JP2008232503A - Temperature control device for steering wheel - Google Patents

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Keiichi Yamamoto
啓一 山本
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Aisin Corp
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Aisin Seiki Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a temperature control device for a steering wheel capable of detecting failure of a Peltier element with high accuracy while suppressing increase of number of components. <P>SOLUTION: Temperature difference DTcs of a cooling target temperature value Tct and an initial temperature value Tcs is calculated. A temperature change threshold value is calculated on the basis of the relationship of the temperature difference DTcs and monotone nondecreasing, and a duration time threshold value is calculated on the basis of the relationship of the temperature difference DTcs and monotone nonincreasing. A temperature change ΔTc per a unit time is detected on the basis of the detected temperature, the duration time Δτdcl in a state that the temperature change ΔTc per unit time is smaller than the temperature change threshold value, is detected when a duty ratio is more than a prescribed value, and the failure of the Peltier element is judged when the duration time Δτdcl is more than the duration time threshold value. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、ステアリングホイールの温度制御装置に関するものである。   The present invention relates to a temperature control device for a steering wheel.

従来、ステアリングホイールの温度制御装置としては、例えば特許文献1に記載されたものが知られている。この装置は、発熱・吸熱する熱電変換素子としてのペルチェ素子をステアリングホイールに内蔵しており、該ステアリングホイールの現在の温度(実温度)を温度センサ(サーミスタ)により検出して、所定の温度にするように、加熱・冷却を選択すべくペルチェ素子への印加電圧の極性を切り替えるととともに、該印加電圧のオン・オフ(断続)制御によりステアリングホイールの温度を調節する。
特開昭60−88679号公報
Conventionally, as a temperature control device for a steering wheel, for example, a device described in Patent Document 1 is known. This device incorporates a Peltier element as a thermoelectric conversion element that generates and absorbs heat into the steering wheel, and detects the current temperature (actual temperature) of the steering wheel by a temperature sensor (thermistor) to obtain a predetermined temperature. As described above, the polarity of the voltage applied to the Peltier element is switched to select heating and cooling, and the temperature of the steering wheel is adjusted by on / off (intermittent) control of the applied voltage.
JP-A-60-88679

ところで、このようにペルチェ素子への印加電圧の制御によりステアリングホイールの温度を調節する構成において、該ペルチェ素子の故障検出を行うことが検討されている。例えば、ペルチェ素子の通電電流検出用の抵抗で生じる電圧降下をコンパレータで監視して、該コンパレータが出力する電圧の状態と前記ペルチェ素子への印加電圧の状態との一致・不一致に応じてペルチェ素子の正常・故障の判断を行うことが提案されている。これは、ペルチェ素子は、電気的には抵抗体であり、該ペルチェ素子に流れる電流波形、即ちコンパレータが出力する電圧の波形は、通常は印加電圧の波形と一致(同期)することを利用するものである。しかしながら、この場合には、故障検出に係る回路(コンパレータ等)の分だけ部品点数が増加され、ひいてはコストの増大を余儀なくされる。また、故障検出に係る回路の実装のために基板にスペースを確保する必要があり、該基板のコストが増大されてしまう。   By the way, in such a configuration in which the temperature of the steering wheel is adjusted by controlling the voltage applied to the Peltier element, it has been studied to detect a failure of the Peltier element. For example, a voltage drop generated by a resistance for detecting an energization current of the Peltier element is monitored by a comparator, and the Peltier element is determined according to the match / mismatch between the state of the voltage output by the comparator and the state of the voltage applied to the Peltier element. It has been proposed to judge normality / failure. This is because the Peltier element is electrically a resistor, and the waveform of the current flowing through the Peltier element, that is, the waveform of the voltage output from the comparator is normally matched (synchronized) with the waveform of the applied voltage. Is. However, in this case, the number of parts is increased by the amount of the circuit (comparator or the like) related to the failure detection, and thus the cost is inevitably increased. In addition, it is necessary to secure a space on the board for mounting a circuit related to failure detection, which increases the cost of the board.

本発明の目的は、部品点数の増加を抑制しつつ、ペルチェ素子の故障を精度よく検出することができるステアリングホイールの温度制御装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a temperature control device for a steering wheel that can accurately detect a failure of a Peltier element while suppressing an increase in the number of parts.

上記問題点を解決するために、請求項1に記載の発明は、ステアリングホイールに設けられたペルチェ素子と、前記ステアリングホイールの温度を検出する温度検出手段とを備え、前記ペルチェ素子による温度調節作用の強さと単調非減少の関係で該ペルチェ素子に対する印加電圧のデューティ比率を設定して、前記ステアリングホイールの温度を目標温度に制御するステアリングホイールの温度制御装置において、目標温度及び温度調節開始時に前記温度検出手段により検出された温度の温度差を算出する算出手段と、前記算出された温度差と単調非減少の関係で温度変化分閾値を算出する第1算出手段と、前記算出された温度差と単調非増加の関係で継続時間閾値を算出する第2算出手段と、前記温度検出手段により検出された温度に基づき、単位時間当たりの温度変化分を検出する変化分検出手段と、前記デューティ比率が所定値よりも大きいとき、前記変化分検出手段により検出された単位時間当たりの温度変化分が前記温度変化分閾値よりも小さい状態にあるときの継続時間を検出する継続時間検出手段と、前記継続時間検出手段により検出された継続時間が、前記継続時間閾値よりも大きいときに前記ペルチェ素子の故障を判断する判断手段とを備えたことを要旨とする。   In order to solve the above problems, the invention according to claim 1 includes a Peltier element provided in a steering wheel, and a temperature detecting means for detecting the temperature of the steering wheel, and the temperature adjusting action by the Peltier element. In the steering wheel temperature control device for controlling the temperature of the steering wheel to the target temperature by setting the duty ratio of the voltage applied to the Peltier element in a relationship between the strength of the motor and the monotonic non-decreasing, at the start of the target temperature and temperature adjustment A calculating means for calculating a temperature difference between the temperatures detected by the temperature detecting means; a first calculating means for calculating a temperature change threshold value in a relationship of non-decreasing monotonously with the calculated temperature difference; and the calculated temperature difference. And a second calculating means for calculating a duration threshold value in a monotonically non-increasing relationship, and based on the temperature detected by the temperature detecting means. A change detection unit for detecting a temperature change per unit time, and when the duty ratio is larger than a predetermined value, the temperature change per unit time detected by the change detection unit is the temperature change A duration detecting unit for detecting a duration when the state is smaller than a threshold; and a failure of the Peltier element is determined when the duration detected by the duration detecting unit is greater than the duration threshold. The gist of the invention is that it comprises a judging means.

一般に、ステアリングホイールの温度を目標温度に制御すべく、前記ペルチェ素子による温度調節作用を開始した場合、該ステアリングホイールの温度、即ち前記温度検出手段により検出される温度は、時間の経過とともに徐々に前記目標温度へと近付く。この際、前記ペルチェ素子が正常であっても、目標温度及び温度調節開始時に前記温度検出手段により検出された温度、即ち初期温度の温度差が大きいときほど、単位時間当たりの温度変化分が大きくなる傾向を示す。また、初期温度及び目標温度の温度差が小さいときほど、単位時間当たりの温度変化分が小さい状態にあるときの継続時間が大きくなる傾向を示す。一方、前記ペルチェ素子が故障(異常)であれば、該ペルチェ素子による温度調節作用を開始しても、ステアリングホイールの温度、即ち前記温度検出手段により検出される温度は概ね初期温度の近くを推移する。   In general, when the temperature adjustment action by the Peltier element is started to control the temperature of the steering wheel to the target temperature, the temperature of the steering wheel, that is, the temperature detected by the temperature detecting means, gradually increases with time. The target temperature is approached. At this time, even if the Peltier element is normal, the temperature change per unit time increases as the temperature detected by the temperature detecting means at the start of the target temperature and temperature adjustment, that is, the temperature difference between the initial temperatures increases. Show the trend. Further, the smaller the temperature difference between the initial temperature and the target temperature, the longer the duration when the temperature change per unit time is smaller. On the other hand, if the Peltier element is faulty (abnormal), the temperature of the steering wheel, i.e., the temperature detected by the temperature detecting means, is almost in the vicinity of the initial temperature even if the temperature adjusting action by the Peltier element is started. To do.

同構成によれば、このような単位時間当たりの温度変化分及び前記継続時間の傾向を反映して、前記温度変化分閾値及び前記継続時間閾値が算出される。そして、前記温度変化分閾値による単位時間当たりの温度変化分の閾値判定及び前記継続時間閾値による前記継続時間の閾値判定に基づいて、前記ペルチェ素子の故障(異常)を精度よく判断することができる。また、基本的に温度制御装置による演算処理のみで、前記ペルチェ素子の故障を検出(判断)できるため、例えば当該故障検出に係る回路(コンパレータ等)を割愛できる。   According to this configuration, the temperature change threshold and the duration threshold are calculated by reflecting the temperature change per unit time and the tendency of the duration. The failure (abnormality) of the Peltier element can be accurately determined based on the threshold determination for the temperature change per unit time by the temperature change threshold and the threshold determination for the duration by the duration threshold. . Further, since the failure of the Peltier element can be detected (determined) basically by only the arithmetic processing by the temperature control device, for example, a circuit (such as a comparator) relating to the failure detection can be omitted.

請求項1に記載の発明では、故障検出に係る回路等を用いることなく、ペルチェ素子の故障を精度よく判断できるステアリングホイールの温度制御装置を提供することができる。   According to the first aspect of the present invention, it is possible to provide a temperature control device for a steering wheel that can accurately determine a failure of a Peltier element without using a circuit relating to failure detection.

以下、本発明を具体化した一実施形態を図面に従って説明する。
図1は、本実施形態に係るステアリングホイールを示す断面図である。同図に示されるように、ステアリングホイールは、車両のステアリングシャフトに取着される取付部11と、該取付部11から放射状に延出する複数(4本)のスポーク部12と、これらスポーク部12の先端部を連結する円環状のリング部13とを備えて構成される。
DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, an embodiment of the invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a steering wheel according to the present embodiment. As shown in the figure, the steering wheel includes a mounting portion 11 attached to a steering shaft of a vehicle, a plurality (four) of spoke portions 12 extending radially from the mounting portion 11, and the spoke portions. And an annular ring portion 13 for connecting the 12 tip portions.

