JP2008263406A - Testing device - Google Patents

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Yoichi Nakagawa
洋一 中川
Takashi Fukagawa
隆 深川
Masayuki Orihashi
雅之 折橋
Takashi Watanabe
貴志 渡邊
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a testing device capable of testing a MIMO (Multiple Input Multiple Output) radio apparatus. <P>SOLUTION: The testing device 1 is provided with: three input terminals 11a to 11c connected to antenna terminals of a transmitter; three output terminals 12a to 12c connected to antenna terminals of a receiver; distributors 13a to 13c connected to respective input terminals 11a to 11c to distribute signals inputted from the input terminals 11a to 11c into three signals; combiners 14a to 14c respectively connected to the output terminals 12a to 12c to combine signals inputted from the distributors 13a to 13c and input the combined signals to the output terminals; a phase shifter 15a arranged on a route between the distributor 13a and the combiner 14c, a phase shifter 15b arranged on a route between the distributer 13b and the combiner 14b; and a phase shifter 15c arranged on a route between the distributer 13c and the combiner 14c. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、MIMO(Multiple Input Multiple Output)伝送方式が実装された無線機器の試験に用いられる試験装置に関する。   The present invention relates to a test apparatus used for testing a wireless device in which a MIMO (Multiple Input Multiple Output) transmission system is implemented.

従来から、無線機器の品質管理の目的あるいは製造元の異なる無線機器間の接続を確認する目的で、無線機器の性能評価が行なわれてきた。無線機器の接続試験の一つの方法として、壁面反射を低減した電波暗室で実際に無線通信を行うことによって試験をする方法がある。また、無線機器間で無線通信を行うのではなく、擬似的に実環境に近い環境を作り出す有線系の試験装置を用いて試験する方法がある。   Conventionally, performance evaluation of a wireless device has been performed for the purpose of quality control of the wireless device or confirmation of connection between wireless devices of different manufacturers. As one method of connection test of wireless devices, there is a method of performing a test by actually performing wireless communication in an anechoic chamber with reduced wall reflection. In addition, there is a method of performing a test using a wired test apparatus that creates an environment close to a real environment, instead of performing wireless communication between wireless devices.

IEEE802.11は、無線LAN機器の性能評価方法に関して提案を行っている(非特許文献1)。ここで、非特許文献1に記載された有線系の接続試験について図面を参照して説明する。   IEEE 802.11 has proposed a method for evaluating the performance of wireless LAN devices (Non-Patent Document 1). Here, the wired connection test described in Non-Patent Document 1 will be described with reference to the drawings.

図14は、1つの信号系列を2つのアンテナで受信するアンテナダイバーシチ方式を想定した無線機器間の接続試験を行う試験系の構成を示す図である。非特許文献1において接続試験に使用する無線機器は、WLCP(WirelessCounterpart)40と、DUT(Device Under Test)41である。DUT41は試験対象であり、主に受信機として動作させる無線機器である。WLCP41は、DUT40と対をなし、主に送信機として動作させる無線機器である。図14に示す例では、アンテナダイバーシチ方式を実装している無線機器の試験を想定しているので、WLCP40およびDUT41は、ともに2つのアンテナ端子を有する。   FIG. 14 is a diagram illustrating a configuration of a test system that performs a connection test between wireless devices assuming an antenna diversity system in which one signal sequence is received by two antennas. The wireless devices used for the connection test in Non-Patent Document 1 are a WLCP (Wireless Counterpart) 40 and a DUT (Device Under Test) 41. The DUT 41 is a test target and is a wireless device that operates mainly as a receiver. The WLCP 41 is a wireless device that is paired with the DUT 40 and mainly operates as a transmitter. In the example shown in FIG. 14, since a test of a wireless device in which the antenna diversity system is mounted is assumed, both WLCP 40 and DUT 41 have two antenna terminals.

WLCP40の2つのアンテナ端子には、RF信号を伝送する同軸ケーブルがそれぞれ接続される。これらの同軸ケーブルは2つのRF信号を電力合成する合成器42に入力される。合成器42の出力は、可変アッテネータ43を介して1つのRF信号を電力分配する分配器44へ入力される。分配器44の2つの出力はそれぞれ、可変アッテネータ45、46を介してDUT41の2つのアンテナ端子に接続される。このように、非特許文献1で開示されている試験系の構成は、無線機器間の伝送路が途中経路で1本の同軸ケーブルとなっている。WLCP40およびDUT41が有する2つのアンテナ端子へは分配器を介して接続されている。
IEEE 802.11-03/940r2, “IEEE P802.11 Wireless LANs, TGn Channel Models”, Jan. 9, 2004.
Coaxial cables that transmit RF signals are connected to the two antenna terminals of the WLCP 40, respectively. These coaxial cables are input to a combiner 42 that combines the power of two RF signals. The output of the synthesizer 42 is input to a distributor 44 that distributes power of one RF signal via a variable attenuator 43. The two outputs of the distributor 44 are connected to the two antenna terminals of the DUT 41 via variable attenuators 45 and 46, respectively. As described above, in the configuration of the test system disclosed in Non-Patent Document 1, the transmission path between wireless devices is a single coaxial cable on the way. The two antenna terminals of the WLCP 40 and the DUT 41 are connected via a distributor.
IEEE 802.11-03 / 940r2, “IEEE P802.11 Wireless LANs, TGn Channel Models”, Jan. 9, 2004.

近年、無線LANの分野では、高速伝送を実現するMIMO伝送方式が実用化されている。MIMO伝送方式は、複数の信号系列を空間多重して同時に伝送するので、アンテナ数に比例して伝送容量を増大できる。   In recent years, in the field of wireless LAN, a MIMO transmission system that realizes high-speed transmission has been put into practical use. In the MIMO transmission system, a plurality of signal sequences are spatially multiplexed and transmitted simultaneously, so that the transmission capacity can be increased in proportion to the number of antennas.

上記した従来の試験装置は、無線機器間の伝送路がその途上で1本の同軸ケーブルに集約されている。すなわち、当該試験装置は、一の経路を有する伝送路を模擬している。この一の経路を有する伝送路は、複数の信号系列を空間多重して同時に伝送するMIMO伝送方式が想定する複数の経路を有する伝送路とは全く異なる。従って、上記したような従来の試験装置によって、MIMO伝送方式の無線機器の接続試験を行なうことはできない。   In the conventional test apparatus described above, the transmission paths between the wireless devices are concentrated on a single coaxial cable on the way. That is, the test apparatus simulates a transmission line having one path. The transmission path having this one path is completely different from the transmission path having a plurality of paths assumed by the MIMO transmission scheme in which a plurality of signal sequences are spatially multiplexed and transmitted simultaneously. Therefore, it is not possible to perform a connection test of a wireless device of the MIMO transmission system using the conventional test apparatus as described above.

そこで、本発明は、MIMO無線機の試験を行える試験装置を提供することを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a test apparatus capable of testing a MIMO radio.

本発明の試験装置は、送信機が有する複数のアンテナ端子に接続される複数の入力端子と、受信機が有する複数のアンテナ端子に接続される複数の出力端子と、前記入力端子に接続され、前記入力端子から入力される信号を複数の信号に分配する分配器と、複数の前記分配器にて分配された信号を合成し、合成された信号を前記出力端子に入力する合成器と、前記分配器から前記合成器への経路上に設けられ、試験周波数帯における当該経路の通過特性を変えるデバイスとを備える。   The test apparatus of the present invention, a plurality of input terminals connected to a plurality of antenna terminals of the transmitter, a plurality of output terminals connected to a plurality of antenna terminals of the receiver, and connected to the input terminal, A distributor that distributes a signal input from the input terminal to a plurality of signals; a combiner that combines the signals distributed by the plurality of distributors; and a combiner that inputs the combined signal to the output terminal; And a device that is provided on a path from the distributor to the synthesizer and that changes the pass characteristic of the path in the test frequency band.

このように分配器と合成器とを介して複数の入力端子と複数の出力端子とを接続することにより、各アンテナから送信された信号が複数のアンテナで受信されるMIMO無線機の実使用環境に近い伝送路条件を模擬的に作り出すことができる。また、分配器から合成器の経路上にその通過特性を変えるデバイスを設けることにより、実環境で起こり得る伝送路条件の変化を擬似的に作り出すことができる。   In this way, by connecting a plurality of input terminals and a plurality of output terminals via a distributor and a combiner, an actual use environment of a MIMO radio in which signals transmitted from each antenna are received by a plurality of antennas It is possible to create a transmission line condition close to. In addition, by providing a device that changes the passage characteristics on the path from the distributor to the combiner, it is possible to artificially create a change in transmission path condition that can occur in the actual environment.

本発明の試験装置において、前記経路の通過特性を変えるデバイスは、前記分配器にて分配された複数の経路のうちの一の経路に設けられていてもよい。   In the test apparatus of the present invention, the device for changing the passage characteristic of the route may be provided in one of the plurality of routes distributed by the distributor.

