JP2008239690A - Process for producing coating type interlaminar insulation film-forming composition, coating type interlaminar insulation film-forming composition and electronic device - Google Patents

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JP2008239690A JP2007079149A JP2007079149A JP2008239690A JP 2008239690 A JP2008239690 A JP 2008239690A JP 2007079149 A JP2007079149 A JP 2007079149A JP 2007079149 A JP2007079149 A JP 2007079149A JP 2008239690 A JP2008239690 A JP 2008239690A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a process for producing a coating type interlaminar insulation film-forming composition which has sufficient mechanical strength, excels in the leak current and the breakdown voltage of an insulation film, by extreme reduction of the amount of a metallic impurity component, and simultaneously excels in stability with time. <P>SOLUTION: The process for producing a coating type interlaminar insulation film-forming composition comprises a step of filtration with a porous polyolefin filtering material in which a structure having at least one kind of an ion-exchange group is grafted, and the coating type interlaminar insulation film-forming composition comprises a polymeric compound having a repeating unit containing a cage structure. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は電子デバイスなどに用いられる誘電率、機械強度、耐熱性等の膜特性が良好な絶縁膜形成用組成物の製造方法に関し、さらには当該製造方法より製造される塗布型絶縁膜形成用組成物、該組成物を用いて得られる絶縁膜を有する電子デバイスに関する。   The present invention relates to a method for producing a composition for forming an insulating film having good film properties such as dielectric constant, mechanical strength, heat resistance and the like used for electronic devices, and further for forming a coating type insulating film produced by the manufacturing method. The present invention relates to a composition and an electronic device having an insulating film obtained by using the composition.

近年、電子材料分野においては、高集積化、多機能化、高性能化の進行に伴い、回路抵抗や配線間のコンデンサー容量が増大し、消費電力や遅延時間の増大を招いている。中でも、遅延時間の増大は、デバイスの信号スピードの低下やクロストークの発生の大きな要因となるため、この遅延時間を減少させてデバイスの高速化を図るべく、寄生抵抗や寄生容量の低減が求められている。この寄生容量を低減するための具体策の一つとして、配線の周辺を低誘電性の層間絶縁膜で被覆することが試みられている。また、層間絶縁膜には実装基板製造時の薄膜形成工程やチップ接続、ピン付け等の後工程に耐え得る優れた耐熱性やウェットプロセスに耐え得る耐薬品性が求められている。さらに、近年はAl配線から低抵抗のCu配線が導入されつつあり、これに伴い、CMP(ケミカルメカニカルポリッシング)による平坦化が一般的となっており、このプロセスに耐え得る高い機械的強度が求められている。   In recent years, in the field of electronic materials, with the progress of higher integration, more functions, and higher performance, circuit resistance and capacitor capacity between wirings have increased, leading to an increase in power consumption and delay time. In particular, an increase in delay time is a major factor in reducing the signal speed of the device and the occurrence of crosstalk. Therefore, in order to reduce the delay time and speed up the device, it is necessary to reduce parasitic resistance and parasitic capacitance. It has been. As a specific measure for reducing this parasitic capacitance, an attempt has been made to cover the periphery of the wiring with a low dielectric interlayer insulating film. In addition, the interlayer insulating film is required to have excellent heat resistance that can withstand subsequent steps such as a thin film formation process, chip connection, and pinning during manufacturing of a mounting substrate, and chemical resistance that can withstand a wet process. Furthermore, in recent years, low resistance Cu wiring has been introduced from Al wiring, and along with this, planarization by CMP (Chemical Mechanical Polishing) has become common, and high mechanical strength that can withstand this process is required. It has been.

一方、電子デバイスの配線周辺に使用される層間絶縁膜は上述のような誘電率低減や機械強度向上が求められるのみならず、絶縁膜として最も基本的な電気絶縁性が充分確保される必要があり、そのためには絶縁膜形成用組成物中の金属不純物の含有量を著しく低いレベルに抑制することが求められている。
絶縁膜形成用組成物中の金属不純物を除去・低減する方法としては、(1)特許文献1等に記載されているビーズ状のイオン交換樹脂を用いる方法、(2)特許文献2、特許文献3に記載されているゼータ電位が作用する濾材によって金属及び金属イオンを吸着させる方法が知られている。しかしながら、これらの技術において絶縁膜形成用組成物から金属不純物を除去する能力、また処理された塗布液の経時安定性の点で更に改善する余地があった。
On the other hand, the interlayer insulating film used around the wiring of electronic devices is required not only to reduce the dielectric constant and improve the mechanical strength as described above, but also to ensure the most basic electrical insulation as the insulating film. For this reason, it is required to suppress the content of metal impurities in the composition for forming an insulating film to a remarkably low level.
As a method for removing and reducing metal impurities in the composition for forming an insulating film, (1) a method using a bead-shaped ion exchange resin described in Patent Document 1, etc., (2) Patent Document 2, and Patent Document A method of adsorbing metals and metal ions with a filter medium on which a zeta potential acts as described in No. 3 is known. However, these techniques have room for further improvement in terms of the ability to remove metal impurities from the composition for forming an insulating film and the stability over time of the treated coating solution.

特開2006−291160号公報JP 2006-291160 A 特開2001−89661号公報JP 2001-89661 A 特開2001−354775号公報JP 2001-354775 A

本発明の目的は、上記の様な絶縁膜形成用材料に対する問題点に鑑み、金属不純物成分が極めて低減されることにより、絶縁膜のリーク電流やブレークダウン電圧に優れており、なおかつその経時安定性に優れた塗布型層間絶縁膜形成用組成物の製造方法を提供することにある。   The object of the present invention is to solve the problems with the insulating film forming material as described above, because the metal impurity component is extremely reduced, so that the leakage current and breakdown voltage of the insulating film are excellent and stable over time. An object of the present invention is to provide a method for producing a composition for forming a coating type interlayer insulating film having excellent properties.

本発明の上記目的は、下記の手段により達成されることを見出した。
(1)少なくとも一種のイオン交換基を有する構造体がグラフトされている多孔質ポリオレフィン濾材で濾過される工程を含む塗布型絶縁膜形成用組成物の製造方法。
(2)(A)高分子化合物、(B)有機溶剤からなる塗布型絶縁膜組成物であって、少なくとも一種のイオン交換基を有する構造体がグラフトされている多孔質ポリオレフィン濾材による濾過が行われていることを特徴とする塗布型絶縁膜形成用組成物。
(3)前記高分子化合物(A)が少なくとも一種の有機ポリマーを含む前記(2)に記載の塗布型絶縁膜形成用組成物。
(4)前記高分子化合物(A)がカゴ型構造を含む繰り返し単位を有するを少なくとも1種含有する前記(2)または(3)に記載の塗布型絶縁膜形成用組成物。
(5)前記高分子化合物(A)が重合可能な炭素−炭素二重結合または炭素−炭素三重結合を有するカゴ型構造含有モノマーの重合体であることを特徴とする前記(4)に記載の塗布型絶縁膜形成用組成物。
(6)前記カゴ型構造がアダマンタン、ビアダマンタン、ジアマンタン、トリアマンタン、テトラマンタンから選択されることを特徴とする前記(4)または(5)に記載の塗布型絶縁膜形成用組成物。
It has been found that the above object of the present invention can be achieved by the following means.
(1) A method for producing a coating-type insulating film-forming composition comprising a step of filtering with a porous polyolefin filter medium grafted with a structure having at least one ion exchange group.
(2) A coating type insulating film composition comprising (A) a polymer compound and (B) an organic solvent, which is filtered with a porous polyolefin filter medium grafted with a structure having at least one ion exchange group. A composition for forming a coating type insulating film, which is characterized in that:
(3) The composition for forming a coating type insulating film according to (2), wherein the polymer compound (A) contains at least one organic polymer.
(4) The coating insulating film forming composition as described in (2) or (3) above, wherein the polymer compound (A) contains at least one repeating unit having a cage structure.
(5) The polymer compound (A) is a polymer of a cage structure-containing monomer having a polymerizable carbon-carbon double bond or carbon-carbon triple bond. A composition for forming a coating type insulating film.
(6) The composition for forming a coating-type insulating film according to (4) or (5), wherein the cage structure is selected from adamantane, biadamantane, diamantane, triamantane, and tetramantane.

(7)前記カゴ型構造を有するモノマーが下記式(I)〜(VI)の群から選択されることを特徴とする前記(6)に記載の塗布型絶縁膜形成用組成物。 (7) The composition for forming a coating type insulating film as described in (6) above, wherein the monomer having a cage structure is selected from the group of the following formulas (I) to (VI).

Figure 2008239690
Figure 2008239690

式(I)〜(VI)中、X〜Xは水素原子、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数2〜10のアルケニル基、炭素数2〜10のアルキニル基、炭素数6〜20のアリール基、炭素数0〜20のシリル基、炭素数2〜10のアシル基、炭素数2〜10のアルコキシカルボニル基、炭素数1〜20のカルバモイル基等を表す。
〜Yはハロゲン原子、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基または炭素数0〜20のシリル基を表す。
1、mはそれぞれ独立に1〜16の整数を表し、n1、nは0〜15の整数を表す。
、m、m、mはそれぞれ独立に1〜15の整数を表し、n、n、n、nは0〜14の整数を表す。
、mはそれぞれ独立に1〜20の整数を表し、n、nは0〜19の整数を表す。
In formulas (I) to (VI), X 1 to X 8 are a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms, an alkynyl group having 2 to 10 carbon atoms, or 6 to 6 carbon atoms. 20 aryl groups, silyl groups having 0 to 20 carbon atoms, acyl groups having 2 to 10 carbon atoms, alkoxycarbonyl groups having 2 to 10 carbon atoms, carbamoyl groups having 1 to 20 carbon atoms, and the like.
Y 1 to Y 8 represent a halogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an aryl group having 6 to 20 carbon atoms, or a silyl group having 0 to 20 carbon atoms.
m 1 and m 5 each independently represents an integer of 1 to 16, and n 1 and n 5 each represents an integer of 0 to 15.
m 2 , m 3 , m 6 and m 7 each independently represent an integer of 1 to 15, and n 2 , n 3 , n 6 and n 7 represent an integer of 0 to 14.
m 4 and m 8 each independently represents an integer of 1 to 20, and n 4 and n 8 each represents an integer of 0 to 19.

(8)m個のRSi(O0.5)3ユニット(mは8〜16の整数を表す。Rはそれぞれ独立して非加水分解性基を表すが、少なくとも2つはビニル基またはエチニル基を含む基を示す)が、その酸素原子を共有しながら他のRSi(O0.5)3ユニットと連結して前記カゴ型構造を形成していることを特徴とする前記(4)に記載の塗布型絶縁膜形成用組成物。 (8) m RSi (O 0.5 ) 3 units (m represents an integer of 8 to 16. Each R independently represents a non-hydrolyzable group, but at least two of them contain a vinyl group or an ethynyl group. Wherein the cage structure is formed by linking with other RSi (O 0.5 ) 3 units while sharing the oxygen atom. Film forming composition.

(9)前記カゴ型構造を有するモノマーが下記式(Q-1)〜(Q-6)の群から選択されることを特徴とする前記(8)に記載の塗布型絶縁膜形成用組成物。 (9) The coating insulating film forming composition as described in (8) above, wherein the monomer having a cage structure is selected from the group of the following formulas (Q-1) to (Q-6): .

Figure 2008239690
Figure 2008239690

Figure 2008239690
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(上記一般式中、Rはそれぞれ独立して非加水分解性基を表す。ただし、少なくとも2つはビニル基またはエチニル基を含む基を示す)   (In the above general formula, each R independently represents a non-hydrolyzable group, provided that at least two are groups containing a vinyl group or an ethynyl group)

(10)前記(2)〜(9)のいずれかに記載の塗布型層間絶縁膜形成用組成物より形成される絶縁膜を有する電子デバイス。 (10) An electronic device having an insulating film formed from the composition for forming a coating type interlayer insulating film according to any one of (2) to (9).

本発明の塗布型層間絶縁膜形成用組成物の製造方法は、少なくとも一種のイオン交換基を有する構造体がグラフトされている多孔質ポリオレフィン膜で濾過される工程を有し、該工程を経た組成物は、アルカリ金属、重金属の含有濃度が非常に低いため、形成した絶縁膜は、充分な機械強度とともに、誘電率、機械強度等の膜特性が良好であり、特に耐熱性に優れ、電子デバイスなどにおける層間絶縁膜として好適に利用できる。
また、単に金属除去能に優れるのみならず、塗布液の経時安定性を良化させる効果を得ることができ、塗布液を経時させた場合にも、その塗布欠陥数が少ない状態で維持される。
The method for producing a coating-type interlayer insulating film forming composition of the present invention has a step of filtering with a porous polyolefin membrane grafted with a structure having at least one ion-exchange group, and the composition having undergone the step Since the content of alkali metals and heavy metals is very low, the formed insulating film has good mechanical strength, film properties such as dielectric constant and mechanical strength, especially excellent heat resistance, electronic device It can be suitably used as an interlayer insulating film.
Moreover, not only is it excellent in metal removal ability, but also the effect of improving the aging stability of the coating solution can be obtained, and even when the coating solution is aged, the number of coating defects is kept small. .

以下、本発明を詳細に説明する。
本発明の塗布型層間絶縁膜形成用組成物の製造方法に用いられる、少なくとも一種のイオン交換基を有する構造体がグラフトされている多孔質ポリオレフィン濾材(以下、「イオン交換性多孔質濾材」とも呼ぶ)は、材質がポリオレフィンである多孔質濾材に、少なくとも1種のイオン交換基を有する化合物をグラフト重合によって化学結合させた濾材を指す。当該濾材は、ポリオレフィンを主鎖とするポリマー側鎖にイオン交換基が櫛状にぶら下がった化学構造となっているものである。このような濾材としては、例えば特表2001-515113号公報、特開2003-251118号公報等に記載の濾材を使用することができる。
従来、塗布型層間絶縁膜形成用組成物に含まれる金属不純物を除去する方法としては特開2006-291160号公報等に記載されているビーズ状のイオン交換樹脂を用いる方法が最も一般的である。
しかしながら、ビーズ状のイオン交換樹脂は、その金属吸着サイトとなるイオン交換基・キレート基の殆どが樹脂ビーズの細孔内に存在するため、濾液がイオン交換基・キレート基へ効果的に接触することができにくく、また濾過時の液流量(濾過速度)によって金属除去能力が大きく左右されることがあり、安定的に組成物中の金属不純物を除去することが難しかった。
Hereinafter, the present invention will be described in detail.
A porous polyolefin filter medium (hereinafter referred to as “ion-exchangeable porous filter medium”) grafted with a structure having at least one ion-exchange group, which is used in the method for producing a coating type interlayer insulating film forming composition of the present invention. Refers to a filter medium obtained by chemically bonding a compound having at least one ion exchange group to a porous filter medium made of polyolefin by graft polymerization. The filter medium has a chemical structure in which ion exchange groups are suspended in a comb shape on a polymer side chain having a polyolefin as a main chain. As such a filter medium, for example, filter media described in JP-T-2001-515113, JP-A-2003-251118, and the like can be used.
Conventionally, as a method for removing metal impurities contained in a coating type interlayer insulating film forming composition, a method using a bead-shaped ion exchange resin described in JP-A-2006-291160 is the most common. .
However, in the bead-shaped ion exchange resin, most of the ion exchange groups and chelate groups serving as the metal adsorption sites exist in the pores of the resin beads, so that the filtrate effectively contacts the ion exchange groups and chelate groups. In addition, the metal removal ability may be greatly affected by the liquid flow rate (filtration rate) during filtration, and it has been difficult to stably remove metal impurities in the composition.