前記リング部13は、例えばアルミニウムからなる蓄熱体としての円環状のリム部21を備える。図1に拡大して示すように、このリム部21には、上下に隣り合う前記スポーク部12間で前記リング部13に形成される左右のグリップ部に合わせて、複数(12個)のペルチェ素子22が配設されている。これら12個のペルチェ素子22は、前記リング部13の左右のグリップ部に6個ずつ配置されている。各グリップ部に配置された6個のペルチェ素子22は、電気的に直列接続されて、ペルチェ素子アセンブリ23を構成する。各ペルチェ素子アセンブリ23は、対応するグリップ部において前記リム部21と熱伝導的に接続されている。また、各ペルチェ素子アセンブリ23を構成する6個のペルチェ素子22は、リング部13の外周側及び内周側に3個ずつで配置されている。   The ring portion 13 includes an annular rim portion 21 as a heat storage body made of, for example, aluminum. As shown in an enlarged view in FIG. 1, the rim portion 21 includes a plurality (12 pieces) of Peltier to match the left and right grip portions formed on the ring portion 13 between the spoke portions 12 that are vertically adjacent to each other. An element 22 is provided. Six of these twelve Peltier elements 22 are arranged in the left and right grip portions of the ring portion 13. The six Peltier elements 22 arranged in each grip portion are electrically connected in series to form a Peltier element assembly 23. Each Peltier element assembly 23 is thermally conductively connected to the rim portion 21 at a corresponding grip portion. The six Peltier elements 22 constituting each Peltier element assembly 23 are arranged in three on the outer peripheral side and the inner peripheral side of the ring portion 13.

各ペルチェ素子アセンブリ23において、前記リング部13の外周側及び内周側に配置された3個のペルチェ素子22には、例えば銅からなる伝熱プレート24が装着されている。各伝熱プレート24は、対応する3個のペルチェ素子22と熱伝導的に接続されている。   In each Peltier element assembly 23, a heat transfer plate 24 made of, for example, copper is attached to the three Peltier elements 22 arranged on the outer peripheral side and the inner peripheral side of the ring portion 13. Each heat transfer plate 24 is connected to the corresponding three Peltier elements 22 in a heat conductive manner.

そして、前記リム部21は、前記ペルチェ素子アセンブリ23(ペルチェ素子22)及び伝熱プレート24とともに、例えば本皮や合成皮革からなる表皮25により覆われている。   The rim portion 21 is covered with a skin 25 made of, for example, real leather or synthetic leather, together with the Peltier element assembly 23 (Peltier element 22) and the heat transfer plate 24.

図1に併せ示したように、各グリップ部のペルチェ素子アセンブリ23は、マイクロコンピュータ(マイコン)を備えた制御ユニット31に電気的に接続されており、該制御ユニット31からの通電出力に従って対応するグリップ部の表面を加熱又は冷却する。具体的には、例えばグリップ部の表面を冷却すべく通電出力された場合、ペルチェ素子アセンブリ23は、前記伝熱プレート24から吸熱するとともに、前記リム部21の熱容量を利用して該リム部21に蓄熱・熱放散する。これにより、表皮25の熱がリム部21へと移動し、グリップ部の表面が冷却される。   As shown in FIG. 1, the Peltier element assembly 23 of each grip portion is electrically connected to a control unit 31 having a microcomputer, and responds according to the energization output from the control unit 31. Heat or cool the surface of the grip part. Specifically, for example, when energized and output to cool the surface of the grip portion, the Peltier element assembly 23 absorbs heat from the heat transfer plate 24 and uses the heat capacity of the rim portion 21 to rim portion 21. Stores and dissipates heat. Thereby, the heat | fever of the outer skin 25 moves to the rim | limb part 21, and the surface of a grip part is cooled.

なお、各グリップ部には、その温度を検出する温度検出手段としてのサーミスタ32が設けられている。制御ユニット31は、各サーミスタ32からの温度信号入力によって対応するグリップ部の温度を検出するとともに、該検出された温度に応じて前記ペルチェ素子アセンブリ23への通電出力を制御する。つまり、制御ユニット31は、左右のグリップ部の温度調節を個別に行う。前記リング部13において、各グリップ部がペルチェ素子アセンブリ23等による温度調節領域を形成することはいうまでもない。   Each grip portion is provided with a thermistor 32 as temperature detecting means for detecting the temperature. The control unit 31 detects the temperature of the corresponding grip portion by the temperature signal input from each thermistor 32, and controls the energization output to the Peltier element assembly 23 according to the detected temperature. That is, the control unit 31 individually adjusts the temperature of the left and right grip portions. In the ring portion 13, it goes without saying that each grip portion forms a temperature adjustment region by the Peltier element assembly 23 or the like.

次に、制御ユニット31の電気的構成について、図2の回路図に従って説明する。
同図に示されるように、制御ユニット31は、各種制御プログラムを格納するとともに該制御プログラムを実行するマイコン33を備える。このマイコン33は、定電圧電源回路34を介して所定電圧VB(例えば12V)を有するバッテリ35のプラス端子と電気的に接続されるとともに、グランドGNDに接地されている。定電圧電源回路34は、前記マイコン33に所定電圧Vcc(例えば5V)を電源として供給する。
Next, the electrical configuration of the control unit 31 will be described with reference to the circuit diagram of FIG.
As shown in the figure, the control unit 31 includes a microcomputer 33 that stores various control programs and executes the control programs. The microcomputer 33 is electrically connected to a plus terminal of a battery 35 having a predetermined voltage VB (for example, 12V) through a constant voltage power supply circuit 34, and is grounded to the ground GND. The constant voltage power circuit 34 supplies the microcomputer 33 with a predetermined voltage Vcc (for example, 5V) as a power source.

前記マイコン33は、左右のグリップ部に配設されたペルチェ素子アセンブリ23及びサーミスタ32とそれぞれ電気的に接続されている。なお、マイコン33との電気的な接続構造は、左右のグリップ部で同様であるため、以下では、左側のグリップ部に配設されたペルチェ素子アセンブリ23及びサーミスタ32との電気的な接続構造を代表して説明し、右側のグリップ部については同一の符号を付して詳細な説明を割愛する。   The microcomputer 33 is electrically connected to the Peltier element assembly 23 and the thermistor 32 disposed in the left and right grips, respectively. In addition, since the electrical connection structure with the microcomputer 33 is the same in the left and right grip portions, hereinafter, the electrical connection structure with the Peltier element assembly 23 and the thermistor 32 disposed in the left grip portion will be described. This will be described as a representative, and the right grip portion will be denoted by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted.

前記マイコン33は、抵抗Rb1,Rb2を介してNPN型のトランジスタTr1,Tr2のベースにそれぞれ接続されるとともに、これらトランジスタTr1,Tr2のコレクタは、リレー36を構成するコイルL1,L2の一方の接続点にそれぞれ接続されている。なお、トランジスタTr1,Tr2のエミッタは、グランドGNDに接地されている。   The microcomputer 33 is connected to the bases of NPN transistors Tr1 and Tr2 via resistors Rb1 and Rb2, respectively. The collectors of these transistors Tr1 and Tr2 are connected to one of the coils L1 and L2 constituting the relay 36. Each point is connected. The emitters of the transistors Tr1 and Tr2 are grounded to the ground GND.

前記リレー36は、前記バッテリ35のプラス端子に電気的に接続された一対の接点a1,a2を備えるとともに、これら接点a1,a2は、前記コイルL1,L2の他方の接続点にそれぞれ接続されている。また、前記リレー36は、一対の接点b1,b2を備えるとともに、これら接点b1,b2は、N型のパワーFET37のドレインに接続されている。なお、パワーFET37のゲートは、前記マイコン33に接続されるとともに、そのソースは、グランドGNDに接地されている。   The relay 36 includes a pair of contacts a1 and a2 that are electrically connected to the positive terminal of the battery 35, and the contacts a1 and a2 are connected to the other connection point of the coils L1 and L2, respectively. Yes. The relay 36 includes a pair of contacts b1 and b2, and the contacts b1 and b2 are connected to the drain of the N-type power FET 37. The gate of the power FET 37 is connected to the microcomputer 33, and the source thereof is grounded to the ground GND.

さらに、前記リレー36は、接点a1,b1間及び接点a2,b2間で接点を切り替える一対の可動子c1,c2を備える。これら可動子c1,c2は、前記ペルチェ素子アセンブリ23の両接続点P1,P2にそれぞれ接続されている。一方の可動子c1は、通常は接点b1に接続されており、前記マイコン33によりトランジスタTr1がオンされて、前記コイルL1が通電されると、前記可動子c1は、前記コイルL1に駆動されて接点a1(所定電圧VB)に接続される。同様に、他方の可動子c2は、通常は接点b2に接続されており、前記マイコン33によりトランジスタTr2がオンされて、前記コイルL2が通電されると、前記可動子c2は、前記コイルL2に駆動されて接点a2(所定電圧VB)に接続される。   Further, the relay 36 includes a pair of movers c1 and c2 for switching the contacts between the contacts a1 and b1 and between the contacts a2 and b2. These movers c1 and c2 are connected to both connection points P1 and P2 of the Peltier element assembly 23, respectively. One mover c1 is normally connected to the contact b1, and when the transistor Tr1 is turned on by the microcomputer 33 and the coil L1 is energized, the mover c1 is driven by the coil L1. The contact a1 (predetermined voltage VB) is connected. Similarly, the other mover c2 is normally connected to the contact b2, and when the transistor Tr2 is turned on by the microcomputer 33 and the coil L2 is energized, the mover c2 is connected to the coil L2. It is driven and connected to the contact a2 (predetermined voltage VB).

従って、例えば前記コイルL1の駆動により一方の可動子c1を接点a1に接続したとき、前記マイコン33によりパワーFET37がオンされると、接点b2はパワーFET37を介してグランドGNDに接地される。そして、前記ペルチェ素子アセンブリ23には、可動子c1に接続された一方の接続点P1から、可動子c2に接続された他方の接続点P2へと電流が流れる。本実施形態では、上述の方向で前記ペルチェ素子アセンブリ23に電流が流れるときに、グリップ部の表面が冷却されるように設定されている。   Therefore, for example, when one of the movable elements c1 is connected to the contact point a1 by driving the coil L1, when the power FET 37 is turned on by the microcomputer 33, the contact point b2 is grounded to the ground GND via the power FET 37. In the Peltier element assembly 23, a current flows from one connection point P1 connected to the mover c1 to the other connection point P2 connected to the mover c2. In the present embodiment, the surface of the grip portion is set to be cooled when a current flows through the Peltier element assembly 23 in the above-described direction.

また、前記コイルL2の駆動により他方の可動子c2を接点a2に接続したとき、前記マイコン33によりパワーFET37がオンされると、接点b1はパワーFET37を介してグランドGNDに接地される。そして、前記ペルチェ素子アセンブリ23には、可動子c2に接続された他方の接続点P2から、可動子c1に接続された一方の接続点P1へと電流が流れる。本実施形態では、上述の方向で前記ペルチェ素子アセンブリ23に電流が流れるときに、グリップ部の表面が加熱されるように設定されている。   Further, when the power FET 37 is turned on by the microcomputer 33 when the other movable element c2 is connected to the contact a2 by driving the coil L2, the contact b1 is grounded to the ground GND via the power FET 37. In the Peltier element assembly 23, a current flows from the other connection point P2 connected to the mover c2 to one connection point P1 connected to the mover c1. In the present embodiment, the surface of the grip portion is set to be heated when a current flows through the Peltier element assembly 23 in the above-described direction.

なお、前記マイコン33は、パワーFET37のゲートに一定周期のパルス信号を出力しており、該一定周期中のパルス信号のオン時間の割合、即ち前記ペルチェ素子アセンブリ23に対する印加電圧のデューティ比率を変更することで、該ペルチェ素子アセンブリ23による冷却又は加熱作用の強さを制御する。   The microcomputer 33 outputs a pulse signal having a fixed period to the gate of the power FET 37, and changes the on-time ratio of the pulse signal in the fixed period, that is, the duty ratio of the voltage applied to the Peltier element assembly 23. Thus, the strength of the cooling or heating action by the Peltier element assembly 23 is controlled.