この構成により、分配器にて分配された全経路に通過特性を変えるデバイスを設けなくても、様々な条件で試験を行なうことが可能である。通過特性を変えるデバイスを減らすことにより、試験装置の製造コストを低減できる。   With this configuration, it is possible to perform a test under various conditions without providing a device that changes the passage characteristics in all paths distributed by the distributor. By reducing the number of devices that change the pass characteristics, the manufacturing cost of the test apparatus can be reduced.

本発明の試験装置において、前記経路の通過特性を変えるデバイスは、移相器または可変アッテネータであってもよい。   In the test apparatus of the present invention, the device that changes the passage characteristic of the path may be a phase shifter or a variable attenuator.

このように経路の通過特性を変えるデバイスとして、移相器または可変アッテネータを用いることにより、伝送路の特性を適切に変えることができる。   Thus, by using a phase shifter or a variable attenuator as a device that changes the passage characteristics of the path, the characteristics of the transmission path can be appropriately changed.

本発明の試験装置において、前記分配器は、前記入力端子から入力される信号を前記合成器と同数の信号に分配し、分配した信号を前記複数の合成器のそれぞれに入力し、前記合成器は、前記分配器と同数の信号を合成してもよい。   In the test apparatus of the present invention, the distributor distributes the signal input from the input terminal into the same number of signals as the combiner, and inputs the distributed signal to each of the plurality of combiners. May combine the same number of signals as the distributor.

このように分配器が合成器と同数の信号に分配し、合成器がすべての分配器から送信される信号を合成することにより、全アンテナ端子から出力された信号が全アンテナ端子で受信されることになるので、実環境に近い伝送路条件を模擬的に作り出すことができる。   In this way, the distributor distributes the same number of signals as the combiner, and the combiner combines the signals transmitted from all the distributors so that the signals output from all the antenna terminals are received by all the antenna terminals. As a result, transmission path conditions close to the actual environment can be created in a simulated manner.

本発明の別の態様に係る試験装置は、送信機のアンテナ端子に接続される3つの入力端子と、受信機のアンテナ端子に接続される3つの出力端子と、前記入力端子のそれぞれに接続され、前記入力端子から入力される信号を3つの信号に分配する第1の分配器、第2の分配器および第3の分配器と、前記出力端子のそれぞれに接続され、前記第1の分配器、第2の分配器および第3の分配器から入力される信号を合成し、合成された信号を前記出力端子に入力する第1の合成器、第2の合成器および第3の合成器と、前記第1の分配器と第1の合成器との経路上に設けられた第1の移相器と、前記第2の分配器と第2の合成器との経路上に設けられた第2の移相器と、前記第3の分配器と第3の合成器との経路上に設けられた第3の移相器とを備える。   A test apparatus according to another aspect of the present invention includes three input terminals connected to an antenna terminal of a transmitter, three output terminals connected to an antenna terminal of a receiver, and each of the input terminals. The first distributor, the second distributor, and the third distributor for distributing the signal input from the input terminal into three signals, and the first distributor, respectively. A first combiner, a second combiner, and a third combiner that combine signals input from the second distributor and the third distributor and input the combined signal to the output terminal; , A first phase shifter provided on the path between the first distributor and the first combiner, and a first phase shifter provided on the path between the second distributor and the second combiner. 2 phase shifters, and a third phase shifter provided on the path between the third distributor and the third combiner, Provided.

この構成により、3×3の信号系列の伝送路を模擬的に作り出すことができる。この試験装置では、MIMO伝送特性に影響を及ぼす最小固有値が移相量0〜2π/3の範囲で連続的に変化するので、移相量を動かしてMIMO伝送特性が変化した場合の試験を行なえる。また、入力端子と出力端子とをつなぐ全9通りの経路に移相器を設けるのではなく、3つの移相器を用いて装置を構成しているので、製造コストを抑えることができる。   With this configuration, a 3 × 3 signal series transmission path can be simulated. In this test apparatus, the minimum eigenvalue that affects the MIMO transmission characteristics changes continuously in the range of the phase shift amount 0 to 2π / 3. Therefore, the test can be performed when the MIMO transmission characteristics change by moving the phase shift amount. The Moreover, since the phase shifters are not provided in all nine paths connecting the input terminals and the output terminals, but the apparatus is configured using three phase shifters, the manufacturing cost can be reduced.

本発明の別の態様に係る試験装置は、送信機のアンテナ端子に接続される3つの入力端子と、受信機のアンテナ端子に接続される3つの出力端子と、前記入力端子のそれぞれに接続され、前記入力端子から入力される信号を3つの信号に分配する第1の分配器、第2の分配器および第3の分配器と、前記出力端子のそれぞれに接続され、前記第1の分配器、第2の分配器および第3の分配器から入力される信号を合成し、合成された信号を前記出力端子に入力する第1の合成器、第2の合成器および第3の合成器と、前記第1の分配器と第1の合成器との経路上に設けられた第1の可変アッテネータと、前記第2の分配器と第2の合成器との経路上に設けられた第2の可変アッテネータと、前記第3の分配器と第3の合成器との経路上に設けられた第3の可変アッテネータとを備える。   A test apparatus according to another aspect of the present invention includes three input terminals connected to an antenna terminal of a transmitter, three output terminals connected to an antenna terminal of a receiver, and each of the input terminals. The first distributor, the second distributor, and the third distributor for distributing the signal input from the input terminal into three signals, and the first distributor, respectively. A first combiner, a second combiner, and a third combiner that combine signals input from the second distributor and the third distributor and input the combined signal to the output terminal; , A first variable attenuator provided on the path between the first distributor and the first combiner, and a second provided on the path between the second distributor and the second combiner. Provided on the path of the variable attenuator, the third distributor and the third combiner And a third variable attenuator that.

この構成により、3×3の信号系列の伝送路を模擬的に作り出すことができる。この試験装置では、MIMO伝送特性に影響を及ぼす最小固有値が−6〜−∞(dB)の範囲で連続的に変化するので、減衰量を動かしてMIMO伝送特性が変化した場合の試験を行なえる。また、入力端子と出力端子とをつなぐ全9通りの経路に可変アッテネータを設けるのではなく、3つの可変アッテネータを用いて装置を構成しているので、製造コストを抑えることができる。   With this configuration, a 3 × 3 signal series transmission path can be simulated. In this test apparatus, since the minimum eigenvalue that affects the MIMO transmission characteristics changes continuously in the range of −6 to −∞ (dB), it is possible to perform a test when the MIMO transmission characteristics change by moving the attenuation amount. . Moreover, since the variable attenuator is not provided in all nine paths connecting the input terminal and the output terminal, but the apparatus is configured using three variable attenuators, the manufacturing cost can be suppressed.

本発明の別の態様に係る試験装置は、送信機のアンテナ端子に接続される3つの入力端子と、受信機のアンテナ端子に接続される3つの出力端子と、前記入力端子のそれぞれに接続され、前記入力端子から入力される信号を2つの信号に分配する第1の分配器、第2の分配器および第3の分配器と、前記出力端子のそれぞれに接続された第1の合成器、第2の合成器および第3の合成器とを備え、前記第1の分配器は、前記第2の合成器および前記第3の合成器に接続され、前記第2の分配器は、前記第1の合成器および前記第3の合成器に接続され、前記第3の分配器は、前記第1の合成器および前記第2の合成器に接続された構成を有する。   A test apparatus according to another aspect of the present invention includes three input terminals connected to an antenna terminal of a transmitter, three output terminals connected to an antenna terminal of a receiver, and each of the input terminals. A first distributor for distributing a signal input from the input terminal into two signals, a second distributor and a third distributor, and a first combiner connected to each of the output terminals, A second combiner and a third combiner, wherein the first distributor is connected to the second combiner and the third combiner, and the second distributor is connected to the second combiner. The third combiner is connected to the first combiner and the third combiner, and the third distributor is connected to the first combiner and the second combiner.

このように2つの経路に分配する分配器を用いることにより、試験装置のコストを低減させることができる。   By using a distributor that distributes to two paths in this way, the cost of the test apparatus can be reduced.

本発明の試験装置は、上記した試験装置を複数段にカスケード接続して構成されてもよい。   The test apparatus of the present invention may be configured by cascading the above-described test apparatuses in a plurality of stages.

このように上記した試験装置を複数段にカスケード接続することにより、伝送路の特性を調節することができる。   In this way, the characteristics of the transmission path can be adjusted by cascading the above-described test apparatuses in a plurality of stages.

本発明によれば、入力端子に接続された分配器から出力端子に接続された合成器の経路上にその通過特性を変えるデバイスを設けることにより、実環境で起こり得る伝送路条件の変化を擬似的に作り出すことができる効果を有する。   According to the present invention, by providing a device for changing the pass characteristic on the path of the combiner connected to the output terminal from the distributor connected to the input terminal, it is possible to simulate a change in the transmission path condition that may occur in an actual environment. It has the effect that can be created.