本発明の組成物製造方法に使用されるイオン交換性多孔質濾材では、その孔の内壁にイオン交換基が露出しており、その濾過過程において濾液そのものが孔内を通過するため、濾材が担持するほぼ全てのイオン交換基に濾液が接液可能であり、その金属補足能が極めて大きい。
また、このようなイオン交換性多孔質濾材を層間絶縁膜形成用組成物の濾過工程に適用すると、単に金属除去能に優れるのみならず、塗布液の経時安定性を良化させる効果を得ることができる。具体的には塗布液を経時させた場合にも、その塗布欠陥数が少ない状態で維持される。
本発明の組成物製造方法に用いられるイオン交換性多孔質濾材の形態は特に限定されないが、膜状・繊維状の何れかであることが好ましく、より好ましくは膜状である。
In the ion-exchangeable porous filter medium used in the composition production method of the present invention, the ion-exchange groups are exposed on the inner walls of the pores, and the filtrate itself passes through the pores during the filtration process. The filtrate can come into contact with almost all ion exchange groups, and its metal-capturing ability is extremely large.
In addition, when such an ion-exchangeable porous filter medium is applied to the filtration step of the composition for forming an interlayer insulating film, not only is it excellent in metal removing ability, but also the effect of improving the temporal stability of the coating solution can be obtained. Can do. Specifically, even when the coating solution is aged, the number of coating defects is maintained in a small state.
The form of the ion-exchangeable porous filter medium used in the method for producing a composition of the present invention is not particularly limited, but is preferably in the form of a membrane or a fiber, more preferably a membrane.

本発明の組成物製造方法に用いられるイオン交換性多孔質濾材の材質はポリオレフィンであれば特に限定されないが、ポリエチレン、ポリテトラフルオロエチレン、ポリフッ化ビニリデンの何れかが好ましく、より好ましくはポリエチレン、最も好ましくはその重量平均分子量が1,000,000以上の超高分子量ポリエチレンである。
本発明の組成物製造方法に用いられるイオン交換性多孔質濾材において、その孔径は特に限定されないが、好ましくは0.01〜1000μm、より好ましくは0.1〜50μmである。
本発明の組成物製造方法においては、上述のようなイオン交換性多孔質濾材による濾過工程が少なくとも1回行われていれば特に限定されないが、必要に応じて従来から使用されているビーズ状のイオン交換樹脂のカラム通液による金属除去工程、あるいは特開2004-73294号公報に記載されているようなイオン交換樹脂のパウダー・ビーズが分散された多孔質濾材による濾過工程、ゼータ電位が作用する濾材による濾過工程と組合せて使用する事が可能である。
また、本発明の組成物製造方法の特徴であるイオン交換性多孔質濾材による濾過では、組成物に含まれる異物・パーティクルを充分なレベルまで除去することはできないため、孔径が細かいパーティクル除去用フィルターを併用することが好ましい。具体的には孔径0.001〜0.1μm、材質がPTFE,PE,PP,ナイロン製のパーティクル除去フィルターを組合せて使用することが好ましい。
The material of the ion-exchangeable porous filter medium used in the composition production method of the present invention is not particularly limited as long as it is a polyolefin, but is preferably polyethylene, polytetrafluoroethylene, or polyvinylidene fluoride, more preferably polyethylene, most preferably Preferably, it is an ultra high molecular weight polyethylene having a weight average molecular weight of 1,000,000 or more.
In the ion-exchangeable porous filter medium used in the composition production method of the present invention, the pore diameter is not particularly limited, but is preferably 0.01 to 1000 μm, more preferably 0.1 to 50 μm.
In the method for producing the composition of the present invention, there is no particular limitation as long as the filtration step using the ion-exchangeable porous filter material as described above is performed at least once. Metal removal step by passing ion exchange resin through column, or filtration step by porous filter medium in which powder beads of ion exchange resin are dispersed as described in JP-A-2004-73294, zeta potential acts It can be used in combination with a filtration step using a filter medium.
In addition, the filtration with an ion-exchangeable porous filter medium, which is a feature of the composition production method of the present invention, cannot remove foreign matter / particles contained in the composition to a sufficient level. It is preferable to use together. Specifically, it is preferable to use a particle removal filter having a pore diameter of 0.001 to 0.1 μm and a material made of PTFE, PE, PP, nylon.

以下に本発明における塗布型層間絶縁膜形成用組成物について詳細に説明するが、本発明がこれらに限定されることを示すものではない。
(A)高分子化合物
Hereinafter, the composition for forming a coating type interlayer insulating film in the present invention will be described in detail, but the present invention is not limited to these.
(A) Polymer compound

本発明における塗布型層間絶縁膜形成用組成物は少なくとも1種以上の高分子化合物を含有することが好ましい。この時、使用可能な高分子化合物は低誘電率で高機械的強度な膜を形成し得るものであれば特に限定されないが、有機ポリマーであることが好ましい。ここで、有機ポリマーとはそのポリマー主鎖を構成する元素がC,O,Nだけで構成されている重合体を指す。また、本発明にて、使用可能な高分子化合物は「カゴ型構造」を有する繰り返し単位を少なくとも1種有するものであることが好ましい。   The composition for forming a coating type interlayer insulating film in the present invention preferably contains at least one polymer compound. At this time, the usable polymer compound is not particularly limited as long as it can form a film having a low dielectric constant and a high mechanical strength, but is preferably an organic polymer. Here, the organic polymer refers to a polymer in which the elements constituting the polymer main chain are composed only of C, O, and N. In the present invention, the usable polymer compound preferably has at least one repeating unit having a “cage-type structure”.

本発明における「カゴ型構造」とは、共有結合した原子で形成された複数の環によって容積が定まり、容積内に位置する点は環を通過せずには容積から離れることができないような分子を指す。例えば、アダマンタン構造はカゴ型構造と考えられる。対照的にノルボルナン(ビシクロ[2,2,1]ヘプタン)などの単一架橋を有する環状構造は、単一架橋した環状化合物の環が容積を定めないことから、カゴ型構造とは考えられない。   The “cage structure” in the present invention is a molecule whose volume is determined by a plurality of rings formed by covalently bonded atoms, and a point located within the volume cannot leave the volume without passing through the ring. Point to. For example, an adamantane structure is considered a cage structure. In contrast, a cyclic structure having a single bridge such as norbornane (bicyclo [2,2,1] heptane) is not considered a cage structure because the ring of a single bridged cyclic compound does not define volume. .

本発明におけるカゴ型構造として好ましいものとして、アダマンタン、ビアダマンタン、ジアマンタン、トリアマンタン、テトラマンタン、ドデカヘドラン等の脂環炭化水素構造(以下、「カゴ型構造(a)」と呼ぶ)、もしくはm個のRSi(O0.5)3ユニット(mは8〜16の整数を表す。Rはそれぞれ独立して非加水分解性基を表すが、少なくとも2つはビニル基またはエチニル基を含む基を示す)が、その酸素原子を共有しながら他のRSi(O0.5)3ユニットと連結して形成される構造(以下、「カゴ型構造(b)」と呼ぶ。)を挙げることができる。 Preferred examples of the cage structure in the present invention include alicyclic hydrocarbon structures such as adamantane, biadamantane, diamantane, triamantane, tetramantane, and dodecahedrane (hereinafter referred to as “cage structure (a)”), or m RSi (O 0.5 ) 3 units (wherein m represents an integer of 8 to 16. Each R independently represents a non-hydrolyzable group, but at least two represent a group containing a vinyl group or an ethynyl group). And a structure formed by linking with other RSi (O 0.5 ) 3 units while sharing the oxygen atom (hereinafter referred to as “cage structure (b)”).

カゴ型構造(a)としてはアダマンタン、ビアダマンタン、ジアマンタン、トリアマンタン、テトラマンタン、ドデカヘドランが挙げられ、より好ましくはアダマンタン、ビアダマンタン、ジアマンタンであり、低誘電率である点で特にビアダマンタン、ジアマンタンが好ましい。   Examples of the cage structure (a) include adamantane, biadamantane, diamantane, triamantane, tetramantane, and dodecahedran, and more preferably adamantane, biadamantane, and diamantane. Is preferred.

本発明におけるカゴ型構造(a)は1つ以上の置換基を有していても良く、置換基の例としては、ハロゲン原子(フッ素原子、クロル原子、臭素原子、または沃素原子)、炭素数1〜10の直鎖、分岐、環状のアルキル基(メチル、t−ブチル、シクロペンチル、シクロヘキシル等)、炭素数2〜10のアルケニル基(ビニル、プロペニル等)、炭素数2〜10のアルキニル基(エチニル、フェニルエチニル等)、炭素数6〜20のアリール基(フェニル、1−ナフチル、2−ナフチル等)、炭素数2〜10のアシル基(ベンゾイル等)、炭素数2〜10のアルコキシカルボニル基(メトキシカルボニル等)、炭素数1〜10のカルバモイル基(N,N−ジエチルカルバモイル等)、炭素数6〜20のアリールオキシ基(フェノキシ等)、炭素数6〜20のアリールスルホニル基(フェニルスルホニル等)、ニトロ基、シアノ基、シリル基(トリエトキシシリル、メチルジエトキシシリル、トリビニルシリル等)等である。   The cage structure (a) in the present invention may have one or more substituents. Examples of the substituent include a halogen atom (fluorine atom, chloro atom, bromine atom, or iodine atom), carbon number 1-10 linear, branched and cyclic alkyl groups (methyl, t-butyl, cyclopentyl, cyclohexyl, etc.), alkenyl groups having 2-10 carbon atoms (vinyl, propenyl, etc.), alkynyl groups having 2-10 carbon atoms ( Ethynyl, phenylethynyl, etc.), C6-C20 aryl groups (phenyl, 1-naphthyl, 2-naphthyl, etc.), C2-C10 acyl groups (benzoyl, etc.), C2-C10 alkoxycarbonyl groups (Methoxycarbonyl, etc.), C 1-10 carbamoyl group (N, N-diethylcarbamoyl, etc.), C 6-20 aryloxy group (phenoxy, etc.), carbon number 20 arylsulfonyl group (phenylsulfonyl, etc.), a nitro group, a cyano group, a silyl group (triethoxysilyl, methyldiethoxysilyl, trivinylsilyl or the like) and the like.

カゴ型構造(a)を有するモノマーの重合反応はモノマーに置換した重合性基によって起こる。ここで重合性基とは、モノマーを重合せしめる反応性の置換基を指す。該重合反応としてはどのような重合反応でも良いが、例えばラジカル重合、カチオン重合、アニオン重合、開環重合、重縮合、重付加、付加縮合、遷移金属触媒重合等が挙げられる。   The polymerization reaction of the monomer having the cage structure (a) is caused by the polymerizable group substituted for the monomer. Here, the polymerizable group refers to a reactive substituent that polymerizes the monomer. The polymerization reaction may be any polymerization reaction, and examples thereof include radical polymerization, cationic polymerization, anionic polymerization, ring-opening polymerization, polycondensation, polyaddition, addition condensation, and transition metal catalyst polymerization.

本発明におけるカゴ型構造(a)を有するモノマーの重合反応は非金属の重合開始剤の存在下で行うことが好ましい。例えば、重合可能な炭素−炭素二重結合または炭素−炭素三重結合を有するモノマーを、加熱によって炭素ラジカルや酸素ラジカル等の遊離ラジカルを発生して活性を示す重合開始剤存在下で重合することが出来る。
重合開始剤としては有機過酸化物または有機アゾ系化合物が好ましく用いられるが特に有機過酸化物が好ましい。
有機過酸化物としては、日本油脂株式会社より市販されているパーヘキサH等のケトンパーオキサイド類、パーヘキサTMH等のパーオキシケタール類、パーブチルH−69等のハイドロパーオキサイド類、パークミルD、パーブチルC、パーブチルD等のジアルキルパーオキサイド類、ナイパーBW等のジアシルパーオキサイド類、パーブチルZ、パーブチルL等のパーオキシエステル類、パーロイルTCP等のパーオキシジカーボネート等が好ましく用いられる。
有機アゾ系化合物としては和光純薬工業株式会社で市販されているV−30、V−40、V−59、V−60、V−65、V−70等のアゾニトリル化合物類、VA−080、VA−085、VA−086、VF−096、VAm−110、VAm−111等のアゾアミド化合物類、VA−044、VA−061等の環状アゾアミジン化合物類、V−50、VA−057等のアゾアミジン化合物類等が好ましく用いられる。
The polymerization reaction of the monomer having a cage structure (a) in the present invention is preferably performed in the presence of a nonmetallic polymerization initiator. For example, a monomer having a polymerizable carbon-carbon double bond or carbon-carbon triple bond may be polymerized in the presence of a polymerization initiator that exhibits activity by generating free radicals such as carbon radicals and oxygen radicals by heating. I can do it.
As the polymerization initiator, an organic peroxide or an organic azo compound is preferably used, and an organic peroxide is particularly preferable.
Examples of the organic peroxide include ketone peroxides such as perhexa H, peroxyketals such as perhexa TMH, hydroperoxides such as perbutyl H-69, park mill D, perbutyl C, etc. Dialkyl peroxides such as perbutyl D, diacyl peroxides such as niper BW, peroxyesters such as perbutyl Z and perbutyl L, and peroxydicarbonates such as peroyl TCP are preferably used.
As organic azo compounds, azonitrile compounds such as V-30, V-40, V-59, V-60, V-65, and V-70, which are commercially available from Wako Pure Chemical Industries, Ltd., VA-080, Azoamide compounds such as VA-085, VA-086, VF-096, VAm-110 and VAm-111, cyclic azoamidine compounds such as VA-044 and VA-061, and azoamidine compounds such as V-50 and VA-057 Etc. are preferably used.

カゴ型構造(a)を有するモノマーの重合開始剤は1種のみ、または2種以上を混合して用いてもよい。その使用量はモノマー1モルに対して、好ましくは0.001〜2モル、より好ましくは0.01〜1モル、特に好ましくは0.05〜0.5モルである。   The polymerization initiator for the monomer having the cage structure (a) may be used alone or in combination of two or more. The amount used is preferably 0.001 to 2 mol, more preferably 0.01 to 1 mol, and particularly preferably 0.05 to 0.5 mol, with respect to 1 mol of the monomer.

本発明におけるカゴ型構造(a)を有するモノマーの重合反応は遷移金属触媒存在下で行うこともできる。例えば、重合可能な炭素−炭素二重結合または炭素−炭素三重結合を有するモノマーを例えばPd(PPh3)4、Pd(OAc)2等のPd系触媒、Ziegler−Natta触媒、ニッケルアセチルアセトネート等のNi系触媒、WCl等のW系触媒、MoCl等のMo系触媒、TaCl等のTa系触媒、NbCl等のNb系触媒、Rh系触媒、Pt系触媒等を用いて重合することが好ましい。 The polymerization reaction of the monomer having the cage structure (a) in the present invention can also be performed in the presence of a transition metal catalyst. For example, a monomer having a polymerizable carbon-carbon double bond or carbon-carbon triple bond may be a Pd-based catalyst such as Pd (PPh 3 ) 4 , Pd (OAc) 2 , Ziegler-Natta catalyst, nickel acetylacetonate, etc. polymerized using a Ni-based catalyst, W-based catalyst such as WCl 6, Mo-based catalysts such as MoCl 5, Ta catalysts such as TaCl 5, Nb-based catalyst such as NbCl 5, Rh-based catalyst, a Pt-based catalyst and the like It is preferable.

上記の遷移金属触媒は1種のみ、または2種以上を混合して用いてもよい。
上記の遷移金属触媒の使用量はモノマー1モルに対して、好ましくは0.001〜2モル、より好ましくは0.01〜1モル、特に好ましくは0.05〜0.5モルである。
The above transition metal catalysts may be used alone or in combination of two or more.
The amount of the transition metal catalyst used is preferably 0.001 to 2 mol, more preferably 0.01 to 1 mol, and particularly preferably 0.05 to 0.5 mol, with respect to 1 mol of the monomer.

