JP2008191850A - Pressure sensitive paper, and handwriting recording system using pressure sensitive paper - Google Patents

Pressure sensitive paper, and handwriting recording system using pressure sensitive paper Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pressure sensitive paper including a plurality of semiconductor devices exchanging data by radio communication, which can record handwriting by radio communication with the plurality of semiconductor devices, and to establish a system for recording handwriting using the pressure sensitive paper. <P>SOLUTION: The system comprises a semiconductor device embedded into a paper layer of a paper substrate having at least one layer and provided on a writing surface of the paper substrate, and an external device radio-communicable with the semiconductor device. The semiconductor device includes an antenna circuit communicable with the external device, a signal processing circuit and a storage part storing individual identification information. When a pen pressure is applied to the semiconductor device provided on the writing surface of the paper substrate, at least one of the antenna circuit and the signal processing circuit is broken, whereby the semiconductor device a differently operates to a signal from the external device. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は感圧紙及び感圧紙を用いた筆跡記録システムに関する。特に、感圧紙からの無線信号により筆跡記録を行う感圧紙を用いた筆跡記録システムに関する。 The present invention relates to a pressure sensitive paper and a handwriting recording system using the pressure sensitive paper. In particular, the present invention relates to a handwriting recording system using pressure-sensitive paper that performs handwriting recording with a wireless signal from the pressure-sensitive paper.

近年、商取引の増加によって、手軽に筆跡を転写できる感圧紙の普及が進んでおり、このような感圧紙は、カードや保険の申込書、領収書、納品書や請求書などの各種帳票などあらゆる分野において利用されている。 In recent years, due to the increase in commercial transactions, pressure-sensitive paper that can easily transfer handwriting is spreading, and such pressure-sensitive paper can be used for various forms such as cards, insurance application forms, receipts, various forms such as invoices and invoices. It is used in the field.

これらの感圧紙は、転写対象の紙の上に載せ、筆記用具などで圧力を加えることでその筆跡を転写する。そのため、粒子状のカプラーと呼ばれる2種類のカプセルが一様に吹き付けられており、第1のカプセルに内包される発色剤と第2のカプセルに内包される顕色剤とが筆記用具による圧力で押しつぶされると、互いの液が混ざり合って化学反応し、転写対象の紙を着色する。 These pressure-sensitive papers are placed on the paper to be transferred, and the handwriting is transferred by applying pressure with a writing tool or the like. Therefore, two types of capsules called particulate couplers are sprayed uniformly, and the color former contained in the first capsule and the developer contained in the second capsule are caused by the pressure of the writing instrument. When crushed, the liquids mix with each other and chemically react to color the paper to be transferred.

感圧紙を構成する方法としては様々方法があるが、たとえば、複数の紙と発色剤と顕色剤とデータ記憶素子と送受信部とからなる感圧紙が提案されている(例えば、特許文献1)。
特開2002−254806号公報
There are various methods for constructing the pressure-sensitive paper. For example, a pressure-sensitive paper composed of a plurality of paper, a color former, a developer, a data storage element, and a transmission / reception unit has been proposed (for example, Patent Document 1). .
Japanese Patent Laid-Open No. 2002-254806

しかしながら、カプラー内の発色剤及び顕色剤は、水にぬれることで薄まるため、転写した文字が水濡れによって消えるおそれがある。また、前記理由から転写対象の紙を保存する際に、湿度の高い場所で保存することが出来ない。さらに、転写後の紙はコピー機によって容易に複写することが可能であり、情報保護の懸念が生じる。また、送受信部が筆圧によって破壊されたり切り取られたりした際に通信できなくなる問題がある。 However, since the color former and the developer in the coupler are thinned by being wetted with water, there is a possibility that the transferred characters disappear due to water wetting. For the above reasons, when the paper to be transferred is stored, it cannot be stored in a place with high humidity. Furthermore, the paper after the transfer can be easily copied by a copying machine, and there is a concern about information protection. In addition, there is a problem that communication cannot be performed when the transmission / reception unit is destroyed or cut off by writing pressure.

上記問題を鑑み、本発明は、無線通信によりデータの交信を行う複数の半導体装置によって構成された感圧紙であって、複数の半導体装置との無線通信により筆跡記録を行うことを可能にした感圧紙を提供することを目的とする。さらに、本発明は、このような感圧紙を用いて、筆跡を記録するシステムを構築することを課題とする。 In view of the above problems, the present invention is a pressure-sensitive paper composed of a plurality of semiconductor devices that perform data communication by wireless communication, and is capable of performing handwriting recording by wireless communication with a plurality of semiconductor devices. The purpose is to provide a compressed paper. Furthermore, this invention makes it a subject to construct | assemble the system which records a handwriting using such a pressure sensitive paper.

上述の諸問題を解決するため本発明に係る感圧紙は、複数の半導体装置を有し、無線通信によりデータの交信を行い、交信した信号から、感圧紙上の筆跡を記録することを特徴とする。なお、本明細書において、「筆跡」とは筆記により破壊された半導体装置の有無又はその並び方を意味する。 In order to solve the above-mentioned problems, the pressure-sensitive paper according to the present invention has a plurality of semiconductor devices, communicates data by wireless communication, and records handwriting on the pressure-sensitive paper from the communicated signal. To do. In this specification, “handwriting” means the presence or absence of the semiconductor devices destroyed by writing or the arrangement thereof.

本発明は、感圧紙に設けられた半導体装置が筆圧によって破壊されると通信が出来なくなることに着目してなされたものである。本発明の感圧紙は、感圧紙上の位置に対応した座標情報を送信する手段を有する複数の半導体装置によって構成される。筆圧によって半導体装置が破壊され、通信が出来なくなった座標を特定することにより、筆跡を記録することできる。 The present invention has been made paying attention to the fact that communication cannot be performed when a semiconductor device provided on pressure-sensitive paper is destroyed by writing pressure. The pressure sensitive paper of the present invention is constituted by a plurality of semiconductor devices having means for transmitting coordinate information corresponding to the position on the pressure sensitive paper. The handwriting can be recorded by specifying the coordinates at which the semiconductor device is destroyed by the writing pressure and communication becomes impossible.

本発明の感圧紙の一は、少なくとも一層を有する用紙基材の紙層内に抄き込まれ、用紙基材の筆記面に設けられた半導体装置を有し、半導体装置は、外部装置と通信可能なアンテナ回路と、信号処理回路と、固体識別情報を記憶した記憶部とを有し、用紙基材の筆記面に設けられた半導体装置に筆圧が加わったときに、アンテナ回路又は信号処理回路の少なくとも一方が破壊されることにより、記憶部の固体識別情報の送信が不可能となる。なお、半導体装置は、第1の紙と第2の紙に抄き込まれて設けられた構成としてもよいし、一枚の紙に抄き込まれて設けられた構成としてもよい。 One of the pressure-sensitive papers of the present invention includes a semiconductor device that is incorporated in a paper layer of a paper base material having at least one layer and is provided on a writing surface of the paper base material. The semiconductor device communicates with an external device. An antenna circuit, a signal processing circuit, and a storage unit that stores solid identification information. When writing pressure is applied to a semiconductor device provided on a writing surface of a paper base, the antenna circuit or the signal processing When at least one of the circuits is destroyed, it becomes impossible to transmit the solid identification information in the storage unit. Note that the semiconductor device may have a structure in which the first paper and the second paper are formed, or a structure in which the semiconductor device is formed on a single sheet of paper.

また、本発明の感圧紙の一は、少なくとも一層を有する用紙基材の紙層内に抄き込まれ、用紙基材の筆記面にマトリクス状に配列された複数の半導体装置を有し、複数の半導体装置は、外部装置と通信可能なアンテナ回路と、信号処理回路と、固体識別情報を記憶した記憶部とをそれぞれ有し、用紙基材の筆記面に筆圧が加わったときに、筆圧が加えられた半導体装置のアンテナ回路又は信号処理回路の少なくとも一方が破壊されることにより、筆圧が加えられた半導体装置の記憶部に記憶された固体識別情報の送信が不可能となる。例えば、複数の半導体装置は、感圧紙において、それぞれの半導体装置が設けられた位置に対応したm行n列のうちいずれかの座標データが記憶されている。 One of the pressure-sensitive papers of the present invention includes a plurality of semiconductor devices that are incorporated in a paper layer of a paper base material having at least one layer and arranged in a matrix on the writing surface of the paper base material. The semiconductor device includes an antenna circuit that can communicate with an external device, a signal processing circuit, and a storage unit that stores solid identification information. When the writing pressure is applied to the writing surface of the paper base, When at least one of the antenna circuit or the signal processing circuit of the semiconductor device to which the pressure is applied is destroyed, it becomes impossible to transmit the solid identification information stored in the storage unit of the semiconductor device to which the writing pressure is applied. For example, in the plurality of semiconductor devices, in the pressure sensitive paper, any coordinate data among m rows and n columns corresponding to the positions where the respective semiconductor devices are provided is stored.

また、上述した感圧紙と、当該感圧紙と無線通信を行う外部装置(リーダ装置、リーダ/ライタ(R/W)装置、質問器、少なくとも読み取り機能を具備した携帯電話、コンピューター)とで筆跡記録システムを構築することができる。 In addition, handwriting recording is performed between the pressure-sensitive paper described above and an external device (a reader device, a reader / writer (R / W) device, an interrogator, a mobile phone or a computer having at least a reading function) that performs wireless communication with the pressure-sensitive paper. A system can be constructed.

本発明の筆跡記録システムの一は、少なくとも一層を有する用紙基材の紙層内に抄き込まれ、用紙基材の筆記面に設けられた半導体装置と、半導体装置と無線で通信可能な外部装置とを有し、半導体装置は、外部装置と通信可能なアンテナ回路と、信号処理回路と、固体識別情報を記憶した記憶部とを有し、用紙基材の筆記面に設けられた半導体装置に筆圧が加わったときに、アンテナ回路又は信号処理回路の少なくとも一方が破壊されることにより、半導体装置が外部装置からの信号に対し異なる動作状態を行う。 One of the handwriting recording systems of the present invention is a semiconductor device embedded in a paper layer of a paper base material having at least one layer, and an external device capable of wirelessly communicating with the semiconductor device provided on the writing surface of the paper base material The semiconductor device includes an antenna circuit that can communicate with an external device, a signal processing circuit, and a storage unit that stores solid identification information, and is provided on a writing surface of a paper substrate. When writing pressure is applied to the semiconductor device, at least one of the antenna circuit and the signal processing circuit is destroyed, so that the semiconductor device performs different operation states on the signal from the external device.

本発明の筆跡記録システムの一は、少なくとも一層を有する用紙基材の紙層内に抄き込まれ、用紙基材の筆記面にマトリクス状に配列された複数の半導体装置と、複数の半導体装置と無線で通信可能な外部装置とを有し、複数の半導体装置は、外部装置と通信可能なアンテナ回路と、信号処理回路と、固体識別情報を記憶した記憶部とをそれぞれ有し、用紙基材の筆記面に筆圧が加わったときに、筆圧が加えられた半導体装置のアンテナ回路又は信号処理回路の少なくとも一方が破壊されることにより、筆圧が加えられた半導体装置が外部装置からの信号に対し異なる動作状態を行う。また、複数の半導体装置は、感圧紙において、それぞれの半導体装置が設けられた位置に対応したm行n列のうちいずれかの座標データが記憶されている。 One of the handwriting recording systems of the present invention includes a plurality of semiconductor devices that are incorporated in a paper layer of a paper base material having at least one layer and arranged in a matrix on a writing surface of the paper base material, and a plurality of semiconductor devices The plurality of semiconductor devices each include an antenna circuit that can communicate with the external device, a signal processing circuit, and a storage unit that stores solid identification information. When writing pressure is applied to the writing surface of the material, at least one of the antenna circuit or the signal processing circuit of the semiconductor device to which the writing pressure is applied is destroyed, so that the semiconductor device to which the writing pressure is applied is removed from an external device. Different operating states are performed for the signals. Further, in the plurality of semiconductor devices, in the pressure sensitive paper, any coordinate data among m rows and n columns corresponding to the positions where the respective semiconductor devices are provided is stored.

なお、本発明において、接続されているとは、電気的に接続されているものとする。したがって、本発明が開示する構成において、所定の接続関係に加え、その間に電気的な接続を可能とする他の素子(例えば、スイッチやトランジスタや容量素子やインダクタや抵抗素子やダイオードなど)が配置されていてもよい。 In the present invention, being connected is assumed to be electrically connected. Therefore, in the configuration disclosed by the present invention, in addition to a predetermined connection relationship, other elements (for example, a switch, a transistor, a capacitor, an inductor, a resistor, a diode, etc.) that can be electrically connected are arranged. May be.

なお、本明細書でいう半導体装置とは、半導体特性を利用することで機能し得る装置全般を指すものとする。 Note that a semiconductor device in this specification refers to all devices that can function by utilizing semiconductor characteristics.

本発明により、無線通信で筆跡の記録を行うことが出来る感圧紙を提供することが出来る。よって、本発明に係る感圧紙を用いることで、感圧紙にどのような情報が書かれているかといった情報(たとえば、文字、図形)を記録する筆跡記録システムを構築することが出来る。 According to the present invention, it is possible to provide a pressure sensitive paper capable of recording a handwriting by wireless communication. Therefore, by using the pressure sensitive paper according to the present invention, it is possible to construct a handwriting recording system for recording information (for example, characters, graphics) such as what information is written on the pressure sensitive paper.

以下に、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。ただし、本発明は多くの異なる態様で実施することが可能であり、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。したがって、本実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。なお、実施の形態を説明するための全図において、共通の符号は、同一部分又は同様な機能を有する部分を示しており、その繰り返しの説明は省略する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. However, the present invention can be implemented in many different modes, and those skilled in the art can easily understand that the modes and details can be variously changed without departing from the spirit and scope of the present invention. Is done. Therefore, the present invention is not construed as being limited to the description of this embodiment mode. Note that in all the drawings for describing the embodiments, common reference numerals indicate the same portions or portions having similar functions, and repetitive description thereof is omitted.

(実施の形態1)
本実施の形態においては、本発明における感圧紙の構成及び当該感圧紙を用いた本発明の筆跡記録システムの構成について説明する。
(Embodiment 1)
In the present embodiment, the configuration of the pressure sensitive paper in the present invention and the configuration of the handwriting recording system of the present invention using the pressure sensitive paper will be described.

本発明の筆跡記録システムは、半導体装置を有する感圧紙と外部装置で通信を行うことにより、感圧紙上の筆跡を記録するものである。例えば、マトリクス状に配列された複数の半導体装置を有する感圧紙において、筆記の筆圧(ペン圧、押圧)により破壊された半導体装置の固有識別情報を外部装置で特定することにより筆跡を記録することができる。 The handwriting recording system of the present invention records handwriting on pressure-sensitive paper by communicating with a pressure-sensitive paper having a semiconductor device with an external device. For example, in a pressure sensitive paper having a plurality of semiconductor devices arranged in a matrix, the handwriting is recorded by specifying the unique identification information of the semiconductor device destroyed by the writing pressure (pen pressure, pressing) of the writing with an external device. be able to.

図1(a)は、本発明の筆跡記録システムの外観図であり、感圧紙101を用いて筆跡を記録する例を示している。半導体装置を有する感圧紙101は、無線で通信を行う感圧紙である。半導体装置は、無線で通信を行う回路を有するため、以下、「半導体装置」を「無線チップ」とも記す。 FIG. 1A is an external view of a handwriting recording system according to the present invention, and shows an example in which handwriting is recorded using pressure-sensitive paper 101. A pressure sensitive paper 101 having a semiconductor device is a pressure sensitive paper that performs wireless communication. Since the semiconductor device includes a circuit that performs wireless communication, the “semiconductor device” is also referred to as a “wireless chip”.