はじめに、本実施の形態のMIMO試験装置の試験対象であるMIMO伝送路の理論に関して説明する。一般に、MIMO伝送路は、伝送路行列Hを用いた次の式(1)で表現される。

Figure 2008263406
ここで、行列Xは複数の送信信号系列からなる送信ベクトルを示し、行列Yは複数の受信信号系列からなる受信ベクトルを示す。行列Hは、チャネルの応答行列を示す。送信信号数をN、受信信号数をMとすると、行列HはM行N列で表される。 First, the theory of a MIMO transmission line that is a test target of the MIMO test apparatus according to the present embodiment will be described. In general, a MIMO transmission path is expressed by the following equation (1) using a transmission path matrix H.
Figure 2008263406
Here, matrix X represents a transmission vector composed of a plurality of transmission signal sequences, and matrix Y represents a reception vector composed of a plurality of reception signal sequences. Matrix H represents the response matrix of the channel. When the number of transmission signals is N and the number of reception signals is M, the matrix H is represented by M rows and N columns.

MIMO伝送路における通信容量は、この行列Hを特異分解して得られる特異値を二乗した値(以下、伝送路行列Hの「固有値」と呼ぶ)を用いて推定できる。すなわち、MIMO伝送路の特性は、行列Hの固有値によって表現される。   The communication capacity in the MIMO transmission path can be estimated using a value obtained by squaring a singular value obtained by singular decomposition of the matrix H (hereinafter referred to as “eigenvalue” of the transmission path matrix H). That is, the characteristic of the MIMO transmission path is expressed by the eigenvalues of the matrix H.

伝送路行列Hには複数の固有値が存在する。MIMO伝送路の伝送品質は、複数の固有値のうちの最小の固有値に支配されることが知られている(R. W. Heath, Jr. and A. J. Paulraj, “Switching Between Diversity and Multiplexing in MIMO Systems”, IEEE trans. on Communications, Vol. 53, No. 6, June 2005.参照)。例えば、MIMO伝送路が3行3列の行列Hで表されるとき、伝送路行列Hには3つの固有値が存在する。3つの固有値をその値が大きい順に第1固有値、第2固有値、第3固有値とする。伝送路行列Hを、3つの信号系列が空間多重伝送されるMIMO伝送路と見なすと、その伝送品質は第3固有値つまり最小の固有値に支配される。また、上記したR. W. Heath, Jr.らの文献によれば、伝送路行列Hの最小の固有値に基づいて、MIMO伝送路の誤り性能を推定できることが示されている。   The transmission path matrix H has a plurality of eigenvalues. It is known that the transmission quality of a MIMO transmission line is governed by the smallest eigenvalue among a plurality of eigenvalues (RW Heath, Jr. and AJ Paulraj, “Switching Between Diversity and Multiplexing in MIMO Systems”, IEEE trans on Communications, Vol. 53, No. 6, June 2005.). For example, when a MIMO transmission path is represented by a matrix H of 3 rows and 3 columns, the transmission path matrix H has three eigenvalues. The three eigenvalues are defined as a first eigenvalue, a second eigenvalue, and a third eigenvalue in descending order. If the transmission line matrix H is regarded as a MIMO transmission line in which three signal sequences are spatially multiplexed, the transmission quality is governed by the third eigenvalue, that is, the smallest eigenvalue. Further, according to the above-mentioned document by R. W. Heath, Jr., etc., it is shown that the error performance of the MIMO transmission path can be estimated based on the minimum eigenvalue of the transmission path matrix H.

試験装置は、様々な特性のMIMO伝送路を模擬できることが好適である。以上より、最小の固有値を見ることによって、試験装置が特性の異なる伝送路を模擬できるか否かを判断できる。   It is preferable that the test apparatus can simulate MIMO transmission lines having various characteristics. From the above, it is possible to determine whether or not the test apparatus can simulate transmission lines having different characteristics by looking at the minimum eigenvalue.

(第1の実施の形態)
以下、本発明の実施の形態に係るMIMO試験装置について図面を参照して説明する。
図1は、第1の実施の形態のMIMO試験装置1の構成を示す図であり、図2は、MIMO試験装置1を用いて無線LAN機器の接続試験を行なう場合の試験環境を示す図である。最初に、図2を参照して試験環境について説明する。
(First embodiment)
Hereinafter, a MIMO test apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a MIMO test apparatus 1 according to the first embodiment, and FIG. 2 is a diagram illustrating a test environment when a connection test of a wireless LAN device is performed using the MIMO test apparatus 1. is there. First, the test environment will be described with reference to FIG.

図2に示す試験環境において、試験の対象は、AP(Access Point)20とSTA(Station)24である。STA20は、主にMIMO受信機として動作するカード形状のMIMO受信機である。AP20は、STA24にデータを送信するMIMO送信機である。実環境では、AP20からSTA24に無線によってデータが送信される。試験環境では、無線通信を行う代わりに、AP20とSTA24を有線で接続し、その接続経路上にMIMO試験装置1を設ける。   In the test environment shown in FIG. 2, the test targets are AP (Access Point) 20 and STA (Station) 24. The STA 20 is a card-shaped MIMO receiver that mainly operates as a MIMO receiver. The AP 20 is a MIMO transmitter that transmits data to the STA 24. In the actual environment, data is transmitted from the AP 20 to the STA 24 by radio. In the test environment, instead of performing wireless communication, the AP 20 and the STA 24 are connected by wire, and the MIMO test apparatus 1 is provided on the connection path.

図2に示す例では、AP20およびSTA24は、ともに3本のアンテナを有している。試験環境においては、アンテナを取り外し、アンテナ端子とMIMO試験装置1とを接続する。MIMO試験装置1は、3つの入力端子11a〜11cと3つの出力端子12a〜12cを有する。AP20の3つのアンテナ端子23a〜23cとMIMOの入力端子11a〜11cとを同軸ケーブルで接続する。STA24の3つのアンテナ端子25a〜25cとMIMO試験装置1の3つの出力端子12a〜12cとを同軸ケーブルで接続する。なお、同軸ケーブルは、RF信号を伝送する機能を有する。   In the example shown in FIG. 2, both the AP 20 and the STA 24 have three antennas. In the test environment, the antenna is removed and the antenna terminal and the MIMO test apparatus 1 are connected. The MIMO test apparatus 1 has three input terminals 11a to 11c and three output terminals 12a to 12c. The three antenna terminals 23a to 23c of the AP 20 and the MIMO input terminals 11a to 11c are connected by a coaxial cable. The three antenna terminals 25a to 25c of the STA 24 and the three output terminals 12a to 12c of the MIMO test apparatus 1 are connected by a coaxial cable. The coaxial cable has a function of transmitting an RF signal.

また、MIMO試験装置1の出力端子12a〜12cとSTA24のアンテナ端子25a〜25cとの間には、可変アッテネータ12a〜12cを配置する。可変アッテネータ28a〜28cは、MIMO伝送路における電力の減衰を擬似する。ここで、可変アッテネータ28a〜28cをすべて同一の減衰量αに調節するとき、図2に示す伝送路は、1以下のスカラ係数αを用いて(α1/2)F(φ)と表される。つまり、減衰量αは、MIMO伝送路における電力の平均減衰量を与えている。   In addition, variable attenuators 12 a to 12 c are arranged between the output terminals 12 a to 12 c of the MIMO test apparatus 1 and the antenna terminals 25 a to 25 c of the STA 24. The variable attenuators 28a to 28c simulate power attenuation in the MIMO transmission path. Here, when the variable attenuators 28a to 28c are all adjusted to the same attenuation α, the transmission path shown in FIG. 2 is expressed as (α1 / 2) F (φ) using a scalar coefficient α of 1 or less. . That is, the attenuation amount α gives an average attenuation amount of power in the MIMO transmission line.

AP20は、PC(Personal Computer)23とEthernet(登録商標)で接続される。STA24は、PC26のカードスロットに挿入される。また、AP20はシールドケース22内に配置され、STA24はPC26と共にシールドケース27の中に配置される。これにより、AP20およびSTA24は、空間的な電磁界結合が抑圧される。   The AP 20 is connected to a PC (Personal Computer) 23 via Ethernet (registered trademark). The STA 24 is inserted into the card slot of the PC 26. The AP 20 is disposed in the shield case 22, and the STA 24 is disposed in the shield case 27 together with the PC 26. Thereby, in the AP 20 and the STA 24, spatial electromagnetic coupling is suppressed.

次に、図1を参照してMIMO試験装置1の構成について説明する。MIMO試験装置1は、RF回路によって構成される。MIMO試験装置1は、電磁界的な不要輻射や被干渉からRF回路を保護する外部筐体10を有する。   Next, the configuration of the MIMO test apparatus 1 will be described with reference to FIG. The MIMO test apparatus 1 is configured by an RF circuit. The MIMO test apparatus 1 has an external housing 10 that protects an RF circuit from electromagnetic radiation and interference.