前記サーミスタ32は、一方の接続点が抵抗Ruを介して所定電圧Vccに接続されるとともに、他方の接続点がグランドGNDに接地されている。そして、サーミスタ32及び抵抗Ruの接続点Cは、前記マイコン33に接続されている。マイコン33は、抵抗Ru及びサーミスタ32による所定電圧Vccの分圧(接続点Cの電圧)を温度信号として入力して、前記サーミスタ32の設けられたグリップ部の温度(検出温度T)を検出する。   The thermistor 32 has one connection point connected to a predetermined voltage Vcc via a resistor Ru, and the other connection point connected to the ground GND. A connection point C between the thermistor 32 and the resistor Ru is connected to the microcomputer 33. The microcomputer 33 inputs the voltage division of the predetermined voltage Vcc (voltage at the connection point C) by the resistor Ru and the thermistor 32 as a temperature signal, and detects the temperature (detected temperature T) of the grip portion where the thermistor 32 is provided. .

また、マイコン33には、バッテリ電圧検出部38が接続されている。このバッテリ電圧検出部38は、直列接続の抵抗Rc,Rdを備えるとともに、該抵抗Rc,Rdの接続点C1において前記マイコン33に接続されている。なお、抵抗Rcの残りの接続点は所定電圧VB(バッテリ35のプラス端子)に接続されるとともに、抵抗Rdの残りの接続点はグランドGNDに接地されている。マイコン33は、抵抗Rc,Rdによる所定電圧VBの分圧(接続点C1の電圧)をバッテリ電圧信号として入力して、前記バッテリ35の電圧(+B電源電圧)を検出する。   Further, a battery voltage detection unit 38 is connected to the microcomputer 33. The battery voltage detection unit 38 includes resistors Rc and Rd connected in series, and is connected to the microcomputer 33 at a connection point C1 between the resistors Rc and Rd. The remaining connection point of the resistor Rc is connected to the predetermined voltage VB (the positive terminal of the battery 35), and the remaining connection point of the resistor Rd is grounded to the ground GND. The microcomputer 33 receives the divided voltage (voltage at the connection point C1) of the predetermined voltage VB by the resistors Rc and Rd as a battery voltage signal, and detects the voltage of the battery 35 (+ B power supply voltage).

次に、前記ペルチェ素子アセンブリ23に対する印加電圧の極性と、その作用との関係について図3に示した一覧図に基づいて総括して説明する。同図に示されるように、前述の態様でペルチェ素子アセンブリ23の接続点P1をプラス側である所定電圧VBに接続するとともに、接続点P2をマイナス側であるグランドGNDに接続すると、前記ペルチェ素子アセンブリ23の作用は冷却となる。一方、ペルチェ素子アセンブリ23の接続点P1をマイナス側であるグランドGNDに接続するとともに、接続点P2をプラス側である所定電圧VBに接続すると、前記ペルチェ素子アセンブリ23の作用は加熱となる。以上により、ペルチェ素子アセンブリ23による冷却又は加熱作用が、印加電圧の極性によって切り替えられる。この印加電圧の極性の切り替えが、前記トランジスタTr1,Tr2による前記リレー36(コイルL1,L2)の選択的な駆動によって行われることはいうまでもない。   Next, the relationship between the polarity of the applied voltage to the Peltier element assembly 23 and the action thereof will be described collectively based on the list shown in FIG. As shown in the figure, when the connection point P1 of the Peltier element assembly 23 is connected to the predetermined voltage VB on the positive side and the connection point P2 is connected to the ground GND on the negative side in the above-described manner, The action of the assembly 23 is cooling. On the other hand, when the connection point P1 of the Peltier element assembly 23 is connected to the ground GND on the negative side and the connection point P2 is connected to the predetermined voltage VB on the positive side, the action of the Peltier element assembly 23 is heated. As described above, the cooling or heating action by the Peltier element assembly 23 is switched depending on the polarity of the applied voltage. Needless to say, the polarity of the applied voltage is switched by selectively driving the relay 36 (coils L1 and L2) by the transistors Tr1 and Tr2.

次に、前記ペルチェ素子アセンブリ23に対する電圧の印加態様について総括して説明する。なお、図4は、冷却・加熱のそれぞれにおける印加電圧を示すタイムチャートであり、図5は、同じく冷却・加熱のそれぞれにおける印加電圧のデューティ比率と前記ペルチェ素子アセンブリ23による冷却・加熱作用の強さとの関係を示す説明図である。図4では、冷却時の印加電圧の極性をプラス側で表している。   Next, the manner in which the voltage is applied to the Peltier element assembly 23 will be generally described. FIG. 4 is a time chart showing the applied voltage in each of cooling and heating, and FIG. 5 shows the duty ratio of the applied voltage in each of cooling and heating and the strength of the cooling and heating action by the Peltier element assembly 23. It is explanatory drawing which shows the relationship. In FIG. 4, the polarity of the applied voltage during cooling is represented on the plus side.

図4に示されるように、例えば冷却時に前記ペルチェ素子アセンブリ23の両接続点P1,P2間に印加される電圧は、所定周期tcを有するオン・オフ波形となっており、各周期tc内の通電時間τcにおいて所定電圧VBが印加される。これは、各ペルチェ素子22に対しその吸熱の効率が優れる2V(=12/6V)程度の電圧を供給してその損失を抑えるためである。なお、通電時間τcを周期tcで除した値の百分率(=τc/tc×100)[%]が、冷却時の前記ペルチェ素子アセンブリ23に対する印加電圧のデューティ比率Dcである。前記マイコン33は、デューティ比率Dcを変更することで、前記ペルチェ素子アセンブリ23による冷却作用の強さを制御する。   As shown in FIG. 4, for example, the voltage applied between the two connection points P1 and P2 of the Peltier element assembly 23 at the time of cooling is an on / off waveform having a predetermined period tc. The predetermined voltage VB is applied during the energization time τc. This is for supplying a voltage of about 2V (= 12 / 6V) with excellent heat absorption efficiency to each Peltier element 22 to suppress the loss. The percentage (= τc / tc × 100) [%] of the value obtained by dividing the energization time τc by the period tc is the duty ratio Dc of the voltage applied to the Peltier element assembly 23 during cooling. The microcomputer 33 controls the strength of the cooling action by the Peltier element assembly 23 by changing the duty ratio Dc.

一方、加熱時に前記ペルチェ素子アセンブリ23の両接続点P1,P2間に印加される電圧は、所定周期thを有するオン・オフ波形となっており、各周期th内の通電時間τhにおいて逆極性となる所定電圧−VBが印加される。なお、通電時間τhを周期thで除した値の百分率(=τh/th×100)[%]が、加熱時の前記ペルチェ素子アセンブリ23に対する印加電圧のデューティ比率Dhである。前記マイコン33は、デューティ比率Dhを変更することで、前記ペルチェ素子アセンブリ23による加熱作用の強さを制御する。   On the other hand, the voltage applied between the connection points P1 and P2 of the Peltier element assembly 23 during heating has an on / off waveform having a predetermined period th, and has a reverse polarity during the energization time τh in each period th. A predetermined voltage −VB is applied. Note that the percentage (= τh / th × 100) [%] of the value obtained by dividing the energization time τh by the period th is the duty ratio Dh of the voltage applied to the Peltier element assembly 23 during heating. The microcomputer 33 controls the intensity of the heating action by the Peltier element assembly 23 by changing the duty ratio Dh.

図5に示されるように、例えば前記ペルチェ素子アセンブリ23による冷却作用の強さは、冷却時の印加電圧のデューティ比率Dcが0〜100%の間で増減されることで、該デューティ比率Dcの0%で皆無となり、100%で最大となるように連続的に制御される。つまり、デューティ比率Dcは、前記ペルチェ素子アセンブリ23による温度調節作用(冷却作用)の強さと単調非減少の関係で設定される。同様に、前記ペルチェ素子アセンブリ23による加熱作用の強さは、加熱時の印加電圧のデューティ比率Dhが0〜100%の間で増減されることで、該デューティ比率Dhの0%で皆無となり、100%で最大となるように連続的に制御される。つまり、デューティ比率Dhは、前記ペルチェ素子アセンブリ23による温度調節作用(加熱作用)の強さと単調非減少の関係で設定される。   As shown in FIG. 5, for example, the strength of the cooling action by the Peltier element assembly 23 is such that the duty ratio Dc of the applied voltage at the time of cooling is increased or decreased between 0 to 100%. It is continuously controlled so that there is no at 0% and maximum at 100%. That is, the duty ratio Dc is set according to the relationship between the strength of the temperature adjusting action (cooling action) by the Peltier element assembly 23 and monotonous non-decreasing. Similarly, the intensity of the heating action by the Peltier element assembly 23 becomes zero or less at 0% of the duty ratio Dh by increasing or decreasing the duty ratio Dh of the applied voltage during heating between 0 and 100%. It is continuously controlled so as to be maximum at 100%. That is, the duty ratio Dh is set according to the relationship between the strength of the temperature adjusting action (heating action) by the Peltier element assembly 23 and monotonous non-decreasing.

なお、各デューティ比率Dc,Dhに基づく前記ペルチェ素子アセンブリ23の通電制御は、前記バッテリ電圧検出部38に検出された+B電源電圧が所定の作動電圧範囲内(例えば10〜16V)にあるときに実行され、該所定の作動電圧範囲外では停止されるようになっている。   The energization control of the Peltier element assembly 23 based on the duty ratios Dc and Dh is performed when the + B power supply voltage detected by the battery voltage detector 38 is within a predetermined operating voltage range (for example, 10 to 16 V). It is executed and stopped outside the predetermined operating voltage range.

次に、本実施形態におけるデューティ比率Dc,Dhの設定態様について説明する。なお、両デューティ比率Dc,Dhは、基本的にステアリングホイール(グリップ部)の各対応する所定温度範囲において、該ステアリングホイールの温度の変化に対し比例関係で変化するように設定される。各デューティ比率Dc,Dhの制御は、前記マイコン33による制御プログラムの実行によって行われる。   Next, how the duty ratios Dc and Dh are set in this embodiment will be described. Both the duty ratios Dc and Dh are basically set so as to change in a proportional relationship with a change in the temperature of the steering wheel in each corresponding predetermined temperature range of the steering wheel (grip part). The duty ratios Dc and Dh are controlled by executing a control program by the microcomputer 33.