図1(b)は、本発明の筆跡記録システムの構成およびシステムにおける信号の送受信を説明するためのブロック図である。図1(b)に示すように、感圧紙101は、m×n個の無線チップによって構成されている。勿論、本発明では無線チップの数はm×nに限定されず、少なくとも一つ以上の無線チップを有していればよい。以下、説明の便宜上m×nという個数を用いる。m×n個の無線チップは、それぞれ外部装置102と通信することができる。 FIG. 1B is a block diagram for explaining the configuration of the handwriting recording system of the present invention and signal transmission / reception in the system. As shown in FIG. 1B, the pressure sensitive paper 101 is composed of m × n wireless chips. Of course, in the present invention, the number of wireless chips is not limited to m × n, and it is only necessary to have at least one wireless chip. Hereinafter, the number of m × n is used for convenience of explanation. Each of the m × n wireless chips can communicate with the external device 102.

感圧紙101を構成するm×n個の無線チップは、感圧紙101を形成する過程で感圧紙101を構成する紙に抄き込まれている。具体的には、無線チップを少なくとも一層を有する用紙基材(紙)に抄き込み、当該用紙基材の筆記面に設けた構成とすることができる。この点については後述する。また、図1(a)および(b)では便宜上無線チップが感圧紙表面から見えるように示しているが、実際は抄き込まれているため無線チップを表面から見ることは出来ない。なお、用途に応じて薄い感圧紙を形成することにより、感圧紙表面に無線チップが透けて見えるようにしても良い。 The m × n wireless chips constituting the pressure sensitive paper 101 are incorporated into the paper constituting the pressure sensitive paper 101 in the process of forming the pressure sensitive paper 101. Specifically, the wireless chip can be formed on a paper base (paper) having at least one layer and provided on the writing surface of the paper base. This point will be described later. Further, in FIGS. 1A and 1B, the wireless chip is shown so that it can be seen from the pressure-sensitive paper surface for convenience, but the wireless chip cannot actually be seen from the surface because it is incorporated. Note that the wireless chip may be seen through the pressure sensitive paper surface by forming a thin pressure sensitive paper according to the application.

外部装置102はLAN(ローカルエリアネットワーク)などで情報処理装置103に接続されている。外部装置102と情報処理装置103とのデータ転送方式は、やりとりされるデータ量と通信距離に応じて選択すればよい。代表的な転送方法としてシリアル方式、パラレル方式がある。前者は1本の信号線を使って1ビットずつデータを転送する方式であり転送速度は遅いが転送距離は長く、後者は複数の信号線を使って同時に複数のビットを転送する方式であり転送速度は速いが転送距離は短い。 The external device 102 is connected to the information processing device 103 via a LAN (local area network) or the like. The data transfer method between the external apparatus 102 and the information processing apparatus 103 may be selected according to the amount of data exchanged and the communication distance. Typical transfer methods include a serial method and a parallel method. The former is a method of transferring data bit by bit using a single signal line. The transfer speed is slow but the transfer distance is long, and the latter is a method of transferring multiple bits simultaneously using multiple signal lines. High speed but short transfer distance.

情報処理装置103は、外部装置102の制御や外部装置102からの信号をもとに感圧紙101上の筆跡の記録を行うシステムの制御部である。情報処理装置103と外部装置102との接続は、有線のネットワークでも、無線のネットワークのいずれのネットワークでも構築することができる。 The information processing apparatus 103 is a control unit of a system that records the handwriting on the pressure-sensitive paper 101 based on control of the external apparatus 102 and a signal from the external apparatus 102. The connection between the information processing apparatus 103 and the external apparatus 102 can be established by either a wired network or a wireless network.

なお、外部装置(リーダ装置、リーダ/ライタ(R/W)装置、質問器、少なくとも読み取り機能を具備した携帯電話、コンピューター)は、無固有の周波数を有する信号を出力し、無線チップと無線で信号を送受信する機能を有する。無線で信号を送受信するための代表的な周波数帯として、13.56MHz帯や860〜960MHz帯や2.45GHz帯を使用することが出来る。 Note that an external device (reader device, reader / writer (R / W) device, interrogator, mobile phone or computer having at least a reading function) outputs a signal having a unique frequency, and wirelessly with a wireless chip. It has a function to send and receive signals. As typical frequency bands for transmitting and receiving signals wirelessly, 13.56 MHz band, 860 to 960 MHz band, and 2.45 GHz band can be used.

また、本発明の筆跡記録システムは、筆記具の筆圧で破壊される無線チップの大きさ及び感圧紙に設けられた無線チップの配置が、筆跡の分解能を決定する。低い周波数の無線信号を利用する場合には、大きいアンテナが必要となるため無線チップのサイズが大きくなり、感圧紙で検出できる筆跡の分解能が低くなる。一方、高い周波数の無線信号を利用する場合には、アンテナの小型化が可能であるため無線チップのサイズを小さくでき、感圧紙で検出できる筆跡の分解能が高くなる。たとえば、900MHzの無線信号を送受信する無線チップと2.45GHzの無線信号を送受信する無線チップを比較すると、後者は前者の5分の2のサイズとなる。なお、筆記具の先端形状およびサイズによって、必要とする分解能と使用する周波数帯を求めることが好ましい。 In the handwriting recording system of the present invention, the size of the wireless chip destroyed by the writing pressure of the writing instrument and the arrangement of the wireless chips provided on the pressure sensitive paper determine the resolution of the handwriting. When a low-frequency radio signal is used, a large antenna is required, which increases the size of the radio chip and lowers the resolution of handwriting that can be detected with pressure-sensitive paper. On the other hand, when a high-frequency radio signal is used, the size of the radio chip can be reduced because the antenna can be miniaturized, and the resolution of handwriting that can be detected with pressure-sensitive paper is increased. For example, when comparing a wireless chip that transmits and receives a 900 MHz wireless signal with a wireless chip that transmits and receives a 2.45 GHz wireless signal, the latter is two-fifths the size of the former. In addition, it is preferable to obtain | require the required resolution | decomposability and the frequency band to be used with the front-end | tip shape and size of a writing instrument.

感圧紙101を構成するm×n個の無線チップは、例えば、図1(b)に示すように、m行n列に配列する。図1(b)中のm×n個の無線チップは、格子状に並んでいるが、無線チップの配列方法はこれに限定されない。無線チップを任意のn角形、円状又は楕円状として形成し、多角格子状に配置(図2(a)、(b)、(c)参照)しても良いし、不規則状に配置(図2(d)参照)しても良い。 The m × n wireless chips constituting the pressure sensitive paper 101 are arranged in m rows and n columns as shown in FIG. 1B, for example. Although the m × n wireless chips in FIG. 1B are arranged in a grid, the arrangement method of the wireless chips is not limited to this. The wireless chip may be formed as an arbitrary n-gon, circle, or ellipse and arranged in a polygonal lattice (see FIGS. 2A, 2B, and 2C), or may be arranged irregularly ( (See FIG. 2D).

外部装置102は、筆跡検出用信号104をm×n回、繰り返し出力する。外部装置102が筆跡検出用信号104を送信するタイミングは、情報処理装置103で制御される。 The external device 102 repeatedly outputs the handwriting detection signal 104 m × n times. The timing at which the external apparatus 102 transmits the handwriting detection signal 104 is controlled by the information processing apparatus 103.

無線チップは、外部装置102から送信された筆跡検出用信号104を受信し、筆跡検出用信号104を受信したことにより生成される応答信号105を送信する機能を有する。図3は、本発明に係る無線チップの基本的な構成を示すブロック図である。図3の無線チップ300は、アンテナ回路301、記憶部302、信号処理回路303によって構成されている。 The wireless chip has a function of receiving a handwriting detection signal 104 transmitted from the external device 102 and transmitting a response signal 105 generated by receiving the handwriting detection signal 104. FIG. 3 is a block diagram showing a basic configuration of a wireless chip according to the present invention. The wireless chip 300 in FIG. 3 includes an antenna circuit 301, a storage unit 302, and a signal processing circuit 303.

図3に示すように、信号処理回路303にアンテナ回路301から信号が入力され、信号処理回路303は、記憶部302から出力された信号を基にアンテナ回路301へ信号を出力する。アンテナ回路301は外部からの信号を受信し、外部へ信号を送信するための回路である。すなわち、図1(b)に示した外部装置102からの筆跡検出用信号104はアンテナ回路301で受信され、応答信号105はアンテナ回路301から送信される。 As shown in FIG. 3, a signal is input from the antenna circuit 301 to the signal processing circuit 303, and the signal processing circuit 303 outputs a signal to the antenna circuit 301 based on the signal output from the storage unit 302. The antenna circuit 301 is a circuit for receiving a signal from the outside and transmitting the signal to the outside. That is, the handwriting detection signal 104 from the external device 102 shown in FIG. 1B is received by the antenna circuit 301, and the response signal 105 is transmitted from the antenna circuit 301.

記憶部302は、信号処理回路303から入力した命令を基に信号処理回路303へ座標データを出力する機能を有する。そのため、記憶部302は、メモリコントローラ回路とメモリ回路を有する。メモリコントローラ回路は信号処理回路303から入力した命令を基に、メモリ回路から座標データを読み込み、信号処理回路303へ座標データを出力する機能を有している。 The storage unit 302 has a function of outputting coordinate data to the signal processing circuit 303 based on a command input from the signal processing circuit 303. Therefore, the storage unit 302 includes a memory controller circuit and a memory circuit. The memory controller circuit has a function of reading coordinate data from the memory circuit based on an instruction input from the signal processing circuit 303 and outputting the coordinate data to the signal processing circuit 303.

図1(b)に示したm行n列で配列されたm×n個の無線チップの記憶部はそれぞれ異なる固有の座標データが記憶されている。感圧紙形成中、無線チップ形成中または感圧紙形成後に固有の座標データがそれぞれの無線チップの記憶部に書き込まれている。なお、以下説明の便宜上、m行n列の無線チップの記憶部には、座標データ「m,n」がすでに書き込まれているものとする。 The storage units of the m × n wireless chips arranged in m rows and n columns shown in FIG. 1B store different unique coordinate data. Unique coordinate data is written in the storage unit of each wireless chip during pressure-sensitive paper formation, during wireless chip formation, or after pressure-sensitive paper formation. For convenience of explanation, it is assumed that coordinate data “m, n” has already been written in the storage unit of the wireless chip of m rows and n columns.

また、信号処理回路303は、アンテナ回路301を介して受け取った外部からの筆跡検出用信号104を処理する手段を有する。具体的には、筆跡検出用信号104の内容によって座標データを応答するか否かを判定し記憶部302に命令を送る判定回路を有する。 The signal processing circuit 303 includes means for processing the handwriting detection signal 104 received from the outside via the antenna circuit 301. Specifically, it has a determination circuit that determines whether or not to respond to coordinate data according to the content of the handwriting detection signal 104 and sends a command to the storage unit 302.

アンテナ回路301におけるアンテナの形状は、どのような形状のものを用いても良い。また、アンテナ回路301に適用する信号の伝送方式は、電磁結合方式、電磁誘導方式又はマイクロ波方式等を用いることができる。伝送方式は、実施者が適宜、使用用途を考慮して選択すればよく、伝送方式に応じて適したアンテナを設ければよい。 The antenna circuit 301 may have any antenna shape. As a signal transmission method applied to the antenna circuit 301, an electromagnetic coupling method, an electromagnetic induction method, a microwave method, or the like can be used. The practitioner may select an appropriate transmission method in consideration of the intended use, and an antenna suitable for the transmission method may be provided.

例えば、伝送方式として、電磁結合方式又は電磁誘導方式(例えば、13.56MHz帯)を適用する場合には、電界密度の変化による電磁誘導を利用するため、アンテナとして機能する導電膜を輪状(例えば、ループアンテナ)、らせん状(例えば、スパイラルアンテナ)に形成する。また、伝送方式としてマイクロ波方式(例えば、UHF帯(860〜960MHz帯、2.45GHz帯等)を適用する場合には、信号の伝送に用いる電波の波長を考慮してアンテナとして機能する導電膜の長さや形状を適宜設定すればよい。アンテナとして機能する導電膜を例えば、線状(例えば、ダイポールアンテナ)、平坦な形状(例えば、パッチアンテナ)等に形成することができる。また、アンテナとして機能する導電膜の形状は線状に限られず、電磁波の波長を考慮して曲線状や蛇行形状またはこれらを組み合わせた形状で設けてもよい。 For example, when an electromagnetic coupling method or an electromagnetic induction method (for example, 13.56 MHz band) is applied as a transmission method, a conductive film functioning as an antenna is formed in a ring shape (for example, an electromagnetic induction due to a change in electric field density). , Loop antenna), and spiral (for example, spiral antenna). When a microwave system (for example, UHF band (860 to 960 MHz band, 2.45 GHz band, etc.) is applied as a transmission system, a conductive film that functions as an antenna in consideration of the wavelength of radio waves used for signal transmission. The conductive film functioning as an antenna can be formed into, for example, a linear shape (for example, a dipole antenna), a flat shape (for example, a patch antenna), or the like. The shape of the functional conductive film is not limited to a linear shape, and may be provided in a curved shape, a meandering shape, or a combination thereof in consideration of the wavelength of electromagnetic waves.

次に、図4に示すフローチャートと図5を用いて、図1に示した筆跡記録システムの動作について説明する。なお、本発明は、半導体装置の数がm×n個に限定されるものではないが、説明の都合、半導体装置の数をm×nに限定し、本発明の筆跡記録システムのフローを説明する。この点は、他の実施形態も同様である。 Next, the operation of the handwriting recording system shown in FIG. 1 will be described using the flowchart shown in FIG. 4 and FIG. The number of semiconductor devices is not limited to m × n in the present invention, but for convenience of explanation, the number of semiconductor devices is limited to m × n and the flow of the handwriting recording system of the present invention will be described. To do. This is the same for the other embodiments.

まず、外部装置102は1行1列目の第1の無線チップ501の破壊状態を確認するため、座標データ「1,1」を含む筆跡検出信号411を出力する(ステップS401)。第1の無線チップ501は、筆跡検出信号411をアンテナ回路301で受信する(ステップS402)。 First, the external device 102 outputs a handwriting detection signal 411 including coordinate data “1, 1” in order to confirm the destruction state of the first wireless chip 501 in the first row and the first column (step S401). The first wireless chip 501 receives the handwriting detection signal 411 by the antenna circuit 301 (step S402).

アンテナ回路301で受信された筆跡検出信号411は、信号処理回路303に出力される。信号処理回路303は、アンテナ回路301から信号が入力されると、記憶部302へ命令を送り、記憶部302に記憶されている座標データを取得し、アンテナ回路301から入力された信号に含まれる座標データと比較する(ステップS403)。比較の結果、一致したとき、信号処理回路303はアンテナ回路301を介して応答信号421を外部装置102に送信し(ステップS404)、処理を終了する(ステップS405)。一方、一致しなかったとき、そのまま処理を終了する(ステップS405)。 The handwriting detection signal 411 received by the antenna circuit 301 is output to the signal processing circuit 303. When a signal is input from the antenna circuit 301, the signal processing circuit 303 sends a command to the storage unit 302, acquires coordinate data stored in the storage unit 302, and is included in the signal input from the antenna circuit 301. Compare with the coordinate data (step S403). When the comparison results in a match, the signal processing circuit 303 transmits a response signal 421 to the external device 102 via the antenna circuit 301 (step S404), and ends the process (step S405). On the other hand, if they do not match, the process is terminated as it is (step S405).