MIMO試験装置1は、送信側のAP20のアンテナ端子21a〜21cに接続される3つの入力端子11a〜11cと、受信側のSTA24のアンテナ端子25a〜25cに接続される3つの出力端子12a〜12cを有する。MIMO試験装置1の入力端子11a〜11cは、3分配器13a〜13cにそれぞれ接続されている。3分配器13a〜13cは、1つのRF信号を3つの信号に電力分配する機能を有する。MIMO試験装置1の出力端子12a〜12cは、3合成器14a〜14cにそれぞれ接続されている。3合成器14a〜14cは、3つのRF信号を1つの信号に電力合成する機能を有する。なお、3分配器13a〜13cと3合成器14a〜14cは同一のデバイスであり、その入出力を入れ替えて用いている。   The MIMO test apparatus 1 includes three input terminals 11a to 11c connected to the antenna terminals 21a to 21c of the AP 20 on the transmission side and three output terminals 12a to 12c connected to the antenna terminals 25a to 25c of the STA 24 on the reception side. Have The input terminals 11a to 11c of the MIMO test apparatus 1 are connected to the three distributors 13a to 13c, respectively. The three distributors 13a to 13c have a function of distributing power from one RF signal to three signals. The output terminals 12a to 12c of the MIMO test apparatus 1 are connected to the three synthesizers 14a to 14c, respectively. The three synthesizers 14a to 14c have a function of combining the power of three RF signals into one signal. The three distributors 13a to 13c and the three combiners 14a to 14c are the same device, and their input / outputs are interchanged.

3分配器13aによって電力分配された3つの出力は、3合成器14a〜14cのそれぞれに入力される。同様に、3分配器13bによって電力分配された3つの出力は、3合成器14a〜14cのそれぞれに入力され、3分配器13cによって電力分配された3つの出力は3合成器14a〜14cのそれぞれに入力される。実環境においては、送信側の各アンテナから出力された電波は、受信側のいずれのアンテナによっても受信される。入力端子11a〜11cと出力端子12a〜12cとの間の全9経路を分配器13a〜13cおよび合成器14a〜14cを用いて接続することにより、実際のMIMO伝送路に近い環境を擬似的に作り出している。なお、MIMO試験装置1の回路構成に用いる結線は、RF信号を伝送できるものであれば、その材質や形状を限定するものではない。例えば、セミリジットケーブルを使用することができる。   The three outputs from which power is distributed by the three distributors 13a are input to the three combiners 14a to 14c, respectively. Similarly, the three outputs power-distributed by the three distributors 13b are input to the three combiners 14a to 14c, respectively, and the three outputs power-distributed by the three distributors 13c are the respective three combiners 14a to 14c. Is input. In a real environment, radio waves output from each antenna on the transmission side are received by any antenna on the reception side. By connecting all nine paths between the input terminals 11a to 11c and the output terminals 12a to 12c using the distributors 13a to 13c and the combiners 14a to 14c, an environment close to an actual MIMO transmission path is simulated. Producing. In addition, if the connection used for the circuit structure of the MIMO test apparatus 1 can transmit RF signal, the material and shape will not be limited. For example, a semi-rigid cable can be used.

また、MIMO試験装置1は、3分配器13aと3合成器14aとをつなぐ経路上に移相器15aを備えている。同様に、3分配器13bと3合成器14bとをつなぐ経路上に移相器15bを備え、3分配器13cと3合成器14cとをつなぐ経路上に移相器15cを備えている。   In addition, the MIMO test apparatus 1 includes a phase shifter 15a on a path connecting the three distributor 13a and the three combiner 14a. Similarly, a phase shifter 15b is provided on a path connecting the 3 distributor 13b and the 3 combiner 14b, and a phase shifter 15c is provided on a path connecting the 3 distributor 13c and the 3 combiner 14c.

上記したMIMO試験装置1によって模擬されるMIMO伝送路の試験行列F(φ)は、次の式(2)で表される。

Figure 2008263406
試験行列F(φ)は、3行3列の複素正方行列である。9つの行列要素の振幅値がすべて等しく、且つ、3つの対角要素がφ[rad]だけ移相している。 A test matrix F (φ) of the MIMO transmission path simulated by the above-described MIMO test apparatus 1 is expressed by the following equation (2).
Figure 2008263406
The test matrix F (φ) is a 3 × 3 complex square matrix. The amplitude values of the nine matrix elements are all equal, and the three diagonal elements are phase-shifted by φ [rad].

図3は、試験行列F(φ)の3つの固有値の変化を示すグラフである。図3に示すグラフは、移相器15a〜15cの移相量φ[rad](横軸)に対する固有値(縦軸)を示している。なお、ここでは、移相器15a〜15cに同一の移相量φを与える。図3において、実線は第1固有値の特性を示し、点線は第2固有値の特性を示し、一点鎖線は第3固有値の特性を示す。   FIG. 3 is a graph showing changes in the three eigenvalues of the test matrix F (φ). The graph shown in FIG. 3 shows the eigenvalue (vertical axis) with respect to the phase shift amount φ [rad] (horizontal axis) of the phase shifters 15a to 15c. Here, the same phase shift amount φ is given to the phase shifters 15a to 15c. In FIG. 3, the solid line indicates the characteristic of the first eigenvalue, the dotted line indicates the characteristic of the second eigenvalue, and the alternate long and short dash line indicates the characteristic of the third eigenvalue.

図3に示すグラフより、試験行列F(φ)が、以下の固有値特性を有することが分かる。すなわち、(i)移相量φが0〜2π/3の領域において、第2固有値と第3固有値が同じ値で最小固有値となり、その値は−∞〜−4.8(dB)の範囲で連続的に変化する。(ii)移相量φが2π/3のとき固有値はすべて同じ値となる。(iii)移相量φが2π/3〜πの領域では第3固有値が最小固有値となり、その値は−4.8〜−9.5(dB)の範囲で連続的に変化する。   From the graph shown in FIG. 3, it can be seen that the test matrix F (φ) has the following eigenvalue characteristics. That is, (i) in the region where the phase shift amount φ is 0 to 2π / 3, the second eigenvalue and the third eigenvalue are the same value and become the minimum eigenvalue, and the value is in the range of −∞ to −4.8 (dB). It changes continuously. (Ii) When the phase shift amount φ is 2π / 3, the eigenvalues are all the same value. (Iii) In the region where the phase shift amount φ is 2π / 3 to π, the third eigenvalue is the minimum eigenvalue, and the value continuously changes in the range of −4.8 to −9.5 (dB).

本実施の形態のMIMO試験装置1の試験行列F(φ)は上記の特性を有するので、移相器15a〜15cに与える移相量φを調節することで、MIMO伝送路の最小固有値を所望の条件に設定できる。前述したように、試験行列F(φ)を複数の信号系列が空間多重伝送されるMIMO伝送路と見なすとき、その伝送品質は最小固有値に支配されるので、最小固有値に基づいてMIMO伝送路の誤り性能を推定できる。従って、移相量φを調節することにより、様々な特性を有する3×3のMIMO伝送路を模擬することができる。   Since the test matrix F (φ) of the MIMO test apparatus 1 of the present embodiment has the above characteristics, the minimum eigenvalue of the MIMO transmission line is desired by adjusting the phase shift amount φ given to the phase shifters 15a to 15c. Can be set to As described above, when the test matrix F (φ) is regarded as a MIMO transmission path in which a plurality of signal sequences are spatially multiplexed, the transmission quality is governed by the minimum eigenvalue. Error performance can be estimated. Therefore, by adjusting the phase shift amount φ, a 3 × 3 MIMO transmission line having various characteristics can be simulated.

また、移相量φが0〜2π/3の領域では、試験行列F(φ)の第2固有値と第3固有値が一致するため、空間多重される信号系列数が2もしくは3のいずれの場合でも、伝送路の最小固有値を移相量φによって設定できる。   In the region where the phase shift amount φ is 0 to 2π / 3, the second eigenvalue and the third eigenvalue of the test matrix F (φ) coincide with each other, so that the number of spatially multiplexed signal sequences is either 2 or 3 However, the minimum eigenvalue of the transmission line can be set by the phase shift amount φ.

図4(a)は、上記した実施の形態にて説明した試験環境(図2参照)を機能的に示すブロック図である。すなわち、本実施の形態で説明した試験環境は、Nアンテナ端子(図2ではアンテナ端子は3つ)を有するMIMO送信部30と、M×NのMIMO伝送路を模擬している試験行列演算部31と、伝送路上の平均減衰を与える減衰係数演算部32と、Mアンテナ端子(図2ではアンテナ端子は3つ)を有するMIMO受信部33とが順番に接続された構成を有する。図4(a)において、試験行列演算部31はMIMO試験装置1を機能的に示しており、減衰係数演算部32は可変アッテネータ28a〜28cを機能的に示している。   FIG. 4A is a block diagram functionally showing the test environment (see FIG. 2) described in the above embodiment. That is, the test environment described in the present embodiment includes a MIMO transmission unit 30 having N antenna terminals (three antenna terminals in FIG. 2) and a test matrix calculation unit simulating an M × N MIMO transmission path. 31, an attenuation coefficient calculation unit 32 that gives an average attenuation on the transmission line, and a MIMO reception unit 33 having an M antenna terminal (three antenna terminals in FIG. 2) are connected in order. In FIG. 4A, the test matrix calculator 31 functionally shows the MIMO test apparatus 1, and the attenuation coefficient calculator 32 functionally shows the variable attenuators 28a to 28c.