本発明におけるカゴ型構造(a)は高分子化合物(A)中にペンダント基として置換していて良く、高分子化合物(A)の主鎖の一部となっていても良いが、ポリマー主鎖の一部となっている形態がより好ましい。ここで、ポリマー主鎖の一部になっている形態とは、本ポリマーからかご化合物を除去するとポリマー鎖が切断されることを意味する。この形態においては、カゴ型構造(a)は直接単結合するかまたは適当な2価の連結基によって連結される。連結基の例としては例えば、−C(R11)(R12)−、−C(R13)=C(R14)−、−C≡C−、アリーレン基、−CO−、−O−、−SO2−、−N(R15)−、−Si(R16)(R17)−またはこれらを組み合わせた基が挙げられる。ここで、R11〜R17はそれぞれ独立に水素原子、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基またはアリール基を表す。これらの連結基は置換基で置換されていてもよく、例えば前述の置換基が好ましい例として挙げられる。
この中でより好ましい連結基は、−C(R11)(R12)−、−CH=CH−、−C≡C−、アリーレン基、−O−、−Si(R16)(R17)−またはこれらを組み合わせた基であり、特に好ましいものは、低誘電率である見地から−C(R11)(R12)−、−CH=CH−である。
The cage structure (a) in the present invention may be substituted as a pendant group in the polymer compound (A) and may be a part of the main chain of the polymer compound (A). The form which becomes a part of is more preferable. Here, the form which is a part of the polymer main chain means that the polymer chain is cleaved when the cage compound is removed from the polymer. In this form, the cage structure (a) is directly single-bonded or linked by an appropriate divalent linking group. Examples of the linking group include, for example, —C (R 11 ) (R 12 ) —, —C (R 13 ) ═C (R 14 ) —, —C≡C—, arylene group, —CO—, —O—. , —SO 2 —, —N (R 15 ) —, —Si (R 16 ) (R 17 ) —, or a combination thereof. Here, R 11 to R 17 each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group, an alkenyl group, an alkynyl group or an aryl group. These linking groups may be substituted with a substituent, and for example, the above-described substituents are preferable examples.
Among these, more preferred linking groups are —C (R 11 ) (R 12 ) —, —CH═CH—, —C≡C—, arylene group, —O—, —Si (R 16 ) (R 17 ). — Or a combination thereof, and particularly preferred are —C (R 11 ) (R 12 ) — and —CH═CH— from the viewpoint of low dielectric constant.

本発明におけるカゴ型構造(a)を有する高分子化合物(A)の質量平均分子量は好ましくは1000〜500000、より好ましくは2000〜200000、特に好ましくは3000〜100000であることが好ましい。   The mass average molecular weight of the polymer compound (A) having a cage structure (a) in the present invention is preferably 1000 to 500000, more preferably 2000 to 200000, and particularly preferably 3000 to 100000.

本発明におけるカゴ型構造(a)を有する高分子化合物(A)は、重合可能な炭素−炭素二重結合または炭素−炭素三重結合を有するモノマーの重合体であることが好ましい。さらには、下記式(I)〜(VI)で表される化合物の重合体であることがより好ましい。   The polymer compound (A) having a cage structure (a) in the present invention is preferably a polymer of monomers having a polymerizable carbon-carbon double bond or carbon-carbon triple bond. Furthermore, a polymer of a compound represented by the following formulas (I) to (VI) is more preferable.

Figure 2008239690
Figure 2008239690

式(I)〜(VI)中、X〜Xはそれぞれ独立に水素原子、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数2〜10のアルケニル基、炭素数2〜10のアルキニル基、炭素数6〜20のアリール基、炭素数0〜20のシリル基、炭素数2〜10のアシル基、炭素数2〜10のアルコキシカルボニル、炭素数1〜20のカルバモイル基等を表す。このうち、好ましくは水素原子、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基、炭素数0〜20のシリル基、炭素数2〜10のアシル基、炭素数2〜10のアルコキシカルボニル基、炭素数1〜20のカルバモイル基であり、より好ましくは水素原子、炭素数6〜20のアリール基であり、特に好ましくは水素原子である。
〜Yはそれぞれ独立にハロゲン原子(フッ素、塩素、臭素等)、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基または炭素数0〜20のシリル基を表し、より好ましくは置換基を有していても良い炭素数1〜10のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基であり、特に好ましくはアルキル基(メチル基等)である。
〜X、Y〜Yはさらに別の置換基で置換されていてもよい。
In formulas (I) to (VI), X 1 to X 8 are each independently a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms, an alkynyl group having 2 to 10 carbon atoms, or carbon. An aryl group having 6 to 20 carbon atoms, a silyl group having 0 to 20 carbon atoms, an acyl group having 2 to 10 carbon atoms, an alkoxycarbonyl having 2 to 10 carbon atoms, a carbamoyl group having 1 to 20 carbon atoms and the like are represented. Among these, Preferably a hydrogen atom, a C1-C10 alkyl group, a C6-C20 aryl group, a C0-C20 silyl group, a C2-C10 acyl group, C2-C10 An alkoxycarbonyl group and a carbamoyl group having 1 to 20 carbon atoms, more preferably a hydrogen atom and an aryl group having 6 to 20 carbon atoms, and particularly preferably a hydrogen atom.
Y 1 to Y 8 each independently represent a halogen atom (fluorine, chlorine, bromine, etc.), an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an aryl group having 6 to 20 carbon atoms, or a silyl group having 0 to 20 carbon atoms; Preferably they are a C1-C10 alkyl group and C6-C20 aryl group which may have a substituent, Especially preferably, they are an alkyl group (methyl group etc.).
X 1 to X 8 and Y 1 to Y 8 may be further substituted with another substituent.

1、mはそれぞれ独立に1〜16の整数を表し、好ましくは1〜4であり、より好ましくは1〜3であり、特に好ましくは2である。
1、nはそれぞれ独立に0〜15の整数を表し、好ましくは0〜4であり、より好ましくは0または1であり、特に好ましくは0である。
、m、m、mはそれぞれ独立に1〜15の整数を表し、好ましくは1〜4であり、より好ましくは1〜3であり、特に好ましくは2である。
、n、n、nはそれぞれ独立に0〜14の整数を表し、好ましくは0〜4であり、より好ましくは0または1であり、特に好ましくは0である。
、mはそれぞれ独立に1〜20の整数を表し、好ましくは1〜4であり、より好ましくは1〜3であり、特に好ましくは2である。
、nはそれぞれ独立に0〜19の整数を表し、好ましくは0〜4であり、より好ましくは0または1であり、特に好ましくは0である。
m 1 and m 5 each independently represents an integer of 1 to 16, preferably 1 to 4, more preferably 1 to 3, and particularly preferably 2.
n 1 and n 5 each independently represents an integer of 0 to 15, preferably 0 to 4, more preferably 0 or 1, and particularly preferably 0.
m 2 , m 3 , m 6 and m 7 each independently represents an integer of 1 to 15, preferably 1 to 4, more preferably 1 to 3, and particularly preferably 2.
n 2 , n 3 , n 6 and n 7 each independently represents an integer of 0 to 14, preferably 0 to 4, more preferably 0 or 1, particularly preferably 0.
m 4 and m 8 each independently represents an integer of 1 to 20, preferably 1 to 4, more preferably 1 to 3, and particularly preferably 2.
n 4 and n 8 each independently represents an integer of 0 to 19, preferably 0 to 4, more preferably 0 or 1, and particularly preferably 0.

本発明におけるカゴ型構造(a)を有するモノマーは好ましくは上記式(II)、(III)、(V)、(VI)であり、より好ましくは上記式(II)、(III)であり、特に好ましくは上記式(III)で表される化合物である。   The monomer having the cage structure (a) in the present invention is preferably the above formula (II), (III), (V), (VI), more preferably the above formula (II), (III), Particularly preferred is a compound represented by the above formula (III).

本発明におけるカゴ型構造(a)を有する化合物は2つ以上を併用しても良く、また、本発明のカゴ型構造(a)を有するモノマーを2種以上共重合しても良い。   Two or more compounds having the cage structure (a) in the present invention may be used in combination, or two or more monomers having the cage structure (a) of the present invention may be copolymerized.

本発明におけるカゴ型構造(a)を有する高分子化合物(A)は有機溶剤へ十分な溶解性を有することが好ましい。好ましい溶解度は25℃でシクロヘキサノンまたはアニソールに3質量%以上、より好ましくは5質量%以上、特に好ましくは10質量%以上である。   The polymer compound (A) having a cage structure (a) in the present invention preferably has sufficient solubility in an organic solvent. The solubility is preferably 3% by mass or more, more preferably 5% by mass or more, and particularly preferably 10% by mass or more in cyclohexanone or anisole at 25 ° C.

本発明におけるカゴ型構造(a)を有する高分子化合物(A)としては、例えば特開平11−322929号、特開2003−12802号、特開2004−18593号記載のポリベンゾオキサゾール、特開2001−2899号に記載のキノリン樹脂、特表2003−530464号、特表2004−535497号、特表2004−504424号、特表2004−504455号、特表2005−501131号、特表2005−516382号、特表2005−514479号、特表2005−522528号、特開2000−100808号、米国特許6509415号に記載のポリアリール樹脂、特開平11−214382号、特開2001−332542号、特開2003−252982号、特開2003−292878号、特開2004−2787号、特開2004−67877号、特開2004−59444号に記載のポリアダマンタン、特開2003−252992号、特開2004−26850号に記載のポリイミド等が挙げられる。   Examples of the polymer compound (A) having the cage structure (a) in the present invention include polybenzoxazoles described in JP-A Nos. 11-322929, 2003-12802, and 2004-18593, and JP-A-2001. No. 2899, quinoline resin, special table 2003-530464, special table 2004-5354497, special table 2004-504424, special table 2004-504455, special table 2005-501131, special table 2005-516382 JP-A-2005-514479, JP-A-2005-522528, JP-A-2000-100808, US Pat. No. 6,509,415, JP-A-11-214382, JP-A-2001-332542, JP-A-2003 252982, JP2003-292878, JP2 No. 04-2787, JP-2004-67877, poly adamantane described in JP 2004-59444, JP 2003-252992, polyimides and the like described in JP 2004-26850.

以下に本発明で使用できるカゴ型構造(a)を有するモノマーの具体例を記載するが、本発明はこれらに限定はされない。   Specific examples of the monomer having a cage structure (a) that can be used in the present invention are described below, but the present invention is not limited thereto.

Figure 2008239690
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Figure 2008239690
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Figure 2008239690
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重合反応で使用する溶媒は、原料モノマーが必要な濃度で溶解可能であり、かつ得られる重合体から形成する膜の特性に悪影響を与えないものであればどのようなものを使用しても良い。例えば水やメタノール、エタノール、プロパノール等のアルコール系溶剤、アルコールアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、アセトフェノン等のケトン系溶剤、酢酸エチル、酢酸ブチル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、γ−ブチロラクトン、メチルベンゾエート等のエステル系溶剤、ジブチルエーテル、アニソール等のエーテル系溶剤、トルエン、キシレン、メシチレン、1,2,4,5−テトラメチルベンゼン、ペンタメチルベンゼン、イソプロピルベンゼン、1,4−ジイソプロピルベンゼン、t−ブチルベンゼン、1,4−ジ−t−ブチルベンゼン、1,3,5−トリエチルベンゼン、1,3,5−トリ−t−ブチルベンゼン、4−t−ブチル−オルトキシレン、1−メチルナフタレン、1,3,5−トリイソプロピルベンゼン等の芳香族炭化水素系溶剤、N−メチルピロリジノン、ジメチルアセトアミド等のアミド系溶剤、四塩化炭素、ジクロロメタン、クロロホルム、1,2−ジクロロエタン、クロロベンゼン、1,2−ジクロロベンゼン、1,2,4−トリクロロベンゼン等のハロゲン系溶剤、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、シクロヘキサン等の脂肪族炭化水素系溶剤などが利用できる。これらの中でより好ましい溶剤はアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、アセトフェノン、酢酸エチル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、γ−ブチロラクトン、アニソール、テトラヒドロフラン、トルエン、キシレン、メシチレン、1,2,4,5−テトラメチルベンゼン、イソプロピルベンゼン、t−ブチルベンゼン、1,4−ジ−t−ブチルベンゼン、1,3,5−トリ−t−ブチルベンゼン、4−t−ブチル−オルトキシレン、1−メチルナフタレン、1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、1,2−ジクロロエタン、クロロベンゼン、1,2−ジクロロベンゼン、1,2,4−トリクロロベンゼンであり、より好ましくはテトラヒドロフラン、γ−ブチロラクトン、アニソール、トルエン、キシレン、メシチレン、イソプロピルベンゼン、t−ブチルベンゼン、1,3,5−トリ−t−ブチルベンゼン、1−メチルナフタレン、1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、1,2−ジクロロエタン、クロロベンゼン、1,2−ジクロロベンゼン、1,2,4−トリクロロベンゼンであり、特に好ましくはγ−ブチロラクトン、アニソール、メシチレン、t−ブチルベンゼン、1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、1,2−ジクロロベンゼン、1,2,4−トリクロロベンゼンである。これらは単独でも2種以上を混合して用いてもよい。
反応液中のモノマーの濃度は好ましくは1〜50重量%、より好ましくは5〜30重量%、特に好ましくは10〜20重量%である。
As the solvent used in the polymerization reaction, any solvent may be used as long as the raw material monomer can be dissolved at a necessary concentration and does not adversely affect the characteristics of the film formed from the obtained polymer. . For example, alcohol solvents such as water, methanol, ethanol and propanol, alcohol solvents such as alcohol acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, acetophenone, ethyl acetate, butyl acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, γ-butyrolactone, methyl benzoate Ester solvents such as dibutyl ether and anisole, toluene, xylene, mesitylene, 1,2,4,5-tetramethylbenzene, pentamethylbenzene, isopropylbenzene, 1,4-diisopropylbenzene, t- Butylbenzene, 1,4-di-t-butylbenzene, 1,3,5-triethylbenzene, 1,3,5-tri-t-butylbenzene, 4-t-butyl-orthoxylene, 1-methylnaphtha , Aromatic hydrocarbon solvents such as 1,3,5-triisopropylbenzene, amide solvents such as N-methylpyrrolidinone and dimethylacetamide, carbon tetrachloride, dichloromethane, chloroform, 1,2-dichloroethane, chlorobenzene, 1 Halogen solvents such as 1,2-dichlorobenzene and 1,2,4-trichlorobenzene and aliphatic hydrocarbon solvents such as hexane, heptane, octane and cyclohexane can be used. Among these, more preferred solvents are acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, acetophenone, ethyl acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, γ-butyrolactone, anisole, tetrahydrofuran, toluene, xylene, mesitylene, 1,2,4,5. -Tetramethylbenzene, isopropylbenzene, t-butylbenzene, 1,4-di-t-butylbenzene, 1,3,5-tri-t-butylbenzene, 4-t-butyl-orthoxylene, 1-methylnaphthalene 1,3,5-triisopropylbenzene, 1,2-dichloroethane, chlorobenzene, 1,2-dichlorobenzene, 1,2,4-trichlorobenzene, more preferably tetrahydrofuran, γ-butyrolactone, anisole, Toluene, xylene, mesitylene, isopropylbenzene, t-butylbenzene, 1,3,5-tri-t-butylbenzene, 1-methylnaphthalene, 1,3,5-triisopropylbenzene, 1,2-dichloroethane, chlorobenzene, 1,2-dichlorobenzene and 1,2,4-trichlorobenzene, particularly preferably γ-butyrolactone, anisole, mesitylene, t-butylbenzene, 1,3,5-triisopropylbenzene, 1,2-dichlorobenzene 1,2,4-trichlorobenzene. These may be used alone or in admixture of two or more.
The concentration of the monomer in the reaction solution is preferably 1 to 50% by weight, more preferably 5 to 30% by weight, and particularly preferably 10 to 20% by weight.

