JP2008276085A5 - - Google Patents

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基板上にゲート配線部と、ゲート電極部と、選択信号を印加するゲート端子部とを備えA gate wiring portion, a gate electrode portion, and a gate terminal portion for applying a selection signal are provided on the substrate. たゲート配線を有する薄膜トランジスタであって、A thin film transistor having a gate wiring,
前記ゲート配線を構成する前記ゲート配線部と前記ゲート電極部と前記ゲート端子部のOf the gate wiring portion, the gate electrode portion, and the gate terminal portion constituting the gate wiring. 何れかが耐プラズマ性とバリア特性を有することを特徴とする薄膜トランジスタ。Any one of the thin film transistors having plasma resistance and barrier properties.
基板上にゲート配線部と、ゲート電極部と、選択信号を印加するゲート端子部とを備えA gate wiring portion, a gate electrode portion, and a gate terminal portion for applying a selection signal are provided on the substrate. たゲート配線を有する薄膜トランジスタであって、A thin film transistor having a gate wiring,
前記ゲート配線は、金属主層の表面にキャップ層を披覆した積層構造で形成され、The gate wiring is formed in a stacked structure in which a cap layer is shown on the surface of the metal main layer,
前記ゲート配線部のキャップ層は、耐プラズマ性と下層金属を固溶拡散させないバリアThe cap layer of the gate wiring part has a plasma resistance and a barrier that does not diffuse and dissolve the lower layer metal. 特性を有する導電性の材料を含んでいるインクの焼成で形成され、Formed by firing an ink containing a conductive material having properties,
前記ゲート電極部のキャップ層は、耐プラズマ性と、下層金属を固溶拡散させないバリThe cap layer of the gate electrode portion has a plasma resistance and a barrier that does not allow the lower layer metal to dissolve and diffuse. ア特性と、平坦性および耐電圧性を有する導電性の材料を含んでいるインクの焼成で形成Formed by firing of ink containing conductive material with flat characteristics and voltage resistance され、And
前記ゲート端子部のキャップ層は、耐プラズマ性と、下層金属を固溶拡散させないバリThe cap layer of the gate terminal portion has a plasma resistance and a barrier that does not allow the lower layer metal to be dissolved and dissolved. ア特性と、ドライエッチング耐性を有する導電性の材料を含んでいるインクの焼成で形成Formed by firing of ink containing conductive material with characteristics and dry etching resistance されていることを特徴とする薄膜トランジスタ。A thin film transistor, wherein
請求項1又は2において、In claim 1 or 2,
前記金属主層が銀・インクの焼成で形成されていることを特徴とする薄膜トランジスタA thin film transistor characterized in that the metal main layer is formed by firing silver and ink. .
請求項1乃至3の何れか1項において、
記ゲート配線と前記第1基板の間に密着層を有することを特徴とする薄膜トランジス タ。
In any one of Claims 1 thru | or 3,
Thin film transistor capacitor characterized by having an adhesion layer between the first substrate and the previous SL gate wiring.
請求項4において。
前記密着層がマンガン・インクの焼成で形成されていることを特徴とする薄膜トランジ スタ。
In claim 4.
Thin film transistors, wherein the adhesion layer is formed by firing manganese-ink.
薄膜トランジスタを有する複数の画素回路が形成された第1基板と、液晶層を介して第 1基板と対向配置された第2基板とを有する液晶表示パネルであって、
前記第1基板に、ゲート配線部と、該ゲート配線部から延びて前記薄膜トランジスタの ゲート電極を構成するゲート電極部と、ゲート配線に選択信号を印加するゲート端子部と を備えたゲート配線を有し、
前記ゲート配線を構成する前記ゲート配線部と前記ゲート電極部と前記ゲート端子部の 何れかが耐プラズマ性とバリア特性を有することを特徴とする液晶表示パネル。
A liquid crystal display panel having a first substrate on which a plurality of pixel circuits having thin film transistors are formed, and a second substrate disposed opposite to the first substrate through a liquid crystal layer ,
The first substrate includes a gate wiring having a gate wiring portion, a gate electrode portion extending from the gate wiring portion and constituting a gate electrode of the thin film transistor, and a gate terminal portion for applying a selection signal to the gate wiring . And
Any one of the gate wiring part, the gate electrode part, and the gate terminal part constituting the gate wiring has plasma resistance and barrier characteristics .
薄膜トランジスタを有する複数の画素回路が形成された第1基板と、液晶層を介して第 1基板と対向配置された第2基板とを有する液晶表示パネルであって、
前記第1基板に、ゲート配線部と、該ゲート配線部から延びて前記薄膜トランジスタの ゲート電極を構成するゲート電極部と、ゲート配線に選択信号を印加するゲート端子部と を備えたゲート配線を有し、
前記ゲート配線は、金属主層の表面にキャップ層を披覆した積層構造で形成され、
前記ゲート配線部のキャップ層は、耐プラズマ性と下層金属を固溶拡散させないバリア 特性を有する導電性の材料を含んでいるインクの焼成で形成され、
前記ゲート電極部のキャップ層は、耐プラズマ性と、下層金属を固溶拡散させないバリ ア特性と、平坦性および耐電圧性を有する導電性の材料を含んでいるインクの焼成で形成 され、
前記ゲート端子部のキャップ層は、耐プラズマ性と、下層金属を固溶拡散させないバリ ア特性と、ドライエッチング耐性を有する導電性の材料を含んでいるインクの焼成で形成 されていることを特徴とする液晶表示パネル。
A liquid crystal display panel having a first substrate on which a plurality of pixel circuits having thin film transistors are formed, and a second substrate disposed opposite to the first substrate through a liquid crystal layer ,
The first substrate includes a gate wiring having a gate wiring portion, a gate electrode portion extending from the gate wiring portion and constituting a gate electrode of the thin film transistor, and a gate terminal portion for applying a selection signal to the gate wiring . And
The gate wiring is formed in a stacked structure in which a cap layer is shown on the surface of the metal main layer,
The cap layer of the gate wiring portion is formed by baking ink containing a conductive material having a plasma resistance and a barrier property that does not allow the lower layer metal to be dissolved and diffused .
The cap layer of the gate electrode portion, and the plasma resistance, the burr A characteristic of not solid-dissolved and diffused in the underlying metal, is formed by firing an ink containing a conductive material having a flatness and voltage resistance,
Cap layer of the gate terminal portion, wherein the plasma resistance, the burr A characteristic of not solid-dissolved and diffused in the underlying metal, that is formed by firing an ink containing a conductive material having resistance to dry etching the liquid crystal display panel to.
請求項6又は7において、In claim 6 or 7,
前記金属主層が銀・インクの焼成で形成されていることを特徴とする液晶表示パネル。A liquid crystal display panel, wherein the metal main layer is formed by baking silver and ink.
請求項6乃至8の何れか1項において、In any one of Claims 6 thru | or 8,
前記ゲート配線と前記第1基板の間に密着層を有することを特徴とする液晶表示パネルA liquid crystal display panel having an adhesion layer between the gate wiring and the first substrate .
請求項9において、In claim 9,
前記密着層がマンガン・インクの焼成で形成されていることを特徴とする液晶表示パネA liquid crystal display panel, wherein the adhesion layer is formed by firing of manganese ink. ル。Le.
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