図4(b)は、図4(a)に示す構成において、試験行列演算部31と減衰係数演算部32とを入れ替えた構成を有する試験環境である。MIMO伝送路としては、図4(a)に示す伝送路と図4(b)に示す伝送路は等価であり、本実施の形態のMIMO試験装置1は、図4(b)に示す試験環境にも適用できる。   FIG. 4B shows a test environment having a configuration in which the test matrix calculation unit 31 and the attenuation coefficient calculation unit 32 are replaced in the configuration shown in FIG. As the MIMO transmission path, the transmission path shown in FIG. 4 (a) and the transmission path shown in FIG. 4 (b) are equivalent, and the MIMO test apparatus 1 of the present embodiment has the test environment shown in FIG. 4 (b). It can also be applied to.

(第2の実施の形態)
図5は、第2の実施の形態のMIMO試験装置2の構成を示す図である。第2の実施の形態のMIMO試験装置2の基本的な構成は第1の実施の形態のMIMO試験装置1と同じである。第2の実施の形態のMIMO試験装置2では、移相器15a〜15cに代えて可変アッテネータ16a〜16cを用いている。第2の実施の形態のMIMO試験装置2は、可変アッテネータ16a〜16cに対して、同一の減衰量を与えるように調節することで、MIMO伝送路の特性の変化を擬似する。
(Second Embodiment)
FIG. 5 is a diagram illustrating a configuration of the MIMO test apparatus 2 according to the second embodiment. The basic configuration of the MIMO test apparatus 2 of the second embodiment is the same as that of the MIMO test apparatus 1 of the first embodiment. In the MIMO test apparatus 2 of the second embodiment, variable attenuators 16a to 16c are used instead of the phase shifters 15a to 15c. The MIMO test apparatus 2 of the second embodiment simulates a change in the characteristics of the MIMO transmission path by adjusting the variable attenuators 16a to 16c so as to give the same attenuation.

第2の実施の形態のMIMO試験装置2のMIMO伝送路の試験行列F(β)は、次の式(3)で表される。

Figure 2008263406
試験行列F(β)は、3×3の実正方行列である。βは1以下のスカラ係数である。3つの対角要素がスカラ係数βの平方根として与えられ、且つ非対角要素の振幅値はすべて等しく一定となる。 The test matrix F (β) of the MIMO transmission path of the MIMO test apparatus 2 of the second embodiment is expressed by the following equation (3).
Figure 2008263406
The test matrix F (β) is a 3 × 3 real square matrix. β is a scalar coefficient of 1 or less. Three diagonal elements are given as the square root of the scalar coefficient β, and the amplitude values of the non-diagonal elements are all equally constant.

図6は、試験行列の3つの固有値の変化を示すグラフである。図6に示すグラフは、スカラ係数β(横軸)に対する固有値(縦軸)を示している。このグラフより試験行列F(β)は以下の固有値特性を有することが分かる。すなわち、(i)スカラ係数βの値に依らず、第2固有値と第3固有値は常に同じ値で最小固有値となり、その値は−6〜−∞(dB)の範囲で連続的に変化する。(ii)スカラ係数βが0のとき、最小固有値は最大となりその値は、−6(dB)である。   FIG. 6 is a graph showing changes in the three eigenvalues of the test matrix. The graph shown in FIG. 6 shows the eigenvalue (vertical axis) with respect to the scalar coefficient β (horizontal axis). From this graph, it can be seen that the test matrix F (β) has the following eigenvalue characteristics. That is, (i) regardless of the value of the scalar coefficient β, the second eigenvalue and the third eigenvalue are always the same value and become the minimum eigenvalue, and the value continuously changes in the range of −6 to −∞ (dB). (Ii) When the scalar coefficient β is 0, the minimum eigenvalue is the maximum and the value is −6 (dB).

第2の実施の形態のMIMO試験装置2の試験行列F(β)は上記の性質を有するので、可変アッテネータ16a〜16cに同一の減衰量βを与えるように調節することで、MIMO伝送路の最小固有値を所望の条件に設定できる。従って、スカラ係数βを調節することにより、様々な特性を有する3×3のMIMO伝送路を模擬的に作り出すことができる。   Since the test matrix F (β) of the MIMO test apparatus 2 according to the second embodiment has the above-described properties, by adjusting the variable attenuators 16a to 16c to give the same attenuation β, the MIMO transmission line The minimum eigenvalue can be set to a desired condition. Therefore, by adjusting the scalar coefficient β, a 3 × 3 MIMO transmission line having various characteristics can be simulated.

第2の実施の形態のMIMO試験装置2は、スカラ係数βの値に依らず、試験行列F(β)の第2固有値と第3固有値が一致するので、空間多重される信号系列数が2もしくは3のいずれの場合でも、伝送路の最小固有値を同じスカラ係数βの値によって設定できる。   In the MIMO test apparatus 2 of the second embodiment, since the second eigenvalue and the third eigenvalue of the test matrix F (β) match regardless of the value of the scalar coefficient β, the number of spatially multiplexed signal sequences is 2. In either case, the minimum eigenvalue of the transmission line can be set by the same scalar coefficient β.

第2の実施の形態のMIMO試験装置2は、移相器15a〜15cを使用せずに構成できるので、使用周波数に対する位相較正が不要な広帯域化を容易に行える。これは、分配器13a〜13cや可変アッテネータ16a〜16cが、移相器15a〜15cと比較して、周波数特性を平滑化し易いことによる。   Since the MIMO test apparatus 2 of the second embodiment can be configured without using the phase shifters 15a to 15c, it is possible to easily perform a wide band that does not require phase calibration with respect to the used frequency. This is because the dividers 13a to 13c and the variable attenuators 16a to 16c are easier to smooth the frequency characteristics than the phase shifters 15a to 15c.

(第3の実施の形態)
図7は、第3の実施の形態のMIMO試験装置3の構成を示す図である。第3の実施の形態のMIMO試験装置3は、上記した第2の実施の形態のMIMO試験装置2において、スカラ係数βを0とした回路と等価なRF回路を有するMIMO試験装置3である。スカラ係数βを0とした回路は、可変アッテネータ16a〜16cの減衰量を−∞と見なせるような値に設定した場合である。可変アッテネータ16a〜16cが設けられた経路(結線)が存在しない図7に示す回路は、第2の実施の形態のMIMO試験装置2においてスカラ係数βを0とした回路と等価である。
(Third embodiment)
FIG. 7 is a diagram illustrating a configuration of the MIMO test apparatus 3 according to the third embodiment. The MIMO test apparatus 3 of the third embodiment is a MIMO test apparatus 3 having an RF circuit equivalent to a circuit in which the scalar coefficient β is 0 in the MIMO test apparatus 2 of the second embodiment described above. A circuit in which the scalar coefficient β is 0 is a case where the attenuation of the variable attenuators 16a to 16c is set to a value that can be regarded as −∞. The circuit shown in FIG. 7 in which the path (connection) in which the variable attenuators 16a to 16c are provided does not exist is equivalent to a circuit in which the scalar coefficient β is 0 in the MIMO test apparatus 2 of the second embodiment.

第3の実施の形態のMIMO試験装置3は、内部のRF回路を保護して電磁界的な不要輻射や被干渉を避けるため外部筐体10を有する。MIMO試験装置3の入力端子11a〜11cは、1つのRF信号を2つの信号に電力分配する2分配器17a〜17cとそれぞれ接続される。2分配器17aの出力は、2合成器18b、18cに接続される。同様にして、2分配器17bの出力は2合成器18a、18cと接続され、2分配器17cの出力は2合成器18a、18bと接続される。2合成器18a〜18cの出力は、MIMO試験装置の出力端子12a〜12cにそれぞれ接続される。なお、2分配器17a〜17cと2合成器18a〜18cは同一のデバイスであり、入出力を入れ替えて用いている。   The MIMO test apparatus 3 according to the third embodiment includes an external housing 10 in order to protect an internal RF circuit and avoid unnecessary electromagnetic radiation and interference. Input terminals 11a to 11c of the MIMO test apparatus 3 are respectively connected to two distributors 17a to 17c that distribute power from one RF signal to two signals. The output of the 2 distributor 17a is connected to the 2 combiners 18b and 18c. Similarly, the output of the 2 distributor 17b is connected to the 2 combiners 18a and 18c, and the output of the 2 distributor 17c is connected to the 2 combiners 18a and 18b. The outputs of the two synthesizers 18a to 18c are connected to the output terminals 12a to 12c of the MIMO test apparatus, respectively. The two distributors 17a to 17c and the two combiners 18a to 18c are the same device, and are used by switching input / output.