外部装置102は第1の無線チップ501からの応答信号421を受信できたか否かを判定する(ステップS406)。判定の結果、受信できたときは、第1の無線チップ501が破壊されていないという情報を記録(ステップS407)し、終了する。一方、受信できなかったときは、第1の無線チップ501が破壊されているという情報を記録し(ステップS408)、終了する。 The external device 102 determines whether or not the response signal 421 from the first wireless chip 501 has been received (step S406). As a result of the determination, if reception is possible, information that the first wireless chip 501 has not been destroyed is recorded (step S407), and the process ends. On the other hand, if it cannot be received, information that the first wireless chip 501 is destroyed is recorded (step S408), and the process ends.

なお、第1の無線チップ501のアンテナ回路301が破壊されているか、またはアンテナ回路301と信号処理回路303との接続部が破壊されていた場合、ステップS402を実行できず、そのまま終了する(経路511)。同様に、信号処理回路303または記憶部302、あるいは信号処理回路303と記憶部302の接続が破壊されていた場合、ステップS403を実行できず、そのまま終了する(経路512)。 Note that if the antenna circuit 301 of the first wireless chip 501 is destroyed or the connection portion between the antenna circuit 301 and the signal processing circuit 303 is destroyed, step S402 cannot be executed and the process ends as it is (route). 511). Similarly, if the signal processing circuit 303 or the storage unit 302, or the connection between the signal processing circuit 303 and the storage unit 302 has been broken, step S403 cannot be executed, and the processing ends as it is (path 512).

したがって、ステップS404が実行され、外部装置102が応答信号421を受信するのは、第1の無線チップ501を構成する電気回路がまったく破壊されておらず全てが正常であるときのみである。 Therefore, Step S404 is executed and the external device 102 receives the response signal 421 only when the electrical circuit constituting the first wireless chip 501 is not destroyed at all and everything is normal.

また、第1の無線チップ501に対してステップS401からステップS408までを任意の回数繰り返しても良い。複数回繰り返すことにより、たまたま電波状態が悪く通信できないといった誤動作等を防止することができる。 Further, step S401 to step S408 may be repeated any number of times for the first wireless chip 501. By repeating the operation a plurality of times, it is possible to prevent malfunctions such as accidental radio wave conditions and poor communication.

ステップS401からステップS408までの動作を、第2の無線チップ502〜第m×nの無線チップ503で順次に行い、各無線チップにおいて破壊されているか否かを記録する。外部装置102が、無線チップと通信を行うタイミングは、情報処理装置103からの命令により制御することができる。 The operations from step S401 to step S408 are sequentially performed by the second wireless chip 502 to the m × n wireless chip 503, and whether or not each wireless chip is destroyed is recorded. The timing at which the external device 102 communicates with the wireless chip can be controlled by a command from the information processing device 103.

このように、無線チップが破壊されることにより、当該無線チップが破壊前と破壊後において外部装置からの信号に対し異なる動作状態を行うこと(破壊された無線チップから外部装置への応答信号の送信が不可能となること)を利用して筆跡を記録することができる。 As described above, when the wireless chip is destroyed, the wireless chip performs different operation states on the signal from the external device before and after the destruction (response signal from the destroyed wireless chip to the external device). Handwriting can be recorded using the fact that transmission is impossible).

外部装置102はネットワークを経由し、計測した無線チップの情報を情報処理装置103に伝える。情報処理装置103は、外部装置102から伝えられた無線チップの破損情報をもとに、筆跡情報として記録する。 The external device 102 transmits the measured wireless chip information to the information processing device 103 via the network. The information processing apparatus 103 records as handwriting information based on the damage information of the wireless chip transmitted from the external apparatus 102.

以上説明したように、外部装置と複数の半導体装置を有する感圧紙で通信を行うことにより、感圧紙上の筆跡を記録することができる。管理者は情報処理装置103にアクセスすることによって、筆跡を知ることができる。 As described above, the handwriting on the pressure sensitive paper can be recorded by communicating with the external device using the pressure sensitive paper having a plurality of semiconductor devices. The administrator can know the handwriting by accessing the information processing apparatus 103.

上述した本発明の構成をとることにより、感圧紙にどのような情報が書かれているかといった情報(たとえば、文字、図形)を記録する筆跡記録システムを構築することができる。 By adopting the above-described configuration of the present invention, it is possible to construct a handwriting recording system that records information (for example, characters and graphics) indicating what information is written on the pressure-sensitive paper.

(実施の形態2)
本実施の形態においては、半導体装置の形態及び作製方法について説明する。
(Embodiment 2)
In this embodiment, a mode and a manufacturing method of a semiconductor device are described.

図6(a)は、半導体装置の模式的な外観図であり、図6(b)は、半導体装置の模式的な上面構造を示す。半導体装置1101は、無線で通信を行う回路を有するため、以下、「半導体装置1101」を「無線チップ1101」とも記す。 FIG. 6A is a schematic external view of the semiconductor device, and FIG. 6B shows a schematic top structure of the semiconductor device. Since the semiconductor device 1101 includes a circuit that performs wireless communication, the “semiconductor device 1101” is also referred to as a “wireless chip 1101”.

無線チップ1101は、図6(b)に示すように、信号を受信し、送信するためのアンテナ1111と、アンテナ1111で受信した信号を解析する回路、受信信号から電源を発生する回路など各種の回路が集積された信号処理回路1112とを有している。 As shown in FIG. 6B, the wireless chip 1101 includes an antenna 1111 for receiving and transmitting a signal, a circuit for analyzing the signal received by the antenna 1111, a circuit for generating power from the received signal, and the like. A signal processing circuit 1112 in which circuits are integrated.

次に、図7、図8を用いて、無線チップ1101の構成および作製方法を説明する。図7は、図6(a)の鎖線a−bにおける模式的な断面図であり、図8は、無線チップ1101の外観構造を説明する図である。 Next, the structure and manufacturing method of the wireless chip 1101 will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a schematic cross-sectional view taken along the chain line ab in FIG. 6A, and FIG. 8 is a diagram illustrating the external structure of the wireless chip 1101.

無線チップ1101は、可撓性基材1113上に、信号処理回路1112、および信号処理回路1112に接続されたアンテナ1111が積層された素子層1221と、素子層1221の表面を封止する封止層1114が積層されている。つまり、素子層1221は可撓性基材1113と封止層1114で挟まれた構成となっている。また、アンテナ1111と信号処理回路1112とは、接続端子1115で接続されている。 The wireless chip 1101 includes a signal processing circuit 1112 and an element layer 1221 in which an antenna 1111 connected to the signal processing circuit 1112 is stacked over a flexible base material 1113 and a surface that seals the surface of the element layer 1221. A layer 1114 is stacked. That is, the element layer 1221 is sandwiched between the flexible base material 1113 and the sealing layer 1114. The antenna 1111 and the signal processing circuit 1112 are connected to each other through a connection terminal 1115.

信号処理回路1112は、薄膜トランジスタ(以下、TFTという)を用いた回路が集積されている。図7では、便宜上、信号処理回路1112を2つのトップゲート型の薄膜トランジスタの断面図で示している。可撓性基材1113上に積層された素子層1221と封止層1114との積層構造(以下、積層体1222という)は、製造時に使用した基板から、可撓性基材1113に転置されていてもよい。 In the signal processing circuit 1112, circuits using thin film transistors (hereinafter referred to as TFTs) are integrated. In FIG. 7, for the sake of convenience, the signal processing circuit 1112 is shown in a cross-sectional view of two top-gate thin film transistors. A stacked structure of the element layer 1221 and the sealing layer 1114 stacked on the flexible base material 1113 (hereinafter referred to as a stacked body 1222) is transferred from the substrate used at the time of manufacture to the flexible base material 1113. May be.

素子層1221は、薄膜トランジスタの製造プロセスで作製されている。素子層1221の側面は、アンテナ1111および信号処理回路1112を作製したときに形成された絶縁膜の積層膜でなる。例えば、図8に示すように、素子層1221内において、アンテナ1111および信号処理回路1112は、底部(便宜上、素子層1221を形成するときに下側になる面を底部ということとする。)が可撓性基材1113で保護され、上面が封止層1114で封止され、側面が第1の絶縁膜1223〜第4の絶縁膜1226でなる積層膜で覆われている。無線チップ1101をこのような積層構造とすることにより、耐水性を確保しつつ、無線チップ1101を薄くし、可撓性を持たせている。 The element layer 1221 is manufactured by a manufacturing process of a thin film transistor. The side surface of the element layer 1221 is a stacked film of insulating films formed when the antenna 1111 and the signal processing circuit 1112 are manufactured. For example, as shown in FIG. 8, in the element layer 1221, the antenna 1111 and the signal processing circuit 1112 have bottom portions (for convenience, a surface on the lower side when the element layer 1221 is formed is referred to as a bottom portion). It is protected with a flexible base material 1113, the upper surface is sealed with a sealing layer 1114, and the side surface is covered with a laminated film including the first insulating film 1223 to the fourth insulating film 1226. With the wireless chip 1101 having such a stacked structure, the wireless chip 1101 is made thin and flexible while ensuring water resistance.

次に、図9〜図12を参照して無線チップ1101の作製方法について説明する。なお、ここでは、薄膜トランジスタ等の素子を一度支持基板に設けた後、可撓性を有する基板に転置して無線チップを作製する場合に関して説明する。また、本実施の形態では、一つの基板から複数の無線チップを形成する場合について説明する。なお、ここでは説明の便宜上、一つの基板に縦4×横3の無線チップを形成する例を示すが、これに限られない。以下の説明において、図11、図12は上面図の模式図であり、図9、図10は図11、図12におけるA−B間の断面図の模式図である。 Next, a method for manufacturing the wireless chip 1101 will be described with reference to FIGS. Note that a case where a wireless chip is manufactured by providing an element such as a thin film transistor over a supporting substrate and then transferring it to a flexible substrate is described here. In this embodiment, the case where a plurality of wireless chips are formed from one substrate is described. Here, for convenience of explanation, an example in which a wireless chip of 4 × 3 is formed on one substrate is shown, but the present invention is not limited to this. In the following description, FIGS. 11 and 12 are schematic views of top views, and FIGS. 9 and 10 are schematic views of cross-sectional views taken along line AB in FIGS. 11 and 12.

素子層1221を作製するための基板1431を用意する。基板1431には、薄膜トランジスタを製造するためときに必要な剛性と、プロセス温度に耐えうる耐熱性を備えた基板を選択する。例えば、基板1431として、ガラス基板、石英基板、シリコン基板、金属基板、ステンレス基板を用いることができる。 A substrate 1431 for manufacturing the element layer 1221 is prepared. As the substrate 1431, a substrate having rigidity necessary for manufacturing a thin film transistor and heat resistance that can withstand a process temperature is selected. For example, as the substrate 1431, a glass substrate, a quartz substrate, a silicon substrate, a metal substrate, or a stainless steel substrate can be used.

基板1431表面に剥離層1432を形成する。剥離層1432は、積層体1222を基板1431から剥離するために形成する層である。剥離層1432の表面に薄膜トランジスタの下地絶縁膜を構成する第1の絶縁膜1223を形成する。第1の絶縁膜1223は、信号処理回路1112の汚染を防ぐため、酸化シリコン、窒化シリコン、窒化酸化シリコン(SiOxNy)、ダイヤモンドライクカーボン、窒化アルミニウム(AlN)等から選ばれた、単層膜、多層膜で形成することができる。これらの膜はCVD法やスパッタ法で形成することができる(図9(a)、図11(a)参照)。 A peeling layer 1432 is formed on the surface of the substrate 1431. The peeling layer 1432 is a layer formed in order to peel the stacked body 1222 from the substrate 1431. A first insulating film 1223 that forms a base insulating film of the thin film transistor is formed on the surface of the separation layer 1432. The first insulating film 1223 is a single layer film selected from silicon oxide, silicon nitride, silicon nitride oxide (SiOxNy), diamond-like carbon, aluminum nitride (AlN), etc., in order to prevent contamination of the signal processing circuit 1112. It can be formed of a multilayer film. These films can be formed by CVD or sputtering (see FIGS. 9A and 11A).

第1の絶縁膜1223上に半導体膜1433を形成し、半導体膜1433を覆って第2の絶縁膜1224を形成する(図9(b)参照)。半導体膜1433はTFTのチャネル形成領域、不純物領域が形成される半導体層である。本実施形態では、TFTをトップゲート構造としため、第2の絶縁膜1224はゲート絶縁膜として機能する。第2の絶縁膜1224は、酸化シリコンや窒化酸化シリコン(SiOxNy)の単層膜、多層膜でなり、厚さは10nm以上60nm以下の範囲とすればよい。これらの絶縁膜はCVD法またはスパッタリング法で形成することができる。 A semiconductor film 1433 is formed over the first insulating film 1223, and a second insulating film 1224 is formed so as to cover the semiconductor film 1433 (see FIG. 9B). The semiconductor film 1433 is a semiconductor layer in which a channel formation region and an impurity region of the TFT are formed. In this embodiment, since the TFT has a top gate structure, the second insulating film 1224 functions as a gate insulating film. The second insulating film 1224 is a single-layer film or a multilayer film of silicon oxide or silicon nitride oxide (SiOxNy), and the thickness may be in the range of 10 nm to 60 nm. These insulating films can be formed by a CVD method or a sputtering method.

半導体膜1433は、シリコン、ゲルマニウム、シリコンとゲルマニウムの化合物(シリコンゲルマニウム)で形成することができる。高い電界移動度のTFTを形成するために半導体膜1433として結晶性半導体膜を用いることが好ましい。結晶性半導体膜を形成するには、非晶質の半導体膜を成膜し、非晶質半導体膜に光エネルギーや熱エネルギーを与えて結晶化させればよい。 The semiconductor film 1433 can be formed using silicon, germanium, or a compound of silicon and germanium (silicon germanium). In order to form a TFT with high electric field mobility, a crystalline semiconductor film is preferably used as the semiconductor film 1433. In order to form a crystalline semiconductor film, an amorphous semiconductor film may be formed and crystallized by applying light energy or thermal energy to the amorphous semiconductor film.

例えば、非晶質シリコンを形成するには、シラン(SiH)ガスを水素で希釈した原料ガスを用いてCVD法で成膜すればよい。またシリコンでなるターゲットを用いてスパッタリング法で形成することもできる。非晶質ゲルマニウムを形成するには、ゲルマン(GeH)ガスを水素で希釈した原料ガスを用いてCVD法で成膜することができるし、また、ゲルマニウムでなるターゲットを用いてスパッタリング法で成膜することもできる。非晶質シリコンゲルマニウムを形成するには、シラン(SiH)ガスとゲルマン(GeH)ガスを所定の比で混合し水素で希釈した原料ガスを用いてCVD法で成膜することができるし、また、シリコンとゲルマニウムの2種類のターゲットを用いてスパッタリング法で成膜することもできる。 For example, in order to form amorphous silicon, a film may be formed by a CVD method using a source gas obtained by diluting a silane (SiH 4 ) gas with hydrogen. Alternatively, it can be formed by a sputtering method using a target made of silicon. Amorphous germanium can be formed by a CVD method using a source gas obtained by diluting a germane (GeH 4 ) gas with hydrogen, or by a sputtering method using a target made of germanium. A membrane can also be formed. In order to form amorphous silicon germanium, a film can be formed by a CVD method using a source gas in which silane (SiH 4 ) gas and germane (GeH 4 ) gas are mixed at a predetermined ratio and diluted with hydrogen. Alternatively, a film can be formed by sputtering using two types of targets, silicon and germanium.