本発明における重合反応の最適な条件は、重合開始剤、モノマー、溶媒の種類、濃度等によって異なるが、好ましくは内温0℃〜200℃、より好ましくは50℃〜170℃、特に好ましくは100℃〜150℃で、好ましくは1〜50時間、より好ましくは2〜20時間、特に好ましくは3〜10時間の範囲である。
また、酸素による重合開始剤の不活性化を抑制するために不活性ガス雰囲気下(例えば窒素、アルゴン等)で反応させることが好ましい。反応時の酸素濃度は好ましくは100ppm以下、より好ましくは50ppm以下、特に好ましくは20ppm以下である。
Optimum conditions for the polymerization reaction in the present invention vary depending on the polymerization initiator, monomer, solvent type, concentration, and the like, but preferably the internal temperature is 0 ° C to 200 ° C, more preferably 50 ° C to 170 ° C, and particularly preferably 100. C. to 150.degree. C., preferably 1 to 50 hours, more preferably 2 to 20 hours, and particularly preferably 3 to 10 hours.
Moreover, in order to suppress the inactivation of the polymerization initiator by oxygen, it is preferable to make it react under inert gas atmosphere (for example, nitrogen, argon, etc.). The oxygen concentration during the reaction is preferably 100 ppm or less, more preferably 50 ppm or less, and particularly preferably 20 ppm or less.

本発明におけるカゴ型構造(a)を有するモノマーは、例えば市販のジアマンタンを原料として、臭化アルミニウム触媒存在下または非存在下で臭素と反応させて臭素原子を所望の位置に導入、続けて臭化アルミニウム、塩化アルミニウム、塩化鉄等のルイス酸の存在下で臭化ビニルとフリーデルクラフツ反応させて2,2−ジブロモエチル基を導入、続けて強塩基で脱HBr化してエチニル基に変換することで合成することができる。具体的にはMacromolecules.,1991年24巻5266〜5268頁、1995年28巻5554〜5560、Journal of Organic Chemistry.,39,2995-3003(1974)等に記載された方法に準じて合成することが出来る。
また、末端アセチレン基の水素原子をブチルリチウム等でアニオン化して、これにハロゲン化アルキルやハロゲン化シリルを反応させることによって、アルキル基やシリル基を導入することが出来る。
The monomer having the cage structure (a) in the present invention is prepared, for example, by using commercially available diamantane as a raw material and reacting with bromine in the presence or absence of an aluminum bromide catalyst to introduce a bromine atom at a desired position, followed by odor. 2,2-dibromoethyl group is introduced by reaction with vinyl bromide and Friedel-Crafts in the presence of Lewis acid such as aluminum chloride, aluminum chloride, iron chloride, etc., followed by de-HBr conversion with strong base to convert to ethynyl group Can be synthesized. Specifically, it is synthesized according to the method described in Macromolecules., 1991, 24, 5266-5268, 1995, 28, 5554-5560, Journal of Organic Chemistry., 39, 2995-3003 (1974), etc. I can do it.
Moreover, an alkyl group or a silyl group can be introduced by anionizing a hydrogen atom of a terminal acetylene group with butyllithium or the like and reacting this with an alkyl halide or a silyl halide.

一方、本発明におけるカゴ型構造の好ましい形態として、m個のRSi(O0.5)3ユニット(mは8〜16の整数を表す。Rはそれぞれ独立して非加水分解性基を表すが、少なくとも2つはビニル基またはエチニル基を含む基を示す)が、その酸素原子を共有しながら他のRSi(O0.5)3ユニットと連結して形成されるカゴ型構造(b)を挙げることができる。 On the other hand, as a preferred form of the cage structure in the present invention, m RSi (O 0.5 ) 3 units (m represents an integer of 8 to 16. Each R independently represents a non-hydrolyzable group, 2 represents a group containing a vinyl group or an ethynyl group), but can include a cage structure (b) formed by linking with other RSi (O 0.5 ) 3 units while sharing the oxygen atom. .

ここで、Rは非加水分解性基を表す。
ここで言う非加水分解性基とは、室温で、1当量の中性水と1時間接触させた場合に、95%以上残存する基である。
Rのうち、少なくとも2つはビニル基またはエチニル基を含む基である。Rの非加水分解性基の例としては、アルキル基(メチル、t−ブチル、シクロペンチル、シクロヘキシル等)、アリール基(フェニル、1−ナフチル、2−ナフチル等)、ビニル基、エチニル基、アリル基等があげられる。
Here, R represents a non-hydrolyzable group.
The non-hydrolyzable group mentioned here is a group that remains at 95% or more when brought into contact with 1 equivalent of neutral water at room temperature for 1 hour.
At least two of R are groups containing a vinyl group or an ethynyl group. Examples of non-hydrolyzable groups for R include alkyl groups (methyl, t-butyl, cyclopentyl, cyclohexyl, etc.), aryl groups (phenyl, 1-naphthyl, 2-naphthyl, etc.), vinyl groups, ethynyl groups, allyl groups. Etc.

Rで表される基のうち、少なくとも2つが、ビニル基またはエチニル基を含む基であり、少なくとも2つがビニル基であることが好ましい。Rで表される基がビニル基またはエチニル基を含む場合には、ビニル基またはエチニル基は、直接もしくは2価の連結基を介して、Rが結合するケイ素原子に結合することが好ましい。2価の連結基としては、−[C(R11)(R12)]−(R11およびR12はそれぞれ独立して水素原子、メチル基、またはエチル基を表し、kは1〜6の整数を表す。)、−CO−、−O−、−N(R13)−(R13は水素原子、メチル基、またはエチル基を表す。)、−S−、およびこれらを任意に組み合わせてできる2価の連結基が挙げられ、−[C(R11)(R12)]−、−O−、またはこれらを任意に組み合わせてできる2価の連結基が好ましい。カゴ型構造(b)において、ビニル基またはエチニル基はRが結合するケイ素原子に直接結合することが好ましい。
カゴ型構造(b)におけるRのうち、少なくとも2つのビニル基が、Rが結合するケイ素原子に直接結合することがさらに好ましく、さらにRは全てビニル基であることが特に好ましい。
Of the groups represented by R, at least two are groups containing a vinyl group or an ethynyl group, and at least two are preferably vinyl groups. When the group represented by R includes a vinyl group or an ethynyl group, the vinyl group or ethynyl group is preferably bonded to the silicon atom to which R is bonded, directly or through a divalent linking group. Examples of the divalent linking group, - [C (R 11) (R 12)] k - (R 11 and R 12 are each independently a hydrogen atom, a methyl group or an ethyl group,, k is 1 to 6 ), —CO—, —O—, —N (R 13 ) — (R 13 represents a hydrogen atom, a methyl group, or an ethyl group), —S—, and any combination thereof. And divalent linking groups formed by-[C (R 11 ) (R 12 )] k- , -O-, or any combination thereof are preferable. In the cage structure (b), the vinyl group or ethynyl group is preferably directly bonded to the silicon atom to which R is bonded.
It is more preferable that at least two vinyl groups out of R in the cage structure (b) are directly bonded to the silicon atom to which R is bonded, and it is particularly preferable that all R are vinyl groups.

カゴ型構造(b)としては、下記式(Q-1)〜(Q-6)で表される構造体が好ましい。   As the cage structure (b), structures represented by the following formulas (Q-1) to (Q-6) are preferable.

Figure 2008239690
Figure 2008239690

Figure 2008239690
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上記一般式(Q-1)〜(Q-6)中、Rは非加水分解性基を表す。
Rの具体例としては上述したものと同様のものを挙げることができる。
In the general formulas (Q-1) to (Q-6), R represents a non-hydrolyzable group.
Specific examples of R include the same as those described above.

カゴ型構造(b)の具体例としては、例えば、下記のものが挙げられるが、これらに限定されるものではない。   Specific examples of the cage structure (b) include, but are not limited to, the following.

Figure 2008239690
Figure 2008239690

Figure 2008239690
Figure 2008239690

Figure 2008239690
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カゴ型構造(b)は、市販のものを使用してもよいし、公知の方法で合成してもよい。   The cage structure (b) may be a commercially available one or may be synthesized by a known method.

本発明における組成物には、複数の異なったカゴ型構造(b)の重合物が含まれていても良い。その場合、複数の異なったカゴ型構造(b)からなる共重合体であってもよいし、ホモポリマーの混合物であってもよい。本発明の組成物が、複数の異なったカゴ型構造(b)からなる共重合体を含む場合、m=8、10、および12から選ばれる2種以上のカゴ型構造(b)の混合物の共重合体であることが好ましい。
また、カゴ型構造(b)と別のモノマーとの共重合物を高分子化合物(A)として用いることもできる。その場合に用いられる別のモノマーとしては、重合性炭素−炭素不飽和結合を複数有する化合物が好ましい。その例としては、ビニルシラン類、ビニルシロキサン類、フェニルアセチレン類、もしくは上述した一般式(I)〜(VI)のモノマーを適用できる。
The composition in the present invention may contain a plurality of polymers having different cage structures (b). In that case, it may be a copolymer composed of a plurality of different cage structures (b), or may be a mixture of homopolymers. When the composition of the present invention contains a copolymer composed of a plurality of different cage structures (b), a mixture of two or more cage structures (b) selected from m = 8, 10, and 12 A copolymer is preferred.
Also, a copolymer of the cage structure (b) and another monomer can be used as the polymer compound (A). As another monomer used in that case, a compound having a plurality of polymerizable carbon-carbon unsaturated bonds is preferable. For example, vinyl silanes, vinyl siloxanes, phenyl acetylenes, or the above-described monomers of the general formulas (I) to (VI) can be applied.

カゴ型構造(b)を含むモノマーより構成される重合体を合成するための方法としては、前記モノマーを溶媒に溶解させ、重合開始剤を添加してビニル基等を反応させることが好ましい。
重合反応としてはどのような重合反応でも良いが、例えばラジカル重合、カチオン重合、アニオン重合、開環重合、重縮合、重付加、付加縮合、遷移金属触媒重合等が挙げられる。
As a method for synthesizing a polymer composed of a monomer containing a cage structure (b), it is preferable to dissolve the monomer in a solvent and add a polymerization initiator to react a vinyl group or the like.
The polymerization reaction may be any polymerization reaction, and examples thereof include radical polymerization, cationic polymerization, anionic polymerization, ring-opening polymerization, polycondensation, polyaddition, addition condensation, and transition metal catalyst polymerization.

カゴ型構造(b)を含むモノマーの重合反応は非金属の重合開始剤の存在下で行うことが好ましい。例えば、加熱によって炭素ラジカルや酸素ラジカル等の遊離ラジカルを発生して活性を示す重合開始剤の存在下で重合することが出来る。
重合開始剤としては有機過酸化物または有機アゾ系化合物が好ましく用いられるが特に有機過酸化物が好ましい。
有機過酸化物としては、日本油脂株式会社より市販されているパーヘキサH等のケトンパーオキサイド類、パーヘキサTMH等のパーオキシケタール類、パーブチルH−69等のハイドロパーオキサイド類、パークミルD、パーブチルC、パーブチルD等のジアルキルパーオキサイド類、ナイパーBW等のジアシルパーオキサイド類、パーブチルZ、パーブチルL等のパーオキシエステル類、パーロイルTCP等のパーオキシジカーボネート、アルケマ吉冨社より市販されているルペロックス11等が好ましく用いられる。
有機アゾ系化合物としては和光純薬工業株式会社で市販されているV−30、V−40、V−59、V−60、V−65、V−70等のアゾニトリル化合物類、VA−080、VA−085、VA−086、VF−096、VAm−110、VAm−111等のアゾアミド化合物類、VA−044、VA−061等の環状アゾアミジン化合物類、V−50、VA−057等のアゾアミジン化合物類等が好ましく用いられる。
The polymerization reaction of the monomer containing the cage structure (b) is preferably performed in the presence of a nonmetallic polymerization initiator. For example, polymerization can be carried out in the presence of a polymerization initiator that exhibits activity by generating free radicals such as carbon radicals and oxygen radicals by heating.
As the polymerization initiator, an organic peroxide or an organic azo compound is preferably used, and an organic peroxide is particularly preferable.
Examples of the organic peroxide include ketone peroxides such as perhexa H, peroxyketals such as perhexa TMH, hydroperoxides such as perbutyl H-69, park mill D, perbutyl C, etc. , Dialkyl peroxides such as perbutyl D, diacyl peroxides such as Nyper BW, peroxyesters such as perbutyl Z and perbutyl L, peroxydicarbonates such as perroyl TCP, Luperox 11 commercially available from Arkema Yoshitosha Etc. are preferably used.
As organic azo compounds, azonitrile compounds such as V-30, V-40, V-59, V-60, V-65, and V-70, which are commercially available from Wako Pure Chemical Industries, Ltd., VA-080, Azoamide compounds such as VA-085, VA-086, VF-096, VAm-110 and VAm-111, cyclic azoamidine compounds such as VA-044 and VA-061, and azoamidine compounds such as V-50 and VA-057 Etc. are preferably used.

カゴ型構造(b)を含むモノマーの重合反応に使用する重合開始剤は1種のみ、または2種以上を混合して用いてもよい。
その使用量はモノマー1モルに対して、好ましくは0.001〜2モル、より好ましくは0.01〜1モル、特に好ましくは0.05〜0.5モルである。
The polymerization initiator used for the polymerization reaction of the monomer containing the cage structure (b) may be used alone or in combination of two or more.
The amount used is preferably 0.001 to 2 mol, more preferably 0.01 to 1 mol, and particularly preferably 0.05 to 0.5 mol, with respect to 1 mol of the monomer.