第3の実施の形態のMIMO試験装置3のMIMO伝送路の試験行列Gは、次の式(4)で表される。

Figure 2008263406
試験行列Gの固有値は、第1固有値が0(dB)となり、第2固有値と第3固有値がいずれも−6(dB)となる。つまり、式(4)の試験行列Gで模擬されるMIMO伝送路は、最小固有値が最大固有値に対して−6(dB)となるように条件設定される。この条件の試験を行なう場合には、可変アッテネータを用いないでMIMO試験装置を構成できる。 The test matrix G of the MIMO transmission path of the MIMO test apparatus 3 of the third embodiment is expressed by the following equation (4).
Figure 2008263406
As for the eigenvalues of the test matrix G, the first eigenvalue is 0 (dB), and the second eigenvalue and the third eigenvalue are both -6 (dB). In other words, the MIMO transmission line simulated by the test matrix G in Equation (4) is set so that the minimum eigenvalue is −6 (dB) with respect to the maximum eigenvalue. When a test under this condition is performed, a MIMO test apparatus can be configured without using a variable attenuator.

第3の実施の形態のMIMO試験装置3は、移相器および可変アッテネータを用いないで、第2の実施の形態のMIMO試験装置2において可変アッテネータ16a〜16cのスカラ係数βを0とする条件のMIMO伝送路を実現できる。   The MIMO test apparatus 3 of the third embodiment does not use a phase shifter and a variable attenuator, and the condition that the scalar coefficient β of the variable attenuators 16a to 16c is 0 in the MIMO test apparatus 2 of the second embodiment. MIMO transmission path can be realized.

(第4の実施の形態)
次に、第4の実施の形態のMIMO試験装置について説明する。第4の実施の形態のMIMO試験装置は、第3の実施の形態のMIMO試験装置3を複数個カスケード接続して構成される。
(Fourth embodiment)
Next, a MIMO test apparatus according to the fourth embodiment will be described. The MIMO test apparatus according to the fourth embodiment is configured by cascading a plurality of MIMO test apparatuses 3 according to the third embodiment.

図8および図9は、第4の実施の形態のMIMO試験装置4の構成を示す図である。図8に示す例では第3の実施の形態のMIMO試験装置3を2段カスケード接続しており、図9に示す例では3段カスケード接続した例を示している。図8に示すMIMO試験装置4の試験行列Gは次の式(5)で表され、図9に示すMIMO試験装置4の試験行列Gは次の式(6)で表される。

Figure 2008263406
Figure 2008263406
式(5)に示すGの固有値は、第1固有値が0(dB)であり、第2固有値と第3固有値がいずれも−12(dB)となる。つまり、式(5)の試験行列Gで模擬されるMIMO伝送路は、最小固有値が最大固有値に対して−12(dB)となる条件に設定されている。前述したように、Kが1の場合、Gの固有値は、第1固有値が0(dB)、第2固有値と第3固有値がいずれも−6(dB)となる。つまり、Gの2回乗算を行なうと、MIMO伝送路の最大固有値は0(dB)で不変だが、最小固有値が−6(dB)から−12(dB)へと変更される。 8 and 9 are diagrams illustrating the configuration of the MIMO test apparatus 4 according to the fourth embodiment. In the example shown in FIG. 8, the MIMO test apparatus 3 of the third embodiment is connected in two stages in cascade, and the example shown in FIG. 9 shows an example in which three stages are connected in cascade. Test matrix G 2 of the MIMO testing device 4 shown in FIG. 8 is represented by the following formula (5), the test matrix G 3 for MIMO testing device 4 shown in FIG. 9 can be expressed by the following equation (6).
Figure 2008263406
Figure 2008263406
Eigenvalue of G 2 shown in Equation (5), the first eigenvalue is 0 (dB), both the second eigenvalue and the third eigenvalue becomes -12 (dB). That, MIMO transmission line is simulated by the test matrix G 2 of formula (5), the minimum eigenvalue is set in the condition to be -12 (dB) relative to the maximum eigenvalue. As described above, when K is 1, the first eigenvalue is 0 (dB), and the second eigenvalue and the third eigenvalue are both -6 (dB). That is, when G is multiplied twice, the maximum eigenvalue of the MIMO transmission line is 0 (dB) and is unchanged, but the minimum eigenvalue is changed from −6 (dB) to −12 (dB).

式(6)に示すGの固有値は、第1固有値が0(dB)、第2固有値と第3固有値がいずれも−18(dB)となる。つまり、式(6)の試験行列Gで模擬されるMIMO伝送路は、最小固有値が最大固有値に対して−18(dB)となるように条件設定されている。 Eigenvalues of G 3 shown in equation (6), the first eigenvalue is 0 (dB), both the second eigenvalue and the third eigenvalue becomes -18 (dB). That, MIMO transmission line is simulated by the test matrix G 3 of formula (6), the minimum eigenvalue is the condition set to be -18 (dB) relative to the maximum eigenvalue.

以上より、試験行列GをK回乗算して得られるGは、第1固有値が0(dB)、第2固有値および第3固有値がどちらも−6×K(dB)となることが分かる。カスケードの接続を一段増やすと最小固有値を6(dB)下げることができるので、カスケード接続の段数を変更することにより、最小固有値を6(dB)ステップで調節することができる。 From the above, it can be seen that G k obtained by multiplying the test matrix G K times has a first eigenvalue of 0 (dB) and a second eigenvalue and a third eigenvalue of -6 × K (dB). If the number of cascade connections is increased by one step, the minimum eigenvalue can be lowered by 6 (dB). Therefore, the minimum eigenvalue can be adjusted in 6 (dB) steps by changing the number of cascade connections.

第4の実施の形態のMIMO試験装置4は、移相器や可変アッテネータを使用せずに実現できるため、低コストであり且つ広帯域化も容易であるうえ、カスケード接続の段数を変更することで、MIMO伝送路の固有値を−6(dB)ステップで調節できる。   Since the MIMO test apparatus 4 according to the fourth embodiment can be realized without using a phase shifter or a variable attenuator, it is low-cost and can easily be widened, and by changing the number of cascade connection stages. The eigenvalue of the MIMO transmission line can be adjusted in −6 (dB) steps.

次に、MIMO試験装置4のカスケード接続の構造について説明する。
図10は、カスケード接続の一つの単位となるMIMO試験装置を平面構造のRF回路で実現した例を示す図である。六角形の筐体10の各側面に入力端子11a〜11cと出力端子12a〜12cが配置されている。入力端子11aと出力端子12a、入力端子11bと出力端子12b、入力端子11cと出力端子12cは、それぞれ対向する面に配置されている。また、入力端子11a〜11cと出力端子12a〜12cは交互に配置されている。入力端子11a〜11cに接続された分配器13a〜13cの出力は、隣接する出力端子12a〜12cに接続された合成器14a〜14cに入力されている。図10に示す回路は、図8および図9にて示した一のMIMO試験装置と等価な回路である。
Next, the cascade connection structure of the MIMO test apparatus 4 will be described.
FIG. 10 is a diagram illustrating an example in which a MIMO test apparatus serving as one unit of cascade connection is realized by an RF circuit having a planar structure. Input terminals 11 a to 11 c and output terminals 12 a to 12 c are arranged on each side of the hexagonal housing 10. The input terminal 11a and the output terminal 12a, the input terminal 11b and the output terminal 12b, and the input terminal 11c and the output terminal 12c are disposed on the opposing surfaces. Further, the input terminals 11a to 11c and the output terminals 12a to 12c are alternately arranged. The outputs of the distributors 13a to 13c connected to the input terminals 11a to 11c are input to the combiners 14a to 14c connected to the adjacent output terminals 12a to 12c. The circuit shown in FIG. 10 is equivalent to the one MIMO test apparatus shown in FIGS.

図11(a)および図11(b)は、図10に示すMIMO試験装置を3段にカスケード接続した例を示す図である。図11(a)および図11(b)は、カスケード接続されたMIMO試験装置4を異なる方向から見た図である。図11に示すように、上から1段目のMIMO試験装置と上から3段目のMIMO試験装置は、入力端子11a〜11cどうし、出力端子12a〜12cどうしの位置が一致するように配置されている。2段目のMIMO試験装置は、1段目および3段目のMIMO試験装置に対して60度回転して配置され、入力端子11a〜11cと出力端子12a〜12cの位置が一致するように配置されている。1段目のMIMO試験装置の出力端子12a〜12cは2段目の入力端子11a〜11cに接続され、2段目の出力端子12a〜12cは、3段目の入力端子11a〜11cに接続される。   FIGS. 11A and 11B are diagrams showing an example in which the MIMO test apparatus shown in FIG. 10 is cascade-connected in three stages. FIG. 11A and FIG. 11B are views of the MIMO test apparatus 4 connected in cascade as seen from different directions. As shown in FIG. 11, the first-stage MIMO test apparatus from the top and the third-stage MIMO test apparatus are arranged such that the positions of the input terminals 11a to 11c and the output terminals 12a to 12c are the same. ing. The second-stage MIMO test apparatus is arranged by rotating 60 degrees with respect to the first-stage and third-stage MIMO test apparatuses, and is arranged so that the positions of the input terminals 11a to 11c and the output terminals 12a to 12c coincide. Has been. The output terminals 12a to 12c of the first stage MIMO test apparatus are connected to the second stage input terminals 11a to 11c, and the second stage output terminals 12a to 12c are connected to the third stage input terminals 11a to 11c. The

このようにMIMO試験装置の入力端子11a〜11cおよび出力端子12a〜12cを六角形の筐体10の側面に交互に設ける構成により、筐体10の内外において、入力端子11a〜11cと出力端子12a〜12cを結ぶ同軸ケーブル長を短くでき、RF信号の減衰量や位相の偏差を抑えることができる。   As described above, the input terminals 11a to 11c and the output terminals 12a to 12c of the MIMO test apparatus are alternately provided on the side surfaces of the hexagonal casing 10, so that the input terminals 11a to 11c and the output terminals 12a are provided inside and outside the casing 10. The length of the coaxial cable connecting ˜12c can be shortened, and the RF signal attenuation and phase deviation can be suppressed.