CVD法による成膜には、原料ガスに、水素ガスの他、ヘリウムガス、フッ素ガス、Ar、Kr、Ne等の希ガスを添加することもできる。また、原料ガスとしてシラン(SiH)ガスの代わりに、Si、SiHCl、SiHCl、SiCl、SiFなどを用いることが可能である。また、上記の原料ガスを用いてプラズマCVD法により、結晶性半導体膜を第1の絶縁膜1223上に直接形成することもできる。 In the film formation by the CVD method, a rare gas such as helium gas, fluorine gas, Ar, Kr, or Ne can be added to the source gas in addition to hydrogen gas. Further, instead of silane (SiH 4 ) gas, Si 2 H 6 , SiH 2 Cl 2 , SiHCl 3 , SiCl 4 , SiF 4 or the like can be used as the source gas. Alternatively, the crystalline semiconductor film can be directly formed over the first insulating film 1223 by plasma CVD using the above source gas.

非晶質半導体膜を結晶化させる方法としては、レーザ光を照射する方法、赤外線等を照射する方法、電気炉による加熱による方法、半導体の結晶化を助長させる元素を添加して、加熱して結晶化させる方法などが挙げられる。 As a method for crystallizing an amorphous semiconductor film, a method of irradiating a laser beam, a method of irradiating infrared rays, a method of heating by an electric furnace, an element that promotes crystallization of a semiconductor is added and heated. Examples thereof include a crystallization method.

結晶化に用いられるレーザには、連続発振型のレーザー(CWレーザー)やパルス発振型のレーザー(パルスレーザー)のいずれのビームも用いることができる。結晶化に好適な気体レーザとしては、Arレーザ、Krレーザ、エキシマレーザーなどがある。また固体レーザであれば、ガラスレーザー、ルビーレーザー、アレキサンドライトレーザー、およびTi:サファイアレーザー、ドーパント(例えば、Nd、Yb、Cr、Ti、HO、Er、Tm、Ta)を含んだYAG、YVO、YAlO、GdVO、フォルステライト(MgSiO)などの結晶を媒質に用いたレーザなどが挙げられる。 As a laser used for crystallization, any of a continuous wave laser (CW laser) and a pulsed laser (pulse laser) can be used. Examples of a gas laser suitable for crystallization include an Ar laser, a Kr laser, and an excimer laser. If it is a solid-state laser, a glass laser, a ruby laser, an alexandrite laser, and a Ti: sapphire laser, YAG containing Yd, YVO 4 containing a dopant (eg, Nd, Yb, Cr, Ti, HO, Er, Tm, Ta), YVO 4 , A laser using a crystal such as YAlO 3 , GdVO 4 , and forsterite (Mg 2 SiO 4 ) as a medium can be given.

非晶質半導体を結晶化するには、これらのレーザから発振されるビームの基本波だけでなく、基本波の第2高調波から第4高調波のビームを照射することができる。例えば、Nd:YVOレーザー(基本波1064nm)の第2高調波(532nm)や第3高調波(355nm)を用いることができる。レーザのエネルギー密度は0.01MW/cm以上100MW/cm以下の範囲が必要であり、好ましくは0.1MW/cm以上10MW/cm以下の範囲とする。走査速度を10cm/sec以上200cm/sec以下の範囲とすればよい。 In order to crystallize an amorphous semiconductor, not only the fundamental wave of the beam oscillated from these lasers but also the second to fourth harmonic beams of the fundamental wave can be irradiated. For example, the second harmonic (532 nm) or the third harmonic (355 nm) of an Nd: YVO 4 laser (fundamental wave 1064 nm) can be used. Energy density of the laser is required 0.01 mW / cm 2 or more 100 MW / cm 2 or less, preferably in the range of a 0.1 MW / cm 2 or more 10 MW / cm 2 or less. The scanning speed may be in the range of 10 cm / sec to 200 cm / sec.

YAGなどの上記結晶を媒質とする固体レーザ、Arイオンレーザー、およびTi:サファイアレーザーは、連続発振をさせることが可能である。Qスイッチ動作やモード同期などを行うことによって10MHz以上の発振周波数でパルス発振をさせることも可能である。10MHz以上の発振周波数でレーザービームを発振させると、半導体膜がレーザによって溶融してから固化するまでの間に、次のパルスが半導体膜に照射される。発振周波数が低いパルスレーザーを用いる場合と異なり、レーザービームを走査することにより、レーザービームを照射することで生じた固液界面を連続的に移動させることができるため、走査方向に向かって長く成長した結晶粒を得ることができる。 A solid-state laser, an Ar ion laser, and a Ti: sapphire laser using the above crystal as a medium, such as YAG, can continuously oscillate. It is also possible to cause pulse oscillation at an oscillation frequency of 10 MHz or more by performing Q switch operation or mode synchronization. When a laser beam is oscillated at an oscillation frequency of 10 MHz or more, the semiconductor film is irradiated with the next pulse during the period from when the semiconductor film is melted by the laser to solidification. Unlike the case of using a pulsed laser with a low oscillation frequency, the solid-liquid interface generated by irradiating the laser beam can be moved continuously by scanning the laser beam, so it grows longer in the scanning direction. Crystal grains can be obtained.

また、レーザの代わりに、ランプを光源とする赤外光、可視光、または紫外光を照射することにより、非晶質半導体膜を結晶化することもできる。この場合、赤外光、可視光、または紫外光のいずれか一またはそれらの組み合わせを用いることが可能である。この場合、ランプとして、代表的には、ハロゲンランプ、メタルハライドランプ、キセノンアークランプ、カーボンアークランプ、高圧ナトリウムランプ、または高圧水銀ランプが用いられる。ランプの点灯時間を1秒以上60秒以内、好ましくは30秒以上60秒以下の範囲とし、ランプによる光の照射を1回以上10回以内、好ましくは2回以上6回以下繰り返す。ランプの発光強度は非晶質半導体の材料、膜厚などにより適宜設定されるが、例えば、600℃以上1000℃以下の加熱温度で、半導体膜が瞬間的に加熱されるようにする。 Alternatively, the amorphous semiconductor film can be crystallized by irradiating infrared light, visible light, or ultraviolet light using a lamp as a light source instead of a laser. In this case, any one of infrared light, visible light, and ultraviolet light, or a combination thereof can be used. In this case, a halogen lamp, a metal halide lamp, a xenon arc lamp, a carbon arc lamp, a high pressure sodium lamp, or a high pressure mercury lamp is typically used as the lamp. The lamp lighting time is in the range of 1 second to 60 seconds, preferably 30 seconds to 60 seconds, and light irradiation by the lamp is repeated 1 to 10 times, preferably 2 to 6 times. The light emission intensity of the lamp is appropriately set depending on the material and film thickness of the amorphous semiconductor. For example, the semiconductor film is instantaneously heated at a heating temperature of 600 ° C. to 1000 ° C.

非晶質半導体膜の結晶化を助長させる元素を用いて結晶化させる方法は、非晶質シリコン膜を結晶化させるのに好適である。非晶質シリコン膜に結晶化を助長させる元素を導入し、レーザービームの照射または500℃〜600℃の加熱処理を行うことで、粒界での結晶粒の連続性が高い結晶性シリコンを得ることができる。シリコンの結晶化を助長する元素としては鉄(Fe)、ニッケル(Ni)、コバルト(Co)、ルテニウム(Ru)、ロジウム(Rh)、パラジウム(Pd)、オスミウム(Os)、イリジウム(Ir)、白金(Pt)、銅(Cu)および金(Au)から選ばれた一種または複数種類の元素を用いることができる。 A method of crystallization using an element that promotes crystallization of an amorphous semiconductor film is suitable for crystallization of an amorphous silicon film. By introducing an element that promotes crystallization into an amorphous silicon film and performing laser beam irradiation or heat treatment at 500 ° C. to 600 ° C., crystalline silicon having high continuity of crystal grains at grain boundaries is obtained. be able to. Elements that promote crystallization of silicon include iron (Fe), nickel (Ni), cobalt (Co), ruthenium (Ru), rhodium (Rh), palladium (Pd), osmium (Os), iridium (Ir), One or more elements selected from platinum (Pt), copper (Cu), and gold (Au) can be used.

これらの元素を非晶質シリコンに導入する手段は、非晶質シリコンの表面またはその内部に元素が存在させることができる手法であれば、特に限定はない。例えばスパッタ法、CVD法、プラズマ処理法(プラズマCVD法も含む)、吸着法、金属塩の溶液を塗布する方法を使用することができる。このうち、溶液を用いる方法は簡便であり、非晶質シリコンに導入される元素の濃度調整が容易である。溶液を塗布するには、非晶質シリコンの表面全体に溶液を行き渡らせるため、非晶質シリコンの表面の濡れ性を改善することが好ましい。濡れ性を改善するには非晶質シリコンの表面に極薄い、10nm以下の酸化膜を形成することが望ましい。このように極薄い酸化膜を形成するには、酸素雰囲気中でのUV光の照射、熱酸化法、過酸化水素による処理、ヒドロキシラジカルを含むオゾン水による処理等により行うことができる。 The means for introducing these elements into the amorphous silicon is not particularly limited as long as the element can be present on the surface of the amorphous silicon or inside thereof. For example, a sputtering method, a CVD method, a plasma processing method (including a plasma CVD method), an adsorption method, or a method of applying a metal salt solution can be used. Among these, the method using a solution is simple and the concentration of an element introduced into amorphous silicon can be easily adjusted. In order to apply the solution, it is preferable to improve the wettability of the surface of the amorphous silicon in order to spread the solution over the entire surface of the amorphous silicon. In order to improve wettability, it is desirable to form an extremely thin oxide film of 10 nm or less on the surface of amorphous silicon. Such an extremely thin oxide film can be formed by irradiation with UV light in an oxygen atmosphere, thermal oxidation, treatment with hydrogen peroxide, treatment with ozone water containing hydroxy radicals, or the like.

結晶化に用いた元素はTFTなどの素子の特性を劣化させるため、結晶化した後は、導入した元素をシリコン膜から除去することが望ましい。その方法を以下に説明する。 Since the element used for crystallization deteriorates the characteristics of an element such as a TFT, it is desirable to remove the introduced element from the silicon film after crystallization. The method will be described below.

まず、オゾン含有水溶液(代表的にはオゾン水)で結晶性シリコン膜の表面を処理することにより、結晶性半導体膜の表面に酸化膜(ケミカルオキサイドと呼ばれる)からなるバリア層を1nm以上10nm以下の厚さで形成する。バリア層は、後の工程でゲッタリング層のみを選択的に除去する際にエッチングストッパーとして機能する。 First, by treating the surface of the crystalline silicon film with an aqueous solution containing ozone (typically ozone water), a barrier layer made of an oxide film (called chemical oxide) is formed on the surface of the crystalline semiconductor film to a thickness of 1 nm to 10 nm. The thickness is formed. The barrier layer functions as an etching stopper when only the gettering layer is selectively removed in a later step.

次いで、バリア層上に希ガス元素を含むゲッタリング層をゲッタリングサイトとして形成する。ここでは、CVD法またはスパッタリング法により希ガス元素を含む半導体膜をゲッタリング層として形成する。ゲッタリング層を形成するときには、希ガス元素がゲッタリング層に添加されるようにスパッタリング条件を適宜調節する。希ガス元素としては、ヘリウム(He)、ネオン(Ne)、アルゴン(Ar)、クリプトン(Kr)、キセノン(Xe)から選ばれた一種または複数種を用いることができる。なお、ゲッタリングの際、金属元素(例えばニッケル)は酸素濃度の高い領域に移動しやすい傾向があるため、ゲッタリング層に含まれる酸素濃度は、例えば5×1018−3以上とすることが望ましい。 Next, a gettering layer containing a rare gas element is formed as a gettering site on the barrier layer. Here, a semiconductor film containing a rare gas element is formed as a gettering layer by a CVD method or a sputtering method. When forming the gettering layer, the sputtering conditions are adjusted as appropriate so that a rare gas element is added to the gettering layer. As the rare gas element, one or more selected from helium (He), neon (Ne), argon (Ar), krypton (Kr), and xenon (Xe) can be used. Note that, during gettering, the metal element (for example, nickel) tends to move to a region having a high oxygen concentration, and thus the oxygen concentration contained in the gettering layer is, for example, 5 × 10 18 m −3 or more. Is desirable.

次に、結晶性シリコン膜、バリア層およびゲッタリング層に熱処理(例えば、加熱処理や、レーザのような強光を照射する処理)を行って、導入した元素(例えばニッケル)のゲッタリングを行い、結晶性シリコン膜から元素を除去し、結晶性シリコン膜中での濃度を低下させる。 Next, the crystalline silicon film, the barrier layer, and the gettering layer are subjected to heat treatment (for example, heat treatment or treatment for irradiating intense light such as a laser) to perform gettering of the introduced element (for example, nickel). The element is removed from the crystalline silicon film to reduce the concentration in the crystalline silicon film.

次に、第2の絶縁膜1224上に第1の導電層1434を成膜する(図9(c)参照)。ここでは、第1の導電層1434としてTFTのゲート電極のみ図示した。また、半導体膜1433に不純物を添加して、ソース領域またはドレイン領域として機能するn型またはp型の不純物領域1435を形成する。不純物の添加は、第1の導電層1434の形成前、形成後、あるいは双方のタイミングで行えばよい。不純物領域1435が形成されることで、半導体膜1433にチャネル形成領域1436も形成される。 Next, a first conductive layer 1434 is formed over the second insulating film 1224 (see FIG. 9C). Here, only the gate electrode of the TFT is illustrated as the first conductive layer 1434. Further, an impurity is added to the semiconductor film 1433, so that an n-type or p-type impurity region 1435 functioning as a source region or a drain region is formed. The addition of impurities may be performed before or after the formation of the first conductive layer 1434, or at both timings. By forming the impurity region 1435, a channel formation region 1436 is also formed in the semiconductor film 1433.

第1の導電層1434を構成する導電膜は、単層の導電膜でも、多層の導電膜でもよい。導電膜には、例えば、タンタル(Ta)、タングステン(W)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、クロム(Cr)から選ばれた元素でなる金属、これら元素を組み合わせた合金や、これら元素の窒化物でなる膜を用いることができる。また、リンなどのドーパントを添加することで導電性を付与されたゲルマニウム、シリコン、シリコンとゲルマニウムの化合物などを用いることができる。例えば、1層目がタンタル窒化物(TaN)、2層目がタングステン(W)でなる多層膜で第1の導電層1434を形成することができる。これらの導電膜は、スパッタリング法、蒸着法、CVD法などで成膜することができる。 The conductive film included in the first conductive layer 1434 may be a single-layer conductive film or a multilayer conductive film. For the conductive film, for example, a metal composed of an element selected from tantalum (Ta), tungsten (W), titanium (Ti), molybdenum (Mo), aluminum (Al), copper (Cu), and chromium (Cr), An alloy in which these elements are combined or a film made of a nitride of these elements can be used. Alternatively, germanium, silicon, a compound of silicon and germanium, or the like imparted with conductivity by adding a dopant such as phosphorus can be used. For example, the first conductive layer 1434 can be formed using a multilayer film in which the first layer is tantalum nitride (TaN) and the second layer is tungsten (W). These conductive films can be formed by a sputtering method, an evaporation method, a CVD method, or the like.