まず、冷却作用時のデューティ比率Dcの設定態様について説明する。図6は、冷却作用時の検出温度T(ステアリングホイールの温度)とデューティ比率Dcとの関係を示すマップである。同図に示されるように、検出温度Tが所定温度値Tc0(例えば43.3°C)から所定温度値Tcc(例えば60°C)までの範囲にあるときに、デューティ比率Dcは、0%から100%へと比例関係で推移するように設定されている(比例制御)。そして、検出温度Tが所定温度値Tc0よりも低温側にあるとき(T<Tc0)にはデューティ比率Dcは0%に設定され、検出温度Tが所定温度値Tccよりも高温側にあるとき(T>Tcc)にはデューティ比率Dcは100%に設定される。なお、冷却作用時の目標の温度である冷却目標温度値Tct(例えば50°C)において、該冷却目標温度値Tctを保持するための所定のデューティ比率Dct(例えば40%)が設定されている。   First, the setting aspect of the duty ratio Dc during the cooling operation will be described. FIG. 6 is a map showing the relationship between the detected temperature T (steering wheel temperature) during the cooling operation and the duty ratio Dc. As shown in the figure, when the detected temperature T is in a range from a predetermined temperature value Tc0 (for example, 43.3 ° C) to a predetermined temperature value Tcc (for example, 60 ° C), the duty ratio Dc is 0%. From 100 to 100% (proportional control). When the detected temperature T is lower than the predetermined temperature value Tc0 (T <Tc0), the duty ratio Dc is set to 0%, and when the detected temperature T is higher than the predetermined temperature value Tcc ( For T> Tcc), the duty ratio Dc is set to 100%. A predetermined duty ratio Dct (for example, 40%) for holding the cooling target temperature value Tct is set at a cooling target temperature value Tct (for example, 50 ° C.) that is a target temperature during the cooling operation. .

次に、本実施形態における検出温度T(ステアリングホイールの温度)及びデューティ比率Dcの推移について説明する。
図7(a)(b)は、それぞれステアリングホイールの冷却開始時の検出温度T(実際には、左右のサーミスタ32による検出温度Tの平均温度、以下、初期温度値Tcsという)が高め(例えば85°C)のときの検出温度T及びデューティ比率Dcの推移を示すタイムチャートである。また、図8(a)(b)は、それぞれ初期温度値Tcsが低め(例えば70°C)のときの検出温度T及びデューティ比率Dcの推移を示すタイムチャートである。同図に示されるように、時刻τcs1,τcs2において冷却が開始されると、検出温度Tが温度値Tccに達する時刻τcc1,τcc2までデューティ比率Dcは100%に設定される。そして、100%のデューティ比率Dcによりペルチェ素子アセンブリ23による強い冷却作用が行われる。
Next, transition of the detected temperature T (steering wheel temperature) and the duty ratio Dc in the present embodiment will be described.
7A and 7B, the detected temperature T at the start of cooling of the steering wheel (actually the average temperature of the detected temperature T by the left and right thermistors 32, hereinafter referred to as the initial temperature value Tcs) is increased (for example, It is a time chart which shows transition of detected temperature T and duty ratio Dc at the time of 85 degreeC). FIGS. 8A and 8B are time charts showing changes in the detected temperature T and the duty ratio Dc when the initial temperature value Tcs is low (for example, 70 ° C.). As shown in the figure, when cooling is started at time τcs1, τcs2, the duty ratio Dc is set to 100% until time τcc1, τcc2 when the detected temperature T reaches the temperature value Tcc. A strong cooling action is performed by the Peltier element assembly 23 with a duty ratio Dc of 100%.

検出温度Tが温度値Tccに達した後は、検出温度Tが前記冷却目標温度値Tctに達する時刻τct1,τct2までデューティ比率Dcは漸減されて、ペルチェ素子アセンブリ23により該デューティ比率Dcに応じた冷却作用が行われる。なお、図7及び図8には、それぞれ冷却開始から冷却目標温度値Tctに達するまでの時間Δτcst1(=τct1−τcs),Δτcst2(=τct2−τcs2)を併記している。   After the detected temperature T reaches the temperature value Tcc, the duty ratio Dc is gradually decreased until the detected temperature T reaches the cooling target temperature value Tct until the time τct1, τct2, and the Peltier element assembly 23 responds to the duty ratio Dc. Cooling action is performed. 7 and 8 also show the time Δτcst1 (= τct1−τcs) and Δτcst2 (= τct2−τcs2) from the start of cooling until reaching the cooling target temperature value Tct.

図7、図8から明らかなように、冷却目標温度値Tct及び初期温度値Tcsの温度差が大きいときほど、冷却開始直後の単位時間当たりの温度変化分(温度低下分)が大きくなる傾向を示すことが確認される。また、冷却目標温度値Tct及び初期温度値Tcsの温度差が小さいときほど、単位時間当たりの温度変化分が小さい状態にあるときの継続時間が大きくなる傾向を示すことが確認される。   As is apparent from FIGS. 7 and 8, as the temperature difference between the cooling target temperature value Tct and the initial temperature value Tcs is larger, the temperature change per unit time (temperature decrease) immediately after the start of cooling tends to increase. It is confirmed to show. Further, it is confirmed that the smaller the temperature difference between the cooling target temperature value Tct and the initial temperature value Tcs, the longer the duration when the temperature change per unit time is smaller.

次に、加熱作用時のデューティ比率Dhの設定態様について説明する。なお、デューティ比率Dhは、加熱作用に対応して前記所定温度範囲及び目標とする温度変化の方向が異なることを除けば、前記デューティ比率Dcと同様の処理で設定される。   Next, the setting aspect of the duty ratio Dh during the heating operation will be described. The duty ratio Dh is set by the same process as the duty ratio Dc, except that the predetermined temperature range and the target temperature change direction are different corresponding to the heating action.

図9は、加熱作用時の検出温度T(ステアリングホイールの温度)とデューティ比率Dhとの関係を示すマップである。同図に示されるように、検出温度Tが所定温度値Th0(例えば34.3°C)から所定温度値Thc(例えば20°C)までの範囲にあるときに、デューティ比率Dhは、0%から100%へと比例関係で推移するように設定されている(比例制御)。そして、検出温度Tが所定温度値Th0よりも高温側にあるとき(T>Th0)にはデューティ比率Dhは0%に設定され、検出温度Tが所定温度値Thcよりも低温側にあるとき(T<Thc)にはデューティ比率Dhは100%に設定される。なお、加熱作用時の目標の温度である加熱目標温度値Tht(例えば30°C)において、該加熱目標温度値Thtを保持するための所定のデューティ比率Dht(例えば30%)が設定されている。   FIG. 9 is a map showing the relationship between the detected temperature T (steering wheel temperature) during the heating operation and the duty ratio Dh. As shown in the figure, when the detected temperature T is in a range from a predetermined temperature value Th0 (for example, 34.3 ° C.) to a predetermined temperature value Thc (for example, 20 ° C.), the duty ratio Dh is 0%. From 100 to 100% (proportional control). When the detected temperature T is higher than the predetermined temperature value Th0 (T> Th0), the duty ratio Dh is set to 0%, and when the detected temperature T is lower than the predetermined temperature value Thc ( For T <Thc), the duty ratio Dh is set to 100%. Note that a predetermined duty ratio Dht (for example, 30%) for holding the heating target temperature value Tht is set at a heating target temperature value Tht (for example, 30 ° C.), which is a target temperature during the heating operation. .

次に、本実施形態における検出温度T(ステアリングホイールの温度)及びデューティ比率Dhの推移について説明する。
図10(a)(b)は、それぞれステアリングホイールの加熱開始時の検出温度T(実際には、左右のサーミスタ32による検出温度Tの平均温度、以下、初期温度値Thsという)が低め(例えば−10°C)のときの検出温度T及びデューティ比率Dhの推移を示すタイムチャートである。また、図11(a)(b)は、それぞれ初期温度値Thsが高め(例えば10°C)のときの検出温度T及びデューティ比率Dhの推移を示すタイムチャートである。同図に示されるように、時刻τhs1,τhs2において加熱が開始されると、検出温度Tが温度値Thcに達する時刻τhc1,τhc2までデューティ比率Dhは100%に設定される。そして、100%のデューティ比率Dhによりペルチェ素子アセンブリ23による強い加熱作用が行われる。
Next, transition of the detected temperature T (steering wheel temperature) and the duty ratio Dh in the present embodiment will be described.
10A and 10B, the detected temperature T at the start of heating of the steering wheel (actually, the average temperature of the detected temperature T by the left and right thermistors 32, hereinafter referred to as the initial temperature value Ths) is low (for example, It is a time chart which shows transition of detection temperature T and duty ratio Dh at the time of -10 degreeC. FIGS. 11A and 11B are time charts showing transitions of the detected temperature T and the duty ratio Dh when the initial temperature value Ths is high (for example, 10 ° C.). As shown in the figure, when heating is started at time τhs1, τhs2, the duty ratio Dh is set to 100% until time τhc1, τhc2 when the detected temperature T reaches the temperature value Thc. Then, a strong heating action is performed by the Peltier element assembly 23 with a duty ratio Dh of 100%.

検出温度Tが温度値Thcに達した後は、検出温度Tが前記加熱目標温度値Thtに達する時刻τht1,τht2までデューティ比率Dhは漸減されて、ペルチェ素子アセンブリ23により該デューティ比率Dhに応じた加熱作用が行われる。これにより、なお、図10及び図11には、それぞれ加熱開始から加熱目標温度値Thtに達するまでの時間Δτhst1(=τht1−τhs),Δτhst2(=τht2−τhs2)を併記している。   After the detected temperature T reaches the temperature value Thc, the duty ratio Dh is gradually decreased until the time τht1 and τht2 when the detected temperature T reaches the heating target temperature value Tht, and the Peltier element assembly 23 responds to the duty ratio Dh. A heating action is performed. Accordingly, in FIGS. 10 and 11, times Δτhst1 (= τht1−τhs) and Δτhst2 (= τht2−τhs2) from the start of heating to reaching the heating target temperature value Tht are also shown.

なお、図10、図11から明らかなように、加熱目標温度値Tht及び初期温度値Thsの温度差が大きいときほど、加熱開始直後の単位時間当たりの温度変化分(温度上昇分)が大きくなる傾向を示すことが確認される。また、加熱目標温度値Tht及び初期温度値Thsの温度差が小さいときほど、単位時間当たりの温度変化分が小さい状態にあるときの継続時間が大きくなる傾向を示すことが確認される。   As is clear from FIGS. 10 and 11, the larger the temperature difference between the heating target temperature value Tht and the initial temperature value Ths, the greater the temperature change per unit time (temperature rise) immediately after the start of heating. It is confirmed that it shows a tendency. Further, it is confirmed that the smaller the temperature difference between the heating target temperature value Tht and the initial temperature value Ths, the longer the duration when the temperature change per unit time is smaller.

ここで、本実施形態におけるペルチェ素子アセンブリ23(ペルチェ素子22)の故障検出態様について説明する。なお、ここでの故障原因としては、例えばペルチェ素子アセンブリ23(あるいはこれを構成する各ペルチェ素子22)の断線や、その接続配線系の断線が挙げられる。ペルチェ素子アセンブリ23の故障検出は、前記マイコン33による制御プログラムの実行によって行われる。   Here, a failure detection mode of the Peltier element assembly 23 (Peltier element 22) in the present embodiment will be described. In addition, as a cause of a failure here, the disconnection of the Peltier device assembly 23 (or each Peltier device 22 which comprises this) and the disconnection of the connection wiring system are mentioned, for example. Failure detection of the Peltier element assembly 23 is performed by executing a control program by the microcomputer 33.