(第5の実施の形態)
図12は、第5の実施の形態のMIMO試験装置の構成を示す図である。第5の実施の形態のMIMO試験装置5は、第3の実施の形態のMIMO試験装置3において、2分配器17aと2合成器18bとの間の経路上に移相器19を備えている。移相器19の移相量φを調節することで、MIMO試験装置5は、試験行列G(φ)の固有値特性を再現する伝送路と見なすことができる。
(Fifth embodiment)
FIG. 12 is a diagram illustrating the configuration of the MIMO test apparatus according to the fifth embodiment. The MIMO test apparatus 5 of the fifth embodiment includes a phase shifter 19 on the path between the two distributors 17a and the two combiners 18b in the MIMO test apparatus 3 of the third embodiment. . By adjusting the phase shift amount φ of the phase shifter 19, the MIMO test apparatus 5 can be regarded as a transmission line that reproduces the eigenvalue characteristics of the test matrix G (φ).

第5の実施の形態のMIMO試験装置のMIMO伝送路の試験行列G(φ)は、次の式(7)で表される。

Figure 2008263406
試験行列G(φ)は、3×3の複素正方行列である。3つの対角要素が零で、且つ非対角要素の一つがφ[rad]だけ移相している。 A test matrix G (φ) of the MIMO transmission path of the MIMO test apparatus according to the fifth embodiment is expressed by the following equation (7).
Figure 2008263406
The test matrix G (φ) is a 3 × 3 complex square matrix. Three diagonal elements are zero, and one of the non-diagonal elements is phase-shifted by φ [rad].

図13は、移相器17が移相量φ(横軸)のときのG(φ)の固有値(縦軸)を示している。図13より、G(φ)は以下のような固有値特性を有することが分かる。すなわち(i)移相量φが0〜πの領域は、最小固有値である第3固有値は−6〜−∞(dB)の範囲で連続的に変化する。(ii)移相量φが0のとき、第2固有値と第3固有値がいずれも−6(dB)で最小固有値となり、第1固有値は0(dB)となる。(iii)移相量φがπのとき、第1固有値および第2固有値がいずれも0(dB)となり、最小固有値である第3固有値は−∞となる。   FIG. 13 shows the eigenvalue (vertical axis) of G (φ) when the phase shifter 17 has the phase shift amount φ (horizontal axis). From FIG. 13, it can be seen that G (φ) has the following eigenvalue characteristics. That is, (i) In the region where the phase shift amount φ is 0 to π, the third eigenvalue which is the smallest eigenvalue continuously changes in the range of −6 to −∞ (dB). (Ii) When the phase shift amount φ is 0, the second eigenvalue and the third eigenvalue are both −6 (dB) and become the minimum eigenvalue, and the first eigenvalue is 0 (dB). (Iii) When the phase shift amount φ is π, the first eigenvalue and the second eigenvalue are both 0 (dB), and the third eigenvalue that is the minimum eigenvalue is −∞.

従って、第5の実施の形態のMIMO試験装置5は、移相量φの値を可変することにより、最小固有値を特定の条件に設定できる。従って、移相量φを調節することにより、様々な特性を有する3×3のMIMO伝送路を模擬的に作り出すことができる。   Therefore, the MIMO test apparatus 5 of the fifth embodiment can set the minimum eigenvalue to a specific condition by changing the value of the phase shift amount φ. Therefore, by adjusting the phase shift amount φ, a 3 × 3 MIMO transmission line having various characteristics can be simulated.

また、移相量φが0〜2π/3の領域では、F(φ)の第2固有値と第3固有値が一致するため、空間多重される信号系列数が2もしくは3のいずれの場合でも、伝送路の最小固有値を同じφの値よって設定できる。   Further, in the region where the phase shift amount φ is 0 to 2π / 3, the second eigenvalue and the third eigenvalue of F (φ) coincide with each other. Therefore, even when the number of spatially multiplexed signal sequences is 2 or 3, The minimum eigenvalue of the transmission line can be set with the same value of φ.

また、第5の実施の形態のMIMO試験装置5は、3分配器や3合成器に比べて安価な2分配器17a〜17cおよび2合成器18a〜18cと、一の移相器19によって装置を構成できるので、試験装置の製造コストを低減できる。   Further, the MIMO test apparatus 5 of the fifth embodiment is composed of two distributors 17a to 17c and two combiners 18a to 18c, which are cheaper than three distributors and three combiners, and a single phase shifter 19. Therefore, the manufacturing cost of the test apparatus can be reduced.

なお、移相量φをπ/2、πといった特定の値に調節する場合には、必ずしも移相器17を用いる必要はない。例えば、移相量φをπ/2に調節する場合、K. Chang, “Microwave Ring Circuits and Antenna”, Wiley Inter-Science, 1996.に記載されているように、移相器17に代えて、分配器13a〜13cを90°Branch−Line回路によって実現してもよい。また、移相量φをπに調節する場合、同様にして、移相器19に代えて、分配器13a〜13cを180°Rat−Race回路によって実現してもよい。   Note that the phase shifter 17 is not necessarily used when the phase shift amount φ is adjusted to a specific value such as π / 2 or π. For example, when the phase shift amount φ is adjusted to π / 2, as described in K. Chang, “Microwave Ring Circuits and Antenna”, Wiley Inter-Science, 1996. The distributors 13a to 13c may be realized by a 90 ° Branch-Line circuit. Similarly, when adjusting the phase shift amount φ to π, the distributors 13 a to 13 c may be realized by 180 ° Rat-Race circuits instead of the phase shifter 19.

以上、本発明の試験装置について実施の形態を挙げて詳細に説明したが、本発明は上記した実施の形態に限定されるものではない。   The test apparatus of the present invention has been described in detail with reference to the embodiment, but the present invention is not limited to the above-described embodiment.

本発明は、MIMO伝送路の試験行列の最小固有値を変えることができる構成であれば、上記した第1〜第5の実施の形態において説明した回路構成以外の回路に備えた試験装置も可能である。   The present invention can also be a test apparatus provided in a circuit other than the circuit configurations described in the first to fifth embodiments as long as the minimum eigenvalue of the MIMO transmission path test matrix can be changed. is there.

上記した実施の形態では、3×3のMIMO伝送路を模擬的に作り出す試験装置について説明したが、試験対象の信号系列数は3×3に限定されない。本発明は、N×Mの信号系列のMIMO伝送路の試験に適用できる。   In the above-described embodiment, a test apparatus that simulates a 3 × 3 MIMO transmission path has been described, but the number of signal sequences to be tested is not limited to 3 × 3. The present invention can be applied to a test of a MIMO transmission line of an N × M signal sequence.

本発明によれば、実環境で起こり得る環境の変化を擬似的に作り出すことができる効果を有し、MIMO伝送方式が実装された無線機器の接続試験に適用するのに有用である。特に、本発明の試験装置は、携帯電話や無線LANなどの移動通信システムの無線機器に対する性能評価や、アンテナダイバーシチ方式が実装された移動通信システムの無線機器やテレビ放送の受信機の性能評価に適している。   According to the present invention, there is an effect that it is possible to artificially create a change in the environment that can occur in an actual environment, and it is useful for application to a connection test of a wireless device in which the MIMO transmission method is implemented. In particular, the test apparatus of the present invention is used to evaluate the performance of a mobile communication system such as a mobile phone or a wireless LAN, and the performance of a mobile communication system that implements the antenna diversity method or a television broadcast receiver. Is suitable.