次に、基板1431全面に第3の絶縁膜1225を形成する(図9(d)参照)。第3の絶縁膜1225上に第2の導電層1437を形成する。第3の絶縁膜1225は、第1の導電層1434と第2の導電層1437を層間で分離する層間膜である。絶縁膜1225には、酸化シリコン、窒化シリコンまたは酸化窒化シリコン(SiOxNy)等の無機絶縁膜を用いることができる。また、ポリイミド、アクリルなどの有機樹脂膜、シロキサンを含む膜を用いてもよい。有機樹脂は感光性、非感光性のいずれでもよい。第3の絶縁膜1225は、これらの絶縁材料からなるは単層構造でも多層構造とすることができる。例えば、1層目を窒化シリコンでなる無機絶縁膜とし、2層目をポリイミドなど有機樹脂膜とする。なお、シロキサンは、シリコン(Si)と酸素(O)との結合で骨格構造が構成される材料であり、置換基としては、有機基(例えばアルキル基、芳香族炭化水素)が用いられる。また、置換基にフルオロ基を含んでいてもよい。 Next, a third insulating film 1225 is formed over the entire surface of the substrate 1431 (see FIG. 9D). A second conductive layer 1437 is formed over the third insulating film 1225. The third insulating film 1225 is an interlayer film that separates the first conductive layer 1434 and the second conductive layer 1437 between layers. As the insulating film 1225, an inorganic insulating film such as silicon oxide, silicon nitride, or silicon oxynitride (SiOxNy) can be used. Alternatively, an organic resin film such as polyimide or acrylic, or a film containing siloxane may be used. The organic resin may be photosensitive or non-photosensitive. The third insulating film 1225 can be a single layer structure or a multilayer structure made of these insulating materials. For example, the first layer is an inorganic insulating film made of silicon nitride, and the second layer is an organic resin film such as polyimide. Note that siloxane is a material having a skeleton structure formed of a bond of silicon (Si) and oxygen (O), and an organic group (for example, an alkyl group or aromatic hydrocarbon) is used as a substituent. Further, the substituent may contain a fluoro group.

図14(P4)に示すように、第2の導電層1437は、信号処理回路1112の配線、電極などを構成する。ここでは、TFTに接続された配線と、接続端子1115と信号処理回路1112を接続するための端子部のみを図示した。また、第2の導電層1437を形成する前に、第2の導電層1437を下層の第1の導電層1434や半導体膜1433と接続するために、第2の絶縁膜1224、第3の絶縁膜1225にコンタクトホールが形成される。 As shown in FIG. 14 (P4), the second conductive layer 1437 constitutes a wiring, an electrode, and the like of the signal processing circuit 1112. Here, only the wiring connected to the TFT and the terminal portion for connecting the connection terminal 1115 and the signal processing circuit 1112 are illustrated. Further, before the second conductive layer 1437 is formed, the second insulating film 1224 and the third insulating film 1437 are connected to connect the second conductive layer 1437 to the lower first conductive layer 1434 and the semiconductor film 1433. Contact holes are formed in the film 1225.

第2の導電層1437としては、単層の導電膜でも、多層の導電膜でもよい。導電膜には、例えば、タンタル(Ta)、タングステン(W)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、クロム(Cr)から選ばれた元素でなる金属、これら元素を組み合わせた合金や、これら元素の窒化物でなる膜を用いることができる。 The second conductive layer 1437 may be a single-layer conductive film or a multi-layer conductive film. For the conductive film, for example, a metal composed of an element selected from tantalum (Ta), tungsten (W), titanium (Ti), molybdenum (Mo), aluminum (Al), copper (Cu), and chromium (Cr), An alloy in which these elements are combined or a film made of a nitride of these elements can be used.

次に、信号処理回路1112上にアンテナ1111を積層するために第4の絶縁膜1226を形成する(図9(e)、図11(b)参照)。第4の絶縁膜1226は、信号処理回路1112による凹凸を平滑化して、平坦な表面を形成できる平坦化膜として形成することが好ましい。そのため、材料の塗布や、材料を印刷することで形成できるポリイミド、アクリルなどの有機樹脂膜、シロキサンを含む膜を用いることが好ましい。また、第4の絶縁膜1226は単層ではなく、これらの有機樹脂などを上層に、酸化シリコン、窒化シリコンまたは酸化窒化シリコン(SiOxNy)等の無機絶縁膜を下層にした多層構造とすることができる。また、信号処理回路1112上にアンテナ1111を積層する前に、接続端子1115と信号処理回路1112とを接続するために、第4の絶縁膜1226にコンタクトホールが形成される。 Next, a fourth insulating film 1226 is formed to stack the antenna 1111 over the signal processing circuit 1112 (see FIGS. 9E and 11B). The fourth insulating film 1226 is preferably formed as a planarization film that can smooth the unevenness due to the signal processing circuit 1112 and form a flat surface. Therefore, it is preferable to use an organic resin film such as polyimide or acrylic, or a film containing siloxane, which can be formed by applying a material or printing the material. The fourth insulating film 1226 is not a single layer, but has a multilayer structure in which these organic resins or the like are used as an upper layer and an inorganic insulating film such as silicon oxide, silicon nitride, or silicon oxynitride (SiOxNy) is used as a lower layer. it can. In addition, a contact hole is formed in the fourth insulating film 1226 in order to connect the connection terminal 1115 and the signal processing circuit 1112 before the antenna 1111 is stacked over the signal processing circuit 1112.

以上により、素子層1221中に信号処理回路1112が形成される。なお、信号処理回路1112には、TFTの他、抵抗や、コンデンサやなどTFTと同時に作製されている。信号処理回路1112の厚さは、3μm〜5μm程度に薄く形成することができる。なお、信号処理回路1112のTFTの構造は図14の構造に限定されるものではない。例えば、信号処理回路1112のTFTを1つの半導体層に対して複数のゲートを設けたマルチゲート構造とすることもできる。また、半導体層にチャネル形成領域に隣接して低濃度不純物領域のような高抵抗領域を形成することができる。また、トップゲート構造の代わりに、ボトムゲート構造とすることもできる。 Thus, the signal processing circuit 1112 is formed in the element layer 1221. Note that the signal processing circuit 1112 is manufactured at the same time as the TFT, such as a resistor and a capacitor, in addition to the TFT. The signal processing circuit 1112 can be formed as thin as 3 μm to 5 μm. Note that the TFT structure of the signal processing circuit 1112 is not limited to the structure shown in FIG. For example, the TFT of the signal processing circuit 1112 can have a multi-gate structure in which a plurality of gates are provided for one semiconductor layer. Further, a high resistance region such as a low concentration impurity region can be formed in the semiconductor layer adjacent to the channel formation region. Further, a bottom gate structure can be used instead of the top gate structure.

次に、第4の絶縁膜1226上にアンテナ1111と接続端子1115を形成する(図9(f)、図11(c)参照)。アンテナ1111と接続端子1115は、導電膜をスパッタ法や蒸着法で形成した後エッチングで所望の形状に加工する方法や、スクリーン印刷法、液滴吐出法などのエッチングを用い方法で形成することができる。前者の方法のほうがより薄いアンテナ1111と接続端子1115を作製することができる。アンテナ1111と接続端子1115には銅、銀、金、アルミニウム、チタンなどが用いられる。作製方法には特段の制約はなく、スパッタリング法、スクリーン印刷法、液滴吐出法等を用いることができる。 Next, an antenna 1111 and a connection terminal 1115 are formed over the fourth insulating film 1226 (see FIGS. 9F and 11C). The antenna 1111 and the connection terminal 1115 can be formed by a method in which a conductive film is formed by a sputtering method or an evaporation method and then processed into a desired shape by etching, or by a method using etching such as a screen printing method or a droplet discharge method. it can. In the former method, the thinner antenna 1111 and the connection terminal 1115 can be manufactured. Copper, silver, gold, aluminum, titanium, or the like is used for the antenna 1111 and the connection terminal 1115. There is no particular limitation on the manufacturing method, and a sputtering method, a screen printing method, a droplet discharge method, or the like can be used.

アンテナ1111と接続端子1115を形成した後、図9(f)に示すように、素子層1221の表面を封止するための封止層1114を形成する。封止層1114は、後に記載する剥離工程において素子層の損傷を抑えるため、および抄紙工程から素子層を保護するために形成される。封止層1114には形成手段が簡便な材料を選択することが好ましい。これらの条件を全て兼ね備えた材料として、封止層1114を樹脂で形成することが好ましい。封止層1114に用いる樹脂として、例えば、熱硬化性樹脂、光硬化性樹脂(UV硬化性樹脂、可視光硬化性樹脂)の樹脂が好適であり、樹脂の材料としてはエポキシ樹脂が挙げられる。 After the antenna 1111 and the connection terminal 1115 are formed, a sealing layer 1114 for sealing the surface of the element layer 1221 is formed as illustrated in FIG. The sealing layer 1114 is formed in order to suppress damage to the element layer in the peeling process described later and to protect the element layer from the paper making process. For the sealing layer 1114, it is preferable to select a material with a simple forming means. As a material having all these conditions, it is preferable to form the sealing layer 1114 with a resin. As the resin used for the sealing layer 1114, for example, a thermosetting resin or a photocurable resin (a UV curable resin or a visible light curable resin) is preferable, and an epoxy resin can be given as a resin material.

封止層1114としてエポキシ樹脂を用いることにより、封止層1114表面の平坦性が向上し、後の剥離工程や抄紙工程で素子層1221の損傷を抑えることや、ほこりなどから保護することができる。 By using an epoxy resin as the sealing layer 1114, the flatness of the surface of the sealing layer 1114 can be improved, and damage to the element layer 1221 can be suppressed in the subsequent peeling process or papermaking process, or can be protected from dust. .

以上により、基板1431を用いて積層体1222の作製が完了する。 Through the above steps, the stacked body 1222 is manufactured using the substrate 1431.

次に、積層体1222を基板1431から剥離し、可撓性基材に転置する。図10を用いて、以下の工程を説明する。 Next, the stacked body 1222 is peeled from the substrate 1431 and transferred to a flexible base material. The following steps will be described with reference to FIG.

まず、積層体1222に開口部1540を形成する(図10(a)、図12(a)参照)。開口部1540は剥離層1432に達するか、剥離層1432を貫通するように形成する。開口部1540の形成方法は、ダイサーやワイヤソーなどで物理的に積層体1222を切断する方法、また、レーザービームを照射したレーザーアブレーションを用いて積層体1222を切断する方法、エッチングにより形成する方法が採用できる。このうち、レーザーアブレーションによる切断方法が、アンテナ1111や信号処理回路1112に衝撃を与えることが他の方法よりも小さいため好ましい。なお、開口部1540は、薄膜トランジスタ等の素子を避けた部分に設ければよい。 First, an opening 1540 is formed in the stacked body 1222 (see FIGS. 10A and 12A). The opening 1540 is formed so as to reach the peeling layer 1432 or penetrate the peeling layer 1432. A method of forming the opening 1540 includes a method of physically cutting the laminated body 1222 with a dicer or a wire saw, a method of cutting the laminated body 1222 using laser ablation irradiated with a laser beam, and a method of forming by etching. Can be adopted. Among these, the cutting method by laser ablation is preferable because it is smaller than other methods to give an impact to the antenna 1111 and the signal processing circuit 1112. Note that the opening 1540 may be provided in a portion where an element such as a thin film transistor is avoided.

また、開口部1540を形成することで、積層体1222の側面が形成される。図13に示すように、積層体1222の側面は、素子層1221を製造したときに形成された絶縁膜1223〜1226の積層膜と、封止層1114とで構成されている。また、封止層1114と共に積層体1222を分割しているため、絶縁膜1223〜1226でなる積層膜の側面と封止層1114の側面とを揃うように形成することができる。 In addition, by forming the opening 1540, the side surface of the stacked body 1222 is formed. As shown in FIG. 13, the side surface of the stacked body 1222 includes a stacked film of insulating films 1223 to 1226 formed when the element layer 1221 is manufactured, and a sealing layer 1114. Further, since the stacked body 1222 is divided together with the sealing layer 1114, the side surface of the stacked film formed of the insulating films 1223 to 1226 and the side surface of the sealing layer 1114 can be formed to be aligned.

次に、封止層1114の上面に支持基材1541を取り付ける(図10(b)参照)。支持基材1541は、積層体1222を可撓性基材1113に転置するまで積層体1222を支持するための基材である。そのため、支持基材1541は積層体1222から除去することが容易なものが選択される。例えば、支持基材1541として、通常の状態ではその接着力が強く、熱を加えたり、光を照射することによりその接着力が弱くなる性質を有するものを用いるとよい。例えば、加熱することにより接着力が弱くなる熱剥離テープや、紫外光を照射することにより接着力が弱くなるUV剥離テープ等を用いるとよい。また、通常の状態で接着力が弱い弱粘性テープ等を用いることができる。 Next, a support base material 1541 is attached to the upper surface of the sealing layer 1114 (see FIG. 10B). The support base material 1541 is a base material for supporting the multilayer body 1222 until the multilayer body 1222 is transferred to the flexible base material 1113. Therefore, a support base 1541 that is easy to remove from the laminate 1222 is selected. For example, as the support base material 1541, a material having a property that the adhesive strength is strong in a normal state and the adhesive strength is weakened by applying heat or irradiating light may be used. For example, it is preferable to use a thermal peeling tape whose adhesive strength is weakened by heating or a UV peeling tape whose adhesive strength is weakened by irradiating ultraviolet light. Moreover, a weak viscous tape etc. with weak adhesive force in a normal state can be used.

次に、剥離層1432の内部や、剥離層1432に接する層との界面における分子の結合力を弱める。このことにより、支持基材1541に力を加えることで、基板1431から積層体1222を分離することができる。 Next, the bonding force of molecules at the interface between the inside of the peeling layer 1432 and the layer in contact with the peeling layer 1432 is weakened. Thus, the laminate 1222 can be separated from the substrate 1431 by applying a force to the support base 1541.

剥離層1432の内部などで、分子の結合力を弱める方法には、剥離層1432に予め分子の結合力を弱い部分が形成されるようにする方法や、剥離層1432を形成してから、分子の結合力を弱める加工をする方法がある。前者の方法としては、剥離層として、金属層(Ti、Al、Ta、W、Mo、Cu、Cr、Nd、Fe、Ni、Co、Ru、Rh、Pd、Os、Ir)を形成し、その上に当該金属層の酸化物層を積層形成する。その結果、原子の結合力の弱い部分を形成することができる。酸化物層は、金属層の表面を酸化させることが形成することができる。例えば、熱酸化処理、酸素プラズマ処理、オゾン水等の酸化力の強い溶液による酸化処理等を行うことで、酸化物層を形成することができる。また、酸化シリコンや酸化窒化シリコンのような酸素を含む絶縁膜を金属層の表面に形成することで、金属層の表面を酸化させることもできる。なお、後者の剥離層1432を形成した後に、分子の結合力を弱める法統としては、レーザービームを照射する方法が挙げられる。例えば、剥離層1432として、水素を含む非晶質シリコンを用いる。非晶質シリコンにレーザを照射することで、含まれる水素が放出するため空隙が生じ、剥離層1432を脆弱化させることができる。 As a method for weakening the molecular binding force in the inside of the release layer 1432, a method in which a part having a weak molecular binding force is formed in the release layer 1432 in advance, or after a release layer 1432 is formed, There is a method of processing that weakens the bond strength. As the former method, a metal layer (Ti, Al, Ta, W, Mo, Cu, Cr, Nd, Fe, Ni, Co, Ru, Rh, Pd, Os, Ir) is formed as a peeling layer, An oxide layer of the metal layer is stacked thereon. As a result, a portion having a weak atom binding force can be formed. The oxide layer can be formed by oxidizing the surface of the metal layer. For example, the oxide layer can be formed by performing a thermal oxidation process, an oxygen plasma process, an oxidation process using a solution having strong oxidizing power such as ozone water, or the like. Alternatively, the surface of the metal layer can be oxidized by forming an insulating film containing oxygen such as silicon oxide or silicon oxynitride on the surface of the metal layer. Note that as a legal system for weakening the bonding force of molecules after the latter release layer 1432 is formed, there is a method of irradiating a laser beam. For example, as the separation layer 1432, amorphous silicon containing hydrogen is used. By irradiating the amorphous silicon with a laser, contained hydrogen is released, so that a void is generated and the peeling layer 1432 can be weakened.

