でもかまわない   Further, the central member of the holding member described in the embodiment may be one place or a plurality of places.

また、前記端部材の接触部は、実施例1においては、前記中央部の接触部を基準とした場合に、光軸の向きに対し、−2mmの位置に設けたものを示したが、前記端部材の接触部の位置は±10mmの範囲内であれば、実施例の同様の効果を奏することができる。   In addition, in the first embodiment, the contact portion of the end member is provided at a position of −2 mm with respect to the direction of the optical axis when the contact portion of the center portion is used as a reference. If the position of the contact portion of the end member is within a range of ± 10 mm, the same effect as in the embodiment can be obtained.

ただし、保持するスリットの板厚の範囲内は、実施例記載の保持部材によって湾曲して保持することができない(スリットが真っ直ぐになる)ので、除外する。例えば、スリットの板厚が0.1mmで前記中央部の接触部を基準とした場合、±0.1mmの範囲内では端部材の接触部を設置してもスリットが湾曲しないので、発明の効果を奏することができないからである。   However, the range of the thickness of the slit to be held is excluded because it cannot be curved and held by the holding member described in the embodiment (the slit becomes straight). For example, when the plate thickness of the slit is 0.1 mm and the contact portion at the center is used as a reference, the slit does not bend even if the contact portion of the end member is installed within the range of ± 0.1 mm. It is because it cannot play.

本発明に係るスリットの構造を表した斜視図である。(実施例1)It is a perspective view showing the structure of the slit concerning this invention. Example 1 本発明に係るスリットの構造を表した平面図である。(実施例1)It is a top view showing the structure of the slit concerning this invention. Example 1 本発明に係るスリットの構造を表した斜視図である。(実施例2)It is a perspective view showing the structure of the slit concerning this invention. (Example 2) 本発明に係るスリットの構造を表した斜視図である。(実施例3)It is a perspective view showing the structure of the slit concerning this invention. (Example 3) 本発明に係るスリットの構造を表した斜視図である。(実施例3)It is a perspective view showing the structure of the slit concerning this invention. (Example 3) 本発明に係るスリットの構造を表した斜視図である。(実施例3)It is a perspective view showing the structure of the slit concerning this invention. (Example 3) 従来のスリットの構造を表した斜視図である。It is a perspective view showing the structure of the conventional slit. 従来のスリットの構造を表した斜視図である。It is a perspective view showing the structure of the conventional slit. 従来の光走査装置の平面図である。It is a top view of the conventional optical scanning device.

符号の説明Explanation of symbols

1 光源
2 コリメータレンズ
3 シリンダレンズ
4 光偏向器(MPA)
5 fθレンズ
6 反射ミラ−
7 感光体
8 ビーム
9 光走査装置
10 スリット
11 ハウジング
12 保持部材
13 中央部材
14 端部材
15 接触部
16 位置決め穴
17 位置決め突起
18 ねじ
19 ねじ穴
20 孔(切り欠き)
1 Light source 2 Collimator lens 3 Cylinder lens 4 Optical deflector (MPA)
5 fθ lens 6 reflection mirror
7 Photoconductor 8 Beam 9 Optical scanning device 10 Slit 11 Housing 12 Holding member 13 Central member 14 End member 15 Contact portion 16 Positioning hole 17 Positioning protrusion 18 Screw 19 Screw hole 20 Hole (notch)

Claims (5)

ビームを出射する光源と、
該光源から出射されたビームを平行光にするコリメータレンズと、
該コリメータレンズを透過したビームの一部が通過する開口部を備えたスリットと、
を有する光学系部品と、
該光学系部品を保持するためのハウジングとを備えた光走査装置において、
前記スリットは、弾性部材からなる平面板であり、
該スリットを湾曲させて保持する保持部材を、前記ハウジングに一体的に形成したことを特徴とする光走査装置。
A light source that emits a beam;
A collimator lens that collimates the beam emitted from the light source;
A slit having an opening through which a part of the beam transmitted through the collimator lens passes;
An optical system component having
In an optical scanning device comprising a housing for holding the optical system component,
The slit is a flat plate made of an elastic member,
An optical scanning device characterized in that a holding member that holds the slit in a curved shape is formed integrally with the housing.
前記スリットの両端部には、孔または切り欠きが形成されたことを特徴とする請求項1に記載の光走査装置。   The optical scanning device according to claim 1, wherein holes or notches are formed at both ends of the slit. 前記スリットには位置決め穴が形成され、
前記保持部材には、前記位置決め穴を嵌め合わせて前記スリットを位置決めするための位置決め突起が形成されたことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の光走査装置。
A positioning hole is formed in the slit,
The optical scanning device according to claim 1, wherein a positioning projection for positioning the slit by fitting the positioning hole is formed on the holding member.
前記スリットの表面は、つや消し黒色で表面処理されたことを特徴とする請求項1から3のいずれか一つの請求項に記載の光走査装置。   4. The optical scanning device according to claim 1, wherein the surface of the slit is surface-treated with matte black. 5. 前記弾性部材は、金属、プラスチックまたはゴムであることを特徴とする請求項1から4のいずれか一つの請求項に記載した光走査装置。   The optical scanning device according to claim 1, wherein the elastic member is metal, plastic, or rubber.
JP2007135103A 2007-05-22 2007-05-22 Optical scanner Pending JP2008292539A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009175203A (en) * 2008-01-22 2009-08-06 Sharp Corp Laser beam irradiation unit and image forming apparatus
JP2014085651A (en) * 2012-10-26 2014-05-12 Toshiba Corp Optical scanner and image forming apparatus

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