第1の実施の形態のMIMO試験装置の構成を示す図The figure which shows the structure of the MIMO test apparatus of 1st Embodiment. 実施の形態のMIMO試験装置を用いて無線LAN機器の接続試験を実施する場合の試験環境の例を示す図The figure which shows the example of the test environment in the case of implementing the connection test of a wireless LAN apparatus using the MIMO test apparatus of embodiment 第1の実施の形態のMIMO伝送路を模擬した試験行列の固有値特性を示す図The figure which shows the eigenvalue characteristic of the test matrix which simulated the MIMO transmission line of 1st Embodiment (a)第1の実施の形態のMIMO試験の試験環境を機能的に示す図(b)第1の実施の形態のMIMO試験の試験環境と等価な試験環境を機能的に示す図(A) Functionally showing a test environment of the MIMO test of the first embodiment (b) Functionally showing a test environment equivalent to the test environment of the MIMO test of the first embodiment 第2の実施の形態のMIMO試験装置の構成を示す図The figure which shows the structure of the MIMO test apparatus of 2nd Embodiment. 第2の実施の形態のMIMO伝送路を模擬した試験行列の固有値特性を示す図The figure which shows the eigenvalue characteristic of the test matrix which simulated the MIMO transmission line of 2nd Embodiment 第3の実施の形態のMIMO試験装置の回路構成を示す図The figure which shows the circuit structure of the MIMO test apparatus of 3rd Embodiment. 第4の実施の形態のMIMO試験装置の回路構成を示す図The figure which shows the circuit structure of the MIMO test apparatus of 4th Embodiment. 第4の実施の形態のMIMO試験装置の回路構成を示す図The figure which shows the circuit structure of the MIMO test apparatus of 4th Embodiment. 第4の実施の形態のMIMO試験装置の回路構成を示す図The figure which shows the circuit structure of the MIMO test apparatus of 4th Embodiment. 第4の実施の形態のMIMO試験装置の外観を示す図The figure which shows the external appearance of the MIMO test apparatus of 4th Embodiment 第5の実施の形態に係るMIMO試験装置の回路構成を示す図The figure which shows the circuit structure of the MIMO test apparatus which concerns on 5th Embodiment. 第5の実施の形態のMIMO伝送路を模擬した試験行列の固有値特性を示す図The figure which shows the eigenvalue characteristic of the test matrix which simulated the MIMO transmission line of 5th Embodiment 従来の試験方法を示すブロック図Block diagram showing a conventional test method

符号の説明Explanation of symbols

1〜5 MIMO試験装置
11a〜11c 入力端子
12a〜12c 出力端子
13a〜13c 3分配器
14a〜14c 3合成器
15a〜15c 移相器
16a〜16c 可変アッテネータ
17a〜17c 2分配器
18a〜18c 2合成器
19 移相器
20 AP
21a〜21c アンテナ端子
22 シールドケース
23 PC
24 STA
25a〜25c アンテナ端子
26 PC
27 シールドケース
28a〜28c 可変アッテネータ
30 MIMO送信部
31 試験行列演算部
32 減衰係数演算部
33 MIMO受信部
40 WLCP
41 DUT
42 合成器
43 可変アッテネータ
44 分配器
45、46 可変アッテネータ
1-5 MIMO test apparatus 11a-11c Input terminals 12a-12c Output terminals 13a-13c 3 distributors 14a-14c 3 combiners 15a-15c Phase shifters 16a-16c Variable attenuators 17a-17c 2 distributors 18a-18c 2 combiners 19 Phase shifter 20 AP
21a-21c Antenna terminal 22 Shield case 23 PC
24 STA
25a to 25c antenna terminal 26 PC
27 Shield Cases 28a to 28c Variable Attenuator 30 MIMO Transmitting Unit 31 Test Matrix Calculation Unit 32 Attenuation Coefficient Calculation Unit 33 MIMO Reception Unit 40 WLCP
41 DUT
42 Synthesizer 43 Variable attenuator 44 Distributor 45, 46 Variable attenuator

Claims (8)

送信機が有する複数のアンテナ端子に接続される複数の入力端子と、
受信機が有する複数のアンテナ端子に接続される複数の出力端子と、
前記入力端子に接続され、前記入力端子から入力される信号を複数の信号に分配する分配器と、
複数の前記分配器にて分配された信号を合成し、合成された信号を前記出力端子に入力する合成器と、
前記分配器から前記合成器への経路上に設けられ、試験周波数帯における当該経路の通過特性を変えるデバイスと、
を備えた試験装置。
A plurality of input terminals connected to a plurality of antenna terminals of the transmitter;
A plurality of output terminals connected to a plurality of antenna terminals of the receiver;
A distributor connected to the input terminal and distributing a signal input from the input terminal into a plurality of signals;
A combiner that combines the signals distributed by the plurality of distributors and inputs the combined signal to the output terminal;
A device that is provided on a path from the distributor to the combiner and changes a passage characteristic of the path in a test frequency band;
Test equipment with
前記経路の通過特性を変えるデバイスは、前記分配器にて分配された複数の経路のうちの一の経路に設けられる請求項1に記載の試験装置。   The test apparatus according to claim 1, wherein the device that changes the passage characteristic of the path is provided in one of a plurality of paths distributed by the distributor. 前記経路の通過特性を変えるデバイスは、移相器または可変アッテネータである請求項1または2に記載の試験装置。   The test apparatus according to claim 1, wherein the device that changes the passage characteristic of the path is a phase shifter or a variable attenuator. 前記分配器は、前記入力端子から入力される信号を前記合成器と同数の信号に分配し、分配した信号を前記複数の合成器のそれぞれに入力し、
前記合成器は、前記分配器と同数の信号を合成する請求項1〜3のいずれかに記載の試験装置。
The distributor distributes the signal input from the input terminal to the same number of signals as the combiner, and inputs the distributed signal to each of the plurality of combiners,
The test apparatus according to claim 1, wherein the combiner combines the same number of signals as the distributor.
送信機のアンテナ端子に接続される3つの入力端子と、
受信機のアンテナ端子に接続される3つの出力端子と、
前記入力端子のそれぞれに接続され、前記入力端子から入力される信号を3つの信号に分配する第1の分配器、第2の分配器および第3の分配器と、
前記出力端子のそれぞれに接続され、前記第1の分配器、第2の分配器および第3の分配器から入力される信号を合成し、合成された信号を前記出力端子に入力する第1の合成器、第2の合成器および第3の合成器と、
前記第1の分配器と第1の合成器との経路上に設けられた第1の移相器と、
前記第2の分配器と第2の合成器との経路上に設けられた第2の移相器と、
前記第3の分配器と第3の合成器との経路上に設けられた第3の移相器と、
を備えた試験装置。
Three input terminals connected to the antenna terminal of the transmitter;
Three output terminals connected to the antenna terminal of the receiver;
A first distributor, a second distributor, and a third distributor that are connected to each of the input terminals and distribute a signal input from the input terminal into three signals;
A first signal is connected to each of the output terminals, synthesizes signals input from the first distributor, the second distributor, and the third distributor, and inputs the combined signal to the output terminal. A combiner, a second combiner and a third combiner;
A first phase shifter provided on a path between the first distributor and the first combiner;
A second phase shifter provided on a path between the second distributor and the second combiner;
A third phase shifter provided on the path between the third distributor and the third combiner;
Test equipment with
送信機のアンテナ端子に接続される3つの入力端子と、
受信機のアンテナ端子に接続される3つの出力端子と、
前記入力端子のそれぞれに接続され、前記入力端子から入力される信号を3つの信号に分配する第1の分配器、第2の分配器および第3の分配器と、
前記出力端子のそれぞれに接続され、前記第1の分配器、第2の分配器および第3の分配器から入力される信号を合成し、合成された信号を前記出力端子に入力する第1の合成器、第2の合成器および第3の合成器と、
前記第1の分配器と第1の合成器との経路上に設けられた第1の可変アッテネータと、
前記第2の分配器と第2の合成器との経路上に設けられた第2の可変アッテネータと、
前記第3の分配器と第3の合成器との経路上に設けられた第3の可変アッテネータと、
を備えた試験装置。
Three input terminals connected to the antenna terminal of the transmitter;
Three output terminals connected to the antenna terminal of the receiver;
A first distributor, a second distributor, and a third distributor that are connected to each of the input terminals and distribute a signal input from the input terminal into three signals;
A first signal is connected to each of the output terminals, synthesizes signals input from the first distributor, the second distributor, and the third distributor, and inputs the combined signal to the output terminal. A combiner, a second combiner and a third combiner;
A first variable attenuator provided on a path between the first distributor and the first combiner;
A second variable attenuator provided on a path between the second distributor and the second combiner;
A third variable attenuator provided on a path between the third distributor and the third combiner;
Test equipment with
送信機のアンテナ端子に接続される3つの入力端子と、
受信機のアンテナ端子に接続される3つの出力端子と、
前記入力端子のそれぞれに接続され、前記入力端子から入力される信号を2つの信号に分配する第1の分配器、第2の分配器および第3の分配器と、
前記出力端子のそれぞれに接続された第1の合成器、第2の合成器および第3の合成器とを備え、
前記第1の分配器は、前記第2の合成器および前記第3の合成器に接続され、前記第2の分配器は、前記第1の合成器および前記第3の合成器に接続され、前記第3の分配器は、前記第1の合成器および前記第2の合成器に接続された試験装置。
Three input terminals connected to the antenna terminal of the transmitter;
Three output terminals connected to the antenna terminal of the receiver;
A first distributor, a second distributor, and a third distributor that are connected to each of the input terminals and distribute a signal input from the input terminal into two signals;
A first combiner, a second combiner, and a third combiner connected to each of the output terminals;
The first distributor is connected to the second synthesizer and the third synthesizer; the second distributor is connected to the first synthesizer and the third synthesizer; The third distributor is a test apparatus connected to the first combiner and the second combiner.
請求項7に記載の試験装置を複数段にカスケード接続して構成される試験装置。   A test apparatus configured by cascading the test apparatus according to claim 7 in a plurality of stages.
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