さらに、剥離層1432をウエットエッチングやドライエッチングを行う方法を採用することができる。この場合、剥離層1432をW、Mo、Nb、Tiなどの金属、これらの合金や、これらの金属化合物(例えば、酸化物や窒化物)、シリコンなどで形成すればよい。また、エッチング剤としては、フッ化ハロゲンを含む気体又は液体が使用できる。例えば、三フッ化塩素(ClF)、三フッ化窒素(NF)、三フッ化臭素(BrF)、フッ化水素(HF)がある。なお、剥離層1432をエッチング処理は、支持基材1541を取り付ける前に行う。 Further, a method of performing wet etching or dry etching on the peeling layer 1432 can be employed. In this case, the separation layer 1432 may be formed using a metal such as W, Mo, Nb, or Ti, an alloy thereof, a metal compound thereof (eg, oxide or nitride), silicon, or the like. As the etchant, a gas or liquid containing halogen fluoride can be used. For example, there are chlorine trifluoride (ClF 3 ), nitrogen trifluoride (NF 3 ), bromine trifluoride (BrF 3 ), and hydrogen fluoride (HF). Note that the peeling treatment of the peeling layer 1432 is performed before the supporting base material 1541 is attached.

また、図10(a)に示したように開口部1540を形成することで、封止層1114(樹脂層)が縮もうとする力が剥離層1432に加わり、剥離層1432と第1の絶縁膜1223の界面や、剥離層1432の内部で剥離が進行させることができる。 In addition, by forming the opening 1540 as shown in FIG. 10A, a force that the sealing layer 1114 (resin layer) tries to shrink is applied to the release layer 1432, and the release layer 1432 and the first insulation are formed. Separation can proceed at the interface of the film 1223 or inside the separation layer 1432.

積層体1222の側面は、封止層1114と素子層1221を分割したときに形成された面であり、素子層1221の側面と封止層1114の側面とが揃うように形成される。また、開口部1540を形成した結果、積層体1222の側面はアンテナ1111や信号処理回路1112を製造するときに形成した絶縁膜1223〜1226と封止層1114との積層膜でなる。この積層膜によりアンテナ1111および信号処理回路1112を水分から保護している。 The side surface of the stacked body 1222 is a surface formed when the sealing layer 1114 and the element layer 1221 are divided, and is formed so that the side surface of the element layer 1221 and the side surface of the sealing layer 1114 are aligned. As a result of forming the opening 1540, the side surface of the stacked body 1222 is a stacked film of insulating films 1223 to 1226 and a sealing layer 1114 formed when the antenna 1111 and the signal processing circuit 1112 are manufactured. The laminated film protects the antenna 1111 and the signal processing circuit 1112 from moisture.

次に、積層体1222から基板1431を分離する(図10(c)参照)。 Next, the substrate 1431 is separated from the stacked body 1222 (see FIG. 10C).

次に、基板1431を剥離した積層体1222の底部(素子層1221の底部)に、可撓性基材1113を固定する(図10(d)、図12(b)参照)。可撓性基材1113は基材フィルムと接着層との積層構造を有する。基材フィルムは樹脂材料(ポリエステル、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリスチレン、ポリアクリロニトリル、ポリエチレンテレフタレート、ポリアミド)でなる。接着性合成樹脂フィルムとしてはアクリル樹脂、エポキシ樹脂、酢酸ビニル樹脂、ビニル共重合樹脂、ウレタン樹脂等を用いることができる。そのうち、熱可塑性の樹脂や、硬化性の樹脂、UV光や可視光の照射により硬化する光硬化性樹脂を選択することが好ましい。 Next, the flexible base material 1113 is fixed to the bottom of the stacked body 1222 from which the substrate 1431 is peeled (the bottom of the element layer 1221) (see FIGS. 10D and 12B). The flexible substrate 1113 has a laminated structure of a substrate film and an adhesive layer. The base film is made of a resin material (polyester, polypropylene, polyvinyl chloride, polystyrene, polyacrylonitrile, polyethylene terephthalate, polyamide). As the adhesive synthetic resin film, acrylic resin, epoxy resin, vinyl acetate resin, vinyl copolymer resin, urethane resin, or the like can be used. Among them, it is preferable to select a thermoplastic resin, a curable resin, or a photocurable resin that is cured by irradiation with UV light or visible light.

最後に、基板1431を積層体1222から剥がし、複数の無線チップを個々に分断することにより(図12(c)参照)、図7、図8に示す無線チップ1101が完成する。図8に示すように、無線チップ1101の上面は、封止層1114で保護されている。封止層1114を設けることで、底部のように可撓性基材1113で保護する必要がなくなる。そのため、無線チップ1101を薄くすることが容易になる。封止層1114の厚さは少なくとも、アンテナ1111の厚さに対して2〜3割程度厚く形成する。封止層1114は無線チップ1101の上面の平滑性を確保することができる。 Finally, the substrate 1431 is peeled off from the stacked body 1222, and the plurality of wireless chips are individually divided (see FIG. 12C), whereby the wireless chip 1101 shown in FIGS. 7 and 8 is completed. As shown in FIG. 8, the upper surface of the wireless chip 1101 is protected by a sealing layer 1114. By providing the sealing layer 1114, it is not necessary to protect with the flexible base material 1113 like the bottom. Therefore, it is easy to make the wireless chip 1101 thinner. The thickness of the sealing layer 1114 is at least about 20 to 30% thicker than the thickness of the antenna 1111. The sealing layer 1114 can ensure the smoothness of the top surface of the wireless chip 1101.

なお、複数の無線チップを個々に分断せずに接続された状態(図12(b))で使用してもよい。この場合、複数の無線チップを設ける際に、個々の無線チップを並べて設ける手間を省くことができる。 Note that a plurality of wireless chips may be used in a connected state without being divided (FIG. 12B). In this case, when providing a plurality of wireless chips, it is possible to save the trouble of arranging the individual wireless chips side by side.

また、無線チップ1101の底部は可撓性基材1113で覆われている。可撓性基材1113は、積層体1222を作製したときの基板1431を除去した面を平滑にする機能を有する。可撓性基材1113には、基材フィルムの厚さが2μm以上であり、可撓性基材1113全体の厚さ(基材フィルムと接着層の合計の厚さ)が20μmを超えないような薄い基材を用いることができる。 The bottom of the wireless chip 1101 is covered with a flexible base material 1113. The flexible base material 1113 has a function of smoothing the surface from which the substrate 1431 is removed when the stacked body 1222 is manufactured. In the flexible substrate 1113, the thickness of the substrate film is 2 μm or more, and the total thickness of the flexible substrate 1113 (the total thickness of the substrate film and the adhesive layer) does not exceed 20 μm. A thin substrate can be used.

なお、可撓性基材1113の基材フィルムの表面は、二酸化シリコン(シリカ)の粉末により、コーティングされていてもよい。コーティングにより、高温で高湿度の環境下においても防水性を保つことができる。また、基材フィルムの表面は、インジウム錫酸化物等の導電性材料によりコーティングされていてもよい。コーティングした材料によって、基材フィルムに電荷がたまるのを防止できるため、信号処理回路1112を静電気から保護することができる。その表面は、炭素を主成分とする材料(例えば、ダイヤモンドライクカーボン)によりコーティングされていてもよい。コーティングにより強度が増し、半導体装置の劣化や破壊を抑制することができる。 Note that the surface of the base film of the flexible base 1113 may be coated with silicon dioxide (silica) powder. The coating can maintain waterproofness even in a high temperature and high humidity environment. The surface of the base film may be coated with a conductive material such as indium tin oxide. Since the coated material can prevent the base film from accumulating charges, the signal processing circuit 1112 can be protected from static electricity. The surface may be coated with a carbon-based material (for example, diamond-like carbon). The coating increases the strength and can suppress deterioration and destruction of the semiconductor device.

また、積層体1222の側面は、積層体1222の製造時に形成された絶縁膜1223〜1226からなる素子層1221、および封止層1114でなる。つまり、無線チップ1101の側面を可撓性基材1113、絶縁膜1223〜絶縁膜1226および封止層1114で構成することで、無線チップ1101に抄紙工程で要求される耐水性を確保して、無線チップ1101を薄く30μm以下とすることができる。 In addition, the side surface of the stacked body 1222 includes an element layer 1221 including insulating films 1223 to 1226 and a sealing layer 1114 formed when the stacked body 1222 is manufactured. That is, by configuring the side surface of the wireless chip 1101 with the flexible base material 1113, the insulating film 1223 to the insulating film 1226, and the sealing layer 1114, the wireless chip 1101 is secured with water resistance required in the paper making process, The wireless chip 1101 can be as thin as 30 μm or less.

なお、図6に示す無線チップ1101におけるアンテナ1111の形状は、特に限定されない。無線チップ1101における信号処理回路1112に適用する信号の伝送方式は、電磁結合方式、電磁誘導方式又はマイクロ波方式等を用いることができる。伝送方式は、実施者が適宜、使用用途を考慮して選択すればよく、伝送方式に伴って最適な長さや形状のアンテナを設ければよい。伝送方式として、電磁結合方式又は電磁誘導方式(例えば、13.56MHz帯)を適用する場合には、電界密度の変化による電磁誘導を利用するため、アンテナとして機能する導電膜を輪状(例えば、ループアンテナ)、らせん状(例えば、スパイラルアンテナ)に形成する。 Note that there is no particular limitation on the shape of the antenna 1111 in the wireless chip 1101 illustrated in FIG. As a signal transmission method applied to the signal processing circuit 1112 in the wireless chip 1101, an electromagnetic coupling method, an electromagnetic induction method, a microwave method, or the like can be used. The transmission method may be selected as appropriate by the practitioner in consideration of the intended use, and an antenna having an optimal length and shape may be provided according to the transmission method. When an electromagnetic coupling method or an electromagnetic induction method (for example, 13.56 MHz band) is applied as a transmission method, a conductive film that functions as an antenna is formed into a ring shape (for example, a loop) in order to use electromagnetic induction due to a change in electric field density. Antenna) or spiral (for example, spiral antenna).

また、伝送方式としてマイクロ波方式(例えば、UHF帯(860〜960MHz帯)、2.45GHz帯等)を適用する場合には、信号の伝送に用いる電波の波長を考慮してアンテナとして機能する導電膜の長さや形状を適宜設定すればよい。アンテナとして機能する導電膜を例えば、線状(例えば、ダイポールアンテナ)、平坦な形状(例えば、パッチアンテナ)等に形成することができる。また、アンテナとして機能する導電膜の形状は線状に限られず、電磁波の波長を考慮して曲線状や蛇行形状またはこれらを組み合わせた形状で設けてもよい。 In addition, when a microwave method (for example, UHF band (860 to 960 MHz band), 2.45 GHz band, or the like) is applied as a transmission method, a conductive function that functions as an antenna in consideration of the wavelength of a radio wave used for signal transmission. What is necessary is just to set the length and shape of a film | membrane suitably. The conductive film functioning as an antenna can be formed into, for example, a linear shape (for example, a dipole antenna), a flat shape (for example, a patch antenna), or the like. Further, the shape of the conductive film functioning as an antenna is not limited to a linear shape, and may be provided in a curved shape, a meandering shape, or a combination thereof in consideration of the wavelength of electromagnetic waves.

(実施の形態3)
本実施の形態においては、半導体装置が抄き込まれた感圧紙を形成する形態について説明する。
(Embodiment 3)
In the present embodiment, a mode of forming pressure-sensitive paper in which a semiconductor device is incorporated will be described.

図13(a)は、複数の半導体装置が抄き込まれた感圧紙の模式的な外観図であり、図13(b)は、図13(a)の鎖線a−bにおける模式的な断面図である。図13(b)に示すように、半導体装置2101が少なくとも一層を有する用紙基材2103の紙層内に抄き込まれている。半導体装置2101は、無線で通信を行う回路を有するため、以下、「半導体装置2101」を「無線チップ2101」とも記す。 13A is a schematic external view of a pressure-sensitive paper in which a plurality of semiconductor devices are incorporated, and FIG. 13B is a schematic cross section taken along a chain line ab in FIG. 13A. FIG. As shown in FIG. 13B, the semiconductor device 2101 is incorporated in a paper layer of a paper base 2103 having at least one layer. Since the semiconductor device 2101 includes a circuit that performs wireless communication, the “semiconductor device 2101” is also referred to as a “wireless chip 2101”.

図14に示す断面図を用いて、無線チップ2101を用紙基材2103に抄き込む方法を説明する。本実施形態の感圧紙は、多層紙として形成され、第1の紙と第2の用紙基材の間に無線チップ2101が抄き込まれる。 A method for embedding the wireless chip 2101 into the paper base material 2103 will be described with reference to a cross-sectional view shown in FIG. The pressure-sensitive paper of this embodiment is formed as a multilayer paper, and the wireless chip 2101 is engraved between the first paper and the second paper base.

まず、紙の原料チップを粉砕したものから、繊維(パルプともいう)を取り出す。パルプは機械的に微細化し取り出したパルプ(機械パルプともいう)や薬液によって化学的に取り出したパルプ(化学パルプともいう)を用いることが出来る。 First, fibers (also referred to as pulp) are taken out from the crushed paper raw material chips. Pulp that is mechanically refined and taken out (also referred to as mechanical pulp) or pulp that is taken out chemically by chemicals (also called chemical pulp) can be used.

次に、パルプを水に溶かした紙料を均一に攪拌し、網の上に流して水分を重力によって脱落させ、湿紙2251を形成する(図14(a)参照)。この操作を必要な紙の厚さに応じて繰り返すことで紙の厚みを自在に調節することが出来る。 Next, the paper stock in which the pulp is dissolved in water is uniformly stirred, and the paper stock is made to flow on a net to cause moisture to fall off by gravity to form a wet paper web 2251 (see FIG. 14A). By repeating this operation according to the required paper thickness, the paper thickness can be freely adjusted.

紙の強度を向上させるために、湿紙2251の一方の面に、燐酸エステル化澱粉などの澱粉やカチオン性ポリアクリルアミド等を噴霧する。その後、紙の補強剤として澱粉などを噴霧した表面に、無線チップ2101を並べる(図14(b)参照)。 In order to improve the strength of the paper, starch such as phosphate esterified starch or cationic polyacrylamide is sprayed on one surface of the wet paper 2251. After that, the wireless chip 2101 is arranged on the surface sprayed with starch or the like as a paper reinforcing agent (see FIG. 14B).