カゴ型構造(b)を含むモノマーの重合反応で使用する溶媒は、モノマーが必要な濃度で溶解可能であり、かつ得られる重合体から形成する膜の特性に悪影響を与えないものであればどのようなものを使用しても良い。例えば水やメタノール、エタノール、プロパノール等のアルコール系溶剤、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、アセトフェノン等のケトン系溶剤、酢酸エチル、酢酸ブチル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、γ−ブチロラクトン、メチルベンゾエート等のエステル系溶剤、ジブチルエーテル、アニソール、テトラヒドロフラン等のエーテル系溶剤、トルエン、キシレン、メシチレン、1,2,4,5−テトラメチルベンゼン、ペンタメチルベンゼン、イソプロピルベンゼン、1,4−ジイソプロピルベンゼン、t−ブチルベンゼン、1,4−ジ−t−ブチルベンゼン、1,3,5−トリエチルベンゼン、1,3,5−トリ−t−ブチルベンゼン、4−t−ブチル−オルトキシレン、1−メチルナフタレン、1,3,5−トリイソプロピルベンゼン等の芳香族炭化水素系溶剤、N−メチルピロリジノン、ジメチルアセトアミド等のアミド系溶剤、四塩化炭素、ジクロロメタン、クロロホルム、1,2−ジクロロエタン、クロロベンゼン、1,2−ジクロロベンゼン、1,2,4−トリクロロベンゼン等のハロゲン系溶剤、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、シクロヘキサン等の脂肪族炭化水素系溶剤などが利用できる。これらの中でより好ましい溶剤はアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、アセトフェノン、酢酸エチル、酢酸ブチル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、γ−ブチロラクトン、アニソール、テトラヒドロフラン、トルエン、キシレン、メシチレン、1,2,4,5−テトラメチルベンゼン、イソプロピルベンゼン、t−ブチルベンゼン、1,4−ジ−t−ブチルベンゼン、1,3,5−トリ−t−ブチルベンゼン、4−t−ブチル−オルトキシレン、1−メチルナフタレン、1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、1,2−ジクロロエタン、クロロベンゼン、1,2−ジクロロベンゼン、1,2,4−トリクロロベンゼンであり、より好ましくはテトラヒドロフラン、γ−ブチロラクトン、アニソール、トルエン、キシレン、メシチレン、イソプロピルベンゼン、t−ブチルベンゼン、1,3,5−トリ−t−ブチルベンゼン、1−メチルナフタレン、1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、1,2−ジクロロエタン、クロロベンゼン、1,2−ジクロロベンゼン、1,2,4−トリクロロベンゼンであり、特に好ましくはγ−ブチロラクトン、アニソール、メシチレン、t−ブチルベンゼン、1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、1,2−ジクロロベンゼン、1,2,4−トリクロロベンゼンである。これらは単独でも2種以上を混合して用いてもよい。
反応液中のモノマー濃度は、好ましくは30質量%以下であり、より好ましくは10質量%以下であり、より好ましくは5質量%以下であり、さらに好ましくは1質量%以下であり、最も好ましくは0.5質量%以下である。重合時のモノマーの濃度が低い程、重量平均分子量および数平均分子量が大きく、有機溶剤に可溶な組成物を合成することができる。
Any solvent can be used in the polymerization reaction of the monomer containing the cage structure (b) as long as the monomer can be dissolved at a necessary concentration and does not adversely affect the properties of the film formed from the resulting polymer. Such a thing may be used. For example, alcohol solvents such as water, methanol, ethanol, propanol, etc., ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, acetophenone, ethyl acetate, butyl acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, γ-butyrolactone, methyl benzoate, etc. Ester solvents, ether solvents such as dibutyl ether, anisole and tetrahydrofuran, toluene, xylene, mesitylene, 1,2,4,5-tetramethylbenzene, pentamethylbenzene, isopropylbenzene, 1,4-diisopropylbenzene, t -Butylbenzene, 1,4-di-t-butylbenzene, 1,3,5-triethylbenzene, 1,3,5-tri-t-butylbenzene, 4-t-butyl-orthoxylene, 1-methyl Aromatic hydrocarbon solvents such as lunaphthalene and 1,3,5-triisopropylbenzene, amide solvents such as N-methylpyrrolidinone and dimethylacetamide, carbon tetrachloride, dichloromethane, chloroform, 1,2-dichloroethane, chlorobenzene, Halogen solvents such as 1,2-dichlorobenzene and 1,2,4-trichlorobenzene and aliphatic hydrocarbon solvents such as hexane, heptane, octane and cyclohexane can be used. Among these, more preferred solvents are acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, acetophenone, ethyl acetate, butyl acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, γ-butyrolactone, anisole, tetrahydrofuran, toluene, xylene, mesitylene, 1,2, 4,5-tetramethylbenzene, isopropylbenzene, t-butylbenzene, 1,4-di-t-butylbenzene, 1,3,5-tri-t-butylbenzene, 4-t-butyl-orthoxylene, -Methylnaphthalene, 1,3,5-triisopropylbenzene, 1,2-dichloroethane, chlorobenzene, 1,2-dichlorobenzene, 1,2,4-trichlorobenzene, more preferably tetrahydrofuran, γ-butyrolactone, Anisole, toluene, xylene, mesitylene, isopropylbenzene, t-butylbenzene, 1,3,5-tri-t-butylbenzene, 1-methylnaphthalene, 1,3,5-triisopropylbenzene, 1,2-dichloroethane, Chlorobenzene, 1,2-dichlorobenzene, 1,2,4-trichlorobenzene, particularly preferably γ-butyrolactone, anisole, mesitylene, t-butylbenzene, 1,3,5-triisopropylbenzene, 1,2- Dichlorobenzene and 1,2,4-trichlorobenzene. These may be used alone or in admixture of two or more.
The monomer concentration in the reaction solution is preferably 30% by mass or less, more preferably 10% by mass or less, more preferably 5% by mass or less, still more preferably 1% by mass or less, and most preferably 0.5% by mass or less. The lower the monomer concentration during polymerization, the larger the weight average molecular weight and number average molecular weight, and it is possible to synthesize a composition that is soluble in an organic solvent.

カゴ型構造(b)を含むモノマーの重合反応の最適な条件は、重合開始剤、モノマー、溶媒の種類、濃度等によって異なるが、好ましくは内温0℃〜200℃、より好ましくは40℃〜170℃、特に好ましくは70℃〜150℃で、好ましくは1〜50時間、より好ましくは2〜20時間、特に好ましくは3〜10時間の範囲である。
また、酸素による重合開始剤の不活性化を抑制するために不活性ガス雰囲気下(例えば窒素、アルゴン等)で反応させることが好ましい。反応時の酸素濃度は好ましくは100ppm以下、より好ましくは50ppm以下、特に好ましくは20ppm以下である。
重合して得られるポリマーの重量平均分子量(Mw)の好ましい範囲は1000〜1000000、より好ましくは2000〜500000、特に好ましくは3000〜100000である。
The optimum conditions for the polymerization reaction of the monomer containing the cage structure (b) vary depending on the polymerization initiator, the monomer, the type of solvent, the concentration, etc., but preferably the internal temperature is 0 ° C to 200 ° C, more preferably 40 ° C to It is 170 ° C., particularly preferably 70 ° C. to 150 ° C., preferably 1 to 50 hours, more preferably 2 to 20 hours, particularly preferably 3 to 10 hours.
Moreover, in order to suppress the inactivation of the polymerization initiator by oxygen, it is preferable to make it react under inert gas atmosphere (for example, nitrogen, argon, etc.). The oxygen concentration during the reaction is preferably 100 ppm or less, more preferably 50 ppm or less, and particularly preferably 20 ppm or less.
The preferable range of the weight average molecular weight (Mw) of the polymer obtained by polymerization is 1000 to 1000000, more preferably 2000 to 500000, and particularly preferably 3000 to 100000.

カゴ型構造(b)を含むモノマーより構成される重合体は有機溶媒に可溶であることが好ましい。ここで、有機溶媒に可溶であるとは、シクロヘキサノン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルおよびγ−ブチロラクトンから選ばれる溶媒に、25℃で、5質量%以上溶解することと定義するが10質量%以上溶解することが好ましく、20質量%以上溶解することが、より好ましい。   The polymer composed of a monomer containing the cage structure (b) is preferably soluble in an organic solvent. Here, being soluble in an organic solvent means that 5% by mass or more dissolves at 25 ° C. in a solvent selected from cyclohexanone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, propylene glycol monomethyl ether acetate, propylene glycol monomethyl ether, and γ-butyrolactone. However, it is preferable to dissolve 10% by mass or more, and more preferable to dissolve 20% by mass or more.

GPCチャートから計算した、カゴ型構造(b)を含むモノマーより構成される重合体の分散度(Mw/Mn)は1〜15が好ましく、1〜10が、より好ましく、1〜5が最も好ましい。Mwが同じであった場合、分散度が小さいほうが、密度、屈折率および誘電率の低い膜を形成することができる。   The dispersion degree (Mw / Mn) of the polymer composed of the monomer containing the cage structure (b) calculated from the GPC chart is preferably 1 to 15, more preferably 1 to 10, and most preferably 1 to 5. . When Mw is the same, a film with lower density, refractive index, and dielectric constant can be formed when the degree of dispersion is smaller.

上述した物性を有する組成物を製造する方法としては、カゴ型構造(b)を含むモノマーを重合させる際に、高希釈条件を用いる、連鎖移動剤を添加する、反応溶剤を最適化する、重合開始剤を連続添加する、モノマーを連続添加する、ラジカルトラップ剤を添加するなどの方法が挙げられる。
また、カゴ型構造(b)を含むモノマーを重合させた後、不溶物をろ過する、カラムクロマトグラフィーを用いて精製する、再沈殿処理により精製する、などの方法を用いることも可能である。
ここで、再沈殿処理とは、必要に応じて反応溶媒を留去した反応液に、貧溶媒(本発明の組成物を実質的に溶解しない溶媒)を加える、もしくは必要に応じて反応溶媒を留去した反応液を、貧溶媒に滴下することにより、本発明の組成物を析出させ、これをろ取することである。
貧溶媒としては、アルコール類(メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール)などが好ましい。貧溶媒として、本発明の組成物の等質量〜200倍質量を用いることが好ましく、2倍質量〜50倍質用いることが、より好ましい。
As a method for producing the composition having the physical properties described above, when polymerizing the monomer containing the cage structure (b), use a high dilution condition, add a chain transfer agent, optimize the reaction solvent, polymerization Examples thereof include a method in which an initiator is continuously added, a monomer is continuously added, and a radical trapping agent is added.
In addition, after polymerizing the monomer containing the cage structure (b), it is also possible to use a method such as filtering insoluble matter, purifying using column chromatography, or purifying by reprecipitation.
Here, the reprecipitation treatment refers to adding a poor solvent (a solvent that does not substantially dissolve the composition of the present invention) to the reaction solution obtained by distilling off the reaction solvent as necessary, or adding a reaction solvent as necessary. By dropping the distilled reaction liquid into a poor solvent, the composition of the present invention is precipitated, and this is filtered.
As the poor solvent, alcohols (methanol, ethanol, isopropyl alcohol) and the like are preferable. As the poor solvent, it is preferable to use an equal mass to 200 times mass of the composition of the present invention, and it is more preferable to use 2 times to 50 times the mass.

カゴ型構造(b)を含むモノマーより構成される高分子化合物を使用する場合、重合に用いた反応溶媒を留去することにより、前記高分子化合物を濃縮して用いることが好ましい。また、再沈殿処理を行った後に用いることが好ましい。
濃縮する方法としては、ロータリーエバポレーター、蒸留装置または重合反応を行った反応装置などを用いて、反応液を加熱および/または減圧することによって行うことが好ましい。濃縮時の反応液の温度は、一般的には0℃〜180℃であり、10℃〜140℃が好ましく、20℃〜100℃が、より好ましく、30℃〜60℃が最も好ましい。濃縮時の圧力は、一般的に0.001トール〜760トールであり、好ましくは0.01トール〜100トールであり、より好ましくは、0.01トール〜10トールである。
反応液を濃縮する際は、反応液中の固形分含量が10質量%以上になるようになるまで濃縮することが好ましく、30%重量以上になるまで濃縮することがより好ましく、50%重量以上になるまで濃縮することが最も好ましい。
When using a polymer compound composed of a monomer containing the cage structure (b), it is preferable to concentrate the polymer compound by distilling off the reaction solvent used for the polymerization. Moreover, it is preferable to use after performing a reprecipitation process.
The concentration is preferably carried out by heating and / or reducing the pressure of the reaction solution using a rotary evaporator, a distillation apparatus or a reaction apparatus in which a polymerization reaction is performed. The temperature of the reaction solution at the time of concentration is generally 0 ° C to 180 ° C, preferably 10 ° C to 140 ° C, more preferably 20 ° C to 100 ° C, and most preferably 30 ° C to 60 ° C. The pressure during concentration is generally 0.001 to 760 torr, preferably 0.01 to 100 torr, and more preferably 0.01 to 10 torr.
When concentrating the reaction solution, it is preferable to concentrate until the solid content in the reaction solution is 10% by mass or more, more preferably 30% by weight or more, and more preferably 50% by weight or more. It is most preferred to concentrate until

本発明における絶縁膜形成用組成物には、上述のような高分子化合物を単独で使用しても2種以上を混合して使用してもよい。   In the composition for forming an insulating film in the present invention, the above-described polymer compound may be used alone or in combination of two or more.

(B)塗布溶剤
本発明における塗布型絶縁膜形成用組成物に用いられる塗布溶剤は特に限定はされないが、例えばメタノール、エタノール、2−プロパノール、1−ブタノール、2−エトキシメタノール、3−メトキシプロパノール,1−メトキシー2−プロパノール等のアルコール系溶剤、アセトン、アセチルアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、2−ペンタノン、3−ペンタノン、2−ヘプタノン、3−ヘプタノン、シクロペンタノン,シクロヘキサノン等のケトン系溶剤、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、酢酸イソブチル、酢酸ペンチル、プロピオン酸エチル、プロピオン酸プロピル、プロピオン酸ブチル、プロピオン酸イソブチル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、乳酸メチル、乳酸エチル、γ−ブチロラクトン等のエステル系溶剤、ジイソプロピルエーテル、ジブチルエーテル、エチルプロピルエーテル、アニソール、フェネトール、ベラトロール等のエーテル系溶剤、メシチレン、エチルベンゼン、ジエチルベンゼン、プロピルベンゼン、t−ブチルベンゼン等の芳香族炭化水素系溶剤、N−メチルピロリジノン、ジメチルアセトアミド等のアミド系溶剤などが挙げられ、これらは単独でも2種以上を混合して用いてもよい。
より好ましい塗布溶剤は、1−メトキシー2−プロパノール、プロパノール、アセチルアセトン,シクロヘキサノン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、酢酸ブチル,乳酸メチル、乳酸エチル、γ−ブチロラクトン、アニソール、メシチレン、t−ブチルベンゼンであり、特に好ましくは1−メトキシー2−プロパノール,シクロヘキサノン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、乳酸エチル,γ−ブチロラクトン、t−ブチルベンゼン,アニソールである。
(C)界面活性剤
(B) Coating solvent Although the coating solvent used for the composition for coating type insulation film formation in this invention is not specifically limited, For example, methanol, ethanol, 2-propanol, 1-butanol, 2-ethoxymethanol, 3-methoxypropanol Alcohol solvents such as 1-methoxy-2-propanol, ketone solvents such as acetone, acetylacetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, 2-pentanone, 3-pentanone, 2-heptanone, 3-heptanone, cyclopentanone, cyclohexanone, Ethyl acetate, propyl acetate, butyl acetate, isobutyl acetate, pentyl acetate, ethyl propionate, propyl propionate, butyl propionate, isobutyl propionate, propylene glycol monomethyl ether acetate, methyl lactate, Ester solvents such as ethyl lactate and γ-butyrolactone, ether solvents such as diisopropyl ether, dibutyl ether, ethyl propyl ether, anisole, phenetol and veratrol, aromatics such as mesitylene, ethylbenzene, diethylbenzene, propylbenzene and t-butylbenzene Examples include hydrocarbon solvents, amide solvents such as N-methylpyrrolidinone and dimethylacetamide, and these may be used alone or in admixture of two or more.
More preferred coating solvents are 1-methoxy-2-propanol, propanol, acetylacetone, cyclohexanone, propylene glycol monomethyl ether acetate, butyl acetate, methyl lactate, ethyl lactate, γ-butyrolactone, anisole, mesitylene, t-butylbenzene, Preferred are 1-methoxy-2-propanol, cyclohexanone, propylene glycol monomethyl ether acetate, ethyl lactate, γ-butyrolactone, t-butylbenzene, and anisole.
(C) Surfactant

本発明における塗布型絶縁膜形成用組成物には塗布膜の膜厚均一性等の調整のため、適宜、界面活性剤を添加し得る。添加し得る界面活性剤(C)としては、例えば、ノニオン系界面活性剤、アニオン系界面活性剤、カチオン系界面活性剤などが挙げられ、さらにシリコーン系界面活性剤、含フッ素系界面活性剤、ポリアルキレンオキシド系界面活性剤、アクリル系界面活性剤が挙げられる。本発明で使用する界面活性剤は、一種類でも良いし、二種類以上でも良い。界面活性剤としては、シリコーン系界面活性剤、ノニオン系界面活性剤、含フッ素系界面活性剤、アクリル系界面活性剤が好ましく、特にシリコーン系界面活性剤が好ましい。   A surfactant can be appropriately added to the composition for forming a coating type insulating film in the present invention in order to adjust the film thickness uniformity of the coating film. Examples of the surfactant (C) that can be added include nonionic surfactants, anionic surfactants, cationic surfactants, silicone surfactants, fluorine-containing surfactants, Examples include polyalkylene oxide surfactants and acrylic surfactants. The surfactant used in the present invention may be one type or two or more types. As the surfactant, silicone surfactants, nonionic surfactants, fluorine-containing surfactants, and acrylic surfactants are preferable, and silicone surfactants are particularly preferable.