まず、ステアリングホイールの温度調節(冷却・加熱)時における上述した検出温度Tの推移を鑑みて、ペルチェ素子アセンブリ23(ペルチェ素子22)の故障検出に供し得る各種要因について説明する。   First, various factors that can be used for detecting a failure of the Peltier element assembly 23 (Peltier element 22) will be described in view of the above-described transition of the detected temperature T during temperature adjustment (cooling / heating) of the steering wheel.

図12は、ペルチェ素子アセンブリ23を故障判定するための各種要因と該要因を選定した根拠を示す説明図である。
同図に示されるように、要因(1)は、印加電圧のデューティ比率Dc,Dhが所定値(例えば95%)Dcth,Dhth以上であること。これは、ペルチェ素子アセンブリ23による冷却・加熱作用の強さが十分に大きい方が、検出温度Tの推移に明確な変化が生じ、故障検出により好ましいためである。なお、前記バッテリ電圧検出部38に検出された+B電源電圧が所定の作動電圧範囲内(例えば10〜16V)にあること、換言すれば、バッテリ35の電圧変動の影響が抑制されていることを前提条件とする。
FIG. 12 is an explanatory diagram showing various factors for determining the failure of the Peltier element assembly 23 and the basis for selecting the factors.
As shown in the figure, the factor (1) is that the duty ratios Dc and Dh of the applied voltage are not less than predetermined values (for example, 95%) Dcth and Dhth. This is because a sufficiently large cooling / heating action by the Peltier element assembly 23 is preferable for failure detection because a clear change occurs in the transition of the detected temperature T. It should be noted that the + B power supply voltage detected by the battery voltage detector 38 is within a predetermined operating voltage range (for example, 10 to 16 V), in other words, the influence of the voltage fluctuation of the battery 35 is suppressed. This is a prerequisite.

また、要因(2)は、検出温度T(実温度)及び冷却目標温度値Tct又は加熱目標温度値Thtの温度差DTc又はDThが、その大小比較に係る温度差閾値DTcth又はDThthよりも大きいこと。これは、特に温度制御開始直後のように前記温度差DTc又はDThが大きい場合、結果としてデューティ比率Dc,Dhが大きくなって要因(1)を満たす状態になるためである。つまり、この状態に対応して、ペルチェ素子アセンブリ23が十分に強い冷却・加熱作用を正常に行えば、検出温度Tの推移に明確な変化が生じ、故障検出により好ましくなる。   The factor (2) is that the temperature difference DTc or DTh between the detected temperature T (actual temperature) and the cooling target temperature value Tct or the heating target temperature value Tht is larger than the temperature difference threshold value DTcth or DThth related to the magnitude comparison. . This is because especially when the temperature difference DTc or DTh is large, such as immediately after the start of temperature control, the duty ratios Dc and Dh become large and satisfy the factor (1). That is, if the Peltier device assembly 23 normally performs a sufficiently strong cooling / heating action corresponding to this state, a clear change occurs in the transition of the detected temperature T, which is preferable for failure detection.

さらに、要因(3)は、検出温度T(実温度)の単位時間(例えば1秒)当たりの温度変化分ΔTc又はΔThが、その大小比較に係る温度変化分閾値ΔTcth又はΔThthよりも小さいこと。これは、ペルチェ素子アセンブリ23の冷却・加熱作用による温度変化(温度低下又は温度上昇)が生じていないとき、該ペルチェ素子アセンブリ23が作用していないこと、即ち故障していることを示唆するためである。   Further, the factor (3) is that the temperature change ΔTc or ΔTh per unit time (for example, 1 second) of the detected temperature T (actual temperature) is smaller than the temperature change threshold ΔTcth or ΔThth related to the magnitude comparison. This suggests that when no temperature change (temperature decrease or temperature increase) due to the cooling / heating action of the Peltier element assembly 23 has occurred, the Peltier element assembly 23 is not operating, that is, has failed. It is.

さらにまた、要因(4)は、要因(1)〜(3)を全て満たす状態が連続して継続する時間(継続時間)Δτdc又はΔτdhが、その大小比較に係る継続時間閾値Δτdcth又はΔτdhth以上であること。これは、要因(1)〜(3)を全て満たす状態が十分に長い時間連続して継続することをもって、前記ペルチェ素子アセンブリ23が作用していないこと、即ち故障していることを確定する方がその検出精度を向上させることができるためである。   Furthermore, the factor (4) is that the time (duration) Δτdc or Δτdh in which the state satisfying all the factors (1) to (3) continues continuously is greater than or equal to the duration threshold value Δτdcth or Δτdhth related to the magnitude comparison. There is. This is a method for determining that the Peltier element assembly 23 is not operating, that is, has failed, by continuously satisfying all the factors (1) to (3) for a sufficiently long time. This is because the detection accuracy can be improved.

次に、上述した各種要因(1)〜(4)、即ちペルチェ素子アセンブリ23(ペルチェ素子22)の通電制御の出力状態や検出温度Tの状態及びその変化状態に関する要因を、前述した検出温度Tの推移の特性に反映させて、故障検出に供する態様について説明する。   Next, the various factors (1) to (4) described above, that is, the factors relating to the output state of the energization control of the Peltier element assembly 23 (Peltier element 22), the state of the detected temperature T, and the change state thereof are described as follows. A mode used for failure detection will be described by reflecting it in the characteristics of the transition.

図13(a)(b)(c)は、ステアリングホイールの冷却時における冷却目標温度値Tct及び初期温度値Tcsの温度差DTcsと、温度差閾値DTcth、温度変化分閾値ΔTcth、継続時間閾値Δτdcthとの関係をそれぞれ示すマップである。また、図14(a)(b)(c)は、ステアリングホイールの加熱時における加熱目標温度値Tht及び初期温度値Thsの温度差DThsと、温度差閾値DThth、温度変化分閾値ΔThth、継続時間閾値Δτdhthとの関係をそれぞれ示すマップである。   FIGS. 13A, 13B and 13C show the temperature difference DTcs between the cooling target temperature value Tct and the initial temperature value Tcs during the cooling of the steering wheel, the temperature difference threshold value DTcth, the temperature change threshold value ΔTcth, and the duration threshold value Δτdcth. It is a map which shows the relationship with each. 14A, 14B, and 14C show the temperature difference DThs between the heating target temperature value Tht and the initial temperature value Ths, the temperature difference threshold value DThth, the temperature change threshold value ΔThth, and the duration time when the steering wheel is heated. It is a map which shows the relationship with threshold value (DELTA) (tau) dhth, respectively.

図13(a)及び図14(a)に示されるように、温度差閾値DTcth,DThthは、温度差DTcs,DThsに対し単調非減少の関係で推移する。これは、初期温度値Tcs,Thsとの温度差DTcs,DThsが大きいほど、特に温度調節の開始直後において検出温度Tとの温度差DTc,DThが大きくなる傾向にあり、従って、これに対応して温度差閾値DTcth,DThthを大きくした方がより正確な故障検出になることによる。   As shown in FIGS. 13A and 14A, the temperature difference thresholds DTcth and DThth change in a monotonous non-decreasing relationship with respect to the temperature differences DTcs and DThs. This is because, as the temperature differences DTcs and DThs from the initial temperature values Tcs and Ths are larger, the temperature differences DTc and DTh from the detected temperature T tend to become larger immediately after the start of the temperature adjustment, and therefore correspond to this. This is because increasing the temperature difference thresholds DTcth and DThth results in more accurate failure detection.

また、図13(b)及び図14(b)に示されるように、温度変化分閾値ΔTcth,ΔThthは、温度差DTcs,DThsに対し単調非減少の関係で推移する。これは、初期温度値Tcs,Thsとの温度差DTcs,DThsが大きいほど、特に温度調節の開始直後において温度変化分ΔTc,ΔThが大きくなる傾向にあり、従って、これに対応して温度変化分閾値ΔTcth,ΔThthを大きくした方がより正確な故障検出になることによる。   Further, as shown in FIGS. 13B and 14B, the temperature change thresholds ΔTcth and ΔThth change in a monotonically non-decreasing relationship with respect to the temperature differences DTcs and DThs. This is because, as the temperature difference DTcs, DThs from the initial temperature values Tcs, Ths increases, the temperature change ΔTc, ΔTh tends to increase especially immediately after the start of temperature adjustment. This is because increasing the threshold values ΔTcth and ΔThth results in more accurate failure detection.

さらに、図13(c)及び図14(c)に示されるように、継続時間閾値Δτdcth,Δτdhthは、温度差DTcs,DThsに対し単調非増加の関係で推移する。これは、初期温度値Tcs,Thsとの温度差DTcs,DThsが小さいほど、温度変化分ΔTc,ΔThの小さい状態が長時間継続する傾向にあり、従って、これに対応して継続時間閾値Δτdcth,Δτdhthを大きくした方がより正確な故障検出になることによる。換言すれば、温度差DTcs,DThsが大きければ、特に温度調節の開始直後において短時間で大きな温度変化分ΔTc,ΔThが得られることから、温度変化分ΔTc,ΔThの小さい状態の短時間の継続であっても故障を検出し得る。   Further, as shown in FIGS. 13C and 14C, the duration threshold values Δτdcth and Δτdhth change in a monotonically non-increasing relationship with respect to the temperature differences DTcs and DThs. This is because the smaller the temperature differences DTcs and DThs from the initial temperature values Tcs and Ths, the smaller the temperature changes ΔTc and ΔTh tend to continue for a longer time, and accordingly the duration threshold values Δτdcth, This is because increasing Δτdhth results in more accurate failure detection. In other words, if the temperature difference DTcs, DThs is large, a large temperature change ΔTc, ΔTh can be obtained in a short time immediately after the start of temperature adjustment, so that the state where the temperature change ΔTc, ΔTh is small is continued for a short time. Even so, a failure can be detected.

次に、ペルチェ素子アセンブリ23の故障時の検出温度Tの推移及びその故障検出態様について説明する。
図15は、図7と同様、冷却時の初期温度値Tcsが高めであり、従って温度差DTcsが大きいときの検出温度Tの推移を示すグラフであって、ペルチェ素子アセンブリ23への通電制御が正常なときを破線で、該ペルチェ素子アセンブリ23が故障のときを実線でそれぞれ示す。ここで、時刻τcs1において冷却が開始されると、正常であれば温度変化分ΔTcが大きく現れるのに対し、故障時は温度変化分ΔTcが小さく現れる。また、故障時は判別時の検出温度Tとの温度差DTcが大きく現れる。従って、温度差DTcsが大きいときは、継続時間Δτdc1が短めであっても、温度変化分ΔTcは正常時と故障時とで顕著な違いが現れ、相互の判別が可能であることが確認される。なお、故障時であっても若干の温度変化が生じるのは、冷房又は窓開放による車室内温度の低下の影響を受けることによる。
Next, the transition of the detected temperature T at the time of failure of the Peltier element assembly 23 and the failure detection mode will be described.
FIG. 15 is a graph showing the transition of the detected temperature T when the initial temperature value Tcs during cooling is high and the temperature difference DTcs is large, as in FIG. A normal time is indicated by a broken line, and a time when the Peltier element assembly 23 is broken is indicated by a solid line. Here, when cooling is started at time τcs1, the temperature change ΔTc appears large if it is normal, whereas the temperature change ΔTc appears small during a failure. Further, at the time of failure, a temperature difference DTc with the detected temperature T at the time of determination appears greatly. Therefore, when the temperature difference DTcs is large, even if the duration Δτdc1 is short, the temperature change ΔTc shows a significant difference between the normal time and the failure time, and it is confirmed that mutual discrimination is possible. . Note that the slight temperature change occurs even at the time of failure because it is affected by a decrease in the cabin temperature due to cooling or window opening.