別に用意した湿紙2252を湿紙2251にのせて、湿紙2251と湿紙2252を抄き合わせる(図14(c)参照)。無線チップ2101が湿紙2251、2252になじむように、無線チップ2101の表面を親水性とすることが望ましい。そのため、例えば、無線チップ2101形成時に封止層1114の表面をプラズマ処理、コロナ処理などを施して、親水性に改質しておくことが好ましい。なお、封止層1114の表面を処理するタイミングは、積層体1222を分割する前でも、分割した後のいずれでもよい。 A separately prepared wet paper 2252 is placed on the wet paper 2251, and the wet paper 2251 and the wet paper 2252 are combined (see FIG. 14C). It is desirable that the surface of the wireless chip 2101 be hydrophilic so that the wireless chip 2101 is compatible with the wet paper 2251 and 2252. Therefore, for example, it is preferable that the surface of the sealing layer 1114 be subjected to plasma treatment, corona treatment, or the like when the wireless chip 2101 is formed to be hydrophilic. Note that the timing for processing the surface of the sealing layer 1114 may be either before or after the laminate 1222 is divided.

湿紙2251と湿紙2252を抄き合わせた後、乾燥することで、第1の用紙基材2253と第2の用紙基材2254の間に無線チップ2101が抄き込まれた感圧紙2102が形成される(図14(d)参照)。なお、無線チップ2101のアンテナ1111や信号処理回路1112の導電層が反射率の高い材料で形成されるため、感圧紙2102の色が白かったり、薄かったりする場合は、抄き込まれた無線チップ2101が目立つおそれがある。無線チップ2101が目立たないようにするため、アンテナ1111や配線の表面に凹凸を形成しても良い。表面に生じた凹凸により、アンテナ1111や導電層の表面で光が乱反射されて、表面が白濁したように見えることから、無線チップ2101を目立たなくする効果がある。例えば、アルミニウムは加熱することで表面に凹凸を生じる。また、無線チップ2101が目立たないようにするため、あらかじめ湿紙の厚みを厚く形成してあっても良い。 After the wet paper 2251 and the wet paper 2252 are made together, the pressure sensitive paper 2102 in which the wireless chip 2101 is made between the first paper base 2253 and the second paper base 2254 is obtained by drying. It is formed (see FIG. 14D). Note that since the antenna 1111 of the wireless chip 2101 and the conductive layer of the signal processing circuit 1112 are formed of a highly reflective material, if the color of the pressure-sensitive paper 2102 is white or thin, the embedded wireless chip 2101 may stand out. In order to prevent the wireless chip 2101 from being noticeable, unevenness may be formed on the surface of the antenna 1111 or the wiring. The unevenness generated on the surface causes the light to be irregularly reflected on the surface of the antenna 1111 or the conductive layer, and the surface appears to be clouded. Therefore, there is an effect of making the wireless chip 2101 inconspicuous. For example, when aluminum is heated, irregularities are produced on the surface. Further, in order to prevent the wireless chip 2101 from being noticeable, the wet paper may be formed thick beforehand.

なお、図14では2層の感圧紙としたが、3層以上の感圧紙としてもよい。無線チップ2101を紙に抄き込む方法は、多層に抄紙する方法が好適である。それは、無線チップ2101を抄き込む位置の制御が容易であるからである。例えば、無線チップ2101を水に溶かした紙原料中に沈める別の方法では、厚さ方向の位置を制御することが難しく、厚さ方向の位置を制御するために無線チップ2101の比重と紙秤量を均衡させる必要があり、様々な種類の紙に無線チップを抄き込むことは難しくなる。一方、多層抄紙であれば、厚さ方向の位置制御が容易である。 In FIG. 14, two layers of pressure sensitive paper are used, but three or more layers of pressure sensitive paper may be used. As a method of making the wireless chip 2101 into paper, a method of making paper in multiple layers is preferable. This is because it is easy to control the position where the wireless chip 2101 is drawn. For example, in another method in which the wireless chip 2101 is submerged in a paper raw material dissolved in water, it is difficult to control the position in the thickness direction. In order to control the position in the thickness direction, the specific gravity of the wireless chip 2101 and the weight of the paper are measured. It is difficult to incorporate the wireless chip into various types of paper. On the other hand, in the case of multilayer papermaking, position control in the thickness direction is easy.

また、図15(a)に示したように、湿紙形成、抄紙、乾燥までを一貫して行うようにしても良い。紙料攪拌槽2301から得た湿紙2251上に無線チップ2101を並べ、同時に紙料攪拌槽2302から得た湿紙2252をローラ2303とローラ2304を経て湿紙2251と抄き合わせ、乾燥機2305で乾燥されたのち、ローラ2306を経てロール感圧紙2307として巻き取られる。なお、図15(a)中の第1の断面2311、第2の断面2312、第3の断面2313、第4の断面2314は、それぞれ、図14(a)〜(d)に対応する。また、図15(b)に示したように、形成した感圧紙をロール化し、ロール感圧紙2307として保管しても良い。 Further, as shown in FIG. 15A, the wet paper web formation, paper making, and drying may be performed consistently. The wireless chips 2101 are arranged on the wet paper 2251 obtained from the paper material agitation tank 2301, and the wet paper 2252 obtained from the paper material agitation tank 2302 is combined with the wet paper 2251 through the rollers 2303 and 2304, and the dryer 2305 is combined. And dried as roll pressure sensitive paper 2307 through a roller 2306. Note that the first cross section 2311, the second cross section 2312, the third cross section 2313, and the fourth cross section 2314 in FIG. 15A correspond to FIGS. 14A to 14D, respectively. Further, as shown in FIG. 15B, the formed pressure sensitive paper may be rolled and stored as roll pressure sensitive paper 2307.

本実施例では、実施の形態3で示した本発明における感圧紙の構成において、筆記面に設けられた無線チップが筆圧により破壊される例について、図16を用いて説明する。 In this example, an example in which the wireless chip provided on the writing surface is broken by writing pressure in the structure of the pressure-sensitive paper of the present invention described in Embodiment Mode 3 will be described with reference to FIG.

図16(a)は、感圧紙を用いた筆跡記録についてわかりやすく示すための概略図であり、感圧紙3101、感圧紙の切断面3102、筆記具3103、筆記具先端3104、筆記具によって書かれた筆跡3105、無線チップ3106、筆記具によって破壊された無線チップ3107を示してある。また、図16(b)は、図16(a)の切断面を垂直方向から示した概略図である。 FIG. 16A is a schematic diagram for easy understanding of handwriting recording using pressure-sensitive paper. Pressure-sensitive paper 3101, pressure-sensitive paper cutting surface 3102, writing tool 3103, writing tool tip 3104, and handwriting 3105 written by the writing tool. A wireless chip 3106 and a wireless chip 3107 destroyed by a writing instrument are shown. FIG. 16B is a schematic view showing the cut surface of FIG. 16A from the vertical direction.

図16(a)および(b)に示すように、感圧紙3101上を動く筆記具先端3104の筆圧によって、無線チップが破壊される。すなわち筆跡3105の存在する箇所の無線チップが破壊されている。また、図22に示すように、感圧紙3701に一つの無線チップ3702を配置し、筆記具先端3703の筆圧による無線チップの破壊の有無により筆跡3704を検出しても良い。なお、無線チップを確実に破壊するために、筆記具先端3104のサイズは無線チップより小さいことが好ましい。たとえば、事務用筆記具の代表例であるボールペンのペン先は、1ミリ、0.7ミリ、0.5ミリ、0.3ミリ、0.25ミリ、0.18ミリのものがあるが、無線チップのサイズは、これらのサイズより大きいことが好ましい。 As shown in FIGS. 16A and 16B, the wireless chip is destroyed by the writing pressure of the writing tool tip 3104 moving on the pressure sensitive paper 3101. That is, the wireless chip at the place where the handwriting 3105 exists is destroyed. Further, as shown in FIG. 22, one wireless chip 3702 may be arranged on the pressure sensitive paper 3701, and the handwriting 3704 may be detected based on whether or not the wireless chip is broken by the writing pressure at the writing tool tip 3703. In order to reliably destroy the wireless chip, the size of the writing tool tip 3104 is preferably smaller than the wireless chip. For example, the pen tip of a ballpoint pen, which is a typical example of office writing instruments, is 1 mm, 0.7 mm, 0.5 mm, 0.3 mm, 0.25 mm, and 0.18 mm. The chip size is preferably larger than these sizes.

本実施例は、本明細書のほかの実施の形態と自由に組み合わせることができる。 This embodiment can be freely combined with any of the other embodiments in this specification.

本実施例では、実施の形態3で示した本発明における感圧紙の構成において、筆記面に設けられた無線チップが筆圧により破壊される例について、図17、図18を用いて説明する。 In this example, an example in which the wireless chip provided on the writing surface is destroyed by writing pressure in the structure of the pressure-sensitive paper of the present invention described in Embodiment Mode 3 will be described with reference to FIGS.

図17(a)〜(d)は、筆圧によって無線チップが破壊される様子をわかりやすく示すための概略図であり、感圧紙3201を構成する無線チップ3202、無線チップ3202を構成する封止層3203、アンテナ3204、接続端子3205、絶縁膜3206〜絶縁膜3209、可撓性基材3210、信号処理回路3211、信号処理回路3211を構成するTFT3212を示してある。また、図17(a)は、破壊されていない無線チップ3202を示した略図であり、図17(b)〜(d)は、それぞれアンテナ3204が破壊された無線チップ3202、接続端子3205が破壊された無線チップ3202、信号処理回路3211を構成するTFT3212が破壊された無線チップ3202を示した概略図である。 FIGS. 17A to 17D are schematic diagrams for easy understanding of how the wireless chip is destroyed by writing pressure. The wireless chip 3202 constituting the pressure-sensitive paper 3201 and the sealing constituting the wireless chip 3202 are shown. A layer 3203, an antenna 3204, a connection terminal 3205, insulating films 3206 to 3209, a flexible base material 3210, a signal processing circuit 3211, and a TFT 3212 constituting the signal processing circuit 3211 are shown. FIG. 17A is a schematic diagram showing a wireless chip 3202 that has not been destroyed. FIGS. 17B to 17D show the wireless chip 3202 in which the antenna 3204 is destroyed, and the connection terminal 3205 is destroyed. 3 is a schematic diagram illustrating a wireless chip 3202 in which the TFT 3212 constituting the wireless chip 3202 and the signal processing circuit 3211 is destroyed.

図17(b)〜(d)に示すように、感圧紙3201上を動く筆記具先端3220の筆圧によって、無線チップ3202を構成する配線や回路が破壊される。図17(b)では、アンテナ3204に用いた銅、銀、金、アルミニウム、チタンなどの金属に、筆圧による極端な応力がかかることで、脆性破壊、延性破壊し、アンテナ3204を構成する配線が断線される例を示している。図17(c)では、アンテナ3204と信号処理回路3211を接続する接続端子3205が破壊される例を示している。アンテナ3204と信号処理回路3211を接続する部分は、エッチング工程を得て形成された部分であり、局所的にひずみが大きいため破壊が起こりやすい。図17(d)では、信号処理回路3211を構成するTFT3212が破壊される例を示している。 As shown in FIGS. 17B to 17D, the wiring and the circuits constituting the wireless chip 3202 are destroyed by the writing pressure of the writing tool tip 3220 moving on the pressure sensitive paper 3201. In FIG. 17B, wiring that constitutes the antenna 3204 is subjected to brittle fracture and ductile fracture due to extreme stress due to writing pressure applied to a metal such as copper, silver, gold, aluminum, and titanium used for the antenna 3204. Shows an example in which is disconnected. FIG. 17C illustrates an example in which the connection terminal 3205 that connects the antenna 3204 and the signal processing circuit 3211 is destroyed. A portion connecting the antenna 3204 and the signal processing circuit 3211 is a portion formed by obtaining an etching process, and is easily damaged because of a large local distortion. FIG. 17D shows an example in which the TFT 3212 constituting the signal processing circuit 3211 is destroyed.

なお、図18(a)〜(c)に示すように、感圧紙3201上を動く筆記具先端3220のサイズによって、破壊される様子は変わってくる。同じ筆圧で筆記具先端3220のサイズが異なる筆記具を使用したときに、筆記具先端3220が無線チップ3202に与える単位面積当たりの圧力は、筆記具先端3220のサイズが大きいほど低下する。したがって、筆圧によって確実に無線チップ3202を破壊するためには、事前に筆記具先端3220のサイズとその筆圧を考慮したうえで無線チップ3202を設計することが好ましい。 Note that, as shown in FIGS. 18A to 18C, the state of destruction varies depending on the size of the writing tool tip 3220 moving on the pressure sensitive paper 3201. When writing tools having the same writing pressure and different sizes of the writing tool tip 3220 are used, the pressure per unit area that the writing tool tip 3220 applies to the wireless chip 3202 decreases as the size of the writing tool tip 3220 increases. Therefore, in order to reliably destroy the wireless chip 3202 by writing pressure, it is preferable to design the wireless chip 3202 in consideration of the size of the writing tool tip 3220 and the writing pressure in advance.

なお、本発明における感圧紙の構成において、筆圧により無線チップが破壊される例については上述したものに限らずどのようなものでもよい。 In the configuration of the pressure sensitive paper in the present invention, the example in which the wireless chip is destroyed by the writing pressure is not limited to the above-described example, and any type may be used.

本実施例は、本明細書のほかの実施の形態と自由に組み合わせることができる。 This embodiment can be freely combined with any of the other embodiments in this specification.

本実施例では、本発明の感圧紙の用途について説明する。本発明の感圧紙は、各種申込書、領収書、納品書や請求書などへの記入内容の偽造防止および情報保護を行い、前記各種書類の記入内容を無線によって読み取る、いわゆる筆跡記録システムとして使用することが出来る。 In this embodiment, the application of the pressure sensitive paper of the present invention will be described. The pressure-sensitive paper of the present invention is used as a so-called handwriting recording system that prevents forgery of information entered in various application forms, receipts, invoices, invoices, etc. and protects information, and reads the entered contents of the various documents wirelessly. I can do it.

本実施例では、図19〜図21を参照して、本発明の応用例、及びそれらを付した商品の一例について説明する。 In the present embodiment, an application example of the present invention and an example of a product to which these are attached will be described with reference to FIGS.

図19は、本発明に係る筆跡記録システムの完成品の状態の一例である。感圧紙に領収書の書面を印刷し、領収書3402として用いる。このような領収書3402は、たとえば筆記具3403を用いて領収書の書面上に筆跡3404をつけたとすると、筆記具先端3405の筆圧で破壊された無線チップの情報を外部装置3406が読み取り、情報処理装置3407に筆跡データとして記録する。領収者が情報処理装置内に記録された筆跡記録を改ざんしない限り、架空領収、偽造領収を防ぐことが出来る。 FIG. 19 is an example of a state of a completed product of the handwriting recording system according to the present invention. A receipt document is printed on pressure-sensitive paper and used as a receipt 3402. If such a receipt 3402 has a handwriting 3404 attached to the receipt document using, for example, a writing tool 3403, the external device 3406 reads information on the wireless chip destroyed by the writing pressure of the writing tool tip 3405. Recorded in the device 3407 as handwriting data. Unless the receipt person falsifies the handwriting record recorded in the information processing apparatus, fictitious receipt and counterfeit receipt can be prevented.