本発明で使用する界面活性剤の添加量は、膜形成塗布液の全量に対して0.01質量%以上1質量%以下であることが好ましく、0.1質量%以上0.5質量%以下であることが更に好ましい。   The addition amount of the surfactant used in the present invention is preferably 0.01% by mass or more and 1% by mass or less, and 0.1% by mass or more and 0.5% by mass or less with respect to the total amount of the film-forming coating solution. More preferably.

本発明において、シリコン系界面活性剤とは、少なくとも1原子のSi原子を含む界面活性剤である。本発明に使用するシリコン系界面活性剤としては、いかなるシリコン系界面活性剤でもよく、アルキレンオキシド及びジメチルシロキサンを含む構造であることが好ましい。下記化学式を含む構造であることが更に好ましい。   In the present invention, the silicon-based surfactant is a surfactant containing at least one Si atom. The silicon-based surfactant used in the present invention may be any silicon-based surfactant, and preferably has a structure containing alkylene oxide and dimethylsiloxane. A structure including the following chemical formula is more preferable.

Figure 2008239690
Figure 2008239690

式中Rは水素原子または炭素原子数1〜5のアルキル基であり、xは1〜20の整数であり、m、nはそれぞれ独立に2〜100の整数である。複数のRは同じでも異なっていてもよい。   In the formula, R is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, x is an integer of 1 to 20, and m and n are each independently an integer of 2 to 100. A plurality of R may be the same or different.

本発明に使用するシリコン系界面活性剤としては、例えばBYK306、BYK307(ビックケミー社製)、SH7PA、SH21PA、SH28PA、SH30PA(東レ・ダウコーニング・シリコーン社製)、TroysolS366(トロイケミカル社製)等を挙げることができる。   Examples of the silicon-based surfactant used in the present invention include BYK306, BYK307 (manufactured by Big Chemie), SH7PA, SH21PA, SH28PA, SH30PA (manufactured by Toray Dow Corning Silicone), Troysol S366 (manufactured by Troy Chemical). Can be mentioned.

本発明に使用するノニオン系界面活性剤としては、いかなるノニオン系界面活性剤でもよい。例えば、ポリオキシエチレンアルキルエーテル類、ポリオキシエチレンアリールエーテル類、ポリオキシエチレンジアルキルエステル類、ソルビタン脂肪酸エステル類、脂肪酸変性ポリオキシエチレン類、ポリオキシエチレン−ポリオキシプロピレンブロック共重合体等を挙げることができる。   Any nonionic surfactant may be used as the nonionic surfactant used in the present invention. For example, polyoxyethylene alkyl ethers, polyoxyethylene aryl ethers, polyoxyethylene dialkyl esters, sorbitan fatty acid esters, fatty acid-modified polyoxyethylenes, polyoxyethylene-polyoxypropylene block copolymers, etc. Can do.

本発明に使用する含フッ素系界面活性剤としては、いかなる含フッ素系界面活性剤でもよい。例えば、パーフルオルオクチルポリエチレンオキシド、パーフルオルデシルポリエチレンオキシド、パーフルオルドデシルポリエチレンオキシド等が挙げられる。   As the fluorine-containing surfactant used in the present invention, any fluorine-containing surfactant may be used. For example, perfluorooctyl polyethylene oxide, perfluorodecyl polyethylene oxide, perfluorodecyl polyethylene oxide and the like can be mentioned.

本発明に使用するアクリル系界面活性剤としては、いかなるアクリル系界面活性剤でもよい。例えば、(メタ)アクリル酸系共重合体等が挙げられる。   The acrylic surfactant used in the present invention may be any acrylic surfactant. For example, a (meth) acrylic acid type copolymer etc. are mentioned.

(D)その他の絶縁膜物性調整剤
更に、本発明の塗布型絶縁膜形成用組成物には、得られる絶縁膜の特性(耐熱性、誘電率、機械強度、塗布性、密着性等)を損なわない範囲で、ラジカル発生剤、コロイド状シリカ、シランカップリング剤、密着剤、空孔形成剤などの添加剤を添加してもよい。
(D) Other insulating film property modifiers Further, the composition for forming a coating type insulating film of the present invention has characteristics of the obtained insulating film (heat resistance, dielectric constant, mechanical strength, coating property, adhesion, etc.). Additives such as a radical generator, colloidal silica, a silane coupling agent, an adhesion agent, and a pore forming agent may be added as long as they are not impaired.

本発明にいかなるコロイド状シリカを使用してもよい。例えば、高純度の無水ケイ酸を親水性有機溶媒もしくは水に分散した分散液であり、通常、平均粒径5〜30nm、好ましくは10〜20nm、固形分濃度が5〜40重量%程度のものである。   Any colloidal silica may be used in the present invention. For example, a dispersion in which high-purity silicic acid is dispersed in a hydrophilic organic solvent or water, usually having an average particle size of 5 to 30 nm, preferably 10 to 20 nm, and a solid content concentration of about 5 to 40% by weight It is.

本発明にいかなるシランカップリング剤を使用してもよいが、例えば、3−グリシジロキシプロピルトリメトキシシラン、3−アミノグリシジロキシプロピルトリエトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシジロキシプロピルメチルジメトキシシラン、1−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、2−アミノプロピルトリメトキシシラン、2−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、3−ウレイドプロピルトリメトキシシラン、3−ウレイドプロピルトリエトキシシラン、N−エトキシカルボニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−エトキシカルボニル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−トリエトキシシリルプロピルトリエチレントリアミン、N−トリエトキシシリルプロピルトリエチレントリアミン、10−トリメトキシシリル−1,4,7−トリアザデカン、10−トリエトキシシリル−1,4,7−トリアザデカン、9−トリメトキシシリル−3,6−ジアザノニルアセテート、9−トリエトキシシリル−3,6−ジアザノニルアセテート、N−ベンジル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−ベンジル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−ビス(オキシエチレン)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−ビス(オキシエチレン)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン等が挙げられる。本発明で使用するシランカップリング剤は、一種類でも良いし、二種類以上でも良い。   Any silane coupling agent may be used in the present invention. For example, 3-glycidyloxypropyltrimethoxysilane, 3-aminoglycidyloxypropyltriethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3- Glycidyloxypropylmethyldimethoxysilane, 1-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, 2-aminopropyltrimethoxysilane, 2-aminopropyltriethoxysilane, N -(2-aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, N- (2-aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane, 3-ureidopropyltrimethoxysilane, 3-ureidopropyltriethoxysilane N-ethoxycarbonyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, N-ethoxycarbonyl-3-aminopropyltriethoxysilane, N-triethoxysilylpropyltriethylenetriamine, N-triethoxysilylpropyltriethylenetriamine, 10- Trimethoxysilyl-1,4,7-triazadecane, 10-triethoxysilyl-1,4,7-triazadecane, 9-trimethoxysilyl-3,6-diazanonyl acetate, 9-triethoxysilyl-3,6 -Diazanonyl acetate, N-benzyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, N-benzyl-3-aminopropyltriethoxysilane, N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, N-phenyl-3-aminopropyl Triethoxysilane, - bis (oxyethylene) -3-aminopropyltrimethoxysilane, N- bis (oxyethylene) -3-aminopropyltriethoxysilane and the like. The silane coupling agent used in the present invention may be one type or two or more types.

本発明にはいかなる密着促進剤を使用してもよいが、例えば、トリメトキシシリル安息香酸、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、γ−イソシアネートプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、トリメトキシビニルシラン、γ-アミノプロピルトリエトキシシラン、アルミニウムモノエチルアセトアセテートジイソプロピレート、ビニルトリス(2-メトキシエトキシ)シラン、N-(2-アミノエチル)-3-アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N-(2-アミノエチル)-3-アミノプロピルトリメトキシシラン、3-クロロプロピルメチルジメトキシシラン、3-クロロプロピルトリメトキシシラン、3-メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3-メルカプトプロピルトリメトキシシラン、トリメチルクロロシラン、ジメチルビニルクロロシラン、メチルジフエニルクロロシラン、クロロメチルジメチルクロロシラン、トリメチルメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、メチルジメトキシシラン、ジメチルビニルエトキシシラン、ジフエニルジメトキシシラン、フエニルトリエトキシシラン、ヘキサメチルジシラザン、N,N’−ビス(トリメチルシリル)ウレア、ジメチルトリメチルシリルアミン、トリメチルシリルイミダゾール、ビニルトリクロロシラン、ベンゾトリアゾール、ベンズイミダゾール、インダゾール、イミダゾール、2−メルカプトベンズイミダゾール、2−メルカプトベンゾチアゾール、2−メルカプトベンゾオキサゾール、ウラゾール、チオウラシル、メルカプトイミダゾール、メルカプトピリミジン、1,1−ジメチルウレア、1,3−ジメチルウレア、チオ尿素化合物等を挙げることができる。官能性シランカップリング剤が密着促進剤として好ましい。密着促進剤の好ましい使用量は、全固形分100重量部に対して10重量部以下、特に0.05〜5重量部であることが好ましい。   Any adhesion promoter may be used in the present invention. For example, trimethoxysilylbenzoic acid, γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, vinyltrimethoxysilane, γ-isocyanatopropyltriethoxysilane , Γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, trimethoxyvinylsilane, γ-aminopropyltriethoxysilane, aluminum monoethylacetoacetate diisopropylate, vinyltris (2 -Methoxyethoxy) silane, N- (2-aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N- (2-aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-chloropropylmethyldimethoxysilane, 3- Chloropropyltrimethoxy Sisilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, trimethylchlorosilane, dimethylvinylchlorosilane, methyldiphenylchlorosilane, chloromethyldimethylchlorosilane, trimethylmethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, methyldimethoxysilane, dimethyl Vinylethoxysilane, diphenyldimethoxysilane, phenyltriethoxysilane, hexamethyldisilazane, N, N′-bis (trimethylsilyl) urea, dimethyltrimethylsilylamine, trimethylsilylimidazole, vinyltrichlorosilane, benzotriazole, benzimidazole, indazole, Imidazole, 2-mercaptobenzimidazole, 2-mercaptobenzothiazole, 2-merca Examples thereof include putobenzoxazole, urazole, thiouracil, mercaptoimidazole, mercaptopyrimidine, 1,1-dimethylurea, 1,3-dimethylurea, and thiourea compounds. Functional silane coupling agents are preferred as adhesion promoters. The preferred use amount of the adhesion promoter is preferably 10 parts by weight or less, particularly 0.05 to 5 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the total solid content.

本発明における塗布型絶縁膜形成用組成物には膜の機械強度の許す範囲内で、空孔形成因子を使用して、膜を多孔質化し、低誘電率化を図ることができる。
空孔形成剤となる添加剤としての空孔形成因子としては特に限定はされないが、非金属化合物が好適に用いられ、膜形成用塗布液で使用される溶剤との溶解性、本発明重合体との相溶性を同時に満たすことが必要である。またこの空孔形成剤の沸点若しくは分解温度は、好ましくは100〜500℃、より好ましくは200〜450℃、特に好ましくは250〜400℃である。分子量としては、200〜50000であることが好ましく、より好ましくは300〜10000、特に好ましくは400〜5000である。添加量は膜を形成する重合体に対して、質量%で好ましくは0.5〜75%、より好ましくは0.5〜30%、特に好ましくは1%〜20%である。また、空孔形成因子として、重合体の中に分解性基を含んでいても良く、その分解温度は好ましくは100〜500℃、より好ましくは200〜450℃、特に好ましくは250〜400℃であると良い。分解性基の含有率は膜を形成する重合体に対して、モル%で0.5〜75%、より好ましくは0.5〜30%、特に好ましくは1〜20%である。
The composition for forming a coating type insulating film in the present invention can be made porous by using a pore forming factor within the range allowed by the mechanical strength of the film, thereby reducing the dielectric constant.
The pore-forming factor as an additive that becomes a pore-forming agent is not particularly limited, but a non-metallic compound is preferably used, and the solubility in a solvent used in a coating solution for film formation, the polymer of the present invention. It is necessary to satisfy the compatibility with. Further, the boiling point or decomposition temperature of the pore forming agent is preferably 100 to 500 ° C, more preferably 200 to 450 ° C, and particularly preferably 250 to 400 ° C. The molecular weight is preferably 200 to 50,000, more preferably 300 to 10,000, and particularly preferably 400 to 5,000. The addition amount is preferably 0.5 to 75%, more preferably 0.5 to 30%, and particularly preferably 1 to 20% by mass% with respect to the polymer forming the film. Further, as a pore forming factor, a polymer may contain a decomposable group, and the decomposition temperature is preferably 100 to 500 ° C, more preferably 200 to 450 ° C, particularly preferably 250 to 400 ° C. Good to have. The content of the decomposable group is 0.5 to 75%, more preferably 0.5 to 30%, and particularly preferably 1 to 20% in terms of mol% with respect to the polymer forming the film.

本発明における塗布型絶縁膜形成用組成物に含まれる全固形分濃度は、好ましくは0.1〜50質量%であり、より好ましくは0.5〜15質量%であり、特に好ましくは1〜10質量%である。   The total solid content concentration contained in the composition for forming a coating type insulating film in the present invention is preferably 0.1 to 50% by mass, more preferably 0.5 to 15% by mass, and particularly preferably 1 to 50% by mass. 10% by mass.

本発明における塗布型絶縁膜形成用組成物には不純物としての金属含量が充分に少ないことが好ましい。塗布型絶縁膜形成用組成物の金属濃度はICP−MS法にて高感度に測定可能であり、その場合の遷移金属以外の金属含有量は好ましくは30ppm以下、より好ましくは3ppm以下、特に好ましくは300ppb以下である。また、遷移金属に関しては酸化を促進する触媒能が高く、プリベーク、熱硬化プロセスにおいて酸化反応によって本発明で得られた膜の誘電率を上げてしまうという観点から、含有量がより少ないほうがよく、好ましくは10ppm以下、より好ましくは1ppm以下、特に好ましくは100ppb以下である。
塗布型絶縁膜形成用組成物の金属濃度は本発明の塗布型絶縁膜形成用組成物を用いて得た膜に対して全反射蛍光X線測定を行うことによっても評価できる。X線源としてW線を用いた場合、金属元素としてK、Ca、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Pdが観測可能であり、それぞれ100×1010cm−2以下が好ましく、より好ましくは50×1010cm−2以下、特に好ましくは10×1010cm−2以下である。また、ハロゲンであるBrも観測可能であり、残存量は10000×1010cm−2以下が好ましく、より好ましくは1000×1010cm−2以下、特に好ましくは400×1010cm−2以下である。また、ハロゲンとしてClも観測可能であるが、CVD装置、エッチング装置等へダメージを与えるという観点から残存量は100×1010cm−2以下が好ましく、より好ましくは50×1010cm−2以下、特に好ましくは10×1010cm−2以下である。
The composition for forming a coating type insulating film in the present invention preferably has a sufficiently low metal content as an impurity. The metal concentration of the coating type insulating film forming composition can be measured with high sensitivity by ICP-MS method, and the metal content other than the transition metal in that case is preferably 30 ppm or less, more preferably 3 ppm or less, particularly preferably. Is 300 ppb or less. In addition, the transition metal has a high catalytic ability to promote oxidation, and from the viewpoint of increasing the dielectric constant of the film obtained in the present invention by an oxidation reaction in the prebaking and thermosetting processes, the content is preferably smaller. Preferably it is 10 ppm or less, More preferably, it is 1 ppm or less, Most preferably, it is 100 ppb or less.
The metal concentration of the coating type insulating film forming composition can also be evaluated by performing total reflection X-ray fluorescence measurement on the film obtained using the coating type insulating film forming composition of the present invention. When W line is used as the X-ray source, K, Ca, Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, and Pd can be observed as metal elements, each of which is 100 × 10 10 cm −2 or less. Is more preferably 50 × 10 10 cm −2 or less, and particularly preferably 10 × 10 10 cm −2 or less. Moreover, Br which is halogen can also be observed, and the residual amount is preferably 10000 × 10 10 cm −2 or less, more preferably 1000 × 10 10 cm −2 or less, and particularly preferably 400 × 10 10 cm −2 or less. is there. Further, although Cl can be observed as halogen, the remaining amount is preferably 100 × 10 10 cm −2 or less, more preferably 50 × 10 10 cm −2 or less from the viewpoint of damaging the CVD apparatus, the etching apparatus, and the like. Particularly preferably, it is 10 × 10 10 cm −2 or less.