一方、図16は、図8と同様、冷却時の初期温度値Tcsが低めであり、従って温度差DTcsが小さいときの検出温度Tの推移を示すグラフであって、ペルチェ素子アセンブリ23への通電制御が正常なときを破線で、該ペルチェ素子アセンブリ23が故障のときを実線でそれぞれ示す。ここで、時刻τcs2において冷却が開始されると、正常であれば小さいながらも温度変化分ΔTcがある程度現れるのに対し、故障時は温度変化分ΔTcが極小で現れる。また、故障時は判別時の検出温度Tとの温度差DTcが小さく現れる。従って、温度差DTcsが小さいときは、継続時間Δτdc2を長めにすることで、正常時と故障時との間の温度変化分ΔTcの違いを顕在化させることができ、相互の判別が可能であることが確認される。   On the other hand, FIG. 16 is a graph showing the transition of the detected temperature T when the initial temperature value Tcs during cooling is lower and the temperature difference DTcs is small as in FIG. A time when the control is normal is indicated by a broken line, and a time when the Peltier element assembly 23 is broken is indicated by a solid line. Here, when cooling is started at time τcs2, the temperature change ΔTc appears to some extent although it is small if normal, whereas the temperature change ΔTc appears to be minimal at the time of failure. Further, at the time of failure, the temperature difference DTc from the detected temperature T at the time of determination appears small. Therefore, when the temperature difference DTcs is small, by making the duration Δτdc2 longer, the difference in temperature change ΔTc between the normal time and the failure time can be made obvious and mutual discrimination is possible. That is confirmed.

また、図17は、図10と同様、加熱時の初期温度値Thsが低めであり、従って温度差DThsが大きいときの検出温度Tの推移を示すグラフであって、ペルチェ素子アセンブリ23への通電制御が正常なときを破線で、該ペルチェ素子アセンブリ23が故障のときを実線でそれぞれ示す。ここで、時刻τhs1において加熱が開始されると、正常であれば温度変化分ΔThが大きく現れるのに対し、故障時は温度変化分ΔThが小さく現れる。また、故障時は判別時の検出温度Tとの温度差DThが大きく現れる。従って、温度差DThsが大きいときは、継続時間Δτdh1が短めであっても、温度変化分ΔThは正常時と故障時とで顕著な違いが現れ、相互の判別が可能であることが確認される。なお、故障時であっても若干の温度変化が生じるのは、暖房による車室内温度の上昇の影響を受けることによる。   FIG. 17 is a graph showing the transition of the detected temperature T when the initial temperature value Ths during heating is low and the temperature difference DThs is large as in FIG. A time when the control is normal is indicated by a broken line, and a time when the Peltier element assembly 23 is broken is indicated by a solid line. Here, when heating is started at time τhs1, if it is normal, the temperature change ΔTh appears large, whereas at the time of failure, the temperature change ΔTh appears small. Further, at the time of failure, a large temperature difference DTh from the detected temperature T at the time of determination appears. Therefore, when the temperature difference DThs is large, even if the duration time Δτdh1 is short, the temperature change ΔTh shows a significant difference between the normal time and the failure time, and it is confirmed that mutual discrimination is possible. . Note that the slight temperature change occurs even at the time of failure because it is affected by an increase in the cabin temperature due to heating.

一方、図18は、図11と同様、加熱時の初期温度値Thsが高めであり、従って温度差DThsが小さいときの検出温度Tの推移を示すグラフであって、ペルチェ素子アセンブリ23への通電制御が正常なときを破線で、該ペルチェ素子アセンブリ23が故障のときを実線でそれぞれ示す。ここで、時刻τhs2において加熱が開始されると、正常であれば小さいながらも温度変化分ΔThがある程度現れるのに対し、故障時は温度変化分ΔThが極小で現れる。また、故障時は判別時の検出温度Tとの温度差DThが小さく現れる。従って、温度差DThsが小さいときは、継続時間Δτdh2を長めにすることで、正常時と故障時との間の温度変化分ΔThの違いを顕在化させることができ、相互の判別が可能であることが確認される。   On the other hand, FIG. 18 is a graph showing the transition of the detected temperature T when the initial temperature value Ths during heating is high and the temperature difference DThs is small, as in FIG. A time when the control is normal is indicated by a broken line, and a time when the Peltier element assembly 23 is broken is indicated by a solid line. Here, when heating is started at time τhs2, the temperature change ΔTh appears to some extent although it is small if normal, whereas the temperature change ΔTh appears to be minimal at the time of failure. Further, at the time of failure, the temperature difference DTh from the detected temperature T at the time of determination appears small. Therefore, when the temperature difference DThs is small, by making the duration Δτdh2 longer, the difference in temperature change ΔTh between the normal time and the failure time can be made obvious, and mutual discrimination is possible. That is confirmed.

以上により、温度差DTcs,DThsが大きいときは、温度差閾値DTcth,DThth及び温度変化分閾値ΔTcth,ΔThthを大きく設定するとともに、継続時間閾値Δτdcth,Δτdhthを小さく設定し、反対に、温度差DTcs,DThsが小さいときは、温度差閾値DTcth,DThth及び温度変化分閾値ΔTcth,ΔThthを小さく設定するとともに、継続時間閾値Δτdcth,Δτdhthを大きく設定することで、冷却・加熱時を問わず故障検出の精度が高まる。   As described above, when the temperature differences DTcs and DThs are large, the temperature difference threshold values DTcth and DThth and the temperature change threshold values ΔTcth and ΔThth are set large, and the duration threshold values Δτdcth and Δτdhth are set small, and conversely, the temperature difference DTcs. , DThs is small, the temperature difference threshold values DTcth, DThth and the temperature change threshold values ΔTcth, ΔThth are set small, and the continuous time threshold values Δτdcth, Δτdhth are set large, so that the failure detection can be performed regardless of the cooling / heating time. Increases accuracy.

次に、マイコン33による検出温度T、即ちステアリングホイールの温度の制御態様及び故障判定態様について総括的に説明する。
図19はメインルーチンを示すフローチャートである。同図に示されるように、この制御が起動されると、各種初期化処理を行い(ステップS1)、現在の検出温度Tを初期温度値Tcs,Thsとして読み込む(ステップS2)。そして、初期温度値Tcs,Thsと冷却・加熱時の目標温度値Tct,Thtとの温度差DTcs,DThsを算出する(ステップS3:算出手段)。
Next, a control mode and a failure determination mode of the detected temperature T by the microcomputer 33, that is, the temperature of the steering wheel will be described generally.
FIG. 19 is a flowchart showing the main routine. As shown in the figure, when this control is activated, various initialization processes are performed (step S1), and the current detected temperature T is read as initial temperature values Tcs and Ths (step S2). Then, temperature differences DTcs, DThs between the initial temperature values Tcs, Ths and the target temperature values Tct, Tht at the time of cooling / heating are calculated (step S3: calculation means).

次いで、温度差DTcs,DThsに基づき、図13(a)及び図14(a)のマップに従って、検出温度Tと冷却・加熱時の目標温度値Tct,Thtとの温度差DTc,DThに関する温度差閾値DTcth,DThthを算出する(ステップS4)。また、温度差DTcs,DThsに基づき、図13(b)及び図14(b)のマップに従って、検出温度Tの温度変化分ΔTc,ΔThに関する温度変化分閾値ΔTcth,ΔThthを算出する(ステップS5:第1算出手段)。さらに、温度差DTcs,DThsに基づき、図13(c)及び図14(c)のマップに従って、継続時間Δτdc,Δτdhに関する継続時間閾値Δτdcth,Δτdhthを算出する(ステップS6:第2算出手段)。   Next, based on the temperature differences DTcs and DThs, according to the maps of FIG. 13A and FIG. 14A, the temperature difference regarding the temperature difference DTc and DTh between the detected temperature T and the target temperature values Tct and Tht during cooling and heating. Threshold values DTcth and DThth are calculated (step S4). Further, based on the temperature differences DTcs and DThs, temperature change thresholds ΔTcth and ΔThth relating to the temperature changes ΔTc and ΔTh of the detected temperature T are calculated according to the maps of FIGS. 13B and 14B (step S5: First calculation means). Further, based on the temperature differences DTcs and DThs, duration threshold values Δτdcth and Δτdhth relating to the durations Δτdc and Δτdh are calculated according to the maps of FIGS. 13C and 14C (step S6: second calculation means).

続いて、メインルーチンの各種処理を行い(ステップS7)、内部(メモリ)に記憶するペルチェ素子22(ペルチェ素子アセンブリ23)・配線系の故障情報の有無を判断する(ステップS8)。そして、故障情報がないと判断されると、ペルチェ素子22の通電制御処理を行い(ステップS9)、故障判別処理を行って(ステップS10)、ステップS7に戻り同様の処理を繰り返す。また、ステップS8で故障情報があると判断されると、ステップS7に戻ってメインルーチンの各種処理のみを繰り返す。   Subsequently, various processes of the main routine are performed (step S7), and the presence / absence of failure information of the Peltier element 22 (Peltier element assembly 23) / wiring system stored in the inside (memory) is determined (step S8). If it is determined that there is no failure information, an energization control process for the Peltier element 22 is performed (step S9), a failure determination process is performed (step S10), and the process returns to step S7 and the same process is repeated. If it is determined in step S8 that there is failure information, the process returns to step S7 and only the various processes of the main routine are repeated.

図20は、ステップS9におけるペルチェ素子22の通電制御処理態様を示すフローチャートである。なお、既述のように、左右のグリップ部の温度制御は個別に行われるものの、基本的に左側を右側に言い換えることで同様の処理になる。従って、以下では、左側のグリップ部の温度制御について代表して説明し、右側のグリップ部については詳細な説明を割愛する。   FIG. 20 is a flowchart showing an energization control processing mode of the Peltier element 22 in step S9. As described above, the temperature control of the left and right grip portions is performed separately, but basically the same processing is performed by paraphrasing the left side to the right side. Therefore, in the following, temperature control of the left grip portion will be described as a representative, and detailed description of the right grip portion will be omitted.

同図に示されるように、この処理に移行すると、初期温度値Tcs,Thsと所定温度(例えば50°C)との大小関係に基づいて、温度調節の方向(冷却又は加熱)を判断する(ステップS11)。   As shown in the figure, when the process proceeds, the direction of temperature adjustment (cooling or heating) is determined based on the magnitude relationship between the initial temperature values Tcs and Ths and a predetermined temperature (for example, 50 ° C.) ( Step S11).