図20は、本発明に係る筆跡記録システムの完成品の状態の一例である。感圧紙を選挙投票用紙3501として用いる。このような投票用紙3501は、たとえば筆記具3502を用いて投票用紙3501に候補者氏名3503を書き、投票箱3504に投入したとすると、投票集計時に外部装置3505と情報処理装置3506を用い、筆跡記録としてまとめて記録できる。従来の電子投票システムと比較して、紙を利用して投票できるため、投票者の抵抗感を少なく出来る。 FIG. 20 is an example of a state of a completed product of the handwriting recording system according to the present invention. Pressure-sensitive paper is used as the election ballot 3501. For example, if the ballot 3501 is written on the ballot 3501 using the writing tool 3502 and put in the ballot box 3504, the external device 3505 and the information processing device 3506 are used to record the handwriting. Can be recorded together. Compared with the conventional electronic voting system, it is possible to vote using paper, so the voter's resistance can be reduced.

図21は、本発明に係る筆跡記録システムの完成品の状態の一例である。感圧紙を荷物伝票として用いる。荷物伝票3601は、宅配物3602に貼り付けて使用する。このような荷物伝票3601は、たとえば宅配人が筆記具3603を用いて確認欄3604に筆跡をつけ、外部装置3605と情報処理装置3606を用い、筆跡を記録したうえで受取人に渡したとすると、宅配人が宅配したことを宅配記録として情報処理装置3606に記録することができる。従来は、情報処理装置へ直に宅配記録を入力する必要があったため、宅配人が情報処理装置の使用方法に不慣れな場合、訓練が必要だった。しかし、本実施例の筆跡記録システムは、紙を利用して記録できるため、従来の紙を使用した宅配システムと変わらず、宅配人の負担を少なく出来る。 FIG. 21 is an example of a state of a completed product of the handwriting recording system according to the present invention. Use pressure sensitive paper as a luggage slip. The package slip 3601 is used by being attached to the delivery item 3602. For example, if a parcel delivery person uses a writing instrument 3603 to write a handwriting in the confirmation column 3604, and uses an external device 3605 and an information processing device 3606 to record the handwriting and deliver it to the recipient, It can be recorded in the information processing apparatus 3606 as a home delivery record that a person has delivered home. Conventionally, since it is necessary to input a delivery record directly to the information processing apparatus, training is necessary when the delivery person is not familiar with the method of using the information processing apparatus. However, since the handwriting recording system of the present embodiment can record using paper, it is not different from the conventional delivery system using paper, and the burden on the delivery person can be reduced.

以上、本発明の筆跡記録システムは筆跡を記録したいものであればどのようなものにでも設けて使用することができる。 As described above, the handwriting recording system of the present invention can be provided and used for any handwriting recording device.

本実施例は、本発明のほかの実施の形態と自由に組み合わせることができる。 This embodiment can be freely combined with any of the other embodiments of the present invention.

本発明の筆跡記録システムの構成および信号の送受信を説明するブロック図。The block diagram explaining the structure of the handwriting recording system of this invention, and transmission / reception of a signal. 本発明の感圧紙において、半導体装置の配置例を示す図。FIG. 6 is a diagram showing an example of arrangement of semiconductor devices in the pressure-sensitive paper of the present invention. 本発明の無線通信を行う半導体装置の構成を示すブロック図。1 is a block diagram illustrating a configuration of a semiconductor device that performs wireless communication according to the present invention. 図1の筆跡記録システムの動作を説明するフローチャート図。The flowchart figure explaining operation | movement of the handwriting recording system of FIG. 図1の筆跡記録システムの信号の送受信を具体的に説明するブロック図。FIG. 2 is a block diagram specifically explaining signal transmission / reception of the handwriting recording system of FIG. 1. 本発明の半導体装置の外観図。1 is an external view of a semiconductor device of the present invention. 本発明の半導体装置の構成を示す図。FIG. 11 illustrates a structure of a semiconductor device of the present invention. 本発明の半導体装置の積層構造を示す図。FIG. 6 illustrates a stacked structure of a semiconductor device of the present invention. 本発明の半導体装置の作製方法を説明する図。8A to 8D illustrate a method for manufacturing a semiconductor device of the present invention. 本発明の半導体装置の作製方法を説明する図。8A to 8D illustrate a method for manufacturing a semiconductor device of the present invention. 本発明の半導体装置の作製方法を説明する図。8A to 8D illustrate a method for manufacturing a semiconductor device of the present invention. 本発明の半導体装置の作製方法を説明する図。8A to 8D illustrate a method for manufacturing a semiconductor device of the present invention. 本発明の感圧紙の概観図(実施形態1)。1 is a schematic view of a pressure-sensitive paper of the present invention (Embodiment 1). 本発明の感圧紙の作製方法を説明する図)。The figure explaining the manufacturing method of the pressure sensitive paper of this invention. 本発明の感圧紙の作製を一貫して行う概観図。FIG. 2 is an overview diagram for consistently producing the pressure-sensitive paper of the present invention. 本発明の感圧紙において、筆跡を記録する例を示す図。The figure which shows the example which records a handwriting in the pressure sensitive paper of this invention. 本発明の半導体装置が破壊される例を説明する図。8A and 8B illustrate an example in which a semiconductor device of the present invention is destroyed. 本発明の半導体装置が破壊される例を説明する図。8A and 8B illustrate an example in which a semiconductor device of the present invention is destroyed. 本発明の感圧紙の使用例を示す図。The figure which shows the usage example of the pressure sensitive paper of this invention. 本発明の感圧紙の使用例を示す図。The figure which shows the usage example of the pressure sensitive paper of this invention. 本発明の感圧紙の使用例を示す図。The figure which shows the usage example of the pressure sensitive paper of this invention. 本発明の感圧紙において、筆跡を記録する例を示す図。The figure which shows the example which records a handwriting in the pressure sensitive paper of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

101 感圧紙
102 外部装置
103 情報処理装置
104 筆跡検出用信号
105 応答信号
300 無線チップ
301 アンテナ回路
302 記憶部
303 信号処理回路
411 筆跡検出信号
511 経路
512 経路
421 応答信号
501 無線チップ
502 無線チップ
503 無線チップ
1101 半導体装置
1101 無線チップ
1111 アンテナ
1112 信号処理回路
1113 可撓性基材
1114 封止層
1115 接続端子
1221 素子層
1222 積層体
1223 絶縁膜
1224 絶縁膜
1225 絶縁膜
1226 絶縁膜
1431 基板
1432 剥離層
1433 半導体膜
1434 導電層
1435 不純物領域
1436 チャネル形成領域
1437 導電層
1540 開口部
1541 支持基材
2101 半導体装置
2101 無線チップ
2102 感圧紙
2103 用紙基材
2251 湿紙
2252 湿紙
2253 用紙基材
2254 用紙基材
2301 紙料攪拌槽
2302 紙料攪拌槽
2303 ローラ
2304 ローラ
2305 乾燥機
2306 ローラ
2307 ロール感圧紙
2311 断面
2312 断面
2313 断面
2314 断面
3101 感圧紙
3102 切断面
3103 筆記具
3104 筆記具先端
3105 筆跡
3106 無線チップ
3107 無線チップ
3201 感圧紙
3202 無線チップ
3203 封止層
3204 アンテナ
3205 接続端子
3206 絶縁膜
3209 絶縁膜
3210 可撓性基材
3211 信号処理回路
3212 TFT
3220 筆記具先端
3402 領収書
3403 筆記具
3404 筆跡
3405 筆記具先端
3406 外部装置
3407 情報処理装置
3501 投票用紙
3502 筆記具
3503 候補者氏名
3504 投票箱
3505 外部装置
3506 情報処理装置
3601 荷物伝票
3602 宅配物
3603 筆記具
3604 確認欄
3605 外部装置
3606 情報処理装置
3701 感圧紙
3702 無線チップ
3703 筆記具先端
3704 筆跡
101 pressure sensitive paper 102 external device 103 information processing device 104 handwriting detection signal 105 response signal 300 wireless chip 301 antenna circuit 302 storage unit 303 signal processing circuit 411 handwriting detection signal 511 path 512 path 421 response signal 501 wireless chip 502 wireless chip 503 wireless Chip 1101 Semiconductor device 1101 Wireless chip 1111 Antenna 1112 Signal processing circuit 1113 Flexible base material 1114 Sealing layer 1115 Connection terminal 1221 Element layer 1222 Laminated body 1223 Insulating film 1224 Insulating film 1225 Insulating film 1226 Insulating film 1431 Substrate 1432 Peeling layer 1433 Semiconductor film 1434 Conductive layer 1435 Impurity region 1436 Channel formation region 1437 Conductive layer 1540 Opening portion 1541 Support base material 2101 Semiconductor device 2101 Wireless chip 2102 Pressure sensitive paper 103 Paper base 2251 Wet paper 2252 Wet paper 2253 Paper base 2254 Paper base 2301 Paper agitation tank 2302 Paper agitation tank 2303 Roller 2304 Roller 2305 Dryer 2306 Roller 2307 Roll pressure sensitive paper 2311 Cross section 2312 Cross section 2313 Cross section 2314 Cross section 3101 Pressure sensitive paper 3102 Cutting surface 3103 Writing tool 3104 Writing tool tip 3105 Handwriting 3106 Wireless chip 3107 Wireless chip 3201 Pressure sensitive paper 3202 Wireless chip 3203 Sealing layer 3204 Antenna 3205 Connection terminal 3206 Insulating film 3209 Insulating film 3210 Flexible substrate 3211 Signal processing circuit 3212 TFT
3220 Writing tool tip 3402 Receipt 3403 Writing tool 3404 Handwriting 3405 Writing tool tip 3406 External device 3407 Information processing device 3501 Voting paper 3502 Writing tool 3503 Candidate name 3504 Ballot box 3505 External device 3506 Information processing device 3601 Luggage slip 3602 Delivery item 3604 Confirmation column 3605 External device 3606 Information processing device 3701 Pressure sensitive paper 3702 Wireless chip 3703 Writing instrument tip 3704 Handwriting

Claims (8)

少なくとも一層を有する用紙基材の紙層内に抄き込まれ、前記用紙基材の筆記面に設けられた半導体装置を有し、
前記半導体装置は、外部装置と通信可能なアンテナ回路と、信号処理回路と、固体識別情報を記憶した記憶部とを有し、
前記用紙基材の筆記面に設けられた半導体装置に筆圧が加わったときに、前記アンテナ回路又は前記信号処理回路の少なくとも一方が破壊されることにより、前記記憶部の固体識別情報の送信が不可能となることを特徴とする感圧紙。
Incorporated into a paper layer of a paper base material having at least one layer, and having a semiconductor device provided on the writing surface of the paper base material,
The semiconductor device includes an antenna circuit that can communicate with an external device, a signal processing circuit, and a storage unit that stores solid identification information.
When writing pressure is applied to the semiconductor device provided on the writing surface of the paper base, at least one of the antenna circuit or the signal processing circuit is destroyed, so that the solid identification information of the storage unit is transmitted. Pressure-sensitive paper characterized by being impossible.
少なくとも一層を有する用紙基材の紙層内に抄き込まれ、前記用紙基材の筆記面にマトリクス状に配列された複数の半導体装置を有し、
前記複数の半導体装置は、外部装置と通信可能なアンテナ回路と、信号処理回路と、固体識別情報を記憶した記憶部とをそれぞれ有し、
前記用紙基材の筆記面に筆圧が加わったときに、前記筆圧が加えられた半導体装置のアンテナ回路又は信号処理回路の少なくとも一方が破壊されることにより、前記筆圧が加えられた半導体装置の記憶部に記憶された固体識別情報の送信が不可能となることを特徴とする感圧紙。
A plurality of semiconductor devices that are incorporated in a paper layer of a paper base material having at least one layer and arranged in a matrix on the writing surface of the paper base material,
Each of the plurality of semiconductor devices includes an antenna circuit that can communicate with an external device, a signal processing circuit, and a storage unit that stores solid identification information.
When writing pressure is applied to the writing surface of the paper substrate, the semiconductor to which the writing pressure is applied is destroyed by destroying at least one of the antenna circuit or the signal processing circuit of the semiconductor device to which the writing pressure is applied. A pressure sensitive paper, characterized in that it is impossible to transmit the solid identification information stored in the storage unit of the apparatus.
請求項2において、
前記固体識別情報は、前記用紙基材の筆記面における座標データであることを特徴とする感圧紙。
In claim 2,
The pressure sensitive paper, wherein the solid identification information is coordinate data on a writing surface of the paper base material.
請求項1乃至請求項3のいずれか一項において、
前記信号処理回路は、薄膜トランジスタを有していることを特徴とする感圧紙。
In any one of Claims 1 thru | or 3,
The pressure-sensitive paper, wherein the signal processing circuit includes a thin film transistor.
請求項1乃至請求項4のいずれか一項において、
前記半導体装置は、可撓性を有していることを特徴とする感圧紙。
In any one of Claims 1 thru | or 4,
The pressure sensitive paper, wherein the semiconductor device has flexibility.
少なくとも一層を有する用紙基材の紙層内に抄き込まれ、前記用紙基材の筆記面に設けられた半導体装置と、
前記半導体装置と無線で通信可能な外部装置とを有し、
前記半導体装置は、前記外部装置と通信可能なアンテナ回路と、信号処理回路と、固体識別情報を記憶した記憶部とを有し、
前記用紙基材の筆記面に設けられた半導体装置に筆圧が加わったときに、前記アンテナ回路又は前記信号処理回路の少なくとも一方が破壊されることにより、前記半導体装置が前記外部装置からの信号に対し異なる動作状態を行うことを特徴とする筆跡記録システム。
A semiconductor device incorporated in a paper layer of a paper base material having at least one layer and provided on a writing surface of the paper base material;
An external device capable of wirelessly communicating with the semiconductor device;
The semiconductor device includes an antenna circuit that can communicate with the external device, a signal processing circuit, and a storage unit that stores solid identification information.
When writing pressure is applied to the semiconductor device provided on the writing surface of the paper base, at least one of the antenna circuit or the signal processing circuit is destroyed, whereby the semiconductor device receives a signal from the external device. A handwriting recording system characterized by performing different operating states for the.
少なくとも一層を有する用紙基材の紙層内に抄き込まれ、前記用紙基材の筆記面にマトリクス状に配列された複数の半導体装置と、
前記複数の半導体装置と無線で通信可能な外部装置とを有し、
前記複数の半導体装置は、前記外部装置と通信可能なアンテナ回路と、信号処理回路と、固体識別情報を記憶した記憶部とをそれぞれ有し、
前記用紙基材の筆記面に筆圧が加わったときに、前記筆圧が加えられた半導体装置のアンテナ回路又は信号処理回路の少なくとも一方が破壊されることにより、前記筆圧が加えられた半導体装置が前記外部装置からの信号に対し異なる動作状態を行うことを特徴とする筆跡記録システム。
A plurality of semiconductor devices that are incorporated in a paper layer of a paper base material having at least one layer and arranged in a matrix on the writing surface of the paper base material;
An external device capable of wirelessly communicating with the plurality of semiconductor devices;
The plurality of semiconductor devices each include an antenna circuit capable of communicating with the external device, a signal processing circuit, and a storage unit storing solid identification information.
When writing pressure is applied to the writing surface of the paper substrate, the semiconductor to which the writing pressure is applied is destroyed by destroying at least one of the antenna circuit or the signal processing circuit of the semiconductor device to which the writing pressure is applied. A handwriting recording system, wherein the apparatus performs different operation states on signals from the external apparatus.
請求項7において、
前記固体識別情報は、前記用紙基材の筆記面における座標データであることを特徴とする筆跡記録システム。
In claim 7,
The handwriting recording system, wherein the solid identification information is coordinate data on a writing surface of the paper base material.
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