本発明における塗布型絶縁膜形成用組成物を使用して得られる膜は、塗布型絶縁膜形成用組成物をスピンコーティング法、ローラーコーティング法、ディップコーティング法、スキャン法等の任意の方法により基板に塗布した後、溶剤を加熱処理で除去することにより形成することができる。基板に塗布する方法としては,スピンコーティング法,スキャン法によるものが好ましい。特に好ましくは,スピンコーティング法によるものである。スピンコーティングについては,市販の装置を使用できる。例えば,クリーントラックシリーズ(東京エレクトロン製),D-スピンシリーズ(大日本スクリーン製),SSシリーズあるいはCSシリーズ(東京応化工業製)等が好ましく使用できる。スピンコート条件としては,いずれの回転速度でもよいが,膜の面内均一性の観点より,300mmシリコン基板においては1300rpm程度の回転速度が好ましい。また組成物溶液の吐出方法においては,回転する基板上に組成物溶液を吐出する動的吐出,静止した基板上へ組成物溶液を吐出する静的吐出のいずれでもよいが,膜の面内均一性の観点より,動的吐出が好ましい。また,組成物の消費量を抑制する観点より,予備的に組成物の主溶剤のみを基板上に吐出して液膜を形成した後,その上から組成物を吐出するという方法を用いることもできる。スピンコート時間については特に制限はないが,スループットの観点から180秒以内が好ましい。また,基板の搬送の観点より,基板エッジ部の膜を残存させないための処理(エッジリンス,バックリンス)をすることも好ましい。
熱処理の方法は、特に限定されないが、一般的に使用されているホットプレート加熱、ファーネス炉を使用した加熱方法、RTP(Rapid Thermal Processor)等によるキセノンランプを使用した光照射加熱等を適用することができる。好ましくは,ホットプレート加熱,ファーネスを使用した加熱方法である。ホットプレートとしては市販の装置を好ましく使用でき,クリーントラックシリーズ(東京エレクトロン製),D-スピンシリーズ(大日本スクリーン製),SSシリーズあるいはCSシリーズ(東京応化工業製)等が好ましく使用できる。ファーネスとしては,αシリーズ(東京エレクトロン製)等が好ましく使用できる。
The film obtained using the composition for forming a coating type insulating film in the present invention is obtained by applying the composition for forming a coating type insulating film by any method such as a spin coating method, a roller coating method, a dip coating method, or a scanning method. After coating, the solvent can be removed by heat treatment. As a method of applying to the substrate, a spin coating method or a scanning method is preferable. Particularly preferred is the spin coating method. For spin coating, commercially available equipment can be used. For example, the clean track series (manufactured by Tokyo Electron), D-Spin series (manufactured by Dainippon Screen), SS series or CS series (manufactured by Tokyo Ohka Kogyo) can be preferably used. The spin coating conditions may be any rotational speed, but from the viewpoint of in-plane uniformity of the film, a rotational speed of about 1300 rpm is preferable for a 300 mm silicon substrate. In addition, the composition solution discharging method may be either dynamic discharge in which the composition solution is discharged onto a rotating substrate or static discharge in which the composition solution is discharged onto a stationary substrate. From the viewpoint of performance, dynamic ejection is preferable. Further, from the viewpoint of suppressing the consumption of the composition, it is also possible to use a method in which only the main solvent of the composition is preliminarily ejected on the substrate to form a liquid film, and then the composition is ejected from the liquid film. it can. The spin coating time is not particularly limited, but is preferably within 180 seconds from the viewpoint of throughput. Further, from the viewpoint of transporting the substrate, it is also preferable to perform processing (edge rinse, back rinse) so as not to leave the film at the edge portion of the substrate.
The heat treatment method is not particularly limited, but generally used hot plate heating, heating method using a furnace, light irradiation heating using a xenon lamp by RTP (Rapid Thermal Processor), etc. are applied. Can do. A heating method using hot plate heating or furnace is preferable. A commercially available device can be preferably used as the hot plate, and the clean track series (manufactured by Tokyo Electron), D-Spin series (manufactured by Dainippon Screen), SS series or CS series (manufactured by Tokyo Ohka Kogyo) can be preferably used. As the furnace, α series (manufactured by Tokyo Electron) and the like can be preferably used.

本発明における塗布型絶縁膜形成用組成物に含まれる高分子化合物(A)は基盤上に塗布した後に加熱処理することによって硬化させることが特に好ましい。例えば高分子化合物(A)中に残存する炭素三重結合や二重結合の後加熱時の重合反応が利用できる。この後加熱処理の条件は、好ましくは100〜450℃、より好ましくは200〜420℃、特に好ましくは350℃〜400℃で、好ましくは1分〜2時間、より好ましくは10分〜1.5時間、特に好ましくは30分〜1時間の範囲である。後加熱処理は数回に分けて行っても良い。また、この後加熱は酸素による熱酸化を防ぐために窒素雰囲気下で行うことが特に好ましい。   It is particularly preferable that the polymer compound (A) contained in the coating type insulating film forming composition in the present invention is cured by heat treatment after coating on the substrate. For example, a polymerization reaction during post-heating of carbon triple bonds and double bonds remaining in the polymer compound (A) can be used. The conditions for this post-heat treatment are preferably 100 to 450 ° C., more preferably 200 to 420 ° C., particularly preferably 350 to 400 ° C., preferably 1 minute to 2 hours, more preferably 10 minutes to 1.5 ° C. Time, particularly preferably in the range of 30 minutes to 1 hour. The post-heating treatment may be performed in several times. Further, this post-heating is particularly preferably performed in a nitrogen atmosphere in order to prevent thermal oxidation by oxygen.

また、本発明では加熱処理ではなく高エネルギー線を照射することで重合体中に残存する炭素三重結合もしくは二重結合の重合反応を起こして硬化させても良い。高エネルギー線とは、電子線、紫外線、X線などが挙げられるが、特にこれらの方法に限定されるものではない。
高エネルギー線として、電子線を使用した場合のエネルギーは0〜50keVが好ましく、より好ましくは0〜30keV、特に好ましくは0〜20keVである。電子線の総ドーズ量は好ましくは0〜5μC/cm 2 、より好ましくは0〜2μC/cm2 、特に好ましくは0〜1μC/cm2である。電子線を照射する際の基板温度は0〜450℃が好ましく、より好ましくは0〜400℃、特に好ましくは0〜350℃である。
圧力は好ましくは0〜133kPa、より好ましくは0〜60kPa、特に好ましくは0〜20kPaである。
本発明における重合物の酸化を防止するという観点から、基盤周囲の雰囲気はAr、He、窒素などの不活性雰囲気を用いることが好ましい。また、電子線との相互作用で発生するプラズマ、電磁波、化学種との反応を目的に酸素、炭化水素、アンモニアなどのガスを添加してもよい。本発明における電子線照射は複数回行ってもよく、この場合は電子線照射条件を毎回同じにする必要はなく、毎回異なる条件で行ってもよい。
高エネルギー線として紫外線を用いてもよい。紫外線を用いる際の照射波長領域は160〜400nmが好ましく、その出力は基板直上において0.1〜2000mWcm−2が好ましい。紫外線照射時の基板温度は250〜450℃が好ましく、より好ましくは250〜400℃、特に好ましくは250〜350℃である。本発明の重合物の酸化を防止するという観点から、基盤周囲の雰囲気はAr、He、窒素などの不活性雰囲気を用いることが好ましい。また、その際の圧力は0〜133kPaが好ましい。
Moreover, in this invention, you may make it harden | cure by causing the polymerization reaction of the carbon triple bond or double bond which remain | survives in a polymer by irradiating a high energy ray instead of heat processing. Examples of high energy rays include electron beams, ultraviolet rays, and X-rays, but are not particularly limited to these methods.
The energy when an electron beam is used as the high energy beam is preferably 0 to 50 keV, more preferably 0 to 30 keV, and particularly preferably 0 to 20 keV. The total dose of the electron beam is preferably 0 to 5 μC / cm 2 , more preferably 0 to 2 μC / cm 2 , and particularly preferably 0 to 1 μC / cm 2 . The substrate temperature at the time of irradiation with an electron beam is preferably 0 to 450 ° C, more preferably 0 to 400 ° C, and particularly preferably 0 to 350 ° C.
The pressure is preferably 0 to 133 kPa, more preferably 0 to 60 kPa, and particularly preferably 0 to 20 kPa.
From the viewpoint of preventing oxidation of the polymer in the present invention, the atmosphere around the substrate is preferably an inert atmosphere such as Ar, He, or nitrogen. Further, a gas such as oxygen, hydrocarbon, or ammonia may be added for the purpose of reaction with plasma, electromagnetic waves, or chemical species generated by interaction with an electron beam. The electron beam irradiation in the present invention may be performed a plurality of times. In this case, the electron beam irradiation conditions need not be the same each time, and may be performed under different conditions each time.
Ultraviolet rays may be used as the high energy rays. The irradiation wavelength region when ultraviolet rays are used is preferably 160 to 400 nm, and the output is preferably 0.1 to 2000 mWcm −2 immediately above the substrate. The substrate temperature at the time of ultraviolet irradiation is preferably 250 to 450 ° C., more preferably 250 to 400 ° C., and particularly preferably 250 to 350 ° C. From the viewpoint of preventing oxidation of the polymer of the present invention, the atmosphere around the substrate is preferably an inert atmosphere such as Ar, He, or nitrogen. Further, the pressure at that time is preferably 0 to 133 kPa.

本発明における塗布型絶縁膜形成用組成物を使用して得られる膜は、半導体用層間絶縁膜として使用する際、その配線構造において、配線側面にはメタルマイグレーションを防ぐためのバリア層があっても良く、また、配線や層間絶縁膜の上面底面にはCMP(化学的機械的研磨)での剥離を防ぐキャップ層、層間密着層の他、エッチングストッパー層等があってもよく、更には層間絶縁膜の層を必要に応じて他種材料で複数層に分けても良い。   The film obtained by using the composition for forming a coating type insulating film in the present invention has a barrier layer for preventing metal migration on the wiring side surface in the wiring structure when used as an interlayer insulating film for a semiconductor. In addition, there may be an etching stopper layer, etc. in addition to a cap layer and an interlayer adhesion layer that prevent peeling by CMP (Chemical Mechanical Polishing) on the bottom surface of the upper surface of the wiring and interlayer insulating film. The layer of the insulating film may be divided into a plurality of layers with other kinds of materials as required.

本発明における塗布型絶縁膜形成用組成物を使用して得られる膜は,銅配線あるいはその他の目的でエッチング加工をすることができる。エッチングとしてはウエットエッチング,ドライエッチングのいずれでもよいが,ドライエッチングが好ましい。ドライエッチングは,アンモニア系プラズマ,フルオロカーボン系プラズマのいずれもが適宜使用できる。これらプラズマにはArだけでなく,酸素,あるいは窒素,水素,ヘリウム等のガスを用いることができる。また,エッチング加工後に,加工に使用したフォトレジスト等を除く目的でアッシングすることもでき,さらにはアッシング時の残渣を除くため,洗浄することもできる。   A film obtained by using the composition for forming a coating type insulating film in the present invention can be etched for copper wiring or other purposes. Etching may be either wet etching or dry etching, but dry etching is preferred. For dry etching, either ammonia-based plasma or fluorocarbon-based plasma can be used as appropriate. These plasmas can use not only Ar but also oxygen, or gases such as nitrogen, hydrogen, and helium. In addition, after the etching process, ashing can be performed for the purpose of removing the photoresist or the like used for the processing, and further, cleaning can be performed to remove a residue at the time of ashing.

本発明における塗布型絶縁膜形成用組成物を使用して得られる膜は,銅配線加工後に,銅めっき部を平坦化するためCMP(化学的機械的研磨)をすることができる。CMPスラリー(薬液)としては,市販のスラリー(例えば,フジミ製,ロデールニッタ製,JSR製,日立化成製等)を適宜使用できる。また,CMP装置としては市販の装置(アプライドマテリアル社製,荏原製作所製等)を適宜使用することができる。さらにCMP後のスラリー残渣除去のため,洗浄することができる。   The film obtained by using the composition for forming a coating type insulating film in the present invention can be subjected to CMP (Chemical Mechanical Polishing) in order to planarize the copper plating portion after the copper wiring processing. As the CMP slurry (chemical solution), a commercially available slurry (for example, manufactured by Fujimi, manufactured by Rodel Nitta, manufactured by JSR, manufactured by Hitachi Chemical, etc.) can be used as appropriate. Moreover, as a CMP apparatus, a commercially available apparatus (Applied Materials Co., Ltd., Ebara Corporation, etc.) can be used suitably. Furthermore, it can be washed to remove slurry residue after CMP.

本発明における塗布型絶縁膜形成用組成物を使用して得られる膜は、多様の目的に使用することが出来る。例えばLSI、システムLSI、DRAM、SDRAM、RDRAM、D−RDRAM等の半導体装置、マルチチップモジュール多層配線板等の電子部品における絶縁皮膜として好適であり、半導体用層間絶縁膜、エッチングストッパー膜、表面保護膜、バッファーコート膜の他、LSIにおけるパッシベーション膜、α線遮断膜、フレキソ印刷版のカバーレイフィルム、オーバーコート膜、フレキシブル銅張板のカバーコート、ソルダーレジスト膜、液晶配向膜等として使用することが出来る。
さらに、別の用途として本発明の膜に電子ドナーまたはアクセプターをドープすることによって導電性を付与し、導電性膜として使用することも出来る。
The film obtained using the composition for forming a coating type insulating film in the present invention can be used for various purposes. For example, it is suitable as an insulating film for semiconductor devices such as LSI, system LSI, DRAM, SDRAM, RDRAM, and D-RDRAM, and electronic parts such as multichip module multilayer wiring boards, interlayer insulating film for semiconductor, etching stopper film, surface protection In addition to films, buffer coat films, LSI passivation films, alpha ray blocking films, flexographic printing plate cover lay films, overcoat films, flexible copper clad cover coats, solder resist films, liquid crystal alignment films, etc. I can do it.
Further, as another application, the film of the present invention can be provided with conductivity by doping with an electron donor or acceptor and used as a conductive film.

以下に本発明を実施例によってさらに具体的に説明が、勿論本発明の範囲は、これらによって限定されるものではない。   The present invention will be described more specifically with reference to the following examples. However, the scope of the present invention is not limited to these examples.

<合成例1>
Macromolecules.,5266(1991)に記載の合成法に従って、4,9−ジエチニルジアマンタン(a)を合成した。次に、4,9−ジエチニルジアマンタン(a)2gとジクミルパーオキサイド(パークミルD、日本油脂製)0.22g、t−ブチルベンゼン10mlを窒素気流下で内温150℃で7時間攪拌、重合した。反応液を室温にした後、イソプロピルアルコール60mlに添加、析出した固体を濾過して、イソプロピルアルコールで十分に洗浄して所望の4,9−ジエチニルジアマンタン(a)の重合体を得た。
<Synthesis Example 1>
According to the synthesis method described in Macromolecules., 5266 (1991), 4,9-diethynyldiamantane (a) was synthesized. Next, 2 g of 4,9-diethynyldiamantane (a), 0.22 g of dicumyl peroxide (Perk Mill D, manufactured by NOF Corporation) and 10 ml of t-butylbenzene were stirred for 7 hours at an internal temperature of 150 ° C. under a nitrogen stream. Polymerized. After the reaction solution was brought to room temperature, it was added to 60 ml of isopropyl alcohol, and the precipitated solid was filtered and sufficiently washed with isopropyl alcohol to obtain a desired 4,9-diethynyldiamantane (a) polymer.