そして、ステップS11で冷却と判断されると、左側用のリレー36を冷却通電の状態に設定する(ステップS12)。具体的には、前記トランジスタTr1によりリレー36の一方のコイルL1を駆動して、ペルチェ素子アセンブリ23により冷却作用が行われるように、印加電圧の極性を切り替える。そして、左側のグリップ部の温度を前記冷却目標温度値Tctに制御するための処理を行う(ステップS13)。   If it is determined that the cooling is performed in step S11, the left relay 36 is set in a cooling energization state (step S12). Specifically, one of the coils L1 of the relay 36 is driven by the transistor Tr1, and the polarity of the applied voltage is switched so that a cooling action is performed by the Peltier element assembly 23. And the process for controlling the temperature of the left grip part to the cooling target temperature value Tct is performed (step S13).

すなわち、現在の+B電源電圧を読み込んで(ステップS14)、+B電源電圧が前記所定の作動電圧範囲内にあるかを判断する(ステップS15)。そして、+B電源電圧が前記所定の作動電圧範囲内にある、即ち前記バッテリ35の電圧変動の影響が抑制されていると判断されると、左側のグリップ部の検出温度Tを検出する(ステップS16)。そして、検出温度Tに基づき、図6のマップに従って、左側のグリップ部のペルチェ素子アセンブリ23に対するデューティ比率Dcを算出する(ステップS17)。   That is, the current + B power supply voltage is read (step S14), and it is determined whether the + B power supply voltage is within the predetermined operating voltage range (step S15). When it is determined that the + B power supply voltage is within the predetermined operating voltage range, that is, the influence of the voltage fluctuation of the battery 35 is suppressed, the detected temperature T of the left grip portion is detected (step S16). ). Based on the detected temperature T, the duty ratio Dc for the Peltier element assembly 23 of the left grip portion is calculated according to the map of FIG. 6 (step S17).

次いで、算出されたデューティ比率Dcとなるパルスを、左側用のパワーFET37に出力する(ステップS18)。これにより、左側のグリップ部のペルチェ素子アセンブリ23は、設定されたデューティ比率Dcに応じた強さで冷却作用を行う。   Next, a pulse having the calculated duty ratio Dc is output to the left power FET 37 (step S18). Thereby, the Peltier element assembly 23 of the left grip part performs a cooling action with a strength according to the set duty ratio Dc.

また、ステップS15で、+B電源電圧が前記所定の作動電圧範囲内にない、即ち前記バッテリ35の電圧変動の影響が大きいと判断されると、デューティ比率Dcを0%にして左側用のパワーFET37へのパルスを停止する(ステップS18)。   If it is determined in step S15 that the + B power supply voltage is not within the predetermined operating voltage range, that is, the influence of the voltage fluctuation of the battery 35 is large, the duty ratio Dc is set to 0% and the left-side power FET 37 Is stopped (step S18).

一方、ステップS11で加熱と判断されると、左側用のリレー36を加熱通電の状態に設定する(ステップS22)。具体的には、前記トランジスタTr2によりリレー36の他方のコイルL2を駆動して、ペルチェ素子アセンブリ23により加熱作用が行われるように、印加電圧の極性を切り替える。そして、左側のグリップ部の温度を前記加熱目標温度値Thtに制御するための処理を行う(ステップS23)。   On the other hand, if it is determined in step S11 that the heating is performed, the left-side relay 36 is set in a heating energization state (step S22). Specifically, the other coil L2 of the relay 36 is driven by the transistor Tr2, and the polarity of the applied voltage is switched so that the Peltier element assembly 23 performs a heating action. And the process for controlling the temperature of the left grip part to the said heating target temperature value Tht is performed (step S23).

すなわち、現在の+B電源電圧を読み込んで(ステップS24)、+B電源電圧が前記所定の作動電圧範囲内にあるかを判断する(ステップS25)。そして、+B電源電圧が前記所定の作動電圧範囲内にある、即ち前記バッテリ35の電圧変動の影響が抑制されていると判断されると、左側のグリップ部の検出温度Tを検出する(ステップS26)。そして、検出温度Tに基づき、図9のマップに従って、左側のグリップ部のペルチェ素子アセンブリ23に対するデューティ比率Dhを算出する(ステップS27)。   That is, the current + B power supply voltage is read (step S24), and it is determined whether the + B power supply voltage is within the predetermined operating voltage range (step S25). When it is determined that the + B power supply voltage is within the predetermined operating voltage range, that is, the influence of the voltage fluctuation of the battery 35 is suppressed, the detected temperature T of the left grip portion is detected (step S26). ). Based on the detected temperature T, the duty ratio Dh of the left grip portion with respect to the Peltier element assembly 23 is calculated according to the map of FIG. 9 (step S27).

次いで、算出されたデューティ比率Dhとなるパルスを、左側用のパワーFET37に出力する(ステップS28)。これにより、左側のグリップ部のペルチェ素子アセンブリ23は、設定されたデューティ比率Dhに応じた強さで加熱作用を行う。   Next, a pulse having the calculated duty ratio Dh is output to the left power FET 37 (step S28). Thereby, the Peltier element assembly 23 of the left grip part performs a heating action with a strength according to the set duty ratio Dh.

また、ステップS15で、+B電源電圧が前記所定の作動電圧範囲内にない、即ち前記バッテリ35の電圧変動の影響が大きいと判断されると、デューティ比率Dcを0%にして左側用のパワーFET37へのパルスを停止する(ステップS18)。   If it is determined in step S15 that the + B power supply voltage is not within the predetermined operating voltage range, that is, the influence of the voltage fluctuation of the battery 35 is large, the duty ratio Dc is set to 0% and the left-side power FET 37 Is stopped (step S18).

そして、ステップS18,S19、ステップS28,S29のいずれかの処理を行うと、メインルーチンに戻ってステップS10の故障判別処理に移行する。
図21は、ステップS10におけるペルチェ素子22の故障判別処理態様を示すフローチャートである。なお、以下でも、左側のグリップ部の温度制御について代表して説明し、右側のグリップ部については詳細な説明を割愛する。
Then, when any one of steps S18, S19, steps S28, and S29 is performed, the process returns to the main routine and proceeds to the failure determination process of step S10.
FIG. 21 is a flowchart showing a failure determination processing mode of the Peltier element 22 in step S10. In the following, temperature control of the left grip portion will be described as a representative, and detailed description of the right grip portion will be omitted.

同図に示されるように、この処理に移行すると、ステップS18,S19、ステップS28,S29のいずれかで設定されたデューティ比率Dc,Dhを読み込み(ステップS31)、該デューティ比率Dc,Dhが所定値Dcth,Dhth以上であるかを判断する(ステップS32)。そして、デューティ比率Dc,Dhが所定値Dcth,Dhth以上と判断されると、ステップS16、S26で検出された検出温度Tが読み込まれ(ステップS33)、該検出温度Tとそのときの温度調節(冷却又は加熱)に対応する目標温度値Tct,Thtとの温度差DTc,DThを算出する(ステップS34)。   As shown in the figure, when the process proceeds, the duty ratios Dc and Dh set in any one of steps S18, S19, S28, and S29 are read (step S31), and the duty ratios Dc and Dh are predetermined. It is determined whether the value is greater than or equal to the values Dcth and Dhth (step S32). When the duty ratios Dc and Dh are determined to be equal to or greater than the predetermined values Dcth and Dhth, the detected temperature T detected in steps S16 and S26 is read (step S33), and the detected temperature T and the temperature adjustment at that time ( Temperature differences DTc, DTh from target temperature values Tct, Tht corresponding to (cooling or heating) are calculated (step S34).

そして、検出温度Tとの温度差DTc,DThが、ステップS4で算出された温度差閾値DTcth,DThthよりも大きいかを判断し(ステップS35)、該温度差閾値DTcth,DThthよりも大きいと判断されると、検出温度Tの単位時間当たりの温度変化分ΔTc,ΔThを算出する(ステップS36:変化分検出手段)。   Then, it is determined whether the temperature differences DTc, DTh from the detected temperature T are larger than the temperature difference threshold values DTcth, DThth calculated in step S4 (step S35), and are determined to be larger than the temperature difference threshold values DTcth, DThth. Then, temperature changes ΔTc and ΔTh per unit time of the detected temperature T are calculated (step S36: change detection means).

次いで、単位時間当たりの温度変化分ΔTc,ΔThが、ステップS5で算出された温度変化分閾値ΔTcth,ΔThthよりも小さいかを判断し(ステップS37)、該温度変化分閾値ΔTcth,ΔThthよりも小さいと判断されると、更に故障の判別のための継続時間Δτdc,Δτdhをカウント中かを判断する(ステップS38)。   Next, it is determined whether the temperature changes ΔTc and ΔTh per unit time are smaller than the temperature change thresholds ΔTcth and ΔThth calculated in step S5 (step S37), and are smaller than the temperature change thresholds ΔTcth and ΔThth. If it is determined, it is further determined whether the durations Δτdc and Δτdh for determining the failure are being counted (step S38).

ここで、継続時間Δτdc,Δτdhがカウント中でないと判断されると該継続時間Δτdc,Δτdhのカウントを開始し(ステップS39)、一方、カウント中と判断されると現在の該継続時間Δτdc,Δτdhが、ステップS6で算出された継続時間閾値Δτdcth,Δτdhthよりも大きいか(超過したか)を判断する(ステップS40:判断手段)。   Here, if it is determined that the durations Δτdc and Δτdh are not being counted, the counting of the durations Δτdc and Δτdh is started (step S39). If it is determined that the durations are being counted, the current durations Δτdc and Δτdh are started. Is larger than (exceeded) the duration threshold values Δτdcth and Δτdhth calculated in step S6 (step S40: determination means).

そして、現在の該継続時間Δτdc,Δτdhが継続時間閾値Δτdcth,Δτdhthよりも大きくないと判断されると、該継続時間Δτdc,Δτdhのカウントを継続する(ステップS41:継続時間検出手段)。一方、継続時間閾値Δτdcth,Δτdhthよりも大きいと判断されると、左側のペルチェ素子22(ペルチェ素子アセンブリ23)・配線系の故障情報を内部(メモリ)に記憶する(ステップS42)。そして、左側のペルチェ素子22への出力用のリレー36を完全に停止する(ステップS43)。   If it is determined that the current durations Δτdc and Δτdh are not greater than the duration threshold values Δτdcth and Δτdhth, the counting of the durations Δτdc and Δτdh is continued (step S41: duration detection means). On the other hand, if it is determined that the threshold values are larger than the duration threshold values Δτdcth and Δτdhth, the failure information of the left Peltier element 22 (Peltier element assembly 23) / wiring system is stored inside (memory) (step S42). Then, the output relay 36 to the left Peltier element 22 is completely stopped (step S43).