<合成例2〜7>
合成例1の4,9−ジエチニルジアマンタン(a)の代わりに、3,3,3’,3’−トリエチニル−1,1’−ビアダマンタン(b)、3,3‘−ジエチニル−1,1’−ビアダマンタン(c)、1,6−ジエチニルジアマンタン(d)、1,4,6,9−テトラエチニルジアマンタン(e)、例示化合物(I−a)、例示化合物(I−d)を使用する以外は上記の合成例1と同様の方法にて各重合体を得た。
<Synthesis Examples 2-7>
Instead of 4,9-diethynyldiamantane (a) in Synthesis Example 1, 3,3,3 ′, 3′-triethynyl-1,1′-biadamantane (b), 3,3′-diethynyl-1 , 1′-biadamantane (c), 1,6-diethynyldiamantane (d), 1,4,6,9-tetraethynyldiamantane (e), exemplary compound (Ia), exemplary compound (I Each polymer was obtained in the same manner as in Synthesis Example 1 except that -d) was used.

<合成例8>
3,3’−(オキシジ−1,4−フェニレン)ビス(2,4,5-トリフェニルシクロペンタジエノン)(化合物(f)、782.4g、1.0モル)、および1,3,5-トリス(フェニルエチニル)ベンゼン(化合物(g)、378.2g(1.00モル))を4リットルのγ−ブチロラクトンに溶解させ、当溶液をフラスコ内に加えた。このフラスコ内を窒素置換した上で、溶液を200℃に加熱攪拌した。12時間加熱後、室温まで冷却した溶液を5リットルのエタノールに加えた。この時に析出して得られる粉状固体として化合物(f)と化合物(g)のDiels-Alder反応体としてのポリマーを得た。
<Synthesis Example 8>
3,3 ′-(oxydi-1,4-phenylene) bis (2,4,5-triphenylcyclopentadienone) (compound (f), 782.4 g, 1.0 mol), and 1,3,5-tris (Phenylethynyl) benzene (compound (g), 378.2 g (1.00 mol)) was dissolved in 4 liters of γ-butyrolactone, and this solution was added to the flask. The flask was purged with nitrogen, and the solution was heated and stirred at 200 ° C. After heating for 12 hours, the solution cooled to room temperature was added to 5 liters of ethanol. At this time, a polymer as a Diels-Alder reactant of compound (f) and compound (g) was obtained as a powdered solid obtained by precipitation.

〔実施例1〜37、比較例1〜2〕
<塗布型絶縁膜形成用組成物の調製>
上記合成例にて得られた各重合体を固形分3.0重量%となるようシクロヘキサノンに完全溶解させて塗布液を調製した。この塗布原液を下記表1に示す各種濾過フィルターを通した濾過を行うことで塗布膜形成用組成物の調製を行った。ここで、濾過フィルターは表1に示したイオン除去フィルターに加え、パーティクル除去フィルターとして孔径0.02μmの非対称構造ナイロンフィルター(日本ポール製)を併用して濾過した。これら金属除去フィルターおよびパーティクル除去フィルターによる濾過工程は室温20〜30℃、湿度40〜60%RHの範囲に入るような環境下で実施した。このような製造手法にて得られた組成物について、偏光ゼーマン原子吸光分光光度計(日立製、Z−9000)を用いてNa, K, Fe, Zn, Ptの含有量を定量した。その結果を表1に示す。
[Examples 1-37, Comparative Examples 1-2]
<Preparation of composition for forming coating type insulating film>
Each polymer obtained in the above synthesis example was completely dissolved in cyclohexanone so as to have a solid content of 3.0% by weight to prepare a coating solution. The composition for forming a coating film was prepared by filtering this coating stock solution through various filtration filters shown in Table 1 below. Here, in addition to the ion removal filter shown in Table 1, the filtration filter was filtered using an asymmetric structure nylon filter (manufactured by Nippon Pole) having a pore diameter of 0.02 μm as a particle removal filter. The filtration step using the metal removal filter and the particle removal filter was performed in an environment that included a room temperature of 20 to 30 ° C. and a humidity of 40 to 60% RH. About the composition obtained by such a manufacturing method, content of Na, K, Fe, Zn, and Pt was quantified using the polarization | polarized-light Zeeman atomic absorption spectrophotometer (the Hitachi make, Z-9000). The results are shown in Table 1.

<絶縁耐性の測定>
上述の要領にて調整した塗布液を東京エレクトロン製スピンコーターACT-8 SODを用いて基板抵抗値7 Ω/cmの8インチベアシリコンウェハー上にスピン塗布した。塗布後の膜を110℃60秒間、続いて200℃60秒ベークを行った後、窒素置換した400℃のクリーンオーブン内にて1時間焼成することで膜厚100nmの塗布膜を得た。得られた膜の比誘電率をフォーディメンジョンズ製水銀プローバおよび横河ヒューレットパッカード製のHP4285A LCR meterを用いて1MHzにおける電気容量値から算出した。
また得られた膜に対してフォーディメンジョンズ製水銀プローバおよび横河ヒューレットパッカード製のHP4285A LCR meterを用いて電圧を徐々に印加し、絶縁膜における電界強度が 1.0MV/cmである時のリーク電流(leak current)を測定した。また、ある程度まで印加電圧を上昇させるとリーク電流が1E-3 A/cm2を超えるが、この時点で絶縁膜に印加されている電圧をブレークダウン電圧(breakdown voltage)として測定した。なお、上述のリーク電流とブレークダウン電圧は何れも8インチウェハー上の20点で測定を行い、その平均として測定値を求めた。下記表1に評価結果を纏めて示す。
<Measurement of insulation resistance>
The coating solution prepared as described above was spin-coated on an 8-inch bare silicon wafer having a substrate resistance of 7 Ω / cm using a spin coater ACT-8 SOD manufactured by Tokyo Electron. The coated film was baked at 110 ° C. for 60 seconds, followed by 200 ° C. for 60 seconds, and then baked for 1 hour in a 400 ° C. clean oven purged with nitrogen to obtain a coated film having a thickness of 100 nm. The relative dielectric constant of the obtained film was calculated from the electric capacity value at 1 MHz using a mercury probe manufactured by Four Dimensions and an HP4285A LCR meter manufactured by Yokogawa Hewlett-Packard.
In addition, when a voltage is gradually applied to the obtained film using a Four Dimensions mercury probe and Yokogawa Hewlett Packard HP4285A LCR meter, the leakage current when the electric field strength in the insulating film is 1.0 MV / cm (Leak current) was measured. Further, when the applied voltage was raised to a certain extent, the leakage current exceeded 1E-3 A / cm 2 , but the voltage applied to the insulating film at this point was measured as a breakdown voltage. The above-described leakage current and breakdown voltage were measured at 20 points on an 8-inch wafer, and the measured values were obtained as the average. The evaluation results are summarized in Table 1 below.

<経時した組成物の塗布欠陥数評価>
8インチシリコンウェハー上に、表1に示す各組成物の溶液を1ヶ月間23℃で経時させた液をピン塗布し、110℃/60秒ベークと200℃/60秒ベークを行って膜厚80nmの絶縁膜を得た。このようにして得られた絶縁膜について、ケーエルエー・テンコール(株)製ウェハー欠陥検査装置KLA-2360機にて塗布欠陥を検査し、得られた1次欠陥数を塗布欠陥数とした。その結果を表1に纏めて示す。
<Evaluation of the number of coating defects over time>
On an 8-inch silicon wafer, a solution obtained by aging the solution of each composition shown in Table 1 at 23 ° C. for one month was applied with a pin, and baked at 110 ° C./60 seconds and 200 ° C./60 seconds to obtain a film thickness. An 80 nm insulating film was obtained. With respect to the insulating film thus obtained, coating defects were inspected with a wafer defect inspection apparatus KLA-2360 manufactured by KLA-Tencor Corporation, and the number of primary defects obtained was defined as the number of coating defects. The results are summarized in Table 1.

Figure 2008239690
Figure 2008239690

(註)
(A):日本ポール製、ion kleen SL(多孔質ポリエチレンに陽イオン交換基がグラフトされた濾材
(B):日本インテグリス製、protego CF(多孔質ポリエチレンに陽イオン交換基がグラフトされた濾材
(C):日本ポール製、ion kleen AN(多孔質ポリプロピレンに陰イオン交換樹脂を分散させた濾材
(D):三菱化学製、ダイヤイオン(R)CR20(キレート樹脂)を超純水および電子グレードのシクロヘキサノンで洗浄し乾燥させたビーズを充填したカラム
(E):オルガノ製、アンバーリスト 15DRY(陽イオン交換樹脂)を超純水および電子グレードのシクロヘキサノンで洗浄し乾燥させたビーズを充填したカラム
(註)
(A): Nippon Pole, ion kleen SL (filter material with cation exchange groups grafted on porous polyethylene)
(B): Protego CF manufactured by Nihon Entegris (filter medium with cation exchange groups grafted on porous polyethylene)
(C): Nippon Pole, ion kleen AN (filter medium in which anion exchange resin is dispersed in porous polypropylene)
(D): Mitsubishi Chemical's column packed with beads obtained by washing Diaion (R) CR20 (chelate resin) with ultrapure water and electronic grade cyclohexanone and drying.
(E): Column packed with beads made by Organo, Amberlyst 15DRY (cation exchange resin) washed with ultrapure water and electronic grade cyclohexanone and dried

上記表1に示すとおり、本発明の塗布型絶縁膜形成用組成物の製造方法によれば、組成物に含まれる金属不純物が低減されており、そのリーク電流・ブレークダウン電圧といった絶縁耐性に優れており、さらに塗布液の経時安定性に優れていることが判る。   As shown in Table 1 above, according to the method for producing a coating-type insulating film forming composition of the present invention, the metal impurities contained in the composition are reduced, and the insulation resistance such as leakage current and breakdown voltage is excellent. Further, it can be seen that the coating solution is excellent in stability over time.

Claims (10)

少なくとも一種のイオン交換基を有する構造体がグラフトされている多孔質ポリオレフィン濾材で濾過される工程を含む塗布型絶縁膜形成用組成物の製造方法。   The manufacturing method of the composition for coating type insulation film formation including the process filtered with the porous polyolefin filter medium by which the structure which has at least 1 type of ion exchange group is grafted. (A)高分子化合物、(B)有機溶剤からなる塗布型絶縁膜組成物であって、少なくとも一種のイオン交換基を有する構造体がグラフトされている多孔質ポリオレフィン濾材による濾過が行われていることを特徴とする塗布型絶縁膜形成用組成物。   A coating type insulating film composition comprising (A) a polymer compound and (B) an organic solvent, wherein filtration is performed with a porous polyolefin filter medium grafted with a structure having at least one ion exchange group A composition for forming a coating type insulating film. 前記高分子化合物(A)が少なくとも一種の有機ポリマーを含む請求項2に記載の塗布型絶縁膜形成用組成物。   The composition for forming a coating insulating film according to claim 2, wherein the polymer compound (A) contains at least one organic polymer. 前記高分子化合物(A)がカゴ型構造を含む繰り返し単位を有するを少なくとも1種含有する請求項2または3に記載の塗布型絶縁膜形成用組成物。   The composition for forming a coating type insulating film according to claim 2 or 3, wherein the polymer compound (A) contains at least one type of repeating unit having a cage structure. 前記高分子化合物(A)が重合可能な炭素−炭素二重結合または炭素−炭素三重結合を有するカゴ型構造含有モノマーの重合体であることを特徴とする請求項4に記載の塗布型絶縁膜形成用組成物。   The coating type insulating film according to claim 4, wherein the polymer compound (A) is a polymer of a cage structure-containing monomer having a polymerizable carbon-carbon double bond or carbon-carbon triple bond. Forming composition. 前記カゴ型構造がアダマンタン、ビアダマンタン、ジアマンタン、トリアマンタン、テトラマンタンから選択されることを特徴とする請求項4または5に記載の塗布型絶縁膜形成用組成物。   The composition for forming a coating type insulating film according to claim 4 or 5, wherein the cage structure is selected from adamantane, biadamantane, diamantane, triamantane, and tetramantane. 前記カゴ型構造を有するモノマーが下記式(I)〜(VI)の群から選択されることを特徴とする請求項6に記載の塗布型絶縁膜形成用組成物。
Figure 2008239690
式(I)〜(VI)中、X〜Xは水素原子、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数2〜10のアルケニル基、炭素数2〜10のアルキニル基、炭素数6〜20のアリール基、炭素数0〜20のシリル基、炭素数2〜10のアシル基、炭素数2〜10のアルコキシカルボニル基、炭素数1〜20のカルバモイル基等を表す。
〜Yはハロゲン原子、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基または炭素数0〜20のシリル基を表す。
1、mはそれぞれ独立に1〜16の整数を表し、n1、n5は0〜15の整数を表す。
、m、m、mはそれぞれ独立に1〜15の整数を表し、n、n、n、nは0〜14の整数を表す。
、mはそれぞれ独立に1〜20の整数を表し、n、nは0〜19の整数を表す。
The composition for forming a coating type insulating film according to claim 6, wherein the monomer having a cage structure is selected from the group of the following formulas (I) to (VI).
Figure 2008239690
In formulas (I) to (VI), X 1 to X 8 are a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms, an alkynyl group having 2 to 10 carbon atoms, or 6 to 6 carbon atoms. 20 aryl groups, silyl groups having 0 to 20 carbon atoms, acyl groups having 2 to 10 carbon atoms, alkoxycarbonyl groups having 2 to 10 carbon atoms, carbamoyl groups having 1 to 20 carbon atoms, and the like.
Y 1 to Y 8 represent a halogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an aryl group having 6 to 20 carbon atoms, or a silyl group having 0 to 20 carbon atoms.
m 1 and m 5 each independently represents an integer of 1 to 16, and n 1 and n 5 each represents an integer of 0 to 15.
m 2 , m 3 , m 6 and m 7 each independently represent an integer of 1 to 15, and n 2 , n 3 , n 6 and n 7 represent an integer of 0 to 14.
m 4 and m 8 each independently represents an integer of 1 to 20, and n 4 and n 8 each represents an integer of 0 to 19.
m個のRSi(O0.5)3ユニット(mは8〜16の整数を表す。Rはそれぞれ独立して非加水分解性基を表すが、少なくとも2つはビニル基またはエチニル基を含む基を示す)が、その酸素原子を共有しながら他のRSi(O0.5)3ユニットと連結して前記カゴ型構造を形成していることを特徴とする請求項4に記載の塗布型絶縁膜形成用組成物。 m RSi (O 0.5 ) 3 units (m represents an integer of 8 to 16. Each R independently represents a non-hydrolyzable group, but at least two represent a group containing a vinyl group or an ethynyl group. The composition for forming a coating type insulating film according to claim 4, wherein the cage structure is formed by linking with other RSi (O 0.5 ) 3 units while sharing the oxygen atom. object. 前記カゴ型構造を有するモノマーが下記式(Q-1)〜(Q-6)の群から選択されることを特徴とする請求項8に記載の塗布型絶縁膜形成用組成物。
Figure 2008239690
Figure 2008239690
(上記一般式中、Rはそれぞれ独立して非加水分解性基を表す。ただし、少なくとも2つはビニル基またはエチニル基を含む基を示す)
The composition for forming a coating type insulating film according to claim 8, wherein the monomer having a cage structure is selected from the group of the following formulas (Q-1) to (Q-6).
Figure 2008239690
Figure 2008239690
(In the above general formula, each R independently represents a non-hydrolyzable group, provided that at least two are groups containing a vinyl group or an ethynyl group)
請求項2〜9の何れかに記載の塗布型絶縁膜形成用組成物より形成される絶縁膜を有する電子デバイス。   The electronic device which has an insulating film formed from the composition for coating type insulating film formation in any one of Claims 2-9.
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