また、ステップS32でデューティ比率Dc,Dhが所定値Dcth,Dhth未満と判断され、あるいはステップS35で検出温度Tとの温度差DTc,DThが温度差閾値DTcth,DThthよりも大きくないと判断され、あるいはステップS37で単位時間当たりの温度変化分ΔTc,ΔThが温度変化分閾値ΔTcth,ΔThthよりも小さくないと判断されると、継続時間Δτdc,Δτdhのカウントをリセットする(ステップS44)。   Further, it is determined in step S32 that the duty ratios Dc, Dh are less than the predetermined values Dcth, Dhth, or in step S35, it is determined that the temperature differences DTc, DTh from the detected temperature T are not greater than the temperature difference thresholds DTcth, DThth, Alternatively, if it is determined in step S37 that the temperature changes ΔTc and ΔTh per unit time are not smaller than the temperature change thresholds ΔTcth and ΔThth, the counts of the durations Δτdc and Δτdh are reset (step S44).

つまり、デューティ比率Dc,Dhが所定値Dcth,Dhth以上であり、且つ、検出温度Tとの温度差DTc,DThが温度差閾値DTcth,DThthよりも大きく、且つ、単位時間当たりの温度変化分ΔTc,ΔThが温度変化分閾値ΔTcth,ΔThthよりも小さいときに、継続時間Δτdc,Δτdhとして連続的にカウントされて、ステップS40での判断(故障判断)に供される。   That is, the duty ratios Dc, Dh are equal to or greater than the predetermined values Dcth, Dhth, the temperature differences DTc, DTh with the detected temperature T are larger than the temperature difference thresholds DTcth, DThth, and the temperature change ΔTc per unit time , ΔTh are smaller than the temperature change thresholds ΔTcth, ΔThth, they are continuously counted as the durations Δτdc, Δτdh, and used for the determination (failure determination) in step S40.

そして、ステップS39,S41,S43,S44のいずれかの処理を行うと、メインルーチンに戻る。
以上詳述したように、本実施形態によれば、以下に示す効果が得られるようになる。
Then, when any one of steps S39, S41, S43, and S44 is performed, the process returns to the main routine.
As described above in detail, according to the present embodiment, the following effects can be obtained.

(1)本実施形態では、デューティ比率Dc,Dhが所定値Dcth,Dhth以上であり、且つ、検出温度Tとの温度差DTc,DThが温度差閾値DTcth,DThthよりも大きく、且つ、単位時間当たりの温度変化分ΔTc,ΔThが温度変化分閾値ΔTcth,ΔThthよりも小さいときの継続時間Δτdc,Δτdhを、継続時間閾値Δτdcth,Δτdhthにより閾値判定することで、ペルチェ素子22(ペルチェ素子アセンブリ23)の故障(異常)を精度よく判断することができる。また、基本的にマイコン33(制御ユニット31)による演算処理のみで、ペルチェ素子22の故障を検出(判断)できるため、例えば当該故障検出に係る回路(コンパレータ等)を割愛でき、ひいてはコストを削減することができる。   (1) In the present embodiment, the duty ratios Dc, Dh are equal to or greater than the predetermined values Dcth, Dhth, the temperature differences DTc, DTh from the detected temperature T are greater than the temperature difference thresholds DTcth, DThth, and unit time The Peltier element 22 (Peltier element assembly 23) is determined by threshold values of the durations Δτdc and Δτdh when the perceived temperature changes ΔTc and ΔTh are smaller than the temperature change thresholds ΔTcth and ΔThth based on the duration thresholds Δτdcth and Δτdhth. Can be accurately determined. Further, since the failure of the Peltier element 22 can be detected (determined) basically by only the arithmetic processing by the microcomputer 33 (control unit 31), for example, a circuit (comparator, etc.) relating to the failure detection can be omitted, thereby reducing the cost. can do.

また、故障検出に係る回路の実装のために基板にスペース(面積)を確保する必要もなくなり、該基板のコストを削減することができる。
なお、上記実施形態は以下のように変更してもよい。
Further, it is not necessary to secure a space (area) on the substrate for mounting a circuit related to failure detection, and the cost of the substrate can be reduced.
In addition, you may change the said embodiment as follows.

・前記実施形態において、ペルチェ素子22(ペルチェ素子アセンブリ23)の故障検出に係る要因(2)、即ち図21のステップS35の判断を割愛してもよい。
・前記実施形態において、ペルチェ素子22の個数は一例であり、例えば1個だけであってもよい。ただし、各ペルチェ素子22に対し高効率な印加電圧(2V程度)が設定される好ましい。
In the embodiment described above, the factor (2) relating to the failure detection of the Peltier element 22 (Peltier element assembly 23), that is, the determination in step S35 of FIG. 21 may be omitted.
-In the said embodiment, the number of the Peltier elements 22 is an example, for example, may be only one. However, a highly efficient applied voltage (about 2 V) is preferably set for each Peltier element 22.

本発明の一実施形態を示す断面図。Sectional drawing which shows one Embodiment of this invention. 同実施形態を示す回路図。The circuit diagram which shows the same embodiment. ペルチェ素子アセンブリに対する印加電圧の極性と、その作用との関係を示す一覧図。The list figure which shows the relationship between the polarity of the applied voltage with respect to a Peltier device assembly, and its effect | action. ペルチェ素子アセンブリに対する印加電圧を示すタイムチャート。The time chart which shows the applied voltage with respect to a Peltier device assembly. 印加電圧のデューティ比率とペルチェ素子アセンブリによる冷却・加熱作用の強さとの関係を示す説明図。Explanatory drawing which shows the relationship between the duty ratio of an applied voltage, and the intensity | strength of the cooling and heating effect | action by a Peltier device assembly. 冷却作用時の検出温度とデューティ比率との関係を示すマップ。The map which shows the relationship between the detected temperature at the time of a cooling action, and a duty ratio. (a)(b)は、初期温度が高めのときの冷却作用時の検出温度及びデューティ比率の推移を示すタイムチャート。(A) (b) is a time chart which shows transition of the detected temperature and duty ratio at the time of a cooling action when initial temperature is high. (a)(b)は、初期温度が低めのときの冷却作用時の検出温度及びデューティ比率の推移を示すタイムチャート。(A) (b) is a time chart which shows transition of the detected temperature and duty ratio at the time of cooling action when initial temperature is low. 加熱作用時の検出温度とデューティ比率との関係を示すマップ。The map which shows the relationship between the detected temperature at the time of a heating effect | action, and a duty ratio. (a)(b)は、初期温度が低めのときの加熱作用時の検出温度及びデューティ比率の推移を示すタイムチャート。(A) (b) is a time chart which shows transition of the detected temperature and duty ratio at the time of a heating action when initial temperature is low. (a)(b)は、初期温度が高めのときの加熱作用時の検出温度及びデューティ比率の推移を示すタイムチャート。(A) (b) is a time chart which shows transition of the detected temperature and duty ratio at the time of a heating action when initial temperature is high. 故障判定するための各種要因と該要因を選定した根拠を示す説明図。Explanatory drawing which shows the basis for selecting the various factors for determining a failure and the factors. (a)(b)(c)は、冷却作用時の初期温度との温度差及び検出温度との温度差閾値、温度変化分閾値、継続時間閾値の関係を示すマップ。(A) (b) (c) is a map which shows the relationship between the temperature difference with the initial temperature at the time of a cooling effect | action, a temperature difference threshold value with detection temperature, a temperature change threshold value, and a duration threshold value. (a)(b)(c)は、加熱作用時の初期温度との温度差及び検出温度との温度差閾値、温度変化分閾値、継続時間閾値の関係を示すマップ。(A) (b) (c) is a map which shows the relationship between the temperature difference with the initial temperature at the time of a heating effect | action, a temperature difference threshold value with detection temperature, a temperature change threshold value, and a duration threshold value. 初期温度が高めのときの冷却作用時の故障検出態様を示すタイムチャート。The time chart which shows the failure detection aspect at the time of the cooling action when initial temperature is high. 初期温度が低めのときの冷却作用時の故障検出態様を示すタイムチャート。The time chart which shows the failure detection aspect at the time of the cooling action when initial temperature is low. 初期温度が低めのときの加熱作用時の故障検出態様を示すタイムチャート。The time chart which shows the failure detection mode at the time of a heating action when initial temperature is low. 初期温度が高めのときの加熱作用時の故障検出態様を示すタイムチャート。The time chart which shows the failure detection aspect at the time of a heating action when initial temperature is high. 同実施形態の故障検出態様を示すフローチャート。The flowchart which shows the failure detection aspect of the embodiment. 同実施形態の故障検出態様を示すフローチャート。The flowchart which shows the failure detection aspect of the embodiment. 同実施形態の故障検出態様を示すフローチャート。The flowchart which shows the failure detection aspect of the embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

22…ペルチェ素子、23…ペルチェ素子アセンブリ、32…サーミスタ(温度検出手段)、31…制御ユニット、33…マイコン(算出手段、第1算出手段、第2算出手段、変化分検出手段、継続時間検出手段、判断手段)。   22 ... Peltier element, 23 ... Peltier element assembly, 32 ... Thermistor (temperature detection means), 31 ... Control unit, 33 ... Microcomputer (calculation means, first calculation means, second calculation means, change detection means, duration detection) Means, judgment means).

Claims (1)

ステアリングホイールに設けられたペルチェ素子と、前記ステアリングホイールの温度を検出する温度検出手段とを備え、前記ペルチェ素子による温度調節作用の強さと単調非減少の関係で該ペルチェ素子に対する印加電圧のデューティ比率を設定して、前記ステアリングホイールの温度を目標温度に制御するステアリングホイールの温度制御装置において、
目標温度及び温度調節開始時に前記温度検出手段により検出された温度の温度差を算出する算出手段と、
前記算出された温度差と単調非減少の関係で温度変化分閾値を算出する第1算出手段と、
前記算出された温度差と単調非増加の関係で継続時間閾値を算出する第2算出手段と、
前記温度検出手段により検出された温度に基づき、単位時間当たりの温度変化分を検出する変化分検出手段と、
前記デューティ比率が所定値よりも大きいとき、前記変化分検出手段により検出された単位時間当たりの温度変化分が前記温度変化分閾値よりも小さい状態にあるときの継続時間を検出する継続時間検出手段と、
前記継続時間検出手段により検出された継続時間が、前記継続時間閾値よりも大きいときに前記ペルチェ素子の故障を判断する判断手段とを備えたことを特徴とするステアリングホイールの温度制御装置。
A Peltier element provided on the steering wheel; and a temperature detecting means for detecting the temperature of the steering wheel. In the steering wheel temperature control device for controlling the temperature of the steering wheel to a target temperature,
A calculation means for calculating a temperature difference between the target temperature and the temperature detected by the temperature detection means at the start of temperature adjustment;
First calculation means for calculating a temperature change threshold value in a relationship between the calculated temperature difference and monotonous non-decreasing;
A second calculating means for calculating a duration threshold value in a relationship between the calculated temperature difference and monotonous non-increasing;
Based on the temperature detected by the temperature detection means, a change detection means for detecting a temperature change per unit time;
When the duty ratio is larger than a predetermined value, a duration detection unit that detects a duration when the temperature change per unit time detected by the change detection unit is smaller than the temperature change threshold. When,
A temperature control apparatus for a steering wheel, comprising: determination means for determining a failure of the Peltier element when the duration detected by the duration detection means is greater than the duration threshold.
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